INPI-France/Brevets-Francais-2024-Chunked huggingface dataset:
La montre l’architecture d’un portefeuille matériel HW1 du type commercialisé par la demanderesse sous l’appellation «Nano S». Le portefeuille matériel HW1 comporte un élément sécurisé SE1 associé à un microcontrôleur MCU1. Le processeur MCU1 comporte une interface USB U1 et agit comme un dispositif proxy à l’égard de l’élément sécurisé SE1, pour la communication avec un dispositif hôte externe HDV exécutant une application compagnon (Cf. ). L’élément sécurisé SE1 possède son propre système d’exploitation OS sécurisé (micrologiciel) lui permettant d’exécuter des programmes d’application APP, et intègre un coprocesseur cryptographique CRY. Le portefeuille matériel HW1 comporte également un afficheur DISP1 et deux boutons B1, B2.
L’afficheur DISP1 et les boutons B1, B2 sont gérés par le microcontrôleur MCU1. Ces deux boutons jouent un rôle important dans la sécurisation de certaines opérations : l’utilisateur doit appuyer en même temps sur les deux boutons afin de manifester son accord ou consentement pour la réalisation ou la finalisation de ces opérations.
La illustre une deuxième architecture de portefeuille matériel HW2 du type commercialisé par la demanderesse sous l’appellation «Nano X», décrit plus en détail dans la notice d’information sur la sécurité «Ledger Nano X Security Target» publiée sur le site de l’Agence nationale de la sécurité des systèmes d'information (ANSSI).
(https://www.ssi.gouv.fr/uploads/2019/10/anssi-cible-cspn-2019_12en.pdf)
Le portefeuille matériel HW2 comporte, comme le portefeuille HW1, un élément sécurisé SE2, un microcontrôleur MCU2 équipé d’une interface USB U1, un écran DISP2 et deux boutons B1, B2. Il comporte en outre une batterie BAT rechargeable via l’interface USB et une interface de communication Bluetooth BT1 gérée par le microcontrôleur.
Comme précédemment, l’utilisateur doit appuyer en même temps sur les deux boutons afin de manifester son accord ou consentement lors la réalisation de certaines opérations sensibles, comme indiqué dans le document précité “Ledger Nano X Security Target”, paragraphe 1.2 «Terminology», ligne «Consent» : “Le concept de sécurité du Ledger Nano X est renforcé par l'utilisateur final. Dès qu'une opération sensible est requise, l'utilisateur final doit confirmer l'opération à l'aide des deux boutons ”.
A la différence du portefeuille matériel HW1, l’écran DISP2 et les boutons B1, B2 du portefeuille matériel HW2 sont gérés directement par l’élément sécurisé SE2, ce qui apporte un degré de sécurité supplémentaire en cas de corruption du microcontrôleur MCU2. Ainsi, les signaux reçus par l’élément sécurisé SE2, indiquant que l’utilisateur exerce en même temps une pression sur les deux boutons B1, B2, ne peuvent être falsifiés par le microcontrôleur. De même, les informations présentées à l’utilisateur par l’écran DISP2, par exemple le montant d’une transaction devant être validé par l’utilisateur, ne peuvent être falsifiées.
En résumé, dans un portefeuille matériel pour le stockage à froid de clés privées au sens de la présente demande, le microcontrôleur associé à l’élément sécurisé n’exécute aucun programme d’application et a pour seule fonction de gérer des périphériques de communication, USB, Bluetooth, etc. ainsi que d’autres périphériques (batterie, chargeur de batterie, etc.). Tous les programmes d’application sont exécutés par l’élément sécurisé.
Compte tenu de ce qui précède, la conception et la fabrication d'implémentations du sujet et les opérations décrites dans cette spécification peuvent être réalisées à l'aide de circuits électroniques numériques, ou dans un logiciel informatique, un micrologiciel ou du matériel, y compris les structures décrites dans cette spécification et leurs équivalents structurels, ou en combinaison d'un ou plusieurs d'entre eux.
Par exemple, le matériel peut inclure des processeurs, des microprocesseurs, des circuits électroniques, des composants électroniques, des circuits intégrés, etc.
Les implémentations de l'objet décrit dans cette divulgation peuvent être réalisées à l'aide d'un ou plusieurs programmes informatiques, c'est-à-dire un ou plusieurs modules d'instructions de programmes informatiques, codés sur un support de stockage informatique pour exécution par, ou pour contrôler le fonctionnement d'un appareil de traitement de données.
Alternativement ou en plus, les instructions de programme peuvent être codées sur un signal propagé généré artificiellement, par exemple, un signal électrique, optique ou électromagnétique généré par une machine qui est généré pour coder des informations à transmettre à un appareil récepteur approprié pour exécution par un appareil de traitement de données.
Un support de stockage informatique peut être, ou être inclus dans, un dispositif de stockage lisible par ordinateur, un substrat de stockage lisible par ordinateur, une matrice ou un dispositif de mémoire à accès aléatoire ou série, ou une combinaison d'un ou plusieurs d'entre eux.
De plus, alors qu'un support de stockage informatique n'est pas un signal propagé, un support de stockage informatique peut être une source ou une destination d'instructions de programme informatique codées dans un signal propagé généré artificiellement.
Le support de stockage informatique peut également être, ou être inclus dans, un ou plusieurs composants ou supports physiques séparés (par exemple, plusieurs CD, disques ou autres dispositifs de stockage).
Bien que la technologie de fabrication additive soit décrite ici comme permettant la fabrication d'objets complexes en construisant des objets point par point, couche par couche, généralement dans une direction verticale, d'autres procédés de fabrication sont possibles et dans le cadre du présent sujet.
Par exemple, bien que la discussion ici se réfère à l'ajout de matériau pour former des couches successives, l'Homme du métier appréciera que les procédés et structures décrits ici peuvent être mis en pratique avec n'importe quelle technique de fabrication additive ou autre technologie de fabrication.
Les aspects des inventions décrites peuvent inclure un ou plusieurs exemples, modes de réalisation ou caractéristiques isolément ou dans diverses combinaisons, qu'ils soient ou non spécifiquement énoncés (y compris revendiqués) dans cette combinaison ou isolément.
La représente un panneau calorifuge 1 adapté pour une cuve étanche et thermiquement isolante connu de l’art antérieur ;
La représente un exemple de plaque métallique constituant une membrane d'étanchéité de l’art antérieur ;
La représente une vue en coupe d’un assemblage d’une bande d’ancrage sur un panneau au moyen d’un rivet tel que réalisé dans l’art antérieur ;
La représente une vue en coupe d’un premier mode de réalisation d’une bande d’ancrage selon l’invention ;
La représente une vue d’un deuxième mode de réalisation de la bande d’ancrage selon l’invention ;
Un tel marchepied permet de se rétracter en cas de choc, notamment avec un piéton.
Toutefois, le marchepied doit également satisfaire à la réglementation ECE42 applicable aux légers chocs latéraux. Cette réglementation prévoit l’absence de rupture, voire de déformation permanente sur le pare-chocs et notamment les supports de montage, la préservation d’étanchéité des phares, l’absence de fissure sur la peau du bouclier avant, l’absence de dommage à la structure, c’est-à-dire la caisse, la traverse avant, les longerons, etc…
Par légers chocs latéraux avant, on entend un choc survenant lorsque le véhicule roule à une vitesse comprise entre 2.5 km/h et 5km/h.
De manière générale, le marchepied doit assurer la protection des organes du véhicule en cas de léger choc latéral avant.
Ainsi, il existe un besoin d’améliorer les marchepieds de véhicule automobile.
L’objectif de l’invention est donc de pallier ces inconvénients et d’améliorer les marchepieds de véhicule automobile, afin de permettre à l’utilisateur de prendre appui pour accéder au parebrise, mais également d’assurer la protection des éléments de la structure du véhicule contre les chocs latéraux avant.
Par « choc latéral avant », on entend les chocs créés par les obstacles arrivant dans une zone située à un angle compris entre 15° et 30° par rapport au longeron correspondant.
La présente invention a pour objet un véhicule automobile comprenant au moins un longeron longitudinal s’étendant selon un axe longitudinal et une doublure reliée au longeron par un élément de liaison transversal.
Le véhicule automobile comprend au moins un dispositif de marchepied soudé directement au longeron longitudinal et à l’élément de liaison transversal.
Avantageusement, le dispositif de marchepied comprend une embase s’étendant selon un axe compris entre 20° et 45°, de préférence égal à 30° par rapport à l’axe longitudinal.
Par exemple, le dispositif de marchepied comprend une première patte de fixation verticale s’étendant selon un axe vertical depuis un côté latéral interne de l’embase.
Avantageusement, le dispositif de marchepied comprend un renfort arrière comprenant une portion centrale s’étendant selon un axe vertical depuis un côté arrière de l’embase et au moins une première patte latérale s’étendant depuis une extrémité latérale interne de la portion centrale du renfort arrière selon l’axe longitudinal vers la première patte de fixation verticale.
De plus, grâce au renfort arrière et au renfort latéral, les efforts en cas de choc latéral extérieur sont transmis à la doublure gauche.
Avantageusement, la patte latérale interne et la première patte de fixation verticale forment ensemble une première portion de fixation au longeron longitudinal, ladite première portion de fixation au longeron étant soudée via la patte latérale interne et la première patte de fixation verticale directement au longeron, c’est-à-dire sans interface supplémentaire.
Par exemple, le renfort arrière comprend une deuxième patte latérale comprenant une première partie s’étendant à partir d’une extrémité latérale externe de la portion centrale du renfort de manière oblique au moins vers l’arrière du véhicule, par exemple selon un angle compris entre 100° et 145° par rapport à l’axe de ladite portion centrale, par exemple égal à 120 et une deuxième partie s’étendant depuis la première portion selon un axe transversal vers l’extérieur.
Le détecteur Det détecte séquentiellement dans le temps le premier signal référence, le signal d’intérêt et le deuxième signal de référence. Cette détection génère un premier profil mesuré référence de PS1ref, un profil mesuré d’intérêt PSech, et un deuxième profil mesuré de référence PS2ref tels qu’illustrés . L’abscisse des profils est l’indice i des pixels Pi du détecteur et l’ordonnée est une intensité détectée pour chaque pixel, respectivement I1i, I0i et I2i.
Pour pouvoir mesurer λc avec une très grande précision, on cherche à obtenir sa position Pech avec une précision meilleure que le pixel du détecteur, c’est-à-dire mesurée en fraction de l’indice i entier. De même pour les positions P1ref et P2ref. Pour cela selon un mode de réalisation l’étape D de traitement comprend la sous étape consistant à ajuster les valeurs des profils mesurés référence PS1ref et PS2ref et du profil mesuré d’intérêt PSech avec des fonctions mathématiques connues, de manière à déterminer par interpolation les positions d’intérêt et de référence avec une précision inférieure au pixel, tel qu’illustré .
Ainsi, on détermine des profils théoriques, le premier profil théorique de référence PST1ref, le deuxième profil théorique de référence PST2ref et le profil théorique d’intérêt PSTech, également illustrés , qui s’ajustent au mieux avec les points expérimentaux. Typiquement les fonctions mathématiques utilisées sont choisies parmi : Gaussienne, Lorentzienne, Voigt.
On voit sur la que sans cet ajustement les positions déterminées correspondraient au pixel k du maximum du spectre mesuré. On ne peut alors avoir une précision en longueur d’onde meilleure que l’intervalle entre deux pixels adjacents. Grâce à ces profils théoriques les postions P1ref, P2ref et Pech sont déterminées en fraction de pixels (typiquement avec une précision à la deuxième décimale) et la précision est grandement améliorée.
Selon un mode de réalisation, le signal lumineux issu de l’échantillon SLref est impulsionnel. Préférentiellement le signal lumineux issu de l’échantillon SLech provient d’une émission d’un plasma émis par l’échantillon illuminé par un laser impulsionnel.
Selon un mode de réalisation, la méthode selon l’invention est associée à la mise en œuvre de la technologie LIBRIS, c’est-à-dire qu’elle est adaptée pour la mesure précise d’un rapport isotopique d’un élément présent dans l’échantillon Ech. Le signal lumineux SLech provient d’une émission d’un plasma Pl émis par l’échantillon Ech, illuminé par un laser impulsionnel L. La longueur d’onde centrale d’intérêt correspond à une raie résultant des contributions de deux isotopes de l’élément, et la valeur précise de la longueur d’onde centrale d’intérêt λc permet de déterminer le rapport isotopique comme expliqué ci-dessus. Préférentiellement dans l’étape B on synchronise le détecteur Det avec le laser L.
Le système 10 selon l’invention est illustré . Il comprend un spectromètre Spectro associé au détecteur Det, celui-ci comprenant une pluralité de pixels Pi alignés selon une direction X. Typiquement le détecteur est de type CCD intensifiée. Un exemple est i indice du pixel variant de 1 à 2048. Lorsque le détecteur est matriciel préférentiellement les intensités sont sommées dans la direction verticale des colonnes.
Le système est en outre configuré pour que le détecteur Det détecte à un instant t1 le premier profil mesuré de référence PS1ref issu de la source de référence Sref, puis à un instant t0 le profil mesuré d’intérêt PSech issu dudit échantillon d’intérêt, puis à un instant t2 le deuxième profil mesuré de référence PS2ref issu de la source de référence Sref. Pour cela selon un mode de réalisation illustré on déplace l’entrée E d’une fibre optique Fop en fonction du signal que l’on souhaite détecter, puis on procède à la mesure avec le spectromètre.
Le système comprend en outre une unité de traitement UT configurée pour mettre en œuvre les étapes D, E et F.
La source Sref est choisie en fonction de la longueur d’onde λc d’intérêt: il faut en effet que λref soit suffisamment proche de λc pour que les deux longueurs d’onde puissent être détectées sur le détecteur sans changement du réglage du spectromètre. Typiquement Sref est une lampe à cathode creuse, qui émet peu de photons de manière continue. Le signal issu de l’échantillon étant typiquement intense et de courte durée, les paramètres d’acquisition du système de détection sont dans ce cas différents pour la détection des deux signaux (issus de la référence et de l’échantillon).
Selon un mode de réalisation, le système 10 selon l’invention est adapté pour la mesure d’un rapport isotopique d’un élément présent dans l’échantillon, tel qu’illustré . Le système comprend en outre un laser impulsionnel L configuré pour illuminer l’échantillon de manière à générer le plasma Pl apte à émettre le signal lumineux SLech issu de l’échantillon. Il comprend également une fibre optique FOp configurée de sorte que l’entrée collecte soit un signal lumineux issu de l’échantillon, soit un signal lumineux issu de la source de référence, et sa sortie S est couplée à une entrée du spectromètre Spectro.
L’unité de traitement UT est configurée pour synchroniser le détecteur Det avec le laser L lors de la détection du profil mesuré d’intérêt, la longueur d’onde centrale d’intérêt correspondant à une raie résultant des contributions de deux isotopes de l’élément, la valeur de la longueur d’onde centrale d’intérêt permettant de déterminer l’abondance isotopique.
Dans l’exemple de la , la première protubérance 50 s’étend de manière continue le long d’un premier lacet 66. La deuxième protubérance 54 s’étend de manière continue le long d’un deuxième lacet 68. La troisième protubérance 58 s’étend de manière continue le long d’un troisième lacet 70.
De préférence, comme illustré sur la , chaque lacet 64 s’étend dans un plan sensiblement perpendiculaire à la direction axiale A. Chaque lacet 64 est alors circulaire et chaque protubérance 42 présente alors une forme annulaire. Le creux 46 correspondant du côté de la surface externe 40 de la paroi latérale 32 est une rainure annulaire.
La profondeur de la rainure annulaire, prise selon une direction d’appui R, est de préférence constante tout autour de la direction axiale A. La profondeur est par exemple comprise entre 0,1 mm et 0,7 mm afin de compenser le jeu entre le faisceau électrochimique et le conteneur 12.
En variante (non représenté), un ou plusieurs lacets 64 s’étendent dans un plan oblique formant un angle compris entre 5° et 85° avec un plan perpendiculaire à la direction axiale A. Le ou chaque lacet 64 a alors une forme elliptique.
Dans l’exemple illustré sur la , la première protubérance 50, la deuxième protubérance 54 et la troisième protubérance 58, et donc les rainures annulaires correspondantes, sont espacées les unes des autres axialement
Un procédé de fabrication d’un élément électrochimique 10 de batterie tel que décrit ci-dessus va maintenant être décrit, notamment en référence à la .
On procède tout d’abord à la fabrication du faisceau électrochimique 14 en empilant l’électrode de première polarité 24, l’électrode de deuxième polarité 26 et les séparateurs 28, 30 sous forme dépliée. Puis, on enroule en spirale ces parties du faisceau électrochimique 14 autour du noyau central 22.
On connecte ensuite électriquement l’électrode de première polarité 24 à la borne 16.
On place ensuite le faisceau électrochimique 14 dans le volume intérieur 36 du conteneur 12.
On ferme ensuite le volume intérieur 36 en fixant le couvercle 20 sur le conteneur 12.
A ce stade, le faisceau électrochimique 14 est apte à se déplacer à l’intérieur du conteneur 12 selon la direction axiale A et selon la direction d’appui R.
On forme alors la première protubérance 50 pour bloquer selon la direction axiale A et selon la direction d’appui R le déplacement du faisceau électrochimique 14 par rapport au conteneur 12.
Pour ce faire par exemple, on dispose l’élément électrochimique 10 de batterie à l’intérieur d’un dispositif de rainurage 100 ( ).
Par exemple, le dispositif de rainurage 100 comprend un support 102 définissant un logement 104 recevant l’élément électrochimique 10, un premier galet d’appui 106, un deuxième galet d’appui 108 et un galet de rainurage 110, tous trois montés sur le support 102. Chacun des premier et deuxième galets d’appui 106, 108 est mobile en rotation par rapport au support 102 respectivement autour d’un premier axe de rotation R1 et d’un deuxième axe de rotation R2. Le premier axe de rotation R1 et le deuxième axe de rotation R2 sont sensiblement parallèles entre eux.
Le galet de rainurage 110 est mobile en rotation par rapport au support 102 autour d’un axe de rotation de rainurage R3. L’axe de rotation de rainurage R3 est sensiblement parallèle au premier axe de rotation R1 et au deuxième axe de rotation R2.
Le galet de rainurage 110 comprend au moins une surface d’appui de rainurage 112 destinée à être en contact avec la paroi latérale 32 du conteneur 12 et à déformer ladite paroi latérale 32.
Selon un mode de réalisation adapté pour un signal SLech impulsionnel et provenant d’un plasma, pour l’obtention de la séquence temporelle, dans une pré-étape de calibration on ajuste la luminosité de Sref pour que l’intensité de SLref détectée pendant le temps Ds soit négligeable, c’est-à-dire non détectable par rapport au bruit.
Pour la mise en œuvre de la séquence temporelle ST, on s’arrange pour que le signal SLech corresponde au dernier tir du laser L et on synchronise le détecteur avec le dernier tir. La durée Ds est de l’ordre de la µs ou la dizaine de µs et limitée par la fréquence f du laser. Puis après une durée Dint qui peut être très faible, le détecteur est configuré pour détecter SLref pendant une fenêtre temporelle Dref typiquement de l’ordre de la s ou quelques s. Dans ce mode de réalisation il n’y a pas besoin d’obturateurs, le signal SLref est toujours présent sur le détecteur même pendant la détection de SLech, SLref étant négligeable sur la fenêtre temporelle Ds et c’est le détecteur Det qui est programmé dans ce cas selon la séquence temporelle. La valeur de Dint est également limitée par la rapidité de l’électronique du système de détection.
Pour pouvoir mesurer λc avec une très grande précision on cherche à obtenir sa position Pech avec une précision meilleure que le pixel du détecteur. Pour cela selon un mode de réalisation l’étape de traitement comprend la sous étape consistant à ajuster les valeurs des profils mesurés référence PSref et d’intérêt PSech avec des fonctions mathématiques connues de manière à déterminer par interpolation les positions d’intérêt et de référence avec une précision inférieure au pixel. Ainsi, on détermine des profils théoriques respectivement de référence PSTref et d’intérêt PSTech qui s’ajustent au mieux avec les points expérimentaux, tel qu’illustré . Typiquement les fonctions mathématiques utilisées sont choisies parmi : Gaussienne, Lorentzienne, Voigt.
Grâce à ces profils les positions Pref et Pech sont déterminées en fraction de pixels (typiquement avec une précision à la deuxième décimale).
Selon un mode de réalisation, permettant une mesure encore plus précise, l’étape de détection séquentielle comprend en outre une détection additionnelle du signal référence dit additionnel Sref/add de sorte que la détection du signal échantillon à un instant t 0 soit temporellement encadrée par la détection du signal de référence Sref par exemple à t 1 0 , et du signal de référence additionnel Sref/add à t 2 >t 0 .
La séquence ST est alors par exemple: signal SLref pendant Dref / Dint / signal SLech pendant Ds / Dint / signal SLref/add pendant Dref.
Dans cette étape de détection, on génère également un profil mesuré référence additionnel PSref/add correspondant au signal SLref/add.
Dans l’étape de traitement des profils mesurés on détermine en outre une position de référence additionnelle Pref/add. Bien entendu l’ajustement avec une courbe théorique peut être appliqué pour la détermination de Pref/add. Du fait de la dérive du spectromètre les positions Pref et Pref/add sont légèrement différentes.
Dans l’étape de traitement, on détermine en plus la position de référence dite intermédiaire P0ref à l’instant t0 par interpolation, à partir des positions de référence Pref et de référence additionnel Pref/add, et à partir d’une loi de variation de la position de référence en fonction du temps prédéterminée, typiquement considérée comme linéaire. Grâce à cette interpolation on corrige la dérive du spectromètre entre les instants t 1 et t 0 ou entre les instants t 0 et t 2 . La position P0ref est ainsi plus précise que Pref obtenue par une seule détection du spectre de la source de référence à un instant antérieur ou postérieur à t 0 . Cela revient à se remettre dans un cas de quasi instantanéité de la détection de la référence et de l’échantillon.
Dans ce mode de réalisation particulier, l’étape de détermination de la longueur d’onde centrale d’intérêt s’effectue alors à partir de la différence Pech – P0ref.
Dans le cas linéaire on a :
Les paramètres a et b sont déterminés à partir des mesures aux temps t 1 et t 2 :
Ci-dessous sont brièvement présentés des résultats illustrant l’intérêt de la méthode de correction proposée. On utilise un spectromètre Jobin Yvon THR1000 muni d’un réseau à 2400 traits/mm centré à 670 nm. Le détecteur est une caméra intensifiée Andor iStar de 2048x512 pixels, avec une dispersion linéaire DL de 2.774 pm/pixel à 670 nm.
Le boîtier d’accessoires 58 est agencé dans un compartiment de la nacelle 24. La représente un boîtier d’accessoires 58 connu de l’état de la technique, qui reçoit divers équipements ou accessoires de la turbomachine.
Ces équipements, montés sur le boîtier 58, peuvent être des pompes à carburant, des générateurs électriques, un groupe de lubrification, un démarreur, des pompes hydrauliques, etc.