### 1.5.1 - L'assemblage lithique

La couche 5 apparaît pauvre comparée à d'autres niveaux. Le nombre total de vestiges lithiques prélevés lors des fouilles de McBurney s'élève à 3378, toutes catégories confondues. Lors des études ces vestiges lithiques ont été classés en fonction de la nature de la matière première employée : silex, quartz ou roches tenaces diverses (grès, quartzite, siltite, roche magmatique basique, ...). La fréquence du silex et du quartz est identique (environ 40% des effectifs) mais un net avantage s'affirme pour le quartz du point de vue pondéral (tabl. 25). Lors de l'étude, les auteurs ont pris le parti de séparer le matériel en silex, en quartz et roches tenaces. Ceci se justifiait par l'impossibilité d'appliquer au silex et au quartz en particulier une grille et un niveau de lecture comparable tant au niveau typologique que technique. Le matériel en roches tenaces était en outre insuffisant pour permettre une étude typologique statistique. Le mode de fracturation spécifique du quartz a conduit les auteurs (Hutcheson, Callow, 1986) à l'étudier différemment de la production en silex.

<table><caption>Tabl. 25 : La Cotte de St. Brelade, couche 5. Représentation en fréquence numérique et pondérale des trois classes de matières premières lithiques (d'après Callow, Cornford, ed., 1986).</caption><thead><tr><th colspan="2">Silex</th><th colspan="2">Quartz</th><th colspan="2">Roches tenaces</th><th>Total</th></tr><tr><th>Kg</th><th>%</th><th>Kg</th><th>%</th><th>Kg</th><th>%</th><th>Kg</th></tr></thead><tbody><tr><td>15,4</td><td>23,2</td><td>34,8</td><td>52,5</td><td>16,1</td><td>24,3</td><td>66,3</td></tr><tr><td>n.</td><td>%</td><td>n.</td><td>%</td><td>n.</td><td>%</td><td>n.</td></tr><tr><td>1349</td><td>39,9</td><td>1374</td><td>40,7</td><td>655</td><td>19,4</td><td>3378</td></tr></tbody></table>

### 1.5.2 - L'origine des matières premières

Le contexte géologique de Jersey, dont le substratum est plutonique et métamorphique, a placé les occupants de La Cotte de St. Brelade dans une situation assez exceptionnelle pour le nord-ouest de l'Europe, où les hommes ont habituellement tiré profit des grands bassins sédimentaires qui leur assuraient d'importantes ressources en silex. Le plus proche affleurement de craie à silex, à 20 kilomètres au nord de La Cotte de St. Brelade n'est accessible qu'à la faveur d'une baisse de près de 25 m du niveau marin. Les affleurements majeurs de silex du Crétacé supérieur ne peuvent être atteints qu'à partir de -55 m. L'étude des surfaces corticales tend à montrer "...that prehistoric man was not exploiting the Cretaceous deposits directly" (Callow, 1986d, p. 205). Le silex a donc pour l'essentiel été collecté sous forme de galets dans des cordons de plage actuellement submergés sur le plateau continental. Pour P. Callow, certains silex marron ou gris clair sont des variétés provenant des calcaires jurassiques du Cotentin<fnref n="43" />. Par opposition, le quartz est très rarement présent sous forme de galets. Il provient des nombreux filons qui parcourent localement le substratum granitique de l'île et la plaine côtière. Les roches tenaces, utilisées de façon minoritaire, proviennent du substrat métamorphique local. L'origine de quelques pièces en quartzite et grès lustré n'a pu être précisée.

Selon P. Callow, lors de l'occupation de la couche 5, la régression marine a contribué à éloigner fortement de la cavité les cordons de plage "actifs" qui constituaient la principale source de silex, les cordons "morts" enfouis sous les lœss et colluvions devenant inaccessibles.

<footnote n="43">⁴³ Nous avons nous-même noté de fortes similitudes macroscopiques entre un outil en silex de la couche 5 et les silex des affleurements côtiers des formations du Jurassique moyen du Cotentin près de Vierville-sur-Mer.</footnote>
### 1.5.3 - Identité typologique de la série en silex<sup>44</sup>

L'outillage est très abondant dans la série en silex de la couche 5 (tabl. 26). Les produits transformés, entiers ou fragmentés, représentent plus de 44 % des vestiges. L'étude a été menée par P. Callow (1986c) à partir de la liste typologique de F. Bordes (1961) (tabl. 27). L'assemblage est fortement dominé par les racloirs (IR=54,2) principalement convexes. L'indice de biface est faible (IB=2,50). Les encoches et denticulés représentent 18,3% des outils. Parmi les outils de type Paléolithique supérieur, abondants (10,6%), grattoirs et burins sont à part égale. Quelques éléments donnent à cette couche 5 toute son originalité : la présence marquée de pointes moustériennes allongées et l'importance de la retouche Quina (IQ=9,4 IQ+1/2Q=14,7).

"This is the only layer in which Quina retouch has been much used; ..." (Callow, 1986c, p. 297).

L'indice Levallois typologique est faible (ILty=2,07).

<table><caption>Tabl. 26 : La Cotte de St. Brelade, couche 5. Composition de l'assemblage lithique en silex (d'après Callow, Cornford, ed., 1986).</caption><thead><tr><th></th><th>Effectifs</th><th>Fréquence</th><th></th></tr></thead><tbody><tr><td>Outils entiers</td><td>338</td><td>25,1%</td><td rowspan="3">44,7%</td></tr><tr><td>Bifaces entiers</td><td>7</td><td>0,5%</td></tr><tr><td>Fragments retouchés</td><td>257</td><td>19,1%</td></tr><tr><td>Eclats bruts entiers</td><td>349</td><td>25,9%</td><td rowspan="3">49,4%</td></tr><tr><td>Eclats bruts fragmentés</td><td>317</td><td>23,5%</td></tr><tr><td>Esquilles/débris</td><td>51</td><td>3,8%</td></tr><tr><td>Nucléus et fragments</td><td>29</td><td>2,2%</td><td></td></tr><tr><td>Total</td><td>1348</td><td></td><td></td></tr></tbody></table>

### 1.5.4 - Caractéristiques techniques et économiques

Les nucléus de la couche 5, peu nombreux, ont cependant été décrits comme très variés du point de vue typologique. Trois types majoritaires se dégagent cependant : bipyramidal, irrégulier et à plans de frappe multiples. On note que le type Levallois est rare. Cependant, l'indice Levallois (IL=8,15) est très fort par rapport aux autres niveaux saaliens de La Cotte de St. Brelade. L'indice laminaire (6,11) est assez important. L'indice de facettage est fort (environ 54).

La proportion des éclats corticaux est assez importante (27,5%) mais peu (6%) ont plus de 50 % de cortex sur leur surface.

L'analyse du matériel de la couche 5 par P. Callow et J.C.C. Hutcheson (Hutcheson, Callow, 1986) a principalement été menée selon une optique économique. L'objectif principal était de cerner les évolutions majeures du mode de gestion des outillages lithiques en fonction de l'évolution de la disponibilité des ressources en matières premières lithiques dans l'environnement du site, sur un temps long correspondant à l'ensemble de la séquence d'occupation de La Cotte de St. Brelade. L'éloignement des cordons de galets "actifs" avec la régression marine et la dégradation climatique ont eu des conséquences importantes d'ordre économique sur les assemblages lithiques de La Cotte de St. Brelade (Callow, 1988).

Dans cette optique, les auteurs ont mis en évidence :

- une inadéquation entre la fréquence des éclats Levallois et la prépondérance des nucléus de type "simple",

<footnote n="44">⁴⁴Les données typologiques sont exprimées en décompte réduit (Girard, 1978).</footnote>
<table><caption>Tabl. 27 : La Cotte de St. Brelade, couche 5. Décompte typologique (Callow, 1986c).</caption><thead><tr><th>Type</th><th>N</th><th>% réel</th><th>% ess.</th><th>% réduit</th></tr></thead><tbody><tr><td>1 Eclat Levallois typique</td><td>3</td><td>0,89</td><td></td><td></td></tr><tr><td>2 Eclat Levallois atypique</td><td>1</td><td>0,30</td><td></td><td></td></tr><tr><td>3 Pointe Levallois</td><td>2</td><td>0,59</td><td></td><td></td></tr><tr><td>4 Pointe Levallois retouchée</td><td>1</td><td>0,30</td><td>0,36</td><td>0,37</td></tr><tr><td>5 Pointe pseudo-levallois</td><td></td><td></td><td></td><td></td></tr><tr><td>6 Pointe moustérienne</td><td>1</td><td>0,30</td><td>0,36</td><td>0,37</td></tr><tr><td>7 Pointe moustérienne allongée</td><td>8</td><td>2,37</td><td>2,91</td><td>2,93</td></tr><tr><td>8 Limace</td><td>3</td><td>0,89</td><td>1,09</td><td>1,10</td></tr><tr><td>9 Racloir simple droit</td><td>17</td><td>5,03</td><td>6,18</td><td>6,23</td></tr><tr><td>10 Racloir simple convexe</td><td>40</td><td>11,83</td><td>14,55</td><td>14,65</td></tr><tr><td>11 Racloir simple concave</td><td>1</td><td>0,30</td><td>0,36</td><td>0,37</td></tr><tr><td>12 Racloir double droit</td><td>3</td><td>0,89</td><td>1,09</td><td>1,10</td></tr><tr><td>13 Racloir double droit-convexe</td><td>6</td><td>1,78</td><td>2,18</td><td>2,20</td></tr><tr><td>14 Racloir double droit-concave</td><td></td><td></td><td></td><td></td></tr><tr><td>15 Racloir double biconvexe</td><td>2</td><td>0,59</td><td>0,73</td><td>0,73</td></tr><tr><td>16 Racloir double biconcave</td><td>1</td><td>0,30</td><td>0,36</td><td>0,37</td></tr><tr><td>17 Racloir double convexe-concave</td><td>1</td><td>0,30</td><td>0,36</td><td>0,37</td></tr><tr><td>18 Racloir convergent droit</td><td>4</td><td>1,18</td><td>1,45</td><td>1,47</td></tr><tr><td>19 Racloir convergent convexe</td><td>7</td><td>2,07</td><td>2,55</td><td>2,56</td></tr><tr><td>20 Racloir convergent concave</td><td></td><td></td><td></td><td></td></tr><tr><td>21 Racloir déjeté</td><td>10</td><td>2,96</td><td>3,64</td><td>3,66</td></tr><tr><td>22 Racloir transversal droit</td><td>4</td><td>1,18</td><td>1,45</td><td>1,47</td></tr><tr><td>23 Racloir transversal convexe</td><td>10</td><td>2,96</td><td>3,64</td><td>3,66</td></tr><tr><td>24 Racloir transversal concave</td><td></td><td></td><td></td><td></td></tr><tr><td>25 Racloir sur face ventrale</td><td>10</td><td>2,96</td><td>3,64</td><td>3,66</td></tr><tr><td>26 Racloir à retouche abrupte</td><td>1</td><td>0,30</td><td>0,36</td><td>0,37</td></tr><tr><td>27 Racloir à dos aminci</td><td>2</td><td>0,59</td><td>0,73</td><td>0,73</td></tr><tr><td>28 Racloir à retouche bifaciale</td><td>9</td><td>2,66</td><td>3,27</td><td>3,30</td></tr><tr><td>29 Racloir alterne</td><td>20</td><td>5,92</td><td>7,27</td><td>7,33</td></tr><tr><td>30 Grattoir typique</td><td>3</td><td>0,89</td><td>1,09</td><td>1,10</td></tr><tr><td>31 Grattoir atypique</td><td>8</td><td>2,37</td><td>2,91</td><td>2,93</td></tr><tr><td>32 Burin typique</td><td>11</td><td>3,25</td><td>4,00</td><td>4,03</td></tr><tr><td>33 Burin atypique</td><td>3</td><td>0,89</td><td>1,09</td><td>1,10</td></tr><tr><td>34 Perçoir typique</td><td></td><td></td><td></td><td></td></tr><tr><td>35 Perçoir atypique</td><td>2</td><td>0,59</td><td>0,73</td><td>0,73</td></tr><tr><td>36 Couteau à dos typique</td><td></td><td></td><td></td><td></td></tr><tr><td>37 Couteau à dos atypique</td><td>2</td><td>0,59</td><td>0,73</td><td>0,73</td></tr><tr><td>38 Couteau à dos naturel</td><td>2</td><td>0,59</td><td>0,73</td><td></td></tr><tr><td>39 Raclette</td><td>4</td><td>1,18</td><td>1,45</td><td>1,47</td></tr><tr><td>40 Troncature</td><td>5</td><td>1,48</td><td>1,82</td><td>1,83</td></tr><tr><td>41 Tranchet moustérien</td><td></td><td></td><td></td><td></td></tr><tr><td>42 Encoche</td><td>27</td><td>7,99</td><td>9,82</td><td>9,89</td></tr><tr><td>43 Denticulé</td><td>23</td><td>6,80</td><td>8,36</td><td>8,42</td></tr><tr><td>44 Bec à retouche alterne</td><td>6</td><td>1,78</td><td>2,18</td><td>2,20</td></tr><tr><td>45 Retouche sur face ventrale</td><td>5</td><td>1,48</td><td></td><td></td></tr><tr><td>46 Retouche abrupte épaisse</td><td>14</td><td>4,14</td><td></td><td></td></tr><tr><td>47 Retouche alterne épaisse</td><td></td><td></td><td></td><td></td></tr><tr><td>48 Retouche abrupte mince</td><td>37</td><td>10,95</td><td></td><td></td></tr><tr><td>49 Retouche alterne mince</td><td></td><td></td><td></td><td></td></tr><tr><td>50 Retouche bifaciale</td><td>1</td><td>0,30</td><td></td><td></td></tr><tr><td>51 Pointe de Tayac</td><td></td><td></td><td></td><td></td></tr><tr><td>52 Triangle à encoche</td><td></td><td></td><td></td><td></td></tr><tr><td>53 Pseudo-microburin</td><td></td><td></td><td></td><td></td></tr><tr><td>54 Encoche en bout</td><td>4</td><td>1,18</td><td>1,45</td><td>1,47</td></tr><tr><td>55 Hachoir</td><td></td><td></td><td></td><td></td></tr><tr><td>56 Rabot</td><td></td><td></td><td></td><td></td></tr><tr><td>57 Pointe pédonculée</td><td></td><td></td><td></td><td></td></tr><tr><td>58 Outil pédonculé</td><td></td><td></td><td></td><td></td></tr><tr><td>59 Chopper</td><td></td><td></td><td></td><td></td></tr><tr><td>60 Chopper inverse</td><td></td><td></td><td></td><td></td></tr><tr><td>61 Chopping tool</td><td></td><td></td><td></td><td></td></tr><tr><td>62 Divers</td><td>14</td><td>4,14</td><td>5,09</td><td>5,13</td></tr><tr><td>63 Pointe foliacée</td><td></td><td></td><td></td><td></td></tr><tr><td>Total réel</td><td>338</td><td></td><td></td><td></td></tr><tr><td>Total essentiel</td><td>275</td><td></td><td></td><td></td></tr><tr><td>Total réduit</td><td>273</td><td></td><td></td><td></td></tr></tbody></table>
- une trop faible quantité de déchets de débitage pour que le débitage Levallois ait été pratiqué sur place,

- un débitage in situ attesté par des nucléus et des déchets,

- la rareté des éclats de retouche au regard de la forte quantité de produits transformés,

- une longueur moyenne des outils, nucléus et produits plus importante que pour les autres couches,

- l'utilisation, comme pour la couche A, de procédés particuliers : les troncatures inverses et la "LSF technique"<fnref n="45" />.

"*The best explanation that can be offered is that Levallois debitage (and probably much of the tool manufacture) took place away from the cave, but that a few pebbles were imported and used to supply sharp flakes as and when required*" (Hutcheson, Callow, 1986, p. 249).

Les conditions climatiques "sévères" qui présidaient lors de l'occupation de la couche 5 auraient ainsi conduit les hommes à adopter des comportements particuliers :

"*By the time deposition of layer 5, good raw material sources must have been so far away that the practice adopted in layer C-A (intensive resharpening) no longer sufficed and most tools were made elsewhere : hence the very low incidence of manufacturing debris*"(Callow, 1986d, p. 211).

### 1.5.5 - Comparaisons

L'assemblage de la couche 5 se définit donc comme une industrie à rares bifaces, racloirs dominants, à retouche Quina fréquente et présentant de façon originale des pointes moustériennes épaisses allongées. Après avoir développé des comparaisons avec différentes entités (High Lodge, Hoxne sup., Epi-acheuléen, Acheuléen supérieur d'Allemagne, Tayacien,...), P. Callow note que cette industrie :

"*...differs in important respects from all the example cited above. It appears to be a specialized facies of the Upper Acheulian with typical bifaces, as well as flake tools (including points) of "charentian" or central European character*" (Callow, 1986e, p. 385).

## 1.6 - Eléments de taphonomie de la couche 5 de La Cotte de St. Brelade

P. Callow (1986c) indique que c'est dans la couche 5 que l'on trouve le plus de pièces patinées ou qui présentent des altérations. Celles-ci se manifestent sous la forme d'un léger concassage des bords des objets et par un émoussé des arêtes. Cependant, ces altérations concernent une fraction limitée de l'assemblage. L'état des objets varie ainsi d'absolument frais à assez endommagé. Quelle peut être l'origine de ces altérations ? Cette couche 5 est un sédiment loessique probablement colluvial, lessivé, dont les structures sont réorganisées par une alternance de gel / dégel (van Vliet-Lanoë, 1986b). La conjugaison de ces processus cryogéniques et la charge en blocs de granite du sédiment pourrait expliquer l'émoussé généralisé des arêtes d'une fraction des objets. Le colluvionnement qui a affecté cette couche a pu contribuer à ces altérations.

P. Callow a en outre mentionné un mélange partiel de vestiges lithiques des couches 5 et 6.1. Les vestiges de cette dernière se concentraient à sa base immédiatement au contact du sommet de la couche 5 ce qui rendait leur distinction en fouille souvent aléatoire. La couche

<footnote n="45">⁴⁵ Sous ce terme de LSF (Long Sharpening Flake), J.M. Cornford (1986) désigne un procédé qui consiste à détacher sur le bord d'un outil à partir d'une troncature adjacente, un éclat de retouche de direction longitudinale c'est-à-dire parallèle au bord qui doit être retouché. C'est le même procédé que nous avons déjà décrit sous le nom de coup de tranchet latéral (cf. chap. VI, § 2.4.2.1).</footnote>
6.1 est cependant très pauvre en éléments lithiques ce qui limite la déformation due à ce mélange.

## 2 - Analyse technique de l'industrie lithique de la couche 5 de La Cotte de St. Brelade

Les précédents chercheurs avaient choisi d'isoler le quartz du silex dans leur étude pour des raisons méthodologiques. Nous avons pour notre part choisi de ne pas intégrer les vestiges de quartz lors de l'analyse du matériel de cette couche de La Cotte de St. Brelade tout en étant sensible aux conséquences de ce biais sur l'interprétation. La raison de ce choix est avant tout méthodologique. Les spécificités de ce matériau d'où découlent des contraintes dans l'exploitation, désormais bien documentées au niveau technique (Mourre, 1996), auraient imposé une étude disjointe du silex et probablement à terme des résultats difficilement comparables. En effet, aucun référentiel ne permet actuellement de comparer les caractéristiques fonctionnelles des dièdres tranchant en silex et en quartz. Cependant, lorsque les interprétations techno-fonctionnelles sur la fraction en silex de l'industrie auront une portée économique, il ne faudra pas faire abstraction totale de la composante en quartz.

La rareté dans l'assemblage des plus petites fractions de l'industrie (<20 mm) est très certainement imputable à une absence de tamisage lors de la fouille. Nous verrons que cette absence est préjudiciable et impose des limites dans l'interprétation de l'assemblage au niveau du déroulement spatial des chaînes opératoires de confection et plus globalement de la fonction du site. Il faut finalement noter la part importante de débris de silex anguleux. Ils sont très certainement liés à l'existence de fissures dans les blocs de silex taillés sur place.

### 2.1 - Les questions, les problèmes

Les constats faits par P. Callow et J.C.C. Hutcheson à l'issue de leur analyse du matériel de la couche 5 nous amènent à poser plusieurs questions :

- Comment concilier produits typologiquement Levallois et fort indice laminaire ? Ceci pourrait être lié à l'existence de deux conceptions de débitage différenciées.

- Les produits Levallois mentionnés par ces auteurs proviennent-ils bien d'un schéma Levallois ?

- La production "Levallois" a t-elle été réalisée *in situ* ou y a t-il eu uniquement importation de produits ? Dans ce cas quelle est la nature de la production réalisée sur place ?

- La production des supports bifaciaux est-elle indépendante de la production de supports débités ? A t-elle été réalisée sur le site même ?

### 2.2 - Les conceptions qui régissent la production lithique

Nous avons été confrontés à quelques difficultés pour restituer de façon détaillée les schémas de production mais surtout leur déroulement dans l'espace. La rareté des nucléus, la forte transformation et fragmentation des supports ainsi que l'absence de certaines phases ont été les principaux obstacles. Le même constat s'applique aux productions bifaciales.

La rareté des nucléus (26 entiers et 3 fragments d'après P. Callow) et en corollaire leur inadéquation avec le volume des produits débités pose immédiatement le problème du lieu ou des lieux de production. Ce problème est amplifié si on écarte les nucléus qui ne présentent qu'un nombre limité de négatifs d'enlèvements. La lecture technique a en outre été rendue
difficile par la forte réduction de certains nucléus ou par leur fracturation. Il nous a cependant
été possible de distinguer trois conceptions de débitage mises en œuvre par les occupants de la
couche 5 de La Cotte de St. Brelade.

2.2.1 - Production Levallois, méthode récurrente

L'analyse des nucléus montre que les critères techniques de définition d'une production
de conception Levallois sont présents (Boëda, 1993, 1994). Une partie des nucléus présente
deux surfaces asymétriques hiérarchisées dont l'intersection définit un plan (fig. 74 et 75). On
distingue d'une part des enlèvements dont l'orientation est sécante par rapport à ce plan
d'intersection et qui ont un rôle prédéterminant et d'autre part des enlèvements orientés
parallèlement à ce plan qui sont prédéterminés et prédéterminants.

Cependant, on observe une forte variété d'états techniques.

Cas 1 : Plusieurs négatifs d'enlèvements prédéterminés de direction parallèle ou sub-
parallèle, uni- ou bipolaires sont visibles. Il est impossible d'estimer la production antérieure
mais elle a pu être importante (fig. 74, n°1 et 2, fig. 75, n°1 et 5). Dans un cas, les négatifs
sont orthogonaux (fig. 75, n°5).

Cas 2 : Un seul voire deux négatifs d'enlèvements prédéterminés sont encore visibles
car :

- un unique enlèvement prédéterminé a été débité après un réaménagement complet des convexités par de petits enlèvements centripètes (fig. 74, n°3, fig. 75, n°3). Il est impossible d'estimer la production antérieure mais elle a pu être importante.

- sur la surface de débitage sont encore présentes des portions résiduelles de la face inférieure d'éclat utilisée comme surface de débitage. Un nombre très réduit d'enlèvements prédéterminés, de petit module, a donc été produit (fig. 74, n°4, fig. 75, n°2).

- le nucléus a été abandonné après un réaménagement complet des convexités par de petits enlèvements centripètes qui a oblitéré les précédents négatifs d'enlèvements prédéterminés (fig. 75, n°4).

Les derniers produits obtenus sur ces nucléus sont de petite dimension (au maximum 5 cm de longueur), certains à négatifs de direction parallèle sur la face supérieure, d'autres à négatifs centripètes et enfin certains Kombewa ou partiellement Kombewa.

En phase finale d'exploitation, se superposent à ces situations deux types de déviation
par rapport à la structure Levallois. Dans quelques cas, sur un nucléus Levallois devenu très
mince, le rôle des surfaces s'inverse. On note ainsi une inversion du plan de frappe sur une
portion limitée du nucléus et le débitage d'un éclat sur l'ancienne surface de plan de frappe
(fig. 74, n°4, fig. 75, n°2). On note un cas anecdotique d'extension du débitage sur la tranche
du nucléus Levallois (fig. 75, n°1). Il en résulte un produit laminaire courbe et outrepassant.
Ce procédé, en rupture avec la conception Levallois, a été rendu possible par l'orientation
défectueuse du plan de frappe.

Les caractéristiques des nucléus plaident en faveur d'une (ou de) méthode(s) Levallois de type récurrente.

L'analyse des produits apporte un complément essentiel pour restituer le ou les
schémas Levallois utilisés. Nous avons effectué une analyse systématique des supports
Levallois, transformés ou bruts, et isolés comme tels par P. Callow, complétée par celle de
supports Levallois, le plus souvent fragmentaires, que nous avons identifiés dans les sachets
étiquetés "déchets". Une fraction de produits Levallois peu typiques, de dimension réduite par
exemple, a pu échapper à ce tri extractif. Ceci représente un total de 101 produits ou sous-
produits caractéristiques du débitage Levallois parmi lequel on peut distinguer deux
<figure><img src="image_96.png" /><figcaption>Fig. 74 : La Cotte de St. Brelade, couche 5. Nucléus Levallois.</figcaption></figure>
<figure><img src="image_97.png" /><figcaption>Fig. 75 : La Cotte de St. Brelade, couche 5. Nucléus Levallois.</figcaption></figure>
ensembles (tabl. 28). Cette production Levallois ne représente que 7,5 % du total des vestiges présenté par P. Callow.

<table><thead><tr><th rowspan="2"></th><th colspan="4">Ensemble 1</th><th>Ens. 2</th></tr><tr><th>Eclat<br>Levallois<br>récurrent<br>parallèle</th><th>Eclat<br>Levallois<br>récurrent<br>parallèle<br>débordant</th><th>Eclat<br>Levallois<br>récurrent<br>parallèle à<br>dos nat.</th><th>Eclat<br>allongé à<br>pan naturel</th><th>Eclat<br>Levallois<br>récurrent<br>centripète<br>(?)</th></tr></thead><tbody><tr><th>Brut</th><td>19</td><td>5</td><td>1</td><td>4</td><td>8</td></tr><tr><th>Retouché</th><td>32</td><td>7</td><td>7</td><td>9</td><td>6</td></tr><tr><th>Indéterminé*</th><td>3</td><td>1</td><td>0</td><td>0</td><td>0</td></tr><tr><th>Total</th><td>54</td><td>13</td><td>8</td><td>13</td><td>14</td></tr></tbody></table>

<caption>Tabl. 28 : La Cotte de St. Brelade, couche 5. Distribution en deux ensembles des produits et sous-produits Levallois, entiers ou fragmentés.</caption>

Le premier ensemble est composé d'éclats Levallois de morphologie globalement quadrangulaire qui sont les plus abondants. Leur module est variable mais ils sont assez allongés sans toutefois être laminaires. Les négatifs d'enlèvements prédéterminés / prédéterminants sur la face supérieure sont de direction parallèle et/ou centripète (fig. 77, n°2 à 13). Certains sont débordants (Beyries, Boëda, 1983) ou à dos naturel (fig. 78, n°2, 4 et 5). Nous incluons aussi dans cet ensemble des produits allongés qui ont un pan naturel. Bien que l'on ne puisse pas les nommer Levallois, leur morphologie suggère un lien avec la production Levallois (fig. 76, n°7, 9, 10 et 11, fig. 77, n°1).

Le second ensemble est nettement minoritaire. Il regroupe des éclats Levallois, courts et assez larges à la base, qui portent sur leur face supérieure plusieurs négatifs de direction non parallèle. Certains sont de type "pointe pseudo-Levallois" (fig. 78, n°6 à 12).

A ce stade de l'analyse, on peut dire que les éléments du premier ensemble, confrontés aux caractères des nucléus, évoquent un débitage Levallois récurrent parallèle. La figure 79 présente les caractéristiques techniques plus détaillées des éléments du premier ensemble.

Sur ces bases, nous pouvons reconstituer les étapes du schéma de débitage.

## Sélection

Les informations sont limitées par la faible part des produits corticaux dans l'assemblage, ainsi que l'a montré P. Callow. Plusieurs modes d'acquisition sont cependant envisageables. Le silex a essentiellement été collecté sous forme de galets dans les cordons de plage actifs mais il y a quelques éléments dont le cortex n'est pas roulé. L'exploitation de gîtes primaires ou peu évolués est donc aussi envisageable.

Les éclats Levallois à dos cortical et les éclats allongés à pan cortical montrent ainsi que le débitage Levallois a été mené sur des galets de silex ou plus rarement des rognons.

L'existence de quelques éclats Levallois ou sous-produits Levallois Kombewa (fig. 76, n°6 et 8) peut laisser suspecter la production de gros éclats sur les gîtes mêmes.

## Initialisation

Il faut envisager l'utilisation de deux modes d'initialisation distincts. Une initialisation de type centripète a été utilisée ainsi que l'attestent à la fois certains éclats Levallois de technotype C (fig. 79) (fig. 76, n°3 et 4) et ceux de technotype D (fig. 79) qui portent encore, sur un de leurs flancs, des portions de négatifs de direction centripète (fig. 77, n°7 et 9). Cependant, certains des éclats Levallois de technotype C peuvent avoir été produits en fin

<footnote>* Pièces dont le caractère anthropique de la retouche est douteux</footnote>
<figure><img src="image_98.png" /><figcaption>Fig. 76 : La Cotte de St. Brelade, couche 5. Produits et sous-produits du débitage Levallois.</figcaption></figure>

1, 2, éclats ordinaires (ouverture plan de frappe ?) ; 3, 4, éclats Levallois de type 1 (?) ; 5, éclat Levallois de type 1 débordant ; 6, éclat Levallois de type 1 kombewa à dos naturel (?) ; 8, éclat Levallois de type 1 kombewa ; 7, 9, 10, 11, éclats allongés d'initialisation de surface Levallois à pan naturel.
<figure><img src="image_99.png" /><figcaption>Fig. 77 : La Cotte de St. Brelade, couche 5. Produits et sous-produits du débitage Levallois.</figcaption></figure>

1, éclat allongé à pan naturel d'initialisation de surface Levallois ; 2, 3, 4, 5, 6, 8, 11, éclats Levallois de type 3 ; 7, 9, éclats Levallois de type 2 ; 10, 12, 13, éclats Levallois de type 3 avec négatifs de reprise des convexités latérales par des enlèvements centripètes.
<figure><img src="image_100.png" /><figcaption>Fig. 78 : La Cotte de St. Brelade, couche 5. Produits et sous-produits du débitage Levallois.</figcaption></figure>

1, éclat Levallois de type 3 avec négatif de reprise de convexités latérales ; 2, éclat Levallois de type 3 débordant avec négatif de reprise de convexités latérales ; 3, éclat Levallois outrepassé ; 4, éclat Levallois de type 2 débordant ; 5, éclat Levallois à dos naturel ; 6 à 12, éclats "pseudo-Levallois".
<table><thead><tr><th></th><th></th><th>Normal</th><th>Débordant<br>classique</th><th>A dos<br>naturel</th><th>Total</th></tr></thead><tbody><tr><td>A</td><td>Eclat allongé à pan naturel</td><td>13</td><td></td><td></td><td>13</td></tr><tr><td>B</td><td>Eclat allongé à un pan et dos naturel</td><td></td><td></td><td>2</td><td>2</td></tr><tr><td>C</td><td>Eclat Lev. de type 1</td><td>5</td><td>1</td><td>0</td><td>6</td></tr><tr><td>D</td><td>Eclat Lev. de type 2 ou 3 avec négatifs de prép. centripète</td><td>8</td><td>3</td><td>1</td><td>12</td></tr><tr><td>E</td><td>Eclat Lev. de type 3</td><td>30</td><td>4</td><td>5</td><td>39</td></tr><tr><td>F</td><td>Eclat Lev. de type 3 avec réaménag. convexités latérales</td><td>6</td><td>2</td><td>0</td><td>8</td></tr><tr><td>G</td><td>Eclat Lev. autre</td><td>2</td><td>0</td><td>1</td><td>3</td></tr><tr><td>H</td><td>Eclat Lev. indéterminé</td><td>3</td><td>1</td><td>1</td><td>5</td></tr><tr><td></td><td>Total</td><td>67</td><td>11</td><td>10</td><td>88</td></tr></tbody></table>

<table><tr><td>Total éclat Lev. non débordant</td><td>51</td><td>61%</td><td>73%</td></tr><tr><td>Total éclat Lev. débordant (classique, à dos nat.)</td><td>19</td><td>23%</td><td>27%</td></tr><tr><td>Total Levallois</td><td>70</td><td></td><td>100%</td></tr><tr><td>Total éclat allongé d'initialisation</td><td>13</td><td>16%</td><td></td></tr><tr><td>Total prod. et ss. prod du schéma Lev. réc. parallèle</td><td>83</td><td>100%</td><td></td></tr></table>

(Hors indéterminés)

<figure><img src="image_101.png" /><figcaption>Fig. 79 : La Cotte de St. Brelade, couche 5. Décompte technologique de la production Levallois récurrente (les schémas illustrent les technotypes A, B, C, D, E et F du tableau).</figcaption></figure>
d'exploitation, après réaménagement complet des convexités par des enlèvements centripètes, ainsi que nous l'avons remarqué sur certains nucléus. Les éclats allongés à pan naturel doivent probablement être mis au compte d'une initialisation uni- ou bipolaire parallèle (fig. 76, n°7, 9, 10 et 11). La distribution des largeurs de ces éclats est comparable à celle des éclats Levallois (fig. 80c). Les éclats Levallois débordants à dos naturel, aussi nombreux que les débordants classiques, prouvent que sur une part importante des nucléus exploités selon ce schéma récurrent parallèle, les plans de frappe latéraux n'ont été ni ouverts, ni utilisés.

<figure><img src="image_102.png" /><figcaption>Fig. 80 : La Cotte de St. Brelade, couche 5. Distributions de la largeur et de l'épaisseur des éclats prédéterminés.</figcaption></figure>

## Réalisation

Les produits Levallois sont assez réguliers, d'un module moyen à petit. La distribution des largeurs des éclats Levallois non débordants, centrée sur la classe 30/34 mm, est régulière à l'exception d'un pic sur la classe de largeur 45/49 mm (fig. 80c). L'exploitation est menée en séries parallèles principalement unipolaires. Une part limitée (12%) de l'ensemble des éclats Levallois présente des négatifs bipolaires (fig. 77, n°8). De rares éclats évoquent la succession de séries orthogonales.

L'entretien ou la réfection des convexités latérales sont assurés par plusieurs procédés. Celui du débordement est très fréquemment employé. Il en résulte des éclats débordants
classiques (fig. 78, n°2 et 4) et des éclats Levallois à dos naturel (fig. 78, n°5) qui représentent 27% des produits Levallois (fig. 79). Ce procédé semble alterner (?) avec de petits enlèvements centripètes sécants dont les négatifs sont présents sur près de 10% de l'ensemble des produits Levallois.

De rares éclats Levallois portent, en partie distale, les négatifs de petits enlèvements d'orientation sécante destinés à rectifier les convexités distales. L'alternance bipolaire des séries, rarement utilisée ici, est aussi un moyen de contrôle de ces convexités distales.

Les produits Levallois du second ensemble (fig. 78, n°6 à 12) s'insèrent difficilement dans ce schéma Levallois récurrent parallèle. Nous envisageons deux origines possibles pour ces produits. Ils peuvent provenir d'un débitage Levallois récurrent centripète dont nous n'avons pas de trace évidente sur les nucléus ou avoir été obtenus de façon ponctuelle dans un schéma récurrent parallèle, peut-être lors du réaménagement des convexités ou d'un changement dans la direction du débitage. Il est ainsi difficile d'affirmer qu'il s'agit de produits de première intention. Cette production, si elle est réellement autonome, reste marginale.

*Production in situ ou importation ?*

La présence dans la cavité de nucléus et de sous-produits du débitage Levallois montre qu'au moins une partie de celui-ci a été réalisée sur place. Quelques accidents intervenus au cours du débitage renforcent cette hypothèse (fig. 78, n°3).

La faible part des éclats à larges surfaces corticales (moins de 6 % des éclats ont plus de 50 % de cortex sur leur face supérieure d'après P. Callow) et la rareté des éclats corticaux de grande dimension tend à montrer que le nombre de nucléus initialisés dans la cavité est probablement restreint. Par contre, faute de modèle quantifié, il est difficile de dire si le nombre des produits Levallois est en adéquation avec celui des nucléus Levallois. La rareté des éclats débordants (classiques ou à dos naturel) dans la classe de largeur 40/44 mm et au-delà, alors que des éclats Levallois non débordants ont ce gabarit (fig. 80c), évoque l'introduction possible de ces derniers. Enfin, la présence parmi l'assemblage de quelques outils sur support Levallois en matière première rare (silex jurassique du Cotentin), alors que les sous-produits ou nucléus en cette matière font défaut, prouve l'introduction de produits Levallois.

Il semble donc qu'il y ait eu à la fois production in situ et importation, mais il est difficile d'estimer leurs contributions relatives. Un débitage Levallois récurrent réalisé sur place aurait complété une panoplie de supports Levallois importés bruts ou déjà transformés. Ces derniers ont pu être produits sur les gîtes ou sur d'autres sites.

### 2.2.2 - Production laminaire non-Levallois

Dès le début de l'étude, le caractère allongé et l'épaisseur importante de certains supports avaient suscité notre interrogation. Représentaient-ils une production indépendante du débitage Levallois récurrent ? P. Callow (1986c) avait signalé le fort allongement de certains outils comme les pointes moustériennes.

Il existe dans l'assemblage, en particulier parmi les outils, une réelle composante laminaire (fig. 81, n°2 à 5). Au premier abord, l'aspect de ces produits est Levallois : négatifs multiples, régularité des bords et des nervures,... Cependant leurs caractères techniques les rendent incompatibles avec un schéma de débitage Levallois. L'épaisseur de ces produits laminaires est élevée. La distribution de ces épaisseurs, centrée sur la classe 16-17 mm, se distingue totalement de la distribution des épaisseurs des produits du débitage Levallois de
<figure><img src="image_103.png" /><figcaption>Fig. 81 : La Cotte de St. Brelade, couche 5. Produits laminaires non-Levallois.</figcaption></figure>
cette couche (fig. 80b). La largeur est cependant très comparable à celle des produits
Levallois<fnref n="46" /> (fig. 80d). Ces caractéristiques morphométriques impliquent que ces produits aient
été extraits d'une surface de débitage à la convexité transversale nettement plus accentuée que
celle d'une surface Levallois. La forte courbure longitudinale de certains de ces produits
laminaires est en outre incompatible avec un débitage Levallois. Les sections de quelques-uns
de ces produits illustrent bien la forte convexité transversale du volume dont ils sont extraits
(fig. 81). Les modalités de production de ces lames sont difficiles à cerner. En effet, l'intensité
de la transformation qu'elles ont subie a souvent réduit ou oblitéré les négatifs d'enlèvements
antérieurs. Nous avons relevé et représenté sous forme de schémas diacritiques les directions
de ces négatifs, lorsque ceci était possible, afin de comprendre le schéma de débitage (fig. 82).
Une seule lame présente des négatifs correspondant au dégagement d'une crête pour guider le
premier enlèvement (fig. 82, n°18). Sur plusieurs lames, on note la présence de négatifs
d'éclats de direction orthogonale ou oblique à l'axe de débitage de la lame. Ces enlèvements
qui précédent le débitage laminaire ou s'y intercalent se sont développés sur les flancs du
nucléus et sont donc issus soit de crêtes latérales ou postéro-latérales soit de la partie
postérieure d'un plan de frappe très incliné. Dans un cas au moins, ils ont contribué à mettre
en place les convexités nécessaires au débitage (fig. 82, n°1). Une pièce relate le débitage d'un
gros éclat sur sa tranche sans toutefois être la première lame extraite (fig. 81, n°3). Le
débitage est essentiellement mené à partir d'un unique plan de frappe.

Nous avons isolé quelques nucléus dont la structure est significativement différente
des nucléus Levallois (fig. 83, n°1, 2 et 3 ; fig. 84). Ils sont de morphologie prismatique ou
sub-pyramidale à un plan de frappe, orthogonal ou sub-orthogonal. Sur chacun des nucléus,
on observe des tentatives successives de débitage d'enlèvements dans l'axe d'allongement du
nucléus à partir du plan de frappe. Dans deux cas, cette tentative se place sur la tranche du
nucléus. Les produits extraits de ces nucléus très réduits ne peuvent être qualifiés de "lames".
Cependant, sur le plus volumineux de ces nucléus (fig. 84), si les produits débités sur la
tranche (rang 5 à 9) n'avaient pas rebroussé, le débitage aurait donné de petites lames
d'environ 60 mm de long. Parmi les vestiges, les produits compatibles avec les nucléus
semblent rares (fig. 81, n°1). La productivité de ces nucléus est assurément faible, voire nulle.
Les produits laminaires non Levallois que nous avons présentés sont, par leur module,
incompatibles avec ces nucléus et il n'y a, dans la série, aucun produit intermédiaire pour
argumenter en faveur de réductions successives des nucléus. Bien qu'il soit difficile de
qualifier ces nucléus de laminaires, ils pourraient représenter une application diminutive d'un
concept de débitage laminaire.

Les lames n'ont donc pas été débités sur place mais introduites brutes ou retouchées
dans la cavité. Elles sont d'ailleurs peu nombreuses (23 pièces au minimum<fnref n="47" />, soit 1,7 % du
total des vestiges de silex).

2.2.3 - Production débitée de conception autre

Si l'on écarte les nucléus relevant des conceptions décrites ci-dessus et quelques
nucléus pour lesquels nous n'avons pas reconnu d'organisation des enlèvements susceptibles
de refléter une conception de débitage particulière, il reste au moins un nucléus dont
l'organisation des enlèvements mérite d'être documentée (fig. 83, n°4). Le volume de départ

<footnote n="46">⁴⁶ La plupart des produits laminaires étant retouchés, les mesures de largeur sont indicatives. Il convient ainsi de considérer que la courbe de distribution des largeurs des produits à l'état brut peut probablement être décalée au minimum d'une classe (5 mm) vers les valeurs hautes.</footnote>

<footnote n="47">⁴⁷ Certains objets très retouchés ont un gabarit laminaire mais l'intensité de la retouche est telle que plus aucun négatif d'enlèvement antérieur à la retouche n'est visible. Nous avons alors considéré le support comme "éclat indéterminé" et non comme "lame non Levallois". Le décompte des lames est donc un minimum.</footnote>
<figure><img src="image_104.png" /><figcaption>Fig. 82 : La Cotte de St. Brelade, couche 5. Schémas diacritiques de produits laminaires non-Levallois (en grisé, les parties retouchées).</figcaption></figure>
<figure><img src="image_105.png" /><figcaption>Fig. 83 : La Cotte de St. Brelade, couche 5. Nucléus.</figcaption></figure>

1, 2, 3, nucléus de morphologie prismatique ou sub-pyramidale ; 4, nucléus exploité selon un schéma algorithmique.
<figure><img src="image_106.png" /><figcaption>Fig. 84 : La Cotte de St. Brelade, couche 5. Nucléus de conception laminaire (?).</figcaption></figure>
est un galet de silex dont la longueur atteint encore 56 mm. Des éclats ont été débités sur chacune des deux faces, selon trois directions de débitage. L'examen de l'ordre de débitage montre que celui-ci s'organise selon une méthode algorithmique : ouverture d'un plan de frappe / débitage d'une courte série d'éclats de direction sub-parallèle. En l'état d'abandon, quatre répétitions de la séquence algorithmique sont observables : A : 1//2, 3 ; B : ?//4, 5, 6 ; C : 4//8, 9, 11 à 14 ; D : 7-14//15 à 17.

Ce schéma de débitage se rapproche d'une conception de débitage "clactonienne" (Forestier, 1993). Cependant, à l'appui d'un unique nucléus, nous nous limiterons à évoquer cette similitude. A l'échelle de l'assemblage de la couche 5, cette production débitée reste marginale et les produits qui en dérivent, difficiles à identifier.

### 2.2.4 - Productions bifaciales

Dans cette industrie, plusieurs obstacles limitent la reconstitution des schémas de façonnage. L'effectif réduit, tant des produits bifaciaux que des sous-produits de façonnage, rend difficile la distinction entre schéma général et cas particulier. Du fait des dimensions restreintes de ces objets, les enlèvements de la phase de confection occupent parfois de larges portions de surfaces, ce qui oblitère les négatifs relatifs à la construction du volume bifacial. Enfin, certaines pièces bifaciales ont subi des transformations majeures qui dénaturent leur structure originelle.

Malgré ces limites, il est néanmoins possible de discerner des constructions volumétriques différenciées qui traduisent l'utilisation de plusieurs schémas de façonnage.

La production bifaciale de la couche 5 comprend 17 pièces bifaciales auxquelles s'ajoute un large fragment (éclat outrepassé) que nous prenons en compte. Un nombre très limité de sous-produits a pu être rapproché de cette production : trois éclats de façonnage, quatre éclats de retouche bifaciale ainsi qu'un éclat de troncature d'une pièce bifaciale partielle. Ces pièces bifaciales sont de petite dimension. Elles ont, à une exception près, entre 35 et 80 mm de longueur.

#### Schéma 1 : façonnage total, élaboré, de bifaces (N=4) (fig. 85)

Nous rattachons quatre pièces à ce schéma : un éclat outrepassé emportant la partie apicale d'un biface, une pièce bifaciale foliacée étroite et deux portions résiduelles de bifaces (?) amputées par des réaménagements. Elles présentent les stigmates d'un façonnage étendu, régulier, probablement mené par percussion tendre. Leur structure oppose une face plane ou biplane à une surface convexe ou plan-convexe. La hiérarchie des surfaces est cependant variable. Dans un cas, la surface plane a été façonnée la dernière. Il y a donc clairement la recherche d'une structure volumétrique bifaciale mais l'état technique des objets nous empêche de faire la part entre variations structurales et variétés structurales. Le caractère élaboré du façonnage est néanmoins caractéristique de ce groupe. On peut rapprocher ces pièces d'un biface de type cordiforme, signalé par P. Callow, dans la collection issue des fouilles de Burdo, très probablement issu de la couche 5 (Callow, Cornford, ed., 1986, fig. 26.40).

#### Schéma 2 : façonnage partiel, soigné, de pièces bifaciales (N=3) (fig. 85)

Trois objets, tous façonnés sur éclat de gel, représentent ce schéma. La face inférieure de l'éclat de gel est la première traitée par un façonnage très partiel, strictement unilatéral. L'autre face est partiellement ou totalement façonnée avant la phase de confection. La structure est plan / plan-plan ou plan / convexe-plan. La hiérarchie du façonnage est toujours
<figure><img src="image_107.png" /><figcaption>Fig. 85 : La Cotte de St. Brelade, couche 5. Structures volumétriques et/ou éléments techniques stables des schémas de façonnage 1, 2 et 3. Faute d'élément technique stable, le schéma 4 n'est pas représenté. (en tramé, affûtage et stigmates de reprise du volume bifacial)</figcaption></figure>
la même. Deux des pièces présentent une symétrie par rapport au plan sagittal contrairement à la troisième. Pour celle-ci, une évolution de la forme pourrait expliquer cette asymétrie sagittale.

Même si le façonnage est soigné, il s'agit d'une expression restreinte du concept bifacial puisque l'impact du façonnage sur le volume initial est réduit. Après l'analyse des outils sur ce type de supports, nous discuterons de l'existence réelle d'une structure volumétrique bifaciale associée à ce schéma de façonnage.

### Schéma 3 : façonnage total, peu élaboré, de pièces bifaciales (N=3) (fig. 85)

Trois pièces bifaciales de petite dimension s'individualisent par leur structure et le procédé de façonnage mis en œuvre. La structure est de type plan-plan / plan-plan et les faces sont presque parfaitement hiérarchisées par un façonnage successif. Le point principal est l'utilisation d'une technique de percussion probablement dure ou du moins dont le point d'impact est nettement en retrait du bord. Le lien entre cette technique de percussion, la structure et l'épaisseur assez importante des produits est clair.

### Schéma 4 : façonnage partiel, peu élaboré, de pièces bifaciales sur éclat (N=7)

Ce schéma, le plus représenté, est aussi le moins homogène. Des éclats de module et de morphologie variés subissent un aménagement bifacial du volume, en général partiel et irrégulier. Seules quelques portions de surfaces reçoivent un façonnage plus soigné, préalable à l'affûtage des tranchants des secteurs concernés. Des portions du volume initial subsistent à l'état non façonné. La retouche se limite parfois à ces portions. Il n'y a donc pas de structure volumétrique bifaciale fixe.

Aux effectifs de ces quatre schémas s'ajoute un bifice dont la structure a été oblitrée par un accident de taille (outrepassage) (Callow, Cornford, ed., 1986, fig. 26.39).

Les relations entre façonnage et débitage au strict niveau de la production sont minimales. Une part importante des supports bifaciaux est façonnée à partir de volumes qui ne sont pas issus d'un débitage (tabl. 29). Lorsqu'ils le sont, ils semblent plus des sous-produits du débitage que des produits de première intention. Il n'y a pas de débitage d'éclats spécifiquement destinés à être façonnés. Seules les pièces bifaciales du schéma 4 ont été exclusivement façonnées à partir d'éclats qui sont pour la plupart des sous-produits de débitage.

<table><caption>Tabl. 29 : La Cotte de St. Brelade, couche 5. Nature des volumes de silex façonnés en fonction des schémas de façonnage identifiés.</caption><thead><tr><th></th><th>Indéterminé</th><th>Rognon ou fragment de rognon</th><th>Eclat de gel</th><th>Eclat ordinaire</th><th>Eclat indéterminé</th></tr></thead><tbody><tr><td>Schéma 1</td><td>3</td><td>1</td><td>0</td><td>0</td><td>0</td></tr><tr><td>Schéma 2</td><td>0</td><td>0</td><td>3</td><td>0</td><td>0</td></tr><tr><td>Schéma 3</td><td>0</td><td>2</td><td>0</td><td>1</td><td>0</td></tr><tr><td>Schéma 4</td><td>0</td><td>0</td><td>0</td><td>2</td><td>5</td></tr><tr><td>Schéma indéterminé</td><td>0</td><td>1</td><td>0</td><td>0</td><td>0</td></tr><tr><td>Total</td><td>3</td><td>4</td><td>3</td><td>3</td><td>5</td></tr></tbody></table>

Bien que la production bifaciale soit globalement mineure, il est important de chercher à reconstituer son déroulement dans l'espace. Comme nous l'avons noté, les sous-produits de façonnage sont anecdotiques. Même si on envisage que les fractions les plus petites de ces éléments n'ont pas été recueillies, faute de tamisage, et que le façonnage partiel de certaines
pièces a donné peu de sous-produits, il est logique de penser qu'une part importante des activités de façonnage des pièces bifaciales a eu lieu en dehors de la cavité et que les pièces bifaciales, en particulier celles issues des schémas 1 et 2, ont été introduites déjà façonnées. Il est plus difficile de se prononcer pour les schémas 3 et 4. En effet, les sous-produits de façonnage dans le schéma 3 sont certainement difficiles à distinguer d'éclats ordinaires du fait de leur technique de détachement qui met en jeu la percussion interne dure. Quant au schéma 4, il n'a probablement donné que de très petits éclats de façonnage, non recueillis à la fouille.

### 2.2.5 - Synthèse sur les systèmes de production

L'industrie lithique de la couche 5 de La Cotte de St. Brelade pourrait être considérée comme originale car la production met en jeu trois conceptions différentes et indépendantes : débitage Levallois récurrent parallèle, débitage laminaire non Levallois et façonnage de pièces bifaciales variées. Ceci est un minimum car nous n'avons pas pris en compte le matériel en quartz, aussi abondant que celui en silex. Cette situation n'est cependant pas exceptionnelle pour cette période, entre la fin du stade 7 et le début du stade 6. On prendra pour exemple la série B du Pucheuil où A. Delagnes (Delagnes, Ropars dir., 1996) a décrit quatre conceptions dans la production lithique.

## 2.3 - Les conceptions régissant la confection et l'utilisation des produits lithiques

En prenant en compte les observations d'ordre taphonomique précédemment mentionnées (cf. § 1.6), nous avons choisi d'écarter près d'une centaine de pièces, intégrées lors de la précédente étude dans les inventaires typologiques. L'existence de pièces aux arêtes très nettement émoussées et bords esquillés rend très délicate, voire vaine, la distinction entre transformations anthropiques à faible degré d'élaboration et modifications d'origine naturelle. P. Callow (1986c, p. 297) a inventorié dans cette couche 17% de pièces à retouches irrégulières (types 45-50), fréquence qu'il considère faible en regard des déplacements évidents des vestiges.

Ont ainsi été écartées de notre analyse techno-fonctionnelle les pièces aux transformations clairement naturelles (écrasement des arêtes, stries sur les surfaces,...), celles dont l'organisation des transformations n'a pu être perçue ainsi que celles dont le faible degré de transformation et d'élaboration ne permettait pas d'assurer leur origine anthropique.

### 2.3.1 - Groupe 0 : Les pièces à tranchant brut

Le premier groupe fonctionnel est constitué par les productions brutes de débitage. Il faut estimer la part de ces produits dans l'assemblage de la couche 5 puis donner les principaux caractères de ces outils potentiels, non retouchés. Nous n'avons pas effectué de décompte de l'ensemble des produits bruts de débitage mais nous pouvons nous appuyer sur les données de P. Callow.

Un des caractères propre à chacun des niveaux paléolithiques de La Cotte de St. Brelade est la forte proportion de vestiges lithiques fortement retouchés. En corollaire, les produits bruts de débitage sont proportionnellement moins nombreux. D'après P. Callow, les éclats et fragments d'éclats bruts représentent près de la moitié du total des vestiges en silex (tabl. 26). Les produits et sous-produits bruts caractéristiques du débitage Levallois, entiers ou fragmentés, sont rares (fig. 79) mais ils constituent les produits bruts de plus grande dimension de l'assemblage. De très exceptionnels éclats ordinaires, semi-corticaux ou non, atteignent 50 à 70 mm de longueur maximale. La fraction brute de l'assemblage en silex est
donc essentiellement constituée d'éclats ou fragments d'éclats ordinaires de dimension réduite, principalement des sous-produits non caractéristiques du débitage Levallois mené sur le site.

Nous n'avons pas relevé les caractéristiques fonctionnelles (angle de coupant en particulier) des produits Levallois bruts. Elles ne sont a priori pas différentes de celles documentées sur la production techniquement équivalente de Mesvin IV (cf. chap. VI, § 2.4.1.2) bien que les éclats Levallois y soient de taille supérieure en moyenne. Il s'agit principalement d'éclats allongés à fils coupant linéaires et angle de coupant aigu ou très aigu.

A l'état brut, les produits issus du schéma de débitage laminaire diffèrent des produits Levallois sur le plan de leurs caractéristiques fonctionnelles. Outre un allongement marqué, l'épaisseur importante de ces produits, pour une largeur comparable aux éclats Levallois, les dote, à l'état brut, d'angles de coupant en moyenne plus élevés que pour les produits Levallois bruts, probablement à la limite des classes aiguë et intermédiaire. Néanmoins de très rares supports laminaires subsistent à l'état brut dans l'assemblage.

## 2.3.2 - Groupe 1 : Les pièces à coup de tranchet latéral

Dans son analyse, P. Callow a considéré les pièces à coup de tranchet latéral comme caractéristiques des couches A et 5, bien qu'à un moindre degré pour la couche 5. Comme dans l'assemblage de Mesvin IV, nous nous appuyons sur ce procédé d'aménagement particulier pour individualiser le premier groupe fonctionnel. La coexistence de pièces bifaciales et d'éclats à coup de tranchet latéral nous conduit à réitérer les questions soulevées lors de l'analyse de telles pièces dans l'assemblage de Mesvin IV. Ces deux types d'objets se distinguent-ils réellement sur des bases fonctionnelles ?

L'analyse porte sur un ensemble de 25 pièces à coup de tranchet et 25 chutes de coup de tranchet<fnref n="48" />. Parmi les 25 pièces à coup de tranchet, cinq ont pour support une pièce bifaciale et 20, un éclat. Nous avons écarté de l'étude un éclat Levallois présentant deux coups de tranchet juxtaposés que nous considérons comme avortés du fait de leur extension très réduite et de leur caractère rebroussé (fig. 77, n°11).

### 2.3.2.1 - *Structure technique globale*

Contrairement à la situation décrite pour les pièces à coup de tranchet de la série de Mesvin IV, nous n'avons pu ici mettre en évidence de récurrence dans la nature, la position et l'organisation des éléments techniques de ces objets. Au-delà de l'élément technique fédérateur que constitue le coup de tranchet lui-même, aucune structure spécifique ne les caractérise. Les éléments techniques autres que le coup de tranchet ne montrent aucun lien structural et fonctionnel avec ce dernier. On s'interroge donc sur leur statut par rapport au coup de tranchet latéral qui constitue indéniablement un bord actif particulier (UTF de CT).

### 2.3.2.2 - *Les supports des pièces à coup de tranchet latéral*

Les supports de ces pièces sont significativement variés et aucune préférence ne s'exprime (tabl. 30). Toutes les catégories de supports sont représentées à l'exception des éclats de gel. Tout au plus peut-on noter une sur-représentation des sous-produits Levallois débordants ou à dos naturel par rapport aux produits Levallois sur la base de leur part respective dans le total de la production (fig. 79). Parmi les pièces bifaciales, dans un échantillon pourtant restreint, seul le schéma de façonnage 2 (cf. *supra*, § 2.2.4) n'est pas représenté.

<footnote n="48">⁴⁸ L'outillage de la couche 5 que nous avons étudié ne contenait pas la pièce bifaciale à coup de tranchet et sa chute remontée, figurées dans la publication (Callow, Cornford, ed., 1986, Fig. 29.3).</footnote>
<table><caption>Tabl. 30 : La Cotte de St. Brelade, couche 5. Types de support des pièces à coup de tranchet latéral.</caption><thead><tr><th></th><th>Eclat-support</th><th>Pièce bifaciale support</th></tr></thead><tbody><tr><td>Rognon ou bloc</td><td></td><td>2</td></tr><tr><td>Indéterminé</td><td></td><td>1</td></tr><tr><td>Eclat indéterminé</td><td>4</td><td>2</td></tr><tr><td>Eclat ordinaire</td><td>4</td><td>0</td></tr><tr><td>Eclat Levallois à dos naturel</td><td>2</td><td>0</td></tr><tr><td>Eclat Levallois débordant</td><td>2</td><td>0</td></tr><tr><td>Eclat Levallois</td><td>5</td><td>0</td></tr><tr><td>Lame non-Levallois</td><td>3</td><td>0</td></tr><tr><td>Total</td><td>20</td><td>5</td></tr></tbody></table>

Du point de vue morphométrique, les pièces bifaciales se différencient légèrement des éclats-supports. Elles sont en moyenne un peu moins longues (45 mm) que les éclats-supports (49 mm) mais un peu plus larges (34 mm contre 32 mm).

### 2.3.2.3 - Modalités techniques et caractéristiques fonctionnelles du procédé de coup de tranchet latéral

#### Le coup de tranchet latéral

Une troncature ou toute surface d'orientation équivalente est à la base de ce procédé d'aménagement. Elle assure le rôle de plan de frappe pour le détachement de la chute de coup de tranchet latéral et des enlèvements qui lui sont liés. La troncature est le procédé dominant pour les deux types de supports. Cependant, pour les éclats-supports, on observe une forte variété des situations d'où se dégage une impression d'opportunisme : des cassures et des talons parfois légèrement retouchés ou un pan de burin ont été utilisés à titre de plan de frappe. Le coup de tranchet peut être précédé d'un amincissement et/ou suivi d'une reprise de sa nervure interne. Cette situation est plus fréquente pour les éclats-supports que pour les pièces bifaciales. Sept pièces à coup de tranchet sur éclat-support présentent, à l'extrémité opposée au coup de tranchet, une troncature avec amincissement sur la face supérieure du support.

Le coup de tranchet peut être latéralisé à droite ou à gauche, en fonction de sa position sur le support. Les deux tendances s'équilibrent pour les pièces bifaciales tandis que la latéralisation à droite est deux fois plus fréquente sur les éclats-supports. Cette observation peut correspondre à une préférence. La longueur moyenne des négatifs des chutes de coup de tranchet et celle du fil coupant déterminé par le débordement de ces chutes sont comparables pour les pièces bifaciales ou les éclats-supports. La première est de 19/20 mm et la seconde 16 à 19 mm. L'UTF de CT1 mise en place par ce procédé de coup de tranchet a donc un fil coupant de faible étendue. Les négatifs des chutes sont un peu plus larges sur les pièces bifaciales (14 mm contre 9 mm). Ceci est à mettre en parallèle avec une plus forte largeur du support et peut-être une moindre convexité. L'angle de coupant de cette UTF de CT est assez variable (fig. 86). On observe deux pics dans la distribution. Le premier, entre 30/40°, est restreint tandis que le second, entre 45 et 65° regroupe la majorité des occurrences. Il n'y a pas de différence significative entre les valeurs relevées pour les pièces bifaciales et les éclats-supports. Le technotype de l'UTF de CT générée par le coup de tranchet est logiquement plan / plan (A/4Ø) pour les éclats-supports. Dans deux cas cependant, la présence d'une retouche bifaciale antérieure au coup de tranchet donne un technotype partiellement ou
totalement convexe / plan (2Ø/4Ø). Pour les pièces bifaciales, deux technotypes sont identifiés : plan / plan et concave / plan.

<figure><img src="image_108.png" /></figure>

Fig. 86 : La Cotte de St. Brelade, couche 5. A gauche, distribution des valeurs de l'angle de coupant pour l'UTF coup de tranchet des pièces du groupe 1 ; à droite, distribution des valeurs de l'angle de coupant relevées sur les chutes de coup de tranchet.

Nous avons confronté les données recueillies sur les pièces à coup de tranchet et sur les chutes elles-mêmes. Nous avons dénombré 25 chutes de coup de tranchet, entières ou fragmentées. Seules deux proviennent d'une pièce bifaciale. L'examen de la distribution des longueurs et largeurs des chutes de coup de tranchet entières, comparée à celle des négatifs sur les pièces à coup de tranchet, est particulièrement instructif (fig. 87). L'absence de chutes dont la longueur est inférieure à 20 mm, alors qu'existent de nombreux négatifs de cette dimension, correspond à un biais dû aux méthodes de fouille (absence de tamisage). On remarque aussi la coexistence de deux ensembles : l'un comprenant des négatifs et positifs (chutes) de petite taille, l'autre qui regroupe presque exclusivement des chutes de plus grande dimension. Ceci signifie qu'il manque, dans l'assemblage de la couche 5, les pièces à coup de tranchet, principalement sur éclat-support, qui correspondent aux grandes chutes de coup de tranchet (fig. 88, n°1 et 2). Ces pièces ont cependant été affûtées sur le site, puisque les chutes, sous-produits de cette étape, y ont été recueillies. Ceci est une information importante pour reconstituer le déroulement dans l'espace des schémas de confection et estimer la mobilité des outils.

On peut observer sur les chutes de coup de tranchet l'état du dièdre tranchant avant l'extraction de la chute. Dans un unique cas, il est brut de débitage. Dans les autres cas, la portion de bord est retouchée et évoque systématiquement par ses caractéristiques un bord actif, une UTF de CT. Il s'agit soit d'un négatif de coup de tranchet précédent, soit de retouches classiques, soit d'une succession de ces deux aménagements, le négatif du coup de tranchet est alors recoupé par un aménagement classique par retouches. Cette dernière situation témoigne donc de ré-affûtages du coup de tranchet latéral. Les technotypes de ces UTF de CT sont très variés mais le dernier rang de retouche a souvent un profil concave, donnant alors un technotype de dièdre plan / concave. Nous avons mesuré l'angle de coupant de ces reliques d'UTF de CT et l'angle de coupant résultant de l'extraction de la chute de coup
<figure><img src="image_109.png" /><figcaption>Fig. 87 : La Cotte de St. Brelade, couche 5. Diagramme longueur / largeur des positifs et négatifs de coup de tranchet latéral.</figcaption></figure>

de tranchet<fnref n="49" />. La distribution des valeurs est très comparable dans les deux cas bien que les valeurs soient plus dispersées pour le coup de tranchet (fig. 86). La distribution des valeurs de l'angle de coupant de l'UTF de CT sur les pièces à coup de tranchet ou sur les chutes est de même comparable (fig. 86). Le décalage de 5° entre ces deux distributions est certainement lié à un artefact dans la mesure de l'angle complémentaire sur les chutes de coup de tranchet.

Ces éléments montrent que les caractères fonctionnels antérieurs au coup de tranchet et ceux qui en résultent sont comparables en termes d'angle de coupant. La mise en œuvre du coup de tranchet ne semble donc pas correspondre à la recherche d'une UTF de CT spécifique mais plutôt à un ré-affûtage selon une modalité particulière.

## Le bord adjacent au coup de tranchet latéral

Lorsque l'extension du coup de tranchet est limitée à une partie du bord du support, il est possible d'observer l'état technique de l'autre portion du bord. Elle peut être brute (de débitage ou de façonnage), ce qui est plus fréquent sur les supports bifaciaux, mais dans la plupart des cas elle est aménagée par retouches (tabl. 31).

<table><caption>Tabl. 31 : La Cotte de St. Brelade, couche 5. Etat du bord adjacent au coup de tranchet latéral.</caption><thead><tr><th></th><th>Brut</th><th>UTF de CT</th><th>UTF de CP/CR (?)<br>"dos"</th><th>Coup de tranchet opposé</th><th>Totalement supprimé<br>par le cdt</th><th>Indt.</th><th>Total</th></tr></thead><tbody><tr><th>Eclat support</th><td>3</td><td>10</td><td>1</td><td>1</td><td>3</td><td>2</td><td>20</td></tr><tr><th>Pièce bifaciale support</th><td>2</td><td>2</td><td>1</td><td>0</td><td>0</td><td>0</td><td>5</td></tr><tr><th></th><td>5</td><td>12</td><td>2</td><td>1</td><td>3</td><td>2</td><td>25</td></tr></tbody></table>

<footnote n="49">⁴⁹ Cette valeur est le complément à 180° de la mesure de l'angle formé par la face inférieure de la chute de coup de tranchet et la portion de face inférieure de la pièce support ôtée par le débordement de la chute (cf. Callow, Cornford, ed., 1986, Fig. 29.7)</footnote>
<figure><img src="image_110.png" /><figcaption>Fig. 88 : La Cotte de St. Brelade, couche 5.
1 à 6, chutes de "coup de tranchet" ; 7, éclat de façonnage ; 8 à 11, éclats d'affûtage.</figcaption></figure>
A une exception près, cet aménagement est antérieur à l'extraction de la chute de coup de tranchet. On observe dans certains cas une retouche d'extension limitée qui régularise sur quelques millimètres la jonction entre cet aménagement et le coup de tranchet. Les caractéristiques techniques de ce bord adjacent résiduel nous permettent de le considérer dans la plupart des cas comme un bord actif (UTF de CT). Les technotypes sont très variés mais les valeurs de l'angle de coupant se concentrent entre 50 et 70° ce qui est tout à fait comparable aux caractères des UTF de CT résiduelles observées sur la face supérieure des chutes de coup tranchet, dont elles ne sont que le prolongement.

### Le secteur opposé au coup de tranchet latéral

L'état technique de ce secteur est plus varié (tabl. 32). Comme le bord adjacent, il est dans quelques cas brut de débitage ou de façonnage. Ce secteur peut être aussi occupé par un dos ou un pan naturel, un débordement ou un talon d'éclat tandis que dans les autres cas on observe un bord retouché. Cet aménagement, qui concerne les supports bifaciaux et les éclats-supports, présente le plus souvent les caractéristiques d'une UTF de CT : régularité et acuité du fil coupant, homogénéité dans l'orientation et la nature des surfaces tranchantes, translation d'un même plan de section. Les technotypes de ces UTF de CT, comme leur angle de coupant, sont variés ce qui permet de supposer des intentions fonctionnelles différentes.

<table><caption>Tabl. 32 : La Cotte de St. Brelade, couche 5. Etat du bord opposé au coup de tranchet latéral.</caption><thead><tr><th></th><th>Brut</th><th>UTF de CT</th><th>Dos naturel ou talon</th><th>Débordement</th><th>UTF de CP/CR (?) "dos"</th><th>Coup de tranchet</th><th>Total</th></tr></thead><tbody><tr><th>Eclat support</th><td>4</td><td>6</td><td>5</td><td>3</td><td>2</td><td>0</td><td>20</td></tr><tr><th>Pièce bifaciale support</th><td>1</td><td>3</td><td>0</td><td></td><td>0</td><td>1</td><td>5</td></tr><tr><th></th><td>5</td><td>9</td><td>5</td><td>3</td><td>2</td><td>1</td><td>25</td></tr></tbody></table>

### 2.3.2.4 - Description des pièces à coup de tranchet illustrées

#### CSB 5, n° 68/782 (fig. 89, n°1)

Il s'agit, dans son état initial d'une pièce bifaciale du schéma 1 dont on distingue la base, corticale. Après un façonnage ayant donné une structure volumétrique convexe / plan, il y a eu aménagement d'une UTF de CT (CT1) de technotype B/1[1], à fil convexe et angle de coupant de 70-80°. Il s'agit du premier état fonctionnel de l'outil. Cette UTF est tronquée par enlèvement profond qui résulte d'une percussion donnée au milieu de la surface, en partie apicale. Ceci relève d'une volonté nette de fracturer la pièce et donc d'en dénaturer la structure initiale. Un coup de tranchet se développe ensuite sur la face convexe du support bifacial, à partir de la base corticale, et emporte largement le bord du support. Il en résulte une UTF de CT (CT2b, Ø1/4Ø, 65-70°), prolongée ensuite par l'UTF de CT (CT2a, [4Ø][1Ø]/3Ø, 60°) qui semble rectifier la délinéation en partie distale du coup de tranchet.

#### CSB 5, n° 67/135 (fig. 89, n°4)

Pièce bifaciale du schéma 1, à base corticale réservée, façonnée sur un petit rognon de silex. On ne distingue plus que quelques négatifs relatifs à la construction du volume bifacial dont on perçoit difficilement la structure. Une première UTF de CT (CT2, C/1Ø, 70°) occupe un des bords à partir de la base. Elle est recoupée par l'aménagement d'une seconde UTF de CT de type coup de tranchet (CT1, Ø1/4Ø, 40 à 55°) qui met en jeu un enlèvement profond, obtenu par une percussion donnée très à l'intérieur de la pièce bifaciale qui l'a très probablement dénaturée. Il aménage une surface de pré-affûtage plane en regard du coup de tranchet et antérieurement à celui-ci. Le coup de tranchet est extrait à partir d'une courte troncature et son négatif recoupe nettement le CT2.

#### CSB 5, n° 69/139 (fig. 89, n°3)

Cette pièce bifaciale, façonnée à partir d'un fragment de rognon gélifracté, présente typiquement la structure volumétrique propre au schéma de façonnage 3. La première étape de la phase de confection consiste à mettre en place une surface de pré-affûtage, de profil concave, en regard et préalable à l'UTF de CT. A partir d'une
<figure><img src="image_111.png" /><figcaption>Fig. 89 : La Cotte de St. Brelade, couche 5. Groupe 1-pièces à coup de tranchet (description dans le texte, § 2.3.2.4).</figcaption></figure>
troncature apicale sont d'abord extraits des enlèvements amincissants (CP/CR1) puis une chute de coup de tranchet latérale qui crée l'UTF de CT (CT1, C/4Ø, 25°). Cette UTF est de nouveau affûtée, cette fois par retouches classiques (CT1, C/14, 40°)

### CSB 5, n° 70/01 (fig. 89, n°2)

Le support est un éclat Levallois débordant à dos cortical. Il est impossible de hiérarchiser la fracture du support et la mise en place de la première UTF de CT (CT2, A/ΔØ, 50-60°). Une seconde UTF de CT de type coup de tranchet (CT1, A/4Ø, 65 à 70°) recoupe la première. Le coup de tranchet est extrait à partir de la cassure, comme un enlèvement amincissant qui le suit (CP/CR?).

### CSB 5, n° 66/263 (fig. 90, n°1)

Cet éclat Levallois récurrent parallèle est fortement modifié par la retouche. Une première UTF de CT (CT3, A/32, 45-50°) est mise en place sur le bord gauche avant que ne survienne une cassure de l'extrémité distale du support. La cassure est partiellement reprise en troncature, à partir de laquelle une chute de coup de tranchet latérale est extraite le long du bord droit, suivie par deux petits enlèvements d'amincissement (CP/CR2 ?). Le coup de tranchet correspond à la seconde UTF de CT (CT1, A/4Ø, 55 à 50°). L'UTF de CT2 (CT2, A/[1Ø][3Ø], 50°) semble prolonger le CT1 qu'elle recoupe, en rectifiant la délinéation à l'extrémité du coup de tranchet. Nous interprétons comme CP/CR (CP/CR1) l'aménagement bifacial à la base du bord droit. Il peut être antérieur ou postérieur aux CT1 et CT3.

### CSB 5, n° 67/229 (fig. 90, n°2)

L'épaisseur de ce support débité, la morphologie générale ainsi que la nature de l'aménagement initial laissent penser qu'il s'agit d'un fragment de lame non Levallois qui devait originellement appartenir au groupe 2 (bords retouchés convergents). Dans une première étape, deux UTF de CT ont été mises en place sur les bords latéraux. L'UTF de CT1 (CT1, A/31, 70°) sur le bord droit et l'UTF de CT3 (CT3, A,[1Ø]/31, 65°) sur le bord gauche. On remarque que pour le CT3, les retouches sur la face inférieur du support ne sont conservées que par leur partie distale, ce qui évoque la succession de plusieurs affûtages sur l'autre surface. Les CT1 et 3 sont tronqués à chaque extrémité par les aménagements suivants. A partir d'une troncature inverse basale, plusieurs enlèvements amincissants sont extraits (CP/CR1). Il en est de même au niveau de l'extrémité apicale, peut-être antérieurement. Une troisième UTF de CT prend ensuite la forme d'un coup de tranchet latéral qui file sur le bord gauche à partir de la troncature basale (CT2, A,[1Ø]/4Ø, 50 à 60°). Cette UTF ampute nettement l'UTF de CT3. Dans un même temps, l'extrémité apicale est réaménagée par des enlèvements partiellement bifaciaux. Cela peut correspondre à une UTF de CT (CT4 ?, 1Ø/[1Ø], 50-55°).

### CSB 5, n° 68/966 (fig. 90, n°3)

La retouche de cet éclat ordinaire semi-cortical est simple. Une légère troncature inverse à l'extrémité du bord gauche sert à l'extraction d'une chute de coup de tranchet transverse. Elle constitue l'UTF de CT (CT1, A/4Ø, 30 à 65°). Ensuite, deux enlèvements amincissants sont enlevés sur la face supérieure du support à partir de la troncature ou de la portion de bord brut adjacente. Cet aménagement correspond probablement à une UTF de CP/CR (CP/CR1).

### CSB 5, n° 69/61 (fig. 90, n°4)

Le support est un fragment distal d'éclat ordinaire rebroussé. Une troncature inverse en position transverse distale sert à plan de frappe pour l'extraction de la chute de coup de tranchet qui aménage l'UTF de CT1 (CT1, A/4Ø, 14, 50-60°). L'extrémité distale du fil est rectifiée par quelques courts enlèvements de profil plan ne modifiant pas l'angle de coupant. L'UTF de CP/CR1 est constituée par un large enlèvement inverse qui se développe aux dépens de la surface de fracture. L'un des enlèvements de l'UTF de CP/CR2 est très couvrant car percuté à partir de l'extrémité rebroussée du support.

### CSB 5, n° 66/600 (fig. 91)

Le support est un éclat ordinaire à pan latéral cortical, de dimension modeste, mais sa retouche est assez complexe. Elle débute par la mise en place en lieu et place du talon du support d'un aménagement de type amincissement, complété par une troncature inverse (CP/CR1). La réalisation de l'UTF (CT2?, A/31, Δ°) en partie proximale du bord droit recoupe clairement les négatifs des enlèvements amincissants. Il est difficile de dire si cet aménagement répond à la volonté de dégager un fil coupant ou de préparer le bord en vue du coup de tranchet. L'UTF de CT de type coup de tranchet (CT1, A/4Ø, 45-50°) est ensuite réalisée en secteur distal du bord droit. La retouche laisse un fil légèrement concave. Le contrebulble de la chute est repris par l'aménagement en secteur distal d'une troncature/amincissement (CP/CR2). Finalement, de très courts enlèvements abrupts (90°), dont l'origine anthropique est douteuse, réduisent l'étendue du fil coupant de l'UTF de CT1 dans la partie proximale du négatif de coup de tranchet.
<figure><img src="image_112.png" /><figcaption>Fig. 90 : La Cotte de St. Brelade, couche 5. Groupe 1-pièces à coup de tranchet (description dans le texte, § 2.3.2.4).</figcaption></figure>
<figure><img src="image_113.png" /><figcaption>Fig. 91 : La Cotte de St. Brelade, couche 5. Groupe 1-pièce à coup de tranchet.</figcaption></figure>

### 2.3.2.5 - Réflexion et synthèse sur les pièces à coup de tranchet

Une question principale se pose, dont la réponse a trait au statut techno-fonctionnel de ces outils à coup de tranchet latéral, qu'ils soient sur support bifacial ou non bifacial. Cet aménagement s'inscrit-il de façon logique sur un type de support techniquement spécifique ou au contraire s'agit-il d'un aménagement particulier, seul point commun à des supports très variés ?

Pour les éclats-supports, nous avons déjà évoqué une sur-représentation des supports à dos (éclat Levallois débordant, éclat Levallois à dos naturel ou éclat allongé à pan naturel). Ceci s'apparente peut-être à une préférence dont le sens est fonctionnel, du moins lié au fonctionnement de l'outil, si l'on s'en réfère à la structure des pièces à coup de tranchet de la série de Mesvin IV (cf. chap. VI, § 2.4.2). Dans la majeure partie des cas, au moins un bord mais parfois deux sont aménagés en UTF de CT par des retouches classiques, antérieurement à la mise en place du coup de tranchet. Celui-ci se développe ainsi aux dépens d'une précédente UTF de CT. Après le coup de tranchet, le principal caractère fonctionnel, à savoir l'angle de coupant, reste dans une même gamme de valeurs. Ceci plaide en faveur d'un ré-affûtage par une modalité particulière. La succession observée sur certaines chutes de coup de tranchet : UTF de CT coup de tranchet / UTF de CT retouchée / UTF de CT coup de tranchet, montre que le procédé du coup de tranchet se place dans un processus dynamique de ré-affûtage. Cependant cet affûtage est polarisé car souvent, il ne peut concerner qu'une extrémité du précédent tranchant. La tendance générale est donc celle d'un aménagement appliqué à des éclats-supports variés mais ayant en commun la présence d'UTF de CT de technotypes variés mais avec un angle de coupant souvent supérieur ou égal à 50°, comparables à celles que nous allons décrire pour les outils à bords retouchés convergents et pour les racloirs. Mais il s'agit d'une tendance car quelques cas s'en écartent significativement. On note en outre une présence plus marquée des supports Levallois débordant ou à dos naturel dans ce groupe des pièces à coup de tranchet que dans l'ensemble de l'assemblage, qui pourrait refléter un choix de ce type de supports. Si cet aménagement a pour objectif de réintroduire dans le circuit fonctionnel des outils qui en étaient écartés, par exemple par l'impossibilité de procéder à un ré-affûtage classique par des éclats de retouche classiques, on peut alors parler de recyclage. Dans le cas contraire, il peut s'agir d'un procédé d'affûtage particulier. Nous n'avons pas d'arguments pour trancher entre ces deux propositions.

Pour les pièces bifaciales, nous avons déjà évoqué la diversité des types de schémas de façonnage représentés sur un effectif pourtant faible. L'aménagement de type coup de tranchet
latéral s'inscrit-il dans la logique technique et structurale de ces pièces ou au contraire s'y surimpose t-il ? Pour une partie de ces pièces les éléments présentés dans leur description (cf. § 2.3.2.5, n° 68/782, n° 67/135) permettent de pencher vers la seconde hypothèse. La structure du support bifacial a été dénaturée avant la mise en place de l'UTF de CT de type coup de tranchet, mais en liaison avec celle-ci. Il apparaît donc clairement que l'aménagement d'une UTF de CT de type coup de tranchet s'inscrit en rupture avec la structure initiale sur une partie des supports bifaciaux, en particulier ceux dont le schéma de façonnage est le plus élaboré. Tout converge pour considérer la dénaturation dont ces pièces font l'objet comme l'expression d'un recyclage.

On retiendra que l'aménagement par coup de tranchet latéral n'est pas un procédé anecdotique dans la couche 5 de la Cotte de St. Brelade mais qu'il y existe essentiellement à l'état de procédé, il n'y a pas de type déterminé d'outil à coup de tranchet.

### 2.3.3 - Le groupe 2 : outils à bords retouchés convergents

P. Callow (1986c) avait attiré l'attention sur un caractère spécifique à cette couche 5, à savoir la présence marquée des pointes moustériennes allongées étroites. Ces deux derniers caractères sont à mettre en parallèle avec l'indice laminaire élevé de l'outillage.

#### 2.3.3.1 - Les pièces à bords retouchés convergents

Nous avons choisi de construire ce second groupe sur le caractère technique de convergence des bords transformés qui pourrait avoir un sens fonctionnel particulier. Nous y incluons des objets typologiquement variés sur éclat : pointes moustériennes typiques et atypiques, racloirs convergents, limace, ainsi que des outils à bords retouchés convergents sur pièces bifaciales. Nous mènerons donc une analyse dissociée des outils à bords convergents bifaciaux et non bifaciaux.

Nous avons classé dans ce groupe 26 objets au total. Les supports sont très variés et proviennent des trois schémas de production identifiés pour la couche 5 (tabl. 33). Les produits Levallois débordants ou à dos naturel sont néanmoins absents.

<table><caption>Tabl. 33 : La Cotte de St. Brelade, couche 5. Types de support des outils à bords retouchés convergents (groupe 2).</caption><thead><tr><th>Nature du support</th><th>Eclat Levallois réc. parallèle et ss- produits allongés</th><th>Lame non Levallois</th><th>Eclat ordinaire et Eclat indéterminé</th><th>Pièce bifaciale schéma 1</th><th>Pièce bifaciale schéma 2</th><th>Total</th></tr></thead><tbody><tr><td>Effectifs</td><td>8</td><td>5</td><td>9</td><td>1</td><td>3</td><td>26</td></tr></tbody></table>

La longueur des supports Levallois de ce groupe est en moyenne plus élevée que sur l'ensemble de la production. Un même constat s'applique aux supports laminaires malgré l'intensité de la transformation qui a pu réduire sensiblement la longueur originelle de ces supports. Les éclats ordinaires et indéterminés sont eux aussi très allongés. Ceci semble bien correspondre à un choix des supports les plus allongés pour ces outils à bords retouchés convergents, quelle que soit leur origine. Certains des supports bifaciaux ont une longueur comparable mais ils sont dans l'ensemble plus larges que les supports non bifaciaux. On notera que toutes les pièces bifaciales obtenues selon le schéma 2 figurent dans ce groupe.

Le caractère élancé de ces outils est donc à retenir.
### 2.3.3.2 - *Structure technique globale*

Le caractère essentiel de ce groupe est de présenter deux bords retouchés convergents. Les portions retouchées occupent très souvent la quasi-totalité des deux bords, dans l'axe d'allongement du support. Leur longueur peut ainsi fréquemment dépasser 50 mm. Des variations dans la nature des transformations d'une portion de bord à l'autre nous ont conduit à analyser les pièces en séparant quatre secteurs (proximal et apical, droit et gauche) (fig. 139). Lorsqu'un changement net dans la nature de la transformation intervient sur un bord, il établit la limite entre les secteurs proximaux et distaux.

### 2.3.3.3 - *Caractéristiques fonctionnelles des outils à bords retouchés convergents (groupe 2)*

#### Eclats-supports

Malgré une importante diversité dans les aménagements, certains types apparaissent récurrents. Hormis quelques exceptions que nous détaillerons plus en avant, les transformations correspondent à l'aménagement d'UTF de CT. La délinéation est régulière, le fil est vif tandis que l'on observe une translation à l'identique ou un changement très progressif des caractéristiques du dièdre. Sur certaines pièces, en particulier parmi les éclats-supports ordinaires, la pointe a été réalisé aux dépens du talon du support.

L'aménagement de ces UTF est complexe, on observe très fréquemment deux, voire exceptionnellement trois rangs de retouches successifs, aux caractères bien distincts. Cet état correspond t-il à un mode d'aménagement particulier de l'UTF de CT ou bien résulte t-il du ré-affûtage ? Certains arguments permettent de proposer une réponse à cette question.

Ainsi que l'on peut le constater sur le tableau 34, l'aménagement des UTF de CT de ces outils du groupe 2 est très nettement dominé par les technotypes A/31, A/32 et A/[31][32] qui représentent 58% des aménagements sur l'ensemble des quatre secteurs. Ils comprennent un premier (rarement deux) rang d'enlèvements de profil plan ou convexe (pré-affûtage), systématiquement suivi par des retouches de profil concave ou plan rebroussé. La distribution des valeurs de l'angle de coupant et de l'angle de pré-affûtage est très étalée (tabl. 35). Les valeurs les plus faibles correspondent à des coupants aigus (40°) tandis que les plus élevées atteignent jusqu'à 80°. La distribution est cependant regroupée entre 55 et 70°. Ceci montre très probablement des intentions fonctionnelles différenciées. On doit cependant souligner que les distributions des valeurs de pré-affûtage et de coupant sont identiques. Ceci indique que le second rang de retouche, bien qu'ayant sensiblement modifié le profil du dièdre, a maintenu l'angle de coupant à sa valeur initiale ou à une valeur proche. La surimposition à un technotype A/1Ø ou A/2Ø d'une retouche de profil concave (A/3Ø) correspondrait ici à un ré-affûtage, donnant un technotype A/31 ou A/32.

Les technotypes à un unique rang de retouche, de profil plan ou convexe (type A/1Ø et A/2Ø) représentent ensemble un peu plus de 20% du total des UTF. Pour le premier, de type A/1Ø (plan / plan), la distribution des valeurs de l'angle de coupant (tabl. 36) est nettement décalée vers des valeurs aiguës (30 à 45°), ce qui reflète la volonté de conserver une UTF de CT aux caractères fonctionnels proches du support brut. A l'opposé, pour le type A/2Ø (plan / convexe), un angle de coupant élevé (55 à 65°) est clairement recherché dès le premier aménagement d'une UTF de CT par la retouche (tabl. 37).

Dans quelques cas (8%), l'UTF de CT est dès la première transformation aménagée par des retouches de profil concave (technotype A/3Ø). Les valeurs de l'angle de coupant obtenu sont dispersées entre 45 et 70° (tabl. 38), comme nous l'avons observé avec les technotypes complexes, A/31, A/32 et A/[31][32].
<table><caption>Tabl. 34 : La Cotte de St. Brelade, couche 5. Répartition des technotypes d'UTF de CT par secteur et par type de support pour les outils à bords retouchés convergents (groupe 2).</caption><thead><tr><th rowspan="2">Localisation</th><th rowspan="2">Support</th><th>A/31, A/32 et A/[31][32]</th><th>A/1Ø</th><th>A/3Ø</th><th>A/21</th><th>A/2Ø, A/[1Ø] [2Ø]</th><th>A/22</th></tr></thead><tbody><tr><td rowspan="4">Sect. 1 apical droit</td><td>Lev.</td><td>3</td><td>0</td><td>0</td><td>0</td><td>2</td><td>3</td></tr><tr><td>Lam.</td><td>3</td><td>0</td><td>0</td><td>2</td><td>0</td><td>0</td></tr><tr><td>E. ord., indt.</td><td>5</td><td>3</td><td>0</td><td>0</td><td>0</td><td>0</td></tr><tr><td>Total</td><td>11</td><td>3</td><td>0</td><td>2</td><td>2</td><td>3</td></tr><tr><td rowspan="4">Sect. 2 prox. droit</td><td>Lev.</td><td>4</td><td>1</td><td>0</td><td>0</td><td>1</td><td>1</td></tr><tr><td>Lam.</td><td>2</td><td>0</td><td>1</td><td>0</td><td>1</td><td>0</td></tr><tr><td>E. ord., indt.</td><td>7</td><td>0</td><td>0</td><td>0</td><td>1</td><td>0</td></tr><tr><td>Total</td><td>13</td><td>1</td><td>1</td><td>0</td><td>3</td><td>1</td></tr><tr><td rowspan="4">Sect. 3 prox. gauche</td><td>Lev.</td><td>3</td><td>1</td><td>1</td><td>0</td><td>0</td><td>0</td></tr><tr><td>Lam.</td><td>2</td><td>1</td><td>0</td><td>1</td><td>0</td><td>0</td></tr><tr><td>E. ord., indt.</td><td>5</td><td>0</td><td>1</td><td>0</td><td>0</td><td>0</td></tr><tr><td>Total</td><td>10</td><td>2</td><td>2</td><td>1</td><td>0</td><td>0</td></tr><tr><td rowspan="4">Sect. 4 apical gauche</td><td>Lev.</td><td>1</td><td>2</td><td>1</td><td>1</td><td>1</td><td>0</td></tr><tr><td>Lam.</td><td>2</td><td>1</td><td>1</td><td>0</td><td>0</td><td>0</td></tr><tr><td>E. ord., indt.</td><td>5</td><td>0</td><td>1</td><td>1</td><td>0</td><td>1</td></tr><tr><td>Total</td><td>8</td><td>3</td><td>3</td><td>2</td><td>1</td><td>1</td></tr></tbody><tfoot><tr><td colspan="2"></td><td>42</td><td>9</td><td>6</td><td>5</td><td>6</td><td>5</td><td>73</td></tr><tr><td colspan="2"></td><td>57,5%</td><td>12,3%</td><td>8,2%</td><td>6,8%</td><td>8,2%</td><td>6,8%</td><td>100,0%</td></tr></tfoot></table>

<table><caption>Tabl. 35 : La Cotte de St. Brelade, couche 5. Distribution des valeurs des angles de pré-affûtage et de coupant pour les technotypes A/31, A/32 et A/[31][32] des UTF des outils à bords retouchés convergents (groupe 2) (en nombre d'occurrences).</caption><tr><td>Angle en degrés</td><td>10</td><td>15</td><td>20</td><td>25</td><td>30</td><td>35</td><td>40</td><td>45</td><td>50</td><td>55</td><td>60</td><td>65</td><td>70</td><td>75</td><td>80</td><td>85</td><td>90</td></tr><tr><td>Angle de pré-affûtage</td><td>0</td><td>0</td><td>0</td><td>0</td><td>0</td><td>0</td><td>2</td><td>2</td><td>6</td><td>4</td><td>10</td><td>5</td><td>4</td><td>4</td><td>0</td><td>0</td><td>0</td></tr><tr><td>Angle de coupant</td><td>0</td><td>0</td><td>0</td><td>0</td><td>0</td><td>0</td><td>4</td><td>2</td><td>8</td><td>5</td><td>15</td><td>13</td><td>5</td><td>2</td><td>1</td><td>0</td><td>0</td></tr></table>

<table><caption>Tabl. 36 : La Cotte de St. Brelade, couche 5. Distribution des valeurs de l'angle de coupant pour le technotype A/1Ø des UTF des outils à bords retouchés convergents (groupe 2) (en nombre d'occurrences).</caption><tr><td>Angle en degrés</td><td>10</td><td>15</td><td>20</td><td>25</td><td>30</td><td>35</td><td>40</td><td>45</td><td>50</td><td>55</td><td>60</td><td>65</td><td>70</td><td>75</td><td>80</td><td>85</td><td>90</td></tr><tr><td>Nb d'occurrences</td><td>0</td><td>0</td><td>0</td><td>0</td><td>1</td><td>1</td><td>4</td><td>4</td><td>3</td><td>2</td><td>3</td><td>0</td><td>0</td><td>0</td><td>0</td><td>0</td><td>0</td></tr></table>

<table><caption>Tabl. 37 : La Cotte de St. Brelade, couche 5. Distribution des valeurs de l'angle de coupant pour les technotypes A/2Ø, A/[2Ø][1Ø] des UTF des outils à bords retouchés convergents (groupe 2) (en nombre d'occurrences).</caption><tr><td>Angle en degrés</td><td>10</td><td>15</td><td>20</td><td>25</td><td>30</td><td>35</td><td>40</td><td>45</td><td>50</td><td>55</td><td>60</td><td>65</td><td>70</td><td>75</td><td>80</td><td>85</td><td>90</td></tr><tr><td>Nb d'occurrences</td><td>0</td><td>0</td><td>0</td><td>0</td><td>0</td><td>0</td><td>0</td><td>0</td><td>0</td><td>1</td><td>3</td><td>5</td><td>0</td><td>0</td><td>0</td><td>0</td><td>0</td></tr></table>

<table><caption>Tabl. 38 : La Cotte de St. Brelade, couche 5. Distribution des valeurs de l'angle de coupant pour le technotype A/3Ø des UTF des outils à bords retouchés convergents (groupe 2) (en nombre d'occurrences).</caption><tr><td>Angle en degrés</td><td>10</td><td>15</td><td>20</td><td>25</td><td>30</td><td>35</td><td>40</td><td>45</td><td>50</td><td>55</td><td>60</td><td>65</td><td>70</td><td>75</td><td>80</td><td>85</td><td>90</td></tr><tr><td>Nb d'occurrences</td><td>0</td><td>0</td><td>0</td><td>0</td><td>0</td><td>0</td><td>0</td><td>0</td><td>2</td><td>2</td><td>1</td><td>1</td><td>1</td><td>2</td><td>0</td><td>0</td><td>0</td></tr></table>
Les autres technotypes d'UTF observés se caractérisent par la succession à un premier rang d'enlèvements de profil plan ou convexe, d'un second rang, de profil convexe (technotype A/21 et A/22). L'angle finalement obtenu est dans une partie des cas très élevé, de 70 à 80° (tabl. 39 et 40). Il s'inscrit en rupture par rapport à l'angle qui résultait du premier rang de retouche, lequel oscille entre 40 et 60°. La délinéation de l'UTF peut dans ces cas être irrégulière et il n'y a pas de fil coupant. Le bord peut être de surcroît volontairement émoussé. Nous interprétons ce type d'UTF, principalement localisé sur le secteur apical droit de supports Levallois, comme une UTF de CP/CR et non comme un bord actif (fig. 93, n°2 p. ex.). Sur les supports Levallois, cette UTF est opposée à une UTF de CT dont l'angle de coupant est assez aigu (<50°).

<table><caption>Tabl. 39 : La Cotte de St. Brelade, couche 5. Distribution des valeurs des angles de pré-affûtage et de coupant pour le technotype A/21 des UTF des outils à bords retouchés convergents (groupe 2) (en nombre d'occurrences).</caption><tr><td>Angle en degrés</td><td>10</td><td>15</td><td>20</td><td>25</td><td>30</td><td>35</td><td>40</td><td>45</td><td>50</td><td>55</td><td>60</td><td>65</td><td>70</td><td>75</td><td>80</td><td>85</td><td>90</td></tr><tr><td>Angle de pré-affûtage</td><td>0</td><td>0</td><td>0</td><td>0</td><td>0</td><td>0</td><td>0</td><td>2</td><td>2</td><td>2</td><td>0</td><td>0</td><td>0</td><td>0</td><td>0</td><td>0</td><td>0</td></tr><tr><td>Angle de coupant</td><td>0</td><td>0</td><td>0</td><td>0</td><td>0</td><td>0</td><td>0</td><td>0</td><td>1</td><td>1</td><td>0</td><td>2</td><td>3</td><td>1</td><td>0</td><td>0</td><td>0</td></tr></table>

<table><caption>Tabl. 40 : La Cotte de St. Brelade, couche 5. Distribution des valeurs des angles de pré-affûtage et de coupant pour le technotype A/22 des UTF des outils à bords retouchés convergents (groupe 2) (en nombre d'occurrences).</caption><tr><td>Angle en degrés</td><td>10</td><td>15</td><td>20</td><td>25</td><td>30</td><td>35</td><td>40</td><td>45</td><td>50</td><td>55</td><td>60</td><td>65</td><td>70</td><td>75</td><td>80</td><td>85</td><td>90</td></tr><tr><td>Angle de pré-affûtage</td><td>0</td><td>0</td><td>0</td><td>0</td><td>0</td><td>0</td><td>1</td><td>0</td><td>1</td><td>1</td><td>0</td><td>0</td><td>0</td><td>0</td><td>0</td><td>0</td><td>0</td></tr><tr><td>Angle de coupant</td><td>0</td><td>0</td><td>0</td><td>0</td><td>0</td><td>0</td><td>0</td><td>0</td><td>0</td><td>0</td><td>1</td><td>1</td><td>3</td><td>2</td><td>3</td><td>0</td><td>0</td></tr></table>

Pour les autres types d'UTF, aucune localisation particulière ou corrélation avec un type de support ne semble se dégager. Il faut en outre signaler que les différents technotypes sont indifféremment associés sur un même support.

On remarque que l'aménagement de certaines UTF de CT sur ces éclats met en jeu une retouche bifaciale. Aucune association à un profil d'UTF particulier n'est à signaler. Dans tous les cas, la retouche intéressant la face inférieure de l'éclat est la première réalisée et elle est systématiquement de profil plan. Sa présence ne modifie donc pas le profil du plan de base de l'UTF de CT qui, avec ou sans retouche, est plan. Les contre-bulbes de ces retouches sont totalement supprimés par les retouches d'affûtage ce qui indique, dans tous les cas, une réduction importante du support. L'intérêt d'une telle retouche bifaciale nettement hiérarchisée nous échappe. Il faut noter qu'elle est plus fréquente sur les éclats ordinaires que sur les éclats Levallois ou les lames.

Les UTF de CT de technotype complexe (A/31, A/32 et A/[31][32]), avec un rang de pré-affûtage, sont les plus représentées parmi les éclats-supports ordinaires et indéterminés (tabl. 41). Ceci pourrait être lié à la morphologie initiale de ces éclats. L'acquisition du caractère convergent nécessite le recours à des enlèvements de grande ampleur (pré-affûtage) auxquels se superposent ensuite les enlèvements d'affûtage, ce qui donne alors un technotype complexe.

## Supports bifaciaux

Nous avons rattaché au groupe des outils à bords retouchés convergents (groupe 2) des supports bifaciaux (n=4) qui présentaient deux bords convergents supportant chacun une ou deux UTF de CT de type différent. La structure de ces supports bifaciaux est tout à fait comparable à celle des supports non bifaciaux. Les faces sont strictement hiérarchisées, ce qui
<table><caption>Tabl. 41 : La Cotte de St. Brelade, couche 5. Répartition des technotypes d'UTF de CT par type de support pour les outils à bords retouchés convergents (groupe 2).</caption><thead><tr><th rowspan="2">Support</th><th colspan="6">Technotype</th><th rowspan="2">Total</th></tr><tr><th>A/31, A/32 ou A/[31][32]</th><th>A/1Ø</th><th>A/3Ø</th><th>A/21</th><th>A/2Ø ou A/[1Ø][2Ø]</th><th>A/22</th></tr></thead><tbody><tr><td>Levallois</td><td>11</td><td>4</td><td>2</td><td>1</td><td>4</td><td>4</td><td>26</td></tr><tr><td>Laminaire</td><td>9</td><td>2</td><td>2</td><td>3</td><td>1</td><td>0</td><td>17</td></tr><tr><td>Eclat ord. indt.</td><td>22</td><td>3</td><td>2</td><td>1</td><td>1</td><td>1</td><td>30</td></tr><tr><td>Total</td><td>42</td><td>9</td><td>6</td><td>5</td><td>6</td><td>5</td><td>73</td></tr></tbody></table>

est un caractère des supports bifaciaux obtenus dans les schémas de façonnage 1 ou 2. La première face est soit constituée par une surface naturelle plane (gélifract) partiellement façonnée par des enlèvements plans, soit entièrement façonnée par des enlèvements plans dont les contre-bulbes seront supprimés lors de l'aménagement de la face opposée. Les retouches d'affûtage concernent exclusivement la seconde face. Comme sur les éclats-supports, un plan de base de profil plan s'oppose aux retouches d'affûtage. La phase de confection est assez complexe. On relève parfois sur les UTF de CT une génération d'enlèvements de pré-affûtage suivie par deux séries de retouche d'affûtage donnant le fil coupant. Les technotypes des UTF de CT sont très variables mais les profils des dièdres de coupe sont en proportion comparable plan / plan ou plan / concave. Les valeurs de l'angle de coupant sont nettement concentrées entre 55 et 65° et s'en écartent très ponctuellement (tabl. 42). Seules deux UTF de CT présentent un angle de coupant aigu, entre 35 et 45°. L'une d'elles est un chanfrein, présent en partie apicale de l'une des pièces. Cette UTF de CT, de technotype plan / plan, est comparable à un coup de tranchet latéral par ses caractéristiques fonctionnelles mais le procédé d'aménagement est différent. L'angle de coupant (35-40°) est significativement différent des autres UTF de CT de ce groupe.

<table><caption>Tabl. 42 : La Cotte de St. Brelade, couche 5. Distribution des valeurs des angles de pré-affûtage et de coupant pour les UTF des outils à bords retouchés convergents (groupe 2) sur supports bifaciaux (en nombre d'occurrences).</caption><tr><td>Angle en degrés</td><td>10</td><td>15</td><td>20</td><td>25</td><td>30</td><td>35</td><td>40</td><td>45</td><td>50</td><td>55</td><td>60</td><td>65</td><td>70</td><td>75</td><td>80</td><td>85</td><td>90</td></tr><tr><td>Angle de pré-affûtage</td><td>0</td><td>0</td><td>0</td><td>0</td><td>0</td><td>0</td><td>0</td><td>1</td><td>0</td><td>5</td><td>3</td><td>2</td><td>0</td><td>0</td><td>0</td><td>0</td><td>0</td></tr><tr><td>Angle de coupant</td><td>0</td><td>0</td><td>0</td><td>0</td><td>0</td><td>1</td><td>1</td><td>1</td><td>0</td><td>6</td><td>5</td><td>5</td><td>1</td><td>1</td><td>0</td><td>0</td><td>0</td></tr></table>

### 2.3.3.4 - Description des outils à bords retouchés convergents illustrés

#### CSB 5, n° 67/475 (fig. 92, n°1)

Cet éclat de façonnage a outrepassé alors que la pièce bifaciale, était déjà retouchée. Peut-être s'agit-il d'une dénaturation. L'outrepassage est suffisamment important pour que l'on puisse accéder partiellement à la structure volumétrique et aux UTF apicales de la dite pièce bifaciale. La structure volumétrique bifaciale est de type biplan / plan-convexe. La symétrie d'axe sagittal et le contour indiquent un bface, probablement cordiforme ou triangulaire. Les deux UTF apicales du bface sont tronquées par l'outrepassage. L'UTF de CT B (CTB, Ø1/[1]1, 55°) se marque par un fort développement des deux surfaces de pré-affûtage qui constituent le dièdre actif tandis que l'affûtage est très partiel. L'UTF de CT A est plus variable (CTA, A[Ø1]/[3]2, 45°,[2]2, 60°). L'affûtage convexe partiel [2] pourrait être postérieur car l'angle de pré-affûtage est de 45° comme l'angle d'affûtage donné par les enlèvements [3].

Le recyclage de l'éclat de façonnage se manifeste par l'aménagement d'une UTF de CT du groupe 4 (denticulé) (CT1, A/2Ø, 45-60°) sur son bord gauche et par deux légers aménagements de type CP/CR sur chaque bord au niveau de l'outrepassage.
<figure><img src="image_114.png" /><figcaption>Fig. 92 : La Cotte de St. Brelade, couche 5. Groupe 2-outils à bords retouchés convergents (description dans le texte, § 2.3.3.4).</figcaption></figure>
### CSB 5, n° 66/149 (fig. 92, n°2)

Cette pièce bifaciale asymétrique à base corticale a été façonnée à partir d'un éclat de gel. Sa structure volumétrique est plano / convexe (schéma 3). Trois UTF de CT et une UTF de CP/CR sont aménagées. Sur le bord droit, les deux UTF de CT ont fait l'objet d'un pré-affûtage limité à la face convexe. L'affûtage de l'UTF de CT1 (CT1, A,[Ø1]/31,33, 60-65°) comporte semble t-il deux rangs de retouche de profil concave, d'ampleur décroissante. L'UTF de CT2 (CT2, A/13, 65-75°) présente un affûtage par une grande retouche de profil concave puis un rang de retouches planes. Sur le bord gauche, l'UTF de CT3 (CT3, Ø1/11, 55-65°) se caractérise par un pré-affûtage sur la face plane, par des enlèvements plans, puis sur la face convexe par la succession de deux rangs de retouche de profil plan et d'ampleur décroissante. A la base, un petit aménagement est interprété comme une UTF de CP/CR (CP/CR1).

### CSB 5, n° 68/315 (fig. 92, n°3)

Le support est un éclat Levallois récurrent parallèle très régulier, à deux négatifs sur sa face supérieure. Dans un premier temps deux UTF de CT convergentes sont réalisées sur les bords du support. Sur le bord droit, l'UTF de CT1 se subdivise en deux portions en fonction de l'ampleur et du profil des retouches (CT1a, A/2Ø, 60-65°) (CT1b, A/[1Ø][2Ø], 60-65°). L'UTF de CT2 (CT2, A/1Ø, 30-45°) occupait l'ensemble du bord gauche. La fracture de l'extrémité apicale recoupe les UTF de CT1 et de CT3. Après cette fracture, la mise en place de l'UTF de CT3 (CT3, A/1Ø, Δ) se superpose à l'UTF de CT2 dont on ne perçoit plus que l'extrémité de quelques retouches. L'UTF de CT3 se distingue par la technique de retouche. Les retouches sont détachées en percussion nettement interne ce qui détermine un fil denticulé. Une dernière fracture, raccordée, scinde la pièce en deux.

### CSB 5, n° 68/846 (fig. 93, n°2)

Il s'agit d'un éclat Levallois récurrent dont l'axe de débitage est orthogonal aux négatifs sur la face supérieure (séquence récurrente orthogonale ?). On distingue trois UTF différentes sur cet outil. Une première UTF de CT (CT1, A/32, 55-65°) est installée sur toute l'étendue du bord droit. Le second rang de retouches (3Ø) correspond à un affûtage différent du premier rang (2Ø) dont l'angle de coupant est plus aigu (45°). Dans la portion apicale, il s'y superpose ensuite une UTF de délinéation irrégulière qui détermine un angle très important (70-80°). Nous interprétons cet aménagement comme une UTF de CPCR (CP/CR1). Sur l'autre bord, l'UTF de CT2 (CT2, A/1Ø, 40-45°) est moins intensément retouchée. La retouche vise à réactiver un dièdre de coupe initialement brut de débitage. L'aménagement du CP/CR1 semble lié au fonctionnement de ce CT2.

### CSB 5, n° 66/414 (fig. 93, n°1)

Le support est un produit laminaire assez épais, retouché sur ses deux bords de façon convergente. Pour chaque UTF de CT nous avons isolé, par leur ampleur, des enlèvements de pré-affûtage mais qui peuvent néanmoins correspondre à un premier état d'affûtage. Sur le bord droit on distingue deux UTF de CT différentes. L'étendue de l'UTF de CT1 (CT1, A/21, 50-55°) est très courte (10 mm). Elle est en continuité avec l'UTF de CT2 (CT2, A/31, 32, 60-65°). Sur le bord gauche, la retouche est homogène. Il s'agit d'une UTF de CT (CT3, A/31, 65-70°). A la base du support, un fort aménagement a supprimé la zone bulbaire sur la face inférieure et la quasi-intégralité du talon. Il est postérieur à une fracture de la base du bord gauche. Cet aménagement correspond à une UTF de CP/CR (CP/CR1).

### CSB 5, n° 68/554 (fig. 93, n°3)

Éclat ordinaire à dos cortical partiel. La retouche a dégagé deux UTF de CT convergentes. Sur le bord droit l'UTF de CT (CT1, A/[3]1, 60°) est aménagée par des enlèvements qui ont profondément consommé le support. Il y a deux rangs de retouches successifs mais le second est partiel. Pour l'UTF de CT (CT2, A/[31][32], 60-65°) sur le bord gauche, la retouche est comparable mais le second rang est continu. Il s'agit d'un ré-affûtage car l'angle de coupant laissé par le précédent rang de retouche est identique.

### 2.3.3.5 - Synthèse et comparaisons entre supports bifaciaux et non bifaciaux

On souligne en premier la complexité de l'aménagement des UTF de CT sur les éclats-supports qui sont fortement et intégralement transformés. Si les UTF de CT présentent le plus souvent un angle de coupant intermédiaire à ouvert, supérieur à 55°, on observe fréquemment l'association sur un même support de plusieurs UTF de ce type avec une UTF de CT dont l'angle de coupant est aigu à intermédiaire, de 30 à 55°. Le passage de certains technotypes simples (à un rang de retouche) dont l'angle de coupant est aigu vers des technotypes plus complexes (à deux ou trois rangs) et angle de coupant équivalent ou plus élevé est techniquement possible et envisageable sur certaines pièces. On peut ainsi envisager que les
<figure><img src="image_115.png" /><figcaption>Fig. 93 : La Cotte de St. Brelade, couche 5. Groupe 2-outils à bords retouchés convergents (description dans le texte, § 2.3.3.4).</figcaption></figure>
éclats-supports du groupe 2 qui présentent plusieurs types d'UTF de CT aient un large potentiel fonctionnel.

Un constat équivalent s'applique de façon plus tranchée aux outils de ce groupe sur supports bifaciaux bien que leur effectif soit plus restreint. Sur deux de ces supports bifaciaux une UTF de CT à angle de coupant aigu est associée à une ou plusieurs UTF de CT à angle de coupant nettement plus élevé.

Les outils à bords retouchés convergents sur supports bifaciaux ne se différencient pas de ceux sur éclats-supports sauf sur des bases morphométriques, les premiers étant en effet bien plus larges. Les phases de production de supports bifaciaux et de confection des outils les rapprochent de la structure (plan / convexe) et des caractéristiques fonctionnelles des outils sur éclat. Il y a semble t-il une recherche de similitude fonctionnelle entre ces outils.

Il faut alors s'interroger sur une différenciation possible sur le plan du déroulement dans l'espace de la phase de confection mais aussi sur la mobilité de ces outils. Nous savons que les pièces bifaciales n'ont assurément pas été produites sur le site. Une partie au moins des supports non bifaciaux n'a pas été produite dans la cavité. Qu'en est-il de la phase de confection ? L'assemblage ne comprend que 43 éclats de retouches identifiés dont quatre proviennent avec certitude d'affûtages de tranchants bifaciaux (fig. 88). Il faut rappeler qu'aucun tamisage n'a été effectué lors de la fouille ce qui nous prive de la plupart des éclats de retouche inférieurs à 20 mm environ. Il est possible qu'une part importante des outils de ce groupe aient été retouchées et utilisés en dehors du site mais cela reste difficile à démontrer lorsqu'une partie de l'information manque. Donc nous n'avons pas d'élément qui différencie les outils à bords retouchés convergents sur supports bifaciaux et sur éclat sur la base de critères spatiaux.

Du point de vue fonctionnel, la forte épaisseur des supports et les angles de coupant élevés qui sont nettement prédominants s'opposent aux actions de coupe de matériaux tendres selon un mouvement rentrant mais s'avèrent compatibles avec des actions de rabotage de matériaux durs ou d'amenuisement voire de taille de matériaux semi-durs. Néanmoins sur certaines pièces, des UTF de CT à angle de coupant aigu ont volontairement été recherchées. Elles sont parfois associées aux précédentes sur un même support.

### 2.3.4 - Le groupe 3 : outils à bords retouchés linéaires (racloirs)

Le groupe 3 comprend des outils qui présentent le plus souvent un mais parfois deux ou trois UTF de CT dont le fil linéaire est obtenu par un ou plusieurs rangs de retouches. Contrairement au groupe 2, il n'y a pas convergence des portions de bords retouchés. Ces outils sont des racloirs au sens typologique. Tous les types de supports produits ont été observés dans ce groupe des racloirs : laminaire, Levallois, Levallois débordant, à dos ou pan naturel, éclat ordinaire ou bifacial. L'analyse a été menée indépendamment pour les supports bifaciaux et pour les éclats-supports.

#### 2.3.4.1 - Les pièces à bords retouchés linéaires

Le groupe 3 est celui qui, dans l'industrie de la couche 5 de la Cotte de St. Brelade, est le plus abondant (105 pièces). Nous avons pris en compte trois pièces bifaciales déjà étudiées dans le groupe des pièces à coup de tranchet mais qui présentent des UTF résiduelles qui évoquent un état fonctionnel antérieur. Ces portions d'UTF de CT avec un fil linéaire correspondent au minimum au groupe 3. Nous rappelons qu'elles ont été tronquées par la mise en place de l'UTF de CT type coup de tranchet latéral (cf. § 2.3.2.5).

Dans la définition des catégories de support utilisées ici dans l'analyse certains caractères techniques d'importance fonctionnelle particulière ont été privilégiés, comme la
présence de deux bords bruts tranchants allongés parallèles ou d'un dos ou pan naturel non tranchant. Par conséquent, ces catégories ne se superposent pas strictement aux catégories de supports définies par leur origine technique. Les équivalences sont données par le tableau 43.

<table><caption>Tabl. 43 : La Cotte de St. Brelade, couche 5. Correspondances entre les catégories de supports retenues pour l'analyse du groupe des racloirs (groupe 3) et les catégories de supports définies par l'analyse des schémas de production.</caption><thead><tr><th>Catégories de supports pour l'analyse du Gp. 3</th><th>Support laminaire</th><th colspan="3">Support allongé à dos ou pan naturel</th><th>Support Lev. à deux bords tranchants parallèles</th><th>Supp. Lev. réc. court.</th><th>Support ordinaire</th><th colspan="3">Support bifacial</th><th>Total</th></tr><tr><th>Effectifs</th><th>11</th><th colspan="3">16</th><th>23</th><th>5</th><th>39</th><th colspan="3">11</th><th>105</th></tr><tr><th></th><th>11</th><th>2</th><th>1</th><th>5</th><th>5</th><th>3</th><th>3</th><th>20</th><th>3</th><th>1</th><th>7</th><th></th></tr></thead><tbody><tr><th>Catégories de supports prod.</th><td>Lame non Levallois</td><td>Lame non Lev. à dos nat.</td><td>E. débord. épais indt.</td><td>E. allongé à pan cortical</td><td>E. Lev. récurrent à dos nat.</td><td>E. Lev. débordant</td><td>E. allongé à pan diaclasique</td><td>E. Lev. récurrent parallèle</td><td>E. Lev. réc. court</td><td>E. ordinaire, indéterminé, E. de gel</td><td>schéma 1</td><td>schéma 3</td><td>schéma 4</td></tr><tr><th></th><td colspan="3">Syst. lamin.</td><td colspan="6">Syst. Levallois</td><td colspan="3">Syst. faconn.</td></tr></tbody></table>

### 2.3.4.2 - Structure technique globale

Aucune structure technique particulière à ce groupe ne semble se dégager. Tout au plus peut-on dire que sur les supports allongés (laminaire, Levallois, ...), ce sont les bords ou portions de bords latéraux qui sont retouchés tandis que sur les autres supports, les bords transformés sont souvent les plus réguliers et/ou les plus longs.

### 2.3.4.3 - Caractéristiques fonctionnelles des racloirs (groupe 3)

#### Sur éclats-supports

On peut tout d'abord noter que l'intensité de la transformation est moindre que pour les pièces à bords retouchés convergents, sur des supports pourtant équivalents. Cependant des différences sont sensibles selon les supports. Pour les supports laminaires, les deux bords latéraux sont presque systématiquement retouchés tandis que pour les éclats Levallois récurrents parallèles, ils ne le sont que dans environ un tiers des cas. Ce cas de figure est encore plus rare pour les supports ordinaires.

Les parties aménagées correspondent essentiellement à des UTF de CT. Les aménagements du contact réceptif / préhensif sont en général absents sauf sur les supports laminaires où presque la moitié présente de tels aménagements et sur les éclats ordinaires pour lesquels presque un quart des pièces sont concernées. Pour ces derniers, il s'agit essentiellement de troncatures / amincissement tandis que pour les supports laminaires, l'aménagement prend principalement la forme d'une courte troncature directe ou inverse qui reprend l'angulation bord latéral / cassure, mais aussi celle d'une troncature inverse avec ou sans amincissement.
On observe sur cet ensemble une importante diversité des technotypes de dièdre de coupe. Les trois grands technotypes : plan / plan, plan / convexe, plan / concave, sont représentés. Les technotypes à affûtage bifacial sont néanmoins anecdotiques. Le plan de base des dièdres de coupe est donc essentiellement constitué d'une surface initiale plane (A/...) qui est généralement la face inférieure de l'éclat-support. Les technotypes simples, c'est à dire à un rang de retouche, sont nettement majoritaires sauf pour les éclats allongés à dos naturel épais où le recours à deux voire trois rangs de retouche est très fréquent. Pour les autres types de supports, lorsqu'il y a deux rangs de retouche, on peu globalement distinguer plusieurs intentions :

- soit le second rang, aux enlèvements de profil concave et d'ampleur courte, est partiel et est interprétable comme un ré-affûtage,

- soit il y a succession de deux rangs de profil convexe ou convexe puis plan ; succession qui peut être constituée dès le départ ou correspondre à un ré-affûtage,

- soit le second rang, de profil convexe, limité à une portion du tranchant, en modifie très nettement l'angle de coupant. Ce cas de figure, qui correspond à une reprise, est anecdotique sauf pour les supports allongés à pan ou dos naturel.

La longueur moyenne des fils coupants retouchés est assez comparable pour les différents types de support (environ 32 mm) bien qu'un peu plus élevée pour les supports laminaires (40 mm). On constate une forte diversité des valeurs de l'angle de coupant depuis la gamme aiguë jusqu'à la gamme ouverte (fig. 94a). Ceci montre que pour ces racloirs (groupe 3), coexistent plusieurs objectifs fonctionnels. Il est ainsi possible d'isoler des UTF de CT dont les valeurs de l'angle de coupant sont toutes inférieures ou égales à 50° dans leur état initial (hors reprise), correspondant à un tranchant plutôt aigu. Ce type de tranchant est cependant inégalement représenté sur les différents types de support : la moitié des UTF sur les supports allongés à dos ou pan naturel, un tiers pour les éclats Levallois récurrents parallèles, un cinquième pour les supports ordinaires et près d'un dixième pour les supports laminaires. Pour ces derniers, leur forte épaisseur pourrait expliquer la faible fréquence des tranchants retouchés aigus. Donc, l'objectif fonctionnel principalement associé à ces racloirs est la réalisation de tranchants à angle de coupant de la gamme intermédiaire (50-60°) à/ou ouverte (>60°).

Les similitudes de l'aménagement des différents types de supports débités est donc manifeste même si apparaissent quelques différences dont la signification nous échappe.

<figure><img src="image_116.png" /><figcaption>Fig. 94 : La Cotte de St. Brelade, couche 5. Distribution des valeurs de l'angle de coupant par type de support pour les racloirs (groupe 3).</figcaption></figure>
### Sur supports bifaciaux

Ainsi que nous l'avons signalé dans un précédent paragraphe (§ 2.2.4.1), aux huit pièces bifaciales initialement intégrées à ce groupe 3, nous avons joint trois pièces bifaciales déjà analysées dans le groupe 1 mais qui présentent des portions résiduelles d'UTF de CT à fil linéaire.

Comme on pouvait s'y attendre, les technotypes de dièdre de coupe sont plus variés que pour les éclats-supports bien que l'effectif soit restreint. Ceci se superpose à la variété des supports bifaciaux qui relèvent de trois schémas de production (tabl. 43). Les technotypes plan / plan et plan / convexe sont majoritaires mais accompagnés par d'autres (plan / concave, convexe / plan, concave / plan, convexe / convexe). On peut noter que sept UTF de CT, sur un total de 17, mettent en jeu des retouches de pré-affûtage sur une ou sur les deux surfaces du dièdre, ce qui leur donne un caractère complexe. Il faut noter que pour la moitié des UTF de CT des supports bifaciaux issus du schéma de façonnage 4, le moins élaboré, l'une des surfaces du dièdre de coupe est constituée, totalement ou partiellement, d'une portion de surface de l'éclat qui a été partiellement façonné. Ceci s'oppose aux UTF de CT des pièces bifaciales issues du schéma de façonnage 1. Pour plusieurs pièces bifaciales, en particulier pour celles déjà analysées dans le groupe des pièces à coup de tranchet, les UTF de CT du groupe 3 sont résiduelles. Soit elles ont été recoupées par la mise en place d'une UTF du groupe 1, soit elles ont été tronquées par des réaménagements du volume bifacial. La distribution des valeurs de l'angle de coupant pour ces UTF de CT du groupe 3 sur supports bifaciaux présente deux pics bien différenciés, sans recouvrement (fig. 94b). Même si cette bipartition est accentuée par un échantillon limité, deux intentions fonctionnelles différenciées s'expriment : recherche d'une UTF de CT à angle de coupant aigu à intermédiaire (40-50°) ou d'une UTF de CT à angle de coupant ouvert (65 à 85°). Il est à noter que pour le premier type, le technotype est exclusivement plan / plan ou plan / concave. Les deux types peuvent être associés sur un même support bifacial. La longueur moyenne des UTF de CT est de 21 mm mais plusieurs ne sont conservées que de façon résiduelle.

#### 2.3.4.4 - Description des racloirs illustrés

**CSB 6/5, n° 72/108 (fig. 95, n°1)**

La structure volumétrique de cette pièce bifaciale, épaisse et étroite, est caractéristique du schéma 3. L'histoire fonctionnelle de cette pièce est complexe car deux états se succèdent. A la base, les UTF de CT1 (CT1, Ø1/1Ø, 50°) et UTF de CT2 (CT2, Ø1/2Ø, 70°) sont à l'état résiduel. La seconde est tronquée par un réaménagement du volume bifacial tandis que la première est tronquée par la mise en place d'une dernière UTF de CT (CT3, A,1Ø /1Ø, 45-50°) par un unique enlèvement dont la percussion est portée très en retrait du bord.

**CSB 5, n° 66/423 (fig. 95, n°2)**

Cette petite pièce bifaciale relève du schéma de façonnage 4. Un éclat a été façonné très partiellement et des portions de surfaces du volume initial sont encore visibles. Nous n'avons identifié qu'une UTF de CT (CT1, A/31, 40-45°) dont la retouche n'est pas bifaciale. L'aménagement bifacial correspond alors très probablement à l'aménagement du volume de l'outil à titre d'UTF de CP/CR.

**CSB 5, n° 69/1372 (fig. 95, n°3)**

Le support est une pièce bifaciale (schéma 4), façonnée à partir d'un éclat semi-cortical dont plusieurs portions n'ont pas été atteintes par le façonnage. La première UTF de CT aménagée (CT1, Ø1,Ø2/2Ø, 65°) se caractérise en particulier par une surface de pré-affûtage opposée à celle d'affûtage. La seconde UTF (CT2 ?, Ø2/2Ø, 85°) se surimpose à la première dont elle ampute la régularité. Il est difficile d'affirmer que cette UTF courte et de délinéation concave, rattachée au groupe 4, est une UTF de CT. A la base de la pièce, une troisième UTF (CT3 ?, A/2Ø, 80°) pourrait être soit un CT soit un CP/CR.

**CSB 5, n° 66/373 (fig. 96, n°1)**

Le support est un long fragment d'une lame non-Levallois qui présente deux longues UTF de CT retouchées sur ses bords. L'UTF de CT1 (CT1, A/1Ø, 60-80°), sur le bord droit est d'un type très simple. Sur le bord gauche, le second rang de retouches partiel, de profil concave et d'ampleur courte, est interprété comme un ré-affûtage.
<figure><img src="image_117.png" /><figcaption>Fig. 95 : La Cotte de St. Brelade, couche 5. Groupe 3-racloirs (description dans le texte, § 2.3.4.4).</figcaption></figure>
<figure><img src="image_118.png" /><figcaption>Fig. 96 : La Cotte de St. Brelade, couche 5. Groupe 3-racloirs (description dans le texte, § 2.3.3.4).</figcaption></figure>
partiel de l'UTF de CT2 (CT2, A/[3]2, 50-65°). A la base du support, l'angulation entre la fracture et le bord gauche a été aménagée par un unique enlèvement. Il s'agit clairement de la réalisation d'une UTF de CP/CR (CP/CR1). En partie distale, un petit coup de burin transverse dont la percussion est donnée sur la surface d'affûtage du CT2, pourrait avoir le même rôle. Il est accompagné aux extrémités apicales des CT1 et 2 par deux UTF courtes de délinéation concave dont les enlèvements de profil convexe se superposent ou recoupent ceux des CT.

### CSB 5, n° 69/73 + 69/391 (fig. 96, n°2)

Ces deux outils sont décrits en même temps car ils constituent les deux parties d'un même outil originel. Le support est un éclat Levallois récurrent qui porte des négatifs de débitage bipolaire, fracturé à son extrémité distale, probablement avant la retouche. Dans une première étape, les deux bords du support ont été retouchés. L'UTF de CT1 (CT1, A/32, 55-65°), sur le bord droit, a été affûtée par une retouche convexe puis affûtée à nouveau par une retouche de profil concave. Sur le bord gauche, l'UTF de CT2 (CT2, A/3[2],2[1], 45-65°) a fait l'objet d'un pré-affûtage partiel puis d'un affûtage, assez variable dans sa nature et ses conséquences. A partir de la surface de cassure, légèrement aménagée, le coup de burin qui est donné le long du bord droit, outrepasse jusqu'à la base du bord gauche en emportant le talon du support. Cet outrepassage recoupe nettement le CT2. Seule la chute de burin outrepassée subit alors une nouvelle retouche. Sur le bord gauche, la base de l'ancien CT2, saillante, est supprimée. Cet aménagement ne dégage pas de fil coupant particulier et peut être assimilé à une UTF de CP/CR (CP/CR1). La portion apicale du CT1 est supprimée par l'aménagement de l'UTF de CT3 (CT3, A,[1Ø]/1Ø, 45-55°).

### CSB 5, n° 68/923 (fig. 97, n°1)

Eclat Levallois récurrent parallèle. On distingue sur le bord droit du support deux UTF de CT jointives différentes : à la base l'UTF de CT2 (CT2, 2Ø/[1Ø][3Ø], 45-55°), au sommet l'UTF de CT1 (CT1, A/[1Ø][3Ø], 30-35°). Il est possible que le CT2 ait été aménagé selon un technotype A/2Ø dans un premier temps puis que l'aménagement du CT1 s'y soit partiellement superposée.

### CSB 5, n° 68/1290 (fig. 97, n°2)

Le support est un éclat ordinaire à pan latéral cortical. Une UTF de CT (CT1, A/32, 65°) est mise en place sur le bord droit. Sa délinéation est fortement convexe et irrégulière. Le second rang de retouches, de profil plan rebroussé est très court (ampleur millimétrique). L'UTF de CP/CR1 se caractérise par l'aménagement d'une troncature / amincissement à l'extrémité distale. Un des enlèvements, très envahissant recoupe les négatifs d'enlèvements de l'UTF de CT.

### CSB 5, n° 68/216 (fig. 97, n°3)

Le bord droit de cet éclat Levallois débordant à dos naturel a été intégralement retouché. Deux UTF de CT, jointives, se distinguent. L'UTF de CT1 (CT1, A/22, 85°) occupe le secteur distal du bord. D'abord aménagée par des retouches convexes (2Ø), donnant un angle de coupant aigu (45°), l'UTF est reprise sur tout son fil par un rang de retouches d'ampleur très courte, de profil convexe, qui porte l'angle à 85°. L'UTF de CT2 (CT2, A/[3]2, 55-75°) occupe le secteur basal. Le second rang de retouche, partiel et de profil concave, permet de conserver un angle de coupant de 55-60° dans la partie basale de l'UTF, dans la zone bulbaire.

### 2.3.4.5 - Synthèse et comparaisons entre supports bifaciaux et non bifaciaux

Comme les groupes des pièces à coup de tranchet et des pièces à bords retouchés convergents, le groupe des racloirs n'est pas homogène sur le plan techno-fonctionnel. Derrière un caractère commun sur lequel nous avons individualisé ce groupe, à savoir la présence d'un ou plusieurs tranchants de délinéation linéaire aménagés par retouche classique, on observe une importante variation des caractères techno-fonctionnels de ces tranchants, tant dans la nature des technotypes que dans les valeurs des angles de coupant. Ceci traduit des potentiels fonctionnels variés. Les UTF de CP/CR s'individualisent rarement par un aménagement spécifique du support sauf sur les éclats-supports ordinaires / indéterminés qui sont les supports les moins normés. Il s'agit essentiellement d'aménagements limités, de type troncature / amincissement.

Les supports bifaciaux constituent une fraction très minoritaire des pièces du groupe des racloirs (environ 10%). Leur rôle est accessoire sur un plan quantitatif. Pour les deux types de supports, plusieurs intentions fonctionnelles se dessinent, soulignées par l'utilisation de procédés de retouche adaptés sur des portions de support sélectionnées. Le plus souvent, ce
<figure><img src="image_119.png" /><figcaption>Fig. 97 : La Cotte de St. Brelade, couche 5.
Groupe 3-racloirs (description dans le texte, § 2.3.4.5).</figcaption></figure>
sont des dièdres de coupe de fil convexe ou rectiligne, à angle de coupant intermédiaire ou
ouvert qui ont été recherchés. L'aménagement spécifique de dièdres de coupe aigus est aussi
identifiée mais sa fréquence diffère selon les types de supports. Ils sont rares sur les supports
épais comme les lames ou peu normés comme les éclats ordinaires. Le potentiel fonctionnel
des outils sur supports bifaciaux ou sur éclats-supports n'apparaît pas différent si l'on compare
leurs UTF de CT. Des différences s'établissent néanmoins sur deux points.

La longueur moyenne des UTF de CT est nettement moindre pour les supports
bifaciaux que pour les éclats-supports. Ceci est en partie lié, mais pas exclusivement, aux
transformations subies par ces supports, lesquelles ont rendu résiduelles les UTF de CT. Sur
les éclats-supports des transformations d'UTF de CT sont exceptionnelles, cependant repérées
sur des éclats-supports allongés à dos. Elles sont néanmoins mineures et ne touchent pas la
structure du support.

2.3.5 - Groupe 4 : encoche et denticulé

Le groupe 4 est construit autour de deux types d'UTF. La première est courte et de
délinéation nettement concave (encoche). Elle peut être constituée d'un unique enlèvement
(encoche de type clactonienne) ou de plusieurs enlèvements contigus. La seconde est plus
longue et de délinéation multi-concave (denticulé). Elle se compose d'une juxtaposition de
plusieurs UTF du premier type.

Nous avons choisi de ne pas entreprendre l'analyse des objets sur lesquels on distingue
de tels aménagements. Outre les raisons déjà invoquées pour l'assemblage de Mesvin IV (cf.
chap. VI, § 2.4.5), les difficultés que nous avons rencontrées pour déterminer l'origine
anthropique ou naturelle de tels aménagements rendent délicate leur interprétation.

2.3.6 - Groupe Divers

Nous évoquons brièvement ici des objets qui ne sont ni décrits ni analysés. Il s'agit
uniquement de pièces sur supports débités qui ne s'insèrent dans aucun des groupes
précédents compte tenu de particularités liées au procédé de retouche ou à l'objectif de la
retouche. Ces pièces, dont chaque type n'est représenté que par une ou deux unités, apportent
peu d'informations à l'échelle générale où nous plaçons notre étude techno-fonctionnelle. Cet
ensemble ne comprend que moins d'une dizaine de pièces.

Il faudrait ajouter les burins à cet ensemble qui, d'après les décomptes typologiques de P.
Callow, sont assez abondants (N=14). Nous n'avons pas réalisé leur étude qui aurait
probablement requis une grille de lecture spécifique mais apportait peu d'information. Il est
simplement à noter que les supports de ces burins sont uniquement des supports débités mais
très variés.

2.4 - Synthèse techno-fonctionnelle (tabl. 44)

Sur le plan fonctionnel, l'assemblage de la couche 5 de La Cotte de St. Brelade
s'individualise par la fréquence de l'outillage retouché. Les groupes fonctionnels ont été
constitués sur des critères simples, accessibles avant l'analyse détaillée, à savoir la distribution
et les positions respectives des parties retouchées sur le support. Ils correspondent
globalement, pour les outils sur éclat au moins, à de grandes catégories typologiques : pièce à
coup de tranchet, pièce à bords retouchés convergents, racloir. L'analyse nous a permis de
montrer que ces groupes se composaient en réalité d'outils au potentiel fonctionnel varié. Ceci
ne signifie pas pour autant que la disposition des UTF sur le support n'est pas un caractère
fonctionnellement significatif mais surtout qu'il n'est pas ici lié à d'autres caractères comme la
nature des tranchants retouchés. Un des faits marquants pour cet assemblage, mais en réalité attendu, est l'absence dans chacun de ces groupes de relation avérée entre type du support et type de tranchant retouché.

<table><caption>Tabl. 44 : La Cotte de St. Brelade, couche 5. Tableau de synthèse.</caption><thead><tr><th></th><th>Gp. 0</th><th>Gp. 1</th><th>Gp. 1 +Gp. 2</th><th>Gp. 2</th><th>Gp. 3</th><th>Gp. 1 + Gp. 3 résiduel</th><th>Gp. 4 seul</th><th>Gp. 4 + autre Gp.</th><th>Total supp. transf.</th><th>Total supp. brut</th><th>Total supp.</th></tr></thead><tbody><tr><td>E. ordinaire et indt.</td><td>indt.</td><td>8</td><td>0</td><td>9</td><td>40</td><td></td><td>6</td><td>2</td><td>63</td><td>indt.</td><td>63</td></tr><tr><td>E. allongé à pan naturel</td><td>4</td><td>0</td><td>0</td><td>1</td><td>8</td><td></td><td>0</td><td>0</td><td>9</td><td>4</td><td>13</td></tr><tr><td>E. Lev. réc. à dos naturel</td><td>1</td><td>2</td><td>0</td><td>0</td><td>5</td><td></td><td>0</td><td>0</td><td>7</td><td>1</td><td>8</td></tr><tr><td>E. Lev. débordant</td><td>5</td><td>2</td><td>0</td><td>0</td><td>3</td><td></td><td>0</td><td>0</td><td>5</td><td>5</td><td>10</td></tr><tr><td>E. Lev. réc. parallèle</td><td>19</td><td>5</td><td>0</td><td>7</td><td>20</td><td></td><td>1</td><td>1</td><td>33</td><td>19</td><td>52</td></tr><tr><td>E. Lev. réc. centripète</td><td>8</td><td>0</td><td>0</td><td>0</td><td>5</td><td></td><td>1</td><td>1</td><td>6</td><td>8</td><td>14</td></tr><tr><td>Lame non Levallois</td><td>2</td><td>2</td><td>1</td><td>4</td><td>13</td><td></td><td>0</td><td>1</td><td>20</td><td>2</td><td>22</td></tr><tr><td>Pièce bifaciale</td><td></td><td></td><td></td><td></td><td></td><td></td><td></td><td></td><td></td><td></td><td></td></tr><tr><td>Sch. 1</td><td>0</td><td></td><td>0</td><td>1</td><td>1</td><td>2</td><td>1</td><td></td><td></td><td></td><td></td></tr><tr><td>Sch. 2</td><td>0</td><td>2</td><td>0</td><td>3</td><td>4</td><td>0</td><td>2</td><td>2</td><td>17</td><td>1</td><td>18</td></tr><tr><td>Sch. 3</td><td>2</td><td></td><td>0</td><td>0</td><td>1</td><td>0</td><td></td><td></td><td></td><td></td><td></td></tr><tr><td>Sch. 4</td><td>0</td><td></td><td>0</td><td>0</td><td>6</td><td>1</td><td>1</td><td></td><td></td><td></td><td></td></tr></tbody></table>

Les supports bruts en silex, réguliers, de dimension supérieure à 40/50 mm, présentant des tranchants bruts de débitage potentiellement utilisables sont rares, même parmi les sous-produits du débitage Levallois. Or c'est parmi ce groupe des outils à tranchant brut dedébitage (groupe 0) que figurent habituellement des dièdres de coupe au fil rectiligne et à angle de coupant très aigu ou aigu. Ils sont donc rares parmi l'assemblage de la couche 5. Il faut néanmoins rappeler que les productions en quartz et roches tenaces ne sont pas prises en compte.

Le groupe des outils à bords convergents retouchés (groupe 2) se caractérise par une retouche quasi-systématique de toute la périphérie du support dans une recherche de convergence des bords actifs. On observe de deux à quatre UTF de CT qui peuvent différer par une partie de leurs caractères. La fréquence des UTF de CT à deux rangs de retouche évoque, au moins dans une partie des cas, un ré-affûtage. Ces outils ont pu être modifiés à plusieurs reprises car :

- on observe la coexistence sur une même pièce d'UTF de CT à angle de coupant aigu et d'UTF de CT à angle de coupant intermédiaire,

- certaines UTF de CT à angle de coupant aigu sont résiduelles, recoupées par des UTF à angle ouvert qui sont probablement dans une partie des cas des aménagements de CP/CR,

- dans quelques cas, les UTF des secteurs basaux sont nettement recoupées et tronquées par les UTF des secteurs apicaux, ce qui se traduit par une rupture dans la délinéation du fil et dans la nature de l'UTF.

Le potentiel fonctionnel des outils de ce groupe nous semble nettement conditionné par des angles de coupant intermédiaire à ouvert, une épaisseur du support souvent importante et un profil concave ou plan rebroussé des surfaces d'affûtage à proximité immédiate du fil. Ceci va à l'encontre de mouvements de coupe rentrante mais s'accorde plutôt avec une coupe sortante. Une fraction minoritaire des tranchants retouchés présente des dièdres aigus, de profil varié, compatibles pour certains avec un mouvement de coupe rentrante. Dans le groupe, il faut souligner la forte similitude techno-fonctionnelle entre les pièces bifaciales, en particulier celles du schéma de façonnage 2, et les éclats-supports.
Le groupe des racloirs (groupe 3) est plus varié que le groupe précédent sur le plan
techno-fonctionnel. L'intensité de la retouche est moindre, ainsi que l'atteste la présence plus
rare des UTF de CT à deux rangs de retouche. Pour une partie minoritaire des UTF de CT, la
retouche vise à aménager un dièdre de coupe à angle strictement aigu et fil linéaire. Au-delà,
toutes les valeurs d'angle de coupant sont représentées, jusqu'à celles très ouvertes. On a noté
en outre que les aménagements de CP/CR concernent essentiellement les supports les moins
normés (éclats ordinaires). Pour les supports bifaciaux, deux gammes de valeurs d'angle de
coupant recherchées se dégagent, contrairement aux éclats-supports où la distribution est plus
continue. Peut être cela est-il à mettre au compte d'un effectif plus restreint pour les supports
bifaciaux. Contrairement au groupe des outils à bords retouchés convergents, les
modifications d'UTF de CT sont rares. Seules quelques UTF de CT à angle de coupant aigu
ont été partiellement transformées en UTF de CT à angle intermédiaire / ouvert ou en UTF de
CP/CR.

Le groupe des outils à coup de tranchet (groupe 1) se distingue par la spécificité du
procédé de retouche. Le coup de tranchet a été appliqué à différents types de supports. Il s'agit
d'un recyclage pour les supports bifaciaux tandis que pour les éclats-supports l'hypothèse d'un
mode d'affûtage particulier doit aussi être évoquée. Il en découle des caractères fonctionnels
variables en fonction de la situation à laquelle le coup de tranchet se surimpose. Ce mode de
retouche impose probablement un fonctionnement plus polarisé. Les aménagements
interprétés comme des UTF de CP/CR sont rares. Il s'agit de quelques aménagements de type
troncature / amincissement sur des éclats ordinaires et de très rares dos retouchés opposés au
coup de tranchet.

3 - Bilan

3.1 - Fonction et fonctionnement du site de La Cotte de St. Brelade lors de
l'occupation de la couche 5

La fonction et le fonctionnement de La Cotte de St. Brelade au moment de
l'occupation de la couche 5 semblent complexes. Plusieurs éléments nous permettent
d'estimer, au moins en partie, la nature des flux d'objets lithiques impliqués dans le
fonctionnement. Il faut en premier lieu évoquer le débitage de quartz filonien et de la majorité
des roches tenaces, probablement réalisé sur place, qui compose plus de la moitié de
l'assemblage. Nous rappelons que ces matériaux n'ont pas été pris en compte dans l'étude
techno-fonctionnelle. Pour le silex, des comportements plus variés se dessinent. Un débitage
de conception Levallois, de méthode récurrente parallèle a été en partie réalisé *in situ* à partir
de galets collectés dans les cordons de plage actifs mais aussi de gros éclats, peut-être
produits sur les gîtes mêmes. Tout laisse cependant penser que d'assez nombreux éclats
Levallois ont été produits à l'extérieur et introduits dans la cavité. Quelques-uns évoquent, par
leur matière, une origine lointaine (Nord cotentin, à un minimum de 70 km). Parallèlement
nous avons mis en évidence une production laminaire non Levallois essentiellement
représentée par des produits de module assez important importés sur le site. La plupart des
éclats ordinaires, qui sont majoritairement des sous-produits du débitage Levallois, ont été
retouchés. Ceux de module important ont été sélectionnés en priorité. Peu d'entre eux
subsistent donc à l'état brut. Les produits Levallois qui sont restés à l'état brut sont peu
nombreux et très souvent sous forme fragmentaire. Les produits laminaires sont transformés
en outils, à de rares exceptions près.
Le tamisage des déblais n'a pas été pratiqué lors de la fouille ce qui nous prive de l'essentiel des sous-produits de la phase de confection. Seuls les éclats de retouche les plus volumineux (>15/20 mm) ont été recueillis. Nous n'avons décompté que 39 éclats issus de la retouche d'éclats-supports. Ce chiffre nous paraît en deçà du nombre de négatifs d'ampleur équivalente observables sur les outils des différents groupes fonctionnels. On peut ainsi penser qu'une fraction des outils sur éclat-support a été introduite sur le site déjà retouchée mais il est impossible d'en estimer l'importance. Ceci s'accorde avec les interprétations de P. Callow et J.C.C Hutcheson (Callow, 1986c ; Hutcheson, Callow, 1986). On peut à ce titre mentionner que la retouche de certaines pièces à bords convergents (groupe 2) sur éclat-support ordinaire a pu produire d'abondants déchets, en particulier lorsque la partie convergente de l'outil a été aménagée aux dépens du talon du support. On remarque aussi que les petits fragments d'outils sont très rares dans l'assemblage alors que les outils sont assez souvent fracturés après la retouche ce qui tend à montrer qu'ils ont été introduits dans cet état.

Pour le groupe des pièces à bords retouchés convergents (groupe 2), nous avons mis en évidence que sur la plupart des pièces à UTF de CT à plusieurs rangs de retouche, le dernier rang correspond vraisemblablement à un ré-affûtage. Pour le groupe des pièces à coup de tranchet (groupe 1), nous avons aussi montré que de grandes chutes de coup de tranchet provenant d'éclats-supports ne correspondent pas aux négatifs sur les pièces à coup de tranchet présentes dans la couche. Ceci indique que la retouche s'est déroulée sur place puis que ces pièces à coup de tranchet que l'on devine de grand module, en considérant l'extension du coup de tranchet, ont été exportées. En outre, il est très probable que la production de ces supports de grand module ainsi que leur première phase de confection (les chutes montrent que le coup de tranchet modifie presque toujours une retouche antérieure) se soient déroulées ailleurs. Celles de plus petit module ont aussi été retouchées sur place mais sont restées sur le site.

Les pièces bifaciales les plus élaborées n'ont pas été façonnées sur place car il n'y a que trois éclats de façonnage avérés dans l'assemblage. Seules les moins élaborées (schémas 3 et 4) ont pu être produites sur place. Pour les pièces bifaciales, plusieurs éléments nous permettent de penser qu'elles ont été en partie introduites sur le site, peut-être dans leur état actuel. Dans le groupe 1 (à coup de tranchet), nous avons montré que pour les pièces bifaciales du schéma de façonnage 1 (les plus élaborées), la mise en place du coup de tranchet s'accompagne d'une dénaturation de la structure. Or les sous-produits liés à cette dénaturation (fragments de pièce bifaciale, éclats de troncature, de reprise) sont absents de l'assemblage à l'exception de l'éclat de façonnage outrepassé inclus dans l'analyse techno-fonctionnelle<fnref n="50" />. Il n'y a d'ailleurs que deux chutes de coup de tranchet issues de pièces bifaciales dont une d'un gabarit nettement supérieur aux négatifs sur les pièces bifaciales de l'assemblage. On ajoutera qu'il n'y a que quatre éclats de retouche qui proviennent avec certitude de pièces bifaciales mais il faut tenir compte du biais imposé par l'absence de tamisage à la fouille. Il est donc très probable qu'une partie des pièces bifaciales de la couche 5, les plus élaborées au moins (schémas de façonnage 1 et 2), aient été introduites déjà retouchées sur le site, dans un état technique proche ou identique à celui de leur abandon, c'est à dire dénaturé ou réduit. Les pièces bifaciales les plus simples (schémas de façonnage 3 et 4) ont pu être produites et retouchées sur le site mais l'absence des fractions fines de l'assemblage lithique rend l'argumentation impossible.

La couche 5 de La Cotte de St. Brelade apparaît ainsi comme un lieu où le flux entrant de produits lithiques est important bien qu'un flux sortant de produits retouchés très élaborés

<footnote n="50">⁵⁰ On pourrait objecter une localisation préférentielle de ces déchets en dehors de la zone fouillée pour expliquer leur absence de la surface fouillée qui atteint environ 33 m², soit d'après notre estimation, moins de 12% de l'étendue initiale de la couche 5. Cependant, la rareté de répartitions très différenciées des types d'objets dans les sites en grotte ne plaide pas en faveur d'une telle éventualité.</footnote>
soit perceptible. Les schémas opératoires de production en silex sont dans presque tous les cas incomplets, ce qui semble aussi en partie le cas pour les schémas de confection. La majorité des outils fortement retouchés, sur supports bifaciaux ou éclats-supports, a probablement été introduite en l'état sur le site. Les activités de retouche sur le site ont pu être minimes. Nous concevons alors le site au moment de la couche 5 comme un site fréquenté de façon répétitive mais épisodique dans lequel ont été abandonnés des outillages usés, fabriqués ailleurs sur le plateau continental autour de La Cotte de St. Brelade. Une production lithique complémentaire ou de substitution (?) a néanmoins été effectuée, principalement à partir de matières strictement locales (quartz, roches tenaces), mais aussi de galets de silex peut-être peu éloignés. Le site peut alors être considéré comme un site "satellite" d'autres plus importants (habitat?). On peut au minimum affirmer que la taille du silex n'est pas l'activité qui a justifié l'occupation du site ! La part minimale occupée par l'outillage brut ou retouché à angle de coupant très aigu ou aigu et surface d'affûtage permettant de profonds mouvements de coupe rentrante dans des matières tendres indique, selon nous, la faible représentation des travaux de boucherie dans les activités. La forte présence d'outils avec des tranchants de délinéation rectiligne ou légèrement convexe dont l'angle de coupant correspond à la gamme intermédiaire (50-60°) ou ouvert (>60°) évoque pour nous le travail du bois.

Ces éléments sur les activités, déduits de l'outillage, nous amènent à revenir sur les problèmes rencontrés dans la reconstitution du contexte environnemental de l'occupation (cf. *supra*, § 1.4). Nous rappelons qu'il y a une contradiction entre la faune à caractère steppique et les indices d'amélioration climatique suggérés par la micromorphologie et la présence assez marquée de taxons arboréens thermophiles. Il est possible que la spécialisation du site, que nous proposons articulée autour du travail du bois, soit liée à la disponibilité particulière de ce matériau aux alentours du site. Le territoire correspondant à l'île actuelle permettait peut-être aux hommes de la couche 5 de collecter différentes essences de bois rares. Il est alors envisageable que les conditions locales aient permis le maintien d'un couvert arboréen plus important que sur le plateau continental<fnref n="51" />. Dans cette hypothèse, la faune de la couche 5 reflèterait les conditions générales du plateau continental tandis que les pollens de la couche 4 feraient écho de conditions plus locales.

## 3.2 - Relations entre façonnage et débitage dans l'industrie de la couche 5 de La Cotte de St. Brelade

Dans la hiérarchie de la production, seules les pièces bifaciales du schéma de façonnage 4 sont exclusivement réalisées à partir d'éclats, sous-produits du débitage Levallois probablement. Il n'y assurément pas de débitage spécifique d'éclats destinés à être façonnés. Les relations entre les deux conceptions de taille sont minimales sur ce plan, d'autant que les pièces correspondant au schéma de façonnage 4 représentent une expression à minima de ce concept de taille. Elles se différencient en effet du reste de la production bifaciale par un recours au façonnage non associé à la recherche d'une structure volumétrique déterminée.

Les pièces bifaciales du schéma de façonnage 2 sont d'un intérêt particulier pour aborder les relations entre façonnage et débitage. L'expression du concept bifacial est aussi à minima puisque l'impact du façonnage sur le volume initial est réduit. Sur le plan de base des UTF de CT, le façonnage se limite à un pré-affûtage partiel. Le façonnage ne modifie pas mais épouse la structure asymétrique du volume initial (éclat de gel) qui est, dans ce cas, très comparable à celle d'un éclat débité. Ceci s'ajoute à l'homologie fonctionnelle entre les outils sur supports bifaciaux du schéma 2 et ceux sur éclat dans le groupe 2 (bords retouchés)

<footnote n="51">⁵¹ Il faut savoir qu'actuellement le chêne vert est présent sur l'île, à une latitude qu'il n'atteint pas sur le continent.</footnote>
convergents). Nous percevons alors la mise en œuvre du schéma de façonnage 2 comme un moyen de rendre aptes à l'affûtage des éclats de gel qui n'auraient pu être utilisés sans le recours à cette conception de taille.

Le statut des pièces bifaciales / bifaces qui relèvent du schéma de façonnage 1, le plus élaboré, est difficile à établir. Nous avons pu remarquer que les pièces bifaciales élaborées du schéma 1 avaient été fortement dénaturées, certainement en dehors du site, pour être retouchées à nouveau en pièce à coup de tranchet, ce qui s'apparente à un recyclage. Un tel traitement n'a par contre pas été observé sur des outils sur éclat. Il est aussi à noter que les pièces bifaciales du schéma 1 sont uniquement présentes sous forme dénaturée (si l'on excepte la pièce exceptionnelle de la collection Burdo). Si des pièces du schéma 1 sont parvenues intactes sur le site, elles ont systématiquement été exportées à l'issue du séjour. Celles qui sont présentes n'ont pas été utilisées sur le site dans leur état fonctionnel initial mais dans un état recyclé et fonctionnellement très éloigné. Ceci est un obstacle majeur pour statuer sur leurs relations avec l'outillage sur éclat ; leur état fonctionnel initial ne nous est accessible que de façon trop parcellaire. On peut néanmoins penser qu'avant d'être dénaturées, ces pièces ont pu avoir une fonctionnalité importante à l'extérieur du site.

Nous avons vu que le procédé de retouche par coup de tranchet était souvent interprétable comme un ré-affûtage pour l'outillage sur éclat-support alors qu'il s'apparente à un recyclage pour les pièces bifaciales.

De façon générale, on constate une redondance fonctionnelle entre les outils sur support débité et ceux sur support façonné. Cependant, ces derniers jouent vraisemblablement un rôle fonctionnel très accessoire sur le site d'autant que les schémas de façonnage 2 et 4 constituent une expression à minima du concept de façonnage, qui différencie peu les pièces qui s'y rapportent des outils sur éclat-support des mêmes groupes fonctionnels.

La mobilité inter-sites est attestée, tant pour les pièces bifaciales élaborées, que pour les productions débitées, retouchées ou non. Cependant les premières n'ont assurément pas été réalisées sur place tandis qu'une partie du débitage Levallois l'a été, ce qui constitue une différence importante. Les supports bifaciaux qui ont pu être produits et retouchés sur place sont les moins élaborés, soit par la technique de production, la structure et, pour le schéma 4, par l'absence de réelle structure volumétrique bifaciale.

## 3.3 - Identité culturelle des hommes de la couche 5 dans le cadre du Pléistocène moyen récent

P. Callow (1986e) a mis en avant l'originalité de l'industrie de la couche 5 de La Cotte de St. Brelade dans le contexte du nord-ouest de l'Europe en soulignant sa composante "charentienne" et la présence de bifaces typiques. Il a ainsi défini cette industrie comme un faciès spécialisé de l'Acheuléen supérieur.

L'industrie de la couche 5 s'insère finalement bien dans les assemblages de la fin du Pléistocène moyen récent où le débitage Levallois s'est affirmé comme le système de production prépondérant (cf. chap. IV, fig. 29). Il reste difficile de la rapprocher précisément d'autres assemblages de cette période. On observe, comme dans plusieurs assemblages de cette période, l'association de trois systèmes de débitage : Levallois, laminaire non-Levallois et façonnage de pièces bifaciales et/ou de bifaces. Dans cette association, la composante bifaciale occupe une place réduite devant le débitage. L'outillage sur éclat est très normalisé, à la fois dans les types fabriqués mais aussi dans les modalités de retouche. Il est possible que la fonction et le fonctionnement du site tendent à déformer le contenu de l'assemblage lithique, en accordant par exemple une large place aux outils intensément retouchés (racloirs et pointes), en liaison avec les activités pratiquées, au détriment des produits débités bruts ou
légèrement retouchés. Il est à noter dans ce sens que l'essentiel des sous-produits du débitage
Levallois de module conséquent sont retouchés. Ce point de vue serait probablement pondéré
si l'on tenait compte des productions en quartz et roches tenaces qui sont, pour les premières
au moins, peu retouchées. Il est raisonnable de penser que sur un site d'habitat, aux activités
plus diversifiées, l'industrie abandonnée par ces Hommes aurait une composante
"charentienne" estompée.

L'utilisation du procédé du coup de tranchet latéral est perceptible comme un mode
d'affûtage particulier qui s'applique à différents outils en se surimposant souvent à un état
fonctionnel antérieur souvent comparable. Il n'y a pas de recherche d'un type fonctionnel
spécifique lié à ce procédé. Ceci diffère très significativement de la situation observée à
Mesvin IV ou, semble t-il, dans certains assemblages micoquiens plus récents (Jöris, 1992).

L'assemblage de la couche 5 est donc de type Paléolithique moyen même si des
bifaces y figurent en proportion très réduite.

Les éléments recueillis quant à la fonction du site, qui apparaît assez spécialisée, à son
fonctionnement lors de l'occupation de la couche 5, laquelle a vraisemblablement été
répétitive et épisodique, montrent que le peuplement des milieux steppiques du nord-ouest de
l'Europe lors du début du pléniglaciaire du stade isotopique 6 n'était pas éphémère mais
reposait au contraire sur une organisation techno-économique élaborée. Cette configuration
tend à s'opposer aux observations que nous avons faites concernant les sites de la seconde
partie du stade 6 (cf. chap. III, § 5), qui nous semblaient traduire une occupation moins
durable et moins structurée, peut-être sous la forme d'incursions.
# Chapitre VII

## Gouzeaucourt niveau G

### 1 - Gouzeaucourt : Présentation et état des connaissances

#### 1.1 - Historique des recherches

Le site de Gouzeaucourt (Nord) se trouve dans le Cambrésis, à environ quinze kilomètres au sud-sud/ouest de Cambrai, à proximité des limites départementales du Nord, de la Somme et du Pas-de-Calais. Le Cambrésis est un seuil qui assure le passage entre la Flandre et le Bassin parisien. Le site occupe le versant sud-est d'une petite vallée, la Vallée du Muid, qui se rattache au bassin versant de L'Escaut. Plusieurs sites paléolithiques importants sont connus dans la région. On signale en particulier Marcoing, Bapaume et Roissel.

Ce site a été découvert fortuitement, suite à des travaux de voirie, à proximité du village de Gouzeaucourt. Une première intervention eu lieu en 1985, sous la direction de A. Tuffreau, sous forme d'une fouille de sauvetage. Une fouille programmée a ensuite débuté en 1986 et s'est poursuivie jusqu'en 1993. Elle a permis à A. Tuffreau de mettre au jour une importante séquence limoneuse qui se développe dans une dépression karstique du substrat crayeux et qui renferme plusieurs couches archéologiques se rattachant au Paléolithique ancien / moyen.

Les industries lithiques de Gouzeaucourt ont déjà donné lieu à plusieurs études et publications (Tuffreau, Bouchet, 1985 ; Marcy, 1989 ; Lamotte, 1994). Tous ces travaux ont mis en avant l'abondance de bifaces acheuléens dans les principales couches archéologiques.

#### 1.2 - Contexte stratigraphique et chronologique (Tuffreau, Bouchet, 1985)

Le substrat crayeux créticé du versant oriental de la Vallée du Muid est affecté par un système de dépressions d'origine karstique qui sont colmatées par la couverture loessique. La séquence de comblement semble varier d'une dépression à l'autre ce qui en rend l'interprétation chronostratigraphique délicate. Ces dépressions ont permis la préservation des couches archéologiques paléolithiques.

La stratigraphie relevée, en bas de versant dans la dépression où la fouille a été menée, est la suivante (de haut en bas) (fig. 98) :

1- Terre végétale.

2- Limon doux à points noirs, jaune brunâtre, très sableux.

D- Cailloutis de silex discontinu, niveau archéologique.

3- Limon sableux jaune rougeâtre à nombreux points de manganèse.

4- Sable limoneux verdâtre, localement présent.

5- Limon argileux brun foncé avec de nombreuses langues de dégradation grisâtres, premier paléosol. Deux riches niveaux archéologiques H et G sont successivement présents dans ce limon quelques centimètres au-dessus du cailloutis I.

I- Cailloutis de silex épais de quelques centimètres subdivisant la couche 5. Riche niveau archéologique (I).

6- Limon doux à points noirs, brun jaunâtre, sableux avec quelques fragments de silex qui soulignent son sommet.
<figure><img src="image_120.png" /></figure>

<figure><img src="image_121.png" /></figure>

<figure><img src="image_122.png" /><figcaption>Fig. 98 : Gouzeaucourt.</figcaption></figure>

1. Coupe stratigraphique (d'après Tuffreau in Lamotte, 1994).

2. Coupe stratigraphique (d'après Tuffreau, Bouchet, 1985).

3. Position des coupes stratigraphiques dans la zone de fouille sud-ouest.
J- Cailloutis de silex avec quelques vestiges lithiques.

7- Limon brun foncé présentant des revêtements argileux, second paléosol. Il repose sur le substrat crayeux.

L'examen d'une coupe plus haut sur le versant, en direction du village, montre un limon brun jaunâtre avec de légers revêtements argileux, racine d'un paléosol, qui est sus-jacent à un limon doux à points noirs. Le tout est traversé par une grande fente de gel dont l'ouverture n'est plus visible. Cette troncature est le fait de l'exploitation ancienne des limons par une briqueterie.

L'ensemble de cette séquence se rattache par son faciès de "limon doux à points noirs" aux loess anciens et est par conséquent attribuable au Pléistocène moyen. J. Sommé a mis en évidence dans cette région un développement important des loess anciens par rapport aux loess récents, ce qui est caractéristique de la province limoneuse orientale (Sommé, 1976). Au niveau de la fouille, les loess récents sont absents, vraisemblablement évacués par le fonctionnement du vallon. Ils existaient très probablement sur le haut du versant dans le secteur exploité par la briqueterie.

Sur la base de ces données, plusieurs interprétations possibles ont été proposées :

### Interprétation 1

Le paléosol de la coupe en haut de versant, dont ne subsiste que la racine, est eemien (stade isotopique 5e). La pédogenèse du limon 5 représente une phase interglaciaire immédiatement antérieure (stade 7). Les principaux niveaux archéologiques (G, H, I), inclus dans le limon 5, datent donc d'une période glaciaire (stade 8) antérieure à cette pédogenèse.

### Interprétation 2

Le paléosol de la coupe en haut de versant, dont ne subsiste que la racine, est déjà antérieur à l'Eemien. Les niveaux archéologiques G, H et I remonteraient alors à une phase glaciaire antérieure à l'Holsteinien (stade 9).

Dans ces interprétations, la phase tempérée intra-saalienne, corrélée avec le stade isotopique 7, a été considérée de façon globale, sans distinction des sous-stades tempérés 7c et 7a. Ceci est largement justifié par l'absence quasi-généralisée de sédimentation loessique imputable au sous-stade 7b dans le nord et l'ouest de la France. On observe le plus souvent un unique paléosol intra-saalien comme à St-Pierre-les-Elbeuf, Le Pucheuil ou Achenheim.

En l'absence de nouveaux éléments nous nous référons à l'interprétation 1, la plus simple, qui place les occupations principales du site (niveaux G, H, I) au cours du stade isotopique 8 (fig. 29).

## 1.3 - Les industries lithiques

Le niveau archéologique D, le plus récent, qui s'inscrirait dans la dernière phase glaciaire du Pléistocène moyen récent (SI 6) en suivant la première interprétation chronostratigraphique et par conséquent plus récent d'un cycle climatique que les niveaux G, H et I, a livré, contrairement à ces derniers, un nucléus Levallois (Tuffreau, Bouchet, 1985).

Le caractère essentiel de l'industrie des niveaux G, H, I est leur richesse en bifaces, ovalaires et limandes essentiellement. A. Lamotte (1994) a mentionné pour la couche H un IBifess de 19,92 ce qui est très élevé. Dans ce niveau, les bifaces sont accompagnés d'un outillage sur éclat qualifié de classique, assez abondant. Parmi ces outils sur éclat, les encoches dominent largement (62,7%) devant les denticulés (11,2%) et les racloirs (10,7%) qui sont de types variés (Lamotte, 1994). Même si les similitudes sont fortes entre les trois niveaux, une étude détaillée d'un échantillon d'outils des niveaux G et H a révélé quelques différences portant sur la composition typologique et sur le choix des supports (Marcy, 1989).
Le caractère évolué de cet outillage sur éclat a été mis en avant par l'ensemble des auteurs. Le débitage du niveau H fait appel selon A. Lamotte à une modalité unipolaire dominante conduisant dans 75/80% des cas à un nucléus à une unique surface de débitage. Les éclats produits sont de petit module (87,5% <60 mm) (Lamotte, 1994).

Lors des premiers travaux, la forte présence de bifaces typologiquement acheuléens ajoutée à l'existence d'un outillage sur éclat de qualité avait conduit A. Tuffreau et J.-P. Bouchet (1985) à qualifier ces industries d'Acheuléen supérieur plutôt que d'Epi-acheuléen, les bifaces étant réellement très abondants. A leur suite, J.-L. Marcy y voyait "...un *Acheuléen évolué de faciès non Levallois*" (Marcy, 1989, p. 40). Il notait cependant que l'outillage sur éclat relativement diversifié et standardisé invitait à les rattacher à la phase ancienne du Paléolithique moyen. Sur ce point, des comparaisons ont été évoquées avec l'industrie de l'Atelier Commont. Ces auteurs ont finalement dénommé ces industries "Paléolithique moyen de faciès Cambrésien (PMC)" (Tuffreau et al., 1989). Ils s'appuient pour cela sur l'outillage sur éclat standardisé et élaboré qui se distingue clairement de celui des séries acheuléennes du complexe de la moyenne terrasse de la Somme (Lamotte, 1994, 1995) et évoque ainsi le Paléolithique moyen. A ce faciès se rattache l'industrie de Longavesnes (Somme) très comparable à celle de Gouzeaucourt (Ameloot-Van der Heijden, 1993).

## 1.4 - Eléments de taphonomie du niveau G de Gouzeaucourt

Les premiers éléments de taphonomie nous sont donnés par les observations contextuelles consignées dans les publications (Tuffreau, Bouchet, 1985). On note ainsi que la sédimentation loessique du remplissage de la dépression est affectée par des phénomènes périglaciaires. Le cailloutis I contenant un des niveaux archéologiques est ainsi fortement cryoturbé dans certains secteurs de la fouille. Il est cependant noté que les pièces des niveaux G et H étaient disposées à plat "...ce qui semblerait indiquer qu'elles sont conservées en place ou n'ont subi que des déplacements peu importants" (Tuffreau, Bouchet, 1985, p. 293). Lors de cette première étude du matériel, il a été observé une plus forte proportion d'encoches pour les niveaux archéologiques I et D qui proviennent de cailloutis. Ceci a amené les auteurs à ne pas négliger l'action de phénomènes naturels qui en auraient enrichi le nombre.

Lors de notre propre étude du matériel lithique du niveau G de Gouzeaucourt, nous avons prêté une attention particulière aux éléments pouvant apporter des informations d'ordre taphonomique. A un premier niveau, nous avons recherché par un examen très minutieux des objets avec un éclairage rasant s'il était possible d'identifier sur ces objets des stigmates qui ne seraient pas d'origine anthropique. S'il est parfois difficile sur des industries anciennes de déterminer avec certitude l'origine anthropique ou naturelle de modifications mineures à faible degré d'organisation, nous avons bénéficié ici de l'aide des phénomènes de patine qui affectent tous les objets de la couche à l'exception de certains gélifracts, plus récents semble t-il.

Ceci nous a conduit à considérer d'origine naturelle et post-anthropique des retouches isolées ou groupées sur les bords des objets, dont l'état de surface diffère significativement du reste de la surface de l'objet. Ces enlèvements d'ampleur réduite mais pouvant être nombreux ont le plus souvent une patine blanche généralement brillante qui reflète bien la lumière tandis que le reste de l'objet présente une patine blanche crème, blanche jaunâtre ou jaunâtre parfois mate<fnref n="52" />. Cependant, les bords et arêtes des objets sont restés vifs. Ces caractéristiques nous ont permis de limiter plus précisément la composante anthropique des transformations des

<footnote n="52">⁵² Ce phénomène ne peut être confondu avec une double patine d'origine anthropique, liée à une reprise de la taille, repérée par ailleurs sur quelques bifaces.</footnote>
supports lithiques. Une part assez importante des objets typologiquement assimilables à des
encoches, pièces à retouches abrupte mince et plus rarement à des denticulés a ainsi été
écartée.

Il faut cependant s'interroger sur l'origine de ces altérations. Nous les avons aussi observées sur des gélifracts non anthropisés dont la patine était similaire à celle des vestiges. Tous les types d'objets sont touchés par ces altérations, indifféremment de leur module mais selon une intensité variable. Par exemple, certains bifaces ont un aspect très "frais", exempts d'altérations, tandis que d'autres sont très touchés, ce qui a parfois rendu impossible la lecture des caractéristiques fonctionnelles. Il en est de même pour l'outillage sur éclat-support. Il faut certainement envisager l'impact de processus cryogènes pour expliquer ces altérations, sous forme de contraintes et pressions intra-sédiments aidées par la présence au sein du niveau de nombreux fragments de silex non anthropisés accompagnant les vestiges. L'assemblage lithique que nous avons examiné comprenait approximativement 15 à 20% de gélifracts sans modifications anthropiques. La présence de ces altérations ne s'oppose pas au fait que les vestiges n'aient pu subir que des déplacements post-dépositionnels mineurs.

Nous devons aussi évoquer la forte variété des états de surface des vestiges. A l'exception d'une petite partie des gélifracts, tous les vestiges sont profondément patinés mais la patine varie du blanc à l'orangé en passant par le blanc-bleuté et le jaune-verdâtre. Certaines pièces présentent un lustre net. La nature des matières premières ne semble pas expliquer une telle variété d'état. Ceci soulève le problème de la cohérence archéologique de l'assemblage. L'unicité de l'événement archéologique est rejetée de fait par l'existence de quelques bifaces avec une double patine. Cependant, la très grande cohérence technique et typologique de l'assemblage plaide en faveur d'une unicité culturelle. L'assemblage résulte donc très probablement de plusieurs occupations plus ou moins séparées dans le temps.

## 2 - Analyse technique de l'industrie lithique du niveau G de Gouzeaucourt

Notre étude s'appuie sur un échantillon et non sur l'intégralité du matériel lithique
recueilli dans le niveau G. Nous avons ainsi pris en compte le matériel qui provient d'un
secteur de fouille. L'effectif global de l'outillage ainsi pris en compte est comparable à celui
des autres séries étudiées (Mesvin IV, La Cotte de St. Brelade). Pour des raisons logistiques et
muséographiques, le secteur pour lequel l'outillage bifacial a été pris en compte (bandes 10,
12, 14, 15 et 16 du carroyage) ne se superpose que partiellement avec celui dans lequel
l'outillage sur éclat-support et le débitage ont été étudiés (bandes 10 à 14) (fig. 98). Dans ce
dernier secteur, le nombre total de bifaces (65) est cependant peu différent de celui que nous
avons pris en compte (61). Il n'y a donc pas de déformation quantitative liée à la différence de
secteur étudié.

### 2.1 - *Les questions, les problèmes*

Parmi les assemblages dont l'étude est présentée ici, celui du niveau G de Gouzeaucourt est le plus marqué par l'outillage bifacial. Au-delà de cette différence quantitative, il faut s'interroger dans un premier temps sur la nature du ou des schémas de façonnage utilisés. Sont-ils comparables à ceux des autres assemblages ? Le système de débitage a été décrit comme non Levallois bien que quelques éclats typologiquement Levallois soient signalés (Marcy, 1989 ; Lamotte, 1994, 1995). Est-ce le fait d'une
convergence ou au contraire faut-il évoquer l'utilisation ponctuelle d'une conception de débitage Levallois ?

L'outillage sur éclat est qualifié de standardisé. Quelle est sa position par rapport à l'outillage bifacial ?

## 2.2 - Les conceptions qui régissent la production lithique

Les précédentes recherches, en particulier celles menées par A. Lamotte (1994), ont documenté les principaux caractères des produits de débitage et des nucléus de l'assemblage de la couche H sous-jacente. La forte similitude des industries des couches saaliennes de Gouzeaucourt, déjà largement évoquée (Tuffreau, Bouchet, 1985), nous a permis d'orienter rapidement notre analyse.

Nous nous sommes limité à une approche qualitative des schémas de production. Pour la production bifaciale, nous avons cependant eu recours à des données quantifiées lorsque cela s'avérait nécessaire, en particulier pour appuyer nos hypothèses sur le déroulement dans l'espace des schémas de production.

### 2.2.1 - Les matières premières

Le silex a été exclusivement employé dans la production lithique du niveau G de Gouzeaucourt, comme dans les autres niveaux. La matière première se présente essentiellement sous la forme de petits rognons de morphologie irrégulière, souvent fortement altérés par des fissures liées au gel, lesquelles ont entravé l'exploitation. Le silex, brun à noir profond, est de grain fin ou très fin et de texture très homogène. Ce sont des silex des formations crayeuses du Crétacé. Le cortex des rognons n'est en général pas altéré, parfois lessivé. Ces rognons ont pu être recueillis en position peu dérivée à proximité des talus crayeux. De rares plages corticales sont verdies, imprégnées de glauconie, ce qui montre que quelques rognons proviennent de la base des formations sableuses du Landénien où ils sont en position secondaire, dérivés de la craie.

### 2.2.2 - Production débitée, conception de type "clactonien"

Nous entreprenons en premier lieu une lecture technique des nucléus, représentés de façon conventionnelle (Dauvois, 1976), mais aussi à l'aide de schémas diacritiques en volume (fig. 99 et 100). Sur la base de ces résultats, nous proposons une hypothèse sur la nature de la conception de débitage que nous confrontons ensuite aux données recueillies par l'analyse des produits.

Parmi l'échantillon de matériel lithique pris en compte (bandes 10 à 14), les nucléus sont peu nombreux (28). Les volumes de matière première débités sont en premier lieu des gélifracts (16) et accessoirement des rognons entiers ou fragmentés (6). Il faut signaler quelques nucléus sur éclat (4). Ces nucléus sont de morphologie variée. Sur la majorité d'entre eux, il y a une unique surface de débitage, en regard d'un plan de frappe lisse, soit naturel, soit aménagé par un ou deux enlèvements (tabl. 45).

Malgré une certaine diversité morphologique de ces nucléus et un module restreint qui limite le nombre d'enlèvements résiduels, certains caractères communs se dégagent :

- le nombre de surfaces de débitage est variable (1 à 3),

- il n'y a pas de structure volumétrique stable et prédéfinie,

- l'association d'un plan de frappe lisse et d'une courte série d'enlèvements constitue une séquence élémentaire,
<figure><img src="image_123.png" /><figcaption>Fig. 99 : Gouzeaucourt, niveau G. Nucléus.</figcaption></figure>
<figure><img src="image_124.png" /><figcaption>Fig. 100 : Gouzeaucourt, niveau G. Nucléus.</figcaption></figure>
- les surfaces ne sont pas hiérarchisées car leur rôle (surface de plan de frappe ou surface de débitage) peut s'inverser à l'issue de chaque séquence,

- les directions des enlèvements au sein de chaque séquence sont globalement parallèles entre elles,

- aucune règle ne semble se dégager sur l'agencement des séquences élémentaires entre elles,

- il n'y a pas d'évidence de préparation des convexités préalablement au débitage ni entre les séquences.

<table><caption>Tabl. 45 : Gouzeaucourt, niveau G. Direction de débitage et surface de débitage sur les nucléus.</caption><thead><tr><th>Direction(s) de débitage</th><th colspan="2">Unipolaire</th><th>Bipolaire parallèle ou orthogon.</th><th>Bipolaire ou plus</th><th>Indt.</th><th></th></tr><tr><th>Nb. de surfaces de débitage</th><th>1 surf. de débitage</th><th>2 surf. de débitage</th><th>1 surf. de débitage</th><th>2 surfaces ou plus</th><th></th><th>Total</th></tr></thead><tbody><tr><td></td><td>16</td><td>7</td><td>1</td><td>3</td><td>1</td><td>28</td></tr></tbody></table>

Aucun des nucléus pris en compte ne présente les critères qui définissent le débitage de conception Levallois (Boëda, 1995). Ces éléments évoquent au contraire une conception de débitage simple, proche de celle décrite par H. Forestier (1993) pour l'assemblage de High Lodge (Ashton et al., 1992) et rapprochée d'autres assemblages rattachés au Clactonien (Amiot, 1993).

H. Forestier définit le concept de débitage identifié sur la base du matériel de High Lodge de la façon suivante :

"La méthode de débitage repose sur l'utilisation d'un algorithme de base..."<fnref n="53" /> (Forestier, 1993).

Cet algorithme consiste en l'agencement d'une séquence cohérente de gestes techniques en fonction d'un objectif prédéfini. Le débitage est conçu en courtes séquences de production d'enlèvements, articulées en deux étapes :

- mise en place d'un plan de frappe lisse ou équivalent correctement orienté en regard de la surface du volume dont l'exploitation est projetée. A cette opération se substitue souvent l'utilisation comme plan de frappe d'une surface naturelle ou corticale présentant les caractéristiques requises (inclinaison, orientation, ...). Un choix sélectif remplace l'investissement technique.

- débitage à partir de ce plan de frappe d'une série d'enlèvements qui seront globalement parallèles entre eux si le plan de frappe est plan transversalement.

Cette combinatoire constitue la racine algorithmique indissociable de cette méthode de débitage. Cet algorithme est donc amené, soit à se développer une unique fois, soit à se répéter au même emplacement du volume de matière ou à un emplacement différent. Il est à noter qu'à aucun moment les caractéristiques du volume de matière non entamé par le débitage n'interviennent. Chaque surface peut dans ce système, indépendamment de son rôle antérieur, devenir surface de plan de frappe ou surface de débitage.

A une phase préalable de mise en place des convexités (phase d'initialisation dans un débitage de conception Levallois, Boëda, 1997), se substitue ici le choix sur le volume de

<footnote n="53">⁵³ En mathématiques, l'algorithme se définit comme un "Procédé de calcul mis en œuvre pour obtenir un résultat par un nombre fini d'applications d'une règle." (Dictionnaire encyclopédique Larousse, 1990).</footnote>
matière d'une surface présentant les caractéristiques requises (convexités, étendue, ...) pour être directement opérante.

Les séquences algorithmiques sont élémentaires et indépendantes les unes des autres. "L'algorithme est un phénomène unique et répétitif" (Forestier, 1993). Cet algorithme constitue la seule et unique structure fixe et expressible de ce concept de débitage. Il n'existe donc pas pour le nucléus un état technique stable, transcription volumétrique cohérente et expressive du concept, mais une infinie variété d'états techniques qui résultent des multiples agencements possibles des algorithmes entre eux (Boëda, 1997). H. Forestier évoque les "changements d'axe" successifs du débitage tandis que pour E. Boëda (1997, p. 43) cette mutation de la forme du nucléus au gré de l'agencement des séquences algorithmiques est caractéristique d'un débitage non homothétique.

La conséquence directe des mutations de la forme du nucléus est une difficulté à identifier ce concept de débitage dans les collections archéologiques sur la base d'une lecture typologique statique qui aboutit à la multiplication artificielle des types de nucléus et des types de débitage représentés. Il faut aussi signaler que selon le mode d'organisation des séquences, des enlèvements d'aspect Levallois peuvent être produits ce qui n'est pas sans générer des confusions ou des incertitudes dans l'étude de ces industries (Ameloot-Van der Heijden, 1993).

Il est raisonnable de penser que ce concept de débitage n'a pas encore été reconnu ou simplement dénommé comme tel dans de nombreuses séries du Paléolithique ancien en Europe occidentale.

Si le système de débitage utilisé par les tailleurs du niveau G de Gouzeaucourt correspond bien à cette conception de type "clactonien", on peut s'attendre à trouver parmi les produits de débitage, des éclats variés en fonction de leur rang au sein de la séquence élémentaire, du nombre de séquences affectant le bloc de matière mais surtout de la répartition des séquences à la surface de ce bloc. On peut représenter de façon théorique les caractéristiques des produits pour les premières séquences qui se développent sur une unique surface selon des directions orthogonales ou parallèles (fig. 101). Nous n'avons pas isolé les produits qui participent éventuellement à l'ouverture des plans de frappe car il est impossible de les distinguer.

Nous retrouvons parmi l'assemblage du niveau G presque tous ces types théoriques simples ainsi que des types plus complexes qui résultent de la superposition de plusieurs séquences élémentaires de différentes directions (fig. 102, 103). Quelques-uns de ces produits, soit très réguliers, soit à nombreux négatifs d'enlèvements centripètes, pourraient être confondus avec des éclats Levallois mais absolument aucun des nucléus étudiés ne présente la structure typique de ce système de production. Ces éclats d'allure Levallois sont, en outre, nettement minoritaires dans l'assemblage. Nous n'avons pas effectué de décompte général de la production débitée en référence aux techno-types théoriques mentionnés précédemment. Nous pouvons néanmoins présenter un tel décompte pour les produits retouchés (tabl. 46).

<table><caption>Tabl. 46 : Gouzeaucourt, niveau G. Décompte des types d'éclats-supports de l'outillage retouché.</caption><thead><tr><th rowspan="2"></th><th colspan="12">Technotype</th><th rowspan="2">Autre type de support</th></tr><tr><th>A11</th><th>A12</th><th>A13</th><th>A1n</th><th>A21</th><th>A22</th><th>A23</th><th>A31</th><th>A32</th><th>A33</th><th>A3n</th><th>B11</th><th>B12</th><th>B13</th><th>A51</th><th>A52</th><th>A53</th><th>Autre</th><th>Indt</th></tr></thead><tbody><tr><th>Effectifs</th><td>7</td><td>12</td><td>11</td><td>6</td><td>3</td><td>4</td><td>4</td><td>1</td><td>2</td><td>1</td><td>1</td><td>2</td><td>0</td><td>0</td><td>2</td><td>0</td><td>0</td><td>1</td><td>5</td></tr></tbody></table>
<figure><img src="image_125.png" /></figure>

<figure><img src="image_126.png" /></figure>

<figure><img src="image_127.png" /></figure>

<figure><img src="image_128.png" /></figure>

<figure><img src="image_129.png" /><figcaption>Fig. 101 : Gouzeaucourt, niveau G. Représentation théorique des produits obtenus dans un débitage algorithmique, de type "Clactonien". Ne sont ici considérées que les premières séquences se développant sur une même surface ou sur une surface orthogonale à celle exploitée dans un premier temps. Dans les autres configurations, les technotypes élémentaires de ces premières séquences se répètent aux côtés de nouveaux plus complexes.</figcaption></figure>
<figure><img src="image_130.png" /><figcaption>Fig. 102 : Gouzeaucourt, niveau G. Productions débitées brutes. Les produits "d'aspect Levallois" sont volontairement sur-représentés.</figcaption></figure>
<figure><img src="image_131.png" /><figcaption>Fig. 103 : Gouzeaucourt, niveau G. Productions débitées brutes. Les produits "d'aspect Levallois" sont volontairement sur-représentés.</figcaption></figure>
En postulant une déformation minime due à une sélection des produits transformés, on peut noter que les éclats qui portent les négatifs d'une unique séquence unipolaire sont majoritaires (58% des produits débités transformés). Ceci est relativement conforme aux observations réalisées sur les nucléus.

De façon générale, on peut dire que le contrôle morpho-technique des produits débités est faible, ce qui reflète la faible structuration de ce système de débitage. Les produits qui gardent une plage corticale (pan ou dos) plus ou moins étendue sont nombreux.

### 2.2.3 - Productions bifaciales

#### 2.2.3.1 - Echantillon

L'échantillon examiné pour l'outillage sur supports bifaciaux (bandes 10, 12, 14, 15 et 16) comprend un total de 61 bifaces (tabl. 47). Tous n'ont pas fait l'objet d'un enregistrement sur le plan techno-fonctionnel. Nous avons en premier lieu écarté les pièces dont les altérations post-dépositionnelles rendaient impossible la reconnaissance et la documentation des parties retouchées. S'y ajoutent une série de pièces non altérées mais sur lesquelles nous n'avons pas reconnu de tranchant fonctionnel. Seul subsiste le support bifacial (fig. 104). Nous discuterons plus en avant du sens à accorder à ces pièces. Quarante-six pièces ont fait l'objet d'un enregistrement techno-fonctionnel, soit les 3/4 de l'échantillon initial.

<table><caption>Tabl. 47 : Gouzeaucourt, niveau G. Echantillon pris en compte pour les bifaces (bandes 10, 12, 14, 15 et 16) : proportion des pièces enregistrées et non-enregistrées sur le plan techno-fonctionnel.</caption><thead><tr><th>Retouche lisible</th><th>Retouche peu altérée lisible</th><th>Retouche altérée non lisible</th><th>Lisible mais plus de retouche</th><th>Total</th></tr></thead><tbody><tr><td>33</td><td>13</td><td>7</td><td>8</td><td>61</td></tr><tr><td colspan="3">46</td><td colspan="2">15</td></tr><tr><td colspan="3">75,4%</td><td colspan="2">24,6%</td></tr><tr><td colspan="2">Pièces enregistrées</td><td colspan="3">Pièces non enregistrées</td></tr></tbody></table>

<figure><img src="image_132.png" /><figcaption>Fig. 104 : Gouzeaucourt, niveau G. Biface dénaturé sans tranchant fonctionnel.</figcaption></figure>
### 2.2.3.2 - La méthode de sélection

Notre connaissance des méthodes de sélection des matières premières pour les productions façonnées reste très parcellaire du fait de l'extension et de l'intensité du façonnage. Souvent, il n'y a plus aucune portion de surface du bloc de matière originel. Nous pouvons dire que plusieurs types de volume ont été sélectionnés : des rognons entiers ou fragmentés, des éclats de gel ainsi que des éclats débités (tabl. 48). Bien que la nature du volume de matière première façonné soit très souvent indéterminable, nous mentionnons l'existence de trois bifaces sur éclat. Il n'y a aucun élément parmi les produits et sous-produits de débitage qui soutienne le débitage d'éclats de tel module sur le site même. En l'absence de remontages, il est difficile de préciser l'existence de préférences dans la sélection des volumes de matière première.

<table><caption>Tabl. 48 : Gouzeaucourt, niveau G. Nature des volumes de matière première sélectionnés pour le schéma opératoire de façonnage (uniquement pour les pièces analysables sur le plan techno-fonctionnel).</caption><thead><tr><td>Type de volume</td><td>Rognon ou fragment</td><td>Eclat de gel</td><td>Eclat</td><td>Indétermin.</td><td>Total</td></tr></thead><tbody><tr><td>Effectifs</td><td>7</td><td>7</td><td>3</td><td>29</td><td>46</td></tr></tbody></table>

### 2.2.3.3 - La méthode de réalisation

La restitution de la méthode de réalisation des supports bifaciaux s'appuie sur l'analyse des schémas diacritiques des 46 bifaces analysables sur le plan techno-fonctionnel parmi un échantillon initial de 61 pièces. Les régularités les plus nettes apparaissent sur le plan morphométrique. Sur le plan typologique, l'assemblage est dominé par les formes ovalaires et les limandes ainsi que A. Tuffreau et J.-P. Bouchet l'ont décrit (1985). Il y a quelques exemplaires cordiformes ou amygdaloïdes. Les bifaces sont peu allongés (tabl. 49, fig. 105).

Le façonnage des bifaces est total ou du moins très étendu. Des portions de surfaces du bloc de matière initial subsistent rarement. Les bases réservées sont exceptionnelles.

Contrairement à ce qui est très fréquemment observé sur les productions bifaciales du Paléolithique ancien et moyen en Europe occidentale (Boëda, 1991, 1997 ; Boëda et al., 1990), les bifaces du niveau G de Gouzeaucourt s'individualisent par l'absence d'asymétries structurales. La construction du volume bifacial met en jeu de façon simultanée des enlèvements de façonnage de profil plan ou convexe. Ils sont soit alternés sur une même face ou groupés en portions de surface. Il peut ainsi y avoir d'amples portions de surfaces très régulièrement planes. Il n'y a cependant pas de hiérarchie des faces exprimée à ce stade du schéma opératoire. Nous pouvons dire que la méthode adoptée vise à la construction d'un support bifacial dont le volume est globalement biconvexe. Les portions de surfaces les plus régulières occupent préférentiellement les 2/3 apicaux des supports. En profil, on note que le plan d'intersection des surfaces est à mi-épaisseur de la pièce. De façon générale, la symétrie par rapport à l'axe longitudinal est assez bonne.

<table><caption>Tabl. 49 : Gouzeaucourt, niveau G. Caractéristiques morphométriques des bifaces (sur la base des 46 pièces analysables sur le plan techno-fonctionnel).</caption><thead><tr><td>(en mm)</td><td>Longueur</td><td>Largeur</td><td>Epaisseur max.</td></tr></thead><tbody><tr><td>Moy. générale</td><td>82</td><td>53</td><td>21</td></tr><tr><td>Maximum</td><td>113</td><td>79</td><td>44</td></tr><tr><td>Minimum</td><td>56</td><td>29</td><td>13</td></tr><tr><td>Ecart type</td><td>14</td><td>10</td><td>6</td></tr></tbody></table>
<figure><img src="image_133.png" /><figcaption>Fig. 105 : Gouzeaucourt, niveau G. Distribution des bifaces analysés selon la longueur et la largeur. Les figurés distinguent les ensembles de bifaces individualisés pour l'analyse techno-fonctionnelle (cf. infra § 5.4.1)</figcaption></figure>

### 2.2.3.4 - Déroulement dans l'espace de la production des supports bifaciaux

Pour le niveau archéologique H, sous-jacent, qui présente de fortes similitudes avec le niveau G, A. Lamotte (1994) présente le site comme un lieu de fabrication de bifaces, de débitage d'éclats et d'utilisation de ces produits. Afin d'aborder la statut des productions bifaciales du niveau G par rapport au déroulement dans l'espace du schéma opératoire de façonnage, il importe de déterminer si toutes les séquences sont représentées dans l'assemblage. Nous devons déterminer sous quel état technique les productions bifaciales ont été introduites sur le site : volume de matière brute, ébauche, pièce aboutie, ... Pour cela nous avons procédé à l'inventaire des sous-produits de façonnage parmi l'échantillon examiné en distinguant des classes de module à partir de cibles carrées dont la longueur du côté progresse de cm en cm (module A : 1*1cm, module B : 2*2 cm, ...) (tabl. 50). La distinction des éclats de façonnage repose sur des critères bien définis par ailleurs (Tixier et al., 1980). Nous savons néanmoins que parmi les éclats de façonnage ainsi isolés peuvent coexister sous-produits de façonnage (construction du volume bifacial) et sous-produits de la phase de confection (fig. 106). Même si nous n'avons pas cherché à les distinguer dans l'inventaire, nous verrons que cette distinction s'établit de façon globale sur la base de leur module.

<table><thead><tr><th colspan="7">Entiers</th></tr><tr><th>Module</th><th>A</th><th>B</th><th>C</th><th>D</th><th>E</th><th>F</th><th>Tot</th></tr></thead><tbody><tr><th>Effectifs</th><td>1</td><td>16</td><td>9</td><td>2</td><td>2</td><td>1</td><td>31</td></tr></tbody><thead><tr><th colspan="7">Fragments proximaux</th></tr><tr><th>Module</th><th>A</th><th>B</th><th>C</th><th>D</th><th>E</th><th>F</th><th>Tot</th></tr></thead><tbody><tr><th>Effectifs</th><td>0</td><td>37</td><td>21</td><td>4</td><td>0</td><td>0</td><td>62</td></tr></tbody><thead><tr><th colspan="7">Autres fragments</th></tr><tr><th>Module</th><th>A</th><th>B</th><th>C</th><th>D</th><th>E</th><th>F</th><th>Tot</th></tr></thead><tbody><tr><th>Effectifs</th><td>0</td><td>69</td><td>41</td><td>4</td><td>0</td><td>0</td><td>114</td></tr></tbody></table>

<table><caption>Tabl. 50 : Gouzeaucourt, niveau G. Inventaire morphométrique des éclats et fragments d'éclats de façonnage de l'échantillon étudié (bandes 10 à 14).</caption><tr><td>Total entiers et proximaux</td><td>93</td></tr><tr><td>Total éclats façonnage</td><td>207</td></tr><tr><td>Total chutes de coup de tranchet</td><td>33</td></tr><tr><td>Total général</td><td>240</td></tr></table>
<figure><img src="image_134.png" /><figcaption>Fig. 106 : Gouzeaucourt, niveau G. Eclats de façonnage, entiers ou fragmentés.</figcaption></figure>

Nous décomptons au maximum pour l'échantillon considéré, 207 sous produits de façonnage entiers ou fragmentés (hors chutes de coup de tranchet). Rapporté au total des bifaces de ce même échantillon (n=65), on obtient une moyenne de 3,2 éclats par biface. Si l'on ne considère que les éclats entiers et les fragments proximaux, ce rapport chute à 1,4. Pour de tels bifaces, dont le façonnage est très étendu, en nous référant à des observations expérimentales, on peut dire qu'il faut au minimum une vingtaine d'éclats de façonnage (>15 mm). On devrait s'attendre à trouver dans l'échantillon de l'ordre de 1300 sous-produits de façonnage, sans tenir compte de la fragmentation. Cette carence d'éclats de façonnage ne peut être rapportée à un biais du mode de collecte. En effet, près de 60 % des éclats de façonnage présents, entiers ou fragments, sont compris dans les modules A et B (<2cm) (fig. 107). Ceci confirme, s'il en était besoin, le soin apporté à la fouille et montre qu'il n'y a pas de biais lié au mode de collecte.

Le volume des sous-produits de façonnage est assurément insuffisant et démontre que la production des supports bifaciaux ne s'est pas effectuée sur place. Il nous faudra cependant chercher quelle est la signification des sous-produits qui sont présents. De quelle phase proviennent-ils : construction du volume bifacial ou retouche ?
<figure><img src="image_135.png" /><figcaption>Fig. 107 : Gouzeaucourt, niveau G. Distribution des éclats et fragments d'éclats de façonnage par module (A<1*1cm, B<2*2cm, ...).</figcaption></figure>

On ajoutera que les rognons de silex qui ont été débités sur le site sont de morphologie et de qualité inadéquates pour le façonnage de bifaces comparables à ceux recueillis, ce qui peut expliquer la délocalisation de la production des supports bifaciaux.

### 2.2.4 - Synthèse sur les systèmes de production

Le système de débitage utilisé par les hommes du niveau G de Gouzeaucourt est peu élaboré sur le plan conceptuel. Les séquences opératoires sont courtes et mettent en jeu un savoir-faire peu important. Il s'insère assurément dans la variabilité des débitages "clactoniens" (Forestier, 1993 ; Boëda, 1997). Le débitage a néanmoins été conduit avec soin, ainsi qu'en témoignent la rareté des accidents majeurs et le caractère assuré des impacts, malgré une matière première fréquemment affectée par des fissures dues au gel. Ce soin se manifeste aussi par une bonne régularité des éclats, aidée par une disposition préférentielle des séquences algorithmiques sur une surface et leur orientation parallèle. Les produits débités sont en général d'un module petit à moyen.

Le façonnage des supports bifaciaux est mené selon un schéma opératoire qui apparaît, à ce niveau de l'analyse, peu contraint par des impératifs structuraux. L'objectif primordial est la réalisation d'un support bifacial régulièrement façonné et de morphologie globalement ovalaire. Le niveau de savoir-faire associé à cette production bifaciale est dans l'ensemble bon.

Nous retiendrons essentiellement de cette étude rapide des systèmes de production mis en œuvre, l'opposition entre façonnage et débitage sur un plan spatial. Le débitage a très certainement été, pour l'essentiel, réalisé *in situ* tandis que tout converge pour assurer que le façonnage des supports bifaciaux n'a pas été mené sur place.

## 2.3 - Les conceptions régissant la phase de confection et l'utilisation des produits lithiques débités

Pour l'étude de l'outillage retouché sur supports débités, nous avons été amené à distinguer dix groupes ou sous-groupes fonctionnels (hors groupe 0) sur la base de caractères techniques liés essentiellement à la retouche mais aussi au support. Certains sont fortement structurés par l'intensité et/ou les normes de retouche qui apparaissent tandis que la cohérence d'autres, qui engagent dans leur définition un nombre minimal de caractères techniques, est
plus sujette à caution. Ce problème est amplifié par l'impact des phénomènes post-dépositionnels, ceci malgré le tri taphonomique serré que nous avons effectué en nous appuyant sur des critères présentés précédemment (cf. *supra* § 1.4). Enfin, la définition de certains groupes, individualisés par la spécificité de la retouche, reste sommaire du fait du nombre limité d'objets qui s'y rapportent.

### 2.3.1 - Groupe 0 : les pièces à tranchant brut

Il est très difficile de donner une image détaillée du potentiel fonctionnel de la production brute de débitage. Le système de débitage mis en œuvre par les occupants du site ne leur a pas permis d'opérer un contrôle morpho-technique précis des produits débités mais a surtout engendré une faible normalisation de la production (fig. 102 et 103). La longueur, la délinéation, la régularité des fils coupants, la gamme de valeur des angles de coupant n'apparaissent alors pas des caractères fonctionnels contrôlables. On peut donc s'attendre à trouver dans ce groupe 0 une forte variabilité du potentiel fonctionnel des éclats débités. Néanmoins, la majorité des produits débités présente habituellement des dièdres de coupe bruts de débitage dont les angles de coupant rentrent dans la gamme aiguë à intermédiaire et plus rarement très aiguë.

### 2.3.2 - Groupe 1 : les pièces à coup de tranchet

Le groupe fonctionnel des pièces à coup de tranchet est anecdotique dans l'assemblage de Gouzeaucourt, contrairement à ce que l'on observe dans les assemblages de La Cotte de St. Brelade ou de Mesvin. Seules deux pièces s'y rapportent parmi l'échantillon étudié. Le principe reste cependant similaire : à l'extrémité d'un support d'allongement variable, un éclat d'affûtage est détaché selon une direction longitudinale le long d'un des bords, à partir d'une troncature ou d'une surface équivalente.

**GZ niv. G, n°87 13G NW 50 (fig. 108, n°1)**

Le support est un éclat à dos cortical de technotype A13. L'aménagement débute par la réalisation d'une troncature à l'extrémité distale, en direction de la face supérieure (CP/CR1). A partir de cette troncature, deux enlèvements plans successifs sont détachés sur la face inférieure selon une direction longitudinale. Il est impossible de dire si ces enlèvements ont débordé (coup de tranchet) ou non. La troncature est ensuite reprise en direction de la face inférieure. Le coup de tranchet latéral concrétise l'affûtage de l'UTF de CT1 (CT1, [4Ø]/4Ø, 40-50°). Une esquille latérale burinante, concomitante de la chute, rend l'UTF quasi-infonctionnelle.

### 2.3.3 - Groupe 2 : les couteaux à dos

Comme le précédent groupe, le groupe 2 - couteaux à dos constitue une composante fonctionnelle mineure de l'assemblage. Nous ne rapportons que trois pièces à ce groupe. Le principe fédérateur est l'aménagement d'une ou deux UTF de CP/CR aux extrémités d'éclats assez allongés qui présentent sur un des bords latéraux un dos ou pan cortical, total ou partiel, et sur l'autre bord un tranchant brut de débitage. La délinéation de ce dernier bord semble indifférente mais son angle de coupant est aigu à intermédiaire. L'UTF de CT n'est donc pas construite par retouche mais acquise par sélection du support. Pour une des pièces, les UTF de CP/CR sont de type troncature / amincissement tandis que pour les autres, il s'agit de simples troncatures.

**GZ niv. G, n°86 11J NE 753 (fig. 108, n°2)**

Le support est un éclat à pan cortical de module important (technotype A13) qui présente une courbure accentuée en partie distale. Une UTF de CP/CR (CP/CR1) a été mise en place en position transverse à l'extrémité distale et en direction de la face inférieure du support. Le long tranchant brut de débitage, de délinéation concave, forme l'UTF de CT (CT1, A/A, 35-50°) de cet outil.
<figure><img src="image_136.png" /><figcaption>Fig. 108 : Gouzeaucourt, niveau G.</figcaption></figure>

1. Groupe 1-pièce à coup de tranchet.

2. Groupe 2-couteau à dos.
(description dans le texte, § 2.3.2 et 2.3.3)
### 2.3.4 - Groupe 3 : les racloirs

Dans ce groupe 3 - racloirs, nous distinguons quatre sous-groupes sur la base de caractères techniques : mode de retouche de l'UTF, ampleur des retouches, extension de la partie retouchée, délinéation du fil.

#### 2.3.4.1 - Sous-groupe 3A : les racloirs intensément retouchés

Onze pièces ont été rassemblées pour définir ce sous-groupe 3A - racloirs intensément retouchés. Les supports sont de module nettement plus important en moyenne (près de 68 mm) que dans les autres groupes (tabl. 51). Cette observation a déjà été mentionnée par J.-L. Marcy (1989) pour les racloirs des niveaux G et H. Les supports sont en majorité des éclats de fin de séquence algorithmique, à deux ou trois négatifs d'enlèvements unipolaires sur la face supérieure. Il est à noter la présence, parmi ces supports, d'un éclat de façonnage d'un module exceptionnel pour l'assemblage. Ces pièces se caractérisent par une ou plusieurs UTF de CT, longues et de fil linéaire, aménagées sur les bords latéraux du support qu'elles occupent presque totalement, ou en partie distale transverse. L'intensité de la retouche est souvent importante et peut avoir modifié le support de façon très sensible. En corollaire, les technotypes d'UTF de CT sont fréquemment complexes (fig. 109). On note dans l'ensemble une forte diversité des modalités de retouche. La longueur moyenne des UTF de CT est élevée (45 mm), ce qui est à mettre en relation avec une extension importante sur les bords de supports de fort module. La délinéation est essentiellement convexe et le fil souvent très régulier.

<table><caption>Tabl. 51 : Gouzeaucourt, niveau G. Principaux caractères morphométriques des éclats-supports de l'outillage retouché. (*le total des effectifs (78) est supérieur au nombre d'outils sur éclat-support car certains (6) présentent des UTF de deux groupes fonctionnels différents et sont ainsi comptabilisées dans les deux groupes.)</caption><thead><tr><th>Groupe fonctionnel</th><th>Long. moy. du support (dans l'axe de débitage) (en mm)</th><th>Larg. moy. du support (en mm)</th><th>Long. moy. (en mm) des UTF du groupe</th><th>Nombre d'UTF du groupe *</th></tr></thead><tbody><tr><td>1</td><td>/</td><td>/</td><td>/</td><td>2</td></tr><tr><td>2</td><td>58,3</td><td>37,3</td><td>/</td><td>3</td></tr><tr><td>3A</td><td>67,7</td><td>47,8</td><td>44,5</td><td>11</td></tr><tr><td>3B</td><td>54,5</td><td>29,0</td><td>30,0</td><td>2</td></tr><tr><td>3C</td><td>40,5</td><td>31,8</td><td>22,5</td><td>4</td></tr><tr><td>3D</td><td>40,0</td><td>32,7</td><td>16,3</td><td>30</td></tr><tr><td>4 CVn</td><td>41,4</td><td>29,7</td><td>12,9</td><td>10</td></tr><tr><td>4 CV1</td><td>47,0</td><td>38,5</td><td>21,3</td><td>4</td></tr><tr><td>5A</td><td>32,3</td><td>34,7</td><td>29,3</td><td>7</td></tr><tr><td>5B</td><td>49,0</td><td>30,8</td><td>32,5</td><td>5</td></tr></tbody></table>

<figure><img src="image_137.png" /><figcaption>Fig. 109 : Gouzeaucourt, niveau G. Variété des technotypes d'UTF de CT relevée dans le sous-groupe 3A - racloirs intensément retouchés.</figcaption></figure>
Les UTF de CT à retouche bifaciale, totale ou partielle, sont très fréquentes (cinq sur un total de 18 UTF de CT) par rapport à ce que l'on observe habituellement pour des outils sur éclat. Pour ces UTF bifaciales, on distingue deux situations :

- la face inférieure de l'éclat-support est la première retouchée, partiellement, par d'amples enlèvements de profil plan qui constituent alors un pré-affûtage du plan de base. Vient ensuite un affûtage sur l'autre face. Seule l'extrémité distale des enlèvements de pré-affûtage sur le plan de base est encore présente, ce qui laisse penser que plusieurs affûtages se sont succédés, réduisant le support.

- la face supérieure du support est la première affûtée par des retouches de profil plan ou convexe. Cet affûtage est recoupé par un second, réalisé par des retouches de profil concave sur la face inférieure du support. Le caractère bifacial apparaît ici plus conjoncturel.

Lorsque la retouche n'est pas bifaciale, le technotype est simple ou complexe. Dans ce second cas, le second rang est toujours constitué de retouches de profil concave, d'ampleur très limitée qui correspondent vraisemblablement à un ré-affûtage. Il n'y a donc pas réellement d'enlèvements de pré-affûtage pour ces UTF de CT complexes mais la superposition de deux rangs d'affûtage.

La distribution des valeurs de l'angle de coupant est très étalée, mais les valeurs se concentrent entre 40 et 60° (fig. 110). Il y a quelques UTF dont les valeurs maximales et minimales de l'angle de coupant restent dans une gamme aiguë (≤45°). La majorité des UTF de CT a donc un angle de coupant dans la gamme intermédiaire ou à cheval sur les gammes aiguë / intermédiaire.

Sur deux pièces, des aménagements peuvent être rapportés à une UTF de CP/CR.

<figure><img src="image_138.png" /><figcaption>Fig. 110 : Gouzeaucourt, niveau G. Distribution des valeurs de l'angle de coupant des UTF de CT des racloirs intensément retouchés (sous-groupe 3A) en nombre d'occurrences.</figcaption></figure>

### GZ niv. G, n° 87 12H NW 55 (fig. 111, n°1)

Cas assez exceptionnel, le support de cet outil est un éclat de façonnage de fort module. L'aménagement de cet outil suit un processus complexe. La phase de confection débute sur le bord gauche par des enlèvements de pré-affûtage de profil plan sur la face inférieure de l'éclat-support. L'affûtage sur l'autre face met en jeu de longues retouches de profil convexe. L'angle de coupant obtenu est de 50-55° (CT1, [Ø1]/2Ø, 50-55°). Le fil de ce CT1 est fortement endommagé par un feuilleté abrupt infra-millimétrique qui pourrait être lié à l'utilisation. La partie centrale du fil de cette UTF, légèrement concave, ne présente pas cet endommagement et semble postérieure. Elle pourrait représenter un début de ré-affûtage. Ensuite, dans la partie distale du bord droit, orientée presque transversalement, la phase de confection paraît débuter sur la face inférieure du support par des enlèvements de pré-affûtage de profil plan légèrement rebroussé. Dans un premier temps, l'affûtage est effectué par des retouches de profil plan ou plan rebroussé. Cette UTF de CT (CT2, A/1Ø, 40-50°) apparaît résiduelle au milieu du bord droit mais devait probablement se prolonger jusqu'à l'extrémité distale. Elle est partiellement dénaturée par une très courte retouche convexe qui porte l'angle de coupant à 70° environ (CT3, A/21, 70°). Dans la partie apicale du bord droit, l'affûtage met aussi en jeu des retouches planes légèrement rebroussées mais de plus grande ampleur (CT4, Ø1/1Ø, ≈60°). Les contre-bulbes sur le plan de base étant très éloignés, il pourrait déjà s'agir d'un
<figure><img src="image_139.png" /><figcaption>Fig. 111 : Gouzeaucourt, niveau G. Groupe 3A-racloirs intensément retouchés (description dans le texte, § 2.3.4.1)</figcaption></figure>