(57)【要約】【課題】暖機時間の完了を時間変化値の収束に基づいて判断することによってオフセット画像を取得すること。【解決手段】放射線を検出して電荷を蓄積する画素が２次元的に複数配置された検出手段を有する放射線撮影装置は、検出部から放射線が照射されない状態の電荷に基づいた複数のオフセット信号を異なるタイミングで取得する信号取得部と、オフセット信号の時間変化値が予め設定された基準値以下になった段階で、検出部の各画素からの信号に基づいたオフセット画像を取得する画像取得部と、を備える。【選択図】図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
放射線を検出して電荷を蓄積する画素が２次元的に複数配置された検出手段を有する放射線撮影装置であって、
前記検出手段から放射線が照射されない状態の電荷に基づいた複数のオフセット信号を異なるタイミングで取得する信号取得手段と、
前記オフセット信号の時間変化値が予め設定された基準値以下になった段階で、前記検出手段の各画素からの信号に基づいたオフセット画像を取得する画像取得手段と、
を備えることを特徴とする放射線撮影装置。
【請求項２】
前記信号取得手段は、前記検出手段の複数の部分領域における複数のオフセット信号を取得し、
前記画像取得手段は、前記複数のオフセット信号の時間変化値の全てが前記基準値以下になった段階で、前記オフセット画像を取得することを特徴とする請求項１に記載の放射線撮影装置。
【請求項３】
前記信号取得手段は、前記検出手段の複数の部分領域における複数のオフセット信号のうち、最大値を示すオフセット信号と最小値を示すオフセット信号との差分に基づいた最大出力差を示す情報を取得し、
前記画像取得手段は、前記最大出力差を示す情報を時間で微分した時間変化値が前記基準値以下になった段階で、前記オフセット画像を取得することを特徴とする請求項１に記載の放射線撮影装置。
【請求項４】
前記複数の部分領域には、前記検出手段の信号を処理する信号処理部を有する回路に近い位置の領域と、前記回路から離れた位置の領域とが含まれることを特徴とする請求項２または３に記載の放射線撮影装置。
【請求項５】
前記信号取得手段により異なるタイミングで取得された前記複数のオフセット信号の差分を時間で微分した時間変化率を前記時間変化値として算出する算出手段と、
前記時間変化値と前記基準値とを比較して、前記時間変化値が前記基準値以下になったか判定する判定手段と、
を更に備えることをと特徴とする請求項１に記載の放射線撮影装置。
【請求項６】
前記判定手段により、前記時間変化値が前記基準値以下になったと判定された場合に、前記画像取得手段は、前記オフセット画像を取得することを特徴とする請求項５に記載の放射線撮影装置。
【請求項７】
前記画像取得手段は、前記最大出力差を示す情報を時間で微分した時間変化値、及び、複数のオフセット信号の差分に基づいた信号差の時間変化値が予め設定された基準値以下になった段階で、前記オフセット画像を取得することを特徴とする請求項３に記載の放射線撮影装置。
【請求項８】
前記信号取得手段は、前記オフセット画像が取得された後、予め設定した時間ごとに新たなオフセット信号を取得し、新たに取得したオフセット信号に基づく時間変化値が基準値を超えている場合、設定したタイミングでオフセット信号の取得を繰り返すことを特徴とする請求項１乃至７のいずれか１項に記載の放射線撮影装置。
【請求項９】
前記信号取得手段は、前記オフセット画像が取得された後、使用環境の情報を検出するセンサの検出情報が閾値を超えた場合、設定したタイミングでオフセット信号の取得を繰り返すことを特徴とする請求項１乃至８のいずれか１項に記載の放射線撮影装置。
【請求項１０】
放射線を検出して電荷を蓄積する画素が２次元的に複数配置された検出手段を有する放射線撮影装置であって、
前記検出手段から放射線が照射されない状態の電荷に基づいた複数のオフセット信号の差分に基づいた信号差を異なるタイミングで取得する信号取得手段と、
前記信号差の時間変化値が予め設定された基準値以下になった段階で、前記検出手段の各画素からの信号に基づいたオフセット画像を取得する画像取得手段と、
を備えることを特徴とする放射線撮影装置。
【請求項１１】
前記信号取得手段は、前記検出手段の複数の部分領域における複数のオフセット信号の差分に基づいた複数の信号差を取得し、
前記画像取得手段は、前記複数の信号差の時間変化値の全てが前記基準値以下になった段階で、前記オフセット画像を取得することを特徴とする請求項１０に記載の放射線撮影装置。
【請求項１２】
前記信号取得手段は、前記検出手段の信号を処理する複数の信号処理部に対応する複数の部分領域のオフセット信号を取得し、前記複数の部分領域のオフセット信号の差分に基づいた信号差を異なるタイミングで取得することを特徴とする請求項１０または１１に記載の放射線撮影装置。
【請求項１３】
前記信号取得手段は、前記検出手段の複数の部分領域における複数のオフセット信号のうち、最大値を示すオフセット信号と最小値を示すオフセット信号との差分に基づいた最大出力差を示す情報を取得し、
前記画像取得手段は、前記最大出力差を示す情報を時間で微分した時間変化値、及び前記信号差の時間変化値が、予め設定された基準値以下になった段階で、前記オフセット画像を取得することを特徴とする請求項１０乃至１２のいずれか１項に記載の放射線撮影装置。
【請求項１４】
前記信号取得手段により異なるタイミングで取得された前記複数のオフセット信号の差分に基づいた信号差を時間で微分した時間変化率を前記時間変化値として算出する算出手段と、
前記時間変化値と前記基準値とを比較して、前記時間変化値が前記基準値以下になったか判定する判定手段と、
を更に備えることをと特徴とする請求項１０に記載の放射線撮影装置。
【請求項１５】
前記判定手段により、前記時間変化値が前記基準値以下になったと判定された場合に、前記画像取得手段は、前記オフセット画像を取得することを特徴とする請求項１４に記載の放射線撮影装置。
【請求項１６】
前記信号取得手段は、前記オフセット画像が取得された後、予め設定した時間ごとに新たな複数のオフセット信号の差分に基づいた信号差を取得し、前記新たに取得した信号差に基づく時間変化値が基準値を超えている場合、設定したタイミングで複数のオフセット信号の差分に基づいた信号差の取得を繰り返すことを特徴とする請求項１０乃至１５のいずれか１項に記載の放射線撮影装置。
【請求項１７】
前記信号取得手段は、前記オフセット画像が取得された後、使用環境の情報を検出するセンサの検出情報が閾値を超えた場合、設定したタイミングで複数のオフセット信号の差分に基づいた信号差の取得を繰り返すことを特徴とする請求項１０乃至１６のいずれか１項に記載の放射線撮影装置。
【請求項１８】
前記画像取得手段は、前記オフセット画像を取得した後、予め設定した時間ごとに新たなオフセット画像を取得し、オフセット補正に用いるオフセット画像を更新することを特徴とする請求項１乃至１５のいずれか１項に記載の放射線撮影装置。
【請求項１９】
前記時間変化値が前記基準値以下になったことを示す報知表示を表示手段に表示させる表示制御手段を更に備えることを特徴とする請求項１乃至１４のいずれか１項に記載の放射線撮影装置。
【請求項２０】
放射線を検出して電荷を蓄積する画素が２次元的に複数配置された検出手段を有する放射線撮影装置と、前記放射線撮影装置を制御する制御装置とを有する放射線撮影システムであって、前記制御装置が、
前記検出手段から放射線が照射されない状態の電荷に基づいた複数のオフセット信号を異なるタイミングで取得する信号取得手段と、
前記オフセット信号の時間変化値が予め設定された基準値以下になった段階で、前記検出手段の各画素からの信号に基づいたオフセット画像を取得する画像取得手段と、
を備えることを特徴とする放射線撮影システム。
【請求項２１】
放射線を検出して電荷を蓄積する画素が２次元的に複数配置された検出手段を有する放射線撮影装置と、前記放射線撮影装置を制御する制御装置とを有する放射線撮影システムであって、前記制御装置が、
前記検出手段から放射線が照射されない状態の電荷に基づいた複数のオフセット信号の差分に基づいた信号差を異なるタイミングで取得する信号取得手段と、
前記信号差の時間変化値が予め設定された基準値以下になった段階で、前記検出手段の各画素からの信号に基づいたオフセット画像を取得する画像取得手段と、
を備えることを特徴とする放射線撮影システム。
【請求項２２】
放射線を検出して電荷を蓄積する画素が２次元的に複数配置された検出手段を有する放射線撮影装置の放射線撮影方法であって、
前記検出手段から放射線が照射されない状態の電荷に基づいた複数のオフセット信号を異なるタイミングで取得する信号取得工程と、
前記オフセット信号の時間変化値が予め設定された基準値以下になった段階で、前記検出手段の各画素からの信号に基づいたオフセット画像を取得する画像取得工程と、
を有することを特徴とする放射線撮影方法。
【請求項２３】
放射線を検出して電荷を蓄積する画素が２次元的に複数配置された検出手段を有する放射線撮影装置の放射線撮影方法であって、
前記検出手段から放射線が照射されない状態の電荷に基づいた複数のオフセット信号の差分に基づいた信号差を異なるタイミングで取得する信号取得工程と、
前記信号差の時間変化値が予め設定された基準値以下になった段階で、前記検出手段の各画素からの信号に基づいたオフセット画像を取得する画像取得工程と、
を有することを特徴とする放射線撮影方法。
【請求項２４】
コンピュータに、請求項２２または２３に記載の放射線撮影方法の各工程を実行させるためのプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、放射線撮影装置、放射線撮影システム、放射線撮影方法及びプログラムに関するものである。
【背景技術】
【０００２】
放射線による医療画像診断等に用いる放射線撮影装置として、放射線を電荷に変換する変換素子や薄膜トランジスタ等のスイッチ素子、配線が設けられた画素アレイと、駆動回路や読出回路とを組み合わせた放射線撮影装置が広く利用されている。
【０００３】
こうした放射線撮影装置では低ノイズ化のために、放射線が照射された状態の画像（放射線画像）を、放射線が照射されない状態で事前に取得したオフセット画像により補正して暗電荷の成分を低減することが行われている。
【０００４】
特許文献１には、暗電流画像記憶部に記憶された暗電流画像データから暗電流増加量を算出し、増加量に基づいて画素毎の暗電流情報を更新する構成が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２００４−２０１７８４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
放射線撮影装置の使用環境や使用条件等が変化するとオフセット画像は変化することが知られており、事前にオフセット画像を取得する場合は、オフセット画像の変化が安定するまでに要する時間（以下、暖機時間）を十分に確保することが必要とされる。
【０００７】
しかしながら、一つの放射線撮影装置を、動画撮影用に用いられている放射線撮影装置を静止画撮影用として使用したり、装置外で使用していた放射線撮影装置をテーブルに格納し透視装置として使用したり、一つの放射線撮影装置を複数の使用環境や使用条件の下で使用するような場合、暖機時間の完了のタイミングは異なるため、オフセット画像を取得するために、出力信号が収束する暖機時間を確保できない場合が生じ得る。
【０００８】
本発明は、暖機時間の完了を時間変化値の収束に基づいて判断することによってオフセット画像の取得が可能な放射線撮影技術の提供を目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本発明の一態様による放射線撮影装置は以下の構成を備える。すなわち、放射線撮影装置は、放射線を検出して電荷を蓄積する画素が２次元的に複数配置された検出手段を有する放射線撮影装置であって、
前記検出手段から放射線が照射されない状態の電荷に基づいた複数のオフセット信号を異なるタイミングで取得する信号取得手段と、
前記オフセット信号の時間変化値が予め設定された基準値以下になった段階で、前記検出手段の各画素からの信号に基づいたオフセット画像を取得する画像取得手段と、を備えることを特徴とする。
【００１０】
また、本発明の他の態様による放射線撮影装置は以下の構成を備える。すなわち、放射線撮影装置は、放射線を検出して電荷を蓄積する画素が２次元的に複数配置された検出手段を有する放射線撮影装置であって、
前記検出手段の複数から放射線が照射されない状態の電荷に基づいた複数のオフセット信号の差分に基づいた信号差を異なるタイミングで取得する信号取得手段と、
前記信号差の時間変化値が予め設定された基準値以下になった段階で、前記検出手段の各画素からの信号に基づいたオフセット画像を取得する画像取得手段と、を備えることを特徴とする。
【発明の効果】
【００１１】
本発明によれば、暖機時間の完了を時間変化値の収束に基づいて判断することによってオフセット画像の取得が可能な放射線撮影技術を提供することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００１２】
【図１Ａ】実施形態１、２における放射線撮影装置の内部構成を例示する図。
【図１Ｂ】制御処理部の機能構成を例示する図。
【図２】実施形態１のオフセット画像取得の判定処理の流れを示す図。
【図３Ａ】実施形態１の放射線撮影装置の筐体の断面構造を例示する図。
【図３Ｂ】暖機時間とセンサ基板の基板温度の関係を例示する図。
【図３Ｃ】暖機時間と基板上の各位置でのオフセット信号の関係を例示する図。
【図３Ｄ】暖機時間とオフセット信号の最大出力差との関係を例示する図。
【図３Ｅ】暖機時間とオフセット信号の時間微分との関係を示す図。
【図４】実施形態２のオフセット画像取得の判定処理の流れを説明する図。
【図５Ａ】放射線撮影装置の概略的な内部構成を示す図。
【図５Ｂ】暖機時間と、部分領域におけるオフセット信号の関係を示す図。
【図５Ｃ】暖機時間とオフセット信号の信号差の関係を示す図。
【図５Ｄ】暖機時間と信号差の時間微分（時間変化値）の関係を示す図。
【図６】放射線撮影システムの構成例を示す図。
【発明を実施するための形態】
【００１３】
以下、添付の図面を参照して本発明の実施形態を説明する。なお、以下の実施形態において、放射線という用語は、Ｘ線の他、例えば、α線、β線、γ線粒子線、宇宙線などを含み得る。
【００１４】
（実施形態１）
実施形態１では、放射線撮影装置内の特定の領域において、放射線を照射していない状態で取得したオフセット信号の時間変化値に基づいて、放射線撮影装置の暖機運転の完了を判定する処理例を説明する。
【００１５】
図１Ａは、被写体の放射線画像を撮影する撮影部として機能する放射線撮影装置１００１（Ｆｌａｔ  Ｐａｎｅｌ  Ｄｅｔｅｃｔｏｒ；ＦＰＤ）の内部構成を例示する図である。放射線撮影装置１００１は、放射線を検出して電荷を蓄積する画素１０１が２次元的に複数配置された検出部１００を有する。検出部１００には５行５列に配置された画素１０１が設けられているが、これは放射線撮影装置１００１内の一部の領域を表した等価回路図である。二次元的なレイアウトについては、本実施形態に制限するものではなく、画素数を変更したり読出し回路を変更したりすることは自由である。画素１０１は、放射線を電気信号に変換する変換素子１０２と、信号線１０６と変換素子１０２との間に配置されたスイッチ１０３とを含む。尚、検出部１００に配置されている画素には、放射線に対して感度を有さない変換素子１０２を有する画素が含まれてもよい。
【００１６】
変換素子１０２は、放射線を光に変換するシンチレータおよび光を電気信号に変換する光電変換素子とで構成される。シンチレータは、一般的には、検出部１００を覆うようにシート状に形成され、複数の画素によって共有されうる。あるいは、変換素子１０２は、放射線を直接光に変換する変換素子で構成されうる。
【００１７】
スイッチ１０３は、例えば、非晶質シリコンまたは多結晶シリコン（好ましくは多結晶シリコン）などの半導体で活性領域が構成された薄膜トランジスタ（ＴＦＴ）を含みうる。
【００１８】
放射線撮影装置１００１は、複数の信号線１０６および複数の駆動線１０４を有する。各信号線１０６は、検出部１００における複数の列のうちの１つに対応する。各駆動線１０４は、検出部１００における複数の行のうちの１つに対応する。各駆動線１０４は、駆動回路２２１によって駆動される。
【００１９】
変換素子１０２の第１電極は、スイッチ１０３の第１主電極に接続され、変換素子１０２の第２電極は、バイアス線１０８に接続される。ここで、１つのバイアス線１０８は、列方向に延びていて、列方向に配列された複数の変換素子１０２の第２電極に共通に接続される。バイアス線１０８は、電源回路２２６からバイアス電圧Ｖｓを受ける。１つの列を構成する複数の画素１０１のスイッチ１０３の第２主電極は、１つの信号線１０６に接続される。１つの行を構成する複数の画素１０１のスイッチ１０３の制御電極は、１つの駆動線１０４に接続される。
【００２０】
複数の信号線１０６は、読出し回路２２２に接続される。ここで、読出し回路２２２は、複数の信号処理部１３２（信号処理ＩＣ）と、マルチプレクサ１３４(ＭＵＸ)と、アナログデジタル変換器（以下、ＡＤ変換器(ＡＤＣ)）１３６とを含みうる。複数の信号線１０６のそれぞれは、読出し回路２２２の複数の信号処理部１３２のうち対応する信号処理部１３２に接続される。ここで、１つの信号線１０６は、１つの信号処理部１３２に対応する。信号処理部１３２は、例えば、差動増幅器を含む。マルチプレクサ１３４（ＭＵＸ）は、複数の信号処理部１３２を所定の順番で選択し、選択した信号処理部１３２からの信号をＡＤ変換器１３６に供給する。ＡＤ変換器１３６は、供給された信号をデジタル信号に変換して出力する。
【００２１】
読出し回路２２２（ＡＤ変換器１３６）の出力は、情報処理回路２２４に供給され、情報処理回路２２４の制御処理部２３０によって処理される。情報処理回路２２４の制御処理部２３０は、読出し回路２２２（ＡＤ変換器１３６）の出力に基づいて、放射線画像に現れるオフセット成分を補正するオフセット補正を行うことが可能である。
【００２２】
制御処理部２３０は、オフセット補正の方法として、例えば、被写体の放射線画像の撮影前に、放射線を照射しない状態で取得された画像データ（以下、オフセット画像）を補正用画像として、被写体の放射線画像から減算することで、オフセット補正処理を行う。かかるオフセット補正処理（固定ダーク補正）では、被写体の放射線画像の撮影前にオフセット画像データを取得するため、フレームレートが高くなり、動画像撮影などの高速連続撮影が可能となる。撮影中に蓄積される暗電流電荷は、放射線撮影装置の温度や撮影条件などの影響で変化するため、被写体の放射線画像の撮影前にオフセット補正データを取得する場合、オフセット補正の精度は蓄積される暗電流電荷の影響を受け得る。
【００２３】
本実施形態では、放射線撮影装置内の特定の領域において、放射線を照射していない状態で取得したオフセット信号の時間変化値の収束に基づいて、放射線撮影装置の暖機運転の完了（暖機完了時間）を判定し、暖機運転の完了後、オフセット画像を取得して、オフセット補正処理を行う。
【００２４】
制御処理部２３０は、読出し回路２２２（ＡＤ変換器１３６）からの情報に基づいて、駆動回路２２１および読出し回路２２２を制御することが可能であり、制御処理部２３０は、画素１０１による照射された放射線に対応する電荷の蓄積の開始および終了を制御する。
【００２５】
情報処理回路２２４の記憶部２３６は、制御処理部２３０で処理された演算処理の結果や、読出し回路２２２（ＡＤ変換器１３６）から取得した画像信号を記憶することが可能であり、制御処理部２３０は、記憶部２３６に記憶されている画像信号を用いて、放射線画像に現れるオフセット成分を補正するオフセット画像を取得するための演算処理を行うことも可能である。
【００２６】
情報処理回路２２４の通信部２３７は、例えば、有線通信部と無線通信部とを有しており、放射線撮影システムを構成する制御装置１００６（図６）との間での通信を制御することが可能である。通信部２３７は、撮影された画像を制御装置（外部の装置）１００６に通信するときの通信負荷（例えば、画像を転送する転送回数や転送する画像のデータサイズ等）の判定に基づいて、オフセット画像を取得する判定処理（図２）や取得したオフセット画像によるオフセット補正を、放射線撮影装置１００１内部の制御処理部２３０で実行するか、または、外部の制御装置１００６で行うように切り換えることが可能である。
【００２７】
次に、情報処理回路２２４の記憶部２３６に記憶されている制御プログラムの処理について図１Ｂを用いて説明する。図１Ｂは、制御処理部２３０の機能構成を示すブロック図である。制御処理部２３０の各機能部は、制御処理部２３０のＣＰＵ（不図示）がプログラムを実行することにより実現されてもよいし、専用のハードウエアにより実現されてもよいし、ソフトウエアとハードウエアの協働により実現されてもよい。不図示のＣＰＵが記憶部２３６に格納されたプログラムを実行することにより、あるいは、専用のハードウエアにより、あるいはそれらの協働により、図１Ｂに示される制御処理部２３０の各機能部が実現される。
【００２８】
信号取得部２３１は、検出部１００から放射線が照射されない状態の電荷に基づいた複数のオフセット信号を異なるタイミングで取得する。画像取得部２３４は、オフセット信号の時間変化値が予め設定された基準値以下になった段階で、検出部１００の各画素からの信号に基づいたオフセット画像を取得する。
【００２９】
また、信号取得部２３１は、検出部１００の複数の部分領域における複数のオフセット信号を取得し、画像取得部２３４は、複数のオフセット信号の時間変化値の全てが基準値以下になった段階で、オフセット画像を取得することが可能である。
【００３０】
また、信号取得部２３１は、検出部１００の複数の部分領域における複数のオフセット信号のうち、最大値を示すオフセット信号と最小値を示すオフセット信号との差分に基づいた最大出力差を示す情報（絶対値）を取得し、画像取得部２３４は、最大出力差を示す情報（絶対値）を時間で微分した時間変化値が基準値以下になった段階で、オフセット画像を取得することが可能である。
【００３１】
信号取得部２３１がオフセット信号を取得する対象となる部分領域が任意に設定することが可能であり、オフセット信号の出力分布の大きい領域を設定することが可能である。例えば、複数の部分領域には、検出部１００の信号を処理する信号処理部１３２を有する回路（読出し回路２２２）に近い位置（例えば、図３ＡのＰ１）の領域と、回路から離れた位置（例えば、図３ＡのＰ２、Ｐ３）の領域とが含まれる。
【００３２】
オフセット画像を取得する条件として、実施形態１で説明した最大出力差を示す情報（絶対値）と、実施形態２で説明する信号差の時間変化値とを組わせることも可能である。この場合、画像取得部２３４は、最大出力差を示す情報（絶対値）を時間で微分した時間変化値、及び、複数のオフセット信号の差分に基づいた信号差の時間変化値が予め設定された基準値以下になった段階で、オフセット画像を取得する。
【００３３】
算出部２３２は、信号取得部２３１により異なるタイミングで取得された複数のオフセット信号の差分を時間で微分した時間変化率を時間変化値として算出する。
【００３４】
また、判定部２３３は、算出部２３２で算出された時間変化値と基準値とを比較して、時間変化値が基準値以下になったか判定する。判定部２３３により、時間変化値が基準値以下になったと判定された場合に、画像取得部２３４は、オフセット画像を取得する。
【００３５】
情報処理回路２２４にはタイマーとして機能する計時部２３８が設けられており、信号取得部２３１および画像取得部２３４は計時部２３８から時間情報を取得することが可能である。画像取得部２３４は、オフセット画像を取得した後、予め設定した時間ごとに新たなオフセット画像を取得し、オフセット補正に用いるオフセット画像を更新することが可能である。
【００３６】
また、信号取得部２３１は、オフセット画像が取得された後、予め設定した時間ごとに新たなオフセット信号を取得し、新たに取得したオフセット信号に基づく時間変化値が基準値を超えている場合、設定したタイミング（例えば、図２のＳ１１、Ｓ１２）でオフセット信号の取得を繰り返す。この場合、画像取得部２３４は、新たなオフセット画像の取得およびオフセット画像の更新を終了する。
【００３７】
また、情報処理回路２２４には放射線撮影装置１００１の使用環境の情報（温度や湿度など）を検出するセンサ２３９が設けられている。信号取得部２３１は、オフセット画像が取得された後、使用環境の情報を検出するセンサ２３９の検出情報が閾値を超えた場合、設定したタイミング（例えば、図２のＳ１１、Ｓ１２）でオフセット信号の取得を繰り返す。この場合、画像取得部２３４は、新たなオフセット画像の取得およびオフセット画像の更新を終了する。
【００３８】
表示制御部２３５は、判定部２３３の判定結果に基づいて、時間変化値が基準値以下になったことを示す報知表示を表示部２２８に表示させる。表示部２２８は、例えば、ＬＥＤなどによるインジケータやメッセージなどを表示可能な表示部として構成することが可能である。表示制御部２３５は、暖機運転の完了を報知するための報知表示として、例えば、表示部２２８を点灯させたり、メッセージを表示させることが可能である。
【００３９】
図２は実施形態１におけるオフセット画像取得の判定処理の流れを説明する図である。低ノイズの放射線撮影装置を提供するために、事前にオフセット画像を準備する必要がある。本実施形態では、放射線撮影装置１００１内部の制御処理部２３０が、暖機運転をスタートさせてからオフセット信号の時間変化値が基準を満たした段階で暖機運転完了と判定し、補正用画像としてオフセット画像を取得する構成を説明する。
【００４０】
ここで、オフセット信号は、検出部１００のうち一部の領域（部分領域）から出力される、放射線が照射されない状態の電荷に基づいた信号をいう。すなわち、オフセット信号は、検出部１００から出力される１フレームを構成する画像において、部分的な１ライン分の画素または複数画素から出力される信号の平均値または加算値を、画像の代表値として出力される信号をいう。
【００４１】
オフセット信号またはオフセット画像は、温度の変化とともに増減することが知られている。これは放射線撮影装置の検出部１００における面内の信号出力の分布においても同様で、温度分布が時間的に変化すれば、検出部１００における面内の信号出力の分布にも変化が生じる。放射線が照射された状態の画像（放射線画像）を、出力が変化したオフセット画像により補正しても暗電荷の成分が残りアーチファクトの原因になり得る。
【００４２】
ポータブル型の放射線撮影装置と透視撮影用の放射線撮影装置とを兼ねた放射線撮影装置を提供する場合には、使用する環境温度や内部の発熱温度の状態により、オフセット画像の変化が安定するまでに要する時間（暖機時間）は、使用環境や使用条件等の状況によって変わるため、全ての状況で満足できる暖機時間を確保しようとすると、必要以上に長い暖機時間が必要となる。本実施形態では、放射線撮影装置１００１を使用する際に、必要とされる暖機時間を把握し、暖機時間を最適化し、温度変化が安定してからオフセット画像を取得する。
【００４３】
まず、図２のステップＳ１１において、制御処理部２３０の信号取得部２３１は、読出し回路２２２を制御して、放射線を照射していない状態で、第１の取得タイミングでオフセット信号（過去信号）を取得する。信号取得部２３１は、取得した情報から必要に応じて加工を施し、記憶部２３６に保存する。信号取得部２３１は、信号の加工として、例えば、取得した複数の画素から得た１ライン分の画素１０１から出力された信号を平均化または加算して代表値としたオフセット信号（過去信号）を記憶部２３６に保存する。あるいは、複数画素分（ｎ画素×ｎ画素（ｎは整数））の信号を平均化または加算して代表値としたオフセット信号を記憶部２３６に保存する。
【００４４】
次に、ステップＳ１２において、信号取得部２３１は、放射線を照射していない状態で、第１の取得タイミングから一定時間経過後の第２の取得タイミングでオフセット信号（現在信号）を再度取得する。信号取得部２３１は、再度取得したオフセット信号（現在信号）を必要に応じて加工を施す。信号取得部２３１は、信号の加工の例としてオフセット信号（過去信号）と同様に、取得した複数の画素から得た１ライン分の画素１０１から出力された信号を平均化または加算して代表値としたオフセット信号、または、複数画素分（ｎ画素×ｎ画素（ｎは整数））の信号を平均化または加算して代表値としたオフセット信号を取得することが可能である。
【００４５】
その後、ステップＳ１３において、制御処理部２３０の算出部２３２は、最初にステップＳ１１で取得したオフセット信号（過去信号）と、新たにステップＳ１２で取得したオフセット信号（現在信号）からオフセット信号の時間変化値（時間変化率）を取得する。
【００４６】
ステップＳ１４において、制御処理部２３０の判定部２３３は、時間変化値が基準値を満たしているか否かを判定する。判定部２３３は、時間変化値と基準値とを比較して、時間変化値が基準値以下であれば（時間変化値≦基準値）、判定部２３３は、時間変化値が基準値を満たしていると判定する。時間変化値が基準値を満たしていれば（Ｓ１４−Ｙｅｓ）、判定部２３３は処理をステップＳ１５に進める。
【００４７】
ステップＳ１５において、制御処理部２３０の画像取得部２３４は、オフセット信号の時間変化量が小さく、オフセット補正用のオフセット画像を取得しても長時間にわたって使用することが可能なため、暖機運転完了と判定しオフセット画像を取得する。そして、画像取得部２３４は、取得したオフセット画像を補正用画像として、被写体の放射線画像から減算することで、オフセット補正処理を行う。
【００４８】
一方、ステップＳ１４の判定で、時間変化値（時間変化率）が基準値より大きい場合（時間変化値＞基準値）（Ｓ１４−Ｎｏ）、判定部２３３は、時間変化値が基準値を満たしていないと判定する。判定部２３３は、基準を満たしていない場合、処理をステップＳ１１に戻し、再度オフセット信号を取得し、以降同様の処理を繰り返す。
【００４９】
図３Ａは、実施形態１における放射線撮影装置１００１の筐体の断面構造を例示する図である。センサ基板３００（ガラス基板）上には、光電変換素子等により構成される変換素子１０２や薄膜トランジスタ（ＴＦＴ）等により構成されるスイッチ１０３を有する複数の画素１０１が二次元的な配置構造を有するアレイ状に形成されている。また、センサ基板３００の上部には蛍光体層３２２が形成されている。また、センサ基板３００上に形成されている複数の画素１０１から信号を読み出すために、読出し回路２２２と情報処理回路２２４が接続されている。
【００５０】
読出し回路２２２は信号処理を行うため消費電力が高く、発熱しやすい。このため、図３Ａに示した位置Ｐ１〜Ｐ３の３つの位置のうち、読出し回路２２２に最も近い位置である位置Ｐ１は読出し回路２２２の発熱によりセンサ基板３００の基板温度は高くなりやすい。
【００５１】
一方、位置Ｐ３は、位置Ｐ１〜Ｐ３の３つの位置のうち、読出し回路２２２から最も離れた位置である。また、センサ基板３００（ガラス基板）は熱伝導率が小さいため、位置Ｐ３は、位置Ｐ１やセンサ基板３００の中央部である位置Ｐ２と比較して、センサ基板３００の基板温度は高くなりにくい。
【００５２】
このため、センサ基板３００の基板温度の関係（大小関係）は、発熱源となる読出し回路２２２との距離に基づいて、位置Ｐ１でのセンサ基板３００の基板温度（Ｔ１）は、センサ基板３００の中央部である位置Ｐ２でのセンサ基板３００の基板温度（Ｔ２）より高くなる。また、位置Ｐ２でのセンサ基板３００の基板温度（Ｔ２）は、読出し回路２２２から最も離れた位置Ｐ３でのセンサ基板３００の基板温度（Ｔ３）より高くなる。
【００５３】
すなわち、位置Ｐ１での基板温度（Ｔ１）＞位置Ｐ２での基板温度（Ｔ２）＞位置Ｐ３での基板温度（Ｔ３）となる。センサ基板３００上に形成された各画素１０１における光電変換素子や薄膜トランジスタ（ＴＦＴ）等の出力は温度依存性を有するため、センサ基板３００上の各画素１０１から出力されるオフセット信号はセンサ基板３００の基板温度に応じて、センサ基板３００内（図１の検出部１００内）で異なる面内分布を生じる。この面内分布は、暖機時間とともに変化し、ある一定の時間が経過すると時間変化は低減していく。
【００５４】
図３Ｂは、暖機時間とセンサ基板３００の基板温度の関係を例示する図であり、位置Ｐ１〜位置Ｐ３の各位置で、基板温度が異なる時間で収束することが分かる。図３Ｃは、暖機時間とセンサ基板３００上の各位置に対応した画素１０１から出力されるオフセット信号（出力）の関係を例示する図である。本実施形態の場合、基板温度が増加するとオフセット信号（出力）が低くなる設計となっているため、暖機時間の経過とともに画素１０１から出力されるオフセット信号は低下する傾向を示す。特に、位置Ｐ１〜位置Ｐ３のうち、基板温度（Ｔ１）が最も高い位置Ｐ１でのオフセット信号（出力）は、位置Ｐ１に比べて基板温度が低い位置Ｐ２や位置Ｐ３でのオフセット信号（出力）に比べて低くなり収束することが分かる。
【００５５】
図３Ｄは、暖機時間と、オフセット信号の最大出力差（絶対値）との関係を例示する図である。ここで、最大出力差（絶対値）とは、位置Ｐ１、Ｐ２、Ｐ３におけるオフセット信号のうち、オフセット信号の最大値と最小値との差分に基づいて取得される差分情報（最大値−最小値）の絶対値である。
【００５６】
図３Ｃでは、位置Ｐ１でのオフセット信号（出力）が最小値となり、位置Ｐ３でのオフセット信号（出力）が最大値となるため、図３Ｄにおける最大出力差（絶対値）は、位置Ｐ３でのオフセット信号（出力）から位置Ｐ１でのオフセット信号（出力）を減算した値となる。この最大出力差の絶対値が時間的に安定した状態で、オフセット画像の取得を行うと、各画素１０１の出力は収束した状態となるためにオフセット画像の有効期間は長くなり、アーチファクトが出にくい画像を提供することが可能となる。
【００５７】
図３Ｅは、暖機時間の経過と出力時間微分との関係を示す図であり、図３Ｃの時間微分を表した図である。オフセット信号の出力変化が小さい位置Ｐ３でのオフセット信号の時間微分が比較的小さくなりやすく、出力変化が大きい位置Ｐ１でのオフセット信号の時間微分が比較的大きくなりやすい。
【００５８】
例えば、図２のステップＳ１４の判定処理で、モニタしている位置Ｐ１〜Ｐ３の全ての位置でのオフセット信号の時間変化値（時間変化率）が基準値以下になった段階で暖機完了とし、オフセット画像を取得してもよい。すなわち、制御処理部２３０は、各位置でのオフセット信号の時間変化値と基準値とを比較して、時間変化値が基準値以下であれば、制御処理部２３０の判定部２３３は、時間変化値が基準値を満たし、暖機完了と判定する。判定部２３３により暖機完了と判定された段階で、画像取得部２３４は、読出し回路２２２（ＡＤ変換器１３６）を制御して、オフセット画像を取得するように制御する。
【００５９】
また、算出部２３２は、図３Ｄで示した最大出力差（絶対値）の時間微分を算出し、判定部２３３は基準値以下となった段階で暖機完了と判定し、判定部２３３により暖機完了と判定された段階で、画像取得部２３４は、オフセット画像を取得しても良い。
【００６０】
図３Ｂ〜図３Ｅでは、読出し回路２２２の近傍の位置Ｐ１と、読出し回路２２２から離れた位置Ｐ２や位置Ｐ３でオフセット信号（出力）の差分を求め、基準と照らし合して暖機完了を判定しているが、筐体内の発熱部材近傍の位置を設計的に定めモニタしても良く、逆に、筐体が接続される装置と接触し冷却されやすい領域があるのであれば、そこを設計的に定め、オフセット信号の変化をモニタしても良い。
【００６１】
実施形態１では、予め設定した領域の時間変化量をモニタする構成ついて説明したが、予め設定する領域は、設計段階で確認した出力分布が大きい領域に設定しても良い。また、使用方法によって出力分布が変わるようなことが想定される場合は、複数の領域を任意に設定し、オフセット信号の変化をモニタしても良い。
【００６２】
また、オフセット信号の変化をモニタする画素１０１は、光に対して感度を有さない画素とし残像などの影響を受けないようにしても構わない。ノイズが発生しモニタする画素の出力に影響を与える可能性が考えられる場合、リカーシブフィルターをかけたりモニタ画素数を増やし平均化処理をしたりすることで、ノイズの影響を除外できるようにしても良い。また、モニタする画素の上位と下位の任意の数はモニタ画素から除外しても良い。
【００６３】
オフセット画像を取得した後も、判定部２３３はオフセット信号の変化をモニタし、時間変化値が基準値より大きくなったら、暖機運転に遷移し、放射線が照射されない状態でオフセット信号を再取得しても良い。オフセット画像を取得した後も、信号取得部２３１は、予め設定した時間ごとに新たなオフセット信号を取得し、新たに取得したオフセット信号に基づく時間変化値が基準値を超えている場合、設定したタイミング（例えば、図２のＳ１１、Ｓ１２）でオフセット信号の取得を繰り返す。
【００６４】
実施形態１によれば、暖機時間の完了を時間変化値の収束に基づいて判断することによってオフセット画像の取得が可能になる。すなわち、必要以上に長い暖機時間を設けず、放射線撮影装置で撮影を行いたいときに、なるべく早いタイミングで暖機運転を完了させ撮影できる状態にすることが可能となり、操作者の待ち時間の短縮が可能となる。また、暖機運転不足によるアーチファクトの発生を抑制することも可能となる。
【００６５】
（実施形態２）
実施形態１では、放射線撮影装置内の領域において、放射線を照射していない状態で取得したオフセット信号の時間変化値に基づいて、放射線撮影装置の暖機運転の完了を判定した。実施形態２では、複数の領域間に関して、放射線を照射していない状態で取得したオフセット信号の信号差の時間変化値に基づいて、放射線撮影装置の暖機運転の完了を判定する処理例を説明する。
【００６６】
実施形態２では、例えばセンサ基板３００（図３Ａ）の温度分布ではなく、センサ基板３００の周辺に配置されている複数の信号処理部（ＩＣ）の温度に着目する。複数の信号処理部間の温度差が、各信号処理部に対応するオフセット信号の出力差に影響することを管理するために、複数の信号処理部の境界部を予めモニタ領域として設定し、複数の信号処理部間でオフセット信号の信号差（出力段差）が発生しないようにすることを目的としている。尚、実施形態２の放射線撮影装置の構成は実施形態１（図１Ａ、図１Ｂ）と同様であり、実施形態１と重複する構成については、説明の重複を避けるため省略する。
【００６７】
実施形態２において、制御処理部２３０の機能構成として、信号取得部２３１は、検出部１００から放射線が照射されない状態の電荷に基づいた複数のオフセット信号の差分に基づいた信号差を異なるタイミングで取得する。画像取得部２３４は、信号差の時間変化値が予め設定された基準値以下になった段階で、検出部１００の各画素からの信号に基づいたオフセット画像を取得する。
【００６８】
また、信号取得部２３１は、検出部１００の複数の部分領域における複数のオフセット信号の差分に基づいた複数の信号差を取得し、画像取得部２３４は、複数の信号差の時間変化値の全てが基準値以下になった段階で、オフセット画像を取得する。ここで、信号取得部２３１は、検出部１００の信号を処理する複数の信号処理部１３２に対応する複数の部分領域（例えば、図５Ａの１Ｒ、１Ｌ、２Ｒ、２Ｌ、３Ｒ、３Ｌ）のオフセット信号を取得し、複数の部分領域のオフセット信号の差分に基づいた信号差（例えば、１Ｌ−２Ｒ、２Ｌ−３Ｒ等）を異なるタイミングで取得する。
【００６９】
オフセット画像を取得する条件として、実施形態１で説明した最大出力差を示す情報（絶対値）と、信号差の時間変化値とを組わせることも可能である。この場合、信号取得部２３１は、検出部１００の複数の部分領域における複数のオフセット信号のうち、最大値を示すオフセット信号と最小値を示すオフセット信号との差分に基づいた最大出力差を示す情報（最大出力差の絶対値）を取得し、画像取得部２３４は、最大出力差を示す情報を時間で微分した時間変化値、及び信号差の時間変化値が、予め設定された基準値以下になった段階で、オフセット画像を取得する。
【００７０】
また、実施形態２における制御処理部２３０の機能構成として、算出部２３２は、信号取得部２３１により異なるタイミングで取得された複数のオフセット信号の差分に基づいた信号差を時間で微分した時間変化率を時間変化値として算出する。
【００７１】
また、判定部２３３は、時間変化値と基準値とを比較して、時間変化値が基準値以下になったか判定する。そして、判定部２３３により、時間変化値が基準値以下になったと判定された場合に、画像取得部２３４は、オフセット画像を取得する。
【００７２】
また、画像取得部２３４は、オフセット画像を取得した後、予め設定した時間ごとに新たなオフセット画像を取得し、オフセット補正に用いるオフセット画像を更新することが可能である。信号取得部２３１は、オフセット画像が取得された後、予め設定した時間ごとに新たな複数のオフセット信号の差分に基づいた信号差を取得し、新たに取得した信号差に基づく時間変化値が基準値を超えている場合、設定したタイミング（例えば、図４のＳ２２、Ｓ２４）で複数のオフセット信号の差分に基づいた信号差の取得を繰り返す。この場合、画像取得部２３４は、新たなオフセット画像の取得およびオフセット画像の更新を終了する。
【００７３】
信号取得部２３１は、オフセット画像が取得された後、使用環境の情報を検出するセンサ２３９の検出情報が閾値を超えた場合、設定したタイミング（例えば、図４のＳ２２、Ｓ２４）で複数のオフセット信号の差分に基づいた信号差の取得を繰り返す。この場合、画像取得部２３４は、新たなオフセット画像の取得およびオフセット画像の更新を終了する。
【００７４】
図４は実施形態２におけるオフセット画像取得の判定処理の流れを説明する図である。実施形態１との差は、予め定められた複数の特定の領域に関して、複数のオフセット信号の差分に基づいた信号差（出力段差）をモニタし、信号差の時間変化値が基準値を満たすか否かを判定する点である。
【００７５】
まず、ステップＳ２１において、制御処理部２３０の信号取得部２３１は、検出部１００における複数の部分領域において、放射線を照射していない状態で、第１の取得タイミングでオフセット信号（過去信号）をそれぞれ取得する。
【００７６】
そして、ステップＳ２２において、信号取得部２３１は、複数の領域でそれぞれ取得されたオフセット信号（過去信号）の信号差を算出する。例えば、信号取得部２３１は、第１領域のオフセット信号（過去信号）と第２領域のオフセット信号（過去信号）との差分に基づいて、オフセット信号（過去信号）の信号差を算出する。信号取得部２３１は、第１領域のオフセット信号（過去信号）と第２領域のオフセット信号（過去信号）との信号差を絶対値として取得する。尚、上記のオフセット信号（過去信号）の信号差の算出は例示的なものであり、更に多くの部分領域が設定されている場合、制御処理部２３０は、複数の部分領域でそれぞれ取得されたオフセット信号（過去信号）の信号差を算出することが可能である。
【００７７】
次に、ステップＳ２３において、信号取得部２３１は、検出部１００における複数の部分領域において、放射線を照射していない状態で、第１の取得タイミングから一定時間経過後の第２の取得タイミングでオフセット信号（現在信号）をそれぞれ再度取得する。
【００７８】
また、ステップＳ２４において、信号取得部２３１は、複数の部分領域でそれぞれ取得されたオフセット信号（現在信号）の信号差を算出する。例えば、信号取得部２３１は、第１領域のオフセット信号（現在信号）と第２領域のオフセット信号（現在信号）との差分に基づいて、オフセット信号（現在信号）の信号差を算出する。尚、オフセット信号（過去信号）の場合と同様に、上記のオフセット信号（現在信号）の信号差の算出は例示的なものであり、更に多くの部分領域が設定されている場合、信号取得部２３１は、複数の部分領域でそれぞれ取得されたオフセット信号（現在信号）の信号差を算出することが可能である。
【００７９】
ステップＳ２５において、算出部２３２は、最初にステップＳ２２で取得したオフセット信号（過去信号）の信号差と、ステップＳ２４で取得したオフセット信号（現在信号）の信号差からオフセット信号の信号差の時間変化値（時間変化率）を取得する。
【００８０】
ステップＳ２６において、判定部２３３は、オフセット信号の信号差の時間変化値が基準値を満たしているか否かを判定する。判定部２３３は、時間変化値と基準値とを比較して、時間変化値が基準値以下であれば（時間変化値≦基準値）、判定部２３３は、時間変化値が基準値を満たしていると判定する。時間変化値が基準値を満たしていれば（Ｓ２６−Ｙｅｓ）、判定部２３３は処理をステップＳ２７に進める。
【００８１】
ステップＳ２７において、画像取得部２３４は、オフセット信号の信号差の時間変化値の時間変化量が小さく、オフセット補正用のオフセット画像を取得しても長時間にわたって使用することが可能なため、暖機運転完了と判定しオフセット画像を取得する。そして、制御処理部２３０は、取得したオフセット画像を補正用画像として、被写体の放射線画像から減算することで、オフセット補正処理を行う。
【００８２】
一方、ステップＳ２６の判定で、時間変化値（時間変化率）が基準値より大きい場合（時間変化量＞基準値）（Ｓ２６−Ｎｏ）、判定部２３３は、時間変化値が基準値を満たしていないと判定する。判定部２３３は、基準を満たしていない場合、処理をステップＳ２１に戻し、再度オフセット信号を取得し、以降同様の処理を繰り返す。
【００８３】
図５Ａは、放射線撮影装置１００１の概略的な内部構成を示す図である。センサ基板３００には、読出し回路２２２の複数の信号処理部１３２（図１Ａ）の構成例として、３個の信号処理部１３２が接続されている。また、センサ基板３００には、駆動回路２２１（図１Ａ）の構成として、３個の制御ＩＣ５３１と制御ボード５３２が接続されている。
【００８４】
図５Ａに示すような部品が放射線撮影装置１００１の筐体に配置されると、暖機運転により筐体内の温度が変化し得る。筐体内の温度変化により、複数の信号処理部１３２に対応するオフセット信号の出力がばらつくと、これにより複数の信号処理部１３２の間でオフセット信号の信号差（段差）が生じてしまい、アーチファクトとして視認され得る。アーチファクトの発生を防ぐためには、複数の信号処理部１３２の間でオフセット信号の信号差をモニタする領域を予め設定し、信号差の時間変化値を求め、信号差の時間変化値が基準値を満たしたか否かを判定する。
【００８５】
判定部２３３は、オフセット信号の信号差の時間変化値が基準値を満たした場合はオフセット画像の取得が可能と判定する。すなわち、複数の信号処理部１３２の間でのオフセット信号の信号差の時間変化値が基準値以下となった場合に、判定部２３３は、オフセット信号の信号差が収束したと判定し、オフセット画像の取得が可能と判定する。一方、オフセット信号の信号差の時間変化値が基準値を満たしていない場合に、判定部２３３は、オフセット画像の取得は不可と判定する。
【００８６】
図５Ａにおいて、複数の信号処理部１３２の間に出力信号をモニタする部分領域として、部分領域（１Ｒ）、部分領域（１Ｌ）、部分領域（２Ｒ）、部分領域（２Ｌ）、部分領域（３Ｒ）、部分領域（３Ｌ）を設定する。オフセット信号の信号差の時間変化値として、出力信号の変化率を取得する場合、例えば、部分領域（１Ｌ）と部分領域（２Ｒ）との間での出力信号の差分，部分領域（２Ｌ）と部分領域（３Ｒ）との間での出力信号の差分をモニタし、差分を時間微分した値と基準値と比較して、各信号処理部１３２の出力信号の変化が収束したか否かを判定することが可能である。
【００８７】
図５Ｂは、暖機時間と、部分領域（１Ｒ）〜部分領域（３Ｌ）におけるオフセット信号との関係を示す図である。暖機運転の時間が長くなると、各信号処理部１３２の温度が上昇することにより、オフセット信号は暖機時間の経過とともに低下するが、信号処理部１３２の温度もバラつきが生じるため、複数の信号処理部１３２に対応するオフセット信号に信号差（段差）が生じる。
【００８８】
図５Ｃは、暖機時間と、複数の信号処理部１３２に対応するオフセット信号の信号差の関係を示す図である。ここで、信号差は、部分領域（１Ｌ）と部分領域（２Ｒ）におけるオフセット信号の差分と、部分領域（２Ｌ）と部分領域（３Ｒ）におけるオフセット信号の差分を例示的に示している。暖機運転の初期の段階では信号差の変化は大きくなるが、暖機時間の経過とともに信号差は収束する傾向が見られる。
【００８９】
図５Ｄは、暖機時間と信号差の時間微分に基づいた時間変化値の関係を示す図であり、暖機時間の経過とともに信号差の時間微分（時間変化値）は小さくなる。例えば、予め定めた基準値以下となった段階で暖機運転完了と判定し、オフセット画像を取得することで、複数の信号処理部１３２の間で出力信号の出力差（段差）が発生しにくい放射線撮影装置を提供することが可能となる。
【００９０】
このように、実施形態２によれば、温度により出力信号が変化しやすい部品においては、その部品ばらつきによる出力信号を管理できる領域を予め設定しモニタすることで、より短い暖機時間でアーチファクトが発生しにくいオフセット画像取得タイミングを把握することが可能となる。
【００９１】
また、同一部品内であっても、内部の回路のインピーダンスの差などにより温度特性を持つものについて、予め複数の領域を設定しモニタすることで部品内のアーチファクトを防止することが可能となる。
【００９２】
実施形態２によれば、暖機時間の完了を時間変化値の収束に基づいて判断することによってオフセット画像の取得が可能になる。すなわち、必要以上に長い暖機時間を設けず、放射線撮影装置で撮影を行いたいときに、なるべく早いタイミングで暖機運転を完了させ撮影できる状態にすることが可能となり、操作者の待ち時間の短縮が可能となる。また、暖機運転不足によるアーチファクトの発生を抑制することも可能となる。
【００９３】
（実施形態３）
次に本発明の実施形態３として、放射線撮影装置１００１を放射線撮影システムに適用した場合の構成を説明する。図６は放射線撮影システム１０００の構成例を示す図である。放射線撮影システム１０００は、例えば、病院内での放射線画像の撮影時において使用され、放射線発生装置１００２で発生した放射線１００３は被写体１００４の胸部１００５を透過し、シンチレータを上部に実装した放射線撮影装置１００１に入射する。放射線撮影装置１００１は、被写体１００４を透過した放射線を検出し放射線画像を形成する。放射線撮影装置１００１に入射した放射線には被写体１００４の体内部の情報が含まれている。放射線の入射に対応してシンチレータは発光し、これを光電変換して、電気的情報を得る。この情報はデジタルに変換され制御装置１００６により画像処理されコントルールルームの表示部１００７で観察することができる。
【００９４】
また、この情報はネットワーク１００８により遠隔地へ転送でき、別の場所のドクタールームなどの表示部１００９に表示もしくは光ディスク等の記録部に保存することができ、遠隔地の医師が診断することも可能である。また記録部となるフィルムプロセッサ１０１０や記録媒体となるフィルム１０１１に記録することもできる。
【００９５】
制御装置１００６は、放射線撮影装置１００１の動作を制御することが可能であり、放射線撮影装置１００１に対して、例えば、撮影条件の設定、動作制御などを行う。放射線撮影装置１００１は、制御装置１００６に対して、例えば、画像転送、到達線量の送信、自動露出制御信号の送信などを行う。制御装置１００６は撮影条件の設定、動作制御、画像情報などの情報を入力するための入力デバイス(入力部)として、例えば、マウス、キーボードを有する。また制御装置１００６は、放射線発生装置１００２に対して放射線の照射制御などを行う。
【００９６】
放射線撮影装置１００１の通信部２３７（図１Ｂ）は、撮影された画像を制御装置１００６に通信するときの通信負荷の判定に基づいて、オフセット画像を取得する判定処理（図２）や取得したオフセット画像によるオフセット補正を、放射線撮影装置１００１内部の制御処理部２３０で実行するか、または、放射線撮影システム１０００の制御装置１００６で行うように切り換えることが可能である。
【００９７】
制御装置１００６は、機能構成として、放射線撮影装置１００１との通信を制御する通信制御部と、放射線撮影装置１００１の動作制御、撮影条件の設定、オフセット補正に関する演算処理を行う制御処理部とを有する。制御装置１００６の制御処理部は、放射線撮影装置１００１の制御処理部２３０と同様の機能構成を有する。すなわち、制御装置１００６の制御処理部は、機能構成として、信号取得部２３１、算出部２３２、判定部２３３、画像取得部２３４、表示制御部２３５を有し、放射線撮影装置１００１の制御処理部２３０と同様の処理を実行することが可能である。
【００９８】
（その他の実施形態）
本発明は、上述の実施形態の１以上の機能を実現するプログラムを、ネットワーク又は記憶媒体を介してシステム又は装置に供給し、そのシステム又は装置のコンピュータにおける１つ以上のプロセッサーがプログラムを読出し実行する処理でも実現可能である。また、１以上の機能を実現する回路（例えば、ＡＳＩＣ）によっても実現可能である。
【符号の説明】
【００９９】
１０００：放射線撮影システム、１００１：放射線撮影装置（ＦＰＤ）：２２２：読出し回路、２２４：情報処理回路、２３０：制御処理部、２３１：信号取得部、２３２：算出部、２３３：判定部、２３４：画像取得部、２３６：記憶部、２３７：通信部
【図１Ａ】
2020005987.tif 000003
【図１Ｂ】
2020005987.tif 000004
【図２】
2020005987.tif 000005
【図３Ａ】
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【図３Ｂ】
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【図３Ｃ】
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【図３Ｄ】
2020005987.tif 000009
【図３Ｅ】
2020005987.tif 000010
【図４】
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【図５Ａ】
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【図５Ｂ】
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【図５Ｃ】
2020005987.tif 000014
【図５Ｄ】
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【図６】
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