(57)【要約】【課題】画面を消灯することなく、画面における外光が当たった位置を検出することができる技術を提供することを目的とする。【解決手段】ディスプレイ装置は、位置指示装置８で指し示すために外光８ａが当てられる画面２と、画面２に画像を表示するために画面２に配列された複数のＴＦＴ５３と、複数のＴＦＴ５３を駆動するドライバ３と、各ＴＦＴ５３の出力を検出する電圧検出回路４と、電圧検出回路４により検出された、ドライバ３が駆動している通常状態におけるＴＦＴ５３の出力と画面２に当たった外光８ａにより変化したＴＦＴ５３の出力に基づいて画面２に当たった外光８ａを検知し、画面２における外光８ａが当たった位置を抽出する電圧特異点抽出器６とを備えている。【選択図】図３
2020038437.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
位置指示装置で指し示すために外光が当てられる画面と、
前記画面に画像を表示するために前記画面に配列された複数の半導体素子と、
複数の前記半導体素子を駆動するドライバと、
各前記半導体素子の出力を検出する検出回路と、
前記検出回路により検出された、前記ドライバが駆動している通常状態における前記半導体素子の出力と前記画面に当たった前記外光により変化した前記半導体素子の出力に基づいて前記画面に当たった前記外光を検知し、前記画面における前記外光が当たった位置を抽出する特異点抽出器と、
を備える、ディスプレイ装置。
【請求項２】
前記検出回路は、前記半導体素子の出力として、前記ドライバが駆動している通常状態における前記半導体素子の電圧降下の値と、前記外光によって前記半導体素子に誘起される電圧の値とを検出する、請求項１記載のディスプレイ装置。
【請求項３】
前記検出回路は、前記半導体素子の出力として、前記ドライバが駆動している通常状態における前記半導体素子を流れる電流の値と、前記外光によって前記半導体素子に誘導される電流の値とを検出する、請求項１記載のディスプレイ装置。
【請求項４】
前記特異点抽出器は、前記画面に当たった前記外光を検知し、前記外光の検知時間に基づいて前記位置指示装置で指し示したい前記画面上の位置を抽出する、請求項１記載のディスプレイ装置。
【請求項５】
前記特異点抽出器により抽出された前記画面の前記位置の情報は、当該位置に前記外光の画像を表示させるために、前記ドライバへ出力される、請求項１から請求項４のいずれか１項に記載のディスプレイ装置。
【請求項６】
請求項１から請求項４のいずれか１項に記載のディスプレイ装置と、
前記ディスプレイ装置に接続され、前記特異点抽出器により抽出された前記画面の前記位置に、前記外光の画像を表示させるコンピュータと、
を備える、ディスプレイシステム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ディスプレイ装置の画面を構成する各画素において、光強度をセンシングできる機能を有するディスプレイ装置およびディスプレイシステムに関するものである。
【背景技術】
【０００２】
近年、ＬＣＤ（liquid crystal display）またはＬＥＤ（Light Emitting Diode）等を備えるテレビ等の電気的なディスプレイ装置は大型化が進み、会議室等ではスクリーンへ投影するプロジェクターに置き代わりプレゼンテーション等に利用されている。しかし、ディスプレイ装置の画面は見易さおよび綺麗さを高めるため反射光を防ぐ構造が採用され、画面に外光が当たると、外光が吸収される。その結果、会議中にレーザーポインタ等の位置指示装置で画面指示を行いたい場合、反射光を利用した位置指示装置からの外光が画面に吸収されるため、聴衆者等が離れた場所から画面指示を行うことが困難である。
【０００３】
例えば、特許文献１には、光を発するために画面を構成するＬＥＤを少しの間オフにし、位置指示装置からの外光によってＬＥＤに誘導される電圧を測定し、画面に当たった位置指示装置からの外光の位置を検出する仕組みが開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特表２０１３−５０１２５８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、特許文献１に記載の技術では、外光を検出するために、画面を構成しているＬＥＤを少しの間オフにしており、画面を消灯しなければならないという問題がある。
【０００６】
そこで、本発明は、画面を消灯することなく、画面における外光が当たった位置を検出することができる技術を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明に係るディスプレイ装置は、位置指示装置で指し示すために外光が当てられる画面と、前記画面に画像を表示するために前記画面に配列された複数の半導体素子と、複数の前記半導体素子を駆動するドライバと、各前記半導体素子の出力を検出する検出回路と、前記検出回路により検出された、前記ドライバが駆動している通常状態における前記半導体素子の出力と前記画面に当たった前記外光により変化した前記半導体素子の出力に基づいて前記画面に当たった前記外光を検知し、前記画面における前記外光が当たった位置を抽出する特異点抽出器とを備えるものである。
【発明の効果】
【０００８】
本発明によれば、特異点抽出器は、検出回路により検出された、ドライバが駆動している通常状態における半導体素子の出力と画面に当たった外光により変化した半導体素子の出力に基づいて画面に当たった外光を検知し、画面における外光が当たった位置を抽出する。
【０００９】
したがって、画面に画像を表示した状態で、画面における外光が当たった位置を検出することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】実施の形態１に係るディスプレイシステムの構成図である。
【図２】実施の形態１に係るディスプレイシステムが備える画面とその周辺の構成図である。
【図３】実施の形態１に係るディスプレイシステムが備える電圧特異点抽出器のブロック図とその周辺の構成図である。
【図４】実施の形態１に係るディスプレイシステムが備える比較器の動作例を示す図である。
【図５】実施の形態２に係るディスプレイシステムが備える比較器の動作例を示す図である。
【図６】実施の形態３において位置指示装置で画面を指示している状態を示す図である。
【図７】実施の形態３に係るディスプレイシステムが備える比較器の動作例を示す図である。
【図８】実施の形態４に係るディスプレイシステムの構成図である。
【図９】実施の形態４に係るディスプレイシステムが備える画面とその周辺の構成図である。
【図１０】実施の形態４に係るディスプレイシステムが備える電流特異点抽出器のブロック図とその周辺の構成図である。
【発明を実施するための形態】
【００１１】
＜実施の形態１＞
本発明の実施の形態１について、図面を用いて以下に説明する。図１は、実施の形態１に係るディスプレイシステム１００の構成図である。図２は、ディスプレイシステム１００が備える画面２とその周辺の構成図である。
【００１２】
図１に示すように、ディスプレイシステム１００は、ディスプレイ装置１とＰＣ（Personal Computer）５０とを備えている。ディスプレイ装置１は、薄膜トランジスタ（Thin Film Transistor：ＴＦＴ）をスイッチングデバイスとして用いたアクティブマトリクス型の液晶表示装置、またはＬＥＤを利用した発光表示装置である。ここでは、アクティブマトリクス型の液晶表示装置としてディスプレイ装置１を説明する。
【００１３】
図１と図２に示すように、ディスプレイ装置１は、画面２、複数のＴＦＴ５３、ドライバ３、電圧検出回路４、Ａ／Ｄコンバータ５、電圧特異点抽出器６、および出力ポート７を備えている。なお、ＴＦＴ５３が半導体素子に相当する。
【００１４】
画面２には、画像を表示するために複数のＴＦＴ５３が配列されており、レーザーポインタ等の位置指示装置８で指し示す際に外光８ａが当てられる。画面２はＴＦＴ基板（図示省略）を備えており、ＴＦＴ基板にはドライバ３が設けられている。ＴＦＴ基板上には、複数の走査線５１および複数の信号線５２がマトリクス状に配設されており、表示領域における走査線５１と信号線５２との交差部には画素が形成されている。なお、図２では、１つの走査線５１、２つの信号線５２、および２つのＴＦＴ５３を示している。
【００１５】
画素は、複数の走査線５１および複数の信号線５２におけるマトリクスの格子点に配列されたＴＦＴ５３、画素電極（図示省略）、共通電極（図示省略）、液晶（図示省略）、および保持容量（図示省略）を備えている。
【００１６】
表示は、表示領域においてマトリクス状に設けられた画素の液晶に対して電圧を印加することにより実現される。ドライバ３は、走査線５１が１ラインずつ順次にオン状態となるように電圧を印加する。また、ドライバ３は、走査線５１に対する電圧の印加に応じて、任意の画素が予め定められた表示を行うように信号線５２に対して電圧を印加する。すなわち、各画素のＴＦＴ５３がオン状態となっているときに信号線５２から画素電極に電荷が注入されると、画素電極と共通電極との間に生じた電圧に応じて液晶の透過率が変化し、このときにバックライトからの光を液晶に透過させることにより所望の画像が表示される。
【００１７】
次に、電圧検出回路４による電圧検出について説明する。走査線５１および信号線５２は電圧検出回路４に接続され、またＴＦＴ５３のソースは電圧検出回路４と共通接地されている。走査線５１が１ラインずつ順次にオン状態となり、電圧検出回路４は、オン状態となっているＴＦＴ５３のドレイン−ソース間、すなわち、信号線５２と共通接地の間の電圧降下の電圧値を検出する。
【００１８】
具体的には、電圧検出回路４は、信号線５２と共通接地により、ドライバ３が駆動している通常状態におけるＴＦＴ５３の出力、すなわち、通常状態におけるＴＦＴ５３の電圧降下の値を検出することができる。さらに、電圧検出回路４は、走査線５１と信号線５２により、電圧降下の値を検出したＴＦＴ５３の位置を検出することができる。これと同様に、電圧検出回路４は、信号線５２と共通接地により、オン状態となっているＴＦＴ５３について外光８ａにより変化した出力、すなわち、外光８ａによって誘起される電圧の値を検出することができる。さらに、電圧検出回路４は、走査線５１と信号線５２により、誘起される電圧の値を検出したＴＦＴ５３の位置を検出することができる。
【００１９】
電圧検出回路４で検出された電圧値は、Ａ／Ｄコンバータ５でデジタル信号化した後、電圧特異点抽出器６に送られる。電圧特異点抽出器６は、位置指示装置８の外光８ａによってＴＦＴ５３の電圧値が変化した画面２の電圧特異点の抽出を行う。
【００２０】
ここで、電圧特異点とは、画面２が画像を表示するためにＴＦＴ５３を駆動している通常状態の電圧の電圧値とは値が異なる画面２上の座標位置のことである。電圧特異点抽出器６により抽出された電圧特異点の座標位置は、出力ポート７を介してＰＣ５０へ出力される。
【００２１】
図３は、電圧特異点抽出器６のブロック図とその周辺の構成図である。図３に示すように、電圧特異点抽出器６は、入力部９、メモリ１０、比較器１１、座標位置信号生成部１２、出力部１３、およびクロック生成部１４を備えている。
【００２２】
画面２に配列されている各ＴＦＴ５３の電圧値は、電圧検出回路４を通り、Ａ／Ｄコンバータ５でデジタル信号化した後に、電圧特異点抽出器６内の入力部９に入力される。メモリ１０には、外光８ａが当たっていない通常状態における画面２のＴＦＴ５３の電圧値と外光８ａの電圧波形の信号が予め検出され、格納されている。ここで、プレゼンテーション等で使用するスライド等を表示する場合、１つの画像の表示時間が長くなることに加えて、画面２には背景色である同じ色の画像が表示される面積が広くなるため、通常状態における画面２の各ＴＦＴ５３の電圧値として同じ値が使用される。
【００２３】
入力部９に入力されたデジタル信号は、比較器１１によりメモリ１０に格納された信号と比較される。比較器１１での比較により、画面２の通常状態における駆動電圧と異なる電圧で駆動しているＴＦＴ５３が検出される。座標位置信号生成部１２は、異なる電圧で駆動しているＴＦＴ５３の位置を示す座標位置信号を生成する。
【００２４】
座標位置信号生成部１２により生成された座標位置信号は、出力部１３からディスプレイ装置１の出力ポート７に出力される。また、入力部９、メモリ１０、比較器１１、座標位置信号生成部１２、および出力部１３にはクロック生成部１４が接続されており、各ブロックを動作させるためにクロックが入力される。
【００２５】
比較器１１における電圧比較では、画面２のリフレッシュレートを活用する。図４は、実施の形態１における比較器１１の動作例を示す図である。
【００２６】
図４に示すように、画面２には、画像のちらつきを防止するため、１秒間に画像を書き換える回数であるリフレッシュレートが設定されている。つまり、（１／リフレッシュレート）秒毎に画像が書き換えられる。（１／リフレッシュレート）秒の間は、画像を書き換えずに一定の画像が表示されるため、画面２に配列されているＴＦＴ５３の通常状態における電圧値１５は、（１／リフレッシュレート）秒毎にランダムに変化するが、（１／リフレッシュレート）秒の間においては、電圧値が変化せず一定となる。
【００２７】
一方、画面２に配列されているＴＦＴ５３に外光８ａが当たった場合の電圧値１６は、外光８ａが当たり始めた時刻Ｔ１において、ＴＦＴ５３には外光８ａで誘起される起電力が発生するため、電圧上昇１７が起こる。時刻Ｔ１から時刻Ｔ２までの画面２に外光８ａが当たっている時間を時間Ａと定義すると、時間Ａの間は、外光８ａに起因する起電力分が通常状態の電圧値に加わる。外光８ａが当たり終わった時刻Ｔ２において、起電力が誘起されなくなるため、電圧降下１８が生じて通常状態の電圧値に復帰する。通常状態における電圧値１５をメモリ１０に格納しておき、外光８ａが当たった場合の電圧値１６と比較することにより、比較器１１は電圧差分２０を得ることができる。
【００２８】
上記のように、画面２の各ＴＦＴ５３において、（１／リフレッシュレート）秒内における電圧上昇１７と電圧降下１８を検知することで外光８ａが当たっている時間を検出することができ、加えて電圧差分２０の大きさにより、外光強度を検出することが可能である。加えて、上記の検出が画面２に配列されている各ＴＦＴ５３で行われるため、外光８ａが画面２に当たっている位置を検出することが可能となる。その結果、画面２を消灯することなく、画面２に当たっている外光８ａを検知し、外光８ａが画面２に当たっている座標位置を検出することが可能となる。
【００２９】
次に、ＰＣ５０について説明する。図１に示すように、ＰＣ５０はディスプレイ装置１に接続されている。ＰＣ５０は、プレゼンテーション等で使用するスライド等の画像をディスプレイ装置１のドライバ３へ出力する。また、電圧特異点抽出器６により抽出された電圧特異点の座標位置は、出力ポート７を介してＰＣ５０へ出力される。ＰＣ５０は、表示加工用コンピュータであり、電圧特異点抽出器６により抽出された座標位置に基づいて、表示加工を行う。具体的には、ＰＣ５０は、スライド等の画像に加えて、電圧特異点抽出器６により抽出された座標位置に基づいて、画面２の当該座標位置に外光８ａの画像を表示させる。
【００３０】
以上のように、実施の形態１に係るディスプレイ装置１では、電圧特異点抽出器６は、電圧検出回路４により検出された、ドライバ３が駆動している通常状態におけるＴＦＴ５３の出力と画面２に当たった外光８ａにより変化したＴＦＴ５３の出力に基づいて画面２に当たった外光８ａを検知し、画面２における外光８ａが当たった位置を抽出する。具体的には、電圧検出回路４は、ＴＦＴ５３の出力として、ドライバ３が駆動している通常状態におけるＴＦＴ５３の電圧降下の値と、外光８ａによってＴＦＴ５３に誘起される電圧の値とを検出する。
【００３１】
したがって、画面２に画像を表示した状態で、画面２における外光８ａが当たった位置を検出することができる。
【００３２】
また、ディスプレイシステム１００は、ディスプレイ装置１と、ディスプレイ装置１に接続され、電圧特異点抽出器６により抽出された画面２の座標位置に、外光８ａの画像を表示させるＰＣ５０とを備えるため、画面２に反射光を防ぐ構造が採用された場合にも、位置指示装置８から出力された外光８ａの画像を画面２に表示させることができる。
【００３３】
＜実施の形態２＞
次に、実施の形態２に係るディスプレイシステム１００およびディスプレイ装置１について説明する。図５は、実施の形態２に係るディスプレイシステム１００が備える比較器１１の動作例を示す図である。なお、実施の形態２において、実施の形態１で説明したものと同一の構成要素については同一符号を付して説明は省略する。
【００３４】
実施の形態１では、比較器１１は、メモリ１０に格納された電圧値と画面２に当たった外光８ａにより変化したＴＦＴ５３の電圧値とを比較したが、画面２の隣同士に配列されたＴＦＴ５３の電圧値を比較してもよい。
【００３５】
プレゼンテーション等で使用するスライド等を表示する場合、１つの画像の表示時間が長くなることに加えて、ディスプレイ装置１の画面２には、背景色である同じ色の画像が表示される面積が広くなる。画面２に配列されているＴＦＴ５３であって隣同士にあり、かつ同じ色に発光している半導体素子Ａと半導体素子Ｂについて、半導体素子Ａの通常状態の電圧値２１と半導体素子Ｂの通常状態の電圧値２２は、電圧値Ｖ１で等しくなるため、比較器１１で検出される電圧差分２３の大きさは０となる。
【００３６】
一方、半導体素子Ｂに外光８ａが当たった場合は、半導体素子Ａの電圧値２１については、外光８ａが当たっていないため通常状態の電圧値Ｖ１で変化しない。しかし、半導体素子Ｂに外光８ａが当たった場合の電圧値２４については、外光８ａが当たり始めた時刻Ｔ３において半導体素子Ｂには外光８ａで誘起される起電力が発生するため、電圧上昇２５が起こる。
【００３７】
時刻Ｔ３から時刻Ｔ４までの半導体素子Ｂに外光８ａが当たっている時間を時間Ｂと定義とすると、時間Ｂの間は、外光８ａに起因する起電力分が半導体素子Ｂの通常状態の電圧値に加わる。外光８ａが当たり終わった時刻Ｔ４において、起電力が誘起されなくなるため、電圧降下２６が生じて通常状態の電圧値に復帰する。通常状態の半導体素子Ａの電圧値２１と、半導体素子Ｂに外光が当たった場合の電圧値２４とを比較することにより電圧差分２７が得られる。
【００３８】
以上のように、実施の形態２に係るディスプレイシステム１００およびディスプレイ装置１では、画面２に配列されている隣同士にあるＴＦＴ５３における電圧上昇２５と電圧降下２６を検知することで外光８ａが当たっている時間を検出することができ、加えて電圧差分２７の大きさにより、外光強度を検出することが可能である。加えて、上記の検出が画面２に配列されている各ＴＦＴ５３で行われるため、外光８ａが画面２に当たっている位置を検出することが可能となる。その結果、画面２を消灯することなく、画面２に当たっている外光８ａを検知し、外光８ａが画面２に当たっている座標位置を出力することが可能となる。
【００３９】
＜実施の形態３＞
次に、実施の形態３に係るディスプレイシステム１００およびディスプレイ装置１について説明する。図６は、実施の形態３において位置指示装置８で画面２を指示している状態を示す図である。図７は、実施の形態３に係るディスプレイシステム１００が備える比較器１１の動作例を示す図である。なお、実施の形態３において、実施の形態１，２で説明したものと同一の構成要素については同一符号を付して説明は省略する。
【００４０】
実施の形態３では、電圧特異点抽出器６は、画面２に当たった外光８ａを検知し、外光８ａの検知時間に基づいて位置指示装置８で指し示したい画面２上の位置を抽出する。
【００４１】
図６に示すように、ユーザーが、位置指示装置８から出力される外光８ａで画面２を指示する場合、ユーザーの位置指示装置８を持つ手がふらつくため、ユーザーが指し示したい座標点３０の１点だけを指示することは困難である。そのため、ユーザーが指し示したい座標点３０の近傍３１に位置指示装置８から出力される外光８ａは長く留まることとなる。
【００４２】
図７に示すように、ユーザーが指し示したい座標点３０の近傍３１に位置する画面２上の半導体素子Ｃと、ユーザーが指し示したい座標点３０の近傍３１以外に位置する画面２上の半導体素子Ｄのそれぞれについて実施の形態１または実施の形態２による電圧差分を検出した場合を考える。半導体素子Ｃに電圧差分が生じている時間３２は、位置指示装置８から出力される外光８ａが照射される時間が長くなることにより、半導体素子Ｄに電圧差分が生じている時間３３よりも長くなる。
【００４３】
比較器１１は、時間３２と時間３３とを比較することにより、ユーザーが指し示したい座標点３０の近傍３１に位置する画面２のＴＦＴ５３を検知する。また、座標位置信号生成部１２は、検出した近傍３１に位置する画面２のＴＦＴ５３の中心点を計算し、ユーザーが指し示したい座標点３０を出力部１３に出力することができる。
【００４４】
以上のように、実施の形態３に係るディスプレイ装置１では、電圧特異点抽出器６は、画面２に当たった外光８ａを検知し、外光８ａの検知時間に基づいて位置指示装置８で指し示したい画面２上の位置を抽出する。したがって、画面２を消灯することなく、画面２に当たっている外光８ａのふらつきを検知し、外光８ａの位置をユーザーが指示したい座標位置に補正することが可能となる。
【００４５】
＜実施の形態４＞
次に、実施の形態４に係るディスプレイシステム１００Ａおよびディスプレイ装置１Ａについて説明する。図８は、実施の形態４に係るディスプレイシステム１００Ａの構成図である。図９は、ディスプレイシステム１００Ａが備える画面とその周辺の構成図である。図１０は、ディスプレイシステム１００Ａが備える電流特異点抽出器３５のブロック図とその周辺の構成図である。なお、実施の形態４において、実施の形態１〜３で説明したものと同一の構成要素については同一符号を付して説明は省略する。
【００４６】
図８と図９に示すように、ディスプレイ装置１Ａは、電圧検出回路４に代えて電流検出回路３４を備え、電流検出回路３４が、ＴＦＴ５３の出力として、ドライバ３が駆動している通常状態におけるＴＦＴ５３を流れる電流の値と、外光８ａによってＴＦＴ５３に誘導される電流の値とを検出することによって、画面２上の電流特異点が検出されてもよい。
【００４７】
ここで、電流特異点とは、画面２が画像を表示するためにＴＦＴ５３を駆動している通常状態の電流値とは値が異なる画面２上の座標位置のことである。
【００４８】
電流検出回路３４による電流検出について説明する。走査線５１および信号線５２は電流検出回路４に接続され、またＴＦＴ５３のソースは電流検出回路３４と共通接地されている。走査線５１が１ラインずつ順次にオン状態となり、電流検出回路３４は、オン状態となっているＴＦＴ５３のドレイン−ソース間、すなわち、信号線５２を流れる電流値を検出する。
【００４９】
具体的には、電流検出回路４は、信号線５２と共通接地により、ドライバ３が駆動している通常状態におけるＴＦＴ５３の出力、すなわち、通常状態におけるＴＦＴ５３の電流値を検出することができる。さらに、電流検出回路３４は、走査線５１と信号線５２により、電流値が変化したＴＦＴ５３の位置を検出することができる。これと同様に、電流検出回路３４は、信号線５２と共通接地により、オン状態となっているＴＦＴ５３について外光８ａにより変化した出力、すなわち、外光８ａによって誘導される電流の値を検出することができる。さらに、電流検出回路３４は、走査線５１と信号線５２により、誘導される電流の値を検出したＴＦＴ５３の位置を検出することができる。
【００５０】
図８と図１０に示すように、ディスプレイ装置１Ａはさらに、電圧特異点抽出器６に代えて電流特異点抽出器３５を備えている。電流検出回路３４で検出された電流値は、Ａ／Ｄコンバータ５でデジタル信号化した後、電流特異点抽出器３５に送られる。電流特異点抽出器３５は、外光８ａによってＴＦＴ５３の電流が変化した画面２の電流特異点の抽出を行う。電流特異点抽出器３５により抽出された電流特異点の座標位置は、出力ポート７に送られ、出力ポート７からＰＣ５０へ出力される。
【００５１】
画面２に配列されている各ＴＦＴ５３の電流値は、電流検出回路３４を通り、Ａ／Ｄコンバータ５でデジタル信号化した後に、電流特異点抽出器３５内の入力部９に入力される。メモリ１０には、外光８ａが当たっていない通常状態における画面２のＴＦＴ５３の電流値と外光８ａの電流波形の信号が格納されている。入力部９に入ったデジタル信号は、比較器１１においてメモリ１０に格納された信号と比較される。比較器１１での比較により、画面２の通常状態における駆動電流と異なる電流で駆動しているＴＦＦ５３を検出し、座標位置信号生成部１２において、異なる電流で駆動しているＴＦＴ５３の位置の座標位置信号を生成する。座標位置信号生成部１２において生成された座標位置信号は、出力部１３からディスプレイ装置１の出力ポート７に出力される。また、入力部９、メモリ１０、比較器１１、座標位置信号生成部１２、および出力部１３にはクロック生成部１４が接続されており、各ブロックを動作させるためにクロックが入力される。なお、実施の形態４において、実施の形態１〜３に示した種々の構成を適用可能である。
【００５２】
以上のように、実施の形態４に係るディスプレイ装置１Ａでは、電流検出回路３４は、ＴＦＦ５３の出力として、ドライバ３が駆動している通常状態におけるＴＦＦ５３を流れる電流の値と、外光８ａによってＴＦＦ５３に誘導される電流の値とを検出する。
【００５３】
したがって、画面２に画像を表示した状態で、画面２における外光８ａが当たった位置を検出することができる。
【００５４】
また、ディスプレイシステム１００Ａは、ディスプレイ装置１Ａと、電流特異点抽出器３５により抽出された画面２の座標位置に、外光８ａの画像を表示させるＰＣ５０とを備えるため、画面２に反射光を防ぐ構造が採用された場合にも、位置指示装置８から出力された外光８ａの画像を画面２に表示させることができる。
【００５５】
＜その他の変形例＞
実施の形態１〜４において、ＰＣ５０で表示加工を行う代わりに、ディスプレイ装置１，１Ａ内で表示加工を行うことも可能である。この場合、特異点抽出器により抽出された画面２の位置の情報は、当該位置に外光８ａの画像を表示させるために、出力ポート７からドライバ３へ出力される。これにより、ＰＣ５０が行う処理を減らすことができるため、ＰＣ５０の負荷を低減できる。
【００５６】
また、実施の形態１〜４において、画面２に当たった外光８ａを検知する方法として、通常状態におけるＴＦＴ５３の出力と画面２に当たった外光８ａにより変化したＴＦＴ５３の出力とを比較する以外にも、これらの出力を利用した方法であれば適用可能である。
【００５７】
なお、本発明は、その発明の範囲内において、各実施の形態を自由に組み合わせたり、各実施の形態を適宜、変形、省略することが可能である。
【符号の説明】
【００５８】
１，１Ａ  ディスプレイ装置、２  画面、３  ドライバ、４  電圧検出回路、６  電圧特異点抽出器、３４  電流検出回路、３５  電流特異点抽出器、５０  ＰＣ、１００，１００Ａ  ディスプレイシステム。
【図１】
2020038437.tif 000003
【図２】
2020038437.tif 000004
【図３】
2020038437.tif 000005
【図４】
2020038437.tif 000006
【図５】
2020038437.tif 000007
【図６】
2020038437.tif 000008
【図７】
2020038437.tif 000009
【図８】
2020038437.tif 000010
【図９】
2020038437.tif 000011
【図１０】
2020038437.tif 000012