Dispositif d’analyse élémentaire d’un échantillon à étudier, le dispositif comprenant : un socle (1) présentant une surface plane (10) et destiné à supporter un échantillon (2) à étudier ; un système (3) de génération d'un faisceau laser (30) destiné à impacter l’échantillon (2) à étudier selon une direction perpendiculaire à la surface plane (10) du socle (31), pour générer un plasma (P) engendrant une émission optique (40) ; des moyens de collecte (4) de l’émission optique (40) ; caractérisé en ce qu’il comprend un porte-échantillon (5) comprenant : une face inférieure plane (50) destinée à reposer sur la surface plane (10) du socle (1) ; une cavité (51) destinée à accueillir l’échantillon (2) ; au moins un épaulement (52) formant une surface d’appui (520) orientée vers la cavité (51), la surface d’appui (520) s’inscrivant dans un plan parallèle à la face inférieure plane (50) du porte-échantillon (5) ; des moyens de rappel élastique (53) configurés pour plaquer l’échantillon (2) contre la surface d’appui (520). Dispositif selon la revendication précédente, caractérisé en ce que le porte-échantillon (5) comprend un bloc (54) cylindrique, notamment cylindrique de révolution, présentant la cavité (51) et le ou les épaulements (52). Dispositif selon la revendication précédente, caractérisé en ce que l’épaulement (52) prend une forme annulaire. Dispositif selon l’une quelconque des revendications 2 et 3, caractérisé en ce que le porte-échantillon (5) comprend une embase (55) présentant la face inférieure plane (50), et des moyens de maintien (56) du bloc (54) sur l’embase (55), les moyens de maintien (56) comprenant deux mors (561) de serrage du bloc (54) présentant chacun une surface de serrage (562) dont les génératrices s’étendent perpendiculairement à la face inférieure plane (50). Dispositif selon l’une quelconque des revendications 2 à 4, caractérisé en ce que le porte-échantillon (5) comprend une butée (57) s’accouplant au bloc (54) et formant un appui pour les moyens de rappel élastique (53). Dispositif selon l’une quelconque des revendications précédentes, caractérisé en ce que les moyens de rappel élastique (53) présentent au moins deux points de contact supérieurs (531) destinés à être en contact sur l’échantillon (2), et au moins deux points de contact inférieurs (532) destinés à être en appui contre la butée (57). Dispositif selon l’une quelconque des revendications précédentes, caractérisé en ce que les moyens de rappel élastique (53) prennent la forme d’une rondelle ressort ondulée. Dispositif selon les revendications 6 et 7, caractérisé en ce que la rondelle ressort présente, selon une vue de côté, un profil en S. Procédé d’analyse élémentaire d’un échantillon (2) à étudier par spectrométrie d'émission optique sur plasma produit par laser, comprenant une étape de préparation d’un échantillon (2) et une étape de positionnement de l’échantillon (2) sur un socle (1) pour son analyse, caractérisé en ce que l’étape de préparation d’un échantillon (2) comprend une sous-étape de formation par polissage sur l’échantillon (2) d’une face plane à étudier, et en ce que l’étape de positionnement inclut l’usage d’un porte-échantillon (5), et comprend : une sous-étape d’insertion de l’échantillon (2) dans le porte-échantillon (5) et de positionnement de la face plane à étudier contre une surface d’appui (520) du porte-échantillon (5) s’inscrivant dans un plan parallèle à une face inférieure plane (50) du porte-échantillon (5) destinée à reposer sur une surface plane (10) du socle (1) ; une sous-étape d’ajout de moyens de rappel élastique (53) pour plaquer la face plane à étudier de l’échantillon (2) contre la surface d’appui (520).