(57)【要約】【課題】出射されるレーザ光の異常を検出し、安全性を向上させる。【解決手段】光源駆動装置は、光源制御部、受光部および異常検出部を具備する。この光源駆動装置が具備する光源制御部は、光源の発光を制御する。この光源駆動装置が具備する受光部は、その光源の光を外部に出射する出射部を介してその光源からの光を受光する。この光源駆動装置が具備する異常検出部は、その受光した光に基づいてその出射部から出射される光の異常を検出する。【選択図】図２
2020047874.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光源の発光を制御する光源制御部と、
前記光源の光を外部に出射する出射部を介して前記光源からの光を受光する受光部と、
前記受光した光に基づいて前記出射部から出射される光の異常を検出する異常検出部と
を具備する光源駆動装置。
【請求項２】
前記異常検出部は、前記光源制御部が前記光源を発光させる際に前記異常を検出する請求項１記載の光源駆動装置。
【請求項３】
前記異常検出部は、前記受光した光量が所定の閾値を超える場合に前記異常を検出する請求項２記載の光源駆動装置。
【請求項４】
前記異常検出部は、前記受光した光量が所定の閾値未満の場合に前記異常を検出する請求項２記載の光源駆動装置。
【請求項５】
前記異常検出部は、前記光源制御部が前記光源の発光を停止させる際に前記異常を検出する請求項１記載の光源駆動装置。
【請求項６】
前記異常検出部は、前記受光した光量が所定の閾値を超える場合に前記異常を検出する請求項５記載の光源駆動装置。
【請求項７】
前記異常検出部は、前記異常を検出した際に前記光源制御部に前記発光を停止させる請求項１記載の光源駆動装置。
【請求項８】
前記受光部は、前記出射部により反射された前記光源からの光を受光する請求項１記載の光源駆動装置。
【請求項９】
前記受光部は、前記出射部を透過した前記光源からの光を受光する請求項１記載の光源駆動装置。
【請求項１０】
複数の前記受光部を具備し、
前記異常検出部は、前記複数の受光部が受光した光に基づいて前記異常を検出する
請求項１記載の光源駆動装置。
【請求項１１】
光源と、
前記光源の光を外部に出射する出射部と、
前記光源の発光を制御する光源制御部と、
前記出射部を介して前記光源からの光を受光する受光部と、
前記受光した光に基づいて前記出射部から出射される光の異常を検出する異常検出部と
を具備する発光装置。
【請求項１２】
前記出射部は、前記光源からの光を透過するとともに拡散光に変換する請求項１１記載の発光装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本開示は、光源駆動装置および発光装置に関する。詳しくは、レーザ光を出射する光源駆動装置および発光装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、光学系を介してレーザダイオードの出射光を空間に放出するレーザ発光装置において、目に対する安全性を向上させる装置が使用されている。例えば、レーザダイオードの出射光を光学系を介してフォトダイオードによりモニタしながらレーザダイオードの電流を制御する装置が使用されている（例えば、特許文献１参照。）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００４−１１１８５９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
上述の従来技術では、光学系の破損等による出射レーザ光の異常を検出できないという問題がある。
【０００５】
本開示は、上述した問題点に鑑みてなされたものであり、出射されるレーザ光の異常を検出し、安全性を向上させることを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本開示は、上述の問題点を解消するためになされたものであり、その第１の態様は、光源の発光を制御する光源制御部と、上記光源の光を外部に出射する出射部を介して上記光源からの光を受光する受光部と、上記受光した光に基づいて上記出射部から出射される光の異常を検出する異常検出部とを具備する光源駆動装置である。
【０００７】
また、この第１の態様において、上記異常検出部は、上記光源制御部が上記光源を発光させる際に上記異常を検出してもよい。
【０００８】
また、この第１の態様において、上記異常検出部は、上記受光した光量が所定の閾値を超える場合に上記異常を検出してもよい。
【０００９】
また、この第１の態様において、上記異常検出部は、上記受光した光量が所定の閾値未満の場合に上記異常を検出してもよい。
【００１０】
また、この第１の態様において、上記異常検出部は、上記光源制御部が上記光源の発光を停止させる際に上記異常を検出してもよい。
【００１１】
また、この第１の態様において、上記異常検出部は、上記受光した光量が所定の閾値を超える場合に上記異常を検出してもよい。
【００１２】
また、この第１の態様において、上記異常検出部は、上記異常を検出した際に上記光源制御部に上記発光を停止させてもよい。
【００１３】
また、この第１の態様において、上記受光部は、上記出射部により反射された上記光源からの光を受光してもよい。
【００１４】
また、この第１の態様において、上記受光部は、上記出射部を透過した上記光源からの光を受光してもよい。
【００１５】
また、この第１の態様において、複数の上記受光部を具備し、上記異常検出部は、上記複数の受光部が受光した光に基づいて上記異常を検出してもよい。
【００１６】
また、本開示の第２の態様は、光源と、上記光源の光を外部に出射する出射部と、上記光源の発光を制御する光源制御部と、上記出射部を介して上記光源からの光を受光する受光部と、上記受光した光に基づいて上記出射部から出射される光の異常を検出する異常検出部とを具備する発光装置である。
【００１７】
また、この第２の態様において、上記出射部は、上記光源からの光を透過するとともに拡散光に変換してもよい。
【００１８】
このような態様を採ることにより、出射部を介してレーザ光を受光することができる。光源および出射部における異常の検出が想定される。
【図面の簡単な説明】
【００１９】
【図１】本開示の第１の実施の形態に係る発光装置の構成例を示す図である。
【図２】本開示の第１の実施の形態に係る発光装置の構成例を示すブロック図である。
【図３】本開示の第２の実施の形態に係る発光装置の構成例を示すブロック図である。
【図４】本開示の第２の実施の形態に係る出射部の構成例を示す図である。
【図５】本開示の第３の実施の形態に係る発光装置の構成例を示す図である。
【図６】本開示の第４の実施の形態に係る発光装置の構成例を示す図である。
【図７】本開示の第５の実施の形態に係る発光装置の構成例を示すブロック図である。
【図８】本開示の第６の実施の形態に係る発光装置の構成例を示すブロック図である。
【図９】本開示が適用され得る撮像装置の一例であるカメラの概略的な構成例を示すブロック図である。
【発明を実施するための形態】
【００２０】
次に、図面を参照して、本開示を実施するための形態（以下、実施の形態と称する）を説明する。以下の図面において、同一または類似の部分には同一または類似の符号を付している。ただし、図面は、模式的なものであり、各部の寸法の比率等は現実のものとは必ずしも一致しない。また、図面相互間においても互いの寸法の関係や比率が異なる部分が含まれることは勿論である。また、以下の順序で実施の形態の説明を行う。
１．第１の実施の形態
２．第２の実施の形態
３．第３の実施の形態
４．第４の実施の形態
５．第５の実施の形態
６．第６の実施の形態
７．カメラへの応用例
【００２１】
＜１．第１の実施の形態＞
［発光装置］
図１は、本開示の第１の実施の形態に係る発光装置の構成例を示す図である。同図は、発光装置１の概略を表す図である。同図の発光装置１は、光源３、出射部４、受光部５、筐体６、駆動回路２および基板７により構成される。発光装置１は、例えば、カメラ等において被写体との距離をＴｏＦ（Time of Flight）方式により測定する装置に使用される発光装置である。ここでＴｏＦ方式とは、被写体にレーザ光を照射し、レーザ光が被写体との間を往復する時間を計測することにより距離を測定する方式である。
【００２２】
光源３は、筐体６内に配置され、レーザ光を放射する。筐体６の天板には、出射部４が配置される。この出射部４は、光源３を保護するとともにレーザ光を透過するものである。また、この出射部４には、後述する拡散板が配置され、レーザ光を拡散光に変換する。この出射部４により、点（１次元）発光のレーザ光が面（２次元）発光に変換される。この面発光のレーザ光を被写体に照射し、被写体により反射されたレーザ光を撮像するとともに撮像素子の画素毎の距離情報を取得することにより、被写体の３次元マッピングを行うことができる。同図の白抜きの矢印は、光源３により放射されるレーザ光を表し、実線の矢印は出射部４により拡散光に変換されたレーザ光を表す。
【００２３】
このレーザ光は、エネルギー密度が高く、眼球等に直接照射されると人体に障害を引き起こす可能性が高い。このため、光源３からのレーザ光の出力異常や上述の拡散板の出射部４からの脱離によるレーザ光の直接出射等の発光装置１の異常を検出して光源３を消光させる安全装置が必要となる。筐体６には、受光部５がさらに配置され、出射部４により反射されたレーザ光を受光する。後述するように、この受光されたレーザ光に基づいて発光装置１の異常を検出することができる。
【００２４】
駆動回路２は、光源３を駆動するとともに発光装置１の異常を検出する電子回路である。駆動回路２および筐体６は、基板７に実装される。なお、駆動回路２は、後述する光源制御部１２０および異常検出部１３０により構成される。
【００２５】
［発光装置の構成］
図２は、本開示の第１の実施の形態に係る発光装置の構成例を示すブロック図である。同図の発光装置１は、光源３と、出射部４と、光源駆動装置１００とを備える。
【００２６】
光源３は、光を放射するものである。この光源３は、例えば、レーザダイオードにより構成され、レーザ光を放射する。
【００２７】
出射部４は、光源３からのレーザ光を透過することにより、光源３からのレーザ光を発光装置１の外部に出射するものである。また、出射部４は、出射の際にレーザ光を拡散光に変換する。出射部４には、例えば、表面に微細な凹凸が形成されたガラスにより構成された拡散板を使用することができる。
【００２８】
光源駆動装置１００は、光源３を駆動するものである。また、光源駆動装置１００は、発光装置１の異常を検出する。光源駆動装置１００は、受光部５と、光源制御部１２０と、異常検出部１３０とを備える。
【００２９】
受光部５は、出射部４を介して光源３からのレーザ光を受光するものである。同図においては、受光部５は、出射部４により反射されたレーザ光を受光する。この受光部５は、例えば、受光ダイオードにより構成することができ、受光したレーザ光に応じた電気信号を出力することができる。
【００３０】
光源制御部１２０は、光源３の発光を制御するものである。この光源制御部１２０は、発光装置１が使用されるカメラ等の外部の制御回路から入力される発光制御信号に基づいて光源３の発光および発光の停止を制御する。光源制御部１２０は、例えば、レーザ光の出射を指示する発光制御信号が入力された場合に、光源３を構成するレーザダイオードに駆動電流を供給して光源３を発光させることができる。一方、レーザ光の出射停止を指示する発光制御信号が入力された場合には、光源制御部１２０は、レーザダイオードへの駆動電流の供給を停止し、光源３の発光を停止させることができる。また、後述する異常検出信号が異常検出部１３０から入力された際においても、光源制御部１２０は、光源３の発光を停止させる。
【００３１】
異常検出部１３０は、受光部５が受光したレーザ光に基づいて発光装置１の異常を検出するものである。具体的には、異常検出部１３０は、出射部４から出射されるレーザ光の異常を検出する。この異常検出部１３０は、異常を検出すると異常検出信号を生成し、光源制御部１２０に出力するとともに、外部の制御回路等に対して出力する。同図の異常検出部１３０は、光量過剰検出部１３１と、光量不足検出部１３２と、不要光検出部１３３とを備える。
【００３２】
光量過剰検出部１３１は、光源３から放射されるレーザ光の光量が過剰か否かを検出するものである。この光量過剰検出部１３１は、受光部５が受光したレーザ光が所定の閾値を超える場合に異常を検出することができる。具体的には、光量過剰検出部１３１は、受光部５から出力された信号と所定の閾値との比較を行い、受光部５からの信号が所定の閾値より高い場合に異常検出信号を出力することができる。光源３から規定量を超える光量のレーザ光が放射されると発光装置１から過剰な光量の出射光が出射される。このような場合に、光量過剰検出部１３１は、異常を検出する。また、出射部４の破損や取付け角度の異常を生じた場合においても、光量過剰検出部１３１により異常を検出することができる。出射部４からの反射光が増加して受光部５における受光量が増加するためである。
【００３３】
光量不足検出部１３２は、光源３が発光している際に出射部４から反射されるレーザ光の光量が不足するか否かを検出するものである。この光量不足検出部１３２は、受光部５が受光したレーザ光が所定の閾値未満の場合に異常を検出することができる。具体的には、光量不足検出部１３２は、発光制御信号においてレーザ光の出射が指示されている時に受光部５から出力された信号と所定の閾値との比較を行い、受光部５からの信号が所定の閾値より低い場合に異常検出信号を出力することができる。出射部４の不具合、例えば、出射部４の破損や筐体６からの脱離を生じた場合、出射部４から反射されるレーザ光が減少する。また、経年劣化等により光源３からのレーザ光の光量が低下する場合もある。このような場合に、光量不足検出部１３２は、異常を検出する。
【００３４】
不要光検出部１３３は、光源制御部１２０が光源３の発光を停止させる際に光源３からレーザ光が放射されているか否かを検出するものである。この不要光検出部１３３は、発光制御信号においてレーザ光の出射の停止が指示されている時に受光部５から出力された信号と所定の閾値との比較を行い、受光部５からの信号が所定の閾値より高い場合に異常検出信号を出力することができる。光源制御部１２０の不具合等により、光源３の発光が停止される期間における光源３の発光を検出する。これにより、発光装置１からの不要光の出射を防ぐことができる。
【００３５】
このように、光量過剰検出部１３１および光量不足検出部１３２は、光源制御部１２０が光源３を発光させる際の異常を検出する。これに対し、不要光検出部１３３は、光源制御部１２０が光源３の発光を停止させる際の異常を検出する。光量過剰検出部１３１、光量不足検出部１３２および不要光検出部１３３が生成する異常検出信号は、例えば、ワイヤードＯＲ接続されて光源制御部１２０に入力することができる。
【００３６】
以上説明したように、本開示の第１の実施の形態の光源駆動装置１００は、出射部４を介して光源３からの光を受光することにより、発光装置１の異常を検出することができる。
【００３７】
＜２．第２の実施の形態＞
上述の第１の実施の形態の光源駆動装置１００は、受光部５により受光したレーザ光に基づいて出射部４の異常を検出していた。これに対し、本開示の第２の実施の形態の光源駆動装置１００は、出射部に形成された破損検出パターンからの信号に基づいて出射部４の異常をさらに検出する点で、上述の第１の実施の形態と異なる。
【００３８】
［発光装置の構成］
図３は、本開示の第２の実施の形態に係る発光装置の構成例を示すブロック図である。同図の発光装置１は、出射部４の代わりに出射部９を備え、破損検出部１３４をさらに備える点で、図２において説明した発光装置１と異なる。
【００３９】
出射部９は、自身の破損を検出するための破損検出パターンが配置された出射部である。この破損検出パターンは、出射部９の表面に配置された導体により構成することができる。例えば、線形状に構成された破損検出パターンを出射部９の周縁部に配置する。端部の欠損等により破損検出パターンが切断された場合に、出射部９の破損を検出することができる。破損検出パターンの切断の検出は、例えば、破損検出パターンの抵抗値を監視することにより行うことができる。出射部９の構成の詳細については後述する。
【００４０】
破損検出部１３４は、出射部９の破損を検出するものである。この破損検出部１３４は、上述の破損検出パターンの抵抗値と所定の閾値とを比較することにより、出射部９の破損を検出することができる。具体的には、破損検出パターンに電流を流しながら電流値を取得し、この電流値が所定の閾値未満の場合に破損検出パターンの切断を検出することができる。出射部９の破損を検出した場合には、破損検出部１３４は、異常検出信号を生成し、光源制御部１２０に対して出力する。
【００４１】
［出射部の構成］
図４は、本開示の第２の実施の形態に係る出射部の構成例を示す図である。同図は、出射部９の構成例を表す図である。同図の出射部９は、拡散板９１と、破損検出パターン９２とを備える。破損検出パターン９２は、透明な導体により構成され、拡散板９１の周縁部に沿って配置される。この破損検出パターン９２には、例えば、酸化インジウム錫（ＩＴＯ：Indium Tin Oxide）を使用することができる。上述の破損検出部１３４は、破損検出パターン９２に電流を流しながら抵抗値の変化を監視し、破損検出パターン９２の断線を検出することができる。
【００４２】
これ以外の発光装置１の構成は本開示の第１の実施の形態において説明した発光装置１の構成と同様であるため、説明を省略する。
【００４３】
以上説明したように、本開示の第２の実施の形態の発光装置１は、破損検出パターンを備える出射部９および破損検出部１３４を配置することにより、出射部９の破損を検出することができる。これにより、光量不足検出部１３２および破損検出部１３４により出射部の破損を２重に検出することができ、安全性を向上させることができる。
【００４４】
＜３．第３の実施の形態＞
上述の第１の実施の形態の発光装置１は、１つの受光部５を備えていた。これに対し、本開示の第３の実施の形態の発光装置１は、複数の受光部５を備える点で、上述の第１の実施の形態と異なる。
【００４５】
［発光装置］
図５は、本開示の第３の実施の形態に係る発光装置の構成例を示す図である。同図の発光装置１は、２つの受光部５ａおよび５ｂを備える点で、図１において説明した発光装置１と異なる。
【００４６】
受光部５ａおよび５ｂは、筐体６の異なる位置に配置され、出射部４からの反射光を受光する。また、本開示の第３の実施の形態の異常検出部１３０は、受光部５ａおよび５ｂが受光したレーザ光に基づいて異常を検出する。これにより、受光部５ａおよび５ｂの何れかが破損した場合であっても、発光装置１の異常を検出することができる。
【００４７】
なお、発光装置１の構成は、この例に限定されない。例えば、３つ以上の受光部５を備える構成にすることもできる。
【００４８】
これ以外の発光装置１の構成は本開示の第１の実施の形態において説明した発光装置１の構成と同様であるため、説明を省略する。
【００４９】
以上説明したように、本開示の第３の実施の形態の発光装置１は、複数の受光部によりレーザ光を受光する。これにより、発光装置１の安全性をさらに向上させることができる。
【００５０】
＜４．第４の実施の形態＞
上述の第１の実施の形態の発光装置１は、出射部４により反射されたレーザ光を受光部５により検出していた。これに対し、本開示の第４の実施の形態の発光装置１は、出射部４を透過したレーザ光を検出する点で、上述の第１の実施の形態と異なる。
【００５１】
［発光装置］
図６は、本開示の第４の実施の形態に係る発光装置の構成例を示す図である。同図の発光装置１は、受光部５が出射部４の外側に配置される点で、図１において説明した発光装置１と異なる。
【００５２】
同図の受光部５は、出射部４における光源３からのレーザ光が入射する面とは異なる面に隣接して配置される。この受光部５は、出射部４を透過した光源３からのレーザ光を受光する。また、同図の受光部５は、電線８およびコネクタにより、基板７に接続される。発光装置１を小型化するため、一体に構成される光源３、筐体６および出射部４を使用する場合には、受光部５を出射部４の外側に配置することにより、光源３からのレーザ光を受光することができる。
【００５３】
これ以外の発光装置１の構成は本開示の第１の実施の形態において説明した発光装置１の構成と同様であるため、説明を省略する。
【００５４】
以上説明したように、本開示の第４の実施の形態の発光装置１は、出射部４を透過したレーザ光を受光することにより、発光装置１の異常を検出することができる。
【００５５】
＜５．第５の実施の形態＞
上述の第１の実施の形態の発光装置１は、異常検出部１３０において、光量過剰検出部１３１、光量不足検出部１３２および不要光検出部１３３により生成される異常検出信号をまとめて光源制御部１２０等に出力していた。これに対し、本開示の第５の実施の形態の発光装置１は、光量過剰検出部１３１、光量不足検出部１３２および不要光検出部１３３が個別に異常検出信号を光源制御部１２０等に対して出力する点で、上述の第１の実施の形態と異なる。
【００５６】
［発光装置の構成］
図７は、本開示の第５の実施の形態に係る発光装置の構成例を示すブロック図である。同図の発光装置１は、光量過剰検出部１３１、光量不足検出部１３２および不要光検出部１３３が異常検出信号１乃至３をそれぞれ出力する点で、図１において説明した発光装置１と異なる。
【００５７】
同図の光量過剰検出部１３１は、異常検出信号１を生成し、光源制御部１２０および外部の回路に対して出力する。同様に、同図の光量不足検出部１３２は異常検出信号２を生成して光源制御部１２０等に出力し、不要光検出部１３３は異常検出信号３を生成して光源制御部１２０等に出力する。これにより、異常検出部１３０が検出した異常の種類を把握することが可能となる。また、検出された異常に基づいて光源制御部１２０が処理を行うことが可能となる。
【００５８】
これ以外の発光装置１の構成は本開示の第１の実施の形態において説明した発光装置１の構成と同様であるため、説明を省略する。
【００５９】
以上説明したように、本開示の第５の実施の形態の発光装置１は、検出された異常の種類毎に信号を出力する。これにより、発光装置１の利便性を向上させることができる。
【００６０】
＜６．第６の実施の形態＞
上述の第１の実施の形態の発光装置１は、異常検出部１３０において、光量過剰検出部１３１、光量不足検出部１３２および不要光検出部１３３が常に異常を検出していた。これに対し、本開示の第６の実施の形態の発光装置１は、光量過剰検出部１３１、光量不足検出部１３２および不要光検出部１３３を選択して異常の検出を行う点で、上述の第１の実施の形態と異なる。
【００６１】
［発光装置の構成］
図８は、本開示の第６の実施の形態に係る発光装置の構成例を示すブロック図である。同図の発光装置１は、光量過剰検出部１３１、光量不足検出部１３２および不要光検出部１３３に検出許可信号が入力される点で、図１において説明した発光装置１と異なる。
【００６２】
同図の光量過剰検出部１３１、光量不足検出部１３２および不要光検出部１３３には、外部の制御回路から検出許可信号１乃至３がそれぞれ入力される。検出許可信号１乃至３は、いわゆるイネーブル信号に該当する。検出許可信号１乃至３は、例えば、値「１」のときに光量過剰検出部１３１等に対して異常検出を行わせ、値「０」の時に光量過剰検出部１３１等における異常の検出を停止させることができる。これにより、光量過剰検出部１３１、光量不足検出部１３２および不要光検出部１３３のうち所望の検出部を選択して異常の検出を行わせることができる。
【００６３】
これ以外の発光装置１の構成は本開示の第１の実施の形態において説明した発光装置１の構成と同様であるため、説明を省略する。
【００６４】
以上説明したように、本開示の第６の実施の形態の発光装置１は、光量過剰検出部１３１、光量不足検出部１３２および不要光検出部１３３における異常の検出を外部の制御回路により制御することができる。これにより、発光装置１の利便性を向上させることができる。
【００６５】
＜７．カメラへの応用例＞
本開示に係る技術（本技術）は、様々な製品に応用することができる。例えば、本技術は、カメラ等の撮像装置に搭載される発光装置として実現されてもよい。
【００６６】
図９は、本技術が適用され得る撮像装置の一例であるカメラの概略的な構成例を示すブロック図である。同図のカメラ１０００は、レンズ１００１と、撮像素子１００２と、撮像制御部１００３と、レンズ駆動部１００４と、画像処理部１００５と、操作入力部１００６と、フレームメモリ１００７と、表示部１００８と、記録部１００９と、発光装置１０１０を備える。
【００６７】
レンズ１００１は、カメラ１０００の撮影レンズである。このレンズ１００１は、被写体からの光を集光し、後述する撮像素子１００２に入射させて被写体を結像させる。
【００６８】
撮像素子１００２は、レンズ１００１により集光された被写体からの光を撮像する半導体素子である。この撮像素子１００２は、照射された光に応じたアナログの画像信号を生成し、デジタルの画像信号に変換して出力する。
【００６９】
撮像制御部１００３は、撮像素子１００２における撮像を制御するものである。この撮像制御部１００３は、制御信号を生成して撮像素子１００２に対して出力することにより、撮像素子１００２の制御を行う。また、撮像制御部１００３は、撮像素子１００２から出力された画像信号に基づいてカメラ１０００におけるオートフォーカスを行うことができる。ここでオートフォーカスとは、レンズ１００１の焦点位置を検出して、自動的に調整するシステムである。このオートフォーカスとして、撮像素子１００２に配置された位相差画素により像面位相差を検出して焦点位置を検出する方式（像面位相差オートフォーカス）を使用することができる。また、画像のコントラストが最も高くなる位置を焦点位置として検出する方式（コントラストオートフォーカス）を適用することもできる。撮像制御部１００３は、検出した焦点位置に基づいてレンズ駆動部１００４を介してレンズ１００１の位置を調整し、オートフォーカスを行う。なお、撮像制御部１００３は、例えば、ファームウェアを搭載したＤＳＰ（Digital Signal Processor）により構成することができる。
【００７０】
レンズ駆動部１００４は、撮像制御部１００３の制御に基づいて、レンズ１００１を駆動するものである。このレンズ駆動部１００４は、内蔵するモータを使用してレンズ１００１の位置を変更することによりレンズ１００１を駆動することができる。
【００７１】
画像処理部１００５は、撮像素子１００２により生成された画像信号を処理するものである。この処理には、例えば、画素毎の赤色、緑色および青色に対応する画像信号のうち不足する色の画像信号を生成するデモザイク、画像信号のノイズを除去するノイズリダクションおよび画像信号の符号化等が該当する。画像処理部１００５は、例えば、ファームウェアを搭載したマイコンにより構成することができる。
【００７２】
操作入力部１００６は、カメラ１０００の使用者からの操作入力を受け付けるものである。この操作入力部１００６には、例えば、押しボタンやタッチパネルを使用することができる。操作入力部１００６により受け付けられた操作入力は、撮像制御部１００３や画像処理部１００５に伝達される。その後、操作入力に応じた処理、例えば、被写体の撮像等の処理が起動される。
【００７３】
フレームメモリ１００７は、１画面分の画像信号であるフレームを記憶するメモリである。このフレームメモリ１００７は、画像処理部１００５により制御され、画像処理の過程におけるフレームの保持を行う。
【００７４】
表示部１００８は、画像処理部１００５により処理された画像を表示するものである。この表示部１００８には、例えば、液晶パネルを使用することができる。
【００７５】
記録部１００９は、画像処理部１００５により処理された画像を記録するものである。この記録部１００９には、例えば、メモリカードやハードディスクを使用することができる。
【００７６】
発光装置１０１０は、被写体までの距離を測定するためのレーザ光を照射するものである。また、上述の撮像制御部１００３は、発光装置１０１０の制御および被写体までの距離の測定をさらに行う。カメラ１０００における被写体までの距離の測定は、次のように行うことができる。まず、撮像制御部１００３が発光装置１０１０を制御してレーザ光を出射させる。次に、被写体により反射されたレーザ光を撮像素子１００２により検出する。次に、撮像制御部１００３が、発光装置１０１０におけるレーザ光の出射から撮像素子１００２におけるレーザ光の検出までの時間を計測し、被写体までの距離を算出する。
【００７７】
以上、本発明が適用され得るカメラについて説明した。本技術は以上において説明した構成のうち、発光装置１０１０に適用され得る。具体的には、図１において説明した発光装置１は、発光装置１０１０に適用することができる。発光装置１０１０に発光装置１を適用することにより発光装置１の異常を検出することができる。距離の計測の際の安全性を向上させることができる。
【００７８】
なお、ここでは、一例としてカメラについて説明したが、本発明に係る技術は、その他、例えば携帯端末や無人搬送車等に適用されてもよい。
【００７９】
最後に、上述した各実施の形態の説明は本開示の一例であり、本開示は上述の実施の形態に限定されることはない。このため、上述した各実施の形態以外であっても、本開示に係る技術的思想を逸脱しない範囲であれば、設計等に応じて種々の変更が可能であることは勿論である。
【００８０】
また、上述の実施の形態において説明した処理手順は、これら一連の手順を有する方法として捉えてもよく、また、これら一連の手順をコンピュータに実行させるためのプログラム乃至そのプログラムを記憶する記録媒体として捉えてもよい。この記録媒体として、例えば、ＣＤ（CompactDisc）、ＤＶＤ（DigitalVersatileDisc）およびメモリカード等を用いることができる。
【００８１】
なお、本技術は以下のような構成もとることができる。
（１）光源の発光を制御する光源制御部と、
前記光源の光を外部に出射する出射部を介して前記光源からの光を受光する受光部と、
前記受光した光に基づいて前記出射部から出射される光の異常を検出する異常検出部と
を具備する光源駆動装置。
（２）前記異常検出部は、前記光源制御部が前記光源を発光させる際に前記異常を検出する前記（１）に記載の光源駆動装置。
（３）前記異常検出部は、前記受光した光量が所定の閾値を超える場合に前記異常を検出する前記（２）に記載の光源駆動装置。
（４）前記異常検出部は、前記受光した光量が所定の閾値未満の場合に前記異常を検出する前記（２）に記載の光源駆動装置。
（５）前記異常検出部は、前記光源制御部が前記光源の発光を停止させる際に前記異常を検出する前記（１）に記載の光源駆動装置。
（６）前記異常検出部は、前記受光した光量が所定の閾値を超える場合に前記異常を検出する前記（５）に記載の光源駆動装置。
（７）前記異常検出部は、前記異常を検出した際に前記光源制御部に前記発光を停止させる前記（１）から（６）の何れかに記載の光源駆動装置。
（８）前記受光部は、前記出射部により反射された前記光源からの光を受光する前記（１）から（７）の何れかに記載の光源駆動装置。
（９）前記受光部は、前記出射部を透過した前記光源からの光を受光する前記（１）から（７）の何れかに記載の光源駆動装置。
（１０）複数の前記受光部を具備し、
前記異常検出部は、前記複数の受光部が受光した光に基づいて前記異常を検出する前記（１）から（９）の何れかに記載の光源駆動装置。
（１１）光源と、
前記光源の光を外部に出射する出射部と、
前記光源の発光を制御する光源制御部と、
前記出射部を介して前記光源からの光を受光する受光部と、
前記受光した光に基づいて前記出射部から出射される光の異常を検出する異常検出部と
を具備する発光装置。
（１２）前記出射部は、前記光源からの光を透過するとともに拡散光に変換する前記（１１）に記載の発光装置。
【符号の説明】
【００８２】
１  発光装置
３  光源
４、９  出射部
５、５ａ、５ｂ  受光部
９１  拡散板
９２  破損検出パターン
１００  光源駆動装置
１２０  光源制御部
１３０  異常検出部
１３１  光量過剰検出部
１３２  光量不足検出部
１３３  不要光検出部
１３４  破損検出部
１０００  カメラ
１００３  撮像制御部
１０１０  発光装置
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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