除了原子勢能描述子,還有哪些特徵可以用於無監督識別晶體缺陷?
除了原子勢能描述子，還有多種特徵可以用於無監督識別晶體缺陷：
幾何特徵：包括原子間距、角度和面積等幾何參數，這些特徵可以幫助識別晶體結構中的異常。
拓撲特徵：利用拓撲學方法來描述原子結構的連接性和形狀，這些特徵可以揭示晶體缺陷的局部環境。
局部密度：計算每個原子的局部密度，這可以幫助識別缺陷區域，因為缺陷通常會導致局部密度的變化。
電子結構特徵：如能帶結構和態密度等，這些特徵可以提供有關材料電子性質的資訊，並有助於識別缺陷對材料性能的影響。
動力學特徵：通過分析分子動力學模擬中的運動模式和擴散行為，可以識別出晶體缺陷的動態特徵。
這些特徵的結合使用可以增強無監督學習算法的識別能力，從而更準確地識別和分類晶體缺陷。