(57)【要約】【課題】変圧器の巻線を開放することなく、変圧器の低圧巻線に対する高圧巻線のずれ量、即ち、巻線の位置ずれ量を把握する。【解決手段】高圧巻線を２分割した状態の回路モデル１を用い、評価制御手段２により、健全状態の伝達関数、ずれが生じた際の診断伝達関数に基づいて伝達関数のモデルを演算し（模擬伝達関数再現機能５）、伝達関数のモデルを演算した際の高圧巻線のインダクタンスの分割割合（下インダクタンス／上インダクタンス）を把握することで（分割割合増減機能６）、低圧巻線に対する高圧巻線の下向きのずれ量を導出する（ずれ量判断機能７）。【選択図】  図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
第１巻線、及び、第２巻線を有する変圧器の前記第１巻線と前記第２巻線との軸方向のずれを評価する変圧器の評価装置において、
前記第１巻線、及び、前記第２巻線を複数に分割し、伝達関数を再現する回路モデルと、
前記回路モデルにおけるインダクタンスの分割割合を変化させて、前記分割割合に基づいて前記第１巻線と前記第２巻線との軸方向のずれ量を評価する評価制御手段とを備え、
前記評価制御手段は、
健全状態での周波数応答解析により得られた伝達関数である健全伝達関数になるように、前記回路モデルにおける模擬伝達関数を再現する模擬伝達関数再現機能と、
診断時での周波数応答解析により得られた伝達関数である診断伝達関数に対し、前記模擬伝達関数再現機能で再現された前記模擬伝達関数での前記分割割合を変化させて、前記模擬伝達関数を前記診断伝達関数に一致させ、一致させた際における前記分割割合の変化の状況を判断する分割割合増減機能と、
前記分割割合増減機能で判断された分割割合の変化の状況に応じて、前記第１巻線と前記第２巻線との軸方向のずれ量を判断するずれ量判断機能とを有する
ことを特徴とする変圧器の評価装置。
【請求項２】
請求項１に記載の変圧器の評価装置において、
前記第１巻線は高圧巻線であり、前記第２巻線は低圧巻線であり、
前記回路モデルにおけるインダクタンスの分割割合を変化させる前記高圧巻線の各巻線は、
励磁インダクタンス、励磁抵抗、巻線抵抗によるＴ型回路でモデル化したものである
ことを特徴とする変圧器の評価装置。
【請求項３】
請求項１もしくは請求項２に記載の変圧器の評価装置において、
前記回路モデルで再現される伝達関数は、４０ＫＨｚから６０ＫＨｚの間の周波数帯のものである
ことを特徴とする変圧器の評価装置。
【請求項４】
請求項１から請求項３のいずれか一項に記載の変圧器の評価装置において、
前記評価制御手段の前記ずれ量判断機能は、
分割した前記第１巻線のインダクタンスの増減割合と、前記第１巻線と前記第２巻線のずれ量との関係が予め設定され、設定された関係により前記第１巻線と前記第２巻線とのずれ量を導出する
ことを特徴とする変圧器の評価装置。
【請求項５】
高圧巻線、及び、低圧巻線を有する変圧器の前記高圧巻線と前記低圧巻線との軸方向のずれを評価する変圧器の評価方法において、
前記高圧巻線、及び、前記低圧巻線を複数に分割し、伝達関数を再現する回路モデルを用い、
健全状態での周波数応答解析により得られた伝達関数である健全伝達関数になるように、前記分割した前記高圧巻線のインダクタンスの分割割合を変化させて模擬伝達関数を再現し、
診断時での周波数応答解析により得られた伝達関数である診断伝達関数に対し、前記模擬伝達関数での前記分割割合を変化させて、前記模擬伝達関数を前記診断伝達関数に一致させ、一致させた際における前記分割割合の変化の状況を把握し、
把握された分割割合の変化の状況に応じて、前記高圧巻線と前記低圧巻線との軸方向のずれ量を判断する
ことを特徴とする変圧器の評価方法。
【請求項６】
請求項５に記載の変圧器の評価方法において、
分割された前記高圧巻線のインダクタンスの増減割合と、前記高圧巻線と前記低圧巻線のずれ量との関係を予め記憶してデータ化し、データ化された関係により、分割された前記高圧巻線のインダクタンスの増減割合に応じた、前記高圧巻線と前記低圧巻線とのずれ量を決定する
ことを特徴とする変圧器の評価方法。
【請求項７】
請求項５もしくは請求項６に記載の変圧器の評価方法において、
得られた前記ずれ量と入力電力との関係により、前記変圧器の寿命を判断する
ことを特徴とする変圧器の評価方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、変圧器の巻線の位置ずれ量を判断するための変圧器の評価装置、及び、変圧器の評価方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
電力用変圧器（変圧器）の改修計画は、変圧器の不具合時の系統への影響を考慮して立案されている。変圧器の不具合として、例えば、外部短絡時に発生する電磁機械力による応力で、絶縁物（絶縁紙やプレスボード）が破損することが考えられる。外部短絡時に発生する電磁機械力による不具合は、変圧器の巻線位置のずれに相関していることが知られている。このため、変圧器の巻線位置のずれを評価することが重要になっている。
【０００３】
変圧器の巻線位置のずれを評価する技術として、巻線の伝達関数の共振周波数を比較して巻線の位置ずれを判定する技術が従来から提案されている（特許文献１）。特許文献１の技術を適用することにより、変圧器を開放することなく、手間をかけずに巻線の位置ずれの有無を判定して、変圧器の健全性を診断することができる。
【０００４】
しかし、特許文献１の技術は、配電用柱上変圧器を対象とした技術であり、例えば、定格電圧６０ＫＶ以上、定格容量ＭＶＡクラス以上の電力用変圧器を対象とした技術ではない。そして、特許文献１の技術は、変圧器の巻線の位置ずれの有無を判定することができる一方で、巻線の位置ずれ量を把握することまで考慮されていないのが現状であった。
【０００５】
電力用変圧器（変圧器）の分野においては、巻線の位置ずれの有無を把握する技術は、変圧器の健全性を診断するために重要な技術である。そして、把握した位置ずれが、どの程度かまでかを把握できれば、変圧器の健全性の診断を更に細かく実施することができる。このため、変圧器を開放することなく、巻線の位置ずれ量を把握できる技術が望まれているのが実情である。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開２０１１−２５３８８５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
本発明は上記状況に鑑みてなされたもので、変圧器を開放することなく、変圧器の巻線の位置ずれ、及び、巻線の位置ずれ量を把握することができる変圧器の評価装置、及び、変圧器の評価方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記目的を達成するための請求項１に係る本発明の変圧器の評価装置は、第１巻線、及び、第２巻線を有する変圧器の前記第１巻線と前記第２巻線との軸方向のずれを評価する変圧器の評価装置において、前記第１巻線、及び、前記第２巻線を複数に分割し、伝達関数を再現する回路モデルと、前記回路モデルにおけるインダクタンスの分割割合を変化させて、前記分割割合に基づいて前記第１巻線と前記第２巻線との軸方向のずれ量を評価する評価制御手段とを備え、前記評価制御手段は、健全状態での周波数応答解析により得られた伝達関数である健全伝達関数になるように、前記回路モデルにおける模擬伝達関数を再現する模擬伝達関数再現機能と、診断時での周波数応答解析により得られた伝達関数である診断伝達関数に対し、前記模擬伝達関数再現機能で再現された前記模擬伝達関数での前記分割割合を変化させて、前記模擬伝達関数を前記診断伝達関数に一致させ、一致させた際における前記分割割合の変化の状況を判断する分割割合増減機能と、前記分割割合増減機能で判断された分割割合の変化の状況に応じて、前記第１巻線と前記第２巻線との軸方向のずれ量を判断するずれ量判断機能とを有することを特徴とする。
【０００９】
請求項１に係る本発明では、模擬伝達関数再現機能により、健全状態での周波数応答解析により得られた健全伝達関数になるように、模擬伝達関数を再現し、分割割合増減機能により、診断時での周波数応答解析により得られた伝達関数である診断伝達関数に対し、模擬伝達関数での分割割合を変化させて、模擬伝達関数を診断伝達関数に一致させ、一致させた際における前記分割割合の変化の状況を判断する。そして、ずれ量判断機能により、分割割合の変化の状況に応じて、第１巻線と第２巻線との軸方向のずれ量を判断する。
【００１０】
これにより、変圧器を開放することなく、変圧器の巻線の位置ずれ、及び、巻線の位置ずれ量を判断することが可能になる。特に、電力用変圧器（所謂、６０ＫＶ以上の配電変圧器よりも大きな変圧器）の巻線の位置ずれ、及び、巻線の位置ずれ量を判断することが可能になる。
【００１１】
そして、請求項２に係る本発明の変圧器の評価装置は、請求項１に記載の変圧器の評価装置において、前記第１巻線は高圧巻線であり、前記第２巻線は低圧巻線であり、前記回路モデルにおけるインダクタンスの分割割合を変化させる前記高圧巻線の各巻線は、励磁インダクタンス、励磁抵抗、巻線抵抗によるＴ型回路でモデル化したものであることを特徴とする。
【００１２】
請求項２に係る本発明では、励磁インダクタンス、励磁抵抗、巻線抵抗によるＴ型回路でモデル化した回路モデルを用い、高圧巻線と低圧巻線とのずれ量を判断することができる。
【００１３】
また、請求項３に係る本発明の変圧器の評価装置は、請求項１もしくは請求項２に記載の変圧器の評価装置において、前記回路モデルで再現される伝達関数は、４０ＫＨｚから６０ＫＨｚの間の周波数帯のものであることを特徴とする。
【００１４】
請求項３に係る本発明では、４０ＫＨｚから６０ＫＨｚの間の周波数帯（双極状の共振が発生する周波数帯）の伝達関数を再現して、第１巻線と第２巻線との位置ずれ量を把握することができる。
【００１５】
また、請求項４に係る本発明の変圧器の評価装置は、請求項１から請求項３のいずれか一項に記載の変圧器の評価装置において、前記評価制御手段の前記ずれ量判断機能は、分割したインダクタンスの増減割合と、前記第１巻線と前記第２巻線のずれ量との関係が予め設定され、設定された関係により前記第１巻線と前記第２巻線とのずれ量を導出することを特徴とする。
【００１６】
請求項４に係る本発明では、分割した第１巻線のインダクタンスの増減割合と、第１巻線と第２巻線のずれ量との関係が予め設定され、設定された関係により第１巻線と第２巻線とのずれ量が導出される。
【００１７】
具体的には、例えば、第１巻線（高圧巻線）において、分割した一方（上方）のインダクタンスが増加する場合、他方（下方）のインダクタンスを同量減少させる。分割したインダクタンスの増減割合がマイナス値の場合、例えば、一方（上方）のインダクタンスの増加がマイナス値（減った）の場合、他方（下方）のインダクタンスはプラス値（増えた）になり、ずれの上向きがマイナス（下向きのずれ）となる。一方（上方）のインダクタンスの減少の割合が大きいほど（マイナス値が大きいほど）、位置ずれの割合がマイナス側に大きくなる。即ち、第１巻線（高圧巻線）の他方（下方）のインダクタンスが増加し、増加に比例して、第１巻線（高圧巻線）の下側への位置ずれの割合が比例して大きくなる。
【００１８】
第１巻線（高圧巻線）のインダクタンスの増減割合に対し、第１巻線（高圧巻線）の下側への位置ずれ量がマップ等により記憶されているため、第１巻線（高圧巻線）インダクタンスの増減の割合に基づいて、第１巻線（高圧巻線）の下側へのずれ量がマップ等により特定される。
【００１９】
上記目的を達成するための請求項５に係る本発明の変圧器の評価方法は、高圧巻線、及び、低圧巻線を有する変圧器の前記高圧巻線と前記低圧巻線との軸方向のずれを評価する変圧器の評価方法において、前記高圧巻線、及び、前記低圧巻線を複数に分割し、伝達関数を再現する回路モデルを用い、健全状態での周波数応答解析により得られた伝達関数である健全伝達関数になるように、前記分割した前記高圧巻線のインダクタンスの分割割合を変化させて模擬伝達関数を再現し、診断時での周波数応答解析により得られた伝達関数である診断伝達関数に対し、前記模擬伝達関数での前記分割割合を変化させて、前記模擬伝達関数を前記診断伝達関数に一致させ、一致させた際における前記分割割合の変化の状況を把握し、把握された分割割合の変化の状況に応じて、前記高圧巻線と前記低圧巻線との軸方向のずれ量を判断することを特徴とする。
【００２０】
請求項５に係る本発明では、健全状態での周波数応答解析により得られた健全伝達関数になるように模擬伝達関数を再現し、診断時での周波数応答解析により得られた伝達関数である診断伝達関数に対し、模擬伝達関数での分割割合を変化させて、模擬伝達関数を診断伝達関数に一致させ、一致させた際における前記分割割合の変化の状況を判断し、分割割合の変化の状況に応じて、第１巻線と第２巻線との軸方向のずれ量を判断する。
【００２１】
これにより、変圧器を開放することなく、変圧器の第１巻線と第２巻線の位置ずれ、及び、巻線の位置ずれ量を判断することが可能になる。
【００２２】
そして、請求項６に係る本発明の変圧器の評価方法は、請求項５に記載の変圧器の評価方法において、分割された前記高圧巻線のインダクタンスの増減割合と、前記高圧巻線と前記低圧巻線のずれ量との関係を予め記憶してデータ化し、データ化された関係により、分割された前記高圧巻線のインダクタンスの増減割合に応じた、前記第１巻線と前記第２巻線とのずれ量を決定することを特徴とする。
【００２３】
請求項６に係る本発明では、分割した高圧巻線のインダクタンスの増減割合と、第１巻線と第２巻線のずれ量との関係が予め設定され、設定された関係により高圧巻線と低圧巻線とのずれ量が導出される。
【００２４】
また、請求項７に係る本発明の変圧器の評価方法は、請求項５もしくは請求項６に記載の変圧器の評価方法において、得られた前記ずれ量と入力電力との関係により、前記変圧器の寿命を判断することを特徴とする。
【００２５】
請求項７に係る本発明では、得られたずれ量と、入力電力との関係により、変圧器の寿命が判断される。
【発明の効果】
【００２６】
本発明の変圧器の評価装置、及び、変圧器の評価方法は、変圧器を開放することなく、変圧器の巻線の位置ずれ量を把握することが可能になる。
【図面の簡単な説明】
【００２７】
【図１】本発明の一実施例に係る変圧器の評価装置の概略ブロック図である。
【図２】本発明の一実施例に係る変圧器の評価装置の回路モデルの概念図である。
【図３】模擬伝達関数再現機能、及び、分割割合増減機能を説明するグラフである。
【図４】模擬伝達関数再現機能、及び、分割割合増減機能を説明するグラフである。
【図５】模擬伝達関数再現機能、及び、分割割合増減機能を説明するグラフである。
【図６】ずれ量判断機能を説明するグラフである。
【発明を実施するための形態】
【００２８】
本発明の変圧器の評価装置は、第１巻線である高圧巻線と、第２巻線である低圧巻線を有する変圧器の高圧巻線と低圧巻線との軸方向（上下方向）のずれ量を評価する装置である。例えば、経時変化や、地震等に起因して、変圧器の低圧巻線に対して高圧巻線がどの程度下側にずれているかを評価する装置である。低圧巻線と高圧巻線とのずれ量が評価できることで、変圧器に入力する電力とずれ量との関係により、変圧器の将来の状況（寿命等）を合わせて評価することができる。
【００２９】
以下、図面に基づいて本発明の実施例を説明する。
【００３０】
図１には本発明の一実施例に係る変圧器の評価装置の機能を概略的に表したブロック構成の状態、図２には本発明の一実施例に係る変圧器の評価装置における伝達関数の共振の再現を目的とした回路モデルの具体的な構成の概念状況を示してある。
【００３１】
図１に基づいて変圧器の評価装置の全体の状況を説明する。
【００３２】
図に示すように、本実施例の変圧器の評価装置は、回路モデル１、及び、評価制御手段２を主な要素として構成されている。
【００３３】
回路モデル１は、具体的には後述するが、高圧巻線、及び、低圧巻線を２分割し（複数に分割し）、入力電圧と出力電圧とにより定義される伝達関数を再現するものである。評価制御手段２は、回路モデル１における高圧巻線のインダクタンスの分割割合（例えば、上下方向の分割割合）を変化させて、分割割合に基づいて高圧巻線と低圧巻線との軸方向（例えば上下方向）のずれ量を評価するものである。
【００３４】
評価制御手段２には、変圧器の実情報が入力され、周波数応答解析（ＦＲＡ）により伝達関数が演算される（周波数と伝達関数の関係が把握される）。評価制御手段２は、回路モデル１との間で処理が実行され、回路モデル１のインダクタンス等のパラメータが演算されて種々の伝達関数（後述する模擬伝達関数）を再現する機能を有している。
【００３５】
つまり、評価制御手段２は、模擬伝達関数再現機能５を有している。模擬伝達関数再現機能５には、変圧器が健全状態の時に、周波数応答解析により得られた伝達関数である健全伝達関数が記憶されている（入力されている）。また、模擬伝達関数再現機能５では、模擬伝達関数を再現する。模擬伝達関数は、回路モデル１により演算される伝達関数が、健全伝達関数になるように再現される。
【００３６】
また、評価制御手段２は、分割割合増減機能６を有している。分割割合増減機能６には、変圧器の高圧巻線と低圧巻線とのずれが生じたとされる診断時に、周波数応答解析により得られた伝達関数である診断伝達関数（ずれが生じたと仮定される時の伝達関数）が記憶されている（入力されている）。
【００３７】
また、分割割合増減機能６では、回路モデル１における分割した高圧巻線のインダクタンスの分割割合だけを変化させて（総インダクタンスを変化させずに）、模擬伝達関数を診断伝達関数に一致させるように再現する。そして、この時の（一致させた際における）高圧巻線のインダクタンスの分割割合の変化の状況、即ち、分割された上側の高圧巻線の部分のインダクタンス（上インダクタンス）と、分割された下側の高圧巻線の部分のインダクタンス（下インダクタンス）との分割割合の変化の状況（例えば、分割割合：下インダクタンス／上インダクタンス）が判断される。
【００３８】
更に、評価制御手段２は、ずれ量判断機能７を有している。ずれ量判断機能７には、分割割合（下インダクタンス／上インダクタンス）と、高圧巻線が低圧巻線に対して下側にずれた量（ずれ量）との関係のマップが記憶されている。ずれ量判断機能７では、マップに基づき、分割割合増減機能６で把握された分割割合（下インダクタンス／上インダクタンス）に応じて（分割割合の変化の状況に応じて）、高圧巻線と低圧巻線の軸方向のずれ量が判断される。
【００３９】
分割割合（下インダクタンス／上インダクタンス）と、高圧巻線が低圧巻線に対して下側にずれた量（ずれ量）との関係のマップは、予め、実際の変圧器を用いてデータを蓄積して得られたものである。即ち、予め、実際の変圧器の巻線に、ずれを複数種類生じさせて伝達関数を計測し、計測した伝達関数を基に（ずれ量に応じて）、分割割合（下インダクタンス／上インダクタンス）をそれぞれ求めた値をデータ化し、多数のデータを蓄積して得られたものである。
【００４０】
図２に基づいて回路モデル１（１相分）の状況を説明する。
【００４１】
図において、左側が高圧巻線、右側が低圧巻線をモデル化している。各記号のＨまたはＬは、それぞれ、高圧巻線、低圧巻線を意味している。各巻線は、励磁インダクタンスＬｅ、励磁抵抗Ｒｅ、巻線抵抗Ｒｗを用いてＴ型回路でモデル化されている。また、高圧巻線の対地静電容量Ｃｇ,Ｈ、高圧−低圧巻線間静電容量Ｃｉ、及び、各インダクタンスの磁気結合係数ｋを考慮している。低圧巻線の対地静電容量、低圧巻線の抵抗は、伝達関数を演算する際に演算結果にほとんど影響しないので、考慮されていない。
【００４２】
電圧入力端と出力端の間のインピーダンスは、励磁インダクタンスと励磁抵抗の並列回路のインピーダンスと見なすことができる。従って、高圧側から見た励磁インダクタンスＬｅ,Ｈ、及び、高圧巻線の巻線抵抗Ｒｗ,Ｈ、高圧−低圧巻線間静電容量Ｃｉは、所定の周波数帯の伝達関数の値から決定することができる。そして、高圧巻線の対地静電容量Ｃｇ,Ｈは、伝達関数の共振周波数の実測値、高圧側から見た励磁インダクタンスＬｅ,Ｈ、高圧−低圧巻線間静電容量Ｃｉを用いて、演算により決定することができる。
【００４３】
実際の変圧器のタップ端子を非接続状態にし、２分割された高圧巻線のそれぞれの対地静電容量を計測した場合の値を求める。求めた値の対地電圧は印加電圧の１／２であるので、求めた値を２倍にすることで、上述した演算で求めた高圧巻線の対地静電容量Ｃｇ,Ｈの値と略一致していることが確認できた。このため、演算により求めた高圧巻線の対地静電容量Ｃｇ,Ｈの値により、高圧巻線の対地静電容量を推定できることがわかる。
【００４４】
図３から図６に基づいてずれ量を決定する手順を具体的に説明する。
【００４５】
図３（ａ）には、ずれが生じていない場合に周波数応答解析（ＦＲＡ）により得られた伝達関数（周波数との関係）の状況（健全伝達関数）、図３（ｂ）には健全伝達関数（図３（ａ））から模擬伝達関数再現機能５により再現した伝達関数（周波数との関係）の状況（模擬伝達関数）を示してある。
【００４６】
図３（ａ）に示すように、例えば、新品の変圧器に対して周波数応答解析（ＦＲＡ）により伝達関数（周波数との関係）である健全伝達関数を計測する。回路モデル１（図２参照）を用い、健全伝達関数（図３（ａ））になるように、図３（ｂ）に示した模擬伝達関数を再現する。
【００４７】
この場合、回路モデル１で再現される伝達関数は、例えば、４０ＫＨｚから６０ＫＨｚの間の周波数帯のもので、双極状の共振が発生する周波数帯の伝達関数を再現することができる。
【００４８】
経年劣化や地震等により変圧器の巻線にずれが生じた可能性があり、診断が必要になった場合、診断が必要な変圧器の周波数応答解析（ＦＲＡ）を行って伝達関数（診断伝達関数）を計測する。
【００４９】
図４（ａ）にはＸｍｍ（例えば、２０ｍｍ）の位置ずれが生じたと仮定した場合に周波数応答解析（ＦＲＡ）により得られた伝達関数（周波数との関係）の状況（診断伝達関数）、図４（ｂ）には、模擬伝達関数（図３（ｂ））が診断伝達関数（図４（ａ））に一致するように、分割割合増減機能６により再現した伝達関数（周波数との関係）の状況を示してある。
【００５０】
また、図５（ａ）には２Ｘｍｍ（例えば、４０ｍｍ）の位置ずれが生じたと仮定した場合に周波数応答解析（ＦＲＡ）により得られた伝達関数（周波数との関係）の状況（診断伝達関数）、図５（ｂ）には、模擬伝達関数（図３（ｂ））が診断伝達関数（図５（ａ））に一致するように、分割割合増減機能６により再現した伝達関数（周波数との関係）の状況を示してある。
【００５１】
図４（ａ）、図５（ａ）に示すように、巻線に位置ずれが生じた変圧器に対して周波数応答解析（ＦＲＡ）により伝達関数（周波数との関係）である診断伝達関数を計測する。回路モデル１（図２参照）を用い、模擬伝達関数（図３（ｂ））が診断伝達関数（図４（ａ）、図５（ａ））に一致するように、分割した高圧巻線のインダクタンスの分割割合（下インダクタンス／上インダクタンス）を変化させ、図４（ｂ）、図５（ｂ）に示した伝達関数を再現する。
【００５２】
この場合、回路モデル１で再現される伝達関数は、例えば、４０ＫＨｚから６０ＫＨｚの間の周波数帯のもので、双極状の共振が発生する周波数帯の伝達関数を再現することができる。
【００５３】
図４（ｂ）、図５（ｂ）に示した伝達関数を再現した際の高圧巻線のインダクタンスの分割割合（下インダクタンス／上インダクタンス）がずれ量判断機能７で把握される。ずれ量判断機能７で把握された分割割合を用いて、図６に示したマップから巻線のずれ量を決定する。
【００５４】
図６には、高圧巻線が下向きにずれた量と、高圧巻線のインダクタンスの分割割合（下インダクタンス／上インダクタンス）との関係を示してある。
【００５５】
高圧巻線が低圧巻線に対して下向きにずらされると、高圧巻線の上側のインダクタンス（上インダクタンス）が減少する結果、高圧巻線の下側のインダクタンス（下インダクタンス）がその分増加される（総インダクタンスは変化させない）。上インダクタンスが減少することで、高圧巻線のインダクタンスの分割割合（下インダクタンス／上インダクタンス）の値が大きくなる。
【００５６】
図６に示すように、高圧巻線のインダクタンスの分割割合と下向きのずれ量との関係は比例関係にあるため、高圧巻線のインダクタンスの分割割合の値が大きくなるにしたがって、低圧巻線に対する高圧巻線の下向きずれ量の値が大きくなる。
【００５７】
低圧巻線に対して、高圧巻線がＸｍｍ下側にずれると、高圧巻線のインダクタンスの分割割合の値が大きくなる。ずれが更に大きくなって高圧巻線が２Ｘｍｍ下側にずれると、高圧巻線のインダクタンスの分割割合の値が更に大きくなる。高圧巻線のインダクタンスの分割割合の値に応じて、図６に示したマップから、下向きのずれ量を導出することができる。
【００５８】
上述したように、高圧巻線を２分割した状態の回路モデル１を用い、健全状態の伝達関数、ずれが生じた際の診断伝達関数に基づいて伝達関数のモデルを演算し、伝達関数のモデルを演算した際の高圧巻線のインダクタンスの分割割合（下インダクタンス／上インダクタンス）を把握することで、低圧巻線に対する高圧巻線の下向きのずれの有無、及び、ずれ量を導出することができる。
【００５９】
使用した変圧器（電力用変圧器）に対し、低圧巻線に対する高圧巻線の下向きのずれの有無、及び、ずれ量を判断することで、得られたずれ量と入力電力との関係により、変圧器（電力用変圧器）の構成部品の破損等の状況を判断することができる。即ち、低圧巻線に対する高圧巻線の下向きのずれの有無、及び、ずれ量が判断されることにより、変圧器（電力用変圧器）において外部短絡時に発生する電磁機械力による不具合の状況を評価することができる。
【００６０】
上述した変圧器の評価装置、及び、変圧器の評価方法は、変圧器を開放することなく、変圧器の巻線の位置ずれ、及び、巻線の位置ずれ量を判断することが可能になる。特に、電力用変圧器（所謂、６０ＫＶ以上の配電用変圧器よりも大きな変圧器）の巻線の位置ずれ、及び、巻線の位置ずれ量を判断することが可能になる。
【符号の説明】
【００６１】
１  回路モデル
２  評価制御手段
５  模擬伝達関数再現機能
６  分割割合増減機能
７  ずれ量判断機能
【図１】
2020107777.tif 000003
【図２】
2020107777.tif 000004
【図３】
2020107777.tif 000005
【図４】
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【図５】
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【図６】
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