INPI-France/Brevets-Francais-2024-Chunked huggingface dataset:
Par « fortement alcaline » ou « de fort pH », on entend une solution dont le pH est supérieur à 9, notamment supérieur à 10, en particulier, supérieur à 11 et, plus particulièrement supérieur à 12.
La solution d’activation comprend le cation de compensation ou le mélange de cations de compensation tel(s) que précédemment défini(s) sous forme d’une solution ionique ou d’un sel. Ainsi, la solution d’activation est notamment choisie parmi une solution aqueuse de silicate de sodium (Na 2 SiO 3 ), de silicate de potassium (K 2 SiO 2 ), d’hydroxyde de sodium (NaOH), d’hydroxyde de potassium (KOH), d’hydroxyde de calcium (Ca(OH) 2 ), d’hydroxyde de césium (CsOH) et leurs dérivés etc. En résumé, les avantages de ce procédé de préparation du matériau solide mésoporeux mis en œuvre dans le procédé selon l’invention, à savoir d’un matériau mésoporeux comprenant des particules actives sont, entre autres : Que la nature des sites sélectifs du Sr correspond directement à la nature des particules actives intégrées dans la formulation du matériau solide mésoporeux (particules nanométriques, submicroniques ou microniques) Que ce procédé de préparation est réalisé dans des conditions douces, à des températures peu élevées, généralement à la température ambiante et à la pression atmosphérique. Que ce procédé de préparation met en œuvre des réactifs disponibles commercialement, peu onéreux et non toxiques, notamment pour la solution d’activation et la source aluminosilicatée, les milieux réactionnels étant essentiellement aqueux.
A cet égard ce procédé de préparation, au contraire des procédés impliquant une émulsion huile dans l’eau n’utilise pas de solvants organiques mais seulement des phases aqueuses et il est donc respectueux de l’environnement et économique. ce procédé de préparation est simple, fiable, et facile à mettre en œuvre. Il peut être réalisé avec une installation et des appareillages simples. En particulier, ce procédé de préparation peut être un procédé dont l’ensemble des étapes peut être réalisé dans un réacteur unique.
Selon un premier mode de réalisation, lorsque le matériau solide à mésoporosité ouverte obtenu à l’issue de l’étape b) se présente sous la forme d’un monolithe, on réalise alors, à l’issue de l’étape b), les étapes successives c), d), e) et f) suivantes :
c) broyage du monolithe pour obtenir des grains ;
d) tamisage des grains obtenus à l’issue de l’étape c) pour obtenir des particules non-pulvérulentes tels que des grains, graines, granulés, perles, ou billes ayant une taille moyenne déterminée; de préférence une taille moyenne, telle qu’un diamètre, de 100 µm à 5 mm, de préférence encore de 300 µm à 5 mm.
e) lavage des particules non pulvérulentes obtenues à l’issue de l’étape d) ;
f) séchage des particules non pulvérulentes.
- une première structure mécano-soudée en pression appelée sommier 12 dans laquelle sont positionnés les pieds des assemblages combustibles 110 et qui est alimentée en sodium froid (400°C) par des pompes primaires 100 ;
- une seconde structure mécano-soudée appelée platelage 13 sur lequel le sommier vient en appui; le platelage prend généralement appui sur une partie de la paroi interne en partie basse de la cuve primaire 10.
Comme représenté, la cuve primaire 10 est de forme cylindrique d’axe central X prolongé par un fond hémisphérique. Typiquement, la cuve primaire 10 est réalisée en acier inoxydable AISI 316L avec une teneur en bore très faible afin de se prémunir des risques de fissuration à haute température. Sa surface externe est rendue hautement émissive par un traitement de pré-oxydation, effectué pour faciliter le rayonnement de la chaleur vers l’extérieur pendant la phase d’évacuation de la puissance résiduelle.
Un bouchon 18, dit bouchon couvercle cœur, est agencé à l’aplomb du cœur 10.
Dans un tel réacteur 1, l’extraction de la chaleur produite lors des réactions nucléaires au sein du cœur 11, est réalisée en faisant circuler le sodium primaire grâce à des moyens de pompage 100, agencés dans la cuve de réacteur 10, vers des échangeurs intermédiaires 15 agencés à l’intérieur de la cuve primaire 10 dans l’exemple illustré.
Ainsi, en conditions de fonctionnement normal du réacteur, l’extraction de la chaleur est réalisée par le sodium secondaire parvenant froid par son conduit d’amenée 152 à un échangeur intermédiaire 15 avant d’en ressortir chaud par son conduit de sortie 151.
Le redan 16 est généralement soudé au sommier 12 comme montré en .
Tel qu’illustré en , la cuve 10 de réacteur est ancrée ou posée en partie supérieure et fermée par une dalle de fermeture 17 supportant les différents composants, tels que les moyens de pompage non représentés, certains composants du système d’évacuation 2, comme précisé ci-après, et le bouchon couvercle 18 de cœur. La dalle de fermeture 17 est donc un couvercle supérieur qui enferme le sodium liquide à l’intérieur de la cuve primaire 10. Typiquement, la dalle 17 peut être en acier non allié (A42). Cette fermeture étanche permet l’inertage du ciel de cuve.
La illustre, par des chronogrammes, des détails d'un mode de réalisation d'une étape du procédé décrit précédemment. Plus particulièrement, la illustre des détails d'un mode de réalisation de l'étape 304 du procédé pour un canal du capteur 106, étant entendu que cette étape 104 peut être mise en œuvre pour chaque canal du capteur 106 pour lequel des échantillons ont été obtenu à l'issu de la phase 302. En , les échantillons du canal obtenus par le circuit de traitement à l'issu de l'étape 302 pour un canal du capteur 106 sont représentés en fonction du temps (en abscisse), la valeur de chaque échantillon étant représenté en ordonnée. En , les échantillons ont été acquis pendant une période FAST ACQ mise en œuvre alors que le panneau 102 est commandé en continu.
L'étape 304 ( ) comprend le classement des échantillons du canal par rapport au seuil TH.
A titre d'exemple, le seuil TH est déterminé préalablement de manière empirique comme cela a déjà été indiqué en relation avec la .
A titre d'exemple alternatif, la phase 304 comprend une détermination du seuil TH, par exemple à partir des échantillons. Par exemple, parmi les échantillons reçus pour le canal, un nombre donné d'échantillons ayant les plus fortes valeurs est utilisé pour calculer une valeur haute H (non représentée en ) correspondant à la valeur moyenne de ces échantillons de plus forte valeur, et, de manière similaire, un même nombre donnée d'échantillons ayant les plus fortes valeurs est utilisé pour calculer une valeur basse L (non représentée en ) correspondant à la valeur moyenne de ces échantillons de plus forte valeur, et le seuil TH est alors égale à (H+L)/2. De préférence, le nombre donné d'échantillons utilisé pour calculer les valeurs H et L, donc le seuil TH, est inférieur ou égale au nombre d'échantillon pouvant être acquis à la fréquence Fa pendant une durée DC OFF, de sorte que les échantillons ayant les plus faibles valeurs ne correspondent qu'à des échantillons acquis pendant une période DC OFF lorsque le panneau 102 est commandé en continu comme c'est le cas en .
Le classement des échantillons par rapport au seuil TH permet de déterminer les échantillons ayant une valeur supérieure au seuil TH qui sont considérés comme correspondant à des instants où le panneau 102 émet de la lumière, c'est à dire des échantillons acquis pendant une période DC ON dans un mode de commande continu, et les échantillons ayant une valeur inférieure au seuil TH qui sont considérés comme correspondant à des instants où le panneau 102 n'émet pas la lumière, c'est à dire des échantillons acquis pendant une période DC OFF dans un mode de commande continu.
Ainsi, il est possible de déterminer la durée des phases où le panneau 102 n'émet pas de lumière, c'est à dire la durée d'une phase DC OFF lorsque le panneau est commandé en continu. Par exemple, pour chaque groupe d'échantillons successifs ayant des valeurs inférieures au seuil TH, on calcule la durée qui est égale au nombre d'échantillons du groupe multiplié par la période d'acquisition des échantillons égale à 1/Fa, et la valeur déterminée de la durée des phases où le panneau n'émet pas de lumière est alors égale à une valeur moyenne de ces durées calculées. De manière similaire, il est possible de déterminer une valeur de la durée des phases où le panneau 102 émet de la lumière à partir de groupes d'échantillons successifs ayant des valeurs supérieures au seuil.
De préférence, lorsque l'étape 304 est mise en œuvre pour plusieurs canaux du capteur 106, une valeur de la durée des phases où le panneau 102 n'émet pas de lumière est déterminée pour chaque canal et la valeur de la durée des phases où le panneau n'émet pas de lumière qui est déterminée à l'étape 304 correspond à la moyenne des valeurs des durées déterminées pour ces canaux. Cela permet d'obtenir une valeur plus précise de la durée des phases où le panneau n'émet pas lumière. De manière similaire, une valeur de la durée des phases où le panneau 102 émet de la lumière peut correspondre à la moyenne des valeurs des durées des phases où le panneau 102 n'émet pas de lumière qui ont été déterminées pour ces canaux.
Lorsque le panneau 102 est commandé selon un mode de commande sélectionné parmi le mode de commande en modulation de largeur d'impulsion et le mode de commande en continu, l'étape 304 comprend la détection de celui des deux modes ci-dessus qui est actuellement utilisé pour commander le panneau 102.
A titre d'exemple, lorsque la phase FAST ACQ a une durée supérieure à deux fois TPWM, cette détection comprend le comptage du nombre de groupe d'échantillons successifs qui sont en dessous du seuil TH, c'est à dire le nombre de phase où le panneau 102 n'émet pas de lumière pendant la durée de la phase FAST ACQ. Si ce nombre est égal à 1, cela signifie que le mode de commande est le mode de commande continu. Si ce nombre est supérieur à 1, cela signifie que le mode de commande est le mode de commande en modulation de largeur d'impulsion.
A titre d'exemple alternatif, dans un mode de réalisation où la durée des phases DC OFF est plus courte que la durée D des phases PWM OFF lorsque le rapport cyclique de la modulation en largeur d'impulsion est maximal, une fois que la durée de la ou des phases où le panneau 102 n'émet pas de lumière a été déterminée comme indiqué ci-dessus, la détection du mode de commande de l'écran 102 comprend la comparaison de cette durée déterminée avec la durée D. Si la durée déterminée est supérieure ou égale à la durée D, cela signifie que le panneau 102 est commandé en modulation de largeur d'impulsion, et la durée déterminée précédemment correspond à la durée des phases PWM OFF. En revanche, si cette durée déterminée est inférieure à la durée D, cela signifie que le panneau 102 est commandé en continu, et la durée déterminée précédemment correspond à la durée des phases DC OFF.
Lorsque, à l'étape 304, il est détecté que le panneau 102 est commandé en continu, la détermination de l'état de l'écran 100 comprend en outre, pour chaque canal pour lequel l'étape 304 est mise en œuvre, la détermination de l'amplitude de la commande DC ON, ou, dit autrement, de la différence AMP entre l'intensité de la lumière reçue par le canal lors d'une phase DC ON et l'intensité de la lumière reçue lors d'une phase DC OFF. Cette étape de détermination de la différence AMP pour un canal à partir des échantillons acquis pour ce canal est mise en œuvre de la même façon qu'en , par exemple en déterminant les valeurs avgH et avgL et en calculant la différence AMP égale à avgH moins avgL.
On a décrit ci-dessus des modes de réalisation dans lesquels le panneau 102 est commandé selon un mode de commande sélectionné parmi au moins un mode de commande, par exemple parmi au moins le mode de commande en modulation de largeur d'impulsion, ou, par exemple, parmi le mode de commande en modulation d'impulsion et le mode de commande en continu.
On a décrit précédemment des modes de réalisation et des variantes de réalisation des lesquelles la phase FAST ACQ est synchronisée avec le signal Vsync. Dans des variantes de réalisation, en plus du signal Vsync de synchronisation comprenant une impulsion Vsync par image affichée, l'écran 100, par exemple son circuit 104, fournit un signal Hsync de synchronisation supplémentaire comprenant une impulsion Hsync par ligne d'image affichée et la phase FAST ACQ est en outre synchronisée sur le signal Hsync. Ce signal Hsync est par exemple appelé signal de synchronisation horizontal.
Dans encore d'autres variantes de réalisation, la phase FAST ACQ est mise en œuvre de façon non synchronisée avec le signal Vsync et l'éventuel signal Hsync, par exemple dans un dispositif 1 où ce signal Vsync ne serait pas fourni par l'écran 100 aux autres circuits du dispositif 1. Dans ce cas, la durée de la phase FAST ACQ est au moins égale à la durée maximale que peut prendre la période TVSYNC, de sorte que, en mode de commande continue, au moins une phase DC OFF soit capturée pendant la phase FAST ACQ. La personne du métier sera en mesure d'adapter la description faite ci-dessus en relation avec les figures 1 à 6 à ce fonctionnement asynchrone. Dans ce fonctionnement asynchrone, la détermination que le mode de commande est le mode de commande continu ou le mode de commande en modulation de largeur d'impulsion est alors mise en œuvre, à partir des échantillons, par exemple en calculant la plus courte des durées capturées où le panneau 102 n'émet pas de lumière pendant la phase FAST ACQ et en comparant cette durée la plus courte avec la durée D minimale des phases PWM OFF. En outre, dans ce fonctionnement asynchrone, la détection que le mode de commande est le mode de commande éteint, c'est à dire un mode de commande où le panneau 102 est maintenu éteint pendant toute la durée de chaque période TVSYNC, peut comprendre la détection que l'écart de valeur entre des échantillons ayant les plus faibles valeurs et des échantillons ayant les plus fortes valeurs est inférieure à seuil, ce seuil étant par exemple déterminé par l'amplitude minimale des impulsions PWM ON et de la commande constante DC ON.
Dans tous les modes de réalisation et variantes décrits précédemment, selon un mode de réalisation, la détermination de l'état de l'écran 100 (étape 306 de la ), comprend une détermination de la luminosité émise par le panneau d'affichage 102, par exemple de la luminosité moyenne émise par le panneau 102 lors d'une période de commande TVSYNC du panneau 102. Cette luminosité émise peut être calculée pour chaque canal du capteur 106 pour lequel le procédé est mis en œuvre. A titre d'exemple, la luminosité émise par le panneau 102 est calculée, dans chaque canal, à partir de la différence AMP calculée pour ce canal, de mode de commande détecté, et du rapport cyclique de modulation et de la période TPWM lorsque le mode de commande détecté est le mode de commande en modulation de largeur d'impulsion, ou de la durée de la phase DC OFF et de la période TVSYNC lorsque le mode de commande détecté est le mode de commande en continu.
Selon un mode de réalisation le dispositif de focalisation comprend une optique de focale fixe et dispositif configuré pour modifier ladite focale disposé en amont du dispositif de balayage.
Selon un mode de réalisation le système selon l’invention comprend un séparateur de faisceau disposé en amont du dispositif de balayage et une caméra de visualisation disposée sur le trajet d’un faisceau optique réfléchi par l’échantillon et réfléchi par le séparateur de faisceau, et configurée pour visualiser l’échantillon.
Selon un mode de réalisation le système selon l’invention comprend un capteur thermique configuré pour mesurer la température d’une zone comprenant le spot de focalisation laser sur l’échantillon.
Selon un mode de réalisation le système selon l’invention comprend en outre un dispositif d’injection d’un gaz (DIG) déterminé dans la chambre.
Selon un mode de réalisation le premier détecteur est un détecteur d’électrons secondaires.
Selon un mode de réalisation le système selon l’invention comprend en outre un deuxième détecteur amovible configuré pour détecter des électrons rétrodiffusés par l’échantillon.
Selon un mode de réalisation le système selon l’invention comprend en outre une caméra cristallographique (CC) amovible configurée pour détecter des électrons rétro-diffractés par l’échantillon.
Selon un mode de réalisation le système selon l’invention comprend un calorimètre amovible permettant la calibration de la puissance de sortie du laser.
Selon un mode de réalisation le microscope à balayage électronique est de type environnemental.
Selon un mode de réalisation la source laser est couplée à une fibre optique, et en outre la source laser, le dispositif de balayage bidimensionnel et le dispositif de focalisation sont disposés dans un boitier unique, le système comprenant en outre une pièce d’accouplement configurée pour interfacer le boiter et le microscope à balayage électronique.
Selon un autre aspect l’invention concerne un procédé de traitement et de caractérisation d’un échantillon, l’échantillon étant disposé dans une chambre d’un microscope à balayage électronique, la chambre comprenant un gaz ou étant sous vide, une paroi de la chambre comprenant un hublot, le procédé comprenant : une étape 100 de génération d’un faisceau laser à onde continue présentant une puissance modifiable, une étape 200 de traitement comprenant la focalisation du faisceau laser sur l’échantillon en traversant le hublot, la valeur de la focale étant modifiable de manière contrôlée, et le balayage selon deux dimensions du faisceau laser de manière à le déplacer sur ledit échantillon avec une vitesse déterminée, le spot de focalisation sur l’échantillon présentant une puissance et un diamètre déterminés, une étape 300 de caractérisation consistant à réaliser une première image dite de post-traitement avec le microscope à balayage électronique, en illuminant l’échantillon avec un faisceau d’électron focalisé et en détectant des électrons issu de l’échantillon.
Selon un mode de réalisation le procédé selon l’invention comprend en outre une étape 50 consistant à réaliser une deuxième image dite de pré-traitement avec le microscope à balayage électronique avant l’étape 200 de traitement.
La illustre un système pour traiter et caractériser un échantillon selon l’invention.
La illustre un exemple d’implémentation du système selon l’invention dans lequel le MEB fonctionne en mode « SE » et comprenant une caméra de visualisation et une caméra thermique.
Selon un cinquième et un sixième aspect, l’invention concerne un produit programme d’ordinateur comprenant des instructions de code pour l’exécution d’un procédé selon le premier aspect d’authentification ou d’identification d’un individu ou selon le deuxième aspect d’enrôlement de données pour authentification ou identification d’un individu de référence ; et un moyen de stockage lisible par un équipement informatique sur lequel est enregistré un produit programme d’ordinateur comprenant des instructions de code pour l’exécution d’un procédé selon le premier aspect d’authentification ou d’identification d’un individu ou selon le deuxième aspect d’enrôlement de données pour authentification ou identification d’un individu de référence.
la illustre schématiquement le principe du procédé selon l’invention ;
la est un logigramme représentant les étapes d’un premier mode de réalisation de l’invention ;
la est un logigramme représentant les étapes d’un deuxième mode de réalisation de l’invention ;
la illustre un apprentissage auto-supervisé dans un mode de réalisation préféré du procédé selon l’invention.
La présente invention concerne un procédé d’authentification ou d’identification d’un individu, c’est-à-dire pour déterminer ou vérifier l’identité de l’individu se présentant devant un terminal 1, dans un système tel que représenté sur la , par exemple pour la mise en œuvre d’une transaction par ledit individu, mais également pour du contrôle d’accès, de la géolocalisation garantie, etc.
Ledit individu dont on cherche à vérifier l’identité est considéré « candidat », par opposition à des individus « de référence » dont on connait l’identité. Ledit système comprend le terminal 1 auquel à accès l’individu, dit terminal « candidat », par opposition à des terminaux dits de « référence » dont on sait qu’ils sont détenus ou du moins accessibles par un individu de référence. A noter que par commodité, dans la suite de la présente description on utilisera la référence numérique 1 de manière indifférenciée pour un terminal candidat ou de référence.
Le terminal 1 comprend des moyens de traitement de données 11 tel qu’un processeur, et le cas échéant des moyens de stockage de données 12 (une mémoire), des moyens d’interface 13 (un écran).Il s’agit typiquement d’un terminal mobile de type smartphone, mais alternativement le terminal 1 peut être une tablette, un ordinateur personnel, mais également des équipements fixes tels qu’une borne de contrôle d’accès, ou tout autre équipement détenu et contrôlé par une entité auprès de qui l’authentification/identification doit être effectuée.
Par ailleurs, et comme on le verra, le terminal 1 comprend un microphone 14 pour l’enregistrement de signaux audio (dans le domaine temporel ou le domaine temps-fréquence). Ce microphone 14 est généralement intégré, mais ce pourrait également être un périphérique connecté au reste du terminal 1, par exemple celui d’un casque connecté (filaire ou non) à un terminal 1 de type smartphone. L’ensemble constitue alors le terminal 1, et comme on expliquera plus loin on comprendra que le « smartphone seul » et le « smartphone avec le casque connecté » doivent être considérés comme deux terminaux candidats différents.
Le présent procédé est mis en œuvre par le terminal 1 et/ou un premier serveur 2a qui peut être confondu avec le terminal 1, ou distant et connecté par un réseau 10 tel que le réseau internet. De manière avantageuse, on a un deuxième serveur 2b (qui est un équipement d’apprentissage comme on le verra), typiquement distant (i.e. dans le réseau 10), mais qui pourrait être confondu avec le premier serveur 2a. Le premier serveur 2a peut par exemple être le serveur d’authentification d’une entité bancaire.
Chaque serveur 2a, 2b dispose également de moyens de traitement de données 21a, 21b (typiquement un processeur) et de moyens de stockage de données 22a, 22b (une mémoire, par exemple un disque dur). Comme on le verra, les moyens de traitement de données 21b du deuxième serveur 2b (mais également ceux du premier serveur 2a) peuvent stocker au moins une base de données d’apprentissage. Comme on le verra, on peut avoir en particulier trois bases d’apprentissage : Une base de vecteurs représentatifs de l’identité d’individus de référence, Une base de vecteurs représentatifs de terminaux de référence associés auxdits individus de référence, Une base de vecteurs représentatifs d’environnements de référence associés auxdits individus de référence.
De manière particulièrement préférée, on peut également (ou alternativement) avoir une seule base de signaux audio de référence « bruts » associés à des combinaisons d’un individu de référence, d’un terminal de référence et d’un environnement de référence. Les vecteurs des trois autres bases peuvent comme on le verra être reconstruits à partir de cette base.
Le système selon l’invention peut être mis en œuvre avec divers matériaux tels que céramiques, minéraux, métaux, polymères...
L’étude scientifique des résultats obtenus avec le système selon l’invention ouvre un champ de connaissance expérimental et numérique.
Avec le système selon l’invention on peut reproduire le traitement thermique similaire à celui qui a lieu dans différents procédés industriels (fabrication additive, traitement thermique, revenu, trempe, soudage…), permettant de comprendre la nature des interactions entre les lasers industriels et les matériaux pendant ces procédés, et de proposer des traitements thermiques optimisés pendant et/ou après la mise en œuvre de ces procédés.