(57)【要約】      （修正有）【課題】分析処理の実行に応じて、性能が緩やかに低下していく分析装置の性能の変化が認識しやすくなる技術を提供する。【解決手段】分析装置性能変化監視装置１は、コンピュータに、分析対象である試料に関する試料情報と、分析装置６による試料に対する分析の条件に関する分析条件情報と、分析結果情報と、が関係づけられた分析関係情報が格納された記憶装置２から、抽出部３によって所定の試料情報または分析条件情報を有する分析関係情報を抽出し、抽出した分析関係情報の分析結果情報のうち所定の項目情報を、出力部４により分析装置の性能の指標となる指標情報として、時系列に並べて出力する。【選択図】図１
2020193824.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
コンピュータに、
分析対象である試料に関する試料情報と、分析装置による前記試料に対する分析の条件に関する分析条件情報と、分析結果情報と、が関係づけられた分析関係情報が格納された記憶装置から、所定の試料情報または分析条件情報を有する分析関係情報を抽出し、
抽出した前記分析関係情報の分析結果情報のうち所定の項目情報を、前記分析装置の性能の指標となる指標情報として、時系列に並べて出力する、
処理を実行させることを特徴とする分析装置性能変化監視プログラム。
【請求項２】
前記コンピュータは、さらに、
時系列に並べられた前記指標情報が、予め設定された閾値を超えたか否かの判定を行い、
前記判定の結果に応じて、所定の警告の通知を行う、
処理を実行させることを特徴とする請求項１に記載の分析装置性能変化監視プログラム。
【請求項３】
前記通知において、通信ネットワークを介して、他の装置に前記警告を通知する
ことを特徴とする請求項２に記載の分析装置性能変化監視プログラム。
【請求項４】
前記分析条件情報は、前記分析の前処理に関する前処理情報、前記分析において設定された前記分析装置の設定情報、前記分析装置の動作状況を示す動作状況情報のうち、少なくともいずれかの情報を含む
ことを特徴とする請求項１〜３のうちいずれか1項に記載の分析装置性能変化監視プログラム。
【請求項５】
前記分析装置は、質量分析装置である
ことを特徴とする請求項１〜４のうちいずれか1項に記載の分析装置性能変化監視プログラム。
【請求項６】
前記項目情報は、ピーク強度、ピーク面積、質量分解能、シグナル/ノイズ比（S/N比）、または質量精度を示す情報である
ことを特徴とする請求項５に記載の分析装置性能変化監視プログラム。
【請求項７】
前記分析装置は、水素炎イオン化検出器、電気化学検出器、光イオン化検出器、クロマトグラフィーを使用した分析装置、固相抽出法を使用した分析装置、または濾過装置である
ことを特徴とする請求項１〜４のうちいずれか1項に記載の分析装置性能変化監視プログラム。
【請求項８】
分析対象である試料に関する試料情報と、分析装置による前試料に対する分析の条件に関する分析条件情報と、が関係づけられた分析関係情報が格納された記憶装置から、所定の基準に基づく分析関係情報を抽出する抽出部と、
抽出した前記分析関係情報のそれぞれに含まれる項目情報のうち所定の項目情報を、前記分析装置の性能の指標となる指標情報として、時系列に並べて出力する出力部と、
を備えることを特徴とする分析装置性能変化監視装置。
【請求項９】
コンピュータが、
分析対象である試料に関する試料情報と、分析装置による前試料に対する分析の条件に関する分析条件情報と、が関係づけられた分析関係情報が格納された記憶装置から、所定の基準に基づく分析関係情報を抽出し、
抽出した前記分析関係情報のそれぞれに含まれる項目情報のうち所定の項目情報を、前記分析装置の性能の指標となる指標情報として、時系列に並べて出力する、
処理を実行することを特徴とする分析装置性能変化監視方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、分析装置性能変化監視プログラム、分析装置性能変化監視装置、及び分析装置性能変化監視方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
分析装置の性能が基準値を保持しているかどうかを確認する方法として、精度管理が挙げられる。精度管理を効果的に行う方法として統計的方法が用いられることもあり、その方法の一つとして、ｘ−Ｒ（エックス・バー・アール）管理図法などが挙げられる。
【０００３】
また、分析装置の性能を評価するためには、基準となる標準試料を設定し、定められた手順に沿って試料調製および分析を行い、性能を評価することが一般的に行われている（例えば、非特許文献１）。
【先行技術文献】
【非特許文献】
【０００４】
【非特許文献１】高原喜八郎  「精度管理の意義とその方法」  日本総合健診医学会誌，1987 年 14 巻 2 号 p. 173-180
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
精度管理は基準となる標準試料を設定し、定められた手順に沿った試料調製および分析を行う必要があるため、頻繁に行うのは手間となる。そのため、厳格な分析が求められない場合は、精度管理を必ずしも厳格に実施しない場合もある。そもそも、分析者の目的は分析対象試料の分析であり、精度管理は分析対象試料を適切に分析するために必要ではあるものの、本来の目的ではない。そのため、余計な作業と見なされやすく、装置の精度管理が必ずしも規律正しく行われていない場合もある。その場合、装置の不具合が生じてから対応することになり、不具合対応中は分析がストップしてしまうという問題が生じる。
【０００６】
また、コストの面から精度管理を一定の間隔（週単位・月単位など）で実施している場合において、精度管理と精度管理の間の期間に装置性能の低下が発生した場合には、次の精度管理まで装置性能が低下していたことを知らずに分析データを取得してしまうことになる。
【０００７】
質量分析装置において、性能が基準値を満たさなくなる原因の一つとしては、装置に使用している部品・機器の故障が挙げられる。部品や機器の故障では、性能の変化が緩やかな場合もある。しかしながら、一般的には故障による性能の変化は大きく、性能の変化が不具合として分析者によって認知されやすいと言える。
【０００８】
また、性能が基準値を満たさなくなる別の原因として、試料自体や試料に含まれる夾雑物などに由来する物質、あるいは装置に用いられている部材からのアウトガスや、グリース、オイルなどに由来する物質がイオン源や輸送系、検出器、各種電極を汚染することが挙げられる。特に、試料自体や試料に含まれる夾雑物などに由来する物質を原因とする汚染は、通常、各分析における汚染の程度はわずかであるため、性能の変化も緩やかに進行する。そのため、各分析において分析者が性能低下を認知することは通常は難しく、汚染が蓄積されて性能低下が認知可能なある一定以上の汚染に達した段階で、分析者は初めて性能変化を認知することができるようになる。
【０００９】
また、質量分析装置を利用する分析者が固定しており、その分析者が継続的に分析を実施している場合は装置の状態変化に気づきやすいが、装置を多数の分析者で共有している場合は、各分析者が各自の分析対象に最適な装置パラメータを設定し、次の分析者が装置パラメータの変化にも気づかない状況も生じる。その場合、装置の状態変化が性能低下によるものか前分析者の設定パラメータによるものか判断しにくくなるという問題が生じる。
【００１０】
本発明は、一側面として、分析処理の実行に応じて、性能が緩やかに低下していく分析装置の性能の変化が認識しやすくなる技術を提供する。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
本実施形態の一側面に係る分析装置性能変化監視プログラムは、コンピュータに、分析対象である試料に関する試料情報と、分析装置による前記試料に対する分析の条件に関する分析条件情報と、分析結果情報と、が関係づけられた分析関係情報が格納された記憶装置から、所定の試料情報または分析条件情報を有する分析関係情報を抽出し、抽出した前記分析関係情報の分析結果情報のうち所定の項目情報を、前記分析装置の性能の指標となる指標情報として、時系列に並べて出力する、処理を実行させることを特徴とする。
【００１２】
分析装置性能変化監視プログラムにおいて、前記コンピュータは、さらに、時系列に並べられた前記指標情報が、予め設定された閾値を超えたか否かの判定を行い、前記判定の結果に応じて、所定の警告の通知を行う、処理を実行させることを特徴とする。
【００１３】
分析装置性能変化監視プログラムにおいて、前記通知において、通信ネットワークを介して、他の装置に前記警告を通知することを特徴とする。
【００１４】
分析装置性能変化監視プログラムにおいて、前記分析条件情報は、前記分析の前処理に関する前処理情報、前記分析において設定された前記分析装置の設定情報、前記分析装置の動作状況を示す動作状況情報のうち、少なくともいずれかの情報を含むことを特徴とする。
【００１５】
分析装置性能変化監視プログラムにおいて、前記分析装置は、質量分析装置であることを特徴とする。
【００１６】
分析装置性能変化監視プログラムにおいて、前記項目情報は、ピーク強度、ピーク面積、シグナル/ノイズ比（S/N比）、質量分解能、または質量精度を示す情報であることを特徴とする。
【００１７】
分析装置性能変化監視プログラムにおいて、前記分析装置は、水素炎イオン化検出器、電気化学検出器、光イオン化検出器、クロマトグラフィーを使用した分析装置、固相抽出法を使用した分析装置、または濾過装置であることを特徴とする。
【００１８】
本実施形態の一側面に係る分析装置性能変化監視装置は、分析対象である試料に関する試料情報と、分析装置による前記試料に対する分析の条件に関する分析条件情報と、が関係づけられた分析関係情報が格納された記憶装置から、所定の基準に基づく分析関係情報を抽出する抽出部と、抽出した前記分析関係情報のそれぞれに含まれる項目情報のうち所定の項目情報を、前記分析装置の性能の指標となる指標情報として、時系列に並べて出力する出力部と、を備えることを特徴とする。
【００１９】
本実施形態の一側面に係る分析装置性能変化監視方法において、コンピュータが、分析対象である試料に関する試料情報と、分析装置による前試料に対する分析の条件に関する分析条件情報と、が関係づけられた分析関係情報が格納された記憶装置から、所定の基準に基づく分析関係情報を抽出し、抽出した前記分析関係情報のそれぞれに含まれる項目情報のうち所定の項目情報を、前記分析装置の性能の指標となる指標情報として、時系列に並べて出力する、処理を実行することを特徴とする。
【図面の簡単な説明】
【００２０】
【図１】本実施形態における分析装置性能変化監視装置の一例を示す図である。
【図２】本実施形態に係る質量分析システムの構成を示す模式図である。
【図３】本実施形態における情報処理装置の機能ブロック図である。
【図４】本実施形態における質量分析実行前に入力された情報に基づいて、データリポジトリに登録される情報の一例を示す図である。
【図５】本実施形態における分析装置性能変化監視処理の流れを説明する図である。
【図６】本実施形態における質量分析装置の性能低下検知の他の表示例を示す図である。
【図７】本実施形態における分析装置性能変化監視処理のフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００２１】
図１は、本実施形態における分析装置性能変化監視装置の一例を示す図である。分析装置性能変化監視装置１は、分析装置６の性能の変化を監視する装置である。分析装置性能変化監視装置１は、記憶装置２、抽出部３、出力部４、通知部５を含む。
【００２２】
記憶装置２は、分析対象である試料に関する試料情報と、分析装置６による試料に対する分析の条件に関する分析条件情報と、分析の結果に関する分析結果情報と、が関係づけられた分析関係情報が格納されている。記憶装置２の一例として、後述する記憶部２５が挙げられる。
【００２３】
抽出部３は、記憶装置２から、所定の分析条件情報を有する分析関係情報を抽出する。抽出部３の一例として、後述する抽出部４１が挙げられる。
【００２４】
出力部４は、抽出した分析関係情報の分析結果情報のうち所定の項目情報を、分析装置６の性能の指標となる指標情報として、時系列に並べて出力する。出力部４の一例として、後述する解析部４２が挙げられる。
【００２５】
このように構成することにより、分析処理の実行に応じて、性能が緩やかに低下していく分析装置の性能の変化が視覚化され、性能の変化を認識しやくするなる。
【００２６】
解析部４２は、時系列に並べられた前記指標情報が、予め設定された閾値を超えたか否かの判定を行う。通知部５は、判定の結果に応じて、所定の警告の通知を行う。通知部５の一例として、後述する通知部４３が挙げられる。
【００２７】
このように構成することにより、性能が緩やかに低下していく分析装置の性能の変化を検知することができる。
【００２８】
通知部６は、通信ネットワークを介して、他の装置に警告を通知する。これにより、例えば、多検体を自動分析モードで分析している分析装置から離れた場所にいる測定者に異常を通知することができる。
【００２９】
分析条件情報は、分析の前処理に関する前処理情報、分析において設定された分析装置の設定情報、分析装置の動作状況を示す動作状況情報のうち、少なくともいずれかの情報を含む。
【００３０】
このように構成することにより、同一の条件や類似する条件を有する分析関係情報を抽出することができるので、その条件での分析装置の性能の変化を確認することができる。
【００３１】
分析装置６は、質量分析装置であってもよい。このように構成することにより、質量分析装置の緩やかな性能の低下を認識することができる。
【００３２】
前記項目情報は、ピーク強度、ピーク面積、シグナル/ノイズ比（S/N比）、質量分解能、または質量精度を示す情報であってもよい。
【００３３】
このように構成することにより、分析結果情報を時系列に比較することができる。
【００３４】
分析装置６は、水素炎イオン化検出器、電気化学検出器、光イオン化検出器、クロマトグラフィーを使用した分析装置、固相抽出法を使用した分析装置、または濾過装置であってもよい。
【００３５】
このように構成することにより、試料と非接触ではあるが、分析の結果、検出器等の性能が徐々に低下する分析装置や、フィルター系の分析装置等に、本実施形態を適用することができる。
【００３６】
本実施形態では、分析装置の一例として、質量分析装置を用いることとする。ここでは、質量分析により取得したデータを装置パラメータや試料の名称や量、前処理方法等も含めて一元的に管理するデータリポジトリに保管されている。そして、分析装置制御部能変化監視装置は、継時的に保管・蓄積されたデータの中から試料名などが同じ、分析パラメータなどの測定条件が同じ、あるいは測定条件が近似しているスペクトルデータを抽出する。分析装置制御部能変化監視装置は、装置性能を反映する指標（ピーク強度、ピーク面積）、質量分解能、シグナル/ノイズ比（S/N比）など）を用いて、継時的な指標の変化を解析することにより、装置の性能劣化を検知する。以下に、本実施形態について詳述する。
【００３７】
図２は、本実施形態に係る質量分析システムの構成を示す模式図である。質量分析システムは、質量分析装置１０、レーザ駆動部１９、情報処理装置２０、入力装置２８、出力装置２９を含む。
【００３８】
質量分析装置１０は、イオン化部１１、飛行時間型質量分析器（ＴＯＦＭＳ）１６、レーザ駆動部１９を含む。イオン化部１はＭＡＬＤＩ（Matrix Assisted Laser Desorption/Ionization）イオン源であり、サンプルプレート１２、レーザ照射部１３および引出し電極１４を含む。サンプルプレート１２上に試料１５が形成される。レーザ駆動部１９は、レーザ照射部１３を駆動する。それにより、レーザ照射部１３は、パルス状のレーザ光をサンプルプレート１２上の試料１５に照射する。その結果、試料１５に含まれる各種成分がイオン化される。生成されたイオンは、サンプルプレート１２と引出し電極１４との間に形成されたイオン引出し用の電場により引き出され、飛行時間型質量分析器１６に導入される。飛行時間型質量分析器１６は、検出器１８を含む。本実施形態では、イオンは質量電荷比に応じた飛行速度で飛行時間型質量分析器２内の飛行空間１７を飛行し、質量電荷比が小さいイオンから順に検出器１８に到達する。図１では、各種イオンが質量電荷比に応じた大きさの丸印で表されている。
【００３９】
情報処理装置２０は、分析実行機能及び分析装置性能変化監視機能を有する。分析実行機能分析動作制御機能、データ解析機能、分析動作制御機能は、質量分析装置１０及びレーザ駆動部１９の動作を制御する機能である。データ解析機能は、質量分析装置１０から出力された情報を解析して、分析結果として出力する機能である。分析装置性能変化監視機能は、質量分析装置１０の性能の変化を監視する機能である。
【００４０】
情報処理装置２０は、インターフェース（以下、「Ｉ／Ｆ」と称する。）２１、中央演算装置（ＣＰＵ）２２、入力Ｉ／Ｆ２３、メモリ２４、記憶部２５、出力Ｉ／Ｆ２６、バス２７を含む。Ｉ／Ｆ２１、ＣＰＵ２２、入力Ｉ／Ｆ２３、メモリ２４、記憶部２５、出力Ｉ／Ｆ２６は、バス２７によって通信可能なように接続されている。
【００４１】
Ｉ／Ｆ２１は、通信ネットワークと接続して、レーザ駆動部１９、質量分析装置１０、及び他の装置と通信するためのポート等のインターフェースである。通信ネットワークは、インターネット、ローカルエリアネットワーク（ＬＡＮ）、ワイドエリアネットワーク（ＷＡＮ）、専用線、有線、無線等の通信網であってよい。
【００４２】
ＣＰＵ２２は、プロセッサの一例を示す。ＣＰＵ２２は、記憶装置２２から各種のプログラムを読み出し、当該プログラムを実行する。メモリ２４は、リードオンリメモリ（ＲＯＭ）及びランダムアクセスメモリ（ＲＡＭ）を含む記憶装置である。
【００４３】
記憶部２５は、大容量の情報を記憶する装置である。記憶部２５としては、ハードディスク、ソリッドステートドライブ（ＳＳＤ）、フラッシュメモリカードなど様々な形式の記憶装置を使用することができる。記憶部２５には、オペレーティングシステム（ＯＳ）や分析動作制御機能を実現するプログラム、データ解析機能を実現するプログラム、分析装置性能変化監視機能を実現するプログラム、その他のプログラムが格納されている。また、記憶部２５には、質量分析装置１０への設定情報や質量分析装置１０から出力情報等が格納されている。
【００４４】
入力Ｉ／Ｆ８６は、キーボード、マウス、電子カメラ、ウェブカメラ、マイク、スキャナ、センサ、タブレット、タッチパネル等の入力装置２８と接続することが可能である。また、出力Ｉ／Ｆ８７は、ディスプレイ、タッチパネル、プリンタ、スピーカ等の出力装置２９と接続することが可能である。
【００４５】
本実施形態で説明した処理を実現するプログラムは、プログラム提供者側から通信ネットワークおよびＩ／Ｆ２１を介して、例えば記憶部２５に格納されてもよい。また、本実施形態で説明した処理を実現するプログラムは、市販され、流通している可搬型記憶媒体に格納されていてもよい。この場合、この可搬型記憶媒体は読取装置にセットされて、ＣＰＵ２２によってそのプログラムが読み出されて、実行されてもよい。可搬型記憶媒体としてはＣＤ−ＲＯＭ、フレキシブルディスク、光ディスク、光磁気ディスク、ＩＣカード、ＵＳＢメモリ装置、半導体メモリカードなど様々な形式の記憶媒体を使用することができる。
【００４６】
図３は、本実施形態における情報処理装置の機能ブロック図である。情報処理装置２０のＣＰＵ２は、記憶部２５に格納されたプログラムを読み出して実行することにより、分析実行部３０と分析装置性能変化監視部４０として機能する。
【００４７】
分析実行部３０は、入力情報取得部３１、分析装置動作制御部３２、検出データ取得部３３、検出データ解析部３４を含む。入力情報取得部３１は、質量分析を行う場合に予め入力装置等により入力される必要な情報（例えば、試料情報、前処理情報、ＭＡＬＤＩターゲット情報、質量分析情報等）を取得し、記憶部２５内のデータリポジトリ５０に登録する。分析装置動作制御部３２は、入力情報取得部３１により取得された情報及び入力装置２８からの指示に基づいて、レーザ駆動部１９を駆動させ、質量分析装置１０の動作を制御する。検出データ取得部３３は、検出器１８から出力された検出データを取得する。検出データ解析部３４は、取得した検出データに基づいて、マススペクトルを生成し、マススペクトルを表示装置２９に表示させる。また、検出データ解析部３３は、マススペクトルを含む分析結果情報をデータリポジトリに、対応する試料情報、前処理情報、ＭＡＬＤＩターゲット情報、質量分析情報に関係づけて登録する。
【００４８】
分析装置性能変化監視部４０は、抽出部４１、解析部４２、通知部４３を含む。抽出部４１は、データリポジトリ５０に登録されている質量分析データの中から、試料の条件や前処理条件、質量分析条件が類似しているデータを抽出する。
【００４９】
解析部４２は、抽出したデータから、装置性能を反映する指標（ピーク強度、ピーク面積、質量分解能、シグナル/ノイズ比（S/N比）など）の継時的変化を解析する。なお、データ抽出条件は必要とするものを任意に設定すればよい。また、指標は単一の場合もあれば、複数組み合わせる場合もある。
【００５０】
なお、指標の継時的変化の解析はリアルタイムで実施するのが望ましいが、一定の時間間隔で実施しても良い。
【００５１】
また、解析部４２は、例えば、装置性能を反映する指標を時系列に並べて出力することもできる。
【００５２】
また、解析部４２は、指標の継時的変化の解析において、装置性能を反映する指標と基準値とを比較し、装置性能を反映する指標が基準値から許容範囲内か否かを判定することもできる。解析部４２は、装置性能を反映する指標が基準値の範囲外に達していれば、装置の性能低下の異常が発生していると判定する。
【００５３】
解析部４２により装置の性能低下の異常が発生していると判定された場合、通知部４３は、表示装置へのその異常を警告する表示や警告音の発生などの手段などを通してユーザに通知する。
【００５４】
また、通知部４３は、異常検知をインターネット回線や電話通信回線などを利用してスマートフォンなどの通信デバイスに送信してもよい。これにより、質量分析装置１０から離れた場所にいるユーザに、質量分析装置１０の異常を通知することもできる。
【００５５】
図４は、本実施形態における質量分析実行前に入力された情報に基づいて、データリポジトリに登録される情報の一例を示す図である。図４の場合には、データリポジトリ５０には、試料情報、前処理情報、ＭＡＬＤＩターゲットプレート情報、質量分析情報が登録される。
【００５６】
試料情報としては、例えば、試料名、試料の量、用いた溶媒名が登録される。
【００５７】
前処理情報としては、質量分析処理の前処理として行った処理が登録される。前処理情報としては、例えば、免疫沈降処理、酵素消化処理（トリプシン消化等）、精製処理（例えば、固相抽出、液相抽出等）、マトリックス（例えば、α-シアノ-4-ヒドロキシけい皮酸（ＣＨＣＡ）、2,5-ジヒドロキシ安息香酸（ＤＨＢ）、シナピン酸（ＳＡ）等））が登録される。
【００５８】
ＭＡＬＤＩターゲットプレート情報として、分析に使用するプレート情報、例えば、ステンレスプレート、濃縮プレート等が登録される。
【００５９】
質量分析情報として、分析で用いる測定モード、イオン解離法、遅延引き出し法設定値等が登録される。測定モードとしては、例えば正イオンモード、負イオンモード、リニアモード、リフレクトロンモード等が登録される。イオン解離法として、例えば、高エネルギー衝突誘起解離（ｃｏｌｌｉｓｉｏｎ−ｉｎｄｕｃｅｄ  ｄｉｓｓｏｃｉａｔｉｏｎ：ＣＩＤ）、低エネルギーＣＩＤ、Ｐｏｓｔ-Ｓｏｕｒｃｅ  Ｄｅｃａｙ（ＰＳＤ）、Ｉｎ−Ｓｏｕｒｃｅ  Ｄｅｃａｙ（ＩＳＤ）など）が登録される。
【００６０】
図５は、本実施形態における分析装置性能変化監視処理の流れを説明する図である。複数のユーザ（例えば、測定者Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｎ）が分析を実施する度に、各ユーザの分析対象試料の質量分析データがデータリポジトリ５０に登録される。質量分析データが登録される場合には、分析対象となる試料情報や前処理情報などの情報が質量分析データと紐付ける形でデータリポジトリ５０に登録される。
【００６１】
抽出部４１は、リアルタイムまたは一定の時間間隔で、分析を行ったユーザに関係なく、データリポジトリ５０から同一の試料について、同一または類似のパラメータ由来のマススペクトルを抽出する。ここで、類似のパラメータとは、予め設定された許容範囲や予め設定した誤差の範囲に含まれるパラメータ値や、リニアに変化するパラメータをいう。
【００６２】
解析部４２は、抽出されたマススペクトルを時系列に並べて、出力する。このとき、強度基準値を表示してもよい。これにより、ユーザは、ピーク値が時系列で低下していくのを容易に認識できると共に、基準値を下回ったことを容易に判断することができる。また、解析部４２により、ピーク値が基準値を下回ったと判定された場合、通知部４３により、そのことを警告させてもよい。
【００６３】
図５の例によれば、測定者４名の各自のデータがデータリポジトリ５０に各種情報を含めて登録される。そして、同一試料、類似条件のパラメータのデータが抽出され、時系列でピークプロファイルの強度の低下をモニターされる。これにより、測定者は、装置の性能低下を検知することができる。
【００６４】
図６は、本実施形態における質量分析装置の性能低下検知の他の表示例を示す図である。図６の例では、ある特定のピーク（例えば、ピークＡ）の強度（検出量）を装置性能の状態を反映するマーカとして利用する。
【００６５】
例えば、抽出部４１は、データリポジトリ５０に含まれる複数の測定者が取得したデータの中から、ピークＡを含むデータを抽出する。解析部４２は、抽出したデータのピークＡの強度を時系列に示すことによって、基準値を下回った場合に装置性能の低下を検知する。
【００６６】
図７は、本実施形態における分析装置性能変化監視処理のフローチャートである。測定者が質量分析を行う毎に、分析関係情報が登録される（Ｓ１）。分析関係情報は、分析対象である試料に関する試料情報と、分析装置による試料に対する分析の条件に関する分析条件情報と、分析結果情報と、が関係づけられた情報である。
【００６７】
抽出部４１は、リアルタイムまたは所定のタイミングもしくは一定の時間間隔で、試料の条件や前処理条件、質量分析条件が同一か類似する分析関係情報を抽出する（Ｓ２）。ここで、試料の条件や前処理条件、質量分析条件が類似する分析関係情報とは、試料の条件や前処理条件、質量分析条件が同一かまたは予め決められた許容範囲内や予め設定した誤差の範囲に含まれるパラメータ値や、リニアに変化するパラメータを有する分析関係情報をいう。
【００６８】
図４の場合でいえば、同一の試料について同一の分析関係情報とは、試料情報（試料名、量、溶媒）が同一で、前処理情報、ＭＡＬＤＩターゲットプレート、質量分析情報が一致する分析関係情報を示す。
【００６９】
また、同一の試料について類似の分析関係情報とは、試料情報のうち試料名及び溶媒が同一で量が異なり、かつ前処理情報、ＭＡＬＤＩターゲットプレート、及び質量分析情報が一致する分析関係情報をいう。試料の量については、リニアに変化し、その線形性の変化が予測可能なので、このような取り扱いをすることができる。また、分析関係情報にレーザーパワーも含めている場合には、レーザーパワーの一定の誤差の範囲内を同一または類似の範囲内としてもよい。
【００７０】
解析部４２は、抽出された分析関係情報のうち質量分析装置の性能の指標情報に基づいて、質量分析装置の性能の経時的変化を解析する（Ｓ３）。ここで、質量分析装置の性能の指標情報として、例えば、マススペクトルのピーク強度やピーク面積、シグナル/ノイズ比（S/N比）、質量分解能、質量精度を用いてよい。解析部４２は、その指標情報を時系列に並べて、表示装置２９に出力する。
【００７１】
解析部４２は、装置性能を反映する指標情報が基準値の範囲内にあるか否かを判定する（Ｓ４）。装置性能を反映する指標情報が基準値の範囲内にある場合、通知部４３は、何も通知しない（Ｓ４でＹＥＳ）。
【００７２】
装置性能を反映する指標情報が基準値の範囲外にある場合（Ｓ４でＮＯ）、通知部４３は、分析装置の性能の低下を警告する通知を行う（Ｓ５）。
【００７３】
なお、条件のパラメータは、分析装置のレーザーパワーや電圧、電流等、装置自体の条件でもよい。
【００７４】
また、同一の分析装置を用いた分析結果でも、抽出する条件の項目に応じて、性能が低下している場合があり得るが、その場合には、抽出する条件毎に性能が低下していると判定される毎に、警告を出すようにしてもよい。
【００７５】
また、分析装置性能変化監視部４０を含む情報処理装置は、分析実行部３０を有する情報処理装置と別個独立したものでもよく、分析実行部３０により収集されたデータリポジトリ５０内の情報さえ提供を受ければよい。
【００７６】
なお、上記では、質量分析装置を用いて本実施形態を説明したが、質量分析装置は分析装置の一例であって、これに限定されない。分析装置としては、試料で検出器が汚染されるため、検出器やフィルター等の消耗品の交換が必要な分析装置であれば、本実施形態を適用することができる。
【００７７】
分析装置が、試料を水素炎で燃焼して精製したイオンが電極に衝突して検出する水素炎イオン化検出器（ＦＩＤ）（ガスクロマトグラフィー）であってもよい。
【００７８】
また、分析装置が電気化学検出器（ＨＰＬＣ）であってもよい。ＨＰＬＣは、検出器の作用電極表面での分析目的分子の酸化・還元反応で生じる電流もしくは電位を検出するが、従来用いている金属電極は汚染すると電極研磨が必要になる。
【００７９】
また、分析装置が光イオン化検出器（ＰＩＤ)（ガスクロマトグラフィー）であってもよい。ＰＩＤは、紫外線によって揮発性有機化合物（Volatile Organic Compounds：ＶＯＣ）をイオン化し、そのイオン電流から濃度を求めるが、イオンを検出する電極に絶縁物が付着すると、電極からの出力が不安定になり感度が低下する。
【００８０】
また、フィルターの交換が必要な分析装置として、例えば、クロマトグラフィー（カラムや配管の汚染）、固相抽出（カートリッジの汚染）、濾過装置（濾過材は様々なタイプがある；砂、活性炭、樹脂など）に本実施形態を適用してもよい。
【００８１】
また、例えば、本実施形態を適用した分析装置と情報処理装置から構成される複数の分析システムに対してデータセンターを設置し、各分析システムからの分析関係情報をデータセンターに送信するようにしてもよい。これにより、例えば、データセンター側において、同型の分析装置の分析関係情報から、同一試料で、同一または類似のパラメータを有する分析関係情報の分析結果情報を時系列に並べることで、その型の分析装置特有の性能の傾向を確認できるようにしてもよい。
【００８２】
本実施形態によれば、分析処理の実行に応じて、性能が緩やかに低下していく分析装置の性能の変化が認識しやすくなる。また、定期的な装置の精度管理の必要が無くなる。または精度管理を実施する頻度を下げることができる。これによりこれまで精度管理に必要としていた労力やコストを低減させることができる。
【００８３】
継時的かつ自動で装置性能状態をモニタリングすることにより、これまで認知しにくかった緩やかな装置性能の変化を検知することができる。これにより、装置の大幅な性能低下・故障の前にメンテナンス等を実施することができる。その結果、装置の性能変化の幅が小さくなり、継続的に安定した分析データを取得することが出来る。
【００８４】
以上、実施形態、変形例に基づき本態様について説明してきたが、上記した態様の実施の形態は、本態様の理解を容易にするためのものであり、本態様を限定するものではない。本態様は、その趣旨並びに特許請求の範囲を逸脱することなく、変更、改良され得ると共に、本態様にはその等価物が含まれる。また、その技術的特徴が本明細書中に必須なものとして説明されていなければ、適宜、削除することができる。
【符号の説明】
【００８５】
１      分析装置性能変化監視装置
２      記憶装置
３      抽出部
４      出力部
５      通知部
６      分析装置
９      質量分析システム
１０    質量分析装置
１１    イオン化部
１２    サンプルプレート
１３    レーザ照射部
１４    引出し電極
１５    試料
１６    飛行時間型質量分析器（ＴＯＦＭＳ）
１７    飛行空間
１８    検出器
１９    レーザ駆動部
２０    情報処理装置
２８    入力装置
２９    出力装置
３０    分析実行部
３１    入力情報取得部
３２    分析装置動作制御部
３３    検出データ取得部
３４    検出データ解析部
４０    分析装置性能変化監視部
４１    抽出部
４２    解析部
４３    通知部
５０    データリポジトリ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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