(57)【要約】      （修正有）【課題】特定の電磁波の放射を抑制するため、その電磁波の放射源である周波数源を特定する労力を軽減する技術を提供する。【解決手段】測定対象物９０によって発生した電磁波の周波数スペクトルに基づいて、周波数源を推定する周波数源推定装置２０であって、前記周波数スペクトルに含まれる周波数であってユーザが指示する周波数帯域内の周波数である対象周波数と、前記測定対象物９０を構成する部品の動作周波数とを比較することで、前記対象周波数との合致条件を満たす前記動作周波数の部品を推定する制御部２４、を備える周波数源推定装置。【選択図】図１
2020165915.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
測定対象物によって発生した電磁波の周波数スペクトルに基づいて、周波数源を推定する周波数源推定装置であって、
前記周波数スペクトルに含まれる周波数であってユーザが指示する周波数帯域内の周波数である対象周波数と、前記測定対象物を構成する部品の動作周波数とを比較することで、前記対象周波数との合致条件を満たす前記動作周波数の部品を推定する制御部、
を備える周波数源推定装置。
【請求項２】
測定対象物によって発生した電磁波の周波数スペクトルに基づいて、周波数源を推定する周波数源推定装置であって、
前記周波数スペクトルに含まれるノイズの周波数である対象周波数と、前記測定対象物を構成する部品の動作周波数とを比較することで、前記対象周波数との合致条件を満たす前記動作周波数の部品をノイズ源として推定する制御部、
を備える周波数源推定装置。
【請求項３】
前記制御部は、前記周波数スペクトルの所定の周波数帯域内の周波数について、前記周波数スペクトルのスペクトル強度が強度に関する条件である強度条件を満たす周波数を前記対象周波数であると判定する、
請求項２に記載の周波数源推定装置。
【請求項４】
前記制御部は、前記動作周波数の高調波の周波数である部品高調波周波数を取得し、
前記制御部は、前記対象周波数と前記部品高調波周波数とを比較することで、前記対象周波数との合致条件を満たす前記動作周波数の部品を推定する、
請求項１から３のいずれか一項に記載の周波数源推定装置。
【請求項５】
前記制御部の推定結果を表示する表示部、
をさらに備える請求項１から４のいずれか一項に記載の周波数源推定装置。
【請求項６】
前記表示部は、前記制御部が推定した部品の数が予め定められた所定の数以上である場合に、前記動作周波数に関する所定の順番で、部品を表示する、
請求項５に記載の周波数源推定装置。
【請求項７】
前記表示部は、前記制御部が推定した前記部品を、色分けして表示する、
請求項５に記載の周波数源推定装置。
【請求項８】
前記表示部は、前記制御部が推定した前記部品が前記測定対象物が備える部品ではない場合に、前記測定対象物が備える部品が周波数源ではないことを示す情報を表示する、
請求項５に記載の周波数源推定装置。
【請求項９】
請求項１から８のいずれか一項に記載の周波数源推定装置としてコンピュータを機能させるための周波数源推定プログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、周波数源推定装置及び周波数源推定プログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
製品が出している電磁波の強さを測るＥＭＩ（Electro Magnetic Interference）試験がある。従来、ＥＭＩ試験においては、まずアンテナで測定対象物が放射する電磁波を受信する。次に、受信した電磁波を周波数解析し、周波数解析の結果に基づいて、所定の強度以上の電磁波があるか否かを判定する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００１−１５５０４８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
ユーザは特定の電磁波の放射を抑制するため、特定の電磁波を放射する放射源である周波数源を推定する場合がある。このような場合、ユーザはまず製品に使用されている部品の動作周波数を部品ごとに調べる。次に、ユーザは調べた各部品の動作周波数と特定の電磁波の周波数と比較して周波数源を推定する。このような推定の作業は、部品数が多いほど推定にかかる時間と労力とが増大し、ユーザの負担が大きいという課題があった。
【０００５】
上記事情に鑑み、本発明は、周波数源を推定するために要する労力を軽減する技術を提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明の一態様は、測定対象物によって発生した電磁波の周波数スペクトルに基づいて、周波数源を推定する周波数源推定装置であって、前記周波数スペクトルに含まれる周波数であってユーザが指示する周波数帯域内の周波数である対象周波数と、前記測定対象物を構成する部品の動作周波数とを比較することで、前記対象周波数との合致条件を満たす前記動作周波数の部品を推定する制御部、を備える周波数源推定装置である。
【０００７】
本発明の一態様は、測定対象物によって発生した電磁波の周波数スペクトルに基づいて、周波数源を推定する周波数源推定装置であって、前記周波数スペクトルに含まれるノイズの周波数である対象周波数と、前記測定対象物を構成する部品の動作周波数とを比較することで、前記対象周波数との合致条件を満たす前記動作周波数の部品をノイズ源として推定する制御部、を備える周波数源推定装置である。
【０００８】
本発明の一態様は、上記の周波数源推定装置であって、前記制御部は、前記周波数スペクトルの所定の周波数帯域内の周波数について、前記周波数スペクトルのスペクトル強度が強度に関する条件である強度条件を満たす周波数を前記対象周波数であると判定する。
【０００９】
本発明の一態様は、上記の周波数源推定装置であって、前記制御部は、前記動作周波数の高調波の周波数である部品高調波周波数を取得し、前記制御部は、前記対象周波数と前記部品高調波周波数とを比較することで、前記対象周波数との合致条件を満たす前記動作周波数の部品を推定する。
【００１０】
本発明の一態様は、上記の周波数源推定装置であって、前記制御部の推定結果を表示する表示部、をさらに備える。
【００１１】
本発明の一態様は、上記の周波数源推定装置であって、前記表示部は、前記制御部が推定した部品の数が予め定められた所定の数以上である場合に、前記動作周波数に関する所定の順番で、部品を表示する。
【００１２】
本発明の一態様は、上記の周波数源推定装置であって、前記表示部は、前記制御部が推定した前記部品を、色分けして表示する。
【００１３】
本発明の一態様は、上記の周波数源推定装置であって、前記表示部は、前記制御部が推定した前記部品が前記測定対象物が備える部品ではない場合に、前記測定対象物が備える部品が周波数源ではないことを示す情報を表示する。
【００１４】
本発明の一態様は、上記の周波数源推定装置としてコンピュータを機能させるための周波数源推定プログラムである。
【発明の効果】
【００１５】
本発明により、周波数源を特定するために要する労力の軽減する技術を提供することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００１６】
【図１】実施形態の周波数源推定システム１の機能構成の一例を示す図。
【図２】実施形態における制御部２４の機能構成の一例を示す図。
【図３】実施形態の周波数源推定装置２０が受信した電磁波の周波数スペクトルの一例を示す図。
【図４】実施形態における部品関連情報の一例を示す図。
【図５】実施形態における制御部２４が実行する処理の流れの一例を示すフローチャート。
【図６】実施形態における表示部２３における表示の一例を示す図。
【図７】妨害電力試験におけるノイズの一例を説明するための説明図。
【図８】電源端子妨害電圧試験（伝導エミッション）におけるノイズの一例を説明するための説明図。
【発明を実施するための形態】
【００１７】
以下、実施形態の周波数源推定装置及び周波数源推定プログラムを、図面を参照して説明する。
図１は、実施形態の周波数源推定システム１のシステム構成の一例を示す図である。
周波数源推定システム１は、製品等の測定対象の物（以下「測定対象物」という。）が放射する電磁波に基づいて、所定のスペクトル強度以上の電磁波を放射する周波数源の部品を推定する。なお、周波数源とは、所定のスペクトル強度以上の電磁波を放射する放射源である。
周波数源推定システム１は、試料台１１、アンテナ１２、アンテナ昇降機１３、アンテナコントローラ１４、ＥＭＩ（Electro Magnetic Interference）テストレシーバ１５及び周波数源推定装置２０を備える。
試料台１１は、測定対象物９０を載せる台である。試料台１１は、例えば、ターンテーブルである。以下、説明の簡単のため、試料台１１はターンテーブルであると仮定する。アンテナ１２は、電磁波を受信する。アンテナ昇降機１３は、アンテナ１２の位置を変更する。より具体的には、アンテナ昇降機１３は、アンテナ１２の位置を上下させる。アンテナコントローラ１４は、プロセッサやメモリや補助記憶装置などを備え、プログラムを実行する。アンテナコントローラ１４は、プログラムの実行によってアンテナ昇降機１３の動作と試料台１１の回転の動作とを制御する。ＥＭＩテストレシーバ１５は、アンテナ１２が受信した電磁波（以下「受信電磁波」という。）を周波数解析して受信電磁波の周波数スペクトル（以下「受信電磁波周波数スペクトル」という。）を取得する。ＥＭＩテストレシーバ１５は、取得した受信電磁波周波数スペクトルを周波数源推定装置２０に出力する。
【００１８】
周波数源推定装置２０は、プロセッサやメモリを備え、プログラムを実行する。周波数源推定装置２０は、プログラムを実行することで、通信部２１、入力部２２、表示部２３及びや記憶部２５を備える装置として機能する。記憶部２５は、磁気ハードディスク装置や半導体記憶装置などの記憶装置を用いて構成される。プロセッサは、メモリ又は記憶部２５に記憶されたプログラムを実行することで、制御部２４として機能する。制御部２４は、周波数源の部品を推定する。また、制御部２４は、周波数源推定装置２０の各機能部の動作とアンテナコントローラ１４の動作とを制御する。
【００１９】
記憶部２５は、周波数源推定装置２０に関する各種情報を記憶する。各種情報は、測定対象物９０を構成する部品に関する情報（以下「部品関連情報」という。）を含む。部品関連情報は、各部品の動作周波数を示す情報を含む。各種情報は、アンテナ１２の種類を示す情報を含んでもよい。アンテナ１２の種類とは、例えば、アンテナ１２がバイコニカルアンテナと、ログペリオディックアンテナと、ハイブリッドアンテナ（バイログアンテナ）とのいずれの種類のアンテナであるかを示す情報である。
なお、周波数源推定装置２０の各機能の全て又は一部は、ＡＳＩＣ（Application Specific Integrated Circuit）やＰＬＤ（Programmable Logic Device）やＦＰＧＡ（Field Programmable Gate Array）等のハードウェアを用いて実現されてもよい。プログラムは、コンピュータ読み取り可能な記録媒体に記録されてもよい。コンピュータ読み取り可能な記録媒体とは、例えばフレキシブルディスク、光磁気ディスク、ＲＯＭ、ＣＤ−ＲＯＭ等の可搬媒体、コンピュータシステムに内蔵されるハードディスク等の記憶装置である。プログラムは、電気通信回線を介して送信されてもよい。
【００２０】
通信部２１は、自装置をアンテナコントローラ１４及びＥＭＩテストレシーバ１５に接続するための通信インタフェースを含んで構成される。通信部２１は、有線又は無線を介して、アンテナコントローラ１４及びＥＭＩテストレシーバ１５と通信する。制御部２４は、通信部２１を介して、ＥＭＩテストレシーバ１５が取得した受信周波数スペクトルを取得する。制御部２４は、通信部２１を介して、電磁波の測定条件に関する情報（以下「測定条件情報」という。）を取得してもよい。測定条件情報は、例えば、ＥＭＩテストレシーバ１５の読み値と、アンテナ１２系の利得等のゲインと、アンテナ１２の向きが水平か垂直かを示す情報と、アンテナ１２の高さと、試料台１１の向きとを含む。受信周波数スペクトル及び測定条件情報は記憶部２５に記憶される。
【００２１】
入力部２２は、マウスやキーボード、タッチパネル等の入力装置を含んで構成される。入力部２２は、これらの入力装置を自装置に接続するインタフェースとして構成されてもよい。入力部２２は、自装置に対する周波数帯域指示情報の入力を受け付ける。入力部２２は、入力された周波数帯域指示情報を制御部２４に出力する。周波数帯域指示情報は、ユーザが指示する周波数帯域を示す情報である。周波数帯域指示情報は、周波数帯域を示す情報であればどのような情報であってもよい。周波数帯域指示情報は、例えば、周波数帯域の帯域幅が０に略同一である場合には、１つの周波数を示してもよい。周波数帯域指示情報は、記憶部２５に記憶される。
【００２２】
入力部２２は、自装置に対する表示条件情報の入力を受け付ける。表示条件情報は、表示部２３によって表示される情報が満たすべき条件を示す情報である。表示条件情報は、推定結果の周波数源の表示部２３による表示に関する条件（以下「表示条件」という。）を示す情報である。表示条件は、例えば、推定結果の周波数源が複数である場合には、表示部２３は、各周波数源を色分けして表示する、という条件であってもよい。表示条件は、例えば、推定結果の周波数源が複数である場合に、推定結果の周波数源を表示する順番に関する条件であってもよい。推定結果の周波数源を表示する順番に関する条件は、例えば、動作周波数と所定のスペクトル強度以上の電磁波の周波数との差が小さい順に表示するという条件であってもよい。推定結果の周波数源を表示する順番に関する条件は、例えば、動作周波数が高い順に表示するという条件であってもよい。表示条件は、例えば、推定結果の周波数源が複数である場合に、推定結果の周波数源を表示する数に関する条件であってもよい。推定結果の周波数源を表示する数に関する条件は、例えば、表示部２３が表示する推定結果の周波数源は最大５である、という条件であってもよい。表示条件は、例えば、推定結果の周波数源の数が予め定められた所定の数以上である場合に、動作周波数に関する所定の順番で、予め定められた所定の数未満の周波数源を表示する、という条件であってもよい。表示条件情報は、記憶部２５に記憶される。
【００２３】
入力部２２は、最大次数情報の入力を受け付ける。最大次数情報は、測定対象物９０を構成する部品の動作周波数の高調波のうち、自装置による周波数源の推定に用いる高調波の次数を示す情報である。最大次数情報が示す次数は、ユーザが任意に設定可能である。次数は、一般的な電子機器では、２以上２０以下の範囲に設定可能である。最大次数情報は、記憶部２５に記憶される。
【００２４】
入力部２２は、強度条件を示す強度条件情報の入力を受け付ける。強度条件は、受信電磁波周波数スペクトルが示すスペクトル強度に関する条件である。強度条件は、例えば、スペクトル強度が所定の値以上という条件であってもよい。強度条件は、広帯域のピックアップ条件を満たすとともに、スペクトル強度が所定の値以上という条件であってもよい。強度条件は、狭帯域のピックアップ条件を満たすとともに、スペクトル強度が所定の値以上という条件であってもよい。強度条件情報は、記憶部２５に記憶される。
【００２５】
なお、広帯域のピックアップ条件は、例えば、電磁波の周波数スペクトルの幅が所定の幅以上の広さであるという条件であってもよい。広帯域のピックアップ条件とスペクトル強度が所定の値以上という強度条件は、例えば、以下の４つの条件を含むであってもよい。条件の１つは、所定のスペクトル強度以上であるという条件である（以下「第１強度条件」という。）。以下、第１強度条件を満たす周波数を第１強度条件周波数という。条件の１つは、隣接する第１強度条件周波数とのノイズレベル（強度）が所定のレベル以内の差であるという条件である（以下「第２強度条件」という。）。条件の１つは、帯域幅が所定の幅以上広がっているという条件である（以下「第１帯域条件」という。）。条件の１つは、第１強度条件、第２強度条件及び第１帯域条件を満たす周波数の強度のうち最大の強度である、という条件である（以下「第１決定条件」という。）。第１決定条件は、例えば、第１強度条件、第２強度条件及び第１帯域条件を満たす周波数のうち、強度の強さが、強度の強い方から数えて予め定められた所定の数以内に位置する強さである、という条件であってもよい。
なお、狭帯域のピックアップ条件は、例えば、電磁波の周波数スペクトルの幅が所定の幅未満の狭さであるという条件であってもよい。狭帯域のピックアップ条件とスペクトル強度が所定の値以上という強度条件は、例えば、以下の４つの条件を含むであってもよい。条件の１つは、第１強度条件と同様である。条件の１つは、第２強度条件と同様である。条件の１つは、帯域幅が所定の幅未満の広さであるという条件である（以下「第２帯域条件」という。）。条件の１つは、第１強度条件、第２強度条件及び第２帯域条件を満たす周波数の強度のうち最大の強度である、という条件である（以下「第２決定条件」という。）。第２決定条件は、例えば、第１強度条件、第２強度条件及び第２帯域条件を満たす周波数のうち、強度の強さが、強度の強い方から数えて予め定められた所定の数以内に位置する強さである、という条件であってもよい。
【００２６】
なお、周波数帯域指示情報、表示条件情報、最大次数情報及び強度条件情報は、必ずしも入力部２２から入力される必要はなく、予め記憶部２５に記憶されていてもよい。
【００２７】
表示部２３は、ＣＲＴ（Cathode Ray Tube）ディスプレイや液晶ディスプレイ、有機ＥＬ（Electro-Luminescence）ディスプレイ等の表示装置を含んで構成される。表示部２３は、これらの表示装置を自装置に接続するインタフェースとして構成されてもよい。表示部２３は、制御部２４から出力される情報を表示する。例えば、表示部２３は、推定結果の周波数源を表示してもよい。例えば、表示部２３は、実施形態の周波数源推定装置２０が受信した電磁波の周波数スペクトルを表示してもよい。なお、入力部２２と表示部２３は、例えばコントロールパネルのように、一体に構成されてもよい。
【００２８】
図２は、実施形態における制御部２４の機能構成の一例を示す図である。制御部２４は、駆動制御部２４１、入力情報取得部２４２、測定情報取得部２４３、周波数判定部２４４、高調波周波数取得部２４５、部品推定部２４６及び表示制御部２４７を備える。駆動制御部２４１は、通信部２１を介してアンテナコントローラ１４の動作を制御する。入力情報取得部２４２は、周波数帯域指示情報、表示条件情報、最大次数情報及び強度条件情報を取得する。測定情報取得部２４３は、受信電磁波周波数スペクトル及び測定条件情報を取得する。
周波数判定部２４４は、受信電磁波周波数スペクトルと、周波数帯域指示情報とに基づいて、周波数帯域指示情報が示す周波数帯域内の周波数のうち強度条件情報が示す強度条件を満たす周波数を判定する。以下、周波数判定部２４４によって強度条件を満たすと判定された周波数を、対象周波数という。
【００２９】
高調波周波数取得部２４５は、部品関連情報が示す動作周波数の高調波のうち２次の高調波から最大次数情報が示す次数の高調波までの周波数を取得する。以下、高調波周波数取得部２４５が取得した高調波の周波数を、部品高調波周波数という。
部品推定部２４６は、対象周波数と動作周波数及び部品高調波周波数とに基づいて、動作周波数の各部品が対象周波数との合致条件を満たすか否かを判定する。部品推定部２４６は、合致条件を満たす部品を周波数源であると推定する。合致条件は、対象周波数と動作周波数又は部品高調波周波数との間の周波数の違いに関する条件である。より具体的には、合致条件は、以下の第１条件と第２条件との２つの条件の少なくとも一方が満たされるという条件である。第１条件は、動作周波数と対象周波数との周波数の違いに関する条件である。第１条件は、例えば、動作周波数と対象周波数との周波数差が所定の値未満という条件である。第２条件は、部品高調波周波数と対象周波数との周波数の違いに関する条件である。第２条件は、例えば、部品高調波周波数と対象周波数との周波数差が所定の値未満という条件である。表示制御部２４７は、表示部２３における表示を制御する。具体的には、表示制御部２４７は、表示条件情報が示す表示条件を満たすように表示部２３における表示を制御する。
【００３０】
図３は、実施形態の周波数源推定装置２０が受信した電磁波の周波数スペクトルの一例を示す図である。図３の横軸は、周波数を表す。図３の縦軸は、電磁波の強度を表す。図３において、“Ｈｏｒｉ”は、測定対象物９０が放射する水平偏波の電磁波の周波数スペクトルを表す。図３において、“Ｖｅｒｔ”は、測定対象物９０が放射する垂直偏波の電磁波の周波数スペクトルを表す。図３において、“Ｌｉｍｉｔ１”は、ＥＭＩ（Electro Magnetic Interference）試験における規格等の電磁波に関する所定の規格において定められた値を示す。“Ｌｉｍｉｔ２”は、“Ｌｉｍｉｔ１”よりも、例えば数ｄＢだけ低い値である。
測定対象物９０が放射する電磁波の強度が“Ｌｉｍｉｔ１”以下の強度であれば、測定対象物９０は規格を満たすため、測定対象物９０は市場へ出荷可能な測定対象物９０である。しかし、測定対象物９０と同様の物を大量生産することを考慮すると、“Ｌｉｍｉｔ１”の強度の電磁波が測定されていることは好ましいことではない。なぜなら、製品ごとのばらつきによってＬｉｍｉｔ１よりも強い強度の電磁波を放射してしまう製品が製造されてしまう可能性があるからである。そこで、測定対象物９０が放射する電磁波の強度が“Ｌｉｍｉｔ２”よりも低い強度であることが製品ごとのばらつきを考慮した場合に望ましい。
【００３１】
図４は、実施形態における部品関連情報の一例を示す図である。
部品関連情報は、例えば、図４に示す部品関連情報データベースＤ１０１として、記憶部２５に記憶される。
部品関連情報データベースＤ１０１は、“回路／部品名称”の項目の値と、“基本周波数”の項目の値とをもつ。“回路／部品名称”の項目は、測定対象物９０の部品の名称を表す。“基本周波数”の項目は、“回路／部品名称”が表す部品の基本周波数を表す。図４において基本周波数の単位は、ＭＨｚである。
【００３２】
図５は、実施形態における制御部２４が実行する処理の流れの一例を示すフローチャートである。
測定情報取得部２４３が、受信周波数スペクトル及び測定条件情報を取得する（ステップＳ１０１）。入力情報取得部２４２が、周波数帯域指示情報、表示条件情報、最大次数情報及び強度条件情報を取得する（ステップＳ１０２）。周波数判定部２４４が、受信周波数スペクトル及び周波数帯域指示情報に基づき、周波数帯域指示情報が示す周波数帯域内の周波数のうち強度条件を満たす周波数を判定する（ステップＳ１０３）。高調波周波数取得部２４５が、部品関連情報に基づいて、部品関連情報が示す動作周波数の高調波のうち２次の高調波から最大次数情報が示す次数の高調波までの周波数を取得する（ステップＳ１０４）。部品推定部２４６が、対象周波数と、動作周波数及び部品高調波周波数とに基づいて、周波数源を推定する（ステップＳ１０５）。例えば、部品推定部２４６は、動作周波数と対象周波数との周波数差が所定の値未満である部品を周波数源であると推定する。また、部品推定部２４６は、部品高調波周波数と対象周波数との周波数差が所定の値未満である部品を周波数源であると推定する。表示制御部２４７が、表示条件を満たすように表示部２３における表示を制御して、ステップＳ１０５において周波数源であると推定された部品を表示部２３に表示させる（ステップＳ１０６）。
【００３３】
ステップＳ１０５において合致条件を満たすと判定された部品が周波数源の可能性のある部品である。このようにして、実施形態の制御部２４は、周波数源の可能性のある部品を推定する。
なお、ステップＳ１０１及びステップＳ１０２の処理は、ステップＳ１０３の処理の実行前に実行されればどのような順番で実行されてもよい。
【００３４】
図６は、実施形態における表示部２３における表示の一例を示す図である。表示部２３は、推定結果を、例えば図６に示す表示テーブルＤ１０２の形式で表示する。
表示テーブルＤ１０２は、“Ｆｒｅｑ．”の項目の値と、“Ｒｅａｄｉｎｇ”の項目の値と、“Ａｎｔ．Ｆａｃ”の項目の値と、“Ｒｅｓｕｌｔ”の項目の値と、“Ｌｉｍｉｔ”の項目の値と、“Ｍａｒｇｉｎ”の項目の値と、“Ｐｏｌａ．”の項目の値と、“Ｈｅｉｇｈｔ”の項目の値と、“Ａｎｇｌｅ”の項目の値と、“Ａｎｔ．Ｔｙｐｅ”の項目の値とをもつ。表示テーブルＤ１０２は、“Ｆｒｅｑ．”の項目の値ごとに、１又は複数の“一致Ｎｏ．”の項目の値をもつ。表示テーブルＤ１０２は、“一致Ｎｏ．”の項目の値ごとに、“回路／部品名称”の項目の値と、“基本周波数”の項目の値と、“倍数”の項目の値と、“周波数計算値”の項目の値と、“誤差”の項目の値とをもつ。
【００３５】
“Ｆｒｅｑ．”の項目は、対象周波数を表す。対象周波数の単位は、ＭＨｚである。“Ｒｅａｄｉｎｇ”の項目は、ＥＭＩテストレシーバ１５の読み値を表す。ＥＭＩテストレシーバ１５の読み値の単位は、ｄＢｕＶである。“Ａｎｔ．Ｆａｃ”の項目は、Ａｎｔｅｎｎａ  Ｆａｃｔｏｒであって、アンテナ１２系のゲインを表す。アンテナ１２系のゲインの単位は、ｄＢ／ｍである。“Ｒｅｓｕｌｔ”の項目は、電磁波の測定結果を表す。測定結果の単位は、ｄＢｕＶ／ｍである。“Ｌｉｍｉｔ”の項目は、ＥＭＩの規格値等の予め定められた規格値を表す。規格値の単位は、ｄＢｕＶ／ｍである。“Ｍａｒｇｉｎ”の項目は、規格値に対する余裕度を表す。余裕度の単位は、ｄＢである。“Ｐｏｌａ．”の項目は、アンテナ１２の向きが水平か垂直かを表す。“Ｐｏｌａ．”の項目において、“Ｈ”は、アンテナ１２の向きが水平であることを示す。“Ｐｏｌａ．”の項目において、“Ｖ”は、アンテナ１２の向きが垂直であることを示す。“Ｈｅｉｇｈｔ”の項目は、アンテナ１２の高さを表す。高さの単位は、ｃｍである。“Ａｎｇｌｅ”の項目は、試料台１１の向きを表す。向きの単位は、ｄｅｇである。“Ａｎｔ．Ｔｙｐｅ”の項目は、アンテナ１２の種類を表す。“Ａｎｔ．Ｔｙｐｅ”の項目において、“ＢＬＧ”は、アンテナ１２の種類が、ハイブリッドアンテナ（バイログアンテナ）であることを示す。
【００３６】
“一致Ｎｏ．”の項目は、表示条件に推定結果の周波数源を表示する順番に関する条件が含まれる場合における表示の順番を表す。“倍数”の項目は、高調波の次数を表す。“周波数計算値”の項目は、高調波の周波数を表す。周波数の単位は、ＭＨｚである。“周波数計算値”の項目が表す周波数は、“基本周波数”の項目が表す周波数に、“倍数”の項目が表す次数の値を乗算した値である。“誤差”の項目は、“Ｆｒｅｑ”の項目が示す周波数と、“周波数計算値”の項目が示す周波数との誤差である。図６において、表示部２３は、“Ｆｒｅｑ”の項目の値が同じ場合に、“一致Ｎｏ．”ごとに、異なる色で“回路／部品名称”が表す各部品を表示する。
【００３７】
このように構成された実施形態の周波数源推定装置２０では、対象周波数と動作周波数との比較によって、合致条件を満たす動作周波数の部品を周波数源であると推定する。そのため、周波数源を特定するために要する労力の増大を軽減することができる。
【００３８】
（変形例）
なお、強度条件を満たす周波数は測定対象物９０から放射されるノイズであってもよい。このような場合、対象周波数はノイズの周波数である。また、このような場合、制御部２４は、合致条件を満たす動作周波数の部品をノイズ源として推定する。なお、本発明おいては、ノイズとは、例えばユーザが予期せぬ周波数帯であり、例えば電磁波の周波数スペクトルのスペクトル強度が所定の強度以上のものである。ノイズは、例えば、妨害電力試験において発生するノイズである。ノイズは、例えば、電源端子妨害電圧試験（伝導エミッション）において発生するノイズである。
【００３９】
図７は、妨害電力試験におけるノイズの一例を説明するための説明図である。
図７は、変形例における周波数源推定システム１ａの機能構成の一例を示す図である。
以下、周波数源推定システム１と同様の機能を有するものは、図１と同じ符号を付すことで説明を省略する。
周波数源推定システム１ａは、試料台１１、アンテナ１２、アンテナ昇降機１３、アンテナコントローラ１４に代えて、試料台１１ａ、クランプ２６及びクランプコントローラ２７を備える点で周波数源推定システム１と異なる。
【００４０】
図７において、試料台１１ａの上に位置する測定対象物９０は、電源コード９０２に接続される。測定対象物９０は、電源コード９０２によって電源９０１に接続される。電源９０１は電源コード９０２を介して測定対象物に電力を供給する。試料台１１ａは、測定対象物９０を載せる台である。試料台１１ａ及び測定対象物９０、電源コード９０２、電源９０１及びクランプ２６は、シールドルーム９ａに囲まれている。電源コード９０２にはクランプ２６が取り付けられている。クランプ２６は、電源コード９０２の上を移動する。クランプ２６は、電源コード９０２の上を、例えば５メートル程度移動可能である。クランプ２６は、電源コード９０２が放射する電磁波を検出する。クランプ２６は、ＥＭＩテストレシーバ１５に接続されている。ＥＭＩテストレシーバ１５は、クランプ２６が検出した電磁波を受信する。電源コード９０２が放射する電磁波はノイズの一例である。クランプコントローラ２７は、プロセッサやメモリや補助記憶装置などを備え、プログラムを実行する。クランプコントローラ２７は、プログラムの実行によってクランプ２６の動作を制御する。電源コード９０２が放射する電磁波には、測定対象物９０が発生し電源コード９０２に漏洩した電磁波が含まれる。
【００４１】
図８は、電源端子妨害電圧試験（伝導エミッション）におけるノイズの一例を説明するための説明図である。
図８は、変形例における周波数源推定システム１ｂの機能構成の一例を示す図である。
以下、周波数源推定システム１及び周波数源推定システム１ａと同様の機能を有するものは、図１及び図７と同じ符号を付すことで説明を省略する。
周波数源推定システム１ｂは、試料台１１ａに代えて試料台１１ｂを備える点と、クランプ２６及びクランプコントローラ２７に代えて、疑似電源回路網２８を備える点とで周波数源推定システム１ａと異なる。試料台１１ｂは、測定対象物９０を載せる台である。
【００４２】
図８において、疑似電源回路網２８は、電源コード９０２を介して測定対象物９０に接続される。疑似電源回路網２８は、測定対象物９０から電源コード９０２に漏洩し電源コード９０２を伝搬する電磁波を受信する。疑似電源回路網２８は、受信した電磁波によって端子に励起される電圧（端子電圧）をＥＭＩテストレシーバに出力する。端子電圧は、電磁波によって励起される電圧であるため、電磁波の周波数スペクトルを示す電圧である。試料台１１ｂ、測定対象物９０、電源コード９０２及び疑似電源回路網２８は、シールドルーム９ａに囲まれている。なお、電磁波が測定対象物９０から電源コード９０２に漏洩する現象は、測定対象物９０が放射した電磁波が電源コード９０２に伝搬する現象である。そのため、測定対象物９０から電源コード９０２に漏洩する電磁波とは、測定対象物９０によって発生した電磁波である。
【００４３】
なお、表示部２３は、合致条件を満たす部品が無い場合には、測定対象物９０が備える部品が周波数源では無いことを示す情報を表示してもよい。なお、ＥＭＩテストレシーバ１５は、ＥＭＩテストレシーバでは無く、スペクトラムアナライザであってもよい。
なお、測定対象の物（すなわち、測定対象物９０）が放射する電磁波は、測定対象物によって発生した電磁波の一例である。
【００４４】
周波数源推定装置２０は、ネットワークを介して通信可能に接続された複数台の情報処理装置を用いて実装されてもよい。この場合、周波数源推定装置２０が備える各機能部は、複数の情報処理装置に分散して実装されてもよい。
【００４５】
以上、この発明の実施形態について図面を参照して詳述してきたが、具体的な構成はこの実施形態に限られるものではなく、この発明の要旨を逸脱しない範囲の設計等も含まれる。
【符号の説明】
【００４６】
１、１ａ、１ｂ…周波数源推定システム、  １１、１１ａ、１１ｂ…試料台、  １２…アンテナ、  １３…アンテナ昇降機、  １４…アンテナコントローラ、  １５…ＥＭＩ（Electro Magnetic Interference）テストレシーバ、  ２０…周波数源推定装置、  ２１…通信部、  ２２…入力部、  ２３…表示部、  ２４…制御部、  ２５…記憶部、  ２６…クランプ、  ２７…クランプコントローラ、  ２８…疑似電源回路網、  ９０…測定対象物
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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