## Mesure de paramètres électriques: du test industriel à la bioélectronique

- Fonction : Auteur

- PersonId : 742383

- IdHAL : vincent-kerzerho

- ORCID : 0000-0002-4387-0976

- IdRef : 083448632

### Mots clés

- Test of integrated circuit

- Impedance

- Test de circuits intégrés

- Impédance

### Domaines

- Micro et nanotechnologies/Microélectronique

<table class="table table-borderless">
<tbody>
<tr>
<th scope="row">Origine</th>
<td>
                                                Fichiers produits par l'(les) auteur(s)
                                            </td>
</tr>
<tr>
<th scope="row">Licence</th>
<td>
<div class="licence-view">
<img alt="" height="20px" src="/assets/img/licences/cc-by.png">
<a href="https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/" rel="noopener" target="_blank"> CC BY 4.0 - Attribution</a>
</img></div>
</td>
</tr>
</tbody>
</table>

Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/tel-04676100

Soumis le : vendredi 23 août 2024-11:10:13

Dernière modification le : mardi 2 décembre 2025-03:18:03

### Dates et versions

### Licence

### Identifiants

- HAL Id : tel-04676100 , version 1

### Citer

### Exporter

- BibTeX

- XML-TEI

- Dublin Core

- DC Terms

- EndNote

- DataCite

### Collections

- CNRS

- UNIV-MONTP3

- UNIV-PERP

- LIRMM

- SMARTIES

- UNIV-MONTPELLIER

### Partager

- More