FR 3145210 A1 20240726 FR 2300623 A 20230124 Capteur (1) de gaz comportant une enceinte (2), le capteur comportant également : une source de lumière (10), configurée pour émettre une onde lumineuse (11) se propageant dans l'enceinte en formant, à partir de la source de lumière, un premier cône de lumière (Ω 1 ); un photodétecteur de mesure (20) apte à détecter une onde lumineuse (14) émise par la source de lumière (10) et s'étant propagé à travers l'enceinte; la source de lumière et le photodétecteur de mesure étant supporté par un circuit imprimé (7); une surface réfléchissante de rang 1, formant une partie d'une ellipsoïde de révolution, présentant un premier foyer (P1-1) et un deuxième foyer (P1-2), la surface réfléchissante de rang 1 étant disposée face à la source de lumière (10), de façon à réfléchir le premier cône de lumière vers le deuxième foyer, la première surface réfléchissante formant une partie d'une ellipsoïde de révolution. Capteur de gaz compact de conception simple Le domaine technique de l'invention est un capteur optique de gaz, et plus particulièrement un capteur infrarouge non dispersif. ART ANTERIEUR Le recours à des méthodes optiques pour l'analyse d'un gaz est assez fréquent. Des dispositifs permettent de déterminer la composition d'un gaz en se basant sur le fait que les espèces composant un gaz présentent des propriétés spectrales d'absorption différentes les unes des autres. Ainsi, connaissant une bande spectrale d'absorption d'une espèce gazeuse, sa concentration peut être déterminée par une estimation de l'absorption de la lumière traversant le gaz, en utilisant la loi de Beer Lambert. Ce principe permet une estimation de la concentration d'une espèce gazeuse présente dans le milieu. La source de lumière est usuellement une source émettant dans l'infrarouge, la méthode utilisée étant usuellement désignée par le terme anglosaxon "NDIR detection", l'acronyme NDIR signifiant Non Dispersive Infra-Red. Un tel principe a été fréquemment mis en œuvre, et est par exemple décrit dans de nombreux documents, par exemple dans US5026992 ou WO2007064370. Selon les procédés les plus courants, le gaz analysé s'étend entre une source de lumière et un photodétecteur, dit photodétecteur de mesure, ce dernier étant destiné à mesurer une onde lumineuse, émise par la source, transmise à travers le gaz à analyser, et partiellement absorbée par ce dernier. Les procédés comprennent généralement une mesure d'une onde lumineuse, dite onde lumineuse de référence, émise par la source, et non absorbée par le gaz analysé. La comparaison entre l'onde lumineuse en présence de gaz et l'onde lumineuse sans gaz permet de caractériser le gaz. Il s'agit par exemple de déterminer une quantité d'une espèce gazeuse dans le gaz, selon la technologie désignée par le terme "NDIR par absorption". Il peut également s'agir d'estimer une quantité de particules dans le gaz, en détectant une lumière diffusée par ce dernier selon une plage angulaire de diffusion prédéterminée. L'onde lumineuse de référence est mesurée par un photodétecteur de référence. Il peut s'agir d'un photodétecteur de référence différent du photodétecteur de mesure, et agencé de façon à être disposé face à la source de lumière le photodétecteur de référence étant associé à un filtre optique de référence. Le filtre optique de référence définit une bande spectrale de référence, dans laquelle le gaz à analyser ne présente pas d'absorption significative. Les documents EP2711687 et EP2891876 décrivent des capteurs de gaz comportant des enceintes, dans lesquelles un ou plusieurs miroirs sont agencés. Les miroirs permettent de maximiser le trajet de la lumière dans l'enceinte, et de focaliser les rayons lumineux ayant traversé le gaz sur le ou les photodétecteurs. Cela permet d'augmenter la sensibilité de détection tout en utilisant des dispositifs compacts. US2022/0214267 décrit une configuration compacte d’un capteur de gaz, compatible avec un format dit « 4R », qui est un standard usuel dans le domaine de la détection de gaz. Le demandeur a conçu un capteur de gaz particulièrement compact, compatible avec le format 4R, dont la fabrication est plus simple, et moins couteuse que celle du capteur décrit dans US2022/0214267. Il en résulte un capteur de gaz aux performances optimisées, privilégiant notamment la compacité et le coût. Un premier objet de l’invention est un capteur de gaz comportant une enceinte, configurée pour recevoir un gaz, le capteur comportant également : une source de lumière, configurée pour émettre une onde lumineuse se propageant dans l'enceinte en formant, à partir de la source de lumière, un premier cône de lumière; un photodétecteur de mesure configuré pour détecter une onde lumineuse émise par la source de lumière et s'étant propagé à travers l'enceinte; la source de lumière et le photodétecteur de mesure étant supportés par un circuit imprimé; une surface réfléchissante de rang 1, formant une partie d'une ellipsoïde de révolution, présentant un premier foyer et un deuxième foyer, la surface réfléchissante de rang 1 étant disposée face à la source de lumière, de façon à réfléchir le premier cône de lumière vers le deuxième foyer, la première surface réfléchissante formant une partie d'une ellipsoïde de révolution ; le dispositif étant caractérisé en ce que : le circuit imprimé comporte un miroir plan, formant une surface réfléchissante de rang 2, le deuxième foyer de la surface réfléchissante de rang 1 étant situé sur le miroir plan ou à une distance inférieure à 1 mm de ce dernier; le dispositif comporte une dernière surface réfléchissante, de rang N , N étant supérieur ou égal à 3, comportant un premier foyer, situé au niveau d’un miroir plan, disposé sur le circuit imprimé, formant une surface réfléchissante de rang -1, la dernière surface réfléchissante comportant un deuxième foyer; de telle sorte que l'onde lumineuse émise par la source de lumière est successivement réfléchie par les N surfaces réfléchissantes, selon leurs rangs respectifs, avant de converger vers le deuxième foyer de la dernière surface réfléchissante, en formant un dernier cône de lumière, le photodétecteur de mesure étant disposé de manière à s'étendre dans le dernier cône de lumière. Selon une possibilité, la source de lumière est disposée au niveau du premier foyer de la surface réfléchissante de rang 1, ou à une distance inférieure à 1 mm de ce dernier. Selon une possibilité, le photodétecteur de mesure est disposé au niveau du deuxième foyer de la dernière surface réfléchissante, ou à une distance inférieure à 1 mm de ce dernier. Selon une possibilité: le dispositif comporte plusieurs surfaces réfléchissantes de rang pair, chaque surface réfléchissante de rang pair étant un miroir plan disposé sur le circuit imprimé ; le dispositif comporte plusieurs surfaces réfléchissantes de rang impair, chaque surface réfléchissante de rang pair formant une partie d'une ellipsoïde de révolution et s’étendant face au circuit imprimé. Selon une possibilité: chaque surface réfléchissante de rang n est configurée pour réfléchir l'onde lumineuse qu'elle reçoit en formant un cône de lumière de rang n +1, ce dernier s'étendant autour d'un axe de propagation de rang n +1 ; lorsque n , l'axe de propagation de rang n +1 s'étend entre la surface réfléchissante de rang n jusqu'à la surface réfléchissante de rang n +1 ; lorsque est impair, et ≤ -2, chaque surface réfléchissante s’étend selon une partie d’une ellipsoïde de révolution, l’axe de propagation de rang +1 passant par le deuxième foyer de la surface de rang n , ce dernier étant confondu avec le premier foyer de la surface de rang n +2 ; lorsque n = N , l'axe de propagation de rang N +1 s'étend entre la surface de rang N jusqu'au photodétecteur de mesure; de telle sorte que l'onde lumineuse émise par la source de lumière subit un nombre de réflexions correspondant au nombre de surfaces réfléchissantes avant d'atteindre le photodétecteur de mesure. Selon une possibilité, dans lequel lorsque n et est impair, chaque cône de lumière de rang n +1 converge vers le deuxième foyer de la surface de rang n à partir de laquelle il se propage. Les surfaces réfléchissantes de rang impair peuvent être ménagées sur une face interne d’une même paroi, formant un capot du capteur. L'enceinte peut être formée par l'assemblage du capot du capteur en dessus d’un socle, le circuit imprimé étant disposé sur le socle. Le ou chaque miroir plan peut être formé par une couche mince d’un matériau réfléchissant déposée sur le circuit imprimé. Le nombre de surfaces réfléchissantes s'étendant entre la source de lumière et le photodétecteur de mesure est de préférence impair. Le nombre de surfaces réfléchissantes s'étendant entre la source de lumière et le photodétecteur de mesure peut être égal à 3 ou à 5. Selon une possibilité, le capteur comporte un photodétecteur de référence, configuré pour détecter une onde lumineuse considérée comme non atténuée par le gaz. Le capteur peut comporter une surface réfléchissante de référence, formant une ellipsoïde de révolution, la surface de référence comportant : un premier foyer, disposé au niveau d’une surface réfléchissante plane, de rang pair, ou à une distance inférieure à 1 mm de cette dernière ; un deuxième foyer, disposé au niveau du photodétecteur de référence, ou à une distance inférieure à 1 mm de ce dernier. Un deuxième objet de l’invention est un procédé d'analyse d'un gaz à l'aide d'un capteur selon le premier objet de l’invention, le procédé comportant les étapes suivantes : introduction du gaz dans l'enceinte du capteur; illumination du gaz à l'aide de la source de lumière; mesure d'une intensité lumineuse d'une onde lumineuse, émise par la source de lumière, et s'étant propagée à travers l'enceinte par le photodétecteur de mesure; détermination d'une quantité d'une espèce gazeuse dans le gaz, à partir de l'intensité lumineuse mesurée. L'étape d) peut être mise en œuvre par une unité de traitement à partir d'un signal généré par le photodétecteur de mesure. Le procédé peut comporter une détection, par un photodétecteur de référence, d’une onde lumineuse de référence, considérée comme non absorbée, ou de façon négligeable, par le gaz. L’étape d) est alors mise en œuvre par l’unité de traitement à partir d’un signal de référence généré par le photodétecteur de référence. L'invention sera mieux comprise à la lecture de l'exposé des exemples de réalisation présentés, dans la suite de la description, en lien avec les figures listées ci-dessous. FIGURES Les figures 1A et 1B sont des coupes du capteur de gaz, respectivement dans un plan transversal XZ et dans un plan principal XY, le plan principal étant perpendiculaire au plan transversal. La schématise le socle et le capot du capteur et montre l'emplacement des principaux composants du capteur, c'est-à-dire une source de lumière, un photodétecteur de mesure, ainsi que trois surfaces réfléchissantes. Sur cette figure, l'axe D 1 correspond à une génératrice circulaire représentée sur la . Cette représentation revient à dérouler l'enceinte du capteur selon cette génératrice. La représente une variante du mode de réalisation schématisé sur la , mettant en œuvre un photodétecteur de référence. La montre un mode de réalisation mettant en œuvre 5 surfaces réfléchissantes successives. La représente une variante du mode de réalisation schématisé sur la , mettant en œuvre un photodétecteur de référence. La montre un banc d’essai expérimental visant à déterminer la réflectivité de différentes couches minces. EXPOSE DE MODES DE REALISATION PARTICULIERS Les figures 1A et 1B schématisent un capteur de gaz 1 selon l'invention. Le capteur de gaz 1 comporte une enceinte 2 délimitée par un socle 4, un capot 5 et une paroi transversale 6. La paroi transversale 6 s'étend parallèlement à un axe transversal Z. La paroi transversale 6 est une paroi annulaire, autour de l'axe transversal Z. Elle s'étend entre le socle 4 et le capot 5. L'axe transversal Z s'étend perpendiculairement à un plan principal XY. L'enceinte 2 forme un boîtier cylindrique, obtenu en disposant le capot 5 sur le socle 4. Le socle 4 comporte une face externe 4 e et une face interne 4 i . Le capot 5 comporte une face externe 5 e et une face interne 5 i . Les faces externes 4 e , 5 e respectives du socle 4 et du capot 5 sont planes, parallèlement au plan principal XY. Elles sont perpendiculaires à l'axe transversal Z autour duquel s'étend la paroi annulaire 6. Les faces internes 4 i , 5 i respectives du socle 4 et du capot 5 sont orientées vers l'intérieur de l'enceinte 2. L'enceinte 2 est reliée à des broches de connexion 3, parallèles à l'axe transversal Z. La forme et les dimensions du capteur 1 sont conformes à un format usuel dans le domaine de la détection de gaz, dit format 4R. Le diamètre Φ de l'enceinte 2, dans le plan XY, est de 20 mm, et sa hauteur h (selon l’axe Z) est de 16.6 mm. Compte tenu de l'épaisseur de la paroi transversale 6, le diamètre interne Φ' de l'enceinte 2 est de 17 mm. On définit un sens positif de rotation autour de l'axe transversal Z, qui est considéré arbitrairement comme similaire au sens de rotation des aiguilles d'une montre. Un avantage du format 4R est qu'il est largement utilisé dans le domaine de l'électronique. Ainsi, un capteur de gaz 1 respectant ce format peut aisément être raccordé à des circuits électroniques existants. Le respect de ce format facilite la maintenance de systèmes de mesure, en facilitant le remplacement de capteurs. L'enceinte 2 est destinée à être occupée par un gaz G à analyser. Le gaz à analyser comporte une espèce gazeuse G x dont on souhaite déterminer une concentration C x dans le gaz. L'espèce gazeuse G x absorbe la lumière, et notamment la lumière infra-rouge, dans une bande spectrale d'absorption Δλ x . Le capteur 1 comporte également : une source de lumière 10, configurée pour émettre une onde lumineuse 11 dans une bande spectrale d'émission Δλ. La bande spectrale d'émission peut s'étendre entre le proche ultra-violet et l'infra-rouge moyen, par exemple entre 200 nm et 20 µm, et le plus souvent dans l'infra-rouge, la bande spectrale d'émission Δλ étant par exemple comprise entre 1 µm et 20 µm. un photodétecteur de mesure 20, configuré pour détecter une onde lumineuse 14, dite onde lumineuse transmise, dans la bande spectrale d'absorption Δλ x . L'onde lumineuse transmise est une onde lumineuse émise par la source de lumière 10, et s'étant propagée à travers l'enceinte, en s'atténuant progressivement durant son parcours à travers le gaz. Le photodétecteur de mesure 20 peut être associé à un filtre passe-bande, définissant une bande spectrale de détection Δλ d comprise dans la bande spectrale d'absorption Δλ x . un photodétecteur de référence 20 ref , configuré pour détecter une onde lumineuse de référence. L'onde lumineuse de référence détectée par le photodétecteur de référence 20 ref est considérée comme non atténuée par le gaz G présent dans l'enceinte. Dans cet exemple, le photodétecteur de référence détecte l'onde lumineuse de référence 20 ref dans une bande spectrale de référence Δλ ref , dans laquelle l'atténuation de l'onde lumineuse émise par la source est considérée comme négligeable, ou due à une variation de conditions environnementales, par exemple la température, ou l’humidité. Le photodétecteur de référence peut être associé à un filtre passe-bande de référence, définissant la bande spectrale de référence Δλ ref . Par exemple, la bande spectrale de référence Δλ ref est centrée autour de la longueur d'onde 3.91 µm. Le recours à un photodétecteur de référence est optionnel mais est avantageux. De façon alternative, le photodétecteur de référence n'est pas disposé dans l'enceinte 2 comportant le gaz, auquel cas la bande spectrale de référence peut être similaire à la bande spectrale de mesure. De préférence, la source de lumière 10, le photodétecteur de mesure 20 et le photodétecteur de référence 20 ref sont reliés à un même support plan. Il peut notamment s'agir d'une carte électronique formant la première paroi 4 de l'enceinte 2. Une telle disposition simplifie la fabrication du capteur. La source de lumière peut être impulsionnelle, et émettre des impulsions lumineuses dont la durée est généralement comprise entre 50 ms et 1 s. Il peut notamment s'agir d'une source de lumière infra-rouge de type filament formé sur une membrane suspendue, le filament étant parcouru par un courant électrique. De cette façon, la membrane suspendue est chauffée à une température comprise entre 400°C et 800°C, de façon à émettre une lumière infra-rouge. Le photodétecteur de mesure 20 et le photodétecteur de référence 20 ref peuvent être des thermopiles ou des pyrodétecteurs ou des photodiodes. Chaque photodétecteur est configuré pour générer un signal de détection, dont l'amplitude A correspond à une intensité I de l'onde lumineuse détectée. L'intensité I de l'onde lumineuse détectée par le photodétecteur de mesure 20 dépend de la concentration C x de l'espèce gazeuse d'intérêt G x selon la relation de Beer Lambert : où : µ (C x ) est un coefficient atténuation, dépendant de la concentration C x recherchée; l est l'épaisseur de gaz traversé par l'onde lumineuse dans l'enceinte ; I 0 correspond à l'intensité de l'onde qui est ou serait détectée par le photodétecteur de mesure 20 en l'absence de gaz absorbant dans l'enceinte. La comparaison entre I et I 0, prenant la forme d'un ratio I/ I 0 , correspond à une atténuation att causée par l'espèce gazeuse G x considérée. Lors de chaque impulsion de la source de lumière 10, on peut ainsi déterminer µ (C x ) , ce qui permet d'estimer la quantité C x sachant que la relation entre C x et µ (C x ) est connue. L'intensité I 0 peut être prédéterminée, par exemple au cours d'une calibration, ou mesurée en l'absence de gaz dans l'enceinte 20. Lorsque le capteur comporte un photodétecteur de référence 20 ref , l'intensité de référence I ref mesurée par le photodétecteur de référence permet de mesurer des variations de . Le capteur comporte une unité de traitement 30, recevant les signaux mesurés respectivement par le photodétecteur de mesure 20 et l'éventuel photodétecteur de référence 20 ref . L'unité de traitement 30 permet d'effectuer, à partir de ces derniers, les calculs d'estimation de la concentration de l'espèce gazeuse recherchée. L'unité de traitement 30 comporte par exemple un microprocesseur. Les dimensions de l'enceinte 2 dans laquelle s'étend le gaz sont particulièrement réduites. Or, il est préférable que l'onde lumineuse détectée par le photodétecteur de mesure 20 soit suffisamment atténuée de façon que l'atténuation att soit plus aisément quantifiable, en tenant compte des différents bruits de la chaîne de mesure. Il est donc préférable que la longueur l parcourue par les rayons atteignant le photodétecteur de mesure soit suffisamment élevée. Le demandeur considère que l'atténuation att doit être supérieure à 0.2. Dans la demande US2022/0214267, on décrit une configuration particulièrement compacte d’un capteur de gaz, dans lequel les rayons sont réfléchis par des surfaces réfléchissantes ellipsoïdales. Par surface ellipsoïdale, on entend une surface suivent une partie d'une ellipsoïde de révolution. Les surfaces réfléchissantes permettent à l'onde émise par la source de lumière d'effectuer de multiples réflexions avant d'atteindre le photodétecteur de mesure. Il en résulte une longueur suffisante l parcourue, dans l'enceinte 2, par les rayons atteignant le photodétecteur de mesure 20. Cependant, une telle configuration suppose la réalisation d’un grand nombre de surface ellipsoïdales, qui doivent être précisément agencées les unes par rapport aux autres. De plus, cela suppose la réalisation de deux pièces différentes présentant des formes complexes. La schématise l'intérieur de l'enceinte 2. Sur la , on a représenté l'intérieur de l'enceinte 2 en suivant une génératrice circulaire D 1 représentée en pointillés sur la . Cette représentation revient à dérouler l'enceinte selon la génératrice circulaire D 1 , le long de laquelle s'étendent des surfaces réfléchissantes S n de rang n . L'indice n est un entier naturel tel que 1 ≤ n ≤ N , N étant le nombre de surfaces réfléchissantes situées sur le chemin optique de l'onde lumineuse émise par la source de lumière 10 et se propageant vers le photodétecteur de mesure 20. Dans ce dispositif, selon que soit pair ou impair, la surface réfléchissante S n de rang est respectivement plane ou ellipsoïdale. Ainsi, le capteur est formé d’une alternance de surfaces réfléchissantes ellipsoïdales (rang impair) ou planes ( pair). Le recours à des surfaces réfléchissantes planes simplifie la fabrication du capteur. Le terme surface ellipsoïdale S n désigne une surface ellipsoïdale de révolution, obtenue par une rotation dans l'espace d'une ellipse E n autour de l'un de ses axes. Dans l'exemple décrit, chaque surface ellipsoïdale S n , étant impair, est associée à une ellipse E n présentant un grand axe et un petit axe. Par surface ellipsoïdale associée à une ellipse, on entend une surface ellipsoïdale formée par une rotation de l'ellipse autour d'un de ses axes. Dans l'exemple représenté, chaque surface ellipsoïdale S n est obtenue par une rotation de ellipse E n , à laquelle elle est associée, autour de son grand axe. Une telle surface ellipsoïdale est dite allongée, ce qui correspond à la désignation anglosaxonne "prolate spheroid" ou "prolate ellipsoid". Par surface réfléchissante, on entend une surface dont le coefficient de réflexion, dans tout ou partie de la bande spectrale d'émission Δλ, est supérieur à 40%, voire 50%, et de préférence supérieur à 80%. Dans le domaine spectral infra-rouge, une paroi réfléchissante peut être formée à l'aide d'un matériau réfléchissant tel un métal, par exemple de l'or. Dans les configurations représentées sur les figures 2A et 2B, = 3. Dans les configurations représentées sur les figures 3A et 3B, = 5. N peut être compris entre 3 et 10, mais le demandeur considère que N =5 correspond à un optimum. Quelle que soit la configuration, chaque surface réfléchissante S n , étant impair, est ellipsoïdale. Elle comporte un premier foyer P 1- n et un deuxième foyer P 2- n , les deux foyers étant distincts l'un de l'autre. Lorsque 3 n N , le premier foyer P 1- n est confondu avec le deuxième foyer P 2- (n-2) d'une surface réfléchissante ellipsoïdale S n-2 de rang n-2. Lorsque n = 1 (première surface réfléchissante S 1 ), le deuxième foyer P 2- 1 est confondu avec le premier foyer P 1- 3 de la deuxième surface réfléchissante S 3. Lorsque n = N (dernière surface), le premier foyer P 1- N est confondu avec le deuxième foyer P 2- (N-2) de la surface ellipsoïdale S N-2 de rang -2. La première surface réfléchissante S 1 permet une réflexion de l'onde lumineuse incidente 11 émise par la source de lumière 10, tandis que la dernière surface réfléchissante S N permet une réflexion de l'onde lumineuse, ayant traversé l'enceinte 10, vers le photodétecteur de mesure 20. Chaque surface réfléchissante S n , étant pair, est un miroir plan. Chaque surface réfléchissante S n , étant pair, est située au niveau : du deuxième foyer P 2,n-1 de la surface réfléchissante ellipsoïdale S n-1 de rang immédiatement inférieur ; du premier foyer P 1,n+1 de la surface réfléchissante ellipsoïdale de rang immédiatement supérieur S n+1 . La source de lumière 10 et le photodétecteur de mesure 20 sont portés par un circuit imprimé 7, le circuit imprimé étant désigné par le terme anglosaxon Printed Circuit Board (PCB). De préférence, la source de lumière et le photodétecteur de mesure sont portés par le même circuit imprimé. De préférence, chaque miroir plan, formant une surface réfléchissante S n de rang pair, est formé par une couche mince d’un matériau réfléchissant, tel de l’or ou du nickel, directement sur le PCB. L’épaisseur de la couche mince peut être de quelques 100 nanomètres, par exemple comprise entre 50 nm et 1 µm, ou entre 300 nm et 1 µm. Ainsi, avantageusement, chaque miroir résulte d’un dépôt du matériau réfléchissant directement sur le PCB. Cela simplifie le processus de fabrication du détecteur. La couche mince plane est disposée de façon à se situer dans l’axe Δ n-1 du cône de lumière Ω n-1 émis par la surface réfléchissante ellipsoïdale S n-1 de rang précédent. Comme précédemment indiqué, chaque surface réfléchissante S n , n étant pair , s’étend au niveau du deuxième foyer P 2,n-1 de la surface réfléchissante ellipsoïdale S n-1 de rang précédent, ainsi qu’au niveau du premier foyer P 1 ,n + 1 de la surface réfléchissante ellipsoïdale S n+1 de rang suivant. Un des avantages de l’invention est que seules les surfaces réfléchissantes de rang impair sont ellipsoïdales. Ces dernières sont ménagées sur le capot 5, et plus précisément forment la face interne 5 i du capot. Contrairement à la configuration décrite dans US2022/0214267, les surfaces réfléchissantes ellipsoïdales sont formées sur une seule et même pièce, destinée à être disposée face au circuit imprimé 7. Cela limite le nombre de pièces complexes à réaliser. Par ailleurs, la formation de miroirs plans sur le circuit imprimé est particulièrement simple et peu onéreuse, ce qui réduit le prix du capteur. On peut soit déposer une couche mince réfléchissante, soit disposer un miroir plan préfabriqué. L'onde lumineuse 11 émise par la source de lumière est successivement réfléchie par les différentes surfaces réfléchissantes S n , selon leurs rangs respectifs, pris dans l'ordre croissant. Autrement dit, les surfaces réfléchissantes S 1 … S N s'étendent successivement entre la source de lumière 10 et le photodétecteur de mesure 20. Le terme s'étendre successivement est à interpréter en considérant la propagation de la lumière entre la source de lumière 10 et le photodétecteur de mesure 20. Le trajet de l'onde lumineuse, projeté sur le socle 4 ou le capot 5, décrit un arc de cercle. La source de lumière 10 est configurée pour émettre l'onde lumineuse d'émission 11 selon un cône de lumière Ω 1 , dit premier cône, s'étendant autour d'un premier axe Δ 1 , jusqu'à la première surface réfléchissante ellipsoïdale S 1 . La source de lumière 10 est disposée à un sommet du premier cône de lumière Ω 1 . La source de lumière 10 est de préférence confondue avec le premier foyer P 1-1 de la première surface réfléchissante S 1 . Les termes « confondu » ou « au niveau de » sont à interpréter avec une certaine tolérance, et peuvent signifier "être situé dans le voisinage de", le voisinage correspondant à une zone s'étendant à une faible distance d'un point. Par faible distance, il est entendu une distance inférieure à 1 mm, voire inférieure à 0,5 mm. Sur la configuration représentée sur la , la première surface réfléchissante ellipsoïdale S 1 est configurée pour réfléchir le premier cône de lumière Ω 1 pour former un deuxième cône de lumière Ω 2 , s'étendant autour d'un deuxième axe Δ 2 . Le deuxième cône de lumière converge vers le deuxième foyer P 2-1 de la première surface réfléchissante S 1 , ce dernier étant situé au niveau du miroir plan S 2 , qui forme la deuxième surface réfléchissante. Le capteur comporte une troisième surface réfléchissante ellipsoïdale S 3 , dont le premier foyer P 1, 3 s’étend au niveau de la deuxième surface réfléchissante S 2 . La deuxième surface réfléchissante S 2 est configurée pour réfléchir le deuxième cône de lumière Ω 2 pour former un troisième cône de lumière Ω 3 , s'étendant autour d'un troisième axe Δ 3 . Le troisième cône de lumière Ω 3 diverge jusqu'à la troisième surface réfléchissante ellipsoïdale S 3 . La troisième surface réfléchissante ellipsoïdale S 3 est configurée pour réfléchir le troisième cône de lumière Ω 3 pour former un quatrième cône de lumière Ω 4 , s'étendant autour d'un quatrième axe Δ 4 . Le quatrième cône de lumière Ω 4 converge vers le photodétecteur de mesure 20, ce dernier étant situé au niveau du deuxième foyer P 2- 3 de la troisième réfléchissante S 3 . Ainsi, l'onde lumineuse 11 émise par la source de lumière 10 se propage entre les différentes surfaces réfléchissantes S 1 … S N , alternativement ellipsoïdales et plane, avant d’atteindre le photodétecteur de mesure. Dans cet exemple, = 3. peut être égal à 5, ou à un autre entier impair supérieur ou égal à 3. Entre la source de lumière 10 et le photodétecteur de mesure 20, l'onde lumineuse émise par la source de lumière subit N réflexions successives, c'est-à-dire autant de réflexions que de surfaces réfléchissantes s’étendant entre la source de lumière 10 et le photodétecteur de mesure 20. Cela permet de minimiser les pertes de signal lors de chaque réflexion. Entre deux surfaces réfléchissantes de rang successifs , +1, l’onde lumineuse 11 ne subit pas de réflexion par une autre surface réfléchissante. Les surfaces réfléchissantes de rang impair sont ellipsoïdales. La surface réfléchissante de rang 2 est un miroir plan disposé sur le circuit imprimé 7. La montre une configuration selon laquelle le capteur 1 comporte un photodétecteur de référence 20 ref , ce dernier étant disposé sur le même circuit imprimé 7 que la source de lumière 10 et que le photodétecteur de mesure 20. Le capteur comporte une surface ellipsoïdale réfléchissante de référence S ref , opposée au photodétecteur de référence 20 ref . La surface réfléchissante de référence S ref comporte un premier foyer P 1-ref et un deuxième foyer P 2-ref , les foyers étant distincts l'un de l'autre. Le premier foyer P 1-ref de la surface réfléchissante de référence S ref est situé sur la surface réfléchissante S 2. Le deuxième foyer P 2-ref de la surface réfléchissante de référence S ref est situé au niveau du photodétecteur de référence 20 ref . A l'instar des surfaces réfléchissantes de rang impair, la surface réfléchissante de référence S ref est de préférence portée par la paroi opposée à celle portant la source de lumière, le photodétecteur de mesure 20 et le photodétecteur de référence 20 ref . Sur la , on a délimité, par des tirets mixtes, les cônes de référence Ω ref,1 et Ω ref, 2 respectivement incident à la surface réfléchissante de référence S ref et réfléchi par cette dernière. Sur la figure 3A, on a représenté une configuration selon laquelle le nombre de surfaces réfléchissantes est égal à 5. Sur la , on a représenté une configuration avec 5 surfaces réfléchissantes, et une surface réfléchissante de référence qui dirige un cône de lumière de référence vers le photodétecteur de référence 20 ref . Sur la , on a délimité, par des tirets mixtes, les cônes de référence Ω ref,1 et Ω ref,2 respectivement incident à la surface réfléchissante de référence S ref et réfléchi par cette dernière. L’aptitude d’une simple couche mince, déposée sur un circuit imprimé, à réfléchir une onde lumineuse a été vérifiée expérimentalement. La représente le dispositif expérimental mis en œuvre. Une source de lumière L émet une lumière, de type filament, collimatée par une première lentille L1, vers une surface réfléchissante plane S. La lumière réfléchie par la couche mince est focalisée par une deuxième lentille L2 vers un photodétecteur D, de type thermopile. La surface réfléchissante était soit un miroir soit une couche d’or, déposée sur un PCB, sur une couche d’accroche de nickel de 5 µm. On a utilisé deux cartes PCB différentes : sur une première carte PCB1, l’épaisseur de la couche d’or était égale à 66 nm. Sur une deuxième couche d’accroche, l’épaisseur était de 744 nm. La lumière collectée par le détecteur a permis d’estimer la réflectivité de la surface réfléchissante, la réflectivité correspondant au pourcentage de lumière émise par la source de lumière et collectée par le photodétecteur D. L’angle θ représenté sur la était de 30°. Les distances d1 et d2 étaient respectivement de 33.5 mm et 52.9 mm. On a mis en œuvre deux PCB, dont les qualités de finition étaient différentes. La carte PCB1 présentait un état de surface grossier, traité de manière standard par une finition électrochimique. La deuxième carte PCB présentait un état de surface plus lisse, suite à une finition électrolytique. Sur le PCB1, on a formé quatre miroirs identiques plans, référencés M1 à M4. Il en est de même du PCB2, sur lequel on a formé quatre miroirs identiques plans M6 à M10. Le tableau ci-dessous montre les réflectivités respectivement déterminées pour chaque miroir plan. Réference Type de miroir Réflectivité PCB1 M1 41 M2 42 M3 39 M4 38 PCB2 M6 62 M7 50 M8 64 M9 49 M10 46 Miroir de référence 97 La dernière ligne du tableau correspond à un miroir de référence, considéré comme parfait. On observe que l’amélioration de l’état de surface du PCB permet d’améliorer significativement la réflectivité. L'invention pourra être appliquée pour la détection de gaz dans la surveillance de l'environnement, ou dans des applications de contrôle de gaz industriels, notamment dans l'agroalimentaire, l'industrie pétrolière, ou la distribution de gaz. Capteur (1) de gaz comportant une enceinte (2), configurée pour recevoir un gaz (G), le capteur comportant également : une source de lumière (10), configurée pour émettre une onde lumineuse (11) se propageant dans l'enceinte en formant, à partir de la source de lumière, un premier cône de lumière (Ω 1 ); un photodétecteur de mesure (20) configuré pour détecter une onde lumineuse (14) émise par la source de lumière (10) et s'étant propagée à travers l'enceinte; la source de lumière et le photodétecteur de mesure étant supportés par un circuit imprimé (7); une surface réfléchissante de rang 1, formant une partie d'une ellipsoïde de révolution, présentant un premier foyer (P1-1) et un deuxième foyer (P1-2), la surface réfléchissante de rang 1 étant disposée face à la source de lumière (10), de façon à réfléchir le premier cône de lumière vers le deuxième foyer, la première surface réfléchissante formant une partie d'une ellipsoïde de révolution ; le dispositif étant caractérisé en ce que : le circuit imprimé comporte un miroir plan, formant une surface réfléchissante de rang 2, le deuxième foyer de la surface réfléchissante de rang 1 étant situé sur le miroir plan ou à une distance inférieure à 1 mm de ce dernier; le dispositif comporte une dernière surface réfléchissante ( S N ) de rang N, N , étant supérieur ou égal à 3,la dernière surface réfléchissante comportant un premier foyer (P1- N ), situé au niveau d’un miroir plan, disposé sur le circuit imprimé, le miroir plan formant une surface réfléchissante de rang -1, la dernière surface réfléchissante comportant un deuxième foyer (P2- N ) ; de telle sorte que l'onde lumineuse (11) émise par la source de lumière est successivement réfléchie par les N surfaces réfléchissantes, selon leurs rangs respectifs, avant de converger vers le deuxième foyer (P2- N ) de la dernière surface réfléchissante ( S N ), en formant un dernier cône de lumière ( Ω N ), le photodétecteur de mesure étant disposé de manière à s'étendre dans le dernier cône de lumière. Capteur selon la revendication 1, dans lequel la source de lumière (10) est disposée au niveau du premier foyer (P1-1) de la surface réfléchissante de rang 1 ( S 1 ), ou à une distance inférieure à 1 mm de ce dernier. Capteur selon l'une quelconque des revendications précédentes, dans lequel le photodétecteur de mesure (20) est disposé au niveau du deuxième foyer (P2- N ) de la dernière surface réfléchissante ( S N ), ou à une distance inférieure à 1 mm de ce dernier. Capteur selon l’une quelconque des revendications précédentes, dans lequel : le dispositif comporte plusieurs surfaces réfléchissantes de rang pair, chaque surface réfléchissante de rang pair étant un miroir plan disposé sur le circuit imprimé ; le dispositif comporte plusieurs surfaces réfléchissantes de rang impair, chaque surface réfléchissante de rang pair formant une partie d'une ellipsoïde de révolution et s’étendant face au circuit imprimé. Capteur selon la revendication 4, dans lequel : chaque surface réfléchissante de rang n est configurée pour réfléchir l'onde lumineuse qu'elle reçoit en formant un cône de lumière (Ω n +1 ) de rang n +1, ce dernier s'étendant autour d'un axe de propagation (Δ n+1 ) de rang n +1 ; lorsque n , l'axe de propagation (Δ n+1 ) de rang n +1 s'étend entre la surface réfléchissante ( S n ) de rang n jusqu'à la surface ( S n+1 ) de rang n +1 ; lorsque est impair, et ≤ -2, chaque surface réfléchissante ( S n ) s’étend selon une partie d’une ellipsoïde de révolution, l’axe de propagation de rang +1 passant par le deuxième foyer (P2- n ) de la surface ( S n ) de rang n , ce dernier étant confondu avec le premier foyer (P1- n+2 ) de la surface ( S n+2 ) de rang n +2 ; lorsque n = N , l'axe de propagation (Δ N+1 ) de rang N +1 s'étend entre la surface ( S N ) de rang N jusqu'au photodétecteur de mesure (20) ; de telle sorte que l'onde lumineuse émise par la source de lumière (10) subit un nombre de réflexions correspondant au nombre ( N ) de surfaces réfléchissantes avant d'atteindre le photodétecteur de mesure (20). Capteur selon la revendication 5, dans lequel lorsque n et est impair, chaque cône de lumière (Ω n +1 ) de rang n +1 converge vers le deuxième foyer (P2- n ) de la surface ( S n ) de rang n à partir de laquelle il se propage. Capteur selon l’une quelconque des revendications précédentes, dans lequel les surfaces réfléchissantes de rang impair sont ménagées sur une face interne (5 i ) d’une même paroi (5), formant un capot du capteur. Capteur selon la revendication 7, dans lequel l'enceinte (2) est formée par l'assemblage du capot (5) du capteur en dessus d’un socle (4), le circuit imprimé (7) étant disposé sur le socle. Capteur selon l'une quelconque des revendications précédentes, dans lequel le ou chaque miroir plan est formé par une couche mince d’un matériau réfléchissant déposée sur le circuit imprimé. Capteur selon l'une quelconque des revendications précédentes, dans lequel le nombre ( ) de surfaces réfléchissantes s'étendant entre la source de lumière (10) et le photodétecteur de mesure (20) est impair. Capteur selon la revendication 10, dans lequel le nombre de surfaces réfléchissantes s'étendant entre la source de lumière et le photodétecteur de mesure est égal à 3 ou à 5. Capteur selon l'une quelconque des revendications précédentes, comportant un photodétecteur de référence (20 ref ), configuré pour détecter une onde lumineuse considérée comme non atténuée par le gaz (G). Capteur selon la revendication 12, comportant une surface réfléchissante de référence (S ref ), formant une ellipsoïde de révolution, la surface de référence comportant : un premier foyer (P 1 – ref ) disposé au niveau d’une surface réfléchissante plane, de rang pair, ou à une distance inférieure à 1 mm de cette dernière ; un deuxième foyer, (P2 – ref) disposé au niveau du photodétecteur de référence, ou à une distance inférieure à 1 mm de ce dernier. Procédé d'analyse d'un gaz (G) à l'aide d'un capteur (1) selon l'une quelconque des revendications précédentes, le procédé comportant les étapes suivantes : introduction du gaz dans l'enceinte (2) du capteur (1); illumination du gaz à l'aide de la source de lumière (10) ; mesure d'une intensité lumineuse d'une onde lumineuse, émise par la source de lumière, et s'étant propagée à travers l'enceinte (2) par le photodétecteur de mesure (20) ; détermination d'une quantité d'une espèce gazeuse dans le gaz ( G x ), à partir de l'intensité lumineuse mesurée. Procédé selon la revendication 14, dans laquelle l'étape d) est mise en œuvre par une unité de traitement (30) à partir d'un signal généré par le photodétecteur de mesure (20).