這種片上太赫茲光譜學技術是否可以與其他先進的顯微鏡技術相結合,實現對二維材料的多維度表徵?
是的，這種片上太赫茲光譜學技術可以與其他先進的顯微鏡技術相結合，以實現對二維材料的多維度表徵。例如，將太赫茲光譜學與掃描隧道顯微鏡（STM）結合，可以在原子尺度上探測材料的電子結構，同時獲取其光學性質。這樣的結合不僅能夠提供材料的局部電子態密度信息，還能揭示其在不同電場和光照條件下的動態行為。此外，將太赫茲光譜學與原子力顯微鏡（AFM）結合，可以在納米尺度上獲取材料的形貌和機械性質，進一步了解其結構與性能之間的關係。這種多維度的表徵方法將有助於深入理解二維材料的物理性質，並促進新型量子材料的設計和應用。