Dispositif de caractérisation (D1) d’un échantillon piézoélectrique (E1) ayant une électrode inférieure (EL1) et une surface supérieure (S1), le dispositif comprenant : une pointe conductrice (P1) placée à une extrémité d’un levier (L1) et destinée à être placée en contact avec un point (N1) de la surface supérieure (S1) ; l’ensemble formé par la pointe, l’échantillon et l’électrode inférieure ayant une fréquence de résonance variable (f 0 ) ; un générateur de tension (G1) configuré pour appliquer, entre l’électrode inférieure (EL1) et la pointe conductrice (P1), un signal de caractérisation (V CAR ) à une première fréquence (f 1 ) ; une chaine d’acquisition (21) configurée pour générer un signal de mesure (V s ) de la réponse électromécanique de l’échantillon ; un circuit de commande (20) configuré pour commander le générateur de tension (G1) en générant un signal de commande (V cont ) à partir du signal de mesure (V s ) reçu par l’intermédiaire d’une boucle de rétroaction ; et la première fréquence (f 1 ) étant maintenue égale à la fréquence de résonance (f 0 ) par le circuit de commande (20). Dispositif de caractérisation (D1) selon la revendication 1 comprenant en outre un calculateur (CALC) configuré pour tracer une courbe d’hystérésis d’amplitude et/ou de phase associée au point (N1) à partir du signal de mesure (V s ). Dispositif de caractérisation (D1) selon l’une des revendications 1 ou 2 dans lequel le générateur (G1) est configuré pour générer en outre : un premier signal de redressement (V DFRT+ ) à une deuxième fréquence (f DFRT+ ) supérieure à la première fréquence (f 1 ) ; un second signal de redressement (V DFRT- ) à une troisième fréquence (f DFRT- ) inférieure à la première fréquence (f 1 ) ; les deux signaux de redressement (V DFRT- , V DFRT+ ) présentant respectivement une amplitude inférieure à celle du signal de caractérisation (V CAR ) et étant superposées avec le signal de caractérisation (V CAR ) ; et la deuxième fréquence (f DFRT+ ) et la troisième fréquence (f DFRT- ) étant équidistantes de la première fréquence (f 0 ). Dispositif de caractérisation (D1) selon la revendication 3 dans lequel le signal de mesure (Vs) comprend une première composante spectrale associée à la première fréquence (f 1 ), une seconde composante spectrale associée à la deuxième fréquence (f DFRT+ ) et une troisième composante spectrale associée à la troisième fréquence (f DFRT- ) ; et dans lequel le circuit de commande (20) comprend un premier filtre (FIL1) destiné à extraire la seconde composante spectrale (V s (f DFRT+ )) et un second filtre (FIL2) destiné à extraire la troisième composante spectrale (V s (f DFRT- )). Dispositif de caractérisation (D1) selon la revendication 4 dans lequel le circuit de commande (20) comprend un circuit comparateur (COMP) configuré pour estimer si l’amplitude de la seconde composante spectrale (V s (f DFRT+ )) est égale à celle de la troisième composante spectrale (V s (f DFRT- )). Dispositif de caractérisation (D1) selon l’une quelconque des revendications 4 ou 5 dans lequel le circuit de commande (20) comprend un régulateur (PID) pour générer le signal de commande (V cont ) de manière à maintenir une égalité entre l’amplitude de la seconde composante spectrale (V s (f DFRT+ )) et celle de la troisième composante spectrale (V s (f DFRT- )). Procédé de caractérisation (CARAC) d’un échantillon piézoélectrique (E1) ayant une électrode inférieure (EL1) et une surface supérieure (S1), ledit procédé étant destiné à déterminer les propriétés ferroélectriques d’au moins un point (N1) de la surface (S1) dudit échantillon (E1), le procédé étant réalisé par un dispositif (1) selon l’une quelconque des revendication 1 à 7, le procédé comprenant les étapes suivantes pour l’au moins un point (N1) : Mettre la pointe conductrice (P1) en contact avec la surface supérieure (S1) au niveau du point (N1) ; l’ensemble formé par le levier, la pointe, l’échantillon et l’électrode inférieure ayant une fréquence de résonance variable (f 0 ) ; et Appliquer entre l’électrode inférieure (EL1) et la pointe conductrice (P1), un signal de caractérisation (V CAR ) à une première fréquence (f 1 ) de manière à modifier localement la distribution de la polarisation électrique locale pendant une phase d’écriture et mesurer la réponse électromécanique pendant une phase de lecture. la première fréquence (f 1 ) étant maintenue égale à la fréquence de résonance (f 0 ). Procédé de caractérisation (CARAC) selon la revendication 7 dans lequel l’étape II) comprend les sous-étapes suivantes : ii- Appliquer pendant une durée d’écriture (Δt1) entre l’électrode inférieure (EL1) et la pointe conductrice (P1), le signal de caractérisation (V CAR (t)) ayant une première composante continue (V DC1 ) et une première amplitude (V 0 ) ; iii- Appliquer pendant une durée de lecture (Δt2) entre l’électrode inférieure(EL1) et la pointe conductrice (P1), le signal de caractérisation (V CAR (t)) ayant une seconde composante continue (V DC2 ) et la première amplitude (V 0 ) ; iv- Mesurer, simultanément avec iii), la réponse électromécanique en phase et en amplitude de l’échantillon (E1) ; et v- Réitérer les étapes ii) à iv) en faisant varier la première composante continue (V DC1 ) selon une fonction enveloppe périodique (g(t)) ayant une seconde fréquence (f 2 ) inférieure à la première fréquence (f 1 ), et ayant une seconde amplitude (V 2 ) supérieure à la première amplitude (V 1 ) ; le nombre d’itérations (I1, I2, I3, I4) étant suffisant pour réaliser au moins une période de la fonction périodique (g(t)). Procédé de caractérisation (CARAC) selon la revendication 8 comprenant en outre l’étape suivante : vi- Tracer une courbe d’hystérésis d’amplitude et/ou de phase associée au point (N1) à partir des mesures obtenues à l’étape iv) de chaque itération (I1, I2, I3, I4). Procédé de caractérisation (CARAC) selon la revendication 9, dans lequel pour l’au moins un point (N1) les étapes ii) à vi) sont réitérées en faisant varier pour chaque cycle (Cy1, Cy2, Cy3, Cy4) la seconde composante continue (V DC2 ) afin d’obtenir une pluralité de courbes d’hystérésis, chacune étant associée à une valeur de la seconde composante continue (V DC2 ). Procédé de caractérisation (CARAC) selon la revendication 10 comprenant en outre l’étape suivante pour l’au moins un point (N1) : sélectionner une courbe d’hystérésis parmi la pluralité de courbes d’hystérésis selon un critère de sélection prédéterminé. Procédé de caractérisation (CARAC) selon la revendication 11 dans lequel le critère de sélection prédéterminé correspond à la courbe d’hystérésis ayant une portion de saturation ayant une pente minimum ou un décalage par rapport à l’origine minimum. Procédé de caractérisation (CARAC) selon l’une quelconque des revendications 8 à 12, dans lequel la sous-étape iii) comprend la réalisation successivement une pluralité de mesures de la réponse électromécanique en phase et en amplitude de l’échantillon (E1). Procédé de caractérisation (CARAC) selon la revendication 13, comprenant en outre l’étape suivante : pour chaque phase de lecture, réaliser des traitements statistiques de la pluralité de mesures de type moyenne et/ou écart-type. Procédé de caractérisation (CARAC) selon l’une quelconque des revendications 8 à 14, le procédé étant appliqué à une pluralité de points (N1, N2 N3, N4) de la surface (S1) et comprenant en outre l’étape suivante après l’étape v): pour chaque point (N1, N2 N3, N4) caractérisé, générer une liste comprenant une quantification de plusieurs caractéristiques ferroélectriques et piézoélectriques et/ou électrostatiques extraites à partir de la courbe d’hystérésis associée audit point. Procédé de caractérisation (CARAC) selon la revendication 15, comprenant en outre l’étape suivante : pour chaque caractéristique ferroélectrique extraite, générer une cartographie associée de la surface (S1) à partir des listes.