INPI-France/Brevets-Francais-2024-Chunked huggingface dataset:
Dans l’exemple de la , le transistor de charge Mc est constitué d’un transistor NMOS dont la source est connectée à la seconde tension de polarisation Vpol2, et dont le drain est connecté au nœud d’injection N1. Le transistor de transfert Mt est quant à lui connecté entre le nœud d’injection N1 et un nœud d’aiguillage N2. Dans l’exemple de la , le transistor de transfert Mt est constitué d’un transistor NMOS, dont la source est connectée au nœud d’injection N1 et dont le drain est connecté au nœud d’aiguillage N2.
Les deux transistors de charge et de transfert Mc et Mt sont commandés par des signaux d’horloge Φ et /Φ en opposition de phase. Ces signaux d’horloge Φ et /Φ sont également générés par le circuit de génération de signaux de commande 17.
Ainsi, dans l’exemple de la , le circuit de génération de signaux de commande 17 génère les signaux de commande Φ, /Φ, vt et reset qui permettent de configurer le compteur analogique 10.
La tension de sortie Vint est mesurée aux bornes de cette capacité d’intégration Cint. La capacité CMOS Cinj est réalisée au moyen d’un transistor PMOS, dont la tension de grille est fixée à une tension Vbias. La source de ce transistor Cinj est connectée au drain d’un transistor de charge Mc alors que le drain de ce transistor Cinj est connecté à la source d’un transistor de transfert Mt. Le transistor de charge Mc est également connecté par sa source à une tension de polarisation Vdd alors que le drain du transistor de transfert Mt est connecté à la tension de sortie Vint.
La grille des deux transistors Mc, Mt est commandée par des signaux d’horloge Φ, /Φ en opposition de phase de sorte à charger la capacité CMOS Cinj lorsque le transistor de charge Mc est passant et le transistor de transfert Mt bloqué ; et à transférer les charges de la capacité CMOS Cinj vers la capacité d’intégration Cint lorsque le transistor de charge Mc est bloqué et le transistor de transfert Mt passant.
Ce circuit électronique de la réalise ainsi un transfert de charges depuis la capacité CMOS Cinj vers la capacité d’intégration Cint à chaque cycle des signaux d’horloge Φ, /Φ. Plus précisément, à chaque cycle, les charges transférées passent par un transistor de transfert Mt et elles correspondent, au premier ordre, à Vdd-Vbias-Vt, Vt correspondant à la tension de seuil du transistor PMOS réalisant la capacité CMOS Cint.
Or, ce transistor PMOS intègre inévitablement une dispersion de sa tension de seuil Vt. D’autre schémas de transfert de charges existent dans l’état de l’art mais ils sont également affectés par les dispersions de Vt des transistors de charge ou de transfert.
Cette dispersion de la tension de seuil Vt est principalement inhérente au procédé de fabrication. Elle peut être évaluée par des simulations de type Monte-Carlo. Plus précisément, cette dispersion est fonction de l’usine de fabrication, du lot de fabrication, de la tranche fabriquée, de la puce sur la tranche... Il existe aussi une dispersion locale dont la valeur est inversement proportionnelle à la racine carrée de la surface du transistor. Cette dispersion peut être de plusieurs millivolts, ou de plusieurs dizaines de millivolts et entraine une variation de comportement d’un compteur par rapport à un autre compteur voisin, par exemple lorsque plusieurs compteurs sont associés à plusieurs pixels.
En raison de la dispersion de la tension de seuil Vt, chaque compteur analogique d’une matrice possède sa propre courbe de transfert décrivant l’évolution de la tension de sortie en fonction de chaque évènement détecté.
Si cette courbe de transfert est différente d’un compteur à l’autre, il est nécessaire de réduire la dynamique de comptage pour tolérer la marge d’erreur entre les différentes courbes, ou mesurer chacune des courbes pour corriger leurs erreurs pour augmenter la précision.
Dans la pratique, il est très difficile de faire une correction personnalisée pour chaque pixel, et la réduction de la dynamique de comptage est classiquement utilisée, c’est pourquoi il est difficile de réaliser un compteur analogique de plus de 3 bits.
La dynamique d’un compteur analogique résulte de la précision de chaque incrément de tension pour passer d’un niveau au niveau suivant au cours du comptage, mais aussi de la précision de l’incrément d’un compteur par rapport à l’incrément de chacun des autres compteurs présents dans chaque pixel d’une matrice.
L’état de l’art des compteurs analogiques existant permet de réaliser des compteurs de 3 bits. Certains revendiquent 4 bits de comptage avec des architectures particulièrement complexes.
A titre d’exemple, pour réaliser un compteur de 4 bits, donc 16 niveaux distincts (15 incréments) sur une dynamique de tension de 3V, il faut des incréments de tension de 0,2V. Pour identifier les niveaux de la sortie, la tension de sortie est reconnue comme représentative du niveau qui lui est le plus proche, le seuil séparant deux niveaux successifs est donc situé au milieu des deux niveaux, soit à 0,1V du niveau idéal. L’écart statistique de la sortie par rapport au niveau idéal, répond à une loi normale. Pour éviter les erreurs de détection de niveau sur l’ensemble des compteurs d’une matrice ayant par exemple un million de pixels, il faut situer le seuil séparant les niveaux à au moins cinq fois l’écart-type du niveau idéal. L’écart-type de l’écart statistique doit donc être de l’ordre de 20 mV. La source dominante de l’erreur statistique en sortie est l’erreur statistique de l’incrément. En effet, cette erreur de l’incrément se répète lors du comptage, et se cumule en sortie, L’erreur statistique en sortie et alors égale à M fois l’erreur statistique de l’incrément, M étant la dynamique du compteur. Dans le cas d’un compteur 4 bit, l’écart-type de l’erreur sur l’incrément doit être 15 fois plus petite que l’écart-type de l’erreur en sortie, soit un écart type de l’erreur sur l’incrément de 1,3 mV. Cet exemple illustre la difficulté de réalisation d’un compteur analogique 4 bits avec la dispersion des tensions de seuil Vt des transistors réalisés en technologie CMOS : de quelque mV à quelques dizaines de mV.
Il est à noter que pour augmenter d’un bit la dynamique d’un compteur analogique, il faut améliorer la précision de l’incrément d’un facteur 4.
Cette problématique de la dispersion de la tension de seuil Vt d’un transistor lié au transfert de charges et nécessitant de réduire la précision est commune à un grand nombre de compteurs logiques à sortie analogique connus, notamment ceux décrits dans les documents US 2021/0226637, WO 2021/150296, US 10,931,296 et US 10,594,299. Ce dernier document US 10,594,299 décrit clairement cette problématique de limitation de la précision, et il propose d’augmenter cette précision en mettant en œuvre plusieurs compteurs logiques à sortie analogique en cascade. Cependant, cette solution nécessite de gérer les retenues entre les compteurs en cascade et les signaux de reset au cours du comptage. En outre, la multiplicité des compteurs logiques à sortie analogique augmente la surface d’implantation.
Certains compteurs logiques à sortie analogique intègrent également des amplificateurs, tel que décrit dans un mode de réalisation de la publication scientifique « A 64 × 64 SPAD-Based Indirect Time-of-Flight Image Sensor With 2-Tap Analog Pulse Counters » Byungchoul Park et al. IEEE JOURNAL OF SOLID-STATE CIRCUITS (2021).
L’utilisation de ce type de composant pose des problèmes de consommation. En effet, la consommation d’un amplificateur est de l’ordre de 600nA lorsqu’un circuit qui utilise uniquement des composants discrets, tels que des transistors, consomme dix fois moins de courant.
Le problème technique de l’invention est donc d’obtenir un compteur analogique avec une précision plus importante que les compteurs de ce type connus, permettant une implantation sur une surface limitée, et présentant une consommation électrique limitée.
CONNECTEUR BLINDÉ DOMAINE DE L’INVENTION La présente invention concerne un connecteur blindé.
ÉTAT DE LA TECHNIQUE ANTÉRIEURE Des connecteurs blindés sont couramment utilisés. La demande de brevet japonais soumise à l’inspection publique n° 2016-072009 divulgue un connecteur blindé comportant une borne, un boîtier qui est constitué de résine synthétique et qui accueille la borne à l’intérieur, un conducteur thermique qui est fixé à une partie fixe prévue dans le boîtier et qui est en contact avec la borne, et une coque de blindage qui est constituée de métal et qui est disposée le long d’une surface externe de la partie fixe de manière à éliminer une couche d’air générée entre la coque de blindage et la partie fixe.
Il existe encore des améliorations possibles en ce qui concerne la suppression de l’augmentation de température au sein des connecteurs blindés. Par exemple, si un flux d’air peut se former autour du boîtier qui contient la borne, un effet de refroidissement peut être attendu.
Un objet de la présente invention est de proposer un connecteur blindé capable de refroidir un boîtier.
Un connecteur blindé selon un aspect de la présente invention comprend un boîtier qui est adapté à un trou de pénétration d’une partie de paroi dont une partie de bord est adjacente à un canal de circulation d’un vent de déplacement d’un véhicule, la partie de paroi comportant une première surface de paroi faisant face à un côté amont du vent de déplacement et au trou de pénétration ; une borne qui est maintenue par le boîtier et insérée dans le trou de pénétration ; une coque qui comprend une partie de bride faisant face au côté amont du vent de déplacement, est fixée sur le côté amont du vent de déplacement par rapport à la partie de paroi, et recouvre le boîtier ; et un élément environnant qui forme un espace entourant le boîtier entre la partie de bride et une première surface de paroi, dans lequel la partie de bride comporte un orifice d’admission qui aspire l’air de l’extérieur de l’espace entourant le boitier, et un orifice d’échappement qui évacue l’air de l’espace entourant le boitier vers l’extérieur par une pression négative générée par le vent de déplacement, l’orifice d’échappement est ouvert vers la partie de bord, et une distance entre l’orifice d’admission et la partie de bord est supérieure à une distance entre l’orifice d’échappement et la partie de bord.
Dans un mode de réalisation particulièrement avantageux, la coque comporte une partie tubulaire dans laquelle le boîtier est inséré, la partie de bride comporte une première partie qui fait saillie vers un côté dans la direction de la largeur du boîtier par rapport à la partie tubulaire et une deuxième partie qui fait saillie vers un autre côté dans la direction de la largeur par rapport à la partie tubulaire, l’orifice d’admission est disposé dans la première partie, et l’orifice d’échappement est disposé dans la deuxième partie.
Alternativement ou en complément, la coque comporte une première partie de capot et une deuxième partie de capot qui sont bombées vers le côté amont du vent de déplacement, l’orifice d’admission est une partie d’ouverture disposée au niveau d’une extrémité inférieure de la première partie de capot et fait face à un côté inférieur dans une direction de haut en bas du véhicule, et l’orifice d’échappement est une partie d’ouverture prévue au niveau d’une extrémité inférieure de la deuxième partie de capot et faisant face au côté inférieur dans la direction de haut en bas du véhicule.
Les objets, caractéristiques, avantages et désignations techniques et industrielles ci-dessus seront mieux compris à la lecture de la description détaillée suivante des modes de réalisation actuellement préférés de l’invention, lorsqu’elle est mise en relation avec les dessins annexés.
La est une vue en perspective illustrant un connecteur blindé selon un mode de réalisation ;
La est une vue en perspective éclatée du connecteur blindé selon le mode de réalisation ;
La est une vue en perspective d’une partie de paroi selon le mode de réalisation ;
La est une vue en coupe transversale de la partie de paroi selon le mode de réalisation ;
La est une vue en perspective illustrant une coque selon le mode de réalisation ;
La est une vue en perspective illustrant la coque selon le mode de réalisation ;
Uf (élongation totale) Ue (élongation immédiate) Ua (élongation récupérée) Crème selon l’invention Crème placébo Crème selon l’invention Crème placébo Crème placébo Crème placébo % variation T56 jours vs. T0 ; significativité vs. T0 10,5% ; p 4,8% ; p 12,4% ; p 7,0% ; p 13,3% ; p 4,1% ; dns % d'amélioration de la crème selon l'invention vs. la crème placebo ; significativité vs . placebo 5,7% ; p 5,4% ; p 9,2% ; p
Les résultats montrent que les trois paramètres sont meilleurs après 56 jours d’application de la crème contenant l’extrait selon l’invention.
Avec la crème contenant l’extrait selon l’invention, l’augmentation de Uf associée à celle d’Ue montre une plus grande élongation de la peau ce qui la conduit à une peau moins dure, plus déformable, plus souple au niveau des taches blanches.
L’augmentation concomitante de Ua, montre que si la peau est plus déformée, elle revient également mieux à son état d’origine, ce qui prouve une bonne élasticité.
Les résultats montrent donc un assouplissement des zones hypopigmentées ainsi qu’un meilleur retour après 56 jours d’application de la crème contenant l’extrait selon l’invention.
La crème selon l’invention permet d’améliorer la qualité de la peau au niveau des taches blanches qui seront de ce fait moins visibles.
7.5. Conclusion
L’ensemble des résultats in vivo présentés ci-dessus montrent que l’ingrédient actif de Monarda didyma selon l’invention permet avantageusement de traiter les taches de sénescence. En effet, l’ingrédient actif selon l’invention agit sur les deux types de taches, qui sont moins visibles et permet d’avoir un teint plus homogène.
Détermination du statut d’un individu vis-à-vis de la maladie d’Alzheimer La présente invnetion concerne le domaine du diagnostice des maladues neurodégénératives. Elle concerne plus particulièrement un procédé de diagnostic pour la qualification du statut (« prédisposition avant que le sujet ne développe la pathologie » « qualification de la pathologie » « âge prévisionnel de survenance des signes pathologiques ») d'un sujet vis-à-vis de la maladie d'Alzheimer, basé sur l’analyse du niveau d’expresion de biomaqueurs qualifiés.
Domaine de l’invention La présente invention concerne le diagnostic de la prédisposition d’un sujet à une maladie neurodégénérative, et notamment la maladie d’Alzheimer. On désigne par maladies dégénératives les maladies qui évoluent progressivement et qui entraînent chez les personnes atteintes des déficiences physiques, physiologiques ou mentales.
L’ensemble de ces maladies évolutives et graves comprennent des maladies variées telles que les démences (dont la maladie d'Alzheimer), la maladie de Parkinson, la sclérose en plaques, la paraplégie, la myopathie ou myasthénie, l’épilepsie, l’accident vasculaire cérébral ou AVC, et d’autres affections neurologiques. Les plus connues des maladies dégénératives, et certainement les plus répandues, sont les maladies neurodégénératives qui provoquent une dégénérescence du système nerveux.
Ces maladies se traduisent par une perte progressive des fonctions cognitives et une démence touchant une personne sur huit avant l'âge de 65 ans. Ces maladies peuvent frapper des personnes à un âge plus précoce de 40 à 50 ans.
Les maladies dégénératives sont généralement d’origine génétique, c’est-à-dire qu’elles sont héréditaires et transmises d’une génération à l’autre. Mais ces pathologies peuvent aussi être causées par une exposition importante et longue à des substances biologiques et toxiques tout au long de la vie, ou à d’autres troubles tels que les apnées du sommeil sévères.
Le diagnostic précoce de ces maladies constitue un enjeu majeur pour anticiper la survenance des signes cliniques et l’apparition d’un handicap lourd, physique et mental, afin d’aider le sujet à organiser un cadre de vie sécurisant et adapté à la probable perte d’autonomie, à pratiquer des exercices physiques et intellectuels susceptibles de retarder la perte d’autonomie, et ralentir la progression de la maladie en organisant les actions pouvant soulager ou réduire certains des symptômes. Le diagnostic précoce permet d’inciter le sujet à stimuler au mieux les facultés cognitives et de mémorisation d’anticiper, et de prendre des dispositions pour l’avenir tant qu’il possède encore toutes ses facultés de discernement et de prise de décision.
Pourtant, à l’heure actuelle, environ 1 malade sur 2 ignore qu’il est atteint de la maladie et ne l’apprendra qu’à un stade avancé. Ainsi, près d’un demi-million de personnes ne bénéficie pas d’une prise en charge adaptée en France. Cela a des conséquences dramatiques pour les malades et les familles.
Pour répondre à ce problème technique, l’invention propose de mettre en œuvre un circuit de génération périodique de charges calibrées et un circuit d’aiguillage des charges commandé par un signal logique d’entrée.
Ces circuits permettent de générer périodiquement des charges précises au cours d’un cycle de détection, et à aiguiller les charges dans une capacité d’intégration, aux bornes de laquelle la tension de sortie, uniquement lorsqu’un évènement est détecté dans le cycle de détection sur le signal logique d’entrée.
On entend par charge calibrée, une charge qui ne dépend pas, au premier ordre, des paramètres technologiques de la technologie CMOS. On choisira donc préférentiellement d’utiliser un même type de capacité pour la capacité d’injection et la capacité d’intégration de sorte que les dispersions de ce type de capacité se compensent, et que l’incrément de tension sur la capacité d’intégration ne soit pas affecté par les dispersions des capacités entre les différents lots, tranches, ou puces fabriquées.
Plus précisément, l’invention propose un circuit de génération périodique de charges calibrées mettant en œuvre un seul transistor de contrôle d’injection connecté en série avec une capacité d’injection, de sorte à utiliser ce transistor de contrôle d’injection pour charger et décharger la capacité d’injection. Pour ce faire, une phase d’initialisation, une phase de précharge et une phase de charge sont mises en œuvre dans chaque cycle de détection. Lors des phases de précharge et de charge, la tension de grille du transistor de contrôle d’injection est ajustée différemment de sorte à appliquer deux tensions successives distinctes à la capacité d’injection et, ainsi, annuler la tension de seuil du transistor de contrôle d’injection par la différence entre les deux tensions appliquées successivement à la capacité d’injection.
Il s’ensuit que des charges précisément calibrées sont générées périodiquement à l’identique et transmises au circuit d’aiguillage qui a pour rôle de sélectionner celles qui seront prises en compte pour le comptage de chaque évènement. Il devient ainsi possible d’améliorer la précision du compteur de l’invention car l’incrément du signal de sortie entre deux niveaux consécutifs de comptage peut être bien inférieurs à celui de l’état de la technique.
Par exemple, l’invention permet de mettre en œuvre un incrément du signal de sortie de l’ordre de 0,015 à 0,025 Volt entre deux niveaux de tension, permettant d’obtenir un comptage d’une précision pouvant aller jusqu’à 7 ou 8 bits.
A cet effet, l’invention concerne un compteur analogique du nombre d’évènements d’au moins un signal logique d’entrée au cours d’une période de comptage, ladite période de comptage comportant un ensemble de cycles de détection dans lesquels un évènement du signal logique d’entrée peut être détecté.
L’invention se caractérise en ce que le compteur analogique comprend : - un circuit de génération périodique d’une quantité calibrée de charges à chaque cycle de détection ; - une capacité d’intégration configurée pour stocker ladite quantité calibrée de charges à chaque cycle de détection de la période de comptage pour lequel un évènement du signal logique d’entrée est détecté de sorte qu’une tension de sortie, aux bornes de la capacité d’intégration, est représentative du nombre d’évènements du signal logique d’entrée détectés au cours de la période de comptage ; - un circuit d’aiguillage de la quantité calibrée de charges commandé par le signal logique d’entrée pour stocker ladite quantité calibrée de charges dans la capacité d’intégration uniquement lorsqu’un évènement est détecté sur le signal logique d’entrée ; - un circuit de génération de signaux de commande du compteur analogique ; et - un circuit de réinitialisation de la tension de sortie aux bornes de la capacité d’intégration de sorte à réinitialiser le comptage.
Le circuit de génération périodique de charges calibrées comprend : - une capacité d’injection configurée pour stocker la quantité calibrée de charges à chaque cycle de détection et connectée à l’une de ses bornes à une première tension de polarisation ; - un transistor de contrôle d’injection dont la source est connectée à l’autre borne de la capacité d’injection, dont la grille est connectée à une tension de commande, et dont le drain est connecté à un nœud d’injection ; - un transistor de charge dont la source est connectée à une seconde tension de polarisation et dont le drain est connecté au nœud d’injection ; et - un transistor de transfert dont la source est connectée au nœud d’injection et dont le drain est connecté à un nœud d’aiguillage ; la grille des deux transistors de charge et de transfert étant commandée par des signaux d’horloge en opposition de phase de sorte à charger ladite capacité d’injection puis à transférer les charges accumulées dans ladite capacité d’injection au circuit d’aiguillage.
Le circuit de génération de signaux de commande est configuré pour commander la tension de commande et les signaux d’horloge de sorte à générer successivement les phases suivantes à chaque cycle de détection : - une phase d’initialisation au cours de laquelle le transistor de contrôle d’injection et le transistor de charge sont passants alors que le transistor de transfert est bloqué ; - une phase de précharge au cours de laquelle le transistor de contrôle d’injection et le transistor de transfert sont passants alors que le transistor de charge est bloqué, la tension de commande étant fixée à une première valeur ; et - une phase de charge au cours de laquelle le transistor de contrôle d’injection et le transistor de transfert sont passants alors que le transistor de charge est bloqué, la tension de commande étant fixée à une seconde valeur.
L’invention propose ainsi de générer périodiquement une quantité calibrée de charges afin que ces charges puissent être transférées dans la capacité d’intégration en fonction de l’aiguillage commandé par ledit au moins un signal logique d’entrée.
Au sens de l’invention, les charges « calibrées » correspondent à des quantités de charges qui sont plus précises que celles de l’état de la technique. En effet, en utilisant le même transistor de contrôle d’injection pour générer les deux phases de précharge et de charge avec des tensions de commande distinctes, la tension appliquée aux bornes de la capacité d’intégration à l’issue de ces deux phases est indépendante de la tension de seuil de ce transistor de contrôle d’injection.
La quantité de charges dans la capacité d’intégration dépendant de la valeur de capacité et de la différence de tension aux bornes de la capacité d’intégration, il s’ensuit que la quantité de charges qui est transférée depuis la capacité d’injection à la capacité d’intégration est plus précise car elle est indépendante, au premier ordre, des variations de cette tension de seuil.