D'autres aspects, buts, avantages et caractéristiques de l’invention apparaîtront mieux à la lecture de la description détaillée suivante de formes de réalisation préférées de celle-ci, donnée à titre d'exemple non limitatif, et faite en référence aux dessins annexés sur lesquels : la , déjà décrite, est une vue schématique et partielle, en perspective, d’un interféromètre de Mach-Zehnder d’un système interférométrique de détection selon un exemple de l’art antérieur ; la , déjà décrite, illustre un organigramme d’un procédé de détection selon un exemple de l’art antérieur ; la , déjà décrite, illustre une évolution temporelle de la puissance P out du signal optique de sortie mesuré par le photodétecteur du système interférométrique de détection de la , en fonction de la différence de phase effective Φ eff ; la , déjà décrite, illustre une évolution temporelle de la différence de phase extraite ϕ m (t), et de la différence de phase dépliée Φ m,d (t) ; la est une vue schématique et partielle d’un système interférométrique de détection selon un mode de réalisation ; la est une vue de dessus, schématique et partielle, de capteurs optiques de mesure et de capteurs optiques de référence d’un système interférométrique de détection selon un mode de réalisation, où ces capteurs sont des interféromètres de Mach-Zehnder ; la est une vue de dessus, schématique et partielle, de capteurs optiques de mesure et de capteurs optiques de référence d’un système interférométrique de détection selon un mode de réalisation, où ces capteurs optiques sont des interféromètres à anneau résonant ; les figures 4A à 4C sont des vues de dessus, schématiques et partielles, de capteurs optiques de mesure de mesure et de capteurs optiques de référence de type Mach-Zehnder d’un système interférométrique de détection, selon différentes variantes de réalisation ; la illustre un organigramme d’un procédé de détection selon un premier mode de réalisation ; les figures 6A à 6C illustrent un exemple d’évolutions temporelles de différents paramètres, permettant de comparer le procédé de détection selon l’art antérieur de la et le procédé de détection selon le premier mode de réalisation de la , où : la illustre une évolution temporelle de la différence de phase extraite ϕ r (t) d’un capteur optique de référence (graphe de gauche), et celle ϕ m (t) d’un capteur optique de mesure (graphe de droite) ; la illustre l’évolution temporelle Φ r,d (t) de la différence de phase dépliée Φ r,d du capteur optique de référence et celle de la différence de phase dépliée Φ m,d (t) du capteur optique de mesure obtenues par le procédé de l’art antérieur, ainsi que celle de la différence de phase corrigée Φ m,dc (t) du capteur optique de mesure obtenue par le procédé selon le premier mode de réalisation ; et la illustre l’évolution temporelle de la variation instantanée δΦ m,d (t) du capteur optique de mesure et celle de la variation instantanée δΦ r,d (t) du capteur optique de référence ; la illustre un organigramme d’un procédé de détection selon un deuxième mode de réalisation ; la illustre un organigramme d’un procédé de détection selon une variante du deuxième mode de réalisation. EXPOSÉ DÉTAILLÉ DE MODES DE RÉALISATION PARTICULIERS