(57)【要約】【課題】  サーボ位置決め精度を改善することが可能な磁気ディスク装置及びヘッド位置の補正方法を提供することである。【解決手段】  本実施形態に係る磁気ディスク装置は、サーボセクタを有する記録領域を有するディスクと、前記ディスクに対してデータのライトし、前記ディスクからデータをリードするヘッドと、前記サーボセクタをリードして取得される第１リニアリティ誤差に基づいて設定した複数の測定位置にそれぞれ対応する前記記録領域の繰り返しランナウトに対する複数の補正データを取得し、前記複数の補正データに基づいて前記ヘッドの位置を補正する、コントローラと、を備える。【選択図】  図１
2020047342.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
サーボセクタを有する記録領域を有するディスクと、
前記ディスクに対してデータのライトし、前記ディスクからデータをリードするヘッドと、
前記サーボセクタをリードして取得される第１リニアリティ誤差に基づいて設定した複数の測定位置にそれぞれ対応する前記記録領域の繰り返しランナウトに対する複数の補正データを取得し、前記複数の補正データに基づいて前記ヘッドの位置を補正する、コントローラと、を備える磁気ディスク装置。
【請求項２】
前記コントローラは、前記第１リニアリティ誤差が大きくなるに従って前記複数の測定位置の間隔を小さくする、請求項１に記載の磁気ディスク装置。
【請求項３】
前記コントローラは、前記サーボセクタをリードした際に取得される前記第１リニアリティ誤差に対応するパラメータに基づいて前記複数の測定位置を設定する、請求項１又は２に記載の磁気ディスク装置。
【請求項４】
前記コントローラは、前記パラメータと前記パラメータ及び前記複数の測定位置との関係を示す第１式とに基づいて前記複数の測定位置を設定する、請求項３に記載の磁気ディスク装置。
【請求項５】
前記コントローラは、前記第１リニアリティ誤差を補正した後に前記サーボセクタをリードして取得される第２リニアリティ誤差に基づいて前記複数の測定位置を設定する、請求項１又は２に記載の磁気ディスク装置。
【請求項６】
前記コントローラは、前記第２リニアリティ誤差が第１閾値よりも大きいと判定した場合、前記複数の測定位置を第１測定位置に設定し、前記第２リニアリティ誤差が前記第１閾値よりも小さいと判定した場合、前記複数の測定位置を前記第１測定位置よりも大きい第２測定位置に設定する、請求項５に記載の磁気ディスク装置。
【請求項７】
前記コントローラは、前記第２リニアリティ誤差の複数の周期成分に基づいて前記複数の測定位置を設定する、請求項５に記載の磁気ディスク装置。
【請求項８】
前記コントローラは、前記複数の周期成分の内の振幅が第１閾値よりも大きく、且つ最も短い第１周期の第１周期成分に基づいて前記複数の測定位置を設定する、請求項７に記載の磁気ディスク装置。
【請求項９】
前記コントローラは、前記第１周期の半分以下の第２周期毎に前記複数の測定位置を設定する、請求項８に記載の磁気ディスク装置。
【請求項１０】
サーボセクタを有する記録領域を有するディスクと、
前記ディスクに対してデータのライトし、前記ディスクからデータをリードするヘッドと、
前記サーボセクタをリードして取得されるリサージュ波形に基づいて設定した複数の測定位置にそれぞれ対応する前記記録領域の繰り返しランナウトに対する複数の補正データを取得し、前記複数の補正データに基づいて前記ヘッドの位置を補正する、コントローラと、を備える磁気ディスク装置。
【請求項１１】
サーボセクタを有する記録領域を有するディスクと、前記ディスクに対してデータのライトし、前記ディスクからデータをリードするヘッドと、を備える磁気ディスク装置に適用されるヘッド位置の補正方法であって、
前記サーボセクタをリードして取得される第１リニアリティ誤差に基づいて設定した複数の測定位置にそれぞれ対応する前記記録領域の繰り返しランナウトに対する複数の補正データを取得し、前記複数の補正データに基づいて前記ヘッドの位置を補正する、ヘッド位置の補正方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明の実施形態は、磁気ディスク装置及びヘッド位置の補正方法。
【背景技術】
【０００２】
磁気ディスク装置では、繰り返しランナウト（RRO:Repeatable Runout）に起因する誤差（以下、単にＲＲＯと称する）を抑制してヘッドの位置を補正する技術が開発されている。例えば、ディスクの半径方向の異なる複数の位置でＲＲＯを測定し、測定した複数のデータの間のＲＲＯを補間したデータに基づいてヘッドの位置を補正する方法がある。このヘッドの位置を補正する方法では、ＲＲＯを測定する位置を適切に設定する必要がある。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】米国特許第９７９９３６０号明細書
【特許文献２】米国特許第８６２５２３０号明細書
【特許文献３】米国特許第９２３０５８４号明細書
【特許文献４】米国特許第８８９１１９４号明細書
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
本発明の実施形態が解決しようとする課題は、サーボ位置決め精度を改善することが可能な磁気ディスク装置及びヘッド位置の補正方法を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
本実施形態に係る磁気ディスク装置は、サーボセクタを有する記録領域を有するディスクと、前記ディスクに対してデータのライトし、前記ディスクからデータをリードするヘッドと、前記サーボセクタをリードして取得される第１リニアリティ誤差に基づいて設定した複数の測定位置にそれぞれ対応する前記記録領域の繰り返しランナウトに対する複数の補正データを取得し、前記複数の補正データに基づいて前記ヘッドの位置を補正する、コントローラと、を備える。
【０００６】
本実施形態に係るヘッド位置の補正方法は、サーボセクタを有する記録領域を有するディスクと、前記ディスクに対してデータのライトし、前記ディスクからデータをリードするヘッドと、を備える磁気ディスク装置に適用されるヘッド位置の補正方法であって、前記サーボセクタをリードして取得される第１リニアリティ誤差に基づいて設定した複数の測定位置にそれぞれ対応する前記記録領域の繰り返しランナウトに対する複数の補正データを取得し、前記複数の補正データに基づいて前記ヘッドの位置を補正する。
【図面の簡単な説明】
【０００７】
【図１】図１は、第１実施形態に係る磁気ディスク装置の構成を示すブロック図である。
【図２】図２は、実施形態に係るディスクに対するヘッドの配置の一例を示す模式図である。
【図３】図３は、サーボ領域の構成の一例を示す模式図である。
【図４】図４は、Ｎバーストを復調した復調信号とＱバーストを復調した復調信号とのリサージュ波形の一例を示す図である。
【図５】図５は、サーボ復調ものさしの目標指標と測定指標との関係の一例を示す図である。
【図６】図６は、リニアリティ誤差の一例を示す模式図である。
【図７】図７は、リニア学習位置及びリニアリティ誤差に対応する位置決め誤差の分布の一例を示す図である。
【図８】図８は、本実施形態に係るリニア学習位置の設定方法の一例を示す図である。
【図９】図９は、本実施形態に係るリニアＲＲＯ補正処理における学習位置の決定方法の一例を示すフローチャートである。
【図１０】図１０は、本実施形態に係るリニア学習位置の設定方法の一例を示すフローチャートである。
【図１１】図１１は、リニアリティ誤差の変動の一例を示す図である。
【図１２】図１２は、変形例１に係るリニア学習位置の設定方法の一例を示すフローチャートである。
【図１３】図１３は、リニアリティ誤差の変動周期成分の一例を示す図である。
【図１４】図１４は、変形例２に係るリニア学習位置の設定方法の一例を示す模式図である。
【図１５】図１５は、変形例２に係るリニアリティ補正に基づくリニア学習位置の設定方法の一例を示すフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【０００８】
以下、実施の形態について図面を参照して説明する。なお、図面は、一例であって、発明の範囲を限定するものではない。  
（実施形態）  
図１は、実施形態に係る磁気ディスク装置１の構成を示すブロック図である。  
磁気ディスク装置１は、後述するヘッドディスクアセンブリ（ＨＤＡ）と、ドライバＩＣ２０と、ヘッドアンプ集積回路（以下、ヘッドアンプＩＣ、又はプリアンプ）３０と、揮発性メモリ７０と、不揮発性メモリ８０と、バッファメモリ（バッファ）９０と、１チップの集積回路であるシステムコントローラ１３０とを備える。また、磁気ディスク装置１は、ホストシステム（以下、単に、ホストと称する）１００と接続される。
【０００９】
ＨＤＡは、磁気ディスク（以下、ディスクと称する）１０と、スピンドルモータ（以下、ＳＰＭと称する）１２と、ヘッド１５を搭載しているアーム１３と、ボイスコイルモータ（以下、ＶＣＭと称する）１４とを有する。ディスク１０は、ＳＰＭ１２に取り付けられ、ＳＰＭ１２の駆動により回転する。アーム１３及びＶＣＭ１４は、アクチュエータを構成している。アクチュエータは、ＶＣＭ１４の駆動により、アーム１３に搭載されているヘッド１５をディスク１０の所定の位置まで移動制御する。ディスク１０およびヘッド１５は、２つ以上の数が設けられてもよい。
【００１０】
ディスク１０は、そのデータをライト可能な領域に、ユーザから利用可能なユーザデータ領域１０ａと、システム管理に必要な情報をライトするシステムエリア１０ｂとが割り当てられている。以下、ディスク１０の半径方向に直交する方向を円周方向と称する。  
ヘッド１５は、スライダを本体として、当該スライダに実装されているライトヘッド１５Ｗとリードヘッド１５Ｒとを備える。ライトヘッド１５Ｗは、ディスク１０上にデータをライトする。リードヘッド１５Ｒは、ディスク１０上のトラックに記録されているデータをリードする。なお、ライトヘッド１５Ｗを単にヘッド１５と称する場合もあるし、リードヘッド１５Ｒを単にヘッド１５と称する場合もあるし、ライトヘッド１５Ｗ及びリードヘッド１５Ｒをまとめてヘッド１５と称する場合もある。以下で、ヘッド１５の中心部をヘッド１５と称し、ライトヘッド１５Ｗの中心部をライトヘッド１５Ｗと称し、リードヘッド１５Ｒの中心部をリードヘッド１５Ｒと称する場合もある。「トラック」は、ディスク１０の半径方向に区分した複数の領域の内の１つの領域、ディスク１０の円周方向に延長するデータ、トラックにライトされたデータや、その他の種々の意味で用いる。「セクタ」は、トラックを円周方向に区分した複数の領域の内の１つの領域、ディスク１０の所定の位置にライトされたデータ、セクタにライトされたデータや、その他の種々の意味で用いる。また、トラックの半径方向の幅をトラック幅と称し、目標とするトラック幅の中心位置をトラックセンタと称する。トラックセンタは、例えば、ディスク１０と同心円状に配置された真円である。
【００１１】
図２は、実施形態に係るディスク１０に対するヘッド１５の配置の一例を示す模式図である。図２において、半径方向において、ディスク１０の外周に向かう方向を外方向（外側）と称し、外方向と反対方向を内方向（内側）と称する。また、図２には、ディスク１０の回転方向を示している。なお、回転方向は逆向きであってもよい。図２において、ユーザデータ領域１０ａは、内方向に位置する内周領域ＩＲと、外方向に位置する外周領域ＯＲと、内周領域ＩＲと外周領域ＯＲとの間に位置する中周領域ＭＲとに区分されている。図２には、内周領域ＩＲの所定のトラックのトラックセンタの経路（以下、単に、トラックセンタと称する）ＩＩＬ、中周領域ＭＲの所定のトラックのトラックセンタＩＬ０、及び外周領域ＯＲの所定のトラックのトラックセンタＯＩＬを示している。トラックセンタＩＩＬは、内周領域ＩＲの所定のトラックにヘッド１５を位置決めした場合のヘッド１５の目標とする経路（以下、目標経路又は目標軌跡と称する）に相当する。トラックセンタＩＬ０は、中周領域ＭＲの所定のトラックにヘッド１５を位置決めした場合のヘッド１５の目標経路に相当する。トラックセンタＯＩＬは、外周領域ＯＲの所定のトラックにヘッド１５を位置決めした場合のヘッド１５の目標経路に相当する。また、図２には、繰り返しランナウト（Repeatable Run Out : RRO）に起因してトラックセンタＩＩＬ、ＩＬ０、及びＯＩＬに対してそれぞれずれたヘッド１５の経路ＩＳＬ、ＳＬ０、及びＯＳＬを示している。
【００１２】
ディスク１０は、複数のサーボ領域ＳＶを有している。以下、サーボ領域ＳＶをサーボセクタと称する場合もある。複数のサーボ領域ＳＶは、ディスク１０の半径方向に放射状に延出して円周方向に所定の間隔を空けて離散的に配置されている。サーボ領域ＳＶは、ヘッド１５をディスク１０の所定の半径方向の位置（以下、半径位置と称する）に位置決めするためのサーボデータとＲＲＯ補正データとを含んでいる。  
サーボデータは、例えば、サーボマーク（Servo Mark）、アドレスデータ、及びバーストデータ等を含んでいる。アドレスデータは、所定のトラックのアドレス（シリンダアドレス）と、所定のトラックのサーボセクタのアドレスとから構成される。バーストデータは、所定のトラックのトラックセンタに対するヘッド１５の半径方向の位置ずれ（位置誤差）を検出するために使用されるデータ（相対位置データ）であり、所定の周期の繰り返しパターンから構成される。バーストデータは、対外に隣接するトラックに跨って千鳥状にライトされている。バーストデータは、サーボデータをディスクにライトをしたときのディスク１０の回転に同期したブレ（繰り返しランナウト：ＲＲＯ）によって生じる真円のトラック（トラックセンタ）に対するトラックの歪みに起因する誤差を含む。以下、説明の便宜上、ＲＲＯによって生じるトラックセンタに対するトラックの歪みに起因する誤差を単にＲＲＯと称する。
【００１３】
複数のサーボ領域ＳＶは、それぞれ、ＲＲＯを補正するためのＲＲＯ補正データを構成するパターン（以下、単に、ＲＲＯ補正データと称する）がライトされている。ＲＲＯ補正データは、サーボデータの一種の付加データである。ＲＲＯ補正データは、サーボデータ（より詳細には、サーボデータ中のサーボバーストデータ）のＲＲＯを補正、すなわち、トラックセンタに対するヘッド１５の経路の歪みを補正するために使用される。このＲＲＯの補正を真円補正と称する場合もある。  
ＲＲＯ補正データは、ＲＲＯプリアンブルパターン、同期パターン、及び補正量を符号化したデジタルデータ（以下、ＲＲＯ補正符号（RRO Code）と称する）を含む。ＲＲＯプリアンブルパターン、及び同期パターンは、後続の領域にライトされる補正量を符号化したデジタルデータのリード開始タイミングを検出するために使用される。このとき、ＲＲＯ補正符号（RRO Code）は、ＲＲＯ補正データの主要部を構成する。このようなＲＲＯ補正データを、RRObit、またはPostCode（ポストコード）と称する場合もある。
【００１４】
図２に示して例では、内周領域ＩＲの所定のトラックのトラックセンタＩＩＬに位置決めした場合、ヘッド１５は、ディスク１０のサーボ領域ＳＶのサーボデータに基づいて、経路ＩＳＬからトラックセンタＩＩＬ上を通るように動作を補正される。中周領域ＭＲの所定のトラックのトラックセンタＩＬ０に位置決めした場合、ヘッド１５は、ディスク１０のサーボ領域ＳＶのサーボデータに基づいて、経路ＳＬ０からトラックセンタＩＬ０上を通るように動作を補正される。外周領域ＯＲの所定のトラックのトラックセンタＯＩＬに位置決めした場合、ヘッド１５は、ディスク１０のサーボ領域ＳＶのサーボデータに基づいて、経路ＯＳＬからトラックセンタＯＩＬ上を通るように動作を補正される。
【００１５】
ドライバＩＣ２０は、システムコントローラ１３０（詳細には、後述するＭＰＵ６０）の制御に従って、ＳＰＭ１２およびＶＣＭ１４の駆動を制御する。  
ヘッドアンプＩＣ（プリアンプ）３０は、リードアンプ及びライトドライバを備えている。リードアンプは、ディスク１０からリードされたリード信号を増幅して、システムコントローラ１３０（詳細には、後述するリード／ライト（Ｒ／Ｗ）チャネル４０）に出力する。ライトドライバは、Ｒ／Ｗチャネル４０から出力される信号に応じたライト電流をヘッド１５に出力する。
【００１６】
揮発性メモリ７０は、電力供給が断たれると保存しているデータが失われる半導体メモリである。揮発性メモリ７０は、磁気ディスク装置１の各部での処理に必要なデータ等を格納する。揮発性メモリ７０は、例えば、ＤＲＡＭ（Dynamic Random Access Memory）、又はＳＤＲＡＭ（Synchronous Dynamic Random Access Memory）である。
【００１７】
不揮発性メモリ８０は、電力供給が断たれても保存しているデータを記録する半導体メモリである。不揮発性メモリ８０は、例えば、ＮＯＲ型またはＮＡＮＤ型のフラッシュＲＯＭ（Flash Read Only Memory :ＦＲＯＭ）である。
バッファメモリ９０は、磁気ディスク装置１とホスト１００との間で送受信されるデータ等を一時的に記録する半導体メモリである。なお、バッファメモリ９０は、揮発性メモリ７０と一体に構成されていてもよい。バッファメモリ９０は、例えば、ＤＲＡＭ、ＳＲＡＭ（Static Random Access Memory）、ＳＤＲＡＭ、ＦｅＲＡＭ（Ferroelectric Random Access memory）、又はＭＲＡＭ（Magnetoresistive Random Access Memory）等である。
【００１８】
システムコントローラ（コントローラ）１３０は、例えば、複数の素子が単一チップに集積されたSystem-on-a-Chip(ＳｏＣ)と称される大規模集積回路（ＬＳＩ）を用いて実現される。システムコントローラ１３０は、リード／ライト（Ｒ／Ｗ）チャネル４０と、ハードディスクコントローラ（ＨＤＣ）５０と、マイクロプロセッサ（ＭＰＵ）６０と、を含む。システムコントローラ１３０は、例えば、ドライバＩＣ２０、ヘッドアンプＩＣ３０、揮発性メモリ７０、不揮発性メモリ８０、バッファメモリ９０、及びホスト１００に電気的に接続されている。
【００１９】
Ｒ／Ｗチャネル４０は、後述するＭＰＵ６０からの指示に応じて、ディスク１０からホスト１００に転送されるリードデータ及びホスト１００から転送されるライトデータの信号処理を実行する。Ｒ／Ｗチャネル４０は、リードデータの信号品質を測定する回路、又は機能を有している。Ｒ／Ｗチャネル４０は、例えば、ヘッドアンプＩＣ３０、ＨＤＣ５０、及びＭＰＵ６０等に電気的に接続されている。
【００２０】
ＨＤＣ５０は、後述するＭＰＵ６０からの指示に応じて、ホスト１００とＲ／Ｗチャネル４０との間のデータ転送を制御する。ＨＤＣ５０は、例えば、Ｒ／Ｗチャネル４０、ＭＰＵ６０、揮発性メモリ７０、不揮発性メモリ８０、及びバッファメモリ９０等に電気的に接続されている。  
ＭＰＵ６０は、磁気ディスク装置１の各部を制御するメインコントローラである。ＭＰＵ６０は、ドライバＩＣ２０を介してＶＣＭ１４を制御し、ヘッド１５の位置決めを行なうサーボ制御を実行する。また、ＭＰＵ６０は、ドライバＩＣ２０を介してＳＰＭ１２を制御し、ディスク１０を回転させる。ＭＰＵ６０は、ディスク１０へのデータのライト動作を制御すると共に、ライトデータの保存先を選択する。また、ＭＰＵ６０は、ディスク１０からのデータのリード動作を制御すると共に、リードデータの処理を制御する。ＭＰＵ６０は、磁気ディスク装置１の各部に接続されている。ＭＰＵ６０は、例えば、ドライバＩＣ２０、Ｒ／Ｗチャネル４０、及びＨＤＣ５０等に電気的に接続されている。
【００２１】
ＭＰＵ６０は、リード／ライト制御部６１０と、ＲＲＯ学習部６２０と、ＲＲＯ記録部６３０と、位置補正部６４０とを含む。ＭＰＵ６０は、これら各部、例えば、リード／ライト制御部６１０、ＲＲＯ学習部６２０、ＲＲＯ記録部６３０、及び位置補正部６４０等の処理をファームウェア上で実行する。なお、ＭＰＵ６０は、これら各部、例えば、リード／ライト制御部６１０、ＲＲＯ学習部６２０、ＲＲＯ記録部６３０、及び位置補正部６４０を回路として備えていてもよい。
【００２２】
リード／ライト制御部６１０は、ホスト１００からのコマンドに従って、データのリード処理及びライト処理を制御する。リード／ライト制御部６１０は、ドライバＩＣ２０を介してＶＣＭ１４を制御し、ヘッド１５をディスク１０の所定の位置に位置決めし、データをリード又はライトする。以下、「ヘッド１５（ライトヘッド１５Ｗ及びリードヘッド１５Ｒ）をディスク１０の所定の位置、例えば、所定のトラックの目標とする位置（以下、目標位置と称する）に位置決め又は配置する」ことを「ヘッド１５（ライトヘッド１５Ｗ及びリードヘッド１５Ｒ）を所定のトラックに位置決め又は配置する」と記載する場合もある。
【００２３】
ＲＲＯ学習部６２０は、ディスク１０の所定の位置、例えば、所定のトラックのトラックセンタにリードヘッド１５Ｒを位置決めして、トラックセンタとリードしたサーボデータから復調したヘッド１５（リードヘッド１５Ｒ）の位置との差分値（以下、ＲＲＯ補正量と称する）を測定し、その測定結果からＲＲＯ補正データを算出する。以下、「ＲＲＯ補正量を測定する」ことや「ＲＲＯ補正量に基づいてＲＲＯ補正データを算出する」ことを「ＲＲＯ学習」と称する。「ＲＲＯ学習する」ことを単に「測定する」、「リードする」又は「取得する」等と称する場合もある。ＲＲＯ補正量とＲＲＯ補正データとを同じ意味で用いる場合もある。ＲＲＯ学習を実行する所定の半径位置及びＲＲＯ学習を実行した所定の半径位置を学習位置と称する場合もある。例えば、学習位置は、所定のトラックのトラックセンタから半径方向への距離に相当する。また、ＲＲＯ学習部６２０は、ＲＲＯ学習した円周方向の位置情報等を取得することもできる。例えば、ＲＲＯ学習部６２０は、磁気ディスク装置１の試験段階、又は製品段階でＲＲＯ学習処理を実行する。なお、ＲＲＯ学習部６２０は、所定の半径位置において、円周方向の幾つかの位置でＲＲＯ学習を実行してもよいし、円周方向の全ての位置でＲＲＯ学習を実行してもよい。また、ＲＲＯ学習部６２０は、幾つかの半径位置でＲＲＯ学習を実行してもよいし、ディスク１０の全ての半径位置でＲＲＯ学習を実行してもよい。
【００２４】
ＲＲＯ学習部６２０は、複数の学習位置にそれぞれ対応する複数のＲＲＯ補正量に基づいて、ディスク１０の半径方向の所定の領域（以下、半径領域と称する）のディスク１０のＲＲＯ補正量の半径方向の変化（以下、ＲＲＯの変化又はＲＲＯ補正量の変化と称する）を推定し、推定した半径領域のＲＲＯ補正量の変化に基づいてヘッド１５の半径位置を補正するために、ディスク１０のこの半径領域の複数の半径位置でＲＲＯ学習を実行する。以下、ヘッド１５の半径位置を単にヘッド位置と称する場合もある。例えば、ＲＲＯの変化の傾きは、トラック毎に変化し得る。ＲＲＯ学習部６２０は、例えば、２つの学習位置でそれぞれ取得した２つのＲＲＯ補正量に基づいてこの領域のＲＲＯ補正量の変化を推定し、推定したＲＲＯ補正量の変化に基づいてヘッド１５の半径位置を補正する処理を実行可能なディスク１０の半径領域の複数の半径位置でＲＲＯ学習を実行する。以下、「半径領域で２つの学習位置でそれぞれ取得した２つのＲＲＯ補正量に基づいてこの領域のＲＲＯ補正量の変化を推定し、推定したＲＲＯ補正量の変化に基づいてヘッド位置を補正する処理」を「リニアＲＲＯ補正処理」と称する場合もある。なお、リニアＲＲＯ補正処理では、半径領域で３つ以上の学習位置でそれぞれ取得した３つ以上のＲＲＯ補正量に基づいてこの半径領域のＲＲＯ補正量の変化を推定し、推定したＲＲＯ補正量の変化に基づいてヘッド位置を補正してもよい。
【００２５】
ＲＲＯ学習部６２０は、リニアＲＲＯ補正処理の精度を向上するために、理想的な半径領域（又は、所定のトラック）、例えば、隣接する２つのトラックの半径方向の配置に対応する情報(以下、理想とするサーボ復調ものさしと称する場合もある)と測定により取得したこの所定のトラックの半径方向の配置に対応する情報(以下、実際のサーボ復調ものさしと称する場合もある)と差分値に基づいて、リニアＲＲＯ補正処理で用いる学習位置（以下、リニア学習位置と称する）を設定する。半径領域（又は、所定のトラック）の半径方向の配置は、例えば、半径領域（又は、所定のトラック）のトラックセンタに対する半径方向への歪み等(以下、サーボ復調ものさしの非線形性と称する場合もある)を含む。以下、理想的な半径領域の半径方向の配置に対応する情報と測定により取得したこの半径領域の半径方向の配置に対応する情報と差分値をリニアリティ誤差と称する。例えば、リニアリティ誤差は、半径領域、例えば、所定のトラックの歪みを示す指標である。
【００２６】
ＲＲＯ学習部６２０は、サーボ領域ＳＶの信号をリードしてサーボ復調位置を計算する過程でリニアリティ誤差を補正する機能を含む。以下で、「リニアリティ誤差を補正する」ことを「リニアリティ補正」と称する。ＲＲＯ学習部６２０は、サーボ復調位置の計算過程においてリニアリティ補正に対応する種々のパラメータ（以下、補正パラメータと称する）を調整して、リニアリティ補正を実行する。ＲＲＯ学習部６２０は、リニアリティ補正を実行した際に調整した補正パラメータを所定の記録領域、例えば、ディスク１０や不揮発性メモリ８０等に記録してもよい。ＲＲＯ学習部６２０は、例えば、製造工程においてリニアリティ補正を実行する。例えば、製造工程でリニアリティ補正が適切でなかった場合には、リニアリティ誤差が大きくなる可能性がある。ＲＲＯ学習部６２０は、例えば、補正パラメータに基づいてリニア学習位置を設定する。
【００２７】
以下、図３乃至図６を参照してリニアリティ誤差について説明する。  
図３は、サーボ領域ＳＶの構成の一例を示す模式図である。図３には、半径方向に連続して並んでいるトラックＴＲｎとトラックＴＲｎ＋１とを示している。トラックＴＲｎは、トラックセンタＴＲＣｎを有している。トラックＴＲｎ＋１は、トラックセンタＴＲＣｎ＋１と有している。なお、説明の便宜上、トラックＴＲｎ及びＴＲｎ＋１は、円周方向に直線状に延長しているが、実際にはディスク１０の円周方向に沿って湾曲している。トラックＴＲｎ及びＴＲｎ＋１は、それぞれ、周期的に変動しながら波状に円周方向に延長していてもよい。また、トラックＴＲｎ及びＴＲｎ＋１は、半径方向に僅かに離間していてもよいし、一部が重なっていてもよい。
【００２８】
図３に示した例では、サーボ領域ＳＶは、プリアンブル（Preamble）、サーボマーク(Servo Mark)、グレイコード（Gray Code）、ＰＡＤ、Ｎバースト、Ｑバースト、及びポストコード（Post Code）等を含む。プリアンブルは、サーボパターンの再生信号に同期するためのプリアンブル情報を含む。サーボマークは、サーボパターンの開始を示すサーボマーク情報を含む。グレイコードは、サーボセクタ番号やトラック（シリンダ）番号等を示すグレイコード情報を含む。ＰＡＤは、ギャップ及びサーボＡＧＣなどの同期信号のＰＡＤ情報を含む。Ｎバースト及びＱバーストは、トラックに対するヘッド１５（ライトヘッド１５Ｗ及びリードヘッド１５Ｒ）の半径方向の相対的な位置を示すバースト情報を含む。ポストコードは、ＲＲＯ補正データを含む。なお、ポストコードは、サーボ領域ＳＶに含まれていなくともよい。
【００２９】
図３に示した例では、ＲＲＯ学習部６２０は、リードヘッド１５Ｒがサーボマークの半径位置、例えば、トラックＴＲｎのトラックセンタＴＲＣｎでリードしたサーボマーク情報の円周方向に続く、グレイコード、Ｎバースト、Ｑバースト、ＰｏｓｔＣｏｄｅを復調し、復調したリードヘッド１５Ｒの半径位置をサーボ復調位置として検出する。ＲＲＯ学習部６２０は、検出したサーボ復調位置等の情報を所定の記録領域、例えば、ディスク１０や不揮発性メモリ８０等に記録してもよい。
【００３０】
図４は、Ｎバーストを復調した復調信号とＱバーストを復調した復調信号とのリサージュ波形の一例を示す図である。図４において、横軸は、所定の半径位置においてリードヘッド１５ＲでリードしたＮバーストの信号を復調した復調信号（以下、Ｎバースト復調信号と称する）を示し、縦軸は、所定の半径位置においてリードヘッド１５ＲでリードしたＱバーストの信号を復調した復調信号（以下、Ｑバースト復調信号と称する）を示している。Ｎバースト復調信号は、例えば、Ｎバーストを復調した復調位置に相当し、復調したＮバーストに対応するトラックのトラックセンタ（又は、目標位置）から半径方向へのずれ量（以下、オフトラック量と称する）に相当する。Ｑバースト信号は、例えば、Ｑバーストを復調した復調位置に相当し、復調したＱバーストに対応するトラックのトラックセンタ（又は、目標位置）からのオフトラック量に相当する。図４の横軸において、原点０より正の矢印の方向に進むに従って正の値の方向へ大きくなり、原点０よりも負の矢印の方向に進むに従って負の値の方向へ小さくなる。図４の縦軸において、原点０より正の矢印の方向に進むに従って正の値の方向へ大きくなり、原点０よりも負の矢印の方向に進むに従って負の値の方向へ小さくなる。図４には、リサージュ波形（又は、リサージュ図形）ＬＦを示している。リサージュ波形ＬＦの１周分は、２サーボトラック分の半径領域における各半径位置に対応する情報に相当し、例えば、図３に示したトラックＴＲｎ及びＴＲｎ＋１分の半径領域における各半径位置に対応する情報に相当する。
【００３１】
図４に示した例では、リサージュ波形ＬＦは、ほぼ円形状である。リサージュ波形ＬＦが円形状である場合にはリニアリティ誤差は、小さくなり得る。リサージュ波形ＬＦが四角形状である場合にはリニアリティ誤差は、大きくなり得る。ＲＲＯ学習部６２０は、少なくとも２サーボトラック分の半径領域における各半径位置でリードしたデータを復調した復調信号に基づいてリサージュ波形ＬＦを取得してもよい。また、ＲＲＯ学習部６２０は、取得したリサージュ波形ＬＦを所定の記録領域、例えば、ディスク１０や不揮発性メモリ８０等に記録してもよい。
【００３２】
図５は、サーボ復調ものさしの目標指標と測定指標との関係の一例を示す図である。図５において、横軸は、半径領域において目標とするサーボオフトラック量（以下、目標指標と称する）を示し、縦軸は、半径領域において測定により取得したＱバースト復調信号とＮバースト復調信号とに基づく実際のサーボオフトラック量（以下、測定指標と称する）を示している。横軸において、大の矢印に向かって進むに従って目標指標は大きくなり、小の矢印に向かって進むに従って目標指標は小さくなる。縦軸において、大の矢印に向かって進むに従って目標指標は大きくなり、小の矢印に向かって進むに従って目標指標は小さくなる。図５には、線ＬＬ５１と、破線ＬＬ５２とを示している。線ＬＬ５１及び破線ＬＬ５２は、それぞれ、目標指標と測定指標との関係を示している。
【００３３】
図５に示した例では、線ＬＬ５１は、測定指標と目標指標とが比例関係にあることを示している。つまり、線ＬＬ５１は、リニアリティ誤差が生じていないことを示している。破線ＬＬ５２は、測定指標と目標指標とが非線形の関係にあることを示している。つまり、破線ＬＬ５２は、リニアリティ誤差が生じていることを示している。ＲＲＯ学習部６２０は、例えば、Ｑバースト復調信号及びＮバースト復調信号に基づいて測定指標を算出し、算出した測定指標と目標指標とに基づいて目標指標と測定指標との関係ＬＬ５１及びＬＬ５２をそれぞれ算出する。
【００３４】
図６は、リニアリティ誤差の一例を示す模式図である。図６において、横軸は、目標指標を示し、縦軸は、リニアリティ誤差を示している。横軸において、大の矢印に向かって進むに従って目標指標は大きくなり、小の矢印に向かって進むに従って目標指標は小さくなる。縦軸において、原点０から正の矢印に向かって進むに従ってリニアリティ誤差は正の値の方向に大きくなり、原点０から負の矢印に向かって進むに従ってリニアリティ誤差は負の値の方向に小さくなる。図６には、線ＬＬ６１と、破線ＬＬ６２とを示している。線ＬＬ６１及び破線ＬＬ６２は、それぞれ、目標指標とリニアリティ誤差との関係を示している。線ＬＬ６１は、図５に示した線ＬＬ５１に対応し、破線ＬＬ６２は、図５に示した破線ＬＬ５２に対応している。
【００３５】
図６に示した例では、目標指標とリニアリティ誤差との関係ＬＬ６２で示すようにリニアリティ誤差が生じている場合、ＲＲＯ学習部６２０は、リニアリティ補正を実行する。ＲＲＯ学習部６２０は、種々の補正パラメータを調整してリニアリティ誤差を調整する。ＲＲＯ学習部６２０は、種々の補正パラメータを所定の記録領域、例えば、ディスク１０や不揮発性メモリ８０に記録する。
【００３６】
図７は、リニア学習位置及びリニアリティ誤差に対応する位置決め誤差の分布の一例を示す図である。図７において、横軸は、トラックＴＲｋのトラックセンタＲＣＧに対する半径位置を示し、縦軸は、トラックＴＲｋにおいてリニアＲＲＯ補正処理により取得したＲＲＯ補正量に基づいてヘッド１５をトラックＴＲｋの所定の半径位置に位置決めした場合のサーボ位置決め誤差（Repeatable Position Error : RPE）を示している。横軸において、外方向の矢印に向かって進むに従ってディスク１０の外周側に位置し、内方向の矢印に向かって進むに従ってディスク１０の内周側に位置する。縦軸において、大の矢印に向かって進むに従って位置決め誤差が大きくなり、小の矢印に向かって進むに従って位置決め誤差が小さくなる。図７には、トラックＴＲｋのトラックセンタＲＣＧと、トラックセンタＲＣＧから外方向のリニア学習位置ｐｘ１１と、トラックセンタＲＣＧから内方向のリニア学習位置ｐｘ２１と、トラックセンタＲＣＧから外方向、且つリニア学習位置ｐｘ１１よりも内方向のリニア学習位置ｐｘ１２と、トラックセンタＲＣＧから内方向、且つリニア学習位置ｐｘ２１よりも外方向のリニア学習位置ｐｘ２２とを示している。図７には、位置決め誤差の分布Ｄ１と、位置決め誤差の分布Ｄ２、及び位置決め誤差の分布Ｄ３を示している。
【００３７】
図７に示した例では、位置決め誤差の分布Ｄ１は、リニアリティ誤差が小さい場合にリニア学習位置ｐｘ１１及びｐｘ２１のそれぞれで学習した２つのＲＲＯ補正量を用いてリニアＲＲＯ補正処理により取得したトラックＴＲｋの各半径位置に対応する各ＲＲＯ補正量に基づいてヘッド１５をトラックＴＲｋの各半径位置に位置決めした場合の位置決め誤差の変化を示している。位置決め誤差の分布Ｄ１において、各丸い点は、トラックＴＲｋにおいてヘッド１５を各半径位置に位置決めして測定した各位置決め誤差の測定値を示している。図７において、位置決め誤差の分布Ｄ２は、リニアリティ誤差が大きい場合にリニア学習位置ｐｘ１１及びｐｘ２１のそれぞれで学習した２つのＲＲＯ補正量を用いてリニアＲＲＯ補正処理により取得したトラックＴＲｋの各半径位置に対応する各ＲＲＯ補正量に基づいてヘッド１５をトラックＴＲｋの各半径位置に位置決めした場合の位置決め誤差の変化を示している。位置決め誤差の分布Ｄ２において、各交差している点は、トラックＴＲｋにおいてヘッド１５を各半径位置に位置決めして測定した各位置決め誤差の測定値を示している。図７において、位置決め誤差の分布Ｄ３は、リニアリティ誤差が大きい場合にリニア学習位置ｐｘ１２及びｐｘ２２のそれぞれで学習した２つのＲＲＯ補正量を用いてリニアＲＲＯ補正処理により取得したトラックＴＲｋの各半径位置に対応するＲＲＯ補正量に基づいてヘッド１５をトラックＴＲｋの各半径位置に位置決めした場合の位置決め誤差の変化を示している。位置決め誤差の分布Ｄ３において、各四角い点は、トラックＴＲｋにおいてヘッド１５を各半径位置に位置決めして測定した各位置決め誤差の測定値を示している。
【００３８】
図７に示した例では、リニアリティ誤差が大きい場合、リニア学習位置ｐｘ１１及びｐｘ２１よりもリニア学習位置ｐｘ１２及びｐｘ２２の方が、位置決め誤差が小さくなっている。言い換えると、リニアリティ誤差が大きい場合、２つのリニア学習位置の間隔（以下、リニア学習位置間隔と称する）が小さい方が、位置決め誤差が小さくなる。つまり、リニアリティ誤差が大きい場合、ＲＲＯの変動の周期が短く、ＲＲＯの変動が大きい。図７に示すように、リニアリティ誤差は、ＲＲＯ（ＲＲＯ補正量）に対応している。例えば、リニアＲＲＯ補正処理を実行する場合、ＲＲＯ学習部６２０は、リニアリティ誤差が大きくなるに従ってリニア学習位置間隔を小さくする。言い換えると、リニアＲＲＯ補正処理を実行する場合、ＲＲＯ学習部６２０は、リニアリティ誤差が小さくなるに従ってリニア学習位置間隔を大きくする。また、例えば、リニアＲＲＯ補正処理を実行する場合、ＲＲＯ学習部６２０は、リニアリティ誤差が０であればリニア学習位置間隔が最大となり得る。
【００３９】
図８は、本実施形態に係るリニア学習位置の設定方法の一例を示す図である。図８において、横軸は、所定のトラックに対応する補正パラメータに相当するガンマ（γ）を示し、縦軸は、所定のトラックのトラックセンタから半径方向への距離に相当するリニア学習位置を示している。リニア学習位置は、例えば、ナノメートル［ｎｍ］のオーダーである。横軸において、原点０から正の矢印に向かって進むに従ってガンマは正の値の方向に大きくなり、原点０から負の矢印に向かって進むに従ってガンマは負の値の方向に小さくなる。縦軸において、大の矢印に向かって進むに従ってリニア学習位置は大きくなり、小の矢印に向かって進むに従ってリニア学習位置は小さくなる。図８において、複数の丸い点は、それぞれ、所定のガンマで測定したリニア学習位置を示している。以下、所定のガンマで測定した学習位置を測定点と称する。図８には、複数の測定点から導出したガンマと最適なリニア学習位置との相関式ＣＬを示している。図８には、相関式ＣＬにおいてガンマγ１に対応する半径位置ＬＰ１と、相関式ＣＬにおいてガンマγ２に対応する半径位置ＬＰ２を示している。ガンマγ２は、ガンマγ１よりも大きい。半径位置ＬＰ２は、半径位置ＬＰ１よりも小さい。ガンマは、リニアリティ補正を実行時に取得され、リニアリティ補正の結果に応じて変化する。ガンマは、半径領域のリニアリティ誤差が大きいか小さいかを示す。ガンマが大きくなるに従って、半径領域のリニアリティ誤差が大きくなり、ガンマが小さくなるに従って、半径領域のリニアリティ誤差が小さくなる。ガンマが大きくなるに従って、半径領域におけるリサージュ波形が、四角形状に近づき、ガンマが小さくなるに従って、半径領域におけるリサージュ波形が、丸形状に近づく。ガンマが大きくなるに従って、半径領域におけるリサージュ波形の最小振幅に対する最大振幅の比が１より大きくなり、ガンマが小さくなるに従って、半径領域におけるリサージュ波形の最小振幅に対する最大振幅が１に近づく。
【００４０】
ＲＲＯ学習部６２０は、半径領域のリニアリティ補正において取得したガンマと相関式ＣＬとに基づいて、リニア学習位置を設定する。ＲＲＯ学習部６２０は、例えば、各磁気ディスク装置や各ヘッドで測定した複数の測定点から磁気ディスク毎やヘッド毎に調整した複数の相関式ＣＬを予め導出し、複数の相関式ＣＬを所定の記録領域、例えば、ディスク１０や不揮発性メモリ８０に記録していてもよい。リニア学習位置を設定する場合、ＲＲＯ学習部６２０は、所定の磁気ディスク装置や所定のヘッドに適切な相関式を選択する。図８に示した例では、ガンマγ１を取得した場合、ＲＲＯ学習部６２０は、ガンマγ１及び相関式ＣＬに基づいて、所定のトラックのトラックセンタから外方向へのリニア学習位置の絶対値を半径位置ＬＰ１に設定し、このトラックセンタから内方向へのリニア学習位置の絶対値を半径位置ＬＰ１に設定する。ガンマγ２を取得した場合、ＲＲＯ学習部６２０は、ガンマγ２及び相関式ＣＬに基づいて、所定のトラックのトラックセンタから外方向へのリニア学習位置の絶対値を半径位置ＬＰ２に設定し、このトラックセンタから内方向へのリニア学習位置の絶対値を半径位置ＬＰ２に設定する。なお、ＲＲＯ学習部６２０は、リサージュ波形に基づいてリニア学習位置を設定してもよい。例えば、ＲＲＯ学習部６２０は、リサージュ波形が円形状に近づくにつれて、所定のトラックのトラックセンタからのリニア学習位置を大きくし、リサージュ波形が四角形状に近づくにつれて、所定のトラックのトラックセンタからのリニア学習位置を小さくする。
【００４１】
ＲＲＯ記録部６３０は、ヘッド１５を所定の半径位置に位置決めして、ＲＲＯ学習により取得したＲＲＯ補正データを所定のサーボ領域ＳＶにライトする。ＲＲＯ記録部６３０は、少なくとも１つのＲＲＯ補正データを各サーボ領域ＳＶにライトする。ＲＲＯ記録部６３０は、ＲＲＯ補正データのリード可能な半径方向の幅（以下、再生幅と称する）を調整することができる。ＲＲＯ記録部６３０は、例えば、ＲＲＯ補正データの配置間隔、及びライト条件（例えば、ライト電流やライト浮上）等により再生幅を増減できる。また、再生幅は、ライトヘッド１５Ｗの幅、及びリードヘッド１５Ｒの幅等の設計的な条件でも増減する。ＲＲＯ記録部６３０は、ＲＲＯ補正データの再生幅の中心位置（以下、単に、ＲＲＯ補正データと称する）が各トラックでデータをライトすることが許可されているトラックセンタから半径方向に設定された所定の範囲（以下、許可範囲と称する）内に配置されるように、ＲＲＯ補正データをライトする。
【００４２】
位置補正部６４０は、所定のトラックの円周方向の所定の領域（以下、円周領域と称する）に対応するＲＲＯ補正データ（RRO bit）をリードし、リードしたＲＲＯ補正データから取得したＲＲＯ補正量、このＲＲＯ補正データを学習した学習位置や、このＲＲＯ補正データに対応する円周領域のトラックセンタからこのＲＲＯ補正データに対応する円周領域におけるヘッド位置までのオフトラック量に基づいて、ヘッド位置をこの円周領域における所定の半径位置、例えば、トラックセンタに近づくように補正する。位置補正部６４０は、少なくとも２つのリニア学習位置でそれぞれ学習した少なくとも２つのＲＲＯ補正量に基づいて、半径領域のＲＲＯ補正量の変化を算出し、算出した半径領域のＲＲＯ補正量の変化に基づいて、この半径領域におけるヘッド位置を補正するリニアＲＲＯ補正処理を実行する。
【００４３】
図９は、本実施形態に係るリニアＲＲＯ補正処理における学習位置の決定方法の一例を示すフローチャートである。  
ＭＰＵ６０は、サーボ領域ＳＶでリードした信号を復調する際に実行するリニアリティ補正において補正パラメータを調整する（Ｂ９０１）。ＭＰＵ６０は、補正パラメータを所定の記録領域、例えば、ディスク１０及び不揮発性メモリ８０等に記録する（Ｂ９０２）。ＭＰＵ６０は、補正パラメータに基づいてリニア学習位置を設定し（Ｂ９０３）、設定したリニア学習位置で学習したＲＲＯ補正データをライトして、処理を終了する。
【００４４】
図１０は、本実施形態に係るリニア学習位置の設定方法の一例を示すフローチャートである。  
図９のＢ９０３の処理において、ＭＰＵ６０は、補正パラメータの内のガンマを取得する（Ｂ１００１）。ＭＰＵ６０は、ガンマ及び相関式ＣＬに基づいてリニア学習位置を算出する。（Ｂ１００２）。ＭＰＵ６０は、算出したリニア学習位置を設定し（Ｂ１００３）、Ｂ９０３の処理に進む。
【００４５】
本実施形態によれば、磁気ディスク装置１は、サーボ領域ＳＶでリードした信号を復調する際に実行するリニアリティ補正において補正パラメータを調整し、補正パラメータの内のガンマと相関式ＣＬとに基づいてリニア学習位置を設定する。そのため、磁気ディスク装置１は、リニアＲＲＯ補正処理の精度を向上することができる。したがって、磁気ディスク装置１は、サーボ位置決め精度を改善することができる。
【００４６】
次に、変形例及び他の実施形態に係る磁気ディスク装置について説明する。変形例及び他の実施形態において、前述の実施形態と同一の部分には同一の参照符号を付してその詳細な説明を省略する。  
（変形例１）  
変形例１の磁気ディスク装置１は、リニア学習位置の設定方法が前述した実施形態と異なる。  
ＲＲＯ学習部６２０は、半径領域でリニアリティ補正を実行した後に、リニアリティ補正を実行した半径領域、例えば、半径方向で隣接する２つのトラック内のリニアリティ誤差の変動を測定し、測定したリニアリティ誤差の変動に基づいてＲＲＯ学習位置を設定する。
【００４７】
図１１は、リニアリティ誤差の変動の一例を示す図である。図１１において、横軸は、半径方向を示し、縦軸は、半径領域のリニアリティ誤差を示している。横軸において、外方向の矢印に向かって進むに従ってディスク１０の外周側に位置し、内方向の矢印に向かって進むに従ってディスク１０の内周側に位置する。縦軸において、原点０から正の矢印に向かって進むに従ってリニアリティ誤差は、正の値の方向に大きくなり、原点０から負の矢印に向かって進むに従ってリニアリティ誤差は、負の値の方向に小さくなる。図１１では、例えば、図３に示すように２サーボトラック分の半径領域におけるリニアリティ誤差の変動を示している。図１１には、半径領域におけるリニアリティ誤差の変動ＲＥＬ１と、半径領域におけるリニアリティ誤差の変動ＲＥＬ１よりも小さいリニアリティ誤差の変動ＲＥＬ２とを示している。図１１には、リニア学習位置を設定するための閾値ＲＥ１、ＲＥ２を示している。閾値ＲＥ１及びＲＥ２は、例えば、絶対値が同じである。なお、閾値ＲＥ１及びＲＥ２は、絶対値が同じでなくともよい。例えば、図１１に示した例は、図７に示した例に対向していてもよい。
【００４８】
図１１に示した例では、ＲＲＯ学習部６２０は、半径領域でリニアリティ補正を実行した後に、リニアリティ補正を実行した半径領域、例えば、半径方向で隣接する２つのトラックにおけるリニアリティ誤差の変動ＲＥＬ１を測定する。ＲＲＯ学習部６２０は、リニアリティ誤差の変動ＲＥＬ１が閾値ＲＥ１及びＲＥ２よりも大きいと判定し、リニア学習位置Ａ、例えば、図７に示したｐｘ１２とｐｘ２２を設定する。  
ＲＲＯ学習部６２０は、リニアリティ補正を実行した後に、リニアリティ補正を実行した半径領域におけるリニアリティ誤差の変動ＲＥＬ２を測定する。ＲＲＯ学習部６２０は、リニアリティ誤差の変動ＲＥＬ２が閾値ＲＥ１及びＲＥ２よりも小さいと判定し、リニア学習位置Ａよりも大きいリニア学習位置Ｂ、例えば、図７に示したｐｘ１１とｐｘ２１に設定する。
【００４９】
図１２は、変形例１に係るリニア学習位置の設定方法の一例を示すフローチャートである。  
図９のＢ９０３の処理において、ＭＰＵ６０は、リニアリティ補正を実行した半径領域においてリニアリティ誤差を測定し（Ｂ１２０１）、リニアリティ誤差（の絶対値）が閾値（の絶対値）よりも大きいか閾値以下であるかを判定する（Ｂ１２０２）。リニアリティ誤差が閾値よりも大きいと判定した場合（Ｂ１２０２のＹＥＳ）、ＭＰＵ６０は、リニア学習位置Ａを設定し（Ｂ１２０３）、Ｂ９０３の処理に進む。リニアリティ誤差が閾値よりも小さいと判定した場合（Ｂ１２０２のＮＯ）、ＭＰＵ６０は、リニア学習位置Ａよりも大きいリニア学習位置Ｂを設定し（Ｂ１２０４）、Ｂ９０３の処理に進む。
【００５０】
変形例１によれば、磁気ディスク装置１は、半径領域でリニアリティ補正を実行した後に、リニアリティ補正を実行した半径領域のリニアリティ誤差を測定し、測定したリニアリティ誤差に基づいてＲＲＯ学習位置を設定する。そのため、磁気ディスク装置１は、サーボ位置決め精度を改善することができる。
【００５１】
（変形例２）  
変形例２の磁気ディスク装置１は、リニア学習位置の設定方法が前述した実施形態及び変形例１と異なる。  
ＲＲＯ学習部６２０は、半径領域でリニアリティ補正を実行した後に、リニアリティ補正を実行した半径領域、例えば、半径方向で隣接する２つのトラック内のリニアリティ誤差の半径領域における変動周期成分を検出し、変動周期成分の変動周期振幅の閾値（以下、振幅閾値と称する）より大きい変動周期振幅を有する少なくとも１つの変動周期成分を検出し、振幅閾値よりも大きい変動周期振幅を有する少なくとも１つの変動周期成分の内の最も短い変動周期の変動周期成分（以下、最短周期成分と称する）の検出し、最短周期成分の変動周期の半分以下の間隔毎にリニア学習位置、例えば、２つのリニア学習位置を設定する。変動周期は、例えば、半径方向の位置に対応している。例えば、ＲＲＯ学習部６２０は、隣接する２つのトラック内のリニアリティ誤差の周期成分をＦＦＴ（Fast Fourier transform）スペクトラムとして取得する。
【００５２】
図１３は、リニアリティ誤差の変動周期成分の一例を示す図である。図１３において、横軸は、半径領域のリニアリティ誤差の変動周期（以下、単に変動周期と称する）の逆数を示し、縦軸は、変動周期振幅を示している。変動周期の逆数は、サーボトラックピッチを変動周期で割った値である。ここで、１サーボトラックピッチは、半径方向で隣接する２つのトラックの半径方向の距離に相当する。横軸には、１／変動周期＝０、１、２、３、４、５、６、７、８、９、１０を示している。縦軸において、大の矢印に向かって進むに従って変動周期振幅は大きくなり、小の矢印に向かって進むに従って変動周期振幅は小さくなる。図１３には、変動周期振幅Ａ１及びＡ２と振幅閾値Ａｔｈ１及びＡｔｈ２とを示している。変動周期振幅Ａ１は、振幅閾値Ａｔｈ１よりも大きい。振幅閾値Ａｔｈ２は、変動周期振幅Ａ１及び振幅閾値Ａｔｈ１よりも大きい。変動周期振幅Ａ２は、変動周期振幅Ａ１、振幅閾値Ａｔｈ１、及び振幅閾値Ａｔｈ２よりも大きい。図１３には、変動周期の逆数４（＝０．２５サーボトラックピッチ）で変動周期振幅Ａ１の変動周期成分Ｔ１と、変動周期の逆数２（＝０．５サーボトラックピッチ）で変動周期振幅Ａ２の変動周期成分Ｔ２とを示している。
【００５３】
図１３に示した例では、ＲＲＯ学習部６２０は、振幅閾値Ａｔｈ１よりも大きい変動周期振幅である変動周期成分Ｔ１と変動周期成分Ｔ２とを検出する。ＲＲＯ学習部６２０は、変動周期成分Ｔ１及び変動周期成分Ｔ２から最短周期成分として変動周期成分Ｔ１を検出する。ＲＲＯ学習部６２０は、変動周期成分Ｔ１の変動周期０．２５サーボトラックピッチの半分以下である０．１２５サーボトラックピッチ以下の間隔毎にリニア学習位置を設定する。
【００５４】
図１３に示した例では、ＲＲＯ学習部６２０は、振幅閾値Ａｔｈ２よりも大きい変動周期振幅Ａ２である変動周期成分Ｔ２を検出する。ＲＲＯ学習部６２０は、最短周期成分として変動周期成分Ｔ２を検出する。ＲＲＯ学習部６２０は、変動周期成分Ｔ２の変動周期０．５サーボトラックピッチの半分以下である０．２５サーボトラックピッチ以下の間隔毎にリニア学習位置を設定する。
【００５５】
図１４は、変形例２に係るリニア学習位置の設定方法の一例を示す模式図である。図１４において、横軸は、半径方向を示している。横軸において、外方向の矢印に向かって進むに従ってディスク１０の外周側に位置し、内方向に矢印に向かって進むに従ってディスク１０の内周側に位置している。図１４には、半径方向で隣接する２つのトラックＴＲｍ及びＴＲｍ−１を示している。図１４には、トラックＴＲｍのトラックセンタＴＲＣｍと、トラックＴＲｍ−１のトラックセンタＴＲＣｍ−１とを示している。図１４には、変動周期ＭＴＰの最短周期成分ＦＣＬを示している。最短周期成分ＦＣＬにおいて、丸い点は、設定したリニア学習位置を示している。図１４において、２つのリニア学習位置は、変動周期ＭＴＰの１／２以下の間隔毎に設定されている。図１４において、２つのリニア学習位置は、半径方向にリニア学習位置間隔Ｌｄで離間している。言い換えると、リニア学習位置間隔は、間隔Ｌｄである。図１４には、２つのリニア学習位置ｐｘ３１及びｐｘ３２を示している。リニア学習位置ｐｘ３１は、トラックセンタＴＲＣｍに対して外方向にオフトラック量ｘで離間している。リニア学習位置ｐｘ３２は、トラックセンタＴＲＣｍに対して内方向に離間している。リニア学習位置ｐｘ３２は、リニア学習位置ｐｘ３１から内方向に間隔Ｌｄで離間している。
【００５６】
図１４に示した例では、ＲＲＯ学習部６２０は、最短周期成分ＦＣＬの変動周期ＭＴＰの１／２（ＭＴＰ／２）以下の間隔毎に２つのリニア学習位置を設定する。例えば、ＲＲＯ学習部６２０は、トラックＴＲｍの周囲の変動周期ＭＴＰ／２以下の所定の間隔において、トラックＴＲｍのトラックセンタＴＲＣｍに対して外方向にオフトラック量ｘで離間しているリニア学習位置ｐｘ３１を設定する。例えば、ＲＲＯ学習部６２０は、トラックＴＲｍの周囲の変動周期ＭＴＰ／２以下の所定の間隔において、リニア学習位置ｐｘ３１のトラックＴＲｍのトラックセンタＴＲＣｍからのオフトラック量ｘとリニア学習位置間隔Ｌｄとに基づいて算出したトラックセンタＴＲＣｍに対して内方向にオフトラック量Ｌｄ−ｘした半径位置をリニア学習位置ｐｘ３２として設定する。
【００５７】
図１５は、変形例２に係るリニアリティ補正に基づくリニア学習位置の設定方法の一例を示すフローチャートである。  
図９のＢ９０３の処理において、ＭＰＵ６０は、リニアリティ補正を実行した半径領域においてリニアリティ誤差を測定し（Ｂ１５０１）、測定したリニアリティ誤差の変動周期成分を検出し（Ｂ１５０２）、振幅閾値よりも大きい変動周期振幅を有する少なくとも１つの変動周期成分を検出する（Ｂ１５０３）。ＭＰＵ６０は、振幅閾値よりも大きい変動周期振幅を有する少なくとも１つの変動周期成分の内の最短周期成分を検出し（Ｂ１５０４）、最短周期成分の変動周期の半分以下の間隔毎にリニア学習位置、例えば、２つのリニア学習位置を設定し（Ｂ１５０５）、Ｂ９０３の処理に進む。
【００５８】
変形例２によれば、磁気ディスク装置１は、半径領域でリニアリティ補正を実行した後に、リニア補正を実行した半径領域のリニアリティ誤差を測定し、測定したリニアリティ誤差の変動周期成分を検出し、振幅閾値よりも大きい変動周期振幅を有する少なくとも１つの変動周期成分を検出する。磁気ディスク装置１は、振幅閾値よりも大きい変動周期振幅の少なくとも１つの変動周期成分の内の最短周期成分を検出し、最短周期成分の変動周期の半分以下の間隔毎にリニア学習位置を設定する。そのため、磁気ディスク装置１は、サーボ位置決め精度を改善することができる。
【００５９】
いくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。
【符号の説明】
【００６０】
１…磁気ディスク装置、１０…磁気ディスク、１０ａ…ユーザデータ領域、１０ｂ…システムエリア、１２…スピンドルモータ（ＳＰＭ）、１３…アーム、１４…ボイスコイルモータ（ＶＣＭ）、１５…ヘッド、１５Ｗ…ライトヘッド、１５Ｒ…リードヘッド、２０…ドライバＩＣ、３０…ヘッドアンプＩＣ、４０…リード／ライト（Ｒ／Ｗ）チャネル、５０…ハードディスクコントローラ（ＨＤＣ）、６０…マイクロプロセッサ（ＭＰＵ）、７０…揮発性メモリ、８０…不揮発性メモリ、９０…バッファメモリ、１００…ホストシステム（ホスト）、１３０…システムコントローラ。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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