INPI-France/Brevets-Francais-2024-Chunked huggingface dataset:
Une valeur limite [ t c ] pour la température de métal externe du plan d’association de brides dans un cas où une fuite de vapeur se produit à une position où l’étanchéité est la plus faible sur le plan d’association de brides du cylindre du cylindre nucléaire peut être calculée, sur la base de la base de données de modèles de composant 1, de la base de données de charges 2 et de la base de données de matériaux 3 de la turbine nucléaire, en entrant les paramètres de conception et les modèles mécaniques tridimensionnels du cylindre de la turbine nucléaire, la pression et la charge thermique du cylindre, la charge de précontrainte dans le boulon et des données de propriétés de matériaux, par l’intermédiaire d’un procédé et d’un sous-programme de surveillance de l’étanchéité du plan d’association de brides du cylindre.
A l’étape S602 suivante, une température de métal externe pour l’étanchéité du plan d’association de brides du cylindre est obtenue.
Une température à une position où l’étanchéité est la plus faible sur le plan d’association de brides du cylindre est surveillée sur la base de la base de données de charges de la turbine nucléaire, et la température de surveillance en ligne à la position où l’étanchéité est la plus faible est déterminée en tant que température de métal externe t c .
A l’étape S603 suivante, les secondes données de surveillance de température du plan d’association de brides sont déterminées en fonction de la valeur limite de température de surveillance et de la température de métal externe.
Il convient de noter qu’un rapport de température de métal externe du plan d’association de brides est déterminé, comme les secondes données de surveillance de température du plan d’association de brides, en fonction de la température de métal externe et de la valeur limite de température de surveillance.
Un rapport de température de métal externe R tc du plan d’association de brides du cylindre de la turbine nucléaire est calculé selon la formule suivante :
Dans la formule ci-dessus, t c est la température de surveillance en ligne à la position où l’étanchéité est la plus faible sur le plan d’association de brides du cylindre de la turbine nucléaire ; [ t c ] est la valeur limite pour la température de métal externe sur le côté externe du plan d’association de brides dans le cas où la fuite de vapeur se produit à la position où l’étanchéité est la plus faible sur le plan d’association de brides du cylindre de la turbine nucléaire.
A l’étape S604 suivante, le contrôle de fonctionnement et d’entretien de la turbine nucléaire est optimisé en fonction des secondes données de surveillance de température de l’étanchéité du plan d’association de brides.
Il est déterminé si la surveillance de fonctionnement de la fuite de vapeur du plan d’association de brides du cylindre est qualifiée, et si la fuite de vapeur se produit au niveau du plan d’association de brides du cylindre de la turbine nucléaire en fonction des secondes données de surveillance de température de l’étanchéité du plan d’association de brides, c’est-à-dire le rapport de température de métal externe du plan d’association de brides. Dans un cas où la surveillance de fonctionnement de la fuite de vapeur du plan d’association de brides du cylindre n’est pas qualifiée, la fuite de vapeur se produit au niveau du plan d’association de brides du cylindre de la turbine nucléaire, le contrôle de fonctionnement et d’entretien de la turbine nucléaire est optimisé.
Si le rapport de température de métal externe est inférieur à une première valeur seuil prédéterminée le procédé se poursuit par l’étape S605, dans laquelle il est déterminé que la surveillance de fonctionnement de la fuite de vapeur du plan d’association de brides du cylindre est qualifiée.
La première valeur seuil est prédéterminée. Si le rapport de température de métal externe est inférieur à la première valeur seuil prédéterminée, il est déterminé que la surveillance de fonctionnement de la fuite de vapeur du plan d’association de brides du cylindre est qualifiée. Par exemple, la première valeur seuil est fixée à l’avance à 1. Dans un cas où R tc < 1, il est déterminé que la surveillance de fonctionnement de la fuite de vapeur du plan d’association de brides du cylindre de la turbine nucléaire est qualifiée, ce qui indique qu’il n’y a pas de fuite de vapeur au niveau du plan d’association de brides du cylindre de la turbine nucléaire.
Si le rapport de température de métal externe est supérieur ou égal à la première valeur seuil prédéterminée le procédé se poursuit par l’étape S606, dans laquelle il est déterminé que la surveillance de fonctionnement de la fuite de vapeur du plan d’association de brides du cylindre n’est pas qualifiée, et la stratégie d’optimisation et d’amélioration pour la fuite de vapeur de la turbine nucléaire est générée.
Dans un cas où le rapport de température de métal externe est supérieur ou égal à la première valeur seuil prédéterminée, il est déterminé que la surveillance de fonctionnement de la fuite de vapeur du plan d’association de brides du cylindre n’est pas qualifiée, et la stratégie d’optimisation et d’amélioration pour la fuite de vapeur de la turbine nucléaire est générée. Par exemple, la première valeur seuil est fixée à l’avance à 1. Dans un cas où R tc ≥ 1, il est déterminé que la surveillance de fonctionnement de la fuite de vapeur du plan d’association de brides du cylindre de la turbine nucléaire n’est pas qualifiée, ce qui indique que la fuite de vapeur se produit au niveau du plan d’association de brides du cylindre de la turbine nucléaire lors de la phase de fonctionnement, et qu’il est nécessaire de générer la stratégie d’optimisation et d’amélioration pour la fuite de vapeur de la turbine nucléaire.
Le procédé se poursuit par l’étape S607 suivante, le contrôle de fonctionnement et d’entretien de la turbine nucléaire est optimisé en fonction de la stratégie d’optimisation et d’amélioration pour la fuite de vapeur, jusqu’à ce que le rapport de température de métal externe soit inférieur à la première valeur seuil prédéterminée, et l’optimisation est terminée.
Un composant de réglage de la turbine nucléaire est obtenu en fonction de la stratégie d’optimisation et d’amélioration pour la fuite de vapeur. Le contrôle de fonctionnement et d’entretien du composant de réglage est optimisé sur le composant de réglage en fonction d’un paramètre de réglage du composant de réglage dans la stratégie d’optimisation et d’amélioration pour la fuite de vapeur. En variante, la turbine nucléaire peut être arrêtée à des fins d’entretien et la charge de précontrainte dans le boulon peut être augmentée.
Dans des modes de réalisation, lorsque on obtient des données auxquelles sont associées les fonctions « identification élément faible/fort » et/ou « quantification capacité résiduelle faible/forte », une opération supplémentaire de quantification d’une anomalie de capacité résiduelle est mise en œuvre. Par exemple, les paires C T,1 , ∆Q T,max et C T,2 , ∆Q T,min de données constituée de l’identifiant de l’élément l’électrochimique C t,1 , ou C t,2 et de l’écart d’état de charge correspondant ∆Q t,max ou ∆Q t,min sont utilisées conjointement dans la construction d’un modèle de régression linéaire (voir figures 5, 7 et 9). Une quantification d’une anomalie de capacité résiduelle est ensuite obtenue en fonction de la valeur de pente dudit modèle de régression linéaire. En variante, d’autres moyen qu’une régression linéaire peuvent être mis en œuvre pour quantifier une capacité résiduelle (relative par rapport à un élément de référence). Pour les paires de données auxquelles est associée la fonction « identification élément faible/fort », l’identifiant présentant la plus forte occurrence (ou l’unique identifiant) pour chacun du maximum et du minimum d’état de charge peut être retenu en tant qu’identifiant de l’élément fort, respectivement de l’élément faible. En variante, la distribution des identifiants peut être utilisée pour identifier plus d’un élément fort ou plus d’un élément faible.
Dans des modes de réalisation, lorsque on obtient des données auxquelles sont associées la fonction « quantification déséquilibre », une opération supplémentaire de quantification dudit déséquilibre est mise en œuvre. Par exemple, les valeurs d’écart d’état de charge ∆Q t,max ou ∆Q t,min sont utilisées pour calculer une moyenne, pondérée ou non, ou des quantiles tels qu’une médiane des valeurs des premiers et deuxièmes écarts de charge ∆Q t,max et ∆Q t,min respectivement. La distribution des données auxquelles sont associées les fonctions « quantification déséquilibre » ou « identification déséquilibre » peut optionnellement être utilisée pour quantifier la fiabilité (ou « robustesse ») de ladite identification/quantification.
Dans des modes de réalisation, le procédé de diagnostic peut comprendre, en outre et postérieurement aux opérations décrites ci-avant, une opération d’ « alerte ». Par exemple : e. générer l’un au moins des signaux d’anomalie suivant en fonction données obtenues : - une identification d’au moins un élément électrochimique présentant une différence de capacité résiduelle par rapport à une capacité résiduelle nominale des éléments électrochimiques du système dans la plage de valeur de l’état de charge de référence ; - une quantification de ladite ou lesdites différences de capacité résiduelle ; - une quantification du déséquilibre maximal entre les éléments chimiques du système.
Dans les variantes dans lesquelles une fonction « identification déséquilibre » est prévu, l’au moins un signal d’anomalie peut inclure au moins une identification d’un élément impliqué dans le déséquilibre.
Autrement dit, le procédé de diagnostic peut prendre, en sortie, la forme d’un diagnostic destiné à des opérateurs chargés de surveiller et d’assurer la maintenance du système, y compris des opérateurs qui ne sont pas en mesure d’interpréter les données chiffrées elles-mêmes.
Optionnellement, le procédé de diagnostic peut prendre, en sortie, la forme d’un signal de déclenchement d’au moins une mesure corrective en réponse à l’un au moins des diagnostics précités. Dans ce cas, le procédé devient plus qu’un procédé de diagnostic mais plus généralement un procédé de maintenance de systèmes électrochimiques, en partie au moins automatisé. Par exemple, on peut prévoir un signal de rétroaction déclenchant l’isolement (électrique) d’un élément à l’origine d’une anomalie ou d’un sous-ensemble du système contenant un élément à l’origine d’une anomalie.
Les présentes solutions techniques peuvent trouver à s’appliquer sur tous types de batteries ou accumulateurs et notamment aux batteries de type Li-ion stationnaires (pour les réseaux ou le résidentiel par exemple) ou embarquées (véhicules par exemple).
En conclusion, les modes de réalisation du procédé décrit ci-avant permettent de ne pas nécessiter de données de mesure propres à chacun des éléments composant un système, mais au contraire de nécessiter seulement des données de mesure plutôt usuelles, en particulier relatives aux valeurs extrêmes plutôt qu’à chaque valeur de chaque élément. Ainsi, et contrairement à de nombreuses méthodes existantes, il n’est pas nécessaire d’effectuer des calculs lourds et un diagnostic absolu pour chaque élément du système pour ensuite faire une comparaison des éléments entre eux. Le procédé décrit ici permet de quantifier une capacité résiduelle en termes relatifs (par rapport à une capacité résiduelle de référence), ce qui suffit dans la plupart des cas à identifier une anomalie.
En outre, selon les méthodes connues, l’identification (et non la quantification) d’un élément ayant une capacité résiduelle plus faible/forte que la moyenne consiste à faire une analyse de la fréquence d’apparition des identifiants correspondant aux éléments en tension minimale ou maximale au cours du temps. Cela implique le postulat sous-jacent que, sur une période donnée, l’élément le plus faible sera celui le plus souvent associé à la tension minimum ou maximum de l’assemblage. Or, selon cette approche le résultat est fonction du temps pendant lequel le système se trouve dans chaque état de charge. En effet, en pratique, la cellule associée à la tension minimale n’est pas forcément la même à mi-charge et à pleine charge par exemple. En conséquence, dans une approche basée sur la fréquence d’apparition, les zones d’état de charge où le système passe le plus de temps vont être surpondérées. Au contraire, le procédé proposé ici, en se basant sur une approche dans le plan de l’état de charge plutôt que strictement temporelle, permet une identification et quantification des capacités résiduelles faibles/fortes par tranche d’état de charge : cela est plus pertinent pour aborder un problème lié par nature à la capacité des éléments et donc à leur état de charge. En particulier, les biais de pondération générés par les approches temporelles usuelles sont ici supprimés.
Quant à la quantification du déséquilibre en état de charge, il s’agit d’un diagnostic assez rare dans l’art antérieur. En pratique, le circuit d’équilibrage (la plupart du temps un équilibrage passif par dissipation d’énergie dans des résistances) est simplement activé sur critère de seuil de tension. Dans ce cas, aucune quantification préalable du déséquilibre n’est effectuée. Une approche plus avancée repose sur l’exécution de l’équilibrage à la suite d’une quantification du besoin d’équilibrage de chaque cellule. Ainsi, une estimation de l’écart de SOC entre les éléments est effectuée pour chacune des cellules afin d’appliquer un équilibrage adapté à chacune. Une telle approche repose, par exemple, sur un calcul du SOC au niveau d’un élément (une cellule). Cette approche est impossible lorsque des données ne sont pas disponibles pour chaque élément.
En outre, les méthodes connues jusque maintenant se basent souvent sur un diagnostic ponctuel à un instant donné. Au contraire, le procédé proposé repose quant à lui sur une quantité de données limitées mais portant sur une durée (un historique), par exemple de plusieurs jours, ce qui permet de tirer profit d’une plus grande variété de situations réelles et d’états du système. Pour autant, le procédé proposé peut tout à fait être mis en œuvre « en temps réel », par exemple sur une fenêtre glissante de temps se terminant à l’instant présent.
Enfin, les approches traditionnelles traitent les problématiques de déséquilibre et de capacité résiduelle plus faible de manière indépendante, ce qui peut porter à confusion. En effet, regardé à un instant donné, un écart de tension d’un élément par rapport à la moyenne peut tout aussi bien être expliqué par un élément faible que par un déséquilibre. Le procédé proposé, en étant global et en exploitant un historique de données large permet d’obtenir un diagnostic plus précis et de meilleure qualité.
La demanderesse a appliqué le procédé décrit sur un système « saint » d’une part (présentant seulement des déséquilibres) et sur un autre système défaillant (éléments faibles et déséquilibres). Le procédé a été appliqué lors de diverses périodes de temps et dans des états de fonctionnement des systèmes différents les uns des autres sans que cela ne nuise à la bonne répétabilité des résultats. L’analyse du système saint a permis la quantification des déséquilibres hauts et bas avec une répétabilité de l’estimation de l’ordre de ± 0,25% SOC (en termes absolus) sur des fenêtres temporelles indépendantes les unes des autres. L’analyse du système défaillant a permis la quantification des déséquilibres hauts et bas avec une répétabilité de l’estimation de l’ordre de ± 0,5% SOC (en termes absolus) ainsi qu’une quantification de la capacité résiduelle de l’élément faible avec une variabilité de l’ordre de ± 20% (en termes relatifs), ordre de grandeur suffisant pour la détection d’un élément faible.
La présente divulgation ne se limite pas aux exemples de procédés, programmes informatiques et support d’enregistrement non transitoire lisible par un ordinateur décrits ci-avant, seulement à titre d’exemple, mais elle englobe toutes les variantes que pourra envisager l’homme de l’art dans le cadre de la protection recherchée.
Procédé de surveillance d’un défaut de circuit ouvert sur un circuit de détection Domaine technique de l’invention L'invention concerne, de façon générale, le domaine technique de la détection d’un circuit ouvert dans un circuit de détection destiné à détecter la connexion d’un pistolet de recharge d’un dispositif de recharge électrique dans un connecteur électrique d’un véhicule mû au moins partiellement par de l’énergie électrique.
État de la technique antÉrieure Les véhicules automobiles à traction ou propulsion électrique ou hybride, comportent un ou plusieurs modules de batterie reliés à un réseau de puissance pour alimenter un moteur électrique (de traction ou de propulsion).
On comprend de l’équation [MATH1] que la variation du niveau du liquide 20 est directement liée aux coefficients de dilatation du récipient 10, du liquide 20 et du corps 30.
Le corps 30, n’étant que partiellement immergé dans le liquide 20, seulement deux directions principales sont appréciables par mesure.
Le procédé permet ainsi de prendre en compte l’augmentation de la section immergée du corps 30, c’est-à-dire ici des dilatations dans les axes x et y.
Ainsi, si le matériau composite est isotrope, alors l’étape de chauffage c) et l’étape de mesure d) sont réalisées sans changer la position du corps 30 dans le liquide 20 car une seule mesure est suffisante pour calculer le coefficient de dilatation.
Tous les termes se trouvant à droite de l’équation [MATH1] sont définis par les caractéristiques de l’installation de mesure 1 ou par la mesure directe de l’augmentation du niveau supérieur h F du liquide 20.
Par conséquent, dans le cas où le matériau 5 est isotrope, il s’agit de résoudre une équation de deuxième ordre à un seul inconnu. Seule la solution positive de l’équation est retenue, car le matériau 5 présente normalement une dilatation lorsqu’il est exposé à une augmentation de la température.
En revanche, si le matériau 5 est orthotrope, alors :
Dans ce cas, l’équation [MATH1] ne peut pas être directement résolue. Il est donc nécessaire de réaliser trois mesures avec trois positions différentes du corps 30 pour découpler les paramètres de dilatation thermique.
En particulier, il est ainsi nécessaire de réaliser trois fois l’étape de chauffage c) et l’étape de mesure d) pour découpler les coefficients de dilatation. Ces trois mesures sont effectuées avec le corps 30 positionné de manière à présenter vers le haut à chaque fois un axe différent, donc
une mesure avec x en axe normal et une section immergée selon les axes y et z, c’est-à-dire que la hauteur du corps 30 est ici la dimension a, une mesure avec y en axe normal et une section immergée selon les axes x et z, c’est-à-dire que la hauteur du corps 30 est ici la dimension b, et une mesure avec z en axe normal et une section immergée selon les axes x et y, c’est-à-dire que la hauteur du corps 30 est ici la dimension c.
Le corps 30 est positionné dans une position différente à chaque fois, et :
Pour des raisons de simplicité, le terme de droite de l’équation [MATH1] a été appelé dans l’équation [MATH5] avec une variable q ij définie ci-dessous :
Tête d’inspection pour un instrument d’inspection Domaine technique de l’invention L'invention concerne, de façon générale, le domaine technique des colis de déchets radioactifs stockés de façon empilée dans des galeries. Elle pourrait s'appliquer à d'autres domaines de l’entreposage.
L’invention se rapporte plus spécifiquement à une tête d’inspection par un instrument d’inspection, notamment un instrument d’inspection d'un ou plusieurs colis répartis dans un couloir de stockage à inspecter et à une installation d’inspection apte à mettre en œuvre un tel procédé d’inspection.
In the described embodiment and as shown in and 4, the light source 14 comprises a substrate 15 and a plurality of light emitting elements 16 extending from a face of the substrate and arranged in an array having plurality of rows and columns.
The array may be configured as a pixelized matrix array comprising a monolithic source. The source 14 may be a solid-state lighting source, which comprises at least one electroluminescent element. The electroluminescent element may be, but is not limited to, a light-emitting diode (LED), an organic light-emitting diode (OLED), a polymeric light-emitting diode (PLED).
As seen in and 4, the substrate 15 extends along a vertical axis A1-A1’, and specifically in a vertical plane Z-Y. On the substrate 15, the light emitting elements 16 are disposed symmetrically about a central axis C1-C1’. More precisely, the light emitting elements 16 are distributed symmetrically around a center O of the array, the central axis C1-C1’ passing through the center O while extending perpendicularly to the substrate 15.
Further, the light emitting elements 16 are arranged facing the optical element 18 having an optical axis L1-L1’. In this exemplary embodiment, the optical element is designed such that the optical axis L1-L1’ is merged with the projection axis the luminous device 10, 12 (not shown in figures).
The light source 14 is arranged such that the central axis C1-C1’ is orientated substantially parallel to the optical axis L1-L1’. In addition, the light source 14 is arranged on a focal zone of the optical element 18. In a general way, this focal zone can be a focal point, also called focus, a focal line, or can be a focal plane.
According to the invention and as seen in , the light source 14 and the optical element 18 are eccentrically arranged such that the optical axis L1-L1’ and the central axis C1-C1’ are offset along the vertical axis A1-A1’. As discussed earlier the light emitting elements 16 of the light source 14 are arranged symmetrically about the central axis C1-C1’. Thus, the offset between the optical axis L1-L1’ and the central axis C1-C1’ creates a vertical asymmetrical distribution of light emitting elements 16 of the light source 14 about the optical axis L1-L1’.
In said embodiment, the number of light emitting elements 16 arranged above the optical axis L1-L1’ is unequal to the number of the light emitting elements arrange below the same optical axis L1-L1’. The same is achieved due to the combined effect of the vertical offset and the light emitting elements 16 being arranged symmetrically about the central axis C1-C1’. Further, the number of light emitting elements 16 arranged below the optical axis L1-L1’ are greater than the number of rows above the optical axis L1-L1’.
In the luminous device 10, 12, the light source 14 are offset vertically such that the central axis C1-C1’ and the optical axis L1-L1’ are separated by a predetermined distance α. The predetermined distance α may be calculated based on the design of the lighting emitting element 16, the optical element 18 and/or the intensity of the light sources. In a preferred embodiment the predetermined distance α for offsetting the at least one light source 14 ranges preferably between 2 and 30 rows. It could be understood that the offsetting can be created for n number of rows based on the design of luminous device.
In the exemplary embodiment, the distance traveled by the light beam generated by the light emitting elements 16 arranged above the optical axis L1-L1’ travels relatively less distance and are subjected to relatively lesser divergence by the optical element 18. Due to the same, the images formed by said light emitting elements 16 that are projected towards the ground surface S are sharper. This may enable the luminous device 10, 12 to project a clear image in road writing function. Further, the low beam function may provide better illumination near the field of view of the driver.
Similarly, the distance travelled by the light beam produced by the light emitting elements 16 arranged below the optical axis L1-L1’ is relatively more and due to this are subjected to more relatively increased divergence thus forming a blurring image. This enables the light sources 14 to produce a light beam with an increased spread.