Dispositif de caractérisation (D1) d’un échantillon piézoélectrique (E1) ayant une électrode inférieure (EL1) et une surface supérieure (S1), le dispositif comprenant : une pointe conductrice (P1) placée à une extrémité d’un levier (L1) et destinée à être placée en contact avec un point (N1) de la surface supérieure (S1) ; l’ensemble formé par la pointe, l’échantillon et l’électrode inférieure ayant une fréquence de résonance variable (f 0 ) ; un générateur de tension (G1) configuré pour appliquer, entre l’électrode inférieure (EL1) et la pointe conductrice (P1), un signal de caractérisation (V CAR ) à une première fréquence (f 1 ) ; une chaine de mesure (21) configurée pour générer un signal de mesure (V s ) de la réponse électromécanique de l’échantillon ; un circuit de commande (20) configuré pour commander le générateur de tension (G1) en générant un signal de commande (V cont ) à partir du signal de mesure (V s ) reçu par l’intermédiaire d’une boucle de rétroaction de manière à maintenir la première fréquence (f 1 ) égale à la fréquence de résonance (f 0 ) pendant un régime permanent suite à un régime transitoire ; ledit régime transitoire correspondant à un fonctionnement hors résonance ; un calculateur (CALC) configuré pour réaliser au moins une opération d’acquisition de données de mesures à partir du signal de mesure (V s ) ; un étage de détection de stabilité (22) configuré pour commander l’activation de l’acquisition réalisée par le calculateur (CALC) à travers un signal d’activation d’acquisition (V TRIG ) de manière à désactiver l’opération d’acquisition lors du régime transitoire. Dispositif de caractérisation (D1) selon la revendication 1 dans lequel le calculateur (CALC) est configuré pour déterminer une courbe d’hystérésis d’amplitude et/ou de phase associée au point (N1) à partir du signal de mesure (V s ) lors d’une opération d’acquisition. Dispositif de caractérisation (D1) selon l’une des revendications 1 ou 2 dans lequel lorsque l’étage de détection de stabilité (22) reçoit au moins une composante spectrale du signal de mesure (V s (f DFRT+ ), V s (f DFRT+ ), V s (f 1 )) associée au point (N1),l’étage de détection de stabilité (22) est configuré pour réaliser les opérations suivantes pour ledit point (N1) : mesurer la variation de la première fréquence (f 1 ) au cours du temps ; activer l’opération d’acquisition par le calculateur (CALC) lorsque la première fréquence (f 1 ) est stabilisée à une valeur sensiblement égale à la fréquence de résonance (f 0 ). Dispositif de caractérisation (D1) selon la revendication 3 dans lequel l’étage de détection de stabilité (22) est configuré pour réaliser, en outre, les opérations suivantes pour ledit point (N1) : mesurer la variation de l’amplitude du signal de mesure (V s ) au cours du temps ; activer l’opération d’acquisition par le calculateur (CALC) lorsque : la première fréquence (f 1 ) est stabilisée à une valeur sensiblement égale à la fréquence de résonance (f 0 ) ; et la variation du signal de mesure (V s ) est inférieure à un premier seuil prédéterminé. Dispositif de caractérisation (D1) selon l’une quelconque des revendications 1 à 4 dans lequel l’étage de détection de stabilité (22) est configuré pour, en outre, désactiver l’opération d’acquisition lorsque la pointe conductrice (P1) est écartée de la surface supérieure (S1). Dispositif de caractérisation (D1) selon l’une des revendications 1 à 5 dans lequel le générateur (G1) est configuré pour générer en outre : un premier signal de redressement (V DFRT+ ) à une deuxième fréquence (f DFRT+ ) supérieure à la première fréquence (f 1 ) ; un second signal de redressement (V DFRT- ) à une troisième fréquence (f DFRT- ) inférieure à la première fréquence (f 1 ) ; les deux signaux de redressement (V DFRT- , V DFRT+ ) présentant respectivement une amplitude inférieure à celle du signal de caractérisation (V CAR ) et étant superposées avec le signal de caractérisation (V CAR ) ; et la deuxième fréquence (f DFRT+ ) et la troisième fréquence (f DFRT- ) étant équidistantes de la première fréquence (f 0 ). Dispositif de caractérisation (D1) selon la revendication 6 dans lequel le signal de mesure (Vs) comprend une première composante spectrale associée à la première fréquence (f 1 ), une deuxième composante spectrale associée à la deuxième fréquence (f DFRT+ ) et une troisième composante spectrale associée à la troisième fréquence (f DFRT- ) ; et dans lequel le circuit de commande (20) comprend un premier filtre (FIL1) destiné à extraire la deuxième composante spectrale (V s (f DFRT+ )) et un second filtre (FIL2) destiné à extraire la troisième composante spectrale (V s (f DFRT- )). Dispositif de caractérisation (D1) selon la revendication 7 dans lequel le circuit de commande (20) comprend un régulateur (PID) pour générer le signal de commande (V cont ) de manière à maintenir une égalité entre l’amplitude de la deuxième composante spectrale (V s (f DFRT+ )) et celle de la troisième composante spectrale (V s (f DFRT- )) pendant le régime permanent suite au régime transitoire. Dispositif de caractérisation (D1) selon l’une quelconque des revendications 6 à 8 dans lequel l’étage de détection de stabilité (22) comprend un circuit diviseur (221) configuré pour calculer la valeur absolue de la différence relative (V DIV ) entre : d’une part l’amplitude de la deuxième composante spectrale (V s (f DFRT+ )) ; et d’autre part l’amplitude de la seconde composante spectrale (V s (f DFRT- ). Dispositif de caractérisation (D1) selon la revendication 9 dans lequel l’étage de détection de stabilité (22) comprend en outre un circuit d’activation d’acquisition (222) configuré pour : comparer la valeur absolue de la différence relative (V DIV ) à un second seuil prédéterminé ; générer le signal d’activation d’acquisition (V TRIG ) vers le calculateur (CALC) lorsque la valeur absolue de la différence relative (V DIV ) est inférieure au second seuil prédéterminé.