# Ionendünnung
## Allemand
### Étymologie

    Nom composé de Ion (« ion »), -en-, dünn (« mince ») et -ung, littéralement « amincissement ionique ».

### Nom commun

Ionendünnung \ˈi̯oːnənˌdynʊŋ\ féminin
* (Physique, Technique) Amincissement ionique, notamment pour la préparation de lames minces de microscopie.
** Mittels Ionendünnung durch einen fokussierten Gallium-Ionenstrahl (FIB, focused ion beam) können Schnitte in die Kompositkathode durchgeführt werden, so dass ein Querschnitt dieser charakterisiert werden kann. — (Verena Wurster, Elektrochemische Charakterisierung der Grenzflächen von Kompositkathoden im System LiFePO$_4$/Polymerelektrolyt : Dissertation zur Erlangung des akademischen Grades Doktors der Naturwissenschaften / D 17, partie 3.6.1 Testsysteme und Methoden – Rasterelektronenmikroskopie (REM), EDX und FIB, Université de technologie de Darmstadt – TUD, Darmstadt, juillet 2019, page 54)
    Par amincissement ionique avec un faisceau ionique focalisé (FIB, focused ion beam) de gallium, des coupes peuvent être effectuées dans la cathode composite, de sorte qu’une section transverse de celle-ci puisse être caractérisée.
** Bei der Ionendünnung geschieht die Materialabtragung durch den Beschuss der dünnen TEM-Probe mit Ionen. Die schematische Darstellung der Ionendünnungsvorrichtung ist in Abbildung 3.2.2 dargestellt. Die Geschwindigkeit der Ionendünnung ist abhängig von der angelegten Spannung (bis zu 6 keV), der Temperatur der Probe (die Probe kann mit flüssigem Stickstoff gekühlt werden), der Art der Ionen (z.B. Ar, He, I) und der Geometrie der Ionendünnung (die Probenoberfläche wird zum Ionenstrahl um 5° bis 10° gekippt ). Feinere Ionendünnung erreicht man, wenn der Winkel zwischen dem Strahl und der Probeoberfläche möglichst klein gehalten wird. — (Aleksandra Newirkowez, Untersuchungen zu durch Schwerionen-Bestrahlung induzierten Materialveränderungen in supraleitenden NbTi-Drähten : Dissertation zur Erlangung des akademischen Grades eines Doktor-Ingenieurs, sous la dir. de Hartmut Fueß, partie 3.2.1 Analysemethoden - Transmissionselektronenmikroskopie - Probenpräparation, Université de technologie de Darmstadt – TUD, Darmstadt, novembre 2008, page 39)
    Dans le cas de l’amincissement ionique, l’enlèvement de matière se fait par bombardement de l’échantillon MET fin par des ions. Une représentation schématique de l’installation d’amincissement ionique est donnée à la figure 3.2.2. La vitesse de d’amincissement ionique dépend de la tension appliquée (jusqu’à 6 keV), de la température de l’échantillon (l’échantillon peut être refroidi avec de l’azote liquide), du type d’ions (par exemple Ar, He, I) et de la géométrie de l’amincissement (la surface de l’échantillon est inclinée de 5° à 10° par rapport au faisceau d’ions). Un amincissement ionique plus fin est obtenu si l’angle entre le faisceau et la surface de l’échantillon est gardé aussi petit que possible.

#### Vocabulaire apparenté par le sens

* Bombardierung, Bombardement (« bombardement »)
* Dünnschliff (« lame mince »)
* Ionenmühle (« polisseuse à canon ionique », « amincisseur ionique »)
* Ionenstrahl (« faisceau ionique » / « faisceau d’ions »)
* Sputtern, Zerstäubung (« pulvérisation »)
* Transmissionselektronenmikroskopie (« microscopie électronique à transmission ») / TEM (« MET »)

#### Hyperonymes

* Ionenstrahlätzen (« gravure par faisceau ionique »)
** Ionenätzen (« gravure ionique »)
*** Trockenätzen (« gravure sèche »)
**** Ätzen (« gravure », « attaque »)