Procédé opto-informatique d’analyse en lumière traversante d’un récipient (12) en verre à l’aide d’une caméra polarimétrique (18), la caméra polarimétrique comportant un capteur photoélectrique (22) bidimensionnel comprenant des éléments photoélectriques (26(f,n,k)) comprenant chacun une cellule photoélectrique (28(f,n,k)) devant laquelle est agencé un système d’analyse de polarisation comprenant au moins un analyseur de polarisation individuel (30(f,n,k)) associé à la cellule photoélectrique de cet élément photoélectrique, le capteur photoélectrique comportant un nombre N de groupes (26(n)) distincts d’éléments photoélectriques contigus, chaque groupe distinct d’éléments photoélectriques contigus comprenant un nombre K supérieur ou égal à deux d’éléments photoélectriques (26(f,n,k)) appartenant respectivement à l’une parmi un nombre F supérieur ou égal à deux de familles distinctes d’éléments photoélectriques, chaque famille d’éléments photoélectriques étant définie par une caractéristique d’analyse de polarisation du système de d’analyse de polarisation commune à chacun de ses éléments photoélectriques, les caractéristiques d’analyse de polarisation des au moins deux familles comprenant au moins deux analyses linéaires selon deux axes de polarisation orthogonaux ou au moins deux analyses circulaires de sens inverse l’un de l’autre, chaque groupe (26(n)) distinct d’éléments photoélectriques comprenant au moins deux éléments photoélectriques (26(f,n,k)) appartenant à au moins deux familles distinctes, et chaque groupe distinct d’éléments photoélectriques contigus correspondant à un pixel composite (Pc(n)) dans une image maîtresse (IM) délivrée par le capteur, le procédé comportant : - l’illumination du récipient en verre, par l’arrière, par un dispositif d’illumination (16) délivrant, sur le récipient, une lumière incidente polarisée, soit circulairement avec un premier sens de rotation, soit linéairement selon un axe de polarisation d’incidence ; - l’observation du récipient (12), par l’avant, par la caméra polarimétrique (18), de manière à recueillir, sur le capteur photoélectrique (22) de la caméra polarimétrique, une lumière émergente émanant du récipient ; - l’acquisition, avec le capteur photoélectrique (22) de la caméra polarimétrique, d’au moins une image numérique maîtresse (IM) du récipient, ayant un nombre K*N de pixels maîtres (Pm(f,n,k)) correspondants à N groupes distincts d’éléments photoélectriques contigus, l’image maîtresse comprenant N pixels composites (Pc(n)), chaque pixel composite correspondant à un des groupes (26(n)) d’éléments photoélectriques contigus, et l’image maîtresse (IM) comprenant le nombre K d’images partielles distinctes (IPk) ayant chacune N pixels partiels (Ppk(n)), les pixels partiels (Ppk(n)) de chaque image partielle correspondant, pour une image partielle (IPk) donnée, à une seule famille d’éléments photoélectriques du capteur photoélectrique (22) pris dans les N pixels composites (Pc(n)) ; - le calcul informatique d’une image d’intensité (It) dans laquelle la valeur de chaque pixel d’intensité (Pt(n)) est une valeur moyennée de la valeur d’au moins deux pixels partiels (Ppk(n)) correspondant à deux éléments photoélectriques d’un même groupe (26(n)) mais appartenant à deux familles distinctes d’éléments photoélectriques (26(f,n,k)) dont les caractéristiques d’analyse de polarisation sont deux analyses circulaires de sens inverses l’un de l’autre ou deux analyses linéaires d’axes de polarisation orthogonaux ou deux analyses elliptiques orthogonales ; - le calcul informatique d’au moins une image de déphasage (ID) en calculant, pour une série de pixels composites, un pixel de déphasage (Pd(n)) qui correspond à un pixel composite (Pc(n)) et dont la valeur est représentative d’un déphasage de polarisation (φ(n)) induit, par une contrainte mécanique résiduelle dans la zone élémentaire du récipient (12) correspondant au pixel composite (Pc(n)), dans la lumière émergente émanant de la zone élémentaire du récipient correspondant au pixel composite (Pc(n)), à partir de la valeur d’un ensemble d’un ou plusieurs pixel(s) partiel(s) (Ppk(n)) tous extraits du pixel composite (Pc(n)) et appartenant à une combinaison d’une ou plusieurs images partielles (Ipk), le calcul informatique de chaque pixel de déphasage (Pd(n)) d’une image de déphasage (ID) donnée étant effectué à partir de la même combinaison d’une ou plusieurs images partielles (Ipk). Procédé opto-informatique d’analyse selon la revendication 1, caractérisé en ce que : - le capteur photoélectrique (22) comprend au moins deux familles distinctes d’éléments photo-électriques (26(f,n,k)) dont les caractéristiques d’analyse de polarisation sont deux analyses linéaires respectivement selon un premier axe de polarisation et second axe de polarisation orthogonal au premier axe de polarisation ; - la lumière incidente est polarisée linéairement selon le deuxième axe de polarisation ; - le calcul informatique de chaque pixel de déphasage (Pd(n)) pour une image de déphasage donnée est effectué à partir de la valeur d’au moins le pixel partiel (Ppk(n)) correspondant au premier axe de polarisation ; - la valeur de chaque pixel d’intensité de l’image d’intensité est une valeur moyennée de la valeur de deux pixels partiels extraits du même pixel composite et associés chacun à l’une des deux familles dont les axes de polarisation sont orthogonaux et/ou de deux pixels partiels associés chacun à une de deux familles distinctes d’éléments photo-électriques dont les caractéristiques d’analyse de polarisation sont deux analyses circulaires de sens inverses l’un de l’autre. Procédé opto-informatique d’analyse selon la revendication 1, caractérisé en ce que : - le capteur photoélectrique (22) comprend au moins quatre familles distinctes d’éléments photo-électriques (26(f,n,k)) dont les caractéristiques d’analyse de polarisation comprennent au moins quatre analyses linéaires selon des axes de polarisations comprenant deux paires ((A1, A3) , (A2, A4)) d’axes de polarisation orthogonaux, les deux paires d’axes de polarisation étant décalées l’une de l’autre de 45 degrés d’angle ; - la lumière incidente est polarisée circulairement dans un sens d’incidence ; - le calcul informatique de chaque pixel de déphasage (Pd(n)) pour une image de déphasage donnée est effectué à partir des valeurs des quatre pixels partiels (Ppk(n)) extraits du même pixel composite (Pc(n)) et associés chacun à une de quatre familles distinctes d’éléments photo-électriques dont les caractéristiques d’analyse de polarisation sont lesdites analyses linéaires ; - la valeur de chaque pixel d’intensité (Pt(n)) de l’image d’intensité (It) est une valeur moyennée d’au moins deux pixels partiels (Ppk(n)) extraits du même pixel composite (Pc(n)) et associés chacun à deux familles distinctes d’éléments photo-électriques dont les caractéristiques d’analyse de polarisation sont deux analyses linéaires d’axes de polarisation orthogonaux. Procédé opto-informatique d’analyse selon la revendication 1, caractérisé en ce que : - la lumière incidente est polarisée circulairement dans un sens d’incidence ; - le capteur photoélectrique (22) comprend au moins une famille d’éléments photo-électriques (26(f,n,k)) dont la caractéristique d’analyse de polarisation est une analyse circulaire de sens inverse du sens d’incidence ; - le calcul informatique de chaque pixel de déphasage (Pd(n)) pour une image de déphasage (ID) donnée est effectué à partir d’au moins la valeur du pixel partiel (Ppk(n)) associé à la famille dont l’analyse circulaire est de sens inverse du sens d’incidence ; - la valeur de chaque pixel d’intensité (Pt(n)) de l’image d’intensité (It) est une valeur moyennée de deux pixels partiels (Ppk(n)) extraits du même pixel composite (Pc(n)) et associés chacun à une de deux familles dont les analyses circulaires sont de sens inverses l’un de l’autre et/ou de deux pixels partiels (Ppk(n)) associés chacun à une de deux familles distinctes d’éléments photo-électriques dont les caractéristiques d’analyse de polarisation sont deux analyses linéaires d’axes de polarisation orthogonaux ou deux analyses elliptiques orthogonales. Procédé opto-informatique d’analyse selon la revendication 1, caractérisé en ce que : - le capteur photoélectrique (22) comprend au moins deux familles distinctes d’éléments photo-électriques (26(f,n,k)) dont les caractéristiques d’analyse de polarisation sont deux analyses circulaires de sens inverses l’un de l’autre ; - la lumière incidente est polarisée circulairement ; - le calcul informatique de chaque pixel de déphasage (Pd(n)) pour une image de déphasage (ID) donnée est effectué à partir de la valeur des deux pixels partiels (Ppk(n)) extraits du même pixel composite (Pc(n)) et correspondants chacun à l’une des deux analyses circulaires de sens inverses ; - la valeur de chaque pixel d’intensité (Pt(n)) de l’image d’intensité (It) est une valeur moyennée de deux pixels partiels (Ppk(n)) extraits du même pixel composite (Pc(n)) et associés chacun à l’une des deux familles dont les analyses circulaires sont inverses l’un de l’autre et/ou de deux pixels partiels (Ppk(n)) extraits du même pixel composite (Pc(n)) et associés chacun à une de deux familles distinctes d’éléments photo-électriques dont les caractéristiques d’analyse de polarisation sont deux analyses linéaires d’axes de polarisation orthogonaux ou deux analyses elliptiques orthogonales. Procédé d’analyse selon l’une quelconque des revendications précédentes, caractérisé en ce qu’il comprend le calcul informatique d’une image d’intensité dans laquelle chaque pixel d’intensité Pt(n) est une valeur moyennée de la valeur de plusieurs couples distincts de pixels partiels appartenant à un même pixel composite, chaque couple distinct de pixels partiels correspondant à un couple distinct de caractéristiques d’analyse de polarisation, chaque couple distinct de caractéristiques d’analyse de polarisation étant choisi parmi un ou plusieurs couples de deux analyses circulaires de sens inverses l’un de l’autre, un ou plusieurs couples de deux analyses linéaires d’axes de polarisation orthogonaux, et/ou un ou plusieurs couples de deux analyses elliptiques orthogonales entre elles. Procédé d’analyse selon l’une quelconque des revendications précédentes, caractérisé en ce qu’il comprend : - la reconnaissance informatique, dans l’image d’intensité (It), d’un marqueur géométrique connu du récipient (12) et la détermination de sa localisation dans l’image d’intensité ; et, en utilisant le lien de localisation, dans leurs images respectives, entre les pixels partiels (Ppk(n)), le pixel d’intensité (Pt(n)) le pixel de déphasage (Pd(n)) et le pixel composite (Pc(n)) associés : - d’une part la détermination informatique d’au moins une région d’intérêt dans l’image de déphasage en fonction de la localisation du marqueur géométrique, - et d’autre part l’identification informatique de la présence d’une région stressée dans la région d’intérêt de l’image de déphasage. Procédé d’analyse selon la revendication 7, caractérisé en ce que l’identification informatique de la présence d’une région stressée prend en compte la valeur des pixels de déphasage (PD(n)) et leur localisation relative par rapport au marqueur géométrique. Procédé opto-informatique d’analyse selon l’une des revendications 7 ou 8, caractérisé en ce qu’il comprend la détermination informatique de la localisation relative de la région stressée sur le récipient par rapport au marqueur géométrique. Procédé opto-informatique d’analyse selon l’une des revendications 7 à 9, caractérisé en ce qu’il comprend une étape informatique de classification de la région stressée qui prend en compte la localisation relative de la région stressée sur le récipient par rapport au marqueur géométrique, déterminée informatiquement, et une grandeur représentative d’un déphasage de polarisation (φ(n)), induit par une contrainte mécanique résiduelle dans la région stressée, dans la lumière émergente émanant de la région stressée, la grandeur représentative d’un déphasage de polarisation (φ(n)) étant calculée informatiquement à partir des valeurs des pixels partiels (Ppk(n)) correspondants à la région stressée. Procédé opto-informatique d’analyse selon l’une des revendications précédentes, caractérisé en ce que la lumière incidente présente un spectre d’énergie compris entre 250 nm et 1000 nm et de largeur inférieure à 150nm, de préférence de largeur inférieure à 100 nm. Procédé opto-informatique d’analyse selon l’une des revendications précédentes, caractérisé en ce que chaque groupe (26(n)) distinct d’éléments photoélectriques contigus (26(f,n,k)) comprend quatre éléments photoélectriques appartenant respectivement à l’une parmi quatre familles distinctes d’éléments photoélectriques, les caractéristiques d’analyse de polarisation des quatre familles comprenant quatre d’analyse linéaires selon des axes de polarisation comprenant deux paires d’axe de polarisation orthogonaux, les deux paires étant décalées l’une de l’autre de 45 degrés d’angle, dans un sens ou dans l’autre, et en ce que chaque groupe distinct d’éléments photoélectriques comprend un élément photoélectrique appartenant à chaque famille distincte. Procédé opto-informatique d’analyse selon l’une des revendications précédentes, caractérisé en ce que le dispositif d’illumination (16) comprend une source lumineuse (16a) étendue dont les dimensions, perpendiculairement à un axe d’incidence allant de la source lumineuse vers le récipient (12), sont supérieures aux dimensions correspondantes de la partie à analyser du récipient. Procédé opto-informatique d’analyse selon l’une des revendications précédentes, caractérisé en ce que l’on détermine informatiquement, dans l’image d’intensité (It), des particularités optiques d’absorption ou réfraction pour détecter des défauts du récipient (12). Procédé opto-informatique d’analyse selon l’une des revendications précédentes, caractérisé en ce que l’on détecte informatiquement dans l’image maîtresse (IM) ou l’image d’intensité (It) ou l’image de déphasage (ID), des pixels candidats ou des régions candidates dont les valeurs sont hors d’un intervalle donné, ou différentes de celles des pixels ou des régions voisines, on calcule informatiquement pour chacun des pixels candidats ou des régions candidates les valeurs des pixels d’intensité (Pt(n)) et les valeurs des pixels de déphasage de polarisation (Pd(n), φ(n)) correspondants, et on classifie informatiquement chacun des pixels candidats ou des régions candidates en tant que défaut ou en tant que non défaut et/ou on les classifie informatiquement en défauts de différents types parmi au moins un bouillon, ou une inclusion, à partir des valeurs des pixels d’intensité, des valeurs de déphasage de polarisation (φ(n)) et de la localisation relative par rapport au marqueur géométrique. Dispositif d’analyse en lumière traversante de défauts dans un récipient en verre : - comprenant un dispositif d’illumination (16) délivrant, sur un récipient (12) placé en un emplacement d’analyse (13) du dispositif (10), une lumière incidente polarisée circulairement avec un sens de rotation d’incidence ; - comprenant une caméra polarimétrique (18), la caméra polarimétrique comportant un capteur photoélectrique (22) bidimensionnel comprenant des éléments photoélectriques (26(f,n,k)) comprenant chacun une cellule photoélectrique (28(f,n,k)) devant laquelle est agencé un système d’analyse de polarisation comprenant au moins un analyseur de polarisation individuel (30(f,n,k)) associé à la cellule photoélectrique (28(f,n,k)) de cet élément photoélectrique (26(f,n,k)), le capteur photoélectrique (22) comportant un nombre N de groupes (26(n)) distincts d’éléments photoélectriques contigus (26(f,n,k)), chaque groupe distinct d’éléments photoélectriques contigus comprenant quatre éléments photoélectriques appartenant respectivement à quatre familles distinctes d’éléments photoélectriques, chaque famille d’éléments photoélectriques étant définie par une caractéristique d’analyse de polarisation de l’analyseur de polarisation individuel (30(f,n,k)) qui est commune à chacun de ses éléments photoélectriques (26(f,n,k)) ; - pour chacune des au moins 4 familles, les analyseurs de polarisation individuels (30(f,n,k)) associés à chacune des quatre familles sont des filtres polarisants linéaires, les filtres polarisants individuels (30(f,n,k)) correspondant à une famille ayant le même axe de polarisation (A1, A2, A3, A4), les axes de polarisation (A1, A2, A3, A4) étant distincts pour les 4 familles et les axes de polarisation (A1, A2, A3, A4) des filtres polarisants individuels (30(f,n,k)) correspondant aux 4 familles comprenant deux paires d’axes de polarisation orthogonaux, les deux paires étant décalées l’une de l’autre de 45 degrés d’angle, dans un sens ou dans l’autre ; et - chaque groupe distinct d’éléments photo-électriques comprenant un élément photo-électrique (26(f,n,k)) appartenant à chaque famille distincte, caractérisé, en ce que le système d’analyse de polarisation comporte une lame (34) à retard quart d’onde de la lumière incidente, qui est interposée entre l’emplacement d’analyse (13) et les filtres polarisants individuels (30(f,n,k)), et dont l’axe rapide est agencé à 45 degrés d’angle de l’axe de polarisation des filtres polarisants individuels d’une des quatre familles, de sorte que les caractéristiques les filtres polarisants individuels (30(f,n,k)) de polarisation des quatre familles comprennent deux analyses linéaires selon des directions orthogonales et deux analyses circulaires de sens inverses l’un de l’autre. Dispositif optique d’analyse selon la revendication 16, caractérisé en ce qu’il comporte un système informatique (100) programmé pour : - acquérir, avec le capteur photoélectrique (22) de la caméra polarimétrique (18), au moins une image numérique maîtresse (IM) du récipient (12), ayant un nombre K*N de pixels maîtres (Pm(n)) correspondants à N groupes (26(n)) distincts d’éléments photoélectriques contigus (26(f,n,k)), l’image maîtresse (IM) comprenant N pixels composites (Pc(n)), chaque pixel composite (Pc(n)) correspondant à un des groupes (26(n)) d’éléments photoélectriques contigus, et l’image maîtresse (IM) comprenant le nombre K d’images partielles (IPk) distinctes ayant chacune N pixels partiels (Ppk(n)), les pixels partiels (Ppk(n)) de chaque image partielle correspondant, pour une image partielle (Ipk) donnée, à une seule famille d’éléments photoélectriques (26(f,n,k) du capteur pris dans les N pixels composites (Pc(n)) ; - calculer informatiquement une image d’intensité (It) dans laquelle la valeur de chaque pixel d’intensité (Pt(n)) est une valeur moyennée de la valeur d’au moins deux pixels partiels (Ppk(n)) extraits du même pixel composite (Pc(n)) et correspondant à deux éléments photoélectriques d’un même groupe (26(n)) mais appartenant à deux familles distinctes d’éléments photoélectriques dont les caractéristiques d’analyse de polarisation sont deux analyses circulaires de sens inverses l’un de l’autre ou deux analyses linéaires d’axes de polarisation orthogonaux ou deux analyses elliptiques orthogonales ; - calculer informatiquement au moins une image de déphasage (ID) en calculant, pour une série de pixels composites (Pc(n)), un pixel de déphasage (Pd(n)) qui correspond à un pixel composite (Pc(n)) et dont la valeur est représentative d’un déphasage de polarisation (φ(n)), induit par une contrainte mécanique résiduelle dans la zone élémentaire du récipient correspondant au pixel composite Pc(n), dans la lumière émergente émanant de la zone élémentaire du récipient (Pc(n)) correspondant au pixel composite (Pc(n)), à partir de la valeur d’un ensemble d’un ou plusieurs pixel(s) partiel(s) (Ppk(n)) tous extraits du pixel composite (Pc(n)) et appartenant à une combinaison d’une ou plusieurs images partielles (Ppk(n)), le calcul informatique de chaque pixel de déphasage (Pd(n)) d’une image de déphasage (ID) donnée étant effectué à partir de la même combinaison d’une ou plusieurs images partielles (Ppk(n)).