INPI-France/Brevets-Francais-2024-Chunked huggingface dataset:
On rappelle qu’un symplectomorphisme est un difféomorphisme qui conserve la forme symplectique, c’est-à-dire que dont la matrice jacobienne M vérifie : J=M t JM,
En notant
on peut donner l’expression des variables η u et η v en fonction de e = (x,y,ξ x ,ξ y ) :
Les 5 ème et 6 ème coordonnées (u, v) des éléments du sous-ensemble Γ peuvent donc quant à elles s’écrire :
On obtient ainsi une expression paramétrique du sous-ensemble Γ en fonction de ses quatre premières coordonnées (x,y,ξ x ,ξ y ), ce qui permet d’obtenir l’expression suivante du symplectomorphisme χ (étant rappelé que le sous-ensemble Γ correspond aux éléments de la forme (e, χ(e)) pour e variant dans ℝ 4 ) :
En considérant à présent que la transformation T étudiée est une transformation rigide de l’espace de propagation E, cette transformation T est donc la combinaison d’une translation de vecteur (t x ,t y ,t z ) et d’une rotation R qui peut-être décomposée en 3 rotations à l’aide des angles d’Euler : R = R z α R x θ R z β ,
On a déposé une couche de 800 µm sur un substrat en graphite en opérant à une température de 1600 K, une pression partielle de 16 mbar de MTCS et une fraction molaire de NH 3 de 4%. On observe une texturation orientée préférentiellement (220) présentant de gros grains orientés préférentiellement (422) selon les coefficients de texture rassemblés dans le tableau 5 :
Tableau 5 : Coefficients de texture du P-SiC selon l’exemple 4 C 111 +C 222 +C 511 C 220 C 422 8% 65% 18%
On observe sur la figure deux populations de grains de dimensions différentes. Les grains orientés (220) ont un diamètre compris entre 1 µm et 10 µm. Les autres grains majoritairement orientés (422) ont une forme conique dont le diamètre peut croître jusque 50µm. La taille des grains peut être évaluée pour chaque ordonnée du repère en comptant le nombre d’intersection d’une ligne horizontale d’ordonnée constante avec les joints de grains sur l’image EBSD. Ici, la croissance de la taille moyenne des grains se stabilise rapidement, car les gros grains restent minoritaires dans la texture.
Le dépôt obtenu contient une concentration d’azote mesuré par SIMS de 2,2 x 10 20 atomes d’azote par cm 3 et une résistivité électrique mesurée à 3,3 mohm.cm par la méthode 4 pointes. On déduit la conductivité thermique de la couche par une mesure de diffusivité thermique grâce à la méthode flash laser. On obtient 215 W/m/K ce qui est au-dessus de l’objectif visé.
La déformation mesurée sur le disque brut est également très bonne. Sur un total de 16 disques produits, La déformation moyenne est de 235 µm avec un écart type de 90 µm. Cela permet de produire par rectification des wafers P-SiC à partir d’un disque brut d’épaisseur inférieur à 1000 µm à un coût raisonnable.
Après plusieurs dépôts selon ces conditions, la texture observée reste orientée préférentiellement (220) avec le coefficient de texture C 220 > 60% et C 422 < 20%
Exemple 5 : Texture à gros grains majoritaires orientée (422) majoritaire mélangé avec une fine texture des petits grains orientés (220)
On a déposé une couche de 800 µm sur un substrat en graphite en opérant à une température de 1600 K, une pression partielle de 16 mbar de MTCS et une fraction molaire de NH 3 de 6%.
Les figures 10 et 11 sont des micrographies analogues aux figures 2 et 3 de l’exemple 1.
On observe une texturation orientée préférentiellement (422) présentant de très gros grains orientés selon les coefficients de texture rassemblés dans le tableau 6 :
Tableau 6 : Coefficient de texture du P-SiC selon l’exemple 5 C 111 +C 222 +C 511 C 220 C 422 20% 7 % 54%
On observe sur la figure de très gros grains orientés (422) majoritairement ou (111) minoritairement, de forme conique avec des diamètres pouvant atteindre jusqu’à 100 µm. quelques petits grains (220) de taille inférieure à 10 µm sont très minoritaires. On observe sur la figure une croissance continue du diamètre des grains sur les 500 premiers microns. Cette croissance de la taille des grains peut être évaluée pour chaque ordonnée du repère en comptant le nombre d’intersection d’une ligne horizontale d’ordonnée constante avec les joints de grains sur l’image EBSD.
Le dépôt obtenu contient une concentration d’azote mesuré par SIMS de 6,8 10 20 atomes d’azote par cm 3 et une résistivité électrique mesurée à 0,9 mohm.cm par la méthode 4 pointes, bien en dessous de la limite supérieure visée. On déduit également la conductivité thermique de la couche par une mesure de diffusivité thermique grâce à la méthode flash laser. On obtient 130 W/m/K ce qui est en dessous de l’objectif visé.
Sur un total de 16 disques produits, La déformation moyenne est de 650 µm avec un écart type de 178 µm. On ne pourra pas produire par rectification un wafer P-SiC à partir d’un disque brut d’épaisseur inférieur à 1000 µm.
Après plusieurs dépôts selon ces conditions, la texture observée reste orientée préférentiellement (422) avec le coefficient de texture C 422 > 50% et C 111 +C 222 +C 511 > 15% et C 220 < 10%
Comparaison des exemples 1 à 5 Les principaux résultats obtenus en relation avec exemples présentés ci-dessus sont rassemblés dans le tableau 7 ci-dessous :
Selon l’invention, le système interférométrique comporte un dispositif d’actionnement reliant mécaniquement le composant optique à une platine, la platine étant fixe par rapport à la chambre à vide, et au moins un capteur de rotation fixe par rapport à la chambre à vide, le au moins capteur de rotation et le système électronique étant adaptés pour fournir au moins une mesure de rotation de la chambre à vide autour d’au moins un axe transverse à l’axe du laser à chaque temps d’interrogation de ladite séquence, le système électronique et le dispositif d’actionnement étant aptes à incliner angulairement le composant optique par rapport à ladite platine pendant chaque temps d’interrogation de ladite séquence en fonction de ladite au moins une mesure de rotation acquise par le capteur de rotation pendant ledit temps d’interrogation de ladite séquence, de façon à compenser une rotation de la chambre à vide transversalement à l’axe du laser à chaque impulsion lumineuse successive de la séquence par rapport à une orientation de la chambre à vide à l’instant initial de la séquence.
Avantageusement, le système électronique est adapté pour ajuster une phase optique de la source laser émettant la séquence d’impulsions en fonction d’une mesure d’accélération de Coriolis induite par une rotation de compensation du composant optique.
Selon un aspect particulier, le dispositif d’actionnement comprend un premier actionneur apte à incliner le composant optique par rapport à ladite platine autour d’un axe de rotation transverse à l’axe du laser et/ou un deuxième actionneur apte à incliner le composant optique par rapport à ladite platine autour d’un autre axe de rotation transverse à l’axe du laser.
De façon particulière et avantageuse, le au moins un capteur de rotation comprend un premier gyroscope apte à acquérir une mesure de vitesse de rotation de la chambre à vide autour d’un premier axe transverse à l’axe du laser et/ou un deuxième gyroscope apte à acquérir une mesure de vitesse de rotation de la chambre à vide autour d’un deuxième axe transverse à l’axe du laser.
Selon un mode de réalisation particulier et avantageux, le premier gyroscope est un gyroscope à fibre optique et le deuxième gyroscope est un gyroscope à fibre optique.
Avantageusement, chaque gyroscope à fibre optique a une sensibilité d’au moins 1 µrad/s/√Hz.
De préférence, le premier actionneur et le deuxième actionneur sont configurés pour incliner la platine avec une résolution angulaire inférieure à 1 µrad.
De façon particulière et avantageuse, le temps d’interrogation est compris entre 1 ms et plusieurs secondes, le premier gyroscope et le deuxième gyroscope étant configurés pour acquérir la mesure de rotation, par exemple à une fréquence d’acquisition comprise entre 100 Hz et plusieurs kHz.
Selon un aspect particulier, le système interférométrique comprend un capteur conventionnel, le capteur conventionnel comprenant un premier accéléromètre adapté pour acquérir une mesure d’accélération de la platine suivant un axe transverse à l’axe du laser, un deuxième accéléromètre adapté pour acquérir une mesure d’accélération de la platine suivant un autre axe transverse à l’axe du laser et/ou un troisième accéléromètre fixé à la platine adapté pour acquérir une mesure d’accélération de la platine suivant l’axe de mesure ou l’axe du laser, et le système électronique est adapté pour hybrider les mesures du capteur conventionnel avec les mesures du système interférométrique.
Avantageusement, le capteur conventionnel comprend un troisième gyroscope apte à acquérir une mesure de vitesse de rotation de la platine autour de l’axe du laser.
Avantageusement, la mesure inertielle par interférométrie atomique est adaptée pour mesurer une accélération et/ou une rotation de la chambre à vide.
La présente divulgation concerne aussi un procédé interférométrique à atomes froids et à impulsions de lumière comprenant les étapes suivantes : générer une séquence d’impulsions laser en direction d’un nuage d’atomes froids dans une chambre à vide, la séquence d’impulsions laser comprenant N impulsions lumineuses successives, où N est un nombre entier supérieur ou égal à trois, les impulsions lumineuses successives de la séquence étant séparées temporellement par un temps d’interrogation T, les impulsions lumineuses étant réfléchies sur un composant optique rétro-réflecteur, une normale au plan du composant optique rétro-réflecteur définissant un axe de mesure et étant alignée sur l’axe du laser à un instant initial de la séquence ; à la fin de la séquence d’impulsions laser, effectuer une mesure inertielle par interférométrie atomique du nuage d’atomes selon l’axe de mesure, la mesure inertielle étant intégrée pendant la séquence d’impulsions laser; mesurer au moins une rotation de la chambre à vide autour d’au moins un axe transverse à l’axe du laser à chaque temps d’interrogation de ladite séquence ; à chaque temps d’interrogation, incliner angulairement le composant optique par rapport à la chambre à vide en fonction de la rotation mesurée pendant ledit temps d’interrogation de ladite séquence, de façon à compenser une rotation de la chambre à vide transversalement à l’axe du laser à chaque impulsion lumineuse successive de la séquence par rapport à une orientation de la chambre à vide à l’instant initial de la séquence.
Avantageusement, la mesure de rotation comprend une mesure de vitesse de rotation qui est intégrée en fonction du temps pour déterminer une mesure d’angle de rotation de la chambre sur un intervalle de temps déterminé.
De façon particulièrement avantageuse, le procédé comprend les étapes suivantes : acquérir une mesure d’accélération de Coriolis induite par une rotation résiduelle du miroir, découlant de la rotation de la chambre à laquelle on soustrait la rotation de compensation du composant optique et ajuster une phase optique de la source laser émettant la séquence d’impulsions pour compenser la mesure d’accélération de Coriolis.
Le mât peut porter divers équipements en plus de l’antenne de télécommunications présente à son sommet, par exemple des faisceaux hertziens latéraux, des capteurs ou caméras, ainsi qu’une ou plusieurs lampes pour l’éclairage de l’élément porteur ou de son environnement. L’antenne présente à son sommet est, par exemple, logée dans une coiffe.
Le mât peut être fixé sur la partie supérieure de l’élément porteur grâce à des goussets et une platine de support dont l’assiette est réglable relativement au module porteur. Cela permet de régler la verticalité du mât lors du montage et d’en corriger le dépointage éventuel.
Le mât peut avoir une hauteur totale comprise entre 0,6 m et 14,5 m, mieux entre 4 m et 10 m, notamment comprise entre 7 m et 9 m.
Le mât peut être cylindrique, notamment de section circulaire, ou conique.
Le mât peut avoir une section transversale de diamètre extérieur compris entre 80 mm et 350 mm, notamment comprise entre 150 mm et 250 mm. La section transversale peut être de diamètre intérieur compris entre 75 mm et 345 mm, notamment entre 145 et 245 mm.
Le nombre de tronçons du mât modulaire est supérieur ou égal à 2, notamment compris entre 2 et 6, par exemple égal à 3.
Le mât peut comporter au moins deux tronçons de hauteur identique, par exemple les deux tronçons les plus inférieurs. La hauteur de ces tronçons peut être comprise entre 0,6 m et 4,5 m, mieux entre 1,5 m et 4,5 m, notamment comprise entre 2,5 m et 3,5 m.
Par l’expression « les deux tronçons les plus inférieurs », on entend ici les tronçons les plus bas sur le mât, c’est-à-dire, le tronçon de base fixé sur le module porteur et le tronçon suivant assemblé sur ce tronçon de base.
Le tronçon supérieur du mât peut être de hauteur différente de celle des autres tronçons, notamment de hauteur comprise entre 0,5 m et 3,5 m, mieux entre 1 m et 3 m. Le choix de la hauteur du tronçon supérieur permet ainsi d’adapter la hauteur du mât selon les besoins, notamment en fonction de la hauteur de l’antenne.
Par « tronçon supérieur », on entend ici le tronçon le plus haut sur le mât.
L’épaisseur de la paroi des tronçons peut être comprise entre 5 mm et 12 mm.
De préférence les tronçons sont en métal, notamment en acier ou en acier inoxydable.
La découpe située à l’extrémité du tronçon assemblée à l’autre tronçon, peut avoir un contour sensiblement trapézoïdal en vue de côté, mieux un contour sensiblement trapézoïdal isocèle, le fond de la découpe formant la petite base du trapèze. Une telle forme trapézoïdale facilite le centrage lors de l’insertion dans la découpe, et permet également d’avoir une bonne transmission des efforts axiaux.
La dent située à l’extrémité de l’autre tronçon, qui vient axialement en appui au fond de la découpe, a, de préférence, un contour similaire à celui de la découpe. Elle peut ainsi avoir en vue de côté un contour sensiblement trapézoïdal, mieux sensiblement trapézoïdal isocèle, le sommet de la dent formant la petite base du trapèze.
La hauteur du trapèze peut être comprise entre 20 mm et 70 mm, de préférence entre 20 mm et 50 mm.
La largeur de la petite base du trapèze peut être comprise entre 10 mm et 50 mm.
Le caisson principal 16 comporte en outre un module logiciel 54, destiné à être exécuté par l’unité de traitement 44, de recalage tridimensionnel surfacique de chaque représentation tridimensionnelle de l’objet 12 enregistrée en zone de stockage de données 48 sur l’objet 12 lui-même.
Selon un exemple de protocole de recalage surfacique avantageusement mis en œuvre mais non limitatif, s’il s’agit de recaler une première représentation tridimensionnelle, il s’agit tout d’abord d’extraire une surface de l’objet 12 dans la représentation tridimensionnelle concernée et de l’enregistrer en zone de stockage de données 48. Ceci peut généralement se faire automatiquement si de bonnes conditions connues d’acquisition de cette représentation tridimensionnelle ont été respectées. Il s’agit en outre de localiser une pluralité de points surfaciques autres que les points de référence sur la surface de l’objet 12 dans le référentiel tridimensionnel lié à l’ancillaire de référencement 24 à l’aide de la pointe 30 du stylet 28 et de les enregistrer en zone de stockage de données 48. Il s’agit enfin de calculer le recalage tridimensionnel surfacique à partir de cet enregistrement de localisations de points surfaciques.
Plus précisément, le recalage tridimensionnel surfacique de la première représentation tridimensionnelle sur l’objet 12 comporte le calcul d’une première matrice de passage entre les localisations des points surfaciques enregistrées précédemment et leurs localisations sur la surface de l’objet 12 telle qu’extraite dans la première représentation tridimensionnelle. Le recalage angulaire préalable permet de faciliter le calcul de cette première matrice de passage en limitant les solutions possibles.
S’il s’agit de recaler une deuxième représentation tridimensionnelle ou ultérieure, alors que la première représentation tridimensionnelle a déjà été recalée selon le protocole de recalage surfacique précité, on peut se contenter d’extraire une surface de l’objet 12 dans la représentation tridimensionnelle concernée et de l’enregistrer en zone de stockage de données 48, puis d’opérer directement un recalage tridimensionnel surfacique de cette deuxième représentation tridimensionnelle ou ultérieure à partir de l’enregistrement des localisations de points surfaciques réalisé pour le recalage surfacique de la première représentation tridimensionnelle. Cette façon de procéder est très avantageuse parce que l’enregistrement des localisations de points surfaciques peut être fastidieux et chronophage.
Plus précisément, le recalage tridimensionnel surfacique de la deuxième représentation tridimensionnelle ou ultérieure sur l’objet 12 comporte le calcul d’une deuxième matrice de passage entre les localisations des points surfaciques enregistrées précédemment pour le recalage surfacique de la première représentation tridimensionnelle et leurs localisations sur la surface de l’objet 12 telle qu’extraite dans la deuxième représentation tridimensionnelle ou ultérieure. De même, le recalage angulaire préalable de la deuxième représentation tridimensionnelle ou ultérieure permet de faciliter le calcul de cette deuxième matrice de passage en limitant les solutions possibles.
Concrètement, de nombreux points surfaciques peuvent être localisés à l’aide de la pointe 30 du stylet 28 en la promenant sur la tête 12 du patient, notamment tout autour des points de référence. Il n’y a pas vraiment de limite. Par exemple, plusieurs centaines de points surfaciques sont avantageusement localisés dans le référentiel tridimensionnel lié à l’ancillaire de référencement 24 pour un recalage surfacique le plus précis possible en chirurgie ORL, de préférence entre 200 et 1000 points surfaciques, de préférence encore entre 500 et 600 points surfaciques.
Le caisson principal 16 comporte en outre un module logiciel 56, destiné à être exécuté par l’unité de traitement 44, de sélection d’un affichage pour assister une navigation réalisée à l’aide de l’instrument chirurgical 20 lorsque chaque représentation tridimensionnelle enregistrée en zone de stockage de données 48 a été recalée par exécution des modules logiciels 52 et 54. Notamment lorsque deux représentations tridimensionnelles recalées sont à disposition en mémoire 46, par exemple l’une sous la forme d’une image volumique de l’objet 12 par scanner, l’autre sous la forme d’une image volumique de l’objet 12 par résonance magnétique, le module logiciel 56 gère la sélection possible d’un d’affichage simultané de plusieurs reconstructions planes en coupe de l’objet 12, dont au moins deux reconstructions planes d’une même coupe de l’objet 12 obtenues respectivement à partir de l’une et l’autre des première et deuxième représentations tridimensionnelles.
En chirurgie ORL, les reconstructions planes en coupe de l’objet 12 portent généralement sur des coupes sagittales, axiales et coronales. Elles sont obtenues par un calcul connu en soi, notamment par interpolation, à partir de coupes réelles acquises selon le mode d’imagerie considéré. Dans l’exemple illustré sur l’écran d’affichage 18 de la , une fenêtre supérieure gauche illustre un menu permettant de sélectionner par exemple un mode d’affichage parmi plusieurs prédéterminés, de procéder à l’étalonnage de l’instrument chirurgical 20 ou de revoir le recalage et les points de référence des représentations tridimensionnelles à disposition. Une fenêtre inférieure gauche illustre un suivi vidéo en temps réel par caméra endoscopique de l’instrument chirurgical 20 en mode opératoire. Une fenêtre supérieure centrale illustre une reconstruction plane coronale par scanner incluant un positionnement de l’extrémité fonctionnelle 22 de l’instrument chirurgical 20. Une fenêtre supérieure droite illustre une même reconstruction plane coronale par IRM incluant un positionnement de l’extrémité fonctionnelle 22 de l’instrument chirurgical 20. Une fenêtre inférieure centrale illustre une reconstruction plane axiale par scanner incluant un positionnement de l’extrémité fonctionnelle 22 de l’instrument chirurgical 20. Une fenêtre inférieure droite illustre une même reconstruction plane axiale par IRM incluant un positionnement de l’extrémité fonctionnelle 22 de l’instrument chirurgical 20. Cela permet d’apprécier la position de l’extrémité fonctionnelle 22 de l’instrument chirurgical 20 sur les deux modes d’imagerie scanner et IRM en même temps
Le caisson principal 16 comporte en outre un module logiciel 58, destiné à être exécuté par l’unité de traitement 44, de suivi par localisation en temps réel de l’extrémité fonctionnelle 22 de l’instrument chirurgical 20 et de mise à jour à chaque instant de chacune des reconstructions planes affichées simultanément à l’écran 18 qui la comportent.
Le caisson principal 16 comporte en outre un module logiciel 60, destiné à être exécuté par l’unité de traitement 44, de commutation de l’affichage sur l’écran 18 entre plusieurs reconstructions planes en coupe de l’objet 12 selon la première représentation tridimensionnelle scanner, plusieurs reconstructions planes en coupe de l’objet 12 selon la deuxième représentation tridimensionnelle IRM et plusieurs reconstructions planes en coupe de l’objet 12 selon les première et deuxième représentations tridimensionnelles scanner et IRM, cette commutation étant notamment activable par un rapprochement prédéterminé entre l’extrémité fonctionnelle 22 de l’instrument chirurgical 20 et un récepteur spécifique de l’ancillaire de référencement 24, par exemple son plot d’étalonnage. Cette commutation peut en outre être activable par interaction directe avec l’écran d’affichage 18 lorsqu’il est tactile. Chaque fenêtre affichée à l’écran 18 et présentant une reconstruction plane en coupe sagittale, axiale ou coronale de l’objet 12 peut en outre éventuellement être commutée individuellement, par exemple par interaction tactile ou autre, pour changer de coupe et/ou de mode d’imagerie.
Les modules logiciels 56, 58 et 60 sont exécutables indépendamment par l’unité de traitement 44, pas nécessairement dans l’ordre de leur présentation ci-dessus. Ils peuvent aussi être exécutés en même temps.
La illustre un autre exemple non limitatif d’affichage simultané de plusieurs reconstructions planes en coupe de l’objet 12 selon les première et deuxième représentations tridimensionnelles scanner et IRM précitées. L’affichage est ici subdivisé en six fenêtres. Les trois fenêtres supérieures sont respectivement des reconstructions planes en coupes sagittale, coronale et axiale de mode scanner, tandis que les trois fenêtres inférieures sont respectivement les mêmes reconstructions planes en coupes sagittale, coronale et axiale de mode IRM. Dans chaque fenêtre, l’extrémité fonctionnelle 22 de l’instrument chirurgical 20 est précisément localisée à l’intersection de deux axes, l’un horizontal et l’autre vertical. Le fait de visualiser et suivre l’extrémité fonctionnelle 22 simultanément dans les trois coupes sagittale, coronale et axiale et dans les deux modes d’imagerie scanner et IRM est une aide précieuse pour le praticien.
Le procédé de recalage tridimensionnel de représentations tridimensionnelles de l’objet 12 sur l’objet 12 lui-même tel qu’il peut être mis en œuvre par le dispositif d’aide à la navigation de la , correspondant à l’exécution des modules logiciels 50, 52 et 54, va maintenant être détaillé conformément à la succession d’étapes de la .
Au cours d’une étape 100 réalisée par exécution du module logiciel 50, une première représentation tridimensionnelle de l’objet 12 selon un premier mode d’imagerie tridimensionnelle, par exemple un selon un mode d’acquisition par scanner, est enregistrée en zone de stockage de données 48.