INPI-France/Brevets-Francais-2024-Chunked huggingface dataset:
Le circuit de puissance comporte un premier bloc de transistors à semi-conducteurs de puissance et un deuxième bloc de transistors à semi-conducteurs de puissance, chaque bloc de transistors à semi-conducteurs de puissance comportant au moins un transistor, et un capteur de courant connecté entre ledit premier bloc de transistors à semi-conducteurs de puissance et ledit deuxième bloc de transistors à semi-conducteurs de puissance, lesdits blocs de transistors formant un interrupteur analogique bidirectionnel.
Le circuit de commande comporte en outre un module de conditionnement de mesure de courant, configuré pour amplifier et redresser une tension, image du courant, aux bornes du capteur de courant.
Le module de conditionnement de mesure de courant comporte un redresseur sans seuil double alternance.
Le module de commande des semi-conducteurs de puissance reçoit en entrée ladite image du courant redressée et un signal de consigne de limitation de courant fourni par le module de variation de consigne de courant, et fournit en sortie ledit signal de commande.
Le module de variation de consigne de courant comporte un pont diviseur de tension, ayant un gain ajusté en fonction des sorties desdits premier module de détection d’évènement et deuxième module de détection d’évènement.
Le premier module de détection d’évènement comporte une unité de gestion d’une phase de démarrage configurée pour limiter le courant à zéro Ampères pendant une première durée de temporisation et une unité de gestion d’un appel de courant de l’équipement électronique, configurée pour limiter le courant à une valeur prédéterminée pendant une deuxième durée de temporisation.
Selon un autre aspect, l’invention concerne un procédé de protection d’équipement électronique mis en œuvre par un dispositif de protection tel que brièvement décrit ci-dessus. Ce procédé comporte :
Pour les tubes présentant un profil dont les surfaces externes et internes sont parallèles, on utilise des techniques de contrôle non destructif à l'aide d'ondes ultrasonores afin de déterminer la géométrie réelle du tube et s’assurer que cette géométrie réelle du tube correspond à la géométrie désirée, notamment en termes d’épaisseur et d’excentration. Pour cela, on fait se propager des ondes ultrasonores dans le tube et l'on recherche, parmi les ondes réfléchies par le tube, celles qui sont représentatives de la géométrie du tube.
Cependant, pour les tubes présentant des profils complexes dans lesquels la surface externe et la surface interne du tube ne sont pas parallèles, la réflexion des ondes ultrasonores sur la surface externe et/ou la surface interne du tube ne permet pas l’utilisation directe de la méthode utilisée dans le cadre des tubes dont la surface externe et la surface interne sont parallèles. En effet, si une onde arrive perpendiculairement à la surface externe et/ou la surface interne du tube, elle est réfléchie selon la même trajectoire par ladite surface. Mais, lorsque l’onde ultrasonore arrive avec une inclinaison sur la surface externe et/ou la surface interne du tube, elle est réfléchie selon une trajectoire décrite par la loi de Snell-Descartes, qui ne correspond pas à une mesure d’épaisseur. Cela rend l’utilisation d’ondes ultrasonores dans le cadre d’éléments tubulaires dont la surface externe et la surface interne ne sont pas parallèles problématique pour effectuer des mesures dimensionnelles.
Pour éviter les problèmes liés à la réflexion des ondes dans le cadre d’un tube présentant un profil d’épaisseur complexe, on détermine généralement dans un premier temps le profil de la surface externe du tube, par exemple au moyen d’ondes ultrasonores. Puis, dans un second temps, on utilise généralement un système de pantographe qui permet de reproduire manuellement à l’identique le profil interne du tube. Cependant, ce type de dispositif est long d’utilisation et présente un degré de précision grandement dépendant de l’habileté de l’utilisateur du pantographe.
Il existe donc un besoin de procédé de reconstruction de profil d’épaisseur de tube complexe permettant d’obtenir des données représentatives du profil de la surface interne de façon rapide et fiable.
Résumé Une idée à la base de l’invention est de permettre la reconstruction d’un profil d’épaisseur d’une pièce à contrôler de façon rapide et fiable. En particulier, une idée à la base de l’invention est de permettre la reconstruction de la surface interne d’une pièce à contrôler présentant des formes complexes, typiquement présentant au moins une portion dans laquelle la surface interne et la surface externe ne sont pas parallèles. En outre, une idée à la base de l’invention est de permettre cette reconstruction du profil d’épaisseur au moyen d’ondes ultrasonores malgré la présence de surface externe et interne non parallèles.
Pour cela, l’invention fournit un procédé de reconstruction d’un profil d’épaisseur de pièce à contrôler, de préférence métallique, ladite pièce à contrôler présentant une première surface et une deuxième surface, le procédé comportant, pour une pluralité de points d’émission distincts, les étapes de : - pour un point d’émission courant de la pluralité de points d’émission distincts, émettre depuis un transducteur une pluralité de tirs ultrasonores en direction de la première surface de la pièce à contrôler, - recevoir par le transducteur durant une fenêtre temporelle des ondes ultrasonores, - générer une pluralité de signaux d’écho de fond, chaque signal d’écho de fond étant associé à un tir ultrasonore respectif, chaque signal d’écho de fond correspondant à une onde ultrasonore réfléchie par la deuxième surface de la pièce à contrôler et reçue par le transducteur, - sélectionner un tir parmi la pluralité de tirs, ledit tir sélectionné présentant le signal d’écho de fond de plus grande amplitude parmi les signaux d’échos de fond, - calculer pour ledit tir sélectionné un temps de vol de fond correspondant au laps de temps entre l’instant de transmission dudit tir sélectionné de l’extérieur à l’intérieur de la pièce à contrôler et un instant de contact dudit tir sélectionné avec la deuxième surface de la pièce à contrôler, - calculer les coordonnées d’un point de contact de surface pour ledit tir sélectionné, lesdites coordonnées comportant une coordonnée axiale le long d’un axe longitudinal de la pièce à contrôler et une coordonnée radiale le long d’un axe radial perpendiculaire audit axe longitudinal de la pièce à contrôler, ledit point de contact de surface correspondant au point d’impact du tir sélectionné sur la première surface de la pièce à contrôler, - calculer un ensemble de positions potentielles de la deuxième surface de la pièce à contrôler en fonction du temps de vol de fond, des coordonnées du point de contact de surface et d’un milieu de propagation dans la pièce à contrôler, le procédé comportant en outre l’étape de calculer le profil de la deuxième surface de la pièce à contrôler par jonction de portions disjointes des ensembles de positions potentielles de la deuxième surface calculés pour la pluralité de points d’émissions distincts.
Grâce à ces caractéristiques, il est possible de reconstruire le profil de la deuxième surface de la pièce à contrôler au moyen de tirs ultrasonores de façon fiable et rapide. En particulier, il est possible de reconstruire le profil de la deuxième surface de la pièce à contrôler y compris lorsque cette deuxième surface n’est pas parallèle à la première surface de la pièce à contrôler, c’est à dire dans le cadre d’une pièce présentant des variations d’épaisseur le long de son axe longitudinal.
L’utilisation de tirs ultrasonores permet un traitement rapide de la pièce à contrôler afin de déterminer le profil de sa deuxième surface. En outre, la génération d’une pluralité de tirs ultrasonores pour chaque point d’émission permet la reconstruction du profil de la deuxième surface de la pièce à contrôler malgré la présence de variation de la pente de ladite deuxième surface. En particulier, cette pluralité de tirs ultrasonores permet de générer un balayage angulaire de sorte que, pour chaque position d’émission le long de l’axe longitudinal de la pièce à contrôler, il est possible d’obtenir des informations relatives à la pièce au moyen d’un tir dont l’orientation angulaire, une fois transmis dans la pièce, est perpendiculaire à la deuxième surface de la pièce à contrôler. Ainsi, pour chaque position du point d’émission, on peut obtenir un ensemble de positions potentielles de la deuxième surface. Dès lors, la liaison des portions disjointes de ces ensembles permet de délimiter le profil de la deuxième surface, l’utilisation de ces portions disjointes des ensembles de positions potentielles calculés permettant de connaître la position de la deuxième surface malgré l’absence d’information sur l’orientation des tirs ultrasonores.
Selon des modes de réalisation, un tel procédé de reconstruction de profil d’épaisseur peut comporter une ou plusieurs des caractéristiques suivantes.
Selon un mode de réalisation, des ou chaque tir ultrasonore de la pluralité de tirs ultrasonores présentent des angles d’émission respectifs, préférablement situés dans un plan d’émission thêta parallèle à l’axe longitudinal de la pièce à contrôler, à un instant d’émission courant, de manière à générer pour le point d’émission courant un balayage angulaire d’émission.
Selon un mode de réalisation, l’étape de réception par le transducteur des ondes ultrasonores est réalisée pour une fenêtre temporelle respective pour un, plusieurs ou chaque tir de la pluralité de tirs ultrasonores. Selon un mode de réalisation, l’étape de réception par le transducteur des ondes ultrasonores est réalisée au cours d’une même fenêtre temporelle pour la pluralité de tirs distincts du point d’émission courant.
Selon un mode de réalisation, la réception par le transducteur des ondes ultrasonores est réalisée de manière à recevoir des ondes réfléchies par la pièce à contrôler en réponse au tir courant de ladite pluralité de tirs.
L’ensemble des positions potentielles peut prendre différentes formes. Selon un mode de réalisation, pour chaque point d’émission courant, l’ensemble des positions potentielles de la deuxième surface est continu de manière à former un arc de cercle, la jonction des ensembles des positions comporte la jonction des portions disjointes desdits arcs de cercles.
Selon un mode de réalisation, pour chaque point d’émission courant, l’ensemble des positions potentielles de la deuxième surface est continu de manière à former un cercle, la jonction des ensembles des positions comporte la jonction des portions disjointes desdits cercles.
Selon un mode de réalisation, le procédé comporte en outre, pour un, plusieurs ou chaque point d’émission de la pluralité de points d’émission distincts, les étapes de : - calculer des points d’intersection de fond entre une droite orientée radialement et passant par ledit point d’émission et les ensembles de positions potentielles de la deuxième surface calculés pour les différents points d’émission de la pluralité de points d’émission distincts, - sélectionner un point d’intersection de fond parmi lesdits points d’intersection de fond calculés, ledit point d’intersection de fond sélectionné étant le plus proche de l’axe longitudinal de la pièce à contrôler, par exemple le plus éloigné dudit point d’émission, parmi les points d’intersection de fond calculés, ledit point d’intersection sélectionné correspondant au point de la deuxième surface de la pièce à contrôler au niveau d’une droite orientée radialement passant par le point d’émission, la jonction des ensembles des positions potentielles de la deuxième surface comporte la jonction des points d’intersection de fond sélectionnés.
Selon un mode de réalisation, le tir sélectionné est un premier tir sélectionné, le procédé comporte en outre, pour chaque tir de la pluralité de tirs du point d’émission courant, les étapes de : - générer une pluralité de signaux d’écho d’interface, chaque signal d’écho d’interface étant associé à un tir ultrasonore respectif de la pluralité de tirs, chaque signal d’écho d’interface correspondant une onde ultrasonore réfléchie par la première surface de la pièce à contrôler et reçue par le transducteur, - sélectionner un deuxième tir parmi la pluralité de tirs, ledit deuxième tir sélectionné présentant le signal d’écho d’interface de plus grande amplitude parmi les signaux d’échos d’interface, - calculer pour ledit deuxième tir sélectionné un temps de vol d’interface correspondant au laps de temps entre l’instant d’émission dudit deuxième tir sélectionné et un instant de contact dudit deuxième tir sélectionné avec la première surface de la pièce à contrôler, - calculer un ensemble de positions potentielles de la première surface de la pièce à contrôler en fonction du temps de vol d’interface, des coordonnées du point d’émission courant et d’un milieu de propagation entre le point d’émission courant et la pièce à contrôler, le procédé comportant en outre l’étape de calculer le profil de la première surface de la pièce à contrôler par jonction de portions disjointes des ensembles de positions potentielles de la première surface calculés pour la pluralité de points d’émissions distincts.
Un autre aspect de l’invention concerne un appareil pour l’acquisition d’image d’un astre, comportant : - un corps creux à l’intérieur duquel pénètrent, en usage, des rayons lumineux provenant d’au moins un astre observé, ledit astre observé étant choisi parmi au moins un premier astre d’une première nature et un deuxième astre d’une deuxième nature, la nature du premier astre étant différente de la nature du deuxième astre, - un système optique agencé dans le corps creux et présentant un axe optique, lequel système est configuré de sorte que les rayons lumineux forment, dans un foyer image situé dans un plan focal, une image de l’astre observé, - une matrice de capteurs optiques, disposée dans le foyer image, consistant en une pluralité n de pixels unitaires P 1 , - une première configuration de capteurs optiques de la matrice pour acquérir l’image du premier astre de première nature, ladite première configuration présentant la pluralité n de pixels unitaires P 1 , n étant un nombre entier naturel, - une deuxième configuration de capteurs optiques de la matrice pour acquérir l’image du deuxième astre de deuxième nature, ladite deuxième configuration présentant une pluralité m 2 de macro-pixels P 2 formés par des regroupements de pixels unitaires P 1 , m 2 étant un nombre entier naturel, - une unité de traitement adaptée pour sélectionner une des configurations de capteurs optiques pour acquérir l’image de l’astre formée dans le foyer image, la sélection de la configuration de capteurs optiques étant réalisée en fonction de la nature de l’astre observé, soit le susdit premier astre de première nature soit le susdit deuxième astre de deuxième nature.
D’autres caractéristiques avantageuses de l’appareil objet de l’invention sont listées ci-dessous. Chacune de ces caractéristiques peut être considérée seule ou en combinaison avec les caractéristiques remarquables définies ci-dessus. Chacune de ces caractéristiques contribue, le cas échéant, à la résolution de problèmes techniques spécifiques définis plus avant dans la description et auxquels ne participent pas nécessairement les caractéristiques remarquables définies ci-dessus. Ces dernières peuvent faire l’objet, le cas échéant, d’une ou plusieurs demandes de brevet divisionnaires : Selon un mode de réalisation, les macro-pixel P 2 ont la même forme au sein de la deuxième configuration de capteurs optiques. Selon un mode de réalisation, les macro-pixel P 2 ont des formes différentes au sein de la deuxième configuration de capteurs optiques. Selon un mode de réalisation, l’unité de traitement est adaptée pour sélectionner simultanément la première configuration de capteurs optiques dans une zone de la matrice où est située l’image d’un premier astre de première nature et la deuxième configuration de capteurs optiques dans une zone de ladite matrice où est située l’image d’un deuxième astre de deuxième nature. Selon un mode de réalisation, chaque pixel unitaire P 1 délivre un signal représentatif d'une intensité lumineuse reçue, la matrice intègre un circuit sommateur adapté pour sommer les signaux générés par les pixels unitaires P 1 d’un macro-pixel P 2 de sorte que les signaux délivrés par lesdits pixels unitaires d'un macro-pixel P 2 soient considérés comme un unique signal global à traiter par l’unité de traitement. Selon un mode de réalisation, l’appareil se présente sous la forme d’un télescope (lunette astronomique).
Brève description des figures. D’autres avantages et caractéristiques de l’invention apparaîtront mieux à la lecture de la description d’un mode de réalisation préféré qui va suivre, en référence aux dessins annexés, réalisés à titre d’exemples indicatifs et non limitatifs et sur lesquels : est un schéma illustrant un exemple de trois configurations de capteurs optiques d’une matrice, ces trois configurations étant conformes à l’invention. illustre de manière schématique un agencement de composants d’un pixel unitaire. illustre une manière de traiter les signaux de pixels unitaires lorsque la matrice est dans une première configuration de capteurs optiques. illustre une première manière de traiter les signaux de pixels unitaires formant des macro-pixels lorsque la matrice est dans une deuxième configuration de capteurs optiques. illustre une deuxième manière de traiter les signaux de pixels unitaires formant des macro-pixels lorsque la matrice est dans une deuxième configuration de capteurs optiques. illustre une troisième manière de traiter les signaux de pixels unitaires formant des macro-pixels lorsque la matrice est dans une deuxième configuration de capteurs optiques. schématise un exemple d’agencement de macro-pixels de différentes formes. illustre une première manière de traiter les signaux de pixels unitaires formant des macro-pixels lorsque la matrice est dans une troisième configuration de capteurs optiques. illustre une deuxième manière de traiter les signaux de pixels unitaires formant des macro-pixels lorsque la matrice est dans une troisième configuration de capteurs optiques. illustre une troisième manière de traiter les signaux de pixels unitaires formant des macro-pixels lorsque la matrice est dans une troisième configuration de capteurs optiques. schématise un exemple d’agencement de pixels unitaires et de macro-pixels de différentes tailles. est une vue en coupe schématisant un appareil de capture d’image conforme à l’invention, selon un premier mode de réalisation, la matrice étant dans une première configuration de capteur optiques. montre l’appareil de la avec la matrice dans une deuxième configuration de capteur optiques. est une vue en coupe schématisant un appareil de capture d’image conforme à l’invention, selon un deuxième mode de réalisation. est une vue en coupe schématisant un appareil de capture d’image conforme à l’invention, selon un troisième mode de réalisation.
Description des modes de réalisation. Par souci de clarté, la présente invention fait référence à un ou plusieurs « processus informatiques ». Ces derniers correspondent aux actions ou résultats obtenus par l’exécution d’instructions de différentes applications informatiques. Aussi, il faut également comprendre au sens de l’invention que « un processus informatique est adapté pour faire quelque chose » signifie « les instructions d’une application informatique exécutées par une unité de traitement font quelque chose ».
L’appareil 30 objet de l’invention est utilisé pour l’observation à la fois d’astres de grande taille et d’astres de petite taille. Ces astres ou objets ou corps célestes peuvent être des planètes, des étoiles, des nébuleuses, des galaxies, etc. Il s’agit préférentiellement d’un télescope (ou lunette astronomique), mais l’appareil peut également se présenter sous la forme d’un appareil photographique ou d’une caméra vidéo. Par souci de clarté, et à titre d’exemple illustratif seulement, la suite de la description fait seulement référence à un télescope adapté pour l’observation d’astres de nature différente, notamment des astres de petite taille 50 relativement lumineux (ex : planètes, lune) et des astres de grande taille 51 plus sombres (ex : nébuleuses, galaxies).
Sur les figures annexées 8 à 11, le télescope 30 comprend notamment un corps creux 302 à l’intérieur duquel pénètrent, en usage, des rayons lumineux 34 provenant de l’astre 50, 51 observé. Le corps creux 302 présente une première 300 extrémité par laquelle pénètrent les rayons lumineux 34 et une seconde extrémité 301 opposée à ladite première extrémité.
Le corps creux 302 se présente préférentiellement sous la forme d’un tube creux de section circulaire, mais pourrait être un tube de section ovale, carrée octogonale ou autre. Il est précisé que le corps creux 302 n’est pas nécessairement de forme tubulaire, mais peut être de forme conique, ou formé de portions de tubes ou de cônes par exemple. Le corps creux 302 peut être réalisé en matériau plastique, en matériau composite, etc. À titre d’exemple, sa longueur est comprise entre 200 mm et 400 mm, son diamètre est compris entre 50 mm et 500 mm et son épaisseur est comprise entre 1 mm et 10 mm.
Un système optique 31, 382, 383 est agencé dans le corps creux 302 possédant un axe optique 32. Le système optique est configuré de sorte que les rayons lumineux 34 forment, dans un plan focal 33, une image de l’astre 50, 51 observé.
Le télescope présente un axe optique 32. Au sens de la présente invention, on entend par axe optique, la ligne qui passe par le centre de chaque élément optique du système optique 31, 382, 383. L’axe optique 32 est un axe rectiligne confondu avec l’axe de symétrie du télescope 30. D’autres configurations sont toutefois envisageables, dans lesquelles l’axe optique 32 est non rectiligne et se décompose en un axe optique principal (confondu avec l’axe de symétrie) et par un axe optique secondaire.
Le télescope présente un foyer image 330 à l’intersection entre l’axe optique 32 et les rayons lumineux 34. Le foyer image 330 est dans le plan focal 33.
Une matrice de capteurs optiques 361 est agencée dans le foyer image 330 pour acquérir l’image de l’astre 50, 51 observé, formée dans ledit foyer image 330.
Sur les figures 8 et 9, la matrice 361 est fixée sur un support 35 installé dans le corps creux 302, à proximité de la seconde extrémité 301. Le support 35 peut éventuellement être mobile. Le support 35 est par exemple réalisé en acier, en carbone, ou dans un matériau plastique, de sorte que sa conception soit simple, peu onéreuse et qu’il soit durable dans le temps. Le support 35 est préférentiellement de forme circulaire, mais peut également être de forme carrée, octogonale, ovale, etc. De manière générale, la forme et les dimensions du support 35 sont adaptées aux dimensions de la matrice 361. À titre d’exemple, sa surface est comprise entre 2 cm 2 et 8 cm 2 . Ces dimensions réduites permettent d’utiliser un minimum d’espace dans l’appareil 30.
Dans le mode de réalisation de la , le système optique comprend un miroir primaire 382 disposé dans le corps creux 302, du côté de la seconde extrémité 301. Ce miroir primaire 382 réfléchit et fait converger les rayons lumineux 34 vers le support 35 placé dans le foyer image 330. Le support 35 sur lequel est fixée la matrice 361 est préférentiellement disposé dans le premier tiers du corps creux 302, du côté de la première extrémité 300 de manière à ne pas interférer avec les rayons lumineux tangents réfléchis par le miroir primaire 382.
Dans le mode de réalisation de la , le système optique comporte : - un miroir primaire 382 positionné dans le corps creux 302, pour réfléchir les rayons lumineux 34 pénétrant dans ledit corps, - un miroir secondaire 383 positionné dans le corps creux 302 pour réfléchir les rayons lumineux réfléchis par le miroir primaire 382. Un tel système optique permet de réduire la longueur du corps creux 302, tout en gardant la même longueur focale d’un télescope comportant seulement un miroir primaire 382 (tel qu’illustré sur la par exemple).