INPI-France/Brevets-Francais-2024-Chunked huggingface dataset:
-les indicateurs colorés choisis présenteront, avantageusement, une couleur initiale (c’est-à-dire sans exposition à un ou des composés chimiques) similaire, et, de préférence, une couleur claire (par exemple, dans les nuances de jaune pâle), voire sont incolores, ces indicateurs étant en revanche choisis pour leur capacité à présenter chacun un virage chromatique contrasté en présence d’au moins un composé chimique donné.
Sans être lié par la théorie, les systèmes de détection conformes à l’invention fonctionnent selon le principe suivant. Chaque indicateur coloré présente une couleur initiale X i et des couleurs après exposition à au moins un composé chimique donné, possiblement différentes, X f1 , X f2 , … Ainsi, le dépôt sur le support de X indicateurs colorés de couleurs X i conduit à un support présentant une couleur résultante R i .
Selon une autre caractéristique possible, la détermination du niveau de fuite F est fonction du rapport de variations par rapport au temps, telles que des dérivées, du signal de mesure M(t).
Selon une autre caractéristique possible, la détermination d’un niveau fuite F est fonction du signal de mesure M(t), des dérivées première, seconde et/ou troisième, respectivement notées M’(t), M’’(t) et M’’’(t), du signal de mesure M(t).
Selon une autre caractéristique possible, la valeur du niveau de fuite F est la moyenne de plusieurs valeurs du signal de mesure M(t) et/ou de ses variations par rapport au temps (telles que des dérivées ou autres). Ainsi, afin de rendre plus robuste la détermination du niveau de fuite F, la fonction de modélisation A(t) est appliquée à plusieurs intervalles de temps, consécutifs ou non, du signal de mesure M(t).
Selon une autre caractéristique possible, les valeurs des composantes τ et C de la fonction de modélisation A(t) sont calculées au préalable ou sont prédéterminées, puis mémorisées pour être utilisées lors la détermination du niveau de fuite. Dans le cas où l’objet testé est toujours le même, il peut être avantageux de prédéterminer des valeurs moyennes pour certaines composantes de la fonction de modélisation A(t), ceci afin d’améliorer la rapidité du contrôle d’étanchéité. On notera également qu’il est avantageux de prédéterminer les valeurs des composantes τ et C au moyen d’une base de données de mesures passées et de méthodes d’apprentissage, d’optimisation et/ou de régression sur de telles bases de données.
Selon une autre caractéristique possible, ladite fonction de modélisation A(t) est déterminée pour une période prédéterminée de temps Δt, avantageusement pour une période de temps Δt comprise entre 500 et 4000 millisecondes (ms). L’acquisition du signal de mesure M(t) (et donc la détection de fuites) peut être réalisée sur des durées allant de 100 millisecondes et 650 secondes, on peut ainsi déterminer plusieurs fonctions d’ajustement A(t) successives ou de manière glissante, afin de moyenner et/ou de pouvoir vérifier plusieurs fois les composantes de la fonction de modélisation A(t), ainsi que le niveau de fuite F.
L’invention se rapporte également à un dispositif de détection de fuites configuré pour mettre en œuvre la méthode de détection de fuites selon l’invention telle que définie précédemment.
Selon une autre caractéristique possible, le dispositif de détection de fuites est un dispositif de détection de fuites par variation de pression.
L’invention sera mieux comprise, et d’autres buts, détails, caractéristiques et avantages de celles-ci apparaîtront plus clairement au cours de la description suivante de modes de réalisation particuliers de l’invention, donnée uniquement à titre illustratif et non limitatif, en référence aux dessins annexés, sur lesquels : - la , référencée , est une représentation très schématique d’un dispositif de détection de fuite selon l’invention ; - la , référencée , est un graphique illustrant un exemple de la variation de la pression au cours d’une procédure de détection de fuite réalisée par le dispositif de la  ; - la , référencée , est un logigramme illustrant la méthode de détection de fuites selon l’invention.
La est ainsi une représentation très schématique d’un dispositif 1 de détection de fuites pour contrôler l’étanchéité d’un objet 10. L’objet testé peut être n’importe quel objet dont l’étanchéité doit être contrôlée, emballage, échangeur de chaleur, téléphone portable, etc.
Ledit dispositif 1 comprend ainsi : - un système 5 de mise sous pression ou sous vide d’un volume caractéristique relatif à l’objet 10 testé, c’est-à-dire que cela peut être un volume interne à l’objet (méthode directe) ou un volume fermé entourant ledit objet (méthode indirecte) ; - un premier capteur de pression 7 configuré pour mesurer les variations de pression dudit volume caractéristique ledit capteur 7 permettant de contrôler l’étanchéité de l’objet 10 ; - un deuxième capteur de pression 17, qui est un capteur facultatif, configuré pour mesurer la pression appliquée dans ledit volume caractéristique par ledit dispositif 5 ; - des connexions aérauliques 11, telles que des conduits ou tuyaux, configurées pour relier le dispositif 5 de mise sous pression à l’objet 10 et à une référence 13 ; - une entité électronique 15, telle qu’un circuit électronique, reliée aux différents capteurs 7 et 17 de pression et configurée pour récupérer les valeurs de pression mesurées par lesdits capteurs 7 et 17.
De manière avantageuse, le système 5 de mise sous pression ou de mise sous vide comprend une source de pression 51 qui peut être par exemple une pompe, un compresseur, une alimentation en air comprimé ou en gaz sous pression.
On notera que dans un mode réalisation non représenté, ledit dispositif 1 comprend un troisième capteur de pression configuré pour mesurer les variations de pression de l’environnement, généralement la pression atmosphérique.
Le premier capteur 7 de pression est préférentiellement un capteur de pression différentielle. Tandis que les deuxième 17 et/ou troisième capteurs sont avantageusement des capteurs de pression absolue. Dans une variante de réalisation non représentée, le premier capteur 7 de pression est un capteur de pression absolue, et le dispositif de détection de fuites ne comporte pas de référence 13.
Une détection de fuites opérée par le dispositif 1 de la peut être scindée en quatre grandes phases, plus particulièrement illustrée à la : - une phase de remplissage I du volume caractéristique de l’objet testé par de l’air comprimé (ou un gaz quelconque, de préférence inerte, tel que du diazote), la pression augmentant jusqu’à une valeur de pression P1 souhaitée ; - une phase de stabilisation II, après avoir mis le volume caractéristique de l’objet testé sous pression, il est nécessaire que celui-ci revienne à l’équilibre thermique et mécanique généralement pendant une durée prédéfinie, appelée également temps de stabilisation, ceci afin de limiter les perturbations de la mesure de la fuite par des phénomènes transitoires ; - une phase de test III, pendant laquelle il y a mesure de la variation de pression pendant un temps t test , dit temps de test, dans le volume caractéristique pour déterminer un niveau de fuite de l’objet testé ; - une phase de vidage IV, pendant laquelle le volume caractéristique mis sous pression de l’objet testé est ramené à pression atmosphérique.
On notera que la détection de fuites peut également être réalisée en vide (ou en dépression), c’est-à-dire qu’au lieu d’augmenter la pression lors de première phase I, la pression régnant dans le volume caractéristique de l’objet à tester est abaissée jusqu’au une valeur prédéterminée. Les phases II et III restent inchangées. Tandis que la quatrième phase (ou phase IV) consiste à augmenter la pression régnant dans l’objet testé jusqu’à une valeur de pression correspondant à la pression atmosphérique. On peut donc considérer qu’il y a « interversion » des phases I et IV de remplissage et de vidage entre les procédures de détection de fuites en pression et en vide.
L’invention, qui est une méthode de détection de fuites par variation de pression au moyen du dispositif 1, s’inscrit donc avantageusement dans une ou plusieurs phases d’une détection de fuites illustrée à la , notamment au niveau des phases stabilisation II et/ou de test III , l’un des buts de l’invention étant de réduire le temps de stabilisation et pouvoir opérer une détection de fuites le plus rapidement possible (en réduisant le temps de test).
détermination d’un premier ensemble de premiers points de détour dans ledit périmètre spatial donné, et pour chacun des premiers points de détour, calcul d’une durée calculée de trajectoire détournée obtenue par ladite méthode choisie de calcul de trajectoire détournée sur la base dudit premier point de détour, détermination d’un deuxième ensemble de deuxièmes points de détour, chaque deuxième point de détour ayant une durée estimée de trajectoire détournée associée, respectant ladite contrainte temporelle, ladite durée estimée étant calculée à partir de durées associées à des premiers points de détour voisins dudit deuxième point de détour.
Avantageusement, le procédé de l’invention, grâce à la détermination de deuxièmes points de détour, obtenus en utilisant une estimation de durée de trajectoire détournée associée, calculée à partir des durées calculées associées à des premiers points de détour voisins dudit deuxième point de détour, permet d’alléger la charge calculatoire pour obtenir des points de détour candidats, respectant la contrainte temporelle.
Le procédé de génération de trajectoire(s) selon l’invention peut également présenter une ou plusieurs des caractéristiques ci-dessous, prises indépendamment ou selon toutes les combinaisons techniquement envisageables.
Le procédé comporte en outre une détermination d’un troisième ensemble de troisièmes points de détour, comprenant au moins un troisième point de détour, chaque troisième point de détour étant sélectionné parmi lesdits deuxièmes points de détour et étant tel que la durée calculée de trajectoire détournée obtenue par ladite méthode choisie de calcul de trajectoire détournée sur la base dudit troisième point de détour respecte la contrainte temporelle.
Le calcul de durée estimée de trajectoire détournée associée à un deuxième point de détour candidat met en œuvre une interpolation de durées calculées associées à des premiers points de détour voisins, prenant en compte une distance entre ledit deuxième point de détour candidat et chacun des premiers points de détour voisins.
La détermination d’un deuxième ensemble de deuxièmes points de détour comporte une sélection de deuxièmes points de détour candidats et, pour chaque deuxième point de détour candidat, une détermination de premiers points de détour voisins.
Le premier ensemble comporte des premiers points de détour répartis sur une première grille régulière de premier pas de grille prédéterminé, et le deuxième ensemble de deuxièmes points de détour est obtenu à partir de deuxièmes points de détour candidats, répartis sur une deuxième grille régulière de deuxième pas de grille, le deuxième pas de grille étant inférieur au premier pas de grille.
Les premiers points de détour et les deuxièmes points de détour sont répartis aléatoirement ou pseudo-aléatoirement dans au moins une partie dudit périmètre spatial.
Le procédé comporte en outre, pour chaque premier point de détour, un calcul et une mémorisation d’au moins un facteur de mérite associé, et, pour chaque deuxième point de détour, un calcul d’au moins un facteur de mérite estimé associé, la détermination d’un troisième ensemble de troisièmes points de détour étant en outre fonction desdits facteurs de mérite estimés.
Le procédé comporte un ordonnancement des deuxièmes points de détour en fonction d’un facteur de mérite associé et la sélection d’un troisième point de détour étant effectuée dans l’ordre décroissant des valeurs de facteur de mérite.
Selon un autre aspect, l’invention concerne un dispositif de génération de trajectoire(s) d’un appareil mobile, respectant une contrainte temporelle prédéterminée, entre un point de départ et un point d’arrivée, dans un périmètre spatial donné, comportant un module configuré pour une génération de trajectoire mettant en œuvre une méthode choisie de calcul de trajectoire détournée, sur la base d’un point de détour sélectionné, reliant le point de départ et le point d’arrivée. Ce dispositif comporte au moins un processeur configuré pour mettre en œuvre :
un module configuré pour déterminer un premier ensemble de premiers points de détour dans ledit périmètre spatial donné, et pour chacun des premiers points de détour, calculer une durée calculée de trajectoire détournée obtenue par ladite méthode choisie de calcul de trajectoire détournée sur la base dudit premier point de détour, un module configuré pour déterminer un deuxième ensemble de deuxièmes points de détour, chaque deuxième point de détour ayant une durée estimée de trajectoire détournée associée, respectant ladite contrainte temporelle, ladite durée estimée étant calculée à partir de durées calculées associées à des premiers points de détour voisins dudit deuxième point de détour.
Selon un mode de réalisation, le dispositif comporte en outre un module de détermination d’un troisième ensemble de troisièmes points de détour, comprenant au moins un troisième point de détour, chaque troisième point de détour étant sélectionné parmi lesdits deuxièmes points de détour et étant tel que la durée calculée de trajectoire détournée obtenue par ladite méthode choisie de calcul de trajectoire détournée sur la base dudit troisième point de détour respecte la contrainte temporelle.
Avantageusement, le dispositif de génération de trajectoire(s) est configuré pour mettre en œuvre le procédé de génération de trajectoire(s), selon toutes ses variantes envisagées.
Selon un autre aspect, l’invention concerne un programme d’ordinateur comportant des instructions logicielles qui, lorsqu’elles sont exécutées par un dispositif électronique programmable, mettent en œuvre un procédé de génération de trajectoire(s) tel que brièvement décrit ci-dessus.
Dans un mode de réalisation, un filtre spectral parmi le premier filtre spectral et le second filtre spectral est un filtre coupe-bande et l’autre filtre spectral est un filtre passe-bas.
Une telle configuration rend la fabrication des composants de l’afficheur aisée et peu coûteuse du fait de la simplicité de fabrication d’un filtre passe-bas et d’un filtre coupe-bande.
Par exemple, les deux éléments sont le premier réflecteur et le second réflecteur.
Dans un autre exemple, les deux éléments sont l’un parmi le premier réflecteur et le second réflecteur, et la fenêtre.
Dans un troisième exemple, les deux éléments sont l’un parmi le premier réflecteur et le second réflecteur, et l’élément optique de sortie.
Dans un autre exemple, les deux éléments sont l’élément optique de sortie et la fenêtre.
Selon une possibilité de réalisation : - le faisceau lumineux comprend une composante bleue, et/ou - un élément supplémentaire parmi l'élément optique de sortie, le premier réflecteur, le second réflecteur et la fenêtre, différent des deux éléments, est pourvu d’un troisième filtre spectral, et/ou - le troisième filtre spectral est configuré pour empêcher la propagation d'une extrémité à l'autre du chemin optique d'une composante spectrale s'étendant spectralement entre la composante bleue et la composante verte.
L’avantage de cette variante est de permettre, par l’ajout d’un filtre, de réduire davantage la charge solaire en empêchant la propagation des longueurs d’onde comprises entre la composante bleue et la composante verte, tout en préservant le contenu colorimétrique des images formées par l’afficheur. En effet, le passage à travers l’intégralité de l’afficheur de la composante rouge, la composante verte et la composante bleue permet la formation d’images en couleurs non altérées spectralement.
Dans un mode de réalisation, le troisième filtre spectral est un filtre coupe-bande.
Un tel filtre est simple à fabriquer et rend ainsi aisée la conception de l’afficheur, celui-ci présentant une réduction du phénomène de charge solaire optimale tout en préservant la qualité colorimétrique des images qu’il forme.
est une vue schématique montrant l’intégration d’un afficheur tête-haute selon l’invention dans un véhicule automobile.
est une vue agrandie d’un mode de réalisation de l’afficheur tête haute de la montrant le trajet des rayons lumineux issus du dispositif de génération d’images à travers l’afficheur tête haute.
est une représentation schématique des spectres d’un premier filtre spectral et d’un deuxième filtre spectral dans un premier mode de réalisation de l’invention.
est une représentation schématique des spectres du premier filtre spectral et du deuxième filtre spectral dans un deuxième mode de réalisation de l’invention.
Dans cette structure ECB les molécules de cristal liquide nématique sont parallèles entre elles au repos. Le substrat S1 est surmonté d’un empilement de couches de métallisation comprenant des pistes conductrices PM séparées par un matériau isolant MI. Dans un niveau supérieur de l’empilement d’interconnexion EI est définie une première électrode EL1 dite électrode de pixel, réfléchissante qui recouvre une grande partie du pixel (typiquement en aluminium ou en cuivre). En surface de l’empilement d’interconnexion est formé un empilement d’une première couche d’alignement CA1 (accroche et alignement des cristaux liquides), d’une couche de cristaux liquide CL, d’une deuxième couche d’alignement CA2 et d’une couche conductrice transparentes formant une deuxième électrode EL2 (typiquement en oxyde d’indium-étain ou ITO). Les couches CA1 et CA2 alignent le cristal liquide selon une direction Xa définie. Par exemple ces couches sont en polymère, typiquement du polyimide, présentant des stries parallèle en surface côté cristal liquide qui forcent son alignement. L’empilement comprend en outre à titre d’exemple une plaque supérieure S2 typiquement de verre. Les matériaux des diverses couches sont choisis pour éviter les réflexions parasites.
Les éléments d’application de tension de commande sur les électrodes EL1 et EL2 ne sont pas décrits en détail, la réalisation de pistes et/ou vias d’accès aux électrodes EL1 et EL2 sont bien connus dans les techniques de circuit intégré.
Le fonctionnement d’un LC-SPM en réflexion de type ECB est illustré . Il est constitué de deux parties, une partie CMOS comprenant le substrat en silicium intégrant au moins une partie de l’adressage et une cellule élémentaire de cristal liquide CE.
En A0 les molécules sont au repos, c’est-à-dire sans tension appliqué entre EL1 et EL2, les molécules sont parallèles entre elles et parallèle au plan de la couche CL et du dispositif 5, orientées selon la direction Xa.
En B0 l’application d’une tension entre EL1et EL2, dite tension d’activation, génère un champ électrique d’activation Ea qui modifie l’orientation des cristaux liquides. Cette phase d’adressage des cristaux liquides est dite d’activation. L’orientation des molécules est ajustée pixel par pixel, l’électrode EL1 étant définie indépendamment dans chacun des pixels. La biréfringence de la couche de cristal liquide est fonction de cette orientation, et donc le déphasage induit à l’onde incidente dépend de cette tension d’activation appliquée.
Si la polarisation de la lumière incidente est parallèle à l’axe Xa, la tension appliquée est directement liée au déphasage de la lumière. Le retard maximum ΔΦ, engendré sur une lumière incidente de longueur d’onde λ par une couche de cristaux liquides d’épaisseur e et dont la différence d’indice de réfraction ordinaire n0 et extraordinaire ne s’écrit Δn (Δn = ne-n0), s’exprime par : ΔΦ = (2π/λ).Δn.e.
Ainsi pour le dispositif 5 qui agit sur le faisceau lumineux réfléchi, après un aller-retour dans la couche de cristal liquide, le déphasage maximal engendré est donc 2.ΔΦ. La biréfringence Δn est une caractéristique des molécules de cristal liquide utilisées, et varie typiquement entre 0.1 et 0.3. Le choix l’épaisseur de la couche de cristal liquide permet donc d’avoir une liberté sur le choix des molécules de cristal liquide pour une modulation de phase du faisceau réfléchi. Ainsi pour un fonctionnement en ECB il convient que la lumière incidente soit polarisée de façon alignée avec l’orientation des cristaux liquide au repos.
La courbe 19 illustre la tension d’activation Vact appliquée pendant la phase d’activation pour obtenir une orientation désirée des molécules. Pour accélérer le redressement des molécules une surtension 18 ou « overshoot » est appliqué en début de phase. La courbe 20 illustre la variation de l’angle d’inclinaison θ des molécules de cristal liquide, qui peuvent être représentés par des bâtonnets s’orientant suivant la direction du champ électrique, dans le plan (Xa, Z) du dispositif. Il faut un certain temps dénommé temps de réponse, pour que l’orientation de la molécule atteigne la valeur d’orientation désirée correspondant à la différence de phase souhaitée. Les molécules de cristal s’orientant suivant la direction du champ électrique indépendamment de sons sens, un champ alternatif carré est préférentiellement appliqué pour éviter les effets d’électrolyse.
En C0 dans une phase dite de relaxation on cesse d’appliquer la tension d’activation, les molécules retournent vers leur positon de repos. On pourra ensuite appliquer à nouveau une tension d’activation correspondant à une nouvelle orientation désirée. La courbe 21 illustre le retour à la position de repos, caractérisé par un temps de relaxation. Cette phase de retour est purement mécanique, avec une vitesse de retour à la position initiale fonction de la viscosité du cristal liquide. On remarque que le temps de relaxation est important, et qu’il faudra donc attendre un certain temps avant de pouvoir rafraîchir le SPM, ce qui limite sa fréquence de fonctionnement.
On peut en outre réaliser une modulation d’amplitude du faisceau incident en insérant un polariseur entre l’empilement d’interconnexion EI et la couche d’alignement CA1.
Dans un mode particulier de LCOS décrit dans le document W02014/087099 un dispositif LC-SPM est hybridé avec une fonction de détection. La décrit ce dispositif 30 en perspective et la de profil. La structure est proche du LCOS de la avec la différence que l’électrode pixel EL1 présente une ouverture 58 qui laisse passer une partie du faisceau incident cohérent 32 (ayant subi des transformations avant d’arriver sur le dispositif 30), qui interfère avec un faisceau référence 36 issu d’une même source. Un photodétecteur PD est intégré dans le substrat silicium et disposé en regard de l’ouverture 58, et assure la fonction de détection. Ainsi une partie du faisceau incident est détectée par PD et l’autre partie est réfléchie par l’électrode EL1, et retraverse le cristal liquide formant le faisceau 44, dont on modifie la phase par commande du cristal liquide, tel qu’expliqué précédemment.
On accède à la phase du faisceau 32 (mesure du front d’onde) par interférométrie avec le faisceau 36, en mesurant l’intensité résultant de l’interférence.
L’objectif de ce dispositif est de réaliser une mesure de front d’onde du faisceau 32, puis de procéder à la mise en forme du faisceau réfléchi 44 (onde dite de « playback »), de manière dépendante des mesures de front d’onde effectuées. Un dispositif de traitement non représenté reçoit les informations du photodétecteur et défini, en fonction de l’information du front d’onde détectée par PD, la modulation de phase que le SPM doit appliquer. Chaque pixel assure simultanément la fonction de détection et la fonction de modulation en phase.
Ce type de dispositif trouve des applications en optique adaptative, pour moduler en parallèles des canaux de communication optiques, en interférométrie… Néanmoins une limitation de la fréquence de fonctionnement de ce dispositif est liée à la lenteur de la relaxation, comme décrit plus haut.
Un but de la présente invention est de remédier aux inconvénients précités en proposant un modulateur de phase à cristal liquide présentant une phase de relaxation accélérée.