Système (100) de correction d’une ligne de base d’un spectre Raman, le système (100) comprenant, - au moins un dispositif de spectroscopie Raman amplifiée par guide d’onde, dit capteur Raman sur puce (110), qui est conçu pour mettre en œuvre une technologie de spectroscopie Raman amplifiée par guide d’onde et qui, en réponse à l’irradiation d’au moins un rayonnement d’excitation sur un milieu fluide continu à étudier, dit milieu analyte, présentant au moins un premier indice de réfraction, est configuré pour acquérir un premier spectre optique, dit premier spectre Raman, qui comprend une pluralité de longueurs d’onde discrètes et qui est représentatif du milieu analyte, - au moins une mémoire (120), et - au moins un processeur (130), dans lequel, - le capteur Raman sur puce (110) comprend, - un substrat qui définit au moins une surface, et - au moins un guide d’onde optique, qui est formé dans un matériau de transmission optique, qui est disposé en tout ou partie sur ou dans le substrat, et qui est configuré pour guider au moins un faisceau lumineux à au moins une longueur d’onde de travail, - la mémoire (120) est configurée pour stocker, - une base de données (121) dont chaque enregistrement est configuré pour associer un facteur de correction avec un milieu analyte, un milieu de référence prédéterminé, une longueur d’onde de travail, un premier indice de réfraction du milieu analyte et un deuxième indice de réfraction du milieu de référence prédéterminé, chaque facteur de correction, - étant conçu pour corriger la ligne de base d’un deuxième spectre optique, dit deuxième spectre Raman, la ligne de base étant causée par le capteur Raman sur puce (110), lors de la génération du deuxième spectre Raman, en réponse à l’irradiation d’au moins un rayonnement d’excitation sur un milieu de référence prédéterminé qui présente au moins un deuxième indice de réfraction différent du premier indice de réfraction, le deuxième spectre Raman comprenant une pluralité de longueurs d’onde discrètes et étant représentatif du milieu de référence prédéterminé, - correspondant, pour chaque longueur d’onde du premier spectre Raman, à un rapport entre, d’une part, un premier paramètre, dit premier paramètre de rendement de conversion Raman, qui décrit le rendement de conversion Raman du capteur Raman sur puce (110) dans le milieu de référence prédéterminé, et, d’autre part, un deuxième paramètre, dit deuxième paramètre de rendement de conversion Raman, qui décrit le rendement de conversion Raman du capteur Raman sur puce (110) dans le milieu analyte, et - des instructions exécutables (122) par processeur qui implémentent, - une étape de correction du deuxième spectre Raman à partir d’au moins un facteur de correction, de manière à obtenir un deuxième spectre Raman corrigé qui est représentatif de la ligne de base du premier spectre Raman, la ligne de base étant causée par le capteur Raman sur puce (110) lors de l’acquisition du premier spectre Raman, et - une étape de soustraction du deuxième spectre Raman corrigé du premier spectre Raman, - le processeur (130) est configuré pour exécuter les instructions exécutables (122). Dispositif semi-conducteur (200) de correction de correction d’une ligne de base d’un spectre Raman, le dispositif semi-conducteur (200) étant conçu pour mettre en œuvre une technologie de spectroscopie Raman amplifiée par guide d’onde, et étant configuré pour, en réponse à l’irradiation d’au moins un rayonnement d’excitation sur un milieu fluide continu à étudier, dit milieu analyte, présentant au moins un premier indice de réfraction, acquérir un premier spectre optique, dit premier spectre Raman, qui comprend une pluralité de longueurs d’onde discrètes et qui est représentatif du milieu analyte, le dispositif semi-conducteur (200) comprenant, - un substrat (210) qui définit au moins une surface, et - au moins un guide d’onde optique (220) qui est formé dans un matériau de transmission optique, qui est disposé en tout ou partie sur ou dans le substrat (210), et qui est configuré pour guider au moins un faisceau lumineux à au moins une longueur d’onde de travail, - au moins une mémoire (230) qui est configurée pour stocker, - une base de données dont chaque enregistrement est configuré pour associer un facteur de correction avec un milieu analyte, un milieu de référence prédéterminé, une longueur d’onde de travail, un premier indice de réfraction du milieu analyte et un deuxième indice de réfraction du milieu de référence prédéterminé, chaque facteur de correction, - étant conçu pour corriger la ligne de base d’un deuxième spectre optique, dit deuxième spectre Raman, qui est causée par le dispositif semi-conducteur (200), lors de la génération du deuxième spectre Raman, en réponse à l’irradiation d’au moins un rayonnement d’excitation sur un milieu de référence prédéterminé qui présente au moins un deuxième indice de réfraction différent du premier indice de réfraction, le deuxième spectre Raman comprenant une pluralité de longueurs d’onde discrètes et étant représentatif du milieu de référence prédéterminé, - correspondant, pour chaque longueur d’onde du premier spectre Raman, à un rapport entre, d’une part, un premier paramètre, dit premier paramètre de rendement de conversion Raman, qui décrit le rendement de conversion Raman du dispositif semi-conducteur (200) dans le milieu de référence prédéterminé, et, d’autre part, un deuxième paramètre, dit deuxième paramètre de rendement de conversion Raman, qui décrit le rendement de conversion Raman du dispositif semi-conducteur (200) dans le milieu analyte, et - des instructions exécutables (232) par processeur qui implémentent, - une étape de correction du deuxième spectre Raman à partir d’au moins un facteur de correction, de manière à obtenir un deuxième spectre Raman corrigé qui est représentatif de la ligne de base du premier spectre Raman, la ligne de base étant causée par le dispositif semi-conducteur (200) lors de l’acquisition du premier spectre Raman, et - une étape de soustraction du deuxième spectre Raman corrigé du premier spectre Raman, - au moins un processeur (240) qui est configuré pour exécuter les instructions exécutables (232). Procédé mis en œuvre par ordinateur de correction (300) de correction d’une ligne de base d’un spectre Raman, le procédé comprenant, - une première étape d’acquisition (310) d’un troisième spectre optique, dit troisième spectre Raman, par au moins un dispositif de spectroscopie Raman amplifiée par guide d’onde, dit capteur Raman sur puce (110), qui est conçu pour mettre en œuvre une technologie de spectroscopie Raman amplifiée par guide d’onde, en réponse à l’irradiation d’au moins un rayonnement d’excitation sur un milieu fluide continu à étudier, dit milieu analyte, présentant au moins un premier indice de réfraction, le troisième spectre Raman comprenant une pluralité de longueurs d’onde discrètes et étant représentatif du milieu analyte, le capteur Raman sur puce (110) comprenant, - un substrat qui définit au moins une surface, et - au moins un guide d’onde optique qui est formé dans un matériau de transmission optique, qui est disposé en tout ou partie sur ou dans le substrat, et qui est configuré pour guider au moins un faisceau lumineux à au moins une longueur d’onde de travail, - une deuxième étape d’acquisition (320) d’un quatrième spectre optique, dit quatrième spectre Raman, par le capteur Raman sur puce (110), en réponse à l’irradiation d’au moins un rayonnement d’excitation sur un milieu de référence prédéterminé qui présente au moins un deuxième indice de réfraction différent du premier indice de réfraction, le quatrième spectre Raman comprenant une pluralité de longueurs d’onde discrètes et étant représentatif du milieu de référence prédéterminé, - une étape de correction (330) du quatrième spectre Raman, par un processeur, à partir d’au moins un facteur de correction, permettant ainsi d’obtenir un quatrième spectre Raman corrigé qui est représentatif de la ligne de base du troisième spectre Raman, la ligne de base étant causée par le capteur Raman sur puce (110) lors de l’acquisition du troisième spectre Raman, le facteur de correction correspondant, pour chaque longueur d’onde du troisième spectre Raman, à un rapport entre, d’une part, un premier paramètre, dit premier paramètre de rendement de conversion Raman, qui décrit le rendement de conversion Raman du capteur Raman sur puce (110) dans le milieu de référence prédéterminé, et, d’autre part, un deuxième paramètre, dit deuxième paramètre de rendement de conversion Raman, qui décrit le rendement de conversion Raman du capteur Raman sur puce (110) dans le milieu analyte, et - une étape de soustraction (340), par un processeur, du quatrième spectre Raman corrigé du troisième spectre Raman. Procédé mis en œuvre par ordinateur de correction (300) d’une ligne de base d’un spectre Raman selon la revendication 3, dans lequel l’étape de correction (330) du quatrième spectre Raman comprend une multiplication du quatrième spectre Raman avec au moins un facteur de correction associé à une longueur d’onde du troisième spectre Raman. Procédé mis en œuvre par ordinateur de correction (300) d’une ligne de base d’un spectre Raman selon l’une quelconque des revendications 3 à 4, dans lequel on calcule, par un processeur, chaque facteur de correction sur la base d’une division du premier paramètre de rendement de conversion Raman par le deuxième paramètre de rendement de conversion Raman. Procédé mis en œuvre par ordinateur de correction (300) d’une ligne de base d’un spectre Raman selon l’une quelconque des revendications 3 à 5, comprenant en outre une étape de sélection (331), par un processeur, du facteur de correction dans une base de données (121) en fonction, au moins, du milieu analyte, du milieu de référence prédéterminé, du premier indice de réfraction du milieu analyte, du deuxième indice de réfraction du milieu de référence prédéterminé et de la longueur d’onde de travail. Procédé mis en œuvre par ordinateur de calcul (400) d’un facteur de correction destiné à être utilisé pour corriger une ligne de base d’un cinquième spectre optique, dit cinquième spectre Raman, acquis par au moins un dispositif de spectroscopie Raman amplifiée par guide d’onde, dit capteur Raman sur puce (110), qui est conçu pour mettre en œuvre une technologie de spectroscopie Raman amplifiée par guide d’onde, en réponse à l’irradiation d’au moins un rayonnement d’excitation sur un milieu fluide continu à étudier, dit milieu analyte, présentant au moins un premier indice de réfraction, le cinquième spectre Raman comprenant une pluralité de longueurs d’onde discrètes et étant représentatif du milieu analyte, le capteur Raman sur puce (110) comprenant, - un substrat qui définit au moins une surface, et - au moins un guide d’onde optique qui est formé dans un matériau de transmission optique, qui est disposé en tout ou partie sur ou dans le substrat, et qui est configuré pour guider au moins un faisceau lumineux à au moins une longueur d’onde de travail, le procédé mis en œuvre par ordinateur de calcul (400) d’un facteur de correction comprenant, - une étape d’acquisition (410) d’un sixième spectre optique, dit sixième spectre Raman, par le capteur Raman sur puce (110), en réponse à l’irradiation d’au moins un rayonnement d’excitation sur un milieu de référence prédéterminé qui présente au moins un deuxième indice de réfraction différent du premier indice de réfraction, le sixième spectre Raman comprenant une pluralité de longueurs d’onde discrètes et étant représentatif du milieu de référence prédéterminé, - une première étape de calcul (420), par un processeur, pour chaque longueur d’onde du cinquième spectre Raman, d’un premier paramètre, dit premier paramètre de rendement de conversion Raman, qui décrit le rendement de conversion Raman du capteur Raman sur puce (110) dans le milieu de référence prédéterminé, - une deuxième étape de calcul (430), par un processeur, pour chaque longueur d’onde du cinquième spectre Raman, d’un deuxième paramètre, dit deuxième paramètre de rendement de conversion Raman, qui décrit le rendement de conversion Raman du capteur Raman sur puce (110) dans le milieu analyte, et - une troisième étape de calcul (440), par un processeur, pour chaque longueur d’onde du cinquième spectre Raman, d’un facteur de correction qui correspond à un rapport entre le premier paramètre de rendement de conversion Raman et le deuxième paramètre de rendement de conversion Raman. Procédé mis en œuvre par ordinateur de calcul (400) d’un facteur de correction selon la revendication 7, dans lequel on réalise la première étape de calcul (420) et la deuxième étape de calcul (430) à partir d’une simulation optique d’au moins un mode optique du guide d’onde optique du capteur Raman sur puce (110). Procédé mis en œuvre par ordinateur de calcul (400) d’un facteur de correction selon l’une quelconque des revendications 7 et 8, dans lequel la troisième étape de calcul (440) comprend une division du premier paramètre de rendement de conversion Raman par le deuxième paramètre de rendement de conversion Raman. Procédé mis en œuvre par ordinateur de calcul (400) d’un facteur de correction selon l’une quelconque des revendications 7 à 9, comprenant en outre une étape de stockage (450), par un processeur, du facteur de correction dans une base de données (121) dont chaque enregistrement est configuré pour associer un facteur de correction avec un milieu analyte, un milieu de référence prédéterminé, une longueur d’onde de travail, un premier indice de réfraction du milieu analyte et un deuxième indice de réfraction du milieu de référence prédéterminé. Procédé mis en œuvre par ordinateur de calcul (400) d’un facteur de correction selon l’une quelconque des revendications 7 à 10, dans lequel le milieu de référence prédéterminé est un milieu fluide continu. Procédé mis en œuvre par ordinateur de calcul (400) d’un facteur de correction selon l’une quelconque des revendications 7 à 10, dans lequel le milieu de référence prédéterminé est un milieu solide continu.