FR 3138946 A1 20240223 FR 2308734 A 20230816 L’invention concerne un dispositif optique (100), un système ainsi qu’un procédé d’interférométrie à dispersion avec une installation de doublement de fréquence (12) et une installation de modulation optique (16), un trajet optique d’émission (50) conçu pour l’émission d’un premier et d’un deuxième rayons de mesure (30,32) sur un élément optique (46) et un trajet optique de réception (52) conçu pour la réception d’un premier et d’un deuxième rayon de mesure (36,38) renvoyés par l’élément optique (46). Figure pour l’abrégé : figure 1 Dispositif optique, système et procédé d’interférométrie à dispersion L’invention concerne un dispositif optique, ainsi qu’un système et un procédé d’interférométrie à dispersion pouvant être mis en œuvre avec un tel dispositif optique. Arrière-plan de l’invention La mesure de la dispersion ou de l’indice de réfraction de l’atmosphère est un procédé connu et peut être employée pour la mesure de paramètres atmosphériques, comme la densité, la pression, la température, l’humidité de l’air, la teneur en CO 2 . Habituellement, les réfractomètres ou interféromètres mis en œuvre à cet effet sont utilisés dans des environnements de laboratoire où règne la stabilité mécanique nécessaire du bâtiment. Selon une variante de l’interférométrie à dispersion, une nette réduction de la sensibilité aux perturbations mécaniques comme par exemple, les vibrations, l’effet microphonique peut être obtenue en utilisant une optique non linéaire. Cette variante est employée dans la recherche plasma dans des installations de recherche sur la fusion pour la mesure des densités électroniques et doit alors fonctionner de manière fiable dans des grandes installations de recherche dans des environnements fortement influencés acoustiquement. Le document DE 44 03 021 C2 décrit un réfractomètre à air de haute précision ayant une source de rayonnement laser pour l’émission d’un rayon laser, un premier cristal optique non linéaire pour la réception du rayon laser et pour la conversion d’une partie de ce rayon en une première onde de deuxième harmonique, un élément de structure réfléchissant pour réfléchir le faisceau laser et la première onde de deuxième harmonique, un moyen de transport pour transporter l’élément de structure réfléchissement, une deuxième cristal optique non linéaire pour la réception du faisceau laser et de la première onde de deuxième harmonique qui ont été réfléchies par l’élément de structure réfléchissant, et pour la conversion d’une autre partie du rayon laser en une deuxième onde de deuxième harmonique et pour la production de bandes d’interférence par interférence entre la première onde de de deuxième harmonique et la deuxième onde de deuxième harmonique et un moyen pour compter les bandes d’interférence générées par un détecteur en vue de diviser le nombre de bandes d’interférence comptées par une distance, sur laquelle l’élément de structure réfléchissant peut être déplacé, et de multiplier le résultat par un coefficient. Le document DE 697 35 148 T2 décrit un dispositif de correction optique, dans lequel le rapport signal/bruit d’un signal de correction, qui est utilisé pour l’interférométrie à deuxième harmonique, est amélioré de deux manières. Premièrement, un amplificateur optique qui est réglé sur la fréquence de la deuxième harmonique est positionné sur le chemin optique. Deuxièmement, une étape de doublement est positionnée à l’intérieur du laser correctif. Un laser à intra-cavité à fréquence doublée émet un premier rayon optique avec une fréquence fondamentale et un deuxième rayon optique à la deuxième harmonique de la fréquence fondamentale. Le laser à fréquence doublée est positionné à proximité d’un modulateur de phases. Un premier diviseur de faisceau est positionné près du modulateur de phases. Un deuxième diviseur de faisceau est positionné entre un laser de référence, une plaque de quart d’onde et une surface du premier diviseur de faisceau. Un miroir à étages est positionné à proximité de la paque de quart d’onde. Le système est démarré pour mesurer la position du miroir à étages. Un cristal de doublement externe est positionné près d’une face opposée du premier diviseur de faisceau. Un amplificateur optique qui est réglé sur la fréquence de la deuxième harmonique est positionné entre l’étape de doublement et un filtre, comme par exemple un diviseur de faisceau dichroïque. Le filtre empêche la transmission du premier rayon optique qui contient la fréquence fondamentale. Un photodétecteur quadratique est positionné à proximité du filtre. Exposé sommaire de l’invention Le but de l’invention est de créer un dispositif optique amélioré avec une faible sensibilité aux perturbations. Un autre but de l’invention est de créer un système pour interférométrie à dispersion ayant un dispositif optique amélioré avec une faible sensibilité aux perturbations. Un autre but est de créer avec un tel dispositif optique amélioré, un procédé d’interférométrie à dispersion. Ces buts sont atteints par les caractéristiques de revendications indépendantes. Des modes de réalisation avantageux et des avantages de l’invention ressortent des autres revendications, de la description et des dessins. Selon un aspect de l’invention, il est proposé un dispositif optique comprenant au moins une source de rayonnement laser pour émettre un premier rayon avec une fréquence fondamentale de la source de rayonnement laser ; une installation de doublement de fréquence et une installation de modulation optique pour générer un deuxième rayon laser à une fréquence d’une deuxième harmonique de la fréquence fondamentale, ainsi qu’un premier rayon laser diffracté, lequel présente une intensité du premier ordre de diffraction d’une fréquence fondamentale modulée, et un deuxième rayon laser diffracté, lequel présente une intensité du deuxième ordre de diffraction de la deuxième harmonique. Le dispositif comprend en outre un trajet optique de référence qui est conçu pour la projection d’un premier et d’un deuxième rayons de référence sur une unité de réception ; un trajet optique d’émission qui est conçu pour l’émission d’un premier et d’un deuxième rayons de mesure sur un élément optique. De plus, le dispositif comprend un trajet optique de réception qui est conçu pour la réception d’un premier et d’un deuxième rayons de mesure renvoyés par l’élément optique. Qui plus est, le dispositif comprend une unité de superposition, conçue pour la superposition des premier et du deuxième rayons de mesure renvoyés sur les premier et deuxième rayons de référence et pour la projection des premiers et deuxièmes rayons de mesure renvoyés et des premiers et deuxième rayons de référence superposés sur l’unité de réception. L’unité de réception est conçue pour la réception des premier et deuxième rayons de mesure renvoyés et des premier et deuxième rayons de référence superposés et pour la conversion en un signal de réception électrique. Le dispositif comprend en outre une unité d’exploitation qui est conçue au moins pour l’exploitation du signal de réception électrique. Le dispositif optique proposé peut avantageusement servir à déterminer avec une grande précision et bande passante la densité d’un mélange gazeux que l’on fait circuler à travers les premier et deuxième rayons de mesure dans le trajet optique d’émission et le trajet optique de réception, et d’en déduire ainsi la pression du mélange gazeux. Le dispositif optique présente avantageusement une sensibilité réduite aux perturbations par rapport aux conditions ambiantes comme par exemple, les vibrations. De plus, le dispositif optique est de structure compacte et est constitué d’un faible nombre de composants. L’unité d’exploitation est conçue pour la réception et la numérisation du signal de réception électrique. Avec le dispositif optique proposé, une installation de modulation, par exemple, un décaleur de fréquences acoustique-optique, est utilisé pour la production des rayons laser diffractés de telle sorte qu’en appliquant un signal avec une fréquence de modulation, le premier ordre de diffraction pour la fréquence fondamentale de la source de rayonnement laser est utilisé pour la production d’un premier rayon laser diffracté et le deuxième ordre de diffraction pour la deuxième harmonique est utilisé pour la production d’un deuxième rayon laser diffracté. En raison de l’équation de diffraction, les deux rayons présentent le même angle de diffraction et ils sont ainsi intrinsèquement colinéaires. Grâce à cela, la stabilité du système peut avantageusement être augmentée et le nombre de composants avantageusement réduit. L’élément optique peut avantageusement réfléchir ou diffuser les signaux de mesure. Avantageusement, les rayons laser diffractés peuvent être utilisés comme rayons de référence et les rayons laser non diffractés comme rayons de mesure. En variante, il est cependant possible de mettre en œuvre les rayons lasers non diffractés comme rayons de référence et les rayons laser diffractés comme rayons de mesure. Les premier et deuxième rayons partiels contenus dans le rayon de référence présentent chacun un décalage de fréquence différent d’un facteur deux. En cas d’interférence avec les rayons de mesure renvoyés comme signal de mesure, il se produit ainsi la projection de signaux flottants lors justement de ces décalages de fréquence. Les signaux de mesure sont ainsi intrinsèquement divisés en deux bandes de fréquences différentes. Contrairement à ce qu’il se passe dans l’état de la technique, ceci rend possible une détection au moyen d’un unique détecteur sans obtenir de mélange des signaux. Grâce à cela, le nombre des composants nécessaires peut à nouveau être réduit. La détermination des phases de dispersion et de la dispersion relative s’effectue de façon purement numérique et/ou digitale directement à partir du signal des photodiodes de l’unité de réception dans une unité d’exploitation, laquelle peut comprend un convertisseur analogique-numérique et un mélangeur, afin de mélanger entre eux à de basses fréquences les signaux reçus. Contrairement à ce qu’il se passe dans l’état de la technique, il peut alors être renoncé à une deuxième étape de conversion de fréquences optique non linéaire et également à une étape de conversion de fréquence électrique. Grâce à cela, la stabilité du système est augmentée et le nombre des composants réduit. En outre, le système atteint déjà avec de petites quantités de lumière de mesure une précision de mesure significative. De nombreuses parties de chemin optiques non communes aux fréquences de mesure individuelles qui anéantissent à nouveau partiellement l’avantage de la robustesse mécanique, peuvent être évitées. Le dispositif optique présente aussi une seule unité de réception, par exemple une photodiode, afin de détecter séparément les différents signaux modulés, ce qui permet favorablement d’aboutir à moins d’éléments de structure. Selon un mode de réalisation avantageux du dispositif optique, les premier et deuxième rayons de mesure peuvent être conçus comme premier et deuxième rayons laser et les premier et deuxième rayons de référence comme premier et deuxième rayons laser diffractés. En variante, les premier et deuxième rayons de mesure peuvent être conçus comme premier et deuxième rayons laser diffractés et les premier et deuxième rayons de référence comme premier et deuxième rayons laser. Avantageusement les deux ordres de diffraction sont projetés par la relation entre la fréquence fondamentale et la deuxième harmonique avec le même angle de diffraction, de sorte que les deux rayons laser diffractés se propagent de façon colinéaire. Selon un mode de réalisation avantageux du dispositif optique, l’installation de doublement de fréquence peut être disposée dans le trajet optique d’émission avant l’installation de modulation. De cette manière, le premier rayon laser est d’abord généré avec la deuxième harmonique de la fréquence fondamentale, avant que les deux rayons laser diffractés ne soient générés au moyen de l’installation de modulation à partir des deux rayons optiques. Selon un mode de réalisation avantageux du dispositif optique, l’installation de doublement de fréquence est disposée dans la trajet optique d’émission, après l’installation de modulation. Avec ces deux modes de réalisation alternatifs, le premier rayon diffracté est d’abord généré au moyen de l’installation de modulation à partir du premier rayon laser avec la fréquence fondamentale, avant que le deuxième rayon laser de la deuxième harmonique ne soit généré à partir du premier rayon laser par doublement de fréquence et le deuxième rayon laser diffracté à partir du premier rayon laser diffracté. Pour des raisons de disposition, deux installations de doublement de fréquence séparées peuvent être nécessaires pour les premier et deuxième rayons laser ainsi que pour les deux rayons laser diffractés. Selon un mode de réalisation avantageux du dispositif optique, l’installation de doublement de fréquence peut présenter au moins une cale, grâce à laquelle un angle de décalage entre le premier rayon laser et le deuxième rayon laser peuvent être compensés par au moins une cale. De cette façon, il peut être obtenu que les rayons optiques de la fréquence fondamentale et de la deuxième harmonique se propagent de manière colinéaire à travers la structure du dispositif optique. Selon un mode de réalisation avantageux du dispositif optique, les premier et deuxième rayons laser diffractés peuvent être émis de manière colinéaire avec un angle supérieur à 0mrad par rapport au premier et au deuxième rayons laser. En particulier, l’angle peut alors être d’au plus 50 mrad, de préférence d’au plus 10 mrad. Avantageusement les deux rayons laser diffractés peuvent être envoyés avec un angle le plus petit possible par rapport au premier et au deuxième rayons laser, afin d’obtenir une disposition compacte du dispositif optique. Selon un mode de réalisation avantageux du dispositif optique, l’unité de superposition peut être conçue en tant que diviseur de faisceau, les premier et deuxième rayons de mesure renvoyés passant à travers l’unité de superposition et les premier et deuxième rayons de référence étant réfléchis par l’unité de superposition. En variante, les premier et deuxième rayons de mesure renvoyés peuvent être réfléchis par l’unité de superposition et les premier et deuxième rayons de mesure et les premier et deuxième rayons de référence passent à travers l’unité de superposition. Le diviseur de faisceau peut par exemple être réalisé en tant que miroir à moitié transparent, de sorte que les premier et deuxième rayons renvoyés puissent passer dans le diviseur de faisceau depuis le côté arrière du miroir en venant, tandis que les premier et deuxième rayons de référence sont déviés en venant par l’autre côté de manière à ce que tant les premier et deuxième rayons de mesure que les premier et deuxième rayons de référence soient superposés. En variante, les premier et deuxième rayons de mesure et les premier et deuxième rayon de référence peuvent passer à travers le diviseur de faisceau depuis le côté arrière du miroir, tandis que les premier et deuxième rayons de mesure renvoyés sont déviés par l’autre côté de manière à ce que tant les premier et deuxième rayons de mesure renvoyés que les premier et deuxième rayons de référence soient superposés. Selon un mode de réalisation avantageux du dispositif optique, un vecteur normal de la surface du diviseur de faisceau peut se trouver sur une bissectrice entre les rayons de référence et le rayon de mesure renvoyé. Ainsi, les premier et deuxième rayons de référence peuvent passer dans le diviseur de faisceau depuis le côté arrière du miroir en venant sans être empêchés, tandis que les premier et deuxième rayons de mesure renvoyés sont réfléchis en venant par l’autre côté par le diviseur de faisceau de telle sorte que les premier et deuxième rayons de mesure renvoyés et les premier et deuxième rayons de référence soient superposés. Avantageusement, la lumière reçue peut être réfléchie de cette manière sur le rayon de référence et être amenée à interférer. Selon un mode de réalisation avantageux du dispositif optique, dans le trajet optique de référence et/ou dans le trajet optique d’émission et/ou dans le trajet optique de réception, un système optique peut être disposé en vue d’une adaptation des rayons. Le système optique peut avantageusement servir à ajuster la propagation du rayon qui se propage différemment dans le trajet optique de référence et dans le trajet optique d’émission ou de réception, de sorte que l’interférence des rayons soit maximisée. Le système optique peut par exemple être un système à lentilles. En variante, le système optique peut comprendre des miroirs et/ou des éléments holographiques. Selon un mode de réalisation avantageux du dispositif optique, une unité de déviation de rayons peut être disposée dans le trajet optique d’émission et/ou le trajet optique de réception et scinder le trajet optique d’émission et/ou le trajet optique de réception en au moins un premier chemin de rayon et un deuxième chemin de rayon. En particulier, le premier chemin de rayon ou le deuxième chemin de rayon peut être choisi comme trajet optique d’émission et/ou comme trajet optique de réception au moyen de l’unité de déviation de rayons. Avantageusement, le rayon de mesure peut être guidé autrement, par décalage de rayon ou déviation de rayon, par exemple au moyen d’un scanner, à travers un volume de mesure, de sorte à rencontrer un élément optique approprié sous la forme d’un réflecteur ou d’un diffuseur. Grâce à la variation de la section de mesure, des paramètres libres peuvent être calibrés dans l’exploitation des phases mesurées, par rapport à la pression ou à la concentration gazeuse, sans qu’il soit nécessaire de recourir à des systèmes de mesure complémentaires. Des méthodes typiques, pour manipuler le rayon optique, sont par exemple des diviseurs de faisceau polarisants et un élément polarisant rotatif, comme par exemple une plaque lambda/2 tournante, des prismes tournants ou des miroirs, des cristaux liquides ou similaires. Selon un mode de réalisation avantageux du dispositif optique, au moins un miroir peut être disposé dans le trajet optique de référence et/ou le trajet optique d’émission et/ou le trajet optique de réception, pour dévier les premier et deuxième rayons de référence et/ou les premier et deuxième rayons de mesure et/ou les premier et deuxième rayons de mesure renvoyés. De cette façon, la structure du dispositif optique peut être réalisée de manière encore plus compacte. Selon un autre aspect de l’invention, il est proposé un système d’interférométrie à dispersion, lequel comprend au moins un dispositif optique conforme à celui qui vient d’être décrit. Le système proposé d’interférométrie à dispersion avec un tel dispositif optique peut avantageusement servir à déterminer optiquement la densité d’un mélange gazeux qui circule à travers les premier et deuxième rayons de mesure dans le trajet optique d’émission et le trajet optique de réception avec une grande précision et largeur de bande et d’en déduire la pression du mélange gazeux. Le système présente avantageusement une faible sensibilité aux perturbations vis-à-vis des conditions ambiantes comme par exemples les vibrations. En outre, le dispositif optique est de structure compacte et comporte un petit nombre de composants, de sorte que le système dans son ensemble est bon marché et peut être monté avec une optimisation de l’espace. La détermination des phases de dispersion et de la dispersion correspondante s’effectue de manière numérique et/ou digitale, directement à partir du signal de photodiode de l’unité de réception dans une unité d’exploitation qui peut comprendre un convertisseur analogique/numérique et un mélangeur, pour mélanger les signaux reçus à de basses fréquences. Par rapport à l’état de la technique, on peut ainsi renoncer à une deuxième étape de conversion de fréquence optique non linéaire, ainsi qu’à une étape de conversion de fréquence électrique. Grâce à cela, non seulement la stabilité du système est augmentée mais le nombre de composants est réduit. De plus, le système atteint même avec de petites quantités de lumière de mesure une précision de mesure significative. Selon un autre aspect de l’invention, il est proposé un procédé d’interférométrie à dispersion avec un dispositif optique, ce procédé comprenant au moins les étapes suivantes : l’émission d’un premier rayon laser au moyen d’une source de rayonnement laser avec une fréquence fondamentale de la source de rayonnement laser ; génération d’un deuxième rayon laser avec une fréquence d’une deuxième harmonique de la fréquence fondamentale, ainsi qu’un premier rayon laser diffracté, lequel présente une intensité du premier ordre de diffraction d’une fréquence fondamentale modulée, et un deuxième rayon laser diffracté qui présente une intensité du deuxième ordre de diffraction de la deuxième harmonique, au moyen d’une installation de doublement de fréquence et d’une installation de modulation optique ; projection d’un premier et d’un deuxième rayons de référence dans un trajet optique de référence sur une unité de réception ; émission d’un premier et d’un deuxième rayons de mesure dans un trajet optique d’émission sur un élément optique ; réception d’un premier et d’un deuxième rayons de mesure renvoyés par l’élément optique dans un trajet optique de réception ; superposition des premier et du deuxième rayons de mesure renvoyés sur les premier et deuxième rayons de référence au moyen d’une unité de superposition et projection sur l’unité de réception ; réception des premier et deuxième rayons de mesure renvoyés et des premier et deuxième rayons de référence superposés au moyen de l’unité de réception et conversion en un signal de réception électrique ; exploitation du signal de réception électrique au moyen d’une unité d’exploitation. Le procédé proposé d’interférométrie à dispersion peut avantageusement servir à déterminer optiquement avec une grande précision et largeur de bande la densité d’un mélange gazeux qui circule à travers les premier et deuxième rayons de mesure dans un trajet optique d’émission et dans un trajet optique de de réception, et d’en déduire la pression du mélange gazeux. Le procédé présente avantageusement une faible sensibilité aux perturbations vis-à-vis des conditions ambiantes comme par exemple les vibrations. Avantageusement, l’unité d’exploitation peut aussi recevoir et numériser le signal de réception électrique. Avantageusement, l’élément optique peut réfléchir ou diffuser les signaux de mesure. Avec le procédé proposé est généré un rayon diffracté au moyen d’une installation de modulation, par exemple un décaleur de fréquences acoustico-optique, tandis qu’avec l’application d’un signal avec une fréquence de modulation, le premier ordre de diffraction est utilisé pour la fréquence fondamentale de la source de rayonnement laser pour la génération d’un premier rayon laser diffracté et le deuxième ordre de diffraction pour la deuxième harmonique est utilisé pour la génération d’un deuxième rayon diffracté. En raison de l’équation de diffraction, ces deux rayons présentent le même angle de diffraction et ils sont ainsi intrinsèquement colinéaires. Avantageusement, les rayons laser diffractés sont utilisés comme rayons de référence et les rayons lasers non diffractés comme rayons de mesure. En variante, il est cependant également possible de mettre en œuvre les rayons laser non diffractés comme rayons de référence et les rayons laser diffractés comme rayons de mesure. Les rayons partiels contenus dans le rayon de référence présentent chacun un décalage de fréquence différent d’un facteur deux. En cas d’interférence avec le rayon de mesure renvoyé comme signal de mesure, on arrive ainsi à la formation de signaux de battement justement avec ce décalage de fréquences. Les signaux de mesure sont ainsi intrinsèquement divisés en deux bandes de fréquences différentes. Contrairement à l’état de la technique, ceci rend possible une détection au moyen d’un unique détecteur sans obtenir de mélange des signaux. La détermination des phases de dispersion et de la dispersion relative s’effectue de manière purement numérique et/ou digitale directement à partir du signal de photodiode de l’unité de réception. Par rapport à l’état de la technique, il peut ainsi être renoncé à une deuxième étape de conversion de fréquences optiques non linéaires ainsi qu’à une étape de conversion de fréquences électriques. Qui plus est, le procédé atteint déjà avec de petites quantités de lumière de mesure une précision de mesure significative. Selon un mode de réalisation avantageux du procédé, les premier et deuxième rayons laser peuvent être utilisés comme premier et deuxième rayons de mesure et les premier et deuxième rayons laser diffractés comme premier et deuxième rayon de référence. En variante, les premier et deuxième rayons laser diffractés peuvent aussi être utilisés comme premier et deuxième rayons de mesure et les premier et deuxième rayons laser comme premier et deuxième rayons de référence. Ainsi peut être généré un rayon laser diffracté au moyen de l’installation de modulation, pendant qu’avec l’application d’un signal avec une fréquence de modulation, le premier ordre de diffraction pour la fréquence fondamentale de la source de rayonnement laser est utilisé pour la génération d’un premier rayon diffracté et le deuxième ordre de diffraction pour la deuxième harmonique est utilisé pour la génération d’un deuxième rayon laser diffracté. Avantageusement, les deux ordres de diffraction sont projetés par la relation entre la fréquence fondamentale et la deuxième harmonique avec le même angle de diffraction, de sorte que les deux rayons de référence soient colinéaires. Selon un mode de réalisation avantageux du procédé, le deuxième rayon laser peut être généré par l’installation de doublement de fréquence et les premier et deuxième rayons laser diffractés à partir du premier et deuxième rayons laser par modulation de fréquences avec une fréquence de modulation dans l’installation de modulation optique. Ainsi, l’installation de doublement de fréquence peut être placée de manière appropriée dans le trajet optique d’émission avant l’installation de modulation optique. Selon un mode de réalisation avantageux du procédé, le premier rayon laser diffracté peut être généré par modulation de fréquence avec la fréquence de modulation dans l’installation de modulation optique et le deuxième rayon laser et le deuxième rayon laser diffracté peuvent être générés par l’installation de doublement de fréquence. Ainsi, l’installation de doublement de fréquence peut être placée de manière appropriée dans le trajet optique d’émission après l’installation de modulation optique. De cette manière, il peut être obtenu que les rayons optiques de la fréquence fondamentale et de la deuxième harmonique se propagent de manière colinéaire à travers la structure du dispositif optique. Selon un mode de réalisation avantageux du procédé, les premier et deuxième rayons diffractés peuvent être émis de manière colinéaire avec un angle par rapport au premier et deuxième rayon laser. En particulier, l’angle peut être d’au plus 50 mrad, de préférence d’au plus 10 mrad. Avantageusement, les deux rayons laser diffractés peuvent être émis avec un angle le plus petit possible par rapport au premier et au deuxième rayons laser, afin d’obtenir une disposition compacte du dispositif optique. Selon un mode de réalisation avantageux du procédé, le premier rayon de mesure renvoyé peut être superposé sur le premier rayon de référence, et le deuxième rayon de mesure renvoyé sur le deuxième rayon de référence par l’unité de superposition. Les rayons partiels contenu dans le rayon de référence présentent chacun un décalage de fréquence différent d’un facteur deux. En cas d’interférence avec le rayon de mesure renvoyé en tant que signal de mesure, il y a une formation de signaux de battement justement pour ce même décalage de fréquence. Les signaux de mesure sont ainsi divisés intrinsèquement en deux bandes de fréquences différentes. Des différences de phase des rayons optiques superposés peuvent être avantageusement exploitées et mises à profit pour la détermination de la dispersion relative. Selon un mode de réalisation avantageux du procédé le signal de réception électrique peut être démodulé et/ou filtré dans l’unité d’exploitation. En particulier, le signal de réception peut alors être démodulé dans l’unité d’exploitation au moyen d’une démodulation de quadrature et filtré avec un filtre passe-bas. En variante ou en complément, le signal de réception électrique peut être mélangé avant la démodulation de quadrature dans l’unité d’exploitation à l’aide d’un signal de deuxième tonalité avec un dépôt sur la fréquence fondamentale, en particulier avec la fréquence de modulation. De cette façon, de hautes fréquences de modulation peuvent avantageusement être utilisés dans l’installation de modulation optique et des taux d’échantillonnage faibles peuvent être utilisés dans l’unité d’exploitation. Grâce à un traitement de signaux numériques, les deux signaux de réception limités en bande peuvent être de cette façon démodulés en quadrature et filtrés en passe-bas. A l’aide d’une formation différentielle la dispersion relative entre les longueurs d’ondes fondamentales et les deuxièmes harmoniques peut être déterminée. La dispersion relative est directement dépendante des paramètres ambiants (pression, température, humidité de l’air, teneur en CO 2 ) et rend ainsi possible une mesure de ces paramètres. Le traitement purement numérique simplifie considérablement la structure de mesure. Selon un mode de réalisation avantageux du procédé, des différences de phase entre le premier rayon de référence et le premier rayon de mesure renvoyé ainsi qu’entre le deuxième rayon de référence et le deuxième rayon de mesure renvoyé peuvent être déterminées dans l’unité de réception dans des bandes de fréquences séparables de manière séparée pour la fréquence fondamentale et la deuxième harmonique. Avantageusement, il est ainsi possible de réaliser une détection avec une seule unité de réception, sans obtenir un mélange de signaux. Le procédé permet ainsi une réduction avantageuse du nombre de composants nécessaires du dispositif optique. Selon un mode de réalisation avantageux du procédé, il est possible de déterminer une dispersion relative entre la fréquence fondamentale et la deuxième harmonique, à l’aide en particulier d’une formation différentielle numérique des différences de phase. La détermination des phases de dispersion et de la dispersion relative, donc la différence d’indice de réfraction entre la fréquence fondamentale et la deuxième harmonique, s’effectue avantageusement de manière purement numérique et/ou digitale directement à partir du signal de photodiode de l’unité de réception. Par rapport à l’état de la technique, il peut ainsi être renoncé à une deuxième étape de conversion de fréquence optique non linéaire, ainsi qu’à une étape de conversion de fréquence électrique. En outre, le procédé atteint déjà avec de petites quantités de lumière de mesure une précision significative. Description des dessins D’autres avantages découlent de l’exposé des dessins suivants. Sur les figures sont représentés des exemples de réalisation de l’invention. Les figures, la description et les revendications contiennent de nombres caractéristiques en combinaison. L’homme du métier considérera les caractéristiques de manière appropriée également individuellement et les résumera en d’autres combinaisons judicieuses. Sont représentés à titre d’exemples : : un système d’interférométrie à dispersion avec un dispositif optique selon un exemple de réalisation de l’invention, en représentation schématique ; : un système d’interférométrie à dispersion avec un dispositif optique selon un autre exemple de réalisation de l’invention avec un système optique supplémentaire, en représentation schématique ; : un système d’interférométrie à dispersion avec un dispositif optique selon un autre mode de réalisation de l’invention avec une installation de doublement de fréquence inversée et une installation de modulation, en représentation schématique ; : un système d’interférométrie à dispersion avec un dispositif optique selon un autre mode de réalisation de l’invention, dans lequel les rayons de mesure renvoyés sont déviés, en représentation schématique ; et : une décomposition d’un trajet optique d’émission et/ou d’un trajet optique de réception sur différents chemins de rayon suivant un autre mode de réalisation. Modes de réalisation de l’invention Sur les figures sont désignés des composants ayant la même fonction ou du même genre avec les mêmes signes de référence. Les figures représentent simplement des exemples et ne doivent pas être considérés comme limitatives. Dans l’exposé qui suit, la terminologie directionnelle avec des termes comme « à gauche », « à droite », « sous », « devant », « derrière », « après » et similaires sert tout simplement à une meilleure compréhension des figures et ne doit en aucun cas être considéré comme une limitation du caractère général de l’invention. Les composants et éléments représentes, dont l’interprétation et l’utilisation peuvent varier en fonction des réflexions de l’homme du métier et être adaptées aux utilisations correspondantes. La représente un système 200 d’interférométrie à dispersion comportant un dispositif optique 100 selon un exemple de réalisation de l’invention, en représentation schématique. Le dispositif optique 100 présente une source de rayonnement laser 10 pour l’émission d’un premier rayon laser 31 avec une fréquence fondamentale de la source de rayonnement laser 10, ainsi qu’une installation de doublement de fréquence 12 et une installation de modulation optique 16 qui est pilotée par un oscillateur 14 avec une fréquence de modulation. L’installation de doublement de fréquence 12 est disposée dans un trajet optique d’émission 50 avant l’installation de modulation optique 16. Un deuxième rayon laser 33 est généré par l’installation de doublement de fréquence 12. Un premier et un deuxième rayons laser diffractés 34,35 sont générés dans l’installation de modulation optique 16 à partir des premier et deuxième rayons laser 31,33 par modulation de fréquence avec une fréquence de modulation. Le premier rayon laser diffracté 34 présente une intensité du premier ordre de diffraction de la fréquence fondamentale modulée, tandis que le deuxième rayon laser diffracté 35 présente une intensité du deuxième ordre de diffraction de la deuxième harmonique. A partir du premier rayon laser 31 est généré dans l’installation de doublement de fréquence 12 le deuxième rayon laser 33 à une fréquence d’une deuxième harmonique de la fréquence fondamentale. Le premier rayon laser 31 de la source de rayonnement laser 10, par exemple, un laser à onde continue, est ainsi doublé en fréquence dans l’installation de doublement de fréquence 12, par exemple, dans un cristal optique non linéaire. A l’exception d’un faible angle de décalage, qui peut éventuellement être compensé avec au moins une cale, les rayons optiques de la fréquence fondamentale et de la deuxième harmonique se propagent de façon colinéaire à travers le trajet optique d’émission 50 du dispositif optique 100. Les deux rayons laser 31,33 circulent à travers l’installation de modulation 16, dans laquelle le premier rayon laser diffracté 34 et le deuxième rayon laser diffracté 35 sont générés par modulation de fréquence avec une fréquence de modulation. Un modulateur acoustico-optique ou décaleur de fréquence 16 diffracte, par application d’un signal de haute fréquence de l’oscillateur 14 au niveau du cristal de Bragg contenu dans le décaleur de fréquence 16, une partie de la lumière en tant que rayon laser diffracté 34,35 avec un petit angle par rapport au premier et au deuxième rayon laser 31,33. Le premier rayon laser diffracté 34 présente une intensité du premier ordre de diffraction de la fréquence fondamentale et le deuxième rayon laser diffracté 35 présente une intensité du deuxième ordre de diffraction de la deuxième harmonique. Le cristal de Bragg peut avantageusement être tourné de telle sorte que le premier ordre de diffraction pour la fréquence fondamentale et le deuxième ordre de diffraction pour la deuxième harmonique remplissent la condition de diffraction ou condition de Bragg. Les rayons ainsi diffractés ainsi sont en outre, contrairement à l’état de la technique, colinéaires. Les premier et deuxième rayons laser diffractés 34,35 sont émis de manière colinéaire avec un angle 28 supérieur à 0 mrad par rapport au premier et au deuxième rayon laser 31,33. En particulier l’angle 28 peut être d’au plus 50 mrad, de préférence d’au plus 10 mrad. Les premier et deuxième rayons laser 31,33 sont envoyés en tant que rayons de mesure 30,32 dans un trajet optique d’émission 50 sur un élément optique 46. L’élément optique 46 peut réfléchir et/ou diffuser les premier et deuxième rayons de mesure 30,32. Un premier et un deuxième rayons de mesure 36,38 renvoyés par l’élément optique 46 sont reçus dans un trajet optique de réception 52. Le trajet optique d’émission 50 et le trajet optique de réception 52 peuvent alors être identiques. Les premier et deuxième rayons de mesure 30,32 et les premier et deuxième rayons de mesure 30,32 renvoyés par l’élément optique 46 circulent alors sur le chemin allant du dispositif optique 100 à l’élément optique 46 et de nouveau de retour vers le milieu dont la dispersion doit être déterminée. Les premier et deuxième rayons laser 34,35 diffractés sont projetés sur une unité de réception 22 en tant que rayons de référence 40,42 dans un trajet optique de référence 54 par déviation au moyen d’un miroir 18 et d’une unité de superposition 20 qui est par exemple réalisée à l’aide d’un diviseur de faisceau sous la forme d’un miroir semi-transparent. En variante, les premier et deuxième rayons laser diffractés 34,35 peuvent être émis en tant que premier et deuxième rayons de mesure 30,32 et le premier et deuxième rayons laser 31,33 en tant que premier et deuxième rayons de référence 40,42. Après la traversée de l’unité de superposition 20, les premier et deuxième rayons de mesure 36,38 renvoyés sont superposés sur les premier et deuxième rayons de référence 40,42 et projetés sur l’unité de réception 22. Le premier rayon de mesure 36 renvoyé est alors superposé sur le premier rayon de référence 40 et le deuxième rayon de mesure renvoyé 38 sur le deuxième rayon de référence 42 à l’aide de l’unité de superposition 20. La somme des longueurs du trajet optique d’émission 50 et du trajet optique de réception 52 est désignée comme étant la longueur du bras de mesure 56 de l’interféromètre. Avantageusement, le dispositif optique 100 peut être mis en oeuvre avec une longueur de bras de mesure 56 variable, par exemple en repliant un réflecteur supplémentaire dans le trajet optique de réception 52. De cette manière, un calibrage absolu de l’intensité des rayons optiques 30, 32, 36, 38, 40, 42 peut être effectué. Les rayons de mesure renvoyés 36, 38 sont superposés au niveau du diviseur de faisceau 20 avec les rayons de référence 40, 42 et projetés sur l’unité de réception 22, qui peut être par exemple une photodiode. L’unité de superposition 20 est réalisée sous forme de diviseur de faisceau sur la , les premier et deuxième rayons de mesure renvoyés 36,38 passant dans l’unité de superposition 20 et les premier et deuxième rayons de référence 40,42 étant réfléchis par l’unité de superposition 20. L’interférence qui y naît contient un signal de battement à la fréquence de modulation de l’installation de modulation acoustico-optique 16 ainsi que de la deuxième harmonique. Les signaux de battement peuvent être directement associés aux signaux de mesure renvoyés 36,38 respectifs et séparés en bandes de fréquences séparées. L’unité de réception 22 reçoit les premier et deuxième rayons de mesure renvoyés 36,38 et les premier et deuxième rayons de référence 40,42 superposés et les convertit en un signal de réception électrique 44. L’unité d’exploitation 24 reçoit, numérise et exploite le signal de réception électrique 44. Le signal de réception électrique 44 peut avantageusement être numérisé dans l’unité d’exploitation 24 avec un convertisseur analogique-numérique. Au moyen d’un traitement de signal numérique, les deux signaux à bande limitée sont démodulés, de préférence démodulés par quadrature et filtrés en passe-bas. Par formation différentielle numérique la dispersion relative entre la fréquence fondamentale et la deuxième harmonique peut ainsi être déterminée. La dispersion relative est directement dépendante des paramètres ambiants comme la pression, la température, l’humidité de l’air, la teneur en CO 2 et rend ainsi possible une mesure de ces paramètres. Le traitement purement numérique facilite considérablement la structure de mesure. Le signal de réception 44 est mélangé dans ce but dans l’unité d’exploitation 24 à l’aide d’un signal à double tonalité (ω+ΔΩ)+2(ω+ΔΩ) avec un dépôt ΔΩ sur la fréquence fondamentale ω, en particulier avec la fréquence de modulation ΔΩ, sur les fréquences ΔΩ und 2 ΔΩ. Des différences de phase entre le premier rayon de référence 40 et le premier rayon de mesure renvoyé 36 ainsi qu’entre le deuxième rayon de référence 42 et le deuxième rayon de mesure renvoyé 38 sont déterminées dans l’unité de réception 22 en des bandes de fréquence séparables, de manière séparée pour la fréquence fondamentale et la deuxième harmonique. Une dispersion relative entre la fréquence fondamentale et la deuxième harmonique peut être déterminée, en particulier par formation différentielle, en particulier numérique des différences de phase. Selon l’invention, avec le procédé d’interférométrie à dispersion avec le dispositif optique 100, un premier rayon laser 31 est émis au moyen de la source de rayonnement laser 10 avec la fréquence fondamentale de la source de rayonnement laser 10. L’équation d’onde de la lumière laser s’énonce comme suit : où ω est la fréquence circulaire du rayonnement laser (2π * fréquence fondamentale de la lumière laser), t le temps, k le vecteur d’onde, x le lieu le long du trajet optique d’émission 50, n l’indice de réfraction (dépendant de la fréquence) du milieu circulant, c la vitesse de la lumière, λ Vide la longueur d’onde du rayonnement laser dans le vide. Au moyen de l’installation de doublement de fréquence 12, un deuxième rayon laser 33 est généré à la fréquence 2ω de la deuxième harmonique de la fréquence fondamentale ω. Un premier rayon laser diffracté 34 et un deuxième rayon laser diffracté 35 sont générés au moyen de l’installation de modulation 16 avec un dépôt ΔΩ sur la fréquence fondamentale ω ou un dépôt 2 ΔΩ sur le double de la fréquence fondamentale 2ω. Le premier rayon laser diffracté 34 présente une intensité du premier ordre de diffraction de la fréquence fondamentale et le deuxième rayon laser diffracté 35 une intensité du deuxième ordre de diffraction de la deuxième harmonique. Les premier et deuxième rayons laser 34,35 sont ainsi émis de manière colinéaire avec un angle 28 par rapport aux premier et deuxième rayons optiques 32,34. En particulier l’angle 28 peut alors être d’au plus 50 mrad, de préférence d’au plus 10 mrad. Les premier et le deuxième rayons laser 34,35 sont projetés en tant que premier et deuxième rayon de référence 40,42 dans un trajet optique de référence 54 sur l’unité de réception 22. Les premier et deuxième rayons laser 31,33 sont émis en tant que premier et deuxième rayons de mesure 30,32 dans un trajet optique d’émission 50 sur un élément optique 46. En variante, les premier et deuxième rayons laser diffractés 34,35 peuvent aussi être émis en tant que premier et deuxième rayons de mesure 30,32 et les premier et deuxième rayons laser 31,33 en tant que premier et deuxième rayons de référence 40,42. Des premier et deuxième rayons de mesure 36,38 renvoyés par l’élément optique 46 sont reçus dans un trajet optique d’émission 52 et superposés sur les premier et deuxième rayons de référence 40,42 à l’aide d’une unité de superposition 20 et projetés sur l’unité de réception 22. Les premier et deuxième rayons de mesure renvoyés 36,38 et les premier et deuxième rayons de référence 40,42 superposés sont reçus par l’unité de réception 22 et convertis en un signal de réception électronique 44. Ce dernier est reçu par l’unité d’exploitation 24 et numérisé. Après avoir traversé le milieu dont la dispersion doit être déterminée, sur le chemin le long du trajet optique d’émission 50 et le trajet optique de réception 52, les phases , de la lumière laser des premier et deuxième rayons de mesure 36,38 renvoyés découlent au niveau de l’unité de réception 22 des équations suivantes : où l représente la longueur du bras de mesure 56 de l’interféromètre, donc la somme des longueurs du trajet optique d’émission 50 et du trajet optique de réception 52. I Vibration représente un changement de la longueur de mesure 56 de l’interféromètre dû aux vibrations mécaniques. Les phases de la lumière laser des deux rayons de référence 40,42 découlent des équations suivantes : où ΔΩ représente la fréquence de modulation de l’installation de modulation 16 prédéterminée par l’oscillateur 14 et , les phases de ce qu’on appelle un « non common path » (NCP). Ce chemin non commun représente la partie du trajet optique sur laquelle les premier et deuxième rayons de référence 40,42 se sont pas superposés sur les premier et deuxième rayons de mesure 36,38 renvoyés, donc le trajet optique entre l’installation de modulation optique 16 et l’unité de superposition 20, en passant par le miroir 18. En soustrayant les phases , des rayons de mesure renvoyés 36,38 des phases , des rayons de référence respectifs 40,42, les différences de phase , découlent dans l’unité de réception 22 des équations suivantes : L’exploitation des différences de phase dans l’unité d’exploitation 24 donne ainsi : mit . Ainsi, la différence d’indice de réfraction n(2ω)-n(ω) de la dispersion du milieu peut être déterminée. La représente un système 200 d’interférométrie à dispersion avec un dispositif optique 100 selon un autre exemple de réalisation de l’invention avec un système optique supplémentaire 26, en représentation schématique. Le système optique 26 peut être disposé dans le trajet de référence 54 et/ou dans le trajet optique d’émission 50 et/ou dans le trajet optique de réception 52 pour une adaptation aux rayons. Le système optique 26 comporte en outre des optiques de formation de rayon qui peuvent éventuellement être mises en œuvre dans les trajet optiques 50, 52, 54. Les optiques servent à égaliser la propagation des rayons qui s’effectue dans le trajet optique de référence différemment par rapport au trajet optique d’émission 50 et au trajet optique de réception 52, de sorte à maximiser l’interférence des rayons 36, 38, 40, 42. Dans le cas de l’exemple de réalisation représenté sur la , est à chaque fois une optique du système optique 26 disposée dans le trajet optique d’émission 50, dans le trajet optique de réception 52 ainsi que dans le trajet optique de référence 54 entre le miroir 18 et l’unité de superposition 20. Le système optique 26 peut être par exemple, comme représenté sur la , un système de lentilles. En variante, le système optique 26 peut aussi comprendre des miroirs et/ou des éléments holographiques. Sur la est représenté schématiquement un système 200 d’interférométrie à dispersion avec un dispositif optique 100 selon un autre exemple de réalisation de l’invention, avec une installation de doublement de fréquence 12 inversée et une installation de modulation 16. Le premier rayon laser 34 diffracté est généré par modulation de fréquence avec la fréquence de modulation dans l’installation de modulation optique 16 et le deuxième rayon laser 33 et le deuxième rayon laser 35 diffracté sont générés par l’installation de doublement de fréquence 12. L’installation de doublement de fréquence 12 est alors disposée dans le trajet optique d’émission 50 après l’installation de modulation optique 16. Dans cette variante de mode de réalisation, le premier rayon laser diffracté 34 est d’abord généré au moyen de l’installation de modulation 16 à partir du premier rayon laser 31 avec la fréquence fondamentale, avant que le deuxième rayon laser 33 de la deuxième harmonique ne soit généré à partir du premier rayon laser 31 par doublement de fréquence, et le deuxième rayon diffracté 35 à partir du premier rayon laser différé 34. Pour des raisons de disposition, des installations de doublement de fréquence 12 séparées peuvent être nécessaires pour les premier et deuxième rayons laser 31,33 ainsi que pour les deux rayons laser diffractés 34,35. La représente schématiquement un système 200 d’interférométrie à dispersion avec un dispositif optique 100 selon un autre exemple de réalisation de l’invention, dans lequel les rayons de mesure renvoyés 36,38 sont déviés. Le trajet optique d’émission 50 et le trajet optique de réception 52 sont dans cet exemple de réalisation conçus colinéaires. Ils peuvent de nouveau être décomposés avec des méthodes usuelles, comme par exemple des diviseurs de rayons, en chemins de rayons séparés et ainsi être traités ultérieurement comme précédemment. En variante, comme cela est représenté sur la , l’unité de superposition 20 conçue comme un diviseur de faisceau peut être disposée directement après l’installation de modulation 16. Par exemple, le diviseur de faisceau peut être formé par une face de l’installation de modulation 16 ayant un angle et un revêtement équivalents. Les premier et deuxième rayons de mesure renvoyés 36,38 sont réfléchis par l’unité de superposition 20, tandis que les premier et deuxième rayons de mesure 30,32 ainsi que les premier et deuxième rayons de référence 40,42 passent à travers l’unité de superposition 20. Le vecteur normal 48 à la surface du diviseur de faisceau 58 se trouve sur la bissectrice entre les rayons de mesure 36,38 renvoyés réfléchis ou les rayons de référence 40,42 et les rayons de mesure 30,32. De cette manière, les rayons de mesure renvoyés 36,38 sont réfléchis sur les rayons de référence 40,42 et amenés à provoquer une interférence. De plus, pour compenser des changements de rayon par propagation, des optiques de compensation peut être apportés dans les deux ou l’un des deux trajet optiques 50,52,54. Les premier et deuxième rayons de mesure 30,32, tout comme les premier et deuxième rayons de mesure renvoyés 36,38 peuvent en outre, comme cela est visible sur la , être projetés par des éléments d’un système optique 26 comme des lentilles ou des objectifs sur l’élément optique 46 comme aussi sur l’unité de réception 22. Sur la est représenté une décomposition du trajet optique d’émission 50 et/ou du trajet optique de réception 52 sur différents chemins de rayon 62,64 d’après un autre exemple de réalisation. La montre comme on peut changer entre des chemins de rayon différents 62,64 dans les trajet optiques 50,52. Typiquement les rayons de mesure 30,32 y sont guidés différemment à travers un volume de mesure par décalage de rayon ou par déviation de rayon, par exemple au moyen d’un scanner, de sorte à rencontrer un élément optique approprié 46 sous la forme d’un réflecteur ou d’un diffuseur. Grâce à la variation du parcours de mesure, des paramètres libres peuvent être calibrés lors de l’exploitation, des phases mesurées par rapport à la pression ou la concentration gazeuse, sans avoir recours à des systèmes de mesure complémentaires. Des méthodes typiques de manipulation de rayon, sont des diviseurs de faisceau et un élément polarisant rotatif, comme par exemple une plaque Lambda/2 tournante, des prismes tournants ou des miroirs, des cristaux liquides ou similaires. Pour cela, il est possible de disposer dans le trajet optique d’émission 50 et/ou dans le trajet optique de réception 52, une unité de déviation de rayon 60 qui décompose le trajet optique d’émission 50 et/ou le trajet optique de réception 52 en un premier chemin de rayon 62 et un deuxième chemin de rayon 64. En particulier, il est possible de choisir comme trajet optique d’émission 50 et/ou comme trajet optique de réception 52, le premier chemin de rayon 62 ou le deuxième chemin de rayon 64 au moyen de l’unité de déviation de rayon 60. En variante, il est possible d’ajouter une deuxième unité de réception 22, afin d’exploiter parallèlement les deux chemins de rayon 62,64. Numéros de référence 10 source de rayonnement laser 12 installation de doublement de fréquence 14 oscillateur 16 installation de modulation optique 18 miroir 20 unité de superposition 22 unité de réception 24 unité d’exploitation 26 système optique 28 angle 30 premier rayon de mesure 31 premier rayon laser 32 deuxième rayon de mesure 33 deuxième rayon laser 34 premier rayon laser diffracté 35 deuxième rayon laser diffracté 36 premier rayon de mesure renvoyé 38 deuxième rayon de mesure renvoyé 40 premier rayon de référence 42 deuxième rayon de référence 44 signal de réception électrique 46 élément optique 48 vecteur normal 50 trajet optique d’émission 52 trajet optique de réception 54 trajet optique de référence 56 longueur de bras de l’interféromètre 58 surface du diviseur de faisceau 60 unité de déviation de rayon 62 premier chemin de rayon 64 deuxième chemin de rayon Dispositif optique (100) comprenant au moins une source de rayonnement laser (10) pour l’émission d’un premier rayon laser (31) ayant une fréquence fondamentale de source de rayonnement laser (10) ; une installation de doublement de fréquence (12) et une installation de modulation optique (16) pour générer un deuxième rayon laser (33) à une fréquence d’une deuxième harmonique de la fréquence fondamentale, ainsi qu’un premier rayonnement diffracté (34) qui présente une intensité du premier ordre de diffraction d’une fréquence fondamentale modulée et un deuxième rayon laser diffracté (35) qui présente une intensité du deuxième ordre de diffraction de la deuxième harmonique ; un trajet optique de référence (54) qui est conçu pour la projection d’un premier et d’un deuxième rayons de référence (40,42) sur une unité de réception (22) ; un trajet optique d’émission (50) qui est conçu pour l’émission d’un premier et d’un deuxième rayon de mesure (30, 32) sur un élément optique (46) ; un trajet optique de réception (52) qui est conçu pour la réception d’un premier et d’un deuxième rayons de mesure (36, 38) renvoyés par l’élément optique (46) ; une unité de superposition (20) qui est conçue pour la superposition des premier et deuxième rayons de mesure (36, 38) renvoyés sur les premier et deuxième rayons de référence (40, 42) et pour la projection des premier et deuxième rayons de mesure (36,38) renvoyés et des premier et deuxième rayons de référence (40,42) superposés sur l’unité de réception (22), l’unité de réception (22) étant conçue pour la réception des premier et deuxième rayons de mesure (36,38) renvoyés et des premier et deuxième rayons de référence (40,42) superposés et pour la conversion en un signal de réception électrique (44) ; ainsi qu’une unité d’exploitation (24) qui est conçue au moins pour l’exploitation du signal de réception électrique (44). Dispositif optique selon la revendication 1, dans lequel les premier et deuxième rayons (30, 32) sont conçus sous la forme de premier et deuxième rayons laser (31, 33) et les premier et deuxième rayons de référence (40, 42) sous la forme de premier et deuxième rayons laser diffractés (34, 35), ou dans lequel les premier et deuxième rayons de mesure (30,32) sont conçus sous forme de premier et deuxième rayons laser diffractés (34,35) et les premier et deuxième rayons de référence (40,42) sous la forme de premier et deuxième rayons laser (31,33). Dispositif optique selon la revendication 1 ou 2, dans lequel l’installation de doublement de fréquence (12) est disposée dans le trajet optique d’émission (50) avant l’installation de modulation optique (16). Dispositif optique selon la revendication 1 ou 2, dans lequel l’installation de doublement de fréquence (12) est disposée dans le trajet optique d’émission (50) après l’installation de modulation optique (16). Dispositif optique selon l’une des revendications précédentes, dans lequel l’installation de doublement de fréquence (12) comprend au moins une cale, au moyen de laquelle un angle de décalage entre le premier rayon laser (31) et le deuxième rayon laser (33) peut être compensé par au moins une cale. Dispositif optique selon l’une des revendications précédentes, dans lequel les premier et le deuxième rayons laser diffractés (34,35) sont émis de manière colinéaire avec un angle (28) supérieur à 0 mrad par rapport aux premier et deuxième rayons laser (31,33), en particulier, dans lequel l’angle (28) est d’au plus 50 mrad, de préférence d’au plus 10 mrad. Dispositif optique selon l’une des revendications précédentes, dans lequel l’unité de superposition (20) est conçue comme un diviseur de faisceau, les premier et deuxième rayons de mesure renvoyés (36,38) passant à travers l’unité de superposition (20) et les premier et deuxième rayons de référence (40, 42) étant réfléchis par l’unité de superposition (20), ou dans lequel les premier et deuxième rayons de mesure renvoyés (36,38) sont réfléchis par l’unité de superposition (20) et les premier de deuxième rayons de mesure (30,32) et les premier et deuxième rayons de référence (40,42) passent à travers l’unité de superposition (20). Dispositif optique selon la revendication 7, dans lequel un vecteur normal (48) à la surface du diviseur de faisceau (58) se trouve sur une bissectrice entre les rayons de référence (40,42) et les rayons de mesure renvoyés (36,38). Dispositif optique selon l’une des revendications précédentes, dans lequel, dans le trajet optique de référence (54) et/ou dans le trajet optique d’émission (50) et/ou dans le trajet optique de réception (52), est disposé un système optique (26) pour l’adaptation des rayons. Dispositif optique selon l’une des revendications précédentes, dans lequel dans le trajet optique d’émission (50) et/ou dans le trajet optique de réception (52) est disposée une unité de déviation de rayons (60), laquelle scinde le trajet optique d’émission (50) et/ou le trajet optique de réception (52) en au moins un premier chemin de rayon (62) et un deuxième chemin de rayon (64), en particulier dans lequel au moyen de l’unité de déviation de rayons (60), le premier chemin de rayon (62) ou le deuxième chemin de rayon (64) peut être choisi en tant que trajet optique d’émission (50) et/ou en tant que trajet optique de réception (52). Dispositif optique selon l’une des revendications précédentes, dans lequel dans le trajet optique de référence (54) et/ou dans le trajet optique d’émission (50) et/ou dans le trajet optique de réception (54) est disposé au moins un miroir (18) pour dévier les premier et deuxième rayons de référence (40,42) et/ou les premier et deuxième rayons de mesure (30,32) et/ou les premier et deuxième rayons de mesure renvoyés (36,38). Système (200) d’interférométrie à dispersion, comprenant au moins un dispositif optique (100) selon l’une des revendications précédentes. Procédé d’interférométrie à dispersion avec un dispositif optique (100) selon l’une des revendications 1 à 11, comprenant au moins les étapes de : émission d’un premier rayon laser (31) au moyen d’une source de rayonnement laser (10) avec une fréquence fondamentale de la source de rayonnement laser (10) ; génération d’un deuxième rayon laser (33) à une fréquence d’une deuxième harmonique de la fréquence fondamentale, ainsi qu’un premier rayon diffracté (34) qui présente une intensité du premier ordre de diffraction d’une fréquence fondamentale modulée, et d’un deuxième rayon laser diffracté (35) qui présente une intensité du deuxième ordre de diffraction de la deuxième harmonique, au moyen d’une installation de doublement de fréquence (12) et d’une installation de modulation optique (16) ; projection d’un premier et d’un deuxième rayons de référence (40,42) dans un trajet optique de référence (54) sur une unité de réception (22) ; émission d’un premier et d’un deuxième rayons de mesure (30,32) dans un trajet optique d’émission (50) d’un élément optique (46) ; réception d’un premier et d’un deuxième rayons de mesure (36,38) renvoyés par l’élément optique (46) dans un trajet optique de réception (52) ; superposition des premier et deuxième rayons de mesure (36,38) renvoyés sur les premier et deuxième rayons de référence (40,42) au moyen d’une unité de superposition (20) et projection sur l’unité de réception (22) ; réception des premier et deuxième rayons de mesure renvoyés (36,38) et des premier et deuxième rayons de référence (40,42) superposés, par l’unité de réception (22) et conversion en un signal de réception électrique (44) ; exploitation du signal de réception électrique (44) par une unité d’exploitation (24). Procédé selon la revendication 13, dans lequel les premier et deuxième rayons laser (31,33) sont utilisés comme premier et deuxième rayons de mesure (30,32) et les premier et deuxième rayons laser diffractés (34,35) comme premier et deuxième rayons de référence (40,42), ou les premier et deuxième rayons laser diffractés (34,35) sont utilisés comme premier et deuxième rayons de mesure (30,32) et les premier et deuxième rayons laser (31,33) comme premier et deuxième rayons de référence (40,42). Procédé selon la revendication 13 ou 14, dans lequel le deuxième rayon laser (33) est généré par l’installation de doublement de fréquence (12) à partir du premier rayon laser (31) et les premier et deuxième rayons laser diffractés (34,35) à partir des premier et deuxième rayons laser (31,33) par modulation de fréquence avec une fréquence de modulation dans l’installation de modulation optique (16). Procédé selon la revendication 13 ou 14, dans lequel le premier rayon laser diffracté (34) est généré par modulation de fréquence avec une fréquence de modulation dans l’installation de modulation optique (16) à partir du premier rayon laser (31) et le deuxième rayon laser (33) et le deuxième rayon laser diffracté (35) par l’installation de doublement de fréquence (12) à partir du premier rayon laser (31) et du premier rayon laser diffracté (34). Procédé selon l’une des revendications 13 à 16, dans lequel un angle de décalage entre le premier rayon laser (31) et le deuxième rayon laser (33) est compensé par au moins une cale. Procédé selon l’une des revendications 13 à 17, dans lequel les premier et deuxième rayons laser diffractés (34,35) sont émis de manière colinéaire avec un angle (28) par rapport aux premier et deuxième rayons laser (31,33), dans lequel l’angle (28) est en particulier d’au plus 50 mrad, de préférence d’au plus 10 mrad. Procédé selon l’une des revendications 13 à 18, dans lequel le premier rayon de mesure renvoyé (36) est superposé sur le premier rayon de référence (40) et le deuxième rayon de mesure renvoyé (38) sur le deuxième rayon de référence (42) par l’unité de superposition (20). Procédé selon l’une des revendications 13 à 19, dans lequel le signal de réception électrique (44) est démodulé et/ou filtré dans l’unité d’exploitation (24), dans lequel en particulier le signal de réception électrique (44) est démodulé par démodulation de quadrature et filtré avec un filtre passe-bas dans l’unité d’exploitation (24), et/ou dans lequel le signal de réception électrique (44) est mélangé dans l’unité d’exploitation (24) à l’aide d’un signal de double tonalité avec un dépôt sur la fréquence fondamentale, en particulier avec la fréquence de modulation et est démodulé par démodulation de quadrature et filtré avec un filtre passe-bas. Procédé selon l’une des revendications 13 à 20, dans lequel des différences de phase entre le premier rayon de référence (40) et le premier rayon de mesure renvoyé (36) ainsi qu’entre le deuxième rayon de référence (42) et le deuxième rayon de mesure renvoyé (38) sont déterminées dans l’unité de réception (22) en bandes de fréquences séparables de manière séparée pour la fréquence fondamentale et pour la deuxième harmonique. Procédé selon la revendication 21, dans lequel une dispersion relative entre la fréquence fondamentale et la deuxième harmonique est détérminée en particulier par formation différentielle numérique des différences de phase.