INPI-France/Brevets-Francais-2024-Chunked huggingface dataset:
De plus, L'élément de soupape en translation le long de l'axe de soupape, en particulier le premier élément de soupape peut être bloqué à l'encontre d'une rotation autour de l'axe de soupape. L'élément de soupape en rotation autour de l'axe de soupape, en particulier le second élément de soupape, est bloqué à l'encontre d'une translation le long de l'axe de soupape. Grâce au blocage à l'encontre d'une rotation et d'une translation, on obtient que la position de rotation des deux éléments de soupape l'un par rapport à l'autre soit déterminée uniquement par la position en rotation de l'élément de soupape en rotation, et que la position de translation des deux éléments de soupape l'un par rapport à l'autre soit déterminée uniquement par la position de translation de l élément de soupape en translation, de sorte que l'on assure un comportement de commande bien défini de la soupape de commande.
L'un des deux éléments de soupape, en particulier le premier élément de soupape. peut présenter au moins deux trous décalés l'un par rapport à l'autre en direction périphérique et/ou en direction axiale, en particulier des perçages en tant qu'ouvertures de passage de fluide sous pression. L'autre élément de soupape présente alors de préférence au moins un trou oblong en tant qu'ouverture de passage de fluide sous pression coopérant avec les trous pour réaliser les états de commande de la soupape, qui s'étend aussi bien en direction périphérique qu'en direction axiale et de préférence en oblique par rapport à une ligne enveloppe (imaginaire) parallèle à l'axe de cet élément de soupape.
On propose que la soupape de commande, en particulier le boîtier de soupape et/ou le premier élément de soupape et/ou le second élément de soupape, présente des moyens de guidage de fluide sous pression qui assurent une liaison d'écoulement de fluide sous pression entre des ouvertures de passage de fluide sous pression associées par paire les unes aux autres d'une part dans le boîtier de soupape et d'autre part dans l'un des deux éléments de soupape, indépendamment de la position de cet élément de soupape par rapport au boîtier de soupape.
Dans ce cas, les états de commande de la soupape de commande sont réalisés dans l'essentiel uniquement par les ouvertures de passage de fluide sous pression ou les arêtes de commande des deux éléments de soupape et les ouvertures de passage de fluide sous pression du boîtier de soupape servent uniquement à amener le fluide sous pression à la soupape et puis à l'agencement de vérin à fluide sous pression ou bien à évacuer le fluide sous pression depuis l'agencement de vérin à fluide sous pression via la soupape de commande.
Pour la réalisation des moyens de guidage du fluide sous pression, on a diverses possibilités. Par exemple, les moyens de guidage de fluide sous pression peuvent comprendre au moins un évidement de guidage de fluide sous pression qui s'étend en direction axiale et/ou en direction périphérique dans des tronçons de surface adjacents du boîtier de soupape, du premier élément de soupape, et du second élément de soupape. L'évidement de guidage du fluide sous pression (ou exprimé autrement : la pièce présentant l'évidement de guidage de fluide sous pression) présentera alors en règle générale une ouverture de passage de fluide sous pression respective (dans la zone de l'évidement de guidage de fluide sous pression), I'évidement de guidage de fluide sous pression étant en liaison d'écoulement de fluide sous pression avec l'ouverture de passage de fluide sous pression associée par paire à cette ouverture de passage de fluide sous pression, indépendamment de la position de l'élément de soupape respectif. De plus, les moyens de guidage de fluide sous pression peuvent comprendre un volume intérieur réalisé dans la soupape de commande et limité au moins partiellement par au moins deux éléments du boîtier de soupape que sont le premier élément de soupape et le second élément de soupape, dans lequel débouchent les ouvertures de passage de fluide sous pression associées par paire, indépendamment de la position de l'élément de soupape respectif.
La soupape de commande conforme à l'invention peut comprendre relativement peu d'ouvertures de passage de fluide sous pression. Ainsi, un mode de réalisation préféré de la soupape de commande se caractérise en ce que dans au moins une plage de position des deux éléments de soupape l'un par rapport à l'autre et par rapport au boîtier de soupape, une liaison de fluide sous pression est établie entre la source de fluide sous pression et l'agencement de vérin à fluide sous pression via exactement deux ouvertures de passage de fluide sous pression dans le boîtier de soupape, via exactement une ouverture de passage de fluide sous pression dans le premier élément de soupape, et via exactement une ouverture de passage de fluide sous pression dans le second élément de soupape, et en ce que dans au moins une autre plage de position des deux éléments de soupape l'un par rapport à l'autre et par rapport au boîtier de soupape, une liaison de fluide sous pression est établie entre l'agencement de vérin à fluide sous pression et l'ouverture de compensation de pression via exactement deux ouvertures de passage de fluide sous pression dans le boîtier de soupape, via exactement une ouverture de passage de fluide sous pression dans le premier élément de soupape, et via exactement une ouverture de passage de fluide sous pression dans le second élément de soupape, l'ouverture de compensation de pression pouvant en principe coïncider avec l'une des ouvertures de passage de fluide sous pression dans le boîtier de soupape.
Tel que représenté à la figure 6, ce pivot 8 est constitué d'une tige 31 dotée d'une tte 32 et percée, au niveau de son extrémité opposée à ladite tte, d'un alésage borgne 33 en regard duquel ladite tige comporte deux pattes élastiques telles que 34 diamétralement opposées, délimitées chacune par deux fentes axiales et dotées chacune d'un cran externe tel que 35 de blocage en translation de la tige 22 à l'intérieur des manchons 13,14,29,30.
Le chariot de guidage comprend, par ailleurs, un bloc 36 de forme adaptée pour pouvoir tre inséré dans la"cage"du corps de chariot et coulisser axialement à l'intérieur de cette dernière.
Tel que représenté à la figure 3, ce bloc 36 présente, vu en coupe longitudinale, la forme d'un U inversé à ailes inégales doté de deux parois frontales parallèles 37,38 agencées pour s'étendre en regard respectivement de la platine 9 et de la paroi frontale 22, reliées par une portion de paroi supérieure 39 de forme générale courbe apte à faciliter la prise et la manutention dudit bloc.
De plus, ce bloc 36 est obturé latéralement par des parois latérales telles que 40,41 percées de lumières telles que 42 s'étendant selon un axe (y) incliné d'un angle de l'ordre de 55 degrés par rapport à l'axe (x) des fentres 17, 18 des parois 15,16, lesdites lumières présentant une largeur sensiblement égale à la hauteur desdites fenetres.
Le bloc 36 comporte, enfin, une pluralité de rangées de dents asymétriques telles que 43 ménagées sur la face externe de la paroi frontale 37 et agencées pour coopérer avec les dents asymétriques 27,28 de la"cage", de façon à autoriser un déplacement axial dudit bloc selon un seul sens de translation permettant uniquement de l'enfoncer à l'intérieur de ladite"cage".
Tel que représenté à la figure 4, le chariot de guidage comprend également un arbre creux 44 sur lequel est monté le galet de guidage 4, adapté pour s'étendre au travers des fentres 17,18 et lumières 42 et présentant à cet effet un diamètre externe conjugué de la hauteur desdites fentres et lumières.
Cet arbre creux 44 comporte un tronçon d'extrémité 45 de diamètre inférieur à son diamètre courant, formant le chemin de roulement du galet de guidage 4.
Cet arbre creux 44 comporte, en outre, au niveau du tronçon d'extrémité 45, deux bandes déformables diamétralement opposées délimitées chacune par deux fentes, axiales et dotées chacune d'un cran externe 46,47 de butée axiale du galet de guidage 4.
Cet arbre creux 44 comporte, par ailleurs, à l'opposé du tronçon d'extrémité 45, une collerette 48.
Cet arbre creux 44 comporte, enfin, en amont du tronçon d'extrémité 45, en direction de la collerette 48, une surépaisseur interne délimitant un conduit partiel 49 de diamètre interne inférieur au diamètre interne courant dudit arbre creux.
Le chariot de guidage comprend, enfin, un pion 50 représenté à la figure la, agencé pour tre inséré dans le tronçon d'extrémité 45 de l'arbre creux 44 et adapté pour assurer notamment l'indéformabilité dudit tronçon d'extrémité une fois le galet de guidage 4 mis en place autour de celui-ci.
Ce pion 50 comporte en premier lieu deux pattes longitudinales flexibles 51,52 dotées chacune d'un cran externe 53,54, s'étendant dans le prolongement axial d'un embout 55 de section adaptée pour se loger dans le tronçon d'extrémité 45 de l'arbre creux 44. Ces pattes longitudinales 51,52 sont, en outre, agencées pour venir s'encliqueter à l'arrière du conduit 49 par l'intermédiaire des crans 53,54.
Le pion 50 comporte, enfin, une collerette externe 56 ménagée au niveau de l'extrémité de l'embout 55, et dotée d'encoches 57 aptes à loger chacune un des crans externes 46,47 de l'arbre creux 44, ladite collerette étant agencée pour s'étendre dans un mme plan radial que lesdits crans externes de façon à former avec ceux-ci une couronne de butée axiale du galet de guidage.
Un tel chariot de guidage permet, par un simple déplacement axial du bloc 36 à l'intérieur de la"cage", d'ajuster la distance séparant l'axe de rotation du galet de guidage 4 de la face interne du panneau 1 correspondant de la porte sectionnelle, de façon à amener ledit galet de guidage à porter contre la face de roulement du rail de guidage 5.
De plus, une fois cet ajustement effectué, le réglage est automatiquement figé du fait de l'impossibilité pour le bloc 36 de"remonter"en sens inverse dans la cage.
Les figure 7a et 7b représentent à titres d'exemples, les deux positions extremes de réglage"emin"et"emax"obtenues respectivement lorsque l'arbre 44 bute dans le fond des lumières 42, correspondant à une position"haute" du bloc 36, et lorsque cet arbre 44 bute en partie haute desdites lumières, correspondant à une position"basse"du bloc 36.
8 ) Découpe des puces microlasers ( microchip lasers ) avec une scie circulaire diamantée (identique à celle qui est utilisée en micro- électronique).
9 ) Connexion d'une diode de pompage optique à chaque microlaser.
Il est possible également de réaliser des microlasers conformes à l'invention de façon individuelle, en assemblant des échantillons de petite taille (quelques millimètres) des différents matériaux.
Par exemple, un laser conforme à l'invention est réalisable à l'aide d'un verre dopé avec de l'erbium et de l'ytterbium, un cristal de LMA dopé avec du cobalt (voir le document [11] ) et un cristal d'InP semi-isolant dopé avec du fer.
Des microlasers ont été réalisés avec un milieu à gain constitué de verre de phosphate dopé à 0,8% en masse avec de l'oxyde d'erbium (Er203) et à 20% en masse avec de l'oxyde d'ytterbium (Yb203). Ce genre de verre : Er, Yb est commercialement disponible auprès de la société Kigre aux USA. Il possède une composition en Er et Yb spécialement adaptée au fonctionnement d'un microlaser à 1,55 um. Une lame de verre de 0,75 mm ou de 1 mm d'épaisseur est utilisée. Elle a été polie pour obtenir deux faces planes et parallèles.
Le rôle de l'absorbant saturable est tenu par une couche de matériau semi-conducteur dont la largeur de bande interdite est fixée par la longueur d'onde souhaitée (1,55 um). Les couches d'absorbant saturable sont soit des couches épaisses contraintes en InGaAs, soit des couches en InGaAlAs, soit des structures à plusieurs puits quantiques en inGaAs de 9 nm dans des barrières de InAlAs.
Le miroir d'entrée est déposé sur une face de la lame de verre : Er, Yb. Il s'agit d'un empilement de couches SiO2/TiO2 réalisé par pulvérisation ionique.
De même, on dépose la couche antireflet par exemple sur l'autre face de la lame de verre et le miroir de sortie sur le semiconducteur. Les lamelles en matériaux semiconducteurs sont assemblées de façon mécanique avec des lamelles de verre : Er, Yb.
La cavité est pompée par une diode laser émettant autour de 975 nm (commercialement disponible auprès de Spectra Diode Labs aux USA).
Les résultats typiques obtenus avec de tels microlasers sont donnés dans le tableau suivant :
Fréquence de répétition 500 Hz à 100 kHz Durée des impulsions 100 ns à 1 s Puissance moyenne 1 mW à 10 mW Energie des impulsions 0,1 J à 1 J
On donne quelques exemples plus précis de matériaux semiconducteurs utilisables comme couche absorbante sur un substrat de InP:Fe servant à élargir les impulsions : - semiconducteur Ino,48Gao,52As sur substrat InP: Fe de 350 m d' épaisseur (dopage Fe entre 1017 et 1018 atomes par cm3), couche contrainte de 50 nm d'épaisseur, - semiconducteur In0,53Ga0,47As/In0,52Al0,48As sur substrat InP:Fe (dopage Fe entre 1016 et 1017 atomes par cm3) comportant quatre ou sept puits quantiques de InGaAs d'épaisseur 9 nm entre des barrières InAlAs de 20 nm, le tout étant accordé en maille et non contraint (ce qui fixe la composition), le substrat InP:Fe ayant 400 m d'épaisseur.
Un autre matériau absorbant saturable en LMA:Co, dopé à 0,3%, d'épaisseur 750 pm, assemblé avec une lamelle d'InP:Fe d'épaisseur 400 pm, elle-même assemblée avec une lamelle de verre : Er, Yb d'épaisseur 1 mm a permis d'atteindre des résultats semblables à ceux qui sont donnés dans le tableau.
APPLICATIONS INDUSTRIELLES Les microlasers selon l'invention permettent de délivrer des impulsions longues de forte
énergie, à haute cadence de tir, ce qui est intéressant pour de nombreuses applications : 1 ) génération et détection d'ultrasons en utilisant des impulsions courtes et des impulsions longues (trains d'impulsions codées pour l'application au contrôle non destructif par ultrasons), 2 ) nombreuses applications médicales : # impulsions lasers d'environ 500 microsecondes pour enlever les anomalies de pigmentation de la peau comme par exemple les zones vascularisées, les taches et les tatouages # la lithotripsie ou destruction des calculs # le traitement des ulcères, avec des impulsions à forte cadence de répétition, 3 ) utilisation d'impulsions longues codées, par exemple avec un code binaire pseudo-aléatoire, par exemple dans des émetteurs de télémétrie pour l' automobile ou les missiles, ou pour la mesure de la vitesse des écoulements de fluides, 4 ) application faisant appel à la modulation de la durée des impulsions : # l'impression laser # le bistouri laser, qui coupe, cautérise, chauffe ou nécrose selon la durée et l'énergie des impulsions # le stockage optique des données, qui fait appel à des impulsions de longueurs déterminées pour effacer, écrire ou lire les données, 5 ) utilisation des impulsions longues dans certains procédés industriels, par exemple pour l'amélioration de la qualité des dépôts obtenus par
ablation laser, le traitement de surface et les insolateurs utilisés en microélectronique, 6 ) l'ignition par laser, par exemple pour les moteurs à essence ou encore pour les chaînes d'amplificateurs destinés à la fusion nucléaire, et 7 ) utilisation des impulsions longues pour le pompage de lasers solides.
La composition A présente également une très bonne tenue. Elle est très agréable au toucher et s'applique facilement.
La présente invention a également pour objet une composition A, en particulier cosmétique, notamment de maquillage, comprenant une phase grasse, caractéri-
sée par le fait que les paramètres de solubilité de Hansen #da, #pa: #ha de la partie non volatile de ladite phase grasse sont choisis de telle façon que la distance d(A- B) séparant, dans l'espace des paramètres de solubilité de Hansen, A d'une com- position B telle que définie ci-dessus vérifie la relation suivante : d(A-B) > 3 J1/2cm-3/2, dans laquelle : et où #db, #pb, #hb sont les paramètres de solubilité de Hansen de la partie non volatile de la phase grasse de B.
La présente invention a encore pour objet une base cosmétique B, notamment de soin, comprenant une phase grasse, caractérisée par le fait que les paramètres de solubilité de Hansen db, 8pb, #hb de la partie non volatile de ladite phase grasse sont choisis de telle façon que la distance d (A-B) dans l'espace des pa- ramètres de solubilité de Hansen, B d'une composition A telle que définie ci- dessus vérifie la relation suivante : d(A-B) 3 J1/2cm-3/2, dans laquelle : et où #ca, #pa, #ha sont les paramètres de solubilité de Hansen de la partie non volatile de la phase grasse de A.
Un autre objet de l'invention porte sur l'utilisation d'une composition A telle que définie ci-dessus, en particulier de maquillage, pour la mise en oeuvre des procédés ci-dessus.
Encore un autre objet de l'invention porte sur l'utilisation d'une base cosmétique B telle que définie ci-dessus, en particulier de soin, pour la mise en oeuvre des procédés ci-dessus.
La présente invention a encore pour objet un kit comprenant une composition A et une base cosmétique B telles que définies ci-dessus.
Un autre objet de l'invention réside dans un produit de maquillage sans transfert bicouche constitué d'une première couche, en contact avec la peau, les muqueu- ses et/ou les semi-muqueuses, constituée de la base cosmétique B et d'une deuxième couche, constituée de la composition A, apposée sur la première cou- che Les compositions selon l'invention sont facilement applicables sur la peau et per- mettent entre autre d'obtenir des produits de maquillage ayant une texture peu collante, qui restent confortables à porter tout au long de la journée.
De plus, leurs propriétés cosmétiques sont très intéressantes : elles procurent une grande douceur en final et un maquillage unifiant et confortable.
Les compositions selon l'invention trouvent notamment une application particuliè- rement intéressante dans le domaine du soin et/ou du maquillage de la peau, des muqueuses, des semi-muqueuses, et des phanères. On entend notamment par muqueuse, la partie interne de la paupière inférieure; parmi les semi-muqueuses, on entend plus particulièrement les lèvres du visage; par phanères, on entend les cils, sourcils, cheveux et ongles. Ainsi, l'invention trouve une application toute par- ticulière dans le domaine des produits de soin et/ou de maquillage des lèvres du visage et de la peau, tels que les fonds de teint, les anticernes, les fards à paupiè- res, les poudres, les produits de maquillage du corps, les rouges à lèvres, les au- tobronants ou les produits solaires.
D'autres caractéristiques, aspects et avantages de la présente invention apparaî- tront à la lecture de la description détaillée qui va suivre.
La composition A selon l'invention comprend nécessairement une phase grasse comprenant une partie non volatile.
Cette partie non volatile peut comprendre tous corps gras non volatils habituelle- ment utilisés en cosmétique tels que les huiles non volatiles, les cires, les gom- mes, les résines et/ou les corps gras pâteux d'origine animale, végétale, minérale ou synthétique, ainsi que leurs mélanges.
Par huile non volatile, on entend un corps gras liquide à température ambiante et qui ne s'évapore pas à cette même température.
Parmi les huiles non volatiles, on peut citer : - les polyalkyl(C1-C2o) siloxanes et notamment ceux à groupements terminaux tri- méthylsilyle, de préférence ceux dont la viscosité est inférieure à 0,06 m2/s parmi lesquels on peut citer les polydiméthylsiloxanes linéaires et les alkylméthylpolysi- loxanes tels que la cétyldiméthicone (nom CTFA),
- les silicones modifiées par des groupements aliphatiques et/ou aromatiques, éventuellement fluorés, ou par des groupements fonctionnels tels que des groupements hydroxyles, thiols et/ou amines.
Exemple 5 : Analyse des anions en Présence ou en l'absence des cations associés On a analysé une solution étalon renfermant 25 ppm de Na2 SO4 dans des conditions identiques à celles choisies dans l'exemple 3.
Le chromatogramme ainsi obtenu est représenté sur la figure 5A sur laquelle le premier pic correspondant à un temps de rétention de 2,23 min. représente le sodium tandis que le second pic correspondant à un temps de rétention de 4,368 min. représente l'ion sulfate.
On a recommencé cette analyse en ayant percolé préalablement l'échantillon à analyser sur une cartouche échangeuse de cations.
Le chromatogramme qui a été obtenu est représenté sur la figure 5B, dans lequel l'unique pic qui correspond à un temps de rétention de 4,205 min. représente l'ion sulfate.
On met ainsi en évidence que le couplage de la résine HYPERCARBs avec un échangeur de cations permet de faire disparaître le pic correspondant au sodium.
Dans le cas d'une analyse des seuls anions, mêmes les anions très peu retenus pourront être dosés sans être gênés par 1'éluvion, voire la coélution des cations.
Exemple 6 : Analyse simultanée d'anions et de cations par couplage de deux phases stationnaires différentes en utilisant un éluant de composition donnée à deux concentrations différentes On a analysé plusieurs échantillons sur deux phases stationnaires constituées par l'association d'une résine PARTISIL SCX similaire à celle mise en oeuvre dans l'exemple l et d'une résine HYPERCARBs similaire à celle mise en oeuvre dans l'exemple 3.
Après injection de l'échantillon à analyser, on a fait passer sur les colonnes, pendant 4 min. (c'est-à-dire entre les temps 0 et 4 min.) une première phase mobile constituée par une solution renfermant 30 mM/l d'acide formique et 20 mM/1 d'ammoniaque, ce avec un débit de 0,4 ml/min. puis, pendant les 16 min. suivantes (c'est-à-dire entre les temps 4 et 20 min.) une seconde phase mobile constituée par une solution renfermant 100 mM/l d'acide formique et 87 mM/l d'ammoniaque.
On a analysé l'éluant à la sortie de la colonne sur DEDL.
Les chromatogrammes obtenus sont représentés sur les figures 6A, 6B et 6C.
La figure 6A correspond à l'analyse d'un mélange de NaCl et de MgC12. Le premier pic correspondant à un temps de rétention de 5,267 min. représente l'ion Cl tandis que les deux pics suivants, qui correspondent à des temps de rétention de 7,76 et 11,62 min., représentent respectivement + ++ les ions Na et Mg La figure 6B correspond à l'analyse d'une eau minérale (eau de perrier) . Les pics successifs, qui correspondent à des temps de rétention de 4,717, 4,988, 5,95, 7,358, 11,858 et 12,758 min., représentent respectivement les ions + ++ ++ C1 , SO4 , NO3 , Na , Mg et Ca I1 est à noter que le petit pic intermédiaire entre les pics correspondant à des temps de rétention de 7,358 et 11,858 min. correspond à l'ion K à faible concentration.
La figure 6C correspond à l'analyse d'une eau de distribution de la ville d'Orléans. Les pics successifs, qui correspondent à des temps de rétention de 5,748, 6,008, 7,097, 7,715, 8,616, 12,243 et 13,103 min. correspondent res + + + + + + ++ ++ pectivement aux ions C1 , SO4 , NO3 , Na , K , Mg , et Ca Cet exemple a donc permis de mettre en évidence que le procédé conforme à l'invention permet de réaliser l'analyse directe et simultanée des cations et des anions renfermés dans un échantillon.
La présente invention concerne un procédé de séparation et d'analyse directe et simultanée de cations et d'anions faiblement volatils contenus dans un échantillon.
De nombreux laboratoires de contrôle, parmi lesquels on peut citer à titre d'exemple non limitatif les laboratoires chargés de l'analyse des eaux de distribution, souhaitent disposer de procédés simples et rapides permettant une analyse directe d'échantillons, sans nécessiter de préparation avant l'analyse ou de modification pendant celle-ci.
Or, les spécialistes n'ont pas, jusqu'à présent, conçu de procédés de nature à satisfaire à ces différents impératifs, ce tout en donnant des résultats suffisamment précis et complets.