INPI-France/Brevets-Francais-2024-Chunked huggingface dataset:
RESUME Pour atteindre cet objectif, il est proposé un dispositif d’estimation de la salissure de panneaux photovoltaïques, comprenant des première et deuxième unités, chaque unité comprenant au moins deux zones de réception d’un rayonnement solaire, chaque zone comprenant au moins un module photovoltaïque, le dispositif comprenant un système de protection mobile entre une position de protection dans laquelle le système de protection est configuré pour masquer lesdits au moins deux zones de la deuxième unité et une position de mesure dans laquelle lesdits au moins deux zones de la deuxième unité sont exposées à un rayonnement solaire, et une unité de commande électronique configurée pour recevoir un courant fourni par chaque module photovoltaïques.
Les unités comportent un même nombre de zones de réception, les modules photovoltaïques de la première unité présentent des caractéristiques identiques, notamment en termes de taille et de nombre de cellules photovoltaïques, à celles des modules photovoltaïques de la deuxième unité, l’unité de commande électronique est configurée pour calculer, pour chaque zone de la première unité, un paramètre relatif à un taux de perte de transmission de courant à partir d’un rapport entre le courant fourni par ledit au moins un module photovoltaïque de la zone de la première unité et le courant fourni par ledit au moins un module photovoltaïque d’une zone de la deuxième unité, et l’unité de commande électronique est configurée pour déterminer au moins un paramètre relatif à une répartition de salissures sur la première unité à partir d’au moins une comparaison entre deux taux de perte de transmission de courant.
Ainsi, on fournit un dispositif permettant de fournir une estimation de l’impact des salissures sur des panneaux photovoltaïques, notamment en fournissant une estimation suffisamment précise. En particulier, le dispositif permet de différencier une répartition des salissures homogène d’une répartition localisée. En outre, le dispositif permet d’estimer une absence de salissures. Le dispositif permet de déterminer une répartition des salissures sur un panneau sale en vue d’estimer une répartition des salissures d’un panneau dit de production énergétique d’une centrale dans un environnement particulier.
Selon un autre aspect, il est proposé un système d’estimation de production énergétique photovoltaïque, comprenant le dispositif d’estimation de la salissure de panneaux photovoltaïques tel que défini ci-avant, dans lequel l’unité de commande électronique du dispositif d’estimation est configurée pour calculer une perte de courant de la première unité à partir dudit au moins un paramètre relatif à une répartition de salissures sur la première unité.
Ainsi, on peut estimer de façon améliorée une production énergétique photovoltaïque en tenant compte de l’impact des salissures.
Selon un autre aspect, il est proposé une centrale photovoltaïque comprenant une pluralité de panneaux de production, chaque panneau de production comprenant au moins un module photovoltaïque, dit de production, destiné à produire de l’électricité, la centrale photovoltaïque comprenant au moins un dispositif d’estimation tel que défini ci-avant.
Selon un autre aspect, il est proposé un procédé d’estimation de la salissure de panneaux photovoltaïques utilisant un dispositif d’estimation tel que défini ci-avant.
Le procédé comporte une étape initiale dans laquelle le système de protection est dans la position de mesure, une étape de mesure des courants fournis par chaque module photovoltaïque des première et deuxième unités, une étape de calcul, pour chaque zone de la première unité, d’un paramètre relatif à un taux de perte de transmission de courant à partir d’un rapport entre le courant fourni par ledit au moins un module photovoltaïque de la zone de la première unité et le courant fourni par ledit au moins un module photovoltaïque d’une zone de la deuxième unité, et une étape de détermination d’au moins un paramètre relatif à une répartition de salissures sur la première unité à partir d’au moins une comparaison entre deux taux de perte de transmission de courant.
Selon un autre aspect, il est proposé un procédé d’estimation de production énergétique photovoltaïque, comprenant une estimation de la salissure de panneaux photovoltaïques selon le procédé tel que défini ci-avant, et un calcul d’une perte de courant de la première unité à partir dudit au moins un paramètre relatif à une répartition de salissures sur la première unité.
Selon encore un autre aspect, il est proposé un produit programme d’ordinateur comprenant des instructions qui, lorsqu’elles sont exécutées par une unité de commande électronique, permettent à l’unité de commande électronique d’effectuer les étapes du procédé d’estimation de la salissure de panneaux photovoltaïques tel que défini ci-avant.
la , illustre de façon schématique un mode de réalisation d’un dispositif d’estimation de production énergétique photovoltaïque ;
Par exemple, la zone libre est délimitée (longitudinalement) par (ou d’étend (longitudinalement) entre) un droit de la position de début (PD) et par la position de fin. Autrement dit : la zone libre peut être délimitée (ou s’étend entre) longitudinalement par la position de début et la position de fin. En variante, la zone libre peut être prolongée d’une distance de sécurité (par exemple de 20 mètres) au-delà de la position de fin et/ou en deçà de la position de début.
Par exemple, la zone libre s’étend latéralement sur toute la deuxième voie.
La position de début est une position de l’avant de l’égo véhicule à la date de début, ou La position de fin est une position de l’avant du l’égo véhicule à la date de fin, ou La position prévue est une position de l’arrière de l’objet à la date de fin.
En variante, par exemple, la position de début et la position de fin peuvent être situées au milieu de l’égo véhicule ou la position prévue peut être située au milieu de l’objet.
On entend par avant d’un véhicule (ou d’un objet) un ensemble de points du véhicule (ou d’un objet) qui passent les premiers (i.e. avant tous les autres points du véhicule (ou de l’objet) alignés dans le sens et la direction de circulation) par un point (i.e. : au-dessus d’un point) de la route, lorsque le véhicule (ou l’objet) circule sur la route dans le sens et la direction de circulation.
On entend par arrière d’un véhicule (ou d’un objet) un ensemble de points du véhicule (ou d’un objet) qui passent les derniers (i.e. après tous les autres points du véhicule (ou d’un objet) alignés dans le sens et la direction de circulation) par un point (i.e. : au-dessus d’un point) de la route lorsque le véhicule (ou l’objet) circule sur la route dans le sens et la direction de circulation.
Selon un mode de réalisation, si la position prévue est hors de la zone libre, alors le changement de voie de l’ego véhicule est autorisé. Le changement de voie est réalisé par l’égo véhicule.
Des conditions additionnelles peuvent conditionner le changement de voie.
Si la position prévue est hors de la zone libre, commande d’une direction et d’une vitesse du véhicule égo de manière à ce qu’il réalise la trajectoire de changement de voie, et (commande ou ajustement) de la vitesse l’égo véhicule de manière à ce que l’égo véhicule respecte une distance de sécurité avec l’objet durant la réalisation de la trajectoire.
Bien entendu, la commande de la direction et de la vitesse de l’égo véhicule peut respecter d’autres paramètres (par exemple, la vitesse autorisée qui peut changer durant la trajectoire de changement de voie).
De préférence, l’appareil de mesure de la température 6 illustré comporte un champ de visée 8 de largeur supérieure au diamètre du fil 2 multibrin de sorte que de légers mouvements latéraux du fil 2 ne perturbent pas la mesure de température du fil 2.
L’invention concerne également un procédé d’élaboration des couches interfaciales d’un matériau composite à matrice céramique par dépôt en continu d’un film à la surface d’au moins un fil 2. Le dépôt est réalisé selon un procédé d’infiltration chimique en phase vapeur CVI et/ou un procédé de dépôt chimique en phase vapeur CVD.
Le dépôt du film est réalisé au défilé. Le fil 2 multibrin, défile selon l’axe de défilement 3 traversant le réacteur 4, depuis l’entrée 5a de la zone de dépôt 5 jusqu’à la sortie 5b. De manière avantageuse, le fil 2 défile à vitesse constante.
Le procédé d’élaboration comprend le contrôle via un appareil de mesure de la température 6 de l’évolution de la température du fil 2 dans la zone de dépôt 5. Dans l’exemple illustré, le contrôle de l’évolution de la température du fil 2 est effectué à partir d’un appareil de mesure de la température 6, avantageusement un pyromètre bichromatique.
Cette évolution de la température du fil est analysée en fonction de la position du champ de visée 8 de l’appareil de mesure de la température 6 sur le fil 2, le long de l’axe de défilement 3.
L’épaisseur t du film est ainsi contrôlée en fonction de l’évolution de la température mesurée.
De préférence, la vitesse de croissance du film est également contrôlée.
La présence du film à la surface du fil 2 perturbe la mesure de température du fait d’un phénomène d’interférences optiques. L’interférence optique observée est dépendante de la longueur d’onde utilisée pour la mesure de température, ainsi que du domaine de transparence du matériau déposé. Plus la longueur d’onde est petite, plus la variation d’épaisseur mesurable est faible.
Le rayonnement thermique capté par l’appareil de mesure de la température 6 est principalement celui émis par la surface du fil 2. Le film en cours de dépôt sur le fil 2, provoque des interférences liées au déphasage entre les ondes issues des réflexions successives dans le film déposé et celles provenant du rayonnement du fil 2.
Il résulte de ce phénomène optique la mesure par l’appareil de mesure de la température 6 d’une température apparente du fil 2 qui oscille autour de la température réelle T en fonction de la position du champ de visée 8 de l’appareil de mesure de la température 6 sur le fil 2, le long de l’axe de défilement dans la zone de dépôt 5, c’est-à-dire en fonction de l’épaisseur t du film.
Une corrélation entre le nombre d’oscillations de la valeur de la température apparente mesurée et l’épaisseur t du film déposé peut donc être établie.
L’épaisseur t du film et la vitesse de croissance r du film peuvent être déduites, sans contact avec le film, des mesures de température apparente le long du fil 2 dans la zone de dépôt 5 et par l’analyse d’une courbe représentant la température apparente du fil mesurée en fonction de la position du fil le long de l’axe de défilement 3 dans la zone de dépôt 5. Une telle courbe (a) est illustrée à la .
En d’autres termes, la valeur de la température apparente mesurée, ainsi donc que l’épaisseur t du film, dépendent de la distance entre l’entrée 5a de la zone de dépôt 5 et la position du champ de visée 8 de l’appareil de mesure de la température 6 du fil 2, le long de l’axe de défilement 3, où est mesurée la température du fil 2 par l’appareil de mesure de la température 6.
L’épaisseur t du film peut être déduite en fonction de paramètres de la courbe (a) représentant la température apparente du fil mesurée en fonction de la position du champ de visée 8 de l’appareil de mesure de la température 6 sur le fil 2 tels que le nombre d’oscillations, la période des oscillations ou encore leur amplitude.
De préférence, l’épaisseur t du film est également contrôlée en dehors de la zone de dépôt 5, notamment en aval de la sortie 5b. Une absence d’oscillations indique une absence de variation d’épaisseur du film et traduit donc un dépôt homogène du film sur le fil 2.
De préférence, l’épaisseur t du film déposé est inférieure ou égale à 10 µm, de préférence encore comprise entre 0.1µm et 10 µm.
En fonction du système 10 mis en œuvre, mais aussi en fonction du nombre d’images numériques partielles acquises pour une série donnée, pour le récipient 12 donné, différents algorithmes de calcul pourront être mis en œuvre, qui seront détaillés plus bas.
Dans une telle image primaire brute de réfraction IR1, il sera possible de détecter des anomalies induites par des défauts réfractants dans la zone inspectée du récipient. En effet, dans l’image primaire brute de réfraction IR1, on calcule, pour chaque zone élémentaire de la zone inspectée du récipient, un pixel primaire brut de réfraction Pr1(n). Or, pour une zone élémentaire donnée du récipient, la valeur de ce pixel primaire brut de réfraction Pr1(n) dépend nécessairement de la valeur de la propriété de polarisation d’intérêt émise de la zone élémentaire émettrice qui est vue au travers de la zone élémentaire donnée du récipient. Pour deux zone élémentaires données du récipient qui sont voisines l’une de l’autre, mais qui sont décalées l’une de l’autre selon la direction primaire D1, on a donc calculé deux valeurs de pixel primaire brut de réfraction : une valeur Pr1(n) correspondant à une première zone élémentaire, et une valeur Pr1(n’) correspondant la deuxième zone élémentaire du récipient. En l’absence de toute anomalie de réfraction induite par un défaut réfractant cette zone du récipient (ou donc en l’absence de récipient à l’emplacement d’inspection 13), la variation entre ces deux valeurs de pixel primaire brut de réfraction serait donc uniquement le reflet de la variation entre les valeurs de la propriété de polarisation d’intérêt émise pour les deux zones élémentaires émettrices correspondantes de la surface émettrice 16s, variation qui est connue et qui est une variation triangulaire. En présence du récipient 12, ce dernier peut, en l’absence de tout défaut réfractant, induire une certaine valeur de réfraction. Cependant, pour deux zone élémentaires données du récipient qui sont voisines l’une de l’autre, et décalées l’une de l’autre selon la direction primaire D1, il est attendu que, en l’absence de défaut réfractant, la variation entre les deux valeurs de pixel primaire brut de réfraction Pr1(n) et Pr1(n’) correspondants soit une variation linéaire reflétant la variation linéaire entre les valeurs de la propriété de polarisation d’intérêt émise pour les deux zones élémentaires émettrices correspondantes. Si tel n’est pas le cas, et donc si, pour deux zones élémentaires données du récipient qui sont voisines l’une de l’autre, et décalées l’une de l’autre selon la direction primaire D1, on observe une variation brusque entre les deux valeurs Pr1(n) et Pr1(n’) des pixels primaires bruts de réfraction correspondants, alors on pourra conclure à la présence d’une anomalie de réfraction, qu’il sera possible d’attribuer à la présence d’un défaut réfractant. De plus l’écart de valeurs entre deux pixels primaires bruts de réfraction Pr1(n) et Pr1(n’) alignés dans la direction D1 dépend directement de la distance dans la direction D1 entre les deux zones élémentaires de la zone inspectée qu’ils voient chacun en arrière-plan du récipient.
On note cependant que, en partant des seules images numériques partielles acquises dans la série primaire S1, il ne sera possible de détecter que des défauts réfractants qui induisent une réfraction avec un angle de réfraction dans un plan contenant la direction primaire D1.
Notamment, dans les cas où la propriété de polarisation d’intérêt émise de la lumière émise par les zones émettrices élémentaires est constante selon une direction perpendiculaire à la direction primaire D1, un défaut réfractant qui induirait une réfraction, avec un angle de réfraction contenu dans un plan perpendiculaire à la direction primaire D1, ne serait pas détectable.
Pour être en mesure de détecter à coup sûr les défauts réfractants quelle que soit l’orientation de la réfraction qu’ils génèrent, il est donc avantageux que, pour la même zone inspectée du même récipient 12, l’acquisition comporte l’acquisition d’au moins une série secondaire S2 d’images numériques partielles IPk.2 comprenant au moins au moins une première image numérique partielle IP1.2 et une deuxième image numérique partielle IP2.2.
De manière strictement analogue à ce qui a été vu pour la série primaire S1, on prévoit que, pour la série secondaire S2, les images numériques partielles IPk.2 contiennent chacune, en arrière-plan, l’image d’une même portion d’inspection secondaire de la surface émettrice 16s, la portion d’inspection secondaire étant observée à travers le récipient 12 par la caméra numérique, et, sur la portion d’inspection secondaire de la surface émettrice, la loi de variation périodique de la propriété de polarisation d’intérêt émise présentant, selon une direction secondaire D2 de la surface émettrice, différente de la direction primaire D1, de préférence orthogonale à la direction primaire D1, une variation périodique secondaire, et présentant plusieurs périodes secondaires T2 sur l’étendue de la portion d’inspection secondaire selon la direction secondaire D2. Tout comme ce qui a été défini pour la variation de la propriété de polarisation d’intérêt émise selon la direction primaire D1, sur une période secondaire T2, la propriété de polarisation d’intérêt émise des lumières émises par les zones émettrices élémentaires de la portion d’inspection secondaire de la surface émettrice 16s suit de préférence une variation triangulaire en fonction de la position de la zone émettrice élémentaire selon la direction secondaire D2. La période secondaire T2 peut être égale à, ou différente de la période primaire T1.
De préférence, la portion d’inspection primaire de la surface émettrice 16s et la portion d’inspection secondaire de la surface émettrice 16s ne sont pas coïncidentes à la fois dans le temps et dans l’espace.
Autrement dit, la portion d’inspection primaire de la surface émettrice 16s et la portion d’inspection secondaire de la surface émettrice 16s peuvent être coïncidentes dans le temps, c’est-à-dire être activées en même temps, mais ne pas être coïncidentes dans l’espace. Par exemple, la portion d’inspection primaire et la portion d’inspection secondaire de la surface émettrice 16s peuvent être des portions distinctes de la surface émettrice 16s. Dans un tel cas, le dispositif d’illumination 16 peut comporter deux composants ou ensemble de composants physiques distincts, par exemple deux ensembles de composants physiques distincts, chacun d’eux prenant par exemple la forme de l’ensemble des composants physiques décrits pour le dispositif d’illumination dans les modes de réalisation des figures 1 à 5, avec un premier ensemble de composants physiques comprenant la portion d’inspection primaire de la surface émettrice 16s, et un deuxième ensemble de composants physiques comprenant la portion d’inspection secondaire de la surface émettrice 16s, la surface émettrice 16s étant dans ce cas répartie sur les deux ensembles de composants physiques. En alternative, la portion d’inspection primaire et la portion d’inspection secondaire de la surface émettrice 16s peuvent être des portions distinctes d’une surface émettrice 16s formée par un unique ensemble de composants physiques tel décrit pour le dispositif d’illumination dans les modes de réalisation des figures 1 à 5. Dans ce cas où la portion d’inspection primaire de la surface émettrice 16s et la portion d’inspection secondaire de la surface émettrice 16s ne sont pas coïncidentes dans l’espace, le procédé peut comporter l’acquisition, pour une même zone inspectée d’un même récipient, de la série primaire d’images numériques partielles et de la série secondaire d’images numériques partielles au même instant ou à des instants différents. Dans ce cas où la portion d’inspection primaire de la surface émettrice 16s et la portion d’inspection secondaire de la surface émettrice 16s ne sont pas coïncidentes dans l’espace, la série primaire d’images numériques partielles et la série secondaire d’images numériques partielles peuvent être acquise respectivement avec des caméras différentes, éventuellement à des emplacements d’inspection différents le long de la trajectoire de défilement des récipients.
Ainsi, lors du passage d’un récipient donné 12 à l’emplacement d’inspection 13, le procédé pourra comporter la commande de la matrice bidimensionnelle 16c de cellules à cristaux liquides de telle sorte que, successivement, pour l’acquisition de la série primaire d’images numériques partielles du récipient donné, la propriété de polarisation commandée, de la lumière issue d’une cellule à cristaux liquides 16c(i,j) donnée, suit une variation triangulaire en fonction de la position de la cellule à cristaux liquides 16c(i,j) donnée selon la direction primaire D1, tout en étant constante selon une direction secondaire D2 différente de la direction primaire D1, de préférence orthogonale à la direction primaire D1, puis de telle sorte que, pour l’acquisition la série secondaire d’images numériques partielles, cette même propriété de polarisation commandée suit une variation triangulaire en fonction de la position de la cellule à cristaux liquides 16c(i,j) donnée selon la direction secondaire D2, tout en étant constante selon la direction primaire D1.
Dans le cas où la série primaire et la série secondaire sont acquises à des instants différents, le mouvement des récipients 12 peut être interrompu entre les deux instants de telle sorte que, pour la série primaire et pour la série secondaire, le récipient inspecté 12 se trouve exactement à la même position. Cependant, on cherchera généralement à conserver un mouvement continu des récipients. En cas de déplacement continu des récipients, l’acquisition de la série primaire et de la série secondaire à des instants différents implique nécessairement que le récipient inspecté 12 est à des positions différentes pour les deux acquisitions. Cependant, il peut être prévu que la fréquence d’acquisition des caméras disponibles actuellement, et la rapidité de commutation des matrices bidimensionnelles 16c de cellules à cristaux liquides, permettent que le déplacement d’un récipient 12 entre l’acquisition de la série primaire et l’acquisition de la série secondaire soit faible, le récipient 12 restant, dans l’intervalle de temps défini par ces deux instants, entre le dispositif d’illumination 16 utilisé et la même caméra polarimétrique 18 ou le même jeu de plusieurs caméras numériques conventionnelles 18.1, 18.2. Par exemple, l’intervalle de temps entre les 2 acquisitions est de 1 ms tandis que les récipients se déplacent à la vitesse de 1m/s, donc se déplacent de 1mm entre deux acquisitions. Si l‘intervalle de temps entre les 2 acquisitions primaire et secondaire augmente, on peut prévoir un décalage de la portion d’inspection de la surface émettrice dans la direction de déplacement des récipients comme expliqué précédemment.
Tout comme pour la variation, selon la direction primaire D1, de la propriété de polarisation d’intérêt émise, la variation triangulaire, selon la direction secondaire D2, de la propriété de polarisation d’intérêt émise est telle que chaque période secondaire est de préférence divisée en uniquement deux parties, une partie croissante et une partie décroissante. Dans la partie croissante, la propriété de polarisation d’intérêt émise est une fonction linéaire croissante de la position de la zone émettrice élémentaire selon la direction secondaire D2, la propriété de polarisation d’intérêt émise croissant d’une valeur inférieure secondaire, à une valeur supérieure secondaire, et, dans la partie décroissante, la propriété de polarisation d’intérêt émise est une fonction linéaire décroissante de la position de la zone émettrice élémentaire selon la direction secondaire D2, la propriété de polarisation d’intérêt émise décroissant de la valeur supérieure secondaire, à la valeur inférieure secondaire. De même, comme pour la variation de la propriété de polarisation d’intérêt émise selon la direction primaire D1, la partie croissante et la partie décroissante de chaque période secondaire sont de préférence d’égale étendue selon la direction secondaire D2.