INPI-France/Brevets-Francais-2024-Chunked huggingface dataset:
4.Description sommaire des dessins: Les Fig.1à 24 se rapportent à un premier mode de réalisation. La Fig.1 est un schéma d'ensemble de l'optique du microscope. Les Fig. 2 et 3 représentent le détail du positionneur angulaire (110) déjà représenté sur la Fig.l. La Fig. 4 est un schéma d'ensemble du support mécanique vertical et antivibratoire du microscope. La Fig.5 représente le détail d'un tendeur de la Fig. 4. La Fig. 6 représente un exemple de dimensionnement de la partie optique. Les Fig. 7 à 9 sont des représentations graphiques servant de support à l'explication du principe de fonctionnement du microscope. La Fig.10 représente l'algorithme d'un programme permettant de régler les tensions de commande du piézoélectrique (122). La Fig. 11représente l'algorithme détaillé d'une procédure de prise d'images utilisée dans le programme précédent. La Fig.12 représente l'algorithme d'un programme permettant de régler l'atténuateur d'intensité constitué du polariseur (105) et du rotateur de polarisation (104) et d'obtenir ses caractéristiques. La Fig. 13 représente l'algorithme détaillé d'une procédure 'bas niveau' de prise d'images utilisée dans le programme précédent et dans les programmes d'acquisition d'image 2D ou 3D. La Fig. 14 représente l'algorithme d'un programme de focalisation permettant d'obtenir une image 2D et de focaliser l'objectif de microscope (113).La Fig. 15 représente l'algorithme d'un programme permettant de régler la position du condenseur (111) et d'obtenir certains paramètres du système. La Fig. 16 représente symboliquement une image affichée à l'écran par le précédent progranune. La fig. 17 représente graphiquement un calcul effectué par ce programme. La Fig.18 représente l'algorithme du programme d'acquisition d'image tridimensionnelle. La Fig. 19 représente l'algorithme d'un programme de calcul générant à partir des résultats de l'acquisition une représentation tridimensionnelle de l'objet. La Fig. 20 représente schématiquement une opération effectuée par la première partie de ce programme. La Fig.21représente le détail de l'algorithme de cette première partie. La Fig. 22 représente schématiquement une opération effectuée par la deuxième partie de ce programme. La Fig. 23 représente l'algorithme d'une troisième partie de ce programme. La Fig.24 représente l'algorithme d'une dernière partie de ce programme.
Les Fig. 25 et 26 se rapportent à un second mode de réalisation. La Fig. 25 est un schéma d'ensemble de la partie optique du microscope. La Fig.26 représente l'algorithme de la procédure 'bas niveau' d'acquisition d'images utilisée.
La Fig. 71 illustre un appareil spécifique utilisé dans les opérations de réglage pour les modes de réalisation 3 à 5.
Les Fig. 27 à 59 se rapportent à un troisième mode de réalisation. Les Fig. 27 et 28 constituent un schéma d'ensemble de la partie optique du microscope. La Fig. 29 schématise le trajet optique des rayons entre l'objectif et le capteur. La Fig. 30 représente le dispositif d'atténuation de faisceau utilisé. La Fig. 31 est un schéma de principe illustrant son fonctionnement dans le cas ou il y a effectivement atténuation. La Fig. 32 est un schéma de principe illustrant son fonctionnement dans le cas ou il n'y a pas d'atténuation. La Fig. 33 représente le dispositifde décalage de phase utilisé. La Fig. 34 est un schéma de principe illustrant
son fonctionnement. La Fig. 35 reprend la Fig.34 en indiquant les déphasages des différents vecteurs. La Fig. 36 reprend la Fig. 34 en indiquant le module des différents vecteurs. La Fig. 37 représente une unité élémentaire du dispositif de déviation de faisceau utilisé. La Fig. 38 représente le dispositifde déviation du faisceau et de commutation, formé par association de ces unités élémentaires. Les Fig.39et 40 sont des schémas de principe permettant de comprendre le fonctionnement d'une unité élémentaire. La Fig.39 correspond à une direction de déviation et la Fig. 40 à l'autre direction de déviation possible. La Fig.41 illustre le calcul de la déviation du faisceau par un prisme. Les Fig.42 à 44 illustrent des étapes d'une procédure de marquage des rotateurs de phase. La Fig. 42 illustre la première étape et les Fig. 43 et 44 illustrent une deuxième étape, dans deux cas différents. La Fig.45 illustre le calcul de la différence de marche produite sur un faisceau parallèle par un objet d'indice et d'épaisseur donnés. La Fig. 46 illustre le calcul de la différence de marche produite sur un faisceau parallèle par un déplacement du point d'origine de l'onde de référence, par rapport auquel le trajet optique est calculé. Les Fig. 47 à 50 et la Fig.60 illustrent un algorithme de calcul des valeurs d'indice et d'épaisseur de l'échantillon ainsi que du déplacement du point d'origine de l'onde de référence. La Fig. 47 correspond au niveau le plus élevé de cet algorithme et la Fig.50 au niveau le plus bas. La Fig. 51représente dans un espace tridimensionnel différents vecteurs utilisés pour évaluer l'effet sur l'onde diffractée de la polarisation du faisceau d'éclairage. La Fig. 52 représente dans le plan d'un capteur des vecteurs déduits des précédents. La Fig.53 représente un algorithme permettant d'obtenir des indices de commande du déviateur de faisceau à partir des coordonnées du point d'impact direct recherché pour le faisceau d'éclairage. La Fig. 54 illustre le calcul de la différence de marche d'une onde issue d'un point de l'objet par rapport à une onde de référence. La Fig. 55 illustre le calcul de la différence de marche entre une onde issue d'un point de l'objet et les ondes de référence utilisées sur les deux capteurs du système. La Fig. 56 illustre la trajectoire, sur un des capteurs, du point d'impact direct de l'onde d'éclairage, pendant une procédure de prise d'image. La Fig. 57 représente un algorithme déterminant la position de l'objet par rapport aux objectifs. La Fig.58illustre la manière dont la représentation fréquentielle tridimensionnelle de l'objet est obtenue par superposition de représentations bidimensionnelles. La Fig. 59 représente en coupe la représentation fréquentielle tridimensionnelle de l'objet.
Les Fig. 61 à 70 et 72 se rapportent à un quatrième mode de réalisation de l'invention, constituant le mode de réalisation préféré. Les Fig. 61,62,63 constituent un schéma d'ensemble de la partie optique du microscope. Les Fig.64 et 65 illustrent le fonctionnement du déviateur de faisceau utilisé dans ce mode de réalisation. La Fig.66 illustre le fonctionnement d'un système de suppression de l'onde d'éclairage directe.
Les Fig. 67 et 68 illustrent le principe utilisé pour contrôler la trajectoirs du faisceau. Les Fig. 69 et 70 illustrent un système utilisé pour effectuer une rotation contrôlée d'un faisceau. La Fig. 72 illustre l'image devant être obtenue dans une des opérations de réglage.
Les Fig. 73 à 82 se rapportent à un cinquième mode de réalisation. Les Fig. 73 et 74 constituent un schéma d'ensemble de la partie optique du système. Les Fig. 75 et 76 illustrent des images obtenues lors d'une étape intermédiaire de calcul. La Fig. 77 illustre un algorithme utilisé pour déterminer la séquence de commande d'un miroir déviant le faisceau et pour déterminer la séquence de commande d'une vitre arrêtant
l'onde d'éclairage directe. Les Fig. 78 et 79 représentent des images obtenues lors d'une étape de réglage.
La Fig. 80 illustre le principe utilisé pour faire varier la polarisation de l'onde d'éclairage et la direction d'analyse. La Fig. 81 représente les points correspondant à diverses ondes d'éclairage utilisées dans un algorithme de recalage en phase. La Fig.82 représente un diaphragme utilisé dans ce mode de réalisation.
Les Fig.83 à 85 se rapportent à un dispositif pour positionner et fixer de manière définitive des éléments optiques. La Fig. 83 et la Fig. 84 représentent des pièces de ce dispositif et la Fig. 85 représente l'ensemble de ce dispositif.
Les Fig. 86 à 88 se rapportent à un dispositifpour protéger le microscope des chocs et de la poussière. La Fig. 86 représente un schéma de principe du dispositif. Les Fig.87 et 88 représentent une configuration spécifique adaptée au cas du modes de réalisation 4.
Dans ces deux cas, il s'agit d'une régulation de la tension continue fournie en entrée de l'étage onduleur. Cette solution est généralement utilisée lorsque l'onduleur utilisé est de type pleine onde et qu'il ne contrôle pas l'amplitude de sa tension alternative de sortie.
Toutefois, dans certains cas, en plus de la fréquence, l'amplitude de la tension alternative fournie en entrée de l'étage élévateur est réglée au niveau de l'étage onduleur. Cette opération est réalisée au moyen, par exemple, d'un onduleur résonant, tel que décrit dans le document L'électronique de puissance dans l'imagerie médicale , J. LAEUFFER et J. SALESSES, Revue Générale de l'Electricité, Juin 1992 ou dans l'article Les composants à grille isolée en mode thyristor-dual , H. FOCH, M. METZ, J. P. ARCHES, C. SAUBION, Revue Générale de l'Electricité, Février 1994 ou encore dans l'ouvrage intitulé La commutation douce dans la conversion statique de l'énergie électrique , Y. CHERON, 1989, éditions Lavoisier.
Le transformateur est généralement un transformateur magnétique ; il peut être associé, à sa sortie, à un multiplicateur capacitif, ou à un double multiplicateur capacitif.
Une autre alimentation haute tension, décrite dans l'article A TWT power supply for high phase stability transmitter , Sandro SANDRI, IEEE Proceedings, 1988 Eighteenth Power Modulator Symposium, Hilton Head, utilise le transformateur d'un flyback (hacheur inverseur isolé) pour réaliser la fonction élévation de tension. Dans cette alimentation, la tension issue du réseau électrique est redressée et filtrée de façon à obtenir une tension continue fixe, fournie en entrée du flyback. Celui-ci utilise alors une inductance couplée, appelée transformateur du flyback , dont le rapport du nombre de spires fournit une élévation de tension. Les différents secondaires de cette inductance couplée sont mis en série afin d'additionner leurs tensions ; la régulation s' opère, comme pour un flyback classique, sur le rapport cyclique de l'interrupteur. La tension de sortie d'une telle alimentation est de 25 kV pour une puissance de 400 W.
D'autres sortes d'alimentations sont régulées sur la haute tension. La régulation se fait alors, après l'étage élévateur de tension et l'étage de redressement et de filtrage.
En fait, la régulation est effectuée sur la haute tension dans le cas où l'on souhaite obtenir une très faible ondulation de la tension de sortie et une régulation rapide. Il faut noter que dans de nombreux cas, une prérégulation est possible sur la basse tension de l'alimentation. C'est le cas, notamment, lorsque la régulation haute tension est réalisée au moyen des régulateurs linéaires. Dans le cas d'une prérégulation, on peut utiliser les différents types d'alimentations présentées précédemment, c' est-à-dire les alimentations régulées sur la basse tension.
D'une façon générale, la régulation sur la haute tension nécessite des composants haute tension et souvent une haute puissance. Pour la réalisation d'une alimentation régulée sur la haute tension, on peut utiliser un régulateur linéaire sur la haute tension.
Celui-ci est souvent réalisé au moyen de tétrodes, c' est-à-dire de tubes à vides permettant une régulation précise, comme cela est décrit dans Analysis and control of a 130 kV pulsed tetrode regulator , C.
R. ROSE, J. C. CRON, Seventh IEEE Pulsed Power Conference, Monterey, 1989 et dans A 1 MW (CW) modulator-regulator system for gyroklystrons , Raymond C. BLACK, John KLOUZEK, IEEE Proceedings, 1984 Sixteenth Power Modulator Symposium.
D'une façon générale, les régulateurs linéaires, de par leur principe de fonctionnement, ont des rendements généralement médiocres. Par ailleurs, les régulateurs linéaires, utilisés en haute tension, à savoir les tétrodes, ont une durée de vie relativement limitée. Ils présentent, de plus, un coût élevé.
La régulation sur la haute tension peut également être réalisée au moyen d'une alimentation à découpage de type hacheur à modulation de largeur d'impulsion. Par rapport au régulateur linéaire, les alimentations à découpage ont l'avantage de présenter une bonne fiabilité et un rendement plus élevé. Par contre, ces alimentations nécessitent un (ou plusieurs) interrupteur(s) haute tension rapide(s). Les articles La mise en série des transistors de puissance, présentation d'un hacheur 200 kW - 4 kV , de J. M. ANDREJAK, J. P. ARCHES et P. C. CABALEIRO, Electronique de puissance n" 10 et High voltage converters promising technological developments , J. M. ANDREJAK, M. LESCURE, Proceedings of EPE 87 Grenoble, présentent un hacheur réalisé au moyen d'une mise en série de transistors bipolaires de puissance.
Ce hacheur fonctionne à 4 kV en sortie pour une puissance de 200 kW. Cependant, un tel hacheur est difficile à mettre en oeuvre pour une haute tension.
Les systèmes de régulation sous basse tension sont amenés, pour traiter de fortes puissances, à gérer des courants importants, ce qui implique généralement de réaliser un interrupteur fort courant par une mise en parallèle de semi-conducteurs, si la capacité en courant des différents semi-conducteurs est insuffisante. Il se pose alors un problème au niveau de la fiabilité de ce dispositif car la destruction de l'un des composants en parallèle implique la mise en court-circuit de l'ensemble des semi-conducteurs et donc la défaillance de l'alimentation.
Un autre problème est celui de la valeur du filtre capacitif de sortie. En effet, en cas de défaut sur un équipement alimenté en haute tension, par exemple en cas de court-circuit, l'énergie contenue dans le filtre de sortie se dissipe dans l'équipement, qui peut alors être endommagé ; la dégradation est d'autant plus importante que l'énergie stockée est grande. Aussi, il est nécessaire de limiter l'énergie contenue dans le filtre en diminuant la valeur de la capacité de filtrage. Par contre, l'efficacité du filtre, c'est-à-dire sa capacité à atténuer les ondulations de tension, augmente avec la valeur du condensateur de filtrage et avec la fréquence de découpage du système de régulation, sauf, bien sûr, dans le cas du régulateur linéaire. Ainsi, pour diminuer la valeur d'un filtre, tout en conservant son efficacité, il est nécessaire de réaliser un système de régulation à fréquence de découpage élevée. Toutefois, pour des fréquences supérieures à 10 kHz, ce problème est nettement réduit.
La réalisation d'une alimentation à découpage fonctionnant à une fréquence supérieure à 10 kH et sous haute tension a donc été envisagée. Cette alimentation à découpage consiste, en fait, en un convertisseur DC/DC (c'est-à-dire un hacheur) alimenté sous haute tension et comportant un interrupteur K. La capacité Cp représente les capacités parasites du montage.
Sur la figure 1, on a représenté un tel convertisseur DC/DC. Il s'agit d'un hacheur-abaisseur.
Dans le cadre de l'invention, ces résidus ou sous-produits sont utilisés comme substrats pour la culture de microorganismes capables de se développer et de produire des molécules d'intérêt économique ; ces composés sont en particulier des molécules à haute valeur ajoutée telles que des arômes, des colorants, des enzymes, des acides aminés, des lipides, des glucides, des produits biologiquement actifs dans le domaine thérapeutique, agro-alimentaire ou pour l'agriculture, etc.
Les inventeurs ont, dans le cadre de cette invention, observé que des produits résiduels de la distillation du vin, et en particulier du vin de Cognac (ces produits résiduels étant désignés dans ce cas spécifique par l'expression "vinasse"), sont susceptibles de constituer des substrats appropriés pour la culture de microorganismes, dans le but de produire des molécules d'intérêt économique.
La présente demande de brevet a donc pour objet un procédé de préparation de composés d'intérêt économique à partir de substrats constitués par ou comprenant des résidus de distillation de produits de fermentation et l'utilisation de microorganismes pour la mise en oeuvre ce de procédé.
Ainsi la demande concerne un procédé de préparation de composés d'intérêt économique (appelés "composés"), comprenant les étapes de: a) culture dans des conditions de fermentation aérobie, d'au moins un microorganisme choisi pour sa capacité à synthétiser lesdits composés, en présence d'un substrat comprenant un résidu issu de la distillation de produits de fermentation, b) récupération des composés produits.
En particulier, les produits obtenus peuvent être isolés et purifiés par extraction par un solvant, par distillation, par extraction solide-liquide, par extraction gaz-liquide couplée à une cryocondensation, par fluides supercritiques, par des procédés membrannaires, en particulier la perstraction et la pervaporation ou par séparation chromatographique, en particulier HPLC, ainsi que par des combinaisons de ces techniques séparatives.
La fermentation peut être réalisée en milieu aérobie, anaérobie ou mixte.
Selon un premier mode de réalisation du procédé, le substrat mis en oeuvre comprend un résidu de la distillation du vin et, à titre d'exemple, un résidu de la distillation du vin de Cognac ou d'Armagnac. Ce résidu est appelé "vinasse".
Les vinasses sont le sous-produit liquide obtenu en sortie d'alambic après distillation du vin. L'élaboration du Cognac est réalisée sur lies et génère de gros volumes de vinasse : environ deux tiers du volume de vin distillé. Les vinasses ne contiennent plus d'alcool, et quasiment plus de composés aromatiques, ceux-ci étant passés dans le distillat. Elles contiennent cependant un certain nombre de substances, et notamment des quantités non négligeables d'acides organiques (7,55 à 10,05 g/l).
La composition moyenne des vinasses de distillerie de Cognac est la suivante: pH 3,5 Matières solubles 1 g/l Matières dissoutes 30 g/l Cendres 3 g/I DCO 30 g/I DBO5 20 g/I Azote total 0,5 g/l P205 0,6-0,5 g/l K2O 2-3 g/l Cl 0,03 g/I Acide tartrique 5-6 g/l Acide succinique 0,5-1 g/l Acide lactique 2-3 g/l Acide citrique et malique 0,05 g/l Total 7,55-10,05 gll La DCO est la Demande Chimique en Oxygène, c'est-à-dire la quantité d'oxygène nécessaire pour oxyder les matières organiques contenues dans les effluents.
La DBO5 est la Demande Biologique en Oxygène nécessaire, pendant 5 jours, aux micro-organismes contenus dans l'eau pour oxyder une partie des matières carbonées.
L'acide tartrique des vinasses de distillerie de Cognac est sous forme de bitartrate de potassium (KHC4H406).
Alternativement, selon un autre mode de réalisation de l'invention, le substrat est choisi parmi les résidus de distillation de produits de fermentation de fruits, de betteraves, de canne à sucre, de céréales, notamment de malt, d'orge, de blé.
A titre d'exemple, les résidus de distillation de produits de fermentation du jus de pomme sont les résidus de distillation du calvados, les résidus de distillation de produits de fermentation de la canne à sucre sont les résidus de distillation du rhum, etc.
Les substrats ainsi définis, pris isolément ou en mélange, peuvent être utilisés pour produire différents composés tels que des composés odorants volatils (ou arômes), et de façon générale des protéines, des acides aminés, des lipides, des glucides, des nucléosides, des alcools ou des dérivés de ces composés. Les substrats décrits peuvent ainsi, en fonction du microorganisme choisi pour la mise en oeuvre du procédé, permettre la production de composés biologiquement actifs, entrant dans la composition d'insecticides, de pesticides, d'herbicides, de substances contrôlant la croissance végétale ou des principes actifs de médicaments.
Les substrats définis dans le cadre de l'invention peuvent être adaptés pour la culture de microorganismes variés et en particulier de bactéries, de levures, ou de champignons.
Selon un mode de réalisation particulier de l'invention, le procédé défini est caractérisé en ce que l'étape de culture met en oeuvre au moins une levure du genre Sporobolomyces odorus capable de produire des arômes, dans des conditions de culture permettant la croissance de ladite souche S. odorus et la production d'arômes à partir d'un substrat comprenant de la vinasse.
Afin de ne pas avoir à générer ces adresses, on utilise selon l'invention les adresses produites pour adresser les échantillons. L'adresse du coefficient qui est affecté à un circuit croisillon est comprise dans la seconde adresse produite correspondant à la plus élevée des deux adresses.
Cependant, il convient de distinguer trois cas: (a) lorsque p+1=p-2, l'adresse du coefficient correspond au nombre formé par les p+l bits de poids faible de la seconde adresse générée pour ce circuit croisillon interne. C'est le cas pour le deuxième étage (p=1) dans l'exemple de la figure 20. Les 2 bits de poids faible de la seconde adresse sont 10 et désignent donc le coefficient W2.
(b) si p+1 > p-2, l'adresse du coefficient correspond au nombre formé par les p+l bits de poids faible de la seconde adresse générée pour ce circuit croisillon interne, ôté de ses p-p-1 bits de poids faible. C'est le cas pour le troisième étage (p=2) dans l'exemple de la figure 20. Les 3 bits de poids faible de la seconde adresse générée pour le premier circuit croisillon interne sont 010. Lorsqu'on ôte le dernier bit (j-p-1=l) de ce nombre, on obtient le nombre 01 se rapportant au coefficient W1. Ce cas correspond toujours au dernier étage des circuits de transformation comportant p-1 étages de transformation.
(c) si p+1 < p-2, l'adresse du coefficient correspond au nombre formé par les p+1 bits de poids faible de la seconde adresse générée pour ce circuit croisillon interne, suivis de p-p-3 bits à zéro en fin de nombre.
Ce cas est illustré figure 21. Cette figure représente les adresses se rapportant à un circuit croisillon interne appartenant au deuxième étage de transformation (p=1) d'un circuit de transformation destiné à traiter une suite de 32 échantillons réels (N=32 et =5). Ce circuit croisillon transforme les échantillons de rang 1, 2, 5 et 6 de la suite des échantillons issus du premier étage. Les deux bits de poids faibles de la seconde adresse générée sont 10 et si on y rajoute un zéro (p-p-3=1) en fin de nombre, on obtient le nombre 100 désignant le coefficient W4.
Ainsi, les deux adresses produites par le générateur d'adresses pour un circuit croisillon servent à adresser à la fois les quatre échantillons à traiter et le coefficient se rapportant au circuit croisillon.
De préférence, les échantillons d'adresse paire et d'adresse impaire seront stockés dans deux mémoires distinctes. Ainsi, deux échantillons d'entrée pourront être lus simultanément et les échantillons de sortie résultants pourront être écrits simultanément, ce qui représente un gain au niveau du temps de traitement de la suite à transformer.
Comme mentionné précédemment, à chaque circuit de calcul fonctionnant selon un algorithme avec entrelacement temporel correspond un circuit fonctionnant selon un algorithme avec entrelacement fréquentiel. Pour l'obtenir, il suffit d'une part d'inverser la suite des opérations de transformation du circuit avec entrelacement temporel correspondant, et d'autre part, pour chaque circuit croisillon, d'inverser les opérations de transformation en ellesmêmes par rapport à celle du circuit correspondant.