(57)【要約】【課題】探傷方向の寸法が大きい場合でも、探触子を交換することなく、ボルトの劣化の検査が可能なアンカーボルト超音波探傷検査方法および装置を提供する。【解決手段】この発明のアンカーボルト超音波探傷検査装置１０は、超音波探触子１６を用いてアンカーボルトの腐食部を検査する。アンカーボルト超音波探傷検査装置１０は、超音波探触子１６として、超音波入射方向に屈折角を変化させる曲率を有している曲面振動子１８を使用して探傷部を探傷するようにしたため、振動子の使用する屈折角を変化させることによって、近距離から遠距離までの広範囲の探傷が可能になる。【選択図】図４
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
超音波探触子を用いてアンカーボルトの腐食部を検査するアンカーボルト超音波探傷検査装置であって、
前記アンカーボルトの頭部に装着可能であり、円筒状でその頂部に前記超音波探触子を取り付け可能な傾斜面を有する探触子取り付け部と、
前記探触子からの超音波探傷信号の反射エコーを受けて、アンカーボルトの劣化を判定する劣化判定手段と含み、
前記超音波探触子は、超音波が射出される第１の方向に屈折角を変化する第１の曲率と、前記第１の方向に交わる第２の方向において線集束用の第２の曲率とを有する、曲面振動子を有する、アンカーボルト超音波探傷検査装置。
【請求項２】
前記曲面振動子は前記第１の方向において、第１の屈折角と、第１と異なる第２の屈折角を有する、請求項１に記載のアンカーボルト超音波探傷検査装置。
【請求項３】
前記曲面振動子は前記第１の屈折角から前記第２の屈折角まで滑らかに連続する屈折角を有する、請求項１または２に記載のアンカーボルト超音波探傷検査装置。
【請求項４】
前記曲面振動子は、第１および第２方向と異なる第３の方向から見たとき円形である、請求項１〜３のいずれかに記載のアンカーボルト超音波探傷検査装置。
【請求項５】
前記探触子取り付け部を回転可能に保持する探触子回転治具を含み、
前記探触子回転治具は、外周に螺旋状の溝を有する円筒状の回転部と、
前記回転部の外周に沿って下方に移動可能に設けられた円筒状の押し込み部とを含み、
前記押し込み部は、前記回転部の螺旋状の溝に係合可能な係合部を内周に有し、下方向に押されることによって、前記係合部が前記溝に沿って回転しながら下方向に移動し、
それによって、前記探触子が回転し、
前記探触子回転治具は、ばねで軸方向に上側に付勢される、請求項１〜４のいずれかに記載のアンカーボルト超音波探傷検査装置。
【請求項６】
アンカーボルトの腐食部を検査するアンカーボルト超音波探傷検査装置で使用される超音波探触子であって、
前記超音波探触子は、超音波が射出される第１の方向に屈折角を変化する第１の曲率を有し、前記第１の方向に交わる第２の方向において線集束用の第２の曲率を有する、曲面振動子を有する、超音波探触子。
【請求項７】
超音波探触子を用いてアンカーボルトの腐食部を検査するアンカーボルト超音波探傷検査方法であって、
アンカーボルトの頭部に、線集束型の超音波探触子をアンカーボルトの軸心に対して傾斜して取り付けた探触子取り付け部を有する探触子回転治具を取り付け、
探触子回転治具は、アンカーボルトの軸方向に押し込まれたとき、探触子取り付け部をアンカーボルトの軸を中心に回転可能であり、
探触子回転治具をアンカーボルトの軸方向に押し込んで、探触子取り付け部をアンカーボルトの軸を中心に回転させることにより、探触子からの超音波探傷信号を受けて、アンカーボルトの劣化を判定する、アンカーボルトの超音波探傷検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は超音波探触子、アンカーボルトの超音波探傷検査装置およびアンカーボルトの超音波探傷検査方法に関し、特に、アンカーボルトの目に見えない部位のボルトの劣化をコンクリートの埋め込み部を破壊することなく検査できる、超音波探触子、アンカーボルト超音波探傷検査装置およびアンカーボルトの超音波探傷検査方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来のアンカーボルト超音波探傷検査方法が、例えば、特許第６０８８０８８号公報（特許文献１）に記載されている。同公報によれば、アンカーボルト超音波探傷検査装置は、超音波探触子（以下、「探触子」、「垂直探触子」等という場合がある）を用いてアンカーボルト２７の腐食部を検査する。アンカーボルト超音波探傷検査装置は、アンカーボルトの頭部に装着可能であり、円筒状でその頂部に超音波探触子を取り付け可能な傾斜面を有する探触子取り付け部と、探触子取り付け部を回転可能に保持する探触子回転治具と、超音波探触子からの超音波探傷信号の反射エコーを受けて、アンカーボルトの劣化を判定するデジタル超音波探傷器とを含む。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特許第６０８８０８８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
従来のアンカーボルト超音波探傷検査は上記のように行われていた。このような方法でも十分劣化判定は可能であるが、使用する探触子の検査範囲が限られていたため、探傷方向の寸法が大きい場合は、浅い範囲（近距離）と深い範囲（遠距離）とで探触子を交換して点検をする必要がある場合があった。
【０００５】
この発明は上記のような問題に応えるためになされたもので、探傷方向の寸法が大きい場合でも、探触子を交換することなく、ボルトの劣化の検査が可能な超音波探触子、アンカーボルト超音波探傷検査装置およびアンカーボルトの超音波探傷検査方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
この発明に係るアンカーボルト超音波探傷検査装置は、超音波探触子を用いてアンカーボルトの腐食部を検査する。アンカーボルト超音波探傷検査装置は、アンカーボルトの頭部に装着可能であり、円筒状でその頂部に超音波探触子を取り付け可能な傾斜面を有する探触子取り付け部と、探触子からの超音波探傷信号の反射エコーを受けて、アンカーボルトの劣化を判定する劣化判定手段とを含み、超音波探触子は、超音波が射出される第１の方向に屈折角を変化する第１の曲率と、第１の方向に交わる第２の方向において線集束用の第２の曲率とを有する、曲面振動子を有する。
【０００７】
好ましくは、曲面振動子は第１の方向において、第１の屈折角と、第１と異なる第２の屈折角を有する。
【０００８】
さらに好ましくは、曲面振動子は第１の屈折角から第２の屈折角まで滑らかに連続する屈折角を有する。
【０００９】
曲面振動子は、第１および第２方向と異なる第３の方向から見たとき円形であってもよい。
【００１０】
この発明の一実施の形態においては、探触子取り付け部を回転可能に保持する探触子回転治具を含み、探触子回転治具は、外周に螺旋状の溝を有する円筒状の回転部と、回転部の外周に沿って下方に移動可能に設けられた円筒状の押し込み部とを含み、押し込み部は、回転部の螺旋状の溝に係合可能な係合部を内周に有し、下方向に押されることによって、係合部が溝に沿って回転しながら下方向に移動し、それによって、探触子が回転し、探触子回転治具は、ばねで軸方向に上側に付勢される。
【００１１】
この発明の他の曲面においては、アンカーボルトの腐食部を検査するアンカーボルト超音波探傷検査装置で使用される超音波探触子は、超音波が射出される第１の方向に屈折角を変化する第１の曲率を有し、第１の方向に交わる第２の方向において線集束用の第２の曲率を有する、曲面振動子を有する。
【００１２】
この発明のさらに他の曲面においては、超音波探触子を用いてアンカーボルトの腐食部を検査するアンカーボルト超音波探傷検査方法は、アンカーボルトの頭部に、線集束型の超音波探触子をアンカーボルトの軸心に対して傾斜して取り付けた探触子取り付け部を有する探触子回転治具を取り付け、探触子回転治具は、アンカーボルトの軸方向に押し込まれたとき、探触子取り付け部をアンカーボルトの軸を中心に回転可能であり、探触子回転治具をアンカーボルトの軸方向に押し込んで、探触子取り付け部をアンカーボルトの軸を中心に回転させることにより、探触子からの超音波探傷信号を受けて、アンカーボルトの劣化を判定する。
【発明の効果】
【００１３】
この発明によれば、振動子として、超音波入射方向に屈折角を変化させる曲率を有している曲面振動子を使用して、探傷部を探傷するようにしたため、振動子の使用する屈折角を変化させることによって、近距離から遠距離までの広範囲の探傷が可能になる。その結果、深さ方向の寸法が大きい場合でも、探触子を交換することなく、ボルトの劣化の検査が可能なアンカーボルト超音波探傷検査方法および装置を提供できる。
【図面の簡単な説明】
【００１４】
【図１】従来の集束型の探触子を用いて、浅い点検範囲と深い点検範囲を点検する方法を示すための図である。
【図２】アンカーボルト超音波探傷検査装置の全体構成を示す模式図である。
【図３】線集束型の探触子の点検範囲を示す図である。
【図４】この実施の形態に係る曲面振動子を含む探触子の構成を示す図である。
【図５】Ｍ４２のアンカーボルトに対して浅い範囲と深い範囲とを個別に点検した場合の探傷波形を示す図である。
【図６】Ｍ４２のアンカーボルトをこの実施の形態の探触子を用いて点検した場合の探傷波形を示す図である。
【図７】Ｍ３６のアンカーボルトに対して浅い範囲と深い範囲とを個別に点検した場合の探傷波形を示す図である。
【図８】Ｍ３６のアンカーボルトをこの実施の形態の探触子を用いて点検した場合の探傷波形を示す図である。
【図９】この実施の形態に係る回転治具の概要を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１５】
以下、この発明の一実施の形態を、図面を参照して説明する。まず、従来の特許文献１に開示されたようなアンカーボルト超音波探傷検査装置を用いて、アンカーボルト２７の浅い点検範囲（図中点検範囲（浅））と深い点検範囲（図中点検範囲（深））を点検する方法について説明する。図１（Ａ）は、従来の集束型の探触子１６を用いて、浅い点検範囲と深い点検範囲を点検する方法を示すための図である。
【００１６】
この範囲を説明するための図である。図１（Ａ）はアンカーボルト２７の埋込み状態と探触子１６の取付位置を示す図である。
【００１７】
図１（Ａ）を参照して、ここでは、基礎コンクリート３１の上にアンカーボルト２７が埋め込まれている。図１（Ａ）に示すように、基礎コンクリート３１とベースプレート３２の間にレベル調整モルタル３３が施工されている場合がある。当該箇所において腐食によるねじ山欠損が生じることがある。従来の装置では、ベースプレート３２より上の範囲のような浅い範囲Ａと、ベースプレート３２より下の範囲のような深い範囲Ｂを一つの超音波探触子で点検することはできず、それぞれ、探触子を交換する必要があった。このような、従来の、点検範囲としての浅い範囲Ａと深い範囲Ｂとのボルト頭頂部からの距離と、この実施の形態において可能になった、対応する点検範囲を、アンカーボルトのサイズごとに図１（Ｂ）に示す。
【００１８】
ここで、図１（Ｂ）はアンカーボルト２７のサイズごとに、点検範囲（ボルト頭頂部からの距離（ｍｍ））を示す図であり、図１（Ｂ）に示すように、ここでは、Ｍ３０以上のアンカーボルト２７において、従来は、点検したい範囲に応じて、使用する探触子を選択していた。すなわち、例えば、Ｍ３０のボルトであれば、ボルト頭頂部より１１０ｍｍまでの範囲と、それ以上の範囲で探触子を交換して点検を行い、Ｍ３３〜Ｍ４２では、それぞれ図１（Ｂ）に示す、浅い範囲と深い範囲とで探触子を交換して点検を行っていたが、この実施の形態では、これらのサイズにおいて、屈折率の変化する曲面振動子を有する超音波探触子１６で点検が可能になる。
【００１９】
すなわち、この実施の形態では、従来必要であった浅い範囲Ａと深い範囲Ｂとを、１つの探触子１６で点検することが可能になった。
【００２０】
次に、この実施の形態に係るアンカーボルト超音波探傷検査装置１０の構成について説明する。図２は、この実施の形態に係るアンカーボルト超音波探傷検査装置１０の構成を示す概略図である。図２を参照して、アンカーボルト超音波探傷検査装置１０の構成は、基本的に、特許文献１に開示された検査装置の構成と同じであり、使用される探触子の構成が異なる。図２を参照して、この実施の形態に係るアンカーボルト超音波探傷検査装置１０は、探触子１６として、広範囲点検用の探触子を使用する。
【００２１】
この探触子１６に角度ウェッジ１７を取り付け、超音波を斜めに入射させる。この状態で、探触子１６、および、探触子回転冶具１１を使用し、アンカーボルト２７を円周方向に１周探傷する。
【００２２】
探触子回転冶具１１は、垂直探触子１６を回転させるための押し込み部１２ａと回転部１２ｂとから成る回転機構１２と、回転機構１２の下端部に固定され、円形の上端部を有する円筒状であって、内部に垂直探触子１６を収容する垂直探触子収容部１３と、アンカーボルト２７のヘッドに装着され、垂直探触子収容部１３を軸方向に案内するガイド部１４とを含む。
【００２３】
垂直探触子収容部１３は、上端部１３ａと、上端部１３ａから下方向に延び、内部に垂直探触子１６を収容する円筒部１３ｂと、円筒部１３ｂの下端部の外周に設けられた外周リング１３ｃとを含む。
【００２４】
ガイド部１４は、中央に円筒部１３ｂを貫通させる貫通孔を有する上端部１４ａと、上端部１４ａから下方向に延び、アンカーボルトの頭部を外から囲む円筒部１４ｂとを含み、円筒部１４ｂの内周面が垂直探触子収容部１３の外周リング１３ｃを案内する。
【００２５】
垂直探触子１６に接続され、そこからのデータを解析するデジタル超音波探傷器２０は、アンカーボルト腐食調査アプリケーションソフトウェア２１を搭載しており、探傷条件設定、探傷結果表示などが可能である。
【００２６】
垂直探触子１６に接続され、そこからのデータを解析するデジタル超音波探傷器２０は、アンカーボルト腐食調査アプリケーションソフトウェア２１を搭載しており、探傷条件の設定や探傷結果の表示などが可能なのは、特許文献１と同様である。
【００２７】
また、垂直探触子１６を角度ウェッジ１７の上端面に固定した。ここで、角度ウェッジ１７は、上端に所定の角度傾斜した傾斜面を有する円筒状であり、アンカーボルト２７の上端部に取り付け可能な形状である。ここで、傾斜角度は、検査対象部位を一度に広範囲に探傷するのに最適な角度を選定する。なお、最適な角度はアンカーボルトの径によりねじ山のピッチ形状や寸法等が変わるため、角度ウェッジ１７としては、予め、複数準備しておき、必要に応じて取替え可能である。
【００２８】
また、従来は、上記したように、アンカーボルトのサイズごとに、浅い範囲Ａと深い範囲Ｂ用の２種類が必要であった。
【００２９】
次に、この実施の形態で使用される探触子について説明する。図３は、本発明の一実施の形態に係る線集束型探触子を用いた場合の超音波ビームの音圧のレベル差を説明するための図である。
【００３０】
図３（Ａ）は、本発明の一実施の形態に係る線集束型探触子を用いた場合の超音波ビームの拡がりを示す図であり、図３（Ｂ）は、図３（Ａ）において、矢印ＩＩＩＢ−ＩＩＩＢで示す部分の矢視図であり、超音波ビームの届く範囲を示す図であり、図３（Ｃ）は、図３（Ｂ）において示した、矢印ＩＩＩＢ−ＩＩＩＢで示す部分の超音波ビームの届く範囲における、対応する位置での音圧を示す図である。図３（Ｃ）において、Ｘ軸は音圧であり、右方向が高く、Ｙ軸はアンカーボルトの深さを示す。なお、対応する範囲を点線で示している。
【００３１】
この実施の形態においては、線集束型探触子１６を用いているため、図３（Ｂ）に示すように、アンカーボルト２７の上部から所定の位置で超音波の集束点ｃがあり、探傷する範囲はこの位置より下部の深さｄ〜ｅの範囲になり、その音圧レベルはｄ１〜ｅ１の範囲になる。
【００３２】
図に示すように、探傷する範囲は深さｄ〜ｅであり、その位置は従来の特許文献１に示した位置よりも深い位置になる。これが可能になるのは、線集束型探触子１６を用いているため、集束点ｃにおいて、従来の場合より高い音圧が得られ、従来の音圧レベルと同様のレベルを、図３（Ｃ）に示すように、ｄ１〜ｅ１の深い範囲で得られるためである。
【００３３】
次に、この実施の形態に係る探傷装置の探触子の詳細について説明する。この実施の形態においては、より深い箇所を点検するために、周波数５MHz の線集束型探触子１６を使用している。線集束型探触子は、通常、超音波の伝搬方向に対して、振動子を直交する方向に湾曲させてビームを集束して用いるが、この実施の形態では、超音波の伝搬方向（図中ｆで示す）に対して、振動子を平行方向に湾曲させることにより（図に示すように湾曲により音波の方向がｆに一致するように集束される、アンカーボルト深部まで音圧の高い超音波ビームを入射することを可能にした。さらに、振動子の直径の寸法を従来の６．４ｍｍから２０ｍｍ以上に大きくすることにより、その点検範囲を拡大させた。
【００３４】
線集束型探触子は、本来、探傷したい箇所に超音波ビームを集束させ検出能（S/N 比）を向上させる目的で使用されるが、今回は、図３で説明したように、線集束型探触子の集束ポイントよりも深い位置のビームを利用し、アンカーボルトのレベル調整モルタルの施工部位にあたる範囲を点検する。
【００３５】
また、集束させる超音波ビームの方向をアンカーボルト軸方向と直交する方向とし、集束ポイント以深に高い音圧の超音波ビームを当てるようにした。
【００３６】
次に、具体的な探触子の形状について説明する。図４は、この実施の形態に係る探触子１６の具体的構成を示す図である。図４（Ａ）は探触子１６を構成する曲面振動子１８の平面図であり、図４（Ｂ）は図４（Ａ）において、矢印ＩＶＢ−ＩＶＢで示す部分の曲面振動子１８の断面図を含む、具体的寸法を示す立面図であり、図４（Ｃ）は図４（Ａ）において、矢印ＩＶＣ−ＩＶＣで示す部分の断面図であり、図４（Ｄ）は曲面振動子１８の屈折角を示す図である。
【００３７】
この発明に係る超音波探触子は、超音波が射出される第１の方向に屈折角を変化する第１の曲率を有する、曲面振動子を有する。
【００３８】
従来の振動子は、特定の屈折角を有する平面状であったが、この実施の形態では、図４（Ａ）〜図４（Ｃ）に示すように、振動子は曲面を有する曲面振動子１８である。曲面振動子１８は上に凸状の円形であり、超音波の入射方向（探傷方向）である第１の方向に屈折角を変化する中心１９を中心とする曲率Ｒ１を有し、第１と直交する第２の方向に線集束用の曲率Ｒ２を有する。
【００３９】
図４（Ｂ）に示すように、この例では、曲面振動子１８の曲率Ｒ１＝３６５ｍｍとし、その曲率中心から距離ｃ＝１２ｍｍ離れた位置からｄ＝２０ｍｍとしたため、図において角度ｅ＝３．４度となり、図５（Ｄ）に示すように、曲面振動子１８は探傷方向において、４度〜１１度まで変化した屈折角を得ることができる。１１度は浅い領域を探知するための角度であり、４度は深い領域を探知するための角度である。
【００４０】
この実施の形態では、屈折角として、４度〜１１度まで変化する例を示しているが、これに限らず、所望の角度範囲としてもよい。
【００４１】
次に、具体的な探触子によって得られる探傷波形について説明する。図５は、Ｍ４２のアンカーボルトにおいて、従来の超音波探触子で得られた浅い範囲の探傷波形（Ａ）（点検範囲７０ｍｍ〜１５０ｍｍ）と、深い範囲の探傷波形（Ｂ）（点検範囲１００ｍｍ〜２５０ｍｍ）を示す図であり、図６は、この実施の形態において得られた、浅い範囲から深い範囲までの探傷波形（点検範囲７０ｍｍ〜２５０ｍｍ）とを示す図である。図中、Ｘ軸はアンカーボルトの深さ方向の距離であり、Ｙ軸は得られたエコーの振幅である。図５（Ａ）および（Ｂ）と図６とを比較して、図６の探傷波形は、図５（Ａ）および図５（Ｂ）の両方の範囲をカバーしていることがわかる。
【００４２】
次に他の例について説明する。図７は、Ｍ３６のアンカーボルトにおいて、従来の超音波探触子で得られた浅い範囲の探傷波形（Ａ）（点検範囲６０ｍｍ〜１３０ｍｍ）と、深い範囲の探傷波形（Ｂ）（点検範囲１００ｍｍ〜２１０ｍｍ）を示す図であり、図８は、この実施の形態において得られた、浅い範囲から深い範囲までの探傷波形（点検範囲６０ｍｍ〜２１０ｍｍ）とを示す図である。図中、Ｘ軸はアンカーボルトの深さ方向の距離であり、Ｙ軸は得られたエコーの振幅である。図７（Ａ）および（Ｂ）と図８とを比較して、図８の探傷波形は、図７（Ａ）および図７（Ｂ）の両方の範囲をカバーしていることがわかる。
【００４３】
以上から、この実施の形態においては、従来においては必要であった、浅い範囲用と深い範囲用の探触子の切り替えを行うことなく、１つの探触子で浅い範囲から深い範囲までの点検が可能になる。
【００４４】
次にこの実施の形態における回転治具について説明する。特許文献１のシステムでは、回転冶具の押込部を手動で押込み、押込部の動きに合わせて、回転冶具内部の円筒カムが１周する構造で、円筒カムと連動して探触子が１周し、このときに探傷データを取得した。点検時の課題として、手動で押し込む際に回転冶具がぶれて安定した探傷データが取得できない場合があった。そこで、この実施の形態では、データ取得時には回転冶具に手を触れない構造に改良した。
【００４５】
図９は、点検冶具の押込部の構成を示す図である。図９（Ａ）を参照して、アンカーボルト２７に取り付けられた回転治具１１は、押込部１２ａと、治具１１に取り付けられたバネ４１と、エアーダンパー４３と、超音波探触子ケーブル４４と、ボルト締付部部品（固定冶具）４６と、エア調整ノズル４７と、円筒カム４８と、を含み、アンカーボルト２７はナット４５でベースプレート３２に固定される。ここで、押込部１２ａを押すと、探触子１６が１周回転する。
【００４６】
この実施の形態においては、回転冶具１１内部にバネ４１を施し、押込部１２ａによりバネ４１を押込み、手を離したときにバネ４１が戻る力で押込部１２ａが上昇し内部の円筒カム４８が１周する構造とし、押込部１２ａが上昇する際に探傷データを取得する方法に変更した。また、本システムは、探触子１６が１周するときに探傷データを取得した後、取得した探傷データを０〜３６０度の展開図として表示するために、システム内で次の処理を行う。
【００４７】
取得した１周分の探傷データの個数を探触子が１周するのにかかった時間で除す。このため押込みが一定の速度で戻る必要がある。そこで、回転冶具１１にエアーダンパー４３を内蔵し、バネ４１の力で押込部１２ａが戻るときも一定の速度となるよう調整を行った。
以上より、探傷データ取得時に回転冶具に手を触れることがなくなり（余計な力が加わることがなくなり）、安定したデータ取得が可能となった。また、異なる点検員が操作しても一定の速度で探触子が１周することにより、点検員によるデータ取得のばらつきもなくなった。
【００４８】
図面を参照してこの発明の実施形態を説明したが、本発明は、図示した実施形態に限定されるものではない。本発明と同一の範囲内において、または均等の範囲内において、図示した実施形態に対して種々の変更を加えることが可能である。
【産業上の利用可能性】
【００４９】
この発明によれば、振動子を異なる屈折角を有するように曲面として探傷部を探傷するようにしたため、振動子の使用する屈折角を変化させることによって、深さ方向の寸法が大きい場合でも、探触子を交換することなく、ボルトの劣化の検査が可能なアンカーボルト超音波探傷検査方法および装置を提供できるため、アンカーボルト超音波探傷検査装置として有利に利用される。
【符号の説明】
【００５０】
１０  アンカーボルト検査装置、１１  探触子回転冶具、１２  回転機構、１２ａ  押し込み部、１２ｂ  回転部、１３  垂直探触子収容部、１３ａ  上端部、１３ｂ  円筒部、１３ｃ  外周リング、１４  ガイド部、１５  検査部、１６  垂直探触子、１７  角度ウェッジ、１８  曲面振動子、１９  中心、２０  デジタル超音波探傷器、２１  アンカーボルト腐食調査アプリケーションソフトウェア、２５  コンクリート、２６  ベースプレート、２７  アンカーボルト。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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