# Apport de l'EBSD à Haute Résolution angulaire sur l'étude de la sous-structuration des grains du combustible UO2

Alexis Maurin, Isabelle Zacharie-Aubrun, Xavière Iltis, Claire Onofri-Marroncle, Nathalie Gey, Benoit Beausir

## ► To cite this version:

Alexis Maurin, Isabelle Zacharie-Aubrun, Xavière Iltis, Claire Onofri-Marroncle, Nathalie Gey, et al.. Apport de l'EBSD à Haute Résolution angulaire sur l'étude de la sous-structuration des grains du combustible UO2. 26ème Congrès français de Mécanique, Association Française de Mécanique (AFM), Aug 2025, Metz, France. hal-05223550

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# Apport de l'EBSD à Haute Résolution angulaire sur l'étude de la sous-structuration des grains du combustible UO₂

A. MAURIN<sup>a,b</sup>, I. ZACHARIE-AUBRUN<sup>a</sup>, X. ILTIS<sup>a</sup>, C. ONOFRI<sup>a</sup>, N. GEY<sup>b</sup>, B. BEAUSIR<sup>b</sup>

a. CEA, DES, IRESNE, DEC, Cadarache, F-13108 Saint-Paul-Lez-Durance –
France

alexis.maurin@cea.fr,

isabelle.aubrun@cea.fr

xaviere.iltis@cea.fr

claire.onofri-marroncle@cea.fr

b. LEM3, UMR CNRS 7239, 7 rue Félix Savart, F-57070 Metz - France

nathalie.gey@univ-lorraine.fr

benoit.beausir@univ-lorraine.fr

## Résumé :

Le dioxyde d'uranium (UO₂), utilisé comme combustible principal dans les réacteurs à eau pressurisée, subit une restructuration microstructurale complexe sous irradiation prolongée. Cette étude explore le potentiel de la technique EBSD à Haute Résolution angulaire (HR-EBSD) pour analyser la sous-structuration intra-granulaire, notamment la détection des sous-joints faiblement désorientés, difficilement accessibles par EBSD conventionnel. Des cartographies EBSD ont été réalisées sur des matériaux de référence (silicium monocristallin, UO₂ vierge) ainsi que sur des pastilles d'UO₂ déformées ou irradiées. Les résultats montrent que le traitement par HR-EBSD réduit significativement le bruit angulaire (jusqu'à un facteur 4), atteignant une résolution de 0,05°, contre 0,3–0,5° avec l'indexation standard. Sur les échantillons irradiés, cette méthode permet de détecter des sous-joints dès 0,3 à 0,5° de désorientation, alors que la limite de détection conventionnelle est d'environ 1°. L'HR-EBSD s'avère donc particulièrement adaptée à l'analyse des premiers stades de la restructuration du combustible irradié. Toutefois, dans le cas de l'UO₂ irradié, d'autres techniques comme le pattern matching peuvent aussi être pertinentes.

## Abstract:

Uranium dioxide (UO₂), the primary fuel used in pressurized water reactors, undergoes complex microstructural restructuring under prolonged irradiation. This study investigates the potential of High Resolution Electron Backscatter Diffraction (HR-EBSD) to characterize intragranular substructures, particularly the detection of low-angle subgrain boundaries that are difficult to observe
using conventional EBSD. EBSD maps were acquired on reference materials (monocrystalline silicon, fresh UO₂) as well as on deformed or irradiated UO₂ pellets. The results show that HR-EBSD processing significantly reduces angular noise (by up to a factor of 4), achieving a resolution of 0.05°, compared to 0.3–0.5° with standard indexing. On irradiated samples, this method enhances the detection of subgrain boundaries at disorientation angles as low as 0.3–0.5°, whereas standard indexing typically requires at least 1°. HR-EBSD thus proves particularly well-suited for analyzing the early stages of irradiated fuel restructuring. However, in the case of irradiated UO₂, other techniques such as pattern matching may be also appropriate.

# Mots clefs : HR-EBSD, Combustible UO₂, Pattern Matching

## 1 Introduction

Le dioxyde d'uranium (UO₂) est le combustible le plus couramment utilisé dans les réacteurs nucléaires électrogènes. Au cours de son utilisation, la microstructure des pastilles d'UO₂ évolue de manière progressive et hétérogène sous l'effet combiné de la chaleur et des dommages d'irradiation. En effet, dans les réacteurs à eau pressurisée (REP), les pastilles sont soumises à un gradient thermique important entre leur centre (~ 1000°C) et leur périphérie (~ 500°C) [1]. Par ailleurs, en raison de l'absorption de neutrons à la périphérie, l'uranium 238 (²³⁸U) est progressivement transmuté en plutonium 241 (²⁴¹Pu), un isotope fissile qui participe à la réaction en chaîne, augmentant ainsi le taux d'irradiation en périphérie des pastilles. Ces conditions extrêmes induisent la formation de nombreux défauts au sein des grains (dislocations, bulles...) ainsi qu'une restructuration. Celle-ci se manifeste soit par une subdivision des grains en sous-grains faiblement désorientés, soit par une fragmentation en petits grains fortement désorientés.

La diffraction des électrons rétrodiffusés (EBSD) est une technique bien adaptée à l'étude de ces processus de restructuration [2], [3]. Toutefois, les études EBSD réalisées à ce jour sur des combustibles irradiés présentent une résolution angulaire limitée à 1°, ce qui peut être insuffisant pour détecter les sous-joints de grains très faiblement désorientés, en particulier lors de leurs phases initiales de formation.

## 1 EBSD à Haute Résolution

La technique HR-EBSD (High Resolution EBSD) a été développée dans le but de mesurer les déformations et rotations élastiques sur des clichés à haute résolution. La résolution angulaire qui en découle est supérieure à celle de la transformée de Hough employée en EBSD conventionnel. Un cliché de Kikuchi (ou EBSP) est sélectionné comme référence dans une zone peu déformée du grain. Ce cliché est recalé par corrélation d'image numérique (digital image correlation (DIC)) à chacun des autres EBSP constituant le grain. Les paramètres de l'homographie ainsi obtenus donnent accès à la désorientation entre les deux clichés. Il est important de noter que l'HR-EBSD ne réduit pas l'incertitude sur l'orientation absolue, elle améliore seulement la détection des différences d'orientation au sein d'une même zone de comparaison des EBSP (un grain). Cette technique permet en théorie d'atteindre des résolutions angulaires de 10⁻⁴ ° [4,7,8] contre 0,1-0,5° pour l'EBSD par transformée de Hough [5].

## 2 Pattern Matching

Les techniques dites de Pattern Matching consistent à comparer le cliché expérimental avec un cliché simulé pour obtenir une mesure angulaire absolue. Le Pattern Matching hybride permet d'accélérer le
processus en faisant d'abord une indexation standard avec une transformation de Hough, en créant un cliché de diffraction simulé associé à cette orientation et en le comparant au cliché expérimental pour affiner cette dernière. Cette technique est notamment utilisée par l'outil MapSweeper d'Oxford Instruments [6] utilisé dans cette étude.

# 3 Méthodologie

## 3.1 Equipements et paramètres d'acquisition

Les cartes EBSD ont été acquises à l'aide de trois microscopes électroniques équipés de systèmes EBSD de générations différentes (Tableau 1), dont l'un est nucléarisé, c'est-à-dire installé en enceinte blindée. Ces acquisitions ont été réalisées sur deux échantillons de référence (un monocristal de silicium et une pastille d'UO₂ vierge non déformée) ainsi que sur deux échantillons d'analyse : une pastille d'UO₂ vierge plastiquement déformée et une pastille d'UO₂ irradiée, toutes deux présentant des sous-joints de grains. Les clichés de diffraction ont ensuite été analysés par HR-EBSD à l'aide de la méthode globale développée au LEM3 [7], [8] et implémentée dans le logiciel ATEX [9].

<table><caption>Tableau 1. Equipements utilisés dans les trois laboratoires.</caption><thead><tr><th></th><th>Laboratoire 1 (CEA)</th><th>Laboratoire 2 (CEA)</th><th>Laboratoire 3 (LEM3)</th></tr></thead><tbody><tr><th>Caméra EBSD</th><td>Camera Nordlys 2,<br>1344 x 1024 pixels</td><td>Camera Symmetry S3,<br>1244 x 1024 pixels</td><td>Camera Symmetry S3,<br>1244 x 1024 pixels</td></tr><tr><th>MEB</th><td>MEB FIB Auriga 40<br>Carl Zeiss (nucléarisé)</td><td>MEB FEI Nova<br>NanoSEM 430</td><td>MEB FIB Auriga 40<br>Carl Zeiss</td></tr></tbody></table>

Après plusieurs tests, les paramètres d'acquisitions optimaux utilisés pour les analyses ci-après sont listés dans le Tableau 2.

<table><caption>Tableau 2. Paramètres d'acquisition utilisés sur chaque microscope.</caption><thead><tr><th></th><th>Moyennage</th><th>Temps d'exposition (ms)</th><th>Pas (µm)</th><th>Tension d'accélération (kV)</th><th>Distance de travail (mm)</th></tr></thead><tbody><tr><th>Laboratoire 1</th><td>2</td><td>70</td><td>0,07</td><td>20</td><td>17</td></tr><tr><th>Laboratoire 2</th><td>3</td><td>47,9</td><td>0,1</td><td>20</td><td>15</td></tr><tr><th>Laboratoire 3</th><td>3</td><td>27</td><td>0,07</td><td>20</td><td>8,1</td></tr></tbody></table>

## 3.2 Eléments de comparaison des cartes EBSD retenus

### 3.2.1 Carte des désorientations internes

La carte des désorientations internes (voir exemple en Figure 2) représente, en degrés, les désorientations entre l'orientation de chaque point de mesure et l'orientation de référence d'un même grain. Un grain est défini ici comme un ensemble de points délimité par des joints dont la désorientation dépasse un seuil, fixé à 5° pour l'UO₂ déformé et à 10° sur l'UO₂ irradié, conformément à des travaux antérieurs. L'orientation de référence utilisée pour chaque grain correspond à celle choisie pour les calculs HR-EBSD, et elle est indiquée par une étoile rouge sur toutes les cartes de désorientation présentées. Ce type de carte permet à la fois d'évaluer rapidement le niveau de bruit dans les mesures et de visualiser les sous-joints de grains faiblement désorientés à l'intérieur des grains.
## 3.2.2 Mesure de la sensibilité angulaire

La résolution angulaire est estimée à partir de la distribution des désorientations entre tous les pixels adjacents d'une carte EBSD. En se focalisant sur les très faibles désorientations, comme illustré dans la Figure 1, cette distribution prend généralement la forme d'une gaussienne. Si la carte est réalisée sur un matériau non déformé, cette gaussienne reflète principalement le bruit de mesure, permettant ainsi d'évaluer directement la précision angulaire de la technique.

<figure><img src="image_2.png" /><figcaption>Figure 1 : Exemple de distribution des faibles désorientations pour une carte réalisée sur du silicium
Deux critères principaux sont retenus à partir de cette distribution :</figcaption></figure>

- la largeur à mi-hauteur de la gaussienne (FWHM : Full Width at Half Maximum),

- la « tail » (ou queue de la distribution) : définie comme le seuil au-delà duquel l'ordonnée de la courbe est inférieure à 3% du maximum de la gaussienne.

La résolution angulaire, ou limite de détection, est alors définie comme la valeur de l'abscisse de la tail arrondie au centième de degré.

## 3.4 Matériaux étudiés

Dans un premier temps, des cartes EBSD ont été acquises sur un monocristal de silicium, utilisé comme référence afin de déterminer la résolution angulaire atteignable sur un matériau « parfait », c'est-à-dire monocristallin et non déformé. Les désorientations mesurées sur cet échantillon ont été interprétées comme exclusivement liées au bruit de mesure. Cette résolution, ou limite de détection, a ensuite été comparée à celles obtenues sur des échantillons d'UO₂ non déformés, désignés par la notation UO₂-R (référence). Ces derniers, élaborés par frittage à haute température, présentent une microstructure quasi exempte de défauts cristallins intra-granulaires. Ces acquisitions ont également permis d'identifier les conditions optimales d'acquisition et de post-traitement permettant d'obtenir les meilleurs clichés de Kikuchi sur de l'UO₂, dans un temps compatible avec la dérive des échantillons durant l'analyse.

Dans un second temps, des acquisitions EBSD ont été réalisées sur des échantillons issus de pastilles d'UO₂, respectivement déformées par compression à haute température (UO₂-D) et irradiée en réacteur de puissance (UO₂-I).

L'ensemble des résultats a été traité selon deux approches : l'analyse conventionnelle par transformée de Hough, et l'analyse en haute résolution, afin d'évaluer le gain apporté par cette dernière.
# 4 Résultats

## 4.1 Sensibilité angulaire sur les matériaux de référence

Les premières analyses sur les échantillons de silicium ont été réalisées dans le Laboratoire 2. La carte des désorientations internes obtenue n'est pas uniforme et traduit la présence d'un bruit de désorientation pouvant aller jusqu'à 0,2°, comme cela est visible sur la Figure 2. Ce bruit est quantifiable sur la distribution des désorientations déduite d'un traitement standard des données EBSD (Figure 2).

Le bruit est drastiquement réduit grâce au traitement HR : sur la carte de désorientation interne issue du traitement HR-EBSD les désorientations se situent en deçà de 0,05°. La distribution des désorientations (Figure 2) conforte ce résultat et permet de conclure que la résolution du système MEB + EBSD du Laboratoire 2, sur du silicium monocristallin, est de 0,05°.

<figure><img src="image_3.png" /><figcaption>Figure 2 : Silicium – Laboratoire 2 - Cartes de désorientation interne obtenues par indexation standard (gauche) et par HR EBSD (droite) et zoom sur la distribution des faibles désorientations</figcaption></figure>
La même étude a été menée sur les deux autres équipements ainsi que sur l'UO₂-R. Les résultats obtenus sont présentés dans le Tableau 3. Les limites de détection angulaires obtenues sont comparables entre le silicium monocristallin et l'UO₂-R, quel que soit l'équipement utilisé. Pour l'UO₂-R, le traitement HR permet d'atteindre une résolution angulaire (déterminée par la valeur de la tail) comprise entre 0,034 à 0,059°, contre 0,075 à 0,088° avec le traitement standard, soit une amélioration d'un facteur d'environ 2.

<table><caption>Tableau 3. Résolutions angulaires atteintes par EBSD standard et par EBSD-HR, sur les matériaux de référence (silicium, UO₂-R), sur les équipements des trois laboratoires.</caption><thead><tr><th rowspan="2"></th><th colspan="2">FWHM (°)</th><th colspan="2">Tail (3%) (°)</th><th rowspan="2">Gain<br>tail standard / tail HR</th></tr><tr><th>Standard</th><th>HR-EBSD</th><th>Standard</th><th>HR-EBSD</th></tr></thead><tbody><tr><td>Si Laboratoire 2</td><td>0,08</td><td>0,019</td><td>0,09</td><td>0,044</td><td>2</td></tr><tr><td>Si Laboratoire 1</td><td>0,16</td><td>0,013</td><td>0,22</td><td>0,034</td><td>6,5</td></tr><tr><td>UO₂-R Laboratoire 3</td><td>0,032</td><td>0,013</td><td>0,088</td><td>0,038</td><td>2,3</td></tr><tr><td>UO₂-R Laboratoire 2</td><td>0,027</td><td>0,011</td><td>0,075</td><td>0,034</td><td>2,2</td></tr><tr><td>UO₂-R Laboratoire 1</td><td>0,032</td><td>0,013</td><td>0,088</td><td>0,059</td><td>1,5</td></tr></tbody></table>

## 4.2 Sensibilité angulaire sur matériaux déformé et irradié

La Figure 3 présente les cartes de désorientations internes obtenues par traitement standard et par traitement HR sur l'échantillon d'UO₂ déformé, à partir d'une acquisition réalisée dans le Laboratoire 3. La carte HR-EBSD apparaît globalement moins bruitée, même si cette amélioration est peu perceptible dans le grain central (celui marqué par une étoile). Une amélioration similaire est observée sur la distribution des désorientations (Figure 3). Elle est comparable à celle constatée sur le silicium et l'UO₂-R. Comme attendu, les niveaux de désorientations mesurés sur cet échantillon déformé sont plus élevés que sur les échantillons de références (Si et UO₂-R) car ils intègrent une composante réelle liée à la déformation du matériau (la flèche rouge indique l'étirement de la tail causé par cette déformation).

<figure><img src="image_4.png" /></figure>
<figure><img src="image_5.png" /><figcaption>Figure 3 : UO₂-D – Laboratoire 3 - Carte de désorientation interne par indexation standard (gauche) par HR EBSD (droite) et zoom sur la distribution des faibles désorientations sur de l'UO₂-D</figcaption></figure>

La Figure 4 présente les sous-joints tracés sur la carte en contraste de bande. Le bruit de mesure est significativement réduit grâce au traitement HR, permettant d'abaisser le seuil de désorientation détectable (hors bruit) à 0,1°. Il devient ainsi possible de mettre en évidence des sous-joints de grains dont la désorientation est comprise entre 0,1 et 0,3°, qui restaient jusqu'alors noyés dans le bruit de mesure avec un traitement EBSD standard.
<figure><img src="image_6.png" /><figcaption>Figure 4 : UO₂-D – Laboratoire 3 - Lignes de désorientation sur carte en contraste de bande, en indexation standard (gauche) et en HR EBSD (droite) (SJ entre 0,1° et 0,3°)</figcaption></figure>

Les cartes obtenues sur la pastille irradiée (Figure 5 et 6), dont la tail a été mesurée à 0,73°, révèlent des désorientations nettement plus importantes que celles observées sur la pastille déformée mécaniquement. Ces résultats sont cohérents avec des observations antérieures. De plus, la carte de joints et sous-joints de grains tracés avec un seuil de désorientation de 0,1° (Figure 5) est largement affectée par du bruit, en particulier dans la plage 0,1° - 0,3°. Il est probable que l'irradiation, combinée à un état de surface moins optimal, dégrade davantage la qualité des clichés, rendant la mesure moins fiable que sur des pastilles non irradiées. Il est donc nécessaire d'augmenter le seuil de désorientation afin de mieux faire ressortir les sous-joints de grains délimitant correctement une zone (un sous-grain). Avec un seuil fixé à 0,3°, certaines zones de la carte (cf. Figure 6) restent difficilement interprétables en raison d'un bruit résiduel important. En augmentant encore ce seuil à 0,5° la carte devient plus lisible et moins bruitée. La comparaison entre les tracés des sous-joints issus de l'indexation standard et du traitement HR montre des différences limitées : globalement, les deux méthodes identifient les mêmes sous-grains.
<figure><img src="image_7.png" /></figure>

<table><thead><tr><th>Min/Max angle (°)</th><th>%</th></tr></thead><tbody><tr><td>0.1-0.3</td><td>62.1</td></tr><tr><td>0.3-0.5</td><td>16</td></tr><tr><td>0.5-1</td><td>10.8</td></tr><tr><td>1-3</td><td>6.4</td></tr><tr><td>3-5</td><td>1.5</td></tr><tr><td>5-63.5</td><td>3.2</td></tr></tbody></table>

Longueur totale des joints : 1,22.10⁴ µm

<figure><img src="image_8.png" /></figure>

<table><thead><tr><th>Min/Max angle (°)</th><th>%</th></tr></thead><tbody><tr><td>0.3-0.5</td><td>46.5</td></tr><tr><td>0.5-1</td><td>26.2</td></tr><tr><td>1-3</td><td>17.5</td></tr><tr><td>3-5</td><td>4.3</td></tr><tr><td>5-63.5</td><td>5.6</td></tr></tbody></table>

Longueur totale des joints : 3,7.10³ µm

<figure><img src="image_9.png" /><figcaption>Figure 5 : UO₂-I (zone centrale) - Carte en contraste de bande + joints de grain (à gauche avec 0,1°-0,3° en indexation HR et à droite à partir de 0,3° en indexation HR)</figcaption></figure>

<figure><img src="image_10.png" /><figcaption>Figure 6 : UO₂-I - Zoom sur la carte en contraste de bande + joints de grain (à gauche à partir de 0,3° en indexation HR et à droite à partir de 0,5° en indexation HR)</figcaption></figure>
L'analyse HR-EBSD montre ses limites lorsque les clichés Kikuchi sont de faible qualité, notamment dans les matériaux altérés par irradiation. Dans de telles conditions, les méthodes de pattern matching peuvent s'avérer plus appropriées et offrir de meilleures performances.

Les distributions présentées sur la Figure 7 mettent en évidence une amélioration notable de la réduction du bruit par pattern matching et HR comparativement à l'indexation standard. La distribution du pattern matching est légèrement décalée vers les faibles désorientations, comparée à celles de l'EBSD-HR et EBSD standard, ce qui indique qu'une partie du bruit de mesure a été éliminée.

Cependant, en raison de la forte déformation induite par l'irradiation, il est difficile de quantifier précisément la résolution angulaire, car il n'est plus possible de distinguer clairement le pic associé au bruit de mesure de celui des désorientations réelles, comme cela a pu être fait pour les matériaux non déformés. Neanmoins, l'analyse de la tail (Tableau 4) permet de quantifier le gain obtenu : une amélioration de 40% par rapport à l'indexation standard est observée avec le Pattern Matching, contre 13% avec le traitement HR.

<figure><img src="image_11.png" /><figcaption>Figure 7 : Zoom sur la distribution des faibles désorientations sur de l'UO₂-I (analyse effectuée dans le Laboratoire 1)</figcaption></figure>

<table><caption>Tableau 4. Tail par EBSD standard par EBSD-HR ainsi que par pattern matching, sur de l'UO₂-I.</caption><thead><tr><th rowspan="2"></th><th colspan="3">Tail (3%) (°)</th></tr><tr><th>Standard</th><th>HR-EBSD</th><th>Pattern Matching</th></tr></thead><tbody><tr><th>UO<sub>2</sub>-I</th><td>0,84</td><td>0,74</td><td>0,6</td></tr></tbody></table>

# 5 Conclusion

Le traitement HR permet de réduire le bruit de désorientation d'un facteur allant de 2 (pour l'UO₂ irradié) à 4 (pour le silicium, l'UO₂ de référence et l'UO₂ déformé) par rapport au traitement standard. Les résultats ont montré que la résolution angulaire obtenue avec les trois équipements utilisés, aussi bien sur le silicium que sur l'UO₂ de référence, est similaire en HR, de l'ordre de 0,05°.
Sur une pastille d'UO₂ déformé, le traitement HR améliore nettement la résolution angulaire des mesures EBSD, permettant la détection de sous-joints de grains avec des désorientations aussi faibles que 0,1°. Pour le combustible UO₂ irradié, le traitement HR permet également une détection des sous-joints, jusqu'à des désorientations de 0,5° (voire 0,3° selon les zones et le niveau d'irradiation). Le traitement est encore meilleur par pattern matching dans les zones où la qualité des clichés est dégradée du fait de l'irradiation.

En conclusion, le traitement HR permet d'améliorer significativement la résolution angulaire des cartographies d'orientation obtenues par EBSD sur de l'UO₂ déformé ou irradié. Il permet également l'obtention de cartes de déformations internes qui seront exploitables dans de futures études de modélisation de la plasticité cristalline. Dans les zones où la qualité des clichés est dégradée, le pattern matching constitue une méthode complémentaire efficace pour atténuer le bruit résiduel. Les résultats obtenus sont essentiels pour établir des corrélations avec d'autres techniques avec des résolutions spatiales plus fines, comme la microscopie électronique à transmission.

Références

[1] Mariem Ben Saada, thèse 2017 « Étude du comportement visco-plastique du dioxyde d'uranium: quantification par analyse EBSD et ECCI des effets liés aux conditions de sollicitation et à la microstructure initiale », Université de Lorraine.

[2] M. Ben Saada, N. Gey, B. Beausir, X. Iltis, H. Mansour, et N. Maloufi, « Sub-boundaries induced by dislocational creep in uranium dioxide analyzed by advanced diffraction and channeling electron microscopy », *Materials Characterization*, vol. 133, p. 112-121, nov. 2017, doi: 10.1016/j.matchar.2017.09.023.

[3] I. Zacharie-Aubrun, R. Dowek, J. Noirot, T. Blay, M. Cabié, et M. Dumont, « Restructuring in high burn-up UO2 fuels: Experimental characterization by electron backscattered diffraction », *Journal of Applied Physics*, vol. 132, n° 19, p. 195903, nov. 2022, doi: 10.1063/5.0104865.

[4] C. Ernould, thèse 2020 « Développement et application d'une méthode à haute résolution angulaire pour la mesure des gradients d'orientation et des déformations élastiques par microscopie électronique à balayage. », Université de Lorraine.

[5] G. Marius et R.-D.-d.-C. Pedro, « Advanced Electron Microscopy: Progress and Application of Electron Backscatter Diffraction », *Ultramicroscopy*, vol. 186, p. 158*170, 2018.

[6] *MapSweeper*. Oxford Instruments. [En ligne]. Disponible sur: https://www.ebsd.com/ois-ebsd-system/pattern-matching-mapsweeper

[7] C. Ernould, B. Beausir, J.-J. Fundenberger, V. Taupin, et E. Bouzy, « Global DIC approach guided by a cross-correlation based initial guess for HR-EBSD and on-axis HR-TKD », *Acta Materialia*, vol. 191, p. 131-148, juin 2020, doi: 10.1016/j.actamat.2020.03.026.

[8] C. Ernould, B. Beausir, J.-J. Fundenberger, V. Taupin, et E. Bouzy, « Characterization at high spatial and angular resolutions of deformed nanostructures by on-axis HR-TKD », *Scripta Materialia*, vol. 185, p. 30-35, août 2020, doi: 10.1016/j.scriptamat.2020.04.005.

[9] B. Beausir et J.-J. Fundenberger, *Analysis Tools for Electron and X-ray diffraction, ATEX - software*. (2017). Université de Lorraine. [En ligne]. Disponible sur: www.atex-software.eu