Dispositif (20) de caractérisation d’un alignement de caméra comportant : un capteur à puce photonique (28, 30) comportant : une puce photonique (32) à pluralité de sorties optiques (38) organisées matriciellement en M colonnes et N lignes, et une caméra (42) disposée face à cette organisation matricielle des sorties optiques (38) ; et une unité de traitement (48) conçue (60, 62, 64) pour traiter numériquement une image de taches (IM) correspondant aux sorties optiques (38) de la puce photonique (32), cette image étant fournie par la caméra (42) ; caractérisé en ce que l’unité de traitement (48) est plus précisément conçue pour : répartir (60) au moins une partie des taches de l’image (IM) dans M groupes distincts correspondant aux M colonnes et déterminer (60) ces M colonnes dans l’image de taches (IM) par régression linéaire ; répartir (62) au moins une partie des taches de l’image (IM) dans N groupes distincts correspondant aux N lignes et déterminer (62) ces N lignes dans l’image de taches (IM) par régression linéaire ; et caractériser (64) l’alignement de caméra par ces M colonnes et N lignes déterminées dans l’image de taches (IM). Procédé de caractérisation d’un alignement de caméra dans un capteur à puce photonique (28, 30), ce capteur comportant : une puce photonique (32) à pluralité de sorties optiques (38) organisées matriciellement en M colonnes et N lignes ; et une caméra (42) disposée face à cette organisation matricielle des sorties optiques (38) ; le procédé comportant une étape de capture (100), par la caméra (42), d’une image de taches (IM) correspondant aux sorties optiques (38) de la puce photonique (32) et étant caractérisé en ce qu’il comporte en outre les étapes suivantes : répartition (102) d’au moins une partie des taches de l’image (IM) dans M groupes distincts correspondant aux M colonnes et détermination (104) de ces M colonnes dans l’image de taches (IM) par régression linéaire ; répartition (108) d’au moins une partie des taches de l’image (IM) dans N groupes distincts correspondant aux N lignes et détermination (110) de ces N lignes dans l’image de taches (IM) par régression linéaire ; et caractérisation (114, 116, 118) de l’alignement de caméra par ces M colonnes et N lignes déterminées dans l’image de taches (IM). Procédé de caractérisation d’un alignement de caméra selon la revendication 2, dans lequel la répartition (102) d’au moins une partie des taches de l’image (IM) dans M groupes distincts correspondant aux M colonnes et/ou la répartition (108) d’au moins une partie des taches de l’image (IM) dans N groupes distincts correspondant aux N lignes comporte : une première sous-étape (102-1, 108-1) de binarisation par seuillage de l’image de taches (IM) ; une deuxième sous-étape (102-2, 108-2) de détection des taches dans l’image binarisée (IMb) ; une troisième sous-étape (102-3, 108-3) de filtrage des taches détectées par un critère de taille ; et une quatrième sous-étape (102-4, 108-4) de regroupement automatique des taches détectées et conservées par filtrage en M colonnes et/ou en N lignes. Procédé de caractérisation d’un alignement de caméra selon la revendication 3, dans lequel la détection (102-2, 108-2) de taches dans l’image binarisée (IMb) comporte un placement de boîtes englobantes autour de ces taches dans l’image binarisée (IMb), de manière à associer à chaque tache trouvée des paramètres comportant au moins les coordonnées d’un centre de la tache et une taille de la tache. Procédé de caractérisation d’un alignement de caméra selon la revendication 4, dans lequel le regroupement automatique (102-4, 108-4) des taches détectées et conservées par filtrage en M colonnes et/ou en N lignes comporte : un regroupement automatique (102-4) des taches détectées et conservées par filtrage en M colonnes sur la base d’abscisses des centres des taches détectées et conservées par filtrage dans l’image binarisée (IMb) en minimisant des variations d’abscisses intra-classes et en maximisant des variations d’abscisses inter-classes ; et/ou un regroupement automatique (108-4) des taches détectées et conservées par filtrage en N lignes sur la base d’ordonnées des centres des taches détectées et conservées par filtrage dans l’image binarisée (IMb) en minimisant des variations d’abscisses intra-classes et en maximisant des variations d’abscisses inter-classes. Procédé de caractérisation d’un alignement de caméra selon l’une quelconque des revendications 2 à 5, comportant en outre les étapes suivantes : calcul (106) d’une première déviation angulaire des M colonnes déterminées dans l’image de taches (IM) par rapport aux M colonnes de l’organisation matricielle des sorties optiques (38) de la puce photonique (32) ; calcul (112) d’une deuxième déviation angulaire des N lignes déterminées dans l’image de taches (IM) par rapport aux N lignes de l’organisation matricielle des sorties optiques (38) de la puce photonique (32) ; et caractérisation (114) de l’alignement de caméra par ces deux déviations angulaires. Procédé de fabrication d’un capteur à puce photonique (28, 30), comportant les étapes suivantes : assemblage (300) du capteur (28, 30) par disposition ou ajustement d’une caméra (42) face aux sorties optiques (38) d’une puce photonique (32) à pluralité de sorties optiques (38) organisées matriciellement en M colonnes et N lignes ; application (302, 304) d’un procédé de caractérisation d’un alignement de caméra selon la revendication 6 ; calcul (306) d’un coefficient de parallélisme défini en tant que ratio des première et deuxième déviations angulaires calculées ; et répétition des trois étapes précédentes (300, 302, 304, 306) tant que ce ratio n’est pas compris dans un intervalle prédéterminé autour de 1. Procédé d’étalonnage d’un capteur à puce photonique (28, 30), comportant les étapes suivantes : application (400, 402) d’un procédé de caractérisation d’un alignement de caméra selon l’une quelconque des revendications 2 à 6 ; génération (404) d’une image de masque de référence (IMref) à partir des M colonnes et N lignes déterminées dans l’image de taches (IM), cette image de masque de référence (IMref) comportant une modélisation des sorties optiques sous la forme de taches de référence aux dimensions prédéterminées centrées sur des intersections des M colonnes et N lignes déterminées dans l’image de taches (IM) ; calcul (404) d’un coefficient d’alignement défini en tant que ratio : d’une somme de surfaces partielles des taches de l’image de taches (IM) incluses dans les taches de référence par superposition de l’image de taches (IM) et de l’image de masque de référence (IMref), et d’une somme de surfaces totales des taches de l’image de taches (IM) ; et répétition d’un ajustement (408) d’au moins un paramètre d’acquisition d’une nouvelle d’image de taches (IM) et des trois étapes précédentes (400, 402, 404) tant que ce ratio n’est pas supérieur à un seuil prédéterminé. Procédé d’étalonnage d’un capteur à puce photonique (28, 30) selon la revendication 8, dans lequel l’ajustement (408) dudit au moins un paramètre d’acquisition comporte l’ajustement d’un temps d’exposition de la caméra (42). Programme d’ordinateur (60, 62, 64) téléchargeable depuis un réseau de communication et/ou enregistré sur un support (50) lisible par ordinateur (46 ; 66) et/ou exécutable par un processeur (48) programmé pour traiter numériquement une image de taches (IM) correspondant aux sorties optiques (38) d’une puce photonique (32) à pluralité de sorties optiques (38) organisées matriciellement en M colonnes et N lignes, cette image (IM) étant fournie par une caméra (42) disposée face à l’organisation matricielle des sorties optiques (38) de la puce photonique (32), le programme d’ordinateur (60, 62, 64) étant caractérisé en ce qu’il comprend des instructions pour l’exécution des étapes suivantes : répartition (102) d’au moins une partie des taches de l’image (IM) dans M groupes distincts correspondant aux M colonnes et détermination (104) de ces M colonnes dans l’image de taches (IM) par régression linéaire ; répartition (108) d’au moins une partie des taches de l’image (IM) dans N groupes distincts correspondant aux N lignes et détermination (110) de ces N lignes dans l’image de taches (IM) par régression linéaire ; et caractérisation (114, 116, 118) de l’alignement de caméra par ces M colonnes et N lignes déterminées dans l’image de taches (IM) ; lorsque ledit programme (60, 62, 64) est exécuté sur un ordinateur (46 ; 66).