(57)【要約】      （修正有）【課題】所定トラックへのデータの書き込みによる隣接トラックのデータ劣化を抑制する。【解決手段】磁気ディスク装置は、径方向に分割された複数のゾーンＺ０〜Ｚ２を有し、それぞれのゾーン内に複数のトラックＴ及び個々のトラックを周方向に分割した複数のセクタＳＣＴを有する磁気ディスク１０と、磁気ディスクに対してデータの読み出し及び書き込みを行う磁気ヘッドと、或るゾーンに属する１つのセクタを周方向に分割した複数の区間ＳＥＣ０〜ＳＥＣ３ごとに記録電流の設定値を変化させてデータの書き込みを行い、データを再生してデータのベリファイを行うとともにデータのエラーレートを測定し、エラーレートが所定値以下となる記録電流の設定値の中からセクタが属するゾーンに適用される記録電流の設定値を決定する制御部とを備える。【選択図】図２
2020047345.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
径方向に分割された複数のゾーンを有し、それぞれのゾーン内に複数のトラック及び個々のトラックを周方向に分割した複数のセクタを有する磁気ディスクと、
前記磁気ディスクに対してデータの読み出し及び書き込みを行う磁気ヘッドと、
或るゾーンに属する１つのセクタを周方向に分割した複数の区間ごとに記録電流の設定値を変化させてデータの書き込みを行い、前記データを再生して前記データのベリファイを行うとともに前記データのエラーレートを測定し、前記エラーレートが所定値以下となる前記記録電流の設定値の中から前記セクタが属する前記ゾーンに適用される記録電流の設定値を決定する制御部と、を備える、
磁気ディスク装置。
【請求項２】
前記記録電流の設定値の決定に伴う前記データの書き込みは、ホストから転送された書き込みコマンドに従うデータの書き込みである、
請求項１に記載の磁気ディスク装置。
【請求項３】
前記記録電流の設定値の決定に伴う前記データの書き込みは、第１のトラックへのデータの書き込みにより前記第１のトラックに隣接する第２のトラックに記憶したデータの値が変化する前に、予め、前記第２のトラックのデータを再書き込みするリフレッシュ処理である、
請求項１に記載の磁気ディスク装置。
【請求項４】
前記記録電流の設定値の決定に伴う前記データの書き込みは、ホストからのコマンドが枯渇した状態において実施される前記磁気ディスクの読み出し検査においてデータの再書き込みが必要となったセクタに対するデータの再書き込みである、
請求項１に記載の磁気ディスク装置。
【請求項５】
径方向に分割された複数のゾーンを有し、それぞれのゾーン内に複数のトラック及び個々のトラックを周方向に分割した複数のセクタを有する磁気ディスクにおいて、
或るゾーンに属する１つのセクタを周方向に分割した複数の区間ごとに記録電流の設定値を変化させてデータの書き込みを行うステップと、
前記データを再生して前記データのベリファイを行うとともに前記データのエラーレートを測定するステップと、
前記エラーレートが所定値以下となる前記記録電流の設定値の中から前記セクタが属する前記ゾーンに適用される記録電流の設定値を決定するステップと、を含む、
記録電流適正化方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明の実施形態は、磁気ディスク装置および記録電流適正化方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、コンピュータの記憶装置として磁気ディスク装置が広く普及している。この磁気ディスク装置は、磁性体を塗布したアルミニウムやガラスの磁気ディスクを、モータで高速に回転させ、磁気ヘッドによって磁気ディスク上のトラックに磁界を照射することでデータを記録している。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】米国特許第７３５５８０３号明細書
【特許文献２】米国特許第６７９１７８０号明細書
【特許文献３】米国特許第７３５５８０４号明細書
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
磁気ディスクでは記録密度を高めるため狭トラックピッチ化が進んでおり、所定トラックへのデータの書き込みによる隣接トラックのデータ劣化が生じている。
【０００５】
本発明の実施形態は、所定トラックへのデータの書き込みによる隣接トラックのデータ劣化を抑制することが可能な磁気ディスク装置および記録電流適正化方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
実施形態の磁気ディスク装置は、径方向に分割された複数のゾーンを有し、それぞれのゾーン内に複数のトラック及び個々のトラックを周方向に分割した複数のセクタを有する磁気ディスクと、前記磁気ディスクに対してデータの読み出し及び書き込みを行う磁気ヘッドと、或るゾーンに属する１つのセクタを周方向に分割した複数の区間ごとに記録電流の設定値を変化させてデータの書き込みを行い、前記データを再生して前記データのベリファイを行うとともに前記データのエラーレートを測定し、前記エラーレートが所定値以下となる前記記録電流の設定値の中から前記セクタが属する前記ゾーンに適用される記録電流の設定値を決定する制御部と、を備える。
【図面の簡単な説明】
【０００７】
【図１】図１は、実施形態１にかかる磁気ディスク装置の全体構成を示す図である。
【図２】図２は、実施形態１にかかる磁気ディスクの構成およびライト電流値の適正化について説明する図である。
【図３】図３は、実施形態１にかかる磁気ディスク装置におけるライト電流適正化処理の手順の一例を示すフロー図である。
【図４】図４は、実施形態１にかかるライト電流決定部のライト電流決定処理の手順の一例を示すフロー図である。
【図５】図５は、実施形態２にかかる磁気ディスク装置におけるライト電流適正化処理の手順の一例を示すフロー図である。
【図６】図６は、実施形態３にかかる磁気ディスク装置におけるライト電流適正化処理の手順の一例を示すフロー図である。
【発明を実施するための形態】
【０００８】
以下に、本発明につき図面を参照しつつ詳細に説明する。なお、下記の実施形態により、本発明が限定されるものではない。また、下記実施形態における構成要素には、当業者が容易に想定できるものあるいは実質的に同一のものが含まれる。
【０００９】
以下の説明においては、ライト、書き込み、書き込むこと、および記録等の用語を略同じ意味として使用する。また、リード、読み出し、読み出すこと、および再生等の用語を略同じ意味として使用する。
【００１０】
［実施形態１］
図１〜図４を用いて実施形態１について説明する。
【００１１】
（磁気ディスク装置の全体構成例）
図１は、実施形態１にかかる磁気ディスク装置１の全体構成を示す図である。磁気ディスク装置１は、例えば、ホストＨＳに外付けされ、または、内蔵されるハードディスクドライブ等である。
【００１２】
図１に示すように、磁気ディスク装置１は、磁気ディスク１０、スピンドル２１、スピンドルモータ２２、ヘッドスライダＨＭ、サスペンションＳＵ、キャリッジアームＫＡ、ボイスコイルモータ３０、ベース４０、及び制御部５０を備える。また、磁気ディスク装置１は、制御部５０に制御されつつ、磁気ディスク装置１の内部温度を測定する温度測定部６０を備える。
【００１３】
磁気ディスク１０は、各種情報を磁気的に記録する円盤状の記録媒体であり、スピンドルモータ２２により回転駆動される。磁気ディスク１０は、例えば、スピンドルモータ２２の回転中心近傍を中心とする同心円状の複数のゾーンを有する。各ゾーンは、さらに、同心円状の複数のトラックを有する。磁気ディスク１０の詳細の構成については後述する。
【００１４】
磁気ディスク１０上には、ヘッドスライダＨＭが配置される。ヘッドスライダＨＭには、磁気ヘッドＨｒｗと、ヒータＨｈｔとが設けられている。磁気ヘッドＨｒｗは、リードヘッドＨｒ及びライトヘッドＨｗを含む。リードヘッドＨｒ及びライトヘッドＨｗは、磁気ディスク１０から数ｎｍ程度浮上した位置に、磁気ディスク１０に対向するように配置される。
【００１５】
ヘッドスライダＨＭは、サスペンションＳＵ及びキャリッジアームＫＡを介して磁気ディスク１０上に保持されている。キャリッジアームＫＡは、目標位置の検索を行うシーク時などにおいてヘッドスライダＨＭを水平面内でスライドさせる。サスペンションＳＵは、磁気ディスク１０が回転している時の空気流により、ヘッドスライダＨＭが磁気ディスク１０と接触することがないよう、磁気ディスク１０との間に一定の浮上量を発生させる。つまり、磁気ヘッドＨｒｗには、磁気ディスク１０に対し、任意の浮上量が発生することを意味する。サスペンションＳＵは、例えば板ばねにて構成される。
【００１６】
また、ヘッドスライダＨＭは、熱により膨張および収縮する材料を有している。ヒータＨｈｔに熱を加えることでヘッドスライダＨＭは膨張し、磁気ディスク１０の回転により発生する磁気ディスク１０と磁気ヘッドＨｒｗとの間の浮上量を変化させることができる。
【００１７】
ボイスコイルモータ３０は、キャリッジアームＫＡを駆動させる。スピンドルモータ２２は、スピンドル２１を中心として磁気ディスク１０を回転させる。ボイスコイルモータ３０およびスピンドルモータ２２は、ベース４０に固定されている。
【００１８】
制御部５０は、例えば、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ  Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ  Ｕｎｉｔ）等のハードウェアプロセッサ、ＲＯＭ（Ｒｅａｄ  Ｏｎｌｙ  Ｍｅｍｏｒｙ）やＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ  Ａｃｃｅｓｓ  Ｍｅｍｏｒｙ）等のメモリを備えるコンピュータとして構成されている。
【００１９】
制御部５０は、ヘッド制御部５１、パワー制御部５２、リードライトチャネル５３、ハードディスク制御部５４、及び記憶部５５を備え、磁気ディスク装置１の各部を制御する。ヘッド制御部５１、パワー制御部５２、リードライトチャネル５３、ハードディスク制御部５４、及び記憶部５５は、ＣＰＵがプログラムを実行することにより実現されてもよく、または、専用のハードウェア回路で実現されてもよい。また、記憶部５５は、ＲＯＭやＲＡＭ等により実現されてもよい。
【００２０】
ヘッド制御部５１は、ライト電流制御部５１Ａおよび再生信号検出部５１Ｂを備え、記録再生時における信号を増幅したり検出したりする。ライト電流制御部５１Ａは、ライトヘッドＨｗに流れるライト電流（記録電流）を制御する。再生信号検出部５１Ｂは、リードヘッドＨｒにて読み出された信号を検出する。また、ヘッド制御部５１は浮上制御部５１Ｃを備える。浮上制御部５１Ｃには、ハードディスク制御部５４を介して記憶部５５に記憶されている各ゾーンに最適な浮上量の設定値が設定され、浮上制御部５１Ｃは、ヒータＨｈｔを制御して、磁気ディスク１０と磁気ヘッドＨｒｗとの間の浮上量を一定に保つ。
【００２１】
パワー制御部５２は、スピンドルモータ制御部５２Ａおよびボイスコイルモータ制御部５２Ｂを備え、スピンドルモータ２２及びボイスコイルモータ３０を駆動する。スピンドルモータ制御部５２Ａは、スピンドルモータ２２の回転を制御する。ボイスコイルモータ制御部５２Ｂは、ボイスコイルモータ３０の駆動を制御する。
【００２２】
リードライトチャネル５３は、ヘッド制御部５１とハードディスク制御部５４との間でデータの受け渡しを行う。データは、リードデータ、ライトデータ、及びサーボデータを含む。例えば、リードライトチャネル５３は、リードヘッドＨｒにて再生（リード）される信号をホストＨＳで扱われるデータ形式に変換したり、ホストＨＳから出力されるデータをライトヘッドＨｗにて記録（ライト）される信号形式に変換したりする。また、リードライトチャネル５３は、リードヘッドＨｒにてリードされた信号のデコード処理を行ったり、ホストＨＳから出力されるデータをコード変調したりする。
【００２３】
リードライトチャネル５３は、エラーレートカウント部５３Ａを備える。エラーレートカウント部５３Ａは、データのリード時、磁気ディスク１０にライトされたデータが含むエラーレートをカウントする。エラーレートは、ライトビット数に対するエラービット数の比率である。
【００２４】
ハードディスク制御部５４は、例えば、ホストＨＳからの指令に基づいて記録再生制御を行ったり、ホストＨＳとリードライトチャネル５３との間でデータの受け渡しを行ったりする。ハードディスク制御部５４は、データベリファイ部５４Ａ及びライト電流決定部５４Ｂを備える。データベリファイ部５４Ａは、磁気ディスク１０のデータが正しくリードできるか否かを判定し、これにより、磁気ディスク１０に正しくデータがライトされたか否かを判定する。ライト電流決定部５４Ｂは、磁気ディスク１０が備えるトラック内の所定の記録領域における適正なライト電流値を決定する。
【００２５】
記憶部５５は、磁気ディスク装置１の動作に必要な各種設定パラメータ群、ライト電流決定部５４Ｃが用いるライト電流の設定パラメータ等を記憶する。
【００２６】
制御部５０はホストＨＳに接続されている。ホストＨＳとしては、ライトコマンド（書き込みコマンド）やリードコマンド（読み出しコマンド）などを磁気ディスク装置に発行するパーソナルコンピュータであってもよいし、サーバなどに接続可能なネットワークであってもよい。
【００２７】
このように構成される磁気ディスク装置１において、スピンドルモータ２２により磁気ディスク１０が回転されながら、磁気ヘッドＨｒｗを介して磁気ディスク１０から信号が読み出され、再生信号検出部５１Ｂにて検出される。再生信号検出部５１Ｂにて検出された信号は、リードライトチャネル５３にてデータ変換された後、ハードディスク制御部５４に送られる。ハードディスク制御部５４において、再生信号検出部５１Ｂにて検出された信号に含まれるサーボデータに基づいて磁気ヘッドＨｒｗのトラッキング制御が行われる。
【００２８】
また、再生信号検出部５１Ｂにて検出されたサーボデータに基づいて磁気ヘッドＨｒｗの現在位置が算出され、磁気ヘッドＨｒｗが目標位置に近づくようにシーク制御が行われる。磁気ヘッドＨｒｗが目標位置に達すると、磁気ヘッドＨｒｗを介して磁気ディスク１０から信号がリードされ、または、磁気ディスク１０にデータがライトされる。
【００２９】
（磁気ディスクの構成とライト電流値の適正化）
次に、図２を用いて実施形態１の磁気ディスク１０の構成例について説明する。図２は、実施形態１にかかる磁気ディスク１０の構成およびライト電流値の適正化について説明する図である。図２の上段は磁気ディスク１０の平面図であり、中段は磁気ディスク１０が有するセクタＳＣＴの拡大図であり、下段は磁気ディスク１０が有するセクタＳＣＴにおけるライト電流値の適正化のためのライト及びリードのタイミングを示す図である。
【００３０】
図２の上段に示すように、磁気ディスク１０は、それぞれが周方向Ｄ１に沿う複数のトラックＴを径方向Ｄ２に沿って有する。各トラックＴには、ユーザデータがライトされるデータ領域ＤＡ及びサーボデータがライトされたサーボ領域ＳＡが設けられている。サーボ領域ＳＡは、例えば放射状に配置され、周方向Ｄ１に沿ったサーボ領域ＳＡ間にデータ領域ＤＡが配置されている。各トラックＴの隣接する２つのサーボ領域ＳＡに挟まれたデータ領域ＤＡは、複数のセクタＳＣＴと呼ばれる領域で構成される。セクタＳＣＴは、磁気ディスク１０の論理的なフォーマットに従った最小記録単位である。
【００３１】
また、磁気ディスク１０は、径方向Ｄ２に、例えばゾーンＺ０〜Ｚ２に分割されている。最外周側がゾーンＺ２であり、最内周側がゾーンＺ０である。ただし、ゾーンＺ０〜Ｚ２の数はこれに限られない。各ゾーンＺ０〜Ｚ２には、記録電流としてのライト電流の各種設定パラメータの適正値が設定されている。これらの設定パラメータは、ライト電流波形を決定するためのパラメータであり、言い換えると、磁気ディスク１０にライトされたデータの磁極を形成するために必要な磁束密度を構成するパラメータである。これらの設定パラメータは、上述の制御部５０が備える記憶部５５に記憶されている。
【００３２】
ライト電流の設定パラメータには、例えば、磁気ディスク１０に印加する電流値、ライト電流のオーバシュート量を制限するためのオーバシュート電流値及びオーバシュート維持時間、ライト電流波形の開始タイミング及び終了タイミング等がある。これらの設定パラメータは、ライトするデータパターンの長さ、言い換えると、ライト電流波形が高周波であるか低周波であるか等のパターンに応じて、記憶部５５に個別に用意されている。
【００３３】
ハードディスク制御部５４の備えるライト電流決定部５４Ｂは、ホストＨＳから磁気ディスク１０に対するライトコマンドが転送された場合であって、後述する所定のタイミングで、ゾーンＺ０〜Ｚ２ごとのライト電流の設定パラメータの適正値のうち、少なくともライト電流値を更に適正なものにする。
【００３４】
その際、ライト電流決定部５４Ｂは、図２の中段に示すように、ライト対象のセクタＳＣＴを複数の区間ＳＥＣ０〜ＳＥＣ３に分割する。この区間ＳＥＣ０〜ＳＥＣ３は仮想的なものである。また、図２の例では４つの区間ＳＥＣ０〜ＳＥＣ３を示したが、３つ以下、または、５つ以上であってもよい。
【００３５】
実際のライト動作においては、ライト電流決定部５４Ｂは、図２の下段に示すように、このセクタＳＣＴの各区間ＳＥＣ０〜ＳＥＣ３に対してそれぞれ異なるライト電流値でライトさせる。これらの異なるライト電流値には、例えば、初期値、つまり、予め、そのセクタＳＣＴが属するゾーンに設定されていたライト電流値が含まれる。また、これらの異なるライト電流値の範囲が初期値よりも低いことが好ましい。これらの異なるライト電流値の設定は、例えば記憶部５５から読み出される。
【００３６】
具体的には、まず、スピンドルモータ制御部５２Ａ及びボイスコイルモータ制御部５２Ｂが、磁気ヘッドＨｒｗを磁気ディスク１０の目標トラックＴに移動させる。続いて、磁気ヘッドＨｒｗが目標セクタＳＣＴを通過する際、リードライトチャネル５３がライトゲート信号を出力する。ライトゲート信号が出力されている間、磁気ディスク装置１の各部がライト動作を行う。そして、ライト電流決定部５４Ｂは、各区間ＳＥＣ０〜ＳＥＣ３の先頭位置を監視し、各区間ＳＥＣ０〜ＳＥＣ３の先頭位置において、記憶部５５から読み出した設定値をライト電流制御部５１Ａに設定する。ライト電流制御部５１は、記憶部５５から読み出され、ライト電流決定部５４Ｂにより設定されたライト電流を制御しつつ、磁気ヘッドＨｒｗが各区間ＳＥＣ０〜ＳＥＣ３に対して異なるライト電流値でデータのライトを行う。
【００３７】
このとき、各区間ＳＥＣ０〜ＳＥＣ３において異なるライト電流を磁気ヘッドＨｒｗに印加すると、異なるライト電流に応じてライトヘッドＨｗの発熱量が変化する。ヒータＨｈｔにより磁気ディスク１０と磁気ヘッドＨｒｗとの間の浮上量を一定に制御しようとしても、ライトヘッドＨｗの発熱量が加わることで、このままではスライダＨＭの膨張状態が変化し、ライト電流の変化に伴って磁気ヘッドＨｒｗの浮上量が区間ＳＥＣ０〜ＳＥＣ３毎に変化してしまうことになる。そこで、区間ＳＥＣ０〜ＳＥＣ３毎に浮上量が変化してしまわないように、異なるライト電流に応じてヒータＨｈｔで磁気ディスク１０と磁気ヘッドＨｒｗの間の浮上量の補正を行う。より具体的には、例えば、各区間ＳＥＣ０〜ＳＥＣ３の先頭位置においてライト電流決定部５４Ｂからライト電流制御部５１Ａ、及び、浮上制御部５１Ｃに、記憶部５５から読み出されたライト電流と浮上量設定値とを設定することで、磁気ヘッドＨｒｗの浮上量が変化してしまわないよう補正すべく制御する。なお、ライト電流値の設定変更から実際にライト電流値が設定値に到達するまで所定時間がかかるところ、各区間ＳＥＣ０〜ＳＥＣ３の先頭部分にライト電流値の安定化に要する区間が生じることに留意が必要である。
【００３８】
このようにライト動作が行われると、ライト電流決定部５４Ｂは、このセクタＳＣＴの各区間ＳＥＣ０〜ＳＥＣ３のエラーレート及びデータベリファイの結果を取得し、これらの結果から、ライト対象のセクタＳＣＴが属するゾーンのライト電流値を適正なものに決定する。
【００３９】
具体的には、まず、スピンドルモータ制御部５２Ａ及びボイスコイルモータ制御部５２Ｂが、磁気ヘッドＨｒｗを磁気ディスク１０の目標トラックＴに移動させる。続いて、磁気ヘッドＨｒｗが目標セクタＳＣＴを通過する際、リードライトチャネル５３がリードゲート信号を出力する。リードゲート信号が出力されている間、磁気ディスク装置１の各部がリード動作を行う。そして、リードライトチャネル５３は、再生信号検出部５１Ｂを介し、磁気ディスク１０の目標セクタＳＣＴから読み出した信号をリードする。
【００４０】
このとき、エラーレートカウント部５３Ａは、セクタＳＣＴのエラーレートを測定する。エラーレートは、セクタＳＣＴにライトされたビット数のうち、各区間ＳＥＣ０〜ＳＥＣ３に相当するビット数とエラービット数とから、各区間ＳＥＣ０〜ＳＥＣ３において測定される。また、各区間ＳＥＣ０〜ＳＥＣ３に相当するエラービット数は、各区間ＳＥＣ０〜ＳＥＣ３の先頭位置においてライト電流が安定しない区間を除く区間ＳＥＣ０’〜ＳＥＣ３’に相当するエラービット数とするのが好ましい。また、データベリファイ部５４Ａは、セクタＳＣＴの各区間ＳＥＣ０〜ＳＥＣ３のエラーレート測定と同時にデータが正しくリードできたか否かを判定、つまり正しくライトされたか否かを判定する。
【００４１】
データベリファイの結果、ライト異常が発生していなければ、ライト電流決定部５４Ｂは、エラーレートが予め定められた所定の閾値以下であったライト電流値の中から、例えば最小のライト電流値を、そのセクタＳＣＴが属するゾーンに適用するライト電流値として決定する。
【００４２】
エラーレートの可否を判定する所定の閾値は、そのセクタＳＣＴが属するゾーンに予め設定されていたライト電流値によるライト時に得られるエラーレートを１００として、例えば１１０程度までを許容値とすることができる。この許容値には、例えば、セクタＳＣＴが属するゾーン内における磁気ディスク１０の記録感度のばらつきや、セクタＳＣＴが属するトラックＴ内における磁気ディスク１０の記録感度のばらつき等から生じるエラーレートのばらつきを加味することが好ましい。
【００４３】
データベリファイの結果、ライト異常が発生していた場合は、ライト電流決定部５４Ｂは、記憶部５５が記憶するそのゾーンのライト電流値、つまり、初期値をそのゾーンに適用するライト電流値として決定する。また、ライト異常が発生していた場合は、決定した記憶部５５が記憶するそのゾーンのライト電流値で再び、セクタＳＣＴに対してデータをライトする。
【００４４】
このように決定されたライト電流値は、次のライト電流値の適正化処理が行われるまで、そのゾーンに属するセクタＳＣＴやトラックＴに対するライト時に適用される。
【００４５】
このようなライト電流値の適正化が行われるのは、ホストＨＳから磁気ディスク１０に対するライトコマンドが転送された場合であって、例えば磁気ディスク装置１の内部温度が、前回のライト電流値の決定時点から所定温度変動していた場合である。または、ライト電流の適正化は、ホストＨＳから磁気ディスク１０に対するライトコマンドが転送された場合であって、例えば前回の適正化処理から所定時間経過後などとしてもよい。
【００４６】
（ライト電流決定処理の例）
次に、図３および図４を用いて、実施形態１の磁気ディスク装置１におけるライト電流適正化処理の例について説明する。図３は、実施形態１にかかる磁気ディスク装置１におけるライト電流適正化処理の手順の一例を示すフロー図である。図３のフロー図は、ホストＨＳから磁気ディスク１０に対するライトコマンドが転送された場合であって、磁気ディスク装置１の内部温度が、前回のライト電流値の決定時点から所定温度変動していた場合にライト電流値の適正化が行われるときの例である。
【００４７】
図３に示すように、ホストＨＳからライトコマンドを受信すると（ステップＳ１０１）、制御部５０は、温度測定部６０から磁気ディスク装置１の内部温度を取得する（ステップＳ１０２）。制御部５０は、前回行ったライト電流値の適正化の時点から、磁気ディスク装置１の内部温度がどれくらい変動しているかを判定する（ステップＳ１０３）。
【００４８】
磁気ディスク装置１の内部温度の変動値が所定の閾値内であるときは（ステップＳ１０３：Ｙｅｓ）、制御部５０はライト電流値の設定変更を行うことなく、今現在、設定されているライト電流値にてデータをライトする（ステップＳ１０７）。
【００４９】
磁気ディスク装置１の内部温度の変動値が所定の閾値から外れているときは（ステップＳ１０３：Ｎｏ）、ライト電流決定部５４Ｂが、複数の異なるライト電流値の設定を記憶部５５から読み出し、磁気ディスク装置１の各部によりライト対象のセクタＳＣＴの各区間ＳＥＣ０〜ＳＥＣ３に対して、異なるライト電流値によりライトさせる（ステップＳ１０４）。
【００５０】
ライト対象のセクタＳＣＴへのライトが完了すると、ライト電流決定部５４Ｂは、磁気ディスク装置１の各部により、ライトしたセクタＳＣＴの各区間ＳＥＣ０〜ＳＥＣ３のデータをリードさせる。このとき、データベリファイ部５４Ａは、各区間ＳＥＣ０〜ＳＥＣ３のデータが正しくライトされているか否かを検証する。また、エラーレートカウント部５３Ａは、各区間ＳＥＣ０〜ＳＥＣ３のデータにおけるエラーレートをカウントする（ステップＳ１０５）。
【００５１】
ライト電流決定部５４Ｂは、データベリファイ部５４Ａによる検証の結果、及びエラーレートカウント部５３Ａによるエラーレートを取得し、セクタＳＣＴの各区間ＳＥＣ０〜ＳＥＣ３に用いたライト電流値、または、そのセクタＳＣＴが属するゾーンに予め設定されていたライト電流値のなかから、そのゾーンに適用するライト電流値を決定する（ステップＳ１０６）。
【００５２】
以上により、磁気ディスク装置１におけるライト電流適正化処理が終了する。
【００５３】
なお、上述のように、ライト電流値の適正化は、図３の例によらず、ホストＨＳからライトコマンドが転送された場合であって、前回のライト電流値の適正化処理から所定時間経過した後等に行ってもよい。
【００５４】
図４は、実施形態１にかかるライト電流決定部５４Ｂのライト電流決定処理の手順の一例を示すフロー図である。図４のフロー図は、図３のフロー図のステップＳ１０６の詳細にあたる。また、図４のフロー図は、エラーレートが所定の閾値以内となるライト電流値のうち、最小のライト電流値をゾーン適用するライト電流値に決定する例である。
【００５５】
図４に示すように、ライト電流決定部５４Ｂは、データベリファイ部５４Ａによる検証の結果から、ライト異常が発生しているか否かを判定する（ステップＳ１１１）。ライト異常が発生していなければ（ステップＳ１１１：Ｎｏ）、ライト電流決定部５４Ｂは、セクタＳＣＴの各区間ＳＥＣ０〜ＳＥＣ３のライトに用いた中から適正なライト電流値を決定すべく、以下の処理を行う。
【００５６】
ライト電流決定部５４Ｂはｎ＝１とし（ステップＳ１１２）、１番目の区間ＳＥＣ０に用いられた１番目のライト電流値から、順次、その適正性を検討する。すなわち、ライト電流決定部５４Ｂは、ｎ番目のライト電流値（以降、設定値（ｎ）とも称す）でライトされたｎ番目の区間ＳＥＣｎのエラーレートをエラーレートカウント部５３Ａから取得し、かかるエラーレートが所定の閾値内であるか否かを判定する（ステップＳ１１３）。エラーレートが所定の閾値から外れていた場合には（ステップＳ１１３：Ｎｏ）、設定値（ｎ）は適正値足り得ないため、ステップＳ１１６に移行し、次の設定値（ｎ＋１）の検討に進む。
【００５７】
エラーレートが所定の閾値内であったときには（ステップＳ１１３：Ｙｅｓ）、設定値（ｎ）が、現行値、つまり、評価対象のセクタＳＣＴが属するゾーンに現状適用されているライト電流値以下であるか否かを判定する（ステップＳ１１４）。
【００５８】
検討中の設定値（ｎ）が現行値より大きいときは（ステップＳ１１４：Ｎｏ）、設定値（ｎ）よりも現行値の方が隣接トラックＴに与える影響が小さい。このため、設定値（ｎ）を選択することなく、ライト電流決定部５４Ｂはｎ＝ｎ＋１とし（ステップＳ１１６）、新しく得たｎが全区間数以下の数値であれば（ステップＳ１１７：Ｙｅｓ）、次の設定値（ｎ）の検討に進む（ステップＳ１１３へ）。
【００５９】
検討中の設定値（ｎ）が現行値より小さいときは（ステップＳ１１４：Ｎｏ）、現行値よりも設定値（ｎ）の方が隣接トラックＴに与える影響が小さい。このため、検討中の設定値（ｎ）の方を選択したうえで（ステップＳ１１５）、ｎ＝ｎ＋１に更新し、次の設定値（ｎ）の検討に進む（ステップＳ１１３へ）。
【００６０】
以上のステップＳ１１３〜Ｓ１１７をｎが全区間数となるまで繰り返すことで、エラーレートが所定の閾値以内となるライト電流値のうち、最小のライト電流値を、評価対象のセクタＳＣＴが属するゾーンに適用するライト電流値として決定することができる。ｎが全区間数を超えたら（ステップＳ１１７：Ｎｏ）、ライト電流決定部５４Ｂは処理を終了する。
【００６１】
一方、データベリファイ部５４Ａによる検証の結果から、ライト異常が発生していた場合には（ステップＳ１１１：Ｙｅｓ）、ライト電流決定部５４Ｂは、セクタＳＣＴの各区間ＳＥＣ０〜ＳＥＣ３のライトに今回用いた設定値（ｎ）のいずれも選択することなく、初期値、つまり、評価対象のセクタＳＣＴが属するゾーンに予め設定されていたライト電流値をそのゾーンに適用するライト電流値として決定する（ステップＳ１１８）。
【００６２】
さらに、ライト電流決定部５４Ｂは、初期値のライト電流値にて、改めて、ホストＨＳからのデータをそのセクタＳＣＴにライトし直す処理を磁気ディスク装置１の各部に行わせる（ステップＳ１１９）。
【００６３】
以上により、ライト電流決定部５４Ｂのライト電流決定処理が終了する。
【００６４】
（比較例）
例えば、比較例の磁気ディスク装置では、各ゾーンに適用されるライト電流値が予め決められている。環境温度、つまり、磁気ディスク装置内温度が大きく変動したときは、予め決められたライト電流値をベースに計算で求めた適正値が適用される。
【００６５】
しかしながら、近年、磁気ディスクの記録感度の向上や狭トラックピッチ化が進んでおり、上記のような対応では、ライトされるトラックに隣接するトラックのデータ劣化を充分に抑制することができない。
【００６６】
実施形態１の磁気ディスク装置１においては、所定のタイミングで所定のゾーンに適用されるライト電流値を適正化する。これにより所定トラックＴへのデータのライトによる隣接トラックＴのデータ劣化を抑制することができる。換言すれば、隣接トラックＴのリフレッシュ処理の頻度を低減することができる。ここで、リフレッシュ処理とは、隣接トラックＴの既存データが損なわれる前に再書き込み（リライト）を行うことである。
【００６７】
実施形態１の磁気ディスク装置１においては、ホストＨＳから磁気ディスク１０に対するライトコマンドが転送された場合であって、例えば磁気ディスク装置１内温度が変動していた場合には、ライト対象のセクタＳＣＴが属するゾーンに適用されるライト電流値を適正化する。ライト電流値の適正化には、通常のライトより２倍以上の時間を要するところ、上記のように規定することで、ライト電流値の適正化の頻度を適当な回数に留めることができ、磁気ディスク装置１のパフォーマンスの低下を抑制することができる。
【００６８】
実施形態１の磁気ディスク装置１においては、ライト電流値の適正化の処理を、通常のライト処理、つまり、ホストＨＳからのライトコマンドにしたがうライト処理に組み込んでいる。例えば、ライト電流値の適正化を通常のライト処理と分けて行うとすると、適正化処理用データを別途用意したり、磁気ディスクに適正化処理用領域を設けたりしなければならない。ライト電流値の適正化処理を通常のライト処理に組み込むことで、このような煩雑な処理を必要とすることなく、また、磁気ディスク１０のデータ領域等が圧迫されずに済む。
【００６９】
［実施形態２］
次に、実施形態２について説明する。以下の説明においては、図１及び図２を援用し、上述の実施形態１に対応する構成には同様の符号を付すこととする。実施形態２の磁気ディスク装置１においては、リフレッシュ処理に伴ってライト電流値の適正化を行う点が、上述の実施形態１とは異なる。
【００７０】
磁気ディスク装置１においては、例えば、ライト対象のトラックＴに隣接するトラックＴに対してリフレッシュ処理が行われることがある。上述のように、リフレッシュ処理は、隣接トラックＴのデータ劣化を抑制するため、隣接トラックＴのデータが変化してしまう前に、予め、隣接トラックＴのデータをリライトする動作である。リフレッシュ処理の頻度は、例えば、所定トラックＴに対するライト回数が所定数に達するごとなどというように規定されている。実施形態２の磁気ディスク装置１では、リフレッシュ処理におけるリライトのときにライト電流値の適正化を行う。
【００７１】
図５は、実施形態２にかかる磁気ディスク装置１におけるライト電流適正化処理の手順の一例を示すフロー図である。
【００７２】
図５に示すように、ホストＨＳから所定トラックＴへのライトコマンドを受信すると（ステップＳ２０１）、制御部５０は、ホストＨＳからのライトコマンドの対象トラックＴへのデータのライトを行う（ステップＳ２０２）。続けて、かかるトラックＴへのライト回数が所定数を超えるか否かを判定する（ステップＳ２０３）。ライト回数が所定数内であるときは（ステップＳ２０３：Ｎｏ）、制御部５０は、そのライト対象トラックＴの隣接トラックＴへのリフレッシュ処理は不要であると判定し、処理を終了する。ライト回数が所定数を超えているときは（ステップＳ２０３：Ｙｅｓ）、制御部５０は、隣接トラックＴへのリフレッシュ処理が必要であると判定し、以下の処理を行う。
【００７３】
すなわち、制御部５０は、リフレッシュ対象トラックＴである隣接トラックＴからデータをリードし（ステップＳ２０４）、例えば、制御部５０が備える記憶部５５にリードしたデータを記憶する。次に、記憶部５５に記憶した隣接トラックＴからリードしたデータのリライト動作と合わせて、ライト電流決定部５４Ｂが、複数の異なるライト電流値の設定を記憶部５５から読み出し、磁気ディスク装置１の各部によりリフレッシュ対象のトラックＴの例えば先頭のセクタＳＣＴの各区間ＳＥＣ０〜ＳＥＣ３に対して、異なるライト電流値によりライトさせる（ステップＳ２０５）。なお、各区間ＳＥＣ０〜ＳＥＣ３を設けて異なるライト電流でライトするセクタＳＣＴは、必ずしもリフレッシュ対象のトラックＴの先頭のセクタＳＣＴである必要はない。
【００７４】
リフレッシュ対象トラックＴの先頭のセクタＳＣＴへのライトが完了すると、ライト電流決定部５４Ｂは、磁気ディスク装置１の各部により、ライトしたセクタＳＣＴの各区間ＳＥＣ０〜ＳＥＣ３のデータをリードさせる。このとき、データベリファイ部５４Ａは、各区間ＳＥＣ０〜ＳＥＣ３のデータが正しくライトされているか否かを検証する。また、エラーレートカウント部５３Ａは、各区間ＳＥＣ０〜ＳＥＣ３のデータにおけるエラーレートをカウントする（ステップＳ２０６）。
【００７５】
ライト電流決定部５４Ｂは、データベリファイ部５４Ａによる検証の結果、及びエラーレートカウント部５３Ａによるエラーレートを取得し、セクタＳＣＴの各区間ＳＥＣ０〜ＳＥＣ３に用いたライト電流値、または、そのセクタＳＣＴが属するゾーンに予め設定されていたライト電流値のなかから、そのゾーンに適用するライト電流値を決定する（ステップＳ２０７）。なお、ステップＳ２０７における、ライト電流決定部５４Ｂのライト電流決定処理は、上述の図４のフロー図に従う。
【００７６】
以上により、実施形態２の磁気ディスク装置１におけるライト電流適正化処理が終了する。
【００７７】
実施形態２の磁気ディスク装置１も上述の実施形態１と同様の効果を奏する。
【００７８】
［実施形態３］
次に、実施形態３について説明する。以下の説明においては、図１及び図２を援用し、上述の実施形態１に対応する構成には同様の符号を付すこととする。実施形態３の磁気ディスク装置１においては、磁気ディスク１０のリード検査に伴ってライト電流値の適正化を行う点が、上述の実施形態１，２とは異なる。
【００７９】
磁気ディスク装置１においては、コマンドが枯渇した状態、つまり、ホストＨＳからコマンドが転送されて来ない状態が発生することがある。このようなコマンド枯渇状態において、磁気ディスク装置１は、例えば、磁気ディスク１０のリード検査を行う場合がある。リード検査においては、例えば磁気ディスク１０の全域を対象に、データのリードが問題なく行えるか否かを検査する。所定トラックＴのリードに際して磁気ディスク１０からリードしたデータが正しくリードできず、複数回リードを繰り返す処理、つまりリトライ処理が生じてデータが正しくリードできた場合、データが劣化しかかっている恐れがある。そこで、磁気ディスク装置１は、リトライ処理が所定回数以上発生し、最終的に正しくリードできたトラックＴに対し、データのリライトを行う。実施形態３の磁気ディスク装置１では、磁気ディスク１０のリード検査におけるリライトのときにライト電流値の適正化を行う。
【００８０】
図６は、実施形態３にかかる磁気ディスク装置１におけるライト電流適正化処理の手順の一例を示すフロー図である。
【００８１】
図６に示すように、制御部５０は、磁気ディスク装置１がホストＨＳからのコマンド枯渇状態にあるか否かを判定する（ステップＳ３０１）。コマンド枯渇状態になければ（ステップＳ３０１：Ｎｏ）、枯渇状態になるまで待つ。コマンド枯渇状態であれば（ステップＳ３０１：Ｙｅｓ）、以下のように、磁気ディスク１０の全域を対象とするリード検査を実施する。
【００８２】
すなわち、制御部５０は検査対象トラックＴからデータのリードを行う（ステップＳ３０２）。このとき、データのリードにおいてリトライ処理が発生したか否かを判定する（ステップＳ３０３）。リトライ処理が所定回数以上発生していなければ（ステップＳ３０３：Ｎｏ）、順次、次のトラックＴを検査対象としていく。リトライ処理が所定回数以上発生し、最終的に正しくデータがリードできたトラックＴに対しては（ステップＳ３０３：Ｙｅｓ）、リードしたデータのリライトを行う。このとき、ライト電流値の適正化を行う。なお、リトライ処理が、予め設けられた所定のリトライ処理上限回数に到達しても正しくデータがリードできなかった場合は、次のトラックＴを検査対象としていく。
【００８３】
ライト電流決定部５４Ｂは、複数の異なるライト電流値の設定を記憶部５５から読み出し、磁気ディスク装置１の各部によりリライト対象のトラックＴの例えば先頭のセクタＳＣＴの各区間ＳＥＣ０〜ＳＥＣ３に対して、異なるライト電流値によりライトさせる（ステップＳ３０４）。なお、各区間ＳＥＣ０〜ＳＥＣ３を設けて異なるライト電流でライトするセクタＳＣＴは、必ずしもリフレッシュ対象のトラックＴの先頭のセクタＳＣＴである必要はない。
【００８４】
リライト対象トラックＴの先頭のセクタＳＣＴへのライトが完了すると、ライト電流決定部５４Ｂは、磁気ディスク装置１の各部により、ライトしたセクタＳＣＴの各区間ＳＥＣ０〜ＳＥＣ３のデータをリードさせる。このとき、データベリファイ部５４Ａは、各区間ＳＥＣ０〜ＳＥＣ３のデータが正しくライトされているか否かを検証する。また、エラーレートカウント部５３Ａは、各区間ＳＥＣ０〜ＳＥＣ３のデータにおけるエラーレートをカウントする（ステップＳ３０５）。
【００８５】
ライト電流決定部５４Ｂは、データベリファイ部５４Ａによる検証の結果、及びエラーレートカウント部５３Ａによるエラーレートを取得し、セクタＳＣＴの各区間ＳＥＣ０〜ＳＥＣ３に用いたライト電流値、または、そのセクタＳＣＴが属するゾーンに予め設定されていたライト電流値のなかから、そのゾーンに適用するライト電流値を決定する（ステップＳ３０６）。なお、ステップＳ３０６における、ライト電流決定部５４Ｂのライト電流決定処理は、上述の図４のフロー図に従う。
【００８６】
以上により、実施形態３の磁気ディスク装置１におけるライト電流適正化処理が終了する。
【００８７】
実施形態３の磁気ディスク装置１も上述の実施形態１と同様の効果を奏する。
【００８８】
［他の実施形態］
上述の実施形態１〜３においては、ライト電流値の適正化処理において、エラーレートが所定閾値内のライト電流値のうち最小のライト電流値を適正化処理対象のゾーンに対して適用することとしたが、これに限られない。エラーレートが所定閾値内のライト電流値のうち、例えば、最小のライト電流値から２番目に小さいライト電流値を適正化処理対象のゾーンに対して適用するなど、適正なライト電流値は任意に設定することができる。
【００８９】
上述の実施形態１〜３においては、ライト電流値の適正化処理を行うこととしたが、これに限られない。上述のように、ライト電流には、ライト電流値のほか、オーバシュート電流値、オーバシュート維持時間、波形の開始および終了のタイミング等、種々の設定パラメータがある。記憶部が記憶する適正化処理条件の中に、これらの設定パラメータの幾つかを組み込んで、ライト電流値のみならず、複数の設定パラメータの適正化を行ってもよい。このとき、隣接トラックのデータ劣化が最小となるような設定パラメータを適正な設定パラメータとすることが好ましいが、上記のように、適正な設定パラメータは任意に設定することができる。例えば、図４のフローにおけるステップＳ１１４では、ライト電流値のみが最小となるように決定するのではなく、種々の設定パラメータにより決定されるライト電流波形の平均値や、ライト電流波形のピーク値が最小となるパラメータを決定することもある。このように、図４等に示すライト電流の設定値には、ライト電流値のみならず、その他のライト電流に関わる設定パラメータが含まれてもよい。また、ライト電流の設定値とは、必ずしも数値である必要はなく、ライト電流の設定そのものや、尺度のような相対的な内容をも含む。
【００９０】
本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。
【符号の説明】
【００９１】
１…磁気ディスク装置，１０…磁気ディスク，５０…制御部，５１…ヘッド制御部，５１Ａ…ライト電流制御部，５１Ｂ…再生信号検出部，５２…パワー制御部，５３…リードライトチャネル，５３Ａ…エラーレートカウント部、５４…ハードディスク制御部，５４Ａ…データベリファイ部，５４Ｂ…ライト電流決定部，５５…記憶部，ＨＭ…ヘッドスライダ，Ｈｒ…リードヘッド，Ｈｒｗ…磁気ヘッド，ＨＳ…ホスト，Ｈｗ…ライトヘッド、ＳＣＴ…セクタ、ＳＥＣ…区間、Ｔ…トラック。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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