(57)【要約】【課題】応力発光体の発光量が微量である場合に、発光輝度の検出能力を向上させることができる応力発光計測装置及び応力発光計測方法を提供すること。【解決手段】応力発光塗料２に励起光を照射して応力発光体を励起状態にし、応力発光塗料２に加えられる応力に応じた応力発光を計測する場合に、４つの撮像部３０ａ〜３０ｄにより撮像タイミングをずらしつつ応力発光塗料２の同一部位を撮像し、画像生成部１９が、複数の計測画像に基づいて輝度の時間分解能を向上させた画像を生成する。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
応力発光体に励起光を照射して前記応力発光体を励起状態にし、前記応力発光体に加えられる応力に応じた応力発光を計測する応力発光計測装置であって、
前記応力発光体を撮像する複数の撮像部と、
前記複数の撮像部による撮像タイミングをずらしつつ、前記応力発光体の同一部位を前記複数の撮像部に撮像させるよう制御する撮像制御部と、
前記複数の撮像部により撮像された複数の画像に基づいて、輝度の時間分解能を向上させた画像を生成する画像生成部と、
を備えたことを特徴とする応力発光計測装置。
【請求項２】
前記撮像制御部は、
複数台の撮像部がそれぞれ同一のシャッター速度で撮像する場合に、該シャッター速度を撮像部の台数で除算した商をずらし時間としつつ、各撮像部による撮像タイミングをずらすよう制御することを特徴とする請求項１に記載の応力発光計測装置。
【請求項３】
前記画像生成部は、
前記複数の画像に含まれる前記応力発光体の同一部位を形成する画素の輝度値を前記ずらし時間ごとに積算し、積算された画素の輝度値を持つ画像を生成することを特徴とする請求項２に記載の応力発光計測装置。
【請求項４】
前記画像生成部は、
前記複数の画像に含まれる前記応力発光体の同一部位を形成する画素の輝度値を前記ずらし時間ごとに積算し、積算された画素の輝度値を正規化した輝度値を持つ画像を生成することを特徴とする請求項２に記載の応力発光計測装置。
【請求項５】
応力発光体に励起光を照射して前記応力発光体を励起状態にし、前記応力発光体に加えられる応力に応じた応力発光を計測する応力発光計測装置における応力発光計測方法であって、
前記応力発光体を撮像する複数の撮像部による撮像タイミングをずらしつつ、前記応力発光体の同一部位を前記複数の撮像部に撮像させるよう制御する撮像制御ステップと、
前記複数の撮像部により撮像された複数の画像に基づいて、輝度の時間分解能を向上させた画像を生成する画像生成ステップと、
を含むことを特徴とする応力発光計測方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、応力発光体の発光量が微量である場合に、発光輝度の検出能力を向上させることができる応力発光計測装置及び応力発光計測方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、計測対象の残留応力や応力集中などによる破壊を検知又は予測するために、応力分布が計測されることが多い。一般的に、応力分布の計測手法として、（１）計測対象にひずみゲージを貼り付けてひずみ量を電気的に検出する手法Ａ、（２）赤外線カメラを用いて計測対象の振動に対する発熱作用又は吸熱作用を計測して応力分布を求める手法Ｂ、（３）計測対象の表面にランダム模様を付与して複数カメラで撮像し、応力変動を求めるデジタル画像相関法Ｃなどが知られている。
【０００３】
ところが、上記の手法Ａは、ひずみゲージは貼り付けのための手間がかかるとともに計測部位が限られるという問題がある。また、上記の手法Ｂは、赤外線カメラは測定範囲が限られ、繰り返し加振が必要になるという問題がある。さらに、上記のデジタル画像相関法Ｃは、事前に表面模様の準備が必要になるという問題がある。
【０００４】
このため、非接触かつ広範囲に一括で応力計測するために、応力発光体を表面に付与した計測対象からの応力発光を撮像することにより、計測対象の応力分布を非接触で計測する技術が注目されている。例えば、特許文献１には、応力発光体の励起状態が飽和するまでの励起光照射時間を記憶しておき、この励起光照射時間分、励起光を照射することによって応力発光体の励起状態を飽和状態にし、一定条件で発光する装置が開示されている。なお、応力発光塗料を応力発光させるためには、応力発光塗料内の応力発光体を励起状態にする必要があり、この応力発光体の励起は、応力発光塗料に励起光を照射する必要がある。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２０１６−１８０６３７号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、かかる応力発光体を用いる場合に、応力発光体の発光量が微量であるならば、カメラ等の撮像部のシャッター速度を遅くして光を集める時間を長くする必要が生じる。一方、シャッター速度よりも詳細に発光の変化を検知することができないため、かかる撮像部のシャッター速度を遅くしたならば、発光の変化状況が分かりにくくなるという課題が生ずる。
【０００７】
本発明は、上記の課題を解決するためになされたものであり、応力発光体の発光量が微量である場合に、発光輝度の検出能力を向上させることができる応力発光計測装置及び応力発光計測方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上述した課題を解決し、目的を達成するため、本発明は、応力発光体に励起光を照射して前記応力発光体を励起状態にし、前記応力発光体に加えられる応力に応じた応力発光を計測する応力発光計測装置であって、前記応力発光体を撮像する複数の撮像部と、前記複数の撮像部による撮像タイミングをずらしつつ、前記応力発光体の同一部位を前記複数の撮像部に撮像させるよう制御する撮像制御部と、前記複数の撮像部により撮像された複数の画像に基づいて、輝度の時間分解能を向上させた画像を生成する画像生成部と、を備えたことを特徴とする。
【０００９】
また、本発明は、上記の発明において、前記撮像制御部は、複数台の撮像部がそれぞれ同一のシャッター速度で撮像する場合に、該シャッター速度を撮像部の台数で除算した商をずらし時間としつつ、各撮像部による撮像タイミングをずらすよう制御することを特徴とする。
【００１０】
また、本発明は、上記の発明において、前記画像生成部は、前記複数の画像に含まれる前記応力発光体の同一部位を形成する画素の輝度値を前記ずらし時間ごとに積算し、積算された画素の輝度値を持つ画像を生成することを特徴とする。
【００１１】
また、本発明は、上記の発明において、前記画像生成部は、前記複数の画像に含まれる前記応力発光体の同一部位を形成する画素の輝度値を前記ずらし時間ごとに積算し、積算された画素の輝度値を正規化した輝度値を持つ画像を生成することを特徴とする。
【００１２】
また、本発明は、応力発光体に励起光を照射して前記応力発光体を励起状態にし、前記応力発光体に加えられる応力に応じた応力発光を計測する応力発光計測装置における応力発光計測方法であって、前記応力発光体を撮像する複数の撮像部による撮像タイミングをずらしつつ、前記応力発光体の同一部位を前記複数の撮像部に撮像させるよう制御する撮像制御ステップと、前記複数の撮像部により撮像された複数の画像に基づいて、輝度の時間分解能を向上させた画像を生成する画像生成ステップと、を含むことを特徴とする。
【発明の効果】
【００１３】
本発明によれば、応力発光体の発光量が微量である場合に、発光輝度の検出能力を向上させることが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００１４】
【図１】図１は、本実施の形態に係る応力発光計測装置の構成を示す図である。
【図２】図２は、励起光の照射をオフした場合における自然放出光量の時間推移を示す図である。
【図３】図３は、発生する応力に対する応力発光量の関係を示す図である。
【図４】図４は、図１に示した画像生成部による輝度積算画像の生成処理を説明するための説明図である。
【図５】図５は、応力発光計測処理手順を示すフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００１５】
以下、添付図面を参照して、本実施の形態に係る応力発光計測装置及び応力発光計測方法について説明する。
【００１６】
＜装置構成＞
図１は、本実施の形態に係る応力発光計測装置１の構成を示す図である。図１に示した応力発光計測装置１は、例えば外部からの力Ｐが加わることによって発生した応力Ｓにより金属疲労が生じる計測対象部材１０１の表面に、応力発光体が含まれる応力発光塗料２が塗布されている。
【００１７】
計測対象部材１０１に発生する応力Ｓは、不定な時間間隔で連続発生する。応力発光計測装置１は、応力発光体を含む応力発光塗料２に励起光Ｌ０を連続照射して応力発光体を励起状態にし、応力発光体に発生する応力Ｓに応じた応力発光Ｌ２を計測する。
【００１８】
応力発光体は、外部からの機械刺激により発光する発光材料である。機械刺激の種類としては摩擦、衝撃、圧縮、引っ張り、ねじりなどがあり、かかる機械刺激により応力発光体に応力が発生する。応力発光体は、例えば、粒子径の制御が可能な粉末状のセラミックス微粒子であり、ユーロピウムをドープし構造制御したアルミン酸ストロンチウム（ＳｒＡｌ２Ｏ４：Ｅｕ）、遷移金属や希土類をドープした硫化亜鉛（ＺｎＳ：Ｍｎ）、チタン酸バリウム・カルシウム（（Ｂａ，Ｃａ）ＴｉＯ３：Ｐｒ）、アルミン酸カルシウム・イットリウム（ＣａＹＡｌ３Ｏ７：Ｃｅ）などである。なお、上記の応力発光体は、紫外線を励起光として可視光を発光するものであるが、紫外線や近赤外線を発光するものであってもよい。
【００１９】
図１に示した応力発光計測装置１は、励起光Ｌ０である紫外線を応力発光塗料２に連続照射する励起光照射部２０と、応力発光塗料２の発光を撮像する複数の撮像部３０a、撮像部３０ｂ、撮像部３０ｃ及び撮像部３０ｄ（以下、「撮像部３０ａ〜３０ｄ」と記載する場合がある）と、装置本体１０とを有する。
【００２０】
撮像部３０ａ〜３０ｄは、ＣＣＤカメラ等の撮像デバイスであり、応力発光塗料２の同一箇所の画像を撮像できるよう配置されている。また、撮像部３０ａ〜３０ｄによりそれぞれ撮像された各計測画像を形成する画素のうち同一箇所を示す画素位置は、対応点検索等の画像処理技術によってあらかじめ対応づけられているものとする。各計測画像の対応する画素の輝度を積算するためである。
【００２１】
装置本体１０は、入出力部１１、記憶部１２及び制御部１３を有し、励起光照射部２０、撮像部３０ａ〜３０ｄに接続される。入出力部１１は、各種操作入力及び表示出力等を行うタッチパネル式ディスプレイなどの入出力インターフェースである。
【００２２】
記憶部１２は、フラッシュメモリ等の不揮発性メモリ又はハードディスク装置等の二次記憶媒体等からなる記憶デバイスであり、応力発光量ＬＭＳを含む応力発光量データＤ１と、蛍光光量の励起光量依存性の関係ｆ２を含む関係データＤ２と、励起光量Ｌ０ａを含む励起光量データＤ３と、計測画像Ｄ４と、輝度積算画像Ｄ５とを記憶する。なお、この計測画像Ｄ４には、撮像部３０ａにより撮像された計測画像と、撮像部３０ｂにより撮像された計測画像と、撮像部３０ｃにより撮像された計測画像と、撮像部３０ｄにより撮像された計測画像とが含まれる。
【００２３】
制御部１３は、応力発光計測装置１を全体制御する制御部であり、応力発光量取得部１４、関係取得部１５、励起光量決定部１６、照射制御部１７、撮像制御部１８及び画像生成部１９を有する。実際には、これらの機能部に対応するプログラムを図示しないＲＯＭや不揮発性メモリに記憶しておき、これらのプログラムをＣＰＵ（Central Processing Unit）にロードして実行することにより、応力発光量取得部１４、関係取得部１５、励起光量決定部１６、照射制御部１７、撮像制御部１８及び画像生成部１９にそれぞれ対応するプロセスを実行させることになる。
【００２４】
応力発光量取得部１４は、応力発光塗料２に加えられる基準応力ＳＳに応じた応力発光量ＬＭＳを予め取得する。この応力発光量ＬＭＳは、応力発光量データＤ１に含まれる。
【００２５】
関係取得部１５は、応力発光塗料２を励起する励起光量に対する蛍光光量の関係ｆ２を予め取得する。この関係ｆ２は、関係データＤ２に含まれる。
【００２６】
励起光量決定部１６は、蛍光光量に対する応力発光量ＬＭＳの比が所定値以上となる励起光量Ｌ０ａを決定する。決定した励起光量Ｌ０ａは、励起光量データＤ３に含まれる。
【００２７】
照射制御部１７は、励起光照射部２０を介して、励起光量決定部１６が決定した励起光量Ｌ０ａの励起光を応力発光塗料２に対して連続照射する。
【００２８】
撮像制御部１８は、撮像部３０ａ、撮像部３０ｂ、撮像部３０ｃ及び撮像部３０ｄの撮像タイミングをずらしつつ、応力発光塗料２の同一部位を各撮像部３０に撮像させるよう制御する制御部である。なお、各撮像部３０に撮像された計測画像は、記憶部１２に格納される。
【００２９】
ここで、撮像制御部１８は、４つの撮像部３０ａ〜３０ｄがそれぞれ同一のシャッター速度Ｖで撮像する場合に、該シャッター速度Ｖを撮像部の台数である「４」で除算したＶ／４をずらし時間としつつ、各撮像部３０ａ〜３０ｄによる撮像タイミングをずらすよう制御する。なお、Ｎ台の撮像部を設けた場合には、Ｖ／Ｎがずらし時間となる。
【００３０】
画像生成部１９は、記憶部１２に記憶された計測画像Ｄ４を用いて、輝度の時間分解能を向上させた輝度積算画像Ｄ５を生成する処理部である。具体的には、撮像部３０ａ〜３０ｄによる撮像タイミングをずらしつつ撮像された各画像の対応する画素の輝度値をずらし時間ごとに積算し、積算された画素の輝度値を持つ輝度積算画像Ｄ５を生成して、記憶部１２に記憶する。なお、かかる画像生成部１９の具体的な処理については後述する。
【００３１】
＜励起光量Ｌ０ａの決定処理＞
次に、励起光量決定部１６による励起光量Ｌ０ａの決定処理について説明する。
【００３２】
まず、自然放出光Ｌ１は、応力発光塗料２が励起状態にあると、応力発光Ｌ２とは無関係に蛍光及び燐光を自然放出する。蛍光は、励起光Ｌ０から吸収した励起状態のエネルギーの一部を熱として放出し、残りの励起状態のエネルギーを光として放出するものであり、励起光よりも長波長側にシフトした光、例えば緑色の可視光として放出される。一方、燐光は、異なるエネルギー準位間の項間交差が起こり、すぐに基底状態に戻れず、蛍光に比してゆっくりと発光し続ける。例えば、蛍光は１０-6〜１０-3秒で発光し、燐光は１０-3〜１０秒で発光する。これに対し、応力Ｓに起因する応力発光Ｌ２は、励起状態のエネルギーの一部を熱として放出し、蛍光及び燐光のエネルギー準位に近く、かつ、異なる特定のエネルギー準位に遷移し、応力Ｓが発生した場合、この遷移した特定のエネルギー準位から基底状態に遷移することによって、例えば緑色の可視光として発光する。
【００３３】
したがって、図２に示すように、自然放出光量ＬＭ１は、第１励起光Ｌ０１又は第２励起光Ｌ０２が照射されている間は、蛍光が大部分を占める蛍光領域Ｅ１が形成され、第１励起光Ｌ０１の照射がオフされた時点ｔ１からは燐光のみとなり、燐光の光量が時間経過とともに減少する燐光領域Ｅ２が形成される時間推移を呈する。例えば、最大励起状態の自然放出光量ＬＭ１（最大光量Ｌｍａｘ）を１００％として正規化した場合、時点ｔ２，ｔ３，ｔ４と時間経過するに従って、それぞれ光量が３０％、２０％、１０％に減少する。
【００３４】
一方、応力Ｓが発生した場合に応力発光塗料２から発光する応力発光Ｌ２の応力発光量ＬＭ２は、ひずみ量とひずみ速度との乗算値で決定され、ひずみ速度が一定であった場合、図３に示すように、発生する応力Ｓの大きさに対して直線的な関係ｆ１を有する。なお、応力Ｓの発生時に、応力発光塗料２における応力発光のエネルギー準位におけるエネルギー充填率が低いと、応力Ｓに応じた応力発光量ＬＭ２を発光することができなくなる。この関係ｆ１を維持しない応力発光が発生すると、精度の高い応力分布、応力変化を得ることができないとともに、応力発光が燐光に埋もれてしまう可能性がある。
【００３５】
＜輝度積算画像の生成処理＞
次に、画像生成部１９による輝度積算画像Ｄ５の生成処理について説明する。図４は、図１に示した画像生成部１９による輝度積算画像Ｄ５の生成処理を説明するための説明図である。ここでは、撮像部３０ａ〜３０ｄが、応力発光塗料２の同一箇所を撮像可能となるよう配置されているものとする。また、あらかじめ撮像部３０ａ〜３０ｄで撮像された各画像に含まれる画素間の対応付けがされているものとする。例えば、撮像部３０ａで撮像された画像Ｇ１の座標位置（１５０、１５０）に位置する画素ａ１は、撮像部３０ｂで撮像された画像Ｇ２の座標位置（１４８、１４８）に位置する画素ｂ１、撮像部３０ｃで撮像された画像Ｇ３の座標位置（１５２、１５０）に位置する画素ｃ１、撮像部３０ｄで撮像された画像Ｇ４の座標位置（１４９、１５１）に位置する画素ｄ１に対応する。つまり、上記画像Ｇ１の画素ｂ１、画像Ｇ２の画素ｂ１、画像Ｇ３の画素ｃ１、画像Ｇ４の画素ｄ１は、応力発光塗料２の同一位置を示す画素となる。なお、かかる画素間の対応付けを行う場合には、周知の対応点探索技術を用いることができる。また、励起光が応力発光塗料２に対してあらかじめ照射されているものとする。
【００３６】
図４（ａ）に示すように、撮像部３０ａで撮像した画像Ｇ１上の画素ａ１の輝度は、時間の経過とともに低下している。ここでは、時間０〜Ｖ、時間Ｖ〜２Ｖ、時間２Ｖ〜３Ｖと時間が経過するほど、輝度が低下する状況を示している。なお、時間０〜Ｖ、時間Ｖ〜２Ｖ、時間２Ｖ〜３Ｖの間の輝度はほぼ一定であるものとする。
【００３７】
ここで、従来技術のように１台の撮像部３０ａのみを用いて撮像した場合には、Ｖ、２Ｖ、３Ｖのシャッター速度単位で画素ａ１の輝度変化を確認することができる。言い換えると、シャッター速度以上に詳細な画素ａ１の輝度変化を確認することができなくなるという問題が生ずる。特に、応力発光塗料２の発光量が微量である場合に、シャッター速度を遅くしてしまうと、詳細な輝度変化を確認できなくなってしまう。
【００３８】
このため、本実施の形態に係る画像生成部１９では、撮像部３０ａ〜３０ｄという４台の撮像部を用いている。図４（ａ）に示すように、撮像部３０ａと同様に、撮像部３０ｂで撮像した画像Ｇ２上の画素ｂ１の輝度、撮像部３０ｃで撮像した画像Ｇ３上の画素ｃ１の輝度、撮像部３０ｄで撮像した画像Ｇ４上の画素ｄ１の輝度についても、時間の経過とともに低下する。図中に示す「Ｖ」は、撮像部３０ａ〜３０ｄのシャッター速度を示している。
【００３９】
そして、図４（ａ）に示すように、撮像部３０ｂの撮像タイミングは、撮像部３０ａの撮像タイミングよりもＶ／４分遅らせ、撮像部３０ｃの撮像タイミングは、撮像部３０ｂの撮像タイミングよりもＶ／４分遅らせ、撮像部３０ｄの撮像タイミングは、撮像部３０ｃの撮像タイミングよりもＶ／４分遅らせる。
【００４０】
その後、図４（ｂ）に示すように、撮像部３０ａ〜３０ｄの各輝度を時間Ｖ／４ごとに積算する。このようにすることで、Ｖ／４毎に輝度の変化を確認することが可能となる。
【００４１】
ここでは、撮像部３０ａにより撮像された画像Ｇ１、撮像部３０ｂにより撮像された画像Ｇ２、撮像部３０ｃにより撮像された画像Ｇ３、撮像部３０ｄにより撮像された画像Ｇ４の共通する１つの画素の輝度変化を図示したが、実際には、全ての画素の輝度をそれぞれ積算した輝度積算画像を生成する。これにより、シャッター速度Ｖの４台の撮像部３０ａ〜３０ｄを用いることにより、Ｖ／４の時間単位での輝度変化を確認することが可能となる。
【００４２】
＜応力発光計測処理＞
次に、図１に示した制御部１３による応力発光計測処理手順について説明する。図５は、図１に示した制御部１３による応力発光計測処理手順を示すフローチャートである。図５に示すように、まず、応力発光量取得部１４は、基準応力ＳＳに応じた応力発光量ＬＭＳを取得する（ステップＳ１０１）。その後、関係取得部１５は、励起光量ＬＭ０に対する自然放出光量（蛍光光量）ＬＭ１の関係ｆ２を取得する（ステップＳ１０２）。その後、励起光量決定部１６は、自然放出光量ＬＭ１に対する応力発光量ＬＭＳの比が所定値以上となる励起光量Ｌ０ａを決定する（ステップＳ１０３）。
【００４３】
その後、制御部１３は、応力発光計測を開始するか否かを判定する（ステップＳ１０４）。応力発光計測を開始しない場合には（ステップＳ１０４；Ｎｏ）、ステップＳ１０４の判定処理を繰り返す。一方、応力発光計測を開始する場合には（ステップＳ１０４；Ｙｅｓ）、照射制御部１７の制御のもとに、励起光量決定部１６によって決定された励起光量Ｌ０ａの励起光Ｌ０を、励起光照射部２０を介して照射するとともに、撮像制御部１８の制御のもとに、撮像部３０ａ〜３０ｄを介して応力発光塗料２の計測画像Ｄをそれぞれ撮像処理し、計測画像Ｄ４として記憶する（ステップＳ１０５）。
【００４４】
具体的には、撮像部３０ａ〜３０ｄのシャッター速度Ｖを撮像部の台数４で除算した「Ｖ／４」だけ撮像タイミングをずらしながら撮像する。その後、画像生成部１９により、各計測画像Ｄ４の同一部位となる画素の輝度を積算して輝度積算画像Ｄ５を生成する(ステップＳ１０６)。
【００４５】
その後、応力発光計測を終了するか否かを判定する（ステップＳ１０７）。応力発光計測を終了しない場合には（ステップＳ１０７；Ｎｏ）、ステップＳ１０５に移行して上記の処理を繰り返す。一方、応力発光計測を終了する場合には（ステップＳ１０７；Ｙｅｓ）、本処理を終了する。
【００４６】
上述してきたように、本実施の形態は、応力発光塗料２に励起光を照射して応力発光体を励起状態にし、応力発光塗料２に加えられる応力に応じた応力発光を計測する場合に、４つの撮像部３０ａ〜３０ｄにより撮像タイミングをずらしつつ応力発光塗料２の同一部位を撮像し、画像生成部１９が、複数の画像に基づいて輝度の時間分解能を向上させた輝度積算画像Ｄ５を生成するよう構成したので、応力発光塗料２の発光量が微量である場合に、発光輝度の検出能力を向上させることができる。
【００４７】
なお、上記実施の形態では、計測対象部材１０１に発生する応力Ｓは、不定な時間間隔で連続発生する場合を説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、計測対象部材１０１に単発で応力Ｓが発生する場合に適用することもできる。
【００４８】
なお、上記実施の形態では、４台の撮像部３０ａ〜３０ｄを用いる場合を示したが、本発明はこれに限定されるものではなく、２台以上の任意の台数の撮像部を用いた場合に適用することもできる。
【００４９】
また、上記実施の形態では、撮像部３０ａ〜３０ｄにより撮像する場合に、Ｖ／４ずつ撮像タイミングを時間的にずらす場合を示したが、本発明はこれに限定されるものではなく、撮像タイミングを任意に調整することもできる。撮像タイミングに応じて輝度積算画像を生成すれば良い。
【００５０】
さらに、上記実施の形態では、画像を形成する画素の輝度を積算する場合を示したが、色黒濃淡画像の場合には画素値そのものを積算することもできる。また、カラー画像の場合には、該カラー画像の表色系を変換して各画素の輝度を求めた後に、輝度を積算することもできる。
【００５１】
なお、上記の実施の形態で図示した各構成は機能概略的なものであり、必ずしも物理的に図示の構成をされていることを要しない。すなわち、各装置の分散・統合の形態は図示のものに限られず、その全部又は一部を各種の負荷や使用状況などに応じて、任意の単位で機能的又は物理的に分散・統合して構成することができる。
【産業上の利用可能性】
【００５２】
本発明の応力発光計測装置及び応力発光計測方法は、応力発光体の発光量が微量となる発光輝度の検出能力を向上させる場合に有用である。
【符号の説明】
【００５３】
１  応力発光計測装置
２  応力発光塗料
１０  装置本体
１１  入出力部
１２  記憶部
１３  制御部
１４  応力発光量取得部
１５  関係取得部
１６  励起光量決定部
１７  照射制御部
１８  撮像制御部
１９  画像生成部
２０  励起光照射部
３０ａ、３０ｂ、３０ｃ、３０ｄ  撮像部
１０１  計測対象部材
Ｄ１  応力発光量データ
Ｄ２  関係データ
Ｄ３  励起光量データ
Ｄ４  計測画像
Ｄ５  輝度積算画像
Ｅ１  蛍光領域
Ｅ２  燐光領域
Ｌ０  励起光
Ｌ１  自然放出光
Ｌ２  応力発光
Ｐ  力
Ｓ  応力
ＳＳ  基準応力
Ｇ１，Ｇ２，Ｇ３，Ｇ４  計測画像
ａ１，ｂ１，ｃ１，ｄ１  画素
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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