FR 3161271 A1 20251017 FR 2403756 A 20240411 Procédé et dispositif de conditionnement d’un signal de mesure Le dispositif de conditionnement d’un signal de mesure délivré par un capteur de position inductif (7, 8) pour un rotor (3) d’une machine électrique (1) supporté par au moins un palier magnétique actif (4), le capteur de position inductif (7, 8) mesurant un déplacement du rotor (3) et étant alimenté par une source de tension alternative (10a) délivrant une tension sinusoïdale à une fréquence constante prédéterminée, comprend : - un échantillonneur (15), et - des premiers moyens (16). Figure 2 Procédé et dispositif de conditionnement d’un signal de mesure Domaine technique de l’invention La présente invention concerne les machines électriques comportant un rotor supporté par des paliers magnétiques et particulièrement le traitement d’un signal délivré par un capteur inductif de position d’une telle machine électrique. La présente invention concerne plus particulièrement un procédé de conditionnement d’un signal de mesure délivré par un capteur de position inductif du rotor d’une telle machine électrique. Etat de la technique antérieure Les paliers magnétiques sont utilisés dans différentes machines rotatives telles que les moteurs électriques, les compresseurs, les turbines, ou similaires afin de maintenir les positions axiales ou/et radiales d’un rotor au moyen de champs magnétiques agissant sur le rotor de la machine. Des capteurs de position inductifs sont utilisés dans les dispositifs de commande de palier magnétique (MBC) pour mesurer la position du rotor. Les mesures délivrées par les capteurs de position sont utilisées pour commander les paliers magnétiques. Un capteur de position inductif comprend deux éléments inductifs reliés en série. Une tension d’alimentation alternative est appliquée aux extrémités des éléments inductifs. Un déplacement du rotor entraîne une variation de l’entrefer générant une variation de l’inductance des éléments inductifs. Une tension alternative modulée est mesurée entre les deux éléments inductifs représentative de la variation de l’inductance. Le déplacement du rotor est déterminé à partir de la tension alternative mesurée entre les deux éléments inductifs. Lorsque le rotor est centré dans les paliers magnétiques et le déplacement dudit rotor est nul, les composantes inductives des deux éléments inductifs sont égales, la tension alternative délivrée par le capteur a une amplitude nulle. Le déplacement du rotor selon une direction le long d’un axe provoque une augmentation proportionnelle de l'amplitude de la tension alternative émise par le capteur. Le déplacement du rotor dans la direction opposée le long de l'axe provoque une augmentation proportionnelle de l'amplitude de la tension alternative délivrée par le capteur et déphasée de 180°. En pratique, les éléments inductifs comprennent des éléments résistifs parasites de sorte qu’un déphasage apparaît entre la tension d’alimentation et la tension alternative modulée en sortie du capteur inductif. Le déphase ou erreur de quadrature rend difficile la mesure de la tension alternative délivrée par le capteur et empêche de déterminer la position du rotor avec une précision suffisante pour piloter les paliers magnétiques. Afin de supprimer l’erreur de quadrature, la tension alternative modulée est démodulée et filtrée notamment par un filtre passe bas pour déterminer la composante continue du signal représentative de la position du rotor. Le filtre passe bas crée un retard de phase qui dégrade la capacité de contrôler de la position du rotor. En outre, le filtre passe bas supprime la composante en quadrature de la tension alternative délivrée par le capteur qui comprend des informations permettant de déterminer de manière plus précise la position du rotor. Par conséquent, la présente invention vise à surmonter totalement ou partiellement ces inconvénients. Selon un aspect, un procédé de conditionnement d’un signal de mesure délivré par un capteur de position inductif pour un rotor d’une machine électrique supporté par au moins un palier magnétique actif. Le capteur de position inductif mesure un déplacement du rotor et étant alimenté par une source de tension alternative délivrant une tension d’alimentation sinusoïdale à une période constante prédéterminée. Le procédé comprend : - un échantillonnage du signal de mesure à un premier instant d’échantillonnage pour déterminer un premier échantillon du signal de mesure, - un échantillonnage du signal de mesure à un deuxième instant d’échantillonnage pour déterminer un deuxième échantillon du signal de mesure, le deuxième instant d’échantillonnage étant séparé du premier instant d’échantillonnage par une durée égale à un quart de la période constante prédéterminée de la tension d’alimentation sinusoïdale, et - une décomposition du signal de mesure en une somme d’une fonction sinus et d’une fonction cosinus à partir des premier et deuxième échantillons du signal de mesure et d’un déphasage prédéterminé entre la phase de la tension d’alimentation sinusoïdale et la phase d’un signal d’échantillonnage associé aux premier et deuxième instants d’échantillonnage. Le procédé de conditionnement permet de décomposer le signal de mesure en une composante en phase correspondant à la fonction sinus et en une composante en quadrature correspondant à la fonction cosinus. La détermination des composantes en phase et en quadrature est effectuée de manière simple, sans ajout de moyens de traitement ou de boucle de régulation. De préférence, le premier instant d’échantillonnage est choisi lorsque la tension d’alimentation sinusoïdale est nulle et le deuxième instant d’échantillonnage est choisi lorsque la valeur absolue de la tension d’alimentation sinusoïdale est maximale, le signal de mesure est décomposé en un signal Sm selon l’équation suivante : Sm(t)=c. sin(ωt+ θ)= a.sin(ωt)+b.cos(ωt) où sin est la fonction trigonométrique sinus, cos est la fonction trigonométrique cosinus, t est le temps, ω est tel que , T est la période constante prédéterminée, a est un premier coefficient et b est un deuxième coefficient, a, b, c étant des nombres réels, et θ est une constante, la décomposition du signal de mesure comprend la détermination du premier coefficient a et du deuxième coefficient b à partir du premier échantillon du signal de mesure associé au premier instant d’échantillonnage et du deuxième échantillon du signal de mesure associé au deuxième instant d’échantillonnage, les premier et deuxième coefficients a et b étant tels que : Avantageusement, le deuxième instant d’échantillonnage est choisi un quart de période après le premier instant d’échantillonnage, le signal de mesure est décomposé en un signal Sm selon l’équation suivante : Sm(t)= c. sin(ωt+ θ)= a.sin(ωt)+b.cos(ωt) où sin est la fonction trigonométrique sinus, cos est la fonction trigonométrique cosinus, t est le temps, ω est tel que , T est la période constante prédéterminée, a est un premier coefficient et b est un deuxième coefficient, a, b, c étant des nombres réels, et θ est une constante, la décomposition du signal de mesure comprend la détermination du premier coefficient a et du deuxième coefficient b à partir du premier échantillon du signal de mesure associé au premier instant d’échantillonnage et du deuxième échantillon du signal de mesure associé au deuxième instant d’échantillonnage, les premier et deuxième coefficients a et b étant tels que : étant la fonction trigonométrique arc tangente et φ étant le déphasage prédéterminé entre le premier instant de d’échantillonnage et la tension d’alimentation sinusoïdale, x t1 0 étant le premier échantillon du signal de mesure et x t2 0 étant le deuxième échantillon. Selon un autre aspect, l’invention a aussi pour objet un dispositif de conditionnement d’un signal de mesure délivré par un capteur de position inductif pour un rotor d’une machine électrique supporté par au moins un palier magnétique actif. Le capteur de position inductif mesure un déplacement du rotor et est alimenté par une source de tension alternative délivrant une tension d’alimentation sinusoïdale à une période constante prédéterminée. Le dispositif comprend : - un échantillonneur configuré pour échantillonner le signal de mesure à un premier instant d’échantillonnage pour déterminer un premier échantillon du signal de mesure et échantillonner le signal de mesure à un deuxième instant d’échantillonnage pour déterminer un deuxième échantillon du signal de mesure, le deuxième instant d’échantillonnage étant séparé du premier instant d’échantillonnage par une durée égale à égale à un quart de la période constante prédéterminée de la tension d’alimentation sinusoïdale, et - des premiers moyens configurés pour décomposer le signal de mesure en une somme d’une fonction sinus et d’une fonction cosinus à partir des premier et deuxième échantillon du signal de mesure, et d’un déphasage prédéterminé entre la phase de la tension d’alimentation sinusoïdale et la phase d’un signal d’échantillonnage associé aux premier et deuxième instants d’échantillonnage. De préférence, les premiers moyens sont configurés pour décomposer le signal de mesure en un signal Sm selon l’équation suivante Sm(t)= c. sin(ωt+ θ)= a.sin(ωt)+b.cos(ωt) où sin est la fonction trigonométrique sinus, cos est la fonction trigonométrique cosinus, t est le temps, ω est tel que , T est la période constante prédéterminée, a est un premier coefficient et b est un deuxième coefficient, a, b, c étant des nombres réels, et θ est une constante, les premiers moyens étant en outre configurés pour déterminer le premier coefficient a et le deuxième coefficient b à partir du premier échantillon du signal de mesure associé au premier instant d’échantillonnage et du deuxième échantillon du signal de mesure associé au deuxième instant d’échantillonnage, les premier et deuxième coefficients a et b étant tels que : Avantageusement, les premiers moyens sont configurés pour décomposer le signal de mesure en un signal Sm selon l’équation suivante Sm(t)= c. sin(ωt+ θ)= a.sin(ωt)+b.cos(ωt) où sin est la fonction trigonométrique sinus, cos est la fonction trigonométrique cosinus, t est le temps, ω est tel que , T est la période constante prédéterminée, a est un premier coefficient et b est un deuxième coefficient, a, b, c étant des nombres réels, et θ est une constante, les premiers moyens étant en outre configurés pour déterminer le premier coefficient a et le deuxième coefficient b à partir du premier échantillon du signal de mesure associé au premier instant d’échantillonnage et du deuxième échantillon du signal de mesure associé au deuxième instant d’échantillonnage, les premier et deuxième coefficients a et b étant tels que : étant la fonction trigonométrique arc tangente et étant le déphasage prédéterminé entre le premier instant de d’échantillonnage et la tension d’alimentation sinusoïdale, x t1 0 étant le premier échantillon du signal de mesure et x t2 0 étant le deuxième échantillon . De préférence, le dispositif comporte en outre une unité de traitement configurée pour commander l’échantillonneur de sorte que le déphasage est égal à une valeur cible prédéterminée. Selon encore un autre aspect, l’invention a aussi pour objet un ensemble de mesure comportant un dispositif de conditionnement tel que défini précédemment, et un capteur de position inductif relié au dispositif de conditionnement. Avantageusement, le capteur de position inductif est un capteur de position inductif radiale configuré pour mesurer la position radiale du rotor. De préférence, le capteur de position inductif est un capteur de position inductif axiale configuré pour mesurer la position axiale du rotor. Brève description des figures D’autres avantages et caractéristiques de l’invention apparaîtront à l’examen des descriptions détaillées des modes de réalisation, ceci n’étant nullement restrictif. Les dessins annexés sont décrits ci-dessous : La FIG. 1 illustre schématiquement une machine selon l’invention ; La FIG. 2 illustre schématiquement un exemple d’un ensemble de mesure selon l’invention ; Les figures 3 et 4 illustrent schématiquement un premier exemple d’un procédé de conditionnement d’un signal de mesure selon l’invention ; et Les figures 5 et 6 illustrent schématiquement un deuxième exemple d’un procédé de conditionnement d’un signal de mesure selon l’invention. Description détaillée de l’invention On se réfère à la FIG. 1 qui représente schématiquement une coupe transversale longitudinale partielle d’une machine 1. La machine 1 comprend un boîtier 2, un rotor 3 supporté dans le boîtier 2 par deux paliers magnétiques actifs radiaux 4 et un palier actif axial 5. Les paliers magnétiques actifs radiaux 4 entourent radialement le rotor 3. Le rotor 3 comprend en outre un disque 6 entouré axialement par le palier actif axial 5. La machine 1 comprend en outre deux capteurs de position inductifs 7 pour mesurer la position radiale du rotor 3, et deux capteurs de position inductifs 8 disposés de part et d’autre du disque 5 pour mesurer la position axiale du rotor 3. Les mesures délivrées par les capteurs de position inductifs 6 mesurant la position radiale du rotor 3 et les mesures délivrées par les capteurs de position inductifs 8 mesurant la position axiale du rotor 3 sont transmis à des moyens de commande 9 des paliers magnétiques 4 comportant par exemple une unité de traitement. La machine 1 comprend en outre une pluralité de circuits d’alimentation 10 des capteurs 7, 8 et une pluralité de dispositifs de conditionnement 11. Chaque circuit d’alimentation 10 est relié à un capteur 7, 8 pour alimenter en énergie ledit capteur 7, 8. Le circuit d’alimentation 10 peut être situé à l’extérieur de la machine 1 comme représenté. Dans une variante, le circuit d’alimentation 10 est situé à l’intérieur de la machine 1. Chaque dispositif de conditionnement 11 est relié à un capteur 7, 8 pour conditionner un signal de mesure délivré par ledit capteur 7, 8. Le dispositif de conditionnement 11 peut être situé à l’extérieur de la machine 1 comme représenté. Dans une variante, le dispositif de conditionnement 11 est situé à l’intérieur de la machine 1. Un capteur 7, 8, le circuit d’alimentation 10 relié audit capteur 7, 8 et le dispositif de conditionnement 11 relié audit capteur 6, 7 forment un ensemble de mesure. On suppose que le rotor 3 est séparé des capteurs de position inductifs 7 mesurant le déplacement radial du rotor 3 par un entrefer J 1 et que le disque 6 du rotor 3 est séparé des capteurs de position inductifs 8 mesurant le déplacement axial du rotor 3 par un entrefer J 2 . La FIG. 2 illustre schématiquement un exemple de l’ensemble de mesure. Le capteur 7, 8 comprend une première impédance Z1 et une deuxième impédance Z2. La première impédance Z1 comprend une première extrémité reliée à une première borne d’alimentation 12 du capteur 7, 8 et une deuxième extrémité reliée à une première extrémité de la deuxième impédance Z2. La deuxième impédance Z2 comprend une deuxième extrémité reliée à une deuxième borne d’alimentation 13 du capteur 7, 8. Un point de connexion entre la deuxième extrémité de la première impédance Z1 et la première extrémité de la deuxième impédance Z2 est relié à une borne de sortie 14 du capteur 7, 8. Le capteur 7, 8 délivre sur sa borne de sortie 14 un signal de mesure S14. Les première et deuxième bornes d’alimentation 12, 13 du capteur 7, 8 sont reliées au circuit d’alimentation 10 comportant une source de tension alternative 10a délivrant une tension E sinusoïdale à une période T constante prédéterminée selon l’équation suivante : (1) E 0 étant l’amplitude de la tension E, sin est la fonction trigonométrique sinus, t étant une variable temporelle et ω étant la pulsation de sorte que : (2) Le dispositif de conditionnement 11 comprend un échantillonneur 15 apte à échantillonner le signal de mesure S14 à un premier instant d’échantillonnage pour déterminer un premier échantillon du signal de mesure S14 et échantillonner le signal de mesure S14 à un deuxième instant d’échantillonnage pour déterminer un deuxième échantillon du signal de mesure, le deuxième instant d’échantillonnage étant séparé du premier instant d’échantillonnage par une durée égale à un quart de la période T constante prédéterminée de la tension d’alimentation sinusoïdale E. Le dispositif de conditionnement 10 comprend en outre des premiers moyens 16 aptes à décomposer le signal de mesure S14 en une somme d’une fonction sinus et d’une fonction cosinus à partir des premier et deuxième échantillon du signal de mesure S14, et d’un déphasage prédéterminé entre la phase de la tension d’alimentation sinusoïdale E et la phase d’un signal d’échantillonnage associé aux premier et deuxième instants d’échantillonnage. Les premiers moyens 16 comprennent par exemple une unité de traitement. Un premier exemple du procédé de conditionnement du signal de mesure S14 mettant en œuvre l’ensemble de mesure est à présent décrit en référence aux figures 3 et 4. La FIG. 3 décrit un premier exemple d’évolution temporelle de la tension d’alimentation E et du signal de mesure S14. Dans cet exemple du procédé de conditionnement, le signal de mesure S14 est décomposé par les premiers moyens 16 en un signal Sm tel que : Sm(t)=c. sin(ωt+ θ)= a.sin(ωt)+b.cos(ωt) (3) où sin est la fonction trigonométrique sinus, cos est la fonction trigonométrique cosinus, t est le temps, ω est la pulsation selon l’équation (2), T est la période constante prédéterminée, a est un premier coefficient et b est un deuxième coefficient, a, b, c étant des nombres réels, et θ est une constante. La tension d’alimentation E est représentée par une courbe C1 et le signal de mesure S14 modélisé par la fonction Sm(t)=c.sin(ωt+ θ) est représentée par la courbe C2. Le coefficient c et la constante θ sont déterminés par identification du signal Sm avec le signal S14. Durant une étape 20 ( FIG. 4 ), l’échantillonneur 15 échantillonne le signal de mesure S14 à un premier instant d’échantillonnage t1 pour déterminer un premier échantillon x 0° du signal de mesure S14. Le premier instant d’échantillonnage t1 est choisi lorsque la tension d’alimentation est nulle. Le premier instant d’échantillonnage t1 est déterminé par un dispositif mesurant le temps par exemple un convertisseur analogique-digital. Durant une étape 21, l’échantillonneur 15 échantillonne le signal de mesure S14 à un deuxième instant d’échantillonnage t2 pour déterminer un deuxième échantillon x 90° du signal de mesure S14. Le deuxième instant d’échantillonnage t2 est séparé du premier instant d’échantillonnage t1 par une durée égale à un quart de la période T constante prédéterminée de la tension d’alimentation sinusoïdale E, lorsque la valeur absolue de la tension d’alimentation sinusoïdale E est maximale. Durant une étape 22, les premiers moyens 16 décomposent le signal de mesure S14 selon l’équation (3) à partir des premier et deuxième échantillons x 0° , x 90° du signal de mesure S14. Les premier et deuxième coefficients a et b sont tels que : (4) (5) La composante en phase du signal S14 correspondant à la fonction a.sin(ωt) est représentée sur la FIG. 3 par la courbe C3 et la composante en quadrature correspondant à la fonction cosinus b.cos(ωt) est représentée sur la FIG. 3 par la courbe C4. Un deuxième exemple du procédé de conditionnement du signal de mesure S14 mettant en œuvre l’ensemble de mesure 11 est à présent décrit en référence aux figures 5 et 6. La FIG. 5 décrit un deuxième exemple d’évolution temporelle de la tension d’alimentation E et du signal de mesure S14. Dans cet exemple du procédé de conditionnement, le premier échantillonnage et la tension d’alimentation E sont déphasés d’un déphasage prédéterminé constant . Le signal de mesure S14 est décomposé par les premiers moyens 16 en un signal Sm tel que : Sm(t)= c. sin(ωt+ θ)= a.sin(ωt)+b.cos(ωt) (6) où sin est la fonction trigonométrique sinus, cos est la fonction trigonométrique cosinus, t est le temps, ω est la pulsation selon l’équation (2), T est la période constante prédéterminée, a est un premier coefficient et b est un deuxième coefficient, a, b, c étant des nombres réels, et θ est une constante. La tension d’alimentation E est représentée par une courbe C10 et le signal de mesure S14 modélisé par la fonction Sm(t)=c.sin(ωt+ θ) est représentée par la courbe C20. Le coefficient c et la constante θ sont déterminés par identification du signal Sm avec le signal S14. Durant une étape 30 ( FIG. 6 ), l’échantillonneur 15 échantillonnage le signal de mesure S14 à un premier instant d’échantillonnage t10 pour déterminer un premier échantillon x t1 0 du signal de mesure S14. Durant une étape 31, l’échantillonneur 15 échantillonne le signal de mesure S14 à un deuxième instant d’échantillonnage t20 pour déterminer un deuxième échantillon x t 20 du signal de mesure S14. Le deuxième instant d’échantillonnage t20 est séparé du premier instant d’échantillonnage t10 par une durée égale à un quart de la période T constante prédéterminée de la tension d’alimentation sinusoïdale E. Durant une étape 32, les premiers moyens 16 décomposent le signal de mesure S14 selon l’équation (6) à partir des premier et deuxième échantillons x t 10 , x t 20 du signal de mesure S14. Les premier et deuxième coefficients a et b sont tels que : (7) (8) étant la fonction trigonométrique arc tangente. La composante en phase du signal S14 correspondant à la fonction a.sin(ωt) est représentée sur la FIG. 5 par la courbe C30 et la composante en quadrature correspondant à la fonction cosinus b.cos(ωt) est représentée sur la FIG. 5 par la courbe C40. Le procédé de conditionnement permet de décomposer le signal de mesure en une composante en phase correspondant à la fonction sinus et en une composante en quadrature correspondant à la fonction cosinus. La détermination des composantes en phase et en quadrature est effectuée de manière simple, sans ajout de moyens de traitement ou de boucle de régulation. Procédé de conditionnement d’un signal (S14) de mesure délivré par un capteur de position inductif (7, 8) pour un rotor (3) d’une machine électrique (1) supporté par au moins un palier magnétique actif (4), le capteur de position inductif (7, 8) mesurant un déplacement du rotor (3) et étant alimenté par une source de tension alternative (10a) délivrant une tension d’alimentation sinusoïdale à une période constante prédéterminée, le procédé comprenant : - un échantillonnage du signal de mesure (S14) à un premier instant (t1, t10) d’échantillonnage pour déterminer un premier échantillon (x 0° , x t1 0 ) du signal de mesure, - un échantillonnage du signal de mesure à un deuxième instant (t2, t20) d’échantillonnage pour déterminer un deuxième échantillon (x 90° , x t2 0 ) du signal de mesure, le deuxième instant d’échantillonnage étant séparé du premier instant d’échantillonnage par une durée égale à un quart de la période constante prédéterminée de la tension d’alimentation sinusoïdale, et - une décomposition du signal de mesure en une somme d’une fonction sinus et d’une fonction cosinus à partir des premier et deuxième échantillons du signal de mesure et d’un déphasage prédéterminé entre la phase de la tension d’alimentation sinusoïdale et la phase d’un signal d’échantillonnage associé aux premier et deuxième instants d’échantillonnage. 2. Procédé selon la revendication 1, dans lequel le premier instant (t1) d’échantillonnage est choisi lorsque la tension d’alimentation sinusoïdale est nulle et le deuxième instant (t2) d’échantillonnage est choisi lorsque la valeur absolue de la tension d’alimentation sinusoïdale est maximale, le signal de mesure (S14) est décomposé en un signal Sm selon l’équation suivante : Sm(t)=c. sin(ωt+ θ)= a.sin(ωt)+b.cos(ωt) où sin est la fonction trigonométrique sinus, cos est la fonction trigonométrique cosinus, t est le temps, ω est tel que , T est la période constante prédéterminée, a est un premier coefficient et b est un deuxième coefficient, a, b, c étant des nombres réels, et θ est une constante, la décomposition du signal de mesure comprend la détermination du premier coefficient a et du deuxième coefficient b à partir du premier échantillon (x 0° ) du signal de mesure associé au premier instant (t1) d’échantillonnage et du deuxième échantillon (x 90 ° ) du signal de mesure associé au deuxième instant (t2) d’échantillonnage, les premier et deuxième coefficients a et b étant tels que : 3. Procédé selon la revendication 1, dans lequel le deuxième instant (t20) d’échantillonnage est choisi un quart de période après le premier instant (t10) d’échantillonnage, le signal de mesure (S14) est décomposé en un signal Sm selon l’équation suivante : Sm(t)= c. sin(ωt+ θ)= a.sin(ωt)+b.cos(ωt) où sin est la fonction trigonométrique sinus, cos est la fonction trigonométrique cosinus, t est le temps, ω est tel que , T est la période constante prédéterminée, a est un premier coefficient et b est un deuxième coefficient, a, b, c étant des nombres réels, et θ est une constante, la décomposition du signal de mesure comprend la détermination du premier coefficient a et du deuxième coefficient b à partir du premier échantillon (x t1 0 ) du signal de mesure associé au premier instant (t10) d’échantillonnage et du deuxième échantillon (x t2 0 ) du signal de mesure associé au deuxième instant (t20) d’échantillonnage, les premier et deuxième coefficients a et b étant tels que : étant la fonction trigonométrique arc tangente et étant le déphasage prédéterminé entre le premier instant de d’échantillonnage et la tension d’alimentation sinusoïdale, x t1 0 étant le premier échantillon du signal de mesure et x t2 0 étant le deuxième échantillon. Dispositif de conditionnement d’un signal de mesure délivré par un capteur de position inductif (7, 8) pour un rotor (3) d’une machine électrique (1) supporté par au moins un palier magnétique actif (4), le capteur de position inductif (7, 8) mesurant un déplacement du rotor (3) et étant alimenté par une source de tension alternative (10a) délivrant une tension d’alimentation sinusoïdale à une période constante prédéterminée, le dispositif comprenant : - un échantillonneur (15) configuré pour échantillonner le signal de mesure (S14) à un premier instant (t1, t10) d’échantillonnage pour déterminer un premier échantillon (x 0° , x t1 0 ) du signal de mesure et échantillonner le signal de mesure à un deuxième instant (t2, t20) d’échantillonnage pour déterminer un deuxième échantillon (x 90° , x t2 0 ) du signal de mesure, le deuxième instant d’échantillonnage étant séparé du premier instant d’échantillonnage par une durée égale à égale à un quart de la période constante prédéterminée de la tension d’alimentation sinusoïdale, et - des premiers moyens (16) configurés pour décomposer le signal de mesure en une somme d’une fonction sinus et d’une fonction cosinus à partir des premier et deuxième échantillon du signal de mesure, et d’un déphasage prédéterminé entre la phase de la tension d’alimentation sinusoïdale et la phase d’un signal d’échantillonnage associé aux premier et deuxième instants d’échantillonnage. 5. Dispositif selon la revendication 4, dans lequel les premiers moyens (16) sont configurés pour décomposer le signal de mesure en un signal Sm selon l’équation suivante Sm(t)= c. sin(ωt+ θ)= a.sin(ωt)+b.cos(ωt) où sin est la fonction trigonométrique sinus, cos est la fonction trigonométrique cosinus, t est le temps, ω est tel que , T est la période constante prédéterminée, a est un premier coefficient et b est un deuxième coefficient, a, b, c étant des nombres réels, et θ est une constante, les premiers moyens étant en outre configurés pour déterminer le premier coefficient a et le deuxième coefficient b à partir du premier échantillon (x 0° ) du signal de mesure associé au premier instant (t1) d’échantillonnage et du deuxième échantillon (x 90° ) du signal de mesure associé au deuxième instant (t2) d’échantillonnage, les premier et deuxième coefficients a et b étant tels que : 6. Dispositif selon la revendication 4, dans lequel les premiers moyens (16) sont configurés pour décomposer le signal de mesure en un signal Sm selon l’équation suivante Sm(t)= c. sin(ωt+ θ)= a.sin(ωt)+b.cos(ωt) où sin est la fonction trigonométrique sinus, cos est la fonction trigonométrique cosinus, t est le temps, ω est tel que , T est la période constante prédéterminée, a est un premier coefficient et b est un deuxième coefficient, a, b, c étant des nombres réels, et θ est une constante, les premiers moyens étant en outre configurés pour déterminer le premier coefficient a et le deuxième coefficient b à partir du premier échantillon (x t1 0 ) du signal de mesure associé au premier instant (t10) d’échantillonnage et du deuxième échantillon (x t2 0 ) du signal de mesure associé au deuxième instant (t20) d’échantillonnage, les premier et deuxième coefficients a et b étant tels que : étant la fonction trigonométrique arc tangente et étant le déphasage prédéterminé entre le premier instant de d’échantillonnage et la tension d’alimentation sinusoïdale, x t1 0 étant le premier échantillon du signal de mesure et x t2 0 étant le deuxième échantillon . Dispositif selon l’une des revendications 4 à 6 comportant en outre une unité de traitement configurée pour commander l’échantillonneur de sorte que le déphasage est égal à une valeur cible prédéterminée. Ensemble de mesure comportant un dispositif de conditionnement selon l’une des revendications 4 à 7, et un capteur de position inductif (6, 7) relié au dispositif de conditionnement. Ensemble de mesure selon la revendication 8, dans lequel le capteur de position (7) inductif est un capteur de position inductif radiale configuré pour mesurer la position radiale du rotor. 0 Ensemble de mesure selon la revendication 8, dans lequel le capteur de position (7) inductif est un capteur de position inductif axiale configuré pour mesurer la position axiale du rotor.