Procédé d’estimation d’un enrichissement en 235 U d’un objet, à l’aide d’un détecteur, le détecteur étant configuré pour former des impulsions lorsqu’il est exposé à des particules β, le détecteur étant relié à un circuit de mesure spectrométrique, configuré pour établir un spectre, le spectre correspondant à un histogramme de l’énergie des impulsions formées durant une période de mesure, le procédé comportant les étapes suivantes : a) disposition du détecteur face à l’objet et acquisition d’un spectre de mesure (Sp), le spectre de mesure étant représentatif d’une distribution en énergie de particules β émises par des descendants de 238 U et par des descendants de 235 U; b) à partir du spectre de mesure, formation éventuelle d’un spectre corrigé (Spβ ; Spβ’); c) à partir du spectre de mesure ou du spectre corrigé, détermination d’une première valeur spectrale (N1) dans une première bande d’énergie (ΔE1) s’étendant à partir d’une première énergie minimale (E1min), la première énergie minimale étant supérieure ou égale à 300 keV ; d) à partir du spectre de mesure ou du spectre corrigé, détermination d’une deuxième valeur spectrale dans une deuxième bande d’énergie (ΔE2) s’étendant en dessous d’une deuxième énergie maximale (E2max), la deuxième énergie maximale étant inférieure ou égale à 300 keV e) calcul d’un ratio entre la première valeur spectrale et la deuxième valeur spectrale ; f) application d’une fonction de calibration au ratio déterminé lors de l’étape e), de façon à estimer l’enrichissement en 235 U. Procédé selon la revendication 1, dans lequel l’étape b) comporte les sous-étapes : b1) interposition d’un écran (15) entre le détecteur et l’objet et acquisition d’un spectre de fond, l’écran étant configuré pour absorber les particules β émises par l’objet ; b2) correction du spectre de mesure, en utilisant le spectre de fond, pour obtenir un spectre corrigé. Procédé selon la revendication 2, dans lequel l’écran (15) utilisé lors de la sous-étape b1) est un écran d’aluminium dont l’épaisseur est supérieure ou égale à 3 mm ou à 4 mm. Procédé selon la revendication l’une quelconque des revendications précédentes, dans lequel lors de l’étape c), la première bande d’énergie s’étend jusqu’à une première énergie maximale (E1max), l’énergie maximale étant supérieure ou égale à 1000 keV ou 1500 keV ou 2000 keV. Procédé selon l’une quelconque des revendications précédentes, dans lequel lors de l’étape a), la distance entre le détecteur et l’objet est : supérieure à 1 mm ou à 5 mm ; et/ou inférieure à 20 mm ou à 10 mm. Procédé selon l’une quelconque des revendications précédentes, dans lequel l’objet est un objet naturellement radioactif, le procédé comportant : (i) prise en compte d’une activité naturelle de l’objet ; (ii) modélisation d’un spectre β de l’activité naturelle de l’objet (SpRN) détecté par le détecteur ; l’étape b) comporte une correction du spectre mesuré en utilisant le spectre β de l’activité naturelle de l’objet, pour obtenir le spectre corrigé. Procédé selon la revendication 6, dans lequel l’étape (i) résulte d’une mesure par spectrométrie gamma réalisée sur l’objet. Procédé selon l’une quelconque des revendications précédentes, dans lequel le détecteur comporte un matériau scintillateur organique. Procédé selon l’une quelconque des revendications 1 à 8, dans lequel le détecteur comporte un matériau semi-conducteur. Dispositif d’estimation d’un enrichissement en 235 U d’un objet, le dispositif comportant: un détecteur (10) comportant un matériau détecteur (11) configuré pour former des impulsions sous l’effet d’une exposition à des particules β ; un circuit de spectrométrie (13), relié au détecteur, et configuré pour former un histogramme de l’amplitude des impulsions détectées par le détecteur durant une période d’acquisition ; une unité de traitement (20), reliée au circuit de spectrométrie, et configurée pour mettre en œuvre les étapes b) à f) d’un procédé selon l’une quelconque des revendications précédentes. Dispositif selon la revendication 10, dans lequel le détecteur comporte un matériau scintillateur organique, l’épaisseur du matériau scintillateur organique étant comprise entre 3 mm et 10 mm. Dispositif selon la revendication 10, dans lequel le détecteur comporte un matériau semi-conducteur. Dispositif selon l’une quelconque des revendications 10 à 12, dans lequel le détecteur est recouvert d’une enveloppe (14) configurée pour absorber des particules α d’énergie supérieure ou égale à 4.5 MeV ou à 5 MeV. Dispositif selon l’une quelconque des revendications 10 à 13, dans lequel le dispositif comporte un écran mobile (15), configuré pour passer d’une configuration fermée, dans laquelle l’écran est interposé entre le matériau détecteur (11) et l’objet (2), à une configuration ouverte dans laquelle l’écran laisse libre un espace entre le matériau détecteur et l’objet.