(57)【要約】【課題】予想外の測定結果となった場合に、その原因を分析できるようにする。【解決手段】オシロスコープなどの試験測定装置１００は、ポート１０２で被測定信号を受けて、その波形データ・レコードを生成し、メモリ１０６に記憶する。プロセッサ１０４は、波形データ・レコードから、その測定値と、立ち上がりエッジなどの測定イベントの発生箇所を求め、測定イベントの発生箇所の中の１つ以上の論理値軌道セグメントを検出する。更に、各測定値と、これら測定値を重ねた表示データを作成し、表示部１０８で表示する。また、論理値軌道セグメントを重ねた表示データを作成すると共に、論理値軌道セグメントを別々に分離し、各論理値軌道セグメントを別々に表示部１０８で表示できるようにする。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
波形データ・レコードを記憶するよう構成されるメモリと、
１つ以上のプロセッサであって
上記波形データ・レコードを受ける処理と、
上記波形データ・レコードの測定値と測定イベントの複数の発生箇所とを求める処理と、
複数の上記発生箇所における１つ以上の論理値軌道セグメントを検出する処理と、
上記測定値の夫々の視覚的表示データ及び上記測定値の夫々を重ねた視覚的表示データを生成する処理と
を行うよう構成される上記プロセッサと、
上記測定値の視覚的表示データを表示するよう構成される表示部と
を具える試験測定装置。
【請求項２】
１つ以上の上記プロセッサが、１つ以上の上記論理値軌道セグメントを個別に分離するよう更に構成され、
上記表示部が、上記論理値軌道セグメントの夫々を表示するよう更に構成される請求項１の試験測定装置。
【請求項３】
１つ以上の上記プロセッサが、１つ以上の上記論理値軌道セグメントを個別に分離するよう更に構成され、
上記表示部が、上記論理値軌道セグメントの夫々を表示するのと同時に上記測定値の視覚的表示データを表示するよう更に構成される請求項１又は２の試験測定装置。
【請求項４】
１つ以上の上記プロセッサが、パターン認識処理によって１つ以上の上記論理値軌道セグメントを検出するよう構成される請求項１から３のいずれかの試験測定装置。
【請求項５】
ユーザ入力部を更に具え、
１つ以上の上記プロセッサが、上記ユーザ入力部からの入力に基づいて、検出された１つ以上の上記論理値軌道セグメントにフィルタをかけるよう更に構成される請求項１から４のいずれかの試験測定装置。
【請求項６】
測定結果集団の中の論理値軌道セグメントを自動的に検出する方法であって、
上記波形データ・レコードの測定値と測定イベントの複数の発生箇所とを求める処理と、
複数の上記発生箇所における１つ以上の論理値軌道セグメントを検出する処理と、
上記測定値の夫々の視覚的表示データ及び上記測定値の夫々を重ねた視覚的表示データを生成する処理と、
上記測定値の夫々の視覚的表示データを表示する処理と
を具える論理値軌道セグメント検出方法。
【請求項７】
１つ以上の上記論理値軌道セグメントを個別に分離する処理と、
上記論理値軌道セグメントの夫々を表示する処理と
を更に具える請求項６の論理値軌道セグメント検出方法。
【請求項８】
パターン認識処理によって１つ以上の上記論理値軌道セグメントを検出する処理を更に具える請求項６又は７の論理値軌道セグメント検出方法。
【請求項９】
上記パターン認識処理が、上記測定値の夫々に基づいてグリドを生成する処理と、類似する隣接グリッド・セルをグルーピングする処理とを有する請求項８の論理値軌道セグメント検出方法。
【請求項１０】
上記パターン認識処理が、密度分析を用いて、複数の測定値を関連させる処理を有する請求項８の論理値軌道セグメント検出方法。
【請求項１１】
試験測定装置の１つ以上のプロセッサで実行されると、上記試験測定装置が、上記請求項６から１０のいずれかの方法を実行する命令を有するコンピュータ・プログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、試験測定装置及び方法に関し、特に、波形データ・レコードから測定結果集団を生成し、測定結果集団内の論理値軌道セグメントを自動的に検出する試験測定装置及び方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
通常、オシロスコープのような試験測定装置における測定結果は、ブラック・ボックスの結果として与えられる。このため、ユーザにとっては、測定結果を検討して、何らかのエラーや異常な結果の潜在的な原因を特定するのは、容易ではないということになる。測定値や結果がユーザにとって合理的に理解できるものである場合には、これは問題にならない。しかし、測定値や結果がユーザにとって異常に見える場合には、ユーザは、なぜ結果が異常かもしれないのかについて、試験測定装置から何らの追加情報もなしに、ユーザの被測定デバイスをデバッグし続けることになる。
【０００３】
従来の試験測定装置は、典型的には、１つの波形について、１つの測定を行うのみである。もしユーザがその測定値のソース（出所）を見たいと望むなら、ユーザは、波形中の最初の発生箇所を探すか、又は、測定値の注釈を表示させることになろう。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００７−２８６０２５号公報
【特許文献２】特開２００９−２３６７６５号公報
【非特許文献】
【０００５】
【非特許文献１】トランジスタ技術ＳＰＥＣＩＡＬ編集部編、「ディジタル・オシロスコープ活用ノート」、「５−２  トリガ回路のしくみ」、第８５〜８７頁、図２（回路ブロック図）、トランジスタ技術ＳＰＥＣＩＡＬ  ｆｏｒ  フレッシャーズ  Ｎｏ．９９、ＣＱ出版株式会社、２００７年７月１日発行
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかし、最近の試験測定装置では、ある波形の全ての発生箇所において測定が行われ、そして、試験測定装置は、それらの測定結果の統計とヒストグラムを出力できる。もし結果が予期しないものである場合には、なぜその測定結果が予期しないものであるのか、解明するのが一層困難になっている。
【０００７】
本発明の実施形態は、従来のこうした問題や、その他の課題を解決しようとするものである。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明の試験測定装置は、波形データ・レコードを蓄積するよう構成されるメモリと、１つ以上のプロセッサと、表示部とを具えている。１つ以上のプロセッサは、波形データ・レコードを受けて、波形データ・レコードの測定値を求めると共に、ある測定イベントの複数の発生箇所を求め、複数の発生箇所中の１つ以上の論理値軌道セグメントを検出し、各測定結果の視覚的表示データを生成すると共に、各測定結果の視覚的表示の夫々を重ね合わせた表示データも生成する。各測定結果の複数の視覚的表示や、１つ以上の論理値軌道セグメントは、表示部に表示されても良い。
【０００９】
本発明の実施形態の態様、特徴及び効果は、添付の図面を参照し、以下の実施形態の説明を読むことで明らかとなろう。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】図１は、本発明の実施形態による例示的な試験測定装置のブロック図である。
【図２】図２は、立ち上がりエッジ波形測定に関するヒストグラムの例である。
【図３】図３は、本発明の実施形態による画面上で複数の立ち上がりエッジ測定の結果を重ねて表示した例である。
【図４】図４は、本発明の実施形態による、図３の立ち上がりエッジ測定結果を重ねた表示中に検出された複数の論理値軌道セグメントの例である。
【図５】図５は、図４に示した複数の論理値軌道セグメントの夫々に対応するヒストグラムの例である。
【図６】図６は、本発明の実施形態による複数の立ち上がりエッジ測定結果を重ねる例示的な方法を示す。
【図７】図７は、本発明の実施形態によって、論理値軌道セグメントをどのように求めるかを示す。
【図８】図８は、本発明の実施形態によって、論理値軌道セグメントをどのように求めるかを示す。
【図９】図９は、本発明の実施形態によって、論理値軌道セグメントをどのように求めるかを示す。
【図１０】図１０は、本発明の実施形態によって、論理値軌道セグメントをどのように求めるかを示す。
【図１１】図１１は、本発明の実施形態によって、論理値軌道セグメントをどのように求めるかを示す。
【図１２】図１２は、表示部に表示される本発明の実施形態によるグラフィカル・ユーザ・インタフェースの例である。
【図１３】図１３は、表示部に表示される本発明の実施形態によるグラフィカル・ユーザ・インタフェースの別の例である。
【図１４】図１４は、本発明の実施形態による測定結果集団にフィルタをかけるための視覚的トリガのようなインタラクティブなグラフィカル・ユーザ・インタフェースを用いる例である。
【図１５】図１５は、本発明の実施形態によって生成できるヒストグラムの例である。
【図１６】図１６は、表示部に表示される本発明の実施形態によるグラフィカル・ユーザ・インタフェースの別の例である。
【図１７】図１７は、表示部に表示される本発明の実施形態によるグラフィカル・ユーザ・インタフェースの別の例である。
【図１８】図１８は、表示部に表示される本発明の実施形態によるグラフィカル・ユーザ・インタフェースの別の例である。
【発明を実施するための形態】
【００１１】
図１は、本願で開示される発明の実施形態を実現するオシロスコープのような例示的な試験測定装置１００のブロック図である。試験測定装置１００には、１つ以上のポート１０２があっても良く、これは、任意の電気信号伝達媒体であっても良い。ポート１０２は、レシーバ、トランスミッタ、又は、トランシーバを含んでいても良い。ポート１０２の夫々は、試験測定装置１００の各チャンネルである。ポート１０２は、ポート１０２で受けた１つ以上の被試験デバイスからの信号（又は波形）を処理する１つ以上のプロセッサ１０４と結合されても良い。図１では、説明を簡単にするため、１個のプロセッサ１０４のみを図示しているが、単一のプロセッサ１０４ではなくて、種々の形式の複数のプロセッサ１０４を組み合わせて使用しても良い。
【００１２】
ポート１０２は、更に、試験測定装置１００中の測定ユニット（簡単のため、図示せず）に接続されても良い。こうした測定ユニットは、ポート１０２を介して受ける信号の特性（例えば、電圧、電流、振幅など）を測定できる任意のコンポーネントを含んでいても良い。試験測定装置は、信号調整回路、受けた信号を波形に変換するアナログ・デジタル・コンバータその他の回路のような、更なる分析のための追加のハードウェアやプロセッサを有していても良い。その結果生じる波形は、メモリ１０６に蓄積されたり、表示部１０８で表示されたりしても良い。
【００１３】
１つ以上のプロセッサ１０４は、メモリ１０６からの命令を実行し、こうした命令で示される方法や関連する工程を実行する。これは、例えば、測定結果を表示して自動的に共通の波形軌道を特定したり、測定結果の集団（population）から選択された波形軌道を重ね合わせたり、波形軌道をフィルタ処理したり、測定結果のオリジナルとサブ・エレメント間のヒストグラムを生成して表示したりといった方法や工程であるが、これらに限定されるものではない。メモリ１０６は、プロセッサのキャッシュ、ランダム・アクセス・メモリ（RAM）、読み取り専用メモリ（ROM）、ソリッド・ステート・メモリ、ハード・ディスク・ドライブ、又はその他のメモリタイプとして実現されても良い。メモリ１０６は、更に、データ、コンピュータ・プログラム・プロダクト、及びその他の命令を記憶する媒体として機能しても良い。例えば、いくつかの実施形態では、ポート１０２や測定ユニットを通して取得されても良い波形レコードのような波形データが、メモリ１０６に記憶されても良い。波形データ・レコードは、次いで、メモリ１０６から１つ以上のプロセッサ１０４へ入力されても良い。
【００１４】
ユーザ入力部１１０は、１つ以上のプロセッサ１０４に結合される。ユーザ入力部１１０には、ユーザが、表示部１０８上でのＧＵＩ（グラフィカル・ユーザ・インターフェース）を通してインタラクティブに操作することを可能にするキーボード、マウス、トラックボール、タッチスクリーン、その他の操作装置が含まれていても良い。表示部１０８は、ユーザに対して波形、測定値、その他のデータを表示するデジタル・スクリーン、陰極線管ベースの表示装置その他の任意のモニタであっても良い。試験測定装置１００のコンポーネントは、試験測定装置１００内に一体化されているように描写されているが、当業者であれば、これらコンポーネントのいずれもが試験測定装置１００の外部にあって、任意の従来手法（例えば、有線や無線の通信媒体や通信機構など）によって試験測定装置１００と結合されていても良いことが理解できよう。例えば、表示部１０８が、試験測定装置１００から遠隔に配置されていても良い。
【００１５】
実施形態によっては、１つ以上のプロセッサ１０４が、メモリ１０６又は遠隔のデバイスから波形データ・レコードを受けても良い。１つ以上のプロセッサ１０４は、例えば、測定ユニットによって、波形データ・レコードについての測定を行っても良い。例えば、１つ以上のプロセッサ１０４は、ユーザが設定する立ち上がりエッジ測定、立ち下がりエッジ測定、立ち上がり及び立ち下がりエッジ測定、エッジ測定、ロング・ビット測定又は任意のカスタマイズした測定を行っても良い。これらの測定の結果を利用して、１つ以上のプロセッサ１０４は、ヒストグラムを生成して表示部１０８でヒストグラムを表示するよう指示しても良い。
【００１６】
例えば、図２は、ヒストグラム２００の例を示し、これは、波形データ・レコードの立ち上がりエッジ測定に基づいて生成されても良い。もしユーザが、立ち上がりエッジ測定の結果にもっと普通の分布を期待していた場合には、得られたヒストグラム２００に驚くことになるかもしれない。本発明の実施形態は、詳細には以下で更に説明するように、ユーザの行った測定において何が生じているのかを、ユーザが、より良く理解できるようにするものである。
【００１７】
測定に基づいて、１つ以上のプロセッサ１０４は、測定結果の集団（measurement population）を生成しても良く、これは、ヒストグラム２００で示される測定結果を、波形セグメント（波形の一部の区間）として視覚的に描画できる。測定結果集団を生成する処理には、複数の測定結果に関連する別々の波形セグメントの軌道を重ねる処理が含まれる。この処理は、例えば、アイ・ダイアグラムを形成する方法と似ているかもしれない。
【００１８】
即ち、本発明の実施形態は、以下で更に詳細に説明するが、図３に示すように、立ち上がりエッジ測定（これで「波形セグメント」が得られる）の夫々の結果を重ねることによって測定結果集団３００を生成でき、これを表示部１０８で表示しても良い。
【００１９】
１つ以上のプロセッサ１０４は、次いで、重ねられた複数の波形を、図４に示すように、論理値に基づく複数の軌道セグメントやビット・パターンに自動的に分離する。即ち、１つ以上のプロセッサ１０４は、以下で説明する種々の方法を用いて、測定結果集団３００を、図示するように、複数の論理値軌道セグメント（logical path segments）に自動的に分離する。測定結果集団３００のスケールは、変更しても良く、１つ以上のプロセッサ１０４は、測定結果集団３００のスケールに基づいて、論理値の軌道セグメントを自動的に調整しても良い。
【００２０】
図４に示すように、この例では、１つ以上のプロセッサ１０４は、測定結果集団３００が、４つの論理値軌道セグメント４００、４０２、４０４及び４０６から構成されると判断している。このとき、論理値軌道セグメント４００は論理値の遷移００１０に対応し、論理値軌道セグメント４０２は論理値の遷移００１１に対応し、論理値軌道セグメント４０４は論理値の遷移１０１０に対応し、論理値軌道セグメント４０６は論理値の遷移１０１１に対応する。ただし、これらは、測定結果集団３００が示す、このデータ・レコード中に存在し得る立ち上がりエッジ遷移の例に過ぎない。図３及び４は、立ち上がりエッジ測定の結果を示しているが、測定結果の各形式は、ユニーク（一意的）で、代表的な論理値軌道セグメントとなっている。立ち上がりエッジの論理値軌道セグメント４００、４０２、４０４及び４０６の夫々は、最終的な立ち上がりエッジ測定の結果に大きな影響を与えることになろう。
【００２１】
図５は、論理値軌道セグメント４００、４０２、４０４及び４０６の夫々に対応するヒストグラム５００、５０２、５０４及び５０６を示している。１つ以上のプロセッサ１０４は、図示する、論理値軌道セグメントの夫々に対応するヒストグラムを生成できる。もし合成されると、ヒストグラム５００、５０２、５０４及び５０６は、図２のヒストグラムを生じることになろう。論理値軌道セグメント４００及び４０２に夫々対応するヒストグラム５００及び５０２は、４００ピコ秒前後の平均値μを有する一方で、論理値軌道セグメント４０４及び４０６に夫々対応するヒストグラム５０４及び５０６は、３７０ピコ秒近辺の平均値μを有する。
【００２２】
測定結果集団及び論理値軌道セグメントと同様に、ヒストグラムが、表示部１０８上でユーザに対して表示されても良い。この情報は、ユーザにとって有益なものになることあり、図２のヒストグラム２００の分布の理由が、ユーザに明らかになることがある。ユーザは、この情報を利用して、次に、ユーザの被測定デバイスを更にデバッグできることもあろう。
【００２３】
図２〜５が示すように、本発明の実施形態によれば、ユーザは、多数の測定結果の集団を様々な角度から検証でき、見かけ上、想定外となった測定結果の原因について洞察するのに有益である。上述のように、測定は、波形が生じると常に行われる。波形の発生の夫々で得られる各測定結果は、特定の位置（開始位置、終了位置、注目する位置、測定値自身）を含んでいる。立ち上がりエッジ測定の例では、開始位置は、立ち上がりエッジの開始（スタート）位置であり、終了位置は、立ち上がりエッジの最後の位置であり、注目する位置は、中央交差ポイントであり、測定値は、開始位置の値と終了位置の値との間の差分である。
【００２４】
図６は、測定結果が生じる毎に、どのように重ねられて、測定結果を表す波形集団の視覚的な表現を生成するかを示している。図６が示すように、測定（この例では、立ち上がりエッジ測定）に関係する波形セグメント６００、６０２及び６０４の夫々が、概ね１つの波形データとして重ねられることで、１つ以上のプロセッサ１０４が、その測定を表す波形集団の視覚表現６０６を生成できる。表示部１０８では、測定を表す波形集団の視覚表現のスケール（拡大縮小率）を変更することで、測定に関する複数の波形セグメントの個数を多くしたり、逆に少なくして表示しても良い。そのために、例えば、水平又は垂直スケールを変更しても良い。
【００２５】
１つ以上のプロセッサ１０４は、測定を表す波形集団中に存在する波形の論理値軌道セグメントを自動的に特定又は識別しても良い。上述のようにして測定結果を表す複数の波形からなる集団のスケールを変更すると、１つ以上のプロセッサ１０４は、表示された測定結果集団の量に基づいて、新しい論理値軌道セグメントを求めることができる。
【００２６】
実施形態によっては、１つ以上のプロセッサ１０４が、測定結果集団中に存在する別々の波形論理値軌道セグメントを自動的に検出して分離するのに、機械学習（machine-learning）又はパターン認識を利用しても良い。例えば、実施形態によっては、測定結果夫々についてスロープ（傾斜）に対する平均値（mean）をプロットし、次いで、機械学習プロセッサを用いて、複数のクラスター（cluster：群団、房）にグルーピングして測定結果集団の異なる論理値軌道セグメントを決めることによって、機械学習やパターン認識を実現しても良い。
【００２７】
例えば、図７では、測定結果集団７００が、水平スケールが１目盛り（Division、略してDiv）当たり７０ピコ秒（ｐｓ）の場合を示し、この例では、論理値軌道セグメントが１つのだけ検出されて、クラスター・プロット７０２として示されている。この測定結果集団７００の表示に示されている全ての測定結果は、１つにまとまっており、そのために、機械学習プロセッサは、１つの論理値軌道セグメントだけを検出する。機械学習プロセッサは、１つ以上のプロセッサ１０４に含まれていても良い。
【００２８】
図８では、測定結果集団８００が、水平スケールが１目盛り当たり１００ピコ秒（ｐｓ）の場合を示し、この例では、クラスター・プロット８０２が、測定結果集団８００中に見られる４つの異なる論理値軌道セグメントがあることを示している。図９は、水平スケールが１目盛り当たり２００ピコ秒（ｐｓ）の場合の測定結果集団９００を示し、測定結果集団９００では更にはっきりと確認できるようになり、機械学習プロセッサは、測定結果集団９００に見られる４つの異なる論理値軌道セグメントを、更に明確に検出できる。図１０は、水平スケールが１目盛り当たり３００ピコ秒（ｐｓ）の場合であり、更に広い範囲である測定結果集団１０００を示し、クラスター・プロット１００２は、機械学習プロセッサが示した１６個以上の論理値軌道セグメントを描いている。
【００２９】
スロープ及び平均値のクラスター・プロットと、機械学習プロセッサは、他の形式の波形にも利用できる。例えば、図１１は、アイ・ダイアグラムの測定結果集団１１００を示し、機械学習プロセッサは、クラスター・プロット１１０２によって、測定結果集団１１００中に８個の異なる論理値軌道セグメントが存在すると決定できる。
【００３０】
実施形態によっては、機械学習プロセッサは、密度をベースとするアルゴリズムを使うことによって論理値軌道セグメントを決定しても良い。この手法は、比較的小さな測定結果集団でうまく機能するが、大きな測定結果集団では、波形レコードの長さが短めのものでも動作が遅くなる。そこで、別の実施形態では、機械学習プロセッサは、グリッドをベースとするアルゴリズムを使っても良い。グリッド化処理（Gridding）は、スロープをｘ軸とし、平均値（mean）をｙ軸として利用する処理である。各プロット群の大きさに関する最小値及び最大値で、行と列の範囲を定義する。各軸に関して、特定個数のセルを定め、行と列のセルの夫々は、波形セグメントの軌道のリストである。
【００３１】
機械学習プロセッサは、スロープ及び平均値の波形セグメント軌道をまとめて関連するグリット位置に配置し、隣接するグリッド・セルを組み合わせることによって集団（clumps）を組み合わせる。これは、機械学習プロセッサによって高速に行うことができ、また、グルーピング動作において、グリッド中の行や列の個数を変更することによって、粗調整や微調整が可能である。更に、占有スペースに関するしきい値として利用される最小密度を変更しても良く、これによって、ユーザは、希に生じる情報を破棄するという選択が可能で、これによれば、機械学習プロセッサがぎっしりと密集したクラスターを分離するのが容易になる。
【００３２】
１つ以上のプロセッサ１０４で生成された測定結果集団が表示部１０８で表示されるとき、１つ以上のプロセッサ１０４は、更に、測定結果集団中に見られる論理値軌道セグメントの夫々を自動的に生成でき、これらは、表示部１０８上で、測定結果集団の下にサムネイル画像として表示される。ユーザは、次いで、これら論理値軌道セグメントのサムネイルの描写のいずれかを選択すれば、もっと大きな表示で、その論理値軌道セグメントのもっと細部を見ることができる。
【００３３】
例えば、図１２は、測定結果集団１２００が生成されて画面に表示されたときの、表示部１０８の例示的なグラフィカル・ユーザ・インタフェース（ＧＵＩ）を示す。メイン表示領域１２２０には測定結果集団１２００が表示され、その下には、複数の論理値軌道セグメントに夫々対応するサムネイル１２０２、１２０４、１２０６及び１２０８が表示される。これらサムネイルは、機械学習プロセッサが、測定結果集団１２００から自動的に検出したものである。加えて、測定結果集団１２００自身のサムネイル１２１０も表示し、更に、ボックス１２１２で示すように強調（ハイライト）表示して、サムネイル１２１０中の測定結果集団が、メイン表示領域１２２０に表示された測定結果集団１２００に対応することを示しても良い。
【００３４】
図１３に示すように、サムネイル１２０４が選択されると、サムネイル１２０４で描写された論理値軌道セグメントが、メイン表示領域１２２０に表示される。ユーザは、必要に応じて、メイン表示領域１２２０に表示された論理値軌道セグメントについて更に分析しても良い。実施形態によっては、１つの測定結果を複数のサムネイルの夫々と関連させても良く、これによれば、各論理値軌道セグメントをもっと簡単に比較できる。例えば、１つの測定結果の中の複数の立ち上がりエッジについて、複数の論理値軌道セグメントを遷移状態で分類すれば、問題のある論理値軌道セグメントの特定が容易になるであろう。これは、測定結果集団中に非常にたくさんの論理値軌道セグメントがある場合には、特に有益であろう。
【００３５】
実施形態によっては、ユーザ入力部１１０を通して、視覚的トリガ（例えば、マスク・トリガなど）のような形で、ユーザが画面を見て操作し、その反応を見て再度操作するというインタラクティブなインタフェース操作により、手作業で測定結果集団に対してフィルタをかけるようにしても良い。例えば、図１４に示すように、ユーザが、ユーザ入力部１１０を用いて、画面１４００に示された測定結果集団のユーザが観察したい関心のある部分付近に、ボックス１４０２及び１４０４か、又は、何らかのゲート手段（バリア：柵）を設定しも良い。図１４からわかるように、ボックス１４０２及び１４０４の夫々の範囲に入る論理値軌道セグメントのみが表示部１０８に表示される。もしボックス１４０２及び１４０４のいずれかが除去されたら、その新しいトリガ・ボックスという設定を再度反映するように、測定結果集団の表示が自動的にアップデートされるようにしても良い。
【００３６】
実施形態によっては、１つ以上のトリガ・ボックスが測定結果集団に加えられた場合に、トリガ・ボックス内にある論理値軌道セグメントのみが、表示部１０８のメイン表示領域１４２０に表示されるように、自動的にアップデートされるようにしても良い。図１４には描写していないが、アップデートされた測定結果集団中に存在する論理値軌道セグメントの夫々に関するサムネイルを、メイン表示領域１４２０の下に表示するようにしても良い。実施形態によっては、全ての論理値軌道セグメントを有する完全な測定結果集団に関するサムネイルも表示して良く、これによれば、ユーザは、完全な測定結果集団に関するサムネイルを選択すれば、ボックス１４０２及び１４０４を削除することなく、オリジナルの測定結果集団に簡単に立ち戻って表示することができる。
【００３７】
図１５に示すように、もしユーザが例外的な異常現象に注目して、その異常現象を詳細に調査したいと希望する場合には、異なる測定値のヒストグラムを互いに重ね合わせる表示を選択し、これらの間の関係や、測定値の全体と比較した関係についての知識を得られるようにしても良い。例えば、図１５は、ヒストグラム１５００を示すが、これは、立ち上がりエッジの測定結果１５０２と、立ち下がりエッジの測定結果１５０４の両方を含んでいる。なお、図１５では、ヒストグラムの下にある選択ボタンで、立ち上がりエッジの測定結果１５０２が選択されている（ボックス１５１２で強調表示されている）ので、立ち上がりエッジの測定結果１５０２が、立ち下がりエッジの測定結果１５０４より前側で表示されている。合わせて、立ち上がりエッジの測定結果１５０２の平均値μ、標準偏差σ、データ数Ｎが右上に数値で表示されている。その逆に、立ち下がりエッジの測定結果１５０４の選択も同様に可能である。
【００３８】
図１６は、測定結果集団を表示するグラフィカル・ユーザ・インタフェースの例である。図１６では、メイン表示領域１６２０に、１つ以上のプロセッサ１０４が波形データ・レコードを用いて生成したアイ・ダイアグラム１６００が表示されている。アイ・ダイアグラム１６００は、シリアル・バス信号の挙動を視覚化し、分析するために、広く利用されている統計的な表示方法である。
【００３９】
次いで、１つ以上のプロセッサ１０４は、アイ・ダイアグラム中にある別々の論理値軌道セグメントを自動的に検出し、これら論理値軌道セグメントの夫々を複数のサムネイル１６０２としてサブ表示領域１６３０に表示する。ユーザが、ユーザ入力部１１０を通した操作により、複数のサムネイル１６０２の中のいずれかを選択しても良く、これに応じて、メイン表示領域１６２０に選択されたサムネイルに対応する論理値軌道セグメントを表示し、ユーザが選択された論理値軌道セグメントについて、更に綿密に分析できるようにしても良い。また、全ての論理値軌道セグメントを有するアイ・ダイアグラムに関するサムネイルを合わせて表示しても良く、このサムネイルを選択することで、全ての論理値軌道セグメントを有するアイ・ダイアグラムをメイン表示領域に再度表示できるようにしても良い。選択されたサムネイルは、例えば、ボックス１６１２で強調表示するようにしても良い。
【００４０】
１つ以上のプロセッサ１０４による処理は、単一の測定結果集団を生成し、表示部１０８で表示することに限定されない。例えば、図１７では、メイン表示領域１７２０に、ストローブ波形１７００とデータ波形１７０１の対を成す波形が表示される。１つ以上のプロセッサ１０４は、ストローブ波形１７００及びデータ波形１７０１夫々の測定結果集団を生成しても良い。これを行うため、１つ以上のプロセッサ１０４は、上述の手法を用いることで、ストローブ波形１７００の１つ以上の論理値軌道セグメントを検出できる。データ波形１７０１は、これら論理値軌道セグメントで得られるタイミング情報を用いて描写できる。両波形を同時に表示することによって、ユーザは、ストローブ波形１７００とデータ波形１７０１の関係を容易に観察できる。両波形の異なる論理値軌道セグメントを示すために、複数のサムネイル１７０２を表示しても良い。他の実施形態に関して説明したのと同様に、複数のサムネイル１７０２のいずれかを選択すると、対応する論理値軌道セグメントをメイン表示領域１７２０に表示するようにして、ユーザが更に分析したり観察できるようにしても良い。
【００４１】
実施形態によっては、ユーザは、別のデータ表示方法を選択しても良い。例えば、上述の実施形態のいくつかで説明したようにメイン表示領域を設けるのではなくて、測定結果集団及び論理値軌道セグメントを、関連する測定値と共に、夫々専用の波形表示領域に表示するようにしても良い。例えば、図１８に示すように、論理値軌道セグメント及び測定結果集団は、波形表示領域１８００内の夫々の専用波形表示領域内に表示し、各専用波形表示領域に隣接する測定値表示領域１８０２内の対応する測定値表示領域に、夫々に対応する立ち上がりエッジ測定のヒストグラムを表示しても良い。
【００４２】
本発明の実施例は、特別に作成されたハードウェア、ファームウェア、デジタル・シグナル・プロセッサ又はプログラムされた命令に従って動作するプロセッサを含む特別にプログラムされた汎用コンピュータ上で動作できる。本願における「コントローラ」又は「プロセッサ」という用語は、マイクロプロセッサ、マイクロコンピュータ、ＡＳＩＣ及び専用ハードウェア・コントローラ等を意図する。本発明の態様は、１つ又は複数のコンピュータ（モニタリング・モジュールを含む）その他のデバイスによって実行される、１つ又は複数のプログラム・モジュールなどのコンピュータ利用可能なデータ及びコンピュータ実行可能な命令で実現できる。概して、プログラム・モジュールとしては、ルーチン、プログラム、オブジェクト、コンポーネント、データ構造などを含み、これらは、コンピュータその他のデバイス内のプロセッサによって実行されると、特定のタスクを実行するか、又は、特定の抽象データ形式を実現する。コンピュータ実行可能命令は、ハードディスク、光ディスク、リムーバブル記憶媒体、ソリッド・ステート・メモリ、ＲＡＭなどのコンピュータ可読記憶媒体に記憶しても良い。当業者には理解されるように、プログラム・モジュールの機能は、様々な実施例において必要に応じて組み合わせられるか又は分散されても良い。更に、こうした機能は、集積回路、フィールド・プログラマブル・ゲート・アレイ（ＦＰＧＡ）などのようなファームウェア又はハードウェア同等物において全体又は一部を具体化できる。特定のデータ構造を使用して、本発明の１つ以上の態様をより効果的に実施することができ、そのようなデータ構造は、本願に記載されたコンピュータ実行可能命令及びコンピュータ使用可能データの範囲内と考えられる。
【００４３】
開示された態様は、場合によっては、ハードウェア、ファームウェア、ソフトウェア又はそれらの任意の組み合わせで実現されても良い。開示された態様は、１つ以上のプロセッサによって読み取られ、実行され得る１つ又は複数のコンピュータ可読媒体によって運搬されるか又は記憶される命令として実現されても良い。そのような命令は、コンピュータ・プログラム・プロダクトと呼ぶことができる。本願で説明するコンピュータ可読媒体は、コンピューティング装置によってアクセス可能な任意の媒体を意味する。限定するものではないが、一例としては、コンピュータ可読媒体は、コンピュータ記憶媒体及び通信媒体を含むことができる。
【００４４】
コンピュータ記憶媒体は、コンピュータ読み取り可能な情報を記憶するために使用することができる任意の媒体を意味する。限定するものではないが、例としては、コンピュータ記憶媒体としては、ランダム・アクセス・メモリ（ＲＡＭ）、読み出し専用メモリ（ＲＯＭ）、電気消去可能プログラマブル読み出し専用メモリ（ＥＥＰＲＯＭ）、フラッシュメモリやその他のメモリ技術、コンパクト・ディスク読み出し専用メモリ（ＣＤ-ＲＯＭ）、ＤＶＤ（Digital Versatile Disc）やその他の光ディスク記憶装置、磁気カセット、磁気テープ、磁気ディスク記憶装置やその他の磁気記憶装置、及び任意の技術で実装された任意の他の揮発性又は不揮発性の取り外し可能又は取り外し不能の媒体を含んでいても良い。コンピュータ記憶媒体としては、信号そのもの及び信号伝送の一時的な形態は排除される。
【００４５】
通信媒体は、コンピュータ可読情報の通信に利用できる任意の媒体を意味する。限定するものではないが、例としては、通信媒体には、電気、光、無線周波数（ＲＦ）、赤外線、音又はその他の形式の信号の通信に適した同軸ケーブル、光ファイバ・ケーブル、空気又は任意の他の媒体を含むことができる。
【００４６】
以下では、本願で開示される技術の理解に有益な実施例が提示される。この技術の実施形態は、以下で記述する実施例の１つ以上及び任意の組み合わせを含んでいても良い。
【００４７】
実施例１は、試験測定装置であって、波形データ・レコードを記憶するよう構成されるメモリと、上記波形データ・レコードを受けて、上記波形データ・レコードの測定値と測定イベントの複数の発生箇所とを求め、複数の上記発生箇所における１つ以上の論理値軌道セグメントを検出し、上記測定値の夫々の視覚的表示データ及び上記測定値の夫々を重ねた視覚的表示データを生成するよう構成される１つ以上のプロセッサと、上記測定値の視覚的表示データを表示するよう構成される表示部とを具えている。
【００４８】
実施例２は、実施例１の試験測定装置であって、このとき、１つ以上の上記プロセッサが、１つ以上の上記論理値軌道セグメントを個別に分離するよう更に構成され、上記表示部が、上記論理値軌道セグメントの夫々を表示するよう更に構成されている。
【００４９】
実施例３は、実施例２の試験測定装置であって、このとき、上記表示部が、上記論理値軌道セグメントの夫々を表示するのと同時に上記測定値の視覚的表示データを表示するよう更に構成されている。
【００５０】
実施例４は、実施例１から３のいずれかの試験測定装置であって、このとき、１つ以上の上記プロセッサが、パターン認識処理によって１つ以上の上記論理値軌道セグメントを検出するよう構成されている。
【００５１】
実施例５は、実施例４の試験測定装置であって、このとき、上記パターン認識処理が、上記測定値の夫々に基づいてグリドを生成する処理と、類似する隣接グリッド・セルをグルーピングする処理とを有している。
【００５２】
実施例６は、実施例４の試験測定装置であって、このとき、上記パターン認識処理が、密度分析を用いて、複数の測定値を関連させる処理を有している。
【００５３】
実施例７は、実施例１から６のいずれかの試験測定装置であって、ユーザ入力部を更に具え、このとき、１つ以上の上記プロセッサが、上記ユーザ入力部からの入力に基づいて、検出された１つ以上の上記論理値軌道セグメントにフィルタをかけるよう更に構成されている。
【００５４】
実施例８は、実施例１から７のいずれかの試験測定装置であって、このとき、上記測定値は、立ち上がりエッジ測定、立ち下がりエッジ測定、立ち上がり及び立ち下がりエッジ測定、エッジ測定、ロング・ビット測定又はカスタム測定のいずれかの結果である。
【００５５】
実施例９は、実施例１から８のいずれかの試験測定装置であって、このとき、上記測定値は、第１測定値であり、１つ以上の上記プロセッサが、上記第１測定値と、該第１測定値と異なる第２測定値に基づいてヒストグラムを生成するよう更に構成されている。
【００５６】
実施例１０は、測定結果集団の中の論理値軌道セグメントを自動的に検出する方法であって、上記波形データ・レコードの測定値と測定イベントの複数の発生箇所とを求める処理と、複数の上記発生箇所における１つ以上の論理値軌道セグメントを検出する処理と、上記測定値の夫々の視覚的表示データ及び上記測定値の夫々を重ねた視覚的表示データを生成する処理と、上記測定値の夫々の視覚的表示データを表示する処理とを具えている。
【００５７】
実施例１１は、実施例１０の方法であって、１つ以上の上記論理値軌道セグメントを個別に分離する処理と、上記論理値軌道セグメントの夫々を表示する処理とを更に具えている。
【００５８】
実施例１２は、実施例１１の方法であって、上記論理値軌道セグメントの夫々を、上記測定値の夫々の視覚的表示データと同時に表示する処理を更に具えている。
【００５９】
実施例１３は、実施例１０から１２のいずれかの方法であって、パターン認識処理によって１つ以上の上記論理値軌道セグメントを検出する処理を更に具えている。
【００６０】
実施例１４は、実施例１３の方法であって、このとき、上記パターン認識処理が、上記測定値の夫々に基づいてグリドを生成する処理と、類似する隣接グリッド・セルをグルーピングする処理とを有している。
【００６１】
実施例１５は、実施例１３の方法であって、このとき、上記パターン認識処理が、密度分析を用いて、複数の測定値を関連させる処理を有している。
【００６２】
実施例１６は、実施例１０から１５のいずれかの方法であって、ユーザからの入力に基づいて、検出された１つ以上の上記論理値軌道セグメントにフィルタをかける処理を更に具えている。
【００６３】
実施例１７は、実施例１０から１６のいずれかの方法であって、このとき、上記測定値は、立ち上がりエッジ測定、立ち下がりエッジ測定、立ち上がり及び立ち下がりエッジ測定、エッジ測定、ロング・ビット測定又はカスタム測定のいずれかの結果である。
【００６４】
実施例１８は、コンピュータ・プログラムであって、試験測定装置の１つ以上のプロセッサで実行されると、上記試験測定装置が、上記波形データ・レコードの測定値と測定イベントの複数の発生箇所とを求める処理と、複数の上記発生箇所における１つ以上の論理値軌道セグメントを検出する処理と、上記測定値の夫々の視覚的表示データ及び上記測定値の夫々を重ねた視覚的表示データを生成する処理と、上記測定値の夫々を重ねた視覚的表示データを表示する処理を実行する命令を有している。
【００６５】
実施例１９は、実施例１８のコンピュータ・プログラムであって、上記論理値軌道セグメントの夫々を、上記論理値軌道セグメントの夫々を重ねた視覚的表示データと同時に表示する命令を更に有している。
【００６６】
実施例２０は、実施例１８及び１９のいずれかのコンピュータ・プログラムであって、このとき、上記測定値は、立ち上がりエッジ測定、立ち下がりエッジ測定、立ち上がり及び立ち下がりエッジ測定、エッジ測定、ロング・ビット測定又はカスタム測定のいずれかの結果である。
【００６７】
開示された主題の上述のバージョンは、記述したか又は当業者には明らかであろう多くの効果を有する。それでも、開示された装置、システム又は方法のすべてのバージョンにおいて、これらの効果又は特徴のすべてが要求されるわけではない。
【００６８】
加えて、本願の記述は、特定の特徴に言及している。本明細書における開示には、これらの特定の特徴の全ての可能な組み合わせが含まれると理解すべきである。ある特定の特徴が特定の態様又は実施例の状況において開示される場合、その特徴は、可能である限り、他の態様及び実施例の状況においても利用できる。
【００６９】
また、本願において、２つ以上の定義されたステップ又は工程を有する方法に言及する場合、これら定義されたステップ又は工程は、状況的にそれらの可能性を排除しない限り、任意の順序で又は同時に実行しても良い。
【００７０】
説明の都合上、本発明の具体的な実施例を図示し、説明してきたが、本発明の要旨と範囲から離れることなく、種々の変更が可能なことが理解できよう。従って、本発明は、添付の特許請求の範囲を除いて限定されるべきではない。
【符号の説明】
【００７１】
１００  試験測定装置
１０２  ポート
１０４  プロセッサ
１０６  メモリ
１０８  表示部
１１０  ユーザ入力部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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