(57)【要約】      （修正有）【課題】磁気記録の品質を向上させることができる磁気ディスク装置及び磁気ディスク装置の記録方法を提供する。【解決手段】磁気ディスク装置１は、磁気ヘッド１０と、磁気ディスク２と、制御部とを備える。磁気ディスクは、磁気ヘッドによりデータを記録する際に、磁気ヘッドを位置決めするために用いられるサーボパターンが記録される。制御部は、サーボパターンに基づいて、磁気ディスクの所定単位毎の記録条件を設定し、当該設定した記録条件に応じて磁気ディスクへデータの記録を行う。【選択図】図１
2020135909.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
磁気ディスク装置であって、
磁気ヘッドと、
前記磁気ヘッドによりデータを記録する際に、前記磁気ヘッドを位置決めするために用いられるサーボパターンが記録された磁気ディスクと、
前記サーボパターンに基づいて、前記磁気ディスクの所定単位毎の記録条件を設定し、当該設定した記録条件に応じて前記磁気ディスクへデータの記録を行う制御部と、
を備える磁気ディスク装置。
【請求項２】
前記記録条件は、前記所定単位毎に前記磁気ヘッドの線記録密度を低次の揺らぎで変化させる条件である、
請求項１に記載の磁気ディスク装置。
【請求項３】
前記サーボパターンは、前記所定単位毎の記録品質を示す記録品質データを含み、
前記制御部は、前記記録条件を前記記録品質データに基づいて、前記線記録密度を低次の揺らぎで変化させる、
請求項２に記載の磁気ディスク装置。
【請求項４】
前記所定単位は、トラック方向に所定領域毎に設けられるセクタであり、
前記線記録密度は、前記セクタ単位で切り替わる、
請求項２又は３に記載の磁気ディスク装置。
【請求項５】
前記制御部は、前記トラック方向で隣接する前記セクタの前記線記録密度の変化が所定割合以下になるように変化させる、
請求項４に記載の磁気ディスク装置。
【請求項６】
前記制御部は、任意の前記セクタに隣接するセクタの線記録密度に基づいて、前記任意の前記セクタの線記録密度を決定する、
請求項４に記載の磁気ディスク装置。
【請求項７】
さらに、前記磁気ヘッドのデータの記録をアシストするアシスト制御部を備え、
前記制御部は、前記磁気ディスクへ前記データを記録する際に、前記記録条件に従って前記アシスト制御部のアシストの大きさを制御する、
請求項１から請求項６のいずれか一項に記載の磁気ディスク装置。
【請求項８】
磁気ディスク装置の記録方法であって、
磁気ヘッドによりデータを磁気ディスクへ記録する際に、前記磁気ディスク上で前記磁気ヘッドを位置決めするために用いられるサーボパターンに基づいて、前記磁気ディスクの所定単位毎の記録条件を設定し、
当該設定した記録条件に応じて前記磁気ディスクへデータの記録を行う、
磁気ディスク装置の記録方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
実施形態は、磁気ディスク装置及び磁気ディスク装置の記録方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
磁気ディスク装置はデータを磁気により記録する記録媒体を有している。その記録媒体は、例えば、円盤形状をしており、円盤の表層上、かつ、周方向に磁気ヘッドによりデータが記録されるように構成される。この種の記録媒体は、その作成原理を起因として、同一周内の記録領域に磁気特性のばらつきが生じる。一般に、磁気ディスク装置では、同一周内では同じ記録条件でデータを記録するようになっているため、同一周内の記録領域のうち最も記録し難い特性に基づいてデータの記録条件が決定される。このように記録条件を設定することにより、磁気ディスク装置において、同一周内でのデータの記録品質を保証している。
【０００３】
ところで、同一周内の記録領域のうち最も記録し難い特性に基づいてデータの記録条件が決定されると、当該記録領域以外の領域においては、記録条件を満たしているが最適ではなくなる場合が考えられる。つまり、この場合、記録条件は過剰になる。このため、当該記録領域以外の領域においては、過剰な記録品質でデータが記録される。
【０００４】
なお、磁気ディスク装置において、既述の記録条件が過剰になる場合を解消するために、テストパターンを書き込み、その書き込み品質を評価することで、予め周内分布を評価し、その結果に基づいてセクタ毎に電流波形を変化させる技術が知られている。
また、磁気ディスク装置において、予め調査した媒体の周内分布に合わせ記録密度を変化させる技術が知られている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】米国特許第８００００４６号明細書
【特許文献２】米国特許第９０４７９２１号明細書
【特許文献３】米国特許第９０３０７７２号明細書
【特許文献４】特開２０１４−００２８１２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
既述のテストパターンを書き込む技術ではテストパターンを記憶する領域、及び評価する処理が必要になる。また、既述の記録密度を変化させる技術では記録密度を狭くしすぎるとデータの信頼性に問題が生じる場合も考えられる。
このため、既述の記録条件を最適化する技術とは異なる方法で適切な記録条件を設定することができる磁気ディスク装置が求められている。
【０００７】
本発明が解決しようとする課題は、記録条件を適切に設定することにより、磁気記録の品質を向上させることができる磁気ディスク装置及び磁気ディスク装置の記録方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
一実施形態に係る、磁気ディスク装置は、磁気ヘッドと、磁気ディスクと、制御部とを備える。磁気ディスクは、前記磁気ヘッドによりデータを記録する際に、前記磁気ヘッドを位置決めするために用いられるサーボパターンが記録される。制御部は、前記サーボパターンに基づいて、前記磁気ディスクの所定単位毎の記録条件を設定し、当該設定した記録条件に応じて前記磁気ディスクへデータの記録を行う。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】第１の実施形態に係る磁気ディスク装置の構成の一例を示す図。
【図２】従来のＢＥＲ分布の一例を示す図。
【図３】図２のＰ部分の拡大図。
【図４】従来のＢＥＲ分布の半径位置依存性の結果の一例を示す図。
【図５】従来の異なる半径位置でのセクタ毎のＢＥＲ分布の一例を示す図。
【図６】従来の外周側の連続トラックにおけるセクタ毎のＢＥＲ分布の一例を示す図。
【図７】同実施形態に係るサーボパターンを説明するための図。
【図８】同実施形態に係るサーボパターンの一例を示す図。
【図９】同実施形態に係る記録条件を設定し、データの記録をディスクに行う処理の一例を示すフローチャート。
【図１０】同実施形態に係るサーボパターンの他の一例を示す図。
【図１１】他の実施形態に係る磁気ディスク装置の構成の一例を示す図。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
以下、実施の形態について図面を参照して説明する。なお、開示はあくまで一例にすぎず、以下の実施形態に記載した内容により発明が限定されるものではない。当業者が容易に想到し得る変形は、当然に開示の範囲に含まれる。説明をより明確にするため、図面において、各部分のサイズ、形状等を実際の実施態様に対して変更して模式的に表す場合もある。複数の図面において、対応する要素には同じ参照数字を付して、詳細な説明を省略する場合もある。
【００１１】
（第１の実施形態）  
図１は、第１の実施形態に係る磁気ディスク装置のブロック図である。  
図１に示すように、磁気ディスク装置１は、例えば、ハードデイスクドライブ（ＨＤＤ）として構成され、磁気ディスク（以下でディスクと表記する）２と、スピンドルモータ（ＳＰＭ）３と、アクチュエータ４と、ボイスコイルモータ（ＶＣＭ）５と、磁気ヘッド（以下でヘッドと表記する）１０と、ヘッドアンプＩＣ１１と、Ｒ／Ｗチャネル１２と、ハードディスクコントローラ（ＨＤＣ）１３と、マイクロプロセッサ（ＭＰＵ）１４と、ドライバＩＣ１５と、メモリ１６とを備えている。また、磁気ディスク装置１は、ホストコンピュータ（ホスト）１７と接続可能である。ヘッド１０は、ライトヘッド（記録ヘッド：ｗｒｉｔｅｒ）１０Ｗ、リードヘッド（再生ヘッド：ｒｅａｄｅｒ）１０Ｒ、および高周波発振素子であるスピントルク発振子（Ｓｐｉｎ−Ｔｏｒｑｕｅ−Ｏｓｃｉｌｌａｔｏｒ：ＳＴＯ）１００を備えている。なお、Ｒ／Ｗチャネル１２、ＨＤＣ１３及びＭＰＵ１４は、１チップの集積回路に組み込まれていてもよい。
【００１２】
ディスク２は、例えば、円板状に形成され非磁性体からなる基板を有している。基板の各表面には、下地層として軟磁気特性を示す材料からなる軟磁性層と、その上層部に、ディスク面に対して垂直方向に磁気異方性を有する磁気記録層と、その上層部に保護膜層とが記載の順に積層されている。ここで、ヘッド１０の方向を上層とする。
【００１３】
ディスク２は、スピンドルモータ（ＳＰＭ）３に固定され、このＳＰＭ３によって所定の速度で回転させられる。なお、１枚に限らず、複数枚のディスク２がＳＰＭ３に設置されてもよい。ＳＰＭ３は、ドライバＩＣ１５から供給される駆動電流（または駆動電圧）により駆動される。ディスク２は、ヘッド１０によってデータパターンを記録再生される。ディスク２は、モニタ用領域（評価領域）２００を有する。モニタ用領域２００は、ＳＴＯ１００の発振特性を評価するための専用の領域である。モニタ用領域２００は、例えば、ディスク２の半径方向の最外周または最内周の一部に設けられる。
【００１４】
アクチュエータ４は、回動自在に設置されているとともに、その先端部にヘッド１０が支持されている。ボイスコイルモータ（ＶＣＭ）５によってアクチュエータ４を回動することで、ヘッド１０は、ディスク２の所望のトラック上に移動され、位置決めされる。ＶＣＭ５は、ドライバＩＣ１５から供給される駆動電流（または駆動電圧）によって駆動される。
【００１５】
ヘッド１０は、スライダ８と、スライダ８に形成されたライトヘッド１０Ｗと、リードヘッド１０Ｒとを有する。ヘッド１０は、ディスク２の枚数に応じて、複数個設けられる。
【００１６】
ヘッドアンプＩＣ１１は、ＳＴＯ１００の駆動や発振特性の検出などに関する回路を含む。例えば、ヘッドアンプＩＣ１１は、ＳＴＯ制御部１１１と、記録コイル制御部１１２と、再生信号検出部１１３と、ヒータ制御部１１４とを有する。ヘッドアンプＩＣ１１は、ＳＴＯ１００の駆動や駆動信号検出などを実行する。さらに、ヘッドアンプＩＣ１１は、Ｒ／Ｗチャネル１２から供給されるライトデータに応じたライト信号（ライト電流）をライトヘッド１０Ｗに供給する。また、ヘッドアンプＩＣ１１は、リードヘッド１０Ｒから出力されたリード信号を増幅して、Ｒ／Ｗチャネル１２に伝送する。
【００１７】
ＳＴＯ制御部１１１は、ライトヘッド１０ＷのＳＴＯ１００へ通電する電流を制御する。  
記録コイル制御部１１２は、記録信号パターン制御部と記録電流制御部とを含む。記録コイル制御部１１２は、書き込み信号に応じてライトヘッド１０Ｗのコイルへ供給する記録電流を制御する。
再生信号検出部１１３は、リードヘッド１０Ｒで再生した信号（リードデータ）を検出する。
【００１８】
ヒータ制御部１１４は、ヒータへの電力供給を制御する。すなわち、ヒータ制御部１１４は、ヒータのＯＮ／ＯＦＦを切り替える。
【００１９】
Ｒ／Ｗチャネル１２は、読み出し（リード）／書き込み（ライト）に関連する信号を処理する信号処理回路である。Ｒ／Ｗチャネル１２は、リードデータの信号処理を実行するリードチャネルと、ライトデータの信号処理を実行するライトチャネルとを含む。Ｒ／Ｗチャネル１２は、リード信号をデジタルデータに変換し、デジタルデータからリードデータを復調する。Ｒ／Ｗチャネル１２は、ＨＤＣ１３から転送されるライトデータを符号化し、符号化されたライトデータをヘッドアンプＩＣ１１に転送する。
【００２０】
ＨＤＣ１３は、ヘッド１０、ヘッドアンプＩＣ１１、Ｒ／Ｗチャネル１２、及びＭＰＵ１４を介してディスク２へのデータの書き込みと、ディスク２からのデータの読み出しとを制御する。ＨＤＣ１３は、磁気ディスク装置１とホスト１７とのインタフェースを構成し、リードデータおよびライトデータの転送制御を実行する。すなわち、ＨＤＣ１３は、ホスト１７から転送される信号を受信し、且つホスト１７へ信号を転送するホストインタフェースコントローラとして機能する。ホスト１７へ信号を転送する場合、ＨＤＣ１３は、ＭＰＵ１４に従ってヘッド１０により読み出され、復調された再生信号のデータのエラー訂正処理を実行する。また、ＨＤＣ１３は、ホスト１７から転送されるコマンド（ライトコマンド、リードコマンド等）を受信し、受信したコマンドをＭＰＵ１４に送信する。
【００２１】
ＭＰＵ１４は、磁気ディスク装置１のメインコントローラ（制御部）であり、リード／ライト動作の制御およびヘッド１０の位置決めに必要なサーボ制御を実行する。ＭＰＵ１４は、信号測定部１４１と、信号比較演算部１４２と、判定部１４３とを有する。信号測定部１４１、信号比較演算部１４２、および判定部１４３は、ファームウェア（プログラム）によって実行される。
【００２２】
信号測定部１４１は、信号の記録再生動作をヘッド１０に実行させ、ディスク２に記録されたデータをリードして再生信号を取得する。信号測定部１４１は、取得した再生信号に関連するデータをメモリ１６に保存する。また、信号測定部１４１は、取得した再生信号に関連するデータを信号比較演算部１４２に送信する。例えば、信号測定部１４１は、ＳＴＯ１００への通電がＯＮの状態のデータパターンと、ＯＦＦ及び通常の動作時よりも通電する電流値が小さい状態のデータパターンとの記録をヘッド１０に実行させ、それぞれの状態における再生信号をヘッド１０（ヘッドアンプＩＣ１１）に取得させる。
【００２３】
信号比較演算部１４２は、ＳＴＯ１００への通電がＯＮ状態と、ＯＦＦ及び通常の動作時よりも通電する電流値が小さい状態とのそれぞれの状態で記録されたデータパターンをリードした再生信号に関連するデータをメモリ１６から取得し、これらのデータを比較等の演算処理をする。信号比較演算部１４２は、演算処理の結果をメモリ１６に保存する。また、信号比較演算部１４２は、演算処理した結果を判定部１４３に送信する。
【００２４】
判定部１４３は、信号比較演算部１４２の演算処理の結果からＳＴＯ１００の発振特性を判定する。すなわち、判定部１４３は、信号比較演算部１４２の演算処理の結果からＳＴＯ１００の劣化やＳＴＯ１００の良又は不良の判断をする。判定部１４３は、ＳＴＯ１００の発振特性を評価するための基準となる判定値を有する。この判定値は任意に設定することができる。例えば、判定値は、取得した再生信号に関連するデータを比較した値（比較データ）に対する閾値等である。判定部１４３は、判定値より比較データが大きいか小さいかでＳＴＯ１００の発振特性を判断する。判定部１４３は、比較データが所定の判定値に達した場合に、警告を発するように磁気ディスク装置１に指示する機能を有していてもよい。ここで、比較データは、例えば、再生信号に関連するデータの差分データ若しくは比率データである。
【００２５】
ドライバＩＣ１５は、ＭＰＵ１４の制御に従いＳＰＭ３とＶＣＭ５との駆動を制御する。ＶＣＭ５が駆動することによって、ヘッド１０はディスク２上の目標トラックへ位置付けられる。
【００２６】
メモリ１６は、揮発性メモリおよび不揮発性メモリを含む。例えば、メモリ１６は、ＤＲＡＭからなるバッファメモリ、及びフラッシュメモリを含む。メモリ１６は、ＭＰＵ１４の処理に必要なプログラムおよびパラメータを格納する。
【００２７】
次に、ディスクへのデータの記録品質の評価について説明する。図２、及び図３は従来のヘッドを用いてディスクにデータの記録を行った場合における記録品質の評価を説明するための図である。
【００２８】
図２は、磁気ディスク装置において、従来のヘッドを用いてデータの記録を行った場合におけるセクタ毎のビットエラーレイト（以下、「ＢＥＲ」という。）分布の一例を示す図である。なお、図示左側がヘッド１０のＢＥＲ分布１０Ａであり、図示右側が他のヘッド１０のＢＥＲ分布１０Ｂである。この２つのＢＥＲ分布１０Ａ，１０Ｂは、同一構成の異なるヘッド１０を用いて得られたものである。図２に示すように、両ＢＥＲ分布１０Ａ，１０Ｂは、ヘッド、及びディスクが異なるため、セクタ毎の分布が大きく異なっていることがわかる。なお、図２のＰ部分の拡大図は、図３に示している。
【００２９】
また、一般に、磁気ディスク装置における記録品質の評価は、１周、もしくは１００数十セクタ単位で評価される。このため、１／４から１周単位での平均ＢＥＲが評価され、この評価結果に応じて記録電流の設定値が決定される。しかしながら、図２に示すように、セクタ毎にＢＥＲのばらつきを評価すると、数セクタ毎のばらつきや、１周にわたりＢＥＲ分布が変動する低周波のうねり等がみられ、複雑な特徴が顕在する。このような周内分布のばらつきは、例えば、ディスクの周内の保磁力分布と概ね一致しており、ディスクの製造過程において発生する周内の磁気特性の変化が一つの要因である。このように周内ではばらつきがあるため、同一周内で固定の電流値によりデータの記録を行うと、特定のセクタでは最適化されていない記録電流の設定でデータ記録を行うことになる。
【００３０】
図３は、図２のＰ部分の拡大図である。より詳細には、セクタ毎に測定されたＢＥＲ分布をアングル方向に拡大した図である。本実施形態では、セクタ毎に５００回の測定を行っているため、その５００回の測定結果を分布で示している。図２においては、アングル方向の幅を全体のセクタを範囲として示しているため、図示横方向の分布が視認できなくなっている。したがって、図２においては、ヘッドに求められる適正なＢＥＲ分布から図示上下方向に外れた値が強調されるように示されている。
【００３１】
図４は、ＢＥＲ分布の半径位置依存性の結果の一例を示す図である。なお、図示左側がディスクの外周側の半径位置のＢＥＲ分布を示しており、図示の右側がディスクの内周側の半径位置のＢＥＲ分布を示している。
【００３２】
図４には、ＢＥＲ分布１０Ａ１〜１０Ａ５が示されており、若い番号ほど外周側の半径位置のＢＥＲ分布になっている。また、ＢＥＲ分布１０Ａ１，１０Ａ２，１０Ａ３は外周側の連続する半径位置のＢＥＲ分布であり、ＢＥＲ分布１０Ａ５は内周側の半径位置のＢＥＲ分布である。ＢＥＲ分布１０Ａ４は、外周側の半径位置と、内周側の半径位置との間の中周の半径位置のＢＥＲ分布を示している。なお、図５は、異なる半径位置でのセクタ毎のＢＥＲ分布の一例を示す図であり、図４のＢＥＲ分布１０Ａ１，１０Ａ４、１０Ａ５が図示横方向に拡大されて示されており、外周、中周、内周のそれぞれの半径位置でのＢＥＲ分布が異なっていることが示されている。また、図６は、外周側の連続トラックにおけるセクタ毎のＢＥＲ分布の一例を示す図であり、図４のＢＥＲ分布１０Ａ１、１０Ａ２、１０Ａ３が図示横方向に拡大されて示されている。ＢＥＲ分布１０Ａ１，１０Ａ２，１０Ａ３が略相似形の分布であることが示されている。
【００３３】
主として図４からは、（１）最外周の半径位置のＢＥＲ分布１０Ａ１，１０Ａ２，１０A３では、高周波成分のＢＥＲのばらつきがみられること、（２）１周にわたるＢＥＲの低次のうねりが存在すること、（３）外周の隣接トラック同士（ＢＥＲ分布１０Ａ１，１０Ａ２，ＢＥＲ分布１０Ａ３）では、ほぼ類似したＢＥＲ分布を持つこと、および（４）外周・中周・内周ではＢＥＲ分布の特徴が大きく異なることが視認できる。これら（１）から（４）を鑑みると、半径位置毎に各セクタのＢＥＲ分布を考慮した記録電流設定の最適化を行うことで、従来よりも高品質なデータ記録を行うことができる磁気ディスク装置を実現することが可能になることがわかる。
【００３４】
本実施形態では、一般に磁気ディスクに記録されるサーボパターンを利用してセクタ毎の線記録密度を変化させることにより、高品質なデータ記録を実現する磁気ディスク装置１について説明する。
【００３５】
図７は、サーボパターンを説明するための図であり、図８は、サーボパターンの一例を示す図である。図５に示すように、サーボデータＤ１には、ヘッドの位置決めに用いられる複数のデータＤ１１からＤ１５、及び後述する記録品質判定データＲＥ１が含まれている。サーボパターンは、例えば、サーボトラックライタと呼ばれる製造整備によって、磁気ディスク装置１の製造時にディスクに書き込まれる。
【００３６】
図７には、ディスク２の外周側（ＯＤ）と、ディスク２の内周側（ＩＤ）との間に、３つの半径位置に設けられているセクタＳ１，Ｓ２，Ｓ３のサーボパターンＤ１，Ｄ２，Ｄ３が示されている。なお、図示の都合上、図７では、３つのセクタＳ１，Ｓ２，Ｓ３のサーボパターンＤ１，Ｄ２，Ｄ３を示しているが、各セクタにサーボパターンが記録されている。各サーボパターンＤ１，Ｄ２，及びＤ３には、それぞれ、記録品質判定データＲＥ１，ＲＥ２及びＲＥ３が含まれている。以下では、サーボパターンを総称してサーボパターンＤと称することがあり、記録品質判定データを総称して記録品質判定データＲＥと称することがある。記録品質判定データＲＥ１からＲＥ３は、それぞれ該当セクタの記録媒体の特性（記録品質）を判定するためのデータである。記録品質判定データＲＥは、例えば、記録品質に応じたデータ量を示すようにしてもよいし、また、記録品質が一定品質を大幅に超えている場合は、「１」を示すデータとなり、記録品質が一定品質を超える程度である場合は、「０」を示すデータとなるようにしてもよい。
【００３７】
なお、記録品質を確保するために、各セクタＳ１、Ｓ２，Ｓ３は一定以上の品質が確保されている。この記録品質判定データＲＥ１からＲＥ３は、サーボパターンＤをディスク２に記録する処理を行う際に、テストパターンが記録されディスク２から取得可能なＢＥＲ分布を利用して、各セクタの記録品質を検出して予め求めることができる。そして、各セクタのサーボパターンに含めるようにすることが想定される。これにより、ＭＰＵ１４は、データをディスク２に記録する場合に、データの書き込み対象となるセクタの記録品質を検出し、最適な記録条件を設定することが可能になる。
【００３８】
次に、サーボパターンＤに基づいて記録条件を設定し、データの記録を行う処理について説明する。図９は、ＭＰＵ１４が実行する、データの記録条件を設定し、データの記録をディスク２に行う処理の一例を示すフローチャートである。
ＭＰＵ１４は、まず、ディスク２の同一周内、つまり、同一トラック内のセクタ毎の記録品質を測定する（ＳＴ１０１）。ＭＰＵ１４は、所定の同一トラック内のセクタ毎の記録品質判定データＲＥをサーボパターンＤから取得する。そして、ＭＰＵ１４は、同一トラック内で最も記録品質の悪いセクタの線記録密度を下げる（ＳＴ１０２）。
【００３９】
次に、ＭＰＵ１４は、電流調整を実施するか否かを判定する（ＳＴ１０３）。実施すると判定した場合（ＳＴ１０３：ＹＥＳ）、ＭＰＵ１４は電流調整を実施する（ＳＴ１０４）。電流調整実施した場合（ＳＴ１０４）、又は、電流調整を実施しない場合（ＳＴ１０３：ＮＯ）、ＭＰＵ１４は、容量が不足しているか否かを判定する（ＳＴ１０５）。この電流調整は、例えば、ＭＰＵ１４が、ＳＴＯ制御部１１１、及び記録コイル制御部１１２を制御することにより実行する。変更した線記録密度に合わせて適切な電流設定値に調整することにより、通常の記録電流での低周波のＢＥＲのばらつきを是正し、ＳＴＯへの通電電流で高周波のばらつきを抑制し、あるいはその逆、又は複合的な調整により、ＢＥＲのばらつきの平準化を図ることができる。例えば、線記録密度を下げる場合は、ＭＰＵ１４は電流値を下げることができる。これにより、記録幅を広げることなく、当該セクタの記録品質が向上させることが出来る。ただし、記録密度が低くなる分、データの記録容量が少なくなる。
【００４０】
容量が不足していると判定した場合（ＳＴ１０５：ＮＯ）、ＭＰＵ１４は、同一トラック内で最も記録品質の良いセクタの線記録密度を上げる（ＳＴ１０６）。そして、処理はステップＳＴ１０３へ戻る。これにより、ＭＰＵ１４により、既述のステップＳＴ１０３の電流調整を実施するか否かの判定が行われる。
【００４１】
ここで、線記録密度を調整する方法について詳細に説明する。既述のように、本実施形態では、同一トラック内において記録品質を均質化させるためにＢＥＲの悪いセクタの線記録密度を下げた場合に、磁気ディスク装置１の記録容量を担保するために、同一トラック内に置いてＢＥＲの良好なセクタの線記録密度を上昇させる。なお、本実施形態では、線記録密度を変化させるセクタは、サーボパターンＤに含まれる記録品質判定データＲＥに基づいて決定される場合で説明するが、記録品質判定データＲＥに加えてデータエリアのセクタ毎のＢＥＲばらつきも考慮するようにしてもよい。同一トラック内において、最も品質の悪いセクタの線記録密度を下げることにより、当該セクタの記録品質を確保することができるようになる。これにより、線記録密度が変更されたセクタと、線記録密度が変更されていないセクタは異なるブロック長を有するようになる。また、同一トラック内に、線記録密度を低くしたセクタと、線記録密度を高くしたセクタとを含むので、同一トラック内に２つ以上の極値となる線記録密度を有するようになる。
【００４２】
さらに、既述の図４を参照して説明したように、隣接するセクタのＢＥＲ分布は、相似する傾向がある。このため、任意のセクタの記録条件を設定する場合に、ＭＰＵ１４は、当該任意のセクタの前後、左右のセクタの記録品質判定データＲＥを利用して、当該任意のセクタの記録条件を設定するようにしてもよい。このように、線記録密度を低下させた場合に容量が不足する場合は、当該任意のセクタの前後、左右のセクタの記録品質判定データを利用して、最も品質の良いセクタ、またはその周辺のセクタを含む複数のセクタの線記録密度を上げることにより、磁気ディスク装置１の記録容量を担保するようにしてもよい。このようにしても、記録品質の平準化（ＢＥＲのばらつきの平準化）を行うことができる。以上のように、記録品質の平準化を行うことにより、図２，図４を用いて既述した揺らぎ、つまり１次、２次のような低次の揺らぎを解消するように線記録密度を変化させ、ＢＥＲのばらつきを平準化することができる。したがって、本実施形態の処理により、記録品質の平準化が行われてデータの記録が行われた場合、このように記録されたデータのＢＥＲ分布は、図２，図４のようなＢＥＲ分布１０Ａ，１０Ｂ等と比較して、揺らぎが大幅に解消される。
【００４３】
一方、容量が不足していないと判定した場合（ＳＴ１０５：ＮＯ）、ＭＰＵ１４は、終了か否かを判定する（ＳＴ１０７）。例えば、この判定は、記録対象になるトラックに対してすべての処理が終了したか否かに基づいて行われる。ＭＰＵ１４が終了でないと判定した場合（ＳＴ１０７：ＮＯ）、処理はステップＳＴ１０１へ戻り、終了であると判定した場合、ＭＰＵ１４は、設定された記録条件に基づいて、データの記録を実行する（ＳＴ１０８）。
【００４４】
以上のように説明した磁気ディスク装置１によると、ヘッド１０によりデータをディスク２へ記録する際に、ディスク２上でヘッド１０を位置決めするために用いられるサーボパターンＤに基づいて、ディスク２のセクタ（所定単位）毎の記録条件を設定し、当該設定した記録条件に応じてディスク２へデータの記録を行うことができる。したがって、磁気ディスク装置１は、記録条件を適切に設定することができ、磁気記録の品質を向上させることができる。
【００４５】
また、磁気ディスク装置１は、サーボパターンＤの一部に記録品質判定データＲＥを含ませることにより、ヘッド１０の位置決めと、記録条件の設定とを同時に行うことが可能になる。
【００４６】
なお、本実施形態では、サーボパターンＤに記録品質判定データＲＥを含めるため、ディスク２の記録面密度が０．５％程度ロスすることになる。しかしながら、セクタ毎の特性に合わせた記録条件でデータを記録することができることにより、１％以上の面記録密度のゲインが期待される。このため、トータルで記録面密度の改善になる。
【００４７】
また、上記実施形態では、サーボパターンＤに記録品質判定データＲＥを含める構成について説明したが、サーボパターンを用いて記録条件を設定する手法は、これに限るものではない。例えば、従来のサーボパターンに含まれるデータの振幅Ｈの大きさを利用するようにしてもよい。図１０は、サーボパターンの他の一例を示す図である。図１０に示すように、サーボパターンＤ４に含まれるデータのうちの末尾のデータ部分の振幅Ｈを利用し、例えば、振幅Ｈが所定幅より大きければ当該セクタの記録品質は、記録品質が一定品質を大幅に超えていることを示し、当該所定幅以下であれば、記録品質が一定品質を超える程度であることを示すように判定することが考えられる。このように構成しても上記実施形態と同様な効果を奏することができる。また、サーボパターンＤ４に記録品質判定データＲＥを付加する必要がないため、ディスク２の面記録密度のロスを防止することができる。
【００４８】
（他の実施形態）
上記実施形態は、データの記録を行う際に、ＳＴＯ制御部（高周波アシスト）１１１を用いる磁気ディスク装置１について説明したが、本発明を適用できる磁気ディスク装置は、高周波アシストを用いる磁気ディスク装置に限られるものではない。例えば、熱アシストを用いる磁気ディスク装置でもよい。図１１は、データの記録を行う際に、熱アシストを用いる磁気ディスク装置１の概略的な構成の一例を示している。図１１に示すように、磁気ディスク装置１には、ＳＴＯ制御部（参照：図１）１１１に代えて、レーザダイオード（ＬＤ）制御部１１５（熱アシスト制御部）が設けられている。さらに、データの記録を行う際に、高周波や熱によるアシストを使用しない磁気ディスク装置にも本発明を適用することができる。
【００４９】
また、上記実施形態では、線記録密度を変更する際に、線記録密度を変更する割合に制限を設けない場合で説明しているが、制限を設けるようにしてもよい。例えば、隣接するセクタで線記録密度が変化する割合を一定割合以内、例えば１０％以内に抑えるように制限して、線記録密度を変更する処理を実施することが考えられる。このように構成すると、隣接するセクタの線記録密度が大きく異なる状態になることを回避できるため、データの記録処理をスムーズに行えるようになる。
【００５０】
なお、本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。
【符号の説明】
【００５１】
１…磁気ディスク装置、２…ディスク、３…スピンドルモータ（ＳＰＭ）、４…アクチュエータ、５…ボイスコイルモータ（ＶＣＭ）、１０…ヘッド、１０Ａ，１０Ｂ…ＢＥＲ分布、１０Ｗ…ライトヘッド（記録ヘッド）、１０Ｒ…リードヘッド（再生ヘッド）、１１…ヘッドアンプＩＣ、１２…Ｒ／Ｗチャネル、１３…ハードディスクコントローラ（ＨＤＣ）、１４…マイクロプロセッサ（ＭＰＵ）、１５…ドライバＩＣ、１６…メモリ、１７…ホスト、１１１…ＳＴＯ制御部、１１２…記録コイル制御部、１１５…ＬＤ制御部、Ｄ１，Ｄ２，Ｄ３…サーボパターン、ＲＥ１，ＲＥ２，ＲＥ３…記録品質判定データ、Ｈ…振幅、Ｓ１，Ｓ２，Ｓ３…セクタ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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