(57)【要約】【課題】定電流の値や配線抵抗の影響を小さくして、校正誤差を低減する。【解決手段】校正装置２００に切替スイッチ６と校正部７を設ける。校正部７は、切替スイッチ６の共通接点端子６ｃと第１の切替接点端子６ａとを導通状態とした時のＡ／Ｄ変換器２におけるＡＤカウント値を第１の値として取得し、切替スイッチ６の共通接点端子６ｃと第２の切替接点端子６ｂとを導通状態とした時のＡ／Ｄ変換器２におけるＡＤカウント値を第２の値として取得し、第１の値と第２の値との差に１／２を乗じた値を校正用抵抗器５の抵抗値Ｒに応じたＡＤカウント値として取り込む。【選択図】  図１
2020003442.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
第１の端子と第２の端子とグラウンド端子とを備え、前記第１の端子から入力される電圧と前記第２の端子から入力される電圧との差に応じた値を、前記第１の端子と前記第２の端子との間に接続される測温抵抗体の抵抗値に応じた値として取り込む測温抵抗入力回路の校正装置において、
前記第１の端子に一端が接続される第１の配線と、
前記第２の端子に一端が接続される第２の配線と、
前記グラウンド端子に一端が接続される第３の配線と、
前記第１の配線の他端と前記第２の配線の他端との間に前記測温抵抗体の代わりとして接続された校正用抵抗器と、
前記校正用抵抗器と前記第２の配線との接続ラインに接続された第１の切替接点端子と、前記校正用抵抗器と前記第１の配線との接続ラインに接続された第２の切替接点端子と、前記第３の配線の他端に接続された共通接点端子とを備えた切替スイッチと
を備えることを特徴とする測温抵抗入力回路の校正装置。
【請求項２】
請求項１に記載された測温抵抗入力回路の校正装置において、
前記測温抵抗入力回路は、
前記第１の端子から入力される電圧と前記第２の端子から入力される電圧との差に応じた電圧を出力するように構成された差動入力回路と、
前記第１の端子と前記差動入力回路の正側入力端子との間に接続された第１の電源ラインと、
前記第２の端子と前記差動入力回路の負側入力端子との間に接続された第２の電源ラインと、
前記第１の電源ラインに第１の定電流を供給するように構成された第１の定電流源と、
前記第２の電源ラインに第２の定電流を供給するように構成された第２の定電流源と
を備えることを特徴とする測温抵抗入力回路の校正装置。
【請求項３】
請求項１に記載された測温抵抗入力回路の校正装置において、
前記測温抵抗入力回路は、
前記第１の端子から入力される電圧と前記第２の端子から入力される電圧との差に応じた電圧を出力するように構成された差動入力回路と、
前記第１の端子と前記差動入力回路の正側入力端子との間に接続された第１の電源ラインと、
前記第２の端子と前記差動入力回路の負側入力端子との間に接続された第２の電源ラインと、
第１の定電流を供給するように構成された第１の定電流源と、
第２の定電流を供給するように構成された第２の定電流源と、
前記第１の電源ラインに接続された第１の切替接点端子と、前記第２の電源ラインに接続された第２の切替接点端子と、前記第１の定電流源からの前記第１の定電流の供給ラインに接続された共通接点端子とを備えた第１の定電流源切替スイッチと、
前記第１の電源ラインに接続された第１の切替接点端子と、前記第２の電源ラインに接続された第２の切替接点端子と、前記第２の定電流源からの前記第２の定電流の供給ラインに接続された共通接点端子とを備えた第２の定電流源切替スイッチと
を備えることを特徴とする測温抵抗入力回路の校正装置。
【請求項４】
請求項２に記載された測温抵抗入力回路の校正装置において、
前記切替スイッチの前記共通接点端子と前記第１の切替接点端子とを導通状態とした時の前記差動入力回路から出力される電圧を示す値を第１の値として取得し、
前記切替スイッチの前記共通接点端子と前記第２の切替接点端子とを導通状態とした時の前記差動入力回路から出力される電圧を示す値を第２の値として取得し、
前記第１の値と前記第２の値との差に１／２を乗じた値を前記校正用抵抗器の抵抗値に応じた値として取り込むように構成された校正部を備える
ことを特徴とする測温抵抗入力回路の校正装置。
【請求項５】
請求項３に記載された測温抵抗入力回路の校正装置において、
前記切替スイッチの前記共通接点端子と前記第１の切替接点端子とを導通状態とし、前記第１の定電流源切替スイッチの前記共通接点端子と前記第１の切替接点端子とを導通状態とし、前記第２の定電流源切替スイッチの前記共通接点端子と前記第２の切替接点端子とを導通状態とした時の前記差動入力回路から出力される電圧を示す値を第１の値として取得し、
前記切替スイッチの前記共通接点端子と前記第２の切替接点端子とを導通状態とし、前記第１の定電流源切替スイッチの前記共通接点端子と前記第２の切替接点端子とを導通状態とし、前記第２の定電流源切替スイッチの前記共通接点端子と前記第１の切替接点端子とを導通状態とした時の前記差動入力回路から出力される電圧を示す値を第２の値として取得し、
前記第１の値と前記第２の値との差に１／２を乗じた値を前記校正用抵抗器の抵抗値に応じた値として取り込むように構成された校正部を備える
ことを特徴とする測温抵抗入力回路の校正装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、測温抵抗体に接続される測温抵抗入力回路の校正装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
図８に、測温抵抗入力回路の一例を示す（例えば、特許文献１参照）。この測温抵抗入力回路１００は、差動入力回路１と、Ａ／Ｄ変換器（ＡＤＣ）２と、定電流源３ａ，３ｂとを備えている。
【０００３】
図９に、測温抵抗入力回路１００に測温抵抗体（３線式の測温抵抗体）４を接続した状態を示す。測温抵抗入力回路１００は、第１の端子Ｐ１と第２の端子Ｐ２とグラウンド端子Ｐ３とを備えており、第１の端子Ｐ１に第１の配線４ａの一端が接続され、第２の端子Ｐ２に第２の配線４ｂの一端が接続され、グラウンド端子Ｐ３に第３の配線４ｃの一端が接続されている。第１の配線４ａの他端は測温抵抗体４の一端に接続され、第２の配線４ｂおよび第３の配線４ｃの他端は測温抵抗体４の他端に接続されている。
【０００４】
測温抵抗入力回路１００において、第１の端子Ｐ１は差動入力回路１の正側入力端子１ａに接続されており、第２の端子Ｐ２は差動入力回路１の負側入力端子１ｂに接続されている。定電流源３ａは、第１の端子Ｐ１と差動入力回路１の正側入力端子１ａとの間に接続された電源ラインＬ１に定電流Ｉａを供給し、定電流源３ｂは、第２の端子Ｐ２と差動入力回路１の負側入力端子１ｂとの間に接続された電源ラインＬ２に定電流Ｉｂを供給する。
【０００５】
電源ラインＬ１に供給された電流Ｉａは、配線４ａを介して測温抵抗体４を流れ、配線４ｃを介してグラウンド端子Ｐ３に流出する。電源ラインＬ２に供給された電流Ｉｂは、配線４ｂ，４ｃを介してグラウンド端子Ｐ３に流出する。
【０００６】
ここで、測温抵抗体４の抵抗値をＲ、配線４ａの抵抗値をｒａ、配線４ｂの抵抗値をｒｂとした場合、第１の端子Ｐ１に生じる電圧Ｖ１と第２の端子Ｐ２に生じる電圧Ｖ２との差ΔＶは、ΔＶ＝ｒａ・Ｉａ＋Ｒ・Ｉａ−ｒｂ・Ｉｂとなり、ｒａ＝ｒｂ、Ｉａ＝Ｉｂとすると、ΔＶ＝Ｒ・Ｉａとなる。
【０００７】
差動入力回路１は、この第１の端子Ｐ１に生じる電圧Ｖ１と第２の端子Ｐ２に生じる電圧Ｖ２との差ΔＶを入力電圧Ｖｉｎとして求め、この求めた入力電圧ＶｉｎをＡ／Ｄ変換器２へ送る。Ａ／Ｄ変換器２は、差動入力回路１からの入力電圧Ｖｉｎをデジタル値（ＡＤカウント値）に変換する。このＡＤカウント値が測温抵抗体４の抵抗値Ｒに応じた値として取り込まれる。なお、差動入力回路１は、実際には入力電圧Ｖｉｎを増幅して出力するが、ここでは説明を簡単とするために、そのままＡ／Ｄ変換器２へ送られるものとする。
【０００８】
工場の生産ラインでは、測温抵抗入力回路１００に対して、校正装置を用いてＡＤカウント値の校正が行われる。例えば、図１０に示すように、測温抵抗入力回路１００に校正装置３００を接続して、ＡＤカウント値の校正を行う。この校正装置３００には、図９に示した測温抵抗体４の代わりとして、第１の配線５ａの他端と第２の配線５ｂの他端との間に校正用抵抗器５が接続されている。校正用抵抗器５の抵抗値Ｒは既知であり、その時のＡ／Ｄ変換器２におけるＡＤカウント値が校正用抵抗器５の抵抗値Ｒに応じた値となるように、測温抵抗入力回路１００のパラメータを調整する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００９】
【特許文献１】特開平９−１０５６８１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１０】
しかしながら、この校正装置３００を用いた校正では、定電流Ｉａ，Ｉｂの値が等しく、配線５ａ，５ｂの抵抗値（配線抵抗）ｒａ，ｒｂが等しいことが必要であり、定電流Ｉａ，Ｉｂの値や配線抵抗ｒａ，ｒｂに差があると誤差の要因となる。
【００１１】
特に、測温抵抗入力回路１００と校正装置３００との接続にテストピンを用いるような場合、測温抵抗入力回路１００を入れ替える度にテストピンの接触抵抗が変わるため、配線抵抗ｒａ，ｒｂに差が生じて誤差の要因となる。
【００１２】
例えば、Ｉａ＝Ｉ、Ｉｂ＝Ｉ＋ｄＩ、ｒａ＝ｒ、ｒｂ＝ｒ＋ｄｒとすると、
Ｖｉｎ＝ｒａ・Ｉａ＋Ｒ・Ｉａ−ｒｂ・Ｉｂ
＝ｒ・Ｉ＋Ｒ・Ｉ−（ｒ＋ｄｒ）・（Ｉ＋ｄＩ）
＝Ｒ・Ｉ−ｄｒ・Ｉ−ｒ・ｄＩ−ｄｒ・ｄＩ
となり、校正用抵抗器５の抵抗値Ｒに応じた値を示すＲ・Ｉに対して、「−ｄｒ・Ｉ−ｒ・ｄＩ−ｄｒ・ｄＩ」が誤差となる。すなわち、「−ｄｒ・Ｉ−ｒ・ｄＩ−ｄｒ・ｄＩ」がＡＤカウント値の校正に際して生じる誤差（校正誤差）となる。
【００１３】
本発明は、このような課題を解決するためになされたもので、その目的とするところは、定電流の値や配線抵抗の影響を小さくして、校正誤差を低減することが可能な測温抵抗入力回路の校正装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１４】
このような目的を達成するために本発明は、第１の端子（Ｐ１）と第２の端子（Ｐ２）とグラウンド端子（Ｐ３）とを備え、第１の端子から入力される電圧と第２の端子から入力される電圧との差に応じた値を、第１の端子と第２の端子との間に接続される測温抵抗体（４）の抵抗値に応じた値として取り込む測温抵抗入力回路（１００）の校正装置（２００）において、第１の端子に一端が接続される第１の配線（５ａ）と、第２の端子に一端が接続される第２の配線（５ｂ）と、グラウンド端子に一端が接続される第３の配線（５ｃ）と、第１の配線の他端と第２の配線の他端との間に測温抵抗体の代わりとして接続された校正用抵抗器（５）と、校正用抵抗器と第２の配線との接続ラインに接続された第１の切替接点端子（６ａ）と、校正用抵抗器と第１の配線との接続ラインに接続された第２の切替接点端子（６ｂ）と、第３の配線の他端に接続された共通接点端子（６ｃ）とを備えた切替スイッチ（６）とを備えることを特徴とする。
【００１５】
本発明において、例えば、測温抵抗入力回路を、第１の端子から入力される電圧と第２の端子から入力される電圧との差に応じた電圧を出力するように構成された差動入力回路（１）と、第１の端子と差動入力回路の正側入力端子（１ａ）との間に接続された第１の電源ライン（Ｌ１）と、第２の端子と差動入力回路の負側入力端子（１ｂ）との間に接続された第２の電源ライン（Ｌ２）と、第１の電源ラインに第１の定電流（Ｉａ）を供給するように構成された第１の定電流源（３ａ）と、第２の電源ラインに第２の定電流（Ｉｂ）を供給するように構成された第２の定電流源（３ｂ）とを備えた構成とした場合、切替スイッチの共通接点端子と第１の切替接点端子とを導通状態とした時の差動入力回路から出力される電圧を示す値を第１の値として取得し、切替スイッチの共通接点端子と第２の切替接点端子とを導通状態とした時の差動入力回路から出力される電圧を示す値を第２の値として取得し、第１の値と第２の値との差に１／２を乗じた値を校正用抵抗器の抵抗値に応じた値として取り込むようにして、定電流の値や配線抵抗の影響を小さくして、校正誤差を低減することが可能となる。
【００１６】
また、本発明において、例えば、測温抵抗入力回路を、第１の端子から入力される電圧と第２の端子から入力される電圧との差に応じた電圧を出力するように構成された差動入力回路（１）と、第１の端子と差動入力回路の正側入力端子との間に接続された第１の電源ライン（Ｌ１）と、第２の端子と差動入力回路の負側入力端子との間に接続された第２の電源ライン（Ｌ２）と、第１の定電流（Ｉａ）を供給するように構成された第１の定電流源（３ａ）と、第２の定電流（Ｉｂ）を供給するように構成された第２の定電流源（３ｂ）と、第１の電源ラインに接続された第１の切替接点端子（８ａ）と、第２の電源ラインに接続された第２の切替接点端子（８ｂ）と、第１の定電流源からの第１の定電流の供給ライン（Ｌ３）に接続された共通接点端子（８ｃ）とを備えた第１の定電流源切替スイッチ（８）と、第１の電源ラインに接続された第１の切替接点端子（９ａ）と、第２の電源ラインに接続された第２の切替接点端子（９ｂ）と、第２の定電流源からの第２の定電流の供給ライン（Ｌ４）に接続された共通接点端子（９ｃ）とを備えた第２の定電流源切替スイッチ（９）とを備えた構成とした場合、切替スイッチの共通接点端子と第１の切替接点端子とを導通状態とし、第１の定電流源切替スイッチの共通接点端子と第１の切替接点端子とを導通状態とし、第２の定電流源切替スイッチの共通接点端子と第２の切替接点端子とを導通状態とした時の差動入力回路から出力される電圧を示す値を第１の値として取得し、切替スイッチの共通接点端子と第２の切替接点端子とを導通状態とし、第１の定電流源切替スイッチの共通接点端子と第２の切替接点端子とを導通状態とし、第２の定電流源切替スイッチの共通接点端子と第１の切替接点端子とを導通状態とした時の差動入力回路から出力される電圧を示す値を第２の値として取得し、第１の値と第２の値との差に１／２を乗じた値を校正用抵抗器の抵抗値に応じた値として取り込むようにして、定電流の値や配線抵抗の影響を小さくして、校正誤差を低減することが可能となる。
【００１７】
なお、上記説明では、一例として、発明の構成要素に対応する図面上の構成要素を、括弧を付した参照符号によって示している。
【発明の効果】
【００１８】
以上説明したように、本発明によれば、切替スイッチの共通接点端子と第１の切替接点端子とを導通状態とした時の差動入力回路から出力される電圧を示す値を第１の値として取得し、切替スイッチの共通接点端子と第２の切替接点端子とを導通状態とした時の差動入力回路から出力される電圧を示す値を第２の値として取得し、第１の値と第２の値との差に１／２を乗じた値を校正用抵抗器の抵抗値に応じた値として取り込むようにするなどして、定電流の値や配線抵抗の影響を小さくして、校正誤差を低減することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００１９】
【図１】図１は、本発明の実施の形態１に係る校正装置を測温抵抗入力回路に接続した状態を示す図である。
【図２】図２は、実施の形態１の校正装置における校正部の動作（手順（１））を説明する図である。
【図３】図３は、実施の形態１の校正装置における校正部の動作（手順（２））を説明する図である。
【図４】図４は、本発明の実施の形態２に係る校正装置を測温抵抗入力回路に接続した状態を示す図である。
【図５】図５は、実施の形態２の校正装置における校正部の動作（手順（１））を説明する図である。
【図６】図６は、実施の形態２の校正装置における校正部の動作（手順（２））を説明する図である。
【図７】図７は、従来の校正装置を用いた場合と実施の形態１，２の校正装置を用いた場合の校正誤差を比較して示す図である。
【図８】図８は、測温抵抗入力回路の一例を示す図である。
【図９】図９は、この測温抵抗入力回路に測温抵抗体を接続した状態を示す図である。
【図１０】図１０は、この測温抵抗入力回路に校正装置（従来の校正装置）を接続した状態を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００２０】
以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて詳細に説明する。
【００２１】
〔実施の形態１〕
図１は本発明の実施の形態１に係る校正装置２００（２００Ａ）を測温抵抗入力回路１００に接続した状態を示す図である。同図において、図１０と同一符号は図１０を参照して説明した構成要素と同一或いは同等の構成要素を示し、その説明は省略する。
【００２２】
本実施の形態の校正装置２００Ａは、プロセッサや記憶装置からなるハードウェアと、これらのハードウェアと協働して各種機能を実現させるプログラムとによって実現され、切替スイッチ６と校正部７（７Ａ）とを備えている。
【００２３】
切替スイッチ６は、第１の切替接点端子６ａと第２の切替接点端子６ｂと共通接点端子６ｃとを備え、第１の切替接点端子６ａは校正用抵抗器５と第２の配線５ｂとの接続ラインに接続され、第２の切替接点端子６ｂは校正用抵抗器５と第１の配線５ａとの接続ラインに接続され、共通接点端子６ｃは、一端がグラウンド端子Ｐ３に接続された第３の配線５ｃの他端に接続されている。
【００２４】
この校正装置２００Ａにおいて、校正部７Ａは、以下の（１）〜（３）の手順で、Ａ／Ｄ変換器２より校正用抵抗器５の抵抗値Ｒに応じたＡＤカウント値を取り込む。
【００２５】
（１）図２に示すように、切替スイッチ６の共通接点端子６ｃと第１の切替接点端子６ａとを導通状態とし、この時のＡ／Ｄ変換器２におけるＡＤカウント値を第１の値として取得する。ここでは、差動入力回路１から出力される電圧ＶｉｎをＶｉｎ_１とし、このＶｉｎ_１が第１の値として取得されるものとする。
【００２６】
ここで、Ｉａ＝Ｉ、Ｉｂ＝Ｉ＋ｄＩ、ｒａ＝ｒ、ｒｂ＝ｒ＋ｄｒとすると、
Ｖｉｎ_１＝ｒａ・Ｉａ＋Ｒ・Ｉａ−ｒｂ・Ｉｂ
＝ｒ・Ｉ＋Ｒ・Ｉ−（ｒ＋ｄｒ）・（Ｉ＋ｄＩ）
＝Ｒ・Ｉ−ｄｒ・Ｉ−ｒ・ｄＩ−ｄｒ・ｄＩ
＝（Ｒ−ｄｒ）・Ｉ−（ｒ＋ｄｒ）・ｄＩ
となる。
【００２７】
（２）次に、図３に示すように、切替スイッチ６の共通接点端子６ｃと第２の切替接点端子６ｂとを導通状態とし、この時のＡ／Ｄ変換器２におけるＡＤカウント値を第２の値として取得する。ここでは、差動入力回路１から出力される電圧ＶｉｎをＶｉｎ_２とし、このＶｉｎ_２が第２の値として取得されるものとする。
【００２８】
ここで、Ｉａ＝Ｉ、Ｉｂ＝Ｉ＋ｄＩ、ｒａ＝ｒ、ｒｂ＝ｒ＋ｄｒとすると、
Ｖｉｎ_２＝ｒａ・Ｉａ−（ｒｂ・Ｉｂ＋Ｒ・Ｉｂ）
＝ｒ・Ｉ−（ｒ＋ｄｒ）・（Ｉ＋ｄＩ）−Ｒ・（Ｉ＋ｄＩ）
＝−（Ｒ＋ｄｒ）・Ｉ−（Ｒ＋ｒ＋ｄｒ）・ｄＩ
となる。
【００２９】
（３）次に、上記（１）で取得したＡＤカウント値と上記（２）で取得したＡＤカウント値との差×１／２を、校正用抵抗器５の抵抗値Ｒに応じたＡＤカウント値として取得する。すなわち、上記（１）で取得した第１の値Ｖｉｎ_１と上記（２）で取得した第２の値Ｖｉｎ_２との差に１／２を乗じた値を、校正用抵抗器５の抵抗値Ｒに応じた値Ｖｉｎとして取得する。
【００３０】
この場合、
Ｖｉｎ＝（Ｖｉｎ_１−Ｖｉｎ_２）／２
＝[（Ｒ−ｄｒ）・Ｉ−（ｒ＋ｄｒ）・ｄＩ＋（Ｒ＋ｄｒ）・Ｉ＋（Ｒ＋ｒ＋ｄｒ）・ｄＩ]／２
＝Ｒ・Ｉ＋（Ｒ／２）・ｄＩ
となり、校正用抵抗器５の抵抗値Ｒに応じた値を示すＲ・Ｉに対して、「＋（Ｒ／２）・ｄＩ」が誤差となる。すなわち、「＋（Ｒ／２）・ｄＩ」がＡＤカウント値の校正に際して生じる誤差（校正誤差）となる。
【００３１】
〔実施の形態２〕
図４は本発明の実施の形態２に係る校正装置２００（２００Ｂ）を測温抵抗入力回路１００’に接続した状態を示す図である。同図において、図１０と同一符号は図１０を参照して説明した構成要素と同一或いは同等の構成要素を示し、その説明は省略する。
【００３２】
この実施の形態において、測温抵抗入力回路１００’は、第１の定電流源切替スイッチ８と第２の定電流源切替スイッチ９とを備えている。第１の定電流源切替スイッチ８は、第１の切替接点端子８ａと第２の切替接点端子８ｂと共通接点端子８ｃとを備え、第２の定電流源切替スイッチ９は、第１の切替接点端子９ａと第２の切替接点端子９ｂと共通接点端子９ｃとを備えている。
【００３３】
第１の定電流源切替スイッチ８において、第１の切替接点端子８ａは、第１の端子Ｐ１と差動入力回路１の正側入力端子１ａとの間に接続された電源ラインＬ１に接続されており、第２の切替接点端子８ｂは、第２の端子Ｐ２と差動入力回路１の負側入力端子１ｂとの間に接続された電源ラインＬ２に接続されており、共通接点端子８ｃは、定電流源３ａからの定電流Ｉａの供給ラインＬ３に接続されている。
【００３４】
第２の定電流源切替スイッチ９において、第１の切替接点端子９ａは、第１の端子Ｐ１と差動入力回路１の正側入力端子１ａとの間に接続された電源ラインＬ１に接続されており、第２の切替接点端子９ｂは、第２の端子Ｐ２と差動入力回路１の負側入力端子１ｂとの間に接続された電源ラインＬ２に接続されており、共通接点端子９ｃは、定電流源３ｂからの定電流Ｉｂの供給ラインＬ４に接続されている。
【００３５】
本実施の形態の校正装置２００Ｂは、プロセッサや記憶装置からなるハードウェアと、これらのハードウェアと協働して各種機能を実現させるプログラムとによって実現され、切替スイッチ６と校正部７（７Ｂ）とを備えている。
【００３６】
切替スイッチ６は、第１の切替接点端子６ａと第２の切替接点端子６ｂと共通接点端子６ｃとを備え、第１の切替接点端子６ａは校正用抵抗器５と第２の配線５ｂとの接続ラインに接続されており、第２の切替接点端子６ｂは校正用抵抗器５と第１の配線５ａとの接続ラインに接続され、共通接点端子６ｃは、一端がグラウンド端子Ｐ３に接続された第３の配線５ｃの他端に接続されている。
【００３７】
この校正装置２００Ｂにおいて、校正部７Ｂは、以下の（１）〜（３）の手順で、Ａ／Ｄ変換器２より校正用抵抗器５の抵抗値Ｒに応じたＡＤカウント値を取り込む。
【００３８】
（１）図５に示すように、切替スイッチ６の共通接点端子６ｃと第１の切替接点端子６ａとを導通状態とし、第１の定電流源切替スイッチ８の共通接点端子８ｃと第１の切替接点端子８ａとを導通状態とし、第２の定電流源切替スイッチ９の共通接点端子９ｃと第２の切替接点端子９ｂとを導通状態とし、この時のＡ／Ｄ変換器２におけるＡＤカウント値を取得する。ここでは、差動入力回路１から出力される電圧ＶｉｎをＶｉｎ_１とし、このＶｉｎ_１が第１の値として取得されるものとする。
【００３９】
ここで、Ｉａ＝Ｉ、Ｉｂ＝Ｉ＋ｄＩ、ｒａ＝ｒ、ｒｂ＝ｒ＋ｄｒとすると、
Ｖｉｎ_１＝ｒａ・Ｉａ＋Ｒ・Ｉａ−ｒｂ・Ｉｂ
＝ｒ・Ｉ＋Ｒ・Ｉ−（ｒ＋ｄｒ）・（Ｉ＋ｄＩ）
＝Ｒ・Ｉ−ｄｒ・Ｉ−ｒ・ｄＩ−ｄｒ・ｄＩ
＝（Ｒ−ｄｒ）・Ｉ−（ｒ＋ｄｒ）・ｄＩ
となる。
【００４０】
（２）次に、図６に示すように、切替スイッチ６の共通接点端子６ｃと第２の切替接点端子６ｂとを導通状態とし、第１の定電流源切替スイッチ８の共通接点端子８ｃと第２の切替接点端子８ｂとを導通状態とし、第２の定電流源切替スイッチ９の共通接点端子９ｃと第１の切替接点端子９ａとを導通状態とし、この時のＡ／Ｄ変換器２におけるＡＤカウント値を取得する。ここでは、差動入力回路１から出力される電圧ＶｉｎをＶｉｎ_２とし、このＶｉｎ_２が第２の値として取得されるものとする。
【００４１】
ここで、Ｉａ＝Ｉ、Ｉｂ＝Ｉ＋ｄＩ、ｒａ＝ｒ、ｒｂ＝ｒ＋ｄｒとすると、
Ｖｉｎ_２＝ｒａ・Ｉｂ−（ｒｂ・Ｉａ＋Ｒ・Ｉａ）
＝ｒ・（Ｉ＋ｄＩ）−（（ｒ＋ｄｒ）・Ｉ＋ＲＩ）
＝−（Ｒ＋ｄｒ）・Ｉ＋ｒ・ｄＩ
となる。
【００４２】
（３）次に、上記（１）で取得したＡＤカウント値と上記（２）で取得したＡＤカウント値との差×１／２を、校正用抵抗器５の抵抗値Ｒに応じたＡＤカウント値として取得する。すなわち、上記（１）で取得した第１の値Ｖｉｎ_１と上記（２）で取得した第２の値Ｖｉｎ_２との差に１／２を乗じた値を、校正用抵抗器５の抵抗値Ｒに応じた値Ｖｉｎとして取得する。
【００４３】
この場合、
Ｖｉｎ＝（Ｖｉｎ_１−Ｖｉｎ_２）／２
＝[（Ｒ−ｄｒ）・Ｉ−（ｒ＋ｄｒ）・ｄＩ＋（Ｒ＋ｄｒ）・Ｉ−ｒ・ｄＩ]／２
＝Ｒ・Ｉ−ｒ・ｄＩ−ｄｒ・ｄＩ／２
となり、校正用抵抗器５の抵抗値Ｒに応じた値を示すＲ・Ｉに対して、「−ｒ・ｄＩ−ｄｒ・ｄＩ／２」が誤差となる。すなわち、「−ｒ・ｄＩ−ｄｒ・ｄＩ／２」がＡＤカウント値の校正に際して生じる誤差（校正誤差）となる。
【００４４】
図７に、従来の校正装置３００を用いた場合と実施の形態１，２の校正装置２００Ａ，２００Ｂを用いた場合の校正誤差を比較して示す。
【００４５】
従来の校正装置３００では、校正誤差が「−ｄｒ・Ｉ−ｒ・ｄＩ−ｄｒ・ｄＩ」であるのに対し、実施の形態１の校正装置２００Ａでは、校正誤差が「＋（Ｒ／２）・ｄＩ」となり、実施の形態２の校正装置２００Ｂでは、校正誤差が「−ｒ・ｄＩ−ｄｒ・ｄＩ／２」となる。
【００４６】
実施の形態１の校正装置２００Ａでは、校正誤差が「＋（Ｒ／２）・ｄＩ」であり、配線抵抗ｒａ，ｒｂの影響を受けず、配線抵抗ｒａとｒｂに差があっても誤差にならないことが分かる。但し、定電流源３ａ，３ｂの電流値Ｉａ，Ｉｂに差がある場合、校正誤差が校正用抵抗器５の抵抗値に比例する。
【００４７】
実施の形態２の校正装置２００Ｂでは、校正誤差が「−ｒ・ｄＩ−ｄｒ・ｄＩ／２」となり、定電流源３ａ，３ｂの電流値Ｉａ，Ｉｂに差がある場合、配線抵抗ｒａ，ｒｂの影響は残るが、従来の校正装置３００を用いた場合よりも誤差が増加することはない。また、校正用抵抗器５を大きな抵抗値にしても校正誤差は一定となる。
【００４８】
このような比較からも、本実施の形態の校正装置２００Ａ，２００Ｂを用いることにより、定電流の値や配線抵抗の影響を小さくして、校正誤差を低減することができることが分かる。
【００４９】
なお、上述した実施の形態において、切替スイッチ６や定電流源切替スイッチ８，９は、どのような種類の切替スイッチでもよい。
【００５０】
〔実施の形態の拡張〕
以上、実施の形態を参照して本発明を説明したが、本発明は上記の実施の形態に限定されるものではない。本発明の構成や詳細には、本発明の技術思想の範囲内で当業者が理解し得る様々な変更をすることができる。
【符号の説明】
【００５１】
１…差動入力回路、１ａ…正側入力端子、１ｂ…負側入力端子、２…Ａ／Ｄ変換器、３ａ，３ｂ…定電流源、５…校正用抵抗器、５ａ〜５ｃ…配線、６…切替スイッチ、６ａ…第１の切替接点端子、６ｂ…第２の切替接点端子、６ｃ…共通接点端子、７（７Ａ，７Ｂ）…校正部、８…第１の定電流源切替スイッチ、８ａ…第１の切替接点端子、８ｂ…第２の切替接点端子、８ｃ…共通接点端子、９…第２の定電流源切替スイッチ、９ａ…第１の切替接点端子、９ｂ…第２の切替接点端子、９ｃ…共通接点端子、１００，１００’…測温抵抗入力回路、２００（２００Ａ，２００Ｂ）…校正装置、Ｌ１，Ｌ２…電源ライン、Ｌ３，Ｌ４…供給ライン、Ｐ１…第１の端子、Ｐ２…第２の端子、Ｐ３…グラウンド端子。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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