Procédé d’analyse d’une surface réfléchissante (S) par déflectométrie, avec un système comprenant un afficheur (Disp) disposé de sorte que des images lumineuses affichées sur l’afficheur se réfléchissent sur ladite surface réfléchissante (S) et une optique d’imagerie (IO) configurée pour imager ladite surface sur un détecteur matriciel (Det), le procédé comprenant les étapes consistant à : A afficher successivement sur l’afficheur (Disp) n images lumineuses Ili indicée i avec n≥2, les n images lumineuses étant obtenues par n décalages spatiaux xi selon une direction X d’un même motif M(x), une image lumineuse Ili présentant une intensité lumineuse binarisée obtenue par tramage du motif M(x-xi), B détecter sur le détecteur matriciel (Det) n images Idi dénommées images détectées, obtenues par réflexion des n images lumineuses Ili sur la surface réfléchissante (S), C déterminer une fonction dite fonction de phase absolue objet (fap S ) à partir des n images détectées Idi, en appliquant une fonction mathématique g sur lesdites n images détectées, la fonction g et le nombre d’images n étant déterminés de sorte que la fonction de phase absolue soit bijective, la fonction g vérifiant en outre la relation : g(k.M) = g(M) avec k réel quelconque, D comparer la fonction de phase absolue objet (fap S ) à une fonction de phase absolue (fap Mref ) dite de référence, déterminée en remplaçant la surface (S) à caractériser par un miroir plan (Mref) définissant un plan (Pref) dit de référence, et en déduire des informations sur la forme de ladite surface. Procédé selon la revendication précédente dans lequel le motif est une sinusoïde, n=4, les quatre décalages spatiaux correspondent à des décalages de phase respectivement égal à 0, π/2, π, 3π/2. Procédé selon la revendication précédente dans lequel la fonction g est définie par : g= arctg[(fc4-fc2)/(fc1-fc3)] avec fci correspondant à n=4 variables, fci correspondant aux images détectées avec ladite surface réfléchissante pour le calcul de la fonction de phase absolue objet, et aux images détectées avec ledit miroir de référence pour le calcul de la fonction de phase absolue référence. Procédé selon l’une des revendications 2 ou 3 dans lequel chaque image lumineuse n’affiche qu’une période du motif sinusoïdal. Procédé selon la revendication 1 dans lequel le motif est une gaussienne, n=2, un premier décalage spatial correspondant à une gaussienne centrée sur un bord de l’image lumineuse Il1 et un deuxième décalage spatial correspondant à une gaussienne centrée sur un autre bord de l’image Il2, et dans lequel la fonction g est définie par : g=Ln(fc1) – Ln(fc2) avec fci correspondant à n=2 variables, fci correspondant aux images détectées avec ladite surface réfléchissante pour le calcul de la fonction de phase absolue objet, et aux images détectées avec ledit miroir de référence pour le calcul de la fonction de phase absolue référence. Procédé selon l’une des revendications précédentes dans lequel le motif est invariant par transformée de Fourrier. Procédé selon l’une des revendications précédentes dans lequel le tramage est réalisé par l’algorithme de Floyd-Steinberg. Procédé selon l’une des revendications précédentes dans lequel l’optique d’imagerie présente un axe optique confondu avec une normale au plan de référence, dans lequel lesdites images lumineuses éclairent ladite surface perpendiculairement audit plan de référence, dans lequel on définit : un centre optique O de l’optique d’imagerie, une distance Ddp positive entre l’afficheur et le plan de référence Pref et une distance Dpo positive entre le plan de référence et le centre optique O, et dans lequel l’étape D comprend les sous étapes consistant à : déterminer pour des points de la surface S, un angle β déterminé à partir du décalage entre la fonction phase absolue objet et la fonction phase absolue référence audit point de la surface, déterminer ladite pente α avec la formule suivante : Système (10) d’analyse d’une surface réfléchissante (S) par déflectométrie comprenant : un afficheur (Disp) disposé de sorte que des images lumineuses affichées sur l’afficheur se réfléchissent sur ladite surface réfléchissante (S), et configuré pour afficher successivement n images lumineuses Ili indicée i avec n≥2, les n images lumineuses étant obtenues par n décalages spatiaux xi selon une direction X d’un même motif M(x), une image lumineuse Ili(x,y) présentant une intensité lumineuse binarisée obtenue par tramage du motif M(x-xi), une optique d’imagerie (IO) et un détecteur matriciel (Det), l’optique d’imagerie étant configurée pour imager ladite surface (S) sur ledit détecteur matriciel, le détecteur matriciel étant configuré pour détecter n images Idi dénommées images détectées, obtenues par réflexion des n images lumineuses Ili sur la surface réfléchissante (S), une unité de traitement (PU) configurée pour : déterminer une fonction dite fonction de phase absolue objet (fap S ), à partir des n images détectées Idi, en appliquant une fonction mathématique g sur lesdites n images détectées, la fonction g et le nombre d’images n étant déterminés de sorte que la fonction de phase absolue soit bijective, la fonction g vérifiant en outre la relation : g(k.M) = g(M) avec k réel quelconque, comparer la fonction de phase absolue objet (fap S ) à une fonction de phase absolue (fap Mref ) dite de référence, déterminée en remplaçant la surface (S) à caractériser par un miroir plan (Mref) définissant un plan (Pref) dit de référence, et en déduire des informations sur la forme de ladite surface. Système selon la revendication précédente dans lequel l’optique d’imagerie présente un axe optique (OA) disposé perpendiculairement audit plan de référence, et dans lequel le système optique comprend en outre une lame séparatrice (BS) configurée pour envoyer lesdites images lumineuse sur ladite surface perpendiculairement audit plan de référence. Programme d'ordinateur comportant des instructions qui conduisent le système de la revendication 9 à exécuter les étapes du procédé selon l’une des revendications 1 à 8.