Dispositif (100) pour caractériser un comportement non-linéaire d’un guide d’onde, appelé guide d’onde à analyser (101), ledit dispositif comprenant : - un interféromètre (2) à deux chemins optiques (CH1, CH2) s’étendant chacun entre une entrée optique (E) de l’interféromètre et une zone de superposition (S), ledit interféromètre étant adapté pour que le guide d’onde à analyser (101) soit inséré dans l’un au moins des chemins optiques pour une caractérisation dudit guide d’onde à analyser, et l’interféromètre comprenant un diviseur de faisceau (9) agencé de sorte que deux parties d’un rayonnement qui est injecté dans l’entrée optique se propagent respectivement une-à-une dans les deux chemins optiques puis interfèrent l’une avec l’autre dans la zone de superposition, en ayant des valeurs respectives de puissance qui sont différentes ; - une source de rayonnement (1), adaptée pour produire un rayonnement qui possède une valeur variable de puissance, et agencée pour injecter le rayonnement dans l’entrée optique (E) de l’interféromètre (2) pendant la caractérisation du guide d’onde à analyser (10) ; et - un système de photodétection (3), agencé pour mesurer une amplitude et un déphasage d’un état d’interférence du rayonnement qui existe dans la zone de superposition (S) pendant la caractérisation du guide d’onde à analyser (101), le dispositif (100) étant caractérisé en ce que les deux chemins optiques (CH1, CH2) possèdent une portion commune de chemin optique dans laquelle le guide d’onde à analyser (101) est destiné à être inséré pour la caractérisation dudit guide d’onde à analyser, et lesdits deux chemins optiques sont tels que les parties du rayonnement qui se propagent respectivement dans l’un et l’autre des deux chemins optiques, circulent dans le guide d’onde à analyser selon des sens de propagation respectifs qui sont opposés. Dispositif (100) selon la revendication 1, dans lequel un premier (CH1) des deux chemins optiques comprend un modulateur (5) adapté pour générer un déphasage variable pour la partie du rayonnement qui se propage dans ledit premier chemin optique, conformément à un signal électrique de modulation qui est reçu à une entrée de commande dudit modulateur, et le dispositif (100) comprend en outre : - un générateur électrique de signal alternatif (30), qui est connecté à l’entrée commande du modulateur (5), de sorte que pendant la caractérisation du guide d’onde à analyser (101), le modulateur produise un décalage fréquentiel pour la partie du rayonnement qui se propage dans le premier chemin optique (CH1) ; et - un système de détection synchrone (33), qui est connecté en entrée d’une part au générateur électrique de signal alternatif (30) et d’autre part à une sortie du système de photodétection (3), et qui est adapté pour fournir pendant la caractérisation du guide d’onde à analyser (101), des valeurs mesurées respectivement pour l’amplitude et le déphasage de l’état d’interférence du rayonnement qui existe dans la zone de superposition (S) de l’interféromètre (2). Dispositif (100) selon la revendication 2, dans lequel celui des deux chemins optiques (CH1, CH2) autre que ledit premier chemin optique (CH1) comprend un retardateur (6) configuré pour reproduire au moins en partie un retard de transfert constant qui est produit par le modulateur (5) dans ledit premier chemin optique. Dispositif (100) selon la revendication 3, comprenant en outre deux circulateurs optiques (7a, 7b), et dans lequel le modulateur (5) et le retardateur (6) sont disposés en parallèle entre les deux circulateurs optiques pour constituer des segments respectifs des deux chemins optiques (CH1, CH2), les deux segments étant séparés et regroupés par les deux circulateurs optiques, et parcourus par les parties du rayonnement selon des sens de propagation d’un circulateur optique à l’autre qui sont opposés pendant la caractérisation du guide d’onde à analyser (101). Dispositif (100) selon l’une des revendications précédentes, dans lequel la source de rayonnement (1) comprend une source primaire (11) et un variateur de puissance optique (12), le variateur de puissance optique étant intermédiaire entre la source primaire et l’entrée optique (E) de l’interféromètre (2), de sorte que ledit variateur de puissance optique détermine la valeur variable de la puissance du rayonnement qui est injecté dans l’interféromètre. Dispositif (100) selon la revendication 5, comprenant en outre un système de mesure (4) de la valeur variable de la puissance du rayonnement qui est injecté dans l’interféromètre (2), et le dispositif (100) est adapté pour varier automatiquement ladite valeur de puissance du rayonnement qui est injecté dans l’interféromètre (2), et pour délivrer en sortie l’amplitude et le déphasage de l’état d’interférence du rayonnement qui existe dans la zone de superposition (S) pour chaque valeur mesurée de la puissance du rayonnement qui est injecté dans l’interféromètre. Dispositif (100) selon l’une des revendications précédentes, dans lequel chaque chemin optique (CH1, CH2) est constitué par des composants à maintien de polarisation. Dispositif (100) selon l’une des revendications précédentes, dans lequel la source de rayonnement (1) est de type source impulsionnelle, et adaptée pour produire le rayonnement sous forme d’impulsions successives. Dispositif (100) selon l’une des revendications précédentes, comprenant en outre une unité de calcul (50) configurée pour déterminer l’une au moins parmi une valeur d’un coefficient d’effet Kerr non-linéaire, une valeur d’un coefficient d’absorption à deux photons et une valeur d’un coefficient d’absorption par porteurs libres, relatives au guide d’onde à analyser (101), à partir de valeurs qui ont été mesurées respectivement pour l’amplitude et le déphasage de l’état d’interférence qui existe dans la zone de superposition (S). Procédé de caractérisation d’un comportement non-linéaire d’un guide d’onde, dit guide d’onde à analyser (101), le procédé comprenant les étapes suivantes : - fournir un dispositif (100) qui est conforme à l’une quelconque des revendications précédentes ; - insérer le guide d’onde à analyser (101) dans la portion commune de chemin optique du dispositif ; et - activer simultanément la source de rayonnement (1) et le système de photodétection (3), pour mesurer l’amplitude et le déphasage de l’état d’interférence du rayonnement qui existe dans la zone de superposition (S). Procédé selon la revendication 10, suivant lequel le dispositif (100) est conforme à la revendication 6, et le procédé comprend d’enregistrer des valeurs mesurées respectivement pour l’amplitude et le déphasage de l’état d’interférence du rayonnement qui existe dans la zone de superposition (S), pour plusieurs valeurs de la puissance du rayonnement injecté dans l’interféromètre qui sont produites successivement, et le procédé comprend en outre de déterminer l’une au moins parmi une valeur d’un coefficient d’effet Kerr non-linéaire, une valeur d’un coefficient d’absorption à deux photons et une valeur d’un coefficient d’absorption par porteurs libres, relatives au guide d’onde à analyser, à partir de valeurs mesurées respectivement pour l’amplitude et le déphasage de l’état d’interférence, et relatives à plusieurs valeurs mesurées pour la puissance du rayonnement injecté dans l’interféromètre.