붙임  전력량계 기술기준 신‧구 조문 대비표
현행 개정(안) 개정 사유
제1장 전력량계 형식승인 기준
제1-1절 전력량계 일반 요구사항
2. 인용 표준(normative 
references)
  다음의 인용 표준은 이 기준의 적용을 위해 필수적이다 . 발행연도가 
표기된 인용 표준은 인용된 판만을 적용한다 . 발행연도가 표기되지 않
은 인용 표준은 최신판(모든 초록을 포함)을 적용한다 .
KS B 1021 홈붙이 스크루
・
・
・
KS C IEC 60269-1 저전압 퓨즈 – 제1부: 일반 요구 사항
IEC 62053-41(13/1803/CDV)  Electricity metering equipment (DC 
direct current) - Particular 
requirements - Part 41 – Static 
meter for active energy (class 0.5 
and 1)제1장 전력량계 형식승인 기준
제1-1절 전력량계 일반 요구사항
2. 인용 표준(normative 
references)
  다음의 인용 표준은 이 기준의 적용을 위해 필수적이다 . 발행연도가 
표기된 인용 표준은 인용된 판만을 적용한다 . 발행연도가 표기되지 않
은 인용 표준은 최신판(모든 초록을 포함)을 적용한다 .
KS B 1021 홈붙이 스크루
・
・
・
KS C IEC 60269-1 저압 퓨즈 – 제1부: 일반 요구 사항
IEC 62053-41 (13/1803/CDV)  Electricity metering equipment (DC 
direct current) - Particular 
requirements - Part 41 – Static 
meter for active energy (class 0.5 
and 1)-한 국 산 업 표 준 
개정에 따라 인용
표준의 용어 수정
  (저전압→저압)
-인용 표준의 규
격 번호 수정
6. 표시 사항(meter marking)
6.1 명판(name-plates)
  모든 계기는 별도의 표시 요구사항이 없는 한, 다음의 사항을 표시하
여야 한다.
  a) 종류(접속구조 및 계량방향은 제외) 및 형식명
  b) ｢계량에 관한 법률｣에 따른 형식승인 번호
  c) 제조자명 또는 등록상표 (수입품인 경우 제조국명 포함)6. 표시 사항(meter marking)
6.1 명판(name-plates)
  모든 계기는 별도의 표시 요구사항이 없는 한, 다음의 사항을 표시하
여야 한다.
  a) 종류(접속구조 및 계량방향은  제외) 및 형식명(모델명)
  b) ｢계량에 관한 법률｣에 따른 형식승인 번호
  c) 제조자명 또는 등록상표 (수입품인 경우 제조국명 포함)-1. 형식명에 모
델명 문구를 추
가하여 형식명
에 대한 정의를 
명확화함 . 
-2. 사용자의 계
기 파악 편리를 
위한 계기 표시현행 개정(안) 개정 사유
  d) 상 및 선식(기호로 표시하여도 좋다. 보기 : 1 ø 2 W, 3 ø 4 W 등)
  e) 제조번호 및 제작년월
f) 기준전압 (V)(다중전압 계기의 경우, 최소전압과 최대전압 )
g) 기준주파수 (Hz)
  h) 계기가 보조전원 공급을 필요로 하는 경우, 그 기준전압 및 기준
주파수
i) 정격 최대 전류(변성기부 계기의 경우 정격 전류), 기본 전류(변성기
부 계기의 경우 정격 전류의 0.5배)
j) 계기정수 (보기 : Wh/pulse, 또는, pulse/kWh. 또는, rev/kWh)
k) 주위온도 23 ℃와 다를 경우 기준온도 (교류 유도형 전력량계는 제
외)
l) 2중절연구조인 경우 해당 표시(보기 : ▣)
m) 변성기부 계기인 경우는 다음 사항을 추가로 표시할 것
    - 1차 및 2차 정격으로 표시한 변성비
    - 변성기의 1차 측으로 표시한 계기정수
n) 발신장치가 있는 경우 펄스기호 및 계기정수
o) 정격최대 수요시한 (최대수요전력계의 경우, 교류 유도형 전력량계는 
제외)
p) 접속도 및 단자표시 (별도로 표시하여도 좋다, 교류 유도형 전력량계
는 제외)
q) 옥외용 계기는 "옥외용"의 문자
  r)「계량에 관한 법률」시행규칙 제33조에 의한 최대허용오차의 표시
사항
  s) 검정 유효기간
비 고   1. 전자식 계기의 제조번호는 계기 내의 비휘발성 메모리에도   d) 상 및 선식(기호로 표시하여도 좋다. 보기 : 1 ø 2 W, 3 ø 4 W 등)
  e) 제조번호 및 제작년월
f) 기준전압 (V)(다중전압 계기의 경우, 최소전압과 최대전압 )
g) 기준주파수 (Hz)
  h) 계기가 보조전원 공급을 필요로 하는 경우, 그 기준전압 및 기준
주파수
i) 정격 최대 전류(변성기부 계기의 경우 정격 전류), 기본 전류(변성기
부 계기의 경우 정격 전류의 0.5배)
j) 계기정수 (보기 : Wh/pulse, 또는, pulse/kWh. 또는, rev/kWh)
k) 주위온도 23 ℃와 다를 경우 기준온도 (교류 유도형 전력량계는 제
외)
l) 2중절연구조인 경우 해당 표시(보기 : ▣)
m) 변성기부 계기인 경우는 다음 사항을 설치 후 계기 전면에 추가로 
표시할 것
    - 1차 및 2차 정격으로 표시한 변성비
    - 변성기의 1차 측으로 표시한 계기정수
n) 발신장치가 있는 경우 펄스기호 및 계기정수
o) 정격최대 수요시한 (최대수요전력계의 경우, 교류 유도형 전력량계는 
제외)
p) 접속도 및 단자표시 (별도로 표시하여도 좋다, 교류 유도형 전력량계
는 제외)
q) 옥외용 계기는 "옥외용"의 문자
  r)「계량에 관한 법률」시행규칙 제33조에 의한 최대허용오차의 표시
사항
  s) 검정 유효기간사항에 계량 방
향 문구 추가.
-3. 변성비와 1차
측 계기정수는 
출고 후 현장에
서 변성비가 결
정되기 때문에 
제작 검정 시 
제품에 표시할 
수 없으므로 설
치 후 표기할 
수 있도록 함.현행 개정(안) 개정 사유
저장되어 있어야 한다.
        2. 분리형 표시장치를 사용하는 경우, 분리형 표시장치의 제조
번호가 표시장치 외함에 표시되어 있어야 하며, 분리형 표
시장치의 비휘발성 메모리에도 제조번호를 저장하여야 한
다. 저장된 제조번호는 표시부 또는 접속 가능한 통신 포
트를 통해 볼 수 있어야 한다.
        3. 교류 유도형 전력량계는 KS C 1201에 따른다.  t) 계량 방향에 따른 분류(단방향(수전 (
), 송전( 
 )) 또
는 양방향(
)
비 고   1. 전자식 계기의 제조번호는 계기 내의 비휘발성 메모리에도 
저장되어 있어야 한다.
        2. 분리형 표시장치를 사용하는 경우, 분리형 표시장치의 제조
번호가 표시장치 외함에 표시되어 있어야 하며, 분리형 표
시장치의 비휘발성 메모리에도 제조번호를 저장하여야 한
다. 저장된 제조번호는 표시부 또는 접속 가능한 통신 포
트를 통해 볼 수 있어야 한다.
        3. 교류 유도형 전력량계는 KS C 1201에 따른다.
7.3 초기 동작(initial start-up of the meter)
  계기는 기준 전압이 인가되고 통전된 이후 5 초 이내에 기능 동작을 
시작하여야 한다.
비 고  실시간 운영체제 (real-time OS) 또는 복합 임베디드 펌웨어
(complex embedded firmware) 가 장착된 다기능 계기의 경우, 
또는 전압회로에 전원을 공급하지 않으면 닫을 수 없는 
SCS(silicon-controlled switch)가 있는 계기의 경우, 초기 동작 
시간이 5초를 초과할 수 있으며 이를 형식승인서에 명시하
여야 한다. 본 예외를 적용받고자 하는 신청인은 상기 단서
의 계기에 해당함을 증빙하는 자료를 형식승인기관에 제출
하여야 한다.
  시험방법은 다음과 같다.
  a) 전압회로에 전압을 인가하지 않는다. (만약 보조전원회로가 존재
하는 경우, 이 회로에도 전압을 인가하지 않는다.)
  b) 전류회로에 Imax의 전류를 인가한다 .
  c) t0=0의 시점에서 전압회로와 보조전원회로 (해당 시)에 역률 1(무효7.3 초기 동작(initial start-up of the meter)
  계기는 기준 전압이 인가되고 통전된 이후 5 초 이내에 기능 동작을 
시작하여야 한다.
비 고  실시간 운영체제 (real-time OS) 또는 복합 임베디드 펌웨어
(complex embedded firmware) 가 장착된 다기능 계기의 경우, 
또는 전압회로에 전원을 공급하지 않으면 닫을 수 없는 
SCS(silicon-controlled switch)가 있는 계기의 경우, 초기 동작 
시간이 5초를 초과할 수 있으며 이를 형식승인서에 명시하
여야 한다. 본 예외를 적용받고자 하는 신청인은 상기 단서
의 계기에 해당함을 증빙하는 자료를 형식승인기관에 제출
하여야 한다.
  시험방법은 다음과 같다.
  a) 전압회로에 전압을 인가하지 않는다. (만약 보조전원회로가 존재
하는 경우, 이 회로에도 전압을 인가하지 않는다.)
  b) 전류회로에 Imax의 전류를 인가한다 .
  c) t0=0의 시점에서 전압회로와 보조전원회로 (해당 시)에 역률 1(무효-기술기준 상에 
초기 동작에서
의 기능 동작의 
정의가 누락되
어 있어 기능 
동작의 정의 명
확화함.현행 개정(안) 개정 사유
전력량계는 역률 0)의 기준전압을 인가한다 .
  d) 기준전압 인가 후, 첫 번째 발생된 시험펄스로 시작하는 시점을 
tfinal로 간주한다 .
  e) 초기동작 tstart-up = tfinal - t0 로 간주하여 5초 이내에 기능 동
작 여부를 확인한다 .전력량계는 역률 0)의 기준전압을 인가한다 .
  d) 기준전압 인가 후, 첫 번째 발생된 시험펄스로 시작하는 시점을 
tfinal로 간주한다 .
  e) 초기동작 tstart-up = tfinal - t0 로 간주하여 5초 이내에 기능 동
작 여부를 확인한다 .
  f) 기능 동작은 시험펄스가 발생 후 끊임없이 연속적으로 발생하는 
것을 뜻한다.
9.2.11 전자파 장해(radio interference suppression)
  이 시험은 전자파적합성 기준(국립전파연구원 고시) 제19조(계량기 
전자파적합성 기준)에 따른다.9.2.11 전자파 장해(radio interference suppression)
  이 시험은 전자파적합성 기준(국립전파연구원 고시) 제19조(계량기 
전자파적합성 기준)에 따른다.
 비 고 1. 계량기 전자파적합성 기준 적용 시 변성기부 계기는 “A급 
계기”, 단독계기는 “B급 계기”로 한다. 
2. 시험 시 변성기부 계기는 0.1 In ~ 0.2 In, 단독계기는 0.1 Ib 
~ 0.2 Ib의 전류를 인가한다 .
3. 13.552 ~ 13.568 MHz 주파수 대역의 전파를 사용하는 
RFID(Radio Frequency  IDentification) 를 사용하는 계기는 
계량기 전자파적합성 기준 적용 시 해당 주파수 범위에서의 
전도성 방해 전압 허용 기준을 적용하지 않는다.-1. 계량기 전자
파적합성 기준 
적용 명확화.
-2. 시험 시 계기
별 인가 전류 
명확화.
-3. RFID 사용 계
기에 대한 예외 
기준 적용.
9.3.3 전압 변동(voltage variation)
9.3.3.1 기준전압 변동(nominal voltage variation)
  기준주파수 하에서, 가장 낮은 기준전압의 -10 % 및 가장 높은 기준
전압의 +10 %의 전압 변동으로 인한 오차의 변화는 각 계기의 등급별 
허용한도를 초과하지 않아야 한다.
  가장 낮은 기준전압의 -20 %에서 -10 % 및 가장 높은 기준전압의 
+10 % 에서 +15 %까지의 전압 변동으로 인한 오차의 변화는 해당 등
급 허용한도의 3배로 한다.9.3.3 전압 변동(voltage variation)
9.3.3.1 기준전압 변동(nominal voltage variation)
  기준주파수 하에서, 가장 낮은 기준전압의 -10 % 및 가장 높은 기준
전압의 +10 %의 전압 변동으로 인한 오차의 변화는 각 계기의 등급별 
허용한도를 초과하지 않아야 한다.
  가장 낮은 기준전압의 -20 %에서 -10 % 및 가장 높은 기준전압의 
+10 % 에서 +15 %까지의 전압 변동으로 인한 오차의 변화는 해당 등
급 허용한도의 3배로 한다.-기 준 전 압 변 동 
시험 중 0.8 Un 
이에서의 오차 
측정 시의 시험
전류 기준 명확
화함.현행 개정(안) 개정 사유
0.8 Un 이하에서의 오차는 + 10 %에서 - 100 % 까지 변할 수도 있다.0.8 Un 이하에서의 오차는 + 10 %에서 - 100 % 까지 변할 수도 
있으며, 단독계기는 Ib, 변성기부 계기는 In의 부하전류에서 시험한다 .  
제1-4절 직류 전자식 전력량계 형식승인기준
1. 적용범위 (scope)  
  본 기준의 제1-1절 전력량계 일반 요구사항 의 해당 항에 따르고, 기
준 전압 1 500 V 이하의 직류 전력량을 계량하기 위한 계기등급 0.5 
및 1.0의 직류 전자식 전력량계 (이하 계기)에 적용한다 .
  이 기준은 계량 장치와 기록 장치 및 표시 장치가 계기 외함에 함께 
들어 있거나 또는 들어 있지 않는 옥내용 및 옥외용 계기에 적용되고 
동작 표시장치 , 시험 출력 장치도 적용을 받는다. 만약, 계기가 최대수
요 표시장치 , 전자식 요금 기록장치 , 시계 장치, 데이터 통신장치와 같
은 기능들을 가지고 있다면, 이는 적절한 표준을 준용하여 적용한다 .
비 고  이 기준은 다음의 기기에 적용할 수 있다.
  a) 정보기술서버 (Information technology server farms)
  b) 통신장치의 DC 전원입력부 (DC supply points for communication 
equipment)
  c) 전기자동차 충전부(in car charging station or in car charging 
infrastructures) 
  d) 대중교통체계의 DC 전원입력부 (DC supply points for public 
transport networks)
계기 신뢰성 측면은 IEC 62059 시리즈를 적용 받는다.제1-4절 직류 전자식 전력량계 형식승인기준
1. 적용범위 (scope)  
  본 기준의 제1-1절 전력량계 일반 요구사항 의 해당 항에 따르고, 기
준 전압 1 500 V 이하의 직류 전력량을 계량하기 위한 계기등급 0.5 
및 1.0의 직류 전자식 전력량계 (이하 계기)에 적용한다 .
  이 기준은 계량 장치와 기록 장치 및 표시 장치가 계기 외함에 함께 
들어 있거나 또는 들어 있지 않는 옥내용 및 옥외용 계기에 적용되고 
동작 표시장치 , 시험 출력 장치도 적용을 받는다. 만약, 계기가 최대수
요 표시장치 , 전자식 요금 기록장치 , 시계 장치, 데이터 통신장치와 같
은 기능들을 가지고 있다면, 이는 적절한 표준을 준용하여 적용한다 .
비 고  이 기준은 다음의 기기에 적용할 수 있다.
  a) 정보기술서버 (Information technology server farms)
  b) 통신장치의 DC 전원입력부 (DC supply points for communication 
equipment)
  c) 전기자동차 충전부(in car charging station or in car charging 
infrastructures) 
  d) 대중교통체계의 DC 전원입력부 (DC supply points for public 
transport networks)
계기 신뢰성 측면은 IEC 62059 시리즈를 적용 받는다.-적용범위 비고
내용 불필요함
에 따라 삭제함.
2. 인용 표준(normative references)
  본 기준의 제1-1절 전력량계 일반 요구사항 의 해당 항에 따른다.
  다음의 인용 표준은 이 기준의 적용을 위해 필수적이다 . 발행연도가 
표기된 인용 표준은 인용된 판만을 적용한다 . 발행연도가 표기되지 않
은 인용 표준은 최신판(모든 초록을 포함)을 적용한다 .2. 인용 표준(normative references)
  본 기준의 제1-1절 전력량계 일반 요구사항 의 해당 항에 따른다.
  다음의 인용 표준은 이 기준의 적용을 위해 필수적이다 . 발행연도가 
표기된 인용 표준은 인용된 판만을 적용한다 . 발행연도가 표기되지 않
은 인용 표준은 최신판(모든 초록을 포함)을 적용한다 .-제1-1절 전력량
계 일반 요구사
항의 내용으로 
인용 표준 확인
이 충분하며 , 추
가 인용 표준 현행 개정(안) 개정 사유
IEC 61869-14:- , Instrument transformers – Part 14: Additional 
requirements for DC current transformers
IEC 61869-15:- , Instrument transformers – Part 15 Additional 
requirements for DC voltage transformers
IEC 62052-11:2003 , Electricity metering equipment (a.c.) - 
General Requirements, Tests and Test 
Conditions – Part 11: Metering equipment
IEC 62052-11:2020,  Electricity metering equipment - General 
requirements, tests and test conditions －Part 
11 : Metering equipment
IEC 62052-31:2015 , Electricity metering equipment (a,c,) - 
General Requirements, Tests and Test 
Conditions – Part 31: Product safety 
requirements and tests
IEC 61000-4-19:2004 , Electromagnetic Compatibility (EMC) - Part 
4-19: Testing and measurement techniques – 
Test for immunity to conducted, differential 
mode disturbances and signalling in the 
Frequency range from 2 ㎑ to 150 ㎑, at 
a.c. power ports
EN 50463-2:2013 , Railway applications – Energy measurement on 
board trainsIEC 61869-14:- , Instrument transformers – Part 14: Additional 
requirements for DC current transformers
IEC 61869-15:- , Instrument transformers – Part 15 Additional 
requirements for DC voltage transformers
IEC 62052-11:2003 , Electricity metering equipment (a.c.) - 
General Requirements, Tests and Test 
Conditions – Part 11: Metering equipment
IEC 62052-11:2020,  Electricity metering equipment - General 
requirements, tests and test 
conditions －Part 11 : Metering equipment
IEC 62052-31:2015 , Electricity metering equipment (a,c,) - 
General Requirements, Tests and Test 
Conditions – Part 31: Product safety 
requirements and tests
IEC 61000-4-19:2004 , Electromagnetic Compatibility (EMC) - 
Part 4-19: Testing and measurement 
techniques – Test for immunity to 
conducted, differential mode disturbances 
and signalling in the Frequency range 
from 2 ㎑ to 150 ㎑, at a.c. power ports
EN 50463-2:2013 , Railway applications – Energy measurement 
on board trains기재 불필요함
에 따라 삭제함.
7.5 시동(starting current test)
  본 기준의 제1-1절 전력량계 일반 요구사항 의 해당 항에 따르며, 시
동전류는 0.001 In 로 한다.7.5 시동(starting current test)
  본 기준의 제1-1절 전력량계 일반 요구사항 의 해당 항에 따르며, 시
동전류는 0.004 In 로 한다.-IEC 62053-41 
규격의 시동 전
류 기준 반영함
에 따라 시동 
전류를 0.001 In
에서 0.004 In으
로 변경함.현행 개정(안) 개정 사유
7.6 오차의 허용한도 (limits of error due to the variation of the 
current)
  계기는 아래 표 1-53에 해당되는 계기 등급별 오차의 허용 한도를 
초과하지 않아야 한다. 양방향 계기의 경우 각 방향에 대해 아래 표 
1-53의 오차한도를 적용해야 한다.
부하 전류계기 등급별 오차의 변화 (%)
0.5 급 1.0 급
0.01 In ≤ I < 0.05 In ± 1.0 -
0.05 In ≤ I ≤ Imax ± 0.5 ± 1.0표 1-53 오차의 허용 한도7.6 오차의 허용한도 (limits of error due to the variation of the 
current)
  계기는 아래 표 1-53에 해당되는 계기 등급별 오차의 허용 한도를 
초과하지 않아야 한다. 양방향 계기의 경우 각 방향에 대해 아래 표 
1-53의 오차한도를 적용해야 한다.
부하 전류계기 등급별 오차의 변화 (%)
0.5 급 1.0 급
0.05 In ≤ I < 0.1 In ± 1.0 ± 1.5
0.1 In ≤ I ≤ Imax ± 0.5 ± 1.0표 1-53 오차의 허용 한도-IEC 62053-41 
규격의 최소 전
류 기준을 반영
함에 따라 최소 
부하 전류를 
0.01 In에서 0.05 
In으로 변경 및 
1.0 급 계기 오
차의 변화 기준 
하향함.
7.7 외부영향에 의한 오차의 허용한도 (limits of error due to influence 
quantities)
  본 기준의 제1-1절 전력량계 일반 요구사항 의 해당 항에 따르며, 각 
계기의 등급별 오차(또는 오차의 변화)는 표 1-54에 따른 각 계기의 등
급별 허용한도를 초과하지 않아야 한다.
영향 요소제1-1절
기술기준
조항부하 전류 A계기 등급별 
오차의 변화
0.5 급1.0 급
고주파 
전자계의 영향9.2.4 In 2.0 2.0
급과도 
버스트의 영향9.2.5 In 2.0 2.0
전도성 고주파 
전자계의 영향9.2.6 In 2.0 2.0표 1-54 외부 영향에 의한 오차의 허용한도7.7 외부영향에 의한 오차의 허용한도 (limits of error due to influence 
quantities)
  본 기준의 제1-1절 전력량계 일반 요구사항 의 해당 항에 따르며, 각 
계기의 등급별 오차(또는 오차의 변화)는 표 1-54에 따른 각 계기의 등
급별 허용한도를 초과하지 않아야 한다.
영향 요소제1-1절
기술기준
조항부하 전류 A계기 등급별 
오차의 변화
0.5 급1.0 급
고주파 
전자계의 영향9.2.4 In 2.0 2.0
급과도 
버스트의 영향9.2.5 In 2.0 4.0
전도성 고주파 
전자계의 영향9.2.6 In 2.0 2.0표 1-54 외부 영향에 의한 오차의 허용한도-IEC 62053-41 규
격의 외부 영향
에 의한 오차의 
허용한도 기준을 
반영함에 따라 영
향 요소 에 따른 
계기 등급 오차의 
변화 허용한도 기
준 변경함.
-1. 급과도 버스트
의 영향에서 1.0
급 계기의 계기 
등급별 오차의 
변화 기준 변경 
-2. 역극성에서 1.0 
급 계기의 계기 
등급별 오차의 변
화 기준 변경 현행 개정(안) 개정 사유
영향 요소제1-1절
기술기준
조항부하 전류 A계기 등급별 
오차의 변화
0.5 급1.0 급
외부 연속적 
자계 유도9.2.9 In 2.0 2.0
외부 
원점에서의 
전원주파수 
자계 유도9.2.10 In 1.0 1.0
역극성(예 : 
수전에서 
송전으로 
에너지 방향 
변경)- 0.1 In 0.1 0.1
기준전압 변동 9.3.3.10.05 In ≤ I < Imax
0.01 In0.2
0.40.2
-
보조 전압 
영향9.3.3.20.05 In
0.01 In-
0.10.1
-
주위 온도 
영향9.3.40.05 In ≤ I < Imax
0.01 In0.03
0.050.05
-
단시간 
과전류의 영향9.3.8 In 0.2 0.5
자체가열의 
영향9.3.9 Imax 0.2 0.4영향 요소제1-1절
기술기준
조항부하 전류 A계기 등급별 
오차의 변화
0.5 급1.0 급
외부 연속적 
자계 유도9.2.9 In 2.0 2.0
외부 
원점에서의 
전원주파수 
자계 유도9.2.10 In 1.0 1.0
역극성(예 : 
수전에서 
송전으로 
에너지 방향 
변경)- 0.1 In 0.1 0.5
기준전압 변동 9.3.3.10.05 In ≤ I ≤ Imax
0.01 In0.25
0.40.5
-
보조 전압 
영향9.3.3.20.05 In
0.01 In0.1
0.10.2
-
주위 온도 
영향9.3.40.05 In ≤ I ≤ Imax 
0.01 In0.03
0.050.05
-
부가 장치 및 
보조 장치 
동작9.3.7 0.05 In 0.1 0.2
단시간 
과전류의 영향9.3.8 In 1.0 1.5
자체가열의 
영향9.3.9 Imax 0.5 0.7-3. 기준전압 변동
에서 각 계기 등급
별 오차의 변화 기
준 변경 및 부하 
전류 0.01 In 삭제
-4. 보조 전압 변
동에서 각 계기 
등급별 오차의 
변화 기준 변경 
및 부하 전류 
0.01 In 삭제
-5. 주위 온도 영
향에서 부하 전
류 0.01 In 삭제
-6. 부가 장치 및 
보조 장치 동작 
항목 추가
-7. 단시간 과전류
의 영향에서 각 
계기 등급별 오차
의 변화 기준 변경
-8. 자체가열의 영
향에서 각 계기 
등급별 오차의 
변화 기준 변경
9.3.7 부가 장치 및 보조 장치 동작(operation of auxiliary devices)
  직류 전자식 전력량계는 적용하지 않는다.9.3.7 부가 장치 및 보조 장치 동작(operation of auxiliary devices)
  본 기준의 제1-1절 전력량계 일반 요구사항 의 해당 항에 따르며, 
7.7 외부영향에 의한 오차의 허용한도 에 따른 허용한도를 초과하지 않
아야 한다.-IEC 62053-41 규
격의 부가 장치 
및 보조 장치 동
작 기준을 반영함현행 개정(안) 개정 사유
11. 형식승인 시험(type test)
11.1 시험 순서 및 시험항목 (test procedure, items)
  형식승인 시험항목 및 권장 시험 순서는 다음과 같다
순 서 시 험 항 목 시료의 적용
15. 구조 (5.2항 제외)
 12.1 절연간격 및 연면거리
 12.2 보호등급 Ⅱ 절연 계기
A군 (3대)2 12.3 절연 성능
  12.3.2 충격파 내전압
  12.3.3 상용 주파 내전압
  12.3.4 절연저항
3 7.6 오차의 허용한도
 7.5 시동
 7.4 무부하동작
 7.2 계기정수
 7.3 초기 동작
  9.3.4 주위 온도 영향
  9.3.3 전압 변동
  9.2.9 외부 연속적 자계 유도
  9.2.10 외부 원점에서의 전원 주파수 자
계 유도
 4.4 계기의 소비전력표 1-56 형식승인 시험순서 및 항목11. 형식승인 시험(type test)
11.1 시험 순서 및 시험항목 (test procedure, items)
  형식승인 시험항목 및 권장 시험 순서는 다음과 같다
순 서 시 험 항 목 시료의 적용
15. 구조 (5.2항 제외)
 12.1 절연간격 및 연면거리
 12.2 보호등급 Ⅱ 절연 계기
A군 (3대)2 12.3 절연 성능
  12.3.2 충격파 내전압
  12.3.3 상용 주파 내전압
  12.3.4 절연저항
3 7.6 오차의 허용한도
 7.5 시동
 7.4 무부하동작
 7.2 계기정수
 7.3 초기 동작
  9.3.4 주위 온도 영향
  9.3.3 전압 변동
  9.2.9 외부 연속적 자계 유도
  9.2.10 외부 원점에서의 전원 주파수 자
계 유도
 4.4 계기의 소비전력표 1-56 형식승인 시험순서 및 항목-9.3.7 부가 장치 
및 보조 장치 
동작 항목 추가
에 따른 표 
1-56 형식승인 
시험순서 및 항
목 변경현행 개정(안) 개정 사유
순 서 시 험 항 목 시료의 적용
  4.4.1 전압회로의 전력 손실
  4.4.2 전류회로의 전력 손실
  9.2.2 정전의 영향
  9.3.8 단시간 과전류의 영향
  9.3.9 자체 가열의 영향
 12.4 가열
4 9.2 전자기적 적합성(EMC)
  9.2.11 전자파 장해
  9.2.5 급과도 버스트의 영향
  9.2.4 고주파 전자계의 영향
  9.2.6 전도성 고주파 전자계의 영향
  9.2.3 정전기 방전 내성
  9.2.7 서지 내성B군 (2대)
5 8.3기후 영향 시험
8.3.2내열성
8.3.3내한성
8.3.4온·습도 사이클
  8.3.5 태양열 복사C군 (3대)
6 5.2기계적 강도 시험
5.2.1내충격성
5.2.2내진동성
5.2.3기계적 강도A군 (3대)순 서 시 험 항 목 시료의 적용
  4.4.1 전압회로의 전력 손실
  4.4.2 전류회로의 전력 손실
  9.2.2 정전의 영향
  9.3.8 단시간 과전류의 영향
  9.3.9 자체 가열의 영향
 12.4 가열
  9.3.7 부가 장치 및 보조 장치 동작
4 9.2 전자기적 적합성(EMC)
  9.2.11 전자파 장해
  9.2.5 급과도 버스트의 영향
  9.2.4 고주파 전자계의 영향
  9.2.6 전도성 고주파 전자계의 영향
  9.2.3 정전기 방전 내성
  9.2.7 서지 내성B군 (2대)
5 8.3기후 영향 시험
8.3.2내열성
8.3.3내한성
8.3.4온·습도 사이클
  8.3.5 태양열 복사C군 (3대)
6 5.2기계적 강도 시험
5.2.1내충격성
5.2.2내진동성
5.2.3기계적 강도A군 (3대)현행 개정(안) 개정 사유
비 고   1. 시료의 적용은 8대로 순서 1 ~ 3, 6 의 시험항목은 3대(A
군), 순서 4 의 시험 항목은 2대(B군), 순서 5의 시험 항목
은 3대(C군)를 적용한다 .
        2. 시험항목 중 태양열 복사 및 측정값의 저장, 단자, 단자함, 
보호 접지 단자 b), 단시간 과전류의 영향은 「계량에 관
한 법률」 제16조의 규정에 의한 형식승인기관의 시험·
검사 성적서 또는 소급된 시험·검사 설비에 의한 자체 
시험·검사 성적서로 대체할 수 있다.순 서 시 험 항 목 시료의 적용
12.6먼지 ·물의 침투에 대한 보호성
6.표시 사항
12.5열과 불의 내력시험편 1개 
별도
7 10.소프트웨어 요구사항
비 고   1. 시료의 적용은 8대로 순서 1 ~ 3, 6 의 시험항목은 3대(A
군), 순서 4 의 시험 항목은 2대(B군), 순서 5의 시험 항목
은 3대(C군)를 적용한다 .
        2. 시험항목 중 태양열 복사 및 측정값의 저장, 단자, 단자함, 
보호 접지 단자 b), 단시간 과전류의 영향은 「계량에 관
한 법률」 제16조의 규정에 의한 형식승인기관의 시험·
검사 성적서 또는 소급된 시험·검사 설비에 의한 자체 
시험·검사 성적서로 대체할 수 있다.순 서 시 험 항 목 시료의 적용
12.6먼지 ·물의 침투에 대한 보호성
6.표시 사항
12.5열과 불의 내력시험편 1개 
별도
7 10.소프트웨어 요구사항
제2장 검정 및 재검정 기준
2. 검정의 종류
3.4.1 오차검사
오차검사는 전수검사로 실시하며 , 다음 항목을 실시한다 .제2장 검정 및 재검정 기준
2. 검정의 종류
3.4.1 오차검사
오차검사는 전수검사로 실시하며 , 다음 항목을 실시한다 .-시동 및 무부하 
시험에 소요되
는 검정 시간 
단축으로 인한 
업체의 생산 효
율성 증가, 샘플
링을 통해 시동 
및 무부하 검사 
실시하는 것으
로 변경함에 따
른 항목 삭제 
및 비고 2, 3 내현행 개정(안) 개정 사유
오차검사 항목측정방식에 따른 종류
교류 유도형 
전력량계교류 전자식 
전력량계직류 전자식 
전력량계
오차의 허용 한도  7.6 오차의 허용 한도
시동 7.5 시동
무부하 동작 7.4 무부하 동작표 2-1 전력량계 종류 별 오차검사 항목
비 고   1. 교류 전자식 전력량계 및 직류 전자식 전력량계에서 오차의 
허용 한도 시험 중 계기가 양방향 계량을 하도록 설계되
었다면, 7.6 오차의 허용한도 에서 역방향에 대해서는 Imax
(역률 1), Ib(역률 1), In(역률 1)만 적용한다 .
         2. 교류 전자식 전력량계 및 직류 전자식 전력량계에서 시동 
시험 중 계기가 양방향 계량을 하도록 설계되었다면 , 본 
검사는 정방향에 대해서만 실시한다 .
         3. 교류 전자식 전력량계 및 직류 전자식 전력량계에서 무부
하 동작 시험의 최소 시험 시간 ∆는 90 초 이상으로 
한다.오차검사 항목측정방식에 따른 종류
교류 유도형 
전력량계교류 전자식 
전력량계직류 전자식 
전력량계
오차의 허용 한도  7.6 오차의 허용 한도
시동 7.5 시동
무부하 동작 7.4 무부하 동작표 2-1 전력량계 종류 별 오차검사 항목
비 고   1. 교류 전자식 전력량계 및 직류 전자식 전력량계에서 오차의 
허용 한도 시험 중 계기가 양방향 계량을 하도록 설계되
었다면, 7.6 오차의 허용한도 에서 역방향에 대해서는 Imax
(역률 1), Ib(역률 1), In(역률 1)만 적용한다 .
        2. 교류 전자식 전력량계 및 직류 전자식 전력량계에서 시동 
시험 중 계기가 양방향 계량을 하도록 설계되었다면 , 본 
검사는 정방향에 대해서만 실시한다 .
        3. 교류 전자식 전력량계 및 직류 전자식 전력량계에서 무부하 
동작 시험의 최소 시험 시간 ∆는 90 초 이상으로 한
다.용 항목 이동
3.4.2 구조검사
  KS Q ISO 2859-1의 부표 1 샘플(크기) 문자 및 부표 2-A 보통검사의 
1회 샘플링방식 중 특별검사수준 (S-2)을 적용하고 합격 품질수준 (AQL)
은 2.5 %로 한다.
구조 검사는 본 기준의 제1장 제1-1절 전력량계 일반 요구사항 6. 표시 
사항을 따른다.3.4.2 표시사항 검사
  KS Q ISO 2859-1의 부표 1 샘플(크기) 문자 및 부표 2-A 보통검사의 
1회 샘플링방식 중 특별검사수준 (S-2)을 적용하고 합격 품질수준 (AQL)
은 2.5 %로 한다.
구조 검사는 본 기준의 제1장 제1-1절 전력량계 일반 요구사항 6. 표시 
사항을 따른다.-항목명이 “구
조검사”로 되
어 있어 기술기
준 상 5. 구조 
요구사항 전체
를 검사하는 것
으로 오해할 수 
있어, 항목내용
에 맞춰 항목명
을 “표시사항 현행 개정(안) 개정 사유
검사”로 변경
-3.4.3 시동 및 무부하 검사
  KS Q ISO 2859-1의 부표 1 샘플(크기) 문자 및 부표 2-A 보통검사의 
1회 샘플링방식 중 특별검사수준 (S-4)을 적용하고 합격 품질수준 (AQL)
은 2.5 %로 한다.
시동 및 무부하 검사는 본 기준의 제1장 제1-1절 전력량계 일반 요구
사항 7.4 무부하 동작, 7.5 시동을 따른다.
 단, 교류 유도형 전력량계의 시동 및 무부하 검사는 전수검사로 실시
한다.
비 고  1. 교류 전자식 전력량계 및 직류 전자식 전력량계에서 시동 시
험 중 계기가 양방향 계량을 하도록 설계되었다면 , 본 검사
는 정방향에 대해서만 실시한다 . 
       2. 교류 전자식 전력량계 및 직류 전자식 전력량계에서 무부하 
동작 시험의 최소 시험 시간 ∆는 90 초 이상으로 한다.-전자식 전력량
계의 시동 및 
무부하 검사를 
샘플링을 통해 
실시하며 , 샘플
링방식을 특별
검사수준 (S-4)로 
적용함. 단 교류 
유도형 전력량
계는 기존과 같
이 전수로 검사
함.
제3장 형식승인 신규 및 변경처리 기준
7. 형식승인의 변경범위 및 변경 시 시험항목
  형식승인을 취득한 전력량계의 내․외부 변경에 있어 시험항목의 수가 
전체 시험항목수의 50 % 미만인 경우 형식승인 변경을 할 수 있다. 이
때 전체 시험 항목 수(각 절의 형식승인 기술기준의 11. 형식승인 시험 
참조)는 아래의 표 1과 같으며, 변경 항목 중 하위 일부에 대해 시험을 
시행하여도 항목 하나로 간주한다 .
  단, 회로 설계 등 부품 변경이 없이 디자인 변경에 따른 외함의 형상 
및 PCB 레이아웃 변경 시 전체 시험항목의 50 % 초과하더라도 변경이 
가능하다 .제3장 형식승인 신규 및 변경처리 기준
7. 형식승인의 변경범위 및 변경 시 시험항목
  형식승인을 취득한 전력량계의 내․외부 변경에 있어 시험항목의 수가 
전체 시험항목수의 50 % 미만인 경우 형식승인 변경을 할 수 있다. 이
때 전체 시험 항목 수(각 절의 형식승인 기술기준의 11. 형식승인 시험 
참조)는 아래의 표 3-1과 같으며, 변경 항목 중 하위 일부에 대해 시험
을 시행하여도 항목 하나로 간주한다 .
  단, 회로 설계 등 부품 변경이 없이 디자인 변경에 따른 외함의 형상 
및 PCB 레이아웃 변경 시 전체 시험항목의 50 % 초과하더라도 변경이 
가능하다 .-전력량계 기술
기준 개정에 따
른 형식승인 전
체 시험 항목 
수 수정현행 개정(안) 개정 사유
기술기준산업통상자원부 고시
제2018 - 206호산업통상자원부 고시
제2020 - 230호비 고
교류 
유도형 
전력량계5. 구조 등 36 항목
(발신장치 부착계기는 
38 항목)5. 구조 등 36 항목
(발신장치 부착계기는 
38 항목)-
교류 
전자식 
전력량계5. 구조 등 54 항목
(옥내용 계기는 50 
항목)5. 구조 등 49 항목
(옥내용 계기는 48 
항목)-
직류 
전자식 
전력량계5. 구조 등 38 항목5. 구조 등 38 항목
(옥내용 계기는 37 
항목)-표 3-1. 형식승인 전체 시험 항목 수
기술기준산업통상자원부 고시
제2020 - 230호산업통상자원부 고시
제2024 - xxx호비 고
교류 
유도형 
전력량계5. 구조 등 36 항목
(발신장치 부착계기는 38 
항목)5. 구조 등 36 항목
(발신장치 부착계기는 38 
항목)-
교류 
전자식 
전력량계5. 구조 등 49 항목
(옥내용 계기는 48 
항목)5. 구조 등 49 항목
(옥내용 계기는 48 
항목)-
직류 
전자식 
전력량계5. 구조 등 38 항목
(옥내용 계기는 37 
항목)5. 구조 등 39 항목
(옥내용 계기는 38 
항목)-표 3-1. 형식승인 전체 시험 항목 수
(2) 교류 전자식 전력량계
    1) 제1-3절 교류 전자식 전력량계 형식승인 기준의 4. 정격 및 종
류에 해당하는 사항
단, 검정 유효기간에 따른 분류에서 일반형에서 특수형으로의 
변경은 기술기준 부속서 H.에 따라 「계량에 관한 법률」제16
조의 규정에 의한 형식승인기관의 시험·검사 성적서를 제출
한 계기에 대해서는 형식승인 변경을 할 수 있다.
    2) 계량의 종류(무효전력 등)를 추가할 경우
    3) 다음의 계기 규격이 변경 및 추가되는 경우
       - 상/선식, 통신장치 (모뎀 등) 등
   4) 표 3-3에서 신규로 처리를 요구하는 항목의 변경
   5) 보호 등급을 변경할 경우
변경항목 변경내용 시험항목표 3-3. 교류 전자식 전력량계 형식승인 변경 시 시험항목(2) 교류 전자식 전력량계
    1) 제1-3절 교류 전자식 전력량계 형식승인 기준의 4. 정격 및 종
류에 해당하는 사항
단, 검정 유효기간에 따른 분류에서 일반형에서 특수형으로의 
변경은 기술기준 부속서 H.에 따라 「계량에 관한 법률」제16
조의 규정에 의한 형식승인기관의 시험·검사 성적서를 제출
한 계기에 대해서는 형식승인 변경을 할 수 있다.
    2) 계량의 종류(무효전력 등)를 추가할 경우
    3) 다음의 계기 규격이 변경 및 추가되는 경우
       - 상/선식, 통신장치 (모뎀 등) 등
   4) 표 3-3에서 신규로 처리를 요구하는 항목의 변경
   5) 보호 등급을 변경할 경우
변경항목 변경내용 시험항목표 3-3. 교류 전자식 전력량계 형식승인 변경 시 시험항목-1. 표3-3의 PCB 
추가에서 모뎀
의 추가 시의 
처리 방법 변경
에 따라 계기의 
규격이 변경 및 
추가되는 경우
에서의 신규처
리 조건 삭제함. 
-2. 표3-3의 1. 
내부 전원부에
서 내부 전원부
(정류회로를 거
친 후 전압) 등
의 변경 내용 
및 시험항목 추
가함.
-3. 표3-3의 3. 현행 개정(안) 개정 사유
변경항목 변경내용 시험항목
1. 내부 
전원부전원방식(1)의 
변경4.4
9.3.3
9.2.4
9.2.5
9.2.6
9.2.7
9.2.8
9.2.11
12.3.2계기의 소비전력
전압 변동
고주파 전자계의 영향
급과도 버스트의 영향
전도성 고주파 전자계의 영향
서지 내성
감쇠 진동파의 영향
전자파 장해
충격파 내전압
내부 전원부 
용량 및 입출
력 정전압(정
류회로를 거
친 후 전압) 
등의 변경4.4
9.2.4
9.2.5
9.2.6
9.2.7
9.2.8
9.2.11
9.3.4
12.3.2계기의 소비전력
고주파 전자계의 영향
급과도 버스트의 영향
전도성 고주파 전자계의 영향
서지 내성
감쇠 진동파의 영향
전자파 장해
주위 온도 영향
충격파 내전압변경항목 변경내용 시험항목
1. 내부 
전원부전원방식(1)의 
변경4.4
9.3.3
9.2.4
9.2.5
9.2.6
9.2.7
9.2.8
9.2.11
12.3.2계기의 소비전력
전압 변동
고주파 전자계의 영향
급과도 버스트의 영향
전도성 고주파 전자계의 영향
서지 내성
감쇠 진동파의 영향
전자파 장해
충격파 내전압
내부 전원부 
용량 및 입출
력 정전압(정
류회로를 거
친 후 전압) 
등의 변경4.4
9.2.4
9.2.5
9.2.6
9.2.7
9.2.8
9.2.11
9.3.4
12.3.2계기의 소비전력
고주파 전자계의 영향
급과도 버스트의 영향
전도성 고주파 전자계의 영향
서지 내성
감쇠 진동파의 영향
전자파 장해
주위 온도 영향
충격파 내전압
내부 전원부 
(정류회로를 
거친 후 전압) 
등의 변경(2) 4.4
9.2.4
9.2.5
9.2.11
9.3.4
12.3.2계기의 소비전력
고주파 전자계의 영향
급과도 버스트의 영향
전자파 장해
주위 온도 영향
충격파 내전압A/D변환기, 에너
지계량소자 변
경 시 시험항목 
추가.
-4. 표3-3의 4. 
프로세서 변경 
시 시험항목 추
가.
-5. 표3-3의 8. 
단자, 단자함, 
단 자 커 버 에 서 
단자커버의 크
기 변경 시 내
충격, 내진동 시
험항목 삭제함.
-6. 표3-3의 12. 
PCB 추가 충 모
뎀을 계기 내부
에 추가하는 경
우에 대한 처리 
기준 변경함.
-7. 표3-3의 17. 
6. 표3-4의 17. 
소프트웨어 변
경에서 계량과 
관련되는 소프
트웨어의 기능
을 변경 시 전
9.3.3 전압 변동
의 항목을 9.3.3.1 현행 개정(안) 개정 사유
변경항목 변경내용 시험항목
2. 전압센
서 및
  전류센
서전압센서 및 
전류센서 방
식의 변경(2)신규 시험항목에 의거 시험
동일 방식에
서 소자 종류
의 변경으로 
전 류 센 서 는 
CT 및 분류기
(shunt) 저항
의 제조사, 외
형 등의 변경
을 포함
외부 전류센
서를 사용할 
경우 전류센
서와 본체간
의 전선 길이 
변경도 포함7.4
7.5
7.6
9.2.9
9.2.10
9.3.2
9.3.4무부하 동작
시동
오차의 허용한도
외부 연속적 자계 유도
외부 원점에서의 전원 주파수 
자계 유도
전류 및 전압 회로의 고조파
주위 온도 영향
전압센서 변
경4.4
7.4
7.5
7.6
9.2.4
9.2.5
9.2.6
9.2.9
9.2.10
9.3.2
9.3.3
9.3.4
9.3.5
9.3.11계기의 소비전력
무부하 동작
시동
오차의 허용한도
고주파 전자계의 영향
급과도 버스트의 영향
전도성 고주파 전자계의 영향
외부 연속적 자계 유도
외부 원점에서의 전원 주파수 
자계 유도
전류 및 전압 회로의 고조파
전압변동
주위 온도 영향
주파수 변동
불평형 부하의 영향변경항목 변경내용 시험항목
2. 전압센
서 및
  전 류 센
서전압센서 및 
전류센서 방
식의 변경(3)신규 시험항목에 의거 시험
동일 방식에
서 소자 종류
의 변경으로 
전 류 센 서 는 
CT 및 분류기
(shunt) 저항
의 제조사, 외
형 등의 변경
을 포함
외부 전류센
서를 사용할 
경우 전류센
서와 본체간
의 전선 길이 
변경도 포함7.4
7.5
7.6
9.2.9
9.2.10
9.3.2
9.3.4무부하 동작
시동
오차의 허용한도
외부 연속적 자계 유도
외부 원점에서의 전원 주파수 
자계 유도
전류 및 전압 회로의 고조파
주위 온도 영향
전압센서 변
경4.4
7.4
7.5
7.6
9.2.4
9.2.5
9.2.6
9.2.9
9.2.10
9.3.2
9.3.3
9.3.4
9.3.5
9.3.11계기의 소비전력
무부하 동작
시동
오차의 허용한도
고주파 전자계의 영향
급과도 버스트의 영향
전도성 고주파 전자계의 영향
외부 연속적 자계 유도
외부 원점에서의 전원 주파수 
자계 유도
전류 및 전압 회로의 고조파
전압변동
주위 온도 영향
주파수 변동
불평형 부하의 영향기준 전압 변동
으로 명확화하
며, 소프트웨어 
변경에서 단순 
기능의 변경을 
신 고 사 항 으 로 
변경함.현행 개정(안) 개정 사유
변경항목 변경내용 시험항목
3. A/D변
환기, 에
너지계량  
소자소자의 변경(3)7.2
7.4
7.5
7.6
8.3.4
9.2.4
9.2.5
9.2.6
9.2.7
9.2.8
9.2.11
9.3.4
9.3.11계기정수
무부하동작
시동
오차의 허용한도
온·습도 사이클
고주파 전자계의 영향
급과도 버스트의 영향
전도성 고주파 전자계의 영향
서지 내성
감쇠 진동파의 영향
전자파 장해
주위 온도 영향
불평형 부하의 영향
4. 프로세
서소자의 변경(4)7.2
8.3.4
9.2.4
9.2.5
9.2.6
9.2.7
9.2.8
9.2.11
9.3.4계기정수
온·습도 사이클
고주파 전자계의 영향
급과도 버스트의 영향
전도성 고주파 전자계의 영향
서지 내성
감쇠 진동파의 영향
전자파 장해
주위 온도 영향변경항목 변경내용 시험항목
3. A/D변
환기, 에
너지계량 
소자소자의 변경(4)7.2
7.4
7.5
7.6
8.3.4
9.2.4
9.2.5
9.2.6
9.2.7
9.2.8
9.2.11
9.3.3.1
9.3.4
9.3.5
9.3.11
10.1계기정수
무부하동작
시동
오차의 허용한도
온·습도 사이클
고주파 전자계의 영향
급과도 버스트의 영향
전도성 고주파 전자계의 영향
서지 내성
감쇠 진동파의 영향
전자파 장해
기준전압변동
주위 온도 영향
주파수변동
불평형 부하의 영향
소프트웨어 식별
4. 프로세
서소자의 변경(5)7.2
7.4
7.5
7.6
8.3.4
9.2.4
9.2.5
9.2.6
9.2.7
9.2.8
9.2.11
9.3.3.1
9.3.4
9.3.5
10.1계기정수
무부하동작
시동
오차의 허용한도
온·습도 사이클
고주파 전자계의 영향
급과도 버스트의 영향
전도성 고주파 전자계의 영향
서지 내성
감쇠 진동파의 영향
전자파 장해
기준전압변동
주위 온도 영향
주파수변동
소프트웨어 식별현행 개정(안) 개정 사유
변경항목 변경내용 시험항목
5. 메모리메모리의 종
류(5) 변경5.7측정값의 저장
메모리의 종
류 변경이 없
는 메모리 용
량 등의 변경신고사항
6. 표시장
치표시 장치
(LCD 등)의 
제조사, 외형 
등의 변경5.2.1
5.2.2
5.6
8.3.2
8.3.3
8.3.4내충격성
내진동성
측정값의 표시
내열성
내한성
온·습도 사이클
표시형상 및 
색상 등의 변
경신고사항
7. 외함의 
형상전면 기능요
소의 위치 변
경, 외형 디자
인 및 크기의 
변경(6)5.2.1
5.2.2
5.2.3
5.5
8.3.2
8.3.3
8.3.4
8.3.5
9.2.3
12.3.2
12.3.3
12.3.4
12.6내충격성
내진동성
기계적 강도
외함
내열성
내한성
온·습도 사이클
태양열 복사
정전기 방전 내성
충격파 내전압
상용 주파 내전압
절연저항
먼지·물의 침투에 대한 보호성변경항목 변경내용 시험항목
5. 메모리메모리의 종
류(6) 변경5.7측정값의 저장
메모리의 종
류 변경이 없
는 메모리 용
량 등의 변경신고사항
6. 표시장
치표시 장치
(LCD 등)의 
제조사, 외형 
등의 변경5.2.1
5.2.2
5.6
8.3.2
8.3.3
8.3.4내충격성
내진동성
측정값의 표시
내열성
내한성
온·습도 사이클
표시형상 및 
색상 등의 변
경신고사항
7. 외함의 
형상전면 기능요
소의 위치 변
경, 외형 디자
인 및 크기의 
변경(7)5.2.1
5.2.2
5.2.3
5.5
8.3.2
8.3.3
8.3.4
8.3.5
9.2.3
12.3.2
12.3.3
12.3.4
12.6내충격성
내진동성
기계적 강도
외함
내열성
내한성
온·습도 사이클
태양열 복사
정전기 방전 내성
충격파 내전압
상용 주파 내전압
절연저항
먼지·물의 침투에 대한 보호성현행 개정(안) 개정 사유
변경항목 변경내용 시험항목
8. 단자, 
단 자 함 ,  
단자커버단자도체 재
질 변경, 단자
배열 변경, 단
자도체 형상
변경, 단자 도
체의 배치, 절
연거리 등의 
변경5.4
12.1
12.3.2
12.3.3
12.3.4
12.4
12.6단자, 단자함, 보호접지단자
절연간격 및 연면거리
충격파 내전압
상용 주파 내전압
절연저항
가열
먼지·물의 침투에 대한 보호성
단 자 커 버 의 
크기 변경5.2.1
5.2.2
5.2.3
5.5.1
9.2.3
12.3.2
12.3.3
12.3.4
12.6내충격성
내진동성
기계적 강도
단자 커버
정전기 방전 내성
충격파 내전압
상용 주파 내전압
절연저항
먼지·물의 침투에 대한 보호성
9. 외함이
나 단자함
의 재질외함이나 단
자함 재질 변
경5.
5.2.1
5.2.2
5.2.3
8.3.2
8.3.3
8.3.4
8.3.5
12.3.2
12.3.3
12.3.4
12.4
12.5구조
내충격성
내진동성
기계적 강도
내열성
내한성
온·습도 사이클
태양열 복사
충격파 내전압
상용 주파 내전압
절연저항
가열
열과 불의 내력
10. 외함의
내부구조기구물 내부
구조 변경5.2.1
5.2.2내충격성
내진동성변경항목 변경내용 시험항목
8.  단자, 
단 자 함 ,  
단자커버단자도체 재
질 변경, 단자
배열 변경, 단
자도체 형상
변경, 단자 도
체의 배치, 절
연거리 등의 
변경5.4
12.1
12.3.2
12.3.3
12.3.4
12.4
12.6단자, 단자함, 보호접지단자
절연간격 및 연면거리
충격파 내전압
상용 주파 내전압
절연저항
가열
먼지·물의 침투에 대한 보호성
단 자 커 버 의 
크기 변경5.2.1
5.2.2
5.2.3
5.5.1
9.2.3
12.3.2
12.3.3
12.3.4
12.6내충격성
내진동성
기계적 강도
단자 커버
정전기 방전 내성
충격파 내전압
상용 주파 내전압
절연저항
먼지·물의 침투에 대한 보호성
9. 외함이
나 단자함
의 재질외함이나 단
자함 재질 변
경5.
5.2.1
5.2.2
5.2.3
8.3.2
8.3.3
8.3.4
8.3.5
12.3.2
12.3.3
12.3.4
12.4
12.5구조
내충격성
내진동성
기계적 강도
내열성
내한성
온·습도 사이클
태양열 복사
충격파 내전압
상용 주파 내전압
절연저항
가열
열과 불의 내력
10. 외함의
내부구조기구물 내부
구조 변경5.2.1
5.2.2내충격성
내진동성현행 개정(안) 개정 사유
변경항목 변경내용 시험항목
11. PCB   
레이아웃PCB의 부품 
배치 변경, 1
매의 PCB를 2
매로 분리하
는 등 PCB 매
수의 변경, 4
층 PCB를 2층 
PCB로 변경하
는 등 PCB 층
수의 변경 또
는 에폭시 
PCB를 페놀 
재질의 PCB로 
변경하는 등 
PCB 종류의 
변경을 포함9.2.4
9.2.5
9.2.6
9.2.7
9.2.8
9.2.11고주파 전자계의 영향
급과도 버스트의 영향
전도성 고주파 전자계의 영향
서지 내성
감쇠 진동파의 영향
전자파 장해
12. PCB추
가보조회로 또
는 선택 제어
반( o p t i o n 
board)(7) 등을 
계기 내부(8)에 
추가4.4
9.2.4
9.2.5
9.2.6
9.2.7
9.2.8
9.2.11계기의 전력손실
고주파 전자계의 영향
급과도 버스트의 영향
전도성 고주파 전자계의 영향
서지 내성
감쇠 진동파의 영향
전자파 장해
모뎀(9)을 계기 
내부에 추가신규 시험항목에 의거 시험변경항목 변경내용 시험항목
11. PCB
 레이아웃PCB의 부품 
배치 변경, 1
매의 PCB를 2
매로 분리하
는 등 PCB 매
수의 변경, 4
층 PCB를 2층 
PCB로 변경하
는 등 PCB 층
수의 변경 또
는 에폭시 
PCB를 페놀 
재질의 PCB로 
변경하는 등 
PCB 종류의 
변경을 포함9.2.4
9.2.5
9.2.6
9.2.7
9.2.8
9.2.11고주파 전자계의 영향
급과도 버스트의 영향
전도성 고주파 전자계의 영향
서지 내성
감쇠 진동파의 영향
전자파 장해
12. PCB추
가보조회로 또
는 선택 제어
반( o p t i o n 
board)(8) 등을 
계기 내부(9)에 
추가4.4
9.2.4
9.2.5
9.2.6
9.2.7
9.2.8
9.2.11계기의 전력손실
고주파 전자계의 영향
급과도 버스트의 영향
전도성 고주파 전자계의 영향
서지 내성
감쇠 진동파의 영향
전자파 장해
모뎀(10)을 계
기 내부에 신
규 추가4.4
9.2.4
9.2.5
9.2.6
9.2.7
9.2.8
9.2.11
9.3.7계기의 전력손실
고주파 전자계의 영향
급과도 버스트의 영향
전도성 고주파 전자계의 영향
서지 내성
감쇠 진동파의 영향
전자파 장해
부가장치 및 보조장치 동작
모뎀의 종류 
변경(11) 9.3.7부가장치 및 보조장치 동작현행 개정(안) 개정 사유
변경항목 변경내용 시험항목
13. 외부 
인출선 또
는 보조단
자외부 인출선 
또는 보조
단자의 추가
(10)12.6먼지·물의 침투에 대한 보호성
14. 봉인구
조봉 인 구 조 의 
변경신고사항
15. 기타 
경미한 회
로의 변경
(11)인덕터, 커패
시터, 저항 등신고사항
16. 기타 
기능 및 
입 출 력 의 
삭제(12)외부 인출선 
또는 보조
단자의 삭제 
등신고사항
17. 소프트
웨어 변경계량과 관련
되는 소프트
웨어의 기능
을 변경(13)7.2
7.3
7.4
7.5
7.6
9.3.2
9.3.3
9.3.5
9.3.6
9.3.11
10.1계기정수
초기동작
무부하 동작
시동
오차의 허용한도
전류 및 전압회로내의 고조파 성분
전압 변동
주파수 변동
역상순
불평형 부하의 영향
소프트웨어 식별
단순 기능의 
변경10.1 소프트웨어 식별변경항목 변경내용 시험항목
13. 외부 
인출선 또
는 보조단
자외부 인출선 
또는 보조
단자의 추가
(12)12.6먼지·물의 침투에 대한 보호성
14. 봉인구
조봉 인 구 조 의 
변경신고사항
15. 기타 
경미한 회
로의 변경
(13)인덕터, 커패
시터, 저항 등신고사항
16. 기타 
기능 및 입
출력의 삭
제(14)외부 인출선 
또는 보조
단자의 삭제 
등신고사항
17. 소프트
웨어 변경계량과 관련
되는 소프트
웨어의 기능
을 변경(15)7.2
7.3
7.4
7.5
7.6
9.3.2
9.3.3.1
9.3.5
9.3.6
9.3.11
10.1계기정수
초기동작
무부하 동작
시동
오차의 허용한도
전류 및 전압회로내의 고조파 성분
기준 전압 변동
주파수 변동
역상순
불평형 부하의 영향
소프트웨어 식별
단순 기능의 
변경신고사항
주(1) 전원방식의 변경은 리니어 레귤레이터 방식에서 스위칭 레귤레
이터 방식을 바꾸는 등 계기 내부 회로의 동작을 위해 정전압
을 얻는 제어방식의 변경을 의미한다 .
주(2) 전압센서 방식 변경은 저항소자에 의한 신호를 얻는 방식에서 변주(1) 전원방식의 변경은 리니어 레귤레이터 방식에서 스위칭 레귤레
이터 방식을 바꾸는 등 계기 내부 회로의 동작을 위해 정전압
을 얻는 제어방식의 변경을 의미한다 .
주(2) 내부 전원부의 용량 변경 없이 정류회로를 거친 후 전압 등의 -1. 주(2) : 내부 
전원부 변경 범
위와 관련한 시
험 항목 추가함.
-2. 주(10) : 모뎀 현행 개정(안) 개정 사유
압기 형태의 변성기로 바꾸는 등 전압에 대한 신호를 얻는 방
식의 변경을 의미하고 , 전류센서 방식 변경은 코어를 갖는 변
류기 구조에서 정밀 저항체를 이용한 션트 방식, 홀센서를 사
용하여 전류를 계측하는 방식 및 플럭스게이트 소자를 사용하
여 전류를 계측하는 방식으로 바꾸는 등 전류에 대한 신호를 
얻는 방식의 변경을 의미한다 .
주(3) A/D 변환기 및 에너지 계량 소자의 변경은 프로세서와 별개의 
소자로 구성되어 있는 A/D 변환기 또는 에너지 계량 소자를 
프로세서 내부에 포함하는 변경, 프로세서 일체형 에너지 계량 
소자의 변경 및 각각의 소자가 다른 내부 구조를 갖는 반도체
로의 부품 변경을 의미한다 .
주(4) 에너지 계량 소자, A/D 변환기와 별개의 소자로 구성되어 있는 
프로세서에 대하여 다른 내부 구조를 갖는 반도체로의 부품 변
경을 의미한다 .
주(5) 메모리의 종류는 자료를 저장하고 유지하는 방식에 대한 것으로 
메모리의 종류에 대한 변경은 SRAM, FLASH MEMORY, FRAM 
등 소자 내부의 자료 저장 방식이 서로 다른 메모리의 변경을 
의미한다 . 측정값의 표시 중 a)항에 대한 성적서(국가표준기본
법 제23조의 규정에 의한 공인시험 ․검사기관의 시험성적서 또
는 자체시험성적서 )을 제출하는 경우, 신고사항으로 처리한다 .
주(6) 외함의 형상 변경은 외함(베이스와 커버)의 크기, 디자인의 변경 
및 전면 표시부, 광포트 등 전면에 노출되는 계기 구성요소의 
위치 변경 등 외함(베이스와 커버)에 대한 변경을 의미한다 .
주(7) 보조회로 또는 선택 제어반(option board)는 계기의 입출력 확장 
또는 부가기능 제공 등의 목적으로 계기 내부 또는 외부에 착탈 변경을 의미한다 .
주(3) 전압센서 방식 변경은 저항소자에 의한 신호를 얻는 방식에서 변
압기 형태의 변성기로 바꾸는 등 전압에 대한 신호를 얻는 방
식의 변경을 의미하고 , 전류센서 방식 변경은 코어를 갖는 변
류기 구조에서 정밀 저항체를 이용한 션트 방식, 홀센서를 사
용하여 전류를 계측하는 방식 및 플럭스게이트 소자를 사용하
여 전류를 계측하는 방식으로 바꾸는 등 전류에 대한 신호를 
얻는 방식의 변경을 의미한다 .
주(4) A/D 변환기 및 에너지 계량 소자의 변경은 프로세서와 별개의 
소자로 구성되어 있는 A/D 변환기 또는 에너지 계량 소자를 
프로세서 내부에 포함하는 변경, 프로세서 일체형 에너지 계량 
소자의 변경 및 각각의 소자가 다른 내부 구조를 갖는 반도체
로의 부품 변경을 의미한다 .
주(5) 에너지 계량 소자, A/D 변환기와 별개의 소자로 구성되어 있는 
프로세서에 대하여 다른 내부 구조를 갖는 반도체로의 부품 변
경을 의미한다 .
주(6) 메모리의 종류는 자료를 저장하고 유지하는 방식에 대한 것으로 
메모리의 종류에 대한 변경은 SRAM, FLASH MEMORY, FRAM 
등 소자 내부의 자료 저장 방식이 서로 다른 메모리의 변경을 
의미한다 . 측정값의 표시 중 a)항에 대한 성적서(국가표준기본
법 제23조의 규정에 의한 공인시험 ․검사기관의 시험성적서 또
는 자체시험성적서 )을 제출하는 경우, 신고사항으로 처리한다 .
주(7) 외함의 형상 변경은 외함(베이스와 커버)의 크기, 디자인의 변경 
및 전면 표시부, 광포트 등 전면에 노출되는 계기 구성요소의 
위치 변경 등 외함(베이스와 커버)에 대한 변경을 의미한다 .추가에 따른 신
규 처리 조건 
추가함.
-3. 주(11) : 모뎀 
종류 변경에 대
한 처리 조건 
추가함. 
-4. 주(13): “메이
커”의 국문 표
시인 “제조
사”문구 추가
함.현행 개정(안) 개정 사유
가능한 형태로 설치되는 회로부를 의미한다 .
주(8) 계기 내부는 계기의 봉인을 훼손하지 않고는 접근할 수 없는 부
분을 의미한다 .
주(9) 모뎀은 데이터의 원거리 전송을 위해 디지털 신호를 아날로그 
신호로 변조하여 송신하고 수신된 아날로그 신호를 본래의 디
지털 신호로 복조하는 장치로서 전화선, 전력선 등을 전송로
로 이용하거나 전파를 이용하는  유무선 모뎀을 포함한다 . 모
뎀이 없는 계기 내부에 새롭게 모뎀을 추가하는 경우 신규에 
의거하여 적용한다 .
주(10) 회로의 설계가 Ready가 된 상태에서 회로의 설계 추가 변경 
없이 인출선 또는 단자만을 추가하는 경우를 의미한다 .
주(11) 기타 경미한 회로의 변경은 인덕터, 커패시터 , 저항, 배터리 등 
수동 소자의 용량 및 정수 변경, 일부 추가 또는 삭제를 의미
한다. 능동 소자의 경우 상호 호환 가능(Pin to Pin으로 회로
의 변경 없이 사용 가능)한 소자로의 메이커 변경 및 패키지 
변경을 의미한다 . 
주(12) 전력량계의 기본 성능에 영향을 주지 않는 기타 기능 및 입출력
의 삭제를 의미한다 . 단, 이 경우에 PCB상에 위치가 정해진 
부품을 실장하지 않거나 옵션 PCB를 제거하는 등의 방법으
로 기능을 삭제하는 것은 무방하나 , PCB 레이아웃의 변경이나 
옵션 PCB의 추가, 외부 인출선이나 보조단자의 추가 등 형식승
인 변경이 필요한 변경을 수반하는 경우에는 해당 시험을 
거쳐 형식승인  변경 또는 신고 절차를 거처야 한다. 또한 외
부 인출선 또는 보조단자의 삭제 시 선의 인출구조나 보조단
자 인출구로 이물질이 들어가지 않도록 처리하여야 한다.주(8) 보조회로 또는 선택 제어반(option board)는 계기의 입출력 확장 
또는 부가기능 제공 등의 목적으로 계기 내부 또는 외부에 착탈 
가능한 형태로 설치되는 회로부를 의미한다 .
주(9) 계기 내부는 계기의 봉인을 훼손하지 않고는 접근할 수 없는 부
분을 의미한다 .
주(10) 모뎀은 데이터의 원거리 전송을 위해 디지털 신호를 아날로
그 신호로 변조하여 송신하고 수신된 아날로그 신호를 본래의 
디지털 신호로 복조하는 장치로서 전화선, 전력선 등을 전송
로로 이용하거나 전파를 이용하는  유무선 모뎀을 포함한다 . 
단, 계기 외함의 봉인을 제거하지 않고는 접촉할 수 없는 계
기 내부에 새롭게 모뎀을 추가함으로 인해 PCB 레이아웃 변
경이 동반될 시 신규로 처리하여야 한다.
주(11) 계기 내・외부 모뎀의 변경 시 계기 외함의 봉인을 제거하지 
않고는 접촉할 수 없는 계기 내부의 모뎀의 변경을 의미한다 . 
단, 기존 동일 방식의 모뎀의 변경인 경우 PCB 레이아웃 변
경이 동반될 수 있으나 새롭게 다른 방식의 모뎀을 추가, 변
경함으로 인해 PCB 레이아웃 변경이 동반될 시 신규로 처리
하여야 한다. 
주(12) 회로의 설계가 Ready가 된 상태에서 회로의 설계 추가 변경 
없이 인출선 또는 단자만을 추가하는 경우를 의미한다 .
주(13) 기타 경미한 회로의 변경은 인덕터, 커패시터 , 저항, 배터리 등 
수동 소자의 제조사(메이커) 변경을 제외한 용량 및 정수 변
경, 일부 추가 또는 삭제를 의미한다 . 능동 소자의 경우 상호 
호환 가능(Pin to Pin으로 회로의 변경 없이 사용 가능)한 소
자로의 제조사(메이커) 변경 및 패키지 변경을 의미한다 . 현행 개정(안) 개정 사유
주(13) 계기의 소프트웨어 변경은 하드웨어 (소자 및 기구물 등)를 제외
한 소프트웨어를 변경하는 것으로 계량에 영향을 주는 소스
코드에 대해서 적용한다 . 여기서 계량에 영향을 주는 소스코
드는 전력량을 측정하는 파라미터 (전류 측정, 전압 측정, 시간 
측정 등)로 간주한다 . 또한, 펄스계기정수 , 계량방향 (단방향 
↔ 양방향) 등에 대한 변경도 본 소프트웨어 변경으로 간주한
다. 단, 양방향에서 단방향으로의 변경은 10.1 소프트웨어 식
별만 적용한다 .주(14) 전력량계의 기본 성능에 영향을 주지 않는 기타 기능 및 입출력
의 삭제를 의미한다 . 단, 이 경우에 PCB상에 위치가 정해진 
부품을 실장하지 않거나 옵션 PCB를 제거하는 등의 방법으
로 기능을 삭제하는 것은 무방하나 , PCB 레이아웃의 변경이나 
옵션 PCB의 추가, 외부 인출선이나 보조단자의 추가 등 형식승
인 변경이 필요한 변경을 수반하는 경우에는 해당 시험을 
거쳐 형식승인  변경 또는 신고 절차를 거처야 한다. 또한 외
부 인출선 또는 보조단자의 삭제 시 선의 인출구조나 보조단
자 인출구로 이물질이 들어가지 않도록 처리하여야 한다.
주(15) 계기의 소프트웨어 변경은 하드웨어 (소자 및 기구물 등)를 제외
한 소프트웨어를 변경하는 것으로 계량에 영향을 주는 소스
코드에 대해서 적용한다 . 여기서 계량에 영향을 주는 소스코
드는 전력량을 측정하는 파라미터 (전류 측정, 전압 측정, 시간 
측정 등)로 간주한다 . 또한, 펄스계기정수 , 계량방향 (단방향 
↔ 양방향) 등에 대한 변경도 본 소프트웨어 변경으로 간주한
다. 단, 양방향에서 단방향으로의 변경은 10.1 소프트웨어 식
별만 적용한다 .
(3) 직류 전자식 전력량계
변경항목 변경내용 시험항목표 3-4. 직류 전자식 전력량계 형식승인 변경 시 시험항목(3) 직류 전자식 전력량계
변경항목 변경내용 시험항목표 3-4. 직류 전자식 전력량계 형식승인 변경 시 시험항목-1. 표3-4의 1. 
내부 전원부에
서 내부 전원부
(정류회로를 거
친 후 전압) 등
의 변경 내용 
및 시험항목 추
가함.
-2. 표3-4의 3. 
A/D변환기, 에너현행 개정(안) 개정 사유
변경항목 변경내용 시험항목
1. 내부 
전원부전원방식(1)의 
변경4.4
9.3.3
9.2.4
9.2.5
9.2.6
9.2.7
9.2.11
12.3.2계기의 소비전력
전압 변동
고주파 전자계의 영향
급과도 버스트의 영향
전도성 고주파 전자계의 영향
서지 내성
전자파 장해
충격파 내전압
내부 전원부 
용량 및 입출
력 정전압(정
류회로를 거
친 후 전압) 
등의 변경4.4
9.2.4
9.2.5
9.2.6
9.2.7
9.2.11
9.3.4
12.3.2계기의 소비전력
고주파 전자계의 영향
급과도 버스트의 영향
전도성 고주파 전자계의 영향
서지 내성
전자파 장해
주위 온도 영향
충격파 내전압변경항목 변경내용 시험항목
1. 내부 
전원부전원방식(1)의 
변경4.4
9.3.3
9.2.4
9.2.5
9.2.6
9.2.7
9.2.11
12.3.2계기의 소비전력
전압 변동
고주파 전자계의 영향
급과도 버스트의 영향
전도성 고주파 전자계의 영향
서지 내성
전자파 장해
충격파 내전압
내부 전원부 
용량 및 입출
력 정전압(정
류회로를 거
친 후 전압) 
등의 변경4.4
9.2.4
9.2.5
9.2.6
9.2.7
9.2.11
9.3.4
12.3.2계기의 소비전력
고주파 전자계의 영향
급과도 버스트의 영향
전도성 고주파 전자계의 영향
서지 내성
전자파 장해
주위 온도 영향
충격파 내전압
내부 전원부 
(정류회로를 
거친 후 전압) 
등의 변경(2) 4.4
9.2.4
9.2.5
9.2.11
9.3.4
12.3.2계기의 소비전력
고주파 전자계의 영향
급과도 버스트의 영향
전자파 장해
주위 온도 영향
충격파 내전압지계량소자 변
경 시 시험항목 
추가.
-3. 표3-4의 4. 
프로세서 변경 
시 시험항목 추
가.
-4. 표3-4의 8. 
단자, 단자함, 
단 자 커 버 에 서 
단자커버의 크
기 변경 시 내
충격, 내진동 시
험항목 삭제함.
-5. 표3-4의 12. 
PCB 추가 충 모
뎀을 계기 내부
에 추가하는 경
우에 대한 처리 
기준 변경함.
-6. 표3-4의 17. 
소프트웨어 변
경에서 계량과 
관련되는 소프
트웨어의 기능
을 변경 시 전
9.3.3 전압 변동
의 항목을 9.3.3.1 
기준 전압 변동
으로 명확화하현행 개정(안) 개정 사유
변경항목 변경내용 시험항목
2. 전압센
서 및
  전류센
서전압센서 및 
전류센서 방
식의 변경(2)신규 시험항목에 의거 시험
동일 방식에
서 소자 종류
의 변경으로 
전 류 센 서 는 
CT 및 분류기
(shunt) 저항
의 제조사, 외
형 등의 변경
을 포함4.4
7.4
7.5
7.6
9.2.4
9.2.5
9.2.6
9.2.9
9.2.10
9.3.3
9.3.4계기의 소비전력
무부하 동작
시동
오차의 허용한도
고주파 전자계의 영향
급과도 버스트의 영향
전도성 고주파 전자계의 영향
외부 연속적 자계 유도
외부 원점에서의 전원 주파수 
자계 유도
전압변동
주위 온도 영향
3. A/D변
환 기 ,     
에너지계
량  소자소자의 변경(3)7.2
7.4
7.5
7.6
8.3.4
9.2.4
9.2.5
9.2.6
9.2.7
9.2.11
9.3.4
10.계기정수
무부하동작
시동
오차의 허용한도
온·습도 사이클
고주파 전자계의 영향
급과도 버스트의 영향
전도성 고주파 전자계의 영향
서지 내성
전자파 장해
주위 온도 영향
소프트웨어 요구사항변경항목 변경내용 시험항목
2. 전압센
서 및
  전 류 센
서전압센서 및 
전류센서 방
식의 변경(2)신규 시험항목에 의거 시험
동일 방식에
서 소자 종류
의 변경으로 
전 류 센 서 는 
CT 및 분류기
(shunt) 저항
의 제조사, 외
형 등의 변경
을 포함4.4
7.4
7.5
7.6
9.2.4
9.2.5
9.2.6
9.2.9
9.2.10
9.3.3
9.3.4계기의 소비전력
무부하 동작
시동
오차의 허용한도
고주파 전자계의 영향
급과도 버스트의 영향
전도성 고주파 전자계의 영향
외부 연속적 자계 유도
외부 원점에서의 전원 주파수 
자계 유도
전압변동
주위 온도 영향
3. A/D변
환 기 ,     
에너지계
량 소자소자의 변경(3)7.2
7.4
7.5
7.6
8.3.4
9.2.4
9.2.5
9.2.6
9.2.7
9.2.11
9.3.3.1
9.3.4
10.1계기정수
무부하동작
시동
오차의 허용한도
온·습도 사이클
고주파 전자계의 영향
급과도 버스트의 영향
전도성 고주파 전자계의 영향
서지 내성
전자파 장해
기준전압변동
주위 온도 영향
소프트웨어 식별며, 단순 기능의 
변경을 신고사
항으로 변경함.현행 개정(안) 개정 사유
변경항목 변경내용 시험항목
4. 프로세
서소자의 변경(4)7.2
8.3.4
9.2.4
9.2.5
9.2.6
9.2.7
9.2.11
9.3.4
10.계기정수
온·습도 사이클
고주파 전자계의 영향
급과도 버스트의 영향
전도성 고주파 전자계의 영향
서지 내성
전자파 장해
주위 온도 영향
소프트웨어 요구사항
5. 메모리메모리의 종
류(5) 변경5.7측정값의 저장
메모리의 종
류 변경이 없
는 메모리 용
량 등의 변경신고사항
6. 표시장
치표시 장치
(LCD 등)의 
제조사, 외형 
등의 변경5.2.1
5.2.2
5.6
8.3.2
8.3.3
8.3.4내충격성
내진동성
측정값의 표시
내열성
내한성
온·습도 사이클
표시형상 및 
색상 등의 변
경신고사항변경항목 변경내용 시험항목
4. 프로세
서소자의 변경(4)7.2
7.4
7.5
7.6
8.3.4
9.2.4
9.2.5
9.2.6
9.2.7
9.2.11
9.3.3.1
9.3.4
10.1계기정수
무부하동작
시동
오차의 허용한도
온·습도 사이클
고주파 전자계의 영향
급과도 버스트의 영향
전도성 고주파 전자계의 영향
서지 내성
전자파 장해
기준전압변동
주위 온도 영향
소프트웨어 식별
5. 메모리메모리의 종
류(5) 변경5.7측정값의 저장
메모리의 종
류 변경이 없
는 메모리 용
량 등의 변경신고사항
6. 표시장
치표시 장치
(LCD 등)의 
제조사, 외형 
등의 변경5.2.1
5.2.2
5.6
8.3.2
8.3.3
8.3.4내충격성
내진동성
측정값의 표시
내열성
내한성
온·습도 사이클
표시형상 및 
색상 등의 변
경신고사항현행 개정(안) 개정 사유
변경항목 변경내용 시험항목
7. 외함의 
형상전면 기능요
소의 위치 변
경, 외형 디자
인 및 크기의 
변경(6)5.2.1
5.2.2
5.2.3
5.5
8.3.2
8.3.3
8.3.4
8.3.5
9.2.3
12.3.2
12.3.3
12.3.4
12.6내충격성
내진동성
기계적 강도
외함
내열성
내한성
온·습도 사이클
태양열 복사
정전기 방전 내성
충격파 내전압
상용 주파 내전압
절연저항
먼지·물의 침투에 대한 보호성
8. 단자, 
단 자 함 ,  
단자커버단자도체 재
질 변경, 단자
배열 변경, 단
자도체 형상
변경, 단자 도
체의 배치, 절
연거리 등의 
변경5.4
12.1
12.3.2
12.3.3
12.3.4
12.4
12.6단자, 단자함, 보호접지단자
절연간격 및 연면거리
충격파 내전압
상용 주파 내전압
절연저항
가열
먼지·물의 침투에 대한 보호성
단 자 커 버 의 
크기 변경5.2.1
5.2.2
5.2.3
5.5.1
9.2.3
12.3.2
12.3.3
12.3.4
12.6내충격성
내진동성
기계적 강도
단자 커버
정전기 방전 내성
충격파 내전압
상용 주파 내전압
절연저항
먼지·물의 침투에 대한 보호성변경항목 변경내용 시험항목
7. 외함의 
형상전면 기능요
소의 위치 변
경, 외형 디자
인 및 크기의 
변경(6)5.2.1
5.2.2
5.2.3
5.5
8.3.2
8.3.3
8.3.4
8.3.5
9.2.3
12.3.2
12.3.3
12.3.4
12.6내충격성
내진동성
기계적 강도
외함
내열성
내한성
온·습도 사이클
태양열 복사
정전기 방전 내성
충격파 내전압
상용 주파 내전압
절연저항
먼지·물의 침투에 대한 보호성
8. 단자, 단
자함, 단자
커버단자도체 재
질 변경, 단자
배열 변경, 단
자도체 형상
변경, 단자 도
체의 배치, 절
연거리 등의 
변경5.4
12.1
12.3.2
12.3.3
12.3.4
12.4
12.6단자, 단자함, 보호접지단자
절연간격 및 연면거리
충격파 내전압
상용 주파 내전압
절연저항
가열
먼지·물의 침투에 대한 보호성
단 자 커 버 의 
크기 변경5.2.1
5.2.2
5.2.3
5.5.1
9.2.3
12.3.2
12.3.3
12.3.4
12.6내충격성 (삭제)
내진동성 (삭제)
기계적 강도
단자 커버
정전기 방전 내성
충격파 내전압
상용 주파 내전압
절연저항
먼지·물의 침투에 대한 보호성현행 개정(안) 개정 사유
변경항목 변경내용 시험항목
9. 외함이
나 단자함
의 재질외함이나 단
자함 재질 변
경5.
5.2.1
5.2.2
5.2.3
8.3.2
8.3.3
8.3.4
8.3.5
12.3.2
12.3.3
12.3.4
12.4
12.5구조
내충격성
내진동성
기계적 강도
내열성
내한성
온·습도 사이클
태양열 복사
충격파 내전압
상용 주파 내전압
절연저항
가열
열과 불의 내력
10. 외함의
내부구조기구물 내부
구조 변경5.2.1
5.2.2내충격성
내진동성
11. PCB   
레이아웃PCB의 부품 
배치 변경, 1
매의 PCB를 2
매로 분리하
는 등 PCB 매
수의 변경, 4
층 PCB를 2층 
PCB로 변경하
는 등 PCB 층
수의 변경 또
는 에폭시 
PCB를 페놀 
재질의 PCB로 
변경하는 등 
PCB 종류의 
변경을 포함9.2.4
9.2.5
9.2.6
9.2.7
9.2.11고주파 전자계의 영향
급과도 버스트의 영향
전도성 고주파 전자계의 영향
서지 내성
전자파 장해변경항목 변경내용 시험항목
9. 외함이
나 단자함
의 재질외함이나 단
자함 재질 변
경5.
5.2.1
5.2.2
5.2.3
8.3.2
8.3.3
8.3.4
8.3.5
12.3.2
12.3.3
12.3.4
12.4
12.5구조
내충격성
내진동성
기계적 강도
내열성
내한성
온·습도 사이클
태양열 복사
충격파 내전압
상용 주파 내전압
절연저항
가열
열과 불의 내력
10. 외함의
내부구조기구물 내부
구조 변경5.2.1
5.2.2내충격성
내진동성
11. PCB
 레이아웃PCB의 부품 
배치 변경, 1
매의 PCB를 2
매로 분리하
는 등 PCB 매
수의 변경, 4
층 PCB를 2층 
PCB로 변경하
는 등 PCB 층
수의 변경 또
는 에폭시 
PCB를 페놀 
재질의 PCB로 
변경하는 등 
PCB 종류의 
변경을 포함9.2.4
9.2.5
9.2.6
9.2.7
9.2.11고주파 전자계의 영향
급과도 버스트의 영향
전도성 고주파 전자계의 영향
서지 내성
전자파 장해현행 개정(안) 개정 사유
변경항목 변경내용 시험항목
12. PCB추
가보조회로 또
는 선택 제어
반( o p t i o n 
board)(7) 등을 
계기 내부(8)에 
추가4.4
9.2.4
9.2.5
9.2.6
9.2.7
9.2.11계기의 전력손실
고주파 전자계의 영향
급과도 버스트의 영향
전도성 고주파 전자계의 영향
서지 내성
전자파 장해
모뎀(9)을 계기 
내부에 추가신규 시험항목에 의거 시험
13. 외부 
인출선 또
는 보조단
자외부 인출선 
또는 보조
단자의 추가
(10)12.6먼지·물의 침투에 대한 보호성
14. 봉인구
조봉 인 구 조 의 
변경신고사항
15. 기타 
경미한 회
로의 변경
(11)인덕터, 커패
시터, 저항 등신고사항
16. 기타 
기능 및 
입 출 력 의 
삭제(12)외부 인출선 
또는 보조
단자의 삭제 
등신고사항변경항목 변경내용 시험항목
12. PCB추
가보조회로 또
는 선택 제어
반( o p t i o n 
board)(7) 등을 
계기 내부(8)에 
추가4.4
9.2.4
9.2.5
9.2.6
9.2.7
9.2.11계기의 전력손실
고주파 전자계의 영향
급과도 버스트의 영향
전도성 고주파 전자계의 영향
서지 내성
전자파 장해
모뎀(9)을 계기 
내부에 신규 
추가4.4
9.2.4
9.2.5
9.2.6
9.2.7
9.2.11
9.3.7계기의 전력손실
고주파 전자계의 영향
급과도 버스트의 영향
전도성 고주파 전자계의 영향
서지 내성
전자파 장해
부가장치 및 보조장치 동작
모뎀의 종류 
변경(10) 9.3.7부가장치 및 보조장치 동작
13. 외부 
인출선 또
는 보조단
자외부 인출선 
또는 보조
단자의 추가(11)12.6먼지·물의 침투에 대한 보호성
14. 봉인구조봉 인 구 조 의 
변경신고사항
15. 기타 
경미한 회
로의 변경
(12)인덕터, 커패
시터, 저항 등신고사항
16. 기타 
기능 및 
입출 력 의 
삭제(13)외부 인출선 
또는 보조
단자의 삭제 
등신고사항현행 개정(안) 개정 사유
변경항목 변경내용 시험항목
17. 소프트
웨어 변경법 정 계 량 과 
관련되는 소
프 트 웨 어 의 
기능을 변경
(13)7.2
7.3
7.4
7.5
7.6
9.3.3
10.1계기정수
초기동작
무부하 동작
시동
오차의 허용한도
전압 변동
소프트웨어 식별
단순 기능의 
변경10.1 소프트웨어 식별변경항목 변경내용 시험항목
17. 소프트
웨어 변경계량과 관련
되는 소프트
웨어의 기능
을 변경(14)7.2
7.3
7.4
7.5
7.6
9.3.3.1
10.1계기정수
초기동작
무부하 동작
시동
오차의 허용한도
기준 전압 변동
소프트웨어 식별
단순 기능의 
변경신고사항
주(1) 전원방식의 변경은 리니어 레귤레이터 방식에서 스위칭 레귤레
이터 방식을 바꾸는 등 계기 내부 회로의 동작을 위해 정전압
을 얻는 제어방식의 변경을 의미한다 .
주(2) 전압센서 방식 변경은 저항소자에 의한 신호를 얻는 방식에서 변
압기 형태의 변성기로 바꾸는 등 전압에 대한 신호를 얻는 방
식의 변경을 의미하고 , 전류센서 방식 변경은 코어를 갖는 변
류기 구조에서 정밀 저항체를 이용한 션트 방식, 홀센서를 사
용하여 전류를 계측하는 방식 및 플럭스게이트 소자를 사용하
여 전류를 계측하는 방식으로 바꾸는 등 전류에 대한 신호를 
얻는 방식의 변경을 의미한다 .
주(3) A/D 변환기 및 에너지 계량 소자의 변경은 프로세서와 별개의 
소자로 구성되어 있는 A/D 변환기 또는 에너지 계량 소자를 
프로세서 내부에 포함하는 변경, 프로세서 일체형 에너지 계량 
소자의 변경 및 각각의 소자가 다른 내부 구조를 갖는 반도체
로의 부품 변경을 의미한다 .
주(4) 에너지 계량 소자, A/D 변환기와 별개의 소자로 구성되어 있는 
프로세서에 대하여 다른 내부 구조를 갖는 반도체로의 부품 변주(1) 전원방식의 변경은 리니어 레귤레이터 방식에서 스위칭 레귤레
이터 방식을 바꾸는 등 계기 내부 회로의 동작을 위해 정전압
을 얻는 제어방식의 변경을 의미한다 .
주(2) 내부 전원부의 용량 변경 없이 정류회로를 거친 후 전압 등의 
변경을 의미한다 .
주(3) 전압센서 방식 변경은 저항소자에 의한 신호를 얻는 방식에서 변
압기 형태의 변성기로 바꾸는 등 전압에 대한 신호를 얻는 방
식의 변경을 의미하고 , 전류센서 방식 변경은 코어를 갖는 변
류기 구조에서 정밀 저항체를 이용한 션트 방식, 홀센서를 사
용하여 전류를 계측하는 방식 및 플럭스게이트 소자를 사용하
여 전류를 계측하는 방식으로 바꾸는 등 전류에 대한 신호를 
얻는 방식의 변경을 의미한다 .
주(4) A/D 변환기 및 에너지 계량 소자의 변경은 프로세서와 별개의 
소자로 구성되어 있는 A/D 변환기 또는 에너지 계량 소자를 
프로세서 내부에 포함하는 변경, 프로세서 일체형 에너지 계량 
소자의 변경 및 각각의 소자가 다른 내부 구조를 갖는 반도체
로의 부품 변경을 의미한다 .-1. 주(2) : 내부 
전원부 변경 범
위와 관련한 시
험 항목 추가함.
-2. 주(10) : 모뎀 
추가에 따른 신
규 처리 조건 
추가함.
-3. 주(11) : 모뎀 
종류 변경에 대
한 처리 조건 
추가함. 
-4. 주(13): “메이
커”의 국문 표
시인 “제조
사”문구 추가
함.현행 개정(안) 개정 사유
경을 의미한다 .
주(5) 메모리의 종류는 자료를 저장하고 유지하는 방식에 대한 것으로 
메모리의 종류에 대한 변경은 SRAM, FLASH MEMORY, FRAM 
등 소자 내부의 자료 저장 방식이 서로 다른 메모리의 변경을 
의미한다 . 측정값의 표시 중 a)항에 대한 성적서(국가표준기본
법 제23조의 규정에 의한 공인시험 ․검사기관의 시험성적서 또
는 자체시험성적서 )을 제출하는 경우, 신고사항으로 처리한다 .
주(6) 외함의 형상 변경은 외함(베이스와 커버)의 크기, 디자인의 변경 
및 전면 표시부, 광포트 등 전면에 노출되는 계기 구성요소의 
위치 변경 등 외함(베이스와 커버)에 대한 변경을 의미한다 .
주(7) 보조회로 또는 선택 제어반(option board)는 계기의 입출력 확장 
또는 부가기능 제공 등의 목적으로 계기 내부 또는 외부에 착탈 
가능한 형태로 설치되는 회로부를 의미한다 .
주(8) 계기 내부는 계기의 봉인을 훼손하지 않고는 접근할 수 없는 부
분을 의미한다 .
주(9) 모뎀은 데이터의 원거리 전송을 위해 디지털 신호를 아날로그 
신호로 변조하여 송신하고 수신된 아날로그 신호를 본래의 디
지털 신호로 복조하는 장치로서 전화선, 전력선 등을 전송로
로 이용하거나 전파를 이용하는  유무선 모뎀을 포함한다 . 모
뎀이 없는 계기 내부에 새롭게 모뎀을 추가하는 경우 신규에 
의거하여 적용한다 .
주(10) 회로의 설계가 Ready가 된 상태에서 회로의 설계 추가 변경 
없이 인출선 또는 단자만을 추가하는 경우를 의미한다 .
주(11) 기타 경미한 회로의 변경은 인덕터, 커패시터 , 저항, 배터리 등 
수동 소자의 용량 및 정수 변경, 일부 추가 또는 삭제를 의미주(5) 에너지 계량 소자, A/D 변환기와 별개의 소자로 구성되어 있는 
프로세서에 대하여 다른 내부 구조를 갖는 반도체로의 부품 변
경을 의미한다 .
주(6) 메모리의 종류는 자료를 저장하고 유지하는 방식에 대한 것으로 
메모리의 종류에 대한 변경은 SRAM, FLASH MEMORY, FRAM 
등 소자 내부의 자료 저장 방식이 서로 다른 메모리의 변경을 
의미한다 . 측정값의 표시 중 a)항에 대한 성적서(국가표준기본
법 제23조의 규정에 의한 공인시험 ․검사기관의 시험성적서 또
는 자체시험성적서 )을 제출하는 경우, 신고사항으로 처리한다 .
주(7) 외함의 형상 변경은 외함(베이스와 커버)의 크기, 디자인의 변경 
및 전면 표시부, 광포트 등 전면에 노출되는 계기 구성요소의 
위치 변경 등 외함(베이스와 커버)에 대한 변경을 의미한다 .
주(8) 보조회로 또는 선택 제어반(option board)는 계기의 입출력 확장 
또는 부가기능 제공 등의 목적으로 계기 내부 또는 외부에 착탈 
가능한 형태로 설치되는 회로부를 의미한다 .
주(9) 계기 내부는 계기의 봉인을 훼손하지 않고는 접근할 수 없는 부
분을 의미한다 .
주(10) 모뎀은 데이터의 원거리 전송을 위해 디지털 신호를 아날로
그 신호로 변조하여 송신하고 수신된 아날로그 신호를 본래의 
디지털 신호로 복조하는 장치로서 전화선, 전력선 등을 전송
로로 이용하거나 전파를 이용하는  유무선 모뎀을 포함한다 . 
단, 계기 외함의 봉인을 제거하지 않고는 접촉할 수 없는 계
기 내부에 새롭게 모뎀을 추가함으로 인해 PCB 레이아웃 변
경이 동반될 시 신규로 처리하여야 한다.
주(11) 계기 내・외부 모뎀의 변경 시 계기 외함의 봉인을 제거하지 현행 개정(안) 개정 사유
한다. 능동 소자의 경우 상호 호환 가능(Pin to Pin으로 회로
의 변경 없이 사용 가능)한 소자로의 메이커 변경 및 패키지 
변경을 의미한다 . 
주(12) 전력량계의 기본 성능에 영향을 주지 않는 기타 기능 및 입출력
의 삭제를 의미한다 . 단, 이 경우에 PCB상에 위치가 정해진 
부품을 실장하지 않거나 옵션 PCB를 제거하는 등의 방법으
로 기능을 삭제하는 것은 무방하나 , PCB 레이아웃의 변경이나 
옵션 PCB의 추가, 외부 인출선이나 보조단자의 추가 등 형식승
인 변경이 필요한 변경을 수반하는 경우에는 해당 시험을 
거쳐 형식승인  변경 또는 신고 절차를 거처야 한다. 또한 외
부 인출선 또는 보조단자의 삭제 시 선의 인출구조나 보조단
자 인출구로 이물질이 들어가지 않도록 처리하여야 한다.
주(13) 계기의 소프트웨어 변경은 하드웨어 (소자 및 기구물 등)를 제외
한 소프트웨어를 변경하는 것으로 계량에 영향을 주는 소스
코드에 대해서 적용한다 . 여기서 계량에 영향을 주는 소스코
드는 전력량을 측정하는 파라미터 (전류 측정, 전압 측정, 시간 
측정 등)로 간주한다 . 또한, 펄스계기정수 , 계량방향 (단방향 
↔ 양방향) 등에 대한 변경도 본 소프트웨어 변경으로 간주한
다. 단, 양방향에서 단방향으로의 변경은 10.1 소프트웨어 식
별만 적용한다 .않고는 접촉할 수 없는 계기 내부의 모뎀의 변경을 의미한다 . 
단, 기존 동일 방식의 모뎀의 변경인 경우 PCB 레이아웃 변
경이 동반될 수 있으나 새롭게 다른 방식의 모뎀을 추가, 변
경함으로 인해 PCB 레이아웃 변경이 동반될 시 신규로 처리
하여야 한다. 
주(12) 회로의 설계가 Ready가 된 상태에서 회로의 설계 추가 변경 
없이 인출선 또는 단자만을 추가하는 경우를 의미한다 .
주(13) 기타 경미한 회로의 변경은 인덕터, 커패시터 , 저항, 배터리 등 
수동 소자의 제조사(메이커) 변경을 제외한 용량 및 정수 변
경, 일부 추가 또는 삭제를 의미한다 . 능동 소자의 경우 상호 
호환 가능(Pin to Pin으로 회로의 변경 없이 사용 가능)한 소
자로의 제조사(메이커) 변경 및 패키지 변경을 의미한다 . 
주(14) 전력량계의 기본 성능에 영향을 주지 않는 기타 기능 및 입출력
의 삭제를 의미한다 . 단, 이 경우에 PCB상에 위치가 정해진 
부품을 실장하지 않거나 옵션 PCB를 제거하는 등의 방법으
로 기능을 삭제하는 것은 무방하나 , PCB 레이아웃의 변경이나 
옵션 PCB의 추가, 외부 인출선이나 보조단자의 추가 등 형식승
인 변경이 필요한 변경을 수반하는 경우에는 해당 시험을 
거쳐 형식승인  변경 또는 신고 절차를 거처야 한다. 또한 외
부 인출선 또는 보조단자의 삭제 시 선의 인출구조나 보조단
자 인출구로 이물질이 들어가지 않도록 처리하여야 한다.
주(15) 계기의 소프트웨어 변경은 하드웨어 (소자 및 기구물 등)를 제외
한 소프트웨어를 변경하는 것으로 계량에 영향을 주는 소스
코드에 대해서 적용한다 . 여기서 계량에 영향을 주는 소스코
드는 전력량을 측정하는 파라미터 (전류 측정, 전압 측정, 시간 현행 개정(안) 개정 사유
측정 등)로 간주한다 . 또한, 펄스계기정수 , 계량방향 (단방향 
↔ 양방향) 등에 대한 변경도 본 소프트웨어 변경으로 간주한
다. 단, 양방향에서 단방향으로의 변경은 10.1 소프트웨어 식
별만 적용한다 .