INPI-France/Brevets-Francais-2024-Chunked huggingface dataset:
La présente invention a également pour objet un dispositif d'alignement passif d'au moins un premier support et d'au moins un deuxième support, ce dispositif étant caractérisé en ce que le premier support comprend au moins trois premiers trous formés à partir d'une première face de ce premier support et le deuxième support comprend au moins trois deuxièmes trous formés à partir d'une première face de ce deuxième support, ces deuxièmes trous étant aptes à se trouver en regard des premiers trous lorsque les premières faces des premier et deuxième supports sont placées en regard l'une de l'autre, les premiers trous étant destinés à recevoir des billes permettant l'assemblage des premier et deuxième supports en plaçant les deuxièmes trous sur les billes qui se trouvent sur les premiers trous correspondant respectivement à ces deuxième trous, la taille de chaque bille étant supérieure à la taille du premier trou correspondant à cette bille et à la taille du deuxième trou correspondant à ce premier trou, et les tailles des premiers et deuxièmes trous et/ou les tailles des billes étant choisies pour obtenir un angle prédéfini, positif ou nul, entre les premières faces des premier et deuxième supports assemblés.
Selon un mode de réalisation particulier du dispositif objet de l'invention, le premier support comporte au moins un premier composant optique et le deuxième support comporte au moins un deuxième
composant optique apte à se trouver en regard du premier composant optique lorsque les deuxièmes trous se trouvent en regard des premiers trous, le dispositif permettant ainsi l'alignement passif du premier composant optique et du deuxième composant optique.
BRÈVE DESCRIPTION DES DESSINS La présente invention sera mieux comprise à la lecture de la description d'exemples de réalisation donnés ci-après, à titre purement indicatif et nullement limitatif, en faisant référence aux dessins annexés sur lesquels : 'la figure 1 est une vue en coupe schématique d'un mode de réalisation particulier du dispositif objet de l'invention, 'la figure 2 illustre schématiquement un mode de mise en oeuvre particulier du procédé objet de l'invention, 'la figure 3 est une vue schématique d'une bille que l'on place dans un trou formé dans un support pour la mise en oeuvre d'un procédé conforme à l'invention, 'la figure 4 est une vue de dessus schématique d'un support pourvu de trois trous, pour la mise en oeuvre d'un procédé conforme à l'invention, 'la figure 5 est une vue de dessus schématique d'un autre support pourvu de plus de trois trous, pour la mise en oeuvre d'un autre procédé conforme à l'invention, et 'la figure 6 est une vue en coupe schématique d'un autre mode de réalisation particulier du dispositif
objet de l'invention, permettant l'alignement d'une ou d'une pluralité de fibres optiques et d'un ou d'une pluralité d'émetteurs ou de détecteurs de lumière.
Selon une autre caractéristique la carte affecte et stocke un numéro d'ordre au certificat enregistre.
Selon une autre caractéristique, les échanges entre la carte et le tiers de confiance, sont chiffrés par des clés de session.
Avantageusement, le tiers de confiance est un équipement informatique de type serveur relié à un lecteur de carte à puce apte à recevoir la carte à puce de l'auteur du document.
Les documents électroniques peuvent se présenter sous forme de fichiers textes ou d'images multimédia ou de bons de commandes. invention a également pour objet un procédé de vérification de la paternité d'un document électronique pour lequel l'enregistrement de la paternité a été réalisé selon l'une quelconque des revendications précédentes, principalement caractérisé en ce que cette vérification est réalisée par une autorité, ladite vérification comprenant les fonctions suivantes envoi du document électronique et du certificat dudit document, par la carte à l'autorité, - déchiffrement du certificat par l'autorité - calcul par l'autorité de la signature du document et comparaison avec la signature obtenue par le déchiffrement.
L'invention s'applique à une carte à puce, un microcircuit apte à à fournir la preuve de la paternité d'un document électronique selon le procédé de l'invention.
L'invention concerne une carte à puce type comprenant des moyens pour traiter par une fonction de hachage un document électronique, des moyens pour recevoir d'un serveur distant une information date et des moyens pour mémoriser une information représentative, d'une part, de la dite information de date et d'autre part, du document électronique traité par la dite fonction de hachage. D'autres particularités et avantages de la presente invention apparaîtront au cours de la description qui suit, donnée à titre d'exemple illustratif et non limitatif, et faite en réference aux figures annexées sur lesquelles: - la figure 1, représente le schéma de principe d'une carte à puce, - la figure 2, représente le schéma d'un système informatique comprenant une carte à puce et un serveur pour la mise en couvre du procédé. Les principes du procédé sont illustrés sur un exemple faisant intervenir entités suivantes F - l'auteur d'un document électronique, D - le document électronique, R - le recopieur du document électronique, CA - la carte à puce de l'auteur. Cette carte à puce est dite de confiance car elle est délivrée par une autorité.
A - l'autorité arbitrant les conflits, S- un tiers de confiance apte à fournir une date certaine (jour/mois/année + heure GMT).
La suite de la description les fonctions de chiffrement utilisées sont notées de la manière suivante pour simplifier le propos et de manière à exprimer qu'il peut s'agir tout aussi bien d'algorithmes de cryptographie à clé secrète que d'algorithmes à clé publique: m' = [m] k la fonction chiffrement d'un message m avec une clé k ; m=[m']k-1 la fonction de déchiffrement d'un cryptogramme m' avec la cle k-1 ; h= Hash(m) la fonction de condensation à sens unique (hachage) d'un message m en un résumé h.
On rappelle qu'une fonction de hachage (flash) est un fonction de traitement logique de chaînes binaires, qui permet d'obtenir une chaîne de caractères de longueur déterminée à partir d'une autre chaîne de caractères de même longueur ou de longueur différente rappelle qu'un support de type carte à puce CA telle que représentée sur la figure 1 comporte un microcircuit MC comprenant une unité principale de traitement CPU reliée par un ou plusieurs bus B à mémoires dont au moins une mémoire de programme non volatile Ml, une mémoire électriquement programmable M2 et mémoire de travail M3. La carte à puce comporte en outre une interface d'entrée sortie pour communiquer avec l'extérieur. Cette interface est dans le cas d'une carte à puce à contact comme illustré sur cette figure un bornier CN de plages de contacts On peut pour mieux comprendre la suite se reporter au schéma de la figure 2.
Un auteur F d'un document D a à sa disposition un équipement informatique Eq illustré à titre d'exemple par un ordinateur O relié à un lecteur L de carte à puce externe (il pourrait s'agir bien sûr d'un ordinateur dans lequel le lecteur est intégré) et à un serveur S. L'équipement informatique Eq est rel " au serveur S soit directement soit par un réseau local soit par un réseau de télécommunications. Les connexions à un réseau sont symbolisées par deux traits parallèles sur le schéma. Cet équipement Eq peut avoir aussi un accès à un équipement informatique autorité A (qui porte la référence A de l'autorité). Comme on l'a vu, le principe de l'invention consiste à obtenir la signature d'un document effectuant un condensé de ce document par une fonction de condensation à sens unique.
La signature est générée par la carte CA personnelle de l'auteur à l'aide d'une fonction de hachage appliquée au document. Cette signature peut être stockée dans la carte avec une date certaine DA.
date certaine DA sera de préférence fournie à la carte à puce de façon sécurisée par un tiers de confiance c'est à dire selon l'exemple par le serveur S. Ainsi, le serveur (tiers de confiance) pourra dater chaque signature de document au moment de leur enregistrement dans la carte.
signature et la date stockées dans la carte personnelle de l'auteur fournissent la preuve de la paternité du document par l'auteur à cette date.
va décrire dans la suite un mode préféré de réalisation consistant à enregistrer un certificat C de paternité d'un document électronique D sur la carte CA de l'auteur F du document. Ce certificat C peut ensuite être utilisé pour régler les situations de conflits en cas d'utilisation illégale d'une copie de ce document, a cette fin l'auteur pourra faire appel à autorité A qui sera en mesure de procéder à une vérification comme cela sera décrit par la suite.
Bien entendu l'auteur aura pris soin conserver son document original par exemple en le sauvegardant sur un support électronique (disque, ou disquette) afin de pouvoir par la suite attester que certificat enregistré sur la carte correspond au document original qu'il a conservé.
Chaque auteur possède une carte à puce (telle que schématisée sur la figure 1) qui lui est délivrée par une autorité. La carte comporte un ou programmes aptes à mettre en #uvre les fonctions suivantes Une fonction F1 : la vérification du numéro d'identification personnelle (code PIN l'auteur du document) connu uniquement de son propriétaire (similaire au code PIN d'une carte de crédit). Une fonction F2 : l'écriture d'un hachage d'un document electronique, qui ne sera exécutée qu'après succès de la fonction de vérification F1.
peut écrire alors X, {x, {U G(F(X, )) X1 étant l'ensemble des données potentiellement affectées par erreur sur xi, après application, au moins une fois, de chacune des fonctions consommant la donnee xi.
On définit de même X, = X, U G(F(X, )) l'ensemble X= des données potentiellement affectees après que toutes les fonctions consommant xi soient appliquées au moins deux fois.
On tire de ce qui précède la suite récurrente d'ensembles de données (X., ... Xn, Xn+i...) telle que Xo = { xi } et X., X,, U G(F(X,,)) où - est l'ensemble des données touchées par erreur la donnée (xi) après n applications des fonctions consommant (xi), - F(Xn) est l'ensemble des fonctions qui prennent en argument au moins une donnée de l'ensemble et - (F(Xn)) l'ensemble des données de sortie des fonctions de l'ensemble F(Xn).
appelle X,-, la limite quand n tend vers de la suite Xn, X,, désignant ainsi l'ensemble des données potentiellement affectées par une erreur sur xi F(X.C) l'ensemble des fonctions potentiellement affectees par cette erreur.
I1 faut évidemment s'assurer de l'existence X,,, et de ce que l'ensemble trouvé G(F(X,,,)) de données est un sous-ensemble propre de X,,,,. le premier point il est clair que X,, ç X",1. Par ailleurs, X" étant inclus dans l'ensemble des données de l'ensemble de systèmes électroniques, il existe un indice N pour lequel XN+1 = XN.
s'ensuit que XN+2 G(F(XA,-, )) = X#, U G(F(Xh,) X@,+, - X, I1 en résulte, par récurrence, que Xcl = XN, qui démontre l'existence de X,,.
Sur le deuxième point, puisque X,,+,=XN UG(F(X,)), on tire, substituant X,, à XN+1 et XN X, X. UG(F(X.)) lecture de cette égalité de la droite vers la gauche fait apparaître que tout élément de G(F j appartient à X,,, et donc que G (F X,,,) ) est un sous-ensemble propre de X..
Ayant ainsi établi la composition de l'ensemble données X., on identifie dans cet ensemble de données celles qui affectent la sûreté de fonctionnement de l'ensemble de systèmes électroniques étudié, et qui appellent la mise en place de mesures correctives touchant soit xi, soit les données touchées par la propagation de l'erreur sur xi.
L'ensemble X,, ainsi trouvé peut être très important, beaucoup plus que l'observation des réactions effectives de l'ensemble de systèmes électroniques, à une erreur sur une donnée x; particulière, ne peut le laisser prévoir. La raison en est que l'impact de certaines variables d'une fonction peut être mineur, par exemple d'un ordre de grandeur inférieur à celui d'autres variables de cette fonction. Suivant la présente invention, peut alors réduire l'importance de l'ensemble de donnees Xc à étudier du point de vue de la sûreté de fonctionnement de l'ensemble de systèmes électroniques, en affinant la requête G(F(Xn)). Pour ce faire on définit celle-ci comme recherche de l'ensemble des sorties des fonctions de l'ensemble F(X,) qui sont sensiblement affectées par une erreur sur les données de l'ensemble Pour s'assurer qu'aucune erreur détectable sur une donnée ne peut affecter une fonction critique, on utilise l'algorithme de recherche impact d'erreur non détectée pour toutes les données produites par des fonctions mineures, c'est-à-dire l'appliquant à l'ensemble Xm de toutes ces données. Ceci revient à écrire Xo=Xr", et à réutiliser l'algorithme defini précédemment. I1 suffit alors de vérifier que F ne contient aucune fonction critique.
Algorithme de recherche de l'impact d'une erreur détectée par l'ensemble de systèmes électroniques Pour certaines fonctions exécutées par des systèmes de cet ensemble, lorsqu'une des donnees variables xi de la fonction est affectée d'une erreur, il y a remplacement de cette fonction f par une autre fonction f' dite "dégradée", conçue pour pallier le fait que xi est en erreur. Ce fait peut être signalé par la valeur même prise par xi, ou par un bit d'état associé à x;.
L'ensemble des variables d'entrée de la fonction f' est différent de celui de la fonction f. Les variables de sortie de f' sont, au moins pour certaines, évidemment affectées par la non disponibilité de la variable xi en erreur. Le niveau de qualité de ces sorties peut ressortir de la valeur qui leur est donnée, ou bits d'état. C'est ainsi que l'impact de l'erreur sur peut être limité à une baisse de précision sur certaines des sorties de la fonction f', plutôt qu'à une perte totale de sortie. On reprend alors l'algorithme de recherche d'impact décrit ci-dessus en cas d'erreur non détectée, en remplaçant la fonction f par la fonction "dégradée" f'. La requête F doit maintenant prendre en compte la ou les fonctions dégradées et la requête G doit intégrer le fait que certaines des sorties de ces fonctions dégradées ne sont plus fournies à leur meilleur niveau de précision.
On se réfere maintenant à la figure 2 du dessin annexé pour décrire les différents objets de la base de données sur laquelle sont formulées les requêtes définies ci-dessus. Cette base contient - une table A "fonctions" qui contient toutes les fonctions l'ensemble de systèmes électroniques, correspondant à une situation normale ou dégradée. Pour chaque fonction, la table comprend outre les éléments d'identification Fonction Id et Nom Fonction, son niveau de criticité. La fonction peut ainsi en allant au plus simple, être caractérisée comme étant "critique" ou "non critique".
- une table "données", définissant les différentes données échangées par les fonctions, par liaison filaire ou, comme décrit en préambule de la présente description, par liaison multiplexée. La table contient éléments d'identification de chaque donnée.
- Une table C "liens-fonctions-données" qui définit les liens entre données et fonctions. Chaque élément de la table un quadruplet (fonction f, donnée xi, indicateur ' produite/consommée, mode m).
Si i indique "produite", f produit la donnée xi dans le mode m. Si i indique "consommée", f consomme la donnée xi dans le mode m.
Si la fonction f ne correspond ni à un mode dégradé ni à un mode transitoire (lié à une phase de fonctionnement particulière, d'initialisation par exemple), mode m sera "normal" pour toutes les données produites consommées par f.
DESCRIPTION DE MODES DE RÉALISATION ILLUSTRATIFS Bien que l'invention soit susceptible de diverses modifications et formes alternatives, son mode de réalisation spécifique a été présenté au moyen d'un exemple sur les dessins et il sera décrit en détail. Il doit cependant être bien entendu que ce mode de réalisation n'est pas destiné à limiter l'invention à la forme particulière décrite mais qu'à l'opposé, le but est de couvrir toutes les modifications, tous les équivalents et toutes les alternatives qui tombent dans l'esprit et le cadre de l'invention telle que définie par les revendications annexées.
Par report maintenant aux dessins et initialement à la figure 1, est représenté sous forme de schéma fonctionnel un système de détecteur de défaillance électrique conformément à l'invention et lequel est désigné de façon générale au moyen d'un index de référence 10.
Dans l'exemple illustratif, le système de détection de défaillance 10 est associé à un circuit électrique tel qu'un circuit de 120 volts alternatif 12 qui doit être surveillé quant à des défaillances. Bien entendu, l'invention n'est pas limitée à une utilisation avec un circuit de 120 volts alternatif.
Au moins un capteur 16 est prévu en association avec le circuit de 120 volts alternatif 12 pour produire un signal représentatif d'une condition de signal telle qu'une puissance, une tension ou un courant dans le circuit de 120 volts alternatif 12. Selon le mode de réalisation illustré, un capteur 16 de ce type comprend un capteur de taux de variation de courant (di/dt). Un conducteur de ligne 14 du circuit de 120
volts alternatif 12 passe au travers du capteur de taux de variation de courant (di/dt) 16, lequel produit un signal qui est représentatif du taux de variation de la circulation de courant dans le conducteur de ligne 14.
Dans le mode de réalisation illustré, le conducteur de ligne 14 et un conducteur de neutre 18 du circuit de 120 volts alternatif 12 passent au travers d'un capteur de défaillance de masse 20 qui est sensible au courant qui circule au travers des côtés de ligne et de neutre du circuit 12 pour produire un signal de sortie sur un conducteur 22. Si les circulations de courant au travers des conducteurs de ligne et de neutre sont différentes, ceci est indicatif d'une défaillance de masse.
De préférence, le capteur de di/dt 16 et le capteur de défaillance de masse 20 comprennent chacun une bobine toroïdale comportant une âme annulaire qui entoure les conducteurs pertinents, une bobine de détection toroïdale étant enroulée en hélice sur l'âme. Dans le capteur 16, l'âme peut être réalisée en un matériau magnétique tel que de la ferrite, du fer ou une poudre perméable moulée de telle sorte que le capteur puisse répondre à des variations rapides du flux. Un espace d'air ou entrefer peut être découpé dans l'âme dans certains cas afin de réduire la perméabilité et le matériau de l'âme est tel qu'il ne se sature pas pendant le courant relativement élevé produit par certaines formes de formation d'arc de telle sorte qu'une détection d'arc soit toujours possible. Les exigences particulières pour la construction de la bobine toroïdale et de l'âme pour le capteur de défaillance de masse 20 peuvent différer quelque peu selon qu'il s'agisse du capteur de di/dt 16 tel que des capteurs de défaillance de masse ou de transformateurs qui sont de façon générale connus de l'art.
Pendant le fonctionnement, le courant dans le circuit surveillé 12 génère un champ qui induit une tension dans le capteur de di/dt 16.
La sortie de tension du capteur 16 est essentiellement proportionnelle au taux de variation instantané du courant. L'étalonnage du capteur 16 peut être choisi de manière à produire un signal dans une plage et un spectre de fréquences dans lesquels des arcs peuvent être le plus aisément distingués des charges. Cette plage et ce spectre peuvent varier en fonction de l'application.
Le capteur de di/dt 16 applique une entrée sur un circuit de détecteur de défaillance par formation d'arc 24 qui est de préférence un circuit de détecteur de bruit large bande et sur un circuit de détecteur de défaillance de courant 26 qui est de préférence un circuit de mesure de courant. Le capteur de défaillance de masse 20 applique une entrée via un conducteur 22 sur un circuit de détecteur de défaillance de masse 28. Dans le mode de réalisation illustré, tous les composants du circuit de détecteur de défaillance par formation d'arc 24, du circuit de détecteur de courant 26 et du circuit de détecteur de défaillance de masse 28 de même que certains autres composants de circuit qui seront décrits ultérieurement sont constitués sur un circuit intégré spécifique d'application (ASIC) 30. Des signaux de sortie appropriés en provenance de l'ASIC 30 sont appliqués sur un microcontrôleur 40 qui, sur la base d'une analyse et d'un traitement ensuite des signaux produits par l'ASIC 30, prend une décision consistant à déterminer si oui ou non il convient d'envoyer un signal de déclenchement sur une sortie 42 pour activer un circuit de déclenchement 44 qui a pour effet de commuter le conducteur de côté de ligne 14 du circuit de 120 volts alternatif 12 dans une condition de circuit ouvert comme indiqué schématiquement sur la figure 1 ou consistant à déterminer si oui ou non il convient de permettre au côté de ligne 14 du circuit 12 de rester connecté à une charge 50.
Une alimentation de mode double 400 est connectée à la ligne d'alimentation entre le circuit de déclenchement 44 et le capteur de défaillance de masse 20 pour permettre au système 10 d'être mis sous tension rapidement et de détecter des défaillances en un temps court après que de l'énergie est appliquée sur le système 10, par exemple après que le système de détection de défaillance 10 est réenclenché.
L'alimentation de mode double 400 continue à recevoir de l'énergie en provenance du circuit 12 sans dissiper une chaleur excessive tandis que de l'énergie est en train d'être appliquée sur le système 10.
Un exemple d'une alimentation de mode double 400 utilisée pour alimenter le système de détecteur de défaillance 10 est représenté sur la figure 2. Cependant, la présente invention n'est pas
limitée à l'alimentation de mode double particulière présentée. Dans un premier mode haute puissance, l'alimentation de mode double 400 est mise sous tension très rapidement et est de façon inhérente inefficiente, en consommant de l'énergie à un niveau relativement élevé. Le second mode de l'alimentation de mode double 400 est beaucoup plus efficient, du fait qu'il réalise une mise sous tension davantage lentement que le premier mode. Initialement, l'alimentation de mode double 400 est établie dans le premier mode. Après que le second mode a atteint un état de régime établi, l'alimentation de mode double 400 est commutée dans le second mode et coupe le premier mode.
Au niveau de l'entrée de l'alimentation de mode double 400, un pont de diodes redresse le courant alternatif qui est appliqué depuis la source d'alimentation 12. Des résistances parallèles 404,406 qui sont connectées à la broche positive 408 du pont 402 font chuter la tension d'alimentation et limitent le courant d'alimentation. Le courant d'alimentation passe au travers d'une résistance 410 et d'un transistor PNP 412 (lorsque ce transistor est rendu passant ou activé) afin de charger un condensateur 420. La charge sur le condensateur détermine la tension sur l'entrée 418 pour un régulateur de tension 414 et la sortie de ce régulateur 414 sur un conducteur 424 est la tension de sortie +V (typiquement +5 volts continu) de l'alimentation. La tension d'entrée sur la ligne 418 est régulée par une diode Zener 416 afin d'empêcher une surtension. Le condensateur d'entrée 420 filtre également une ondulation de la tension au niveau de l'entrée 418 et un condensateur de sortie 422 filtre une ondulation de la tension au niveau de la sortie 424.
Lorsque le circuit d'alimentation commence à recevoir un courant d'alimentation, par exemple à la suite d'un déclenchement et d'un réenclenchement du disjoncteur, le transistor 412 est rendu passant ou activé du fait que sa base est connectée à une masse par l'intermédiaire d'un transistor NPN 426. Le transistor 412 est initialement activé ou dans l'état passant du fait que sa base est maintenue à un niveau bas par un second transistor NPN 426 qui est
la lampe-ville dans la conception du projecteur.
Avantageusement, la deuxième lampe s'étend dans
une cavité du réflecteur.
Avantageusement, la deuxième lampe est apte à
assurer une fonction de signalisation.
assurer une fonction de signalisation urbaine.
assurer une fonction d'éclairage.
assurer une fonction d'éclairage infrarouge.