Système de test (200) d'une mémoire à résistance variable, adapté à mettre en œuvre au moins une phase de test parmi les régimes de test suivants : - régime de test quasi-statique ; - régime de test impulsionnel, incluant un régime impulsionnel de test de taux d’erreur et un régime impulsionnel de mesure de commutation en temps réel ; - régime d’autocalibration. Procédé de test d'une mémoire à résistance variable, utilisant un système de test (200) et dans lequel au moins une phase de test parmi les régimes suivants est mise en œuvre : - régime de test quasi-statique ; - régime de test impulsionnel, incluant un régime impulsionnel de test de taux d’erreur et un régime impulsionnel de mesure de commutation en temps réel ; - régime d’autocalibration. Système selon la revendication 1, dans lequel des signaux électriques générés sont aiguillés dans différents circuits et/ou lignes du système de test (200) selon la phase de test, jusqu’à au moins un instrument de mesure électrique (221, 222, 223). Système selon la revendication 3, dans lequel une première matrice de commutation (237A) reçoit des signaux électriques générés de différentes natures, par exemple en termes de durée et/ou d'amplitude de tension et/ou d'amplitude de courant, et les aiguille vers un ou plusieurs circuits et/ou lignes du système de test (200) en fonction de la phase de test. Système selon la revendication 3 ou 4, dans lequel une deuxième matrice de commutation (237B) reçoit des signaux électriques provenant directement ou indirectement de la première matrice de commutation (237A) pour les aiguiller vers la mémoire à tester et/ou vers au moins un instrument de mesure électrique (221, 222, 223), et/ou reçoit des signaux électriques provenant de la mémoire à tester pour les aiguiller vers au moins un instrument de mesure électrique. Système selon la revendication 5 en combinaison avec la revendication 4, dans lequel un module de commande (239) commande les première et deuxième matrices de commutation en fonction de la phase de test. Système selon l'une quelconque des revendications 3 à 6, dans lequel, selon la phase de test, un premier générateur de signaux (211) génère des signaux électriques continus et/ou un deuxième générateur de signaux (212) génère des signaux électriques arbitraires, par exemple des impulsions électriques. Système selon l'une quelconque des revendications 3 à 7, dans lequel plusieurs instruments de mesure électrique sont adaptés à mesurer les signaux électriques générés et aiguillés, lesdits instruments de mesure ayant des niveaux d’adaptation d’impédance différents. Système selon l'une quelconque des revendications 3 à 8, dans lequel au moins un premier instrument de mesure électrique (221) est adapté à réaliser des mesures électriques en continu, par exemple un multimètre numérique et/ou une unité sourcemètre, et au moins un deuxième et/ou troisième instrument de mesure électrique (222, 223) est adapté à réaliser des mesures électriques en dynamique, par exemple un convertisseur analogique numérique et/ou un oscilloscope. Système selon l'une quelconque des revendications 3 à 9, dans lequel un module de synchronisation (238) synchronise au moins un instrument de mesure en fonction des signaux électriques générés. Système selon l'une quelconque des revendications 3 à 10, dans lequel un circuit de mise en forme de signaux (236) aiguille et/ou met en forme des signaux électriques générés et aiguillés, en fonction de la phase de test. Système selon l'une quelconque des revendications 3 à 11, dans lequel une sonde de test (240) relie, par exemple connecte, une cellule (100) de la mémoire à tester au système de test. Système selon l'une quelconque des revendications 1, 3 à 12, dans lequel, en régime de test quasi-statique : - dans une phase d’excitation, un premier générateur de signaux (211) génère un signal électrique continu qui est aiguillé vers une cellule (100) de la mémoire à tester via une sonde de test (240) reliée, par exemple connectée, à ladite cellule, ou un deuxième générateur de signaux (212) génère un signal électrique arbitraire, par exemple une impulsion électrique, qui est aiguillé vers la cellule (100) de la mémoire à tester via la sonde de test (240) ; et - dans une phase d’acquisition, le premier générateur de signaux (211) génère un signal électrique continu qui est aiguillé vers un premier instrument de mesure électrique (221), adapté à des mesures en continu, par exemple un multimètre numérique, en passant par la cellule (100) via la sonde de test (240). Système selon l'une quelconque des revendications 1, 3 à 13, dans lequel, en régime de test impulsionnel, dans une phase d’acquisition, un deuxième générateur de signaux (212) génère un signal électrique arbitraire, par exemple une impulsion électrique, qui est aiguillé vers un deuxième ou troisième instrument de mesure électrique (222, 223) adapté à des mesures en dynamique, en passant par une cellule (100) de la mémoire à tester via une sonde de test (240) reliée, par exemple connectée, à ladite cellule. Système selon la revendication 14, dans lequel, en régime impulsionnel de test de taux d’erreur : - dans la phase d’acquisition, le deuxième instrument de mesure (222) est à forte impédance d’entrée, par exemple un convertisseur analogique numérique ; - dans une phase d’excitation, le deuxième générateur de signaux (212) génère un signal électrique arbitraire, par exemple une impulsion électrique, qui est aiguillé vers la cellule (100) via la sonde de test (240). Système selon l'une quelconque des revendications 1, 3 à 13, dans lequel, en régime impulsionnel de mesure de commutation en temps réel, un deuxième générateur de signaux (212) génère un signal électrique arbitraire, par exemple une impulsion électrique, qui est aiguillé vers un troisième instrument de mesure (223) à faible impédance d’entrée, en passant par la cellule (100) via une sonde de test (240) reliée, par exemple connectée, à ladite cellule. Système selon l'une quelconque des revendications 14 à 16, dans lequel, en régime de test impulsionnel de test de taux d’erreur ou de mesure de commutation en temps réel, le signal électrique généré et aiguillé transite par un circuit de mise en forme de signaux (236) avant le deuxième ou troisième instrument de mesure électrique et/ou la cellule de la mémoire à tester via la sonde de test. Système selon l'une quelconque des revendications 1, 3 à 17, dans lequel, en régime d’autocalibration, un deuxième générateur de signaux (212) génère un signal électrique arbitraire, par exemple une impulsion électrique, qui est aiguillé vers un troisième instrument de mesure (223) adapté à des mesures en dynamique et à faible impédance d’entrée, en passant par une sonde de test (240) reliée ou non à une cellule (100) de la mémoire à tester, en fonction de la phase de test.