Système (1) d’analyse élémentaire d’un échantillon (2) à étudier, incluant un dispositif d’analyse (3) comprenant un bâti sur lequel sont montés : un module de génération (4) d'un faisceau laser (5), un module de mise en forme du faisceau laser (5) intégrant au moins une lentille de mise en forme (61) et un diaphragme de sélection (7) d’une partie du faisceau laser (5) émis par le module de génération (4), des moyens optiques de focalisation (8) du faisceau laser (5) sur l’échantillon (2) à étudier, caractérisé en ce que le système (1) d’analyse comprend également un dispositif de captation (11) de caractéristiques du faisceau laser (5) émis par le module de génération (4), destiné à être intercalé entre le module de mise en forme et les moyens optiques de focalisation (8), le dispositif de captation (11) comprenant : un miroir de déviation (111) du faisceau laser (5), susceptible d’adopter une position de déviation dans laquelle le miroir engendre un faisceau laser dévié (500) ; une cellule photosensible (112) destinée à acquérir une image du faisceau laser dévié (500) ; des moyens optiques de grandissement (113) du faisceau laser dévié (500), intercalés entre le miroir de déviation (111) et la cellule photosensible (112), et des moyens de transmission (114) de l’image acquise par la cellule photosensible (112) à un dispositif d’affichage (12). Système (1) selon la revendication 1, caractérisé en ce que les moyens optiques de grandissement (13) du faisceau laser dévié (500) comprennent : une première lentille grandissante (1131) présentant une première focale f1, et une deuxième lentille grandissante (1132) présentant une deuxième focale f2, la première focale f1 et la deuxième focale f2 étant choisies de sorte que le rapport f2/f1 soit supérieur ou égal à 2. Système (1) selon l'une quelconque des revendications précédentes, caractérisé en ce que le dispositif de captation (11) est monté amovible sur le bâti. Système (1) selon l'une quelconque des revendications précédentes, caractérisé en ce que le dispositif de captation (11) comprend une pluralité de miroirs de renvoi (116) intercalés entre le miroir de déviation (111) et la cellule photosensible (112), pour agrandir le faisceau dévié (500) en le redirigeant selon plusieurs directions jusqu’à la cellule photosensible (112). Système (1) selon l'une quelconque des revendications précédentes, caractérisé en ce que le dispositif de captation (11) intègre également un filtre optique (117) intercalé entre la cellule photosensible (112) et le miroir de déviation (111), pour filtrer des ondes du faisceau laser dévié (500) en fonction d’une plage d’ondes admissibles par la cellule photosensible (112). Système (1) selon l'une quelconque des revendications précédentes, caractérisé en ce que le dispositif d’affichage (12) de l’image acquise par la cellule photosensible (112), connecté aux moyens de transmission (114) est intégré au système. Système (1) selon l'une quelconque des revendications précédentes, caractérisé en ce que : le diaphragme de sélection (7) est configuré pour sélectionner une partie du faisceau laser (5) émis par le module de génération (4), et à délimiter la forme de l'impact du faisceau laser (5) sur un échantillon (2) à analyser, la ou les lentilles sont configurées pour projeter à l'infini l'image du faisceau laser (5) en sortie du diaphragme de sélection (7), les moyens optiques de focalisation (8) sont configurés pour recevoir l'image du diaphragme de sélection (7) projetée à l'infini par la ou les lentilles et la focaliser sur un échantillon (2) à étudier de façon à produire un plasma sur une surface de cet échantillon (2), et en ce que le système (1) comprend également des moyens de collecte (9) d’une émission optique du plasma et des moyens de détermination (10) configurés pour analyser un spectre de l’émission optique et définir une composition élémentaire de l’échantillon (2) à étudier sur lequel le faisceau laser (5) est projeté. Système (1) selon l'une quelconque des revendications précédentes, caractérisé en ce qu’il comprend également une unité informatique (118) couplée à la cellule photosensible (112), l’unité informatique (118) étant configurée pour piloter des actionneurs dédiés au réglage du faisceau laser (5). Dispositif de captation (11) d’un profil du faisceau laser (5) pour système (1) d’analyse selon l'une quelconque des revendications précédentes, caractérisé en ce qu’il comprend : un miroir de déviation (111) d’un faisceau laser (5), engendrant un faisceau laser dévié (500) ; une cellule photosensible (112) destinée à acquérir une image du faisceau laser dévié (500) ; des moyens optiques de grandissement (113) du faisceau laser dévié (500), intercalés entre le miroir de déviation (111) et la cellule photosensible (112), et des moyens de transmission (114) de l’image acquise par la cellule photosensible (112) à un dispositif d’affichage (12). Procédé de réglage d’un dispositif d’analyse (3) d’un système (1) d’analyse selon l'une quelconque des revendications 1 à 8, caractérisé en ce qu’il comprend les étapes consistant à : positionner le miroir de déviation (111) dans sa position de déviation ; générer un faisceau laser (5) par le module de génération (4) ; capter une image du faisceau dévié (500) par la cellule photosensible (112) ; analyser l’image captée par la cellule photosensible (112) pour détecter un défaut de profil du faisceau laser (5) par rapport à un profil théorique ; corriger, si un défaut de profil est détecté, une orientation du module de génération (4) et/ou de la lentille de mise en forme (6) ou du diaphragme de sélection (7), et recommencer les étapes consistant à capter, analyser et corriger jusqu’à ce qu’aucun défaut de profil ne soit détecté par rapport au profil théorique . Procédé de réglage selon la revendication précédente, caractérisé en ce que l’étape consistant à analyser l’image comprend également une sous-étape de contrôle de l’homogénéité de l’intensité du faisceau laser (5), et en ce que l’étape consistant à corriger est réalisé lorsqu’une inhomogénéité de l’intensité du faisceau laser (5) est constatée. Procédé selon la revendication 10 ou 11, caractérisé en ce qu’il comprend également une étape d’asservissement d’actionneurs dédiés au réglage du faisceau laser (5).