FR 3154182 A1 20250418 FR 2311180 A 20231017 L’invention concerne un procédé et un dispositif d’évaluation de la température d’un milieu dans lequel est placé un appareil électronique (14). Le procédé d’évaluation met en œuvre les étapes suivantes : a) mesure à l’intérieur de l’appareil électronique d’une première température interne, puis b) après un laps de temps donné, mesure, à l’intérieur de l’appareil électronique, d’une deuxième température interne, puis c) estimation de la température à l’extérieur de l’appareil électronique, à partir d’une estimation d’une température stabilisée, à l’intérieur de l’appareil électronique, en fonction des valeurs mesurées lors des étapes a) et b). Un procédé de calibrage est également proposé. Figure 2 Procédé et dispositif d’évaluation de température et procédé de calibrage associé Domaine technique auquel se rapporte l'invention La présente invention concerne le domaine technique de la thermométrie. La présente invention concerne plus particulièrement un procédé ainsi qu’un dispositif d’évaluation de la température d’un milieu, dans lequel est placé un appareil électronique. La présente invention concerne également un procédé de calibrage d’un dispositif d’évaluation de la température, lorsqu’il est présent dans un appareil électronique. Arrière-plan technologique Pour certains appareils électroniques, la connaissance de la température du milieu dans lequel ils sont présents est indispensable pour leur permettre de fonctionner convenablement. C’est notamment le cas pour les capteurs infrarouge, évaluant la température à la surface d’un objet situé à distance, à partir de l’analyse du rayonnement infrarouge dudit objet. Pour réaliser des mesures qualitatives, il est nécessaire d’estimer préalablement la température du milieu dans lequel se trouve l’objet précité. C’est pourquoi ce type d’appareil nécessite l’utilisation d’un appareil distinct, à savoir un thermomètre, pour mesurer précisément la température du milieu dans lequel se trouve le capteur infrarouge. La nécessité d’un thermomètre, distinct du capteur infrarouge, présente l’inconvénient de devoir recourir et manipuler plusieurs appareils pour réaliser une mesure qualitative. Selon un autre inconvénient, les mesures de température réalisées par un thermomètre doivent être transmises au capteur infrarouge manuellement ou par un l’intermédiaire d’un protocole de communication complexe et onéreux à mettre en œuvre. Selon un autre inconvénient, la présence d’un thermomètre à proximité du capteur infrarouge peut ne pas être possible, par exemple lorsque ledit capteur est intégré dans une pièce de garniture d’un habitacle d’un véhicule automobile. Objet de l’invention L’invention est remarquable en ce que le procédé d’évaluation met en œuvre les étapes suivantes : a) mesure, à l’intérieur de l’appareil électronique, d’une première température interne, puis b) après un laps de temps donné, mesure, à l’intérieur de l’appareil électronique, d’une deuxième température interne, puis c) estimation de la température à l’extérieur de l’appareil électronique, à partir d’une estimation d’une température stabilisée, à l’intérieur de l’appareil électronique, en fonction des valeurs mesurées lors des étapes a) et b). Par « température stabilisée », on entend une température dont la valeur ne varie pas de façon significative, au cours d’un laps de temps égal ou supérieur à 30 minutes. Par exemple, on considère qu’une variation de température inférieure à 0,1°C ne constitue pas une variation significative. De façon avantageuse, le procédé d’évaluation décrit ci-dessus permet d’évaluer la température à l’extérieur d’un appareil électronique, à partir de mesures réalisées à l’intérieur de l’appareil électronique. De ce fait, lorsque l’appareil électronique nécessite la connaissance de la température du milieu dans lequel il se trouve, le procédé selon l’invention peut être réalisé à partir d’un dispositif d’évaluation tel que décrit ci-dessous, intégré dans l’appareil électronique, afin de simplifier l’utilisation dudit appareil électronique. En effet, l’invention permet l’emploi d’un seul appareil électronique pour réaliser des fonctions nécessitant jusqu’à présent deux appareils électroniques distincts, à savoir, l’appareil électronique et un thermomètre situé à l’extérieur dudit appareil. L’invention permet ainsi une intégration plus aisée d’un appareil électronique nécessitant la connaissance de la température du milieu dans lequel il se trouve, du fait que, grâce au procédé décrit ci-dessus, le thermomètre peut être intégré dans l’appareil électronique. Cela est particulièrement avantageux lorsque l’appareil électronique doit être intégré dans un milieu exigu, comme un élément d’un habitacle d’un véhicule automobile tel qu’une planche de bord. Selon un autre avantage, l’invention permet de s’affranchir d’un transfert manuel des mesures de température, réalisées par un thermomètre présent à l’extérieur de l’appareil électronique, du fait que l’invention permet d’estimer la température à l’extérieur dudit appareil, à partir de mesures de température réalisées depuis l’intérieur de l’appareil électronique. L’invention permet donc un fonctionnement plus simple et plus rapide d’un appareil électronique, nécessitant la connaissance de la température du milieu dans lequel il se trouve. De préférence, lors de l’étape b) décrite ci-dessus, le laps de temps prédéterminé est compris entre 1 seconde et 120 secondes, de préférence entre 2 secondes et 60 secondes. Selon une possibilité de réalisation, l’estimation de la température stabilisée est obtenue à partir d’une valeur d’étalonnage, reflétant l’inertie thermique de l’intérieur de l’appareil électronique. Par « intérieur de l’appareil électronique», on entend tous composants présents dans l’espace délimité par l’appareil électronique. L’estimation de la température stabilisée est par exemple obtenue à partir de la somme des termes suivants : - la valeur de la première température interne, et - un produit entre la valeur d’étalonnage et la variation de température interne de l’appareil électronique, pendant le laps de temps (mentionné à l’étape b)). Cette somme qui tient compte de la valeur d’étalonnage (correspondant à une constante de temps, étalonnée comme expliqué plus loin) permet d’évaluer en quelques secondes (sans attendre la stabilisation physique du système) à quelle température l’intérieur de l’appareil électronique va se stabiliser quelques minutes (voire quelques dizaines de minutes) plus tard (si le régime de fonctionnement courant se maintient). Ceci permet ainsi avantageusement d’estimer de façon quasi instantanée, la température à l’extérieur d’un appareil électronique, à partir de mesures de température réalisées à l’intérieur dudit appareil, même lorsque la température de l’appareil électronique n’est pas stabilisée. C’est notamment le cas lorsqu’un appareil électronique est mis en marche, la chaleur qu’il génère fait croître sa température interne jusqu’à atteindre une valeur stable ou sensiblement stable. En d’autres termes, le procédé d’évaluation ici décrit permet une estimation de la température à l’extérieur de l’appareil électronique, avant que ne se stabilise sa température. Cela permet avantageusement d’estimer très rapidement après la mise en marche de l’appareil électronique, la température du milieu dans lequel il se trouve. Or, lorsque cette information est nécessaire pour le bon fonctionnement de l’appareil électronique, l’invention permet un fonctionnement plus rapide et plus précis de ce dernier après son allumage. Selon une possibilité de réalisation, la température à l’extérieur de l’appareil électronique est estimée en soustrayant, à l’estimation de la température stabilisée, une valeur de dissipation de chaleur, reflétant un phénomène de dissipation dans le milieu, de la chaleur générée par l’appareil électronique. Selon une première possibilité, cette valeur de dissipation de chaleur peut être constante (par exemple déterminée au préalable par des essais sur le dispositif électronique concerné). Autrement dit, lorsque l’appareil électronique se caractérise par une puissance dissipative invariable dans le temps, la valeur de dissipation de chaleur est égale à une constante dénommée ci-après constante de dissipation de chaleur. La constante de dissipation de chaleur peut correspondre à une différence de température entre l’intérieur de l’appareil électronique, après stabilisation de ladite température, et l’extérieur de l’appareil électronique, lorsque ledit appareil électronique fonctionne à un niveau d’activité de référence. Selon une seconde possibilité, lorsque l’appareil électronique se caractérise par une puissance dissipative changeante au cours du temps, un niveau d’activité de l’appareil électronique est mesuré lors de l’étape a) ou lors de l’étape b), et la valeur de dissipation de chaleur est obtenue à partir de la somme des termes suivants : - une constante de dissipation de chaleur de référence (correspondant ici à une différence de température entre l’intérieur de l’appareil électronique, après stabilisation de ladite température, et l’extérieur de l’appareil électronique, lorsque ledit appareil électronique fonctionne à un niveau d’activité de référence) ; et - un produit entre un coefficient de variation de dissipation de chaleur et une différence d’activité entre le niveau d’activité mesuré et le niveau d’activité de référence. Par « niveau d’activité », on entend un régime de fonctionnement de l’appareil électronique. De préférence, le niveau d’activité de l’appareil électronique est mesuré à partir de la tension électrique et/ou du courant électrique, alimentant l’appareil électronique et/ou d’une charge d’un composant de l’appareil électronique. La grandeur représentative du niveau d’activité peut être choisie en fonction du système concerné afin qu’existe une relation suffisante de linéarité entre cette grandeur et la puissance thermique dissipée par l’appareil électronique, de préférence dans tout le domaine de variation de cette grandeur tel que prévu dans l’usage normal de l’appareil électronique. Par exemple, dans un appareil électronique comprenant un circuit de régulation du courant d’alimentation, le courant consommé est essentiellement constant, et il existe donc une relation de linéarité entre la tension d’alimentation et la puissance dissipée (égale au produit de la tension d’alimentation par l’intensité d’alimentation). Ce mode de réalisation permet une estimation plus précise de la température à l’extérieur de l’appareil électronique, lorsque le niveau d’activité dudit appareil varie. Bien entendu, les différentes caractéristiques, variantes et formes de réalisation mentionnées ci-dessus peuvent être associées les unes avec les autres, selon diverses combinaisons, dans la mesure où elles ne sont pas incompatibles ou exclusives les unes des autres. L’invention concerne également un dispositif d’évaluation de la température d’un milieu dans lequel est placé un appareil électronique, le dispositif d’évaluation comprenant une unité de mémorisation et une sonde de température destinée à être logée dans l’appareil électronique, l’unité de mémorisation et la sonde de température étant connectées à une unité de calcul. Le dispositif est remarquable en ce que l’unité de mémorisation comprend des instructions aptes à être mises en œuvre par l’unité de calcul, afin de réaliser un procédé d’évaluation de la température d’un milieu dans lequel est placé ledit appareil électronique, tel que décrit ci-dessus. Selon un autre mode de réalisation, le dispositif d’évaluation comprend une sonde d’activité permettant de mesurer un niveau d’activité de l’appareil électronique, et la sonde d’activité est connectée à l’unité de calcul, et l’unité de mémorisation comprend des instructions aptes à être mises en œuvre par l’unité de calcul, afin de réaliser un procédé d’évaluation de la température d’un milieu dans lequel est placé ledit appareil électronique, tel que décrit ci-dessus. De préférence, la sonde d’activité comprend au moins une sonde de tension électrique et/ou une sonde de courant électrique et/ou un moyen de mesure de l’activité interne d’un composant logique de l’appareil électronique. Selon un exemple de réalisation non limitatif, l’appareil électronique peut être une caméra thermique, située par exemple dans un local industriel dont la température n’est ni stabilisée ni connue et/ou mesurant la température de pièces de production d’émissivité connue, et devant compenser automatiquement la composante de température radiative réfléchie par les pièces (de nature à fausser la mesure) en prenant en compte la température ambiante du local. Sans la présente invention, une telle caméra peut avoir une mesure erronée pendant plusieurs minutes - voire dizaines de minutes – après son allumage, du fait de l’erreur d’estimation de la température ambiante. Ceci oblige son opérateur, par exemple, à allumer suffisamment longtemps avant le lancement des mesures, ou encore configurer manuellement dans la caméra la température ambiante avant chaque série de mesures ainsi qu’à chaque changement de température ambiante. Grace à la présente invention, une telle caméra thermique pourra fournir des mesures précises immédiatement après un démarrage à froid, et au gré des fluctuations de température ambiante, ou de puissance dissipée par son électronique interne. L’invention concerne également un procédé de calibrage d’un dispositif d’évaluation tel que décrit ci-dessus, ce procédé de calibrage comprenant les étapes suivantes : a) mise en fonctionnement de l’appareil électronique à un premier niveau d’activité dit de référence, de préférence à un régime de fonctionnement nominal, dans un milieu où la température est stable et connue, pendant un laps de temps suffisant afin que la température interne de l’appareil électronique soit stable ; puis b) mesure par l’intermédiaire de la sonde de température de la température interne (ainsi stabilisée) de l’appareil électronique ; puis c) pour chacun d’au moins deux niveaux d’activité de l’appareil électronique, mesure par l’intermédiaire de la sonde de température, de plusieurs températures internes et d’une température interne de stabilisation puis d) estimation d’une valeur d’étalonnage, reflétant l’inertie thermique de l’intérieur de l’appareil électronique, à partir des valeurs de température interne mesurées par la sonde température lors de l’étape c) ; puis e) estimation du coefficient de variation de dissipation de chaleur en fonction de la température interne mesurée à l’étape b), des températures de stabilisation mesurées à l’étape c) et desdits au moins deux niveaux d’activité de l’appareil électronique. En effet, comme expliqué dans la suite, si on note Vr le niveau d’activité de référence (correspondant par exemple à une tension de référence), V1 et V2 les deux niveaux d’activité respectifs susmentionnés (ici des tensions), Tr la température interne mesurée à l’étape b), T1 la température de stabilisation mesurée à l’étape c) pour le niveau d’activité V1 et T2 la température de stabilisation mesurée à l’étape c) pour le niveau d’activité V2, on peut utiliser le coefficient de variation de dissipation suivant : C = [(T2-Tr)-(T1-Tr)]/(V2-V1) = (T2-T1)/(V2-V1). Description détaillée d’un exemple de réalisation L'invention sera mieux comprise, grâce à la description ci-après, qui se rapporte à des modes de réalisations préférés, donnés à titre d'exemples non limitatifs, et expliqués avec référence aux dessins schématiques annexés, dans lesquels : FIG. 1 illustre une vue schématique d’un mode de réalisation non limitatif, d’un dispositif d’évaluation de la température selon l’invention ; FIG. 2 illustre une vue schématique d’un mode de réalisation non limitatif, d’un appareil électronique comprenant un dispositif d’évaluation de la température représenté sur la FIG. 1 ; et FIG. 3 illustre une courbe de calibrage d’un appareil électronique représenté par la FIG. 2 . Pour rappel, l’invention propose un dispositif d’évaluation de la température d’un milieu dans lequel est placé un appareil électronique, sans recourir à l’utilisation d’une sonde thermique située à l’extérieur de l’appareil électronique. La FIG. 1 présente un schéma de réalisation non limitatif, d’un dispositif d’évaluation 2 de la température de ce milieu. Ce dispositif d’évaluation 2 comprend une sonde de mesure d’un niveau d’activité ou sonde d’activité (ici une sonde de mesure de tension électrique 4) et une sonde de température 6, toutes deux connectées à une unité de calcul 8. L’unité de calcul est également connectée à une unité de mémorisation 10. Par le terme « connecté », on entend la possibilité pour deux éléments d’échanger de l’information, de façon réciproque ou non réciproque. Les éléments décrits ci-dessus sont par exemple connectés par l’intermédiaire de pistes et/ou de fils 12 réalisés à partir d’un matériau électriquement conducteur. L’unité de mémorisation 10 est par exemple une mémoire non-volatile réinscriptible (par exemple de type EEPROM pour " Electrically Erasable and Programmale Read Only Memory "). L’unité de mémorisation comprend des instructions aptes à être mises en œuvre par l’unité de calcul, afin de réaliser un procédé d’évaluation de la température d’un milieu, tel que décrit ci-dessous, ou un procédé de calibration tel que décrit ci-dessous. De préférence, la sonde de température 6 est apte à réaliser des mesures de température dans une plage comprenant tout le domaine de température ambiante dans lequel il est prévu que l’appareil électronique opère, ici avec une précision de l’ordre de 0,1°C. L’invention pourrait toutefois fonctionner (éventuellement de manière moins précise) si seulement une partie du domaine de fonctionnement était couverte par la plage de mesure. Selon le présent exemple, la sonde de température comprend une thermistance. La sonde de température 6 est ici une thermistance à coefficient de température négatif commercialisée sous la référence Murata NCU15WB473F60RC (précision +/-0,5%). Selon une variante de réalisation, la sonde de température 6 peut être une diode thermique ou un transistor bipolaire (par exemple commercialisé sous la référence MMBT3904), utilisé comme diode, en association avec des circuits électroniques de régulation et d’acquisition. Une diode thermique permet avantageusement de concilier un très bas coût, une grande linéarité sur un large domaine de température, avec des étages électroniques de polarisation et d’amplification connus et bon marché, et une précision correcte après une calibration adéquate. De plus, une telle solution peut être facilement inclue dans la matrice (ou " die " d’un circuit intégré), ce qui en fait une solution quasiment sans coût additionnel dans ce type de technologie. De préférence, la sonde de mesure de tension électrique 4 est réalisée au moyen d’un pont diviseur de tension fournissant une tension représentative de la tension d’alimentation, cette tension représentation pouvant par exemple être appliquée en entrée d’un convertisseur analogique-numérique équipant l’appareil électronique, éventuellement avec interposition d’un filtre passe-bas. La FIG. 2 illustre à présent un exemple non limitatif, d’intégration d’un dispositif d’évaluation 2 tel que décrit ci-dessus, dans un appareil électronique 14. L’appareil électronique 14 se compose d’une carte de circuit imprimé 16, servant de support à un connecteur d’alimentation électrique 18 ou à un régulateur de tension électrique. L’appareil électronique 14 comporte différents composants électroniques 20, maintenus sur la carte de circuit imprimé 16. Les composants électroniques 20 sont connectés entre eux de manière à permettre leur alimentation électrique par le connecteur d’alimentation électrique 18, afin que l’appareil électronique 14 puisse réaliser différentes tâches. L’appareil électronique 14 comporte également un élément de dissipation thermique, par exemple un radiateur thermique à ailettes 22, maintenu contre une première grande face 24A de la carte de circuit imprimé 16. Plusieurs ailettes 26 du radiateur thermique affleurent, de préférence dépassent, la surface extérieure d’un boîtier de protection 28 entourant les différents éléments mentionnés ci-dessus de l’appareil électronique. Le radiateur à ailettes 22 est positionné sur la carte de circuit imprimé 16 de manière évacuer du boîtier de protection 28 la totalité ou quasi la totalité de la chaleur produite par les composants électroniques 20, lorsque le connecteur d’alimentation électrique 18 est relié à une source d’alimentation électrique. À titre d’exemples non limitatifs, l’appareil électronique 14 peut être : - un capteur de mesures infra rouge ; - un module de commutation électrique industriel avec des stratégies intelligentes de limitation de puissance selon la température ambiante (température du milieu dans lequel est placé cet appareil électronique) ; - tout appareil électronique implémentant des stratégies de gestion dépendant de la température interne et de la température ambiante (température du milieu dans lequel est placé cet appareil électronique). Comme mentionné ci-dessus, l’appareil électronique 14 comprend un dispositif d’évaluation 2 tel que celui présenté ci-dessus en référence à la FIG. 1 . Plus précisément, la sonde de mesure de tension électrique 4 du dispositif d’évaluation 2, est reliée au connecteur d’alimentation électrique 18, de manière à permettre à l’unité de calcul 8 de mesurer en temps réel, la valeur de tension électrique V parcourant ledit connecteur. La sonde de température 6 est positionnée contre une grande face de la carte de circuit imprimé 16, au plus proche des composants électroniques qui dissipent la plus grande quantité de chaleur. Selon le présent exemple, la sonde de température est maintenue contre une seconde grande face 24B de la carte de circuit imprimé, de manière à être au plus proche, de préférence en vis-à-vis, du radiateur à ailettes 22, maintenu contre la première grande face 24A de ladite carte. L’unité de calcul 8 et l’unité de mémorisation 10 sont également présentes dans le boîtier de protection 28. Éventuellement, il peut être considéré que l’unité de calcul 8 et l’unité de mémorisation font partie des composants électroniques 20 mentionnés ci-dessus, lorsque lesdites unités sont présentes dans l’appareil électronique 14. L’invention concerne également un procédé de calibration d’un appareil électronique 14 tel que décrit ci-dessus et illustré par la FIG. 2 , mettant en œuvre une première étape consistant à placer l’appareil électronique 14 dans un environnement 30, dont la température est contrôlée. Lors de cette première étape de calibration, l’appareil électronique 14 est au repos. Par les termes « au repos », on entend que l’appareil électronique 14 n’est connecté à aucune source d’alimentation électrique. L’appareil électronique 14 est par exemple ici placé dans une pièce dont la température ambiante est de 25°C, pendant une durée suffisante pour que la température Ti0, à l’intérieur du boîtier de protection 28 de l’appareil électronique, relevée par la sonde de température 6, soit identique à la température ambiante dans la pièce 30. Ce laps de temps peut être égal ou supérieur à 60 minutes, de préférence égal ou supérieur à 120 minutes. La valeur de la température ambiante, appelée ci-après température extérieure Te à l’appareil électronique, est alors relevée. À titre d’exemple non limitatif, l’appareil électronique 14 peut être intégré dans une garniture d’un habitacle d’un véhicule automobile, non représenté sur la FIG. 2 afin de faciliter la compréhension de l’invention. Dans ce cas, il est préférable de réaliser le présent test de calibration lorsque l’appareil électronique 14 est présent dans la garniture. La garniture peut être un élément d’un tableau de bord, une partie d’un ciel de toit, un plafonnier, etc. Selon une deuxième étape, l’appareil électronique 14 est mis sous tension électrique, à une tension de référence Vr qui correspondant par exemple à un mode de fonctionnement nominal ou usuel dudit dispositif. Dans le cas présent, la tension de référence Vr de l’appareil électronique est de 12 Volts. Selon une troisième étape, on relève à intervalles de temps réguliers, la température interne Ti à l’intérieur du boîtier de protection 28 de l’appareil électronique 14, par des moyens connus, jusqu’à ce que la température interne Ti atteigne une température stabilisée Ts. Les températures ainsi relevées sont utilisées afin de pouvoir réaliser une courbe de calibrage 32A telle que représentée dans la partie A du graphique visible sur la FIG. 3 . Sur ce graphique visible sur la FIG. 3 , les abscisses correspondent au temps (t) et les ordonnées à la température (T). Selon le présent exemple, la valeur de l’intervalle de temps dt entre deux mesures consécutives, est compris entre 1 seconde et 5 secondes. On considère par exemple que la température est stabilisée lorsqu’elle ne varie pas plus de 0,1°C durant au moins 5 mesures consécutives. Selon une quatrième étape, on détermine la différence Фr entre la température stabilisée Ts à l’intérieur de l’appareil électronique 14 (ici 42 °C), mesurée par la sonde de température 6, et la température à l’extérieur Te de l’appareil électronique (ici 25 °C). La différence ainsi déterminée vaut ici 17°C. Selon une cinquième étape, la différence ainsi déterminée est sauvegardée dans une base de données (dénommée ci-après base de données de calibration) en tant constante de dissipation de chaleur de référence Фr (et correspond ainsi à la différence de température entre l’intérieur de l’appareil électronique, après stabilisation de ladite température, et l’extérieur de l’appareil électronique, lorsque l’appareil électronique fonctionne au niveau d’activité de référence, c’est-à-dire ici à la tension de référence Vr). Selon une sixième étape, on change soudainement la valeur de la tension alimentant l’appareil électronique 14, afin d’atteindre une nouvelle valeur V1. Par « soudainement », on entend une modification instantanée ou quasi instantanée de la valeur de la tension électrique alimentant l’appareil électronique 14. Selon le présent exemple, la nouvelle valeur de tension électrique V1 est de 16 Volts. Comme représenté sur la partie B de la courbe 32A, la courbe de température interne décrit alors une équation du type Selon une septième étape, on mesure les valeurs successives de Ti (au moyen de la sonde de température 6) et, lorsque la température est stabilisée (par exemple lorsqu’elle ne varie pas à +/- 0,1 °C près), on détermine les valeurs Φ1 et τ_1. La valeur de Φ1 est la différence entre la température Ti à l’intérieur du dispositif électronique après stabilisation (en fin de partie B sur la FIG. 3 ) et la température ambiante Te, soit ici 45,5°C – 25°C = 20,5 °C. La valeur de est par exemple déterminée en cherchant, depuis l’échelon de tension à la valeur V1 (16V), la durée pour laquelle on obtient 63,2% de l’augmentation de température au cours de la partie B. On obtient ici = 669 s. Selon une huitième étape, on change soudainement la valeur de la tension alimentant l’appareil électronique 14, afin d’atteindre une nouvelle valeur V2. Par « soudainement », on entend une modification instantanée ou quasi instantanée de la valeur de la tension électrique alimentant l’appareil électronique 14. Selon le présent exemple, la nouvelle valeur de tension électrique V2 est de 8 Volts. Comme représenté sur la partie C de la courbe 32A, la courbe de température interne décrit alors une équation du type Selon une neuvième étape, on mesure les valeurs successives de Ti (au moyen de la sonde de température 6) et, lorsque la température est stabilisée (par exemple lorsqu’elle ne varie pas à +/- 0,1 °C près), on détermine les valeurs Φ2 et . La valeur de Φ2 est la différence entre la température Ti à l’intérieur du dispositif électronique après stabilisation (en fin de partie C sur la FIG. 3 ) et la température ambiante Te, soit ici 38,5°C – 25°C = 13,5 °C. La valeur de est par exemple déterminée en cherchant, depuis l’échelon de tension à la valeur V2 (8V), la durée pour laquelle on obtient 63,2% de l’augmentation de température au cours de la partie B. On obtient ici = 621 s. Comme représenté schématiquement en figure 3, on peut répéter les étapes précédentes afin d’obtenir plus de valeurs et Φi. Selon une dixième étape, on calcule une valeur moyenne de valeur d’étalonnage à partir des valeurs , calculées précédemment. Selon le présent exemple, la valeur moyenne d’étalonnage est égale à 645 s. Cette valeur (ici moyenne) d’étalonnage est représentative d’une constante de temps du système, reflétant l’inertie thermique de l’intérieur de l’appareil électronique 14. Dans cette dixième étape, on détermine également un coefficient de variation de dissipation de chaleur C par la formule : C = (Φ2 - Φ1)/(V2 – V1). Ce coefficient de variation de dissipation de chaleur C donne donc le rapport entre une variation d’écart de température entre l’intérieur et l’extérieur de l’appareil électronique, et une variation de niveau d’activité (ici une variation de tension). En effet, dans le système décrit ici, on considère que l'appareil électronique consomme un courant constant et que la puissance produite par l'appareil électronique (entièrement évacuée en régime permanent) est donc proportionnelle à la tension mesurée. Cette puissance évacuée est par ailleurs proportionnelle à l'écart de température entre l'intérieur de l'appareil électronique et l'extérieur de l'appareil électronique (par définition de la résistance thermique, ici du radiateur 22), d'où la linéarité entre l'écart de température et l’activité (ici représentée par la tension mesurée). Selon une onzième étape, on mémorise la valeur moyenne de valeur d’étalonnage et le coefficient de variation de dissipation de chaleur C déterminés à l’étape précédente au sein de la base de données de calibration (par exemple par programmation de l’unité de mémorisation 10). L’invention concerne également un premier procédé d’évaluation de la température du milieu dans lequel se trouve l’appareil électronique 14 décrit ci-dessus, lorsque la chaleur produite par ledit appareil est dissipée dans son environnement au cours du temps. Dans ce procédé, selon une première étape, une première température interne Ti1 est mesurée, par l’intermédiaire de la sonde de température 6, à l’intérieur de l’appareil électronique 14. Selon une deuxième étape, une deuxième température interne Ti2 est mesurée, par l’intermédiaire de la sonde de température 6, à l’intérieur de l’appareil électronique 14, après un laps de temps dt (par rapport à la mesure de la première température interne Ti1). Selon une troisième étape, la température à l’extérieur Te de l’appareil électronique est estimée à partir d’une estimation d’une température stabilisée Ts, à l’intérieur de l’appareil électronique, en fonction des valeurs de température interne Ti1, Ti2 mesurées lors de la première étape et de la deuxième étape ; ici, la température Te à l’extérieur de l’appareil électronique 13 est estimée à partir de l’équation suivante : où, Ts désigne la température stabilisée à l’intérieur de l’appareil électronique, estimée ici à partir de l’équation suivante : où la valeur d’étalonnage est issue de la base de données de calibration, obtenue à partir du procédé de calibration décrit ci-dessus. Le terme ΔT mentionné dans l’équation [Math. 3] correspond ici à une constante de dissipation de chaleur déterminée par expérience, par exemple à partir d’un procédé de calibration du type de celui décrit ci-dessus. Cette constante de dissipation de chaleur ΔT peut être mémorisée dans l’unité de mémorisation 10. Ce premier procédé d’évaluation est adapté au cas où le système possède une puissance dissipative constante et où l’écart de température ΔT ne dépend donc pas (ou pas de manière notable) du niveau d’activité de l’appareil électronique 14. Ce premier procédé d’évaluation n’utilise donc pas de sonde d’activité. L’invention propose également un second procédé d’évaluation de la température du milieu dans lequel se trouve l’appareil électronique 14 décrit ci-dessus, lorsque la chaleur produite par ledit appareil est dissipée dans son environnement de façon non homogène au cours du temps. Ce second procédé d’évaluation met en œuvre une première étape consistant à relever la valeur de la tension électrique V, alimentant l’appareil électronique 14, par l’intermédiaire de la sonde de mesure de tension électrique 4, ainsi que la valeur de la température Ti1 à l’intérieur de l’appareil électronique 14, par l’intermédiaire de la sonde de température 6. Selon une deuxième étape, une deuxième température interne Ti2 est mesurée, par l’intermédiaire de la sonde de température 6, à l’intérieur de l’appareil électronique 14, après un laps de temps dt (par rapport à la mesure de la première température interne Ti1). Selon une troisième étape, à partir de la base de données de calibration obtenue à partir du procédé de calibration décrit ci-dessus, on lit la valeur d’étalonnage (valeur d’étalonnage moyenne) propre à l’appareil électronique 14. Selon une quatrième étape, on détermine la température stabilisée Ts à l’intérieur de l’appareil électronique 14, à partir de l’équation [Math. 4] mentionnée ci-dessus. Selon une cinquième étape, on calcule une valeur de dissipation de chaleur Ф en faisant la somme des termes suivants : - la constante de dissipation de chaleur de référence Фr, lue dans la base de données de calibration et correspondant à une différence de température entre l’intérieur de l’appareil électronique, après stabilisation de ladite température, et l’extérieur de l’appareil électronique, lorsque ledit appareil électronique fonctionne au niveau d’activité de référence (ici à la tension de référence Vr) ; et - un produit entre le coefficient de variation de dissipation de chaleur (également lu dans la base de données de calibration) et une différence d’activité entre le niveau d’activité mesuré (ici le tension mesurée V lors de la première étape du présent procédé) et le niveau d’activité de référence (ici la tension de référence Vr). La valeur de dissipation de chaleur Ф vaut donc ici : Du fait de la calibration effectuée, cette valeur de dissipation de chaleur Ф correspond à un écart de température estimé, entre la température à l’intérieur de l’appareil électronique, après stabilisation de ladite température, lorsque le dispositif d’évaluation est alimenté par la tension électrique V, mesurée par la sonde de tension électrique 4, et la température à l’extérieur dudit dispositif électronique 14. Comme expliqué plus haut, la linéarité entre l’écart de température Ф et la tension mesurée V vient des propriétés suivantes : - dans l’exemple décrit ici, la puissance thermique produite par l’appareil électronique 14 est proportionnelle à la tension mesurée V (fonctionnement à courant quasi constant) ; - en régime stationnaire, toute la puissance thermique produite est dissipée vers l’extérieur ; - la puissance thermique dissipée est proportionnelle à l’écart de température Ф (par définition de la résistance thermique du dissipateur). Dans d’autres systèmes, la puissance thermique produite par l’appareil électronique 14 pourra être en pratique proportionnelle à un autre paramètre de fonctionnement (ou de mesure d’activité) de l’appareil électronique 14, par exemple le courant d’alimentation, auquel cas c’est cet autre paramètre qui sera utilisé pour évaluer le niveau d’activité (en lieu et place de la tension dans la formule 5, la calibration étant alors adaptée à cette situation). Selon une sixième étape, on estime la température à l’extérieur Te de l’appareil électronique 14, en soustrayant, à l’estimation de la température stabilisée Ts à l’intérieur de l’appareil électronique 14, la valeur de dissipation de chaleur Ф déterminée à la cinquième étape. Il ressort des différents exemples de réalisation de l’invention décrits ci-dessus, que l’invention permet avantageusement d’estimer la température à l’extérieur d’un appareil électronique, sans pour cela devoir recourir à l’utilisation d’une sonde de température positionnée à l’extérieur dudit appareil. De ce fait, l’invention permet à la fois un fonctionnement plus rapide, plus simple et plus économique, d’un appareil électronique nécessitant la connaissance de la température de son environnement pour réaliser des mesures et/ou des actions. Dans le cas mentionné ci-dessus où l’appareil électronique 14 est une caméra thermique (ou un capteur thermique), la température mesurée (détectée par un pixel) peut par exemple être corrigée en fonction de la température du milieu où sont situées la caméra thermique et la cible observée (température ambiante), cette température du milieu (température ambiante) étant ici évaluée selon l’un des procédés décrits ci-dessus. La température corrigée T c est par exemple déterminée comme suit : où T e est la température ambiante évaluée selon l’un des procédés décrits ci-dessus, T m est la température mesurée par le capteur thermique (ou un pixel de la caméra thermique) et ε est une constante. Procédé d’évaluation de la température d’un milieu dans lequel est placé un appareil électronique (14), l’appareil électronique (14) étant apte à dissiper dans le milieu au moins une partie de la chaleur qu’il génère, caractérisé en ce que le procédé d’évaluation met en œuvre les étapes suivantes : a) mesure, à l’intérieur de l’appareil électronique (14), d’une première température interne, puis b) après un laps de temps donné, mesure, à l’intérieur de l’appareil électronique (14), d’une deuxième température interne, puis c) estimation de la température à l’extérieur de l’appareil électronique (14), à partir d’une estimation d’une température stabilisée, à l’intérieur de l’appareil électronique (14), en fonction des valeurs mesurées lors des étapes a) et b). Procédé d’évaluation selon la revendication 1, caractérisé en ce que l’estimation de la température stabilisée est obtenue à partir d’une valeur d’étalonnage, reflétant l’inertie thermique de l’intérieur de l’appareil électronique (14). Procédé d’évaluation selon la revendication 2, caractérisé en ce que l’estimation de la température stabilisée est obtenue à partir de la somme des termes suivants : - la valeur de la première température interne (Ti1), et - un produit entre la valeur d’étalonnage et la variation de température interne de l’appareil électronique (14), pendant le laps de temps. Procédé d’évaluation selon l’une des revendications 1 à 3, caractérisé en ce que la température à l’extérieur de l’appareil électronique est estimée en soustrayant, à l’estimation de la température stabilisée, une valeur de dissipation de chaleur reflétant un phénomène de dissipation, dans le milieu, de la chaleur générée par l’appareil électronique (14). Procédé d’évaluation selon la revendication 4, caractérisé en ce que, lors de l’étape a) ou lors de l’étape b), un niveau d’activité de l’appareil électronique (14) est mesuré, et en ce que la valeur de dissipation de chaleur est obtenue à partir de la somme des termes suivants : - une constante de dissipation de chaleur de référence, correspondant à une différence de température entre l’intérieur de l’appareil électronique, après stabilisation de ladite température, et l’extérieur de l’appareil électronique, lorsque ledit appareil électronique fonctionne à un niveau d’activité de référence ; et - un produit entre un coefficient de variation de dissipation de chaleur et une différence d’activité entre le niveau d’activité mesuré et le niveau d’activité de référence. Procédé d’évaluation selon la revendication 5, caractérisé en ce que niveau d’activité de l’appareil électronique (14) est mesuré à partir de la tension électrique ou du courant électrique, alimentant l’appareil électronique (14), ou d’une charge d’un composant de l’appareil électronique (14). Dispositif d’évaluation de la température d’un milieu dans lequel est placé un appareil électronique, le dispositif d’évaluation comprenant une unité de mémorisation (10) et une sonde de température (6) destinée à être logée dans l’appareil électronique (14), l’unité de mémorisation (10) et la sonde de température (6) étant connectées à une unité de calcul (8), caractérisé en ce que l’unité de mémorisation (10) comprend des instructions aptes à être mises en œuvre par l’unité de calcul (8), afin de réaliser un procédé d’évaluation de la température d’un milieu dans lequel est placé ledit appareil électronique selon l’une des revendications 1 à 6. Dispositif d’évaluation selon la revendication 7, caractérisé en ce qu’il comprend une sonde d’activité (4) permettant de mesurer un niveau d’activité de l’appareil électronique (14), et en ce que la sonde d’activité (4) est connectée à l’unité de calcul (8), et en ce que l’unité de mémorisation (10) comprend des instructions aptes à être mises en œuvre par l’unité de calcul (8), afin de réaliser un procédé d’évaluation de la température d’un milieu dans lequel est placé ledit appareil électronique selon la revendication 5. Dispositif d’évaluation selon la revendication 8, caractérisé en ce que la sonde d’activité comprend au moins une sonde de tension électrique ou une sonde de courant électrique. Procédé de calibrage d’un dispositif d’évaluation selon la revendication 8 ou 9, caractérisé en ce que ce procédé de calibrage comprend les étapes suivantes : a) mise en fonctionnement de l’appareil électronique (14) à un premier niveau d’activité dit de référence, dans un milieu où la température est stable et connue, pendant un laps de temps suffisant afin que la température interne de l’appareil électronique soit stable, puis b) mesure par l’intermédiaire de la sonde de température (6) de la température interne de l’appareil électronique (14), puis c) pour chacun d’au moins deux niveaux d’activité de l’appareil électronique, mesure par l’intermédiaire de la sonde de température (6), de plusieurs températures internes et d’une température interne de stabilisation, puis d) estimation d’une valeur d’étalonnage, reflétant l’inertie thermique de l’intérieur de l’appareil électronique (14), à partir des valeurs de température interne mesurées par la sonde température lors de l’étape c), e) estimation du coefficient de variation de dissipation de chaleur en fonction de la température interne mesurée à l’étape b), des températures de stabilisation mesurées à l’étape c) et desdits au moins deux niveaux d’activité de l’appareil électronique (14).