Procédé de fabrication d’une lame optique (LO) destinée à recevoir un échantillon biologique (E) dans un dispositif de microscopie par réflexion totale interne, ledit procédé comprenant une étape de conception de ladite lame optique (LO) et une étape de fabrication matérielle de ladite lame optique (LO) ainsi conçue, ledit procédé étant caractérisé en ce que la phase de conception comprend les étapes suivantes : la sélection d’un premier matériau diélectrique présentant un indice de réfraction et d’un deuxième matériau diélectrique présentant un indice de réfraction tel que la sélection d’une longueur d’onde dite d’illumination et d’un angle d’incidence dit optimal en fonction dudit dispositif de microscopie par réflexion totale interne auquel ladite lame optique est destinée la conception d’une première structure comprenant un premier empilement de couches minces diélectriques disposé au dessus d’une couche dite substrat (SB) transparente dans une région spectrale prédéterminée comprenant ladite longueur d’onde d’illumination ledit premier empilement comprenant de couches minces successives et alternées du premier matériau diélectrique et du deuxième matériau diélectrique, une première épaisseur respective de chaque couche mince diélectrique et ledit nombre de couches minces diélectriques étant adaptés de manière à ce que la première structure présente une absorption résonnante à la longueur d’onde d’illumination et à l’angle d’incidence optimal en régime de réflexion totale interne la détermination d’une première fonction représentative d’une valeur d’une transmission de la première structure dans la région spectrale prédéterminée en fonction d’un nombre de couches minces diélectriques et d’une épaisseur de chaque couche mince diélectrique, et la détermination d’une deuxième fonction représentative d’une intensité d’un champ électrique évanescent généré par la lame optique en régime de réflexion totale interne à la longueur d’onde d’illumination et à l’angle d’incidence optimal en fonction d’un nombre de couches minces diélectriques et de ladite première épaisseur de chaque couche mince diélectrique la conception de ladite lame optique qui comprend un deuxième empilement de couches minces diélectriques dit empilement optimisé disposé au dessus du substrat (SB), l’empilement optimisé comprenant un nombre de couches minces diélectriques successives et alternées du premier matériau diélectrique et du deuxième matériau diélectrique, chacune des couches présentant une épaisseur dite optimisée respective, les épaisseurs optimisées et le nombre de couches minces diélectriques étant déterminés par une optimisation d’une fonction de mérite basée sur la première fonction et la deuxième fonction de manière à ce que ladite lame optique présente une première absorption résonnante à la longueur d’onde d’illumination et à un premier angle d’incidence en régime de réflexion totale interne et présente une deuxième absorption résonnante à la longueur d’onde d’illumination et à un deuxième angle d’incidence en régime de réflexion totale interne, avec et ou . Procédé de fabrication selon la revendication précédente, dans lequel ladite fonction de mérite est telle que , avec un paramètre permettant de pondérer un poids respectif de la première fonction et de la deuxième fonction dans ladite optimisation. Procédé de fabrication selon la revendication précédente, dans lequel est compris en 0.3 et 0.7. Procédé de fabrication selon l’une quelconque des revendications précédentes, dans lequel ladite optimisation est telle que . Procédé de fabrication selon l’une quelconque des revendications précédentes, dans lequel ladite optimisation consiste à trouver les épaisseurs optimisées et le nombre de couches minces diélectriques pour lesquels ladite valeur de la transmission de la première structure dans la région spectrale prédéterminée est maximale et pour lesquels ladite intensité du champ électrique évanescent est maximale. Procédé de fabrication selon l’une quelconque des revendications précédentes, dans lequel, dans le premier empilement, une couche supérieure du premier empilement est dans le deuxième matériau diélectrique et présente une première épaisseur comprise entre et et dans laquelle les couches inférieures du premier empilement présentent chacune une première épaisseur comprise entre et . Procédé de fabrication selon l’une quelconque des revendications précédentes, dans lequel la première fonction F1 est représentative d’une transmission d’un rayonnement de fluorescence induit indirectement par une absorption de ladite longueur d’onde d’illumination en réflexion totale interne dans ledit premier empilement illuminé avec ledit angle d’incidence optimal , le rayonnement de fluoresence présentant un spectre compris dans ladite région spectrale, la transmission étant intégrée sur une gamme angulaire d’incidence du rayonnement de fluorescence sur ladite lame optique comprise entre 0 et 80°. Lame optique (LO) destinée à recevoir un échantillon biologique (E) dans un dispositif (D) de microscopie par réflexion totale interne, la lame optique comprenant : une couche dite substrat (SB) transparente dans une région spectrale prédéterminée un empilement dit optimisé disposé (EO) au dessus du substrat (SB) et comprenant un nombre de couches minces diélectriques successives et alternées ( d’un premier matériau diélectrique et d’un deuxième matériau diélectrique, chacune des couches présentant une épaisseur dite optimisée respective, les épaisseurs optimisées et le nombre de couches minces diélectriques étant adaptés de manière à ce que ladite lame optique présente au moins : une première absorption résonnante à une longueur d’onde dite d’illumination et à un premier angle d’incidence en régime de réflexion totale interne, et une deuxième absorption résonnante à la longueur d’onde d’illumination et à un deuxième angle d’incidence en régime de réflexion totale interne, avec . Lame optique selon la revendication précédente, dans laquelle : - le premier matériau diélectrique présente un indice de réfraction compris entre 1,8 et 3,5 ; - le deuxième matériau diélectrique présente un indice de réfraction compris entre 1,2 et 1,7. Lame optique selon la revendication précédente, dans laquelle le premier matériau est à base de Nb 2 O 5 , le deuxième matériau est à base de SiO 2 . Lame optique selon l’une quelconque des revendications 8 à 10, dans laquelle le nombre de couches minces diélectriques est inférieur à 30, préférentiellement inférieur à 20. Lame optique selon l’une quelconque des revendications 8 à 11, dans laquelle les épaisseurs optimisées et le nombre de couches minces diélectriques sont tels que ladite lame optique présente une épaisseur inférieure à 5 et préférentiellement comprise entre 0,5 et 2 . Lame optique selon l’une quelconque des revendications 8 à 12, dans laquelle les épaisseurs optimisées sont supérieures ou égales à 10 nm. Dispositif (D) de microscopie par réflexion totale interne comprenant : une lame optique (LO) selon l’une quelconque des revendications 8 à 13, une source de lumière (SL) adaptée pour émettre un faisceau lumineux (L in ) présentant la longueur d’onde d’illumination un dispositif optique (Obj) adapté pour mettre en forme le faisceau lumineux (L in ) de manière à ce qu’il illumine ladite lame optique avec ledit angle d’incidence optimisé un détecteur (Det) adapté pour détecter un rayonnement de fluorescence (FL) émis lorsqu’un échantillon (E) est déposé en correspondance d’une région d’une surface (SE) de ladite lame optique où sont produites des ondes évanescentes (OE) par une réflexion totale interne dans ladite lame optique du faisceau lumineux (L in ) mis en forme, ledit rayonnement de fluorescence (Fl) étant excité par lesdites ondes évanescentes (OE). Dispositif selon la revendication précédente, dans lequel le dispositif optique (Obj) est un objectif de microscope.