INPI-France/Brevets-Francais-2024-Chunked huggingface dataset:
- des moyens de détermination d’impact configurés pour combiner les informations calculées par les premiers moyens de calcul et les informations calculées par les seconds moyens de calcul et pour identifier la cible touchée par la munition et déterminer le point d’impact sur la cible.
Selon un mode de réalisation, les premiers moyens de calcul sont configurés pour mettre en œuvre une technologie dite par angle d’arrivée dans le référentiel de l’arme, notamment une technologie par angle d’arrivée pour Bluetooth 5.1 ou bande ultra large.
Dans une variante, les premiers moyens de calcul comprennent au moins deux antennes positionnées sur le canon de l’arme, et le calcul des positions angulaires de cibles est fait dans le référentiel du canon de l’arme.
Selon un mode de réalisation, les premiers moyens de calcul sont configurés pour mettre en œuvre une technologie radio bande ultra large ou Bluetooth, déployée dans l’infrastructure, basée sur une méthode de calcul de distance dite de temps de vol, ou de calcul d’angle d’arrivée.
Dans une autre implémentation du dispositif de l’invention, les premiers moyens de calcul sont configurés pour mettre en œuvre une technologie de positionnement par odométrie.
Selon un mode de réalisation, les seconds moyens de calcul sont configurés pour prendre avec au moins une caméra montée sur l’arme, une image vue du canon au moment du départ de la munition, et pour annoter pour chaque objet détecté sur l’image des informations quant à son type, sa distance et son orientation par rapport à l’axe de la caméra.
Dans un mode réalisation, les seconds moyens de calcul sont configurés pour réaliser un calcul balistique de la trajectoire de la munition à partir de l’analyse de l’image et construire un point d’impact de la munition dans l’image.
Dans une autre implémentation, le dispositif de l’invention comprend des moyens pour générer un rapport de tir et calculer l’attrition due à la position du point d’impact de la munition sur une cible.
La présente invention adresse aussi une arme équipée du dispositif de l’invention.
Un autre objet e l’invention est un procédé de détermination de point d’impact sur une cible lors d’un tir en entrainement.
- déterminer un moment de départ d’une munition d’une arme ;
- déterminer des informations de positions angulaires de cibles situées devant l’arme, par la mise en œuvre d’une technologie radio de localisation de balises ;
- déterminer si au moins un objet présent sur une image vue de l’arme est touché par la munition, et si oui caractériser ledit au moins un objet par des informations relatives au type d’objet et à sa position ; et
Une première méthode consiste à mesurer le nombre d’oscillations du premier oscillateur RO1 pendant Q oscillations du deuxième oscillateur, le facteur Q étant obtenu par le biais d’un diviseur de fréquence. Cette méthode est présentée dans l'article "On the assumption of mutual independence of jitter realizations in P-TRNG stochastic models", de P. Haddad, Y. Teglia, F. Bernard, et V. Fischer, présenté dans "Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE)", en 2014, à Dresden.
La gigue est ensuite caractérisée en utilisant la variance d’Allan, c'est à dire la variance calculée sur la différence entre deux valeurs consécutives, à savoir ici deux valeur consécutives disponibles en sortie d'un compteur cadencé par le signal de sortie du premier oscillateur et réinitialisé toutes les Q périodes du signal de sortie du deuxième oscillateur par le signal de sortie du diviseur de fréquence par Q. L'utilisation de la variance d'Allan permet de contourner les problèmes reliés à la convergence des modèles tout en respectant une condition de stationnarité. La variance d’Allan est tracée en fonction du nombre Q de périodes d’accumulation et suit alors une loi (ou courbe ou fonction) très similaire à celle du modèle présenté précédemment. Plus exactement, la variance d'Allan tracée en fonction du facteur Q comprend une partie linéaire correspondant au bruit thermique, une partie quadratique correspondant au bruit flicker, et un plancher de bruit correspondant au bruit de quantification inhérent à toute acquisition. En effectuant une régression quadratique de la courbe tracée pour l'approximer par une fonction du type σ(Q)^2=a0+a1.Q+a2.Q ^2, avec σ(Q) la variance d'Allan en fonction de l'accumulation Q, il est possible d'obtenir les coefficients a0, a1 et a2 qui représentent les coefficients respectivement pour le bruit de quantification, pour le bruit thermique et pour le bruit basse fréquence ("flicker"). Obtenir les coefficients a0, a1 et a2 revient donc à caractériser la source d'entropie, c'est à dire la gigue du premier oscillateur.
Toutefois, cette première méthode présente l'inconvénient que la contribution du circuit diviseur de fréquence sur le bruit final n'est pas connue.
De plus, dans cette première méthode, la caractérisation de la gigue du premier oscillateur est mise en œuvre par un circuit disposé à côté du traitement de la source d'entropie, qui nécessite une surface additionnelle importante.
Une deuxième méthode consiste à échantillonner le signal de sortie du premier oscillateur avec une bascule synchrone de type D ("D flip flop" en anglais) cadencée à la fréquence du deuxième oscillateur. Le signal de sortie de la bascule est alors un signal périodique dont la période moyenne Tm est inversement proportionnelle à la différence entre les périodes des deux oscillateurs. Plus particulièrement, la longueur de la période Tm en nombre H de périodes du signal de l'oscillateur est telle que H = T1/(T1-T2), avec T1 et T2 la valeur moyenne des périodes des premier et deuxième oscillateurs respectivement. Ensuite, une variance est calculée sur la résultante d'une opération OU EXCLUSIF entre deux valeurs du signal de sortie de la bascule séparée l'une de l'autre par G périodes du deuxième oscillateur. La variance en fonction de G a alors deux parties, une partie variant linéairement avec G, qui correspond au bruit thermique, et une partie variant quadratiquement avec G, qui correspond au bruit basse fréquence ("flicker"). Cette méthode est présentée dans l'article " Embedded Evaluation of Randomness in Oscillator Based Elementary TRNG", de V. Fischer et D. Lubicz, présenté dans " Advanced Information Systems Engineering " , vol. 7908, Springer Berlin Heidelberg, 2014, p. 527-543. De la même façon que précédemment, il est possible de caractériser la source d'entropie, donc la gigue du premier oscillateur, en effectuant une régression quadratique de la variance tracée en fonction de G.
Toutefois, cette deuxième méthode présente l'inconvénient d'être basée sur des rapports de fréquence qui ne sont pas contrôlés mais subis, et par conséquent la précision de cette deuxième méthode est faible et incontrôlable entre des circuits différents.
De plus, dans cette deuxième méthode, comme pour la première méthode, la caractérisation de la gigue du premier oscillateur est mise en œuvre par un circuit disposé à côté du traitement de la source d'entropie, qui nécessite une surface additionnelle importante.
Ainsi, dans les deux circuits et méthodes connus décrits ci-dessus qui permettent de caractériser une source d'entropie basée sur la gigue d'un oscillateur en anneau, en vue d'assurer une génération d'aléa vraiment aléatoire, présentent des inconvénients. C'est plus généralement le cas des circuits et méthodes connus permettant de caractériser, de manière embarquée, la gigue d'un oscillateur en anneau, c'est à dire permettant de caractériser, de manière embarquée, une source d'entropie.
Il existe un besoin de pallier tout ou partie des inconvénients des circuits connus et des méthodes connues mises en œuvre dans ces circuits connus pour caractériser, de manière embarquée, une source d'entropie lorsque la source d'entropie est basée sur la gigue d'un oscillateur en anneau.
Un mode de réalisation pallie tout ou partie des inconvénients des circuits connus et des méthodes connues mises en œuvre dans ces circuits connus pour caractériser, de manière embarquée, une source d'entropie lorsque la source d'entropie est basée sur la gigue d'un oscillateur en anneau.
Un mode de réalisation prévoit un dispositif électronique comprenant : une source d'entropie comprenant : - un premier oscillateur en anneau et un deuxième oscillateur en anneau identique au premier oscillateur en anneau, et - une bascule synchrone configurée pour fournir un signal de sortie correspondant à un échantillonnage d'une sortie du premier oscillateur à une fréquence d'une sortie du deuxième oscillateur ; un compteur configuré pour fournir, pour chaque période du signal de sortie de la bascule, une valeur égale à un nombre de périodes du deuxième oscillateur comptées pendant ladite période du signal de sortie de la bascule ; un premier circuit configuré pour modifier, pendant une première phase, une période d'au moins l'un des deux oscillateurs sur la base des valeurs fournies par le compteur pour qu'un écart moyen entre les périodes des deux oscillateurs soit égal à un écart cible ; et un deuxième circuit configuré pour recevoir les valeurs fournies par le compteur et pour caractériser, pendant une deuxième phase et à partir desdites valeurs, une variance d'Allan sur la sortie du compteur.
Selon un mode de réalisation, les deux oscillateurs sont mis en œuvre en technologie métal-oxyde-semiconducteur complémentaire sur semiconducteur sur isolant complètement déplété, de préférence sur silicium sur isolant complètement déplété.
Selon un mode de réalisation, le premier circuit est configuré pour commander des grilles arrière d'au moins un élément à retard d'au moins un des deux oscillateurs pour modifier l'écart moyen entre les périodes des deux oscillateurs.
Selon un mode de réalisation, le deuxième circuit est configuré, lors de la caractérisation de la variance d'Allan, pour : calculer une première valeur de variance d'Allan sur plusieurs valeurs successives fournies par le compteur ; calculer une deuxième valeur de variance d'Allan sur plusieurs sommes de K1 valeurs successives fournies par le compteur ; recevoir une troisième valeur théorique de variance d'Allan ou calculer une troisième valeur de variance d'Allan sur plusieurs sommes de K2 valeurs successives fournies par le compteur ; et calculer trois coefficients d'une courbe quadratique caractérisant la variance d'Allan à partir au moins desdites première, deuxième et troisième valeurs de variance d'Allan.
Selon un mode de réalisation, le deuxième circuit est configuré pour sommer K valeurs successives fournies par le compteur et pour fournir un bit de poids faible de ladite somme, K étant déterminé par une entropie minimale cible.
La illustre les étapes du procédé de détermination d’une élévation de surface libre selon une deuxième mise en œuvre du troisième mode de réalisation de l’invention.
La illustre une élévation de la surface de libre de référence, et un signal obtenu par un radar, pour un exemple illustratif simulé.
La illustre une élévation de surface libre reconstruite à partir d’un capteur radar au moyen d’un procédé selon l’art antérieur et une élévation de surface libre de référence, pour l’exemple de la .
La illustre, en plusieurs angles et plusieurs distances, le module et la phase de la fonction de transfert de modulation déterminé par application du procédé selon l’art antérieur à l’exemple des figures 6 et 7.
La illustre, en plusieurs angles et plusieurs distances, la hauteur de l’élévation de surface libre en fonction du temps, déterminé par plusieurs procédés, pour un exemple d’application.
L’invention concerne un procédé de détermination de l’élévation de surface libre d’une zone d’une étendue d’eau. On rappelle que l’élévation de la surface libre est la hauteur d’eau en un point d’une étendue d’eau par rapport à la surface d’eau qui n’aurait aucune variation de hauteur (qui ne serait nullement perturbée). Ainsi, l’élévation de la surface libre traduit la hauteur des vagues ou de la houle. Une étendue d’eau peut être une mer, un océan, un lac, un fleuve, etc. La zone considérée par le procédé selon l’invention, est une zone d’intérêt, notamment pour le suivi, l’exploitation ou le contrôle d’un système soumis à des vagues. L’étendue de cette zone d’intérêt peut dépendre du système soumis à des vagues. En variante, l’étendue de cette zone d’intérêt peut correspondre à la zone de mesure du radar mis en œuvre dans le procédé.
Le procédé selon l’invention met en œuvre au moins un radar et au moins un drone équipé d’au moins un capteur de mesure à distance de l’élévation de la surface libre.
Pour ce procédé, on met en œuvre les étapes suivantes :
2) Mesure indirecte des vagues par radar
3) Pilotage de drone et mesure localisée
4) Calibration du modèle de reconstruction de l’élévation de surface libre
5) Détermination de l’élévation de surface libre
Les étapes 1 et 3 à 5 peuvent être mises en œuvre par des moyens informatiques, notamment un ordinateur, un serveur, ou un calculateur. Les moyens informatiques comprennent au moins un processeur et au moins une mémoire informatique. L’étape 1 peut être réalisée une fois unique avant, pendant ou après les étapes 2 et 3. Les étapes seront détaillées dans la suite de la description.
Selon un mode de réalisation de l’invention, la détermination de l’élévation de la surface libre de la zone d’étendue d’eau peut être mise en œuvre en temps réel. Ainsi, le cas échéant, on peut suivre, exploiter ou contrôler en temps-réel un système soumis à des vagues. Pour ce mode de réalisation, une étape de mesure par radar est effectuée en temps réel. « En temps réel » veut dire que la mesure est disponible aussitôt qu’elle est prise.
La illustre, schématiquement et de manière non limitative, les étapes du procédé selon un premier mode de réalisation de l’invention. Dans un premier temps, on construit un modèle de reconstruction d’élévation de la surface libre MOD. On réalise ensuite une mesure au moyen du radar MRA. Puis, on pilote et on réalise une mesure localisée d’élévation de surface libre au moyen d’un drone MDR. Les mesures radar MRA et du drone MDR sont utilisées pour calibrer CAL le modèle de reconstruction d’élévation de la surface libre MOD. On forme ainsi un modèle de reconstruction de l’élévation de surface libre calibré MOD CAL. On applique ce modèle calibré MOD CAL à une mesure radar MRA pour déterminer une élévation de surface libre ESL.
Ainsi, lors d’une casse, le son produit est capté par le capteur piézoélectrique. Ce dernier retranscrit ce son en une tension qui est ensuite converti en une valeur puis stockée.
Les données stockées dans l’unité mémoire sont aptes à être utilisées par une unité de calcul. Pour cela, le module d’acquisition est sorti de l’enceinte pour être connectée à une unité de calcul. Cette unité de calcul est alors agencée pour récupérer ces données et les traiter c’est-à-dire les compiler et les afficher.
Alternativement, cette surveillance des vitrages peut être en temps réel. Pour cela, le module d’acquisition est connecté à l’unité de calcul en permanence. Cette connexion peut être filaire ou sans fil. Dans ce dernier cas, le module d’acquisition comprend une unité de communication sans fil. De préférence, cette unité de communication est située au niveau de l’enceinte et est connectée par un fil au module d’acquisition. En effet, les conditions de pression et de température du four sont des contraintes de sorte que le four fait un peu office de cage blindée. Pour transmettre des données par voie radio, l’unité de communication est placée sur le four mais hors de l’enceinte mise sous pression et température. Ainsi, le module d’acquisition peut transmettre les données à l’unité de calcul en direct.
Pour l’alimentation électrique, deux options sont possibles. La première option est applicable, notamment dans le cas où le module d’acquisition est connecté à l’unité de calcul après sortie des vitrages du four. Dans ce cas-là, le module d’acquisition est alimenté par une batterie. Cette batterie est dimensionnée pour permettre au module d’acquisition de fonctionner un temps défini. Ce temps est défini comme au moins égale au temps de présence des vitrages dans le four.
La seconde option consiste à avoir une alimentation sur secteur. Cette alimentation sur secteur nécessite de faire passer un câble dans l’enceinte pour amener le courant.
Si cette seconde option est avantageuse car elle permet d’avoir une alimentation illimitée, elle peut nécessiter une modification dudit four pour faire passer le ou les câbles d’alimentation dans l’enceinte du four.
Selon l’invention, le capteur piézoélectrique 42 est monté sur un bloc support 50 pour former une unité capteur 5 visible à la . Ce bloc support consiste en un bloc comprenant au moins un trou 52. Ce trou, débouchant ou non, est utilisé pour y loger ledit capteur piézoélectrique. On comprend alors que le bloc-support 50 se présente sous la forme d’un barreau ou profilé c’est-à-dire d’une pièce s’étendant en longueur avec une section, de préférence constante. Le trou s’étend dans le support dans une direction orthogonale à la direction de la longueur du barreau formant le bloc-support.
Ce bloc-support 50 est tel qu’il est apte à coopérer avec un guide 60 ou élément de guidage de sorte que cet élément de guidage puisse porter ledit bloc-support. De préférence, l’élément de guidage est apte à porter plusieurs bloc-supports.
Dans un premier mode de réalisation visible à la , le bloc-support 50’comprend au moins une ouverture 54 traversante et l’élément de guidage 60 comprend au moins une tige 62 apte à s’insérer dans l’ouverture du support. De préférence, le bloc-support 50’ comprend deux ouvertures 54 et l’élément de guidage comprend deux tiges 62. Cette ou ces tiges 62 peuvent être de section circulaire ou ovoïde.
Dans un second mode de réalisation visible à la , l’élément de guidage 60 est un élément tubulaire 64. Il comprend alors un logement 65 dans lequel ledit bloc-support 50 peut s’insérer. Plus particulièrement, le bloc-support 50 est agencé pour que la direction dans laquelle le support s’insérer soit le même que celle selon laquelle le support s’étend. Pour cela, deux solutions sont possibles.
La première solution consiste à avoir le bloc-support 50 qui présente une forme identique à celle de la section du logement 65 comme visible à la . Ainsi, si l’élément de guidage 60 est un tube de section circulaire alors le support présente une section circulaire, le diamètre du support étant identique au diamètre intérieur du tube.
Une seconde solution consiste à avoir une section du bloc-support 50 qui diffère de celle du guide en forme de tube comme visible à la . Plus particulièrement, on comprend alors que le bloc-support 50 présente une section : forme et dimensions telles qu’il s’insère dans l’élément tubulaire 64. Ainsi, si l’élément tubulaire 64 présente un logement tubulaire de section circulaire, le bloc-support peut avoir une section carré ou rectangulaire tant qu’il s’y insère.
Dans les deux modes de réalisation, l’élément tubulaire 64 est apte à porter plusieurs bloc-supports et donc plusieurs capteurs comme visible à la . Dans ces deux modes de réalisation, l’élément tubulaire 64 est réalisés dans un matériau du type métal ou un alliage ou un polymère.
Cet élément tubulaire 64 portant le ou les bloc-supports de capteur piézoélectrique est astucieusement utilisé comme intercalaire pour soutenir la ou les feuilles de verres.
En effet, les feuilles de verres formant les vitrages sont placées dans le four sur des éléments de support ou chevalet 3. Ces chevalets ou éléments de support 3 comprennent une structure à partir de laquelle des tiges s’étendent comme visible aux figures 11 et 12. Ces tiges sont utilisées pour soutenir les feuilles de verre. Ces tiges sont les éléments de guidage 60 portant les bloc-supports 50 selon l’invention.
Comme les feuilles de verres sont en contact avec les guides et que la casse d’un verre provoque une onde sonore qui se propage, les ondes se propagent jusqu’à atteindre les capteurs en se propageant par le guide et ou le support.
Dans l’exemple des figures 1A et 1B, le capteur 100 est un capteur à éclairement par la face arrière, aussi appelé capteur BSI (de l’anglais « Back Side Illumination »), c’est-à-dire que les rayons lumineux en provenance de la scène à imager éclairent le substrat 101 par sa face arrière, c’est-à-dire sa face opposée à l’empilement d’interconnexion 103, à savoir sa face supérieure dans l’orientation des figures 1A et 1B.
Chaque pixel P du capteur 100 comprend une région photosensible 105 formée dans le substrat 101. Chaque région photosensible 105 comprend par exemple un élément de photo-détection 107, par exemple une photodiode ou photodétecteur. Dans l’exemple représenté, les régions photosensibles 105 des pixels P sont séparées latéralement les unes des autres par des murs d’isolation 109. Les murs d’isolation 109 sont par exemple en un matériau diélectrique, par exemple de l’oxyde de silicium. À titre de variante (non détaillée sur les figures), les murs d’isolation 109 comprennent des parois latérales externes en un matériau diélectrique, par exemple de l’oxyde de silicium, et une paroi centrale en un matériau électriquement conducteur, par exemple du silicium polycristallin dopé ou un métal. Dans cet exemple, les murs d’isolation 109 s’étendent verticalement à travers toute l’épaisseur du substrat 101. L’épaisseur du substrat 101 est par exemple comprise entre 1 et 20 µm, par exemple entre 3 et 10 µm. À titre de variante, les murs d’isolation 109 peuvent être omis.
Chaque pixel P est surmonté d’une structure de polarisation 111 disposée en vis-à-vis de la région photosensible 105 du pixel, du côté de la face d’éclairement du photodétecteur 107, c’est-à-dire du côté de la face supérieure du substrat 101 dans l’orientation des figures 1A et 1B. L’ensemble des structures de polarisation 111 situées à l’aplomb des pixels P du capteur 100 forme par exemple un filtre de polarisation ou filtre polariseur FP.
Chaque structure de polarisation 111 est adaptée à transmettre majoritairement des rayonnements lumineux selon une polarisation prédéfinie.
Dans l’exemple des figures 1A et 1B, le capteur comprend plusieurs pixels P dont les structures de polarisation 111 respectives présentent des orientations de polarisation différentes et sont ainsi adaptées à transmettre majoritairement des rayons lumineux selon des polarisations différentes. Ceci permet de mesurer, au moyen de pixels P distincts, des intensités de rayonnements lumineux reçus selon des polarisations différentes. Autrement dit, le capteur comprend au moins des premier et deuxième pixels P destinés à mesurer des intensités de rayonnements lumineux reçus selon respectivement des première et deuxième polarisations, par exemple des première et deuxième polarisations linéaires orthogonales. À titre d’exemple, la structure de polarisation 111 du premier pixel présente un coefficient de transmission des rayonnements selon la première polarisation supérieur à son coefficient de transmission des rayonnements selon la deuxième polarisation, et la structure de polarisation 111 du deuxième pixel présente un coefficient de transmission des rayonnements selon la deuxième polarisation supérieur à son coefficient de transmission des rayonnements selon la première polarisation.
Les structures de polarisation sont par exemple des structures métalliques comprenant des ouvertures et transmettant majoritairement les rayonnements selon une polarisation prédéfinie, et absorbant ou réfléchissant les rayonnements selon les autres polarisations. Les structures métalliques sont par exemple en aluminium ou en cuivre. À titre de variante, d’autres métaux peuvent être utilisés, par exemple l’argent, l’or, le tungstène ou le titane.
À titre d’exemple, un matériau de remplissage 115, par exemple un matériau diélectrique, par exemple de l’oxyde de silicium, du nitrure de silicium, de l’alumine (Al 2 O 3 ), de l’oxyde de tantale ou de l’oxyde d’hafnium, remplit les ouvertures formées dans les structures métalliques. Dans cet exemple, le matériau 115 recouvre en outre les structures de polarisation 111, formant une couche de planarisation 115. À titre de variante, les ouvertures des structures de polarisation 111 peuvent être laissées vides ou remplies d’air.