(57)【要約】【課題】測定対象となる試料を乱すことなく、簡単に試料の電気特性を測定することが可能になるサンプリングモールドを提供する。【解決手段】測定対象となる土試料Ｓが内空に充填される円筒形のサンプリングモールド１である。  このサンプリングモールドは、複数の半円筒形の絶縁性の半円筒部１１，１１を組み合わせることによって円筒形に形成されるとともに、円筒形の軸方向に間隔を置いて複数の導電性の接続端子２，・・・が設けられている。  そして、接続端子は、半円筒部を厚さ方向に貫通して取り付けられ、内空側の接触面は円筒形の内周面と略面一になるように形成されている。【選択図】図１
2020176969.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
測定対象となる試料が内空に充填される円筒形のサンプリングモールドであって、
複数の半円筒形又は円弧筒形の絶縁性の外殻部材を組み合わせることによって円筒形に形成されるとともに、前記外殻部材の少なくとも一つには、前記円筒形の軸方向に間隔を置いて複数の導電性の接続端子が設けられており、
前記接続端子は、前記外殻部材を厚さ方向に貫通して取り付けられ、前記内空側の接触面は前記円筒形の内周面と略面一になるように形成されていることを特徴とするサンプリングモールド。
【請求項２】
前記接続端子は、前記軸方向の１列において４箇所に設けられるとともに、前記円筒形の周方向に間隔を置いて１列から５列が設けられることを特徴とする請求項１に記載のサンプリングモールド。
【請求項３】
前記外殻部材同士の接合部には、せん断キーが設けられることを特徴とする請求項１又は２に記載のサンプリングモールド。
【請求項４】
前記円筒形の先端には刃部が形成されることを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項に記載のサンプリングモールド。
【請求項５】
請求項１乃至４のいずれか１項に記載のサンプリングモールドを使用した土の非破壊物性測定方法であって、
前記サンプリングモールドを地盤に落とし込むステップと、
土試料が内空に充填された前記サンプリングモールドを前記地盤から取り出すステップと、
前記サンプリングモールドの接続端子に電気抵抗測定装置を接続して電気特性を測定するステップとを備えたことを特徴とする土の非破壊物性測定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、測定対象となる試料が内空に充填される円筒形のサンプリングモールド、及びそれを使用した土の非破壊物性測定方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
盛土土工の品質管理は、締固めた土の含水比と乾燥密度を測定し、管理することで行われる。土の含水比と乾燥密度を測定する方法には、砂置換法、ラジオアイソトープ法(RI法)、コアカッター法などがある。
【０００３】
一方、非特許文献１に開示されているように、室内試験で乾燥密度（締固め密度）と含水比と電気抵抗特性との関係を研究した例があり、土質がほぼ同じ(砂礫)であれば、含水比と比抵抗との関係に締固め密度の影響はほとんど出ないことが知られている。
【０００４】
また、特許文献１には、採取された土質コア試料の中に薄層が含まれている場合でも、その薄層を見落とすことなく正確に地層分布を判読することができるようにした測定装置が開示されている。
【０００５】
この測定装置では、２ｃｍ間隔で測定用コア試料に針状の金属電極を差し込み、二電極法や四電極法（ウェンナー法）で区間ごとの比抵抗値を測定することで、地層に薄層があったとしても検出できるようにしている。
【０００６】
また、特許文献２には、圧密試験を行うために土質調査現場から採取した土の供試体に対して、供試体の上下に円板状の電極部材を配置して、圧密試験中の比抵抗の変化が測定できるようにした圧密試験装置が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００７】
【特許文献１】特開２０１０−３８７３９号公報
【特許文献２】特開平１０−２６７８０９号公報
【非特許文献】
【０００８】
【非特許文献１】植野修昌、外２名、「比抵抗値による盛土の施工管理に関する基礎的研究−比抵抗値と締固め度の対応−」、土木学会年次学術講演会講演概要集、Vol.51，3部門B，平成8年9月，pp.704-705
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
しかしながら、特許文献１に開示された測定装置は、針状の金属電極をコア試料に深く差し込む構成となっているので、コア採取したあとに金属電極を差し込む作業が必要になって手間がかかるため、比抵抗値を簡単に測定して盛土土工などの品質管理に利用するには適していると言い難い。
【００１０】
また、コア試料に深く差し込まれた多数の金属電極によって試料が乱される可能性があるため、室内変形強度試験などに利用できる程度の乱れの少ない土試料が確保できなくなるおそれがある。
【００１１】
そこで、本発明は、測定対象となる試料を乱すことなく、簡単に試料の電気特性を測定することが可能になるサンプリングモールド、及びそれを使用した土の非破壊物性測定方法を提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
前記目的を達成するために、本発明のサンプリングモールドは、測定対象となる試料が内空に充填される円筒形のサンプリングモールドであって、複数の半円筒形又は円弧筒形の絶縁性の外殻部材を組み合わせることによって円筒形に形成されるとともに、前記外殻部材の少なくとも一つには、前記円筒形の軸方向に間隔を置いて複数の導電性の接続端子が設けられており、前記接続端子は、前記外殻部材を厚さ方向に貫通して取り付けられ、前記内空側の接触面は前記円筒形の内周面と略面一になるように形成されていることを特徴とする。
【００１３】
ここで、前記接続端子は、前記軸方向の１列において４箇所に設けられるとともに、前記円筒形の周方向に間隔を置いて１列から５列が設けられる構成とすることができる。また、前記外殻部材同士の接合部には、せん断キーが設けられることが好ましい。さらに、前記円筒形の先端には刃部が形成されることが好ましい。
【００１４】
また、土の非破壊物性測定方法の発明は、上記いずれかのサンプリングモールドを使用した土の非破壊物性測定方法であって、前記サンプリングモールドを地盤に落とし込むステップと、土試料が内空に充填された前記サンプリングモールドを前記地盤から取り出すステップと、前記サンプリングモールドの接続端子に電気抵抗測定装置を接続して電気特性を測定するステップとを備えたことを特徴とする。
【発明の効果】
【００１５】
このように構成された本発明のサンプリングモールドは、複数の半円筒形又は円弧筒形の絶縁性の外殻部材を組み合わせることによって円筒形に形成されている。さらに、外殻部材の少なくとも一つに円筒形の軸方向に間隔を置いて設けられる複数の接続端子は、内空側の接触面が円筒形の内周面と略面一になるように形成されている。
【００１６】
このため、複数の外殻部材の接合を解除することによって、測定対象となる試料を乱すことなく容易に取り出すことができる。また、接続端子の接触面が、円筒形の内周面と略面一になるように形成されているので、内空に充填される試料の外周面が乱れるのを防ぐことができる。そして、予め設けられた接続端子によって、簡単に試料の電気特性を測定することができる。
【００１７】
接続端子は、軸方向の１列において４箇所に設けることで、試料を採取したのちに電気抵抗測定装置の電線をそれぞれの接続端子に繋ぐだけで、四電極法などによって短時間で電気特性を測定することができる。このような接続端子の列は、周方向に間隔を置いて１列から５列を設けることができ、複数列を設けた場合は、充填された試料に偏りがあったとしても、その影響を低減させることができるようになる。
【００１８】
また、外殻部材同士の接合部にせん断キーが設けられていれば、サンプリング中などに強い力が加わった際に、接合部が開いたり、サンプリングモールドが分解したりするのを防ぐことができる。
【００１９】
さらに、円筒形の先端に刃部が形成されていれば、サンプリングモールドを地盤に落とし込む際の抵抗が低減されるため、乱れの少ない試料を短時間で採取することができるようになる。
【００２０】
また、土の非破壊物性測定方法では、接続端子を備えた複数の外殻部材によって組み立てられるサンプリングモールドを使用することによって、土試料を乱すことなく採取して、簡単に電気特性を測定することができる。
【図面の簡単な説明】
【００２１】
【図１】本発明の実施の形態のサンプリングモールドと、それを使用した土の非破壊物性測定方法の概要を示した説明図である。
【図２】サンプリングモールドの構成を説明する図であって、（ａ）は半円筒部を外周面側から見た図、（ｂ）は半円筒部を内周面側から見た図、（ｃ）は２つの半円筒部を接合したサンプリングモールドの斜視図である。
【図３】接続端子が取り付けられた位置のサンプリングモールドの断面図及び接合部周辺の拡大図である。
【図４】電気抵抗測定装置を接続して四電極法により供試体の電気抵抗を測定する原理の概要を示した説明図である。
【図５】含水比と乾燥密度及び含水比と電気抵抗との関係を確認した実験結果を示した図である。
【図６】サンプリングモールドを使用した土試料の採取状況を説明する斜視図である。
【図７】電気抵抗の現地測定値から含水比を算定する方法を説明するための図である。
【図８】含水比と乾燥密度との関係によって盛土の品質管理を行うための品質管理図である。
【発明を実施するための形態】
【００２２】
以下、本発明の実施の形態について図面を参照して説明する。図１は、本実施の形態のサンプリングモールド１と、それを使用した土の非破壊物性測定方法の概要を説明する図である。
【００２３】
円筒形のサンプリングモールド１の内空には、測定対象となる試料が充填される。例えば土質試験の試料には、地盤から直接、採取された乱さない土試料Ｓ、乱した土試料などがある。また、コンクリートを試料とする場合は、サンプリングモールド１の内空に硬化する前のコンクリートが充填される。
【００２４】
本実施の形態では、主に乱さない土試料Ｓの電気抵抗を測定する場合を例に説明する。サンプリングモールド１に充填された土試料Ｓの電気抵抗は、サンプリングモールド１に電気抵抗測定装置３を接続することで測定することができる。
【００２５】
図２は、本実施の形態のサンプリングモールド１の構成を説明する図である。サンプリングモールド１は、２つの半円筒形の外殻部材である半円筒部１１，１１を組み合わせることによって円筒形に形成することができる。
【００２６】
以下では、円筒形を二つ割りにした一対の半円筒部１１，１１を組み合わせてサンプリングモールド１にする例について説明するが、これに限定されるものではない。例えば円筒形を三つ割りにした３体の円弧筒形、円筒形を四つ割りにした４体の円弧筒形を組み合わせて円筒形のサンプリングモールドにすることもできる。
【００２７】
外殻部材である半円筒部１１は、絶縁性の材料によって形成される。ここで、外殻部材の絶縁性は、電気抵抗試験への影響がない程度の絶縁性が確保できればよい。また、サンプリング中に変形したり割れたりしない程度の剛性及び強度を有する材料が使用される。
【００２８】
例えば、塩化ビニル管を中央で２つ割りにして半円筒部１１を製作することができる。また、ガラス、磁器（セラミック）、マイカ、シリカなどの無機系材料、又はポリ塩化ビニル、ポリエチレン、ポリエステル、合成ゴム、エポキシ樹脂、シリコーンなどの合成樹脂材料などによって、外殻部材を形成することができる。
【００２９】
そして、外殻部材となる半円筒部１１には、複数の導電性の接続端子２が設けられる。ここで、図２（ａ）は半円筒部１１を外周面１１ａ側から見た図、図２（ｂ）は半円筒部１１を内周面１１ｂ側から見た図、図２（ｃ）は２つの半円筒部１１，１１を接合したサンプリングモールド１の斜視図である。
【００３０】
半円筒部１１の内周面１１ｂは、サンプリングモールド１の内空１ａに地盤が充填されるサンプリング時に、採取される土試料Ｓの外周面が内周面１１ｂとの摩擦によって大きく圧縮しない程度の円滑性のある面に仕上げられる。
【００３１】
接続端子２は、半円筒部１１を厚さ方向に貫通して取り付けられる。例えば図２（ｂ）の上部に示したように、接続端子２は、板状の内面部２１と、棒状の接続部２２とによって形成される。
【００３２】
この内面部２１によって形成される接触面は、長方形、円形、ひし形など任意の形状とすることができる。この図では、5mm四方の正方形の内面部２１を例示している。また、内面部２１の略中央から延伸される接続部２２は、図３に示したように、外周面１１ａから突出する長さに形成される。
【００３３】
一方、接続端子２の内面部２１の内空１ａ側に露出する接触面は、内周面１１ｂと略面一になる位置に配置される。要するに内面部２１の接触面は、内周面１１ｂと連続する曲面に形成されるのが好ましく、段差が生じるとしても低い方が土試料Ｓの外周面が窪んだり、溝状の筋が形成される量を抑えることができる。
【００３４】
接続端子２は、図２に示したように、円筒形の軸方向に間隔を置いて複数が設けられる。この図では、軸方向の長さ（高さ）が200mmのサンプリングモールド１に対して、50mm間隔で４箇所に接続端子２を設ける場合について説明している。ここで、軸方向に間隔を置いて設けられる複数の接続端子２，・・・の群を１列と呼ぶこととする。
【００３５】
１列となる接続端子２，・・・群は、円筒形の周方向に間隔を置いて１列から５列を設けることができる。本実施の形態では、周方向に１２０°間隔で３列の接続端子２，・・・群を設けた場合について説明する。要するに、図２（ａ）に示した一方の半円筒部１１には、略中央に１列の接続端子２，・・・群が設けられ、図２（ｂ）に示した他方の半円筒部１１には、両側の側縁からそれぞれ３０°の位置に２列の接続端子２，・・・群が設けられる。
【００３６】
図２（ｃ）に示したように、一対の半円筒部１１，１１が組み合わされてサンプリングモールド１になると、円柱状の内空１ａが形成される。この内空１ａに土試料Ｓが充填されることになる。
【００３７】
このサンプリングモールド１の下端となる先端には、刃部１２が設けられる。刃部１２は、例えば先端が接する水平面に対して３０°の傾斜面（外周面１１ａから６０°の角度で先細る傾斜面）に形成される。
【００３８】
また、対となる半円筒部１１，１１同士の接合部１３には、図３の拡大図に示したように、せん断キーが設けられる。せん断キーは、半円筒部１１の厚さ方向（円筒形の径方向）の力に対する抵抗となるように、凹凸の段差として形成される。
【００３９】
このようにして１列に４箇所の接続端子２，・・・が設けられたサンプリングモールド１には、電気抵抗測定装置３を繋ぐことで、内空１ａに充填された土試料Ｓの電気抵抗を測定することができるようになる。
【００４０】
図４は、四電極法により供試体の電気抵抗を測定する原理の概要を示した説明図である。電気抵抗測定装置３は、交流定電圧電源、交流電流計、電流電極、電位差電極、交流電圧計、通電スイッチなどを備えている。
【００４１】
電気抵抗測定装置３のこれらの構成は、図１では、交流定電圧電源と交流電流計を電源部３１としてまとめて図示し、交流電圧計を電圧計３２として示し、各電極は接続端子２で示して電気ケーブルなどの電線３３によって接続している。要するに接続端子２は、電源部３１が接続されると図４に示した電流電極となり、電圧計３２が接続されると電位差電極となる。
【００４２】
図４に示すように、絶縁体の中に収容される土試料Ｓなどの供試体には、上下に一対の電流電極が接続され、中間に一対の電位差電極が接続される。そして、二つの電流電極を用いて測定対象となる供試体に交流電源Ｉ(A)を流し、二つの電位差電極間に生じる電位差Ｖ(V)から、オームの法則により電気抵抗Ｒ(Ω)（＝Ｖ／Ｉ）を求める。
【００４３】
そして、オームの法則から算出される見かけの抵抗値から、土試料Ｓの真の比抵抗値を算出することになる。具体的には、電気抵抗Ｒと円柱状の供試体の形状を考慮して定めたセル定数ｋ(m-1)から、電気抵抗率ρ(Ωm)を以下の式によって算出する。
ρ＝Ｒ／ｋ・・・・（式Ａ）
【００４４】
セル定数ｋ(m-1)の設定は、供試体の断面積Ａ(m2)と、測定する電位差電極間の距離Ｌ(m)から、ｋ＝Ｌ／Ａとして設定される。この設定については、電気抵抗が既知の材料を使って校正（キャリブレーション）を行うことが好ましい。
【００４５】
図５は、サンプリングモールド１を使用して測定された電気抵抗Ｒ(kΩ)と含水比ｗ(%)及び乾燥密度ρd(g/cm3)との関係を確認するために行った実験結果を示した図である。この実験は、最大粒径Ｄmaxが2mm、平均粒径Ｄ50が0.25mm、細粒分Ｆcが６％の砂質土を使用して行った。
【００４６】
実験は、乾燥密度の違いが電気抵抗と含水比との関係に与える影響を確認するために、乾燥密度が大きくなるようにサンプリングモールド１内で砂質土を突き固めた供試体と、乾燥密度が小さくなるようにサンプリングモールド１内に砂質土を緩く詰めた供試体とを使って行った。
【００４７】
図５に１点鎖線で示し、「Ｌ」の下付き文字を付けたグラフは乾燥密度が大きい供試体の結果を示し、破線で示し、「Ｓ」の下付き文字を付けたグラフは乾燥密度が小さい供試体の結果を示している。
【００４８】
乾燥密度が大きい供試体の含水比ｗと乾燥密度ρdとの関係を示すグラフＭＬは、最大乾燥密度を通る締固め曲線とほぼ同じ曲線を描いている。一方、乾燥密度が小さい供試体の含水比と乾燥密度との関係を示すグラフＭＳは、締固め曲線よりも0.05−0.12(g/cm3)程度小さい密度で遷移する曲線を描いている。
【００４９】
そして、このような特性を示す２つの供試体について、含水比ｗと電気抵抗Ｒとの関係を示した曲線が、乾燥密度が大きい供試体のグラフＨＬと乾燥密度が小さい供試体のグラフＨＳとになる。
【００５０】
乾燥密度との関係では乖離していた２本のグラフＭＬ，ＭＳが、電気抵抗との関係では非常に近接したグラフＨＬ，ＨＳとなる。そして、この２本のグラフＨＬ，ＨＳの近似曲線は、非常に高い相関係数を示す。
【００５１】
また、非特許文献１について上述したように、礫質土、砂質土、粘性土などの土質がほぼ同じであれば、含水比と電気抵抗との関係には締固め密度（乾燥密度）の影響がほとんど現れないことが知られている。
【００５２】
これらの結果から、本実施の形態のサンプリングモールド１で電気抵抗Ｒを測定することで、供試体（土試料Ｓ）の含水比ｗを推定できるようになると言える。ここで、図５に示した電気抵抗Ｒは、サンプリングモールド１の影響も含んだ電気抵抗であるが、上述した土試料Ｓの真の比抵抗値（土の比抵抗）との関係においても、同様に含水比を推定することができる（上記（式Ａ）参照）。
【００５３】
次に、本実施の形態のサンプリングモールド１を使用した、盛土土工の品質管理方法について説明する。まず、盛土現場で品質管理を開始する前に、盛土に使用される盛土材を使って、図７に実線で示したような電気抵抗と含水比との関係を示す近似曲線を求めておく。
【００５４】
盛土現場では、施工手順に従って盛土材を敷き均して、転圧により締固めることで、盛土地盤Ｇを造成する。この盛土地盤Ｇに対しては、所定の高さ毎に、設計品質を満たしているか否かの品質管理が行われる。
【００５５】
この品質管理に使用するために、図６に示すように、一対の半円筒部１１，１１をサンプリングモールド１に組み立てる。半円筒部１１，１１の接合部１３に設けられたせん断キーだけでは、サンプリングモールド１を盛土地盤Ｇに落とし込む際に接合部１３が開くおそれがあるので、例えば結束バンドや締付け金具などの環状の拘束材１４や接着テープなどを使って、接合部１３を補強しておく。
【００５６】
サンプルの採取にあたっては、盛土地盤Ｇの所望する位置に穴Ｇ１を掘削して、採取する試料が乱されないようなサンプリングモールド１を落とし込みやすい状態にする。サンプリングモールド１は、刃部１２が設けられた先端を下にして、人力によって盛土地盤Ｇに静かに落とし込んでいく。落とし込む際の抵抗が大きい場合は、ハンドスコップなどで穴Ｇ１の中のサンプリングモールド１の下端周辺を掘削しながら、少しずつ落とし込みを進める。
【００５７】
サンプリングモールド１を盛土地盤Ｇに落とし込んでいくと、その内空１ａには、下から徐々に乱されない状態の土試料Ｓが充填されていくことになる。サンプリングモールド１の落とし込みは、サンプリングモールド１の上端まで土試料Ｓで満たされるまで行われる。
【００５８】
土試料Ｓが内空１ａに充満されたサンプリングモールド１を盛土地盤Ｇから取り出した後は、サンプリングモールド１ごと土試料Ｓの重量を測定する。この測定された重量から、サンプリングモールド１などの土試料Ｓ以外の重量（既知）を差し引いた重量を算出し、内空１ａの容積（既知）で割ることで、土試料Ｓの湿潤密度ρt1(g/cm3)が算出される。
【００５９】
そして、土試料Ｓが充填されたサンプリングモールド１の１列の接続端子２，・・・群に電気抵抗測定装置３を接続して、１つ目の電気抵抗を測定する。続いて、サンプリングモールド１の２列目の接続端子２，・・・群に電気抵抗測定装置３を接続して、２つ目の電気抵抗を測定する。さらに、サンプリングモールド１の３列目の接続端子２，・・・群に電気抵抗測定装置３を接続して、３つ目の電気抵抗を測定する。
【００６０】
このようにして得られた３つの電気抵抗を例えば平均して、現地測定値Ｒを求める。そして、予め作成しておいた図７の電気抵抗−含水比関係曲線を使って、算定含水比ｗ１を求める。要するに、電気抵抗の現地測定値Ｒから延びる水平線と電気抵抗−含水比関係曲線とが交わる位置（×印）を求め、そこから真っ直ぐに垂下させた点の含水比を算定含水比ｗ１とする。
【００６１】
図８には、盛土の品質管理に用いるために作成した含水比と乾燥密度との関係を示した品質管理図を示した。品質管理図には、締固め曲線と最大乾燥密度ρdmaxを基準とした管理目標下限値（0.95ρdmax）が図示されている。要するに、締固め曲線と管理目標下限値とに囲まれた領域（施工管理値）に測定結果が収まれば、所望する品質の盛土に造成されていると判定できる。
【００６２】
現地測定値Ｒから算定含水比ｗ１が特定されると、上記ステップで測定した土試料Ｓの湿潤密度ρt1(g/cm3)を使って、乾燥密度ρｄ1を算出することができる。すなわち、現地測定値Ｒが分かれば、盛土現場ですぐに乾燥密度ρｄ1を求めることができる。そして、算定含水比ｗ１と乾燥密度ρｄ1との組み合わせである現場品質管理値から、所望する品質の盛土に造成されているか否かの判定がされる。
【００６３】
このようにして盛土土工の品質管理に使用された土試料Ｓは、サンプリングモールド１の拘束材１４を外して、半円筒部１１，１１を２つに分解することで、乱すことなく取り出すことができる。
【００６４】
そして、こうして得られた乱れの少ない土試料Ｓは、三軸圧縮試験や圧密試験などの変形強度などの物性を測定する試験に用いることができる。また、このような変形強度に関する盛土のデータを施工中に蓄積しておくことで、盛土の性能規定化につなげることができるようになる。
【００６５】
次に、本実施の形態のサンプリングモールド１、及びそれを使用した土の非破壊物性測定方法の作用について説明する。
このように構成された本実施の形態のサンプリングモールド１は、絶縁性の一対の半円筒部１１，１１を組み合わせることによって円筒形に形成される。さらに、半円筒部１１には、円筒形の軸方向に間隔を置いて複数の接続端子２，・・・が設けられ、接続端子２の内空１ａ側となる内面部２１の接触面は、円筒形の内周面１１ｂと略面一になるように形成されている。
【００６６】
このため、接続端子２の内面部２１の接触面が、円筒形の内周面１１ｂと略面一になるように形成されているので、内空１ａに充填される土試料Ｓの外周面が乱れるのを防ぐことができる。
【００６７】
そして、サンプリングモールド１に予め設けられた接続端子２，・・・に電気抵抗測定装置３を接続することによって、簡単に土試料Ｓの電気特性である電気抵抗を測定することができる。
【００６８】
このような接続端子２は、軸方向の１列において４箇所に設けることで、土試料Ｓを採取したのちに電気抵抗測定装置３の電線３３をそれぞれの接続端子２に繋ぐだけで、四電極法によって短時間で電気抵抗を測定することができる。
【００６９】
このような接続端子２，・・・群の列は、周方向に間隔を置いて１列から５列を設けることができ、複数列を設けた場合は、充填された土試料Ｓに円柱状の位置による偏りがあったとしても、その影響を低減させることができるようになる。
【００７０】
また、接続端子２の内面部２１の接触面の接触状態の影響を排除することもできるようになる。例えば、接続端子２の接触面が土試料Ｓの外周面に密着しているときと隙間があったり離隔したりしているときとでは、測定される電気特性が変化するため、複数の箇所（列）で測定を行うことによって、大きく外れた測定結果を除くなどして測定誤差を少なくすることができる。
【００７１】
また、三軸圧縮試験などの試験に用いるために、２体の半円筒部１１，１１の接合を解除することによって、測定対象となる土試料Ｓを乱すことなく容易に取り出すことができる。
【００７２】
ここで、半円筒部１１，１１同士の接合部１３にせん断キーが設けられていれば、サンプリング中などに強い力が加わった際に、接合部１３が開いたり、サンプリングモールド１が分解したりするのを防ぐことができる。
【００７３】
さらに、円筒形の先端に刃部１２が形成されていれば、サンプリングモールド１を盛土地盤Ｇに落とし込む際の抵抗が低減されるため、乱れの少ない土試料Ｓを短時間で採取することができる。
【００７４】
また、土の非破壊物性測定方法では、接続端子２を備えた複数の半円筒部１１，１１によって組み立てられるサンプリングモールド１を使用することによって、土試料Ｓを乱すことなく採取して、簡単に電気抵抗を測定することができる。
【００７５】
さらに、盛土現場で測定された電気抵抗から含水比が算定できるので、湿潤密度を測定しておくことで乾燥密度も算出できるようになり、その場で施工管理値との比較をして迅速に盛土施工の良否を判断することができる。
【００７６】
以上、図面を参照して、本発明の実施の形態を詳述してきたが、具体的な構成は、この実施の形態に限らず、本発明の要旨を逸脱しない程度の設計的変更は、本発明に含まれる。
例えば、前記実施の形態では、１列に４箇所の接続端子２，・・・を設ける場合について説明したが、これに限定されるものではない。例えば１列に２箇所の接続端子２，２を設けて、土試料Ｓの上端面と下端面にそれぞれ直接、電極を差し込むことでも、電気抵抗を測定することができる。
【００７７】
また、前記実施の形態では、盛土土工の出来形品質管理時の物性評価に使用する場合を例に説明したが、これに限定されるものではない。例えば開削トンネルの構築時、深層基礎やケーソン基礎の構築時などに支持層を確認する際の物性評価、切土のり面や斜面安定工の調査時の物性評価、擁壁や橋台などの背面土の安定度を調査する際の物性評価などにも使用できる。さらに、サンプリングモールド１に混練後のコンクリートを充填することで、打設コンクリートの品質管理時の圧縮試験用供試体の作製及び物性評価にも使用できる。
【符号の説明】
【００７８】
１          ：サンプリングモールド
１ａ        ：内空
１１        ：半円筒部（外殻部材）
１１ｂ      ：内周面
１２        ：刃部
１３        ：接合部
２          ：接続端子
２１        ：内面部（接触面）
３          ：電気抵抗測定装置
Ｇ          ：盛土地盤（地盤）
Ｓ          ：土試料（試料）
Ｒ          ：電気抵抗（電気特性）
【図１】
2020176969.tif 000003
【図２】
2020176969.tif 000004
【図３】
2020176969.tif 000005
【図４】
2020176969.tif 000006
【図５】
2020176969.tif 000007
【図６】
2020176969.tif 000008
【図７】
2020176969.tif 000009
【図８】
2020176969.tif 000010