(57)【要約】  光学測定装置２において、光学測定装置２および測定プローブ３の校正処理を行う際に照明光の照射対象となる校正用部材４１と、測定プローブ３の先端を挿入可能な挿入部４２ａと、挿入部４２ａに連通し、挿入部４２ａの貫通方向に沿って校正用部材４１を移動可能に収容する収容部４２ｂと、収容部４２ｂに連通し、スイッチ部２５のうち少なくとも操作力が加えられる部分を保持する開口部４２ｃとが形成され、挿入部４２ａから測定プローブ３が挿入されることによって校正用部材４１が収容部４２ｂ内の所定位置に達したときにスイッチ部２５に操作力を加えるようにスイッチ部２５に対して配置される筐体部材４２と、電源２１が起動した場合、校正処理を開始する制御を行う制御部２７と、を備える。
2012057149.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
外部から加わる操作力に応じて電源を起動するスイッチ部を備え、被検体内に導入される測定プローブの基端部が接続され、前記測定プローブの先端から照射する照明光を出力する一方、前記測定プローブを介して入射される前記照明光の反射光および／または散乱光を受光することによって光学測定を行う光学測定装置において、
前記照明光を用いた当該光学測定装置および前記測定プローブの校正処理を行う際に前記照明光の照射対象となる校正用部材と、
前記測定プローブの先端を挿入可能な挿入部と、前記挿入部に連通し、前記挿入部の貫通方向に沿って前記校正用部材を移動可能に収容する収容部と、前記収容部に連通し、前記スイッチ部のうち少なくとも操作力が加えられる部分を保持する開口部とが形成され、前記挿入部から前記測定プローブが挿入されることによって前記校正用部材が前記収容部内の所定位置に達したときに前記スイッチ部に操作力を加えるように前記スイッチ部に対して配置される筐体部材と、
前記電源が起動した場合、前記校正処理を開始する制御を行う制御部と、
を備えたことを特徴とする光学測定装置。
【請求項２】
前記筐体部材は、当該光学測定装置の本体に固定されることを特徴とする請求項１に記載の光学測定装置。
【請求項３】
前記筐体部材は、前記挿入部と前記校正用部材との位置関係が相対的に変更可能であることを特徴とする請求項２に記載の光学測定装置。
【請求項４】
前記筐体部材は、前記測定プローブを保持する保持部を有し、
前記制御部は、前記校正処理が終了した場合、前記保持部による前記測定プローブの保持を解除させることを特徴とする請求項３に記載の光学測定装置。
【請求項５】
前記筐体部材は、当該光学測定装置の本体に対して着脱自在であることを特徴とする請求項１に記載の光学測定装置。
【請求項６】
前記筐体部材は、前記挿入部と前記校正用部材との位置関係が相対的に変更可能であることを特徴とする請求項５に記載の光学測定装置。
【請求項７】
前記筐体部材は、前記測定プローブを保持する保持部を有し、
前記制御部は、前記校正処理が終了した場合、前記保持部による前記測定プローブの保持を解除させることを特徴とする請求項６に記載の光学測定装置。
【請求項８】
請求項１に記載の光学測定装置と、
前記光学測定装置に対して着脱自在な前記測定プローブと、
を備えたことを特徴とする光学測定システム。
【請求項９】
外部から加わる操作力に応じて被検体内に導入される測定プローブの挿入を検出する検出部を備え、前記測定プローブの基端部が接続され、前記測定プローブの先端から照射する照明光を出力する一方、前記測定プローブを介して入射される前記照明光の反射光および／または散乱光を受光することによって光学測定を行う光学測定装置において、
前記照明光を用いた当該光学測定装置および前記測定プローブの校正処理を行う際に前記照明光の照射対象となる校正用部材と、
前記測定プローブの先端を挿入可能な挿入部と、前記挿入部に連通し、前記挿入部の貫通方向に沿って前記校正用部材を移動可能に収容する収容部と、前記収容部に連通し、前記検出部のうち少なくとも操作力が加えられる部分を保持する開口部とが形成され、前記挿入部から前記測定プローブが挿入されることによって前記校正用部材が前記収容部内の所定位置に達したときに前記検出部に操作力を加えるように前記検出部に対して配置される筐体部材と、
前記検出部が前記測定プローブの挿入を検出した場合、前記校正処理を開始する制御を行うとともに、前記光学測定装置の状態を前記光学測定が可能な状態に切換える制御を行う制御部と、
を備えたことを特徴とする光学測定装置。
【請求項１０】
前記筐体部材は、当該光学測定装置の本体に固定されることを特徴とする請求項９に記載の光学測定装置。
【請求項１１】
前記筐体部材は、前記挿入部と前記校正用部材との位置関係が相対的に変更可能であることを特徴とする請求項１０に記載の光学測定装置。
【請求項１２】
前記筐体部材は、前記測定プローブを保持する保持部を有し、
前記制御部は、前記校正処理が終了した場合、前記保持部による前記測定プローブの保持を解除させることを特徴とする請求項１１に記載の光学測定装置。
【請求項１３】
前記筐体部材は、当該光学測定装置の本体に対して着脱自在であることを特徴とする請求項９に記載の光学測定装置。
【請求項１４】
前記筐体部材は、前記挿入部と前記校正用部材との位置関係が相対的に変更可能であることを特徴とする請求項１３に記載の光学測定装置。
【請求項１５】
前記筐体部材は、前記測定プローブを保持する保持部を有し、
前記制御部は、前記校正処理が終了した場合、前記保持部による前記測定プローブの保持を解除させることを特徴とする請求項１４に記載の光学測定装置。
【請求項１６】
請求項９に記載の光学測定装置と、
前記光学測定装置に対して着脱自在な前記測定プローブと、
を備えたことを特徴とする光学測定システム。
【請求項１７】
外部から加わる操作力に応じて電源を起動するスイッチ部を備え、被検体内に導入される測定プローブの基端部が接続され、前記測定プローブの先端から照射する照明光を出力する一方、前記測定プローブを介して入射される前記照明光の反射光および／または散乱光を受光することによって光学測定を行う光学測定装置に装着可能であり、前記照明光を用いた当該光学測定装置および前記測定プローブの校正処理を行う際に用いられる校正用モジュールにおいて、
前記校正処理を行う際に前記照明光の照射対象となる校正用部材と、
前記測定プローブの先端を挿入可能な挿入部と、前記挿入部に連通し、前記挿入部の貫通方向に沿って前記校正用部材を移動可能に収容する収容部と、前記収容部に連通し、前記光学測定装置に取り付けた際に前記スイッチ部のうち少なくとも操作力が加えられる部分を前記校正用部材に接触可能な状態で保持可能な開口部とが形成された筐体部材と、
を備えたことを特徴とする校正用モジュール。
【請求項１８】
前記筐体部材は、前記挿入部と前記校正用部材との位置関係が相対的に変更可能であることを特徴とする請求項１７に記載の校正用モジュール。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、生体組織に照明光を照射し、生体組織から反射または散乱された検出光の測定値に基づいて、生体組織の性状を推定する光学測定システムおよび校正用モジュールに関する。
【背景技術】
【０００２】
従来から、生体組織に照明光を照射し、生体組織から反射または散乱された検出光の測定値に基づいて、生体組織の性状を推定する光学測定システムが知られている。このような光学測定システムは、消化器等の臓器を観察する内視鏡と組み合わせて使用されている。【０００３】
ところで、上述した光学測定システムは、分析結果の分析精度を保証するため、生体組織の測定を開始する前に白色バランスを調整するキャリブレーション処理を行う必要がある。このため、測定を開始する前に、光を反射する光学部材に対して照明光を照射して反射した光を光検出器で受光して測定値を算出し、この算出した測定値と予め設定された基準値とに基づいて、キャリブレーション処理を行うものが知られている（たとえば日本国特開２００６−９４９９２号公報を参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００６−９４９９２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、従来の光学測定システムでは、キャリブレーション処理を使用者に依存しているため、キャリブレーション処理を行わずに生体組織の測定を開始してしまう場合があった。【０００６】
本発明は、上記に鑑みてなされたものであって、キャリブレーション処理を行うことなく生体組織の測定が開始されることを確実に防止することができる光学測定システムおよび校正モジュールを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明にかかる光学測定装置は、外部から加わる操作力に応じて電源を起動するスイッチ部を備え、被検体内に導入される測定プローブの基端部が接続され、前記測定プローブの先端から照射する照明光を出力する一方、前記測定プローブを介して入射される前記照明光の反射光および／または散乱光を受光することによって光学測定を行う光学測定装置において、前記照明光を用いた当該光学測定装置および前記測定プローブの校正処理を行う際に前記照明光の照射対象となる校正用部材と、前記測定プローブの先端を挿入可能な挿入部と、前記挿入部に連通し、前記挿入部の貫通方向に沿って前記校正用部材を移動可能に収容する収容部と、前記収容部に連通し、前記スイッチ部のうち少なくとも操作力が加えられる部分を保持する開口部とが形成され、前記挿入部から前記測定プローブが挿入されることによって前記校正用部材が前記収容部内の所定位置に達したときに前記スイッチ部に操作力を加えるように前記スイッチ部に対して配置される筐体部材と、前記電源が起動した場合、前記校正処理を開始する制御を行う制御部と、を備えたことを特徴とする。【０００８】
また、本発明にかかる光学測定装置は、上記発明において、前記筐体部材は、当該光学測定装置の本体に固定されることを特徴とする。【０００９】
また、本発明にかかる光学測定装置は、上記発明において、前記筐体部材は、前記挿入部と前記校正用部材との位置関係が相対的に変更可能であることを特徴とする。【００１０】
また、本発明にかかる光学測定装置は、上記発明において、前記筐体部材は、前記測定プローブを保持する保持部を有し、前記制御部は、前記校正処理が終了した場合、前記保持部による前記測定プローブの保持を解除させることを特徴とする。【００１１】
また、本発明にかかる光学測定装置は、上記発明において、前記筐体部材は、当該光学測定装置の本体に対して着脱自在であることを特徴とする。【００１２】
また、本発明にかかる光学測定装置は、上記発明において、前記筐体部材は、前記挿入部と前記校正用部材との位置関係が相対的に変更可能であることを特徴とする。【００１３】
また、本発明にかかる光学測定装置は、上記発明において、前記筐体部材は、前記測定プローブを保持する保持部を有し、前記制御部は、前記校正処理が終了した場合、前記保持部による前記測定プローブの保持を解除させることを特徴とする。【００１４】
また、本発明にかかる光学測定システムは、上述した光学測定装置と、前記光学測定装置に対して着脱自在な前記測定プローブと、を備えたことを特徴とする。【００１５】
また、本発明にかかる光学測定装置は、外部から加わる操作力に応じて被検体内に導入される測定プローブの挿入を検出する検出部を備え、前記測定プローブの基端部が接続され、前記測定プローブの先端から照射する照明光を出力する一方、前記測定プローブを介して入射される前記照明光の反射光および／または散乱光を受光することによって光学測定を行う光学測定装置において、前記照明光を用いた当該光学測定装置および前記測定プローブの校正処理を行う際に前記照明光の照射対象となる校正用部材と、前記測定プローブの先端を挿入可能な挿入部と、前記挿入部に連通し、前記挿入部の貫通方向に沿って前記校正用部材を移動可能に収容する収容部と、前記収容部に連通し、前記検出部のうち少なくとも操作力が加えられる部分を保持する開口部とが形成され、前記挿入部から前記測定プローブが挿入されることによって前記校正用部材が前記収容部内の所定位置に達したときに前記検出部に操作力を加えるように前記検出部に対して配置される筐体部材と、前記検出部が前記測定プローブの挿入を検出した場合、前記校正処理を開始する制御を行うとともに、前記光学測定装置の状態を前記光学測定が可能な状態に切換える制御を行う制御部と、を備えたことを特徴とする。【００１６】
また、本発明にかかる光学測定装置は、上記発明において、前記筐体部材は、当該光学測定装置の本体に固定されることを特徴とする。【００１７】
また、本発明にかかる光学測定装置は、上記発明において、前記筐体部材は、前記挿入部と前記校正用部材との位置関係が相対的に変更可能であることを特徴とする。【００１８】
また、本発明にかかる光学測定装置は、上記発明において、前記筐体部材は、前記測定プローブを保持する保持部を有し、前記制御部は、前記校正処理が終了した場合、前記保持部による前記測定プローブの保持を解除させることを特徴とする。【００１９】
また、本発明にかかる光学測定装置は、上記発明において、前記筐体部材は、当該光学測定装置の本体に対して着脱自在である。【００２０】
また、本発明にかかる光学測定装置は、上記発明において、前記筐体部材は、前記挿入部と前記校正用部材との位置関係が相対的に変更可能であることを特徴とする。【００２１】
また、本発明にかかる光学測定装置は、上記発明において、前記筐体部材は、前記測定プローブを保持する保持部を有し、前記制御部は、前記校正処理が終了した場合、前記保持部による前記測定プローブの保持を解除させることを特徴とする。【００２２】
また、本発明にかかる光学測定システムは、上述した光学測定装置と、前記光学測定装置に対して着脱自在な前記測定プローブと、を備えたことを特徴とする。【００２３】
また、本発明にかかる校正用モジュールは、外部から加わる操作力に応じて電源を起動するスイッチ部を備え、被検体内に導入される測定プローブの基端部が接続され、前記測定プローブの先端から照射する照明光を出力する一方、前記測定プローブを介して入射される前記照明光の反射光および／または散乱光を受光することによって光学測定を行う光学測定装置に装着可能であり、前記照明光を用いた当該光学測定装置および前記測定プローブの校正処理を行う際に用いられる校正用モジュールにおいて、前記校正処理を行う際に前記照明光の照射対象となる校正用部材と、前記測定プローブの先端を挿入可能な挿入部と、前記挿入部に連通し、前記挿入部の貫通方向に沿って前記校正用部材を移動可能に収容する収容部と、前記収容部に連通し、前記光学測定装置に取り付けた際に前記スイッチ部のうち少なくとも操作力が加えられる部分を前記校正用部材に接触可能な状態で保持可能な開口部とが形成された筐体部材と、を備えたことを特徴とする。【００２４】
また、本発明にかかる校正用モジュールは、上記発明において、前記筐体部材は、前記挿入部と前記校正用部材との位置関係が相対的に変更可能であることを特徴とする。
【発明の効果】
【００２５】
本発明によれば、測定プローブを校正部に挿入することによって生体組織の測定を可能にするとともに、この挿入に伴ってキャリブレーション処理を実行するので、生体組織の測定が行われる前に光学測定システムのキャリブレーション処理を確実に実行することができる。これにより、使用者によるキャリブレーション処理忘れを確実に防止することができるという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【００２６】
【図１】図１は、本発明の実施の形態１にかかる光学測定システムの概略構成を示す模式図である。
【図２】図２は、本発明の実施の形態１にかかるスイッチ部および校正用モジュールの断面を模式的に示す断面図である。
【図３】図３は、本発明の実施の形態１にかかるスイッチ部および校正用モジュールの動作を説明する図である。
【図４】図４は、本発明の実施の形態２にかかる光学測定システムの概略構成を示す模式図である。
【図５】図５は、本発明の実施の形態２にかかる光学測定システムが行う処理の概要を示すフローチャートである。
【図６】図６は、本発明の実施の形態３にかかる光学測定装置、スイッチ部および校正用モジュールの断面を模式的に示す断面図である。
【図７】図７は、本発明の実施の形態３にかかる校正用モジュールの使用状況を説明する図である。
【図８】図８は、本発明の実施の形態４にかかる校正用モジュールの断面を模式的に示す断面図である。
【図９】図９は、図８の矢視Ａ方向から見た正面図である。
【図１０】図１０は、本発明の実施の形態５にかかる校正用モジュールの断面を模式的に示す断面図である。
【発明を実施するための形態】
【００２７】
以下に、図面を参照して、本発明にかかる光学測定システム、光学測定装置および校正用モジュールを実施するための形態（以下、「実施の形態」という）について説明する。なお、以下に説明する実施の形態によって本発明が限定されるものではない。また、図面の記載において、同一の部分には同一の符号を付している。さらに、図面は模式的なものであり、各部材の厚みと幅との関係、各部材の比率などは、現実と異なることに留意する必要がある。図面の相互間においても、互いの寸法の関係や比率が異なる部分が含まれている。
【００２８】
（実施の形態１）
図１は、本発明の実施の形態１にかかる光学測定システムの概略構成を示す模式図である。図１に示すように、光学測定システム１は、生体組織に対して照明光を照射し、生体組織で反射または散乱された照明光の反射光および／または散乱光（以下、「検出光」という）を受光することによって光学測定を行う光学測定装置２と、被検体内に導入される測定プローブ３と、光学測定システム１のキャリブレーション処理に用いる校正用モジュール４と、を備える。
【００２９】
光学測定装置２は、光学測定装置２を構成する各部に電力を供給する電源２１と、生体組織等の対象物（以下、「測定対象物」という）に照明光を出射する光源部２２と、測定プローブ３を接続する接続部２３と、測定プローブ３から入射される検出光を受光して検出光を測定する分光部２４と、電源２１を起動するスイッチ部２５と、各種情報を出力する出力部２６と、光学測定装置２の動作を制御する制御部２７と、を有する。
【００３０】
光源部２２は、白色ＬＥＤ（Light  Emitting  Diode）キセノンランプまたはレーザ等のインコヒーレント光源と、必要に応じて一または複数のレンズとを用いて実現される。光源部２２は、接続部２３および測定プローブ３を介して測定対象物に照明光を出射する。
【００３１】
接続部２３は、測定プローブ３を接続する。接続部２３は、光源部２２から出射された照明光を測定プローブ３に出射するとともに、測定プローブ３を介して入射される検出光を分光部２４に出射する。接続部２３は、測定プローブ３の接続の有無に関する情報を制御部２７に出力する。この情報は、たとえば測定プローブ３を検出した検出信号である。
【００３２】
分光部２４は、分光器を用いて実現される。分光部２４は、接続部２３および測定プローブ３を介して入射した検出光を受光し、受光した検出光のスペクトル成分等を測定する。分光部２４は、検出光を測定した測定結果を制御部２７に出力する。
【００３３】
スイッチ部２５は、プッシュ式のスイッチ等を用いて実現される。スイッチ部２５は、外部から加わる操作力に応じて電源２１を起動する。
【００３４】
出力部２６は、ディスプレイ、スピーカおよびモータ等を用いて実現される。出力部２６は、測定対象物の測定結果または光学測定装置２に関する各種情報を出力する。具体的には、出力部２６は、音、画像または振動等によって光学測定装置２に関する各種情報を出力する。
【００３５】
制御部２７は、ＣＰＵ（Central  Processing  Unit）およびＲＡＭ（Random  Access  Memory）等の半導体メモリを用いて実現される。制御部２７は、光学測定装置２を構成する各部に対する指示やデータの転送等を行って光学測定装置２の動作を統括的に制御する。制御部２７は、校正処理部２７ａおよび分析部２７ｂを有する。校正処理部２７ａは、電源２１が起動した場合、測定プローブ３の先端から照射する照明光を用いた光学測定装置２および測定プローブ３のキャリブレーション処理を開始する。分析部２７ｂは、分光部２４から出力される測定結果に基づいて、分光部２４が受光した検出光のスペクトル成分等を分析することにより、測定対象物の成分等を分析する。
【００３６】
測定プローブ３は、一または複数の光ファイバを用いて実現される。たとえば、測定プローブ３は、測定対象物に照明光を出射する照明ファイバと、測定対象物で反射または散乱した検出光が異なる角度で入射する複数の検出ファイバとを用いて実現される。測定プローブ３は、基端部３１と、可撓部３２とを有する。基端部３１は、光学測定装置２の接続部２３に着脱自在に接続される。可撓部３２は、可撓性を有し、光源部２２から出射された照明光を光ファイバの端面が露出する先端を含む先端部３２ａに伝送するとともに、この先端部３２ａを介して入射する検出光を分光部２４に伝送する。
【００３７】
図２は、スイッチ部２５および校正用モジュール４の断面を模式的に示す断面図である。図２に示すように、校正用モジュール４は、校正用部材４１と、筐体部材４２とを有する。
【００３８】
校正用部材４１は、円盤状をなす標準部材を用いて実現される。ここで、標準部材とは、白色板または表面が照明光に対して高い反射率を有する部材である。校正用部材４１は、光学測定システム１のキャリブレーション処理を行う際に測定プローブ３の先端部３２ａから照射される照明光の照射対象となる。
【００３９】
筐体部材４２は、筒状をなす軟性部材、たとえばゴム等を用いて実現される。筐体部材４２は、測定プローブ３の先端部３２ａを挿入可能な挿入部４２ａと、挿入部４２ａに連通し、挿入部４２ａの貫通方向に沿って校正用部材４１を移動可能に収容する収容部４２ｂと、収容部４２ｂに連通し、スイッチ部２５のうち少なくとも操作力が加えられる部分を保持する開口部４２ｃとが形成される。筐体部材４２は、挿入部４２ａから測定プローブ３が挿入されることによって校正用部材４１が収容部４２ｂ内の所定位置に達したとき、スイッチ部２５に操作力を加えるように、スイッチ部２５に対して配置される。
【００４０】
以上の構成を有する光学測定システム１の操作手順の概要について説明する。まず、使用者は、測定プローブ３の基端部３１を光学測定装置２の接続部２３に接続する。
【００４１】
続いて、使用者は、測定プローブ３の先端部３２ａを校正用モジュール４の挿入部４２ａに挿入しながら、測定プローブ３の挿入が止まるまで押し込む。この際、図３に示すように、校正用部材４１は、測定プローブ３の先端部３２ａに接触しながら開口部４２ｃ側に移動することにより、スイッチ部２５を押下する（図３（ａ）→図３（ｂ））。これにより、光学測定装置２の電源２１が起動する。
【００４２】
その後、校正処理部２７ａは、光源部２２を駆動させて校正用部材４１に向けて照明光を出射させる。
【００４３】
続いて、分光部２４は、測定プローブ３の先端部３２ａを介して入射した検出光を受光して検出光の測定値を制御部２７に出力する。ここで、測定値とは、検出光のスペクトル成分等である。
【００４４】
その後、制御部２７は、分光部２４から出力された測定値と、予め設定された基準値とに基づいて、光学測定システム１のキャリブレーション処理を実行する。このキャリブレーション処理を実行する際、制御部２７は、分光部２４から出力された測定値が予め設定された閾値より小さい場合、光学測定システム１が異常であることを示す情報を出力部２６に出力させるようにしてもよい。これにより、使用者は、光学測定装置２または測定プローブ３が異常であることを知ることができる。
【００４５】
続いて、校正処理部２７ａは、光学測定システム１のキャリブレーション処理が終了したことを示す情報を出力部２６に出力させる。これにより、使用者は、光学測定システム１のキャリブレーション処理が終了したことを知ることができる。
【００４６】
その後、使用者は、測定プローブ３の先端部３２ａを校正用モジュール４の挿入部４２ａから引き抜き、光学測定システム１を用いた本測定を開始する。具体的には、使用者は、内視鏡装置の処置具挿入部（チャンネル）を介して測定プローブ３を被検体内に導入して本測定を開始する。この本測定の開始に伴って制御部２７は、出力部２６に生体組織の測定結果を出力させる。これにより、使用者は、病変組織の有無を診断する。
【００４７】
本測定が終了した後、使用者は、測定プローブ３の基端部３１を光学測定装置２の接続部２３から引き抜くことにより、測定プローブ３と光学測定装置２との接続を解除する。この場合、接続部２３は、測定プローブ３の検出信号の出力を停止する。制御部２７は、接続部２３からの検出信号を受信しなくなったとき、光学測定装置２の電源２１をＯＮ状態からＯＦＦ状態に切換える。これにより、光学測定システム１による一連の操作が終了する。
【００４８】
以上説明した本実施の形態１では、測定プローブ３の先端部３２ａを校正用モジュール４の挿入部４２ａに挿入することによって光学測定装置２の電源２１を起動させ、この電源２１の起動に連動して光学測定装置２および測定プローブ３のキャリブレーション処理を実行するので、測定対象物の測定を行う前に光学測定システム１のキャリブレーション処理を確実に実行することができる。これにより、使用者がキャリブレーション処理の実行を忘れてしまうことを確実に防止することができる。
【００４９】
（実施の形態２）
つぎに、本発明の実施の形態２について説明する。図４は、本実施の形態２にかかる光学測定システム１００の概略構成を示す模式図である。なお、図４において、上述した実施の形態１で説明した光学測定システム１と同じ構成を有する部位については同一の符号を付し、説明を省略する。
【００５０】
図４に示すように、光学測定システム１００は、検出部１０１および制御部１０２を有する。
【００５１】
検出部１０１は、感度センサまたは圧力センサ等を用いて実現される。検出部１０１は、光学測定装置２の電源２１が起動された状態で校正用モジュール４に測定プローブ３が挿入されたか否かを判断する。具体的には、検出部１０１は、使用者が測定プローブ３を校正用モジュール４に挿入することによって校正用部材４１が開口部４２ｃ側に移動し、この移動に伴って校正用部材４１が検出部１０１の先端部に接触した場合、測定プローブ３が挿入されたと検出し、この検出したことを示す検出信号を制御部１０２に出力する。
【００５２】
制御部１０２は、光学測定装置２の電源２１が起動された状態で検出部１０１が測定プローブ３の挿入を検出した場合、光源部２２を駆動し、接続部２３および測定プローブ３を介して校正用部材４１に照明光を照射させる。その後、制御部１０２は、分光部２４が受光した検出光の測定値と予め設定された基準値とに基づいて、光学測定システム１００のキャリブレーション処理を実行後、スタンバイモードから測定対象物に対して光学測定可能な本測定モードに切換える制御を行う。
【００５３】
ここで、スタンバイモードとは、光学測定装置２の電源２１が起動された状態であり、各構成部が起動を終えた状態である。また、本測定モードとは、光源部２２が測定対象物に対し照明光を照射して、分光部２４が測定プローブ３および接続部２３を介して入射した検出光を受光して測定後、制御部１０２が分光部２４から検出光の測定結果を取得して分析した分析結果を出力部２６に出力させることが可能な状態である。
【００５４】
つぎに、本実施の形態２にかかる光学測定システム１００が行う処理について説明する。図５は、光学測定システム１００が行う処理の概要を示すフローチャートである。
【００５５】
図５に示すように、まず、制御部１０２は、光学測定装置２の電源２１が起動したか否かを判断する（ステップＳ１０１）。光学測定装置２の電源２１が起動した場合（ステップＳ１０１：Ｙｅｓ）、光学測定システム１００は後述するステップＳ１０２に移行する。一方、光学測定装置２の電源２１が起動していない場合（ステップＳ１０１：Ｎｏ）、光学測定システム１００は本処理を終了する。
【００５６】
続いて、制御部１０２は、検出部１０１が測定プローブ３の挿入を検出したか否かを判断する（ステップＳ１０２）。検出部１０１が測定プローブ３の挿入を検出していない場合（ステップＳ１０２：Ｎｏ）、制御部１０２はこの判断を繰り返す。一方、検出部１０１が測定プローブ３の挿入を検出した場合（ステップＳ１０２：Ｙｅｓ）、校正処理部２７ａは、光学測定システム１００のキャリブレーション処理を実行する（ステップＳ１０３）。
【００５７】
校正処理部２７ａによるキャリブレーション処理の終了後、制御部１０２は、キャリブレーション処理が終了したことを示す情報を出力部２６に出力させる（ステップＳ１０４）。この際、校正処理部２７ａは、分光部２４から出力された測定値が予め設定された閾値より小さい場合、光学測定システム１００が異常であることを示す情報を出力部２６に出力させるようにしてもよい。
【００５８】
続いて、制御部１０２は、光学測定システム１００のモードをスタンバイモードから本測定モードに切換える（ステップＳ１０５）。
【００５９】
その後、制御部１０２は、測定終了の指示信号が入力されたか否かを判断する（ステップＳ１０６）。具体的には、制御部１０２は、接続部２３が出力する検出信号の有無を判断する。測定終了の指示信号が入力されていない場合（ステップＳ１０６：Ｎｏ）、光学測定システム１００は測定対象物の検査を続ける。一方、測定終了の指示信号が入力された場合（ステップＳ１０６：Ｙｅｓ）、制御部１０２は、光学測定システム１００のモードを本測定モードからスタンバイモードに切換え（ステップＳ１０７）、光学測定システム１００は本処理を終了する。
【００６０】
以上説明した本実施の形態２では、光学測定装置２の電源２１が起動した状態であっても、使用者が測定プローブ３を校正用モジュール４に挿入してキャリブレーション処理を実行しない限り、制御部１０２が光学測定システム１００をスタンバイモードから本測定モードに切換えないので、上述した実施の形態１と同様に、測定対象物の測定を行う前に光学測定システム１００のキャリブレーション処理を確実に実行することができる。
【００６１】
さらに、上述した本実施の形態２では、光学測定装置２の電源２１が起動した状態でキャリブレーション処理を実行するので、光学測定装置２の電源投入時に生じる待機時間、たとえば制御部１０２および分光部２４が起動するまでに掛かる待機時間がないので、複数の測定プローブ３を用いて測定対象物を効率的に測定することができる。
【００６２】
（実施の形態３）
つぎに、本発明の実施の形態３について説明する。図６は、本実施の形態３にかかる光学測定装置、スイッチ部および校正用モジュールの断面を模式的に示す断面図である。図７は、本実施の形態３にかかる校正用モジュールの使用状況を説明する図である。なお、図６および図７において、上述した実施の形態１で説明した光学測定装置２および校正用モジュール４と同じ構成を有する部位については同一の符号を付し、説明を省略する。
【００６３】
図６に示すように、光学測定装置２００は、スイッチ部２５を露出させる開口を有し、校正用モジュール２０２を装着可能な装着部２０１を有する。装着部２０１は、筒状をなす弾性部材を用いて実現される。装着部２０１は、校正用モジュール２０２を光学測定装置２００に対して着脱自在に保持する開口部２０１ａを有する。
【００６４】
校正用モジュール２０２は、図７に示すように、使用者によって光学測定装置２００の装着部２０１から着脱可能である。
【００６５】
以上説明した本実施の形態３によれば、校正用モジュール２０２が光学測定装置２００に対して着脱自在に設けられているので、汚れや経年劣化によって校正用部材４１が劣化した場合であっても、使用者は校正用モジュール２０２を容易に交換することができる。
【００６６】
なお、本実施の形態３において、校正用モジュール２０２の外周面に雄ねじを形成するとともに、開口部２０１ａの内周面に雄ねじに対応する雌ねじを形成し、使用者が校正用モジュール２０２を回転させながら光学測定装置２００に装着できるようにしてもよい。
【００６７】
（実施の形態４）
つぎに、本発明の実施の形態４について説明する。図８は、本実施の形態４にかかる校正用モジュールの断面を模式的に示す断面図である。図９は、図８の矢視Ａ方向から見た正面図である。なお、図８および図９において、上述した実施の形態２で説明した光学測定システム１００および校正用モジュール４と同じ構成を有する部位については同一の符号を付し、説明を省略する。
【００６８】
図８および図９に示すように、校正用モジュール３００は、筐体部材３０１と、蓋部３０２とを有する。
【００６９】
筐体部材３０１は、筒状をなす軟性部材を用いて実現される。筐体部材３０１は、校正用部材４１を収容する収容部４２ｂと、スイッチ部２５のうち少なくとも操作力が加えられる部分を保持する第１開口部３０１ａと、蓋部３０２を保持する第２開口部３０１ｂとを有する。第２開口部３０１ｂは、鉤状の断面をなしており、蓋部３０２が収容部４２ｂから抜け出ることを防止する。
【００７０】
蓋部３０２は、略円盤状をなす軟性部材を用いて実現される。蓋部３０２は、測定プローブ３の先端部３２ａが挿入可能な挿入部４２ａが形成される。蓋部３０２は、大径部３０２ａと小径部３０２ｂとを有する。大径部３０２ａの径は、収容部４２ｂの径より若干小さく、第２開口部３０１ｂの径より大きく形成される。これにより、大径部３０２ａは、収容部４２ｂから抜け出ることが防止される。小径部３０２ｂの径は、大径部３０２ａの径より若干小さく形成されるとともに、第２開口部３０１ｂの径より小さく形成される。
【００７１】
以上の構成を有する校正用モジュール３００は、使用者が蓋部３０２を筐体部材３０１に対して所望の方向に回転可能である。したがって、蓋部３０２は、挿入部４２ａと校正用部材４１との位置関係を相対的に変更することができる。
【００７２】
以上説明した本実施の形態４によれば、蓋部３０２が挿入部４２ａと校正用部材４１との位置関係を相対的に変更可能なので、測定プローブ３を校正用モジュール３００に挿入する毎に校正用部材４１の新しい位置でキャリブレーション処理を実行することができる。この結果、校正用モジュール３００をより長く使用することができるうえ、より多くの回数のキャリブレーション処理を実行することができる。
【００７３】
なお、本実施の形態４においては、使用者が蓋部３０２を回転させていたが、たとえば測定プローブ３を挿入部４２ａに挿入する毎に校正用部材４１が自動的に所定角度回転する構成であってもよい。
【００７４】
（実施の形態５）
つぎに、本発明の実施の形態５について説明する。図１０は、本実施の形態５にかかる校正用モジュールの断面を模式的に示す断面図である。なお、図１０において、上述した実施の形態１で説明した光学測定システム１および校正用モジュール４と同じ構成を有する部位については同一の符号を付し、説明を省略する。
【００７５】
図１０に示すように、校正用モジュール４００は、２つの保持部４０１，４０２を有する。保持部４０１は、測定プローブ３の挿入方向と直交する方向に進退可能なピストン部４０１ｂと、ピストン部４０１ｂの先端に設けられ、測定プローブ３の先端部３２ａの側面と接触可能な弾性部材４０１ａと、ピストン部４０１ｂを駆動させる駆動部４０１ｃとを有する。保持部４０１と同一の構成を用いて実現され、弾性部材４０２ａとピストン部４０２ｂと駆動部４０２ｃとを有する。保持部４０１，４０２は、左右対称に配置される。
【００７６】
以上の構成を有する校正用モジュール４００の動作の概要について説明する。まず、制御部１０２は、検出部１０１が測定プローブ３の挿入を検出した場合、駆動部４０１ｃ，４０２ｃを駆動させることによって、ピストン部４０１ｂ，４０２ｂを測定プローブ３に近づく方向に向けて測定プローブ３に当接するまでそれぞれ前進させる。これにより、測定プローブ３の先端部３２ａは、弾性部材４０１ａ，４０２ａによって挟持される。
【００７７】
その後、制御部１０２は、光学測定システム１のキャリブレーション処理が終了した後、駆動部４０１ｃ，４０２ｃを駆動させることによって、ピストン部４０１ｂ，４０２ｂを測定プローブ３から遠ざかる方向に向けてそれぞれ後退させる。これにより、測定プローブ３の先端部３２ａは、弾性部材４０１ａ，４０２ａによる挟持が解除される。
【００７８】
以上説明した本実施の形態５によれば、校正用モジュール４００に保持部４０１，４０２を設け、使用者が光学測定システム１のキャリブレーション処理が終了するまで測定プローブ３を校正用モジュール４００から引き抜くことができないので、測定対象物の測定を行う前にキャリブレーション処理を確実に実行することができる。
【００７９】
また、本実施の形態５において、保持部４０１，４０２が校正用モジュール４００に設けられていたが、たとえば校正用モジュール４００に複数の保持部を設けるようにしてもよい。
【００８０】
（その他の実施の形態）
上述した実施の形態１〜５では、分光部２４が１つ設けられているが、測定プローブ３内に設けられた検出用の光ファイバの数に応じて複数設けても良い。
【００８１】
また、上述した実施の形態１〜５では、分光部２４が設けられていたが、たとえば、光源部２２に光センサを設け、この光センサが測定プローブ３を介して入射する検出光を分光または異なる波長域ごとにそれぞれ測定するようにしてもよい。
【００８２】
また、上述した実施の形態１〜５では、照明光の照射と検出光の検出とを一つの測定プローブで行っていたが、たとえば照明光を行う照射プローブと検出光を検出する検出プローブとをそれぞれ設けても良い。
【００８３】
さらなる効果や変形例は、当業者によって容易に導き出すことができる。よって、本発明のより広範な態様は、以上のように表わしかつ記述した特定の詳細および代表的な実施形態に限定されるものではない。したがって、添付のクレームおよびその均等物によって定義される総括的な発明の概念の精神または範囲から逸脱することなく、様々な変更が可能である。
【符号の説明】
【００８４】
１，１００                  光学測定システム
２，２００                  光学測定装置
３                          測定プローブ
４，２０２，３００，４００  校正用モジュール
２１                        電源
２２                        光源部
２３                        接続部
２４                        分光部
２５                        スイッチ部
２６                        出力部
２７ａ                     校正処理部
２７，１０２                制御部
２７ｂ                      分析部
３１                        基端部
３２                        可撓部
３２ａ                      先端部
４１                        校正用部材
４２ｃ                      開口部
４２ｂ                      収容部
４２ａ                      挿入部
４２，３０１                筐体部材
１０１                      検出部
２０１                      装着部
２０１ａ                    開口部
３０１ａ                    第１開口部
３０１ｂ                    第２開口部
３０２                      蓋部
３０２ａ                    大径部
３０２ｂ                    小径部
４０１，４０２              保持部
４０１ａ，４０２ａ          弾性部材
４０１ｂ，４０２ｂ          ピストン部
４０１ｃ，４０２ｃ          駆動部
【図１】
2012057149.tif 000003
【図２】
2012057149.tif 000004
【図３】
2012057149.tif 000005
【図４】
2012057149.tif 000006
【図５】
2012057149.tif 000007
【図６】
2012057149.tif 000008
【図７】
2012057149.tif 000009
【図８】
2012057149.tif 000010
【図９】
2012057149.tif 000011
【図１０】
2012057149.tif 000012
【手続補正書】
【提出日】平成24年5月1日(2012.5.1)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
被検体内に導入される測定プローブの基端部が接続され、前記測定プローブを介して前記被検体からの散乱光を測定可能な光学測定装置において、
前記測定プローブからの照明光を用いて前記測定プローブの校正処理を行う際に前記照明光の照射対象となる校正用部材と、
前記測定プローブの先端を挿入可能な挿入部と、
前記挿入部に連通し、前記挿入部の貫通方向に沿って前記校正用部材を移動可能に収容する収容部と、
前記挿入部から前記測定プローブが挿入されることによって前記校正用部材が前記収容部内の所定位置に達することで前記測定プローブの挿入を検出する検出部と、
前記検出部が前記測定プローブの挿入を検出した場合、前記校正処理を開始する制御を行う制御部と、
を備えたことを特徴とする光学測定装置。
【請求項２】
前記検出部は、前記測定プローブによる操作力が加わることによって当該光学測定装置の電源を起動するスイッチ部を有することを特徴とする請求項１に記載の光学測定装置。
【請求項３】
前記測定プローブを保持する保持部をさらに備え、
前記制御部は、前記校正処理が終了した場合、前記保持部による前記測定プローブの保持を解除させることを特徴とする請求項２に記載の光学測定装置。
【請求項４】
請求項１に記載の光学測定装置と、
前記光学測定装置に対して着脱自在な前記測定プローブと、
を備えたことを特徴とする光学測定システム。
【請求項５】
前記検出部は、前記校正用部材が前記収容部内の所定位置に達して接触したとき、前記測定プローブの挿入を検出することを特徴とする請求項１に記載の光学測定装置。
【請求項６】
前記測定プローブを保持する保持部をさらに備え、
前記制御部は、前記校正処理が終了した場合、前記保持部による前記測定プローブの保持を解除させることを特徴とする請求項５に記載の光学測定装置。
【請求項７】
前記項５に記載の光学測定装置と、
前記光学測定装置に対して着脱自在な前記測定プローブと、
を備えたことを特徴とする光学測定システム。
【国際調査報告】
2012057149.tif 000013
2012057149.tif 000014
2012057149.tif 000015
2012057149.tif 000016