(57)【要約】【課題】検査に影響を及ぼすウエルドラインの存在を高い精度で検出することが可能なマイクロチップの検査方法を提供する。【解決手段】主流路２、複数のポート及び複数の支流路を備え、複数のポートが電力の供給を受ける第一電極ポート２１と、この電力と極性の異なる電力の供給を受ける第二電極ポート２６と、を含む流路チップの検査方法を、電気伝導性を有する液相が供給され、かつ少なくとも一か所が閉塞された状態の主流路２と連通する第一電極ポート２１と第二電極ポート２６との間の電気特性を測定する電気特性測定工程と、測定された電気特性により、主流路及び支流路を除く他の流路が流路チップに与える影響を検査する検査工程と、により実行する。【選択図】図３
2020085706.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
主流路と、当該主流路と連通する複数のポートと、前記主流路と前記ポートとそれぞれ連通する複数の支流路とを備え、前記複数のポートが電力の供給を受ける第一電極ポートと、前記電力と極性の異なる電力の供給を受ける第二電極ポートと、を含む流路チップの検査方法であって、
電気伝導性を有する液相が供給され、かつ少なくとも一か所が閉塞された状態の前記主流路と連通する前記第一電極ポートと前記第二電極ポートとの間の電気特性を測定する電気特性測定工程と、
測定された前記電気特性により、前記主流路及び前記支流路を除く他の流路が前記流路チップに与える影響を検査する検査工程と、
を含む流路チップの検査方法。
【請求項２】
前記流路チップは、複数の前記ポートが前記第二電極ポートと同じ極性の電力の供給を受ける第三電極ポートを含み、
前記主流路を、前記第一電極ポートとの接続箇所と前記第三電極ポートとの接続箇所との間で閉塞する流路閉塞工程をさらに含む、請求項１に記載の流路チップの検査方法。
【請求項３】
前記検査工程においては、前記主流路が閉塞されている前記流路チップにおいて測定される前記電気特性が、前記主流路が閉塞されていない前記流路チップにおいて測定される電気特性を基準にして予め定められた範囲よりも電流が流れ難いことを示す場合、前記流路チップに対する前記他の流路の影響が許容できると判定する、請求項１または２に記載の流路チップの検査方法。
【請求項４】
前記検査工程においては、前記主流路が閉塞されている前記流路チップにおいて測定される前記電気特性が、前記主流路が閉塞されていない前記流路チップにおいて測定される電気特性を基準にして予め定められた範囲よりも多くの電流が流れることを示す場合、前記流路チップに対する前記他の流路の影響が許容できないと判定する、請求項１から３のいずれか一項に記載の流路チップの検査方法。
【請求項５】
主流路と、当該主流路と連通する複数のポートと、前記主流路と前記ポートとそれぞれ連通する複数の支流路と、を備え、前記複数のポートが電力の供給を受ける第一電極ポートと、前記電力と極性の異なる電力の供給を受ける第二電極ポートと、を含む流路チップの検査装置であって、
電気伝導性を有する液相が供給され、かつ少なくとも一か所が閉塞された前記主流路と連通する前記第一電極ポートと前記第二電極ポートとの間の閉塞電気特性を測定する電気特性測定部と、
測定された前記閉塞電気特性により、前記主流路及び前記支流路を除く他の流路が前記流路チップに与える影響を検査する検査部と、
を有する流路チップの検査装置。
【請求項６】
前記電気特性測定部は、前記主流路が閉塞されていない状態で前記第一電極ポートと前記第二電極ポートとの間の非閉塞電気特性を測定し、前記検査部は、前記閉塞電気特性と前記非閉塞電気特性とを比較して前記他の流路の影響を検査する、請求項５に記載の流路チップの検査装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、臨床検査機に使用されるマイクロチップの検査方法及びマイクロチップの検査装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
現在、マイクロチップ上で試薬と検体とを混合及び分離して免疫測定をする全自動の免疫測定装置がある。マイクロチップには試薬や検体が流れる主流路が形成されていて、主流路には試薬等が注入される複数のポートが接続されている。ポートから主流路に注入された検体は、主流路内において標識抗体と免疫反応し、電気泳動して濃縮、分離される。分離された免疫複合体は、レーザー光により励起され、蛍光検出されて検査される。
免疫測定装置で使用されるマイクロチップは、樹脂を材料にして一体成型されていて、このために樹脂中にわずかな隙間が生じる可能性がある。樹脂中に生じた隙間は不測の流路を形成し、本来主流路に流れる試薬等がこの流路に流れ込み、主流路を流れる試薬等の液量が低下したり、主流路とは別の電気回路（ショート回路）を形成したりする。このような不測の流路は、ウエルドラインと呼ばれている。
ところで、免疫測定装置は、測定の開始から所定の時間内に検出がされない場合にはエラーであるとして処理を完了する。マイクロチップでは、ウエルドラインにより液量が低下したり、別の電気回路が形成されたりすると、検査に充分な量の免疫複合体が所定の時間内に検出されず、エラーとして処理される場合がある。エラーとして免疫測定が処理されると、再度測定をすることが必要になって検査効率が低下するという不具合が生じる。
【０００３】
上記不具合を回避するため、マイクロチップの製造者は、マイクロチップの出荷前にウエルドラインの有無を検査している。ウエルドラインの有無を検査する方法は、例えば、特許文献１、特許文献２に記載されている。特許文献１は、サンプル（検査対象）の画像の座標を決定し、座標に入る反射光がサンプルの表面上のどの位置の微小領域から反射した光であるかを計算してサンプルの特定位置とその表面状態を表す輝度とを記憶する物体表面異常状態の評価方法について記載したものである。特許文献２は、ワーク（検査対象）の湾曲面にリングライトを使って赤外光を当てて撮影し、撮影した画像によりワークの面を検査するワーク検査装置について記載したものである。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００１−２８０９３９号公報
【特許文献２】特開２０１４−２３２０３８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、免疫測定装置のマイクロチップに発生するウエルドラインは、幅及び深さが共に１μｍ程度の微小な流路であり、画像に基づく検査では検出しきれない可能性がある。さらに、ウエルドラインの規模や発生箇所により、画像上で検出されたウエルドラインの全てが直ちに測定に影響を及ぼすものとは限らない。このため、測定に影響のないウエルドラインまでを検出すると、免疫測定の機能を果たす流路チップまでを不良品と判定し、製品の歩留まりを低下させることになる。
本発明は、このような点に鑑みてなされたものであり、検査に影響を及ぼすウエルドラインの存在を高い精度で検出することが可能なマイクロチップの検査方法及びマイクロチップの検査装置に関する。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明の流路チップの検査方法は、主流路と、当該主流路と連通する複数のポートと、前記主流路と前記ポートとそれぞれ連通する複数の支流路とを備え、前記複数のポートが電力の供給を受ける第一電極ポートと、前記電力と極性の異なる電力の供給を受ける第二電極ポートと、を含む流路チップの検査方法であって、電気伝導性を有する液相が供給され、かつ少なくとも一か所が閉塞された状態の前記主流路と連通する前記第一電極ポートと前記第二電極ポートとの間の電気特性を測定する電気特性測定工程と、測定された前記電気特性により、前記主流路及び前記支流路を除く他の流路が前記流路チップに与える影響を検査する検査工程と、を含む。
【０００７】
また、本発明の流路チップの検査装置は、主流路と、当該主流路と連通する複数のポートと、前記主流路と前記ポートとそれぞれ連通する複数の支流路と、を備え、前記複数のポートが電力の供給を受ける第一電極ポートと、前記電力と極性の異なる電力の供給を受ける第二電極ポートと、を含む流路チップの検査装置であって、電気伝導性を有する液相が供給され、かつ少なくとも一か所が閉塞された前記主流路と連通する前記第一電極ポートと前記第二電極ポートとの間の閉塞電気特性を測定する電気特性測定部と、測定された前記閉塞電気特性により、前記主流路及び前記支流路を除く他の流路が前記流路チップに与える影響を検査する検査部と、を有する。
【発明の効果】
【０００８】
本発明は、検査に影響を及ぼすウエルドラインの存在を高い精度で検出することが可能なマイクロチップの検査方法及びマイクロチップの検査装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】本発明の一実施形態の流路チップの検査方法で検査される流路チップの斜視図である。
【図２】図１に示した流路チップを図１中の座標で規定される下側から見た図である。
【図３】（ａ）は流路チップの流路やポートの一部の上面視を示し、（ｂ）は流路チップの各ポート同士の接続関係を示している。
【図４】流路チップに発生するウエルドラインを説明するための模式図である。
【図５】本発明の一実施形態の流路チップ検査方法による検査結果を例示するグラフを示す図である。
【図６】本発明の一実施形態の流路チップの検査装置を説明するための図である。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
［概要］
以下、本発明の一実施形態を図面に基づいて説明する。なお、すべての図面において、同様の構成要素には同様の符号を付し、重複する説明は適宜省略する。また、本実施形態の図面は、本実施形態の構成の形状、位置関係及び機能を例示するものであって、本実施形態の具体的な構成は図面の構成に限定されるものではない。また、本実施形態の図面の少なくとも一部は本実施形態を説明するための模式図であって、その長さ、幅及び高さ等の寸法を正確に表すものとは限らない。
【００１１】
本実施形態の流路チップの検査方法の検査対象となる流路チップは、液相で満たされる流路と、この流路に分析の対象となる分析物を投入するポートと、投入された分析物を電気泳動により分離するための電極が挿入されるポート及び液相廃棄用のポートを有している。流路チップを満たす液相は泳動緩衝液であり、分析物には例えば被術者の血清（検体）とＤＮＡ（DeoxyriboNucleic Acid）蛍光の標識抗体との免疫複合体（反応物）が用いられる。反応物は、未反応の標識抗体と分離された後、レーザー光によって励起され、蛍光検出される。
【００１２】
［流路チップ］
図１は、上記流路チップ１を説明するための図である。流路チップ１は、例えば、本体１０と、本体１０に形成される主流路２及び第一電極ポート２１、第二電極ポート２６を含む複数のポート２２、２９、３０と、を有している。ポート２２は支流路２２１によって主流路２と連通し、ポート２９は支流路２９１によって主流路２と連通し、ポート３０は支流路３０１によって主流路２と連通している。本体１０は、図示しない基体とシール部材とを有し、主流路２は、基体の主面に形成されたミクロンオーダーの幅の細溝であって、この溝は基体の表裏の位置にある二つの主面を貫通している。シール部材は基体の一方の主面に貼り付けられる。このようにすることにより、細溝は主流路２の壁面を構成し、シール部材は主流路の底面を構成する。基体及びシール部材は、いずれも樹脂を材料としていて、材料となる樹脂（以下、「材料樹脂」と記す）としては、例えばＰＭＭＡ（PolyMethyl MethaCrylate）やＰＣ（PolyCarbonate）が用いられる。
【００１３】
また、基体のシール部材が貼り付けられていない側の主面には、ポート２２、２９等の複数のポートが形成されている。各ポートと主流路２との間には支流路を介して液相が流通し得る。流路チップ１においては、ポート２２を反応物の供給用ポートとし、ポート２９、３０を廃液ポートとして利用する。第一電極ポート２１、第二電極ポート２６には、それぞれ電極が挿入されて主流路２の両端で電位差を生じさせる。
【００１４】
［流路チップの検査方法］
上記の流路チップ１は、主流路２と、この主流路２と連通する複数のポートと、主流路２等及びポートとそれぞれ連通する複数の支流路２１１等を備えている。また、反応物を電気泳動させるため、複数のポートは、電力の供給を受ける第一電極ポート２１と、電力と極性の異なる電力の供給を受ける第二電極ポート２６と、を含んでいる。本実施形態では、第一電極ポート２１が陰極となり、第二電極ポート２６が陽極となるように電力をかけている。
また、流路チップ１に示した複数のポートのうち、上記したように、ポート２２は反応物投入用のポートである。泳動緩衝液は、第一電極ポート２１及び第二電極ポート２６から投入される。また、ポート２９は、第二電極ポート２６を検査する際に、第二電極ポート２６と切り替えられて（ハンドオフ）第二電極となるポートである。ポート２９及びポート３０は、投入された液の廃棄用ポートである。さらに、流路チップ１は、主流路２上に蛍光検出機による検出に対応する検出エリアＤを備えている。
【００１５】
また、流路チップ１には、上記の各ポートと主流路２とを接続する支流路２２１、２９１、３０１が設けられている。本実施形態では、主流路２と各ポートとを接続する支流路を、それぞれポートの符号に「１」を付与した三桁の数字で示している。
支流路２２１等は、図１に示すように、左右に蛇行するように繰り返し湾曲する部分を有している。このような部分は、流路チップ１内を反応物及びその分離物が通過する時間を調整するために支流路の長さを調整するためのものである。
【００１６】
次に、流路チップ１に対して行われる検査方法について説明する。本実施形態では、先ず、流路チップ１の検査方法に先立って、流路チップ１の構成及び機能について説明する。
図２は、図１に示した流路チップ１の模式図であって、流路チップ１の各ポート同士の接続関係を示した図である。図２にあっては、主流路２及び支流路２２１、２２９及び支流路３０１を直線で表している。
図２に示すように、ポート２２から投入された反応物は、ポート２４から供給された泳動緩衝液内を第二電極ポート２６に向かって電気泳動する（矢線Ａ１）。反応物は、電気泳動しながら未反応の物質と分離される。
【００１７】
すなわち、反応物に含まれる物質は、泳動緩衝液の液性の影響下においてプラスまたはマイナスの電荷を帯びるか、あるいは中性の状態にある。このような物質に電圧を印加すると、物質は帯びた電荷の極性と反対の極性を持つ電極へ移動する。物質の移動速度は、物質を構成する分子の質量及び電荷の絶対値に応じて決まる。移動速度は、質量が小さいほど速く、また、電荷の絶対値が大きいほど早くなる。物質は、電気泳動中に陰極側または陽極側に移動し、また、質量や電荷の絶対値が近いもの同士が集まるために濃縮される。そして、物質は、質量や電荷の絶対値が相違するものと離れるために他の種類の物質から分離される。
物質は、流路チップ１においてさらに下流に流れる。物質が標識抗体の蛍光物質を含む場合、レーザー光の照射により蛍光物質が励起される。蛍光物質が発生した光は、流路２上の検出エリアＤで検出される。図示しない蛍光検出器は、検出された蛍光光の波長や強さ等から免疫複合体を定量的に測定することができる。以上の処理により、反応物の検査が可能になる。
【００１８】
図１において、矢線Ｇは、流路チップ１を成型するための材料樹脂が金型において流れる方向を示している。材料樹脂は、金型の第二電極ポート２６を形成する部分の側から第一電極ポート２１を形成する部分の側に向かって金型内を流れる。本明細書では、以降、「金型のポートを形成する部分」を単に「ポート部分」とも記す。金型内における材料樹脂の流れにおいて、金型のポート部分は流れの方向を変える障害物となる。
材料樹脂の流れは、ポート部分に当たると分岐してポート部分の周囲に回りこみ、再び合流する。このとき、樹脂の温度は金型内を流れるうちに下がり、温度の低下に伴って材料樹脂の流動性が低下する。流動性の低下により、材料樹脂は内部に隙間が生じた状態で冷却されて硬化し、この隙間に起因してウエルドラインが流路チップ１内に発生する。
また、材料樹脂内に生じる隙間は、上記のように材料樹脂がポート部分の周囲に回り込むことによって完成後の流路チップ１のポートと連通するように発生する。このような隙間が他の流路と連通すると、主流路２から反応物を含む液相が流出するウエルドラインになり得る。
【００１９】
ウエルドラインが発生すると、主流路２に流れる反応物及び液相の一部がウエルドラインに流れ込み、主流路２に流れる液相等の量が減少する。また、ウエルドラインがショート回路となってしまい、主流路２に流れる電流が減少する。このような場合、反応物から分離した物質が観測されるタイミングが遅くなり、自動で行われる検査においてタイムアウトになることがある。特に、第一電極ポート２１または第二電極ポート２６と主流路２との間にウエルドラインが発生すると、反応物の分離、分画に支障が生じる。
本実施形態の流路チップの検査方法は、流路チップ１のウエルドラインの存在や免疫検査に与える影響を検査して、流路チップ１の信頼性を高めるものである。
【００２０】
図３（ａ）、図３（ｂ）は、第一電極ポート２１と主流路２との間に生じているウエルドラインＷ１を検査することを説明するための図である。樹脂材料は、流路チップ１において矢線Ｇが示す方向の手前から奥に向かうほど温度が下がるために流動性が低下する。前述したように、樹脂材料の流動性が低下するとウエルドラインが発生しやすくなる。換言すれば、本実施形態の流路チップ１に発生し得るウエルドラインにおいては、その構造上ウエルドラインＷ１が最も発生しやすいものと言える。このため、本実施形態は、主にウエルドラインＷ１の検査をすることによって検査効率高めることができる。
【００２１】
本実施形態の流路チップ１の検査方法は、以下のような考え方に基づくものである。
前述したように、試料となる反応物質は電荷を帯びているので、第一電極ポート２１と第二電極ポート２６との間に電圧をかけると、反応物質が導電体となって第一電極ポート２１と第二電極ポート２６との間に電流が流れる。流路チップ１にウエルドラインがない場合、検体を含む泳動緩衝液は全て主流路２を通って第二電極ポート２６まで流れ込む。このような流路チップ１にあっては、主流路２の一箇所を塞ぐことによって第一電極ポート２１と第二電極ポート２６との間に電流が流れなくなる。
一方、流路チップ１にウエルドラインが形成されている場合、主流路２の一箇所を塞いでもウエルドラインを通って検体等が流れ、第一電極ポート２１と第二電極ポート２６との間に電流が流れ得る。
本実施形態は、上記のことにより、主流路２の一箇所を塞ぎ、第一電極ポート２１と第二電極ポート２６との間に電圧をかけて電流を検出することによりウエルドラインの有無、あるいはウエルドラインによる測定への影響の大小を判定するものである。
【００２２】
本実施形態の流路チップ１の検査方法は、電気伝導性を有する液相が供給され、かつ少なくとも一か所が閉塞された状態の主流路２と連通する第一電極ポート２１と第二電極ポート２６との間の電気特性を測定する電気特性測定工程と、測定された電気特性により、主流路２及び支流路２２１、２９１及び支流路３０１を除く他の流路（ウエルドライン）が流路チップ１に与える影響を検査する検査工程と、を含んでいる。
【００２３】
主流路２の閉塞は、例えば、樹脂製の基体に形成された主流路２に、シール部材上から材料樹脂の溶融温度以上の温度になっている部材を接触させることによって実現できる。このような方法によれば、基体及びシール部材が溶融して主流路２の形状が崩れ、主流路２が液相を通さない状態になる（閉塞する）。
本実施形態では、図３（ａ）、図３（ｂ）に示すように、第一電極ポート２１と第一電極ポート２１に最も近いポート３０との間で主流路２を閉塞する。図３（ａ）、図３（ｂ）中に閉塞箇所を閉塞箇所Ｐ１として示す。このような位置に閉塞箇所Ｐ１を設けることにより、本実施形態は、主流路２のポート３０との接続箇所よりも上流において発生したウエルドラインを観測することができる。第一電極ポート２１と第二電極ポート２６との間に電圧をかけた場合、主流路２に接続されてはいても、第一電極ポート２１、第二電極ポート２６間を流れる電流に対するポート２２、２９、３０に生じたウエルドラインの影響は無視できる程度だからである。
【００２４】
主流路２を閉塞する作業は検査者が手動で行ってもよいし、例えば後述する流路チップ１の検査装置により自動的に行ってもよい。
電気特性の測定は、第一電極ポート２１と第二電極ポート２６との間に電圧をかけて行われる。電気特性は、第一電極ポート２１と第二電極ポート２６との間の電気的な性質を表すものであればよく、電流値や抵抗値が用いられる。
【００２５】
上記の検査工程においては、主流路２が閉塞されている流路チップ１において測定される電気特性が、主流路２が閉塞されていない流路チップ１の第一電極ポート２１と第二電極ポート２６との間の電気特性を基準にして、予め定められた範囲以上に電流が流れ難いことを示す場合、流路チップ１に対する他の流路（ウエルドライン）の影響が許容できると判定する。
つまり、本実施形態は、流路チップ１中にウエルドラインが存在しても、このウエルドラインが検査に影響を及ぼさないものであれば問題にしない。ここで、「ウエルドラインが検査に影響を及ぼさない」とは、流路チップ１を使用して行われる検査がエラーを発生させることなく正常に完了することをいう。また、「予め定められた範囲以上に電流が流れ難い」とは、例えば、主流路２閉塞後の抵抗値が主流路２を閉塞する前の抵抗値の１０４倍程度の範囲内で変化することを指す。
【００２６】
主流路２の閉塞前の抵抗値の測定は、閉塞後に抵抗値が測定される流路チップ１（以下、「検査対象の流路チップ」と記す）と同一のものについて行うものであってもよいし、検査対象となる流路チップ１と同一のロットの他の流路チップ１について行うものであってもよい。また、本実施形態は、予め基準となる抵抗値を設定しておき、設定された抵抗値と検査対象となる流路チップ１において測定された抵抗値とを比較するものであってもよい。
【００２７】
また、検査工程においては、主流路２が閉塞されている流路チップ１において測定される電気特性が、主流路２が閉塞されていない流路チップ１の第一電極ポート２１と第二電極ポート２６との間の電気特性を基準にして予め定められた範囲よりも多くの電流が流れることを示す場合、流路チップに対する他の流路（ウエルドライン）の影響が許容できないと判定する。ここで、「予め定められた範囲」とは、例えば、主流路２閉塞後の抵抗値が主流路２を閉塞する前の抵抗値の１０から１００倍程度であることが考えられる。
つまり、本実施形態では、主流路２を閉塞したにも関わらず、第一電極ポート２１と第二電極ポート２６との間に主流路２閉塞前の１％から１０％の電流が流れている場合、この電流がウエルドラインを介して第二電極ポート２６に流れ込むものと判定する。そして、主流路２を流れる液相が１％から１０％程度減った場合、このことが検査に支障をきたすとして流路チップ１の検査結果を「不合格」とする。
【００２８】
図４（ａ）、図４（ｂ）は、第二電極ポート２６と主流路２との間に生じているウエルドラインＷ２を検査することを説明するための図である。
流路チップ１は、複数のポートが第二電極ポート２６と同じ極性の電力の供給を受ける第三電極ポートを含んでいる。本実施形態では、検査の過程で第二電極ポート２６に代わって陽極として機能するポート２９が第三電極ポートとなる。本実施形態の流路チップ１の検査方法は、主流路２を、第一電極ポート２１との接続箇所とポート２９との接続箇所との間で閉塞する流路閉塞工程を含んでいて、この流路閉塞工程により閉塞箇所Ｐ２が閉塞される。
【００２９】
すなわち、第二電極ポート２６のウエルドラインＷ２を検査する場合、ウエルドラインＷ１の検査と同様に、反応物は液相と共に第二電極ポート２６に向かって電気泳動する。反応物は、電気泳動しながら未反応の部分と分離して濃縮される。このとき、本実施形態では、第一電極ポート２１に生じたウエルドラインＷ１と区別するため、反応物がポート２９付近に達したと考えられる予め定められたタイミングで陰極となるポートを第一電極ポート２１からポート２９に切り替える。このことにより、反応物は、ポート２９と第二電極ポート２６との間で電気泳動しながら成分が分離、分画される（矢線Ａ２）
【００３０】
図５は、流路チップ１の検査結果を例示するグラフを示す図である。グラフの横軸はショット数を示し、縦軸は第一電極ポート２１と第二電極ポート２６との間で測定された抵抗値（Ω）を示している。ショット数とは、金型による流路チップ１の成型回数をいう。
図５中に示した折線Ｌ１が示すデータは、金型の加熱温度を１００度に設定して成型した流路チップ１を検査対象にして測定した抵抗値を示している。折線Ｌ２が示すデータは、金型の加熱温度を９６度に設定して成型した流路チップ１を検査対象にして測定した抵抗値を示している。折線Ｌ３が示すデータは、金型の加熱温度を９０度に設定して成型した流路チップ１を検査対象にして測定した抵抗値を示している。
本実施形態では、金型を洗浄、交換することなく作成された複数の流路チップ１を以降同一ロットの流路チップ１と記す。
【００３１】
折線Ｌ１から折線Ｌ３のいずれにおいても、抵抗値はショット数によらず概ね一定している。図５によれば、ウエルドラインの有無及び規模は、概ね流路チップ１の製造工程における金型の加熱温度により決定すると考えられる。ただし、流路チップ１の製造工程では、成型中に金型を加熱して樹脂が固まることを防ぐ一方、成型後は短時間のうちに製品を冷却して製造のスループットを高めることが好ましい。このため、金型を加熱する設定温度としては、成型中には樹脂の流動性を保持することが可能な最低限の温度が好ましい。
また、流路チップ１において発生するウエルドラインは、金型の温度ばかりでなく、成型時の他の条件や材料等の状態の影響を受けている。このため、流路チップ１の成型工程にあっては、一つのロットについて少なくとも一つの流路チップ１を抜き取って検査し、検査の結果を金型加熱の設定温度にフィードバックすることが好ましい。なお、１ロットに含まれる複数の流路チップ１のうち、最初、中間、最後に成型された３つの流路チップ１について検査を行うとより好ましい。
【００３２】
主流路２を閉塞させずに液相を注入した状態で第一電極ポート２１、第二電極ポート２６間を流れる電流を計測すると、１０６から１０７オーダーの電流値が得られる。
図５に示すように、折線Ｌ１は、概ね１０１３オーダーの抵抗値を示している。このような抵抗値は、流路チップ１の材料となっている樹脂の抵抗値に略等しく、検査に影響を及ぼすウエルドラインは認められない。このような場合、検査対象となった１は、検査に合格したと判定される。
また、折線Ｌ２は、概ね１０１１オーダーの抵抗値を示している。このことは、主流路２が閉塞されていない流路チップ１を流れる電流が略０．０１％変動する程度のウエルドラインが検査対象の流路チップ１に発生していることを示している。しかし、本実施形態では、０．０１％程度の電流の変動は検査に影響を与えないとして流路チップ１を合格であると判定する。
さらに、折線Ｌ３は、１０８から１０１０オーダーの抵抗値を示している。このことは、主流路２が閉塞されていない流路チップ１を流れる電流が１％から１０％変動する程度のウエルドラインが検査対象の流路チップ１に発生していることを示している。本実施形態では、１％以上の電流の変動は検査に影響を及ぼすとして流路チップ１を不合格であると判定する。
【００３３】
以上説明した本実施形態の流路チップ１の検査方法は、電気伝導性を有する液相が供給され、かつ少なくとも一か所が閉塞された状態の主流路２と連通する第一電極ポート２１と第二電極ポート２６との間の電気特性を測定することにより、主流路２以外のウエルドラインの有無を検査することができる。このような検査は、流路チップ１の表面を三次元解析する検査方法に比べて設備が簡易であり、また、見落とし等の虞がない。また、本実施形態は、測定された電気特性により、主流路２及び支流路２１１、２９１及び支流路３０１を除く他の流路が流路チップ１に与える影響を検査する。このことにより、本実施形態は、ウエルドラインの規模を検査することができる。そして、ウエルドラインの規模が検査に支障があるか否かを判定し、検査により不合格であると判定される流路チップ１の数を最小限にすることができる。このような本実施形態は、流路チップ１の製造の歩留まりを向上させることができる。
【００３４】
［流路チップの検査装置］
次に、以上説明した検査方法により流路チップ１の検査を自動で行う流路チップの検査装置を説明する。
図６は、流路チップの検査装置１００を説明するための図である。検査装置１００は、主流路２と、この主流路２と連通する複数のポートとを備え、複数のポートが電力の供給を受ける第一電極ポート２１と、第一電極ポート２１と極性の異なる電力の供給を受ける第二電極ポート２６と、を含む流路チップの検査装置である。検査装置１００は、電気伝導性を有する液相が供給され、かつ少なくとも一か所が閉塞された主流路２と連通する第一電極ポート２１と第二電極ポート２６との間の閉塞電気特性を測定する電気特性測定部である電流計４と、測定された閉塞電気特性により、主流路２を除く他の流路が流路チップに与える影響を検査する検査部５と、を有している。
また、検査装置１００は、検査の結果を検査者に表示する表示部６を有している。
【００３５】
電流計４は、第一電極ポート２１、第二電極ポート２６間を流れる電流値を測定する。検査部５は、演算部５１と判定部５２とを有している。演算部５１は、電流計４によって測定された電流値または電流値に基づいて得られる抵抗値を利用して演算を実行する。判定部５２は、演算部５１の演算の結果から、検査対象の流路チップ１が「合格」であるか「不合格」であるかを判定する。このような検査部５は、例えば汎用のパーソナルコンピュータを使って実現することができる。このような場合、演算部５１及び判定部５２は、本実施形態の流路チップ１の検査方法に応じて作成され、パーソナルコンピュータが備える汎用的なＣＰＵ（Central Processing Unit）やメモリといったハードウェア上で実行されるプログラムに相当する。
【００３６】
表示部６は、例えば、検査部５として機能するパーソナルコンピュータが備えるディスプレイ画面に操作画面や検査結果を表示するものであってもよい。表示部６は、例えば、非閉塞電気特性の測定開始を検査部５及び電流計４に指示するスタートボタン６１ａ、測定の結果を表示するＮｏ１画面６２ａ、閉塞電気特性の測定開始を検査部５及び電流計４に指示するスタートボタン６１ｂ、測定の結果を表示するＮｏ２画面６２ｂ及び検査結果を示す検査結果画面６３を有している。
【００３７】
電流計４は、主流路２が閉塞されていない状態で第一電極ポート２１と第二電極ポート２６との間の非閉塞電気特性を測定する。検査部５は、閉塞電気特性と非閉塞電気特性とを比較してウエルドラインの影響を検査する。
すなわち、検査装置１００は、電流計４により先ず主流路２が閉塞されていない状態で流路チップ１の主流路２に導電性の液相を流し込み、第一電極ポート２１、第二電極ポート２６間を流れる電流の値を測定する。測定は、検査者がスタートボタン６１ａをクリック等することによって開始される。測定された電流値は、演算部５１に入力される。演算部５１は、入力された電流値（非閉塞電気特性）を検査部５のメモリ等に保存すると共に、Ｎｏ１画面６２ａに表示する。
次に、検査者は、流路チップ１の主流路２を閉塞箇所Ｐにおいて閉塞する。なお、主流路２を閉塞する処理は、検査装置１００により自動的に行われるものであってもよい。主流路２の閉塞を自動的に行う構成は、例えば、検査装置１００が流路チップ１を固定するための図示しないトレイを備え、トレイの上方に半田鏝が上下動可能に設置されているものであってもよい。半田鏝は、検査者の操作により流路チップ１に向かって下降し、主流路２の閉塞箇所Ｐに接触して主流路２を閉塞する。
【００３８】
主流路２の閉塞後、検査者は、スタートボタン６１ｂをクリックする。この操作により、電流計４は再び第一電極ポート２１、第二電極ポート２６間を流れる電流の値を測定する。測定された電流値は、演算部５１に入力し、先に測定された非閉塞時の電流値（閉塞電気特性）と比較される。また、二回目の測定で測定された電流値は、Ｎｏ２画面６２ｂに表示される。比較は、例えば、閉塞前と閉塞後とで電流値の変動量を求めることによって行ってもよい。比較の結果は、判定部５２に入力される。なお、演算部５１は、測定された電流値を電流値の状態で比較してもよいし、抵抗値に変換して比較するものであってもよい。図６に例示した数字は電流値になっている。
【００３９】
判定部５２は、例えば電流値の変動量（閉塞時の電流値／非閉塞時の電流値（％））が予め設定されている許容範囲内であるか否かを判定する。このとき、判定部５２は、例えば変動量が０．０１％以下である場合には検査対象の流路チップ１を合格（ＯＫ）であると判定する。また、電流値の変動量が例えば０．１％以上である場合には検査対象の流路チップ１を不合格（ＮＧ）であると判定する。判定の結果は、変動量と共に画面６３に表示される。
また、判定部５２は、例えば電流値から求められる抵抗値の変動量（閉塞時の抵抗値／非閉塞時の抵抗値（％））が予め設定されている許容範囲内であるか否かを判定するようにしてもよい。このとき、判定部５２は、例えば変動量が１０６％以上である場合には検査対象の流路チップ１を合格（ＯＫ）であると判定する。また、抵抗値の変動量が例えば１０３％以下である場合には検査対象の流路チップ１を不合格（ＮＧ）であると判定する。判定の結果は、変動量と共に画面６３に表示される。
【００４０】
上記実施形態および実施例は以下の技術思想を包含するものである。
（１）主流路と、当該主流路と連通する複数のポートと、前記主流路と前記ポートとそれぞれ連通する複数の支流路とを備え、前記複数のポートが電力の供給を受ける第一電極ポートと、前記電力と極性の異なる電力の供給を受ける第二電極ポートと、を含む流路チップの検査方法であって、電気伝導性を有する液相が供給され、かつ少なくとも一か所が閉塞された状態の前記主流路と連通する前記第一電極ポートと前記第二電極ポートとの間の電気特性を測定する電気特性測定工程と、測定された前記電気特性により、前記主流路及び前記支流路を除く他の流路が前記流路チップに与える影響を検査する検査工程と、を含む流路チップの検査方法。
（２）前記流路チップは、複数の前記ポートが前記第二電極ポートと同じ極性の電力の供給を受ける第三電極ポートを含み、前記主流路を、前記第一電極ポートとの接続箇所と前記第三電極ポートとの接続箇所との間で閉塞する流路閉塞工程をさらに含む、（１）の流路チップの検査方法。
（３）前記検査工程においては、前記主流路が閉塞されている前記流路チップにおいて測定される前記電気特性が、前記主流路が閉塞されていない前記流路チップにおいて測定される電気特性を基準にして予め定められた範囲よりも電流が流れ難いことを示す場合、前記流路チップに対する前記他の流路の影響が許容できると判定する、（１）または（２）の流路チップの検査方法。
（４）前記検査工程においては、前記主流路が閉塞されている前記流路チップにおいて測定される前記電気特性が、前記主流路が閉塞されていない前記流路チップにおいて測定される電気特性を基準にして予め定められた範囲よりも多くの電流が流れることを示す場合、前記流路チップに対する前記他の流路の影響が許容できないと判定する、（１）から（３）のいずれか一つの流路チップの検査方法。
（５）主流路と、当該主流路と連通する複数のポートと、前記主流路と前記ポートとそれぞれ連通する複数の支流路と、を備え、前記複数のポートが電力の供給を受ける第一電極ポートと、前記電力と極性の異なる電力の供給を受ける第二電極ポートと、を含む流路チップの検査装置であって、電気伝導性を有する液相が供給され、かつ少なくとも一か所が閉塞された前記主流路と連通する前記第一電極ポートと前記第二電極ポートとの間の閉塞電気特性を測定する電気特性測定部と、測定された前記閉塞電気特性により、前記主流路及び前記支流路を除く他の流路が前記流路チップに与える影響を検査する検査部と、を有する流路チップの検査装置。
（６）前記電気特性測定部は、前記主流路が閉塞されていない状態で前記第一電極ポートと前記第二電極ポートとの間の非閉塞電気特性を測定し、前記検査部は、前記閉塞電気特性と前記非閉塞電気特性とを比較して前記他の流路の影響を検査する、（５）の流路チップの検査装置。
【符号の説明】
【００４１】
１・・・流路チップ
２・・・主流路
４・・・電流計
５・・・検査部
６・・・表示部
１０・・・本体
２１・・・第一電極ポート
２２、２９、３０・・・ポート
２６・・・第二電極ポート
５１・・・演算部
５２・・・判定部
６１ａ、６１ｂ・・・スタートボタン
６２ａ・・・Ｎｏ１画面
６２ｂ・・・Ｎｏ２画面
６３・・・画面
１００・・・検査装置
２２１、２９１、３０１・・・支流路
Ｄ・・・検出エリア
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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