FR 3158787 A1 20250801 FR 2400747 A 20240125 La présente invention concerne spectromètre imageur (100) de type Offner comprenant : - une fente d’entrée (10) présentant un centre géométrique (11), une hauteur (13) et une largeur (15), la fente d’entrée (10) présentant également un axe longitudinal (16) passant par le centre géométrique (11) et étant orienté parallèlement à la hauteur (13) de la fente d’entrée; - un dispositif optique réfléchissant (20) et un réseau de diffraction (30) convexe en réflexion disposés en configuration concentrique, - un détecteur imageur 540) configuré pour former une image de la fente d’entrée (10), caractérisé en ce qu’une droite (60) joignant le centre optique géométrique (31) du réseau de diffraction (30) et le centre géométrique (11) de la fente d’entrée (10) forme un angle (61) avec l’axe longitudinal (16) de la fente d’entrée (10), ledit angle (61) étant compris entre 50 degrés et 70 degrés. Figure pour l’abrégé : Fig. 1 Spectromètre imageur de type Offner Domaine technique de l'invention La présente invention concerne le domaine des spectromètres imageurs. Elle concerne en particulier un spectromètre imageur de type Offner. Etat de la technique On connaît des spectromètres imageurs de type Offner comprenant une fente d’entrée, un réseau de diffraction et un dispositif optique réfléchissant en configuration concentrique et un détecteur imageur. Dans ces spectromètres, la fente, le détecteur imageur ainsi que des rainures du réseau de diffraction sont alignés dans l’espace suivant un axe spatial. Ces spectromètres sont fonctionnels puisqu’ils permettent d’enregistrer sur le détecteur un spectre correspondant à une image de la fente d’entrée. Notamment, il est reconnu que cette configuration permet d’obtenir un spectre de bonne qualité optique, c’est-à-dire avec de faibles aberrations optiques. Il est connu que cette configuration permet d’obtenir une bonne résolution spatiale dans un plan de symétrie. Néanmoins, dans ces spectromètre imageur, la résolution spectrale est limitée et ce, d’autant plus lorsqu’un tel spectromètre présente une grande ouverture. Dans ce cas, la meilleure résolution spectrale est obtenue dans le plan de symétrie. De ce fait, la résolution spatiale et spectrale dans ces spectromètres imageurs est fortement dégradée lorsque l’on s’éloigne du plan de symétrie. En outre, dans ces spectromètres imageur, l’ouverture numérique du spectromètre est faible et l’étendue du spectre obtenu est limitée. Pour finir de tels spectromètres sont volumineux, impliquant des problèmes de coûts. On connaît également des spectromètres imageurs de type Offner dans lesquels la fente ainsi que le réseau de diffraction sont désalignés suivant un angle de 45°. De tels spectromètres sont fonctionnels car ils permettent d’obtenir un spectre avec une meilleure résolution spectrale et spatiale. Néanmoins, cette résolution est limitée et n’est pas effective sur toute la hauteur de la fente. En outre, ces spectromètres sont volumineux. L’invention a pour but de résoudre au moins un des inconvénients précités. Présentation de l'invention Dans ce contexte, la présente invention propose un spectromètre imageur de type Offner comprenant : - une fente d’entrée configurée pour transmettre un faisceau lumineux incident comprenant des longueurs d’onde, ladite fente d’entrée présentant un centre géométrique, une hauteur définie le long d’un axe et une largeur, ladite valeur de la hauteur de la fente d’entrée étant supérieure ou égale à la valeur de la largeur de la fente d’entrée, la fente d’entrée présentant également un axe longitudinal passant par le centre géométrique et étant orienté parallèlement à l’axe définissant la hauteur de la fente d’entrée; - un dispositif optique réfléchissant et un réseau de diffraction convexe en réflexion disposés en configuration concentrique, i) le dispositif optique réfléchissant ayant un centre de courbure et étant configuré pour réfléchir le faisceau lumineux incident et le diriger vers le réseau de diffraction ; ii) le réseau de diffraction présentant un centre optique géométrique en surface, le réseau de diffraction comprenant des rainures orientées parallèlement à l’axe longitudinal de la fente d’entrée; ledit réseau de diffraction étant agencé pour diffracter spectralement le faisceau lumineux incident réfléchi sur le dispositif optique réfléchissant, iii) le dispositif optique réfléchissant étant configuré pour réfléchir le faisceau lumineux diffracté spectralement par le réseau de diffraction ; - un détecteur imageur configuré pour enregistrer le faisceau lumineux diffracté par ledit réseau de diffraction et réfléchi par le dispositif optique réfléchissant, le spectromètre imageur étant configuré pour former une image de la fente d’entrée sur le détecteur imageur. Le spectromètre imageur présente une droite joignant le centre optique géométrique du réseau de diffraction et le centre géométrique de la fente formant un angle avec l’axe longitudinal de la fente d’entrée, ledit angle étant supérieur à 0 degré et inférieur à 45 degrés ou supérieur à 45 degrés et inférieur à 90 degrés. De préférence, ledit angle est compris entre 50 degrés et 70 degrés. La précision de cet angle est liée à la précision du dispositif opto-mécanique supportant les éléments optiques et est de l’ordre de la minute d’arc ou mieux. Ainsi, dans le spectromètre imageur selon l’invention, la fente et le réseau de diffraction sont désalignés, ce qui permet d’obtenir un spectromètre imageur avec une grande ouverture numérique tout en conservant la qualité optique de ce spectromètre imageur. Grâce à l’agencement entre la fente, le réseau de diffraction et le détecteur imageur, il est possible d’obtenir un spectre avec une large étendue spatiale et hautement résolu spectralement et spatialement sur toute la hauteur de la fente. De ce fait, un tel agencement permet d’obtenir une meilleure résolution spectrale et spatiale suivant la hauteur de la fente. Un tel agencement permet également d’obtenir un spectromètre imageur plus compact que les spectromètres imageurs de l’état de l’art, comme les spectromètres imageurs dits dans le plan, facilitant l’utilisation ou l’implantation d’un tel spectromètre imageur dans des dispositifs préexistants. Notamment, ici, la gamme d’angle est sélectionnée pour positionner le réseau de diffraction par rapport à la fente d’entrée afin d’obtenir un spectromètre imageur ayant une grande ouverture numérique tout en préservant ses performances optiques. Un tel agencement permet d’obtenir meilleur compromis entre étendues spectrale et spatiale et donc améliorer la résolution spectrale et la résolution spatiale dans le champ par rapport aux spectromètres de l’état de l’art. Ainsi, le spectromètre imageur selon l’invention permet de fournir un spectre avec une meilleure résolution sur la hauteur de fente et une étendue spatiale et spectrale importantes. Dans la présente invention, on entend par centre géométrique d’un objet, la position moyenne des points formant l’aire de cet objet. Ainsi, pour un objet en deux dimensions ou en trois dimensions, cela correspond notamment au barycentre de cet objet obtenus avec des coefficients de pondération tous égaux à 1. Pour déterminer le centre géométrique, on peut par exemple calculer le point positionné à la moyenne arithmétique des coordonnées de chaque point de cet objet pondérées avec un facteur de pondération égal à 1. D’autres caractéristiques non limitatives et avantageuses du système conforme à l’invention, prises individuellement ou selon toutes les combinaisons techniquement possibles, sont les suivantes : Dans un mode de réalisation, l’angle est compris entre 45 degrés (exclus) et 70 degrés, de préférence entre 50 degrés et 70 degrés. Un tel agencement permet d’améliorer encore plus les performances décrites ci-dessus du spectromètre imageur. Ici, grâce à une telle sélection d’angle, le spectromètre imageur est plus compacte et plus résolu spectralement et spatialement. Dans un mode de réalisation, l’angle est compris entre 50 degrés et 60 degrés. Un tel agencement permet d’améliorer encore plus les performances décrites ci-dessus du spectromètre imageur. Notamment, cette configuration permet d’obtenir le meilleur compromis en termes de compacité du spectromètre imageur et de résolution spatiale et spectrale. Dans un mode de réalisation, l’angle est compris entre 15 degrés et 40 degrés. Un tel agencement permet d’améliorer l’étendue et la résolution spectrale tout en conservant une étendue spatiale maximale proche de la configuration sur l’axe à 0 degrés. Dans un mode de réalisation, l’angle est compris entre 20 degrés et 25 degrés. Un tel agencement permet d’améliorer encore plus les performances décrites ci-dessus du spectromètre par rapport à la configuration dans le plan. Dans un mode de réalisation, le réseau de diffraction est agencé pour diffracter le faisceau lumineux incident réfléchi par ledit dispositif réfléchissant suivant un ordre de diffraction égal à 1 en valeur absolue et le détecteur imageur est disposé pour enregistrer le faisceau lumineux diffracté dans l’ordre de diffraction égal à 1 en valeur absolue. Dans un mode de réalisation, le détecteur imageur comprend une surface d’enregistrement présentant une première dimension spatiale et une deuxième dimension spatiale perpendiculaire à la première dimension spatiale, ladite première dimension spatiale de la surface d’enregistrement étant orientée parallèlement à l’axe longitudinal et étant adaptée à la hauteur de la fente d’entrée. Dans un mode de réalisation, le détecteur est configuré pour enregistrer un spectre du faisceau lumineux diffracté défini entre les longueurs d’onde de 190 nm à 900 nm et présentant une étendue spatiale comprise entre 28 mm et 30 mm. Dans un mode de réalisation, le spectromètre imageur comprend en outre un filtre fonctionnant en transmission disposé en amont du détecteur et configuré pour sélectionner un seul ordre de diffraction. Ainsi, tous les autres ordres de diffraction sont filtrés (i.e. stoppés) par le filtre, ce qui permet d’améliorer la sélectivité spectrale du spectromètre imageur. Dans un mode de réalisation, le filtre présente un axe central normal à un plan du filtre et passant par un centre géométrique du filtre, ledit axe central du filtre étant incliné par rapport à une normale à un plan du détecteur imageur suivant un angle d’inclinaison. Dans ce mode de réalisation, ledit angle d’inclinaison peut être compris entre 5 degrés et 50 degrés. Un tel agencement permet de limiter les réflexion parasite dans le spectromètre imageur. Dans un mode de réalisation, le dispositif optique réfléchissant est agencé pour corriger des aberrations de distorsion sur le détecteur imageur. Dans un mode de réalisation, le dispositif optique réfléchissant comprend un miroir concave présentant un axe optique aligné sur un axe optique du réseau de diffraction. Dans un mode de réalisation, le dispositif optique réfléchissant comprend deux miroirs concaves, nommés respectivement premier miroir et deuxième miroir, le premier miroir étant configuré pour réfléchir le faisceau lumineux incident vers le réseau de diffraction et le deuxième miroir étant configuré pour réfléchir le faisceau lumineux diffracté vers le détecteur imageur, au moins un des deux miroirs parmi le premier miroir et le deuxième miroir étant agencé de manière concentrique avec le réseau de diffraction. Dans ce mode de réalisation, le premier miroir et le deuxième miroir peuvent avoir des rayons de courbures différents ou des rayons de courbure identiques. Dans un mode de réalisation, la fente d’entrée est formée par une ouverture rectangulaire ou la fente d’entrée est formée par une pluralité de fibres optiques disposées le long de l’axe longitudinal de la fente d’entrée et présentant chacune un axe optique, les axes optiques desdites fibres optiques étant parallèles entre eux. Dans un mode de réalisation, au moins une partie des plans réflecteurs présentent une forme incurvée suivant un rayon de courbure. Dans ce mode de réalisation, les rayons de courbure peuvent être identiques ou différents. Dans un mode de réalisation, les rainures sont espacées par une distance constante. En d’autres termes, chaque rainure est espacée d’une rainure adjacente par une même distance. Dans un mode de réalisation, les rainures sont espacées par une distance variable. En d’autres termes, chaque rainure est espacée d’une rainure adjacente par une distance, ladite distance variant pour les rainures. Une telle configuration permet de limiter les aberrations de champ telle que la distorsion. Les performances du spectromètre imageur sont donc améliorées. Dans un mode de réalisation, le spectromètre imageur comprend des moyens d’ajustement d’au moins une inclinaison du détecteur. Dans ce mode de réalisation, l’inclinaison correspond à une rotation du détecteur selon au moins une direction ou axe spatiale, de préférence selon au moins deux voire trois directions spatiales. Bien entendu, les différentes caractéristiques, variantes et formes de réalisation de l'invention peuvent être associées les unes avec les autres selon diverses combinaisons dans la mesure où elles ne sont pas incompatibles ou exclusives les unes des autres. De plus, diverses autres caractéristiques de l'invention ressortent de la description annexée effectuée en référence aux dessins qui illustrent des formes, non limitatives, de réalisation de l'invention et où : FIG. 1 est une vue de dessus d’un premier mode de réalisation d’un spectromètre imageur selon la présente divulgation ; FIG. 2 est une représentation schématique dans un plan de vue d’un agencement d’une fente et d’un réseau de diffraction du spectromètre imageur selon le premier mode de réalisation ; FIG. 3 est une représentation schématique en trois dimensions du spectromètre imageur selon le premier mode de réalisation, FIG. 4 est une représentation schématique selon une vue de profil d’un réseau de diffraction compris dans le spectromètre imageur selon le premier mode de réalisation, ledit réseau de diffraction étant projeté dans un plan de vue facial perpendiculaire à l’axe optique du réseau de diffraction, FIG. 5 est une représentation d’un spectre enregistré par un détecteur imageur compris dans le spectromètre imageur selon le premier mode de réalisation. FIG. 6 est une vue agrandie du positionnement d’un filtre par rapport à un détecteur imageur compris dans le spectromètre imageur, FIG. 7 est une représentation dans un plan de vue en deux dimensions d’un deuxième mode de réalisation d’un spectromètre imageur selon la présente divulgation, FIG. 8 est une représentation en trois dimensions du spectromètre imageur selon le deuxième mode de réalisation, FIG. 9 est une autre représentation schématique d’un agencement d’un faisceau (ou bundle en anglais) de fibres optiques dans le plan de la fente d’entrée et du réseau de diffraction du spectromètre imageur selon le premier ou deuxième mode de réalisation. Il est à noter que sur ces figures les éléments structurels et/ou fonctionnels communs aux différentes variantes peuvent présenter les mêmes références. Description détaillée Il va être décrit à l’aide de la FIG. 1 , de la FIG. 2 , de la FIG. 3 , de la FIG. 4 , de la FIG. 5 , et/ou de la FIG. 6 ou de la FIG. 9 un premier mode de réalisation d’un spectromètre imageur 100 selon la présente divulgation. Comme cela est illustré sur la FIG. 1 , le spectromètre imageur 100 comprend une fente d’entrée 10, un dispositif optique réfléchissant 20, un réseau de diffraction 30, un détecteur imageur 40 et optionnellement un filtre 50. Dans la présente divulgation, la fente d’entrée 10 est configurée pour transmettre un faisceau lumineux incident 1. Typiquement, le faisceau lumineux incident 1 utilisé dans le spectromètre imageur 100 est un faisceau lumineux polychromatique comprenant, par exemple, un spectre s’étendant entre les longueurs d’onde de 180 nm à 900 nm. Comme cela est illustré en FIG. 2 et en FIG. 3 , la fente d’entrée 10 est formée par une ouverture 17 de forme rectangulaire comprenant un centre géométrique 11, une hauteur 13 et une largeur 15. Dans une variante du premier mode de réalisation et du deuxième mode de réalisation, la fente d’entrée 10 peut avoir une ouverture 17 de toute forme, par exemple de forme carrée, de forme circulaire, de forme parallélépipédique, ou de forme quelconque, ou de la forme illustrée en FIG. 9 qui sera explicité ci-dessous. Dans la présente divulgation, on entend par centre géométrique, le barycentre de l’aire définie par la fente d’entrée 10 correspondant ici à l’aire définie par l’ouverture 17 délimitée par le périmètre de l’ouverture 17 de la fente d’entrée 10. Ce centre géométrique 11 peut, par exemple, correspondre à un point positionné à la moyenne arithmétique des coordonnées des points formant l’ouverture 17. Ici, comme l’ouverture 17 de la fente d’entrée 10 est de forme rectangulaire, ce point correspond également au point d’intersection des diagonales de l’ouverture 17 de la fente d’entrée 10. Le centre géométrique 11 de la fente d’entrée 10 définit l’origine d’un repère spatial, composé d’un premier axe spatial, noté x, d’un deuxième axe spatial, noté y, et d’un troisième axe spatial, noté z. Dans la présente divulgation, les éléments du spectromètre imageur 100 (et 200 pour le deuxième mode de réalisation) sont définis par rapport à ce repère spatial orthonormé. Le centre géométrique 11 est positionné à l’intersection entre un premier axe médian 12 de la fente d’entrée 10 défini le long du premier axe spatial x et un deuxième axe médian 14 le long du deuxième axe spatial y. Dans la présente divulgation, par axe médian d’un objet, on entend l’axe qui coupe en deux parties égales ledit objet lorsque cet objet est vu dans un plan. Par exemple, cet axe médian peut séparer la moitié droite de cet objet de la moitié gauche ou la partie haute de cet objet à la partie basse, ladite moitié droite présentant une aire égale à la partie gauche et ladite partie haute présentant une aire égale à ladite partie basse. Comme la fente d’entrée 10 est de forme rectangulaire, le premier axe médian 12 est perpendiculaire au deuxième axe médian 14. Ici, comme illustré en FIG. 2 , la hauteur 13 de la fente d’entrée est définie parallèlement au premier axe médian 12 et la largeur 15 de la fente d’entrée est définie parallèlement au deuxième axe médian 14. La fente d’entrée 10 comprend un axe longitudinal 16. Cet axe longitudinal est orienté parallèlement à la hauteur 13 de la fente d’entrée. Notamment, dans cet exemple, cet axe longitudinal est compris dans le premier axe médian 12, il est donc aligné le long du premier axe spatial x. Ainsi, l’axe longitudinal 16 est confondu avec le premier axe médian 12. Cet axe longitudinal 16 passe par le centre géométrique 11 de la fente d’entrée 10 et coupe perpendiculairement le deuxième axe médian 14 de la fente d’entrée 10. Il est donc également perpendiculaire au deuxième axe spatial y. Dans cette configuration, la hauteur 13 présente une direction d’élongation alignée selon le premier axe spatial x et la largeur 15 présente une direction d’élongation définie selon le deuxième axe spatial y perpendiculaire au premier axe spatial x. Comme cela est illustré, la hauteur 13 (ici la valeur de la hauteur 13) est supérieure ou égale à la largeur 15 (i.e. valeur de la largeur 15), ici notamment supérieure à la largeur 15 de la fente d’entrée 10. Typiquement, la fente d’entrée 10 utilisée dans le spectromètre imageur 100 illustré en FIG. 1 présente une hauteur 13 comprise entre 4 µm et 28 mm, c’est-à-dire comprenant l’une des quelconques valeurs comprises entre 14 µm et 28 mm. Dans cet exemple, la hauteur de la fente d’entrée 10 fait typiquement 2,7 mm. Lorsque la fente d’entrée 10 est rectangulaire, la largeur 15 de la fente est égale ou inférieure à la hauteur 13 de la fente. Typiquement, la largeur de la fente est comprise entre 4 µm et 1 mm. En pratique, si la fente d’entrée 10 est faite d’une seule ouverture comme représenté en FIG. 2 , la largeur de la fente peut être comprise entre 10 µm et 500 µm, ce qui permet d’améliorer les performances du spectromètre imageur. Toutefois, si la fente d’entrée est formée par un bundle de fibres optiques comme illustré en FIG. 9 , la largeur de la fente d’entrée peut être comprise entre 4 µm (par exemple dans le cas de l’utilisation de fibres optiques monomodes) et 1 mm (dans le cas de l’utilisation de fibres optiques présentant un plus gros cœur) pour obtenir de meilleurs performances dans ce mode de réalisation. Ici, elle est par exemple ce 50 µm. Ainsi, ici, le faisceau lumineux incident 1 traverse la fente d’entrée 10 et se propage en direction du dispositif optique réfléchissant 20. Dans la présente divulgation, on entend par faisceau lumineux un ensemble de rayons lumineux se propageant, en amont de la fente d’entrée 10, suivant une même direction de propagation. Par soucis de simplification, en FIG. 1 , un seul rayon lumineux 2 du faisceau lumineux incident 1 est illustré. Comme illustré en FIG. 1 , le dispositif optique réfléchissant 20 est positionné sur le chemin optique du faisceau lumineux incident 1. Ici typiquement, la distance séparant le centre géométrique 11 de la fente d’entrée 11 et le sommet du premier miroir 21 est de 98,83 mm. Dans la présente divulgation, les distances entre deux objets sont exprimées par rapport aux centres géométriques des surfaces. Dans ce premier mode de réalisation, le dispositif réfléchissant 20 comprend deux miroirs, un premier miroir 21 et un deuxième miroir 22. Le premier miroir 21 et le deuxième miroir 22 sont des miroirs concaves présentant chacun un axe optique 23, 24 et une courbure. Le dispositif réfléchissant 20 présente un centre de courbure 25. Ici, dans ce mode de réalisation, les deux miroirs 21 et 22 sont concentriques et présentent ainsi un seul centre de courbure 25 identique au deux miroirs 21, 22. En outre, dans cet exemple, les courbures du premier miroir 21 et du deuxième miroir 22 sont identiques, par exemple ici elles sont de 97,56 mm. Bien entendu, dans une variante du spectromètre imageur 100, la courbure du premier miroir 21 peut différer de la courbure du deuxième miroir 22 tout en conservant l’agencement concentrique entre chaque miroir 21, 22 et le réseau de diffraction 30. Le premier miroir 21 et le deuxième miroir 22 peuvent également avoir un diamètre similaire, par exemple ici de 50 mm. Bien entendu, dans une variante, le premier miroir 21 et le deuxième miroir 22 peuvent avoir des diamètres différents. Dans ce cas, le deuxième miroir 22 peut disposer d’une surface utile plus grande que le premier miroir 21, par exemple d’au moins 1 mm. . Le dispositif optique réfléchissant 20 est configuré pour réfléchir le faisceau lumineux incident 1 issu de la fente d’entrée 10 et l’orienter vers le réseau de diffraction 30. Ici notamment, le premier miroir 21 réfléchit, ici suivant les lois de Snell-Descartes, le faisceau lumineux incident 1 vers le réseau de diffraction 30. Le réseau de diffraction 30 est un réseau de diffraction convexe en réflexion comprenant un centre optique géométrique 31 et un axe optique 32. Ici, l’axe optique 32 du réseau de diffraction 30 est orienté perpendiculairement à l’axe longitudinal 16 de la fente d’entrée 10. Il comprend également un centre de courbure 36 positionné le long de son axe optique 32. Dans cet exemple, le centre de courbure 36 du réseau de diffraction 30 est égal à 50,42 mm et le réseau de diffraction 30 présente un diamètre de 23,5 mm. Le réseau de diffraction 30 et le dispositif optique réfléchissant 20 sont agencés de manière concentrique. En pratique, cela signifie qu’au moins un des miroirs parmi le premier miroir 21 et le deuxième miroir 22 est agencé de manière concentrique avec le réseau de diffraction 30. Un tel agencement permet de garantir l’agencement de type Offner et donc d’obtenir une très bonne qualité d’image sur le détecteur imageur 40. Typiquement, dans cet exemple, le centre de courbure du premier miroir 21, le centre de courbure 25 du deuxième miroir 22, et le centre de courbure 36 du réseau de diffraction 30 sont concentriques. Ils sont, dans cet exemple, positionnés à 50,42 mm en amont du réseau de diffraction 30. Une telle configuration permet d’améliorer encore plus la résolution spectrale et spatiale du spectromètre imageur 100. Ici typiquement, la distance séparant le premier miroir 21 ou le deuxième miroir 22 et le réseau de diffraction 30 est de 47,14 mm ou de 45,8 mm après optimisation. Ainsi, après avoir été réfléchi par le dispositif optique réfléchissant 20 (ici le premier miroir 21), le faisceau lumineux incident 1 réfléchi se propage vers le réseau de diffraction 30. Le réseau de diffraction 30 peut être un réseau de diffraction gravé ou un réseau de diffraction holographique. Le réseau de diffraction 30 comprend des plans réflecteurs 35 configurés pour diffracter spectralement le faisceau lumineux incident 1 réfléchi par le dispositif optique réfléchissant 20. Dans le présent exemple, la diffraction est continue pour toutes les longueurs d’onde comprises dans le spectre du faisceau lumineux incident 1. Ainsi, par diffracté spectralement, on entend que le réseau de diffraction 30 est configuré pour diffracter ou disperser chaque rayon lumineux 2 du faisceau lumineux incident 1 en un paquet 5 de rayons lumineux diffractés 3 dont le nombre de rayons lumineux diffractés 3 est fonction des longueurs d’onde du faisceau lumineux incident, chaque rayon lumineux diffracté 3 d’un même paquet 5 de rayons lumineux diffractés se propageant à une longueur d’onde comprise dans le spectre du faisceau lumineux incident suivant une direction de propagation qui est fonction de la longueur d’onde. En d’autres termes, cela signifie que chaque rayon lumineux diffracté 3 d’un même parquet présente une longueur d’onde qui est différente des longueurs d’onde des autres rayons lumineux diffractés du même paquet 5. On comprend également que le faisceau lumineux diffracté est formé par l’ensemble des rayons lumineux diffractés 3 par le réseau de diffraction 30. Ici, dans l’exemple de la FIG. 1 , comme un seul rayon lumineux 2 du faisceau lumineux incident 1 est illustré, le paquet 5 des rayons lumineux diffractés 3 illustre le faisceau lumineux diffracté 4. Dans le cas où plusieurs paquets 5 de rayons lumineux diffractés 3 sont formés par le réseau de diffraction 30, l’ensemble des paquets 5 correspond au faisceau lumineux diffracté 4. En pratique, le réseau de diffraction 30 est configuré pour diffracter le faisceau lumineux incident 1 réfléchi par le dispositif réfléchissant 20 suivant la loi des réseaux connue de l’homme du métier. Typiquement, le réseau de diffraction 30 est agencé pour favoriser un ordre de diffraction en maximisant l’intensité du faisceau diffracté selon un ordre de diffraction. L’ordre de diffraction maximisé peut être l’ordre 1 en valeur absolue, c’est-à-dire l’ordre 1 ou -1. En pratique, le faisceau lumineux diffracté 4 à l’ordre 1 ou -1 présente une intensité très supérieure à l’intensité des faisceaux lumineux diffractés aux autres ordres de diffraction. Ainsi, l’intensité des rayons lumineux diffractés dans les autres ordres sont négligeables par rapport aux intensités des rayons lumineux diffractés à l’ordre maximisé. Par exemple, l’ordre de diffraction maximisé est l’ordre -1. Ainsi, le réseau de diffraction 30 diffracte le faisceau lumineux incident 1 provenant du dispositif optique réfléchissant 20 suivant l’ordre de diffraction égal à - 1. En d’autres termes, cela signifie que chaque rayon lumineux incident 2 du faisceau lumineux incident 1 est diffracté spectralement par le réseau de diffraction 30 en un paquet 5 de rayons lumineux diffractés 3 suivant l’ordre de diffraction égal -1. L’ordre -1 permet notamment d’obtenir un spectromètre imageur plus compact. . Les plans réflecteurs 35 sont séparés par des rainures 33 du réseau de diffraction 30. Comme cela est illustré en FIG. 2 , les rainures 33 sont parallèles entre elles et sont définies parallèlement à la première direction spatiale x. Par conséquent les rainures 33 sont chacune orientée parallèlement à l’axe longitudinal 16 de la fente 10. Ici typiquement, les rainures 33 présentent une densité d’environ 770 traits par millimètre (tr/mm). Les rainures sont configurées pour délimiter les plans réflecteurs 35 du réseau de diffraction 30. Chaque rainure 33 est espacée d’une rainure adjacente 33 d’une distance 34 (aussi notée a), qui est dans cet exemple similaire. En d’autres termes, ici, toutes les rainures sont espacées d’une même distance 34 (i.e. distance 34 constante), le réseau de diffraction 30 est donc un réseau de diffraction à pas constant. Par exemple, la distance vaut 1,3 µm (1/770 mm). Bien entendu, comme cela sera illustré en FIG. 9 , le réseau de diffraction 30 peut être un réseau de diffraction à pas variable pour lequel la distance 34 peut varier d’une rainure 33 à une autre. A titre d’exemple, la FIG. 4 illustre dans une vue de profil une projection du réseau de diffraction 30 dans un plan perpendiculaire à l’axe optique 32 du réseau de diffraction 30. En effet, cette projection gomme, dans cette représentation, la courbure du réseau de diffraction 30. En variante, les plans réflecteurs 35 sont de formes plane. Selon un aspect particulier, la succession des différents plans réflecteurs 35 forme des dents de scie de même forme. Bien entendu, l’ensemble des plans réflecteurs 35 peut former d’autres motifs, par exemple un motif sinusoïdal, un motif carré, etc. En outre, les plans réflecteurs 35 peuvent présenter un rayon de courbure (de forme convexe ou concave), une forme rectangulaire, une forme carrée, etc. En FIG. 4 et en FIG. 1 , un rayon lumineux 2 du faisceau lumineux incident 1 arrive sur le réseau de diffraction 30 avec une incidence inclinée dans le plan (yz). Ainsi, chaque rayon lumineux 2 incident réfléchi par le premier miroir 21 arrivant sur le réseau de diffraction 30 présente un angle d’incidence alpha défini dans le plan (yz). L'angle d'incidence Alpha est l'angle entre le faisceau incident et une normale à la surface courbée du réseau de diffraction 30 au point de contact de ce faisceau sur cette surface du réseau de diffraction 30. A titre d’exemple, dans le plan défini par le deuxième axe spatial et le troisième axe spatial, l’angle d’incidence alpha associé à ce rayon lumineux 2 incident vaut ici 22,7 degrés.. De manière similaire, ce rayon lumineux 2 incident arrive sur le réseau de diffraction avec une incidence inclinée dans le plan (xz) suivant un angle d’incidence azimutal (noté sigma en FIG. 7 ). Par exemple, dans cet exemple, l’angle d’incidence azimutal sigma est de 34,7 degrés . Ces valeurs d’angle d’incidence permettent une optimisation globale du système favorisant notamment ici la compacité géométrique du système. Dans le plan (yz), ce rayon lumineux 2 incident est diffracté pour former un paquet 5 de rayons lumineux diffractés 3, chaque rayon 3 du même paquet 5 étant diffracté, en fonction de sa longueur d’onde, suivant un angle bêta, noté ici bêta1, bêta2, etc. Ici, notamment, les angles d’incidence et de diffraction sont liés par la formule bien connue du réseau de diffraction sin (alpha)+sin (beta) = m lambda / a, avec m l’ordre de diffraction égal à -1, a correspondant à la distance ou espacement entre les rainures adjacentes (correspondant à la distance 34) et lambda la longueur d’onde du faisceau lumineux diffracté 3. Ainsi, pour un angle d’incidence donné alpha, l’angle bêta d’un des rayons lumineux diffracté 3 du faisceau lumineux faisceau diffracté 4 dépend de la distance 34 (aussi notée a) associée au plan réflecteur 35 sur lequel se diffracte le rayon lumineux 2 incident et la longueur d’onde du rayon lumineux diffracté 3 correspondant. Ainsi, chaque longueur d’onde du spectre du faisceau lumineux incident 1 est diffractée suivant un angle bêta, dispersant spectralement les différentes longueurs d’onde du faisceau lumineux incident 1. On comprend que la diffraction s’applique de manière similaire dans le plan (xz) avec alpha correspondant cet fois à l’angle d’incidence azimutal. Comme cela est illustré en FIG. 2 et en FIG. 3 , le centre géométrique 11 de la fente d’entrée 10 et le centre optique géométrique 31 du réseau de diffraction 30 sont reliés par une droite 60, qui est une droite fictive dans le spectromètre imageur 100. Cette droite 60 délimite une distance d séparant le centre géométrique 11 de la fente d’entrée 10 du centre optique géométrique 31 du réseau de diffraction 30. En pratique, le centre géométrique 11 de la fente d’entrée 10 est espacé du centre optique 31 du réseau de diffraction d’une distance d comprise entre 15 mm et 50 mm. Dans cet exemple, cet distance d est de 61,6 mm dans l’espace (xyz) et de 31,14 mm lors d’une projection dans le plan (xy). Dans la présente divulgation, la droite 60 forme un angle 61 dans le plan (xy) avec l’axe longitudinal 16 de la fente d’entrée 10. Cet angle 61 est dans la présente divulgation supérieur à 0 degré et inférieur à 45 degrés ou supérieur à 45 degrés et inférieur à 90 degrés. Avantageusement, l’angle peut être compris entre 45 degrés et 70 degrés (45 degrés exclus) et de préférence compris entre 50 degrés et 70 degrés. Un tel agencement permet d’obtenir un spectromètre imageur avec une grande ouverture numérique (NA) (ici par exemple de 0,22) tout en conservant la qualité optique de ce spectromètre imageur et améliorant la compacité du spectromètre imageur. En outre, comme il sera décrit ci-dessous, le spectre obtenu par un tel spectromètre imageur présente une large étendue spatiale et est hautement résolue sur la hauteur de la fente avec une excellente résolution spatiale sur toute la hauteur de la fente d’entrée imagée sur le détecteur imageur. On comprend ainsi que dans le plan (xy), le centre optique géométrique 31 du réseau de diffraction 30 présente une position spatiale définie par rapport au centre géométrique 11 de la fente 10 et l’angle 61 formé entre l’axe longitudinal 16 et la droite 60. Ainsi, il est possible de positionner le réseau de diffraction 30 par rapport à la fente d’entrée 10 en utilisant des coordonnées polaires ayant pour origine le centre géométrique 11 de la fente d’entrée 10 et définies par la distance d et l’angle 61. Dans le présent exemple, de très bonnes qualités d’imagerie sont obtenues avec un angle 61 de 56,68 degrés lorsque la distance d vaut 31,14 mm. Après avoir été diffracté par le réseau de diffraction 30, le faisceau lumineux diffracté 4 se propage à nouveau vers le dispositif optique réfléchissant 20, ici le deuxième miroir 22 du dispositif optique réfléchissant 20. Dans la présente divulgation, le dispositif réfléchissant 20 est également configuré pour réfléchir le faisceau lumineux diffracté 4 spectralement par le réseau de diffraction 30 et le diriger vers le détecteur imageur 40. En pratique, ici le deuxième miroir 22 réfléchit le faisceau lumineux diffracté 4 suivant la loi Snell-Descartes et le dirige vers le détecteur imageur 40. Le faisceau lumineux diffracté réfléchi par le deuxième miroir 22 se propage ainsi après sa réflexion vers le détecteur imageur 40. Notamment ici, le dispositif optique réfléchissant 20 est configuré pour corriger les aberrations de champ dont la distorsion, d’image sur le détecteur imageur 40 grâce à l’agencement concentrique entre les deux miroirs 21 et 22. Le détecteur imageur 40 comprend une surface d’enregistrement 41, en générale de forme plane, agencée pour enregistrer un spectre du faisceau lumineux diffracté réfléchi par le dispositif optique réfléchissant 20 (ici le deuxième miroir 22). La surface d’enregistrement 41 présente une première dimension spatiale 42, correspondant ici à une hauteur de la surface d’enregistrement 41, et une deuxième dimension spatiale 43 perpendiculaire à la première dimension spatiale 42 et correspondant à une largeur de la surface d’enregistrement 41. Comme cela est illustré en FIG. 1 et en FIG. 3 , la première dimension spatiale 42 de la surface d’enregistrement 41 est orientée parallèlement à l’axe longitudinal 16. Afin de pourvoir acquérir tous les rayons lumineux 2 du faisceau incident 1 traversant la fente d’entrée 10, la première dimension spatiale 42 de la surface d’enregistrement est adaptée à la hauteur 13 (ici la valeur de la hauteur 13) de la fente d’entrée 10. En d’autres termes, cela signifie que la première dimension spatiale 42 de la surface d’enregistrement 41 est agencée pour capter l’ensemble des rayons lumineux 2 incident passant dans la fente d’entrée 10. En pratique, la valeur de première dimension spatiale 42 de la surface d’enregistrement 41 est supérieure à la valeur de la hauteur 13 de la fente d’entrée 10. Une telle caractéristique dépend du grandissement du système, qui est de préférence égal ou supérieur à 1 (ici de 1 par exemple). La deuxième dimension spatiale 43 de la surface d’enregistrement est adaptée à la diffraction spectrale du faisceau lumineux incident réalisée par le réseau de diffraction 30. Notamment ici, la deuxième dimension spatiale 43 de la surface d’enregistrement 41 est adaptée à l’étendue du spectre des paquets 5 du faisceau lumineux diffracté 4 par le réseau de diffraction 30 et réfléchi par le dispositif optique réfléchissant 30. On comprend ici que chaque rayon diffracté 3 d’un même paquet 5 présente une position spatiale distincte des autres rayons diffractés d’un même paquet 5 sur la surface d’enregistrement 41 alignée le long de la deuxième dimension spatiale 43 de la surface d’enregistrement 41. On comprend également que les dimensions de la surface d’enregistrement 41 dépendent notamment de la fente d’entrée 10 et de l’ordre de diffraction du faisceau lumineux diffracté 4 par le réseau de diffraction 30. Ici notamment, la première dimension spatiale 42 de la surface d’enregistrement 41 dépend de la hauteur 13 de la fente d’entrée 10 et la deuxième dimension spatiale 43 de la surface d’enregistrement 41 dépend du réseau de diffraction 30, notamment de l’ordre de diffraction du réseau de diffraction 30. La surface d’enregistrement 41 du détecteur imageur 40 présente un centre géométrique 44 et un axe normal 45 à ladite surface d’enregistrement 41 passant par le centre géométrique 44 de la surface d’enregistrement 41. Comme cela est illustré en FIG. 1 ou en FIG. 6 , l’axe normal 45 (ou normale 45) de la surface d’enregistrement 41 est parallèle à l’axe optique 32 du réseau de diffraction 30. Il est donc également orienté perpendiculairement à l’axe longitudinal 16 de la fente d’entrée 10. Dans cet exemple, le spectromètre imageur 100 comprend optionnellement un filtre 50 positionné sur le trajet optique du faisceau lumineux diffracté réfléchi par dispositif réfléchissant 20 (ici le deuxième miroir 22). Le filtre 50 est positionné en amont du détecteur imageur 40 notamment par rapport à une surface du détecteur imageur, ici par exemple 6 mm avant la surface du détecteur imageur 40. En d’autres termes, cela signifie que le filtre 50 est positionné entre le détecteur imageur 40 et le dispositif optique réfléchissant 20 (ici correspondant au deuxième miroir 22). Le filtre 50 est un filtre fonctionnant en transmission configuré pour filtrer le faisceau lumineux diffracté réfléchi en fonction des ordres de diffraction dudit faisceau lumineux diffracté réfléchi. Notamment, ici, le filtre 50 est configuré pour sélectionner un seul ordre de diffraction du faisceau lumineux diffracté. En pratique, l’ordre diffraction sélectionné correspond à l’ordre de diffraction associé au faisceau lumineux diffracté maximisé par le réseau de diffraction 30, c’est-à-dire celui qui est diffracté par le réseau de diffraction 30 avec la plus grande intensité. Ainsi, le filtre 50 est agencé pour filtrer (i.e. couper, stopper) les ordres de diffraction du faisceau lumineux diffracté différents de l’ordre de diffraction sélectionné. Si dans l’application l’ordre utile du réseau de diffraction 30 est l’ordre -1, le filtre 50 filtre les ordres - 2,- 3,- 4 … Si l’ordre utile du réseau de diffraction 30 est l’ordre +1, alors le filtre 50 filtre les ordres + 2, + 3, + 4 …. En outre, le filtre 50 permet également de filtrer les rayons parasites pouvant être créés à chaque réflexion du faisceau lumineux sur un élément du spectromètre imageur 100, ici par exemple au niveau de la fente, ou au niveau des miroirs 21, 22 du dispositif réfléchissant 20. Un tel agencement permet de seulement transmettre au détecteur imageur 40 les rayons lumineux diffracté 3 selon l’ordre sélectionné (ici l’ordre -1), les autres ordres et autres rayons parasites (dans une moindre mesure) étant défléchis, réfléchis ou absorbé par le filtre 50. Cela permet d’améliorer la qualité du spectre enregistré par le détecteur imageur 40. Comme cela est illustré en FIG. 6 , le filtre 50 est de la forme d’une lame comprenant deux faces 51, 52 parallèles, une première face 51 orientée vers le dispositif optique réfléchissant 20 (ici correspondant au deuxième miroir 22) et une deuxième face 52, opposée à la première face 51 et orientée vers le détecteur imageur 40. Ici, les deux faces 51, 52 sont espacées d’une distance d2 de préférence inférieure à 5 mm. De préférence, cette distance d2 est choisie pour être la plus faible possible tout en pouvant réaliser la fonction optique de cette pièce. Par exemple, ici, la distance est égale à 0,5 mm. Le filtre 50 présente un centre géométrique 53, ici positionné dans un plan 54 du filtre 50 parallèle à la première face 51 et la deuxième face 52 et positionné à équidistance de la première face 51 et de la deuxième face 52. Le plan 54 présente une première dimension 59 et une deuxième dimension perpendiculaire à la première dimension du plan 54 et orientée parallèlement aux rainures 33 du réseau de diffraction 30 (c’est-à-dire également orientée parallèlement à l’axe longitudinal 16 de la fente d’entrée 10). On comprend que la première dimension du filtre 59 est orientée parallèlement à la première dimension spatiale 42 de la surface d’enregistrement 41. Dans cet exemple, le filtre 50 est configuré pour recouvrir entièrement le détecteur imageur. En d’autres termes, le plan 54 du filtre 50 présente une aire supérieure à l’aire de la surface d’enregistrement 41. Par exemple, dans cet exemple, la première dimension du filtre 59 est de 16 mm alors que la deuxième dimension est de 34 mm. Le filtre 50 comprend également un axe central 55, normal à la première face 51, au plan 54 et à la deuxième face 52 et passant par le centre géométrique 53 du filtre 50. Comme cela est illustré en FIG. 1 , le filtre 50 est incliné par rapport à la surface d’enregistrement 41 du détecteur imageur 40 pour limiter la captation des réflexions parasites. Ici, on peut voir que le filtre 50 est incliné par rapport à la surface d’enregistrement 41 par une rotation autour d’un axe y2 d’un premier angle 56. Comme illustré en figure autour d’un axe y2 positionné au niveau du centre géométrique 53 du plan 54 orienté perpendiculairement à l’axe normal 45 de la surface d’enregistrement et parallèlement à l’axe y. Cet axe y2, issu du repère orthonormé x2, y2 ayant pour origine le centre géométrique du plan 54, est orienté parallèlement à l’axe sur lequel est aligné la deuxième dimension spatiale 43 de la surface d’enregistrement 41. Le premier angle d’inclinaison 56 est compris entre 5 degrés et 45 degrés, de préférence entre 10 degrés et 45 degrés. Ici, typiquement, l’angle d’inclinaison 56 vaut 32 degrés pour obtenir de meilleurs performances. Le plan 54 est donc également incliné par rapport à un axe 62 (orienté parallèlement à l’axe longitudinal 16 de la fente d’entrée 10 et orienté parallèlement à la première dimension 42 de la surface d’enregistrement 41) suivant un angle d’inclinaison égal au premier angle d’inclinaison décrit plus haut. Ainsi, le faisceau lumineux diffracté par le réseau de diffraction se réfléchit sur le deuxième miroir 22 du dispositif réfléchissant 20. Ce dernier est configuré pour orienter ce faisceau lumineux diffracté réfléchi vers le détecteur imageur 40. Ici, comme le filtre 50 est positionné sur le trajet optique du faisceau lumineux diffracté réfléchi par le dispositif optique réfléchissant 20 (ici le deuxième miroir 22), le faisceau lumineux diffracté est filtré par le filtre (i.e. seuls les rayons lumineux diffractés à l’ordre utile (ici l’ordre -1) sont conservés). Le faisceau lumineux diffracté filtré par le filtre se propage dans le filtre 50 et atteint ensuite le détecteur imageur 40. Dans la présente divulgation, le spectromètre imageur est configuré pour former une image de la fente d’entrée 10 sur la surface d’enregistrement 41 du détecteur imageur 40. Dans cet exemple, le détecteur imageur 41, notamment la surface d’enregistrement 41, présente une taille de 2048 pixels (le long de la deuxième dimension spatiale 43) x192 pixels (le long de la première dimension spatiale 42) avec des pixels carrés de taille de 14 µm. Le détecteur imageur 40 est lu en sommation de charge sur les 192 pixels de la hauteur de fente pour réaliser un spectre de la lumière de la fente d'entrée 10. Ainsi, en pratique, le détecteur imageur 40 est configuré pour collecter et sommer les valeurs des pixels d’une même colonne de pixels alignées le long de la première dimension spatiale 42 du spectre imageur 40. De ce fait, une raie du spectre enregistrée peut être mesurée par sommation des intensités détectées sur les pixels d’une même colonne de pixels. La FIG. 5 illustre un exemple de spectre 101 du faisceau lumineux diffracté par le réseau de diffraction 30 et réfléchi par le dispositif optique réfléchissant obtenu à l’aide du détecteur imageur 41 décrit ci-dessus. Le spectre 101 présent en abscisses les longueurs d’onde (notée λ) du spectre et en ordonnées une grandeur relative la hauteur de la fente d’entrée 10 donnée ici sans unité. Le spectre 101 illustré est défini entre les longueurs d’onde (λ) de 190 nm à 900 nm suivant une étendue spatiale 102 comprise entre 28 mm et 30 mm. Ici, notamment, les longueurs d’onde du spectre s’étalent au total sur 28 mm, définissant l’étendue spatiale 102 du spectre. Ainsi, cela signifie dans cet exemple, que l’ordre de diffraction sélectionné du faisceau lumineux diffracté est étalé sur 28 mm. Une telle étendue spatiale du spectre souligne une très bonne résolution spectrale puisque les longueurs d’onde sont espacées suffisamment des unes des autres, ce qui améliore la lisibilité du spectre 101. Ainsi, le spectromètre imageur présente un très grand pouvoir de résolution. Dans cet exemple, le spectre 101 acquis comprend plusieurs raies 103, chaque raie 103 étant associée à une longueur d’onde du faisceau lumineux diffracté 3. Les points du spectre alignés suivant un même axe parallèle à l’axe des abscisses est associé à un même rayon lumineux incident 1 ou correspondant à un même point source sur la fente d’entrée 10 mais diffracté spectralement. Comme illustré en FIG. 5 , les raies 103 présentent un faible étalement et sont proches d’une forme d’un Dirac, ce qui souligne la très bonne qualité de l’imagerie du spectromètre imageur 100. Comme expliqué ci-dessus, chaque raie 103 présente une amplitude 104 le long de l’axe des ordonnées qui dépend de la hauteur 13 de la fente d’entrée 10 et/ou dans le cas de la FIG. 9 qui dépend également de la position spatiale des rayons lumineux incidents 2 sur la hauteur de la fente d’entrée. En effet, dans le cas l’utilisation de fibres optiques pour former la fente d’entrée, chaque fibre optique peut transmettre un flux lumineux ayant une intensité et/ou une propagation qui dépend de la fibre optique utilisée. L’amplitude 104 de chaque raie est approximativement égale, soulignant la présence de peu d’aberration optique introduite par le spectromètre imageur 100. Le spectromètre imageur 100 peut également comprendre de manière optionnelle des moyens d’ajustement 70 de la position la fente d’entrée 10. Ainsi, dans ce cas, il est possible de déplacer la fente suivant l’axe longitudinal 16, ce qui vient modifier l’angle formé entre l’axe d’élongation 16 et la droite 60. Il est également possible en combinaison ou en alternative de déplacer la fente d’entrée 10 suivant un axe transverse à la l’axe d’élongation 16. En pratique, ces moyens d’ajustement 70 se matérialisent, par exemple, par un support portant la fente d’entrée 10 et mobile suivant au moins une direction spatiale, ici mobile au moins le long de la première dimension spatiale x et le long de la deuxième direction spatiale y. Un tel agencement permet de réaliser un ajustement optique pour compenser les précisions de positionnement et des usinages mécaniques. . Le spectromètre imageur 100 peut également comprendre de manière optionnelle des moyens d’inclinaison 72 du détecteur suivant au moins une direction spatiale, de préférence au moins d’un axe orienté parallèle à la première direction spatiale 42 du détecteur imageur afin d’optimiser la résolution entre basses et hautes longueurs d'onde. Dans une variante, les moyens d’inclinaisons 72 sont également agencés pour incliner le détecteur imageur 40 le long d’un axe orienté parallèlement à la deuxième direction spatiale du détecteur imageur pour optimiser et compenser un défaut d'orthogonalité du plan de la fente avec l'axe du système. Il va être décrit à l’aide de la FIG. 7 , de la FIG. 8 et de la FIG. 9 , un deuxième mode de réalisation d’un spectromètre imageur 200 selon la présente divulgation. Seules les différences avec le premier mode de réalisation seront décrites. Ainsi, le spectromètre imageur 200 illustré en FIG. 5 comprend une fente d’entrée 80, un élément dispositif optique réfléchissant 90, un réseau de diffraction 110, un filtre 50 et un détecteur imageur 40. La fente d’entrée 80 utilisée dans ce deuxième mode de réalisation est celle illustrée en FIG. 9 . Bien entendue, cette fente d’entrée 80 peut aussi être utilisée dans le spectromètre imageur 100 décrit ci-dessus. Ici, la fente d’entrée 80 utilisée dans le spectromètre imageur 200 est formée par une pluralité de fibres optiques 87. Les fibres optiques utilisées peuvent toutes être similaires ou peuvent être différentes. En outre, les fibres optiques 87 utilisées peuvent comprendre des fibres monomodes, des fibres multimodes, des fibres à gradient d’indice, etc. Ici notamment, la fente d’entrée 10 est formée par douze fibres optiques 87 présentant un cœur de 9 µm de diamètre. Chaque fibre optique 87 présente une extrémité libre (ici représentée par leur diamètre) délimitant une ouverture par lequel le faisceau lumineux incident 1 sort de la fibre et se propage en direction du dispositif optique réfléchissant 20. Comme cela est illustré en FIG. 9 , les fibres optiques 87 sont alignées successivement les unes derrière les autres le long d’un axe longitudinal 86, correspondant à l’axe longitudinal de la fente d’entrée 80. Ici, les fibres optiques 87 présentent chacune un axe optique 88 qui sont ici perpendiculaires à l’axe longitudinal 86 de la fente d’entrée 80. Ainsi, les axes optiques 88 des fibres optiques 87 sont parallèles entre eux. Ici, ces axes optiques sont agencés pour s’étendre le long du deuxième axe médian 94 de la fente d’entrée 90. Comme les fibres optiques présentent un diamètre similaire, les fibres optiques 87 sont fictivement inscrites dans une forme géométrique 89, ici un rectangle 89. A partir de forme géométrique formée par l’alignement des fibres optiques 87, on peut définir un centre géométrique 81 de la fente d’entrée 80, correspondant au centre géométrique 81 du rectangle 89 formée par l’alignement des fibres optique 87. De manière similaire au premier mode de réalisation, le centre géométrique 81 est formée à une intersection entre un axe plan médian 82 de la fente d’entrée 80 et un deuxième axe médian 84 de la fente d’entrée 80. La fente d’entrée présente également une hauteur 83 orienté parallèlement au premier axe médian 82 et une largeur 85 orientée parallèlement au deuxième plan médian 84. Comme précédemment, la valeur de la hauteur 83 de la fente 80 est supérieure ou égale à la valeur de la largeur 85 de la fente, ici notamment supérieure à la valeur de la largeur 85. Le premier axe médian 82 est perpendiculaire au deuxième axe médian 84. L’axe longitudinal 86 est aligné sur le premier plan médian 82, il passe donc par le centre géométrique 81 et est perpendiculaire au deuxième axe médian 84. De manière similaire au premier mode de réalisation, le réseau de diffraction 110 du spectromètre imageur 200 présente un agencement similaire à celui décrit dans le premier mode de réalisation mis à part que le réseau de diffraction 110 du spectromètre imageur est à pas variable. Les rainures 113 du réseau de diffraction 110 sont espacées par des distances non constantes, notées a1, a2, a3, etc. Une telle configuration permet d’améliorer les performances optiques du spectromètre imageur 200 par rapport à un spectromètre imageur utilisant un réseau de diffraction à pas constant. Notamment, une telle configuration permet de limiter les aberrations de champ, comme la distorsion, permettant ainsi d'augmenter le domaine spectral et la hauteur de fente. L’étendue d’utilisation du spectromètre imageur 200 est donc amélioré. Comme dans le premier mode de réalisation, le réseau de diffraction 110 est un réseau convexe en réflexion présentant un axe optique 112 passant par un centre géométrique 111 du réseau de diffraction 110 (correspondant également au centre optique du réseau de diffraction 110). Il présente donc un diamètre de 23,5 mm et un rayon de courbure de 50,42 mm. Comme décrit ci-dessus, le centre géométrique 81 de la fente d’entrée 80 et le centre optique 111 du réseau de diffraction 110 sont reliés par une droite 120, qui est une droite fictive dans le spectromètre imageur 200. Cette droite 120 délimite une distance d séparant le centre géométrique 81 de la fente d’entrée 80 du centre optique 111 du réseau de diffraction 110. La droite 120 forme un angle 121 dans le plan (xy) avec l’axe longitudinal 16 de la fente d’entrée 80. Cet angle 120 est supérieur à 0 degré et inférieur à 45 degrés ou supérieur à 45 degrés et inférieur à 90 degrés. De manière avantageuse, les caractéristiques spectrales et la résolution le long de la hauteur de fente sont atteints pour un angle 120 compris entre 45 degrés (exclu) et 70 degrés, de préférence entre 50 degrés et 60 degrés. Ce centre géométrique 111 présente une position spatiale dans le spectromètre imageur 200 définie par rapport au centre géométrique 81 de la fente d’entrée 80, ici typiquement en utilisant les coordonnées polaires. Ainsi, le centre optique 111 du réseau de diffraction 110 présente une position spatiale définie par rapport au centre géométrique 81 de la fente 80 et l’angle 61 formé entre l’axe longitudinal 86 et la droite 120. Dans le spectromètre imageur 200, le dispositif optique réfléchissant 90 est positionné en configuration concentrique avec le réseau de diffraction 110. Par conséquent, le centre de courbure 93 du dispositif optique réfléchissant 90 et le centre de courbure 123 du réseau de diffraction 110 se superposent, ils sont confondus. Dans ce mode de réalisation, le dispositif optique réfléchissant 90 est fait uniquement d’un miroir 90 concave. Dans cet exemple, le miroir 90 présente un rayon de courbure de 97,56 mm et une taille de 104 mm (le long d’une direction parallèle à l’axe x) par 70 mm (le long d’une direction parallèle à l’axe y). De ce fait, dans ce mode de réalisation, moins de composants optiques sont utilisés, ce qui facile les réglages du spectromètre 200 et limite les coûts d’un tel spectromètre 200. Ici typiquement, la distance séparant le centre géométrique 81 de la fente d’entrée 80 du miroir 90 est de 98,93 mm, la distance séparant le miroir 90 du réseau de diffraction est de 45,80 mm et la distance séparant le filtre 50 du miroir 90 est de 92,06 mm. Ainsi, l’encombrement total du spectromètre imageur est de 98,03 mm. Le dispositif optique réfléchissant 90 (ici correspondant au miroir 90) présente un centre optique 91 et un axe optique 92 passant par ledit centre optique 91. Ici, l’axe optique 92 du dispositif réfléchissant 90 est orienté perpendiculairement à l’axe longitudinal 86 de la fente d’entrée 80 (et également aux rainures 113 du réseau de diffraction 110). L’axe optique 92 du dispositif réfléchissant 90 est parallèle à l’axe optique 112 du réseau de diffraction 110, notamment ici l’axe optique 92 du dispositif réfléchissant 90 est aligné sur l’axe optique 112 du réseau de diffraction 110. Ainsi, dans cet exemple, le miroir 90 est agencé pour recevoir le faisceau lumineux incident 1 provenant de la fente d’entrée 80 et le réfléchir vers le réseau de diffraction 110. Le miroir 90 est également agencé pour recevoir le faisceau lumineux diffracté 4 par le réseau de diffraction 110 et le réfléchir en direction du détecteur imageur 40. La présente invention n’est nullement limitée aux modes de réalisation décrits et représentés, mais l’homme du métier saura y apporter toute variante conforme à l’invention. De manière non limitative, la fente d’entrée 80 illustrée en FIG. 9 peut être utilisée dans le spectromètre imageur 100 selon le premier mode de réalisation et de manière similaire la fente d’entrée 10 illustrée en FIG. 3 peut être utilisée dans le spectromètre imageur 200. Spectromètre imageur (100, 200) de type Offner comprenant : - une fente d’entrée (10) configurée pour transmettre un faisceau lumineux incident (1) comprenant des longueurs d’onde, ladite fente d’entrée (10, 80) présentant un centre géométrique (11, 81), une hauteur (13, 83) définie le long d’un axe (12, 82) et une largeur (15, 85), la valeur de la hauteur (13, 83) de la fente d’entrée (10, 80) étant supérieure ou égale à la valeur de la largeur (15, 85) de la fente d’entrée (10, 80), la fente d’entrée (10, 80) présentant également un axe longitudinal (16, 86) passant par le centre géométrique (11, 81) et étant orienté parallèlement à l’axe définissant la hauteur ; - un dispositif optique réfléchissant (20, 90) et un réseau de diffraction (30, 110) convexe en réflexion disposés en configuration concentrique, i) le dispositif optique réfléchissant (20, 90) ayant un centre de courbure (25, 93) et étant configuré pour réfléchir le faisceau lumineux incident (1) et le diriger vers le réseau de diffraction (30, 110); ii) le réseau de diffraction (30, 110) présentant un centre optique géométrique (31, 111) en surface, le réseau de diffraction (30, 110) comprenant des rainures (33, 113) orientées parallèlement à l’axe longitudinal (16, 86) de la fente d’entrée (10, 80); ledit réseau de diffraction (30, 110) étant agencé pour diffracter spectralement le faisceau lumineux incident (1) réfléchi sur le dispositif optique réfléchissant (20, 90), iii) le dispositif optique réfléchissant (20, 90) étant configuré pour réfléchir le faisceau lumineux diffracté (4) spectralement par le réseau de diffraction (30, 110) ; - un détecteur imageur (40) configuré pour enregistrer le faisceau lumineux diffracté (4) par ledit réseau de diffraction (30, 110) et réfléchi par le dispositif optique réfléchissant (20, 90), le spectromètre imageur (100, 200) étant configuré pour former une image de la fente d’entrée (10) sur le détecteur imageur (40), caractérisé en ce qu’une droite (60, 120) joignant le centre optique géométrique (31, 111) du réseau de diffraction (30, 110) et le centre géométrique (11, 81) de la fente d’entrée (10, 80) forme un angle (61, 121) avec l’axe longitudinal (16, 86) de la fente d’entrée (10, 80), ledit angle (61, 121) étant supérieur à 0 degré et inférieur à 45 degrés ou supérieur à 45 degrés et inférieur à 90 degrés. Spectromètre imageur (100, 200) selon la revendication 1, dans lequel ledit angle (61, 121) est compris entre 50 degrés et 70 degrés. Spectromètre imageur (100, 200) selon la revendication 1, dans lequel ledit angle (61, 121) est compris entre 50 degrés et 60 degrés. Spectromètre imageur (100, 200) selon la revendication 1, dans lequel ledit angle (61, 121) est compris entre 15 degrés et 40 degrés. Spectromètre imageur (100, 200) selon l’une quelconque des revendications 1 à 4, dans lequel le réseau de diffraction (30, 110) est agencé pour diffracter le faisceau lumineux incident (1) réfléchi par ledit dispositif réfléchissant (20, 90) suivant un ordre de diffraction égal à 1 en valeur absolue et le détecteur imageur (40) est disposé pour enregistrer le faisceau lumineux diffracté (4) dans l’ordre de diffraction égal à 1 en valeur absolue. Spectromètre imageur (100, 200) selon l’une quelconque des revendications 1 à 5, dans lequel le détecteur imageur (40) comprend une surface d’enregistrement (41) présentant une première dimension spatiale (42) et une deuxième dimension spatiale (43) perpendiculaire à la première dimension spatiale (42), ladite première dimension spatiale (42) de la surface d’enregistrement (41) étant orientée parallèlement à l’axe longitudinal (16, 86) et étant adaptée à la hauteur (13, 83) de la fente d’entrée (10). Spectromètre imageur (100, 200) selon l’une quelconque des revendications 1 à 6, dans lequel le détecteur imageur (40) est configuré pour enregistrer un spectre du faisceau lumineux diffracté (4) défini entre les longueurs d’onde de 190 nm à 900 nm et présentant une étendue spatiale comprise entre 28 mm et 30 mm. Spectromètre imageur (100, 200) selon l’une quelconque des revendications 1 à 7, comprenant en outre un filtre (50) fonctionnant en transmission disposé en amont du détecteur imageur (40) et configuré pour sélectionner un seul ordre de diffraction du faisceau lumineux diffracté. Spectromètre imageur (100, 200) selon la revendication 8, dans lequel le filtre (50) présente un axe central (55) normal à un plan (54) du filtre (50) et passant par un centre géométrique (53) du filtre (50), ledit axe central (55) du filtre (50) étant incliné par rapport à une normale à un plan du détecteur imageur (40) suivant un angle d’inclinaison. Spectromètre imageur (100, 200) selon la revendication 9, dans lequel ledit angle d’inclinaison est compris entre 5 degrés et 45 degrés. Spectromètre imageur (200) selon l’une quelconque des revendications 1 à 10, dans lequel le dispositif optique réfléchissant (90) comprend un miroir (90) concave présentant un axe optique (92) aligné sur un axe optique (112) du réseau de diffraction (110). Spectromètre imageur (100) selon l’une quelconque des revendications 1 à 10, dans lequel le dispositif optique réfléchissant (20) comprend deux miroirs (21, 22) concaves, nommés respectivement premier miroir (21) et deuxième miroir (22), le premier miroir (21) étant configuré pour réfléchir le faisceau lumineux incident (1) vers le réseau de diffraction (30) et le deuxième miroir (22) étant configuré pour réfléchir le faisceau lumineux diffracté (4) vers le détecteur imageur (40), au moins un des deux miroirs (21, 22) parmi le premier miroir (21) et le deuxième miroir (22) étant agencé de manière concentrique avec le réseau de diffraction (30). Spectromètre imageur (100) selon la revendication 12, dans lequel le premier miroir (21) et le deuxième miroir (22) ont des rayons de courbures différents. Spectromètre imageur (100, 200) selon l’une quelconque des revendications 1 à 13, dans lequel la fente d’entrée (10) est formée par une ouverture (17) rectangulaire ou la fente d’entrée (80) est formée par une pluralité de fibres optiques (87) disposées le long de l’axe longitudinal (86) de la fente d’entrée (80) et présentant chacune un axe optique (88), les axes optiques (88) desdites fibres optiques (87) étant parallèles entre eux. Spectromètre imageur (100,200) selon l'une quelconque des revendications 1 à 14, dans lequel le réseau de diffraction (30,110) est formé de rainures (113) non équidistantes.