(57)【要約】【課題】画像読取装置に発生している異常を詳細に特定する。【解決手段】画像読取装置は、光源と、イメージセンサーを含む読取部と、光学部材と、制御部と、を備え、イメージセンサーは、光学部材を介さずに光源の光を直接受光する第１領域と光学部材を介して光源の光を受光する第２領域とに区分され、制御部は、第１領域の受光量に応じた第１出力値および第２領域の受光量に応じた第２出力値がそれぞれ正常レベルであるか異常レベルであるかに基づき異常を特定する。【選択図】図５
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
光を出射する光源と、
光を受光し、受光量に応じた値を出力するイメージセンサーを含む読取部と、
前記光源の光を前記イメージセンサーに導く光学部材と、
前記光源および前記読取部を制御するとともに、前記イメージセンサーの出力値を検知する制御部と、を備え、
前記イメージセンサーは、前記光学部材を介さずに前記光源の光を直接受光する第１領域と前記光学部材を介して前記光源の光を受光する第２領域とに区分され、
前記制御部は、前記第１領域の受光量に応じた出力値である第１出力値および前記第２領域の受光量に応じた出力値である第２出力値がそれぞれ正常レベルであるか異常レベルであるかに基づき、画像読取装置に発生している異常を特定する検査処理を行うことを特徴とする画像読取装置。
【請求項２】
前記光源が副走査方向の予め定められた検査位置にある状態において、前記光源から前記光学部材を介さずに前記第１領域に直接向かう直接光を透過しつつ前記直接光以外の間接光の前記第１領域への進行を遮る遮光部材を備え、
前記制御部は、前記検査処理を行うとき、前記光源が前記検査位置にある状態で前記光源から光を出射させたときの前記第１出力値および前記第２出力値に基づき、前記画像読取装置に発生している異常を特定することを特徴とする請求項１に記載の画像読取装置。
【請求項３】
前記光源を前記副走査方向に移動させる移動機構と、
前記光源と共に前記副走査方向に移動する検知片と、
発光部および受光部を有し、前記発光部と前記受光部とが前記検知片の移動経路を挟んで対向するよう設置された光センサーと、を備え、
前記制御部は、前記発光部の発光時に前記光センサーから出力される位置制御用の出力値に基づき、前記光源の前記副走査方向の位置を制御する位置制御を行い、前記検査処理を行うとき、前記移動機構を用いて前記光源を前記検査位置に移動させ、前記光源が前記検査位置にある状態で前記光源から光を出射させることを特徴とする請求項２に記載の画像読取装置。
【請求項４】
前記光センサーは、前記光源が前記検査位置にある状態で前記光源から出射された光を受光することが可能な位置に設置され、
前記制御部は、前記検査処理を行うとき、前記第１出力値および前記第２出力値が正常レベルであるか異常レベルであるかに加え、前記発光部を発光させずに検知した前記光センサーの出力値である第３出力値が正常レベルであるか異常レベルであるかに基づき、前記画像読取装置に発生している異常を特定することを特徴とする請求項３に記載の画像読取装置。
【請求項５】
前記制御部は、前記第１出力値、前記第２出力値および前記第３出力値が正常レベルである場合には、前記画像読取装置には異常が発生していないと判断することを特徴とする請求項４に記載の画像読取装置。
【請求項６】
前記制御部は、前記第１出力値および前記第３出力値が正常レベルであって前記第２出力値が異常レベルである場合には、前記光学部材に異常が発生していると判断することを特徴とする請求項４または５に記載の画像読取装置。
【請求項７】
前記制御部は、前記第１出力値が異常レベルであって前記第２出力値が正常レベルである場合には、前記位置制御に異常が発生していると判断することを特徴とする請求項４〜６のいずれか１項に記載の画像読取装置。
【請求項８】
前記制御部は、前記第１出力値および前記第２出力値が異常レベルであって前記第３出力値が正常レベルである場合には、前記読取部に異常が発生していると判断することを特徴とする請求項４〜７のいずれか１項に記載の画像読取装置。
【請求項９】
前記制御部は、前記第１出力値および前記第２出力値が正常レベルであって前記第３出力値が異常レベルである場合には、前記光センサーに異常が発生していると判断することを特徴とする請求項４〜８のいずれか１項に記載の画像読取装置。
【請求項１０】
前記制御部は、前記第１出力値が正常レベルであって前記第２出力値および前記第３出力値が異常レベルである場合には、前記読取部、前記光学部材、前記光センサーおよび前記位置制御のうち２つ以上に異常が発生していると判断することを特徴とする請求項４〜９のいずれか１項に記載の画像読取装置。
【請求項１１】
前記制御部は、前記第１出力値、前記第２出力値および前記第３出力値が異常レベルである場合には、前記光源に異常が発生していると判断することを特徴とする請求項４〜１０のいずれか１項に記載の画像読取装置。
【請求項１２】
請求項１〜１１のいずれか１項に記載の画像読取装置を備えることを特徴とする画像形成装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、画像読取装置および画像形成装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来の画像読取装置は、光源および読取部を備える。光源は、光を出射する。光源の光は読取対象の原稿に照射される。読取部は、原稿を光学的に読み取る。読取部は、イメージセンサーを含み、光源の光（原稿で反射された光）を受光し、受光量に応じた値を出力する。
【０００３】
ここで、従来の画像読取装置には、画像読取装置に発生している異常を特定する機能を搭載するものがある（たとえば、特許文献１参照）。特許文献１の画像読取装置は、読取画質が低下している場合（読取部による読み取りで得られた画像が暗い場合）、画像読取装置に異常が発生していると判断し、画像読取装置に発生している異常を特定する処理（ここでは、検査処理と称する）を行う。
【０００４】
特許文献１の画像読取装置は、光センサーを備える。光センサーは、光源から出射された光を受光することが可能な位置に設置される。
【０００５】
特許文献１の画像読取装置は、検査処理を行うとき、光源を駆動し、光源から光を出射させる。そして、特許文献１の画像読取装置は、光源の光が光センサーに入射した場合、読取部に異常が発生していると判断し、光源の光が光センサーに入射しなかった場合、光源に異常が発生していると判断する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開２０１５−１２４４０号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
通常、画像読取装置には、ミラーやレンズなどの光学部材が設置される。そして、光源の光（原稿で反射された光）は光学部材を介してイメージセンサーに入射される。この構成では、光源および読取部に異常が発生していなくても、光学部材に異常が発生していれば（たとえば、光学部材に結露が発生していれば）、読取画質が低下する。
【０００８】
ここで、特許文献１の構成において、光源および読取部には異常が発生しておらず光学部材に異常が発生している状態で、検査処理が行われたとする。この場合、光源には異常が発生していないので、光源の光が光センサーに入射する。その結果、実際には光学部材に異常が発生しているにもかかわらず、読取部に異常が発生していると判断される。すなわち、特許文献１の構成では、画像読取装置に発生している異常を詳細に特定できない。
【０００９】
本発明は、上記課題を解決するためになされたものであり、画像読取装置に発生している異常を詳細に特定することが可能な画像読取装置および画像形成装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
上記目的を達成するため、本発明の第１の局面による画像読取装置は、光を出射する光源と、光を受光し、受光量に応じた値を出力するイメージセンサーを含む読取部と、光源の光をイメージセンサーに導く光学部材と、光源および読取部を制御するとともに、イメージセンサーの出力値を検知する制御部と、を備える。イメージセンサーは、光学部材を介さずに光源の光を直接受光する第１領域と光学部材を介して光源の光を受光する第２領域とに区分される。制御部は、第１領域の受光量に応じた出力値である第１出力値および第２領域の受光量に応じた出力値である第２出力値がそれぞれ正常レベルであるか異常レベルであるかに基づき、画像読取装置に発生している異常を特定する検査処理を行う。
【００１１】
本発明の第２の局面による画像形成装置は、上記画像読取装置を備える。
【発明の効果】
【００１２】
本発明の構成では、画像読取装置に発生している異常を詳細に特定することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１３】
【図１】本発明の一実施形態による画像読取装置を備える複合機の構成を示す図
【図２】本発明の一実施形態による画像読取装置の構成を示す図
【図３】本発明の一実施形態による画像読取装置に設置される光源と光センサーとの位置関係を示す図
【図４】本発明の一実施形態による画像読取装置に設置される光源と光センサーとの位置関係を示す図
【図５】本発明の一実施形態による画像読取装置に設置される遮光部材の構成および設置位置を示す図
【図６】本発明の一実施形態による画像読取装置のスキャン制御部が行う検査処理の流れを示すフローチャート
【図７】本発明の一実施形態による画像読取装置のスキャン制御部が行う検査処理について説明するための図（異常の特定方法について説明するための図）
【発明を実施するための形態】
【００１４】
以下に、本発明の一実施形態による画像形成装置について、スキャン機能やプリント機能など複数種の機能が搭載された複合機を例にとって説明する。
【００１５】
＜複合機の構成＞
図１に示すように、本実施形態の複合機１００は、メイン制御部１を備える。メイン制御部１は、複合機１００の各部を制御する。メイン制御部１は、ＣＰＵおよびメモリーを含む。メイン制御部１のＣＰＵは、メイン制御用のプログラムおよびデータに基づき動作し、複合機１００の各部を制御するための処理を行う。メイン制御部１のメモリーは、メイン制御用のプログラムおよびデータを記憶する。
【００１６】
また、複合機１００は、印刷部２を備える。印刷部２は、用紙を搬送し、搬送中の用紙に画像を印刷する。印刷部２の制御はメイン制御部１が行う。印刷部２の印刷方式は、インクジェット方式であってもよいし、レーザー方式であってもよい。
【００１７】
印刷部２の印刷方式がインクジェット方式である場合、印刷部２には、インクヘッドが設けられる。インクジェット方式の印刷部２は、搬送中の用紙に向けてインクを吐出し、用紙にインクを付着させる。印刷部２の印刷方式がレーザー方式である場合、印刷部２には、感光体ドラム、帯電装置、現像装置、露光装置および転写ローラーが設けられる。レーザー方式の印刷部２は、印刷すべき画像に対応する静電潜像をトナー像に現像し、搬送中の用紙にトナー像を転写する。
【００１８】
また、複合機１００は、操作パネル３を備える。操作パネル３は、画面を表示し、ユーザーから操作を受け付ける。操作パネル３は、メイン制御部１に接続される。メイン制御部１は、操作パネル３の表示動作を制御するとともに、操作パネル３に対して行われた操作を検知する。
【００１９】
操作パネル３は、タッチスクリーンおよびハードウェアボタンを備える。タッチスクリーンは、ソフトウェアボタンを配した画面を表示する。ハードウェアボタンは、操作パネル３に複数設けられる。ハードウェアボタンとしては、一例を挙げると、コピージョブなど種々のジョブ（後述する検査処理も含む）の実行指示をユーザーから受け付けるためのスタートボタンがある。
【００２０】
また、複合機１００は、画像読取装置４を備える。画像読取装置４は、原稿Ｄ（図２参照）を読み取って原稿Ｄの画像データを生成する。コピージョブでは、画像読取装置４が読み取った原稿Ｄの画像データに基づく画像の用紙への印刷が印刷部２により行われる。なお、原稿Ｄの画像データを外部機器に送信する送信ジョブや、複合機１００に設置された記憶デバイスに原稿Ｄの画像データを保存する保存ジョブなどの実行も可能である。
【００２１】
画像読取装置４は、スキャン制御部４０を備える。スキャン制御部４０は「制御部」に相当する。スキャン制御部４０は、ＣＰＵおよびメモリーを含む。スキャン制御部４０のＣＰＵは、スキャン制御用のプログラムおよびデータに基づき動作し、画像読取装置４の読取動作を制御するための処理を行う。スキャン制御部４０のメモリーは、スキャン制御用のプログラムおよびデータを記憶する。
【００２２】
スキャン制御部４０は、メイン制御部１に接続される。メイン制御部１は、スキャン制御部４０に対して動作指示を与える。スキャン制御部４０は、メイン制御部１からの指示に基づき、画像読取装置４の読取動作を制御する。メイン制御部１は、原稿Ｄの読み取りを伴うジョブの実行指示を操作パネル３がユーザーから受け付けると、原稿Ｄの読取指示をスキャン制御部４０に与える。
【００２３】
また、画像読取装置４は、図１〜図４に示すように、光源４１、読取部４２および光学部材４３を備える。これら画像読取部４の各部材は、画像読取装置４の筐体４００の内部に収容される。筐体４００の上部は開口されており、筐体４００の開口（上部）にはコンタクトガラスＣＧが取り付けられる。読取対象の原稿ＤはコンタクトガラスＣＧにセットされる。
【００２４】
筐体４００には原稿カバーＣＶが回動可能（開閉可能）に取り付けられる。原稿カバーＣＶは、コンタクトガラスＣＧの上面（原稿Ｄがセットされる面）に対して開閉する。原稿カバーＣＶを閉じることにより、コンタクトガラスＣＧにセットした原稿Ｄを原稿カバーＣＶで押えることができる。原稿カバーＣＶが閉じられると、原稿カバーＣＶに設置された白色板（図示せず）がコンタクトガラスＣＧと対向した状態となる。
【００２５】
光源４１は、光を出射する。光源４１は、複数のＬＥＤ素子を有する。複数のＬＥＤ素子は、主走査方向にライン状に配列される。なお、光源４１が蛍光管ランプであってもよい。光源４１の光の一部はコンタクトガラスＣＧに向かって進行し、コンタクトガラスＣＧを透過する。コンタクトガラスＣＧに原稿Ｄがセットされていれば、コンタクトガラスＣＧを透過した光は原稿Ｄで反射される。コンタクトガラスＣＧに原稿Ｄがセットされていなくても、原稿カバーＣＶが閉じられていれば、コンタクトガラスＣＧを透過した光は原稿カバーＣＶ（白色板）で反射される。
【００２６】
読取部４２は、原稿Ｄを光学的に読み取る。読取部４２は、イメージセンサー４２１を備える。イメージセンサー４２１は、主走査方向に並ぶ複数の光電変換素子を有する。イメージセンサー４２１は、コンタクトガラスＣＧからの光（光源４１の光）を受光する。原稿Ｄや原稿カバーＣＶで反射された光がイメージセンサー４２１に向かって進行する。イメージセンサー４２１は、コンタクトガラスＣＧからの光を受光すると、ライン単位で画素毎に光電変換して電荷を蓄積するとともに、蓄積電荷に応じた値（アナログ信号）を出力する。すなわち、イメージセンサー４２１は、受光量に応じた値を出力する。
【００２７】
また、読取部４２は、アナログ処理部４２２を備える。アナログ処理部４２２は、増幅回路やＡ／Ｄ変換回路などを含む。アナログ処理部４２２は、イメージセンサー４２１の出力値を増幅し、Ａ／Ｄ変換する。
【００２８】
光源４１および読取部４２は、スキャン制御部４０に接続される。スキャン制御部４０は、光源４１および読取部４２を制御する。また、スキャン制御部４２は、原稿Ｄの読み取りによって得られた画像データ（イメージセンサー４２１の出力値）に対して補正処理などを行い、処理済みの画像データをメイン制御部１に転送する。
【００２９】
光学部材４３は、光源４１の光を読取部４２（イメージセンサー４２１）に導く。光学部材４３は、ミラー４３１およびレンズ４３２を含む。ミラー４３１は、コンタクトガラスＣＧからの光をレンズ４３２に向けて反射する。レンズ４３２は、ミラー４３１で反射された光をイメージセンサー４２１に導く。これにより、イメージセンサー４２１に光が入射される。
【００３０】
また、画像読取装置４は、移動機構４４を備える。移動機構４４は、キャリッジ４４０を副走査方向（主走査方向と直交する方向）に移動させるための機構である。キャリッジ４４０には、光源４１が取り付けられる。また、キャリッジ４４０には、光学部材４３のうちミラー４３１が取り付けられる。
【００３１】
移動機構４４は、モーター４４１を備える。また、移動機構４４は、ワイヤー４４２および巻取ドラム４４３を備える。ワイヤー４４２は、キャリッジ４４０と巻取ドラム４４３とに連結される。巻取ドラム４４３は、モーター４４１の動力を受けて回転する。巻取ドラム４４３が回転することにより、キャリッジ４４０が副走査方向に移動する。すなわち、光源４１が副走査方向に移動する。
【００３２】
移動機構４４（モーター４４１）は、スキャン制御部４０に接続される。スキャン制御部４０は、モーター４４１を制御し、キャリッジ４４０（光源４１）を副走査方向に適切に移動させる。言い換えると、スキャン制御部４０は、キャリッジ４４０（光源４１）の副走査方向の位置を制御する位置制御を行う。
【００３３】
スキャン制御部４０にキャリッジ４４０の位置制御を行わせるため、画像読取装置４には光センサー４５が備えられる。光センサー４５は、たとえば、フォトインタラプタである。光センサー４５は、発光部４５１および受光部４５２を有する。光センサー４５は、検知片４０１を検知対象とする。
【００３４】
検知片４０１は、キャリッジ４４０に設置される。すなわち、検知片４０１は、キャリッジ４４０（光源４１）が副走査方向に移動すると、キャリッジ４４０と共に副走査方向に移動する。なお、キャリッジ４４０と検知片４０１とが一体的に形成されてもよい。
【００３５】
検知片４０１は上面および下面を有する板状であり、検知片４０１の上面には光を反射する反射面４０１ａが形成される。また、検知片４０１は、キャリッジ４４０側からその反対側に向かって斜め上方向に傾けられている。このように検知片４０１を傾けることにより、光源４１の光が検知片４０１の反射面４０１ａに入射し易くなる。検知片４０１の反射面４０１ａに入射した光は反射される。
【００３６】
光センサー４５は、発光部４５１と受光部４５２とが検知片４０１の移動経路を挟んで対向するよう設置される。なお、発光部４５１は検知片４０１の下面と対向し、受光部４５２は検知片４０１の反射面４０１ａ（上面）と対向する。
【００３７】
光センサー４５は、受光部４５２の受光量に応じて出力値を変化させる。発光部４５１と受光部４５２との間に検知片４０１があるときには、発光部４５１が発光しても、検知片４０１によって光が遮られるので、受光部４５２は受光しない。一方で、発光部４５１と受光部４５２との間に検知片４０１がないときには、発光部４５１が発光すると、受光部４５２が受光する。したがって、キャリッジ４４０（光源４１）の副走査方向の位置によって光センサー４５の出力値が変わる。
【００３８】
スキャン制御部４０は、メイン制御部１から原稿Ｄの読取指示を受けると、光センサー４５から出力される位置制御用の出力値に基づき、キャリッジ４４０（光源４１）の位置制御を行う。このとき、スキャン制御部４０は、キャリッジ４４０（光源４１）の副走査方向の位置を予め定められた基準位置に合わせる。なお、スキャン制御部４０は、発光部４５１が発光しているときの光センサー４５の出力値を位置制御用の出力値として検知する。
【００３９】
スキャン制御部４０は、キャリッジ４４０（光源４１）の副走査方向の位置を基準位置に合わせた後、移動機構４４を用いて、キャリッジ４４０を副走査方向の一方側（正面から見て右側）に移動させる。また、スキャン制御部４０は、キャリッジ４４０を副走査方向に移動させつつ、光源４１から光を出射させる。そして、スキャン制御部４０は、コンタクトガラスＣＧからの反射光の光電変換を読取部４２に連続して繰り返し行わせる。
【００４０】
＜検査処理＞
画像読取装置４に異常が発生している場合には、原稿Ｄを正常に読み取ることができない。その結果、読取画質が低下するという不都合が生じる。あるいは、原稿Ｄの読み取りそのものが行えなくなるという不都合も生じ得る。したがって、メンテナンス業者に依頼し、画像読取装置４のメンテナンス（部品清掃や部品交換など）を行ってもらう必要がある。
【００４１】
また、複合機１００の設置場所の温度や湿度によっては、画像読取装置４の内部において結露が発生する。たとえば、光学部材４３に結露が発生すると、読取画質が低下する。すなわち、画像読取装置４に異常が発生している状態になる。
【００４２】
ここで、光学部材４３に結露が発生しても、ある程度の時間が経てば、光学部材４３の結露は除去される。画像読取装置４にファンが設置されている場合には、ファンで換気することにより、光学部材４３の結露を除去することができる。また、画像読取装置４にヒーターが設置されている場合には、ヒーターの発熱を利用することにより、光学部材４３の結露を除去することができる。
【００４３】
したがって、光学部材４３の結露に起因する画像読取装置４の異常については、メンテナンス業者によるメンテナンスは不要である。しかし、画像読取装置４に発生している異常が光学部材４３の結露に起因するものであるか否かを判断するのは、ユーザーにとっては難しい。
【００４４】
そこで、スキャン制御部４０は、画像読取装置４に発生している異常（異常の発生個所や異常の内容）を特定する検査処理を行う。たとえば、スキャン制御部４０は、検査処理の結果を示す検査結果情報をメイン制御部１に通知する。メイン制御部１は、スキャン制御部４０から通知された検査結果情報の内容を認識し、当該認識した内容の報知を操作パネル３に行わせる。
【００４５】
ここで、図５に示すように、スキャン制御部４０に検査処理を行わせるため、イメージセンサー４２１（複数の光電変換素子）は第１領域Ａ１と第２領域Ａ２とに区分される。イメージセンサー４２１のうち、第１領域Ａ１は原稿Ｄの読み取り時には使用されず、第２領域Ａ２は原稿Ｄの読み取り時に使用される。第１領域Ａ１の光電変換素子は、光学部材４３を介さずに光源４１の光を直接受光する。第２領域Ａ２の光電変換素子は、光学部材４３を介して光源４１の光を受光する。図５では、光源４１から光学部材４３を介さずにイメージセンサー４２１（第１領域Ａ１）に直接向かう光を太線矢印で示す。
【００４６】
また、筐体４００の内部には、遮光部材４６が設置される。遮光部材４６は、第１遮光部材４６１および第２遮光部材４６２を含む。図５では、遮光部材４６をハッチングで示す。
【００４７】
第１遮光部材４６１は、光源４１の一方側（正面から見て右側）に設置される。すなわち、第１遮光部材４６１は、光源４１とイメージセンサー４２１との間に設置される。第１遮光部材４６１は、キャリッジ４４０に取り付けられる。第１遮光部材４６１とキャリッジ４４０とが一体的に形成されてもよい。第１遮光部材４６１は、板状であり、光源４１の一方側（右側）から見て光源４１を覆う位置に配置される。第１遮光部材４６１は、スリットＳＬ１（孔）を有する。これにより、光源４１の光の一部は、スリットＳＬ１を透過し、イメージセンサー４２１に直接向かう。光源４１の他の光は、コンタクトガラスＣＧに向かったり、第１遮光部材４６１で反射されたりする。
【００４８】
第２遮光部材４６２は、イメージセンサー４２１の他方側（正面から見て左側）に設置される。すなわち、第２透光部材４６１は、光源４１とイメージセンサー４２１との間に設置される。第２遮光部材４６２は、イメージセンサー４２１およびレンズ４３２が固定されたベース４５０に取り付けられる。第２遮光部材４６２は、スリット板４６２ａを含む。スリット板４６２ａは、スリットＳＬ２（孔）を有する。スリット板４６２ａは、イメージセンサー４２１の他方側（左側）から見て第１領域Ａ１を覆う位置に配置される。また、第２遮光部材４６２は、ベース４５０のうち、第１領域Ａ１側（背面側）の部分と第２領域Ａ２側（正面側）の部分とを副走査方向に仕切るように配置された仕切板４６２ｂを含む。
【００４９】
キャリッジ４４０（光源４１）が副走査方向の予め定められた検査位置にある状態において、光源４１の光がスリットＳＬ１を透過すると、スリットＳＬ１を透過した光は第１領域Ａ１に直接向かう。第１領域Ａ１に直接向かう直接光はスリットＳＬ２を透過して第１領域Ａ１に入射する。一方で、光学部材４３を介して第１領域Ａ１に向かう間接光（直接光以外の光）は、スリット板４６２ａや仕切板４６２ｂで遮られ、第１領域Ａ１に入射しない（スリットＳＬ２を透過しない）。図５では、キャリッジ４４０（光源４１）が検査位置にある状態を図示する。
【００５０】
なお、図４に示すように、キャリッジ４４０（光源４１）が検査位置にある状態では、光源４１が光を出射すると、光源４１の光は筐体４００や検知片４０１の反射面４０１ａで反射され、光センサー４５の受光部４５２に入射する。すなわち、光センサー４５（受光部４５２）は、キャリッジ４４０が検査位置にある状態で光源４１から出射された光を受光することが可能な位置に設置される。図４では、光源４１の光を破線矢印で示す。
【００５１】
スキャン制御部４０は、検査処理を行うとき、イメージセンサー４２１の第１領域Ａ１の受光量に応じた出力値である第１出力値を検知するとともに、イメージセンサー４２１の第２領域Ａ２の受光量に応じた出力値である第２出力値を検知する。また、スキャン制御部４０は、光センサー４５の受光部４５２の受光量に応じた出力値である第３出力値を検知する。そして、スキャン制御部４０は、第１出力値、第２出力値および第３出力値に基づき、画像読取装置４に発生している異常を特定する。
【００５２】
検査処理の実行指示は操作パネル３がユーザーから受け付ける。たとえば、操作パネル３は、検査処理の実行指示を受け付けるとき、検査処理に関するガイダンス画面（図示せず）を表示する。ガイダンス画面には、原稿カバーＣＶを閉じた状態でスタートボタンを操作するよう促すメッセージが配される。これにより、原稿カバーＣＶが閉じられ、その状態でスタートボタンが操作される。メイン制御部１は、ガイダンス画面の表示中、原稿カバーＣＶが閉じられた状態でスタートボタンが操作されたことを検知すると、検査処理の実行指示を受け付けたと判断し、スキャン制御部４０に検査処理を行わせる。
【００５３】
以下に、図６に示すフローチャートを参照し、スキャン制御部４０により行われる検査処理の流れを説明する。図６に示すフローチャートは、操作パネル３が検査処理の実行指示をユーザーから受け付けたとき（メイン制御部１がスキャン制御部４０に対して検査処理の実行を指示したとき）にスタートする。
【００５４】
ステップＳ１において、スキャン制御部４０は、移動機構４４を用いて、キャリッジ４４０（光源４０）を検査位置に移動させる。このとき、スキャン制御部４０は、光センサー４５から出力される位置制御用の出力値に基づき、キャリッジ４４０の副走査方向の位置を検査位置に合わせる。すなわち、スキャン制御部４０は、キャリッジ４４０の位置制御を行う。スキャン制御部４０は、キャリッジ４４０の副走査方向の位置を検査位置に合わせた後、光センサー４５の発光部４５１の発光を停止させる。
【００５５】
ステップＳ２において、スキャン制御部４０は、光源４１が検査位置にある状態で、光源４１を駆動させる。光源４１に異常が発生していなければ、光源４１は光を出射する。
【００５６】
光源４１が検査位置にある状態で光源４１から光が出射された場合には、光源４１から遮光部材４６のスリットＳＬ１およびＳＬ２を透過してイメージセンサー４２１に直接向かう光（光学部材４３を介さずにイメージセンサー４２１に直接向かう光）が発生する。光源４１から光学部材４３を介さずにイメージセンサー４２１に直接向かう光は第１領域Ａ１に入射する。
【００５７】
また、光源４１から光が出射された場合には、光源４１が検査位置にあるか否かにかかわらず、ミラー４３１で反射しレンズ４３２を透過してイメージセンサー４２１に向かう光（光学部材４３を介してイメージセンサー４２１に向かう光）が発生する。光源４１から光学部材４３を介してイメージセンサー４２１に向かう光は第２領域Ａ２に入射する。
【００５８】
なお、光源４１が検査位置にある状態で光源４１から光が出射された場合には、光源４１の光が筐体４００および検知片４０１の反射面４０１ａで反射される。これにより、光源４１の光は光センサー４５の受光部４５２にも入射される。
【００５９】
ステップＳ２の処理後、ステップＳ３に移行する。ステップＳ３に移行すると、スキャン制御部４０は、光源４１が検査位置にある状態で光源４１から光を出射させたときの第１〜第３出力値を検知する。たとえば、スキャン制御部４０は、第１領域Ａ１の光電変換素子の出力値の平均値を第１出力値として検知する。また、スキャン制御部４０は、第２領域Ａ２の光電変換素子の出力値の平均値を第２出力値として検知する。
【００６０】
そして、ステップＳ４において、スキャン制御部４０は、第１〜第３出力値がそれぞれ正常レベルであるか異常レベルであるかを判定する判定処理を行う。ここで、第１〜第３出力値のそれぞれごとに、判定基準となる閾値が予め定められ、スキャン制御部４０のメモリーに記憶される。スキャン制御部４０は、判定処理を行うとき、第１〜第３出力値のそれぞれについて、対応する閾値と比較し、正常レベルであるか異常レベルであるかを判定する。
【００６１】
たとえば、予め、第１〜第３出力値のそれぞれについて、正常時の値が求められ、正常時の値に基づき、対応する閾値が定められる。たとえば、イメージセンサー４２１の第１領域Ａ１の受光量が正常時の受光量に対して一定量以上少なければ、第１出力値が対応する閾値以下となり、第１出力値が異常レベルであると判定される。イメージセンサー４２１の第２領域Ａ２の受光量が正常時の受光量に対して一定量以上少なければ、第２出力値が対応する閾値以下となり、第２出力値が異常レベルであると判定される。光センサー４５の受光量が正常時の受光量に対して一定量以上少なければ、第３出力値が対応する閾値以下となり、第３出力値が異常レベルであると判定される。
【００６２】
ステップＳ５において、スキャン制御部４０は、判定処理の結果に基づき、画像読取装置４に異常が発生しているか否かを判断する。また、画像読取装置４に異常が発生している場合、スキャン制御部４０は、判定処理の結果に基づき、画像読取装置４に発生している異常を特定する。
【００６３】
以下に、図７に示す第１〜第８の例を参照し、画像読取装置４に発生している異常の特定方法について説明する。
【００６４】
まず、第１の例のように、第１出力値、第２出力値および第３出力値の全てが正常レベルであるとする。この場合、スキャン制御部４０は、画像読取装置４には異常が発生していないと判断する。
【００６５】
次に、第２の例のように、第１出力値および第３出力値が正常レベルであって第２出力値が異常レベルであるとする。第１出力値および第３出力値が正常レベルであるということは、光源４１には異常が発生していない（光源４１が正常に駆動している）ということである。また、第２出力値は異常レベルであるが第１出力値は正常レベルであるので、イメージセンサー４２１を含む読取部４２には異常が発生していないということである。
【００６６】
ここで、光学部材４３に異常（光学部材４３の結露など）が発生している場合には、イメージセンサー４２１の第２領域Ａ２の受光量が正常時の受光量に比べて減少し易い。したがって、読取部４２に異常が発生していなくても、第２出力値が異常レベルとなる可能性が高い。そこで、第１出力値および第３出力値が正常レベルであって第２出力値が異常レベルである場合、スキャン制御部４０は、光学部材４３に異常が発生していると判断する。
【００６７】
次に、第３の例のように、第１出力値が異常レベルであって第２出力値および第３出力値が正常レベルであるとする。第２出力値および第３出力値が正常レベルであるということは、光源４１には異常が発生していないということである。また、第１出力値は異常レベルであるが第２出力値は正常レベルであるので、イメージセンサー４２１を含む読取部４２には異常が発生していないということである。
【００６８】
ここで、光源４１の副走査方向の位置が検査位置に対して若干ずれていると、イメージセンサー４２１の第１領域Ａ１の受光量はずれていない場合に比べて減少するが、光センサー４５の受光部４５２の受光量はずれていない場合と略同じになる。結果的に、第１出力値が異常レベルとなるが第３出力値は正常レベルとなる。光源４１の副走査方向の位置が検査位置に対して若干ずれているということは、キャリッジ４４０（光源４１）の位置制御が正常に行われていないということである。そこで、第１出力値が異常レベルであって第２出力値および第３出力値が正常レベルである場合、スキャン制御部４０は、キャリッジ４４０の位置制御に異常が発生していると判断する。
【００６９】
次に、第４の例のように、第１出力値および第２出力値が異常レベルであって第３出力値が正常レベルであるとする。第３出力値が正常レベルであるということは、光源４１には異常が発生していないということである。
【００７０】
ここで、第１出力値および第２出力値のうち第２出力値だけが異常レベルであれば、光学部材４３に異常が発生している可能性が高い。しかし、第１出力値および第２出力値が共に異常レベルであれば、イメージセンサー４２１を含む読取部４２に異常が発生している可能性が高い。そこで、第１出力値および第２出力値が異常レベルであって第３出力値が正常レベルである場合、スキャン制御部４０は、イメージセンサー４２１を含む読取部４２に異常が発生していると判断する。
【００７１】
次に、第５の例のように、第１出力値および第２出力値が正常レベルであって第３出力値が異常レベルであるとする。第１出力値および第２出力値が正常レベルであるということは、光源４１には異常が発生しておらず、読取部４２にも異常が発生していないということである。
【００７２】
ここで、光源４１に異常が発生していないにもかかわらず、第３出力値が異常レベルであるということは、光センサー４５に異常が発生している可能性が高い。たとえば、光センサー４５に設置不良や感度低下が発生していると、光源４１の光が光センサー４５に入射されても、第３出力値が異常レベルになり得る。そこで、第１出力値および第２出力値が正常レベルであって第３出力値が異常レベルである場合、スキャン制御部４０は、光センサー４５に異常が発生していると判断する。
【００７３】
次に、第６の例のように、第１出力値および第３出力値が異常レベルであって第２出力値が正常レベルであるとする。第２出力値が正常レベルであるということは、光源４１には異常が発生しておらず、読取部４２にも異常が発生していないということである。
【００７４】
ここで、光源４１の副走査方向の位置が検査位置に対して大幅にずれていると、イメージセンサー４２１の第１領域Ａ１の受光量がずれていない場合に比べて減少し、光センサー４５の受光部４５２の受光量もずれていない場合に比べて減少する。結果的に、第１出力値および第３出力値が異常レベルとなる。光源４１の副走査方向の位置が検査位置に対して大幅にずれているということは、キャリッジ４４０（光源４１）の位置制御が正常に行われていないということである。そこで、第１出力値および第３出力値が異常レベルであって第２出力値が正常レベルである場合、スキャン制御部４０は、キャリッジ４４０の位置制御に異常が発生していると判断する。
【００７５】
次に、第７の例のように、第１出力値が正常レベルであって第２出力値および第３出力値が異常レベルであるとする。この場合、スキャン制御部４０は、読取部４２、光学部材４３、光センサー４５およびキャリッジ４４０の位置制御のうち２つ以上に異常が発生している（複合異常が発生している）と判断する。
【００７６】
次に、第８の例のように、第１出力値、第２出力値および第３出力値の全てが異常レベルであるとする。第１出力値、第２出力値および第３出力値の全てが異常レベルであるということは、光源４１が正常に駆動していない（光源４１が光を出射していない）ということである。このため、第１出力値、第２出力値および第３出力値の全てが異常レベルである場合、スキャン制御部４０は、光源４１に異常が発生していると判断する。
【００７７】
本実施形態の構成では、上記のように、イメージセンサー４２１が第１領域Ａ１と第２領域Ａ２とに区分される。第１領域Ａ１は、光学部材４３を介さずに光源４１の光を受光する。第２領域Ａ２は、光学部材４３を介して光源４１の光を受光する。スキャン制御部４０は、第１出力値（第１領域Ａ１の受光量に応じた出力値）および第２出力値（第２領域Ａ２の受光量に応じた出力値）がそれぞれ正常レベルであるか異常レベルであるかに基づき、画像読取装置４に発生している異常を特定する検査処理を行う。これにより、読取画質が低下している場合、光源４１、読取部４２および光学部材４３のいずれに異常が発生しているかを特定することができる。すなわち、画像読取装置４に発生している異常を詳細に特定することができる。
【００７８】
また、本実施形態の画像読取装置４は、上記のように、光源４１が副走査方向の予め定められた検査位置にある状態において、光源４１から光学部材４３を介さずに第１領域Ａ１に直接向かう直接光を透過しつつ直接光以外の間接光（光源４１から光学部材４３を介して第１領域Ａ１に向かう光や筐体４００で反射された光）の第１領域Ａ１への進行を遮る遮光部材４６を備える。スキャン制御部４０は、検査処理を行うとき、光源４１が検査位置にある状態で光源４１から光を出射させたときの第１出力値および第２出力値に基づき、画像読取装置４に発生している異常を特定する。この構成では、光源４１から光学部材４３を介さずに第１領域Ａ１に直接向かう直接光だけを第１領域Ａ１に入射させることができる。これにより、光源４１から光学部材４３を介して第１領域Ａ１に光が入射することに起因して検査処理の結果が不正確になる、という不都合が発生するのを抑制することができる。
【００７９】
また、本実施形態の画像読取装置４は、上記のように、光源４１を副走査方向に移動させる移動機構４４と、光源４１と共に副走査方向に移動する検知片４０１と、発光部４５１および受光部４５２を有し、発光部４５１と受光部４５２とが検知片４０１の移動経路を挟んで対向するよう設置された光センサー４５と、を備える。スキャン制御部４０は、発光部４５１の発光時に光センサー４５から出力される位置制御用の出力値に基づき、光源４１の副走査方向の位置を制御する位置制御を行い、検査処理を行うとき、移動機構４４を用いて光源４４を検査位置に移動させ、光源４１が検査位置にある状態で光源４１から光を出射させる。この構成では、容易に、第１領域Ａ１への間接光の入射を抑制しつつ第１領域Ａ１に直接光を入射させることができる。
【００８０】
また、本実施形態の構成では、上記のように、光源４１が検査位置にある状態で光源４１から出射された光を受光することが可能な位置に光センサー４５が設置される。スキャン制御部４０は、検査処理を行うとき、第１出力値および第２出力値が正常レベルであるか異常レベルであるかに加え、第３出力値（発光部４５１を発光させずに検知した光センサー４５の出力値）が正常レベルであるか異常レベルであるかに基づき、画像読取装置４に発生している異常を特定する。これにより、光センサー４５に異常が発生しているか否を特定することができるとともに、キャリッジ４４０の位置制御に異常が発生しているか否かを特定することができる。すなわち、画像読取装置４に発生している異常をより詳細に特定することができる。
【００８１】
今回開示された実施形態は、すべての点で例示であって、制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は、上記実施形態の説明ではなく特許請求の範囲によって示され、さらに、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれる。
【符号の説明】
【００８２】
４  画像読取装置
４０  スキャン制御部（制御部）
４１  光源
４２  読取部
４３  光学部材
４４  移動機構
４５  光センサー
４６  遮光部材
４０１  検知片
４２１  イメージセンサー
４５１  発光部
４５２  受光部
Ａ１  第１領域
Ａ２  第２領域
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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