(57)【要約】【課題】検査対象部位における出力信号を正確に計測可能な検査データ出力装置、表示システムおよび検査データ出力方法を提供すること。【解決手段】実施形態に係る検査データ出力装置は、入力部と、生成部と、出力部とを備える。入力部は、回路基板における検査対象部位の情報が入力される。生成部は、回路基板上の信号経路であり、かつ検査対象部位の出力信号を検出可能な信号経路である出力信号経路を、他の信号経路よりも強調する強調データを生成する。出力部は、強調データを表示装置に出力する。【選択図】図１
2020165713.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
回路基板における検査対象部位の情報が入力される入力部と、
前記回路基板上の信号経路であり、かつ前記検査対象部位の出力信号を検出可能な信号経路である出力信号経路を、他の信号経路よりも強調する強調データを生成する生成部と、
前記強調データを表示装置に出力する出力部と
を備えることを特徴とする検査データ出力装置。
【請求項２】
前記生成部は、前記回路基板のモデルにおける前記出力信号経路を強調する強調データを生成する
ことを特徴とする請求項１に記載の検査データ出力装置。
【請求項３】
前記生成部は、前記回路基板に投影され、かつ前記出力信号経路を強調する画像のデータを強調データとして生成する
ことを特徴とする請求項１または２に記載の検査データ出力装置。
【請求項４】
前記生成部は、前記回路基板が撮影された画像に、前記出力信号経路を強調する画像が重畳された拡張現実における画像のデータを強調データとして生成する
ことを特徴とする請求項１〜３のいずれか一つに記載の検査データ出力装置。
【請求項５】
前記生成部は、前記回路基板、および前記出力信号経路を含み前記出力信号経路が強調された仮想現実における画像のデータを強調データとして生成する
ことを特徴とする請求項１〜４のいずれか一つに記載の検査データ出力装置。
【請求項６】
前記生成部は、前記回路基板の信号経路のうち、前記出力信号経路のみを表示させる強調データを生成する
ことを特徴とする請求項１〜５のいずれか一つに記載の検査データ出力装置。
【請求項７】
前記生成部は、多層構造の前記回路基板に対し、層毎に前記出力信号経路の種類が異なる強調データを生成する
ことを特徴とする請求項１〜６のいずれか一つに記載の検査データ出力装置。
【請求項８】
前記生成部は、両面に前記信号経路が形成された前記回路基板に対し、面毎に前記出力信号経路の種類が異なる強調データを生成する
ことを特徴とする請求項１〜６のいずれか一つに記載の検査データ出力装置。
【請求項９】
請求項１〜８のいずれか一つに記載の検査データ出力装置と、
前記強調データに基づいた前記回路基板の画像を表示する前記表示装置と
を備えることを特徴とする表示システム。
【請求項１０】
回路基板における検査対象部位の情報が入力される入力工程と、
前記回路基板上の信号経路であり、かつ前記検査対象部位の出力信号を検出可能な信号経路である出力信号経路を、他の信号経路よりも強調する強調データを生成する生成工程と、
前記強調データを表示装置に出力する出力工程と
を有することを特徴とする検査データ出力方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、検査データ出力装置、表示システムおよび検査データ出力方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、ディスプレイ装置に表示された回路基板の配線図上の部品が選択された場合に、選択された部品、および選択された部品から延びる配線を配線図上で強調表示する表示装置が知られている（例えば、特許文献１参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００９−２１７７７９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
上記表示装置では、回路基板において検査対象部位の出力信号を検査する場合には、配線図と、実際の回路基板とを比較しながら、検査対象部位をプロービングし、検査作業が行われる。
【０００５】
しかしながら、配線図と、実際の回路基板とは、形状や、信号経路が一致しておらず、作業者は、強調表示された配線図に対し、実際の回路基板における検査対象部位の位置を見誤るおそれがある。すなわち、検査対象部位における出力信号を正確に計測することができないおそれがある。
【０００６】
本発明は、上記に鑑みてなされたものであって、検査対象部位における出力信号を正確に計測可能な検査データ出力装置、表示システムおよび検査データ出力方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
実施形態の一態様に係る検査データ出力装置は、入力部と、生成部と、出力部とを備える。入力部は、回路基板における検査対象部位の情報が入力される。生成部は、回路基板上の信号経路であり、かつ検査対象部位の出力信号を検出可能な信号経路である出力信号経路を、他の信号経路よりも強調する強調データを生成する。出力部は、強調データを表示装置に出力する。
【発明の効果】
【０００８】
実施形態の一態様によれば、検査対象部位における出力信号を正確に計測することができる。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】図１は、第１実施形態に係る検査データ出力方法の概要を示す図である。
【図２】図２は、第１実施形態に係る表示システムの概略構成を示すブロック図である。
【図３Ａ】図３Ａは、実際の回路基板を示す図である。
【図３Ｂ】図３Ｂは、検査対象部位の出力信号経路が強調された回路基板の画像を示す図である。
【図４】図４は、第１実施形態に係る強調処理を説明するフローチャートである。
【図５】図５は、第３実施形態に係る表示システムの概略構成を示すブロック図である。
【図６】図６は、第３実施形態に係る強調処理を説明するフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
以下、添付図面を参照して、実施形態に係る検査データ出力装置、表示システムおよび検査データ出力方法について詳細に説明する。なお、本実施形態によりこの発明が限定されるものではない。
【００１１】
（第１実施形態）
ＥＣＵ（Electronic  Control  Unit）などの回路基板では、例えば、電子部品の出力信号が正常に出力されているか否かの検査が行われる。このような検査は、検査対象部位をプロービングすることで実施される。
【００１２】
一般的に、検査対象部位の出力信号の検査では、作業者は、基板の回路図や、電子部品の配置図や、割付表に基づいて、検査対象部位を特定する。そして、作業者は、特定した部位をプロービングすることで、検査対象部位における出力信号を計測している。
【００１３】
例えば、多数のピンを有する電子部品の或るピンにおける出力信号を計測する場合には、作業者は、多数のピンの中から検査対象部位となるピンを特定しなければならず、検査対象部位のピンの位置を間違うおそれがある。
【００１４】
また、回路基板が、ＢＧＡ（Ball  Grid  Array）である場合には、電子部品のピンを直接プロービングすることができない。この場合、検査対象部位と電気的に接続される回路である信号経路（配線パターン）をプロービングすることで検査対象部位の出力信号が計測される。
【００１５】
しかし、この場合、作業者は、検査対象部位と電気的に接続され、かつプロービング可能な検査対象部位の信号経路を、基板の回路図や、電子部品の配置図などに基づいて特定しなければならない。そのため、作業者が検査対象部位の信号経路を間違うおそれがある。また、多数の電子部品が設けられた回路基板や、多数の信号経路が形成された回路基板でも、同様に、作業者が検査対象部位の信号経路を間違うおそれがある。
【００１６】
すなわち、従来の方法では、検査対象部位の出力信号の計測作業が煩雑となり、検査対象部位の出力信号を正確に計測できないおそれがある。
【００１７】
ここで、図１を用いて第１実施形態に係る検査データ出力方法の概要について説明する。図１は、第１実施形態に係る検査データ出力方法の概要を示す図である。第１実施形態に係る検査データ出力方法は、検査データ出力装置４によって実行される。
【００１８】
検査データ出力装置４は、検査対象部位が入力されると（Ｓ１）、強調データを生成する（Ｓ２）。
【００１９】
強調データは、回路基板５０上の信号経路であり、かつ検査対象部位の出力信号を検出可能な信号経路である出力信号経路Ｒを、他の信号経路よりも強調するデータである。なお、強調データによって強調される出力信号経路Ｒは、回路基板５０のレイアウト図上の信号経路や、回路基板５０のＣＡＤデータ上の信号経路や、実際の回路基板５０の信号経路である。すなわち、強調データによって強調される出力信号経路Ｒは、実際の回路基板５０の信号経路と位置、形状とが略一致する信号経路である。換言すると、上記する「回路基板５０上の信号経路」とは、実際の回路基板５０の信号経路と位置、形状とが略一致する信号経路を意味する。
【００２０】
検査データ出力装置４は、回路基板５０のＣＡＤ（Computer-aided  Design）データ、回路基板５０の回路図、電子部品の配置図、コネクタの割付表などに基づいて回路基板５０のモデルを生成する。検査データ出力装置４は、回路基板５０のＣＡＤデータの各パーツに対し、信号経路や、電子部品や、コネクタの情報を紐付けし、ＣＡＤデータの各パーツにおける電気的な接続情報を有する回路基板５０のモデルを生成する。
【００２１】
具体的には、検査データ出力装置４は、回路基板５０の３Ｄモデルを生成する。なお、検査データ出力装置４は、回路基板５０の２Ｄモデルを生成してもよい。
【００２２】
そして、検査データ出力装置４は、回路基板５０の３Ｄモデルに対し、出力信号経路Ｒが強調された強調データを生成する。
【００２３】
具体的には、検査データ出力装置４は、回路基板５０の３Ｄモデルにおいて、回路基板５０の電子部品、および出力信号経路Ｒが表示され、他の信号経路が表示されない強調データを生成する。
【００２４】
なお、検査データ出力装置４は、回路基板５０の３Ｄモデルにおいて、出力信号経路Ｒの種類と、他の信号経路の種類とが異なる強調データを生成してもよい。例えば、検査データ出力装置４は、出力信号経路Ｒ、および他の信号経路において、線種や、色や、太さが異なる強調データを生成してもよい。
【００２５】
検査データ出力装置４は、生成した強調データを表示装置３に出力する（Ｓ３）。これにより、表示装置３には、回路基板５０の３Ｄモデルにおいて検査対象部位の出力信号経路Ｒが強調された画像Ｉｍが表示される。
【００２６】
そのため、作業者は、表示装置３に表示された回路基板５０の３Ｄモデルにおいて強調された検査対象部位の出力信号経路Ｒに基づいて、実際の回路基板５０の出力信号を検査すればよく、検査対象部位の出力信号を検出可能な部位を容易に特定することができる。従って、作業者は、計測作業を容易に行うことができ、検査対象部位の出力信号を正確に計測することができる。
【００２７】
次に、第１実施形態に係る表示システム１について図２を参照し説明する。図２は、第１実施形態に係る表示システム１の概略構成を示すブロック図である。
【００２８】
表示システム１は、入力装置２と、表示装置３と、検査データ出力装置４とを備える。なお、入力装置２、表示装置３、および検査データ出力装置４は、複数の装置によって構成されてもよい。また、入力装置２、表示装置３、および検査データ出力装置４は、一体の装置として構成されてもよい。例えば、入力装置２と、表示装置３とが一体的に構成されてもよい。
【００２９】
入力装置２は、回路基板５０の品番や、検査対象部位が入力される装置である。入力装置２は、例えば、キーボードや、マウスや、音声入力装置や、タッチパネルである。入力装置２は、画像認識装置であってもよい。
【００３０】
表示装置３は、例えば、ディスプレイや、タブレット端末や、スマートフォンや、ＰＤＡ（Personal  Digital  Assistant）や、ヘッドマウントデバイスである。表示装置３は、検査データ出力装置４から出力される強調データに基づいて検査対象部位の出力信号経路Ｒが強調された回路基板５０の画像Ｉｍを表示する。
【００３１】
検査データ出力装置４は、記憶部１０と、制御部１１とを備える。検査データ出力装置４は、強調データを生成し、生成した強調データを表示装置３に表示させる。検査データ出力装置４は、例えば、ＰＣ（Personal  Computer）や、タブレット端末や、ＰＤＡである。なお、検査データ出力装置４は、クラウドサーバであってもよい。
【００３２】
記憶部１０は、ＲＡＭ（Random  Access  Memory）、フラッシュメモリ（Flash  Memory）等の半導体メモリ素子、または、ハードディスク、光ディスク等の記憶装置によって実現される。
【００３３】
記憶部１０には、回路基板５０のＣＡＤデータや、回路基板５０の回路図や、回路基板５０の電子部品、例えば、ＣＰＵ（Central  Processing  Unit）や、抵抗や、ＩＣ（Integrated  Circuit）の配置図や、コネクタの割付表が記憶される。回路図などは、回路基板５０の品番毎に紐付けられて記憶されている。また、記憶部１０には、生成された回路基板５０の３Ｄモデルが記憶される。
【００３４】
制御部１１は、コントローラ（controller）であり、たとえば、ＣＰＵやＭＰＵ（Micro  Processing  Unit）等によって、記憶部１０内部の記憶デバイスに記憶されている各種プログラムがＲＡＭを作業領域として実行されることにより実現される。
【００３５】
また、制御部１１は、たとえば、ＡＳＩＣ（Application  Specific  Integrated  Circuit）やＦＰＧＡ（Field  Programmable  Gate  Array）等の集積回路により実現することができる。
【００３６】
制御部１１は、入力部２０と、強調データ生成部２１（生成部）と、検査信号生成部２２と、出力部２３とを備える。なお、入力部２０、強調データ生成部２１、検査信号生成部２２、および出力部２３は、統合されてもよく、複数に分割されてもよい。また、ここでは、検査信号生成部２２を備える制御部１１について説明するが、制御部１１は、検査信号生成部２２を備えなくてもよい。
【００３７】
入力部２０には、回路基板５０の品番や、検査対象部位などの情報が入力装置２から入力される。なお、入力部２０には、回路基板５０の回路図や、回路基板５０の電子部品などの情報が入力される。回路基板５０の回路図などの情報は、ネットワークを介して他の外部装置から入力されてもよい。
【００３８】
強調データ生成部２１は、入力された回路基板５０の品番や、検査対象部位の情報に基づいて、回路基板５０の強調データを生成する。強調データ生成部２１は、回路基板５０の３Ｄモデルを生成し、生成した３Ｄモデルにおいて検査対象部位の出力信号経路Ｒを他の信号経路よりも強調した強調データを生成する。
【００３９】
具体的には、強調データ生成部２１は、回路基板５０のＣＡＤデータや、回路基板５０の回路図や、電子部品の配置図などの情報に基づいて、回路基板５０の３Ｄモデルを所定のタイミングで生成する。所定のタイミングは、例えば、回路基板５０のＣＡＤデータや、回路基板５０の回路図や、電子部品の配置図などの情報が入力されたタイミングである。
【００４０】
すなわち、強調データ生成部２１は、検査対象部位の情報が入力される前に、回路基板５０の３Ｄモデルを生成する。生成された３Ｄモデルは、回路基板５０の品番に紐付けられて記憶部１０に記憶される。これにより、検査対象部位が入力された場合に、強調データを短い時間で生成することができる。
【００４１】
また、強調データ生成部２１は、回路基板５０の品番や、検査対象部位の情報が入力されたタイミングで、回路基板５０の３Ｄモデルを生成してもよい。例えば、強調データ生成部２１は、或る品番の回路基板５０に対し、検査対象部位が初めて入力された場合に、３Ｄモデルを生成してもよい。
【００４２】
なお、強調データ生成部２１は、回路基板５０の品番や、検査対象部位の情報が入力される度に、回路基板５０の３Ｄモデルを生成してもよい。これにより、記憶部１０に記憶されるデータ容量を少なくすることができる。
【００４３】
そして、強調データ生成部２１は、回路基板５０の３Ｄモデルに対して検査対象部位の出力信号経路Ｒを強調する強調データを生成する。具体的には、強調データ生成部２１は、検査対象部位の出力信号経路Ｒのみが表示される強調データを生成する。
【００４４】
なお、強調データ生成部２１は、信号経路が両面に形成された回路基板５０に対しては、面毎に出力信号経路Ｒの種類が異なる強調データを生成する。例えば、強調データ生成部２１は、表面側の検査対象部位の出力信号経路Ｒが実線で表示され、裏面側の検査対象部位の出力信号経路Ｒが破線で表示される強調データを生成する。強調データ生成部２１は、裏面側の電子部品、または裏面側の電子部品のうち出力信号経路Ｒに関連する電子部品を破線で表示される強調データを生成してもよい。
【００４５】
表面とは、表示装置３に表示されている面であり、裏面とは、表示装置３に表示されている回路基板５０の面に対し、裏側に位置する回路基板５０の面である。
【００４６】
検査信号生成部２２は、検査対象部位に対する検査信号を生成する。検査信号生成部２２は、検査対象部位に応じた波形の検査信号を生成する。
【００４７】
出力部２３は、強調データ生成部２１によって生成された強調データを表示装置３に出力する。これにより、強調データの画像Ｉｍが表示装置３に表示される。
【００４８】
また、出力部２３は、検査信号生成部２２によって生成された検査信号を回路基板５０に出力する。
【００４９】
ここで、表示装置３に表示される回路基板５０の画像Ｉｍについて図３Ａ、および図３Ｂを参照し説明する。図３Ａは、実際の回路基板５０を示す図である。図３Ｂは、検査対象部位の出力信号経路Ｒが強調された回路基板５０の画像Ｉｍを示す図である。図３Ｂでは、回路基板５０のみを示す。なお、ここでは、両面に信号経路が形成された回路基板５０を用いて説明する。
【００５０】
回路基板５０には、ＣＰＵ５１や、ＩＣ５２や、抵抗５３や、コンデンサ５４などの電子部品が、信号経路Ｒ１によって電気的に接続されている。なお、図３Ａでは、一部の電子部品や、信号経路に符号を付している。
【００５１】
検査対象部位の出力信号経路Ｒが強調された回路基板５０の画像Ｉｍでは、回路基板５０の電子部品、および検査対象部位の出力信号経路Ｒのみが表示される。具体的には、表面側の電子部品、および検査対象部位の出力信号経路Ｒが実線で表示される。また、例えば、裏面側の電子部品のうち、検査対象部位の出力信号経路Ｒに関係する電子部品、および裏面側の検査対象部位の出力信号経路Ｒが、破線で表示される。
【００５２】
このように、検査対象部位の出力信号経路Ｒが強調された回路基板５０の画像Ｉｍでは、回路基板５０の３Ｄモデルに表示される信号経路が出力信号経路Ｒのみとなり、出力信号経路Ｒの特定が容易となる。
【００５３】
次に、第１実施形態の係る強調処理について図４を参照し説明する。図４は、第１実施形態に係る強調処理を説明するフローチャートである。
【００５４】
表示システム１では、入力装置２を介して回路基板５０の品番、および検査対象部位が入力されると（Ｓ１００）、検査データ出力装置４によって強調データが生成される（Ｓ１０１）。
【００５５】
表示システム１では、検査データ出力装置４によって生成された強調データが表示装置３に出力される（Ｓ１０２）。そして、表示システム１は、検査対象部位の出力信号経路Ｒが強調された回路基板５０の画像Ｉｍを表示装置３によって表示する（Ｓ１０３）。
【００５６】
検査データ出力装置４は、検査対象部位の出力信号経路Ｒを、他の信号経路よりも強調する強調データを生成し、生成した強調データを表示装置３に出力する。具体的には、検査データ出力装置４は、表示装置３に表示される回路基板５０の３Ｄモデルにおいて検査対象部位の出力信号経路Ｒが強調される強調データを生成し、生成した強調データを表示装置３に出力する。
【００５７】
これにより、作業者は、表示装置３に表示された回路基板５０の３Ｄモデルにおいて強調表示された検査対象部位の出力信号経路Ｒに基づいて、実際の回路基板５０の出力信号を検査すればよい。そのため、作業者は、検査対象部位の出力信号を検出可能な部位を容易に特定することができる。従って、作業者は、計測作業を容易に行うことができ、検査対象部位の出力信号を正確に計測することができる。
【００５８】
また、検査データ出力装置４は、表示装置３に表示された回路基板５０の３Ｄモデルにおいて、回路基板５０の信号経路のうち、検査対象部位の出力信号経路Ｒのみを表示させる強調データを生成する。
【００５９】
これにより、作業者は、検査対象部位の出力信号を検出可能な部位を容易に特定することができる。そのため、作業者は、計測作業を容易に行うことができ、検査対象部位の出力信号を正確に計測することができる。
【００６０】
また、検査データ出力装置４は、両面に信号経路（配線パターン）が形成された回路基板５０に対し、面毎に出力信号経路Ｒの種類が異なる強調データを生成する。
【００６１】
これにより、両面に信号経路が形成された回路基板５０においても、作業者は、検査対象部位の出力信号を検出可能な部位を容易に特定することができる。
【００６２】
（第２実施形態）
第２実施形態に係る表示システム１について説明する。ここでは、第１実施形態に係る表示システム１と異なる箇所を中心に説明し、第１実施形態に係る表示システム１と同様の構成、および処理についての説明は省略する。
【００６３】
第２実施形態に係る表示システム１では、プロジェクションマッピングを用いて実際の回路基板５０に強調データに基づいた画像Ｉｍを投影する。
【００６４】
検査データ出力装置４の強調データ生成部２１は、回路基板５０のＣＡＤデータや、回路基板５０の回路図や、電子部品の配置図や、載置台の所定位置の情報に基づいて、強調データを生成する。強調データは、検査対象部位の出力信号経路Ｒを強調する画像あり、回路基板５０に投影される画像のデータである。
【００６５】
出力部２３は、強調データ生成部２１によって生成された強調データを表示装置３に出力する。
【００６６】
表示装置３は、プロジェクタである。表示装置３は、載置台に載置された回路基板５０に対して強調データに基づいて、検査対象部位の出力信号経路Ｒの画像Ｉｍを投影する。具体的には、表示装置３は、実際の回路基板５０の検査対象部位の出力信号経路Ｒに、強調データに基づく検査対象部位の出力信号経路Ｒの画像Ｉｍを重ねて投影する。
【００６７】
このように、検査データ出力装置４は、実際の回路基板５０に対し、検査対象部位の出力信号経路Ｒが強調される画像Ｉｍが投影される強調データを生成する。
【００６８】
これにより、作業者は、実際の回路基板５０に投影された画像Ｉｍに基づいて検査対象部位の出力信号を検出可能な部位を容易に特定することができる。そのため、作業者は、計測作業を容易に行うことができ、検査対象部位の出力信号を正確に計測することができる。
【００６９】
（第３実施形態）
第３実施形態に係る表示システム１について図５を参照し説明する。ここでは、第１実施形態に係る表示システム１と異なる箇所を中心に説明し、第１実施形態に係る表示システム１と同様の構成、および処理についての説明は省略する。図５は、第３実施形態に係る表示システム１の概略構成を示すブロック図である。
【００７０】
第３実施形態に係る表示システム１は、検査対象部位の出力信号経路Ｒが強調された拡張現実における画像Ｉｍを表示装置３に表示する。
【００７１】
表示システム１は、入力装置２と、表示装置３と、撮像装置５と、検査データ出力装置４とを備える。
【００７２】
撮像装置５は、ＣＣＤ（Charge  Coupled  Device）やＣＭＯＳ（Complementary  Metal  Oxide  Semiconductor）などの撮像素子を有するカメラである。例えば、撮像装置５は、タブレット端末や、スマートフォンに搭載されたカメラである。撮像装置５は、表示装置３と一体に構成されてもよい。撮像装置５は、回路基板５０を撮影する。撮像装置５によって取得された回路基板５０のデータは、入力部２０に入力される。
【００７３】
検査データ出力装置４の強調データ生成部２１は、回路基板５０のＣＡＤデータや、回路基板５０の回路図や、電子部品の配置図や、検査対７９象部位の情報に基づいて、回路基板５０に対し、検査対象部位の出力信号経路Ｒを強調する画像のデータを生成する。そして、強調データ生成部２１は、回路基板５０が撮影された画像に、検査対象部位の出力信号経路Ｒを強調する画像を重畳した拡張現実における画像Ｉｍのデータを強調データとして生成する。
【００７４】
出力部２３は、強調データ生成部２１によって生成された強調データを表示装置３に出力する。これにより、表示システム１は、回路基板５０の画像に、検査対象部位の出力信号経路Ｒが強調された画像が重畳された画像Ｉｍを表示装置３に表示させる。
【００７５】
次に、第３実施形態の係る強調処理について図６を参照し説明する。図６は、第３実施形態に係る強調処理を説明するフローチャートである。
【００７６】
表示システム１では、入力装置２を介して回路基板５０の品番、および検査対象部位が入力され（Ｓ２００）、撮像装置５によって回路基板５０が撮影されると（Ｓ２０１）、検査データ出力装置４によって強調データが生成される（Ｓ２０２）。
【００７７】
表示システム１では、検査データ出力装置４によって生成された強調データが表示装置３に出力される（Ｓ２０３）。そして、表示システム１では、検査対象部位の出力信号経路Ｒが強調された回路基板５０の画像Ｉｍを表示装置３によって表示する（Ｓ２０４）。
【００７８】
このように、検査データ出力装置４は、検査対象部位の出力信号経路Ｒが強調された拡張現実における画像Ｉｍのデータを強調データとして生成する。
【００７９】
これにより、作業者は、表示装置３に表示され、検査対象部位の出力信号経路Ｒが強調された画像が付加された回路基板５０の画像Ｉｍに基づいて、検査対象部位の出力信号を検出可能な部位を容易に特定することができる。そのため、作業者は、計測作業を容易に行うことができ、検査対象部位の出力信号を正確に計測することができる。
【００８０】
なお、強調データ生成部２１は、回路基板５０、および検査対象部位の出力信号経路Ｒを含み、検査対象部位の出力信号経路Ｒが強調された仮想現実における画像Ｉｍのデータを強調データとして生成してもよい。これによっても、第３実施形態に係る表示システム１と同様の効果を得ることができる。
【００８１】
上記実施形態に係る表示システム１を組み合わせてもよい。例えば、強調データ生成部２１は、回路基板５０の３Ｄモデルにおいて検査対象部位の出力信号経路Ｒを強調する強調データ、および回路基板５０に検査対象部位の出力信号経路Ｒを強調する画像を投影する強調データを生成してもよい。
【００８２】
変形例に係る検査データ出力装置４の強調データ生成部２１は、回路基板５０が多層構造の回路基板５０である場合には、層毎に検査対象部位の出力信号経路Ｒの種類が異なる強調データを生成してもよい。変形例に係る強調データ生成部２１は、層毎に検査対象部位の出力信号経路Ｒの線種や、色や、太さを変更する。
【００８３】
これにより、作業者は、多層構造の回路基板５０であっても、検査対象部位の出力信号経路Ｒを容易に特定することができる。
【００８４】
変形例に係る検査データ出力装置４は、検査対象部位の出力信号経路Ｒから出力される信号が入力され、入力された信号と、検査信号とに基づいて入力された信号が正常であるか否かを判定してもよい。すなわち、変形例に係る検査データ出力装置４は、検査装置としての機能を有してもよい。
【００８５】
さらなる効果や変形例は、当業者によって容易に導き出すことができる。このため、本発明のより広範な態様は、以上のように表しかつ記述した特定の詳細および代表的な実施形態に限定されるものではない。従って、添付の特許請求の範囲およびその均等物によって定義される総括的な発明の概念の精神または範囲から逸脱することなく、様々な変更が可能である。
【符号の説明】
【００８６】
１      表示システム
２      入力装置
３      表示装置
４      検査データ出力装置
５      撮像装置
１０    記憶部
１１    制御部
２０    入力部
２１    強調データ生成部（生成部）
２３    出力部
５０    回路基板
【図１】
2020165713.tif 000003
【図２】
2020165713.tif 000004
【図３Ａ】
2020165713.tif 000005
【図３Ｂ】
2020165713.tif 000006
【図４】
2020165713.tif 000007
【図５】
2020165713.tif 000008
【図６】
2020165713.tif 000009