(57)【要約】      （修正有）【課題】信頼性の低下を抑制する。【解決手段】表示装置１は、複数の画素が設けられる表示領域Ａ、及び表示領域Ａよりも外側の周辺領域を有する第１基板ＳＵＢ１と、表示領域Ａに設けられて、画素に接続されて画素に信号を供給する配線Ｓと、外側周辺領域Ｂ１ｂに設けられる端子である複数のスイッチ端子ＴＳと、表示領域Ａの第１方向Ｙ１側の第１周辺領域Ｂ１に設けられ、スイッチ端子ＴＳ及び配線Ｓに接続される複数の第１スイッチＳＷＡと、表示領域Ａの第２方向Ｙ２側の第２周辺領域Ｂ２に設けられ、第１スイッチＳＷＡに接続されるスイッチ端子ＴＳとは異なるスイッチ端子ＴＳ、及び配線に接続される複数の第２スイッチＳＷＢと、を有する。第１スイッチＳＷＡ及び第２スイッチＳＷＢの少なくとも一方は、一部が第１接続線ＬＢ１を介してスイッチ端子ＴＳに接続され、他の一部が第２接続線ＬＢ２を介してスイッチ端子ＴＳに接続される。【選択図】図４
2020154251.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の画素が設けられる表示領域、及び前記表示領域よりも外側の周辺領域を有する第１基板と、
前記表示領域に設けられて、前記画素に接続されて前記画素に信号を供給する複数の配線と、
前記周辺領域に設けられる端子である複数のスイッチ端子と、
前記表示領域の第１方向側の前記周辺領域である第１周辺領域に設けられ、前記スイッチ端子、及び前記配線に接続される複数の第１スイッチと、
前記表示領域の前記第１方向と反対方向の第２方向側の前記周辺領域である第２周辺領域に設けられ、前記第１スイッチに接続される前記スイッチ端子とは異なる前記スイッチ端子、及び前記配線に接続される複数の第２スイッチと、
を有し、
前記第１スイッチ及び前記第２スイッチの少なくとも一方は、一部が第１接続線を介して前記スイッチ端子に接続され、他の一部が第２接続線を介して前記スイッチ端子に接続される、
表示装置。
【請求項２】
複数の前記第２スイッチは、一部が、前記第１接続線を介して前記スイッチ端子に接続され、他の一部が、前記第２接続線を介して前記スイッチ端子に接続され、
複数の前記第１スイッチは、同じ接続線を介して前記スイッチ端子に接続される、請求項１に記載の表示装置。
【請求項３】
複数の前記第２スイッチは、一部が、前記第１接続線を介して複数の前記スイッチ端子のうちの１つである一方側端子に接続され、他の一部が、前記第２接続線を介して複数の前記スイッチ端子のうちの他の１つである他方側端子に接続される、請求項２に記載の表示装置。
【請求項４】
前記第１スイッチは、前記スイッチ端子からの信号により、複数の前記配線同士の接続と遮断とを切り替え可能に構成される、請求項１から請求項３のいずれか１項に記載の表示装置。
【請求項５】
前記周辺領域に設けられて前記第２スイッチに接続される端子である出力端子をさらに有し、
前記第２スイッチは、前記スイッチ端子からの信号により、前記出力端子と前記配線との接続及び遮断を切り替える、請求項１から請求項４のいずれか１項に記載の表示装置。
【請求項６】
請求項１から請求項５のいずれか１項に記載の表示装置の検査方法であって、
前記スイッチ端子に信号を出力して前記第１スイッチ及び前記第２スイッチを駆動させることで、前記配線に電流を流して前記配線の検査を行う際に、
第１時間において前記スイッチ端子から前記第１接続線へ前記信号を出力することで、前記第１時間において複数の前記配線のうちの一部に電流を流し、
前記第１時間と異なる第２時間において前記スイッチ端子から前記第２接続線へ前記信号を出力することで、前記第２時間において複数の前記配線のうちの他の一部に電流を流す、検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、表示装置及び検査方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
表示装置の信頼性を確保するために、表示装置を検査する技術が種々検討されている。例えば特許文献１には、表示装置に、画素に接続された信号線に接続される検査用端子を設ける旨が記載されている。特許文献１によると、検査用端子から検査用データ信号を入力することで、画素に検査用データ信号に応じた発色を行わせて、発色状態の検査を行う。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２０１０−２４３５２４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
近年では、表示装置の高精細化に伴い、配線の本数が増加し各配線が細線化される傾向にあり、局所的に線幅が細くなる配線が製造されることが考えられる。このような表示装置は、駆動時間の経過に伴い駆動電流が流れる積算時間が長くなると、配線の局所的に線幅が細くなる箇所が、駆動電流のストレスに起因して断線するおそれがある。また、このように局所的に線幅が細くなる箇所以外にも、断線のおそれがあったり断線したりしている箇所を検出することも求められる。従って、断線のおそれがある箇所などがあるかを検出可能にしておくことで、信頼性の低下を抑制することが求められている。
【０００５】
本発明は、上記の課題に鑑みてなされたもので、信頼性の低下を抑制することが可能な表示装置及び検査方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明の一態様による表示装置は、複数の画素が設けられる表示領域、及び前記表示領域よりも外側の周辺領域を有する第１基板と、前記表示領域に設けられて、前記画素に接続されて前記画素に信号を供給する複数の配線と、前記周辺領域に設けられる端子である複数のスイッチ端子と、前記表示領域の第１方向側の前記周辺領域である第１周辺領域に設けられ、前記スイッチ端子、及び前記配線に接続される複数の第１スイッチと、前記表示領域の前記第１方向と反対方向の第２方向側の前記周辺領域である第２周辺領域に設けられ、前記第１スイッチに接続される前記スイッチ端子とは異なる前記スイッチ端子、及び前記配線に接続される複数の第２スイッチと、を有し、前記第１スイッチ及び前記第２スイッチの少なくとも一方は、一部が第１接続線を介して前記スイッチ端子に接続され、他の一部が第２接続線を介して前記スイッチ端子に接続される。
【０００７】
本発明の一態様による検査方法は、前記表示装置の検査方法であって、前記スイッチ端子に信号を出力して前記第１スイッチ及び前記第２スイッチを駆動させることで、前記配線に電流を流して前記配線の検査を行う際に、第１時間において前記スイッチ端子から前記第１接続線へ前記信号を出力することで、前記第１時間において複数の前記配線のうちの一部に電流を流し、前記第１時間と異なる第２時間において前記スイッチ端子から前記第２接続線へ前記信号を出力することで、前記第２時間において複数の前記配線のうちの他の一部に電流を流す。
【図面の簡単な説明】
【０００８】
【図１】図１は、本実施形態に係る表示装置を模式的に示す平面図である。
【図２】図２は、本実施形態に係る表示装置の画素配列を示す模式図である。
【図３】図３は、本実施形態に係る表示装置の模式的な断面図である。
【図４】図４は、本実施形態に係る表示装置の構成の模式図である。
【図５】図５は、エージング処理の一例を示す模式図である。
【図６】図６は、エージング処理の一例を示す模式図である。
【図７】図７は、ゲート信号の出力タイミングの一例を示すグラフである。
【図８】図８は、信号線に流れる電流値の一例を示すグラフである。
【発明を実施するための形態】
【０００９】
以下に、本発明の各実施形態について、図面を参照しつつ説明する。なお、開示はあくまで一例にすぎず、当業者において、発明の主旨を保っての適宜変更について容易に想到し得るものについては、当然に本発明の範囲に含有されるものである。また、図面は説明をより明確にするため、実際の態様に比べ、各部の幅、厚さ、形状等について模式的に表される場合があるが、あくまで一例であって、本発明の解釈を限定するものではない。また、本明細書と各図において、既出の図に関して前述したものと同様の要素には、同一の符号を付して、詳細な説明を適宜省略することがある。
【００１０】
（表示装置の構成）
図１は、本実施形態に係る表示装置を模式的に示す平面図である。図１に示すように、本実施形態に係る表示装置１は、アレイ基板である第１基板ＳＵＢ１と、対向基板である第２基板ＳＵＢ２とを備えている。以下、第１基板ＳＵＢ１及び第２基板ＳＵＢ２の表面に平行な方向を、方向Ｘとする。また、第１基板ＳＵＢ１及び第２基板ＳＵＢ２の表面に平行な方向であって、方向Ｘと交差する方向、ここでは方向Ｘと直交する方向を、方向Ｙとする。また、方向Ｙのうちの一方側に向かう方向を、第１方向Ｙ１とし、方向Ｙのうちの他方側に向かう方向、すなわち第１方向Ｙ１と反対方向を、第２方向Ｙ２とする。同様に、方向Ｘのうちの一方側に向かう方向を、第３方向Ｘ１とし、方向Ｘのうちの他方側に向かう方向、すなわち第３方向Ｘ１と反対方向を、第４方向Ｘ２とする。また、方向Ｘ及び方向Ｙに直交する方向、すなわち第１基板ＳＵＢ１及び第２基板ＳＵＢ２の表面に直交する方向を、方向Ｚとする。
【００１１】
第１基板ＳＵＢ１と第２基板ＳＵＢ２とは、方向Ｚに積層されている。第１基板ＳＵＢ１は、第２基板ＳＵＢ２よりも面積が広い。第１基板ＳＵＢ１は、方向Ｚから見て、第１方向Ｙ１側の部分が、第２基板ＳＵＢ２よりも第１方向Ｙ１側に突出するように積層されている。すなわち、表示装置１は、第１基板ＳＵＢ１と第２基板ＳＵＢ２とが重畳する重畳領域ＡＲ１と、第２基板ＳＵＢ２が設けられず第１基板ＳＵＢ１のみが設けられる張出領域ＡＲ２とを有している。張出領域ＡＲ２は、重畳領域ＡＲ１の第１方向Ｙ１側に隣接する。
【００１２】
表示装置１は、表示領域Ａと周辺領域Ｂとを有する。表示領域Ａは、複数の画素が配置されて画像が表示される領域である。周辺領域Ｂは、画素が配置されずに画像が表示されない領域である。周辺領域Ｂは、Ｚ方向から見た表示領域Ａの外側の領域である。本実施形態では、周辺領域Ｂは、表示領域Ａを囲う枠状であり、額縁領域ともいえる。表示領域Ａは、第１基板ＳＵＢ１と第２基板ＳＵＢ２とが重畳する重畳領域ＡＲ１内に設けられている。周辺領域Ｂは、第１基板ＳＵＢ１内の領域である。さらに言えば、周辺領域Ｂは、一部が重畳領域ＡＲ１内に設けられ、他の一部が張出領域ＡＲ２に設けられている。すなわち、周辺領域Ｂは、重畳領域ＡＲ１から張出領域ＡＲ２にわたって設けられている。従って、第１基板ＳＵＢ１は、表示領域Ａと周辺領域Ｂとを有するといえ、さらに言えば、表示領域Ａと周辺領域Ｂとに区分けされているといえる。
【００１３】
周辺領域Ｂは、第１周辺領域Ｂ１と、第２周辺領域Ｂ２と、第３周辺領域Ｂ３と、第４周辺領域Ｂ４とを含む。第１周辺領域Ｂ１は、表示領域Ａの第１方向Ｙ１側の周辺領域Ｂである。第２周辺領域Ｂ２は、表示領域Ａの第２方向Ｙ２側の周辺領域Ｂであり、言い換えれば、表示領域Ａを隔てて第１周辺領域Ｂ１の反対側にある周辺領域Ｂである。第３周辺領域Ｂ３は、表示領域Ａの第３方向Ｘ１側の周辺領域Ｂである。第４周辺領域Ｂ４は、表示領域Ａの第４方向Ｘ２側の周辺領域Ｂであり、言い換えれば、表示領域Ａを隔てて第３周辺領域Ｂ３の反対側にある周辺領域Ｂである。
【００１４】
第１周辺領域Ｂ１は、重畳領域ＡＲ１から、重畳領域ＡＲ１より第１方向Ｙ１側の張出領域ＡＲ２にわたって設けられている。すなわち、第１周辺領域Ｂ１は、重畳領域ＡＲ１内に位置する内側周辺領域Ｂ１ａと、張出領域ＡＲ２内に位置する外側周辺領域Ｂ１ｂとを含んでいる。第２周辺領域Ｂ２、第３周辺領域Ｂ３、及び第４周辺領域Ｂ４は、重畳領域ＡＲ１内に位置している。すなわち、重畳領域ＡＲ１は、表示領域Ａ、内側周辺領域Ｂ１ａ、第２周辺領域Ｂ２、第３周辺領域Ｂ３、及び第４周辺領域Ｂ４によって占められており、張出領域ＡＲ２は、外側周辺領域Ｂ１ｂによって占められている。
【００１５】
第１周辺領域Ｂ１の外側周辺領域Ｂ１ｂには、配線基板１０１が設けられている。配線基板１０１は、例えばフレキシブル配線基板（ＦＰＣ：Ｆｌｅｘｉｂｌｅ  Ｐｒｉｎｔｅｄ  Ｃｉｒｃｕｉｔｓ）によって構成される。配線基板１０１には、ドライバＩＣ（Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ  Ｃｉｒｃｕｉｔ）１１０が設けられている。ドライバＩＣ１１０は、表示装置１の表示を制御する制御回路、検出回路、アナログフロントエンド等を含む。なお、表示装置１は、配線基板１０１及びドライバＩＣ１１０に接続可能な構成であればよく、配線基板１０１及びドライバＩＣ１１０を含まない構成を表示装置１としてよい。また、配線基板１０１及びドライバＩＣ１１０を含めて、表示装置１としてもよい。
【００１６】
表示装置１は、さらに、周辺領域Ｂに設けられた複数のドライバ端子Ｄと、周辺領域Ｂに設けられた複数の検査端子Ｔとを有する。本実施形態では、ドライバ端子Ｄ及び検査端子Ｔは、第１周辺領域Ｂ１に設けられ、さらに言えば、第１周辺領域Ｂ１の外側周辺領域Ｂ１ｂに設けられている。検査端子Ｔは、図１の例ではドライバ端子Ｄの第４方向Ｘ２側に設けられているが、それに限られない。
【００１７】
ドライバ端子Ｄは、ドライバＩＣ１１０に接続可能な端子である。ドライバ端子Ｄは、接続されたドライバＩＣ１１０から出力された各種信号を、表示装置１の配線に供給するための端子である。検査端子Ｔは、配線の検査、ここではエージング処理を行うための端子である。エージング処理については後述する。
【００１８】
図２は、本実施形態に係る表示装置の画素配列を示す模式図である。図２に示すように、表示装置１は、表示領域Ａにおいて、複数の画素ＰＸを備えている。複数の画素ＰＸは、方向Ｘ及び方向Ｙにおいて、マトリクス状に並んで配置されている。また、表示装置１は、表示領域Ａにおいて、複数の配線を有している。表示装置１は、表示領域Ａに設けられる配線として、ｍ本の走査線Ｇ（Ｇ１〜Ｇｍ）と、ｎ本の信号線Ｓ（Ｓ１〜Ｓｎ）と、コモン線ＣＬと、を備えている。なお、ｍ及びｎは、いずれの２以上の整数である。走査線Ｇは、ゲートドライバＧＤに接続されている。ゲートドライバＧＤの動作に必要な信号は、ドライバＩＣ１１０から供給される。信号線Ｓ及びコモン線ＣＬは、ドライバＩＣ１１０に接続されている。走査線Ｇ、ゲートドライバＧＤ、信号線Ｓ、及び、コモン線ＣＬは、図１に示した第１基板ＳＵＢ１に形成されている。  
【００１９】
画素ＰＸは、スイッチング素子Ｗ、画素電極ＰＥ、共通電極ＣＥ、及び液晶層ＬＣを備えている。スイッチング素子Ｗは、例えば薄膜トランジスタ（ＴＦＴ；Ｔｉｎ  Ｆｉｌｍ  Ｔｒａｎｓｉｓｔｏｒ）によって構成され、走査線Ｇ及び信号線Ｓと電気的に接続されている。画素電極ＰＥは、スイッチング素子Ｗと電気的に接続されている。共通電極ＣＥは、コモン線ＣＬと電気的に接続されている。  
【００２０】
ゲートドライバＧＤは、走査線Ｇに接続されたスイッチング素子Ｗを導通状態とする制御信号を、走査線Ｇに出力する。ドライバＩＣ１１０は、スイッチング素子Ｗが導通状態の期間に、信号線Ｓに映像信号を出力する。これにより、画素電極ＰＥには、所望の画素電位が書き込まれる。また、ドライバＩＣ１１０は、コモン線ＣＬにコモン電位を供給する。これにより、共通電極ＣＥは、コモン電位となる。各画素ＰＸにおいて、画素電極ＰＥの各々は、共通電極ＣＥと対向しており、液晶層ＬＣは、画素電極ＰＥの画素電位と共通電極ＣＥのコモン電位との電位差によって生じる電界によって駆動される。保持容量ＣＳは、例えば、共通電極ＣＥと同電位の電極、及び、画素電極ＰＥと同電位の電極の間に形成される。
【００２１】
図３は、本実施形態に係る表示装置の模式的な断面図である。図３に示すように、表示装置１は、方向Ｚにおいて第１基板ＳＵＢ１と第２基板ＳＵＢ２とが積層されている。第１基板ＳＵＢ１は、絶縁基板１０、絶縁層１１、１２、１３、１４、１５、下側遮光層ＵＳ、半導体層ＳＣ、走査線Ｇ、信号線Ｓ、接続電極ＲＥ、共通電極ＣＥ、画素電極ＰＥ、及び、配向膜ＡＬ１を備えている。絶縁基板１０は、ガラス基板や樹脂基板などの透明基板である。下側遮光層ＵＳは、絶縁基板１０と絶縁層１１との間に位置している。下側遮光層ＵＳは、図３の例では、両ゲート電極に跨って重畳するように形成されているが、ゲート電極毎に離間して形成されていてもよい。半導体層ＳＣは、絶縁層１１と絶縁層１２との間に位置している。半導体層ＳＣは、例えば、多結晶シリコンによって形成されているが、アモルファスシリコンや酸化物半導体によって形成されていてもよい。走査線Ｇの一部である２つのゲート電極ＧＥは、絶縁層１２と絶縁層１３との間に位置している。信号線Ｓ及び接続電極ＲＥは、絶縁層１３と絶縁層１４との間に位置している。信号線Ｓ及び接続電極ＲＥは、それぞれ半導体層ＳＣにコンタクトしている。共通電極ＣＥは、絶縁層１４と絶縁層１５との間に位置している。画素電極ＰＥは、絶縁層１５と配向膜ＡＬ１との間に位置している。画素電極ＰＥの一部は、絶縁層１５を介して共通電極ＣＥと対向している。共通電極ＣＥ及び画素電極ＰＥは、ＩＴＯ（Ｉｎｄｉｕｍ  Ｔｉｎ  Ｏｘｉｄｅ）やＩＺＯ（Ｉｎｄｉｕｍ  Ｚｉｎｃ  Ｏｘｉｄｅ）などの透光性を有する導電材料によって形成されている。画素電極ＰＥは、共通電極ＣＥの開口部ＡＰと重畳する位置において、絶縁層１４及び１５を貫通するコンタクトホールＣＨを介して接続電極ＲＥに接触している。なお、絶縁層１１乃至１３、及び、絶縁層１５は、シリコン酸化物、シリコン窒化物、シリコン酸窒化物などの透明な無機絶縁層であり、単層構造であってもよいし、多層構造であってもよい。絶縁層１４は、アクリル樹脂などの透明な有機絶縁層である。
【００２２】
第２基板ＳＵＢ２は、絶縁基板２０、遮光層ＢＭ、カラーフィルタ層ＣＦ、オーバーコート層ＯＣ、及び、配向膜ＡＬ２を備えている。絶縁基板２０は、ガラス基板や樹脂基板などの透明基板である。遮光層ＢＭ及びカラーフィルタ層ＣＦは、絶縁基板２０とオーバーコート層ＯＣとの間に位置している。配向膜ＡＬ２は、オーバーコート層ＯＣを覆っている。
【００２３】
液晶層ＬＣは、第１基板ＳＵＢ１及び第２基板ＳＵＢ２の間に位置し、配向膜ＡＬ１と配向膜ＡＬ２との間に保持されている。液晶層ＬＣは、ポジ型（誘電率異方性が正）の液晶材料、あるいは、ネガ型（誘電率異方性が負）の液晶材料によって構成されている。偏光板ＰＬ１は、第１基板ＳＵＢ１の下方（第２基板ＳＵＢ２と反対側）に配置されている。偏光板ＰＬ２は、第２基板ＳＵＢ２の上方（第１基板ＳＵＢ１と反対側）に配置されている。なお、偏光板ＰＬ１、ＰＬ２の他に、必要に応じて位相差板、散乱層、反射防止層などを含んでいてもよい。照明装置ＩＬは、偏光板ＰＬ１の下方（第１基板ＳＵＢ１と反対側）に位置している。
【００２４】
このように、図３の例では、表示装置１は、横電界モード、さらに言えばＦＦＳ（Ｆｒｉｎｇｅ  Ｆｉｅｌｄ  Ｓｗｉｔｃｈｉｎｇ）モードの液晶表示装置である。ただし、表示装置１は、ＦＦＳモードに限られず、縦電界モードなど、任意の表示装置であってよい。
【００２５】
表示装置１は、配線の検査のためのエージング処理を行うための構成を有している。エージング処理とは、表示装置１の出荷前に行う処理であり、配線に電流を流すことで、配線の局所的に線幅が細くなる箇所を断線させて、配線の不良箇所を予め検出する処理である。以下、エージング処理を行うための構成について説明する。
【００２６】
図４は、本実施形態に係る表示装置の構成の模式図である。図４に示すように、表示装置１が有するドライバ端子Ｄは、配線である信号線Ｓに接続されている。ドライバ端子Ｄ１からドライバ端子Ｄｎは、それぞれ、信号線Ｓ１から信号線Ｓｎに接続されている。なお、図４では説明の便宜上省略しているが、ドライバ端子Ｄと信号線Ｓとの間には、ビデオ線と、接続回路とが設けられていてもよい。この場合、ドライバ端子Ｄとビデオ線と接続回路と信号線Ｓとは、この順で接続される。接続回路は、ビデオ線と信号線Ｓとの接続を切り替え、さらに言えば、複数の信号線Ｓのうち選択された少なくとも１つの信号線Ｓと、ビデオ線とを接続する。
【００２７】
このように、表示装置１は、ドライバ端子Ｄが信号線Ｓに接続されている。従って、ドライバ端子ＤがドライバＩＣ１１０に接続された状態でドライバＩＣ１１０から信号が出力されると、ドライバＩＣ１１０からの信号は、映像信号として、信号線Ｓに出力される。
【００２８】
また、表示装置１は、第１基板ＳＵＢ１内に、第１スイッチＳＷＡ及び第２スイッチＳＷＢを有する。第１スイッチＳＷＡ及び第２スイッチＳＷＢは、スイッチング素子、ここではトランジスタである。また、表示装置１は、検査端子Ｔとして、スイッチ端子ＴＳと出力端子Ｔ０とを有する。スイッチ端子ＴＳは、第１スイッチＳＷＡ及び第２スイッチＳＷＢにゲート信号を出力するための端子である。スイッチ端子ＴＳは、複数設けられている。図４の例では、互いに異なるスイッチ端子ＴＳとして、スイッチ端子ＴＡ、ＴＢ１、ＴＢ２の合計３つが設けられている。また、出力端子Ｔ０は、信号線Ｓにエージング処理用の電流を出力するための端子である。出力端子Ｔ０は、複数設けられており、図４の例では、出力端子Ｔ１、Ｔ２、Ｔ３、Ｔ４、Ｔ５、Ｔ６の、合計６つ設けられている。ただし、スイッチ端子ＴＳ及び出力端子Ｔ０の数は図４に示すものに限られず任意であってよい。
【００２９】
第１スイッチＳＷＡは、第１周辺領域Ｂ１の外側周辺領域Ｂ１ｂ内に設けられており、外側周辺領域Ｂ１ｂ内において、ドライバ端子Ｄよりも表示領域Ａと反対側、すなわちドライバ端子Ｄの第１方向Ｙ１側に設けられている。第１スイッチＳＷＡは、複数設けられている。本実施形態では、第１スイッチＳＷＡは、第１スイッチＳＷＡ１から第１スイッチＳＷＡｑの、合計ｑ個設けられている。第１スイッチＳＷＡの数は任意であるが、信号線Ｓの数の半分であることが好ましい。
【００３０】
第１スイッチＳＷＡは、複数のドライバ端子Ｄに接続されており、本実施形態では、２つのドライバ端子Ｄに接続されている。ドライバ端子Ｄは信号線Ｓに接続されているため、第１スイッチＳＷＡは、複数の信号線Ｓに接続されているといえ、本実施形態では２つの信号線Ｓに接続されているといえる。第１スイッチＳＷＡは、ドレイン電極Ｄｒが、２つのドライバ端子Ｄ（信号線Ｓ）のうちの一方に接続され、ソース電極Ｓｏが、２つのドライバ端子Ｄ（信号線Ｓ）のうちの他方に接続されている。なお、第１スイッチＳＷＡは、信号線Ｓの第１方向Ｙ１側の端部に接続されていることが好ましい。
【００３１】
図４の例では、第１スイッチＳＷＡ１は、ドレイン電極Ｄｒがドライバ端子Ｄ６を介して信号線Ｓ６に接続されており、ソース電極Ｓｏがドライバ端子Ｄ１を介して信号線Ｓ１に接続されている。また、第１スイッチＳＷＡ２は、ドレイン電極Ｄｒがドライバ端子Ｄ５を介して信号線Ｓ５に接続されており、ソース電極Ｓｏがドライバ端子Ｄ２を介して信号線Ｓ２に接続されている。また、第１スイッチＳＷＡ３は、ドレイン電極Ｄｒがドライバ端子Ｄ４を介して信号線Ｓ４に接続されており、ソース電極Ｓｏがドライバ端子Ｄ３を介して信号線Ｓ３に接続されている。また、第１スイッチＳＷＡ４は、ドレイン電極Ｄｒがドライバ端子Ｄ１２を介して信号線Ｓ１２に接続されており、ソース電極Ｓｏがドライバ端子Ｄ７を介して信号線Ｓ７に接続されている。また、第１スイッチＳＷＡ５は、ドレイン電極Ｄｒがドライバ端子Ｄ１１を介して信号線Ｓ１１に接続されており、ソース電極Ｓｏがドライバ端子Ｄ８を介して信号線Ｓ８に接続されている。また、第１スイッチＳＷＡ６は、ドレイン電極Ｄｒがドライバ端子Ｄ１０を介して信号線Ｓ１０に接続されており、ソース電極Ｓｏがドライバ端子Ｄ９を介して信号線Ｓ９に接続されている。以降の第１スイッチＳＷＡも、同様に信号線Ｓに接続されている。ただし、このような接続関係は一例である。すなわち、第１スイッチＳＷＡは、任意の２つの信号線Ｓに接続されており、接続されている信号線Ｓが、第１スイッチＳＷＡ毎に異なればよい。
【００３２】
スイッチ端子ＴＡは、接続線ＬＡに接続されている。接続線ＬＡは、スイッチ端子ＴＡに接続されている箇所から、外側周辺領域Ｂ１ｂ内を第３方向Ｘ１に向けて延在している。接続線ＬＡは、外側周辺領域Ｂ１ｂ内において、第１スイッチＳＷＡに接続されている。より詳しくは、接続線ＬＡは、第１スイッチＳＷＡのゲート電極Ｇａに接続されている。すなわち、第１スイッチＳＷＡは、ゲート電極Ｇａが、接続線ＬＡを介してスイッチ端子ＴＡに接続されている。接続線ＬＡは、複数の第１スイッチＳＷＡのゲート電極Ｇａのそれぞれに接続されている。すなわち、複数の第１スイッチＳＷＡは、同じ接続線ＬＡを介して、スイッチ端子ＴＡに接続されている。さらに言えば、本実施形態では、全ての第１スイッチＳＷＡが、同じ接続線ＬＡを介して、スイッチ端子ＴＡに接続されている。
【００３３】
このように、第１スイッチＳＷＡは、ドレイン電極Ｄｒが２つのドライバ端子Ｄのうちの一方に接続され、ソース電極Ｓｏが２つのドライバ端子Ｄのうちの他方に接続され、ゲート電極Ｇａが接続線ＬＡを介してスイッチ端子ＴＡに接続されている。従って、第１スイッチＳＷＡは、スイッチ端子ＴＡを介してゲート電極Ｇａに電流（ゲート信号）が入力されると、２つのドライバ端子Ｄ同士を、すなわち２つの信号線Ｓ同士を、電気的に接続する。一方、第１スイッチＳＷＡは、ゲート電極Ｇａに電流（ゲート信号）が入力されていない状態では、２つのドライバ端子Ｄ同士を、すなわち２つの信号線Ｓ同士）を、電気的に遮断（非接続に）する。このように、第１スイッチＳＷＡは、信号線Ｓとスイッチ端子ＴＡとに接続され、スイッチ端子ＴＡからのゲート信号により、複数の信号線Ｓ同士の接続と遮断とを切り替え可能に構成される。なお、接続線ＬＡは、複数の第１スイッチＳＷＡに接続されているため、スイッチ端子ＴＡからゲート信号が入力された場合、複数の第１スイッチＳＷＡのゲート電極Ｇａにゲート信号を入力する。従って、複数の第１スイッチＳＷＡのそれぞれが、２つの信号線Ｓ同士を接続する。
【００３４】
また、出力端子Ｔ１、Ｔ２、Ｔ３、Ｔ４、Ｔ５、Ｔ６は、それぞれ、配線である接続線Ｌ１、Ｌ２、Ｌ３、Ｌ４、Ｌ５、Ｌ６に接続されている。接続線Ｌ１、Ｌ２、Ｌ３、Ｌ４、Ｌ５、Ｌ６は、出力端子Ｔ１、Ｔ２、Ｔ３、Ｔ４、Ｔ５、Ｔ６に接続されている外側周辺領域Ｂ１ｂ内の箇所から、内側周辺領域Ｂ１ａ、第４周辺領域Ｂ４（又は第３周辺領域Ｂ３）を経て、第２周辺領域Ｂ２まで延在し、第２周辺領域Ｂ２内を、第３方向Ｘ１に延在している。すなわち、出力端子Ｔ０は、接続線Ｌ０に接続されており、接続線Ｌ０が、第２周辺領域Ｂ２まで延在しているといえる。
【００３５】
第２スイッチＳＷＢは、第２周辺領域Ｂ２内に設けられる。第２スイッチＳＷＢは、接続線Ｌ０及び信号線Ｓに接続されている。すなわち、第２スイッチＳＷＢは、接続線Ｌ０を介して出力端子Ｔ０に接続されている。また、第２スイッチＳＷＢは、信号線Ｓに接続されており、信号線Ｓを介してドライバ端子Ｄ及び第１スイッチＳＷＡに接続されているともいえる。具体的には、第２スイッチＳＷＢは、ドレイン電極Ｄｒが、接続線Ｌ０を介して出力端子Ｔ０に接続されている。また、第２スイッチＳＷＢは、ソース電極Ｓｏが、信号線Ｓに接続されている。なお、第２スイッチＳＷＢは、信号線Ｓの第２方向Ｙ２側の端部に接続されていることが好ましい。
【００３６】
第２スイッチＳＷＢは、複数設けられており、図４の例では、第２スイッチＳＷＢ１からＳＷＢｎの、合計ｎ個設けられている。第２スイッチＳＷＢの数は任意であるが、信号線Ｓと同数であることが好ましい。図４の例では、第２スイッチＳＷＢ１は、ドレイン電極Ｄｒが接続線Ｌ１に接続され、ソース電極Ｓｏが信号線Ｓ１に接続されている。また、第２スイッチＳＷＢ２は、ドレイン電極Ｄｒが接続線Ｌ２に接続され、ソース電極Ｓｏが信号線Ｓ２に接続されている。第２スイッチＳＷＢ３は、ドレイン電極Ｄｒが接続線Ｌ３に接続され、ソース電極Ｓｏが信号線Ｓ３に接続されている。第２スイッチＳＷＢ４は、ドレイン電極Ｄｒが接続線Ｌ４に接続され、ソース電極Ｓｏが信号線Ｓ４に接続されている。第２スイッチＳＷＢ５は、ドレイン電極Ｄｒが接続線Ｌ５に接続され、ソース電極Ｓｏが信号線Ｓ５に接続されている。第２スイッチＳＷＢ６は、ドレイン電極Ｄｒが接続線Ｌ６に接続され、ソース電極Ｓｏが信号線Ｓ６に接続されている。また、第２スイッチＳＷＢ７は、ドレイン電極Ｄｒが接続線Ｌ１に接続され、ソース電極Ｓｏが信号線Ｓ７に接続されている。第２スイッチＳＷＢ８は、ドレイン電極Ｄｒが接続線Ｌ２に接続され、ソース電極Ｓｏが信号線Ｓ８に接続されている。第２スイッチＳＷＢ９は、ドレイン電極Ｄｒが接続線Ｌ３に接続され、ソース電極Ｓｏが信号線Ｓ９に接続されている。第２スイッチＳＷＢ１０は、ドレイン電極Ｄｒが接続線Ｌ４に接続され、ソース電極Ｓｏが信号線Ｓ１０に接続されている。第２スイッチＳＷＢ１１は、ドレイン電極Ｄｒが接続線Ｌ５に接続され、ソース電極Ｓｏが信号線Ｓ１１に接続されている。第２スイッチＳＷＢ１２は、ドレイン電極Ｄｒが接続線Ｌ６に接続され、ソース電極Ｓｏが信号線Ｓ１２に接続されている。以降の第２スイッチＳＷＢも、同様の順番で、接続線Ｌ０と信号線Ｓとに接続されている。ただし、この接続関係も一例であり、第２スイッチＳＷＢは、ドレイン電極Ｄｒが複数の接続線Ｌ０のいずれかに接続され、ソース電極Ｓｏに複数の信号線Ｓのいずれかが接続されればよい。
【００３７】
なお、第２スイッチＳＷＢは、信号線Ｓ毎に設けられており、１つの信号線Ｓには１つの第２スイッチＳＷＢが接続されているといえる。一方、接続線Ｌ０の数は、本実施形態の例では６本であり、第２スイッチＳＷＢ及び信号線Ｓの数より少ない。従って、一部の第２スイッチＳＷＢは、接続される接続線Ｌ０が共通しており、言い換えれば、１つの接続線Ｌ０には、複数の第２スイッチＳＷＢが接続されているといえる。図４では、接続線Ｌ１に第２スイッチＳＷＢ１、ＳＷＢ７、・・・が接続され、接続線Ｌ２に第２スイッチＳＷＢ２、ＳＷＢ８、・・・が接続されるなど、１つの接続線Ｌ０に対し第２スイッチＳＷＢが６個おきに接続されているが、このように６個おきに接続されることに限られない。
【００３８】
一方側端子としてのスイッチ端子ＴＢ１は、第１接続線ＬＢ１に接続されている。第１接続線ＬＢ１は、スイッチ端子ＴＢ１に接続されている外側周辺領域Ｂ１ｂ内の箇所から、内側周辺領域Ｂ１ａ、第４周辺領域Ｂ４（又は第３周辺領域Ｂ３）を経て、第２周辺領域Ｂ２まで延在し、第２周辺領域Ｂ２内を、第３方向Ｘ１に延在している。第１接続線ＬＢ１は、第２周辺領域Ｂ２内において、複数の第２スイッチＳＷＢのうちの一部の第２スイッチＳＷＢに接続されている。より詳しくは、第１接続線ＬＢ１は、複数の第２スイッチＳＷＢのうちの一部の第２スイッチＳＷＢの、ゲート電極Ｇａに接続されている。すなわち、一部の第２スイッチＳＷＢは、ゲート電極Ｇａが、第１接続線ＬＢ１を介してスイッチ端子ＴＢ１に接続されている。
【００３９】
他方側端子としてのスイッチ端子ＴＢ２は、第２接続線ＬＢ２に接続されている。第２接続線ＬＢ２は、スイッチ端子ＴＢ２に接続されている外側周辺領域Ｂ１ｂ内の箇所から、内側周辺領域Ｂ１ａ、第４周辺領域Ｂ４（又は第３周辺領域Ｂ３）を経て、第２周辺領域Ｂ２まで延在し、第２周辺領域Ｂ２内を、第３方向Ｘ１に延在している。第２接続線ＬＢ２は、第２周辺領域Ｂ２内において、複数の第２スイッチＳＷＢのうちの他の一部の第２スイッチＳＷＢに接続されている。言い換えれば、第２接続線ＬＢ２は、複数の第２スイッチＳＷＢのうち、第１接続線ＬＢ１が接続されてない第２スイッチＳＷＢに接続されている。第２接続線ＬＢ２は、第１接続線ＬＢ１が接続されてない第２スイッチＳＷＢの、ゲート電極Ｇａに接続されている。すなわち、複数の第２スイッチＳＷＢのうち他の一部の第２スイッチＳＷＢは、ゲート電極Ｇａが、第２接続線ＬＢ２を介してスイッチ端子ＴＢ２に接続されている。
【００４０】
図４の例では、第２スイッチＳＷＢ１から第２スイッチＳＷＢ６までが第１接続線ＬＢ１に接続され、第２スイッチＳＷＢ７から第２スイッチＳＷＢ１４までが第２接続線ＬＢ２に接続されており、以降でもこのような接続関係となっている。すなわち、隣接する複数（図４では６個）の第２スイッチＳＷＢを１つのグループとした場合、グループ毎に接続される接続線が異なっている。すなわち、１つ目、３つ目、・・・のグループが第１接続線ＬＢ１に接続され、２つ目、４つ目、・・・のグループが第２接続線ＬＢ２に接続される。ただし、このようにグループ毎に接続線が異なることに限られず、一部の第２スイッチＳＷＢが第１接続線ＬＢ１に接続されて、他の一部の第２スイッチＳＷＢが第２接続線ＬＢ２に接続されるものであればよい。例えば、第２スイッチＳＷＢは、１個毎に接続線が異なってもよいし、全ての第２スイッチＳＷＢのうち、中央より第３方向Ｘ１側にある半数の第２スイッチＳＷＢが第１接続線ＬＢ１に接続され、中央より第４方向Ｘ２側にある半数の第２スイッチＳＷＢが第２接続線ＬＢ２に接続されてもよい。
【００４１】
このように、それぞれの第２スイッチＳＷＢは、ドレイン電極Ｄｒが接続線Ｌ０を介して出力端子Ｔ０に接続され、ソース電極Ｓｏが信号線Ｓに接続される。また、一部の第２スイッチＳＷＢは、ゲート電極Ｇａが第１接続線ＬＢ１を介してスイッチ端子ＴＢ１に接続され、他の第２スイッチＳＷＢは、ゲート電極Ｇａが第２接続線ＬＢ２を介してスイッチ端子ＴＢ２に接続されている。以下、適宜、第１接続線ＬＢ１に接続されている第２スイッチＳＷＢを、一方側第２スイッチＳＷＢＡと記載し、第２接続線ＬＢ２に接続されている第２スイッチＳＷＢを、他方側第２スイッチＳＷＢＢと記載する。
【００４２】
第１接続線ＬＢ１に接続されている一方側第２スイッチＳＷＢＡは、第１接続線ＬＢ１を介してゲート電極Ｇａに電流（ゲート信号）が入力されると、接続線Ｌ０と信号線Ｓとを、すなわち出力端子Ｔ０と信号線Ｓとを、電気的に接続する。また、一方側第２スイッチＳＷＢＡは、第１接続線ＬＢ１を介してゲート電極Ｇａに電流（ゲート信号）が入力されていない状態では、接続線Ｌ０と信号線Ｓとを、すなわち出力端子Ｔ０と信号線Ｓとを、電気的に遮断する。このように、一方側第２スイッチＳＷＢＡは、出力端子Ｔ０と信号線Ｓとの接続及び遮断を切り替え可能に構成されており、スイッチ端子ＴＢ１からのゲート信号により、出力端子Ｔ０と信号線Ｓとの接続及び遮断を切り替える。
【００４３】
一方、第２接続線ＬＢ２に接続されている他方側第２スイッチＳＷＢＢは、第２接続線ＬＢ２を介してゲート電極Ｇａに電流（ゲート信号）が入力されると、接続線Ｌ０と信号線Ｓとを、すなわち出力端子Ｔ０と信号線Ｓとを、電気的に接続する。また、他方側第２スイッチＳＷＢＢは、第２接続線ＬＢ２を介してゲート電極Ｇａに電流（ゲート信号）が入力されていない状態では、接続線Ｌ０と信号線Ｓとを、すなわち出力端子Ｔ０と信号線Ｓとを、電気的に遮断する。このように、他方側第２スイッチＳＷＢＢは、出力端子Ｔ０と信号線Ｓとの接続及び遮断を切り替え可能に構成されており、スイッチ端子ＴＢ２からのゲート信号により、出力端子Ｔ０と信号線Ｓとの接続及び遮断を切り替える。
【００４４】
このように、第２スイッチＳＷＢ２は、第１接続線ＬＢ１及び第２接続線ＬＢ２のいずれかに接続されている。ただし、接続線の数は第１接続線ＬＢ１及び第２接続線ＬＢ２の２本に限られず、３本以上であってよく、この場合、それらの接続線のそれぞれに、複数の第２スイッチＳＷＢ２のうちの一部が接続される。
【００４５】
（検査方法）
表示装置１は、以上のような構成になっている。次に、表示装置１の配線の検査方法、すなわちエージング処理について説明する。図５及び図６は、エージング処理の一例を示す模式図である。エージング処理を行う場合、ドライバＩＣ１１０がドライバ端子Ｄに接続されておらず、ドライバＩＣ１１０からの信号がドライバ端子Ｄに入力されない。ただし、ドライバＩＣ１１０からの信号がドライバ端子Ｄに入力されていなければ、ドライバＩＣ１１０がドライバ端子Ｄに接続されていてもよい。
【００４６】
図５に示すように、エージング処理を行う場合、検査端子Ｔに検査装置２００が接続される。検査装置２００は、制御部２０１と、検出部２０２と、処理部２０３と、駆動回路２０４とを含む。なお、検査装置２００は、あくまで一例であり、これらの機能の一部を有していなくてもよく、他の機能を有していてもよい。検査装置２００の機能の一部は、ドライバＩＣ１１０（図１参照）が有していてもよい。
【００４７】
制御部２０１は、検出部２０２、処理部２０３、駆動回路２０４を制御して、表示装置１の検査を行う回路である。検出部２０２は、信号線Ｓから出力される信号（ここでは電流Ｉ）を検出する回路である。検出部２０２は、例えば、電圧検出回路、電流検出回路等である。処理部２０３は、検出部２０２の検出信号に基づいて、信号線Ｓの短絡、断線等の判定を行う判定回路である。駆動回路２０４は、スイッチを駆動するゲート信号と、信号線Ｓに電流Ｉを流すための検査信号とを生成して、表示装置１に出力する。
【００４８】
検査装置２００は、スイッチ端子ＴＳにゲート信号を出力して第１スイッチＳＷＡ及び第２スイッチＳＷＢを駆動させることで、信号線Ｓに電流Ｉを流して、信号線Ｓの検査、すなわちエージング処理を行う。図５に示すように、エージング処理を行う場合、検査装置２００は、検査端子Ｔに接続される。エージング処理を行う場合、検査装置２００は、駆動回路２０４から、スイッチ端子ＴＡに、ゲート信号を出力する。ゲート信号は、所定の電位を有する電流であり、一定の固定電位であることが好ましい。検査装置２００は、所定の期間、すなわちエージング処理を行う期間、スイッチ端子ＴＡにゲート信号を出力し続ける。スイッチ端子ＴＡに出力されたゲート信号は、接続線ＬＡを介して、それぞれの第１スイッチＳＷＡのゲート電極Ｇａに入力される。それぞれの第１スイッチＳＷＡは、ゲート電極Ｇａにゲート信号が入力されることで、信号線Ｓ同士を接続する。
【００４９】
図７は、ゲート信号の出力タイミングの一例を示すグラフである。検査装置２００は、スイッチ端子ＴＢ１及びスイッチ端子ＴＢ２に、時分割でゲート信号を出力する。すなわち、検査装置２００は、第１時間において、スイッチ端子ＴＢ１から第１接続線ＬＢ１へゲート信号を出力し、第１時間とは異なる第２時間において、スイッチ端子ＴＢ２から第２接続線ＬＢ２へゲート信号を出力する。図７の例では、検査装置２００は、線分Ｆ１に示すように、時刻ｔ１から時刻ｔ２までの間の第１時間において、スイッチ端子ＴＢ１に電圧Ｖ１を印加することで、第１接続線ＬＢ１にゲート信号を出力する。検査装置２００は、線分Ｆ２に示すように、時刻ｔ１から時刻ｔ２までの間の第１時間において、スイッチ端子ＴＢ２への電圧印加を停止することで、第２接続線ＬＢ２へゲート信号の出力を停止する。そして、検査装置２００は、線分Ｆ１に示すように、時刻ｔ３から時刻ｔ４の間の第２時間において、スイッチ端子ＴＢ１への電圧印加を停止することで、第１接続線ＬＢ１へのゲート信号の出力を停止する。そして、検査装置２００は、線分Ｆ２に示すように、時刻ｔ３から時刻ｔ４の間の第２時間において、スイッチ端子ＴＢ２に電圧Ｖ１を印加することで、第１接続線ＬＢ１にゲート信号を出力する。なお、検査装置２００は、第１時間及び第２時間の両方において、スイッチ端子ＴＡへのゲート信号の出力を続ける。また、時刻ｔ１から時刻ｔ４は、図７で説明するための一例である。例えば、時刻ｔ３を時刻ｔ２と同じ時刻としてもよい。
【００５０】
図５は、第１時間における電流Ｉの流れを示している。第１時間においては、第１接続線ＬＢ１にゲート信号が出力されているため、第１接続線ＬＢ１に接続される一方側第２スイッチＳＷＢＡのゲート電極Ｇａには、ゲート信号が入力される。一方側第２スイッチＳＷＢＡは、ゲート電極Ｇａにゲート信号が入力されることで、接続線Ｌ０と信号線Ｓとを、すなわち出力端子Ｔ０と信号線Ｓとを、接続する。また、第１時間においては、第１スイッチＳＷＡのゲート電極Ｇａにゲート入力されるため、信号線Ｓ同士が接続される。そのため、第１時間においては、検査装置２００と、出力端子Ｔ０と、接続線Ｌ０と、一方側第２スイッチＳＷＢＡと、信号線Ｓと、第１スイッチＳＷＡとの間で、閉回路が形成される。例えば、図５に示すように、検査装置２００と、出力端子Ｔ６と、接続線Ｌ６と、第２スイッチＳＷＢ６と、信号線Ｓ６と、第１スイッチＳＷＡ１と、信号線Ｓ１と、第２スイッチＳＷＢ１と、接続線Ｌ１と、出力端子Ｔ１との間で、閉回路が形成される。他の一方側第２スイッチＳＷＢＡである第２スイッチＳＷＢ２、ＳＷＢ３、ＳＷＢ４、ＳＷＢ５などにおいても、同様に閉回路が形成されるが、説明を省略する。このように、第１時間においては、第１スイッチＳＷＡと一方側第２スイッチＳＷＢＡとが閉回路を形成する。
【００５１】
一方、第１時間においては、第２接続線ＬＢ２にゲート信号が入力されないため、第２接続線ＬＢ２に接続される他方側第２スイッチＳＷＢＢのゲート電極Ｇａには、ゲート信号が入力されない。従って、他方側第２スイッチＳＷＢＢは、閉回路を形成しない。
【００５２】
さらに、検査装置２００は、駆動回路２０４から、出力端子Ｔ０に検査信号を出力する。検査信号は、所定の電位の電流である。検査装置２００は、対になる出力端子Ｔ０に、異なる電位の検査信号を出力する。検査装置２００は、対になる出力端子Ｔ０に、互いに逆極性の電位の検査信号を出力することが好ましい。対になる出力端子Ｔ０とは、同じ第１スイッチＳＷＡが接続されている２つの信号線Ｓのそれぞれに接続される２つの出力端子Ｔ０を指し、図５の例では、例えば出力端子Ｔ１及び出力端子Ｔ６である。図５の例では、検査装置２００は、出力端子Ｔ６にプラス極性の電位の検査信号を出力し、出力端子Ｔ１にマイナス極性の電位の検査信号を出力する。上述のように、第１スイッチＳＷＡ１と第２スイッチＳＷＢ１、ＳＷＢ６とにより閉回路が形成されるため、出力端子Ｔ６における検査信号と出力端子Ｔ１における検査信号との電位差により、出力端子Ｔ６から、接続線Ｌ６、第２スイッチＳＷＢ６、信号線Ｓ６、第１スイッチＳＷＡ１、信号線Ｓ１、第２スイッチＳＷＢ１、接続線Ｌ１、及び出力端子Ｔ１の流れで、電流Ｉが流れる。検査装置２００は、出力端子Ｔ６と出力端子Ｔ１との間の電位差を、例えば数十ボルトなど高く設定することで、高電圧の電流Ｉを流す。電流Ｉの電圧値は、少なくとも、ドライバＩＣ１１０からの映像信号の電圧よりも高く設定される。なお、検査装置２００は、所定時間経過毎に、出力端子Ｔ１と出力端子Ｔ２とに出力する検査信号の極性を入れ替えてもよい。これにより、所定時間毎に流す電流Ｉの方向を逆にすることができる。
【００５３】
他の一方側第２スイッチＳＷＢＡである第２スイッチＳＷＢ２、ＳＷＢ３、ＳＷＢ４、ＳＷＢ５などが形成する閉回路にも、電流Ｉが流れる。すなわち、第１時間においては、一方側第２スイッチＳＷＢＡに接続される信号線Ｓ（信号線Ｓ１から信号線Ｓ６など）に、電流Ｉが流れる。一方、第１時間においては、他方側第２スイッチＳＷＢＢが閉回路を形成しないため、他方側第２スイッチＳＷＢＢに接続される信号線Ｓ（信号線Ｓ７から信号線Ｓ１２など）には、電流Ｉが流れない。
【００５４】
図６は、第２時間における電流Ｉの流れを示している。第２時間においては、第２接続線ＬＢ２にゲート信号が出力されているため、第２接続線ＬＢ２に接続される他方側第２スイッチＳＷＢＢのゲート電極Ｇａには、ゲート信号が入力される。他方側第２スイッチＳＷＢＢは、ゲート電極Ｇａにゲート信号が入力されることで、接続線Ｌ０と信号線Ｓとを、すなわち出力端子Ｔ０と信号線Ｓとを、接続する。また、第２時間においては、第１スイッチＳＷＡのゲート電極Ｇａにゲート入力されるため、信号線Ｓ同士が接続される。そのため、第２時間においては、検査装置２００と、出力端子Ｔ０と、接続線Ｌ０と、他方側第２スイッチＳＷＢＢと、信号線Ｓと、第１スイッチＳＷＡとの間で、閉回路が形成される。例えば、図６に示すように、検査装置２００と、出力端子Ｔ６と、接続線Ｌ６と、第２スイッチＳＷＢ１２と、信号線Ｓ１２と、第１スイッチＳＷＡ４と、信号線Ｓ７と、第２スイッチＳＷＢ７と、接続線Ｌ１と、出力端子Ｔ１との間で、閉回路が形成される。なお、他の他方側第２スイッチＳＷＢＢである第２スイッチＳＷＢ８、ＳＷＢ９、ＳＷＢ１０、ＳＷＢ１１などにおいても、同様に閉回路が形成されるが、説明を省略する。このように、第２時間においては、第１スイッチＳＷＡと他方側第２スイッチＳＷＢＢとが閉回路を形成する。
【００５５】
一方、第２時間においては、第１接続線ＬＢ１にゲート信号が入力されないため、第１接続線ＬＢ１に接続される一方側第２スイッチＳＷＢＡのゲート電極Ｇａには、ゲート信号が入力されない。従って、一方側第２スイッチＳＷＢＡは、閉回路を形成しない。
【００５６】
さらに、検査装置２００は、第２時間においても、第１時間と同様に、駆動回路２０４から、出力端子Ｔ０に検査信号を出力する。上述のように、第１スイッチＳＷＡ４と第２スイッチＳＷＢ７、ＳＷＢ１２とにより閉回路が形成されるため、出力端子Ｔ６における検査信号と出力端子Ｔ１における検査信号との電位差により、出力端子Ｔ６、接続線Ｌ６、第２スイッチＳＷＢ１２、信号線Ｓ１２、第１スイッチＳＷＡ４、信号線Ｓ７、第２スイッチＳＷＢ７、接続線Ｌ１、及び出力端子Ｔ１の流れで、電流Ｉが流れる。他の他方側第２スイッチＳＷＢＢである第２スイッチＳＷＢ８、ＳＷＢ９、ＳＷＢ１０、ＳＷＢ１１などが形成する閉回路にも、電流Ｉが流れる。すなわち、第２時間においては、他方側第２スイッチＳＷＢＢに接続される信号線Ｓ（信号線Ｓ７から信号線Ｓ１２など）に、電流Ｉが流れる。一方、第２時間においては、一方側第２スイッチＳＷＢＡが閉回路を形成しないため、一方側第２スイッチＳＷＢＡに接続される信号線Ｓ（信号線Ｓ１から信号線Ｓ６など）には、電流Ｉが流れない。
【００５７】
エージング処理においては、このようにして信号線Ｓに電流Ｉを流すことにより、例えば信号線Ｓの亜断線箇所、すなわち局所的に線幅が細くなっている箇所があった場合に、その箇所を断線させることができる。出荷前に破断させておいて破断を検出することで、出荷後の断線を抑制して、信頼性を向上させることができる。なお、エージング処理において信号線Ｓが断線した場合、電流が流れなくなるため、検出部２０２及び処理部２０３によって電流や電圧が流れていないことを検出して、信号線Ｓが断線したかを検出することが可能となる。また例えば、エージング処理後の点灯検査などで信号線Ｓに映像信号を出力した場合に、断線した箇所は色表示されないため、それを検出することで信号線Ｓが断線したかを検出することもできる。
【００５８】
さらに、検査装置２００は、第１時間において、一方側第２スイッチＳＷＢＡに接続される信号線Ｓ（信号線Ｓ１から信号線Ｓ６など）に電流Ｉを流し、第２時間においては、他方側第２スイッチＳＷＢＢに接続される信号線Ｓ（信号線Ｓ７から信号線Ｓ１２など）に電流Ｉを流す。すなわち、検査装置２００は、一度に全ての信号線Ｓに電流Ｉを流さずに、時分割によって、タイミング毎に電流Ｉを流す信号線Ｓを切り替える。ここで、出力端子Ｔ０からそれぞれの信号線Ｓに電流を流してエージング検査を行う場合、信号線Ｓなどの電流が流れる配線の本数が多くなるため、電流の流れの下流側においては、電位が低くなる。すなわち、下流側ほど、配線などによる抵抗の積算値が大きくなるため、電位が低くなる。従って、エージング検査を行う場合に、下流側、すなわち出力端子Ｔ０と遠い側の信号線Ｓに流れる電流値が低くなる。電流値が低くなると、信号線Ｓの亜断線箇所を適切に断線できず、検査精度が低下するおそれがある。出力端子Ｔ０での印加電圧を高くすれば、下流側の信号線Ｓの電流値を高くすることは可能であるが、印加電圧を高くし過ぎると、上流側の信号線Ｓへの負荷が高くなり過ぎてしまう。また、接続線Ｌ０や信号線Ｓなどの配線の線幅を大きくして抵抗を下げることも考えられるが、配線が太くなってしまいスペースが不足するおそれもある。
【００５９】
それに対し、本実施形態に係る表示装置１は、一部の第２スイッチＳＷＢである一方側第２スイッチＳＷＢＡを第１接続線ＬＢ１に接続し、他の一部の第２スイッチＳＷＢである他方側第２スイッチＳＷＢＢを第２接続線ＬＢ２に接続している。従って、エージング処理の際に、一方側第２スイッチＳＷＢＡと他方側第２スイッチＳＷＢＢとを時分割で別々に駆動させることが可能となり、一度に電流が流れる信号線Ｓの数を減らすことができる。これにより抵抗の積算値を小さくすることが可能となり、信号線Ｓに流れる電流値が小さくなり過ぎることを抑制して、検査精度の低下が抑制される。
【００６０】
図８は、信号線に流れる電流値の一例を示すグラフである。図８の線分Ｆ０は、予め設定された電流目標値である。電流目標値は、亜断線箇所を適切に断線可能な電流値であるといえる。すなわち、全ての信号線Ｓに電流目標値以上の電流を流せば、検査精度の低下を抑制することが可能となる。なお、電流目標値は、例えば２アンペアであるが、任意に設定可能である。ここで、線分ＦＸに示すように、例えば全ての信号線Ｓに同時に電流を流した場合、出力端子Ｔ０から遠い側の信号線Ｓ（例えば信号線Ｓｎなど）の電流値が、電流目標値より低くなるおそれがある。それに対し、本実施形態のように時分割で駆動させて電流が流れる信号線Ｓの数を減らすことにより、線分Ｆ３に示すように、信号線Ｓの電流値を高くすることが可能となり、結果として、全ての信号線Ｓの電流値を電流目標値以上とすることも可能となる。さらに、時分割で駆動を切り替えることで、全ての信号線Ｓに電流を流すことができる。
【００６１】
なお、本実施形態では、全ての第１スイッチＳＷＡが１本の接続線ＬＡに接続されており、第２スイッチＳＷＢが第１接続線ＬＢ１と第２接続線ＬＢ２とのいずれかに接続されており、これにより第２スイッチＳＷＢを時分割駆動していた。ただし、第２スイッチＳＷＢの代わりに第１スイッチＳＷＡを時分割駆動してもよい。この場合、駆動されていない第１スイッチＳＷＡに接続された信号線Ｓ同士が非接続となるため、閉回路が形成されずに、非接続の信号線Ｓに電流Ｉが流れなくなる。そのため、この場合あっても、一度に電流Ｉを流す信号線Ｓの数を減らすことができる。第１スイッチＳＷＡを時分割駆動する場合、接続線ＬＡを第１接続線と第２接続線との複数とし、一部の第１スイッチＳＷＡを第１接続線に接続し、他の一部の第１スイッチＳＷＡを第２接続線に接続する。そして、第１接続線と第２接続線とに異なるタイミングでゲート信号を流すことで時分割駆動する。第１スイッチＳＷＡを時分割駆動する場合、第２スイッチＳＷＢを常時駆動とするように、全ての第２スイッチＳＷＢを一本の接続線に接続してもよい。ただし、第１スイッチＳＷＡと第２スイッチＳＷＢとの両方を時分割駆動可能なように構成してもよい。すなわち、第１スイッチＳＷＡと第２スイッチＳＷＢと少なくとも一方において、一部が第１配線を介してスイッチ端子ＴＳに接続され、他の一部が第２配線を介してスイッチ端子ＴＳに接続されていればよい。
【００６２】
以上説明したように、本実施形態に係る表示装置１は、第１基板ＳＵＢ１と、複数の信号線Ｓ（配線）と、複数のスイッチ端子ＴＳと、複数の第１スイッチＳＷＡと、複数の第２スイッチＳＷＢとを有する。第１基板ＳＵＢ１は、複数の画素ＰＸが設けられる表示領域Ａ、及び表示領域Ａよりも外側の周辺領域Ｂを有する。信号線Ｓは、表示領域Ａに設けられて、画素ＰＸに接続されて画素に映像信号を供給する。スイッチ端子ＴＳは、周辺領域Ｂに設けられる。第１スイッチＳＷＡは、表示領域Ａの第１方向Ｙ１側の第１周辺領域Ｂ１に設けられ、スイッチ端子ＴＳ（ここではスイッチ端子ＴＡ）、及び信号線Ｓに接続される。第２スイッチＳＷＢは、表示領域Ａの第２方向Ｙ２側の第２周辺領域Ｂ２に設けられ、第１スイッチＳＷＡに接続されるスイッチ端子ＴＡとは異なるスイッチ端子ＴＳ（ここではスイッチ端子ＴＢ１又はスイッチ端子ＴＢ２）、及び信号線Ｓに接続される。第１スイッチＳＷＡ及び第２スイッチＳＷＢの少なくとも一方は、一部が第１接続線を介してスイッチ端子ＴＳに接続され、他の一部が第２接続線を介してスイッチ端子ＴＳに接続される。
【００６３】
この表示装置１は、第１スイッチＳＷＡ及び第２スイッチＳＷＢの少なくとも一方が、第１接続線と第２接続線とに分けて接続されている。従って、この表示装置１によると、第１スイッチＳＷＡ又は第２スイッチＳＷＢを時分割で駆動することが可能となり、信号線Ｓの検査の際に、一度に電流Ｉを流す信号線Ｓの数を少なくすることができる。従って、検査時に信号線Ｓに流れる電流値が小さくなり過ぎることを抑制して、信頼性の低下を抑制することができる。
【００６４】
また、複数の第２スイッチＳＷＢは、一部が、第１接続線ＬＢ１を介してスイッチ端子ＴＳに接続され、他の一部が、第２接続線ＬＢ２を介してスイッチ端子ＴＳに接続される。また、複数の第１スイッチＳＷＡは、同じ接続線ＬＡを介してスイッチ端子ＴＡに接続される。この表示装置１は、第２周辺領域Ｂ２側の第２スイッチＳＷＢを多系統化して、端子に近い第１周辺領域Ｂ１側の第１スイッチＳＷＡを一系統にしている。これにより、第２スイッチＳＷＢによって時分割駆動を可能にしつつ、第１周辺領域Ｂ１の回路が大きくなることを抑制して、第１周辺領域Ｂ１のスペース確保を可能としている。
【００６５】
また、複数の第２スイッチＳＷＢは、一部が、第１接続線ＬＢ１を介して複数のスイッチ端子ＴＳのうちの１つであるスイッチ端子ＴＢ１（一方側端子）に接続され、他の一部が、第２接続線ＬＢ２を介して複数のスイッチ端子ＴＳのうちの他の１つであるスイッチ端子ＴＢ２（他方側端子）に接続される。この表示装置１は、第２スイッチＳＷＢを別の推知端子に接続するため、信号線Ｓの検査時の時分割駆動を好適に行う事が可能となり、信頼性の低下を抑制することができる。なお、本実施形態では、このように、第１接続線ＬＢ１と第２接続線ＬＢ２とに、互いに異なるスイッチ端子ＴＢ１、ＴＢ２が接続される。ただし、第１接続線ＬＢ１と第２接続線ＬＢ２とは、同じスイッチ端子ＴＳに接続されていてもよい。この場合、たとえば、第１接続線ＬＢ１と第２接続線ＬＢ２とに、スイッチ端子ＴＳに対する接続と非接続とを切り替えるスイッチを設けてもよい。そして、第１接続線ＬＢ１に接続される第２スイッチＳＷＢ２を駆動したい場合は、スイッチ端子ＴＳと第１接続線ＬＢ１を接続状態としてスイッチ端子ＴＳと第２接続線ＬＢ２を非接続状態として、スイッチ端子ＴＳからゲート信号を出力すればよい。また、第２接続線ＬＢ２に接続される第２スイッチＳＷＢ２を駆動したい場合は、スイッチ端子ＴＳと第２接続線ＬＢ２を接続状態としてスイッチ端子ＴＳと第１接続線ＬＢ１を非接続状態として、スイッチ端子ＴＳからゲート信号を出力すればよい。
【００６６】
また、第１スイッチＳＷＡは、スイッチ端子ＴＡからの信号により、複数の信号線Ｓ同士の接続と遮断とを切り替え可能に構成される。この表示装置１によると、複数の信号線Ｓ同士を接続可能とすることで、一回のエージング処理で複数の信号線Ｓの亜断線を検出することができる。
【００６７】
また、表示装置１は、周辺領域Ｂに設けられて第２スイッチＳＷＢに接続される出力端子Ｔ０をさらに有する。第２スイッチＳＷＢは、スイッチ端子ＴＳからのゲート信号により、出力端子Ｔ０と信号線Ｓとの接続及び遮断を切り替える。この表示装置１によると、信号線Ｓの亜断線を好適に検出することができる。
【００６８】
また、本実施形態に係る表示装置１の検査方法は、スイッチ端子ＴＳにゲート信号を出力して第１スイッチＳＷＡ及び第２スイッチＳＷＢを駆動させることで、信号線Ｓに電流Ｉを流して信号線Ｓの検査を行う。その際に、第１時間においてスイッチ端子ＴＳから第１接続線ＬＢ１へゲート信号を出力することで、第１時間において複数の信号線Ｓのうちの一部に電流Ｉを流し、第１時間と異なる第２時間においてスイッチ端子ＴＳから第２接続線ＬＢ２へゲート信号を出力することで、第２時間において複数の信号線Ｓのうちの他の一部に電流Ｉを流す。この検査方法によると、一度に電流Ｉを流す信号線Ｓの数を少なくすることができる。従って、信号線Ｓに流れる電流値が小さくなり過ぎることを抑制して、信頼性の低下を抑制することができる。
【００６９】
また、本実施形態において述べた態様によりもたらされる他の作用効果について本明細書記載から明らかなもの、又は当業者において適宜想到し得るものについては、当然に本発明によりもたらされるものと解される。
【符号の説明】
【００７０】
１  表示装置
１１０  ドライバＩＣ
Ａ  表示領域
Ｂ  周辺領域
Ｂ１  第１周辺領域
Ｂ１ａ  内側周辺領域
Ｂ１ｂ  外側周辺領域
Ｄ  ドライバ端子
ＬＢ１  第１接続線
ＬＢ２  第２接続線
ＴＡ、ＴＢ１、ＴＢ２、ＴＳ  スイッチ端子
Ｔ０  出力端子
ＰＸ  画素
Ｓ  信号線（配線）
ＳＵＢ１  第１基板
ＳＵＢ２  第２基板
ＳＷＡ  第１スイッチ
ＳＷＢ  第２スイッチ
Ｙ１  第１方向
Ｙ２  第２方向
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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