(57)【要約】【課題】テストピンの露出長を確実かつ容易に所望の長さに変更可能で、かつ使用中にテストピンの露出長が意図せずに変化する事態を回避可能とする。【解決手段】導電性材料で形成されたテストピン２１と、筒状の把持部３１、および把持部３１の筒先から先端部２１ａを突出させた状態のピン２１を保持する保持部３２が第１の絶縁性材料で一体形成されたグリップ２２と、第２の絶縁性材料で筒状に形成されたピンカバー２３とを備え、カバー２３は、ノブ４２と、先端部２１ａの露出長が第１の長さとなる第１の位置と第２の長さとなる第２の位置との間をスライド可能に把持部３１およびピン２１の間に配設されたカバー本体４１とを備え、把持部３１には、ピン２１の長手方向に沿った長孔状に形成されてノブ４２が嵌入されると共に、ノブ４２の長手方向に沿った移動を許容し、かつグリップ２２に対する回動を規制するスリット３１ｂが設けられている。【選択図】図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
導電性材料で形成されたテストピンと、
外周部を把持可能な筒状の把持部、および当該把持部の筒先から先端部を突出させた状態の前記テストピンを保持する保持部が第１の絶縁性材料で一体形成されたグリップと、
第２の絶縁性材料で前記テストピンを挿通可能な筒状に形成されたピンカバーとを備え、
前記ピンカバーは、前記テストピンおよび前記グリップに対するスライド操作用のノブと、前記テストピンにおける前記先端部の当該ピンカバーからの露出長が予め規定された第１の長さとなる第１の位置と当該テストピンにおける当該先端部の当該ピンカバーからの露出長が前記第１の長さよりも短い予め規定された第２の長さとなる第２の位置との間をスライド可能に前記グリップの前記把持部および当該テストピンの間に配設されたカバー本体とを備え、
前記把持部には、前記テストピンの長手方向に沿った長孔状に形成されて前記ノブが嵌入されると共に、当該ノブの当該長手方向に沿った移動を許容し、かつ当該ノブの当該グリップに対する回動を規制するノブ案内部が設けられているテストリード。
【請求項２】
前記ノブは、前記カバー本体とは別体に形成されて当該カバー本体に嵌着されている請求項１記載のテストリード。
【請求項３】
前記グリップの前記把持部には、前記ピンカバーが前記第１の位置にスライドさせられたときに前記ノブに対して周方向で隣り合う位置に前記テストピンの当該ピンカバーからの露出長が前記第１の長さとなっていることを特定可能な第１の表示が設けられると共に、前記ピンカバーが前記第２の位置にスライドさせられたときに前記ノブに対して周方向で隣り合う位置に前記テストピンの当該ピンカバーからの露出長が前記第２の長さとなっていることを特定可能な第２の表示が設けられている請求項１または２記載のテストリード。
【請求項４】
前記第１の位置にスライドさせられた前記ピンカバーのスライドを規制する第１のスライド規制用凸部および第１のスライド規制用凹部のいずれか一方が前記グリップに形成されると共に、前記第１のスライド規制用凸部および前記第１のスライド規制用凹部の他方が前記ピンカバーに形成されている請求項１から３のいずれかに記載のテストリード。
【請求項５】
前記第２の位置にスライドさせられた前記ピンカバーのスライドを規制する第２のスライド規制用凸部および第２のスライド規制用凹部のいずれか一方が前記グリップに形成されると共に、前記第２のスライド規制用凸部および前記第２のスライド規制用凹部の他方が前記ピンカバーに形成されている請求項１から４のいずれかに記載のテストリード。
【請求項６】
前記ピンカバーは、当該ピンカバーをスライドさせるのに要する力が前記第１の位置と前記第２の位置との間で一定となるように前記グリップの前記把持部および当該テストピンの間に配設されている請求項１から３のいずれかに記載のテストリード。
【請求項７】
前記ピンカバーを前記第１の位置から前記第２の位置に向かう向きに沿って付勢するスプリングが当該ピンカバーと共に前記グリップの前記把持部内に収容されている請求項１から５のいずれかに記載のテストリード。
【請求項８】
前記ピンカバーは、前記テストピンの前記先端部が当該ピンカバー内に収容されて当該先端部が当該ピンカバーから露出しない状態となる第３の位置にスライド可能に前記グリップの前記把持部および当該テストピンの間に配設されている請求項１から７のいずれかに記載のテストリード。
【請求項９】
請求項１から８のいずれかに記載のテストリードと、当該テストリードを介しての電気的測定処理を実行可能な測定装置本体とを備えている測定装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、導電性材料で形成されたテストピンと絶縁性材料で形成されたグリップとを備えて構成されたテストリード、およびそのようなテストリードを備えて構成された測定装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
測定対象に接触させた一対のテストリードを介して各種の電気的パラメータを測定する測定装置の分野においては、感電事故や短絡事故の発生を回避するために、テストリードにおけるテストピン等の金属部の露出長に関する規定が各測定カテゴリ毎に設けられている。具体的には、「測定カテゴリ：ＣＡＴII」では、金属部の露出長を１９ｍｍ以下とするよう規定され、「測定カテゴリ：ＣＡＴIII 」では、金属部の露出長を４ｍｍ以下とするよう規定されている。
【０００３】
この場合、下記の特許文献における「BACKGROUND OF THE INVENTION 」に開示されているように、従来は、絶縁体（グリップ）からのプローブチップ（テストピン）の露出長が長いテストリードと、絶縁体からのプローブチップの露出長が短いテストリードとをそれぞれ用意しておき、測定対象が属する測定カテゴリに応じてテストリードを交換して測定作業を行っていた。また、絶縁体からのプローブチップの露出長が長いテストリードに対して筒状のキャップを装着することでプローブチップの露出長を簡易的に短くすることが可能なテストリードを使用し、測定カテゴリに応じてプローブチップの露出長を変更して測定作業を行うこともあった。
【０００４】
しかしながら、プローブチップの露出長が異なる２種類のテストリードを使い分ける場合には、測定カテゴリが異なる測定作業を行うときのテストリードの交換作業が煩雑であり、筒状のキャップを装着可能なテストリードを使用する場合には、キャップを装着する必要がない測定カテゴリでの測定作業時にキャップを紛失するおそれがある。
【０００５】
一方、下記の特許文献に開示されている発明のテストリードプローブ（テストリード）では、導電性金属材料で形成されたプローブチップと、絶縁性材料で形成されたプローブボディとを備えて構成されている。このテストリードプローブでは、プローブボディが、ハンドル部、トップ部および絶縁スリーブの３つの部材を備えて構成されている。
【０００６】
この場合、このテストリードプローブでは、プローブボディのハンドル部に対してプローブチップが位置決めされている。また、このテストリードプローブでは、プローブボディのトップ部が回動可能にハンドル部の先端に装着されている。さらに、このテストリードプローブでは、ハンドル部に対してトップ部を回動させる操作を行うことにより、プローブボディの絶縁スリーブがハンドル部およびプローブチップに対してプローブチップの長手方向に沿ってスライドさせられる構成が採用されている。
【０００７】
具体的には、このテストリードプローブでは、絶縁スリーブの外周部に螺旋（螺旋状の溝：以下、「螺旋形溝」ともいう）が設けられると共に、トップ部の内周面に螺旋形溝に嵌入可能な突起が設けられている。これにより、このテストリードプローブでは、ハンドル部に対してトップ部を回動させることにより、プローブチップ、ハンドル部およびトップ部に対して絶縁スリーブがスライドさせられて、プローブチップにおいてトップから突出している部位の絶縁スリーブによって覆われる長さ、すなわち、絶縁スリーブからのプローブチップの露出長が変化させられる。
【０００８】
したがって、このテストリードプローブでは、測定カテゴリに応じたテストリードプローブの交換作業やテストリードプローブに対するキャップの脱着作業を行うことなく、ハンドル部に対してトップ部を回動させる操作によってプローブチップの露出長を任意の長さとすることが可能となっている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００９】
【特許文献１】米国特許出願公開第２０１０／０１８２０２７号明細書（第１−４頁、第１−５図）
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１０】
ところが、上記特許文献に開示されているテストリードプローブには、以下のような問題点が存在する。具体的には、上記特許文献に開示されているテストリードプローブ（テストリード）では、プローブボディ（グリップ）のハンドル部（把持部）に対してトップ部を回動させる操作を行うことで、絶縁スリーブ（ピンカバー）をスライドさせてプローブチップ（テストピン）の露出長を変更する構成が採用されている。
【００１１】
この場合、このテストリードプローブでは、ハンドル部に対するトップ部の回動が許容された状態でハンドル部の先端にトップ部が嵌着されてトップがハンドル部と一体化されている。したがって、このテストリードプローブの使用方法を知らない者は、ハンドル部に対してトップ部が回動可能であること自体を知らないため、プローブチップの露出長を測定カテゴリに応じた長さにする必要があっても、ハンドル部に対してトップ部を回動させようとすることすら行わないため、その結果として、トップ部の操作によってプローブチップの露出長を変更することができない。
【００１２】
また、たとえ、このテストリードプローブの使用方法を知っている者であっても、絶縁スリーブをハンドル部から繰り出してプローブチップの露出長を短くしたいときにハンドル部に対してトップ部をいずれの向きに回動させればよいかや、絶縁スリーブをハンドル部内に引き込んでプローブチップの露出長を長くしたいときにハンドル部に対してトップ部をいずれの向きに回動させればよいかを正しく記憶し続けるのは困難である。このため、測定作業に先立ってプローブチップの露出長を変更する際にトップ部を正しい向きとは逆向きに回動させようとしてしまい、測定作業を迅速に開始することができないときがある。また、トップ部を正しい向きとは逆向きに回動させようとする力が強過ぎたときには、トップ部の突起や絶縁スリーブの螺旋形溝の破損を招くおそれもある。
【００１３】
さらに、このテストリードプローブでは、プローブチップの露出長が測定カテゴリに応じた長さとなる位置まで絶縁スリーブをスライドさせるために、ハンドル部に対してトップ部を大きく回動させる必要がある。したがって、プローブチップの露出長を変更する（絶縁スリーブをスライドさせる）際には、一方の手でハンドル部を把持し、かつ他方の手でトップ部を把持した状態でハンドル部に対してトップ部を回動させる必要がある。このため、測定作業に際して使用する２本のテストリードプローブについてプローブチップの露出長を同時に変更するのが困難であることから、測定作業を迅速に開始するのが困難となっている。
【００１４】
加えて、このテストリードプローブでは、プローブチップおよびハンドル部に対して絶縁スリーブをスライドさせる操作部として機能するトップ部が、測定作業時に使用者がテストリードプローブを把持する部位となっている。このため、トップ部に触れることなくテストリードプローブを把持するのが困難となっており、トップ部を把持して測定作業を行っている最中にハンドル部に対してトップ部が相対的に回動してしまう。かかる場合には、絶縁スリーブが意図せずスライドしてプローブチップの露出長が変化してしまうことになる。
【００１５】
本発明は、かかる問題点に鑑みてなされたものであり、テストピンの露出長を確実かつ容易に所望の長さに変更可能で、かつ使用中にテストピンの露出長が意図せずに変化する事態を好適に回避可能なテストリード、およびそのようなテストリードを備えた測定装置を提供することを主目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１６】
上記目的を達成すべく、請求項１記載のテストリードは、導電性材料で形成されたテストピンと、外周部を把持可能な筒状の把持部、および当該把持部の筒先から先端部を突出させた状態の前記テストピンを保持する保持部が第１の絶縁性材料で一体形成されたグリップと、第２の絶縁性材料で前記テストピンを挿通可能な筒状に形成されたピンカバーとを備え、前記ピンカバーは、前記テストピンおよび前記グリップに対するスライド操作用のノブと、前記テストピンにおける前記先端部の当該ピンカバーからの露出長が予め規定された第１の長さとなる第１の位置と当該テストピンにおける当該先端部の当該ピンカバーからの露出長が前記第１の長さよりも短い予め規定された第２の長さとなる第２の位置との間をスライド可能に前記グリップの前記把持部および当該テストピンの間に配設されたカバー本体とを備え、前記把持部には、前記テストピンの長手方向に沿った長孔状に形成されて前記ノブが嵌入されると共に、当該ノブの当該長手方向に沿った移動を許容し、かつ当該ノブの当該グリップに対する回動を規制するノブ案内部が設けられている。
【００１７】
また、請求項２記載のテストリードは、請求項１記載のテストリードにおいて、前記ノブは、前記カバー本体とは別体に形成されて当該カバー本体に嵌着されている。
【００１８】
さらに、請求項３記載のテストリードは、請求項１または２記載のテストリードにおいて、前記グリップの前記把持部には、前記ピンカバーが前記第１の位置にスライドさせられたときに前記ノブに対して周方向で隣り合う位置に前記テストピンの当該ピンカバーからの露出長が前記第１の長さとなっていることを特定可能な第１の表示が設けられると共に、前記ピンカバーが前記第２の位置にスライドさせられたときに前記ノブに対して周方向で隣り合う位置に前記テストピンの当該ピンカバーからの露出長が前記第２の長さとなっていることを特定可能な第２の表示が設けられている。
【００１９】
また、請求項４記載のテストリードは、請求項１から３のいずれかに記載のテストリードにおいて、前記第１の位置にスライドさせられた前記ピンカバーのスライドを規制する第１のスライド規制用凸部および第１のスライド規制用凹部のいずれか一方が前記グリップに形成されると共に、前記第１のスライド規制用凸部および前記第１のスライド規制用凹部の他方が前記ピンカバーに形成されている。
【００２０】
さらに、請求項５記載のテストリードは、請求項１から４のいずれかに記載のテストリードにおいて、前記第２の位置にスライドさせられた前記ピンカバーのスライドを規制する第２のスライド規制用凸部および第２のスライド規制用凹部のいずれか一方が前記グリップに形成されると共に、前記第２のスライド規制用凸部および前記第２のスライド規制用凹部の他方が前記ピンカバーに形成されている。
【００２１】
また、請求項６記載のテストリードは、請求項１から３のいずれかに記載のテストリードにおいて、前記ピンカバーは、当該ピンカバーをスライドさせるのに要する力が前記第１の位置と前記第２の位置との間で一定となるように前記グリップの前記把持部および当該テストピンの間に配設されている。
【００２２】
なお、「ピンカバーをスライドさせるのに要する力が第１の位置と第２の位置との間で一定」との構成は、「スライドさせるのに要する力が一定となる設計思想」に基づいて製造された構成を意図している。したがって、製造誤差や経年変化に起因して「ピンカバーをスライドさせるのに要する力が第１の位置と第２の位置との間のいずれかの位置で他の位置よりも僅かに大きくなったり小さくなったりした状態」も「ピンカバーをスライドさせるのに要する力が第１の位置と第２の位置との間で一定」との構成に含まれる。
【００２３】
また、請求項７記載のテストリードは、請求項１から５のいずれかに記載のテストリードにおいて、前記ピンカバーを前記第１の位置から前記第２の位置に向かう向きに沿って付勢するスプリングが当該ピンカバーと共に前記グリップの前記把持部内に収容されている。
【００２４】
また、請求項８記載のテストリードは、請求項１から７のいずれかに記載のテストリードにおいて、前記ピンカバーは、前記テストピンの前記先端部が当該ピンカバー内に収容されて当該先端部が当該ピンカバーから露出しない状態となる第３の位置にスライド可能に前記グリップの前記把持部および当該テストピンの間に配設されている。
【００２５】
また、請求項９記載の測定装置は、請求項１から８のいずれかに記載のテストリードと、当該テストリードを介しての電気的測定処理を実行可能な測定装置本体とを備えている。
【発明の効果】
【００２６】
請求項１記載のテストリードでは、テストピンを挿通可能な筒状に形成されたカバー本体とテストピンおよびグリップに対するスライド操作用のノブとを備えたピンカバーにおけるカバー本体が、テストピンにおける先端部のピンカバーからの露出長が予め規定された第１の長さとなる第１の位置、およびテストピンにおける先端部のピンカバーからの露出長が第１の長さよりも短い予め規定された第２の長さとなる第２の位置にスライド可能にグリップの把持部およびテストピンの間に配設されると共に、長手方向に沿ったノブの移動を許容し、かつノブのグリップに対する回動を規制するノブ案内部がグリップの把持部に設けられている。また、請求項９記載の測定装置では、上記のテストリードと、テストリードを介しての電気的測定処理を実行可能な測定装置本体とを備えている。
【００２７】
したがって、請求項１記載のテストリード、および請求項９記載の測定装置によれば、たとえテストリードの操作方法を知らない者であっても、ノブ案内部およびノブの存在を確実かつ容易に認識することができ、ノブの操作を試みることで、テストピンおよびグリップに対してピンカバーがスライドしてテストピンの露出長を変更できることを確実かつ容易に認識することができる。また、テストピンの露出長を第１の長さとしたいとき、すなわち、テストピンおよびグリップに対してピンカバーを後退させる向きにスライドさせたいときに、ノブをその向きに操作する非常に簡単な作業によってピンカバーを第１の位置に位置させてテストピンの露出長を第１の長さとすることができ、テストピンの露出長を第２の長さとしたいとき、すなわち、テストピンおよびグリップに対してピンカバーを前進させる向きにスライドさせたいときに、ノブをその向きに操作する非常に簡単な作業によってピンカバーを第２の位置に位置させてテストピンの露出長を第２の長さとすることができるため、操作方法を記憶するまでもなく、テストピンの露出長を任意の長さに確実かつ容易に変更することができる。さらに、ノブを操作する方向を誤るおそれもないため、テストピンの露出長の変更を目的とした操作によってグリップ（ノブ案内部）やピンカバー（ノブ）が破損する事態を好適に回避できる。また、テストリードを使用した測定作業時には、ノブに触れないようにグリップの把持部を把持するだけで、ピンカバーの意図しないスライドを招くことなく、テストピンの露出長が意図した長さとなっている状態を維持することができる。
【００２８】
請求項２記載のテストリードでは、ノブがカバー本体とは別体に形成されてカバー本体に嵌着されている。したがって、請求項２記載のテストリード、およびそのようなテストリードを備えた測定装置によれば、ノブがカバー本体と一体形成されたピンカバーを採用したときには、そのようなピンカバーのテストピンおよびグリップに対する装着に際してノブをノブ案内部に嵌入するときに、グリップやピンカバーを大きく変形させる必要があるため、製造時に破損を招く恐れがあり、破損を回避するためには、グリップやピンカバーを大きく変形させずにノブをノブ案内部に嵌入可能にノブを低背に形成する必要が生じるためノブの操作が困難になるおそれがあるのに対し、ノブをカバー本体とは別体に形成して嵌着する構成を採用したことで、テストピンおよびグリップに対してカバー本体を装着してからカバー本体にノブを嵌着することで、確実かつ容易に操作可能な十分な高さのノブを採用したとしても、製造時にグリップやピンカバーが破損する事態を好適に回避することができる。
【００２９】
請求項３記載のテストリードでは、グリップの把持部においてピンカバーが第１の位置にスライドさせられたときにノブに対して周方向で隣り合う位置にテストピンのピンカバーからの露出長が第１の長さとなっていることを特定可能な第１の表示が設けられると共に、グリップの把持部においてピンカバーが第２の位置にスライドさせられたときにノブに対して周方向で隣り合う位置にテストピンのピンカバーからの露出長が第２の長さとなっていることを特定可能な第２の表示が設けられている。したがって、請求項３記載のテストリード、およびそのようなテストリードを備えた測定装置によれば、テストピン等の金属部の露出長がどのような長さとなっているかを非常に単純な構造で特定させることができると共に、例えばテストピンを穴の中に差し込んで測定を行っている状態、すなわち、テストピンの目視が困難な状態であっても、テストピンの露出長が第１の長さであるか第２の長さであるかを確実かつ容易に認識することができる。
【００３０】
請求項４記載のテストリードでは、第１の位置にスライドさせられたピンカバーのスライドを規制する第１のスライド規制用凸部および第１のスライド規制用凹部のいずれか一方がグリップに形成されると共に、第１のスライド規制用凸部および第１のスライド規制用凹部の他方がピンカバーに形成されている。したがって、請求項４記載のテストリード、およびそのようなテストリードを備えた測定装置によれば、ノブの操作によってピンカバーを第１の位置にスライドさせる作業後にノブから指を離してもピンカバーがテストピンやグリップに対して意図せずにスライドすることがないため、テストピンの露出長が第１の長さとなっている状態を好適に維持させて測定作業を安全に行うことができる。
【００３１】
請求項５記載のテストリードでは、第２の位置にスライドさせられたピンカバーのスライドを規制する第２のスライド規制用凸部および第２のスライド規制用凹部のいずれか一方がグリップに形成されると共に、第２のスライド規制用凸部および第２のスライド規制用凹部の他方がピンカバーに形成されている。したがって、請求項５記載のテストリード、およびそのようなテストリードを備えた測定装置によれば、ノブの操作によってピンカバーを第２の位置にスライドさせる作業後にノブから指を離してもピンカバーがテストピンやグリップに対して意図せずにスライドすることがないため、テストピンの露出長が第２の長さとなっている状態を好適に維持させて測定作業を安全に行うことができる。
【００３２】
請求項６記載のテストリードでは、ピンカバーをスライドさせるのに要する力が第１の位置と第２の位置との間で一定となるようにグリップの把持部およびテストピンの間にピンカバーが配設されている。したがって、請求項６記載のテストリード、およびそのようなテストリードを備えた測定装置によれば、例えば、テストピンの露出長が第１の長さとなっているべき測定カテゴリの測定対象についての測定作業とテストピンの露出長が第２の長さとなっているべき測定カテゴリの測定対象についての測定作業とを短時間で交互に行うときなどに、テストピンおよびグリップに対してピンカバーをスムーズにスライドさせることができるため、各測定処理を迅速に行うことができる
【００３３】
請求項７記載のテストリードでは、ピンカバーを第１の位置から第２の位置に向かう向きに沿って付勢するスプリングがピンカバーと共にグリップの把持部内に収容されている。したがって、請求項７記載のテストリード、およびそのようなテストリードを備えた測定装置によれば、ノブ等を操作しなくても、スプリングの付勢力によってピンカバーがテストピンおよびグリップに対してスライドさせられて第２の位置に位置した状態となり、テストピンの露出長が感電事故や短絡事故が発生する可能性が低い第２の長さの状態となるため、露出長が第２の長さの状態において行うべき測定作業に際してピンカバーをスライドさせるのを忘れてしまっても、十分に安全な状態で作業を行うことができる。また、例えばコンセント（栓刃の挿入穴）内にテストピンを挿入して測定作業を行うときには、テストピンをコンセント内に挿入する動作によってピンカバーがスプリングの付勢力に抗してテストピンやグリップに対してスライドさせられるため、コンセント内の測定対象（接触金具等）にテストピンを容易に接触させることができる。
【００３４】
請求項８記載のテストリードでは、テストピンの先端部がピンカバー内に収容されて先端部がピンカバーから露出しない状態となる第３の位置にスライド可能にグリップの把持部およびテストピンの間にピンカバーが配設されている。したがって、請求項８記載のテストリード、およびそのようなテストリードを備えた測定装置によれば、テストリードを使用しないときにピンカバーを第３の位置にスライドさせてピンカバー内にテストピンを収容した状態とすることにより、テストピンに傷付きや曲がりが生じるのを好適に回避できると共に、例えば、鞄の中や着衣のポケット内にテストリード（テストリードを備えた測定装置）を収容したときに、テストピンの先端部が鞄やポケットに引っ掛かることがないため、鞄やポケットの破損も好適に回避することができる。
【図面の簡単な説明】
【００３５】
【図１】測定装置１における測定装置本体２およびテストリード３，３の外観図である。
【図２】ピンカバー２３からのテストピン２１の露出長が長さＬ１の状態となっているテストリード３の外観斜視図である。
【図３】ピンカバー２３からのテストピン２１の露出長が長さＬ２の状態となっているテストリード３の外観斜視図である。
【図４】テストリード３の分解斜視図である。
【図５】テストリード３のグリップ２２におけるスリット３１ｂおよび案内溝３２ａの形成部位の外観図である。
【図６】左図は、ピンカバー２３からのテストピン２１の露出長が長さＬ１の状態となっているテストリード３の断面図であり、右図は、ピンカバー２３からのテストピン２１の露出長が長さＬ２の状態となっているテストリード３の断面図である。
【図７】上図は、ピンカバー２３からのテストピン２１の露出長が長さＬ１の状態となっているテストリード３におけるノブ４２およびカテゴリ表示３４ａ，３４ｂ近傍の外観図であり、下図は、ピンカバー２３からのテストピン２１の露出長が長さＬ２の状態となっているテストリード３におけるノブ４２およびカテゴリ表示３４ａ，３４ｂ近傍の外観図である。
【図８】テストリード３Ａの外観図である。
【図９】左図は、ピンカバー２３からのテストピン２１の露出長が長さＬ２の状態となっているテストリード３Ｂの断面図であり、右図は、ピンカバー２３からのテストピン２１の露出長が長さＬ１の状態となっているテストリード３Ｂの断面図である。
【図１０】上図は、ピンカバー２３Ｃからのテストピン２１の露出長が長さＬ１の状態となっているテストリード３Ｃにおけるノブ４２およびカテゴリ表示３４ａ，３４ｂ近傍の外観図であり、中央図は、ピンカバー２３Ｃからのテストピン２１の露出長が長さＬ２の状態となっているテストリード３Ｃにおけるノブ４２およびカテゴリ表示３４ａ，３４ｂ近傍の外観図であり、下図は、ピンカバー２３Ｃ内にテストピン２１が収容された状態となっているテストリード３Ｃにおけるノブ４２およびカテゴリ表示３４ａ，３４ｂ近傍の外観図である。
【発明を実施するための形態】
【００３６】
以下、テストリードおよび測定装置の実施の形態について、添付図面を参照して説明する。
【００３７】
図１に示す測定装置１は、「測定装置」の一例であるカード型のデジタルマルチメータであって、測定装置本体２、および一対のテストリード３，３を備え、電圧値、電流値および抵抗値などの各種電気的パラメータを測定可能に構成されている。この場合、測定装置本体２は、「測定装置本体」の一例であって、図示しない測定回路を収容するケーシング１１と、ケーシング１１における正面側の一面に配設された操作部１２および表示部１３とを備え、両テストリード３，３を介しての電気的測定処理を実行可能に構成されている。
【００３８】
テストリード３は、「テストリード」の一例であって、図１〜４に示すように、テストピン２１、グリップ２２、ピンカバー２３および信号ケーブル２４を備えている。テストピン（プローブチップ：接触子）２１は、「テストピン」に相当し、一例として、金属などの導電性材料によって先端部２１ａが尖った細長棒状（ピン状：図４参照）に形成されている。この場合、本例のテストリード３では、一例として、インサート成形によってテストピン２１および信号ケーブル２４と一体化した状態でグリップ２２が製作されるため、テストピン２１の基端部２１ｂにはグリップ２２内において信号ケーブル２４が電気的に接続された状態となっている。
【００３９】
グリップ２２は、「グリップ」の一例であって、図４〜６に示すように、測定装置１による測定作業時に使用者が把持する把持部３１（「把持部」の一例）と、テストピン２１を保持する保持部３２（「保持部」の一例）とがポリカーボネートやＡＢＳなどの絶縁性材料（「第１の絶縁性材料」の一例）によって一体形成されている。
【００４０】
把持部３１は、その内径がピンカバー２３の外径よりも大径の筒状に形成されている。この把持部３１には、テストリード３（把持部３１）を把持している使用者の指がテストピン２１や測定対象に触れるのを阻止するための鍔部３１ａが設けられている。また、把持部３１には、「ノブ案内部」の一例であるスリット３１ｂが設けられている。このスリット３１ｂは、保持部３２によって保持されたテストピン２１の長手方向（図２〜７における矢印Ａ１，Ａ２の方向）に沿った長孔状に形成されて、後述するように、ピンカバー２３に設けられているノブ４２が嵌入されると共に、ノブ４２の矢印Ａ１，Ａ２の方向への移動を許容し、かつノブ４２のグリップ２２に対する回動を規制する。
【００４１】
保持部３２は、その外径がピンカバー２３の内径よりも小径の筒状に形成されている。この場合、インサート成形によってグリップ２２がテストピン２１と一体的化されている本例のテストリード３では、保持部３２の内径がテストピン２１の外径と等しくなっている。この保持部３２は、図５，６に示すように、把持部３１の筒先から先端部２１ａを突出させた状態のテストピン２１を保持することで、把持部３１（グリップ２２）に対するテストピン２１の移動を規制している。
【００４２】
この場合、「保持部」については、テストピン２１の基端部２１ｂや中間部などを部分的に保持できればよいが、本例のテストリード３では、テストピン２１をより確実に保持すると共に、テストピン２１において測定対象に接触させる必要がない部位の絶縁性を向上させるために、テストピン２１における先端部２１ａ側の部位を除く全体を保持部３２によって覆って保持する構成が採用されている。この保持部３２には、図４〜６に示すように、案内溝３２ａが設けられている。この案内溝３２ａは、保持状態におけるテストピン２１の長手方向（矢印Ａ１，Ａ２の方向）に沿った直線状に形成されて、把持部３１に形成されている前述のスリット３１ｂと相俟ってノブ４２の矢印Ａ１，Ａ２の方向への移動を許容し、かつノブ４２のグリップ２２に対する回動を規制する。
【００４３】
ピンカバー２３は、「ピンカバー」の一例であって、図２〜４，６に示すように、テストピン２１を挿通可能な筒状に形成されたカバー本体４１（「カバー本体」の一例）と、カバー本体４１とは別体に形成されてカバー本体４１に嵌着されるノブ４２（「ノブ」の一例）とを備えている。なお、図４では、ノブ４２の表面の形状および裏面の形状を示すためにノブ４２を２つ図示しているが、カバー本体４１には１つのノブ４２だけが嵌着されている。
【００４４】
この場合、本例のテストリード３では、カバー本体４１およびノブ４２の双方がポリカーボネートやＡＢＳなどの絶縁性材料（「第２の絶縁性材料」の一例）によってそれぞれ形成されているが、異なる材料でカバー本体４１およびノブ４２を形成することもできる。また、本例のテストリード３では、カバー本体４１およびノブ４２がグリップ２２と同じ絶縁性材料で形成されているが、カバー本体４１およびノブ４２のいずれか、または双方をグリップ２２とは異なる材料で形成することもできる。
【００４５】
カバー本体４１は、図６に示すように、その外径がグリップ２２における把持部３１の内径よりも小径で、かつその内径がグリップ２２における保持部３２の外径よりも大径の筒状に形成されている。この場合、カバー本体４１における一端側（グリップ２２から突出させられる側の端部）は、その内径がテストピン２１の外径よりも僅かに大径となるように細径化されている。また、図４，６に示すように、カバー本体４１には、ノブ４２を嵌着するための嵌着用孔４１ａ，４１ｂが形成されている。
【００４６】
ノブ４２は、テストピン２１およびグリップ２２に対してピンカバー２３をスライドさせるスライド操作用のノブであって、グリップ２２における把持部３１のスリット３１ｂに嵌入可能な幅の平板状に形成されると共に、その裏面には、カバー本体４１の嵌着用孔４１ａ，４１ｂに挿通可能に突起４２ａ，４２ｂが設けられている。
【００４７】
このピンカバー２３は、テストピン２１における先端部２１ａのピンカバー２３からの露出長が長さＬ１（図２、および図６左図参照）となる位置（「第１の位置」の一例）、およびテストピン２１における先端部２１ａのピンカバー２３からの露出長が長さＬ１よりも短い長さＬ２（図３、および図６右図参照）となる位置（「第２の位置」の一例）にスライド可能にグリップ２２の把持部３１とテストピンとの間に配設されている。
【００４８】
この場合、上記の長さＬ１は、「予め規定された第１の長さ」の一例であって、本例のテストリード３では、「測定カテゴリ：ＣＡＴII」の規定に応じて長さＬ１＝１８．５ｍｍ程度となるようにピンカバー２３のスライド可能範囲が規定されている。また、上記の長さＬ２は、「予め規定された第２の長さ」の一例であって、本例のテストリード３では、「測定カテゴリ：ＣＡＴIII 」の規定に応じて長さＬ２＝３．５ｍｍ程度となるようにピンカバー２３のスライド可能範囲が規定されている。
【００４９】
また、本例のテストリード３では、図６に示すように、カバー本体４１にノブ４２が嵌着された状態において、嵌着用孔４１ａ，４１ｂを挿通させられている突起４２ａ，４２ｂの頭部（先端部）が、カバー本体４１の内側に位置している保持部３２に設けられた前述の案内溝３２ａに嵌入された状態となるように突起４２ａ，４２ｂの長さが規定されている。
【００５０】
さらに、図５に示すように、本例のテストリード３では、上記の「第１の位置」にピンカバー２３がスライドさせられたときにピンカバー２３のノブ４２における突起４２ａの頭部（先端部）を「第１のスライド規制用凸部」として機能させて嵌合させることでテストピン２１およびグリップ２２に対するピンカバー２３のスライドを制限するための凹部３３ａ，３３ａ（「第１のスライド規制用凹部」の一例）が案内溝３２ａの一端側に設けられている。この場合、本例のテストリード３では、案内溝３２ａの一端側に溝幅方向に向かって突出する凸部３３ｃ，３３ｃが形成されて突起４２ａが係合可能な凹部３３ａ，３３ａが形成されている。
【００５１】
さらに、本例のテストリード３では、上記の「第２の位置」にピンカバー２３がスライドさせられたときにノブ４２における突起４２ｂの頭部（先端部）を「第２のスライド規制用凸部」として機能させて嵌合させることでテストピン２１およびグリップ２２に対するピンカバー２３のスライドを制限するための凹部３３ｂ，３３ｂ（「第２のスライド規制用凹部」の一例）が案内溝３２ａの他端側に設けられている。この場合、本例のテストリード３では、案内溝３２ａの他端側に溝幅方向に向かって突出する凸部３３ｃ，３３ｃが形成されて突起４２ｂが係合可能な凹部３３ｂ，３３ｂが形成されている。
【００５２】
また、本例のテストリード３では、図７に示すように、グリップ２２の把持部３１に「テストピンのピンカバーからの露出長が第１の長さとなっていることを特定可能な第１の表示」の一例であるカテゴリ表示３４ａと、「テストピンのピンカバーからの露出長が第２の長さとなっていることを特定可能な第２の表示」の一例であるカテゴリ表示３４ｂとが設けられている。具体的には、同図における上図に示すように、ピンカバー２３が「第１の位置」にスライドさせられたときに、把持部３１においてノブ４２に対して周方向で隣り合う位置に「ＣＡＴII」とのカテゴリ表示３４ａが設けられている。また、同図における下図に示すように、ピンカバー２３が「第２の位置」にスライドさせられたときに、把持部３１においてノブ４２に対して周方向で隣り合う位置に「ＣＡＴIII 」とのカテゴリ表示３４ｂが設けられている。
【００５３】
信号ケーブル２４は、前述したように一端部がテストピン２１の基端部２１ｂに電気的に接続されると共に、他端部が測定装置本体２におけるケーシング１１内の測定回路に電気的に接続される。
【００５４】
次に、測定装置１を使用した測定作業の手順について、添付図面を参照して説明する。
【００５５】
測定装置１を使用した測定作業を開始するときには、まず、測定対象が属する測定カテゴリに応じてテストリード３，３におけるテストピン２１の露出長を変更する。なお、「測定カテゴリ：ＣＡＴI 」に属する測定対象についての測定作業時や、想定される最大電圧値が非常に小さな値のときには、テストピン２１の露出長についての規定が存在しないため、テストピン２１の露出長が長さＬ１となっている状態で作業を行うか、露出長が長さＬ２となっている状態で作業を行うかを使用者の判断で決定すればよい。また、「測定カテゴリ：ＣＡＴII」に属する測定対象についての測定作業時にテストピン２１の露出長が長さＬ２の状態で作業を行ってもよいため、使用者がそのような状態での作業を希望するときには、後述するように、テストピン２１の露出長が長さＬ２となるようにノブ４２を操作する。
【００５６】
一方、「測定カテゴリ：ＣＡＴI 」に属する測定対象や「測定カテゴリ：ＣＡＴII」に属する測定対象についての測定作業に際して、テストピン２１を十分に露出させた状態で作業を行いたいときには、テストピン２１の露出長を長さＬ１とする。具体的には、テストピン２１の露出長が長さＬ１よりも短くなっている状態（例えば、露出長が長さＬ２となっている状態）においてテストピン２１を十分に露出させるときには、一例として、テストリード３のグリップ２２（把持部３１）を把持している手の親指でノブ４２を矢印Ａ１の向きに操作する。
【００５７】
この際には、グリップ２２の把持部３１に形成されたスリット３１ｂ、および保持部３２に形成された案内溝３２ａの案内に従ってノブ４２がテストピン２１の長手方向に沿って矢印Ａ１の向きに直線的に移動し、ノブ４２が嵌着されているカバー本体４１（ピンカバー２３全体）がグリップ２２に対して矢印Ａ１の向きに直線的にスライドさせられる。これにより、ピンカバー２３が「第１の位置」に位置させられて、図２、図６の左図、および図７の上図に示すように、ピンカバー２３（カバー本体４１）からのテストピン２１の露出長が長さＬ１の状態となる。
【００５８】
また、ピンカバー２３が「第１の位置」に位置した状態では、図７の上図に示すように、グリップ２２における把持部３１に記されたカテゴリ表示３４ａと、ピンカバー２３のノブ４２とがグリップ２２の周方向で一致した状態、すなわち、ノブ４２によってカテゴリ表示３４ａが指し示された状態となる。したがって、ノブ４２によって示されているカテゴリ表示３４ａを見た使用者は、テストピン２１の露出長が「測定カテゴリ：ＣＡＴII」の規定を満たした長さとなっていると把握する。
【００５９】
また、ピンカバー２３が「第１の位置」に位置した状態では、図６の左図に示すように、ノブ４２の突起４２ａがグリップ２２の保持部３２における案内溝３２ａの凹部３３ａ，３３ａに嵌合した状態となる。これにより、保持部３２に対するノブ４２の移動、すなわち、グリップ２２およびテストピン２１に対するピンカバー２３の移動が制限される結果、ノブ４２を操作した指（上記の例では、親指）をノブ４２から離しても、ピンカバー２３が「第１の位置」に位置した状態、すなわち、テストピン２１の露出長が長さＬ１の状態が維持される。
【００６０】
なお、上記のテストピン２１の露出長を変更する操作は、２本のテストリード３，３について別個に行ってもよいが、本例のテストリード３では、上記のように、テストリード３（グリップ２２の把持部３１）を把持している手の親指でノブ４２を操作することでテストピン２１およびグリップ２２に対してピンカバー２３をスライドさせることができるため、両テストリード３，３を別々の手で把持することで、両テストリード３，３についてテストピン２１の露出長を同時に変更することができる。
【００６１】
この後、測定装置本体２の操作部１２を操作して所望の測定モードを選択した後に、両テストリード３，３のテストピン２１，２１を測定対象に接触させることにより、両テストピン２１，２１を介して測定された電気的パラメータが表示部１３に表示される。これにより、「測定カテゴリ：ＣＡＴI 」に属する測定対象や「測定カテゴリ：ＣＡＴII」に属する測定対象についての測定作業が完了する。
【００６２】
一方、「測定カテゴリ：ＣＡＴIII 」に属する測定対象に属する測定対象についての測定作業時や、「測定カテゴリ：ＣＡＴII」または測定カテゴリ：ＣＡＴI 」に属する測定対象についての測定作業時にテストピン２１の露出長を短くしたいときには、テストピン２１の露出長を長さＬ２とする。具体的には、例えば、テストピン２１の露出長が長さＬ２よりも長くなっている状態（例えば、露出長が長さＬ１となっている状態）において「測定カテゴリ：ＣＡＴIII 」に属する測定対象に属する測定対象についての測定作業を行うときには、一例として、テストリード３のグリップ２２（把持部３１）を把持している手の親指でノブ４２を矢印Ａ２の向きに操作する。
【００６３】
この際には、グリップ２２の把持部３１に形成されたスリット３１ｂ、および保持部３２に形成された案内溝３２ａの案内に従ってノブ４２がテストピン２１の長手方向に沿って矢印Ａ２の向きに直線的に移動し、ノブ４２が嵌着されているカバー本体４１（ピンカバー２３全体）がグリップ２２に対して矢印Ａ２の向きに直線的にスライドさせられる。これにより、ピンカバー２３が「第２の位置」に位置させられて、図３、図６の右図、および図７の下図に示すように、ピンカバー２３（カバー本体４１）からのテストピン２１の露出長が長さＬ２の状態となる。
【００６４】
また、ピンカバー２３が「第２の位置」に位置した状態では、図７の下図に示すように、グリップ２２における把持部３１に記されたカテゴリ表示３４ｂと、ピンカバー２３のノブ４２とがグリップ２２の周方向で一致した状態、すなわち、ノブ４２によってカテゴリ表示３４ｂが指し示された状態となる。したがって、ノブ４２によって示されているカテゴリ表示３４ｂを見た使用者は、テストピン２１の露出長が「測定カテゴリ：ＣＡＴIII 」の規定を満たした長さとなっていると把握する。
【００６５】
また、ピンカバー２３が「第２の位置」に位置した状態では、図６の右図に示すように、ノブ４２の突起４２ｂがグリップ２２の保持部３２における案内溝３２ａの凹部３３ｂ，３３ｂに嵌合した状態となる。これにより、保持部３２に対するノブ４２の移動、すなわち、グリップ２２およびテストピン２１に対するピンカバー２３の移動が制限される結果、ノブ４２を操作した指（上記の例では、親指）をノブ４２から離しても、ピンカバー２３が「第２の位置」に位置した状態、すなわち、テストピン２１の露出長が長さＬ２の状態が維持される。
【００６６】
なお、前述した「テストピン２１の露出長を長さＬ１とする操作」時と同様にして、「テストピン２１の露出長を長さＬ２とする操作」に関しても、２本のテストリード３，３について別個に行うか、両テストリード３，３について同時に行うかについては使用者が任意に選択すればよい。この後、測定装置本体２の操作部１２を操作して所望の測定モードを選択した後に、両テストリード３，３のテストピン２１，２１を測定対象に接触させることにより、両テストピン２１，２１を介して測定された電気的パラメータが表示部１３に表示される。これにより、「測定カテゴリ：ＣＡＴIII 」に属する測定対象についての測定作業が完了する。
【００６７】
このように、このテストリード３では、テストピン２１を挿通可能な筒状に形成されたカバー本体４１とテストピン２１およびグリップ２２に対するスライド操作用のノブ４２とを備えたピンカバー２３におけるカバー本体４１が、テストピン２１における先端部２１ａのピンカバー２３からの露出長が長さＬ１となる「第１の位置」、およびテストピン２１における先端部２１ａのピンカバー２３からの露出長が長さＬ１よりも短い長さＬ２となる「第２の位置」にスライド可能にグリップ２２の把持部３１およびテストピン２１の間に配設されると共に、長手方向に沿ったノブ４２の移動を許容し、かつノブ４２のグリップ２２に対する回動を規制するスリット３１ｂがグリップ２２の把持部３１に設けられている。また、この測定装置１では、上記のテストリード３と、テストリード３を介しての電気的測定処理を実行可能な測定装置本体２とを備えている。
【００６８】
したがって、このテストリード３および測定装置１によれば、たとえテストリード３の操作方法を知らない者であっても、スリット３１ｂおよびノブ４２の存在を確実かつ容易に認識することができ、ノブ４２の操作を試みることで、テストピン２１およびグリップ２２に対してピンカバー２３がスライドしてテストピン２１の露出長を変更できることを確実かつ容易に認識することができる。また、テストピン２１の露出長を長さＬ１としたいとき、すなわち、テストピン２１およびグリップ２２に対してピンカバー２３を後退させる向きにスライドさせたいときに、ノブ４２をその向きに操作する非常に簡単な作業によってピンカバー２３を「第１の位置」に位置させてテストピン２１の露出長を長さＬ１とすることができ、テストピン２１の露出長を長さＬ２としたいとき、すなわち、テストピン２１およびグリップ２２に対してピンカバー２３を前進させる向きにスライドさせたいときに、ノブ４２をその向きに操作する非常に簡単な作業によってピンカバー２３を「第２の位置」に位置させてテストピン２１の露出長を長さＬ２とすることができるため、操作方法を記憶するまでもなく、テストピン２１の露出長を任意の長さに確実かつ容易に変更することができる。さらに、ノブ４２を操作する方向を誤るおそれもないため、テストピン２１の露出長の変更を目的とした操作によってグリップ２２（スリット３１ｂ）やピンカバー２３（ノブ４２）が破損する事態を好適に回避できる。また、テストリード３を使用した測定作業時には、ノブ４２に触れないようにグリップ２２の把持部３１を把持するだけで、ピンカバー２３の意図しないスライドを招くことなく、テストピン２１の露出長が意図した長さとなっている状態を維持することができる。
【００６９】
また、このテストリード３では、ノブ４２がカバー本体４１とは別体に形成されてカバー本体４１に嵌着されている。したがって、このテストリード３および測定装置１によれば、ノブ４２がカバー本体４１と一体形成されたピンカバー２３を採用したときには、そのようなピンカバー２３のテストピン２１およびグリップ２２に対する装着に際してノブ４２をスリット３１ｂに嵌入するときに、グリップ２２やピンカバー２３を大きく変形させる必要があるため、製造時に破損を招く恐れがあり、破損を回避するためには、グリップ２２やピンカバー２３を大きく変形させずにノブ４２をスリット３１ｂに嵌入可能にノブ４２を低背に形成する必要が生じるためノブ４２の操作が困難になるおそれがあるのに対し、ノブ４２をカバー本体４１とは別体に形成して嵌着する構成を採用したことで、テストピン２１およびグリップ２２に対してカバー本体４１を装着してからカバー本体４１にノブ４２を嵌着することで、確実かつ容易に操作可能な十分な高さのノブ４２を採用したとしても、製造時にグリップ２２やピンカバー２３が破損する事態を好適に回避することができる。
【００７０】
また、このテストリード３では、グリップ２２の把持部３１においてピンカバー２３が「第１の位置」にスライドさせられたときにノブ４２に対して周方向で隣り合う位置にテストピン２１のピンカバー２３からの露出長が長さＬ１となっていることを特定可能なカテゴリ表示３４ａが設けられると共に、グリップ２２の把持部３１においてピンカバー２３が「第２の位置」にスライドさせられたときにノブ４２に対して周方向で隣り合う位置にテストピン２１のピンカバー２３からの露出長が長さＬ２となっていることを特定可能なカテゴリ表示３４ｂが設けられている。したがって、このテストリード３および測定装置１によれば、テストピン２１等の金属部の露出長がどのような長さとなっているかを非常に単純な構造で特定させることができると共に、例えばテストピン２１を穴の中に差し込んで測定を行っている状態、すなわち、テストピン２１の目視が困難な状態であっても、テストピン２１の露出長が長さＬ１であるか長さＬ２であるかを確実かつ容易に認識することができる。
【００７１】
また、このテストリード３では、「第１の位置」にスライドさせられたピンカバー２３のスライドを規制する凹部３３ａ，３３ａがグリップ２２に形成されると共に、「第１の位置」にスライドさせられたピンカバー２３のスライドを規制する突起４２ａがピンカバー２３（ノブ４２）に形成されている。したがって、このテストリード３および測定装置１によれば、ノブ４２の操作によってピンカバー２３を「第１の位置」にスライドさせる作業後にノブ４２から指を離してもピンカバー２３がテストピン２１やグリップ２２に対して意図せずにスライドすることがないため、テストピン２１の露出長が長さＬ１となっている状態を好適に維持させて測定作業を安全に行うことができる。
【００７２】
また、このテストリード３では、「第２の位置」にスライドさせられたピンカバー２３のスライドを規制する凹部３３ｂ，３３ｂがグリップ２２に形成されると共に、「第２の位置」にスライドさせられたピンカバー２３のスライドを規制する突起４２ｂがピンカバー２３（ノブ４２）に形成されている。したがって、このテストリード３および測定装置１によれば、ノブ４２の操作によってピンカバー２３を「第２の位置」にスライドさせる作業後にノブ４２から指を離してもピンカバー２３がテストピン２１やグリップ２２に対して意図せずにスライドすることがないため、テストピン２１の露出長が長さＬ２となっている状態を好適に維持させて測定作業を安全に行うことができる。
【００７３】
なお、「テストリード」および「測定装置」の構成は、上記のテストリード３および測定装置１の構成の例に限定されない。
【００７４】
例えば、カバー本体４１とは別体に形成したノブ４２をカバー本体４１に嵌着することでカバー本体４１およびノブ４２を一体化したピンカバー２３を備えたテストリード３を例に挙げて説明したが、ピンカバー２３におけるカバー本体４１に相当する部位とノブ４２に相当する部位とを一体形成した「ピンカバー」を備えて構成することもできる（図示せず）。このような構成を採用する場合には、ノブ４２に相当する部位を低背に形成したり、容易に変形可能な材料で「グリップ」を形成したりすることにより、「テストリード」の製造時に「グリップ」や「ピンカバー」が破損する事態を回避することができる。
【００７５】
また、上記のテストリード３においてグリップ２２に対するピンカバー２３のスライドを制限するための構成に代えて（または、このような構成に加えて）、例えば図８に示すテストリード３Ａ（「テストリード」の他の一例）のように、グリップ２２Ａ（「グリップ」の他の一例）のスリット３１ｃ（「ノブ案内部」の他の一例）に「第１のスライド規制用凸部」として機能する突起３５ａ，３５ａ、および「第２のスライド規制用凸部」として機能する突起３５ｂ，３５ｂを設けると共に、ノブ４２に「第１のスライド規制用凹部」および「第２のスライド規制用凹部」として機能する凹部４３を設け、同図に実線で示すように凹部４３に突起３５ａ，３５ａを係合させた状態とすることで「第１の位置」からのグリップ２２に対するピンカバー２３のスライドを規制し、同図に破線で示すように凹部４３に突起３５ｂ，３５ｂを係合させた状態とすることで「第２の位置」からのグリップ２２に対するピンカバー２３のスライドを規制する構成を採用することもできる。
【００７６】
なお、同図に示すテストリード３Ａ、および後に参照する図９，１０に示すテストリード３Ｂ，３Ｃにおいて前述のテストリード３と同様の機能を有する構成要素については同一の符号を付して重複する説明を省略する。また、図８では、把持部３１に設けられたカテゴリ表示３４ａ，３４ｂの図示を省略している。この場合、上記のテストリード３Ａでは、凹部４３を「第１のスライド規制用凹部」および「第２のスライド規制用凹部」として兼用する構成を採用しているが、このような構成に代えて、突起３５ａ，３５ａが係合する「第１のスライド規制用凹部」と、突起３５ｂ，３５ｂが係合する「第２のスライド規制用凹部」とをノブ４２に対して別個に設けることもできる（図示せず）。
【００７７】
さらに、「第１のスライド規制用凸部」および「第１のスライド規制用凹部」を備えて「第２のスライド規制用凸部」および「第２のスライド規制用凹部」を備えない構成（「第２の位置」からの「ピンカバー」のスライドを制限しない構成）や、「第２のスライド規制用凸部」および「第２のスライド規制用凹部」を備えて「第１のスライド規制用凸部」および「第１のスライド規制用凹部」を備えない構成（「第１の位置」からの「ピンカバー」のスライドを制限しない構成）を採用することもできる（図示せず）。
【００７８】
また、「第１のスライド規制用凸部」および「第１のスライド規制用凹部」や「第２のスライド規制用凸部」および「第２のスライド規制用凹部」を設けず、「第１の位置」からの「ピンカバー」のスライド、および「第２の位置」からの「ピンカバー」のスライドの双方を制限せずに、「ピンカバー」をスライドさせるのに要する力が「第１の位置」と「第２の位置」との間で一定となるように「グリップ」の「把持部」および「テストピン」の間に「ピンカバー」を配設して「テストリード」を構成することもできる（図示せず）。このような構成の「テストリード」、およびそのような「テストリード」を備えた「測定装置」によれば、例えば、「テストピン」の露出長が「第１の長さ」となっているべき測定カテゴリの測定対象についての測定作業と「テストピン」の露出長が「第２の長さ」となっているべき測定カテゴリの測定対象についての測定作業とを短時間で交互に行うときなどに、「テストピン」および「グリップ」に対して「ピンカバー」をスムーズにスライドさせることができるため、各測定処理を迅速に行うことができる。
【００７９】
さらに、図９に示すテストリード３Ｂ（「テストリード」のさらに他の一例）のように、ピンカバー２３を「第１の位置」から「第２の位置」に向かう向き（矢印Ａ２の向き）に沿って付勢するコイルスプリング２５（「スプリング」の一例）をピンカバー２３と共にグリップ２２Ｂ（「グリップ」のさらに他の一例）の把持部３１内に収容した構成を採用することもできる。
【００８０】
このようなテストリード３、およびそのようなテストリード３を備えた測定装置１によれば、ノブ４２等を操作しなくても、コイルスプリング２５の付勢力によってピンカバー２３がテストピン２１およびグリップ２２に対してスライドさせられて「第２の位置」に位置した状態（同図における左図の状態）となり、テストピン２１の露出長が感電事故や短絡事故が発生する可能性が低い長さＬ２の状態となるため、露出長が長さＬ２の状態において行うべき測定作業に際してピンカバー２３をスライドさせるのを忘れてしまっても、十分に安全な状態で作業を行うことができる。また、例えばコンセント（栓刃の挿入穴）内にテストピン２１を挿入して測定作業を行うときには、テストピン２１をコンセント内に挿入する動作によってピンカバー２３がコイルスプリング２５の付勢力に抗してテストピン２１やグリップ２２に対してスライドさせられるため、コンセント内の測定対象（接触金具等）にテストピン２１を容易に接触させることができる。
【００８１】
なお、上記のテストリード３Ｂでは、一例として、「第１のスライド規制用凸部」および「第１のスライド規制用凹部」や「第２のスライド規制用凸部」および「第２のスライド規制用凹部」を設けずに、「第１の位置」からの「ピンカバー」のスライド、および「第２の位置」からの「ピンカバー」のスライドの双方を制限しない構成を採用しているが、このような構成に代えて、「第１のスライド規制用凸部」および「第１のスライド規制用凹部」を設けて「第１の位置」からの「ピンカバー」のスライドを制限することにより、テストピン２１の露出長が長さＬ１の状態において行いたい測定作業時に、ピンカバー２３が「第１の位置」に位置した状態を好適に維持することができる。また、「第２のスライド規制用凸部」および「第２のスライド規制用凹部」を設けて「第２の位置」からの「ピンカバー」のスライドを制限することにより、テストピン２１の露出長が長さＬ２の状態において行うべき測定作業時に、ピンカバー２３が意図せずに「第２の位置」からスライドしてテストピン２１の露出長が長くなる事態を好適に回避することができる。
【００８２】
また、ピンカバー２３が「第１の位置」と「第２の位置」との間でテストピン２１およびグリップ２２に対してスライドさせられる構成のテストリード３，３Ａ，３Ｂを例に挙げて説明したが、このような構成に代えて、図１０に示すテストリード３Ｃ（「テストリード」のさらに他の一例）のように、テストピン２１の先端部２１ａがピンカバー２３Ｃ（「ピンカバー」の他の一例）内に収容されて先端部２１ａがピンカバー２３Ｃから露出しない状態となる「第３の位置」にスライド可能にグリップ２２Ｃ（「グリップ」のさらに他の一例）の把持部３１およびテストピン２１の間にピンカバー２３Ｃを配設することもできる。
【００８３】
この場合、このテストリード３Ｃでは、ピンカバー２３Ｃが「第１の位置」に位置した状態（同図における上図の状態）、ピンカバー２３Ｃが「第２の位置」に位置した状態（同図における中央図の状態）、およびピンカバー２３Ｃが「第３の位置」に位置した状態（同図における下図の状態）となるようにテストピン２１およびグリップ２２Ｃに対してピンカバー２３Ｃがスライド可能に構成されている。具体的には、このテストリード３Ｃでは、一例として、ノブ４２を案内するスリット３１ｄ（「ノブ案内部」のさらに他の一例）がテストリード３等のスリット３１ｂよりも長尺に形成されると共に、ピンカバー２３Ｃがテストリード３等のピンカバー２３よりも長尺に形成され、「第２の位置」にピンカバー２３が位置している状態からノブ４２を矢印Ａ２の向きに操作することでピンカバー２３Ｃが「第３の位置」にスライドさせられてピンカバー２３Ｃ内にテストピン２１の先端部２１ａが収容された状態となる。
【００８４】
このような構成のテストリード３Ｃ、およびテストリード３Ｃを備えた「測定装置」によれば、テストリード３Ｃを使用しないときにピンカバー２３Ｃを「第３の位置」にスライドさせてピンカバー２３Ｃ内にテストピン２１を収容した状態とすることにより、テストピン２１に傷付きや曲がりが生じるのを好適に回避できると共に、例えば、鞄の中や着衣のポケット内にテストリード３Ｃ（テストリード３Ｃを備えた「測定装置」）を収容したときに、テストピン２１の先端部２１ａが鞄やポケットに引っ掛かることがないため、鞄やポケットの破損も好適に回避することができる。
【符号の説明】
【００８５】
１  測定装置
２  測定装置本体
３，３Ａ〜３Ｃ  テストリード
２１  テストピン
２１ａ  先端部
２１ｂ  基端部
２２，２２Ａ〜２２Ｃ  グリップ
２３，２３Ｃ  ピンカバー
２４  信号ケーブル
２５  コイルスプリング
３１  把持部
３１ａ  鍔部
３１ｂ〜３１ｄ  スリット
３２  保持部
３２ａ，３２ｂ  案内溝
３３ａ，３３ｂ，４３  凹部
３３ｃ  凸部
３４ａ，３４ｂ  カテゴリ表示
３５ａ，３５ｂ，４２ａ，４２ｂ  突起
４１  カバー本体
４１ａ，４１ｂ  嵌着用孔
４２  ノブ
Ｌ１，Ｌ２  長さ
【図１】
2020003392.tif 000003
【図２】
2020003392.tif 000004
【図３】
2020003392.tif 000005
【図４】
2020003392.tif 000006
【図５】
2020003392.tif 000007
【図６】
2020003392.tif 000008
【図７】
2020003392.tif 000009
【図８】
2020003392.tif 000010
【図９】
2020003392.tif 000011
【図１０】
2020003392.tif 000012