INPI-France/Brevets-Francais-2024-Chunked huggingface dataset:
avec Re = ## Ko et ou ic et jc sont les indices centrés soit: ic = i #- , jc = j - #A/ Npix - (3510): la transformée de Fourier inverse de Fc est calculée.
(3511): Fc étant maintenant en représentation spatiale, la présence du diaphragme constitue une simple limitation dans ce domaine. Le programme calcule donc le tableau Fd de dimensions Npix x Npix en l'initialisant à 0 puis en effectuant: pour tous les couples (i,j) tels que - (3512) : le programme effectue une transformation de Fourier du tableau Fd 1 F,,, [i, j]Fd [', il (3513): Le programme calcule la valeur rapport = i,j :IFd[i,j]! 2 i, j
- (3514) : Le programme calcule alors la grandeur caractéristique max: max = ~l IF@ [,@ j, ~ rapport. Fi [,@ j,12 I, J La Fig. 60 décrit la procédure (3303). Cette procédure vise à déterminer upixels et vpixels suivant les principes explicités ci-après: On peut exprimer la grandeur #/# calculée en 7. 7. , à une constante près, sous la forme: avec : s = #i2+j2/K02, i et j étant des indices centrés.
La méthode de génération de la grandeur caractéristique, dans les cas mode= ou mode=2, consiste à -J2##/@ multiplier la représentation fréquentielle Frec par le facteur de correction de phase e puis à effectuer une transformée de Fourier. La représentation ainsi obtenue est dans le domaine spatial. La grandeur caractéristique est à peu près la valeur de cette représentation au point origine. Elle est donc obtenue comme somme d'éléments de la forme e -J2#@/#. Cette grandeur caractéristique peut être considérée comme une fonction fonc(u,v) de u et v. Si on fixe la valeur de v, elle devient simplement fonction de u. Si on limite la représentation Frec à un disque de rayon (en pixels) K0S0 cette fonction de u a comme fréquence maximale a(so) . a(so) est donc la fréquence maximale de fonc suivant u. De même, b(s0) est la fréquence maximale de fonc suivant v. upixels et vpixels doivent être déterminés de manière à ce que pour une valeur donnée de s0 aussi élevée que possible, les pas d'échantillonnage suivant u et v soient suffisamment précis pour éviter le repliement de spectre. Cette condition s'écrit: Par ailleurs le nombre total de pixels est limité à une valeur pixels, ce qui s'écrit: upixels. vpixels = pixels En combinant ces équations on obtient l'équation El:
Deux cas se présentent alors: L'équation El a une solution s0 que le programme peut déterminer par dichotomie. Les valeurs de upixels et vpixels sont alors déterminées par: upixels = 2#a(s0)#ularg vpixels = 2#b(s0)#vlarg L'équation El n'a pas de solution. Les valeurs de upixels et vpixels sont alors déterminées pour être proportionnelles à celles obtenues pour la valeur s0 = ouv soit : nv Par ailleurs la condition upixels. vpixels = pixels doit toujours être vérifiée. La résolution de ces équations donne : et on obtient donc finalement:
Dans les deux cas, les valeurs ainsi déterminées sont des nombres réels qui peuvent être inférieurs à 1 ou supérieurs à pixels. Une dernière étape consiste donc à les traduire en nombres entiers dans l'intervalle [l,pixels].
L'algorithme résultant, qui permet de déterminer upixels et vpixels, est représenté sur la Fig.60.
Les étapes suivantes doivent être détaillées: (4201): so est la solution de l'équation la(so )b(so)1 = pixels Le programme résout cette équation 4. ularg. vlarg par dichotomie entre 0 et ouv. nv (4202):le programme prend pour upixels et vpixels le nombre entier le plus proche de la valeur réelle obtenue, puis il limite ces valeurs de la manière suivante: - si upixels pixels le programme effectue upixels=pixels -si vpixels>pixels le programme effectue vpixels=pixels 7. 9. Obtention des caractéristiques des faisceaux parallèles.
Chaque faisceau parallèle généré par le système de contrôle du faisceau d'éclairage a une phase indépendante. Cette procédure a pour objet de déterminer les phases et les coordonnées de ces faisceaux parallèles. Elle se décompose en deux parties: 7. 9.1. Réglage des objectifs et obtention de la position relative des points de focalisation.
STADE C : 7-[[6-déoxy-5-C-méthyl-4-O-méthyl-2-O-(tétrahydro- 2H-pyran-2-yl) -3-O- (triéthylsilyl) -alpha-L-îyxo- hexopyranosyl]oxy]-8-méthyl-2-oxo-4-(phénylméthoxy)-2H-1- benzopyran-3-carboxylate d' éthyle On agite sous argon une solution renfermant 40,9 g de produit du stade précédent dans 400 ml de chlorure de méthylène à la température ambiante. On ajoute quelques gouttes d'APTS, puis 11,54 ml de dihydropyrane.
On agite 2 heures à la température ambiante. On ajoute 6 g de bicarbonate de sodium. On agite la suspension pendant 15 minutes. On dilue avec 1000 ml d'un mélange hexane/acétate d'éthyle (2-1) et verse sur de l'eau. On décante, sèche la phase organique sur sulfate de sodium et évapore à sec. On obtient 54,67 g de produit que l'on purifie en éluant avec un mélange hexane/acétate d'éthyle (4-1). On obtient ainsi 36,83 g de produit.
STADE D : 7- 6-déoxy-5-C-méthyl-4-O-méthyl-2-O- On hydrogène 18 g de produit préparé au stade précédent, en solution dans 360 ml de tétrahydrofuranne. On ajoute 0,240 g de palladium sur charbon et place le ballon sous atmosphère d'hydrogène. On filtre. On lave le catalyseur avec un peu de tétrahydrofuranne. On évapore 100 ml de solvant et obtient une solution que l'on utilise telle quelle dans le stade suivant.
STADE E : 7-[[6-déoxy-5-C-méthyl-4-O-méthyl-2-O-(tétrahydro- 2H-pyran-2-yl)-alpha-L-lyxo-hexopyranosyl]oxy]-4-hydroxy-8méthyl-2-oxo-2H-l-benzopyran-3-carboxylate d' éthyle On refroidit sous argon 0 C une solution renfermant 15,31 g de produit du stade précédent dans 250 ml de THF. On ajoute goutte à goutte 31 ml de tétrabutylammonium fluorure (1M dans THF). On dilue le milieu réactionnel avec 400 ml d'un mélange hexane/acétate d'éthyle (1-2). On ajoute 300 ml d'une solution & 10 % d'hydrogénosulfate de sodium et décante. On sèche et évapore à sec. On solubilise le produit brut obtenu dans 20 ml d'éther éthylique. On refroidit à -100C et ajoute sous agitation 80 ml de pentane. On agite la suspension obtenue à -200C, filtre à -160C. On lave le produit obtenu avec du pentane et sèche. On obtient 9,4 g de produit recherché.
PrQparation 2 : 3-acétyl-7-[[6-déoxy-5-C-méthyl-4-O-méthyl-2- O-(tatrahydro-2H-pyran-2-yl)-alpha-L-lyxo-hexopyranosylZoxy]- 4-hydroxy-8-methyl-2H-1-benzopyran-2-one STADE A : 4-(diphénylméthoxy)-8-méthyl-7-(tétrahydro-2Hpyran-2-yl)-2H-l-benzopyran-2-one On introduit 55 g de 4-hydroxy-8-méthyl-7-(tétrahydro- 2H-pyran-2-yl)-2H-1-benzopyran-2-one dans 250 ml de diméthylformamide anhydre chauffé à 400 C, et ajoute goutte å goutte, une solution de 58,3 g de diphényldiazométhane dans 250 ml de DMF. L'addition est faite en 3 heures en maintenant la température à 40"C.
On ajoute à nouveau plusieurs portions de 3 g de diphényldiazométhane et agite une heure à 400C.
On verse le milieu réactionnel sur 2 1 d'éther sulfurique. On lave la solution organique avec une solution aqueuse de bicarbonate de sodium, avec une solution de soude (0,1 M), à l'eau et à la saumure. On évapore à sec. Le résidu est agité dans un mélange éther isopropylique-hexane (1-2). On essore et sèche l'insoluble. On obtient 20,5 g de produit recherché.
CCM CH2C12-AcOEt (95-5). Rf = 0,44.
STADE B : 4-(diphénylméthoxy)-7-hydroxy-8-méthyl-2H-l- benzopyran-2-one On ajoute 35 ml d'une solution d'acide chlorhydrique 0,9 M dans le méthanol, dans une solution renfermant un mélange de 20 g de produit du stade A, de 100 ml de dichlorométhane et 100 ml de méthanol. On agite 2 heures à la température ambiante et évapore les solvants. On disperse le résidu dans de méthanol absolu refroidi à OOC. On essore l'insoluble et rince à l'alcool glacé puis à l'éther sulfurique. On sèche et recueille 15,53 g de produit que l'on disperse dans l'éther, essore et sèche. On obtient 14,54 g de produit recherché.
RMN 1H (300 MHz, CDCl3, ppm) 6 2,31 (s, 3H), 5,62 (s, 1H), 6,35 (s, 1H), 6,78 (d, 1H, J= ~Hz), 7,75 (d, 1H, J= Hz), 6,99 à 7,10 (m, ~H), 7,30 à 7,42 (m, ~H).
STADE C : 7- (6-déoxy-5-C-méthyl-4-O-méthyl-alpha-L-lyxo- hexopyranosyl)oxy]-4-(diphénylméthoxy)-8-méthyl-2H-1benzopyran-2-one On refroidit à OOC un mélange de 91,13 g de produit du stade B, 58,6 g de 6-déoxy-5-C-méthyl-4-O-méthyl-L-lyxohexopyranose et 80 g de triphénylphosphine dans 900 ml de dichlorométhane. On ajoute goutte à goutte 60 ml de diisopropylazodicarboxylate. On agite pendant 1 heure à la température ambiante.
On ajoute 34 g de triphénylphosphine et 25 ml de diisopropylazodicarboxylate. On agite 1 heure à la température ambiante. On ajoute 34 g de triphénylphosphine et 25 ml de diisopropylazodicarboxylate et agite 12 heures à la température ambiante. On concentre sous vide. On chromatographie en éluant avec un mélange toluène/alcool isopropylique (95-5). Après réunion des fractions et évaporation des solvants, on recueille après recristallisation dans l'éther isopropylique, 86,83 g de produit recherché.
RMN 1H (300 MHz, CDCl3, ppm) 6 1,13 (s, 3H), 1,37 (s, 3H), 2,24 (s, 3H), 2,69 (s, 1H), 2,79 (s, 1H), 3,38 (d, 1H, J= 10 Hz), 3,60 (s, 3H), 4,24 (m, 1H), 4,28 (m, 1H), 5,56 (s, 1H), 5,64 (d, 1H, J=1,5 Hz), 6,35 (s, 1H), 7,18 (d, 1H), 7,81 (d, 1H), 7,39 (m, 10 H).
STADE D : [6-déoxy-5-C-méthyl-4-O-méthyl-3-O- On ajoute 26,6 g d'imidazole et 70,15 ml de diisopropyléthylamine dans une solution refroidie à 0 C, renfermant 80 g de produit du stade précédent et 600 ml de dichlorométhane.
On ajoute goutte à goutte 33,5 ml de chlorure de triéthylsilyle. On agite 1 heure à la température ambiante. On lave avec une solution aqueuse de dihydrogénophosphate de sodium, 1M, å l'eau et à la saumure. On sèche sur du sulfate de magnésium, filtre et concentre. On recueille 97,58 g de produit que l'on purifie par chromatographie sur silice en éluant avec le mélange dichlorométhane acétone (de 0,8 à 1 %). On obtient 46,5 g de produit.
RMN 1H (300 MHz, CDC13-d6, PPm) 6 0,60 (q, ~H, J=~Hz), 0,74 (q, ~H, J=~Hz), 0,97 (t, ~H, J=~Hz), 1,00 (t, ~H, J=~Hz), 1,10 (s, 3H), 1,32 (s, 3H), 2,24 (s, 2H), 2,74 (s, 1H), 3,31 (d, 1H, J=~Hz), 3,54 (s, 3H), 4,07 (m, 1H), 4,29 (dd, 1H, J=~Hz), 5,50 (s, 1H), 5,64 (d, 1H, J ~Hz, 6,35 (s, 1H), 7,28 (d, 1H, J= Hz), 7,81 (d, 1H, J-Hz), 7,40 (m).
Etape 38. Réglage de l'orientation du miroir (4347) Ce miroir est monté sur un positionneur deux axes permettant d'en ajuster l'orientation.
La commande des SLM est inchangée. Entre (4345) et (4346), deux faisceaux se propageant en sens opposé sont superposés. Un diffuseur introduit sur le coté du faisceau sera illuminé des deux cotés. Les parties illuminées de chaque coté du diffuseur doivent être les mêmes : deux faisceaux sont alors exactement superposés. (4347) est réglé pour qu'entre (4345) et (4346) les faisceaux se propageant dans les deux sens soient exactement superposés.
Etape 39. Réglage en translation de la lentille (4346) La lentille (4346) est montée sur un positionneur un axe en translation permettant d'en ajuster la position dans le sens de l'axe optique.
FRDI est utilisé. Le fréquencemètre est positionné sur la trajectoire de FRDI entre (4345) et (4430).
La position de la lentille (4346) est ajustée pour que l'image sur le CCD du fréquencemètre soit ponctuelle.
Etape 40. Réglage de l'orientation du miroir semi-transparent (4345) Le miroir semi-transparent (4345) est monté sur un positionneur deux axes permettant d'en ajuster l'orientation.
Un capteur auxiliaire est provisoirement mis en place derrière (4313). Le miroir semi-transparent (4313) est réglé pour que l'image sur ce capteur provisoire soit centrée par rapport au diaphragme (4313).
Etape 41. réglage de position des objectifs (4317) et (4319) en translation.
L'objectif (4319) est monté sur un dispositifde focalisation. L'objectif (4317) est monté sur un positionneur deux axes en translation permettant un déplacement dans un plan orthogonal à l'axe optique.
Le faisceau FRDI est utilisé. Un capteur CCD provisoire est positionnéjuste derrière (4323) sur la trajectoire de FRDI. La position des objectifs est réglée pour obtenir une image ponctuelle centrée.
Etape 42. Introduction d'un faisceau d'éclairage plan provisoire.
Ce faisceau, que l'on appellera 'FEP', est dérivé du laser par un miroir semi-transparent placé entre (4304) et (4305) et il est amené par unjeu de miroirs vers l'entrée de l'objectif de microscope (4317), du coté de l'échantillon. L'objectif (4319) doit être provisoirement supprimé à cet effet. A l'entrée dans l'objectif, ce faisceau est dirigé suivant l'axe optique de l'objectif.
Etape 43. réglage de l'orientation du miroir (4314) et réglage en translation de la lentille(4312).
Le miroir (4314) est monté sur un positionneur angulaire permettant d'en ajuster l'orientation. La lentille (4312) est montée sur un positionneur un axe en translation dans le sens de l'axe optique.
FEP et FRD sont utilisés. Une image est obtenue à partir du capteur (4339). La ponctualité et les coordonnées du point image de FEP sont évaluées par la procédure décrite en 7.3.3.1.
La lentille (4312) est réglée pour que l'image soit ponctuelle.
Les plans d'espace et de fréquence alternent sur la trajectoire du faisceau. Un plan d'espace et un plan de fréquence successifs sont toujours séparés par une lentille ou un doublet. Leur succession suit la logique exposée en 8.1. Un plan d'espace et un plan de fréquence séparés par une lentille (ou un doublet) occupent toujours deux plans focaux de cette lentille (ou de ce doublet).
Le dispositif de déviation du faisceau dont le principe a été décrit en 8. 1.2. est mis en oeuvre par des éléments correspondant à ceux de la Fig. 65. Les SLM (4612) et (4614) sont respectivement matérialisés par les SLM (4405) et (4412). Le diaphragme (4615) est matérialisé par (4406). Le dispositif a été adapté pour tenir compte du fait que les SLM fonctionnent en réflexion, pour inclure les polariseurs, et pour positionner le diaphragme (4406) dans un plan différent du SLM (4412). Le SLM (4417) a été rajouté pour effectuer un filtrage supplémentaire de l'onde d'éclairage, améliorant ainsi la suppression des fréquences parasites.
Le dispositif de suppression de l'onde directe décrit en 8.1.3. est mis en oeuvre par des éléments correspondant à ceux de la Fig. 66. Le SLM (4704) correspond au SLM (4427). Les diaphragmes (4700) et (4706) correspondent respectivement à (4313) et (4428). Le CCD (4709) correspond à (4339). La lentille (4703) correspond au doublet (4425) (4426). La lentille (4705) correspond au même doublet traversé en sens inverse. La lentille (4708) correspond au doublet (4430) (4429). Des correspondances symétriques sont valables pour la partie symétrique du microscope.
Les doublets utilisés permettent une application du principe décrit en 8.1.4.1. Ils sont constitués de deux lentilles qui peuvent être déplacées conjointement, une des lentilles pouvant également être déplacée par rapport à l'autre.
Le système constitué par (4436) réalise le principe décrit en 8.1.4.2.
Sur chaque polariseur, l'axe passant est indiqué par un trait, représentant un axe dans le plan de la figure, ou un rond, représentant un axe dans un plan orthogonal au plan de la figure.
Sur chaque SLM, un repère est représenté qui constitue celui dans lequel les coordonnées des pixels sont évaluées. Sur chaque SLM d'amplitude, on a représenté en plus la position de l'axe neutre qui correspond à une extinction du faisceau, avec la même convention que pour l'axe passant des polariseurs.
L'autre position possible de l'axe neutre est obtenue à partir de la position d'extinction par une rotation d'environ 40 degrés dans un sens ou un autre. Sur le SLM de phase (4405) les deux positions de l'axe neutre sont symétriques par rapport à un axe vertical.
Sur les rotateurs de polarisation, on a indiqué un repère. Une position de l'axe neutre, correspondant à une tension appliquée de-5V, est l'axe horizontal du repère. Dans l'autre position, l'axe neutre est approximativement dirigé suivant un vecteur de coordonnées égales sur les deux axes.
Les polariseurs (4408) (4413)(4420) peuvent être des prismes de Glan-Thomson, qui présentent l'avantage d'une faible absorption. Ils entraînent toutefois une aberration sphérique trop importante pour être utilisés sur le chemin de l'onde issue de l'objet. Les polariseurs (4423) (4352) (4438) (4353) sont de préférence des polariseurs dichroïques constitués d'un film dichroïque maintenu entre deux plaques de verre suffisamment fines.
L'ensemble des lentilles utilisées dans le système sont des achromats ou des lentilles composées, minimisant l'aberration sphérique.
La plupart des éléments sont montés sur des positionneurs permettant un réglage précis de leur position. Les caractéristiques de ces positionneurs seront indiquées en 8.5. en même temps que la procédure de réglage. L'échantillon, dont les caractéristiques de positionnement ne sont pas explicitées en 8. 5., est monté sur un positionneur trois axes en translation.
8. 3. Dimensionnement Il est nécessaire de préciser la distance focale de chaque lentille et l'ouverture de chaque diaphragme pour dimensionner le système. Pour les doublets on précisera la distance focale du doublet. f, désigne la distance focale de la lentille (ou du doublet) numéro i, les lentilles étant numérotées comme suit:
indice i numéro de la lentille sur le schéma, ou , entre parenthèses, des deux lentilles constituant un doublet 1 4401 2 4404 3 4407
4 (4410,4411) 5 (4415,4416) 6 4421 7 4431 ou (4433,4434) 8 (4425,4426) ou (4440,4441) 9 (4430,4429) ou (4444,4445) 10 4312 ou 4324 11 4331 ou 4342 12 4346 ou 4381 li désigne la largeur du diaphragme numéro i, les diaphragmes étant numérotés comme suit:
indice / numéro du diaphragme sur le schéma 0 4349 ou 4350 1 4348 2 4406 3 4414 4 4419 5 4313 ou 4323 6 4428 ou 4443 En outre on adopte les notations suivantes: pc distance entre les centres de deux pixels adjacents, sur les capteurs CCD pc distance entre les centres de deux pixels adjacents, sur le SLM de phase pf distance entre les centres de deux pixels adjacents, sur les SLM d'amplitude Npix nombre de pixels sur un capteur CCD ou sur un SLM d'amplitude (ces nombres sont égaux).
Une jupe annulaire 23, d'orientation axiale, relie le rebord 22 au fond 21, le rebord étant dirigé en direction opposée au fond 21, c'est-à-dire en direction opposée à l'axe X-X.
Le diaphragme 4 s'appuie axialement à la périphérie externe de sa rondelle Belleville 41 sur les moyens d'appui 3, tandis que la périphérie interne de sa rondelle Belleville 41 est montée de manière basculante entre deux appuis axialement en vis-à-vis, respectivement un appui secondaire 25 porté par des pattes de fixation 26 issues par découpe et pliage du fond 21 et un appui primaire 24 porté par le fond 21 du couvercle 2. En position engagée de l'embrayage, le diaphragme 4 est en appui sur l'appui primaire et sur les moyens d'appui 3 du plateau de pression 1 sachant que les pattes 26 traversent axialement les orifices élargis 44 du diaphragme 4.
Pour maintenir, lorsque l'embrayage est embrayé, les moyens embrayeurs à action axiale 4 dans une position indépendante de l'usure des garnitures 99 du disque de friction, et dans une moindre mesure de l'usure des plateaux de pression 1 et de réaction 100 dont les faces, dites de friction formant piste de frottement, s'usent au contact des garnitures du disque de friction, il est prévu un dispositif de rattrapage d'usure qui comprend une cassette 30 et un anneau 200 de réglage à rampes 32.
Plus précisément, L'anneau 200 de réglage à rampes 32 est un anneau en tôle découpée et emboutie de façon à présenter des rampes 32 disposées circonférentiellement de manière régulière, l'anneau 200 de réglage présentant également des zones d'appui 3 constituées par l'arête supérieure arrondie d'emboutis en arcs de cercle qui sont centrés sur l'axe X-X de l'embrayage et qui sont placés radialement à l'extérieur par rapport aux rampes 32 (voir notamment figure 5).
Le plateau de pression 1 présente ici, réalisés venus de moulage, sur sa face transversale arrière tournée vers le fond 21 du couvercle 2, des plots 13 répartis circonférentiellement à une distance l'un de l'autre qui correspond à celle qui sépare circonférentiellement deux rampes consécutives 32, les plots 13 étant destinés à coopérer chacun avec une rampe 32.
L'anneau de réglage 200 à rampes 32 est placé axialement entre le diaphragme 4 et le plateau de pression 1 en sorte que les plots 13 coopèrent avec la rampe 32 et que le diaphragme 4 coopère avec les zones d'appui 3 qui constituent ainsi les moyens d'appui, qui sont ici fractionnés mais qui peuvent, en variante, être continus, par l'intermédiaire desquels le diaphragme 4 agit sur le plateau de pression 1.
L'une au moins des zones d'appui 3 de l'anneau 200 de réglage à rampes 32 est prolongé à sa périphérie externe par un rebord 33 parallèle à l'axe X-X, se terminant selon un retour transversal, c'est-àdire s'étendant radialement vers l'extérieur dans un plan perpendiculaire à l'axe X-X, et qui est muni à sa périphérie externe d'une denture 31 en sorte que le rebord radialement extérieur et d'orientation axiale 33 de l'anneau 200 de réglage est centré par une surépaisseur du plateau de pression 1 dans chacune desquelles est formé un plot 13.
Le plateau de pression 1 a ainsi une épaisseur variable, c'est-àdire plus précisément que la distance entre sa face frontale avant de friction Il et les zones d'appui coplanaires 3 varie en fonction des usures précitées.
La cassette 30 du dispositif de rattrapage d'usure comprend, de manière connue, une roue à rochet 102 solidaire d'un axe 104 qui porte également une vis sans fin 106 dont le filet et le pas sont adaptés à la denture 31, ainsi qu'un ressort de rattrapage 108. Ces pièces 102,104,106,108 sont portées par un support 109 fixé par rivetage sur le rebord 22. Le support 109 porte également un organe élastique 110 avec une languette de commande 111 coopérant avec les dents de la roue à rochet 102 et actionné par un appendice 112 du diaphragme 4.
Le fonctionnement général du dispositif de rattrapage de jeu 30, 200 qui vient d'être décrit sommairement est connu et ne sera pas décrit en détail. Si besoin est, on pourra se reporter au contenu de la demande de brevet français No. 96.11297 publiée sous le numéro FR-A-2 753 503 dont la partie de la description correspondante doit être considérée comme faisant partie de la présente demande.
On rappellera qu'en cas d'usure l'appendice 112 agit sur la languette 111 qui fait tourner la roue 102 pour armer le ressort 108, qui en se détendant, pousse la vis 106 pour faire tourner la denture 31 et l'anneau 200 lors d'une opération de débrayage.
Les moyens d'appui 3 pour la périphérie externe de la rondelle Belleville 41 du diaphragme 4 sont ainsi constitués par un bossage annulaire d'orientation axiale et fragmenté appartenant à l'anneau 200 de réglage dont les rampes 32 coopèrent avec la face d'extrémité transversale arrière, avantageusement chanfreinée, des plots 13 formant contre-rampes. La vis sans fin 106 est disposée tangentiellement par rapport à la denture, tandis que l'axe 104 est solidaire de la vis 106.
La cassette 30 appartenant au dispositif de rattrapage d'usure permet, en service, de faire tourner l'anneau 200 pour compenser l'usure due principalement aux garnitures de friction du disque de friction. La cassette 30 est montée par son support 109 sur le couvercle 2 avant la fixation du plateau de pression 1 au couvercle.
Plus précisément, on fixe d'abord le diaphragme 4 sur le couvercle 1 à l'aide des pattes de fixation 26 de manière précitée, le diaphragme 4 étant monté basculant entre les deux appuis 24, 25.
Ensuite, on monte un anneau 8 avec ses pattes 7 entre des pattes de butée 5 du couvercle 2, 21 et la périphérie interne des doigts 42 du diaphragme 4. Le diaphragme occupe alors une position plane correspondante globalement à celle qu'il occupe une fois que le mécanisme d'embrayage est monté sur le couvercle 2.
Pour plus de précisions sur l'anneau, on se reportera au document FR98 01769.
éthanol, propanol, butanol), ou tout mélange de ces solvants.
Par ailleurs, il est possible de réaliser des extraits de café vert par d'autres procédés comme, par exemple, la simple décoction, la lixiviation, l'extraction sous reflux, l'extraction au moyen d'ultrasons ou de micro-ondes ou enfin au
moyen de techniques à contre courant, sans que cette liste soit limitative.