INPI-France/Brevets-Francais-2024-Chunked huggingface dataset:
Les résultats de cette étude peuvent être visualisés sur la , représentant les caractéristiques statiques courant I – tension V obtenues à plusieurs températures et correspondant aux états de santé successifs du composant électronique de puissance.
Les expériences ont été réalisées sur un module IGBT portant la référence CMT150TX de la marque Mitsubishi.
Le point d’intersection d’un faisceau de caractéristiques correspondant à un état de santé donné est le point ZCP correspondant à cet état de santé.
Ainsi, l’intersection du lieu des ronds noirs (courbe réelle sur un module sain à 20°C) et des carrés blancs bordés de noir (courbe réelle sur un module sain à 100°C) correspond au point ZCP du module sain (ZCP-sain, D=0).
L’intersection du lieu des ronds blancs cerclés de noir (courbe réelle sur un module dégradé à 20°C) et des triangles blancs bordés de noir (courbe réelle sur un module dégradé à 100°C) correspond au point ZCP du module dégradé (ZCP-degr, D=1).
L’indicateur D est un indicateur quantitatif du niveau de dégradation du module IGBT. En l’occurrence, D = 0 correspond à un module neuf (ou équivalemment sain). D = 1 correspond à une augmentation relative de 5% de l’indicateur de dégradation de référence issu de l’art antérieur. Dans ce cas, l’indicateur de référence est la tension V mesurée à une température égale à 35°C et pour un courant égal à 60 A.
Généralement le mot "embarqué" est réservé pour des applications mobiles ou de transport comme les véhicules, les bus, les trains, etc., et "installé" est introduit pour parler des applications stationnaires, c’est-à-dire des systèmes immobiles comme des bâtiments, des systèmes ENR, etc.
Le(s) composant(s) électronique(s) de puissance à semi-conducteurs est(sont) bipolaire(s) ou mixte(s). Le ou les composants sont par exemple un composant de puissance à IGBT, une diode, transistor, thyristor,etc.
Le procédé de mesure est capable d’indiquer l’état de santé à un instant t d’au moins un composant électronique de puissance à semi-conducteurs comportant au moins une borne d’entrée et une borne de sortie d’un courant électrique d’une intensité I entre lesquelles s’établit une tension électrique V, par exemple si le composante est soumis à une fatigue thermique entraînant sa dégradation.
Le procédé décrit dans la présente invention, utilise un capteur d’intensité de courant électrique, un capteur de tension électrique et un processeur échangeant des informations avec ces capteurs. Les capteurs recueillent les données nécessaires pour que le processeur puisse établir le point de coefficient de température nul ZCP du composant électronique de puissance étudié par le procédé.
Le point de coefficient de température nul ZCP est caractérisé par ses coordonnées (I,ZCP ; V,ZCP), qui sont indépendantes de la température.
Le procédé peut comprendre les étapes suivantes : a- une première étape de détermination , à un instant initial t0, d’une première intensité I,ZCP(t0) lorsque la tension électrique V est égale à une tension V,ZCP0, le composant électronique de puissance étant dans un état « instant initial », b- une deuxième étape de mesure d’une deuxième intensité I,ZCP(t1) à au moins un instant t1 ultérieur, lorsque la tension V à l’instant t1 est égale à la tension V,ZCP0, le composant électronique de puissance étant dans un état « instant t1 » c- une étape de calcul par le processeur d’un indicateur quantitatif D de la dégradation du composant électronique de puissance et dont la valeur est une fonction de la variation de la valeur de l’intensité I,ZCP(t) entre l’état « instant initial » et l’état « instant t1 »
On notera que comme V,ZCP dépend peu de l’état de santé du composant, si on note V,ZCP0 cette tension à l’état initial, V,ZCP0 ≃ V,ZCP (t) quel que soit l’instant t. Fixer pour la mesure de l’intensité la tension en régime continu à la valeur V,ZCP et donc en particulier à la valeur V,ZCP0 permet donc de s’assurer que le point de fonctionnement du composant électrique est le point de coefficient de température nul du composant à cet instant. En conséquence, l’intensité du courant électrique I,ZCP(t) à l’instant t au point de coefficient de température nul du composant électronique est bien mesurée dans ces conditions, sans qu’il soit nécessaire de faire de mesure complémentaire, notamment au moyen d’un capteur de température.
Il est réalisé un enregistrement de mesures "à la volée" et en fonctionnement d'une phase de variation du courant I, et de la tension V correspondante, sur une plage pour laquelle le courant passe par le point ZCP. Ce sera par exemple lors d'une phase de montée du courant ou d'une phase de descente du courant, le composant étant dans son état passant.
Par « à la volée », on entend une série de mesures successives très rapides. Ces phases peuvent durer quelques millisecondes pendant lesquelles ces enregistrements sont stockés dans la mémoire du processeur à une fréquence d'échantillonnage suffisante et adaptée à l'application, par exemple toutes les microsecondes lorsque les variations sont très rapides. Pendant ces phases, les couples de points (I,V) décrivent l'une des courbes de la et passent donc par le point ZCP à une température donnée bien qu'inconnue. Il est nécessaire de réaliser ces mesures à deux moments différents du fonctionnement pour lesquelles les températures des composants seront différentes, par exemple au démarrage du système pour lequel la température sera basse et après un petit moment de fonctionnement pour lequel le composant sera dans un état de température plus élevé. La recherche du point d'intersection des deux portions de courbes ainsi obtenues à l'aide d'un processeur déterminera le point ZCP à l'état initial. Il n'est pas nécessaire de réguler ou de fixer une température de fonctionnement. Il n’est pas nécessaire de connaître la valeur de la température de fonctionnement pour obtenir le point ZCP. Bien que cela soit possible, il ne sera pas nécessaire de reproduire ces mesures en dehors de l'état initial (t0).
Dans un mode réalisation possible, le procédé de mesure n’utilise aucun capteur de température ni aucune estimation de température pour effectuer les étapes a, b et c précédemment décrites. Avantageusement, aucun capteur de température n’est utilisé durant tout le procédé.
Dans un mode de réalisation possible, le procédé de mesure comprend deux étapes préalables avant l’étape a : i- une étape comprenant au moins deux séries de mesures de l’intensité de courant électrique I par le capteur d’intensité de courant électrique et de la tension électrique V par le capteur de tension électrique, les séries de mesures (I,V) étant prises à des températures différentes ; ii - une étape de calcul par le processeur, d’une valeur de tension électrique V,ZCP0 et d’une valeur de courant électrique I,ZCP0 au point de coefficient de température nul ZCP, à partir des mesures de l’étape i, le point de coefficient de température nul ZCP étant le point de croisement des deux séries de mesures (I, V) de l’étape i , l’intensité I,ZCP(t0) et la tension V,ZCP(t0) à l’instant initial étant égales respectivement à I,ZCP0 et V,ZCP0.
Ces deux étapes préalables peuvent être réalisées sur le composant électronique de puissance à l’état neuf ou à un état initial différent de l’état neuf, par exemple un état initial pour lequel le composant électronique peut être considéré comme non dégradé.
Les au moins deux températures différentes ne sont pas nécessairement déterminées. Dans un mode de réalisation particulier, les températures ne sont pas quantifiées durant le procédé.
Ces étapes préalables et/ou les étapes du procédé peuvent être réalisées in situ, une fois le composant électronique de puissance installé ou embarqué dans un système électrique en fonctionnement, ou avant la mise en place définitive du composant électronique. Il est possible également d'utiliser directement les fiches constructeurs ("data-sheet") des composants où les points de croisement ZCP sont donnés.
On peut notamment observer sur le graphique de la qu’à dégradation constante, la variation relative de l’indicateur I,ZCP dans la gamme de température [20°C, 70°C] n’excède pas 0,2% à Vce,ZCP (en l’occurrence 1.145 V) (à comparer à des variations de l’ordre de quelques pourcents pour conclure sur le vieillissement) alors que l’indicateur Vce de l’art antérieur présente des variations relatives de l'ordre de 5% (variation de Vce pour Ic= 100A : de 1.63V à 1.717V, soit 5.3% de variation), soit des variations relatives de l’ordre de celles qui sont exploitées pour conclure sur le vieillissement.
Sur ce graphique, on constate en outre qu’une imprécision sur la mesure de Vce,ZCP à laquelle Ic,ZCP est déterminée n’impacte la valeur de Ic,ZCP que de manière modérée.
La présente invention a pour troisième objet, un véhicule comportant un système d’aide à la conduite, appelé système ADAS, un organe d’allumage des feux du véhicule piloté par le système ADAS, au moins un capteur de luminosité couplé à l’organe d’allumage des feux ; un système d’info-divertissement recevant des information d’affichage du système ADAS, une IHM couplée au système d’info-divertissement permettant d’afficher une page d’information sur un écran d’affichage du véhicule , et un bouton de commande couplé au système d’info-divertissement permettant de commander le réaffichage de la page d’information ; ledit système d’aide à la conduite étant agencé pour mettre en œuvre le procédé tel que décrit ci-dessus.
Selon une caractéristique du véhicule, l’IHM comporte un écran tactile permettant à la fois d’afficher la page d’information et le bouton de commande en tant que bouton tactile.
Un avantage de la présente invention est d’informer le conducteur de manière claire en lui proposant en même temps, à partir de l’IHM l’informant de la non-activation de l’allumage des feux de croisement, de réafficher l’information au bout d’une durée déterminée. Un autre avantage de la présente invention est de n’utiliser que des moyens logiciels et des éléments déjà présents dans le véhicule tels que le capteur de luminosité du véhicule, l’organe de gestion de l’éclairage du véhicule, et un ou des calculateurs du système ADAS.
La illustre un schéma bloc d’un véhicule 100 comportant un système ADAS 10, comportant au moins un calculateur ADAS non représenté, couplé à un organe 20 de gestion de l’éclairage du véhicule 100 apte à activer automatiquement l’allumage des feux de croisement (non représentés) quand l’option a été validée par le conducteur 30. Le véhicule comporte en outre un capteur de luminosité 21, disposé derrière le pare-brise, sur ou au voisinage du pare-brise du véhicule 100, non représenté. Ce capteur 21 qui est généralement un capteur optique, mesure en permanence la luminosité à l’extérieur du véhicule 100 et transmet un signal proportionnel au niveau de luminosité perçu, à l’organe de gestion de l’éclairage 20. Un capteur de pluie 22, représenté en trait interrompu, qui est utilisé par le système d’activation automatique des essuie-glaces du véhicule 100, peut être associé au capteur de luminosité 21 pour apporter une information complémentaire à l’organe de gestion 20 de l’éclairage du véhicule 100 et ainsi robustifier la détection d’une baisse de luminosité justifiant l’activation de l’allumage des feux de croisement (la pluie étant généralement liée à une baisse de luminosité). Un système d’info-divertissement 40, appelé également système d’infotainement en terminologie anglo-saxonne, est couplé au système ADAS 10 et permet, sur commande du système ADAS 10, d’afficher via une IHM 50 (Interface Homme Machine) un premier message d’information 60 à l’attention du conducteur 30 du véhicule100 pour l’informer de la non-activation de l’allumage des feux de croisement du véhicule 100. Ce premier message 60 peut être par exemple : « Pour votre sécurité, allumer vos feux ou passer au mode allumage auto ». Ce premier message 60 a pour but d’alerter le conducteur 30 sur le fait que l’allumage des feux de croisement n’est pas activé alors que l’allumage des feux de croisement est requis par les conditions de luminosité extérieure. Le conducteur 30 peut avoir oublié de valider l’option d’activation automatique d’allumage des feux de croisement ou penser l’avoir fait ou encore, l’avoir désactivé par inadvertance. Ce premier message 60 est avant tout un message d’information (le terme « Information » est affiché en clair en tête du premier message 60) qui laisse le choix au conducteur 30 d’activer ou pas l’allumage des feux de croisement. Ce premier message 60 est affiché temporairement et est appelé également « popup » en terminologie anglo-saxonne. Ce « popup » disparait automatiquement au bout d’une durée déterminée T1. Un deuxième message 70 est associé au premier message 60 en étant affiché au voisinage du premier message 60. Ce deuxième message 70 est un message de commande qui invite le conducteur à commander le réaffichage du premier message d’information 60 au bout d’une deuxième durée déterminées T2, durée qui est paramétrable par le conducteur. Ce deuxième message 70 est par exemple : « Rappeler ? ». L’IHM 50 peut être réalisé à partir d’un écran tactile affichant une page d’écran 80. Auquel cas, le deuxième message 70 est représenté par bouton de commande tactile 90 faisant partie de la page 80 affichée sur l’écran 50.
Le procédé consiste, à réception d’un signal de détection de luminosité dont le niveau de luminosité correspond à une consigne d’activation automatique d’allumage des feux de croisement, à vérifier que l’allumage automatique des feux de croisement a été activé, et si l’allumage des feux de croisement n’est pas activé, alors pendant une première durée déterminée, à afficher un premier message d’information à destination du conducteur du véhicule pour l’inviter à activer- l’allumage des feux de croisement et un deuxième message lui proposant de commander le réaffichage du message ; et si le réaffichage du message est commandé sans activation de l’allumage des feux de croisement avant la fin de la première durée déterminée, à afficher à nouveau les premiers et deuxième messages au bout d’une deuxième durée déterminée, paramétrable par le conducteur.
Ce programme est implémenté par un ou plusieurs processeurs, ou calculateurs, du système ADAS (superviseur ADAS) du véhicule porteur 100 en lien avec un ou plusieurs processeurs, ou calculateurs, du système IVI (In-Vehicle Infotainment) qui est l’organe central du véhicule 100 dédié au traitement des données et à la communication avec le conducteur 30.
Installation de protection vis-à-vis de polluants présents dans l’air au sein d’un bâtiment industriel La présente invention concerne les installations et procédés de protection d’opérateurs au sein d’un bâtiment industriel, tel qu’une usine, vis-à-vis de polluants présents dans l’air au sein de celui-ci.
Dans le secteur industriel, les process mis en jeu sur les chaînes de production sont parfois sources de polluants.
C’est le cas notamment des ateliers de tôlerie de l’industrie automobile, qui sont générateurs de pollution aux points de soudure. Bien que l’automatisation de ces chaînes de production soit croissante et que le nombre d’opérateurs se réduise, il reste néanmoins nécessaire de garantir une bonne qualité de l’air.
Dans les chaines de production dégageant des polluants, les systèmes de ventilation visant à améliorer la qualité de l’air ont été régulièrement améliorés pour répondre aux contraintes réglementaires du code de travail, qui vise de plus en plus à préserver la santé des employés.
Avantageusement, le procédé comprend, en outre, une étape ultérieure à l’étape b’), au cours de laquelle on dépose un film de SnO 2 pleine plaque.
L’invention concerne également un dispositif optoélectronique comprenant :
- un substrat,
- une électrode transparente conductrice,
- une zone active émissive ou réceptive en un matériau semi-conducteur,
- une électrode supérieure, l’électrode transparente conductrice étant formée d’une alternance de films en un premier oxyde transparent conducteur et de films en un deuxième oxyde transparent conducteur ou d’un mélange du premier oxyde transparent conducteur et du deuxième oxyde transparent conducteur.
Avantageusement, le premier oxyde transparent conducteur est SnO 2 éventuellement dopé et le deuxième oxyde transparent conducteur est de l’oxyde de zinc, éventuellement dopé, de préférence, à l’aluminium.
Avantageusement, le premier oxyde transparent conducteur a une épaisseur comprise entre 0,1 et 10 nm et/ou en ce que le deuxième oxyde transparent conducteur a une épaisseur comprise entre 0,1 et 10 nm.
Avantageusement, le dispositif optoélectronique est un micro-afficheur OLED.
Selon une première variante avantageuse, le dispositif comprend :
- le substrat comprenant une première zone, une deuxième zone, une troisième zone,
- une première électrode transparente conductrice en SnO 2 recouvrant la première zone active,
- une deuxième électrode transparente conductrice formée d’un premier empilement comprenant une alternance de films de SnO 2 et de films de ZnO, disposée en regard de la deuxième zone,
- une troisième électrode conductrice, disposée en regard de la troisième zone, et formée d’un deuxième empilement comprenant une alternance de films de SnO 2 et de films de ZnO, l’épaisseur des films de SnO 2 du deuxième empilement étant inférieur à l’épaisseur des films de SnO 2 du premier empilement, l’épaisseur des films ZnO du deuxième empilement étant inférieure à l’épaisseur des films de ZnO du premier empilement, ou formée d’un mélange de ZnO et de SnO 2 ,
- éventuellement, un film de SnO 2 recouvrant la première électrode, la deuxième électrode et la troisième électrode,
- la zone active,
En effet, il existe différents outils logiciels de simulation et de conception, tels que par exemple, « OSLO ® » ® ou « Zemax ® », permettant de modéliser numériquement un élément optique pour déterminer au moins une caractéristique dudit élément optique, par simulation, à partir de sa modélisation numérique.
Par exemple, au moins un paramètre géométrique peut être obtenu par un appareil de profilométrie optique ou un appareil de profilométrie mécanique. En effet, un tel appareil permet de détecter la forme de l’élément optique, l’épaisseur de l’élément optique, la position des APEX, la rugosité, etc.
Par exemple, au moins un paramètre géométrique peut être obtenu par un appareil d’interférométrie optique en mode point ou en mode plein champ.
Suivant des modes de réalisation, le jeu géométrique estimé peut comprendre des données estimées d’une partie, ou de la totalité, de valeurs brutes de mesure(s) optique(s) obtenues à partir de l’empilement d’éléments optiques dudit objectif optique cible
Par exemple, le jeu géométrique peut comprendre des données estimées de mesure(s) confocale(s), ou des données estimées de mesure(s) d’interférométrie optique, exécutées sur l’empilement d’élément optique. Autrement dit, le jeu géométrique estimé peut comprendre des données estimées de mesures optiques, sans réaliser ces mesures optiques. Ainsi le procédé selon l’invention permet de faciliter et d’accélérer les phases de développement des procédés de fabrication des objectifs optiques dans un premier temps et d’améliorer le suivi et la mise en œuvre de la production dans un second temps.
Le jeu géométrique peut en particulier comprendre des données estimées de mesures optiques réalisées uniquement depuis une face, ou un côté, de l’empilement d’éléments optiques, sans avoir à retourner ledit empilement. Ainsi, le jeu géométrique estimé comprend des données estimées relatives à au moins une, et en particulier à chaque, interface optique de l’objectif optique, y compris chaque interface optique enterrée, de l’empilement d’éléments optiques.
Selon des modes de réalisation, le jeu géométrique estimé peut comprendre des données estimées d’au moins une mesure confocale réalisée sur l’empilement d’éléments optiques de l’objectif optique cible, préférentiellement depuis une face de dudit empilement.
De manière classique, une mesure confocale est réalisée avec un appareil qui comprend une première ouverture (orifice) imagée sur la surface à mesurer par l’intermédiaire d’une lentille de focalisation. Cette ouverture est éclairée par un faisceau lumineux provenant d’une source de lumière et qui est ensuite dirigé vers la surface à mesurer. Lorsque le faisceau est réfléchi par une surface, il est redirigé vers la lentille de focalisation puis vers une seconde lentille placée devant un élément de détection et de façon à être l’image conjuguée du point illuminé sur la surface mesurée. L’avantage d’une telle configuration est la réduction de la profondeur de champ et donc de pouvoir distinguer plus facilement des objets (ou surfaces) les unes sous les autres. Pour réaliser la détection, le système de mesure confocale est déplacé relativement par rapport à l’objet mesuré. Un maximum d’intensité est détecté sur l’élément de détection lorsqu’une surface entre dans le point de focalisation définie par la lentille de focalisation. Une configuration particulière d’un système de mesure confocale utilise une lentille chromatique pour focaliser et imager un faisceau issu d’une source polychromatique. Les différentes longueurs d’ondes définissent ainsi différents points de focalisation le long de l’axe optique de la lentille. La détection avec un spectromètre de la lumière réfléchie permet de reconnaître la longueur d’onde réfléchie et en déduire une information de hauteur (ou distance) entre la lentille et la surface mesurée. Une telle configuration permet d’éliminer ou de réduire le déplacement du système de mesure confocale. Notamment, lorsque le système de mesure confocale est déplacé selon un plan perpendiculaire à l’axe d’illumination de la surface à mesurer, des informations de topographie d’une surface peuvent être obtenues.
Selon des modes de réalisation, le jeu géométrique estimé peut comprendre des données estimées d’au moins une mesure d’interférométrie optique réalisée sur l’empilement d’éléments optiques de l’objectif optique cible, préférentiellement depuis une face dudit empilement.
De manière classique, une mesure d’interférométrie optique est réalisée avec un appareil d’interférométrie optique comprenant une source de lumière à faible cohérence émettant. Cette source de lumière émet, en direction de l’empilement d’éléments optiques, et plus particulièrement selon l’axe Z, un faisceau de lumière, appelé faisceau de mesure. Le faisceau de mesure, illumine l’empilement d’éléments optiques en un point de mesure plus ou moins large selon la focalisation dans le plan X-Y, et parcourt alors l’empilement d’éléments optiques, en particulier dans la direction d’empilement, et traverse chaque interface optique à tour de rôle. À chaque interface optique, une partie du faisceau est réfléchie, et constitue un faisceau réfléchi. Ce faisceau réfléchi est alors capté par un capteur se trouvant du même côté que la source d’émission, et est caractérisé par interférométrie optique avec un faisceau de référence provenant aussi de la source de lumière. Par « zone de cohérence », on entend la zone dans laquelle des interférences entre le faisceau de mesure et le faisceau de référence peuvent se former sur le capteur. La zone de cohérence peut être déplacée en variant la différence de la longueur du chemin optique entre les deux faisceaux, par exemple en modifiant la longueur optique d’un des faisceaux ou des deux. L’appareil d’interférométrie optique permet de détecter sélectivement un signal d’interférence pour chaque interface au niveau de laquelle la zone de cohérence est positionnée, c’est-à-dire pour chaque surface se trouvant dans la zone de cohérence. Préférentiellement, la longueur de cohérence de la source lumineuse est ajustée de sorte à être plus courte qu’une distance optique minimale entre deux interfaces adjacentes de l’élément optique. Ainsi, pour chaque mesure, une seule interface se trouve dans la zone de cohérence, et donc, un signal d’interférence acquis ne comprend que la contribution d’une seule interface, ou ne provient que d’une seule interface. Les mesures des interférences sont effectuées selon un champ de vue déterminé par les moyens de mesure de l’appareil d’interférométrique.