Système interférométrique de détection (1) d’une grandeur d’intérêt (G) à différents instants de mesure successifs, comportant : au moins un capteur optique de mesure (10m), couplé à une source lumineuse (2) et à au moins un photodétecteur de mesure (3m), comportant deux guides d’onde dont l’un forme un bras (11m) sensible à la grandeur d’intérêt avec une sensibilité S m prédéfinie et l’autre un bras de référence (12m) non sensible à la grandeur d’intérêt, de sorte que les signaux optiques circulant dans les deux guides d’onde présentent une première différence de phase effective (Φ m,eff ) ; une unité de traitement (4), connectée au photodétecteur de mesure (3m), adaptée à : déterminer un premier paramètre dit de phase extraite (ϕ m ) représentatif de la première différence de phase effective (Φ m,eff ), à partir d’un signal optique détecté par le photodétecteur de mesure, présentant des valeurs comprises à chaque instant de mesure dans un intervalle de largeur prédéfinie ; déterminer un premier paramètre dit de phase dépliée (Φ m,d ) par dépliement du premier paramètre de phase extraite (ϕ m ) en lui ajoutant un multiple entier positif ou négatif de la largeur d’intervalle, pour ensuite déterminer la grandeur d’intérêt (G) ; caractérisé en ce qu’il comporte : au moins un capteur optique de référence (10r), couplé à une source lumineuse (2) et à au moins un photodétecteur de référence (3r), comportant deux guides d’onde dont l’un forme un bras (11r) sensible à la grandeur d’intérêt avec une sensibilité S r prédéfinie inférieure à S m et l’autre un bras de référence (12r) non sensible à la grandeur d’intérêt, de sorte que les signaux optiques circulant dans les deux guides d’onde présentent une deuxième différence de phase effective (Φ r,eff ) ; l’unité de traitement (4) étant connectée au photodétecteur de référence (3r), et adaptée à : déterminer un deuxième paramètre dit de phase extraite (ϕ r ) représentatif de la deuxième différence de phase effective (Φ r,eff ), à partir d’un signal optique détecté par le photodétecteur de référence, présentant des valeurs comprises à chaque instant de mesure dans ledit intervalle ; déterminer un deuxième paramètre dit de phase dépliée (Φ r,d ) par dépliement du deuxième paramètre de phase extraite (ϕ r ) en lui ajoutant un multiple entier positif ou négatif de ladite largeur d’intervalle ; détecter et corriger une valeur erronée du premier paramètre de phase dépliée (Φ m,d ) à partir du deuxième paramètre de phase dépliée (Φ r,d ), de manière à obtenir un premier paramètre de phase corrigé (Φ m,dc ) à partir duquel la grandeur d’intérêt (G) est déterminée. Système interférométrique de détection (1) selon la revendication 1, dans lequel le capteur optique de référence (10r) est dimensionné de sorte que sa sensibilité S r est au moins 2, 5, 10, 100 ou 1000 fois inférieure à la sensibilité S m du capteur optique de mesure (10m). Système interférométrique de détection (1) selon la revendication 1 ou 2, dans lequel les capteurs optiques de mesure (10m) et de référence (10r) sont des interféromètres de Mach-Zehnder ou des interféromètres à anneau résonant. Système interférométrique de détection (1) selon l’une quelconque des revendications 1 à 3, dans lequel le bras sensible (11r) du capteur optique de référence (10r) présente une longueur, une largeur, une hauteur et/ou un indice de réfraction différents de celles du bras sensible (11m) du capteur optique de mesure (10m). Système interférométrique de détection (1) selon l’une quelconque des revendications 1 à 4, dans lequel chaque bras sensible (11m, 11r) des capteurs optiques de mesure (10m) et de référence (10r) est revêtu d’une surface sensible (13) comportant des récepteurs avec lesquels des analytes formant la grandeur d’intérêt sont adaptés à interagir par adsorption/désorption. Système interférométrique de détection (1) selon l’une quelconque des revendications 1 à 6, comportant une matrice de capteurs optiques de mesure (10m) et une matrice de capteurs optiques de référence (10r), les capteurs optiques de référence (10r) présentant différentes sensibilités S r toutes inférieures aux sensibilités S m des capteurs optiques de mesure (10m). Système interférométrique de détection (1) selon la revendication 6, dans lequel chaque capteur optique de mesure (10m) est adjacent à au moins un capteur optique de référence (10r). Système interférométrique de détection (1) selon les revendications 5 et 6, dans lequel chaque capteur optique de mesure (10m) est adjacent d’au moins un capteur optique de référence (10r) de telle sorte que les surfaces sensibles (13) des capteurs optiques de mesure et de référence adjacents sont au contact l’une de l’autre et forment une même surface sensible. Procédé de détection d’une grandeur d’intérêt (G) à différents instants de mesure successifs, au moyen d’un système interférométrique de détection (1) selon l’une quelconque des revendications précédentes, comportant les phases suivantes : détecter (110) le signal optique du capteur optique de mesure par le photodétecteur de mesure, et le signal optique du capteur optique de référence par le photodétecteur de référence ; déterminer (120) les premier et deuxième paramètres de phase extraite (ϕ m (t i ) ; ϕ r (t i )) ; déterminer (130) les premier et deuxième paramètres de phase dépliée (Φ m,d (t i ) ; Φ r,d (t i )) ; détecter et corriger (140 ; 240 ; 340) une valeur erronée du premier paramètre de phase dépliée (Φ m,d (t i )) à partir du deuxième paramètre de phase dépliée (Φ r,d (t i )), de manière à obtenir un premier paramètre de phase corrigé (Φ m,dc (t i )) ; déterminer la grandeur d’intérêt (G(t i )) à partir du premier paramètre de phase corrigé (Φ m,dc (t i )). Procédé de détection (1) selon la revendication 9, dans lequel la phase de détection et de correction (140) de la valeur erronée comporte les étapes suivantes, effectuées pour chaque instant de mesure : détermination d’une première variation instantanée (δΦ m,d (t i )) du premier paramètre de phase dépliée (Φ m,d ), et d’une deuxième variation instantanée (δΦ r,d (t i )) du deuxième paramètre de phase dépliée (Φ r,d ), entre deux instants de mesure successifs ; détection de la valeur erronée lorsque le signe de la première variation instantanée (δΦ m,d (t i )) est différent du signe de la deuxième variation instantanée (δΦ r,d (t i )). Procédé de détection (1) selon la revendication 10, dans lequel la phase de détection et de correction (140) de la valeur erronée comporte en outre les étapes suivantes, effectuées après l’étape de détection : détermination d’une valeur d’un incrément (m m (t i )) à l’instant de mesure à partir de sa valeur (m m (t i-1 )) à l’instant de mesure précédent auquel est ajouté une unité dont le signe est celui de la deuxième variation instantanée (δΦ r,d (t i )) ; détermination du premier paramètre de phase corrigé (Φ m,dc (t i )) corrigeant la valeur erronée à partir du premier paramètre de phase extraite (ϕ m (t i )) auquel est ajouté le produit de l’incrément déterminé (m m (t i )) par la largeur d’intervalle. Procédé de détection (1) selon la revendication 9, comportant une étape de définition d’un rapport des sensibilités (RS ref ) comme étant égal à un rapport entre la sensibilité S m du capteur optique de mesure (10m) et la sensibilité S r du capteur optique de référence (10r), et dans lequel la phase de détection et de correction (240) de la valeur erronée comporte les étapes suivantes effectuées pour chaque instant de mesure : détermination d’une valeur attendue (Φ m,da (t i )) du premier paramètre de phase dépliée (Φ m,d ) à partir du rapport des sensibilités (RS ref ) et du deuxième paramètre de phase dépliée (Φ m,d ) ; détection de la valeur erronée lorsque la valeur attendue (Φ m,da (t i )) diffère d’une valeur (Φ m,d (t i )) du premier paramètre de phase dépliée (Φ m,d ) à l’instant de mesure considéré. Procédé de détection (1) selon la revendication 12, dans lequel la phase de détection et de correction (240) de la valeur erronée comporte en outre les étapes suivantes, effectuées après l’étape de détection : détermination d’une valeur d’un incrément (m m (t i )) à l’instant de mesure à partir de sa valeur (m m (t i-1 )) à l’instant de mesure précédent auquel est ajouté une partie entière arrondie (round((Φ m,da (t i )- Φ m,d (t i ))/2π)) du rapport ((Φ m,da (t i )- Φ m,d (t i ))/2π) d’un écart (Φ m,da (t i )- Φ m,d (t i )) entre la valeur attendue (Φ m,da (t i )) et d’une valeur (Φ m,d (t i )) du premier paramètre de phase dépliée (Φ m,d ) à l’instant de mesure considéré sur la largeur d’intervalle ; détermination du premier paramètre de phase corrigé (Φ m,dc (t i )) corrigeant la valeur erronée à partir du premier paramètre de phase extraite (ϕ m (t i )) auquel est ajouté le produit de l’incrément déterminé (m m (t i )) par la largeur d’intervalle. Procédé de détection (1) selon la revendication 9, comportant une étape de définition d’un rapport des sensibilités (RS ref ) comme étant égal à un rapport entre la sensibilité S m du capteur optique de mesure (10m) et la sensibilité S r du capteur optique de référence (10r), et dans lequel la phase de détection et de correction (340) de la valeur erronée comporte les étapes suivantes, effectuées pour chaque instant de mesure : détermination d’un rapport de phase (RΦ eff (t i )) comme étant égal à un rapport entre le premier paramètre de phase dépliée (Φ m,d (t i )) et le deuxième paramètre de phase dépliée (Φ r,d (t i )) ; détection de la valeur erronée lorsque le rapport de phase (RΦ eff (t i )) diffère du rapport des sensibilités (RS ref ). Procédé de détection (1) selon la revendication 14, dans lequel la phase de détection et de correction (340) de la valeur erronée comporte en outre les étapes suivantes, effectuées après l’étape de détection : détermination d’un ensemble de valeurs du premier paramètre de phase dépliée (Φ m,d (t i )) à partir du premier paramètre de phase extraite (ϕ m (t i )) et de différentes valeurs d’un incrément (m m (t i )) entier positif ou négatif multiplié à ladite largeur d’intervalle ; détermination d’un ensemble de valeurs du rapport de phase (RΦ eff (t i )) à partir de l’ensemble de valeurs du premier paramètre de phase dépliée (Φ m,d (t i )) ; détermination d’une valeur optimale parmi les valeurs de l’incrément (m m (t i )) minimisant un écart entre les valeurs dudit ensemble du rapport de phase (RΦ eff (t i )) vis-à-vis du rapport des sensibilités (RS eff ) ; détermination du premier paramètre de phase corrigé (Φ m,dc (t i )) corrigeant la valeur erronée à partir du premier paramètre de phase extraite (ϕ m (t i )) auquel est ajouté le produit de la valeur optimale de l’incrément (m m (t i )) par la largeur d’intervalle.