(57)【要約】【課題】パルスのデューティ比を容易に調整する。【解決手段】位相比較部は、デューティ比を調整するときの基準となる第１のパルスと、デューティ比を調整する対象の第２のパルスとの立ち上がりエッジ又は立ち下がりエッジの位相差に対応する位相差信号を出力し、参照信号生成部は、第１のパルスに応じて、変化を開始する参照信号を出力する。比較部は、位相差信号と参照信号との大小関係を表す比較出力信号を出力し、比較出力信号が、第２のパルスとなってフィードバックされる。本技術は、パルスのデューティ比を調整する場合に適用することができる。【選択図】図７
2020085464.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
デューティ比を調整するときの基準となる第１のパルスと、デューティ比を調整する対象の第２のパルスとの立ち上がりエッジ又は立ち下がりエッジの位相差に対応する位相差信号を出力する位相比較部と、
前記第１のパルスに応じて、変化を開始する参照信号を出力する参照信号生成部と、
前記位相差信号と前記参照信号との大小関係を表す比較出力信号を出力する比較部と
を備え、
前記比較出力信号が、前記第２のパルスとなってフィードバックされる
ように構成された信号処理装置。
【請求項２】
前記位相差信号をフィルタリングするループフィルタをさらに備える
請求項１に記載の信号処理装置。
【請求項３】
前記ループフィルタによるフィルタリング後の前記位相差信号を記憶する記憶部をさらに備える
請求項２に記載の信号処理装置。
【請求項４】
前記参照信号生成部は、前記参照信号が変化する変化期間を調整する
請求項１に記載の信号処理装置。
【請求項５】
前記第２のパルスにより、TOF(Time Of Flight)センサで受光される光を発する光源が駆動される
請求項１に記載の信号処理装置。
【請求項６】
デューティ比を調整するときの基準となる第１のパルスと、デューティ比を調整する対象の第２のパルスとの立ち上がりエッジ又は立ち下がりエッジの位相差に対応する位相差信号を出力することと、
前記第１のパルスに応じて、変化を開始する参照信号を出力することと、
前記位相差信号と前記参照信号との大小関係を表す比較出力信号を出力することと、
前記比較出力信号が、前記第２のパルスとなってフィードバックされることと
を含む信号処理方法。
【請求項７】
デューティ比を調整するときの基準となる第１のパルスと、デューティ比を調整する対象の第２のパルスとの立ち上がりエッジ及び立ち下がりエッジのうちの一方のエッジの位相差に対応する位相差信号を出力する位相比較部と、
前記第１のパルスに応じて、変化を開始する参照信号を出力する参照信号生成部と、
前記位相差信号と前記参照信号との大小関係を表す比較出力信号を出力する比較部と、
前記比較出力信号と前記第２のパルスとの立ち上がりエッジ及び立ち下がりエッジのうちの他方のエッジの位相差に対応する他の位相差信号を出力する他の位相比較部と、
前記比較出力信号に応じて、変化を開始する他の参照信号を出力する他の参照信号生成部と、
前記他の位相差信号と前記他の参照信号との大小関係を表す他の比較出力信号を出力する他の比較部と
を備え、
前記他の比較出力信号が、前記第２のパルスとなってフィードバックされる
ように構成された信号処理装置。
【請求項８】
前記位相差信号をフィルタリングするループフィルタと、
前記他の位相差信号をフィルタリングする他のループフィルタと
をさらに備える
請求項７に記載の信号処理装置。
【請求項９】
前記ループフィルタによるフィルタリング後の前記位相差信号を記憶する記憶部と、
前記他のループフィルタによるフィルタリング後の前記他の位相差信号を記憶する他の記憶部と
をさらに備える
請求項８に記載の信号処理装置。
【請求項１０】
前記参照信号生成部は、前記参照信号が変化する変化期間を調整し、
前記他の参照信号生成部は、前記他の参照信号が変化する変化期間を調整する
請求項７に記載の信号処理装置。
【請求項１１】
前記第２のパルスにより、TOF(Time Of Flight)センサで受光される光を発する光源が駆動される
請求項７に記載の信号処理装置。
【請求項１２】
デューティ比を調整するときの基準となる第１のパルスと、デューティ比を調整する対象の第２のパルスとの立ち上がりエッジ及び立ち下がりエッジのうちの一方のエッジの位相差に対応する位相差信号を出力することと、
前記第１のパルスに応じて、変化を開始する参照信号を出力することと、
前記位相差信号と前記参照信号との大小関係を表す比較出力信号を出力することと、
前記比較出力信号と前記第２のパルスとの立ち上がりエッジ及び立ち下がりエッジのうちの他方のエッジの位相差に対応する他の位相差信号を出力することと、
前記比較出力信号に応じて、変化を開始する他の参照信号を出力することと、
前記他の位相差信号と前記他の参照信号との大小関係を表す他の比較出力信号を出力することと、
前記他の比較出力信号が、前記第２のパルスとなってフィードバックされることと
を含む信号処理方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本技術は、信号処理装置及び信号処理方法に関し、特に、例えば、パルスのデューティ比を容易に調整することができるようにする信号処理装置及び信号処理方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
例えば、インダイレクトTOF(Time Of Flight)方式で測距を行う測距装置では、光を発する光源の発光タイミングと、光源からの光の反射光を受光するTOFセンサの受光タイミングとの相対的な関係が本来の関係からずれると、測距に誤差を生じる。そのため、光源やTOFセンサを駆動するパルスを遅延することで、光源の発光タイミングやTOFセンサの受光タイミングが調整される（例えば、特許文献１を参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開2009-236657号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
測距装置では、光源の発光タイミングとTOFセンサの受光タイミングとの相対的な関係の他、光源やTOFセンサを駆動するパルスのパルス幅の変動が、測距の誤差に影響する。
【０００５】
本技術は、このような状況に鑑みてなされたものであり、パルスのデューティ比を容易に調整することができるようにするものである。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本技術の第１の信号処理装置は、デューティ比を調整するときの基準となる第１のパルスと、デューティ比を調整する対象の第２のパルスとの立ち上がりエッジ又は立ち下がりエッジの位相差に対応する位相差信号を出力する位相比較部と、前記第１のパルスに応じて、変化を開始する参照信号を出力する参照信号生成部と、前記位相差信号と前記参照信号との大小関係を表す比較出力信号を出力する比較部とを備え、前記比較出力信号が、前記第２のパルスとなってフィードバックされるように構成された信号処理装置である。
【０００７】
本技術の第１の信号処理方法は、デューティ比を調整するときの基準となる第１のパルスと、デューティ比を調整する対象の第２のパルスとの立ち上がりエッジ又は立ち下がりエッジの位相差に対応する位相差信号を出力することと、前記第１のパルスに応じて、変化を開始する参照信号を出力することと、前記位相差信号と前記参照信号との大小関係を表す比較出力信号を出力することと、前記比較出力信号が、前記第２のパルスとなってフィードバックされることとを含む信号処理方法である。
【０００８】
本技術の第１の信号処理装置及び信号処理方法においては、デューティ比を調整するときの基準となる第１のパルスと、デューティ比を調整する対象の第２のパルスとの立ち上がりエッジ又は立ち下がりエッジの位相差に対応する位相差信号が出力され、前記第１のパルスに応じて、変化を開始する参照信号が出力される。そして、前記位相差信号と前記参照信号との大小関係を表す比較出力信号が出力され、前記比較出力信号が、前記第２のパルスとなってフィードバックされる。
【０００９】
本技術の第２の信号処理装置は、デューティ比を調整するときの基準となる第１のパルスと、デューティ比を調整する対象の第２のパルスとの立ち上がりエッジ及び立ち下がりエッジのうちの一方のエッジの位相差に対応する位相差信号を出力する位相比較部と、前記第１のパルスに応じて、変化を開始する参照信号を出力する参照信号生成部と、前記位相差信号と前記参照信号との大小関係を表す比較出力信号を出力する比較部と、前記比較出力信号と第２のパルスとの立ち上がりエッジ及び立ち下がりエッジのうちの他方のエッジの位相差に対応する他の位相差信号を出力する他の位相比較部と、前記比較出力信号に応じて、変化を開始する他の参照信号を出力する他の参照信号生成部と、前記他の位相差信号と前記他の参照信号との大小関係を表す他の比較出力信号を出力する他の比較部とを備え、前記他の比較出力信号が、前記第２のパルスとなってフィードバックされるように構成された信号処理装置である。
【００１０】
本技術の第２の信号処理方法は、デューティ比を調整するときの基準となる第１のパルスと、デューティ比を調整する対象の第２のパルスとの立ち上がりエッジ及び立ち下がりエッジのうちの一方のエッジの位相差に対応する位相差信号を出力することと、前記第１のパルスに応じて、変化を開始する参照信号を出力することと、前記位相差信号と前記参照信号との大小関係を表す比較出力信号を出力することと、前記比較出力信号と第２のパルスとの立ち上がりエッジ及び立ち下がりエッジのうちの他方のエッジの位相差に対応する他の位相差信号を出力することと、前記比較出力信号に応じて、変化を開始する他の参照信号を出力することと、前記他の位相差信号と前記他の参照信号との大小関係を表す他の比較出力信号を出力することと、前記他の比較出力信号が、前記第２のパルスとなってフィードバックされることとを含む信号処理方法である。
【００１１】
本技術の第２の信号処理装置及び信号処理方法においては、デューティ比を調整するときの基準となる第１のパルスと、デューティ比を調整する対象の第２のパルスとの立ち上がりエッジ及び立ち下がりエッジのうちの一方のエッジの位相差に対応する位相差信号が出力され、前記第１のパルスに応じて、変化を開始する参照信号が出力される。さらに、前記位相差信号と前記参照信号との大小関係を表す比較出力信号が出力され、前記比較出力信号と第２のパルスとの立ち上がりエッジ及び立ち下がりエッジのうちの他方のエッジの位相差に対応する他の位相差信号が出力される。また、前記比較出力信号に応じて、変化を開始する他の参照信号が出力され、前記他の位相差信号と前記他の参照信号との大小関係を表す他の比較出力信号が出力される。そして、前記他の比較出力信号が、前記第２のパルスとなってフィードバックされる。
【００１２】
なお、第１及び第２の信号処理装置は、独立した装置（モジュールや半導体チップを含む）であっても良いし、１つの装置を構成している内部ブロックであっても良い。
【図面の簡単な説明】
【００１３】
【図１】本技術を適用し得る測距装置の構成例の概要を示す図である。
【図２】インダイレクトTOF方式での測距の方法の例を説明する図である。
【図３】TOFセンサ１２の第１の構成例を示すブロック図である。
【図４】TOFセンサ１２の第２の構成例を示すブロック図である。
【図５】本技術を適用した測距装置の一実施の形態の構成例を示すブロック図である。
【図６】受光処理部２２の構成例を示すブロック図である。
【図７】パルス処理部４１の第１の構成例を示すブロック図である。
【図８】パルス処理部４１のパルス処理の動作を説明する波形図である。
【図９】コンパレータ７５が出力する比較出力信号に生じるジッタを抑制する方法を説明する図である。
【図１０】パルス処理部４１の第２の構成例を示すブロック図である。
【図１１】パルス処理部４１のパルス処理の動作を説明する波形図である。
【図１２】パルス処理部４１の第３の構成例を示すブロック図である。
【図１３】パルス処理部４１のパルス処理の動作を説明する波形図である。
【図１４】本技術を適用した測距装置の第１の他の実施の形態の構成例を示すブロック図である。
【図１５】本技術を適用した測距装置の第２の他の実施の形態の構成例を示すブロック図である。
【発明を実施するための形態】
【００１４】
＜本技術を適用し得る測距装置＞
【００１５】
図１は、本技術を適用し得る測距装置の構成例の概要を示す図である。
【００１６】
図１において、測距装置は、光源１１及びTOFセンサ１２を有し、例えば、インダイレクトTOF方式で、被写体までの距離を測定する測距を行う。
【００１７】
光源１１は、例えば、レーザ光等の光を発する。TOFセンサ１２は、光源１１からの光が被写体で反射され、反射光として戻ってくる、その反射光を受光する。
【００１８】
TOFセンサ１２では、光源１１が光を発する発光タイミングを基準とする複数の期間において反射光が受光され、その複数の期間の反射光の受光量（電荷量）に応じて、被写体までの距離が算出される。
【００１９】
図２は、インダイレクトTOF方式での測距の方法の例を説明する図である。
【００２０】
ここで、以下、光源１１が発する光を、送信光ともいう。送信光としては、例えば、パルス形状のパルス光を採用することとする。また、送信光としてのパルス光と同一のパルス幅で、同一の位相のパルスを、第１シャッタパルスというとともに、送信光としてのパルス光と同一のパルス幅で、送信光のパルス幅だけ位相がずれたパルスを、第２シャッタパルスということとする。
【００２１】
図２は、送信光、反射光、第１シャッタパルス、及び、第２シャッタパルスの波形の例を示している。
【００２２】
TOFセンサ１２では、第１シャッタパルスのH(High)レベルの期間と、第２シャッタパルスのHレベルの期間とのそれぞれの期間において、反射光が受光される。
【００２３】
いま、第１シャッタパルスのHレベルの期間に受光された反射光の電荷量（受光量）を、Q1と表すとともに、第２シャッタパルスのHレベルの期間に受光された反射光の電荷量をQ2と表すこととする。
【００２４】
この場合、送信光のパルス幅をTpと表すこととすると、送信光に対する反射光の遅延時間Δtは、式Δt＝Tp×Q2/（Q1+Q2）に従って求めることができる。光速をc[m/s]と表すこととすると、被写体までの距離Lは、式L＝c×Δt/2に従って求めることができる。
【００２５】
図３は、図１のTOFセンサ１２の第１の構成例を示すブロック図である。
【００２６】
図３において、TOFセンサ１２は、パルス生成部２１及び受光処理部２２を有する。
【００２７】
パルス生成部２１は、光源１１に送信光を発せさせるための入力パルスを生成し、受光処理部２２とドライバ３１とに供給する。
【００２８】
ここで、ドライバ３１は、図１には図示していないが、光源１１及びTOFセンサ１２とともに、図１の測距装置を構成する。
【００２９】
ドライバ３１は、例えば、レーザ光を発する（レーザ）光源１１を駆動するレーザドライバである。ドライバ３１は、パルス生成部２１からの入力パルスに従って、光源１１を駆動する出力パルスを生成し、光源１１に供給する。光源１１は、出力パルスに従った送信光を発する。光源１１の送信光は、被写体で反射されて、反射光として戻ってくる。
【００３０】
受光処理部２２は、パルス生成部２１からの入力パルスに従って駆動し、被写体からの反射光を受光する。すなわち、受光処理部２２は、パルス生成部２１からの入力パルスに従って、図２で説明したように、第１シャッタパルスのHレベルの期間と、第２シャッタパルスのHレベルの期間とにおいて、反射光を受光する。
【００３１】
そして、受光処理部２２は、第１シャッタパルス及び第２シャッタパルスのHレベルの期間にそれぞれ受光された反射光の電荷量に応じて、被写体までの距離を求める。
【００３２】
ところで、ドライバ３１は、入力パルスのデューティ比を変動させるデューティ妨害器として働く。そのため、パルス生成部２１において、例えば、デューティ比が50%の入力パルスを生成しても、ドライバ３１が入力パルスに従って生成する出力パルスのデューティ比は50%から変動する。
【００３３】
このように、受光処理部２２を駆動する入力パルスに対して、光源１１を駆動する出力パルスのデューティ比が変動すると、第１シャッタパルス及び第２シャッタパルスのHレベルの期間にそれぞれ受光される反射光の電荷量が変動し、測距に誤差が生じる。
【００３４】
図４は、図１のTOFセンサ１２の第２の構成例を示すブロック図である。
【００３５】
なお、図中、図３の場合と対応する部分については、同一の符号を付してあり、以下では、その説明は、適宜省略する。
【００３６】
図４において、TOFセンサ１２は、パルス生成部２１、受光処理部２２、及び、遅延調整回路２３を有する。
【００３７】
したがって、図４のTOFセンサ１２は、パルス生成部２１及び受光処理部２２を有する点で、図３の場合と共通する。但し、図４のTOFセンサ１２は、遅延調整回路２３が新たに設けられている点で、図３の場合と相違する。
【００３８】
遅延調整回路２３には、パルス生成部２１から入力パルスが供給される。さらに、遅延調整回路２３には、ドライバ３１から光源１１に供給される出力パルスが供給される。
【００３９】
遅延調整回路２３は、例えば、DLL(Delay Locked Loop)等で構成され、パルス生成部２１からの入力パルスを、出力パルスに応じて、TOFセンサ１２の入力パルスが出力パルスとなって光源１１に到達するまでの遅延時間をキャンセル（補償）するように遅延し、ドライバ３１に供給する。
【００４０】
以上のように、遅延調整回路２３では、パルス生成部２１からの入力パルスが、出力パルスに応じて遅延される。これにより、TOFセンサ１２の入力パルスが出力パルスとなって光源１１に到達するまでの遅延に起因して生じる測距の誤差を抑制することができる。
【００４１】
なお、測距装置には、図中、点線で示すように、光源１１が発する送信光を検知するPD(Photo Detector)３２を設けることができる。この場合、TOFセンサ１２（の遅延調整回路２３）には、光源１１に供給される出力パルスをフィードバックするのではなく、PD３２で検知された光源１１が発する送信光に対応するパルスをフィードバックし、遅延調整回路２３での入力パルスの遅延量を調整することができる。
【００４２】
以上のように、TOFセンサ１２には、出力パルスをフィードバックするのではなく、PD３２で検知された光源１１が発する送信光に対応するパルスをフィードバックする方が、遅延調整回路２３において、入力パルスの遅延量をより正確に調整することができる。
【００４３】
以下では、測距装置において、出力パルスをTOFセンサにフィードバックすることとするが、以下説明する測距装置でも、TOFセンサには、出力パルスをフィードバックするのではなく、PD３２で検知された光源１１が発する送信光に対応するパルスをフィードバックすることができる。
【００４４】
図４のTOFセンサ１２では、上述のように、遅延調整回路２３において、入力パルスの遅延量を調整するので、TOFセンサ１２の入力パルスが出力パルスとなって光源１１に到達するまでの遅延に起因して生じる測距の誤差を抑制することができる。
【００４５】
しかしながら、遅延調整回路２３では、入力パルスのデューティ比が調整されるわけではないため、図３で説明したような、ドライバ３１で生じる出力パルスのデューティ比の変動に起因して生じる測距の誤差を抑制することは困難である。
【００４６】
本技術では、出力パルスとなる入力パルスを処理することで、出力パルスのデューティ比を容易に調整し、これにより、出力パルスのデューティ比の変動に起因して生じる測距の誤差を抑制する。
【００４７】
＜本技術を適用した測距装置の一実施の形態＞
【００４８】
図５は、本技術を適用した測距装置の一実施の形態の構成例を示すブロック図である。
【００４９】
なお、図中、図４の場合と対応する部分については、同一の符号を付してあり、以下では、その説明は、適宜省略する。
【００５０】
図５において、測距装置は、光源１１、ドライバ３１、及び、TOFセンサ４０を有する。
【００５１】
したがって、図５の測距装置は、光源１１及びドライバ３１を有する点で、図４の場合と共通する。但し、図５の測距装置は、TOFセンサ１２に代えて、TOFセンサ４０が設けられている点で、図４の場合と相違する。
【００５２】
TOFセンサ４０は、パルス生成部２１、受光処理部２２、及び、パルス処理部４１を有する。
【００５３】
したがって、TOFセンサ４０は、パルス生成部２１及び受光処理部２２を有する点で、図４のTOFセンサ１２と共通する。但し、TOFセンサ４０は、遅延調整回路２３が設けられていない点、及び、パルス処理部４１が新たに設けられている点で、TOFセンサ１２と相違する。また、TOFセンサ４０は、受光処理部２２に対して、パルス生成部２１が生成する入力パルスではなく、TOFセンサ４０にフィードバックされる出力パルスが供給され、受光処理部２２が出力パルスに従って駆動する点でも、TOFセンサ１２と相違する。
【００５４】
なお、図５の測距装置には、図４で説明したように、PD３２を設け、TOFセンサ１２に対して、出力パルスに代えて、PD３２で検知された光源１１が発する送信光に対応するパルスをフィードバックすることができる。後述する測距装置についても、同様である。
【００５５】
TOFセンサ４０に対して、出力パルスに代えて、PD３２で検知された光源１１が発する送信光に対応するパルスをフィードバックする場合には、光源１１が発する送信光としてのパルス光のデューティ比をより正確に調整することができる。
【００５６】
パルス処理部４１には、パルス生成部２１から入力パルスが供給される。パルス処理部４１は、パルス生成部２１からの入力パルスを処理するパルス処理を行う信号処理装置である。パルス処理部４１は、出力パルス（又は、送信光としてのパルス光）のデューティ比が所望のデューティ比になるように、入力パルスのパルス処理を行い、その結果得られる信号を、ドライバ３１に供給する。
【００５７】
＜受光処理部２２の構成例＞
【００５８】
図６は、図５の受光処理部２２の構成例を示すブロック図である。
【００５９】
図６において、受光処理部２２は、読み出し制御部５１、画素アレイ部５２、ADC(AD(Analog to Digital) Converter)５３、及び、出力I/F(Interface)５４を有する。
【００６０】
読み出し制御部５１は、画素アレイ部５２に制御信号を供給することにより、画素アレイ部５２を構成する画素６０からの電気信号の読み出しを制御する。
【００６１】
画素アレイ部５２は、複数の画素６０が、例えば、2次元平面状に配列されて構成される。画素アレイ部５２は、TOFセンサ４０にフィードバックされる出力パルス、及び、読み出し制御部５１の制御に従って駆動し、反射光を受光して、その反射光の受光量に対応する電気信号を出力する。
【００６２】
画素６０は、PD(PhotoDiode)６１、並びに、FET(Field Effect Transistor)で構成される転送トランジスタ６２、増幅トランジスタ６３、及び、選択トランジスタ６４を有する。
【００６３】
PD６１は、そこに入射する反射光（を含む光）を受光し、その反射光の受光量に対応する電気信号を生成する。
【００６４】
転送トランジスタ６２は、出力パルスに従ってオン／オフし、PD６１で生成された電気信号を、PD６１から転送する。PD６１から転送される電気信号は、増幅トランジスタ６３のゲートに供給される。
【００６５】
増幅トランジスタ６３は、そのゲートに供給される電気信号をバッファする。
【００６６】
選択トランジスタ６４は、読み出し制御部５１からの制御信号に従ってオン／オフすることで、増幅トランジスタ６３とADC５３との間の接続をオン／オフする（増幅トランジスタ６３とADC５３との間を接続させ、又は、切断する）。
【００６７】
増幅トランジスタ６３とADC５３との間の接続がオンにされることにより、画素６０から電気信号が読み出される。すなわち、増幅トランジスタ６３でバッファされた電気信号が、選択トランジスタ６４を介して、ADC５３に供給される。
【００６８】
ADC５３は、例えば、画素アレイ部５２を構成する画素６０の列ごとに設けられている。ADC５３は、そのADC５３が設けられた列の画素６０から供給される（読み出される）電気信号をAD変換し、出力I/F５４に供給する。画素アレイ部５２を構成する画素６０の列の数と等しい数のADC５３では、各ADC５３が、そのADC５３が設けられた列の画素６０の電気信号のAD変換を担当することにより、１行の画素６０の電気信号のAD変換を同時に行うことができる。
【００６９】
出力I/F５４は、ADC５３からの電気信号を用いて、例えば、図２で説明したように、被写体までの距離を、画素６０ごとに求め、その距離を画素値とする画像（距離画像）を出力する。
【００７０】
以上のように構成される受光処理部２２では、画素６０が、出力パルスに従い、図２で説明した第１シャッタパルスのHレベルの期間と、第２シャッタパルスのHレベルの期間とのそれぞれにおいて、反射光を受光し、その反射光に対応する電気信号を出力する。
【００７１】
画素６０が出力する電気信号は、ADC５３でAD変換され、出力I/F５４に供給される。出力I/F５４では、ADC５３からの電気信号を用いて、被写体までの距離が、画素６０ごとに求められ、その距離を画素値とする距離画像が出力される。
【００７２】
＜パルス処理部４１の第１の構成例＞
【００７３】
図７は、図５のパルス処理部４１の第１の構成例を示すブロック図である。
【００７４】
図７において、パルス処理部４１は、立ち下がり位相比較部７１、ループフィルタ７２、メモリ７３、参照信号生成部７４、及び、コンパレータ７５を有し、図４の遅延調整回路２３のような遅延素子を用いずに構成される。
【００７５】
立ち下がり位相比較部７１には、TOFセンサ４０にフィードバックされる出力パルスが、デューティ比を調整する対象のパルス（第２のパルス）として供給される。さらに、立ち下がり位相比較部７１には、パルス生成部２１からの入力パルスが、出力パルスのデューティ比を調整するときの基準となるパルス（第１のパルス）として供給される。
【００７６】
立ち下がり位相比較部７１は、入力パルスと出力パルスとの立ち下がりエッジの位相を比較し、入力パルスと出力パルスとの立ち下がりエッジの位相差に対応する立ち下がり位相差信号を、ループフィルタ７２に出力する。
【００７７】
ループフィルタ７２は、立ち下がり位相比較部７１からの立ち下がり位相差信号をフィルタリングし、フィルタリング後の立ち下がり位相差信号を、メモリ７３に出力する。
【００７８】
メモリ７３（記憶部）は、ループフィルタ７２からの立ち下がり位相差信号を、上書きする形で順次記憶し、コンパレータ７５に出力する。
【００７９】
ここで、パルス処理部４１は、メモリ７３を設けずに構成することができる。但し、パルス処理部４１に、メモリ７３を設け、電源がオンされた場合に、前回の電源オフ時にメモリ７３に記憶された立ち下がり位相差信号を、初期値として、コンパレータ７５に出力することにより、パルス処理部４１がロックする（安定動作する）までに要する時間を短縮することができる。パルス処理部４１のロックとは、周波数や位相の同期に用いられるPLL(Phase Locked Loop)について言われるロックと同義であり、図７では、立ち下がり位相比較部７１で比較される入力パルスと出力パルスとの立ち下がりエッジが一致した状態を意味する。
【００８０】
参照信号生成部７４には、パルス生成部２１から入力パルスが供給される。
【００８１】
参照信号生成部７４は、パルス生成部２１からの入力パルスに応じて、変化を開始する参照信号を、コンパレータ７５に出力する。参照信号としては、一定の割合で減少（又は増加）するランプ信号を採用することができる。なお、参照信号としては、その他、例えば、一定の割合以外の単調増加又は単調減少で変化する信号を採用することができる。本実施の形態では、参照信号として、一定の割合で減少するランプ信号を採用することとする。
【００８２】
コンパレータ７５（比較部）は、メモリ７３からの立ち下がり位相差信号と、参照信号生成部７４からの参照信号とを比較し、その立ち下がり位相差信号と参照信号との大小関係を、Hレベル及びLレベルで表す比較出力信号を出力する。
【００８３】
コンパレータ７５が出力する比較出力信号は、ドライバ３１に供給され、出力パルスとなって、光源１１に供給されるとともに、TOFセンサ４０にフィードバックされる。
【００８４】
図８は、図７のパルス処理部４１のパルス処理の動作を説明する波形図である。
【００８５】
パルス生成部２１は、光源１１を駆動するためのパルスとして、入力パルスを生成する。パルス生成部２１が生成する入力パルスは、パルス処理部４１の立ち下がり位相比較部７１及び参照信号生成部７４に供給される。
【００８６】
立ち下がり位相比較部７１は、パルス生成部２１からの入力パルスと、TOFセンサ４０にフィードバックされる出力パルスとの立ち下がりエッジの位相を比較し、入力パルスと出力パルスとの立ち下がりエッジの位相差に対応する立ち下がり位相差信号を出力する。立ち下がり位相比較部７１が出力する立ち下がり位相差信号は、ループフィルタ７２及びメモリ７３を介して、コンパレータ７５に供給される。
【００８７】
一方、参照信号生成部７４は、入力パルスの立ち上がりエッジのタイミングで、所定レベルから一定の変化の割合で減少を開始する、入力パルスと同一周期のランプ信号を、参照信号として生成し、コンパレータ７５に供給する。
【００８８】
コンパレータ７５は、立ち下がり位相差信号と参照信号とを比較し、その立ち下がり位相差信号と参照信号との大小関係を表す比較出力信号を出力する。コンパレータ７５が出力する比較出力信号は、参照信号が所定レベルになるタイミング（入力パルスの立ち上がりエッジのタイミング）でHレベルになり、その後、位相差信号と参照信号との大小関係が逆転すると、Lレベルになる。
【００８９】
コンパレータ７５が出力する比較出力信号は、ドライバ３１を介することにより、デューティ比が変動し、出力パルスとなって光源１１に供給される。さらに、出力パルスは、TOFセンサ４０にフィードバックされる。
【００９０】
以上のパルス処理により、パルス処理部４１は、立ち下がり位相差信号が0になるように、すなわち、入力パルスと出力パルスとの立ち下がりエッジのタイミングが一致するようにロックする。
【００９１】
図７のパルス処理部４１では、入力パルスを調整することにより、出力パルスのデューティ比を所望のデューティ比に容易に調整することができる。
【００９２】
ここで、出力パルス（送信光としてのパルス光）のデューティ比は、PVT（プロセス、電圧、温度）によって変動しないことが重要である。パルス処理部４１は、温度変化に影響されやすい遅延素子を用いずに構成されるので、温度変化の影響を受けにくい。
【００９３】
図９は、コンパレータ７５が出力する比較出力信号に生じるジッタを抑制する方法を説明する図である。
【００９４】
図８では、参照信号生成部７４は、入力パルスの立ち上がりエッジのタイミングで、所定レベルから一定の変化の割合で減少を開始する、入力パルスと同一周期のランプ信号を、参照信号として生成する。この場合、参照信号が変化する変化期間は、入力パルスの立ち上がりエッジのタイミングから、次の立ち上がりエッジのタイミング（の直前）までの期間となる。
【００９５】
ここで、上述のように入力パルスの立ち上がりエッジのタイミングから、次の立ち上がりエッジのタイミングまでの期間において、一定の割合で減少するランプ信号を、デフォルト信号ともいう。
【００９６】
コンパレータ７５が出力する比較出力信号は、立ち下がり位相差信号と参照信号との大小関係が逆転すると反転するので、立ち下がり位相差信号の僅かな変動により、比較出力信号の反転のタイミング、すなわち、比較出力信号としてのパルスのエッジの位置が変動するジッタが生じ得る。
【００９７】
そこで、参照信号生成部７４では、参照信号の変化期間を、デフォルト信号の変化期間よりも短い期間に調整することができる。
【００９８】
例えば、参照信号生成部７４では、図９に示すように、入力パルスの立ち上がりエッジのタイミングで、所定レベルになった後、所定の時間が経過してから、デフォルト信号よりも急峻な傾きで減少を開始するランプ信号を、参照信号として生成することにより、参照信号の変化期間を、デフォルト信号の変化期間よりも短い期間に調整することができる。
【００９９】
以上のように、参照信号の変化期間を、デフォルト信号の変化期間よりも短い期間に調整することにより、参照信号の傾きが急峻になるので、立ち下がり位相差信号の僅かな変動により、比較出力信号の反転のタイミングが大きく変動してジッタが生じることを抑制することができる
【０１００】
なお、参照信号生成部７４は、例えば、外部からの指示等に従って、参照信号の変化期間を調整（設定）することができる。
【０１０１】
参照信号の変化期間を調整することは、PLLにおいてループフィルタのカットオフ周波数を調整することに相当する。
【０１０２】
＜パルス処理部４１の第２の構成例＞
【０１０３】
図１０は、図５のパルス処理部４１の第２の構成例を示すブロック図である。
【０１０４】
図１０において、パルス処理部４１は、立ち上がり位相比較部８１、ループフィルタ８２、メモリ８３、参照信号生成部８４、コンパレータ８５、及び、インバータ８６を有し、遅延素子を用いずに構成される。
【０１０５】
立ち上がり位相比較部８１には、TOFセンサ４０にフィードバックされる出力パルスが、デューティ比を調整する対象のパルス（第２のパルス）として供給される。さらに、立ち上がり位相比較部８１には、パルス生成部２１からの入力パルスが、出力パルスのデューティ比を調整するときの基準となるパルス（第１のパルス）として供給される。
【０１０６】
立ち上がり位相比較部８１は、入力パルスと出力パルスとの立ち上がりエッジの位相を比較し、入力パルスと出力パルスとの立ち上がりエッジの位相差に対応する立ち上がり位相差信号を、ループフィルタ８２に出力する。
【０１０７】
ここで、図７の立ち下がり位相比較部７１は、入力パルスと出力パルスとの立ち下がりエッジの位相を比較するが、立ち上がり位相比較部８１は、入力パルスと出力パルスとの立ち上がりエッジの位相を比較する。
【０１０８】
ループフィルタ８２は、図７のループフィルタ７２と同様に、立ち上がり位相比較部８１からの立ち上がり位相差信号をフィルタリングし、フィルタリング後の立ち上がり位相差信号を、メモリ８３に出力する。
【０１０９】
メモリ８３（記憶部）は、図７のメモリ７３と同様に、ループフィルタ８２からの立ち上がり位相差信号を、上書きする形で順次記憶し、コンパレータ８５に出力する。
【０１１０】
ここで、図１０のパルス処理部４１は、図７の場合と同様に、メモリ８３を設けずに構成することができる。但し、パルス処理部４１に、メモリ８３を設け、電源がオンされた場合に、前回の電源オフ時にメモリ８３に記憶された立ち上がり位相差信号を、初期値として、コンパレータ８５に出力することにより、パルス処理部４１がロックするまでに要する時間を短縮することができる。
【０１１１】
参照信号生成部８４には、パルス生成部２１からの入力パルスが、インバータ８６で反転されて供給される。
【０１１２】
参照信号生成部８４は、パルス生成部２１からインバータ８６を介して供給される入力パルスに応じて、変化を開始する参照信号を、コンパレータ８５に出力する。
【０１１３】
ここで、参照信号生成部８４は、例えば、図７の参照信号生成部７４と同様に、そこに供給されるパルスの立ち上がりエッジのタイミングで、所定レベルから一定の変化の割合で減少を開始するランプ信号を、参照信号として生成する。
【０１１４】
参照信号生成部８４には、パルス生成部２１からの入力パルスが、インバータ８６で反転されて供給されるので、参照信号生成部８４では、入力パルスの立ち上がりエッジではなく、立ち下がりエッジのタイミングで、所定レベルから一定の変化の割合で減少を開始するランプ信号が、参照信号として生成される。
【０１１５】
コンパレータ８５（比較部）は、メモリ８３からの立ち上がり位相差信号と、参照信号生成部８４からの参照信号とを比較し、その立ち上がり位相差信号と参照信号との大小関係を、Hレベル及びLレベルで表す比較出力信号を出力する。
【０１１６】
コンパレータ８５が出力する比較出力信号は、ドライバ３１に供給され、出力パルスとなって、光源１１に供給されるとともに、TOFセンサ４０にフィードバックされる。
【０１１７】
インバータ８６は、パルス生成部２１からの入力パルスを反転して、参照信号生成部８４に供給する。
【０１１８】
したがって、参照信号生成部８４では、例えば、入力パルスのデューティ比が50％であるとすると、図７の参照信号生成部７４が生成する参照信号に対して、入力パルスの半周期分だけ位相がずれた参照信号が生成される。
【０１１９】
図１１は、図１０のパルス処理部４１のパルス処理の動作を説明する波形図である。
【０１２０】
パルス生成部２１は、光源１１を駆動するためのパルスとして、入力パルスを生成する。パルス生成部２１が生成する入力パルスは、パルス処理部４１の立ち上がり位相比較部８１に供給されるとともに、インバータ８６を介して、参照信号生成部８４に供給される。
【０１２１】
立ち上がり位相比較部８１は、パルス生成部２１からの入力パルスと、TOFセンサ４０にフィードバックされる出力パルスとの立ち上がりエッジの位相を比較し、入力パルスと出力パルスとの立ち上がりエッジの位相差に対応する立ち上がり位相差信号を出力する。立ち上がり位相比較部８１が出力する立ち上がり位相差信号は、ループフィルタ８２及びメモリ８３を介して、コンパレータ８５に供給される。
【０１２２】
一方、参照信号生成部８４は、インバータ８６を介して供給される、入力パルスが反転されたパルスの立ち上がりエッジのタイミング、すなわち、入力パルスの立ち下がりエッジのタイミングで、所定レベルから一定の変化の割合で減少を開始するランプ信号を、参照信号として生成し、コンパレータ８５に供給する。
【０１２３】
コンパレータ８５は、立ち上がり位相差信号と参照信号とを比較し、その立ち上がり位相差信号と参照信号との大小関係を表す比較出力信号を出力する。コンパレータ８５が出力する比較出力信号は、参照信号が所定レベルになるタイミング（入力パルスの立ち下がりエッジのタイミング）でLレベルになり、その後、位相差信号と参照信号との大小関係が逆転すると、Hレベルになる。
【０１２４】
コンパレータ８５が出力する比較出力信号は、ドライバ３１を介することにより、デューティ比が変動し、出力パルスとなって光源１１に供給される。さらに、出力パルスは、TOFセンサ４０にフィードバックされる。
【０１２５】
以上のパルス処理により、パルス処理部４１は、立ち上がり位相差信号が0になるように、すなわち、入力パルスと出力パルスとの立ち上がりエッジのタイミングが一致するようにロックする。
【０１２６】
図１０のパルス処理部４１でも、図７の場合と同様に、入力パルスを調整することにより、出力パルスのデューティ比を所望のデューティ比に容易に調整することができる。
【０１２７】
さらに、図１０のパルス処理部４１は、図７の場合と同様に、遅延素子を用いずに構成されるので、温度変化の影響を受けにくい。
【０１２８】
なお、図１０のパルス処理部４１でも、図９で説明したように、参照信号生成部８４において、参照信号の変化期間を調整し、比較出力信号にジッタが生じることを抑制することができる。
【０１２９】
＜パルス処理部４１の第３の構成例＞
【０１３０】
図１２は、図５のパルス処理部４１の第３の構成例を示すブロック図である。
【０１３１】
なお、図中、図７及び図１０の場合と対応する部分については、同一の符号を付してあり、以下では、その説明は、適宜省略する。
【０１３２】
図１２において、パルス処理部４１は、立ち下がり位相比較部７１、ループフィルタ７２、メモリ７３、参照信号生成部７４、及び、コンパレータ７５、並びに、立ち上がり位相比較部８１、ループフィルタ８２、メモリ８３、参照信号生成部８４、コンパレータ８５、及び、インバータ８６を有し、遅延素子を用いずに構成される。
【０１３３】
したがって、図１２のパルス処理部４１は、図７のパルス処理部４１を構成する立ち下がり位相比較部７１ないしコンパレータ７５、及び、図１０のパルス処理部４１を構成する立ち上がり位相比較部８１ないしインバータ８６で構成される。
【０１３４】
すなわち、図１２のパルス処理部４１は、立ち上がり位相比較部８１ないしインバータ８６を有する点で、図１０の場合と共通する。但し、図１２のパルス処理部４１は、図７の立ち下がり位相比較部７１ないしコンパレータ７５が新たに設けられている点で、図１０の場合と相違する。
【０１３５】
ここで、図１２において、立ち下がり位相比較部７１ないしコンパレータ７５で構成される部分を、立ち下がり処理部７０ともいい、立ち上がり位相比較部８１ないしインバータ８６で構成される部分を、立ち上がり処理部８０ともいう。
【０１３６】
また、参照信号生成部８４及び７４が出力する参照信号を、それぞれ、第１参照信号及び第２参照信号ともいい、コンパレータ８５及び７５が出力する比較出力信号を、それぞれ、第１比較出力信号及び第２比較出力信号ともいう。
【０１３７】
図１２のパルス処理部４１は、コンパレータ８５が出力する第１比較出力信号が、ドライバ３１に供給されるのではなく、立ち下がり処理部７０に供給される点、及び、コンパレータ７５が出力する第２比較出力信号が、ドライバ３１に供給される点で、図１０の場合と相違する。
【０１３８】
なお、図１２では、パルス生成部２１からの入力パルスに対して、立ち上がり処理部８０が処理を行った後、立ち下がり処理部７０が処理を行う順番で、立ち下がり処理部７０及び立ち上がり処理部８０が配置されているが、立ち下がり処理部７０及び立ち上がり処理部８０は、逆に、入力パルスに対して、立ち下がり処理部７０が処理を行った後、立ち上がり処理部８０が処理を行う順番で配置することができる。
【０１３９】
また、図１２のパルス処理部４１は、図７及び図１０の場合と同様に、メモリ７３及び８３を設けずに構成することができる。パルス処理部４１を、メモリ７３や８３を設けずに構成する場合には、そのメモリ７３や８３の分だけ、測距装置の規模を抑制することができる。一方、メモリ７３や８３を設ける場合には、図７及び図１０で説明したように、パルス処理部４１がロックするまでに要する時間を短縮することができる。
【０１４０】
図１３は、図１２のパルス処理部４１のパルス処理の動作を説明する波形図である。
【０１４１】
パルス生成部２１は、光源１１を駆動するためのパルスとして、入力パルスを生成する。パルス生成部２１が生成する入力パルスは、パルス処理部４１の立ち上がり位相比較部８１に供給されるとともに、インバータ８６を介して、参照信号生成部８４に供給される。
【０１４２】
立ち上がり位相比較部８１は、パルス生成部２１からの入力パルスと、TOFセンサ４０にフィードバックされる出力パルスとの立ち上がりエッジの位相を比較し、入力パルスと出力パルスとの立ち上がりエッジの位相差に対応する立ち上がり位相差信号を出力する。立ち上がり位相比較部８１が出力する立ち上がり位相差信号は、ループフィルタ８２及びメモリ８３を介して、コンパレータ８５に供給される。
【０１４３】
一方、参照信号生成部８４は、インバータ８６を介して供給される、入力パルスが反転されたパルスの立ち上がりエッジのタイミング、すなわち、入力パルスの立ち下がりエッジのタイミングで、所定レベルから一定の変化の割合で減少を開始するランプ信号を、第１参照信号として生成し、コンパレータ８５に供給する。
【０１４４】
コンパレータ８５は、立ち上がり位相差信号と第１参照信号とを比較し、その立ち上がり位相差信号と第１参照信号との大小関係を表す比較出力信号を出力する。コンパレータ８５が出力する比較出力信号は、第１参照信号が所定レベルになるタイミング（入力パルスの立ち下がりエッジのタイミング）でLレベルになり、その後、立ち上がり位相差信号と第１参照信号との大小関係が逆転すると、Hレベルになる。
【０１４５】
コンパレータ８５が出力する第１比較出力信号は、立ち下がり位相比較部７１及び参照信号生成部７４に供給される。
【０１４６】
立ち下がり位相比較部７１は、コンパレータ８５からの第１比較出力信号と、TOFセンサ４０にフィードバックされる出力パルスとの立ち下がりエッジの位相を比較し、第１比較出力信号と出力パルスとの立ち下がりエッジの位相差に対応する立ち下がり位相差信号を出力する。立ち下がり位相比較部７１が出力する立ち下がり位相差信号は、ループフィルタ７２及びメモリ７３を介して、コンパレータ７５に供給される。
【０１４７】
一方、参照信号生成部７４は、第１比較出力信号の立ち上がりエッジのタイミングで、所定レベルから一定の変化の割合で減少を開始するランプ信号を、第２参照信号として生成し、コンパレータ７５に供給する。
【０１４８】
コンパレータ７５は、立ち下がり位相差信号と第２参照信号とを比較し、その立ち下がり位相差信号と第２参照信号との大小関係を表す第２比較出力信号を出力する。コンパレータ７５が出力する第２比較出力信号は、第２参照信号が所定レベルになるタイミング（第１比較出力信号の立ち上がりエッジのタイミング）でHレベルになり、その後、立ち下がり位相差信号と第２参照信号との大小関係が逆転すると、Lレベルになる。
【０１４９】
コンパレータ７５が出力する第２比較出力信号は、ドライバ３１を介することにより、デューティ比が変動し、出力パルスとなって光源１１に供給される。さらに、出力パルスは、TOFセンサ４０にフィードバックされる。
【０１５０】
以上のパルス処理により、図１２のパルス処理部４１は、立ち上がり位相差信号及び立ち下がり位相差信号が0になるように、すなわち、入力パルスと出力パルスとの立ち上がりエッジのタイミングが一致し、かつ、立ち下がりエッジのタイミングが一致するようにロックする。
【０１５１】
したがって、図１２のパルス処理部４１では、出力パルスのデューティ比を、入力パルスのデューティ比に容易に調整することができる。また、図１２のパルス処理部４１によれば、デューティ比とともに、入力パルスに対する出力パルスの遅延も調整される。
【０１５２】
さらに、図１２のパルス処理部４１は、図７及び図１０の場合と同様に、遅延素子を用いずに構成されるので、温度変化の影響を受けにくい。
【０１５３】
なお、図１２のパルス処理部４１でも、図９で説明したように、参照信号生成部７４及び８４において、参照信号の変化期間を調整し、第２比較出力信号にジッタが生じることを抑制することができる。
【０１５４】
＜本技術を適用した測距装置の他の実施の形態＞
【０１５５】
図１４は、本技術を適用した測距装置の第１の他の実施の形態の構成例を示すブロック図である。
【０１５６】
なお、図中、図５の場合と対応する部分については、同一の符号を付してあり、以下では、その説明は、適宜省略する。
【０１５７】
図１４において、測距装置は、光源１１、レーザドライバ３１、TOFセンサ４０、光源１１１、及び、ドライバ１３１を有する。
【０１５８】
したがって、図１４の測距装置は、光源１１、レーザドライバ３１、及び、TOFセンサ４０を有する点で、図５の場合と共通し、光源１１１、及び、ドライバ１３１が新たに設けられている点で、図５の場合と相違する。
【０１５９】
ドライバ１３１は、ドライバ３１と同様に、パルス処理部４１から供給される信号（比較出力信号）に従って、光源１１１を駆動する出力パルスを生成し、光源１１１に供給する。光源１１１は、ドライバ１３１からの出力パルスに従った送信光を発する。
【０１６０】
ここで、図１４の測距装置では、光源１１１は、光源１１と同一波長の送信光を発する。
【０１６１】
以上のように、測距装置が、複数としての2個の光源１１及び１１１を有し、その複数の光源１１及び１１１が同一波長の送信光を発する場合には、パルス処理部４１には、複数の光源１１及び１１１のうちのいずれか1個の光源に供給される出力パルスを、TOFセンサ４０にフィードバックし、TOFセンサ４０が有するパルス処理部４１において、TOFセンサ４０にフィードバックされた、複数の光源のうちのいずれか1個の光源に供給される出力パルスを用いて、パルス処理を行うことができる。
【０１６２】
なお、測距装置には、同一波長の送信光を発する光源を、3個以上設けることができる。
【０１６３】
図１５は、本技術を適用した測距装置の第２の他の実施の形態の構成例を示すブロック図である。
【０１６４】
なお、図中、図１４の場合と対応する部分については、同一の符号を付してあり、以下では、その説明は、適宜省略する。
【０１６５】
図１５において、測距装置は、光源１１、レーザドライバ３１、TOFセンサ４０、光源１１１、及び、ドライバ１３１を有する。
【０１６６】
したがって、図１５の測距装置は、図１４の場合と同様に構成される。
【０１６７】
但し、図１５の測距装置は、TOFセンサ４０が、パルス生成部２１、受光処理部２２、及び、パルス処理部４１の他に、パルス処理部４１と同様に構成されるパルス処理部１４１を有する点で、図１４の場合と相違する。さらに、図１５の測距装置は、光源１１に供給される出力パルスだけでなく、光源１１１に供給される出力パルスが、TOFセンサ４０にフィードバックされる点で、図１４の場合と相違する。
【０１６８】
ここで、図１５の測距装置では、光源１１１は、光源１１と異なる波長の送信光を発する。
【０１６９】
以上のように、測距装置が、複数としての2個の光源１１及び１１１を有し、その複数の光源１１及び１１１が異なる波長の送信光を発する場合には、TOFセンサ４０には、光源１１用のパルス処理部４１と、光源１１１用のパルス処理部１４１とを設けることができる。さらに、光源１１用のパルス処理部４１では、TOFセンサ４０にフィードバックされる、光源１１に供給される出力パルスを用いて、光源１１用の比較出力信号を生成するパルス処理を行うとともに、光源１１１用のパルス処理部１４１では、TOFセンサ４０にフィードバックされる、光源１１１に供給される出力パルスを用いて、光源１１１用の比較出力信号を生成するパルス処理を行うことができる。この場合、ドライバ３１は、パルス処理部４１で生成される光源１１用の比較出力信号に従って、光源１１を駆動する出力パルスを生成し、ドライバ１３１は、パルス処理部１４１で生成される光源１１１用の比較出力信号に従って、光源１１１を駆動する出力パルスを生成する。
【０１７０】
なお、測距装置には、異なる波長の送信光を発する光源を、3個以上設けることができる。
【０１７１】
また、図１５の測距装置において、光源１１について、その光源１１が発する送信光を検知するPD３２を設け、TOFセンサ４０に対して、光源１１に供給される出力パルスをフィードバックするのではなく、PD３２で検知された光源１１が発する送信光に対応するパルスをフィードバックする場合には、光源１１１についても、その光源１１１が発する送信光を検知するPD１３２を設け、TOFセンサ４０に対して、光源１１１に供給される出力パルスをフィードバックするのではなく、PD１３２で検知された光源１１１が発する送信光に対応するパルスをフィードバックすることができる。
【０１７２】
なお、本技術の実施の形態は、上述した実施の形態に限定されるものではなく、本技術の要旨を逸脱しない範囲において種々の変更が可能である。
【０１７３】
例えば、本技術は、測距装置で使用されるパルスの他、光通信その他で使用されるパルスのデューティ比の調整に適用することができる。
【０１７４】
また、本明細書に記載された効果はあくまで例示であって限定されるものではなく、他の効果があってもよい。
【０１７５】
なお、本技術は、以下の構成をとることができる。
【０１７６】
＜１＞
デューティ比を調整するときの基準となる第１のパルスと、デューティ比を調整する対象の第２のパルスとの立ち上がりエッジ又は立ち下がりエッジの位相差に対応する位相差信号を出力する位相比較部と、
前記第１のパルスに応じて、変化を開始する参照信号を出力する参照信号生成部と、
前記位相差信号と前記参照信号との大小関係を表す比較出力信号を出力する比較部と
を備え、
前記比較出力信号が、前記第２のパルスとなってフィードバックされる
ように構成された信号処理装置。
＜２＞
前記位相差信号をフィルタリングするループフィルタをさらに備える
＜１＞に記載の信号処理装置。
＜３＞
前記ループフィルタによるフィルタリング後の前記位相差信号を記憶する記憶部をさらに備える
＜２＞に記載の信号処理装置。
＜４＞
前記参照信号生成部は、前記参照信号が変化する変化期間を調整する
＜１＞ないし＜３＞のいずれかに記載の信号処理装置。
＜５＞
前記第２のパルスにより、TOF(Time Of Flight)センサで受光される光を発する光源が駆動される
＜１＞ないし＜４＞のいずれかに記載の信号処理装置。
＜６＞
デューティ比を調整するときの基準となる第１のパルスと、デューティ比を調整する対象の第２のパルスとの立ち上がりエッジ又は立ち下がりエッジの位相差に対応する位相差信号を出力することと、
前記第１のパルスに応じて、変化を開始する参照信号を出力することと、
前記位相差信号と前記参照信号との大小関係を表す比較出力信号を出力することと、
前記比較出力信号が、前記第２のパルスとなってフィードバックされることと
を含む信号処理方法。
＜７＞
デューティ比を調整するときの基準となる第１のパルスと、デューティ比を調整する対象の第２のパルスとの立ち上がりエッジ及び立ち下がりエッジのうちの一方のエッジの位相差に対応する位相差信号を出力する位相比較部と、
前記第１のパルスに応じて、変化を開始する参照信号を出力する参照信号生成部と、
前記位相差信号と前記参照信号との大小関係を表す比較出力信号を出力する比較部と、
前記比較出力信号と前記第２のパルスとの立ち上がりエッジ及び立ち下がりエッジのうちの他方のエッジの位相差に対応する他の位相差信号を出力する他の位相比較部と、
前記比較出力信号に応じて、変化を開始する他の参照信号を出力する他の参照信号生成部と、
前記他の位相差信号と前記他の参照信号との大小関係を表す他の比較出力信号を出力する他の比較部と
を備え、
前記他の比較出力信号が、前記第２のパルスとなってフィードバックされる
ように構成された信号処理装置。
＜８＞
前記位相差信号をフィルタリングするループフィルタと、
前記他の位相差信号をフィルタリングする他のループフィルタと
をさらに備える
＜７＞に記載の信号処理装置。
＜９＞
前記ループフィルタによるフィルタリング後の前記位相差信号を記憶する記憶部と、
前記他のループフィルタによるフィルタリング後の前記他の位相差信号を記憶する他の記憶部と
をさらに備える
＜８＞に記載の信号処理装置。
＜１０＞
前記参照信号生成部は、前記参照信号が変化する変化期間を調整し、
前記他の参照信号生成部は、前記他の参照信号が変化する変化期間を調整する
＜７＞ないし＜９＞のいずれかに記載の信号処理装置。
＜１１＞
前記第２のパルスにより、TOF(Time Of Flight)センサで受光される光を発する光源が駆動される
＜７＞ないし＜１０＞のいずれかに記載の信号処理装置。
＜１２＞
デューティ比を調整するときの基準となる第１のパルスと、デューティ比を調整する対象の第２のパルスとの立ち上がりエッジ及び立ち下がりエッジのうちの一方のエッジの位相差に対応する位相差信号を出力することと、
前記第１のパルスに応じて、変化を開始する参照信号を出力することと、
前記位相差信号と前記参照信号との大小関係を表す比較出力信号を出力することと、
前記比較出力信号と前記第２のパルスとの立ち上がりエッジ及び立ち下がりエッジのうちの他方のエッジの位相差に対応する他の位相差信号を出力することと、
前記比較出力信号に応じて、変化を開始する他の参照信号を出力することと、
前記他の位相差信号と前記他の参照信号との大小関係を表す他の比較出力信号を出力することと、
前記他の比較出力信号が、前記第２のパルスとなってフィードバックされることと
を含む信号処理方法。
【符号の説明】
【０１７７】
１１  光源，  １２  TOFセンサ，  ２１  パルス生成部，  ２２  受光処理部，  ２３  遅延調整回路，  ３１  ドライバ，  ３２  PD，  ４０  TOFセンサ，  ４１  パルス処理部，  ５１  読み出し制御部，  ５２  画素アレイ部，  ５３  ADC，  ５４  出力I/F，  ６１  PD，  ６２ないし６４  FET，  ７０  立ち下がり処理部，  ７１  立ち下がり位相比較部，  ７２  ループフィルタ，  ７３  メモリ，  ７４  参照信号生成部，  ７５  コンパレータ，  ８０  立ち上がり処理部，  ８１  立ち上がりがり位相比較部，  ８２  ループフィルタ，  ８３  メモリ，  ８４  参照信号生成部，  ８５  コンパレータ，  １１１  光源，  １３１  ドライバ，  １３２  PD
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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