Dans la demande FR2114482, la Demanderesse a démontré l'applicabilité des mesures de tomographie par processus électrique aux substrats solides, dans la liste non limitative des applications suivantes : - interface homme-machine (IHM) visant à stimuler l'interface physique et à mesurer en retour les signaux corrélés résultant de la stimulation de l'interface physique afin de mesurer toute variation d'impédance locale à l'intérieur de l'interface, et comprenant une source de stimulation électrique continue ou variable et un convertisseur analogique-numérique, - IHM basée sur la tomographie d'impédance électrique et visant à stimuler l'interface physique et à mesurer les signaux corrélés résultant de la stimulation de l'interface physique afin de mesurer toute variation d'impédance locale au sein de l'interface, et comprenant une source de stimulation électrique continue ou variable et un convertisseur analogique-numérique, - IHM basée sur la tomographie de résistance électrique et visant à stimuler l’interface physique et à mesurer les signaux corrélés en retour résultant de la stimulation de l’interface physique afin de mesurer toute variation de résistance locale dans l’interface, et comprenant une source de stimulation électrique continue ou variable et un convertisseur analogique-numérique, - IHM basée sur la tomographie de capacité électrique et visant à stimuler l'interface physique et à mesurer les signaux corrélés en retour résultant de la stimulation de l'interface physique afin de mesurer toute variation de capacitance locale au sein de l'interface, et comprenant une source de stimulation électrique variable et un convertisseur analogique-numérique, - système de surveillance de la santé structurelle (SHM) visant à stimuler un spécimen physique et de mesurer en retour les signaux corrélés résultant de la stimulation du composant physique afin de mesurer toute variation d'impédance locale à l'intérieur de l'échantillon, et comprenant une source de stimulation électrique continue ou variable et un convertisseur analogique-numérique, - système SHM basé sur la tomographie d'impédance électrique et visant à stimuler un spécimen physique et à mesurer en retour les signaux corrélés résultant de la stimulation de la composante physique afin de mesurer toute variation d'impédance locale à l'intérieur du spécimen, et comprenant une source de stimulation électrique continue ou variable et un convertisseur analogique-numérique, - système SHM basé sur la tomographie de résistance électrique et visant à stimuler un spécimen physique et à mesurer en retour les signaux corrélés résultant de la stimulation de l'élément physique afin de mesurer toute variation de résistance locale à l'intérieur du spécimen, et comprenant une source de stimulation électrique continue ou variable et un convertisseur analogique-numérique, - système SHM basé sur la tomographie de capacité électrique et visant à stimulant un spécimen physique et à mesurer en retour les signaux corrélés résultant de la stimulation de l'élément physique afin de mesurer toute variation de capacitance locale à l'intérieur du spécimen, et comprenant une source de stimulation électrique variable et un convertisseur analogique-numérique, - système de contrôle non destructif (CND) visant à stimuler un spécimen physique et de mesurer en retour les signaux corrélés résultant de la stimulation du composant physique afin de mesurer toute variation d'impédance locale à l'intérieur de l'échantillon, et comprenant une source de stimulation électrique continue ou variable et un convertisseur analogique-numérique, - système CND basé sur la tomographie d'impédance électrique et visant à stimuler un spécimen physique et à mesurer en retour les signaux corrélés résultant de la stimulation de la composante physique afin de mesurer toute variation d'impédance locale à l'intérieur du spécimen, et comprenant une source de stimulation électrique continue ou variable et un convertisseur analogique-numérique, - système CND basé sur la tomographie de résistance électrique et visant à stimuler un spécimen physique et à mesurer en retour les signaux corrélés résultant de la stimulation de l'élément physique afin de mesurer toute variation de résistance locale à l'intérieur du spécimen, et comprenant une source de stimulation électrique continue ou variable et un convertisseur analogique-numérique, et - système CND basé sur la tomographie de capacité électrique et visant à stimulant un spécimen physique et à mesurer en retour les signaux corrélés résultant de la stimulation de l'élément physique afin de mesurer toute variation de capacitance locale à l'intérieur du spécimen, et comprenant une source de stimulation électrique variable et un convertisseur analogique-numérique.