Procédé de surveillance et de gestion des pertes par conduction d’un circuit électronique comprenant au moins un premier transistor (T1) et un second transistor (T2), le premier transistor (T1) et le second transistor (T2) étant couplés en parallèle, ledit procédé comprenant : une première étape E1) consistant à commander le premier transistor (T1) de sorte qu’il passe dans un état circuit fermé, et à mesurer un premier délai de fermeture du premier transistor (Df_T1) suite à la commande dans l’état circuit fermé dudit premier transistor (T1), une deuxième étape E2) consistant à commander le second transistor (T2) de sorte qu’il passe dans un état circuit fermé, la commande du second transistor (T2) dans un état circuit fermé intervenant après une première durée déterminée TM1, une troisième étape E3) consistant à commander le premier transistor (T1) de sorte qu’il passe dans un état circuit ouvert, et à mesurer un premier délai d’ouverture du premier transistor (Do_T1) suite à la commande dans un état circuit ouvert dudit premier transistor (T1), une quatrième étape E4) consistant à commander le second transistor (T2) de sorte qu’il passe dans un état circuit ouvert, la commande du second transistor (T2) dans un état circuit ouvert intervenant après une seconde durée déterminée TM2, une cinquième étape E5) consistant à commander le second transistor (T2) de sorte qu’il passe dans un état circuit fermé, et à mesurer un premier délai de fermeture du second transistor (Df_T2) suite à la commande dans l’état circuit fermé dudit second transistor (T2), une sixième étape E6) consistant à commander le premier transistor (T1) de sorte qu’il passe dans un état circuit fermé, la commande du premier transistor (T1) dans un état circuit fermé intervenant après une troisième durée déterminée TM3, une septième étape E7) consistant à commander le second transistor (T2) de sorte qu’il passe dans un état circuit ouvert, et à mesurer un premier délai d’ouverture du second transistor (Do_T2) suite à la commande dans un état circuit ouvert dudit second transistor (T2), une huitième étape E8) consistant à commander le premier transistor (T1) de sorte qu’il passe dans un état circuit ouvert, la commande du premier transistor (T1) dans un état circuit ouvert intervenant après une quatrième durée déterminée TM4, une neuvième étape E9) consistant à stocker dans une mémoire les valeurs du premier délai de fermeture du premier transistor (Df_T1), du premier délai d’ouverture du premier transistor (Do_T1), du premier délai de fermeture du second transistor (Df_T2), et du premier délai d’ouverture du second transistor (Do_T2), une dixième étape E10) consistant à exécuter les étapes E1) à E9) au moins n fois, et une onzième étape E11) consistant à effectuer une moyenne des n mesures du premier délai de fermeture du premier transistor (Df_T1), une moyenne des n mesures du premier délai d’ouverture du premier transistor (Do_T1), une moyenne des n mesures du premier délai de fermeture du second transistor (Df_T2), et une moyenne des n mesures du premier délai d’ouverture du second transistor (Do_T2), une douzième étape E12) consistant à effectuer m fois les étapes E1) à E11), et une treizième étape E13) consistant à comparer les m valeurs des n valeurs moyennées respectives, dans lequel lorsque au moins un résultat de la comparaison des m valeurs dérivent de p% de la valeur moyenne alors générer une alerte logicielle et dans lequel, lorsque un résultat de la comparaison des m valeurs des n valeurs moyennées du premier délai de fermeture du premier transistor (Df_T1), ou les m valeurs des n valeurs moyennées du premier délai d’ouverture du premier transistor (Do_T1), ou les m valeurs moyennées des n valeurs du premier délai de fermeture du second transistor (Df_T2), ou les m valeurs moyennées des n valeurs du premier délai d’ouverture du second transistor (Do_T2) dérive de p% alors n’activer le transistor correspondant à la valeur ayant dérivée qu’après l’autre transistor. Procédé de surveillance et de gestion des pertes par conduction d’un circuit électronique selon la revendication 1dans lequel si la dérive constatée des m valeurs des n valeurs moyennées dudit transistor activé uniquement en second continue une dérive semblable à celle constatée, par exemple supérieure à p% alors activer une alerte logicielle. Procédé de surveillance et de gestion des pertes par conduction d’un circuit électronique selon la revendication 2 dans lequel si la dérive des m valeurs des n valeurs moyennées dudit transistor activé uniquement en second présente une dérive inférieure à p% alors activer ledit transistor correspondant de nouveau en premier. Procédé de surveillance et de gestion des pertes par conduction d’un circuit électronique selon l’une quelconque des revendications 1 à 3, dans lequel la valeur de p% est égale à 10%. Procédé de surveillance et de gestion des pertes par conduction d’un circuit électronique selon la revendication 4 dans lequel si la dérive des m valeurs des n valeurs moyennées dudit transistor activé uniquement en second présente une dérive supérieure à p% alors désactiver ledit transistor. Procédé de surveillance et de gestion des pertes par conduction d’un circuit électronique selon l’une quelconque des revendications 1 à 5 dans lequel la fonction de traitement utilisée est une méthode mathématique des trois sigmas. Procédé de surveillance et de gestion des pertes par conduction d’un circuit électronique selon l’une quelconque des revendications 1 à 6 dans lequel au moins un des deux transistors est un transistor IGBT. Procédé de surveillance et de gestion des pertes par conduction d’un circuit électronique selon l’une quelconque des revendications 1 à 7 dans lequel au moins un des deux transistors est un transistor SiC/GaN.