Échantillon de détection, caractérisé en ce que il comprend une base d’échantillon, et une unité de défaut comprenant une plate-forme (8) et un accessoire (9), dans lequel la plate-forme (8) est disposée dans une rainure de la base d’échantillon, et aucun usinage n’est effectué dans la plate-forme, ou un premier défaut artificiel (6) d’une forme prédéfinie et/ou d’une taille prédéfinie est usiné dans la plate-forme, lorsque le premier défaut artificiel (6) est usiné dans la plate-forme (8), un second défaut artificiel (7) d’une forme prédéfinie et/ou d’une taille prédéfinie correspondant à la plate-forme (8) est usiné dans l’accessoire (9) qui est apparié et assemblé à la plate-forme (8), et le premier défaut artificiel (6) et le second défaut artificiel (7) sont joints l’un à l’autre pour former un défaut artificiel complet d’une forme prédéfinie et/ou d’une taille prédéfinie, ou lorsqu’aucun usinage n’est effectué dans la plate-forme (8), un second défaut artificiel (7) d’une forme prédéfinie et/ou d’une taille prédéfinie est usiné dans l’accessoire (9) qui est apparié et assemblé à la plate-forme (8), et le second défaut artificiel (7) forme à lui seul un défaut artificiel complet d’une forme prédéfinie et/ou d’une taille prédéfinie. Échantillon de détection selon la revendication 1, caractérisé en ce que lorsque le premier défaut artificiel (6) est usiné dans la plate-forme (8), le premier défaut artificiel (6) et le second défaut artificiel (7) ont chacun une forme de type non plan, de type plan ou de type composite non plan/plan. Échantillon de détection selon la revendication 1, caractérisé en ce que l’accessoire (9) a une forme trapézoïdale, et une taille d’un matériau résiduel de l’accessoire (9) après que le second défaut artificiel (7) a été usiné est supérieure à une pénétration de soudure d’une passe de soudage suivante à remplir. Échantillon de détection selon l’une quelconque des revendications 1 à 3, caractérisé en ce que des couches multiples et des joints de soudure à passages multiples sont déposés et remplis dans la rainure de l’échantillon de détection, une unité de détection de défaut est utilisée et disposée dans une passe de soudage quelconque, ou au niveau d'une jonction de passes de soudage, ou au niveau d'une jonction d’une passe de soudage et d’une surface de la rainure ; ou une pluralité d’unités de défaut est utilisée et répartie dans une pluralité de passes de soudage ou au niveau de différentes positions d’une passe de soudage. Procédé pour la fabrication d’un échantillon de détection, caractérisé en ce qu ’il comprend : le soudage et dépôt d’une passe de soudage dans une rainure d’une base d’échantillon de l’échantillon de détection ; la mise en place d’une unité de défaut dans la rainure, comprenant : l’usinage d’une plate-forme (8) au niveau d'une position prédéfinie dans la rainure de la base d’échantillon, et l’usinage d’un premier défaut artificiel (6) d’une forme prédéfinie et/ou d’une taille prédéfinie dans la plate-forme (8), ou aucun usinage n’est effectué dans la plate-forme (8) ; et l’usinage dans un accessoire (9), lorsque le premier défaut artificiel (6) est usiné dans la plate-forme (8), d’un second défaut artificiel (7) d’une forme prédéfinie et/ou d’une taille prédéfinie correspondant au premier défaut artificiel (6) dans la plate-forme (8), le montage de l’accessoire (9) sur la plate-forme (8), et la jonction du premier défaut artificiel (6) et du second défaut artificiel (7) pour former un défaut artificiel complet ; ou l’usinage dans l’accessoire (9), lorsqu’aucun usinage n’est effectué dans la plate-forme (8), d’un second défaut artificiel (7) d’une forme prédéfinie et/ou d’une taille prédéfinie, et la formation d’un défaut artificiel complet d’une forme prédéfinie et/ou d’une taille prédéfinie avec le second défaut artificiel (7) seul ; le soudage de façon précise, après le montage de l’accessoire (9) sur la plate-forme (8), d’interfaces de contact entre l’accessoire (9) et la plate-forme (8) en une structure d’un seul tenant ; et le soudage et le dépôt d’une passe de soudage ultérieure dans la rainure sur laquelle l’unité de défaut est prévue, pour former l’échantillon de détection.