(57)【要約】【課題】測定対象の金属の耐食性をより正確に測定できる腐食センサを提供する。【解決手段】腐食センサ１０は、基板１１と、基板１１上に配置された計測金属１２と、基板１１上に配置され、計測金属１２と同じ金属からなる参照金属１３と、を備える。計測金属１２は、基板１１側の面に形成された耐食性のコーティング膜１２１を有し、参照金属１３は、基板１１側の面と反対の面に形成され、計測金属１２のコーティング膜１２１と同じ物質からなるコーティング膜１３１を有する。【選択図】図２
2020101504.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
基板と、
前記基板上に配置された計測金属と、
前記基板上に配置され、前記計測金属と同じ金属からなる参照金属と、を備え、
前記計測金属は、前記基板側の面に形成された耐食性のコーティング膜を有し、
前記参照金属は、前記基板側の面と反対の面に形成され、前記計測金属のコーティング膜と同じ物質からなるコーティング膜を有する、腐食センサ。
【請求項２】
請求項１に記載の腐食センサであって、
前記計測金属及び前記参照金属のコーティング膜は、金属又は合金の膜である、腐食センサ。
【請求項３】
請求項１又は２に記載の腐食センサであって、
前計測金属及び前記参照金属のそれぞれは、前記コーティング膜が側面にも形成されている、腐食センサ。
【請求項４】
請求項１〜３のいずれか一項に記載の腐食センサであって、
前記計測金属及び前記参照金属のそれぞれの側面の少なくとも一部を覆う被覆膜をさらに備える、腐食センサ。
【請求項５】
請求項４に記載の腐食センサであって、
前記計測金属は、前記コーティング膜以外の部分だけが前記被覆膜から露出しており、
前記参照金属は、前記コーティング膜だけが前記被覆膜から露出している、腐食センサ。
【請求項６】
請求項１〜５のいずれか一項に記載の腐食センサと、
前記計測金属及び前記参照金属の電気抵抗を計測する抵抗測定器と、
前記抵抗測定器によって計測された電気抵抗を記録する記録装置と、を備える、腐食モニタリング装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、腐食センサ及び腐食モニタリング装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
鋼材の寿命推定や耐食鋼材の研究開発におけるニーズを背景として、鋼材の腐食モニタリング技術の開発が進められている。腐食モニタリングの手法の一つとして、板厚減少に伴う電気抵抗の増加に基づいて腐食量を測定する方法が知られている。
【０００３】
特開２０１６−１９７１０２号公報には、腐食センサの設計方法が開示されている。この腐食センサは、任意の環境に暴露されるセンサ部と、この任意の環境から遮断される参照部とを備える。同公報には、測定期間、測定間隔、平均気温、及び海塩粒子量に基づいて、センサ部の適切な厚さを設定する腐食センサの設計方法が開示されている。
【０００４】
特開２０１７−３３７６号公報には、任意の環境に暴露されるセンサ部と、この任意の環境から遮断される参照部とを備え、センサ部と参照部とが絶縁体を介して積層された腐食センサが開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２０１６−１９７１０２号公報
【特許文献２】特開２０１７−３３７６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
上記文献に開示されるように、腐食センサは、測定環境に暴露される計測金属（センサ部）と、測定環境から遮断して腐食されないようにした参照金属（参照部）とを備える。この構成によれば、参照金属の電気抵抗を用いて計測金属の電気抵抗を補正することで、温度による比抵抗の変化の影響を補償することができる。
【０００７】
腐食センサでは、参照金属を測定環境から遮断するために（参照金属が腐食しないように）、参照金属を防食性塗料等で被覆する。この被覆によって、参照金属と計測金属との温度差が大きくなり、正確な温度補償ができなくなる場合がある。
【０００８】
本発明の目的は、測定対象の金属の耐食性をより正確に測定できる腐食センサ及び腐食モニタリング装置を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本発明の一実施形態による腐食センサは、基板と、前記基板上に配置された計測金属と、前記基板上に配置され、前記計測金属と同じ金属からなる参照金属と、を備える。前記計測金属は、前記基板側の面に形成された耐食性のコーティング膜を有し、前記参照金属は、前記基板側の面と反対の面に形成され、前記計測金属のコーティング膜と同じ物質からなるコーティング膜を有する。
【００１０】
本発明の一実施形態による腐食モニタリング装置は、上述した腐食センサと、前記計測金属及び前記参照金属の電気抵抗を計測する抵抗測定器と、前記抵抗測定器によって計測された電気抵抗を記録する記録装置と、を備える。
【発明の効果】
【００１１】
本発明によれば、測定対象の金属の耐食性をより正確に測定できる腐食センサ及び腐食モニタリング装置が得られる。
【図面の簡単な説明】
【００１２】
【図１】図１は、本発明の第１の実施形態による腐食センサを含む、腐食モニタリング装置の全体の構成を模式的に示す図である。
【図２】図２は、図１のＩＩ−ＩＩ線に沿った断面図である。
【図３】図３は、本発明の第１の実施形態による腐食センサの変形例の構成を模式的に示す図である。
【図４】図４は、本発明の第２の実施形態による腐食センサの構成を模式的に示す図である。
【図５】図５は、図４のＶ−Ｖ線に沿った断面図である。
【図６】図６は、本発明の第３の実施形態による腐食センサの構成を模式的に示す図である。
【図７】図７は、図６のＶＩＩ−ＶＩＩ線に沿った断面図である。
【図８】図８は、本発明の第４の実施形態による腐食センサの構成を模式的に示す図である。
【図９】図９は、図８のＩＸ−ＩＸ線に沿った断面図である。
【図１０】図１０は、図９の計測金属及び参照金属の製造方法の一例を説明するための図である。
【発明を実施するための形態】
【００１３】
本発明者らは、計測金属と参照金属との温度差を小さくする方法を検討した。温度差を小さくする方法として、参照金属を被覆する被覆部材の熱伝導率を高くしたり、被覆部材の厚さを薄くしたりすることが考えられるが、これらの方法によって温度差を小さくすることには限界がある。
【００１４】
本発明者らは、参照金属の腐食を防止する方法として、参照金属の表面に防食性のコーティング膜を形成することを考えた。さらに、計測金属にも同じコーティング膜を形成することで、参照金属の電気抵抗の温度依存性と計測金属の電気抵抗の温度依存性とを同じにできることを着想し、本発明を完成させた。
【００１５】
以下、図面を参照し、本発明の実施の形態を詳しく説明する。図中同一又は相当部分には同一符号を付してその説明は繰り返さない。各図に示された構成部材間の寸法比は、必ずしも実際の寸法比を示すものではない。
【００１６】
［第１の実施形態］
図１は、本発明の第１の実施形態による腐食センサを含む、腐食モニタリング装置１の全体の構成を模式的に示す図である。腐食モニタリング装置１は、腐食センサ１０に加えて、抵抗測定器２０及び記録装置２５を備えている。
【００１７】
腐食センサ１０は、基板１１、計測金属１２、参照金属１３及び被覆部材１４を備えている。計測金属１２及び参照金属１３は、基板１１の上に形成されている。被覆部材１４は、計測金属１２及び参照金属１３の一部を覆って形成されている。
【００１８】
基板１１は、例えばプラスチック基板である。基板１１は、金属等の導体であってもよい。その場合、基板１１と計測金属１２との間、及び基板１１と参照金属１３との間に絶縁体を配置すればよい。
【００１９】
計測金属１２は、評価対象となる金属からなる。計測金属１２は、平面視でＵ字型の形状を有している。計測金属１２の初期の厚さは、金属の種類や環境、測定の目的によって異なるので一概にはいえないが、例えば０．０１〜１０ｍｍであり、好ましくは０．０２〜１．０ｍｍである。計測金属１２の初期の厚さは、計測金属１２の全体にわたって均一であることが好ましい。
【００２０】
計測金属１２は、端子１２ａ及び１２ｂを有しており、配線２１ａ及び２２ａを介して抵抗測定器２０に電気的に接続される。計測金属１２の端子１２ａ及び１２ｂの近傍は、腐食によって配線２１ａ及び２２ａが断線するのを防止するため、被覆部材１４によって被覆されている。
【００２１】
参照金属１３は、計測金属１２と同じ金属からなる。参照金属１３は、平面視でＵ字型の形状を有している。参照金属１３は、計測金属１２と同一の寸法であることが好ましい。参照金属１３は、計測金属１２と同様に、端子１３ａ及び１３ｂを有しており、配線２１ａ及び２３ａを介して抵抗測定器２０に電気的に接続される。参照金属１３の端子１３ａ及び１３ｂの近傍も、被覆部材１４によって被覆されている。
【００２２】
計測金属１２の端子１２ｂと参照金属１３の端子１３ａとは、電気的に接続されている。すなわち、計測金属１２と参照金属１３とは、直列に接続されている。端子１２ｂと端子１３ａとを電気的に接続する方法は、これに限定されないが、両端子に半田や溶接で配線を接続する方法、両端子を導電性テープで接続する方法等が挙げられる。
【００２３】
図２は、図１のＩＩ−ＩＩ線に沿った断面図である。計測金属１２は、基板１１側の面に形成された耐食性のコーティング膜１２１を有している。参照金属１３は、基板１１側の面と反対の面に形成され、コーティング膜１２１と同じ物質からなるコーティング膜１３１を有している。
【００２４】
コーティング膜１２１及び１３１は、測定環境に対する高い耐食性を有するものが好ましい。コーティング膜１２１及び１３１はまた、熱伝導率の高いものが好ましい。一方、コーティング膜１２１及び１３１は、電気絶縁性を有していなくてもよい。
【００２５】
コーティング膜１２１及び１３１は、無機物質の膜であることが好ましい。コーティング膜１２１及び１３１は、例えば金属又は合金の膜であり、より具体的には、これに限定されないが、Ａｕ、Ｎｉ、Ｃｕ、Ｓｎ、Ｃｒ等の金属又はその合金の膜が好ましい。コーティング膜１２１及び１３１は、半導体やセラミックの膜であってもよい。
【００２６】
コーティング膜１２１及び１３１を形成する方法としては、物理蒸着法（ＰＶＤ）や化学気相成長法（ＣＶＤ）、電気めっき法や溶融めっき法等が挙げれる。物理蒸着法としては、真空蒸着や分子線蒸着、イオンプレーティング、スパッタリング等が挙げられる。
【００２７】
計測金属１２及び参照金属１３の一部の面だけをコーティングする方法としては、例えば、非コーティング面をマスクしてコーティングする方法や、全面にコーティングした後、切断や研削によって非コーティング面を露出させる方法等が挙げられる。
【００２８】
本実施形態による腐食センサ１０の計測金属１２及び参照金属１３は、平板状の金属の片面をコーティングした後、所定の形状に切り出すことによって製造できるため、生産性に優れている。
【００２９】
コーティング膜１２１及び１３１は、測定環境に対する耐食性を確保できる範囲で、できるだけ薄くすることが好ましい。コーティング膜１２１及び１３１の電気抵抗が大きいほど、計測金属１２の板厚の変化を正確に測定できるためである。コーティング膜１２１とコーティング膜１３１とは、同じ厚さであることが好ましい。
【００３０】
再び図１を参照して、腐食モニタリング装置１の説明を続ける。腐食モニタリング装置１の抵抗測定器２０は、定電流電源２１、並びに電圧計２２及び２３を備えている。
【００３１】
定電流電源２１は、配線２１ａを介して計測金属１２の端子１２ａ及び参照金属１３の端子１３ｂに電気的に接続される。上述のとおり、計測金属１２と参照金属１３とは直列に接続されている。そのため、計測金属１２及び参照金属１３には、同じ大きさの電流Ｉが流れる。
【００３２】
電圧計２２は、配線２２ａを介して計測金属１２の端子１２ａ及び１２ｂに電気的に接続され、端子１２ａと端子１２ｂとの間の電圧Ｖ１を測定する。電圧Ｖ１を電流Ｉで除すことで、計測金属１２の電気抵抗（正確には、計測金属１２とコーティング膜１２１との合成抵抗）Ｒｍｅａを求めることができる。
【００３３】
同様に、電圧計２３は、配線２３ａを介して参照金属１３の端子１３ａ及び１３ｂに電気的に接続され、端子１３ａと端子１３ｂとの間の電圧Ｖ２を測定する。電圧Ｖ２を電流Ｉで除すことで、参照金属１３の電気抵抗（正確には、参照金属１３とコーティング膜１３１との合成抵抗）Ｒｒｅｆを求めることができる。
【００３４】
本実施形態では、後述するように、電気抵抗Ｒｍｅａ及びＲｒｅｆから計測金属１２の板厚減少量を求める。板厚減少量を正確に求めるためには、電気抵抗Ｒｍｅａ及びＲｒｅｆをできるだけ正確に計測することが好ましい。特に、腐食モニタリング装置１は、直射日光や放射熱の影響を受ける屋外での使用を念頭に置いていることから、装置各部の温度差に起因する熱起電力や、外部電磁場により生じる誘導起電力が計測ノイズとして電気抵抗Ｒｍｅａ及びＲｒｅｆの計測に大きく影響する。特に、直射日光など放射熱で加熱される場合、日光の当たり方や計測金属１２の腐食状態によっては、端子１２ａと端子１２ｂとの間、及び、端子１３ａと１３ｂとの間に温度差が生じやすくなる。この温度差による熱起電力は、ノイズとなって電気抵抗Ｒｍｅａ及びＲｒｅｆの正確な計測の大きな妨げとなる。
【００３５】
以上のことから、電気抵抗Ｒｍｅａ及びＲｒｅｆを正確に計測するために、計測金属１２及び参照金属１３と配線２１ａ、２２ａ及び２３ａとの接続部分の熱起電力による計測ノイズを除去する対策を施すことが好ましい。熱起電力の影響を軽減するための具体的なノイズ対策法としては、（１）大きな測定電流で検出電圧を上げる、（２）測定電流のオフ時の電圧分をオン時の電圧から差し引いた値を電圧として計測する、（３）測定電流の極性を反転し、それぞれの場合の電圧の絶対値の平均値を電圧として計測する、（４）検出信号を交流（表皮効果を考慮し、１００ｋＨｚ以下の低周波域とすることが好ましい）にする、等が考えられる。
【００３６】
さらに、配線２１ａ、２２ａ及び２３ａとして、同軸ケーブル又は撚り線を採用することが好ましい。これにより、配線２１ａ、２２ａ及び２３ａによる外部電磁場が抵抗計測に与える影響を低減し、誘導起電力による計測ノイズを除去することができる。
【００３７】
上述した抵抗測定器２０の構成は例示である。腐食モニタリング装置１は、抵抗測定器２０に代えて、他の構成によって計測金属１２及び参照金属１３の電気抵抗を計測する抵抗測定器を備えていてもよい。抵抗測定器は例えば、計測金属１２及び参照金属１３に一定電圧を印加し、電流値から抵抗を計測するものであってもよい。
【００３８】
記録装置２５は、抵抗測定器２０によって計測された電気抵抗Ｒｍｅａ及びＲｒｅｆを記録する。記録装置２５の記録方式は、ディジタル方式又はアナログ方式の何れでもよい。
【００３９】
電気抵抗Ｒｍｅａに加えて電気抵抗Ｒｒｅｆを記録しておくことで、環境の温度変化の影響を補償することができる。具体的には、参照金属１３の初期の厚さをｄ０、計測金属１２の初期の電気抵抗（正確には、計測金属１２とコーティング膜１２１との合成抵抗の初期値）をＲｍｅａ＿ｉｎｉｔ、参照金属１３の初期の電気抵抗（正確には、参照金属１３とコーティング膜１３１との合成抵抗の初期値）をＲｒｅｆ＿ｉｎｉｔとしたとき、計測金属の板厚減少量Δｄは、近似的に下記の式から求めることができる。
【００４０】
【数１】
2020101504.tif 000003
【００４１】
［腐食センサ１０及び腐食モニタリング装置１の効果］
本実施形態によれば、計測金属１２は、基板１１側の面以外の面が測定環境に暴露されている。これに対し参照金属１３は、表裏の面が基板１１及びコーティング膜１３１によって覆われ、測定環境から遮断されている。そのため、計測金属１２は測定環境によって腐食されるのに対し、参照金属１３は測定環境によって腐食されない。なお、参照金属１３は厳密には側面が測定環境に暴露されているが、参照金属１３が薄い場合には問題とならない。
【００４２】
本実施形態によればさらに、計測金属１２は、基板１１と接する側の面に、コーティング膜１３１と同じ物質からなるコーティング膜１２１が形成されている。これによって、計測金属１２の電気抵抗の温度依存性と参照金属１３の電気抵抗の温度依存性とを同じにすることができる。
【００４３】
参照金属１３の電気抵抗（正確には、参照金属１３とコーティング膜１３１との合成抵抗）を用いて計測金属１２の電気抵抗（正確には、計測金属１２とコーティング膜１２１との合成抵抗）を補正することで、計測金属１２の板厚の変化を正確に求めることができる。そのため、本実施形態によれば、測定対象の金属の耐食性をより正確に測定できる。
【００４４】
［腐食センサ１０の変形例］
図３は、腐食センサ１０の変形例である腐食センサ１０Ａの構成を模式的に示す図である。腐食センサ１０Ａは、腐食センサ１０（図１）の計測金属１２及び参照金属１３に代えて、計測金属１２Ａ及び参照金属１３Ａを備えている。図示は省略するが、計測金属１２Ａ及び参照金属１３Ａも、計測金属１２及び参照金属１３と同様のコーティング膜を有している。
【００４５】
計測金属１２Ａ及び参照金属１３Ａは、計測金属１２及び参照金属１３と比較して平面形状が異なっている。
【００４６】
計測金属及び参照金属は、幅（電流が流れる方向及び厚さ方向と垂直な方向の寸法）が狭いほど、あるいは長さ（電流が流れる方向に沿った寸法）が長いほど、測定精度を高くすることができる。すなわち、計測金属及び参照金属が細長い形状であるほど、測定精度が高くなる。そのため、計測金属及び参照金属を計測金属１２Ａ及び参照金属１３Ａのように長尺状（メアンダリング状）の形状とすることで、設置面積当たりの計測金属及び参照金属の長さを長くすることができ、測定精度を高くすることができる。
【００４７】
図１及び図３に示した計測金属及び参照金属の形状は例示であって、計測金属及び参照金属は任意の形状であってよい。計測金属及び参照金属は、例えば直線形状であってもよい。
【００４８】
以上、本発明の第１の実施形態による腐食センサ１０及びその変形例、並びに腐食モニタリング装置１の構成を説明した。本実施形態によれば、測定対象の金属の耐食性をより正確に測定することができる。
【００４９】
なお上記の実施形態では、計測金属１２と参照金属１３とが同一形状である場合を説明した。計測金属１２と参照金属１３とは、同一形状であることが好ましいが、同一形状でなくても、初期の寸法が分かれば板厚減少量を計算することができる。
【００５０】
［第２の実施形態］
腐食モニタリング装置１は、腐食センサ１０に代えて、以下に説明する腐食センサ３０（図４）、腐食センサ４０（図６）、及び腐食センサ５０（図８）のいずれかを備えていてもよい。図４は、本発明の第２の実施形態による腐食センサ３０の構成を模式的に示す図である。腐食センサ３０は、腐食センサ１０（図１）の計測金属１２及び参照金属１３に代えて、計測金属３２及び参照金属３３を備えている。
【００５１】
図５は、図４のＶ−Ｖ線に沿った断面図である。計測金属３２は、計測金属１２（図２）と同様に、基板１１側の面に形成された耐食性のコーティング膜３２１を有している。参照金属３３は、参照金属１３（図２）と同様に、基板１１側の面と反対の面に形成され、コーティング膜３２１と同じ物質からなるコーティング膜３３１を有している。
【００５２】
コーティング膜３２１は、計測金属３２の基板１１側の面に加えて、計測金属３２の側面の全面に形成されている。同様に、コーティング膜３３１は、参照金属３３の基板１１側の面と反対の面に加えて、参照金属３３の側面の全面に形成されている。
【００５３】
本実施形態によれば、参照金属３３が側面から腐食するのを抑制できる。そのため、参照金属３３が厚い場合であっても、正確な温度補償をすることができる。
【００５４】
［第３の実施形態］
図６は、本発明の第３の実施形態による腐食センサ４０の構成を模式的に示す図である。図７は、図６のＶＩＩ−ＶＩＩ線に沿った断面図である。腐食センサ４０は、腐食センサ１０（図１）の構成に加えて、計測金属１２及び参照金属１３のそれぞれの側面の全面を覆う被覆膜４５をさらに備えている。被覆膜４５は、例えば防食性の塗料である。
【００５５】
本実施形態によっても、腐食センサ３０（図５）と同様に、参照金属１３が側面から腐食するのを抑制できる。そのため、参照金属１３が厚い場合であっても、正確な温度補償をすることができる。
【００５６】
腐食センサ３０（図５）の構成では、計測金属３２とコーティング膜３２１との接触箇所が測定環境に暴露されている。異種物質の接触箇所では、異種物質の接触に起因する腐食が発生する場合がある。そのため、腐食センサ３０の構成では、計測金属３２とコーティング膜３２１との組み合わせによっては、計測金属３２の耐食性を正確に評価できない場合がある。
【００５７】
本実施形態によれば、計測金属１２は、コーティング膜１２１以外の部分だけが被覆膜４５から露出しており、参照金属１３は、コーティング膜１３１だけが被覆膜４５から露出している。換言すれば、計測金属１２とコーティング膜１２１との接触箇所、及び参照金属１３とコーティング１３１との接触箇所が、測定環境に露出していない。そのため、異種物質の接触に起因する腐食を抑制することができる。
【００５８】
［第４の実施形態］
図８は、本発明の第４の実施形態による腐食センサ５０の構成を模式的に示す図である。図９は、図８のＩＸ−ＩＸ線に沿った断面図である。腐食センサ５０は、腐食センサ４０（図７）の計測金属１２及び参照金属１３に代えて、計測金属５２及び参照金属５３を備えている。腐食センサ５０はまた、腐食センサ４０（図７）の被覆膜４５に代えて、被覆膜５５を備えている。
【００５９】
計測金属５２は、計測金属１２（図７）と同様に、基板１１側の面に形成された耐食性のコーティング膜５２１を有している。また参照金属５３は、参照金属１３（（図７）と同様に、基板１１側の面と反対の面に形成され、コーティング膜５２１と同じ物質からなるコーティング膜５３１を有している。
【００６０】
コーティング膜５２１は、計測金属５２の基板１１側の面に加えて、計測金属５２の側面にも形成されている。ただし、コーティング膜５２１は、計測金属５２の側面の全面に形成されている訳ではなく、計測金属５２の側面の約半分の高さまでを覆うように形成されている。
【００６１】
同様に、コーティング膜５３１は、参照金属５３の基板１１側の面と反対の面に加えて、参照金属５３の側面にも形成されている。ただし、コーティング膜５３１は、参照金属５３の側面の全面に形成されている訳ではなく、参照金属５３の側面の約半分の高さまでを覆うように形成されている。
【００６２】
コーティング膜５２１や５３１のようなコーティング膜を形成する方法としては例えば、図１０に示すように、計測金属５２又は参照金属５３の厚さの約半分の深さの溝が設けられたサセプタ９０を準備し、サセプタ９０に計測金属５２又は参照金属５３を配置してコーティングを実施する方法が挙げられる。
【００６３】
腐食センサ４０（図７）の被覆膜４５は、計測金属４２及び参照金属４３のそれぞれの側面の全面を覆っていたが、腐食センサ５０（図９）の被覆膜５５は、計測金属５２及び参照金属５３のそれぞれの側面の厚さ方向の一部だけを覆っている。換言すれば、計測金属５２及び参照金属５３は、被覆膜５５から突出している。
【００６４】
被覆膜５５は、より具体的には、参照金属５３の側面のうち、コーティング膜５３１が形成されていない部分を覆うように形成されている。これによって、参照金属５３が側面から腐食するのを抑制できる。そのため、参照金属５３が厚い場合であっても、正確な温度補償をすることができる。
【００６５】
被覆膜５５はまた、計測金属５２の側面のうち、コーティング膜５２１を覆うように形成されている。そのため本実施形態においても、計測金属５２は、コーティング膜５２１以外の部分だけが被覆膜５５から露出しており、参照金属５３は、コーティング膜５３１だけが被覆膜５５から露出している。換言すれば、計測金属５２とコーティング膜５２１との接触箇所、及び参照金属５３とコーティング５３１との接触箇所が、測定環境に露出していない。そのため、異種物質の接触に起因する腐食を抑制することができる。
【００６６】
以上、本発明の実施形態を説明したが、上述した実施形態は本発明を実施するための例示にすぎない。よって、本発明は上述した実施形態に限定されることなく、その趣旨を逸脱しない範囲で、上述した実施形態を適宜変形して実施することが可能である。
【符号の説明】
【００６７】
１  腐食モニタリング装置
１０，１０Ａ，３０，４０，５０  腐食センサ
１１  基板
１２，１２Ａ，３２，５２  計測金属
１２１，３２１，５２１  コーティング膜
１３，１３Ａ，３３，５３  参照金属
１３１，３３１，５３１  コーティング膜
１４  被覆部材
４５，５５  被覆膜
２０  抵抗測定器
２１  定電流電源
２２，２３  電圧計
２５  記録装置
【図１】
2020101504.tif 000004
【図２】
2020101504.tif 000005
【図３】
2020101504.tif 000006
【図４】
2020101504.tif 000007
【図５】
2020101504.tif 000008
【図６】
2020101504.tif 000009
【図７】
2020101504.tif 000010
【図８】
2020101504.tif 000011
【図９】
2020101504.tif 000012
【図１０】
2020101504.tif 000013