INPI-France/Brevets-Francais-2024-Chunked huggingface dataset:
On rappelle que le produit de Krönecker entre le vecteur de taille et le vecteur binaire de taille , donne le vecteur de taille , avec , donné par , avec et .
Selon un premier exemple, les éléments réels dudit vecteur initial sont choisis aléatoirement.
Selon un deuxième exemple, les éléments réels dudit vecteur initial sont choisis de sorte que les points correspondant aux représentations graphiques des valeurs complexes de la séquence de base appartiennent à au moins un cercle, par exemple au cercle unité (modulation -PSK, pour « Phase Shift Keying ») ou à des cercles concentriques (modulation -APSK, pour « Amplitude Phase Shift Keying »).
De cette façon, il est plus facile de moduler la sous-séquence, ou le signal obtenu à partir de la sous-séquence.
De cette façon, la séquence de base, ou une sous-séquence obtenue à partir de la séquence de base, peut avoir support sur une modulation -APSK (par exemple 16 APSK ou 32 APSK).
Selon un mode de réalisation particulier, avec , un vecteur initial modifié est obtenu en additionnant un vecteur V de taille , dit vecteur ajouté, et le vecteur initial de éléments réels, ledit vecteur ajouté V étant égal à , avec et un vecteur de taille construit en choisissant ses premiers éléments dans l’ensemble , puis en recopiant les premiers éléments de sorte que , .
Il est ainsi possible de générer une séquence de base maximisant la distance minimale normalisée.
Selon un mode de réalisation particulier, l’étape de sélection sélectionne un sous-ensemble de sous-séquences, noté , de cardinalité , parmi l’ensemble de sous-séquences de taille , tel que ledit sous-ensemble présente la plus grande distance minimale normalisée :
avec la partie réelle de l’expression du produit scalaire entre la sous-séquence et la sous-séquence , .Dans un mode de réalisation particulier, est égal à 3, 4 ou 5.
Par exemple, si , alors ou . Si , alors ou . Si , alors , ou .
Notamment, lorsque est égal à 3 ou égal à 4, la distance minimale normalisée pour la séquence de base est optimale et est égale à 2, pour les valeurs de et , ou , et , respectivement.
La représentation dans le plan complexe de la fonction d’autocorrélation présente respectivement une symétrie d’ordre 3, 4 ou 5.
L’invention concerne également un procédé de construction d’une séquence de base de valeurs complexes, notée , destinée à être utilisée dans un système de communications numériques, mis en œuvre par un processeur, caractérisé en ce que la fonction d’autocorrélation de ladite séquence de base , définie par avec le complexe conjugué de et , vérifie :
En particulier, dans l’exemple illustré sur les figures, la patte 24 fait saillie de l’extrémité arrière 22, et par exemple vers le bas suivant la direction d’élévation Z.
De préférence, la platine 12 comprend deux pattes 24.
Chacune des pattes 24 s’étend avantageusement sensiblement perpendiculairement à la direction longitudinale Y.
Chacune des pattes 24 comprend une face intérieure 26 et une face extérieure 28 opposées l’une de l’autre selon la direction transversale Y, les faces intérieures 26 des deux pattes 24 étant en regard l’une de l’autre.
En particulier, dans l’exemple illustré sur les figures, la distance entre les faces intérieures 26 des deux pattes 24 est sensiblement égale à la distance D entre les deux bords latéraux 19 de la partie principale 18.
Avantageusement, comme cela est visible sur la , la platine 12 comprend au moins un crochet 30 apte à enserrer une partie du corps 14.
Plus particulièrement, chacune des pattes 24 comprend un crochet 30, en particulier en regard de la face intérieure 26.
Le corps 14 s’étend selon un axe de corps C-C’ perpendiculaire à l’axe de rotation A-A’.
De préférence, le corps 14 est un tube creux de section sensiblement circulaire, par exemple de rayon compris entre 2 cm et 5 cm.
Le corps 14 définit un passage de réception 32 d’un axe de la colonne de direction, et par exemple de la coulisse supérieure.
Le corps 14 comprend une première extrémité 34 et une deuxième extrémité 36 opposées l’une de l’autre selon l’axe de corps C-C’.
Avantageusement, le corps 14 comprend une patte 38, et de préférence deux pattes 38, s’étendant en saillie de la deuxième extrémité 36 du corps 14.
Chacune des pattes 38 comprend par exemple un plat 37 et une partie de transition 39 liant la deuxième extrémité 36 du corps 14 au plat 37.
Les plats 37 des deux pattes 38 sont de préférence parallèles entre eux et en regard l’un de l’autre selon la direction transversale Y.
La deuxième extrémité 36 du corps 14 est de préférence destinée à être assemblée à la platine 12 par la liaison pivot 16, comme cela sera décrit ci-dessous.
Avantageusement, le corps 14 est mobile en rotation par rapport à la platine 12 selon l’axe de rotation A-A’ entre une position d’assemblage illustrée sur la et une position assemblée illustrée sur les Figures 1, 4 et 5.
Les micro-bolomètres 19 sont classiquement disposés sous la forme d’un réseau de lignes et de colonnes pour former les points d’image, ou pixels, d’une image infrarouge.
Outre les micro-bolomètres 19 représentés sur les figures 2 à 9, d’autres types de micro-bolomètres 19 peuvent également être structurés sur le substrat d’embase 11 , par exemple des micro-bolomètres thermalisés avec le substrat, afin de rejeter une composante non utile du signal, appelée mode commun, qui peut être largement prédominante. La réjection de cette composante permet de lire le signal utile en utilisant au maximum la dynamique électrique du circuit de lecture.
Dans le mode de réalisation des figures 2 à 7, des espaceurs 20 sont formés sur plusieurs clous d’ancrage 14 des micro-bolomètres 19 de détection.
Plus précisément, selon l’invention, les espaceurs 20 s’étendent à l’aplomb d’au moins 10 % des clous d’ancrage 14 et sensiblement perpendiculairement par rapport au substrat d’embase 11 . Dans l’exemple des figures 2 à 7, un micro-bolomètre 19 sur deux présente des espaceurs 20 fixés sur des clous d’ancrage 14 . En variante, la répartition des espaceurs 20 peut prendre différentes formes sans changer l’invention, pour peu qu’au moins 10 % des clous d’ancrage 14 soient surmontés par des espaceurs 20 . Ainsi, la répartition des espaceurs 20 peut être uniforme. Ces espaceurs 20 peuvent notamment être placés sur tous les clous d’ancrage 14 , sur un clou d’ancrage 14 sur deux, sur un clou d’ancrage 14 sur quatre ou encore sur un clou d’ancrage 14 sur huit, sans changer l’invention.
Par ailleurs, la répartition des clous d’ancrage 14 peut également être non uniforme, c’est-à-dire que davantage d’espaceurs 20 sont placés dans certaines zones du détecteur infrarouge 10 a - 10d . Typiquement, il peut être recherché d’avoir un espaceur 20 positionné sur chaque clou d’ancrage 14 sur une zone sensiblement centrale du détecteur infrarouge 10a - 10d , alors qu’une zone en périphérie présente un espaceur 20 sur deux ou sur quatre clous d’ancrages 14 . La limite entre la zone centrale et la zone périphérique du détecteur infrarouge 10a - 10d peut être déterminée de sorte que la zone centrale couvre une surface deux fois plus faible que la zone périphérique, ou par toute autre définition mathématique.
Outre le substrat d’embase 11 et ses micro-bolomètres 19 , un détecteur infrarouge 10a - 10d comporte également une fenêtre optique 12 fixée sur une extrémité supérieure de parois latérales 13 et au-dessus des micro-bolomètres 19 . Les parois latérales 13 peuvent être formées indépendamment du substrat d’embase 11 et de la fenêtre optique 12 et fixées sur le substrat d’embase 11 avant le report de la fenêtre optique 12 . En variante, il est possible de structurer le substrat d’embase 11 ou la fenêtre optique 12 de sorte à former des parois latérales 13 .
Par exemple, ces parois latérales 13 peuvent être réalisées en silicium amorphe permettant d’encapsuler latéralement les micro-bolomètres 19 . Quelle que soit la technologie de formation des parois latérales 13 , celles-ci s’étendent sensiblement perpendiculairement par rapport au substrat d’embase 11 et permettent de former une cavité hermétique sous vide 16 par la fixation de la fenêtre optique 12 sur les extrémités supérieures desdites parois.
Pour limiter les déflexions, les espaceurs 20 forment une butée entre les clous ancrage 14 des micro-bolomètres 19 et la fenêtre optique 12 . Classiquement, la fenêtre optique 12 est structurée par des filtres permettant de limiter les rayonnements incidents sur les micro-bolomètres 19 .
Dans l’exemple des figures 2 et 3, la fenêtre optique 12 est structurée avec deux filtres multicouches interférentiels 17 et 18 . L’épaisseur totale Ef de la fenêtre optique 12 correspond donc à l’épaisseur du substrat de cette fenêtre optique 12 ajoutée à l’épaisseur des deux filtres multicouches interférentiels 17 et 18 . Tel qu’illustré sur la , lorsque la fenêtre optique 12 est reportée sur le substrat d’embase 11 , les espaceurs 20 ne touchent pas nécessairement la fenêtre optique 12 . Après scellement sous vide, nécessaire pour former le détecteur infrarouge 10 a illustré sur la , une déflexion apparaît et cette déflexion entraine un contact entre les espaceurs 20 et la fenêtre optique 12 . Plus précisément, dans l’exemple de la , les espaceurs 20 entrent en contact avec le filtre multicouche interférentiel 17 réalisé sur la face inférieure de la fenêtre optique 12 .
La hauteur des clous d’ancrage 14 et des espaceurs 20 permet de définir la hauteur minimum Hmin de la cavité 16 . En effet, lorsque la fenêtre optique 12 entre en contact avec les espaceurs 20 , les déflexions de la fenêtre optique 12 et/ou du substrat d’embase 11 sont limitées. Typiquement, la hauteur des clous d’ancrage 14 peut être comprise entre 2 et 2,5 micromètres alors que la hauteur des espaceurs 20 peut être comprise entre 5 et 10 micromètres.
Les espaceurs 20 présentent préférentiellement une section inférieure aux clous ancrage 14 . Typiquement, les clous d’ancrage 14 peuvent présenter une section de 2 micromètres carré alors que les espaceurs 20 peuvent présenter une section transversale comprise entre 0.5 et 1.5 micromètre carré. Compte tenu de la hauteur et de la section des espaceurs 20 , et s’ils sont réalisés dans le même matériau, ceux-ci sont donc bien moins thermiquement conducteurs que les clous d’ancrage 14 . Par ailleurs, les clous d’ancrage 14 intègrent classiquement des éléments métalliques permettant d’effectuer une reprise de contact avec la membrane 15 . Or, ces éléments métalliques sont naturellement des conducteurs thermiques. En ce qui concerne les espaceurs 20 , ils n’ont aucune fonction de conduction électrique de sorte qu’ils peuvent être réalisés dans un matériau thermiquement isolant, tel que du silicium amorphe.
Dans l’exemple des figures 4 et 5, la fenêtre optique 12 présente un réseau périodique de diffraction 21 structuré sur sa face inférieure. Ce réseau périodique de diffraction permet, comme les filtres multicouches interférentiel, de filtrer une partie des rayonnements infrarouges incidents. Cependant, un tel réseau périodique de diffraction est davantage sensible aux risques de détérioration dus au contact avec un espaceur 20 . Pour limiter ce risque, il est possible de prévoir des zones planes 22 , c’est-à-dire des zones dans lesquelles aucune structure d’un réseau périodique de diffraction 21 n’est réalisée. Ces zones planes 22 sont destinées à coopérer avec l’extrémité supérieure des espaceurs 20 après scellement sous vide de la cavité 16 .
Typiquement, avec des espaceurs 20 dont la section est d’environ 1 micromètre carré, et une précision d’alignement de la fenêtre optique 12 par rapport au substrat d’embase 11 de l’ordre de 2 micromètres lors du report de la fenêtre optique 12 , il peut être réalisé des zones planes comprises entre 3 et 5 micromètres de côté.
Ainsi, pour le détecteur infrarouge 10 b de la , les espaceurs 20 entrent en contact avec les zones planes 22 de la fenêtre optique 12 après scellement sous vide de la cavité 16 , de sorte à limiter la détérioration possible des réseaux périodiques de diffraction 21 .
Dans l’exemple des figures 6 et 7, un support supérieur 23 , transparent aux rayonnements infrarouges dans la gamme de longueurs d’onde d’intérêt des micro-bolomètres 19 , est placé au-dessus des espaceurs 20 . Ce support supérieur 23 permet de constituer une zone d’appui pour la fenêtre optique 12 afin de répartir la pression mécanique de support des espaceurs 20 avec la fenêtre optique 12 . Ce faisant, le risque de détérioration d’un réseau périodique de diffraction 21 formé sur la face inférieure de la fenêtre optique 12 est limité, et il n’est plus nécessaire de ménager des zones planes. Par ailleurs, ce support supérieur s’étend sur toute la surface des micro-bolomètres 19 dans l’exemple des figures 6 et 7. En variante, ce support supérieur 23 peut s’étendre uniquement au centre du détecteur infrarouge 10 c .
Dans l’exemple des figures 8 et 9, des espaceurs 20 sont fixés sur la face inférieure de la fenêtre optique 12 et viennent en contact avec les clous d’ancrage 14 après scellement sous vide de la cavité 16 . Ce mode de réalisation permet également de garantir une hauteur minimale Hmin entre la fenêtre optique 12 et le substrat d’embase 11 .
On a détaillé ci-dessus un algorithme générique pour la construction de séquence de base dans le domaine fréquentiel, avec c quelconque. On présente ci-après différentes techniques de construction de séquences de base C4.
5.2.3 Construction de la séquence de base par recherche opérationnelle, avec
Selon une première technique, on définit a priori la constellation C de départ comme un ensemble ordonné de q points du plan complexe, et la séquence de base par une permutation de taille qui associe au élément de la séquence de base le point complexe , i.e. , pour .
La constellation C peut être construite comme par exemple.
Il s’agit alors de résoudre un problème d’optimisation connu : pour un ensemble de valeurs de données ( ou par exemple), trouver la permutation qui maximise la somme des distances :
Cette première technique permet de trouver des séquences C4 pour des séquences de petite taille ( ). Pour des séquences de plus grande taille (typiquement ), cette solution est délicate à mettre en œuvre du fait de l’accroissement exponentielle de la taille de l’espace de recherche des solutions (le nombre de permutation d’un ensemble de éléments dans un ensemble de éléments varie en factoriel de ).
5.2.4 Construction de la séquence de base par récursion, avec
Selon une deuxième technique, il est possible de construire des séquences C4 de sorte que les points correspondant aux représentations graphiques des valeurs complexes de la séquence C4 (constellation) soient uniformément répartis sur le cercle unité, en utilisant un algorithme de récursion pour déterminer la phase des points :
Récursion : pour à
avec ou et .
On en déduit la séquence C4 :
A titre d’exemple, la figure 8 illustre la représentation dans le plan complexe, de la séquence C4 ainsi construite pour , et . Deux points successifs de la séquence sont liés par une ligne, formant une épicycloide à 4-cups.
D’autres ensemble de récursions sont connus, par exemple, l’astroïde définie par la récursion ou par la récursion .
Il est également possible de modifier cette récursion pour diminuer le nombre de points de la constellation tout en gardant une constellation C4. Par exemple, pour passer d’une constellation 64-PSK (constellation régulière à 64 points) à une constellation à 32 points (2 fois moins de points) ou 16 points (4 fois moins de points), il suffit de transformer la séquence par la fonction suivante :
avec respectivement et .
Dans la position d’assemblage du corps 14 illustrée sur la , l’axe du corps C-C’ s’étend par exemple sensiblement selon la direction d’élévation Z.
Dans la position d’assemblage, chacun des plats 37 des pattes 38 du corps 14 sont au contact avec un jeu d’assemblage des faces intérieures 26 des pattes 24 de la platine 12.
Dans la position assemblée du corps 14 illustrée sur les Figures 4 et 5, chacune des pattes 38 du corps 14 est par exemple enserrée dans le crochet 30 de la patte 24 correspondante de la platine 12, de sorte à bloquer la translation selon la direction transversale Y de la patte 38 du corps 14, et donc du corps 14.
Dans la position assemblée du corps 14 illustrée sur la , l’axe du corps C-C’ s’étend par exemple sensiblement selon la direction longitudinale X.
Avantageusement, dans sa position assemblée, le corps 14 est bloqué en position.
En particulier, les mobilités selon les directions X, Y, Z sont de préférence bloquées par la liaison pivot 16, comme cela sera détaillé par la suite.
La liaison pivot 16 comprend au moins un pivot 40 s’étendant en saillie externe de la deuxième extrémité 36 du corps 14 selon l’axe de rotation A-A’, et au moins un orifice de fixation 42 formé dans la platine 12 dans lequel est logé le pivot 40.
Avantageusement, la liaison pivot 16 comprend deux pivots 40 s’étendant en saillie externe de la deuxième extrémité 36 du corps 14 selon l’axe de rotation A-A’ dans des directions opposées, et deux orifices de fixation 42 correspondants formés dans la platine 12.
Chaque orifice de fixation 42 est par exemple ménagé sur l’une des pattes 24 de la platine 12.
Comme illustré sur la , chaque orifice de fixation 42 est délimité par un bord périphérique 43 présentant une interruption 44 ayant une largeur d’interruption Li déterminée.
L’interruption 44 s’étend par exemple selon la direction longitudinale X et est de préférence tournée vers le bas suivant la direction d’élévation Z.
La largeur d’interruption Li est par exemple comprise entre 5 mm et 15mm.
De préférence, le bord périphérique 43 de chacun des orifices de fixation 42 présente une forme sensiblement en U définissant ainsi l’interruption 44.
Chacun des orifices de fixation 42 présente un diamètre d déterminé, qui est par exemple légèrement supérieur à la largeur d’interruption Li.
De préférence, la liaison pivot 16 comprend, de préférence, pour chacun des deux orifices de fixation 42, un pontet d’insertion 48 configuré pour autoriser l’insertion du pivot 40 dans l’orifice de fixation 42 par l’interruption 44.
Avantageusement, le pontet d’insertion 48 relie deux côtés du bord périphérique 43, de préférence au niveau de l’interruption 44, de sorte à rigidifier l’orifice de fixation 42.
Procédé de détermination d'une évolution d'humectation foliaire L'invention appartient au domaine de la culture de plantes, et plus précisément concerne un procédé détermination d'une évolution d'humectation foliaire, c'est-à-dire de l'apparition et la disparition d'eau sur la surface de feuilles de plantes cultivées.
Arrière-plan technologique La présence ou l'absence d'eau à la surface des feuilles de plantes cultivées peut entraîner des modifications importantes pour une plante. En particulier, la présence prolongée d'eau sur la surface des feuilles peut, lorsque d'autres conditions telles que la température sont favorables, entraîner l'apparition de maladies notamment le développement de champignons parasites. La présence d’eau sur les feuilles pendant une durée suffisante est en effet le principal facteur permettant aux spores des maladies fongiques (mildiou, rouille oïdium, cercosporiose…) de germer sur les feuilles des plantes hôtes (vigne, rosier, blé, betterave…) pour les contaminer.
La présence d'eau sur les feuilles peut notamment être causée par la pluie, la rosée, ou bien encore certaines pratiques d'irrigation. Lorsque certaines conditions météorologiques sont favorables à l'apparition de maladies fongiques, des traitement phytosanitaires sont parfois entrepris à titre préventif, alors même que ces traitements pouvaient ne pas être nécessaires car la durée de la présence d’eau sur les feuilles était trop courte pour permettre une contamination par le champignon. L’impossibilité de mesurer précisément la durée d’humectation des plantes introduit une incertitude sur la probabilité de contamination, et pour se prémunir d’une contamination fongique, les exploitants appliquent trop régulièrement des traitements préventifs, alors que la connaissance précise de la durée d’humectation pourrait permettre de déclencher des traitement curatifs uniquement lorsque cela est nécessaire.
Les coûts et l'impact écologique entraînés par les traitements phytosanitaires ont amené le besoin de mieux déterminer les conditions favorables à l'apparition des champignons parasites, au premier rang desquelles l'humectation foliaire. Certains procédés existants pour estimer la présence d’eau se basent sur des données globales peu précises. Par exemple des données météorologiques mesurent l’humidité relative, la température, la pression atmosphérique… et en se basant sur des modèles physicochimiques, estiment le point de rosée, qui est la température sous laquelle de la rosée se dépose naturellement par effet de saturation. L'humectation foliaire est alors déterminée pour le seul cas de la rosée. Toutefois, il s'agit souvent d'une estimation peu précise, ou qui requiert alors de nombreuses mesures locales.
Afin d'en améliorer la précision, il a été proposé d'utiliser des feuilles artificielles qui émettent un signal vaguement proportionnel à la quantité d’eau qui les mouille, par exemple sur la base de l'impédance de leur surface. Il s'agit toutefois d'une estimation peu fiable, et surtout très localisée, ne prenant pas en compte des variations spatiales comme une pente de terrain, ou la présence d'une haie.
En outre, l'humectation foliaire peut dépendre d'autres facteurs que la rosée, et par exemple la survenue ou non de précipitation, ou bien encore le séchage des feuilles, qui est difficilement modulable car dépendant de caractéristiques très locales telles que l'exposition au vent ou l'ensoleillement. Ainsi, le simple fait de savoir qu'il a plu ne permet pas de savoir combien de temps une feuille restera sèche. Or, c'est surtout la durée pendant laquelle l'eau est présente sur une feuille qui conditionne le risque de maladie fongique.
Enfin, l’hydrophobicité de la surface foliaire (ou d’un fruit atteint par une maladie fongique comme la pomme face à la tavelure), impact le temps de séchage et donc d’humectation. Un capteur de type feuille artificielle comme introduit plus haut, ne mesurera la présence d’eau qu’à sa surface, qui peut ne pas avoir la même hydrophobicité que celles des plantes, introduisant un biais par rapport à la situation réelle des feuilles.
Il existe donc un besoin pour un moyen de déterminer l'évolution de l'humectation foliaire de façon automatisée, sur des positions spatialement réparties dans un espace cultivé, avec une précision suffisante pour estimer au mieux les besoins d'intervention tels que l'application d'un traitement phytosanitaire.
Présentation de l'invention L'invention vise donc à proposer un procédé de détermination d'une évolution d'humectation foliaire d'une pluralité de plantes d'un espace cultivé qui permette une détermination précise de l'humectation foliaire à distance d'un système de détection, et de manière répétée pendant un durée d'observation.