(57)【要約】【課題】異物の誤認識を抑制できる粉粒体検査処理装置を提供する。【解決手段】検査対象とする粉粒体を一定量毎で供給する供給装置と、供給装置の下流に位置し、粉粒体を搭載して搬送する搬送装置３０と、搬送装置に載せられた粉粒体に混入している異物を検知領域３１で検知する異物検知装置８０と、を備える。異物検知装置は、上方に照明光を出射する光源部８２と、搬送装置の上方に設けられ、光源部から出射された照明光を検知領域における搬送装置に向けて反射する反射装置８３と、反射装置で反射した照明光で照明された搬送装置の検知領域を撮像する撮像部８１と、を有する。【選択図】図２
2020165843.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
検査対象とする粉粒体を一定量毎で供給する供給装置と、
前記供給装置の下流に位置し、前記粉粒体を搭載して搬送する搬送装置と、
前記搬送装置に載せられた前記粉粒体に混入している異物を検知領域で検知する異物検知装置と、
を備え、
前記異物検知装置は、
上方に照明光を出射する光源部と、
前記搬送装置の上方に設けられ、前記光源部から出射された前記照明光を前記検知領域における前記搬送装置に向けて反射する反射装置と、
前記反射装置で反射した前記照明光で照明された前記搬送装置の前記検知領域を撮像する撮像部と、
を有することを特徴とする粉粒体検査処理装置。
【請求項２】
前記反射装置は、前記搬送装置と対向し、前記搬送装置の搬送方向における前記検知領域の位置から上流側及び下流側に向かうに従って、前記搬送装置との距離がそれぞれ短くなる反射面を有し、
前記光源部は、前記検知領域の上流側に設けられた第１光源部と、前記検知領域の下流側に設けられた第２光源部とを含む、
請求項１に記載の粉粒体検査処理装置。
【請求項３】
前記反射面は、前記搬送装置の幅方向に延びて形成されており、
前記第１光源部及び前記第２光源部は、それぞれで前記幅方向に間隔をあけて複数設けられている、
請求項２に記載の粉粒体検査処理装置。
【請求項４】
前記反射装置は、前記撮像部と対向する、前記搬送方向における前記検知領域の位置に光透過部を有する、
請求項２または３に記載の粉粒体検査処理装置。
【請求項５】
前記第１光源部及び前記第２光源部は、前記反射面に対して、前記搬送方向の端部と前記光透過部との間に前記照明光を出射する、
請求項２から４のいずれか一項に記載の粉粒体検査処理装置。
【請求項６】
前記光源部は、前記搬送方向における前記検知領域の位置で、前記搬送装置の下方から前記搬送装置を介して前記照明光を上方に出射する第３光源部を含む、
請求項２から５のいずれか一項に記載の粉粒体検査処理装置。
【請求項７】
前記反射面は、前記搬送装置の幅方向と直交する断面において円弧形状に形成されている、
請求項２から６のいずれか一項に記載の粉粒体検査処理装置。
【請求項８】
前記光源部は、前記照明光を面発光する、
請求項１から７のいずれか一項に記載の粉粒体検査処理装置。
【請求項９】
前記光源部から出射された前記照明光が前記反射装置で反射された反射光のうちの正反射光は、前記搬送装置における前記検知領域を非照明である、
請求項１から８のいずれか一項に記載の粉粒体検査処理装置。
【請求項１０】
前記異物検知装置による異物検知結果に基づいて異物を除去する異物除去装置を有する、
請求項１から９のいずれか一項に記載の粉粒体検査処理装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、粉粒体検査処理装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
顆粒や粉体、例えば顆粒薬剤や食用粉末等の薬品や食品等の粉粒体に混入しているゴミ、金属片その他の異物の検査を行うとともに、その異物を除去するための粉粒体検査処理装置が様々開発されている。
【０００３】
例えば、特許文献１には、検査、除去対象となる粉粒体（粒状体）を照明装置で照明し、照明された粉粒体を撮像部で撮像した画像を基に、異物の有無を判別し空気の吐出によって対象の異物を取り除く粒状体検査処理装置が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２０１７−１６７１６０号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、上述したような従来の粉粒体検査処理装置では、例えば、結晶性の粉粒体を照明すると、結晶が重なっている箇所や結晶が角張っている箇所で照明光が乱反射してしまい撮像部で撮像される反射光の光量が減少するため、粉粒体であるにも拘わらず異物であると誤認識される可能性がある。この場合、特許文献１に記載された粒状体検査処理装置では、異物であると認識された粉粒体が取り除かれてしまうという問題が生じる。
【０００６】
本発明は、以上のような点を考慮してなされたもので、異物の誤認識を抑制できる粉粒体検査処理装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明の第１の態様に従えば、検査対象とする粉粒体を一定量毎で供給する供給装置と、前記供給装置の下流に位置し、前記粉粒体を搭載して搬送する搬送装置と、前記搬送装置に載せられた前記粉粒体に混入している異物を検知領域で検知する異物検知装置と、を備え、前記異物検知装置は、上方に照明光を出射する光源部と、前記搬送装置の上方に設けられ、前記光源部から出射された前記照明光を前記検知領域における前記搬送装置に向けて反射する反射装置と、前記反射装置で反射した前記照明光で照明された前記搬送装置の前記検知領域を撮像する撮像部と、を有する粉粒体検査処理装置が提供される。
【０００８】
また、上記本発明の一態様に係る粉粒体検査処理装置において、前記反射装置は、前記搬送装置と対向し、前記搬送装置の搬送方向における前記検知領域の位置から上流側及び下流側に向かうに従って、前記搬送装置との距離がそれぞれ短くなる反射面を有し、前記光源部は、前記検知領域の上流側に設けられた第１光源部と、前記検知領域の下流側に設けられた第２光源部とを含むことを特徴とする。
【０００９】
また、上記本発明の一態様に係る粉粒体検査処理装置において、前記反射面は、前記搬送装置の幅方向に延びて形成されており、前記第１光源部及び前記第２光源部は、それぞれで前記幅方向に間隔をあけて複数設けられていることを特徴とする。
【００１０】
また、上記本発明の一態様に係る粉粒体検査処理装置において、前記反射装置は、前記撮像部と対向する、前記搬送方向における前記検知領域の位置に光透過部を有することを特徴とする。
【００１１】
また、上記本発明の一態様に係る粉粒体検査処理装置において、前記第１光源部及び前記第２光源部は、前記反射面に対して、前記搬送方向の端部と前記光透過部との間に前記照明光を出射することを特徴とする。
【００１２】
また、上記本発明の一態様に係る粉粒体検査処理装置において、前記光源部は、前記搬送方向における前記検知領域の位置で、前記搬送装置の下方から前記搬送装置を介して前記照明光を上方に出射する第３光源部を含むことを特徴とする。
【００１３】
また、上記本発明の一態様に係る粉粒体検査処理装置において、前記反射面は、前記搬送装置の幅方向と直交する断面において円弧形状に形成されていることを特徴とする。
【００１４】
また、上記本発明の一態様に係る粉粒体検査処理装置において、前記光源部は、前記照明光を面発光することを特徴とする。
【００１５】
また、上記本発明の一態様に係る粉粒体検査処理装置において、前記光源部から出射された前記照明光が前記反射装置で反射された反射光のうちの正反射光は、前記搬送装置における前記検知領域を非照明であることを特徴とする。
【００１６】
また、上記本発明の一態様に係る粉粒体検査処理装置において、前記異物検知装置による異物検知結果に基づいて異物を除去する異物除去装置を有することを特徴とする。
【発明の効果】
【００１７】
本発明では、異物の誤認識を抑制することが可能になる。
【図面の簡単な説明】
【００１８】
【図１】本実施形態に係る粉粒体検査処理装置１の正面図である。
【図２】コンベア部３０及び異物検知装置８０を拡大した図である。
【図３】コンベア部３０及び異物検知装置８０を＋Ｘ側（搬送方向下流側）から視た図である。
【図４】反射装置８３の外観斜視図である。
【図５】光源部８２及び反射装置８３が収納された筺体８４を＋Ｚ側から視た平面図である。
【図６】ＸＺ平面での断面において、光源部８２からの照明光ＬＡ〜ＬＣの光路を示す図である。
【図７】ＹＺ平面での断面において、第１光源部８２Ａからの照明光ＬＡの光路を示す図である。
【図８】反射装置８３を用いず、検知領域３１に直接照明光を射出する光源部を用いた場合に撮像部８１で撮像された画像を示す図である。
【図９】反射装置８３を用いた異物検知装置８０で撮像された画像を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１９】
以下、本発明の粉粒体検査処理装置の実施の形態を、図１ないし図９を参照して説明する。
なお、以下の実施形態は、本発明の一態様を示すものであり、この発明を限定するものではなく、本発明の技術的思想の範囲内で任意に変更可能である。また、以下の図面においては、各構成をわかりやすくするために、実際の構造と各構造における縮尺や数等を異ならせている。
【００２０】
図１は、本実施形態に係る粉粒体検査処理装置１の正面図である。この粉粒体検査処理装置１は、顆粒や錠剤、又は粉体等の粉粒体に混入しているゴミ、金属片、毛髪等の異物の検査を行うとともに、その異物を除去するための装置である。
【００２１】
粉粒体検査処理装置１は、上下に分離された二つの筐体である上部筐体２と下部筐体３とを有する。上部筐体２には、正面側が開放できるように、上部筐体扉が設けられ、上部筐体２の内部を開放することができる構造となっている。なお、図１においては、前記上部筐体扉を省略し上部筐体２の内部が開放された状態として図示されている。
【００２２】
上部筐体２の内部には、検査処理対象となる粉粒体を供給し、分散させ検査し、粉粒体に混入した異物を除去する各装置が備えられている。粉粒体は粉粒体検査処理装置１の正面から向かって左方より右方に搬送され、この搬送経路中において異物の混入が検査され、さらに異物が発見された場合にはこの異物が除去される。
【００２３】
下部筐体３の内部には、前記上部筐体２の内部に設けられた各装置と接続された配管や、除去された異物を収容する異物収容タンクが設置されている。下部筐体３は、正面側から開放可能な扉３ａが設けられており、作業者は点検時や、異物収容タンク内の異物を回収することができる。
また、下部筐体３の下面には、キャスター４が取り付けられており、粉粒体検査処理装置１は、当該キャスター４によって容易に移動させることができる。
【００２４】
粉粒体検査処理装置１は、粉粒体供給装置１０、振動フィーダ２０、コンベア部３０（搬送装置）、異物除去装置５０及び異物検知装置８０を備えている。
【００２５】
粉粒体供給装置１０は、上部筐体２の最上流（図１において左方）に設けられている。粉粒体供給装置１０の上部には、中空円錐状に形成されたホッパー５が備えられており粉粒体を下方に供給する。このホッパー５は、上部筐体２の天面２ｃに設けられた設置孔２ａに挿通されて固定されている。また、ホッパー５は、粉粒体検査処理装置１が接地された室内の埃等が混入しないようホッパー蓋体５ａを備えている。
【００２６】
粉粒体供給装置１０は、上方から順に接続部１８、案内部１５、下蓋体１４、ローラー収納体１１、ローラー１２、ローラー取付体１３を有する。
ホッパー５から接続部１８を介して下方に供給された粉粒体は、案内部１５に導入され、さらに案内部１５の下面からローラー１２に所定量だけ収容される。ローラー１２に収容された粉粒体は、ローラー１２の回転によりローラー１２の下方に移送され、自然落下する。ローラー１２を一定速度で回転することにより、一定間隔で粉粒体が落下し、一定量の粉粒体を一定間隔で下流の振動フィーダ２０に供給することができる。
【００２７】
振動フィーダ２０は、粉粒体供給装置１０の下方に設けられている。振動フィーダ２０は、粉粒体供給装置１０から供給された粉粒体を均一に均して下流（コンベア部３０）に流す。振動フィーダ２０は、振動部２１と当該振動部２１の上面に設置された受板２２とを有している。
【００２８】
受板２２は、粉粒体供給装置１０の下側の位置からコンベア部３０の一端部までの間に延在して配置されている。受板２２は、粉粒体供給装置１０から排出された粉粒体を受けるとともに、振動部２１による振動により粉粒体を均し、さらにこれをコンベア部３０に供給する。本実施形態では、受板２２を水平に配置するとともに、進行方向に対して斜め前の方向に振動させることにより粉粒体をコンベア部３０側に移動させる。また、受板２２をコンベア部３０側に傾斜するように配置しても良い。
【００２９】
コンベア部３０は、振動フィーダ２０から供給された粉粒体を下流（図１中、水平方向右側）に搬送する。なお、以下においては、上下方向をＺ方向とし、粉粒体の搬送方向をＸ方向とし、Ｚ方向及びＸ方向と直交する方向をＹ方向として適宜説明する。
【００３０】
コンベア部３０は、無端ベルト３８と当該無端ベルト３８を振動フィーダ２０の右端から良品シュート６の間でテンションを印加し回転駆動させる第１プーリ３４Ａ、第２プーリ３４Ｂ、第３プーリ３４Ｃを有している。無端ベルト３８は、透明または半透明の光透過材で形成されている。
【００３１】
第１プーリ３４Ａ、第２プーリ３４Ｂ、第３プーリ３４Ｃは、コンベア部３０の奥側に配置される電機機械室９に設けられた駆動制御手段（図示せず）により、第２プーリ３４Ｂが図１中、時計回り方向に回転することにより、Ｙ方向を幅方向とする無端ベルト３８を右回りに駆動させることができる。第１プーリ３４Ａ及び第３プーリ３４Ｃは回転自在に支持されており、無端ベルト３８の駆動に追随して回転することができる。
【００３２】
コンベア部３０には、一対の粉塵吸引ノズル７、７が設けられている。無端ベルト３８が右方から左方に駆動する下半周部分において、無端ベルト３８の外周面と内周面とに付着した粉塵を、これらの粉塵吸引ノズル７、７によって吸引することができる。
【００３３】
図２は、コンベア部３０及び異物検知装置８０を拡大した図である。
異物検知装置８０は、コンベア部３０上を搬送される粉粒体の検知領域３１の二次元画像を撮像することで粉粒体の異物混入を検査する。異物検知装置８０は、コンベア部３０による粉粒体の搬送経路に設けられている。異物検知装置８０は、撮像部８１と光源部８２と反射装置８３とを有している。光源部８２及び反射装置８３は、防水・防塵のために筺体８４に水密状態で収納されている。
【００３４】
図３は、コンベア部３０及び異物検知装置８０を＋Ｘ側（搬送方向下流側）から視た図である。
撮像部８１は、一例として、ＣＣＤカメラである。撮像部８１は、無端ベルト３８の幅方向（Ｙ方向）に間隔をあけて複数（本実施形態では３個）設けられている。撮像部８１は、−Ｚ側に視野を有し無端ベルト３８上を撮像領域として撮像する。
【００３５】
無端ベルト３８上における隣り合う撮像部８１の撮像可能領域（視野範囲）８１Ａは、Ｙ方向端部において互いに重複している。検知領域３１は、複数の撮像部８１の撮像可能領域（視野範囲）８１ＡでカバーされるＹ方向に延びる領域である。検知領域３１は、無端ベルト３８に粉粒体が移載される範囲よりも幅方向で大きな範囲に設定されている。
【００３６】
撮像部８１によって撮影された画像データは、ＣＰＵ等からなる画像検査部（図示せず）に伝送され、当該画像検査部において画像処理され、粉粒体に異物が混入しているか否かを判別する。例えば予め基準となる粉粒体の画像データを記憶しておき、伝送されてきた粉粒体の画像データと対比し、その画像データが設定値以上であるときは異物があると判別する。
【００３７】
図４は、反射装置８３の外観斜視図である。
反射装置８３は、ＸＺ平面での断面形状が＋Ｚ側に凸となる略半円の円弧形状でＹ方向に延びるドーム状に形成されている。反射装置８３は、ＸＺ平面での断面において頂点位置となるＸ方向の中心に、Ｚ方向視でＹ方向を長辺方向とする略矩形状の開口部（光透過部）８３Ａを有している。開口部８３Ａは、Ｚ方向に貫通している。開口部８３Ａは、Ｘ方向及びＹ方向の双方で検知領域３１（複数の撮像部８１の視野範囲）よりも大きな範囲に形成されている。すなわち、開口部８３Ａは、複数の撮像部８１が当該開口部８３Ａを介して無端ベルト３８上を撮像可能としている。
【００３８】
反射装置８３は、無端ベルト３８に臨む−Ｚ側に反射面８３Ｂを有している。反射面８３Ｂは、Ｙ方向に沿って延びて形成されており、Ｘ方向における検知領域３１の位置から搬送方向上流側及び下流側に向かうに従って無端ベルト３８との距離がそれぞれ短くなる。反射装置８３は、一例として、合成樹脂材で形成されている。
【００３９】
図２に戻り、光源部８２は、検知領域３１より上流側に設けられ照明光ＬＡを上方に向けて出射する第１光源部８２Ａと、検知領域３１より下流側に設けられ照明光ＬＢを上方に向けて出射する第２光源部８２Ｂと、無端ベルト３８の下方に設けられ無端ベルト３８を介して照明光ＬＣを上方に向けて出射する第３光源部８２Ｃとを含む。
【００４０】
第１光源部８２Ａ、第２光源部８２Ｂ及び第３光源部８２Ｃは、一例として、いずれもＬＥＤを光源とし、Ｚ軸と平行な光軸で＋Ｚ側に向けてそれぞれ照明光ＬＡ〜ＬＣを面発光する。また、第１光源部８２Ａ、第２光源部８２Ｂ及び第３光源部８２Ｃは、照明光ＬＡ〜ＬＣをそれぞれ所定の配光角度（例えば、３０〜９０度）で出射する。
【００４１】
第１光源部８２Ａ及び第２光源部８２Ｂは、それぞれ反射面８３Ｂに対して、Ｘ方向の端部と開口部８３Ａとの間に照明光ＬＡ、ＬＢを出射する。
【００４２】
図５は、光源部８２及び反射装置８３が収納された筺体８４を＋Ｚ側から視た平面図である。図５に示すように、第１光源部８２Ａ及び第２光源部８２Ｂは、それぞれＹ方向に間隔をあけて複数（図５では五つずつ）設けられている。Ｙ方向で最も外側に配置された第１光源部８２Ａ及び第２光源部８２Ｂは、開口部８３ＡよりもＹ方向の外側に配置されている。
【００４３】
第３光源部８２Ｃは、無端ベルト３８の−Ｚ側に間隔をあけ、Ｘ方向で撮像部８１及び検知領域３１と同一位置に配置されている。第３光源部８２Ｃは、図３に示すように、Ｙ方向に延在して配置され、無端ベルト３８上の検知領域３１をＹ方向に亘って下方から照明する。
【００４４】
異物除去装置５０は、コンベア部３０の終端部（図１における右端部）に設けられている。異物除去部５０は、コンベア部３０の終端付近の無端ベルト３８の上方に近接して設けられ異物を除去するための除去ノズル５６を有している。除去ノズル５６は、異物検知装置８０により粉粒体に異物が混入していると判別された場合、即ちその信号を受信したときに、除去ノズル５６の先端から無端ベルト３８上の一定領域の粉末体を吸引して、異物を除去することができる。除去ノズル５６は、気密に吸引ホース５４の一端に接続されている。吸引ホース５４の他端は、下部筐体３の側壁に設けられた吸引口５５（配管開口）に接続されている。吸引口５５は、下部筐体３の内部に設けられた吸引装置（図示略）によって、異物を吸引するための負圧が発生するように構成されている。
【００４５】
続いて、上記粉粒体検査処理装置１の検査処理について、図６及び図７を参照して説明する。
ホッパー５から接続部１８を介して下方に供給された粉粒体は、図１に示した案内部１５、ローラー１２及び振動フィーダ２０を介して均一に均された状態でコンベア部３０の無端ベルト３８に連続的に供給される。
【００４６】
無端ベルト３８に供給された粉粒体は、無端ベルト３８の駆動により、検知領域３１に搬送される。検知領域３１において粉粒体は、照明光ＬＡ、ＬＢによって＋Ｚ側から照明されるとともに、照明光ＬＣによって−Ｚ側から照明される。
【００４７】
図６は、ＸＺ平面での断面において、光源部８２からの照明光ＬＡ〜ＬＣの光路を示す図である。
図６に示すように、第１光源部８２Ａから＋Ｚ側に出射された照明光ＬＡ及び第２光源部８２Ｂから＋Ｚ側に出射された照明光ＬＢは、それぞれ反射装置８３の反射面８３Ｂで反射する。
【００４８】
図６において、矢印で示す第１光源部８２Ａから出射された照明光ＬＡ及び第２光源部８２Ｂから出射された照明光ＬＢは、それぞれ照明光ＬＡ、ＬＢの光軸を示している。また、図６において、反射面８３Ｂで反射した矢印で示す照明光ＬＡ、ＬＢの反射光は、それぞれ正反射光の光軸を示している。
【００４９】
図６に示されるように、照明光ＬＡ、ＬＢは、Ｙ方向視で円弧状の反射面８３Ｂの円弧中心からＸ方向に外れた位置で＋Ｚ側に出射されているため、反射面８３Ｂへの入射角度が大きくなる。そのため、照明光ＬＡ、ＬＢが反射面８３Ｂで反射した正反射光についても、出射角及び入射角が大きくなる。その結果、正反射光は、反射面８３Ｂで周方向に離間した位置で複数回（図６では二回、照明光ＬＡ、ＬＢの反射も含めて三回）反射し無端ベルト３８上の検知領域３１から外れた位置を照明する。
【００５０】
一方、照明光ＬＡ、ＬＢ及び正反射光が反射面８３Ｂで反射した際には、正反射光とは別に拡散反射光が生じる。拡散反射光は、様々な方向に乱反射するため、一部が検知領域３１を照明する。換言すると、照明光ＬＡ、ＬＢ及び正反射光が反射面８３Ｂの複数箇所（図６では、照明光ＬＡ、ＬＢのそれぞれで三箇所）で反射して生じた拡散反射光の一部は、二次光源として個別に無端ベルト３８上の検知領域３１を照明する。
【００５１】
また、第１光源部８２Ａ及び第２光源部８２Ｂは、それぞれ複数（図５では、五個ずつ）設けられているため、無端ベルト３８上の検知領域３１は、第１光源部８２Ａから出射された照明光ＬＡを光源とする十五箇所と、第２光源部８２Ｂから出射された照明光ＬＢを光源とする十五箇所の反射面８３Ｂ上で合計三十箇所で、周方向（Ｘ方向）で異なる位置の二次光源からの照明光で重畳的に照明されることになる。
【００５２】
図７は、ＹＺ平面での断面において、第１光源部８２Ａからの照明光ＬＡの光路を示す図である。なお、第２光源部８２Ｂからの照明光ＬＢの光路は、第１光源部８２Ａからの照明光ＬＡの光路と同様であるため説明を省略する。
【００５３】
図７に示されるように、第１光源部８２Ａから出射された照明光ＬＡは、所定の配光角を有して広がるため、反射面８３Ｂで反射した照明光ＬＡは、反射面８３Ｂに対する反射領域のＹ方向の長さよりも大きい照明長さＬＬで、且つ、Ｙ方向で隣り合う第１光源部８２Ａから出射された照明光ＬＡの反射光の照明領域と重なる無端ベルト３８上の検知領域３１を照明する。そのため、無端ベルト３８上の検知領域３１は、上記周方向（Ｘ方向）に加えて、Ｙ方向についても二次光源を形成する拡散反射光の一部で重畳的に照明される。
【００５４】
コンベア部３０により検知領域３１に搬送された無端ベルト３８上の粉粒体は、上述したように、複数の二次光源からの照明光により重畳的に照明されて撮像部８１によって撮像される。この場合、例えば、粉粒体において結晶が重なっている箇所や結晶が角張っている箇所で照明光の一つが乱反射しても、他の二次光源からの照明光により重畳的に照明されるため、撮像部８１で撮像される光量が他の箇所の粉粒体に比べて大きく光量が減少することはなく、また、撮像部８１で撮像される異物からの光量よりも大きくなる。その結果、粉粒体において結晶が重なっている箇所や結晶が角張っている箇所が撮像部８１による撮像結果で異物であると誤認識されることを抑制できる。
【００５５】
図８は、反射装置８３を用いず、検知領域３１に直接照明光を射出する光源部を用いた場合に撮像部８１で撮像された画像を示す図である。図９は、上記の反射装置８３を用いた異物検知装置８０で撮像された画像を示す図である。
【００５６】
図８に示すように、反射装置８３を用いない場合には、異物ではない粉粒体において線状の光量低下部が撮像され異物であるとご認識された。これに対して、反射装置８３を用た場合には、図９に示すように、粉粒体において光量低下部は撮像されずご認識は生じなかった。
【００５７】
そして、撮像部８０の撮像結果により粉粒体に異物が混入していると判別された場合には、即ちその信号を受信したときに、除去ノズル５６の先端から無端ベルト３８上の一定領域の粉末体を吸引して、異物を除去することができる。
【００５８】
以上説明したように、本実施形態の粉粒体検査処理装置１では、光源部から射出された照明光で直接粉粒体を照明せず、反射装置８３により反射して散乱した複数の照明光で重畳的に照明するため、粉粒体の特定箇所で乱反射が生じても他の照明光で照明されることになり、撮像部８１で撮像される光量が大きく減少して異物として誤認識されることを抑制できる。その結果、本実施形態の粉粒体検査処理装置１では、異物として誤認識された粉粒体が異物除去装置５０で除去されてしまい歩留まりが低下することを抑制できる。
【００５９】
また、本実施形態の粉粒体検査処理装置１では、反射面８３Ｂでの正反射光がベルト３８上の検知領域３１から外れた位置を照明するため、検知領域３１に正反射光が照明された場合のように乱反射した箇所と他の箇所とで、撮像部８１で撮像される光量の差が大きくなり誤認識されてしまうことを抑制できる。
【００６０】
さらに、本実施形態の粉粒体検査処理装置１では、第１光源部８２Ａを検知領域３１の上流側に設け、第２光源部８２Ｂを検知領域３１の下流側に設けているため、検知領域３１に対してＸ方向の両側から照明することが可能となり、乱反射した箇所と他の箇所とで撮像部８１で撮像される光量の差をより小さくして誤認識を抑制することができる。
【００６１】
加えて、本実施形態の粉粒体検査処理装置１では、第１光源部８２Ａ及び第２光源部８２Ｂが反射面８３Ｂに対して、搬送方向の端部と開口部８３Ａとの間に照明光ＬＡ、ＬＢを出射するため、照明光ＬＡ、ＬＢが開口部８３Ａを介して直接撮像部８１に入射することを回避でき、撮像部８１の撮像に悪影響を及ぼすことを抑制できる。
【００６２】
以上、添付図面を参照しながら本発明に係る好適な実施形態について説明したが、本発明は係る例に限定されないことは言うまでもない。上述した例において示した各構成部材の諸形状や組み合わせ等は一例であって、本発明の主旨から逸脱しない範囲において設計要求等に基づき種々変更可能である。
【００６３】
例えば、上記実施形態では、反射装置８３の反射面８３Ｂが断面視で円弧状である構成を例示したが、この構成に限定されず、例えば、Ｘ方向両側に向かうに従って−Ｚ側に向かう傾斜面を有するΛ字状であってもよい。
【００６４】
また、上記実施形態では、粉粒体検査処理装置１が異物除去装置５０を有する構成を例示したが、異物除去装置５０が設けられない構成であってもよい。
【符号の説明】
【００６５】
１…粉粒体検査処理装置、  １０…粉粒体供給装置、  ３０…コンベア部（搬送装置）、  ３１…検知領域、  ５０…異物除去装置、  ８０…異物検知装置、  ８１…撮像部、  ８２…光源部、  ８２Ａ…第１光源部、  ８２Ｂ…第２光源部、  ８２Ｃ…第３光源部、  ８３…反射装置、  ８３Ａ…開口部（光透過部）、    ８３Ｂ…反射面
【図１】
2020165843.tif 000003
【図２】
2020165843.tif 000004
【図３】
2020165843.tif 000005
【図４】
2020165843.tif 000006
【図５】
2020165843.tif 000007
【図６】
2020165843.tif 000008
【図７】
2020165843.tif 000009
【図８】
2020165843.tif 000010
【図９】
2020165843.tif 000011