Procédé de caractérisation électrique d’un échantillon photovoltaïque (100) comprenant au moins un empilement de couches (112, 114, 116, 118, 126) incluant une couche de matériau absorbeur (112) et des électrodes de mesure de forme et de dimension identiques et disposées sur une première face (106) de l’échantillon photovoltaïque (100) et formant N paires d’électrodes de mesure adjacentes (108.1 – 108.4) présentant des distances inter-électrodes d 1 - d N différentes les unes des autres, avec N nombre entier supérieur ou égal à 3, les électrodes de mesure d’une même paire d’électrodes de mesure adjacentes (108.1 – 108.4) étant parallèles l’une par rapport à l’autre, caractérisé en ce qu’il comprend au moins : a) définition ou calcul (10) d’une valeur cible de résistance de couche de la couche de matériau absorbeur (112) ; b) pour chaque couple de paires d’électrodes de mesure adjacentes (108.1 – 108.4), de distances inter-électrodes d i et d i+1 , avec i nombre entier compris entre 1 et N-1 et tel que d i+1 > d i , détermination (20) d’une valeur I i,i+1 d’une intensité lumineuse, pour un spectre donné illuminant la première face (106) de l’échantillon photovoltaïque (100) ou une deuxième face, opposée à la première face, de l’échantillon photovoltaïque (100), telle qu’une valeur de résistance de couche de la couche de matériau absorbeur (112), déterminée par interpolation linéaire entre des valeurs et des résistances électriques dudit couple de paires d’électrodes de mesure adjacentes, soit la plus proche possible de la valeur cible ; c) détermination (30) d’une valeur R Sh de résistance de couche de la couche de matériau absorbeur (112) et d’une valeur R c de résistance de contact d’une des électrodes de mesure avec la couche de matériau absorbeur (112), par interpolation linéaire entre au moins trois des valeurs mesurées de résistance et/ou pour les différentes valeurs I i,i+1 déterminées à l’étape b). Procédé selon la revendication 1, dans lequel la valeur est calculée par méthode TLM en illuminant la première face (106) de l’échantillon photovoltaïque (100) avec une lumière dont les caractéristiques spectrales et l’intensité sont prédéterminées. Procédé selon la revendication 1, dans lequel la valeur est obtenue en fonction d’une valeur prédéterminée d’un taux d’injection de porteurs de charge dans la couche de matériau absorbeur (112). Procédé selon l’une des revendications précédentes, dans lequel, lors de l’étape b), les caractéristiques spectrales de la lumière illuminant la première face (106) de l’échantillon photovoltaïque (100) sont également ajustées pour que la valeur de résistance de couche de la couche de matériau absorbeur (112) soit la plus proche possible de la valeur . Procédé selon l’une des revendications précédentes, dans lequel les valeurs et sont mesurées, lors de l’étape b), avec des incertitudes de mesure très inférieures à . Procédé selon l’une des revendications précédentes, comportant en outre une étape d) de détermination de valeurs de la résistivité de contact spécifique ρ C et de la longueur de transfert L T de la couche de matériau absorbeur (112) à partir des valeurs déterminées R Sh de résistance de couche de la couche de matériau absorbeur (112) et R c de résistance de contact d’une des électrodes de mesure avec la couche de matériau absorbeur (112). Procédé selon l’une des revendications précédentes, dans lequel, lors de l’étape b), les valeurs et sont mesurées par un dispositif de mesure I-V (202). Procédé selon l’une des revendications précédentes, dans lequel la couche de matériau absorbeur (112) comporte une couche de semi-conducteur cristallin, l’empilement de couches comprenant en outre au moins deux couches de semi-conducteur amorphe (114, 116, 118, 126) entre lesquelles la couche de matériau absorbeur (112) est disposée. Procédé selon l’une des revendications précédentes, dans lequel chacune des électrodes de mesure comporte une portion de métal (122) disposée sur une portion d’oxyde transparent conducteur (120). Dispositif (200) de caractérisation électrique d’un échantillon photovoltaïque (100) comprenant au moins un empilement de couches (112, 114, 116, 118, 126) incluant une couche de matériau absorbeur (112) et des électrodes de mesure de forme et de dimension identiques et disposées sur une première face (106) de l’échantillon photovoltaïque (100) et formant N paires d’électrodes de mesure adjacentes (108.1 – 108.4) présentant des distances inter-électrodes d 1 - d N différentes les unes des autres, avec N nombre entier supérieur ou égal à 3, les électrodes de mesure d’une même paire d’électrodes de mesure adjacentes (108.1 – 108.4) étant parallèles l’une par rapport à l’autre, configuré pour mettre en œuvre un procédé de caractérisation selon l’une des revendications précédentes.