Dispositif d’analyse élémentaire d’un échantillon à étudier, le dispositif comprenant : un socle (1) destiné à supporter un échantillon (2) à étudier ; un système de génération (3) d'un faisceau laser (31) destiné à impacter l’échantillon (2) pour générer un plasma (P) engendrant une émission optique (30), le système de génération (3) étant configuré pour focaliser le faisceau laser (31) dans une zone de focalisation (310) ; des moyens de collecte (4) de l’émission optique (30), comprenant une fibre optique (41) avec une extrémité libre (410) s’étendant selon un premier axe optique (411) orienté vers la zone de focalisation (310) ; des moyens de projection (5) d’un jet de gaz sur l’échantillon (2) à étudier, comprenant une aiguille de projection (51) du jet de gaz présentant une portion terminale (510) s’étendant selon un axe de projection (511) orienté vers la zone de focalisation (310) ; caractérisé en ce que, selon une projection orthogonale sur un plan, dit plan de base (B), dans lequel s’inscrit le socle (1), la partie de l’axe de projection (511) située du côté de l’aiguille de projection (51) par rapport à la zone de focalisation (310) forme un angle (A1) inférieur ou égal à 90° avec la partie du premier axe optique (411) située du côté de la fibre optique (41) par rapport à la zone de focalisation (310). Dispositif selon la revendication précédente, caractérisé en ce que, selon une projection orthogonale sur le plan de base (B) dans lequel s’inscrit le socle (1), la partie de l’axe de projection (511) située du côté de l’aiguille de projection (51) par rapport à la zone de focalisation (310) forme un angle (A1) compris entre 30° et 90° avec la partie du premier axe optique (411) située du côté de la fibre optique (41) par rapport à la zone de focalisation (310). Dispositif selon la revendications précédente, caractérisé en ce que, selon une projection orthogonale sur le plan de base (B) dans lequel s’inscrit le socle (1), la partie de l’axe de projection (511) située du côté de l’aiguille de projection (51) par rapport à la zone de focalisation (310) forme un angle (A1) de 45° avec la partie du premier axe optique (411) située du côté de la fibre optique (41) par rapport à la zone de focalisation (310). Dispositif selon l’une quelconque des revendications précédentes, caractérisé en ce que, sur un plan, dit plan d’inclinaison, dans lequel s’inscrit l’axe de projection (511), et où le plan d’inclinaison est orthogonal au plan de base (B), l’axe de projection (511) forme un angle aigu (A3) inférieur ou égal à 30° par rapport au plan de base (B). Dispositif selon l’une quelconque des revendications précédentes, caractérisé en ce que, selon une projection orthogonale sur le plan de base (B), une extrémité débouchante (512) de l’aiguille de projection (51) est positionnée à une distance de la zone de focalisation (310) qui est supérieure à celle de l’extrémité libre (410) de la fibre optique (41) par rapport à la zone de focalisation (310). Dispositif selon l’une quelconque des revendications précédentes, caractérisé en ce que les moyens de projection (5) d’un jet de gaz sont configurés pour projeter le jet de gaz à un débit inférieur à 1 L.min -1 , préférentiellement avec un débit de 0,5 L.min -1 , et en ce que l’aiguille de projection (51) présente à sa portion terminale (510) un diamètre interne inférieur à 1 mm, préférentiellement égal à 0,5 mm. Procédé d’analyse élémentaire d’un échantillon à étudier, comprenant : - simultanément une étape projection d’un jet de gaz sur l’échantillon (2) à étudier, et une étape de focalisation d’un faisceau laser (31), dans une zone de focalisation (310), sur ledit échantillon (2) à étudier de façon à produire un plasma (P) sur la surface de cet échantillon, le jet de gaz étant projeté selon un axe de projection (511) orienté vers la zone de focalisation (310) ; - une étape d’analyse d’un spectre de l’émission optique émis par le plasma à l’aide d’une fibre optique (41) avec une extrémité libre (410) s’étendant selon un premier axe optique (411) orienté vers la zone de focalisation (310); - une étape de détermination à partir de cette analyse du spectre, de la composition élémentaire de l’échantillon ; caractérisé en ce que lors de l’étape de projection d’un jet de gaz, et selon une projection orthogonale sur un plan dans lequel s’inscrit la surface de l’échantillon, la partie de l’axe de projection (511) située du côté de l’aiguille de projection (51) par rapport à la zone de focalisation (310) forme un angle (A1) inférieur ou égal à 90° avec la partie du premier axe optique (411) située du côté de la fibre optique (41) par rapport à la zone de focalisation (310). Procédé selon la revendication précédente, caractérisé en ce que lors de l’étape de projection d’un jet de gaz, le jet de gaz est projeté à un débit inférieur à 1 L.min -1 , préférentiellement avec un débit de 0,5 L.min -1 , et à une vitesse supérieure à 21 m.s -1 , préférentiellement égale à 42 m.s -1 . Procédé selon l’une quelconque des revendications 7 et 8, caractérisé en ce qu’il comprend une étape de modification de la position de l’échantillon (2) à étudier selon un vecteur de déplacement (Sd) formant un angle inférieur ou égal à 90°, préférentiellement de 0°, par rapport à un vecteur de projection (Sp) du jet de gaz le long de l’axe de projection (511), selon une projection orthogonale sur un plan dans lequel s’inscrit la surface de l’échantillon (2).