Système d’éclairage (1), destiné notamment à être inclus dans un microscope ou un dispositif d’imagerie microscopique, comportant une pluralité de sources de lumière (2) disposées selon des régions de plan définissant un espace solide (S) coupant un axe de référence (Z) passant par un point de référence (P r ) du système. Système selon la revendication 1, dans lequel l’espace solide (S) définit une surface enveloppe présentant au moins une face non plane. Système selon la revendication 1, dans lequel l’espace solide (S) définit une surface enveloppe présentant uniquement des faces planes, l’espace solide formant notamment un cube. Système selon l’une quelconque des revendications précédentes, dans lequel la distance d’une source de lumière (2) audit point de référence (P r ) est fonction de l’angle d’incidence entre l’axe de référence (Z) et la droite reliant ladite source de lumière au point de référence. Système selon l’une quelconque des revendications précédentes, dans lequel le point de référence (P r ) est non compris dans l’espace solide (S) défini par les sources de lumière (2). Système selon l’une quelconque des revendications précédentes, dans lequel les sources de lumière (2) sont disposées sur des régions de plan coupant chacune perpendiculairement l’axe de référence (Z). Système selon l’une quelconque des revendications 1 à 5, dans lequel au moins une partie de la pluralité de sources de lumière (2) est disposée sur au moins une région de plan coupant obliquement l’axe de référence (Z). Système selon la revendication 1, dans lequel l’espace solide (S) défini par les sources de lumière (2) est à symétrie de révolution autour de l’axe de référence (Z), l’espace solide formant notamment un cylindre. Système selon l’une quelconque des revendications précédentes, dans lequel les sources de lumière (2) sont disposées sur des régions de plan circulaires disposées successivement le long d’un axe longitudinal, notamment confondu avec l’axe de référence (Z). Système selon l’une quelconque des revendications précédentes, dans lequel au moins une partie de la pluralité de sources de lumière (2) est disposée sur des régions de plan circulaires concentriques. Système selon l’une quelconque des revendications 1 à 8, dans lequel les sources de lumière (2) sont disposées sur des régions de plan formant des bandes hélicoïdales. Système selon l’une quelconque des revendications précédentes, dans lequel chaque source de lumière (2) comporte un ou plusieurs éléments émissifs, chaque élément émissif de chacune des sources de lumière étant ponctuel. Système selon l’une quelconque des revendications précédentes, dans lequel les sources de lumière (2) situées à plus grande distance dudit point de référence (P r ) sont configurées pour acquérir des images en champ clair. Système selon l’une quelconque des revendications précédentes, dans lequel les sources de lumière (2) situées à plus petite distance dudit point de référence (P r ) sont configurées pour acquérir des images en champ sombre. Système selon l’une quelconque des revendications précédentes, comportant des circuits souples formant les régions de plan et portant les sources de lumière (2). Système selon l’une quelconque des revendications précédentes, comportant des microlentilles de collimation associées à chaque source de lumière (2). Système selon l’une quelconque des revendications 1 à 15, comportant une lentille globale. Système selon l’une quelconque des revendications précédentes, comportant un module de contrôle configuré pour sélectionner les sources de lumière (2) à allumer, notamment pour la réalisation d’une fonction de filtrage des fréquences spatiales d’un échantillon (E) à étudier placé au niveau dudit point de référence (P r ). Système selon l’une quelconque des revendications précédentes, dans lequel l’intensité est la même pour chaque source de lumière (2), ou l’intensité d’une ou plusieurs sources de lumière est réglable. Système selon l’une quelconque des revendications précédentes, dans lequel les sources de lumière (2) sont des diodes. Microscope comportant le système d’éclairage selon l’une quelconque des revendications précédentes. Dispositif d’imagerie microscopique (10) comportant le système d’éclairage (1) selon l’une quelconque des revendications 1 à 20. Procédé d’analyse d’un échantillon (E) utilisant un système d’éclairage (1) selon les revendications 1 à 20, comportant au moins les étapes suivantes : analyser dans le domaine fréquentiel les puissances de chaque source de lumière (2) dans une zone de recouvrement créée entre deux sources adjacentes, afin de compenser les puissances arrivant sur l’échantillon (E), et initialiser le spectre de façon à pouvoir supprimer toute source de lumière placée sur l’axe de référence afin de réaliser la reconstruction de l’échantillon (E). Produit programme d’ordinateur pour la mise en œuvre du procédé d’analyse d’un échantillon (E) selon la revendication précédente, le produit programme d’ordinateur comportant un support et enregistrées sur ce support des instructions lisibles par un processeur pour que, lorsqu’exécutées, les puissances de chaque source de lumière (2) sont analysées, dans le domaine fréquentiel, dans une zone de recouvrement créée entre deux sources adjacentes, afin de compenser les puissances arrivant sur l’échantillon (E), et le spectre est initialisé de façon à pouvoir supprimer toute source de lumière placée sur l’axe de référence afin de réaliser la reconstruction de l’échantillon (E).