- 1 -어린이제품 공통안전기준
제정산업통상자원부고시 제2015-0110 호(2015. 6. 4.)
개정산업통상자원부고시 제2017-0018 호(2017. 1.31.)
개정산업통상자원부고시 제2018-0226 호(2018.12.13.)
개정산업통상자원부고시 제2019-0000 호(2019. 0.00.)
1. 적용범위   
이기준은만13세이하의어린이가 사용하거나 만 13세이하의어린이를 위하여사용되는 물품또는
그부분품이나 부속품에 대하여공통으로 적용한다 . 일반적인 사용중어린이에게 닿을수없는제품의
구성부분에는 적용하지 않는다 .
비고. 모든 어린이제품에 대한 적용 안전기준은 「어린이제품 안전 특별법 시행규칙 」제2조 제1항, 제2항, 제3항에 따른다 . 즉 개별 
안전기준이 없는 기타 공급자적합성확인대상 어린이제품은 어린이제품 공통안전기준을 적용하며 , 개별 안전기준이 있는 어
린이제품은 개별 안전기준과 어린이제품 공통안전기준을 모두 적용한다 .
다만 , 다음각목의어느하나에  해당하는 물품또는그부분품이나 부속품은 제외한다 . 
 가. 「약사법」제2조에따른의약품및의약외품
 나. 「의료기기법 」제2조제 1항에따른의료기기
 다. 「화장품법 」제2조제 1호에따른화장품
 라. 「식품위생법 」제2조제 4호에따른기구및같은조제5호에따른용기 ·포장
 마. 「관광진흥법 」제33조제 1항에따른유기시설 (遊技施設 ) 또는유기기구 (遊技機具 )
 바. 「생활화학제품 및살생물제의 안전관리에 관한법률」제3조제 4호에따른안전확인대상생활화학제품
2. 용어의 정의
2.1 어린이제품   만13세이하의어린이가 사용하거나 만13세이하의어린이를 위하여사용되는 물품
또는그부분품이나 부속품을 말한다 .
2.2 어린이제품 공통안전기준   어린이제품에서 공통으로  준수해야 하는안전기준을 말한다 .
2.3 유해물질   3항의안전요건에 제시된물질을말한다 .
2.4 유해   생명ㆍ신체상의 손상 , 재산상의 손해또는자연환경의 훼손을말한다 .
2.5 위해   어린이제품에 존재하는 위험요소로서 인체의건강을해치거나 해칠우려가있는것을말한다 .
2.6 분리가능 부품  도구를사용하지 않고어린이제품으로부터 분리하여 사용할수있는부품및부속품을  
말한다 .
2.7 거스러미   재료를깨끗하게 절단하지 않거나마무리하지 않아서생긴거친부분을말한다 .
2.8 가장자리   두표면의접합점에 의해형성된선으로 2.0 mm를초과하는 것을말한다 .
2.9 구부러진 가장자리   가장자리에 접한판이둥글게굽어있고 바닥판에서 90° 미만의각도를이루는- 2 -가장자리이다 .
2.10 접힌 가장자리   가장자리에 접한판이약180°의각도로접혀져서 원래의판과대략적평행을이루는  
가장자리이다 .
2.11 말린 가장자리   가장자리에 접한판이둥글게말려서원래의판과 90°와120°사이의각도를이루는
가장자리이다 .
2.12 페더링   재료를깎거나자를때생기는가장자리의 비스듬한 면(또는가장자리를 향해서두께가
얇아지는 면)을말한다 .
2.13 플래시   성형제품의결합부분에서 빠져나온남은재료이다 .
2.14 위해한 날카로운 가장자리  정상사용으로 인해불합리한 상해의위험이있는어린이제품의 접근할수 
있는가장자리를 말한다 .
2.15 보호 덮개   상해의위험성을 줄이기위하여잠재적으로 위해한가장자리나 돌출부위에부착한요소이다 .
2.16 위해한 날카로운 끝  정상사용으로 인해불합리한 상해의위험이있는어린이제품의 접근할수
있는끝을말한다 .
2.17 자석부품   부착되거나 완전히또는부분적으로 감싸진자석을포함하는 어린이제품의 부분을말한다 .
2.18 자석/전기 실험세트   자성과전기를모두포함하여 교육용실험을하기위해의도된하나혹은그
이상의자석을포함하는 어린이제품이다 .
2.19 유리   단단하고 깨지지쉬운비정질재료, 소다와석회를함유하는 용해성규소및규산염등의구성물을 
용융시켜 제조된것
2.20 대형 어린이제품   작은부속물을 고려하지 않고바닥의면적을산출했을 때투영된바탕면적이
0.26 m2 이상이거나 부피가 0.08 m3 이상인어린이제품을 말한다 .
2.21 부서진 조각(splinter)   날카로운 끝이된조각을말한다 .
2.22 탄성체 (elastomer)   실온에서 응력과응력방출에 의해상당한변형후다시초기의크기와모양으로  
빠르게되돌아올수있는가교된고분자물질을말한다 .
3. 안전요건
3.1 유해화학물질 안전요건
3.1.1 유해원소 용출- 3 -항목 허용치
안티모니 (Sb) 60 mg/kg 이하
비소(As) 25 mg/kg 이하
바륨(Ba) 1 000 mg/kg 이하
카드뮴 (Cd) 75 mg/kg 이하
크로뮴 (Cr) 60 mg/kg 이하
납(Pb) 90 mg/kg 이하
수은(Hg) 60 mg/kg 이하
셀레늄 (Se) 500 mg/kg 이하
비고  입에 넣어 사용할 용도로 제작된 어린이제품 , 혹은 36개월 미만이 사용할 어린이제품 중 제품의 도장면 (코팅 포함) 또는 
합성수지제 , 종이제에 적용한다 .
3.1.2 유해원소 함유량
항목 허용치
총 납(Pb)1), 2)100 mg/kg 이하
총 카드뮴 (Cd)2)75 mg/kg 이하
비고 1 페인트 및 표면코팅 경우, 90 mg/kg 이하로 적용. 다만, 전기・전자제품의 기능성 부품(전기연결용 소자 등)의 경우에는 
적용하지 않는다 . 
비고 2 섬유원단에는 적용하지 않는다 .
3.1.3 프탈레이트계 가소제
항목 허용치 비고
DEHP
총 합 0.1% 이하Di-(2-ethylhexyl) phthalate, CAS No. 117-81-7
DBP Dibutyl phthalate, CAS No. 84-74-2
BBP Benzyl butyl phthalate, CAS No. 85-68-7 
DINP Diisononyl phthalate, CAS No. 28553-12-0 또는 68515-48-0 
DIDP Diisodecyl phthalate, CAS No. 26761-40-0 또는 68515-49-1
DnOP Di-n-octyl phthalate, CAS No. 117-84-0 
비고  합성수지제품 (섬유 또는 가죽 등에 코팅된 것을 포함)에 적용한다 .
3.1.4 니트로사민류 및 니트로사민류 생성 가능물질- 4 -항목 허용치
니트로사민류N-니트로소디메틸아민 (N-nitrosodimethylamine), CAS No. 62-75-9
총 합 
0.01 mg/kg 
이하N-니트로소디에틸아민 (N-nitrosodiethylamine), CAS No. 55-18-5
N-니트로소디 -n-프로필아민 (N-nitrosodi-n-propylamine) , CAS No. 621-64-7
N-니트로소디 -n-부틸아민 (N-nitrosodi-n-buthylamine) , CAS No. 924-16-3
N-니트로소피페 리딘 (N-nitrosopiperidine) , CAS No. 100-75-4
N-니트로소피롤리딘 (N-nitrosopyrrolidine) , CAS No. 930-55-2
N-니트로소몰폴린 (N-nitrosomorpholine) , CAS No. 59-89-2
니트로사민류 
생성 
가능물질N-니트로소디메틸아민 (N-nitrosodimethylamine), CAS No. 62-75-9
총 합 
0.1 mg/kg  
이하N-니트로소디에틸아민 (N-nitrosodiethylamine), CAS No. 55-18-5
N-니트로소디 -n-프로필아민 (N-nitrosodi-n-propylamine) , CAS No. 621-64-7
N-니트로소디 -n-부틸아민 (N-nitrosodi-n-buthylamine) , CAS No. 924-16-3
N-니트로소피페 리딘 (N-nitrosopiperidine) , CAS No. 100-75-4
N-니트로소피롤리딘 (N-nitrosopyrrolidine) , CAS No. 930-55-2
N-니트로소몰폴린 (N-nitrosomorpholine) , CAS No. 59-89-2
비고  어린이제품 중 입에 넣어 사용할 용도로 제작된 제품(예: 유아용 노리개 젖꼭지 , 치발기 , 칫솔, 마우스피스 )과 입에 넣어 
사용하는 탄성체 (elastomer) 제품(예: 고무풍선 )에 한하여 적용한다 . 
3.1.5 폼알데하이드 , 아릴아민 , pH
유해물질 허용치
폼알데하이드1)75 mg/kg 이하
아릴아민2)각각 30 mg/kg 이하
pH1)4.0 ∼ 7.5
비고  1. 개별안전기준이 없는 섬유제품의 경우로 , 피부에 접촉하는 경우에 한해 적용한다 .
      2. 개별안전기준이 없는 섬유제품의 경우로 , 피부에 접촉하는 경우에 한하며 염색한 섬유 부분에만 적용한다 . 대상물질은 
KS K 0147, KS K 0739에 따른다 .
3.1.6 사용금지 물질  석면을사용하거나 석면이검출되어서는 안된다 .
3.2 물리적 안전요건
3.2.1 작은 부품
3.2.1.1  36개월 미만의 어린이제품
36개월미만의어린이제품 및분리가능부품은 F.1에따라시험했을 때어떤방향에서도 작은부품실
린더안에완전히들어가서는 안된다 . 본요구사항은 어린이제품의 조각등에제한을두지않고광범
위하게적용된다 .
다음의품목들은 작은부품시험이적용되지 않는다 .- 5 -▷ 종이나 종이조각으로 만들어진 종이책 또는 유사 기타제품 
▷ 크레용 , 분필, 연필, 펜과 같은 필기구
▷ 조소 점토 및 유사 제품
▷ 핑거페인트 , 수성 물감, 그림 도구 및 붓
▷ 잔털
▷ 풍선
▷ 섬유 직물
▷ 실
▷ 고무줄 및 끈
▷ 디스크 자체로는 작은 부품이 아닌 오디오 및 또는 비디오디스크
▷ 보호자가 사용하는 제품 
3.2.1.2  36개월 이상 72개월 미만의 어린이
36개월이상 72개월미만의  어린이제품 및분리가능 부품은 F.1에따라시험했을 때작은부품실린더
안에완전히들어가면 경고표시를 해야한다 . 다만 , 72개월이상의어린이를 대상으로 하는어린이제품
은시험대상에서 제외한다 . 
비고  경고표시는 안전확인 안전기준 부속서 6 제1부 5.2.3을 참조한다 .
3.2.2 가장자리
아래의요구사항은 접근가능한날카로운 가장자리를 가지는어린이제품에 적용한다 .
3.2.2.1 유리 또는 금속의 날카로운 가장자리
어린이제품에 있는접근가능한날카로운 유리또는금속가장자리는 다음의요구사항을 만족해야 한다 .
3.2.2.1.1  96개월미만의어린이제품에는  F.2에따라시험하였을 때, 위해한날카로운 가장자리가 없어야
한다 .
3.2.2.1.2  잠재적으로 날카로운 유리또는금속의가장자리는 시험시료의표면에인접하여 있고 , 인접한
표면간의틈새가 0.5 mm를초과하지 않는경우에한하여접근할수없는가장자리로 간주하며 시험대
상에서제외한다 .
3.2.2.1.3  전기전도체 , 현미경슬라이드 및커버슬립으로 적용되는 조각의가장자리는 기능성가장자리
로간주되어 경고문구를표시하지 않아도된다 .
3.2.2.2  기능성 날카로운 가장자리
아래의요구사항은 기능성날카로운 가장자리를 가지는어린이제품에 적용한다 .
3.2.2.2.1  36개월미만의어린이제품은 접근가능한위험한기능성날카로운 가장자리가 없어야한다 .
3.2.2.2.2  36개월이상 96개월미만어린이제품으로 기능성날카로운 가장자리가 반드시있어야하는제
품(예를들면기능성어린이제품 가위및기능성어린이제품 공구 )의경우 , 기능상필요한것이외의날
카로운가장자리가 전혀없으면 3.2.2에서제외되며 , 포장에경고문구를표시하여야 한다 . 
비고  경고 문구는 안전확인 안전기준 부속서 6 제1부 5.2.12를 참조한다 .
3.2.2.3 금속 어린이제품에 대한 가장자리
96개월미만의어린이제품의 접근할수있는금속가장자리 (구멍및홈이있는접근가능한금속가장
자리를포함한다 )에는거스러미와 페더링이 없어야하며 , 구부러져 있거나끝을접거나말려있는 가장자
리이어야 한다 . 그렇지않으면영구적으로 부착된보호장치나끝마무리가 되어있어야한다 .
가장자리의 끝마무리 방식에관계없이 F.2에따라날카로운 가장자리 시험을해야한다 .- 6 -3.2.2.4 성형 어린이제품에 대한 가장자리
96개월미만의성형어린이제품에 접근할수있는가장자리 , 모서리또는성형부분에는 거스러미와 플
래시에의해일어날수있는위해한날카로운 가장자리가 있어서는 안된다 . 그렇지않으면위해한날
카로운가장자리에 접근할수없도록보호장치가되어있어야한다 .
3.2.2.5 나사못 또는 나선줄이 있는 막대의 가장자리
나사못또는나선상막대의접근가능한끝은날카로운 가장자리와 거스러미가 없어야한다 . 그렇지않
으면날카로운 가장자리와 거스러미가 접근되지 않도록편평한보호덮개가씌워져있어야한다 .
3.2.3 날카로운 끝
3.2.3.1  접근 가능한 날카로운 끝
아래의요구사항은 접근가능한날카로운 끝을가지는어린이제품에 적용한다 .
3.2.3.1.1  96개월미만의어린이제품의 접근가능한끝은 F.3에따라시험했을 때위해한날카로운 끝이
없어야한다 . 연필의끝과유사한필기도구의 끝은날카로운 끝으로간주하지 않는다 .
3.2.3.1.2  잠재적으로 날카로운 끝이시험시료의표면에대해인접해있고 , 끝과인접한표면간의틈새
가0.5 mm를넘지않는다면 접근할수없는것으로간주한다 .
3.2.3.1.3  가장큰단면치수가 2 mm 이하이고  F.3에따라시험했을 때필연적으로 날카로운 끝이나타
나지않는 36개월미만의어린이가 사용하도록 의도된어린이제품의 끝은잠재적으로 위해한날카로운
끝으로간주된다 .
3.2.3.2  기능성 날카로운 끝
아래의요구사항은 기능성날카로운 끝을가지는어린이제품에 적용한다 .
3.2.3.2.1  36개월미만의어린이제품은 접근가능한위험한기능성의 날카로운 끝이없어야한다 .
3.2.3.2.2  36개월이상 96개월미만으로기능상날카로운 끝이반드시있어야하는어린이제품 (예를들면
바늘이있는어린이제품 )의경우 , 기능상필요한것이외의날카로운 끝이없으면 3.2.3에서제외되며 , 
포장에경고문구를표시하여야 한다 .
비고  경고 문구는 안전확인 안전기준 부속서 6 제1부 5.2.12를 참조한다 .
3.2.3.3  목재 어린이제품
목재로만든어린이제품의 접근가능한가장자리와 표면은부서진조각 (splinters) 이없어야한다 .
3.2.4 자석과 자석부품
3.2.4.1과3.2.4.2의요구사항은 전기나전자부품에있는기능적인 자석에는 적용하지 않는다 .
3.2.4.1  96개월 이상의 어린이용 자석/전기 실험 세트
96개월이상의어린이실험용자석 (세트및부속품포함 )은다음의경우에해당된다면 경고문구를실어
야한다 .
 - F.4에따라시험할때, 50 kG2mm2(0.5T2mm2)보다큰자속지수를가지면서
 - F.1에따라시험했을 때실린더에 완전히들어가는 경우
“경고 ! 8세미만의어린이에게는 적합하지 않음 . 이제품은작은자석 (들)을포함하고 있음 . 삼킨자석들
은장기를사이에두고서로붙어심각한상해를야기할수있음 . 자석을삼킨경우즉시전문의의 치
료를받을것.”- 7 -3.2.4.2  자석과 자석부품을 포함하는 모든 어린이제품
3.2.4.2.1  자석과자석부품은 F.4에따라시험했을 때50 kG2mm2(0.5T2mm2) 미만이거나 F.1에따라시험
했을때실린더에 완전히들어가지 않아야한다 .
3.2.4.2.2  자석또는자석부품이 포함된나무어린이제품 , 물에서사용하는 어린이제품 , 그리고입으로움
직이는어린이제품의 마우스피스는 아래에따라시험하기 전에 F.5에따라시험되어야 한다 .
3.2.4.2.3  모든고유특성을지닌자석부품에 대해다음의시험들은 정해진순서에따라시험해야 한다 . 
아래나열된하위조항에따라시험했을 때어린이제품 혹은자석으로부터 분리되는 어떤자석이나 자
석부품은 F.4에따라시험했을 때50 kG2mm2(0.5T2mm2) 미만이거나 F.1에따라시험했을 때실린더에
완전히들어가지 않아야한다 .
 - 자석인장시험 (F.6)
 - 낙하시험 (F.7)  또는대형어린이제품의 전복시험 (F.8)
 - 비틀림시험 (F.9)
 - 인장시험의 일반적인 수행절차(F.10.1)
 - 충전어린이제품 , 내부에콩주머니를가진어린이제품 및기타유사충전어린이제품의봉제선인장
시험 (F.10.2) , 적용가능한경우에한함
 - 압축시험 (F.11),  잡을수는없지만접근가능한자석의경우 , 인장시험의 일반적인 수행절차(F.10.1)와동일
비고  1. 고유 특성을 지닌 자석부품의 예는 자석을 포함하고 있는 여러 크기 또는 모양의 막대이다 .
      2. 어린이제품이 하나의 자석을 포함하고 있다면 자석을 포함하고 있는 부품은 고유 특성을 지닌 자석으로 간주된다 .
      3. 접근할 수는 있지만 잡을 수 없는 어린이제품의 예는 오목하게 성형된 것이다 .
3.2.5 유리    
접근할수있는유리는 36개월미만의어린이가 사용토록된어린이제품의 구조에사용되어서는 안되
며, 36개월이상의어린이가 사용하는 어린이제품에 포함된경우는경고표시를해야한다 .
3.3 전기적 안전요건
어린이제품에 포함되는 리튬2차전지 (니켈계전지는제외 )는독립적인제어및보호장치를 가져야하며 , 
이에대한적합함을 확증해주는서류즉, 「전기용품 및생활용품 안전관리법 」에따른안전확인신고증명서 , 
국제공인성적서 (KOLAS 시험성적서 , CB 성적서및인증서등) 및사용충전기에대한전기용품 안전
인증서를비치하여야 한다 .
3.3.1 안전정보
비산성전해액을갖는밀폐2차전지의사용및특히남용시, 위험할수있으며피해를줄수있다 . 전
지제조자는 장비제조자와 , 직접판매의경우최종사용자에게 위험을최소화하고 완화하기 위한정보
를부록 D 및부록 E와같이제공하여야 한다 . 
3.3.1.1  비산성전해액을갖는밀폐2차전지가포함된어린이제품 제조자와 전지조립자를 위한권고사
항(부록 D 참조)
3.3.1.2  비산성전해액을갖는밀폐2차전지가포함된어린이제품 사용 ·보호자를 위한권고사항 (부록 E 
참조)
3.3.2 전지표시- 8 -전지는전지조립에사용한단전지의 요구사항에 의거하여 KC 62133 10항에따라표시하여야 한다 .
아래의사항은전지또는제품의설명서등에표시되어야 한다 . 
 - 모델번호
 - 정격전압, 정격용량
 - 제조년
전지는또한적절한주의문구와 함께표시하여야 한다 .
4. 시험방법
4.1 유해물질 안전요건의 시험 방법
4.1.1 유해원소 용출량   KS G ISO 8124-3(완구의안전성 -제3부:특정원소의용출 )에따른다 .
4.1.2  유해원소 함유량   부록 B에따라시험시료를 준비후부록 A에따른다 .
4.1.3 프탈레이트계 가소제 함유량   부록 C에따른다 .
4.1.4 니트로사민류 및 니트로사민류 생성 가능물질  식품의약품안전처고시「기구및용기·포장의기
준·규격」의‘Ⅳ.기구및용기·포장의시험법 (2-51니트로사민류및니트로사민류생성가능물질 시험
법)’에따른다 .
4.1.5 pH  KS K ISO 3071에따른다 . 
4.1.6 폼알데하이드   KS K ISO 14184-1에따른다 . 
4.1.7 아릴아민   KS K 0147와 KS K 0739에따른다 .
4.2 물리적 안전요건의 시험방법  부록 F에따른다 .
 
5. 표시사항
공통안전기준 표시사항은알아보기쉽도록해당어린이제품의 표면또는최소포장단위에붙이거나인쇄
하거나새기는방법 ,꼬리표를붙이는방법등으로한글로표시하고 ,쉽게지워지거나떨어지지않도록
하며최소한아래에열거된항목을표시한다 .다만 ,개별안전기준의 표시사항이 있는경우에는 개별안전
기준의표시사항에 따른다 .
5.1 제조자명 또는 수입자명 (수입품에 한함)
5.2 주소 및 전화번호
5.3 제조년월  제조년월은 “○○○○년○○월”등으로소비자가쉽게식별할수있게표시하여야 한다 .
5.4 제조국 「대외무역법」의원산지규정에 따른다 .
5.5 사용연령 (또는 권장사용연령 )
5.6 크기·체중의 한계  착용또는탑승용어린이제품과 같이크기및체중제한이있는어린이제품은 어
린이제품 자체및포장에크기와체중등의한계를표시하여야 한다 . 
5.7 필요시 사용상 주의사항 또는 사용 설명서 어린이가 이해하기 쉬운문구를사용한다 .
5.8 “KC마크는 이 제품이 공통안전기준에 적합하였음을 의미합니다 .”  해당문구를제품에눈에띄게표시
하여야한다 .또한문구를생략하려는 경우에는 소비자가 이를즉시확인할수있도록제품에홈페- 9 -이지등을기재하고 ,이를통해소비자가직접확인이가능함을 표시하여야 한다 .- 10 -총 납 및 총 카드뮴 함유량 부록 A
A.1 금속 기질 재료 중의 납, 카드뮴
A.1.1 원리
어린이제품의 기질재료가 금속인경우의납, 카드뮴정량방법에대하여규정한다 . 시료는염산또는
질산과 같은산을이용하여 분해시킨다음 , 이용액을AAS, ICP-OES, ICP-MS 등을이용하여납, 
카드뮴을정량한다 .
비고  이 방법에 따라 조작할 경우에는 유독하고 위험한 물질이 사용되므로 아래에 나타낸 자세한 주의사항을 따라야 한다.
A.1.2 시약 
시약및물등에는분석원소나 방해원소의농도가최저측정농도와비교하여 무시할정도로낮아야한다 .
a) 물 KS M ISO 3696에규정된 1등급수를모든시료용액의준비와희석에사용한다 .
b) 질산밀도(HNO 3)＝1.4 g/mL, 질량분율로서 65 %, “미량금속 ” 등급
c) 묽은질산 (1:2)  물[A.1.2 a)]과진한질산 [A.1.2 b)]을2:1 (부피비 ) 비율로묽힌다.
d) 플루오르화 붕소산 HBF 4, 질량분율로서 50 %, “미량금속 ” 등급, 또는플루오르화수소산 [A.1.2 j)] 
질량분율로서 40 % 200 mL에붕산[A.1.2 m)] 75 g을용해시켜 조제한것을사용할수도있다 .
e) 과산화수소밀도(H2O2)=1.10 g/mL, 질량분율로서 30 %, “미량금속 ” 등급
f) 과염소산밀도(HClO 4)＝1.67 g/mL, 질량분율로서 70 %, “미량금속 ” 등급
g) 인산밀도(H3PO 4)＝1.69 g/mL, 질량분율로서 85 % 이상 , “미량금속 ” 등급
h) 황산밀도(H2SO 4)＝1.84 g/mL, 질량분율로서 95 %, “미량금속 ” 등급
i) 묽은황산 (1:2)   물[A.1.2 a)]과진한황산[A.1.2 h)]을2:1 (부피비 ) 비율로희석한다 .
j) 플루오르화 수소산밀도(HF)＝1.18 g/mL, 질량분율로서 40 %, “미량금속 ” 등급
k) 염산밀도(HCl)=1.16 g/mL, 질량분율로서 37 %, “미량금속 ” 등급
l) 브로민화 수소산밀도(HBr)＝1.48 g/mL, 질량분율로서 (47 ~ 49) %, “미량금속 ” 등급
m) 붕산 (H3BO 3)  50 mg/mL, 질량분율로서 5 %, “미량금속 ” 등급
n) 혼합산 1  (염산 [A.1.2 k)]：질산 [A.1.2 b)]：물[A.1.2 a)]＝2：1：2)
o) 혼합산 2  (질산 [A.1.2 b)]：플루오르화수소산 [A.1.2 j)]＝1：3)
p) 혼합산 3  (염산 [A.1.2 k)]：질산 [A.1.2 b)]＝3：1)
q) 납표준용액 (1 000 mg/L)
r) 카드뮴표준용액 (1 000 mg/L)
s) 내부표준용액내부표준물질은 분석원소와 방해가없는것으로사용한다 . 또한시료용액안의
내부표준원소의 존재는무시할정도로낮아야한다 . Sc, In, Tb, Lu, Re, Rh, Bi 및Y 등이내부
표준원소로 사용될수있다 .
비고  플루오르화 수소산을 사용할 경우에는 특별한 주의하여 사용해야 한다 . 예를 들면 플루오르화 수소산이 피부에 묻었을 
때에는 물로 15분 이상 충분히 씻고 , 해독제 연고 (수용성 젤에 2.5 % 글루콘산 칼슘이 함유된 것)를 발라 응급처치하고 
의사의 처방을 받는다 . 장기간 치료를 요하는 때에는 칼슘이 많이 포함된 음식물을 섭취하는 것이 좋다 .
A.1.3 장치 및 기구
a) 원자흡수분광기 (AAS)
b) 유도결합플라즈마 원자방출분광분석기 (ICP-OES)
c) 유도결합플라즈마 질량분석기 (ICP-MS)- 11 -d) 마이크로파 분해시스템  시료용기와 고압TFM(tetrafluoromethaxil) 이나 PFA(perfluoro alkoxyfluorocarbon) 
또는다른불화탄소물질로 이루어진 용기를사용
A.1.4 시료 조제
A.1.4.1 시험 시료
시료 1 g을0.1 mg까지달아비커에옮겨넣는다 . (플루오르화수소산 [A.1.2 j)]을이용할때는 PTFE 
또는 PFA 비커에넣는다 .1)
비고 1 시료량이 (10 ~ 100) mg로 적을 경우 시료량 사용한 것으로부터 적절하게 검정곡선 작성 또는 측정하기 위해 시료용액를 
계산하여 제조하여 시험한다 .
A.1.4.2 시험용 시료 용액 조제
이절에서설명하는 시료전처리는모든금속과그화합물에 적용되는 것은아니다. 대체로염산 , 질산
또는혼합산을이용하여 용액을조제한다 . 이러한산으로용해가어려운시료는과염소산 , 황산등을
필요시넣어준다 . 단, 황산사용은납원소의 손실위험성에 때문에납의정량에심각한영향을
미친다는 것을염두에두어야한다 . 시료를고온에서 가열하여잔류물없이완전히용해시켜야 하며 , 
또한인산을사용해서 용해해도 된다 .
금속이나 화합물을 강산으로 용해시킬때는침전의위험이있다 . (황산에서는 Pb, Ba; 염산에서는 Ag, 
Au은산화물 또는수화산화물을 형성될것이다 ). 만약원소들을 확인하지 않는다면 공침으로인해
분석원소 물질이 감소될수있는위험성이 있다 . 이절의목적을 위해서 반드시 분석원소 물질이
시험용액에서손실이 있는지 확인해야 한다 . 원소및관련된화합물 등(산화알루미늄, 산화실리콘, 
탄화크로뮴및탄화나이오븀등) 다수는이방법으로 완전히시료를녹일수없다 . 이러한물질이
존재하면 , 산분해후잔류물은알칼리용융이나밀폐가압용기를이용해서 완전히용해시킨후, 시료
원액과합친다 .
a) 일반적인 시료용해방법
시료가들어있는유리비커에시계접시를 덮는다 . 혼합산 1 [A.1.2 n)] 20 mL를넣고용해될때까지
가열한다 . 실온까지식힌후시계접시 안쪽과비커벽을물로씻어주고시계접시를 제거한다 . 용액을
100 mL 부피플라스크에옮겨넣고물로눈금까지묽힌다. 최종용액은시료용액을모은것이며시료
용액은각측정기기의농도수준에적합하게 물로희석한다 . 필요하다면 , 예를들어로듐을포함하는
내부표준물질 [A.1.2 s)]를첨가한후물로플라스크의눈금까지묽힌다. 원소의종류와양은선택된
분석방법에 의해결정되며 , 각각의희석과정은 결과의계산에고려되어야 한다 . 희석및내부표준물질
첨가는시험보고서에 기록해야 한다 .
b) 주석을함유하는 경우
시료가들어있는비커에시계접시를 덮고혼합산 3 [A.1.2 p)] 10 mL를소량씩넣어준다 . 격렬한
반응이끝나면약하게가열하여완전히용해시킨다. 실온으로 식힌후, 시계접시 안쪽과비커벽을물로
씻어주고시계접시를 제거한다 . 황산[A.1.2 h)] 10 mL를넣고황산백연이발생될때까지가열한다 . 몇
분동안식힌후브로민화수소산 [A.1.2 l)] 20 mL를넣고다시가열하여백연이발생될때까지
가열한다 . 이과정을 3번반복한후, 실온으로 식힌다음 , 질산 [A.1.2 b)] 10 mL를넣고가용성염류를
용해시킨다. 실온으로 식힌후용액을100 mL 부피플라스크로옮겨넣고물로눈금까지묽힌다. 
최종용액은시료용액을모두모은것이다 . 시료용액은각측정기기의농도수준에적합하도록 물로
희석한다 . 필요하다면 , 예를들어로듐을포함하는내부표준물질 [A.1.2 s)]를첨가한후물로눈금까지
묽힌다. 선택된원소의종류와양은선택된분석방법에 의해결정된다 . 각각의희석과정은 결과의
계산에고려되어야 하며 , 희석및첨가된내부표준물 [A.1.2 s)] 모두시험보고서에 기록해야 한다 .- 12 -다른방법으로는 시료 1 g에물40 mL, 질산 [A.1.2 b)] 12 mL와플루오르화붕소산 [A.1.2 d)], 또는
플루오르화수소산 [A.1.2 j)] 질량분율로서 40 % 200 mL에붕산[A.1.2. m)] 75 g을용해시킨것6 
mL를사용하여 용해시키는방법이있다 . 이경우에는 PTFE 또는 PFA 비커와 LDPE 또는 PFA 부피
플라스크를 사용한다 .
c) 시료용해시 잔유물이 남아있을 경우원심분리를 하거나 여과를 통해분리한다 . 잔류물에납
원소가없다는것을적절한측정방법으로 확인한다 .
비고  은이 존재하고 주석이 다량 함유되어 있을 경우 즉, 무연 땜납인 경우에는 플루오르화 수소산으로 용해시키고 분해가 
완전히 진행될 때까지 과산화수소 10 mL을 소량씩 넣는다 .
A.1.5 바탕 용액 조제
시료를제외하고 사용된모든시약을사용하여 시료용액조제방법에따라동일한방법으로 조작하여
바탕용액을조제한다 .
A.1.6 시험 조작
만약시료조성이 확실히알려져있으면 , 검정곡선법 (매질보정법 )을이용하고 , 미지시료일 경우에는내부
표준법 (감도비교법 )을사용한다 . 만약표준물첨가방법이필요하다면 사용할수도있다 .
비고  1. 내부 표준법의 경우, AAS에는 적절하지 않음  
      2. 높은 매질 농도 시료에서는 매질 보정법이 유리하다 .
      3. 만일 매질의 효과가 정확하지 않다면 용매 추출, 이온교환 등과 같은 방법을 이용해 매질 물질을 제거해야 한다.
A.1.6.1 검정 곡선용 표준 용액 조제
검정곡선용표준용액은다음과같이두가지방법으로 검정곡선용표준용액을준비한다 .
a) 검정곡선법 (매질보정법 )
납, 카드뮴표준용액을(0 ~ 100) μg의농도가함유되도록 100 mL 부피플라스크에 단계적으로옮겨
넣어묽힌다. 매질보정법의 경우 , 시료용액의매질과표준용액의매질이근접되게 보정해주는 것이
필요하다 . 시료용액의매질과일치하는혼합된검정곡선용표준용액을조제하기 위하여각각의시약
및매질원소를넣는다 .
만약플루오르화수소산을 이용할경우에는 PTFE 비커또는 PFA 비커및저밀도폴리에틸렌(LDPE) 
부피플라스크 또는 PFA 부피플라스크를 사용한다 .
b) 내부표준물첨가법
시료용액의농도와같은농도를얻기위하여 , 시약과내부표준물원소를넣어검정곡선용표준
용액을준비한다 .
만약플루오르화수소산을 사용할경우에는 PTFE 비커또는 PFA 비커및LDPE 부피플라스크 또는
PFA 부피플라스크를 사용한다 .
A.1.6.2 검정 곡선용 표준 용액
a) 원자흡수분광법 (AAS)
납, 카드뮴원소의원자파장의흡수를측정하기위하여최적화된조건하에서 AAS의공기－아세틸렌
불꽃안으로조제된검정곡선용표준용액의일부를도입시킨다. 검정곡선법 (매질보정법 )에서는납, 
카드뮴원자스펙트럼선의세기와농도의관계를보여주는곡선을검정곡선으로작성한다 .- 13 -공존하는 물질로 인한간섭의경우 , 선택된검정범위에서 간섭이없는파장을선택하거나 적당한
방법을 이용하여 간섭세기를 보정해야 한다 . 0.998보다큰직선계수 (R2)를가진직선회귀곡선은
초기검정에 사용될수있다 . 점검표준물결과 (즉, 표준물질 , 표준용액등)가예상값보다 20 % 이상
차이가나면 , 관계있는 검정물질과모든시료는다시측정해야한다 .
b) 유도결합플라즈마 원자방출분광분석법 (ICP-OES)
납, 카드뮴원소의 원자스펙트럼선의세기를측정하기 위하여최적화된조건하에 ICP-OES 아르곤
플라즈마안으로준비된검정곡선용표준용액의일부를도입시킨다.
검정곡선법 (매질보정법 )에서는납, 카드뮴원자스펙트럼선의세기와농도의관계를보여주는곡선을
검정곡선으로작성한다 .
내부표준법에서는내부표준원소에 대한납, 카드뮴원소의 감도비율과농도의관계를 보여주는
곡선을검정곡선으로한다 .
플루오르화수소산을 함유하는 시료를측정할경우에는 , 플루오르화수소산에견디는시료용기 및
토치를사용한다 .
제시된파장은납, 카드뮴원소의스펙트럼선으로부터 선택된다 . 공존하는 물질로인한간섭의경우 , 
검정범위에서 간섭이없는파장을선택하거나적당한방법을이용하여 간섭정도를보정해야 한다 .
c) 유도결합플라즈마 질량분석법 (ICP-MS)
시료용액은시료도입용기를 통하여 아르곤플라즈마안으로 분무된다 . 플루오르화수소산을
함유하는 시료를측정할경우에는 , 플루오르화수소산에견딜수있는시료도입용기를사용한다 . 납, 
카드뮴원소의질량대전하수를읽고내부표준원소를측정한다 . 내부표준원소의측정값에대한
측정원소값의비율을계산된다 .
A.1.7 시료 측정
검정곡선작성후, 검정바탕용액과시료용액을측정한다 . 만약검정곡선보다시료용액의농도가
높으면 , 시료용액이검정곡선범위에들어오도록묽혀서다시측정한다 .
측정정밀도는일정한 간격을두고표준물질 , 검정곡선용용액등으로 확인한다 . (시료 10개마다 ) 
필요하면 , 검정곡선을다시작성한다 .
비고. 만일 시료용액이 검정 곡선 범위 안으로 묽혀지면 묽힌 시료 용액중의 내부 표준 농도도 표준 용액의 농도로 맞춘다 .
A.1.8 계산
A.1.7에서얻어진시료용액의납, 카드뮴스펙트럼선의세기와 검정곡선에서납, 카드뮴의양을
구하고 , 다음식에따라시료중의납, 카드뮴의함유량(mg/kg)을계산한다 .
                            ×
            여기에서 c : 시료중의납, 카드뮴농도(mg/kg)
                       A1：시료용액중의측정된납, 카드뮴농도(mg/L)
                       A2：바탕시험용액중의측정된납, 카드뮴농도(mg/mL)
                        V : 시료용액의총부피 (mL)
                        m：시료량(g)- 14 -A.2 고분자 기질 재료 중의 납, 카드뮴
A.2.1 원리 
어린이제품의납, 카드뮴함유량이10 mg/kg 이상인고분자기질재료의납, 카드뮴정량방법에대하여
규정하며 , 원자흡수분광법 (AAS), 유도결합플라즈마원자방출분광분석법 (ICP-OES), 유도결합
플라즈마질량분석법 (ICP-MS) 중가장적절한분석방법을 선택하여정량한다 .
시료분해방법은 건식회화법 , 황산이나질산을이용하여 산분해법 , 마이크로파분해장치를이용한
산분해법을 이용할수있으며 , 분해조작에황산을사용하는 경우에는납의손실위험성이 크므로
분석물의측정오차를줄이기 위해마이크로파분해장치사용을권장한다 . 만약시료용액중에
불용분이 존재하면침전물을 X-선형광법 등으로별도확인하거나 , 다른방법으로 용해하여 원액과합쳐
납을정량한다 .
비고  이 방법에 따라 조작할 경우에는 유독하고 위험한 물질이 사용되므로 아래에 나타낸 자세한 주의사항을 따라야 한다.
A.2.2 시약
시약및물에있는분석원소나 방해원소의농도는최저측정농도와비교하여 무시할정도로낮아야한다 .
a) 물 KS M ISO 3696에규정된 1등급수를모든시료용액의전처리와희석에사용한다 .
b) 황산  밀도(H2SO 4)＝1.84 g/mL, 질량분율로서 95 %, “미량금속 ” 등급
c) 질산  밀도(HNO 3)＝1.40 g/mL, 질량분율로서 65 %, “미량금속 ” 등급
d) 질산  질량분율로서 10 %, “미량금속 ” 등급
e) 과산화수소  밀도(H2O2)＝1.10 g/mL, 질량분율로서 30 %, “미량금속 ” 등급
f) 염산  밀도(HCl)＝1.19 g/mL, 질량분율로서 37 %, “미량금속 ” 등급
g) 플루오르화 수소산   밀도(HF)＝1.18 g/mL, 질량분율로서 40 %, “미량금속 ” 등급
h) 붕산 (H3BO 3)  질량분율로서 5 % (50 mg/mL), “미량금속 ” 등급
i) 납표준용액  (1 000 mg/L)
j) 카드뮴표준용액  (1 000 mg/L)
k) 내부표준용액   분석대상원소와 방해되지 않는내부표준물질을 사용하고 , 적은양의내부표준원소를
사용한다 . 내부표준원소로는 Sc, In, Tb, Lu, Re, Rh, Bi, Y등이대표적으로 사용된다 . ICP-OES의
경우에는 Sc, Y가추천되고 , 농도는반드시 1 000 mg/kg 이하이어야 한다 .
A.2.3 장치 및 기구
A.1.3의장치및기구를사용한다 .
A.2.4 시료 조제
A.2.4.1 시험 시료
시료분해방법 선택에따라적당한시료량의범위는가장많은양으로시작하는 것이좋다. 시료채취에
있어산분해법은 절단 , 분쇄된시료 400 mg을0.1 mg까지정확하게달아취하고 , 건식회화법또는
밀폐된용기에의한산분해법은 시료를분쇄하거나 , 깎거나 , 잘라서 200 mg을0.1 mg까지정확히달아
취한다 .
A.2.4.2 시험 용액의 준비
a) 건식 회화법
할로젠원소를포함하지 않는시료일경우다음방법에따른다 .
1) 시료를달아도가니에넣어가열판위에놓고가열한다 .- 15 -2) 환기가잘되는후드내에서시료에불이붙지않도록하면서도가니를버너로가열한다 .
3) 시료가숯덩어리로탄화되면서발생된휘발성물질을완전히배출시키고재만남을때까지서서히
가열한다 .
4) (550 ± 25) ℃로조절된전기로에 시료가든도가니를넣고전기로의 문을살짝열어두어산화되도록
충분한공기를제공해준다 .
5) 탄소가완전히산화되고 재만남을때까지계속가열한후,
6) 도가니를전기로에서꺼내어실온으로 식힌다.
7) 질산 [A.2.2 c)] 5 mL를넣고서서히가열하여찌꺼기를용해시킨후, 이용액을50 mL 부피플라스크로
옮겨넣고물로눈금까지묽힌다. 시료용액은측정기기의 적당한농도가되게물로희석한다 . 내부
표준물질 [A.2.2 k)]을사용할 경우 , 플라스크를눈금까지묽히기전에 ICP-OES 경우 500 μL를
넣어주고 , ICP-MS를사용할경우는 1 : 1 000으로묽혀내부표준용액[A.2.2 k)]을넣는다 .
할로젠원소를포함하는 시료일경우다음과같은단계가진행된다 .
1) 시료를도가니에넣고무게를단다 .
2) 황산[A.2.2 b)] (5 ~ 15) mL를넣고가열판또는모래중탕에도가니를올려놓고시료가검게탄화될
때까지서서히가열한다 .
3) 식힌후, 질산 [A.2.2 c)] 5 mL를넣고시료가완전히분해되어황산백연이발생될때까지계속
가열한다 .
4) 가열한도가니를식힌후, (550 ± 25) ℃로조절된전기로에옮겨넣고탄소가완전히연소될때까지
가열하고수분을증발시키고태운다 .
5) 전기로에서 도가니를꺼내실온으로 식힌후, 질산 [A.2.2 c)] 5 mL를넣고서서히가열하여찌끼를
용해시킨다. 이용액을50 mL 부피플라스크로옮겨넣고물로눈금까지묽힌다. 시료용액은
측정기기의 적당한농도가되게물로희석한다 . 내부표준물질 [A.2.2 k)]을사용할경우 , 플라스크를
눈금까지묽히기전에 ICP-OES 경우 500 μL를넣어주고 , ICP-MS를사용할경우는 1 : 1 000으로
묽혀내부표준용액[A.2.2 k)]을각각넣는다 .
6) 시료가완전히용해되지 않고잔류물이남아있을경우에는 원심분리를하거나걸러서분리한다 . 
그리고잔류물에납의함유존재를확인하기 위하여적절한측정방법을 이용한다 .
b) 산분해법
1) 일반적인 분해방법
시료약(1 ~ 2) g을0.1 mg까지무게를달아코니컬비커에넣는다 . 시료에황산약10 mL를가하고
시계접시를 덮은다음가열판에서서서히가열하여시료를분해시킨후, 조심스럽게질산을소량씩
추가하면서 가열하여액의색이갈색을나타낼때가열을중단하고 식힌뒤에과염소산 2 mL와질산 5 
mL를주의하면서 가하고가열한다 . 반응의정도에따라가열의세기를조절하여액의색이무색이될
때까지질산소량을가하고 , 황산의흰연기가발생하면가열을중지하고냉각시킨다. 비커안벽을물로
세척하고서서히가열하여황산을증발건고시킨다. 냉각시킨후에염산 10 mL를가하고시계접시를
덮은후에증발건고시킨다. 다시염산 10 mL를가하고가열시킨후에아이오딘화수소산 2 mL를
첨가한후서서히가열하여용액이10 mL가되도록농축한다 . 냉각시키고물50 mL와질산 (2 ~ 3) 
mL를가하고서서히가열하여과잉의아이오딘화수소산을휘발시킨다. 이투명용액을50 mL 부피
플라스크에옮기고물로눈금까지희석한후흔들어섞고시험용액으로한다 .
비고  과염소산을 넣고 가열할 경우에는 가열 온도가 200 ℃ 이상 되거나 또는 다량의 유기물이 분해되기 전에 증발 건고되면 폭발을  
일으킬 수 있으므로 각별히 주의하여야 한다.- 16 -2) 실리카를 함유한고무는다음과같이한다
시료약1 g을달아테프론비커에넣고황산약5 mL를가해서가열하여분해시키고황산의흰
연기가약간나올정도의온도로서서히가열, 탄화시킨다. 질산 5 mL, 플루오르화수소산 3 mL를
조심스럽게가하기 시작하여 시료의 1차분해를 마무리하고증발건고시키다. 이조작을 2 ~ 3회
반복해서행한뒤, 질산 5 mL, 과염소산 3 mL를주의하면서 가하고반응정도에따라가열온도를
조절하여 가열용해시킨후질산을소량씩가하여액이거의무색이될때까지반복한다 . 이용액을
증발건고시키고염산 10 mL를가한다음시계접시를 덮은후에증발건고시킨다. 다시염산 10 mL를
가하고가열시킨후에물50 mL와질산 (2 ~ 3) mL를가하고서서히가열하여과잉의아이오딘화
수소산을휘발시킨후, 이투명용액을50 mL 부피플라스크에옮기고물로눈금까지희석한후흔들어
섞고시험용액으로한다 .
c) 마이크로파 분해방법
1) 일반적인 분해방법
시료를달아마이크로파분해용기에옮겨넣고, 질산 [A.2.2 c)] 5 mL와과산화수소 [A.2.2 e)] (0.1 ~ 
1.0) mL를넣는다 . 시료와산류의반응이끝나고안정되었을때용기를마개로막고 , 마이크로파분해
장치 [A.1.3 d)]를조립한후, 미리제시된분해프로그램에따라마이크로파오븐을조작하여 시료를
용해시킨다. 용기를식힌후용액을50 mL 부피플라스크에옮겨넣고눈금까지물로묽힌다. 시료
용액은각측정기기의농도수준에적합하게 물로희석한다 . 내부표준물질 [A.2.2 k)]을사용할경우 , 
플라스크의눈금까지묽히기전에 ICP-OES 경우 500 μL를넣어주고 , ICP-MS를사용할경우는 1:1 
000으로묽혀내부표준물질 [A.2.2 k)]을각각넣는다 .
2) 분해되지 않거나시료에실리카또는타이타늄이함유되어 있을경우다음과같이한다
시료를달아마이크로파분해용기로옮겨넣고, 질산 [A.2.2 c)] 5 mL, 플루오르화수소산 [A.2.2 g)] 1 
mL 및과산화수소 [A.2.2 e)] (0.1 ~ 1.0) mL를넣는다 . 용기를마개로막고 , 마이크로파분해장치
[A.1.3 d)]를조립한 후, 미리제시된 분해프로그램에따라마이크로파오븐을조작하여 시료를
용해시킨다. 용기를식힌후용액을50 mL 저밀도폴리에틸렌(low density polyethylene, LDPE) 또는
PFA 부피플라스크로옮겨넣고눈금까지물로묽힌다. 석영플라즈마토치(만일산에견디는
시료도입장치가없다면 )를보호하기 위하여플루오르화착물을형성하도록붕산[A.2.2 h)]을넣는다 .
시료용액은각측정기기의농도수준에적합하게 물로희석한다 . 내부표준물질 [A.2.2 k)]을사용할
경우 , 플라스크의눈금까지묽히기전에 ICP-OES 경우 500 μL를넣어주고 , ICP-MS를사용할경우는 1:1 
000으로묽혀내부표준용액[A.2.2 k)]을각각넣는다 .
비고  과산화수소는 시료의 반응물질을 알 때 첨가한다 . 쉽게 산화되는 물질과는 빠르고 격렬하게 반응하므로 쉽게 산화되는 
물질이 많이 존재할 경우, 첨가하지 말아야 한다.
3) 시료용액에잔류물이남아있을경우에는 원심분리하거나걸러서분리한다 . 그리고잔류물에납의
함유존재를확인하기 위하여적절한측정방법을 이용하여 확인해야 한다 .
A.2.5 바탕 용액 준비
시료를제외하고 사용된모든시약을사용하여 시료용액조제방법에따라동일한방법으로 조작하여
바탕용액을조제한다 .
A.2.6 시험 절차
일반적으로 시료는미지조성물로 되어있다고가정하며 , 이와같은경우내부표준물법 (감도비교법 )을- 17 -추천한다 . 필요하다면 표준물첨가법을사용할수도있다 . 간섭원소가없거나시료의조성이알려져
있으면검정곡선법 (매질보정법 )을사용할수있다 .
비고  모든 상황에서 산은 시료의 농도에 따라 조정되어야 한다.
A.2.6.1 검정 곡선용 용액 조제
납, 카드뮴표준용액을(0 ~ 100) μg을단계적으로취해100 mL 부피플라스크에옮겨넣는다 . 내부
표준물첨가방법으로측정할경우에는 시료용액의산농도와내부표준물 [A.2.2 k)] 검정곡선용액의
산농도를동일한조건으로 만들어준다 . 
A.2.6.2 검정 곡선 작성
분광기는 정량을위해준비한다 . 조제된 검정곡선용액의일부를 각각아르곤플라즈마또는
공기－아세틸렌불꽃안으로 분무한다 . 플루오르화수소산이 함유된 시료를측정할경우에는
플루오르화수소산에견디는시료도입장치를사용한다 .
a) 원자흡수분광법 (AAS) 
납, 카드뮴원소의흡광도를측정하여정량한다 . 검정곡선법 (매질보정법 )에서는납원소의흡광도와
농도의관계를 나타낸곡선을검정곡선으로 작성한다 . 표준물첨가법에서 표준물을 시료용액에
넣어주고 , 미지농도는영의흡광도로첨가곡선을외삽하여결정한다 . 0.998보다큰직선계수 (R2)를
가진직선회귀곡선은초기검정에 사용될수있다 . 검정표준물질측정결과 (즉, 표준물질 , 표준용액
등)가예상치보다 20 % 이상차이가나면관계있는 검정표준물질과 모든시료는다시측정한다 .
b) 유도결합플라즈마원자방출분광분석법 (ICP-OES) 
납, 카드뮴원소의방출세기를측정하여정량한다 . 검정곡선법으로납, 카드뮴원소를정량할경우납, 
카드뮴원소의 방출세기와납, 카드뮴농도의관계를 검정곡선으로 작성한다 . 내부표준물
첨가법에서는내부표준원소의곡선에대한납, 카드뮴원소의세기비와농도의관계를검정곡선으로
작성한다 . 
c) 유도결합플라즈마질량분석법 (ICP-MS) 
납, 카드뮴원소의질량대전하수의 비율을측정하여정량한다 . 검정곡선법에서는납, 카드뮴원소의
질량/전하수의 비율의세기와납, 카드뮴농도의관계를 검정곡선으로 작성한다 . 내부표준물
첨가법에서는내부표준원소의곡선에대한납, 카드뮴원소의세기비와농도의관계를검정곡선으로
작성한다 .
A.2.7 시료 측정 
검정곡선을작성한후, 바탕용액과시료용액을측정한다 . 만약시료의농도가검정곡선보다높으면
시료용액을검정곡선범위내로묽혀다시측정한다 . 측정정밀도는일정한간격을두고표준물질 , 
검정곡선용액등으로확인한다 . (10개시료마다 1회)  만약필요할경우검정곡선을다시작성한다 .
비고  만약 시료 용액이 검정 곡선 범위로 희석되면 희석된 시료 용액 안의 내부 표준 농도는 표준 용액으로 맞춘다 .
A.2.8 계산 
다음식에따라시료중의납, 카드뮴함유량(mg/kg)을계산한다 . - 18 -                             ×
            여기에서 c :  시료중의납, 카드뮴농도(mg/kg)
A1：시료용액중의납, 카드뮴농도(mg/L)
A2：바탕시험용액중의납, 카드뮴농도(mg/L)
 V : 시료용액의총부피 (mL)
 m：시료량(g)
A.3 페인트나 유사 코팅 중의 납, 카드뮴
A.3.1 원리
이방법은페인트및유사코팅된표면을부록 B에따라분리하여총납, 카드뮴을정량한다 .
A.3.2 장치 및 기구
a) 일회용플라스틱 분해용기 , 또는유리제시험관 50 mL
b) 가열판 시험관이 들어갈수있는구멍이있는것
A.3.3 시약
a) 탈이온수
b) 질산
c) 염화메틸렌
A.3.4 조 작 
a) 부록 B에서준비된시료 (페인트및유사코팅부분 ) 약(30 ~ 50) mg을달아50 mL 비커에옮겨
넣는다 . 
b) 페인트표준물질 (NIST SRM 2581-분말페인트, 납0.5 %, 카드뮴0.5 % 등)을준비하여 시료와
동일한방법으로 조작한다 . 
c) AOAC 974.02 또는 ASTM E 1645에따라적절히시료를용해한다 .
d) 시료용액중납의농도가기기의검정곡선범위에오도록시료를묽힌다. 
e) ASTM E 1613에따라시료용액중의납을정량한다 .
이때 , ICP 분석은 CPSC 공표문과납, 카드뮴정량을위한운영절차지침, 그리고금속어린이제품내
납, 카드뮴농도의유효성지침CPSC-CH-E-1001-08 내에서유효해야한다 .
A.4 기타 재료 중의 납, 카드뮴
A.4.1 원리
고분자및금속을제외한어린이제품 중납, 카드뮴정량방법에대하여규정하며 , 원자흡수분광법
(AAS), 유도결합플라즈마원자방출분광분석법 (ICP-OES), 유도결합플라즈마질량분석법
(ICP-MS) 중가장적절한분석방법을 선택하여정량한다 . 시험시료를왕수로분해하거나 , 또는질산 , 
플루오린화붕소산 , 과산화수소 및염산등을이용하여 마이크로파분해를 이용한다 . 납, 카드뮴
함유량이10 mg/kg 이상함유된시료는 AAS 또는 ICP-OES 를이용하고 , 0.1 mg/kg 이상함유된시료는
ICP-MS를이용한다 .  
비고  만일 HBF 4의 순도가 낮다면 , 대신 HF를 사용한다 . - 19 -A.4.2 시약
시약및물에함유되어 있는납, 카드뮴원소나방해원소의농도는최저측정농도와비교하여 무시할
정도로낮아야한다 . 또한 , ICP-MS 분석용시약들은순도가높고미량금속의총량이질량분율로서 1 × 
10-6 % 이하인산이나화합물이 함유된것을사용해야 한다 .
a) 물   KS M ISO 3696에규정된 1등급수를사용한다 .  미량금속등급-총량10 µg/kg 미만
b) 염산   밀도(HCl)＝1.16 g/mL, 질량분율로서 37 %, “미량금속 ” 등급
c) 묽은염산 (1:2)  물[A.4.2 a)]에진한염산 [A.4.2 b)]을2:1의비율로묽힌것. “미량금속 ” 등급
d) 질량분율로서 5 %  염산용액  “미량금속 ” 등급
e) 질량분율로서 10 %  염산용액  “미량금속 ” 등급
f) 질산   밀도(HNO 3)＝1.40 g/mL, 질량분율로서 65 %, “미량금속 ” 등급
g) 0.5 mol/L 질산용액  “미량금속 ” 등급
h) 질량분율로서 10 %  질산용액  “미량금속 ” 등급
i) 혼산 HCl [A.4.2 b)]：HNO 3 [A.4.2 f)] =3：1
j) 질량분율로서 50 %  플루오르화 붕소산 (HBF 4)  “미량금속 ” 등급
k) 과산화수소   밀도(H2O2)＝1.10 g/mL, 질량분율로서 30 %, “미량금속 ” 등급
l) 납표준용액  (1 000 mg/L)
m) 카드뮴표준용액  (1 000 mg/L)
n) 내부표준용액   내부표준물질는 분석원소 방해가없는것을사용해야 하며 , 또한시료용액중의
내부표준원소의존재는무시될수있을정도로낮아야한다 . Sc, In, Tb, Lu, Re, Rh, Bi, Y 등은이
특정한분광법을 위해내부표준원소로 사용될수있다 .
비고  1. 이 방법에 사용된 각 시약의 유독성을 정확히 정의할 수는 없다. 그러나 각 화합물은 잠재적인 건강위험요소로 간주해야 
한다. 이러한 관점에서 , 이용 가능한 방법에 의한 이러한 화학물질에 대한 노출을 가능한 줄일 것을 권고한다 .
      2. 강산을 사용하는 전처리 방법은 부식 및 화상을 일으킨다 . 산을 다룰 때는 실험복 , 장갑 및 보안경을 착용해야 한다.
      3. 질산은 유독가스가 발생할 가능성이 있으므로 시료에 산을 넣을 때는 항상 배기장치 (후드) 안에서 시험한다 .
      4. 플라즈마에서 나오는 배출 가스는 효과적인 배기장치 (후드)에 의해서 배출되어야 한다.
      5. 플루오르화 수소산을 사용할 경우에는 특별한 방법을 사용해야 한다. 예를 들면 플루오르화 수소산이 피부에 묻었을 때
에는 물로 15분 이상 충분히 씻고, 해독제 연고(수용성 젤에 2.5 % 글루콘산 칼슘이 함유된 것)를 발라 응급처치하고 의사
의 처방을 받는다 . 장기간 치료를 요하는 때에는 칼슘이 많이 포함된 음식물을 섭취하는 것이 좋다.
A.4.3 장치 및 기구
A.1.3의장치및기구를사용한다 .
A.4.4 시료 조제 
이절에서설명된시험용액의전처리는어린이제품 중금속및고분자를 제외한모든어린이제품
부품에적용될수있는것은아니다. 대체로염산 , 질산또는혼합산을이용하며 이러한산으로용해가
어려운시료는과염소산 , 황산등을필요시넣어준다 . 단, 황산사용은납원소의손실위험성때문에
납정량에심각한영향을미친다는 것을염두에두어야한다 . 시료를고온에서 가열하여잔류물없이
완전히용해시켜야 한다 .
만약잔류물이존재한다면 , 납, 카드뮴원소가함유되어 있는지다른분석방법 (예, XRF)들을이용하여
납, 카드뮴함유여부를확인하거나 , 다른분해법 (알칼리용융또는밀폐가압용기의사용 )으로조작하여
잔류물을완전히용해시킨다. 이방법에의하여처리된용액은시료원액과합쳐서납, 카드뮴분석을
진행한다 .- 20 -A.4.5 시험 시료
a) 왕수를이용한용해
분쇄한시료 (최대입자크기：250 μm) 약2 g을달아반응용기에넣고, 염산 [A.4.2 b)] 22.5 mL와질산
[A.4.2 f)] 7.5 mL를넣는다 . 반응용기에 환류냉각기와 0.5 mol/L 질산 [A.4.2 g)] 10 mL가들어있는
흡수용기를 설치한다 . 실온에서 12시간 , 120 ℃에서 2시간동안용해한다 .
실온으로 식힌후, 흡수용기의내용물을반응용기에넣고, 만약불용분이 존재하면 시료용액을0.45 
μm 유리섬유거르개로 거른다 . 5 % 염산용액[A.4.2 d)] 15 mL를사용하여 불용분을 4회씻어준다 . 
얻어진용액을100 mL 부피플라스크로옮겨넣고5 % 염산용액[A.4.2 d)]으로눈금까지묽힌다. 
시료용액은각측정기기의 검정곡선농도에적합하도록묽힌다. 내부표준물질을 사용할경우에는 , 
플라스크눈금까지묽히기전에넣는다 . 최종부피 100 mL로채우기전에 , ICP-OES 의경우 1 000 μL, 
ICP-MS는1:1 000으로묽힌내부표준물을넣어준다 .
시료잔류물이남아있을경우원심분리나여과를통해분리하고 , 잔류물은납의존재여부를 적절한
측정방법 (예, XRF)을이용하여 확인해야 한다 .
만일이절에서설명된시험장비를사용할수없다면 , 실험자가 적합성을 확신할수있는다른간단한
방법을사용해도 된다 . 제시된시험조작에서오는오차는검증되어야하며시험보고서에 명시해야
한다 .
간단한방법은다음의절차에따른다 . 시료가들어있는유리비커에시계접시를 덮고 , 혼산[A.4.2 i)]을
비커에넣고120 ℃에서 2시간동안가열하고실온에서 12시간동안방치한다 . 시계접시의 아랫부분과
비커의내벽을물로씻어주고시계접시를 제거한다 . 만약불용분이 존재하면 시료용액을0.45 μm 유리
마이크로섬유거르개를 이용하여 거른다 . 질량분율로서  5 % 염산용액[A.4.2 d)]으로불용분을
씻어준다 . 얻어진용액을100 mL 부피플라스크로옮겨넣고물로눈금까지묽힌다. 최종용액은다음
측정에이용된다 .
b) 마이크로파분해
분쇄한시료 (최대입자크기：250 μm) 약200 mg을달아PTFE, TFM, PFA, 또는다른불화탄소물질로
만들어진 용기로옮겨넣는다 . 질산 [A.4.2 f)] 4 mL, 플루오르화붕소산 [A.4.2 j)] 2 mL, 과염소산 [A.4.2 
k)] 1 mL 및물1 mL를넣는다 . 발생되는가스를제거하기 위해분해용기를 조심스럽게약10초동안
흔들어준후, 반응이정지되면 용기를마개로막고 , 마이크로파분해장치 [A.1.3 d)]를조립한후, 미리
제시된분해프로그램에따라마이크로파오븐을조작하여 시료를용해시킨다.
비고  만일 HBF 4의 순도가 낮다면 , 대신 HF를 사용한다 . 
실온까지식힌후(약1시간방치 ) 분해용기를열고염산용액[A.4.2 b)] 4 mL를넣고, 마개를막은후
다시마이크로파분해장치 [A.1.3 d)]를조립한후, 제시된분해프로그램에따라마이크로파오븐을
조작하여 시료를용해시킨다.
실온으로 식힌후(약1시간방치 ) 분해용기를열고25 mL 부피플라스크에 유리마이크로섬유거르개를
이용하여 거르고 5 % 염산용액[A.4.2 d)]으로씻어준후눈금까지묽힌다. 만약잔류물이존재하면납, 
카드뮴존재여부를 적절한측정방법으로 확인한다 .- 21 -위에서설명된조작과정은 마이크로파분해장치를위한최소한의요구사항이며 , 각시료에대해서 2 ~ 
3번시험을실시하여야 한다 .
비고 1 분해용기에 분말 시료 200 mg 이상을 넘지 않도록 하는 것을 권한다 . 분말로 된 시험시료가 질산, HBF 4, 과산화수소 , 염산 
등과 혼합물이 빠르고 격렬하게 반응해 이산화탄소 , 질소산화물을 생성한다 . 이것은 봉합된 용기 안의 압력을 높이는 
원인이 된다. 갑자기 발생된 압력으로 인해 마이크로 오븐의 안전장치는 반응할 수 있고 용기가 열릴 수 있다. 
분석원소물질이 손실될 수 있고 최악의 경우 폭발이 일어날 수도 있다. 그러므로 시료에 시약을 가한 후 반응이 정지될 
때까지 놓아둔 후 장치를 조립한다 .
     2 한 개의 시료를 2~3번씩 분석할 때에는 같은 양, 같은 종류의 산을 사용해야 한다.
A.4.6 시험 절차
시료측정을위해검정곡선법을사용한다 . 내부표준법 (감도비교법 )은ICP-MS에적용된다 .
비고 1  시험방법의 신뢰성을 높이기 위해서는 표준물 첨가법이 사용될 수도 있다.
     2  매질효과를 보정할 수 없다면 매질원소들을 용매 추출법 , 이온－교환법 등과 같은 분리방법에 의하여 제거해야 한다.
A.4.7 검정 곡선용 용액 조제
검정표준용액을준비하기 위해 2가지방법이사용된다 .
a) 검정곡선법 (매질보정법 )
검정곡성용바탕용액과세개의검정곡선용표준용액을준비한다 . 납, 카드뮴원소를 (0 ~ 100) μg 
이함유되도록 단계별로채취하여 100 mL 부피플라스크에옮겨넣는다 . 매질보정법으로 표준용액을
조제할 경우에는 시료용액과동일한양의시약과매질원소들을넣어검정곡선용표준용액으로
조제한다 . 플루오린화붕소산을사용한경우에는 , 저밀도폴리에틸렌 (LDPE) 부피플라스크 또는 PFA 
부피플라스크를 이용한다 .
b) 내부표준법
검정곡선용표준용액에시료용액조제시사용된같은양의시약을넣어주고 , 시료용액및검정
곡선용표준용액각각에내부표준원소를넣는다 . 플루오르화붕소산을사용한경우에는 , 저밀도
폴리에틸렌부피플라스크 또는 PFA 부피플라스크를 이용한다 .
c) 원자흡수분광법맟유도결합플라즈마원자방출분광분석법 (AAS, ICP-OES)
매질보정법으로납, 카드뮴을측정할경우에는 적절한스펙트럼선을선택해야하고 , 검정도매질이
보정된검정곡선용표준용액으로사용해야 한다 .
d) 유도결합플라즈마질량분석법 (ICP-MS)
이방법은적절한내부표준법으로 사용한다 .
A.4.8 표준 용액 조제
표준용액의준비는사용하는 기기에따라다르다 .
a) 유도결합플라즈마원자방출분광분석법및원자흡수분광법 (ICP-OES, AAS) 
왕수분해로얻어진시료용액은마이크로파분해로얻어진용액과다른매질조성을가진다 . ICP/OES를
위해준비된 표준용액은분석대상원소인 납, 카드뮴직선성이 나오는농도범위에서 AAS 측정에도
사용할수있다 . 검정곡선용바탕용액과네개의검정곡선용표준용액을준비한다 .- 22 -비고  만일 HBF 4 순도가 낮다면 , 대신 HF를 사용한다 .
b) 유도결합플라즈마질량분석법 (ICP/MS) 
검정곡선용바탕용액과세개의검정곡선용표준용액을준비한다 . 
납, 카드뮴원소를 (0 ~ 5) μg이함유되도록 단계적으로채취하여 100 mL 부피플라스크에옮겨넣는다 . 
검정곡선용표준용액에시료용액조제시사용된같은양의시약을넣어주고 , 시료용액및검정
곡선용표준용액각각에내부표준원소로로듐1 μg을넣는다 .
A.4.9 검정 곡선 작성
검정곡선의작성은사용하는 기기에따라다르다 .
a) 원자흡수분광법 (AAS)
납, 카드뮴원소의 원자파장의흡수를측정하기 위하여최적화된 조건하에 공기－아세틸렌불꽃
안으로 준비된 검정곡선용표준용액의일부를 도입시킨다. 검정곡선법 (매질보정법 )은원자
스펙트럼선의세기와농도의관계를보여주는곡선을검정곡선으로작성한다 .
납, 카드뮴원소의파장은대표적인측정파장을고려하여 선택하여야 한다 . 공존하는 물질로 인한
간섭의경우 , 선택된검정범위에서 간섭이없는파장이거나 적당한 방법을 이용하여 간섭세기를
보정해야 한다 .
b) 유도결합플라즈마원자방출분광분석법 (ICP-OES)
납, 카드뮴원소의 원자스펙트럼선의세기를측정하기 위하여최적화된조건하에 ICP-OES 아르곤
플라즈마안으로 준비된 검정곡선용용액의일부를 도입시킨다. 검정곡선법 (매질보정법 )은원자
스펙트럼선의세기와농도의관계를보여주는곡선을검정곡선으로작성하고 , 내부표준법은내부
표준물질에 대한분석원소의 감도비율과농도의관계를보여주는곡선을검정곡선으로작성한다 .
플루오르화수소산을 함유하는 시료를측정할경우에는 , 플루오르화수소산에견디는시료용기를
사용한다 .
납, 카드뮴원소의파장은스펙트럼선으로부터 선택된다 . 납원소의파장은대표적인측정파장을
고려하여 선택하여야 한다 . 검출한계 및측정정밀도등에대한철저한연구가 수행되어야 한다 . 
공존하는 물질로 인한간섭의경우 , 선택된검정범위에서 간섭이없는파장이거나 적당한 방법을
이용하여 간섭정도를보정해야 한다 .
c) 유도결합플라즈마질량분석법 (ICP-MS)
시험용액을아르곤플라즈마안으로분무한다 . 플루오르화수소산을 함유하는 시료를측정할경우에는 , 
플루오르화수소산에견디는시료용기를 사용한다 . 납, 카드뮴원소의질량대전하수를읽고내부
표준물질를측정한다 . 납, 카드뮴원소의측정값과내부표준물질의측정값의비율을계산한다 .
A.4.10 시료 측정
검정곡선작성후, 검정바탕용액과시료용액을측정한다 . 만약검정곡선보다시료농도가높으면 , 
용액을검정곡선범위에들어오도록묽혀다시측정한다 .
측정정밀도는일정한간격을두고표준물질 , 검정곡선용액등으로확인한다 . (10개시료마다 1회) - 23 -필요하면 , 검정곡선을다시작성한다 .
0.998보다큰직선계수 (R2)를가진직선회귀곡선은초기검정에 사용될수있다 . 점검표준물결과 (즉, 
표준물질 , 표준용액등)가예상값보다 20 %이상차이가나면 , 관계있는 검정물질과 모든시료는다시
측정한다 .
A.4.11 계산 
A.4.9에서작성된 검정곡선에서납, 카드뮴원소의 분광세기를 구하고 , 다음식에따라시료에
함유되어 있는납, 카드뮴원소의농도(mg/kg)를계산한다 .
                                 ×
                  여기에서 c : 시료중의납, 카드뮴농도(mg/kg)
A1：시료용액중의측정된납, 카드뮴농도(mg/L)
A2：바탕시험용액중의측정된납, 카드뮴농도(mg/L)
 V : 시료용액의총부피 (mL)
 m：시료량(g)
비고  이 절에서 분석방법의 잠재적 다양함으로 인해 처음 시험용액의 희석이 적용되므로 위 식은 일반화된 것이다 . 모든 
희석과정은 계산 결과에 포함되어야 한다는 것을 반드시 명심해야한다 .- 24 -시험 시료의 준비 부록 B
어린이제품은 다양한형태로존재하고 각기다른구성요소및색상에서얻어지는납의정도에따라
중요한차이가있을수있기때문에어린이제품의 각아이템은그자체로개별적으로취급한다 . 즉, 한
제품이여러물질로구성되어 있으면 , 이를서로다른성분을분리하고 각성분의시료를개별적으로
검사한다 .
시료채취에있어제품구성요소별각기다른종류를손상시키지않는범위내에서각각의성질에
따라간단한수동분리또는잘라내는등의분리작업을필요로한다 . 따라서버클, 훅, 구슬 , 펜던트
또는다른구성물을차례로분리하여 개별검사하기 위하여 손으로 제거하거나잘라냄등의분리
작업을실시하고 시험시료1)로이용할수있다 .
어린이제품에 페인트나유사코팅으로되어있다면 원래의기질재료로부터 코팅층을분리한다 . 이때 , 
가능한기질재료가최소한으로 함유되도록 염화메틸렌과같은용매를몇방울떨어뜨려페인트및
유사코팅된부분이 유화되어쉽게분리되도록 하며이러한 용매를사용했을경우 , 분석전에
증발시킨다. 만약시료량이충분하지 못할경우에는동일한제품여러개를취하고분리된 시료를
적당한크기로자르거나 미세하게 분쇄한다 .
어린이제품 용출시험의 경우 , 시험시료의 표면이손상되지 않도록주의해야 한다 . 용출시험동안표면이
완전하게 그대로유지되도록하기위해시험시료 분리방법에따라다수의시료를필요로할수있다 . 
시료를잘랐을경우 , 개별부품의코팅이손상되어잘못된추출결과가나올수있다 . 만약부품을
분리하는데손상이불가피하다면 , 그것은묶어서같이시험한다 .
비고 1 시험시료는 10 mg 이상이어야 하며, 제품 내 10 mg 미만의 시료는 제외한다 .- 25 -프탈레이트계 가소제 부록 C
C.1 원리
합성수지제에 한하여프탈레이트계가소제의 함량을가스크로마토그래프질량분석 (GC-MS) 방법으로
측정한다 .
C.1.1 정의
a) 시료 (Sample)  시험할배치(Batch)의개별소비자제품또는동일한소비자제품군을말한다 .
b) 구성 요소 부품 (Component Part)   제품내개별하위장치를말한다 .
c) 바탕 용액 시료를제외하고 사용된모든시약을사용하여 시료용액조제방법에따라동일한방법
으로조작하여 바탕용액을조제한다 .
d) 표준저장용액 (Stock Standard)  검정표준용액에준비에사용되는 가장높은순도로평판있는상업적
공급원에서구입한프탈레이트계가소제를 말한다 . 유통기한 전에교체되어야 한다 .
e) 검정표준용액 (Calibration standard)  분석하는프탈레이트계가소제를 포함한용액. 각검정표준용액
은1 mg/L의내부표준용액을포함해야 하며최소4개의검정표준용액이사용되어야 한다 . 
  검정표준용액은표준저장용액에서제조되어야 하며상온에서 보관될수있다 .
C.1.2 시약 및 재료
a) Tetrahydrofuran (THF),  GC 등급이상
b) Hexane,  GC 등급이상
c) Acetonitrile, GC 등급이상
d) PTFE 또는실리콘라이너로밀봉가능한 20 mL 이상의유리바이알
e) 전자저울 , 분해능 ±0.000 1 g
f) 냉동분쇄기(또는시료를분말로분쇄가능한장비 ) 
g) 초음파추출기
h) PTFE 실린지필터 , 0.45 μm 
i) 가스크로마토그래프–질량분석기 (GC-MS)  
j) 일반적인 실험실기구
k) Di-(2-ethylhexyl) phthalate (DEHP),  CAS No. 117-81-7
l) Dibutyl Phthalate (DBP),  CAS No. 84-74-2- 26 -m) Benzyl Butyl Phthalate (BBP), CAS No. 85-68-7
n) Diisononyl phthalate (DINP),  CAS No. 28553-12-0 또는 68515-48-0
비고  제조회사가 다른 경우 DINP의 피크 패턴이 다를 수 있다.
o) Diisodecyl phthalate (DIDP),  CAS No. 26761-40-0 또는 68515-49-1
p) Di-n-octyl phthalate (DnOP),  CAS No. 117-84-0
q) Anthracene-d10 
비고  Anthracene-d10 내부 표준물로 적당하다 .
C.1.3 주의 사항
이규격은유해물질 사용을필요로한다 . 적절한개인보호장비와함께후드에서 모든위험물질을안
전하게취급하는것이가장중요하다 .
프탈레이트계가소제는흔한오염물질이며 소량의오염도정량결과에영향을미칠수있다 .
따라서플라스틱재료를피하고세척된유리제품 및초자기구를사용해야 한다 . 모든용매는프탈레이
트계가소제가 있는지시험해야 하며 , 잠재적인오염여부를모니터링하기 위해 Solvent blank를GC-MS 
통해주기적으로 확인해야 한다 . 
사용가능한경우일회용유리제품을권장한다 .
C.1.4 시료 준비
분석전, 합성수지제를 작은조각 (2 mm × 2 mm 이하의치수 )으로자르거나 분쇄하여가루형태로만들
어야한다 . 자르거나 분쇄된각각의합성수지제는 C.1.5의시험시료로간주된다 . 최소한시험시료를구
성하는데요구되는 양을준비한다 .
C.1.5 시료 추출
시험소는 결과값의요구사항을충족시키는데필요한반복시험시료수를결정해야 한다 . 시료와함께
바탕용액을처리하여야 하며침전용매(ACN 또는 Hexane 중선택)에내부표준물질을첨가하여 1 mg/L
의농도가되도록한다 .
a) (0.150 ± 0.005) g의시료를유리바이알에넣는다 . 시료가균질하지않으면더많이채취하여시료
편차를줄인다 .
b) THF 5 mL을시료에첨가한다 . 무게가 0.150 g 보다큰시료의경우 , 0.150 g 시료 (또는시료를녹이
기적당한양) 무게마다 5 mL의THF를첨가한다 . 시료를약30분간흔들거나 , 저어주거나 , 다른방
법*으로용해시킨다.
* 시료는초음파추출을통해용해를촉진시킬수있다 .- 27 -비고  1. 일부 시료는 완전히 용해되지 않을 수 있으며 , 이 경우에는 용해시간을 2시간 더 추가 한다.
      2. 최소 시료량은 0.01 g (10 mg) 이며, 0.3 mL THF와 0.7 mL ACN이나 Hexane 을 사용한다 .
c) b)에서사용된 THF 5 mL 마다 10 mL의ACN 또는 Hexane을넣어PVC 고분자를침전시킨다. 혼합
액을강하게흔들어준뒤고분자물질이가라않을 때까지최소5분간방치한다 .
e) 분석을위해상층액을GC바이알로옮긴다 . c)에서 Hexane이사용된경우 0.45 μm 필터를사용하여
상층액을분석전에여과한다 .
C.1.6 기기 분석
시료분석에는 Auto-sampler 가장착된 GC-MS 사용을제안한다 . 향상된 MS 옵션(예: 이온트랩또는이
중질량분석법 )이장착된 GC 또는 LC를정성평가에 사용할수있다 . 
아래와같은 GC 조건이사용될수있다 .
비고  검출기 칼럼 등의 조건은 기기 및 분석에 따라 일부 변경될 수 있다.
C.1.6.1  GC-MS 분석조건
GC 조건
주입량 : 1.0 μL
주입속도 : 빠름
주입구 온도: 300 ℃
주입구 모드: Splitless
라이너 : Split / splitless liner (ID: 4 ㎜, single tap, with glass wool)
컬럼 DB-5MS, (30 m × 0.25 ㎜ × 0.25 µm), capillary column
이동상 가스: 헬륨
이동상 가스 유속: 1.5 mL/min (constant flow)
오븐 온도:초기 : 110 ℃ for 0.5 min
승온 1 : 20 ℃/min to 280 ℃ for 1 min
승온 2 : 20 ℃/min to 320 ℃ for 5 min
MSD 트랜스퍼 라인 온도: 320 ℃
MSD 조건
용매지연 : 4.5 min
EM 오프셋 (relative voltage): 400 V
MS Quad: 150 ℃ (최대: 200 ℃)
MS Source: 230 ℃ (최대: 250 ℃)
어케지션 모드: SCAN / SIM 모드
스캔 범위: 50 amu ~ 500 amu
샘플링 레이트 : 2
문턱 (threshold): 150- 28 -C.1.6.2  GC-MS 정량분석
물 질 머무름 시간 (min)GC-MS
타겟 이온 (m/z) 참고 이온 (m/z)
안트라센 -d10 ~ 6.720 188  94 160
DBP ~ 7.416 223 149 205
BBP ~ 9.246 206  91 149
DEHP ~ 10.134 279 149 167
DnOP ~ 11.126 279 149 167
DINP ~ 11.082 293 149 307
DIDP ~ 11.986 307 149 293
C.1.7 계산
시료내개별프탈레이트계가소제 (%) = ×××
여기에서 C   :  GC-MS에서얻은개별프탈레이트계가소제의농도값, mg/L
            V   :  최종부피 , mL
            W   :  시료무게 , g
            D.F. :  희석배율- 29 -비산성 전해액을 갖는 밀페 2차전지가 포함된 
어린이제품 제조자와 전지조립자를 위한 권고 사항부록 D
다음은 2차단전지및전지제조자가 비산성전해액을갖는밀폐 2차전지가포함된어린이제품 제조자
및전지조립자에게 제공해야 할전형적이지만 비포괄적인권고목록이다 .
a) 단전지를 해체하여열거나자르면안된다 . 전지는숙련된사람에의해서만 해체되어야 한다 . 내부에
여러개의단전지가 연결된전지케이스는도구의도움이있어야만열수있도록고안되어야 한다 .
b) 단전지나 전지를단락시켜서는 안된다 . 단전지나 전지를서로간에단락되거나전도성재질에의해
단락되는상자나서랍에보관하면 안된다 .
c) 사용할필요가있을때까지단전지나 전지를원래포장으로부터 제거하면 안된다 .
d) 단전지나 전지를열이나화기에노출시키면안된다 . 직사광선에서의저장을피한다 .
e) 단전지나 전지에기계적충격을가하지않는다 .
f) 단전지누출의경우액체에피부나눈을접촉시키지않는다 . 만약접촉했다면접촉부위를충분한양의  
물로씻고의사의진찰을받는다 .
g) 기기는부정확한 단전지또는전지의삽입을막을수있도록고안되어야 하고분명한극성표시를 가
져야한다 . 항상단전지 , 전지및기기의극성표시를확인하고 바르게사용한다 .
h) 제조자 , 용량, 크기및형식이다른단전지를 전지내에혼용하지않는다 .
i) 만약단전지나 전지를삼켰다면즉시의사의진찰을받는다 .
j) 한전지내에조립되는 단전지의최대개수와단전지들을 연결하는 방법에대해단전지 /전지제조자
에게문의한다 .
k) 각기기에대해서는 전용충전기가공급되어야한다 . 판매용으로제공되는 모든2차단전지및전지
에는완전한충전지시사항이제공되어야 한다 .
l) 단전지및전지를깨끗하고 건조하게 보관한다 .
m) 단전지나 전지가더러워졌을경우깨끗한마른천으로닦는다 .
n) 2차단전지및전지는사용전충전할필요가있다 . 항상단전지또는전지제조자의 지시사항을참조
하고올바른충전방법을사용한다 .
o) 사용하지 않을때2차단전지및전지를충전상태로두어서는 안된다 .
p) 장기간보관후에는최대의성능을얻기위해단전지또는전지를몇차례방전및충전할필요가있다 .
q) 2차단전지와 전지는정상상온에서 작동될때최고의성능을나타낸다.
r) 2차단전지나 전지를폐기할때는서로다른전기화학시스템을가진단전지나 전지를서로격리한다 .
s) 전지를넣은기기를 1 미터높이에서콘크리트바닥으로 1회떨어뜨린다 . 떨어뜨릴때, 자유낙하가
전지의안전에가장큰영향을미칠가능성이 있는방향을선택한다 . 호스트기기를떨어뜨리는대신
낙하와동일한충격을전지에가하여시뮬레이션할수있다 . - 30 -비산성 전해액을 갖는 밀페 2차전지가 포함된 
어린이제품 사용·보호자를 위한 권고 사항부록 E
다음은비산성전해액을갖는밀폐 2차전지가포함된어린이제품의 제조 ·수입자가최종사용 ·보호자자에
게제공해야 할전형적이지만 비포괄적인유용한권고목록이다 .
a) 단전지를 해체하여열거나자르지않는다 .
b) 단전지나 전지를열이나화기에노출시키지않는다 . 직사광선에서의저장을피한다 .
c) 단전지나 전지를단락시켜서는 안된다 . 단전지나 전지를서로간에단락되거나전도성재질에의해
단락되는상자나서랍에보관하면 안된다 . 
d) 사용할필요가있을때까지단전지나 전지를원래포장으로부터 제거하면 안된다 .
e) 단전지나 전지에기계적충격을가하지않는다 .
f) 단전지누출의경우액체에피부나눈을접촉시키지않는다 . 만약접촉했다면접촉부위를충분한양
의물로씻고의사의진찰을받는다 .
g) 기기와함께제공된것외에는다른충전기를사용하지 않는다 .
h) 단전지 , 전지 , 기기상의 양극(＋)과음극(－)을확인하고 올바르게 사용한다 .
i) 해당기기에사용되도록 고안되지 않은단전지나 전지를사용하지 않는다 .
j) 제조자 , 용량, 크기및형식이다른단전지를 전지내에혼용하지않는다 .
k) 단전지및전지를어린이의 손이닿지않는곳에보관한다 .
l) 만약단전지나 전지를삼켰다면즉시의사의진찰을받는다 .
m) 항상기기에맞는단전지나 전지를구입한다 .
n) 단전지및전지를깨끗하고 건조하게 보관한다 .
o) 단전지나 전지가더러워졌을경우깨끗한마른천으로닦는다 .
p) 2차단전지및전지는사용전충전할필요가있다 . 항상단전지또는전지제조자의 지시사항을참
조하고올바른충전방법을사용한다 .
q) 사용하지 않을때2차단전지및전지를충전상태로두어서는 안된다 .
r) 장기간보관후에는최대의성능을얻기위해단전지또는전지를몇차례방전및충전할필요가있다 .
s) 원래의단전지및전지문헌들을나중에참조할수있도록보관한다 .
t) 단전지나 전지를의도된용도에만 사용한다 .
u) 가능한한사용하지 않을때는전지를기기로부터 분리한다 .
v) 적절한방법으로폐기한다 .- 31 -물리적 안전요건의 시험방법 부록 F
F.1 작은 부품 시험
그림1에서보이는것과같은실린더에압력을가하지않고어린이제품을놓는다 .
어린이제품의 분리가능에대해서도 이절차를수행한다 .
                                 
       단위 : mm
[그림 1] 작은 부품 실린더
F.2 날카로운 가장자리 시험
F.2.1 원리
접착테이프를굴대에부착하고 시험할접근할수있는가장자리를 따라 360°로1회전한후테이프의잘
려진길이를조사한다 .
F.2.2 장치
장치는그림2를참조한다 .
F.2.2.1 굴대   강철로만든지름(9.53 ± 0.12) mm, 굴대의시험표면은긁힘 , 흠또는거스러미가 없어야
하며 , 표면조도 (거칠기정도 ) Ra는KS B ISO 4287:에따라측정했을때0.40 µm 이하이어야 한다 .
이표면은 KS M ISO 6508-1에의해측정했을때로크웰등급경도 (HRC) 40 이상이어야 한다 .
F.2.2.2 굴대를 회전시키며 힘을 가하는 장치   장치는부드럽게시동되고멈춰야하며 , 360° 회전의 75 
% 가량의회전중에는 (23 ± 4) mm/s의일정한접선속도로굴대가회전해야 한다 .- 32 -이장치는적합한디자인으로휴대용또는비휴대용일수있지만굴대축에수직으로 6 N 까지의힘을
가할수있어야한다 .
F.2.2.3 압력 감지용 폴리테트라플루오르에틸렌 (PTFE) 테이프   폴리테트라플루오르에틸렌 (PTFE) 테이프의
두께는 0.066 mm에서 0.090 mm 정도이어야 한다 . 접착제는 공칭두께가 0.08 mm인압력에민감한실리
콘고분자이어야 한다 . 테이프의너비는 6 mm 이상이어야 한다 .
                              
     단위 : mm
[그림 2] 가장자리 시험 장치
1 : 알고있는힘F를적용하고굴대를회전시키기위한휴대용또는비휴대용장치 (5 F.2.2.2 참조)
2 : PTFE 테이프한겹(F.2.2.3 참조)
3 : 악조건을찾는가변성의 각도 (F.2.3 참조)
4 : 굴대
5 : 시험되는 모서리
F.2.3 수행 절차
시험하고자 하는가장자리가 KS G ISO 8124-1에서기술된방법에의해서접근할수있는지확인한다 .
시험하려는 접근할수있는가장자리는굴대에힘이가해졌을때휘어지거나움직이지않도록고정하고
시험할가장자리로부터 15 mm 이상떨어지도록 한다 .
특정가장자리를 시험하기 위해서어린이제품의 부품을제거하거나 분해함으로써가장자리의 단단함에
영향을준다면이가장자리를 조립된어린이제품 가장자리의 단단한수준이되도록지탱해야한다 .
시험을하는데충분한면적이되도록테이프(F.2.2.3) 한겹을굴대(F.2.2.2)에감는다 .
테이프를감은굴대의축이곧은가장자리 선에 (90 ± 5)°가되도록하거나휘어진가장자리의 시험지
점에서의 접선과 (90 ± 5)°가되도록하여굴대가완전히 1회전할때테이프가가장자리의 가장날카로
운부분 (즉, 악조건 )과접촉되도록한다 .(그림2 참조)
굴대의회전중에굴대와가장자리 사이에상호움직임이발생하지않도록하면서테이프의주요가장- 33 -자리에서 3 mm 되는지점에서 N의힘F를굴대에가하고가장자리에 대해서축방향으로굴대
를360° 회전시킨다. 이렇게시험하는 도중에가장자리가휘어진다면 가장자리가휘어지지않을만큼의
최대의힘을가한다 .
굴대로부터테이프를제거하는데, 이테이프에잘라진부분을더크게하지않고테이프에서어떤벤
자국도절단되지 않게해야한다 . 시험중에가장자리에 접촉된테이프의길이를측정한다 . 테이프의잘
라진길이(간헐적인절단도포함해서 )를측정한다 .
시험중에잘라진테이프의길이를계산한다 . 이길이가접촉길이의 50 % 이상이면 가장자리는 잠재적
으로위험하고 날카로운 가장자리로 간주한다 .
F.3 날카로운 끝 시험
F.3.1 원리
끝시험기를 접근할수있는날카로운 끝에적용하고 그끝이날카로운 끝시험기속으로지정된거리
만큼관통하는지를 관찰한다 . 끝의침투깊이로날카로움을판단한다 . 그끝이끝뚜껑아래로 (0.38 ± 
0.02) mm의거리만큼들어간감지부에 닿고회복된스프링의 N의힘에대해서 (0.12 ± 0.02) 
mm만큼더감지부가움직인다면그끝은잠재적으로 날카롭다고간주한다 .
F.3.2 장치
F.3.2.1  날카로운 끝 시험기   날카로운 끝시험기는길이(1.15 ± 0.02) mm, 너비(1.02 ± 0.02) mm의홈이
파인뚜껑이있어야한다 . 감지부는뚜껑의(1.38 ± 0.02) mm 아래에있어야한다 .(그림3 참조)
                         
   단위 : mm
[그림 3] 날카로운 끝 시험기
1 : 측정홈
2 : 측정캡- 34 -3 : 감지부
4 : 장전스프링
5 : 잠금링
6 : 원통
7 : 조절참조표시
8 : 마이크로미터눈금
9 : 건전지
10 : 전기접속스프링
11 : 표시램프조립부및어댑터너트
12 : 날카로운 끝
13 : 이틈은날카로운 끝이특정홈을통과하여충분히들어가고 감지부 0.12 mm를눌러주면닫힌다. 
거기에전기회로가연결되어 표시램프의등이들어오면날카로운 끝시험은불합격이다 .
F.3.3 수행 절차
KS G ISO 8124-1에기술된바에따라끝이접근할수있는지를 확인한다 .
시험중에그끝이움직이지않도록어린이제품을 고정한다 . 대부분의 경우에있어서그끝을직접고
정할필요는없으나필요한경우에는 끝으로부터 6 mm 이상떨어져서고정한다 .
특정한끝을시험하기 위해서어린이제품의 부품을제거하거나 분해함으로써끝의단단함에 영향을준
다면조립된어린이제품에 있어서끝의단단함에 근사하도록 끝을고정해야 한다 .
안전고리를풀고원통위의측정지표선이 보이도록 해서표시램프쪽으로충분한거리를움직이도록
돌려서날카로운 끝시험기 (F.3.2.1)를조정한다 . 표시램프가켜질때까지측정뚜껑을시계방향으로
돌린다 . 그림3에서보이는것같이감지부와 건전지의 접점간격이(0.12 ± 0.02) mm가되도록뚜껑을
시계반대방향으로 돌린다 .
비고  측정 뚜껑에 마이크로미터 표시가 되어 있는 경우에는 측정 캡을 시계 반대 방향으로 돌려 적절한 마이크로미터 표시가 측
정 지표선에 일치할 때까지 돌려서 그 간격을 쉽게 맞출 수 있다. 뚜껑에 대해서 단단히 맞게 될 때까지 안전 고리를 돌려
서 측정 캡을 잠근다 .
가장해롭다고생각하는 방향으로뚜껑구멍안으로그끝을삽입하고가능한한구멍의가장자리에 대
해서그끝이깎이거나 구멍을통해서그끝이미어져나옴이없이스프링을누르기위해서 N
의힘을가한다 . 그끝이측정구멍속으로 0.5 mm 이상을관통하여 표시램프에불이들어온다면 , 그
리고시험한그끝이 N의힘을가했는데도그것의본래의모양을유지한다면 그시험끝은잠
재적으로 위험하고 날카로운 끝으로간주한다 .- 35 -F.4 자속 지수
F.4.1 원리  자속지수는 자속밀도와자극표면적을측정해얻은결과를바탕으로 계산된다 .
F.4.2 장치
F.4.2.1 직류 자장 가우스 미터   분해능이 5G이고 1.5 % 이상의정확도로 자기장을측정할수있는장
치이다 . 이측정기는활성영역의지름이(0.76 ± 0.13) mm이고 , 활성영역과프로브끝사이거리가
(0.38 ± 0.13) mm인축형프로브를가져야한다 .
F.4.2.2 캘리퍼 또는 이와 유사한 장치 , 정확도 0.1 mm
F.4.3 절차
F.4.3.1 자속 밀도의 측정
자석의자극이되는극표면을파악한다 .
가우스미터프로브의끝을자석의자극표면과접촉시킨다. 자석부품 (자석이어린이제품의 일부에완
전히또는일부매립되어있는것)의경우프로브의끝이부품표면에접촉시킨다.
프로브를표면에수직으로유지한다 .
최대자속밀도의위치를찾기위해표면을가로질러프로브를움직인다 . 자속밀도의최대절대값을
기록한다 .
비고  이 측정기는 음의 값과 양의 값을 모두 읽을 수 있기 때문에 계산에는 절대값을 사용한다 .
F.4.3.2 자극 표면적의 측정과 계산
자석이자석부품의 일부로박혀있거나 부착되어 있는경우 , 필요하다면 제품을파손해서라도 부품으로
부터자석을추출한다 .
극이평평하다면 그치수를 ± 0.1 mm의정확도로측정하고적합한기하학공식을이용해면적을계산한다 .
자석의극표면이평평하지 않다면 (예를들어반구형이라면 ) 자극을관통하는축과수직한자석의최대
지름을± 0.1 mm의정확도로측정하고 (그림4 참조) 해당횡단면의면적을계산한다 . 다중극자석의
경우 , 가장큰단극의면적을측정해계산한다 . 가장큰단극은자기장관찰필름이나이에준하는장비
를이용하여 식별할수있다 .
비고  다중극 자석의 예로는 자극이 여러 개의 가느다란 조각들로 구성된 고무자석 (rubberized magnet) 또는 페라이트 자석
(plastoferrite magnet) 이 있다.- 36 -                             
      
[그림 4] 자극이 평평하지 않은 자석의 최대 지름
1 : 도형중심축에수직인최대횡단면
2 : 자극을관통하는 중심축
F.4.4 자속 지수의 계산
자속지수 (kG2mm2)는계산된자석극표면적 (mm2)에최대자속밀도의제곱(kG2)을곱하여구한다 .
F.5 자석 담금 시험
어린이제품 또는어린이제품의 부품을온도가 (21 ± 5) ℃인탈염수의용기에 4분간완전히담근다 . 어
린이제품을꺼내물을흔들어털어낸후어린이제품을 실온에 10분동안놓아둔다.
담금시험을총4회실시한다 .
마지막회시험이끝난후즉시, F.1에따라시험하였을 때분리된자석이나 자석부품이 실린더에 완전
히잠기는지 확인한다 .
F.6 자석 인장 시험
F.6.1 원리
이시험은의도되거나 합리적으로 예견할수있는사용방식을가정한것이다 . 어린이제품에는 1개의
자석이나 여러개의자석이조합된조합자석 , 자석부품 또는금속정합부분이포함되어 있을수있다
는것이인정된다 . 따라서시험들은 자석부분을붙이거나떼어낼수있는부품들을 사용하는 합리적으
로예견할수있는사용방식을모사하도록 고안되었다.
자석 /자석부품이 1개이상들어있는어린이제품에는 F.6.2에규정된시험을수행하여야 한다 . 다만그
어린이제품을 손상시키지않고시험을수행하는 것이가능하여야 한다 . 후자의경우에는 F.6.4에언급된
기준원판을사용해시험을수행하여야 한다 .
비고  어린이제품을 손상시키지 않고 자석이나 자석부품으로 F.6.2의 시험을 수행하는 것이 불가능한 경우의 예로는 각각의 발에 
접근 가능하나 움켜잡을 수 없는 자석을 가진 어린이제품 인형을 들 수 있다.- 37 -자석 1개와금속정합부품이들어있는어린이제품은 F.6.3에따라시험하여야 한다 . 자석이 1개만있
고금속정합부품이없는어린이제품은 F.6.4에따라시험하여야 한다 . 이는어린이제품과 함께제공되
지않은어떤표면에그어린이제품을 부착하거나 떼어내는놀이형태를가정하기 때문이다 .
F.6.2 자석 또는 자석부품이 있는 어린이제품
어린이제품에서 가장잘떼어낼수있는자석또는자석부품을파악한다 . 파악된자석또는자석부품에는  
자석인장시험을수행하여야 한다 .
어린이제품의 자석또는자석부품이 피시험자석을떼어낼수있는것인지를 결정할수없는경우에는
어린이제품의 또다른자석이나 자석부품에 시험을반복하는것이허용된다 .
어린이제품을 손상시키지않고자석또는자석부품을 자석의인력방향으로 가능한한가깝게놓아서
시험대상 자석과최대한접촉하도록한다 . 자석 /자석부품이 피시험자석과분리될때까지자석 /자석부품
에인장력을 점진적으로 가한다 . 피시험자석이어린이제품에서 분리될때까지시험을수행한다 . 10회
반복한다 .
4.4.2에따라자석인장시험을수행하여야 하는다른자석에이절차를반복한다 .
F.6.3 1개의 자석과 금속 정합 부품이 있는 어린이제품
어린이제품을 손상시키지않고금속부품을 가능한한가깝게놓아서시험대상자석과되도록접촉하게
만든다. 금속부품이 피시험자석과분리될때까지금속부품에 인장력을 점진적으로 가한다 . 피시험자
석이어린이제품에서 분리될때까지시험을수행한다 . 10회반복한다 .
F.6.4 1개의 자석과 금속 정합 부품이 없는 어린이제품
F.6.4.1 장치
F.6.4.1.1 니켈 원판   니켈함량이최소99 %이고지름이(30 ± 0.5) mm이며두께가 (10 ± 0.5) mm인것
F.6.4.2 절차
어린이제품을 손상시키지않고원판의평평한부분을시험대상자석과가능한한가깝게놓아서되도
록접촉하게만든다. 원판을피시험자석이분리될때까지니켈원판으로 인장력을 점진적으로 가한다 . 
피시험자석이어린이제품에서 분리될때까지시험을수행한다 . 10회반복한다 .
F.7 낙하 시험
F.8에서다루는어린이제품을 제외하고 표1에서명시된질량의한계이하로떨어지는어린이제품은특- 38 -정충격면위에떨어뜨린다 . 어린이제품을떨어뜨리는횟수와높이는표1에따른다 . 어린이제품은특정
방향없이떨어뜨린다 .
충격표면은최고64 mm 두께의콘크리트위에놓여져있는 3 mm 정도두께의비닐성분타일로되어
있다 . 그타일은 (80 ± 10)의쇼어(Shore)A 경도를갖고충격표면은적어도 0.3 m2이어야한다 .
전동어린이제품의 경우추천되는전지는낙하시험중에장착되어 있어야한다 . 특별한형태의전지가
추천되지않는다면 일반적으로 사용가능한가장무거운전지를사용한다 .
[표 1] 낙하시험
연령 중량 kg 낙하 횟수 낙하 높이 cm
18개월 미만 < 1.4 10 138 ± 5
18개월 이상 ~ 96개월 미만 < 4.5 4 93 ± 5
각낙하후계속진행하기 전에검사하고 평가한다 .
F.8 대형 어린이제품의 전복 시험
대형어린이제품은 F.7에따라서시험하지 않고다음의절차에따라서시험한다 .
F.7에서기술된충격표면위에서균형중심이지나가도록 어린이제품을 서서히밀어서가장취약한상
태중에하나로어린이제품을 3번뒤집는다 .
각각의뒤집기후에어린이제품을 정지시키고계속진행하기 전에검사하고 평가한다 .
F.9 비틀림 시험
어린이가 적어도엄지손가락과집게손가락이나치아로잡을수있는돌출부 , 부품또는조립품이 있는
어린이제품은 이시험을해야한다 .
적당한시험위치에어린이제품을 단단히고정한다 . 시험부위를단단히잡을수있는클램프 (clamp)를
사용하고 시험부위에비틀림을가한다 .
게이지나토크렌치를사용해서 다음의상태가될때까지시계방향으로 (0.45 ± 0.02) Nㆍm의비틀림
을가한다 .
a) 원래위치에서 180〫〫° 회전할때까지또는
b) 원하는비틀림힘에도달할때까지
5초에걸쳐최대회전이나 원하는비틀림힘을일정하게 가하고추가로 10초간유지한다 . 그리고나서- 39 -비틀림힘을제거하고 시험부위를원래의상태로돌아가게 한다 .
시계반대방향으로 이절차를반복한다 .
돌출부 , 부품또는조립품에 따라회전하도록 고안된접촉시험기나축에장착된돌출부 , 부품또는조
립품은회전을막기위해서고정된봉이나축과함께시험한다 .
제조자에 의해서또는제조자의 설명서에 따라서조립되어 나사의날(screw thread)에의해서부착된구
성요소가원하는비틀림힘을가하는동안에풀리면원하는비틀림힘이가해질때까지또는그부분
이분리될때까지비틀림힘을계속가한다 . 시험중에있는부분이원하는비틀림힘의한계보다 적고
계속회전하여 분리되지 않는다면 시험을종료시킨다.
그부분이분리되고 어린이가 그것을잡을가능성이 있는부분이있다면그구성요소에대해서도 비틀
림시험을반복한다 .
F.10 인장 시험
F.10.1 일반적인 수행 절차
어린이가 엄지손가락과집게손가락이나치아로잡을수있는돌출부 , 부품또는조립품이 있는어린이
제품은이시험을해야한다 . F.9에서시험된어린이제품의동일한구성요소에대해서인장시험이행
해진다 .
하중장치는자체적으로 치수를나타내거나정확도가 ± 2 N인적정한장치을사용한다 . 시험시료를적
당한위치에고정시킴과동시에시험대상물이나 구성요소에적당한클램프를부착시킨다.
5초에걸쳐서시험구성요소의주축에평행하게 (70 ± 2) N의힘을가하고 10초동안유지한다 .
시험부품의장축과수직하게인장하중을가할수있도록힘을해제하거나클램프를재배치하거나 어
린이제품을 재배치한다 .
5초에걸쳐서시험구성요소의주축에수직하게 (70 ± 2) N의힘을가하고 10초동안유지한다 .
F.10.2 충전 어린이제품 , 내부에 콘 주머니를 가진 어린이제품 및 기타 유사 충전 어린이제품의 봉제선 
인장 시험
어린이제품이봉제선 (바느질 , 접착 , 열밀봉또는초음파용접된것)이있는유연성있는재료로이루어
진경우 , 별도로봉제선에대한인장시험을실시하여야 한다 .
시험할봉제선의양쪽면의재질을조이는클램프는지름이19 mm인관이부착된것이다 (그림5 참조).- 40 -                                
[그림 5] 봉제선 클램프
1 : 평판
완성어린이제품의 바깥재질에클램프를부착한다 . 이때 19 mm 판의바깥지름의봉제선과가장가까
운한점에서봉제선실가장자리와 약13 mm 이상떨어지도록 한다 . 만약봉제선을만드는데실이
사용되지 않았다면 19 mm 판의가장자리가봉제선가장자리로부터 13 mm 이상떨어지도록 한다 .
(70 ± 2) N의힘을5초에걸쳐고르게적용하고 10초동안유지한다 .
봉제선에인접한물질이 19 mm 지름의판으로완전히잡을수없다면봉제선시험은할수없다 . 이러
한경우에는봉제선시험대신어린이제품의 팔, 다리또는다른부속품을 F.9와F.10.1에따라서검사한
다.
F.11 압축 시험
어린이가 접근할수있고 F.7에의해서시험하는 경우평평한면에접근할수없는부분에대하여이
시험을실시한다 .
어린이제품을 사용하는 연령대에따라서표2에의해서압축력을결정한다 .
[표 2] 압축력
연령 압축력 N
36개월 미만 114 ± 2.0
36개월 이상 ~ 96개월 미만 136 ± 2.0
하중을가하는장치는지름이(30 ± 1.5) mm이고두께가 10 mm인단단한금속판을 사용한다 . 판주변
은불규칙한가장자리를 없애기위해서 0.8 mm의반지름으로둥글게한다 . 정확도가 ± 2 N인적당한
압축장비에판을부착한다 . 적당한위치로평평하고 단단한표면상에 어린이제품을놓는다 . 평평한접
촉면과평행이되도록판을둔다. 판을통해서원하는힘을5초에걸쳐고르게적용하고 10초동안유
지한다 .