INPI-France/Brevets-Francais-2024-Chunked huggingface dataset:
général un laser. Une partie de l'énergie lumineuse incidente est absorbée par l'échantillon. La proportion d'énergie absorbée est fixée par le spectre d'absorption de l'échantillon et le spectre d'émission de la source d'excitation. Une partie de l'énergie absorbée est transformée en chaleur. Le reste peut être rayonné ou donner naissance à de la fluorescence ou à une réaction chimique par exemple. La chaleur induit une variation de température dans le milieu absorbant et dans les milieux adjacents, cette variation de température peut également se traduire par une variation de densité et donc d'indice, ou par une variation de pression ou par l'apparition d'une onde acoustique. L'élévation de température due à l'absorption est en général inhomogène et donne donc lieu à un gradient d'indice du milieu analysé et des milieux adjacents, la densité des milieux étant rendue inhomogène par l'élévation de température.
Les méthodes photothermiques consistent à mesurer les effets induits par l'absorption.
Les inventeurs ont mis en évidence que parmi les méthodes photothermiques, la méthode de déflexion photothermique et la méthode de lentille thermique peuvent par exemple être utilisées selon la présente invention.
La méthode de déflexion photothermique est une méthode qui consiste à mesurer la déviation d'un faisceau lumineux, appelé faisceau sonde, passant dans la zone où se trouve le gradient d'indice. En d'autres termes, elle consiste à mesurer la déviation du faisceau sonde due à l'échauffement d'un échantillon
absorbant par l'intermédiaire du faisceau pompe. Cette technique de déflexion photothermique a été appliquée à l'analyse de surface telle que la cartographie d'absorption, l'imagerie de paramètre thermique, mais jamais pour détecter une reconnaissance moléculaire telle que définie ci-dessus.
La méthode de lentille thermique consiste quant à elle à mesurer la variation de focalisation d'un faisceau lumineux passant dans la zone où se trouve le gradient d'indice.
Une présentation complète des méthodes photothermiques peut être trouvée par exemple dans l'ouvrage "Photothermal Spectroscopy Methods for Chemical Analysis, S.E. Bialkowski, vol. 134 in Chemical Analysis : a Series of Monographs on Analytical Chemistry and its Applications, Wiley".
Selon le procédé de l'invention, le support solide peut être défini comme étant un support sur lequel il est possible de fixer chimiquement directement ou indirectement la première molécule. Le support a de préférence une absorption faible vis-à-vis de celle de l'échantillon placé à sa surface afin de ne pas gêner la détection photothermique. Par ailleurs, il a de préférence une conductivité thermique faible car une conductivité trop importante du support induit une répartition large de la chaleur, donc une baisse du gradient de température et une baisse du signal détecté.
Selon l'invention, ce support peut être par exemple un support qui sert dans la fabrication des puces à ADN, par exemple un support de silice, de verre
ou de plastique. Il est également possible de travailler avec des semi-conducteurs, en déposant sur leur surface des couches diélectriques pour améliorer le rapport signal à bruit.
Selon l'invention, la première molécule dite de capture est fixée sur le support. Cette fixation de la première molécule sur le support peut être réalisée par des réactions chimiques classiques, bien connues de l'homme du métier, et choisies en fonction du support, de la molécule à fixer, et des propriétés de résistance de la liaison que l'on désire pour l'application visée.
Cette fixation peut être directe ou indirecte.
Cette adresse (composée par exemple du pseudonyme de l'utilisateur et du chemin du répertoire que l'administrateur du site a choisis) est utilisée par le système pour être présentée en première position dans la première liste ( Spécialistes ) de la figure 5 5 a.
OneD-dist~profile -distmin, unsigned char *hist~area, int alg~type, int sens~adjust, long min~abs~thr): static int hist2D8 thresh(unsigned char -a, unsigned long tcols~a, unsigned char *b, unsigned long tcols~b. unsigned char *c. unsigned long tcols~c, unsigned long ncols, unsigned long nrows,
unsigned char *hist): static OneD dist-profile distmax. distmin; /"""tfa"""1!fttf/ int Find2DHistoOutliers(OIP~byte~image pSrclmagel, OIP~byte~image *pSrcImage2, OIP~byte~image *pDstImageResult, PIXEL diff-para PixelDiffPara, unsigned char *hist, unsigned char *hist2DBitMap, unsigned long FovID, long shorttest) int rc ; unsigned char *aimagel, *alraage2, -aresult; /* ROI pointer */ const long Passes - = HIST MORPH PASSES; /*1-3x3 open operation, 2-SxS, etc*/ char name[128]; /* check if the ROIs have the same size */ if ( Info.RegHidth 1. pSrcImage2->Info.RegWidth) Il (pSrcImagel->Info.RegWidth 1- pDstIoageResult->Info.RegWidth) Il (pSrdmagel->Inò.RegHeight 1. pSrcImage2->Info.RegAeight) 1 (pSrcImagel->Info.RegHeight 1. pDstlmageResult->Info.RegHeightl) return -1; /* détermine ROI pointers */ aImagel pSrcImagel->BufPtr + pSrcImagel->Info.RegXO + pSrcImagel->Info.RegYO * pSrcImagel->Info.Width; almage2 - = psrcImage2->BufPtr + pSrcImage2->Info.RegXO + pSrcImage2->Info.RegYO * pSrcImage2->Info.Width; aResult pDstImageResult->BufPtr + pDstImageResult->Info.RegXO + pDstlmageResult->Iafo.RegYO * pDstImageResult->Info.Width; memset(hist, 0, GRAY~LEVELS . * GRAY~LEVELS # s izeof (unsigned char)); hist2D8(aImagel, pSrcImagel->Info.Width, aImage2, pSrclmage2->Info.Width, pDstImageResult->Info.RegWidth, pDstImageResult->Info.RegHeight, hist); if (shorttest) { sprintf(name, "../data/2Dhisto tld.pgm, FovID); printf("(iriting 2Dhisto to %s\n",name) ;fflush(stdout) ; rc = write image(name, hist, 256, 256); if (rc) ERROR RETURN(rc. "write 2Dhisto failed"); } /*filter the table (open operation) to delete scattered points*/ hist2D8 opea(hist, hist2DBitKap, Passes); /*create two 1D width-profiles for the 2dscatter and their moving averages*/ hist2D8~lDprofile(hist. 4distmax, istmin. ALG~FITMASK); /*perform thresholding based on the AlgType (1=cloud mask, 2-fit model)-/ /create a 2d scatter boundary wirth the fit oodel*/ PREFIX(hist20e fitbound) (tdistmax, tdistmin. hist, ALG~FITMASK, PixelDiffPara.SensAdjust, PixelDiffPara.byMinAbsDifference); if (shorttest} sprintf(aame, ../data/2Ohisto LUT tld.pgm, FovID); printfC"writing 2Dhisto LUT to is\n ,name),fflush(stdout). rc = write image(name. hist, 2S6. 256); if (rc) EPROR-RETUM (rc. write 2Dhisto LUT failed"); - }
rc = PREFFX(hist2fl8 thresh)(aImagel, pSrcImagel->Info.Width, aImage2, pSrcImage2->Into.Width, aResult, pDstlmage0.esult->Info.SJidth, pDstImageResult->Info.Regttidth, pDstImageResult->Info.RegHeïght, hist); if (rc) return -1; return 0 ; /ffi1ftrtfffrtfffff1fttf/ void hist2D8(unsigned char *a, unsignedlong tcols a, unsigned char *b, unsigned long tcols~b, unsigned long ncols, unsigned long nrows, unsigned char 'table) / # ...... ...*....... a,b -- TCL of ROI (images) tcols~a -- image width ncols, nrows -- ROI size table -- scatter table (a 2S6x2S6 image) ### #" ..#........##..../ unsigned long i, j; unsigned long skip~a, skip~b; unsigned long index; skip~a - tcols~a - ncols; skip~btcols~b - ncols; for (i = 0; i index. ((*at+) GRAY~SCALE~BITS)*( void PREFIX(hist2D8 open)(unsigned char *hi-st, unsigned char *histBitMap, long Passes) OIP~bit~image pSrcHitlaiage; /*, pDstBitimage;-/ MORPH setup pMorphSetup; pSrcBitlma,3e.BufPtr - histBitMap: pSrc8itlmage.Iafo.Hidth a GRAY LEVELS; pSrcBitlmage.Info.Height - GRAY~LEVELS; pSrc8itImage.Info.RegXO - 0: pSrcBitlmage.Info.RegYO = 0; pSrcBitImage.Info.RegWidth - GRAY~LEVELS; pSrcBitlmage.Info.RegHeight - CRAY^LEVELS; binarize8(hisC,GRAY~LEVELS, pSrcBitlmage.BufPtr, GRAY~LEVELS, GRAY~LEVELS); morph~setup1(Passes, GRAY~LEVELS. GRAY~LEVELS. tpMorphSetup) ; if (pMorphSetup tE NULL) fprintf(stderr,-morph~6etup1\n-), closel(pSrcBitImage.BufPtr, pSrcBitImage.eufPtr, /*pDstBit Image. But Ptr, #/ pSrcBitlmage . Inf o .RegWidth, pSrcBitl#age.lnfo.RegHeight, Passes, pMorphSetup): openl(pSrcBitimage.BufPtr, pSrcBitImage.BufPtr. /#pDstBitlraage.Buf Ptr, #/
pSrcBitImage.Info.RegHidth, pSrcBitImage.Info.RegHeight, Passes. pMorphSetup): unpack(pSrcBitImage.BufPtr, GRAY~LEVELS, GRAY~LEVELS, hist, GRAY~LEVELS): morph~cleanupl(tpMorphSetup): void hist2De-iDprofile(unsigned char -hist.
OneD~dist-profile *distmax, OneD~dist-profile -distmin, int alg type) int i, j, index, temp; float templ=0, temp2=0; long dist~initIGRAY~LEVELS]; for (i 0: i distmax->buf(i] 0: distmin->buf(i] 0; distmax->mva[i] = 0; distmin->mvali] = 0; distmax->model[i) = 0; distmin->model[i] 0; dist~init(i) = 0; } for (i - 0; i index - = (long)((i # j) / 2. + 0.5); temp = i - j; /*if first item for this index, assign both max and minet if (!dist init[index]) { - diet~init (index) +#; distmax->buf(index) - (int)(temp + 0.S); distmin->buf(index) . (int)(temp + 0.5); else /#temp distance( table~bin (index] , *5degreeline) ;#/ if (temp > distmax->buf(index]) /* (ref - test) enveloppe/ distmax->buftindex] - (int)(temp + 0.5); if (temp buf(index]) /* (test - ref) envelope*/ diatntin->buftindex] - (int)(temp + 0.5); /*need to divide distminbuf 4 distmaxbuf by sqrt2e/ for (i - 0; i buf(il - (int) (distmax->buf[ij / SQRT2 + O.S): distmin->buf(ij (int) (distmin->buf[i] / SQRT2 + O.S); } /*Remove invalid data points from the beginning and end of the profile: All points below the offset and all points above where the profile starts to shrink are set to invalid*/ /*First set the validity attribute to 1 for all points on the profile*/ for (i -0; i distmax->valid(i] * 1: distmin->valid(i) * 1: /*Find the offset, i. e. the first point w/ distance > HIN~DIST*/ i = 0; while (abs(distmax->buf(i1) < HIN DIST 44 i < GRAY~LEVELS)
distmax->valid(i++]= 0; distmax->offset - i; i - 0; while (abs(distmin->buffil) valid(i++) - = 0; distmin->offaet = i; /#fprintf (stderr, "distmax. offset - 8 'do dis t min. offset = d\n, distmax->offset, disimin->offst);/ if (alg~type == ALG~FITMASK) i GRAY~LEVELS -1 ; while (abs(distmax->buf[i]) distmax->offset) di6tmax->valid[i--J - 0; distmax->endpointi; i GRAY LEVELS -1;, while (abs(distmia->buf[i]) distmin->offset) distmin->validti--l - 0; distmin->endpoint -i; /*Calculate a moving avg to smooth each profile*/ index - (int) (MVJ~SIZE 2.0); for (i - 0; i templ #* distmax->buf(i]; temp2 ± distmin->buf[i]; templ = templ / KVA~SIZE: temp2 temp2 , / KVA~SIZE; for (i . index.- i templ ± distmax->buf(i]; distmax->mva[i-index] - (int) (terapl MVASIZE 4 0.5); temp2 ± distmin->buf[i]; distmin->mva(i-iadexj (int)(temp2 MVA SIZE t 0.5); } templ -templ / HVA~SIZE; temp2 - temp2 / HVA SIZE; for (i -KVA~SIZE: i templ ± (float)(diatmax->buf[il - distmax->buf(i-MVA~SIZE]) 1 MVA SIZE; distmax->mva(i-index] ~ (iat)(tempi + 0.5); temp2 +~ (flcat) (distmin->buf(i) - distmin->buf(i-MVA-SIZEI) / MVA~SIZE; distmin->mva(i-indexl - (int) Cteop2 + 0.5); for (i -GRAY LEVELS; i templ +~ (float)( - distmax->bufli-hiVA SIZE]) / MVA-SIZE, distmauc->mva(i-iadex] ~ (int)(templ + 0.5); temp2 ± (float)( - disteiiii->buffi-MVA SIZ1) / HVA~SIZE; distmin->mva[i-index) - (int)(temp2 t 0.5); /*replace the mva values at the first and last MVA~SIZE/2 points w/ orig buf values*/ for (i - = distmax->offaet; i offset #' index + 1; i++) diatmax->mva(i) - distmax->buffil; for (i - distmax->endpoint - index; i endpoint + 1; i++) diatmax->mva(i) - a distnax->buf [il ; for (i - distmin->offeet; i offset + index + 1; i++) distvAin->mva(il - = distmia->buf(i); for (i = distmin->eadpoint - index; i eadpoiat + 1; i++) distmin->mva(i] a distmin->buf(i); distmax->couat - distmax->endpoiat - distmax->offaet; distmin->count = distmin->endpoint - distmin->offset; for (i - distmax->endpoint; i valid(i]0; for (i distmin->endpoint; i valid[i] -= 0; void PRFTX(hist2DS~fitbound) (OneO~dist~prof ile *distmax, OneD dist-profile -distmin, unsigned char *hist~area. int alg~type. int sens~adjust, long min~abs~thr)
int i,j, index, axial; double temp; int openmargin, minopenmargin: long offset, endpoint; openmargin -2 = HIST~MORPH~PASSES + 1 - sens~adjust; minopenmargin min-ai;s thr7 /* + openaargin;;/ offset - (distmin->offset: offset) ? distmin->offset : distmax->offset; endpoint -(distmin->endpoint endpoint) ? distmin->endpoint : distmax->endpoint; if (offset GRAY LEVELS - 2) endpoint - GRAY~LEVELS - 2; switch (alg type) case ALG~FITMASK: /* for (i "' distmax->offset - 1; i endpoint + 1; i++) distmax->model(i] * distmax->mva[i] + openmargin; for (i - = distmin->offset - 1; i endpoint + 1; i++) distmin->model(i] distmin->mvafil - openmargin; */ for (i offset - 1; i distmax->model[ij # distmax- >mva[i] + openmargin; diatmia->model(i] distmin->mvalil - openmargin; for (i - 0; i index - (i GRAY~SCAI.E~BITS) +j ; hist area(index] -= 1; axisl(int) (i + j) 1) + 0.5); temp -(i - j) SQRT2; if (abs(temp) hist^area(index] 0; if ((temp modelfaxisil) && (temp > distmin->model[axisl])) hist area(index]= 0; break ; default : break; static int PREFIX(hist208 thresh)(unsigned char z, unsigned long tcols a, unsigned char *b, unsigned long tcols b, unsigned char *c, unsigned long tcols~c, unsigned long ncols, unsigned long nrows, unsigned char *hist) unsigned long i, j, index; unsigned long skip~a. skip~b, skip~c; skip a= tcols~a - ncols; skip~.4 .= tcols~b - ncols; skip~c -= tcols~c - ncols; for (i - 0; i index- *a++I GRAY SCALE 8ITSI+(*b++I; *c++hist(index]: } a += skip a; b += skip~b; c += skip~c: return 0 ; }
Procédé de signalisation sur le réseau urbain ou routier par panneau amovible La présente invention concerne les dispositifs d'affichage pour fournir des informations au bord des routes ou en ville.
On connaît déjà des dispositifs d'affichage, notamment comportant afficheurs électromagnétiques électroluminescents ou magnéto-optiques par exemple par mise sous tension des pixels d'une matrice, émettent de lumiere fluorescente, l'ensemble des pixels étant commandé pour fournir message donné. Ce type de dispositif d'affichage est, tel qu'on le connaît aujourd'hui, destiné à une utilisation en fixe. En effet, il est nécessaire qu'il se trouve à proximité d'une source de courant pour pouvoir mettre sous tension les pixels et ainsi commander l'affichage des informations souhaitées . Par ailleurs, leurs dimensions et leurs poids ne permettent pas de les déplacer aisément. Enfin, ils sont situés sur des lieux de passage permanents (périphériques, autoroutes ... ).
Il existe aujourd'hui un besoin pour un dispositif d'affichage qui soit amovible pour pouvoir être placé, en fonction des évènements qui ont lieu sur le reseau routier, en des points choisis par les services de la voirie. Une solution à ce problème consisterait à utiliser les dispositifs d'affichage ou panneaux d'affichage connus aujourd'hui et à leur adjoindre une batterie pour leur permettre de disposer d'un courant d'alimentation de manière autonome, afin de pouvoir attaquer les pixels. Cependant, cette solution n'est possible pour des raisons de sécurité. En effet, les services de voirie veulent pas laisser au bord de la route des panneaux d'affichage de ce genre qui comporteraient une batterie autonome et donc pourraient être source de dangers, notamment d'électrocution pour des passants ou des utilisateurs, tels que les employés de la voirie.
L'invention pallie ces inconvénients par un dispositif d'affichage qui peut être disposé à n'importe quel endroit sur le réseau urbain, sans que ce dispositif d'affichage présente le moindre danger.
La présente invention vise un procédé de signalisation sur le réseau urbain ou routier, caractérisé en ce qu'il consiste à apporter à un endroit un dispositif d'affichage comportant des moyens formant afficheurs capables d'être mis par une source de courant et/ou un moyen de commande d'affichage dans au moins deux états, à savoir un premier état dans lequel ils affichent un signal visible, notamment fluorescent, et un second état dans lequel ils n'émettent pas de signal visible, passage d'un état à l'autre s'effectuant par application d'une tension bornes des moyens formant afficheurs pendant un intervalle de temps, ' connecter une source de courant et/ou un moyen de commande d'affichage dispositif pendant l'intervalle de temps, puis à les déconnecter et à remporter la source de courant et/ou le moyen de commande d'affichage en laissant les moyens formant afficheurs audit endroit en le second état.
L'invention utilise des afficheurs particuliers, qui n'ont pas besoin d'être mis sous tension pendant tout le temps où affichent un signal visible. Par conséquent, lorsqu'on utilise ces dispositifs d'affichage dans le réseau routier, l'employé des services de voirie met simplement sous tension le dispositif d'affichage, notamment les moyens formant afficheurs, de manière à afficher un message donné, puis retire le dispositif d'alimentation électrique et/ou le moyen de commande d'affichage et l'emporte avec lui. Par conséquent, les passants ne risquent pas d'être électrocutés ce dispositif de mise sous tension, par exemple une batterie. Bien il n'ait plus de système d'alimentation électrique, le dispositif d'affichage continue à afficher le message puisque les afficheurs resteront toujours dans l'état dans lequel ils affichent un signal visible, et ce, tant qu'ils auront pas été effacés par le fait d'appliquer une nouvelle tension, dite tension de rafraîchissement, qui les eteindra tous.
Suivant un perfectionnement de l'invention, les moyens formant affi cheurs sont des afficheurs électroluminescents, magnéto-optiques ou électro magnétiques, notamment ceux utilisant la technique dite " Ferra nti-Packa rd".
Suivant un mode de réalisation particulièrement avantageux, les moyens formant afficheurs sont constitués d'une matrice de pastilles ou pixels.
Suivant un mode de réalisation préféré, la matrice est une matrice de cinq colonnes et sept lignes.
s'hybrider. La spécificité des sondes de captures est bien précisée dans le tableau 3 ci-après.
Sonde SEQ ID NO Spécificité C + 1 Tous les DRB 1 C - 2 Aucun 4 3 DRB 1 *04 QK71 4 DRB 1 *0401, allèle possédant le motif QKRAA correspondant à l'épitope partagé IDE71 5 DRB 1 *0402 E74 6 DRB 1 *0403, 0406 et 0407 QR71 7 DRB 1*0101, 0404, 0405, 0408 et 1402, allèle possédant le motif QRRAA correspondant à l'épitope partagé S57 8 DRB 1 *0405 @ 9 DRB1*01 52 10 DRB1*03, 11, 13 et 14 2 11 DRB 1 *02 7+9 12 DRB 1 *07 et 09 10 13 DRB1*10 3 14 RBI*03 8+12 15 DRB 1 *08 et 12
Tableau 3 : Spécificités principales des molécules ou sondes de capture Ces sondes sont ensuite mises en place sur le support solide comme évoquées précédemment. Bien entendu pour faciliter l'analyse ultérieure, il convient de positionner chaque type de sonde sur un point ou une zone de reconnaissance.
Dans le cas présent. il y a nécessité d'avoir quinze zones de reconnaissance différentes, en incluant les contrôles, qu'ils soient positif ou négatif. Il est également possible d'effectuer d'autres tests sur un même support solide, il suffit pour cela d'augmenter le nombre de zones de reconnaissance.
Zones de reconnaissance Zones de reconnaissance C + SEQ ID NO 1 1 SEQ ID NO 9 C - SEQ ID NO 2 52 SEQ ID NO 10 4 SEQ ID NO 3 2 SEQ ID NO 11 QK71 SEQ ID NO 4 7 SEQ ID NO 12 IDE71 SEQ ID NO 5 10 SEQ ID NO 13 E74 SEQ ID NO 6 8+12 SEQ ID NO 14 QR71 SEQ ID NO 7 3 SEQ ID NO 15 S57 SEQ ID NO 8
Tableau 4 : Organisation des différentes zones de reconnaissance sur le support solide Il y a un contrôle positif (SEQ ID NO 1), qui permet de détecter tous les allèles du gène DRB1*, ce qui permet de contrôler que l'amplification a bien concerné la région d'intérêt comprise entre les amorces P1 et P2 décrites dans le tableau 1. Le contrôle négatif (SEQ ID NO 2) n'a pas d'objectif diagnostic, il n'est présent que pour répondre à certaines normes.
Cette séquence n'est absolument pas spécifique du HLA, et correspond à une séquence aléatoire non retrouvée chez les gènes HLA.
La SEQ ID NO 3 permet le typage de l'ensemble des allèles qui constitue le groupe DRB1*04. Elle permet
l'identification de tous les allèles DRB1*04, allèles appartenant au groupe défini par des techniques de typage HLA par sérologie, comme le groupe DR4. Il s'agit d'une sonde à faible résolution, c'est-à-dire que de nombreux allèles peuvent être reconnus par celle-ci.
Les SEQ ID NO 4 à 8 permettent, quant à elles, le sous-typage de certains des allèles qui constituent le groupe DRB1*04, en précisant le ou les allèles partageant une séquence particulière. Il s'agit de sondes à haute résolution, c'est-à-dire que quelques allèles, voire un seul, peuvent être reconnus par une de ces sondes.
Toutes ces sondes sont utilisées pour détecter les allèles possédant l'épitope partagé associés à la prédisposition génétique à la polyarthrite rhumatoïde.
Plus particulièrement, les sondes SEQ ID NO 4 et 7 permettent de détecter les allèles associés à la susceptibilité à la polyarthrite rhumatoïde, et les sondes SEQ ID NO 5 et 6 permettent de détecter les allèles associés à la résistance à ladite polyarthrite rhumatoïde. La sonde SEQ ID NO 8 permet de confirmer la présence d'un allèle DRB1*0405.
Résultats Dans les résultats ci-après exposés, on a travaillé avec des solutions à tester dont on connaissait les caractéristiques, afin de pouvoir contrôler si les résultats obtenus avec le procédé
d'analyse, selon la présente invention, sont bien conformes à la réalité. lère SOLUTION A TESTER : Le tableau 5 qui suit, met en évidence les valeurs de signal obtenues avec la première solution à tester, auxquelles on a soustrait la valeur du signal de la sonde SEQ ID NO 2 (témoin négatif). Ces valeurs plus ou moins éloignées de la valeur zéro, permettent de déduire si l'hybridation a eu lieu ou non. La valeur 0 a été mise pour toutes les valeurs ne se distinguant pas significativement de la valeur obtenue pour SEQ ID NO 2 (écart inférieur à deux fois l'erreur standard à la moyenne calculée pour la sonde SEQ ID NO 2).
Sonde associée à la zone de Signal (unité + / - Sonde associée à la zone de Signal (unité + / - reconnaissance arbitraire) reconnaissance arbitraire) SEQ ID NO 1 3000 + SEQ ID NO 9 0 SEQ ID NO 2 - - SEQ ID NO 10 0 1 SEQ ID NO 3 920 + SEQ ID NO 11 2100 + SEQ ID NO 4 260 + SEQ ID NO 12 0 SEQ ID NO 5 0 - SEQ ID NO 13 0 SEQ ID NO 6 0 - SEQ ID NO 14 0 SEQ ID NO 7 0 - SEQ ID NO 15 0 SEQ ID NO 8 0 Tableau 5 : Résultats d'hybridation obtenus avec la première solution à tester
L'analyse du HLA-DR montre que : - la sonde SEQ ID NO 1 est positive : l'amplification HLA-DR et le test d'hybridation ont correctement fonctionné, - les sondes SEQ ID NO 3 et SEQ ID NO 4 sont positives . un allèle DRB1*0401 est présent, et - la sonde SEQ ID NO 11 est positive : un allèle DRB1*02 est présent.
En outre, lorsqu'une couche supérieure épaisse 103 est formée comme film protecteur sur le réflecteur de lampe correspondant 100, l'épaisseur de la couche supérieure 103 devient plus grande dans les parties concaves 103a du revêtement métallique 102, et l'épaisseur est plus faible dans les parties convexes 103b du revêtement 102. Ainsi, il
existe une différence d'indice de réfraction entre les par-
ties concaves 103a et convexes 103b. En conséquence, un problème peut se poser car le voile formé dans les parties concaves 103a a une mauvaise influence sur les performances
de distribution de lumière.
L'invention a donc pour objet la mise à disposition
d'un réflecteur de lampe dans lequel des matériaux d'arma-
ture, destinés à être malaxés et dispersés dans un matériau de base formant un substrat du réflecteur, sont spécifiés de manière que la forme des particules et la distribution granulométrique des matériaux d'armature soient suffisamment uniformes pour que la viscosité de la résine dans laquelle les matériaux d'armature ont été malaxés et dispersés soit
déterminée. Ainsi, le réflecteur possède un substrat possé-
dant la régularité de surface et la rigidité voulues, alors que la précision dimensionnelle est élevée (car le substrat est un produit moulé) . L'invention a aussi pour objet la mise à disposition d'un procédé de fabrication d'un tel
réflecteur de lampe.
A cet effet, l'invention met en oeuvre les carac-
téristiques suivantes.
Dans un premier aspect de l'invention, le réflecteur comporte un substrat constitué d'une composition qui contient au moins une résine de sulfure de polyphénylène, des trichites de carbonate de calcium de synthèse et du
carbonate de calcium de synthèse (CaC03).
Dans cet aspect, on n'utilise pas de substance natu-