FR 3153892 A1 20250411 FR 2310651 A 20231005 Procédé de mesure de désorientation cristalline d’une aube monocristalline Procédé de mesure de désorientation cristalline d’une aube (10) monocristalline comprenant un matériau formé de dendrites (30) ayant un tronc principal (32) s’étendant dans une direction principale (Z’) et des ramifications (34), le procédé comprenant la définition d’un repère de référence (XYZ) de l’aube comprenant une direction radiale (Z), le traitement mécanique et chimique de l’aube (10) dans un plan de base (P1) pour à acquérir une première image (I1) par micrographie, le traitement mécanique et chimique de l’aube (10) dans un plan de comparaison (P2) décalé radialement du plan de base (P1) d’une distance (D), pour acquérir une deuxième image (I2) par micrographie, le traitement de la première et de la deuxième image (I1, I2) de manière à comparer la position du tronc principal (32) de chaque dendrite (30) entre les deux images (I1, I2) et ainsi déduire l’orientation de la direction principale (Z’) des dendrites (30) par rapport à la direction radiale (Z). Figure pour l’abrégé : Fig. 4. Procédé de mesure de désorientation cristalline d’une aube monocristalline Le présent exposé concerne le domaine des aubes monocristallines, et notamment la mesure optique tridimensionnelle de l’orientation cristalline de ces aubes. Plus précisément, le présent exposé concerne un procédé de mesure de désorientation cristalline d’une aube monocristalline. Les moteurs aéronautiques tournants doivent répondre à des critères exigeants de navigabilité, de qualité et de performances. Leurs performances sont généralement corrélées aux températures des gaz de combustion circulant au niveau des turbines et en particulier de leurs aubes. Ces aubes sont soumises à des températures très élevées, pendant de très longues durées, et tournent à des vitesses de rotation très importantes. Compte tenu de ces sollicitations, les aubes sont principalement soumises au fluage. Pour supporter ces sollicitations, ces aubes sont généralement réalisées en superalliages dits « monocristallins » ou « monograins » qui, par définition, présentent l’avantage de ne pas avoir de joints de grains, ce qui améliore leur résistance. La fabrication des aubes de turbines monocristallines repose sur un procédé de fonderie dans lequel, à partir d’un alliage en fusion, la sélection d’un germe et le contrôle de la direction de croissance des dendrites générées lors du refroidissement conditionnent l’orientation finale du grain. Les dendrites sont des cristaux ramifiés apparaissant lors de la solidification de l’alliage et ayant une structure tridimensionnelle, comprenant un arbre central, ou tronc principal formant une direction principale de la dendrite, et des ramifications s’étendant depuis le tronc principal, dans des directions secondaires transversales à la direction principale. Ces dendrites peuvent être révélées par des méthodologies connues de préparation micrographique, comprenant la découpe de l’aube, le polissage et une attaque chimique ou électrochimique. Les dendrites ainsi mises en évidence sur le plan de coupe prennent la forme d’une croix dont le centre indique la position du tronc principal, et les branches correspondent aux ramifications. Par ailleurs, la résistance des aubes aux sollicitations et notamment au fluage est directement corrélée à l’orientation primaire du cristal les constituant, nommée orientation cristalline primaire, par rapport à la direction radiale selon laquelle s’exercent les contraintes centrifuges liées à la rotation de la turbine. En d’autres termes, la résistance des aubes dépend de l’orientation de la direction principale des dendrites par rapport à l’axe théorique idéal (c’est-à-dire 0° par rapport à la direction radiale) visé pour une aube. L’angle entre la direction principale des dendrites et la direction radiale (l’axe théorique idéal) doit être typiquement inférieur à 15°, cette valeur constituant un compromis entre le coût de revient et le taux de rebut dû à la désorientation cristalline. Les aubes de turbine font par conséquent fréquemment l’objet d’investigations visant à observer leurs orientations cristallines et à mettre en évidence cette variable (écart entre direction principale des dendrites et direction radiale des aubes), pour identifier les causes et les modes d’endommagement de ces aubes, notamment des déformations, fissurations, et ruptures. Par ailleurs, l’efficacité et la qualité de ces investigations sont des facteurs primordiaux qui contribuent à assurer la réactivité nécessaire à d’éventuelles actions visant à améliorer la sécurité des vols. Or, les méthodes d’investigations actuelles présentent un certain nombre d’inconvénients. En effet, les méthodes connues de radiocristallographie, telle que la méthode de « Laue », nécessitent un appareillage spécialisé non disponible usuellement dans un laboratoire métallographique traditionnel, ce qui implique la délégation de ces investigations, et donc des délais et des coûts de réalisation des mesures d’orientation non compatibles avec les exigences d’efficacité et de réactivité de ces investigations. D’autres méthodes, plus accessibles en termes de moyens techniques, ne procurent pas une fiabilité et une qualité de mesures satisfaisantes. En effet, selon les méthodes utilisées, il peut être notamment difficile d’identifier de manière fiable les troncs principaux, ou de distinguer le sens dans lequel les dendrites sont désorientées par rapport à la direction radiale. Il existe donc un besoin pour surmonter au moins en partie les inconvénients précités, en fournissant une méthode de mesure d’orientation cristalline d’une aube monocristalline à la fois fiable, efficace, et accessible techniquement de manière à répondre aux exigences d’efficacité et de réactivité de ces investigations. Le présent exposé concerne un procédé de mesure de désorientation cristalline d’une aube monocristalline, l’aube s’étendant radialement entre un pied d’aube et une tête d’aube et comprenant un matériau formé de dendrites ayant un tronc principal s’étendant dans une direction principale entre le pied d’aube et la tête d’aube, et des ramifications s’étendant transversalement à la direction principale, le procédé comprenant : - la définition d’un repère de référence de l’aube comprenant une direction radiale de l’aube, - le traitement mécanique et chimique de l’aube dans un plan de base perpendiculaire à la direction radiale de manière à acquérir une première image par micrographie dans ledit plan de base, - le traitement mécanique et chimique de l’aube dans un plan de comparaison perpendiculaire à la direction radiale et décalé radialement du plan de base d’une distance prédéterminée, de manière à acquérir une deuxième image par micrographie dans ledit plan de comparaison, - le traitement de la première et de la deuxième image de manière à comparer la position du tronc principal de chaque dendrite entre les deux images et ainsi déduire l’orientation de la direction principale des dendrites par rapport à la direction radiale de l’aube. On comprend que le repère de référence de l’aube est un repère cartésien comprenant la direction radiale normale de l’aube, et un plan perpendiculaire à la direction radiale, le plan de base étant parallèle à ce plan perpendiculaire à la direction radiale. Dans ce procédé, le traitement mécanique et chimique de l’aube sur deux plans permet d’acquérir une image micrographique sur ces deux plans, c’est-à-dire le plan de base et le plan de comparaison. Il est ainsi possible de comparer la position du tronc principal de chaque dendrite entre ces deux images, et donc de mesurer, pour chaque dendrite, le décalage de son tronc principal entre ces deux plans, en connaissant par ailleurs la distance prédéterminée séparant les deux plans. La comparaison de la position des troncs principaux, par le traitement de la première et de la deuxième image, permet de déduire l’axe de croissance primaire des dendrites du monocristal, et par conséquent de déduire l’orientation cristalline de l’aube, plus précisément la désorientation des cristaux par rapport à la direction radiale. Cette méthode présente l’avantage de mesurer de manière fiable et précise l’orientation cristalline primaire de l’aube, avec des moyens de préparation d’échantillon disponibles facilement dans un laboratoire métallographique traditionnel, sans nécessiter des équipements spécialisés susceptibles d’engendrer des coûts et délais importants, et étant non compatibles avec les exigences d’efficacité et de réactivité de ces investigations. Dans certains modes de réalisation, le procédé comprend, avant le traitement mécanique et chimique de l’aube dans le plan de base, la réalisation d’une entaille de référence radiale, le plan de base et le plan de comparaison étant disposés de telle sorte à couper l’entaille de référence. On comprend que l’entaille de référence radiale s’étend principalement dans la direction radiale, perpendiculairement au plan du repère de référence perpendiculaire à la direction radiale. La présence de l’entaille est avantageuse en ce qu’elle constitue un repère permettant de faciliter la superposition de la première image et de la deuxième image lors de leur traitement, et donc d’améliorer la précision dudit traitement et des résultats obtenus. Dans certains modes de réalisation, la première et la deuxième images comprennent chacune au moins une portion de l’entaille de référence, le traitement de la première et de la deuxième image comprenant la superposition de la première et de la deuxième image en superposant ladite portion de l’entaille de référence. On comprend que la première et de la deuxième image comprennent chacune la même portion de l’entaille de référence, ce qui permet d’améliorer la précision de la superposition et des résultats obtenus lors le traitement des images. Dans certains modes de réalisation, le plan de base est défini par une extrémité radiale du pied d’aube. Cela permet d’améliorer la rapidité et l’efficacité du procédé, le plan de base étant déjà présent et ne nécessitant pas de travail d’usinage important, hormis son polissage avant le traitement chimique. On notera en outre que le fait de définir le plan de base, et par conséquent le plan de comparaison, dans le pied d’aube, et non à un autre emplacement de l’aube, permet de faciliter les investigations visant à déterminer l’orientation cristalline, la quantité de matière étant plus importante au niveau du pied d’aube. Dans certains modes de réalisation, la distance prédéterminée entre le plan de base et le plan de comparaison est comprise entre 0,15 et 0,35 mm. Cette distance permet d’obtenir une estimation fiable de l’axe de croissance primaire des dendrites, et donc de l’orientation cristalline, tout en limitant la quantité de matière à enlever par usinage pour préparer le plan de comparaison, et donc en améliorant l’efficacité du procédé. Dans certains modes de réalisation, le procédé comprend la mesure du positionnement radial du plan de base par rapport à un plan de référence de l’aube, et la mesure du positionnement radial du plan de comparaison par rapport audit plan de référence. Le fait de mesurer le positionnement radial, le long de la direction radiale, du plan de base et du plan de comparaison par rapport au même plan de référence, permet de connaitre de manière précise la distance prédéterminée entre ces deux plans et leur position relative l’un par rapport à l’autre. Cela permet d’améliorer encore la précision de la mesure de l’orientation cristalline. Dans certains modes de réalisation, le plan de référence est défini par une extrémité radiale de la tête d’aube. Le plan défini par l’extrémité radiale de la tête d’aube étant facilement identifiable, et localisable précisément, cela permet de simplifier la mise en œuvre du procédé et d’améliorer davantage son efficacité. Dans certains modes de réalisation, le traitement mécanique comprend l’usinage et/ou le polissage d’une surface de l’aube dans le plan de base et dans le plan de comparaison, et le traitement chimique comprend l’application d’un acide sur les surfaces usinées et polies de l’aube. Lorsque le plan de base est considéré à l’extrémité radiale du pied d’aube, seul un polissage de cette surface d’extrémité radiale du pied d’aube est nécessaire. Pour définir le plan de comparaison, un usinage plus important est nécessaire, dans lequel une quantité plus importante de matière est enlevée sur la distance prédéterminée. Dans certains modes de réalisation, le traitement de la première et de la deuxième image comprend l’exploitation de celles-ci, l’exploitation comprenant la cartographie de la position du tronc principal des dendrites dans la première image et dans la deuxième image. Le traitement de la première et de la deuxième image comprend l’exploitation de ces images, consistant à repérer la position des troncs principaux sur chaque image, soit manuellement, soit par des méthodes numériques. On comprend donc que la position d’un tronc principal peut être repérée par un point correspondant au centre de la croix formée par la dendrite dans le plan, et que l’exploitation de chacune de la première et de la deuxième image fait apparaître un nuage de points révélant la position des troncs principaux de chacune des dendrites. Dans certains modes de réalisation, le procédé comprend, après l’exploitation de la première et de la deuxième image, un traitement mathématique et/ou statistique et/ou trigonométrique des images traitées de telle sorte à déterminer une direction principale moyenne des dendrites, et à mesurer un angle primaire entre la direction principale moyenne et la direction radiale. Lorsque que la première et de la deuxième image ayant été exploitées sont superposées, notamment en superposant la portion de l’entaille de référence, il est possible de visualiser la variation de la position des troncs principaux d’une image à l’autre. Ainsi, cette variation pour chacun des troncs principaux peut constituer une donnée d’entrée qu’il est possible de moyenner, par exemple par un traitement statistique, ce qui permet de déterminer un axe de croissance primaire moyen des dendrites, et donc une direction principale moyenne des dendrites. A partir, de cette dernière, il est possible de déterminer un angle primaire entre la direction principale moyenne et la direction radiale, par exemple via un calcul trigonométrique. Il est ainsi possible de déterminer un angle primaire de désorientation cristalline de manière précise, et en utilisant des outils de traitement simples et facilement accessibles. Dans certains modes de réalisation, le procédé comprend, pour chaque dendrite et sur la première image et la deuxième image, la mesure d’angles secondaires entre les ramifications d’une dendrite. La mesure des angles secondaires peut être effectuée après l’acquisition de chaque image, ou lors de l’exploitation de celles-ci. La mesure des angles secondaires, en plus de l’angle primaire, permet d’évaluer encore plus finement les désorientations cristallographiques. Dans certains modes de réalisation, le procédé comprend la détermination d’angles d’Euler de l’aube définis par l’angle primaire et les angles secondaires des dendrites. La connaissance des angles d’Euler, et donc du repère d’Euler, permet de connaître précisément l’orientation cristalline de l’aube par rapport au repère de référence de l’aube. Dans certains modes de réalisation, l’aube monocristalline est une aube de turbine. L’invention et ses avantages seront mieux compris à la lecture de la description détaillée faite ci-après de différents modes de réalisation de l’invention donnés à titre d’exemples non limitatifs. Cette description fait référence aux pages de figures annexées, sur lesquelles : FIG. 1 La FIG. 1 représente une vue en perspective d’une aube de turbine monocristalline ; FIG. 2 La FIG. 2 représente schématiquement a) une vue latérale d’une dendrite, b) une image obtenue par micrographies dans un plan P de l’aube de la FIG. 1 , c) une modélisation 3D d’une dendrite ; FIG. 3 La FIG. 3 représente schématiquement a) une modélisation 3D d’une dendrite présentant une orientation inclinée par rapport à la direction radiale de l’aube, b) une vue 2D de la modélisation de l’image a) dans un plan de coupe perpendiculaire à la direction radiale; FIG. 4 La FIG. 4 représente une vue en perspective d’une aube de turbine monocristalline à différentes étapes d’un procédé de mesure de désorientation cristalline selon l’invention; FIG. 5 La FIG. 5 représente schématiquement l’acquisition d’une première image par micrographie dans un premier plan P1 de l’aube ; FIG. 6 La FIG. 6 représente schématiquement l’acquisition d’une deuxième image par micrographie dans un deuxième plan P2 de l’aube ; FIG. 7 La FIG. 7 représente schématiquement l’exploitation de la première et de la deuxième image et la cartographie des positions des troncs principaux sur chacune des images ; FIG. 8 La FIG. 8 représente schématiquement et de manière simplifiée la superposition de la première et de la deuxième image et la variation de la position des troncs principaux; FIG. 9 La FIG. 9 représente schématiquement les différentes étapes d’un procédé de mesure de désorientation cristalline d’une aube monocristalline selon l’invention. La FIG. 1 illustre une aube mobile 10, par exemple métallique, d'une turbine haute-pression de turbomachine. L’aube de turbine est formée d’un matériau monocristallin. Bien entendu, la présente invention peut également s'appliquer à d'autres aubes mobiles ou fixes de la turbomachine formées d’un matériau monocristallin. L'aube 10 s’étend dans un repère XYZ, Z étant la direction radiale principale selon laquelle s’étend l’aube, et le plan radial XY étant perpendiculaire à la direction radiale Z. L’aube 10 comporte classiquement une surface aérodynamique 12 (ou pale) qui s'étend radialement entre une plateforme 14 et une tête d'aube 16. On notera que, bien que l’aube 10 illustrée sur la FIG. 1 présente une baignoire de sommet d’aube, l’aube 10 pourrait également avoir une tête d’aube présentant un talon, sans sortir de la portée de l’invention. La surface aérodynamique 12 présente un bord d'attaque 18 disposé en regard de l'écoulement des gaz chauds issus de la chambre de combustion de la turbomachine, un bord de fuite 20 opposé au bord d'attaque 18, une face latérale intrados 22 et une face latérale extrados 24 (masquée), les faces latérales 22, 24 reliant le bord d'attaque 18 au bord de fuite 20. L’aube 10 comprend en outre un pied d’aube 26 destiné à être monté dans une alvéole d’un disque mobile de turbine (non représenté). Ainsi, l’aube 10 s’étend radialement entre une extrémité radialement interne 28 du pied d’aube 26 et la tête d’aube 16 à l’extrémité radialement externe. Par ailleurs, la tête d’aube 16 s’étend dans un plan d’extrémité radiale externe de l’aube 10, ci-après nommé plan de référence R, le plan de référence R étant de préférence parallèle au plan XY. L’aube 10 monocristalline peut être fabriquée par un procédé connu de fonderie, dans lequel un alliage en fusion, par exemple un superalliage à base de nickel, est disposé dans un moule céramique, puis refroidi par solidification dirigée, au cours de laquelle le refroidissement de l’alliage est contrôlé de manière à obtenir un matériau ayant la qualité et les propriétés souhaitées. En particulier, un germe de cristal est sélectionné et la direction de la croissance du cristal est contrôlée au cours du refroidissement, une telle sélection et un tel contrôle de la direction de croissance conditionnant l’orientation cristalline finale. Les cristaux formant le matériau monocristallin final prennent la forme de dendrites, ayant une structure tridimensionnelle. La FIG. 2 représente schématiquement, sur l’image a), une dendrite 30. Une dendrite 30 comprend un arbre central, ou un tronc principal 32, définissant une direction principale Z’, ou direction primaire, de la dendrite 30, qui correspond à l’axe de croissance principal de la dendrite. La dendrite 30 comprend en outre des branches, ou ramifications 34 s’étendant depuis le tronc principal 32 dans des directions transversales à la direction principale Z’. Les dendrites 30 constituant le matériau de l’aube 10 peuvent être mises en évidence par des méthodologies connues de préparation micrographique, comprenant la découpe de la pièce dans un plan de coupe, le polissage de la surface de la pièce découpée, et une attaque chimique ou électrochimique de ladite surface, par un acide adapté. L’image b) de la FIG. 2 représente schématiquement un exemple d’image obtenue par micrographie, à partir d’une coupe réalisée dans le pied d’aube 26 de l’aube 10 de la FIG. 1 , selon un plan de coupe P perpendiculaire à la direction radiale Z. L’image I obtenue en 2D (deux dimensions) s’inscrit dans un plan parallèle au plan XY et révèle une pluralité de dendrites 30 présentant, dans ce plan, une forme en croix. Le centre des croix révèle la position des troncs principaux 32 au niveau du plan P, et les branches des croix révèlent les positions des ramifications 34. L’image c) de la FIG. 2 est une modélisation 3D (trois dimensions) d’une dendrite 30, par exemple de la dendrite 30 de l’image a). Cette modélisation présente la forme d’une croix extrudée, permettant de définir les angles intrinsèques de la dendrite 30, c’est-à-dire les angles d’Euler de la dendrite 30. Le centre de la croix extrudée de la modélisation de la dendrite 30 correspond au tronc principal 32, définissant la direction principale Z’, ou direction primaire. Les branches de la croix, s’étendant depuis le tronc principal 32, correspondent aux ramifications 34, qui s’étendent dans des directions secondaires Y’, Z’ transversales à la direction primaire Z’. L’orientation du repère d’Euler X’Y’Z’ de la dendrite 30 par rapport au repère de base (ou repère cartésien intrinsèque à l’aube 10), c’est-à-dire le repère XYZ défini précédemment, permet de déterminer l’orientation cristalline de l’aube 10. En particulier, l’orientation de la direction primaire Z’ des dendrites 30 par rapport à la direction radiale Z de l’aube 10, qui est la direction théorique idéale des dendrites 30, définit un angle primaire de l’orientation cristalline. Par ailleurs, les angles entre les directions secondaires X’ et Y’ définissent les angles secondaires de l’orientation cristalline. L’image c) de la FIG. 2 représente un cas « idéal », dans lequel la direction principale Z’ est parallèle et confondue avec la direction radiale Z (l’angle primaire étant donc nul), et les angles secondaires entre les directions secondaires X’ et Y’ sont des angles droits. En pratique, les méthodes de fabrication par fonderie impliquent des imperfections inévitables et intrinsèques aux aubes, la direction primaire Z’ n’étant donc pas parfaitement alignée avec la direction radiale Z. La FIG. 3 représente, sur l’image a), une modélisation d’une dendrite 30, dans laquelle la direction primaire Z’ est inclinée, et forme un angle primaire θ avec la direction radiale Z. Compte tenu de cette inclinaison, les ramifications 34 ne sont elles-mêmes pas perpendiculaires entre elles. En effet, dans une section de la modélisation de la dendrite 30 perpendiculaire à la direction radiale Z, représentée sur l’image b) de la FIG. 2 , les directions secondaires X’, Y’ forment entre elles des angles secondaires β, β’, où β’ = 180° - β. Les angles primaires et secondaires β, β’ constituent les angles d’Euler de la dendrite 30, dont les valeurs permettent de connaitre l’orientation du repère d’Euler X’Y’Z’ par rapport au repère XYZ intrinsèque à l’aube 10, et donc de connaître l’orientation cristalline de l’aube 10. Il est parfois nécessaire de connaître aussi précisément que possible l’orientation cristalline, et notamment la désorientation des dendrites 30 par rapport à la direction radiale idéale (l’angle primaire θ devant être inférieur à 15°), pour identifier les causes et modes d’endommagement de ces aubes, notamment des déformations, fissurations, et ruptures éventuellement subis par les aubes. Le procédé décrit ci-après en référence aux figures 4 à 9 permet d’effectuer de telles investigations de manière efficace, par des moyens disponibles facilement dans un laboratoire métallographique traditionnel. Dans l’exemple présent, nous nous intéressons à un procédé de mesure de désorientation cristalline d’une aube de turbine monocristalline telle que décrite plus haut et représentée sur la FIG. 1 . Dans un premier temps (étape S100), un référentiel intrinsèque à l’aube 10 est défini. Dans l’exemple présent appliqué à l’aube 10 de turbine, ce référentiel est le repère cartésien XYZ décrit précédemment, où Z est la direction radiale de l’aube 10. Ensuite, une entaille E de référence est réalisée dans le pied d’aube 26 (étape S200, image a) de la FIG. 4 ). De préférence, l’entaille E est réalisée depuis l’extrémité radialement interne 28 du pied d’aube 26, perpendiculairement au plan formé par ladite extrémité radialement interne 28, c’est-à-dire perpendiculairement au plan radial XY. De préférence, les dimensions et cotes de l’entaille E résultent d’une optimisation empirique entre précision, matériel et temps de préparation. En d’autres termes, l’entaille E constitue un repère rapide à réaliser par usinage, les dimensions de l’entaille E étant par ailleurs déterminées et connues de manière précise, de telle sorte à améliorer la précision de la superposition et des traitements décrits ultérieurement. Un plan de base P1 est ensuite défini (étape S300, image b) de la FIG. 4 ). Dans cet exemple, le plan de base P1 correspond sensiblement au plan formé par l’extrémité radialement interne 28 du pied d’aube 26, sur laquelle une préparation est effectuée. Cette préparation comprend le polissage de l’extrémité radialement interne 28, puis une attaque chimique de celle-ci afin de révéler les dendrites 30. En outre, une mesure de la cote de positionnement du plan de base P1 est également effectuée à cette étape. Pour ce faire, une mesure de la distance entre le plan de base P1 obtenu après la préparation, et le plan de référence R décrit précédemment, peut être effectuée. Ainsi, l’étape S300 de définition du plan de base P1 comprend la préparation (étape S310) décrite ci-dessus, et la mesure de la cote de positionnement (étape S320). L’acquisition d’une première image I1 est ensuite effectuée dans le plan de base P1 (étape S400, FIG. 5 ). La première image I1 est obtenue par une méthode de micrographie décrite précédemment, dans le plan de base P1, et permet de révéler une pluralité de dendrites 30. L’acquisition de la première image I1 est effectuée sur une portion du plan de base P1 englobant une portion de l’entaille E de référence, par exemple une bordure 29 de l’entaille dans le plan de base P1, et une extrémité 291 de ladite bordure 29. Un plan de comparaison P2 est ensuite défini (étape S500, image c) de la FIG. 4 ). Comme pour le plan de base P1, la définition du plan de comparaison P2 comprend la préparation (étape S510) et la mesure de la cote de positionnement (étape S520). Le plan de comparaison P2 est parallèle au plan de base P1, et est obtenu en usinant le pied d’aube 26 depuis le plan de base P1 (correspondant sensiblement à l’extrémité radialement interne 28), et sur une distance D prédéterminée dans la direction radiale Z. La distance D entre le plan de base P1 et le plan de comparaison P2 peut être par exemple comprise 0,15 et 0,35 mm, et est inférieure à la hauteur de l’entaille E de référence. Après cet usinage, la surface obtenue est polie, et une attaque chimique est effectuée, de manière à révéler les dendrites 30 dans le plan P2. L’étape S510 de préparation du plan de comparaison P2 comprend donc l’usinage décrite ci-dessus, le polissage et l’attaque chimique. La distance D précitée peut être choisie de manière arbitraire et approximative, dès lors qu’elle est comprise dans la plage mentionnée dans le paragraphe précédent, et qu’elle reste inférieure à la hauteur de l’entaille E. Pour connaitre précisément la cote de positionnement du plan de comparaison P2 dans le repère XYZ, la mesure de la cote de positionnement (étape S520) est effectuée, dans laquelle est mesurée la distance entre le plan de comparaison P2 obtenu après la préparation, et le plan de référence R. La connaissance précise de la cote de positionnement du plan de base P1 effectuée à l’étape S320, et du le plan de comparaison P2 effectuée à l’étape S520, permet de déduire précisément la distance entre le plan de base P1 et le plan de comparaison P2, c’est-à-dire la distance D. La connaissance précise de la distance D et de la position des plans P1, P2 le long de la direction radiale Z permet une évaluation plus précise de l’angle primaire θ, décrite ultérieurement. Sur la base du plan de comparaison P2, l’acquisition d’une deuxième image I2 est effectuée (étape S600, FIG. 6 ). La deuxième image I2 est obtenue de la même manière que pour la première image I1, c’est-à-dire par une méthode de micrographie dans le plan de comparaison P2, et permet de révéler la même pluralité de dendrites 30 que dans la première image I1, mais dans le plan de comparaison P2. En particulier, l’acquisition de la deuxième image I2 est effectuée sur une portion du plan de comparaison P2 similaire à la portion du plan de base P1 sur laquelle est faite l’acquisition de la première image I1, en englobant la même portion de l’entaille E de référence, comprenant la bordure 29 dans le plan de comparaison P2 (c’est-à-dire la même bordure que dans le plan de base P1 mais décalée radialement de la distance D), et l’extrémité 291 de ladite bordure 29. Les images I1 et I2 ainsi obtenues sont ensuite exploitées (étape S700, FIG. 7 ). L’exploitation de ces images comprend notamment la localisation des troncs principaux 32 sur chaque image I1, I2, correspondant aux centres des croix révélant la position des dendrites 30 (étape S710). A cette étape, seule la position des centres 32 dans le plan XY importe. Ainsi, les images I1 et I2 représentées sur la FIG. 7 prennent la forme d’un nuage de points, symbolisant la position des centres des croix, c’est-à-dire du tronc principal 32 de chaque dendrite 30, dans les plans P1 et P2 respectivement. De manière optionnelle, il est également possible de mesurer les orientations secondaires, et notamment les angles secondaires β et β’, sur chacune des images I1 et I2 (étape S720). Plus précisément, les angles secondaires β et β’ peuvent être mesurés sur l’image I1, puis contrôlés sur l’image I2 afin de valider les mesures effectuées sur l’image I1. En plus de la mesure de l’angle primaire θ décrite ci-après, la mesure des angles secondaires β et β’ permet d’évaluer plus finement les désorientations cristallographiques. Les traitements décrits ci-dessus peuvent être effectués manuellement, en mesurant à la main la position de chaque centre 32 sur les images I1 et I2 ainsi que les angles secondaires β et β’, ou numériquement, par l’intermédiaire d’outils numériques adaptés permettant de réaliser ces mesures. On notera en outre que l’ordre de l’étape S720 n’est pas limitatif, la mesure des angles secondaires β et β’ pouvant être réalisée d’abord sur la première image I1, juste après l’étape S400 d’acquisition de la première image I1, puis sur la deuxième image I2, juste après l’étape S600 d’acquisition de la deuxième image I2. La mesure du positionnement des troncs principaux 32 à l’étape S710 permet, pour chaque dendrite 30, de comparer la position du tronc principal 32 sur le plan de base P1 (première image I1) et sur le plan de comparaison P2 (deuxième image I2). Pour cela, les images exploitées à l’étape S700 font ensuite l’objet d’un traitement mathématique et/ou statistique et/ou trigonométrique (étape S800). Au cours de cette étape, la première et la deuxième image I1, I2 obtenues précédemment sont superposées de manière à visualiser l’évolution de la position du tronc principal 32 de chaque dendrite 30, entre le plan de base P1 et le plan de comparaison P2 (étape S810). L’entaille E de référence réalisée à l’étape S200 et incluse en partie sur les images I1 et I2 permet de faciliter cette superposition et d’en améliorer la précision. L’entaille E sert en effet de repère, en superposant les bordures 29 et les extrémités 291 de chaque image I1, I2. Le résultat de cette superposition est représenté schématiquement sur la FIG. 8 , sur laquelle seul un échantillon d’une dizaine de paires de points, symbolisant la position des troncs principaux 32, est représenté. Chaque paire de points, par exemple les paires 32a, 32b, 32c, représente un seul et même tronc principal 32, dont la position a légèrement dévié entre la première image I1 et la deuxième image I2, c’est-à-dire entre le plan de base P1 et le plan de comparaison P2. Cette légère déviation entre les plans P1 et P2 est représentée par la distance ε. La connaissance de la distance ε pour chaque dendrite 30 visible sur les images I1, I2, notamment son amplitude, permet d’effectuer une mesure statistique sur l’ensemble des dendrites 30. Par exemple, l’ensemble des distances ε mesurées est représenté sous la forme d’une courbe de Gauss, dont seul le pic est retenu et considéré comme la valeur moyenne de déviation des troncs principaux 32. Ainsi, la connaissance précise de la distance D et de la valeur moyenne de déviation ε permet de déduire, par des calculs trigonométriques, l’orientation primaire, notamment l’angle primaire θ (étape S820). Enfin, la connaissance de l’angle primaire θ déterminée à l’étape S820, et des angles secondaires β et β’ déterminés à l’étape S720, permettent de déterminer les angles d’Euler des dendrites 30, définissant l’orientation cristalline de l’aube 10 (étape S900). On notera toutefois que cette dernière étape S900 (de même que l’étape S720 de détermination des angles secondaires β et β’) est facultative, le procédé pouvant s’arrêter uniquement à l’étape S820 de détermination de l’angle primaire θ. En effet, la connaissance de l’angle primaire θ est primordiale en ce qu’elle permet d’estimer la désorientation cristalline par rapport à la direction radiale Z, cette désorientation pouvant expliquer à elle seule les éventuels endommagements de l’aube 10 survenant. La connaissance angles secondaires β et β’ permet toutefois d’affiner l’évaluation de cette désorientation. Bien que la présente invention ait été décrite en se référant à des exemples de réalisation spécifiques, il est évident que des modifications et des changements peuvent être effectués sur ces exemples sans sortir de la portée générale de l'invention telle que définie par les revendications. En particulier, des caractéristiques individuelles des différents modes de réalisation illustrés/mentionnés peuvent être combinées dans des modes de réalisation additionnels. Par conséquent, la description et les dessins doivent être considérés dans un sens illustratif plutôt que restrictif. Procédé de mesure de désorientation cristalline d’une aube (10) monocristalline, l’aube (10) s’étendant radialement entre un pied d’aube (26) et une tête d’aube (16) et comprenant un matériau formé de dendrites (30) ayant un tronc principal (32) s’étendant dans une direction principale (Z’) entre le pied d’aube (26) et la tête d’aube (16), et des ramifications (34) s’étendant transversalement à la direction principale (Z’), le procédé comprenant : - la définition d’un repère de référence (XYZ) de l’aube comprenant une direction radiale (Z) de l’aube (10), - le traitement mécanique et chimique de l’aube (10) dans un plan de base (P1) perpendiculaire à la direction radiale (Z), de manière à acquérir une première image (I1) par micrographie dans ledit plan de base (P1), - le traitement mécanique et chimique de l’aube (10) dans un plan de comparaison (P2) perpendiculaire à la direction radiale (Z) et décalé radialement du plan de base (P1) d’une distance (D) prédéterminée, de manière à acquérir une deuxième image (I2) par micrographie dans ledit plan de comparaison (P2), - le traitement de la première et de la deuxième image (I1, I2) de manière à comparer la position du tronc principal (32) de chaque dendrite (30) entre les deux images (I1, I2) et ainsi déduire l’orientation de la direction principale (Z’) des dendrites (30) par rapport à la direction radiale (Z) de l’aube (10). Procédé selon la revendication 1, comprenant, avant le traitement mécanique et chimique de l’aube (10) dans le plan de base (P1), la réalisation d’une entaille de référence (E) radiale, le plan de base (P1) et le plan de comparaison (P2) étant disposés de telle sorte à couper l’entaille de référence (E). Procédé selon la revendication 2, dans lequel la première et la deuxième images (I1, I2) comprennent chacune au moins une portion (29) de l’entaille de référence (E), le traitement de la première et de la deuxième image (I1, I2) comprenant la superposition de la première et de la deuxième image (I1, I2) en superposant ladite portion (29) de l’entaille de référence (E). Procédé selon l’une quelconque des revendications 1 à 3, dans lequel le plan de base (P1) est défini par une extrémité radiale (28) du pied d’aube (26). Procédé selon l’une quelconque des revendications 1 à 4, dans lequel la distance prédéterminée (D) entre le plan de base (P1) et le plan de comparaison (P2) est comprise entre 0,15 et 0,35 mm. Procédé selon l’une quelconque des revendications 1 à 5, comprenant la mesure du positionnement radial du plan de base (P1) par rapport à un plan de référence (R) de l’aube (10), et la mesure du positionnement radial du plan de comparaison (P2) par rapport audit plan de référence (R). Procédé selon la revendication 6, dans lequel le plan de référence (R) est défini par une extrémité radiale de la tête d’aube (16). Procédé selon l’une quelconque des revendications 1 à 7, dans lequel le traitement mécanique comprend l’usinage et/ou le polissage d’une surface de l’aube (10) dans le plan de base (P1) et dans le plan de comparaison (P2), et le traitement chimique comprend l’application d’un acide sur les surfaces usinées et polies de l’aube (10). Procédé selon l’une quelconque des revendications 1 à 8, dans lequel le traitement de la première et de la deuxième image (I1, I2) comprend l’exploitation de celles-ci, l’exploitation comprenant la cartographie de la position du tronc principal (32) des dendrites (30) dans la première image (I1) et dans la deuxième image (I2). Procédé selon la revendication 9, comprenant, après l’exploitation de la première et de la deuxième image (I1, I2), un traitement mathématique et/ou statistique et/ou trigonométrique des images traitées de telle sorte à déterminer une direction principale (Z’) moyenne des dendrites (30), et à mesurer un angle primaire (θ) entre la direction principale (Z’) moyenne et la direction radiale (Z). Procédé selon l’une quelconque des revendications 1 à 10, comprenant, pour chaque dendrite (30) et sur la première image (I1) et la deuxième image (I2), la mesure d’angles secondaires (β, β’) entre les ramifications (34) d’une dendrite (30). Procédé selon les revendications 10 et 11, comprenant la détermination d’angles d’Euler de l’aube (10) définis par l’angle primaire (θ) et les angles secondaires (β, β’) des dendrites (30). Procédé selon l’une quelconque des revendications 1 à 12, dans lequel l’aube (10) monocristalline est une aube de turbine.