INPI-France/Brevets-Francais-2024-Chunked huggingface dataset:
Comme illustré sur la , une première étape 602 consiste à récupérer la liste des flux non assignés ST i , (i=m, …, n), et à récupérer la liste de réservation de créneaux de temps après la première allocation avec l’état d’occupation des créneaux de temps sur les cycles.
Dans une étape suivante 604, le procédé qui opère de manière itérative pour traiter chaque flux non assigné de la liste, permet d’identifier pour le flux ST i qui est traité, le premier commutateur d’accès SW j sur le chemin de routage du flux ST i .
Dans une étape suivante 606, le procédé permet de déterminer s’il existe au moins un créneau de temps disponible (ou une phase de créneau de temps disponible si le flux à ajouter présente une période de plus d’un temps de cycle, cette précision n’étant plus reprise dans la suite), dans l’ensemble des autres commutateurs SW t , t ≠ j, hors le premier commutateur d’accès SW j identifié.
S’il existe au moins un créneau de temps disponible (branche oui de 606), le procédé permet à l’étape 608 de réserver ce créneau de temps pour le flux St i traité, et de l’associer au premier commutateur SW j identifié.
Puis le procédé permet à l’étape suivante 622, de finaliser la requête d’ajout du flux et poursuit pour traiter un prochain flux de la liste des flux non assignés. Dans cette étape 622 la liste des flux non assignés et la liste des créneaux de temps réservés avec leur état d’occupation sont mises à jour.
Revenant à l’étape 606, s’il n’a pas été identifié au moins un créneau de temps disponible dans l’ensemble des autres commutateurs d’accès ou si le nombre de créneaux restants disponibles ne permet pas de transmettre l’intégralité du flux (branche non), le procédé permet de déterminer à l’étape suivante 610 si le flux analysé ST i est un flux critique, au sens des flux critiques TSN.
S’il ne s’agit pas d’un flux critique (branche non de 610), le procédé permet de rejeter la requête d’ajout du flux ST i à l’étape suivante 618, puis reboucle pour traiter un prochain flux, la liste des flux non assignés étant mise à jour.
S’il s’agit d’un flux critique (branche oui de 610), le procédé permet à l’étape suivante 612 de récupérer la priorité des flux existants ST k (k=0, …, m-1), pour vérifier (étapes 614, 616) si la priorité du flux analysé ST i est supérieure à celle d’au moins un des autres flux qui ont des créneaux de temps ?
Si la priorité du flux analysé ST i est moins grande que celles des flux existants (branche non de 614), le procédé permet de rejeter (étape 618) la requête d’ajout du flux analysé ST i , puis reboucle pour traiter un prochain flux, la liste des flux non assignés étant mise à jour.
Si la priorité du flux analysé ST i est supérieure à la priorité d’un flux existant St k (branche oui de 614), le procédé poursuit à l’étape 620 consistant à : Libérer le créneau de temps déjà alloué au flux ST k dont la priorité est inférieure à celle du flux ST i en cours de traitement ; Allouer le créneau de temps libéré au flux ST i en cours de traitement ; et Associer le créneau de temps alloué au flux ST i au premier commutateur d’accès SW j identifié sur le chemin de routage du flux ST i .
Le procédé permet ensuite à l’étape suivante 622 de finaliser la requête d’ajout de ce nouveau flux, et reboucle pour traiter un prochain flux. Dans cette étape la liste des flux non assignés et la liste des créneaux de temps réservés avec leur état d’occupation sont mises à jour.
L’un des objets de la présente demande est un procédé de réglage d’un système de détection d’événements appliqués à un objet, correspondant à des mesures non nulles d’un paramètre physique mesuré par le système de détection, comportant : a) la fixation d’un premier seuil de détection du paramètre physique, au-delà duquel un signal est émis, b) la division de la gamme de mesure du système de détection en n intervalles, chaque intervalle correspondant à une gamme d’intensité du paramètre physique, c) l’association d’un compteur d’événements à chaque intervalle, d) l’attribution d’une valeur à chaque événement, e) la comptabilisation pendant une période de temps donnée des événements dans les compteurs en fonction de l’intensité du paramètre physique mesuré de sorte à obtenir un historique des événements détectés par le système pendant la période de temps donnée, f) le traitement des valeurs des compteurs pour déterminer un deuxième seuil de détection adapté à l’environnement du système, g) la détermination d’un deuxième seuil de détection, h) le réglage dudit système de détection avec le deuxième seuil de détection.
Dans un mode de réalisation, à chaque événement dont l’intensité est supérieure ou égale au premier seuil de détection, une action d’un utilisateur est requise pour émettre un commentaire sur ledit événement.
De manière avantageuse, ledit commentaire est utilisé pour réaliser une pondération de la comptabilisation de l’événement dans le compteur approprié.
Par exemple, une valeur augmentée est attribuée à un événement qui est commenté par l’utilisateur comme étant intempestif.
Dans un exemple, l’étape f) comporte l’analyse des valeurs des compteurs pour déterminer le deuxième seuil de détection et l’étape h) comporte le réglage automatique du système avec le deuxième seuil de détection.
Dans un autre exemple, l’étape f) comporte l’analyse des valeurs des compteurs pour déterminer le deuxième seuil de détection et la suggestion dudit deuxième seuil à un utilisateur qui effectue le réglage du système.
L’analyse peut comporter : - soit la détermination du compteur de valeur la plus élevée et choix d’un deuxième seuil de détection égal au niveau juste au-dessus du niveau dudit compteur, - soit la détermination de la plus forte décroissance entre des premier et deuxième compteurs successifs disposés dans l’ordre croissant de niveau et choix d’un deuxième seuil de détection égal au niveau du deuxième compteur, - soit la détermination de la courbe des intensités en fonction des niveaux et la détermination de la courbe de tendance linéaire des valeurs des compteurs, détermination du point d’intersection entre les deux courbes et choix du deuxième seuil égal à l’abscisse du point d’intersection.
Dans un exemple avantageux, les étapes a) à h) sont répétées après une certaine durée pour vérifier le réglage et/ou lorsque l’environnement est modifié, le deuxième seuil devenant le premier seuil.
Le procédé de réglage peut être appliqué à un système de détection d’événements vibratoires.
Un autre objet de la présente demande est un système de détection de vibrations appliquées à un objet comportant : - au moins un capteur de vibrations configuré pour mesurer les vibrations subies par un objet, - un moyen logiciel mettant en œuvre le procédé de réglage selon l’invention, lesdits événements étant des événements vibratoires, - un moyen de communication à un utilisateur d’un signal à chaque événement vibratoire dont l’intensité de vibration est supérieure ou égale à un seuil de détection.
Le système de détection peut comporter une interface homme-machine configurée pour afficher l’historique des événements vibratoires.
Avantageusement, le moyen logiciel est configuré pour présenter l’historique des événements vibratoires de manière à faciliter leur traitement, par exemple sous forme d’histogramme.
Dans un exemple de réalisation, le moyen de communication comporte un serveur envoyant le signal sur un terminal de l’utilisateur, par exemple sur un téléphone intelligent.
Dans un autre exemple de réalisation, l’objet est un ouvrant d’un bâtiment, tel qu’une menuiserie, en particulier une porte ou une fenêtre, ou tel qu’un volet ou store vertical ou store horizontal.
Dans un exemple, le système peut comporter un boîtier domotique qui met en œuvre le moyen logiciel et qui est configuré pour communiquer avec un terminal de l’utilisateur.
Dans un autre exemple, le capteur de détection intègre le moyen logiciel et le moyen de communication avec un outil de réglage de l’utilisateur comporte des moyens filaires ou radio.
Etape 506 : Récupérer la configuration courante de la planification de transmission pour le commutateur d’accès SW j et déterminer s’il y a une planification en cours au niveau du port de sortie P k ?
Si oui, le procédé enchaine avec l’étape 510 pour déterminer si parmi l’ensemble des créneaux de temps assignés à ce commutateur d’accès SW j , il existe des créneaux de temps disponibles pour le flux ST i .
Revenant à l’étape 506, s’il n’y a pas une planification en cours pour le port de sortie P k , le procédé permet de générer une nouvelle planification qui prend en compte le nouveau flux ST i .
Etape 508 : le procédé opère un premier niveau d’allocation de créneaux de temps pour tous les commutateurs d’accès du réseau.
Dans un mode de réalisation, l’étape 508 comprend des étapes consistant à :
déterminer le nombre de commutateurs d’accès dans le réseau TSN ;
récupérer une valeur prédéfinie ou calculer une valeur pour déterminer une durée de référence fixe pour un cycle Qbv. La durée de référence est une valeur fixe, qui peut soit correspondre à la plus petite valeur de période parmi les périodes des flux critiques reçus au démarrage du système, soit correspondre au plus grand diviseur commun de toutes les périodes des flux critiques ;
diviser la durée de référence fixe en une pluralité de créneaux de temps de durée égale, la durée d’un créneau de temps étant égale au temps nécessaire pour envoyer la plus petite trame d’un flux parmi les flux existants ; et
attribuer sur la durée de référence fixe, à chaque commutateur d’accès un nombre de créneaux de temps nécessaires à sa transmission parmi la pluralité des créneaux de temps, le nombre de créneaux de temps alloués à chaque commutateur d’accès dépendant du nombre de flux existants passant par chaque commutateur d’accès.
L’expression « un nombre de créneaux de temps nécessaires à sa transmission » signifie un ou plusieurs créneaux de temps sur un cycle.
Dans un mode de réalisation, avant d’attribuer les créneaux de temps aux commutateurs d’accès, le procédé permet de réserver en début de cycle, un ou plusieurs créneaux de temps pour des flux de contrôle pour le trafic du contrôle réseau. L’étape d’attribuer à chaque commutateur d’accès un nombre de créneaux de temps se fait alors parmi les créneaux de temps restants.
Après l’allocation des créneaux de temps à tous les commutateurs d’accès, le procédé poursuit par l’étape 510, en déterminant si parmi l’ensemble des créneaux de temps assignés au commutateur d’accès SW j , il reste des créneaux de temps disponibles pour le flux ST i .
Etape 512 : Si non, c’est-à-dire si aucun créneau de temps n’est disponible pour le flux ST i parmi l’ensemble des créneaux de temps assignés au commutateur d’accès SW j , le procédé permet d’ajouter le nouveau flux ST i à une liste de flux sans attribution de créneaux de temps.
Etape 514 : Si oui, c’est-à-dire s’il existe au moins un créneau de temps disponible pour le nouveau flux ST i parmi l’ensemble des créneaux de temps alloués au commutateur d’accès SW j , le procédé poursuit sur un second niveau d’allocation pour réserver le nombre de créneaux de temps qui est requis pour transmettre tout le flux ST i (relativement à la période du flux).
Ce second niveau d’allocation pour un nouveau flux permet aussi de déterminer, en fonction de la longueur des trames du flux, s’il y a besoin de réserver un créneau de temps à chaque cycle ou sur différents cycles. Dans un mode de réalisation, le procédé utilise le paramètre ‘phase’ précité illustré sur la , pour identifier la répartition du flux sur un ou plusieurs cycles.
Etape 516 : Quand l’allocation du/des créneaux de temps pour le nouveau flux ST i est terminée, le procédé itère les étapes 504 à 514 pour traiter une nouvelle requête d’allocation de créneaux de temps pour un nouveau flux.
La matrice de diffraction peut comprendre un motif périodique, en particulier une ligne, la distance entre deux motifs adjacents étant du même ordre de grandeur que la longueur d'onde de la lumière incidente.
Lorsque la lumière incidente est polychromatique, la matrice de diffraction sépare les différentes composantes spectrales de la lumière et produit un effet arc-en-ciel. En ce qui concerne la structure des pigments diffractants, on se reportera à l'article "Pigments présentant des effets diffractifs" d'Alberto Argoitia et Matt Witzman, 2002, Society of Vacuum Coaters, 45th Annual Technical Conference Proceedings, 2002, dont le contenu est incorporé ici par référence.
Le pigment diffractant peut être réalisé avec des motifs de profils différents, notamment triangulaires, symétriques ou asymétriques, crénelés, de largeur constante ou non constante, sinusoïdale ou étagée.
La fréquence spatiale de la matrice et la profondeur du motif seront choisies en fonction du degré de séparation souhaité des différents ordres. A titre d'exemple, la fréquence peut être comprise entre 500 et 3000 lignes par mm.
De préférence, les particules de pigment diffractant ont chacune une forme aplatie, en particulier sous la forme d'une plaquette. La même particule de pigment peut comprendre deux matrices de diffraction croisées, perpendiculaires ou non, et ayant ou non le même espacement.
Le pigment diffractant peut avoir une structure multicouche comprenant une couche de matériau réfléchissant, recouverte sur au moins un côté par une couche d'un matériau diélectrique. Cette couche peut conférer au pigment diffractant une meilleure rigidité et durabilité. Le matériau diélectrique peut ainsi, par exemple, être choisi parmi les matériaux suivants: MgF2, SiO2, Al2O3, A1F3, CeF3, LaF3, NdF3, SmF2, BaF2, CaF2, LiF, et leurs combinaisons.
Le matériau réfléchissant peut, par exemple, être choisi parmi les métaux et leurs alliages ainsi que parmi les matériaux réfléchissants non métalliques. Les métaux qui peuvent être mentionnés comprennent Al, Ag, Cu, Au, Pt, Sn, Ti, Pd, Ni, Co, Rd, Nb, Cr, et leurs matériaux, combinaisons ou alliages. Un tel matériau réfléchissant peut constituer seul le pigment diffractant qui est alors une monocouche.
En variante, le pigment diffractant peut comprendre une structure multicouche comportant un substrat en un matériau diélectrique recouvert sur au moins une face par une couche réfléchissante, voire encapsulant complètement le substrat.
Une couche d'un matériau diélectrique peut également recouvrir la ou les couches réfléchissantes. Le matériau diélectrique utilisé est ainsi de préférence inorganique et peut, par exemple, être choisi parmi les fluorures métalliques, les oxydes métalliques, les sulfures métalliques, les nitrures métalliques, les carbures métalliques et leurs combinaisons. Le matériau diélectrique peut être à l'état cristallin, semi-cristallin ou amorphe. Le matériau diélectrique dans cette configuration peut, par exemple, être choisi parmi les matériaux suivants: MgF2, SiO, Si02, A1203) Ti02, WO, AIN, BN, B4C, WC, TiC, TiN, N4Si3, ZnS, particules de verre, diamant les carbones de type et leurs combinaisons. En variante, le pigment diffractant peut être composé d'un matériau céramique diélectrique ou préformé tel qu'un minéral en lamelles naturelles, par exemple mica peroskovite ou talc, ou lamelles synthétiques formées de verre, d'alumine, de Si02, de carbone, d'oxyde de fer / mica le mica revêtu de BN, de BC, de graphite, d'oxychlorure de bismuth et leurs combinaisons.
Au lieu d'une couche d'un matériau diélectrique, d'autres matériaux qui améliorent les propriétés mécaniques peuvent convenir. De tels matériaux peuvent comprendre de la silicone, des siliciures métalliques, des matériaux semiconducteurs formés à partir d'éléments des groupes III, IV et V, des métaux ayant une structure cristalline cubique centrée, des compositions ou matériaux Cermet, des verres semi-conducteurs et leurs diverses combinaisons. Le pigment diffractant utilisé peut notamment être choisi parmi ceux décrits dans la demande de brevet US-2003/0031870 publiée le 13 février 2003. Un pigment diffractant peut, par exemple, comprendre la structure suivante: MgF2 / Al / MgF2, un pigment diffractant ayant cette structure étant commercialisé sous la dénomination commerciale SPECTRAFLAIR 1400 Pigment Silver par FLEX PRODUCTS, ou SPECTRFLAIR 1400 Pigment Silver FG. La proportion en poids de MgF2 peut être comprise entre 80% et 95% du poids total du pigment. D'autres pigments diffractants sont vendus sous les dénominations commerciales METALURE® PRISMATIC par ECKART®.
D'autres structures possibles sont Fe / Al / Fe ou Al / Fe / Al.
La dimension du pigment diffractant peut, par exemple, être comprise entre 5 et 200 µm, mieux entre 5 et 100 µm, par exemple entre 5 et 30 µm. L'épaisseur des particules de pigment diffractant peut être de 3 µm ou moins, de préférence de 2 µm, par exemple de l'ordre de 1 µm.
Bien entendu, l’homme du métier veillera à choisir la nature et/ou la quantité en particules réfléchissantes en fonction de la nature de la phase considérée de la dispersion selon l’invention et/ou au regard du procédé de fabrication de ladite dispersion. Ces ajustements relèvent des connaissances générales de l’homme du métier.
De préférence, les particules réfléchissantes peuvent être présentes dans une dispersion selon l'invention en une teneur allant de 0,1 % à 60 % en poids, notamment de 0,25 % à 40 % en poids, en particulier de 0,5 % à 20 % en poids, mieux de 1 % à 10 % en poids, en particulier de 1,5 % à 5 % en poids, et tout particulièrement de 2,5 % à 5 % en poids, par rapport au poids de la phase continue, voire par rapport au poids total de la dispersion.
Matière première apte à former un précité Par « matière première apte à former un précipité », on désigne au sens de la présente invention un composé qui, en présence de certaines conditions et/ou en présence d’au moins un autre composé, conduit à la formation d’un précipité.
La formation du précipité peut résulter (i) d’une réaction d’agrégation moléculaire au niveau de la matière première avec elle-même (eg cristallisation), (ii) d’une réaction entre au moins deux matières premières différentes ou (iii) d’une réaction d’une matière première avec un des éléments constitutifs du dispositif microfluidique.
De manière à optimiser l’allocation et l’utilisation des ressources, dans un mode de réalisation, le procédé de l’invention permet d’associer au time slot un paramètre désigné par « phase » qui permet d’identifier les occurrences de créneaux de temps qui ne sont pas utilisées, et les répartir sur plusieurs flux. Ainsi, comme illustré sur la , le time slot ‘n’ n’étant pas utilisé (phase ‘2’), il peut alors être attribué au flux f2 en phase ‘0’, et attribué au flux f3 en phase ‘1’.
La réservation de créneaux de temps pour un flux donné va dépendre de la route que le flux empruntera, i.e. les différents commutateurs TSN traversés, et de la disponibilité des times slots dans chacun des commutateurs TSN visités. Aussi, plus la topologie du réseau grandit, plus la complexité d’un algorithme de réservation de créneaux de temps augmente. En effet, l’algorithme doit être en mesure de retrouver un time slot disponible sur chaque commutateur visité et en mesure aussi de respecter les contraintes des flux en termes de latence. De plus, si l’algorithme doit réassigner certains créneaux de temps (déjà affectés à d’autres flux existants) afin qu’un nouveau flux ait le time slot adéquat, un tel algorithme doit être en mesure de vérifier l’impact de cette réassignation sur les planifications des autres commutateurs.
Avantageusement, le procédé de la présente invention permet de respecter ces contraintes tout en réduisant la complexité de l’algorithme de réservation. Pour cela, comme déjà indiqué, la durée de cycle pour opérer l’algorithme est considérée comme étant fixe et la même pour tous les commutateurs TSN, et chaque cycle est divisé en un nombre identique de créneaux de temps, la durée d’un time slot étant prise comme égale au temps nécessaire pour envoyer la plus petite trame d’un flux, i.e. pour un flux Ethernet un time slot sera égal à la durée d’une trame de 64 Bytes. Aussi, pour un flux Ethernet avec des trames de 100 Bytes, l’algorithme opéré par le procédé de l’invention, va réserver deux créneaux de temps dans chaque cycle pour ce flux.
L’idée principale consiste à répartir les créneaux de temps (hors ceux réservés pour le flux de contrôle) d’un cycle donné entre tous les commutateurs d’accès TSN.
La illustre un exemple de la répartition de créneaux de temps selon un mode de réalisation de l’invention, dans un réseau TSN constitué de trois commutateurs d’accès TSN (S1, S2, S3). Un terminal récepteur L1 connecté au réseau est abonné à quatre terminaux émetteurs (T1, T2, T3, T4) connectés au réseau. Le terminal récepteur reçoit des flux de chaque émetteur via des chemins différents, les flux transitant par des commutateurs différents. Tel qu’illustré, un flux f1_T1 émis par l’émetteur T1 est transmis au récepteur L1 via les commutateurs S1 et S3, un flux f2_T2 émis par l’émetteur T2 est transmis au récepteur L1 via les commutateurs S2 et S3, un flux f3_T3 émis par l’émetteur T3 est transmis au récepteur L1 via les commutateurs S2 et S3, et un flux f4-T4 émis par l’émetteur T4 est transmis au récepteur L1 via le commutateur S3. Cette configuration peut amener une situation où les quatre flux peuvent « se disputer » l’accès au port de sortie (egress port) du commutateur S3 qui délivre les flux au terminal récepteur L1, et où ils peuvent avoir de l’interférence entre eux.
L’application du procédé de l’invention permet de contrôler les transmissions au niveau du port de sortie du commutateur S3, i.e. au niveau de la gestion de la GCL, avec une allocation de créneaux de temps répartis entre l’ensemble des trois commutateurs S1, S2 et S3. L’allocation de créneaux de temps pour le flux f1_T1 sortant de T1 vers S1, consiste à trouver au niveau du commutateur S1, un slot disponible dans le cycle, parmi les slots alloués au commutateur S1. De la même manière, l’allocation de créneaux de temps pour le flux f2_T2 sortant de T2 vers S2 et le flux f3_T3 sortant de T3 vers S2, consiste à trouver au niveau du commutateur S2, des slots disponibles dans le cycle, parmi les slots alloués au commutateur S2. Il en est de même pour le flux f4-T4 sortant de T4 vers S3, où l’allocation de créneaux de temps consiste à trouver au niveau du commutateur S3, un time slot disponible dans le cycle parmi les slots alloués au commutateur S3.
Avantageusement, il n’est alors plus besoin d’analyser ni de vérifier la disponibilité de créneaux de temps dans tous les commutateurs du réseau se trouvant sur la route d’un flux. Il suffit de trouver un créneau de temps disponible au niveau d’un port de sortie du commutateur d’accès recevant ce flux (le premier commutateur sur lequel arrive un flux en provenance d’un émetteur).
Par ailleurs, la répartition des créneaux de temps au sein de chaque commutateur dépend de la charge de chaque commutateur en termes de nombre de flux qui passe par son port de sortie. Ainsi la jauge est dynamique, le nombre de créneaux de temps alloués à un commutateur d’accès TSN donné peut varier selon le nombre de flux passant par ce commutateur.
Le procédé d’allocation de time slot de l’invention permet une répartition dynamique des créneaux de temps entre les différents commutateurs d’accès du réseau, en fonction du nombre de flux qui passe par chaque commutateur.