Procédé de caractérisation optique d’un échantillon (10) formé d’un milieu volumique et diffusant, le procédé comprenant : - une étape de positionnement dudit échantillon (10) dans un champ de vision d'un premier objectif de microscope (110), ledit objectif de microscope étant situé dans un bras objet d'un premier interféromètre (120), ledit premier interféromètre comprenant en outre un bras de référence; - une étape de génération, au moyen d’un dispositif d’illumination (130) comprenant une source lumineuse (132) à large bande spectrale, d’une première pluralité de N in ondes lumineuses incidentes présentant des fronts d’onde différents ; - pour chaque onde lumineuse incidente de front d’onde donné, une étape d’acquisition au moyen d’un détecteur (140), d’une deuxième pluralité ( ) de signaux d’interférence, chaque signal d’interférence résultant de l’interférence, sur un plan de détection du détecteur, entre une onde rétrodiffusée par l’échantillon illuminé par ladite onde lumineuse incidente, et une onde de référence issue du bras de référence, lesdits signaux d’interférence étant acquis pour fréquences différentes ou différences de marche différentes entre l’onde rétrodiffusée et l’onde de référence; - la détermination d’une matrice réflexion polychromatique ( comprenant l’ensemble des signaux d’interférence (N in x ) acquis pour les N in ondes lumineuses incidentes et fréquences; - la détermination numérique, par application d’un premier propagateur, à partir de ladite matrice réflexion polychromatique, d’au moins une première matrice de réflexion volumique focalisée ( , comprenant un ensemble de réponses de l’échantillon entre des points sources et des points de réception conjugués avec des voxels ( r in , r out ) de l’échantillon (10); - la détermination, à partir de ladite première matrice de réflexion volumique focalisée, d’au moins une cartographie d’un paramètre physique dudit échantillon. Procédé de caractérisation optique selon la revendication 1, dans lequel ladite au moins une cartographie d’un paramètre physique dudit milieu hétérogène comprend : une image confocale, une cartographie de la fonction d’étalement de l’énergie autour d’une pluralité de points de focalisation ( r p ) en réflexion (RPSF), une cartographie d’un taux de diffusion simple, une cartographie d’un taux de diffusion multiple, une cartographie de l’indice optique de l’échantillon. Procédé de caractérisation optique selon l’une quelconque des revendications précédentes, comprenant en outre : - la détermination à partir de ladite matrice de réflexion volumique focalisée d’une première image confocale en réflexion ( ; - la détermination, à partir de ladite matrice de réflexion volumique focalisée, d’une cartographie de la fonction d’étalement et la détermination d’une cartographie de la position du maximum d’intensité de chaque fonction étalement; - la détermination à partir de la première image confocale en réflexion et de ladite cartographie de la position du maximum d’intensité, d’une deuxième image confocale en réflexion ( corrigée d’un défaut d’alignement et/ou de mise au point du premier interféromètre. Procédé de caractérisation optique selon l’une quelconque des revendications précédentes, comprenant en outre : - à partir de ladite première matrice de réflexion volumique focalisée, la détermination d’une pluralité de cartographies de la fonction d’étalement pour une pluralité de valeurs d’un indice optique intégré de l’échantillon ; - à partir de ladite pluralité de cartographies de la fonction d’étalement, la détermination d’une pluralité de cartographies de la position du maximum d’intensité de la fonction d’étalement, chaque cartographie étant obtenue pour une valeur de l’indice optique intégré ; - la détermination d’une cartographie de la valeur optimale de l’indice optique intégré pour laquelle, en chaque point de focalisation, la valeur maximale d’intensité de la fonction d’étalement est la plus grande; - la détermination numérique d’un deuxième propagateur basé sur ladite cartographie de la valeur optimale de l’indice optique intégré; et la détermination d’une deuxième matrice de réflexion volumique focalisée utilisant ledit deuxième propagateur. Procédé selon la revendication 4, comprenant en outre, à partir de ladite cartographie de la valeur optimale de l’indice optique intégré, la détermination d’une cartographie de l’indice optique du milieu en chaque point de focalisation. Procédé de caractérisation optique selon la revendication 5, dans lequel ledit deuxième propagateur est déterminé sur la base de ladite cartographie de l’indice optique. Procédé selon l’une quelconque des revendications 4 à 6, comprenant en outre : - la détermination, à partir de la deuxième matrice de réflexion volumique focalisée, d’une matrice distorsion ( D ) définie entre une base de correction et une base focalisée, comprenant : - la projection, en entrée ou en sortie, de la deuxième matrice de réflexion volumique focalisée, dans la base de correction, pour obtenir une matrice de réflexion projetée( ) respectivement en entrée ou en sortie; - une détermination de la matrice distorsion par produit terme à terme entre ladite matrice de réflexion projetée et une matrice de réflexion de référence, définie pour un milieu de référence, dans ladite base de correction; - une détermination locale des invariants de ladite matrice distorsion, afin d’identifier, dans la base de correction, des lois d’aberration dans des sous domaines du champ de vision ; - l’estimation à partir desdites lois d’aberration, d’une matrice de transmission ( ) entre des voxels du champ de vision et la base de correction. Procédé de caractérisation optique selon l’une quelconque des revendications précédentes, dans lequel : - ladite source lumineuse est une source à longueur d’onde variable et pour chaque onde lumineuse incidente de front d’onde prédéterminé, les signaux d’interférence de ladite deuxième pluralité ( ) de signaux d’interférence sons acquis pour longueurs d’onde centrales de ladite onde lumineuse incidente et une différence de marche fixe entre le bras objet et le bras de référence du premier interféromètre. Procédé de caractérisation optique selon l’une quelconque des revendications 1 à 7, dans lequel : - pour chaque onde lumineuse incidente de front d’onde donné, les signaux d’interférence de ladite deuxième pluralité ( ) de signaux d’interférence sont acquis pour différences de marche entre le bras objet et le bras de référence du premier interféromètre. Procédé de caractérisation optique selon l’une quelconque des revendications précédentes, dans lequel les N in ondes lumineuses incidentes sont cohérentes spatialement et présentent des fronts d’onde contrôlés par des moyens de mise en forme spatiale du front d’onde. Procédé de caractérisation optique selon la revendication 10, dans lequel lesdites N in ondes lumineuses incidentes de la première pluralité d’ondes lumineuses sont des ondes planes présentant chacune un vecteur d’onde avec une direction différente. Procédé de caractérisation optique selon l’une quelconque des revendications 1 à 9, dans lequel ladite source lumineuse est une source à faible cohérence spatiale, le procédé comprenant en outre : - la génération, à partir de chaque onde lumineuse incohérente spatialement ou partiellement cohérente issue de la source lumineuse, et au moyen d’un deuxième interféromètre, de deux ondes d’illumination polarisées de polarisations orthogonales et présentant un décalage spatial dans un plan conjugué avec un plan focal (FP) du premier objectif de microscope; - la variation dudit décalage spatial pour générer les N in ondes incidentes de front d’onde différents ; - l’envoi, pour chaque décalage spatial, desdites ondes polarisées de polarisations orthogonales respectivement sur les bras objet et de référence dudit premier interféromètre au moyen d’un élément séparateur de polarisation (1121) ; - l’acquisition au moyen du détecteur (1140), de ladite deuxième pluralité ( ) de signaux d’interférence, chaque signal d’interférence résultant de l’interférence, sur le plan de détection du détecteur, entre une onde rétrodiffusée par l’échantillon illuminé par l’une desdites ondes polarisées de polarisations orthogonales, et une onde de référence générée par la réflexion de l’autre desdites ondes polarisées de polarisations orthogonales par un miroir de référence du bras de référence, lesdits signaux d’interférence étant acquis pour différences de marche différentes entre l’onde rétrodiffusée et l’onde de référence ; - ladite matrice réflexion polychromatique étant déterminée à partir de l’ensemble des signaux d’interférence (N in x ) acquis pour les N in décalages spatiaux et différences de marche. Système de caractérisation optique d’un échantillon (10) formé d’un milieu volumique et diffusant, comprenant : - un premier interféromètre (120) avec un bras objet et un bras de référence, le bras objet comprenant un premier objectif de microscope (110) avec un champ de vision donné dans lequel est positionné, en opération, l’échantillon (10); - un dispositif d’illumination (130) comprenant une source lumineuse (132) à large bande spectrale, configuré pour générer une première pluralité (N in ) d’ondes lumineuses incidentes présentant des fronts d’onde différents ; - un détecteur (140 ) configuré pour l’acquisition, pour chaque onde lumineuse incidente de front d’onde donné, d’une deuxième pluralité ( ) de signaux d’interférence, chaque signal d’interférence résultant de l’interférence, sur un plan de détection du détecteur, entre une onde rétrodiffusée par l’échantillon illuminé par ladite onde lumineuse incidente, et une onde de référence issue du bras de référence, lesdits signaux d’interférence étant acquis pour fréquences différentes ou différences de marche différentes entre l’onde rétrodiffusée et l’onde de référence; - une unité de traitement (150) configurée pour : - la détermination d’une matrice réflexion polychromatique ( , comprenant l’ensemble des signaux d’interférence (N in x ) acquis pour les N in ondes lumineuses incidentes et fréquences; - la détermination numérique, par application d’un premier propagateur, à partir de ladite matrice réflexion polychromatique, d’au moins une première matrice de réflexion volumique focalisée ( , comprenant un ensemble de réponses de l’échantillon entre des points sources et des points de réception conjugués avec des voxels ( r in , r out ) dudit échantillon (10); - la détermination, à partir de ladite première matrice de réflexion volumique focalisée, d’au moins une cartographie d’un paramètre physique dudit échantillon. Système de caractérisation optique selon la revendication 13, dans lequel ledit premier interféromètre est un interféromètre de Linnik et le bras de référence comprend un miroir de référence et un deuxième objectif de microscope. Système selon l’une quelconque des revendications 13 à 14, dans lequel : - la source lumineuse est une source à faible cohérence spatiale; et le dispositif d’illumination (1130) comprend - un deuxième interféromètre configuré pour générer à partir de chaque onde lumineuse incohérente spatialement ou partiellement cohérente issue de la source lumineuse, deux ondes d’illumination polarisées de polarisations orthogonales et présentant un décalage spatial dans un plan conjugué avec un plan focal (FP) du premier objectif de microscope (110); et - des moyens de variation du décalage spatial ; et dans lequel - ledit premier interféromètre (1120) est un interféromètre de Linnik et comprend - un élément séparateur de polarisation (1121) configuré pour envoyer respectivement sur les bras objet et de référence, chacune desdites ondes polarisées de polarisations orthogonales et présentant ledit décalage spatial ; - des moyens de variations de la différence de marche entre les bras objet bras de référence ; et dans lequel - chaque signal d’interférence de ladite deuxième pluralité ( ) de signaux d’interférence résulte de l’interférence, sur le plan de détection du détecteur, entre une onde rétrodiffusée par l’échantillon illuminé par l’une desdites ondes polarisées de polarisations orthogonales, et une onde de référence générée par la réflexion de l’autre desdites ondes polarisées de polarisations orthogonales par un miroir de référence du bras de référence, lesdits signaux d’interférence étant acquis pour différences de marche différentes entre l’onde rétrodiffusée et l’onde de référence ; - ladite matrice réflexion polychromatique est déterminée à partir de l’ensemble des signaux d’interférence (N in x ) acquis pour les N in décalages spatiaux et différences de marche.