INPI-France/Brevets-Francais-2024-Chunked huggingface dataset:
Selon un mode de réalisation, l’appareil interférométrique peut opérer en mode point en étant configuré pour détecter un signal d’interférence ponctuel en un point du champ de vue ou en un détecteur ponctuel. Le jeu géométrique estimé peut être, ou peut comprendre, le signal d’interférence ou l’interférogramme qui est un signal d’intensité fonction du déplacement de la zone de cohérence le long de l’axe z. Le signal d’interférence peut, par exemple, être vu comme une succession de raies d’interférence associées à chaque interface optique.
Selon un mode de réalisation particulièrement préféré, les pigments peuvent être enrobés par un acide aminé N-acylé et/ou un de ses sels, en particulier par un dérivé d’acide glutamique et/ou un de ses sels, ou par un ester gras, en particulier par un ester de jojoba.
Selon un mode de réalisation plus particulièrement préféré, les pigments peuvent être enrobés par un acide aminé N-acylé et/ou un de ses sels, en particulier par un dérivé d’acide glutamique et/ou un de ses sels, notamment un stéaroyl glutamate, comme par exemple le stéaroyl glutamate d’aluminium.
A titre d’exemples de pigments enrobés selon l’invention, on peut citer plus particulièrement les dioxydes de titane et oxyde de fer, enrobés de stéaroyl glutamate d’aluminium, par exemple commercialisé sous la référence NAI par MIYOSHI KASEI.
Par pigment organique, on entend tout pigment qui répond à la définition de l’encyclopédie Ullmann dans le chapitre pigment organique. Le pigment organique peut notamment être choisi parmi les composés nitroso, nitro, azo, xanthène, quinoléine, anthraquinone, phtalocyanine, de type complexe métallique, isoindolinone, isoindoline, quinacridone, périnone, pérylène, dicétopyrrolopyrrole, thioindigo, dioxazine, triphénylméthane, quinophtalone.
Nature de l’enrobage hydrophile Comme énoncé précédemment, ces autres pigments peuvent être enrobés par un composé hydrophile.
Ledit composé hydrophile permettant de traiter en surface un pigment pour optimiser sa dispersion dans la phase aqueuse gélifiée est plus particulièrement choisi parmi des polymères biologiques, des carbohydrates, des polysaccharides, des polyacrylates ou des dérivés de polyéthylène glycol.
On entend par cire polaire, une cire contenant des composés chimiques comportant au moins un groupement polaire. Les groupements polaires sont bien connus de l’homme du métier ; il peut s’agir par exemple de groupement alcool, ester, acide carboxylique. Ne font pas partie des cires polaires les cires de polyéthylène, les cires de paraffine, les cires microcristallines, l’ozokérite, les cires de Fisher-Tropsch.
La définition des solvants dans l’espace de solubilité tridimensionnel selon HANSEN est décrite dans l’article de C. M. HANSEN, The three dimensionnal solubility parameters J. Paint Technol. 39, 105 (1967) : - δh caractérise les forces d’interactions spécifiques (type liaisons hydrogène, acide/base, donneur/accepteur, etc.) ; - δp caractérise les forces d’interactions de DEBYE entre dipôles permanents ainsi que les forces d’interactions de KEESOM entre dipôles induits et dipôles permanents.
Selon un mode de réalisation particulier, les pigments peuvent être enrobés par au moins un composé choisi parmi les agents de surface siliconés ; les agents de surface fluorés ; les acides aminés N-acylés ou leurs sels ; le trisostéaryle titanate d’isopropyle ; les cires naturelles végétales ou animales ; les esters gras ; et leurs mélanges.
Il est donc proposé une chambre de coupure pour courant continu bidirectionnel, caractérisée en ce qu’elle comporte : des premier et deuxième contacts fixes ; un contact mobile conçu pour se déplacer entre : une position fermée dans laquelle le contact mobile est au contact des contacts fixes, respectivement en des première et deuxième zones de contact, et une position ouverte dans laquelle le contact mobile est éloigné des contacts fixes ; un dispositif de génération d’un champ magnétique présentant une direction constante ; pour chaque zone de contact : une première, respectivement deuxième, paire de guides s’étendant depuis le contact mobile et la zone de contact considérée, pour guider, sous l’action du champ magnétique, un arc électrique de courant s’écoulant dans un sens, respectivement dans l’autre, entre la zone de contact considérée et le contact mobile ; dans laquelle les paires de guides se succèdent dans la direction du champ magnétique et, chaque paire de guides délimitant entre elles une zone de guidage, les zones de guidage se chevauchent au moins en partie dans la direction du champ magnétique.
Grâce à l’invention, il est possible de réduire la taille du dispositif de génération du champ magnétique, grâce au chevauchement des zones de guidage. Ainsi, la compacité de la chambre de coupure est améliorée.
De façon optionnelle, chacun des guides appartient à une seule des paires.
De façon optionnelle également, les guides sont fixes et les guides s’étendant depuis le contact mobile sont séparés de ce dernier d’un interstice permettant le déplacement du contact mobile.
De façon optionnelle également, les deux zones de contact se succèdent dans la direction du champ magnétique.
De façon optionnelle également, le contacteur comporte en outre, pour chaque zone de contact, des première et deuxième unités de dispersion d’arc électrique, jusqu’où les première et deuxième paires de guides s’étendent, respectivement.
De façon optionnelle également, les unités de dispersion comportent des blocs d’ailettes.
De façon optionnelle également, le contact mobile est conçu pour se déplacer selon une direction de déplacement entre la position ouverte et la position fermée, et les unités de dispersion se trouvent d’un même côté d’un plan traversant les zones de contact et défini par la direction du champ magnétique et la direction de déplacement du contact mobile.
Il est également proposé un système de coupure, comportant deux chambres de coupure selon l’invention, dans lequel les deux plans délimitent entre eux un espace central en dehors duquel se trouvent les unités de dispersion.
Il est également proposé un aéronef comportant une chambre de coupure selon l’invention.
Il est également proposé un aéronef comportant un système de coupure selon l’invention.
Brève description des figures L’invention sera mieux comprise à l’aide de la description qui va suivre, donnée uniquement à titre d’exemple et faite en se référant aux dessins annexés dans lesquels : la est une vue en trois dimensions d’un exemple d’une chambre de coupure selon l’invention, la est une vue en trois dimensions de contacts de la chambre de coupure de la , la est une vue de dessus de la chambre de coupure de la , la est une vue d’un côté de la chambre de coupure de la , la est une vue de l’autre côté de la chambre de coupure de la , la est une vue de côté avec les première et deuxième paires de guide superposées, pour voir leur chevauchement, et la est une vue de dessus d’un système de coupure selon l’invention.
Description détaillée de l’invention En référence à la , un exemple de chambre de coupure 100 selon l’invention va à présent être décrit. Dans la description qui suit, les termes « fixe » et « mobile » sont à prendre relativement l’un à l’autre.
La chambre de coupure 100 est pour courant continu (« Direct Current » ou DC en anglais) et bidirectionnel. Elle comporte deux contacts fixe 102, 104, et un contact mobile 106. Ce dernier est conçu pour se déplacer, par rapport aux contacts fixes 102, 104, selon une direction de déplacement 108 entre deux positions. La première de ces deux positions est une position fermée dans laquelle le contact mobile 106 est au contact des contacts fixes 102, 104, respectivement en deux zones de contact (visible sur la et portant respectivement les référence 102* et 104*). La deuxième de ces deux positions est une position ouverte dans laquelle le contact mobile 106 est éloigné des contacts fixes 102, 104 (comme illustré sur la ).
La chambre de coupure 100 comporte en outre un dispositif (visible sur la et portant la référence 302) de génération d’un champ magnétique 112. Le champ magnétique 112 présente une direction constante, ainsi que de préférence une amplitude constante. Le dispositif de génération 302 comporte par exemple un aimant permanent.
Le dispositif de génération 302 est par exemple agencé de sorte que les deux zones de contact 102*, 104* se succèdent dans la direction du champ magnétique 112, par exemple pour qu’elles soient alignées dans la direction du champ magnétique 112.
La chambre de coupure 100 comporte en outre, pour chaque zone de contact 102*, 104*, deux unités 102A, 102B et 104A, 104B de dispersion d’arc électrique, comme par exemple deux blocs d’ailettes. En particulier, chaque bloc d’ailettes est conçu pour recevoir un arc électrique et augmenter une tension de ce dernier au-dessus d’une tension appliquée entre les deux contacts fixes 102, 104 par une source de tension (non représentée). Pour cela, les ailettes sont conçues pour dé-ioniser l’arc électrique.
Les unités de dispersion 102A, 102B, 104A, 104B se trouvent toutes d’un même côté de la chambre de coupure 100, et plus précisément d’un même côté des contacts 102, 104, 106. Cela signifie par exemple qu’elles se trouvent d’un même côté d’un plan (visible sur la et portant la référence 304) traversant les zones de contact 102*, 104* et défini par la direction du champ magnétique 112 et la direction 108 de déplacement du contact mobile 106. De préférence, les unités de dispersion 102A, 102B, 104A, 104B se succèdent le long de la direction du champ magnétique 112. Elles sont par exemples alignées le long de la direction du champ magnétique 112.
La chambre de coupure 100 comporte en outre, pour chaque zone de contact 102*, 104*, des première et deuxième paires de guides d’arc électrique (appelés « runners » en anglais), portant les références 102A1, 102A2 et 102B1, 102B2 pour la zone de contact 102* et 104A1, 104A2 et 104B1, 104B2 pour la zone de contact 104*. Un espace de guidage est délimité par les deux guides de chaque paire. Cet espace de guidage est balayé par l’arc électrique lorsque ses deux pieds (c’est-à-dire les deux extrémités de l’arc électrique) suivent respectivement les deux guides.
Pour la zone de contact 102*, les guides 102A1, 102A2 de la première paire s’étendent depuis respectivement le contact mobile 106 et la zone de contact 102* jusqu’à une face d’entrée d’arc électrique de la première unité de dispersion 102A. Les guides 102B1, 102B2 de la deuxième paire s’étendent depuis respectivement la zone de contact 102* et le contact mobile 106 jusqu’à une face d’entrée d’arc électrique de la deuxième unité de dispersion 102B.
De manière similaire, pour la zone de contact 104*, les guides 104A1, 104A2 de la première paire s’étendent depuis respectivement la zone de contact 104* et le contact mobile 106 jusqu’à une face d’entrée d’arc électrique de la première unité de dispersion 104A. Les guides 104B1, 104B2 de la deuxième paire s’étendent depuis respectivement le contact mobile 106 et la zone de contact 104* et jusqu’à une face d’entrée d’arc électrique de la deuxième unité de dispersion 104B.
Pour chaque zone de contact 102*, 104*, l’une des deux paires de guides reste du côté (par rapport au plan 304) des unités de dispersion, tandis que l’autre des deux paires de guides part de l’autre côté, contourne le contact fixe 102, 104 ou bien le contact mobile 106 (comme dans l’exemple illustré) en traversant le plan 304, puis se termine du côté (par rapport au plan 304) des unités de dispersion.
Par ailleurs, pour chaque zone de contact 102*, 104*, les deux paires de guides se succèdent, au moins en partie, dans la direction du champ magnétique 112. Par exemple, les quatre paires de guides se succèdent au moins en partie le long de la direction du champ magnétique 112. Sur la , les quatre paires de guides se succèdent sur la gauche du plan 304 (c’est-à-dire du côté des unités de dispersion 102A, 102B, 104A, 104B).
Ainsi, les espaces de guidage se chevauchent au moins en partie dans la direction du champ magnétique 112. Ce chevauchement est visible sur la où l’espace de guidage 602 d’une des paires de guides (102A1, 102A2 ou bien 104B1, 104B2) est hachurée dans un sens et l’espace de guidage 604 de l’autre paire de guides (102B1, 102B2 ou bien 104A1, 104A2) est hachurée dans l’autre sens. Le chevauchement 606 correspond à la zone hachurée dans les deux sens. Grâce à ce chevauchement 606, la zone où le champ magnétique 112 doit être générée est limitée dans le plan perpendiculaire au champ magnétique 112. Cela simplifie le dispositif de génération 302 et permet en particulier de réduire sa taille.
En outre, les guides sont par exemple fixes. Pour permettre le déplacement du contact mobiles, les guides partant de ce dernier sont par exemple séparés du contact mobile par un interstice que l’arc électrique franchit sans problème. Alternativement, ces guides pourraient glisser sur le contact mobile lors du déplacement de ce dernier.
Un exemple de fonctionnement de la chambre de coupure 100 va à présent être décrit.
Lors de l’ouverture de la chambre de coupure 100, le contact mobile 106 se sépare des contacts fixes 102, 104. Un arc électrique apparaît à chaque zone de contact 102*, 104*.
Du fait du champ magnétique 112 de direction constante, l’arc électrique subit la force de Laplace et est alors guidé par l’une ou l’autre ( et ) des paires de guide, suivant la direction de circulation du courant (depuis le contact fixe 106 vers le contact mobile 102, 104 ou bien l’inverse). La paire de guides empruntée par l’arc électrique guide alors ce dernier jusqu’à l’unité de dispersion associée.
Par exemple, si du courant entre dans la chambre de coupure 100 par le contact fixe 102 et en sort par le contact fixe 104, l’arc électrique de la zone de contact 102* est guidé par la paire de guides 102A1, 102A2 jusqu’à l’unité de dispersion 102A et l’arc de la zone de contact 104* est guidé par la paire de guides 104B1, 104B2 jusqu’à l’unité de dispersion 104B. Si du courant entre dans la chambre de coupure 100 par le contact fixe 104 et en sort par le contact fixe 102, l’arc électrique de la zone de contact 102* est guidé par la paire de guides 102B1, 102B2 jusqu’à l’unité de dispersion 102B et l’arc électrique de la zone de contact 104* est guidé par la paire de guides 104A1, 104A2 jusqu’à l’unité de dispersion 104A.
De préférence, les guides s’étendent sensiblement perpendiculairement à la direction du champ magnétique 112, de sorte que la force de Laplace est maximisée.
En référence à la , un exemple d’un système de coupure 702 double coupure selon l’invention va à présent être décrit.
Ce système de coupure 702 comporte deux chambres de coupures comme la chambre de coupure 100. Les éléments de ces chambres de coupure seront désignés par les mêmes références que sur les figures 1 à 5, avec en outre un symbole prime « ’ » pour l’un d’eux pour les distinguer.
Dans ce cas, il est possible de fixer un seuil absolu ou relatif, dépendant du modèle du composant électronique ou propre à un composant électronique donné, en fonction du niveau d’exigence fixé pour le diagnostic.
Par exemple, on considère communément qu’un composant électronique dont l'indicateur de vieillissement de l'état de l'art qui est la tension, mesuré à un courant et à une température fixée, à varié de 5% par rapport au composant neuf est dégradé. Compte tenu de la meilleure sensibilité de l’indicateur I,ZCP(t), on pourra, pour obtenir un diagnostic équivalent, considérer que le remplacement du composant est nécessaire si I,ZCP(t) a subi une diminution relative de 8 % à 10% par rapport à l’état neuf.
Il est aussi possible de calculer un indicateur quantitatif D de l’état de santé du composant en calculant le rapport de la différence (I,ZCP(t) - I,ZCP(initial)) et de la différence (I,ZCP(final) - I,ZCP(initial)) où I,ZCP(final) est considéré comme la valeur atteinte lorsque le niveau de dégradation du composant nécessite par exemple son remplacement et I,ZCP(initial) correspond au composant sain.
Dans ce cas l’indicateur de dégradation est nul pour un composant sain et égal à 1 pour le composant à remplacer.
I,ZCP(initial) peut notamment être mesuré sur un composant représentatif du composant sur lequel le procédé est mis en œuvre, par exemple un composant portant la même référence fournisseur.
On pourra, dans le cadre d’un suivi en temps réel, répéter de manière itérative, par exemple périodique, la mesure de l’intensité du courant électrique du collecteur I,ZCP(t) à l’instant t au point de coefficient de température nul du composant électronique et la déduction de l’indicateur quantitatif D de l’état de santé du composant électronique.
Le procédé de mesure de l’état de santé du composant électronique de puissance peut notamment être utilisé pour déterminer l’évolution de son vieillissement et de sa dégradation s’il est mis en œuvre de manière itérative au cours du temps par différentes mesures d’intensité I,ZCP(ti) à différents instants ti, ces intensités I,ZCP(ti) étant mesurées lorsque la tension V à ces différents instants ti est égale à la tension V,ZCP0, et étant comparées à l’intensité I,ZCP(t0) à l’instant initial t0.
Le procédé peut s’appliquer à des composants électroniques individuels (diode, module IGBT) ou à des associations de composants électroniques mixtes et/ou bipolaires utilisés dans les systèmes de conversion d'énergie tels que des onduleurs.
On peut le constater sur la , représentant le point ZCP d’un module IGBT portant la référence SKIM63 (300A, 1200 V) comprenant quatre puces en parallèle, obtenu pour le module non dégradé (ZCP-sain) et pour le module dégradé (ZCP-degr), la dégradation correspondant dans ce cas à une diminution relative de 2% de l’indicateur de dégradation de l’art antérieur Vce, mesurée à une température égale à 55°C.
Les points ZCP-sain et ZCP-degr sont bien à la verticale l’un de l’autre, c’est-à-dire qu’ils correspondent à la même tension V,ZCP alors que I,ZCP varie significativement.
Plus précisément, entre les points ZCP-sain et ZCP-degr, V,ZCP varie de 1,2209 V à 1,2243 V, soit une variation relative de 2,8‰ (pour mille), alors que I,ZCP varie de 85,7152 A à 83,4417 A soit une variation relative de 2,7% (pour cent) soit une variation de l’ordre de 10 fois plus importante que celle de V,ZCP.
On constate encore une fois que l’indicateur de dégradation suivant l’invention est non seulement plus facile à mettre en œuvre que les indicateurs de l’art antérieur puisqu’ils ne nécessitent pas de connaître la température, mais aussi plus sensible : dans le cas de la , I,ZCP subit une variation relative de 2,7% alors que l’indicateur de vieillissement de l’art antérieur Vce ne subit une variation relative que de 2%.
Dans les associations de composants électroniques, le cyclage de température au niveau de chaque composant est dû non seulement à l’auto-échauffement de ce composant mais aussi aux échauffements des composants voisins. Il y a donc un couplage des dégradations des composants individuels, de sorte qu’il peut être pertinent de suivre l’état de santé de l’association dans son ensemble.
Dans ce dernier cas, on met en œuvre un ou plusieurs capteurs de tension ; un ou plusieurs capteurs d’intensité répartis en fonction de la nature des associations électriques (série, parallèle). Par exemple, pour le suivi de l’état de santé d’un onduleur, on peut dédier un capteur de tension à chaque puce, ainsi qu’un capteur de courant à chaque bras d’onduleur.
L'invention concerne aussi un dispositif de mesure pour mettre en œuvre le procédé de mesure de l’état de santé d’un composant électronique de puissance à semi-conducteurs comportant au moins une borne d'entrée et une borne de sortie du courant électrique d’une intensité I, entre lesquelles s’établit une tension électrique V, le composant électronique présentant un point de coefficient de température nul ZCP indépendant de la température,suivant l’un quelconque des modes de réalisation décrits plus haut.
Le dispositif de mesure comprend au moins un capteur d’intensité électrique permettant de mesurer l’intensité I du courant électrique I,ZCP traversant la borne d’entrée (ou la borne de sortie) à un instant quelconque.
Dans une telle brosse, la flexibilité du support d’élément applicateur autorise en outre un mouvement oscillant de va-et-vient du support d’élément applicateur ayant un effet de pompage du produit de l’intérieur de l’enveloppe creuse vers les éléments applicateurs. Cet effet de pompage permet d’assurer qu’une quantité suffisante de formule est disponible pour être appliquée sur les cils.
Dans certains modes de réalisation, l’enveloppe est réalisée d’un seul tenant avec l’au moins un support d’élément applicateur.
Par « réalisé d’un seul tenant », on comprend formé en une seule et même pièce sans nécessiter d’assemblage. Autrement dit, par « réalisé d’un seul tenant », on comprend formé en une seule et même pièce monobloc.
Une telle structure permet de réduire le nombre de pièces nécessaires à la fabrication de la brosse. En particulier, une telle structure est particulièrement adaptée pour une fabrication par méthode de fabrication additive.
De plus, une telle structure permet d’assurer un meilleur contrôle de la tenue mécanique du support d’élément applicateur en porte-à-faux.
Dans certains modes de réalisation, l’au moins un élément applicateur est réalisé d’un seul tenant avec le support d’élément applicateur.
Une telle structure permet de réduire le nombre de pièces nécessaires à la fabrication de la brosse tout en garantissant une fixation robuste entre l’élément applicateur et le support d’élément applicateur. En particulier, une telle structure est particulièrement adaptée pour une fabrication par méthode de fabrication additive.
Le positionnement de l’élément applicateur au niveau d’une extrémité libre du support d’élément applicateur correspond à une position parmi les positions auxquelles le déplacement de support d’élément applicateur présente la plus grande amplitude, c’est-à-dire parmi les positions auxquelles un élément applicateur porté par le support d’élément applicateur pourra le mieux suivre un cil lors de l’application de formule.
Dans certains modes de réalisation, l’au moins un support d’élément applicateur présente une section transverse comprise entre 0,25 mm² et 5 mm², de préférence comprise entre 1 mm² et 2 mm². Une direction transverse est une direction transverse à la direction selon laquelle le support d’élément applicateur s’étend en porte-à-faux.
Une telle section transverse permet d’assurer une bonne flexibilité du support d’élément applicateur ainsi qu’une bonne tenue mécanique, afin d’assurer un suivi de cil sans risque d’endommagement du cil. Une telle section transverse est également adaptée pour l’utilisation de méthodes de fabrication additives.
Dans certains modes de réalisation, l’au moins un support d’élément applicateur s’étend en porte-à-faux depuis l’enveloppe sur une distance entre 0,25 mm et 5 mm, de préférence entre 1 mm et 3 mm.
Une telle distance permet d’assurer une amplitude de déplacement suffisante pour un suivi efficace de cil lors de l’application de formule.
Dans certains modes de réalisation, le support d’élément applicateur est relié à l’enveloppe en formant un rétrécissement.
En d’autres termes, le rétrécissement forme une portion de liaison entre l’enveloppe et le reste du support d’élément d’applicateur. Le rétrécissement permet d’augmenter la flexibilité du support. La portion plus large du support d’élément d’applicateur présente une surface permettant de recevoir un élément applicateur et forme le porte-à-faux du support d’élément d’application.
Dans certains modes de réalisation, l’au moins un support d’élément applicateur s’étend sensiblement selon un plan tangentiel de la brosse. Ainsi, le support d’élément applicateur peut se déformer selon une direction radiale, correspondant à la direction d’extension d’un cil lors de l’application de formule.
Dans certains modes de réalisation, la brosse comprend au moins un motif de support formé d’une paire de supports d’élément applicateur s’étendant dans une même direction et dans des sens opposés.