(57)【要約】【課題】  電池寿命を高精度に自動で測定することができる電池寿命測定装置および測定方法を提供する。【解決手段】  本発明の電池寿命測定装置１００は、電池から電池駆動機器に流れる電流を表すアナログ信号を検出する差動増幅器１１０と、差動増幅器１１０により検出されたアナログ信号をサンプリング周波数に従いサンプリングし、サンプリング結果に基づきアナログ信号をデジタル信号に変換するアナログデジタル変換器１４０と、アナログデジタル変換器１４０から出力されるサンプリングデータに基づき電池駆動機器が動作状態またはスリープ状態かを判定するサンプリング制御部１５０と、動作状態の消費電流Ｉａｃｔおよびスリープ状態の消費電流Ｉｓｌｐと、動作状態の動作時間Ｔａｃｔおよびスリープ状態のスリープ時間Ｔｓｌｐとから電池寿命時間ＬＦｔを算出するプロセッサ１７０とを含む。【選択図】  図３
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
電池で駆動される電池駆動機器の電池の寿命を測定する電池寿命測定装置であって、
電池から電池駆動機器に流れる電流を表すアナログ信号を検出する検出手段と、
前記検出手段により検出されたアナログ信号をサンプリングし、サンプリング結果に基づきアナログ信号をデジタル信号に変換するアナログ／デジタル変換手段と、
アナログ／デジタル変換手段から出力されるサンプリングデータに基づき電池の寿命を測定する測定手段とを有し、
前記測定手段は、サンプリングデータに基づき電池駆動機器が動作状態またはスリープ状態かを判定する判定手段と、前記判定手段の判定結果に基づき動作状態の消費電流Ｉａｃｔおよびスリープ状態の消費電流Ｉｓｌｐと、動作状態の動作時間Ｔａｃｔおよびスリープ状態のスリープ時間Ｔｓｌｐとから電池寿命時間ＬＦｔを算出する算出手段とを含む、電池寿命測定装置。
【請求項２】
前記算出手段は、動作状態の消費電流Ｉａｃｔおよびスリープ状態の消費電流Ｉｓｌｐと、動作状態の動作時間Ｔａｃｔおよびスリープ状態のスリープ時間Ｔｓｌｐの合計の周期Ｔとから平均電流Ｉａｖを算出し、電池の容量を平均電流Ｉａｖで除することで電池寿命時間Ｌｆｔを算出する、請求項１に記載の電池寿命測定装置。
【請求項３】
前記算出手段は、動作状態の消費電流の平均値ｍａｃｔと動作時間Ｔａｃｔから消費電流Ｉａｃｔを算出し、スリープ状態の消費電流の平均値ｍｓｌｐとスリープ時間Ｔｓｌｐから消費電流Ｉｓｌｐを算出する、請求項２に記載の電池寿命測定装置。
【請求項４】
前記算出手段は、現在のサンプリングデータにひとつ前のサンプリングデータを加算し、加算した両者の平均値を算出し、算出された平均値の合計をサンプリング回数で除することで動作状態の平均消費電流ｍａｃｔおよびスリープ状態の平均消費電流ｍｓｌｐを算出することを含む、請求項３に記載の電池寿命測定装置。
【請求項５】
前記検出手段は、電池と電池駆動機器とを接続する電流経路に接続された電流検出用抵抗の一方の端部の電圧と他方の電圧との差電圧を増幅して前記アナログ信号を生成する差動増幅回路を含む、請求項１に記載の電池寿命測定装置。
【請求項６】
前記判定手段は、サンプリングデータと閾値とを比較するコンパレータとを含み、サンプリングデータが閾値以上であるとき動作状態と判定し、サンプリングデータが閾値未満であるときスリープ状態と判定する、請求項１に記載の電池寿命測定装置。
【請求項７】
電池で駆動される電池駆動機器の電池の寿命を測定する測定方法であって、
電池から電池駆動機器に流れる電流を表すアナログ信号を検出するステップと、
アナログ／デジタル変換器を用いて、前記検出ステップにより検出されたアナログ信号をサンプリングし、サンプリング結果に基づきアナログ信号をデジタル信号に変換するステップと、
演算処理装置を用いて、前記変換するステップで変換されたサンプリングデータに基づき電池駆動機器が動作状態またはスリープ状態かを判定するステップと、
判定結果に基づき動作状態の消費電流Ｉａｃｔおよびスリープ状態の消費電流Ｉｓｌｐと、動作状態の動作時間Ｔａｃｔおよびスリープ状態のスリープ時間Ｔｓｌｐとから電池寿命時間ＬＦｔを算出するステップとを含む、測定方法。
【請求項８】
前記算出するステップはさらに、動作状態の消費電流Ｉａｃｔおよびスリープ状態の消費電流Ｉｓｌｐと、動作状態の動作時間Ｔａｃｔおよびスリープ状態のスリープ時間Ｔｓｌｐの合計の周期Ｔとから平均電流Ｉａｖを算出し、電池の容量を平均電流Ｉａｖで除することで電池寿命時間Ｌｆｔを算出する、請求項７に記載の測定方法。
【請求項９】
前記算出するステップはさらに、動作状態の消費電流の平均値ｍａｃｔと動作時間Ｔａｃｔから消費電流Ｉａｃｔを算出し、スリープ状態の消費電流の平均値ｍｓｌｐとスリープ時間Ｔｓｌｐから消費電流Ｉｓｌｐを算出する、請求項８に記載の測定方法。
【請求項１０】
前記算出するステップはさらに、現在のサンプリングデータにひとつ前のサンプリングデータを加算し、加算した両者の平均値を算出し、算出された平均値の合計をサンプリング回数で除することで動作状態の平均消費電流ｍａｃｔおよびスリープ状態の平均消費電流ｍｓｌｐを算出することを含む、請求項９に記載の測定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電池を機器に組込んだ場合の電池の寿命または１回の充電時間を測定する装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
親機と複数の子機とから構成される無線通信システムにおいて、子機の電源として電池を使用する場合、可能な限り消費電力を抑えて、電池寿命を長くすることが望まれる。例えば、特許文献１の電池駆動型無線通信システムでは、親機が複数の子機の各々をアクセスする時間と子機のスリープ時間を同期させ、必要な時間帯だけ子機のスリープ時間を解除し、子機のバッテリーの消費電力を節約している。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特許第６２５１３６３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
電池駆動の製品で、例えば電池寿命が１年と謳われて場合に、実際に使用してみると、電池の寿命が１年持たないと言うことがある。このような誤差が生じるのは、これは、電池を機器に組込んだ後で、自動で電池の寿命を測定ないし算出する計測器がなく、人間がおおよそ手計算で算出しているからである。
【０００５】
本発明は、上記した従来技術の課題を解決するものであり、電池寿命を高精度に自動で測定することができる電池寿命測定装置および測定方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明に係る電池寿命測定装置は、電池で駆動される電池駆動機器の電池の寿命を測定するものであって、電池から電池駆動機器に流れる電流を表すアナログ信号を検出する検出手段と、前記検出手段により検出されたアナログ信号をサンプリングし、サンプリング結果に基づきアナログ信号をデジタル信号に変換するアナログ／デジタル変換手段と、アナログ／デジタル変換手段から出力されるサンプリングデータに基づき電池の寿命を測定する測定手段とを有し、前記測定手段は、サンプリングデータに基づき電池駆動機器が動作状態またはスリープ状態かを判定する判定手段と、前記判定手段の判定結果に基づき動作状態の消費電流Ｉａｃｔおよびスリープ状態の消費電流Ｉｓｌｐと、動作状態の動作時間Ｔａｃｔおよびスリープ状態のスリープ時間Ｔｓｌｐとから電池寿命時間ＬＦｔを算出する算出手段とを含む。
【０００７】
ある実施態様では、前記算出手段は、動作状態の消費電流Ｉａｃｔおよびスリープ状態の消費電流Ｉｓｌｐと、動作状態の動作時間Ｔａｃｔおよびスリープ状態のスリープ時間Ｔｓｌｐの合計の周期Ｔとから平均電流Ｉａｖを算出し、電池の容量を平均電流Ｉａｖで除することで電池寿命時間Ｌｆｔを算出する。ある実施態様では、前記算出手段は、動作状態の消費電流の平均値ｍａｃｔと動作時間Ｔａｃｔから消費電流Ｉａｃｔを算出し、スリープ状態の消費電流の平均値ｍｓｌｐとスリープ時間Ｔｓｌｐから消費電流Ｉｓｌｐを算出する。ある実施態様では、前記算出手段は、現在のサンプリングデータにひとつ前のサンプリングデータを加算し、加算した両者の平均値を算出し、算出された平均値の合計をサンプリング回数で除することで動作状態の平均消費電流ｍａｃｔおよびスリープ状態の平均消費電流ｍｓｌｐを算出することを含む。ある実施態様では、前記検出手段は、電池と電池駆動機器とを接続する電流経路に接続された電流検出用抵抗の一方の端部の電圧と他方の電圧との差電圧を増幅して前記アナログ信号を生成する差動増幅回路を含む。ある実施態様では、前記判定手段は、サンプリングデータと閾値とを比較するコンパレータとを含み、サンプリングデータが閾値以上であるとき動作状態と判定し、サンプリングデータが閾値未満であるときスリープ状態と判定する。
【０００８】
本発明に係る測定方法は、電池で駆動される電池駆動機器の電池の寿命を測定するものであって、電池から電池駆動機器に流れる電流を表すアナログ信号を検出するステップと、アナログ／デジタル変換器を用いて、前記検出ステップにより検出されたアナログ信号をサンプリングし、サンプリング結果に基づきアナログ信号をデジタル信号に変換するステップと、演算処理装置を用いて、前記変換するステップで変換されたサンプリングデータに基づき電池駆動機器が動作状態またはスリープ状態かを判定するステップと、判定結果に基づき動作状態の消費電流Ｉａｃｔおよびスリープ状態の消費電流Ｉｓｌｐと、動作状態の動作時間Ｔａｃｔおよびスリープ状態のスリープ時間Ｔｓｌｐとから電池寿命時間ＬＦｔを算出するステップとを含む。
【０００９】
ある実施態様では、前記算出するステップはさらに、動作状態の消費電流Ｉａｃｔおよびスリープ状態の消費電流Ｉｓｌｐと、動作状態の動作時間Ｔａｃｔおよびスリープ状態のスリープ時間Ｔｓｌｐの合計の周期Ｔとから平均電流Ｉａｖを算出し、電池の容量を平均電流Ｉａｖで除することで電池寿命時間Ｌｆｔを算出する。ある実施態様では、前記算出するステップはさらに、動作状態の消費電流の平均値ｍａｃｔと動作時間Ｔａｃｔから消費電流Ｉａｃｔを算出し、スリープ状態の消費電流の平均値ｍｓｌｐとスリープ時間Ｔｓｌｐから消費電流Ｉｓｌｐを算出する。ある実施態様では、前記算出するステップはさらに、現在のサンプリングデータにひとつ前のサンプリングデータを加算し、加算した両者の平均値を算出し、算出された平均値の合計をサンプリング回数で除することで動作状態の平均消費電流ｍａｃｔおよびスリープ状態の平均消費電流ｍｓｌｐを算出することを含む。
【発明の効果】
【００１０】
本発明によれば、電池から電池駆動機器に流れる電流を表すアナログ信号を検出し、当該アナログ信号をデジタル信号に変換し、デジタル変換されたサンプリングデータに基づき電池の寿命を測定するようにしたので、電池寿命を高精度に自動で測定することが可能になる。これにより、手作業による寿命測定と比較して工数を大幅に削減することが可能になる。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】電池寿命算出の基本を説明するグラフである。
【図２】電池寿命の測定方法を説明する図である。
【図３】本発明の実施例に係る電池寿命測定装置の構成を示すブロック図である。
【図４】図４（Ａ）は、動作状態またはスリープ状態を判定する方法を説明する図、図４（Ｂ）は、動作状態またはスリープ状態を表すＵＰフラグまたはＬＷフラグを説明する図である。
【図５】本発明の実施例によるサンプリング制御部１５０により生成されたサンプリングデータをＳＲＡＭに格納するときのデータ形式の一例を示す図である。
【図６】本発明の実施例によるサンプリング制御部およびプロセッサの処理を説明する図である。
【図７】本発明の実施例によるプロセッサおよびＰＣの処理を説明する図である。
【発明を実施するための形態】
【００１２】
次に、本発明のある実施態様では、電池駆動機器は、外部から要求される動作を実行し、その後スリープとなり、再び要求される動作を実行するような間欠的な動作を行うことができる。あるいは別の実施態様では、電池駆動機器は、外部装置と無線信号等を介して接続され、外部装置からの指示に応答して動作を実行することができる。この場合、電池駆動機器は、外部装置から指示がない期間、低消費電力のスリープ（待機状態）となる。低消費電力のスリープ時間は、電池駆動機器に内蔵されるタイマーによって管理されてもよいし、外部装置からのコマンド等によって管理されてもよい。また、スリープ状態は、特に限定されないが、例えば、一部の回路の動作を停止状態にしたり、一部のクロックを停止させたり、特定のコマンドにのみ応答する。電池駆動機器は、例えば、親機と無線通信を行う子機であり、子機は、遠隔地に配置される、温度センサ、湿度センサ、水位センサ、土壌水分センサ、雨量計、圧力センサ、気圧センサ等を含むことができる。
【実施例】
【００１３】
次に、本発明の実施例について図面を参照して詳細に説明する。電池駆動機器に搭載した電池の寿命を長くするには、電池駆動機器の動作時間を極力短くして、電池駆動機器を低消費電力状態すなわちスリープ状態にする必要がある。こうした間欠動作を行う電池駆動機器の電池寿命を測定する場合、電池駆動機器の動作時の消費電流と時間、スリープ時の消費電流と時間を計測し、それらの計測結果から電池の寿命を算出しなければならない。図１に、電池寿命算出の基本となる定義を示し、この定義に従う電池寿命の計算式を、式（１）、（２）に示す。なお、電池はフルに充電された状態にあるものとする。
【００１４】
Ｉａｖ＝（Ｉａｃｔ×Ｔａｃｔ+Ｉｓｌｐ×Ｔｓｌｐ）／Ｔ      …（１）
ここで、Ｉａｖ：周期内の平均消費電流、Ｉａｃｔ：動作時の消費電流値、
Ｔａｃｔ：動作時間、Ｉｓｌｐ：スリープ時の消費電流値、Ｔｓｌｐ：スリープ時間、
Ｔ：周期（Ｔ＝Ｔａｃｔ＋Ｔｓｌｐ）
ＬＦｔ［時間］＝ＢＡＴＴ［ｍＡｈ］／Ｉａｖ      …（２）
電池寿命：ＬＦｔ、ＢＡＴＴ：容量
【００１５】
式（１）、（２）を算出するためには、図２に示す測定方法を用いることが可能である。
Ａ．図２（Ａ）に示すように電池（例えば、リチウムイオン電池）Ｂと電池駆動機器１０とを接続する電流経路に、例えば１オーム程度の電流検出用の抵抗Ｒを挿入する。
Ｂ．抵抗Ｒの電池側の一方の端子Ｎ１をオシロスコープ２０の信号入力側Ｓｉｎに接続し、他方の端子Ｎ２をオシロスコープ２０のＧＮＤ側に接続する。
Ｃ．電池駆動機器１０を動作させる。
Ｄ．オシロスコープ２０に図２（Ａ）のような電圧波形が表示される。
Ｅ．オシロスコープ２０の表示波形を、手作業により図２（Ｂ）に示すような矩形状波形に変換する。
Ｆ．動作時およびスリープ時の各電流値と時間を乗算する。つまり、Ｉａｃｔ×Ｔａｃｔ、Ｉｓｌｐ×Ｔｓｌｐを計算する。
Ｇ．式（１）、（２）の計算を行い、電池寿命時間ＬＦｔを求める。
【００１６】
上記の測定方法は、高精度の測定方法とは言えないし、幾つかのポイントでこの測定を行い、その平均値を求める必要もある。このため、非常に煩わしい作業を必要とし、そのための作業に多くの時間を要してしまう。また、手作業による測定には限界があり、電池寿命を高精度で測定することは困難である。
【００１７】
図３は、本発明の実施例に係る電池寿命測定装置の構成を示すブロック図である。同図に示すように、本実施例の電池寿命測定装置１００は、差動増幅器１１０、バンド除去フィルタ１２０、ローパスフィルタ１３０、アナログデジタル変換器（ＡＤＣ）１４０、サンプリング制御部１５０、ＳＲＡＭ１６０、プロセッサ１７０および不揮発性メモリ１８０、ＰＣ１９０とを含んで構成される。
【００１８】
差動増幅器１１０は、抵抗Ｒの電池側の一方の端子Ｎ１を非反転入力端子（＋）に接続し、他方の端子Ｎ２を反転入力端子（−）に接続し、両者のアナログ信号の差電圧を増幅した信号を出力する。
【００１９】
バンド除去フィルタ１２０は、差動増幅器１１０からの出力信号を受け取り、そこからＡＣ電源に由来するノイズ（５０Ｈｚ／６０Ｈｚ）を除去する。ローパスフィルタ１３０は、バンド除去フィルタ１２０からの出力信号を受け取り、そこから高周波ノイズを除去する。
【００２０】
ＡＤＣ１４０は、ローパスフィルタ１３０からの出力信号を受け取り、これを一定のサンプリング周期でデジタル信号に変換する。ＡＤＣ１４０は、例えば、１００ｎｓのサンプリング周期で、解像度が１４ビットのデジタル信号を生成する。ＡＤＣ１４０による動作は、従来のオシロスコープの表示波形を手作業により矩形状の波形に変換することと等価であり、同図に示すような矩形状のデジタル波形Ｗが生成される。
【００２１】
サンプリング制御部１５０は、例えば、ＦＰＧＡ（Field Programmable Gate Array）から構成され、ＡＤＣ１４０によりサンプリングされたデータと閾値とを比較し、電池駆動機器が動作状態かスリープ状態かを判定する。例えば、図４（Ａ）に示すようなアナログ電圧波形がサンプリングされたと仮定して、サンプリングされたデータと閾値Ｔｈとを比較し、サンプリングされたデータが閾値以下であればスリープ状態と判定し、閾値よりも大きければ動作状態と判定する。サンプリング制御部１５０は、例えば、図４（Ｂ）に示すように、コンパレータＣＭＰ＿１、ＣＭＰ＿２を含み、ＣＭＰ＿１は、サンプリングされたデータの上位ビットと閾値とを比較し、サンプリングされたデータが閾値以上であるときＵＰフラグをＨにセットし、ＣＭＰ＿２は、サンプリングされたデータの下位ビットと閾値とを比較し、サンプリングされたデータが閾値未満であるときＬＷフラグをＨにセットする。
【００２２】
さらにサンプリング制御部１５０は、ＡＤＣ１４０によりデジタル変換されたサンプリングしたデータを受け取り、式（３）の処理を行う。この処理は、動作状態およびスリープ状態のそれぞれで実行される。
【数１】
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【００２３】
ここで、ｎは、サンプリング回数である。サンプリング制御部１５０は、式（３）により、現在のサンプリングしたデータＸｋ＋１をひとつ前のサンプリングしたデータＸｋに加算したＹｉを作成する。サンプリング制御部１５０は、ｎ−１まで上記の加算を行うが、ｎ−１になる前にデータが途切れた場合、あるいはプロセッサ１７０等からストップの指示があった場合には、処理を停止する。こうして、サンプリング制御部１５０は、複数の加算結果Ｙｉを作成し、この加算結果Ｙｉとサンプリング回数とをＳＲＡＭ１６０に格納する。サンプリング制御部１５０は、ＵＰフラグがＨであれば、ＳＲＡＭ＿０に加算結果を格納し、ＬＷフラグがＨであれば、ＳＲＡＭ＿１に加算結果を格納する。図５に、ＳＲＡＭ＿０、ＳＲＡＭ＿１のデータ形式をそれぞれ示す。ＳＲＡＭ＿０１、ＳＲＡＭ＿０２は、例えば、１Ｍ×１６ビットの記憶容量を有する。
【００２４】
プロセッサ１７０は、例えば、予め用意されたプログラムまたはファームウエアに従い電池寿命を算出する。また、プロセッサ１７０は、ＳＲＡＭ＿０、ＳＲＡＭ＿１に格納されたサンプリングデータを読出し、これを不揮発性メモリ１８０に格納する。不揮発性メモリ１８０は、例えば、記憶容量の大きいＳＤカードである。
【００２５】
図６に示すプロセス１は、サンプリング制御部１５０による加算処理を示しており、つまり、現在のサンプリングデータＸｋ＋１とひとつ前のサンプリングデータＸｋとの加算処理を示している。加算結果Ｙｉの数は、サンプリング回数に等しく、もし、途中でサンプリングが停止または中断されなければ、加算結果Ｙｉの数は、ｎー１である。
【００２６】
プロセス２は、プロセッサ１７０による加算結果Ｙｉの平均値の算出を示している。すなわち、プロセッサ１７０は、式（４）に示すように、加算結果Ｙｉの各々をサンプリング回数ｎ−１で除して、それぞれの平均値ｍｘを算出する。
ｍｘ＝Ｙｉ／（ｎ−１）      …（４）
【００２７】
次に、プロセッサ１７０は、図７に示すプロセス３で示す式（５）を演算し、全ての平均値ｍｘを加算し、加算した平均値を全てのサンプリング回数で除して平均値ｍを求める。
【数２】
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ｍａｃｔは、電池駆動機器が動作状態にあるときの平均値、ｍｓｌｐは、スリープ状態にあるときの平均値である。
【００２８】
次に、プロセッサ１７０は、図７に示すプロセス４を実行する。プロセッサ１７０は、式（６）、（７）を実行し、ＵＰフラグ、ＬＷフラグとサンプリング回数から、周期Ｔを算出する。
Ｔａｃｔ＝（１／ｆｓ）×ｎ      …（６）
Ｔｓｌｐ＝（１／ｆｓ）×ｎ      …（７）
Ｔａｃｔは、ＵＰフラグがＨである動作時間、Ｔｓｌｐは、ＬＷフラグがＨであるスリープ時間、ｆｓは、サンプリング周波数、周期Ｔ＝Ｔａｃｔ＋Ｔｓｌｐである。
【００２９】
次に、プロセッサ１７０は、式（８）、（９）を実行し、消費電流を算出する。
Ｉａｃｔ＝ｍａｃｔ×Ｔａｃｔ      …（８）
Ｉｓｌｐ＝ｍｓｌｐ×Ｔｓｌｐ      …（９）
【００３０】
次に、プロセッサ１７０は、式（１０）を実行し、平均の電流値を算出する。
Ｉａｖ＝（Ｉａｃｔ＋Ｉｓｌｐ）／Ｔ      …（１０）
平均電流Ｉａｖ、周期Ｔ、消費電流Ｉａｃｔ、Ｉｓｌｐの動作サイクルは、例えば、図１に示されている。プロセッサ１７０は、算出した平均電流等を不揮発性メモリ１８０に格納する。
【００３１】
次に、ＰＣ１９０は、プロセッサ１７０の処理結果に基づき電池寿命時間（Ｌｆｔ）を算出する。ＰＣ１９０は、不揮発性メモリ１８０から平均電流Ｉａｖを読出し、式（１１）を実行する。
ＬＦｔ［時間］＝ＢＡＴＴ［ｍＡｈ］／Ｉａｖ      …（１１）
【００３２】
このように本実施例によれば、高精度の電池寿命時間ＬＦｔを算出し、これを提示することができる。さらに本実施例によれば、電池寿命時間を自動で測定するため、従来の手法と比較して電池寿命時間算出工数を大幅に削減することができる。さらにサンプリング周期等を調整することでサンプリングデータ量の大幅な削減をすることが可能である。例えば、自動測定の場合、サンプリング周期を１００ｎｓとして、このサンプリングを１時間行った場合、サンプリングデータ(２バイト)は、合計で７２Ｇバイトになるが、これらの大容量のデータは不揮発性メモリ１８０に保存することが可能になる。
【００３３】
上記実施例では、ＰＣ１９０が電池寿命時間を算出する例を示したが、これに限らず、プロセッサ１７０が電池寿命時間ＬＦｔを算出するようにしてもよい。また、例えば、ユーザーは、ＰＣ１９０からプロセッサ１７０に対して電池寿命の測定の指示を与え、それに応じてプロセッサ１７０が電池寿命を自動測定し、その結果をユーザーに提示することも可能である。これにより、ユーザーは、電池の寿命時間、つまり電池を充電しなければいけない時間を予測したり、充電にかかる時間を予測することができる。
【００３４】
以上、本発明の好ましい実施の形態について詳述したが、本発明は、特定の実施形態に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載された本発明の要旨の範囲内において、種々の変形・変更が可能である。
【符号の説明】
【００３５】
１０：電池駆動機器
２０：オシロスコープ
１００：電池寿命測定装置
１１０：差動増幅器
１２０バンド除去フィルタ
１３０：ローパスフィルタ
１４０：アナログデジタル変換器（ＡＤＣ）
１５０：サンプリング制御部
１６０：ＳＲＡＭ＿０、ＳＲＡＭ＿１
１７０：プロセッサ
１８０：不揮発性メモリ
１９０：ＰＣ
Ｒ：電流検出用抵抗
Ｂ：電池
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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