(57)【要約】【課題】Ｘ線撮像システムの使用および較正を提供する。【解決手段】本開示は、撮像プロセス中にリアルタイムでＸ線焦点の位置を決定し、焦点位置を使用して焦点と高アスペクト検出器要素の一致を確保するか、または焦点の位置ずれを補正し、それによって画像アーチファクトを軽減することに関する。例えば、スキャン中に電磁電子ビーム操縦を使用して、焦点位置をリアルタイムで監視および調整することができる。あるいは、焦点位置と測定データとの間の以前に決定された関数関係を適用し、取得されたデータの焦点の位置ずれを対処または補正してもよい。【選択図】図７
2020127709.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
較正データ（１８０）を生成するための方法であって、
１つまたは複数の空間次元（Ｘ、Ｙ、Ｚ）における複数の位置（２００）でＸ線源（１２）の焦点（１２０）からＸ線（２０）を放出することと、
各位置（２００）について、対の応答データを生成することであって、前記対の応答データは、センサ対（９４）の第１の検出器要素（９８Ａ）からの第１の測定値と、前記センサ対（９４）の第２の検出器要素（９８Ｂ）からの第２の測定値とを含み、前記センサ対（９４）の前記第１の検出器要素（９８Ａ）および前記第２の検出器要素（９８Ｂ）は、前記１つまたは複数の次元（Ｘ、Ｙ、Ｚ）における前記焦点（１２０）の移動に関して補完的な応答関数を有することと、
少なくとも前記対の応答データと前記１つまたは複数の空間次元（Ｘ、Ｙ、Ｚ）における対応する位置（２００）を関連付け、１つまたは複数の関数関係（１９６）を生成することと
を含む、方法。
【請求項２】
前記１つまたは複数の空間次元（Ｘ、Ｙ、Ｚ）は、コンピュータ断層撮影（ＣＴ）スキャナのボアに沿ったスライス方向の空間次元を含む、請求項１に記載の方法。
【請求項３】
前記センサ対（９４）は、前記第１の検出器要素（９８Ａ）と前記第２の検出器要素（９８Ｂ）との間に位置決めされた減衰層を備え、前記減衰層によって引き起こされるＸ線減衰は、前記１つまたは複数の空間次元（Ｘ、Ｙ、Ｚ）における前記焦点（１２０）の位置（２００）に関して前記第１の検出器要素（９８Ａ）および前記第２の検出器要素（９８Ｂ）の前記補完的な応答関数を生じさせる、請求項１に記載の方法。
【請求項４】
前記センサ対（９４）の前記第１の検出器要素（９８Ａ）および前記第２の検出器要素（９８Ｂ）は、補完的な応答関数を識別するためにＸ線（２０）の進行方向に対応する空間次元（Ｘ、Ｙ、Ｚ）で十分な厚さを有する低原子番号の変換材料を含む、請求項３に記載の方法。
【請求項５】
前記１つまたは複数の関数関係（１９６）は、前記１つまたは複数の空間次元（Ｘ、Ｙ、Ｚ）における前記対の応答データおよび前記対応する位置（２００）に加えて１つまたは複数の動作条件をさらに組み込む、請求項１に記載の方法。
【請求項６】
前記１つまたは複数の関数関係（１９６）は、応答曲面またはルックアップテーブルの１つまたは複数を含む、請求項１に記載の方法。
【請求項７】
前記１つまたは複数の動作条件は、Ｘ線管の動作電圧、検出器のパイルアップのレベル、前記Ｘ線管のｍＡ設定、またはスペクトル較正用のＸ線ビーム経路内の材料の組合せを含む、請求項５に記載の方法。
【請求項８】
Ｘ線焦点（１２０）の位置ずれに対処する方法であって、
焦点（１２０）を含むＸ線源（１２）からＸ線（２０）を放出することであって、前記Ｘ線（２０）は、スキャンされる患者または物体（２４）が位置決めされる撮像ボリュームを通過することと、
１つまたは複数の基準センサ対（９４Ａ）に入射する前記Ｘ線（２０）が前記患者または物体（２４）を通過しない場所に位置決めされた前記基準センサ対（９４Ａ）から応答データを取得することであって、各基準センサ対（９４Ａ）の前記応答データは、前記それぞれのセンサ対（９４Ａ）の第１の検出器要素（９８Ａ）からの第１の測定値と、前記それぞれのセンサ対（９４Ａ）の第２の検出器要素（９８Ｂ）からの第２の測定値とを含み、前記各基準センサ対（９４Ａ）の前記第１の検出器要素（９８Ａ）および前記第２の検出器要素（９８Ｂ）は、１つまたは複数の空間次元（Ｘ、Ｙ、Ｚ）における前記焦点（１２０）の移動に関して補完的な応答関数を有することと、
前記１つまたは複数の基準センサ対（９４Ａ）からの前記応答データを使用して、前記焦点（１２０）の前記１つまたは複数の空間次元（Ｘ、Ｙ、Ｚ）における位置（２００）を決定することと、
前記１つまたは複数の空間次元（Ｘ、Ｙ、Ｚ）における前記焦点（１２０）の前記位置（２００）に基づいて補正処置を行うことと
を含む、方法。
【請求項９】
前記１つまたは複数の基準センサ対（９４Ａ）は各々、前記それぞれの基準センサ対（９４Ａ）の前記第１の検出器要素（９８Ａ）と前記第２の検出器要素（９８Ｂ）との間に位置決めされた減衰層を備え、前記減衰層によって引き起こされるＸ線減衰は、１つまたは複数の空間次元（Ｘ、Ｙ、Ｚ）における前記焦点（１２０）の位置（２００）に関して前記第１の検出器要素（９８Ａ）と前記第２の検出器要素（９８Ｂ）との間の前記補完的な応答を生じさせる、請求項８に記載の方法。
【請求項１０】
複数のアクティブセンサ対（９４Ｂ）への前記入射Ｘ線（２０）が前記患者または物体（２４）を通過する場所に位置決めされた前記アクティブセンサ対（９４Ｂ）から追加の応答データを取得することをさらに含む、請求項８に記載の方法。
【請求項１１】
補正処置を行うことは、
前記焦点（１２０）の前記１つまたは複数の空間次元（Ｘ、Ｙ、Ｚ）における前記位置（２００）に基づいて、１つまたは複数の以前に決定された関数関係（１９６）に基づいて前記追加の応答データに対して行う１つまたは複数の補正処置を決定することであって、前記関数関係（１９６）は、前記１つまたは複数の空間次元（Ｘ、Ｙ、Ｚ）および１つまたは複数の異なる動作条件における前記焦点（１２０）の異なる位置（２００）に対して導出されること
を含む、請求項１０に記載の方法。
【請求項１２】
前記１つまたは複数の関数関係（１９６）は、応答曲面またはルックアップテーブルの１つまたは複数を含む、請求項１１に記載の方法。
【請求項１３】
前記異なる動作条件は、Ｘ線管の動作電圧、検出器のパイルアップのレベル、前記Ｘ線管のｍＡ設定、またはスペクトル較正用のＸ線ビーム経路内の材料の組合せの１つまたは複数を含む、請求項１１に記載の方法。
【請求項１４】
補正処置を行うことは、前記焦点（１２０）の前記位置（２００）のずれを補正するために前記焦点（１２０）の前記位置（２００）を調整することを含む、請求項８に記載の方法。
【請求項１５】
動作中に焦点（１２０）からＸ線（２０）を放出するように構成されたＸ線源（１２）と、
前記Ｘ線源（１２）によるＸ線放出に曝されたときにＸ線強度に対応する信号を生成するように構成された検出器であって、前記検出器は、複数のセンサ対（９４）を備え、各センサ対（９４）は、減衰層によって分離され、１つまたは複数の空間次元（Ｘ、Ｙ、Ｚ）における前記焦点（１２０）の位置（２００）に関して補完的な応答関数を有する第１の検出器要素（９８Ａ）および第２の検出器要素（９８Ｂ）を備える検出器と、
前記Ｘ線源（１２）からＸ線（２０）を放出させることであって、前記Ｘ線（２０）は、スキャンされる患者または物体（２４）が動作中に位置決めされる撮像ボリュームを通過し、
前記複数のセンサ対（９４）の１つまたは複数の基準センサ対（９４Ａ）から応答データを取得することであって、前記基準センサ対（９４Ａ）は、前記基準センサ対（９４Ａ）に入射する前記Ｘ線（２０）が前記患者または物体（２４）を通過しない場所に位置決めされ、
前記１つまたは複数の基準センサ対（９４Ａ）からの前記応答データを使用して、前記１つまたは複数の空間次元（Ｘ、Ｙ、Ｚ）における前記焦点（１２０）の位置（２００）を決定し、
前記１つまたは複数の空間次元（Ｘ、Ｙ、Ｚ）における前記焦点（１２０）の前記位置（２００）に基づいて補正処置を行う
ように構成された１つまたは複数の処理回路（８４）と
を備える、Ｘ線撮像システム（１０）。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本明細書の実施形態は、一般に、特定の撮像状況における焦点の一致を維持すること、および／または撮像スキャンが完了した後の較正データの取得および使用に関する。
【背景技術】
【０００２】
コンピュータ断層撮影（ＣＴ）撮像システムなどの撮像システムでは、扇形または円錐形のＸ線ビームが患者、荷物の一部、または他の物体などの物体に向けて放出され、物体の関心領域を撮像する。ビームは、典型的には、物体によって減衰される。続いて、減衰されたビームは、検出器要素のアレイを有するＣＴ検出器に入射する。減衰されたビームに応じて、アレイの検出器要素は、物体の内部構造または情報を表すそれぞれの電気信号を生成する。これらの電気信号は、データ処理ユニットによって処理され、物体の関心領域を表す画像を生成する。
【０００３】
特定のＸ線検出技術では、シリコンなどの低原子番号の材料を含む直接変換センサを用いることができる。これらの材料のＸ線吸収は制限されているため、そのような検知技術で使用される検出器要素は、高原子番号の直接変換センサ材料（例えば、カドミウム／亜鉛／テルライドまたはカドミウム／テルライドで構成される）、または厚さが２ｍｍ〜３ｍｍであり得るシンチレータなどの変換材料中間層を用いる他のＸ線検知要素と比較してかなりの深さ（例えば、２５ｍｍよりも大きく、３５ｍｍ〜４０ｍｍなど）を有する場合がある。変換材料の各タイプごとに、深さは高い検出効率を達成するために、すなわち、検出器に入射する光子のほとんどすべて（＞９０％）を減衰させるために選択される。以下の説明では、低原子番号の直接変換Ｘ線センサの一実施形態の代表としてシリコンを使用するが、適切な減衰性質を有する任意の適切なセンサ材料が想定される。そのような直接変換検出器のシリコン要素の長さ方向において異なる深さでＸ線入射を測定することができ、それによりシリコン要素は、測定時に異なるＸ線スペクトルエネルギーに対応する異なる深さセグメントを有すると考えることができる。
【０００４】
一次元（例えば、Ｙ次元）の相対的な長さと、この長い次元に垂直な平面（例えば、Ｘ−Ｚ平面）での高解像度（ミリメートルまたはサブミリメートルの解像度に対応）が必要なため、シリコン検出器要素は、非常に高いアスペクト比（すなわち、検出器要素の深さ対幅および／または長さの比）を有することがある。このシリコン検出器要素の幾何学的構造に、検出器要素を形成するそれぞれのシリコンウェーハ間に存在し得る高減衰箔（例えば、検出器内のコンプトン散乱を軽減するために使用される）を併用すると、動作中に、Ｘ線が放出される焦点がシフトした場合（この焦点のシフトは、Ｘ線管の陽極が加熱されることにより生じ得る）、Ｘ線がブロックされる又は減衰してしまうことになる。システムの焦点が一致するとき、これらの光子は、場合によっては検出器と相互作用する。これによるデータの損失は、画像再構成の場面で有害となり得る画像アーチファクトに関連付けることができる。
【発明の概要】
【０００５】
当初に特許請求されている主題の範囲に相応する特定の実施形態を、以下に要約する。これらの実施形態は特許請求する主題の範囲を限定しようとするものではなく、むしろ、これらの実施形態は、実現可能な実施形態の概要を提供しようとするものに過ぎない。実際、本発明は、以下に記載する実施形態に類似している可能性があり、または異なっている可能性がある様々な形態を包含していてもよい。
【０００６】
一実施態様では、較正データを生成するための方法が提供される。この方法によれば、Ｘ線は、１つまたは複数の空間次元における複数の位置でＸ線源の焦点から放出される。各位置について、対の応答データが生成される。対の応答データは、センサ対の第１の検出器要素からの第１の測定値と、センサ対の第２の検出器要素からの第２の測定値とを含む。センサ対の第１の検出器要素および第２の検出器要素は、１つまたは複数の次元における焦点の移動に関して補完的な応答関数を有する。少なくとも対の応答データと１つまたは複数の空間次元における対応する位置が関連付けられ、１つまたは複数の関数関係を生成する。
【０００７】
さらなる実施態様では、Ｘ線焦点の位置ずれに対処するための方法が提供される。この方法によれば、Ｘ線は、焦点を含むＸ線源から放出される。Ｘ線は、スキャンされる患者または物体が位置決めされる撮像ボリュームを通過する。応答データは、１つまたは複数の基準センサ対に入射するＸ線が患者または物体を通過しない場所に位置決めされた基準センサ対から取得される。各基準センサ対の応答データは、それぞれのセンサ対の第１の検出器要素からの第１の測定値と、それぞれのセンサ対の第２の検出器要素からの第２の測定値とを含む。各基準センサ対の第１の検出器要素および第２の検出器要素は、１つまたは複数の空間次元における焦点の移動に関して補完的な応答関数を有する。焦点の１つまたは複数の空間次元における位置は、１つまたは複数の基準センサ対からの応答データを使用して決定される。１つまたは複数の空間次元における焦点の位置に基づいて、補正処置が行われる。
【０００８】
追加の実施態様では、Ｘ線撮像システムが提供される。この実施態様によれば、Ｘ線撮像システムは、動作中に焦点からＸ線を放出するように構成されたＸ線源と、Ｘ線源によるＸ線放出に曝されたときにＸ線強度に対応する信号を生成するように構成された検出器とを備える。検出器は、複数のセンサ対を備え、各センサ対は、減衰層によって分離され、１つまたは複数の空間次元における焦点の位置に関して補完的な応答関数を有する第１の検出器要素および第２の検出器要素を備える。Ｘ線撮像システムは、Ｘ線源からＸ線を放出させることであって、Ｘ線は、スキャンされる患者または物体が動作中に位置決めされる撮像ボリュームを通過し、複数のセンサ対の１つまたは複数の基準センサ対から応答データを取得することであって、基準センサ対は、基準センサ対に入射するＸ線が患者または物体を通過しない場所に位置決めされ、１つまたは複数の基準センサ対からの応答データを使用して、１つまたは複数の空間次元における焦点の位置を決定し、１つまたは複数の空間次元における焦点の位置に基づいて補正処置を行うように構成された１つまたは複数の処理回路をさらに備える。
【０００９】
本発明の実施形態のこれらおよび他の特徴および態様が、以下の詳細な説明を添付の図面を参照して検討することでさらによく理解されると考えられ、添付の図面において、類似の符号は、図面の全体を通して類似の部分を表している。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】本開示の態様による、ＣＴシステムのブロック図である。
【図２】本開示の態様による、センサ対を備える検出器モジュールのセクションの斜視図である。
【図３】本開示の態様による、Ｘ線焦点位置に関するセンサ対の検出器要素の概略側面図である。
【図４】本開示の態様による、センサ対の補完的な応答関数のグラフ図である。
【図５】本開示の態様による、推定焦点位置を使用する補正手順を示す図である。
【図６】本開示の態様による、較正データを生成するためのプロセスを示す図である。
【図７】本開示の態様による、推定焦点位置を使用する補正手順の追加の態様を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１１】
１つまたは複数の具体的な実施形態を、以下に記載する。これらの実施形態の簡潔な説明を提供することを目的として、実際の実施態様のすべての特徴は、本明細書には記載されないことがある。エンジニアリングまたは設計プロジェクトなどの実際の実施態様の開発においては、開発者の特定の目的を達成するために、例えばシステム関連および事業関連の制約条件への対応など実施態様に特有の決定を数多くしなければならないし、また、これらの制約条件は実施態様ごとに異なる可能性があることを理解されたい。さらに、このような開発努力は、複雑で時間がかかるが、それでもなお本開示の利益を有する当業者にとっては、設計、製作、および製造の日常的な仕事であることを理解されたい。
【００１２】
本発明の様々な実施形態の要素を紹介するとき、「１つの（ａ、ａｎ）」、「この（ｔｈｅ）」、および「前記（ｓａｉｄ）」という冠詞は、それらの要素が１つまたは複数存在することを意味するものとする。「備える（ｃｏｍｐｒｉｓｉｎｇ）」、「含む（ｉｎｃｌｕｄｉｎｇ）」、および「有する（ｈａｖｉｎｇ）」という用語は、包括的であることを意図し、列挙された要素以外にもさらなる要素が存在してもよいことを意味する。さらに、以下の説明におけるあらゆる数値例は非限定的なものであることを意図し、したがって追加の数値、範囲、および百分率は開示される実施形態の範囲内にあるものとする。
【００１３】
以下の説明の態様は医療撮像の場面で提供され得るが、本技術は、そのような医療の場面に限定されないことを理解されたい。実際に、そのような医療の場面における例および説明の提供は、現実の実施態様および用途の事例を提供することによって説明を容易にすることに過ぎない。しかしながら、本手法は、製造された部品または商品の非破壊検査（すなわち、品質管理または品質検討用途）、および／または包装、箱、荷物の非侵襲的検査など（すなわち、セキュリティまたはスクリーニング用途）で使用される産業用ＣＴのための断層撮像など、他の場面でも利用することができる。一般に、本手法は、高アスペクト比検出器要素を使用してＸ線透過データが取得される、任意の撮像もしくはスクリーニング状況または画像処理分野において有用であり得る。
【００１４】
本技術は、単一エネルギーまたはマルチエネルギーＣＴのいずれかで使用され得るような、Ｘ線検出器における直接変換センサの使用に関する。ＣＴ取得中、Ｘ線管内の焦点は、最近実行されたＣＴスキャンにより較正データが取得されたときとは異なる位置にあるか、または陽極の加熱により拡張スキャン中に移動する可能性がある。焦点の位置ずれまたは動きは、画像アーチファクトにつながる可能性がある。スキャン中の焦点の動きを軽減する１つの技術は、焦点の位置ずれ事象という結果を減らすために、減少した深さ（より高いＸ線減衰能力）を有する代替の検出器要素を使用することである。ＣＴで使用され得るエネルギー弁別型の光子計数検出器の場合、頻繁に用いられる直接変換材料は、テルル化カドミウム（ＣｄＴｅ）またはテルル化カドミウム亜鉛（ＣＺＴ）である。しかしながら、これらのセンサ材料は、限定はしないが、電荷共有、ｋエッジ蛍光、電荷トラップ、計数率能力の低下、および材料応答の不安定性と不均一性を含む多くの既知の問題が存在する。こうした問題により、これらの直接変換材料の使用の望ましさが低下し得る。本明細書で説明するように、代わりに、シリコンは、上記で特定された問題の１つまたは複数を軽減するその望ましい性質のために、直接変換材料として用いることができる。しかしながら、センサ材料としてシリコンを使用すると、この直接変換センサ材料によって提供される制限されたＸ線吸収など、他の課題が生じる。
【００１５】
これを念頭に置いて、Ｘ線検出器で使用する直接変換材料としてのシリコンの使用を促進する技術を本明細書で説明する。しかしながら、本例および説明は概してシリコンの実施形態に向けられているにもかかわらず、他の適切な低原子番号の直接変換材料は、現在開示されている技術から利益を得ることができ、本説明に包含されることが意図されることを理解されたい。上記のように、シリコンによって提供される制限されたＸ線吸収のため、このような直接変換Ｘ線検知で使用されるシリコンベースの検出器要素（すなわち、ピクセル）は、かなりの深さ（例えば、３５ｍｍ〜４０ｍｍ）を有し、エネルギー分解および／または光子計数の実施態様では、検出器要素に沿って異なる深さで信号を取得することができるようにセグメント化され得る。さらに、検出器の散乱光子を軽減するためにウェーハ間に減衰箔または材料を設けて、個別のシリコンウェーハを使用して検出器の列を製作することができる。あるいは、交互のウェーハと減衰箔を位置決めし、検出器の行を製作してもよい。したがって、上記を念頭に置いて、シリコン検出器要素は、非常に高いアスペクト比（すなわち、検出器の深さ対幅および／または長さの比）を有する。
【００１６】
各シリコンウェーハは、Ｘ線の放出が行われるＸ線焦点に焦点が一致される。Ｘ線源の陽極が以前のスキャンからおよび／または動作中に加熱すると、横方向および縦方向の焦点位置の両方が変化する場合がある。加えて、ＣＴスキャン中のガントリの回転により、焦点位置が変化する可能性がある。シリコン検出器要素の高アスペクト比および個々のシリコンウェーハ間に載置される高減衰箔により、検出器要素の焦点との位置ずれは、位置ずれした検出器要素の異なる深さでのＸ線の入射に影響を及ぼし得る。本技術によれば、そのような焦点の位置ずれは、１つまたは複数の基準検出器または他の適切な検出器測定値（例えば、他の検出器要素または特別なソース側基準検出器）の分析から識別することができる。例として、そのような基準信号と併せてゲイン感度関数を使用して位置ずれを検出し、補正措置を講じることが可能になり得る。
【００１７】
本技術のさらなる態様では、Ｘ線焦点の位置をＣＴスキャン中にリアルタイムで推定および修正し、焦点と高アスペクト比検出器要素の焦点一致を確保し、それによって画像アーチファクトを軽減することができる。例えば、ＣＴスキャン中に電磁電子ビーム操縦を使用して、焦点位置をリアルタイムで監視および調整することができる。そのようなリアルタイムの焦点位置の調整は、（ａ）スキャン中の焦点の動き（軸方向および横軸方向の１つまたは複数）に対処するか、場合によっては補償するため、（ｂ）スキャン中の焦点の動きに起因する画像アーチファクトを軽減するため、および／または（ｃ）システム較正技術を簡素化するために有用であり得る。
【００１８】
別の態様では、スキャンが完了した後、ＣＴ投影データの較正および／または補正を可能にするために較正データが取得され得る。例えば、リアルタイムの焦点調整の代わりに、電磁電子ビーム操縦を活用して焦点の位置（軸方向および横軸方向の１つまたは複数）を修正し、必要な較正データを取得することができる。焦点位置は、基準検出器または他の適切な検出器（例えば、他の検出器要素または特別なソース側基準検出器）から取得された測定データを使用して、スキャン中に監視および／または推定することができる。次いで、取得された投影データは、較正データを使用して、およびＣＴガントリに対する物体の１つまたは複数の角度位置で取得された焦点位置データの推定値を使用して補正され得る。
【００１９】
前述の説明を念頭に置いて、図１は、本明細書で説明される構造および手法に従って、垂直方向にセグメント化された検出器要素を使用して画像データを取得および処理するための撮像システム１０の一実施形態を示す。図示の実施形態では、システム１０は、Ｘ線投影データを取得し、投影データを表示および分析のための体積再構成へと再構成するように設計されたＣＴシステムである。ＣＴ撮像システム１０は、撮像セッション中に１つまたは複数の場所および／または１つまたは複数のエネルギースペクトルでのＸ線生成を可能にする１つまたは複数のＸ線管または固体放出構造など、１つまたは複数のＸ線源１２を含む。
【００２０】
特定の実施態様では、Ｘ線源１２は、Ｘ線ビーム２０の高強度領域の形状および／もしくは範囲を画定するため（オフアングルの放出を制限するなど）、Ｘ線ビーム２０のエネルギープロファイルを制御もしくは画定するため、ならびに／または場合によっては関心領域内にない患者２４の部分へのＸ線露光を制限するために、Ｘ線ビーム２０を操縦するために使用され得る患者前置コリメータ／フィルタアセンブリ２２に近接して位置決めされてもよい。実際には、フィルタアセンブリまたはビーム整形器２２は、源１２と撮像されるボリュームとの間でガントリ内に組み込まれてもよい。
【００２１】
Ｘ線ビーム２０は、被検体（例えば、患者２４）または関心物体（例えば、製造された構成要素、手荷物、包装など）が位置決めされる領域に進入する。被検体は、Ｘ線光子２０の少なくとも一部を減衰させることで減衰されたＸ線光子２６をもたらし、これは、ｍ×ｎアレイに配置された複数の検出器要素（例えば、ピクセル）によって形成されたピクセル化検出器アレイ２８に衝突する。検出器要素は、検出器内のＸ線進行の長さに沿った１つまたは複数のセグメントを備えてもよい。検出器２８は、エネルギー積分検出器、光子計数検出器、エネルギー弁別型検出器、または任意の他の適切な放射線検出器であってもよい。例として、検出器２８は、エネルギー弁別型の光子計数検出器であってもよく、その出力信号は、検出器に入射するＸ線に応じて生成され、測定位置においてスキャンまたは撮像セッションに対応する時間間隔にわたって検出器に衝突する光子の数およびエネルギーに関する情報を伝える。例えば、検出器２８の要素の出力信号は、所与の取得間隔の複数のエネルギービン（すなわち、エネルギー範囲）の各々について光子計数を構成し得る。電気信号は、１つまたは複数の投影データセットを生成するために取得および処理される。図示の例では、検出器２８は、システムコントローラ３０に結合され、システムコントローラ３０は、検出器２８によって生成されたデジタル信号の取得を指示する。
【００２２】
システムコントローラ３０は、フィルタ処理、検査および／または較正プロトコルを実行するように撮像システム１０の動作を指示し、取得されたデータを処理することができる。Ｘ線源１２に関して、システムコントローラ３０は、Ｘ線検査シーケンスのために電力、焦点場所、制御信号などを供給する。特定の実施形態によれば、システムコントローラ３０は、患者前置コリメータ／フィルタアセンブリ２２、ＣＴガントリ（またはＸ線源１２および検出器２８が取り付けられる他の構造的支持体）、ならびに／または検査の過程にわたる患者支持体の並進および／もしくは傾斜の動作を制御し得る。
【００２３】
加えて、システムコントローラ３０は、モータコントローラ３６を介して、それぞれ被検体２４および／または撮像システム１０の構成要素を移動させるために使用される直線位置決めサブシステム３２および／または回転サブシステム３４の動作を制御することができる。例えば、ＣＴシステムでは、放射線源１２および検出器２８は、物体（例えば、患者２４）の周りを回転し、一定範囲の角度位置またはビューにわたってＸ線透過データを取得する。したがって、現実の実施態様では、撮像システム１０は、関心スキャン面積全体をカバーする複数の角度位置（例えば、３６０°、１８０°＋ファンビーム角度（α）など）の各々に対応するＸ線透過データを生成するように構成される。代替の実施形態では、放射線源１２および検出器２８は固定された状態に保持され、物体２４が回転される。
【００２４】
システムコントローラ３０は、信号処理回路と、関連するメモリ回路とを含むことができる。そのような実施形態では、メモリ回路は、Ｘ線源１２および／または患者前置コリメータ／フィルタアセンブリ２２を含む撮像システム１０を動作させ、本明細書で説明されるステップおよびプロセスに従って、検出器２８によって取得されたデジタル測定値を処理するためにシステムコントローラ３０によって実行されるプログラム、ルーチン、および／または符号化アルゴリズムを記憶し得る。一実施形態では、システムコントローラ３０は、プロセッサベースのシステムの全部または一部として実装することができる。
【００２５】
源１２は、システムコントローラ３０内に含まれるＸ線コントローラ３８によって制御することができる。Ｘ線コントローラ３８は、電力、タイミング信号、および／または焦点サイズおよびスポット場所を源１２に提供するように構成することができる。加えて、いくつかの実施形態では、Ｘ線コントローラ３８は、システム１０内の異なる場所にある管またはエミッタが互いに同期して、もしくは互いに独立して動作するように、または撮像セッション中の異なるエネルギースペクトル（例えば、高および低エネルギースペクトル）間に源１２を切り替えるように、源１２を選択的に作動させるように構成され得る。
【００２６】
システムコントローラ３０は、データ取得システム（ＤＡＳ）４０を含むことができる。ＤＡＳ４０は、検出器２８からのデジタル信号など、検出器２８の読み出し電子回路によって収集されたデータを受け取る。次に、ＤＡＳ４０は、コンピュータ４２などのプロセッサベースのシステムによる後続の処理のためにデータを変換および／または前処理することができる。本明細書で説明される特定の実施態様では、検出器２８内の回路は、データ取得システム４０への送信前に検出器のアナログ信号をデジタル信号に変換することができる。コンピュータ４２は、コンピュータ４２によって処理されたデータ、コンピュータ４２によって処理されるべきデータ、またはコンピュータ４２の画像処理回路４４によって実行される命令を記憶することができる１つまたは複数の非一時的メモリデバイス４６を含むか、またはそれらと通信することができる。例えば、コンピュータ４２のプロセッサは、メモリ４６に記憶された１つまたは複数の命令のセットを実行することができ、メモリ４６は、コンピュータ４２のメモリ、プロセッサのメモリ、ファームウェア、または同様のインスタンス化であってもよい。例として、コンピュータ４２の画像処理回路４４は、診断画像を生成するように構成され得る。一実施形態では、診断画像は、検出器２８を備える複数のピクセルから得られた複数の信号に適用される画像再構成技術を使用して得られたリアルタイム画像である。一実施形態では、診断画像は、医師を支援するためにディスプレイデバイス５０に表示されるＣＴ画像である。
【００２７】
コンピュータ４２はまた、オペレータワークステーション４８を介してオペレータによって提供される指示およびスキャンパラメータに応じてなど、システムコントローラ３０によって可能にされる特徴（すなわち、スキャン動作およびデータ取得）を制御するように適合することができる。システム１０はまた、オペレータが関連するシステムデータ、撮像パラメータ、生の撮像データ、再構成データ（例えば、軟組織画像、骨画像、セグメント化された血管樹など）、材料基礎画像、および／または材料分解結果などを閲覧することを可能にするオペレータワークステーション４８に結合されたディスプレイ５０を含むことができる。加えて、システム１０は、オペレータワークステーション４８に結合され、任意の所望の測定結果を印刷するように構成されたプリンタ５２を含むことができる。ディスプレイ５０およびプリンタ５２はまた、（図１に示すように）直接またはオペレータワークステーション４８を介してコンピュータ４２に接続されてもよい。さらに、オペレータワークステーション４８は、画像保管通信システム（ＰＡＣＳ）５４を含むか、またはそれに結合することができる。ＰＡＣＳ５４は、遠隔システムまたはクライアント５６、放射線科情報システム（ＲＩＳ）、病院情報システム（ＨＩＳ）、または内部もしくは外部のネットワークに結合することができ、そのようにして様々な場所の第三者が画像データにアクセスすることができる。
【００２８】
撮像システム１０全体の前述の説明を念頭に置いて、図２を参照すると、本手法に従って使用するための検出器モジュール８０がより詳細に示されている。特に、一実施形態では、検出器モジュール８０は、半導体センサ自体がＸ線光子に曝されたときに測定可能な信号を生成する活性材料（例えば、シリコン）としての半導体材料に基づく検出器など、直接変換型の検出器モジュール（すなわち、検出器要素はシンチレータ手段を用いない）とすることができる。ＣＴで使用されるピクセル化検出器２８では、この検出器２８は、Ｘ線が検出器２８に入射する複数の角度位置のうちの各角度位置に必要な撮像視野をカバーするように、円筒ボアに対して検出器モジュールが二次元（例えば、図示のＸおよびＺ次元）的に配置されたものを含む。
【００２９】
本明細書で使用する場合、検出器モジュール８０のＸ線源に面する表面に対してＸ線２６が進行する方向（すなわち、Ｘ線伝播の方向）は、「垂直方向」（図２のＹ次元に対応する）として示すことができ、かつ／または参照の幾何学的フレームを提供するように深さの次元に対応すると解釈することができる。しかしながら、理解されるように、本明細書で使用される「垂直方向」などの幾何学的特徴は、絶対的な位置または配向の情報を必ずしも示すものではなく、一貫したコンテキストの枠組みを提供することによって説明を単純化することを意図している。さらに、代替の実施形態では、ＸおよびＺ次元に対する検出器の配向は、交換されてもよい。これを念頭に置いて、本明細書で説明する特定の実施態様では、検出器モジュール８０は、検出器要素（すなわち、ピクセル）に対応する個別のサブユニットに用意され得る垂直方向にセグメント化された（すなわち、Ｙ次元にセグメント化された）シリコン基板を含む。
【００３０】
一実施態様では、検出器モジュールの各部分は、センサ対のアセンブリから製作される。図示の例では、以下の図でより詳細に示すように、各センサ対は、Ｙ次元に延びる一対の焦点が一致したシリコンウェーハ８８に取り付けられた読み出し電子回路８４に対応する。所与のセンサ対内のウェーハ８８の各対の間には、検出器要素間のコンプトン散乱を低減するように対の各それぞれのセンサ内で内部コリメータ９２として作用するＸ線減衰材料、例えば、タングステン箔または仕切りを設けることができる。複数対のウェーハ８８と内部コリメータ９２を組み合わせて、検出器モジュールを製造することができる。読み出し電子回路８４は、ウェーハ８８からの信号、ウェーハおよびそれぞれのセンサ対の導体端子への接続または導電トレースなどの読み出しを可能にする特定用途向け集積回路（ＡＳＩＣ）を備えることができる。
【００３１】
ウェーハの厚さはＺ次元の個別の検出器要素の境界を制限する一方、ウェーハはＸ次元の連続した基板を表す。実際には、各ウェーハ８８は、リソグラフィまたは他の適切な技術を使用して電極によってパターン化され、Ｘ次元で各ウェーハ上に個別の検出器要素を画定する。したがって、各ウェーハ８８は、Ｘ次元の別々の検出器要素（すなわち、ピクセル）にパターン化される。これは、図２の最前面のウェーハ８８上に図示される平行線９４によって概略的に示されている。
【００３２】
さらに、図示の例では、各検出器要素は、線９４の切れ目によって示されるように、各垂直方向セグメント９６が別々におよび／または独立して読み出されるように、垂直方向にセグメント化（すなわち、Ｙ次元でセグメント化）されてもよい。そのようなセグメント化は、ウェーハ８８上の電極パターン化によって達成することができ、基板内の物理的または材料的な切れ目を表す必要はない。専用のＡＳＩＣチャネルに接続された各垂直方向セグメントは、完全に機能的なエネルギー弁別型の光子計数検出器であり、１つまたは複数のエネルギービンの検出計数を生成する。このトポロジは、Ｘ−Ｚ平面内と深さ（Ｙ）方向に沿っての両方で、各検出器要素の場所における異なるエネルギー信号の測定を可能にする。エネルギー依存情報は、材料分解処理および他のＣＴ撮像技術に有用となり得る。したがって、１つのそのような実施態様では、各検出器要素は、事実上、垂直方向にセグメント化された細長い（すなわち、高アスペクト比）検出器要素である。セグメント化は、センサ材料と相互作用する入射光子から発生する誘導センサ信号の重複（いわゆるパイルアップ）の可能性を低減し、それによって非線形に挙動する前により高い計数率性能を有する検出器構成、すなわち、入射光束強度と線形関係のない記録計数を提供する。
【００３３】
図３を参照すると、上述の構造のいくつかおよびそれらの空間配置は、この図に提示される概略断面図からより容易に概念化され得る。この断面概略図では、（電極パターニングおよびウェーハ基板の境界によって画定される）一対の検出器要素９８を含むセンサ対９４が図示されている。この一対の検出器要素９８は、ここでは、左検出器要素９８Ａおよび右検出器要素９８Ｂであり、センサ対９４内のタングステンコリメータ９２によって分離されている。一実施態様では、ウェーハ８８の厚さは、約６００μｍであり、タングステンコリメータ９２の厚さは、約５０μｍである。
【００３４】
図示の例では、Ｘ線放出焦点１２０もまた、Ｚ次元軸に沿って図示されている。焦点１２０は、陽極の加熱の結果として、またはガントリの回転によりＣＴ動作中にＺ次元軸に沿って移動する場合がある。理解され得るように、各センサ対９４内のコリメーションの幾何学的形状および検出器要素９８（例えば、左検出器要素９８Ａおよび右検出器要素９８Ｂ）の対により、Ｘ線２０がコリメータ９２によって多少減衰する検出器要素が存在する場合がある。例えば、入射Ｘ線がそれぞれのコリメータ９２によって減衰されにくい検出器要素（ここでは右検出器要素９８Ｂ、Ｘ線２０Ｂの障害のない通過によって示される）、および入射Ｘ線がコリメータ９２によってより減衰される検出器要素（ここでは左検出器要素９８Ａ、コリメータ９２によって制限されるＸ線２０Ａによって示され、影１００を投影する）が示されている。スキャンが行われるとき、および／または焦点１２０がＺ次元に沿って移動するとき、どの検出器要素が所与のセンサ対９４内でＸ線によってより照射され、かつあまり照射されないかが変化し得る。しかしながら、理解され得るように、センサ対９４内の検出器要素９８Ａ、９８Ｂの所与の対へのＸ線の入射は補完的であり、すなわち、コリメータ９２によるシャドーイングにより一方へのＸ線入射が減少すると、他方への入射が影から出現するにつれて増加するようなそれらの幾何学的関係により、完全に一致した位置に関して対称である。代替の実施形態では、検出器要素９８からの信号または測定値は、１つまたは複数の個々の検出器セグメントからの信号、または１つまたは複数の検出器セグメントからの信号の組合せを含み、組合せは、個々の検出器セグメントからの信号の直接加算または加重加算を指す。
【００３５】
これらの考慮事項に基づいて、所与の検出器要素９８（すなわち、ピクセル）のゲインｇは、Ｚ次元における焦点１２０の位置によって影響を受けることが理解され得る。これを念頭に置いて、伝達関数は、Ｚ次元の焦点位置の関数として検出器要素９８によって取得された測定信号に基づいて導出することができる。１つのそのような伝達関数の例は、次の通りである：
【００３６】
【数１】
2020127709.tif 000003
式中、ｇ（ｚ）は、焦点１２０が位置ｚにあるときのそれぞれの検出器要素のゲインであり、Ｇ（ｚ）とＧ（０）はそれぞれ、焦点がそれぞれ位置ｚと位置０にあるときのピクセルセグメントからの測定された信号計数である。この伝達関数、または所与のスキャナ、スキャナモデル、検出器、もしくは検出器モデルに固有の他の適切な関数は、Ｚ次元に沿った異なる焦点位置でそれぞれのセンサ対９４内の対の検出器要素によって生成される信号を測定することによる経験的測定に基づいて生成され得る。上記のように、これらの対の検出器要素９８がそれらの測定値に関して補完的であるため、それぞれの伝達関数も補完的である。
【００３７】
ｚ位置の関数としての可変ゲインは、ｚの異なる焦点位置での右検出器要素９８Ｂおよび左検出器要素９８Ａのゲイン応答の一例である図４のグラフプロットによって示され、ｚ＝０は、対の検出器要素と一致した焦点位置を表す。示すように、対の検出器要素のそれぞれのゲイン関数は、対称または補完的である。さらに理解され得るように、一対の検出器要素９８に関するこれらの決定可能な経験的関係に基づいて、センサ対９４のそれぞれの検出器要素９８を使用して取得された測定値の所与のセットは、グラフ（図示されたものなど）または対応するルックアップテーブルと評価または比較され、その測定についてＺ次元における焦点位置を決定する。例として、図４は、破線１１０によって示されるように、左右の検出器要素両方の一対の測定値、および対応するｚの焦点位置を示す。図３には示されていないが、方法論は、有限の焦点サイズに対応する。さらに、方法論はＺ次元における焦点の動きに関して説明されるが、手法はこの次元に限定されず、センサ対９４が適切に配向される動きに適切に適応するために使用され得る。
【００３８】
上記を念頭に置いて、特定の実施態様では、スキャン中にＺ次元の焦点位置の推定値または測定値を得る能力を様々な方法で活用することができる。例えば、図５を参照すると、減衰されていないＸ線放出２０に曝された検出器の一部の上のセンサ対（すなわち、基準センサ対９４Ａとして図示される、視野（ＦＯＶ）の外側に位置決めされたセンサ対）が焦点Ｚの位置１２０を推定するために使用される例が図示されている。次いで、撮像中の患者２４または物体によって減衰されたＸ線２６に曝された検出器のセンサ対９４（アクティブセンサ対９４Ｂとして図示される）によって取得されたデータは、推定された焦点Ｚの位置１２０（すなわち、焦点の位置ずれ）を考慮して調整または補正され得る。
【００３９】
この例では、検査中に基準センサ対９４Ａを介して取得された基準ゲインデータ１３０は、図４に関して説明したようなルックアップテーブル１３２またはグラフと比較され得、それにより所与の時点での基準ゲインデータ１３０は、その時点でのＺ次元における焦点１２０の位置の推定値を提供する（すなわち、決定ステップ１３６）。次に、決定された焦点位置２００を使用して、その時点でアクティブセンサ対９４Ｂによって取得された投影データを補正することができ（ステップ１３８）、以下により詳細に説明するように、補正された投影データ１４０を生成し、その後通常通り処理（例えば、再構成）することができる。
【００４０】
例として、検出器要素９８の異なる垂直方向セグメントで異なるエネルギービンデータが収集されるマルチエネルギーの状況では、較正データは、水、骨、および焦点の異なるＺ位置に対する検出器要素９８の異なる垂直方向セグメントでのコントラストの異なる組合せ（すなわち、異なる割合）に対して最初に生成され得る。このようにして、焦点Ｚの位置が決定されると、適切な較正補正がアクティブセンサ対によって取得された投影データに適用され得る。
【００４１】
そのような較正データ１８０を生成するためのプロセスの例が、図６に示されている。この例において、焦点１２０の位置は、軸方向または横軸方向のいずれかでＸ線管の陽極に衝突する電子ビームを電磁的に操縦することによって調整され得る（ステップ１８２）。焦点１２０の所与の位置について、較正データ１８０が取得され（ステップ１８４）、焦点１２０がＺ（またはＸ）の次の位置に移動した後、すべての関心位置が較正データ１８０に関連付けられる（決定ブロック１９０で決定されるように）。本明細書で使用されるように、較正データ１８０は、較正スキャンに関連付けられる様々な定義されたまたは決定可能な動作条件（例えば、動作管の動作電圧、検出器のパイルアップのレベル、Ｘ線管のｍＡ設定、スペクトル較正用のＸ線ビーム経路内の材料の組合せなど）について取得されたＣＴ投影データを含み得る。較正プロセスのためにサンプリングされる焦点位置の数は、上記の特定の動作条件および特徴付けられる動作条件の数に対する補正の関数依存性に基づいてもよい。較正データ１８０がすべての関心焦点位置について取得されると、入力動作条件の１つまたは複数に対する較正測定値の依存性を特徴付ける較正データ１８０を使用して、関数関係１９６を決定することができる（ステップ１９４）。実際には、これらの関数関係１９６は、応答曲面、ルックアップテーブルなどによって特徴付けられてもよい。
【００４２】
理解されるように、図５に戻ると、これらの関数関係１９６、所与のスキャンの既知の動作条件、および焦点１２０の決定された位置は、ステップ１３８で使用され、患者２４を通るＸ線透過を特徴付けるデータを取得するアクティブセンサ対９４によって取得された投影データを補正することができる。これは、リアルタイムでもしくは同時に、または事後的に行うことができる。測定データを補正するためのそのような補正プロセスのプロセスフローが、図７に示されている。上述の概念に基づいたこの例では、焦点１２０の位置２００は、基準センサ対９４Ａによって取得された投影データ測定値２０４を使用するなど、図５に関して上述したように決定される（ステップ１３６）。焦点位置２００および以前の較正中に導出された動作条件との関数関係１９６に基づいて、アクティブセンサ対９４Ｂを使用して取得された投影データ測定値２０４を補正し（ステップ１３８）、補正された投影データ測定値１４０を生成することができる。投影データ測定値２０４の集合を使用して、スキャン手順中に１つまたは複数の焦点位置２００を推定することができることに留意されたい。例えば、投影データ測定値２０４を集合的に使用して、スキャン中の平均焦点位置２００を推定することができ、またはＸ線源の特定の配向およびスキャンされる物体に対する検出器に対応する各投影データ測定値を使用して、ビューごとに焦点位置２００を推定することができる。
【００４３】
測定データの補正は１つの可能な実施態様であるが、他の実施形態では、Ｚ次元における位置焦点１２０のリアルタイム知識を使用して焦点位置をリアルタイムで調整し、検出器要素との一致を維持することができることが理解され得る。例えば、１つのそのような実施形態では、Ｚ次元における焦点１２０の位置は、基準センサ対９４Ａによる測定から決定され得るように、Ｘ線コントローラ３８への入力として提供することができ、意図した焦点位置からのドリフトを考慮して焦点位置を調整することができる。特に、焦点１２０の位置がわかれば、焦点１２０の位置のドリフトを補償するように、Ｘ線管内の陽極に衝突する電子ビームを電磁的に操縦することによって焦点位置を調整することができる。このようにして、画像再構成のための投影データの取得全体にわたって焦点が代わりに一致したままで維持されるため、焦点ドリフトに関する投影データの補正が回避され得る。
【００４４】
本明細書で説明するように、本発明の技術的効果は、ＣＴ画像における焦点の動きにより誘発されるアーチファクトの低減を含む。特に、スキャン中に焦点の動きを調整するための技術は、高アスペクト比検出器要素を使用して、Ｘ線焦点とＸ線検出器の位置ずれのリアルタイム推定を可能にする。技術的および商業的利点は、限定はしないが、（１）あらゆる単一エネルギーおよびマルチエネルギー画像の画質の維持、すなわち、電子ビームの静電および電磁操縦をリアルタイムで使用する低線量から高線量の撮像プロトコル、（２）顧客サイトで実行される設置較正と毎日の較正手順の両方について、較正手順に必要な時間の短縮およびその複雑さの低減を含む。
【００４５】
本明細書は、最良の様式を含む本発明を開示するため、およびどのような当業者も、任意のデバイスまたはシステムの作製および使用ならびに任意の組み込まれた方法の実行を含む本発明の実践を可能にするために、実施例を使用している。本発明の特許可能な範囲は、特許請求の範囲によって定義され、当業者が想到する他の実施例を含むことができる。そのような他の実施例は、特許請求の範囲の文言と異ならない構造要素を有する場合、または特許請求の範囲の文言と実質的な差のない等価の構造要素を含む場合、特許請求の範囲内にあることが意図されている。
［実施態様１］
較正データ（１８０）を生成するための方法であって、
１つまたは複数の空間次元（Ｘ、Ｙ、Ｚ）における複数の位置（２００）でＸ線源（１２）の焦点（１２０）からＸ線（２０）を放出することと、
各位置（２００）について、対の応答データを生成することであって、前記対の応答データは、センサ対（９４）の第１の検出器要素（９８Ａ）からの第１の測定値と、前記センサ対（９４）の第２の検出器要素（９８Ｂ）からの第２の測定値とを含み、前記センサ対（９４）の前記第１の検出器要素（９８Ａ）および前記第２の検出器要素（９８Ｂ）は、前記１つまたは複数の次元（Ｘ、Ｙ、Ｚ）における前記焦点（１２０）の移動に関して補完的な応答関数を有することと、
少なくとも前記対の応答データと前記１つまたは複数の空間次元（Ｘ、Ｙ、Ｚ）における対応する位置（２００）を関連付け、１つまたは複数の関数関係（１９６）を生成することと
を含む、方法。
［実施態様２］
前記１つまたは複数の空間次元（Ｘ、Ｙ、Ｚ）は、コンピュータ断層撮影（ＣＴ）スキャナのボアに沿ったスライス方向の空間次元を含む、実施態様１に記載の方法。
［実施態様３］
前記センサ対（９４）は、前記第１の検出器要素（９８Ａ）と前記第２の検出器要素（９８Ｂ）との間に位置決めされた減衰層を備え、前記減衰層によって引き起こされるＸ線減衰は、前記１つまたは複数の空間次元（Ｘ、Ｙ、Ｚ）における前記焦点（１２０）の位置（２００）に関して前記第１の検出器要素（９８Ａ）および前記第２の検出器要素（９８Ｂ）の前記補完的な応答関数を生じさせる、実施態様１に記載の方法。
［実施態様４］
前記センサ対（９４）の前記第１の検出器要素（９８Ａ）および前記第２の検出器要素（９８Ｂ）は、補完的な応答関数を識別するためにＸ線（２０）の進行方向に対応する空間次元（Ｘ、Ｙ、Ｚ）で十分な厚さを有する低原子番号の変換材料を含む、実施態様３に記載の方法。
［実施態様５］
前記１つまたは複数の関数関係（１９６）は、前記１つまたは複数の空間次元（Ｘ、Ｙ、Ｚ）における前記対の応答データおよび前記対応する位置（２００）に加えて１つまたは複数の動作条件をさらに組み込む、実施態様１に記載の方法。
［実施態様６］
前記１つまたは複数の関数関係（１９６）は、応答曲面またはルックアップテーブルの１つまたは複数を含む、実施態様１に記載の方法。
［実施態様７］
前記１つまたは複数の動作条件は、Ｘ線管の動作電圧、検出器のパイルアップのレベル、前記Ｘ線管のｍＡ設定、またはスペクトル較正用のＸ線ビーム経路内の材料の組合せを含む、実施態様５に記載の方法。
［実施態様８］
Ｘ線焦点（１２０）の位置ずれに対処する方法であって、
焦点（１２０）を含むＸ線源（１２）からＸ線（２０）を放出することであって、前記Ｘ線（２０）は、スキャンされる患者または物体（２４）が位置決めされる撮像ボリュームを通過することと、
１つまたは複数の基準センサ対（９４Ａ）に入射する前記Ｘ線（２０）が前記患者または物体（２４）を通過しない場所に位置決めされた前記基準センサ対（９４Ａ）から応答データを取得することであって、各基準センサ対（９４Ａ）の前記応答データは、前記それぞれのセンサ対（９４Ａ）の第１の検出器要素（９８Ａ）からの第１の測定値と、前記それぞれのセンサ対（９４Ａ）の第２の検出器要素（９８Ｂ）からの第２の測定値とを含み、前記各基準センサ対（９４Ａ）の前記第１の検出器要素（９８Ａ）および前記第２の検出器要素（９８Ｂ）は、１つまたは複数の空間次元（Ｘ、Ｙ、Ｚ）における前記焦点（１２０）の移動に関して補完的な応答関数を有することと、
前記１つまたは複数の基準センサ対（９４Ａ）からの前記応答データを使用して、前記焦点（１２０）の前記１つまたは複数の空間次元（Ｘ、Ｙ、Ｚ）における位置（２００）を決定することと、
前記１つまたは複数の空間次元（Ｘ、Ｙ、Ｚ）における前記焦点（１２０）の前記位置（２００）に基づいて補正処置を行うことと
を含む、方法。
［実施態様９］
前記１つまたは複数の空間次元（Ｘ、Ｙ、Ｚ）は、コンピュータ断層撮影（ＣＴ）スキャナのボアに沿ったスライス方向の空間次元を含む、実施態様８に記載の方法。
［実施態様１０］
前記１つまたは複数の基準センサ対（９４Ａ）は各々、前記それぞれの基準センサ対（９４Ａ）の前記第１の検出器要素（９８Ａ）と前記第２の検出器要素（９８Ｂ）との間に位置決めされた減衰層を備え、前記減衰層によって引き起こされるＸ線減衰は、１つまたは複数の空間次元（Ｘ、Ｙ、Ｚ）における前記焦点（１２０）の位置（２００）に関して前記第１の検出器要素（９８Ａ）と前記第２の検出器要素（９８Ｂ）との間の前記補完的な応答を生じさせる、実施態様８に記載の方法。
［実施態様１１］
複数のアクティブセンサ対（９４Ｂ）への前記入射Ｘ線（２０）が前記患者または物体（２４）を通過する場所に位置決めされた前記アクティブセンサ対（９４Ｂ）から追加の応答データを取得することをさらに含む、実施態様８に記載の方法。
［実施態様１２］
補正処置を行うことは、
前記焦点（１２０）の前記１つまたは複数の空間次元（Ｘ、Ｙ、Ｚ）における前記位置（２００）に基づいて、１つまたは複数の以前に決定された関数関係（１９６）に基づいて前記追加の応答データに対して行う１つまたは複数の補正処置を決定することであって、前記関数関係（１９６）は、前記１つまたは複数の空間次元（Ｘ、Ｙ、Ｚ）および１つまたは複数の異なる動作条件における前記焦点（１２０）の異なる位置（２００）に対して導出されること
を含む、実施態様１１に記載の方法。
［実施態様１３］
前記１つまたは複数の関数関係（１９６）は、応答曲面またはルックアップテーブルの１つまたは複数を含む、実施態様１２に記載の方法。
［実施態様１４］
前記異なる動作条件は、Ｘ線管の動作電圧、検出器のパイルアップのレベル、前記Ｘ線管のｍＡ設定、またはスペクトル較正用のＸ線ビーム経路内の材料の組合せの１つまたは複数を含む、実施態様１２に記載の方法。
［実施態様１５］
補正処置を行うことは、前記焦点（１２０）の前記位置（２００）のずれを補正するために前記焦点（１２０）の前記位置（２００）を調整することを含む、実施態様８に記載の方法。
［実施態様１６］
動作中に焦点（１２０）からＸ線（２０）を放出するように構成されたＸ線源（１２）と、
前記Ｘ線源（１２）によるＸ線放出に曝されたときにＸ線強度に対応する信号を生成するように構成された検出器であって、前記検出器は、複数のセンサ対（９４）を備え、各センサ対（９４）は、減衰層によって分離され、１つまたは複数の空間次元（Ｘ、Ｙ、Ｚ）における前記焦点（１２０）の位置（２００）に関して補完的な応答関数を有する第１の検出器要素（９８Ａ）および第２の検出器要素（９８Ｂ）を備える検出器と、
前記Ｘ線源（１２）からＸ線（２０）を放出させることであって、前記Ｘ線（２０）は、スキャンされる患者または物体（２４）が動作中に位置決めされる撮像ボリュームを通過し、
前記複数のセンサ対（９４）の１つまたは複数の基準センサ対（９４Ａ）から応答データを取得することであって、前記基準センサ対（９４Ａ）は、前記基準センサ対（９４Ａ）に入射する前記Ｘ線（２０）が前記患者または物体（２４）を通過しない場所に位置決めされ、
前記１つまたは複数の基準センサ対（９４Ａ）からの前記応答データを使用して、前記１つまたは複数の空間次元（Ｘ、Ｙ、Ｚ）における前記焦点（１２０）の位置（２００）を決定し、
前記１つまたは複数の空間次元（Ｘ、Ｙ、Ｚ）における前記焦点（１２０）の前記位置（２００）に基づいて補正処置を行う
ように構成された１つまたは複数の処理回路（８４）と
を備える、Ｘ線撮像システム（１０）。
［実施態様１７］
前記Ｘ線撮像システム（１０）は、コンピュータ断層撮影（ＣＴ）撮像システムを備える、実施態様１６に記載のＸ線撮像システム（１０）。
［実施態様１８］
前記１つまたは複数の空間次元（Ｘ、Ｙ、Ｚ）は、前記Ｘ線撮像システム（１０）のスライス方向の次元を含む、実施態様１６に記載のＸ線撮像システム（１０）。
［実施態様１９］
前記センサ対（９４）の前記第１の検出器要素（９８Ａ）および前記第２の検出器要素（９８Ｂ）は、補完的な応答関数を識別するためにＸ線（２０）の進行方向に対応する空間次元（Ｘ、Ｙ、Ｚ）で十分な厚さを有する低原子番号の変換材料を含む、実施態様１６に記載のＸ線撮像システム（１０）。
［実施態様２０］
前記１つまたは複数の処理回路（８４）は、前記複数のセンサ対（９４）の１つまたは複数のアクティブセンサ対（９４Ｂ）から応答データを取得するようにさらに構成され、前記アクティブセンサ対（９４Ｂ）は、前記アクティブセンサ対（９４Ｂ）に入射する前記Ｘ線（２０）が前記患者または物体（２４）を通過する場所に位置決めされる、実施態様１６に記載のＸ線撮像システム（１０）。
［実施態様２１］
前記１つまたは複数の処理回路（８４）は、１つまたは複数の以前に決定された関数関係に基づいて前記アクティブセンサ対（９４Ｂ）によって取得された前記応答データに対して行う１つまたは複数の補正処置を決定することによって補正処置を行うようにさらに構成され、前記関数関係（１９６）は、前記１つまたは複数の空間次元（Ｘ、Ｙ、Ｚ）および１つまたは複数の異なる動作条件における前記焦点（１２０）の位置（２００）に対して導出される、実施態様２０に記載のＸ線撮像システム（１０）。
［実施態様２２］
前記１つまたは複数の処理回路（８４）は、前記焦点（１２０）の前記位置（２００）のずれを補正するために前記焦点（１２０）の前記位置（２００）を調整することによって補正処置を行うようにさらに構成される、実施態様１６に記載のＸ線撮像システム（１０）。
【符号の説明】
【００４６】
１０  ＣＴ撮像システム
１２  Ｘ線源、放射線源
２０  Ｘ線ビーム、Ｘ線光子、Ｘ線放出、Ｘ線
２０Ａ  Ｘ線
２０Ｂ  Ｘ線
２２  患者前置コリメータ、フィルタアセンブリ、ビーム整形器
２４  患者、被検体、物体
２６  減衰されたＸ線光子、Ｘ線
２８  ピクセル化検出器アレイ、検出器
３０  システムコントローラ
３２  直線位置決めサブシステム
３４  回転サブシステム
３６  モータコントローラ
３８  Ｘ線コントローラ
４０  データ取得システム（ＤＡＳ）
４２  コンピュータ
４４  画像処理回路
４６  非一時的メモリデバイス、メモリ
４８  オペレータワークステーション
５０  ディスプレイデバイス、ディスプレイ
５２  プリンタ
５４  画像保管通信システム（ＰＡＣＳ）
５６  遠隔システム、クライアント
８４  読み出し電子回路
８８  シリコンウェーハ
９２  内部コリメータ、タングステンコリメータ
９４  センサ対、平行線
９４Ａ  基準センサ対
９４Ｂ  アクティブセンサ対
９６  垂直方向セグメント
９８  検出器要素
９８Ａ  左検出器要素
９８Ｂ  右検出器要素
１００  影
１１０  破線
１２０  焦点
１３０  基準ゲインデータ
１３２  ルックアップテーブル
１３６  決定ステップ
１３８  ステップ
１４０  補正された投影データ測定値
１８０  較正データ
１８２  ステップ
１８４  ステップ
１９０  決定ブロック
１９４  ステップ
１９６  関数関係
２００  焦点位置
２０４  投影データ測定値
Ｘ  次元
Ｙ  次元
Ｚ  次元
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【外国語明細書】
2020127709000001.pdf