Elément (2) pour système de mesure (1) optique comportant une première couronne (4) s’étendant circonférentiellement autour d’un axe (X) et comportant au moins une première lentille optique (11), une seconde couronne (5) située radialement à l’extérieur de la première couronne (4) et entourant la première couronne (4) et comportant au moins une seconde lentille optique (14), au moins une première lentille (11) étant alignée avec au moins une seconde lentille (14), les première et seconde couronnes (4, 5) venant de matière de façon à former un élément (2) monobloc, ledit élément (2) comportant des moyens de centrage ou d’alignement (9) situés au niveau d’au moins une seconde lentille (14) et destinés à coopérer avec des moyens de centrage ou d’alignement complémentaires (23, 25) d’un émetteur ou d’un récepteur (24) optique, ledit élément (2) comportant en outre un orifice de passage calibré (7), destiné au passage d’un flux comportant un échantillon à analyser, situé et orienté selon ledit axe (X) des première et seconde couronnes (4, 5) et débouchant dans un espace (8) délimité par la première couronne (4) et formant une chambre de mesure destinée à être traversée par ledit flux. Elément (2) selon la revendication précédente, caractérisé en ce que ledit orifice calibré (7) est cylindrique à base circulaire et présente un diamètre compris entre 30 et 100 micromètres. Elément (2) selon l’une des revendications précédentes, caractérisé en ce que ledit orifice calibré (7) est ménagé dans une paroi mince (6) venant de matière avec lesdites premières et seconde couronnes (4, 5), ladite paroi mince (6) présentant une épaisseur comprise entre 10 et 80 micromètres. Elément (2) selon l’une des revendications précédentes, caractérisé en ce que au moins une première lentille (11) peut être du type asphérique. Elément (2) selon l’une des revendications précédentes, caractérisé en ce que au moins une seconde lentille (14) peut être du type sphérique. Elément (2) selon la revendication 3 et selon l’une des revendications précédentes, caractérisé en ce qu’il comporte une chambre amont, située à l’opposé de la chambre de mesure par rapport à la paroi mince. Système de mesure (1) comportant un élément (2) selon l’une des revendications précédentes, au moins un émetteur optique et au moins un récepteur optique (24), monté en regard d’une seconde lentille (14). Système selon la revendication 7, comportant un élément (2) selon la revendication 6, caractérisé en ce qu’il comporte des moyens (28, 29) d’amenée d’un fluide contenant un échantillon à caractériser dans la chambre amont (18), ledit fluide traversant l’orifice calibré (7) et débouchant dans la chambre de mesure (8). Système selon la revendication 8, caractérisé en ce qu’il comporte des moyens (30) d’amenée d’un premier fluide de gainage au niveau de la chambre amont (18). Système selon la revendication 8 ou 9, caractérisé en ce qu’il comporte des moyens (34) d’amenée d’un second fluide de gainage au niveau de la chambre de mesure (8). Système selon l’une des revendications 8 à 10, comportant un filtre interférentiel en regard d’au moins une seconde lentille (14), monté sur ledit élément (2), radialement entre les première et seconde couronnes (4, 5). Système selon l’une des revendication 8 à 11, caractérisé en ce qu’il comporte un doublet achromatique (21) monté sur l’élément (2) et disposé en regard d’un émetteur optique et d’une lentille (11) de la première couronne (4). Système selon l’une des revendication 8 à 12, caractérisé en ce qu’il comporte au moins deux électrodes, situées axialement de part et d’autre de l’orifice calibré (7), et des moyens de mesure aptes à mesurer une impédance entre lesdites électrodes.