(57)【要約】  組成が一定のレベル以上に均一である大型で薄いガラス板を提供する。  ガラス板から切り取った所定の撮影対象ガラス板の側面のストリエ画像を撮影し、そのストリエ画像を列方向に分割し、コントラストを補正し、各分割領域内における撮影対象ガラス板のエッジ部分のｙ座標が揃うように分割領域をｙ軸方向にずらす。そして、各画素を選択し、選択した画素の両側に存在する所定の複数組の画素の画素値の差分の平均値である差分平均値を計算し、その差分平均値の自乗平均を画素列毎に計算し、さらに、画素列毎の自乗平均の平均値を計算する。このとき、所定の複数組の画素の定め方を変化させ、同様の計算を行う。そして、各計算結果により得た値に対して重み係数を乗算し、その乗算結果の和を計算する。本発明のガラス板は、この計算結果が、予め定められた閾値未満となっているものである。
2012081398.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
厚さが０．０５〜０．７ｍｍであり、長辺の長さが１８００ｍｍ以上であり、短辺の長さが１５００ｍｍ以上である矩形のガラス板であって、
当該ガラス板から筋目方向の幅を１．２ｃｍとしてストリエ画像の撮影対象ガラス板を切り取り、
前記撮影対象ガラス板の筋目方向に直交する側面のストリエ画像であって、当該側面の各箇所からカメラに向けて入射した光の光量と、前記各箇所に対応する画素の画素値が線形となるストリエ画像を撮影し、
前記ストリエ画像を列方向に分割し、
前記ストリエ画像内の画素値の最大値をＭＡＸとし、最小値をＭＩＮとし、前記ストリエ画像の個々の画素の画素値をｕとし、新たな画素値をｖとしたときに、前記ストリエ画像内の画素毎に式（１）の計算を行ってｖを算出し、各画素の画素値をｖに設定し直し、
前記ストリエ画像を列方向に分割して得られた各分割領域内の撮影対象ガラス板のエッジ部分のｙ座標が揃うように、各分割領域をｙ方向にずらし、
前記撮影対象ガラス板でｋｍｍに相当する前記ストリエ画像内での画素の座標間の距離をａｋとした場合に、２・ｋ＝１０ｍｍ，２０ｍｍ，３０ｍｍ，４０ｍｍ，５０ｍｍ，６０ｍｍ，７０ｍｍとするそれぞれの場合に関して、分割領域をずらした後のストリエ画像で、前記撮影対象ガラス板を表す領域の画素を順次、選択し、任意の座標（Ｘ、Ｙ）の画素値をＣ（Ｘ，Ｙ）と表し、選択した画素の座標を（ｘ，ｙ）と表し、前記選択した画素の両側に存在する所定の複数組の画素の画素値の差分の平均値である差分平均値をＴ２・ｋと表したときに、式（２）の計算を行うことにより、選択した画素に関する差分平均値Ｔ２・ｋを計算し、
２・ｋ＝１０ｍｍ，２０ｍｍ，３０ｍｍ，４０ｍｍ，５０ｍｍ，６０ｍｍ，７０ｍｍとするそれぞれの場合に関して、画素毎に計算した差分平均値Ｔ２・ｋの自乗平均を画素列毎に計算し、画素列毎に計算した前記自乗平均の平均値を計算し、
２・ｋ＝１０ｍｍの場合に計算した前記自乗平均の平均値をｐ１とし、２・ｋ＝２０ｍｍの場合に計算した前記自乗平均の平均値をｐ２とし、２・ｋ＝３０ｍｍの場合に計算した前記自乗平均の平均値をｐ３とし、２・ｋ＝４０ｍｍの場合に計算した前記自乗平均の平均値をｐ４とし、２・ｋ＝５０ｍｍの場合に計算した前記自乗平均の平均値をｐ５とし、２・ｋ＝６０ｍｍの場合に計算した前記自乗平均の平均値をｐ６とし、２・ｋ＝７０ｍｍの場合に計算した前記自乗平均の平均値をｐ７としたときに、式（３）の計算によって得られる評価値ｐが６未満である
ことを特徴とするガラス板。
ｖ＝ｕ×２５５／（ＭＡＸ−ＭＩＮ）            ・・・式（１）
Ｔ２・ｋ＝｛Ｃ（ｘ−ａｋ，ｙ−２）＋Ｃ（ｘ−ａｋ，ｙ−１）＋Ｃ（ｘ−ａｋ，ｙ）＋Ｃ（ｘ−ａｋ，ｙ＋１）＋Ｃ（ｘ−ａｋ，ｙ＋２）−Ｃ（ｘ＋ａｋ，ｙ−２）−Ｃ（ｘ＋ａｋ，ｙ−１）−Ｃ（ｘ＋ａｋ，ｙ）−Ｃ（ｘ＋ａｋ，ｙ＋１）−Ｃ（ｘ＋ａｋ，ｙ＋２）｝／５      ・・・式（２）
ｐ＝０．０４５×ｐ１＋０．０５６×ｐ２＋０．０５７×ｐ３＋０．０６４×ｐ４＋０．０６２×ｐ５＋０．０７４×ｐ６＋０．０８８×ｐ７  ・・・式（３）
【請求項２】
式（３）の計算によって得られる評価値ｐが４未満である請求項１に記載のガラス板。
【請求項３】
ガラス板の組成の均一性を検査するガラス板の検査方法であって、
検査対象となるガラス板を採板したガラスリボンから筋目方向の幅を１．２ｃｍとしてストリエ画像の撮影対象ガラス板を採板し、
前記撮影対象ガラス板の筋目方向に直交する側面のストリエ画像であって、当該側面の各箇所からカメラに向けて入射した光の光量と、前記各箇所に対応する画素の画素値が線形となるストリエ画像を撮影し、
前記ストリエ画像を列方向に分割し、
前記ストリエ画像内の画素値の最大値をＭＡＸとし、最小値をＭＩＮとし、前記ストリエ画像の個々の画素の画素値をｕとし、新たな画素値をｖとしたときに、前記ストリエ画像内の画素毎に式（１）の計算を行ってｖを算出し、各画素の画素値をｖに設定し直し、
前記ストリエ画像を列方向に分割して得られた各分割領域内の撮影対象ガラス板のエッジ部分のｙ座標が揃うように、各分割領域をｙ方向にずらし、
前記撮影対象ガラス板でｋｍｍに相当する前記ストリエ画像内での画素の座標間の距離をａｋとした場合に、２・ｋ＝１０ｍｍ，２０ｍｍ，３０ｍｍ，４０ｍｍ，５０ｍｍ，６０ｍｍ，７０ｍｍとするそれぞれの場合に関して、分割領域をずらした後のストリエ画像で、前記撮影対象ガラス板を表す領域の画素を順次、選択し、任意の座標（Ｘ、Ｙ）の画素値をＣ（Ｘ，Ｙ）と表し、選択した画素の座標を（ｘ，ｙ）と表し、前記選択した画素の両側に存在する所定の複数組の画素の画素値の差分の平均値である差分平均値をＴ２・ｋと表したときに、式（２）の計算を行うことにより、選択した画素に関する差分平均値Ｔ２・ｋを計算し、
２・ｋ＝１０ｍｍ，２０ｍｍ，３０ｍｍ，４０ｍｍ，５０ｍｍ，６０ｍｍ，７０ｍｍとするそれぞれの場合に関して、画素毎に計算した差分平均値Ｔ２・ｋの自乗平均を画素列毎に計算し、画素列毎に計算した前記自乗平均の平均値を計算し、
２・ｋ＝１０ｍｍの場合に計算した前記自乗平均の平均値をｐ１とし、２・ｋ＝２０ｍｍの場合に計算した前記自乗平均の平均値をｐ２とし、２・ｋ＝３０ｍｍの場合に計算した前記自乗平均の平均値をｐ３とし、２・ｋ＝４０ｍｍの場合に計算した前記自乗平均の平均値をｐ４とし、２・ｋ＝５０ｍｍの場合に計算した前記自乗平均の平均値をｐ５とし、２・ｋ＝６０ｍｍの場合に計算した前記自乗平均の平均値をｐ６とし、２・ｋ＝７０ｍｍの場合に計算した前記自乗平均の平均値をｐ７としたときに、式（３）の計算によって評価値ｐを算出し、
前記評価値ｐが、予め定められた閾値未満であるか否かを判定し、
前記評価値ｐが前記閾値未満である場合に、前記ガラスリボンにおける前記撮影対象ガラス板の切り取り箇所を中心とする所定の範囲内から採板したガラス板を、組成の均一性が所定レベルに達しているガラス板であると判定する
ことを特徴とするガラス板の検査方法。
ｖ＝ｕ×２５５／（ＭＡＸ−ＭＩＮ）            ・・・式（１）
Ｔ２・ｋ＝｛Ｃ（ｘ−ａｋ，ｙ−２）＋Ｃ（ｘ−ａｋ，ｙ−１）＋Ｃ（ｘ−ａｋ，ｙ）＋Ｃ（ｘ−ａｋ，ｙ＋１）＋Ｃ（ｘ−ａｋ，ｙ＋２）−Ｃ（ｘ＋ａｋ，ｙ−２）−Ｃ（ｘ＋ａｋ，ｙ−１）−Ｃ（ｘ＋ａｋ，ｙ）−Ｃ（ｘ＋ａｋ，ｙ＋１）−Ｃ（ｘ＋ａｋ，ｙ＋２）｝／５    ・・・式（２）
ｐ＝０．０４５×ｐ１＋０．０５６×ｐ２＋０．０５７×ｐ３＋０．０６４×ｐ４＋０．０６２×ｐ５＋０．０７４×ｐ６＋０．０８８×ｐ７  ・・・式（３）
【請求項４】
請求項３に記載のガラス板の検査方法で算出される評価値ｐを参照してガラス板を製造するガラス板の製造方法であって、
前記評価値ｐが、予め定められた閾値以上である場合に、
前記評価値ｐが前記閾値以上となったガラス板の製造時よりも、
ガラス原料であるカレットの粒度の均一性を高めること、溶解したガラスを攪拌するスターラの単位時間当たりの回転数を多くすること、底素地排出量を増やすこと、および上素地排出量を増やすことのうちの少なくとも１つを行うことにより、評価値ｐが前記閾値未満となるガラス板を製造する
ことを特徴とするガラス板の製造方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ガラス板、ガラス板の検査方法、およびガラス板の製造方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
ガラス板における組成上の不均一性を可視化した画像では、輝度の濃淡が縞状に観察される。このように、ガラス板における組成上の不均一性を可視化した画像をストリエ（stria ）画像と呼ぶ。ストリエ画像の撮影方法として、例えば、シュリーレン法がある。【０００３】
また、特許文献１には、シュリーレン法による板ガラスの検査方法が記載されている。特許文献１に記載された検査方法では、板ガラスを透過した平行光を、レンズを用いてスクリーンに拡大して投射する。そして、像をいくつかに分割して、ＣＣＤカメラで撮影する。ＣＣＤカメラで撮影した像に関して、画像処理機が、板ガラスのエッジを認識し、像の外形形状の形状処理を行う。そして、パーソナルコンピュータが、元の１枚の板ガラスの明暗のデータとして、連続したデータにまとめる。【０００４】
また、特許文献２には、ストリエーションが低減された極紫外光光学素子が記載されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】日本国特開２００１−１４１６５３号公報（段落０００９−００１９）
【特許文献２】日本国特表２００５−５１９３４９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
ストリエ画像において縞模様（ストリエ）が顕著に観察されるガラス板は、ガラス板の組成が不均一であると考えられ、品質上好ましくない。特に、ストリエ画像においてガラス板の厚み方向に沿った縞模様（ストリエ）が観察されるガラス板は、光が透過する位置によって組成にむらがあり、屈折率分布にむらがあることになるため、好ましくない。例えば、このような屈折率分布にむらがあるガラス板を液晶表示装置用の基板として用いた場合、屈折率分布のむらは、液晶表示装置における色むらの原因になってしまう。【０００７】
また、近年、ガラス板に対して、面積が大きく、かつ薄いことが要求されることも多くなってきた。【０００８】
そこで、本発明は、組成が一定のレベル以上に均一である大型で薄いガラス板を提供することを目的とする。【０００９】
また、本発明は、ガラスの組成が一定のレベル以上に均一であるガラス板を選別することができるガラス板の検査方法を提供することを目的とする。【００１０】
また、ガラスの組成の均一性を向上させることができるガラス板の製造方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
本発明によるガラス板は、厚さが０．０５〜０．７ｍｍであり、長辺の長さが１８００ｍｍ以上であり、短辺の長さが１５００ｍｍ以上である矩形のガラス板であって、当該ガラス板から筋目方向の幅を１．２ｃｍとしてストリエ画像の撮影対象ガラス板を切り取り、撮影対象ガラス板の筋目方向に直交する側面のストリエ画像であって、当該側面の各箇所からカメラに向けて入射した光の光量と、各箇所に対応する画素の画素値が線形となるストリエ画像を撮影し、ストリエ画像を列方向に分割し、ストリエ画像内の画素値の最大値をＭＡＸとし、最小値をＭＩＮとし、ストリエ画像の個々の画素の画素値をｕとし、新たな画素値をｖとしたときに、ストリエ画像内の画素毎に式（１）の計算を行ってｖを算出し、各画素の画素値をｖに設定し直し、ストリエ画像を列方向に分割して得られた各分割領域内の撮影対象ガラス板のエッジ部分のｙ座標が揃うように、各分割領域をｙ方向にずらし、撮影対象ガラス板でｋｍｍに相当するストリエ画像内での画素の座標間の距離をａｋとした場合に、２・ｋ＝１０ｍｍ，２０ｍｍ，３０ｍｍ，４０ｍｍ，５０ｍｍ，６０ｍｍ，７０ｍｍとするそれぞれの場合に関して、分割領域をずらした後のストリエ画像で、撮影対象ガラス板を表す領域の画素を順次、選択し、任意の座標（Ｘ、Ｙ）の画素値をＣ（Ｘ，Ｙ）と表し、選択した画素の座標を（ｘ，ｙ）と表し、選択した画素の両側に存在する所定の複数組の画素の画素値の差分の平均値である差分平均値をＴ２・ｋと表したときに、式（２）の計算を行うことにより、選択した画素に関する差分平均値Ｔ２・ｋを計算し、２・ｋ＝１０ｍｍ，２０ｍｍ，３０ｍｍ，４０ｍｍ，５０ｍｍ，６０ｍｍ，７０ｍｍとするそれぞれの場合に関して、画素毎に計算した差分平均値Ｔ２・ｋの自乗平均を画素列毎に計算し、画素列毎に計算した自乗平均の平均値を計算し、２・ｋ＝１０ｍｍの場合に計算した自乗平均の平均値をｐ１とし、２・ｋ＝２０ｍｍの場合に計算した自乗平均の平均値をｐ２とし、２・ｋ＝３０ｍｍの場合に計算した自乗平均の平均値をｐ３とし、２・ｋ＝４０ｍｍの場合に計算した自乗平均の平均値をｐ４とし、２・ｋ＝５０ｍｍの場合に計算した自乗平均の平均値をｐ５とし、２・ｋ＝６０ｍｍの場合に計算した自乗平均の平均値をｐ６とし、２・ｋ＝７０ｍｍの場合に計算した自乗平均の平均値をｐ７としたときに、式（３）の計算によって得られる評価値ｐが６未満であることを特徴とする。
ｖ＝ｕ×２５５／（ＭＡＸ−ＭＩＮ）            ・・・式（１）
Ｔ２・ｋ＝｛Ｃ（ｘ−ａｋ，ｙ−２）＋Ｃ（ｘ−ａｋ，ｙ−１）＋Ｃ（ｘ−ａｋ，ｙ）＋Ｃ（ｘ−ａｋ，ｙ＋１）＋Ｃ（ｘ−ａｋ，ｙ＋２）−Ｃ（ｘ＋ａｋ，ｙ−２）−Ｃ（ｘ＋ａｋ，ｙ−１）−Ｃ（ｘ＋ａｋ，ｙ）−Ｃ（ｘ＋ａｋ，ｙ＋１）−Ｃ（ｘ＋ａｋ，ｙ＋２）｝／５        ・・・式（２）
ｐ＝０．０４５×ｐ１＋０．０５６×ｐ２＋０．０５７×ｐ３＋０．０６４×ｐ４０．０６２×ｐ５＋０．０７４×ｐ６＋０．０８８×ｐ７    ・・・式（３）【００１２】
また、式（３）の計算によって得られる評価値ｐが４未満であってもよい。【００１３】
本発明によるガラス板の検査方法は、ガラス板の組成の均一性を検査するガラス板の検査方法であって、検査対象となるガラス板を採板したガラスリボンから筋目方向の幅を１．２ｃｍとしてストリエ画像の撮影対象ガラス板を採板し、撮影対象ガラス板の筋目方向に直交する側面のストリエ画像であって、当該側面の各箇所からカメラに向けて入射した光の光量と、各箇所に対応する画素の画素値が線形となるストリエ画像を撮影し、ストリエ画像を列方向に分割し、ストリエ画像内の画素値の最大値をＭＡＸとし、最小値をＭＩＮとし、ストリエ画像の個々の画素の画素値をｕとし、新たな画素値をｖとしたときに、ストリエ画像内の画素毎に式（１）の計算を行ってｖを算出し、各画素の画素値をｖに設定し直し、ストリエ画像を列方向に分割して得られた各分割領域内の撮影対象ガラス板のエッジ部分のｙ座標が揃うように、各分割領域をｙ方向にずらし、撮影対象ガラス板でｋｍｍに相当するストリエ画像内での画素の座標間の距離をａｋとした場合に、２・ｋ＝１０ｍｍ，２０ｍｍ，３０ｍｍ，４０ｍｍ，５０ｍｍ，６０ｍｍ，７０ｍｍとするそれぞれの場合に関して、分割領域をずらした後のストリエ画像で、撮影対象ガラス板を表す領域の画素を順次、選択し、任意の座標（Ｘ、Ｙ）の画素値をＣ（Ｘ，Ｙ）と表し、選択した画素の座標を（ｘ，ｙ）と表し、選択した画素の両側に存在する所定の複数組の画素の画素値の差分の平均値である差分平均値をＴ２・ｋと表したときに、式（２）の計算を行うことにより、選択した画素に関する差分平均値Ｔ２・ｋを計算し、２・ｋ＝１０ｍｍ，２０ｍｍ，３０ｍｍ，４０ｍｍ，５０ｍｍ，６０ｍｍ，７０ｍｍとするそれぞれの場合に関して、画素毎に計算した差分平均値Ｔ２・ｋの自乗平均を画素列毎に計算し、画素列毎に計算した自乗平均の平均値を計算し、２・ｋ＝１０ｍｍの場合に計算した自乗平均の平均値をｐ１とし、２・ｋ＝２０ｍｍの場合に計算した自乗平均の平均値をｐ２とし、２・ｋ＝３０ｍｍの場合に計算した自乗平均の平均値をｐ３とし、２・ｋ＝４０ｍｍの場合に計算した自乗平均の平均値をｐ４とし、２・ｋ＝５０ｍｍの場合に計算した自乗平均の平均値をｐ５とし、２・ｋ＝６０ｍｍの場合に計算した自乗平均の平均値をｐ６とし、２・ｋ＝７０ｍｍの場合に計算した自乗平均の平均値をｐ７としたときに、式（３）の計算によって評価値ｐを算出し、評価値ｐが、予め定められた閾値未満であるか否かを判定し、評価値ｐが閾値未満である場合に、ガラスリボンにおける撮影対象ガラス板の切り取り箇所を中心とする所定の範囲内から採板したガラス板を、組成の均一性が所定レベルに達しているガラス板であると判定することを特徴とする。
ｖ＝ｕ×２５５／（ＭＡＸ−ＭＩＮ）            ・・・式（１）
Ｔ２・ｋ＝｛Ｃ（ｘ−ａｋ，ｙ−２）＋Ｃ（ｘ−ａｋ，ｙ−１）＋Ｃ（ｘ−ａｋ，ｙ）＋Ｃ（ｘ−ａｋ，ｙ＋１）＋Ｃ（ｘ−ａｋ，ｙ＋２）−Ｃ（ｘ＋ａｋ，ｙ−２）−Ｃ（ｘ＋ａｋ，ｙ−１）−Ｃ（ｘ＋ａｋ，ｙ）−Ｃ（ｘ＋ａｋ，ｙ＋１）−Ｃ（ｘ＋ａｋ，ｙ＋２）｝／５        ・・・式（２）
ｐ＝０．０４５×ｐ１＋０．０５６×ｐ２＋０．０５７×ｐ３＋０．０６４×ｐ４＋０．０６２×ｐ５＋０．０７４×ｐ６＋０．０８８×ｐ７  ・・・式（３）【００１４】
本発明によるガラス板の製造方法は、上記のガラス板の検査方法で算出される評価値ｐを参照してガラス板を製造するガラス板の製造方法であって、評価値ｐが、予め定められた閾値以上である場合に、評価値ｐが閾値以上となったガラス板の製造時よりも、ガラス原料であるカレットの粒度の均一性を高めること、溶解したガラスを攪拌するスターラの単位時間当たりの回転数を多くすること、底素地排出量を増やすこと、および上素地排出量を増やすことのうちの少なくとも１つを行うことにより、評価値ｐが閾値未満となるガラス板を製造することを特徴とする。
【発明の効果】
【００１５】
本発明によれば、組成が一定のレベル以上に均一である大型で薄いガラス板を提供ことができる。また、ガラスの組成が一定のレベル以上に均一であるガラス板を選別することができる。また、本発明のガラス板の製造方法によれば、ガラス板のガラスの組成の均一性を向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
【００１６】
【図１】本発明のガラス板の大きさを示す説明図。
【図２】ガラス板の検査装置の構成例を示すブロック図。
【図３】ガラスリボンからガラス板および撮影対象ガラス板を採板する例を示す説明図。
【図４】ガラスリボンの進行方向に沿ってガラス板を複数枚ずつ採板する例を示す説明図。
【図５】ガラスリボンの全幅から切り取る個々の撮影対象ガラス板の大きさを示す説明図。
【図６】評価値算出の処理経過の例を示すフローチャート。
【図７】撮影対象ガラス板におけるストリエ画像の撮影方向を示す説明図。
【図８Ａ】ステップＳ１で得られるストリエ画像の全体の領域を示す模式図。
【図８Ｂ】図８Ａに示すストリエ画像を分割した状態を示す模式図。
【図９】ストリエ画像内に現れるガラス板のエッジ部分を模式的に示す説明図。
【図１０】ステップＳ４の処理を行った結果の例を示す説明図。
【図１１】差分平均値を計算するときに用いる画素を示す説明図。
【図１２Ａ】ピッチが１０ｍｍである場合において画素列毎に計算された差分平均値の自乗平均の計算結果の例を示すグラフ。
【図１２Ｂ】ピッチが２０ｍｍである場合において画素列毎に計算された差分平均値の自乗平均の計算結果の例を示すグラフ。
【図１２Ｃ】ピッチが７０ｍｍである場合において画素列毎に計算された差分平均値の自乗平均の計算結果の例を示すグラフ。
【図１２Ｄ】図１２Ａ、図１２Ｂおよび図１２Ｃの計算結果の元となるストリエ画像を模式的に示した模式図。
【図１３】ガラスリボン製造装置におけるガラス溶解槽および搬送管を模式的に示す模式図。
【図１４】搬送管内のスターラを示す説明図。
【図１５】各実施例におけるガラス板の採板態様を示す説明図。
【図１６】比較例で製造したガラスリボンの全幅分のストリエ画像。
【発明を実施するための形態】
【００１７】
以下、本発明の実施の形態を図面を参照して説明する。
図１は、本発明のガラス板の大きさを示す説明図である。図１の上段に示す図は、本発明のガラス板の上面図であり、図１の下段に示す図は、本発明のガラス板の側面図である。図１の上段に示すように、本発明のガラス板１は、長辺の長さが１８００ｍｍ以上であり、短辺の長さが１５００ｍｍ以上の矩形のガラス板である。また、図１の下段に示すように、本発明のガラス板１の厚さは、０．０５ｍｍ以上０．７ｍｍ以下である。ただし、ガラス板１の厚さは、例えば、０．１ｍｍ以上であってもよく、また、例えば、０．３ｍｍ以上であってもよい。本発明のガラス板１の厚さの上限は０．７ｍｍである。
【００１８】
また、本発明のガラス板１は、組成の均一性が所定の基準を満たすガラス板である。具体的には、ガラス板１は、筋目方向に沿った幅が１．２ｃｍとなる撮影対象ガラス板をガラス板１から切り取って、その撮影対象ガラス板の筋目方向に直交する側面のストリエ画像を撮影した場合に、厚み方向（縦方向）のストリエの顕著さを示す評価値が所定値（すなわち、予め定めた閾値）未満となっているガラス板である。以下、この厚み方向のストリエの顕著さを示す評価値を、単に評価値と記す。評価値が高いほど、厚み方向のストリエが顕著に現れていて、撮影対象ガラス板の組成が不均一であることになる。また、評価値が低いほど、厚み方向のストリエが目立たず、撮影対象ガラス板の組成が均一であることになる。そして、撮影対象ガラス板の組成の均一さは、ガラス板１と同じであるので、評価値が示す撮影対象ガラス板の組成の均一性の程度は、ガラス板１自体の組成の均一性の程度を示している。
【００１９】
なお、筋目および筋目方向に関しては後述する。
【００２０】
図２は、撮影対象ガラス板の評価値を算出するガラス板の検査装置の構成例を示すブロック図である。検査装置は、画像撮影手段５と、画像解析手段６とを備える。画像撮影手段５および画像解析手段６がそれぞれ独立した装置であってもよい。
【００２１】
画像撮影手段５は、撮影対象ガラス板の側面のストリエ画像を撮影するカメラである。画像撮影手段５は、レンズを有し、被写体となる撮影対象ガラス板の側面からレンズに向かって入射した光によって、ストリエ画像を撮影する。画像撮影手段５は、例えば、シュリーレン法によってストリエ画像を撮影すればよい。ただし、ストリエ画像の撮影方法は、シュリーレン法に限定されず、他の方法であってもよい。画像撮影手段５は、ガラス板のストリエ画像を撮影できる公知の手段であってよい。
【００２２】
画像解析手段６は、画像撮影手段５によって撮影されたストリエ画像を解析し、評価値を算出する。図１に示す本発明のガラス板１では、切り取った撮影対象ガラス板におけるこの評価値が閾値未満となっている。画像解析手段６は、例えば、コンピュータ等の情報処理装置によって実現される。
【００２３】
なお、評価値の計算は、図２に示す検査装置以外の装置で計算してもよい。また、以下に説明する画像解析手段６の処理の一部をオペレータがマニュアル操作で行ってもよい。
【００２４】
また、ガラス板１を製品として出荷等するためには、そのガラス板１から撮影対象ガラス板を切り取ると不都合である。そこで、図３に示すように、ガラス板１を採板するガラスリボン７の全幅から、撮影対象ガラス板２を切り取り、その撮影対象ガラス板２に関してストリエ画像を撮影して評価値を求めればよい。ガラスリボン７の全幅から切り取る撮影対象ガラス板２の数は１つでなくてもよい。以下、図３に示すように、ガラスリボン７の全幅を分割して、複数の撮影対象ガラス板２を切り取る場合を例にして説明する。このように複数の撮影対象ガラス板２を切り取る場合には、その複数の撮影対象ガラス板２に関してそれぞれ評価値を求める。なお、ガラスリボン７の全幅から切り取る撮影対象ガラス板２の数は特に限定されない。図３は、ガラスリボンからガラス板１および撮影対象ガラス板２を採板する例を示す説明図である。ガラスリボン７は、ガラスリボン製造装置（図示せず）で製造され、順次送り出される。図３に示すようにガラスリボン７の全幅から複数の撮影対象ガラス板２を切り取り、各撮影対象ガラス板２に関する評価値を求めたときに、切り取った全ての撮影対象ガラス板２に関して、評価値が閾値未満であれば、そのガラスリボン７における撮影対象ガラス板２を切り取った部分を中心とする所定範囲１０から採板したガラス板は、組成の均一性が一定のレベル以上に高いと言える。すなわち、そのガラス板から、撮影対象ガラス板を切り取って、その撮影対象ガラス板に関して評価値を求めたとしても、その評価値が閾値未満であるということが言える。このように言える理由は、ガラスリボン製造装置の時定数は大きく、ガラスリボンの製造条件を変えたとしても、その製造条件の変更がガラスリボン７の組成の均一性に影響を与えるまでに時間がかかるためである。この理由により、所定範囲１０から採板された各ガラス板１に関しては、組成の均一性の状態が同じであると言える。逆に、ガラスリボン７の全幅から切り取った撮影対象ガラス板２のうちの一部の撮影対象ガラス板２に関する評価値が閾値以上であれば、そのガラスリボン７における撮影対象ガラス板２を切り取った部分を中心とする所定範囲１０から採板したガラス板は、組成の均一性が一定のレベルに達していないと判定する。すなわち、そのガラス板から、撮影対象ガラス板を切り取って、その撮影対象ガラス板に関して評価値を求めたとしても、その評価値は閾値以上であると判定する。
【００２５】
また、所定範囲１０は、ガラスリボン７における撮影対象ガラス板２を切り取った部分の製造時点から前後２時間の範囲で製造された部分である。ここで、ガラスリボン７は、順次、製造されて、ガラスリボン製造装置から送り出されるが、ガラスリボン７の各部分は、その部分を切り取ることができる状態に硬化した時点で製造された状態ということができる。
【００２６】
なお、図３ではガラスリボン７の進行方向に沿って、ガラス板１を１枚ずつ採板する場合を示したが、図４に示すように、ガラスリボン７の進行方向に沿って、ガラス板１を複数枚ずつ採板してもよい。図４では、ガラスリボン７の進行方向に沿って、ガラス板１をＰ枚ずつ採板する場合を示しているが、この枚数Ｐは、例えば、１≦Ｐ≦５の範囲である。
【００２７】
以下、ガラスリボン７から切り取った撮影対象ガラス板２に関して評価値を算出する場合を例にして説明する。ただし、このガラスリボン７の厚さは、採板しようとしている本発明のガラス板１の厚さに合わせて製造されている。そして、このガラスリボン７から、撮影対象ガラス板２とは別に、長辺の長さが１８００ｍｍ以上で短辺の長さが１５００ｍｍ以上のガラス板が採板される。
【００２８】
ガラスリボン７から撮影対象ガラス板２を切り取る場合には、例えば、そのガラスリボン７における撮影対象ガラス板２の切り取り部分の製造時点から前後２時間の範囲で製造されたガラスリボンの範囲１０（図３参照）から、図１に示すガラス板１を複数枚採板しておく。そして、撮影対象ガラス板２について求めた評価値が閾値未満であるか否かによって、採板した複数のガラス板１に関して組成の均一性が一定のレベルに達しているか否かをまとめて判定する。
【００２９】
ここで、ガラスリボンやガラスリボンから採板されたガラス板における筋目および筋目方向について説明する。フロート法等によって製造されたガラスリボンには、ガラスリボンの主要な延伸方向に沿った筋目が生じている。ガラスリボンの主要な延伸方向とは、ガイド部材によるガラスリボンの幅方向への延伸ではなく、ガラスリボンの進行方向に沿った延伸の方向を意味する。以下、ガラスリボンの主要な延伸方向を、単に、ガラスリボンの延伸方向と記す。筋目とは、ガラスリボンの延伸方向に垂直な方向における板厚の変動およびうねりに起因して、ガラスリボンの延伸方向に生じる筋である。ガラスリボンの延伸方向は、ガラスリボンがガラスリボン製造装置から送り出される進行方向と同じであるので、筋目方向、ガラスリボンの延伸方向、およびガラスリボンの進行方向はいずれも同じである。
【００３０】
図５は、ガラスリボンの全幅から切り取る個々の撮影対象ガラス板２の大きさを示す説明図である。なお、図５では、ガラスリボン７の筋目の図示を省略している。ガラスリボン７から、撮影対象ガラス板２を切り取るときには、筋目方向（換言すれば、ガラスリボン７の進行方向）に沿った幅が１．２ｃｍとなるように切り取る。また、筋目方向に垂直な方向に沿った幅は、例えば、４０ｃｍとすればよいが、筋目方向に垂直な方向に沿った幅は、特に限定されず、４０ｃｍでなくてもよい。なお、撮影対象ガラス板２の板厚は、ガラスリボン７の板厚と等しい。また、既に説明したように、撮影対象ガラス板２は、ガラスリボン７の全幅から切り取る。
【００３１】
図６は、評価値（厚み方向のストリエの顕著さを示す評価値）の算出の処理経過の例を示すフローチャートである。図６に示すステップＳ１〜Ｓ７の処理は、図３に例示するようにガラスリボン７の全幅から切り取った全ての撮影対象ガラス板２に関してそれぞれ行う。まず、画像撮影手段５（図２参照）が、ガラスリボン７から切り取られた撮影対象ガラス板の側面のストリエ画像を撮影する（ステップＳ１）。
【００３２】
図７は、撮影対象ガラス板におけるストリエ画像の撮影方向を示す説明図である。ステップＳ１では、画像撮影手段５は、撮影対象ガラス板２の筋目１０３の方向（すなわち筋目方向）に直交する側面９のストリエ画像を撮影する。
【００３３】
また、ステップＳ１において、画像撮影手段５は、各画素の画素値が、予め定められた最低階調の画素値より大きく最高階調の画素値未満となるように、調整された撮影条件の下で、ストリエ画像を撮影する。本実施形態では、撮影されたストリエ画像において、各画素の画素値の階調を８ビットで表すものとする。この場合、最低階調の画素値は０であり、最高階調の画素値は２５５である。そして、ストリエ画像の各画素の画素値が０よりも大きく２５５未満（換言すれば、１以上２５４以下）の範囲に収まるように、予め撮影条件を調整しておき、その状態で画像撮影手段５がストリエ画像を撮影する。例えば、画像撮影時に用いる光源（図示略）の光量が多すぎると、多くの画素の画素値が２５５に飽和した状態になり、画像全体が真っ白になり、撮影対象ガラス板２の組成の状態に応じたストリエが観察できなくなってしまう。逆に、光源の光量が少なすぎると、多くの画素の画素値が０になってしまい、画像全体が真っ黒になり、やはり、撮影対象ガラス板２の組成の状態に応じたストリエが観察できなくなってしまう。そこで、画像の各画素の画素値が１〜２５４の範囲に収まるように光源の明るさを調節した状態で、画像撮影手段５がストリエ画像を撮影する。ここでは、画素値を１〜２５４の範囲に収めるための調節対象として光源の光量を例示したが、光量だけでなく、露光時間、画像撮影手段５におけるカメラゲイン、オフセット等を調整してもよい。
【００３４】
また、画像撮影手段５は、撮影対象ガラス板２の側面９（図７参照）の各箇所から画像撮影手段５のレンズに向けて入射した光の光量と、その各箇所に対応するストリエ画像内の画素の画素値（階調値）とが線形となるストリエ画像を撮影する。
【００３５】
ステップＳ１でストリエ画像が撮影された後、画像解析手段６（図２参照）は、そのストリエ画像を、複数の列に分割する（ステップＳ２）。図８Ａは、ステップＳ１で得られるストリエ画像１１の全体の領域を示す模式図である。図８Ｂは、図８Ａに示すストリエ画像を分割した状態を示す模式図である。なお、図８Ａおよび図８Ｂにおいて、画像上に現れるストリエ等の図示は省略している。画像解析手段６は、ステップＳ２で、図８Ａに示すストリエ画像１１を、図８Ｂに示すように複数の列に分割する。また、ストリエ画像１１において、横方向（ｘ方向）は、撮影対象ガラス板２の板幅方向に相当し、縦方向（ｙ方向）は、撮影対象ガラス板２の厚み方向に相当する。すなわち、画像解析手段６は、ストリエ画像を、板幅方向に沿って位置を変化させて、短冊状に分割すればよい。
【００３６】
さらに、画像解析手段６は、ストリエ画像のコントラストを補正する（ステップＳ３）。ステップＳ３において、画像解析手段６は、各画素に関して、以下に示す式（１）の計算を行い、得られた補正値ｖを、画素の画素値として再設定する。
【００３７】
ｖ＝ｕ×２５５／（ＭＡＸ−ＭＩＮ）            ・・・式（１）
【００３８】
式（１）の左辺のｖは、補正後の新たな画素値である。式（１）の右辺の“ｕ”は、ステップＳ１で得たストリエ画像における個々の画素の画素値である。また、右辺の“２５５”は、撮影されたストリエ画像において画素値を表現する８ビットのビット列で表現可能な最高階調の画素値である。また、式（１）において、ＭＡＸは、ステップＳ１で得たストリエ画像における各画素の画素値の最大値である。ＭＩＮは、ステップＳ１で得たストリエ画像における各画素の画素値の最小値である。
【００３９】
なお、ステップＳ２では、分割領域毎に各画素の補正値を算出し、その際、式（１）のＭＡＸ，ＭＩＮとして、画素が属する分割領域内での画素値の最大値、最小値を用いてもよい。
【００４０】
なお、式（１）で計算された補正後の新たな画素値ｖは、８ビットで表現されていなくてもよい。また、式（１）で計算された補正後の画素値ｖは、小数で表された値であってもよい。
【００４１】
次に、画像解析手段６は、ステップＳ２において画素値を設定し直したストリエ画像において、個々の分割領域（図８Ｂ参照）に現れる撮影対象ガラス板２のエッジ部分の画像のｙ座標が揃うように、ストリエ画像の個々の分割領域を厚み方向にずらす（ステップＳ４）。図９は、ストリエ画像内に現れる撮影対象ガラス板２のエッジ部分を模式的に示す説明図である。図９においてもストリエ（縞模様）の図示は省略している。撮影対象ガラス板２のエッジ部分（上端および下端部分）は、ストリエ画像において、黒色または白色の画像として現れ、他の部分とは異なる画像となる。図９に示す例では、ストリエ画像１１において、撮影対象ガラス板２の下端のエッジ部分１２や、上端のエッジ部分１３は、黒色または白色となる。撮影対象ガラス板２の内部に相当する領域１４には、ストリエが現れるが、上記の通り、図示を省略している。
【００４２】
撮影対象ガラス板２には、たわみが生じていることがある。そのため、ストリエ画像において、エッジ部分１２，１３のｙ座標は一定になるとは限らず、図９に例示するように変化している。ステップＳ４では、画像解析手段６は、各分割領域において、例えば、下端のエッジ部分１２を検出する。このとき、黒色または白色の画像として現れている箇所を、エッジ部分１２として検出すればよい。そして、画像解析手段６は、各分割領域から検出したエッジ部分１２のｙ座標を揃えるように、各分割領域を厚み方向にずらす。ただし、撮影対象ガラス板２の内部に相当する領域１４にエッジ部分と同様に黒色または白色となる箇所が生じる場合もある。そのため、隣接する分割領域同士で、エッジ部分１２として検出した箇所のｙ座標同士の差が、予め定めた閾値よりも大きい場合には、画像解析手段６は、どちらかの領域におけるエッジ部分が誤検出されていると判定し、エッジ部分１２に該当する箇所として別の箇所を検出し直せばよい。
【００４３】
図９に例示するストリエ画像１１に対してステップＳ４の処理を行った結果の例を、図１０に示す。ステップＳ４の処理の結果、図１０に示すように、下端のエッジ部分１２および上端のエッジ部分１３のｙ座標は揃う。このステップＳ４の処理は、ストリエ画像上に現れている撮影対象ガラス板２のたわみを補正する処理であるということができる。
【００４４】
また、上記の説明では、撮影対象ガラス板２の下端のエッジ部分１２のｙ座標を揃えるように、各分割領域を厚み方向にずらす場合について説明したが、画像解析手段６は、撮影対象ガラス板２の上端のエッジ部分１３のｙ座標を揃えるように、各分割領域を厚み方向にずらしてもよい。
【００４５】
また、撮影対象ガラス板２において、板厚が変化している場合がある。その場合、下端のエッジ部分１２から上端のエッジ部分１３までの長さ（画素数）が、分割領域同士の間で異なる場合が生じる。その場合、画像解析手段６は、いずれか１つの分割領域における下端のエッジ部分１２から上端のエッジ部分１３までの画素数を基準として、他の各分割領域における下端のエッジ部分１２から上端のエッジ部分１３までの画素数が基準となる画素数と等しくなるように、各分割領域の画像を厚み方向（ｙ方向）に縮小または拡大すればよい。
【００４６】
ステップＳ４で分割領域を厚み方向にずらし、図１０に例示するようにエッジ部分のｙ座標を揃えた後、画像解析手段６は、ステップＳ５以降の処理では、撮影対象ガラス板２の画像に相当する領域１５内の画素を対象にして処理を行う。領域１５は、下端のエッジ部分から上端のエッジ部分までの範囲である。
【００４７】
画像解析手段６は、ステップＳ４の処理後のストリエ画像における領域１５（図１０参照）に属する個々の画素について、その両側に存在する所定の複数組の画素の画素値の差分の平均値を計算する（ステップＳ５）。具体的には、画像解析手段６は、個々の画素を順次、選択し、選択した画素の両側に存在する所定の複数組の画素の画素値の差分の平均値を計算すればよい。以下、この値を差分平均値と記す。
【００４８】
ステップＳ５において、選択している画素の座標を（ｘ，ｙ）と記すことにする。また、このとき、選択した画素の１ライン上のｙ座標を“ｙ＋１”とし、選択した画素の２ライン上のｙ座標を“ｙ＋２”とする。また、選択した画素の１ライン下のｙ座標を“ｙ−１”とし、選択した画素の２ライン上のｙ座標を“ｙ−２”とする。
【００４９】
また、選択した画素から撮影対象ガラス板２におけるｋｍｍに相当する画素分だけ左方向にずれた画素のｘ座標を“ｘ−ａｋ”と記し、選択した画素から撮影対象ガラス板２におけるｋｍｍに相当する画素分だけ右方向にずれた画素のｘ座標を“ｘ＋ａｋ”と記す。このとき、座標（ｘ−ａｋ，ｙ）と座標（ｘ＋ａｋ，ｙ）との間隔である２・ａｋは、撮影対象ガラス板２において２・ｋｍｍに相当する。この選択した画素のｘ座標を中心としてｘ方向に並ぶ２つの座標の間隔が表す、撮影対象ガラス板２における長さをピッチと記す。また、上記のａｋは、撮影対象ガラス板２でｋｍｍに相当するストリエ画像内での画素の座標間の距離であるということができる。
【００５０】
また、任意の座標（Ｘ，Ｙ）の画素の画素値をＣ（Ｘ，Ｙ）と表すこととする。例えば、座標（ｘ−ａｋ，ｙ）の画素の画素値をＣ（ｘ−ａｋ，ｙ）と記す。
【００５１】
画像解析手段６は、ピッチ２・ｋの値を順次選択し、１種類のピッチを選択したときには、以下に示す式（２）の計算を行うことにより、選択した画素に関して差分平均値を計算する。なお、ピッチが２・ｋｍｍの場合の差分平均値をＴ２・ｋと記す。
【００５２】
Ｔ２・ｋ＝｛Ｃ（ｘ−ａｋ，ｙ−２）＋Ｃ（ｘ−ａｋ，ｙ−１）＋Ｃ（ｘ−ａｋ，ｙ）＋Ｃ（ｘ−ａｋ，ｙ＋１）＋Ｃ（ｘ−ａｋ，ｙ＋２）−Ｃ（ｘ＋ａｋ，ｙ−２）−Ｃ（ｘ＋ａｋ，ｙ−１）−Ｃ（ｘ＋ａｋ，ｙ）−Ｃ（ｘ＋ａｋ，ｙ＋１）−Ｃ（ｘ＋ａｋ，ｙ＋２）｝／５        ・・・式（２）
【００５３】
図１１は、式（２）によって差分平均値を計算するときに用いる画素を示す説明図である。画素２０は、選択している画素である。式（２）において、｛Ｃ（ｘ−ａｋ，ｙ−２）−Ｃ（ｘ＋ａｋ，ｙ−２）｝は、図１１に示す画素２５の画素値から画素３０の画素値を減算した差分値である。また、式（２）において、｛Ｃ（ｘ−ａｋ，ｙ−１）−Ｃ（ｘ＋ａｋ，ｙ−１）｝は、画素２４の画素値から画素２９の画素値を減算した差分値である。また、式（２）において、｛Ｃ（ｘ−ａｋ，ｙ）−Ｃ（ｘ＋ａｋ，ｙ）｝は、画素２３の画素値から画素２８の画素値を減算した差分値である。また、式（２）において、｛Ｃ（ｘ−ａｋ，ｙ＋１）−Ｃ（ｘ＋ａｋ，ｙ＋１）｝は、画素２２の画素値から画素２７の画素値を減算した差分値である。また、式（２）において、｛Ｃ（ｘ−ａｋ，ｙ＋２）−Ｃ（ｘ＋ａｋ，ｙ＋２）｝は、画素２１の画素値から画素２６の画素値を減算した差分値である。式（２）の右辺では、これらの差分値の和を５で除算して、差分平均値を算出している。
【００５４】
すなわち、式（２）の左辺の差分平均値Ｔ２・ｋは、画素２５，３０の画素値の差分、画素２４，２９の画素値の差分、画素２３，２８の画素値の差分、画素２２，２７の画素値の差分、および画素２１，２６の画素値の差分の平均値である。
【００５５】
画像解析手段６は、ピッチとして、１０ｍｍ、２０ｍｍ、３０ｍｍ、４０ｍｍ、５０ｍｍ、６０ｍｍ、７０ｍｍをそれぞれ選択する。そして、画像解析手段６は、各ピッチにおいて、個々の座標に関し、式（２）の計算を行い、差分平均値を算出する。
【００５６】
例えば、ピッチとして１０ｍｍを選択した場合には、画像解析手段６は、各画素を選択し、選択した画素（ｘ，ｙ）に関して、以下の計算を行う。
【００５７】
Ｔ１０＝｛Ｃ（ｘ−ａ５，ｙ−２）＋Ｃ（ｘ−ａ５，ｙ−１）＋Ｃ（ｘ−ａ５，ｙ）＋Ｃ（ｘ−ａ５，ｙ＋１）＋Ｃ（ｘ−ａ５，ｙ＋２）−Ｃ（ｘ＋ａ５，ｙ−２）−Ｃ（ｘ＋ａ５，ｙ−１）−Ｃ（ｘ＋ａ５，ｙ）−Ｃ（ｘ＋ａ５，ｙ＋１）−Ｃ（ｘ＋ａ５，ｙ＋２）｝／５
【００５８】
この計算は、ピッチ２・ｋ＝１０ｍｍとした場合における、式（２）の計算である。
【００５９】
画像解析手段６は、１０ｍｍの他に、ピッチとして、２０ｍｍ、３０ｍｍ、４０ｍｍ、５０ｍｍ、６０ｍｍ、７０ｍｍをそれぞれ選択し、同様の処理を行う。
【００６０】
ステップＳ５の後、画像解析手段６は、ステップＳ５で選択したそれぞれのピッチ（１０，２０，３０，４０，５０，６０，７０ｍｍ）に関して、画素列毎に、ステップＳ５で計算した差分平均値の自乗平均を計算し、さらに、画素列毎に計算した自乗平均の値の平均値を計算する（ステップＳ６）。この計算は各ピッチに関して行われるので、ステップＳ６では、７種類のピッチに関して値を求めることになる。
【００６１】
ステップＳ６で画素列毎に計算する自乗平均は、ステップＳ５で計算した差分平均値の絶対値の大きさの指標値を画素列毎に求めた値であるということができる。この値が大きいということは、画素列の両側の画素の画素値の差分が大きく、厚み方向のストリエが顕著に現れていることを意味する。
【００６２】
図１２Ａは、ピッチが１０ｍｍである場合において画素列毎に計算された差分平均値の自乗平均の計算結果の例を示すグラフである。図１２Ｂは、ピッチが２０ｍｍである場合において画素列毎に計算された差分平均値の自乗平均の計算結果の例を示すグラフである。図１２Ｃは、ピッチが７０ｍｍである場合において画素列毎に計算された差分平均値の自乗平均の計算結果の例を示すグラフである。図１２Ｄは、図１２Ａ、図１２Ｂおよび図１２Ｃの計算結果の元となるストリエ画像を模式的に示した模式図である。ピッチが１０ｍｍ，２０ｍｍの場合には、左から７０〜９０番目付近の画素列で自乗平均の値が大きくなっている（図１２Ａ、図１２Ｂ参照）。このことは、図１２Ｄに示すように、左から７０〜９０番目の画素列の近辺で、間隔の細かいストリエが現れていることを意味する。また、ピッチが７０ｍｍの場合には、左から６７０〜７３０番目付近の画素列で自乗平均の値が大きくなっている（図１２Ｃ参照）。このことは、図１２Ｄに示すように、左から６７０〜７３０番目の画素列の近辺で、間隔の粗いストリエが現れていることを意味する。
【００６３】
ステップＳ６では、画像解析手段６は、個々の画素列毎に計算した値（差分平均値の自乗平均）の平均値を計算することで、図１２Ａから図１２Ｃまでに例示するグラフにおける縦軸の値の平均値を求める。また、図１２Ａ、図１２Ｂおよび図１２Ｃでは、３種類のピッチのグラフを例示したが、上記のように、画像解析手段６は、この平均値を７種類のピッチそれぞれについて計算する。
【００６４】
また、図１２Ｄでは、説明を簡単にするため、左から７０〜９０番目の画素列の近辺における間隔の細かいストリエと、左から６７０〜７３０番目の画素列の近辺における間隔の粗いストリエのみを模式的に示している。実際のストリエ画像では、画像全体にストリエが観察される。そして、撮影対象ガラス板２の組成が不均一であるほど、ストリエのコントラストが強く現れ、ストリエが顕著に観察される。
【００６５】
ステップＳ６において、７種類のピッチに関して、それぞれ値（画素列毎に計算した自乗平均の平均値）を計算した後、画像解析手段６は、７種類のピッチに関して計算した各値に対して、重み係数を乗算し、その乗算結果の総和を計算する（ステップＳ７）。この計算結果が、評価値（厚み方向のストリエの顕著さを示す評価値）である。評価値をｐとすると、ステップＳ７において、画像解析手段６は、以下の式（３）の計算を行う。
【００６６】
ｐ＝ａ×ｐ１＋ｂ×ｐ２＋ｃ×ｐ３＋ｄ×ｐ４＋ｅ×ｐ５＋ｆ×ｐ６＋ｇ×ｐ７
・・・式（３）
【００６７】
式（３）において、ｐ１は、ピッチ１０ｍｍに関するステップＳ６の計算結果である。ｐ２は、ピッチ２０ｍｍに関するステップＳ６の計算結果である。ｐ３は、ピッチ３０ｍｍに関するステップＳ６の計算結果である。ｐ４は、ピッチ４０ｍｍに関するステップＳ６の計算結果である。ｐ５は、ピッチ５０ｍｍに関するステップＳ６の計算結果である。
ｐ６は、ピッチ６０ｍｍに関するステップＳ６の計算結果である。ｐ７は、ピッチ７０ｍｍに関するステップＳ６の計算結果である。
【００６８】
また、式（３）において、ａは、ｐ１に乗算する重み係数であり、本実施形態では、“０．０４５”である。ｂは、ｐ２に乗算する重み係数であり、本実施形態では、“０．０５６”である。ｃは、ｐ３に乗算する重み係数であり、本実施形態では、“０．０５７”である。ｄは、ｐ４に乗算する重み係数であり、本実施形態では、“０．０６４”である。ｅは、ｐ５に乗算する重み係数であり、本実施形態では、“０．０６２”である。ｆは、ｐ６に乗算する重み係数であり、本実施形態では、“０．０７４”である。ｇは、ｐ７に乗算する重み係数であり、本実施形態では、“０．０８８”である。
【００６９】
すなわち、本実施形態において、式（３）は、より具体的には、以下のように表せる。
【００７０】
ｐ＝０．０４５×ｐ１＋０．０５６×ｐ２＋０．０５７×ｐ３＋０．０６４×ｐ４＋０．０６２×ｐ５＋０．０７４×ｐ６＋０．０８８×ｐ７  ・・・式（３）
【００７１】
上述のように、ガラスリボンの全幅から切り取った全ての撮影対象ガラス板に関してそれぞれステップＳ１〜Ｓ７を行うので、その全ての撮影対象ガラス板に関して、それぞれ評価値ｐを求めることになる。
【００７２】
ステップＳ７までの処理をそれぞれの撮影対象ガラス板に対して行い、各撮影対象ガラス板についてそれぞれ評価値ｐを計算したならば、画像解析手段６は、撮影対象ガラス板毎に計算した各評価値ｐと、予め定められた閾値とを比較して、ガラスリボン７の範囲１０（図３参照）から採板したガラス板の組成の均一性を評価する。全ての撮影対象ガラス板の評価値ｐがいずれも閾値未満であれば、画像解析手段６は、ガラスリボン７の範囲１０から採板したガラス板の組成の均一性が一定のレベル以上に高いと判定する。一方、全ての撮影対象ガラス板のうちの一部の撮影対象ガラス板に関して評価値ｐが閾値以上であれば、ガラスリボン７の範囲１０から採板したガラス板の組成の均一性が一定のレベルに達していないと判定する。
【００７３】
すなわち、撮影対象ガラス板２毎に算出した評価値ｐがいずれも閾値未満であると判定した場合、画像解析手段６は、ガラスリボン７における撮影対象ガラス板２の切り取り部分の製造時点から前後２時間の範囲で製造されたガラスリボンの範囲１０（図３参照）から採板した複数のガラス板１に関して、ガラスの組成の均一性が一定のレベルに達しているものとして選別（判定）する。換言すれば、撮影対象ガラス板２の切り取り部分の製造時点から前後２時間の範囲で製造されたガラスリボンの範囲１０から採板した複数のガラス板１を良品として選別する（ステップＳ８）。
【００７４】
一方、ステップＳ８において、全ての撮影対象ガラス板のうちの一部の撮影対象ガラス板に関して評価値ｐが閾値以上であると判定した場合、画像解析手段６は、ガラスリボン７における撮影対象ガラス板２の切り取り部分の製造時点から前後２時間の範囲で製造されたガラスリボンの範囲１０から採板した複数のガラス板１に関して、ガラスの組成の均一性が一定のレベルに達していないものとして選別（判定）する。すなわち、それらの複数のガラス１を良品ではないものとして選別する。
【００７５】
ステップＳ８で用いる閾値は、６と定めておく。ただし、組成の均一性がより高いガラス板を選別するのであれば、閾値を４としてもよい。すなわち、閾値を６とする場合よりも、閾値を４とした場合の方が、組成の均一性がより高いガラス板を選別することができる。さらに、閾値を２としてもよい。閾値を２とすることで、さらに組成の均一性が高いガラス板を選別することができる。
【００７６】
以上の方法で、ガラスの組成の均一性が一定のレベルに達しているものとして選別された複数のガラス板から、筋目方向に沿った幅が１．２ｃｍとなる撮影対象ガラス板を切り取り、ステップＳ１〜Ｓ８と同様の処理を行って評価値を求めた場合、その評価値も閾値未満となる。
【００７７】
本発明により、組成が一定のレベル以上に均一であり、大型で薄いガラス板を提供することができる。大型とは、具体的には、長辺の長さが１８００ｍｍ以上で短辺の長さが１５００ｍｍ以上である。また、ガラス板の薄さは、０．０５〜０．７ｍｍである。
【００７８】
また、本発明の検査方法により、ガラスの組成が一定のレベル以上に均一であるガラス板を選別することができる。
【００７９】
次に、上記のような、評価値が閾値未満となる本発明の板ガラスを得るためのガラスリボンの製造方法の例について説明する。評価値が閾値未満であるということは、ガラス板の組成の均一性が一定のレベル以上であるということであり、組成の均一性を向上させるようにガラスリボンを製造すればよい。
【００８０】
以下に、ガラスの均一性を向上させるための４つの方法を示す。以下の示す４つの方法のいずれか１つをガラスリボンの製造方法に適用してもよいし、４つの方法のうち、任意の複数の方法をガラスリボンの製造方法に適用してもよい。あるいは、以下に示す４つの方法以外の方法をガラスリボンの製造方法に適用してもよい。これらの方法で製造されたガラスリボンから本発明のガラス板を採板することができる。
【００８１】
ガラスの均一性を向上させる第１の方法は、ガラスリボンのバッチ原料と混合するカレットの粒度を一定の範囲に限定することである。例えば、カレットの粒度を重量％で０．５ｍｍ以下５％以内、１０ｍｍ以下７５％以上に限定すればよい。このように、バッチ原料と混合するカレットの粒度を限定する場合には、例えば、篩い分級機によって所望の粒度範囲のカレットを分類し、そのカレットをバッチ原料に混合して、ガラスリボンを製造すればよい。
【００８２】
ガラスの均一性を向上させる第２の方法は、溶解したガラスをスターラで攪拌することである。図１３は、ガラスリボン製造装置におけるガラス溶解槽および搬送管を模式的に示す模式図である。ガラス溶解槽４１において、ガラスは溶解された状態になる。溶融ガラスの搬送管４２は、ガラス溶解槽４１で溶解されたガラスを次工程に送り出すための管状部材である。第２の方法の例として、例えば、搬送管４２にスターラ（攪拌装置）４３を設け、ガラス溶解槽４１から次工程に送り出される溶解したガラスを、スターラ４３で攪拌すればよい。スターラの攪拌回転数は、例えば、所定の攪拌性能のもとで、４〜７ｒｐｍとすればよい。なお、第２の方法を採用しない場合には、スターラ４３を設けなくてよい。
【００８３】
スターラに関する上記の攪拌性能について説明する。図１４は、搬送管４２内のスターラを示す説明図である。図１４を参照して攪拌性能を規定する各種パラメータと、好ましい攪拌性能値について説明する。スターラ４３は、回転体６３と、羽根６２とを備える。回転体６３は円柱形であり、羽根６２は、回転体６３の側面に設けられている。図１４では、４枚の羽根６２を図示しているが、羽根６２の数は４枚に限定されない。また、回転体６３の底面から各羽根６２の取付位置までの高さは、回転体６３の側面における位置によって異なっていてよい。また、回転体６３の上面６７には駆動軸６６が設けられ、駆動軸６６により、回転体６３は、中心軸６１を中心に回転するように駆動される。この結果、回転体６３の羽根６２によって、搬送管４２内を流れるガラスは攪拌される。なお、図１４では、回転体６３の中心軸６１と、搬送管４２の中心軸とが一致している場合を例示している。従って、図１４に示す例では、スターラ４３の中心軸６１と、ガラスの流れる方向は平行である。また、ここでは、回転体の上流側の面６７を、上面と呼んでいる。以下の説明において、回転体６３の上面６７の面積には、駆動軸６６が設けられた部分も含まれる。すなわち、上面６７の面積は、回転体６３の底面積と等しい。
【００８４】
なお、図１３および図１４に示すように、例えば、搬送管４２をＬ字状に曲がるように形成し、その曲がった部分の壁面から駆動軸６６を伸ばすように構成すればよい。
【００８５】
スターラ４３の回転により羽根６２が通過する領域を、回転体６３の上面６７を含む平面に正射影して得られる領域６５（図１４参照）の面積と、回転体６３の上面６７の面積との和を、攪拌面積と定義する。以下、攪拌面積をＡ１と記す。攪拌面積Ａ１の単位は“ｍ２”とする。
【００８６】
また、搬送管４２の断面積から、回転体６３の上面６７の面積を減算した値をガラスの流路面積と定義し、流路面積をＡ０と記す。なお、Ａ０の単位は“ｍ２”とする。流路面積Ａ０は、スターラ４３が回転しても回転体６３および羽根６２が通過しない領域を、回転体６３の上面６７を含む平面に正射影して得られる領域６４の面積と、前述の領域６５の面積との和である。
【００８７】
また、スターラ４３の回転速度をＶａ［ｒａｄ／ｓ］とする。スターラ４３が備える羽根６２の枚数をＮ枚とする。搬送管４２内を流れるガラスの粘性をμ［Ｎ・ｓ／ｍ２］とする。搬送管４２内を流れるガラスの流速をＶｇ［ｍ／ｓ］とする。
【００８８】
このとき、上記のパラメータを用いて、スターラの攪拌性能を表す性能値Ｅを以下の式（４）のように表す。
【００８９】
Ｅ＝｛（Ａ１／Ａ０）ｎ×Ｖａ×Ｎ｝／（μ×Ｖｇ）        ・・・式（４）
【００９０】
なお、式（４）における“ｎ”は定数であり、ｎ＝３．７とする。式（４）により計算されるＥの値が大きいほど、スターラによる攪拌でガラスの均質性をより向上させることができる。すなわち、Ｅが大きいほど、スターラの攪拌性能が高いということができる。ガラスの均一性を向上させる第２の方法においては、Ｅ＞２０が成立するようにした上で、スターラの攪拌回転数を、例えば、４〜７ｒｐｍとすればよい。
【００９１】
ガラスの均一性を向上させる第３の方法は、溶解したガラスにおける底素地を排出することである。底素地は、溶解したガラスにおける異質素地であって溶解したガラスの下層にたまるものである。ガラス溶解槽４１におけるガラス溶解工程の後に、底素地を排出してから、次工程以降を行うことで、ガラスリボンの組成の均一性を向上させることができる。溶解したガラスの底素地を排出するには、搬送管４２の下部に、底素地排出部４４を設け、搬送管４２を通過するガラスの底素地を底素地排出部４４から排出すればよい。底素地の排出量は、例えば、ガラス溶解槽４１から排出される溶解ガラスの１０％以下とすればよい。なお、第３の方法を採用しない場合には、底素地排出部４４を設けなくてよい。
【００９２】
ガラスの均一性を向上させる第４の方法は、溶解したガラスにおける上素地を排出することである。上素地は、溶解したガラスにおける異質素地であって溶解したガラスの上層にたまるものである。ガラス溶解槽４１におけるガラス溶解工程の後に、上素地を排出してから、次工程以降を行うことで、ガラスリボンの組成の均一性を向上させることができる。溶解したガラスの上素地を排出するには、搬送管４２の上部に、上素地排出部４５を設け、搬送管４２を通過するガラスの上素地を上素地排出部４５から排出すればよい。上素地の排出量は、例えば、ガラス溶解槽４１から排出される溶解ガラスの１０％以下とすればよい。なお、第４の方法を採用しない場合には、上素地排出部４５を設けなくてよい。
【００９３】
製造したガラス板についてストリエ画像を撮影して算出した評価値ｐが、予め定められた閾値以上になっている場合、以下に示すガラス板の製造方法によって、評価値ｐが閾値未満となるガラス板を製造すればよい。すなわち、評価値ｐが閾値以上となったガラス板の製造時よりも、ガラス原料であるカレットの粒度の均一性を高めること、溶解したガラスを攪拌するスターラの単位時間当たりの回転数を多くすること、底素地排出量を増やすこと、および上素地排出量を増やすことのうちの少なくとも１つを行うことにより、評価値ｐが閾値未満となるガラス板を製造すればよい。上記の４つの項目のうち、１つを採用してもよく、また、２つ以上を採用してもよい。
【００９４】
このようなガラス板の製造方法により、ガラス板のガラスの組成の均一性を向上させることができる。
【実施例１】
【００９５】
以下、本発明のガラスリボンの製造方法の具体例、および、ガラスリボンから採板したガラス板から切り取った撮影対象ガラス板の評価値を示す。発明者は、上記の第１の方法により、ガラスリボンを製造した。すなわち、バッチ原料と混合するカレットの粒度を一定の範囲に限定して、ガラスリボンを製造した。カレットの粒度は、重量％で０．５ｍｍ以下５％以内、１０ｍｍ以下７５％以上の範囲に限定した。なお、このような粒度のカレットは、篩い分級機によりカレットを分類することによって得た。【００９６】
粒度が重量％で０．５ｍｍ以下５％以内、１０ｍｍ以下７５％以上の範囲のカレットのみをバッチ原料に混合して溶解し、ガラスリボンを製造した。このとき、上記の第２から第４までの各方法は採用しなかった。すなわち、スターラによる攪拌、底素地の排出、および上素地の排出は行わなかった。【００９７】
図１５は、各実施例におけるガラス板の採板態様を示す説明図である。ガラスリボン７を製造後、図１５に示すように、ガラスリボン７の左側部分からガラス板５１Ｌを採板し、中央部分からガラス板５１Ｃを採板し、右側部分からガラス板５１Ｒを採板した。実施例１において、ガラス板５１Ｌ，５１Ｃ，５１Ｒを採板後、さらに、この３枚のガラス板からそれぞれ、筋目方向に沿った幅が１．２ｃｍとなる撮影対象ガラス板を切り取った。撮影対象ガラス板における筋目に垂直な方向の幅は４０ｃｍとした。そして、この３枚の撮影対象ガラス板に対して、それぞれステップＳ１〜Ｓ８の処理を行い、評価値ｐを算出した。【００９８】
各実施例および比較例における評価値の結果を表１に示す。【００９９】
【表１】
2012081398.tif 000003
【０１００】
実施例１では、表１に示すように、３枚のガラス板５１Ｌ，５１Ｃ，５１Ｒから切り取った撮影対象ガラス板の評価値は、“５．７４”，“５．３３”，“２．８６”であり、その平均値は“４．６４”であった。このように、３枚のガラス板それぞれについて、撮影対象ガラス板の評価値ｐは閾値６未満となり、ガラス板の組成の均一性が良好であった。
【実施例２】
【０１０１】
発明者は、上記の第１の方法と第２の方法を採用して、ガラスリボンを製造した。具体的には、粒度が重量％で０．５ｍｍ以下５％以内、１０ｍｍ以下７５％以上の範囲のカレットのみをバッチ原料に混合して溶解し、ガラス溶解槽４１（図１３参照）から溶解ガラスを輸送する搬送管４２内で、スターラ４３（図１３参照）を回転させ、溶解ガラスを攪拌した。スターラ４３の回転数は、Ｅ＞２０が成立するようにした上で、４〜７ｒｐｍとした。なお、上記の第３および第４の方法は採用しなかった。すなわち、底素地の排出、および上素地の排出は行わなかった。【０１０２】
ガラスリボンを生成後、実施例１の場合と同様に、ガラスリボンの左部分、中央部分および右側部分からそれぞれガラス板５１Ｌ，５１Ｃ，５１Ｒを採板した（図１５参照）。さらに、この３枚のガラス板からそれぞれ、筋目方向に沿った幅が１．２ｃｍとなる撮影対象ガラス板を切り取った。撮影対象ガラス板の大きさは、実施例１と同様である。そして、この３枚の撮影対象ガラス板に対して、それぞれステップＳ１〜Ｓ８の処理を行い、評価値ｐを算出した。【０１０３】
実施例２では、３枚のガラス板５１Ｌ，５１Ｃ，５１Ｒから切り取った撮影対象ガラス板の評価値ｐは、“２．９０”，“１．９２”，“５．９６”であり、その平均値は“３．５９”であった（表１参照）。このように、３枚のガラス板それぞれについて、撮影対象ガラス板の評価値ｐは閾値６未満となり、ガラス板の組成の均一性が良好であった。また、実施例１と比較すると、評価値ｐの平均値は、より小さな値となっていて、全体としては、組成の均一性が向上していると考えることができる。
【実施例３】
【０１０４】
発明者は、上記の第１、第２および第３の方法を採用してガラスリボンを製造した。具体的には、粒度が重量％で０．５ｍｍ以下５％以内、１０ｍｍ以下７５％以上の範囲のカレットのみをバッチ原料に混合して溶解し、ガラス溶解槽４２（図１３参照）から溶解ガラスを輸送する搬送管４２内で、スターラ４３（図１３参照）を回転させ、溶解ガラスを攪拌した。さらに、搬送管４２において、溶解ガラスの底素地を排出した。スターラ４３の回転数は、Ｅ＞２０が成立するようにした上で、４〜７ｒｐｍとし、底素地の排出量は、ガラス溶解槽４１から排出される溶解ガラスの１０％とした。また、第４の方法は採用しなかった。すなわち、上素地の排出は行わなかった。【０１０５】
ガラスリボンを生成後、実施例１の場合と同様に、ガラスリボンの左部分、中央部分および右側部分からそれぞれガラス板５１Ｌ，５１Ｃ，５１Ｒを採板した（図１５参照）。さらに、この３枚のガラス板からそれぞれ、筋目方向に沿った幅が１．２ｃｍとなる撮影対象ガラス板を切り取った。撮影対象ガラス板の大きさは、実施例１，２と同様である。そして、この３枚の撮影対象ガラス板に対して、それぞれステップＳ１〜Ｓ８の処理を行い、評価値ｐを算出した。【０１０６】
また、実施例３に関しては２回実施した。１回目におけるガラス板５１Ｌ，５１Ｃ，５１Ｒから切り取った撮影対象ガラス板の評価値ｐは、“２．９４”，“２．５３”，“１．７６”であり、その平均値は“２．４１”であった（表１参照）。また、２回目におけるガラス板５１Ｌ，５１Ｃ，５１Ｒから切り取った撮影対象ガラス板の評価値ｐは、“２．２２”，“２．５３”，“２．１５”であり、その平均値は“２．３０”であった（表１参照）。１回目に関しても、２回目に関しても、各撮影対象ガラス板の評価値ｐは、いずれも閾値６未満となり、ガラス板の組成の均一性が良好であった。また、実施例１，２と比較すると、評価値ｐの平均値は、より小さな値となっていて、底素地の排出によって、組成の均一性が向上していると言える。
【実施例４】
【０１０７】
発明者は、上記の第１から第４までの各方法をそれぞれ採用してガラスリボンを製造した。具体的には、粒度が重量％で０．５ｍｍ以下５％以内、１０ｍｍ以下７５％以上の範囲のカレットのみをバッチ原料に混合して溶解し、ガラス溶解槽４１（図１３参照）から溶解ガラスを輸送する搬送管４２内で、スターラ４３（図１３参照）を回転させ、溶解ガラスを攪拌した。さらに、搬送管４２において、溶解ガラスの底素地および上素地をそれぞれ排出した。スターラ４３の回転数は、Ｅ＞２０が成立するようにした上で、４〜７ｒｐｍとし、底素地の排出量は、ガラス溶解槽４１から排出される溶解ガラスの１０％とした。また、上素地の排出量は、底素地排出量の１／３とした。【０１０８】
ガラスリボンを生成後、実施例１の場合と同様に、ガラスリボンの左部分、中央部分および右側部分からそれぞれガラス板５１Ｌ，５１Ｃ，５１Ｒを採板した（図１５参照）。さらに、この３枚のガラス板からそれぞれ、筋目方向に沿った幅が１．２ｃｍとなる撮影対象ガラス板を切り取った。撮影対象ガラス板の大きさは、実施例１〜３と同様である。そして、この３枚の撮影対象ガラス板に対して、それぞれステップＳ１〜Ｓ８の処理を行い、評価値ｐを算出した。【０１０９】
実施例４に関しても２回実施した。１回目におけるガラス板５１Ｌ，５１Ｃ，５１Ｒから切り取った撮影対象ガラス板の評価値ｐは、“１．３７”，“１．８１”，“０．７４”であり、その平均値は“１．３１”であった（表１参照）。また、２回目におけるガラス板５１Ｌ，５１Ｃ，５１Ｒから切り取った撮影対象ガラス板の評価値ｐは、“１．３８”，“１．０９”，“０．６３”であり、その平均値は“１．０３”であった（表１参照）。１回目に関しても、２回目に関しても、各撮影対象ガラス板の評価値ｐは、いずれも閾値６未満となり、ガラス板の組成の均一性が良好であった。また、実施例１〜３と比較すると、評価値ｐの平均値は、より小さな値となっていて、上素地の排出によって、組成の均一性が向上していると言える。【０１１０】
［比較例］発明者は、比較例として、上記の第１から第４までのいずれの方法も採用せずにガラスリボンを製造した。実施例１の場合と同様に、ガラスリボンの左部分、中央部分および右側部分からそれぞれガラス板５１Ｌ，５１Ｃ，５１Ｒを採板した（図１５参照）。さらに、この３枚のガラス板から実施例１〜４と同様に撮影対象ガラス板を切り取り、各撮影対象ガラス板に対して、それぞれステップＳ１〜Ｓ８の処理を行い、評価値ｐを算出した。なお、比較例で製造したガラスリボンの全幅分のストリエ画像の一例を図１６に示す。図１６に示すストリエ画像は、ガラスリボンの全幅から切り取った各撮影対象ガラス板について撮影したストリエ画像を連ねた画像である。【０１１１】
この場合、各ガラス板５１Ｌ，５１Ｃ，５１Ｒから切り取った撮影対象ガラス板の評価値ｐは、“９．３２”，“４．４３”，“９．４９”であり、その平均値は“７．７５”であった。このように、第１から第４までのいずれの方法も採用しない場合には、評価値ｐが６未満となることもあるが、全体として評価値の値は大きくなり、実施例１〜４と比較して、組成の均一性が低くなっていると考えることができる。
【産業上の利用可能性】
【０１１２】
本発明は、大型で薄いガラス板を用いる種々の製品であって、ガラス板の組成に関して高い均一性を要求する種々の製品に利用可能である。【０１１３】
本出願を詳細にまた特定の実施態様を参照して説明したが、本発明の精神と範囲を逸脱することなく様々な変更や修正を加えることができることは当業者にとって明らかである。
本出願は、２０１０年１２月１５日出願の日本特許出願（特願２０１０-２７９２１１）に基づくものであり、その内容はここに参照として取り込まれる。
【符号の説明】
【０１１４】
１  ガラス板
２  撮影対象ガラス板
５  画像撮影手段
６  画像解析手段
７  ガラスリボン
１２，１３  エッジ部分
【図１】
2012081398.tif 000004
【図２】
2012081398.tif 000005
【図３】
2012081398.tif 000006
【図４】
2012081398.tif 000007
【図５】
2012081398.tif 000008
【図６】
2012081398.tif 000009
【図７】
2012081398.tif 000010
【図８Ａ】
2012081398.tif 000011
【図８Ｂ】
2012081398.tif 000012
【図９】
2012081398.tif 000013
【図１０】
2012081398.tif 000014
【図１１】
2012081398.tif 000015
【図１２Ａ】
2012081398.tif 000016
【図１２Ｂ】
2012081398.tif 000017
【図１２Ｃ】
2012081398.tif 000018
【図１２Ｄ】
2012081398.tif 000019
【図１３】
2012081398.tif 000020
【図１４】
2012081398.tif 000021
【図１５】
2012081398.tif 000022
【図１６】
2012081398.tif 000023
【国際調査報告】
2012081398.tif 000024
2012081398.tif 000025
2012081398.tif 000026
2012081398.tif 000027