Instrument d’imagerie (10), comprenant : - une optique imageante (1) adaptée pour former une image, appelée image nominale, dans un plan d’image (PI) à partir de rayons lumineux qui sont transmis par l’optique imageante ; - un capteur d’images (2) qui possède une surface photosensible (SP), et qui est disposé de sorte que la surface photosensible soit superposée au plan d’image (PI) ; et - un composant optique (3) qui est situé fixement sur un trajet des rayons lumineux entre l’optique imageante (1) et le capteur d’images (2), ledit composant optique comprenant une portion d’un matériau réfringent et au moins partiellement transparent pour lesdits rayons lumineux, ladite portion ayant deux faces (FE, FS) planes et étant traversée par les rayons lumineux entre lesdites deux faces lors d’une utilisation de l’instrument (10), une partie utile de la surface photosensible (SP) étant limitée par deux points opposés, appelés bords de champ (BC1, BC2), dans un plan longitudinal qui contient un axe optique (A-A) de l’instrument (10), instrument (10) dans lequel la surface photosensible (SP) du capteur d’images (2) et l’une au moins desdites faces (FE, FS) du composant optique (3) possèdent des pouvoirs de réflexion respectifs, tels que les rayons lumineux qui forment l’image nominale sont partiellement réfléchis par la surface photosensible puis par la face du composant optique, et reviennent en direction de ladite surface photosensible, l’instrument (10) étant caractérisé en ce qu’il comprend en outre : - un masque (4), qui est situé fixement sur le trajet des rayons lumineux entre le composant optique (3) et le capteur d’images (2), et qui possède une ouverture limitée dans le plan longitudinal par deux bords de masque (BM1, BM2) opposés, les rayons lumineux passant à travers ladite ouverture lors de l’utilisation de l’instrument (10), un premier des bords de masque (BM1, BM2) et un premier des bords de champ (BC1, BC2) étant situés, à l’intérieur du plan longitudinal, sur un même premier côté latéral de l’axe optique (A-A) de l’instrument (10) entre le composant optique (3) et le capteur d’images (2), et un second des bords de masque (BM1, BM2) et un second des bords de champ (BC1, BC2) étant situés sur un même second côté latéral de l’axe optique, opposé au premier côté latéral, le premier bord de masque limitant un faisceau lumineux qui est transmis par l’optique d’imagerie (1) et qui converge au premier bord de champ, et le second bord de masque limitant un autre faisceau lumineux qui est transmis par l’optique d’imagerie et qui converge au second bord de champ, et en ce que, pour l’une au moins des faces (FE, FS) du composant optique (3) qui possède un pouvoir de réflexion, un angle d’inclinaison d’une direction perpendiculaire à ladite face, par rapport à l’axe optique (A-A) entre le composant optique et le capteur d’images (2) et à l’intérieur du plan longitudinal, est tel qu’un rayon lumineux, appelé rayon critique, qui est issu du second bord de champ puis réfléchi par ladite face du composant optique pour effleurer le premier bord de masque, fasse un angle (γ1, γ2) avec ledit axe optique au niveau dudit premier bord de masque, qui est inférieur à un plus petit des angles formés avec ledit axe optique par des réflexions sur la surface photosensible (SP) du capteur d’images puis sur ladite face du composant optique de tous les rayons lumineux qui sont transmis par l’optique imageante (1) en direction dudit capteur d’images. Instrument (10) selon la revendication 1, dans lequel l’optique imageante (1) possède une pupille (P) qui est effective pour les rayons lumineux qui sont transmis par ladite optique imageante à travers le composant optique (3) en direction du capteur d’images (2), et dans lequel le rayon critique, après réflexion sur la face du composant optique (3), est orienté angulairement en dehors d’un faisceau tel que résultant de la réflexion sur la surface photosensible (SP) puis sur ladite face du composant optique, des rayons lumineux transmis par l’optique imageante (1) à travers le composant optique, et tels que limités par la pupille (P) de ladite optique imageante. Instrument (10) selon la revendication 2, dans lequel le premier bord de masque est superposé dans le plan longitudinal à une première limite générée par la pupille (P) de l’optique imageante (1) et effective pour les rayons lumineux qui parviennent au premier bord de champ, et/ou le second bord de masque est superposé dans le plan longitudinal à une seconde limite générée par la pupille (P) de l’optique imageante (1) et effective pour les rayons lumineux qui parviennent au second bord de champ. Instrument (10) selon l’une quelconque des revendications 1 à 3, dans lequel la face du composant optique (3) qui est inclinée pour que le rayon critique soit moins oblique par rapport à l’axe optique (A-A) que tous les rayons lumineux qui sont transmis par l’optique imageante (1), après la réflexion desdits rayons lumineux sur ladite face du composant optique, est une face de sortie (FS) dudit composant optique tournée vers le capteur d’images (2). Instrument (10) selon l’une quelconque des revendications 1 à 3, dans lequel le composant optique (3) possède une face de sortie (FS) tournée vers le capteur d’images (2), et une face d’entrée (FE) tournée vers l’optique imageante (1), et dans lequel la face du composant optique (3) qui est inclinée pour que le rayon critique soit moins oblique par rapport à l’axe optique (A-A) que tous les rayons lumineux qui sont transmis par l’optique imageante (1), après la réflexion desdits rayons lumineux sur ladite face du composant optique, est la face d’entrée (FE), le rayon critique et lesdits rayons lumineux étant soumis à une réfraction chaque fois que ledit rayon critique et lesdits rayons lumineux traversent la face de sortie (FS). Instrument (10) selon l’une quelconque des revendications 1 à 3, dans lequel le composant optique (3) possède une face de sortie (FS) tournée vers le capteur d’images (2), et une face d’entrée (FE) tournée vers l’optique imageante (1), les deux faces d’entrée et de sortie possédant des pouvoirs de réflexion respectifs, la face de sortie (FS) étant inclinée par rapport à un plan perpendiculaire à l’axe optique (A-A) entre le composant optique (3) et le capteur d’images (2), dans un sens tel qu’une direction perpendiculaire à ladite face de sortie s’éloigne dudit premier bord de masque (BM1) en direction dudit second bord de masque (BM2), et selon une valeur d’angle telle qu’un premier rayon critique (RC1) qui est issu du second bord de champ (BC2), puis est réfléchi par ladite face de sortie pour effleurer le premier bord de masque (BM1), fasse un premier angle (γ1) par rapport audit axe optique au niveau dudit premier bord de masque, qui est inférieur au plus petit (2·θ - β) des angles formés avec ledit axe optique par des réflexions sur la surface photosensible (SP) puis sur ladite face de sortie de tous les rayons lumineux qui sont transmis par l’optique imageante (1) en direction du capteur d’images, et la face d’entrée (FE) étant inclinée par rapport à la face de sortie (FS) de sorte qu’un second rayon critique (RC2) qui est issu du premier bord de champ (BC1) traverse la face de sortie, puis est réfléchi par ladite face d’entrée, retraverse la face de sortie pour effleurer le second bord de masque (BM2), fasse un second angle (γ2) par rapport audit axe optique au niveau dudit second bord de masque, qui est inférieur au plus petit des angles (γ2 lim ) formés avec ledit axe optique par des réflexions sur la surface photosensible (SP) puis sur ladite face d’entrée de tous les rayons lumineux qui sont transmis par l’optique imageante (1) en direction du capteur d’images (2), le second rayon critique et lesdits rayons lumineux étant soumis à une réfraction chaque fois que ledit second rayon critique et lesdits rayons lumineux traversent la face de sortie du composant optique, une direction perpendiculaire à la face de sortie (FS) du composant optique (3) formant un angle (θ) non-nul avec l’axe optique (A-A) tel que ledit axe optique est orienté entre le composant optique (3) et le capteur d’images (2), et la face d’entrée (FE) et la face de sortie (FS) du composant optique (3) formant entre elles un angle (ω) non-nul. Instrument (10) selon l’une quelconque des revendications précédentes, dans lequel la partie utile de la surface photosensible (SP) du capteur d’images (2) est limitée à un seul photodétecteur à l’intérieur du plan longitudinal, et dans lequel la face de sortie (FS) du composant optique (3) est perpendiculaire à un premier rayon lumineux (R1) qui parviendrait au photodétecteur, tel que ledit premier rayon lumineux serait orienté au niveau de ladite face de sortie, et dans lequel la face d’entrée (FE) du composant optique (3) est perpendiculaire à un second rayon lumineux (R2) qui parviendrait au photodétecteur après avoir traversé le composant optique, tel que ledit second rayon lumineux serait orienté au niveau de ladite face d’entrée, et dans lequel le masque (4) est adapté pour limiter le faisceau des rayons lumineux qui parviennent au photodétecteur en ayant été transmis par l’optique imageante (1), à un secteur angulaire qui est compris entre les premier (R1) et second (R2) rayons lumineux à l’intérieur du plan longitudinal. Instrument (10) selon l’une quelconque des revendications précédentes, dans lequel le composant optique (3) est un filtre spectral, ou un ensemble de filtres spectraux juxtaposés chacun en forme de bande, chaque filtre spectral étant efficace pour transmettre sélectivement des rayons lumineux qui sont contenus dans une fenêtre spectrale dudit filtre spectral. Instrument (10) selon l’une quelconque des revendications précédentes, dans lequel la face ou l’une des faces du composant optique (3) qui possède un pouvoir de réflexion comporte plusieurs facettes élémentaires (FS1-FS4) en formes de bandes qui sont juxtaposées selon une direction de juxtaposition (DJ) perpendiculaire à une direction longitudinale commune de toutes les facettes élémentaires, avec des plans contenant un-à-un lesdites facettes élémentaires qui sont tous parallèles et décalés entre eux, des rayons lumineux transmis par l’optique imageante (1) qui traversent des facettes élémentaires (FS1-FS4) différentes convergeant vers des parties disjointes de la surface photosensible (SP) du capteur d’images (2), une ouverture respective du masque (O1-O4) étant dédiée à chaque facette élémentaire (FS1-FS4) séparément des autres facettes élémentaires de façon à reproduire les caractéristiques de la revendication 1 pour toutes les facettes élémentaires, et l’instrument (10) est combiné avec un système de balayage (5) adapté pour déplacer l’image nominale sur la surface photosensible (SP) du capteur d’images (2) selon une direction de balayage qui possède une composante parallèle à la direction de juxtaposition (DJ) des facettes élémentaires (FS1-FS4). Instrument (10) selon la revendication 9, dans lequel le composant optique (3) comporte N facettes élémentaires qui sont juxtaposées, et toutes inclinées selon un même angle par rapport à l’axe optique (A-A) dans le plan longitudinal, N étant un nombre entier supérieur ou égal à deux et inférieur ou égal à seize. Instrument (10) selon la revendication 9 ou 10, dans lequel chaque facette élémentaire (FS1-FS4) du composant optique (3) est associée à un filtre spectral respectif, de sorte qu’une fenêtre spectrale de transmission qui est associée à l’une desdites facettes élémentaires soit différente de la fenêtre spectrale de transmission qui est associée à chaque autre facette élémentaire. Instrument (10) selon l’une quelconque des revendications précédentes, dans lequel l’optique imageante (1) est un télescope. Procédé d’imagerie, utilisant un instrument d’imagerie (10) qui est conforme à l’une quelconque des revendications précédentes. Procédé d’imagerie selon la revendication 13, de type procédé d’imagerie multispectrale, suivant lequel l’instrument d’imagerie (10) est conforme à la revendication 11, et suivant lequel ledit instrument d’imagerie est utilisé à bord d’un satellite en orbite autour de la Terre.