(57)【要約】【課題】ＰＡＭ４信号の各シンボルのレベルごとの遷移状態や３つのアイ開口部のエラーの挿入状態を知ることができる。【解決手段】誤り検出装置１は、誤り検出対象のＰＡＭ４信号をＭＳＢとＬＳＢにデコードするＰＡＭデコーダ２と、ＰＡＭデコーダ２にてデコードされたＭＳＢとＬＳＢのレベルを測定するレベル測定部３と、レベル測定部３にて測定されたＭＳＢおよびＬＳＢのレベルと期待値データとのレベル比較によりエラーを検出し、期待値データのレベルに対するエラー検出条件の対応表に基づいてＰＡＭ信号の各シンボルのレベルごとの遷移状態を判別する誤り検出部４と、誤り検出部４の判別結果に基づいてＰＡＭ４信号の各シンボルのレベルごとの遷移状態に応じたエラーカウントとエラーレートの一覧表を表示する表示部５とを備える。【選択図】図１
2020113872.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
誤り検出対象からのＰＡＭ４信号を最上位ビット列信号（ＭＳＢ）と最下位ビット列信号（ＬＳＢ）にデコードするＰＡＭデコーダ（２）と、
前記ＰＡＭデコーダにてデコードされた最上位ビット列信号と最下位ビット列信号のレベルを測定するレベル測定部（３）と、
前記レベル測定部にて測定された最上位ビット列信号および最下位ビット列信号と、前記最上位ビット列信号および最下位ビット列信号それぞれがもつ期待値データとのレベル比較によりエラーを検出し、前記期待値データのレベルに対するエラー検出条件の対応表に基づいて前記ＰＡＭ信号の各シンボルのレベルごとの遷移状態を判別する誤り検出部（４）と、
前記誤り検出部の判別結果に基づいて前記ＰＡＭ４信号の各シンボルのレベルごとの遷移状態に応じたエラーカウントとエラーレートの一覧表を表示する表示部（５）とを備えたことを特徴とする誤り検出装置。
【請求項２】
前記誤り検出部（４）は、前記ＰＡＭ信号の各シンボルのレベルごとの遷移状態から前記ＰＡＭ信号の３つのアイ開口部それぞれの遷移レベルごとのエラーカウントと前記アイ開口部ごとのエラーレートを検出し、
前記表示部（５）は、前記ＰＡＭ４信号の各シンボルのレベルごとの遷移状態に応じたエラーカウントとエラーレートの一覧表、前記誤り検出部にて検出した前記ＰＡＭ信号の３つのアイ開口部それぞれの遷移レベルごとのエラーカウントと前記アイ開口部ごとのエラーレートの一覧表を選択的に表示することを特徴とする請求項１に記載の誤り検出装置。
【請求項３】
誤り検出対象からのＰＡＭ４信号を最上位ビット列信号（ＭＳＢ）と最下位ビット列信号（ＬＳＢ）にデコードするステップと、
前記デコードされた最上位ビット列信号と最下位ビット列信号のレベルを測定するステップと、
前記測定された最上位ビット列信号および最下位ビット列信号と、前記最上位ビット列信号および最下位ビット列信号それぞれがもつ期待値データとのレベル比較によりエラーを検出し、前記期待値データのレベルに対するエラー検出条件の対応表に基づいて前記ＰＡＭ信号の各シンボルのレベルごとの遷移状態を判別するステップと、
前記判別の結果に基づいて前記ＰＡＭ４信号の各シンボルのレベルごとの遷移状態に応じたエラーカウントとエラーレートの一覧表を表示するステップとを含むことを特徴とする誤り検出方法。
【請求項４】
前記ＰＡＭ信号の各シンボルのレベルごとの遷移状態から前記ＰＡＭ信号の３つのアイ開口部それぞれの遷移レベルごとのエラーカウントと前記アイ開口部ごとのエラーレートを検出するステップと、
前記ＰＡＭ４信号の各シンボルのレベルごとの遷移状態に応じたエラーカウントとエラーレートの一覧表、前記ＰＡＭ信号の３つのアイ開口部それぞれの遷移レベルごとのエラーカウントと前記アイ開口部ごとのエラーレートの一覧表を選択的に表示するステップとを含むことを特徴とする請求項３に記載の誤り検出方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、振幅をシンボルごとに４種類に分けた４値パルス振幅変調方式（ＰＡＭ４方式）によるＰＡＭ４信号を２値信号（ＮＲＺ信号）にデコードし、デコードした信号のレベル測定結果に基づいて誤りを検出する誤り検出装置および誤り検出方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
ＩＥＥＥで定められる１００Ｇや４００Ｇなどの規格においては、ビットレートの超高速化に応えるため、これまでのＰＡＭ２（ＮＲＺ）信号による伝送ではなく、ＰＡＭ４信号による伝送が規定されている。
【０００３】
ＰＡＭ４信号は、例えば、下記特許文献１に示すように、２つの信号源を用いて最上位ビット列信号ＭＳＢと最下位ビット列信号ＬＳＢを生成した後、これらの信号を足し合わせることで０（００）、１（０１）、２（１０）、３（１１）の４値の信号として発生することができる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２０１８−０３３０９８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
ところで、ＰＡＭ４信号のシンボルの誤り率を測定する場合、シンボルエラーレート（ＳＥＲ）も重要な指標だが、３つのアイ開口部（Ｕｐｐｅｒ  Ｅｙｅ／Ｍｉｄｄｌｅ  Ｅｙｅ／Ｌｏｗｅｒ  Ｅｙｅ）それぞれにどれだけのエラーが挿入されているかも重要な指標となる。例えばＵｐｐｅｒ  Ｅｙｅに集中してエラーが挿入されているとすると、パターン発生装置側でＵｐｐｅｒ  Ｅｙｅの振幅比率を大きくしたり、エンファシス付加量を大きくしたりすることでエラーを削減できるということが一目で分かる。
【０００６】
このため、ＰＡＭ４信号の各シンボルのレベルごとの遷移状態を含め、３つのアイ開口部それぞれにどれだけのエラーが挿入されているかを知ることができるＧＵＩの提供が望まれていた。
【０００７】
そこで、本発明は上記問題点に鑑みてなされたものであって、ＰＡＭ４信号の各シンボルのレベルごとの遷移状態や３つのアイ開口部のエラーの挿入状態を知ることができる誤り検出装置および誤り検出方法を提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記目的を達成するため、本発明の請求項１に記載された誤り検出装置は、誤り検出対象からのＰＡＭ４信号を最上位ビット列信号ＭＳＢと最下位ビット列信号ＬＳＢにデコードするＰＡＭデコーダ２と、
前記ＰＡＭデコーダにてデコードされた最上位ビット列信号と最下位ビット列信号のレベルを測定するレベル測定部３と、
前記レベル測定部にて測定された最上位ビット列信号および最下位ビット列信号と、前記最上位ビット列信号および最下位ビット列信号それぞれがもつ期待値データとのレベル比較によりエラーを検出し、前記期待値データのレベルに対するエラー検出条件の対応表に基づいて前記ＰＡＭ信号の各シンボルのレベルごとの遷移状態を判別する誤り検出部４と、
前記誤り検出部の判別結果に基づいて前記ＰＡＭ４信号の各シンボルのレベルごとの遷移状態に応じたエラーカウントとエラーレートの一覧表を表示する表示部５とを備えたことを特徴とする。
【０００９】
請求項２に記載された誤り検出装置は、請求項１の誤り検出装置において、
前記誤り検出部４は、前記ＰＡＭ信号の各シンボルのレベルごとの遷移状態から前記ＰＡＭ信号の３つのアイ開口部それぞれの遷移レベルごとのエラーカウントと前記アイ開口部ごとのエラーレートを検出し、
前記表示部５は、前記ＰＡＭ４信号の各シンボルのレベルごとの遷移状態に応じたエラーカウントとエラーレートの一覧表、前記誤り検出部にて検出した前記ＰＡＭ信号の３つのアイ開口部それぞれの遷移レベルごとのエラーカウントと前記アイ開口部ごとのエラーレートの一覧表を選択的に表示することを特徴とする。
【００１０】
請求項３に記載された誤り検出方法は、誤り検出対象からのＰＡＭ４信号を最上位ビット列信号ＭＳＢと最下位ビット列信号ＬＳＢにデコードするステップと、
前記デコードされた最上位ビット列信号と最下位ビット列信号のレベルを測定するステップと、
前記測定された最上位ビット列信号および最下位ビット列信号と、前記最上位ビット列信号および最下位ビット列信号それぞれがもつ期待値データとのレベル比較によりエラーを検出し、前記期待値データのレベルに対するエラー検出条件の対応表に基づいて前記ＰＡＭ信号の各シンボルのレベルごとの遷移状態を判別するステップと、
前記判別の結果に基づいて前記ＰＡＭ４信号の各シンボルのレベルごとの遷移状態に応じたエラーカウントとエラーレートの一覧表を表示するステップとを含むことを特徴とする。
【００１１】
請求項４に記載された誤り検出方法は、請求項３の誤り検出方法において、
前記ＰＡＭ信号の各シンボルのレベルごとの遷移状態から前記ＰＡＭ信号の３つのアイ開口部それぞれの遷移レベルごとのエラーカウントと前記アイ開口部ごとのエラーレートを検出するステップと、
前記ＰＡＭ４信号の各シンボルのレベルごとの遷移状態に応じたエラーカウントとエラーレートの一覧表、前記ＰＡＭ信号の３つのアイ開口部それぞれの遷移レベルごとのエラーカウントと前記アイ開口部ごとのエラーレートの一覧表を選択的に表示するステップとを含むことを特徴とする。
【発明の効果】
【００１２】
本発明によれば、ＰＡＭ４信号の各シンボルがどのレベルに遷移したか、レベルの遷移方向を含めて各シンボルの遷移状態を知ることができる。また、３つのアイ開口部それぞれにおけるエラーの挿入状態を知ることができる。
【図面の簡単な説明】
【００１３】
【図１】本発明に係る誤り検出装置の概略構成を示すブロック図である。
【図２】ＰＡＭデコーダの内部構成の一例を示す図である。
【図３】（ａ）図２のＰＡＭデコーダにおいてＰＡＭ４信号と基準電圧と出力の関係を示す図、（ｂ）図２のＰＡＭデコーダの真理値表を示す図である。
【図４】（ａ）期待値データに対するエラー検出条件の対応表を示す図、（ｂ）ＰＡＭ４信号の各シンボルのレベルごとの遷移状態に応じたエラーカウントとエラーレートを示す一覧表の表示例を示す図である。
【図５】図４（ｂ）に番号付けした一覧表を示す図である。
【図６】ＰＡＭ４信号の３つのアイ開口部それぞれの遷移レベルごとのシンボルエラーとアイ開口部ごとのシンボルエラーレートの一覧表の表示例を示す図である。
【図７】本発明に係る誤り検出方法のフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００１４】
以下、本発明を実施するための形態について、添付した図面を参照しながら詳細に説明する。
【００１５】
［ＰＡＭ４信号について］
まず、本実施の形態が対象とするＰＡＭ４信号について説明する。ＰＡＭ４方式は、情報信号の振幅をパルス信号の系列で符号化したパルス振幅変調信号として、論理「０」および「１」から構成されるビット列を、４つの電圧レベルまたは光電力のパルス信号として変調して伝送する方式である。
【００１６】
そして、ＰＡＭ４方式によるＰＡＭ４信号は、振幅がシンボルごとに４種類に分けられ、図３（ａ）に示すように、４つの異なる振幅レベルＬ０，Ｌ１，Ｌ２，Ｌ３を有し、全体の振幅電圧範囲がベースライン（Ｌ０：０レベル）から低電圧範囲Ｈ１、中電圧範囲Ｈ２、高電圧範囲Ｈ３に分けられ、ベースライン（Ｌ０：０レベル）に対する振幅レベルの大きさが異なるＵｐｐｅｒ信号（高レベル信号）、Ｍｉｄｄｌｅ信号（中レベル信号）、Ｌｏｗｅｒ信号（低レベル信号）による３つのアイパターン開口部が連続した振幅範囲の信号からなる。
【００１７】
［誤り検出装置］
図１に示すように、本実施の形態の誤り検出装置１は、ＰＡＭデコーダ２、レベル測定部３、誤り検出部４、表示部５を備えて概略構成される。
【００１８】
ＰＡＭデコーダ２は、図２に示すように、被測定物（誤り検出対象）からのＰＡＭ４信号のＵｐｐｅｒ信号（高レベル信号）、Ｍｉｄｄｌｅ信号（中レベル信号）、Ｌｏｗｅｒ信号（低レベル信号）を０／１判別する０／１判別回路１１と、０／１判別回路１１にて０／１判別した判別信号からＰＡＭ４信号を２つのＮＲＺ信号である最上位ビット列信号（ＭＳＢ）と最下位ビット列信号（ＬＳＢ）にデコードするデコード回路１２とを備えて概略構成される。
【００１９】
０／１判別回路１１は、被測定物へのＰＡＭ４信号（テスト信号）の入力に伴って折り返される被測定物からのＰＡＭ４信号が伝送される伝送線路に対し、３つの０／１判別器（第１の０／１判別器１１ａ、第２の０／１判別器１１ｂ、第３の０／１判別器１１ｃ）が並列接続される。
【００２０】
第１の０／１判別器１１ａは、ＰＡＭ４信号のＵｐｐｅｒ信号の０／１を第１の基準電圧Ｖｔｈ１との比較によって判別する。すなわち、第１の０／１判別器１１ａは、図３（ａ）に示すように、Ｕｐｐｅｒ信号を第１の基準電圧Ｖｔｈ１で打ち抜いてＵｐｐｅｒ信号と第１の基準電圧Ｖｔｈ１とを比較し、Ｕｐｐｅｒ信号が第１の基準電圧Ｖｔｈ１以上であればＤＵ＝「１」を判別信号として出力し、Ｕｐｐｅｒ信号が第１の基準電圧Ｖｔｈ１以上でなければＤＵ＝「０」を判別信号として出力する。
【００２１】
第２の０／１判別器１１ｂは、ＰＡＭ４信号のＭｉｄｄｌｅ信号の０／１を第２の基準電圧Ｖｔｈ２との比較によって判別する。すなわち、第２の０／１判別器１１ｂは、図３（ａ）に示すように、Ｍｉｄｄｌｅ信号を第２の基準電圧Ｖｔｈ２で打ち抜いてＭｉｄｄｌｅ信号と第２の基準電圧Ｖｔｈ２とを比較し、Ｍｉｄｄｌｅ信号が第２の基準電圧Ｖｔｈ２以上であればＤＭ＝「１」を判別信号として出力し、Ｍｉｄｄｌｅ信号が第２の基準電圧Ｖｔｈ２以上でなければＤＭ＝「０」を判別信号として出力する。
【００２２】
第３の０／１判別器１１ｃは、ＰＡＭ４信号のＬｏｗｅｒ信号の０／１を第３の基準電圧Ｖｔｈ３との比較によって判別する。すなわち、第３の０／１判別器１１ｃは、図３（ａ）に示すように、Ｌｏｗｅｒ信号を第３の基準電圧Ｖｔｈ３で打ち抜いてＬｏｗｅｒ信号と第３の基準電圧Ｖｔｈ３とを比較し、Ｌｏｗｅｒ信号が第３の基準電圧Ｖｔｈ３以上であればＤＬ＝「１」を判別信号として出力し、Ｌｏｗｅｒ信号が第３の基準電圧Ｖｔｈ３以上でなければＤＬ＝「０」を判別信号として出力する。
【００２３】
デコード回路１２は、論理回路で構成されるもので、第１のＡＮＤ（論理積）回路１２ａ、第２のＡＮＤ（論理積）回路１２ｂ、第３のＡＮＤ（論理積）回路１２ｃ、ＯＲ（論理和）回路１２ｄを備える。
【００２４】
第１のＡＮＤ回路１２ａは、第１の０／１判別器１１ａからの判別信号（ＤＵ）と第３の０／１判別器１１ｃからの判別信号（ＤＬ）とを入力として論理積演算を行う。
【００２５】
第２のＡＮＤ回路１２ｂは、第１の０／１判別器１１ａからの判別信号（ＤＵ）と第２の０／１判別器１１ｂからの判別信号（ＤＭ）を反転した信号とを入力として論理積演算を行う。
【００２６】
第３のＡＮＤ回路１２ｃは、第２の０／１判別器１１ｂからの判別信号（ＤＭ）を反転した信号と第３の０／１判別器１１ｃからの判別信号（ＤＬ）とを入力として論理積演算を行う。
【００２７】
ＯＲ回路１２ｄは、第１のＡＮＤ回路１２ａ、第２のＡＮＤ回路１２ｂ、第３のＡＮＤ回路１２ｃからの信号を入力として論理和演算を行う。
【００２８】
上述したＰＡＭデコーダ２では、第１の基準電圧Ｖｔｈ１を高電圧範囲Ｈ３に設定し、第２の基準電圧Ｖｔｈ２を中電圧範囲Ｈ２に設定し、第３の基準電圧Ｖｔｈ３を低電圧範囲Ｈ１に設定する。そして、ＰＡＭ４信号をデコードする際には、第１の基準電圧Ｖｔｈ１がＵｐｐｅｒ信号の打ち抜き、第２の基準電圧Ｖｔｈ２がＭｉｄｄｌｅ信号の打ち抜き、第３の基準電圧Ｖｔｈ３がＬｏｗｅｒ信号の打ち抜きに用いられる。
【００２９】
また、デコード回路１２では、図３（ｂ）の真理値表に示すように、第２の０／１判別器１１ｂからの判別信号（ＤＭ）をそのまま最上位ビット列信号（ＭＳＢ）として出力し、ＯＲ回路１２ｄの出力を最下位ビット列信号（ＬＳＢ）として出力する。なお、図３（ｂ）において、ＤＵ＝０、ＤＭ＝１、ＤＬ＝０のとき、ＤＵ＝１、ＤＭ＝０、ＤＬ＝１のときはＤｏｎ’ｔ  Ｃａｒｅとして処理される。
【００３０】
これにより、ＰＡＭデコーダ２は、ＰＡＭ４信号を最上位ビット列信号（ＭＳＢ）と最下位ビット列信号（ＬＳＢ）にデコードする。
【００３１】
なお、ＰＡＭデコーダ２のデコード回路１２は、図２の回路構成に限定されるものではなく、図３（ｂ）の真理値表を満たす構成であればよい。
【００３２】
レベル測定部３は、ＰＡＭデコーダ２にてデコードされた最上位ビット列信号（ＭＳＢ）と最下位ビット列信号（ＬＳＢ）のレベル測定を行う。具体的には、最上位ビット列信号（ＭＳＢ）のレベル、最下位ビット列信号（ＬＳＢ）の０，１レベル、最下位ビット列信号（ＬＳＢ）の２，３レベルをそれぞれ測定する。
【００３３】
誤り検出部４は、レベル測定部３にてレベル測定された最上位ビット列信号（ＭＳＢ）と最下位ビット列信号（ＬＳＢ）を入力データとし、この入力データそれぞれのレベルと、最上位ビット列信号（ＭＳＢ）と最下位ビット列信号（ＬＳＢ）それぞれがもつ期待値データのレベルとを比較してエラーを検出する。
【００３４】
また、誤り検出部４は、検出したエラーを元に、図４（ａ）に示す期待値データのレベルに対するエラー検出条件の対応表にしたがってＰＡＭ４信号の各シンボルのレベルごとの遷移状態（遷移先のレベル）を判別する。
【００３５】
なお、最上位ビット列信号（ＭＳＢ）と最下位ビット列信号（ＬＳＢ）それぞれがもつ期待値データは、周知の回路（発振器、分割回路、反転回路、グレイコーダ、プリコーダ）により、誤り検出対象の被測定物に入力するＰＡＭ４信号（テスト信号）に応じて生成される。
【００３６】
ここで、図４（ａ）の横軸は期待値データのレベル、縦軸はシンボルの遷移先のレベルを示している。
【００３７】
図４（ａ）において、期待値データがレベル０の場合には、入力データの最上位ビット列信号（ＭＳＢ）と最下位ビット列信号（ＬＳＢ）の両方がエラーであればＰＡＭ４信号のシンボルがレベル０からレベル３に遷移したと判別し、入力データの最上位ビット列信号（ＭＳＢ）のみがエラーであればＰＡＭ４信号のシンボルがレベル０からレベル２に遷移したと判別し、入力データの最下位ビット列信号（ＬＳＢ）のみがエラーであればＰＡＭ４信号のシンボルがレベル０からレベル１に遷移したと判別する。
【００３８】
図４（ａ）において、期待値データがレベル１の場合には、入力データの最上位ビット列信号（ＭＳＢ）のみがエラーであればＰＡＭ４信号のシンボルがレベル１からレベル３に遷移したと判別し、入力データの最上位ビット列信号（ＭＳＢ）と最下位ビット列信号（ＬＳＢ）の両方がエラーであればＰＡＭ４信号のシンボルがレベル１からレベル２に遷移したと判別し、入力データの最下位ビット列信号（ＬＳＢ）のみがエラーであればＰＡＭ４信号のシンボルがレベル１からレベル０に遷移したと判別する。
【００３９】
図４（ａ）において、期待値データがレベル２の場合には、入力データの最下位ビット列信号（ＬＳＢ）のみがエラーであればＰＡＭ４信号のシンボルがレベル２からレベル３に遷移したと判別し、入力データの最上位ビット列信号（ＭＳＢ）と最下位ビット列信号（ＬＳＢ）の両方がエラーであればＰＡＭ４信号のシンボルがレベル２からレベル１に遷移したと判別し、入力データの最上位ビット列信号（ＭＳＢ）のみがエラーであればＰＡＭ４信号のシンボルがレベル２からレベル０に遷移したと判別する。
【００４０】
図４（ａ）において、期待値データがレベル３の場合には、入力データの最下位ビット列信号（ＬＳＢ）のみがエラーであればＰＡＭ４信号のシンボルがレベル３からレベル２に遷移したと判別し、入力データの最上位ビット列信号（ＭＳＢ）のみがエラーであればＰＡＭ４信号のシンボルがレベル３からレベル１に遷移したと判別し、入力データの最上位ビット列信号（ＭＳＢ）と最下位ビット列信号（ＬＳＢ）の両方がエラーであればＰＡＭ４信号のシンボルがレベル３からレベル０に遷移したと判別する。
【００４１】
そして、誤り検出部４は、図４（ａ）の対応表にしたがって判別したＰＡＭ４信号の各シンボルのレベルごとの遷移状態に応じたエラーカウントとエラーレートの値に基づいて３つのアイ開口部（Ｕｐｐｅｒ  Ｅｙｅ／Ｍｉｄｄｌｅ  Ｅｙｅ／Ｌｏｗｅｒ  Ｅｙｅ）それぞれの遷移レベルごとのエラーカウント（ＥＣ）とアイ開口部ごとのエラーレート（ＥＲ）を検出する。
【００４２】
図４（ａ）の一覧表の各シンボルのレベルごとの遷移先の各エラーカウント（ＥＣ）に対し、図５に示すような番号付けした場合には、ＰＡＭ４信号の３つのアイ開口部（Ｕｐｐｅｒ  Ｅｙｅ／Ｍｉｄｄｌｅ  Ｅｙｅ／Ｌｏｗｅｒ  Ｅｙｅ）それぞれの遷移レベルごとのエラーカウント（ＥＣ）は図６に示すようになる。なお、シンボルの遷移（Ｔｒａｎｓｉｔｉｏｎ）が２レベルまたは３レベルに跨がるものは影響を及ぼすアイ開口部が２つまたは３つになるためエラーが重複してカウントされる。
【００４３】
また、アイ開口部（Ｕｐｐｅｒ  Ｅｙｅ／Ｍｉｄｄｌｅ  Ｅｙｅ／Ｌｏｗｅｒ  Ｅｙｅ）ごとのエラーレート（ＥＲ）は、各アイ開口部のエラーカウント（ＥＣ）の合計値（Ｔｏｔａｌ）を測定シンボル数で割ったものとして算出される。
【００４４】
表示部５は、例えば液晶などの表示器で構成され、誤り検出部４にて判別されたＰＡＭ４信号の各シンボルのレベルごとの遷移状態に応じたエラーカウントとエラーレートの一覧表を例えば図４（ｂ）の表示形式で表示する。
【００４５】
図４（ｂ）の一覧表において、例えばＰＡＭ４信号のシンボルのレベル３に関しては、レベル２に遷移したエラーカウントの値が「６４４７」、レベル１に遷移したエラーカウントの値が「７７８」、レベル０に遷移したエラーカウントの値が「４５６」、合計値が「７６８１」となっている。なお、図４（ｂ）の「ＥＲ」はＰＡＭ４信号のシンボルのレベルごとのエラーレートを示している。
【００４６】
また、表示部５は、誤り検出部４にて検出された３つのアイ開口部（Ｕｐｐｅｒ  Ｅｙｅ／Ｍｉｄｄｌｅ  Ｅｙｅ／Ｌｏｗｅｒ  Ｅｙｅ）それぞれの遷移レベルごとのエラーカウント（ＥＣ）とアイ開口部ごとのエラーレート（ＥＲ）の一覧表を例えば図６の表示形式で表示する。
【００４７】
図６の一覧表において、例えばＵｐｐｅｒ  Ｅｙｅに関しては、１レベル遷移のエラーカウントの値が（３）＋（６）＝「４３５」＋「６４４７」＝「６８８２」、２レベル遷移のエラーカウントの値が（２）＋（９）＝「７８６」＋「７７８」＝「１５６４」、３レベル遷移のエラーカウントの値が（１）＋（１２）＝「５７６８」＋「４５６」＝「６２２４」、エラーカウントの合計値が（１）＋（２）＋（３）＋（６）＋（９）＋（１２）＝「５７６８」＋「７８６」＋「４３５」＋「６４４７」＋「７７８」＋「４５６」＝「１４６７０」となる。
【００４８】
なお、図４（ｂ）の一覧表と図６の一覧表は、表示部５の表示画面に対し、何れか一方または両方を選択的に表示することができる。
【００４９】
次に、上記のように構成される誤り検出装置１による誤り検出方法について図７のフローチャートを参照しながら説明する。
【００５０】
まず、各電圧範囲の基準電圧を設定する（ＳＴ１）。すなわち、低電圧範囲Ｈ１の第１の基準電圧Ｖｔｈ１、中電圧範囲Ｈ２の第２の基準電圧Ｖｔｈ２、高電圧範囲Ｈ３の第３の基準電圧Ｖｔｈ３をそれぞれ設定する。
【００５１】
ＰＡＭデコーダ２は、誤り検出対象からのＰＡＭ４信号を最上位ビット列信号（ＭＳＢ）と最下位ビット列信号（ＬＳＢ）にデコードする（ＳＴ２）。
【００５２】
続いて、レベル測定部３は、ＰＡＭデコーダ２にてデコードされた最上位ビット列信号（ＭＳＢ）と最下位ビット列信号（ＬＳＢ）それぞれのレベルを測定する（ＳＴ３）。
【００５３】
次に、誤り検出部４は、レベル測定部３にてレベル測定された最上位ビット列信号（ＭＳＢ）および最下位ビット列信号（ＬＳＢ）のレベルと期待値データのレベルとを比較してエラーを検出し、検出したエラーを元に、図４（ａ）の対応表にしたがってＰＡＭ４信号の各シンボルのレベルごとの遷移状態（遷移先のレベル）を判別する（ＳＴ４）。
【００５４】
そして、誤り検出部４は、図４（ａ）の対応表にしたがって判別したＰＡＭ４信号の各シンボルのレベルごとの遷移状態に応じたエラーカウントとエラーレートの値に基づいて３つのアイ開口部（Ｕｐｐｅｒ  Ｅｙｅ／Ｍｉｄｄｌｅ  Ｅｙｅ／Ｌｏｗｅｒ  Ｅｙｅ）それぞれの遷移レベルごとのエラーカウント（ＥＣ）とアイ開口部ごとのエラーレート（ＥＲ）を検出する（ＳＴ５）。
【００５５】
そして、表示部５は、図４（ｂ）の表示形式によるＰＡＭ４信号の各シンボルのレベルごとの遷移状態に応じたエラーカウントとエラーレートの一覧表、図６の表示形式による３つのアイ開口部（Ｕｐｐｅｒ  Ｅｙｅ／Ｍｉｄｄｌｅ  Ｅｙｅ／Ｌｏｗｅｒ  Ｅｙｅ）それぞれの遷移レベルごとのエラーカウント（ＥＣ）とアイ開口部ごとのエラーレート（ＥＲ）の一覧表の何れか一方または両方を選択的に表示する（ＳＴ６）。
【００５６】
このように、本実施の形態によれば、図４（ｂ）に示すように、ＰＡＭ４信号の各シンボルのレベルごとの遷移状態に応じたエラーカウントとエラーレートの値を一覧表示する。これにより、ＰＡＭ４信号の各シンボルがどのレベルに遷移したか、レベルの遷移先を含めて各シンボルの遷移状態を知ることができる。
【００５７】
また、図６に示すように、３つのアイ開口部（Ｕｐｐｅｒ  Ｅｙｅ／Ｍｉｄｄｌｅ  Ｅｙｅ／Ｌｏｗｅｒ  Ｅｙｅ）それぞれに分割した際のエラーカウントおよびエラーレートを一覧表示する。これにより、どこのアイ開口部にエラーが偏って挿入されているか、全てのアイ開口部にエラーが均等に分布しているかなど、３つのアイ開口部それぞれにおけるエラーの挿入状態が一目で分かるようになる。
【００５８】
以上、本発明に係る誤り検出装置および誤り検出方法の最良の形態について説明したが、この形態による記述および図面により本発明が限定されることはない。すなわち、この形態に基づいて当業者等によりなされる他の形態、実施例および運用技術などはすべて本発明の範疇に含まれることは勿論である。
【符号の説明】
【００５９】
１  誤り検出装置
２  ＰＡＭデコーダ
３  レベル測定部
４  誤り検出部
５  表示部
１１  ０／１判別回路
１１ａ  第１の０／１判別器
１１ｂ  第２の０／１判別器
１１ｃ  第３の０／１判別器
１２  デコード回路
１２ａ  第１のＡＮＤ回路
１２ｂ  第２のＡＮＤ回路
１２ｃ  第３のＡＮＤ回路
１２ｄ  ＯＲ回路
Ｌ０，Ｌ１，Ｌ２，Ｌ３  ＰＡＭ４信号の各振幅レベル
Ｈ１  低電圧範囲
Ｈ２  中電圧範囲
Ｈ３  高電圧範囲
Ｖｔｈ１  第１の基準電圧
Ｖｔｈ２  第２の基準電圧
Ｖｔｈ３  第３の基準電圧
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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