INPI-France/Brevets-Francais-2024-Chunked huggingface dataset:
Selon un mode de réalisation avantageux de l’invention, le séparateur accueille des conduites d’alimentation en énergie des soufflantes, notamment des conduites de gaz alimentant une turbine respective à chaque soufflante ou des conduites électriques. Le séparateur peut ainsi cumuler deux fonctions.
Selon un mode de réalisation avantageux de l’invention, le volet est composé de plusieurs éléments reliés deux à deux par des pivots. Ceci permet notamment de dévier le flux de manière importante sans trop charger aérodynamiquement le volet, puisque chaque élément reprend une portion de l’effort nécessaire à la déviation du flux.
Selon un mode de réalisation avantageux de l’invention, le volet est subdivisé en segments, chacun des segments étant respectif à une soufflante et étant pilotable indépendamment des autres segments pour dévier le flux d’air en aval de chacune des soufflantes de manière indépendante. Il est ainsi possible d’ajuster la direction du flux (ou la résultante sur tout le groupe propulsif) de façon plus fine, améliorant ainsi la stabilité et la maniabilité de l’aéronef, notamment en décollage ou atterrissage courte distance ou vertical. De manière avantageuse, la continuité de la surface entre deux segments adjacents peut être assurée par des flasques flexibles ou des parois sectionnelles.
A titre d’exemple on peut aussi citer les pâtes pigmentaires de pigment organique telles que les produits vendus par la société HOECHST sous le nom : - JAUNE COSMENYL IOG : Pigment YELLOW 3 (Cl 11710) ; - JAUNE COSMENYL G : Pigment YELLOW 1 (Cl 11680) ; - ORANGE COSMENYL GR : Pigment ORANGE 43 (Cl 71105) ; - ROUGE COSMENYL R : Pigment RED 4 (Cl 12085) ; - CARMIN COSMENYL FB : Pigment RED 5 (Cl 12490) ; - VIOLET COSMENYL RL : Pigment VIOLET 23 (Cl 51319) ; - BLEU COSMENYL A2R : Pigment BLUE 15.1 (Cl 74160) ; - VERT COSMENYL GG : Pigment GREEN 7 (Cl 74260) ; - NOIR COSMENYL R : Pigment BLACK 7 (Cl 77266).
A titre d'exemples de pigments à effets spéciaux, on peut citer les pigments nacrés tels que le mica recouvert de titane, ou d’oxychlorure de bismuth, les pigments nacrés colorés tels que le mica recouvert de titane et d‘oxydes de fer, le mica recouvert d’oxyde de fer, le mica recouvert de titane et notamment de bleu ferrique ou d’oxyde de chrome, le mica recouvert de titane et d’un pigment organique tel que défini précédemment ainsi que les pigments nacrés à base d’oxychlorure de bismuth. A titre de pigments nacrés, on peut citer les nacres Cellini commercialisées par BASF (Mica-TiO2-laque), Prestige commercialisée par Eckart (Mica-TiO2), Prestige Bronze commercialisée par Eckart (Mica-Fe2O3) Colorona commercialisée par Merck (Mica-TiO2-Fe2O3).
La présente invention concerne également l’utilisation du mélange fluorochromique précité pour la détection et la discrimination de Brettamyces spp et sa discrimination d’avec les autres levures, en particulier Saccharomyces spp , notamment dans un substrat tel que précité.
Selon un mode de réalisation particulier, le mélange fluorochromique contient le SYTOX®-orange, le SYTO®62 ou le SYTO® 63 et le mélange c-FDA. De la même manière, selon un mode de réalisation avantageux, la méthode de l’invention met en œuvre ce mélange précité de trois fluorochromes.
Le mélange est ajouté dans le substrat éventuellement dilué avant son analyse dans le cytomètre en flux.
L’acronyme FSC fait référence au signal correspondant à la lumière diffractée (FSC: Forward Scatter) ; ce signal dépend de la taille et de la surface de la cellule analysée ;
L’acronyme SSC (SSC : Side Scatter) fait référence au signal correspondant à la lumière réfléchie et réfractée ; ce signal dépend de la granularité et de la complexité cellulaire de la cellule analysée.
Les termes « en majorité » signifient 50% ou plus en masse ou en nombre. Lorsqu’ils s’appliquent à deux entités, ils signifient que le mélange des deux entités est présent à 50% ou plus en masse ou en nombre.
Le terme « jus» désigne au sens de la présente invention tout liquide extrait de la pulpe, de la chair de certains fruits ou légumes.
Le terme « moût » désigne au sens de la présente invention une mixture obtenue par pressurage ou cuisson de végétaux (graines, fruits, feuilles…) ou bien d'extraits de végétaux. Ces végétaux peuvent être des fruits, des légumes comme la pomme de terre mais aussi des céréales comme le blé, l’orge, le malt, le maïs ou le riz, par exemple.
Le terme « vin » désigne au sens de la présente invention un jus ou un moût de raisin blanc et/ou noir dont une partie ou la totalité du sucre est transformée en alcool par fermentation, notamment par la fermentation alcoolique due à Saccharomyces cerevisiae . Le vin peut être blanc, rouge ou rosé, selon l’invention. Le vin peut être conservé dans un tonneau de bois.
A l’étape 501, un signal numérique sous forme d’une séquence de bits est généré.
Le signal numérique est modulé par une modulation MPSK en associant chaque symbole numérique a un point de constellation MPSK.
Pour cela, à l’étape 502, on détermine, pour chaque symbole à moduler, une phase, à l’aide de l’expression suivante :
k est l’indice d’une porteuse du signal, k variant de 1 à N avec N le nombre de sous-porteuses.
α est un coefficient pris dans l’intervalle , avec
γ est un nombre réelpositif, négatif ou nul,
δ est une constante.
La relation (1) a notamment pour effet de générer un signal ayant la structure d’un signal « chirp ».
Cependant, les phases ainsi générées ne correspondent pas forcément à des symboles de la constellation MPSK choisie.
A l’étape 503, les phases générées à l’étape 502 sont arrondies aux phases des symboles de la constellation MPSK les plus proches.
Enfin à l’étape 504, une étape de transformée de Fourier discrète inverse est appliquée pour générer le signal OMTDR.
Le choix du coefficient α permet de structurer le signal pour qu’il ait la forme d’un signal chirp. En particulier, un coefficient α choisi au voisinage de , par exemple dans l’intervalle , avec permet d’obtenir un signal ayant une forme de signal chirp tout en minimisant le facteur crête (PAPR).
Les coefficients γ et δ influent sur la réduction du facteur crête (PAPR) du signal.
Selon un premier exemple de réalisation de l’invention, le coefficient α est pris égal à , le coefficient γ est pris égal à 1 et le coefficient δ est pris égal à 0.
Autrement dit, dans cet exemple, les phases sont générées à l’aide de la relation :
α174L, β17X, β43Q, β46T, β48N, β57K, β77P, β95V, β107K, β114F, β167S, β218Q, β219A
α174L, β17X, β43Q, β46T, β48N, β57K, β77P, β95V, β107K, β114F, β167S, β218H, β219R
α174L, β17X, β43Q, β48N, β57K, β77P, β95V, β107K, β114W, β167S, β218H, β219A
α174L, β17X, β43Q, β48N, β57M, β77P, β95V, β107K, β114W, β167S, β218H, β219A
α174L, β17X, β43Q, β46T, β48N, β57M, β77P, β95V, β107K, β114W, β167S, β218H, β219A
α174L, β14S, β46T, β48N, β57M, β97A, β107K, β114W, β167S, β218H, β219R
α174L, β14S, β46T, β48N, β57M, β97A, β107K, β114Y, β167S, β218H, β219A
α174L, β14S, β17G, β46T, β48N, β57K, β97A, β107K, β114Y, β167S, β218H, β219A
α174L, β14S, β46T, β48N, β57K, β97A, β107K, β114Y, β167S, β218H, β219A
α174L, β14S, β17G, β46T, β48N, β57K, β97A, β107K, β114Y, β167S, β218H, β219R
Le suivi d’un véhicule cible est très difficilement gérable entrée ou sortie de virage. En effet, lorsqu’un véhicule cible se décale légèrement latéralement par rapport au véhicule égo ou une trajectoire du véhicule égo, soit le véhicule entre en virage soit le véhicule cible change de voie pour, par exemple, circuler dans le voie de circulation du véhicule égo. Généralement, la trajectoire du véhicule égo est déterminée par une reconnaissance des voies de circulation et de leurs courbures à partir d’un traitement d’image, et une reconnaissance de la voie sur laquelle circule le véhicule égo. Dans de nombreuses situation, une détermination trajectoire du véhicule égo est temporairement incohérente avec une trajectoire d’une voie sur la quelle circule le véhicule égo. La reconnaissance des voies par une caméra embarquée n’est pas possible (marquages au sol masqués, effacés, et/ou non lisibles à cause de l’ensoleillement, de la météo, d’une présence d’autres objets/véhicules, de travaux …). Il en résulte, par exemple, une mauvaise désélection d’un véhicule ou une mauvaise sélection d’un véhicule circulant dans une voie adjacente.
Un objet de la présente invention est de remédier au problème précité, en particulier sélectionner de manière robuste (plus de disponibilité, fonctionnel en ligne droite et en virage) et simple un objet circulant devant le véhicule égo. Il n’est pas besoin d’identifier et de modéliser une trajectoire des voies
A cet effet, un premier aspect de l’invention concerne un procédé de détection d’insertion dans une voie de circulation d’un véhicule, dit véhicule cible, depuis un véhicule autonome, dit véhicule égo, pour une conduite autonome dudit véhicule égo en fonction d’un indicateur de présence dudit véhicule cible, ledit véhicule égo circulant sur ladite voie de circulation et comportant des capteurs aptes à fournir des données dudit véhicule égo et de l’environnement extérieure dudit véhicule égo, ledit procédé comportant les étapes de :
Détection, à partir de lesdits capteurs, dudit véhicule cible ; Détermination, à partir de lesdits capteurs, d’au moins une information du positionnement relatif dudit véhicule cible par rapport au véhicule égo ; Détermination, à partir de lesdits capteurs, d’une trajectoire dudit véhicule égo, la trajectoire indiquant des positions estimées dudit véhicule égo sur un horizon de temps prédéterminé ; Détermination d’une distance minimale entre ledit véhicule cible et ladite trajectoire, la détermination étant fondée sur ladite au moins une information du positionnement relatif ; Détermination d’un premier seuil, dit seuil de sélection, ledit seuil de sélection représentant une distance et étant fondé sur une vitesse longitudinale dudit véhicule égo et sur ledit horizon de temps ; si ladite distance minimale est inférieure audit seuil de sélection, augmentation de l’indicateur de présence dudit véhicule cible ; génération d’une instruction de conduite autonome à partir de l’indicateur de présence.
Ainsi, la conduite autonome pourra adapter le pilotage du véhicule, tout comme le ferait un conducteur, en prenant en compte une interférence future, dans un horizon de temps donné (équivalant à une durée), entre ledit véhicule égo et un autre véhicule. Il n’est pas nécessaire de prédire ou de construire la trajectoire future du véhicule cible et, en particulier, il n’est pas nécessaire de détecter les lignes séparant les voies de circulation. Le seuil étant fondée sur la vitesse longitudinale du véhicule égo, le procédé de détection est fonctionnel en ligne droite, en entrée ou sortie de virage, et en virage. Plus particulièrement, en entrée ou sortie de virage, un véhicule circulant sur une voie adjacente à la voie de circulation dudit véhicule égo ne sera pas considéré comme présent (probabilité de présence nulle ou faible).
Avantageusement, ledit seuil de sélection est égale à Y1(V) = min(Y0 ; LVo + 0,5*AlatMax(V)*t^2 - 0,5*LVC), où min représente une fonction minimum entre valeurs, Y0 est une distance latérale prédéterminée, LVo est une largeur prédéterminée de ladite voie de circulation, V est ladite vitesse longitudinale, AlatMax(V) est une accélération latérale maximale fonction de ladite vitesse longitudinale, t est ledit horizon de temps, et LVC est une largeur prédéterminée dudit véhicule cible.
Ainsi, le seuil de sélection, dépendant de la vitesse et de l’horizon de temps, est simplement paramétré et valable pour toutes les vitesses longitudinales du véhicule égo. La mise au point est très simple. Elle se base sur la physique du véhicule et ne nécessite pas des essais véhicule pour différentes vitesses longitudinales et pour différent rayons de courbure de virage.
Avantageusement, ledit procédé comporte, en outre, une étape de détermination d’un deuxième seuil, dit seuil de désélection, ledit seuil de désélection représentant une distance strictement supérieure au seuil de sélection, ledit seuil de désélection étant fondé sur une vitesse longitudinale dudit véhicule égo et sur ledit horizon de temps, si ladite distance minimale est supérieure audit seuil de désélection, alors l’indicateur de présence décroît, sinon l’indicateur de de présence reste inchangé.
Ainsi, la détermination de la probabilité de présence sera encore plus robuste, en particulier en cas de mauvaise perception dudit véhicule cible. Un véhicule cible circulant sur la même voie de circulation dudit véhicule égo restera considéré comme présent (probabilité de présence à 100% ou forte) en entrée ou sortie de virage malgré les incertitudes de détection d’entrée ou de sortie de virage du véhicule égo et/ du véhicule cible. L’écart entre le seuil de sélection et le seuil de désélection est dite zone Linconnu.
Avantageusement, le procédé est exécuté périodiquement, une probabilité de présence, comprise entre 0% et 100%, est déterminée à partir d’un historique des déterminations dudit indicateur de présence, et ladite conduite autonome est fonction de ladite probabilité de présence.
Ainsi, les détections sont consolidées dans le temps. Cela apporte plus de robustesse de détection et permet moins de variations sur la conduite autonome du véhicule égo rendant ainsi une conduite plus lisse et moins brusque.
L’invention concerne également un procédé de fabrication d’un thermocouple selon l’invention, le procédé comprenant les étapes suivantes :
- dépôt sur un substrat du premier bras ;
- dépôt sur le substrat de la deuxième borne de connexion du deuxième bras de sorte à éventuellement laisser un premier espace libre entre le premier bras et le deuxième bras ;
- dépôt d’une partie horizontale du deuxième bras depuis la deuxième borne de connexion vers l’intérieur du substrat de manière à recouvrir au moins partiellement le premier bras pour former une jonction chaude du thermocouple.
L’invention concerne également un dispositif de mesure de la température d’une aube de turbomachine, comprenant un thermocouple selon l’invention, le substrat étant disposé sur l’aube.
L’invention concerne également un dispositif de mesure de la température d’une zone déterminée d’un circuit électronique, comprenant un thermocouple selon l’invention, le thermocouple étant agencé dans la zone déterminée de manière à ce que la jonction chaude soit disposée sur la zone déterminée.
Contrairement aux structure connues, l’invention utilise une superposition en trois dimensions et pas un simple agencement dans un plan qui contrairement aux architectures connues considèrent le thermocouple comme une jonction ponctuelle de deux matériaux différents, et des fils ou pistes d’interconnexion : les éléments du thermocouple sont agencés autant dans le plan que hors du plan du substrat.
La structure proposée pour le thermocouple est compacte par l’empilement des bras du thermocouple en rapprochant les zones d’interconnexions pour être plus compact. Toutefois, les zones d’interconnexion peuvent être éloignées à volonté par rapport à la jonction chaude cette dernière étant toutefois compacte.
En outre, le thermocouple de l’invention est plus solide. En effet, dans le cas de l’architecture classique des thermocouples, les deux métaux ne se croisent qu’à un emplacement de taille très limité et rend la jonction chaude vulnérable aux dommages (érosion, chocs, etc.).
L’invention permet de diminuer la surface occupée par le thermocouple. Le thermocouple assure à la fois une surface occupée minimale, en maximisant en même temps la surface de la jonction chaude, ce qui amène de la redondance : une destruction partielle, telle qu’une griffe aura moins de chances de compromettre la performance du thermocouple.
Par conséquent, l’invention permet de mesurer des températures dans des parties confinées des équipements aéronautiques, notamment des moteurs, où une la mesure doit être le moins intrusive possible, car il faut minimiser la perturbation aérodynamique du flux.
- la illustre une vue de côté d’un thermocouple selon un premier mode de réalisation de l’invention ;
- la et la illustrent une vue de côté d’un thermocouple selon un deuxième mode de réalisation de l’invention ;
- la illustre une vue de côté d’un thermocouple selon un troisième mode de réalisation de l’invention avec des cotes identifiées ;
- la illustre une vue de côté d’un thermocouple selon un quatrième mode de réalisation de l’invention ;
Fig. 4 La est un diagramme des étapes du procédé de mesure d’informations polarimétriques selon un mode de réalisation.
Il est maintenant fait référence à la qui illustre un dispositif de mesure 1 d’informations polarimétriques d’un échantillon 3 selon un mode de réalisation.
Le dispositif de détermination 1 fonctionne de la façon suivante. Un faisceau lumineux incident monochromatique est dirigé vers un point de mesure 31 appartenant à une zone d’intérêt de l’échantillon 3 que l’on souhaite analyser. Le faisceau lumineux incident, appelé également faisceau lumineux d’excitation va être absorbée par le matériau de l’échantillon. Le point de mesure de l’échantillon, sous l’excitation du faisceau lumineux incident, émet spontanément un faisceau de luminescence correspondant à une partie de l’énergie du faisceau lumineux incident dissipé en ce point de mesure. Le signal de luminescence transmis est modulé au moyen d’un analyseur rotatif positionné sur le chemin optique du faisceau de luminescence émis par l’échantillon. Le signal de luminescence modulé est détecté au moyen d’un photodétecteur. L'échantillonnage de ce signal est synchronisé avec la rotation de l’analyseur. Les informations polarimétriques sont ensuite extraites à partir des caractéristiques du signal modulé du faisceau de luminescence par analyse de Fourier.
Le phénomène de l’émission d’un faisceau de luminescence par un matériau semi-conducteur est connu. Un échantillon réalisé dans un matériau semi-conducteur présente une bande valence et une bande de conduction qui sont séparées par une bande interdite. Lorsque les photons du faisceau lumineux incident ont une énergie supérieure à l’énergie de la bande interdite, une partie des électrons de la bande de conduction sont excités et passent dans la bande de conduction en créant une paire électron-trou. La recombinaison des paires électron-trou génère une émission d’un faisceau de luminescence.
La illustre de manière schématique les axes propres de déformation en un point de mesure de l’échantillon placé dans le repère fixe orthonormé (XYZ). L’axe Y est un axe perpendiculaire à la surface d’analyse de l’échantillon, et le plan (XZ) est parallèle à la surface d’analyse de l’échantillon. En présence d’une déformation axiale suivant un des axes dans le plan, le matériau présente une anisotropie axiale locale en ce point. Sur la , les axes propres de déformation sont alignés suivant l’axe OX’ ou l’axe OZ’, orientés d’un angle θ par rapport au repère fixe. En ce point de mesure et en présence de la contrainte axiale, le faisceau de luminescence émis est polarisé linéairement suivant la direction principale de cette contrainte, à savoir l’axe Ox’ ou l’axe Oz'. Ainsi, l’analyse des informations de polarisation du faisceau de luminescence émis en ce point de mesure permet de caractériser la contrainte axiale présente dans le plan de l’échantillon. Ainsi, la détermination de la direction de l’angle de polarisation du faisceau de luminescence permet de déterminer la direction de l’axe principal de la contrainte dans le repère fixe.
Le dispositif 1 de la présente divulgation a donc pour objectif d’extraire les informations de polarisation contenues dans le faisceau de luminescence émis par l’échantillon afin de pouvoir caractériser avec précision les contraintes présentes dans le plan de l’échantillon.
Le dispositif de détermination 1 d’informations polarimétriques comprend une source lumineuse 2 monochromatique configurée à émettre un faisceau lumineux incident, des éléments optiques 14, 15, 16 adaptés à orienter le faisceau incident en direction de la surface de l’échantillon 3 et à orienter un faisceau de luminescence émis par l’échantillon cible en direction d’un détecteur 9.
Dans la suite de la description, le faisceau lumineux est appelé « faisceau incident » sur l’ensemble du trajet de la source à l’échantillon cible, et « faisceau de luminescence » sur l’ensemble du trajet de l’échantillon cible au détecteur.
L’échantillon 3 est placé dans un repère orthonormé fixe (XYZ) et présente une surface qui s’étendant dans le plan (XZ).
Selon un mode de réalisation, la source d’excitation de l’échantillon cible est une source lumineuse 2 adaptée pour émettre un faisceau lumineux d’excitation incident de manière à générer l’émission par l’échantillon cible à analyser d’un signal de photoluminescence. Ce faisceau lumineux d’excitation est adapté de manière à générer l’émission spontanée par l’échantillon d’un signal de luminescence. En d’autres termes, lorsque l’échantillon est un semiconducteur, l’énergie des photons du faisceau lumineux incident est supérieure à la différence d’énergie entre la bande de valence et la bande de conduction du matériau afin de faire passer les électrons de la bande de valence à la bande de conduction. Cette source est, par exemple, constituée par une source laser émettant à une longueur d’onde comprise entre 300 et 1000 nm. La longueur d’onde de la source est choisie en fonction du semiconducteur à analyser.
Dans la présente divulgation, la source d’excitation n’est pas limitée uniquement à une source lumineuse. La source d’excitation de l’échantillon peut être par exemple une source électrique adaptée pour émettre un signal électrique dans l’échantillon de manière à générer l’émission par l’échantillon d’un signal d’électroluminescence. Selon un autre mode de réalisation, la source d’excitation de l’échantillon peut être par exemple une source d’électrons adaptée pour émettre un faisceau d’électrons sur l’échantillon de manière à générer l’émission par l’échantillon d’un signal de cathodoluminescence.
Selon un exemple de réalisation, le dispositif de mesure comprend en outre un filtre d’intensité 13 qui permet d’atténuer l’intensité du faisceau lumineux incident.
Les éléments optiques comprennent un miroir de renvoi 14, une lentille de focalisation 15 et un miroir dichroïque 16. Le faisceau incident, en sortie du filtre 13 est réfléchi par le miroir réflecteur 14 en direction de la lentille de focalisation 15 et focalisé sur le miroir dichroïque 16 placé sur un chemin optique 19 orienté selon la direction OY. Le faisceau lumineux incident est dirigé selon une incidence normale à la surface de l’échantillon au point de mesure 31 de l’échantillon. Le faisceau lumineux incident et le faisceau de luminescence présentent un chemin optique commun 19.
Le miroir dichroïque 16 est un miroir dichroïque sélectif en longueur d’onde. Le miroir 16 est adapté pour réfléchir le faisceau laser incident. Le faisceau incident est ainsi renvoyé par le miroir dichroïque en direction de l’échantillon 3. Le miroir dichroïque 16 est adapté pour transmettre les longueurs d’onde du faisceau de luminescence émis par l’échantillon en direction d’un détecteur 9.
Le dispositif de détermination 1 comprend en outre un système optique de focalisation et de collecte de faisceau 5 positionné sur le chemin optique 19 du faisceau lumineux incident et du faisceau de luminescence. Le système optique de focalisation et de collecte 5 est placé entre le miroir dichroïque et l’échantillon et a pour fonction de focaliser le faisceau lumineux incident en un point focal sur la surface de l’échantillon et de collecter en sens inverse le faisceau de luminescence émis. La longueur de focalisation du système optique de focalisation et de collecte est choisie de manière à obtenir une résolution spatiale adaptée pour l’analyse de la structure du matériau. Dans le cadre de la caractérisation de la structure cristalline des matériaux semi-conducteurs, la taille du point focal est comprise de préférence entre 0,25 et 5 µm. Il est possible d’ajuster le point focal du faisceau lumineux incident en faisant déplacer l’objectif du système optique 5 selon son axe optique, c’est-à-dire selon la direction (OY).