(57)【要約】【課題】  オフ光センサーを用いて輝度や色を補正する方法が提示されているが、経時等によりパネルの光分布が不均一になることがある。光分布を精度よく補正するためにはＤＭＤパネルと同程度の分解能を持つ高価なエリアセンサーが必要であった。【解決手段】  ＤＭＤのオフ光を検出するエリアセンサーを設け、ＤＭＤパネルの投写パターンを複数切り替えることにより、比較的解像度の高くない光エリアセンサーを用いて光分布を精度よく検出／補正する。【選択図】  図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
光源と、光源からの光を集光する照明光学系と、照明光学系の集光した光を変調する光変調素子と、光変調素子の第一の変調光をスクリーンに照射する投写光学系を備えた投射型表示装置において、さらに光変調素子の第二の変調光が照射される該光変調素子よりも解像度の低い光エリアセンサーと、該光エリアセンサーの出力を判定する判定回路と、該判定回路の結果を保持するメモリを備え、該光エリアセンサーを用いて輝度ムラ、色むらを測定することを特徴とする投写型表示装置。
【請求項２】
第一の変調光が有効光であり、第二の変調光がオフ光であることを特徴とす請求項１に記載の投射型表示装置。
【請求項３】
さらに光変調素子を駆動するパターンを予め保存するメモリを備え、該メモリに保持されたデータの少なくとも一つは、パネルの最外縁の四隅の画素を含んだ画素からの光が光エリアセンサーに照射されることを特徴とする請求項１に記載の投写型表示装置。
【請求項４】
さらに光変調素子を駆動するパターンを予め保存するメモリを備え、光エリアセンサーに照射される光変調素子の照射エリアを検出するためのテストパターンを保持するメモリを保持することを特徴とする請求項１に記載の投写型表示装置。
【請求項５】
さらに光変調素子を光エリアセンサーに照射される光変調素子の照射エリアを検出するためのテストパターンで駆動することを特徴とする請求項１に記載の投写型表示装置。
【請求項６】
光変調素子の画素の間隔が等間隔でオン状態とオフ状態となるテストパターンで駆動することを特徴とすると請求項１に記載の投写型表示装置。
【請求項７】
さらに光変調素子と光エリアセンサーとの間に、光学素子を有し、該光学素子を移動することが可能なことを特徴とする請求項１に記載の投写型表示装置。
【請求項８】
光学素子が少なくとも相対する面が並行ではない光学素子であることを特徴とする請求項７に記載の投写型表示装置。
【請求項９】
光学素子が並行平板であり、移動方法が回転方向であることを特徴とする請求項７に記載の投写型表示装置。
【請求項１０】
該光学素子の移動方向が光学素子の一つの面に対して並行であるか、回転方向であるか、またはその複合的移動であることを特徴とする請求項８に記載の投写型表示装置。
【請求項１１】
ムラを補正する補正データは測定したデータと予め保持しているデータをもとに生成することを特徴とする請求項１に記載の投写型表示装置。
【請求項１２】
該予め保持しているデータが工場調整時にムラ補正を行ったときに光エリアセンサーを用いて測定したデータをもとに生成されたデータであることを特徴とする請求項１１に記載の投写型表示装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、投射型表示装置に関し、特にその輝度ムラ／色むら補正のための測定システム及び測定方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、投写時の輝度ムラや色ムラは工場出荷時に調整を行い、それ以降はそのデータを用いて画像信号データの補正を行っていた。それゆえ、経時変化、たとえば光源の輝点移動、光源レーザー群の光量変化、光源の入れ替えによる特性変化が生じても、それに合わせてムラ補正を行うことは、投写したスクリーンを撮像して補正を行う調整用装置を必要となる（特許文献１参照）。それゆえ実際には、専門の業者等による調整が必要であった。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特許第４６５１６７３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
経時等によりパネルに照射される光分布が不均一になった場合、光分布を精度よく補正するためには上述したように調整用の撮像装置及び調整ツールが必要であった。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
上記の課題を解決するために、撮像装置の代わりに、プロジェクタ内部に光変調素子のＤＭＤパネルのオフ光が照射されるところに光エリアセンサーを設けて、ＤＭＤパネルからの光をエリアセンサーで測定する構成として光分布の不均一データを取得する。光エリアセンサーを設けることにより、撮像装置等の調整装置を必要とせず、またＤＭＤパネルの投写パターンを複数切り替えることにより、比較的解像度の高くない光エリアセンサーを用いても光分布を精度よく検出／補正することを可能としたものである。
【発明の効果】
【０００６】
本発明に係る投写型表示装置によれば、ＤＭＤパネルのオフ光を用いて工場出荷時の光分布に対する変化を検出し、それをもとに輝度ムラ／色ムラの補正を行うことにより、特別な装置を用いることなく工場調整と同等の補正を行うことが出来る効果がある。
【図面の簡単な説明】
【０００７】
【図１】本発明実施の形態のプロジェクタ装置の構成を示す図
【図２】本発明の説明で使用する光変調素子と光エリアセンサーの例を示す図
【図３】オフ光が照射されたときの光エリアセンサーの照射パターンの例を示す図
【図４】メモリ回路１２に予め保存されているオフ光のパターンの１例と光エリアセンサーに照射されたときの例を示す図
【図５】ムラ光測定用のテストパターンの１例を示す図
【図６】ムラ測定時のオフ光パターン１の例を示す図
【図７】ムラ測定時のオフ光パターン２の例を示す図
【図８】図７でオフ光をシフトしたときの光エリアセンサーに照射されるオフ光の例を示す図
【図９】オフ光の照射位置をシフトする光学素子の例１を示す図
【図１０】オフ光の照射位置をシフトする光学素子の例２を示す図
【図１１】ムラ補正を工場で行うときの構成例を示す図
【図１２】プロジェクタのムラ補正時のフローチャート
【図１３】工場でプロジェクタのムラ補正を行うときの手順を示すフローチャート
【図１４】光エリアセンサーの画素ピッチとムラ光測定用パターンのピッチがずれている場合のテストパターンの例
【発明を実施するための形態】
【０００８】
以下に、本発明の好ましい実施の形態を、添付の図面に基づいて詳細に説明する。
【０００９】
図１は、本発明の第一の実施の形態に掛かるプロジェクタ装置の構成を示す図である。
【００１０】
同図において、１はプロジェクタであり、２はプロジェクタから投写表示を行うスクリーンである。
【００１１】
１０はスクリーン２へ投写表示する映像信号が入力される映像信号入力端子、２２はプロジェクタ１を制御する制御信号等をプロジェクタの制御を行う後述するコントローラ１５と外部のＰＣ等（図示せず）と行うための通信端子である。
【００１２】
１１は入力信号入力端子１０に入力された信号を処理し、後述するパネルドライブ回路に出力する画像処理回路、１２は画像処理回路１１が画像処理を行うときに使用する設定・補正データ等を記憶しておくメモリ回路である。
【００１３】
１３は画像処理回路１１からの出力信号を受けて後述するコントローラ１５の制御信号にしたがって後述する光変調素子１４を駆動する信号を生成出力するパネルドライブ回路である。
【００１４】
１４はパネルドライブ回路１３の出力信号により後述するミラー３４からの光を変調するように駆動される光変調素子である。
【００１５】
１５はプロジェクタ１全体を制御するコントローラ、１６はコントローラ１５がプロジェクタ１を制御するために収集したデータを記憶するメモリ回路である。
【００１６】
１７は光変調素子１４の後述するオフ光４３を検出するエリアセンサー素子、１８は光エリアセンサー素子１７からの信号を受けてオフ光量を算出処理を行うオフ光処理回路、１９はオフ光処理回路１８が処理等でデータを一時記憶するメモリ回路である。
【００１７】
２０はコントローラ１５により制御され後述する光源３０を駆動するランプドライブ回路である。
【００１８】
２１はコントローラ１５により制御され後述するカラーホイール３２を画像処理回路１１からの同期信号を基準に駆動し、カラーホイールからのパルスおよびカラーホイールの位相がロックしているか否かをコントローラ１５に出力するカラーホイールドライブ回路である。
【００１９】
２２はコントローラ１５により制御され後述するプリズム素子３６、３７の位置をシフト移動させるプリズムシフト回路である。さらに３０はプロジェクタ１の光源、３１は光源３０からの光を集光する集光レンズ、３２はカラーホイールドライブ回路２１からの信号で回転駆動され集光レンズ３１から出力された光から特定の波長領域の光を通過させるカラーホイールである。
【００２０】
３３はカラーホイール３２から出力された光が入力され均一光として出力するインテグレータ、３４はインテグレータ３３からの均一光を光変調素子１４に照射するミラー、３５は光変調素子１４により変調された光のうち後述するオン光４２をスクリーン２に照射する投写レンズである。
【００２１】
３６は光変調素子１４からの後述するオフ光４３の光エリアセンサー１７に照射される位置を水平方向にシフトを行うプリズム素子、３７は光変調素子１４からのオフ光４３の光エリアセンサー１７に照射する位置を垂直方向にシフトするプリズム素子である。
【００２２】
４０はインテグレータ３３から出力された均一光、４１はミラー３４で反射され光変調素子１４に照射される均一光、４２は光変調素子１４で変調されたオン光、４３は光変調素子１４で変調されたオフ光、４４は投写レンズ３５から出力された投写光である。
【００２３】
図２は本説明で用いる光変調素子１４と光エリアセンサー１７の例を示す。
【００２４】
画素は左上からアドレスを振って、たとえば光エリアセンサー１７で矢印で示した画素は、４行目の２列目の画素であるからＰ（４，２）と表示することとする（実際は、ＤＭＤパネルは１９２０ｘ１０８０等の高解像度であるが説明用として４０ｘ３２としている。同様に、光エリアセンサーも６４０ｘ４８０等の解像度を有しているが、同様の理由で８ｘ５としている。）。
【００２５】
図３は光エリアセンサー１７に光変調素子１４からのオフ光が照射されたときの照射パターンの例であり、白い部分が光変調素子１４からのオフ光４３が照射されている部分である。実際には、光変調素子１４の左上の画素光は光エリアセンサー１７の右上の画素の方に照射されるが、説明の図では光変調素子１４の左上の光が光エリアセンサー１７の左上に照射するとして説明を進める。
【００２６】
図４は、メモリ回路１２に予め保存されている光エリアセンサー１７に照射されるオフ光４３のパターンの１例で、特に、四隅の四角状のオフ光の明るい部分（光変調素子の四隅のこの場合は縦９画素、横９画素の四角状のパターンでオフ光４３が照射される）であり、そのオフ光パターンが光エリアセンサー１７に照射されたときの例を示す（白い部分は光が照射されている部分）。
【００２７】
図５は、今回の実施例でムラ光測定の為に設定されたテストパターンである。
【００２８】
図５に示したパターンは、４画素間隔の４画素単位のブロックで生成されているが、補正データの評価値が後述する基準値Ｂ以下にならない時には、２画素だけ横、縦に移動した４画素ブロックのパターンや、図５に示した各テストパターンの４ｘ４ブロックを２ｘ２のブロックに小さくした４つのパターンにし、合計１６のテストパターンすることも可能である。
【００２９】
図６は、輝度ムラ／色ムラを測定時の光変調素子１４のオフ光パターン（白い画素部分がオフ光照射になっている画素）の１例と、その時に光エリアセンサー１７に照射されるオフ光（白い部分がオフ光が照射されている部分）の例である。
【００３０】
図７は、ムラを測定時の光変調素子１４のオフ光パターンを図５の発光画素から切り替えている例で、その時の発光パターンとその時に光エリアセンサー１７に照射されるオフ光の例である。
【００３１】
図８は、オフ光シフト回路を駆動（３６の水平方向シフトのプリズムを移動して光エリアセンサーに照射される部分を水平方向にシフトした時の例である。
【００３２】
図９は、光エリアセンサー１７に照射されるオフ光４３の照射位置をシフトする光学素子の例１である。
【００３３】
図１０は、光エリアセンサー１７に照射されるオフ光の照射位置をシフトする光学素子の例２である。
【００３４】
図１１は、工場でムラを補正し、そのデータを保存するときの構成例を示す。
【００３５】
図１のプロジェクタ１の構成の説明で説明していないものについて説明する。
【００３６】
３はテスト信号をプロジェクタ１に出力し、後述する撮像装置４からの撮像データをもとにプロジェクタ１の調整を行うところのＰＣ、４はプロジェクタ１が投写した画像を取り込む撮像装置、５１はＰＣ３の通信端子Ａ、５２はＰＣ３の通信端子Ｂ、５３はＰＣ３の映像信号出力端子、６１はＰＣ３とのデータや制御信号のやり取りを行う撮像装置４の通信端子である。
【００３７】
図１４は、光変調素子の投写画素ピッチおよびムラ光測定用パターンのブロックピッチと光エリアセンサーの画素ピッチがずれている場合の村光測定用パターンの例を示す。
【００３８】
光エリアセンサー１７の複数画素に測定用ブロック（この場合は、４画素ｘ４画素の白い部分）がかかる場合には、隣接する測定ブロックに測定対象を切り替えたパターンであり、このように、測定用の画素エリアを状況により変更して測定することは当然可能である。
【実施例１】
【００３９】
以下、図１を参照して、本発明の第１の実施例によるムラ補正システムについて図１１のフローチャートに従って説明する。
【００４０】
ここで、光変調素子１４の例として図２に示す４０ｘ３２画素の素子、および光エリアセンサー１７の例として８ｘ５画素のエリアセンサーを例に説明する。
【００４１】
また、このときの光変調素子１４のオフ光４３が光エリアセンサー１７に照射する位置の例を図３に示す。ここで、図３に示すように、光エリアセンサー１画素の大きさが、光変調素子からの光が縦横ともおよそ８画素（７から９画素分）の大きさに相当する場合で説明を行う。
【００４２】
まずＳ１で起動されると、コントローラ１５はプロジェクタ１の初期化（イニシャライズ）を行い（Ｓ２）、初期化が完了すると、ランプドライブ回路２０を用いてランプ３０を点灯する（Ｓ３）。
【００４３】
次にコントローラ１５は、カラーホイールドライブ回路２１を用いて画像処理回路１１から出力される同期信号を基準にカラーホイール３２を回転させる（Ｓ４）。コントローラ１５はカラーホイール３２の回転位相が、画像処理回路１１から出力される同期信号に同期したか否かをカラーホイール３２からの判別信号と画像処理回路１１の同期信号との位相関係をもとに判断（Ｓ５）する。ここでまだ同期が完了していない場合（Ｓ５のＮ）には、一定時間待って（Ｓ６）、再度同期しているかを判断する（Ｓ５）。カラーホイール３２が画像処理回路１１から出力される同期信号に同期したならば、Ｓ７に進む。
【００４４】
ここで、Ｓ７からＳ８にかけては光エリアセンサー１７に照射される光変調素子１４のオフ光４３の位置を検出する。この時点では、既に画像信号処理回路１１の同期信号にカラーホイール３２の回転位相が同期しているので、カラーホイール３２の通過色に同期して光エリアセンサー１７で該色のみの測定は可能である。そして受光した色ごとにオフ光処理回路１８で処理を行い、色ごとに下記に示す投写位置、オフ光強度を測定して色ごとにムラ補正データを生成することは可能である。
【００４５】
コントローラ１５は、画像処理回路１１からメモリ１２に記憶された画像データ図４を読み出し、パネルドライブ回路１３に送り、光変調素子１４に表示する（Ｓ７）。
【００４６】
次にコントローラ１５は、光エリアセンサー１７で検出した光の量をオフ光処理回路１８に取り込み、光エリアセンサー１７の各画素の光量を測定し、光エリアセンサー１７に照射される光変調素子１４の照射位置を判別する（Ｓ８）。
【００４７】
ここで、判別方法について説明を行う。図４の点線で囲った部分は光変調素子１４の端の部分（縦横で９行９列）の８１画素でオフ状態となっている。この部分のオフ光４３は、図５の光エリアセンサー１７の点線で囲った部分に照射している。ここで、光を検出している光エリアセンサー１７の４画素（Ｐ（２，１），Ｐ（２，２），Ｐ（３，１），Ｐ（３，２））の光のレベルを算出する。光変調素子１画素の値を“１”とすると、それぞれの光エリアセンサーの４画素の明るさ値をＢ（２，１），Ｂ（２，２），Ｂ（３，１），Ｂ（３，２）とすると、
Ｂ（２．１）≒３０
Ｂ（２，２）≒２４
Ｂ（３，１）≒１５
Ｂ（３，２）≒１２
となる。
【００４８】
この値から上下の比と左右の比を算出すると、
（Ｂ（２，１）＋Ｂ（３，１））／９＝５と（Ｂ（２，２）＋Ｂ（３，２））／９＝４
（Ｂ（２，１）＋Ｂ（２，２））／９＝６と（Ｂ（３，１）＋Ｂ（３，２））／９＝３
となる。
【００４９】
エリアセンサーの画素Ｐ（２，１）に光変調素子の端部から５ライン、６列分が入っていることが分かる。
【００５０】
実際、光変調素子のオフ光は上記のように割り切れる値にはならないが、小数点以下を四捨五入することで光変調素子の照射光が光エリアセンサーの照射されているエリアを判別することが出来る（Ｓ８）。光変調素子の発光ブロックを光エリアセンサーの画素の大きさ程度まで大きくしなければ、照射位置については、小数点以下のずれに関しては後述する移動方法で問題なく測定可能である。同様に光変調素子１４の各隅部分から光エリアセンサー１７に対する光変調素子の投写されるエリアを判別することが出来る。
【００５１】
次に、ムラ光測定のパターン数と各パターンで測定を行う色フィルタと各パターンを表示した時のシフト量を算出する（Ｓ９）。たとえば、図５に示すような４ｘ４のパターンを等間隔に配置したパターンを測定用表示パターンとして選択した場合について説明する。
【００５２】
この例の場合テストパターン数は図５に示すように４種なので、Ｎの値は４となる。また、光エリアセンサー１７の画素には、光変調素子１４の左上端から横方向に６画素、縦方向に５画素分が一つの光エリアセンサー１７の画素の中に入っている。つまり左上端始まりの４ｘ４の画素ブロックのパターンでは光エリアセンサー１７の複数の画素にかからず同様に各ブロックも同様にかからないので、シフト量は（０、０）となる。
【００５３】
また、図７に表示したようなテストパターンの場合には一つのブロックが光エリアセンサー１７の２画素にかかるので、たとえば、図８で示したような位置に照射されるように水平方向にシフトすれば、他のブロックも含めて光エリアセンサーの２画素にかからない。よって、プリズム３６を用いて横方向に４だけシフトするように、シフト量を（４，０）と設定する。このようにして、オフ光測定のテストパターンとその時に行うシフト操作を設定する（Ｓ９）。
【００５４】
次に、テストパターン数をカウントする値Ｍを初期値１として（Ｓ１０）、まず１番目のテストパターンの表示を画像処理回路１１からパネルドライブ回路１３を用いてパネル１４に表示する（Ｓ１１）。コントローラ１５は、第一のテストパターン１のときのプリズムシフト量は（０，０）であるからプリズムシフト回路２２を用いてプリズム３６のシフト量を０、プリズム３７のシフト量を０に合わせる（Ｓ１２）。コントローラ１５はオフ光処理回路１８で、同期信号のタイミングに合わせて光エリアセンサー１７で光量を検出し、メモリ１９に保存する（Ｓ１３）。  測定回数が所定の回数に達したかを判別し（Ｓ１４）、まだ全てのテストパターンが終わっていない場合には、Ｓ１５に進み、測定カウントのデータＭに１を加算し（Ｓ１５）、次のテストパターン（この場合は、テストパターン２）を表示するためにＳ１１に移動する。
【００５５】
ここで、プリズムによるシフトの方法について説明する。図９にプリズムを通った時の光の軌跡を示す。ミラー３４から光変調素子１４に照射された光４１は光変調素子１４によりオン光は４２として投写レンズ３５に送られ、オフ光４３は実線で示したプリズム３６に送られる。さらに、プリズムに入りプリズムの屈折率で屈折し、プリズムの左下から出力し、光エリアセンサーに照射される。ここで、プリズムシフト回路２２でプリズム３６が点線の位置に移動されると、プリズムに入力した光は、プリズムから出力する位置が移動し、出力した光は、点線で示した軌跡を通って、光エリアセンサーに照射する。図９でわかるように、プリズムが図で右側に移動すると光エリアセンサーに照射される光は、左側に移動することとなる。この移動量は実際には、プリズムの楔角とプリズムの移動量に応じて変化する。たとえば、楔の傾斜角１°でガラスを１ｍｍ移動したときに約３ｕｍ移動する。
【００５６】
フローチャート１２の説明に戻る。
【００５７】
上記のＳ１１からＳ１５をＮ回（この例では４回）繰り返し、Ｓ１４で全てのテストパターンの測定が終了すると、Ｍの値はＮと等しくなるので、Ｓ１６に移行する。コントローラ１５はオフ光処理回路１８から測定データを受け取り、Ｓ９で設定した測定パターンに合わせてデータの入れ替えを行い、光変調素子１４の画素配列と同じように測定データの配列を合わせる（Ｓ１６）。さらに、工場調整時に保存した、「差分データ」で「測定データ」を補正し「補正データ」を生成する（Ｓ１７）。生成された「補正データ」の評価値が基準値「Ｂ」以下となっているか否かを判別し、「補正データ」の評価値が基準値Ｂよりも大きい（残存ムラが多い）場合にはＳ１９に進む。
【００５８】
Ｓ１９では「補正データ」と画像処理回路の実行エリアに設定されている「ムラ補正データ」から新たな「ムラ補正データ」を生成し、画像処理回路１１の実行エリアの「ムラ補正データ」領域に設定（書込み）し、Ｓ９の作業から繰り返す。通常表示画像にムラが生じているモデルでは、「補正データ」が大きくなるために「補正データ」の評価値は値「Ｂ」よりも大きくなるので、少なくとも一回はＳ１９を経て上記作業を繰り返すことになる。Ｓ１９の補正データの変更により表示画像が変更され再度測定して生成した「補正データ」の値が基準値「Ｂ」よりも低くなれば、コントローラ１５は、画像処理回路１１の実行エリアに設定したデータと同じものを画像処理回路１１経由でメモリ回路１２に保存する。通常、Ｓ１９の段階で設定したデータは、プロジェクタの電源をＯＦＦにすると消えるので、メモリ回路１２に保存し、電源投入後のイニシャライズで、メモリ回路１２に保存された「ムラ補正データ」を用いることにで、今回行った状態と同じにできることとなる。
【００５９】
次に、工場で設定するデータについて図１１および図１３のフローに従って説明する。
【００６０】
ＰＣ装置３で調整作業が開始される（Ｓ５１）と、ＰＣ装置３は、ＰＣ制御端子Ａ５１から撮像装置４の通信端子６１へ起動コマンドを送信し、撮像装置４が起動される（Ｓ５２）。
【００６１】
次いでＰＣ制御端子５２からプロジェクタ１の通信端子２２へ起動コマンドを送信し（Ｓ５３）、プロジェクタ１が起動される。調整用ＰＣ３はプロジェクタ１の画像処理回路１１の実行エリアに設定される「ムラ補正データ」を全てデフォルト値の「０」（補正しない状態）とし（Ｓ５４）、ＰＣ装置３の端子５３からテスト信号を出力する（Ｓ５５）。テスト信号はプロジェクタ１の端子１０に入力され画像処理回路１１で処理され、パネルドライブ回路１３で光変調素子１４からオン光４２として投写レンズ３５からスクリーン２に投写される。
【００６２】
ＰＣ装置３は、撮像装置４を用いてスクリーン２に投写された画像を撮像し（Ｓ５６）、撮像したデータを通信端子６１からＰＣ装置３の通信端子５１に送られ、ＰＣ装置３は「撮像データ」を入手する（Ｓ５７）。ＰＣ装置は、取得した「画像データ」から上記投写画像のムラ量を検出し、「ムラ補正データ」を生成（Ｓ５８）し、「ムラ補正データ」を評価して基準値「Ｄ」より小さいかを判断する。評価値が大きい場合には「ムラ補正データ」を生成し（Ｓ６０）、生成した「ムラ補正データ」を制御端子５２からプロジェクタ１の通信端子２２を経由しプロジェクタ１のコントローラ１５経由で画像処理回路１１の実行エリアの「ムラ補正データ」に設定を行う（Ｓ６１）。プロジェクタ１から新たに設定された「ムラ補正データ」で補正された画像がスクリーン２に投写されると、Ｓ５６で撮像装置４の撮像画像から再度測定を行う。
【００６３】
この説明では、撮像作業を一回のみ説明したが、一連の色や明るさの異なる複数画像を用いてデータを取得して補正データを生成することは当然可能である。  ここで、「ムラ補正データ」を評価して評価値「Ｄ」よりも小さくなった場合（Ｓ５９のＹ）には、Ｓ６２に進み、ＰＣ装置３は、「ムラ補正データ」を制御端子５２から通信端子２２を経由してコントローラ１５が画像処理回路１１経由でメモリ回路１２に保存する（Ｓ６２）。
【００６４】
次に、ＰＣ装置３は、プロジェクタ１で内部のテスト信号を出力して（Ｓ６３）、フローチャート１２で行ったものと同様の方法でオフ光を測定し、（Ｓ６４）測定したオフ光から「工場データ」を生成し（Ｓ６５）し、メモリ回路１９に保存する（Ｓ６６）。以上の工程により、「工場データ」を生成することが出来る。
【００６５】
また、光変調素子１４のムラ光測定用パターンのブロックピッチと光エリアセンサー１７の画素ピッチがずれている場合は、一つの測定パターンに対してシフトしない状態とシフトした状態の２回測定を行ことで同様のムラ光を測定することは可能である。
【００６６】
さらに、一つの測定パターンに対して、シフトしない、１／３ピッチ分シフト、２／３ピッチ分シフトの３回測定を行うことにより、測定することは可能である。
【００６７】
また、図１４に示すように光変調素子１４の投写画素ピッチおよびムラ光測定用パターンのブロックピッチと光エリアセンサーの画素ピッチがずれている場合のムラ光測定用パターンの例を示す。エリアセンサーの複数画素に測定用ブロックがかかる場合には、隣接する測定ブロック（今回の例では、４ｘ４の白パターン）に測定対象を切り替えたパターンを生成して測定することは当然可能である。
【００６８】
そのようなパターンであれば、光エリアセンサーに投写される光変調素子の画素の大きさは、同じ製品であればほぼ一定であるので、その大きさに応じたパターンを設定すれば、測定回数は低く抑えられることになる。
【００６９】
光変調素子１４から光エリアセンサー１７に照射される光をシフトする方法については、上記で説明したプリズム以外に、並行平板を回転させることによっても可能である。並行平板で光シフトを行った例を図１０に示す。図１０でわかるように並行平板を時計回りに回転することで同様の効果を得ることが出来る。
【００７０】
ムラ測定は、もちろん細かく１画素単位で測定することも構成上可能であるので、今回の説明では省略したが、光変調素子１４と光エリアセンサー１７の画素数比が大きい場合には、測定時間が長くなってしますが、ムラ補正を行うときに、細かくすることは可能である。よって、調整方法の選択肢として細かく、荒く（調整時間が短い）等の選択により切り替えて選択する等、製品への実装段階で選定することは当然可能である。
【符号の説明】
【００７１】
１  プロジェクタ、２  スクリーン、１０  映像信号入力端子、２２  通信端子、
１１  画像処理回路、１２，１６，１９  メモリ回路、１３  パネルドライブ回路、
１４  光変調素子、１５  コントローラ、１７  エリアセンサー素子、
１８  オフ光処理回路、２０  ランプドライブ回路、
２１  カラーホイールドライブ回路、２２  プリズムシフト回路、
３０  光源、３１  集光レンズ、３２  カラーホイール、
３３  インテグレータ、３４  ミラー、３５  投写レンズ、４０，４１  均一光、
４２  オン光、４３  オフ光、４４  投写光
【図１】
2020118781.tif 000003
【図２】
2020118781.tif 000004
【図３】
2020118781.tif 000005
【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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