(57)【要約】【課題】本開示は、光パルス試験装置において、ダミーファイバ長が試験に用いるパルス幅に対して短い場合であっても、複数のパルス幅による測定をすることなく、被測定光ファイバの接続ポートでの損失を含む全損失を測定可能にすることを目的とする。【解決手段】本開示は、接続されるべき被測定光ファイバ２１との接続点ＤＤにおける第１のパルス幅Ｗ１での接続損失前の後方散乱光レベルＰＺ（Ｗ１）と、参照距離ＤＲにおける、第１のパルス幅Ｗ１よりも広い第２のパルス幅Ｗ２での後方散乱光レベルＰＲ（Ｗ２）と第１のパルス幅Ｗ１での後方散乱光レベルＰＲ（Ｗ１）との差分ΔＰＲと、を参照値として予め記憶する記憶部２０と、測定した後方散乱光レベルと記憶部２０に予め記憶させた参照値とを用いて被測定光ファイバ２１の伝送損失ＬＴを求める演算処理部１８とを備える、光パルス試験装置である。【選択図】図１
2020118574.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光パルスのパルス幅を設定するパルス幅設定部（１２）と、
前記パルス幅設定部の設定したパルス幅の光パルスを生成する光源（１１）と、
前記光源から出力された光パルスが被測定光ファイバで散乱された後方散乱光レベルを検出する受光器（１６）と、を備えた光パルス試験装置において、
さらに、
第１のパルス幅（Ｗ１）を用いて測定された、接続されるべき被測定光ファイバとの接続点（ＤＤ）での接続損失前の後方散乱光レベル（ＰＺ（Ｗ１））と、予め定められた参照距離（ＤＲ）における、前記第１のパルス幅よりも大きな第２のパルス幅（Ｗ２）を用いて測定された後方散乱光レベル（ＰＲ（Ｗ２））と前記第１のパルス幅を用いて測定された後方散乱光レベル（ＰＲ（Ｗ１））との差分（ΔＰＲ）であって前記第２のパルス幅と対応づけられた当該差分（ΔＰＲ）と、を予め記憶する記憶部（２０）と、
前記光源から前記被測定光ファイバに出力された光パルスのパルス幅に対応する前記第２のパルス幅における前記差分（ΔＰＲ）と前記後方散乱光レベル（ＰＺ（Ｗ１））とを前記記憶部から読み出して加算して前記被測定光ファイバとの接続点での接続損失前の後方散乱光レベル（ＰＺ（Ｗ２））を求め、当該後方散乱光レベル（ＰＺ（Ｗ２））を用いて前記被測定光ファイバでの伝送損失（ＬＴ）を求める演算処理部（１８）と、
を備えた光パルス試験装置。
【請求項２】
光パルスのパルス幅を設定するパルス幅設定部（１２）と、
前記パルス幅設定部の設定したパルス幅の光パルスを生成する光源（１１）と、
前記光源から出力された光パルスが被測定光ファイバで散乱された後方散乱光レベルを検出する受光器（１６）と、を備えた光パルス試験装置において、
さらに、
第１のパルス幅（Ｗ１）を用いて測定された、接続されるべき前記被測定光ファイバとの接続点（ＤＤ）での接続損失前の後方散乱光レベル（ＰＺ（Ｗ１））に、予め定められた参照距離（ＤＲ）における、前記第１のパルス幅よりも大きな第２のパルス幅（Ｗ２）を用いて測定された後方散乱光レベル（ＰＲ（Ｗ２））と前記第１のパルス幅を用いて測定された後方散乱光レベル（ＰＲ（Ｗ１））との差分（ΔＰＲ）を加算した後方散乱光レベル（ＰＺ（Ｗ２））を、前記第２のパルス幅と対応づけて予め記憶する記憶部（２０）と、
前記光源から前記被測定光ファイバに出力された光パルスのパルス幅に対応する前記第２のパルス幅における前記後方散乱光レベル（ＰＺ（Ｗ２））を前記記憶部から読み出し、当該後方散乱光レベル（ＰＺ（Ｗ２））を用いて前記被測定光ファイバでの伝送損失（ＬＴ）を求める演算処理部（１８）と、
を備えた光パルス試験装置。
【請求項３】
前記記憶部は、前記参照距離での後方散乱光レベルの予測範囲をさらに保持し、
前記演算処理部は、前記受光器で検出された前記参照距離での後方散乱光レベルが前記予測範囲から外れているか否かを判定することで、前記被測定光ファイバとの接続点での接続異常をさらに検出する、
請求項１又は２に記載の光パルス試験装置。
【請求項４】
光パルス試験装置が実行する光パルス試験方法であって、
第１のパルス幅（Ｗ１）を用いて測定された、接続されるべき被測定光ファイバとの接続点（ＤＤ）での接続損失前の後方散乱光レベル（ＰＺ（Ｗ１））と、予め定められた参照距離（ＤＲ）における、前記第１のパルス幅よりも大きな第２のパルス幅（Ｗ２）を用いて測定された後方散乱光レベル（ＰＲ（Ｗ２））と前記第１のパルス幅を用いて測定された後方散乱光レベル（ＰＲ（Ｗ１））との差分（ΔＰＲ）であって前記第２のパルス幅と対応づけられた当該差分（ΔＰＲ）と、を予め記憶する記憶手順と、
所定のパルス幅の光パルスを生成して被測定光ファイバへ出力し、前記被測定光ファイバで散乱された前記光パルスの後方散乱光レベルを検出する光パルス検出手順と、
前記所定のパルス幅に対応する前記第２のパルス幅における前記差分（ΔＰＲ）と前記後方散乱光レベル（ＰＺ（Ｗ１））とを読み出して加算して前記被測定光ファイバとの接続点での接続損失前の後方散乱光レベル（ＰＺ（Ｗ２））を求め、当該後方散乱光レベル（ＰＺ（Ｗ２））を用いて前記被測定光ファイバでの伝送損失（ＬＴ）を求める伝送損失導出手順と、
を実行する光パルス試験方法。
【請求項５】
光パルス試験装置が実行する光パルス試験方法であって、
第１のパルス幅（Ｗ１）を用いて測定された、接続されるべき被測定光ファイバとの接続点（ＤＤ）での接続損失前の後方散乱光レベル（ＰＺ（Ｗ１））に、予め定められた参照距離（ＤＲ）における、前記第１のパルス幅よりも大きな第２のパルス幅（Ｗ２）を用いて測定された後方散乱光レベル（ＰＲ（Ｗ２））と前記第１のパルス幅を用いて測定された後方散乱光レベル（ＰＲ（Ｗ１））との差分（ΔＰＲ）を加算した後方散乱光レベル（ＰＺ（Ｗ２））を、前記第２のパルス幅と対応づけて予め記憶する記憶手順と、
所定のパルス幅の光パルスを生成して被測定光ファイバへ出力し、前記被測定光ファイバで散乱された前記光パルスの後方散乱光レベルを検出する光パルス検出手順と、
前記所定のパルス幅に対応する前記第２のパルス幅における前記後方散乱光レベル（ＰＺ（Ｗ２））を読み出し、当該後方散乱光レベル（ＰＺ（Ｗ２））を用いて前記被測定光ファイバでの伝送損失（ＬＴ）を求める伝送損失導出手順と、
を実行する光パルス試験方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本開示は、ＯＴＤＲ（Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｔｉｍｅ  Ｄｏｍａｉｎ  Ｒｅｆｌｅｃｔｏｍｅｔｅｒ）測定を行う光パルス試験装置及び光パルス試験方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
光伝送路の損失等を測定するために、ＯＴＤＲ測定が行われている。ＯＴＤＲ測定では、光源からの光パルスを被測定光ファイバに出力し、被測定光ファイバでの後方散乱光のパワーを測定する。光源からの光パルスは、装置内のダミーファイバに接続された接続ポートを介して被測定光ファイバに出力される。通常、ＯＴＤＲに接続された被測定光ファイバの全損失は、ＯＴＤＲ近端（装置外部との接続点）での後方散乱光パワーのレベルから被測定光ファイバの末端での後方散乱光パワーのレベルの差と、接続ポートでの損失との和、を用いて算出される。ＯＴＤＲによる良否判定はこの全損失の算出結果により行うため、これらの値を正確に測定することは重要である。
【０００３】
しかし、接続ポートでの損失を測定するためにはダミーファイバの後方散乱光パワーとＯＴＤＲ近端の後方散乱光パワーを測定しなければならず、ダミーファイバと被測定光ファイバを区別し得る空間分解能が必要であり、ＯＴＤＲが用いるパルス幅ＰＷは必然的に以下の等式を満たす必要がある。
【数１】
2020118574.tif 000003
ここでＬはファイバ長、ｎｇはファイバの群屈折率、Ｃは光速度である。例えば、ダミーファイバがＬ＝１０ｍ、群屈折率が１．５の場合にはパルス幅は１００ｎｓ以下であることが接続ポートでの損失を測定するための要件となる。
【０００４】
被測定光ファイバが長距離であったり、スプリッタを含む場合であったり、被測定光ファイバの末端までの損失が大きかったりする場合、全損失を測定するためにはパルス幅を広げなければならず、当該広げると接続ポートでの損失を含んだ全損失を測定することができない。
【０００５】
この解決手段として、長いダミーファイバを用いる手段が簡単であるが、例えば１０μｓのパルス幅を用いる場合、１ｋｍのダミーファイバが必要となるため、機器の大型化や、コストの増加の要因となる。
【０００６】
また、一測定においてダミーファイバに対して短いパルス幅を用いてダミーファイバの後方散乱光の光パワーのレベルを測定し、続けて被測定光ファイバの末端まで測定可能な長いパルス幅を用いて接続ポートでの損失を測定する方法も提案されている（例えば、特許文献１参照。）。しかし、特許文献１の方法は、一度の測定に２以上のパルス幅を用いるため、測定時間が長くなるという課題がある。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００７】
【特許文献１】特開２０１２−８０７６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
本開示は、光パルス試験装置において、ダミーファイバ長が被測定光ファイバに出力されるパルス幅に対して空間分解能面で区別し得なくなるほど短い場合であっても、複数のパルス幅による測定をすることなく、被測定光ファイバの接続ポートでの損失を含む全損失を測定可能にすることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本開示に係る光パルス試験装置は、
光パルスのパルス幅を設定するパルス幅設定部（１２）と、
前記パルス幅設定部の設定したパルス幅の光パルスを生成する光源（１１）と、
前記光源から出力された光パルスが被測定光ファイバで散乱された後方散乱光レベルを検出する受光器（１６）と、を備えた光パルス試験装置において、
さらに、
第１のパルス幅（Ｗ１）を用いて測定された、接続されるべき被測定光ファイバとの接続点（ＤＤ）での接続損失前の後方散乱光レベル（ＰＺ（Ｗ１））と、予め定められた参照距離（ＤＲ）における、前記第１のパルス幅よりも大きな第２のパルス幅（Ｗ２）を用いて測定された後方散乱光レベル（ＰＲ（Ｗ２））と前記第１のパルス幅を用いて測定された後方散乱光レベル（ＰＲ（Ｗ１））との差分（ΔＰＲ）であって前記第２のパルス幅と対応づけられた当該差分（ΔＰＲ）と、を予め記憶する記憶部（２０）と、
前記光源から前記被測定光ファイバに出力された光パルスのパルス幅に対応する前記第２のパルス幅における前記差分（ΔＰＲ）と前記後方散乱光レベル（ＰＺ（Ｗ１））とを前記記憶部から読み出して加算して前記被測定光ファイバとの接続点での接続損失前の後方散乱光レベル（ＰＺ（Ｗ２））を求め、当該後方散乱光レベル（ＰＺ（Ｗ２））を用いて前記被測定光ファイバでの伝送損失（ＬＴ）を求める演算処理部（１８）と、
を備える。
【００１０】
本開示に係る光パルス試験装置は、
光パルスのパルス幅を設定するパルス幅設定部（１２）と、
前記パルス幅設定部の設定したパルス幅の光パルスを生成する光源（１１）と、
前記光源から出力された光パルスが被測定光ファイバで散乱された後方散乱光レベルを検出する受光器（１６）と、を備えた光パルス試験装置において、
さらに、
第１のパルス幅（Ｗ１）を用いて測定された、接続されるべき前記被測定光ファイバとの接続点（ＤＤ）での接続損失前の後方散乱光レベル（ＰＺ（Ｗ１））に、予め定められた参照距離（ＤＲ）における、前記第１のパルス幅よりも大きな第２のパルス幅（Ｗ２）を用いて測定された後方散乱光レベル（ＰＲ（Ｗ２））と前記第１のパルス幅を用いて測定された後方散乱光レベル（ＰＲ（Ｗ１））との差分（ΔＰＲ）を加算した後方散乱光レベル（ＰＺ（Ｗ２））を、前記第２のパルス幅と対応づけて予め記憶する記憶部（２０）と、
前記光源から前記被測定光ファイバに出力された光パルスのパルス幅に対応する前記第２のパルス幅における前記後方散乱光レベル（ＰＺ（Ｗ２））を前記記憶部から読み出し、当該後方散乱光レベル（ＰＺ（Ｗ２））を用いて前記被測定光ファイバでの伝送損失（ＬＴ）を求める演算処理部（１８）と、
を備える。
【００１１】
本開示に係る光パルス試験装置では、
前記記憶部は、前記参照距離での後方散乱光レベルの予測範囲をさらに保持し、
前記演算処理部は、前記受光器で検出された前記参照距離での後方散乱光レベルが前記予測範囲から外れているか否かを判定することで、前記被測定光ファイバとの接続点での接続異常をさらに検出してもよい。
【００１２】
本開示に係る光パルス試験方法は、
光パルス試験装置が実行する光パルス試験方法であって、
第１のパルス幅（Ｗ１）を用いて測定された、接続されるべき被測定光ファイバとの接続点（ＤＤ）での接続損失前の後方散乱光レベル（ＰＺ（Ｗ１））と、予め定められた参照距離（ＤＲ）における、前記第１のパルス幅よりも大きな第２のパルス幅（Ｗ２）を用いて測定された後方散乱光レベル（ＰＲ（Ｗ２））と前記第１のパルス幅を用いて測定された後方散乱光レベル（ＰＲ（Ｗ１））との差分（ΔＰＲ）であって前記第２のパルス幅と対応づけられた当該差分（ΔＰＲ）と、を予め記憶する記憶手順と、
所定のパルス幅の光パルスを生成して被測定光ファイバへ出力し、前記被測定光ファイバで散乱された前記光パルスの後方散乱光レベルを検出する光パルス検出手順と、
前記所定のパルス幅に対応する前記第２のパルス幅における前記差分（ΔＰＲ）と前記後方散乱光レベル（ＰＺ（Ｗ１））とを読み出して加算して前記被測定光ファイバとの接続点での接続損失前の後方散乱光レベル（ＰＺ（Ｗ２））を求め、当該後方散乱光レベル（ＰＺ（Ｗ２））を用いて前記被測定光ファイバでの伝送損失（ＬＴ）を求める伝送損失導出手順と、
を実行する。
【００１３】
本開示に係る光パルス試験方法は、
光パルス試験装置が実行する光パルス試験方法であって、
第１のパルス幅（Ｗ１）を用いて測定された、接続されるべき被測定光ファイバとの接続点（ＤＤ）での接続損失前の後方散乱光レベル（ＰＺ（Ｗ１））に、予め定められた参照距離（ＤＲ）における、前記第１のパルス幅よりも大きな第２のパルス幅（Ｗ２）を用いて測定された後方散乱光レベル（ＰＲ（Ｗ２））と前記第１のパルス幅を用いて測定された後方散乱光レベル（ＰＲ（Ｗ１））との差分（ΔＰＲ）を加算した後方散乱光レベル（ＰＺ（Ｗ２））を、前記第２のパルス幅と対応づけて予め記憶する記憶手順と、
所定のパルス幅の光パルスを生成して被測定光ファイバへ出力し、前記被測定光ファイバで散乱された前記光パルスの後方散乱光レベルを検出する光パルス検出手順と、
前記所定のパルス幅に対応する前記第２のパルス幅における前記後方散乱光レベル（ＰＺ（Ｗ２））を読み出し、当該後方散乱光レベル（ＰＺ（Ｗ２））を用いて前記被測定光ファイバでの伝送損失（ＬＴ）を求める伝送損失導出手順と、
を実行する。
【発明の効果】
【００１４】
本開示によれば、光パルス試験装置において、ダミーファイバ長が被測定光ファイバに出力されるパルス幅に対して空間分解能面で区別し得なくなるほど短い場合であっても、複数のパルス幅による測定をすることなく、被測定光ファイバの接続ポートでの損失を含む全損失を測定可能にすることができる。
【図面の簡単な説明】
【００１５】
【図１】本開示に係る光パルス試験装置の構成例を示す。
【図２】ＯＴＤＲ波形の第１例を示す。
【図３】ＯＴＤＲ波形の第２例を示す。
【図４】実施形態に係る全損失の測定方法の説明図である。
【発明を実施するための形態】
【００１６】
以下、本開示の実施形態について、図面を参照しながら詳細に説明する。なお、本開示は、以下に示す実施形態に限定されるものではない。これらの実施の例は例示に過ぎず、本開示は当業者の知識に基づいて種々の変更、改良を施した形態で実施することができる。なお、本明細書及び図面において符号が同じ構成要素は、相互に同一のものを示すものとする。
【００１７】
図１に、本開示に係る光パルス試験装置の構成例を示す。本開示に係る光パルス試験装置１０１は、光源として機能するＬＤ（Ｌａｓｅｒ  Ｄｉｏｄｅ）１１、パルス幅設定部として機能するＬＤ制御部１２、受光器として機能するＡＰＤ（Ａｖａｌａｎｃｈｅ  ＰｈｏｔｏＤｉｏｄｅ）１６、受信回路１７、演算処理部として機能するＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ  Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ  Ｕｎｉｔ）１８、表示部１９、記憶部２０を備える。
【００１８】
ＬＤ１１及びカプラ１３、カプラ１３及び接続ポート１５、カプラ１３及びＡＰＤ１６は、それぞれ、光ファイバで接続されている。カプラ１３と接続ポート１５との間には、ダミーファイバ１４が接続されている。接続ポート１５は、コネクタ２２を介して被測定光ファイバ２１と接続可能になっている。
【００１９】
ＬＤ１１は、被測定光ファイバ２１での損失を測定するための光パルスを生成する。ＬＤ制御部１２は、ＣＰＵ１８からの指示に従って、ＬＤ１１を制御する。制御内容は任意であり、例えば、光パルスのＯＮ／ＯＦＦ、光パルスのパルス幅が例示できる。
【００２０】
ＬＤ１１より送出された光パルスはダミーファイバ１４を通り、接続ポート１５とコネクタ２２との接続を通って被測定光ファイバ２１へと出射される。被測定光ファイバ２１で発生した後方散乱光はカプラ１３により分岐されＡＰＤ１６にて受光される。
【００２１】
ＡＰＤ１６は、後方散乱光を光パワーに応じた電気信号に変換する。受信回路１７は、ＡＰＤ１６から出力されたアナログ信号を、増幅し、デジタル信号に変換する。ＣＰＵ１８は、受信回路１７からのデジタル信号を用いて、光パルス試験装置１０１からの距離に対する後方散乱光レベルを表すＯＴＤＲ波形を生成する。表示部１９は、ＯＴＤＲ波形を表示する。
【００２２】
図２に、ＯＴＤＲ波形の第１例を示す。ＯＴＤＲ波形の第１例は、ダミーファイバ１４に対して光パルスのパルス幅Ｗ１が空間分解能面で問題のない短い場合を示す。ＯＴＤＲ波形の第１例では、接続ポート１５及びコネクタ２２の配置されている距離ＤＤにおけるポート１５の出射端での後方散乱光レベルＰＺ（Ｗ１）及びコネクタ２２の入射端での後方散乱光レベルＰＣ（Ｗ１）、被測定光ファイバ２１の遠端の配置されている距離ＤＦでの後方散乱光レベルＰＦ（Ｗ１）が検出できている。本実施形態では、接続ポート１５及びコネクタ２２の配置されている距離ＤＤを「０」と表示している。
【００２３】
後方散乱光レベルＰＺ（Ｗ１）及びＰＣ（Ｗ１）の差は接続ポート１５及びコネクタ２２での接続損失ＬＣを表し、後方散乱光レベルＰＣ（Ｗ１）及びＰＦ（Ｗ１）の差は被測定光ファイバ２１での伝送損失ＬＦを表す。このため、ＯＴＤＲ波形の第１例では、コネクタ２２での損失も含めた全損失ＬＴを測定することができる。
【００２４】
図３に、ＯＴＤＲ波形の第２例を示す。ＯＴＤＲ波形の第２例は、ダミーファイバ１４に対して光パルスのパルス幅Ｗ２が空間分解能面で問題の発生する長い場合を示す。ＯＴＤＲ波形の第２例では、後方散乱光レベルＰＦ（Ｗ２）は検出できるが、距離ＤＤでの後方散乱光レベルは検出できていない。このため、接続損失ＬＣ及び伝送損失ＬＦが測定できず、結果、全損失ＬＴを測定することもできない。
【００２５】
接続ポート１５及びコネクタ２２での接続損失ＬＣは、光パルスのパルス幅が変化しても接続ポート１５とコネクタ２２の接続状態が変化しない限り変化する可能性は小さい。そこで、本開示では、本開示に係る装置の出荷前に、被測定光ファイバ２１に相当する仮光ファイバを接続した状態で、光パルス試験装置にプリセットされているｋ種の各パルス幅Ｗｉ（ｉ＝１，２，・・・，ｋ）でのＯＴＤＲ波形を予め測定し、測定した各ＯＴＤＲ波形から導出した所定の測定値を参照値として記憶部２０に保持する。なお、仮光ファイバのファイバ長は、距離ＤＲ（後述）以上となる長さを持つものとする。
【００２６】
このとき、各パルス幅Ｗｉのうちから、図２に示すような、ダミーファイバ１４に対して光パルスのパルス幅が空間分解能面で問題のない短いもの（デッドゾーンがダミーファイバ１４長に相当する時間以下になるもの）を、第１のパルス幅Ｗ１として用いる。そして、各パルス幅Ｗｉのうちの図３に示すような、ダミーファイバ１４に対して光パルスのパルス幅が長いものを、第２のパルス幅Ｗ２として用いる。
【００２７】
本開示は、当該保持している測定値を参照して全損失ＬＴを求めることで、従来の複数のパルス幅による測定を省略することを可能にする。なお、記憶させるタイミングは、例えば、工場出荷時であってもよいし、接続ポート１５へのコネクタ２２の最初の接続時であってもよい。
【００２８】
本実施形態では、記憶部２０に保持する参照値として、図４に示すような、参照距離ＤＲでの後方散乱光レベルＰＲ（Ｗ２）とＰＲ（Ｗ１）との差分ΔＰＲと、距離ＤＤでの後方散乱光レベルＰＺ（Ｗ１）を用いる。
【００２９】
図４に、本実施形態で参照する値の一例を示す。本実施形態では、光パルス試験装置にプリセットされている各パルス幅Ｗｉについて、予め定められた参照距離ＤＲでの後方散乱光レベルＰＲ（Ｗｉ）を測定する。そして、各後方散乱光レベルＰＲ（Ｗｉ）のうちの所定のものからパルス幅Ｗ１に相当する後方散乱光レベルＰＲ（Ｗ１）とパルス幅Ｗ２に相当する後方散乱光レベルＰＲ（Ｗ２）の各差分ΔＰＲを求め、差分ΔＰＲをパルス幅Ｗｉに紐付けて記憶部２０に保持する。併せて、距離ＤＤにおけるパルス幅Ｗ１における後方散乱光レベルＰＺ（Ｗ１）も記憶部２０に保持する。
【００３０】
ここで、参照距離ＤＲは、距離ＤＰより長くかつ反射などのイベントの出現する距離よりも短い距離である。距離ＤＰは、パルス幅Ｗ２の光パルスがコネクタ２２の入射端で生じた反射が消失する距離である。参照距離ＤＲは、光パルスのパルス幅の最大値を前述の式（１）に適用して得られるファイバ長よりも長距離であり、当該パルス幅の数倍であることが好ましい。また、差分ΔＰＲは、参照距離ＤＲから予め定められた範囲での平均値であることが好ましい。
【００３１】
製品出荷後における光パルス試験装置１０１の全損失ＬＴの測定方法について、図４を参照しながら説明する。本実施形態の光パルス試験装置１０１が全損失ＬＴを測定する際、ＣＰＵ１８は、以下の手順を実行する。
手順Ｓ１０１：ＣＰＵ１８は、ＬＤ１１から出力する光パルスのパルス幅をＬＤ制御部１２に指示する。これにより、ＬＤ制御部１２がＬＤ１１から出力される光パルスのパルス幅を設定し、当該パルス幅の光パルスがＬＤ１１から出射され、当該光パルスの後方散乱光がＡＰＤ１６で受光される。このときのパルス幅Ｗｉは、被測定光ファイバ２１の長さや損失に応じたパルス幅であり、ダミーファイバ１４に対して光パルスのパルス幅の長い第２のパルス幅Ｗ２に相当する。
手順Ｓ１０２：ＣＰＵ１８は、ＡＰＤ１６の出力信号から、距離ＤＦでの後方散乱光レベルＰＦ（Ｗ２）を検出する。
手順Ｓ１０３：ＣＰＵ１８は、手順Ｓ１０１で設定したパルス幅Ｗ２に対応する差分（同じパルス幅Ｗｉにおける差分）ΔＰＲ、及び、後方散乱光レベルＰＺ（Ｗ１）を記憶部２０から読み出し、後方散乱光レベルＰＺ（Ｗ１）に差分ΔＰＲを加算し、後方散乱光レベルＰＺ（Ｗ２）を求める。
手順Ｓ１０４：ＣＰＵ１８は、後方散乱光レベルＰＺ（Ｗ２）と後方散乱光レベルＰＦ（Ｗ２）の差分を求める。これにより、全損失ＬＴを求める。
なお、手順Ｓ１０３は、手順Ｓ１０１の後でありかつ手順Ｓ１０４の前の任意のタイミングで行うことができる。
【００３２】
ここで、手順Ｓ１０１におけるパルス幅の設定方法は任意である。例えば、ＣＰＵ１８は、被測定光ファイバ２１の長さを取得し、被測定光ファイバ２１の長さに応じたパルス幅を決定してもよい。パルス幅は、図示しない入力部を用いて、光パルス試験装置１０１のユーザが入力し、これをＣＰＵ１８がＬＤ制御部１２に設定してもよい。
【００３３】
接続ポート１５及びコネクタ２２の接続状態に変化がなければ、パルス幅が変化しても、距離ＤＤでの接続ポート１５及びコネクタ２２での接続損失ＬＣは変わらない。そのため、距離ＤＤでの接続ポート１５及びコネクタ２２での接続損失ＬＣ前の後方散乱光レベルＰＺ（Ｗ２）は、後方散乱光レベルＰＺ（Ｗ１）に差分ΔＰＲを加算したものに等しい。したがって、後方散乱光レベルＰＺ（Ｗ１）に差分ΔＰＲを加算することによって、距離ＤＤでの接続ポート１５及びコネクタ２２での接続損失ＬＣ前の後方散乱光レベルＰＺ（Ｗ２）を求めることができる。
【００３４】
被測定光ファイバ２１のＯＴＤＲ測定時に、例えば、パルス幅Ｗ１＝１０ｎｓに対するパルス幅Ｗ２＝２００ｎｓでの差分ΔＰＲが６．５ｄＢであり、後方散乱光レベルＰＺ（Ｗ１）が２５ｄＢである場合、手順Ｓ１０３で求められる後方散乱光レベルＰＺ（Ｗ２）は、ＰＺ（Ｗ２）＝ＰＺ（Ｗ１）＋ΔＰＲ＝２５＋６．５＝３１．５（ｄＢ）となる。
【００３５】
以上説明したように、本実施形態に係る光パルス試験装置１０１は、記憶部２０に保持されている差分ΔＰＲ及び後方散乱光レベルＰＺ（Ｗ１）を用いて、接続ポート１５及びコネクタ２２での接続損失ＬＣを含む全損失ＬＴを求める。このため、本実施形態は、ダミーファイバ長が被測定光ファイバ２１に出力されるパルス幅に対して空間分解能面で区別し得なくなるほど短い場合であっても、複数のパルス幅による測定をすることなく、被測定光ファイバの接続ポートでの損失を含む全損失を測定することができる。
【００３６】
パルス幅Ｗｉに紐付けて保持する値は、差分ΔＰＲに代えて、後方散乱光レベルＰＺ（Ｗ２）であってもよい。このように、本実施形態は、後方散乱光レベルＰＲ（Ｗ２）を導出可能な任意の値を保持することができる。
【００３７】
ここで、接続ポート１５及びコネクタ２２の接続が緩んでいる場合や、コネクタ２２付近の被測定光ファイバ２１が曲がっている場合など、接続ポート１５及びコネクタ２２での接続損失ＬＣが大きい場合がある。一方で、参照距離ＤＲでの後方散乱光レベルＰＲ（Ｗ２）は光パルスのパワーに応じて予測可能である。そこで、本実施形態では、当該接続異常を検出する目的で、参照距離ＤＲでの後方散乱光レベルの予測範囲と光パルスのパルス幅とを紐付けたテーブルを、記憶部２０に保持することが好ましい。この場合、ＣＰＵ１８は、手順Ｓ１０２において、後方散乱光レベルＰＲ（Ｗ２）が予測範囲から外れているか否かを判定することで、接続ポート１５及びコネクタ２２での接続異常を検出する。
【００３８】
このように、本実施形態は、被測定光ファイバ２１の長さに応じたパルス幅でのＯＴＤＲ測定を開始しつつ、接続ポート１５及びコネクタ２２での接続異常を検出することができる。ＣＰＵ１８は、手順Ｓ１０２において、接続ポート１５及びコネクタ２２での接続異常を検出した場合、異常を検出した旨の通知を表示部１９に表示することが好ましい。このとき、ＣＰＵ１８は、手順Ｓ１０３以降の手順を中止してもよい。
【産業上の利用可能性】
【００３９】
本開示は情報通信産業に適用することができる。
【符号の説明】
【００４０】
１１：ＬＤ
１２：ＬＤ制御部
１３：カプラ
１４：ダミーファイバ
１５：接続ポート
１６：ＡＰＤ
１７：受信回路
１８：ＣＰＵ
１９：表示部
２０：記憶部
２１：被測定光ファイバ
２２：コネクタ
１０１：光パルス試験装置
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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