A cet effet, la présente invention concerne un procédé de mesure d’une aberration dans une image acquise par un instrument optique comprenant une matrice de détecteurs multispectraux, la matrice de détecteurs multispectraux comprenant une matrice de détecteurs, et une pluralité de matrices de filtres spectraux, chaque matrice de filtre spectral étant associée à une bande spectrale, le procédé comprenant les étapes suivantes : - acquisition par la matrice de détecteurs de l’instrument optique d’une image d’une source ponctuelle connue, l’image comprenant, pour chaque matrice de filtre spectral, une partie d’une tâche image de la source ponctuelle acquise dans la bande spectrale de ladite matrice de filtre spectral ; - pour chaque matrice de filtre spectral, détermination d’une valeur initiale de chaque paramètre d’un ensemble de paramètres d’un modèle paramétrique d’une réponse impulsionnelle modélisée de l’instrument optique, l’ensemble de paramètres comprenant un sous-ensemble de paramètres commun à la pluralité de matrices de filtres spectraux, et un sous-ensemble de paramètres spécifiques à chaque matrice de filtre spectral; - pour chaque matrice de filtre spectral, échantillonnage d’une réponse impulsionnelle calculée sur la base de la valeur initiale des paramètres appliquée au modèle paramétrique, l’échantillonnage étant réalisé selon un masque d’échantillonnage associé à la matrice de filtre spectral, - pour chaque matrice de filtre spectral, calcul d’une valeur d’un coût dans la bande spectrale, la valeur du coût étant fonction d’une distance entre la réponse impulsionnelle calculée et la réponse impulsionnelle observée pour chacun des points du masque d’échantillonnage, - calcul d’une valeur d’un coût global pour l’ensemble des bandes spectrales en fonction de la valeur du coût dans chaque bande spectrale, - pour chaque matrice de filtre spectral, estimation d’une valeur estimée de chaque paramètre de l’ensemble de paramètres, la valeur estimée étant fonction d’une variation estimée à partir de la valeur du coût global, la valeur estimée étant égale à la variation estimée ajoutée à la valeur initiale des paramètres; - pour chaque matrice de filtre spectral, échantillonnage d’une nouvelle réponse impulsionnelle calculée sur la base de la valeur estimée des paramètres appliquée au modèle paramétrique, l’échantillonnage étant réalisé selon le masque d’échantillonnage associé à la matrice de filtre spectral, - pour chaque matrice de filtre spectral, calcul d’une nouvelle valeur du coût dans ladite bande spectrale, la nouvelle valeur du coût étant fonction de la distance entre la nouvelle réponse impulsionnelle calculée et la réponse impulsionnelle observée pour chacun des points du masque d’échantillonnage, - calcul (105bis) d’une nouvelle valeur du coût global pour l’ensemble des bandes spectrales en fonction de la nouvelle valeur du coût dans chaque bande spectrale. - comparaison entre la nouvelle valeur du coût global et la valeur du coût global pour obtenir un résultat de la comparaison; - déterminer que la valeur initiale des paramètres est égale la valeur estimée des paramètres et que la valeur du coût global est égale à la nouvelle valeur du coût global, et pour chaque matrice de filtre spectral, répéter les étapes comprises entre l’étape d’estimation d’une valeur estimée des paramètres, jusqu’à l’étape de comparaison entre la nouvelle valeur du coût global et la valeur du coût global jusqu’à ce qu’un critère d’arrêt soit satisfait par le résultat de la comparaison, de sorte qu’à chaque itération de l’étape de répétition, au cours de l’étape d’estimation la variation est estimée à partir d’une valeur initiale des paramètres égale à la valeur estimée des paramètres estimée au cours de l’itération précédente, et à partir d’une valeur du coût global égale à une nouvelle du coût global calculée au cours de l’itération précédente; - déterminer une mesure de l’aberration sur la base de la valeur estimée des paramètres de la réponse impulsionnelle.