(57)【要約】【課題】原稿の読み取り位置と異なる位置の白基準板の読み取り結果に基づいてシェーディング補正を行う際に、異物の影響を抑制する画像読取装置、画像読取装置の制御方法およびプログラムを提供する。【解決手段】画像読取装置は、搬送路を搬送される原稿の画像を読み取る読取手段と、搬送路を挟んで、原稿の画像の読み取り位置より遠い位置に設けられる白基準板と、白基準板の読み取り結果に応じた第１データと、濃度が一様な第２基準部材を読み取り位置に設置した際の第２基準部材の読み取り結果に応じた第２データとの比率を示す比率データに特異点が含まれていることが検知された場合、比率データから特異点を低減させる補正を行った補正データを記憶手段に記憶させる制御手段と、を備える。【選択図】図２
2020031360.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
搬送路を搬送される原稿の画像を読み取る読取手段と、
前記搬送路を挟んで、前記原稿の画像の読み取り位置より遠い位置に設けられる白基準板と、
前記白基準板の読み取り結果に応じた第１データと、濃度が一様な第２基準部材を前記読み取り位置に設置した際の前記第２基準部材の読み取り結果に応じた第２データとの比率を示す比率データに特異点が含まれていることが検知された場合、前記比率データから前記特異点を低減させる補正を行った補正データを記憶手段に記憶させる制御手段と、
を備えることを特徴とする画像読取装置。
【請求項２】
前記制御手段は、前記比率データのうち所定範囲の画素毎の平均値データを算出し、前記比率データから前記平均値データを減算すること、
を特徴とする請求項１記載の画像読取装置。
【請求項３】
前記制御手段は、前記比率データから前記平均値データを減算したデータと所定の閾値とを、画素毎に比較して、前記特異点があるか否かを検出すること、
を特徴とする請求項２記載の画像読取装置。
【請求項４】
前記制御手段は、前記特異点が検出された場合、または前記特異点が検出された画素の周囲の所定画素に前記特異点が検出された場合に、フラグをセットし、フラグがセットされたか否かに応じて、前記比率データに対して異なる移動平均を適用する、
ことを特徴とする請求項３記載の画像読取装置。
【請求項５】
前記制御手段は、前記フラグがセットされていない画素には、当該画素を含む前記周囲の所定画素に対して移動平均を適用し、前記フラグがセットされている画素には、前記比率データの値が最大から所定数の画素および最小から所定数の画素を除去した残りの複数の画素に対して移動平均を適用する、
ことを特徴とする請求項４記載の画像読取装置。
【請求項６】
前記制御手段は、各画素の移動平均値を前記補正データとして前記記憶手段に記憶させる、
ことを特徴とする請求項４または５記載の画像読取装置。
【請求項７】
前記原稿の画像の読み取りが行われる際に、読み取られた前記原稿の画像データに対してシェーディング補正を行う補正手段を、さらに備え、
前記制御手段は、前記シェーディング補正を行う際に用いられるシェーディング係数を前記補正データに基づいて補正すること、
を特徴とする請求項１乃至６のうち何れか１項に記載の画像読取装置。
【請求項８】
搬送路を搬送される原稿の画像を読み取る読取手段と、前記搬送路を挟んで、前記原稿の画像の読み取り位置より遠い位置に設けられる白基準板と、を有する画像読取装置の制御方法であって、
前記白基準板の読み取り結果に応じた第１データと、濃度が一様な第２基準部材を前記読み取り位置に設置した際の前記第２基準部材の読み取り結果に応じた第２データとの比率を示す比率データに特異点が含まれていることが検知された場合、前記比率データから前記特異点を低減させる補正を行った補正データを記憶手段に記憶させる工程、
を備えることを特徴とする画像読取装置の制御方法。
【請求項９】
請求項８記載の画像読取装置の制御方法をコンピュータに実行させるためのプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、原稿の画像を読み取る画像読取装置、画像読取装置の制御方法およびプログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
例えば、複写機やファクシミリ等の画像形成装置に、原稿の画像を読み取る画像読取装置が適用される。画像読取装置では、原稿の画像を読み取った際の輝度ムラを補正するシェーディング補正が行われる。シェーディング補正を行う画像読取装置に関する技術が特許文献１に提案されている。この技術では、原稿の表裏両面の画像を一度に読み取ることが可能な構成となっており、表面読み取り部と裏面読み取り部とが、流し読みガラスを挟んで対向配置された構成となっている。そして、表面読み取り部の光路を阻害しない位置であってガラスの原稿搬送面と反対面に、裏面読み取り部の光学系の補正を行う白基準板が設けられた構成となっている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００２−３３５３８０号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
イメージセンサや照明の光学的な読み取りムラを補正するためのシェーディング補正板（白基準板）の位置は、原稿の読み取り位置とは異なるため、両者の位置の照明輝度分布に差が生じる。このため、シェーディング補正板の読み取りにより生成されるシェーディング係数を用いてシェーディング補正が行われると、原稿の画像にムラ等が生じることがある。そこで、白基準板をサンプリングしたデータと、白基準板とは異なる基準部材を原稿搬送面に設置してサンプリングしたデータとの相関に基づいて、シェーディング係数を生成することで、原稿の画像のムラ等を低減したシェーディング補正が可能となる。
【０００５】
しかしながら、白基準板または基準部材にゴミ等の異物が付着していると、白基準板または基準部材がサンプリングされる際にサンプリングされたデータは、ゴミ等の影響を含む異常なデータとなる。当該異常なデータに基づいて、シェーディング補正がされると、シェーディング補正された画像に画像スジが発生し、読み取られた原稿の画像データの画質が劣化する。
【０００６】
本発明の目的は、原稿の読み取り位置と異なる位置の白基準板の読み取り結果に基づいてシェーディング補正を行う際に、異物の影響を抑制する画像読取装置、画像読取装置の制御方法およびプログラムを提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記目的を達成するために、本発明の画像読取装置は、搬送路を搬送される原稿の画像を読み取る読取手段と、前記搬送路を挟んで、前記原稿の画像の読み取り位置より遠い位置に設けられる白基準板と、前記白基準板の読み取り結果に応じた第１データと、濃度が一様な第２基準部材を前記読み取り位置に設置した際の前記第２基準部材の読み取り結果に応じた第２データとの比率を示す比率データに特異点が含まれていることが検知された場合、前記比率データから前記特異点を低減させる補正を行った補正データを記憶手段に記憶させる制御手段と、を備えることを特徴とする。
【発明の効果】
【０００８】
本発明によれば、原稿の読み取り位置と異なる位置の白基準板の読み取り結果に基づいてシェーディング補正を行う際に、異物の影響を抑制することができる。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】実施形態の画像読取装置の構成例を示す図である。
【図２】画像読取装置の動作を制御するための制御系統の構成図である。
【図３】原稿読み取りユニットの読み取り状態を示す図である。
【図４】バックアップメモリに格納されるデータの生成方法の流れを示すフローチャートである。
【図５】点光源および線光源の主走査方向の輝度分布を表すグラフである。
【図６】主走査方向における比率データおよび移動平均値を表すグラフである。
【図７】主走査方向における平均値データおよび異物判定データを表すグラフである。
【図８】主走査方向における各画素の異物判定データと異物判定閾値との関係を示したグラフおよび異物近傍の画素における異物判定データを示すグラフである。
【図９】移動平均フラグを生成する処理の流れを示すフローチャートである。
【図１０】移動平均処理の流れを示すフローチャートである。
【図１１】主走査方向における各画素の比率を表すグラフおよび当該グラフを拡大したグラフである。
【図１２】画像読取装置が原稿を読み取る動作の流れを示すフローチャートである。
【図１３】ＣＰＵにより読み取られる各種のデータのグラフである。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
以下、本発明の各実施の形態について図面を参照しながら詳細に説明する。しかしながら、以下の各実施の形態に記載されている構成はあくまで例示に過ぎず、本発明の範囲は各実施の形態に記載されている構成によって限定されることはない。
【００１１】
図１は、実施形態の画像読取装置１２０の構成例を示す図である。図１における画像読取装置１２０には、自動原稿搬送機構が搭載されている。画像読取装置１２０は、原稿トレイ１０１、原稿読み取りユニット１０６、排紙トレイ１０８、原稿読み取りガラス１１９、原稿ピックローラー１２１、原稿分離ローラー１２２、原稿搬送ローラー１２３および原稿オフセットローラ１２４を有する。また、画像読取装置１２０は、白基準板１２５、原稿台ガラス１２６および後述する基準部材５００を有する。原稿トレイ１０１は、読み取り前の原稿１０２を積載するトレイである。以下、原稿１０２は、白紙の原稿であるものとする。
【００１２】
原稿読み取りユニット１０６は、原稿読み取りガラス１１９と原稿台ガラス１２６との間を搬送される原稿１０２を読み取る読取手段である。原稿読み取りユニット１０６は、原稿１０２の画像の読み取りが終了すると、原稿１０２を排紙トレイ１０８に排出する。また、後述する原稿搬送モータ１０５は、原稿ピックローラー１２１、原稿分離ローラー１２２、原稿搬送ローラー１２３および原稿オフセットローラ１２４を駆動する。これにより、原稿トレイ１０１上に載置された原稿１０２が給紙されていき、給紙された原稿１０２は原稿台ガラス１２６上を搬送される。搬送路としての原稿台ガラス１２６を挟んで、原稿台ガラス１２６を搬送される原稿１０２の原稿読取位置Ｐと対向した位置（反対側の位置）に白基準板１２５が配置される。白基準板１２５は、シェーディング係数を生成する際に用いられる部材である。
【００１３】
原稿読み取りユニット１０６は、原稿読み取り位置Ｐの原稿面に対して、後述するＬＥＤ光源２０１が出力した光を原稿１０２に照射する導光体２０２、ＣＩＳ（Ｃｏｎｔａｃｔ  Ｉｍａｇｅ  Ｓｅｎｓｏｒ）２０３およびレンズ２０４、を有する。ＣＩＳ２０３は、レンズ２０４にて導かれた原稿１０２からの反射光を受光素子で光電変換し、入射光量に応じた電気信号を出力するラインセンサである。以上の構成により、画像読取装置１２０は、原稿１０２を搬送させながら、原稿読み取り位置Ｐで原稿１０２の画像を読み取る。
【００１４】
図２は、本実施形態における画像読取装置１２０の動作を制御するための制御系統の構成図である。ＣＰＵ４０１は、画像読取装置１２０を制御する制御手段であり、ＬＥＤ光源２０１、ＣＩＳ２０３、原稿搬送モータ１０５およびバックアップメモリ４０２を制御し、原稿１０２の画像の読み取り制御を行う。ＣＩＳ２０３が読み取った原稿１０２の濃度に応じた電気信号は、Ａ／Ｄ変換回路４０３によりアナログ電気信号からデジタル画像信号に変換される。補正手段としてのシェーディング補正回路４０４は、Ａ／Ｄ変換回路４０３が出力したデジタル画像信号に対して、ＬＥＤ光源２０１の光量の不均一性の影響やＣＩＳ２０３の画素毎の感度ばらつきの影響を補正する。バックアップメモリ４０２は、白基準板１２５の照明輝度分布データと、原稿読み取り位置Ｐで基準部材５００を読み取った照明輝度分布データとの相関データや、後述する補正データ（移動平均値Ｊ（ｎ））を記憶しておくための不揮発性のメモリである。制御手段としてのＣＰＵ４０１は、バックアップメモリ４０２に対してリードライドを行うことができ、ＣＰＵ４０１を介して、シェーディング補正回路４０４との間でデータの入出力が可能になっている。基準部材５００は、主走査方向に濃度が一様な部材であり、明るさには限定がない。基準部材５００は、例えば、白色の部材である。ＲＡＭ４０５は、バックアップメモリ４０２やシェーディング補正回路４０４のデータを一時的に格納する際に、ＣＰＵ４０１が使用するＲＡＭであり、例えば、ＳＲＡＭが適用される。ＣＰＵ４０１は、ＲＡＭ４０５との間でデータの入出力を行うことが可能になっている。
【００１５】
次に、シェーディング補正回路４０４で行うシェーディング補正について説明する。シェーディング補正回路４０４は、ＬＥＤ光源２０１の光量の不均一性の影響やＣＩＳ２０３の画素毎の感度ばらつきの影響を補正（シェーディング補正）する。実施形態のシェーディング補正回路４０４は、Ａ／Ｄ変換回路４０３が出力したデジタル画像信号に対して、ＣＩＳ２０３の画素毎に以下の演算を行う。
【００１６】
「シェーディング補正出力値（ｎ）＝原稿読み取り値（ｎ）／シェーディング係数（ｎ）×読み取り目標値」・・・（式１）
【００１７】
上記式１の値「ｎ」は、ＣＩＳ２０３の画素位置を示す。読み取り目標値は、白基準板１２５の白基準原稿を読み取ったときの読み取り値の目標値であり、所定の値に設定することが可能である。シェーディング係数は、シェーディング補正に用いられる係数である。
【００１８】
シェーディング補正回路４０４は、ＣＰＵ４０１の制御により、シェーディング係数を乗算せずに、原稿読み取り値（ｎ）をそのまま出力することも可能である。この場合、
「シェーディング補正出力値（ｎ）＝原稿読み取り値（ｎ）」となる。原稿読み取り値（ｎ）をそのまま出力する動作を、以下、「シェーディング補正オフ」とする。シェーディング補正回路４０４は、バックアップメモリ４０２に格納された相関データに基づいて生成されるシェーディング係数を、ＣＰＵ４０１からシェーディング補正回路４０４へ設定する。上記相関データは、後述する比率データＤ（ｎ）に対応する。
【００１９】
図３は、原稿読み取りユニット１０６の読み取り状態を示す図である。図３（ａ）は、原稿読み取り位置Ｐに何も設置されておらず、原稿読み取りユニット１０６が白基準板１２５を読み取れる配置関係になっていることを示す図である。図３（ｂ）は、原稿読み取り位置Ｐに基準部材５００が設置されており、原稿読み取りユニット１０６が基準部材５００を読み取れる配置関係になっていることを示す図である。基準部材５００は、後述するバックアップデータの生成において、例えば、作業者により、図５（ｂ）に示される位置に設置される。
【００２０】
図４は、バックアップメモリ４０２に格納されるデータの生成方法の流れを示すフローチャートである。ＣＰＵ４０１は、原稿１０２の読み取り開始を示す読み取り開始信号を検知すると、読み取り設定を行う（Ｓ１０００）。具体的には、ＣＰＵ４０１は、ＬＥＤ光源２０１を点灯する制御を行うとともに、ＣＩＳ２０３に対して読み取り制御を行う。この際、ＣＰＵ４０１は、シェーディング補正オフにする制御を行う。これにより、シェーディング補正回路４０４は、シェーディング係数を乗算せずに、原稿読み取り値（ｎ）をそのまま出力する。そして、原稿台ガラス１２６に基準部材５００が設置されていない状態で、ＣＰＵ４０１は、白基準板１２５のデータをサンプリングする（Ｓ１００１）。具体的には、白基準板１２５の読み取りデータＡ（ｎ）を、ＲＡＭ４０５へ格納する。読み取りデータＡ（ｎ）は、白基準板１２５の照明輝度分布データ（第１データ）である。
【００２１】
次に、原稿台ガラス１２６に基準部材５００が設置されている状態で、ＣＰＵ４０１は、基準部材５００のデータをサンプリングする（Ｓ１００２）。例えば、白基準板１２５のデータのサンプリングが行われた後、作業者が、原稿台ガラス１２６に基準部材５００を設置した状態で、読み取り開始操作を行う。この読み取り開始操作をトリガとして検知して、ＣＰＵ４０１は、基準部材５００のデータのサンプリングを開始することができる。Ｓ１００２の処理により、ＣＰＵ４０１は、基準部材５００の読み取りデータＣ（ｎ）を、ＲＡＭ４０５のうち、読み取りデータＡ（ｎ）とは異なる領域に格納する。読み取りデータＣ（ｎ）は、基準部材５００を読み取った照明輝度分布データ（第２データ）である。
【００２２】
図５（ａ）および（ｂ）は、主走査方向の輝度分布を表すグラフであり、破線は、読み取りデータＡ（ｎ）のグラフを表し、実線は、読み取りデータＣ（ｎ）のグラフを表す。図５（ａ）は、ＬＥＤ光源２０１が、点光源であることを想定したときの異なる読み取り位置における主走査方向の輝度分布（以下、主走査輝度分布とする）を表したグラフである。図５（ｂ）は、線光源としてのＬＥＤ２０１、および導光体２０２による異なる読み取り位置における輝度分布を表したグラフである。上述したように、読み取りデータＡ（ｎ）は、白基準板１２５の読み取りデータである。白基準板１２５は、読み取り位置Ｐよりも原稿台ガラス１２６の厚さの分、原稿読み取りユニット１０６から遠くなる。従って、図５（ｂ）の破線で示される読み取りデータＡ（ｎ）は、絶対輝度が低く、かつ光路長が長いため導光体２０２から照射される光が主走査方向に十分に拡散されることに起因して、主走査方向にブロードなデータとなる特性を持つ。また、読み取りデータＡ（ｎ）は、図５（ｂ）に示されるように、主走査方向における中央部に対して、端部の輝度が低くなるという特性を持つ。図５（ｂ）の破線に示す導光体２０２による照明輝度分布を、図５（ａ）の破線に示されるように点光源のアレイであると考えると、白基準板１２５の読み取りデータＡ（ｎ）は、主走査中央部よりも端部が暗くなるデータとなる。
【００２３】
一方、実線で示される読み取りデータＣ（ｎ）は、白基準板１２５より、原稿読み取りユニット１０６から近い位置（読み取り位置Ｐ）で、基準部材５００を読み取っている。このため、読み取りデータＣ（ｎ）は、図５（ｂ）の破線に示されるように、絶対輝度が高く、かつ光路長が短いため導光体２０２から照射される光が主走査方向に十分に拡散しきらずに、主走査方向にピークを持つデータとなる特性を持つ。また、読み取りデータＣ（ｎ）は、図５（ｂ）の実線に示すように主走査方向における中央部に対して、端部の読み取りデータがほぼフラットになる特性を持つ。導光体２０２による照明輝度分布を、図５（ａ）の実線に示される点光源のアレイであると考えると、基準部材５００の読み取りデータＣ（ｎ）は、主走査方向の中央部と端部とがほぼフラットな読み取りデータとなる。
【００２４】
図４に示されるように、ＣＰＵ４０１は、読み取りデータＡ（ｎ）を読み取りデータＣ（ｎ）で除算して、比率データＤ（ｎ）を生成する（Ｓ１００３）。このため、ＣＰＵ４０１は、ＲＡＭ４０５から、読み取りデータＡ（ｎ）および読み取りデータＣ（ｎ）を取得して、Ｓ１００３の演算「Ｄ（ｎ）＝Ｃ（ｎ）／Ａ（ｎ）」を行う。ＣＰＵ４０１は、算出された比率データＤ（ｎ）を、ＲＡＭ４０５のうち、読み取りデータＡ（ｎ）および読み取りデータＣ（ｎ）とは異なる領域に格納する。
【００２５】
図６（ａ）は、主走査方向における画素の輝度を表すグラフである。実線は、読み取りデータＡ（ｎ）で表され、点線は、読み取りデータＣ（ｎ）で表される。上述したように、読み取りデータＡ（ｎ）は、原稿読み取りユニット１０６を基準として、読み取り位置Ｐよりも遠い位置の白基準板１２５を読み取ったデータである。一方、読み取りデータＣ（ｎ）は、読み取り位置Ｐに設置された基準部材５００を読み取ったデータである。従って、読み取りデータＡ（ｎ）の輝度は、読み取りデータＣ（ｎ）の輝度よりも低い。ここで、図６（ａ）に示されるように、基準部材５００に、ゴミ等の異物が付着していたとする。読み取りデータＡ（ｎ）には、異物の影響が反映される。白基準板１２５に異物が付着していた場合には、読み取りデータＣ（ｎ）に、異物の影響が反映される。
【００２６】
図６（ｂ）は、主走査方向における比率データＤ（ｎ）表すグラフである。読み取りデータＡ（ｎ）に異物の影響が反映されているため、比率データＤ（ｎ）には、異物の影響が反映された特異点が存在する。また、読み取りデータＡ（ｎ）および読み取りデータＣ（ｎ）には、上述した波形の形状の特徴がある。従って、比率データＤ（ｎ）は、主走査方向における端部の輝度が大きくなる。また、比率データＤ（ｎ）は、主走査方向における中央部においては、ほぼフラットであるが、ムラをもつデータとなる。上述したように、基準部材５００は、白色の部材として説明しているが、ハーフトーンなどの中間調の部材であっても主走査方向の波形形状そのものは変わらない。
【００２７】
ＣＰＵ４０１は、ＣＩＳ２０３の各画素のそれぞれの比率データＤ（ｎ）を所定範囲の画素毎に分割し、分割された領域（以下、主走査方向領域とする）毎に平均値を算出する（Ｓ１００４）。具体的には、以下の式２の演算をＣＩＳ２０３の主走査方向の全ての画素領域に対して行う。
【００２８】
「Ｘ（ｋ＋１）＝（Ｄ（ｋｐ＋１）＋Ｄ（ｋｐ＋２）＋・・・・Ｄ（（ｋ＋１）×ｐ））/ｐ」・・・（式２）
【００２９】
上記式２において、「ｋ」は、「０」から「ｍ−１」までの定数を表し、「Ｘ（ｋ）」は、主走査領域毎の平均値（平均値データ）を表し、「ｍ」は、主走査領域分割数を表し、「ｎ」は、主走査画素数を表し、「ｐ」は「ｐ＝ｎ/ｍ」を表す。
【００３０】
上記式２において、例えば、ｍ＝２４、ｎ＝５１８４であるとすると、ｐ＝２１６となる。この場合、Ｘ（１）〜Ｘ（２４）は、以下のようになる。
Ｘ（１）＝（Ｄ（１）＋Ｄ（２）＋・・・・Ｄ（２１６））/２１６
Ｘ（２）＝（Ｄ（２１７）＋Ｄ（２１８）＋・・・・Ｄ（４３２））/２１６
・・・
Ｘ（２４）＝（Ｄ（４９６９）＋Ｄ（４９７０）＋・・・・Ｄ（５１８４））/２１６
【００３１】
上記において、Ｘ（３）〜Ｘ（２３）を省略しているが、Ｘ（３）〜Ｘ（２３）は、上記式（２）により得られる。
【００３２】
図７（ａ）は、主走査方向における上記の主走査領域毎の平均値データＸ（ｋ）を表すグラフである。図７（ａ）のグラフの例では、平均値データＸ（１）〜Ｘ（２４）が破線で表されている。上述したように、Ｄ（ｎ）は、主走査方向に均一なデータではないため、ＣＰＵ４０１は、主走査領域を細かく分割し、波形形状に応じた平均値データをそれぞれの領域で算出している。
【００３３】
次に、ＣＰＵ４０１は、以下の式３のように、ＣＩＳ２０３の画素毎に、比率データＤ（ｎ）から平均値データＸ（ｋ＋１）を減算して、異物判定データＹ（ｎ）を生成する（Ｓ１００５）。
【００３４】
「Ｙ（ｎ）＝Ｄ（ｎ）−Ｘ（ｋ＋１）」・・・（式３）
【００３５】
ただし、「ｎ＝１〜５１８４」であり、「ｎ」と「ｐ」との関係は、以下のように規定される。「ｎ≦ｐ」のときには「ｋ＝０」、「ｐ＋１≦ｎ≦２ｐ」のときには「ｋ＝１」となり、最後に、「２３ｐ＋１≦ｎ≦２４ｐ」のときには「ｋ＝２３」となる。「ｋ＝２〜２２」についても同様である。図７（ｂ）は、異物判定データＹ（ｎ）の波形を示す。ＣＰＵ４０１は、所定の主走査領域毎に求めた平均値データＸ（ｎ）と比率データＤ（ｎ）との差分を各画素で算出している。このため、ＣＰＵ４０１は、比率データＤ（ｎ）がもともと有している波形形状に依らず、異物に応じた特異点を算出することが可能となる。
【００３６】
上述したように、比率データＤ（ｎ）は、主走査方向における中央部においては、ほぼフラットであるが、ムラをもつデータである。異物判定データＹ（ｎ）は、平均値データＸ（ｎ）と比率データＤ（ｎ）との差分を各画素で算出した結果であるため、比率データＤ（ｎ）が持つ上記のムラの影響が低減され、異物に応じた特異点を算出することが可能となる。
【００３７】
ＣＰＵ４０１は、主走査方向におけるＣＩＳ２０３の全ての画素について、異物データＹ（ｎ）の絶対値が所定の閾値（異物判定閾値Ｆ）以上であるか否かに基づいて、異物フラグＢ（ｎ）を生成する（Ｓ１００６）。つまり、「｜Ｙ（ｎ）｜＜Ｆ」のときには「Ｂ（ｎ）＝０」となり、「｜Ｙ（ｎ）｜≧Ｆ」のときには「Ｂ（ｎ）＝１」となる。異物判定閾値Ｆは、異物を検知するための異物判定閾値である。ＣＰＵ４０１は、各画素について生成した異物フラグＢ（ｎ）を、ＲＡＭ４０５に格納する。図８（ａ）は、主走査方向における各画素の異物判定データＹ（ｎ）と異物判定閾値Ｆとの関係を示したグラフであり、図８（ｂ）は、図８（ａ）のグラフのうち、異物近傍の画素における異物判定データＹ（ｎ）を示す。図８（ｂ）のグラフの例では、Ｙ（３０００）〜Ｙ（３００７）までが、異物判定閾値「−Ｆ」を下回っている。このため、ＣＰＵ４０１は、Ｙ（３０００）〜Ｙ（３００７）までの画素の異物フラグＢ（ｎ）が「１」であると判定する。つまり、当該画素に異物があることが検知される。
【００３８】
次に、ＣＰＵ４０１は、異物フラグＢ（ｎ）に応じて移動平均フラグＨ（ｎ）を生成する（Ｓ１００７）。図は、移動平均フラグＨ（ｎ）を生成する処理の流れを示すフローチャートである。ＣＰＵ４０１は、各画素の位置を示す「ｎ」に値「１」をセットする（Ｓ２０００）。ＣＰＵ４０１は、ＲＡＭ４０５に記憶されている各画素の異物フラグＢ（ｎ）を参照する（Ｓ２００１）。ＣＰＵ４０１は、異物フラグＢ（ｎ）の値が「０」であるか否かを判定する（Ｓ２００２）。Ｓ２００２でＮＯと判定された場合、異物フラグＢ（ｎ）の値は「１」であり、ＣＰＵ４０１は、移動平均フラグＨ（ｎ）に値「１」をセットする（Ｓ２００３）。Ｓ２００２でＹＥＳと判定された場合、注目画素「ｎ」の異物フラグＢ（ｎ）の値が「０」であるため、ＣＰＵ４０１は、注目画素「ｎ」に異物がないことを認識できる。
【００３９】
実施形態では、ＣＰＵ４０１は、注目画素「ｎ」の周囲の所定画素（以下、所定画素は１０画素とする）に異物があるか否かを判定する（Ｓ２００４）。ＣＰＵ４０１は、注目画素「ｎ」の異物フラグＢ（ｎ）の値が「０」であっても、注目画素「ｎ」の前後１０画素の範囲に異物フラグＢ（ｎ）の値が「１」である画素があるか否かをサーチする。サーチする画素の範囲は、１０画素でなくても、任意の画素数であってよい。Ｓ２００４の判定でＮＯと判定された場合、ＣＰＵ４０１は、注目画素の周囲の所定画素に異物があったとして、Ｓ２００３の処理を行うことで、移動平均フラグＨ（ｎ）を「１」にセットする。「ｎ」は「１〜５１７４」の整数である。従って、「ｎ＜１０」の場合、ＣＰＵ４０１は、「１画素からｎ画素」までの範囲でＳ２００４の判定（サーチ）を行い、「ｎ≧５１７３」の場合、ＣＰＵ４０１は、「５１７３画素からｎ画素」までの範囲でＳ２００４の判定を行う（サーチを行う）。
【００４０】
Ｓ２００４でＹＥＳと判定された場合、ＣＰＵ４０１は、注目画素そのもの、および注目画素の周囲にも異物がなかったとして移動平均フラグＨ（ｎ）に値「０」をセットする。以上により、移動平均フラグＨ（ｎ）に、値「１」または「０」がセットされる。ＣＰＵ４０１は、「ｎ」をインクリメントし（Ｓ２００７）、注目画素を次の画素に移す。ＣＰＵ４０１は、「ｎ」が「５１８４」に達したか否かを判定する（Ｓ２００８）。Ｓ２００８でＮＯと判定された場合、フローはＳ２００１に移行する。Ｓ２００８でＹＥＳと判定された場合、注目画素は「５１８４画素」にまで達したため、移動平均フラグ生成処理は、終了する。
【００４１】
次に、ＣＰＵ４０１は、移動平均フラグＨ（ｎ）に基づいて、各画素に対する移動平均処理を行う。図１０は、移動平均処理の流れを示すフローチャートである。ＣＰＵ４０１は、「ｎ」に値「１」をセットする（Ｓ３０００）。ＣＰＵ４０１は、ＲＡＭ４０５に記憶されている各画素の移動平均フラグＨ（ｎ）を参照する（Ｓ３００１）。ＣＰＵ４０１は、移動平均フラグＨ（ｎ）の値が「０」であるか否かを判定する（Ｓ３００２）。Ｓ３００２でＮＯと判定された場合、移動平均フラグＨ（ｎ）の値は「０」であり、ＣＰＵ４０１は、注目画素および、周辺画素にも異物がないものとして、注目画素の前後１０画素で移動平均の演算を行う（Ｓ３００３）。
【００４２】
ここで、Ｓ３００３における移動平均の演算について説明する。ＣＰＵ４０１は、注目画素および注目画素の前後１０画素の合計２１画素の比率データＤ（ｎ）を用いて以下の演算を行う。
ｋ: 注目画素（１〜５１８４）
Ｊ（ｋ）:ｋ画画目の移動平均値
Ｄ（ｋ）:ｋ画素目の比率データ
としたときに、ｋの値により、以下の３通りの演算が行われる。まず、「ｋ＝１〜１０」の場合には、以下の（ｉ）の演算が行われる。
（ｉ）ｋ＝１〜１０の場合
ｋ＝１のとき「Ｊ（１）＝（Ｄ１×１１＋Ｄ１＋Ｄ２＋Ｄ３＋Ｄ４＋Ｄ５＋Ｄ６＋Ｄ７＋Ｄ８＋Ｄ９＋Ｄ１０)／２１」
ｋ＝２のとき「Ｊ（２）＝（Ｄ１×１０＋Ｄ１＋Ｄ２＋Ｄ３＋Ｄ４＋Ｄ５＋Ｄ６＋Ｄ７＋Ｄ８＋Ｄ９＋Ｄ１０＋Ｄ１１）/２１」
ｋ＝３のとき「Ｊ（３）＝（Ｄ１×９＋Ｄ１＋Ｄ２＋Ｄ３＋Ｄ４＋Ｄ５＋Ｄ６＋Ｄ７＋Ｄ８＋Ｄ９＋Ｄ１０＋Ｄ１１＋Ｄ１２）／２１」
・・・
ｋ＝１０のとき「Ｊ（１０）＝（Ｄ１×２＋Ｄ１＋Ｄ２＋Ｄ３＋Ｄ４＋Ｄ５＋Ｄ６＋Ｄ７＋Ｄ８＋Ｄ９＋Ｄ１０＋Ｄ１１＋Ｄ１２＋Ｄ１３＋ … ＋Ｄ１９）/２１」
ｋ＝４〜９についても、ｋの値が大きくなるに応じて、分子のＤ１に乗じる値が小さくなり、比率データＤ（ｎ）の数の合計が２１である点は、上記と同様である。
【００４３】
次に「ｋ＝１１〜５１７３」の場合には、以下の（ｉｉ）の演算が行われる。
（ｉｉ）ｋ＝１１〜５１７３の場合
【００４４】
【数１】
2020031360.tif 000003
【００４５】
（ｉｉｉ）ｋ＝５１７４〜５１８４の場合
ｋ＝５１７４のとき
Ｊ（５１７４）＝（Ｄ５１８４×２＋Ｄ５１８３＋Ｄ５１８２＋Ｄ５１８１＋Ｄ５１８０＋Ｄ５１７９＋Ｄ５１７８＋Ｄ５１７７＋Ｄ５１７６＋Ｄ５１７５＋Ｄ５１７４＋Ｄ５１７３＋Ｄ５１７２＋Ｄ５１７１＋Ｄ５１７０＋Ｄ５１６９＋Ｄ５１６８＋Ｄ５１６７＋Ｄ５１６６＋Ｄ５１６５）/２１
ｋ＝５１７５のとき
Ｊ（５１７５）＝（Ｄ５１８４×３＋Ｄ５１８３＋Ｄ５１８２＋Ｄ５１８１＋Ｄ５１８０＋Ｄ５１７９＋Ｄ５１７８＋Ｄ５１７７＋Ｄ５１７６＋Ｄ５１７５＋Ｄ５１７４＋Ｄ５１７３＋Ｄ５１７２＋Ｄ５１７１＋Ｄ５１７０＋Ｄ５１６９＋Ｄ５１６８＋Ｄ５１６７＋Ｄ５１６６）/２１
ｋ＝５１８４のとき
Ｊ（５１８４）＝（Ｄ５１８４×１１＋Ｄ５１８３＋Ｄ５１８２＋Ｄ５１８１＋Ｄ５１８０＋Ｄ５１７９＋Ｄ５１７８＋Ｄ５１７７＋Ｄ５１７６＋Ｄ５１７５＋Ｄ５１７４）/２１
ｋ＝５１７６〜５１７３について、ｋの値が大きくなるに応じて、分子のＤ５１８４に乗じる値が大きくなり、比率データＤの数の合計が２１である点は、上記と同様である。ＣＰＵ４０１は、上述して得られる移動平均値Ｊ（ｎ）を、補正データとしてＲＡＭ４０５に格納する。
【００４６】
Ｓ３００２でＮＯと判定された場合、ＣＰＵ４０１は、移動平均フラグＨ（ｎ）が「１」であると判定する。つまり、注目画素または注目画素の前後１０画素の範囲に異物があったことになる。この場合、ＣＰＵ４０１は、Ｓ３００４でサーチされた２１画素のうち、比率データＤ（ｎ）の値が最大の画素（最大画素）から所定数の画素、および比率データの値がＤ（ｎ）の値が最小の画素（最小画素）から所定数の画素のサーチを行う。実施形態では、サーチが行われる所定数の画素が８画素として説明するが、所定数の画素は８画素には限定されない。図１１（ａ）は、主走査方向における各画素の比率データＤ（ｎ）を表すグラフである。図１１（ｂ）は、図１１（ａ）のうち異物を含む部分を拡大したグラフである。例えば、注目画素が「ｎ＝３００４」のとき、最小画素から８画素分は、Ｄ（３０００）〜Ｄ（３００７）である。一方、最大画素から８画素分は、Ｄ（２９９９）、Ｄ（３００８）〜Ｄ（３０１４）となる。
【００４７】
注目画素が「ｎ＝３００４」であるときには、Ｓ３００４でサーチされる範囲は、Ｄ（２９９４）〜Ｄ（３０１４）である。ＣＰＵ４０１は、この範囲から、上述した最小画素から８画素分および最大画素から８画素分を除いて、残りの画素（５画素）で移動平均の演算を行う（Ｓ３００５）。以下は、ＣＰＵ４０１が、行う演算を示す。
ｋ: 注目画素（１〜５１８４）
Ｊ（ｋ）:ｋ画画目の移動平均値
Ｄ（ｋ）:ｋ画素目の比率データ
「ｋ＝３００４」が上述した注目画素である場合、ＣＰＵ４０１は、移動平均値Ｊ（３００４）を以下の式４により演算する。
【００４８】
「Ｊ（３００４）＝（Ｄ２９９４＋Ｄ２９９５＋Ｄ２９９６＋Ｄ２９９７＋Ｄ２９９８）／５」・・・（式４）
【００４９】
ＣＰＵ４０１は、Ｓ３００５で演算した移動平均値Ｊ（ｎ）をＲＡＭ４０５に格納する。
【００５０】
以上により、移動平均値Ｊ（ｎ）が生成される。ＣＰＵ４０１は、「ｎ」をインクリメントし（Ｓ３００７）、注目画素を次の画素に移す。ＣＰＵ４０１は、「ｎ」が「５１８４」に達したか否かを判定する（Ｓ３００８）。Ｓ２００８でＮＯと判定された場合、フローはＳ３００１に移行する。Ｓ３００８でＹＥＳと判定された場合、注目画素は「５１８４画素」にまで達したため、移動平均フラグ生成処理は、終了する。
【００５１】
上述したＳ３００３において、ＣＰＵ４０１は、注目画素の前後１０画素を用いて移動平均値Ｊ（ｎ）の演算を行ったが、移動平均値Ｊ（ｎ）の演算に用いられる画素数は、注目画素の前後１０画素には限定されない。移動平均値Ｊ（ｎ）の演算に用いられる画素数が多くなると、移動平均値Ｊ（ｎ）に対する異物の影響は小さくなる。しかしながら、移動平均値Ｊ（ｎ）の演算に用いられる画素数が多くなると、本来補正したい読み取り位置が異なることによる照明成分の差（照明輝度差）が求まりにくくなる。このため、異物の影響と画質との両方に基づいて、移動平均値Ｊ（ｎ）の演算に用いられる画素数が設定されることが好ましい。
【００５２】
また、上述したＳ３００４において、ＣＰＵ４０１は、注目画素の前後１０画素をサーチする例を説明したが、サーチする画素数は、注目画素の前後１０画素には限定されない。例えば、ＣＰＵ４０１は、異物フラグＢ（ｎ）に基づいて、異物の大きさを検出し、検出された異物の大きさに基づいて、サーチする画素数を設定してもよい。異物フラグＢ（ｎ）の値が連続して「１」となっている画素の部分は、異物の大きさに対応する。ＣＰＵ４０１は、異物フラグＢ（ｎ）の値が連続して「１」となっている画素の部分の大きさに応じて、サーチする画素数を設定してもよい。Ｓ３００５において、ＣＰＵ４０１は、Ｓ３００４でサーチした範囲の画素数から所定の画素数を除去した残りの画素数を用いて移動平均の演算を行う。これにより、サーチされた画素数のうち、特異的な画素が除去されるため、ＣＰＵ４０１は、異物の影響が抑制された複数の画素を用いて、移動平均の演算を行うことができる。Ｓ３００４でサーチされる画素数は、異物の影響を低減できる少ない画素数に設定されることが好ましい。
【００５３】
上述したように、ＣＰＵ４０１は、各画素について移動平均値Ｊ（ｎ）を演算する。図４に示されるように、ＣＰＵ４０１は、演算された各画素の移動平均値Ｊ（ｎ）を、バックアップメモリ４０２へ書き込み（Ｓ１００９）、処理が終了する。以上の処理により、異物の影響が除去されなかった場合の移動平均値Ｊ（ｎ）は、図６（ｃ）に示されように、異物による影響が周囲画素にも及んでしまうため、幅が太く拡大された分布となる。一方、実施形態のように、異物の影響をして各種の演算が行われた移動平均値Ｊ（ｎ）は、図６（ｄ）に示されるように、異物の周囲画素への影響が低減された分布となる。すなわち、読み取り位置が異なることによる照明輝度差を補正するためのデータがバックアップメモリ４０２に格納（バックアップ）される際に、異物の影響があったとしても、異物の影響を低減させる補正データをバックアップすることが可能となる。
【００５４】
つまり、比率データＤ（ｎ）から特異点（異物）を低減した補正データがバックアップメモリ４０２に格納されることで、後述するシェーディング補正の際に、上記補正データを適用することができる。シェーディング補正の際に、上記補正データが適用されることで、後述する原稿１０２の画像読み取り時に、照明輝度差を補正することができ、且つ異物の影響を抑制することができる。上述した例では、各画素についての移動平均値Ｊ（ｎ）がバックアップメモリ４０２に格納される。移動平均値Ｊ（ｎ）は、比率データＤ（ｎ）に含まれる特異点を低減させる補正データである。移動平均値Ｊ（ｎ）のバックアップメモリ４０２への格納は、工場出荷時や、原稿読み取りユニット１０６が交換された場合、バックアップメモリ４０２が搭載された制御基板そのものが故障や交換された場合等のタイミングで実施されてもよい。
【００５５】
次に、画像読取装置１２０が原稿１０２を読み取る動作について、図１２のフローチャートを参照して、説明する。例えば、画像読取装置１２０が操作者の操作を受け付けると、ＣＰＵ４０１には読み取り開始信号が入力される。ＣＰＵ４０１に読み取り開始信号が入力されると、ＣＰＵ４０１は、ＬＥＤ光源２０１を点灯し、ＣＩＳ２０３を読み取り制御して、シューディング補正をオフにする（Ｓ４０００）。そして、ＣＰＵ４０１は、白基準板１２５のデータサンプリングを行う（Ｓ４００１）。具体的には、白基準板１２５の読み取りデータＰ（ｎ）（ただし、「ｎ」は画素位置）を、ＲＡＭ４０５に格納する。
【００５６】
そして、ＣＰＵ４０１は、原稿１０２の読み取り位置Ｐでのデータ演算を行う（Ｓ４００２）。この場合、ＣＰＵ４０１は、ＲＡＭ４０５へ格納された白基準板１２５の読み取りデータＰ（ｎ）と、バックアップメモリ４０２に格納されている補正データとしての移動平均値Ｊ（ｎ）とを乗算して、輝度分布データＱ（ｎ）を得る。つまり、ＣＰＵ４０１は、各画素について、「Ｑ（ｎ）＝Ｊ（ｎ）×Ｐ（ｎ）」の演算を行い、輝度分布データＱ（ｎ）をＲＡＭ４０５に格納する。そして、ＣＰＵ４０１は、ＲＡＭ４０５に格納されているＱ（ｎ）に基づいて、シェーディング係数Ｒ（ｎ）(ｎは画素位置)を算出する（Ｓ４００３）。具体的には、ＣＰＵ４０１は、輝度分布データＱ（ｎ）の逆数を、シェーディング係数Ｒ（ｎ）として算出する。その後、ＣＰＵ４０１は、シェーディング係数Ｒ（ｎ）を、シェーディング補正回路４０４に設定する（Ｓ４００４）。シェーディング補正回路４０４は、原稿１０２の読み取り値に対して以下の演算を行う。
【００５７】
「シェーディング補正出力値（ｎ）＝原稿読み取り値（ｎ）／シェーディング係数Ｒ（ｎ）×読み取り目標値」・・・（式５）
【００５８】
そして、ＣＰＵ４０１は、原稿１０２の読み取りを行う（Ｓ４００５）。具体的には、ＣＰＵ４０１は、ＬＥＤ光源２０１を点灯し、ＣＩＳ２０３を読み取る制御を行い、原稿搬送モータ１０５を駆動させる。これにより、原稿１０２は読み取り位置Ｐを通過するように搬送され、原稿１０２は、原稿読み取りユニット１０６により読み取られる。
【００５９】
図１３は、ＣＰＵ４０１により読み取られる各種のデータのグラフである。図１３（ａ）は、Ｓ１５０２で取得された白基準板１２５の読み取りデータＰ（ｎ）の主走査輝度分布のグラフを表す。横軸は主走査位置、縦軸は、読み取り値である。シェーディング補正がオフにされているため、原稿読み取りユニット１０６の照明輝度分布そのものをサンプリングしていることと同義である。図１３（ｂ）は、Ｓ１５０３で取得された輝度分布データＱ（ｎ）の主走査輝度分布のグラフを表す。図１３（ｂ）のグラフは、原稿読み取り位置Ｐにおいて、原稿読み取りユニット１０６が基準部材５００を読み取ったデータに相当する。「Ｑ（ｎ）＝Ｊ（ｎ）×Ｐ（ｎ）」のため、図１３（ｂ）のＱ（ｎ）のグラフは、図１３（ａ）のＰ（ｎ）のグラフと比較して、端部は読み取りデータが大きくなるように補正されており、中央はムラを持つ輝度分布となっている。そして、Ｊ（ｎ）は、異物の影響を低減した上で移動平均した主走査方向の比率データであるため、輝度分布データＱ（ｎ）にも突出したデータの変化は表れない。
【００６０】
図１３（ｃ）は、Ｓ１５０４で取得されたシェーディング係数Ｒ（ｎ）の主走査方向の波形形状を示す。シェーディング係数Ｒ（ｎ）は、輝度分布データＱ（ｎ）の主走査輝度分布をフラットに補正する係数（シェーディング係数）であるため、Ｑ（ｎ）の逆数となる。図１３（ｄ）は、Ｓ１５０６において読み取られた原稿１０２のシェーディング補正出力値（出力値）の主走査方向の輝度分布を示す。原稿１０２の読み取り値に対して、シェーディング係数Ｒ（ｎ）が各画素のそれぞれについて乗算されているため、主走査方向に対してフラットな画像を読み取ることができる。
【００６１】
以上、本発明の好ましい実施の形態について説明したが、本発明は上述した各実施の形態に限定されず、その要旨の範囲内で種々の変形及び変更が可能である。本発明は、上述の各実施の形態の１以上の機能を実現するプログラムを、ネットワークや記憶媒体を介してシステムや装置に供給し、そのシステム又は装置のコンピュータの１つ以上のプロセッサーがプログラムを読み出して実行する処理でも実現可能である。また、本発明は、１以上の機能を実現する回路（例えば、ＡＳＩＣ）によっても実現可能である。
【符号の説明】
【００６２】
１０２  原稿
１０６  原稿読み取りユニット
１２５  白基準板
１２６  原稿台ガラス
２０１  ＬＥＤ光源
２０３  ＣＩＳ
４０１  ＣＰＵ
４０２  バックアップメモリ
４０４  シェーディング補正回路
【図１】
2020031360.tif 000004
【図２】
2020031360.tif 000005
【図３】
2020031360.tif 000006
【図４】
2020031360.tif 000007
【図５】
2020031360.tif 000008
【図６】
2020031360.tif 000009
【図７】
2020031360.tif 000010
【図８】
2020031360.tif 000011
【図９】
2020031360.tif 000012
【図１０】
2020031360.tif 000013
【図１１】
2020031360.tif 000014
【図１２】
2020031360.tif 000015
【図１３】
2020031360.tif 000016