Procédé d’imagerie par contraste de phase pour estimer la stœchiométrie locale d’un échantillon en déterminant un paramètre δ d’une partie réelle et une partie imaginaire β d’un indice optique complexe de l’échantillon ; ce procédé est mis en œuvre en utilisant une source de rayons X pour illuminer l’échantillon disposé entre la source et un détecteur, une grille constituée de trous disposée entre l’échantillon et le détecteur, et une unité de traitement des signaux provenant du détecteur ; le procédé comprenant les étapes suivantes : - réalisation d’au moins une mesure en illuminant l’échantillon, les rayons X atteignant le détecteur forment une tâche pour chaque trou de la grille, - pour chaque mesure et pour chaque trou de la grille, analyse indépendante de la tâche formée sur la grille en déterminant un barycentre de la tâche en utilisant une technique de recherche de centroïdes, - détermination d’un décalage du barycentre par rapport à un barycentre de référence puis détermination d’une variation de phase locale à partir du décalage du barycentre, - détermination d’une amplitude des rayons X formant la tâche puis détermination d’une atténuation locale par rapport à une amplitude de référence, - détermination du paramètre δ à partir de la variation de phase locale, et - détermination de la partie imaginaire β à partir de l’atténuation locale. Procédé selon la revendication 1, caractérisé en ce que le barycentre de référence est obtenu lors d’une mesure en illuminant le détecteur à travers la grille, sans l’échantillon ou en présence d’un échantillon de référence. Procédé selon la revendication 1 ou 2, caractérisé en ce que l’amplitude de référence est obtenue lors d’une mesure en illuminant le détecteur à travers la grille, sans l’échantillon ou en présence d’un échantillon de référence. Procédé selon l’une quelconque des revendications précédentes, caractérisé en ce que la grille est constituée de trous espacés régulièrement ou de manière irrégulière. Procédé selon l’une quelconque des revendications précédentes, caractérisé en ce que le pas des trous de la grille est supérieur ou égal à la taille d’un pixel du détecteur. Procédé selon l’une quelconque des revendications précédentes, caractérisé en ce que la taille des trous de la grille est supérieure ou égale à la largeur d’un pixel du détecteur. Procédé selon l’une quelconque des revendications précédentes, caractérisé en ce que les dimensions de la grille et la distance entre la source, la grille et le détecteur sont déterminées de sorte que la tâche pour chaque trou couvre plusieurs pixels du détecteur. Procédé selon l’une quelconque des revendications précédentes, caractérisé en ce que le paramètre δ est déterminé en utilisant l’équation suivante : ; Δφ étant la variation de phase locale et « l » la distance parcourue par le rayon X. Procédé selon l’une quelconque des revendications précédentes, caractérisé en ce que la partie imaginaire β est déterminée en utilisant l’équation suivante : I/I 0 étant l’atténuation, λ étant la longueur d’onde du rayon X et « l » la distance parcourue par le rayon X. Procédé selon l’une quelconque des revendications précédentes, caractérisé en ce que la source de rayons X est une source multi-énergies. Procédé selon la revendication 10, caractérisé en ce que la source multi-énergies comprend une anode associée à plusieurs filtres de type K-alpha. Procédé selon la revendication 10, caractérisé en ce que la source multi-énergies comprend un émetteur à rayons X et plusieurs filtres externes à l’émetteur à rayons X. Procédé selon l’une quelconque des revendications précédentes, caractérisé en ce que pour obtenir plusieurs niveaux d‘énergies différentes, le détecteur est un détecteur à comptage de photons. Procédé selon l’une quelconque des revendications précédentes, caractérisé en ce que pour un échantillon non pur, réalisation de plusieurs mesures à des niveaux d’énergies différentes. Procédé selon la revendication 14, caractérisé en ce que 2i mesures sont réalisées à des énergies différentes, « i » étant le nombre total d’éléments chimiques contenus dans l’échantillon. Procédé selon la revendication 14, caractérisé en ce que lorsque les matériaux constituants l’échantillon sont connus, i/2 mesures sont réalisées à des énergies différentes, « i » étant le nombre total d’éléments chimiques contenus dans l’échantillon. Système de radiographie X comprenant une source de rayons X, un détecteur, une grille constituée de trous disposée entre l’échantillon et le détecteur, et une unité de traitement des signaux provenant du détecteur, pour la mise en œuvre du procédé selon l’une quelconque des revendications 1 à 16. Système de tomographie X comprenant une source de rayons X, un détecteur, une grille constituée de trous disposée entre l’échantillon et le détecteur, et une unité de traitement des signaux provenant du détecteur, pour la mise en œuvre du procédé selon l’une quelconque des revendications 1 à 16.