Procédé (300) de détermination d’une orientation cristallographique d’une surface (102) d’une pièce (104) d’un aéronef, caractérisé en ce qu’il comporte : pour chacune de plusieurs positions d’éclairage (110 n ) : un éclairage (306) non collimaté de la surface (102) depuis la position d’éclairage considérée (110 n ), et une acquisition (308), à un même point d’acquisition (114) pour toutes les positions d’éclairage (110 n ), d’une image dite brute de la surface (102) éclairée ; pour chaque position d’éclairage (110 n ) et pour chaque pixel (P m ) des images brutes, une détermination (310) d’une orientation possible (θ n,m , φ n,m ) de facettes cristallines (202) d’une zone (116 m ) correspondant au pixel (P m ) considéré, en considérant une propagation lumineuse depuis la position d’éclairage (110 n ) considérée jusqu’à la position d’acquisition (114), avec une réflexion spéculaire sur les facettes cristallines (202) de la zone (116 m ) correspondant au pixel (P m ) considéré ; à partir des images brutes et des orientions possibles (θ n,m , φ n,m ) associées à leurs pixels (P m ), une construction (312) d’un profil de réflectance (PR) donnant une réflectance (R) en fonction de l’orientation possible des facettes (202) ; et une détermination (314) d’une orientation réelle (θ r , φ r ) des facettes à partir du profil de réflectance (PR). Procédé selon la revendication 1, dans lequel la surface (102) a préalablement été attaquée chimiquement pour faire apparaitre les facettes cristallines (202), par exemple celles repérées par les indice de Miller {100}. Procédé selon la revendication 1 ou 2, dans lequel la détermination (310) d’une orientation possible (θ n,m , φ n,m ) pour chaque position d’éclairage (110 n ) et pour chaque pixel (P m ) des images brutes, comporte : une détermination (310-2) des positions relatives des zones (116 m ) par rapport aux positions d’éclairage (110 n ) et à la position d’acquisition (114), par exemple à partir d’une distance (D) entre la surface (102) et la position d’acquisition (114) pouvant être déterminée à partir d’une mise au point sur la surface (102) d’un dispositif d’acquisition (112) situé à la position d’acquisition (114) ; et pour chaque position d’éclairage (110 n ) et chaque pixel (P m ), une détermination (310-4) des trois angles : azimut incident (φ inc (n,m)), élévation incidente (θ inc (n,m)) et élévation retour (θ ret (n,m)) à partir des positions relatives, l’orientation possible (θ n,m , φ n,m ) étant calculée à partir de ces trois angles. Procédé selon l’une quelconque des revendications 1 à 3, comportant une correction des images brutes pour compenser un éclairage inhomogène de la surface, afin de donner des images corrigées associant à chaque pixel une réflectance. Procédé selon la revendication 4, dans lequel la correction comporte : pour chacune des positions d’éclairage (110 n ) : un éclairage non collimaté depuis la position d’éclairage (110 n ) considérée d’une surface neutre placée à la place de la surface (102) de la pièce (104), une acquisition d’une image floue de la surface neutre éclairée, dite image corrective, et une correction de l’image brute obtenue par l’éclairage depuis la position d’éclairage (110 n ) considérée, à partir de l’image corrective pour donner l’image corrigée. Procédé selon la revendication 5, dans lequel la correction de l’image brute comporte une division de l’image brute par l’image corrective de la manière suivante : I(n) = I B (n) ○ I C ○ – 1 (n), où I(n) est l’image corrigée, I B (n) est l’image brute, Ic(n) est l’image corrective, ○ représente le produit de Hadamard et ○ – 1 représente l’inverse de Hadamard. Procédé selon l’une quelconque des revendications 1 à 6, dans lequel la construction (312) du profil de réflectance (PR) comporte pour chacun de plusieurs intervalles d’orientation, une détermination d’une réflectance moyenne à partir des images brutes et des orientions possibles (θ n,m , φ n,m ) de leurs pixels (P m ). Procédé selon l’une quelconque des revendications 4 à 6 et selon la revendication 7, dans lequel une réflectance moyenne est déterminée à partir des images corrigées et des orientions possibles (θ n,m , φ n,m ) de leurs pixels (P m ). Procédé selon la revendication 7 ou 8, dans lequel, pour chaque intervalle d’orientation, la réflectance moyenne est égale à la somme des réflectances associées aux orientions possibles (θ n,m , φ n,m ) contenues dans l’intervalle d’orientation considéré, divisée par le nombre d’orientions possibles (θ n,m , φ n,m ) contenues dans l’intervalle d’orientation considéré. Procédé selon l’une quelconque des revendications 1 à 9, dans lequel la pièce (104) est un alliage à base Nickel. Procédé selon l’une quelconque des revendications 1 à 10, dans lequel la pièce (104) est une aube d’une turbine. Procédé de contrôle non destructif d’un pièce (104) d'aéronautique à matériau monocristallin ou bien polycristallin, par une détermination d’une orientation cristallographique d’une surface de la pièce, conformément à un procédé selon l’une quelconques des revendications 1 à 11. Système (100) de contrôle non destructif d’une pièce (104) d’aéronautique à matériau monocristallin ou bien polycristallin, par une détermination d’une orientation cristallographique d’une surface (102) de la pièce (104), caractérisé en ce qu’il comporte : un dispositif (108) d’éclairage de la surface (102) de la pièce (104) par une lumière non collimatée sélectivement depuis plusieurs positions d’éclairage (110 n ) ; un dispositif (112) d’acquisition d’image de la surface (102) ; et un dispositif de supervision conçu pour commander le dispositif d’éclairage (108) et le dispositif d’acquisition d’image (112) pour mettre en œuvre un procédé selon l’une quelconque des revendications 1 à 12.