Khoản 2.3. Yêu cầu về phổ tần số vô tuyến điện 2.3.1. Sai số tần số 2.3.1.1. Mục đích Để kiểm tra sự sai khác giữa tần số sóng mang đo kiểm thực tế và tần số sóng mang danh định. 2.3.1.2. Phương pháp xác định a. Sơ đồ đấu nối Hình 3 - Phép đo sai số tần số b. Đo tần số sóng mang tại các tần số AIS 1 và AIS 2 c. Phép đo sẽ được thực hiện cả ở điều kiện đo kiểm thông thường và điều kiện đo kiểm tới hạn. 2.3.1.3. Giá trị yêu cầu Tại điều kiện đo kiểm thông thường: không vượt quá ±0,5 kHz. Tại điều kiện đo kiểm tới hạn: không vượt quá ±1 kHz. 2.3.2. Công suất dẫn 2.3.2.1. Mục đích Để kiểm tra công suất ra của AIS-SART có nằm trong khoảng giới hạn cho phép ở các điều kiện hoạt động tới hạn. 2.3.2.2. Phương pháp xác định - Nối thiết bị cần kiểm tra với đồng hồ đo công suất và ghi lại công suất dẫn ở điều kiện kiểm tra thông thường (P20). Lặp lại kiểm tra ở các nhiệt độ tới hạn thấp và cao và ghi lại các giá trị đạt được (P-20 và P55). - Tính toán hệ số khuếch đại của ăng ten AIS-SART sử dụng công thức sau: G = PR - P20 - Pd (1) Trong đó: G: hệ số khuếch đại của ăng ten (dB); PR: công suất phát xạ (dBm); P20: công suất dẫn được đo ở điều kiện đo kiểm thông thường; Pd: là độ sai khác công suất ra giữa thiết bị AIS-SART tiêu chuẩn và AIS-SART đã hiệu chỉnh được xác định theo công thức: Pd(dB) = Công suất ra AIS-SART tiêu chuẩn (dBm) - Công suất ra AIS-SART đã hiệu chỉnh (dBm). 2.3.2.3. Giá trị yêu cầu Công suất dẫn, được hiệu chỉnh với hệ số khuếch đại ăng ten được đưa ra trong Bảng 3. Bảng 3 - Công suất dẫn - các giá trị yêu cầu Công suất dBm P-20 + G + Pd ≥ 27 P55 + G + Pd ≥ 27 CHÚ THÍCH: Công suất này bằng với công suất phát xạ ở nhiệt độ tới hạn. 2.3.3. Công suất phát xạ 2.3.3.1. Mục đích Để kiểm tra công suất phát xạ danh định của AIS-SART là 1 W (EIRP) ở điều kiện hoạt động bình thường. 2.3.3.2. Phương pháp xác định Phép thử này chỉ yêu cầu thực hiện ở các điều kiện kiểm tra thông thường và sẽ sử dụng một thiết bị AIS-SART có pin đã được bật tối thiểu 92 h. Nếu việc đo kiểm diễn ra quá 4 h, thì phải thay thế bằng một pin khác với điều kiện tương tự. Đo công suất phát xạ tại các điểm cách AIS-SART tối thiểu 5 m. AIS-SART được gắn trên giá đỡ không dẫn điện với ăng ten cao hơn 1 m so với mặt đất. Ăng ten đo sẽ được gắn theo phương thẳng đứng trên một giá đỡ không dẫn điện với cáp tín hiệu chạy dọc cột giá đỡ. Đầu kia của cáp ăng ten được nối với một máy đo công suất đặt ở chân cột. Khu vực đo kiểm có đường kính ít nhất 3 m và chiều cao phù hợp để có thể điều chỉnh góc ngẩng của ăng ten (lớn nhất 30°) nhằm nhận được giá trị lớn nhất trên máy đo công suất. Có thể thực hiện biện pháp phòng ngừa để triệt phản xạ từ mặt phẳng nằm ngang bằng cách sử dụng vật liệu hấp thụ sóng cao tần. Đo mức thu ở 4 điểm khác nhau trong mặt phẳng phương vị bằng cách xoay AIS-SART mỗi bước 90°. Ghi lại mức thu tối thiểu (PREC) và sử dụng nó để tính toán công suất phát xạ ở nhiệt độ hoạt động bình thường, áp dụng công thức sau: PR = PREC - GREC + LC + LP (2) Trong đó: PR: Là mức công suất bức xạ từ AIS-SART (dBm); PREC: Là mức công suất đo được (dBm); GREC: Là hệ số khuếch đại ăng ten máy đo; Lc: Là tổn hao của máy đo (dB); LP: Là độ tổn hao lan truyền trong không gian tự do (dB). 2.3.3.3. Giá trị yêu cầu PR ≥ 27 dBm (500 mW). 2.3.4. Phổ phát xạ khe điều chế 2.3.4.1. Mục đích Phép thử này đảm bảo rằng các dải biên điều chế và quá độ tạo ra bởi máy phát trong các điều kiện hoạt động bình thường nằm trong mặt nạ cho phép. 2.3.4.2. Phương pháp xác định Các phương thức sau sẽ được áp dụng: 2.3.4.3. Giá trị yêu cầu Phổ cho khe phát nằm trong mặt nạ phát xạ như sau: - Trong vùng ± 10 kHz từ sóng mang, dải biên điều chế và quá độ thấp hơn giá trị 0 dBc; - Tại các điểm ±10 kHz từ sóng mang, dải biên điều chế và quá độ thấp hơn giá trị -20 dBc; - Tại vùng từ ± 25 kHz đến ± 62,5 kHz từ sóng mang, dải biên điều chế và quá độ thấp hơn giá trị -40 dBc; - Trong vùng giữa ±10 kHz và ± 25 kHz từ sóng mang, dải biên điều chế và quá độ sẽ nằm phía dưới đường chéo được thiết lập giữa hai điểm này. Mức tham chiếu cho đo kiểm sẽ là công suất dẫn được ghi phù hợp với 2.3.2. Chi tiết về mặt nạ phát xạ được minh họa ở hình sau: Hình 4 - Mặt nạ phát xạ 2.3.5. Trình tự đo kiểm và độ chính xác điều chế 2.3.5.1. Mục đích Để kiểm tra tính chính xác của chuỗi mào đầu với mẫu 24 bit 0 và 1 xen kẽ bắt đầu bằng bit 0. Độ lệch tần số đỉnh được lấy từ tín hiệu băng gốc để xác định độ chính xác điều chế. 2.3.5.2. Phương pháp xác định Hình 5 - Phép đo độ chính xác điều chế Quá trình đo sẽ như sau: a. Thiết bị sẽ được đấu nối như cấu hình A hoặc cấu hình B theo Hình 5. Tùy chọn sử dụng thiết bị kích hoạt nếu thiết bị đo kiểm có khả năng đồng bộ với các burst phát ra từ thiết bị cần kiểm tra; b. Máy phát sẽ được chuyển sang tần số AIS 2 (162,025 MHz); c. Máy phát sẽ được điều chế với tín hiệu kiểm tra số 1; d. Độ lệch tần số sóng mang sẽ được đo như là một chức năng của thời gian; e. Máy phát sẽ được điều chế với tín hiệu kiểm tra số 2; f. Độ lệch từ tần số sóng mang sẽ được đo như là một chức năng của thời gian; g. Các phép đo sẽ được lặp lại ở tần số AIS 1; h. Lặp lại phép đo kiểm ở các điều kiện thử nghiệm tới hạn. 2.3.5.3. Giá trị yêu cầu Trong mỗi trường hợp, kiểm lại chuỗi mào đầu bắt đầu với giá trị bit 0. Độ lệch tần số đỉnh ở các điểm khác nhau trong khung dữ liệu sẽ tuân theo Bảng 4. Các giới hạn này áp dụng cho cả các đỉnh điều chế dương và âm. Bit 0 được định nghĩa như là bit đầu tiên của chuỗi mào đầu. Bảng 4 - Độ lệch tần số đỉnh theo thời gian Chu kỳ đo từ trung tâm tới trung tâm của mỗi bit Tín hiệu kiểm tra số 1 Tín hiệu kiểm tra số 2 Bình thường Tới hạn Bình thường Tới hạn Bit 0 tới bit 1 Bit 2 tới bit 3 2 400 Hz ± 480 Hz Bit 4 tới bit 31 2 400 Hz ± 240 Hz 2 400 Hz ± 480 Hz 2 400 Hz ± 240 Hz 2 400 Hz ± 480 Hz Bit 32 tới bit 199 1 740 Hz ± 175 Hz 1 740 Hz ± 350 Hz 2 400 Hz ± 240 Hz 2 400 Hz ± 480 Hz 2.3.6. Hàm công suất ra theo thời gian 2.3.6.1. Định nghĩa Hàm công suất ra theo thời gian của máy phát là tổ hợp của độ trễ, thời gian tác động máy phát, thời gian kết thúc và khoảng thời gian phát của máy phát như trong Bảng 5, trong đó: a. Thời gian trễ máy phát (TA - T0) là thời gian giữa thời điểm bắt đầu của khe và thời điểm khi công suất phát có thể vượt quá -50 dB công suất ổn định (Pss). b. Thời gian tác động máy phát (TB2 - TA) là thời gian kể từ thời điểm công suất phát vượt quá -50 dB và thời điểm khi công suất phát ra duy trì ở mức trong khoảng từ +1,5 dB đến - 1 dB so với Pss. c. Thời gian kết thúc máy phát (TF - TE) là thời gian kể từ thời điểm cờ kết thúc (end flag) được phát và thời điểm khi công suất ra của máy phát bị giảm tới mức 50dB dưới Pss và duy trì dưới mức này sau đó. d. Khoảng thời gian phát (TF - TA) là thời gian từ khi công suất vượt quá -50 dB tới khi công suất trở lại và dừng lại dưới -50 dB. Hình 6 - Công suất theo mặt nạ khe thời gian Bảng 5 - Định nghĩa các khoảng thời gian Tham chiếu Bits Thời gian (ms) Định nghĩa T0 0 0 Bắt đầu của khe phát. Công suất sẽ không vượt quá -50 dB của Pss trước T0 T0 - TA 0 ÷ 6 0 ÷ 0,625 Công suất có thể vượt quá -50 dB của PSS * TB TB1 6 0,625 Công suất sẽ trong khoảng +1,5 dB hoặc - 3 dB của Pss * TB2 8 0,833 Công suất sẽ trong khoảng +1,5 dB hoặc - 1 dB của Pss * TE (bao gồm 1 bit bổ sung) 233 24,271 Công suất sẽ duy trì trong khoảng +1,5 dB hoặc -1 dB của Pss trong khoảng TB2 đến TE* TF (bao gồm 1 bit bổ sung) 241 25,104 Công suất sẽ là -50 dB của Pss và giữ ở dưới mức này TG 256 26,667 Bắt đầu khoảng thời gian phát tiếp theo (*): Sẽ không có điều chế cao tần sau khi kết thúc phát (TE) đến khi công suất giảm về 0 và bắt đầu khe tiếp theo (TG). 2.3.6.2. Phương pháp xác định Phép đo sẽ được thực hiện bởi tín hiệu kiểm tra số 1 (chú ý rằng tín hiệu này tạo ra một bit bổ sung trong phần CRC). AIS-SART sẽ được nối với một máy phân tích phổ. Độ phân giải băng thông (RBW) được đặt là 1 MHz, băng thông thị tần (VBW) được đặt là 1 MHz và một bộ tách sóng mẫu sẽ được sử dụng ở trong phép đo này. Bộ phân tích sẽ sử dụng chế độ zero span cho phép đo này. Máy phân tích phổ sẽ được đồng bộ với thời gian bắt đầu danh định của khe (T0) có thể lấy từ bên ngoài, hoặc từ AIS-SART. 2.3.6.3. Giá trị yêu cầu Công suất phát sẽ được duy trì trong khoảng mặt nạ khe thời gian được chỉ ra trong Hình 6 và phối hợp với thời gian được đưa ra trong Bảng 5. 2.3.7. Phát xạ giả từ máy phát 2.3.7.1. Mục đích Để xác định phát xạ ở các tần số khác sóng mang và các biên tần liên quan đến chế độ điều chế thông thường. 2.3.7.2. Phương pháp xác định Các phép đo sẽ được thực hiện ở đầu ra 50 Ω của máy phát sử dụng một máy thu hoặc máy phân tích phổ với độ rộng băng thông của nó cài đặt giữa 100 kHz và 120 kHz hoặc cài đặt gần nhất của nó, trên các dải tần sau: Từ 108 MHz đến 137 MHz, từ 156 MHz đến 161,5 MHz, từ 406,0 MHz đến 406,1 MHz và từ 1 525 MHz đến 1 610 MHz. 2.3.7.3. Giá trị yêu cầu Không có mức tín hiệu trong các dải tần nói trên được vượt quá 25 mW. 2.3. Yêu cầu về phổ tần số vô tuyến điện 2.3.1. Sai số tần số 2.3.1.1. Mục đích Để kiểm tra sự sai khác giữa tần số sóng mang đo kiểm thực tế và tần số sóng mang danh định. 2.3.1.2. Phương pháp xác định a. Sơ đồ đấu nối Hình 3 - Phép đo sai số tần số b. Đo tần số sóng mang tại các tần số AIS 1 và AIS 2 c. Phép đo sẽ được thực hiện cả ở điều kiện đo kiểm thông thường và điều kiện đo kiểm tới hạn. 2.3.1.3. Giá trị yêu cầu Tại điều kiện đo kiểm thông thường: không vượt quá ±0,5 kHz. Tại điều kiện đo kiểm tới hạn: không vượt quá ±1 kHz. 2.3.2. Công suất dẫn 2.3.2.1. Mục đích Để kiểm tra công suất ra của AIS-SART có nằm trong khoảng giới hạn cho phép ở các điều kiện hoạt động tới hạn. 2.3.2.2. Phương pháp xác định - Nối thiết bị cần kiểm tra với đồng hồ đo công suất và ghi lại công suất dẫn ở điều kiện kiểm tra thông thường (P20). Lặp lại kiểm tra ở các nhiệt độ tới hạn thấp và cao và ghi lại các giá trị đạt được (P-20 và P55). - Tính toán hệ số khuếch đại của ăng ten AIS-SART sử dụng công thức sau: G = PR - P20 - Pd (1) Trong đó: G: hệ số khuếch đại của ăng ten (dB); PR: công suất phát xạ (dBm); P20: công suất dẫn được đo ở điều kiện đo kiểm thông thường; Pd: là độ sai khác công suất ra giữa thiết bị AIS-SART tiêu chuẩn và AIS-SART đã hiệu chỉnh được xác định theo công thức: Pd(dB) = Công suất ra AIS-SART tiêu chuẩn (dBm) - Công suất ra AIS-SART đã hiệu chỉnh (dBm). 2.3.2.3. Giá trị yêu cầu Công suất dẫn, được hiệu chỉnh với hệ số khuếch đại ăng ten được đưa ra trong Bảng 3. Bảng 3 - Công suất dẫn - các giá trị yêu cầu Công suất dBm P-20 + G + Pd ≥ 27 P55 + G + Pd ≥ 27 CHÚ THÍCH: Công suất này bằng với công suất phát xạ ở nhiệt độ tới hạn. 2.3.3. Công suất phát xạ 2.3.3.1. Mục đích Để kiểm tra công suất phát xạ danh định của AIS-SART là 1 W (EIRP) ở điều kiện hoạt động bình thường. 2.3.3.2. Phương pháp xác định Phép thử này chỉ yêu cầu thực hiện ở các điều kiện kiểm tra thông thường và sẽ sử dụng một thiết bị AIS-SART có pin đã được bật tối thiểu 92 h. Nếu việc đo kiểm diễn ra quá 4 h, thì phải thay thế bằng một pin khác với điều kiện tương tự. Đo công suất phát xạ tại các điểm cách AIS-SART tối thiểu 5 m. AIS-SART được gắn trên giá đỡ không dẫn điện với ăng ten cao hơn 1 m so với mặt đất. Ăng ten đo sẽ được gắn theo phương thẳng đứng trên một giá đỡ không dẫn điện với cáp tín hiệu chạy dọc cột giá đỡ. Đầu kia của cáp ăng ten được nối với một máy đo công suất đặt ở chân cột. Khu vực đo kiểm có đường kính ít nhất 3 m và chiều cao phù hợp để có thể điều chỉnh góc ngẩng của ăng ten (lớn nhất 30°) nhằm nhận được giá trị lớn nhất trên máy đo công suất. Có thể thực hiện biện pháp phòng ngừa để triệt phản xạ từ mặt phẳng nằm ngang bằng cách sử dụng vật liệu hấp thụ sóng cao tần. Đo mức thu ở 4 điểm khác nhau trong mặt phẳng phương vị bằng cách xoay AIS-SART mỗi bước 90°. Ghi lại mức thu tối thiểu (PREC) và sử dụng nó để tính toán công suất phát xạ ở nhiệt độ hoạt động bình thường, áp dụng công thức sau: PR = PREC - GREC + LC + LP (2) Trong đó: PR: Là mức công suất bức xạ từ AIS-SART (dBm); PREC: Là mức công suất đo được (dBm); GREC: Là hệ số khuếch đại ăng ten máy đo; Lc: Là tổn hao của máy đo (dB); LP: Là độ tổn hao lan truyền trong không gian tự do (dB). 2.3.3.3. Giá trị yêu cầu PR ≥ 27 dBm (500 mW). 2.3.4. Phổ phát xạ khe điều chế 2.3.4.1. Mục đích Phép thử này đảm bảo rằng các dải biên điều chế và quá độ tạo ra bởi máy phát trong các điều kiện hoạt động bình thường nằm trong mặt nạ cho phép. 2.3.4.2. Phương pháp xác định Các phương thức sau sẽ được áp dụng: 2.3.4.3. Giá trị yêu cầu Phổ cho khe phát nằm trong mặt nạ phát xạ như sau: - Trong vùng ± 10 kHz từ sóng mang, dải biên điều chế và quá độ thấp hơn giá trị 0 dBc; - Tại các điểm ±10 kHz từ sóng mang, dải biên điều chế và quá độ thấp hơn giá trị -20 dBc; - Tại vùng từ ± 25 kHz đến ± 62,5 kHz từ sóng mang, dải biên điều chế và quá độ thấp hơn giá trị -40 dBc; - Trong vùng giữa ±10 kHz và ± 25 kHz từ sóng mang, dải biên điều chế và quá độ sẽ nằm phía dưới đường chéo được thiết lập giữa hai điểm này. Mức tham chiếu cho đo kiểm sẽ là công suất dẫn được ghi phù hợp với 2.3.2. Chi tiết về mặt nạ phát xạ được minh họa ở hình sau: Hình 4 - Mặt nạ phát xạ 2.3.5. Trình tự đo kiểm và độ chính xác điều chế 2.3.5.1. Mục đích Để kiểm tra tính chính xác của chuỗi mào đầu với mẫu 24 bit 0 và 1 xen kẽ bắt đầu bằng bit 0. Độ lệch tần số đỉnh được lấy từ tín hiệu băng gốc để xác định độ chính xác điều chế. 2.3.5.2. Phương pháp xác định Hình 5 - Phép đo độ chính xác điều chế Quá trình đo sẽ như sau: a. Thiết bị sẽ được đấu nối như cấu hình A hoặc cấu hình B theo Hình 5. Tùy chọn sử dụng thiết bị kích hoạt nếu thiết bị đo kiểm có khả năng đồng bộ với các burst phát ra từ thiết bị cần kiểm tra; b. Máy phát sẽ được chuyển sang tần số AIS 2 (162,025 MHz); c. Máy phát sẽ được điều chế với tín hiệu kiểm tra số 1; d. Độ lệch tần số sóng mang sẽ được đo như là một chức năng của thời gian; e. Máy phát sẽ được điều chế với tín hiệu kiểm tra số 2; f. Độ lệch từ tần số sóng mang sẽ được đo như là một chức năng của thời gian; g. Các phép đo sẽ được lặp lại ở tần số AIS 1; h. Lặp lại phép đo kiểm ở các điều kiện thử nghiệm tới hạn. 2.3.5.3. Giá trị yêu cầu Trong mỗi trường hợp, kiểm lại chuỗi mào đầu bắt đầu với giá trị bit 0. Độ lệch tần số đỉnh ở các điểm khác nhau trong khung dữ liệu sẽ tuân theo Bảng 4. Các giới hạn này áp dụng cho cả các đỉnh điều chế dương và âm. Bit 0 được định nghĩa như là bit đầu tiên của chuỗi mào đầu. Bảng 4 - Độ lệch tần số đỉnh theo thời gian Chu kỳ đo từ trung tâm tới trung tâm của mỗi bit Tín hiệu kiểm tra số 1 Tín hiệu kiểm tra số 2 Bình thường Tới hạn Bình thường Tới hạn Bit 0 tới bit 1 Bit 2 tới bit 3 2 400 Hz ± 480 Hz Bit 4 tới bit 31 2 400 Hz ± 240 Hz 2 400 Hz ± 480 Hz 2 400 Hz ± 240 Hz 2 400 Hz ± 480 Hz Bit 32 tới bit 199 1 740 Hz ± 175 Hz 1 740 Hz ± 350 Hz 2 400 Hz ± 240 Hz 2 400 Hz ± 480 Hz 2.3.6. Hàm công suất ra theo thời gian 2.3.6.1. Định nghĩa Hàm công suất ra theo thời gian của máy phát là tổ hợp của độ trễ, thời gian tác động máy phát, thời gian kết thúc và khoảng thời gian phát của máy phát như trong Bảng 5, trong đó: a. Thời gian trễ máy phát (TA - T0) là thời gian giữa thời điểm bắt đầu của khe và thời điểm khi công suất phát có thể vượt quá -50 dB công suất ổn định (Pss). b. Thời gian tác động máy phát (TB2 - TA) là thời gian kể từ thời điểm công suất phát vượt quá -50 dB và thời điểm khi công suất phát ra duy trì ở mức trong khoảng từ +1,5 dB đến - 1 dB so với Pss. c. Thời gian kết thúc máy phát (TF - TE) là thời gian kể từ thời điểm cờ kết thúc (end flag) được phát và thời điểm khi công suất ra của máy phát bị giảm tới mức 50dB dưới Pss và duy trì dưới mức này sau đó. d. Khoảng thời gian phát (TF - TA) là thời gian từ khi công suất vượt quá -50 dB tới khi công suất trở lại và dừng lại dưới -50 dB. Hình 6 - Công suất theo mặt nạ khe thời gian Bảng 5 - Định nghĩa các khoảng thời gian Tham chiếu Bits Thời gian (ms) Định nghĩa T0 0 0 Bắt đầu của khe phát. Công suất sẽ không vượt quá -50 dB của Pss trước T0 T0 - TA 0 ÷ 6 0 ÷ 0,625 Công suất có thể vượt quá -50 dB của PSS * TB TB1 6 0,625 Công suất sẽ trong khoảng +1,5 dB hoặc - 3 dB của Pss * TB2 8 0,833 Công suất sẽ trong khoảng +1,5 dB hoặc - 1 dB của Pss * TE (bao gồm 1 bit bổ sung) 233 24,271 Công suất sẽ duy trì trong khoảng +1,5 dB hoặc -1 dB của Pss trong khoảng TB2 đến TE* TF (bao gồm 1 bit bổ sung) 241 25,104 Công suất sẽ là -50 dB của Pss và giữ ở dưới mức này TG 256 26,667 Bắt đầu khoảng thời gian phát tiếp theo (*): Sẽ không có điều chế cao tần sau khi kết thúc phát (TE) đến khi công suất giảm về 0 và bắt đầu khe tiếp theo (TG). 2.3.6.2. Phương pháp xác định Phép đo sẽ được thực hiện bởi tín hiệu kiểm tra số 1 (chú ý rằng tín hiệu này tạo ra một bit bổ sung trong phần CRC). AIS-SART sẽ được nối với một máy phân tích phổ. Độ phân giải băng thông (RBW) được đặt là 1 MHz, băng thông thị tần (VBW) được đặt là 1 MHz và một bộ tách sóng mẫu sẽ được sử dụng ở trong phép đo này. Bộ phân tích sẽ sử dụng chế độ zero span cho phép đo này. Máy phân tích phổ sẽ được đồng bộ với thời gian bắt đầu danh định của khe (T0) có thể lấy từ bên ngoài, hoặc từ AIS-SART. 2.3.6.3. Giá trị yêu cầu Công suất phát sẽ được duy trì trong khoảng mặt nạ khe thời gian được chỉ ra trong Hình 6 và phối hợp với thời gian được đưa ra trong Bảng 5. 2.3.7. Phát xạ giả từ máy phát 2.3.7.1. Mục đích Để xác định phát xạ ở các tần số khác sóng mang và các biên tần liên quan đến chế độ điều chế thông thường. 2.3.7.2. Phương pháp xác định Các phép đo sẽ được thực hiện ở đầu ra 50 Ω của máy phát sử dụng một máy thu hoặc máy phân tích phổ với độ rộng băng thông của nó cài đặt giữa 100 kHz và 120 kHz hoặc cài đặt gần nhất của nó, trên các dải tần sau: Từ 108 MHz đến 137 MHz, từ 156 MHz đến 161,5 MHz, từ 406,0 MHz đến 406,1 MHz và từ 1 525 MHz đến 1 610 MHz. 2.3.7.3. Giá trị yêu cầu Không có mức tín hiệu trong các dải tần nói trên được vượt quá 25 mW.
a) Sử dụng tín hiệu kiểm tra số 3. a) Sử dụng tín hiệu kiểm tra số 3.
b) AIS-SART được nối với một máy phân tích phổ. Độ phân giải băng thông là 1 kHz, băng thông thị tần là 3 kHz hoặc lớn hơn và xác định giá trị đỉnh dương (giữ giá trị lớn nhất). b) AIS-SART được nối với một máy phân tích phổ. Độ phân giải băng thông là 1 kHz, băng thông thị tần là 3 kHz hoặc lớn hơn và xác định giá trị đỉnh dương (giữ giá trị lớn nhất).