(57)【要約】【課題】本体部の内部で発生する磁界の検知手段への影響を少なくして、表示ユニットの回動状態の検知精度を高める。【解決手段】金属部材７００は、センサ８１０の方向に延出する第１の延出部７０１を有すると共に、第１の延出部７０１の先端７０１ｂの近傍から、第１の延出部７０１の延出方向と略直交する方向に延出する第２の延出部７０２を有する。第２の延出部７０２の先端７０２ａが対向面７０５と対向する。第１の延出部７０１および第２の延出部７０２を経由する閉じた磁気回路が、本体部１０ｆの内部で形成される。【選択図】図６
2020120329.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
本体部と、
前記本体部に対して回動可能に連結された表示ユニットと、
前記表示ユニットに設けられ、磁場を発生させる磁石と、
前記本体部に設けられ、撮像素子を保持し、撮影光軸と略直交する方向に変位することで光学的に像ブレを補正する可動ユニットと、
前記本体部に設けられ、コイルと磁界とを用いて前記可動ユニットを前記撮影光軸と略直交する方向に変位可能に支持する支持ユニットと、
前記本体部に設けられ、前記磁石が発生させる磁場に基づいて、前記本体部に対する前記表示ユニットの回動状態を検知する検知手段と、
前記本体部に設けられ、磁性体で構成され、前記検知手段の方向に延出する延出部を有すると共に、前記延出部を経由する閉じた磁気回路を前記本体部の内部で形成する形状に構成された金属部材と、を有することを特徴とする撮像装置。
【請求項２】
前記金属部材は、前記延出部の先端から、前記延出部の延出方向と略直交する方向に延出する他の延出部を有し、前記他の延出部の先端が、前記金属部材の一部と対向することを特徴とする請求項１に記載の撮像装置。
【請求項３】
前記金属部材は穴形状を有し、前記延出部は前記穴形状の周囲の一部を成し、前記閉じた磁気回路は前記穴形状の周囲に形成されることを特徴とする請求項１に記載の撮像装置。
【請求項４】
前記検知手段により検知された回動状態に基づいて前記表示ユニットの表示を制御する制御手段を有することを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項に記載の撮像装置。
【請求項５】
前記検知手段は、前記回動状態として、前記本体部に対して前記表示ユニットが閉状態であるか否かを検知することを特徴とする請求項１乃至４のいずれか１項に記載の撮像装置。
【請求項６】
前記延出部は、前記本体部の外装に固定されていることを特徴とする請求項１乃至５のいずれか１項に記載の撮像装置。
【請求項７】
前記検知手段は、前記本体部の外装に固定された基板に実装されていることを特徴とする請求項１乃至６のいずれか１項に記載の撮像装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、本体部に対して相対的に可動する表示ユニットを有すると共に、本体部内で撮像素子を保持するユニットが撮影光軸と略直交する方向に変位することで光学的に像ブレを補正する機能を備えた撮像装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、本体部に対して回動する表示ユニットを有する撮像装置が知られている。例えば、デジタルカメラやビデオカメラなどの撮像装置には、撮像装置の本体部に対して開閉ないし回動可能な表示ユニットを有するものがある。この種の撮像装置では、表示ユニットの回動状態に応じて、画像の表示が制御される。また、省スペース化や非接触による信頼性向上のため、表示ユニットの回動状態を、磁石および磁気センサを用いて検知する撮像装置も知られている。特許文献１には、表示ユニットの回動状態に応じて表示状態を切り替える撮像装置であって、特に小型かつ組み立て容易にした撮像装置が開示されている。
【０００３】
また、撮像素子を含む可動ユニットを支持ユニットに対して相対的に変位させて被写体のブレを光学的に補正する機能を備える撮像装置がある。この種の撮像装置は、撮像素子を含む可動ユニットを光軸と略直交する方向に変位させることで被写体のブレ補正を行っている。この撮像装置では、コイルを実装した回路基板が可動ユニットに搭載されると共に、可動ユニットを支持する支持ユニットに磁石が搭載される。そして、この撮像装置は、可動ユニットのコイルに電流を流すことによって、各コイルにローレンツ力を発生させ、その力を推力として可動ユニットを変位させる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２０１８−７２４２９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、支持ユニットに搭載された磁石が発生させる磁界が、表示ユニットの回動状態を検知する磁気センサに影響を与えるおそれがある。例えば、本体部に設けられた磁性体で成る底板等の一部が磁気センサに向かって延出していると、延出した部分を経由して磁場の影響が磁気センサに及んでしまう場合がある。磁気センサが磁場の影響を受けると、表示ユニットの回動状態を正確に検知できないおそれがある。
【０００６】
本発明は、本体部の内部で発生する磁界の検知手段への影響を少なくして、表示ユニットの回動状態の検知精度を高めることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記目的を達成するために本発明は、本体部と、前記本体部に対して回動可能に連結された表示ユニットと、前記表示ユニットに設けられ、磁場を発生させる磁石と、前記本体部に設けられ、撮像素子を保持し、撮影光軸と略直交する方向に変位することで光学的に像ブレを補正する可動ユニットと、前記本体部に設けられ、コイルと磁界とを用いて前記可動ユニットを前記撮影光軸と略直交する方向に変位可能に支持する支持ユニットと、前記本体部に設けられ、前記磁石が発生させる磁場に基づいて、前記本体部に対する前記表示ユニットの回動状態を検知する検知手段と、前記本体部に設けられ、磁性体で構成され、前記検知手段の方向に延出する延出部を有すると共に、前記延出部を経由する閉じた磁気回路を前記本体部の内部で形成する形状に構成された金属部材と、を有することを特徴とする。
【発明の効果】
【０００８】
本発明によれば、本体部の内部で発生する磁界の検知手段への影響を少なくして、表示ユニットの回動状態の検知精度を高めることができる。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】撮像装置の斜視図である。
【図２】本体部の要部を後方（撮影者側）から見た分解斜視図である。
【図３】像ブレ補正ユニットの分解斜視図である。
【図４】像ブレ補正ユニットの分解斜視図である。
【図５】第３のフレキシブル基板の正面図である。
【図６】撮像装置の底面図である。
【図７】撮像装置の底面図である。
【図８】撮像装置の左側面図である。
【図９】撮像装置の底面図である。
【図１０】比較例の撮像装置の底面図である。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
以下、図面を参照して本発明の実施の形態を説明する。
【００１１】
（第１の実施の形態）
図１（ａ）、（ｂ）、（ｃ）は、本発明の第１の実施の形態に係る撮像装置の斜視図である。この撮像装置１０は、本体部１０ｆおよび表示ユニット１０ｄを有する。撮像装置１０の方向に関し、撮影者（ユーザ）から見た方向を基準として上下方向、前後方向、左右方向を定義する。従って、図１（ａ）は、撮像装置１０を前方（被写体側）から見た斜視図であり、図１（ｂ）は撮像装置１０を後方（撮影者側）から見た斜視図である。図１（ｃ）は表示ユニット１０ｄが開いた状態の撮像装置１０を後方（撮影者側）から見た斜視図である。本体部１０ｆは、複数の部材から成る筐体としての外装１０ｃに覆われている。本体部１０ｆの前側には、マウント１０ａが設けられる。マウント１０ａには不図示の交換レンズが装着可能である。撮像装置１０の上部の左端部には無線アンテナ１０ｂが内蔵されている。マウント１０ａの中心線は撮影光軸Ｐと略一致する。
【００１２】
表示ユニット１０ｄは、表示部としてのＬＣＤパネル１１ｄを備えている。表示ユニット１０ｄは２軸可動型である。表示ユニット１０ｄは、ヒンジ部１０ｅを介して、本体部１０ｆに対して相対的に回動可能に、本体部１０ｆに連結されている。表示ユニット１０ｄは、回動軸Ａを中心とした左右回転方向ａおよび回動軸Ｂを中心とした上下回転方向ｂに回動可能である。左右回転方向ａは、本体部１０ｆに対するＬＣＤパネル１１ｄの開閉方向に相当する。回動軸Ａと回動軸Ｂとは互いに略垂直である。
【００１３】
図２は、本体部１０ｆの要部を後方（撮影者側）から見た分解斜視図である。図２では、外装１０ｃ等を不図示にしている。図２以降の図では、理解を容易にするために、本発明の説明に必要な部分を図示し、説明に不要な部分を極力不図示としている。
【００１４】
本体部１０ｆは、制御基板１００、像ブレ補正ユニット２００、シャッタユニット３００およびベース部材４００を有する。像ブレ補正ユニット２００は、シャッタユニット３００とともにベース部材４００に固定される。ベース部材４００と制御基板１００は外装１０ｃに固定される。像ブレ補正ユニット２００は、シャッタユニット３００が組み付け固定されたベース部材４００に保持される。すなわち、像ブレ補正ユニット２００は、３本のビス６００ａ、６００ｂ、６００ｃと３つのコイルばね５００ａ、５００ｂ、５００ｃとによって、ベース部材４００に対して光軸Ｐ（図１（ａ））方向に変位可能に支持される。作業者は、ビス６００ａ、６００ｂ、６００ｃの締め込み量を調整することで、ベース部材４００に対する撮像素子２３０（図３）の撮像面の傾きを調整できる。調整が完了すると、ビス６００ａ、６００ｂ、６００ｃは、それらの緩みを防止するため、像ブレ補正ユニット２００の固定ユニット２００ｂ（支持ユニット）に接着固定される。
【００１５】
制御基板１００には、撮像信号を制御する制御ＩＣ１０１のほか、コネクタ１０２、１０３、１０４が実装されている。制御基板１００にはこの他にもチップ抵抗やセラミックコンデンサ、インダクタ、トランジスタ等、様々な電子部品が実装されている（図示省略）。コネクタ１０２、１０３には、像ブレ補正ユニット２００から延出するフレキシブルプリント基板である第１のフレキシブル基板２７０ａ、第２のフレキシブル基板２７０ｂが接続される。これにより、制御基板１００と像ブレ補正ユニット２００とが電気的に接続される。コネクタ１０４はシャッタユニット３００から延出するフレキシブルプリント基板（不図示）と接続されて制御基板１００とシャッタユニット３００とを電気的に接続する。
【００１６】
本体部１０ｆの下部には、補強部材として金属部材７００が配置される。金属部材７００は本体部１０ｆの底部の少なくとも一部を構成する板状の部材である。金属部材７００は磁性体で構成される。
【００１７】
図３、図４は、像ブレ補正ユニット２００の分解斜視図である。像ブレ補正ユニット２００は、可動ユニット２００ａと固定ユニット２００ｂとを有する。可動ユニット２００ａは撮像素子２３０を含む。固定ユニット２００ｂはベース部材４００に固定される。可動ユニット２００ａは、光軸Ｐと直交する平面方向に変位可能に固定ユニット２００ｂに支持される。可動ユニット２００ａが光軸Ｐと直交する方向に変位することで像ブレを光学的に補正する機能が実現される。
【００１８】
固定ユニット２００ｂは、主として前側ヨーク２１０と、ベースプレート２５０と、後側ヨーク２６０とで構成される。可動ユニット２００ａは、主としてセンサホルダ２２０と、第３のフレキシブル基板２４０とで構成される。第１のフレキシブル基板２７０ａおよび第２のフレキシブル基板２７０ｂはいずれも、可動ユニット２００ａと制御基板１００（図２）とを接続する。第３のフレキシブル基板２４０はセンサホルダ２２０と制御基板１００とを接続する。第１のフレキシブル基板２７０ａ、第２のフレキシブル基板２７０ｂ、第３のフレキシブル基板２４０はいずれも、可撓性を有するフレキシブルプリント基板である。
【００１９】
撮像素子基板２３１には撮像素子２３０が実装されている。撮像素子２３０は、被写体の光学像を電気信号に変換する。センサホルダ２２０には、撮像素子２３０と撮像素子基板２３１が接着固定されている。センサホルダ２２０において、撮像素子２３０よりも前側にローパスフィルタ２２１が配置されている。ローパスフィルタ２２１は、赤外線の入射を防止し、色モアレ等の発生を防止する。センサホルダ２２０には３か所の開口部２２３ａ、２２３ｂ、２２３ｃが形成されている。第３のフレキシブル基板２４０には３つのコイル２４１ａ、２４１ｂ、２４１ｃが搭載されている（図３）。開口部２２３ａ、２２３ｂ、２２３ｃに対してコイル２４１ａ、２４１ｂ、２４１ｃが内部に収容されるように、センサホルダ２２０に対して後側から第３のフレキシブル基板２４０が組み込まれて接着固定されている。
【００２０】
センサホルダ２２０には、３か所の球受け部２２２ａ、２２２ｂ、２２２ｃが形成されている（図３）。前側ヨーク２１０には、球受け部２２２ａ、２２２ｂ、２２２ｃと対向する位置に球受け部２１３ａ、２１３ｂ、２１３ｃが形成されている（図４）。撮像素子２３０と撮像素子基板２３１を接着固定した状態のセンサホルダ２２０と前側ヨーク２１０とは、対向する球受け部同士の間に球体２１５ａ、２１５ｂ、２１５ｃを挟持する。これにより、球体２１５ａ、２１５ｂ、２１５ｃが支持される。
【００２１】
前側ヨーク２１０には、不図示の磁石がセンサホルダ２２０と対向する位置に接着固定されており、センサホルダ２２０には上記磁石と対向する位置に不図示の強磁性材料（鉄等）の板材が貼り合わされている。前側ヨーク２１０とセンサホルダ２２０とを一定距離まで近接させると、センサホルダ２２０は前側ヨーク２１０に磁気吸引されて、球体２１５ａ、２１５ｂ、２１５ｃを介して、光軸Ｐと直交する平面方向に変位可能に前側ヨーク２１０に保持される。
【００２２】
前側ヨーク２１０にはコイル２４１ａ、２４１ｂ、２４１ｃと対向する位置に磁石２１２ａ、２１２ｂ、２１２ｃが貼り付けられている（図４）。さらに、前側ヨーク２１０には支柱２１１ａ、２１１ｂ、２１１ｃがベースプレート２５０に向けて立設されている。支柱２１１ａ、２１１ｂ、２１１ｃの各一端は、ベースプレート２５０に圧入されている。センサホルダ２２０を挟み込むように前側ヨーク２１０とベースプレート２５０とが接合される。
【００２３】
ベースプレート２５０には、光軸Ｐ方向視で異なる位置に、開口部２５１ａ、２５１ｂ、２５１ｃが形成され、これらに磁石２６１ａ、２６１ｂ、２６１ｃが組み込まれている。光軸Ｐ方向視において、磁石２６１ａ、２６１ｂ、２６１ｃは対応するコイル２４１ａ、２４１ｂ、２４１ｃとほぼ同じ位置で同じ形状に形成される。しかも、磁石２６１ａ、２６１ｂ、２６１ｃは、対応するコイル２４１ａ、２４１ｂ、２４１ｃとの中心が一致する位置に配置される。
【００２４】
作業者は、開口部２５１ａ、２５１ｂ、２５１ｃに対して、磁石２６１ａ、２６１ｂ、２６１ｃが内部に収容されるように、ベースプレート２５０に対して後側から後側ヨーク２６０を装着する。後側ヨーク２６０及びベースプレート２５０はそれぞれ強磁性材料で構成されている。作業者は、磁石２６１ａ、２６１ｂ、２６１ｃが貼り合わされた後側ヨーク２６０をベースプレート２５０に位置合わせして接触させるだけで互いに磁気吸着させることができ、別途、接着材料を用いることなく２つの部品を接合可能である。
【００２５】
ベースプレート２５０にはさらに、開口部２５２が形成されている。センサホルダ２２０を前側ヨーク２１０とベースプレート２５０とで挟持すると、開口部２５２から撮像素子基板２３１が後側から露出する。撮像素子基板２３１にはコネクタ２３２ａ、２３２ｂが実装されている（図４）。第１のフレキシブル基板２７０ａにはコネクタ２７１ａが実装され、第２のフレキシブル基板２７０ｂにコネクタ２７１ｂが実装されている（図３）。作業者は、これらフレキシブル基板２７０ａ、２７０ｂを撮像素子基板２３１に対して後側から開口部２５２を通過するように組み込み、コネクタ２３２ａとコネクタ２７１ａとを嵌合すると共に、コネクタ２３２ｂとコネクタ２７１ｂとを嵌合する。コネクタ２３２ａ、２３２ｂとコネクタ２７１ａ、２７１ｂとは、互いに嵌合形状が適合するプラグコネクタとリセプタクルコネクタの関係になっている。
【００２６】
フレキシブル基板２７０ａ、２７０ｂは、いずれも長尺の板状の形状を成し、各々の一端部にコネクタ２７１ａ、２７１ｂが実装されている。フレキシブル基板２７０ａ、２７０ｂの配線方向（長手方向）の各他端部にコネクタ２７３、コネクタ２７４が実装されている。コネクタ２７３は、制御基板１００に実装されているコネクタ１０２（図２）と嵌合形状が適合するプラグコネクタとリセプタクルコネクタの関係になっている。同様にコネクタ２７４は制御基板１００に実装されているコネクタ１０３（図２）と嵌合形状が適合するプラグコネクタとリセプタクルコネクタの関係になっている。
【００２７】
図５は、第３のフレキシブル基板２４０の正面図である。第３のフレキシブル基板２４０には、上述のように、コイル２４１ａ、２４１ｂ、２４１ｃが接着固定されている。第３のフレキシブル基板２４０には、コイルの巻き線と電気的に接続するための半田付けランド２４３ａ、２４３ｂ、２４３ｃ、２４３ｄ、２４３ｅ、２４３ｆが形成されている。作業者は、コイル２４１ａの巻きはじめと巻き終わりの各端を半田付けランド２４３ａ、２４３ｂに半田付けする。同様に、作業者は、コイル２４１ｂの巻きはじめと巻き終わりの各端を半田付けランド２４３ｃ、２４３ｄに半田付けし、さらに、コイル２４１ｃの巻きはじめと巻き終わりの各端を半田付けランド２４３ｅ、２４３ｆに半田付けする。半田付けにより、各コイルはそれぞれ第３のフレキシブル基板２４０と電気的に接続される。
【００２８】
第３のフレキシブル基板２４０には、コイル２４１ａ、２４１ｂ、２４１ｃの巻き線の内側にホール素子２４２ａ、２４２ｂ、２４２ｃが実装されている。第３のフレキシブル基板２４０にはコネクタ端子部２４４が形成されている。各半田付けランドや各ホール素子からの配線パターンが第３のフレキシブル基板２４０の内部に展開されて、不図示のコネクタ端子部へ接続されている。コネクタ端子部２４４が、制御基板１００に実装されているコネクタに接続されることで電気的に接続される。
【００２９】
このように、前側ヨーク２１０に設置されている磁石２１２ａ、２１２ｂ、２１２ｃと後側ヨーク２６０に設置されている磁石２６１ａ、２６１ｂ、２６１ｃとで形成される磁界環境中にコイル２４１ａ、２４１ｂ、２４１ｃが配置されている。像ブレ補正ユニット２００は、これらのコイルに電流を流すことによって各コイルにローレンツ力を発生させ、その力を推力としてセンサホルダ２２０を光軸Ｐと直交する平面方向に変位させることが可能な構成となっている。また、コイル２４１ａ、２４１ｂ、２４１ｃの内側に実装されているホール素子２４２ａ、２４２ｂ、２４２ｃによって、センサホルダ２２０が磁石２１２ａ、２１２ｂ、２１２ｃに対して相対的に移動することによる磁力の変化が検出される。そしてその検出結果に基づいて、固定ユニット２００ｂに対する可動ユニット２００ａの光軸Ｐと直交する平面方向の変位量を検出することができる。磁石２１２ａ、２１２ｂ、２１２ｃ、２６１ａ、２６１ｂ、２６１ｃが、本体部１０ｆの内部で磁界を発生させる機能を有する。
【００３０】
図６、図７は、撮像装置１０の底面図である。図８は撮像装置１０の左側面図である。図６は、表示ユニット１０ｄの閉状態を示し、図７は、表示ユニット１０ｄが閉状態から少し開いた状態を示している。本体部１０ｆはセンサ８１０を有する。表示ユニット１０ｄは磁石８２０を有する。図６〜図８では、センサ８１０が外装１０ｃを透過して見えるように示され、また、磁石８２０が表示ユニット１０ｄの外装を透過して見えるように示されている。各図をわかりやすくするために、外装１０ｃをはじめ、撮像装置１０を構成する一部の部材の図示を省略している。図６に示すように、表示ユニット１０ｄのＬＣＤパネル１１ｄの表示面が本体部１０ｆ側を向き本体部１０ｆと対向する状態が、表示ユニット１０ｄの閉状態である。
【００３１】
センサ８１０は、本体部１０ｆの内部に設けられた磁気センサであり、表示ユニット１０ｄの回動状態を検知するために用いられる検知手段である。外装１０ｃの内側にセンサ基板８００が固定され、センサ基板８００にセンサ８１０が実装されている。一方、磁石８２０は、表示ユニット１０ｄの内部に設けられる。磁石８２０は、磁場（磁束ないし磁界）を発生させる。センサ８１０は、磁石８２０が発生させる磁場Ｈｂ（図６）に基づいて、本体部１０ｆに対する表示ユニット１０ｄの回動状態を検知する。具体的には、表示ユニット１０ｄが閉状態となったか否かが検知される。
【００３２】
センサ８１０は、例えば、実装面に垂直な磁場を検知するホール素子で構成される。ホール素子には一般に、両極検知タイプも存在するが、本実施の形態では、センサ８１０として、片極検知（Ｓ極検知）タイプが採用されている。ホール素子は一般に、検知タイプに拘わらず、磁束密度に対して素子固有の感度特性を持ち、その感度を超える磁束密度を感知した場合に出力電圧が切り替わる。センサ８１０は、閾値を超える磁束密度を感知したことによる出力電圧の切り替わりを検知することで、表示ユニット１０ｄが閉状態となったことを検知する。例えば、図７に示す、閉状態から少し開いている状態に比し、図６に示す閉状態の方が、センサ８１０に入る磁場Ｈｂが強い。そのため、閾値を超える磁束密度が感知され、表示ユニット１０ｄが閉状態となったことが検知される。厳密には、出力電圧の切り替わりを、制御基板１００に実装された集積回路（不図示）によって、表示ユニット１０ｄが閉状態であることが判定される。なお、センサ８１０の構成は例示に限定されるものではなく、センサ８１０に他の方式を採用してもよい。
【００３３】
制御手段としての制御基板１００は、検知された表示ユニット１０ｄの回動状態に基づいてＬＣＤパネル１１ｄの表示を制御する。例えば、表示ユニット１０ｄが、閉状態（図６）に対する回動軸Ａを中心とする開き角度が所定の角度以下の位相では、ユーザは表示面を確認しないことが想定される。そこで、制御基板１００は、このような閉状態または閉状態に近い状態では、ＬＣＤパネル１１ｄの表示を消灯することで、消費電力を削減することができる。また、制御基板１００は、回動軸Ｂを中心とする回動角度に応じて、ＬＣＤパネル１１ｄの表示を上下反転させる。なお、撮像装置１０の外装デザイン等によって、ユーザが表示面を確認できる角度は変わるため、外装デザインに合わせて、点灯と消灯とを切り替える開き角度を設定してもよい。
【００３４】
次に、図６〜図８を用いて、金属部材７００の構成を説明する。撮像装置１０のマウント１０ａに装着された交換レンズの先端に外力が加わったとき変形を抑制するために、金属部材７００は本体部１０ｆの下部に配置される。金属部材７００は、回動軸Ａの軸線方向においてセンサ８１０に近接した位置に配置される。金属部材７００は、センサ８１０の方向（後方）に延出する腕形状の第１の延出部７０１を有する。第１の延出部７０１の先端７０１ｂはセンサ８１０に近接対向している。第１の延出部７０１の先端７０１ｂの近傍に、固定部としての締結部７０１ａが設けられる。外装１０ｃは、締結部７０１ａに対して不図示の締結部材（ビス等）で下側から締結固定される（図８）。撮像装置１０に落下や衝撃等の外力が加わった際の外装１０ｃの割れや変形を防止する観点から、締結部７０１ａはセンサ８１０の近くに設けられている。従って、第１の延出部７０１の先端７０１ｂがセンサ８１０に近接していることは、センサ８１０の保護にも役立っている。
【００３５】
第１の延出部７０１の先端７０１ｂの近傍から、第１の延出部７０１の延出方向と略直交する方向である右方に、第２の延出部７０２（他の延出部）が延出している（図６、図７）。そして、第２の延出部７０２の先端７０２ａが、金属部材７００の一部である対向面７０５と対向している。先端７０２ａと対向面７０５との間に間隙７０３が形成されている。また、第１の延出部７０１と第２の延出部７０２とで鉤形状を成すことから、間隙７０３の前方に、間隙７０３に繋がるスリット７０６が形成される。
【００３６】
金属部材７００は磁性体であるので、図８に示すように、像ブレ補正ユニット２００の磁石２１２ａ〜２１２ｃ、２６１ａ〜２６１ｃからの磁束が金属部材７００に伝達される。像ブレ補正ユニット２００においては、前側ヨーク２１０および後側ヨーク２６０で前後方向の磁束が抑え込まれているが、上下左右方向に漏れ出る磁束もある。そのため、特に下方向へ向かう磁束が金属部材７００を通り、図６に示す磁束Ｈａとなって伝わる。すなわち、第１の延出部７０１においてはセンサ８１０の方向（後方）へ磁束が向かう。ここで、磁束の経路を比較例（図１０）と比較する。
【００３７】
図１０は、比較例の撮像装置１０の底面図であって、図６に対応する図である。本実施の形態に対し、比較例では、金属部材７００の形状が異なる。比較例では、金属部材７００は第１の延出部７０１を有するが、第２の延出部７０２を有しない。第１の延出部７０１の先端７０１ｂとセンサ８１０との間に間隙８３０が形成される。
【００３８】
比較例において、像ブレ補正ユニット２００の磁石２１２ａ〜２１２ｃ、２６１ａ〜２６１ｃから下方向へ向かう磁束が金属部材７００を通り、図１０に示す磁束Ｈａ２となって伝わる。磁束Ｈａ２は金属部材７００の第１の延出部７０１を通るが、第１の延出部７０１にて金属部材７００内での行き場をなくし、第１の延出部７０１の先端７０１ｂから間隙８３０を伝わってセンサ８１０へ向かう。そのため、センサ８１０は像ブレ補正ユニット２００からの磁場の影響を常に受け続ける。すると、センサ８１０は、表示ユニット１０ｄの制御に使用する磁石８２０からの磁場を正確に検知することが困難となる。この影響を回避するために、仮に、間隙８３０を大きくとることで磁場を減衰させることが考えられる。しかしそうすると、外装１０ｃやセンサ８１０の保護が不十分となり、しかも撮像装置１０が大型化してしまう。また、センサ８１０の位置を変えることも考えられるが、センサ８１０の位置を変えた場合、表示ユニット１０ｄの適切な制御を確保するためには磁石８２０の配置やその他センサの配置を変更する必要が生じる。この点でも、撮像装置１０の大型化に繋がるおそれがある。
【００３９】
これに対し、本実施の形態では、金属部材７００は、第１の延出部７０１に連接する第２の延出部７０２を有する。これにより、図６に磁束Ｈａの経路として示すように、第１の延出部７０１および第２の延出部７０２を経由する閉じた磁気回路が、本体部１０ｆの内部で形成される。像ブレ補正ユニット２００から金属部材７００に入った主な磁束Ｈａは、第１の延出部７０１から第２の延出部７０２へ伝わり、その後、第２の延出部７０２の先端７０２ａから間隙７０３を介して対向面７０５に伝わる。このように、磁場のループが形成されることで、磁束Ｈａがセンサ８１０に入ることを抑制することができる。
【００４０】
このように、金属部材７００が、本体部１０ｆの内部で閉じた磁気回路を形成する形状に構成されたことで、センサ８１０の検知方向である前後方向における磁場の影響を緩和し、センサ８１０に入る磁場を磁石８２０からの磁場に極力限定できる。これにより、表示ユニット１０ｄの回動状態を適切に検知することが可能になる。さらに、スリット７０６に部品や部材を配置することで、スリット７０６を有効利用し、撮像装置１０の小型化に寄与することができる。例えば、制御基板１００へ接続されるいずれかのフレキシブルプリント基板などをスリット７０６に配置してもよい。
【００４１】
本実施の形態によれば、金属部材７００は、センサ８１０の方向に延出する第１の延出部７０１を有すると共に、第１の延出部７０１の先端７０１ｂの近傍から、第１の延出部７０１の延出方向と略直交する方向に延出する第２の延出部７０２を有する。第２の延出部７０２の先端７０２ａが対向面７０５と対向する。そして、第１の延出部７０１および第２の延出部７０２を経由する閉じた磁気回路が、本体部１０ｆの内部で形成される。これにより、本体部１０ｆの内部で発生する磁界のセンサ８１０への影響を少なくして、表示ユニット１０ｄの回動状態の検知精度を高めることができる。ひいては、ＬＣＤパネル１１ｄの表示制御を適切に行うことができる。
【００４２】
なお、第２の延出部７０２は、前後左右に略平行な片であるが、上下左右に略平行な片として構成してもよい。
【００４３】
（第２の実施の形態）
本発明の第２の実施の形態では、第１の実施の形態に対し、主として金属部材７００の形状が異なり、その他の構成は同様である。
【００４４】
図９は、撮像装置１０の底面図である。図９は図６に対応する。図９において、第１の実施の形態の撮像装置１０と同じ構成要素については、同じ符号を用いてその説明を省略する。図９に示すように、金属部材７００には穴形状７０４が形成されている。すなわち、第１の延出部７０１の先端７０１ｂの近傍から、第１の延出部７０１の延出方向と略直交する方向（右方）にブリッジ部７０７が延出している。ブリッジ部７０７の前方に穴形状７０４が形成される。第１の延出部７０１およびブリッジ部７０７は、穴形状７０４の周囲の一部を成す。その結果、第１の延出部７０１およびブリッジ部７０７を経由する閉じた磁気回路が、本体部１０ｆの内部において、穴形状７０４の周囲に形成される。
【００４５】
像ブレ補正ユニット２００から金属部材７００に入った主な磁束Ｈａは、第１の延出部７０１からブリッジ部７０７へ伝わり、その後、穴形状７０４の周囲を伝わって第１の延出部７０１に戻る。このように、磁場のループが形成されることで、磁束Ｈａがセンサ８１０に入ることを抑制することができる。
【００４６】
このように、金属部材７００が、本体部１０ｆの内部で閉じた磁気回路を形成する形状に構成されたことで、センサ８１０の検知方向である前後方向における磁場の影響を緩和し、センサ８１０に入る磁場を磁石８２０からの磁場に極力限定できる。よって、本実施の形態によれば、本体部１０ｆの内部で発生する磁界のセンサ８１０への影響を少なくして、表示ユニット１０ｄの回動状態の検知精度を高めることに関し、第１の実施の形態と同様の効果を奏することができる。
【００４７】
また、第１の実施の形態では、第１の延出部７０１および第２の延出部７０２から成る片が片持ち状態であるのに対し、本実施の形態では、穴形状７０４が形成されることで、片持ち状態の部分がない。これにより、金属部材７００による補強の効果を高めることができる。
【００４８】
なお、穴形状７０４に部品や部材を配置することで、穴形状７０４を有効利用してもよい。
【００４９】
なお、上記各実施の形態において、表示ユニット１０ｄは２軸可動型であるとしたが、一方向にのみ回動可能な１軸可動型としてもよい。なお、上記各実施の形態において、金属部材７００に入ってしまう磁場を本体部１０ｆの内部で発生させる要因は、像ブレ補正ユニット２００が備える磁石に限定されない。なお、本発明が適用される撮像装置１０はレンズ一体型であってもよい。
【００５０】
以上、本発明をその好適な実施形態に基づいて詳述してきたが、本発明はこれら特定の実施形態に限られるものではなく、この発明の要旨を逸脱しない範囲の様々な形態も本発明に含まれる。上述の実施形態の一部を適宜組み合わせてもよい。
【符号の説明】
【００５１】
１０ｄ  表示ユニット
１０ｆ  本体部
７００  金属部材
７０１  第１の延出部
８１０  センサ
８２０  磁石
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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