INPI-France/Brevets-Francais-2024-Chunked huggingface dataset:
Ainsi dans un appareil servant à tester des circuits, qui teste la fonctionnalité de circuits intégrés par l'intermédiaire d'un nombre limité de bornes, on a de plus en plus de difficultés à atteindre de façon adéquate le nombre important de permutations d'états et de transitions prévues pour une intégration accrue. Il en résulte que des circuits intégrés modernes sont équipés de façon typique d'éléments logiques pouvant être explorés par balayage, de manière à faciliter le test. Un circuit intégré typique pouvant être exploré par balayage (ou scanné) inclut un ou plusieurs ensembles d'éléments de maintien d'états (registres) intercalés entre des composants du circuit et/ou entre des composants du circuit et des broches d'entrée/sortie. Pendant un fonctionnement normal, les éléments de maintien d'état sont transparents pour ou incorporés en tant que parties de la fonctionnalité du circuit intégré ; dans le mode de test, ils peuvent être configurés sous la forme d'un registre à décalage série ou d'une"chaîne de : balayage" de façon typique au moyen de la liaison de la sortie d'un élément de maintien d'état à l'entrée d'un autre. La"chaîne de balayage" permet de transférer en série des données de test de balayage dans et hors des éléments de maintien d'état par l'intermédiaire d'une ou de plusieurs bornes d'entrée/sortie, ce qui augmente les états pouvant être atteints par un appareil effectuant le test. Des chaînes de balayage disposées de façon stratégique permettent également à un appareil effectuant le test de cibler un ou plusieurs modules internes (par exemple un groupe fonctionnel de transistors peut effectuer un test individualisé ; dans ces situations, de façon typique seule une partie de la chaîne de balayage devant exécuter le test est remplie de données de balayage. Habituellement, le nombre et la longueur
v de chaînes de balayage peuvent varier pour chaque dispositif, mais de façon typique sont compris entre vingt et une centaine, et une longueur atteignant jusqu'à un millier ou plus d'éléments interconnectés de maintien d'état. De nombreux dispositifs comportant une seule chaîne de balayage ont été fabriqués.
Lors d'un test typique de circuits, un appareil effectuant le test applique des profils de signaux numériques aux broches d'un dispositif soumis au test ("DUT"). Le contenu, la séquence et le cadencement des profils de test sont indépendants de l'architecture du dispositif DUT particulier et sont produits de façon typique par le fabricant de dispositifs DUT avec le logiciel de conception des circuits intégrés utilisé pour désigner le dispositif DUT. Il existe deux types prédominants de profils de test utilisés dans l'art antérieur : profils de test de balayage et profils de test fonctionnels. Les profils de test de balayage sont des profils binaires utilisés pour tester des états sélectionnés dans une chaîne de balayage de dispositifs DUT ; des profils fonctionnels sont des profils binaires appliqués de façon typique en parallèle aux bornes d'entrée du dispositif DUT pour tester la fonctionnalité au niveau des bornes. Il existe trois types prédominants de profils de test de balayage dans l'art antérieur : un profil entré par balayage, un profil de sortie de balayage et un profil de masque de balayage. Le profil entré par balayage est la séquence de bits qui est transférée en série dans une chaîne de balayage pour configurer le circuit intégré en l'amenant dans un état de départ connu. Le profil de sortie de balayage est la séquence de bits contenant les états attendus dans une chaîne de balayage qui résulte du traitement du profil entrée par balayage du dispositif DUT. Le profil de masque de balayage est un profil binaire utilisé pour séparer par filtrage des états devant être ignorés dans un test particulier.
Les étapes dans une itération de test de balayage typique sont les suivantes : (1) l'appareil effectuant le test place le dispositif DUT dans un mode de test de balayage pour configurer la logique pouvant être scannée en une chaîne de balayage ; (2) l'appareil effectuant le test décale en série un profil entré par balayage dans la chaîne de balayage avec un signal d'horloge de balayage par l'intermédiaire d'une ou de plusieurs broches du dispositif DUT ; 3) l'appareil effectuant le test commute le dispositif DUT
sur un mode normal et applique un ou plusieurs signaux d'horloge du système au dispositif DUT en combinaison avec un ou plusieurs profils fonctionnels sur les broches d'entrée du dispositif DUT ; 4) le dispositif DUT traite les états de test dans la chaîne de balayage et les broches d'entrée ; 5) l'appareil effectuant le test teste les états présents sur les broches de sortie, puis commute en retour le dispositif DUT sur le mode de test de balayage ; 6) l'appareil effectuant le test délivre en série, de façon cadencée, les états de la chaîne de suites avec un signal d'horloge de balayage pour la comparaison à un profil de sortie de balayage contenant les résultats attendus, en ignorant des états tels qu'indiqués par le profil de masque de balayage ; et 7) l'appareil effectuant le test réalise un décalage en série dans un nouveau profil entré par balayage, avec la même horloge de balayage, et répète les étapes indiquées précédemment.
Dans l'art antérieur, une solution "monolithique" pour la mémorisation et le traitement de profils de balayage est une solution prédominante.
Dans cette solution, tous les profils de balayage utilisés dans une séquence de tests sont mémorisés, de façon typique, dans un ordre séquentiel dans un bloc contigu de la mémoire de l'appareil effectuant le test, en des longueurs de bits correspondant, du point de vue longueur, aux chaînes de balayage, en étant conçues pour peupler ces chaînes. Par conséquent l'appareil effectuant le test doit simplement connaître l'adresse de départ du bloc contigu de profils de balayage pour exécuter une séquence de tests de balayage sur un dispositif DUT, et des contrôleurs de données de balayage sont limités de façon typique dans la récupération de données, à un procédé direct, c'est-à-dire qu'ils sont capables uniquement de récupérer des mots de données selon une séquence monolithique. Il existe un certain nombre d'inconvénients dans cette solution. Tout d'abord, des dispositifs DUT testés modernes peuvent mettre en oeuvre des chaînes de balayage d'une longueur considérable lorsque seule une sous-section spécifique d'une chaîne de balayage requiert un peuplement pour un test particulier. Dans une solution monolithique, un bloc d'une mémoire de balayages correspondant à la longueur de la chaîne de balayage doit être peuplée indépendamment du fait que seule une partie de la chaîne de balayage doit être peuplée. Ceci crée un espace inutilisé ("espace mort") dans la mémoire avant et après la
r partie pertinente de données de balayage (l'espace mort est de façon typique rempli par des"données fictives"constituées par des blocs de zéros). L'espace mort est coûteux en raison des exigences élevées du point de vue mémoire d'un appareil effectuant les tests et des chaînes de balayages éventuellement étendues utilisées ; par exemple, des appareils modernes effectuant des tests peuvent utiliser quelques douzaines de broches participant à un test parmi plusieurs dizaines de milliers de profils de test faisant intervenir des chaînes de balayage avec une profondeur dépassant mille éléments de maintien d'état. En second lieu, les configurations de balayage particuliers peuvent être répétées. Dans la solution monolithique, lesdits profils de balayage particuliers doivent être écrits en mémoire chaque fois qu'ils apparaissent dans la séquence, ce qui crée la possibilité d'une redondance des données. Enfin, il est souvent souhaitable d'effectuer une nouvelle commande séquentielle de profils de balayage dans la nouvelle séquence de tests. Dans la solution monolithique, ceci manque d'un certain niveau d'adressage indirect, le nouveau séquencement requiert qu'une séquence de tests entièrement nouvelle soit créée et téléchargée en tant que bloc dans une partie contiguë de la mémoire. Ceci introduit une complexité excessive et un temps de traitement excessif pour le nouveau séquencement.
La présente description a trait à des dispositifs et des procédés pour, entre autres choses, à réduire les exigences du point de vue capacité de balayage pour des appareils effectuant des tests par exploration par balayage, effectuer d'une manière efficace un nouveau séquencement efficace de tests de balayage, et imbriquer des données de balayage pour réaliser une sauvegarde de durée de test. Dans une forme de réalisation, un dispositif et un procédé sont prévus pour améliorer la mémorisation et le traitement de données de balayage en permettant la mémorisation de données de balayage dans une mémoire de balayages, sans les séquences de données fictives substantielles, qui sont typiques dans des techniques"monolithiques" de tests par balayage et de mémorisation ; ceci est obtenu par mémorisation de données de balayage non fictives ("segments de données de balayage") dans des segments séparés dans une mémoire de balayages. Le traitement de segments de données de balayage est commandé par des pointeurs des
v-----segments de données de balayage, qui sont organisés dans une structure de données à table de liaisons ("table de liaisons"). Dans une autre forme de réalisation chaque pointeur de segment de données de balayage est affecté à une ligne séparée dans la table de liaisons. Ce procédé de stockage permet de réduire de manière substantielle le volume de la mémoire de balayages, ce qui réduit les coûts de test. En outre, un nouveau séquencement des données de balayage-qui, dans des techniques typiques de balayage "monolithique"nécessitait que les données de balayage elles-mêmes soient entièrement reséquencées et réécrites dans la mémoire de balayagespeuvent maintenant être exécutée par un nouveau séquencement de données de pointeurs dans la table de liaisons ; par conséquent seules des tables de liaisons et des données associées nécessitent d'être reséquencées et réécrites dans une mémoire-pas les données de balayage elles-mêmes-ce qui conduit à une économie du point de vue temps de test et coût. Dans une autre forme de réalisation, il est prévu un procédé permettant d'imbriquer, pendant le test, des segments de données de balayage (de longueur variable) ; ceci est obtenu par retardement du traitement de chaque segment de données de balayage en fonction d'une valeur de retard prédéterminée. Il est prévu un procédé pour calculer des valeurs de retard, qui optimise la quantité de données de balayage qui peut être traitée simultanément. L'imbrication des données de balayage tout en effectuant un test de balayage permet de faire une économie de ce temps de test et par conséquent sur le coût de test.
Dans certaines formes de réalisation, un drapeau de données de balayage immédiates est associé à un pointeur de segments de données de : balayage qui, s'il est positionné, change le mode dans lequel les données de la table de liaisons sont traitées. Si le drapeau de données de balayage immédiates est positionné, des contrôleurs de suites traitent des lignes de la table de liaisons comme comportant deux zones : une zone de données et une zone formant compteur. La zone de données contient le segment de données de balayage lui-même, contrairement à un pointeur désignant le segment de données de balayage dans la mémoire, et une zone formant compteur contenant une valeur de répétition pour indiquer avec quelle fréquence le segment de données de balayage doit être traité successivement
lorsqu'il est sorti par balayage par les contrôleurs de suites. Le traitement de données de balayage immédiates permet d'éviter une opération d'extraction de mémoire de balayages, ce qui conduit à une économie coût de traitement de balayage et de temps. Dans une autre forme de réalisation, une ligne de la table de liaisons contient un drapeau d'invalidation de balayage qui, lorsqu'il est positionné, empêche que des données soient envoyées en direction de la broche respective du dispositif DUT pendant le traitement de cette ligne. Dans une autre forme de réalisation, le positionnement du drapeau d'invalidation de balayage empêche que des données soient entraînées vers la broche du dispositif DUT pour le reste de la suite de balayages. L'invalidation de données de balayage à partir de certaines broches du dispositif DUT est quelquefois utile pour empêcher une accumulation de chaleur excessive dans le dispositif DUT ; une chaleur excessive peut endommager le dispositif DUT ou conduire à des résultats de test erronés. La modulation de données de balayage à partir de certaines broches du dispositif DUT peut être également utile pour des concentrations d'un test de balayage sur une partie particulière du dispositif, ce qui permet de réaliser une économie sur la durée d'analyse des données.
De façon plus précise, l'invention concerne un procédé pour traiter une séquence de données de test de balayage pour tester un dispositif comprenant des circuits, caractérisé en ce qu'il comprend les étapes opératoires consistant à : - séparer la séquence de données de test de balayage par balayage en au moins deux suites de balayage, chaque suite de balayages comprenant une séquence de segments de données de balayage, et - pour chaque suite de balayages : - mémoriser différents segments de données de balayage d'une manière contiguë dans une mémoire ; - délivrer une information de traitement associée à chaque segment de données de balayage, et tester le dispositif formé de circuits par application de la séquence de segments de données de balayage à ce dispositif.
Dans le mode de réalisation préféré et décrit ci-après, le réseau considéré est l'Internet.
Le réseau 1 comporte une pluralité de stations telles que des ordinateurs, et une pluralité de périphériques, les périphériques étant reliés aux stations soit par des liens directs 3, soit au travers du réseau, par un ensemble de liens et noeuds 2.
Comme illustré à la figure 1, le réseau 1 comportent 4 stations 10- 13, par exemple des micro-ordinateurs ou des stations de travail.
Le réseau 1 utilise le principe connu sous le terme "client-serveur" pour l'échange d'informations ou de services entre les stations. Selon ce principe, appliqué à titre d'exemple au transfert de documents, une station dite "cliente" émet une requête de transfert d'un document électronique vers une station dite "serveur" qui héberge ou qui est associée à un ordinateur qui héberge le document demandé.
Les station clientes peuvent être des systèmes d'utilisateurs, alors que les stations serveurs peuvent être des serveurs réseaux dédiés à fournir des documents ou des services comme par exemple l'impression de documents. Cependant chacune des stations du réseau considéré peut être aussi, selon le sens de la transaction opérée, "cliente" ou "serveur".
Ainsi dans le réseau 1, les stations 11, 12, 13 sont des stations clientes vis-à-vis de la station 10 qui fait office de serveur d'impression de documents électroniques. A ce titre, la station serveur 10 gère l'accès à trois imprimantes 20, 21, 22 connectées au réseau.
On notera ici que l'on entend par "document électronique" un ensemble de données qui peuvent être de nature très variée : fichier texte, image, vidéo, son, etc.
Des périphériques de traitement de différents types peuvent être reliés à ces stations pour mettre en oeuvre différents types de traitement de documents : par exemple, une imprimante 14 est connectée à la station 11, un
modem 15 et un scanner 16 sont connectés à la station 12, et un télécopieur 17 est connecté à la station 13.
Ces périphériques de traitement 14, 15, 16, 17 sont reliés aux stations correspondantes par des connexions spécifiques (3) de types appropriés et usuels dans les réseaux informatiques filaires : par exemple, série, parallèle ou SCSI (en anglais Small Computer Simple Interface).
Dans le * cadre du mode de réalisation de l'invention décrit et représenté ici, les périphériques de traitement de documents électroniques considérés sont des imprimantes (20, 22, 21), cependant l'invention s'applique aussi à d'autre types de périphériques tels que scanner ou télécopieur.
Dans le réseau représenté à la figure 1, les stations clientes 11, 12, 13 peuvent utiliser à distance le service d'impression de documents électroniques dispensé par la station serveur 10. Par ailleurs, différents utilisateurs peuvent se connecter à chacune des stations clientes 11, 12 et 13.
Le serveur d'impression 10 offre la possibilité aux stations clientes d'utiliser l'une quelconque des imprimantes 20, 21, 22.
La figure 2 est un schéma fonctionnel représentant les éléments d'un dispositif de configuration selon l'invention, qui sont incorporés dans une station cliente (11, 12 ou 13) connectée au réseau 10. Ces éléments constituent la "partie cliente'"' ou "dispositif-client" du dispositif de configuration de périphérique selon l'invention.
Comme représenté à la figure 2, le dispositif-client 30 selon l'invention comporte les éléments suivants - une unité 36 de demande de configuration ; - une mémoire 34 d'identité utilisateur; - une unité 38 de mise à jour de configuration ; - une unité d'affichage 32.
Le dispositif-client 30 tel qu'illustré à la figure 2 permet notamment l'obtention d'un profil de configuration déterminé selon un procédé mis en oeuvre dans la station serveur 10, et qui sera décrit plus loin dans la description.
Dans ce second mode, on peut aussi, par un décalage temporel des impulsions lumineuses, créer une pré-impulsion.
A ce sujet on pourra se reporter au document suivant qui mentionne la possibilité de créer une préimpulsion chargée de l'allumage du plasma : [4] Article de M. Berglund et al., Ultraviolet prepulse for enhanced X-ray émission and brightness from droplet-target laser plasma, Applied Physics Letters, vol. 69,1996, page 1683.
L'invention utilise toujours le mode (b2), qu'elle peut, dans un mode de réalisation particulier, cumuler avec le mode (bl). Dans ce cas, on définit des
groupes de lasers générant des impulsions composites selon le mode (b2), et plusieurs de ces groupes sont alors associés selon le mode (bl).
L'invention permet donc une grande souplesse dans le séquencement des impulsions lumineuses élémentaires, et notamment le séquencement (b2) ci-après considéré comme avantageux.
Une première impulsion très focalisée sur la cible (cette impulsion étant par exemple du genre du faisceau Fl de la figure 1) allume un plasma, puis, pendant le temps où le plasma croît, la cible est soumise à un éclairement minimal ou nul, et lorsque le plasma atteint le diamètre du faisceau F2, la cible est soumise à un maximum de puissance lumineuse. Il est alors avantageux de consacrer à la première impulsion une énergie inférieure à celle consacrée au restant de l'impulsion composite selon la Figure 3.
Sur cette figure 3, les amplitudes A des impulsions lumineuses sont représentées en fonction du temps t. On voit un exemple d'impulsion composite Il.
Cette dernière comprend une pré-impulsion ou"prépulse" 12 puis un premier ensemble d'impulsions élémentaires simultanées 13, séparées de la pré-impulsion par un temps T nécessaire à la croissance du plasma, puis un deuxième ensemble d'impulsions élémentaires simultanées 14 qui suit le premier ensemble.
L'invention permet aussi de répéter cette séquence à une fréquence de récurrence élevée, multiple de celle des lasers élémentaires. On peut définir des
groupes de lasers dont chacun génère une salve, ou impulsion composite, formée d'un impulsion focalisée et d'une ou plusieurs autres impulsions décalées dans le temps. Plusieurs des ces groupes peuvent alors être associés de manière à intercaler leurs impulsions composites comme il était connu de le faire pour des impulsions élémentaires. Le montage des lasers des divers groupes est en tout point identique à celui des lasers d'un même groupe. Seuls les instants de déclenchement générés par les moyens de commande des lasers (moyens 18 de la figure 4) changent.
(c) L'utilisation de diodes continues pour le pompage du matériau-laser Dans le cas d'un laser utilisant un matériau YAG dopé avec du néodyme et un pompage continu, la durée de vie du niveau supérieur du laser, qui est voisine de 250 microsecondes, oblige à travailler à une cadence supérieure à 5 kHz pour bien extraire la puissance lumineuse déposée.
(d) Le montage des laser en oscillateurs, sans amplificateurs La présente invention, contrairement à l'art antérieur, vise à obtenir des puissances crête élevées en associant des points favorisant cette puissance crête (points c et d), et des points défavorables (point a).
Certes, les points (bl), (c) et (d) sont défavorables à l'obtention de puissances crête élevées
mais l'utilisation des points (a) et (b2) permet de remédier à cet inconvénient.
Dans la présente invention, on utilise simultanément les points (a), (b2) et (c), et cette association de points favorables et défavorables à l'obtention de puissances crête élevées va à l'encontre de l'art antérieur. On s'en éloigne encore dans la réalisation préférentielle fondée sur le point (d).
Des avantages de la présente invention, outre la génération d'impulsions laser de forte puissance et de cadence élevée, sont mentionnés ciaprès.
I) JH6a/JH6g, JHFa/JHFg Préparer un "mélange-maître" suffisant pour 4 patients (8 mélanges réactionnels traités et non traités) suivant le tableau décrit en détail ci-dessous. Cette préparation peut être effectuée à plus grande ou plus petite échelle de la manière appropriée.
Volume/ l [final] Eau dépourvue de nucléases 370-Tampon de PCR 10 x 80 lx MgCl2 25 mM* 64 2 mM dNTP 5 mM* 128 0,8 mM Pl 10 M 8 0 1 M P2 10 M 80 1 M Pol. Taq 5 U/ l 2 10 unités
* Agiter par tourbillonnement les tubes 2 ou 3 fois à chaque fois pendant 5 secondes avant utilisation pour équilibrer l'échantillon.
Introduire une portion aliquote de 95 l de "mélangemaître" dans chaque tube contenant l'ADN génomique dénaturé. Régler l'appareil de cycles thermiques à 95 C pendant 1 minute 30 secondes ; 55 C pendant 2 minutes ; 72 C pendant 1 minute 30 secondes (35 cycles) et 72 C pendant 5 minutes (1 cycle).
II) P-actine Préparer un "mélange-maître" suffisant pour 8 réactions de la manière décrite dans le paragraphe I) cidessus. Effectuer la préparation à plus grande ou plus petite échelle de la manière appropriée.
Volume/ul [final] Eau dépourvue de nucléases 380 Tampon de PCR 10 x 80 lx MgCl2 25 mM* 48 1,5 mM dNTP 5 mM* 128 0,8 mM Pl 10 uM 80 1 M P2 10 uM 80 1 u M Pol. Taq 5 U/ l 2 10 unités * Agiter par tourbillonnement les tubes 2 ou 3 fois à chaque fois pendant 5 secondes avant utilisation pour équilibrer l'échantillon.
Introduire une portion aliquote de 95 ul de "mélangemaître" dans chaque tube contenant l'ADN génomique dénaturé. Régler l'appareil de cycles thermiques à 95 C pendant 1 minute 30 secondes ; 55 C pendant 2 minutes ; 72 C pendant 1 minute 30 secondes (25 cycles) et 72 C pendant 5 minutes (1 cycle).
Amorces de PCR La première série d'amorces, conçue pour amplifier un fragment de 240 pb du gène IgH JHF était la suivante : JHFa AAAGGTGCTGGGGGTCCCCTG JHFb CCC AGT GCT GGA AGT ATT CAG C La deuxième série d'amorces, conçue pour amplifier un fragment de 242 pb de la région de jonction 6 du gène IgH JHF était la suivante : JH6a CATTGTGATTACTACTACTACTAC JH6b GATCCTCAAGGCACCCCAGTGC La troisième série d'amorces, conçue pour amplifier un fragment de 249 pb du gène de P-actine, était la suivante : Beta ACT-1 AAG GCCAACCGCGAGAAG AT BetaACT-2 TCGGTGAGG ATCTTCATGAG (D) Analyse de réarrangement de gène VDJ par transfert d'empreinte par la méthode Southern (i) Digérer l'ADN génomique d'échantillons de sang périphérique traités et non traités ou de lymphocytes B purifiés (de patients B-CLL) en utilisant BamHI/HindII habituellement, les cellules d'un certain nombre de puits sont nécessaires pour obtenir une quantité d'ADN suffisante pour effectuer l'analyse.
(ii) Les produits de digestion ont été séparés sur des gels à 0,8 % d'agarose et transférés à des membranes en Nylon GeneScreen (Dupont) suivant les instructions du fabricant (Southern, 1975).
(iii) Le réarrangement du gène IgH peut être caractérisé en analysant la région J du locus IgH, au moyen d'une sonde d'ADN JH humaine marquée au 32p isolée d'ADN génomique placentaire (Calbiochem, Oncogene Science).