Dispositif de mesure (1) confocale chromatique d’un paramètre d’une surface (6) d’un échantillon, le dispositif comprenant : - une source lumineuse (2) configurée pour générer un faisceau lumineux (3) ; - crayon optique (4) comprenant un objectif à chromatisme axial (5) configuré pour appliquer le faisceau lumineux (3) sur la surface (6) de l’échantillon, le crayon optique (4) présentant une extrémité d’entrée (10) raccordée à la source lumineuse (2) et une extrémité de sortie (11) configurée pour être placée à proximité de la surface (6) de l’échantillon ; et - une caméra (7) fixée à proximité de l’extrémité de sortie (11) du crayon optique (4), entre l’objectif à chromatisme axial (5) et la surface (6) de l’échantillon, de sorte qu’une partie du faisceau lumineux (3) provenant de la source lumineuse (2) et sortant de l’objectif à chromatisme axial (5) est obturée par la caméra (7) au niveau de l’extrémité de sortie (11) du crayon optique (4) et qu’une autre partie du faisceau lumineux (3) n’est pas obturée par la caméra (7) et atteint la surface (6) de l’échantillon. Dispositif de mesure (1) selon la revendication 1, dans lequel le crayon optique (4) comprend une lentille (12, 14) placée à proximité de l’extrémité de sortie (11) du crayon optique (4), une première surface (S1), correspondant à la projection orthogonale de la lentille (12, 14) dans un premier plan (P1) qui est perpendiculaire à un axe de propagation (X) du faisceau lumineux (3) à travers la lentille (12, 14), étant plus grande qu’une deuxième surface (S2), correspondant à la projection orthogonale de la caméra (7) dans le premier plan (P1), de sorte que la caméra (7) n’obture que partiellement le champ optique de la lentille (12, 14). Dispositif de mesure (1) selon la revendication 2, dans lequel la première surface (S1) est au moins deux fois plus grande que la deuxième surface (S2), de préférence au moins quatre fois plus grande. Dispositif de mesure (1) selon l’une des revendications 2 et 3, dans lequel un passage traversant (19) est formé dans la lentille (12, 14) et la caméra (7) est logée au moins partiellement dans le passage traversant (19). Dispositif de mesure (1) selon la revendication 4, dans lequel la lentille (14) présente un chromatisme axial et fait partie de l’objectif à chromatisme axial (5). Dispositif de mesure (1) selon l’une des revendications 2 à 4, dans lequel la lentille (12) est achromatique et est placée entre l’objectif à chromatisme axial (5) et la caméra (7), un passage traversant (19) étant formé dans la lentille (14) achromatique et la caméra (7) étant logée au moins partiellement dans le passage traversant (19). Dispositif de mesure (1) selon l’une des revendications 1 à 3, dans lequel la caméra (7) est placée entre le crayon optique (4) et la surface (6) à mesurer. Dispositif de mesure (1) selon l’une des revendications 1 à 7, comprenant en outre une caméra supplémentaire (7), fixée à proximité de l’extrémité de sortie (11) du crayon optique (4), entre l’objectif à chromatisme axial (5) et la surface (6) de l’échantillon de sorte qu’une partie du faisceau lumineux (3) provenant de la source lumineuse (2) et sortant de l’objectif à chromatisme axial (5) est également obturée par la caméra supplémentaire (7) au niveau de l’extrémité de sortie (11) du crayon optique (4) et que l’autre partie du faisceau lumineux (3) contourne également la caméra supplémentaire (7) et atteint la surface (6) de l’échantillon. Dispositif de mesure (1) selon l’une des revendications 1 à 8, dans lequel une profondeur de champ de la caméra (7) est comprise entre 2 mm et 100 mm. Dispositif de mesure (1) selon l’une des revendications 1 à 9, comprenant en outre une lumière (18) fixée sur le dispositif de mesure (1) et configurée pour éclairer la surface (6) de l’échantillon. Dispositif de mesure (1) selon la revendication 10, dans lequel la lumière (18) est intégrée à la caméra (7) ou est rapportée et fixée sur le crayon optique (4) à proximité de l’extrémité de sortie (11). Dispositif de mesure (1) selon l’une des revendications 1 à 11, comprenant en outre un système d’analyse spectrale (8) configuré pour déterminer une répartition spectrale (8) du faisceau lumineux (3) réfléchi par la surface (6) de l’échantillon.