(57)【要約】  安定したフォーカス制御又はトラッキング制御を実現することができる光ディスク装置を提供する。第１のディテクタ（１１０）は、対物レンズ光学系（１０７）からの反射光を受光し、第２のディテクタ（１１２）は、所定の情報層からの反射光を受光し、位置ずれ検出部（１２１）は、第２のディテクタ（１１２）からの信号に基づき、光ビームの焦点と所定の情報層における情報を記録又は再生する点との位置ずれを検出し、迷光検出部（１２２）は、第１のディテクタ（１１０）からの信号に基づき、位置ずれ検出部（１２１）からの信号に含まれ、光ディスク（１０８）の表面からの反射光である表面迷光成分を検出し、迷光補正部（１１７）は、検出された表面迷光成分に基づいて、位置ずれ検出部（１２１）から出力する信号を補正する。
2012063485.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ビームを出射する光源と、
情報担体の表面に近接して配置され、前記光源から出射された光ビームから生成した近接場光を前記情報担体に集光する集光光学系と、
前記光ビームを前記情報担体の所定の情報層にフォーカスさせるフォーカス部と、
前記集光光学系の出射端面によって反射された反射光を受光する第１の受光部と、
前記第１の受光部からの信号に基づき、前記集光光学系と前記情報担体の表面との間の距離を制御するギャップ制御部と、
前記所定の情報層からの反射光を複数に分割された受光領域で受光する第２の受光部と、
前記第２の受光部からの信号に基づき、前記光ビームの焦点と前記所定の情報層における情報を記録又は再生する点との位置ずれを検出する位置ずれ検出部と、
前記第１の受光部からの信号に基づき、前記位置ずれ検出部からの信号に含まれ、前記情報担体の表面からの反射光である表面迷光成分を検出する迷光検出部とを備え、
前記位置ずれ検出部は、前記迷光検出部によって検出された前記表面迷光成分に基づいて、前記位置ずれ検出部から出力する信号を補正する迷光補正部を有することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
前記位置ずれ検出部は、前記第２の受光部からの複数の信号を加算する加算部と、前記第２の受光部からの複数の信号を演算して焦点方向位置ずれ信号又はトラック方向位置ずれ信号を生成する位置ずれ信号生成部と、前記位置ずれ信号生成部からの焦点方向位置ずれ信号又はトラック方向位置ずれ信号を前記迷光補正部からの信号で除算することにより正規化信号を生成する正規化部とをさらに有し、
前記迷光補正部は、前記迷光検出部によって検出された前記表面迷光成分に基づいて、前記加算部からの信号を補正し、補正した信号を前記正規化部へ出力することを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項３】
前記迷光検出部は、前記第１の受光部からの信号出力を所定の関数に入力することにより前記表面迷光成分を算出することを特徴とする請求項１又は２に記載の光ディスク装置。
【請求項４】
前記所定の関数は、前記第１の受光部からの信号出力を前記表面迷光成分に近似する１次関数であることを特徴とする請求項３に記載の光ディスク装置。
【請求項５】
前記情報担体の情報層は、情報層に照射された光ビームを反射しない透過領域を有し、
前記光ディスク装置は、前記所定の関数を推定する関数推定部をさらに備え、
前記関数推定部は、前記ギャップ制御部の制御目標であるギャップレベルを複数設定し、各ギャップレベル設定時に光ビームが前記透過領域を通過する際に得られる前記加算部からの信号レベルと前記設定した各ギャップレベルとに基づいて前記所定の関数を推定することを特徴とする請求項３又は４に記載の光ディスク装置。
【請求項６】
前記第１の受光部は、前記第２の受光部と同じ複数に分割された受光領域を有し、
前記位置ずれ検出部は、前記第２の受光部からの複数の信号を演算して焦点方向位置ずれ信号又はトラック方向位置ずれ信号を生成する位置ずれ信号生成部をさらに有し、
前記光ディスク装置は、前記第１の受光部からの複数の信号に対し、前記位置ずれ信号生成部と同じ演算を行う演算部をさらに備え、
前記迷光検出部は、前記演算部からの信号に基づいて前記表面迷光成分を検出し、
前記迷光補正部は、前記迷光検出部によって検出された前記表面迷光成分に基づいて、前記位置ずれ信号生成部から出力する信号を補正することを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項７】
前記迷光検出部は、前記演算部からの信号出力を所定の関数に入力することにより前記表面迷光成分を算出することを特徴とする請求項６に記載の光ディスク装置。
【請求項８】
前記所定の関数は、前記演算部からの信号出力を前記表面迷光成分に近似する１次関数であることを特徴とする請求項７に記載の光ディスク装置。
【請求項９】
前記光ディスク装置は、
前記情報層に記録された情報を再生した再生信号の信号品質を測定する再生信号品質測定部と、
前記１次関数における前記演算部からの信号出力に対する係数を推定する係数推定部とをさらに備え、
前記係数推定部は、前記係数の候補となる複数の候補係数を前記迷光検出部に設定し、設定した各候補係数と、各候補係数設定時に得られる前記再生信号品質測定部からの測定結果との組み合わせに基づいて、最適な前記係数を算出することを特徴とする請求項８に記載の光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、レーザ等の光源からの光ビームから生成した近接場光を用いて光ディスク（再生専用及び記録再生用などの各種の光ディスクを含む）上の情報を再生する、又は光ディスク上に情報を記録する光ディスク装置、特にカバー層のある光ディスクに対して、迷光を補正する光ディスク装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来、ＣＤ、ＤＶＤ又はＢＤ（Ｂｌｕ−ｒａｙディスク）といった光ディスクは、映像信号及び音響信号の記録及び再生に広く利用されている。光ディスクに情報を記録及び再生する光ディスク装置において、光ディスクの情報層に書き込まれた情報を読み出す処理は、光ピックアップにより情報層上に収束された微小な光ビームスポットが微細なトラックを走査することにより行われる。この場合、光ディスクに書き込まれた情報を正確かつ連続的に読み出すには、光ビームスポットをトラックに追従させるサーボ技術が不可欠である。【０００３】
したがって、光ディスク装置では一般に、光ビームスポットと光ディスクの情報層との位置ずれを表すフォーカスエラー信号（以降、ＦＥ信号と称す）に基づいて、光ビームスポットを情報層に追従させるフォーカス制御が行われる。加えて、光ビームスポットとトラック中心との位置ずれを表すトラッキングエラー信号（以降、ＴＥ信号と称す）に基づいて、光ビームスポットをトラックに追従させるトラッキング制御が行われる。【０００４】
また、前述したＦＥ信号及びＴＥ信号は一般に、光ディスクの反射率が変化したり、記録又は再生時に光ビーム照射パワーが変化したりした場合であっても、戻り光の光量でＦＥ信号及びＴＥ信号を正規化するＡＧＣ（Ａｕｔｏｍａｔｉｃ  Ｇａｉｎ  Ｃｏｎｔｒｏｌ）回路によって検出ゲインが一定に保たれる。その結果、安定したフォーカス制御及びトラッキング制御が実現できる。【０００５】
ところで、このような光ディスク装置で、カバー層及び複数の情報層を有する光ディスクに情報を記録又は再生する場合、以下の課題が生じる。【０００６】
例えば、カバー層及び複数の情報層を有する光ディスクにおいて、情報を再生するために所定の情報層に光ビームが照射されると、検出される光ビームの戻り光には、所定の情報層からの反射光だけでなく、光ディスクの表面及び他の情報層からの反射光（他層迷光）が含まれる。そのため、検出される戻り光の量は、所定の情報層からの反射光と他層迷光との和となり、正しい戻り光の量が検出できない。ここで、光ディスクがカバー層及び１つの情報層を有する場合、他層迷光はカバー層の表面（光ディスクの表面）からの反射光であり、カバー層の表面からの反射光の量は、表面反射率及びカバー層厚に依存する。すなわち、表面反射率が大きいほど反射光は大きく、カバー層厚が小さいほど反射光は大きくなる。【０００７】
その結果、ＡＧＣ回路では、光ディスクの所定の情報層内における反射率の変化を補正するための正規化や、記録又は再生時の光ビーム照射パワーの変化を補正するための正規化が正しく行われず、適切な検出ゲインを有するＦＥ信号及びＴＥ信号が得られない。したがって、カバー層の表面からの反射光は、フォーカス制御及びトラッキング制御の不安定化につながり、光ディスク装置の記録性能及び再生性能の低下を招く。【０００８】
このような課題を解決するために、他層迷光を検出するための専用のディテクタを設け、他層迷光の検出光量を戻り光の検出光量から減算した結果をＡＧＣ回路に用いることで、戻り光の量を補正し、他層迷光の影響を低減させたエラー信号を生成する光ピックアップが提案されている（例えば、特許文献１参照）。【０００９】
一方、近年、光ディスクの更なる大容量化を実現する方法及び装置の開発が行われている。光ディスク装置では、情報の記録密度は記録媒体に収束する光ビームスポットの大きさに依存する。したがって、光ディスクの大容量化は、光ピックアップにより照射される光スポットを小さくすることによって実現できる。【００１０】
この光スポットの大きさは、対物レンズの開口数に比例し、照射する光の波長に反比例する。そのため、より小さな光スポットを得るには、使用する光の波長をより短くするか、あるいは、対物レンズの開口数をより大きくすれば良い。しかし、これまで実用化されている光情報記録再生装置では、光ディスクと対物レンズとの間の間隔が、光の波長に比べて十分大きく離れており、対物レンズの開口数が１を超えると対物レンズから出射する光はレンズ出射面で全反射するため、記録密度を上げることができなかった。【００１１】
そこで、開口数が１を超える対物レンズを用いた光記録再生方法として、ＳＩＬ（Ｓｏｌｉｄ  Ｉｍｍｅｒｓｉｏｎ  Ｌｅｎｓ）を用いた近接場（ニアフィールド）光記録再生方法が開発されている。開口数ＮＡは、媒質の屈折率をｎ、光ビームの媒質中での光軸に対する最大角度をθとして、ＮＡ＝ｎ・ｓｉｎθで定義される。通常、開口数が１を超えると角度θは臨界角以上になるため、この領域の光は対物レンズの出射端面において全反射される。この全反射する光は出射端面からエバネッセント光としてしみ出ている。ニアフィールド光記録再生方法では、このエバネッセント光をレンズから光ディスクに伝搬できるようにしたものである。このため、対物レンズの出射端面と光ディスクの表面との間隔（エアギャップ）を、光ビームの波長の１／４以下の距離、すなわちエバネッセント光の減衰距離より短い距離に維持して、開口数が１を越える範囲の光を対物レンズから光ディスクに透過させている。【００１２】
このようなＳＩＬを用いた光ディスク装置では、従来、表面に情報層を設けた光ディスクに対して情報を記録又は再生する構成としていた。しかし、情報層保護の観点から、既存の光ディスクのようにカバー層を設けた光ディスクに対して情報を記録又は再生する構成とすることが望ましい。【００１３】
ところで、ＳＩＬを用いた光ディスク装置において、カバー層を有する光ディスクに情報を記録又は再生する場合、以下の課題が生じる。【００１４】
図１７は、従来の光ディスク装置において、ニアフィールドにおけるエアギャップと表面反射光のレベルとの関係を示す図である。図１７において、横軸Ｇａｐはエアギャップであり、縦軸Ｒｅｆは反射率である。ここで、反射率は、対物レンズへ入射する光ビームの光量に対する表面反射光レベルの割合を示している。【００１５】
図１７に示すように、光ビームの波長が４０５ｎｍである場合、エアギャップが約１００ｎｍ以下の領域では、エアギャップに応じて表面反射率が急激に変化し、表面反射率は最大で約３７％にまで達する。一方、既存の光ディスク装置では、表面反射率は、８％程度であり、エアギャップによらず一定である。【００１６】
さらに、ＳＩＬを用いた光ディスク装置において、光ディスクのカバー層厚は数μｍ程度にする必要がある。一方、既存の光ディスク装置では、最も薄いカバー層を有するＢＤのカバー層厚は１００μｍである。【００１７】
以上のことから、ＳＩＬを用いた光ディスク装置の場合、既存の光ディスク装置、すなわち、ファーフィールド光記録再生方法を用いた光ディスク装置に比べ表面迷光（表面反射光）の影響は大きくなる。例えば、開口数が１．７８であり、ＳＩＬ及びカバー層の屈折率ｎが２であり、カバー層厚が１．２μｍ程度である光ディスク装置を考えた場合、情報層からの反射光とカバー層の表面からの迷光との比率はおよそ２：１にまで達する。そのため、カバー層の表面からの迷光の影響は非常に大きくなる。【００１８】
しかしながら、このようなＳＩＬを用いた光ディスク装置における表面迷光を検出する方法については、従来技術では開示されていない。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１９】
【特許文献１】特開２００５−３４６８８２号公報
【発明の概要】
【００２０】
本発明は上記課題を解決するためになされたもので、安定したフォーカス制御又はトラッキング制御を実現することができる光ディスク装置を提供することを目的とする。
【００２１】
本発明の一局面に係る光ディスク装置は、光ビームを出射する光源と、情報担体の表面に近接して配置され、前記光源から出射された光ビームから生成した近接場光を前記情報担体に集光する集光光学系と、前記光ビームを前記情報担体の所定の情報層にフォーカスさせるフォーカス部と、前記集光光学系の出射端面によって反射された反射光を受光する第１の受光部と、前記第１の受光部からの信号に基づき、前記集光光学系と前記情報担体の表面との間の距離を制御するギャップ制御部と、前記所定の情報層からの反射光を複数に分割された受光領域で受光する第２の受光部と、前記第２の受光部からの信号に基づき、前記光ビームの焦点と前記所定の情報層における情報を記録又は再生する点との位置ずれを検出する位置ずれ検出部と、前記第１の受光部からの信号に基づき、前記位置ずれ検出部からの信号に含まれ、前記情報担体の表面からの反射光である表面迷光成分を検出する迷光検出部とを備え、前記位置ずれ検出部は、前記迷光検出部によって検出された前記表面迷光成分に基づいて、前記位置ずれ検出部から出力する信号を補正する迷光補正部を有する。
【００２２】
この構成によれば、光源は、光ビームを出射する。集光光学系は、情報担体の表面に近接して配置され、光源から出射された光ビームから生成した近接場光を情報担体に集光する。フォーカス部は、光ビームを情報担体の所定の情報層にフォーカスさせる。第１の受光部は、集光光学系の出射端面によって反射された反射光を受光する。ギャップ制御部は、第１の受光部からの信号に基づき、集光光学系と情報担体の表面との間の距離を制御する。第２の受光部は、所定の情報層からの反射光を複数に分割された受光領域で受光する。位置ずれ検出部は、第２の受光部からの信号に基づき、光ビームの焦点と所定の情報層における情報を記録又は再生する点との位置ずれを検出する。迷光検出部は、第１の受光部からの信号に基づき、位置ずれ検出部からの信号に含まれ、情報担体の表面からの反射光である表面迷光成分を検出する。迷光検出部は、第１の受光部からの信号に基づいて表面迷光成分を検出する。位置ずれ検出部の迷光補正部は、迷光検出部によって検出された表面迷光成分に基づいて、位置ずれ検出部から出力する信号を補正する。
【００２３】
本発明によれば、表面迷光成分に基づいて、位置ずれ検出部から出力する信号が補正され、補正された信号を用いて光ビームの焦点と所定の情報層における情報を記録又は再生する点との位置が制御されるので、情報層の反射率変化、及び記録又は再生時の光ビーム照射パワーの変化があっても検出ゲインが一定に保たれ、安定したフォーカス制御又はトラッキング制御を実現することができる。
【００２４】
本発明の目的、特徴及び利点は、以下の詳細な説明と添付図面とによって、より明白となる。
【図面の簡単な説明】
【００２５】
【図１】本発明の実施の形態１における光ディスク装置の構成を示すブロック図である。
【図２】図１における光ピックアップの構成を示すブロック図である。
【図３】図１における演算部の構成を示すブロック図である。
【図４】図１における迷光検出部及び迷光補正部の構成を示すブロック図である。
【図５】本発明の実施の形態１における第２のディテクタの構成を示す平面図である。
【図６】本発明の実施の形態１における、対物レンズ光学系と光ディスクの表面とのエアギャップに対するＧＥ信号出力の関係を示す図である。
【図７】本発明の実施の形態１における、対物レンズ光学系と光ディスクの表面とのエアギャップに対するＧＥ信号出力の関係及びエアギャップに対する表面反射光レベルの関係を示す図である。
【図８】本発明の実施の形態１の変形例における光ディスク装置の構成を示すブロック図である。
【図９】図８における迷光検出部及び迷光補正部の構成を示すブロック図である。
【図１０】本発明の実施の形態２における光ディスク装置の構成を示すブロック図である。
【図１１】図１０における光ピックアップの構成を示すブロック図である。
【図１２】図１０における演算部の構成を示すブロック図である。
【図１３】図１０における迷光検出部及び迷光補正部の構成を示すブロック図である。
【図１４】本発明の実施の形態２における第１のディテクタの構成を示す平面図である。
【図１５】本発明の実施の形態２の変形例における光ディスク装置の構成を示すブロック図である。
【図１６】図１５における迷光検出部及び迷光補正部の構成を示すブロック図である。
【図１７】従来の光ディスク装置において、ニアフィールドにおけるエアギャップと表面反射光のレベルとの関係を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００２６】
以下に、本発明の実施の形態について、図面を参照しながら説明する。なお、以下の実施の形態は、本発明を具体化した一例であって、本発明の技術的範囲を限定する性格のものではない。
【００２７】
（実施の形態１）
図１は、実施の形態１における光ディスク装置の構成を示すブロック図である。図２は、図１における光ピックアップ１００の構成を示すブロック図である。図３は、図１における演算部１１６の構成を示すブロック図である。図４は、図１における迷光検出部１２２及び迷光補正部１１７の構成を示すブロック図である。
【００２８】
図１に示すように実施の形態１における光ディスク装置は、光ピックアップ１００と、ギャップ制御部１１４と、ギャップ駆動部１１５と、位置ずれ検出部１２１と、迷光検出部１２２と、フォーカス制御部１１９と、フォーカス駆動部１２０とを備える。位置ずれ検出部１２１は、演算部１１６と、迷光補正部１１７と、ＡＧＣ（Ａｕｔｏｍａｔｉｃ  Ｇａｉｎ  Ｃｏｎｔｒｏｌ）部１１８とを備える。
【００２９】
図２に示すように実施の形態１における光ピックアップ１００は、光源１０１と、コリメータレンズ１０２と、ビームスプリッタ１０３と、偏光ビームスプリッタ１０４と、１／４波長板１０５と、ビームエクスパンダ１０６と、対物レンズ光学系１０７と、第１の検出レンズ１０９と、第１のディテクタ１１０と、第２の検出レンズ１１１と、第２のディテクタ１１２と、ギャップアクチュエータ１１３とを備える。
【００３０】
また、対物レンズ光学系１０７は、レンズ１０７ａと、ＳＩＬ（Ｓｏｌｉｄ  Ｉｍｍｅｒｓｉｏｎ  Ｌｅｎｓ）１０７ｂとを備える。
【００３１】
また、図３に示すように演算部１１６は、加算器１１６ａと、加算器１１６ｂと、加算器１１６ｃと、減算器１１６ｄとを備える。加算部１３１は、加算器１１６ａと、加算器１１６ｂと、加算器１１６ｃとで構成される。位置ずれ信号生成部１３２は、加算器１１６ａと、加算器１１６ｂと、減算器１１６ｄとで構成される。
【００３２】
また、図４に示すように迷光検出部１２２は、ゲイン乗算部１２２ａと、オフセット出力部１２２ｂと、加算器１２２ｃとを備え、迷光補正部１１７は、減算器１１７ａを備える。
【００３３】
光源１０１は、光ビームを出射する。対物レンズ光学系１０７は、光ディスク１０８の表面に近接して配置され、光源１０１から出射された光ビームから生成した近接場光を光ディスク１０８に集光する。ビームエクスパンダ１０６は、光ビームを光ディスク１０８の所定の情報層にフォーカスさせる。第１のディテクタ１１０は、対物レンズ光学系１０７の出射端面によって反射された反射光を受光する。第２のディテクタ１１２は、光ディスク１０８の所定の情報層からの反射光を複数に分割された受光領域で受光する。
【００３４】
ギャップ制御部１１４は、第１のディテクタ１１０からの信号に基づき、対物レンズ光学系１０７と光ディスク１０８の表面との間の距離を制御する。位置ずれ検出部１２１は、第２のディテクタ１１２からの信号に基づき、光ビームの焦点と所定の情報層における情報を記録又は再生する点との位置ずれを検出する。
【００３５】
迷光検出部１２２は、第１のディテクタ１１０からの信号に基づき、位置ずれ検出部１２１からの信号に含まれ、光ディスク１０８の表面からの反射光である表面迷光成分を検出する。
【００３６】
迷光補正部１１７は、迷光検出部１２２によって検出された表面迷光成分に基づいて、位置ずれ検出部１２１から出力する信号を補正する。
【００３７】
演算部１１６は、第２のディテクタ１１２から出力される複数の信号に対して演算処理を施す。加算部１３１は、第２のディテクタ１１２からの複数の信号を加算する。位置ずれ信号生成部１３２は、第２のディテクタ１１２からの複数の信号を演算して焦点方向位置ずれ信号（フォーカスエラー信号）又はトラック方向位置ずれ信号（トラッキングエラー信号）を生成する。ＡＧＣ部１１８は、位置ずれ信号生成部１３２からの焦点方向位置ずれ信号又はトラック方向位置ずれ信号を迷光補正部１１７からの信号で除算することにより正規化信号を生成する。また、迷光補正部１１７は、迷光検出部１２２によって検出された表面迷光成分に基づいて、加算部１３１からの信号を補正し、補正した信号をＡＧＣ部１１８へ出力する。
【００３８】
なお、本実施の形態１において、対物レンズ光学系１０７が集光光学系の一例に相当し、ビームエクスパンダ１０６がフォーカス部の一例に相当し、第１のディテクタ１１０が第１の受光部の一例に相当し、ギャップ制御部１１４がギャップ制御部の一例に相当し、第２のディテクタ１１２が第２の受光部の一例に相当し、位置ずれ検出部１２１が位置ずれ検出部の一例に相当し、迷光検出部１２２が迷光検出部の一例に相当し、迷光補正部１１７が迷光補正部の一例に相当し、加算部１３１が加算部の一例に相当し、位置ずれ信号生成部１３２が位置ずれ信号生成部の一例に相当し、ＡＧＣ部１１８が正規化部の一例に相当し、光ディスク１０８が情報担体の一例に相当する。
【００３９】
以上のように構成された光ディスク装置の動作について説明する。
【００４０】
光源１０１から出射された直線偏光の光ビームは、コリメータレンズ１０２に入射され、コリメータレンズ１０２によって平行光にされる。コリメータレンズ１０２によって平行光にされた光ビームは、ビームスプリッタ１０３と偏光ビームスプリッタ１０４とを透過して１／４波長板１０５に入射する。１／４波長板に入射した直線偏光の光ビームは、円偏光の光ビームに変換される。１／４波長板１０５で円偏光に変換された光ビームは、ビームエクスパンダ１０６に入射する。ビームエクスパンダ１０６に入射した光ビームは、平行光、僅かな発散光又は収束光となる。ビームエクスパンダ１０６で平行光、僅かな発散光又は収束光にされた光ビームは、対物レンズ光学系１０７に入射する。
【００４１】
ここで、対物レンズ光学系１０７は、レンズ１０７ａと、ＳＩＬ１０７ｂとを備える。ＳＩＬ１０７ｂの出射端面と、出射端面に対向する光ディスク１０８の表面との間に存在するエアギャップを光ビームの波長より短い距離であるエバネッセント減衰長さより短くすることで、エバネッセント光による光伝搬が行われる。したがって、対物レンズ光学系１０７に入射した光ビームのうち、臨界角以下の光は通常通り光ディスク１０８に伝搬され、臨界角以上の光はエバネッセント光として光ディスク１０８に伝搬される。光ディスク１０８に伝搬された光ビームは、光ディスク１０８のカバー層を透過して、情報層上に収束する。
【００４２】
光ディスク１０８の情報層上に収束した光ビームは、情報層により反射及び回折され、対物レンズ光学系１０７、ビームエクスパンダ１０６及び１／４波長板１０５を通って偏光ビームスプリッタ１０４に入射する。偏光ビームスプリッタ１０４に入射した光ビームのうち、光源１０１から出射された光ビームと平行な偏光面を持つ成分が透過され、光源１０１から出射された光ビームと垂直な偏光面を持つ成分が反射される。
【００４３】
偏光ビームスプリッタ１０４を透過した光ビームは、ビームスプリッタ１０３で反射され、第１の検出レンズ１０９で収束光に変換され、第１のディテクタ１１０で受光される。第１のディテクタ１１０は、受光した光ビームを電気信号に変換し、ＳＩＬ１０７ｂの出射端面と光ディスク１０８の表面との間隔であるエアギャップを示すギャップ信号（以降、ＧＥ信号と称す）を生成し、ギャップ制御部１１４及び迷光検出部１２２へ出力する。
【００４４】
ギャップ制御部１１４は、例えばディジタルシグナルプロセッサ（以降、ＤＳＰと称する）によるディジタルフィルタで構成された位相補償回路及び低域補償回路で構成されており、入力されたＧＥ信号に位相補償処理及び低域補償処理を施し、ギャップ駆動信号としてギャップ駆動部１１５に出力する。ギャップ駆動部１１５は、入力されたギャップ駆動信号を増幅し、ギャップアクチュエータ１１３に出力する。ギャップアクチュエータ１１３は、ギャップ駆動信号に応じて対物レンズ光学系１０７を移動させる。
【００４５】
以上の動作によって、ＧＥ信号を用いて、対物レンズ光学系１０７におけるＳＩＬ１０７ｂの出射端面と光ディスク１０８の表面とのエアギャップが一定に保たれるように制御するギャップ制御が実現される。
【００４６】
一方、偏光ビームスプリッタ１０４で反射された光ビームは、第２の検出レンズ１１１で収束光に変換されると同時に球面収差を与えられ、第２のディテクタ１１２で受光される。
【００４７】
ここで、図５に第２のディテクタ１１２の平面図を示す。図５は、本発明の実施の形態１における第２のディテクタ１１２の構成を示す平面図である。図５において、紙面の上下方向が光ディスク１０８の径方向（以降、トラッキング方向と称す）であり、紙面の左右方向がトラック長手方向である。図５に示すように、第２のディテクタ１１２は、４分割されており、４つの受光領域１１２ａ，１１２ｂ，１１２ｃ，１１２ｄからなる。受光領域１１２ａ，１１２ｂ，１１２ｃ，１１２ｄは、信号ＳＡ，ＳＢ，ＳＣ，ＳＤをそれぞれ出力する。
【００４８】
第２のディテクタ１１２は、受光した光ビームを電気信号に変換し、信号ＳＡ〜ＳＤを演算部１１６に出力する。演算部１１６における加算器１１６ａは、入力された信号ＳＡと入力された信号ＳＣとを加算することにより信号ＦＥＰを生成し、加算器１１６ｃ及び減算器１１６ｄに出力する。演算部１１６における加算器１１６ｂは、入力された信号ＳＢと入力された信号ＳＤとを加算することにより信号ＦＥＮを生成し、加算器１１６ｃ及び減算器１１６ｄに出力する。加算器１１６ｃは、入力された信号ＦＥＰと入力された信号ＦＥＮとを加算することにより光ディスク１０８からの戻り光の量を示すフォーカス加算信号（以降、ＦＳ信号と称す）を生成し、迷光補正部１１７に出力する。減算器１１６ｄは、入力された信号ＦＥＰから入力された信号ＦＥＮを減算することにより光ディスク１０８の情報層上における光ビームスポットと情報層との位置関係を示すＦＥ信号（フォーカスエラー信号）を生成し、ＡＧＣ部１１８へ出力する。
【００４９】
迷光検出部１２２におけるゲイン乗算部１２２ａは、入力されたＧＥ信号に所定のゲイン値を乗じて加算器１２２ｃに出力する。オフセット出力部１２２ｂは、所定のオフセット値を加算器１２２ｃに出力する。加算器１２２ｃは、入力されたゲイン乗算部１２２ａからの出力信号と、オフセット出力部１２２ｂからの出力信号とを加算することにより、ＦＳ信号に含まれる迷光成分（表面迷光成分）である迷光信号を生成し、迷光補正部１１７における減算器１１７ａに出力する。減算器１１７ａは、入力されたＦＳ信号から入力された迷光信号を減算することにより、迷光成分を除去したＦＳ信号である補正ＦＳ信号を生成し、ＡＧＣ部１１８に出力する。
【００５０】
ＡＧＣ部１１８は、入力されたＦＥ信号を入力された補正ＦＳ信号で除算することにより、光ディスク１０８の情報層からの光ビームの戻り光の量に応じてＦＥ信号を正規化したＦＥ＿ＡＧＣ信号を生成し、フォーカス制御部１１９に出力する。フォーカス制御部１１９は、ギャップ制御部１１４と同様に例えばＤＳＰによるディジタルフィルタで構成された位相補償回路及び低域補償回路で構成されており、入力されたＦＥ＿ＡＧＣ信号に位相補償処理及び低域補償処理を施し、フォーカス駆動信号としてフォーカス駆動部１２０に出力する。フォーカス駆動部１２０は、入力されたフォーカス駆動信号を増幅し、ビームエクスパンダ１０６に出力する。ビームエクスパンダ１０６は、フォーカス駆動信号に応じて光軸方向に移動する。
【００５１】
以上の動作によって、迷光成分を除去した補正ＦＳ信号を用いて正規化されたＦＥ＿ＡＧＣ信号によって、光ディスク１０８の情報層上に光ビームの焦点が正しく位置するように制御するフォーカス制御が実現される。
【００５２】
以上のように、本実施の形態１の迷光検出部１２２は、第１のディテクタ１１０からの信号（ＧＥ信号）に基づき、位置ずれ検出部１２１からの信号（ＦＳ信号）に含まれる迷光成分を検出する。また、本実施の形態１の迷光補正部１１７は、迷光検出部１２２からの信号に基づき、ＦＳ信号から迷光成分を除去することにより、ＦＳ信号を補正する。
【００５３】
さらに、本実施の形態１の加算部１３１（加算器１１６ａ、加算器１１６ｂ及び加算器１１６ｃ）は、第２のディテクタ１１２からの複数の信号ＳＡ，ＳＢ，ＳＣ，ＳＤを加算する。また、本実施の形態１の位置ずれ検出部１２１は、第２のディテクタ１１２からの複数の信号ＳＡ，ＳＢ，ＳＣ，ＳＤを演算して焦点方向位置ずれ信号（ＦＥ信号）又はトラック方向位置ずれ信号を生成する位置ずれ信号生成部１３２を備える。なお、本実施の形態１では、位置ずれ信号生成部１３２は、焦点方向位置ずれ信号（ＦＥ信号）を生成しているが、本発明は特にこれに限定されず、トラック方向位置ずれ信号（ＴＥ信号）を生成してもよい。
【００５４】
また、本実施の形態１のＡＧＣ部１１８は、位置ずれ信号生成部１３２からの信号（ＦＥ信号）を迷光補正部１１７からの信号（補正ＦＳ信号）で除算することにより正規化信号（ＦＥ＿ＡＧＣ信号）を生成する。また、迷光補正部１１７は、迷光検出部１２２からの信号（迷光成分）に基づいて、加算部１３１からの信号（ＦＳ信号）を補正する。
【００５５】
ここで、本実施の形態１における迷光成分の算出とＦＳ信号の補正とについて説明する。
【００５６】
まず、ＧＥ信号について説明する。
【００５７】
図６は、本発明の実施の形態１における、対物レンズ光学系１０７と光ディスク１０８の表面とのエアギャップに対するＧＥ信号出力の関係を示す図である。図６において、横軸Ｇａｐは、対物レンズ光学系１０７のＳＩＬ１０７ｂの光出射端面と光ディスク１０８の表面とのエアギャップであり、縦軸Ｒｅｆは、反射率である。ここで、反射率は、対物レンズ光学系１０７へ入射する光ビームの光量に対するＧＥ信号出力レベルの割合を示している。
【００５８】
ＧＥ信号は、対物レンズ光学系１０７におけるＳＩＬ１０７ｂの端面で全反射する戻り光の量を検出することで、ＳＩＬ１０７ｂの端面と光ディスク１０８の表面とのエアギャップ長を検出する信号である。ＳＩＬ１０７ｂと光ディスク１０８の表面とのエアギャップが十分に離れている場合、ファーフィールド状態となり、ＳＩＬ１０７ｂの端面で全反射する角度で入射した光はＳＩＬ１０７ｂの端面で全反射される。しかし、エアギャップが光ビームの波長の１／４程度以下になり、ニアフィールド状態になると、一部の全反射した戻り光成分が光ディスク１０８との近接場結合によりエバネッセント光として光ディスク１０８側に透過するため、全反射した戻り光の量は減少する。そして、ＳＩＬ１０７ｂの端面と光ディスク１０８の表面とが完全に接触、つまりエアギャップがゼロになると、ＳＩＬ１０７ｂの端面での全反射した戻り光成分が全てエバネッセント光として光ディスク１０８側に透過するため、全反射した戻り光成分の量としてはゼロとなる。したがって、エアギャップと全反射した戻り光の量との関係は図６に示す特性になる。
【００５９】
次に、迷光成分である表面反射光について説明する。
【００６０】
図７は、本発明の実施の形態１における、対物レンズ光学系１０７と光ディスク１０８の表面とのエアギャップに対するＧＥ信号出力の関係及びエアギャップに対する表面反射光レベルの関係を示す図である。図７において、横軸Ｇａｐは、図６と同様にエアギャップであり、縦軸Ｒｅｆは、反射率である。ここで、反射率は、対物レンズ光学系１０７へ入射する光ビームの光量に対するＧＥ信号出力レベル及び表面反射光レベルの割合である。また、図７において、実線がＧＥ信号を表し、破線が表面反射光を表す。
【００６１】
図７に示すように、表面反射光レベル及びＧＥ信号出力レベルは、エアギャップが波長の１／４程度から０に向かうに従って減少し、対物レンズ光学系１０７と光ディスク１０８の表面とが接触すると、いずれも０になる。本実施の形態１においては、表面反射光とＧＥ信号とがニアフィールド状態においてエアギャップに対して定性的にほぼ同等の特性を持つことを利用して、ＧＥ信号に基づいて、表面反射光、すなわち、ＦＳ信号に含まれる迷光成分を算出する。
【００６２】
例えば、ギャップ制御による目標エアギャップが２５ｎｍである場合、目標エアギャップ近傍におけるエアギャップに対する表面反射光の関係及び目標エアギャップ近傍におけるエアギャップに対するＧＥ信号出力の関係は、図７に示すようにそれぞれ１次関数ｆ（Ｇａｐ）及び１次関数ｇ（Ｇａｐ）で近似できる。以上のように近似した１次関数ｆ（Ｇａｐ）及び１次関数ｇ（Ｇａｐ）によって、表面反射光をＧＥ信号の１次関数として表現することが可能である。
【００６３】
したがって、ＧＥ信号に対し、ゲイン乗算部１２２ａによりゲイン値を乗算し、乗算結果とオフセット出力部１２２ｂからのオフセット値とを加算器１２２ｃで加算することで、表面反射光、すなわちＦＳ信号に含まれる迷光成分を算出することができる。
【００６４】
以上のように、本実施の形態１の迷光検出部１２２は、第１のディテクタ１１０からの信号（ＧＥ信号）出力の関数（例えば、１次関数）として迷光成分を演算しても良い。すなわち、迷光検出部１２２は、第１のディテクタ１１０からの出力信号を所定の関数に入力することにより表面迷光成分を算出する。所定の関数は、第１のディテクタ１１０からの信号出力を表面迷光成分に近似する１次関数である。
【００６５】
ここで、本実施の形態１においては、エアギャップに対する表面反射光の関係及びエアギャップに対するＧＥ信号出力の関係は、想定する光学系におけるパラメータを用いた光学シミュレーション結果を用いて算出する。したがって、ゲイン乗算部１２２ａのゲイン値とオフセット出力部１２２ｂからのオフセット値とは光学シミュレーション結果から求められる固定値となる。
【００６６】
また、ＦＳ信号に含まれる迷光成分である加算器１２２ｃの出力を、減算器１１７ａを用いてＦＳ信号から減算することで、ＦＳ信号から迷光成分を除去し、ＦＳ信号を補正することができる。
【００６７】
以上説明したように、本実施の形態１では、第１のディテクタ１１０、ゲイン乗算部１２２ａ、オフセット出力部１２２ｂ及び加算器１２２ｃを用いてＦＳ信号に含まれる迷光成分である表面反射光のレベルを算出し、減算器１１７ａを用いてＦＳ信号から迷光成分を除去する。
【００６８】
したがって、ＳＩＬを用いた光ディスク装置において、光ディスク１０８にカバー層が存在する場合、ＦＳ信号から迷光成分を除去することによりＦＳ信号が補正され、補正ＦＳ信号を用いて正しくＦＥ信号が正規化され、正規化されたＦＥ信号（ＦＥ＿ＡＧＣ信号）を用いてフォーカス制御が可能となる。そのため、情報層の反射率変化、及び記録又は再生時の光ビーム照射パワーの変化があっても検出ゲインが一定に保たれ、安定したフォーカス制御が可能となり、その結果、光ディスク装置の記録性能及び再生性能の向上が実現できる。
【００６９】
なお、本実施の形態１においては、ＦＳ信号に含まれる迷光成分である表面反射光レベルを、ＧＥ信号を迷光成分に近似する１次関数で表しているが、２次以上の関数で表してもよい。
【００７０】
以上の構成にすることで、ＧＥ信号によるＦＳ信号に含まれる迷光成分の検出精度を上げることができる。
【００７１】
なお、本実施の形態１においては、ＦＳ信号に含まれる迷光成分である表面反射光をＧＥ信号に基づいて算出する際のゲイン値及びオフセット値を光学シミュレーション結果に基づいた固定値としているが、本発明は特にこれに限定されない。すなわち、本実施の形態１の変形例における光ディスク装置では、光ディスク１０８の情報層上に迷光成分検出用の領域を設け、光ビームが迷光成分検出用の領域を通過する際のＦＳ信号及びＧＥ信号を用いて、ゲイン乗算部１２２ａのゲイン値及びオフセット出力部１２２ｂのオフセット値を決定してもよい。
【００７２】
以下に、本実施の形態１の変形例における光ディスク装置の動作について図８及び図９を用いて説明する。
【００７３】
図８は、本発明の実施の形態１の変形例における光ディスク装置の構成を示すブロック図である。図９は、図８における迷光検出部２２２及び迷光補正部１１７の構成を示すブロック図である。図８及び図９において、図１〜図５の構成要素と同じ構成要素には同一の符号を付して説明を省略する。
【００７４】
図８に示す光ディスク装置は、光ピックアップ１００と、ギャップ制御部１１４と、ギャップ駆動部１１５と、位置ずれ検出部１２１と、迷光検出部２２２と、フォーカス制御部１１９と、フォーカス駆動部１２０と、マイクロコンピュータ２０１とを備える。位置ずれ検出部１２１は、演算部１１６と、迷光補正部１１７と、ＡＧＣ部１１８とを備える。
【００７５】
また、図９に示すように迷光検出部２２２は、ゲイン乗算部２２２ａと、オフセット出力部２２２ｂと、加算器１２２ｃとを備える。迷光補正部１１７は、減算器１１７ａを備える。
【００７６】
光ディスク１０８の情報層は、情報層に照射された光ビームを反射しない透過領域を有している。この透過領域は、情報層を形成する際に、情報層の一部分に情報層を形成しない領域を設けることにより作成される。
【００７７】
マイクロコンピュータ２０１は、第１のディテクタ１１０からのＧＥ信号出力を表面迷光成分に近似する所定の関数を推定する。マイクロコンピュータ２０１は、ギャップ制御部１１４の制御目標であるギャップレベルを複数設定し、各ギャップレベル設定時に光ビームが透過領域を通過する際に得られる加算部１３１からの信号レベルと設定した各ギャップレベルとに基づいて所定の関数を推定する。
【００７８】
なお、本実施の形態１の変形例において、迷光検出部２２２が迷光検出部の一例に相当し、マイクロコンピュータ２０１が関数推定部の一例に相当する。
【００７９】
以上のように構成された本実施の形態１の変形例における光ディスク装置の動作について説明する。
【００８０】
光ディスク１０８の情報層は、情報層上に照射された光ビームを反射しない領域（迷光成分検出用領域）を有している。第１のディテクタ１１０は、受光した光ビームを電気信号に変換し、ＧＥ信号を生成し、ギャップ制御部１１４、迷光検出部２２２及びマイクロコンピュータ２０１へ出力する。演算部１１６における加算器１１６ｃは、入力された信号ＦＥＰと入力された信号ＦＥＮとを加算することによりＦＳ信号を生成し、迷光補正部１１７及びマイクロコンピュータ２０１に出力する。
【００８１】
マイクロコンピュータ２０１は、ギャップ制御の制御目標となる目標ギャップ値をギャップ制御部１１４へ出力し、目標ギャップ値を設定する。マイクロコンピュータ２０１は、複数の目標ギャップ値を制御目標としてギャップ制御部１１４に設定する。ギャップ制御部１１４は、設定された各目標ギャップ値を用いてギャップ制御を行う。設定された各目標ギャップ値でギャップ制御が行われている状態において、ＦＳ信号レベルとＧＥ信号レベルとが検出される。マイクロコンピュータ２０１は、各目標ギャップ値でギャップ制御が行われている状態で検出した各ＦＳ信号レベルと各ＧＥ信号レベルとの関係を用いて、ＧＥ信号からＦＳ信号に含まれる迷光成分である迷光信号を算出するためのゲイン値とオフセット値とを演算する。マイクロコンピュータ２０１は、演算結果のゲイン値をゲイン乗算部２２２ａに設定すると共に、演算結果のオフセット値をオフセット出力部２２２ｂに設定する。
【００８２】
以上の動作によって、ＦＳ信号から迷光成分を除去した補正ＦＳ信号を用いて正規化されたＦＥ信号（ＦＥ＿ＡＧＣ信号）によって、光ディスク１０８の情報層上に光ビームの焦点が正しく位置するように制御するフォーカス制御が実現される。
【００８３】
ここで、本実施の形態１の変形例の構成において、マイクロコンピュータ２０１によるゲイン乗算部２２２ａのゲイン値とオフセット出力部２２２ｂのオフセット値との演算について説明する。
【００８４】
光ビームスポットが、光ディスク１０８の情報層上の光ビームを反射しない領域にフォーカス制御している状態を考える。このとき、情報層からの戻り光の量は０になるため、検出されるＦＳ信号の信号レベルは迷光成分である表面反射光レベルとなる。したがって、このときのＧＥ信号レベルとＦＳ信号レベルとを検出することで、あるエアギャップ長にギャップ制御目標が設定されている場合のＧＥ信号レベルと迷光成分である表面反射光レベルとの関係を取得することができる。
【００８５】
ここで、ＦＳ信号に含まれる迷光成分である迷光信号を本構成のようにＧＥ信号の１次関数で表現した場合、当該１次関数のゲイン値とオフセット値とは、以下のように決定すればよい。すなわち、光ビームスポットが光ディスク１０８の情報層上の光ビームを反射しない領域にフォーカス制御している状態において、マイクロコンピュータ２０１は、ギャップ制御目標である少なくとも２つの目標ギャップ値を設定し、各目標ギャップ値におけるＧＥ信号レベルとＦＳ信号レベルとを検出する。マイクロコンピュータ２０１は、各目標ギャップ値において検出したＧＥ信号レベル及びＦＳ信号レベルの結果から、ゲイン乗算部２２２ａのゲイン値とオフセット出力部２２２ｂのオフセット値とを算出する。
【００８６】
以上のように、本実施の形態１の変形例のマイクロコンピュータ２０１は、ギャップ制御部１１４の制御目標であるギャップレベル（目標ギャップ値）を複数設定し、各ギャップレベル設定時に光ビームが迷光成分検出用領域を通過する際に得られる加算部１３１からの信号（ＦＳ信号）レベルと設定した各ギャップレベル（ＧＥ信号レベル）とに基づいて所定の関数を推定しても良い。
【００８７】
以上の構成にすることで、光ピックアップ１００が使用する部品のばらつき、光ピックアップ１００の調整工程のばらつき、及び光ディスク１０８のカバー層に使用する材質のばらつき等、ＦＳ信号に含まれる迷光成分を決定するための光学パラメータが設計値から変化しても、光ディスク１０８の情報層に設けられた迷光成分検出用領域を用いて、マイクロコンピュータ２０１が迷光成分の演算に用いる最適なゲイン値及びオフセット値を算出するので、精度良く迷光成分の算出が可能となる。
【００８８】
なお、本実施の形態１においては、補正ＦＳ信号で正規化したＦＥ＿ＡＧＣ信号を用いることで、安定したフォーカス制御が実現できるとしたが、トラッキング制御に対しても同様の効果が得られる。すなわち、第２のディテクタ１１２からの出力信号ＳＡ〜ＳＤに対し、プッシュプル法によりＴＥ（トラッキングエラー）信号を生成し、生成したＴＥ信号を補正ＦＳ信号で正規化したＴＥ＿ＡＧＣ信号を用いてトラッキング制御を実施する構成とすればよい。
【００８９】
以上の構成にすることで、ＳＩＬを用いた光ディスク装置において、光ディスク１０８にカバー層が存在する場合、ＦＳ信号から迷光成分を除去することによりＦＳ信号が補正され、補正ＦＳ信号を用いて正しくＴＥ信号が正規化され、正規化されたＴＥ信号（ＴＥ＿ＡＧＣ信号）を用いてトラッキング制御が可能となる。そのため、情報層の反射率変化、及び記録又は再生時の光ビーム照射パワーの変化があっても検出ゲインが一定に保たれ、安定したトラッキング制御が可能となり、その結果、光ディスク装置の記録性能及び再生性能の向上が実現できる。
【００９０】
（実施の形態２）
図１０は、本発明の実施の形態２における光ディスク装置の構成を示すブロック図である。図１１は、図１０における光ピックアップ２００の構成を示すブロック図である。図１２は、図１０における演算部１２３の構成を示すブロック図である。図１３は、図１０における迷光検出部３２２及び迷光補正部２１７の構成を示すブロック図である。なお、実施の形態１と同様の部分には同じ番号を付し、その説明を省略する。
【００９１】
図１０に示すように実施の形態２における光ディスク装置は、光ピックアップ２００と、ギャップ制御部１１４と、ギャップ駆動部１１５と、位置ずれ検出部２２１と、迷光検出部３２２と、フォーカス制御部１１９と、フォーカス駆動部１２０と、演算部１２３とを備える。位置ずれ検出部２２１は、演算部２１６と、迷光補正部２１７とを備える。
【００９２】
図１１に示すように実施の形態２における光ピックアップ２００は、光源１０１と、コリメータレンズ１０２と、ビームスプリッタ１０３と、偏光ビームスプリッタ１０４と、１／４波長板１０５と、ビームエクスパンダ１０６と、対物レンズ光学系１０７と、第１の検出レンズ１０９と、第１のディテクタ２１０と、第２の検出レンズ１１１と、第２のディテクタ１１２と、ギャップアクチュエータ１１３とを備える。
【００９３】
また、図１２に示すように演算部１２３は、加算器１２３ａと、加算器１２３ｂと、加算器１２３ｃと、減算器１２３ｄとを備える。
【００９４】
また、図１３に示すように迷光検出部３２２は、ゲイン乗算部３２２ａを備え、迷光補正部２１７は、減算器２１７ａを備える。
【００９５】
第１のディテクタ２１０は、第２のディテクタ１１２と同じ複数に分割された受光領域を有している。位置ずれ検出部２２１は、第２のディテクタ１１２からの複数の信号を演算して焦点方向位置ずれ信号又はトラック方向位置ずれ信号を生成する位置ずれ信号生成部１３２を有している。
【００９６】
演算部１２３は、第１のディテクタ２１０からの複数の信号に対し、位置ずれ信号生成部１３２と同じ演算を行う。迷光検出部３２２は、演算部１２３からの信号に基づいて表面迷光成分を検出する。迷光補正部２１７は、迷光検出部３２２によって検出された表面迷光成分に基づいて、位置ずれ信号生成部１３２から出力する信号を補正する。
【００９７】
演算部２１６は、位置ずれ信号生成部１３２を備える。本実施の形態２の位置ずれ信号生成部１３２は、後述するように、第２のディテクタ１１２からの複数の信号を演算して焦点方向位置ずれ信号又はトラック方向位置ずれ信号を生成する。
【００９８】
また、本実施の形態２の演算部１２３は、後述するように、第１のディテクタ２１０からの複数の信号に対し、演算部１１６の位置ずれ信号生成部１３２と同じ演算を行う。
【００９９】
なお、本実施の形態２において、第１のディテクタ２１０が第１の受光部の一例に相当し、位置ずれ信号生成部１３２が位置ずれ信号生成部の一例に相当し、演算部１２３が演算部の一例に相当し、迷光検出部３２２が迷光検出部の一例に相当し、迷光補正部２１７が迷光補正部の一例に相当する。
【０１００】
以上のように構成された光ディスク装置の動作について説明する。
【０１０１】
偏光ビームスプリッタ１０４を透過した光ビームは、ビームスプリッタ１０３で反射され、第１の検出レンズ１０９で収束光に変換され、第１のディテクタ２１０で受光される。
【０１０２】
ここで、図１４に第１のディテクタ２１０の平面図を示す。図１４は、本発明の実施の形態２における第１のディテクタ２１０の構成を示す平面図である。図１４において、紙面の上下方向が光ディスク１０８のトラッキング方向であり、紙面の左右方向がトラック長手方向である。図１４に示すように、第１のディテクタ２１０は、第２のディテクタ１１２と同様に、４分割されており、４つの受光領域２１０ａ，２１０ｂ，２１０ｃ，２１０ｄからなる。すなわち、本実施の形態２の第１のディテクタ２１０は、第２のディテクタ１１２と同じ複数の分割された受光領域２１０ａ，２１０ｂ，２１０ｃ，２１０ｄを備える。受光領域２１０ａ，２１０ｂ，２１０ｃ，２１０ｄは、信号ＳＧＡ，ＳＧＢ，ＳＧＣ，ＳＧＤをそれぞれ出力する。
【０１０３】
第１のディテクタ２１０は、受光した光ビームを電気信号に変換し、信号ＳＧＡ〜ＳＧＤを演算部１２３に出力する。演算部１２３における加算器１２３ａは、入力された信号ＳＧＡと入力された信号ＳＧＣとを加算することにより信号ＧＥ＿ＦＥＰを生成し、加算器１２３ｃ及び減算器１２３ｄに出力する。演算部１２３における加算器１２３ｂは、入力された信号ＳＧＢと入力された信号ＳＧＤとを加算することにより信号ＧＥ＿ＦＥＮを生成し、加算器１２３ｃ及び減算器１２３ｄに出力する。加算器１２３ｃは、入力された信号ＧＥ＿ＦＥＰと入力された信号ＧＥ＿ＦＥＮとを加算することによりＧＥ信号を生成し、ギャップ制御部１１４に出力する。減算器１２３ｄは、入力された信号ＧＥ＿ＦＥＰから入力された信号ＧＥ＿ＦＥＮを減算することにより、ＦＥ信号と同様の演算を行った信号ＧＥ＿ＦＥを生成し、迷光補正部２１７へ出力する。演算部２１６における減算器１１６ｄは、入力された信号ＦＥＰから入力された信号ＦＥＮを減算することによりＦＥ信号を生成し、迷光補正部２１７へ出力する。
【０１０４】
迷光検出部３２２におけるゲイン乗算部３２２ａは、入力された信号ＧＥ＿ＦＥに所定のゲイン値を乗じることによりＦＥ信号に含まれる迷光成分である迷光信号を生成し、迷光補正部２１７における減算器２１７ａに出力する。減算器２１７ａは、入力されたＦＥ信号から入力された迷光信号を減算することにより、迷光成分を補正したＦＥ信号である補正ＦＥ信号を生成し、フォーカス制御部１１９に出力する。フォーカス制御部１１９は、入力された補正ＦＥ信号に位相補償処理及び低域補償処理を施し、フォーカス駆動信号としてフォーカス駆動部１２０に出力する。
【０１０５】
以上の動作によって、迷光成分を除去した補正ＦＥ信号を用いて、光ディスク１０８の情報層上に光ビームの焦点が正しく位置するように制御するフォーカス制御が実現される。
【０１０６】
ここで、本実施の形態２における迷光成分の算出とＦＥ信号の補正とについて説明する。
【０１０７】
まず、ＦＥ信号に含まれる迷光成分について説明する。
【０１０８】
対物レンズ光学系１０７のＳＩＬ１０７ｂの端面が光ディスク１０８の表面に対して傾いている場合、ＳＩＬ１０７ｂ端面上の位置によってエアギャップ長が異なる。第２のディテクタ１１２が受光する戻り光に含まれる迷光成分である表面反射光の光量は、図７より、エアギャップ長に応じて変化する。したがって、第２のディテクタ１１２で検出される戻り光の量に含まれる表面反射光の量は、受光領域によって異なる。迷光成分である表面反射光の量が第２のディテクタ１１２の受光領域によって異なると、ＦＥ信号を生成した結果、迷光成分によりＦＥ信号にオフセットが発生する。
【０１０９】
次に、ＦＥ信号に含まれる迷光成分の算出とＦＥ信号の補正とについて説明する。
【０１１０】
第２のディテクタ１１２が受光する戻り光に含まれる迷光成分である表面反射光のエアギャップに対する特性は、図７より、ＳＩＬ１０７ｂ端面からの戻り光の特性と定性的にほぼ一致する。また、第１のディテクタ２１０で検出される戻り光の量は、実施の形態１における第１のディテクタ１１０で検出される戻り光の量と同一である。したがって、ＧＥ信号を生成するための第１のディテクタ２１０で検出される戻り光の量は、受光領域によって異なり、第１のディテクタ２１０で検出される戻り光の量の分布は第２のディテクタ１１２で検出される表面反射光の量の分布とほぼ一致する。
【０１１１】
すなわち、第１のディテクタ２１０からの出力信号である信号ＳＧＡ〜ＳＧＤに対し、ＦＥ信号を生成する際と同様の演算により得られるＧＥ＿ＦＥ信号は、ＦＥ信号に含まれる迷光成分により発生するオフセットに対応する。
【０１１２】
また、図７より、エアギャップが２５ｎｍ近傍である場合における第１のディテクタ２１０の表面反射光の量及び戻り光の量は、それぞれ１次関数ｆ（Ｇａｐ）及び１次関数ｇ（Ｇａｐ）で近似することができる。したがって、ギャップ制御の目標ギャップ値が２５ｎｍのとき、光量ｆ（２５）と光量ｇ（２５）との比ｆ（２５）／ｇ（２５）をゲイン乗算部３２２ａで乗算するゲイン値として設定すれば、ゲイン乗算部３２２ａからの出力信号が、ＦＥ信号に含まれる迷光成分によるオフセットを示す信号となる。
【０１１３】
ＦＥ信号に含まれる迷光成分によるオフセットを示す信号を、減算器２１７ａを用いてＦＥ信号から減算することで、ＦＥ信号に含まれる迷光成分によるオフセットを除去し、ＦＥ信号を補正することができる。
【０１１４】
以上のように、本実施の形態２の光ディスク装置では、演算部１２３からの信号に基づいて迷光成分を検出する。また、迷光補正部２１７は、迷光検出部３２２からの信号に基づき、位置ずれ信号生成部１３２からの信号に含まれる迷光成分を除去する。
【０１１５】
このとき、迷光検出部３２２は、演算部１２３からの信号出力の関数（例えば、１次関数）として迷光成分を演算しても良い。すなわち、迷光検出部３２２は、演算部１２３からの信号出力を所定の関数に入力することにより表面迷光成分を算出する。所定の関数は、演算部１２３からの信号出力を表面迷光成分に近似する１次関数である。
【０１１６】
以上説明したように、本実施の形態２では、第１のディテクタ２１０、演算部１２３及びゲイン乗算部３２２ａを用いてＦＥ信号に含まれる迷光成分である表面反射光によるオフセットを算出し、減算器２１７ａを用いてＦＥ信号から迷光成分によるオフセットを除去する。
【０１１７】
したがって、ＳＩＬを用いた光ディスク装置において、光ディスク１０８にカバー層が存在する場合、ＦＥ信号から迷光成分によるオフセットを除去することによりＦＥ信号が補正され、補正されたＦＥ信号を用いてフォーカス制御が可能となる。そのため、精度良く安定したフォーカス制御が可能となり、その結果、光ディスク装置の記録性能及び再生性能の向上が実現できる。
【０１１８】
なお、本実施の形態２においては、ＦＥ信号に含まれる迷光成分によるオフセットを、ＧＥ＿ＦＥ信号を迷光成分に近似する１次関数で表しているが、２次以上の関数で表してもよい。
【０１１９】
以上の構成にすることで、ＧＥ＿ＦＥ信号に基づいて算出される、ＦＥ信号に含まれる迷光成分によるオフセットの検出精度を上げることができる。
【０１２０】
なお、本実施の形態２においては、ＦＥ信号に含まれる迷光成分によるオフセットをＧＥ＿ＦＥ信号に基づいて算出する際のゲイン値を光学シミュレーション結果に基づいた固定値としているが、本発明は特にこれに限定されない。すなわち、本実施の形態２の変形例における光ディスク装置では、光ディスク１０８に記録された情報を再生した際の再生信号品質を示す指標を用いてゲイン乗算部３２２ａのゲイン値を学習してもよい。
【０１２１】
以下に、本実施の形態２の変形例における光ディスク装置の動作について図１５及び図１６を用いて説明する。
【０１２２】
図１５は、本発明の実施の形態２の変形例における光ディスク装置の構成を示すブロック図である。図１６は、図１５における迷光検出部４２２及び迷光補正部２１７の構成を示すブロック図である。図１５及び図１６において、図１０〜図１４の構成要素と同じ構成要素には同一の符号を付して説明を省略する。
【０１２３】
図１５に示す光ディスク装置は、光ピックアップ２００と、ギャップ制御部１１４と、ギャップ駆動部１１５と、位置ずれ検出部３２１と、迷光検出部４２２と、フォーカス制御部１１９と、フォーカス駆動部１２０と、演算部１２３と、変調度測定部１２４と、マイクロコンピュータ２０１とを備える。位置ずれ検出部１２１は、演算部１１６と、迷光補正部２１７とを備える。
【０１２４】
また、図１６に示すように迷光検出部４２２は、ゲイン乗算部４２２ａを備える。迷光補正部２１７は、減算器２１７ａを備える。
【０１２５】
変調度測定部１２４は、情報層に記録された情報を再生した再生信号の信号品質を測定する。マイクロコンピュータ２０１は、１次関数における演算部１２３からの信号出力に対する係数を推定する。マイクロコンピュータ２０１は、係数の候補となる複数の候補係数を迷光検出部４２２に設定し、設定した各候補係数と、各候補係数設定時に得られる変調度測定部１２４からの測定結果との組み合わせに基づいて、最適な係数を算出する。すなわち、マイクロコンピュータ２０１は、設定した各候補係数と、各候補係数設定時に得られる変調度測定部１２４からの信号品質との複数の組み合わせを例えば２次関数で近似し、信号品質が極値となる係数を最適な係数として算出する。
【０１２６】
なお、本実施の形態２の変形例において、変調度測定部１２４が再生信号品質測定部の一例に相当し、位置ずれ検出部３２１が位置ずれ検出部の一例に相当し、迷光検出部４２２が迷光検出部の一例に相当し、マイクロコンピュータ２０１が係数推定部の一例に相当する。
【０１２７】
以上のように構成された本実施の形態２の変形例における光ディスク装置の動作について説明する。
【０１２８】
マイクロコンピュータ２０１は、迷光検出部４２２におけるゲイン乗算部４２２ａのゲイン値を設定する。迷光検出部４２２におけるゲイン乗算部４２２ａは、入力されたＧＥ＿ＦＥ信号にマイクロコンピュータ２０１から設定されたゲイン値を乗じることによりＦＥ信号に含まれる迷光成分である迷光信号を生成し、迷光補正部２１７における減算器２１７ａに出力する。
【０１２９】
演算部１１６における加算器１１６ｃ（図３参照）は、入力された信号ＦＥＰと入力された信号ＦＥＮとを加算することにより、ＲＦ信号（再生信号）を生成し、変調度測定部１２４へ出力する。
【０１３０】
変調度測定部１２４は、入力されたＲＦ信号の変調度を測定し、測定結果である変調度をマイクロコンピュータ２０１へ出力する。
【０１３１】
マイクロコンピュータ２０１は、ゲイン乗算部４２２ａのゲイン値を複数設定し、設定した各ゲイン値と、各ゲイン値設定状態で得られる変調度測定部１２４によって測定される変調度との組み合わせを保持する。
【０１３２】
マイクロコンピュータ２０１は、保持されたゲイン値と変調度との組み合わせの中から、変調度が最大となる最適ゲイン値を算出する。マイクロコンピュータ２０１は、保持されたゲイン値と変調度との複数の組み合わせを例えば２次関数で近似し、変調度が最大となるゲイン値を最適ゲイン値として算出する。
【０１３３】
マイクロコンピュータ２０１は、算出された最適ゲイン値をゲイン乗算部４２２ａのゲイン値として設定する。
【０１３４】
以上の動作によって、光ディスク１０８に記録された情報を再生した際の再生信号品質指標である変調度を用いて、ゲイン乗算部４２２ａの最適ゲイン値を学習することができる。
【０１３５】
以上のように、本実施の形態２の変形例の光ディスク装置は、加算部１３１（加算器１１６ａ、加算器１１６ｂ及び加算器１１６ｃ）からの信号（ＲＦ信号）に基づいて、情報層に記録された情報を再生した際の信号品質（例えば、変調度）を測定する再生信号品質測定部（変調度測定部１２４）を備える。また、本実施の形態２の変形例の光ディスク装置は、１次関数における演算部１２３からの信号出力の係数（ゲイン乗算部４２２ａのゲイン値）を推定する係数推定部（マイクロコンピュータ２０１）を備える。このとき、係数推定部（マイクロコンピュータ２０１）は、係数の候補となる複数の候補係数をゲイン乗算部４２２ａに設定し、設定した各候補係数と、各候補係数設定時に得られる再生信号品質測定部（変調度測定部１２４）からの測定結果との組み合わせに基づいて、最適な係数（最適ゲイン値）を算出する。
【０１３６】
以上の構成にすることで、光ピックアップ２００が使用する部品のばらつき、光ピックアップ２００の調整工程のばらつき、及び光ディスク１０８のカバー層に使用する材質のばらつき等、ＦＥ信号に含まれる迷光成分を決定するための光学パラメータが設計値から変化しても、光ディスク１０８の情報層に記録された情報を再生した際の信号品質である変調度を用いて、マイクロコンピュータ２０１が迷光成分の演算に用いる最適なゲイン値を算出するので、精度良く迷光成分の算出が可能となる。
【０１３７】
なお、本実施の形態２の変形例においては、再生信号品質指標としてＲＦ信号の変調度を用いる構成としているが、マイクロコンピュータ２０１が最適ゲイン値を算出するにあたっては、再生信号品質指標は変調度に限定されることはない。
【０１３８】
なお、本実施の形態２及び本実施の形態２の変形例においては、ＦＥ信号を生成する際と同様の演算により得られるＧＥ＿ＦＥ信号をＦＥ信号の補正に用いることで、精度良く安定したフォーカス制御が実現できるとしているが、トラッキング制御に対しても同様の効果が得られる。
【０１３９】
すなわち、第２のディテクタ１１２からの出力信号ＳＡ〜ＳＤに対し、プッシュプル法によりＴＥ信号を生成し、第１のディテクタ２１０からの出力信号ＳＧＡ〜ＳＧＤに対し、ＴＥ信号を生成する際と同様の演算によりＧＥ＿ＴＥ信号を生成し、生成したＧＥ＿ＴＥ信号をＴＥ信号に含まれる迷光成分としてＴＥ信号の補正に用いて補正ＴＥ信号を生成し、補正ＴＥ信号を用いてトラッキング制御を実施する構成にすればよい。
【０１４０】
以上の構成にすることで、ＳＩＬを用いた光ディスク装置において、光ディスク１０８にカバー層が存在する場合、ＴＥ信号から迷光成分によるオフセットを除去することによりＴＥ信号が補正され、補正ＴＥ信号を用いてトラッキング制御が可能となる。そのため、精度良く安定したトラッキング制御が可能となり、その結果、光ディスク装置の記録性能及び再生性能の向上が実現できる。
【０１４１】
なお、実施の形態１及び２の光ディスク装置では、ＳＩＬから出射される光によって、光ディスク１０８に情報を記録及び／又は再生しても良い。
【０１４２】
もしくは、上記の実施の形態１及び２の光ディスク装置は、光ディスクに情報を記録及び／又は再生するための近接場光発生素子を備えた記録再生部を備える記録／再生装置に適用してもよい。
【０１４３】
この近接場光発生素子は、例えば、全体が収束光のスポットよりも大きく、かつ細長く形成されている構成の金属プレートであっても良い。金属プレートは、例えば、金属プレート内部の一部に開けられた微小穴と、その穴の一部が尖った突起部とを有する形状である。金属プレートの材料としては、使用する光ビームの波長に合わせて金属プレートとプラズモン共鳴するような材料を選ぶことが好ましい。金属プレートの材料は、例えば、金（Ａｕ）などでも良い。
【０１４４】
近接場光発生素子に光ビームが集光されると、プラズモン共鳴によって、近接場光が発生する。そして、この近接場光を光ディスクに照射することで、光ディスクに情報を記録及び／又は再生することが可能となる。
【０１４５】
このような、近接場光発生素子を備えた記録再生部を備え、記録再生部により情報を記録及び／又は再生する記録／再生装置において、上述した実施の形態１及び２の光ディスク装置を、ギャップ制御、トラッキング制御又はフォーカス制御のために別途用いても良い。
【０１４６】
これにより、迷光を補正した補正制御信号を用いて情報層上の光ビームスポットの位置制御が可能となる。このため、制御の安定性が向上し、近接場光発生素子を備えた記録再生部による記録性能及び再生性能の向上が実現できる。
【０１４７】
なお、上述した具体的実施形態には以下の構成を有する発明が主に含まれている。
【０１４８】
本発明の一局面に係る光ディスク装置は、光ビームを出射する光源と、情報担体の表面に近接して配置され、前記光源から出射された光ビームから生成した近接場光を前記情報担体に集光する集光光学系と、前記光ビームを前記情報担体の所定の情報層にフォーカスさせるフォーカス部と、前記集光光学系の出射端面によって反射された反射光を受光する第１の受光部と、前記第１の受光部からの信号に基づき、前記集光光学系と前記情報担体の表面との間の距離を制御するギャップ制御部と、前記所定の情報層からの反射光を複数に分割された受光領域で受光する第２の受光部と、前記第２の受光部からの信号に基づき、前記光ビームの焦点と前記所定の情報層における情報を記録又は再生する点との位置ずれを検出する位置ずれ検出部と、前記第１の受光部からの信号に基づき、前記位置ずれ検出部からの信号に含まれ、前記情報担体の表面からの反射光である表面迷光成分を検出する迷光検出部とを備え、前記位置ずれ検出部は、前記迷光検出部によって検出された前記表面迷光成分に基づいて、前記位置ずれ検出部から出力する信号を補正する迷光補正部を有する。
【０１４９】
この構成によれば、光源は、光ビームを出射する。集光光学系は、情報担体の表面に近接して配置され、光源から出射された光ビームから生成した近接場光を情報担体に集光する。フォーカス部は、光ビームを情報担体の所定の情報層にフォーカスさせる。第１の受光部は、集光光学系の出射端面によって反射された反射光を受光する。ギャップ制御部は、第１の受光部からの信号に基づき、集光光学系と情報担体の表面との間の距離を制御する。第２の受光部は、所定の情報層からの反射光を複数に分割された受光領域で受光する。位置ずれ検出部は、第２の受光部からの信号に基づき、光ビームの焦点と所定の情報層における情報を記録又は再生する点との位置ずれを検出する。迷光検出部は、第１の受光部からの信号に基づき、位置ずれ検出部からの信号に含まれ、情報担体の表面からの反射光である表面迷光成分を検出する。迷光検出部は、第１の受光部からの信号に基づいて表面迷光成分を検出する。位置ずれ検出部の迷光補正部は、迷光検出部によって検出された表面迷光成分に基づいて、位置ずれ検出部から出力する信号を補正する。
【０１５０】
したがって、表面迷光成分に基づいて、位置ずれ検出部から出力する信号が補正され、補正された信号を用いて光ビームの焦点と所定の情報層における情報を記録又は再生する点との位置が制御されるので、情報層の反射率変化、及び記録又は再生時の光ビーム照射パワーの変化があっても検出ゲインが一定に保たれ、安定したフォーカス制御又はトラッキング制御を実現することができる。
【０１５１】
また、上記の光ディスク装置において、前記位置ずれ検出部は、前記第２の受光部からの複数の信号を加算する加算部と、前記第２の受光部からの複数の信号を演算して焦点方向位置ずれ信号又はトラック方向位置ずれ信号を生成する位置ずれ信号生成部と、前記位置ずれ信号生成部からの焦点方向位置ずれ信号又はトラック方向位置ずれ信号を前記迷光補正部からの信号で除算することにより正規化信号を生成する正規化部とをさらに有し、前記迷光補正部は、前記迷光検出部によって検出された前記表面迷光成分に基づいて、前記加算部からの信号を補正し、補正した信号を前記正規化部へ出力することが好ましい。
【０１５２】
この構成によれば、加算部は、第２の受光部からの複数の信号を加算する。位置ずれ信号生成部は、第２の受光部からの複数の信号を演算して焦点方向位置ずれ信号又はトラック方向位置ずれ信号を生成する。正規化部は、位置ずれ信号生成部からの焦点方向位置ずれ信号又はトラック方向位置ずれ信号を迷光補正部からの信号で除算することにより正規化信号を生成する。迷光補正部は、迷光検出部によって検出された表面迷光成分に基づいて、加算部からの信号を補正し、補正した信号を正規化部へ出力する。
【０１５３】
したがって、迷光検出部によって検出された表面迷光成分に基づいて、加算部からの信号が補正され、補正された信号で焦点方向位置ずれ信号又はトラック方向位置ずれ信号を除算することにより正規化された正規化信号を用いてフォーカス制御又はトラッキング制御を行うことができる。
【０１５４】
また、上記の光ディスク装置において、前記迷光検出部は、前記第１の受光部からの信号出力を所定の関数に入力することにより前記表面迷光成分を算出することが好ましい。
【０１５５】
この構成によれば、第１の受光部からの信号出力を所定の関数に入力することにより表面迷光成分が算出されるので、表面迷光成分を容易に算出することができる。
【０１５６】
また、上記の光ディスク装置において、前記所定の関数は、前記第１の受光部からの信号出力を前記表面迷光成分に近似する１次関数であることが好ましい。
【０１５７】
この構成によれば、所定の関数は、第１の受光部からの信号出力を表面迷光成分に近似する１次関数であるので、第１の受光部からの信号出力に所定のゲイン値を乗算するとともに、所定のオフセット値を加算することにより、表面迷光成分を容易に算出することができる。
【０１５８】
また、上記の光ディスク装置において、前記情報担体の情報層は、情報層に照射された光ビームを反射しない透過領域を有し、前記光ディスク装置は、前記所定の関数を推定する関数推定部をさらに備え、前記関数推定部は、前記ギャップ制御部の制御目標であるギャップレベルを複数設定し、各ギャップレベル設定時に光ビームが前記透過領域を通過する際に得られる前記加算部からの信号レベルと前記設定した各ギャップレベルとに基づいて前記所定の関数を推定することが好ましい。
【０１５９】
この構成によれば、情報担体の情報層は、情報層に照射された光ビームを反射しない透過領域を有している。関数推定部は、ギャップ制御部の制御目標であるギャップレベルを複数設定し、各ギャップレベル設定時に光ビームが透過領域を通過する際に得られる加算部からの信号レベルと設定した各ギャップレベルとに基づいて所定の関数を推定する。
【０１６０】
したがって、光ディスク装置が使用する部品のばらつき、光ディスク装置の調整工程のばらつき、及び情報担体のカバー層に使用する材質のばらつき等、表面迷光成分を決定するための光学パラメータが設計値から変化しても、情報担体の情報層に設けられた透過領域を用いて、表面迷光成分を算出するための最適な関数が推定されるので、精度良く表面迷光成分を算出することができる。
【０１６１】
また、上記の光ディスク装置において、前記第１の受光部は、前記第２の受光部と同じ複数に分割された受光領域を有し、前記位置ずれ検出部は、前記第２の受光部からの複数の信号を演算して焦点方向位置ずれ信号又はトラック方向位置ずれ信号を生成する位置ずれ信号生成部をさらに有し、前記光ディスク装置は、前記第１の受光部からの複数の信号に対し、前記位置ずれ信号生成部と同じ演算を行う演算部をさらに備え、前記迷光検出部は、前記演算部からの信号に基づいて前記表面迷光成分を検出し、前記迷光補正部は、前記迷光検出部によって検出された前記表面迷光成分に基づいて、前記位置ずれ信号生成部から出力する信号を補正することが好ましい。
【０１６２】
この構成によれば、第１の受光部は、第２の受光部と同じ複数に分割された受光領域を有している。位置ずれ検出部の位置ずれ信号生成部は、第２の受光部からの複数の信号を演算して焦点方向位置ずれ信号又はトラック方向位置ずれ信号を生成する。演算部は、第１の受光部からの複数の信号に対し、位置ずれ信号生成部と同じ演算を行う。迷光検出部は、演算部からの信号に基づいて表面迷光成分を検出する。迷光補正部は、迷光検出部によって検出された表面迷光成分に基づいて、位置ずれ信号生成部から出力する信号を補正する。
【０１６３】
したがって、演算部によって、第１の受光部からの複数の信号に対し、位置ずれ信号生成部と同じ演算が行われ、演算部からの信号に基づいて表面迷光成分が検出され、検出された表面迷光成分に基づいて、位置ずれ信号生成部から出力する信号が補正されるので、迷光成分に基づいて補正された信号を用いて、光ビームの焦点と所定の情報層における情報を記録又は再生する点との位置が制御されるので、情報層の反射率変化、及び記録又は再生時の光ビーム照射パワーの変化があっても検出ゲインが一定に保たれ、安定したフォーカス制御又はトラッキング制御を実現することができる。
【０１６４】
また、上記の光ディスク装置において、前記迷光検出部は、前記演算部からの信号出力を所定の関数に入力することにより前記表面迷光成分を算出することが好ましい。
【０１６５】
この構成によれば、演算部からの信号出力を所定の関数に入力することにより表面迷光成分が算出されるので、表面迷光成分を容易に算出することができる。
【０１６６】
また、上記の光ディスク装置において、前記所定の関数は、前記演算部からの信号出力を前記表面迷光成分に近似する１次関数であることが好ましい。
【０１６７】
この構成によれば、所定の関数は、演算部からの信号出力を表面迷光成分に近似する１次関数であるので、演算部からの信号出力に所定のゲイン値を乗算するとともに、所定のオフセット値を加算することにより、表面迷光成分を容易に算出することができる。
【０１６８】
また、上記の光ディスク装置において、前記光ディスク装置は、前記情報層に記録された情報を再生した再生信号の信号品質を測定する再生信号品質測定部と、前記１次関数における前記演算部からの信号出力に対する係数を推定する係数推定部とをさらに備え、前記係数推定部は、前記係数の候補となる複数の候補係数を前記迷光検出部に設定し、設定した各候補係数と、各候補係数設定時に得られる前記再生信号品質測定部からの測定結果との組み合わせに基づいて、最適な前記係数を算出することが好ましい。
【０１６９】
この構成によれば、再生信号品質測定部は、情報層に記録された情報を再生した再生信号の信号品質を測定する。係数推定部は、１次関数における演算部からの信号出力に対する係数を推定する。係数推定部は、係数の候補となる複数の候補係数を迷光検出部に設定し、設定した各候補係数と、各候補係数設定時に得られる再生信号品質測定部からの測定結果との組み合わせに基づいて、最適な係数を算出する。
【０１７０】
したがって、光ディスク装置が使用する部品のばらつき、光ディスク装置の調整工程のばらつき、及び情報担体のカバー層に使用する材質のばらつき等、表面迷光成分を決定するための光学パラメータが設計値から変化しても、情報担体の情報層に記録された情報を再生した際の再生信号の信号品質の測定結果を用いて、表面迷光成分を算出するための最適な係数が推定されるので、精度良く表面迷光成分を算出することができる。
【０１７１】
なお、発明を実施するための形態の項においてなされた具体的な実施態様又は実施例は、あくまでも、本発明の技術内容を明らかにするものであって、そのような具体例にのみ限定して狭義に解釈されるべきものではなく、本発明の精神と特許請求事項との範囲内で、種々変更して実施することができるものである。
【産業上の利用可能性】
【０１７２】
本発明に係る光ディスク装置は、特に開口数が１を超えるようなＳＩＬを用いてカバー層を有する光ディスクに情報を記録又は再生する光ディスク装置であり、迷光を補正した信号を用いてフォーカスエラー信号又はトラッキングエラー信号を正しく正規化し、正規化後のフォーカスエラー信号又はトラッキングエラー信号を用いてフォーカス制御又はトラッキング制御を行うので、安定したフォーカス性能又はトラッキング性能を有し、大容量の光ディスクレコーダ又はコンピュータ用メモリ装置等に有用である。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【国際調査報告】
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2012063485.tif 000021
2012063485.tif 000022
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