(57)【要約】【課題】反応容器の傷や汚れ、あるいは反応液の気泡といった反応容器の異常を精度よく検出する。【解決手段】光源から光度計に向かう光軸が反応容器に収容された液体を通過しているタイミングでトリガ信号を生成し、トリガ信号に応じたタイミングＴ１での光度計４１の出力電圧と等しい電圧を基準電圧Ｖｒとして生成し、光度計の出力電圧と基準電圧Ｖｒとの差分を増幅した増幅波形２０４に基づき、反応容器における異常の有無を判定する。【選択図】図４
2020041929.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
第１の反応容器を含む複数の反応容器が保持され、間欠回転する反応ディスクと、
光源と、
前記光源と対向して配置される光度計と、
ブランク水またはサンプルを前記反応容器に吐出するサンプル分注機構と、
前記反応容器の異常を検出する異常検出回路と、
コンピュータとを有し、
前記反応ディスクの回転動作により前記第１の反応容器が前記光源と前記光度計との間を横切るように移動し、
前記異常検出回路は、前記光源から前記光度計に向かう光軸が前記第１の反応容器に収容された液体を通過しているタイミングでトリガ信号を生成するトリガ信号生成回路と、前記トリガ信号に応じたタイミングでの前記光度計の出力電圧と等しい電圧を基準電圧として生成する基準電圧生成回路と、前記光度計の出力電圧と前記基準電圧との差分を増幅する差動増幅回路とを有し、
前記コンピュータは、前記異常検出回路の前記差動増幅回路の出力に基づき、前記第１の反応容器における異常の有無を判定する自動分析装置。
【請求項２】
請求項１において、
前記光度計の出力電圧をデジタル値に変換する第１のＡ／Ｄ変換器を有し、
前記異常検出回路は、前記差動増幅回路の出力電圧をデジタル値に変換する第２のＡ／Ｄ変換器を有し、
前記コンピュータには、前記第１のＡ／Ｄ変換器によりデジタル化された前記光度計の出力電圧及び、前記第２のＡ／Ｄ変換器によりデジタル化された前記差動増幅回路の出力電圧が入力される自動分析装置。
【請求項３】
請求項１において、
Ａ／Ｄ変換器を有し、
前記異常検出回路は、前記光度計の出力電圧または前記差動増幅回路の出力電圧を前記Ａ／Ｄ変換器に選択的に入力するマルチプレクサを有し、
前記コンピュータには、前記マルチプレクサの選択に応じて、前記Ａ／Ｄ変換器によりデジタル化された前記光度計の出力電圧または、前記Ａ／Ｄ変換器によりデジタル化された前記差動増幅回路の出力電圧が入力される自動分析装置。
【請求項４】
請求項１において、
前記反応ディスクは、前記複数の反応容器に対応して設けられ、前記反応ディスクの回転動作により前記複数の反応容器との位置関係を変えることなく移動する複数の検知板と、前記複数の検知板の通過を検知して検知信号を出力する検知器とを備え、
前記異常検出回路の前記トリガ信号生成回路は、前記検知器の前記検知信号に基づき前記トリガ信号を生成する自動分析装置。
【請求項５】
請求項１において、
前記光度計の出力電圧をデジタル値に変換するＡ／Ｄ変換器を有し、
前記コンピュータには前記Ａ／Ｄ変換器によりデジタル化された前記光度計の出力電圧が入力され、前記コンピュータは前記光度計の出力電圧における所定の変化を検出し、
前記異常検出回路の前記トリガ信号生成回路は、前記コンピュータが検出した所定の変化に基づき前記トリガ信号を生成する自動分析装置。
【請求項６】
請求項５において、
前記コンピュータは、前記第１の反応容器の壁部を示す前記光度計の出力電圧の変化を検出する自動分析装置。
【請求項７】
請求項１において、
前記トリガ信号に基づく所定期間を測光期間として定義する自動分析装置。
【請求項８】
請求項７において、
前記異常検出回路の前記差動増幅回路は、前記測光期間の間に複数回、前記光度計の出力電圧と前記基準電圧との差分を増幅し、
前記コンピュータは、前記複数回の前記差動増幅回路の出力の変動幅が大きい場合は、前記第１の反応容器において、前記第１の反応容器に収容された液体の気泡に起因する異常が生じていると判定する自動分析装置。
【請求項９】
請求項１において、
前記コンピュータが前記第１の反応容器における異常を判定した場合にアラーム出力する自動分析装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、血液、尿等の生体サンプルの定性・定量分析を行う自動分析装置に係り、特に、反応容器の微小な傷や汚れ、及び反応容器内の溶液中の気泡等を検出する自動分析装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
自動分析装置は、血液、尿等の生体サンプルを試薬と反応させた反応液に光を照射し、透過光あるいは散乱光を測定して得られるデータに基づいて、目的成分の濃度や有無を求めるものである。反応液を収容する反応容器は、回転可能な反応ディスクの円周上に連続的に並べられており、反応ディスクの回転に伴って、検出すべき光の光軸を移動させながら測定が行われる。
【０００３】
近年、自動分析装置には、ますます高精度で信頼性の高い分析結果を提供することが求められている。ここで、分析に用いられる反応容器に微小な傷や汚れが含まれていた場合、分析結果のばらつきの要因となるおそれがあることから、事前に異常を検出する、あるいはこれらの影響を考慮した測定データを算出することが重要となる。
【０００４】
特許文献１には、反応液を収容する反応容器の一端から他端までの全区間に亘って透過光の測光を行い、得られた測光データにおける光度の減少に基づいて異物を検出する技術が開示されている。
【０００５】
特許文献２には、キュベットホイール上にキュベットを配置し、キュベットホイールを回転させ、キュベットホイールと共に回転するキュベット中の反応液の吸光度を測光する分析方法において、キュベットが測光部を横切る間の吸光度を測光し、この期間の測光波形を連続的に取得して記憶したのち、同一キュベット、同一波長における比較元の測光データと比較対象の測光データとの二つの測光波形を用いてマッチングの度合いを計算し、得られたマッチング度合いに基づいてエラーを判定する技術が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開２００７−１９８７３９号公報
【特許文献２】特開２００９−２８１９４１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
特許文献１に記載の技術では、反応液中の光軸の走査上に異物等が存在した場合に、透過光の光度が減少することを利用して、光度推移の波形解析によりこれを検出している。光度推移を波形解析するためには、走査中のデータを記録するメモリが必要となる。特に微小な傷や汚れを検出するためには、時間分解に従いその容量を大きくしなければならず、また、記録したデータを高速に処理する必要がある。
【０００８】
特許文献２に記載の技術では、比較元の測光データと比較対象の測光データとの二つの測光波形に基づいて、マッチングの度合いを計算している。この場合も、傷が微小である場合、これによる波形の変化は小さいと予想され、異常が検出できないおそれがある。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本発明の一実施態様である自動分析装置は、第１の反応容器を含む複数の反応容器が保持され、間欠回転する反応ディスクと、光源と、光源と対向して配置される光度計と、ブランク水またはサンプルを反応容器に吐出するサンプル分注機構と、反応容器の異常を検出する異常検出回路と、コンピュータとを有し、反応ディスクの回転動作により第１の反応容器が光源と光度計との間を横切るように移動し、異常検出回路は、光源から光度計に向かう光軸が第１の反応容器に収容された液体を通過しているタイミングでトリガ信号を生成するトリガ信号生成回路と、トリガ信号に応じたタイミングでの光度計の出力電圧と等しい電圧を基準電圧として生成する基準電圧生成回路と、光度計の出力電圧と基準電圧との差分を増幅する差動増幅回路とを有し、コンピュータは、前記異常検出回路の前記差動増幅回路の出力に基づき、前記第１の反応容器における異常の有無を判定する。
【発明の効果】
【００１０】
反応容器の傷や汚れ、あるいは反応液の気泡といった反応容器の異常を精度よく検出することができるため、高精度で信頼性の高い分析結果を得ることができる。
【００１１】
その他の課題と新規な特徴は、本明細書の記述および添付図面から明らかになるであろう。
【図面の簡単な説明】
【００１２】
【図１】自動分析装置の基本構成を示す図である。
【図２】反応容器と測光波形との関係を示す図である。
【図３】検知器、反応セル、検知板の位置関係を示す図である。
【図４】微小な傷や汚れを有する反応容器と測光波形の関係を示す図である。
【図５】異常検出回路のブロック図（第１構成例）である。
【図６】異常検出回路のブロック図（第２構成例）である。
【図７】異常検出回路のブロック図（第３構成例）である。
【図８】反応容器の異常判定を行うフローチャートである。
【図９】反応容器の異常判定、気泡検知を行うフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００１３】
以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて詳細に説明する。なお、本実施の形態を説明するための全図において同一機能を有するものは原則として同一の符号を付すようにし、繰り返しの説明は省略するものとする。
【００１４】
図１は、本発明の実施の形態に係る、ターンテーブル方式の自動分析装置の基本構成を示す図である。分析装置１は、主に、反応ディスク１０、サンプルディスク２０、第１試薬ディスク３０ａ、第２試薬ディスク３０ｂ、光源４０、光度計４１、およびコンピュータ５０から構成されている。
【００１５】
反応ディスク１０は、間欠回転可能に設けられており、ディスク上に透光性材料からなる多数の反応容器１１が周方向に沿って保持されている。反応容器１１は、恒温槽１２により所定温度（例えば３７℃）に維持されている。恒温槽１２内の流体は、恒温維持装置１３により温度調整されている。
【００１６】
サンプルディスク２０上には、血液、尿等の生体サンプルを収容する多数の検体容器２１が、図示の例では二重に、周方向に沿って載置されている。また、サンプルディスク２０の近傍には、サンプル分注機構２２が配置されている。このサンプル分注機構２２は、可動アーム２３と、これに取り付けられたピペットノズル２４とから主に構成されている。この構成により、サンプル分注機構２２は、サンプル分注時にはピペットノズル２４が可動アーム２３により分注位置に適宜移動して、サンプルディスク２０の吸入位置に位置する検体容器２１から所定量のサンプルを吸入し、そのサンプルを反応ディスク１０上の吐出位置にある反応容器１１内に吐出する。
【００１７】
第１試薬ディスク３０ａ、第２試薬ディスク３０ｂは、第１試薬保冷庫３１ａ、第２試薬保冷庫３１ｂ内部にそれぞれ配置されている。この第１試薬保冷庫３１ａ、第２試薬保冷庫３１ｂには、バーコードのように試薬識別情報を表示したラベルが貼られた複数の第１試薬ボトル３２ａ、第２試薬ボトル３２ｂが、第１試薬ディスク３０ａ、第２試薬ディスク３０ｂの周方向に沿ってそれぞれ載置されている。これらの第１試薬ボトル３２ａ、第２試薬ボトル３２ｂには、分析装置１により分析され得る分析項目に対応する試薬液が収容されている。また、第１試薬保冷庫３１ａ、第２試薬保冷庫３１ｂには、第１バーコード読み取り装置３３ａ、第２バーコード読み取り装置３３ｂが付属されており、これらの装置が試薬登録時に第１試薬ボトル３２ａ、第２試薬ボトル３２ｂの外壁に表示されているバーコードを読み取る。読み取られた試薬情報は、第１試薬ディスク３０ａ、第２試薬ディスク３０ｂ上のポジションとともにメモリ５６に登録される。
【００１８】
また、第１試薬ディスク３０ａ、第２試薬ディスク３０ｂの近傍には、サンプル分注機構２２と概ね同様の機構をなす第１試薬分注機構３４ａ、第２試薬分注機構３４ｂがそれぞれ配置されている。試薬分注時には、これらが備えるピペットノズルにより、反応ディスク１０上の試薬受け入れ位置に位置付けられる検査項目に応じた第１試薬ボトル３２ａ、第２試薬ボトル３２ｂから試薬を吸入し、該当する反応容器１１内へ吐出する。
【００１９】
反応ディスク１０、第１試薬ディスク３０ａ、第２試薬ディスク３０ｂおよび第１試薬分注機構３４ａ、第２試薬分注機構３４ｂに囲まれる位置には、第１攪拌機構３５ａ、第２攪拌機構３５ｂが配置されている。反応容器１１内に収容されたサンプルと試薬との反応液は、この第１攪拌機構３５ａ、第２攪拌機構３５ｂにより攪拌されて反応が促進される。
【００２０】
光源４０は反応ディスク１０の中心部付近に、光度計４１は反応ディスク１０の外周側に配置されており、攪拌を終えた反応容器１１は光源４０と光度計４１とによって挟まれた測光位置を通るように回転移動する。光源４０と光度計４１とにより光検出系を構成する。光度計４１は検出器が複数設けられており、透過光と散乱光の両方を検出する機能を備えている。各反応容器１１内におけるサンプルと試薬との反応液は、反応ディスク１０の回転動作中に光度計４１の前を横切る度に測光される。サンプル毎に測定された散乱光のアナログ信号は、Ａ／Ｄ（アナログ／デジタル）変換器５４及び異常検出回路６０に入力される。異常検出回路６０は反応容器１１の微小な傷や汚れ、あるいは反応容器１１に収容された反応液中の微細な気泡を検出するための回路であり、その詳細については後述する。
【００２１】
使用済みの反応容器１１は、反応ディスク１０の近傍に配置された反応容器洗浄機構３６により、内部が洗浄されて繰り返しの使用を可能にする。
【００２２】
次に、分析装置１における制御系及び信号処理系について簡単に説明する。コンピュータ５０は、インターフェース５１を介して、サンプル分注制御部５２、試薬分注制御部５３、Ａ／Ｄ変換器５４、異常検出回路６０に接続されている。コンピュータ５０は、サンプル分注制御部５２に対して指令を送り、サンプルの分注動作を制御する。また、コンピュータ５０は、試薬分注制御部５３に対して指令を送り、試薬の分注動作を制御する。Ａ／Ｄ変換器５４によってデジタル信号に変換された測光値は、コンピュータ５０に取り込まれる。
【００２３】
インターフェース５１には、印字するためのプリンタ５５、記憶装置であるメモリ５６や外部出力メディア５７、操作指令等を入力するためのキーボード５８、画面表示するための表示装置５９が接続されている。表示装置５９としては、ＣＲＴディスプレイや液晶ディスプレイなどが採用できる。メモリ５６は、例えばハードディスクメモリまたは外部メモリにより構成される。メモリ５６には、各操作者のパスワード、各画面の表示レベル、分析パラメータ、分析項目依頼内容、キャリブレーション結果、分析結果等の情報が記憶される。
【００２４】
次に、分析装置１におけるサンプルの分析動作を説明する。分析装置１によって分析可能な項目に関する分析パラメータは、予めキーボード５８等の情報入力装置を介して入力され、メモリ５６に記憶されている。操作者は、操作機能画面を用いて各サンプルに依頼されている検査項目を選択する。
【００２５】
この際に、患者ＩＤなどの情報もキーボード５８から入力される。各サンプルに対して指示された検査項目を分析するために、サンプル分注機構２２のピペットノズル２４は、分析パラメータにしたがって、検体容器２１から反応容器１１へ所定量のサンプルを分注する。
【００２６】
サンプルが分注された反応容器１１は、反応ディスク１０の回転によって移送され、試薬受け入れ位置に停止する。第１試薬分注機構３４ａ、第２試薬分注機構３４ｂのピペットノズルは、該当する検査項目の分析パラメータにしたがって、反応容器１１に所定量の試薬液を分注する。サンプルと試薬の分注順序は、この例とは逆に、サンプルより試薬が先であってもよい。
【００２７】
その後、第１攪拌機構３５ａ、第２攪拌機構３５ｂにより、サンプルと試薬との攪拌が行われ、混合される。この反応容器１１が、測光位置を横切る時、光度計４１により反応液の透過光および散乱光が測光される。測光された透過光および散乱光は、Ａ／Ｄ変換器５４により光量に比例した数値に変換され、インターフェース５１を経由して、コンピュータ５０に取り込まれる。
【００２８】
この変換された数値を用い、検査項目毎に指定された分析法により予め測定しておいた検量線に基づき、濃度データが算出される。各検査項目の分析結果としての成分濃度データは、プリンタ５５や表示装置５９の画面に出力される。
【００２９】
以上の測定動作が実行される前に、操作者は、分析測定に必要な種々のパラメータの設定や試料の登録を、表示装置５９の操作画面を介して行う。また、操作者は、測定後の分析結果を表示装置５９上の操作画面により確認する。
【００３０】
図２は、分析装置１においてブランク水を含んだ反応容器１１の散乱光を測光した際の測光波形を説明する図である。ここで、測光波形とは、１つの波長について測光を行った場合に検出される光の強度に関する情報（例えば、電圧、電流、カウント値など）の時間変化のことである。分析装置１の光検出系は、透過光および散乱光を測光する装置であり、透過光および散乱光どちらにも応用できるが、ここでは散乱光を測光した例を用いて説明する。図２には、測光波形１０４と測光波形１０４に対応する反応容器１１の正面図１００とを併せて示している。
【００３１】
反応容器１１にはブランク水１０２が入っている。反応容器１１は、反応ディスク１０に円周上に配置され、回転しながら測光されるため、反応容器１１およびブランク水１０２による散乱光の強度測定は、光源４０から光度計４１に向かう光軸の走査方向１０３に沿って反応容器１１を横切るように行なわれる。このときの散乱光の強度測定の結果の例が測光波形１０４である。測光波形１０４の縦軸は散乱光の強度と相関する電圧値であり、横軸は時間である。ここで、縦軸は、電圧以外に、電流やカウントデジタル値を用いることもできる。ブランク水を含んだ反応容器１１の散乱光を測光した測光波形１０４は、反応容器１１がないところの測光波形１０８、反応容器１１の壁部１０１の測光波形１０７、ブランク水が存在するところの測光波形１０６を含む。
【００３２】
実施例１では、反応容器１１に含まれるブランク水、あるいは被測定試料からの散乱光強度を高精度に測定するため、ブランク水が存在するところの測光波形１０６のある一点の電圧値を基準電圧Ｖｒとする。基準電圧Ｖｒを設定する一方法として、回転する反応容器１１と同期したトリガ信号を生成し、トリガ信号の生成タイミングＴ１における電圧値を基準電圧Ｖｒとすることができる。図３は、トリガ信号を発生させる検知器６１と検知板７０及び反応容器１１との位置関係を説明するための図である。図３の上側には鳥瞰図を、下側には鳥瞰図に示した矢印方向から（下から）みた平面図が描かれている。検知板７０は反応ディスク１０の周方向に沿って配置される反応容器１１に対応する位置に設けられ、反応ディスク１０の回転により検知板７０と反応容器１１とは相対的な位置関係を変化させることなく、反応ディスク１０の周方向に移動する。検知器６１は所定の位置に固定されており、例えば、向かい合って配置された光源６２と受光部６３とを有する。検知器６１は光源６２と受光部６３との間を検知板７０が通り過ぎるのを検知し、この検知信号に基づきトリガ信号を発生させる。
【００３３】
本実施例では、トリガ信号により反応容器１１の散乱光を測光するタイミングを定めている。すなわち、トリガ信号が生成されるタイミングＴ１からあらかじめ定められた測光期間１０５において、反応容器１１の散乱光強度を測定する。あわせて、トリガ信号が生成されるタイミングＴ１における測光波形の電圧を基準電圧Ｖｒとする。図４に傷や汚れ２０１が付着した反応容器１１の正面図１００’と散乱光を測光した際の測光波形２０２を併せて示している。測光波形２０３は反応容器１１の傷や汚れ２０１を測光した際に得られる波形である。反応容器１１がないところの測光波形１０８、反応容器１１の壁部１０１の測光波形１０７において測光波形の電圧値が大きく上下するため、測光波形２０３の検出のためにゲインを大きくとることができない。このため、反応容器表面の傷や汚れが微小である場合、測光期間１０５の変動量を求めると、信号中のノイズ等と区別することができず、反応容器１１にできた微小な傷や汚れを発見できない可能性がある。そこで、本実施例の異常検出回路６０においては、トリガ信号が生成されるタイミングＴ１における測光波形の電圧を基準電圧Ｖｒとし、基準電圧Ｖｒとの差分を増幅した増幅波形２０４を得る。これにより、微小な傷や汚れであっても、精度よく検出することが可能になる。
【００３４】
図５に異常検出回路６０のブロック図（第１の構成例）を示す。図は、異常検出回路６０と関連するブロックとあわせて示している。異常検出回路６０は、トリガ信号生成回路３０１、基準電圧生成回路３０２、差動増幅回路３０３、Ａ／Ｄ変換器３０４を有する。トリガ信号生成回路３０１は、図３を用いて説明したように、検知器６１が検知板７０を検知したことを示す検知信号から、測光を開始するタイミングを定めるトリガ信号を生成する回路である。基準電圧生成回路３０２は、基準電圧生成回路３０２はトリガ信号のタイミングで、光度計４１（ここでは光の強度に関する電圧値Ｖｄを出力するものとする）の測定値を計測し、そのときの測定値に等しい電圧を基準電圧Ｖｒとして生成する。差動増幅回路３０３は、光度計４１が出力する電圧値Ｖｄと基準電圧Ｖｒとの差分を増幅する。Ａ／Ｄ変換器３０４は、差動増幅回路３０３の出力をデジタル値に変換し、差分値（Ｖｄ−Ｖｒ）はインターフェース５１を介してコンピュータ５０に入力され、コンピュータ５０はこの差分値に基づき、傷や汚れの有無を判定する。
【００３５】
本構成では、光度計４１の測定値（電圧値Ｖｄ）は異常検出回路６０と並行にＡ／Ｄ変換器５４にも入力されている。このため、反応容器１１に被測定試料を入れてサンプルの分析を行っている場合においても、異常検出回路６０を用いた反応容器１１の異常の検出を並行して行うことができる。この構成では、反応容器１１の傷や汚ればかりではなく、被測定試料に生じた気泡を検出することが可能になる。反応容器１１の傷や汚ればかりではなく、実分析においてはサンプルや試薬の分注時に気泡が発生する場合があり、そのような気泡も分析精度に悪影響を及ぼす。このように第１の構成例は、実分析時においても反応容器の微小な傷や汚れ、微細な気泡を精度よく検出できる利点を有する。
【００３６】
図６に異常検出回路６０ａのブロック図（第２の構成例）を示す。異常検出回路６０ａにはＡ／Ｄ変換器を設けず、回路構成を簡素化したものである。異常検出回路６０ａはマルチプレクサ３０５を有し、マルチプレクサ３０５は光度計４１の出力と差動増幅回路３０３の出力を選択的にＡ／Ｄ変換器５４に入力する。マルチプレクサ３０５がどちらの出力を選択するかどうかはコンピュータ５０により制御される。分析装置１は、光検出系に異常がないか検査するため、反応容器１１にブランク水を入れた状態で複数回測定を行う。そこで、そのうちの１回を反応容器１１の傷や汚れの検出に用いることとし、コンピュータ５０はその１回につき、差動増幅回路３０３の出力をＡ／Ｄ変換器５４に入力し、コンピュータ５０はこの差分値（Ｖｄ−Ｖｒ）に基づき、傷や汚れの有無を判定する。それ以外のタイミングでは、光度計４１の出力をＡ／Ｄ変換器５４に入力し、コンピュータ５０はブランク水の測光を行う。
【００３７】
図７に異常検出回路６０ｂのブロック図（第３の構成例）を示す。異常検出回路６０ｂはトリガ信号を生成するための検知器６１がなくともトリガ信号を生成可能な構成である。図２に示した通り、測光波形１０７は反応容器１１の壁部において大きな変動を示す。そこで、コンピュータ５０は、Ａ／Ｄ変換器５４から入力される光度計Ｖｄの出力から反応容器１１の壁付近に生じる急峻な変化を検出し、トリガ信号生成回路３０６では、例えば、変化の検出後、所定時間経過したタイミングでトリガ信号を生成する。これにより、検知器６１を有さない場合であっても、図５に示した異常検出回路６０と同等の処理を行うことが可能である。なお、図６に示した異常検出回路６０ａのトリガ信号生成回路３０１を、第３の構成例（図７）のトリガ信号生成回路３０６に置き換えることで、検知器６１を有さない場合であっても、図６に示した異常検出回路６０ａと同等の処理を行うことが可能である。
【００３８】
反応容器１１の傷や汚れを検知する方法について、図８に示すフローチャートを用いて説明する。異常検出回路は、先に説明したいずれの構成であってもよい。
【００３９】
まず、トリガ信号生成回路３０１（３０６）によりトリガ信号を生成し、基準電圧生成回路３０２は、このタイミングでの光度計４１の出力電圧Ｖｄを基準電圧Ｖｒとして設定する（ステップＳ５０１）。差動増幅回路３０３は光度計４１の出力電圧Ｖｄと基準電圧Ｖｒとの増幅波形を出力し（ステップＳ５０２）、Ａ／Ｄ変換器３０４（５４）によりデジタル化され、インターフェース５１を介してコンピュータ５０に入力される（ステップＳ５０４）。コンピュータ５０は、増幅した差分値と閾値とを比較し（ステップＳ５０４）、増幅した差分値が閾値より大きい場合は、反応容器１１を異常と判定し（ステップＳ５０６）、装置にアラームを表示する（ステップＳ５０７）。一方、差分値が閾値より小さかった場合は、光度計４１の出力電圧Ｖｄが更新される（所定のサンプリング間隔で出力電圧Ｖｄが更新される）たびに、基準電圧Ｖｒとの差分値に基づく判定を行い、測光期間１０５外となれば処理を終了する（ステップＳ５０５）。ここで閾値は、あらかじめ定めた値である。このように、１つの測光波形において基準電圧を定めて異常判定を行なうことにより、比較データを予め有することなく、反応容器の微小な傷や汚れを精度よく検出することが可能になる。
【００４０】
反応容器１１の傷や汚れと区別して気泡を検出する方法について、図９を用いて説明する。異常の原因が気泡だと判定する場合、反応容器を取り換える必要はなく、再測定を行なうことで対応できる。異常検出回路は、異常検出回路６０または６０ｂを適用する。ステップＳ５０１〜Ｓ５０５については、図８に示したフローチャートと同様であるので、重複する説明については省略する。増幅した差分値が閾値より大きい場合は、光度計４１の出力電圧Ｖｄが更新される度に行われた複数回の測光で、増幅した差分値が変化するか判定する（ステップＳ６０１）。増幅した差分値の変動幅が所定以上の大きさを有する場合には気泡の影響と考えられるので、装置にアラームを出力し、再測定を促す（ステップＳ６０２）。一方、増幅した差分値の変動幅が所定未満の大きさを有する場合には気泡もしくは、傷や汚れなど反応容器固有の異常の両方の影響が考えられるため、装置にアラームを出力し、目視確認もしくは再測定を促す（ステップＳ６０３）。
【００４１】
以上、本発明者によってなされた発明を実施の形態に基づき具体的に説明したが、本発明は実施の形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能である。例えば、差動増幅回路３０３の出力と閾値を比較して異常を検出する旨説明したが、ノイズの影響を踏まえ、差動増幅回路３０３の移動平均を取った値と閾値とを比較してもよい。
【００４２】
また、散乱光を測光する例を示したが、散乱光もしくは透過光どちらかで測光した波形を用いてもよい。ただし、散乱光を用いた方が、傷等に対する感度は高い。傷の存在により、散乱する光が増大するためである。また、光検出系は単一波長を測光する系であっても、二波長測光を測光する系であってもよい。二波長測光系の場合には、それぞれの波長について判断するようにしてもよい。二波長測光系の場合は、２つの波長で測光し、その差分をとるため、傷や汚れがあっても差分をとることにより、その影響を低減することができるが、単一波長系の場合は、反応容器１１の傷や汚れ、あるいは気泡の影響が直接的に計測値に現れる。このため、特に単一波長測光系では、散乱光を用いて測光した波形を用いて異常検出を行うことが効果的である。
【００４３】
また、自動分析装置のみならず、反応容器の製造時の検査装置に適用することで、反応容器の品質確認にも利用可能である。
【符号の説明】
【００４４】
１：分析装置、１０：反応ディスク、１１：反応容器、１２：恒温槽、１３：恒温維持装置、２０：サンプルディスク、２１：検体容器、２２：サンプル分注機構、２３：可動アーム、２４：ピペットノズル、３０ａ：第１試薬ディスク、３０ｂ：第２試薬ディスク、３１ａ：第１試薬保冷庫、３１ｂ：第２試薬保冷庫、３２ａ：第１試薬ボトル、３２ｂ：第２試薬ボトル、３３ａ：第１バーコード読み取り装置、３３ｂ：第２バーコード読み取り装置、３４ａ：第１試薬分注機構、３４ｂ：第２試薬分注機構、３５ａ：第１攪拌機構、３５ｂ：第２攪拌機構、３６：反応容器洗浄機構、４０：光源、４１：光度計、５０：コンピュータ、５１：インターフェース、５２：サンプル分注制御部、５３：試薬分注制御部、５４：Ａ／Ｄ変換器、５５：プリンタ、５６：メモリ、５７：外部出力メディア、５８：キーボード、５９：表示装置、６０，６０ａ，６０ｂ：異常検出回路、６１：検知器、６２：光源、６３：受光部、７０：検知板、１００，１００’：反応容器の正面図、１０１：反応容器の壁部、１０２：ブランク水、１０３：光軸の走査方向、１０４：測光波形、１０５：測光期間、１０６〜１０８：測光波形、２０１：傷や汚れ、２０２，２０３：測光波形、２０４：増幅波形、３０１，３０６：トリガ信号生成回路、３０２：基準電圧生成回路、３０３：差動増幅回路、３０４：Ａ／Ｄ変換器、３０５：マルチプレクサ。
【図１】
2020041929.tif 000003
【図２】
2020041929.tif 000004
【図３】
2020041929.tif 000005
【図４】
2020041929.tif 000006
【図５】
2020041929.tif 000007
【図６】
2020041929.tif 000008
【図７】
2020041929.tif 000009
【図８】
2020041929.tif 000010
【図９】
2020041929.tif 000011