Procédé de test de composants électroniques comportant les étapes suivantes : excitation (4) d’au moins une des bornes d’un composant, mesure (6), après un temps d’attente réduit d’une valeur de réponse anticipée à au moins une des bornes du composant, estimation (7) d’une valeur de réponse stabilisée, correspondant à une valeur qui aurait été mesurée après un temps d’attente nominal (supérieur audit temps d’attente réduit), à partir de ladite valeur de réponse anticipée, vérification (8) d’une condition d’acceptation, pour ladite valeur de réponse stabilisée estimée, permettant d’évaluer la qualité du composant, caractérisé en ce que l’estimation (7) de ladite valeur de réponse stabilisée à partir de ladite valeur de réponse anticipée est réalisée par un algorithme d’apprentissage préalablement entraîné, lors d’une phase d’apprentissage (3), selon les étapes suivantes : détermination (31) d’un ensemble de composants de référence comportant un ou plusieurs composants, diminution du temps d’attente de façon itérative en partant dudit temps d’attente nominal, mesure (34) de plusieurs valeurs de réponse de chaque composant de l’ensemble de composant de référence, pour chaque temps d’attente, détermination (36) dudit temps d’attente réduit à partir des mesures obtenues, utilisation des mesures obtenues comme données d’apprentissage pour entraîner (37) l’algorithme d’apprentissage à estimer une valeur de réponse stabilisée, correspondant à une valeur qui aurait été mesurée après le temps d’attente nominal, à partir d’une valeur de réponse anticipée mesurée au temps d’attente réduit. Procédé de test selon la revendication 1 dans lequel la détermination (36) dudit temps d’attente réduit à partir des mesures obtenues comporte les étapes suivantes : définition d’au moins une métrique dont une valeur est déterminée, pour un temps d’attente donné, à partir d’au moins une partie des valeurs de réponse mesurées audit temps d’attente donné, détermination (361) d’une valeur de ladite au moins une métrique pour le temps d’attente nominal, pour chaque temps d’attente inférieur au temps d’attente nominal : détermination (362) d’une valeur de ladite au moins une métrique pour ledit temps d’attente, vérification (363) d’une condition de réduction en fonction de la valeur de ladite au moins une métrique pour le temps d’attente nominal et de la valeur de ladite au moins une moins une métrique pour ledit temps d’attente, le temps d’attente réduit est supérieur ou égal au temps d’attente le plus court à partir duquel la condition de réduction est remplie et inférieur ou égal au temps d’attente nominal. Procédé de test selon la revendication 2 dans lequel ladite au moins une métrique comporte une variance. Procédé de test selon l’une quelconque des revendications 1 à 3 dans lequel l’algorithme d’apprentissage est un algorithme d’apprentissage automatique. Procédé de test selon l’une quelconque des revendications 1 à 4 dans lequel l’algorithme d’apprentissage réalise au moins une interpolation. Procédé de test selon la revendication 5 dans lequel la au moins une interpolation est une interpolation polynomiale et/ou une interpolation de type spline cubique. Procédé de test selon l’une quelconque des revendications 5 à 6 dans lequel l’algorithme d’apprentissage réalise une interpolation entre des points de mesure correspondant à différents temps d’attente. Procédé de test selon l’une quelconque des revendications 5 à 7 dans lequel l’algorithme d’apprentissage réalise une interpolation entre des points de mesure à un temps d’attente donné. Procédé de test selon l’une quelconque des revendications 1 à 8 comprenant également une phase de relaxation (9) du temps d’attente, remplaçant le temps d’attente réduit par un temps d’attente relâché. Procédé de test selon la revendication 9 dans lequel ladite phase de relaxation (9) comporte les étapes suivantes : détermination (91) d’un autre ensemble de composants de référence pour la relaxation comportant un ou plusieurs composants, mesure (92) de plusieurs valeurs de réponse de chaque composant de l’ensemble de composants de référence pour la relaxation au temps d’attente nominal, augmentation du temps d’attente de façon itérative en partant du temps d’attente réduit, mesure (95) de plusieurs valeurs de réponse de chaque composant de l’ensemble de composants de référence pour la relaxation, pour chaque temps d’attente, détermination (97) dudit temps d’attente relâché à partir des mesures obtenues. Procédé de test selon la revendication 10 dans lequel la détermination (97) dudit temps d’attente relâché comporte les étapes suivantes : définition d’au moins une métrique de relâchement dont une valeur est déterminée, pour un temps d’attente donné, à partir d’au moins une partie des valeurs de réponse mesurées audit temps d’attente donné, détermination (971) d’une valeur de ladite au moins une métrique de relâchement pour le temps d’attente nominal, pour chaque temps d’attente supérieur ou égal au temps d’attente réduit, détermination (972) d’une valeur de ladite ou moins une métrique de relâchement pour ledit temps d’attente, vérification (973) d’une condition de relâchement en fonction de la valeur de ladite au moins une métrique de relâchement pour le temps d’attente nominal et de la valeur de ladite au moins une moins une métrique de relâchement pour ledit temps d’attente, le temps d’attente relâché est supérieur ou égal au temps d’attente le plus court à partir duquel la condition de relâchement est remplie et inférieur ou égal au temps d’attente nominal. Procédé de test selon la revendication 11 dans lequel ladite au moins une métrique de relâchement comporte une variance. Dispositif (2) comportant au moins un module de test (23), au moins un processeur (21) contrôlant ledit module de test et au moins une mémoire électronique (22) dans laquelle est mémorisé un produit programme informatique sous la forme d’un ensemble d’instructions de code à exécuter pour mettre en œuvre les étapes du procédé de test selon l’une quelconque des revendications 1 à 12.