Dispositif de test (11) de puces électroniques (P) comprenant : une première partie (11a) et une deuxième partie (11b), assemblables l'une à l'autre de façon démontable et adaptées à définir entre elles au moins un logement (110) dans lequel au moins une puce électronique (P), comprenant des éléments de contact (P1), peut être agencée pour être testée ; ledit au moins un logement (110) comprenant une première portion (110a), appartenant à la première partie (11a) et dotée d’au moins une première ouverture (11e) apte à être traversée par au moins un contacteur électrique (13a) externe au dispositif de test (11) ; ledit au moins un logement (110) étant agencé pour permettre à ladite au moins une puce électronique (P) d’occuper : une première position (Pa) dans ledit logement (110), dans laquelle une première face (Pc) de ladite puce électronique (P), comprenant les éléments de contact (P1), est éloignée de la première portion (110a), et une deuxième position (Pb) dans ledit logement (110), dans laquelle la première face (Pc) est en appui sur la première portion (110a) dudit au moins un logement (110). Système (100) de test de puces électroniques (P), comprenant : - le dispositif de test (11) selon la revendication 1 ; - un couvercle (12) amovible par rapport au dispositif de test (11) ; - une base (13) adaptée à collaborer avec le dispositif de test (11) et le couvercle (12) ; le dispositif de test (11), le couvercle (12) et la base (13) étant tels qu’une force soit appliquée sur ladite au moins une puce électronique (P) lorsque la base (13) collabore avec le dispositif de test (11) et le couvercle (12). Procédé de test de puces électroniques (P) comprenant : - agencer au moins une puce électronique (P) à tester, comprenant des éléments de contact (P1), dans au moins un logement (110) défini entre une première partie (11a) et une deuxième partie (11b) d’un dispositif de test (11), les première et deuxième parties (11a, 11b) étant amovibles l’une par rapport à l’autre, ledit au moins un logement (110) comprenant une première portion (110a), appartenant à la première partie (11a), et dotée d’au moins une première ouverture (11e) apte à être traversée par au moins un contacteur électrique (13a) externe au dispositif de test (11) ; - réaliser un premier test (202) de ladite puce électronique (P) avec ladite puce électronique (P) dans une première position (Pa) dans ledit logement (110), la première position (Pa) étant telle qu’une première face de ladite puce électronique (P), comprenant les éléments de contact (P1), soit éloignée de la première portion (110a) ; et - réaliser un deuxième test (203) électrique de ladite puce électronique (P) avec ladite puce électronique (P) dans une deuxième position (Pb) dans ledit logement (110), la deuxième position (Pb) étant telle que la première face de ladite puce électronique (P) soit en appui sur la première portion (110a) dudit au moins un logement (110). Dispositif selon la revendication 1 dans lequel : la deuxième position (Pb) de ladite au moins une puce électronique (P) est obtenue lorsque le dispositif de test (11) est dans une première orientation dans laquelle une face externe de la première partie (11a) du dispositif de test (11) est orientée vers le bas, la face externe comprenant ladite au moins une ouverture (11e) ; et la première position (Pa) est obtenue lorsque la face externe de la première partie (11a) du dispositif de test (11) est orientée vers le haut. Dispositif selon la revendication 1 ou 4, dans lequel, dans la première position (Pa), la première face (Pc) de ladite au moins une puce électronique (P) est éloignée de la première portion (110a) d’une distance (D1) supérieure à 100 micromètres. Dispositif selon l’une quelconque des revendications 1, 4 à 5, dans lequel la première portion (110a) est en forme de grille (11f) comprenant plusieurs desdites premières ouvertures (11e). Dispositif selon l’une quelconque des revendications 1, 4 à 6, dans lequel la première et la deuxième partie (11a, 11b) du dispositif de test (11) sont adaptées à être fixées ensemble avec au moins un organe de fixation (11h). Dispositif selon l’une quelconque des revendications 1, 4 à 7, dans lequel le dispositif de test (11) est formé dans un matériau restant dans un état solide à 250°C, par exemple choisi parmi un métal, un alliage métallique, un oxyde, un fluoropolymère, un polyimide et un polyamide. Système (100) selon la revendication 2, dans lequel le couvercle (12) comprend au moins un ergot (12a) appliquant ladite force à travers au moins une deuxième ouverture (11c), formée dans une deuxième portion (110b) comprise dans ledit au moins un logement (110), appartenant à la deuxième partie (11b) du dispositif de test (11), lorsque la base (13) collabore avec le dispositif de test (11) et le couvercle (12). Système (100) selon la revendication 2 ou 9, dans lequel la base (13) ou le couvercle (12) comprend des bras pivotants aptes à s’engager respectivement avec le couvercle (12) ou la base (13) lorsque ladite base (13) collabore avec le dispositif de test (11) et le couvercle (12). Système (100) selon l’une quelconque des revendications 2, 9 à 10, comprenant en outre : un circuit imprimé (20), sur lequel la base (13) est positionnée (20) ; et un circuit de commande de test (21) couplé à au moins un contacteur électrique (13a) de la base (13) par l’intermédiaire dudit circuit imprimé. Procédé selon la revendication 3, dans lequel le deuxième test (203) comprend : - fournir un couvercle (12) amovible par rapport au dispositif de test (11) ; - fournir une base (13), adaptée à collaborer de façon amovible avec le dispositif de test (11) et le couvercle (12) ; - appliquer une force sur ladite au moins une puce électronique (P) en faisant collaborer ladite base (13) avec le dispositif de test (11) et le couvercle (12). Procédé selon la revendication 3 ou 12 dans lequel le premier test (202) comprend l’application d’une température supérieure à 250°C. Procédé selon l’une quelconque des revendications 3, 12 et 13 dans lequel le premier test (202) comprend l’application d’un taux d’humidité supérieur à 60%.