Procédé de mesure (10), pour déterminer une information géométrique d’une interface (103) à mesurer d’un élément optique (1000) par rapport à un axe de mesure (M), l’élément optique (1000) comprenant au moins deux interfaces, le procédé (10) étant mis en œuvre par un dispositif de mesure ayant un axe de référence (R) et comprenant des moyens de mesure interférométriques (6000) avec au moins un capteur optique (602) et au moins une source lumineuse (612) à faible cohérence configurés pour diriger un faisceau de mesure (606) selon l’axe de mesure (M) vers l’élément optique (1000) de sorte à traverser au moins une des au moins deux interfaces et à être réfléchi par l’interface (103) à mesurer et générer un faisceau de mesure réfléchi, et pour détecter sélectivement un signal d’interférence résultant d’interférences entre le faisceau de mesure réfléchi et un faisceau de référence (616), le dispositif comprenant en outre des moyens de positionnement (608, 611) et des moyens numériques de traitement, caractérisé en ce que ledit procédé (10) comprend les étapes suivantes : positionnement relatif (12), par les moyens de positionnement (608, 611), d’une zone de cohérence de la source lumineuse (612) au niveau d’une interface (103) à mesurer ; au moins une première étape de mesure (14) et une deuxième étape de mesure (16) de l’interface (103) par les moyens de mesure interférométriques, de sorte à produire une image d’interférence par étape de mesure à partir de signaux d’interférence respectifs ; rotation (15) de l’élément optique (1000) autour de l’axe de référence (R) entre les étapes de mesure (14, 16) ; et traitement (17), par les moyens numériques de traitement, des au moins deux images d’interférence, de sorte à obtenir une information relative à l’interface (103). Procédé (10) selon la revendication 1, caractérisé en ce que l’étape (17) de traitement comprend l’identification d’un même point d’intérêt dans chaque image d’interférence. Procédé (10) selon la revendication 1 ou 2, caractérisé en ce que l’étape de traitement comprend une étape (18) de détermination d’une information de décentrage de l’interface (103). Procédé (10) selon la revendication précédente, caractérisé en ce qu’il comprend en outre une étape de correction du décentrage de l’interface. Procédé (10) selon la revendication précédente, caractérisé en ce que l’étape de correction est réalisée par un déplacement de l’élément optique (1000) relativement au faisceau de mesure dans un plan perpendiculaire à l’axe de référence (R). Procédé (10) selon la revendication 4 ou 5, caractérisé en ce que l’étape de correction est réalisée par une rotation de l’élément optique (1000) dans un plan contenant l’axe de référence (R). Procédé (10) selon l’une quelconque des revendications 3 à 6, caractérisé en ce que l’étape (17) de traitement comprend en outre une étape (19) de correction numérique du décentrage de l’interface. Procédé (10) selon l’une quelconque des revendications précédentes, caractérisé en ce l’étape (17) de traitement comprend en outre une étape (20) d’obtention d’une information géométrique de l’interface à mesurer. Procédé (10) selon l’une quelconque des revendications 3 à 8, caractérisé en ce que l’étape (18) de détermination d’une information de décentrage comprend en outre une étape de correction de propagation prenant en compte des effets de propagation optique subis par le faisceau de mesure en traversant des interfaces de l’élément optique (1000). Procédé (10) selon l’une quelconque des revendications précédentes, caractérisée en ce qu’au moins l’étape (12) de positionnement de la zone de cohérence, les étapes (14, 16) de mesure et l’au moins une étape (15) de rotation sont mises en œuvre de manière séquentielle pour la détermination de l’information relative à différentes interfaces à mesurer. Procédé (10) selon l’une quelconque des revendications précédentes, caractérisé en ce que l’image d’interférence comprend l’une parmi une image de phase, une image d’amplitude et une image de topographie. Dispositif de mesure, pour déterminer une information géométrique d’une interface (103) à mesurer d’un élément optique (1000) par rapport à un axe de mesure (M), l’élément optique (1000) comprenant au moins deux interfaces, le dispositif ayant un axe de référence (R) et comprenant : des moyens de mesure interférométriques (6000) comprenant au moins une source de lumière (612) à faible cohérence et au moins un capteur optique (602), configurés pour : former au moins un faisceau de mesure (606) et au moins un faisceau de référence (616), diriger le faisceau de mesure (606) selon l’axe de mesure (M) vers l’élément optique de sorte à traverser au moins une des au moins deux interfaces et à être réfléchi par l’interface (103) à mesurer et générer un faisceau de mesure réfléchi, détecter sélectivement une pluralité de signaux d’interférence résultant d’interférences entre le faisceau de mesure réfléchi et le faisceau de référence (616) pour une pluralité de points de mesure sur l’interface (103), pour produire une image d’interférence ; des moyens de positionnement (608, 611) configurés pour positionner relativement une zone de cohérence de la source lumineuse au niveau de l’interface (103) à mesurer ; des moyens de déplacement angulaire configurés pour permettre une rotation de l’élément optique (1000) autour de l’axe de référence (R) ; et des moyens numériques de traitement configurés pour déterminer une information relative à l’interface (103) à partir d’au moins deux images d’interférence produites à différentes positions angulaires de l’élément optique (1000). Dispositif selon la revendication 12, caractérisé en ce que les moyens de mesure interférométriques (6000) comprennent un capteur interférométrique, dit capteur interférométrique en plein champ, configuré pour détecter un signal d’interférence en plein champ dans le champ de vue. Dispositif selon la revendication 12 ou 13, caractérisé en ce qu’il comprend en outre des moyens de déplacement configurés pour déplacer l’élément optique (1000) relativement au faisceau de mesure dans un plan perpendiculaire à l’axe de référence (R). Dispositif selon l’une quelconque des revendications 12 à 14, caractérisé en ce que les moyens de déplacement angulaire sont en outre configurés pour permettre une rotation de l’élément optique (1000) dans un plan contenant l’axe de référence (R). Dispositif selon l’une quelconque des revendications 12 à 15, caractérisé en ce que les moyens de positionnement (608, 611) sont configurés pour positionner la zone de cohérence successivement au niveau de différentes interfaces de l’élément optique.