(57)【要約】【課題】制御部による測定パターン像の解析を補助することのできる眼科システムを提供する。【解決手段】眼科システム１０は、眼底Ｅｆに測定光束を投影して測定パターン像Ｍｉを取得する測定部１２と、測定パターン像Ｍｉを解析して被検眼Ｅの屈折特性を求める制御部１１と、測定パターン像Ｍｉを表示する表示部１５と、を備える。測定部１２は、合焦状態を変更可能とされ、制御部１１は、２つ以上の異なる合焦状態で取得した測定パターン像Ｍｉを解析しかつそれが写る測定画像Ｉｍを記憶させ、いずれの測定パターン像Ｍｉも解析できない場合、記憶させた全ての測定画像Ｉｍを表示部１５に表示させ、その中から選択された測定画像Ｉｍに写る測定パターン像Ｍｉに対して指定された座標に基づいて近似パターンＡｐを決定し、近似パターンＡｐに基づいて被検眼Ｅの屈折特性を求める補助工程を行う。【選択図】  図５Ｂ
2020048951.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
被検眼の眼底に測定光束を投影し、前記眼底で反射された測定光束を測定パターン像として取得する測定部と、
前記測定パターン像を解析し、その解析結果に基づいて前記被検眼の屈折特性を求める制御部と、
前記制御部の制御下で前記測定パターン像を表示する表示部と、を備え、
前記測定部は、前記被検眼に応じて合焦状態を変更可能とされ、
前記制御部は、２つ以上の異なる合焦状態で取得した前記測定パターン像を解析するとともに解析した前記測定パターン像が写る測定画像を記憶させ、
いずれの前記測定パターン像も解析できない場合、記憶させた全ての前記測定画像を前記表示部に表示させ、その中から選択された前記測定画像に写る前記測定パターン像に対して指定された座標に基づいて近似パターンを決定し、前記近似パターンに基づいて前記被検眼の屈折特性を求める補助工程を行うことを特徴とする眼科システム。
【請求項２】
前記制御部は、前記測定画像とともにその前記測定画像を取得したときの前記測定部の合焦状態を記憶させ、
前記測定パターン像の解析結果と、解析した前記測定パターン像が写る前記測定画像を取得したときの前記測定部の合焦状態と、に基づいて前記被検眼の屈折特性を求めることを特徴とする請求項１に記載の眼科システム。
【請求項３】
前記制御部は、前記測定パターン像を解析して前記被検眼の合焦位置を求める粗測定と、前記粗測定で求めた合焦位置に基づいて前記測定部の合焦状態を設定して得た前記測定パターン像を解析して前記被検眼の屈折特性を求める本測定と、を行い、前記粗測定および前記本測定で前記測定画像を記憶させることを特徴とする請求項１または請求項２に記載の眼科システム。
【請求項４】
前記粗測定は、前記測定部において基準位置を合焦位置とする合焦状態で得た前記測定パターン像を解析し、そこで解析できない場合に前記測定部において前記基準位置とは異なる位置を合焦位置とする合焦状態で得た前記測定パターン像を解析して、前記被検眼の合焦位置を求め、
前記制御部は、それぞれの測定で前記測定画像を記憶させることを特徴とする請求項３に記載の眼科システム。
【請求項５】
前記基準位置は、０ディオプタ位置とし、
前記基準位置とは異なる合焦位置は、−側と＋側との所定値のディオプタ位置とすることを特徴とする請求項４に記載の眼科システム。
【請求項６】
前記制御部は、前記補助工程により前記被検眼の屈折特性を求めると、その屈折特性が前記補助工程で求めたものであることの認識を可能とすることを特徴とする請求項１から請求項５までのいずれか１項に記載の眼科システム。
【請求項７】
前記測定パターン像は、リング状とし、
前記補助工程では、少なくとも２つの座標が指定されることを特徴とする請求項１から請求項６までのいずれか１項に記載の眼科システム。
【請求項８】
前記測定部は、前記眼底に測定光束を投影する測定投影系と、前記眼底で反射された測定光束を前記測定パターン像として取得する測定受光系と、を有し、前記測定部の合焦状態を変化させる際に少なくとも前記測定受光系の光学素子を光軸上で移動させることを特徴とする請求項１から請求項７までのいずれか１項に記載の眼科システム。
【請求項９】
被検眼の眼底に測定光束を投影し、前記眼底で反射された測定光束を測定パターン像として取得する測定部と、
前記測定パターン像を表示する表示部と、を用いるとともに、前記測定パターン像の解析結果に基づいて前記被検眼の屈折特性を求める屈折特性測定方法であって、
前記測定部が、前記被検眼に応じて合焦状態を変更可能とされ、
２つ以上の異なる合焦状態で取得した前記測定パターン像を解析するとともに解析した前記測定パターン像が写る測定画像を記憶する記憶工程と、
いずれの前記測定パターン像も解析できない場合、記憶した全ての前記測定画像を前記表示部に表示させる表示工程と、
前記表示工程で表示させた中から測定者により選択された前記測定画像に写る前記測定パターン像に対して、前記測定者により指定された座標に基づいて近似パターンを決定し、前記近似パターンに基づいて前記被検眼の屈折特性を求める補助工程と、を行うことを特徴とする屈折特性測定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本開示は、眼科システム、屈折特性測定方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
眼科システムは、被検眼の眼底に測定光束を投影し、眼底で反射された測定光束（反射光束）を測定パターン像として取得する測定部を備えるものがある（例えば、特許文献１参照）。
【０００３】
このような眼科システムは、制御部が、測定部からの測定パターン像（その画像データ）を解析し、その解析し結果に基づいて被検眼の屈折特性を求める。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００７−８９７１５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
ここで、上記した眼科システムは、例えば、測定パターン像の一部が欠けていたり測定パターン像が大きくぼけたりしていると、制御部が測定パターン像を解析できず、被検眼の屈折特性を求めることができなくなる。
【０００６】
本開示は、上記の事情に鑑みて為されたもので、制御部による測定パターン像の解析を補助することのできる眼科システムを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記した課題を解決するために、本開示の眼科システムは、被検眼の眼底に測定光束を投影し、前記眼底で反射された測定光束を測定パターン像として取得する測定部と、前記測定パターン像を解析し、その解析結果に基づいて前記被検眼の屈折特性を求める制御部と、前記制御部の制御下で前記測定パターン像を表示する表示部と、を備え、前記測定部は、前記被検眼に応じて合焦状態を変更可能とされ、前記制御部は、２つ以上の異なる合焦状態で取得した前記測定パターン像を解析するとともに解析した前記測定パターン像が写る測定画像を記憶させ、いずれの前記測定パターン像も解析できない場合、記憶させた全ての前記測定画像を前記表示部に表示させ、その中から選択された前記測定画像に写る前記測定パターン像に対して指定された座標に基づいて近似パターンを求め、前記近似パターンに基づいて前記被検眼の屈折特性を求める補助工程を行うことを特徴とする。
【発明の効果】
【０００８】
本開示の眼科システムによれば、制御部による測定パターン像の解析を補助することができる。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】本開示に係る眼科システムの一例としての実施例１の眼科システムの全体構成を示す説明図である。
【図２】測定部の光学系の構成を示す説明図である。
【図３】眼科システムの表示部に表示される指定画面の一例を示す図である。
【図４】眼科システムの表示部に表示される選択画面の一例を示す図である。
【図５Ａ】眼科システムの制御部で実行される屈折特性測定処理（屈折特性測定方法）を示すフローチャートの一部である。
【図５Ｂ】眼科システムの制御部で実行される屈折特性測定処理（屈折特性測定方法）を示すフローチャートの残りである。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
以下に、本開示に係る眼科システムの一実施形態としての眼科システム１０の実施例１について図１から図５を参照しつつ説明する。なお、図２は、各光学系（符号２１から２５）の被検眼Ｅに対する光が進行する関係性の理解を容易とするために被検眼Ｅに対して複数の矢印を並列させて記載しているが、実際には全ての光が測定部１２の光軸上を進行するものである。また、測定処理（測定方法）を示すフローチャートを図５Ａと図５Ｂとに分けて示しており、図５Ａから図５Ｂに移行する際に両図に記載した丸で囲む符号ＡからＣのうちの同じ記号の位置に進むものとしている。そして、以下では、図５Ａと図５Ｂとに示すフローチャートを、単に図５に示すフローチャートと記載する。
【実施例１】
【００１１】
眼科システム１０は、被検眼Ｅの眼屈折力を測定するものであり、図１に示すように、制御部１１に、測定部１２と駆動部１３と顎受部１４と表示部１５と操作部１６と記憶部１７とが接続されて構成される。
【００１２】
制御部１１は、接続された記憶部１７または内蔵する内部メモリ１１ａに記憶したプログラムを例えばＲＡＭ（Random Access Memory）上に展開することにより、適宜操作部１６に対する操作等に応じて、眼科システム１０（測定部１２、駆動部１３、顎受部１４、表示部１５）の動作を統括的に制御する。実施例１では、内部メモリ１１ａは、ＲＡＭ等で構成され、記憶部１７は、ＲＯＭ（Read Only Memory）やＥＥＰＲＯＭ（Electrically Erasable Programmable ROM）等で構成される。眼科システム１０では、上記した構成の他に、測定完了信号や測定者からの指示に応じて測定結果を印字するプリンタや、測定結果を外部メモリやサーバーに出力する出力部が適宜設けられる。
【００１３】
測定部１２は、被検眼Ｅの眼底Ｅｆ（図２参照）に測定光束を投影し、眼底Ｅｆで反射された測定光束（その反射光束）を測定パターン像Ｍｉ（図３等参照）として取得する。その測定パターン像Ｍｉは、測定部１２により解析されることで、被検眼Ｅの眼屈折力を測定できる。この測定部１２の構成については、後に説明する。
【００１４】
駆動部１３は、測定部１２を上下、左右、前後方向に移動させる。顎受部１４は、被検者の顎を載せる箇所であり、被検者に応じて測定部１２に対する位置の調整が可能とされている。表示部１５は、液晶モニタ等で形成され、測定部１２で取得した前眼部像や測定パターン像Ｍｉ（図３等参照）や眼底画像等が適宜表示される。表示部１５は、測定部１２に固定されて設けられていてもよく、測定部１２とは別に設けられていてもよい。操作部１６は、検者や被検者が眼科システム１０を操作するものである。操作部１６は、表示部１５に重畳して配置されたタッチパネル式とされていてもよく、例えばキーボード、マウス、ジョイスティック等の入力装置で構成されていてもよい。
【００１５】
次に、測定部１２の光学系の一例としての構成を、図２を用いて説明する。測定部１２の光学系は、図２に示すように、観察系２１と固視投影系２２と眼屈折力測定系２３とアライメント光学系２４とを有し、それぞれの光軸が測定部１２の光軸と一致されている。このため、測定部１２は、自らの光軸が被検眼Ｅの基準箇所(角膜頂点や瞳孔中心等)に一致するように駆動部１３により前後左右上下の各方向に移動されることで、各光学系（符号２１から２４）の光軸が被検眼Ｅに対してアライメントされる。
【００１６】
観察系２１は、被検眼Ｅの前眼部の観察を可能とする。観察系２１は、被検眼Ｅの前眼部で反射された光束を、撮像素子（その受光面）上に結像することで、被検眼Ｅの前眼部の画像（前眼部像）を取得する。制御部１１は、観察系２１から出力される画像信号に基づく前眼部像等を表示部１５に適宜表示させる。
【００１７】
固視投影系２２は、被検眼Ｅの視線を固定し、かつ調節を誘導するための視標としての固視標を、被検眼Ｅに呈示する。固視標は、例えば、遠方の風景などを描画した視標で構成する。固視投影系２２は、被検眼Ｅの屈折力に応じて合焦位置を変更可能とされ、被検眼Ｅの眼底Ｅｆと共役となる位置に固視標を呈示できる。この合焦位置の変更は、固視投影系２２における一部の光学部材等を光軸に沿って移動させることで行うことができる。また、固視投影系２２は、合焦位置すなわち呈示した固視標を眼底Ｅｆと共役となる位置から大きく移動して、雲霧状態とすることが可能とされている。測定部１２は、雲霧状態すなわち被検眼Ｅを調節休止状態（水晶体の調整除去状態）として、眼屈折力の測定を行う。
【００１８】
眼屈折力測定系２３は、眼屈折力（屈折特性）の測定を行うもので、測定光源２５ａから出射した測定光束を被検眼Ｅの眼底Ｅｆに投影する測定投影系２５と、眼底Ｅｆで反射された測定光束（その反射光束）を測定パターン像Ｍｉとして受光センサ２６ａに導く測定受光系２６と、を有する。この受光センサ２６ａは、観察系２１と共用していてもよく、観察系２１の撮像素子とは別に設けられていてもよい。測定パターン像Ｍｉは、任意の形状とすることができ、実施例１ではリング状としている（図３等参照）。このリング状の測定パターン像Ｍｉは、例えば、測定投影系２５が測定光源２５ａから出射した測定光束をリングパターン形成板等によりリング状として眼底Ｅｆに投影することで、形成することができる。また、リング状の測定パターン像Ｍｉは、例えば、測定投影系２５が測定光束として点状のスポット光を眼底Ｅｆに投影し、眼底Ｅｆで反射された測定光束を測定受光系２６においてリング状のスリットやレンズを通すことでリング状の光束として受光センサ２６ａに導くことで、形成することができる。
【００１９】
測定投影系２５は、眼底Ｅｆに投影する測定光束の合焦位置を変更することが可能とされており、被検眼Ｅに応じて測定光源２５ａ（上記したリングパターン形成板）と眼底Ｅｆとを共役とすることができる。測定受光系２６は、受光センサ２６ａ上での測定パターン像Ｍｉの合焦位置を変更することが可能とされており、被検眼Ｅに応じて受光センサ２６ａと眼底Ｅｆとを共役とすることができる。これらの合焦位置の変更は、測定投影系２５および測定受光系２６における一部の光学部材等を光軸に沿って移動させることで行うことができる。以下では、測定部１２において、合焦位置の変更のために移動される固視投影系２２、測定投影系２５および測定受光系２６における一部の光学部材等を、合焦状態を変更するための合焦部ともいう。
【００２０】
眼屈折力測定系２３は、制御部１１の制御下で、次のように動作されて被検眼Ｅの眼屈折力を測定する。先ず、測定投影系２５において測定光源２５ａが点灯されて測定光束を眼底Ｅｆに投影し、測定受光系２６において受光センサ２６ａで測定パターン像Ｍｉを取得する。この制御部１１は、測定パターン像Ｍｉを表示部１５に適宜表示させるとともに、その測定パターン像Ｍｉが写った測定画像Ｉｍ（図４等参照）と、その測定画像Ｉｍを取得したときの測定部１２の合焦状態と、を記憶部１７に適宜記憶させる。
【００２１】
制御部１１は、測定パターン像Ｍｉを解析し、その解析結果としての測定パターン像Ｍｉの形状および大きさと、測定部１２の合焦状態と、に基づいて被検眼Ｅの眼屈折力を求める。その一例としての解析では、先ず、制御部１１は、測定パターン像Ｍｉが撮影された受光センサ２６ａからの画像信号において、各画素のうち、輝度値が所定の閾値以上となる明るい領域を検出することで、測定パターン像Ｍｉが形成された領域を特定する。この領域の特定は、コントラストの検出により行うこともできる。次に、制御部１１は、基本的にリング状となる輝度値が閾値を越える領域において、半径方向で見た中間位置や、半径方向で見て最も高い輝度となる位置や、半径方向で見た輝度分布の重心位置等を、複数の角度における半径方向について求め、最小二乗法等を用いて楕円で近似することで、測定パターン像Ｍｉの形状および大きさを特定する。
【００２２】
ここで、受光センサ２６ａ上の測定パターン像Ｍｉは、眼屈折力測定系２３の測定受光系２６が合焦した状態（眼底Ｅｆと受光センサ２６ａが共役）では、ボケがなくコントラストが高く所定の大きさとなる。また、合焦していない状態(眼底Ｅｆと受光センサ２６ａが共役ではない)では、受光センサ２６ａ上の測定パターン像Ｍｉは、ボケてコントラストが低下するとともに大きさが変化する。そして、眼屈折力測定系２３（測定部１２）は、合焦状態の変化と測定パターン像Ｍｉの大きさの変化との関係が略線形となるよう構成されているため、リング像の大きさを検出することで合焦状態とするための光学部材等（合焦部）の移動量（合焦のズレ量）を求めることができる。そして、制御部１１は、特定した測定パターン像Ｍｉの形状および大きさ（近似した楕円）と、測定部１２の合焦状態と、に基づいて、被検眼Ｅの眼屈折力としての球面度数Ｓ、円柱度数Ｃ（乱視度数）、軸角度Ａｘ（乱視軸角度）を周知の手法により算出する。制御部１１は、算出した眼屈折力を適宜表示部１５に表示させる。但し、眼底Ｅｆに合焦していな状態の測定パターン像Ｍｉは、上記したようにボケてコントラストが低いため、大きさおよび形状を適切に検出することが困難であるので、合焦した状態（それに近い状態）の測定パターン像Ｍｉを用いることが望ましい。
【００２３】
アライメント光学系２４は、被検眼Ｅに対する測定部１２の光学系の位置合わせ（アライメント）を可能とする。アライメント光学系２４は、アライメントのための視標を被検眼Ｅに投影し、その視標を用いることで被検眼Ｅに対する測定部１２の位置の調整のためのアライメント情報を生成する。そのアライメント情報は、例えば、被検眼Ｅの基準箇所に対して測定部１２の光軸を一致させる情報と、被検眼Ｅから測定部１２までの間隔を適切なものとする情報と、を有する。制御部１１は、アライメント光学系２４からのアライメント情報に基づいて駆動部１３を駆動して測定部１２を移動させることで、測定部１２のオートアライメント（自動での位置調整）を行うことができる。
【００２４】
測定部１２は、眼屈折力測定系２３を用いて被検眼Ｅの眼屈折力を測定する際、上記したように制御部１１が測定パターン像Ｍｉを解析し、その解析結果としての測定パターン像Ｍｉの形状および大きさに基づいて被検眼Ｅの眼屈折力を求めている。ところが、制御部１１は、受光センサ２６ａからの画像信号に対して測定パターン像Ｍｉの抽出および解析を行っても、それに近似する円や楕円を特定できない場合がある。このような場合としては、被検眼Ｅに白内障などの混濁や睫や瞼によるケラレ等により、測定パターン像Ｍｉは、一部（複数を含む）が欠けていたり、全体にボケていたり、画面が部分的にもしく全体的に所定の値を超えて明るくなっているまたは暗くなっていたりすることがある。制御部１１は、測定パターン像Ｍｉが大きく欠けていると、測定パターン像Ｍｉの特定ができず円や楕円で近似することができなくなることがある。また、制御部１１は、測定パターン像Ｍｉがボケていたり、画面が所定の値を超えて明るくまたは暗くなっていたりすると、測定パターン像Ｍｉの特定ができず円や楕円で近似することができなくなることがある。以下では、このことを、単に測定パターン像Ｍｉを解析できないともいう。
【００２５】
ここで、測定パターン像Ｍｉが欠けていたり、測定パターン像Ｍｉがボケていたり、画面が所定の値を超えて明るくまたは暗くなっていたりしても、検者すなわち人間の目では測定パターン像Ｍｉ（その形状や大きさ）の認識が可能である場合が少なくない。このため、本開示の眼科システム１０は、制御部１１が測定パターン像Ｍｉを解析できない場合、補助工程の手動での補助動作を行うことで、測定のための測定パターン像Ｍｉの形状および大きさの特定を可能としている。
【００２６】
この補助工程は、制御部１１が解析できなかった測定パターン像Ｍｉが写った測定画像Ｉｍにおいて、測定パターン像Ｍｉの解析を補助するための２つ以上の任意の位置の座標を検者に指定させるものである。制御部１１は、測定パターン像Ｍｉを解析する際、その測定パターン像Ｍｉが写った測定画像Ｉｍを記憶部１７に記憶させ（記憶工程）、解析できない場合に記憶部１７に記憶させた測定画像Ｉｍを用いて補助工程を行う。制御部１１は、測定画像Ｉｍ上で２つ以上の任意の座標（位置）が指定されると、その座標情報から最小二乗法等を用いて円または楕円に近似する。この近似した円または楕円を、近似パターンＡｐ（図３参照）とし、この動作を近似パターンＡｐの決定とする。制御部１１は、実施例１では後述するように楕円の近似パターンＡｐを決定し、その楕円の長径、短径および長軸の角度に基づいて、被検眼Ｅの眼屈折力としての球面度数Ｓ、円柱度数Ｃ（乱視度数）、軸角度Ａｘ（乱視軸角度）を周知の手法により算出する。
【００２７】
制御部１１は、実施例１の補助工程では、観察系２１の光軸を中心として検者により指定された２つ以上の任意の座標（点）を通るように円または楕円に近似して近似パターンＡｐを決定する。そして、制御部１１は、指定された座標が２つである場合は、円に近似することで、近似パターンＡｐを決定することができる。また、制御部１１は、指定された座標が３つ以上である場合は、これらの座標から楕円に近似し、近似パターンＡｐを決定することができる。近似パターンＡｐの楕円からは、強弱各主経線方向の眼屈折力と併せて乱視軸の方向が演算できる。実施例１の補助工程では、３つ以上の任意の座標を楕円に近似して近似パターンＡｐを決定するものとしている。
【００２８】
なお、補助工程では、測定画像Ｉｍにおいて形成された測定パターン像Ｍｉの解析を補助するものであればよいので、２つ以上の任意の座標を指定することに替えて、測定パターン像Ｍｉをなぞるように円（その部分的な曲線を含む）を描くものとしてもよい。この場合であっても、制御部１１は、円弧上の座標を最小二乗法等を用いて円または楕円に近似して近似パターンＡｐを決定できる。
【００２９】
制御部１１は、補助工程のために、図３に示すように、制御部１１が解析できなかった測定パターン像Ｍｉが写った測定画像Ｉｍを表示部１５に表示させるとともに、その表示部１５上で任意の位置の指定を可能とする指定画面Ｓｄを表示させる。実施例１の指定画面Ｓｄは、表示部１５がタッチパネル式とされることで、指やタッチペン１８で表示部１５の任意の位置を触れることにより、任意の位置の指定を可能としている。なお、この任意の位置の指定は、操作部１６への指示操作により表示部１５上に表示させた「指示」アイコンを移動させて行うものでもよく、他の構成でもよく、実施例１の構成に限定されない。
【００３０】
制御部１１は、指定画面Ｓｄで任意の位置が指定されると、その指定された位置（座標）に指示点１９を測定パターン像Ｍｉに重ねて表示するとともに、その指示点１９の位置（測定画像Ｉｍにおける座標位置）を記憶する。そして、制御部１１は、任意の位置が２つ以上指定されると、それらの座標（位置）を用いて、上記したように近似パターンＡｐを決定して被検眼Ｅの眼屈折力を算出する。
【００３１】
実施例１では、指定画面Ｓｄは、右下方に指示点１９の指定が終了した旨を入力する「決定」アイコンｉｄを表示させている。制御部１１は、「決定」アイコンｉｄがタッチ（操作）されると、指定画面Ｓｄにおいて指示点１９の指定が終了したものと判断して、指定された各指示点１９の座標を用いて近似パターンＡｐを決定する。なお、制御部１１は、「決定」アイコンｉｄが操作された時点で記憶した指示点１９の位置が所定数（少なくとも２つであって、実施例１では３つ）に満たない場合には、その旨を伝える文章等を指定画面Ｓｄに表示させたり音声で伝えたりする。
【００３２】
なお、図３の指定画面Ｓｄでは、決定した近似パターンＡｐを指定画面Ｓｄ上に表示しているが、この近似パターンＡｐは表示しなくてもよく、実施例１の構成に限定されない。ここで、近似パターンＡｐを表示すると、検者は、一緒に表示された測定パターン像Ｍｉと近似パターンＡｐの表示とを比較することで、近似パターンＡｐが適切に決定されたか否かを確認することができる。そして、その確認に基づいて、指示点１９の指定の遣り直しを可能とするものとしてもよい。これにより、本開示の眼科システム１０は、制御部１１が測定パターン像Ｍｉを解析できない場合であっても、その解析できなかった測定パターン像Ｍｉが写った測定画像Ｉｍを用いて被検眼Ｅの眼屈折力を測定することができる。
【００３３】
実施例１では、眼屈折力測定系２３により眼屈折力を測定する際、先ず粗測定を実行する。粗測定は、固視投影系２２や測定投影系２５（測定光源２５ａ）や測定受光系２６（受光センサ２６ａ）の合焦位置への移動量を決定するために、予備的に被検眼Ｅの概略の眼屈折力から合焦位置を求めることをいう。実施例１の粗測定では、測定部１２において、最初に固視投影系２２、測定投影系２５および測定受光系２６の合焦位置を基準位置となる０Ｄ（ディオプタ）位置とした合焦状態とする。そして、固視投影系２２で固視標を固視させつつ眼屈折力測定系２３の測定投影系２５により被検眼Ｅの眼底Ｅｆに測定光束を投影し、測定受光系２６により測定パターン像Ｍｉを取得し、その測定パターン像Ｍｉの解析を行う。また、粗測定では、０Ｄ位置で測定パターン像Ｍｉの解析が出来ない場合には、測定部１２において、合焦部（上記の各光学系）を移動して合焦位置を−側の所定値のＤ（ディオプタ）位置（以下では単に−Ｄ位置ともいう）とした合焦状態（強度の近視眼であると想定）として、同様に解析および算出を行う。そして、粗測定では、そこでも測定パターン像Ｍｉの解析が出来ない場合には、測定部１２において、合焦部を移動して合焦位置を＋側の所定値のＤ（ディオプタ）位置（以下では単に＋Ｄ位置ともいう）とした合焦状態（強度の遠視眼であると想定）として、同様に解析および算出を行う。
【００３４】
そして、いずれかの粗測定で解析および算出が出来た場合には、測定部１２の合焦状態を、粗測定で算出した合焦位置に基づいて固視投影系２２、測定投影系２５および測定受光系２６を移動させたものとし、その合焦状態で取得した測定パターン像Ｍｉの解析および眼屈折力の算出を行う本測定を実行する。この本測定は、上記の移動後に雲霧を行ってから実行してもよい。そして、制御部１１は、本測定での測定パターン像Ｍｉの解析結果と、測定部１２の合焦状態（本測定を実行した位置への移動量）と、から被検眼Ｅの眼屈折力を算出する。
【００３５】
このように、粗測定を３つの異なる位置で行うのは、次のことによる。被検眼Ｅが強度の屈折異常眼である場合、０Ｄ位置では被検眼Ｅの合焦位置と大きく異なるので、測定パターン像Ｍｉが大きくボケて解析が出来なくなることがある。このため、０Ｄ位置で解析が出来ない場合には、−Ｄ位置および＋Ｄ位置とすることで、被検眼Ｅの眼屈折力に近い合焦位置で測定パターン像Ｍｉを取得できる可能性が高くなり、測定パターン像Ｍｉの解析が可能となる可能性を高めることができる。このため、−Ｄ位置および＋Ｄ位置（その所定値）は、０Ｄ位置から大きく離れたものとすることで、強度屈折異常眼であってもいずれかの位置で測定パターン像Ｍｉの解析が可能となる。この所定値は、実施例１では一例として±１０Ｄ位置とする。
【００３６】
そして、実施例１では、３つの粗測定のいずれの位置においても測定パターン像Ｍｉの解析が出来ない場合、または本測定で測定パターン像Ｍｉの解析が出来ない場合、上記した補助工程を行うものとする。従来であれば、このように最終的に測定パターン像Ｍｉの解析が出来ない場合には測定エラーと判定し、被検眼Ｅの眼屈折力が求めることなく終了することとなる。ところが、眼科システム１０は、従来であれば測定エラーと判定して測定を終了するような場面で補助工程を行うので、被検眼Ｅの眼屈折力を測定できない場面を大幅に減らすことができる。また、眼科システム１０は、解析できなかった測定パターン像Ｍｉが写った測定画像Ｉｍを用いて補助工程を行うので被検眼Ｅを改めて測定することはなく、すなわち、被検者の顔（被検眼Ｅ）を固定した状態を維持することなく補助工程を行うことができるので、被検者への負担を低減できる。
【００３７】
補助工程は、上記したように解析が出来ない測定パターン像Ｍｉを用いているので、測定パターン像Ｍｉが解析できた場合と比較して、求めた眼屈折力の信頼性が低いことが考えられる。このため、実施例１の制御部１１は、補助工程により被検眼Ｅの屈折特性を求めると、その屈折特性を示すデータに補助工程で求めたものであることを示すデータを関連付ける。そして、実施例１の制御部１１は、補助工程で求めた屈折特性を表示部１５に表示させたり印刷したりデータベースに保存したりする際、補助工程で求めたことを示す記号を併せて表示したり色を変化させたり測定値に括弧を付けたりすることで、補助工程で求めた屈折特性であることの認識、すなわち通常の工程で求めた屈折特性との識別を可能とする。
【００３８】
ここで、実施例１では、上記したように３つの粗測定および本測定を行うものであるため、粗測定で測定パターン像Ｍｉが解析できない場合には３つの測定画像Ｉｍが、本測定で測定パターン像Ｍｉが解析できない場合には少なくても２つの測定画像Ｉｍ、最大で４つの測定画像Ｉｍが記憶部１７に記憶されている。その複数の測定画像Ｉｍは、上記したように測定部１２（固視投影系２２、測定投影系２５および測定受光系２６）の合焦状態がそれぞれ異なるので、そこに写る測定パターン像Ｍｉのボケ具合や欠けの程度等が互いに異なっている。このため、実施例１では補助工程の際、複数の測定画像Ｉｍの中で測定パターン像Ｍｉ（その形状や大きさ）を最も認識し易いものを検者に選択させる選択画面Ｓｃを表示部１５に表示させる（図４参照）。選択画面Ｓｃは、図４に示すように、眼屈折力の測定を開始した後に記憶部１７に記憶された複数の測定画像Ｉｍの全てを表示するもので、図４の例では最大となる４つの測定画像Ｉｍを表示させている（表示工程）。なお、選択画面Ｓｃ（表示工程）は、複数の測定画像Ｉｍから最も認識し易い測定パターン像Ｍｉが写っているものの選択を可能とするものであれば、切り替えを可能としつついずれか１つの測定画像Ｉｍを表示するものでもよく、他の構成でもよく、実施例１の構成に限定されない。ここで、選択画面Ｓｃは、いずれか１つの測定画像Ｉｍを表示する場合には、表示する測定画像Ｉｍを切り替えるための「切替」アイコンを合わせて表示させてもよい。
【００３９】
また、実施例１の選択画面Ｓｃは、下方に眼屈折力の測定を終了する旨を入力する「終了」アイコンｉｅを表示させている。この「終了」アイコンｉｅは、選択画面Ｓｃに表示された複数の測定画像Ｉｍのいずれの測定パターン像Ｍｉも検者すなわち人間の目でも認識できない場合にタッチ（操作）される。制御部１１は、「終了」アイコンｉｅがタッチされると、測定エラーと判定して、その旨を表示部１５に表示させたり音声で伝えたりする。
【００４０】
次に、眼科システム１０を用いて、被検眼Ｅの眼屈折力を測定する一例としての屈折特性測定処理（屈折特性測定方法）について、図５を用いて説明する。この屈折特性測定処理は、記憶部１７または内蔵する内部メモリ１１ａに記憶されたプログラムに基づいて、制御部１１が実行する。以下では、この図５のフローチャートの各ステップ（各工程）について説明する。この図５のフローチャートは、眼科システム１０が起動されて表示部１５が表示され、操作部１６で眼屈折力の測定が開始されることにより開始される。このとき、被検者は椅子等に座っており、図示を略す額当部と顎受部１４とにより顔が固定されている。
【００４１】
ステップＳ１では、オートアライメントを実行して、ステップＳ２へ進む。ステップＳ１では、上述したように、アライメント光学系２４およびアライメント光学系２４を用いて、測定部１２のオートアライメントを行う。
【００４２】
ステップＳ２では、オートアライメントが完了したか否かを判断し、ＹＥＳの場合はステップＳ３へ進み、ＮＯの場合はステップＳ１に戻る。ステップＳ２では、オートアライメントが適切に行われて所定の位置関係となったか否かを判断する。
【００４３】
ステップＳ３では、合焦位置を０Ｄ位置として粗測定を実行して、ステップＳ４へ進む。ステップＳ３では、合焦部の移動により固視投影系２２、測定投影系２５および測定受光系２６の合焦位置を０Ｄ（ディオプタ）位置とした合焦状態の測定部１２（眼屈折力測定系２３）で測定パターン像Ｍｉを取得し、その測定パターン像Ｍｉの解析を行う。このとき、解析した測定パターン像Ｍｉが写った測定画像Ｉｍと、測定部１２の合焦状態（０Ｄ位置）と、を記憶部１７に記憶させる。
【００４４】
ステップＳ４では、測定パターン像Ｍｉを解析できたか否かを判断し、ＹＥＳの場合はステップＳ９へ進み、ＮＯの場合はステップＳ５へ進む。ステップＳ４では、ステップＳ３の粗測定で測定パターン像Ｍｉを解析できたか否かを判断する。
【００４５】
ステップＳ５では、合焦位置を−Ｄ位置として粗測定を実行して、ステップＳ６へ進む。ステップＳ５では、合焦部の移動により固視投影系２２、測定投影系２５および測定受光系２６の合焦位置を−Ｄ位置（−側の所定値のＤ位置）に移動させた合焦状態の測定部１２（眼屈折力測定系２３）で測定パターン像Ｍｉを取得し、その測定パターン像Ｍｉの解析を行う。このとき、解析した測定パターン像Ｍｉが写った測定画像Ｉｍと、測定部１２の合焦状態（−Ｄ位置）と、を記憶部１７に記憶させる。
【００４６】
ステップＳ６では、測定パターン像Ｍｉを解析できたか否かを判断し、ＹＥＳの場合はステップＳ９へ進み、ＮＯの場合はステップＳ７へ進む。ステップＳ６では、ステップＳ５の粗測定で測定パターン像Ｍｉを解析できたか否かを判断する。
【００４７】
ステップＳ７では、合焦位置を＋Ｄ位置として粗測定を実行して、ステップＳ８へ進む。ステップＳ７では、合焦部の移動により固視投影系２２、測定投影系２５および測定受光系２６の合焦位置を＋Ｄ位置（＋側の所定値のＤ位置）に移動させた合焦状態の測定部１２（眼屈折力測定系２３）で測定パターン像Ｍｉを取得し、その測定パターン像Ｍｉの解析を行う。このとき、解析した測定パターン像Ｍｉが写った測定画像Ｉｍと、測定部１２の合焦状態（＋Ｄ位置）と、を記憶部１７に記憶させる。
【００４８】
ステップＳ８では、測定パターン像Ｍｉを解析できたか否かを判断し、ＹＥＳの場合はステップＳ９へ進み、ＮＯの場合はステップＳ１３へ進む。ステップＳ８では、ステップＳ７の粗測定で測定パターン像Ｍｉを解析できたか否かを判断する。
【００４９】
ステップＳ９では、粗測定での合焦位置として、ステップＳ１０へ進む。ステップＳ９では、ステップＳ３、Ｓ５、Ｓ７のいずれかの粗測定での解析結果に基づいて被検眼Ｅの合焦位置を求め、合焦部の移動により固視投影系２２、測定投影系２５および測定受光系２６の合焦位置を被検眼Ｅの合焦位置として、固視投影系２２で固視標を固視させる。
【００５０】
ステップＳ１０では、固視投影系２２を用いて雲霧を行い、ステップＳ１１へ進む。ステップＳ１０では、被検眼Ｅに対する合焦位置から少なくとも固視投影系２２の合焦部をさらに移動して雲霧状態とする。
【００５１】
ステップＳ１１では、眼屈折力測定系２３を用いて本測定を実行して、ステップＳ１２へ進む。ステップＳ１１では、ステップＳ１０の合焦状態の測定投影系２５および測定受光系２６により取得した画像（測定画像Ｉｍ）に対して測定パターン像Ｍｉの解析を行う。このとき、解析した測定パターン像Ｍｉが写った測定画像Ｉｍと、測定部１２の合焦状態（ステップＳ１０の合焦位置）と、を記憶部１７に記憶させる。
【００５２】
ステップＳ１２では、測定パターン像Ｍｉを解析できたか否かを判断し、ＹＥＳの場合はステップＳ１８へ進み、ＮＯの場合はステップＳ１３へ進む。ステップＳ１２では、ステップＳ１１の本測定で測定パターン像Ｍｉを解析できたか否かを判断する。
【００５３】
ステップＳ１３では、選択画面Ｓｃを表示部１５に表示させて、ステップＳ１４へ進む。ステップＳ１３では、ステップＳ３、Ｓ５、Ｓ７のいずれの合焦位置での粗測定でも解析ができなかった場合、またはステップＳ１１の合焦位置での本測定で解析ができなかった場合であり、記憶部１７に記憶された全ての測定画像Ｉｍを表示させた選択画面Ｓｃを、表示部１５に表示させる。ステップＳ１３では、Ｓ３→Ｓ４→Ｓ９→Ｓ１０→Ｓ１１→Ｓ１２→Ｓ１３と進んだ場合は、２つの測定画像Ｉｍを選択画面Ｓｃに表示させる。また、ステップＳ１３では、Ｓ３→Ｓ４→Ｓ５→Ｓ６→Ｓ７→Ｓ８→Ｓ１３と進んだ場合および、Ｓ３→Ｓ４→Ｓ５→Ｓ６→Ｓ９→Ｓ１０→Ｓ１１→Ｓ１２→Ｓ１３と進んだ場合は、３つの測定画像Ｉｍを選択画面Ｓｃに表示させる。さらに、ステップＳ１３では、Ｓ３→Ｓ４→Ｓ５→Ｓ６→Ｓ７→Ｓ８→Ｓ９→Ｓ１０→Ｓ１１→Ｓ１２→Ｓ１３と進んだ場合は、４つの測定画像Ｉｍを選択画面Ｓｃに表示させる。
【００５４】
ステップＳ１４では、いずれか１つの測定画像Ｉｍが選択されたか否かを判断し、ＹＥＳの場合はステップＳ１５へ進み、ＮＯの場合はステップＳ２０へ進む。ステップＳ１４では、ステップＳ１３で選択画面Ｓｃに表示させた複数の測定画像Ｉｍのうちのいずれか１つが選択されるとＹＥＳと判断し、「終了」アイコンｉｅが操作されるとＮＯと判断する。
【００５５】
ステップＳ１５では、指定画面Ｓｄを表示させて、ステップＳ１６へ進む。ステップＳ１５では、ステップＳ１４でいずれか１つの測定画像Ｉｍが選択されたので、選択された測定画像Ｉｍを表示させた指定画面Ｓｄを表示部１５に表示させて、その測定画像Ｉｍにおける任意の座標（位置）の指定を可能とする。なお、ステップＳ１５では、文言での表示や音声により、指定画面Ｓｄにおいて表示部１５で任意の座標を指定するように促すこととしてもよい。
【００５６】
ステップＳ１６では、座標の指定が終了したか否かを判断し、ＹＥＳの場合はステップＳ１７へ進み、ＮＯの場合はステップＳ１６を繰り返す。ステップＳ１６では、指定画面Ｓｄにおいて、任意の座標が指定される毎にその位置に指示点１９を表示させ、「決定」アイコンｉｄが操作されるとステップＳ１７へ進み、「決定」アイコンｉｄが操作されるまでステップＳ１６を繰り返す。なお、ステップＳ１６は、指示点１９（指定された座標）が所定数（実施例１では３つ）となるまで繰り返すものとし、所定数となるとステップＳ１７へ進むものとしてもよい。
【００５７】
ステップＳ１７では、近似パターンＡｐを決定して、ステップＳ１８へ進む。ステップＳ１７では、ステップＳ１６で指定された少なくとも３つの任意の座標（指示点１９）を最小二乗法等を用いて楕円に近似して近似パターンＡｐを決定する。
【００５８】
ステップＳ１８では、眼屈折力を算出して、ステップＳ１９へ進む。ステップＳ１８では、ステップＳ１１の本測定で取得した測定パターン像Ｍｉの解析の結果またはステップＳ１５で決定した近似パターンＡｐに基づき、それぞれの測定部１２の合焦状態を勘案して、眼屈折力としての球面度数、円柱度数、軸角度を周知の手法により算出する。このため、ステップＳ１３からステップＳ１８に至るまでが、補助工程により眼屈折力を求めるものとなる。
【００５９】
ステップＳ１９では、測定値を表示させて、この測定処理を終了する。このステップＳ１９では、ステップＳ１８で測定した両被検眼Ｅの眼屈折力（球面度数、円柱度数、軸角度）を、表示部１５に表示させる。
【００６０】
ステップＳ２０では、測定エラーを報知させて、この測定処理を終了する。このステップＳ２０では、測定エラーすなわち眼屈折力が測定できなかった旨を、表示部１５での表示や音声等で報知する。
【００６１】
これにより、眼科システム１０は、被検眼Ｅの眼屈折力を測定することができる。このとき、眼科システム１０は、自動で測定パターン像Ｍｉを解析できた場合には、そのまま自動で被検眼Ｅの眼屈折力を測定できるのは、従来の眼科システムと同様である。それに加えて、眼科システム１０は、場面に拘わらず自動で測定パターン像Ｍｉを解析できない場合には、補助工程の手動での補助動作を行って人間の目で認識した測定パターン像Ｍｉに基づいて、測定パターン像Ｍｉの形状および大きさの特定を可能としている。このため、眼科システム１０は、制御部１１が測定パターン像Ｍｉを認識できなくても人間の目で測定パターン像Ｍｉを認識できれば測定できるので、被検眼Ｅの眼屈折力を測定できない場面を大幅に減らすことができる。また、眼科システム１０は、制御部１１が解析できなかった測定パターン像Ｍｉが写る測定画像Ｉｍを用いて補助工程を行うので、被検者を測定部１２の前で束縛する時間を延長することなく被検眼Ｅの眼屈折力を測定できることとなり、被検者の負担を低減できる。
【００６２】
本開示に係る眼科システムの実施例１の眼科システム１０は、以下の各作用効果を得ることができる。
【００６３】
眼科システム１０は、制御部１１が、２つ以上の異なる合焦状態で取得した測定パターン像Ｍｉを解析するとともに解析した測定パターン像Ｍｉが写る測定画像Ｉｍを記憶させる。そして、眼科システム１０は、制御部１１が、いずれの測定パターン像Ｍｉも解析できない場合、記憶させた全ての測定画像Ｉｍを表示部１５に表示させ、その中から選択された測定画像Ｉｍに写る測定パターン像Ｍｉに対して指定された座標に基づいて近似パターンＡｐを決定し、近似パターンＡｐに基づいて被検眼Ｅの屈折特性を求める補助工程を行う。このため、眼科システム１０は、制御部１１が、測定パターン像Ｍｉを解析できない場合、それに替わり指定された座標を認識して屈折特性を求めるので、制御部１１に屈折特性を求めさせることができる。このように、眼科システム１０は、制御部１１が認識できない測定パターン像Ｍｉであっても、人間の目では認識が可能である場合があることを利用することで、屈折特性を求めることのできる場面を増やすことができる。また、眼科システム１０は、測定パターン像Ｍｉを解析したときに記憶させた測定画像Ｉｍを用いて補助工程を行うため、解析できなかった後に改めて被検眼Ｅを測定することはないので、被検者への負担を低減できる。
【００６４】
眼科システム１０は、制御部１１が、測定画像Ｉｍとともにその測定画像Ｉｍを取得したときの測定部１２の合焦状態を記憶させ、測定パターン像Ｍｉの解析結果と、解析した前記測定パターン像が写る測定画像Ｉｍを取得したときの測定部１２の合焦状態と、に基づいて被検眼Ｅの屈折特性を求める。このため、眼科システム１０は、補助工程において、適切に被検眼Ｅの屈折特性を求めることができる。
【００６５】
眼科システム１０は、制御部１１が、測定パターン像Ｍｉを解析して被検眼Ｅの合焦位置を求める粗測定と、粗測定で求めた合焦位置に基づいて測定部１２の合焦状態を設定して得た測定パターン像Ｍｉを解析して被検眼Ｅの屈折特性を求める本測定と、を行い、粗測定および本測定で測定画像Ｉｍを記憶させる。このため、眼科システム１０は、より適切に被検眼Ｅの屈折特性を求めることを可能としつつ、粗測定や本測定で測定パターン像Ｍｉを解析できない場合でも補助工程により屈折特性を求めることのできる場面を増やすことができる。
【００６６】
眼科システム１０は、粗測定が、測定部１２において基準位置を合焦位置とする合焦状態で得た測定パターン像Ｍｉを解析し、そこで解析できない場合に測定部１２において基準位置とは異なる位置を合焦位置とする合焦状態で得た測定パターン像Ｍｉを解析して被検眼Ｅの合焦位置を求めるものとしている。そして、眼科システム１０は、制御部１１が、それぞれの測定で測定画像Ｉｍを記憶させる。このため、眼科システム１０は、粗測定において複数の合焦状態で得た測定パターン像Ｍｉを解析するので、様々な眼屈折力の被検眼Ｅに対して粗測定により合焦位置を求めることを可能としつつ、それぞれの測定で測定パターン像Ｍｉを解析できない場合でも補助工程により屈折特性を求めることのできる場面を増やすことができる。
【００６７】
眼科システム１０は、基準位置を０ディオプタ位置とし、基準位置とは異なる合焦位置を−側と＋側との所定値のディオプタ位置としている。このため、眼科システム１０は、正常な被検眼Ｅや少しの近視や遠視の被検眼Ｅの場合には基準位置で対応でき、強度の近視の被検眼Ｅの場合には−側の所定値のディオプタ位置で対応でき、強度の遠視の被検眼Ｅの場合には＋側の所定値のディオプタ位置で対応でき、粗測定により合焦位置を求めることのできる場面を増やすことができる。そして、眼科システム１０は、その他の理由等により測定パターン像Ｍｉを解析できない場合でも、補助工程により屈折特性を求めることのできる場面を増やすことができる。
【００６８】
眼科システム１０は、制御部１１が、補助工程により被検眼Ｅの屈折特性を求めると、その屈折特性が補助工程で求めたものであることの認識を可能とする。このため、眼科システム１０は、通常の工程で求めた屈折特性と補助工程で求めた屈折特性との識別を容易とするので、測定パターン像Ｍｉが解析できた場合と比較して、解析が出来ない測定パターン像Ｍｉを用いることにより補助工程で求めた眼屈折力の信頼性が低い場合であっても、信頼性の差が問題となることを防止できる。
【００６９】
眼科システム１０は、測定パターン像Ｍｉをリング状とし、補助工程では少なくとも２つの座標が指定されるものとしている。このため、眼科システム１０は、制御部１１が、測定パターン像Ｍｉを解析できない場合、それに替わり指定された少なくとも２つの座標を認識して屈折特性を求めるので、簡易な作業としつつ測定パターン像Ｍｉの解析を適切なものにできる。
【００７０】
眼科システム１０は、測定部１２が、眼底Ｅｆに測定光束を投影する測定投影系２５と、眼底Ｅｆで反射された測定光束を測定パターン像Ｍｉとして取得する測定受光系２６と、を有し、測定部１２の合焦状態を変化させる際に少なくとも測定受光系２６の光学素子を光軸上で移動せる。このため、眼科システム１０は、測定光束が投影された眼底Ｅｆに合焦位置を合わせて測定パターン像Ｍｉを取得できるので、解析をし易いものとして測定パターン像Ｍｉを取得できる。実施例１の眼科システム１０は、測定投影系２５の合焦位置も一緒に変化させているので、より解析をし易いものとして測定パターン像Ｍｉを取得できる。
【００７１】
したがって、本開示に係る眼科システムの一実施例としての眼科システム１０では、制御部１１による測定パターン像Ｍｉの解析を補助することができる。
【００７２】
以上、本開示の眼科システムを実施例１に基づき説明してきたが、具体的な構成については実施例１に限られるものではなく、特許請求の範囲の各請求項に係る発明の要旨を逸脱しない限り、設計の変更や追加等は許容される。
【００７３】
例えば、実施例１では、上記した構成の測定部１２を用いている。しかしながら、本開示の測定部は、被検眼Ｅの眼底Ｅｆに測定光束を投影し、眼底Ｅｆで反射された測定光束（その反射光束）を測定パターン像Ｍｉとして取得することで、被検眼Ｅの眼屈折力の測定を可能とするものであれば適用することができ、実施例１の構成に限定されない。加えて、測定部１２は、上記したように被検眼Ｅの眼屈折力を測定できるものであれば、他の眼情報を取得する機能を併せ持つものでもよく、実施例１の構成に限定されない。
【００７４】
また、実施例１では、測定部１２が片眼視の状態で被検眼Ｅの眼屈折力を測定するものとされている。しかしながら、本開示の眼科システムは、測定部１２が対を為して設けられて、両眼視の状態で被検眼Ｅの眼屈折力の測定を行うことができるものでもよく、実施例１の構成に限定されない。
【００７５】
さらに、実施例１では、取得する測定パターン像Ｍｉをリング状としている。しかしながら、眼底Ｅｆで反射された測定光束（その反射光束）が測定パターン像Ｍｉとして取得するものであって、その測定パターン像Ｍｉを解析することで被検眼Ｅの眼屈折力を求めることができるものであれば、測定パターン像Ｍｉの形状は矩形状や他の形状でもよく、実施例１の構成に限定されない。
【００７６】
実施例１では、３つの粗測定および本測定において固視投影系２２、測定投影系２５および測定受光系２６の合焦位置を変化させている。しかしながら、各粗測定および本測定において、少なくとも測定受光系２６の合焦位置を変化させて測定光束が投影された眼底Ｅｆに合焦させて測定パターン像Ｍｉを取得するものであればよく、実施例１の構成に限定されない。
【００７７】
実施例１では、補助工程において指定画面Ｓｄを用いているが、測定パターン像Ｍｉが表示された表示部１５上で少なくとも２つの座標を指定させるものであればよく、実施例１の構成に限定されない。
【００７８】
実施例１では、一体的に設けた制御部１１で補助工程を行うものとしている。しかしながら、補助工程は、制御部１１が解析できなかった測定パターン像Ｍｉが写る測定画像Ｉｍを用いて行うため、測定部１２等を制御する制御部１１とは別に設けた制御部で行うものとしてもよい。この別の制御部としては、例えば、制御部１１に接続された外部のパソコンやタブレットを用いることができる。この場合、別の制御部は、制御部１１や測定部１２等とともに、眼科システム１０を構成することとなる。換言すると、眼科システム１０は、制御部１１や測定部１２が別々に構成されていてもよく、上記したように制御部１１が測定部１２等を統括的に制御するものと補助工程を行うものとの２つで構成されていてもよく、実施例１の構成に限定されない。ここで、上記したように測定部１２等を制御する制御部１１とは別の制御部で補助工程を行うものとすると、外部の別の制御部が、従来の検眼装置から補助工程に必要な各測定画像Ｉｍおよび対応する測定部１２の合焦状態（そのデータ）を抽出するものとすれば、本開示の眼科システム１０を構成することができる。このため、従来の検眼装置を用いて本開示の眼科システム１０を構成することができるので、従来の検眼装置を有効利用しつつ、補助工程を行うことができる。
【００７９】
実施例１では、測定パターン像Ｍｉが表示された表示部１５上での少なくとも２つの座標の指定（指定画面Ｓｄの操作）や、複数の測定画像Ｉｍの中で測定パターン像Ｍｉ（その形状や大きさ）を最も認識し易いものの選択（選択画面Ｓｃの操作）を、検者が行っている。しかしながら、被検眼Ｅの関屈折力を測定する測定者であれば、被検者自身が行ってもよく、他の者が行ってもよく、実施例１の構成に限定されない。
【符号の説明】
【００８０】
１０  眼科システム      １１  制御部      １２  測定部      １５  表示部      ２５  測定投影系      ２６  測定受光系      Ｅ  被検眼      Ｅｆ  眼底      Ａｐ  近似パターン      Ｍｉ  測定パターン像      Ｉｍ  測定画像
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５Ａ】
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【図５Ｂ】
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