Système interférométrique (100) à atomes froids et à impulsions de lumière, le système interférométrique (100) comprenant une chambre à vide (7), une source laser (6), un composant optique (5) rétro-réflecteur plan, un système électronique (3) et un système de détection (17), la chambre à vide (7) étant apte à contenir un nuage d’atomes froids (8), la source laser (6) étant adaptée pour générer une séquence d’impulsions laser en direction du nuage d’atomes froids (8) suivant un axe du laser (u L ), le composant optique (5) rétro-réflecteur étant disposé pour réfléchir la séquence d’impulsions laser en direction du nuage d’atomes froids, la séquence d’impulsions laser comprenant N impulsions lumineuses successives où N est un nombre entier supérieur ou égal à trois, les impulsions lumineuses successives de la séquence étant séparées temporellement l’une de l’autre par un temps d’interrogation T ; le composant optique rétro-réflecteur ayant une normale à son plan définissant un axe de mesure aligné sur l’axe du laser à un instant initial de la séquence ; le système de détection (17) et le système électronique (3) étant configurés pour effectuer une mesure inertielle par interférométrie atomique du nuage d’atomes selon l’axe de mesure, caractérisé en ce que le système interférométrique (100) comporte : un dispositif d’actionnement (13) reliant mécaniquement le composant optique (5) à une platine (4), la platine (4) étant fixe par rapport à la chambre à vide (7), et au moins un capteur de rotation (1, 2) fixe par rapport à la chambre à vide (7), le au moins capteur de rotation (1, 2) et le système électronique (3) étant adaptés pour fournir au moins une mesure de rotation de la chambre à vide (7) autour d’au moins un axe transverse à l’axe du laser à chaque temps d’interrogation de ladite séquence, le système électronique (3) et le dispositif d’actionnement (13) étant aptes à incliner angulairement le composant optique (5) par rapport à ladite platine (4) pendant chaque temps d’interrogation de ladite séquence en fonction de ladite au moins une mesure de rotation acquise par le capteur de rotation pendant ledit temps d’interrogation de ladite séquence, de façon à compenser une rotation de la chambre à vide transversalement à l’axe du laser à chaque impulsion lumineuse successive de la séquence par rapport à une orientation de la chambre à vide à l’instant initial de la séquence. Système interférométrique selon la revendication 1 dans lequel le système électronique (3) est adapté pour ajuster une phase optique de la source laser (6) émettant la séquence d’impulsions en fonction d’une mesure d’accélération de Coriolis induite par une rotation de compensation du composant optique (5). Système interférométrique selon la revendication 1 ou 2 dans lequel le dispositif d’actionnement (13) comprend un premier actionneur apte à incliner le composant optique (5) par rapport à ladite platine (4) autour d’un axe de rotation transverse à l’axe du laser et/ou un deuxième actionneur apte à incliner le composant optique (5) par rapport à ladite platine (4) autour d’un autre axe de rotation transverse à l’axe du laser. Système interférométrique selon l’une des revendications 1 à 3 dans lequel le au moins un capteur de rotation comprend un premier gyroscope (1) apte à acquérir une mesure de vitesse de rotation (Ω X ) de la chambre à vide (7) autour d’un premier axe (X) transverse à l’axe du laser et/ou un deuxième gyroscope (2) apte à acquérir une mesure de vitesse de rotation (Ω Y ) de la chambre à vide (7) autour d’un deuxième axe (Y) transverse à l’axe du laser. Système interférométrique selon la revendication 4 dans lequel le premier gyroscope (1) est un gyroscope à fibre optique et le deuxième gyroscope (2) est un gyroscope à fibre optique. Système interférométrique selon l’une des revendications 4 à 5 dans lequel le temps d’interrogation est compris entre 1 ms et plusieurs secondes, le premier gyroscope (1) et le deuxième gyroscope (2) étant configurés pour acquérir la mesure de rotation. Système interférométrique selon l’une des revendications 1 à 6 comprenant un capteur conventionnel (9) fixé à la platine (4), le capteur conventionnel (9) comprenant un premier accéléromètre adapté pour acquérir une mesure d’accélération de la platine suivant un axe transverse à l’axe du laser, un deuxième accéléromètre adapté pour acquérir une mesure d’accélération de la platine suivant un autre axe transverse à l’axe du laser et/ou un troisième accéléromètre adapté pour acquérir une mesure d’accélération de la platine suivant l’axe du laser et dans lequel le système électronique est adapté pour hybrider les mesures du capteur conventionnel (9) avec les mesures du système interférométrique (100). Système interférométrique selon la revendication 7, dans lequel le capteur conventionnel (9) comprend un troisième gyroscope apte à acquérir une mesure de vitesse de rotation (Ω Z ) de la platine autour de l’axe du laser. Système interférométrique selon l’une des revendications 1 à 8 adapté pour mesurer une accélération ou une rotation de la chambre à vide. Procédé interférométrique à atomes froids et à impulsions de lumière comprenant les étapes suivantes : générer une séquence d’impulsions laser en direction d’un nuage d’atomes froids (8) dans une chambre à vide, la séquence d’impulsions laser comprenant N impulsions lumineuses successives où N est un nombre entier supérieur ou égal à trois, les impulsions lumineuses successives de la séquence étant séparées temporellement par un temps d’interrogation T, les impulsions lumineuses étant réfléchies sur un composant optique (5) rétro-réflecteur plan, une normale au plan du composant optique (5) rétro-réflecteur définissant un axe de mesure et étant alignée sur l’axe du laser à un instant initial de la séquence ; à la fin de la séquence d’impulsions laser, effectuer une mesure inertielle par interférométrie atomique du nuage d’atomes selon l’axe de mesure, la mesure inertielle étant intégrée pendant la séquence d’impulsions laser ; mesurer au moins une rotation de la chambre à vide autour d’au moins un axe transverse à l’axe du laser à chaque temps d’interrogation de ladite séquence ; à chaque temps d’interrogation, incliner angulairement le composant optique (5) par rapport à la chambre à vide en fonction de la rotation mesurée pendant ledit temps d’interrogation de ladite séquence, de façon à compenser une rotation de la chambre à vide transversalement à l’axe du laser à chaque impulsion lumineuse successive de la séquence par rapport à une orientation de la chambre à vide à l’instant initial de la séquence. Procédé selon la revendication 10 comprenant les étapes suivantes : acquérir une mesure d’accélération de Coriolis induite par une rotation de compensation du composant optique et ajuster une phase optique de la source laser (6) émettant la séquence d’impulsions pour compenser la mesure d’accélération de Coriolis.