Procédé d’estimation de l’activité en 14 C d’un objet, à l’aide d’un détecteur (1) configuré pour former des impulsions sous l’effet d’une exposition à des particules β, le détecteur étant relié à un circuit de mesure spectrométrique, configuré pour établir un spectre, le spectre correspondant à un histogramme de l’amplitude des impulsions formées durant une période de mesure, le procédé comportant les étapes suivantes : a) disposition du détecteur face à l’objet et acquisition d’un spectre de mesure; b) interposition d’un écran (15) entre le détecteur et l’objet et acquisition d’un spectre de fond, l’écran étant configuré pour absorber les particules β émises par l’objet c) correction du spectre de mesure, en utilisant le spectre de fond, pour obtenir un spectre corrigé ; d) à partir du spectre corrigé, détermination d’une première valeur spectrale (N1) dans une première bande d’énergie (ΔE1) s’étendant en dessous d’une première énergie maximale (E1max), la première énergie maximale étant inférieure ou égale à 156 keV ; e) correction éventuelle de la première valeur spectrale ; f) application d’une fonction de transfert à la première valeur spectrale déterminée lors de l’étape d), ou à la valeur spectrale corrigée résultant de l’étape e), de façon à estimer une activité en 14 C de l’objet. Procédé selon la revendication 1, dans lequel la première énergie maximale (E1max) est inférieure ou égale à 130 keV ou 120 keV ou 100 keV. Procédé selon l’une quelconque des revendications précédentes, dans lequel la première bande d’énergie (ΔE1) s’étend en dessus d’une première énergie minimale (E1min), la première énergie minimale étant supérieure ou égale à 10 keV ou 20 keV ou 30 keV. Procédé selon l’une quelconque des revendications précédentes, dans lequel l’étape e) comporte les sous-étapes : détermination d’une deuxième valeur spectrale (N2), dans une deuxième bande d’énergie (ΔE2) s’étendant entre une deuxième énergie minimale (E2min) et une deuxième énergie maximale (E2max), la deuxième énergie minimale étant supérieure à 156 keV ; soustraction de la deuxième valeur spectrale à la première valeur spectrale, pour former la première valeur spectrale corrigée. Procédé selon l’une quelconque des revendications précédentes, dans lequel lors de l’étape a), la distance entre le détecteur et l’objet est : supérieure à 1 mm ou à 5 mm ; et/ou inférieure à 20 mm ou à 10 mm. Procédé selon l’une quelconque des revendications précédentes, dans lequel l’écran utilisé lors de l’étape b) est un écran d’aluminium dont l’épaisseur est supérieure ou égale à 3 mm ou à 4 mm. Procédé selon l’une quelconque des revendications précédentes, dans lequel le détecteur comporte un matériau détecteur de type scintillateur organique Procédé selon l’une quelconque des revendications précédentes, dans lequel le détecteur comporte un matériau détecteur de type semi-conducteur. Dispositif de mesure (1), configuré pour déterminer une activité en 14 C d’un objet (2), le dispositif comportant : un détecteur (10) comportant un matériau détecteur (11) configuré pour former des impulsions sous l’effet d’une exposition à des particules β; un circuit de spectrométrie (13), relié au détecteur, et configuré pour former un histogramme de l’amplitude des impulsions détectées durant une période d’acquisition ; une unité de traitement (20), reliée au circuit de spectrométrie, et configurée pour mettre en œuvre les étapes c) à f) d’un procédé selon l’une quelconque des revendications précédentes. Dispositif selon la revendication 9, dans lequel le matériau détecteur est un scintillateur organique Dispositif selon la revendication 10, dans lequel l’épaisseur du matériau détecteur est comprise entre 3 mm et 10 mm. Dispositif selon la revendication 9, dans lequel le matériau détecteur est un semi-conducteur. Dispositif selon l’une quelconque des revendications 9 à 12, dans lequel le dispositif comporte un écran mobile (15), configuré pour passer d’une configuration fermée, dans laquelle l’écran est interposé entre le matériau détecteur et l’objet, à une configuration ouverte dans laquelle l’écran laisse libre un espace entre le matériau détecteur et l’objet.