Pour une première configuration d’un analyseur de surface d’onde 10 conforme à l’invention, dite configuration f/2, le pas p 12 de répétition du motif diffractant le long de chaque axe A 12 du réseau de diffraction est tel que le point de convergence de chaque sous-faisceau SF -1 ou SF +1 qui est issu d’une microlentille 11 soit sensiblement superposé, dans le plan focal PF, au point de convergence du sous-faisceau SF 0 qui est issu d’une microlentille voisine, comme cela apparaît dans . Pour cela, le pas p 12 de répétition du motif diffractant le long des axes A 12 , et le pas p 11 des microlentilles 11 le long des axes A 11 , vérifient la relation nominale : p 12 = 2∙λ·f/(3 1/2 ·p 11 ). Dans toute la présente description, λ désigne une valeur de longueur d’onde qui est prescrite pour le composant optique 1, et donc prescrite pour chaque analyseur de surface d’onde qui est constitué à partir de ce composant optique. Cette valeur prescrite λ est celle à adopter pour la longueur d’onde du rayonnement électromagnétique du faisceau F, lors d’une utilisation nominale de l’analyseur de surface d’onde 10. Les zones hachurées dans montrent les volumes de superposition entre un sous-faisceau SF +1 et un sous-faisceau SF -1 qui proviennent de deux microlentilles 11 voisines. Un plan de photodétection, qui est parallèle au plan de superposition PS et qui est noté PD, avec lequel les volumes de superposition des sous-faisceaux ont une aire de section maximale, est situé à la distance f/2 du plan de superposition PS, en aval de ce dernier par rapport au sens de propagation du faisceau de rayonnement F. L’analyseur de surface d’onde 10 possède la configuration f/2 lorsqu’il comprend le composant optique 1 et un capteur d’images 2 dont la surface photosensible coïncide avec le plan de photodétection PD, à mi-chemin entre le plan de superposition PS et le plan focal PF. La valeur f/2 pour la distance entre le plan de superposition PS et le capteur d’images 2 est optimale, aussi dite nominale, pour la configuration f/2 de l’analyseur de surface d’onde. A l’intérieur du plan de photodétection PD, les sous-faisceaux SF -1 et SF +1 qui sont issus de deux microlentilles 11 voisines sont superposés dans une aire d’interférence AI, où ils produisent un interférogramme qui est saisi par le capteur d’images 2. illustre schématiquement ce principe de formation des aires d’interférence AI pour une direction d’axe de symétrie A 11 . Les aires d’interférence AI qui sont ainsi obtenues sont alignées dans le plan de photodétection PD parallèlement aux axes de symétrie A 11 grâce au décalage angulaire de 30° entre ces axes de symétrie A 11 et les axes de symétrie A 12 . La forme de la limite périphérique de chaque aire d’interférence AI est altérée dans une faible mesure par les positions des points de convergence dans le plan focal PF, en fonction des inclinaisons locales de la surface d’onde S au niveau du plan de superposition PS. La forme de la limite périphérique de chaque aire d’interférence AI est aussi altérée lorsque la longueur d’onde du faisceau de rayonnement F diffère de la valeur prescrite λ telle que résultant de la relation nominale fournie plus haut, le pas p 12 de répétition du motif diffractant et le pas p 11 du réseau des microlentilles étant des paramètres intrinsèques et fixes pour un composant optique donné. Elle est encore altérée lorsque la surface photosensible du capteur d’images 2 est décalée par rapport au plan optimal de photodétection PD. Toutefois, ces altérations des limites périphériques des aires d’interférence ne perturbent pas le contenu des interférogrammes.