INPI-France/Brevets-Francais-2024-Chunked huggingface dataset:
Selon un mode de mise en œuvre, le dimensionnement du disque de turbine est en outre mis en œuvre de sorte à ce que la largeur d’alésage , le rayon de jante et la vitesse limite soient tels que : où : vaut s 2 .m -2 ; vaut ; et sont exprimés en mètres ; et est exprimée en mètres par seconde.
Selon un mode de mise en œuvre, l’au moins une aube de turbine de la pluralité d’aubes de turbine comprend en outre : une échasse reliée au pied et comprenant une plateforme délimitant une portion radialement interne d’une veine d’écoulement traversant la turbine d’entraînement ; et une pale reliée à la plateforme et s’étendant au sein de la veine d’écoulement, la pale présentant un bord d’attaque, un bord de fuite et une extrémité opposée à la plateforme ; dans lequel la veine d’écoulement présente : un rayon externe qui est défini comme une moyenne entre, d’une part, une distance entre l’axe longitudinal et une jonction entre l’extrémité de la pale et le bord d’attaque de la pale et, d’autre part, une distance entre l’axe longitudinal et une jonction entre l’extrémité de la pale et le bord de fuite de la pale ; et un rayon interne qui est défini comme une moyenne entre, d’une part, une distance entre l’axe longitudinal et une jonction entre la plateforme et le bord d’attaque de la pale et, d’autre part, une distance entre l’axe longitudinal et une jonction entre la plateforme et le bord de fuite de la pale ; dans lequel le procédé comprend en outre un dimensionnement de l’au moins une aube de turbine ; dans lequel le dimensionnement de l’au moins une aube de turbine et le dimensionnement du disque de turbine sont mis en œuvre de sorte à ce que le rayon d’alésage , le rayon de jante , le rayon externe , le rayon interne et la vitesse limite soient tels que : avec : où : est exprimée en tours par minute ; vaut rpm -2 .m -2 ; vaut ; , , et sont exprimés en mètres ; et est exprimée en 10 6 .rpm 2 .m 2 ; dans lequel le rayon externe est compris dans une gamme allant de 0,15 à 1,0 mètre inclus, le rayon interne est compris dans une gamme allant de 0,1 à 0,8 mètre inclus et est comprise dans une gamme allant de 30*10 6 rpm 2 .m 2 à 180*10 6 rpm 2 .m 2 inclus.
Selon un mode de mise en œuvre, le dimensionnement de l’au moins une aube de turbine et le dimensionnement du disque de turbine sont mis en œuvre de sorte à ce que le rayon d’alésage , le rayon de jante , le rayon externe , le rayon interne et la vitesse limite soient tels que : où : vaut rpm -2 .m -2 ; vaut ; et sont exprimés en mètres ; et est exprimée en 10 6 .rpm 2 .m 2 .
Selon un mode de mise en œuvre, la surface interne du disque de turbine présente un bord amont et un bord aval et le disque de turbine présente en outre une largeur d’alésage qui est définie comme une distance axiale entre le bord amont et le bord aval de la surface interne ; et dans lequel l’au moins une aube de turbine de la pluralité d’aubes de turbine comprend en outre : une échasse reliée au pied et comprenant une plateforme délimitant une portion radialement interne d’une veine d’écoulement traversant la turbine d’entraînement ; et une pale reliée à la plateforme et s’étendant au sein de la veine d’écoulement, la pale présentant un bord d’attaque, un bord de fuite et une extrémité opposée à la plateforme ; dans lequel la veine d’écoulement présente un rayon interne qui est défini comme une moyenne entre, d’une part, une distance entre l’axe longitudinal et une jonction entre la plateforme et le bord d’attaque de la pale et, d’autre part, une distance entre l’axe longitudinal et une jonction entre la plateforme et le bord de fuite de la pale ; dans lequel le procédé comprend en outre un dimensionnement de l’au moins une aube de turbine ; dans lequel le dimensionnement de l’au moins une aube de turbine et le dimensionnement du disque de turbine sont mis en œuvre de sorte à ce que la largeur d’alésage , le rayon interne et la vitesse limite soient tels que : avec : où : est exprimée en radians par seconde ; vaut s 2 .m -2 ; vaut ; et sont exprimés en mètres ; et est exprimée en mètres par seconde ; dans lequel le rapport est strictement positif ; dans lequel la largeur d’alésage est comprise dans une gamme allant de 0,005 à 0,1 mètre inclus, le rayon interne est compris dans une gamme allant de 0,1 à 0,8 mètre inclus et est comprise dans une gamme allant de 100 à 500 m.s -1 inclus.
Selon un mode de mise en œuvre, le dimensionnement de l’au moins une aube de turbine et le dimensionnement du disque de turbine sont mis en œuvre de sorte à ce que la largeur d’alésage , le rayon interne et la vitesse limite soient tels que : où : vaut s 2 .m -2 ; vaut ; et sont exprimés en mètres ; et est exprimée en mètres par seconde.
Selon un mode de mise en œuvre, le dimensionnement de l’au moins une virole, le dimensionnement de la première aube de turbine et le dimensionnement de la deuxième aube de turbine sont mis en œuvre de sorte à ce que le rayon de virole , le rayon externe amont , le rayon interne amont , le rayon externe aval , le rayon interne aval et la vitesse limite soient tels que : où : vaut rpm -2 .m -2 vaut ; et sont exprimés en mètres ; et est exprimée en 10 6 .rpm 2 .m 2 .
reproduit un exemple d’image qui est saisie par un analyseur de surface d’onde conforme à l’invention ;
illustre une première utilisation d’un analyseur de surface d’onde conforme à l’invention, pour ajuster des faisceaux élémentaires de rayonnement électromagnétique qui sont produits par plusieurs sources laser séparées ; et
illustre une seconde utilisation d’un analyseur de surface d’onde conforme à l’invention, pour ajuster des positions de segments séparés d’un miroir de télescope de type Keck.
montre en superposition un réseau de diffraction et une partie d’un réseau de microlentilles qui constituent ensemble un composant optique 1 tel que proposé par la présente invention. Les microlentilles sont toutes identiques, convergentes, et juxtaposées selon un premier réseau hexagonal. La représentation de ce réseau de microlentilles est limitée à sept microlentilles dans , par souci de clarté de cette figure. Chaque microlentille est désignée individuellement par la référence 11, et possède un diamètre d 11 et une longueur focale f. Les références A 11 désignent les axes de symétrie du réseau des microlentilles 11, qui sont décalés de +/-60° d’un axe A 11 à l’autre. Les microlentilles 11 sont juxtaposées parallèlement aux axes de symétrie A 11 pour former leur réseau hexagonal. Le pas de juxtaposition des microlentilles 11 parallèlement à chacun des axes de symétrie A 11 est noté p 11 . Dans l’exemple représenté, il est égal au diamètre d 11 des microlentilles, de sorte que deux microlentilles 11 qui sont voisines sont contigües avec un seul point de contact entre elles dans le plan du réseau des microlentilles. Toutefois, le diamètre d 11 des microlentilles peut être inférieur à leur pas de juxtaposition p 11 , ou chaque microlentille 11 peut occuper toute une maille hexagonale de leur réseau.
Le réseau de diffraction est aussi hexagonal et constitué par des répétitions d’un motif diffractant parallèlement à des axes de symétrie A 12 de ce réseau de diffraction. Les axes de symétrie A 12 du réseau de diffraction sont donc aussi décalés de +/-60° d’un axe de symétrie A 1 2 à l’autre. Le motif diffractant possède un contour en forme d’un hexagone régulier, tel que représenté en traits interrompus dans l’encart de grossissement local de la figure. Ce motif diffractant peut être divisé en deux zones complémentaires Z1 et Z2, la zone Z1 ayant la forme d’un disque 12 de diamètre d 12 , qui est centré dans le motif. Dans le cas d’un réseau de diffraction du type réseau de phase, le motif diffractant peut être caractérisé par une première épaisseur optique à l’intérieur du disque 12, c’est-à-dire dans la zone Z1, et par une seconde épaisseur optique, qui est différente de la première, dans la zone Z2. Par exemple, le réseau de diffraction peut être formé par une plaque d’un matériau transparent, à faces qui sont initialement parallèles, et dans laquelle des trous à fonds plats ont été formés aux endroits des zones Z1. De cette façon, le réseau de diffraction possède une épaisseur optique qui est réduite dans les zones Z1 par rapport aux zones Z2. Alternativement, chaque disque 12 peut être en relief par rapport aux zones Z2 qui sont intermédiaires entre les disques 12, de sorte que le réseau de diffraction possède une épaisseur optique qui est augmentée dans les zones Z1 par rapport aux zones Z2. Un tel réseau de diffraction avec les disques 12 qui sont en relief peut être formé par gravure sélective, en masquant les zones Z1. D’autres modes de réalisation sont encore possibles pour le réseau de diffraction, dont certains ont été cités dans la partie générale de la présente description. p 12 désigne le pas de répétition du motif diffractant parallèlement aux axes de symétrie A 12 . De façon connue, le déphasage qui est produit par un trou ou un relief formé dans la plaque de matériau transparent qui constitue le réseau de diffraction, est : Δφ = 2·π∙(n-1)·h/λ, où h est la profondeur du trou ou la hauteur du relief, λ est la longueur d’onde du rayonnement, et n est l’indice de réfraction du matériau transparent. Ce déphasage Δφ est une avance de phase dans le cas d’un trou et un retard de phase dans le cas d’un relief. Dans des réalisations possibles, la valeur de la profondeur ou de la hauteur h peut être sélectionnée pour que Δφ = ±π.
Pour le mode de réalisation de l’invention qui est décrit ici à titre d’exemple, le réseau de diffraction et le réseau des microlentilles sont disposés l’un contre l’autre, si bien qu’ils peuvent être considérés comme étant superposés dans un plan de commun, appelé plan de superposition et noté PS. En outre, ils sont orientés l’un par rapport à l’autre de sorte que chaque axe de symétrie A 11 du réseau des microlentilles 11 soit décalé angulairement de 30° par rapport à l’un des axes de symétrie A 12 du réseau de diffraction. De plus, encore pour le mode de réalisation qui est décrit ici à titre d’exemple, le pas p 11 du réseau des microlentilles 11 est égal à environ 12 fois le pas p 12 de répétition du motif diffractant. x et y désignent deux axes cartésiens perpendiculaires l’un à l’autre qui sont contenus dans le plan de superposition PS. Dans la suite, z désigne un troisième axe cartésien qui est perpendiculaire aux deux axes x et y.
Pour un rayonnement électromagnétique qui se propage sensiblement parallèlement à l’axe z, une surface d’onde de ce rayonnement qui existe au niveau du plan de superposition PS est désignée par S dans la suite. La surface d’onde S peut avoir un avancement local selon l’axe z qui varie entre des points différents de cette surface d’onde. Dans , z 1 est ainsi l’avancement local d’une partie S1 de la surface d’onde S, et z 2 est l’avancement local d’une autre partie S2 de la surface d’onde S. L’écart d’avancement de la surface d’onde S entre ses parties S1 et S2 est alors ΔP = z 1 - z 2 , et est appelé écart de piston qui existe entre ces deux parties de surface d’onde. Des valeurs d’écart de piston ΔP seront déterminées en utilisant l’invention, entre des parties de la surface d’onde S qui sont superposées à des microlentilles 11 voisines au sein du composant optique 1.
En plus de son avancement local parallèlement à l’axe z qui peut être variable, la surface d’onde S peut avoir une inclinaison locale qui est aussi variable. Ainsi, la partie de surface d’onde S1 peut former un angle t x1 avec une projection de l’axe x dans un premier plan de coupe qui est parallèle aux axes x et z, et former simultanément un autre angle t y 1 avec une projection de l’axe y dans un second plan de coupe qui parallèle aux axes y et z. De façon similaire, une inclinaison de la partie de surface d’onde S2 peut être caractérisée par les angles t x 2 et t y2 , qui sont définis de la même façon que t x 1 et t y 1 de la partie de surface d’onde S1. Alors, l’écart d’inclinaison entre les parties S1 et S2 de la surface d’onde S peut être caractérisé par les valeurs de différences Δt x = t x1 - t x2 et Δt y = t y1 - t y2 , qui sont communément appelées valeurs d’écarts de tilt et de tip, respectivement, entre les parties de surface d’onde S1 et S2. De telles valeurs d’écarts de tilt et tip peuvent être déterminées en utilisant l’invention, entre les parties de la surface d’onde S qui sont superposées à des microlentilles 11 voisines au sein du composant optique 1. Pour un composant optique à symétrie hexagonale tel que considéré dans la présente description, et lorsque ce composant optique est utilisé dans un analyseur de surface d’onde, une variation de tilt de même qu’une variation de tip, qui affecte une partie de surface d’onde superposée à une seule des microlentilles, modifie à la fois une valeur de pas d’interfrange et une orientation des franges dans les interférogrammes auxquels participent les sous-faisceaux qui ont traversé cette microlentille. Pour cette raison, on entend par valeurs d’écarts de tilt les différences Δt x mais aussi celles Δt y , sans distinction, dans toute la présente description.
Dans , F désigne le faisceau de rayonnement électromagnétique qui est incident sur le composant optique 1, et SF -1 , SF 0 et SF + 1 désignent trois sous-faisceaux qui sont produits par le réseau de diffraction du composant optique 1 à partir du faisceau F pour chacune des microlentilles 11. Du fait des microlentilles 11, tous les sous-faisceaux SF -1 , SF 0 et SF + 1 convergent dans le plan focal commun des microlentilles, noté PF, en des points séparés. Le plan focal PF est parallèle au plan de superposition PS et distant de celui-ci de la longueur focale f. Un sous-faisceau SF 0 correspondant à l’ordre de diffraction 0, trois autres sous-faisceaux SF -1 correspondant chacun à un ordre de diffraction -1, et encore trois sous-faisceaux supplémentaires SF + 1 correspondant chacun à un ordre de diffraction +1 proviennent alors de chaque microlentille 11. Si la surface d’onde S est parallèle au plan xy au niveau de cette microlentille 11, ces sept sous-faisceaux convergent en des points du plan focal PF qui sont situés aux sommets et au centre d’un hexagone régulier dont le centre est aligné avec celui de la microlentille parallèlement à l’axe z : le sous-faisceau SF 0 converge au centre de l’hexagone, et les six sous-faisceaux SF -1 et SF +1 convergent à ses sommets. Du fait des directions de diffraction, l’axe x tel qu’apparaissant dans est perpendiculaire à l’un des axes de symétrie A 12 du réseau de diffraction. Il est aussi parallèle à l’un des axes de symétrie A 11 du réseau des microlentilles 11.
Le capteur d’images 2 est préférentiellement d’un type matriciel avec un pas d’éléments photodétecteurs individuels, couramment appelés pixels, dans sa surface photosensible qui est assez petit pour fournir un échantillonnage suffisant des interférogrammes à l’intérieur des aires d’interférence AI. montre une image telle que saisie par le capteur 2 lors d’une utilisation nominale de l’analyseur de surface d’onde 10 de , c’est-à-dire avec la configuration f/2. Cette image correspond donc à l’éclairement qui existe dans le plan de photodétection PD. Chaque aire d’interférence AI contient un interférogramme séparé, et une indication de la position des microlentilles 11 est indiquée par superposition, en projection parallèlement à l’axe z.
La caractérisation de la forme de la surface d’onde S, telle qu’elle existe au niveau du plan de superposition PD, est donnée par l’analyse des interférogrammes. Chaque interférogramme fournit une information différentielle entre les positions des centres des deux microlentilles 11 dont proviennent les deux sous-faisceaux SF -1 et SF +1 qui ont formé cet interférogramme. La répartition d’intensité lumineuse à l’intérieur de chaque interférogramme, telle que saisie par le capteur d’images 2, est donnée par la formule suivante : où ΔP est l’écart de piston qui existe entre les parties de la surface d’onde S qui sont respectivement au niveau de l’une et l’autre des deux microlentilles voisines, tel que cet écart ΔP a été introduit plus haut en référence à , Δt x et Δt y sont les écarts de tilt qui existent entre ces parties de la surface d’onde S, aussi tels qu’ils ont été introduits en référence à , u est une coordonnée cartésienne le long d’un axe dans le plan de photodétection PD qui est parallèle à l’un des axes de symétrie A 11 du réseau de microlentilles, k est un coefficient d’échelle de sensibilité du capteur d’images 2 qui est positif et non-nul, et les paramètres p 12 et λ sont repris tels qu’ils ont été définis plus haut. Ainsi, l’état d’interférence au centre de l’interférogramme, c’est-à-dire pour x=y=u=0, fournit la valeur de l’écart de piston ΔP. Toutes les valeurs d’écart de piston ΔP qui sont déduites de l’ensemble des interférogrammes fournissent alors une caractérisation de base de la forme de la surface d’onde S : elles sont les valeurs de hauteur sagittale, selon l’axe z, de la surface d’onde S pour le maillage d’échantillonnage qui est constitué par les centres des microlentilles 11. Optionnellement, les valeurs d’écarts de tilt Δt x et Δt y peuvent être déduites en outre des interférogrammes, en extrayant de chaque interférogramme l’orientation des franges qui le constituent et la valeur du pas d’interfrange correspondante. Une telle analyse supplémentaire des structures de franges des interférogrammes est connue de l’Homme du métier, si bien qu’il n’est pas nécessaire de la détailler plus ici. Elle fournit les inclinaisons des plans qui sont tangents à la surface d’onde S aux centres des microlentilles 11. La déduction de toutes les valeurs d’écart de piston pour la caractérisation de base de la surface d’onde, et optionnellement de toutes les valeurs d’écarts de tilt pour sa caractérisation supplémentaire, peut être exécutée de façon automatisée par un module de traitement 3, noté CPU dans [Fig. 3a] et [Fig. 3b]. Un tel module de traitement 3 peut être programmé pour extraire d’abord les interférogrammes de chaque image qui est saisie par le capteur 2, en associant chaque interférogramme avec sa position dans l’image, c’est-à-dire sa position par rapport au réseau des microlentilles 11, et programmé pour analyser ensuite chaque interférogramme séparément, afin d’en déduire la valeur d’écart de piston ΔP et éventuellement aussi les valeurs d’écarts de tilt.
montre un mode de réalisation alternatif d’un analyseur de surface d’onde qui est aussi conforme à l’invention. L’analyseur de surface d’onde 10 de possède une configuration 3·f/2. Pour cela, le composant optique 1 est encore conforme à la description qui a été fournie en référence à , mais il satisfait maintenant la nouvelle relation nominale suivante : p 12 = 2·3 1/2 ·λ·f/p 11 . Toutes les notations introduites antérieurement et relatives au composant optique 1 et au rayonnement à analyser, y compris relatives à la forme de la surface d’onde S, sont conservées identiquement. Les zones hachurées dans correspondent aux nouveaux volumes de superposition des sous-faisceaux SF -1 et SF +1 qui proviennent de microlentilles 11 voisines. Toutefois, ces volumes de superposition sont maintenant limités vers l’aval pour éviter des superpositions supplémentaires avec des sous-faisceaux SF 0 . Avec la nouvelle relation nominale, les paires de sous-faisceaux pour lesquelles le composant optique 1 produit des superpositions sont identiques à celles de , hormis que ces superpositions se produisent à une distance à partir du plan de superposition PS qui est plus grande que la longueur focale f. La position du plan de photodétection PD pour laquelle les aires d’interférences AI sont les maximales, est alors à la distance de 3·f/2 du plan de superposition PS, encore en aval de ce plan de superposition PS par rapport au sens de propagation du faisceau de rayonnement F, les deux plans PD et PS étant encore parallèles. Cette nouvelle position du plan de photodétection PD correspond à la position optimale, ou nominale, du capteur d’images 2 pour la configuration 3·f/2 de l’analyseur de surface d’onde 10. Le fonctionnement optique de l’analyseur de surface d’onde 10, et le principe d’analyse des interférogrammes qu’il produit, tels que ces fonctionnement et principe ont été décrits pour la configuration f/2, sont identiques pour la configuration 3·f/2. En particulier, la formule de répartition d’intensité lumineuse à l’intérieur de chaque interférogramme est la même pour les deux configurations f/2 et 3∙f/2.
Pour les modes de réalisation de l’invention qui viennent d’être décrits, il est possible que des sous-faisceaux qui sont produits par le composant optique 1, mais qui sont autres que ceux SF -1 et SF +1 , interfèrent avec ces derniers à l’intérieur des aires d’interférence AI. Ces autres sous-faisceaux correspondent à des ordres de diffraction supérieurs qui sont générés par le réseau de diffraction, et ils sont susceptibles de réduire un contraste des interférogrammes et gêner leur analyse. Lorsque le motif diffractant est constitué, dans le plan de superposition PS, d’un disque 12 de diamètre d 12 à l’intérieur duquel le réseau de diffraction produit un déphasage de +/-π pour le faisceau de rayonnement F (voir la description plus haut en référence à ), il peut être avantageux que le diamètre d 12 soit sensiblement égal à 7,66·p 12 ·3 1/2 /(6·π), notamment pour la configuration f/2 lorsque p 12 = 2∙λ·f/(3 1/2 ·p 11 ), ou pour la configuration 3·f/2 lorsque p 12 = 2·3 1/2 ·λ·f/p 11 . Un tel dimensionnement du motif diffractant réduit ou annule des intensités de certains des sous-faisceaux d’ordres supérieurs qui sont susceptibles de parvenir aux aires d’interférence AI.
Comme développé ci-après, le flux organique peut également comprendre de l’acétone recyclé, provenant d’une ou plusieurs distillations du procédé.
Outre l’acétone fraîche et l’acétone recyclée, le flux organique peut comprendre des intermédiaires réactionnels recyclés, tels que l’oxyde de mésityle.
Le rapport du débit pondéral du flux de solution aqueuse d’hydroxyde alcalin (A) alimentée (Qhydroxyde alcalin) et du débit pondéral du flux organique alimenté (Qorga) est avantageusement compris entre 0,25 et 1,0, de préférence entre 0,4 et 0,8 et plus préférentiellement entre 0,5 et 0,7.
Lorsque l’hydroxyde alcalin est de l’hydroxyde de sodium, le rapport du débit pondéral du flux de solution aqueuse d’hydroxyde de sodium alimentée (QNaOH) et du débit pondéral du flux organique alimenté(Qorga) est avantageusement compris entre 0,25 et 1,0, de préférence entre 0,4 et 0,8 et plus préférentiellement entre 0,5 et 0,7.
Lorsque l’hydroxyde alcalin est de l’hydroxyde de potassium, le rapport du débit pondéral du flux de solution aqueuse d’hydroxyde de potassium alimentée (QKOH) et du débit pondéral du flux organique alimenté (Qorga) est avantageusement compris entre 0,25 et 1,0, de préférence entre 0,4 et 0,8 et plus préférentiellement entre 0,5 et 0,7.
Avant l’entrée dans le réacteur, les flux peuvent être préchauffés au préalable à l’aide d’échangeurs de chaleur.
Etape b ) : réaction
La réaction de condensation de l’acétone s’effectue au sein du réacteur tubulaire (R), le réacteur contenant une émulsion comprenant majoritairement une phase aqueuse d’hydroxyde alcalin (B), la concentration en hydroxyde alcalin de la phase aqueuse (B) au sein du réacteur tubulaire étant supérieure ou égale à 50 g/L.
De préférence, le réacteur est vertical.
L’émulsion présente au sein du réacteur comprend :
-une phase aqueuse (B), qui est la phase continue de l’émulsion et qui comprend de l’eau, de l’acétone et l’hydroxyde alcalin, et
-une phase organique, qui est la phase dispersée de l’émulsion ; elle se trouve de préférence sous forme de gouttelettes et elle comprend de l’acétone, l’isophorone, éventuellement les intermédiaires de synthèse et les sous-produits de polycondensation.
L’émulsion contient majoritairement la phase aqueuse d’hydroxyde alcalin. Par « majoritairement », on entend au sens de la présente invention que la phase aqueuse d’hydroxyde alcalin représente plus de 50% en volume par rapport au volume total de l’émulsion présent dans le réacteur.
La concentration en hydroxyde alcalin de la phase aqueuse (B) au sein du réacteur tubulaire est supérieure à 50 g/L.