Điều 2. Thông tư này có hiệu lực thi hành kể từ ngày 20 tháng 02 năm 2020. Điều 2. QUY ĐỊNH KỸ THUẬT
2.1. Yêu cầu đối với các đặc trưng làm việc của thiết bị X-quang Thiết bị X-quang phải đáp ứng các yêu cầu nêu tại Bảng 1 của Quy chuẩn kỹ thuật này. Bảng 1. Yêu cầu đối với thiết bị X-quang TT Nội dung kiểm tra Yêu cầu I Kiểm tra ngoại quan 1 Thông tin thiết bị Thiết bị phải có nhãn mác hoặc hồ sơ thể hiện đầy đủ các thông tin về quốc gia/hãng sản xuất, năm sản xuất, mã hiệu, số xêri của thiết bị và các bộ phận chính cấu thành thiết bị (trường hợp bị mất hoặc mờ số xêri, tổ chức thực hiện kiểm định phải đánh số xêri cho thiết bị). 2 Bảng điều khiển để đặt và hiển thị thông số làm việc của thiết bị Bảng điều khiển phải hoạt động tốt; đèn và đồng hồ chỉ thị thông số làm việc của thiết bị phải hiển thị đúng, rõ ràng và dễ quan sát. 3 Bộ phận và cơ cấu cơ khí - Cột giữ phải chắc chắn, không dịch chuyển trong quá trình thao tác. - Bàn đạp để di chuyển tấm nén phải hoạt động tốt. - Bộ phận và cơ cấu cơ khí chuyển động phải dịch chuyển nhẹ nhàng, chắc chắn và an toàn. 4 Tín hiệu cảnh báo phát tia Có tín hiệu cảnh báo bằng âm thanh hoặc ánh sáng khi thiết bị phát tia X. II Thiết bị nén 1 Độ chính xác của chỉ thị bề dày vú hoặc thước chỉ thị Độ lệch tuyệt đối giữa bề dày thực tế của vật kiểm tra và giá trị chỉ thị phải nằm trong khoảng ± 5 mm. 2 Độ chính xác của lực nén (Áp dụng đối với loại thiết bị X-quang đặt được lực nén và có chỉ thị lực nén) Độ lệch tuyệt đối giữa lực nén hiển thị và giá trị đo được phải nằm trong khoảng ± 20 N. 3 Lực nén lớn nhất Đáp ứng một trong hai trường hợp sau: - Trường hợp sử dụng chế độ nén tự động: 150 N £ lực nén lớn nhất £ 200 N. - Trường hợp sử dụng chế độ nén thủ công: lực nén lớn nhất phải £ 300 N. III Điện áp đỉnh 1 Độ chính xác của điện áp đỉnh Độ lệch tương đối tính theo % của giá trị điện áp đỉnh đo được so với giá trị đặt phải nằm trong khoảng ± 10%. 2 Độ lặp lại của điện áp đỉnh Độ lệch tương đối lớn nhất giữa giá trị điện áp đỉnh đo được so với giá trị trung bình của ít nhất 3 lần đo với cùng thông số đặt phải nằm trong khoảng ± 5%. IV Liều lối ra 1 Độ lặp lại liều lối ra Độ lệch tương đối giữa giá trị liều lối ra đo được lớn nhất và nhỏ nhất so với giá trị trung bình của ít nhất 3 lần đo với cùng thông số đặt phải nằm trong khoảng ± 5%. 2 Độ tuyến tính liều lối ra Độ tuyến tính liều lối ra phải nằm trong khoảng ± 20%. V Bộ khu trú chùm tia 1 Độ trùng khít giữa trường sáng và trường xạ Độ lệch mỗi cạnh giữa hai trường không vượt quá 1% khoảng cách từ tiêu điểm đến bộ ghi nhận hình ảnh. 2 Độ trùng khít giữa trường xạ và bộ ghi nhận hình ảnh - Cạnh phía gần ngực của trường xạ trên mặt tấm đỡ không được vượt quá mép của tấm đỡ 5 mm. - Các cạnh còn lại của trường xạ trên mặt tấm đỡ không được vượt quá mép của tấm đỡ 2% khoảng cách từ tiêu điểm đến bộ ghi nhận hình ảnh. 3 Độ trùng khít giữa tấm nén và bộ ghi nhận hình ảnh Mép của tấm nén phía gần ngực không được hiển thị lên ảnh, đồng thời không vượt quá mép vùng nhạy của bộ ghi nhận hình ảnh 1% khoảng cách từ tiêu điểm đến bộ ghi nhận hình ảnh. VI Lọc chùm tia sơ cấp - Đánh giá HVL HVL phải đáp ứng: Trong đó: - kVp là giá trị trung bình của điện áp đỉnh đo được; - C là hằng số, tương ứng với cặp bia/phin lọc như sau: + C = 0,12 đối với cặp Mo/Mo; + C = 0,19 đối với cặp Mo/Rh; + C = 0,22 đối với cặp Rh/Rh; + C = 0,23 đối với cặp Rh/Ag; + C = 0,30 đối với cặp W/Rh; + C = 0,32 đối với cặp W/Ag; + C = 0,25 đối với cặp W/Al. VII Chất lượng hình ảnh 1 Ngưỡng tương phản Đáp ứng một trong hai trường hợp sau: - Trường hợp sử dụng loại phantom có chi tiết kiểm tra là sợi, nhóm điểm và đốm tròn, ảnh chụp phải đáp ứng các yêu cầu sau: + Quan sát được sợi có đường kính ≤ 0,75 mm; + Quan sát được nhóm điểm có đường kính ≤ 0,32 mm; + Quan sát được đốm tròn có độ dày ≤ 0,75 mm. - Trường hợp sử dụng loại phantom có chi tiết kiểm tra là hình tròn, ảnh chụp phải đáp ứng các yêu cầu sau: 2 Độ phân giải không gian - Đối với thiết bị kỹ X-quang kỹ thuật số và số hóa, ảnh chụp phải đáp ứng một trong các yêu cầu sau: + Quan sát được tối thiểu 05 cặp vạch trên milimét (lp/mm). + Giá trị của hàm MTF tại tần số không gian 2,5; 5,0 và 7,5 cy/mm phải nằm trong khoảng ± 10% giá trị đường nền. - Đối với thiết bị X-quang dùng phim: quan sát được tối thiểu 11 cặp vạch trên milimét (lp/mm).
2.2. Phương pháp kiểm định Phương pháp kiểm định để đánh giá các đặc trưng làm việc của thiết bị X-quang nêu tại Mục 2.1 được thực hiện theo Phụ lục 1 của Quy chuẩn kỹ thuật này.