INPI-France/Brevets-Francais-2024-Chunked huggingface dataset:
Le moyen de centrage 57 peut être une zone de protection configurée pour limiter la déformation de la partie centrale lors de la déformation de la zone de fixation déformable de la coupelle pour fixer la coupelle sur le récipient. Comme illustré à la , le moyen de centrage 57 peut être une paroi montante qui protrude à partir de la partie descendante périphérique 562. La paroi montante sert d’une part de zone de protection en isolant la partie centrale 561 de la zone de fixation déformable 51, et d’autre part, elle sert de moyen de centrage 57 pour centrer le corps de valve 10. En effet, le corps de valve 10 peut occuper l’espace de la cavité définie par la paroi montante 563 et la partie centrale 561 de la paroi de fond 56 du côté de la face intérieure 501 de sorte à être centré avant d’être fixé à la coupelle de valve 50.
La hauteur du moyen de centrage 57, définie comme étant la distance entre le sommet du moyen de centrage 57 et la base du moyen de centrage 57, peut être inférieure à la hauteur de la couronne de fixation 15.
Bien que les principes de l'invention aient été exposés ci-dessus en relation avec des modes de réalisation spécifiques, il convient de comprendre que cette description est simplement faite à titre d'exemple et ne constitue pas une limitation de l'étendue de la protection qui est déterminée par les revendications jointes ci-après.
LISTE DES RÉFÉRENCES 1 Valve selon l’invention
10 Corps de valve
11 Corps tubulaire
111 Arête effilée
112 Ouverture de passage
Etape 220 : prise en compte d’une matrice de dispersion spectrale , de dimension ( , ) dont chaque terme est tel que
Dans ce mode de réalisation, la matrice de dispersion spectrale forme la matrice de passage du procédé en prenant en compte une fonction d’énergie arbitraire, telle que : : un canal équivaut à 1 keV.
correspond à la largeur à mi-hauteur du pic de rang , exprimée en canaux ; les grandeurs pour chaque pic forment un vecteur de paramètres de la matrice .
est un canal du spectre correspondant à la position du centre du pic d’énergie . est un nombre réel, compris entre 0 et . peut être compris entre deux rangs successifs et +1. Les canaux correspondant à chaque pic forment un vecteur de dimension (1 ). désigne le nombre de pics détectés. Le vecteur est un vecteur de paramètres de la matrice .
La matrice de dispersion spectrale peut être considérée comme une matrice de dispersion spectrale initiale, utilisée préalablement à la détermination de la fonction d’énergie du détecteur. La matrice de dispersion spectrale initiale est établie de façon analogue à la matrice , préalablement décrite, en prenant en compte une fonction d’énergie arbitraire, simplificatrice, selon laquelle chaque canal correspond à 1 keV.
A la différence du premier mode de réalisation :
les valeurs ne sont pas connues mais constituent des paramètres de la matrice de dispersion spectrale ; les canaux ne sont pas connus et constituent également des paramètres de la matrice de dispersion spectrale ; la matrice n’est pas déterminée . Sa forme paramétrique est connue, et correspond à l’expression (21).
Etape 230 : extraction des surfaces de pics.
Au cours de cette étape, on prend en compte le modèle direct :
est un vecteur de dimension ( ,1), comporte des termes respectivement représentatifs du nombre de photons détectés dans un pic centré sur le canal . Le vecteur détermine l’aire de chaque pic du spectre, en prenant en compte la fonction de réponse spectrale du détecteur. est une matrice de passage du modèle direct
Le vecteur peut être estimé en mettant en œuvre un algorithme d’optimisation, par exemple tel que décrit dans l’étape 150, ce qui conduit à l’obtention d’une estimation conjointement à l’estimation de .
L’algorithme d’optimisation permet une minimisation d’une fonction de coût de façon à déterminer les vecteurs et et les vecteurs de paramètres et .
De même que dans le premier mode de réalisation, on met en œuvre un algorithme d’optimisation permettant une minimisation d’une fonction de coût , de façon à déterminer et .
En outre, les techniques classiques pour détecter les changements des conditions de fonctionnement ne sont généralement pas liées à des paramètres technologiques. Les paramètres technologiques sont les paramètres liés au comportement de la physique des semi-conducteurs ; ils sont également appelés variations de procédé. Ces technologies ne sont pas capables de détecter la modification de la fréquence d’horloge, ou l’altération du comportement des semi-conducteurs par stimulation électromagnétique ou laser.
De plus, les capteurs classiques des changements de conditions de fonctionnement sont généralement basés sur le matériel et invariables, ce qui signifie que le déclenchement de la détection est fixé au moment de la fabrication. Un client ne peut donc pas configurer un déclenchement de détection plus ou moins sensible selon son application particulière.
Il existe donc un besoin pour un dispositif et un procédé permettant de prévenir les problèmes de sécurité et de sûreté susmentionnés, et qui puissent résoudre les inconvénients des techniques classiques.
Selon des modes de réalisation des aspects décrits ci-après, il est proposé de fournir un outil matériel configurable apte à détecter les conditions de fonctionnement hors plage en utilisant les mêmes composants qui constituent tous les circuits présents à l’intérieur du système sur puce et en se basant sur les conditions physiques procédé-tension-température. En d’autres termes, dans les modes de réalisation proposés, la technologie prévient l’utilisateur que le système va connaître un dysfonctionnement, et est donc capable de détecter des conditions altérées de n’importe quelle nature aux fins de sécurité et de sûreté.
Selon un aspect, il est proposé un système sur puce comportant un capteur de procédé-tension-température, ou capteur « PVT », comprenant un circuit de filtre configuré pour engager un signal numérique à motif et pour propager le signal numérique à motif d’une manière réagissant aux variations d’un matériau semi-conducteur, d’une tension d’alimentation de fonctionnement et d’une température de fonctionnement du système sur puce, et un circuit de comparaison numérique configuré pour comparer le signal numérique à motif engagé au signal numérique à motif propagé, et pour générer un signal d’alerte en cas de divergence entre les signaux numériques à motif comparés.
Par « réagissant à », on entend « dépendant de » ou « impacté par », par exemple de telle manière que le circuit de filtre est adapté pour propager le signal numérique à motif selon un comportement nominal qui ne modifie pas le signal numérique à motif lorsque les conditions de fonctionnement se trouvent dans une plage nominale, et pour propager le signal numérique à motif selon un comportement altéré qui modifie le signal numérique à motif lorsque les conditions de fonctionnement sont en dehors de la plage nominale.
Ainsi, en observant les divergences introduites sur un signal numérique à motif par le circuit de filtre, cet aspect permet de détecter une modification des propriétés du matériau et des composants du circuit sur la performance courante du circuit (plus particulièrement le circuit de filtre), en donnant une meilleure information sur le risque de dysfonctionnement qu’une détection d’une mesure isolée (comme classiquement une détection basée sur une mesure de la tension d’alimentation, ou sur une mesure de la température).
Selon un mode de réalisation, le circuit de filtre comporte un premier circuit de bascule adapté pour propager le signal numérique à motif, et un premier circuit de retard configuré pour retarder le signal numérique à motif à une entrée de données du premier circuit de bascule et configuré pour réagir aux variations du matériau semi-conducteur, de la tension d’alimentation de fonctionnement et de la température de fonctionnement du système sur puce.
Le premier circuit de retard situé à l’entrée de données du premier circuit de bascule permet de détecter une augmentation de la durée du retard, correspondant avantageusement à une diminution de la vitesse du système sous la plage nominale, appelée aussi détection d’une violation de réglage.
Par exemple, le premier circuit de retard peut être constitué de n’importe quelles cellules numériques dans lesquelles le retard intrinsèque augmente avec la température, une cellule de retard numérique peut être préférée parce que ce type de cellule numérique est généralement la plus sensible.
Selon un mode de réalisation, le circuit de filtre comporte un deuxième circuit de bascule adapté pour propager le signal numérique à motif et devant être cadencé par un signal d’horloge, un deuxième circuit de retard configuré pour retarder le signal numérique à motif à une entrée de données du deuxième circuit de bascule et configuré pour réagir aux variations du matériau semi-conducteur, de la tension d’alimentation de fonctionnement et de la température de fonctionnement du système sur puce, et un troisième circuit de retard configuré pour retarder le signal d’horloge à l’entrée d’horloge du deuxième circuit de bascule et configuré pour être moins sensible aux variations du matériau semi-conducteur, de la tension d’alimentation de fonctionnement et de la température de fonctionnement du système sur puce que le deuxième circuit de retard.
L’association des deuxième et troisième circuits à retard, situés respectivement à l’entrée de données et à l’entrée d’horloge du deuxième circuit de bascule permet de détecter une réduction de la durée du retard, correspondant avantageusement à une augmentation de la vitesse du système au-dessus de la plage nominale, appelée aussi détection d’une violation de maintien, par exemple lorsque la température devient inférieure à la limite nominale minimale, et/ou lorsque la tension d’alimentation est augmentée au-dessus de la limite nominale maximale.
Une violation du temps de maintien se produit avec la configuration définie par ce mode de réalisation quand la différence des deux retards ne se trouve pas dans la plage nominale.
Selon un mode de réalisation, le capteur PVT comporte des registres configurés pour stocker des paramètres internes qui déterminent la sensibilité du circuit de filtre aux variations du matériau semi-conducteur, de la tension d’alimentation de fonctionnement et de la température de fonctionnement du système sur puce.
Selon un mode de réalisation, les paramètres internes comprennent la durée de retard du ou des circuit(s) à retard respectif(s), par exemple le premier circuit de retard dans le premier mode de réalisation défini ci-dessus, les deuxième et troisième circuits à retard dans le deuxième mode de réalisation défini ci-dessus, ou les premier, deuxième et troisième circuits à retard dans la combinaison de ces deux modes de réalisation.
La capacité à être configurés des paramètres internes permet à un utilisateur de régler et de modifier la plage nominale de l’état de fonctionnement. Ainsi, selon ce mode de réalisation, la protection du système sur puce peut être adaptée à une condition d’utilisation particulière, et à la criticité de l’opération réalisée par le système sur puce (comme une opération critique nécessitant des protections de sécurité et de sûreté élevées).
Les récipients chauds émettant un rayonnement infrarouge, l’art antérieur a proposé également des méthodes d’observation des récipients chauds en défilement sur le convoyeur de sortie, par une caméra infra-rouge en partant du principe que les régions épaisses des récipients rayonnent davantage. Le brevet EP 0 643 297 décrit un dispositif permettant d'effectuer une analyse et un diagnostic sur un procédé de fabrication de produits en verre comportant un capteur sensible au rayonnement infrarouge émis par les objets sortant de la machine de formage. Ce système comporte également un dispositif de traitement numérique comparant le rayonnement à un modèle de référence mathématique afin de déterminer les écarts existants dans la distribution du verre et/ou les causes conduisant à la présence de contraintes thermiques dans le récipient.
Le brevet EP0 679 883 décrit un dispositif d’acquisition d’images par une caméra infrarouge, qui recueille le rayonnement émis par les récipients chauds en sortie de la machine de fabrication. La caméra infrarouge est synchronisée avec le fonctionnement des cavités de formage des récipients. Pour l'inspection, un logiciel de traitement divise l'image du récipient capturée par la caméra infrarouge en régions d'inspection. En segmentant et en mesurant des points clairs ou sombres localisés dans ces régions, il est possible d'identifier des défauts de trapèze et des inclusions.
Selon le brevet DE10030649 connaissant la vitesse du convoyeur de sortie et l’ordre de sorties des récipients des différents sections, il est possible et avantageux de relier les défauts détectés à la cavité d’origine afin de pouvoir agir judicieusement sur le procédé de fabrication pour corriger les défauts.
L’art antérieur enseigne donc d’inspecter au plus tôt les récipients encore chauds afin de régler ou corriger rapidement le procédé de formage. Des contrôles dimensionnels de diamètres ou de hauteurs se font par vision et même selon la demande de brevet WO2021009456, on peut mesurer l’épaisseur de verre par une imagerie infrarouge dans au moins deux gammes particulières de longueur d’onde. Un écart de dimension est un défaut identifié en soi, de hauteur de diamètre, d’inclinaison ou d’épaisseur, et peut être assigné à au moins une cause de dérive du procédé de fabrication.
La situation est différente concernant ce que l’on désignera « défauts d’aspect», à savoir les défauts visuels de tout type : inclusions (de corps étrangers tels que céramiques, métal), bulles, plis, rivières (rainures de surface), glaçures (fissures), ailettes, trapèzes, taches de graisse, zones très minces, infondus. Ces défauts d’aspect se manifestent dans les images par des variations optiques locales, ou des pixels ayant des écarts par rapport à l’arrière-plan. Ces défauts d’aspect peuvent être critiques s’ils conduisent à un risque pour le consommateur, un risque de casse ou une perte de fonctionnalité du récipient. Toutefois, la reconnaissance d’un défaut d’aspect d’après une image peut être ambiguë. Il s’ensuit en raison des marges de sécurité mises en œuvre lors de la détection, que des récipients sont considérés comme défectueux alors que ces récipients sont conformes.
Par ailleurs, il est à noter que dans les images peuvent être distingués des artefacts acceptables tels que par exemple des gravures ou des décors, des joints de moule faiblement marqués. Aussi, il apparait le besoin d’identifier exactement la nature des défauts d’aspects pour identifier les défauts critiques en les distinguant des autres défauts. La prévention des défauts critiques nécessite d’améliorer la fiabilité de classification des défauts d’aspect. Outre le fait que l’amélioration de l’identification des défauts améliore le rendement de la production, cette identification des défauts permet de déterminer leurs causes potentielles de sorte que l’installation de fabrication peut être pilotée en fonction de la catégorie des défauts détectés. En effet, sans identification fiable des défauts détectés, aucune décision sûre de correction du procédé de fabrication ne peut être prise, que ce soit manuellement ou automatiquement.
La présente invention vise à remédier aux inconvénients de l’art antérieur en proposant une méthode de contrôle de la qualité des récipients chauds en verre, conçue pour réaliser une détection plus efficace des défauts en particulier d’aspects tout en assurant leur identification sûre et certaine pour donner une information plus complète sur les corrections à apporter aux paramètres de contrôle d’un procédé de fabrication de récipients en verre d’une installation de fabrication.
L’objet de l’invention concerne un procédé d’inspection de récipients en verre encore chauds sortant d’une installation de fabrication, en vue d’identifier pour un récipient, un type de défauts, le procédé consistant pour chaque récipient: - à acquérir au moins une image en transmission du récipient illuminé par une source d’une lumière traversant le récipient et au moins une image de rayonnement infrarouge du récipient, - à analyser au moins une image en transmission et au moins une image de rayonnement infrarouge, - à assurer une mise en correspondance d’au moins une partie de l’image en transmission et d’au moins une partie de l’image de rayonnement infrarouge, - à classifier le récipient, à partir d’au moins une image en transmission et d’au moins une image de rayonnement infrarouge, mises en correspondance, afin d’identifier pour un récipient, au moins un type de défauts.
Selon une caractéristique avantageuse de réalisation, on illumine le récipient par une source de lumière dont le spectre d’émission est dans une gamme de longueur d’onde inférieure à 0,8 µm, et on acquiert l’image de rayonnement infrarouge d’un récipient dans une gamme de longueur d’onde supérieur à 0,8 µm.
Par exemple, on acquiert l’image de rayonnement infrarouge d’un récipient lorsque la source de lumière est éteinte.
Selon un autre exemple de mise en œuvre, on acquiert l’image de rayonnement infrarouge selon une direction d’observation telle qu’on ne capte pas, avec le rayonnement infrarouge du récipient, la lumière émise par la source de lumière.
Selon une caractéristique de l’invention, pour assurer la mise en correspondance des images en transmission et des images de rayonnement infrarouge, le procédé détecte des régions candidates dans les images en transmission et dans les images de rayonnement infrarouge, le procédé assurant, pour chaque récipient : - une mise en correspondance des régions candidates des images en transmission ou des régions candidates des images de rayonnement infrarouge avec les régions correspondantes respectivement des images en transmission et des images de rayonnement infrarouge, en fonction de leur position sur le récipient, - ou une mise en correspondance des régions candidates des images en transmission avec les régions candidates des images de rayonnement infrarouge.
Selon une variante de réalisation, le procédé assure en tant que mise en correspondance, une fusion des images en transmission et des images de rayonnement infrarouge pour obtenir une image composite, le procédé assurant : - une extraction de caractéristiques de classification de l’image composite, exprimant des critères de classification en transmission et en rayonnement, - et une classification du récipient à l’aide des critères de classification en transmission et en rayonnement.
Selon une autre variante de réalisation, le procédé assure en tant que mise en correspondance, une fusion des images en transmission et des images de rayonnement infrarouge pour obtenir une image composite, le procédé assurant : - une segmentation des images composites pour détecter des régions candidates composites, - une extraction de caractéristiques de classification des régions candidates composites, exprimant des critères de classification en transmission et en rayonnement, - une classification du récipient à l’aide des critères de classification en transmission et en rayonnement des régions candidates composites.
Selon une caractéristique de l’invention: - on extrait des images en transmission, des critères de classification en transmission, - on extrait des images de rayonnement infrarouge, des critères de classification en rayonnement, - on classifie le récipient à l’aide des critères de classification en transmission et en rayonnement.
Avantageusement, on choisit des critères de classification en rayonnement pour les images de rayonnement infrarouge et des critères de classification en transmission pour les images en transmission, et/ou des critères composites qui prennent en compte des caractéristiques combinant de manière logique ou mathématique des images en transmission et des images de rayonnement infrarouge, ces critères de classification en rayonnement et en transmission étant des critères de position, de taille, de forme ou de photométrie.
La est un schéma bloc fonctionnel simplifié d’un exemple d’un premier mode de réalisation du dispositif d’inspection conforme à l’invention, mettant en œuvre un réseau de neurones convolutif ayant comme données d’entrée, des régions candidates mises en correspondance et issues d’opérations de segmentation d’une image en transmission et d’une image de rayonnement infrarouge.
La est un schéma bloc fonctionnel simplifié d’un exemple d’un premier mode de réalisation du dispositif d’inspection conforme à l’invention, mettant en œuvre deux réseaux de neurones convolutifs ayant comme données d’entrée, une région candidate issue d’une opération de segmentation d’une image en transmission ou d’une image de rayonnement infrarouge.
La est un schéma bloc fonctionnel simplifié d’un exemple d’un deuxième mode de réalisation du dispositif d’inspection conforme à l’invention, mettant en œuvre un réseau de neurones convolutif ayant comme données d’entrée, une image composite d’une image en transmission et d’une image de rayonnement infrarouge.
La est un schéma bloc fonctionnel simplifié d’un exemple d’un deuxième mode de réalisation du dispositif d’inspection conforme à l’invention, mettant en œuvre des réseau de neurones convolutif ayant comme données d’entrées, tout ou partie d’une image en transmission et d’une image de rayonnement infrarouge, sans segmentation préalable.
La est une image simulée en transmission montrant un défaut tandis que la et la sont des images simulées en infrarouge représentant le même défaut s’il s’agit respectivement d’une cavité remplie ou s’il s’agit de verre collé.
La est une image en transmission montrant un défaut tandis que la et la sont des images simulées en infrarouge représentant le même défaut s’il s’agit respectivement d’un morceau de verre ou s’il s’agit d’une tache de graisse.
La est une image en infrarouge tandis que la est une image en transmission montrant un exemple de confusion possible entre des défauts pierre et bouillon.
La est une image en infrarouge tandis que la est une image en transmission montrant un autre exemple de confusion possible entre des défauts petits bouillon et pierre.
La est une image en infrarouge tandis que la est une image en transmission montrant un autre exemple de confusion possible entre des défauts bouillon et pierre.
La illustre un dispositif 1 conforme à l’invention permettant d’inspecter des récipients 2 en verre encore chauds sortant d’une installation de fabrication ou de formage 3 de tous types connus en soi. Le dispositif d’inspection 1 vise à détecter pour chaque récipient, si le récipient présente un défaut et à identifier pour un récipient présentant un défaut, un type de défaut parmi une famille de défauts.
En sortie de l’installation de fabrication 3, les récipients 2 tels que dans l’exemple illustré, des bouteilles ou des flacons en verre, présentent une haute température typiquement comprise entre 300°C et 600°C. De manière connue, les récipients 2 qui viennent d'être formés par l’installation 3 sont pris en charge par un convoyeur de sortie 5 pour former une file de récipients en étant dans l’exemple illustré, posés successivement sur le convoyeur de sortie. Les récipients 2 sont transportés en file par le convoyeur 5 selon une direction de transfert afin de les acheminer successivement à différents postes de traitement et en particulier une arche de recuisson, en amont de laquelle est placée une hotte de traitement de surface 6 constituant généralement le premier des postes de traitement après le formage. Avantageusement, le dispositif d’inspection 1 conforme à l’invention inspecte les récipients encore chauds en amont du premier poste de traitement de surface à savoir la hotte de traitement de surface 6.
L’installation de fabrication 3 est connue en soi et un exemple sera décrit de manière succincte pour uniquement permettre une compréhension de l’interaction entre le dispositif d’inspection 1 conforme à l’invention et l’installation de fabrication 3.