FR 3159669 A1 20250829 FR 2401751 A 20240222 Système de confinement de rayons X pour mesures haute sensibilité Un aspect de l’invention concerne un système (2) de confinement de rayons X comprenant une source (10) de rayons X avec une fenêtre (11), une enceinte isolante (13) entourant la source de rayons X et comprenant un orifice (13-1) en vis-à-vis de la fenêtre (11), et un élément de confinement (14) positionné en dehors de l’enceinte isolante (13) et comprenant un évidement (14-1) débouchant de part et d’autre de l’élément de confinement (14) le long de l’axe d’élongation ( ) de l’évidement (14-1) et correspondant à la géométrie de divergence du faisceau primaire ( ). Figure à publier avec l’abrégé : Figure 3 Système de confinement de rayons X pour mesures haute sensibilité DOMAINE TECHNIQUE DE L’INVENTION Le domaine technique de l’invention est celui des équipements pour la génération de rayons X. La présente invention concerne un système de confinement de rayons X. ARRIERE-PLAN TECHNOLOGIQUE DE L’INVENTION Les rayonnements électromagnétiques de type rayons X sont notamment utilisés à des fins d’exploration de la matière, en recherche fondamentale, et pour l’inspection d’objets, tels une pièce mécanique pour l’industrie ou un corps humain ou animal dans le domaine médical. En particulier, l’étude de la diffraction de rayons X par la méthode de Laue sert à déterminer un état de la microstructure de la matière avec une haute résolution. Les équipements industriels et de laboratoire (autres que synchrotron) servant à la génération de rayons X ne sont cependant pas adaptés à l’émission d’un faisceau collimaté de rayons X vers l’objet. En effet, les sources de rayons X sont généralement multidirectionnelles. Ainsi, du fait de ce caractère multidirectionnel et du faible rendement des systèmes d’émission, le signal utile d’une mesure est fortement perturbé par le bruit de mesure, avec un ratio signal sur bruit peu élevé. L’analyse du signal utile en est donc fortement pénalisée. Une illustration de faisceaux secondaires à l’origine, au moins en partie, du bruit de mesure est proposée sur la FIG. 1 . On parle, pour ce type de faisceaux, de « fuite de gaine ». Les faisceaux secondaires r 1 , r 2 et r 3 sont trois exemples de faisceaux émanant du foyer F d’une source 10 de rayons X. Le faisceau r 1 traverse la paroi de la source 10 et atteint le détecteur 20 après diffusion sur la paroi de la cabine 1, dans laquelle est effectuée la mesure. Le faisceau r 2 traverse la paroi de la source 10 et atteint directement le détecteur 20, possiblement en traversant l’objet 30, sans être réfléchi et sans passer à travers la fenêtre 11 de la source. Enfin, le faisceau r 3 est diffracté par le bord de la fenêtre 11 et atteint également le détecteur 20, possiblement en traversant l’objet 30. Il est noté que la diffusion par l’objet ou par l’air des rayons X, non représentée ici, est également génératrice de faisceaux secondaire qui induisent une augmentation du bruit de mesure. Il est connu dans le cas d’un montage en diffraction de Laue (en transmission, en réflexion ou en retour), ainsi qu’illustré sur la FIG. 2 , d’utiliser un collimateur 12, positionné devant la fenêtre 11 pour modifier la forme du faisceau en sortie de la source 10. Le faisceau en incidence direct sur l’objet, dit « faisceau primaire », passe alors d’une géométrie conique à une géométrie quasi-parallèle. Cette géométrie autorise une propagation maîtrisée des rayons X vers l’objet et réduit le nombre de faisceaux secondaires. Cependant, comme le montre l’illustration de la FIG. 2 , les fuites de gaines diffusées par la cabine 1 ou par un autre élément dans la cabine 1 (faisceau r 1 ) sont peu affectées par la présence du collimateur 12. De plus, le collimateur 12 induit en lui-même la diffusion de faisceaux secondaires (faisceau r 4 ) du fait de sa géométrie. Il existe donc un besoin d’un système de mesure par rayons X qui améliore la détection du faisceau primaire par rapport au bruit de mesure. L’invention offre une solution aux problèmes évoqués précédemment, en permettant l’isolation de la source de rayons X dans une enceinte fermée qui comprend un orifice dans la continuité duquel est positionné un élément de confinement servant à atténuer l’énergie des faisceaux secondaires sans altérer la propagation du faisceau primaire. Un premier aspect de l’invention concerne un système de confinement de rayons X comprenant : Une source de rayons X comprenant une fenêtre, la source de rayons X étant adaptée pour émettre un flux de rayons X ; Une enceinte isolante entourant la source de rayons X, l’enceinte isolante comprenant un orifice en vis-à-vis de la fenêtre, l’orifice étant adapté pour former un faisceau primaire à partir du flux de rayons de X ; Un élément de confinement positionné en dehors de l’enceinte isolante et comprenant un évidement s’étendant suivant un axe d’élongation correspondant au trajet de propagation du faisceau primaire, l’évidement étant débouchant de part et d’autre de l’élément de confinement le long de l’axe d’élongation, et l’évidement étant agencé pour autoriser la propagation du faisceau primaire sans altération. On entend par « source de rayons X » ou « tube de rayons X » un dispositif apte à émettre des rayons X, par exemple reposant sur une technologie de tube Coolidge ou tube fermé, tube ouvert, tube à anode tournante, tube à anode liquide, etc. L’émission de rayons X par la source est multidirectionnelle. Les dimensions du tube dépendent de plusieurs paramètres, notamment la taille du foyer, l’intensité dans le tube et de la différence de potentiel entre les extrémités du tube. En particulier, la taille du foyer est comprise entre 1 µm et 5,5 mm, pour des énergies allant de 10 keV à 450 keV et pour des puissances de 2 W ou plus, par exemple 4 kW ou plus, voire 50 kW ou plus. On entend par « fenêtre » une portion de la source, typiquement une portion de l’enveloppe du tube dans lequel sont générés les rayons X, qui est perméable aux rayons X et étanche au vide, telle qu’une fenêtre composée de béryllium. On entend par « enceinte » une enveloppe entourant intégralement le tube de rayons X, exceptée au niveau de l’orifice de l’enceinte. L’enceinte est isolante en ce qu’elle est non-perméable aux rayons X, typiquement par l’utilisation d’un matériau dense avec une épaisseur significative. Les dimensions de l’enceinte dépendent donc des dimensions, des propriétés énergétiques et de la taille du foyer du tube. On entend par « en vis-à-vis » que l’orifice est situé face à la fenêtre du tube de sorte à autoriser la propagation du faisceau primaire du tube hors de l’enceinte isolante. On entend par « faisceau primaire » un ensemble de rayons X issus du flux de rayons X rayonné par le tube à travers la fenêtre et collimatés par le collimateur. Le faisceau primaire est le faisceau qui sert à illuminer un objet à inspecter. Les photons issus du faisceau primaire sont diffractés par l’objet puis détectés par un détecteur placé après l’objet, et correspondent au signal utile à analyser. Au contraire, on entend par « faisceau secondaire » tout faisceau généré par le tube et qui est une potentielle source de bruit pour la mesure. Grâce à l’invention, la détection des photons du faisceau primaire diffractés par l’objet inspecté est améliorée par rapport aux techniques connues de l’état de l’art. Ainsi, la précision de la mesure pour quantifier les propriétés de l’objet est également améliorée, quand bien même le rapport de signal à bruit de la mesure est de l’ordre de 2 dB. L’énergie des faisceaux secondaires, source de ce bruit, est en effet significativement atténuée par la présence de l’enceinte isolante autour du tube, y compris vers l’arrière de la source. De surcroît, l’utilisation de l’élément de confinement sert à filtrer les faisceaux secondaires générés par la géométrie de l’orifice de l’enceinte isolante, diminuant alors significativement leur énergie. En outre, l’enceinte isolante est de dimensions raisonnables, puisqu’il n’est nécessaire que d’isoler le tube, lequel a des dimensions inférieures au mètre. De même, l’élément de confinement est de petites dimensions puisque son évidement dépend notamment de la taille de l’orifice et de la divergence du faisceau primaire. En outre, il n’y a pas besoin d’une grande épaisseur de matière pour cet élément de confinement parce que son atténuation des faisceaux secondaires dépend d’un ratio entre son épaisseur et sa longueur, et non uniquement de son épaisseur. Outre les caractéristiques qui viennent d’être évoquées, le système selon le premier aspect de l’invention peut présenter une ou plusieurs caractéristiques complémentaires parmi les suivantes, considérées individuellement ou selon toutes les combinaisons techniquement possibles. Dans un mode de réalisation, l’enceinte isolante et/ou l’élément de confinement sont composés d’un matériau ayant une densité supérieure ou égale à 5 g/cm 3 . Dans un mode de réalisation, l’enceinte isolante et/ou l’élément de confinement sont composés de plomb, cuivre, d’étain et/ou de tungstène. Dans un mode de réalisation, l’enceinte isolante a une épaisseur supérieure ou égale à 1 mm. L’utilisation de matériau à haute densité permet de limiter l’épaisseur de l’enceinte pour atteindre le niveau d’isolation désiré, et donc de limiter l’encombrement de l’enceinte. Préférentiellement, le matériau et l’épaisseur de l’enceinte sont tels qu’un détecteur détecte le moins de photons possible, notamment pour qu’il détecte moins d’un photon par seconde et par pixel provenant des faisceaux secondaires. Dans un mode de réalisation, l’élément de confinement a une épaisseur de paroi supérieure ou égale à 2 mm et une longueur suivant l’axe d’élongation supérieure ou égale à 10 mm. Dans un mode de réalisation, au moins un faisceau secondaire est diffusé par l’orifice, les faisceaux primaire et secondaire se propagent jusqu’à un détecteur, et l’élément de confinement a une longueur suivant l’axe d’élongation et une épaisseur de paroi dépendantes de l’angle formé, par rapport à l’axe d’élongation, par le au moins faisceau secondaire du flux de rayons X se propageant jusqu’à la position la plus éloignée de l’axe d’élongation sur le détecteur, suivant une direction orthogonale à l’axe d’élongation. Les faisceaux secondaires qui sont générés par diffraction par la géométrie du collimateur, et qui se propagent vers un détecteur, sont émis avec un angle d’incidence quasi-rasant mais non nul, c’est-à-dire qu’ils divergent légèrement de l’axe de propagation du faisceau primaire. Ainsi, du fait des caractéristiques géométriques de l’évidement, ces faisceaux secondaires doivent traverser l’épaisseur de l’élément de confinement sur quasiment toute sa longueur. En conséquence, il n’est pas utile d’avoir une grande épaisseur de paroi pour l’élément de confinement. Au contraire, il est préférable que sa longueur soit plus grande que son épaisseur pour assurer d’atténuer significativement l’énergie des photons. De plus, adapter l’épaisseur de paroi et la longueur de l’élément de confinement au faisceau secondaire ayant l’angle d’incidence le plus grand sur le détecteur assure que les sources de bruit, i.e., les faisceaux secondaires, ayant une incidence sur le bruit de mesure ont une énergie atténuée lors de la mesure. Préférentiellement, le matériau et l’épaisseur de paroi de l’élément de confinement sont tels qu’un détecteur détecte moins de photon par seconde et par pixel provenant des faisceaux secondaires. Dans un mode de réalisation, l’élément de confinement est en contact avec l’enceinte isolante. L’intérêt est ainsi de limiter la diffraction des faisceaux secondaires par la géométrie du collimateur. Un deuxième aspect de l’invention concerne un procédé de fabrication d’un élément de confinement destiné à être compris dans un système de confinement selon l’une des revendications précédentes, comprenant : Obtenir la géométrie de divergence du faisceau primaire à partir de : Un modèle numérique ; ou Une mesure de la section du faisceau primaire à une pluralité de distances par rapport à la source de rayons X ; Fabriquer l’élément de confinement à partir de la géométrie de divergence obtenue, l’élément de confinement comprenant un évidement s’étendant suivant un axe d’élongation correspondant au trajet de propagation du faisceau primaire, l’évidement étant débouchant de part et d’autre de l’élément de confinement le long de l’axe d’élongation, et l’évidement étant agencé pour autoriser la propagation du faisceau primaire sans altération. On entend par « modèle numérique » un outil numérique dont la mise en œuvre permet le calcul par simulation de la géométrie de divergence du faisceau primaire. On entend « par géométrie de divergence » la forme et les dimensions du faisceau primaire au cours de sa propagation depuis l’orifice de l’enceinte. Autrement dit, la géométrie de la divergence correspond à la variation de la section du faisceau primaire en fonction de la distance à l’orifice de l’enceinte. L’invention et ses différentes applications seront mieux comprises à la lecture de la description qui suit et à l’examen des figures qui l’accompagnent. BREVE DESCRIPTION DES FIGURES Les figures sont présentées à titre indicatif et nullement limitatif de l’invention. La FIG. 1 est une représentation schématique d’un système d’inspection par rayon X. La FIG. 2 est une représentation schématique d’un système d’inspection par rayon X suivant un montage en diffraction de Laue. La FIG. 3 est une représentation schématique d’un mode de réalisation d’un système de confinement selon l’invention. La FIG. 4 est une représentation schématique d’un mode de réalisation d’un élément de confinement du système selon la FIG. 3 . La FIG. 5 est une représentation schématique d’un mode de réalisation d’un système de confinement selon l’invention. La FIG. 6 est une représentation schématique d’un mode de réalisation d’un système de confinement selon l’invention. La FIG. 7 est un schéma illustrant l’enchaînement des étapes d’un procédé de fabrication d’un élément de confinement, selon un mode de réalisation. DESCRIPTION DETAILLEE Sauf précision contraire, un même élément apparaissant sur des figures différentes présente une référence unique. Un premier aspect de l’invention concerne un système de confinement d’un source de rayons X visant à significativement réduire l’énergie de sources secondaires qui sont source de bruit de mesure. Ainsi qu’illustré sur la FIG. 3 , le système de confinement 2 comprend une source 10, laquelle comprend un foyer F duquel est émis le rayonnement X. Le tube 10, également appelée tube 10, comprend une fenêtre 11 perméable aux rayons X et étanche au vide, de façon connue, telle qu’une fenêtre comprenant du béryllium. Le système de confinement 2 comprend une enceinte isolante 13, qui encercle tout le volume du tube 10. L’enceinte isolante 13 est positionnée autour de la source 10, c’est-à-dire autour du dispositif électronique qui génère les rayons X. Un tel agencement est donc compatible avec toute source de rayons X. L’enceinte isolante est, par la suite, appelée « enceinte ». Alternativement, l’enceinte 13 est positionnée dans le dispositif électronique, autour de la chambre à vide où se trouve le foyer F. L’enceinte est alors, par exemple, insérée dans le dispositif électronique de génération des rayons X au moment de sa fabrication. L’enceinte a une épaisseur supérieure ou égale à 1 mm, voire supérieure ou égale à 2 mm. L’épaisseur de l’enceinte peut être constante ou être variable. Le matériau de l’enceinte a une densité supérieure ou égale à 5 g/cm 3 . Par exemple, le matériau de l’enceinte est du plomb, de l’étain et/ou du tungstène. L’enceinte 13 comprend un orifice 13-1 situé en regard de la fenêtre 11. L’orifice est une ouverture pratiquée dans l’enceinte 13, au travers de son épaisseur, et sert de collimateur. L’orifice 13-1 est, par exemple, pratiqué par perçage dans l’épaisseur de l’enceinte 13. L’orifice 13-1 est adapté pour former, par exemple par collimation, un faisceau primaire à partir du flux de rayons de X. La présence de l’orifice 13-1 engendre la formation d’au moins un faisceau secondaire par diffusion, notamment par diffusion sur l’une de ses parois. L’orifice 13-1 est de section constante et de forme préférentiellement cylindrique ou quasi-cylindrique, dont la section circulaire fait face à la fenêtre 11. L’orifice 13-1 a une section dont le diamètre est supérieur ou égale à 0.5 mm. Ce diamètre peut être inférieure ou égale à 10 mm. La section de l’orifice 13-1 peut alternativement être de forme carrée ou rectangulaire dont la longueur d’un de ses côtés est supérieure à égale à 0,5 mm et peut également être inférieure ou égale à 10 mm. Le système de confinement 2, comprend également un élément de confinement 14. Ainsi qu’illustré sur la FIG. 4 , où l’élément de confinement 14 est vu en perspective ( FIG. 4 a) et vu de côté ( FIG. 4 b), l’élément de confinement 14 comprend un évidement 14-1. L’évidement 14-1 s’étend suivant un axe d’élongation . Cet axe d’élongation correspond au trajet de propagation d’un faisceau primaire du flux de rayons X rayonné par le tube 10 à travers l’orifice 13-1. L’évidement 14-1 est débouchant de chaque côté de l’élément de confinement 14, le long de l’axe d’élongation . L’évidement 14-1 est tel que sa géométrie correspond à la géométrie de divergence du faisceau primaire . On entend par « correspondre » à la géométrie de divergence que la forme de l’évidement 14-1 autorise la propagation du faisceau primaire sans l’altérer. La forme de l’évidement est donc au moins de même forme et de diamètre (ou longueur de côté en cas d’orifice 13-1 carré ou rectangulaire) égale ou plus grand que le diamètre (ou la longueur de côté) de la géométrie de divergence du faisceau primaire. Autrement dit, l’évidement est tel que les rayons du faisceau primaire ne traversent pas le matériau de l’élément de confinement 14, et que les faisceaux secondaires ne peuvent traverser l’élément de confinement 14 sans passer au travers de sa paroi. Par exemple, le diamètre (ou la longueur du côté) de l’évidement peut être supérieure de au moins 1 mm, voire de au moins 5 mm par rapport au diamètre (ou la longueur du côté) de la géométrie de divergence. Le diamètre (ou la longueur du côté) de l’évidement peut être inférieure ou égal à 1 cm. L’élément de confinement 14 est positionné de sorte que l’évidement 14-1 est en regard de l’orifice 13-1. C’est-à-dire que l’élément de confinement 14 est positionné de sorte que le faisceau primaire en sortie de l’orifice se propage intégralement dans l’évidement sans que les rayons du faisceau primaire ne traversent le matériau de l’élément de confinement 14. L’élément de confinement 14 est distant d’une distance de la paroi de l’enceinte 13. Cette distance est comprise entre 0 et 10 mm. Le matériau de l’élément de confinement a une densité supérieure ou égale à 5 g/cm 3 . Par exemple, le matériau de l’élément de confinement est du plomb, de l’étain et/ou du tungstène. L’élément de confinement 14 a une épaisseur de paroi supérieure ou égale à 2 mm et une longueur suivant l’axe d’élongation supérieure ou égale à 10 mm. L’épaisseur de paroi de l’élément de confinement 14 peut être constante ou être variable. L’utilisation conjointe de l’enceinte 13 et de l’élément de confinement 14 permet de significativement réduire l’énergie des faisceaux secondaires, source de bruit de mesure. Préférentiellement, l’épaisseur de l’enceinte 13 et la densité du ou des matériaux qu’elle comprend, ainsi que l’épaisseur de paroi et la longueur de l’élément de confinement 14 sont telles que moins d’un photon par seconde et par pixel pour tout faisceau secondaire se propageant jusqu’à un détecteur 20 lors d’une mesure. Le système de confinement 2 peut être compris dans une cabine 1 de rayon X, dans laquelle un objet 30 est inspecté en utilisant le système de confinement 2. Le système de confinement 2 est positionné de sorte que l’élément de confinement 13 est distant d’une distance de l’objet 30. La cabine 1 comprend le détecteur 20. Le détecteur 20 derrière l’objet sert à détecter les faisceaux diffractés provenant de la diffraction du faisceau primaire par l’objet 30. Le détecteur peut également servir à détecter le faisceau primaire traversant la pièce . Le détecteur 20 est également adapté pour détecter les faisceaux secondaires issus des diverses sources secondaires. La distance entre l’élément de confinement 14 et l’objet 30 est comprise entre 0 et 50 cm, voire entre 0 et 10 cm, voire encore entre 0 et 10 mm. Il est noté que plus cette distance est courte et moins il y a de sources secondaires de diffraction, liées à la diffraction du faisceau primaire par l’environnement, notamment, l’air dans la cabine 1, qui sont engendrées. Ainsi, plus cette distance est courte et plus l’énergie du bruit de mesure diminue. Dans un mode de réalisation, présenté sur la figure 5, l’élément de confinement 14 est en contact avec la paroi de l’enceinte 13, et est positionné de sorte que son évidement 14-1 est dans la continuité de l’orifice 13-1, sans altérer la propagation du faisceau primaire . A son autre extrémité, l’élément de confinement 14 est en contact ou en quasi-contact avec l’objet 30. C’est-à-dire que la distance entre l’élément de confinement 14 et l’objet 30 est la plus petite possible, compte tenu de la forme de l’objet 30. Dans un mode de réalisation, ainsi que représenté sur la figure 6, la longueur et l’épaisseur de paroi de l’élément de confinement 14 dépendent de l’angle , par rapport à l’axe d’élongation , formé par l’un des faisceaux secondaires se propageant jusqu’au bord la position la plus éloigné de l’axe d’élongation sur le détecteur 20, par exemple après diffusion par l’orifice 13-1, suivant une direction orthogonale à l’axe d’élongation . La longueur et l’épaisseur de paroi de l’élément de confinement 14 dépendent également de la distance entre l’élément de confinement 14 et la paroi de l’enceinte 13. En d’autres termes, la longueur et l’épaisseur de paroi de l’élément de confinement 14 sont déterminées en fonction de la distance entre l’élément de confinement 14 et la paroi de l’enceinte 13, et du faisceau secondaire , émis en sortie de l’orifice 13-1, qui a l’angle d’incidence le plus élevé sur le détecteur 20. Il s’agit donc du faisceau secondaire le plus éloigné de l’axe d’élongation qui est détecté par le détecteur 20. En particulier, la longueur et l’épaisseur de paroi de l’élément de confinement 14 sont déterminées de sorte que moins d’un photon par seconde et par pixel est détecté pour tout faisceau secondaire se propageant jusqu’au détecteur 20, par exemple par diffusion depuis l’orifice 13-1, avec un angle inférieur ou égal à l’angle , par rapport à l’axe d’élongation . Un tel mode de réalisation permet de limiter la quantité de matériau nécessaire à la fabrication de l’élément de confinement 14 tout en réduisant le bruit de mesure. Pour fabriquer l’élément de confinement 14, en particulier pour réaliser l’évidement 14-1 selon les caractéristiques précédemment décrites, la géométrie de divergence à laquelle l’évidement 14-1 correspond peut être obtenue par : Utilisation d’un modèle numérique, typiquement un outil de simulation qui permet de simuler via un ordinateur la propagation du flux de rayons X à travers l’orifice 13-1, depuis le foyer F du tube 10 ; Mesure suivant une pluralité de distances par rapport au tube 10, de la section du faisceau primaire . Typiquement, une détection par le détecteur 20 du flux de rayons X est effectuée pour chacune des distances par rapport au tube 10 afin de déterminer le diamètre (ou la longueur du côté) de la section du faisceau primaire via cette détection. L’élément de confinement 14 peut être fabriqué par n’importe quelle technique de fabrication connue permettant la réalisation de l’évidement selon les caractéristiques précédemment décrites. Un deuxième aspect de l’invention porte donc sur un procédé 100 de fabrication de l’élément de confinement 14, tel qu’illustré sur la FIG. 7 . Le procédé 100 comprend une étape 110 d’obtention de la géométrie de divergence, laquelle peut être obtenue par exemple, suivant les modalités précédemment décrites. Le procédé 100 comprend ensuite une étape 120 de fabrication, en fonction de la géométrie de divergence obtenue, de l’élément de confinement 14, lequel comprend l’évidement 14-1 selon les caractéristiques et éventuelles variantes précédemment décrites. Système de confinement (2) de rayons X comprenant : Une source (10) de rayons X comprenant une fenêtre (11), la source (10) de rayons X étant adaptée pour émettre un flux de rayons X ; Une enceinte isolante (13) entourant la source (10) de rayons X, l’enceinte isolante (13) comprenant un orifice (13-1) en vis-à-vis de la fenêtre (11), l’orifice (13-1) étant adapté pour former un faisceau primaire ( ) à partir du flux de rayons de X ; Un élément de confinement (14) positionné en dehors de l’enceinte isolante (13) et comprenant un évidement (14-1) s’étendant suivant un axe d’élongation ) correspondant au trajet de propagation du faisceau primaire ( ), l’évidement (14-1) étant débouchant de part et d’autre de l’élément de confinement (14) le long de l’axe d’élongation ( ), et l’évidement (14-1) étant agencé pour autoriser la propagation du faisceau primaire ( ) sans altération. Système (2) selon la revendication précédente, dans lequel l’enceinte isolante (13) et/ou l’élément de confinement (14) sont composés d’un matériau ayant une densité supérieure ou égale à 5 g/cm 3 . Système (2) selon l’une des revendications précédentes, dans lequel l’enceinte isolante (13) et/ou l’élément de confinement (14) sont composés de plomb, cuivre, d’étain et/ou de tungstène. Système (2) selon l’une des revendications précédentes, dans lequel l’enceinte isolante (13) a une épaisseur supérieure ou égale à 1 mm. Système (2) selon l’une des revendications précédentes, dans lequel l’élément de confinement (14) a une épaisseur ( ) de paroi supérieure ou égale à 2 mm et une longueur ( ) suivant l’axe d’élongation ( ) supérieure ou égale à 10 mm. Système (2) selon l’une des revendications précédentes, dans lequel au moins un faisceau secondaire ( ) est diffusé par l’orifice (13-1), les faisceaux primaire ( ) et secondaire ( ) se propagent jusqu’à un détecteur (20), et l’élément de confinement (14) a une longueur ( ) suivant l’axe d’élongation ( ) et une épaisseur ( ) de paroi dépendantes de l’angle ( ) formé, par rapport à l’axe d’élongation ( ), par le au moins un faisceau secondaire ( ) du flux de rayons X se propageant jusqu’à la position la plus éloignée de l’axe d’élongation ( ) sur le détecteur (20), suivant une direction orthogonale à l’axe d’élongation ( ). Système (2) selon l’une des revendications précédentes, dans lequel l’élément de confinement (14) est en contact avec l’enceinte isolante (13). Procédé de fabrication d’un élément de confinement (14) destiné à être compris dans un système de confinement (2) selon l’une des revendications précédentes, comprenant : Obtenir la géométrie de divergence du faisceau primaire ( ) à partir de : Un modèle numérique ; ou Une mesure de la section du faisceau primaire ( ) à une pluralité de distances par rapport à la source (10) de rayons X ; Fabriquer l’élément de confinement (14) à partir de la géométrie de divergence obtenue, l’élément de confinement (14) comprenant un évidement (14-1) s’étendant suivant un axe d’élongation ( ) correspondant au trajet de propagation du faisceau primaire ( ), l’évidement (14-1) étant débouchant de part et d’autre de l’élément de confinement (14) le long de l’axe d’élongation ( ), et l’évidement (14-1) étant agencé pour autoriser la propagation du faisceau primaire ( ) sans altération.