(57)【要約】【課題】異常検出用コンデンサおよびこのコンデンサに設置する電流測定センサの用意を不要にする。【解決手段】グランドＧ１に接続されたケース２と、他方の端部３ｄ等で構成される外部コンタクトがケース２と電気的に接続された状態で壁面２ａに配設されたコネクタ３と、他方の端部４ｄ等で構成される外部コンタクトがケース２と電気的に絶縁された状態で壁面２ａに配設されたコネクタ４と、コネクタ４の外部コンタクトとケース２との間に接続された電流検出部５と、グランドＧ２を基準とする作動電圧で動作し、インパルス電圧Ｖｐを発生させて中心コンタクト３ｅ，４ｅ間に出力するパルス源６とを備え、コネクタ３に接続されたシールドケーブル５１の中心導体５１ａと、コネクタ４に接続されたシールドケーブル６１の中心導体６１ａとの間に接続された試験対象ＤＵＴにインパルス電圧Ｖｐを印加したときに電流検出部５で検出される電流波形を取得する。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
第１基準電位に接続された金属製のケースと、
外部コンタクトが前記ケースと電気的に接続された状態で当該ケースの壁面に配設された第１同軸レセプタクルコネクタと、
外部コンタクトが前記ケースと電気的に絶縁された状態で当該ケースの壁面に配設された第２同軸レセプタクルコネクタと、
前記第２同軸レセプタクルコネクタの前記外部コンタクトと前記ケースとの間に接続された状態で当該ケースの内部に配設された電流検出部と、
前記ケースの内部に配設されると共に当該ケースの電位からフローティングされた第２基準電位を基準とする作動電圧で動作して、インパルス電圧を発生させると共に前記第１同軸レセプタクルコネクタの中心コンタクトと前記第２同軸レセプタクルコネクタの中心コンタクトとの間に当該インパルス電圧を出力するパルス源とを備え、
前記第１同軸レセプタクルコネクタに接続された第１シールドケーブルの芯線と、前記第２同軸レセプタクルコネクタに接続された第２シールドケーブルの芯線との間に接続された試験対象に前記インパルス電圧を印加したときに前記電流検出部で検出される電流波形を取得するインパルス試験装置。
【請求項２】
第１基準電位に接続された金属製のケースと、
第１中心導体、当該第１中心導体を覆う第１誘電体層および当該第１誘電体層を覆う第１シールド導体を有して構成されて、一方の端部において当該第１シールド導体が前記ケースと電気的に接続された状態で当該ケースに取り付けられ、かつ他方の端部に前記第１中心導体に接続された第１コンタクトが取り付けられた第１シールドケーブルと、
第２中心導体、当該第２中心導体を覆う第２誘電体層および当該第２誘電体層を覆う第２シールド導体を有して構成されて、一方の端部において当該第２シールド導体が前記ケースと電気的に絶縁された状態で当該ケースに取り付けられ、かつ他方の端部に前記第２中心導体に接続された第２コンタクトが取り付けられた第２シールドケーブルと、
前記第２シールドケーブルの前記第２シールド導体における前記一方の端部側の部位と前記ケースとの間に接続された状態で当該ケースの内部に配設された電流検出部と、
前記ケースの内部に配設されると共に当該ケースの電位からフローティングされた第２基準電位を基準とする作動電圧で動作して、インパルス電圧を発生させると共に前記第１シールドケーブルの前記第１中心導体における前記一方の端部側の端部と前記第２シールドケーブルの前記第２中心導体における前記一方の端部側の端部との間に当該インパルス電圧を出力するパルス源とを備え、
前記第１コンタクトと前記第２コンタクトとの間に接続された試験対象に前記インパルス電圧を印加したときに前記電流検出部で検出される電流波形を取得するインパルス試験装置。
【請求項３】
前記取得した電流波形を表示する出力部を備えている請求項１または２記載のインパルス試験装置。
【請求項４】
前記取得した電流波形を予め記憶された基準値と比較することにより、前記試験対象に放電が発生したか否かを判別する処理部を備えている請求項１から３のいずれかに記載のインパルス試験装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、試験対象に対してインパルス電圧を印加すると共に、インパルス電圧の印加によって試験対象の内部で放電が発生するか否かを検出するインパルス試験を実行するインパルス試験装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
この種のインパルス試験装置として、例えば下記の特許文献１に開示されたインパルス試験装置（インパルス電圧試験装置）が知られている。このインパルス試験装置は、インパルス電圧発生回路と、波形伸長回路とを備えている。このインパルス試験装置では、インパルス電圧発生回路がインパルス電圧を発生させ、波形伸長回路がこのインパルス電圧の電圧波形（波頭長および波尾長）を伸長させて、出力端子間に接続される試験対象に印加する。
【０００３】
このインパルス試験装置を使用した一般的なインパルス電圧耐性試験では、インパルス試験装置の出力端子間に試験対象を接続すると共に、パルスＣＴ等の変流器よりなる電流測定センサを試験対象の接地側に設置して、インパルス電圧の印加時に試験対象に流れる主電流の変化を電流測定センサで検出し、検出される主電流の変化に基づいてインパルス電圧に対する耐性（インパルス電圧が印加されても放電が生じないこと）に異常があるか否かを判定していた。
【０００４】
しかしながら、この一般的なインパルス電圧耐性試験のように、電流測定センサで検出される主電流の変化に基づく異常判定では、主電流の電流値が大きいため、試験対象に微小な異常が生じ、これに起因した微小な電流変化が生じたとしても、この微小な電流変化は重畳する主電流に対してその変化が小さすぎる。このため、微小な電流変化の発生の有無の判断が困難であることから、この微小な異常の発生を見逃す虞があった。
【０００５】
そこで、特許文献１に開示された新たなインパルス電圧耐性試験では、試験対象と並列となるように異常検出用コンデンサをインパルス試験装置の出力端子間に接続すると共に、この異常検出用コンデンサの接地側に電流測定センサを設置して、この電流測定センサで検出される電流に基づいて、試験対象に生じる微小な異常を含む異常判定を行うように変更されている。
【０００６】
この新たなインパルス電圧耐性試験によれば、微小な異常の発生によって生じる微小な電流が、試験対象を流れる主電流とは独立して異常検出用コンデンサに流れることから、異常検出用コンデンサの接地側に設置した電流測定センサでこの微小な電流を適切に（主電流に重畳した電流としてではなく、主電流から独立した電流として）検出することが可能となっている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００７】
【特許文献１】特開２０１２−２２９９５１号公報（第４−５頁、第１図）
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
ところが、上記した新たなインパルス電圧耐性試験には、インパルス試験装置以外に、異常検出用コンデンサと、異常検出用コンデンサの接地側に設置する電流測定センサとを別途用意する必要があり、手間がかかるという改善すべき課題が存在している。
【０００９】
本発明は、かかる解決すべき課題に鑑みてなされたものであり、異常検出用コンデンサ、および異常検出用コンデンサの接地側に設置する電流測定センサとを別途用意することなく、試験対象に発生した微小な異常を適切に検出し得るインパルス試験装置を提供することを主目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
上記目的を達成すべく請求項１記載のインパルス試験装置は、第１基準電位に接続された金属製のケースと、外部コンタクトが前記ケースと電気的に接続された状態で当該ケースの壁面に配設された第１同軸レセプタクルコネクタと、外部コンタクトが前記ケースと電気的に絶縁された状態で当該ケースの壁面に配設された第２同軸レセプタクルコネクタと、前記第２同軸レセプタクルコネクタの前記外部コンタクトと前記ケースとの間に接続された状態で当該ケースの内部に配設された電流検出部と、前記ケースの内部に配設されると共に当該ケースの電位からフローティングされた第２基準電位を基準とする作動電圧で動作して、インパルス電圧を発生させると共に前記第１同軸レセプタクルコネクタの中心コンタクトと前記第２同軸レセプタクルコネクタの中心コンタクトとの間に当該インパルス電圧を出力するパルス源とを備え、前記第１同軸レセプタクルコネクタに接続された第１シールドケーブルの芯線と、前記第２同軸レセプタクルコネクタに接続された第２シールドケーブルの芯線との間に接続された試験対象に前記インパルス電圧を印加したときに前記電流検出部で検出される電流波形を取得する。
【００１１】
また、請求項２記載のインパルス試験装置は、第１基準電位に接続された金属製のケースと、第１中心導体、当該第１中心導体を覆う第１誘電体層および当該第１誘電体層を覆う第１シールド導体を有して構成されて、一方の端部において当該第１シールド導体が前記ケースと電気的に接続された状態で当該ケースに取り付けられ、かつ他方の端部に前記第１中心導体に接続された第１コンタクトが取り付けられた第１シールドケーブルと、第２中心導体、当該第２中心導体を覆う第２誘電体層および当該第２誘電体層を覆う第２シールド導体を有して構成されて、一方の端部において当該第２シールド導体が前記ケースと電気的に絶縁された状態で当該ケースに取り付けられ、かつ他方の端部に前記第２中心導体に接続された第２コンタクトが取り付けられた第２シールドケーブルと、前記第２シールドケーブルの前記第２シールド導体における前記一方の端部側の部位と前記ケースとの間に接続された状態で当該ケースの内部に配設された電流検出部と、前記ケースの内部に配設されると共に当該ケースの電位からフローティングされた第２基準電位を基準とする作動電圧で動作して、インパルス電圧を発生させると共に前記第１シールドケーブルの前記第１中心導体における前記一方の端部側の端部と前記第２シールドケーブルの前記第２中心導体における前記一方の端部側の端部との間に当該インパルス電圧を出力するパルス源とを備え、前記第１コンタクトと前記第２コンタクトとの間に接続された試験対象に前記インパルス電圧を印加したときに前記電流検出部で検出される電流波形を取得する。
【００１２】
また、請求項３記載のインパルス試験装置は、請求項１または２記載のインパルス試験装置において、前記取得した電流波形を表示する出力部を備えている。
【００１３】
また、請求項４記載のインパルス試験装置は、請求項１から３のいずれかに記載のインパルス試験装置において、前記取得した電流波形を予め記憶された基準値と比較することにより、前記試験対象に放電が発生したか否かを判別する処理部を備えている。
【発明の効果】
【００１４】
請求項１，２記載のインパルス試験装置によれば、従来のインパルス試験装置とは異なり、異常検出用コンデンサ、および異常検出用コンデンサの接地側に設置する電流測定センサとを別途用意する必要が無いため、異常検出用コンデンサおよび電流測定センサを別途用意する手間を省いて、試験対象に対するインパルス電圧耐性試験を迅速に実行することができる。また、このインパルス試験装置によれば、第１シールドケーブルの分布容量および第２シールドケーブルの分布容量を上記の異常検出用コンデンサとして代用して、試験対象に放電が発生した際に流れる微小電流を電流検出部で検出することができるため、インパルス電圧の印加に起因して発生する主電流の影響を受けることなく、この微小電流を適切な検出感度で検出することができる。
【００１５】
また、請求項３記載のインパルス試験装置によれば、電流検出部に流れる電流の電流波形が出力部に表示されるため、インパルス電圧耐性試験の結果をインパルス試験装置の使用者に確実に知得させることができる。
【００１６】
また、請求項４記載のインパルス試験装置によれば、処理部が、取得した電流波形を予め記憶された基準値と比較することにより、試験対象に放電が発生したか否かを判別するため、試験対象での放電の発生の有無の判別を自動化することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１７】
【図１】インパルス試験装置１の構成を示す構成図である。
【図２】インパルス試験装置１の動作を説明するための模式図である。
【発明を実施するための形態】
【００１８】
以下、インパルス試験装置の実施の形態について、添付図面を参照して説明する。
【００１９】
まず、このインパルス試験装置としてのインパルス試験装置１の構成について、図１を参照して説明する。
【００２０】
インパルス試験装置１は、ケース２、第１同軸レセプタクルコネクタ３、第２同軸レセプタクルコネクタ４、電流検出部５、パルス源６、処理部７および出力部８を備えて、第１同軸レセプタクルコネクタ３に接続された測定ケーブルＣＢ１を構成する第１シールドケーブル５１の第１中心導体（芯線）と、第２同軸レセプタクルコネクタ４に接続された他の測定ケーブルＣＢ２を構成する第２シールドケーブル６１の第２中心導体（芯線）との間に接続された試験対象ＤＵＴに対するインパルス電圧耐性試験を実行可能に構成されている。
【００２１】
ケース２は、導電性を有する金属材料で構成されている（金属製である）。また、ケース２の１つの壁面２ａには、図１に示すように、第１同軸レセプタクルコネクタ３および第２同軸レセプタクルコネクタ４が配設されている。なお、図示はしないが、ケース２を構成する他の壁面は、操作パネルとして構成されて、種々の操作スイッチや、出力部８（本例では一例として、後述する表示装置）などが配設されている。また、ケース２は、第１基準電位としての第１グランドＧ１に接続されている（大地に電気的に接続されている）。
【００２２】
第１同軸レセプタクルコネクタ３の壁面２ａへの配設構造（取り付け構造）について説明する。第１同軸レセプタクルコネクタ３は、柱状の一端部（図１中の左端部）３ａがケース２の外部側から壁面２ａに形成された貫通孔１１内に、フランジ状のストッパ３ｂが壁面２ａの表面に当接するまで挿入されると共に、一端部３ａの外周面に形成された雄ネジ部にナット３ｃが螺合されて、ナット３ｃとストッパ３ｂとで壁面２ａにおける貫通孔１１の口縁部分を挟持することで、壁面２ａに配設（固定）されている。また、第１同軸レセプタクルコネクタ３の柱状の他端部（図１中の右端部）３ｄの外周面には、第１シールドケーブル５１の一方の端部（図１中の左端部）に取り付けられた同軸プラグコネクタ５２を着脱自在に連結するための雄ネジ部が形成されている。また、第１同軸レセプタクルコネクタ３の軸心上には、中心コンタクト３ｅが配設されている。この配設構造により、第１同軸レセプタクルコネクタ３の外部コンタクト（一端部３ａおよび他端部３ｄを構成する円筒状の外壁部と、ストッパ３ｂ）は、壁面２ａ（つまり、ケース２）と電気的に接続された状態となっている。
【００２３】
第２同軸レセプタクルコネクタ４の壁面２ａへの配設構造（取り付け構造）について説明する。壁面２ａにおける第２同軸レセプタクルコネクタ４の配設部位には、貫通孔１１よりも大径な貫通孔１２が形成されている。また、壁面２ａにおける貫通孔１２の形成部位には、貫通孔１２を覆う大きさのコネクタ取付板（合成樹脂材料などの絶縁材料で形成された板体）１４が固定されている。また、コネクタ取付板１４には、貫通孔１１と同じ直径の貫通孔１５が、貫通孔１２と連通する状態で形成されている。
【００２４】
第２同軸レセプタクルコネクタ４は、第１同軸レセプタクルコネクタ３と同型のコネクタで構成されて、柱状の一端部（図１中の左端部）４ａがケース２の外部側からコネクタ取付板１４に形成された貫通孔１５内に、フランジ状のストッパ４ｂがコネクタ取付板１４の表面に当接するまで挿入されると共に、金属製のワッシャ４ｆが装着された状態の一端部４ａの外周面に形成された雄ネジ部にナット４ｃが螺合されて、ナット４ｃとストッパ４ｂ（具体的には、ナット４ｃで押動されるワッシャ４ｆとストッパ４ｂ）とでコネクタ取付板１４における貫通孔１５の口縁部分を挟持することで、コネクタ取付板１４（コネクタ取付板１４を介して壁面２ａ）に配設（固定）されている。また、第２同軸レセプタクルコネクタ４の柱状の他端部（図１中の右端部）４ｄの外周面には、第２シールドケーブル６１の一方の端部（図１中の左端部）に取り付けられた同軸プラグコネクタ６２を着脱自在に連結するための雄ネジ部が形成されている。また、第２同軸レセプタクルコネクタ４の軸心上には、中心コンタクト４ｅが配設されている。この配設構造により、第２同軸レセプタクルコネクタ４の外部コンタクト（一端部４ａおよび他端部４ｄを構成する円筒状の外壁部と、ストッパ４ｂ）は、壁面２ａ（つまり、ケース２）と電気的に絶縁された状態（つまり、第１グランドＧ１から絶縁された状態）となっている。
【００２５】
なお、第１同軸レセプタクルコネクタ３の壁面２ａへの配設構造、および第２同軸レセプタクルコネクタ４の壁面２ａへの配設構造は、上記の構造に限定されるものではなく、第１同軸レセプタクルコネクタ３および第２同軸レセプタクルコネクタ４の構造に応じて、種々の配設構造を採用することができるが、いずれの配設構造を採用した場合においても、第１同軸レセプタクルコネクタ３の外部コンタクトはケース２と電気的に接続され、また第２同軸レセプタクルコネクタ４の外部コンタクトはケース２と電気的に絶縁される。
【００２６】
電流検出部５は、第２同軸レセプタクルコネクタ４のワッシャ４ｆとケース２（壁面２ａ）との間に接続された状態で、ケース２の内部に配設されている。なお、ワッシャ４ｆは、第２同軸レセプタクルコネクタ４の一端部４ａおよびナット４ｃと接触状態にあることから、電流検出部５は、第２同軸レセプタクルコネクタ４の外部コンタクトとケース２（壁面２ａ）との間に接続された状態となっている。また、電流検出部５は、第２同軸レセプタクルコネクタ４の外部コンタクトとケース２との間に流れる電流を検出すると共に、この電流の電流値に応じて電圧値が変化する電圧信号としての電流検出信号Ｖｉを処理部７へ出力する。
【００２７】
パルス源６は、ケース２の内部に配設されている。また、パルス源６は、ケース２の電位（つまり、第１グランドＧ１の電位）からフローティングされた第２基準電位としての第２グランドＧ２（インパルス試験装置１の内部グランド）を基準とする作動電圧（ケース２の内部に配設された不図示の電源から出力される直流電圧）で動作して、インパルス電圧Ｖｐを発生させて、一対の出力端子６ａ，６ｂ間に出力する。本例では、出力端子６ａは、第１同軸レセプタクルコネクタ３の中心コンタクト３ｅに接続され、出力端子６ｂは、第２グランドＧ２に接続されると共に第２同軸レセプタクルコネクタ４の中心コンタクト４ｅに接続されている。この構成により、パルス源６は、インパルス電圧Ｖｐを発生させて、中心コンタクト３ｅと中心コンタクト４ｅとの間に出力する。
【００２８】
本例のパルス源６は、一例として図２に示すように、不図示の電源によって予め規定された電圧値に充電されるコンデンサ６ｃと、コンデンサ６ｃと直列に接続された電流制限抵抗６ｄと、コンデンサ６ｃおよび電流制限抵抗６ｄと直列に接続されたスイッチ６ｅとを備え、コンデンサ６ｃと電流制限抵抗６ｄとスイッチ６ｅの直列回路が一対の出力端子６ａ，６ｂ間に接続されて構成されている。なお、パルス源６の構成はこの構成に限定されるものではなく、種々の構成を採用することができる。また、パルス源６は、処理部７により、コンデンサ６ｃに対する充電動作、およびスイッチ６ｅのオン・オフ動作が制御される。
【００２９】
処理部７は、例えば、不図示のＡ／Ｄ変換器、ＣＰＵおよびメモリを備えて構成されて、パルス源６に対する制御処理、および電流検出部５で検出される電流波形（本例では、具体的には、この電流波形を示す電流検出信号Ｖｉの電圧波形）を取得する取得処理を実行する。また、処理部７は、取得した電流波形を出力部８に出力させる出力処理を実行する。
【００３０】
出力部８は、一例として、表示装置で構成されて、処理部７から出力される電流波形を示す波形データＤｉ（本例では、電流検出信号Ｖｉの電圧波形を示す波形データＤｉ）に基づき、この電流波形を画面上に表示する（出力する）。なお、出力部８は、表示装置に代えて種々のインターフェース回路で構成することもでき、外部インターフェース回路で構成されたときには、外部インターフェース回路を介して伝送路で接続された外部装置にこの取得した電流波形を示す波形データＤｉを出力し、また媒体用インターフェース回路で構成されたときには、この媒体用インターフェース回路に接続された記憶媒体にこの波形データＤｉを出力して記憶させる。
【００３１】
次に、インパルス試験装置１の第１同軸レセプタクルコネクタ３および第２同軸レセプタクルコネクタ４に接続して使用される各測定ケーブルＣＢ１，ＣＢ２の構成について説明する。
【００３２】
測定ケーブルＣＢ１は、第１シールドケーブル５１、第１シールドケーブル５１の一方の端部（図１中の左端部）に取り付けられた同軸プラグコネクタ５２、および第１シールドケーブル５１の他方の端部（図１中の右端部）に取り付けられたコンタクトユニット５３を備えて構成されている。
【００３３】
第１シールドケーブル５１は、一例として図１に示すように、第１中心導体５１ａ、第１中心導体５１ａを覆う第１誘電体層５１ｂ、第１誘電体層５１ｂを覆う第１シールド導体５１ｃ、および第１シールド導体５１ｃを覆う第１保護被覆５１ｄを有して、単芯シールドケーブルとして構成されている。同軸プラグコネクタ５２には、第１シールドケーブル５１の一方の端部が挿入されて固定され、同軸プラグコネクタ５２の不図示の中心コンタクトが第１中心導体５１ａの一方の端部（図１中の左端部）に接続され、同軸プラグコネクタ５２の外部コンタクトが第１シールド導体５１ｃの一方の端部（図１中の左端部）に接続されている。コンタクトユニット５３は、金属製のコンタクト（第１コンタクト）５３ａと、一方の端部（図１中の左端部）が開口すると共に他方の端部（図１中の右端部部）にコンタクト５３ａが取り付けられた絶縁材料製の筒状ユニット５３ｂとを備えている。コンタクトユニット５３の筒状ユニット５３ｂには、第１シールドケーブル５１の他方の端部が挿入されて固定され、筒状ユニット５３ｂ内において、第１中心導体５１ａの他方の端部がコンタクト５３ａに接続されている。
【００３４】
測定ケーブルＣＢ２は、第２シールドケーブル６１、第２シールドケーブル６１の一方の端部（図１中の左端部）に取り付けられた同軸プラグコネクタ６２、および第２シールドケーブル６１の他方の端部（図１中の右端部）に取り付けられたコンタクトユニット６３を備えて、測定ケーブルＣＢ１と同一に構成されている。このため、測定ケーブルＣＢ２の構成についての詳細な説明は省略する。なお、第２シールドケーブル６１は、一例として図１に示すように、上記の第１中心導体５１ａに対応する第２中心導体６１ａ、上記の第１誘電体層５１ｂに対応する第２誘電体層６１ｂ、上記の第１シールド導体５１ｃに対応する第２シールド導体６１ｃ、および上記の第１保護被覆５１ｄに対応する第２保護被覆６１ｄを備えて構成されている。また、コンタクトユニット６３は、上記のコンタクト５３ａに対応するコンタクト（第２コンタクト）６３ａ、および上記の筒状ユニット５３ｂに対応する筒状ユニット６３ｂを備えて構成されている。
【００３５】
続いて、インパルス試験装置１を用いた試験対象ＤＵＴに対するインパルス電圧耐性試験の手順についてインパルス試験装置１の動作と併せて、図面を参照して説明する。
【００３６】
インパルス電圧耐性試験の実行に際して、同軸プラグコネクタ５２を第１同軸レセプタクルコネクタ３に連結することで、測定ケーブルＣＢ１をインパルス試験装置１に接続し、また同軸プラグコネクタ６２を第２同軸レセプタクルコネクタ４に連結することで、測定ケーブルＣＢ２をインパルス試験装置１に接続する。また、測定ケーブルＣＢ１のコンタクト５３ａを試験対象ＤＵＴの一方の端子に接触させ、測定ケーブルＣＢ２のコンタクト６３ａを試験対象ＤＵＴの他方の端子に接触させる。これにより、第１同軸レセプタクルコネクタ３に接続された第１シールドケーブル５１の第１中心導体５１ａ（芯線）と、第２同軸レセプタクルコネクタ４に接続された第２シールドケーブル６１の第２中心導体６１ａ（芯線）との間に試験対象ＤＵＴが接続される。
【００３７】
この状態でのインパルス試験装置１、各測定ケーブルＣＢ１，ＣＢ２および試験対象ＤＵＴの接続関係を模式的に表すと、図２に示すように表される。
【００３８】
つまり、パルス源６の一方の出力端子６ａは、第１同軸レセプタクルコネクタ３の中心コンタクト３ｅ、同軸プラグコネクタ５２の不図示の中心コンタクト、第１中心導体５１ａ、およびコンタクト５３ａを介して、試験対象ＤＵＴの一方の端子に接続されている。また、パルス源６の他方の出力端子６ｂは、第２同軸レセプタクルコネクタ４の中心コンタクト４ｅ、同軸プラグコネクタ６２の不図示の中心コンタクト、第２中心導体６１ａ、およびコンタクト６３ａを介して、試験対象ＤＵＴの他方の端子に接続されている。なお、図２中の静電容量Ｃ１は、第１シールドケーブル５１の分布容量（第１中心導体５１ａと第１シールド導体５１ｃとの間に存在する容量成分）をまとめて表したものであり、静電容量Ｃ２は、第２シールドケーブル６１の分布容量（第２中心導体６１ａと第２シールド導体６１ｃとの間に存在する容量成分）をまとめて表したものである。また、第２中心導体６１ａは、ケース２内において、第２グランドＧ２に接続されている。
【００３９】
また、測定ケーブルＣＢ１を構成する第１シールドケーブル５１の第１シールド導体５１ｃは、一方の端部（図２中の左端部）がケース２（壁面２ａ）に電気的に接続されている。また、測定ケーブルＣＢ２を構成する第２シールドケーブル６１の第２シールド導体６１ｃは、一方の端部（図２中の左端部）がケース２（壁面２ａ）には電気的に接続されずに、ケース２（壁面２ａ）と電気的に絶縁された状態となっている。電流検出部５は、このようにケース２（壁面２ａ）と電気的に絶縁された状態の第２シールド導体６１ｃの一方の端部とケース２との間に接続されている。
【００４０】
また、ケース２は、第１グランドＧ１に接続されていることから、ケース２に接続された測定ケーブルＣＢ１側の第１シールド導体５１ｃはこの第１グランドＧ１の電位に規定され、また電流検出部５の内部抵抗は一般的に十分に小さいことから、電流検出部５を介してケース２に接続された測定ケーブルＣＢ２側の第２シールド導体６１ｃもこの第１グランドＧ１の電位に規定される。これにより、インパルス試験装置１での使用者に対する安全性が確保されている。
【００４１】
この状態において、インパルス試験装置１では、処理部７が、まず、パルス源６に対する制御処理を実行して、スイッチ６ｅをオフ状態に移行させ、またコンデンサ６ｃに対する充電動作を開始させて、コンデンサ６ｃを予め規定された直流電圧値に充電させる。次いで、処理部７は、パルス源６に対する制御処理を再度実行して、スイッチ６ｅをオフ状態からオン状態に一旦移行させた後に、再度オフ状態に移行させる。これにより、パルス源６ではコンデンサ６ｃが放電されることで、パルス源６は出力端子６ａ，６ｂ間にインパルス電圧Ｖｐを出力する。このインパルス電圧Ｖｐは、測定ケーブルＣＢ１側の第１中心導体５１ａおよびコンタクト５３ａと、測定ケーブルＣＢ２側の第２中心導体６１ａおよびコンタクト６３ａとを介して、試験対象ＤＵＴに印加される。
【００４２】
この場合、インパルス電圧Ｖｐの印加に起因して発生する主電流Ｉ１が、出力端子６ａから、測定ケーブルＣＢ１側の第１中心導体５１ａおよびコンタクト５３ａ、試験対象ＤＵＴ、並びに測定ケーブルＣＢ２側のコンタクト６３ａおよび第２中心導体６１ａを経由して出力端子６ｂ（第２グランドＧ２）に至る第１電流経路に流れる。また、このインパルス電圧Ｖｐの印加に起因して試験対象ＤＵＴの内部で放電のような異常が生じた場合には、この放電に起因した微小電流Ｉ２が発生するが、この微小電流Ｉ２の周波数は主電流Ｉ１の周波数よりも高い。このため、微小電流Ｉ２は、試験対象ＤＵＴの一方の端子、コンタクト５３ａ、測定ケーブルＣＢ１側の第１中心導体５１ａ、測定ケーブルＣＢ１側の静電容量Ｃ１、測定ケーブルＣＢ１側の第１シールド導体５１ｃ、ケース２、電流検出部５、測定ケーブルＣＢ２側の第２シールド導体６１ｃ、測定ケーブルＣＢ２側の静電容量Ｃ２、測定ケーブルＣＢ２側の第２中心導体６１ａおよびコンタクト６３ａを経由して、試験対象ＤＵＴの他方の端子に至る第２電流経路に流れる。このように、微小電流Ｉ２は、ケース２を経由するが、ケース２が接続されている第１グランドＧ１は第２グランドＧ２と分離されているため、第１グランドＧ１へは流出しない。これにより、微小電流Ｉ２は、上記のようにして第２電流経路に流れる。
【００４３】
したがって、電流検出部５は、主電流Ｉ１は検出せずに、ケース２と測定ケーブルＣＢ２側の第２シールド導体６１ｃとの間（言い換えれば、第２シールド導体６１ｃに電気的に接続される第２同軸レセプタクルコネクタ４の外部コンタクトとケース２との間）に流れる電流を検出すると共に、この電流の電流値に応じて電圧値が変化する電流検出信号Ｖｉを出力する。これにより、電流検出部５は、微小電流Ｉ２が発生したときには、この微小電流Ｉ２の電流値に応じて電圧値が変化する電流検出信号Ｖｉを出力する。このようにして、電流検出部５は、微小電流Ｉ２の電流値に対して大きな電流値の主電流Ｉ１を検出しないで済むことから、微小電流Ｉ２の電流値に適した検出感度で（言い換えれば、ダイナミックレンジをフルに活用して）微小電流Ｉ２を検出することが可能となっている。なお、電流検出部５は、試験対象ＤＵＴの内部で放電が発生しないとき（つまり、微小電流Ｉ２が発生しないとき）には、ほぼゼロアンペアの電流値を示す電圧値（ほぼゼロボルト）で電流検出信号Ｖｉを出力する。
【００４４】
処理部７は、例えば、インパルス電圧Ｖｐの出力タイミングに合わせて、取得処理を実行する。この取得処理では、処理部７は、インパルス電圧Ｖｐの出力タイミング（スイッチ６ｅをオフ状態からオン状態に移行させるタイミング）に合せて、電流検出部５から出力される電流検出信号Ｖｉを一定期間分だけ取り込んでＡ／Ｄ変換することにより、電流検出信号Ｖｉの電圧波形（電流検出部５に流れる電流の電流波形を示す波形）についての波形データＤｉを取得して、メモリに記憶する。
【００４５】
また、処理部１０は、出力処理を実行して、記憶した波形データＤｉを出力部８に出力して、波形データＤｉで表される電流検出信号Ｖｉの電圧波形（つまり、電流検出部５に流れる電流の電流波形）を出力部８に表示させる。したがって、試験対象ＤＵＴの内部で放電が発生しないとき（つまり、微小電流Ｉ２が発生しないとき）には、上記の一定期間に亘ってほぼ一定の電流値（ゼロアンペア）で推移する電流波形が出力部８に表示され、一方、試験対象ＤＵＴの内部で放電が発生したとき（つまり、微小電流Ｉ２が発生したとき）には、上記の一定期間内において、電流値が大きく変化する電流波形が出力部８に表示される。これにより、インパルス試験装置１を用いた試験対象ＤＵＴに対するインパルス電圧耐性試験が完了する。
【００４６】
以上のように、試験対象ＤＵＴでの放電の発生の有無の違いで、出力部８に表示される電流波形に差が出ることから、インパルス試験装置１の使用者は、出力部８に表示される電流波形を視認することで、試験対象ＤＵＴにおいて放電が発生しなかったか、発生したか（つまり、試験対象ＤＵＴについてのインパルス電圧耐性が良好か、良好でないか）の試験結果を確認することが可能となっている。
【００４７】
このように、このインパルス試験装置１によれば、従来のインパルス試験装置とは異なり、異常検出用コンデンサ、および異常検出用コンデンサの接地側に設置する電流測定センサとを別途用意する必要が無いため、異常検出用コンデンサおよび電流測定センサを別途用意する手間を省いて、試験対象ＤＵＴに対するインパルス電圧耐性試験を迅速に実行することができる。また、このインパルス試験装置１によれば、第１シールドケーブル５１の分布容量（上記の静電容量Ｃ１）および第２シールドケーブル６１の分布容量（上記の静電容量Ｃ２）を、上記の異常検出用コンデンサとして代用して微小電流Ｉ２を検出することができるため、インパルス電圧Ｖｐの印加に起因して発生する主電流Ｉ１の影響を受けることなく、微小電流Ｉ２を適切な検出感度で検出することができる。
【００４８】
また、このインパルス試験装置１によれば、電流検出部５に流れる電流の電流波形が出力部８に表示されるため、インパルス電圧耐性試験の結果をインパルス試験装置１の使用者に確実に知得させることができる。
【００４９】
なお、インパルス試験装置は、上記のインパルス試験装置１に限定されない。例えば、インパルス試験装置１では、第１同軸レセプタクルコネクタ３および第２同軸レセプタクルコネクタ４を備えて、測定ケーブルＣＢ１，ＣＢ２を着脱し得る構成を採用しているが、測定ケーブルＣＢ１，ＣＢ２をケース２に一体的に接続する構成を採用することもできる。
【００５０】
この構成を採用したインパルス試験装置について、その概要を説明する。なお、インパルス試験装置１と異なる構成についてのみ説明し、同一の構成についての説明を省略する。
【００５１】
上記の測定ケーブルＣＢ１，ＣＢ２に相当する２本の測定ケーブルのケース２への接続構造について、図１を参照しつつ説明する。測定ケーブルＣＢ１に相当する測定ケーブルでは、第１シールドケーブル５１は、その一方の端部（図１中の左端部）において、第１シールド導体５１ｃがケース２と電気的に接続された状態でケース２にコネクタを介在させずに取り付けられている。また、第１シールドケーブル５１は、その他方の端部（図１中の右端部）に測定ケーブルＣＢ１と同じようにしてコンタクトユニット５３が取り付けられている。測定ケーブルＣＢ２に相当する測定ケーブルでは、第２シールドケーブル６１は、その一方の端部（図１中の左端部）において、第２シールド導体６１ｃがケース２と電気的に絶縁された状態でケース２にコネクタを介在させずに取り付けられている。なお、第２シールドケーブル６１の一方の端部を、この状態でケース２に取り付ける際には、測定ケーブルＣＢ２の取付構造（コネクタ取付板１４を使用した取付構造）を採用することができる。また、第２シールドケーブル６１は、その他方の端部（図１中の右端部）に測定ケーブルＣＢ２と同じようにしてコンタクトユニット６３が取り付けられている。
【００５２】
また、このインパルス試験装置では、電流検出部５は、第２シールドケーブル６１の第２シールド導体６１ｃにおける一方の端部側の部位とケース２との間に接続された状態で、ケース２の内部に配設される。また、パルス源６は、出力端子６ａが第１シールドケーブル５１の第１中心導体５１ａにおける一方の端部側の端部に直接接続され、出力端子６ｂが第２シールドケーブル６１の第２中心導体６１ａにおける一方の端部側の端部に直接接続されて、第１中心導体５１ａと第２中心導体６１ａとの間にインパルス電圧Ｖｐを出力する。
【００５３】
このようにして、ケース２に各測定ケーブルＣＢ１，ＣＢ２が一体的に接続されたインパルス試験装置においても、上記したインパルス試験装置１の効果と同一の効果を奏することができる。また、このインパルス試験装置では、測定ケーブルＣＢ１，ＣＢ２の交換は難しいものの、測定ケーブルＣＢ１，ＣＢ２が予め接続されていることから、インパルス電圧耐性試験の実行に際して、測定ケーブルＣＢ１，ＣＢ２をケース２に接続する手間を省くことができる。また、２つの同軸レセプタクルコネクタを不要とすることができるため、インパルス試験装置の装置コストを低減することができる。
【００５４】
また、処理部７が、取得した電流波形を予め記憶された基準値（例えば、放電が発生しないときに電流波形が含まれるゾーンを規定する電流閾値）と比較することにより、試験対象ＤＵＴに放電が発生したか否かを判別する判別処理を実行する構成を採用することもできる。また、この構成を採用した場合、処理部７が、出力処理において、この判別結果を出力部８に表示させるようにすることもできる。この構成を採用することにより、試験対象ＤＵＴでの放電の発生の有無の判別を自動化することができる。
【００５５】
また、上記の例では、パルス源６の出力端子６ｂが接続される第２同軸レセプタクルコネクタ４をケース２に対して絶縁した状態で配置して、第２同軸レセプタクルコネクタ４の外部コンタクトとケース２との間に電流検出部５を接続する構成を採用しているが、この構成に限定されるものではなく、図示はしないが、パルス源６の出力端子６ａが接続される第１同軸レセプタクルコネクタ３をケース２に対して絶縁した状態で配置して、第１同軸レセプタクルコネクタ３の外部コンタクトとケース２との間に電流検出部５を接続する構成を採用することもできる。
【符号の説明】
【００５６】
１  インパルス試験装置
２  ケース
３  第１同軸レセプタクルコネクタ
３ｅ  第１同軸レセプタクルコネクタの中心コンタクト
４  第２同軸レセプタクルコネクタ
４ｅ  第２同軸レセプタクルコネクタの中心コンタクト
５  電流検出部
６  パルス源
５１  第１シールドケーブル
５１ａ  第１シールドケーブルの第１中心導体（芯線）
６１  第２シールドケーブル
６１ａ  第２シールドケーブルの第２中心導体（芯線）
ＤＵＴ  試験対象
Ｇ１  第１グランド
Ｇ２  第２グランド
Ｖｐ  インパルス電圧
【図１】
2020067357.tif 000003
【図２】
2020067357.tif 000004