(57)【要約】【課題】ＭＡＬＤＩを利用した質量分析装置においてサンプルプレートを特定するための仕組みを、部品点数を増加させることなく提供することを課題とする。【解決手段】質量分析装置は、サンプルプレートの位置を調整する位置制御部と、サンプルプレート上の試料・マトリクス混合物の画像を取得する画像取得部と、試料・マトリクス混合物にレーザ光を照射するレーザ光照射部と、レーザ光照射部によるレーザ光の照射によって試料・マトリクス混合物から発生したイオンを検出する検出部と、画像取得部を利用して、サンプルプレートに表示されたサンプルプレート識別コードの画像を取得し、サンプルプレート識別コードの画像からサンプルプレートのプレート識別情報を特定する制御部とを備える。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
試料・マトリクス混合物が配置されるサンプルプレートの位置を調整する位置制御部と、
前記試料・マトリクス混合物の位置を確認するための、前記サンプルプレート上の前記試料・マトリクス混合物の画像を取得する画像取得部と、
前記サンプルプレート上の前記試料・マトリクス混合物にレーザ光を照射するレーザ光照射部と、
前記レーザ光照射部によるレーザ光の照射によって前記試料・マトリクス混合物から発生したイオンを検出する検出部と、
前記画像取得部を利用して、前記サンプルプレートに表示されたサンプルプレート識別コードの画像を取得し、前記サンプルプレート識別コードの画像から前記サンプルプレートのプレート識別情報を特定する制御部と、
を備えるＭＡＬＤＩを利用した質量分析装置。
【請求項２】
前記サンプルプレート識別コードは、二次元コードを含む、請求項１に記載のＭＡＬＤＩを利用した質量分析装置。
【請求項３】
前記画像取得部により前記サンプルプレート識別コードの画像を取得するとき、前記位置制御部を利用して、前記サンプルプレート識別コードの位置が調整される、請求項１または２に記載のＭＡＬＤＩを利用した質量分析装置。
【請求項４】
前記サンプルプレートには、複数の試料・マトリクス混合物が配置される複数のウェルが設けられており、
前記制御部は、前記画像取得部を利用して、各ウェルの周辺に表示され、各ウェルを識別するためのウェル識別コードの画像を取得し、前記ウェル識別コードの画像から各ウェルのウェル識別情報を特定する、請求項１〜３のいずれか一項に記載のＭＡＬＤＩを利用した質量分析装置。
【請求項５】
前記ウェル識別コードは、二次元コードを含む、請求項４に記載のＭＡＬＤＩを利用した質量分析装置。
【請求項６】
前記画像取得部により前記ウェル識別コードの画像を取得するとき、前記位置制御部を利用して、前記ウェル識別コードの位置が調整される、請求項４または５に記載のＭＡＬＤＩを利用した質量分析装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ＭＡＬＤＩを利用した質量分析装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
ＭＡＬＤＩ（Ｍａｔｒｉｘ  Ａｓｓｉｓｔｅｄ  Ｌａｓｅｒ  Ｄｅｓｏｒｐｔｉｏｎ／Ｉｏｎｉｚａｔｉｏｎ：マトリクス支援レーザ脱離イオン化法）を利用した質量分析装置がある。ＭＡＬＤＩを利用した質量分析装置では、多数のウェルが形成された金属製のサンプルプレートが用いられる。サンプルプレートのウェルに、試料・マトリクス混合物が滴下される。ウェルに滴下された試料・マトリクス混合物を乾燥させた後、サンプルプレートは質量分析装置にセットされる。その後、レーザ光が試料・マトリクス混合物に照射されることによって、試料がイオン化される。イオン化した試料は、質量分離された後、検出部において検出される。検出部において取得された試料の検出信号は、データ処理部に与えられる。データ処理部は、検出信号に基づいて試料のマススペクトル等の分析結果を作成する。
【０００３】
データ処理部において作成された分析結果をサンプルプレートと対応付けるため、下記特許文献１においては、サンプルプレートにバーコードが表示されている。特許文献１の質量分析装置においては、サンプルプレートを質量分析装置に挿入するための挿入口の上方にバーコードの読み取り装置が設けられている。サンプルプレートが質量分析装置にセットされるときに、読み取り装置がサンプルプレートに表示されたバーコードを読み込む。この質量分析装置は、読み取り装置が読み取ったバーコードからサンプルプレートを特定する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】国際公開ＷＯ２０１７／０８５８７６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
特許文献１に記載の質量分析装置においては、サンプルプレートに表示されたバーコードを読み取ることにより、サンプルレートを特定することができる。しかし、この質量分析装置は、バーコードを読み取るための専用の読み取り装置が必要であり、部品点数が増加する。また、部品点数の増加に伴うコストも増加している。
【０００６】
本発明の目的は、ＭＡＬＤＩを利用した質量分析装置において、サンプルプレートを特定するための仕組みを、部品点数を増加させることなく提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
（１）本発明の一局面に従うＭＡＬＤＩを利用した質量分析装置は、試料・マトリクス混合物が配置されるサンプルプレートの位置を調整する位置制御部と、試料・マトリクス混合物の位置を確認するための、サンプルプレート上の試料・マトリクス混合物の画像を取得する画像取得部と、サンプルプレート上の試料・マトリクス混合物にレーザ光を照射するレーザ光照射部と、レーザ光照射部によるレーザ光の照射によって試料・マトリクス混合物から発生したイオンを検出する検出部と、画像取得部を利用して、サンプルプレートに表示されたサンプルプレート識別コードの画像を取得し、サンプルプレート識別コードの画像からサンプルプレートのプレート識別情報を特定する制御部とを備える。
【０００８】
このＭＡＬＤＩを利用した質量分析装置は、試料・マトリクス混合物の位置を確認するための画像を取得する用途で備えられる画像取得部を利用して、サンプルプレート識別コードの画像を取得する。この質量分析装置は、サンプルプレート識別コードの画像からプレート識別情報を特定する。
【０００９】
このＭＡＬＤＩを利用した質量分析装置によれば、サンプルプレート識別コードの画像を取得するための新たな部品は必要とされない。質量分析装置においてサンプルプレートを特定するための仕組みを、部品点数を増加させることなく提供することができる。
【００１０】
（２）サンプルプレート識別コードは、二次元コードを含んでもよい。サンプルプレート識別コードとして二次元コードを利用するので、サンプルプレート識別コードに多くの情報を記録することができる。
【００１１】
（３）画像取得部によりサンプルプレート識別コードの画像を取得するとき、位置制御部を利用して、サンプルプレート識別コードの位置が調整されてもよい。
【００１２】
このＭＡＬＤＩを利用した質量分析装置によれば、サンプルプレート識別コードの画像を取得するための位置調整を行うために、分析処理で用いられる位置制御部が利用される。このため、位置を調整するための新たな部品は必要とされない。
【００１３】
（４）サンプルプレートには、複数の試料・マトリクス混合物が配置される複数のウェルが設けられており、制御部は、画像取得部を利用して、各ウェルの周辺に表示され、各ウェルを識別するためのウェル識別コードの画像を取得し、ウェル識別コードの画像から各ウェルのウェル識別情報を特定してもよい。
【００１４】
このＭＡＬＤＩを利用した質量分析装置によれば、ウェル識別コードの画像を取得するための新たな部品は必要とされない。質量分析装置においてウェルを特定するための仕組みを、部品点数を増加させることなく提供することができる。
【００１５】
（５）ウェル識別コードは、二次元コードを含んでもよい。ウェル識別コードとして二次元コードを利用するので、ウェル識別コードに多くの情報を記録することができる。
【００１６】
（６）画像取得部によりウェル識別コードの画像を取得するとき、位置制御部を利用して、ウェル識別コードの位置が調整されてもよい。
【００１７】
このＭＡＬＤＩを利用した質量分析装置によれば、ウェル識別コードの画像を取得するための位置調整を行うために、分析処理で用いられる位置制御部が利用される。このため、位置を調整するための新たな部品は必要とされない。
【発明の効果】
【００１８】
本発明によれば、ＭＡＬＤＩを利用した質量分析装置においてサンプルプレートを特定するための仕組みを、部品点数を増加させることなく提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１９】
【図１】図１は、第１の実施の形態に係る質量分析装置の全体図である。
【図２】図２は、第１の実施の形態に係るサンプルレートの平面図である。
【図３】図３は、第１の実施の形態に係るサンプルプレートの一部を拡大した平面図である。
【図４】図４は、分析テーブルＴの一例を示す図である。
【図５】図５は、分析結果が登録された分析テーブルＴの一例を示す図である。
【図６】図６は、第２の実施の形態に係るサンプルプレートの一部を拡大した平面図である。
【発明を実施するための形態】
【００２０】
［１］第１の実施の形態
次に、添付の図面を参照しながら本発明の実施の形態に係る質量分析装置の構成について説明する。
【００２１】
（１）質量分析装置の全体構成
図１は、第１の実施の形態に係る質量分析装置１０の全体図である。質量分析装置１０は、ＭＡＬＤＩ（Ｍａｔｒｉｘ  Ａｓｓｉｓｔｅｄ  Ｌａｓｅｒ  Ｄｅｓｏｒｐｔｉｏｎ／Ｉｏｎｉｚａｔｉｏｎ：マトリクス支援レーザ脱離イオン化法）を利用して、試料のイオン化を行う。図１において、位置関係を明確にするために互いに直交するＸ方向、Ｙ方向およびＺ方向を示す矢印が付されている。Ｘ方向およびＹ方向は水平面内で直交し、Ｚ方向は上下方向に相当する。
【００２２】
図１に示すように、質量分析装置１０は、試料のイオン化が行われる試料チャンバ２０、イオンの分離・検出が行われる分析チャンバ３０および制御部５０等を備える。試料チャンバ２０は、ＭＡＬＤＩイオン源を構成する試料・マトリクス混合物が配置されたサンプルプレート１００を収容する。試料チャンバ２０は、筐体２１によって覆われており、筐体２１の側部には、開閉可能な扉２２が設けられている。オペレータは、扉２２を開閉することで、サンプルプレート１００の試料チャンバ２０内への挿入および取り出し作業を行う。分析チャンバ３０は、筐体３１によって覆われている。分析チャンバ３０において、試料・マトリクス混合物から発生したイオンの分離・検出が行われる。試料チャンバ２０および分析チャンバ３０は、隔壁３２によって区分されている。
【００２３】
試料チャンバ２０内には、サンプルプレート１００を載置するための平板状のサンプルプレートホルダ２３が設けられている。サンプルプレートホルダ２３は、ＸＹステージ２４に支持されている。ＸＹステージ２４を駆動することによって、サンプルプレートホルダ２３は、Ｘ方向およびＹ方向に移動する。ＸＹステージ２４は、制御部５０によって制御される。このような構成により、サンプルプレートホルダ２３に載置されたサンプルプレート１００を、Ｘ方向およびＹ方向に移動させることが可能である。
【００２４】
試料チャンバ２０の側部には、ポンプ２５が設けられている。ポンプ２５を駆動させることにより、試料チャンバ２０内を真空にすることができる。ポンプ２５は制御部５０によって制御される。試料チャンバ２０内にセットされたサンプルプレート１００のウェル１１０（図２参照）に配置されている試料・マトリクス混合物は、真空下で試料チャンバ２０内においてイオン化する。
【００２５】
隔壁３２には、試料・マトリクス混合物から発生したイオンを引き出して加速するためのエキストラクタ電極（引き出し電極）３０１が設けられている。エキストラクタ電極３０１の中央には、開口３０２が設けられている。試料チャンバ２０と分析チャンバ３０とは、この開口３０２を介して連通している。試料・マトリクス混合物から発生したイオンは、開口３０２を介して分析チャンバ３０内に導入される。
【００２６】
分析チャンバ３０には、加速電極３１１、フライトチューブ３１２および検出部３１３が収容されている。分析チャンバ３０に導入されたイオンは、加速電極３１１によって加速された上でフライトチューブ３１２に導入される。フライトチューブ３１２に導入されたイオンは、質量電荷比に基づいて分離されて検出部３１３において検出される。エキストラクタ電極３０１、加速電極３１１、フライトチューブ３１２および検出部３１３は、制御部５０によって制御される。
【００２７】
分析チャンバ３０の側部には、ポンプ３５が設けられている。ポンプ３５を駆動させることにより、分析チャンバ３０内を真空にすることができる。ポンプ３５は、制御部５０によって制御される。分析チャンバ３０に導入されたイオンは真空下で質量分離された上で検出部３１３において検出される。
【００２８】
分析チャンバ３０の外部には、窒素レーザ３２１が設けられている。窒素レーザ３２１は、制御部５０によって制御される。窒素レーザ３２１から照射されたレーザ光は、レンズ３２２および分析チャンバ３０の筐体３１に設けられた窓部３２３を介して分析チャンバ３０に進入する。分析チャンバ３０に進入したレーザ光は、ミラー３２４で反射して、開口３０２に導かれる。開口３０２を通過したレーザ光は、試料チャンバ２０内においてＭＡＬＤＩイオン源を構成する試料・マトリクス混合物に照射される。
【００２９】
分析チャンバ３０の外部には、カメラ３３１が設けられている。カメラ３３１は、例えばＣＣＤ（Ｃｈａｒｇｅ  Ｃｏｕｐｌｅｄ  Ｄｅｖｉｃｅ）等のイメージセンサを備える。カメラ３３１は、制御部５０によって制御される。ＭＡＬＤＩイオン源を構成する試料・マトリクス混合物の像は、ミラー３３４で反射して、筐体３１に設けられた窓部３３３を介してカメラ３３１に入射する。これにより、カメラ３３１は、試料・マトリクス混合物の画像を取得する。なお、カメラ３３１が試料・マトリクス混合物の画像を取得するために、カメラ３３１の撮影範囲に白色光を照射する光源（図示省略）が設けられている。
【００３０】
カメラ３３１で撮影された画像は、制御部５０に接続された表示部５０１に表示される。表示部５０１は、例えば液晶モニタである。オペレータは、表示部５０１に表示された試料・マトリクス混合物の画像を観察し、試料・マトリクス混合物がレーザ光の照射位置に正しく配置されているか否かを確認する。オペレータは、表示部５０１を参照しながら、制御部５０に接続された入力部５０２を操作し、サンプルプレート１００の移動指示を行う。この操作に応答して、制御部５０は、ＸＹステージ２４を制御し、サンプルプレート１００をＸ方向およびＹ方向に移動させる。オペレータは、試料・マトリクス混合物がレーザ光の照射位置に正しく配置されたことを確認すると、サンプルプレート１００の移動操作を完了する。そして、オペレータは、入力部５０２を操作し、分析処理の開始指示を行う。この操作に応答して、制御部５０は、窒素レーザ３２１を制御して、試料・マトリクス混合物にレーザ光を照射させる。なお、制御部５０は、オペレータの操作を介することなく、試料・マトリクス混合物の画像から、サンプルプレート１００の位置を自動で調整してもよい。
【００３１】
レーザ光が試料・マトリクス混合物に照射されると、マトリクスが急速に加熱される。これにより、マトリクスが試料とともに気化する。気化した試料はイオン化され、開口３０２を解して分析チャンバ３０に導入される。分析チャンバ３０に導入されたイオンは、質量分離された後、検出部３１３において検出される。検出部３１３において検出されたイオンの検出信号は、制御部５０においてＡ／Ｄ変換される。Ａ／Ｄ変換された検出信号は、データ処理装置６０において処理されて分析結果が作成される。データ処理装置６０は、例えば、分析結果としてマススペクトルを作成する。
【００３２】
（２）サンプルプレートの構成
次に、図２および図３を参照しながら、サンプルプレート１００の構成について説明する。図２は、サンプルプレート１００の平面図である。サンプルプレート１００は、金属製の平板状のプレートであり、その上面には、複数のウェル１１０が設けられている。ウェル１１０は、サンプルプレート１００の上面から下方に向けて窪んだ凹部であり、試料・マトリクス混合物が滴下される。図２の例では、縦１２行×横４列の４８個のウェル１１０が配列されている。
【００３３】
また、サンプルプレート１００の上面には、サンプルプレート識別コード１２０が印字されている。図３は、サンプルプレート識別コード１２０が印字されている部分を拡大した図である。本実施の形態において、サンプルプレート識別コード１２０として、二次元コードであるＱＲコード（登録商標）が利用される。ただし、サンプルプレート識別コード１２０として、二次元コード以外にもバーコードが利用されてもよい。本実施の形態においては、サンプルプレート識別コード１２０として二次元コードが利用されるので、サンプルプレート１００の上面の狭いエリアにサンプルプレート識別コード１２０を表示させることができる。また、サンプルプレート識別コード１２０として二次元コードが利用されるので、サンプルプレート識別コード１２０に多くの情報を記録することが可能である。
【００３４】
（３）サンプルプレートと分析結果との対応付け
オペレータは、サンプルプレート１００の各ウェル１１０に試料・マトリクス混合物を滴下する作業の前あるいは滴下する作業の後に、サンプルプレート１００の上面のサンプルプレート識別コード１２０の読み取りを行う。読み取り作業には、データ処理装置６０に有線あるいは無線で接続された撮影装置（図示省略）が用いられる。データ処理装置６０は読み取ったサンプルプレート識別コード１２０の画像から、サンプルプレート１００のプレート識別情報を取得する。オペレータは、データ処理装置６０において、サンプルプレート１００の各ウェル１１０に収容された試料の情報を入力する。具体的には、サンプルプレート１００のプレート識別情報に対応付けて、各ウェル１１０の位置情報および各ウェル１１０に収容された試料の情報を入力する。これにより、データ処理装置６０は、サンプルプレート１００についての分析テーブルＴを生成する。データ処理装置６０は、分析テーブルＴを、記憶装置６１に記憶する。
【００３５】
図４は、分析テーブルＴの一例を示す図である。分析テーブルＴは、「プレート識別情報」、「ウェル位置情報」、「サンプル情報」および「分析結果」のフィールドを有する。オペレータが、データ処理装置６０を用いてサンプルプレート識別コード１２０の画像を読み取ることで、「プレート識別情報」フィールドにプレート識別情報が登録される。さらに、オペレータが、データ処理装置６０を用いて、各ウェルの位置情報および各ウェルに収容された試料の情報を入力することにより、「ウェル位置情報」および「サンプル情報」が分析テーブルＴに登録される。
【００３６】
次に、オペレータは、プレート識別情報の読み取り作業および試料の情報の入力を終えたサンプルプレート１００を試料チャンバ２０にセットする。具体的には、扉２２を開いてサンプルプレート１００を試料チャンバ２０内の所定位置にセットし、入力部５０２を操作して、初期設定の開始指示を行う。
【００３７】
制御部５０は、オペレータによる初期設定の開始指示に応答して、ＸＹステージ２４を駆動して、サンプルプレート１００を移動させる。制御部５０は、サンプルプレート１００のサンプルプレート識別コード１２０の読み取り作業を行うために、サンプルプレート識別コード１２０の位置をカメラ３３１の撮影範囲内に収めるために、ＸＹステージ２４を駆動する。制御部５０には、予めサンプルプレート１００の縦横のサイズ、サンプルプレート識別コード１２０の配置位置および大きさの情報などが登録されている。制御部５０は、サンプルプレート識別コード１２０をカメラ３３１の撮影範囲内に移動させた後、カメラ３３１を駆動し、サンプルプレート識別コード１２０の画像を取得する。
【００３８】
制御部５０は、取得したサンプルプレート識別コード１２０の画像からサンプルプレート１００のプレート識別情報を取得する。これにより、制御部５０は、試料チャンバ２０内に収容され、分析処理が開始される直前のサンプルプレート１００のプレート識別情報を取得することができる。
【００３９】
次に、制御部５０は、ＸＹステージ２４を駆動し、最初の分析対象である試料・マトリクス混合物が収容されたウェル１１０を、レーザ光の照射位置に移動させる。このとき、カメラ３３１で撮影された試料・マトリクス混合物の画像が表示部５０１に表示される。オペレータは、入力部５０２を操作して、サンプルプレート１００の位置を調整し、分析対象である試料・マトリクス混合物を正しい位置に移動させる。試料・マトリクス混合物が正しい位置に調整された後、オペレータは分析処理の開始指示を行う。
【００４０】
オペレータによる分析処理の開始指示に応答して、制御部５０は、窒素レーザ３２１を駆動し、分析対象の試料・マトリクス混合物にレーザ光を照射させる。試料・マトリクス混合物から発生したイオンは、質量分離された後、検出部３１３において検出される。制御部５０は、ＸＹステージ２４の駆動情報から、分析対象である試料・マトリクス混合物が収容されたウェル１１０の位置を特定することができる。制御部５０は、検出されたイオンの検出信号と合わせてプレート識別情報およびウェル１１０の位置情報をデータ処理装置６０に与える。データ処理装置６０は、検出信号に基づいて分析結果を作成する。データ処理装置６０は、作成された分析結果を分析テーブルＴに登録する。データ処理装置６０は、特定されたプレート識別情報およびウェル１１０の位置情報に対応付けて分析結果を登録する。図５は、分析結果の情報が登録された分析テーブルＴを示す。図４に比べて図５では、分析テーブルＴに分析結果の情報が追加されている。
【００４１】
その後、制御部５０は、次の分析対象の試料・マトリクス混合物に対する分析処理を実行するために、ＸＹステージ２４を駆動し、サンプルプレート１００を移動させる。オペレータは、表示部５０１を参照しながら、サンプルプレート１００の位置を調整する。このようにして、サンプルプレート１００に配置された全ての試料・マトリクス混合物に対して分析処理が実行され、分析テーブルＴが作成される。
【００４２】
以上説明したように、本実施の形態の質量分析装置１０は、ＭＡＬＤＩイオン源を構成する試料・マトリクス混合物の位置を確認するための画像を取得する用途で備えられるカメラ３３１を利用して、サンプルプレート識別コード１２０の画像を取得する。質量分析装置１０は、サンプルプレート識別コード１２０の画像からプレート識別情報を特定し、検出されたイオンの分析結果とプレート識別情報とを対応付ける。
【００４３】
本実施の形態の質量分析装置１０によれば、サンプルプレート識別コード１２０の画像を取得するための新たな部品は必要とされない。質量分析装置１０においてサンプルプレート１００を特定するための仕組みを、部品点数を増加させることなく提供することができる。
【００４４】
また、本実施の形態の質量分析装置１０は、サンプルプレート識別コード１２０の画像を取得するとき、ＸＹステージ２４を利用して、サンプルプレート識別コード１２０の位置が調整される。サンプルプレート識別コード１２０の画像を取得するための位置調整に、分析処理で用いられるＸＹステージ２４が利用される。このため、位置を調整するための新たな部品は必要とされない。
【００４５】
［２］第２の実施の形態
次に、本発明の第２の実施の形態について説明する。第２の実施の形態の質量分析装置１０の構成は、図１で示した第１の実施の形態と同様であるので、説明を省略する。
【００４６】
（１）サンプルプレートの構成
第２の実施の形態のサンプルプレート１００の全体の構成は、図２で示した第１の実施の形態と同様である。第２の実施の形態のサンプルプレート１００の上面には、第１の実施の形態と同様、図３に示すように、サンプルプレート識別コード１２０が表示されている。さらに、第２の実施の形態のサンプルプレート１００の各ウェル１１０の近傍位置には、図６に示すように、ウェル識別コード１２１が表示されている。
【００４７】
本実施の形態において、ウェル識別コード１２１として、二次元コードであるＱＲコード（登録商標）が利用される。ただし、ウェル識別コード１２１として、二次元コード以外にもバーコードが利用されてもよい。本実施の形態においては、ウェル識別コード１２１として二次元コードが利用されるので、サンプルプレート１００の上面の狭いエリアに多数のウェル識別コード１２１を表示させることができる。また、ウェル識別コード１２１として二次元コードが利用されるので、ウェル識別コード１２１に多くの情報を記録することが可能である。
【００４８】
（２）ウェルと分析結果との対応付け
オペレータは、第１の実施の形態と同様、サンプルプレート１００の各ウェル１１０に試料・マトリクス混合物を滴下する作業の前あるいは滴下する作業の後に、サンプルプレート１００の上面のサンプルプレート識別コード１２０の読み取りを行う。第１の実施の形態で説明した図４と同様、記憶装置６１には、サンプルプレート１００についての分析テーブルＴが記憶される。続いてオペレータは、サンプルプレート１００を試料チャンバ２０内の所定位置にセットし、入力部５０２を操作して、初期設定の開始指示を行う。
【００４９】
第一の実施の形態と同様、制御部５０は、カメラ３３１を駆動し、サンプルプレート識別コード１２０の画像を取得する。制御部５０は、取得したサンプルプレート識別コード１２０の画像からサンプルプレート１００のプレート識別情報を取得する。
【００５０】
次に、制御部５０は、ＸＹステージ２４を駆動し、最初の分析対象である試料・マトリクス混合物が収容されたウェル１１０の近傍に表示されたウェル識別コード１２１をカメラ３３１の撮影範囲内に移動させる。制御部５０は、ウェル識別コード１２１をカメラ３３１の撮影範囲内に移動させた後、カメラ３３１を駆動し、ウェル識別コード１２１の画像を取得する。制御部５０は、取得したウェル識別コード１２１の画像から分析対象である試料・マトリクス混合物が収容されたウェル１１０のウェル識別情報を取得する。
【００５１】
次に、制御部５０は、ＸＹステージ２４を駆動し、最初の分析対象である試料・マトリクス混合物が収容されたウェル１１０を、レーザ光の照射位置に移動させる。オペレータは、入力部５０２を操作して、サンプルプレート１００の位置を調整し、分析対象である試料・マトリクス混合物を正しい位置に移動させる。
【００５２】
オペレータによる分析処理の開始指示に応答して、制御部５０は、窒素レーザ３２１を駆動し、分析対象の試料・マトリクス混合物にレーザ光を照射させる。試料・マトリクス混合物から発生したイオンは、質量分離された後、検出部３１３において検出される。
【００５３】
制御部５０は、検出されたイオンの検出信号と合わせてプレート識別情報およびウェル識別情報をデータ処理装置６０に与える。データ処理装置６０は、検出信号に基づいて分析結果を作成する。データ処理装置６０は、作成された分析結果を分析テーブルＴに登録する。データ処理装置６０は、プレート識別情報およびウェル識別情報に基づいて、分析テーブルＴに登録されたレコードの中から分析結果が得られた試料のレコードを特定する。つまり、ウェル識別情報には、サンプルプレート１００におけるウェル１１０の位置情報が記録されているため、データ処理装置６０は、分析テーブルＴに登録されたレコードの中で分析結果が得られた試料に対応するレコードを特定することができる。
【００５４】
以上説明したように、本実施の形態の質量分析装置１０は、ＭＡＬＤＩイオン源を構成する試料・マトリクス混合物の位置を確認するための画像を取得する用途で備えられるカメラ３３１を利用して、ウェル識別コード１２１の画像を取得する。質量分析装置１０は、ウェル識別コード１２１の画像からウェル識別情報を特定し、検出されたイオンの分析結果とウェル識別情報とを対応付ける。
【００５５】
本実施の形態の質量分析装置１０によれば、ウェル識別コード１２１の画像を取得するための新たな部品は必要とされない。質量分析装置１０においてウェル１１０を特定するための仕組みを、部品点数を増加させることなく提供することができる。
【００５６】
また、本実施の形態の質量分析装置１０は、ウェル識別コード１２１の画像を取得するとき、ＸＹステージ２４を利用して、ウェル識別コード１２１の位置が調整される。ウェル識別コード１２１の画像を取得するための位置調整に、分析処理で用いられるＸＹステージ２４が利用される。このため、位置を調整するための新たな部品は必要とされない。
【００５７】
[３]請求項の各構成要素と実施の形態の各要素との対応
以下、請求項の各構成要素と実施の形態の各要素との対応の例について説明するが、本発明は下記の例に限定されない。上記の実施の形態では、ＸＹステージ２４が位置制御部の例であり、カメラ３３１が画像取得部の例であり、窒素レーザ３２１がレーザ光照射部の例である。
【００５８】
請求項の各構成要素として、請求項に記載されている構成または機能を有する種々の要素を用いることもできる。
【００５９】
[４]他の実施の形態
サンプルプレート識別コード１２０は、サンプルプレート１００のプレート表面に印刷されてもよい。あるいは、サンプルプレート１００にサンプルプレート識別コード１２０が印字されたシールが貼付されてもよい。ウェル識別コード１２１は、サンプルプレート１００のプレート表面に印刷されてもよい。あるいは、サンプルプレート１００にウェル識別コード１２１が印字されたシールが貼付されてもよい。
【００６０】
上記実施の形態の形態では、ウェル識別コード１２１の画像を取得する工程および試料・マトリクス混合物の画像を取得する工程は、別の工程として行われた。カメラ３３１の画角が広く、ウェル識別コード１２１および試料・マトリクス混合物を撮影範囲に含めることができる場合には、１回の撮影工程で両画像を取得するようにしてもよい。
【００６１】
なお、本発明の具体的な構成は、前述の実施形態に限られるものではなく、発明の要旨を逸脱しない範囲で種々の変更および修正が可能である。
【符号の説明】
【００６２】
１０…質量分析装置、２０…試料チャンバ、２３…サンプルプレートホルダ、２４…ＸＹステージ、３０…分析チャンバ、５０…制御部、５１…データ処理部、６０…記憶装置、１００…サンプルプレート、１１０…ウェル、１２０…サンプルプレート識別コード、１２１…ウェル識別コード、３２１…窒素レーザ、３３１…カメラ、Ｔ…分析テーブル
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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