INPI-France/Brevets-Francais-2024-Chunked huggingface dataset:
Le diamètre interne du logement d’écrou 56 correspond de préférence au diamètre externe du corps d’écrou 48 de manière à pouvoir insérer l’écrou 44 dans le logement d’écrou 56 suivant l’axe de logement L.
Le support 8 possède un orifice de support 58 s’étendant dans le support 8, et plus particulièrement dans la partie de montage 16 du support 8. L’orifice de support 58 a une extrémité débouchant sur la surface d’appui 8A du support 8 et une autre extrémité débouchant dans le logement d’écrou 56.
Lorsque le marteau 10 est appliqué sur le support 8 avec la surface d’appui 10A du marteau 10 en appui contre la surface d’appui 8A du support 8, l’orifice de marteau 52 et l’orifice de support 58 sont alignés suivant un axe de fixation F.
A l’état monté du marteau 26 sur le support 8 ( ), l’écrou 44 est reçu dans le logement d’écrou 56, l’axe d’écrou E coïncidant avec l’axe de logement L, le marteau 10 est appliqué sur le support 8 avec la surface d’appui 10A du marteau 10 en appui contre la surface d’appui 8A du support 8, et la tige filetée 46 de la vis 42 est insérée dans l’orifice de marteau 52 et dans l’orifice de support 58 avec l’axe de vis V coïncidant avec l’axe de fixation F, la tige filetée 46 étant vissée dans le trou taraudé 48 de l’écrou 44.
La vis 42 est en prise avec l’écrou 44 et en appui contre le marteau 10, plus particulièrement le corps de marteau 26, pour le serrer contre le support 8, plus particulièrement contre la partie de montage 16 du support 8.
Le système de fixation 12 comprend un ensemble d’emboîtement 60 comprenant un relief de support 62 prévu sur le support 8 et un relief de marteau 64 prévue sur le marteau 10, le relief de support 62 et le relief de marteau 64 étant complémentaire et prévus pour s’emboîter l’un dans l’autre suivant un axe d’emboîtement P.
De préférence, l’axe d’emboîtement P est parallèle à la direction de travail S.
Le relief de support 62 est par exemple un relief en creux, le relief de marteau 64 étant un relief en saillie. En alternative, le relief de support 6 est un relief en saillie et le relief de marteau 64 est un relief en creux.
Le relief de support 62 et le relief de marteau 64 sont prévus pour empêcher une rotation du marteau 10 par rapport au support 8 autour de la normale à la surface d’appui 8A du support 8 et de la surface d’appui 10A du marteau 10.
Le relief de support 62 et le relief de marteau 64 présentent par exemple une forme générale triangulaire, éventuellement avec au moins un coin arrondis et/ou au moins un côté incurvé.
Ceci peut faciliter l’emboîtement du relier de support 62 et du relief de marteau 64 tout en permettant un ajustement serré.
Dans l’exemple illustré, le relief de support 62 et le relief de marteau 64 présentent chacun une forme générale triangulaire avec deux coins arrondis, deux côtés incurvés et un côté rectiligne.
En particulier, pour les voies 150A, 151A des brins intermédiaires 146A, le débattement angulaire du sixième arc A6A est plus grand que pour les brins intermédiaires 146A décrit précédemment. Ainsi, le débattement angulaire du huitième arc A8A des voies 150A, 151A des brins intermédiaires 146A est plus petit que celui décrit précédemment.
La voie externe 151A du brin interne 145A comprend le premier arc A1A, le deuxième arc A2A (qui est analogue à ceux des brins intermédiaire 146A), le troisième arc A3A, le quatrième arc A4A, le seizième arc A16A et la pastille 136A connectée au seizième arc A16A. Ainsi, la voie externe 151A du brin interne 145A ne comprend pas, contrairement à ce qui est décrit précédemment, le quatorzième arc A14A et le quinzième arc A15A.
La voie interne 150A du brin interne 145A comprend uniquement le treizième arc A13A, le troisième arc A3A et la pastille 136A connectée au troisième arc A3A.
On comprend alors que le motif élémentaire 140A de la première plaque 15A selon cette variante est analogue au motif élémentaire 140B de la deuxième plaque 15B décrit précédemment en inversant les notions de haut et de bas et en remplaçant la lettre A par la lettre B dans les références, à la différence près que la voie externe 151A du brin externe 147A ne comprend pas de onzième arc.
TROISIEME MODE DE REALISATION
Un troisième mode de réalisation est illustré sur la .
Seules les différences avec la bobine 10 selon le premier mode de réalisation seront détaillées. Toutes les caractéristiques qui ne sont pas détaillées dans ce troisième mode de réalisation sont analogues au premier mode de réalisation.
Les références numériques dans la description de ce troisième mode de réalisation sont incrémentées de la valeur 200 par rapport au premier mode de réalisation. Ainsi, la bobine selon le deuxième mode de réalisation porte la référence 210.
Plus particulièrement, la illustre la première plaque 215A de la bobine 210.
La deuxième plaque 215B est sensiblement analogue à la première plaque.
Dans ce troisième mode de réalisation, chaque plaque 215A, 215B est sensiblement rectangulaire et définit un orifice central 225A, 225B sensiblement rectangulaire, ou oblong.
La plaque 215A est formée d’une pluralité de motifs contigües comprenant des motifs linéaires 240A et des motifs d’angle 241A. Les motifs linéaires 240A sont sensiblement rectangulaires et les motifs d’angle sont des portions d’anneaux.
Comme dans les modes de réalisation précédemment décrits, chaque piste conductrice 228A s’étend sur une pluralité de motifs, et forme sur chaque motif 240A, 241A un brin conducteur respectif 245A, 246A, 247A.
Chaque motif 240A, 241A comprend un brin interne 245A, un ou plusieurs brins intermédiaires 246A et un brin externe 247A, ordonnés par rapport à leur distance à l’orifice central 225A.
Chaque brin 245A, 246A, 247A est par exemple formé d’une pluralité d’arcs de cercles mis bout-à-bout.
Préférentiellement, chaque brin intermédiaire 246A comprend un premier arc de cercle A1A orienté externe, un deuxième arc de cercle A2A orienté interne, un troisième arc de cercle A3A orienté interne et un quatrième arc de cercle A4A orienté externe.
Le troisième coin du relief de support 62 est par exemple intercepté par l’orifice de support 58 et le troisième coin correspondant du relief de marteau 64 est intercepté par l’orifice de marteau 52.
L’ensemble vis/écrou 40 est configuré pour maintenir le relief de support 62 et le relief de marteau 64 emboîtés l’un dans l’autre lorsque la vis 42 est en prise avec l’écrou 44.
De préférence, l’axe de fixation F fait un angle α non-nul avec l’axe d’emboîtement P.
L’axe de fixation F et l’axe d’emboîtement P font par exemple entre eux un angle α égal ou supérieur à 10° et/ou égal ou inférieur à 30°.
Ceci permet un maintien ferme et fiable du marteau 10 sur le support 8.
De préférence, chaque élément de broyage 28 possède une face de coupe 70 et une face de dépouille 72 se rejoignant en formant une arête de coupe 74.
La face de coupe 70 présente par exemple deux facettes 76 faisant un angle non-nul entre elles et se rejoignant en formant une arête frontale 78. Les deux facettes 76 confèrent à l’arête de coupe 74 une forme en pointe.
De préférence, lorsque le marteau 10 est monté sur le support 8, l’arête frontale 78 de la face de coupe 70 d’un ou de chaque élément de broyage 28 s’étend dans un plan perpendiculaire à l’axe de rotor A.
En outre, de préférence, lorsque le marteau 10 est monté sur le support 8, l’arête frontale 78 s’étend entre une extrémité radialement interne 78A et une extrémité radialement externe 78B en formant avec une direction radiale DR, passant par l’extrémité radialement interne 78A, un angle θ égal ou supérieur à 5° et égal ou inférieur à 30°, l’extrémité radialement interne 78A étant située plus en avant que l’extrémité radialement externe 78B en considérant le sens de déplacement du marteau 10 suivant la direction de travail S lors de la rotation du rotor 4.
Avantageusement, le marteau 10 possède au moins deux éléments de broyage 28 disposés côtés à côte. Dans l’exemple illustré, le marteau 10 possède trois éléments de broyage 28 disposé côté à côte.
En fonctionnement, le support 8 est fixé sur le rotor 4 et le marteau 10 est fixé sur le support 8 par l’intermédiaire du système de fixation 12, par emboîtement mutuel du relief de support 62 et du relief de marteau 64 et vissage de la vis 42 insérée dans l’orifice de marteau 52 et l’orifice de support 58 dans l’écrou 4 reçu dans le logement d’écrou 54.
Le rotor 4 est entraîné en rotation autour de l’axe de rotor A, et l’organe de broyage 6 se déplace suivant une trajectoire circulaire vers l’avant. Chaque élément de broyage 28 de l’organe de broyage 6 impact de la matière végétale présente sur sa trajectoire pour la réduire, i.e. la fragmenter en petit morceaux.
L’ensemble d’emboîtement 60 et l’ensemble vis/écrou 40 assure une fixation fiable du marteau 10 sur le support 8.
L’ensemble d’emboîtement 60 permet une bonne reprise des efforts entre le marteau 10 et le support 8 et une stabilité du marteau 10, qui peut ainsi travailler correctement et sans s’abîmer.
La forme générale triangulaire du relief de support 62 et du relief de marteau 64, avec éventuellement au moins un coin arrondis et au moins un côté incurvé, permet un bon maintien de la position du marteau 10, malgré les chocs subis par le marteau 10.
L’ensemble vis/écrou 40 assure le maintien du marteau 10 sur le support 8 en maintenant en outre le relief de support 62 et le relief de marteau 64 emboîtés l’un dans l’autre.
- les surfaces d’appui sont sensiblement planes et perpendiculaire à l’axe d’emboîtement ;
- le relief de support est en creux sur le support et le relief de marteau est en saillie sur le marteau ;
- le relief de support et le relief de marteau présente chacun une forme générale triangulaire ;
- le support possède un orifice de support pour le passage de la vis, et le marteau possède un orifice de marteau pour le passage de la vis.
L’invention concerne aussi un dispositif de broyage comprenant un rotor et une pluralité d’organes de broyage tels que définis ci-dessus répartis axialement et/ou circonférentiellement sur le rotor, le support de chaque organe de broyage étant fixé sur le rotor.
- la est une vue en perspective éclatée d’un organe de broyage comprenant un support et un marteau ;
- la est une vue en coupe longitudinale de l’organe de broyage de la , à l’état assemblé ;
- la est une vue en perspective du marteau de l’organe de broyage des Figures 1 et 2 ;
- la est une vue de dessus du marteau de l’organe de broyage des Figures 1 et 2.
Comme illustré sur les Figures 1 et 2, un dispositif de broyage 2 comprend un rotor 4 ( ) présentant un axe de rotor A ( ) et un d’organe de broyage 6 monté sur le rotor 4.
En pratique, le dispositif de broyage comprend plusieurs organes de broyage 6 répartis axialement et circonférentiellement sur le rotor 4.
Le rotor 4 est de préférence de forme générale cylindrique centrée sur l’axe du rotor A. Le rotor 4 présente un surface externe 4A cylindrique centrée sur l’axe du rotor A.
L’organe de broyage 6 comprend un support 8 configuré pour être fixé sur le rotor 4, un marteau 10 configuré pour être monté sur le support 8, et un système de fixation 12 configuré pour la fixation amovible du marteau 10 sur le support 8.
Le marteau 10 est monté de manière amovible sur le support 8 par l’intermédiaire du système de fixation 12. Lorsque le marteau 10 est usé, il peut être démonté du support 8 et remplacé par un marteau 10 neuf.
En fonctionnement, le rotor 4 est entraîné en rotation autour de l’axe de rotor 4 comme illustré par la flèche R sur la , et l’organe de broyage 6 se déplace selon une trajectoire circulaire autour de l’axe de rotor A.
Système optique La présente demande concerne un système optique. Un tel système permet, notamment, de mesurer la concentration de nanoparticules sans connaissance a priori des nanoparticules et sans avoir à modifier les particules ou leur milieu.
Arrière-plan Dans l’art antérieur, la mesure optique d’une concentration en nanoparticules se heurte à la disposition d’un outil pour déterminer un volume de mesure dans lequel les nanoparticules sont imagées. En effet le volume dans lequel les nanoparticules sont détectables dépend de la taille et de la nature des nanoparticules ainsi que du système optique. La mesure optique d’une concentration en nanoparticules, sans connaissance a priori de la nature physique des nanoparticules, est donc difficile et il existe un besoin pour un système optique permettant de faciliter cette mesure.
Au sens de la présente demande, on entend par : - « Cohérence temporelle CT » d’une source lumineuse : le rapport de l’étendue en longueur d’onde de la source divisée par sa longueur d’onde centrale. - « Cohérence spatiale CS » d’une source lumineuse dans un système optique : le rapport de l’ouverture numérique d’illumination d’un système optique sur l’ouverture numérique de collection. - « Système d’imagerie de phase auto-référencé » : un système de détection, ou détecteur, auto-référencé fournissant, en plus de l’intensité optique, la phase d’une onde incidente. Le système est auto-référencé car il n'utilise pas de bras optique séparé comme référence. « Image réelle » : image de l’intensité et de la phase du champ d’onde dans un plan objet, capturée par le système d’imagerie de phase auto-référencé utilisé. « Image propagée numériquement » : image de l’intensité et de la phase du champ d’onde dans un plan parallèle au plan objet, elle est calculée numériquement à partir de l’image réelle en utilisant des méthodes classiques de propagation pour résoudre l’équation d’onde. « Volume image » : volume imagé par propagation numérique de l'image réelle. « Nanoparticule imagée » ou « particule imagée »: nanoparticule qui forme une image nette ou de densité spatiale d’énergie maximum dans l’image réelle (c'est notamment le cas pour une nanoparticule dans le plan objet) ou dans des images propagées numériquement (c'est notamment le cas pour une nanoparticule en dehors du plan objet). « Profondeur de champ numérique » : épaisseur, selon la direction de l’axe optique, du volume imagé par propagation numérique, notamment centrée sur l'image réelle, dans laquelle des nanoparticules peuvent être imagées de manière fidèle. C’est l'épaisseur dans laquelle la reconstruction du volume imagé par propagation numérique, à partir de l’image réelle, est valide. C’est-à-dire que les images propagées numériquement sont le reflet de la réalité de l’espace objet. Les objets physiquement présents dans l’espace objet, et seulement ces objets, sont imagés sur les images propagées numériquement considérées comme fidèles. « Laser blanc » ou « laser de super-continuum » : une source à forte cohérence spatiale et à cohérence temporelle quasi-nulle.
La profondeur de champ numérique définie plus haut dépend du rapport signal sur bruit de détection des objets imagés. En outre, la profondeur de champ numérique est inférieure ou égale à la profondeur de champ (appelée ci-après profondeur de champ "optique" par souci de clarté) du système optique utilisé. La profondeur de champ optique dépend, quant à elle, de la cohérence spatiale et temporelle de la lumière permettant l'imagerie.
Ainsi, pour un système optique de cohérence spatiale et temporelle (CS, CT) tendant vers (0, 0), la limite à la profondeur de champ optique imposée par ces deux paramètres tend vers l'infini mais le niveau de bruit augmente, ce qui rend difficile, voire impossible, toute propagation numérique de l'image réelle et limite donc la profondeur de champ numérique. A l’opposé, pour un système optique à CS et/ou CT tendant vers l’infini, le bruit chute mais la profondeur de champ optique tend vers 0. Sur l'image réelle n'apparaissent que les objets parfaitement focalisés. Ceci rend également difficile, voire impossible, toute propagation numérique de l'image réelle et limite donc la profondeur de champ numérique.
En outre, à système optique fixé, le rapport signal sur bruit d’une nanoparticule imagée dépend de sa taille et de sa nature. Ainsi la profondeur de champ numérique dépend de la taille et de la nature des nanoparticules.
Il existe donc un besoin pour un système optique qui puisse être utilisé pour produire une image réelle de nanoparticules, idéalement sans besoin de connaissance a priori sur la taille et ou la nature des nanoparticules, et qui soit tel que, pour cette image réelle, la profondeur de champ numérique soit satisfaisante.
Présentation générale Dans ce contexte, la présente demande concerne un système optique comprenant un microscope admettant un axe optique, une source d'éclairage pour le microscope et un système d'imagerie de phase auto-référencé. La source d'éclairage est configurée pour éclairer un espace objet. Le microscope est configuré pour conjuguer un plan objet de l'espace objet avec un plan image, le système d'imagerie de phase auto-référencé étant disposé dans le plan image ou au voisinage du plan image. Le système d'imagerie de phase auto-référencé est configuré pour produire une image réelle en intensité et en phase du plan objet. La cohérence temporelle de la source d’éclairage est comprise entre 0,4% et 6% et la cohérence spatiale de la source d’éclairage, au niveau du système d’imagerie de phase auto-référencé, est comprise entre 0,4% et 10%. Le système optique comprend, en outre, une unité de traitement configurée pour propager numériquement l’image réelle, le long de l'axe optique.
Dans certains modes de réalisation, la cohérence temporelle de la source d’éclairage est voisine de 2,2% et la cohérence spatiale de la source d’éclairage, au niveau du système d’imagerie de phase auto-référencé, est voisine de 2,5%.
Dans certains modes de réalisation, la source d’éclairage est un laser blanc éclairant un filtre passe-bande. En variante, la source d’éclairage peut-être une source blanche à plasma éclairant un filtre passe-bande ou encore une diode laser.
Dans certains mode de réalisation, la source d'éclairage est configurée pour éclairer un espace objet dans une solution de nanoparticules, et l’unité de traitement est configurée pour: compter le nombre de nanoparticules imagées dans l'image réelle, propager numériquement l’image réelle, le long de l'axe optique, dans un volume image d'épaisseur prédéterminée, compter le nombre des nanoparticules imagées dans les images propagées numériquement, calculer la taille du volume objet correspondant au volume image, calculer la concentration des nanoparticules sur la base du nombre (N) de nanoparticules imagées comptées et de la taille du volume objet.
Dans certains modes de réalisation, l'épaisseur prédéterminée est inférieure ou égale à la profondeur de champ numérique.
Dans certains modes de réalisation, pour déterminer la profondeur de champ numérique, l'unité de traitement est configurée pour: compter le nombre de nanoparticules dans une image réelle d'une solution de nanoparticules, obtenue avec le système d'imagerie de phase auto-référencé; propager numériquement l’image réelle dans des volumes image d'épaisseur variable croissante; compter le nombre des nanoparticules imagées dans les images propagées numériquement; analyser la variation du nombre de particules imagées comptées en fonction de l'épaisseur variable du volume image et identifier une épaisseur limite du volume image pour laquelle le nombre de nanoparticules imagées ne croit plus avec l'épaisseur variable du volume image et atteint un plateau, déterminer la profondeur de champ numérique en fonction de l'épaisseur limite identifiée.
Dans certains modes de réalisation, le système optique comprend, en outre, une mémoire informatique dans laquelle est enregistré un abaque indiquant, pour différents types de nanoparticule, la correspondance entre l'amplitude, désignée ci-après "amplitude R", d’un champ formé des informations des parties réelles et/ou imaginaires du champ d’onde généré par une nanoparticule imagée et une profondeur de champ numérique. L'amplitude R peut correspondre, notamment, à l'amplitude d'un champ de Rytov.
Dans certains modes de réalisation, l'unité de traitement se réfère à l’abaque pour déterminer la profondeur de champ numérique à partir de l’amplitude R d’une nanoparticule imagée dans l'image réelle.
Dans certains modes de réalisation, pour une solution comprenant un mélange de nanoparticules, la source d'éclairage est configurée pour éclairer un espace objet dans la solution et l'unité de traitement est configurée pour : compter les nanoparticules imagées dans l’image réelle, mesurer les amplitudes R de ces nanoparticules imagées et déterminer, en se referrant à un abaque tel que précédemment décrit, la profondeurs de champ numériques associée à chacune de ces particules imagées; propager numériquement l’image réelle, le long de l'axe optique, dans un volume image d'épaisseur prédéterminée, notée D, pour chacune des nanoparticules imagées dans les images propagées numériquement dans des plans du volume image, vérifier en utilisant l’abaque si l'amplitude R de la nanoparticule correspond à une profondeur de champ numérique, notée H, supérieure ou égale au double de la distance entre l’image propagée numériquement dans laquelle la nanoparticule est imagée et l’image réelle, dans l'affirmative conserver la particule pour le comptage et dans la négative ne pas la retenir pour le comptage; pour chaque nanoparticule comptée, calculer le volume objet associé correspondant, si H≥D, au volume image d'épaisseur D ou, si H calculer la concentration des nanoparticules qui est égale à la somme, sur toutes les nanoparticules comptées, des inverses des volumes objet associés.
Les propriétés applicatives des compositions sont détaillées dans le tableau ci-dessous :
Propriétés F1 (comp) F2 (comp) F3 (comp) F4 (invention) F5 (invention) F6 (invention) F6 (comp) Réactivité (m/min) 35 5 15 30 35 15 5 Flexibilité (mm) > 32 > 32 > 32 > 32 > 32 > 32 Dureté (s) 356 342 347 353 358 357 79 Résistance à l’acétone (s) 300 300 300 300 300 300 300 Résistance à la tâche (0-5) café 0 0 0 0 0 0 3 parfum 0 0 0 0 0 0 0 iode 1 2 1 0-1 0-1 2 5
On voit d’emblée que l’exemple comparatif F6 (tel que décrit dans JP94081782) n’appartient pas au domaine de l’invention. Le taux de THEICTA, jouant le rôle de diluant réactif dans le polyester acrylate, est beaucoup plus faible ( 50 %), d’où une viscosité beaucoup plus importante (> 6 Pa.s par rapport aux autres valeurs toutes 140°C).
L’utilisation d’acide cékanoïque dans les Formulations comparatives F2-F3 pour estérifier le THEIC améliore l’indice de recristallisation, mais il entre dans la composition de l’ester final au détriment de l’acide acrylique (ce que montre l’abaissement de la fonctionnalité moyenne qui est de 3,00 équivalents de double liaison/mole pour le THEICTA, et seulement de 2,77 et 2,55 équivalents de double liaison/mole respectivement pour les formulations comparatives F3 et F2). Cette différence de structure explique la très forte diminution de la Ta et de la dureté qui sont des propriétés essentielles du THEICTA.
Les formulations F4-F6 comprenant le mélange d’isocyanurates selon l’invention montrent que l’utilisation conjointe du monoacide et de diacides permet d’atteindre un compromis de propriétés (Ta, viscosité, réactivité), tout en éradiquant le problème de la recristallisation du THEICTA.
Polymère ferroélectrique L'invention concerne le domaine des polymères ferroélectriques.
L'invention concerne plus particulièrement les copolymères, au sens large, comprenant des motifs de répétition issus du fluorure de vinylidène et du trifluoroéthylène.
Art antérieur Le copolymère constitué des motifs de répétition issus du fluorure de vinylidène et du trifluoroéthylène, poly(VDF-co-TrFE) encore noté P(VDF-TrFE), est un polymère connu pour ses propriétés ferroélectriques. Il est notamment caractérisé par un large cycle d’hystérésis de la courbe polarisation électrique en fonction du champ électrique appliqué.
L’application au P(VDF-TrFE) d’un champ électrique à une valeur supérieure à un champ caractéristique appelé champ coercitif (E c ), permet d’orienter des dipôles formés par les liaisons C-F dans la même direction, de manière suffisamment stable, de sorte à obtenir une polarisation rémanente (P r ) à champ électrique nul.