FR 3144484 A1 20240628 FR 2214054 A 20221221 Titre : Procédé de fabrication d’un dispositif mémoire à changement de phase L’invention concerne un dispositif (1) mémoire à changement de phase comprenant un empilement (100) comprenant un point mémoire (200). Le point mémoire comprend, empilés selon une direction verticale (Z), une électrode inférieure (110), un tronçon chalcogénure (120) disposé sur l’électrode inférieure, et une électrode supérieure (130) disposée sur le tronçon chalcogénure. Le point mémoire présente une surface latérale (203) et une face supérieure (201), et comprend une couche d’encapsulation (300) disposée au contact de la surface latérale et de la face supérieure, et une portion dopée (125) s’étendant depuis la surface latérale et à l’intérieur du tronçon chalcogénure, le long de toute sa hauteur. Le tronçon chalcogénure présente également une portion non dopée (126) présentant un dopage nul ou inférieur au dopage de la portion dopée et s’étendant depuis la portion dopée jusqu’au centre du tronçon chalcogénure. Figure pour l’abrégé : Fig. 3H Procédé de fabrication d’un dispositif mémoire à changement de phase La présente invention concerne le domaine des dispositifs mémoires à changement de phase. Elle trouve pour application particulièrement avantageuse le domaine des dispositifs mémoire à base d’au moins une couche chalcogénure, par exemple à base de germanium, sélénium et tellure (GeSbTe, aussi désigné matériau GST). ETAT DE LA TECHNIQUE Les dispositifs mémoires représentent des enjeux cruciaux dans de nombreuses applications, par exemples pour le type de mémoire communément désignée par le terme anglais Storage Class Memory (SCM), les mémoires embarquées pour l’automobile, ou les applications neuromorphiques. Dans ce contexte, les mémoires résistives représentent de très bons candidats pour supporter ou remplacer la mémoire Flash. Les mémoires résistives présentent en effet des avantages significatifs en termes de vitesse et de mise à l’échelle, c’est-à-dire la réduction des dimensions de la cellule unitaire mémoire, et de la distance entre deux points mémoires, ce qui a pour effet d’augmenter la densité de points mémoires dans les matrices de mémoire. Parmi les mémoires résistives, les mémoires à changement de phase (communément abrégées PCM, de l’anglais Phase Change Memory) représentent la technologie de mémoire résistive non volatile parmi les plus mûres et à un stade de développement et de production avancé. Les mémoires à changement de phase comprennent typiquement deux états de programmation obtenus à partir d’une couche à base d’un matériau chalcogénure formant une couche dite « mémoire » et présentant un état amorphe et un état cristallin : programmation « reset » ou de façon équivalente HRS, de l’anglais High Resistive State, (que l’on peut traduire par état de haute résistivité), qui se base sur la fonte de la totalité ou d’une partie de la couche chalcogénure, lors d’une impulsion électrique permettant d’atteindre la température de fusion du matériau par effet Joule. Ensuite la partie fondue du matériau chalcogénure est figée dans un état amorphe par refroidissement soudain, obtenu par réduction rapide du courant. L’état amorphe du matériau chalcogénure est très peu conducteur électriquement. La programmation reset permet de stocker l’information « 0 », avec le stockage d’une résistance élevée dans le dispositif PCM. programmation « set » ou de façon équivalente LRS, de l’anglais Low Resistive State, (que l’on peut traduire par état de faible résistivité), qui se base sur une fonte partielle ou totale du matériau chalcogénure lors d’une impulsion électrique. Ensuite, le matériau chalcogénure est cristallisé par un refroidissement graduel obtenu par réduction graduelle du courant. L’état cristallin du matériau chalcogénure est un meilleur conducteur électrique que l’état amorphe. La programmation set permet de stocker l’information « 1 », avec le stockage d’une résistance faible dans le dispositif PCM. La couche mémoire peut en outre être complétée par une deuxième couche chalcogénure dite « sélectrice », incorporée dans un module sélecteur ou commutateur du dispositif PCM (communément désigné en anglais par le terme ovonic threshold switch, OTS, que l’on peut traduire par commutateur de seuil ovonique). La deuxième couche chalcogénure sous l’état amorphe, présente des états de conductivité électrique différents avec l’application d’une tension seuil et d’une tension d’initialisation. Au-delà de la tension de seuil, la deuxième couche chalcogénure présente une faible résistivité, permettant le passage d’un flux élevé de courant électrique. Le courant électrique permet de programmer et de lire le dispositif PCM sélectionné dans un réseau, sans programmation indésirable des dispositifs adjacents. La tension de seuil est la tension de commutation de la couche sélectrice pour autoriser le passage du courant. La tension de seuil peut être utilisée pour différencier l’état set et l’état reset. La tension de d’initialisation est la tension de seuil nécessaire à la première commutation, typiquement supérieure aux tensions de seuil subséquentes. Parmi les spécifications demandées, selon les applications l’on va rechercher une stabilité de la phase amorphe à haute température, une fiabilité avec un taux d’erreur de programmation typiquement inférieur à la ppm (10 -6 ), une endurance typiquement supérieure à 10 9 cycles et/ou des vitesses de cristallisation rapides. Cependant, certaines étapes de fabrication d’un dispositif PCM ont un impact négatif sur ses performances. Notamment, la gravure ou structuration (couramment désignée par le terme anglais de « patterning ») du dispositif PCM affecte la composition des couches chalcogénures et peut engendrer une recristallisation non souhaitée de ces couches, une accélération des phénomènes de ségrégation et une mauvaise fonctionnalité du dispositif PCM pour des dimensions critiques trop faibles. Même en encapsulant le dispositif PCM, on constate que celui-ci présente des performances dégradées. Notamment, on remarque fréquemment la présence d’un pic d’oxygène au niveau des flancs du dispositif. Les solutions connues ne proposent donc pas de solution satisfaisante pour réduire la dimension d’un point mémoire sans dégrader significativement ses performances. Un objet de la présente invention est donc de proposer une solution améliorant les propriétés d’un dispositif mémoire à changement de phase. Les autres objets, caractéristiques et avantages de la présente invention apparaîtront à l'examen de la description suivante et des dessins d'accompagnement. Il est entendu que d'autres avantages peuvent être incorporés. RESUME Pour atteindre cet objectif, un premier aspect de l’invention concerne un dispositif mémoire à changement de phase comprenant un empilement comprenant un point mémoire, le point mémoire comprenant, empilés selon une direction dite verticale : une électrode inférieure formée dans une couche inférieure, au moins un tronçon dit chalcogénure formé dans au moins une couche chalcogénure, disposé sur l’électrode inférieure, une électrode supérieure formée dans une couche supérieure et disposée sur l’au moins un tronçon chalcogénure, le point mémoire présentant une surface latérale et une face supérieure. Le point mémoire comprend également une couche d’encapsulation encapsulant le point mémoire et disposée au contact de la surface latérale et de la face supérieure. Le point mémoire présente au moins une portion, dite dopée, s’étendant depuis la surface latérale et à l’intérieur du tronçon chalcogénure, et présentant un dopage à base d’au moins une espèce, dite espèce dopante, choisie parmi les espèces suivantes : le carbone, le fluor, l’azote, l’indium, l’arsenic, l’aluminium, le germanium, le silicium, le chlore et le bore. La portion dopée s’étend, selon la direction dite verticale le long de toute la hauteur du tronçon chalcogénure. Le tronçon chalcogénure présente une portion, dite non dopée, présentant un dopage nul ou inférieur au dopage de la portion dopée en ladite espèce dopante, la portion non dopée s’étendant depuis la portion dopée et jusqu’à un centre du tronçon chalcogénure. Un deuxième aspect de l’invention concerne un procédé de fabrication d’un dispositif mémoire à changement de phase comprenant les étapes suivantes : une fourniture d’un empilement présentant une face supérieure, l’empilement comprenant, empilées selon une direction dite verticale : une couche inférieure, au moins une couche dite chalcogénure à base d’au moins un élément chimique de la famille des chalcogènes, une couche supérieure, une gravure de structuration du substrat à partir de sa face supérieure, la gravure de structuration s’étendant jusque dans une partie au moins de la couche inférieure et permettant de former un point mémoire comprenant : une électrode inférieure formée dans la couche inférieure, au moins un tronçon dit chalcogénure formé dans l’au moins une couche chalcogénure, disposé sur l’électrode inférieure, une électrode supérieure formée dans la couche supérieure et disposée sur l’au moins un tronçon chalcogénure, le point mémoire présentant une surface latérale et une face supérieure, une formation d’une couche d’encapsulation encapsulant le point mémoire et disposée au contact de la surface latérale et de la face supérieure du point mémoire, une implantation ionique d’une espèce dite dopante dans l’au moins un tronçon chalcogénure au travers de la couche d’encapsulation, l’implantation ionique étant réalisée selon une direction d’implantation formant un angle dit d’implantation θ impl avec la direction verticale, avec θ impl ≥25°, l’implantation ionique étant configurée de façon à doper au moins une portion du tronçon chalcogénure, la portion s’étendant depuis la surface latérale. Suite à la gravure de structuration de l’empilement pour former le point mémoire et à l’encapsulation de ce dernier, le point mémoire et notamment le tronçon chalcogénure présentent de nombreux défauts. On compte notamment parmi eux des défauts structurels provoqués par la gravure de structuration, et une oxydation des espèces chalcogénures du fait de la remise à l’air inévitable du point mémoire avant son encapsulation. Ces étapes de gravure et d’encapsulation sont cependant extrêmement courantes voire inévitables lors de la production de dispositifs mémoires. L’implantation telle que décrite ci-dessus permet de supprimer ou du moins réduire la quantité de ces défauts et notamment de fiabiliser l’interface entre le tronçon chalcogénure et la couche d’encapsulation. Elle permet notamment de détruire les liaisons oxyde formées avec les espèces chalcogénures et de former à la place des liaisons entre les espèces chalcogénure et l’espèce dopante, par exemple des liaisons Ge-C. L’implantation proposée depuis la surface latérale du point mémoire permet également d’améliorer la propreté de l’interface entre le tronçon chalcogénure et la couche d’encapsulation, permettant d’éviter les effets parasites de dégénération de l’espèce chalcogénure au niveau de ladite interface, et d’améliorer l’adhérence entre le point mémoire et la couche d’encapsulation. Grâce à l’inclinaison de l’implantation, le procédé permet le traitement de l’interface entre le point mémoire et la couche d’encapsulation sans modification du matériau chalcogénure, ce que ne permet pas une implantation verticale. L’implantation proposée a également pour avantage de réduire le stress du tronçon chalcogénure amorphe au niveau de l’interface avec la couche d’encapsulation. Cela a pour bénéfice direct une relaxation des contraintes et donc une limitation de la quantité de défauts structuraux pouvant apparaître ainsi qu’une meilleure robustesse du dispositif. Cela a également un impact positif sur la durée de vie du dispositif, notamment en termes d’endurance. Dans le cadre de la présente invention, le dopage de la couche chalcogénure est réalisé par implantation ionique sur une couche chalcogénure déjà formée. L’implantation ionique permet un meilleur contrôle de la localisation de l’espèce dopante dans la couche chalcogénure, et ce notamment pour des concentrations plus faibles que par co-pulvérisation. Lors du développement de l’invention, il a en outre été mis en évidence que, de manière surprenante, l’implantation ionique induit une redistribution structurale de la couche chalcogénure (par le passage des ions et leur implantation), ce qui permet d’améliorer ses propriétés. Les performances du dispositif PCM sont ainsi améliorées. La programmation de l’état SET et l’endurance du dispositif PCM peuvent notamment être améliorées. Cette solution se démarque clairement des solutions mettant en œuvre un dépôt par co-pulvérisation, qui incitent au contraire à adapter les paramètres de dépôt par pulvérisation pour améliorer les propriétés d’un dispositif PCM dopé en carbone. Les avantages décrits pour le procédé de fabrication du dispositif s’étendent au dispositif en lui-même, qui présente notamment une bonne qualité d’interface entre le point mémoire et la couche d’encapsulation. BREVE DESCRIPTION DES FIGURES Les buts, objets, ainsi que les caractéristiques et avantages de l’invention ressortiront mieux de la description détaillée d’un mode de réalisation de cette dernière qui est illustré par les dessins d’accompagnement suivants dans lesquels : La représente une vue en coupe transversale en microscopie électronique à balayage illustrant selon un exemple l’emplacement d’un dispositif PCM entre les niveaux métalliques en fin de ligne de fabrication (communément désigné en anglais par back-end of line, ou simplement back-end). La représente un schéma en perspective d’un point mémoire selon un exemple de réalisation. Les figures 3A à 3I représentent un premier mode de réalisation du procédé selon l’invention. La illustre la fourniture d’un empilement comprenant une couche inférieure, une couche chalcogénure et une couche supérieure. La illustre la formation d’un masque de gravure sur la face supérieure de l’empilement. La représente la formation d’ouvertures dans le masque de gravure. La illustre la gravure de structuration de l’empilement au travers du masque de gravure, permettant d’obtenir un point mémoire comprenant une électrode inférieure, un tronçon chalcogénure et une électrode supérieure. La illustre le retrait du masque de gravure. La représente une étape d’encapsulation du point mémoire par une couche d’encapsulation. La illustre une étape d’implantation du point mémoire et tout particulièrement du tronçon chalcogénure au travers de la couche d’encapsulation. La représente le dispositif mémoire après implantation. La représente un détail de la , figurant notamment le tronçon chalcogénure dont sa portion dopée. Les figures 4A à 4E représentent un deuxième mode de réalisation du procédé selon l’invention. La illustre la fourniture d’un empilement comprenant une couche inférieure, une première couche chalcogénure, une couche intermédiaire, une deuxième couche chalcogénure et une couche supérieure. La illustre le point mémoire obtenu après une gravure de structuration de l’empilement illustré à la . Le point mémoire comprend une électrode inférieure, un premier tronçon chalcogénure, une électrode intermédiaire, un deuxième tronçon chalcogénure et une électrode supérieure. La représente une étape d’encapsulation du point mémoire par une couche d’encapsulation. La illustre une étape d’implantation du point mémoire et tout particulièrement des tronçons chalcogénures au travers de la couche d’encapsulation. La représente le dispositif mémoire après implantation. Les figures 5A, 5B et 5C représentent des schémas, respectivement en perspective, en vue de face et en vue de dessus, d’un dispositif PCM selon un exemple de réalisation. La est un graphique illustrant l’évolution de la concentration de différentes espèces dans une tranche du dispositif PCM comprenant une portion de la couche mémoire et de la couche d’encapsulation. La est un graphique illustrant les profils d’implantation obtenus pour deux énergies d’implantation différentes dans une tranche du dispositif PCM comprenant une portion de la couche mémoire et de la couche d’encapsulation. La est un graphique illustrant l’évolution de la résistivité de la couche mémoire du dispositif mémoire en fonction de la température, pour différentes valeurs d’énergie d’implantation et de dose implantée. La est un graphique illustrant la densité au sein de la couche mémoire du dispositif mémoire et l’épaisseur de couche mémoire impactée pour différentes énergies d’implantation et doses implantées. Les dessins sont donnés à titre d'exemples et ne sont pas limitatifs de l’invention. Ils constituent des représentations schématiques de principe destinées à faciliter la compréhension de l’invention et ne sont pas nécessairement à l'échelle des applications pratiques. En particulier les dimensions ne sont pas représentatives de la réalité. DESCRIPTION DÉTAILLÉE Avant d’entamer une revue détaillée de modes de réalisation de l’invention, sont énoncées ci-après des caractéristiques optionnelles qui peuvent éventuellement être utilisées en association ou alternativement : Avantageusement, 20≤θi mpl ≤60°. Préférentiellement, la portion présente, selon toutes les directions d’un plan transversal perpendiculaire à la direction verticale, une dimension radiale l125 avec l125 ≤ 20 nm, de préférence l125 ≤ 10 nm. Cela permet d’éviter que les performances du matériau chalcogénure soient altérées, ou du moins altérées dans des proportions trop importantes. Avantageusement, l 125 ≥ 2 nm, de préférence l 125 ≥ 5 nm. Selon un mode de réalisation, l’au moins un tronçon chalcogénure comprend un premier tronçon chalcogénure et un deuxième tronçon chalcogénure : le premier tronçon chalcogénure est disposé sur l’électrode inférieure, et destiné à former une couche dite mémoire, et le deuxième tronçon chalcogénure est destiné à former une couche dite sélectrice, le deuxième tronçon chalcogénure étant séparé du premier tronçon chalcogénure par une électrode intermédiaire, et l’implantation ionique est configurée de sorte que la portion du tronçon chalcogénure s’étende dans le premier tronçon chalcogénure et le deuxième tronçon chalcogénure. Selon un exemple, l’espèce dopante implantée est au moins l’une parmi le carbone, le fluor, l’azote, l’indium, l’arsenic l’aluminium, le germanium, le silicium, le chlore et le bore. Selon un exemple, lors de l’implantation ionique, l’énergie d’implantation est supérieure ou égale à 1 keV, de préférence supérieure ou égale à 4 keV, de préférence supérieure ou égale à 10 keV, par exemple supérieure ou égale à 30 keV. Selon un exemple, lors de l’implantation ionique, une dose d’espèce dopante implantée D impl supérieure à 10 15 atomes/cm² est implantée. Selon un exemple, la couche d’encapsulation est à base d’au moins un matériau pris parmi : le SiN, le SiC et le SiCN. Selon un exemple, le tronçon chalcogénure comprend au moins un élément chimique parmi le germanium Ge, l’antimoine Sb et le tellure Te. Selon un exemple, le premier tronçon chalcogénure, ou couche mémoire, peut-être à base ou fait de tout matériau appartenant au diagramme ternaire du germanium Ge, antimoine Sb et tellure Te. Par exemple, ce matériau est choisi parmi Ge1Sb2Te4, GeTe, Sb2Te3, Ge7Sb1Te2. Selon un exemple, le deuxième tronçon chalcogénure, ou couche sélectrice, comprend au moins un élément chimique parmi le sélénium, l’arsenic, le soufre, le silicium et l’aluminium. Selon un exemple, le deuxième tronçon chalcogénure, ou couche sélectrice, est à base ou fait d’un matériau choisi parmi les familles d’alliage GeSbSe, GeSe, AsSeSiGe, AsSe, SbSe, SiSe, AsTe, SiGeSe, AlTe, éventuellement dopé à l’azote N. Notons que les coefficients stœchiométriques entre les éléments chimiques de ces alliages peuvent varier, par exemple selon les applications visées. Il est précisé que, dans le cadre de la présente invention, les termes « sur », « surmonte », « recouvre », « sous-jacent », en « vis-à-vis » et leurs équivalents ne signifient pas forcément « au contact de ». Ainsi par exemple, le dépôt, le report, le collage, l’assemblage ou l’application d’une première couche sur une deuxième couche, ne signifie pas obligatoirement que les deux couches sont directement au contact l’une de l’autre, mais signifie que la première couche recouvre au moins partiellement la deuxième couche en étant soit directement à son contact, soit en étant séparée d’elle par au moins une autre couche ou au moins un autre élément. On entend par un paramètre « sensiblement égal/supérieur/inférieur à » une valeur donnée, que ce paramètre est égal/supérieur/inférieur à la valeur donnée, à plus ou moins 10 %, près de cette valeur. On entend par un paramètre « sensiblement compris entre » deux valeurs données que ce paramètre est au minimum égal à la plus petite valeur donnée, à plus ou moins 10 %, près de cette valeur, et au maximum égal à la plus grande valeur donnée, à plus ou moins 10 %, près de cette valeur. On entend par un substrat, une couche, une zone ou une portion « à base » d’un matériau A, un substrat, une couche, une zone ou une portion comprenant ce matériau A, par exemple à hauteur d’au moins 50%, et éventuellement d’autres matériaux, par exemple des éléments dopants. Dans le cadre de l’invention, les énergies sont données en électronvolt, pour lequel 1 eV ≈ 1,602.10−19 J, dans le système international des unités. De façon tout à fait connue dans le domaine, la famille des chalcogènes désigne les éléments chimiques de la 16ème colonne du tableau périodique des éléments chimiques, ou de façon équivalente la colonne précédant celles des halogènes et des gaz nobles. Dans la description détaillée qui suit, il pourra être fait usage de termes tels que « horizontal », « vertical », « longitudinal », « transversal », « supérieur », « inférieur ». Ces termes doivent être interprétés de façon relative en relation avec la position normale du dispositif PCM lors de sa fabrication. Par exemple, les notions « horizontal » et « longitudinal » correspondent à la direction d’extension principale des couches et tronçons, et notamment de la ou les couche(s) et tronçon(s) chalcogénure(s), du dispositif PCM. On utilisera également un repère dont la direction longitudinale ou arrière/avant correspond à l’axe Y, la direction transversale ou droite/gauche correspond à l’axe X et la direction verticale ou bas/haut correspond à l’axe Z. Le procédé de fabrication du dispositif PCM 1 va maintenant être décrit en références aux figures selon plusieurs exemples de réalisation. Un dispositif PCM 1 est typiquement fabriqué en fin de ligne de fabrication (communément désigné par back-end of line anglais, ou encore back-end). Le dispositif PCM 1 et son substrat peuvent être disposés entre deux niveaux métalliques M du back-end, notamment entre les deux derniers niveaux, par exemple entre MN et MN-1 comme illustré sur la . La position de la partie du dispositif fabriquée en début de ligne de fabrication (habituellement qualifiée de front-end) est indiquée par des pointillée en . Les intégrations peuvent plus généralement aller jusqu’à dix niveaux métalliques ou plus. Le terme de substrat ne signifie pas nécessairement une monocouche et peut comprendre un empilement de couches notamment dans le cadre d'une réalisation en back-end. Un exemple de mise en œuvre du procédé selon l’invention va maintenant être décrit en référence aux figures 3A à 3I. Comme illustré en , une première étape consiste en la fourniture d’un empilement 100 comprenant, empilées selon une direction d’empilement Z : une couche inférieure 110a, une couche chalcogénure 120a et une couche supérieure 130a. La couche chalcogénure 120a surmonte une face supérieure 111a de la couche inférieure 110a. De préférence, la face inférieure 122a de la couche chalcogénure 120a est au contact direct de la face supérieure 111a de la couche inférieure 110a. La couche supérieure 130a surmonte une face supérieure 121a de la couche chalcogénure 120a. De préférence, la face inférieure 132a de la couche supérieure 130a est au contact direct de la face supérieure 121a de la couche chalcogénure 120a. De préférence, les face supérieures 111a, 121a, 131a et inférieures 112a, 122a, 132a des couches inférieure 110a, chalcogénure 120a et supérieure 130a s’étendent selon des plans parallèles à un plan transversal XY perpendiculaire à la direction d’empilement Z. Selon la direction d’empilement Z, les couches inférieure 110a, chalcogénure 120a et supérieure 130a présentent respectivement des épaisseurs e 110a , e 120a et e 130a . L’empilement 100 présente une face supérieure 101. De préférence, la face supérieure 101 de l’empilement 100 coïncide avec la face supérieure 131a de la couche supérieure 130a. La couche chalcogénure 120a est à base d’au moins un élément chimique de la famille des chalcogènes. Une deuxième étape du procédé consiste en une gravure de structuration de l’empilement 100 de sorte à former un point mémoire 200 tel qu’illustré à la . La gravure de structuration peut se dérouler selon les étapes représentées aux figures 3B à 3E. Typiquement, un masque de gravure 50 est déposé sur la face supérieure 101 de l’empilement 100 ( ). Des ouvertures 55 sont ensuite formées dans le masque de gravure 50. Une gravure est ensuite réalisée dans la couche supérieure 130a, la couche chalcogénure 120a et la couche inférieure 110a, au travers des ouvertures 55 du masque de gravure 50. Cette gravure traverse la couche supérieure 130a et la couche chalcogénure 120a sur toutes leurs épaisseurs respectives e 130a et e 120a . La gravure de structuration peut s’arrêter dans la couche inférieure 110a, ou bien traverser entièrement cette dernière. Suite à la gravure de structuration, on obtient un point mémoire 200 comprenant une électrode inférieure 110 formée dans au moins une partie de la couche inférieure 110a, un tronçon chalcogénure 120 formé dans la couche chalcogénure 120a et une électrode supérieure 130 formée dans la couche supérieure 130a. Les épaisseurs e 1 1 0 , e 120 , et e 1 3 0 selon la direction d’empilement Z de ces électrodes et tronçon sont chacune sensiblement égale à l’épaisseur e 1 1 0 a , e 120a , e 1 3 0a et e 120a ’ de la couche à partir de laquelle ils ont été formés. Le point mémoire 200 présente une face supérieure 201 s’étendant sensiblement dans le même plan que la face supérieure 101 de l’empilement 100 à partir duquel le point mémoire 200 a été formé. La face supérieure 201 s’étend ainsi de préférence dans un plan sensiblement parallèle au plan transversal XY. Le point mémoire 200 présente également une surface latérale 203 s’étendant à partir de sa face supérieure 201 et sur toute sa hauteur H 200 . La géométrie de la surface latérale du point mémoire 200 dépend notamment des applications visées. Si le point mémoire 200 présente la forme d’un cylindre, sa surface latérale 203 correspond à la surface définie par les droites génératrices dudit cylindre et s’étendant sur sa hauteur H 200 . Cela est notamment le cas lorsque les différents tronçons 110, 120, 130 composant le point mémoire 200 ont la même projection dans le plan transversal XY. La surface latérale 203 du point mémoire 200 peut également être plus complexe, notamment lorsque, comme dans l’exemple illustré à la , les différents tronçons 110, 120, 130 composant le point mémoire 200 n’ont pas la même projection dans le plan transversal XY. La surface latérale 203 comprend alors typiquement une pluralité de flancs s’étendant chacun principalement dans un plan parallèle à un plan généré par deux des trois axes X, Y et Z. Le point mémoire présente par ailleurs selon toute direction du plan transversal XY une dimension radiale l 200 . l 200 est typiquement supérieure à 10 nm et/ou inférieure à 100 nm. L’intégralité ou une partie seulement du tronçon chalcogénure 120 est configurée pour changer de phase lors de l’utilisation du dispositif 1. Elle peut être propre à passer d’un état amorphe à un état cristallin ou inversement. Notamment, le tronçon chalcogénure 120 peut être propre à passer d’un état amorphe à un état cristallin ou inversement lorsque le tronçon chalcogénure 120 est une couche dite « mémoire ». Le passage entre l’état amorphe et l’état cristallin permet de stocker un état reset de haute résistivité à l’état amorphe ou un état set de faible résistivité à l’état cristallin dans une couche dite « mémoire ». La résistivité à l’état reset est supérieure à la résistivité à l’état set. Comme illustré aux figures 3D à 3I, le tronçon chalcogénure 120 peut comprendre une unique couche, la couche mémoire, c’est à dire qu’il n’y a pas deux tronçons chalcogénures séparés par une couche autre qu’un tronçon chalcogénure, par exemple une électrode. Par exemple, dans ce cas, le dispositif 1 ne comprend pas de couche sélectrice décrite ultérieurement. Dans ce cas, de préférence, l’intégralité du tronçon chalcogénure 120 est configurée pour changer de phase lors de l’utilisation du dispositif. Il est également possible que seule une partie du tronçon chalcogénure 120 soit configurée pour changer de phase, par exemple dans le cas d’une programmation dans un état intermédiaire. Selon un exemple, l’électrode inférieure 110 peut être une électrode configurée pour apporter l’impulsion électrique au tronçon chalcogénure 120 pour son passage d’un état à l’autre. L’électrode inférieure 110 peut être une électrode désignée par le terme de « heater » en anglais. Typiquement, une électrode « heater » présente une surface de contact avec le tronçon chalcogénure 120 réduite par rapport à la surface de contact entre le tronçon chalcogénure 120 et l’électrode supérieure 130. Notons qu’on peut prévoir que l’électrode inférieure 110 présente une géométrie donnée, et que l’électrode supérieure 130 présente une géométrie donnée, non nécessairement distinctes entre elles. L’électrode supérieure 130 est généralement désignée par le terme de « top électrode ». De préférence, le masque de gravure 50 est retiré après la gravure de structuration, comme illustré par le passage de la à la . Suite à la gravure de structuration, le point mémoire 200 est encapsulé par une couche d’encapsulation 300. La couche d’encapsulation 300 est au contact de la face supérieure 201 du point mémoire 200 et d’au moins une partie de sa surface latérale 203 s’étendant depuis la face supérieure 201. La couche d’encapsulation 300 est au contact de la face supérieure 201 et de la surface latérale 203 du point mémoire 200. De préférence, la couche d’encapsulation 300 recouvre l’intégralité de la surface latérale 203 du point mémoire 200. La couche d’encapsulation 300 présente une épaisseur e 300 déposée de manière conforme sur la surface latérale 203 et la face supérieure 201 du point mémoire 200. L’épaisseur e 300 de la couche d’encapsulation 300 est avantageusement comprise entre 10 et 30 nm, elle peut être par exemple sensiblement égale à 20 nm. Le procédé de fabrication selon l’invention du dispositif PCM 1 prévoit, après l’encapsulation du point mémoire 200, une étape, illustrée en , d’implantation d’une espèce dite dopante dans le point mémoire 200 au travers de la couche d’encapsulation 300. L’espèce dopante peut être choisie parmi le carbone, le fluor, l’azote, l’indium, l’arsenic, l’aluminium, le germanium, le silicium, le chlore ou encore le bore. L’implantation ionique est par exemple réalisée dans la chambre de réaction d’un réacteur d’implantation, par exemple un implanteur ionique à faisceau d’ions. L’implantation de l’espèce dopante est réalisée selon une direction d’implantation 10 repérée dans l’espace par un premier angle θ mesuré par rapport à la direction d’empilement Z et par un deuxième angle Φ mesuré par rapport à l’axe X, comme illustré sur les figures 5B et 5C respectivement. Une particularité de l’invention réside en ce que la direction d’implantation 10 forme un angle dit d’implantation θ impl non nul avec la direction d’empilement Z. De préférence, l’angle d’implantation θ impl est supérieur ou égal à 20°, avantageusement supérieur ou égal à 40°. De cette façon, les espèces dopantes sont implantées dans le point mémoire 200 non seulement à partir de sa face supérieure 201 mais également à partir de sa surface latérale 203. L’inclinaison par rapport à la verticale de la direction d’implantation 10 permet notamment de cibler l’interface entre le point mémoire 200 et la couche d’encapsulation 300 au niveau de la surface latérale 203 du point mémoire 200. Certaines solutions existantes mettant en œuvre un dopage de couches chalcogénures prévoient un dopage par co-pulvérisation de l’espèce chalcogénure et de l’élément dopant. Une telle co-pulvérisation ne permet cependant pas d’introduire l’élément dopant au niveau de l’interface entre le point mémoire 200 et la couche d’encapsulation 300. L’angle Φ formé par la direction d’implantation 10 avec l’axe X est lui quelconque. On peut notamment envisager que cet angle varie au cours de l’étape d’implantation, ou bien que l’étape d’implantation soit réalisée pour plusieurs valeurs de Φ. Cela permet de mieux répartir l’implantation au sein du point mémoire 200. Cela peut notamment permettre de réaliser une implantation à partir de l’intégralité de la surface latérale 203 du point mémoire 200. L’implantation permet le dopage en espèce dopante d’au moins une portion 125, dite portion dopée, s’étendant au moins dans le tronçon chalcogénure 120, depuis la face latérale 203. On définit la portion dopée 125 comme la région du point mémoire 200 présentant, après l’étape d’implantation, une concentration atomique en espèce dopante supérieure ou égale à 0,5%. De préférence, cette concentration atomique est comprise entre 0,5% et 5%. Le tronçon chalcogénure comprend également une portion 126, dite portion non dopée, s’étendant depuis la portion dopée 125 et jusqu’au centre du tronçon chalcogénure 120. La portion non dopée 126 présente une concentration en espèce dopante inférieure à la portion dopée 125, voire nulle. La portion dopée 125 du tronçon chalcogénure 120 s’étend de préférence selon la direction d’empilement Z sur au moins 50%, et de manière avantageuse au moins 75%, de l’épaisseur e 120 du tronçon chalcogénure 120. Préférentiellement, la portion dopée 125 s’étend sur toute l’épaisseur e 120 du tronçon chalcogénure 120. Comme illustré en , la portion dopée 125 présente en projection selon toute direction du plan transversal XY une dimension radiale l125. La dimension radiale l125 est avantageusement supérieure ou égale à 2 nm, de préférence supérieure ou égale à 5 nm, sur toute la hauteur de la portion dopée 125. De préférence, la portion dopée 125 s’étend sur au moins 20% de l 200 . Par ailleurs, la dimension radiale l 125 est avantageusement inférieure ou égale à 20 nm, de préférence inférieure ou égale à 10 nm, sur toute la hauteur de la portion dopée 125. De préférence, la portion dopée 125 s’étend sur 80% ou moins de la dimension radiale l 200 du point mémoire 200. Comme illustré en , l’implantation est typiquement configurée pour que la portion dopée 125 s’étende non seulement dans le tronçon chalcogénure 120 mais également dans l’électrode inférieure 110 et/ou l’électrode supérieure 130. La portion dopée 125 s’étend typiquement depuis la surface latérale 203 et la face supérieure 201. Avantageusement, elle s’étend selon la direction d’empilement Z sur au moins 50%, et de manière avantageuse au moins 75%, de la hauteur H 200 du point mémoire 200. Préférentiellement, la portion dopée 125 s’étend sur toute la hauteur H 200 du point mémoire 200. Différents profils radiaux d’implantation peuvent être obtenus dans le tronçon chalcogénure 120 et plus généralement dans le point mémoire 200 grâce à un ajustement des paramètres d’implantation, notamment la dose et l’énergie d’implantation. Ces paramètres permettent notamment de contrôler la dimension radiale l125. Selon un exemple, le profil de concentration de l’espèce dopante dans la portion dopée 125 est homogène dans le plan transversal XY sur toute sa dimension radiale l 125 . Un tel profil peut notamment être obtenu par une implantation à haute énergie, par exemple à 30 keV pour une implantation carbone. Selon un exemple alternatif, on peut prévoir que l’étape d’implantation ionique soit configurée pour former un profil de concentration de l’espèce dopante non uniforme dans le plan transversal. Pour cela, l’étape d’implantation ionique peut par exemple comprendre plusieurs implantations ioniques successives. Le profil de dopage en espèce dopante peut être déterminé par plusieurs méthodes telles que la spectroscopie Raman ou la spectroscopie rayons X, notamment associée à la microscopie électronique en transmission (couramment appelée TEM, de l’anglais « Transmission Electron Microscopy »). Un autre exemple de mise en œuvre du procédé selon l’invention va maintenant être décrit en référence aux figures 4A à 4E. Dans ce mode de réalisation, comme illustré à la , le tronçon chalcogénure 120 comprend un premier tronçon chalcogénure 120’ et un deuxième tronçon chalcogénure 120’’ séparés dans la direction d’empilement Z par une électrode intermédiaire 140. Pour obtenir un point mémoire 200 présentant ces couches, il est possible de mettre en œuvre les étapes décrites ci-dessous. L’empilement 100 fourni initialement comprend, selon cet exemple, empilées selon une direction d’empilement Z : une couche inférieure 110a, une première couche chalcogénure 120a’, une couche intermédiaire 140a, une deuxième couche chalcogénure 120a’’ et une couche supérieure 130a. La couche chalcogénure 120a décrite dans le premier mode de réalisation comprend ainsi deux couches 120a’, 120a’’ séparées par la couche intermédiaire 140a. Une gravure de structuration permet ensuite d’obtenir le point mémoire 200. Comme décrit dans le cadre du premier mode de réalisation, cette gravure est avantageusement réalisée au travers d’ouvertures réalisées dans un masque de gravure 50 déposée sur la face supérieure 101 de l’empilement 100. La gravure de structuration traverse cette fois la couche supérieure 130a, la première couche chalcogénure 120a’, la couche intermédiaire 140a, la deuxième couche chalcogénure 120a’’ sur toutes leurs épaisseurs respectives e 130a , e 120a’’ , e 140a et e 120a ’ . La gravure de structuration peut s’arrêter dans la couche inférieure 110a, ou bien traverser entièrement cette dernière. Suite à la gravure de structuration, on obtient un point mémoire 200 comprenant, empilés selon la direction d’empilement Z : une électrode inférieure 110 formée dans au moins une partie de la couche inférieure 110a, un premier tronçon chalcogénure 120’ formé dans la première couche chalcogénure 120a’, une électrode intermédiaire 140 formée dans la couche intermédiaire 140a, un deuxième tronçon chalcogénure 120’’ formé dans la deuxième couche chalcogénure 120a’’, et une électrode supérieure 130 formée dans la couche supérieure 130a. Les épaisseurs e 130 , e 120’’ , e 140 et e 120 ’ selon la direction d’empilement Z de ces électrodes et tronçons sont chacune sensiblement égale à l’épaisseur e 130a , e 120a’’ , e 140a et e 120a ’ de la couche à partir de laquelle ils ont été formés. L’épaisseur e 110 de l’électrode inférieure 110 dépend de la profondeur de la gravure dans la couche inférieure 110a. Le deuxième tronçon chalcogénure 120’’ est couramment désigné couche sélectrice. La couche sélectrice est de préférence destinée à rester amorphe. Une couche peut être disposée entre le deuxième tronçon chalcogénure 120’’, ou couche sélectrice, et l’électrode intermédiaire 140 et/ou l’électrode supérieure 130, par exemple une couche à base de carbone, configurée pour bloquer l’interdiffusion des éléments chimiques entre ces couches. Comme dans le premier mode de réalisation, le point mémoire 200 présente une face supérieure 201 et une surface latérale 203, dont les caractéristiques décrites dans le cadre du premier mode de réalisation se transposent ici mutatis mutandis. De façon similaire à ce qui a été décrit pour le premier mode de réalisation, le point mémoire 200 est ensuite encapsulé par une couche d’encapsulation 300 ( ), puis est soumis à l’implantation d’une espèce dopante ( ). Les caractéristiques et avantages décrits dans le cadre du premier mode de réalisation s’étendent mutatis mutandis au cas où le point mémoire 200 comprend deux tronçons chalcogénures 120 séparés par une électrode intermédiaire. Avantageusement, dans ce mode de réalisation, la portion dopée 125 s’étend à la fois dans le premier tronçon chalcogénure 120’ et dans le deuxième tronçon chalcogénure 120’’. La portion dopée 125 comprend alors une première portion dopée 125’, s’étendant dans le premier tronçon chalcogénure 120’, et une deuxième portion dopée 125’’, s’étendant dans le deuxième tronçon chalcogénure 120’’. La première portion dopée 125’ du premier tronçon chalcogénure 120’ s’étend de préférence selon la direction d’empilement Z sur au moins 50%, et de manière avantageuse au moins 75%, de l’épaisseur e 120 ’ du premier tronçon chalcogénure 120. Préférentiellement, la première portion dopée 125’ s’étend sur toute l’épaisseur e 120 ’ du premier tronçon chalcogénure 120’. De façon similaire, la deuxième portion dopée 125’’ du deuxième tronçon chalcogénure 120’’ s’étend de préférence selon la direction d’empilement Z sur au moins 50%, et de manière avantageuse au moins 75%, de l’épaisseur e 120 ’’ du deuxième tronçon chalcogénure 120’’. Préférentiellement, la deuxième portion dopée 125’’ s’étend sur toute l’épaisseur e 120 ’’ du deuxième tronçon chalcogénure 120’. Les remarques développées sur le profil d’implantation s’appliquent parfaitement à ce mode de réalisation. On présente ci-dessous les avantages de l’implantation selon l’invention. Les avantages décrits en référence au tronçon chalcogénure s’appliquent aussi bien au cas où ce dernier comprend une couche mémoire qu’au cas où il comprend à la fois une couche mémoire et une couche sélectrice. Les avantages propres à chacun de ces deux cas de figures sont spécifiquement mentionnés. L’étape d’implantation a pour conséquence l’introduction d’un pic de la concentration de l’espèce dopante à l’interface entre la couche d’encapsulation 300 et le point mémoire 200. Par exemple, la concentration atomique en espèce dopante au niveau de cette interface peut atteindre 5 at.%. L’implantation a également pour effet d’introduire un gradient latéral ou tout autre profil en concentration d’espèce dopante à partir de la surface latérale 203 et vers l’intérieur du point mémoire 200. Cela permet de limiter la déplétion d’espèces chalcogénures que l’on peut observer sur la illustrant l’évolution de la concentration de différentes espèces dans une tranche d’un dispositif PCM de l’art antérieur comprenant une portion de la couche mémoire et de la couche d’encapsulation. On observe sur cette figure une déplétion en Ge induite par l’oxydation ayant lieu à la remise à l’air après gravure. Une implantation, par exemple de carbone, permet de réduire voire d’empêcher la ségrégation du Ge (ou toute autre espèce chalcogénure), qui est liée à la nucléation hétérogène ayant lieu à l’interface entre la couche d’oxyde de germanium (GeOx) et le matériau chalcogénure lui-même. Cela a pour effet une réduction du phénomène de séparation de phase, qui peut elle-même provoquer une réduction de possibles phénomènes de déplétion élémentaire. Cette implantation au niveau de l’interface entre le point mémoire 200 et la couche d’encapsulation 300 et sur la portion dopée 125 a pour effet de détruire les liaisons se formant entre les espèces chalcogénures et des atomes d’oxygène à cause notamment de la remise à l’air du point mémoire entre la gravure de structuration et l’encapsulation. A la place des liaisons chalcogénure-oxygène (Ge-O, TeO 2 , Sb 2 O 3 …), on forme des liaisons entre les espèces chalcogénures et l’espèce dopante (Ge-C, Ge-As…). Ces liaisons sont, contrairement aux liaisons oxyde, bénéfiques au fonctionnement du dispositif 1. Elles permettent notamment un phénomène de passivation de la portion dopée 125. Cela a pour avantage de retarder la cristallisation des régions pauvres en espèces chalcogénures, coïncidant typiquement avec la portion dopée 125. Le retard à la cristallisation assure une meilleure uniformité et moins de variabilité des cristaux de matériau chalcogénure, alors que des cristaux plus gros et orientés de façon non homogène, typique de dispositifs non implantés, induisent une variabilité intrinsèque. L’implantation permet également une relaxation structurale du matériau à la base du tronçon chalcogénure 120. Cela a pour effet une baisse de la densité du dispositif PCM 1, notamment au niveau de l’interface entre le point mémoire 200 la couche d’encapsulation 300. La présence de l’espèce dopante permet également de rendre le tronçon chalcogénure moins impacté par la ségrégation cristalline entre les éléments chimiques le composant. Cela a pour avantage de fiabiliser la programmation de l’état SET. L’étape d’implantation à partie de la face supérieure 101 et de la surface latérale 203 du point mémoire permet également d’améliorer la propreté de l’interface entre le point mémoire 200 et la couche d’encapsulation 300. Cela permet de réduire voire même d’éviter de potentiels effets parasites de dégénération du matériau constituant le tronçon chalcogénure aux interfaces avec la couche d’encapsulation 300. Cela permet également d’améliorer l’adhérence entre le point mémoire 200 et la couche d’encapsulation 300. L’implantation provoque en outre une réduction du stress interne du tronçon chalcogénure dans son état amorphe, notamment au niveau de son interface avec la couche d’encapsulation 300. Cela permet une relaxation des contraintes dans cette région, ayant elle-même pour bénéfice une réduction des défauts structuraux créés dans cette région, et ce jusqu’à la fin de l’intégration du dispositif PCM 1. La présence de l’espèce dopante dans le tronçon chalcogénure 120 ou couche mémoire, notamment à proximité de l’interface avec la couche d’encapsulation 300, permet d’en améliorer les performances thermiques, notamment grâce à une réduction de la conductivité thermique. La cristallisation des espèces chalcogénures est par ailleurs rendue plus uniforme grâce à cette réduction de la conductivité thermique. En effet, suite à l’émission d’une impulsion électrique pour la programmation de l’état SET, la chaleur est évacuée plus lentement. Le processus de cristallisation de la couche mémoire est donc amélioré et rendu plus homogène. Pour la couche mémoire, la variabilité de l’état SET est ainsi diminuée. Pour la couche sélectrice, la variabilité de la tension de seuil et de la tension d’initialisation est diminuée. Les différents avantages de l’implantation décrits ci-dessus ont pour conséquences positives générales sur le dispositif PCM : Une amélioration du nombre de cycles durant lesquels le dispositif PCM 1 peut fonctionner avec des performances supérieures à des spécifications données. Cela équivaut à une amélioration de l’endurance du dispositif 1. Le fait d’atteindre des performances équivalentes à celles obtenues dans l’art antérieur pour de grandes dimensions (typiquement une largeur prise selon l’axe Y comprise entre 50 et 300 nm), cette fois pour des dimensions réduites du point mémoire 200 (notamment une largeur du point mémoire prise selon l’axe Y inférieure ou égale à 50 nm). Il est entendu que les avantages décrits ci-dessus relativement à l’étape d’implantation du procédé selon l’invention s’étendent naturellement à la présence de la portion dopée 125 dans le dispositif selon l’invention. Des dimensions du dispositif PCM 1 sont maintenant données à titre d’exemple non limitatif, en référence aux figures 2, 3F et 4C. Le dispositif PCM 1 peut présenter une largeur L 1 selon la direction y sensiblement comprise entre 5 nm et 100 nm. L’électrode inférieure 110 peut présenter une épaisseur e 110 sensiblement comprise entre 30 nm et 200 nm, par exemple sensible égale à 100 nm. Le cas échéant ( ), l’électrode intermédiaire 140 peut présenter une épaisseur e 140 sensiblement comprise entre 2 et 50 nm, par exemple sensiblement égale à 20 nm. L’électrode supérieure 130 peut présenter une épaisseur e 130 sensiblement comprise entre 10 nm et 100 nm, par exemple sensiblement égale à 50 nm. Le tronçon chalcogénure ( ) peut présenter une épaisseur sensiblement comprise entre 10 nm et 100 nm, par exemple sensiblement égale à 50 nm. Le cas échéant ( ), le premier tronçon chalcogénure 120’ peut présenter une épaisseur sensiblement comprise entre 10 nm et 100 nm, par exemple sensiblement égale à 50 nm. Le cas échéant, le premier tronçon chalcogénure 120’’ peut présenter une épaisseur sensiblement comprise entre 5 nm et 50 nm, par exemple sensiblement égale à 25 nm. Exemples particuliers de réalisation Des résultats obtenus pour des dispositifs PCM 1 comprenant une électrode inférieure 110, un tronçon chalcogénure ou couche mémoire 110, une électrode supérieure 120 et une couche d’encapsulation 300, comme par exemple illustré par la , vont maintenant être décrits. Les dimensions de ce dispositif 1 correspondent aux dimensions décrites précédemment. Dans ces exemples la couche mémoire 110 est faite de Ge 2 Sb 2 Te 5 , la couche d’encapsulation de SiN et l’espèce dopante est du carbone. La représente les profils d’implantation (concentration en at/cm 3 ) obtenus par simulation TRIM pour une dose de carbone de 10 16 at/cm² et deux valeurs distinctes d’énergie d’implantation (4keV 701 et 5keV 702), en fonction de la profondeur dans une tranche du dispositif 1 s’étendant depuis le flanc extérieur de la couche d’encapsulation 300 et jusque dans la couche mémoire. Pour les deux énergies d’implantation on observe une densité importante de carbone à l’interface entre la couche d’encapsulation 300 en SiN et le tronçon chalcogénure 120, puis que la concentration du carbone dans le tronçon chalcogénure 120 décroit avec la distance à l’interface PCM/encapsulation, sur une quinzaine de nanomètres. A l’interface, la densité de carbone est d’environ 5 at.%. La illustre des mesures de résistivité (en Ω.cm) en fonction de la température (en °C) de couches mémoires amorphes implantées selon un profil uniforme avec du carbone pour différentes énergies d’implantation (8 keV ou 30 keV) et doses implantées (10 15 ou 10 16 at/cm²). On observe une augmentation de la température de cristallisation pour les exemples implantés à plus forte dose et plus forte énergie. Cela confirme une amélioration de la stabilité de la phase amorphe vis-à-vis de la cristallisation grâce à la présence du carbone. La illustre des mesures de densité (en g/cm 3 ) et d’épaisseur dopée ou implantée (correspondant à la dimension radiale l 125 ) (en Å) de couches mémoires amorphes implantées avec du carbone pour différentes énergies d’implantation (8 keV ou 30 keV) et doses implantées (10 15 ou 10 16 at/cm²), ainsi qu’une mesure de densité (en g/ cm 3 ) d’une couche mémoire amorphe non implantée (référence). On observe que l’implantation en carbone permet de réduire de plus d’une unité la densité de la couche mémoire, quelle que soit la dose implantée et l’énergie d’implantation, sur une épaisseur comprise entre 2 nm et 6 nm depuis l’interface avec la couche d’encapsulation 300. L’augmentation de la dose implantée permet tout particulièrement de réduire la densité. Ces éléments confirment que l’implantation permet une relaxation structurale et ainsi une réduction de la densité du tronçon chalcogénure. A travers les différents modes de réalisation décrits ci-dessus, il apparaît clairement que l’invention propose un procédé de fabrication d’un dispositif mémoire en améliorant les propriétés. L’invention n’est pas limitée aux modes de réalisations précédemment décrits et s’étend à tous les modes de réalisation couverts par l’invention. Notamment, le dispositif PCM peut présenter toute caractéristique résultant de la mise en œuvre du procédé et inversement le procédé peut comprendre toute étape configurée pour l’obtention d’une caractéristique du dispositif. Dispositif (1) mémoire à changement de phase comprenant un empilement (100) comprenant un point mémoire (200), le point mémoire (200) comprenant, empilés selon une direction dite verticale (Z) : une électrode inférieure (110) formée dans une couche inférieure (110a), au moins un tronçon dit chalcogénure (120) formé dans au moins une couche chalcogénure (120a), disposé sur l’électrode inférieure (110), une électrode supérieure (130) formée dans une couche supérieure (130a) et disposée sur l’au moins un tronçon chalcogénure (120), le point mémoire (200) présentant une surface latérale (203) et une face supérieure (201), le point mémoire comprenant en outre : une couche d’encapsulation (300) encapsulant le point mémoire (200) et disposée au contact de la surface latérale (203) et de la face supérieure (201), au moins une portion (125), dite dopée, s’étendant depuis la surface latérale (203) et à l’intérieur du tronçon chalcogénure (120), et présentant un dopage à base d’au moins une espèce, dite espèce dopante, choisie parmi les espèces suivantes : le carbone, le fluor, l’azote, l’indium, l’arsenic l’aluminium, le germanium, le silicium, le chlore et le bore, la portion dopée (125) s’étendant, selon la direction verticale (Z), le long de toute la hauteur du tronçon chalcogénure (120), le tronçon chalcogénure (120) présentant une portion non dopée (126) présentant un dopage nul ou inférieur au dopage de la portion dopée (125) en l’espèce dopante, la portion non dopée (126) s’étendant depuis la portion dopée (125) et jusqu’à un centre du tronçon chalcogénure (120). Dispositif (1) selon la revendication précédente, dans lequel l’espèce dopante de l’au moins une portion dopée (125) présente un pourcentage atomique supérieur à 0,5%. Dispositif (1) selon l’une quelconque des revendications précédentes, dans lequel la portion dopée (125) présente selon toutes les directions d’un plan transversal (XY) perpendiculaire à la direction verticale (Z) une dimension radiale l 125 avec l 125 ≤ 20 nm, de préférence l 125 ≤ 10 nm. Dispositif (1) selon l’une quelconque des revendications précédentes, dans lequel la portion dopée (125) présente selon toutes les directions d’un plan transversal (XY) perpendiculaire à la direction verticale (Z) une dimension radiale l 125 avec l 125 ≥ 2 nm, de préférence l 125 ≥ 5 nm. Dispositif (1) selon l’une quelconque des revendications précédentes, dans lequel le point mémoire (200) présente une hauteur H 200 selon la direction d’empilement (Z), la portion dopée (125) s’étendant selon la direction d’empilement (Z) sur au moins 50%, de préférence au moins 75%, de la hauteur H 200 du point mémoire (200). Dispositif (1) selon l’une quelconque des revendications précédentes, dans lequel la couche d’encapsulation (300) présente une épaisseur e 300 comprise entre 10 nm et 30 nm. Procédé de fabrication d’un dispositif (1) mémoire à changement de phase comprenant les étapes suivantes : une fourniture d’un empilement (100) présentant une face supérieure (101), l’empilement (100) comprenant, empilées selon une direction dite verticale (Z) : une couche inférieure (110a), au moins une couche dite chalcogénure (120a) à base d’au moins un élément chimique de la famille des chalcogènes, une couche supérieure (130a), une gravure de structuration de l’empilement (100) à partir de sa face supérieure (101), la gravure de structuration s’étendant jusque dans une partie au moins de la couche inférieure (110a) et permettant de former un point mémoire (200) comprenant : une électrode inférieure (110) formée dans la couche inférieure (110a), au moins un tronçon dit chalcogénure (120) formé dans l’au moins une couche chalcogénure (120a), disposé sur l’électrode inférieure (110), une électrode supérieure (130) formée dans la couche supérieure (130a) et disposée sur l’au moins un tronçon chalcogénure (120), le point mémoire (200) présentant une surface latérale (203) et une face supérieure (201), une formation d’une couche d’encapsulation (300) encapsulant le point mémoire (200) et disposée au contact de la surface latérale (203) et de la face supérieure (201) du point mémoire (200), une implantation ionique d’une espèce dite dopante, choisie parmi les espèces suivantes : le carbone, le fluor, l’azote, l’indium, l’arsenic l’aluminium, le germanium, le silicium, le chlore et le bore, dans l’au moins un tronçon chalcogénure (120) au travers de la couche d’encapsulation (300), l’implantation ionique étant réalisée selon une direction d’implantation (10) formant un angle dit d’implantation θ impl avec la direction verticale (Z), avec θ impl ≥25°, l’implantation ionique étant configurée de façon à doper au moins une portion (125) dite dopée du tronçon chalcogénure (120), la portion dopée (125) s’étendant depuis la surface latérale (203), et à ne pas doper ou à doper à un dopage inférieur au dopage de la portion dopée (125) une portion (126) dite non dopée s’étendant depuis la portion dopée (125) et jusqu’à un centre du tronçon chalcogénure (120). Procédé selon la revendication précédente dans lequel 20≤θ impl ≤60°. Procédé selon l’une quelconque des revendications 7 et 8 dans lequel l’au moins un tronçon chalcogénure (120) comprend un premier tronçon chalcogénure (120’) et un deuxième tronçon chalcogénure (120’’) : le premier tronçon chalcogénure (120’) est disposé sur l’électrode inférieure (100), et destiné à former une couche dite mémoire, et le deuxième tronçon chalcogénure (120’’) est destiné à former une couche dite sélectrice, le deuxième tronçon chalcogénure (120’’) étant séparé du premier tronçon chalcogénure (120’) par une électrode intermédiaire (140), et l’implantation ionique est configurée de sorte que la portion (125) du tronçon chalcogénure (120) s’étende dans le premier tronçon chalcogénure (120’) et le deuxième tronçon chalcogénure (120’’). Procédé selon l’une quelconque des revendications 7 à 9 dans lequel lors de l’implantation ionique, l’énergie d’implantation est supérieure ou égale à 1 keV, de préférence supérieure ou égale à 4 keV, de préférence supérieure ou égale à 10 keV, par exemple supérieure ou égale à 30 keV. Procédé selon l’une quelconque des revendications 7 à 10 dans lequel lors de l’implantation ionique, une dose d’espèce dopante D imp supérieure à 10 15 atomes/cm² est implantée. Procédé selon l’une quelconque des revendications 7 à 11 dans lequel la couche d’encapsulation est à base d’au moins un matériau pris parmi : le SiN, le SiC et le SiCN. Procédé selon l’une quelconque des revendications 7 à 12, dans lequel le tronçon chalcogénure (120) comprend au moins un élément chimique parmi le germanium, l’antimoine et le tellure. Procédé selon l’une quelconque des revendications 7 à 13 en combinaison avec la revendication 9 dans lequel le deuxième tronçon chalcogénure (120’’) comprend au moins un élément chimique parmi le sélénium, l’arsenic, le soufre, le silicium et l’aluminium.