- 1 -기술표준원 공고제2010-0259 호
「품질경영 및공산품안전관리법 」제14조제3항․제19조제2항․
제22조제1항․제24조제3항에따라안전인증대상공산품 ,자율안전
확인대상공산품 ,,안전․품질표시대상공산품 및어린이보호포장대상
공산품의 모든어린이용 공산품에 대해유해물질 안전기준을 
제정함에 있어그제정취지와 주요내용을 업계및국민에게 미리 
알려의견을듣고자 행정절차법 제41조제1항의규정에의하여
다음과같이공고합니다 .
2010년8월20일
기술표준원장
「어린이용 공산품의 유해물질 (납,카드뮴 ,니켈 ,
프탈레이트 가소제 ,자석및자석부품 )안전
기준 」제정(안)입안예고
1.제정취지
「품질경영 및공산품안전관리법 」에‘어린이용 공산품의 유해
물질안전기준 ’을정함으로써 어린이용품에 납,카드뮴 ,프탈레이트 
등유해물질에 대한안전관리를 강화하여 어린이의 건강을보호하기
위함- 2 -2.주요내용
ㅇ안전관리 대상품목은 「품질경영 및공산품안전관리법 」
에서지정관리되고 있는품목중어린이용 공산품에 적용함
ㅇ안전관리대상 유해물질에는 납,카드뮴 ,니켈 ,프탈레이트
가소제 ,자석 및자석부품 등5종을규제
3.「어린이용 공산품의 유해물질 안전관리기준」제정(안)내용
「어린이용 공산품의 유해물질 안전관리 기준」을다음과같이 
제정한다 .
※「어린이용 공산품의 유해물질안전관리기준」제정(안)은기술표준원 홈페이지 
(w ww .kats.go.kr) 고시/공고란에서 열람할수있습니다 .
부칙(제2010- 호,2010. ..)
제1조(시행일 )이고시는고시후1년이경과한날부터시행한다 .
제2조(다른고시의개정 )①안전인증대상공산품 안전기준 중
다음과같이개정한다 .
ㅇ물놀이 안전기준 부속서 7제1부공기주입물놀이기구의
4.5.2및 4.5.3,제3부수영보조용품 (착용형 )5.4.3.2및
5.4.3.3,제4부수영보조용품 (비착용형 )을삭제한다 .
②자율안전확인대상공산품 안전기준 중다음과같이개정한다 .
ㅇ유아보호용품 안전기준 부속서 14의4.2.3을삭제한다 .
ㅇ어린이용장신구 안전기준 부속서 36의4.3.1, 4.3.2및4.3.3을
삭제한다 .
ㅇ학용품안전기준 부속서 44제4부지우개의 4.3,제9부연필- 3 -깍이의 4.3,제10부팔레트의 4.4,제11부필통의 5.2,제12부
책받침의 3.5,제14부공책의 3.5,제15부스케치북의 3.4,
제16부의문구용풀의 4.2를삭제한다 .
ㅇ보행기의 안전기준 부속서 51의3.2.1.1및3.2.1.3을삭제한다 .
ㅇ유모차의 안전기준 부속서 54의5.2.3.1및5.2.3.3을삭제한다 .
제3조(유해물질 적용에관한경과조치 )이고시시행이전에출고
되었거나 통관된제품은적용하지 아니한다 .
4.의견제출
이제정(안)에대해서의견이있는개인,업체또는단체는 2010.
9.6(월)까지다음사항을기재한의견서를 지식경제부 기술표준원 
생활제품안전과에 제출하여 주시기바랍니다 .
가.예고사항에 대한의견 (찬ㆍ반여부와그사유 )
나.의견제출자의 인적사항 (주소및전화번호 )
다.단체인경우 (단체명 ,대표자명 ,주소및전화번호 )
※지식경제부 기술표준원 생활제품안전과 연락처
ㅇ주소 :경기도과천시중앙동교육원길 96(우427 -723)
ㅇ전화 :02-509-7246~9
ㅇ팩스 :02-509-7302
붙임어린이용 공산품의 유해물질 (납,카드뮴 ,니켈 ,프탈레이
트가소제 ,자석및자석부품 )안전기준 (안)
- 4 -[붙임 ]
어린이용 공산품의 유해물질 (납,카드뮴 ,니켈 ,
프탈레이트 가소제 ,자석및자석부품 )안전기준 (안)
1.적용범위
이기준은 다음각호의공산품 중어린이용 제품으로 적용대상
품목은별표 1과같다 .또한이기준에서 규정하지 않은유해물질은
각개별안전기준에 따른다 .다만 ,어린이에게 닿을수없는제품의
구성부분에는 적용하지 않는다 .
가.「품질경영 및공산품안전관리법 」제2조제8호에따른안전인증대상공산품
나.같은법제2조제 9호에따른자율안전확인대상공산품
다.같은법제2조제 10호에따른안전․품질표시대상공산품
2.용어의정의
가.‘어린이용 공산품 ’이란 14세미만의어린이가 사용하도록 의도된
제품과 14세미만의어린이를 위한시설등에사용될수있는용
도로제조된제품을말한다 .
나.‘유아용품 ’이란 36개월미만의어린이가 주로사용하는 제품과 36
개월미만의어린이를 위한시설등에사용될수있는용도로제
조된어린이용 공산품을 말한다
다.‘유해물질 ’이란 3항의안전요건에 제시된물질을말한다 .- 5 -3.유해물질 안전요건
어린이용 공산품에 함유되는 유해물질의 안전요건은 다음과같으며품목별 
적용되는 유해물질은 별2와같다 .
3-1.유해화학물질
유해물질 허용치
납(Pb)1)300 mg/kg미만
카드뮴 (Cd) 75mg/kg미만
니켈방출량2)0.5㎍/㎠/week미만
프탈레이트
가소제3)DEHP
총함유량 0.1%미만DBP
BBP
DNOP
DINP
DIDP
1)DEHP(Diethylhexyl Phthalate, 다이에틸헥실프탈레이트 )
2)DBP(Dibutyl Phthalate, 다이부틸프탈레이트 )
3)BBP(Butyl benzyl Phthalate, 부틸벤질프탈레이트 )
4)DINP(Diisononyl Phthalate, 다이이소노닐프탈레이트 )
5)DIDP(di-iso-decyl phthalate, 다이이소데실프탈레이트 )
6)DNOP(di-n-octyl phthalate, 다이엔옥틸프탈레이트 ) 
비고 1.페인트및표면코팅의 경우 90mg/kg미만 
 2.피부에직접접촉하는 금속제품에 적용함
 -완구 ,장신구 ,안경테 ,선글라스 ,의류등에사용된금속제품
 3.DINP, DIDP, DNOP의경우다음의제품에적용함
 1)어린이가 입에넣어사용할의도로제작된공산품
 -치발기 ,노리개젖꼭지 ,딸랑이등
 2)어린이의 수면 ,긴장완화 ,위생 ,수유를도와줄용도로제작된공산품
 -놀이매트 ,변기 ,의자 ,욕조 ,슬리퍼 ,우산손잡이 등
 3)입에넣고사용할의도로제작되지 않았으나 14세미만어린이의
놀이목적으로 제작된제품및기타어린이용 공산품으로 입에넣기
쉽게제작된 5cm이하크기제품
 -완구,물놀이용품,장신구 ,악세사리 등- 6 -3-2.위해자석 (hazardous magnet)
위해한자석(1)이나자석부품(2)이어린이용 공산품에 포함되지 않아야하며
어린이용 공산품에 포함된자석은부록 4의기준에적합하여야 한다 .단전기
또는전자부품의기능자석에는 적용하지 않는다 .
(1)위해한자석이란자속지수 (flux index)가50kG2mm2보다크고크기가그림 1
실린더 내에완전히들어가는 제품으로 구성된작은자석을 말한다 .
(2)위해한자석부품이란제품에포함된크기가그림 1실린더내에완전히
들어가는 작은부품이고 ,자속지수 (flux index)가50kG2mm2보다큰자석
이부착되어있거나포함되어 있는자석부품을 말한다 .
그림 1작은자석측정용기
3.시험방법
3.1재질중의 납및카드뮴함유량
부록 1에따른다 .
3.2페인트및코팅제품의 납함유량
부록 2에따른다 .
3.3니켈방출량
부록 3에따른다 .
3.4프탈레이트계 가소제함유량
자율안전확인 안전기준 부속서 35.C(어린이용 장신구 )에따른다
3.2위해자석 시험방법
부록 4에따른다 .- 7 -[별표 1]
유해물질 안전관리대상 (제1항및제3항관련 )
구분 품목 세품목 관리대상 유해물질비고
(적용부분 )
안전인증
대상
공산품물놀이기구공기주입 물놀이기구 ,
수영보조용품 ,
수영보조용품납,프탈레이트 ,
카드뮴
비비탄총납,프탈레이트 ,
카드뮴 ,자석
어린이놀이기구그네,미끄럼틀 ,공중
놀이기구 ,회전놀이기구 ,흔들
놀이기구 ,충격흡수표면구역납,프탈레이트 ,
카드뮴
자동차용
어린이보호장치납,프탈레이트 ,
카드뮴 ,니켈
자율안전
확인대상
공산품스포츠용구명복스포츠용구명복,부력보조복납,프탈레이트 ,
카드뮴 ,니켈
유아용섬유제품유아복,침구류 ,신발류 ,
양말류 ,신생아용기본품,
가방류 ,모자류납,프탈레이트 ,
카드뮴 ,니켈 ,자석
유아보호용품납,프탈레이트 ,
카드뮴 ,니켈 ,자석
롤러스케이트납,프탈레이트 ,
카드뮴신발부위
적용
쇼핑카트납,프탈레이트 ,
카드뮴손잡이부위
적용
롤러스포츠보호장구납,프탈레이트 ,
카드뮴 ,니켈
바퀴운동화납,프탈레이트 ,
카드뮴
벽지및종이장판지납,프탈레이트 ,
카드뮴동물 ,만화등
캐릭터가
있는제품
아동용이단침대납,프탈레이트 ,
카드뮴
어린이용 장신구반지 ,목걸이,팔찌,장식용체인 ,
귀고리 ,펜던트,발찌,
손톱장식품 ,피어싱,납,프탈레이트 ,
카드뮴 ,니켈 ,자석
완구납,프탈레이트 ,
카드뮴 ,니켈 ,자석
유아용삼륜차 납,프탈레이트 ,의자 ,손잡이- 8 -카드뮴 적용
유아용의자납,프탈레이트 ,
카드뮴
유아용캐리어납,프탈레이트 ,
카드뮴 ,니켈
이륜자전거일반용자전거 ,유아용자전거 ,
전기자전거납,프탈레이트 ,
카드뮴손잡이 ,
의자부위 ,
페인트적용
일회용기저귀
학용품크레용․크레파스,연필류및
연필심,샤프연필및
샤프연필심,지우개 ,파스텔,
수채그림물감,분필 ,마킹펜류,
연필깎이,팔레트 ,필통 ,
책받침 ,색종이 ,공책 ,
스케치북 ,찰흙 ,문구용풀납,프탈레이트 ,
카드뮴 ,니켈 ,자석
휴대용레이저용품납,프탈레이트 ,
카드뮴
모타달린보드납,프탈레이트 ,
카드뮴페인트 ,
손잡이적용
물휴지(물티슈 )납,프탈레이트 ,
카드뮴 ,니켈
온열시트납,프탈레이트 ,
카드뮴 ,니켈
보행기납,프탈레이트 ,
카드뮴 ,자석
승차용안전모납,프탈레이트 ,
카드뮴
운동용안전모자전거롤러스포츠용안전모 ,
어린이용 안전모 ,
등산용안전모 ,스키용안전모 ,
야구용안전모납,프탈레이트 ,
카드뮴 ,니켈
유모차납,프탈레이트 ,
카드뮴 ,자석
유아용침대등받이조절요람 ,간이침대 ,
가정용유아용침대 및요람 ,
접이침대 ,가정용놀이울타리납,프탈레이트 ,
카드뮴 ,니켈
인라인롤러스케이트납,프탈레이트 ,
카드뮴
킥보드납,프탈레이트 ,
카드뮴
안전ㆍ품질
표시대상아동용섬유제품납,프탈레이트 ,
카드뮴 ,니켈 ,자석- 9 -공산품양탄자납,프탈레이트 ,
카드뮴
가죽제품납,프탈레이트 ,
카드뮴 ,니켈
가구책상및테이블류,의자 ,옷장,
이불장,침대납,프탈레이트 ,
카드뮴 ,니켈 ,자석
보안경납,프탈레이트 ,
카드뮴 ,니켈
선글라스납,프탈레이트 ,
카드뮴 ,니켈
안경테납,프탈레이트 ,
카드뮴 ,니켈
텐트납,프탈레이트 ,
카드뮴
물안경납,프탈레이트 ,
카드뮴 ,니켈
반사안전조끼납,프탈레이트 ,
카드뮴 ,니켈
보온보냉용기 보온용기 ,보냉용기납,프탈레이트 ,
카드뮴
침대매트리스납,프탈레이트 ,
카드뮴
우산및양산납,프탈레이트 ,
카드뮴 ,니켈손잡이에
적용- 10 -재질중의 납및카드뮴 부록 1
1.금속기질재료 중의납,카드뮴
1.1.1 원리
어린이용 공산품중기질재료가금속인경우의납,카드뮴정량방법에대하여규정한다 .
시료는염산또는질산과같은산을이용하여 분해시킨다음 ,이용액을AAS, ICP-OES,
ICP-MS 등을이용하여 납,카드뮴을 정량한다 .
비고이방법에따라조작할경우에는 유독하고위험한물질이사용되므로아래에나타낸
자세한주의사항을 따라야한다 .
1.1.2시약
시약및물등에는분석원소나 방해원소의농도가최저측정농도와비교하여무시할정도로
낮아야한다 .
a)물KSMISO 3696에규정된 1등급수를모든시료용액의준비와희석에사용한다 .
b)질산ρ (HNO 3)＝1.4g/mL, 65%(m/m)
c)묽은질산 (1:2)물[1.1.2 a)]과진한질산 [1.1.2 b)]을2:1(부피비 )비율로묽힌다.
d)플루오린화붕소산 HBF 4,50%(m/m)또는플루오린화수소산 [1.1.2 j)] 40%
(m/m)200 mL에붕산[1.1.2 m)]75g을용해시켜조제한것을사용할수도있다 .
e)과산화수소 ρ (H2O2)=1.10 g/mL, 30%(m/m)
f)과염소산 ρ (HClO 4)＝1.67 g/mL, 70%(m/m)
g)인산ρ (H3PO 4)＝1.69 g/mL, 85%(m/m)이상
h)황산ρ (H2SO 4)＝1.84 g/mL, 95%(m/m)
i)묽은황산 (1:2)물[1.1.2 a)]과진한황산[1.1.2 h)]을2:1(부피비 )비율로희석한다 .
j)플루오린화 수소산 ρ (HF)＝1.18 g/mL 40%(m/m)
k)염산ρ (HCl)=1.16 g/mL, 37%(m/m)
l)브로민화 수소산 ρ (HBr)＝1.48 g/mL, 47%∼49%(m/m)
m)붕산(H3BO 3)50mg/mL, 5%(m/m)
n)혼합산 1(염산[1.1.2 k)]：질산 [1.1.2 b)]：물[1.1.2 a)]＝2：1：2)
o)혼합산 2(질산 [1.1.2 b)]：플루오린화수소산 [1.1.2 i)]＝1：3)- 11 -p)혼합산 3(염산[1.1.2 k)]：질산 [1.1.2 b)]＝3：1)
r)납표준용액 (1000 mg/ L)
s)카드뮴표준용액 (1000 mg/ L)
t)내부표준용액
내부표준원소는 분석원소와 방해가 없는것으로사용한다 .또한시료용액안의내부
표준원소의존재는무시할정도로낮아야한다 .Sc,In,Tb, Lu, Re, Rh, Bi및Y는내부
표준원소로 사용될수있다 .
비고플루오린화수소산을 사용할 경우에는특별한방법을사용해야 한다 .예를들면
플루오린화수소산이 피부에묻었을때에는물로 15분이상충분히씻고,해독제
연고 (수용성젤에2.5%글루콘산칼슘이함유된것)를발라응급처치하고 의사의
처방을 받는다 .장기간치료를요하는때에는칼슘이많이포함된 음식물을
섭취하는것이좋다.
1.1.3장치및기구
a)원자흡수분광기 (AAS) 
b)유도결합플라스마 원자방출분광분석기 (ICP-OES) 
c)유도결합플라스마 질량분석기 (ICP-MS) 
d)마이크로파 분해시스템 시료용기와 고압TFM (tetrafluoromethaxil) 이나 PFA
(perfluoro- alkoxyfluorocarbon) 또는다른불화탄소물질로 이루어진용기를사용
1.1.4시료조제
1.1.4.1시험시료
시료1g을0.1 mg까지달아비커에옮겨넣는다 (플루오린화수소산 [1.1.2 j)]을이용할
때는PTFE또는 PFA비커에넣는다 ).1)
주1시료량이 10~100 mg로적을경우시료량사용한것으로부터 적절하게검정곡선작성또는
측정하기 위해시료용액를계산하여 제조하여 시험한다 .
1.1.4.2시험용시료용액조제
이절에서설명하는 시료전처리는 모든금속과그화합물에 적용되는것은아니다 .대체로
염산,질산또는혼합산을이용하여 용액을조제한다 .이러한산으로용해가어려운시료는
과염소산 ,황산등을필요시넣어준다 .단,황산사용은납원소의손실위험성에때문에
납의정량에심각한영향을미친다는것을염두에두어야한다 .시료를고온에서가열하여
잔류물없이완전히용해시켜야하며 ,또한인산을사용해서 용해해도 된다 .
금속이나 화합물을 강산으로 용해시킬때는침전의 위험이있다 (황산에서는 Pb, Ba;
염산에서는 Ag, Au은산화물또는수화산화물을 형성될것이다 ).만약원소들을 확인하지- 12 -않는다면 공침으로 인해분석원소 물질이감소될수있는위험성이있다 .이절의목적을
위해서 반드시 분석원소 물질이 시험용액에서손실이 있는지 확인해야 한다 .원소및
관련된화합물등(산화알루미늄,산화실리콘,탄화크로뮴 및탄화나이오븀등)다수는이
방법으로 완전히 시료를녹일수없다 .이러한물질이존재하면 ,산분해후잔류물은
알칼리용융이나밀폐가압용기를이용해서 완전히용해시킨후,시료원액과합친다.
a)일반적인 시료용해방법
시료가들어있는유리비커에시계접시를덮는다 .혼합산 1[1.1.2 n)]20mL를넣고
용해될때까지가열한다 .실온까지식힌후시계접시 안쪽과비커벽을물로씻어주고
시계접시를 제거한다 .용액을100 mL부피플라스크 [1.1.3 e)3)]에옮겨넣고물로
눈금까지묽힌다.최종용액은시료용액을모은것이며시료용액은각측정기기의농도
수준에 적합하게 물로희석한다 .필요하다면 ,예를들어로듐을포함하는 내부표준원소
[1.1.2 r)]를첨가한후물로플라스크의눈금까지묽힌다.원소의 종류와양은선택된
분석방법에 의해결정되며 ,각각의희석과정은결과의계산에고려되어야 한다 .희석및
내부표준물첨가는시험보고서에 기록해야 한다 .
b)주석을함유하는 경우
시료가들어있는비커[1.1.3 e)2)]에시계접시를덮고혼합산 3[1.1.2 p)]10mL를소량씩
넣어준다 .격렬한반응이끝나면약하게가열하여 완전히용해시킨다.실온으로식힌후,
시계접시 안쪽과비커벽을물로씻어주고시계접시를 제거한다 .황산[1.1.2 h)]10mL를
넣고황산백연이발생될때까지가열한다 .몇분동안식힌후브로민화수소산 [1.1.2 l)]
20mL를넣고다시가열하여백연이발생될때까지가열한다 .이과정을 3번반복한후,
실온으로식힌다음 ,질산 [1.1.2 b)]10mL를넣고가용성염류를용해시킨다.실온으로
식힌후용액을100 mL부피플라스크 [1.1.3 e)3)]로옮겨넣고물로눈금까지묽힌다.
최종용액은시료용액을모두모은것이다 .시료용액은각측정기기의농도수준에
적합하도록 물로희석한다 .필요하다면 ,예를들어로듐을포함하는 내부표준원소 [1.1.2
r)]를첨가한후물로눈금까지묽힌다.선택된원소의종류와양은선택된분석방법에 의해
결정된다 .각각의희석과정은결과의계산에고려되어야 하며 ,희석및첨가된내부표준물
[1.1.2 r)]모두시험보고서에 기록해야 한다 .
다른방법으로는 시료1g에물40mL,질산 [1.1.2 b)]12mL와플루오린화붕소산 [1.1.2
d),또는플루오린화수소산 [1.1.2 j)]40%(m/m) 200 mL에붕산[5.5.3.2 m)]75g을
용해시킨것]6mL를사용하여 용해시키는방법이 있다 .이경우에는 PTFE또는 PFA
비커와LDPE또는 PFA부피플라스크를 사용한다 .
c)시료용해시잔유물이남아있을 경우원심분리를 하거나 여과를 통해분리한다 .
잔류물에납원소가없다는것을적절한측정방법으로 확인한다 .- 13 -비고은이존재하고 주석이 다량함유되어 있을경우즉,무연땜납인경우에는
플루오린화수소산으로 용해시키고분해가완전히진행될때까지과산화수소 10
mL을소량씩넣는다 .
1.1.5바탕용액조제
시료를제외하고사용된 모든시약을사용하여 시료용액조제방법에 따라동일한
방법으로 조작하여 바탕용액을조제한다 .
1.1.6시험조작
만약시료조성이확실히알려져있으면 ,검정곡선법 (매질보정법 )을이용하고 ,미지시료일
경우에는 내부표준법 (감도비교법 )을사용한다 .만약표준물첨가방법이 필요하다면
사용할수도있다 .
비고내부표준법의 경우 ,AAS에는적절하지 않음 .
비고높은매질농도시료에서는매질보정법이 유리하다 .
비고만일매질의효과가정확하지 않다면용매추출,이온교환등과같은방법을
이용해매질물질을제거해야 한다 .
1.1.6.1검정곡선용표준용액조제
검정곡선용표준용액은다음과같이두가지방법으로검정곡선용표준용액을준비한다 .
a)검정곡선법 (매질보정법 )
납,카드뮴 표준용액을0μg∼100μg의농도가함유되도록 100 mL부피플라스크에
단계적으로옮겨넣어묽힌다.매질보정법의 경우 ,시료용액의매질과표준용액의매질이
근접되게보정해주는것이필요하다 .시료용액의매질과일치하는혼합된검정곡선용
표준용액을조제하기 위하여각각의시약및매질원소를넣는다 .
만약플루오린화수소산을 이용할 경우에는 PTFE비커또는 PFA비커및저밀도
폴리에틸렌(LDPE) 부피플라스크또는 PFA부피플라스크를 사용한다 .
b)내부표준물첨가법
시료용액의농도와같은농도를얻기위하여 ,시약과내부표준물 원소를 넣어검정
곡선용표준용액을준비한다 .
만약플루오린화수소산을 사용할경우에는 PTFE비커또는 PFA비커및LDPE부피
플라스크또는 PFA부피플라스크를 사용한다 .- 14 -5.5.3.6.2 검정곡선용표준용액
a)원자흡수분광법 (AAS)
납원소의 원자파장의흡수를측정하기 위하여최적화된 조건하에서 AAS의
공기－아세틸렌불꽃안으로조제된검정곡선용표준용액의일부를도입시킨다.검정
곡선법 (매질보정법 )에서는납,카드뮴원자스펙트럼선의세기와농도의관계를보여주는
곡선을검정곡선으로작성한다 .
공존하는물질로인한간섭의경우 ,선택된검정범위에서간섭이없는파장을선택하거나
적당한방법을이용하여간섭세기를보정해야 한다 .
<0.998보다작은직선계수 (R2)를가진직선회귀곡선은초기검정에사용될수있다 .점검
표준물결과(즉,표준물질 ,표준용액등)가예상값보다 20%이상차이가나면 ,관계있는
검정물질과모든시료는다시측정해야 한다 .
b)유도결합플라스마 원자방출분광분석법 (ICP-OES)
납,카드뮴원소의원자스펙트럼선의세기를측정하기 위하여최적화된조건하에 ICP-OES
아르곤플라스마안으로준비된검정곡선용표준용액의일부를도입시킨다.
검정곡선법 (매질보정법 )에서는 납,카드뮴 원자스펙트럼선의세기와농도의관계를
보여주는곡선을검정곡선으로작성한다 .
내부표준법에서는 내부표준원소에대한납,카드뮴원소의감도비율과농도의관계를
보여주는곡선을검정곡선으로한다 .
플루오린화수소산을 함유하는 시료를측정할 경우에는 ,플루오린화수소산에 견디는
시료용기및토치를사용한다 .
제시된파장은납,카드뮴 원소의 스펙트럼선으로부터 선택된다 .공존하는물질로 인한
간섭의경우 ,검정범위에서간섭이없는파장을선택하거나적당한방법을이용하여간섭
정도를보정해야 한다 .
c)유도결합플라스마 질량분석법 (ICP-MS) 
시료용액을시료도입용기를 통하여 아르곤플라스마안으로 분무된다 .플루오린화
수소산을 함유하는 시료를측정할경우에는 ,플루오린화수소산에 견딜수있는시료도입
용기를사용한다 .납,카드뮴원소의질량대전하수를읽고내부표준원소를측정한다 .
내부표준원소의측정값에대한측정원소값의비율을계산된다 .
1.1.7시료측정
검정곡선작성후,검정바탕용액과시료용액을측정한다 .만약검정곡선보다 시료
용액의농도가높으면 ,시료용액이검정곡선범위에들어오도록묽혀서다시측정한다 .
측정정밀도는일정한간격을두고표준물질 ,검정곡선용용액등으로확인한다 (시료
10개마다).필요하면 ,검정곡선을다시작성한다 .- 15 -비고만일시료용액이검정곡선범위안으로묽혀지면묽힌시료용액중의내부표준
농도도표준용액의농도로맞춘다.
1.1.8계산
1.1.7에서얻어진시료용액의납,카드뮴스펙트럼선의세기와검정곡선에서납의양을
구하고 ,다음식에따라시료중의납,카드뮴의 함유량 (mg/kg) 을계산한다 .
 ×
 여기에서 c:시료중의납,카드뮴농도(mg/kg)
 A1：시료용액중의측정된납,카드뮴농도(mg/L)
 A2：바탕시험용액중의측정된납,카드뮴농도(mg/mL)
 V:시료용액의총부피 (mL).
 m：시료량(g)- 16 -2.고분자기질중의납및카드뮴
2.2.1원리
어린이용 공산품기질중납,카드뮴정량방법에 대하여규정하며 ,원자흡수분광법(AAS),
유도결합플라스마원자방출분광분석법 (ICP-OES), 유도결합플라스마질량분석법
(ICP-MS) 중가장적절한분석방법을 선택하여정량한다 .
시료분해방법은 건식회화법 ,황산이나질산을이용하여 산분해법 ,마이크로파분해장치를
이용한산분해법을 이용할수있으며 ,분해조작에황산을사용하는 경우에는 납의손실
위험성이크므로분석물의 측정오차를줄이기위해마이크로파분해장치사용을권장한다 .
만약시료용액중에불용분이존재하면침전물을 X-선형광법등으로별도확인하거나 ,다른
방법으로 용해하여 원액과합쳐납을정량한다 .
비고이방법에따라조작할경우에는 유독하고위험한물질이사용되므로아래에
나타낸자세한주의사항을 따라야한다 .
2.2.2시약
시약및물에있는분석원소나 방해원소의농도는최저측정농도와비교하여무시할정도로
낮아야한다 .
a)물KSMISO 3696에규정된 1등급수를모든시료용액의전처리와희석에사용한다 .
b)황산ρ (H2SO 4)＝1.84 g/mL, 95%(m/ m),“미량금속 ”등급.
c)질산ρ (HNO 3)＝1.40 g/mL, 65%(m/ m),“미량금속 ”등급.
d)질산,10%(m/ m),“미량금속 ”등급.
e)과산화수소 ρ (H2O2)＝1.10 g/mL, 30%(m/ m),“미량금속 ”등급.
f)염산ρ (HCl)＝1.19 g/mL, 37%(m/ m),“미량금속 ”등급.
g)플루오린화 수소산 ρ (HF)＝1.18 g/mL, 40%(m/ m),“미량금속 ”등급.
h)붕산(H3BO 3),5%(m/ m)(50mg/mL), “미량금속 ”등급.
i)납표준용액 (1000 mg/ L)
j)카드뮴표준용액 (1000 mg/ L)
k)내부표준용액 분석대상원소와 방해되지 않는내부표준물질을 사용하고 ,적은양의
내부표준원소를 사용한다 .내부표준 원소로는 Sc, In, Tb, Lu, Re, Rh, Bi, Y가
대표적으로 사용된다 .
ICP-OES 의경우에는 Sc,Y가추천되고 ,농도는반드시 1000 mg/kg이하이어야 한다 .
2.2.3장치및기구
1.1.3의장치및기구를사용한다 .- 17 -2.2.4시료조제
2.2.4.1시험시료
시료분해방법 선택에따라적당한시료량의범위는가장많은양으로시작하는것이좋다.
시료채취에있어산분해법은 절단 ,분쇄된시료400 mg을0.1 mg까지정확하게달아
취하고 ,건식회화법또는밀폐된용기에 의한산분해법은 시료를분쇄하거나 ,깎거나 ,
잘라서 200 mg을0.1mg까지정확히달아취한다 .
2.2.4.2시험용액의준비
a)건식회화법
할로젠원소를포함하지 않는시료일경우다음방법에따른다 .
1)시료를달아도가니에 넣어가열판위에놓고가열한다 .
2)환기가잘되는후드내에서 시료에불이붙지않도록 하면서 도가니를버너로
가열한다 .
3)시료가숯덩어리로탄화되면서 발생된휘발성물질을완전히배출시키고재만남을
때까지서서히가열한다 .
4)550℃±25℃로조절된전기로에 시료가든도가니를 넣고전기로의 문을살짝
열어두어산화되도록충분한공기를제공해준다 .
5)탄소가완전히산화되고 재만남을때까지계속가열한후,
6)도가니를 전기로에서꺼내어실온으로식힌다.
7)질산 [2.2.2 c)]5mL를넣고서서히가열하여찌끼를용해시킨후,이용액을50mL
부피플라스크 2.2.3 e)3)]로옮겨넣고물로눈금까지묽힌다.시료용액은측정기기의
적당한농도가되게물로희석한다 .내부표준물질 [2.2.2 j)]을사용할 경우 ,
플라스크를눈금까지묽히기전에 ICP-OES 경우 500μL를넣어주고 ,ICP-MS를사용
할경우는 1:1000으로묽혀내부표준용액[2.2.2 j)]을넣는다 .
할로젠원소를포함하는 시료일경우다음과같은단계가진행된다 .
1)시료를도가니 [2.2.3 g)]에넣고무게를단다 .
2)황산[2.2.2 b)]5mL∼15mL를넣고가열판또는모래중탕[2.2.3 i)]에도가니 [2.2.3
g)]를올려놓고시료가검게탄화될때까지서서히가열한다 .
3)식힌후,질산 [2.2.2 c)]5mL를넣고시료가완전히분해되어황산백연이발생될
때까지계속가열한다 .
4)가열한도가니 [2.2.3 g)]를식힌후,550℃±25℃로조절된전기로 [2.2.3 j)]에옮겨
넣고탄소가완전히연소될때까지가열하고 수분을증발시키고태운다.
5)전기로에서 도가니를꺼내실온으로식힌후,질산 [2.2.2 c)]5mL를넣고서서히
가열하여찌끼를용해시킨다.이용액을50mL부피플라스크로옮겨넣고물로
눈금까지묽힌다.시료용액은측정기기의 적당한농도가되게물로희석한다 .
내부표준물질 [1.2.2 j)]을사용할경우 ,플라스크를눈금까지묽히기전에 ICP-OES 경우- 18 -500μL를넣어주고 ,ICP-MS를사용할경우는 1:1000으로묽혀내부표준용액[2.2.2
j)]을각각넣는다 .
6)시료가완전히용해되지 않고잔류물이남아있을경우에는 원심분리를하거나걸러서
분리한다 .그리고잔류물에 납의함유존재를확인하기 위하여 적절한 측정방법을
이용한다 .
b)산분해법
1)일반적인 분해방법
시료약1～2g을0.1mg까지무게를달아코니컬비커에넣는다 .시료에황산약
10 mL를가하고 시계접시를덮은다음가열판에서서서히 가열하여 시료를
분해시킨후,조심스럽게질산을 소량씩추가하면서 가열하여액의색이갈색을
나타낼때가열을중단하고 식힌뒤에과염소산 (1)2mL와질산 5mL를주의하면서
가하고가열한다 .반응의정도에따라가열의세기를조절하여액의색이무색이될
때까지질산소량을 가하고 ,황산의흰연기가 발생하면 가열을 중지하고
냉각시킨다.비커안벽을물로세척하고서서히가열하여황산을증발건고시킨다.
냉각시킨후에염산10mL를가하고시계접시를덮은후에증발건고시킨다.다시
염산10mL를가하고가열시킨후에아이오딘화수소산 2mL를첨가한후서서히
가열하여 용액이10mL가되도록농축한다 .냉각시키고물50mL와질산 2～3
mL를가하고서서히가열하여 과잉의아이오딘화수소산을휘발시킨다.이투명
용액을50mL부피플라스크에옮기고물로눈금까지희석한후흔들어섞고시험
용액으로한다 .
주(1)과염소산을넣고가열할경우에는 가열온도가 200℃이상되거나또는다량의유기
물이분해되기 전에증발건고되면폭발을일으킬수있으므로각별히주의하여야 한다 .
2)실리카를 함유한고무는다음과같이한다
시료약1g을달아테프론비커에넣고황산약5mL를가해서 가열하여
분해시키고황산의흰연기가약간나올정도의온도로서서히가열 ,탄화시킨다.
질산 5mL,플루오린화수소산 3mL를조심스럽게가하기시작하여 시료의1차
분해를마무리하고증발건고시키다.이조작을 2～3회반복해서행한뒤,질산 5
mL,과염소산 (1) 3mL를주의하면서 가하고 반응정도에 따라가열온도를
조절하여 가열용해시킨후질산을소량씩가하여액이거의무색이될때까지
반복한다 .이용액을증발건고시키고염산10mL를가한다음시계접시를덮은
후에증발건고시킨다.다시염산10mL를가하고가열시킨후에물50 mL와
질산 2～3mL를가하고서서히가열하여 과잉의아이오딘화수소산을휘발시킨후,
이투명용액을50mL부피플라스크에옮기고물로눈금까지희석한후흔들어- 19 -섞고시험용액으로한다 .
c)마이크로파 분해방법
1)일반적인 분해방법
시료를달아마이크로파분해용기에옮겨넣고 ,질산 [2.2.2 c)]5mL와과산화수소
[2.2.2 e)]0.1 mL～1.0 mL를넣는다 .시료와산류의반응이끝나고안정되었을때
용기를마개로막고,마이크로파분해장치 [2.2.3 l)]를조립한후,미리제시된분해
프로그램에따라마이크로파오븐을조작하여 시료를용해시킨다.용기를 식힌후
용액을50mL부피플라스크에옮겨넣고눈금까지물로묽힌다.시료용액은각
측정기기의농도수준에적합하게 물로희석한다 .내부표준물질 [2.2.2 j)]을사용할
경우 ,플라스크의눈금까지묽히기전에 ICP-OES 경우 500μL를넣어주고 ,ICP-MS를
사용할경우는 1:1000으로묽혀내부표준물질 [2.2.2 j)]을각각넣는다 .
2)분해되지 않거나시료에실리카또는타이타늄이 함유되어 있을경우다음과같이
한다
시료를달아마이크로파분해용기로옮겨넣고 ,질산 [2.2.2 c)]5mL,플루오린화
수소산 [1.2.2 g)]1mL및과산화수소 [2.2.2 e)]0.1 mL～1.0 mL를넣는다 .용기를
마개로막고,마이크로파분해장치 [2.2.3 l)]를조립한후,미리제시된 분해
프로그램에따라마이크로파오븐을조작하여 시료를용해시킨다.용기를 식힌후
용액을50mL저밀도폴리에틸렌(low density polyethylene, LDPE)또는 PFA부피
플라스크로옮겨넣고눈금까지물로묽힌다.석영플라즈마토치(만일산에견디는
시료도입장치가 없다면 )를보호하기 위하여플루오린화착물을형성하도록붕산[2.2.3
h)]을넣는다 .
시료용액은각측정기기의농도수준에 적합하게 물로희석한다 .내부표준물질
[1.2.2 j)]을사용할경우 ,플라스크의눈금까지묽히기전에 ICP-OES 경우 500μL를
넣어주고 ,ICP-MS를사용할경우는 1:1000으로묽혀내부표준용액[2.2.2 j)]을각각
넣는다 .
비고과산화수소는 시료의반응물질을알때첨가한다 .쉽게산화되는 물질과는빠르고
격렬하게반응하므로쉽게산화되는 물질이많이존재할경우 ,첨가하지말아야
한다 .
3)시료용액에잔류물이남아있을경우에는 원심분리하거나걸러서분리한다 .그리고
잔류물에 납,카드뮴의 함유존재를확인하기 위하여 적절한 측정방법을 이용하여
확인해야 한다 .- 20 -2.2.5바탕용액준비
시료를제외하고사용된 모든시약을사용하여 시료용액조제방법에 따라동일한
방법으로 조작하여 바탕용액을조제한다 .
2.2.6시험절차
일반적으로 시료는미지조성물로 되어있다고 가정하며 ,이와같은경우내부표준물법
(감도비교법 )을추천한다 .필요하다면 표준물첨가법을 사용할 수도있다 .간섭원소가
없거나시료의조성이알려져있으면검정곡선법 (매질보정법 )을사용할수있다 .
비고모든상황에서산은시료의농도에따라조정되어야 한다 .
2.2.6.1검정곡선용용액조제 
납,카드뮴표준용액을0μg～100μg을단계적으로 취해 100 mL부피플라스크 [2.2.3 e)
3)]에옮겨넣는다 .내부표준물첨가방법으로 측정할경우에는 시료용액의산농도와내부
표준물 [2.2.2 j)]검정곡선용액의산농도를동일한조건으로 만들어준다 .
1.2.6.2검정곡선작성
분광기는정량을위해준비한다 .조제된검정곡선용액의일부를각각아르곤플라스마
또는공기－아세틸렌불꽃안으로분무한다 .플루오린화수소산이 함유된시료를측정할
경우에는플루오린화수소산에 견디는시료도입장치를사용한다 .
a)원자흡수분광법 (AAS)
납,카드뮴 원소의흡광도를측정하여 정량한다 .검정곡선법 (매질보정법 )에서는 납,
카드뮴원소의흡광도와농도의관계를나타낸곡선을검정곡선으로작성한다 .
표준물첨가법에서 표준물을 시료용액에넣어주고 ,미지농도는영의흡광도로첨가곡선을
외삽하여결정한다 .
<0.998보다작은직선계수 (R2)를가진직선회귀곡선은초기검정에사용될수있다 .검정
표준물질 측정결과(즉,표준물질 ,표준용액등)가예상치보다 20%이상차이가나면
관계있는검정표준물질과 모든시료는다시측정한다 .
b)유도결합플라스마 원자방출분광분석법 (ICP-OES)
납,카드뮴 원소의 방출세기를 측정하여 정량한다 .검정곡선법으로 납,카드뮴 원소를
정량할 경우납,카드뮴 원소의 방출세기와 납,카드뮴농도의관계를검정곡선으로
작성한다 .내부표준물첨가법에서는 내부표준원소의곡선에대한납원소의세기비와
농도의관계를검정곡선으로작성한다 .
c)유도결합플라즈마 질량분석법 (ICP-MS)
납,카드뮴 원소의 질량대전하수의 비율을 측정하여 정량한다 .검정곡선법에서는 납,
카드뮴원소의질량 /전하수의 비율의세기와납농도의관계를검정곡선으로작성한다 .- 21 -내부표준물첨가법에서는 내부표준원소의곡선에대한납원소의 세기비와농도의
관계를검정곡선으로작성한다 .
1.2.7시료측정
검정곡선을작성한 후,바탕용액과시료용액을측정한다 .만약시료의농도가검정
곡선보다높으면시료용액을검정곡선내로묽혀다시측정한다 .
측정정밀도는일정한간격을두고표준물질 ,검정곡선용액등으로 확인한다 (10개
시료마다1회).만약필요할경우검정곡선을다시작성한다 .
비고만약시료용액이검정곡선범위로희석되면희석된시료용액안의내부표준
농도는표준용액으로맞춘다.
1.2.8계산
다음식에따라시료중의납,카드뮴함유량 (mg/kg) 을계산한다 .
 ×
 여기에서 c:시료중의납,카드뮴농도(mg/kg)
A1：시료용액중의납,카드뮴농도(mg/L)
A2：바탕시험용액중의납,카드뮴농도(mg/L)
V:시료용액의총부피 (mL).
m：시료량(g)- 22 -3.기타기질중의납과카드뮴
3.4.1원리
어린이용 공산품 중고분자 및금속을 제외한지질중납,카드뮴 정량방법에 대하여
규정하며 ,원자흡수분광법(AAS),유도결합플라스마방출분광분석법 (ICP-OES), 유도
결합플라스마질량분석법 (ICP-MS) 중가장적절한분석방법을 선택하여정량한다 .
시험시료를왕수로분해하거나 ,또는질산 ,플루오린화붕소산 ,과산화수소 및염산등을
이용하여마이크로파분해를이용한다 .
비고만일 HBF 4의순도가낮다면 ,대신 HF를사용한다 .
3.4.2시약
시약및물에함유되어 있는납,카드뮴 원소나 방해원소의농도는최저측정농도와
비교하여무시할정도로낮아야한다 .또한 ,ICP-MS 분석용 시약들은순도가높고
미량금속의 총량이 1×10-6%(m/m)이하인산이나화합물이 함유된것을사용해야 한다 .
a)물KSMISO 3696에규정된 1등급수를사용한다 .미량금속등급-총량 10ppb미만
b)염산ρ (HCl)＝3.16 g/mL, 37%(m/m),“미량금속 ”등급.
c)묽은염산 (1:2) 물[3.4.2 a)]에진한염산[3.4.2 b)]을2:1의비율로묽힌것.“미량금속 ”
등급.
d)5%(m/m)염산용액 “미량금속 ”등급.
e)10%(m/m)염산용액 “미량금속 ”등급.
f)질산ρ (HNO 3)＝3.40 g/mL, 65%(m/m),“미량금속 ”등급.
g)0.5mol/ L질산용액 “미량금속 ”등급.
h)10%(m/m)질산용액 “미량금속 ”등급.
i)혼산HCl [3.4.2 b)]：HNO 3[3.4.2 f)]=3：1
j)50%(m/m)플루오린화 붕소산 (HBF 4)“미량금속 ”등급.
k)과산화수소 ρ (H2O2)＝3.10 g/mL, 30%(m/m),“미량금속 ”등급.
l)납표준용액 (1000 mg/ L)
m)카드뮴표준용액 (1000 mg/ L)
n)내부표준용액 
내부표준원소는분석원소 방해가없는것을사용해야 하며 ,또한시료용액중의내부
표준원소의존재는무시될수있을정도로낮아야한다 .Sc,In,Tb, Lu, Re, Rh, Bi및Y는
이특정한분광법을위해내부표준원소로 사용될수있다 .- 23 -비고이방법에사용된각시약의유독성을정확히정의할수는없다 .그러나각화합물은
잠재적인건강위험요소로간주해야한다 .이러한관점에서 ,이용가능한방법에의한
이러한화학물질에 대한노출을가능한줄일것을권고한다 .
비고강산을사용하는 전처리방법은부식및화상을일으킨다.산을다룰때는실험복 ,
장갑및보안경을 착용해야 한다 .
비고질산은 유독가스가 발생할 가능성이 있으므로시료에산을넣을때는항상
배기장치 (후드 )안에서시험한다 .
비고플라스마에서나오는배출가스는효과적인배기장치 (후드 )에의해서배출되어야 한다 .
비고플루오린화수소산을 사용할 경우에는특별한방법을 사용해야 한다 .예를들면
플루오린화수소산이 피부에묻었을때에는물로 15분이상충분히씻고,해독제연고
(수용성젤에2.5%글루콘산칼슘이함유된것)를발라응급처치하고 의사의처방을
받는다 .장기간치료를요하는때에는칼슘이많이포함된음식물을섭취하는것이
좋다.
3.4.3장치및기구
a)원자흡수분광기 (AAS) 
b)유도결합플라스마 원자방출분광분석기 (ICP-OES) 
C)유도결합플라스마 질량분석기 (ICP-MS) 
d)플루오린화 수소산에 견디는 시료도입장치플루오린화수소산에 견딜수있는
시료주입부와토치로구성된시료도입장치
e)왕수를이용한분해 자동온도조절장치 ,용기 ,환류냉각기및흡수용기
f)마이크로파 분해장치 
40mL용량의시료용기와고압력용PTFE, TFM, PFA또는다른불화탄소물질을 기본으로
하는용기를갖춘마이크로파시료분해장치
3.4.4시료조제
이절에서설명된시험용액의전처리는 어린이공산품중금속및고분자를 제외한모든
장신구부품에적용될수있는것은아니다 .대체로염산,질산또는혼산을이용하며 .
이러한산으로 용해가 어려운시료는과염소산 ,황산등을필요시 넣어준다 .단,황산
사용은납원소의손실위험성때문에납정량에심각한영향을미친다는것을염두에
두어야한다 .시료를고온에서가열하여잔류물없이완전히용해시켜야한다 .
만약잔류물이존재한다면 ,납원소가 함유되어 있는지 다른분석방법 (예,XRF)들을
이용하여 납함유여부를 확인하거나 ,다른분해법 (알칼리용융또는밀폐가압용기의
사용 )으로조작하여잔류물을완전히용해시킨다.이방법에의하여처리된용액은시료
원액과합쳐서납,카드뮴분석을진행한다 .
3.4.5시험시료- 24 -a)왕수를이용한용해
분쇄한시료(최대입자크기 ：250μm)약2g을달아반응용기에넣고 ,염산[3.4.2 b)]22.5
mL와질산 [3.4.2 f)]7.5 mL를넣는다 .반응용기에환류냉각기와 0.5 mol/L질산 [3.4.2
g)]10mL가들어있는흡수용기를 설치한다 .실온에서 12시간,120℃에서 2시간동안
용해한다 .실온으로식힌후,흡수용기의 내용물을 반응용기에 넣고 ,만약불용분이
존재하면시료용액을0.45μm유리섬유거르개로거른다 .5%염산용액[3.4.2 d)]15
mL를사용하여불용분을 4회씻어준다 .얻어진용액을100 mL부피플라스크 [3.4.2 h)
2)]로옮겨넣고 5%염산용액[3.4.2 d)]으로눈금까지묽힌다.
시료용액은각측정기기의검정곡선농도에적합하도록묽힌다.내부표준물질을 사용할
경우에는 ,플라스크눈금까지묽히기전에넣는다 .최종부피 100 mL로채우기전에 ,
ICP-OES 의경우 1000μL,ICP-MS는1:1000으로묽힌내부표준물을 넣어준다 .
시료잔류물이남아있을경우원심분리나 여과를 통해분리하고 ,잔류물은 납의존재
여부를 적절한측정방법 (예,XRF)을이용하여 확인해야 한다 .
만일이절에서설명된시험장비를사용할수없다면 ,실험자가적합성을 확신할수있는
다른간단한방법을사용해도 된다 .제시된시험조작에서오는오차는검증되어야 하며
시험보고서에 명시해야 한다 .
간단한방법은다음의절차에따른다 .시료가들어있는유리비커에시계접시를덮고,
혼산[3.4.2 i)]을비커에넣고 120℃에서 2시간동안가열하고 실온에서 12시간동안
방치한다 .시계접시의 아랫부분과비커의내벽을물로씻어주고시계접시를 제거한다 .만약
불용분이존재하면시료용액을0.45μm유리마이크로섬유거르개를이용하여 거른다 .5
%(m/m)염산용액[3.4.2 d)]으로불용분을씻어준다 .얻어진용액을100 mL부피
플라스크로옮겨넣고물로눈금까지묽힌다.최종용액은다음측정에이용된다 .
b)마이크로파 분해
분쇄한시료(최대입자크기 ：250μm)약200 mg을달아PTFE, TFM, PFA,또는다른
불화탄소물질 [3.4.3 j)2)]로만들어진용기로옮겨넣는다 .질산 [3.4.2 f)]4mL,플루오린화
붕소산 [3.4.2 j)]2mL,과염소산 [3.4.2 k)]1mL및물1mL를넣는다 .발생되는 가스를
제거하기 위해분해용기를 조심스럽게약10초동안흔들어준후,반응이정지되면 용기를
마개로막고,마이크로파분해장치 [3.4.3 l)]를조립한후,미리제시된분해프로그램에
따라마이크로파오븐을조작하여 시료를용해시킨다.
비고만일 HBF 4순도가낮다면 ,대신 HF를사용한다 .
실온까지식힌후(약1시간방치 )분해용기를 열고염산용액[3.4.2 b)]4mL를넣고 ,
마개를막은후다시마이크로파분해장치 [3.4.3 l)]를조립한후,제시된분해프로그램에
따라마이크로파오븐을조작하여 시료를용해시킨다.- 25 -실온으로식힌후(약1시간방치 )분해용기를 열고 25mL부피플라스크에 유리
마이크로섬유거르개를이용하여 거르고 5%염산용액[3.4.2 d)]으로씻어준후눈금까지
묽힌다.만약잔류물이존재하면납,카드뮴존재여부를 적절한측정방법으로 확인한다 .
위에서 설명된 조작과정은마이크로파분해장치를 위한최소한의 요구사항이며 ,각
시료에대해서 2∼3번시험을실시하여야 한다 .
비고분해용기에 분말시료200 mg이상을넘지않도록하는것을권한다 .분말로된
시험시료가질산 ,HBF 4,과산화수소 ,염산등과혼합물이빠르고격렬하게반응해
이산화탄소 ,질소산화물을 생성한다 .이것은봉합된용기안의압력을높이는
원인이된다 .갑자기발생된압력으로인해마이크로오븐의안전장치는 반응할
수있고용기가 열릴수있다 .분석원소물질이 손실될 수있고최악의경우
폭발이일어날 수도있다 .그러므로시료에시약을가한후반응이정지될
때까지놓아둔후장치를조립한다 .
비고하나의시료를2∼3번씩분석할때에는같은양,같은종류의산을사용해야 한다 .
3.4.6시험절차
시료측정을 위해검정곡선법을 사용한다 .내부표준법 (감도비교법 )은 ICP-MS에
적용된다 .
비고시험방법의신뢰성을높이기위해서는 표준물첨가법이사용될수도있다 .
비고매질효과를보정할수없다면매질원소들을 용매추출법 ,이온－교환법등과같은
분리방법에 의하여제거해야 한다 .
3.4.7검정곡선용용액조제
검정표준용액을준비하기 위해 2가지방법이사용된다 .
a)검정곡선법 (매질보정법 )
검정곡성용바탕용액과세개의검정곡선용표준용액을준비한다 .납,카드뮴원소를 0
μg∼100μg이함유되도록 단계별로채취하여 100 mL부피플라스크에옮겨넣는다 .매질
보정법으로 표준용액을조제할경우에는 시료용액과동일한양의시약과매질원소들을 넣어
검정곡선용표준용액으로조제한다 .
플루오린화붕소산을사용한경우에는 ,저밀도폴리에틸렌(LDPE) 부피플라스크또는
PFA부피플라스크를 이용한다 .
b)내부표준법
검정곡선용표준용액에시료용액조제시사용된같은양의시약을넣어주고 ,시료용액
및검정곡선용표준용액각각에내부표준원소를넣는다 .- 26 -플루오린화붕소산을사용한경우에는 ,저밀도폴리에틸렌부피플라스크또는 PFA부피
플라스크를 이용한다 .
c)원자흡수분광법맟유도결합플라스마 원자방출분광분석법 (AAS, ICP-OES)
매질보정법으로 납을측정할 경우에는 적절한 스펙트럼선을선택해야하고 ,검정도
매질이보정된검정곡선용표준용액으로사용해야 한다 .
d)유도결합플라스마 질량분석법 (ICP-MS)
이방법은적절한내부표준법으로 사용한다 .
3.4.8표준용액조제
표준용액의준비는사용하는 기기에따라다르다.
a)유도결합플라스마 원자방출분광분석법및원자흡수분광법 (ICP-OES, AAS)
왕수분해로얻어진시료용액은마이크로파분해로얻어진용액과다른매질조성을
가진다.ICP/OES 를위해준비된표준용액은분석대상원소인 납,카드뮴직선성이 나오는
농도범위에서 AAS측정에도 사용할 수있다 .검정곡선용바탕용액과네개의검정
곡선용표준용액을준비한다 .
비고만일 HBF 4순도가낮다면 ,대신 HF를사용한다 .
b)유도결합플라스마 질량분석법 (ICP/ MS)
검정곡선용바탕용액과세개의검정곡선용표준용액을준비한다 .
납,카드뮴 원소를 0μg∼5μg이함유되도록 단계적으로채취하여 100 mL부피
플라스크에옮겨넣는다 .검정곡선용표준용액에시료용액조제시사용된같은양의
시약을넣어주고 ,시료용액및검정곡선용표준용액각각에내부표준원소로로듐1
μg을넣는다 .
3.4.9검정곡선작성
검정곡선의작성은사용하는 기기에따라다르다.
a)원자흡수분광법 (AAS)
납,카드뮴 원소의 원자파장의흡수를측정하기 위하여최적화된 조건하에
공기－아세틸렌불꽃안으로 준비된검정곡선용표준용액의일부를 도입시킨다.검정
곡선법 (매질보정법 )은원자스펙트럼선의세기와농도의관계를 보여주는곡선을검정
곡선으로작성한다 .
납,카드뮴원소의파장은대표적인 측정파장을고려하여 선택하여야한다 .공존하는
물질로인한간섭의경우 ,선택된검정범위에서간섭이없는파장이거나 적당한방법을
이용하여간섭세기를보정해야 한다 .
b)유도결합플라스마 원자방출분광분석법 (ICP-OES)- 27 -납,카드뮴 원소의 원자스펙트럼선의세기를 측정하기 위하여최적화된 조건하에
ICP-OES 아르곤플라스마안으로준비된검정곡선용용액의일부를도입시킨다.검정
곡선법 (매질보정법 )은원자스펙트럼선의세기와농도의관계를보여주는곡선을검정
곡선으로작성하고 ,내부표준법은 내부표준원소에 대한분석원소의감도비율과농도의
관계를보여주는곡선을검정곡선으로작성한다 .
플루오린화수소산을 함유하는 시료를측정할 경우에는 ,플루오린화수소산에 견디는
시료용기를사용한다 .
납,카드뮴 원소의파장은스펙트럼선으로부터 선택된다 .납,카드뮴 원소의파장은
대표적인 측정파장을고려하여 선택하여야 한다 .검출한계 및측정정밀도등에대한
철저한연구가수행되어야 한다 .공존하는물질로인한간섭의경우 ,선택된검정범위에서
간섭이없는파장이거나 적당한방법을이용하여간섭정도를보정해야 한다 .
c)유도결합플라스마 질량분석법 (ICP-MS)
시험용액을아르곤플라스마안으로분무한다 .플루오린화수소산을 함유하는 시료를
측정할경우에는 ,플루오린화수소산에 견디는시료용기를사용한다 .납원소의질량대
전하수를읽고내부표준원소를 측정한다 .납,카드뮴 원소의 측정값과내부표준원소의
측정값의비율을계산한다 .
3.4.10시료측정
검정곡선작성후,검정바탕용액과시료용액을측정한다 .만약검정곡선보다
시료농도가높으면 ,용액을검정곡선범위에들어오도록묽혀다시측정한다 .
측정정밀도는일정한간격을두고표준물질 ,검정곡선용액등으로 확인한다 (10개
시료마다1회).필요하면 ,검정곡선을다시작성한다 .
<0.998이상직선계수 (R2)를가진직선회귀곡선은초기검정에사용될 수있다 .점검
표준물결과(즉,표준물질 ,표준용액등)가예상값보다 20%이상차이가나면 ,관계있는
검정물질과 모든시료는다시측정한다 .
3.4.11계산
5.5.4.9에서작성된검정곡선에서납원소의분광세기를구하고 ,다음식에따라시료에
함유되어 있는납,카드뮴원소의농도(mg/kg) 를계산한다 .
 ×
 여기에서 c:시료중의납,카드뮴농도(mg/kg)
A1：시료용액중의측정된납,카드뮴농도(mg/L)
A2：바탕시험용액중의측정된납,카드뮴농도(mg/L)
V:시료용액의총부피 (mL)- 28 -m：시료량(g)
비고이절에서 분석방법의잠재적다양함으로 인해처음시험용액의희석이
적용되므로위식은일반화된것이다 .모든희석과정은 계산결과에
포함되어야 한다는것을반드시명심해야한다- 29 -페인트나 표면코팅 중의납 부록 2
1.원리
이방법은페인트및유사코팅된표면을 5.4에따라분리하여 총납을정량한다 .
2.장치및기구
a)일회용플라스틱 분해용기 ,또는유리제시험관 50mL
b)가열판시험관이들어갈수있는구멍이있는것.
3.시약
a)탈이온수
b)질산
c)염화메틸렌
4.조작
a)5.4에서준비된 시료(페인트 및유사코팅 부분 )약30mg∼50mg을달아50mL
비커에옮겨넣는다 .
b)페인트표준물질 (NIST SRM 2581 -분말페인트 ,납0.5%)을준비하여 시료와동일한
방법으로 조작한다 .
c)AOAC 974.02 또는 ASTM E1645에따라적절히시료를용해한다 .
d)시료용액중납의농도가기기의검정곡선범위에오도록시료를묽힌다.
e)ASTM E1613에따라시료용액중의납을정량한다 .
이때,ICP분석은 CPSC공표문과 납정량을 위한운영절차지침 ,그리고어린이 금속
장신구내 납농도의유효성지침 CPSC-CH-EI001-08 내에서유효해야한다 .- 30 -니켈방출량 부록 3
이방법은피부에직접적이고 지속적으로 접촉하는 물질로부터 니켈이방출되는것을측
정하는방법으로 ,이러한제품들이 0.5㎍/㎠/week이상의비율로니켈이방출되는지에 관
한것이다 .
1.원리니켈방출을시험할제품을일주일동안인공땀액에방치한다 .땀액에용해된니
켈의농도는원자흡수분광법,유도결합프리스마분광법또는적절한분석방법으로 측정
한다 .니켈방출은 1주일동안제품에서 ㎠당방출되는양(㎍/㎠/week)으로표현된다 .
2.시약
a)탈이온탄산수 규정전도도가최대1μS/㎠인탈이온수를긴형태의2L비커에채운
다.마개에가스분배관을연결하고비커의바닥에관의낮은쪽끝을위치시켜공기로포
화시킨다.탈지공기를 150 mL/min 의속도로 30분간넣어준다 .
b)염화나트륨
c)DL-젖산 ρ＝1.21 g/mL, 88%(m/m)
d)요소
e)암모니아 용액 ρ＝0.91 g/mL, 25%(m/m)
f)암모니아 용액 [1%(m/m)]탈이온수100 mL와암모니아용액(e)10mL를취해 250
mL비커에넣고흔들어섞는다 .상온으로식힌후250 mL부피플라스크로옮겨넣고탈
이온수로눈금까지묽힌다.
g)질산ρ＝1.40 g/mL, 65%(m/m)
h)질산용액 [약5%(m/m)]탈이온수350 mL와질산 (g)30mL를취해 500 mL비커에
넣고흔들어섞는다 .상온으로식힌후500 mL부피플라스크로옮겨넣고탈이온수로눈
금까지묽힌다.
i)탈지용용액도데실벤젠황산나트륨또는알킬아릴황산나트륨과같은음이온계면활
성제 5g을물1000 mL에용해한다 .적절하게희석시킨중성시판세제를사용할수도있
다.
j)니켈방출로부터 표면을보호할수있는왁스나래커 (전기도금 목적에적합한것)
KS K0853의4.10참조
3.장치및기구
KS K0853의5에따른다 .
4.시료- 31 -4.1시료의면적 피부에직접또는지속적으로 접촉하는 표면만분석한다 .기타시료에관
련된내용은 KS K0853의6.1에따른다 .
4.2시료준비상온에서시료를탈지용용액에서 2분간서서히저어준후탈이온수로씻
어서건조한다 .탈지과정후에시료는플라스틱핀셋이나위생장갑으로처리한다 .
5.조작시험용액조제 ,방출과정 ,니켈측정 ,반복수,대조시험을행하며세부방법은 KS K
0853의7에따라조작한다 .
6.계산
6.1니켈방출량 시료의니켈방출 (d)은1주일에㎠당방출되는양(㎍/㎠/week)으로표현
하고다음식에따라계산한다 .
 d×av×CC
여기에서 a=시료면적 (㎠)
v=시험용액의희석부피 (mL)
C1=1주일된희석시험용액에서의니켈농도(㎍/L)
C2=1주일된대조용액에서의평균니켈농도(㎍/L)
6.2결과의해석 보정된분석값을얻기위해 d에0.1을곱한다 .이때보정된값이0.5㎍/
㎠/week이상이면 시료는0.5㎍/㎠/week이상의니켈이유출되는것으로간주한다 .
7.기타니켈함량시험과관련된기타의필요사항은 KS K0853에따른다 .- 32 -자석및자석부품 부록 4
1.용어의정의
1.1자석부품
부착되어 있거나 ,완전히또는일부가박힌자석이있는제품의부품
1.2자기 /전기실험세트
자기및전기와관련된교육실험을수행하기 위해의도된하나이상의자석을포함하는
제품
1.3제품의전기또는전자부품의기능자석
자석의성질이어린이용품의 놀이양식의일부가아닌모터 ,계전기 ,스피커또는다른전기
또는전자부품의기능으로 필요한자석
2안전요건
2.1어린이용품의 전기또는전자부품의기능자석에는 적용하지 않는다 .
2.2모든자석이 A.3.2 (자속지수 )에따라시험했을때자속지수가 50kG2mm2(0.5
T2mm2)미만이거나 ,A.3.3 (작은부품실린더 )에따라시험했을때작은부품실린더에
완전히잠기지않는자기 /전기실험세트에는 적용하지 않는다 .
2.3자기 /전기실험세트이외완구
a)떼었다붙일수있는자석과자석부품은 A.3.2 (자속지수 )에따라시험했을때자속
지수가 50kG2mm2(0.5T2mm2)미만이거나 ,A.3.3 (작은부품실린더 )에따라시험했을때
실린더에 완전히잠기지않아야한다 .
b)A.3.4 (비틀림시험 ),A.3.5.1 (인장시험 ,일반 ),A.3.5.2 (인장시험 ,봉제선과 재료 ),
A.3.6 (낙하시험 ),A.3.7 (충격시험 ),A.3.8 (압축시험 )과마지막으로접근할수있지만
잡을수없는 (A.3.5.1에서술된대로 )자석은 A.3.1 (자석에대한인장시험 )에따라
시험했을때,어린이용품 또는떼었다붙일수있는자석부품에서 분리되는 자석과자석
부품은 A.3.2 (자속지수 )에따라시험했을때자속지수가 50kG2mm2(0.5T2mm2)
미만이거나 ,A.3.3 (작은부품실린더 )에따라시험했을때실린더에 완전히잠기지않아야
한다 .
주접근할수있으나 ,잡을수없는자석의예로움푹들어가있는자석을들수있다 .
c)목재어린이용품 ,물에서사용하도록 의도된제품 ,입으로작동하는 제품은 A.2.2 b)에
따라시험하기전에 A.3.9 (담금시험 )을해야한다 .- 33 -2.4자기 /전기실험세트
8세이상의어린이에게 의도된자기 /전기실험세트는경고문구가있어야한다 (A.4.1
참조 ).
3시험방법
3.1인장시험
3.1.1하나이상의자석또는자석부품을포함하는 제품
인장시험할자석을가장잘떨어지게할수있을것같은자석또는자석부품을
확인한다 .
제품을파손하지않고 ,시험할자석에가능한가까이자석또는자석부품을놓는다 .
시험하는자석에서 분리될때까지또는제품에서 자석이떨어질때까지자석또는자석
부품에점차적으로당김힘을가한다 .10회반복한다 .자석에대한인장시험을해야되는
임의의다른자석에대해절차를반복한다 .
주시험할자석을가장잘떨어지게할수있을것같은자석또는자석부품을결정하기
어렵다면 ,제품의의 다른자석또는자석부품으로 시험을반복하는게허용된다 .
3.1.2자석하나만을 포함하는 제품
1)장비
최소니켈함량 99%의다음의치수를갖는니켈디스크
-diameter (30±0,5) mm
-지름(30±0,5) mm
-length (10±0,5) mm
-길이 (10±0,5) mm
2)절차
제품을파손하지않고 ,시험할자석에가능한가까이니켈디스크의평평한부분을
위치시킨다.자석에서 분리될때까지또는제품에서 자석이떨어질때까지디스크에
점차적으로당김힘을가한다 .10회반복한다 .
3.2자속지수
3.2.1일반요건
자속지수는자속밀도와극표면적측정결과를바탕으로계산한다 .
3.2.2장비
5G의정확도로 자기장을 측정할수있는 Direct current field Gauss meter.
장비는다음의 axial type probe를가져야한다 .
-지름(0.76±0.13) mm의활성영역
-활성영역과프로브끝사이거리 (0.38±0.13) mm.
A.3.2.2.2 0.1mm의정확도로 치수를측정할수있는버니어캘리퍼스또는유사장비
3.2.3절차
1)자속밀도측정
가우스미터의프로브끝을자석의극표면에접촉시킨다.(자석이완구부품에완전히
또는일부박혀있는 )자석부품의경우 ,프로브의끝을부품표면에접촉시킨다.
프로브를표면에수직으로 유지한다 .- 34 -최대자속밀도의위치를찾기위해표면을가로질러프로브를움직인다 .
최대자속밀도를기록한다 .
2)극표면적측정과계산
자석이자석부품의일부로박혀있거나부착되어 있는경우 ,필요하다면 제품을
파손해서라도 부품으로부터 자석을추출한다 .
극이평평하지않다면 (예로반구형으로 ),±0,1mm의정확도로 자극을관통하는축에
수직으로 자석의최대지름을측정하고 (그림 1참조),그에상응하는횡단면의면적을
계산한다 .
자석의극표면이평평하면 ,±0,1mm의정확도로 치수를측정하고 적절한기하학적
공식을사용하여 면적을계산한다 .
극이여러개인자석의경우자기장을 보여주는 필름이나그와유사한장비를이용하여
확인할수있는가장큰단일극의면적을측정하고 계산한다 .
주극이여러개인자석의예로극들이여러개의가느다란조각들로 구성된
고무자석 (rubberized magnet)/ 페라이트 자석 (plastoferrite magnet)이있다 .
3)자속지수측정
자속지수 (kG2mm2)는자석의계산된극표면적 (mm2)에최대자속밀도제곱을곱하여
구한다 .
1도형중심축에수직인최대횡단면
2자극을관통하는 중심축
그림 1.평평하지 않은극을가진자석의최대지름
4.경고및사용설명서
4.1자기 /전기실험세트
자기 /전기실험세트의포장과사용설명서에는 다음의경고문구를표시하여야 한다 .
“경고 !8세미만의어린이에게는 적합하지 않음 .이제품은작은자석 (들)을포함하고
있음 .삼킨자석들은 장기를사이에두고서로붙어심각한상해를야기할수있음 .
자석을삼킨경우즉시전문의의 치료를받을것.”
이경고문구는모든자석이 A.3.2 (자속지수 )에따라시험했을때자속지수가 50
kG2mm2(0.5T2mm2)미만이거나 ,A.3.3 (작은부품실린더 )에따라시험했을때실린더에
완전히잠기지않는자기 /전기실험세트에는 필요로하지않는다 .- 35 -부칙
제1조(시행일 )이고시는고시후1년이경과한날부터시행한다 .
제2조(다른고시의개정 )①안전인증대상공산품 안전기준 중다음과같이
개정한다 .
ㅇ물놀이안전기준 부속서 7제1부공기주입물놀이기구의 4.5.2및4.5.3,
제3부수영보조용품 (착용형 )5.4.3.2및5.4.3.3,제4부수영보조용품 (비
착용형 )을삭제한다 .
②자율안전확인대상공산품 안전기준 중다음과같이개정한다 .
ㅇ유아보호용품 안전기준 부속서 14의4.2.3를삭제한다 .
ㅇ어린이용장신구 안전기준 부속서 36의4.3.1, 4.3.2및4.3.3를삭제한
다.
ㅇ학용품안전기준 부속서 44제4부지우개의 4.3,제9부연필깍이의
4.3,제10부팔레트의 4.4,제11부필통의 5.2,제12부책받침의 3.5,제
14부공책의 3.5,제15부스케치북의 3.4,제16부의문구용풀의 4.2를
삭제한다 .
ㅇ보행기의 안전기준 부속서 51의3.2.1.1및3.2.1.3를삭제한다 .
ㅇ유모차의 안전기준 부속서 54의5.2.3.1및5.2.3.3를삭제한다 .
제3조(유해물질 적용에관한경과조치 )이고시시행이전에 출고되었거나
통관된제품은적용하지 아니한다 .
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