INPI-France/Brevets-Francais-2024-Chunked huggingface dataset:
d’un alcool en C 16 - C 18 oxyéthyléné avec 20 mol d’oxyde d’éthylène (Genapol T-200 ® de la société Clariant),
d’un alcool en C 16 - C 18 oxyéthyléné avec 25 mol d’oxyde d’éthylène (Genapol T-250 ® de la société Clariant),
d’un alcool en C 18 - C 22 oxyéthyléné avec 25 mol d’oxyde d’éthylène,
d’un isoalcool en C 16 -C 18 oxyéthyléné avec 25 mol d’oxyde d’éthylène.
Selon un mode de réalisation préféré, le polymère est un copolymère d’AMPS ® et d’un méthacrylate d’alcool en C 16 -C 18 comprenant de 6 à 25 mol de groupes oxyéthylène, obtenu à partir d’acide méthacrylique ou d’un sel d’acide méthacrylique et d’un alcool en C 16 -C 18 oxyéthyléné avec 6 à 25 mol d’oxyde d’éthylène.
Le polymère peut également être un copolymère d’AMPS ® et d’un méthacrylate d’alcool en C 12 -C 14 comprenant de 6 à 25 mol de groupes oxyéthylène, obtenu à partir d’acide méthacrylique ou d’un sel d’acide méthacrylique et d’un alcool en C 12 -C 14 oxyéthyléné avec 6 à 25 mol d’oxyde d’éthylène.
En tant que polymères de type AMPS ® préférés selon la présente invention, on peut citer :
le copolymère non réticulé obtenu à partir de 92,65 % en mol d’AMPS ® et 7,35 % en mol d’un méthacrylate d’alcool en C 16 -C 18 comprenant 8 groupes oxyéthylène (Genapol T-080 ® ),
le copolymère non réticulé obtenu à partir de 91,5 % en mol d’AMPS ® et 8,5 % en mol d’un méthacrylate d’alcool en C 12 -C 14 comprenant 7 groupes oxyéthylène (Genapol LA-070 ® ),
- la est une vue schématique en coupe partielle suivant un plan médian d’un premier dispositif selon l’invention disposé par exemple dans un stabilisateur non rotatif ;
- la est une vue en perspective partiellement écorchée suivant un plan médian d’une extrémité de l’arbre du dispositif de la munie d’un palier ; et
- la est une vue schématique en coupe partielle suivant un plan médian d’un deuxième dispositif selon l’invention disposé par exemple dans un outil de forage dirigé rotatif.
Un dispositif de guidage en rotation 10 selon l’invention est utilisé dans une installation de forage d’un puits.
L’installation de forage comporte une installation de surface (non représentée). L’installation de surface entraîne en rotation et transmet des efforts axiaux à un outil de forage 12 par le biais d’un train de tiges 14, à travers le dispositif de guidage 10.
Dans tout ce qui suit, les termes « amont » et « aval » s'entendent par rapport au sens normal d’avancement du forage.
L’installation de surface comprend des moyens de support, d’entraînement en rotation et de transmission d’efforts axiaux de l’outil de forage 12 et des moyens de mise en circulation d’un liquide de forage.
Le train de tiges 14 est entrainé en rotation par l’installation de surface. Il est formé d’une pluralité de tubes cylindriques (non représentés) transmettant un couple et des efforts axiaux au dispositif de guidage 10. Les tubes cylindriques sont orientés selon un axe principal Z-Z du puits.
Un premier exemple de dispositif de guidage 10 selon l’invention est représenté sur la . Avantageusement, dans l’exemple de la , le dispositif 10 forme un stabilisateur non rotatif.
Le dispositif de guidage 10 comporte un arbre 20 mis en rotation par le train de tiges 14, un élément tubulaire 34 supportant l’arbre 20 en rotation et des paliers 38 guidant en rotation l’arbre 20 dans l’élément tubulaire 34 en contact avec la paroi du puits en cours de forage.
L’arbre 20 comporte un passage central 22 et une surface extérieure sensiblement cylindrique. L’arbre 20 est situé dans le prolongement du train de tiges 14 et est orienté selon l’axe principal Z-Z du puits.
Dans ce premier exemple, l’arbre 20 est rigide et comporte un module de flexion élevé rendant le dispositif de guidage 10 peu flexible perpendiculairement à l’axe Z-Z. Par « rigide », on entend que l’arbre 20 présente un angle maximal de déformation en flexion entre deux paliers inférieur à 0,1°. Dans une variante qui sera décrite plus bas, l’arbre 20 est flexible et présente un angle minimal de déformation en flexion entre deux paliers, supérieur à 0,2°.
L’arbre 20 comporte un corps central 26 présentant une surface extérieure lisse et des extrémités 28 faisant saillie axialement par rapport au corps central 26. Les extrémités 28 de l’arbre 20 sont raccordées d’une part au train de tiges 14 par une connexion filetée amont 14A et d’autre part à l’outil de forage 12 par une connexion filetée aval 12A. La connexion filetée amont 14A et la connexion filetée avale 12A sont en particulier pourvues de filetages coniques et présentent ici une forme tronconique.
L’arbre 20 comporte des régions de fixation 30 des paliers 38 sur sa surface extérieure. Les régions de fixation 30 sont notamment situées sur le corps central 26, de manière adjacente aux extrémités 28 de l’arbre 20.
Au moins dans chaque région de fixation 30, de préférence sur toute la longueur de l’arbre à l’exception des extrémités 28, la surface extérieure de l’arbre 20 est sensiblement cylindrique.
Ladite pluralité de signaux aléatoires peut former la séquence de mires. Le nombre de lignes et le nombre de colonnes peuvent correspondre respectivement aux nombres de lignes et de colonnes de l’écran.
L’étape (a) peut comprendre l’affichage successif desdits signaux aléatoires.
Chaque signal peut être codé en valeurs binaires ou être codé en niveau de gris. Les valeurs de signal peuvent être donc une suite de 0 et de 1, ou des entiers compris entre 0 et 255.
La suite de valeurs de signal associée à un pixel du plan objet ou du plan image peut être unique et indépendante de la suite de valeurs de signal d’un autre pixel du plan objet ou du plan image respectivement, pour garantir que l’appariement entre les pixels du plan image et les pixels du plan objet soit unitaire de sorte à réaliser une bijection.
Selon un exemple, la taille d’un pixel dans le plan image peut être supérieure à la taille d’un pixel dans le plan objet. Ceci permet d’éviter un effet de crénelage et de repliement de spectre. En particulier, la taille d’un pixel dans le plan image peut être choisie supérieure à la taille d’un pixel dans le plan objet en prenant en compte le grandissement des composants optiques du système optronique.
Selon un mode de réalisation, l’étape (d) peut être configurée pour déterminer la fonction de transfert de modulation comme paramètre de qualité du système optronique.
L’étape (d) peut ainsi comprendre les étapes consistant à :
(d1) choisir une première ligne de pixels dans le plan objet et déterminer une seconde ligne correspondante des pixels dans le plan image appariés aux pixels de ladite première ligne,
(d2) pour chacune de la première ligne et de la seconde ligne, calculer la densité spectrale de puissance,
(d3) déterminer la fonction de transfert de modulation comme étant le rapport entre la densité spectrale de puissance de la seconde ligne et la densité spectrale de puissance de la première ligne.
L’étape (a) permet d’associer un pixel objet à un pixel image. Il est possible donc d’associer une ligne de pixels du plan objet à une ligne de pixel du plan image quel que soit le champ imagé ou le grandissement. Ainsi, on peut obtenir la FTM de façon locale de n’importe quelle zone de l’image, sans avoir recours à des moyennages de pixels dans des zones du plan image, ou de répartition spectrale homogène de la séquence de mires, ce qui est nécessaire dans le cas où on n’a pas l’appariement entre les pixels.
Ainsi il est également possible de mesurer la FTM par zone, sagittale, tangentielle, du centre champ, du bord champ, etc.
Selon un mode de réalisation, l’étape (d) peut être configurée pour déterminer la fonction d’étalement du point comme paramètre de qualité du système optronique.
(d4) choisir un premier pixel dans le plan objet et déterminer une zone image autour d’un second pixel apparié au premier pixel,
(d5) déterminer une similarité entre les valeurs de signal du premier pixel et les valeurs de signal de chaque pixel de la zone image,
Si = k0.(k1.sin(ω0t) + k2.sin(3ω0t)) + kIm.
Le capteur de courant à vanne de flux comporte en outre un circuit d’injection 37. Le circuit d’injection 37 appartient à la partie analogique 16. Le circuit d’injection 37 est relié au sommateur 36 et à l’enroulement de mesure 14.
Le circuit d’injection 37 comprend un convertisseur numérique analogique 38.
Le convertisseur numérique analogique 38 est ici un convertisseur 12 bits dont le fonctionnement est cadencé à la fréquence Fech (Fech = 100MHz). Le convertisseur numérique analogique 38 pourrait bien sûr présenter des caractéristiques différentes.
Le convertisseur numérique analogique 38 acquiert le signal d’injection numérique Si, produit un courant d’excitation analogique Ie à partir du signal d’injection numérique Si, et injecte le courant d’excitation Ie dans l’enroulement de mesure 14.
Le capteur à vanne de flux comprend en outre un circuit de traitement 40 pour traiter le signal image numérique ou signal de démagnétisation numérique Sdm et le signal de mesure numérique Sm.
Le circuit de traitement 40 comprend une première voie de traitement ayant en entrée un multiplieur 41 ayant une première entrée recevant le signal de démagnétisation numérique Sdm, une deuxième entrée recevant des données issues d’une mémoire 42 et une sortie reliée à une première entrée d’un sommateur 43 ayant une sortie reliée à une entrée d’un filtre passe-bas 44 ayant une fréquence de coupure égale à un dixième de la fréquence d’échantillonnage. Comme on le verra plus tard, le filtre passe-bas 44 fournit en sortie un signal numérique image du courant mesuré débarrassé de la fondamentale et des harmoniques du signal d’excitation. La mémoire 42 est une mémoire non-volatile qui contient un coefficient à appliquer au signal de démagnétisation Sdm par le multiplieur 41 pour équilibrer l’amplitude du signal de démagnétisation Sdm en entrée du sommateur 43 avec l’amplitude du signal de mesure numérique Sm. En effet, les deux voies de mesure n’ont pas forcément exactement les mêmes gains en amplitude. Or, pour garantir la platitude de la réponse en fréquence dans toute la bande de fréquence de mesure, il est nécessaire que les deux voies de mesures aient le même gain. Pour atteindre cet objectif, en phase de réglage « usine », on injecte (dans le fil dans lequel circule le courant à mesurer) un courant AC d’amplitude constante qu’on fait balayer depuis une fréquence très inférieure à la fréquence de coupure du filtre de transition jusqu’à une fréquence très supérieure à cette fréquence de transition. On règle la valeur du coefficient de gain à appliquer pour obtenir cette platitude de réponse en fréquence. Une fois obtenue, on enregistre ce coefficient dans la mémoire (ou pourrait aussi parler de registre mémoire non-volatile). En variante, on peut prévoir que la mémoire 42 contienne une table contenant des coefficients à différentes températures et que le capteur comprenne une sonde de température pour pouvoir sélectionner dans la table le coefficient à appliquer pour la température mesurée.
Le circuit de traitement 40 comprend également une deuxième voie de traitement comportant un circuit d’asservissement 50 pour asservir à zéro la partie du signal de mesure Sm correspondant à la composante fondamentale du signal d’excitation. Le circuit d’asservissement 50 comprend deux boucles d’asservissement 50.1, 50.2 comportant chacune : un premier multiplieur 51.1, 51.2 ; un filtre passe-bas 52.1, 52.2 ayant une entrée reliée à une sortie du multiplieur 51.1, 51.2 ; un amplificateur 53.1, 53.2 ayant une entrée reliée à une sortie du filtre passe-bas 52.1, 52.2 ; un deuxième multiplieur 54.1, 54.2 ayant une première entrée reliée à la sortie de l’amplificateur 53.1, 53.2.
Le multiplieur 51.1 a une première entrée reliée à une sortie d’un sommateur 45 disposé en entrée de la deuxième voie de traitement 40 et une deuxième entrée reliée au générateur de fréquence 22 pour recevoir un signal d’amplitude en phase du signal de référence numérique de fréquence f0. Le multiplieur 54.1 a une deuxième entrée reliée au générateur de fréquence 22 pour recevoir le signal d’amplitude en phase du signal de référence numérique de fréquence f0 et une sortie reliée à une première entrée du sommateur 45.
Le multiplieur 51.2 a une première entrée reliée à la sortie du sommateur 45 et une deuxième entrée reliée au générateur de fréquence 22 pour recevoir un signal d’amplitude en quadrature du signal de référence numérique de fréquence f0. Le multiplieur 54.2 a une deuxième entrée reliée au générateur de fréquence 22 pour recevoir le signal d’amplitude en quadrature du signal de référence numérique de fréquence f0 et une sortie reliée à une deuxième entrée du sommateur 45.
On note que le multiplieur 51.1 et le filtre passe-bas 52.1 forment un démodulateur synchrone du signal d’amplitude en phase du signal de référence numérique de fréquence f0 et que le multiplieur 51.2 et le filtre passe-bas 52.2 forment un démodulateur synchrone du signal d’amplitude en quadrature du signal de référence numérique de fréquence f0.
Chaque amplificateur 53.1, 53.2 est associé à une mémoire 55.1, 55.2 contenant un coefficient de gain réglable pour égaliser les gains des deux voies de traitement pour les valeurs proches de la fréquence de coupure des filtres.
Les mémoires 55.1 et 55.2 contiennent les valeurs de l’amplitude de la composante H1 (en I et en Q) du signal d’excitation du noyau magnétique 13. Ces valeurs seront utilisées pour injecter dans le signal restitué en sortie du convertisseur analogique/numérique un signal ayant ces valeurs en opposition de phase de manière à annuler la composante H1 d’excitation dans le signal restitué. En effet, l’excitation du noyau magnétique 13 par la composante H1 se retrouve à la sortie directe du convertisseur analogique/numérique et il faut donc la retirer pour ne pas fausser la mesure. Ce faisant, il est nécessaire de ne pas retirer une composante qui viendrait de l’extérieur (c’est-à-dire du courant à mesurer) et qui serait proche de la composante H1 d’excitation, ce que feraient les deux boucles 50.1 et 50.2 d’asservissement à 0 de H1 (ces boucles ne sont pas capables de distinguer un signal interne résultant de l’excitation d’un signal externe provenant du courant à mesurer). Les valeurs mémorisées sont obtenues lors d’une phase d’initialisation, sans courant externe (le courant Im est nul), en enregistrant les valeurs d’amplitude I et Q de la composante H1 d’excitation dans les mémoires 55.1 et 55.2 avec des coefficients déterminés pour doser les valeurs I et Q d’annulation de H1 comprenant exactement les valeurs reçues en sortie d’ADC, composantes issues de l’excitation.
Le sommateur 45 de la deuxième voie de traitement a une troisième entrée recevant le signal numérique de mesure Sm. La sortie du sommateur 45 est également reliée à une entrée d’un filtre passe-haut 46 ayant une sortie (formant la sortie de la deuxième voie de traitement) reliée à une deuxième entrée du sommateur 43. Le filtre passe-bas 46 est le strict complémentaire du filtre passe-haut 34.
On décrit maintenant le fonctionnement du capteur de courant à vanne de flux.
Parmi les comonomères solubles dans l'eau non ioniques, les exemples que l'on peut citer incluent :
- le N-vinylacétamide et le N-méthyl-N-vinylacétamide,
- le N-vinylformamide et le N-méthyl-N-vinylformamide,
- l'anhydride maléique,
- les N-vinyllactames comportant un groupement alkyle cyclique contenant de 4 à 9 atomes de carbone, tels que la n-vinylpyrrolidone, le N-butyrolactame et le N-vinylcaprolactame,
- les monomères vinyliques solubles dans l'eau de formule (B) ci-après :
- R 15 est chosi parmi H, -CH 3 , -C 2 H 5 et -C 3 H 7
- les alkyl éthers de type -OR 16 où R 16 est un radical hydrocarboné linéaire ou ramifié, saturé ou insaturé contenant de 1 à 6 carbones, facultativement substitué par un atome d'halogène (iode, brome, chlore ou fluor) ; un groupe hydroxyle (-OH) ; éther.
Parmi les comonomères hydrophobes exempts de chaîne grasse, les exemples que l'on peut citer incluent :
-le styrène et ses dérivés, tels que 4-butylstyrène, α-méthylstyrène et vinyltoluène,
Le dispositif serveur reçoit alors une information secrète à enrôler codée partielle C1 en provenance du dispositif client.
Le dispositif serveur génère alors une donnée de vérification partielle C0 en fonction des N nombres aléatoires serveur r i (étape 165). En particulier, la donnée de vérification partielle C0 peut en outre être générée à partir d'un générateur g d'un groupe fini. La donnée de vérification partielle C0 peut alors être générée au moyen de la fonction mathématique fct4 suivante : , r étant issu des N nombres aléatoires serveur r i . La donnée de vérification partielle C0 est une autre des composantes du chiffrement El Gamal.
L’étape 165 est suivie d’une étape de génération d'une information secrète à enrôler protégée M sur le dispositif serveur, à partir de l'information secrète à enrôler codée partielle C1, de la donnée de vérification partielle C0 et de la clé privée h (étape 170). Cette opération permet d’obtenir l’information secrète à enrôler protégée sans avoir accès à l’information secrète à enrôler en claire. L'information secrète à enrôler protégée M peut être générée au moyen de la fonction mathématique fct5 suivante : .
L’étape 170 est suivie d’une étape de traitement de l'information secrète à enrôler protégée M sur le dispositif serveur afin d’enrôler l’information secrète (étape 175).
Selon un premier mode de réalisation, le traitement de l'information secrète à enrôler protégée M comprend la mémorisation de l'information secrète à enrôler protégée M.
Selon un autre mode de réalisation particulier, le traitement de l’information secrète à enrôler protégée M comprend l’application d’une fonction de hachage sur l'information secrète à enrôler codée M (H(M)) et le résultat de la fonction de hachage est mémorisé dans le dispositif serveur au lieu de l'information secrète à enrôler protégée M.
Selon encore un autre mode de réalisation, le traitement de l’information secrète à enrôler protégée M comprend l’application d’une fonction de hachage cryptographique utilisant une clé privée de hachage Ks, sur l'information secrète à enrôler protégée M (HMAC[Ks](M)) et le résultat de la fonction de hachage cryptographique est mémorisé dans le dispositif serveur au lieu de l'information secrète à enrôler protégée.
Selon encore un autre mode de réalisation, le dispositif serveur comprend en outre une clé privée de hachage Ks et une clé privée de signature SKs. Dans ce mode de réalisation, le traitement de l'information secrète à enrôler protégée M comprend une étape de génération d’une empreinte de l'information secrète à enrôler protégée M à partir d’une fonction de hachage cryptographique, de la clé privée de hachage Ks et de l'information secrète à enrôler protégée M, une étape de génération d’une signature à partir de la clé privée de signature du dispositif serveur SKs, d’un identifiant d’un utilisateur et de l’empreinte générée et une étape d’envoi au dispositif client, de l’identifiant de l’utilisateur, de l’empreinte générée et de la signature générée.
Dans ce mode de réalisation, le dispositif client reçoit un identifiant d’utilisateur, une empreinte d’une information secrète à enrôler protégée et une signature provenant du dispositif serveur et une étape de mémorisation de l’identifiant d’utilisateur, de l’empreinte de l’information secrète à enrôler protégée et de la signature afin d’enrôler l’information secrète.
En référence à la , il est illustré un premier mode de réalisation d’un procédé d’acquisition et de vérification d’une information secrète mis en œuvre dans un dispositif client et un premier mode de réalisation d’un procédé d’acquisition et de vérification d’une information secrète mis en œuvre dans un dispositif serveur. L’information secrète devant être acquise et vérifiée comprend N symboles.
Les symboles peuvent être des caractères numériques ou des caractères alphanumériques avec ou sans les caractères de ponctuation. Les symboles peuvent également être des images, des icônes, des signes pour réaliser un motif, une séquence vidéo comprenant des objets visuels, ou des mots pouvant former une phrase.
Ces procédés peuvent faire suite aux précédés d’enrôlement précédemment décrits au regard de la . L’objet de ces procédés est de vérifier la correspondance entre l’information secrète acquise par un utilisateur et une information secrète protégée précédemment enrôlée afin par exemple d’autoriser un accès ou d’autoriser une opération si la correspondance est validée.
Le dispositif client peut comprendre au moins une clé secrète client S. A partir de la clé secrète client S, une pluralité N de clés secrètes client s i peuvent être générées, N étant la longueur de l’information secrète devant être vérifiée. En outre, le dispositif client peut comprendre un générateur d’un groupe fini g, par exemple d’au moins 2 L , L étant un paramètre de sécurité. Le dispositif client ayant exécuté le procédé de la préalablement à l’exécution du procédé d’acquisition et de vérification d’une information secrète dispose de la clé secrète client S et/ou de la pluralité de clés secrètes client.
Le dispositif serveur peut comprendre une paire de clés incluant une clé privée h et une clé publique H. Le dispositif serveur peut également comprendre le générateur d’un groupe fini g. Selon un mode de réalisation particulier, la clé publique H peut être générée à partir du générateur g et de la clé privée h, notamment au moyen de la fonction mathématique g h . La paire de clés correspond à la paire de clés du procédé d’enrôlement décrit au regard de la .
Tel qu’illustré, le procédé débute par une étape de génération d'un nombre aléatoire client α’ (étape 205). Le nombre aléatoire est généré à chaque exécution du procédé d’acquisition et de vérification d’une information secrète.
(a) afficher, dans un plan objet, une séquence de mires par une pluralité de pixels, chaque pixel émettant une séquence de valeurs de signal de ladite séquence de mires,
(b) acquérir une séquence d’images de ladite séquence de mire, dans un plan image d’un capteur du système optronique,
(c) associer pour chaque pixel du plan image, un pixel correspondant du plan objet, ledit pixel du plan objet émettant un signal capté par ledit pixel du plan image,
(d) déterminer un paramètre de qualité du système optronique à partir de l’association des pixels du plan image et des pixels du plan objet.
L’utilisation d’une séquence de mires, notamment, pour l’association ou l’appariement des pixels du plan objet et du plan image permet d’évaluer la qualité du système optronique de façon locale et sans nécessiter de moyenner les mesures sur l’image.
La séquence de mires peut être une séquence générée aléatoirement.
Les pixels dans le plan objet peuvent être tout type de source de signal lumineux, par exemple agencés en grille pour former une matrice de pixels.
Les valeurs de signal de la séquence de mires peuvent être les valeurs de l’intensité lumineuse émise par les pixels.
Le système optronique peut comprendre, en plus du capteur, des composants optiques comme des lentilles, des objectifs, etc., et un circuit électronique configuré par exemple pour commander le capteur et/ou traiter les images acquises par le capteur.
L’étape (a) peut comprendre l’affichage de la séquence de mires par un écran comprenant la pluralité de pixels du plan objet et disposé dans le plan objet. Un tel écran peut être tout type de modulateur spatial de lumière, par exemple un écran à cristaux liquides rétroéclairé (abrégé en LCD pour liquid crystal display en anglais). Le plan objet peut être le plan de dudit écran. L’écran peut être agencé en regard du capteur du système optronique. L’écran permet d’allumer et d’éteindre indépendamment les uns des autres chacun des pixels élémentaires du plan objet.
Les pixels du plan image peuvent être les pixels du capteur du système optronique.
L’étape (c) peut comprendre une mesure de similarité entre les valeurs de signal des pixels du plan image et les valeurs de signal des pixels du plan objet. Ainsi, pour chaque pixel du plan image une mesure de similarité est effectuée avec chacun des pixels du plan objet. Un pixel du plan objet peut être apparié à un pixel du plan image lorsque la mesure de similarité pour ces pixels est supérieure à un seuil déterminé.