(57)【要約】【課題】  ねじ軸や歯車の有効径を測定する際の適応性が高く、且つ容易な操作で高い精度の測定を可能とするオーバーピン径測定用機器及びマイクロメータの提供。【解決手段】  マイクロメータのアンビル１とスピンドル２に装着されるオーバーピン径測定用機器であって、前記アンビル１及び前記スピンドル２の先端部を収容する透孔７と、前記透孔７と交差して貫通するガイド孔６を備え、前記透孔７は、前記アンビル１又は前記スピンドル２の端面を前記ガイド孔６に至るまで誘導し、当該接触ピンＮを遊嵌する奥行きを備え、そこに装填された接触ピンＮの側面を前記透孔７の両開口部に向けて保持することを特徴とするオーバーピン径測定用機器。【選択図】      図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
マイクロメータのアンビルとスピンドルに装着されるオーバーピン径測定用機器であって、
前記アンビル及び前記スピンドルの先端部を収容する透孔と、前記透孔と交差して貫通するガイド孔を備え、
前記透孔は、前記アンビル又は前記スピンドルの端面を前記ガイド孔に至るまで誘導し、
前記ガイド孔は、当該接触ピンを遊嵌させる奥行きを備え、前記ガイド孔に装填された接触ピンの側面を前記透孔の両開口部に向けて保持することを特徴とするオーバーピン径測定用機器。
【請求項２】
前記ガイド孔は、前記アンビル及び前記スピンドルの端面の直径以下の幅であることを特徴とする請求項１に記載のオーバーピン径測定用機器。
【請求項３】
前記透孔と、当該透孔と直交し前記ガイド孔として機能するガイド溝を備えるメインフレームと、
前記ガイド溝の両端に渡し掛けられて前記ガイド孔の側壁の一部を形作るガイドフレームを備え、
前記メインフレームにガイドフレームが取り外し可能に定着されていることを特徴とする請求項１又は請求項２のいずれかに記載のオーバーピン径測定用機器。
【請求項４】
前記透孔をそれぞれ横断しその中央部で交差する複数のガイド溝を、それぞれが前記透孔と直交する配置となるように備えるメインフレームと、前記接触ピンが装填されたガイド溝の両端に渡し掛けられて前記ガイド孔の側壁の一部を形作るガイドフレームを備えることを特徴とする請求項３に記載のオーバーピン径測定用機器。
【請求項５】
前記透孔を二等分して備える形状を持つ一対の分割部材と、当該一対の分割部材の端部をそれぞれ束ねて保持する一対の結束部材を備え、
前記結束部材は、前記ガイド孔として機能するガイド部を備え、
一対の結束部材のガイド部は、当該ガイド部に装填された接触ピンの側面を、結束された一対の分割部材が形作る前記透孔に面して配置させることを特徴とする請求項１又は請求項２のいずれかに記載のオーバーピン径測定用機器。
【請求項６】
前記ガイド孔に、ゴム弾性を有する抜け止めチューブを装着した接触ピンを装填したことを特徴とする請求項１乃至請求項４のいずれかに記載のオーバーピン径測定用機器。
【請求項７】
請求項１乃至請求項６のいずれかに記載のオーバーピン径測定用機器を使用し、前記アンビルとスピンドルに、前記ガイド孔に接触ピンを一本装填した前記オーバーピン径測定用機器と、前記ガイド孔に接触ピンを二本装填した前記オーバーピン径測定用機器を対にして装着したオーバーピン径測定用マイクロメータ。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ねじ軸の溝の深さや歯車の有効径の測定を容易にする機器に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
オーバーピン径の測定は、今日、ねじ軸や歯車の有効径を測定する方法として一般化されている手法である。
オーバーピン径とは、ねじ軸、歯車又はスプロケット等（以下「被測定部材」という）の有効径との関係で用いられる寸法であって、前記被測定部材の歯の谷間に、規定の径のピンを入れ、前記被測定部材を挟んで対向するピンの外縁間の距離である。
【０００３】
例えば、図１５に示す三針法と呼ばれる有効径測定法は、ねじ軸の有効径を測定する際には、歯厚マイクロゲージの測定子として三本のピンを用い、そのうちの一本のピンと、残る二本のピンの間に測定しようとするねじ軸を挟み、当該ねじ軸を挟む両者がとる最小幅を測定する手法である（例えば、下記特許文献５参照）。
【０００４】
従来、ノギス用測定子又はアタッチメントとして下記特許文献１、特許文献２及び特許文献３が開示され、マイクロメータ用アタッチメントとして下記特許文献４が開示されている。揺動自在な三針ゲージを有するマイクロメータとして下記特許文献５に記載の技術が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】実開昭６１−５６５０６号公報
【特許文献２】特開２００３−４４３７号公報
【特許文献３】実用新案登録第３１６２５７６号公報
【特許文献４】実開平３−１０４８０１号公報
【特許文献５】特許第５８４６５１４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、前記特許文献１に記載の測定子は、ねじ軸に対する適応性が無く、前記特許文献２及び特許文献３に記載の測定子は、先端部が球状のボール又は軸の凸条に対して交差する線状であるため測定者の操作に応じて精度に欠けるという問題がある。
一方、前記特許文献４に記載の測定子では、被測定部材を挟持する測定子の位置関係が限られるという問題があり、前記特許文献５に記載の測定機器では、測定の便宜や精度を良好に保つために、測定器を固定するスタンドを要するという問題がある。
【０００７】
本発明は、上記実情に鑑みてなされたものであって、ねじ軸や歯車の有効径を測定する際の適応性が高く、且つ容易な操作で高い精度の測定を可能とするオーバーピン径測定用機器及びマイクロメータの提供を目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記課題を解決するためになされた本発明によるオーバーピン径測定用機器は、
マイクロメータのアンビルとスピンドルに装着されるオーバーピン径測定用機器であって、前記アンビル及び前記スピンドルの先端部を収容する透孔と、前記透孔と交差して貫通するガイド孔を備え、前記透孔は、前記アンビル又は前記スピンドルの端面を前記ガイド孔に至るまで誘導し、前記ガイド孔は、当該接触ピンを遊嵌（遊びをもった状態に嵌めること）させる奥行きを備え、前記ガイド孔に装填された接触ピンの側面を前記透孔の両開口部に向けて保持することを特徴とする。
前記ガイド孔を、前記アンビル及び前記スピンドルの端面の直径以下の幅を持つ構成を採ることができる。例えば、前記ガイド孔が並列で装填できる接触ピンは三本未満であることが望ましい。
【０００９】
本発明によるオーバーピン径測定用機器は、例えば、前記透孔と、当該透孔と直交し前記ガイド孔として機能するガイド溝を備えるメインフレームと、前記ガイド溝の両端に渡し掛けられて前記ガイド孔の側壁の一部を形作るガイドフレームを備え、前記メインフレームとガイドフレームを取り外し可能に定着されている構成を採ることができる。
かかる構成において、更に、前記透孔をそれぞれ横断しその中央部で交差する複数のガイド溝を、それぞれが前記透孔と直交する配置となるように備えるメインフレームと、前記接触ピンが装填されたガイド溝の両端に渡し掛けられて前記ガイド孔の側壁の一部を形作るガイドフレームを備える構成を採ることができる。
【００１０】
一方では、前記透孔を二等分して備える形状を持つ一対の分割部材と、当該一対の分割部材の端部をそれぞれ束ねて保持する一対の結束部材を備え、前記結束部材は、前記ガイド孔として機能するガイド部を備え、一対の結束部材のガイド部は、当該ガイド部に装填された接触ピンの側面を、結束された一対の分割部材が形作る前記透孔に面して配置させる構成を採ることができる。
【００１１】
上記いずれかのオーバーピン径測定用機器において、前記ガイド孔に、ゴム弾性を有する抜け止めチューブを装着した接触ピンを装填することが望ましい。
また、アンビルとスピンドルに、上記いずれかのオーバーピン径測定用機器を使用し、前記アンビルとスピンドルに、前記ガイド孔に接触ピンを一本装填した前記オーバーピン径測定用機器と、前記ガイド孔に接触ピンを二本装填した前記オーバーピン径測定用機器を対にして装着したオーバーピン径測定用マイクロメータとすることができる。
【発明の効果】
【００１２】
本発明によるオーバーピン径測定用機器によれば、前記アンビル及び前記スピンドルの先端部を収容する透孔と、前記透孔と交差して貫通するガイド孔を備え、前記ガイド孔に装填された接触ピンの側面を前記透孔の両開口部に向けて保持することによって、複数の接触ピンをそれぞれ適正な位置で保持するという煩雑な作業を要することなく、被測定部材の溝へ確実に押し当て、正確な計測を行うことができる。
【００１３】
前記透孔を二等分して備える形状を持つ一対の分割部材と、当該一対の分割部材の端部をそれぞれ束ねて保持する一対の結束部材を備え、前記結束部材は、前記ガイド孔として機能するガイド部を備え、一対の結束部材のガイド部は、当該ガイド部に装填された接触ピンの側面を、結束された一対の分割部材が形作る前記透孔に面して配置させる構成を採ることによって、前記アンビル又は前記スピンドルの先端部が如何なる形態であっても、当該先端部を取り外すこと無く挟持具の着脱を行うことができ、測定制度の向上に寄与する。
【００１４】
また、前記透孔は、前記アンビル又は前記スピンドルの端面を前記ガイド孔に至るまで誘導し、前記ガイド孔は、前記アンビル及び前記スピンドルの端面の直径以下の幅と、当該接触ピンを遊嵌する奥行きを備えることによって、特段の操作を行わなくとも前記ガイド孔に装填された接触ピンを前記アンビル及び前記スピンドルの端面から外れることなく、両者の端面によって当該接触ピンに対し、確実に圧力を加えることができる。
【００１５】
また、前記長孔に、ゴム弾性を有する抜け止めチューブを装着した接触ピンを装填する構成を採ることによって、当該抜け止めチューブの端面をガイド孔の縁に当接させ、そのゴム弾性をもって接触ピンの位置をガイド孔の一定の位置に保持しつつ、被測定部材の側面に刻まれた溝による誘導での位置修正も許容されることとなる。
【００１６】
本発明によるオーバーピン径測定用機器及びマイクロメータによれば、採用した構成に応じ、上記効果が相俟って、ねじ軸や歯車の有効径を測定する際の適応性が高く、且つ高い精度の測定を可能とする簡易なオーバーピン径測定用機器及びマイクロメータの提供が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００１７】
【図１】本発明によるオーバーピン径測定用マイクロメータの一例を示す側面図である。
【図２】本発明によるオーバーピン径測定用機器の一例を示す装着時における、（Ａ）裏面図及び（Ｂ）Ａ−Ａ矢視断面図である。
【図３】本発明によるオーバーピン径測定用機器の装着例を示す説明図である。
【図４】本発明によるオーバーピン径測定用機器のメインフレームの一例を示す、（Ａ）裏面図、（Ｂ）Ｂ−Ｂ矢視断面図、（Ｃ）Ｃ−Ｃ矢視断面図及び（Ｄ）平面図である。
【図５】本発明によるオーバーピン径測定用機器のガイドフレームの一例を示す、（Ａ）平面図及び（Ｂ）正面図である。
【図６】本発明によるオーバーピン径測定用マイクロメータの一例を示す側面図である。
【図７】本発明によるオーバーピン径測定用機器（複挟持具）の一例を示す装着時における、（Ａ）Ｄ−Ｄ矢視断面図、（Ｂ）裏面図、（Ｃ）Ｅ−Ｅ矢視断面図及び（Ｄ）右側面図である。
【図８】本発明によるオーバーピン径測定用機器（単挟持具）の一例を示す装着時における、（Ａ）Ｆ−Ｆ矢視断面図、（Ｂ）裏面図、（Ｃ）Ｇ−Ｇ矢視断面図及び（Ｄ）右側面図である。
【図９】本発明によるオーバーピン径測定用機器（複挟持具）の、（Ａ）メインフレームのＨ−Ｈ矢視断面図、（Ｂ）メインフレームの平面図、（Ｃ）分割部材の接合面側の側面図、（Ｄ）分割部材の外側面図、（Ｅ）メインフレームのＩ−Ｉ矢視断面図、（Ｆ）メインフレームのＪ−Ｊ矢視断面図、（Ｇ）メインフレームの正面図である。
【図１０】本発明によるオーバーピン径測定用機器（単挟持具）の、（Ａ）メインフレームのＫ−Ｋ矢視断面図、（Ｂ）メインフレームの平面図、（Ｃ）分割部材の接合面側の側面図、（Ｄ）分割部材の外側面図、（Ｅ）メインフレームのＬ−Ｌ矢視断面図、（Ｆ）メインフレームのＭ−Ｍ矢視断面図、（Ｇ）メインフレームの正面図である。
【図１１】本発明によるオーバーピン径測定用機器（複挟持具）の一例を示す分解図である。
【図１２】本発明によるオーバーピン径測定用機器（単挟持具）の一例を示す分解図である。
【図１３】本発明によるオーバーピン径測定用機器の結束部材（複挟持具）の一例を示す、（Ａ）正面図、（Ｂ）Ｎ−Ｎ矢視断面図、（Ｃ）Ｏ−Ｏ矢視断面図及び（Ｄ）側面図である。
【図１４】本発明によるオーバーピン径測定用機器の結束部材（単挟持具）の一例を示す、（Ａ）正面図、（Ｂ）Ｐ−Ｐ矢視断面図、（Ｃ）Ｑ−Ｑ矢視断面図及び（Ｄ）側面図である。
【図１５】三針法と呼ばれるねじ軸の有効径を測定する手法の説明図である。
【発明を実施するための形態】
【００１８】
以下、本発明によるオーバーピン径測定用機器及びそれを具備するオーバーピン測定用マイクロメータの実施の形態を、図面に基づき詳細に説明する。
図１又は図６に示すマイクロメータは、周知の構造を備えるマイクロメータのアンビル１とスピンドル２に、それぞれ本発明によるオーバーピン径測定用機器（以下「挟持具」という）を装着したオーバーピン径測定用マイクロメータの一例である。
【実施例１】
【００１９】
図１に示す例は、前記挟持具３のベースとなるメインフレーム４と、被測定部材Ｓに直接接触する接触ピンＮが装填されるガイド孔６の側壁の一部を形作るガイドフレーム５を備える（図２参照）。
図１に示す挟持具３は、複数の合成樹脂製部材を組み立てた例であるが、ステンレス等の金属を用いることもでき、又は単一の部材で構成することができる。
【００２０】
前記メインフレーム４は、その中央部を表裏にわたって貫通し前記アンビル１及び前記スピンドル２を収容する透孔７と、その中央部をそれぞれ横断し、且つ十字状に交差する二筋のガイド溝６ａ，６ａを前記透孔７と直交する配置で備え、残余の部分は、ネジ止め用のビス孔８ａを備えた支持部８としたものである（図４参照）。
【００２１】
前記透孔７は、前記アンビル１及び前記スピンドル２が遊嵌する直径の均一な円断面の部分を備え、前記アンビル１及び前記スピンドル２を前記ガイド溝（ガイド孔６）６ａへ進入させる長さを備える。尚、前記遊びによる挟持具３のぐらつきを緩和するために、予め前記アンビル１及び前記スピンドル２にゴム弾性を持つスリーブ９を装着し、前記挟持具３を装着した後にそのメインフレーム４に当接させてもよい（図３参照）。
【００２２】
前記ガイド溝６ａの深さ（ガイド孔６の奥行き）は、装填された接触ピンＮが過度にぐらつかない様に、装填する接触ピンＮの径に応じて、当該接触ピンＮの直径よりも僅かに大きい適切な深さであることが望ましい。そのため、前記メインフレーム４には、用途の広い深さ（奥行き）が選択されたガイド溝（又はガイド孔６）６ａを段階的に複数具備することが望ましい（図２及び図４参照）。
【００２３】
即ち、前記挟持具（メインフレーム４）３の形態は、図に示すような正方形のみならず、六角形や八角形などの多角形を選択し、それぞれの対辺間を横切るガイド溝（ガイド孔６）６ａをそれぞれ異なる深さ（奥行き）で設けることができる。そのような形態を採用する際も、残余の部分に、ネジ止め用の支持部８を適宜設けることができる（図示省略）。
【００２４】
前記ガイドフレーム５は、前記挟持具３において、接触ピンＮが装填された対辺の両端に設けられた支持部８，８を結ぶように（横断するように）ビス止めされ、前記ガイド溝６ａの開口部が閉鎖されることで、前記透孔７と交差するガイド孔６が、前記接触ピンＮを装填した前記挟持具３の裏面側が開口する態様で形作られる。
この例のガイドフレーム５は、その両端部に前記支持部８，８のビス孔８ａ，８ａに対向するビス孔５ａ，５ａを設けた平板であって、その厚みは、被測定部材Ｓの雄ねじ谷径の略二分の一以下であることが求められる。
【００２５】
以上の如く構成された挟持具３は、被測定部材Ｓの径に適した厚みのガイドフレーム５を選択すると共に、当該被測定部材Ｓの適針径を満たす接触ピンＮを選択し、被測定部材Ｓの適針径に適した深さのガイド溝６ａを横断するように当該ガイド溝６ａの両側に存在する支持部８，８へのビス止めを行う。
尚、前記適針径は、図１５に基づいて、適針径＝Ｐ÷２cos（α／２）から導くことができる。
【００２６】
前記接触ピンＮは、この作業によって閉じられたガイド溝（ガイド孔６）６ａに、当該ガイド溝（ガイド孔６）６ａと交差する透孔７を横切るように装填し、前記ガイド溝（ガイド孔６）６ａの深さ（奥行き）より装着時の直径が大きいゴム弾性を有する抜け止めチューブ１１を、抜け止め手段として接触ピンＮに装着する（図２参照）。
前記抜け止めチューブ１１が接触ピンＮと一体構造となっている場合には、ガイドフレーム５を固定する作業は、接触ピンＮを装填する作業の後で行えばよい。
【００２７】
次に、前記アンビル１及び前記スピンドル２の基部にゴム弾性を持つスリーブ９を装着した上で、前記アンビル１及び前記スピンドル２を、上記挟持具３，３のメインフレーム４の透孔７へ表側から裏側へ挿入し、遊びによる挟持具３のぐらつきを緩和するために、前記アンビル１及び前記スピンドル２の基部に装着したスリーブ９を当該挟持具３の上面に当接させる（図３参照）。
【００２８】
以上をもって、本発明によるオーバーピン測定用マイクロメータの一例が組み上げられる。
上記オーバーピン測定用マイクロメータの前記アンビル１及び前記スピンドル２の間に被測定部材Ｓを挟み、ラチェットストップ１０を回すと、前記アンビル１及び前記スピンドル２の端面が、前記透孔７と前記ガイド孔６が交差する空間において、前記被測定部材Ｓを挟む挟持具３が保持する接触ピンＮの側面に当接することとなる（図１参照）。
【００２９】
更にラチェットストップ１０を回して適度な圧力を一定時間にわたって加えると、前記アンビル１及び前記スピンドル２の各々に装着された挟持具３各々が保持する接触ピンＮが、当該接触ピンＮに対して特別な支持をほどこさなくとも、当該被測定部材Ｓの側面に穿設された溝の向きに倣って配列し、当該溝の凹部へ容易に誘導される。
【００３０】
その際、前記ガイド孔６は、当該接触ピンＮを遊嵌する奥行き（長孔の短径）を備える長孔であるものの、二本以上の接触ピンＮを並列させる幅（長孔の長径）、実質的には、被測定部材Ｓに刻まれた溝のピッチを隔てて二本以上の接触ピンＮを並列させる幅以上であって、且つ前記アンビル１及び前記スピンドル２の端面（この例では鍔部１ａ，２ａの端面）の直径以下の幅に設定されているために、ガイド孔６の内部に装填された接触ピンＮは、常に、前記アンビル１及び前記スピンドル２の端面上に維持される。
その様な加圧状態において、全ての接触ピンＮの端部を軽く指で触れてもガタツキがなければ、ダイヤルゲージの読みで得た値がオーバーピン径となる（図１参照）。
【実施例２】
【００３１】
図６は、本発明によるオーバーピン径測定用機器及びそれを具備するオーバーピン測定用マイクロメータの別の実施例を示したものである。
図６乃至図８に示す挟持具１３は、メインフレーム１４を構成する部材（以下「分割部材１４ａ，１４ａ」という）のそれぞれが、前記アンビル１及び前記スピンドル２が挿入される前記透孔１７を二等分した溝１６を備える。
この例の挟持具１３は、同じ形態を持つ一対の分割部材１４ａ，１４ａが、その接合面α，αを合わせて一体化したものである（図７乃至図１０参照）。
【００３２】
前記分割部材１４ａは、前記透孔１７を二分割した断面が半円形の溝１６が中央部に配置され、その両側に接合相手の分割部材１４ａに定着する接合面α，αを対称的に備え、前記挟持具１３として連結した際に束ねられた一対の分割部材１４ａ，１４ａの一体性を維持する結束部材１５，１５が装着される保持部β，βを対称的に備える。
【００３３】
前記溝１６を挟む一対の接合面α，αには、連結時の位置決めのために、円柱状の凸部と、当該凸部が嵌る凹部が対称的に設けられ、一対の分割部材１４ａ，１４ａの凸部と凹部を嵌め合わせることによって、両分割部材１４ａ，１４ａの溝１６，１６が向合し、前記アンビル１及び前記スピンドル２が挿入される円断面の透孔１７が形成される。
前記保持部β，βは、前記結束部材を一定長挿入した際の位置決めの便宜となるストッパーγ，γをそれぞれ備える。この例は、分割部材１４ａ，１４ａの外側面に、前記溝１６を挟んで一対のストッパーγ，γを対称的に備える（図９及び図１０参照）。
【００３４】
前記結束部材１５は、前記一対の分割部材１４ａ，１４ａを装填する結束部１５ａと、前記接触ピンＮを装填するガイド部１５ｂを上下二段に配置して備える（図７及び図８参照）。
この例の前記分割部材１４ａ，１４ａは、当該分割部材１４ａ，１４ａの構成及び上記結束部材１５の構成によって、接触ピンＮを一本装填する挟持具（以下「単挟持具（図１０及び図１２参照）」という）１３として構成することができる他、前記接触ピンＮを二本装填する挟持具（以下「複挟持具」という）１３として構成することができる（図９及び図１１参照）。
【００３５】
前記単挟持具１３に用いる結束部材１５は、当該接触ピンＮが一本遊嵌する幅と長さに設定されたガイド部１５ｂを備える。
一方、前記複挟持具１３に用いる前記結束部材１５は、前記ガイド部１５ｂとして、二つの接触ピンＮを傾き無く保持するために、前記結束部１５ａの段違い中央に仕切板１５ｃを配置し、当該仕切板１５ｃを挟んでガイド溝を水平に二つ並べた構成を備える。
【００３６】
前記複挟持具１３に用いる前記結束部材１５のガイド溝の幅は、当該ガイド溝一つにつき、被測定部材Ｓに刻まれた溝のピッチを隔てて二本以上の接触ピンＮを並列させる長さ以上であって、且つ前記アンビル１及び前記スピンドル２の端面（又は下記鍔部１ａ，２ａの端面）の直径以下の長さを備える。
【００３７】
即ち、前記複挟持板１３に用いる前記結束部材１５は、当該結束部材１５の厚みを出来る限り薄くするために、前記結束部１５ａとガイド部１５ｂとを仕切る隔壁が省かれており、前記結束部１５ａに装填された前記分割部材１４ａ，１４ａの保持部β，βが同じ結束部材１５のガイド部１５ｂへ侵入することを回避し結束を安定させる必要があるため、複挟持板１３に用いる分割部材１４ａ，１４ａの保持部β，βは、前記ガイド部１５ｂの幅よりも広く拡幅されている。
【００３８】
その結果、一対の分割部材１４ａ，１４ａの保持部β，βは、それぞれの両側端部が、ガイド部１５ｂの両側壁に掛かり、前記結束部１５ａに装填された分割部材１４ａ，１４ａの保持部β，βが安定的に結束部１５ａに止められる。
【実施例３】
【００３９】
先端部に逆傘状などに拡幅した鍔部１ａ，２ａを取り外し可能に具備するアンビル１とスピンドル２を備えるマイクロメータに、前記挟持具３，３又は挟持具１３，１３を装着する場合には、実施例１に係る挟持具３の、メインフレーム４の裏面中央部の前記ガイド溝６ａ，６ａが交差する前記透孔７の同心円領域、又は実施例２に係る挟持具１３の分割部材１４ａの裏面の、前記断面半円形の溝１６の同心半円領域に、前記鍔部１ａ，２ａを前記ガイド溝（又はガイド孔６）６ａへ進入させる傘状の空間７ａ又は一対の分割部材１４ａ，１４ａを接合して傘状となる半傘状の空間１７ａを、前記透孔７，１７の端部として設ける（図４及び図７乃至図１０参照）。
【００４０】
尚、前記アンビル１及び前記スピンドル２の鍔部１ａ，２ａを取り外し可能とする構造とは、例えば、鍔部１ａ，２ａの末端側端面に雄ねじを突設し、それを連結する前記アンビル１及び前記スピンドル２の基部の端面に雌ねじが切られた連結孔を形成する構造などを、測定精度を害しない程度で採られたものである（図３参照）。
【００４１】
以上の如く構成された挟持具３，１３は、実施例１では、一旦、前記アンビル１及び前記スピンドル２の鍔部１ａ，２ａをはずし、メインフレーム４の透孔７へ表側から裏側へ挿入し、その後、再び双方の鍔部１ａ，２ａを取り付ける。それによって、当該メインフレーム４は、前記アンビル１及び前記スピンドル２から離脱不能となる。
【００４２】
一方、実施例２では、鍔部１ａ，２ａを取り外すことなく、当該鍔部１ａ，２ａを前記半傘状の空間１７ａで挟むように、アンビル１とスピンドル２の先端部に一対の分割部材１４ａ，１４ａを装着し、その正面側及び裏面側の保持部β，βに結束部材１５，１５を装着することによりメインフレーム１４は、前記アンビル１及び前記スピンドル２から離脱不能となる。
【００４３】
最後に、先に記したとおり、遊びによる挟持具３，１３のぐらつきを緩和するために、前記アンビル１及び前記スピンドル２の基部に予め装着しておいたゴム弾性を持つスリーブ９を当該挟持具３，１３の上面に当接させる。
【００４４】
以上をもって、本発明によるオーバーピン測定用マイクロメータのひとつが組み上げられ、上記オーバーピン測定用マイクロメータの前記アンビル１及び前記スピンドル２の間に被測定部材Ｓを挟み、ラチェットストップ１０を回すと、前記アンビル１及び前記スピンドル２が具備する鍔部１ａ，２ａの端面が、当該鍔部１ａ，２ａを前記ガイド孔６へ進入させる空間で、前記被測定部材Ｓを挟む挟持具３，１３が保持する接触ピンＮの側面に当接することとなる（図１及び図６参照）。
【符号の説明】
【００４５】
Ｎ  接触ピン，Ｓ  被測定部材，
１  アンビル，１ａ  鍔部，
２  スピンドル，２ａ  鍔部，
３  挟持具，
４  メインフレーム，
５  ガイドフレーム，５ａ  ビス孔，
６  ガイド孔，６ａ  ガイド溝，
７  透孔，７ａ  空間，
８  支持部，８ａ  ビス孔，
９  スリーブ，
１０  ラチェットストップ，
１１  抜け止めチューブ，
１３  挟持具，
１４  メインフレーム，１４ａ  分割部材，
１５  結束部材，１５ａ  結束部，１５ｂ  ガイド部，
１６  溝，１７  透孔，１７ａ  半傘状の空間，
【図１】
2020118529.tif 000003
【図２】
2020118529.tif 000004
【図３】
2020118529.tif 000005
【図４】
2020118529.tif 000006
【図５】
2020118529.tif 000007
【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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