INPI-France/Brevets-Francais-2024-Chunked huggingface dataset:
Comme le coefficiente facilité d’apprentissage dépasse 2.5 (sa valeur maximale dans l’exemple), sa nouvelle valeur est fixée à 2.5. La force mémorielle est donc multipliée par 2.5 ce qui donne .
Le taux de connaissance (1) est supérieur au premier taux (seuil) de connaissance donc la proposition du rendu de la séquence n’est pas effectuée. Onzième rendu de l’élément audiovisuel :
Lors de l’apparition de l’entité nommée, à t+14j, le taux de connaissance est de .
Le taux de connaissance est supérieur au premier taux (seuil) de connaissance donc la proposition du rendu de la séquence est effectuée.
Dans l’exemple 1, le coefficient de facilité d’apprentissage peut être multiplié par 1.2 ou par 1.5. Il s’agit bien sûr d’un exemple et ce facteur multiplicatif peut bien sûr varier selon les implémentations, comme décrit plus longuement plus loin en lien avec la capacité mémorielle de l’utilisateur.
Ainsi, on aurait dans ce cas, dans l’exemple des figures 4a et 4b :
Ainsi, cela permet d’éviter d’ajouter une accélération horizontale lorsque l’accélération verticale est forte (Az1 ou Az4), en début de montée ou en fin de descente, et donc de limiter les efforts appliqués à la charge.
Une fois les temps t 4 et t 6 obtenus, le temps t 5 peut être obtenu de différentes manières. Par exemple, il peut être défini comme le temps médian de t 4 et t 6 : t 5 = (t 4 + t 6 ) / 2.
La trajectoire représentée aux figures 4a et 4b est cependant fournie à titre d’exemple uniquement, et d’autres trajectoires sont envisageables selon différents modes de réalisation de l’invention. Par exemple : les points de départ et d’arrivée peuvent être différents, et ne sont pas nécessairement situés dans des bacs. Par exemple, ils peuvent se situer sur une table, au sol, etc. la trajectoire peut être une trajectoire 3D, auquel cas le profil d’accélération horizontal est un profil 2D comprenant une composante en y ; la trajectoire peut comprendre plusieurs extrema locaux d’altitude, par exemple avec des phases successives de montée et de descente, auquel cas elle comprendra plus de phase d’accélérations et décélération verticales (une phase d’accélération et une phase de décélération verticale par phase de montée ou de descente) ; la trajectoire peut comprendre plusieurs phases d’accélération et de décélération horizontale ; l’accélération horizontale peut démarrer dès le début de la trajectoire (auquel cas t 4 = t 0 ) et/ou la décélération horizontale peut se terminer au point final (auquel cas t 6 = t f ) ; les valeurs de t 4 et t 6 peuvent de manière plus générale prendre des valeurs différentes selon les besoins opérationnels. t 4 et t 6 peuvent en particulier prendre des temps liés aux niveau d’accélération verticale ; l’à-coup prédéfini J peut être le même pour toutes les phases d’accélération ou de décélération, comme montré en , ou différent selon les phases (par exemple différent pour les phases horizontales ou verticales, pour les phases de montée ou de descente, etc.) ; les phase d’accélération et de décélération peuvent présenter des profils temporels différents de ceux montrés en , par exemple avec des à-coups variables sur la phase ; le temps t 5 peut être défini comme le temps médian de t 4 et t 6 , ou d’une autre manière.
La représente un second exemple de trajectoire dans un ensemble de modes de réalisation de l’invention.
La trajectoire représentée en est similaire à la trajectoire Traj4 représentée aux figures 4a et 4b, et ne diffère de Traj4 que par le calcul des temps t 4 et t 6 .
Par mesure de lisibilité, la représente les éléments suivantes de la trajectoire : un profil d’altitude Traj zx 5, représentant l’altitude en fonction de la position horizontale ; un profil temporel d’accélération horizontale Acc x 5 ; un profil temporel de position verticale (altitude) Pos z 5 ; un profil temporel de position horizontale Pos x 5.
Les conventions adoptées sont les mêmes que dans les figures 4a et 4b.
Comme dans l’exemple des figures 4a et 4b, la charge est ici déplacée d’un premier bas Bac 0 à un deuxième bac Bac f . Le premier bac Bac 0 et le deuxième bac Bac f ont tous les deux une hauteur h_bin.
Dans l’exemple de la , les temps t 4 et t 6 sont alors calculés comme : t 4 , le temps à partir duquel la phase d’accélération horizontale doit démarrer, pour que le centre de masse de la charge se soit déplacé au maximum d'une première distance horizontale margin_bin du point initial au moment où son altitude est supérieure ou égale à l’altitude du point initial plus la hauteur de bac h_bin (au temps t4’ dans cet exemple),; t 6 , comme le temps jusqu’auquel doit durer la phase de décélération horizontale, pour que le centre de masse de la charge soit au plus à une deuxième distance horizontale margin_pc au moment où son altitude est égale à l’altitude de point final plus hauteur de bac h_pc (au temps t6’ dans cet exemple),.
Ainsi, le mouvement horizontal n’a lieu que lorsque la charge est en dehors des bacs, ou proche de la sortie des bacs verticalement, comme montré sur le profil d’altitude Traj zx 5. Ainsi, la charge peut se déplacer sans risque de collision avec les bacs ou d’autres charges dans les bacs. Dit autrement, les marges margin_pc et margin_bin permettent d’avoir un mouvement limité dans les bacs, pour permettre un petit mouvement tout en évitant une collision avec une autre charge dans un bac.
Cet exemple est fourni à titre d’exemple illustratif et non limitatif uniquement, et d’autres manières de calculer les valeurs h_bin, margin_bin et margin_pc peuvent être utilisées selon différents modes de réalisation de l’invention. En particulier, les marges margin_bin et margin_pc, et donc les temps t 4 et t 6 peuvent être calculés de n’importe quelle manière qui permette d’éviter des obstacles en début et en fin de trajectoire. Par exemple, il est bien possible d’avoir des valeurs nulles pour margin_pc et margin_bin, auquel cas le mouvement horizontal n’a lieu que lorsque la charge est en dehors des bacs. Les valeurs de h_bin peuvent également être différentes pour le bac initial et le bac final, s’ils ont des hauteurs différentes par exemple.
Le procédé P6 est un exemple de procédé selon un ensemble de modes de réalisation de l’invention. Le procédé P6 comprend toutes les étapes du procédé P3, et est caractérisé en ce que l’étape S311 comprend les sous-étapes suivantes. Le procédé P6 permet d’obtenir différents paramètres d’une trajectoire telle que représentée en figures 4 et 5.
Dans l’exemple de la , les phases d’accélération comprennent une augmentation en valeur absolue de l’accélération selon un à-coup prédéfini, jusqu’à une accélération de valeur absolue maximale sur la première phase, et une diminution en valeur absolue de l’accélération selon l’à-coup prédéfini J.
Un exemple de réalisation d’un dispositif 100 de simulation d’ombrage sur au moins un panneau, ou module, photovoltaïque 200 est décrit ci-dessous en lien avec les figures 1 et 2. Le dispositif 100 peut être utilisé pour tout type de panneau photovoltaïque 200, c’est-à-dire comportant une ou des cellules photovoltaïques à base de semi-conducteurs, de matériaux organiques, hybrides, etc.
Le dispositif 100 comporte un support 102 configuré pour supporter le panneau photovoltaïque 200. Sur l’exemple décrit ici, le support 102 correspond à une table stabilisée. Selon un autre exemple, notamment lorsque le dispositif 100 est utilisé dans un environnement extérieur, le support 102 peut correspondre à un châssis, mobile ou fixe, sur lequel un ou plusieurs panneaux photovoltaïques sont disposés. D’autres types de support 102 sont envisageables, que le dispositif 100 soit utilisé en extérieur ou en intérieur.
Le dispositif 100 comporte en outre un dispositif 104 de projection d’ombre configuré pour être disposé en regard du panneau photovoltaïque 200 lors d’une simulation d’ombrage sur ce panneau 200. Le dispositif 104 peut être supporté par un deuxième support, non visible sur les figures. Ce dispositif 104 est avantageusement agencé de manière à avoir un espace, entre le dispositif 104 et le panneau photovoltaïque 200, par exemple compris entre 1 cm et 10 cm, et ainsi permettre une circulation d’air entre le panneau 200 et le dispositif 104 pour éviter un échauffement trop important du dispositif 104 dû à l’absorption d’une partie du flux lumineux reçu. Cet espace peut être obtenu en ajustant la distance entre le support 102 et le deuxième support.
Le dispositif 104 comporte une face d’entrée 106 destinée à recevoir une lumière incidente 107. Dans une première configuration, cette lumière incidente 107 peut correspondre à la lumière provenant du soleil, notamment lorsque le dispositif 100 est utilisé dans un environnement extérieur. Dans une deuxième configuration telle que représentée sur la , le dispositif 100 peut comporter une source lumineuse 108 configurée pour émettre cette lumière incidente 107 et illuminer la face d’entrée 106. De manière avantageuse, cette source lumineuse 108 est configurée pour émettre une lumière 107 conforme au spectre solaire AM 1.5 et/ou avec une puissance comprise entre 200 W/m² et 2000 W/m² (par exemple égale à 1000 W/m²). Selon un exemple de réalisation, la source lumineuse 108 correspond à une ou plusieurs lampes à Xénon couplée(s) à au moins un filtre (par exemple pour former un simulateur solaire de classe AAA).
Le dispositif 104 comporte en outre, comme cela est visible sur la , un polariseur 110, ou premier filtre polarisant, configuré pour polariser la lumière incidente 107 (qui est non polarisée) selon une première direction de polarisation. Sur l’exemple de la , la première direction de polarisation est par exemple parallèle à l’axe X visible sur cette figure. En variante, la première direction de polarisation pourrait être par exemple parallèle à l’axe Y visible sur la .
Le dispositif 104 comporte en outre un élément matriciel de polarisation 112 configuré pour recevoir la lumière polarisée selon la première direction de polarisation (portant la référence 109 sur la ), c’est-à-dire la lumière ayant traversé le polariseur 110, et modifier, en fonction d’un signal de commande représentatif d’un motif de l’ombre destinée à être projetée, la direction de polarisation de la lumière incidente sortant de différentes régions de l’élément matriciel de polarisation 112 indépendamment les unes des autres, et ainsi modifier l’angle de polarisation de la lumière 107 reçue.
De manière avantageuse, cet élément matriciel de polarisation 112 comporte une couche de cristaux liquides couplée à une matrice électronique de commande, par exemple une matrice active de transistors, par exemple de type TFT, ou une matrice passive formée d’une grille de fils conducteurs, commandant la polarisation appliquée pour chacune des régions de l’élément matriciel de polarisation 112. Dans ce cas, l’élément matriciel de polarisation 112 peut correspondre à une matrice, ou dalle, LCD (« Liquid Crystal Display » en anglais) telle que celles utilisées dans les écrans LCD. une couche de cristaux liquides à laquelle est ajoutée une matrice de transistors TFT qui font tourner l’angle de polarisation en fonction de la tension appliquée par la matrice de transistors.
L’élément matriciel de polarisation 112 comporte une multitude de régions pour chacune desquelles l’orientation des cristaux liquides peut être définie en fonction du signal électrique qui leur est appliqué par la matrice électronique de commande (non visible sur les figures). Chacune de ces régions va correspondre à un pixel d’une image lumineuse incluant l’ombre destinée à être projetée sur le panneau photovoltaïque 200. De manière avantageuse, les cristaux liquides de l’élément matriciel de polarisation 112 présentent la plus grande transmittance native possible. La résolution de l’élément matriciel de polarisation 112, c’est-à-dire la taille et le nombre des différentes régions de l’élément matriciel de polarisation 112, détermine la résolution spatiale de l’ombre projetée sur le panneau 200.
Le dispositif 104 comporte en outre un analyseur 114, ou deuxième filtre polarisant, configuré pour recevoir la lumière polarisée par l’élément matriciel de polarisation 112 (la lumière obtenue en sortie de l’élément matriciel de polarisation 112 porte la référence 111 sur la ) et la filtrer selon une deuxième direction de polarisation perpendiculaire à la première direction de polarisation. Sur l’exemple de la , la deuxième direction de polarisation est par exemple parallèle à l’axe Y visible sur cette figure. Le dispositif 104 délivre, sur une face de sortie 116 disposée du côté du panneau photovoltaïque 200, l’image lumineuse 113 incluant l’ombre projetée sur le panneau photovoltaïque 200.
Un exemple d’image lumineuse 113 projetée sur le panneau photovoltaïque est visible sur la . Dans cet exemple, l’image 113 comporte des parties lumineuses 115 et des parties opaques 117 formant l’ombre projetée sur le panneau 200. Les parties lumineuses 115 sont formées par les faisceaux lumineux ayant traversé les régions, ou pixels, de l’élément matriciel de polarisation 112 ayant modifié l’angle de polarisation de la lumière, et les parties opaques 117 sont formées par les faisceaux lumineux ayant traversé les régions, ou pixels, de l’élément matériel de polarisation 112 n’ayant pas modifié l’angle de polarisation de la lumière.
Ainsi, l’intensité lumineuse de chaque pixel de l’image lumineuse obtenue en sortie de la face 116 est modulée par la modification de polarisation réalisée (ou non) par l’élément matriciel de polarisation 112 au niveau chacune des régions de cet élément 112 correspondant à chacun de ces pixels. Lorsque, pour une de ces régions, l’élément matriciel de polarisation 112 ne modifie pas la polarisation de la lumière reçue au niveau de cette région, l’intensité lumineuse obtenue en sortie est nulle ou très faible car la lumière polarisée selon la première direction de polarisation est stoppée par l’analyseur 114. Par contre, lorsque l’élément matriciel de polarisation 112 modifie la polarisation de la lumière précédemment polarisée selon la première direction de polarisation de manière à ce que cette lumière devienne polarisée selon la deuxième direction de polarisation, cette lumière est alors intégralement ou quasiment intégralement transmise à travers l’analyseur 114. Entre ces deux extrêmes dont les valeurs correspondent au contraste obtenu, l’intensité lumineuse de chaque pixel de l’image obtenue sur la face de sortie 116 peut être modulée suivant que la direction de polarisation modifiée par l’élément matriciel de polarisation 112 soit plus ou moins proche de l’une des première et deuxième directions de polarisations, et moduler ainsi l’intensité de l’ombrage simulé. Cela a pour effet de contrôler spatialement l’intensité lumineuse au niveau de chaque pixel de l’image lumineuse obtenue sur la face de sortie 116.
Sur la , pour une meilleure compréhension, le polariseur 110, l’élément matriciel de polarisation 112 et l’analyseur 114 sont représentés comme étant espacés les uns des autres. En réalité, ces éléments sont disposés les uns contre les autres, avec d’éventuelles couches intermédiaires au moins partiellement transparentes disposées entre elles.
Dans une configuration particulière, le dispositif 104 peut comporter également une matrice de filtres colorés disposée par exemple entre l’élément matriciel de polarisation 112 et l’analyseur 114, ce qui permet par exemple de projeter sur le panneau 200 une image lumineuse d’une ou plusieurs couleurs particulières. Cela peut être avantageux lorsque le panneau 200 comporte des cellules photovoltaïques sensibles à la longueur d’onde de la lumière reçue, comme c’est par exemple le cas des cellules tandem. Il est également envisageable de réaliser des tests d’ombrage sur une seule couleur afin de maximiser l’absorption du panneau photovoltaïque, étant donné que certaines longueurs d’onde peuvent être mieux converties en électrons que d’autres.
Le dispositif 104 comporte en outre un dispositif électronique de commande 118 couplé électriquement à l’élément matriciel de polarisation 112 et configuré pour envoyer un signal de commande, représentatif d’un motif de l’ombre destinée à être projetée, à l’élément matriciel de polarisation 112. Sur l’exemple de la , le dispositif électronique de commande 118 comporte un ordinateur 120, ou plus généralement une unité de calcul, couplé à une carte vidéo 122 par une connexion 123 par exemple de type VGA (« Video Graphics Array » en anglais) ou HDMI (« High-Definition Multimedia Interface » an anglais, ou Interface Multimédia Haute Définition). La carte vidéo 122 transforme le flux de données vidéo transmis depuis l’ordinateur 120 en signaux d’affichage compatibles avec l’élément matriciel de polarisation 112. Les motifs d’ombre à projetés sur le panneau 200 peuvent être générés par un logiciel installé sur l’ordinateur 120.
Sur cet exemple, le dispositif électronique de commande 118 comporte également un carte d’interface 124 de type T-CON (« Time Controller » en anglais) munie de sorties couplées électriquement à des entrées de la matrice électronique de commande de l’élément matriciel de polarisation 112, et comprenant au moins une entrée couplée à la carte vidéo 122 par exemple par une connexion 125 de type LVDS (« Low Voltage Differential Signaling » en anglais, ou transmission différentielle basse tension). Cette carte d’interface 124 reçoit les données d’affichage et permet de séparer les signaux et d’effectuer le balayage des différentes régions, ou pixels, selon la résolution native de l’élément matriciel de polarisation 112.
L’ensemble des portes 3-14 est alors déplacé dans la chambre 9 à l’écart de l’accès 11 (flèche D2 sur la ) mettant le volume intérieur de la coque 2 en communication avec le volume intérieur de la chambre 9.
Puis, l’interface 6 est déplacée en direction de la coque 2 et s’accouple à la coque 2 à la place de la porte 3. A l’état accouplé, la tête de mesure 8 est immobilisée dans le volume de mesure définit par l’interface 6 et la coque 2 accouplée.
Puis, on injecte un gaz propre dans l’enceinte de transport, depuis l’extérieur de l’enceinte de transport, à travers le(s) port(s) de ventilation 4 de l’enceinte de transport, et on compte les particules (en temps réel/ simultanément) d’un échantillon gazeux prélevé par l’orifice de prélèvement 7 de l’interface 6 au cours de l’injection. L’échantillon gazeux est prélevé dans le volume de mesure par aspiration par la ligne de prélèvement. La quantité de particules contenues dans l’échantillon de gaz prélevé est déterminée en continu par le compteur de particules 5.
Le fait d’injecter un gaz propre dans un port de ventilation 4 permet de simuler les conditions à risque en production relatives la purge d’une enceinte de transport via le port de ventilation 4. Si un filtre à particules 4a du port de ventilation 4 pose un problème de contamination particulaire alors il peut être détecté par mesure du compteur à particules 5 dont le prélèvement est réalisé à l’intérieur de l’enceinte de transport. Les conditions du test sont les mêmes que celles d’utilisation en production. Le comptage des particules en temps réel permet en outre de ne pas réduire les cadences de production.
Selon un exemple de réalisation, le débit de gaz propre injecté par la au moins une buse d’injection 17 est supérieur au débit de gaz prélevé. Par exemple, le débit de gaz propre injecté dans la au moins une buse d’injection 17 est supérieur à 6 l/min (0,0001 m 3 /s), tel que supérieur à 30 l/min (1,8 m 3 /h ou 0,0005 m 3 /s), tel que supérieur à 50 l/min (3 m 3 /h ou 0,000833333), comme 80 l/min (4,8 m 3 /h ou 0,00133333 m 3 /s). Le fait d’injecter un débit de gaz propre supérieur au débit de gaz prélevé et à celui habituellement utilisé pour la purge des enceintes de transport dans les conditions de production, permet de contraindre légèrement plus les enceintes de transport qu’au cours des opérations de purge. Le décollage des particules du filtre à particules 4a pour le comptage est favorisé.
La durée d’injection est par exemple d’une minute par buse d’injection 17.
Selon un exemple de réalisation, on injecte simultanément dans tous les ports de ventilation 4 de l’enceinte de transport et on compte le nombre de particules au cours de cette injection. Cette méthode permet de définir un niveau global de propreté des filtres à particules 4a de l’enceinte de transport.
Selon un autre exemple de réalisation, on injecte séquentiellement dans les ports de ventilation 4, soit port par port à tour de rôle, soit par couple de deux ports à la fois ou plus, et on compte le nombre de particules au cours de chaque injection. Le séquençage permet de localiser le port de ventilation 4problématique.
Selon un exemple de réalisation, on identifie un défaut d’un port de ventilation 4, notamment dont le nombre de particules compté est anormalement élevé afin de savoir en particulier s’il est dû à un défaut du filtre à particules 4a, en mesurant la pression dans la ligne d’injection 16 via le capteur de pression 21 au cours d’une injection, et en la comparant avec une valeur de référence, obtenue par exemple dans la ligne d’injection 16 sans défauts déterminée lors de la mise au point ou par calcul.
L’écart entre la pression mesurée et la valeur de référence peut être significatif d’un défaut du port de ventilation 4. Une pression mesurée plus basse que la valeur de référence, par exemple inférieure à 20% de la valeur de référence, peut être révélateur d’un endommagement du filtre à particules 4a du port de ventilation 4 ou d’un élément fuyard dans le dispositif d’injection d’un gaz propre 15. Une pression mesurée plus élevée que la valeur de référence peut être révélateur d’un dysfonctionnement d’un clapet 4b du port de ventilation 4.
En effet, lors de l’injection du gaz propre par la buse d’injection 17 dans le port de ventilation 4, le filtre à particules 4a « freine » le gaz propre, ce qui se traduit par une augmentation de pression stabilisée en régime stable d’injection. Si le filtre à particules 4a est abimé, mal positionné ou absent, alors cette pression se stabilise à une valeur plus faible.
Ceci est illustré par le graphique de la montrant la pression en fonction du temps mesurée au cours d’une injection débutant à t0 dans une ligne d’injection 16 ayant un défaut (traits continus) et dans la ligne d’injection 16 sans défauts (traits pointillés).
On constate sur ce graphique que la pression mesurée dans la ligne d’injection 16 est bien inférieure à la valeur de référence de la ligne d’injection 16 sans défaut, au moins 20% plus basse, ici presque 50% plus faible, ce qui peut être caractéristique d’un défaut du filtre à particules 4a du port de ventilation 4.
Lorsque les mesures sont terminées, l’interface 6 est écartée de la coque 2 et l’enceinte de transport est refermée et libérée pour être envoyée soit au nettoyage, soit pour poursuivre l’opération de convoyage ou de stockage, selon son état de propreté.
DISSIPATEUR THERMIQUE DE BOITIER DE CIRCUIT INTEGRE Des modes de mise en œuvre et de réalisation concernent le domaine de la microélectronique, notamment le domaine du conditionnement (« packaging » en anglais) des circuits intégrés, et plus particulièrement les dissipateurs thermiques dans des boîtiers d’encapsulation.
Les dissipateurs thermiques permettent de dissiper la chaleur produite par la puce d’un circuit intégré lors de son fonctionnement vers l’extérieur du boîtier. En particulier, le dissipateur est collé sur la puce avec un matériau thermiquement conducteur permettant de transférer la chaleur de la puce vers le dissipateur thermique.
Dans des modes de réalisation, les nombres d’états de connectivité directe peuvent être ordonnés hiérarchiquement entre eux, selon une liste de connexions, du plus grand nombre d’états de connectivité directe noté au plus petit nombre d’états de connectivité directe noté .
Ainsi, l’identifiant de l’équipement de supervision 400, noté , peut être sélectionné parmi le ou les identifiants d’un dispositif 100-k dans le sous-ensemble associés au nombre d’états de connectivité directe maximal , c’est-à-dire tel que :
Il est à noter que plusieurs dispositifs 100-k dans le sous-ensemble peuvent éventuellement être associés au nombre d’états de connectivité directe maximal .