D'autres aspects, buts, avantages et caractéristiques de l’invention apparaîtront mieux à la lecture de la description détaillée suivante de formes de réalisation préférées de celle-ci, donnée à titre d'exemple non limitatif, et faite en référence aux dessins annexés sur lesquels : la , déjà décrite, est une vue schématique et partielle d’un nez électronique de type à imagerie SPR selon un exemple de l’art antérieur ; la , déjà décrite, est une vue schématique et partielle d’un interféromètre d’un nez électronique de type interférométrique selon un exemple de l’art antérieur ; la , déjà décrite, illustre des exemples de sensorgrammes su (k) (t) déterminé par un nez électronique de type à imagerie SPR lors d’un procédé de détermination ; la est une vue schématique et partielle d’un nez électronique de type interférométrique selon un mode de réalisation ; la est une vue schématique, de dessus, du dispositif de mesure du nez électronique de la , comportant la source lumineuse, une matrice d’interféromètres et des photodétecteurs ; la est une vue schématique, de dessus, du bras sensible et du bras de référence d’un interféromètre de la ; la illustre des évolutions temporelles de la différence de phase extraite φ (k) (t) et de la différence de phase dépliée Φ (k) (t) associées aux signaux optiques parcourant les bras d’un interféromètre de la , mettant en évidence le dépliement de phase ; la illustre un organigramme d’étapes de détermination de la différence de phase extraite φ (k) (t) et de la différence de phase dépliée Φ (k) (t), associées à un interféromètre de la , au cours d’un procédé de caractérisation ; la , la et la illustrent des évolutions temporelles de la différence de phase extraite φ (k) (t) et de la différence de phase dépliée Φ (k) (t) relatives à un interféromètre d’un nez dans le cas d’un procédé de caractérisation habituel ( ), et dans le cas où l’état physicochimique initial du site sensible est effectivement désorbé ( ), et enfin dans le cas où l’état physicochimique initial n’est pas désorbé ( ) ; la est une vue schématique et partielle d’un nez électronique de type interférométrique selon un mode de réalisation de l’invention ; la est une vue schématique, de dessus, du module thermique du nez électronique de la ; la est une vue schématique, de dessus, du module thermique et des interféromètres du nez électronique de la ; la illustre un exemple d’évolution des interactions entre les analytes et les récepteurs de la surface fonctionnalisée, lors d’un procédé de caractérisation selon un mode de réalisation de l’invention, où la désorption est effectuée par augmentation de la variation de température de la surface fonctionnalisée ; La illustre une augmentation de la température de la surface fonctionnalisée au cours d’un procédé de caractérisation selon un mode de réalisation de l’invention ; la illustre des évolutions temporelles de la différence de phase extraite φ (k) (t) et de la différence de phase dépliée Φ (k) (t) lors du procédé de caractérisation des et 6B ; la illustre un exemple de variation de la température de la surface fonctionnalisée, au cours d’une succession de phases de caractérisation de milieux gazeux ; la illustre un exemple d’évolutions temporelles de la différence de phase dépliée Φ (k) (t) au cours de la succession de phases de caractérisation de la , dans le cas où la surface fonctionnalisée est exposée au même milieu gazeux (type et concentration d’analytes identiques) ; la illustre un autre exemple d’évolutions temporelles de la différence de phase dépliée Φ (k) (t) au cours de la succession de phases de caractérisation de la , dans le cas où la surface fonctionnalisée est exposée à des milieux gazeux différents en termes de type et/ou de concentration d’analytes. EXPOSÉ DÉTAILLÉ DE MODES DE RÉALISATION PARTICULIERS