On décrit maintenant un dimensionnement et une configuration du dispositif de test 2S qui permettent à ce dispositif de test d’imiter, pour l’ensemble d’alimentation électrique 1, le fonctionnement du propulseur 2 qui a été utilisé en tant qu’exemple par les inventeurs : - la résistance 25S peut être comprise entre 1 Ω (ohm) et 6 Ω, notamment sensiblement égale à 3,5 Ω ; - la résistance 26S peut être comprise entre 5 Ω et 20 Ω, notamment en étant sensiblement égale à la résistance de chauffage de neutraliseur 273 du propulseur 2 ; - la résistance additionnelle 23S peut être comprise entre 1 Ω et 6 Ω, notamment sensiblement égale à 3,5 Ω ; - la résistance additionnelle 22S peut être comprise entre 5 Ω et 20 Ω, notamment en étant sensiblement égale à la résistance de chauffage de cathode 26 du propulseur 2 ; - la résistance 21S peut être comprise entre 0,5 Ω et 0,9 Ω, notamment sensiblement égale à 0,7 Ω ; - la valeur d’inductance de la bobine 24S peut être comprise entre 1 mH (millihenry) et 50 mH, notamment en étant sensiblement égale à la valeur d’inductance de la bobine du système de confinement magnétique 23 du propulseur 2 ; - la valeur de capacité du condensateur C SAG peut être déterminée par calcul, à partir d’une modélisation de la capacité d’interaction qui existe entre la grille d’écran 24 et la grille d’accélération 25 du propulseur 2. Par exemple, elle peut être calculée selon la formule : C SAG = ε 0 ·A pla n /d + ε 0 ·(k AG ·A fr a nge_ A G )/d + ε 0 ·(k S G ·A fr a nge_ S G )/d. Dans cette somme, le premier terme correspond au condensateur plan qui est formé par les surfaces respectives de la grille d’écran 24 et de la grille d’accélération 25 qui sont en regard. A plan est alors l’aire de la surface de la grille d’écran 24 en dehors de ses trous, dans un plan qui est parallèle à la grille d’accélération 25, les deux grilles étant supposées avoir des trous qui sont un-à-un en vis-à-vis d’une grille à l’autre, d est la distance de séparation entre les deux grilles, et ε 0 est la permittivité du vide. Le deuxième terme est la capacité de frange de la grille d’accélération 25 par rapport à la grille d’écran 24, où k AG est un coefficient qui peut être pris sensiblement égal à 0,7 et A fr a nge_AG = N trous ·e AG ·π·d trou_AG , N trous désignant le nombre de trous de chacune des deux grilles, e AG désignant l’épaisseur la grille d’accélération 25 et d trou_ AG désignant le diamètre de chaque trou, supposé circulaire, de la grille d’accélération 25. De façon similaire, le troisième terme est la capacité de frange de la grille d’écran 24 par rapport à la grille d’accélération 25, où k S G est un autre coefficient qui peut aussi être pris sensiblement égal à 0,7 et A fr a nge_ S G = N trous ·e S G ·π·d trou_ S G , e S G désignant l’épaisseur la grille d’écran 24 et d trou_ S G désignant le diamètre de chaque trou, encore supposé circulaire, de la grille d’écran 24. Par exemple, la valeur de capacité du condensateur C SAG qui est calculée ainsi peut être sensiblement égale à 1100 pF (picofarad), lorsque la grille d’écran 24 et la grille d’accélération 25 du propulseur 2 ont les caractéristiques suivantes : diamètre de chacune des deux grilles qui est sensiblement égal à 27 cm (centimètre), distance d de séparation entre les deux grilles qui est sensiblement égale à 0,6 mm (millimètre), nombre N trous de trous par grille qui est sensiblement égal à 12000, épaisseur e AG de la grille d’accélération 25 qui est sensiblement égale à 1 mm, diamètre d trou_AG de chaque trou de la grille d’accélération 25 qui est sensiblement égal à 1,5 mm (millimètre), épaisseur e S G de la grille d’écran 24 qui est sensiblement égale à 0,25 mm, et diamètre d trou_ S G de chaque trou de la grille d’écran 24 qui est sensiblement égal à 1,9 mm (millimètre) ; - l’unité de mesure 19S peut être configurée pour mesurer le courant de décharge I d qui rentre dans le dispositif de test 2S par sa borne C14, et pour mesurer la tension électrique V anode de cette borne C14 par rapport à la borne C11, appelée tension de décharge, puis pour calculer la puissance de décharge P ion comme le produit du courant de décharge par la tension de décharge, avec un facteur de correction : P ion = K correction ·V anode ·I d . K correction est le facteur de correction. Il est saisi dans l’unité de mesure 19S et destiné à compenser un écart possible entre la puissance électrique qui est dissipée dans la résistance 21S du dispositif de test 2S et la puissance de décharge qui est dissipée dans l’enceinte à plasma 20 du propulseur 2 de type GIT. En l’absence d’écart, le paramètre K correction est égal à l’unité, mais il est en général compris entre 0,5 et 2 ; - le contrôleur 20S peut être configuré pour calculer la valeur du courant de faisceau I beam à partir de chaque résultat de mesure de la puissance de décharge selon la première fonction de transfert suivante : I beam = K beam ·P ion si la tension électrique positive V PHV qui est reçue par le dispositif de test 2 sur sa borne C1 est supérieure à un seuil d’extraction d’ions V PHV extr , et I beam = 0 A si la tension électrique positive V PHV est inférieure ou égale au seuil d’extraction d’ions V PHV extr . Par exemple, le seuil d’extraction d’ions V PHV extr peut être compris entre 0 V (volt) et 2000 V, notamment égal à 800 V. Pour obtenir une meilleure imitation du comportement électrique du propulseur 2 par le dispositif de test 2S, le coefficient K beam peut être calculé par le contrôleur 20S en fonction de la tension électrique négative V NHV qui est reçue par le dispositif de test 2S sur sa borne C2, selon la formule : K beam = K beam0 ·{1+[exp(V NHV - V NHVchange )]/100} si ce coefficient K beam est inférieur à une valeur maximale de coefficient K beammax , et K beam = K beammax sinon. Dans la formule précédente, les valeurs de la tension électrique négative V NHV et du paramètre de configuration V NHVchange sont exprimées en volts. K beam0 et K beammax sont deux autres paramètres de configuration du dispositif de test 2S. Par exemple, le paramètre de configuration V NHVchange peut être compris entre -300 V et -50 V, notamment égal à -200 V, le paramètre de configuration K beam0 peut être compris entre 1,0·10 -3 A/W (ampère par watt) et 1,0·10 - 2 A/W, notamment égal à 3,7·10 -3 A/W, et le paramètre de configuration K beam max peut être compris entre 0,10 A/W et 2,0 A/W, notamment égal à 0,50 A/W. Simultanément, le contrôleur 20S peut être configuré pour calculer la valeur du courant de grille d’accélération I NHV à partir de chaque valeur calculée pour le courant de faisceau I beam selon la seconde fonction de transfert suivante : I NHV = I beam /β, où β est un autre paramètre de configuration du dispositif de test 2S. Par exemple, le paramètre de configuration β peut être compris entre 10 et 200, notamment égal à 50. Les valeurs qui sont saisies dans le contrôleur 20S pour tous les paramètres de configuration du dispositif de test 2S qui viennent d’être cités peuvent avantageusement être sélectionnées afin que ce dispositif de test 2S imite fidèlement le comportement électrique du propulseur 2 vis-à-vis de l’ensemble d’alimentation électrique 1 ; et - la valeur du courant qui est produit par la source électrique 18S peut être comprise entre 100 µA (microampère) et 500 mA (milliampère), notamment sensiblement égale à 70 mA, dans les deux cas de fonctionnement en source de courant et en source de tension.