Dispositif de mesure (1) de réfractométrie pour la mesure d’une valeur relative à l’indice de réfraction d’un milieu à mesurer (M), le dispositif de mesure (1) étant apte à fournir une valeur à l’indice de réfraction sur une plage d’indices de réfraction donnée, le dispositif de mesure (1) comprenant : - au moins une source (10) de rayonnements électromagnétiques configurée pour émettre un faisceau de lumière (F) comprenant une pluralité de rayons, - au moins un système optique (20) présentant une face d’entrée (21) agencée pour recevoir le faisceau de lumière et permettre son introduction, au moins partielle, dans le système optique (20), et au moins une première surface de mesure (22, 22A, 22B) destinée à être mise en contact avec le milieu à mesurer, la première surface de mesure (22, 22A, 22B) étant agencée de telle manière à intercepter au moins en partie le faisceau de lumière après son introduction dans le système optique (20) par la face d’entrée (21) et que la partie des rayons du faisceau de lumière formant un angle avec la normale à la première surface de mesure (22, 22A, 22B) supérieur à un angle de réflexion totale système optique/milieu à mesurer subisse une réflexion totale sur ladite première surface de mesure (22, 22A, 22B ), le système optique (20) présentant en outre une face de sortie (23) par laquelle la partie des rayons du faisceau de lumière ayant subie une réflexion totale sur la première surface de mesure (22, 22A, 22B) est destinée à être au moins partiellement extraite du système optique (20), - au moins un détecteur optique (30) configuré pour recevoir la partie du faisceau de lumière extraite du système optique (20) par sa face de sortie (23), le détecteur optique (30) étant adapté pour fournir des signaux représentatifs de la répartition angulaire du faisceau de lumière en sortie de face de sortie, dans lequel, pour la plage d’indices de réfraction donnée il est défini un angle limite maximal, correspondant à une borne haute de la plage d’indices de réfraction donnée, et un angle limite minimal correspondant à une borne inférieure à la plage d’indices de réfraction donnée, Le dispositif de mesure (1) étant caractérisé en ce qu e le système optique (20) comprend, au niveau d’une surface autre que la première surface de mesure (22, 22A), au moins une bande de référence angulaire (25A, 25B, 26A, 26B, 27) configurée pour : - qu’une première portion des rayons du faisceau de lumière (F) qui est destinée à présenter, vis-à-vis de la première surface de mesure (22, 22A) et en l’absence d’une telle au moins une bande de référence angulaire (25A, 25B, 26A, 26B), un angle avec la normale à la première surface de mesure (22, 22A) strictement supérieur à l’angle limite maximal, subisse, en interceptant l’au moins une bande de référence angulaire (25A, 25B, 26A, 26B), une réflexion totale ou une réfraction de telle manière à ne pas être transmise à la face de sortie (23), et/ou - qu’une deuxième portion des rayons de faisceau de lumière (F) qui est destinée à présenter, vis-à-vis de la première surface de mesure (22, 22A) un angle avec la normale à la première surface de mesure (22, 22A) strictement inférieur à l’angle limite minimal, subisse, en interceptant l’au moins une bande de référence angulaire (27), une réflexion totale, de telle manière à être transmise à la face de sortie (23). Dispositif de mesure (1) selon la revendication 1, dans lequel l’au moins une bande de référence angulaire (25A, 25B) est configurée pour qu’une première portion des rayons du faisceau de lumière (F) qui est destinée à présenter, vis-à-vis de la première surface de mesure (22, 22A) et en l’absence d’une telle au moins une bande de référence angulaire (25A, 25B, 26A, 26B), un angle avec la normale à la première surface de mesure (22, 22A) strictement supérieur à l’angle limite maximal, subisse, en interceptant l’au moins une bande de référence angulaire, une réfraction, de telle manière à ne pas être transmise à la face de sortie (23) et dans lequel l’au moins une bande de référence angulaire (25A, 25B) également configurée pour qu’une troisième portion des rayons du faisceau de lumière (F) qui est destinée à présenter, vis-à-vis de la première surface de mesure (22, 22A), un angle avec la normale à la première surface de mesure (22, 22A) strictement supérieur à l’angle réalisé par la première portion des rayons du faisceau de lumière (F), subisse, en interceptant l’au moins une bande de référence angulaire, une réflexion totale de telle manière être transmise à la face de sortie (23). Dispositif de mesure (1) selon la revendication 1 ou 2 dans lequel l’au moins une bande de référence angulaire (26A, 26B) est configurée pour qu’une première portion des rayons du faisceau de lumière (F) qui est destinée à présenter, vis-à-vis de la première surface de mesure (22, 22A) et en l’absence d’une telle au moins une bande de référence angulaire (26A, 26B), un angle avec la normale à la première surface de mesure (22, 22A) strictement supérieur à l’angle limite maximal, subisse, en interceptant l’au moins bande de référence angulaire (26A, 26B), une réflexion totale de telle manière à ne pas être transmise à la face de sortie (23). Dispositif de mesure (1) selon l’une quelconque des revendications 1 à 3, dans lequel le système optique (20) présente en outre une deuxième surface de mesure (22B) destinée à être mise en contact avec le milieu à mesurer, la deuxième surface de mesure (22B) étant agencée de telle manière à intercepter la partie du faisceau de lumière ayant subie une réflexion totale sur la première surface de mesure (22A) et que la partie des rayons du faisceau de lumière formant un angle avec la normale à la deuxième surface de mesure (22B) supérieur à un angle de réflexion totale système optique/milieu à mesurer subisse une réflexion totale sur ladite deuxième surface de mesure (22B), la face de sortie étant agencée pour que la partie du faisceau de lumière ayant subie une réflexion totale sur la première et la deuxième surface de mesure (22, 22A, 22B) soit au moins en partie extraite du système optique (20) par la face de sortie (23). Dispositif de mesure (1) selon l’une quelconque des revendications 1 à 4, dans lequel l’au moins une bande de référence angulaire (25B) comprend l’un parmi un revêtement optique et une surface dépourvue de contact avec le milieu à mesurer agencé au niveau d’une surface du système optique prolongeant la première surface de mesure (22, 22A) et présentant un indice de réfraction en dehors de la plage d’indices de réfraction donnée, le revêtement optique ou la surface dépourvue de contact avec le milieu à mesurer étant agencé pour intercepter la partie de rayons lorsque le faisceau de lumière est partiellement intercepté par la première surface de mesure (22A). Dispositif de mesure (1) selon l’une quelconque des revendications 1 à 5, dans lequel le système optique (20) comprend au moins une face de réflexion (24) destinée à réfléchir le faisceau de lumière (F), l’au moins une bande de référence angulaire (25A, 26A) étant agencée sur ladite face de réflexion (24), ladite bande de référence angulaire comprenant préférentiellement un revêtement de la face optique agencée sur ladite face de réflexion (24). Dispositif de mesure (1) selon l’une quelconque des revendications 1 à 6, dans lequel le système optique (20) comprend au moins deux composants (20A, 20B, 30C) distincts l’un de l’autre, la bande de référence angulaire (26A, 26B) étant agencée à une interface entre lesdits composants (20A, 20B, 20C) Dispositif de mesure (1) selon l’une quelconque des revendications 1 à 7 dans lequel le système optique (20) comprend un prisme d’entrée (20A) comprenant la face d’entrée (21), une lame optique (20B) présentant la surface de mesure (22A, 22B), et un prisme de sortie (20C) comprenant la face de sortie (23), le prisme d’entrée (20A) et le prisme de sortie (21B) étant fixée à la lame optique (20B) sur une face de cette dernière opposée à la surface de mesure (22A, 22B). Dispositif de mesure (1) selon l’une quelconque des revendications 1 à 8, dans lequel le système optique comprend l’un parmi un prisme à base triangulaire, un prisme à base trapézoïdale et un prisme dont la base est un parallélogramme. Procédé d’étalonnage d’un dispositif de mesure selon l’une quelconque des revendications 1 à 9 comprenant les étapes suivantes : - émission par la source de lumière (10) du faisceau de lumière (F), - récupération des signaux représentatifs de la répartition spatiale angulaire du faisceau de lumière (F) en sortie de face de sortie fournie par le détecteur optique (30), - identification, à partir des signaux représentatifs, d’au moins une valeur angulaire de référence correspondant à la première portion des rayons du faisceau de lumière (F) et/ou à la deuxième portion des rayons du faisceau de lumière (F), en fonction de la configuration de l’au moins une bande de référence angulaire (25A, 25B, 26A, 26B, 27), voire à la troisième portion de faisceau de lumière (F) lorsque le dispositif de mesure est un dispositif selon la revendication 2, - identification à partir des signaux représentatifs, d’au moins une valeur angulaire de mesure correspondant à l’angle de réflexion totale dioptre/milieu à mesurer, - calcul d’une valeur relative à l’indice de réfraction d’un milieu à mesurer (M) étalonné à partir de la valeur angulaire de mesure et d’une correction déterminée à partir de la valeur angulaire de référence. Unité de traitement pour un dispositif de mesure selon l’une quelconque des revendications 1 à 9, l’unité de traitement étant configurée pour commander la source de lumière afin d’émettre le faisceau de lumière et pour récupérer les signaux représentatifs de la répartition spatiale angulaire du faisceau de lumière en sortie de face de sortie fournie par le détecteur optique, L’unité de traitement étant en outre configurée pour : - identifier, à partir des signaux représentatifs, au moins une valeur angulaire de référence correspondant à la première portion des rayons du faisceau de lumière (F) et/ou à la deuxième portion en fonction de la configuration de l’au moins une bande de référence angulaire (25A, 25B, 26A, 26B, 27), voire à l’éventuelle troisième portion des rayons du faisceau de lumière (F) lorsque le dispositif de mesure est un dispositif selon la revendication 2, - identifier à partir des signaux représentatifs, au moins une valeur angulaire de mesure correspondant à l’angle de réflexion totale dioptre/milieu à mesurer, - calculer une valeur relative à l’indice de réfraction d’un milieu à mesurer (M) étalonné à partir de la valeur angulaire de mesure et d’une correction déterminée à partir de la valeur angulaire de référence.