(57)【要約】【課題】自発光素子により構成された画素を複数有してなる表示部を備え、画素の使用頻度に応じて適切な補正がなされ、信頼性の高い表示装置を実現する。【解決手段】複数の画素のうち発光時間が所定の閾値以下である画素については、第１の算出式により劣化度合いを推定し、これに基づいて当該画素の駆動条件の補正を実行する一方で、発光時間が所定の閾値を超える画素については、第１の算出式と異なる第２の算出式により劣化度合いを推定し、その駆動条件の補正を実行する表示装置とする。これにより、画素の使用頻度に応じた補正がなされ、使用頻度の低い画素を敢えて劣化させる必要がなくなり、従来よりも信頼性の高い表示装置を実現できる。【選択図】図５
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
自発光素子により構成された画素を複数有してなる表示部（１）と、
前記画素ごとの発光時間を記憶する記憶部（２）と、
前記発光時間が所定の閾値以下であるか否かを判定する判定部（３１）と、
前記発光時間に基づき、前記画素の劣化度合いを推定する劣化推定部（３２）と、
前記判定部の判定結果に基づき、前記画素の駆動条件の補正を行う補正部（３３）と、を備え、
前記補正部は、
複数の前記画素のうち前記判定部により前記発光時間が前記閾値以下であると判定された前記画素については、第１の補正式に基づいて駆動条件の補正を行い、
複数の前記画素のうち前記判定部により前記発光時間が前記閾値を超えていると判定された前記画素については、前記第１の補正式と異なる第２の補正式に基づいて駆動条件の補正を行う表示装置。
【請求項２】
前記閾値は、前記自発光素子を所定の定電流で連続発光させたときの各発光時間における輝度をプロットして得られるグラフのうち初期の部分であって、直線的に輝度低下する部分を線形近似して得られる直線式において輝度がゼロになる時間とされている請求項１に記載の表示装置。
【請求項３】
発光時間がゼロの状態の前記自発光素子を所定の初期輝度となる所定の定電流で駆動して連続発光させた場合において、前記初期輝度から前記初期輝度に対して所定の割合の輝度まで低下するのに要する時間を第１寿命とし、
発光時間がゼロの状態の前記自発光素子を前記初期輝度となる所定の定電流で所定の時間Ｘ（Ｘ＞０）だけ連続発光させた後、電流値を上げて前記初期輝度に戻してから、二度目の定電流駆動を行って連続発光させた場合において、前記初期輝度から前記初期輝度に対して所定の割合の輝度まで低下するのに要する時間を第２寿命として、
前記閾値は、前記所定の時間Ｘであって、前記第１寿命に対する前記第２寿命の割合である寿命変化率が最大となる値とされている請求項１に記載の表示装置。
【請求項４】
前記画素は、少なくとも発光色が緑色の副画素を有してなり、
前記緑色の副画素は、前記判定部による判定結果に基づき、前記補正部によりその駆動条件が補正される請求項１ないし３のいずれか１つに記載の表示装置。
【請求項５】
前記記憶部は、前記閾値を第１閾値として、前記第１閾値に加えて、前記第１閾値よりも小さい第２閾値を記憶しており、
前記判定部は、前記発光時間が前記第１閾値以下であると判定した場合には、さらに前記発光時間が前記第２閾値以下であるか否かを判定し、
前記補正部は、
複数の前記画素のうち前記判定部が前記第２閾値以下であると判定した前記画素については、前記第１の補正式に基づいて駆動条件の補正を行い、
複数の前記画素のうち前記第２閾値を超えていると判定した前記画素については、前記第１の補正式および前記第２の補正式と異なる、第３の補正式に基づいて駆動条件の補正を行う請求項１ないし４のいずれか１つに記載の表示装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、自発光素子によりなる画素を複数有してなる表示部を備える表示装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、例えばＯＬＥＤ（Organic Light Emitting Diodeの略）やＦＥＤ（Field Emis-sion Displayの略）などの自発発光素子により構成された画素を複数有してなる表示装置が知られている。
【０００３】
ここで、ＯＬＥＤには、連続して発光させると、その発光時間に応じて発光効率が低下し、同一駆動条件であっても発光輝度が低下する特性がある。また、このＯＬＥＤの特性低下においては、初期の段階では発光効率の低下度合いが大きく、所定の発光時間を超えると、その低下度合いが小さくなる傾向がある。
【０００４】
なお、本明細でいう「発光時間」とは、ある１つの画素を発光させた時間の合計、すなわち累積発光時間を意味し、使用頻度に応じて画素ごとに異なるものである。
【０００５】
ところで、表示装置では、表示部に様々な映像などが表示され、表示部を構成する画素ごとに駆動履歴が異なるのが通常である。そのため、自発光素子により構成された画素ごとに発光特性の低下度合いがばらつき、使用頻度の高い画素が、使用頻度の低い画素よりも劣化が進行して同一の駆動条件であっても輝度差が生じることで焼きついて見える、いわゆる焼きつきが生じてしまう。
【０００６】
この焼きつきの対策として、各画素の輝度差が小さくなるように、各画素の駆動条件を補正する方法が提案されている。このような自発光素子の駆動条件の補正が行われる構成とされた表示装置としては、例えば特許文献１に記載のものが挙げられる。
【０００７】
特許文献１に記載の表示装置は、画素の発光時間に対して補正係数をプロットした各画素共通の１つの補正データが予め記憶され、画素それぞれの発光時間を積算値として逐次蓄積すると共に、積算値のうち最大のものを基準として積算値の差分データを算出する。そして、この表示装置では、これらの積算値の差分データと上記の補正データとに基づき、使用頻度の高い画素の輝度と他の画素の輝度との差が小さくなるように、各画素の駆動条件を補正することで焼きつきが抑制される。
【０００８】
また、特許文献１では、使用頻度が最も高い画素を基準として、他の画素を非使用状態において発光させ、基準とした画素と同程度に劣化させることで、各画素間の劣化度合いを均等化する方法も提案されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００９】
【特許文献１】特許−３９３３４８５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１０】
しかしながら、特許文献１に記載の前者の方法では、使用頻度の低い画素の駆動電流を下げる補正を行うことで、使用頻度の高い画素との輝度差を低減するため、焼きつきが抑制されるものの、全体的な輝度が低下してしまう。また、前者の方法では、各画素で共通の補正データを使用して補正係数を決定するため、各画素の劣化度合いに対応した補正係数とは言い難く、改良の余地がある。
【００１１】
具体的には、ＯＬＥＤには、上記した発光効率が低下する特性があり、その劣化度合いが初期では大きいのに対して、長期では初期よりも小さくなる傾向がある。しかしながら、前者の方法では、劣化が初期の段階にある画素および劣化が長期の段階にある画素の補正において、同一の補正データに基づいて補正係数を算出するため、実際の劣化度合いに応じた補正とならないおそれがあり、補正の過不足が生じ得る。
【００１２】
一方、後者の方法では、最も使用頻度が高い画素の劣化度合いを基準として、各画素の劣化度合いを均等化するため、使用頻度が低い画素も基準に合わせて劣化させることとなり、使用頻度が低い画素の本来の寿命特性を活かすことができない。
【００１３】
本発明は、上記の点に鑑みてなされたものであり、自発光素子により構成された画素を初期輝度と同程度に発光させつつも、各画素の使用頻度に応じた駆動条件の補正がなされ、従来よりも信頼性の高い表示装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１４】
上記目的を達成するため、請求項１に記載の表示装置は、自発光素子により構成された画素を複数有してなる表示部（１）と、画素ごとの発光時間を記憶する記憶部（２）と、発光時間が所定の閾値以下であるか否かを判定する判定部（３１）と、発光時間に基づき、画素の劣化度合いを推定する劣化推定部（３２）と、判定部の判定結果に基づき、画素の駆動条件の補正を行う補正部（３３）と、を備える。このような構成において、補正部は、複数の画素のうち判定部により発光時間が閾値以下であると判定された画素については、第１の補正式に基づいて駆動条件の補正を行い、複数の画素のうち判定部により発光時間が閾値を超えていると判定された画素については、第１の補正式と異なる第２の補正式に基づいて駆動条件の補正を行う。
【００１５】
これにより、画素の駆動条件の補正を行う際、その発光時間が閾値以下である場合には、第１の補正式を用い、その発光時間が閾値を超えている場合には、第２の補正式を用いる構成の表示装置となる。言い換えると、画素の駆動状況に応じて、駆動条件の補正に用いる補正式を切り替えることで、画素の劣化状況に沿って適切な補正を行うことができる。そのため、使用画素を初期輝度と同程度に発光させつつも、その使用頻度に応じた駆動条件の補正がなされ、従来よりも信頼性の高い表示装置となる。
【００１６】
なお、各構成要素等に付された括弧付きの参照符号は、その構成要素等と後述する実施形態に記載の具体的な構成要素等との対応関係の一例を示すものである。
【図面の簡単な説明】
【００１７】
【図１】第１実施形態の表示装置の構成を示すブロック図である。
【図２】発光色が緑のＯＬＥＤを定電流駆動した時の相対輝度の経時変化の一例を示すものであって、エージング処理後の経時変化とその後の経時変化を示すグラフである。
【図３】図１の表示装置での画素の発光時間に対する相対輝度の算出結果を示すものであって、所定の閾値前後における算出の違いを示すグラフである。
【図４】図２に示す閾値の設定の一例を示す図である。
【図５】図１の表示装置の動作例を示すフローチャートである。
【図６Ａ】第１実施形態の表示装置の変形例において、発光色が緑色の副画素での閾値の設定の一例を示すグラフである。
【図６Ｂ】第１実施形態の表示装置の変形例において、発光色が青色の副画素での閾値の設定の一例を示すグラフである。
【図７】発光色が赤色の副画素および緑色の副画素をそれぞれ同じ所定の初期輝度となる電流値で定電流駆動した時の相対輝度の経時変化の一例を示すグラフである。
【発明を実施するための形態】
【００１８】
以下、本発明の実施形態について図に基づいて説明する。なお、以下の各実施形態相互において、互いに同一もしくは均等である部分には、同一符号を付して説明を行う。
【００１９】
（第１実施形態）
第１実施形態の表示装置について、図１を参照して述べる。本実施形態の表示装置は、例えば、車載用途の表示装置などに適用されるが、他の用途にも適用され得る。
【００２０】
本実施形態の表示装置は、図１に示すように、表示部１と、記憶部２と、判定部３１および補正部３３を有してなる制御部３と、映像入力部４とを有してなる。この表示装置は、映像入力部４からの信号に基づく映像が表示部１に表示されるものであって、判定部３１による判定結果に基づき、補正部３３により画素ごとにその使用状況に応じた駆動条件の補正がなされる構成とされている。
【００２１】
表示部１は、例えばＯＬＥＤやＦＥＤなどの自発光素子により構成される画素を複数有してなり、映像入力部４の映像信号に基づいてこれら各画素が発光させられることで映像などを表示するものである。表示部１は、例えば、各画素のスイッチング素子としての図示しない薄膜トランジスタを有し、選択した画素ごとのオン・オフの制御が可能なアクティブマトリクス方式が採用され得る。表示部１は、ＯＬＥＤを自発光素子として採用した場合には、「有機ＥＬ（Electro Luminescenceの略）ディスプレイ」と称される。
【００２２】
本実施形態では、ＯＬＥＤを自発光素子として採用した例について説明するが、ＯＬＥＤ（有機ＥＬ素子）および有機ＥＬディスプレイの構成については、公知であるため、本明細書ではその詳細な説明を省略する。
【００２３】
記憶部２は、画素ごとの発光時間などの駆動履歴、後述する判定部３１による判定や補正部３３による駆動条件の補正などに用いられる各種のプログラムやテーブルデータを記憶するものである。記憶部２は、例えば、ＲＯＭ、ＲＡＭや不揮発性ＲＡＭなどが用いられ得る。
【００２４】
なお、駆動履歴については、例えば、後述する映像入力部４による入力信号の履歴と図示しない時間計測部による時間とに基づいて得ることができる。
【００２５】
制御部３は、図１に示すように、判定部３１と、劣化推定部３２と、補正部３３とを有してなる。制御部３は、例えば、ＣＰＵが記憶部２に格納された各種プログラム等を読み込んで実行することで、後述する判定部３１による判定や補正部３３による画素の駆動条件の補正を行う。制御部３は、例えば、記憶部２と併せて制御ＥＣＵ（Electronic Control Unitの略）として構成され得るが、他の態様であってもよい。
【００２６】
判定部３１は、表示部１を構成する画素それぞれが所定の時間以上発光したか否か、すなわち、画素それぞれの発光時間が所定の閾値以下であるか否かを判定する。この判定部３１による判定結果は、劣化推定部３２による劣化度合いの推定および補正部３３による画素の駆動条件の補正に反映される。
【００２７】
劣化推定部３２は、画素ごとの劣化度合いを推定するものであり、例えば、ＲＯＭに格納された劣化度合いを算出するプログラムをＣＰＵが実行し、記憶部２に記憶された各画素の発光時間のデータを用いて、各画素の劣化度合いを算出する。
【００２８】
ここで、ＯＬＥＤで構成された画素の劣化度合いの推定については、例えば、KONICA MINOLTA TECHNOLOGY REPORT VOL.9(2012)「全燐光型OLED照明パネルの製品開発」に記載の公知の寿命推定方法により得られる推定寿命カーブが利用され得る。例えば、上記の公知文献に記載の方法のように、画素の劣化を初期段階の劣化とその後の長期段階の劣化とに分離し、画素の輝度の経時変化の実測値により加速係数を算出することで、画素の発光時間と輝度の経時変化との関係を示す推定寿命カーブを作成する。
【００２９】
具体的には、例えば、輝度低下の度合いが大きい初期段階の劣化（以下「初期劣化」という）と、初期段階の劣化より後の劣化であって、輝度低下の度合いが初期段階に比べて小さい長期段階の劣化（以下「長期劣化」という）とに基づき相対輝度Ｌ１を算出する。この相対輝度Ｌの算出式は、以下の（１）式で表される。
【００３０】
Ｌ１＝ａ１×ｅｘｐ（−ｔ×ｂ１）＋ａ２×ｅｘｐ（−ｔ×ｂ２）・・・（１）
この（１）式の右辺における第１項が初期劣化の成分に相当し、係数ａ１、ｂ１は、初期劣化に関する係数である。（１）式の右辺における第２項が長期劣化の成分に相当し、係数ａ２、ｂ２は、長期劣化に関する係数である。第１項および第２項におけるｔは、画素の発光時間である。
【００３１】
また、「相対輝度」とは、所定の定電流で画素を駆動した場合に、当該画素がある発光時間にある輝度となったときにおける、初期輝度に対する当該ある輝度の割合を指す。つまり、劣化していない状態、すなわち初期輝度である場合には相対輝度が１となり、劣化が進行するにつれて相対輝度は０に近くなる。
【００３２】
なお、以下の説明の簡略化のため、便宜的に、ＯＬＥＤで構成される画素の発光時間のうち画素が初期劣化の傾向を示す期間を「初期」と称し、「初期」よりも後の期間、すなわち画素が長期劣化の傾向を示す期間を「長期」と称する。
【００３３】
記憶部２に例えば所定の間隔で記憶される画素の発光時間や輝度などの駆動履歴を（１）式に当てはめ、各種係数ａ１、ｂ１、ａ２、ｂ２を算出する。算出した各種係数ａ１、ｂ１、ａ２、ｂ２と（１）式とにより、発光時間に対する相対輝度を算出することで、画素の劣化度合いを推定することができる。
【００３４】
本実施形態では、発光時間のうち初期と長期との境界となる時間、すなわち画素の劣化度合いの傾向が切り替わる時間として「閾値」が設定されており、判定部３１は、画素の発光時間が所定の閾値以下であるか否かを判定する。そして、この判定結果に基づいて、劣化推定部３２は、発光時間に応じて使用する相対輝度の算出式を適宜選択する。この閾値の詳細については、後述する。
【００３５】
劣化推定部３２は、例えば、初期劣化の段階にあると判定された画素について、初期における当該画素の駆動履歴のデータと（１）式で表される第１の相対輝度Ｌ１の算出式とを用いて、その相対輝度を算出し、その劣化度合いの推定を行う。また、劣化推定部３２は、劣化度合いが長期劣化の段階にあると判定された画素について、長期における当該画素の駆動履歴のデータと長期における第２の相対輝度Ｌ２の算出式とを用いて、その相対輝度を算出し、劣化度合いの推定を行う。この第２の相対輝度Ｌ２の算出式は、以下の（２）式で表される。
【００３６】
Ｌ２＝ａ３×ｅｘｐ（−ｔ×ｂ３）＋ａ４×ｅｘｐ（−ｔ×ｂ４）・・・（２）
この（２）式の右辺における各種係数ａ３、ｂ３、ａ４、ｂ４は、（１）式における各種係数ａ１、ｂ１、ａ２、ｂ２とは数値が異なる係数である。また、ｔは、画素の発光時間である。さらに、（２）式における各種係数ａ３、ｂ３、ａ４、ｂ４については、（１）式における各種係数の算出と同様の手順で行われるが、所定の閾値よりも後の発光時間における画素の駆動履歴のデータを（２）式に当てはめて算出される。
【００３７】
つまり、劣化推定部３２は、判定部３１が複数の画素のうち発光時間が所定の閾値以下であると判定された画素については（１）式を、発光時間が所定の閾値を超えていると判定された画素については（２）式を用いて、画素それぞれの劣化度合いを推定する。このように、劣化推定部３２は、各画素の劣化の進行度合いの指標である発光時間に応じて、算出式を切り替えて劣化度合いの推定を行う。
【００３８】
なお、各画素が、発光色が異なる複数の副画素、例えば赤色の副画素、緑色の副画素および青色の副画素により構成されている場合、これらの副画素ごとに上記の算出式により相対輝度Ｌ１、Ｌ２を算出することで、副画素ごとにその劣化度合いを推定できる。また、以下の説明において、発光色が赤色の副画素、青色の副画素、緑色の副画素をそれぞれ「Ｒ副画素」、「Ｇ副画素」、「Ｂ副画素」と称する。
【００３９】
補正部３３は、判定部３１による判定結果およびこれによる劣化推定部３２での劣化度合いの推定に基づき、複数の画素のうち表示部１での映像表示に使用している画素（以下「使用画素」という）について、当該画素の駆動条件を補正するものである。
【００４０】
具体的には、補正部３３は、使用画素について、その輝度が所定の初期輝度と同程度の輝度（以下「初期相当輝度」という）となるように、その駆動条件の補正を行う。このとき、補正部３３は、判定部３１による判定結果に応じて、第１の相対輝度Ｌ１の算出式または第２の相対輝度Ｌ２の算出式に基づく使用画素の劣化度合いを反映した駆動条件の補正を行う。つまり、補正部３３は、画素の劣化度合いに応じて、第１の相対輝度Ｌ１の算出式に基づく第１の補正式または第２の相対輝度Ｌ２の算出式に基づく第２の補正式により、その駆動条件を補正する。この駆動条件の補正の詳細については、後述する。
【００４１】
なお、ここでいう「初期相当輝度」とは、所定の初期輝度と同じ輝度だけでなく、所定の初期輝度に近い輝度であって、人の視覚上で輝度差を感じない程度の輝度を含む。
【００４２】
映像入力部４は、表示部１に表示する映像に対応する所定の映像信号を表示部１に入力するものであり、表示部１に表示させる映像の種類に応じて、図示しない他の各種電子部品に接続される。
【００４３】
以上が、本実施形態の表示装置の構成である。
【００４４】
次に、本実施形態の表示装置における補正部３３による画素の駆動条件の補正の詳細について説明するが、その前にまずＯＬＥＤで構成される画素の劣化傾向について、図２を参照して説明する。図２では、劣化傾向を区別し易くするため、便宜的に、α、βの符号を付している。
【００４５】
画素を所定の初期輝度となる電流値に固定して定電流駆動を行うと、当該画素は、初期では相対輝度の低下度合いが大きく、長期ではその低下度合いが初期よりも小さい傾向を示す。
【００４６】
具体的には、図２中のαの相対輝度の経時変化が初期におけるものであり、βの相対輝度の経時変化が長期におけるものである。より具体的には、αで示す経時変化の測定を行う前に、発光時間がゼロである画素を初期輝度１５００ｃｄ／ｍ２となる電流値で固定し、８５℃の環境下で２４時間駆動するエージング処理を行う。その後、劣化した当該画素が輝度１５００ｃｄ／ｍ２となる電流値に上げて固定し、８５℃の環境下で連続駆動した結果が図２中のαである。図２のαで示すように、このときの相対輝度は、約６５時間後に１から０．９まで低下し、約２２０時間後には０．８まで低下した。
【００４７】
βで示す経時変化は、αで示した定電流駆動後に、劣化した当該画素が輝度１５００ｃｄ／ｍ２となる電流値に上げて固定し、８５℃の環境下で連続駆動した結果である。図２のβに示すように、このときの相対輝度は、約１６０時間後に１から０．９まで低下し、約５１０時間後には０．８まで低下した。なお、βでの電流値は、αでの駆動による影響で画素の劣化が進行し、発光効率が低下しているため、αでの電流値よりも高い数値となっている。
【００４８】
図２に示すように、相対輝度が１から０．８までに低下するまでに要する時間がαでは約２２０時間であるのに対して、βでは約２．３倍の約５１０時間であり、相対輝度の低下度合いは、初期よりも長期のほうが小さい。つまり、初期の段階と長期の段階では、画素の劣化傾向が異なり、画素の寿命特性は、相対輝度の低下度合いが大きい初期劣化、および相対輝度の低下度合いが小さい長期劣化の２つの成分に分けられると言える。
【００４９】
続いて、従来の画素の劣化度合いの推定と本実施形態の表示装置での画素の劣化度合いの推定について、図３を参照して説明する。
【００５０】
図３では、第１の相対輝度Ｌ１の算出式により求めた初期の経時変化、および第２の相対輝度Ｌ２の算出式により求めた長期の経時変化を実線で示し、第１の相対輝度Ｌ１の算出式により求めた従来の長期の経時変化を破線で示している。また、図３では、区別し易くするため、便宜的に、実線で示した相対輝度の経時変化にＡ１、Ａ２の符号を付すと共に、破線で示した相対輝度の経時変化にＢの符号を付している。
【００５１】
従来の画素の劣化度合いの推定では、例えば（１）式で表される第１の相対輝度Ｌ１の算出式を基準寿命特性のデータとして記憶しておき、この式に画素の駆動履歴のデータを当てはめて各種係数を求める。そして、図３に示す初期の経時変化Ａ１と長期の経時変化Ｂとをまとめて算出していた。これにより得られた相対輝度の算出式（図３の例では、Ａ１およびＢ）、すなわち画素の劣化度合いの推定式に基づき、各画素の劣化度合いを推定した後、各画素が初期相当輝度となるように、駆動条件の補正を行っていた。つまり、初期および長期における画素の駆動履歴のデータに基づき、初期および長期を併せた相対輝度の算出式を求め、この算出式を各画素の劣化度合いを推定するための共通の補正式の基礎とし、補正条件を決定していた。
【００５２】
しかしながら、相対輝度の低下傾向が異なる初期および長期の画素の駆動履歴のデータに基づいて、相対輝度の算出式を求めるため、初期および長期それぞれにおける相対輝度を算出しても、実際の劣化度合いとズレが生じ得る。そして、このように推定した劣化度合いに基づいて、初期の劣化傾向を示す状態にある画素および長期の劣化傾向を示す状態にある画素それぞれの駆動条件の補正を、共通の補正式により決定すると、補正の過不足が生じ得る。
【００５３】
本発明者は、鋭意検討の結果、初期劣化および長期劣化それぞれにおいて、異なる相対輝度の算出式を用いて劣化度合いを推定し、その結果を以てＯＬＥＤの駆動条件を補正することで、実際の劣化度合いに応じた、より精度の高い補正ができることを見出した。
【００５４】
具体的には、図３に示すように、初期劣化と長期劣化との境界となる時間を便宜的に閾値として定め、この閾値の前後において相対輝度の算出式を使い分ける。つまり、図３に示すように、初期における相対輝度の経時変化Ａ１については、初期の画素の駆動履歴のデータのみに基づき、第１の算出式により算出する。一方、長期における相対輝度の経時変化Ａ２については、長期の画素の駆動履歴にのみ基づき、第２の算出式により算出する。これにより、初期および長期それぞれにおける相対輝度の算出式による劣化度合いの推定の精度が高くなり、ひいては初期および長期それぞれにおける駆動条件の補正の精度が高くなる。言い換えると、画素の駆動条件の補正に際し、初期の状態にある画素については、第１の補正式に基づいて補正を行い、長期の状態にある画素については、第２の補正式に基づいて補正する、ということもできる。
【００５５】
例えば、図３に示すように、ある一の画素の発光時間が所定の閾値以下のｔ１である場合において、第１の相対輝度Ｌ１の算出式により得られた相対輝度が０．８４であるときについて検討する。このとき、当該一の画素の輝度が初期相当輝度となるように、すなわち相対輝度が１．００となるように、当該一の画素の電流値を約１．１９倍に引き上げるなどの駆動条件の補正を実行する。
【００５６】
また、図３に示すように、ある他の画素の発光時間が所定の閾値を超えるｔ２である場合において、第２の相対輝度Ｌ２の算出式により得られた相対輝度が０．９５であるときについて検討する。このとき、当該他の画素の輝度が初期相当輝度となるように、すなわち相対輝度が１．００となるように、当該他の画素の電流値を約１．０５倍に引き上げるなどの駆動条件の補正を実行する。
【００５７】
なお、図３中における長期の経時変化Ａ２を算出するのに用いる、第２の相対輝度Ｌ２の算出式については、次のようにして求める。発光時間が閾値に到達したら、相対輝度を１に戻すため、駆動電流を上げて所定の電流値とし、再度画素を初期輝度に相当する輝度（以下、便宜的に「第２の初期輝度」という）で発光させる。このとき、この所定の電流値での定電流駆動を行い、第２の初期輝度を基準として、発光時間に対する相対輝度の低下度合いを例えば（２）式に当てはめて各種係数ａ３、ｂ３、ａ４、ｂ４を計算する。（２）式と各種係数ａ３、ｂ３、ａ４、ｂ４とにより得られた式を第２の相対輝度Ｌ２の算出式として用いることで、緩やかに直線的に輝度低下する長期での画素の劣化度合いを精度よく推定することができる。
【００５８】
このように、画素それぞれについて当該画素の発光時間（使用頻度）に応じて、相対輝度の算出式を切り分けて劣化度合いの推定を行い、その結果に基づいて駆動条件の補正が行うことにより、画素の劣化状況に応じた適切な補正となる。
【００５９】
次に、判定部３１での判定に用いられる閾値の設定について、図４を参照して説明する。
【００６０】
閾値は、例えば、図４に示すように、初期における相対輝度の変化に基づいて定められる。具体的には、第１の相対輝度Ｌ１の算出式により算出される相対輝度について線形近似することで線形近似直線を求める。この線形近似直線は、図４中に二点鎖線で示すように、初期の相対輝度のうち直線的に低下する部分を含み、発光時間に比例して相対輝度が低下する直線式となる。この線形近似の直線式において、相対輝度がゼロになる時間を閾値として設定し、初期と長期との切り分けを行うことができる。
【００６１】
次に、本実施形態の表示装置における動作例について、図５を参照して説明する。
【００６２】
例えば、イグニッション電源がＯＮの状態にされるなどにより、本実施形態の表示装置が立ち上がり、表示部１に映像が表示されると、ＣＰＵは、処理をステップＳ１に進める。ステップＳ１では、ＣＰＵは、記憶部２に予め格納された画素の基準寿命特性のデータを読み込む。
【００６３】
なお、ここでいう「基準寿命特性のデータ」としては、例えば、（１）式に示す初期の相対輝度を算出するための第１の算出式および（２）式に示す長期の相対輝度を算出するための第２の算出式が挙げられる。
【００６４】
次に、ＣＰＵは、処理をステップＳ２に進める。ステップＳ２では、ＣＰＵがＲＯＭなどに予め格納された所定のプログラムを読み込んで実行することで、画素の発光時間が所定の閾値以下であるか否かの判定が行われる。ステップＳ２において画素の発光時間が閾値以下であると判定された場合、すなわちステップＳ２にてＹＥＳの場合には、ＣＰＵは、処理をステップＳ３に進める。
【００６５】
ステップＳ３では、ＣＰＵは、初期での相対輝度を算出するための第１の算出式の読み込みを行い、ステップＳ４に処理を進める。ステップＳ４では、まず、劣化推定部３２が読み込んだ第１の算出式を用いて画素の相対輝度を計算し、画素の劣化度合いを推定する。続いて、補正部３３は、画素が所定の初期輝度（限定するものではないが、例えば１５００ｃｄ／ｍ２）と同程度の輝度で発光するように、すなわち相対輝度がおよそ１となるように、当該画素の電流値を上げるなどの駆動条件の補正を行う。つまり、図５で示す「第１補正処理」とは、上記のように、初期の状態にある画素についてその駆動条件の補正を行うことを指す。
【００６６】
一方、ステップＳ２において画素の発光時間が閾値を超えていると判定された場合、すなわちステップＳ２にてＮＯの場合には、ＣＰＵは、処理をステップＳ５に進める。ステップＳ５では、ＣＰＵは、長期での相対輝度を算出するための第２の算出式の読み込みを行い、ステップＳ６に処理を進める。ステップＳ６では、まず、劣化推定部３２が読み込んだ第２の算出式を用いて画素の相対輝度を計算し、画素の劣化度合いを推定する。そして、ステップＳ４と同様の手順により、補正部３３は、画素が初期相当輝度で発光するように、当該画素の駆動条件の補正を行う。つまり、図５で示す「第２補正処理」とは、上記のように、長期の状態にある画素についてその駆動条件の補正を行うことを指す。
【００６７】
ステップＳ４またはＳ６が終了したら、ＣＰＵは、処理を終了する。本実施形態の表示装置は、例えば上記のような動作を行う。なお、図５では、第１補正処理または第２補正処理が終了したら、処理を終了する例を示したが、これに限られず、所定の間隔で図５に示す処理が繰り返されてもよい。
【００６８】
本実施形態によれば、閾値を基準として初期と長期とにおける相対輝度の算出式を切り替えて、画素の駆動状況に応じた劣化度合いを推定し、その駆動条件の補正が実行される表示装置となる。そのため、初期および長期それぞれの相対輝度の算出式における各種係数の算出精度が上がり、ひいては画素の劣化度合いの推定の精度が向上し、画素の駆動条件の補正の精度が従来よりも向上する。また、各画素がその使用頻度に応じて適切な駆動条件の補正がなされることで、補正の過不足が抑制されると共に、使用頻度の少ない画素を敢えて劣化させる必要がなくなり、各画素の寿命特性を最大限活かせる表示装置となる。
【００６９】
また、画素の初期での劣化度合いは、画素が同じ素子構成であっても、その製造ロットによってばらつくことが多い。このようなバラツキが生じた場合には、表示装置の画素ごとの寿命特性もばらつき、信頼性低下の原因となる。そこで、このようなばらつきに起因する信頼性低下を抑制するため、あらかじめ所定の定電流駆動を所定時間（例えば数十時間）行う処理、すなわちエージング処理を行うことが知られている。しかしながら、このエージング処理を行うと、表示装置を出荷するまでのサイクルタイムが長くなり、コストが増加する原因となるため、好ましくない。
【００７０】
これに対して、本実施形態の表示装置では、初期と長期とで相対輝度の算出式を切り替え、画素の駆動状況に応じた補正を行う構成とされているため、通常エージング処理を行う初期の段階であっても適切な補正ができることから、エージング処理が不要となる。そのため、通常、エージング処理に要する時間も寿命特性に上乗せする形となり、その分だけ画素の寿命特性が向上した表示装置となる。さらに、エージング処理が不要となることにより、コストの低減効果も期待される。
【００７１】
（第１実施形態の変形例）
第１実施形態の表示装置の変形例について、図６Ａ、図６Ｂを参照して述べる。本変形例では、閾値の設定が上記第１実施形態と相違するため、この相違点を主に説明する。
【００７２】
本変形例では、閾値を次のように設定する。
【００７３】
まず、所定の初期輝度を設定し、このときの電流値を固定して画素の定電流駆動を行い、発光時間に対する相対輝度の経時変化のデータを取得する。このデータを（１）式の相対輝度の算出式に当てはめて、各種係数を算出し、相対輝度の算出式を求める。そして、このときの相対輝度が１から０．８までに低下するのに要する時間、すなわち初期輝度の８０％まで輝度が低下するのに要する時間（以下「ＬＴ８０」という）を「第１寿命」とする。
【００７４】
次に、同じ素子構成の画素であって、発光時間がゼロである画素を所定の初期輝度となる電流値で固定して、任意の時間Ｘ（Ｘ＞０、単位：ｈｏｕｒｓ）だけ定電流駆動を行う。この駆動により劣化した画素が上記の初期輝度となるように電流値を再設定した後、当該画素について二度目の定電流駆動を行った場合におけるＬＴ８０を相対輝度の算出式により算出し、このときのＬＴ８０を便宜的に「第２寿命」とする。
【００７５】
そして、第２寿命の第１寿命に対する割合を「寿命変化率」（単位：％）として、任意の時間Ｘを変更して、寿命変化率が最大となるＸの値を算出する。この寿命変化率が最大となるＸの値を「閾値」として設定する。なお、画素が発光色の異なる複数の副画素で構成されている場合には、この閾値は、当該複数の副画素ごとに、言い換えると素子構成ごとに適切な値となるように設定される。別の見方をすると、閾値は、エージングが完了した時間であるということもできる。
【００７６】
例えば、図６Ａには、Ｇ副画素において、任意の時間Ｘを２４時間刻みで変更した際の寿命変化率を計算した結果を示している。図６Ａに示すように、任意の時間Ｘが１２０時間の場合に、寿命変化率が最大の１５４％となっているため、１２０時間を閾値として設定する。同様に、Ｂ副画素において寿命変化率を算出すると、図６Ｂに示すように、任意の時間Ｘが１６８時間の場合に、寿命変化率が最大の１０９％となっているため、１０９時間を閾値として設定する。
【００７７】
なお、上記した例では、第１寿命および第２寿命を初期輝度から初期輝度の８０％まで低下する時間として設定したが、これに限られず、初期輝度に対する低下の割合の設定については適宜変更されてもよい。また、上記の例では、任意の時間Ｘを２４時間刻みで変更したが、これに限られず、任意の時間Ｘは適宜変更されてもよい。
【００７８】
本変形例によれば、上記第１実施形態における閾値の設定よりも高い精度で閾値の設定ができる。そのため、上記第１実施形態に比べ、さらに信頼性が向上した表示装置が得られる。
【００７９】
（他の実施形態）
なお、上記した第１実施形態に示した表示装置は、本発明の表示装置の一例を示したものであり、上記の各実施形態に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載した範囲内において適宜変更が可能である。
【００８０】
（１）例えば、上記第１実施形態では、初期と長期とを閾値で切り分けて、初期および長期それぞれの段階で相対輝度の算出式を算出し、画素の駆動条件を補正する例について説明した。しかしながら、初期および長期の二段階で相対輝度を算出して補正を行う例に限られず、初期における相対輝度の低下傾向をさらに細分化し、例えば、初期、中期、長期の三段階での相対輝度の算出および補正を行ってもよい。
【００８１】
この場合、例えば、上記第１実施形態およびその変形例での閾値を「第１閾値」として、第１閾値よりも小さい「第２閾値」を設定する。そして、発光時間が「第１閾値以下かつ第２閾値以下」、「第１閾値以下かつ第２閾値を超えている」、「第１閾値を超えている」の３つの場合それぞれにおいて、相対輝度の算出式を切り替える。
【００８２】
具体的には、判定部３１は、発光時間が第１閾値以下であると判定した場合、さらに第２閾値以下であるか否かを判定するプログラムを実行する構成とされていればよい。劣化推定部３２は、発光時間が第１閾値以下かつ第２閾値以下である場合には第１の算出式を、発光時間が第１閾値以下かつ第２閾値を超えている場合には第３の算出式を、発光時間が第１閾値を超えている場合には第２の算出式を用いる構成であればよい。そして、補正部３３は、三段階のそれぞれの算出式に基づき、いわば第１、第２、第３の補正式に基づいて画素の使用頻度に応じた駆動条件の補正を実行する。このように、長期より前の段階を細分化し、二段階以上の補正を実行する構成とされた表示装置とされてもよい。
【００８３】
（２）上記第１実施形態では、画素が発光色の異なる複数の副画素で構成される場合、そのすべての副画素について閾値を用いた判定、劣化度合いの推定およびその駆動条件の補正を行う例について説明した。しかしながら、副画素間において相対輝度の低下度合いに大きな差がある場合には、少なくとも相対輝度の低下度合いが大きい副画素について閾値に基づく駆動条件の補正が行われる構成とすればよい。
【００８４】
具体的には、例えば、図７に示すように、Ｒ副画素とＧ副画素とを有してなる画素において、副画素間において相対輝度の低下度合いの差が大きい場合には、少なくともＧ副画素について閾値に基づく補正が行われればよい。この場合、Ｒ副画素については、閾値に基づく補正が行われてもよいし、行われなくてもよい。
【００８５】
なお、図７では、所定のエージング処理後のＲ副画素、Ｇ副画素をそれぞれ同じ所定の初期輝度となる電流値で定電流駆動した際の相対輝度の経時変化の一例を示すと共に、Ｒ副画素のデータにＲの符号を、Ｇ副画素のデータにＧの符号を付している。
【００８６】
また、図７の例では、Ｒ副画素およびＧ副画素のうちＧ副画素について駆動条件の補正を行う例について示したが、これに限られず、Ｂ副画素の相対輝度の低下度合いが他の副画素に比べて大きい場合には、Ｂ副画素の駆動条件の補正が行われればよい。例えば、発光層を構成する発光材料が燐光材料であるか蛍光材料であるか、高温耐性があるか否かなどによって、副画素の発光色ごとに相対輝度の低下度合いに差が生じ得るため、状況に応じて補正を行う副画素を適宜決定すればよい。
【００８７】
（３）上記第１実施形態では、１つの劣化推定部３２および補正部３３により第１補正処理および第２補正処理を実行する例について説明した。しかしながら、これに限られず、第１補正処理と第２補正処理とをそれぞれ別々の劣化推定部３２および補正部３３により実行する構成とされてもよい。これにより、画素の第１補正処理および第２補正処理が分散され、処理速度を落とすことなく、スムーズに各画素の駆動条件の補正を実行できる構成となる。また、必要に応じて、記憶部２や判定部３１が複数有する構成の表示装置とされてもよい。記憶部２や制御部３などが複数備えられた構成とされることは、フェールオペレーションの観点からも好ましいと言える。
【符号の説明】
【００８８】
１    表示部
２    記憶部
３    制御部
３１  判定部
３２  劣化推定部
３３  補正部
４    映像入力部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６Ａ】
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【図６Ｂ】
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【図７】
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