REVENDICATIONS . Procédé de test par histogramme d'un convertisseur analogique numérique, consistant à décomposer dans le temps, l'accumulation et l'exploita tion de l'histogramme, caractérisé en ce qu'il fait appel à des ressources commu nes pour traiter successivement les caractéristiques fonctionnelles du convertis seur analogique-numérique et en ce qu'il consiste à initialiser et configurer suc cessivement lesdites ressources en vue de les adapter à la détermination chacune caractéristiques fonctionnelles dudit convertisseur. Procédé suivant la revendication1, caractérisé en ce que lesdites caractéristiques fonctionnelles du convertisseur sont le décalage, le gain et non-linéarités. Procédé suivant la revendication 1 et 2, caractérisé en ce que détermination du décalage est assurée par échantillonnage d'un signal triangu taire appliqué au convertisseur et par calcul à partir de deux codes extrêmes ré sultant de l'échantillonnage dudit signal triangulaire qui sont les seuls codes mo difiés dans cas d'une erreur de décalage, à l'aide de la relation . dans laquelle est l'amplitude du signal d'entrée, est une constante connue tenant compte du décalage de la caracté ristique idéale, est la période d'échantillonnage, est la période du signal d'entrée, H(2") est le nombre d'échantillons pour le code 111...11, H(1) est le nombre d'échantillon pour le code 000...00, est la pleine échelle du convertisseur. Procédé suivant l'une des revendications 2 et 3, caractérisé en ce que la détermination du gain est assurée par échantillonnage d'un signal trian gulaire appliqué au convertisseur et formation de codes successifs comprenant chacun un nombre d'échantillons dudit signal et définissant un pas quantifica tion qr et calcul de l'erreur de gain à l'aide de la relation: dans laquelle A, Te, Tin et PE représentent respectivement l'amplitude du signal d'entrée, la période d'échantillonnage, la période du signal d'entrée la tension référence du convertisseur. 5. Procédé suivant l'une des revendications 2 à 4, caracterisé en ce les non-linéarités sont des non-linéarités différentielles et des non-linéarités integrales. 6. Procédé suivant l'une des revendications 2 à 5, caractérisé en ce la détermination des non-linéarités différentielles représentant la différence rapport au bit le moins significatif LSB des valeurs analogiques correspon dant à deux codes successifs, est assurée à l'aide de la relation avec H(i) étant la fréquence d'apparition de chaque code i à sortie du convertisseur analogique-numérique, 7. Procédé suivant l'une des revendications 2 à 6, caracterisé en ce la détermination des non-linéarités intégrales représentant l'écart rapport au de poids le plus faible LSB entre la caractéristique réelle et la droite idéale, est assurée par la relation suivante non-linéarités intégrales étant calculées par accumulation des non-linéarités différentielles. 8. Dispositif d'auto-test d'un convertisseur analogique-numérique pour mise en oeuvre du procédé, suivant l'une des revendications 1 à 7, compre nant des moyens (2,5) d'application au convertisseur de signaux de test, et des moyens d'analyse (6), caractérisé en ce que lesdits moyens d'analyse compor tent des ressources communes intégrées et configurables pour déterminer suc cessivement des caractéristiques fonctionnelles du convertisseur et des moyens (20) de configuration desdites ressources communes en vue de les adapter aux caractéristiques à déterminer. Dispositif suivant la revendication 8, caractérisé en ce que lesdits moyens d'analyse comportent un compteur d'un code de référence - compara- teur (10) connecté à la sortie du convertisseur analogique-numérique, un comp- teur/décompteur (36) d'exploitation et de stockage dont la sortie délivre des si gnaux relatifs aux caractéristiques fonctionnelles du convertisseur et un contrô leur (20) gestion des phases de test au moyen dudit compteur-comparateur (10) et dudit compteur-décompteur (36). Dispositif suivant la revendication 9, caracterisé en ce que ledit compteur code de référence-comparateur (10) et le compteur-décompteur (36) sont reunis dans un même bloc. 1. Dispositif suivant la revendication 9, caracterisé en ce que ledit compteur-comparateur (10) comprend un compteur à huit bits dont chacun des étages comporte un ensemble de portes (45a à 45h) auquel est associée une bascule (46a à 46h) et un comparateur comprenant pour chaque étage, une porte -OU EXCLUSIF (47a à 47h) dont une entrée reliée à une entrée (11) de reception des signaux de sortie du convertisseur analogique-numérique par l'intermédiaire d'un multiplexeur (48a à 48h) dont une autre entrée est reliée par fintermediaire d'une porte NON-ET (49a à 49h) à la borne Q de la bascule (46b) de l'étage suivant. Dispositif suivant l'une des revendications 8 9, caractérisé en ce que le compteur-décompteur (36) comporte des groupes portes (52a à 52f) auxquelles sont associées des bascules correspondantes (53a à 53g) et des en trées (34,35) pour des signaux (C1,C2) de configuration du compteur- décompteur (36) en compteur ou en décompteur par ledit contrôleur (20) de ges tion des phases de test. Convertisseur analogique-numérique, caracterisé en ce qu'il com porte un dispositif de test intégré suivant l'une des revendications 8 à 12.