Procédé de contrôle de la qualité d’une pièce (10) à contrôler, le procédé étant destiné à déterminer si le matériau de la pièce comporte au moins une phase minoritaire biréfringente représentative d’un défaut, le procédé comportant : émettre (201) un faisceau lumineux incident en direction d’une surface de la pièce à contrôler, polariser (202) linéairement le faisceau lumineux incident selon un premier axe de polarisation de sorte à transmettre un faisceau lumineux incident polarisé sur la surface de la pièce à contrôler, polariser (204) linéairement le faisceau lumineux réfléchi selon un deuxième axe de polarisation orienté perpendiculairement au premier axe de polarisation de sorte à transmettre un faisceau lumineux réfléchi polarisé, le faisceau lumineux réfléchi (103) étant issu de la réflexion du faisceau lumineux incident polarisé (102) par la surface (100) de la pièce (10), et obtenir (205) une image représentative de réflexions sur la surface de la pièce, déterminer (206) si au moins une zone de l’image présente une intensité lumineuse supérieure à un seuil prédéfini, ladite zone de l’image étant dite zone claire, détecter (207) un défaut lorsqu’au moins une zone claire de l’image vérifie un critère géométrique prédéfini. Procédé de contrôle selon la revendication 1, dans lequel le critère géométrique prédéfini comprend que la zone claire comporte un étendu supérieur à une valeur prédéfinie. Procédé de contrôle selon la revendication 2, dans lequel la valeur prédéfinie est égale à 100 µm. Procédé de contrôle selon la revendication 1, dans lequel le critère géométrique prédéfini comprend que la zone claire présente une surface supérieure à une superficie prédéfinie. Procédé de contrôle selon l’une des revendications 1 à 4, comportant en outre d’enregistrer l’image de la surface de la pièce obtenue, et de transmettre ladite image de la surface à un dispositif de traitement (17) comportant de la circuiterie électronique configurée pour implémenter les étapes de déterminer (206) si au moins une zone de l’image présente une intensité lumineuse supérieure à un seuil prédéfini et de détecter (207) un défaut lorsqu’au moins une zone claire de l’image vérifie un critère géométrique prédéfini. Système de contrôle optique (1) destiné à contrôler la qualité d’une pièce (10) constituée d’un matériau comportant une phase majoritaire non biréfringente, le système de contrôle optique (1) étant configuré pour analyser des pièces présentant une phase majoritaire biréfringente, le système de contrôle optique (1) étant destiné à déterminer si le matériau comporte au moins une phase minoritaire biréfringente représentative d’un défaut, le système de contrôle optique (1) comportant : une source lumineuse (11) configurée pour émettre un faisceau lumineux incident (101) en direction d’une surface (100) de la pièce (10) à contrôler, un polariseur (12) configuré pour polariser linéairement le faisceau lumineux incident (101) selon un premier axe de polarisation de sorte à transmettre un faisceau lumineux incident polarisé (102) sur la surface (100) de la pièce (10) à contrôler, un deuxième polariseur, dit analyseur (13), configuré pour polariser linéairement un faisceau lumineux réfléchi (103) selon un deuxième axe de polarisation orienté perpendiculairement au premier axe de polarisation de sorte à transmettre un faisceau lumineux réfléchi polarisé (104), le faisceau lumineux réfléchi (103) étant issu de la réflexion du faisceau lumineux incident polarisé (102) par la surface (100) de la pièce (10), un dispositif optique (14) de formation d’une image représentative de réflexions sur la surface (100) de la pièce (10), des moyens (17) pour déterminer si au moins une zone de l’image présente une intensité lumineuse supérieure à un seuil prédéfini, dite zone claire, et des moyens (17) pour détecter un défaut lorsqu’au moins une zone claire de l’image vérifie un critère géométrique prédéfini. Système de contrôle optique selon la revendication 6, dans lequel le défaut est un défaut de type freckle. Système de contrôle optique selon l’une des revendications 6 et 7, dans lequel la phase minoritaire représentative d’un défaut est une phase η, une phase μ, une phase σ, une phase de Laves et/ou un borure.