FR 3134237 A1 20231006 FR 2203005 A 20220401 Diode électroluminescente (100) comprenant : - une première électrode (102) ; - une première couche (104) semi-conductrice dopée selon un premier type de conductivité ; - une deuxième couche (108) semi-conductrice dopée selon un deuxième type de conductivité ; - une région (114) de recombinaison radiative disposée entre, ou à l’interface de, les première et deuxième couches ; - une troisième couche (118) semi-conductrice dopée selon le deuxième type de conductivité ; - une quatrième couche (120) semi-conductrice disposée entre les deuxième et troisième couches ; - une deuxième électrode (124) disposée contre une face latérale (126) de la troisième couche et contre une partie seulement d’une face latérale (128) de la quatrième couche ; et dans laquelle la quatrième couche (120) forme, par rapport à la troisième couche, une barrière énergétique d’au moins 100 meV. Figure pour l’abrégé : 1 DIODE ELECTROLUMINESCENTE A INJECTION ELECTRIQUE OPTIMISEE DEPUIS UNE ELECTRODE LATERALE L’invention concerne le domaine des LED (diodes électroluminescentes), et plus particulièrement celui des LED dont une des électrodes est réalisée sous la forme d’un contact latéral. ÉTAT DE LA TECHNIQUE ANTÉRIEURE Une LED est généralement composée d'un empilement d'au moins deux matériaux semi-conducteurs de type de conductivité opposée, formant des couches de transport de porteurs de charge électrique, et insérés entre deux électrodes. Une zone de recombinaison, formant une zone active par exemple composée d’un ou plusieurs puits quantiques superposés, est présente entre les deux matériaux semi-conducteurs de type de conductivité opposée. Lorsqu'une tension est appliquée entre les deux électrodes, des porteurs de charge électrique sont injectés via lesdites électrodes dans l'empilement de semi-conducteurs, puis sont transportés dans les semi-conducteurs. Des électrons sont injectés depuis la cathode (électrode en contact avec le semi-conducteur de type n), alors que des trous sont injectés depuis l'anode (électrode en contact avec le semi-conducteur de type p). Des paires électron-trou peuvent alors se former dans la zone active de l'empilement, et générer des photons s'échappant de l'empilement de semi-conducteurs par une surface émissive de la LED qui se trouve généralement du côté de l’une des deux électrodes. Afin de maximiser l’émission lumineuse de la LED, il convient de maximiser la surface émissive de celle-ci en réduisant le plus possible la surface occupée par l’électrode localisée du côté de la surface émissive. Le document FR 3 008 547 A1 décrit une LED dans laquelle l’électrode localisée du côté de la face émissive de la LED est réalisée sous la forme d’un contact électrique latéral, c’est-à-dire disposée contre une face latérale de l’empilement, libérant ainsi totalement la surface émissive de la LED. D’autres améliorations existent également pour augmenter l’émission lumineuse d’une LED. Par exemple, pour prévenir la diffusion de dopants dans la zone active de la LED, ce qui aurait pour conséquence de réduire sa capacité à convertir des paires électrons-trous en photons à la longueur d’onde souhaitée, il est connu d’introduire une couche semi-conductrice non dopée adjacente à la zone active, par exemple entre la zone active et la couche de semi-conducteur dopé n. En outre, en particulier avec des LED à base de GaN, il est connu d’introduire une couche de blocage de porteurs adjacente à la zone active de la LED, dont le but est de confiner les porteurs concernés dans la zone active. On parle alors de couche de blocage d’électrons, ou « Electron Blocking Layer » (EBL) en anglais, ou de couche de blocage de trous, ou « Hole Blocking Layer » (HBL) en anglais. Ces couches se distinguent par leur intimité avec la zone active et par leur nature différente permettant de former une barrière s’opposant à la circulation des porteurs. Par exemple, dans une LED à base de GaN, une EBL composée d’AlGaN ou d’InAlGaN (dont le gap est plus grand que celui du GaN) peut être insérée entre la zone active et la couche de transport de trous à base de GaN dopé p. Afin de limiter les défauts de croissance dans la zone active d’une LED, il est également connu de débuter la croissance du semi-conducteur de la LED sur un substrat de croissance (par exemple en silicium) par des couches épaisses et ou des alternances de couches de matériaux présentant des paramètres de maille différents et se rapprochant progressivement de celui du matériau de la zone active. Ainsi, de telles couches, appelées couches tampon ou couches buffer, permettent de compenser au moins en partie la différence de paramètre de maille entre le substrat de croissance et le semi-conducteur composant la zone active de la LED. Ces couches tampon ne sont pas électriquement actives (car elles ne sont pas traversées par un courant) et sont de plus non dopées électriquement. Dans le cas d’une LED de type VTF (« Vertical Thin Film » en anglais, ou couches minces verticales), les couches tampon sont éliminées pendant le procédé de réalisation de la LED. En outre, l’efficacité d’une LED est le produit de plusieurs efficacités dont l’extraction, c’est-à-dire la probabilité pour un photon de s’échapper de l’empilement composant la LED. Différentes méthodes existent dans le but d’exacerber l’extraction, dont une en particulier qui consiste à réduire l’épaisseur de l’empilement de semi-conducteurs formant la LED de manière à générer des interférences constructives de type Fabry Perot et à limiter l’absorption optique de cet empilement. Un positionnement judicieux des électrodes permet également de distribuer uniformément le courant dans la zone active de la LED. En effet, une distribution uniforme du courant dans la zone active de la LED accroit son efficacité car la densité de courant locale circulant dans la LED est minimisée. Différentes géométries d’électrode permettent de distribuer uniformément le courant dans la zone active de la LED. L’amélioration de l’uniformité de distribution du courant dans la zone active de la LED est également obtenue en réalisant une couche de transport de charge (donc dopée) épaisse, et/ou en introduisant une couche dite de « spreading », ou d’étalement, caractérisée par une conductivité plus élevée que celle du semi-conducteur sur laquelle elle est formée. Cette interface entre ces deux matériaux de conductivité différente permet d’améliorer l’uniformité de distribution du courant. Il s’avère complexe de satisfaire à la fois aux contraintes de l’optimisation de l’extraction et à celles de l’uniformisation de la distribution du courant qui sont contradictoires, en particulier dans les LED de faible épaisseur. En effet, pour optimiser l’efficacité d’une LED, il est indispensable d’optimiser l’extraction d’une LED. Or, pour optimiser l’extraction il est souhaitable de minimiser l’épaisseur de l’empilement semi-conducteur pour limiter l’absorption optique induite par les matériaux de la LED et pour se placer dans des conditions d’interférences lumineuses constructives. Parallèlement, pour distribuer le courant uniformément au travers de la zone active de la LED, et par conséquent atteindre les flux optiques les plus élevés, il est requis d’accroitre l’épaisseur d’une couche de transport et/ou d’utiliser une couche de spreading et de la rendre la plus conductrice possible pour minimiser les pertes ohmiques. Cette criticité est accrue par l’emploi d’une électrode réalisée sous la forme d’un contact électrique latéral. En effet, contrairement à une électrode planaire, c’est-à-dire une électrode formée sur un plan normal à la direction de croissance de l’empilement semi-conducteur, l’injection au travers d’une électrode latérale n’est pas uniforme puisque la densité de courant injectée est plus importante sur les parties de l’électrode les plus proches de la contre-électrode (et donc à priori de la zone active). Par exemple, pour réaliser une LED comprenant une électrode latérale, les différentes couches de l’empilement sont tout d’abord réalisées sur un substrat de croissance. Une couche d’électrode est ensuite formée au sommet de l’empilement. Un substrat de report est ensuite solidarisé à la couche d’électrode puis le substrat de croissance est désolidarisé de l’empilement, par exemple par lift-off laser, ou chauffage adiabatique par des impulsions laser. La face de l’empilement libérée du substrat de croissance est ensuite gravée et polie. Une gravure est ensuite réalisée à travers l’empilement afin de former sur le substrat des structures mesa chacune destinées à former une LED. Un matériau diélectrique est ensuite déposé de manière conforme, recouvrant notamment les faces polies et les faces latérales des structures mesa. Une gravure anisotrope est ensuite mise en œuvre pour supprimer le matériau diélectrique sur une épaisseur qui dépend du temps de gravure choisi, révélant ainsi les faces latérales des structures mesa sur l’épaisseur gravée. Les électrodes latérales sont ensuite réalisées en utilisant le matériau diélectrique restant comme support pour le dépôt du matériau électriquement conducteur formant les électrodes latérales. La gravure anisotrope mise en œuvre est toutefois délicate car : - l’épaisseur de matériau diélectrique gravé dépend de la durée de mise en œuvre de la gravure et non de la position d’une couche d’arrêt de gravure ; - elle ne compense pas les non-uniformités induites par le polissage mis en œuvre après le retrait du substrat de croissance. La conséquence de ces difficultés est que la position de l’électrode latérale par rapport à l’autre électrode peut fluctuer de plusieurs centaines de nanomètres pour des LED réalisées sur des substrats différents. De plus, sur un même substrat, cette position varie également compte tenu de la dispersion de l’épaisseur de l’empilement semi-conducteur formé sur le substrat, causée en particulier par le polissage mis en œuvre après la désolidarisation du substrat de croissance. Ces variations de la position de l’électrode latérale se traduisent par des variations sur l’injection des porteurs de charge électrique depuis l’électrode latérale, ce qui se répercute sur les performances de la LED Un but de la présente invention est de proposer une diode électroluminescente dont la structure permet de contrôler la position de l’injection de porteurs de charge électrique dans l’empilement de la diode électroluminescente depuis l’électrode latérale. Pour cela, la présente invention propose une diode électroluminescente comprenant : - une première électrode ; - une première couche de semi-conducteur dopé selon un premier type de conductivité et comprenant une première face disposée du côté de la première électrode ; - une deuxième couche de semi-conducteur dopé selon un deuxième type de conductivité, opposé au premier type de conductivité ; - une région de recombinaison radiative de porteurs de charge électrique des premier et deuxième types de conductivité disposée entre, ou à l’interface de, une deuxième face, opposée à la première face, de la première couche et une première face de la deuxième couche ; - une troisième couche de semi-conducteur dopé selon le deuxième type de conductivité ; - une quatrième couche de semi-conducteur disposée entre une deuxième face, opposée à la première face, de la deuxième couche et la troisième couche ; - une deuxième électrode disposée contre au moins une partie d’au moins une face latérale de la troisième couche et contre une partie seulement d’au moins une face latérale de la quatrième couche ; et dans laquelle le semi-conducteur de la quatrième couche forme, par rapport au semi-conducteur de la troisième couche, une barrière énergétique d’au moins 100 meV s’opposant à une circulation de porteurs de charge électrique selon le deuxième type de conductivité depuis la deuxième électrode vers la deuxième couche. Dans cette LED, la quatrième couche est insérée entre les deuxième et troisième couches de semi-conducteur dopé selon le deuxième type de conductivité qui forment ensemble la couche de transport des charges électriques selon ce deuxième type de conductivité. La différence de barrière énergétique à l’interface entre le semi-conducteur de la quatrième couche et l’électrode latérale et le semiconducteur de la troisième couche et l’électrode latérale a pour conséquence que les charges électriques injectées depuis l’électrode latérale vont rentrer dans l’empilement semi-conducteur de la LED par la troisième couche, à proximité de l’interface formée avec la quatrième couche, et non par la quatrième couche. La présence de la quatrième couche au sein de la couche de transport de charges électriques permet donc de garantir l’endroit, ou la position, de l’empilement semi-conducteur au niveau duquel les charges électriques selon le deuxième type de conductivité sont injectées. De plus, cette barrière énergétique entre les quatrième et troisième conduit également à un étalement des charges électriques dans la troisième couche avant leur passage à travers la quatrième couche pour atteindre la zone active de la LED, et ainsi uniformiser la densité de courant au sein de la LED. L’insertion de la quatrième couche entre les deuxième et troisième couches dopées permet de positionner précisément la zone d’injection de porteurs de charge électrique depuis l’électrode latérale et permet d’effacer les non-uniformités d’épaisseur de l’empilement semi-conducteur induites par la réalisation de ou des LED . La quatrième couche se distingue d’une couche de type EBL ou HBL car elle n’est pas en contact avec la zone émissive de la LED, c’est-à-dire avec la région de recombinaison radiative de porteurs de charge électrique. La quatrième couche se distingue également des couches tampon car elle est traversée par un courant lorsque la LED est en fonctionnement. La quatrième couche se distingue également d’une couche d’étalement car elle forme une barrière énergétique qui n’est pas obtenue avec une couche d’étalement, et elle est formée au cours des mêmes étapes que celles formant les deuxième et troisième couches. L’invention s’applique avantageusement pour des LED de faible épaisseur, c’est-à-dire dont l’épaisseur totale est inférieure ou égale à environ 2 µm et préférentiellement 1µm. Dans tout le document, le terme « LED » et l’expression « diode électroluminescente » sont utilisés pour désigner également des micro-LED. La diode électroluminescente selon l’invention peut avantageusement être utilisée pour des applications nécessitant des diodes de faibles dimensions latérales et de faible épaisseur, par exemple pour la réalisation d’écrans de forte résolution, en particulier les applications de type projection intra-rétinienne. Pour que le semi-conducteur de la quatrième couche forme, par rapport au semi-conducteur de la troisième couche, une barrière énergétique d’au moins 100 meV s’opposant à la circulation des porteurs de charge électrique selon le deuxième type de conductivité depuis la deuxième électrode vers la deuxième couche, il est par exemple proposé que : - le semi-conducteur de la quatrième couche soit non dopé ou soit dopé selon le deuxième type de conductivité avec un niveau de dopage inférieur à celui du semi-conducteur de la troisième couche, et/ou - la composition de l’alliage, ou composition atomique, du semi-conducteur de la quatrième couche soit différente de celle du semi-conducteur de la troisième couche. De manière avantageuse, le premier type de conductivité peut correspondre au type p et le deuxième type de conductivité peut correspondre au type n. La conductivité électrique de la troisième couche peut être supérieure à celle de la deuxième couche. Selon un exemple de réalisation, la troisième couche peut comporter au moins deux sous-couches de conductivité croissante dans le sens allant de la quatrième couche vers la face émissive. La deuxième électrode peut former une couronne entourant latéralement la troisième couche sur la totalité de de son épaisseur et entourant latéralement seulement une partie de la quatrième couche, ladite partie de la quatrième couche étant disposée contre la troisième couche. Dans cette configuration, en considérant qu’une première partie de la quatrième couche correspond à celle entourée par la deuxième électrode et qu’une deuxième partie de la quatrième couche correspond à celle qui n’est pas entourée par la deuxième électrode, alors la première partie de la quatrième couche est disposée entre la deuxième partie de la quatrième couche et la troisième couche, et la deuxième partie de la quatrième couche est disposée entre la première partie de la quatrième couche et la deuxième couche. L’épaisseur des différentes couches de la LED correspond à la dimension de ces couches qui est, dans le cas d’une LED en forme de pavé, perpendiculaire aux interfaces formées entre ces couches. Les semi-conducteurs des première, deuxième, troisième et quatrième couches peuvent être des semi-conducteurs III-V, comprenant par exemple du GaN, de l’InGaN, de l’AlGaN, de l’InAlGaN, du GaP, de l’AsGa, etc. La région de recombinaison radiative de porteurs de charge électrique des premier et deuxième types de conductivité peut comporter un ou plusieurs puits quantiques chacun formé d’au moins une couche émissive semi-conductrice disposée entre au moins deux couches barrières semi-conductrices. Dans une configuration particulière, la diode électroluminescente peut comporter en outre : - une couche de semi-conducteur non dopé disposée entre la région de recombinaison radiative de porteurs de charge électrique des premier et deuxième types de conductivité et la deuxième couche, et configurée pour former une barrière de diffusion de dopants électriques, et/ou - une couche de blocage des porteurs de charge électrique du second type de conductivité disposée entre la région de recombinaison radiative de porteurs de charge électrique des premier et deuxième types de conductivité et la première couche, et comprenant un semi-conducteur dopé selon le premier type de conductivité et dont le gap est supérieur à celui du semi-conducteur de la première couche. Une telle couche de blocage peut être dopée P, ce qui lui permet de bloquer les électrons et se positionne entre la couche active et la couche de semi-conducteur dopé de type P. En variante, cette couche de blocage peut être dopée N, ce qui lui permet de bloquer les trous et se positionne entre la couche active et la couche de semi-conducteur dopé de type N. L’invention concerne également un procédé de réalisation d’une diode électroluminescente comprenant : - réalisation, sur un premier substrat, d’un empilement de couches incluant : a) une première couche d’électrode disposée sur le premier substrat ; b) une première couche de semi-conducteur dopé selon un premier type de conductivité et comprenant une première face disposée du côté de la première couche d’électrode ; c) une deuxième couche de semi-conducteur dopé selon un deuxième type de conductivité, opposé au premier type de conductivité ; d) une région de recombinaison radiative de porteurs de charge électrique des premier et deuxième types de conductivité disposée entre, ou à l’interface de, une deuxième face, opposée à la première face, de la première couche et une première face de la deuxième couche ; e) une troisième couche de semi-conducteur dopé selon le deuxième type de conductivité ; f) une quatrième couche de semi-conducteur disposée entre une deuxième face, opposée à la première face, de la deuxième couche et la troisième couche ; - gravure de l’empilement telle que des portions restantes de l’empilement forme au moins une structure mesa ; - dépôt conforme d’une couche diélectrique, recouvrant au moins une face supérieure et des faces latérales de la structure mesa ; - gravure anisotrope d’une partie de l’épaisseur de la couche diélectrique, révélant au moins une partie d’au moins une face latérale de la troisième couche et une partie seulement d’au moins une face latérale de la quatrième couche ; - réalisation d’une électrode, appelée deuxième électrode, contre ladite au moins une partie d’au moins une face latérale de la troisième couche et contre ladite partie d’au moins une face latérale de la quatrième couche ; et dans lequel le semi-conducteur de la quatrième couche forme, par rapport au semi-conducteur de la troisième couche, une barrière énergétique d’au moins 100 meV s’opposant à la circulation de porteurs de charge électrique selon le deuxième type de conductivité depuis la deuxième électrode vers la deuxième couche. La réalisation de l’empilement de couches peut comporter les étapes suivantes : - épitaxie des première, deuxième, troisième et quatrième couches et de la région de recombinaison radiative sur un substrat de croissance, telle que la troisième couche soit disposée entre le substrat de croissance et la quatrième couche ; - dépôt de la première couche d’électrode sur la première couche ; - solidarisation de la première couche d’électrode au premier substrat qui correspond à un substrat de report ; - désolidarisation de la troisième couche vis-à-vis du substrat de croissance ; - gravure et planarisation mécano-chimique de la face de la troisième couche précédemment disposée contre le substrat de croissance. Dans l’ensemble du document, le terme « sur » est utilisé sans distinction de l’orientation dans l’espace de l’élément auquel ce rapporte ce terme. Par exemple, dans la caractéristique « sur une face du substrat », cette face du substrat n’est pas nécessairement orientée vers le haut mais peut correspondre à une face orientée selon n’importe quelle direction. En outre, la disposition d’un premier élément sur un deuxième élément doit être comprise comme pouvant correspondre à la disposition du premier élément directement contre le deuxième élément, sans aucun élément intermédiaire entre les premier et deuxième éléments, ou bien comme pouvant correspondre à la disposition du premier élément sur le deuxième élément avec un ou plusieurs éléments intermédiaires disposés entre les premier et deuxième éléments. La présente invention sera mieux comprise à la lecture de la description d’exemples de réalisation donnés à titre purement indicatif et nullement limitatif en faisant référence aux dessins annexés sur lesquels : représente une vue en coupe d’une diode électroluminescente, objet de la présente invention, selon un mode de réalisation particulier. représente des simulations de cartographie de densités de courant pour une diode électroluminescente selon la présente invention et pour d’autres diodes ne comportant pas de quatrième couche telle que spécifiée selon l’invention. représentent les étapes d’un procédé de réalisation de diode électroluminescente, objet de la présente invention, selon un mode de réalisation particulier. Des parties identiques, similaires ou équivalentes des différentes figures décrites ci-après portent les mêmes références numériques de façon à faciliter le passage d’une figure à l’autre. Les différentes parties représentées sur les figures ne le sont pas nécessairement selon une échelle uniforme, pour rendre les figures plus lisibles. Les différentes possibilités (variantes et modes de réalisation) doivent être comprises comme n’étant pas exclusives les unes des autres et peuvent se combiner entre elles. EXPOSÉ DÉTAILLÉ DE MODES DE RÉALISATION PARTICULIERS Une diode électroluminescente 100 selon un mode de réalisation particulier est décrite ci-dessous en lien avec la qui représente une vue en coupe de cette diode 100. La diode 100 comporte une première électrode 102 ainsi qu’une première couche 104 de semi-conducteur dopé selon un premier type de conductivité. La première couche 104 comprend une première face 106 disposée du côté de la première électrode 102. Dans l’exemple de réalisation décrit ici, le premier type de conductivité correspond au type p. Ainsi, la première électrode 102 correspond à l’anode de la diode 100. En outre, selon cet exemple de réalisation, la première électrode 102 peut comporter au moins l’un des matériaux suivants : Ti, Ag, Cr, Al, TiN, W, Cu, Au, ITO (oxyde d’indium et d’étain). La première électrode 102 peut comporter une épaisseur comprise entre 10nm et 2µm. De plus, dans cet exemple de réalisation, la première couche 104 comporte du GaN, ou plus généralement n’importe quel semi-conducteur III-V tel que de l’InGaN, de l’AlGaN, de l’InAlGaN, du GaAs, du GaP, etc. La première couche 104 peut comporter une épaisseur comprise entre par exemple 50 et 300 nm s’il s’agit de GaN dopé de type P. Le niveau de dopage du semi-conducteur de la première couche 104 est par exemple compris entre 1 e 17 et 5 e 21 atomes/cm 3 . La diode 100 comporte également une deuxième couche 108 de semi-conducteur dopé selon un deuxième type de conductivité, opposé au premier type de conductivité, c’est-à-dire de type n dans cet exemple de réalisation. En outre, selon cet exemple de réalisation, la deuxième couche 108 comporte du GaN, ou plus généralement n’importe quel semi-conducteur III-V tel que l’un de ceux précédemment mentionnés pour la première couche 104. Le semi-conducteur de la deuxième couche 108 peut être similaire ou non à celui de la première couche 104. La deuxième couche 108 peut comporter une épaisseur comprise entre 200 nm et 20 µm. Le niveau de dopage du semi-conducteur de la deuxième couche 108 est par exemple compris entre 1 e 17 et 5 e 21 atomes/cm 3 . La diode 100 comporte également, entre une deuxième face 110, opposée à la première face 106, de la première couche 104 et une première face 112 de la deuxième couche 108, une région 114 de recombinaison radiative de porteurs de charge électrique des premier et deuxième types de conductivité. Dans l’exemple de réalisation décrit ici, cette région 114 comporte un ou plusieurs puits quantiques chacun formé par au moins une couche émissive semi-conductrice non dopée disposée entre au moins deux couches barrières semi-conductrices. Les couches formant la région 114 comporte du semi-conducteur III-V. Par exemple, les couches barrière peuvent comporter du GaN, et les couches émissives peuvent comporter de l’InGaN. Dans l’exemple de réalisation décrit ici, la diode 100 comporte également une couche 116 de blocage d’électrons disposée entre la région 114 et la première couche 104 (et contre la deuxième face 110 de la première couche 104) et comprenant un semi-conducteur, ici de type III-V, dopé selon le même type de conductivité que la première couche 104 (type p dans l’exemple de réalisation décrit ici) et dont le gap est supérieur à celui du semi-conducteur de la première couche 104. Par exemple, lorsque la première couche 104 comporte du GaN dopé p, la couche 116 de blocage d’électrons peut comporter de l’AlGaN dopé p ou de l’InAlGaN dopé p. Selon une première variante, que la diode 100 comporte ou non la couche 116 de blocage d’électrons (ou de trous), il est possible que la diode 100 comporte une couche de semi-conducteur non dopé (non visible sur la ) disposée entre la région 114 et la deuxième couche 108 (et contre la première face 112 de la deuxième couche 108) et configurée pour former une barrière de diffusion de dopants électriques. Cette barrière de diffusion peut comporter un semi-conducteur III-V, par exemple similaire à celui de la deuxième couche 108 (du GaN dans l’exemple de réalisation décrit ici). Selon une deuxième variante, il est possible que la diode 100 ne comporte ni la couche 116 de blocage d’électrons ou de trous, ni la couche formant une barrière de diffusion de dopants. Selon une troisième variante compatible avec les première et deuxième variantes exposées ci-dessus, il est possible que la région 114 ne comporte pas de puits quantique, mais corresponde simplement à l’interface entre la deuxième face 110 de la première couche 104 et la première face 112 de la deuxième couche 108. La diode 100 comporte également une troisième couche 118 de semi-conducteur dopé selon le deuxième type de conductivité. Le semi-conducteur de la troisième couche 118 est par exemple similaire à celui de la deuxième couche 108, autant en termes de composition atomique (GaN dans l’exemple décrit ici) que de niveau de dopage. La diode 100 comporte également une quatrième couche 120 de semi-conducteur disposée entre une deuxième face 122, opposée à la première face 112, de la deuxième couche 108 et la troisième couche 118. La diode 100 comporte également une deuxième électrode 124 disposée contre au moins une partie d’au moins une face latérale 126 de la troisième couche 118 et contre une partie seulement d’au moins une face latérale 128 de la quatrième couche 120. De manière avantageuse, la deuxième électrode 124 forme une couronne entourant latéralement la troisième couche 118 sur la totalité de son épaisseur (sur la , l’épaisseur totale de la troisième couche 118 est appelée e 118 ) et entourant latéralement la quatrième couche 120 sur seulement une partie de son épaisseur (sur la , l’épaisseur totale de la quatrième couche 120 est appelée e 120 , et celle de la partie de la quatrième couche 120 entourée par la deuxième électrode 124 est appelée e 120_1 ). L’épaisseur de la deuxième électrode 124, appelée e 124 sur la , est égale à la somme de l’épaisseur totale de la troisième couche 118 et de l’épaisseur de la partie de la quatrième couche 120 entourée par la deuxième électrode 124 (e 124 = e 118 + e 120_1 , avec e 120_1 120 ). Sur la , les épaisseurs correspondent aux dimensions parallèles à l’axe Z, et sont ici perpendiculaires aux faces 106, 110, 112 et 122 des couches de l’empilement réalisé. Dans la diode 100, les deuxième, troisième et quatrième couches 108, 118, 120 forment ensemble la couche de transport de charges électriques selon le deuxième type de conductivité de la diode 100. Le semi-conducteur de la quatrième couche 120 forme, par rapport au semi-conducteur de la troisième couche 118, une barrière énergétique d’au moins 100 meV s’opposant à la circulation des porteurs de charge électrique selon le deuxième type de conductivité depuis la troisième couche 118 vers la quatrième couche 120. Cette barrière énergétique a pour conséquence d’induire une différence de barrière énergétique entre la deuxième électrode 124 et la troisième couche 118 et entre la troisième couche 118 et la quatrième couche 120. L’injection de porteurs électriques étant alors défavorisée à l’interface entre l’électrode 124 et la troisième couche 118 en comparaison de celle à l’interface entre l’électrode 124 et la quatrième couche 120. Selon un mode de réalisation de l’invention, la barrière énergétique formée entre les semi-conducteurs des troisième et quatrième couches 118, 120 est obtenue car le gap du semi-conducteur de la quatrième couche 120 est supérieur d’au moins 100 meV par rapport au gap du semi-conducteur de la troisième couche 118. Un tel gap peut être obtenu en réalisant ces troisième et quatrième couches 118, 120 telles que la composition d’alliage du semi-conducteur de la quatrième couche 120 soit différente de celle du semi-conducteur de la troisième couche 118 (par exemple en augmentant la proportion d’aluminium dans le semi-conducteur de la quatrième couche 120 par rapport au semi-conducteur de la troisième couche 118). Selon un autre mode de réalisation de l’invention, la barrière énergétique formée entre les semi-conducteurs des troisième et quatrième couches 118, 120 est obtenue car le semi-conducteur de la quatrième couche 120 est non dopé ou dopé selon le deuxième type de conductivité avec un niveau de dopage inférieur à celui du semi-conducteur de la troisième couche 118. Selon un autre mode de réalisation de l’invention, la barrière énergétique formée entre les semi-conducteurs des troisième et quatrième couches 118, 120 est obtenue en raison de la différence de dopage entre les semi-conducteurs des troisième et quatrième couches 118, 120, et en raison de la différence de composition d’alliage entre les semi-conducteurs des troisième et quatrième couches 118, 120. Dans le cas d’une barrière énergétique due à une différence de dopage entre ces semi-conducteurs, cette différence de dopage peut s’exprimer par la relation : [Math 1] avec ΔV correspondant à la hauteur de la barrière énergétique qui est supérieure ou égale à 100 meV, k la constante de Boltzman, T la température à laquelle se trouve la diode 100, N 118 la concentration en dopants ionisés dans le semi-conducteur de la troisième couche 118, N 120 la concentration en dopants ionisés dans le semi-conducteur de la quatrième couche 120, et n i la concentration en porteurs de charge électrique intrinsèques au semi-conducteur des troisième et quatrième couches 118, 120. Dans le cas d’une différence de gap, entre les semi-conducteurs des troisième et quatrième couches 118, 120, due à une différence de composition atomique des semi-conducteurs, la valeur de cette différence de gap est fonction de la nature des semi-conducteurs utilisés pour former les couches 118, 120. Dans le cas de couches 118, 120 dopées n, avec la quatrième couche 120 formant alors une barrière vis-à-vis d’électrons, la différence de gap correspond à la somme de l’offset des bandes de conduction des semi-conducteurs de ces couches et de la courbure de ces bandes. Il est par exemple possible de calculer une approximation de cet offset des bandes de conduction en réalisant les étapes suivantes : - déterminer le gap des semi-conducteurs des couches 118 et 120 lorsqu’ils sont intrinsèques, par exemple à l’aide d’une base de données répertoriant ce type de données, ou par calcul (voir par exemple le document A. Goyal et al., "Band gap bowing parameter in pseudomorphic Al x Ga 1−x N/GaN high electron mobility transistor structures", Journal of Applied Physics 117, 225702 (2015), qui traite de la variation de gap de GaN en fonction de sa composition en Al et de la contrainte dans la couche) puis - calculer les niveaux des bandes de valence et de conduction de chaque semi-conducteur à partir des valeurs de gap précédemment déterminées, puis - calculer la position du niveau de Fermi de chaque semi-conducteur pour en déduire les différences d’énergies entre la bande de valence ou de conduction et le niveau de Fermi de chaque semi-conducteur, puis - calculer la différence entre les deux positions précédemment calculées et qui correspond à la valeur d’offset recherchée. Ces calculs peuvent par exemple être mis en œuvre à l’aide d’un logiciel de simulation tel qu’ATLAS proposé par la société Silvaco. Les différents éléments de la diode 100 décrits ci-dessus sont réalisés sous la forme d’une structure mesa dont la section, dans un plan parallèle à chacune des interfaces entre ces éléments, est par exemple de forme rectangulaire. D’autres formes sont toutefois possibles. Du fait que la deuxième électrode 124 soit en contact avec la troisième couche 118 et ne soit pas en contact avec la deuxième couche 108, et que le semi-conducteur de la quatrième couche 120 forme une barrière énergétique par rapport au semi-conducteur de la troisième couche 118, les porteurs de charge électrique amenés depuis la deuxième électrode 124 entrent dans l’empilement semi-conducteur de la diode 100 depuis la troisième couche 118, à proximité de l’interface avec la quatrième couche 120, et non directement depuis les faces latérales de la quatrième couche 120. Cette différence de gap et/ou de dopage entre les troisième et quatrième couches 118, 120 a également pour conséquence de répartir les porteurs de charge électrique dans la troisième couche 118 avant leur passage jusqu’à la deuxième couche 108 à travers la quatrième couche 120 qui forme une barrière pour le passage des porteurs depuis la troisième couche 118 vers la quatrième couche 120. Ainsi, la quatrième couche 120 permet d’améliorer l’uniformité de la distribution du courant dans la zone active de la diode 100 mais également d’imposer la position du point de la deuxième électrode 124 par lequel la densité de courant maximale sera injectée dans l’empilement semi-conducteur de la diode 100. La représente plusieurs simulations de cartographie de densités de courant obtenues dans la diode 100 qui comporte un empilement semi-conducteur d’épaisseur totale égale à environ 0,6 µm (simulation portant la référence « c) »), ainsi que dans des diodes ne comportant pas la quatrième couche 120 et dont l’épaisseur est soit similaire à celle de la diode 100 simulée (simulation portant la référence « b) »), soit plus importante (simulation portant la référence « a) »). Pour ces trois simulations, la deuxième électrode 124 s’étend depuis le bas de l’empilement sur une épaisseur comprise entre les deux lignes horizontales noires visibles sur la partie inférieure de chacune des simulations. Ces simulations montrent bien que la densité de courant la plus élevée injectée depuis la deuxième électrode 124 correspond au point de la deuxième électrode 124 le plus proche de la zone active (simulations a) et b)), sauf dans le cas de la diode 100 (simulation c)) dans laquelle la position de la densité de courant maximale est imposée par la position de la quatrième couche 120 au sein de la couche de transport de porteurs de charge formée par les deuxième et troisième couches 108, 118. Sur les simulations de la , les régions de l’empilement les plus claires correspondent aux régions où la densité de courant est la plus élevée. Autrement dit, l’introduction de la quatrième couche 120 dans la couche de transport permet d’imposer la position d’injection de la deuxième électrode 124 et par conséquent de relâcher les contraintes sur les étapes technologiques de réalisation de cette deuxième électrode 124. La différence de gap et/ou de dopage entre le semi-conducteur de la quatrième couche 120 et celui de la troisième couche 118 permet en particulier de former une barrière à l’injection pour la partie de la deuxième électrode 124 en contact avec la quatrième couche 120, cette barrière étant absente ou réduite pour la partie de la deuxième électrode 124 qui est en contact avec la troisième couche 118. Il convient de souligner que les trois LED dont la cartographie de la densité de courant est simulée et représentée sur la présentent sensiblement les mêmes caractéristiques électriques courant = f(tension), ce qui signifie que l’introduction de la quatrième couche 120 au sein de la couche de transport de charges formée par les deuxième et troisième couches 108, 118 n’influe pas négativement sur le comportement électro-optique de la LED. De préférence, la quatrième couche 120 est disposée au sein de la couche de transport dopée présentant la plus grande conductivité parmi les deux couches de transport dopées n et p de la diode 100, c’est-à-dire la couche de transport formant la couche dite de « spreading », ou d’étalement, au sein de la diode 100. Dans l’exemple de réalisation décrit précédemment, la quatrième couche 120 est disposée au sein de la couche de transport dopée n formée par les deuxième et troisième couches 108, 118. Dans le cas où les couches de transport sont de conductivité équivalente, la quatrième couche 120 peut indifféremment être formée dans l’une ou l’autre des couches de transport dopée, c’est-à-dire du coté anode ou du coté cathode (mais du côté où l’électrode est latérale). L’exemple de diode 100 précédemment décrit correspond à une variante d’une diode de type VTF. En variante, la diode 100 peut correspondre à une variante d’une diode de type CC («Conventional Chip » en anglais, ou puce conventionnelle), ou FC (« Flip Chip » en anglais, ou puce retournée), ou bien encore TFFC (« Thin Film Flip chip » en anglais, ou puce retournée en couches minces). Un exemple de procédé de réalisation de diodes électroluminescentes 100 est décrit ci-dessous en lien avec les figures 3A à 3F. Comme représenté sur la , un empilement de couches 132 est réalisé sur un substrat de croissance 130 qui correspond par exemple à un wafer semi-conducteur. L’empilement 132 comporte ici : - la troisième couche 118 disposée sur le substrat de croissance 130 ; - la quatrième couche 120 disposée sur la troisième couche 118 ; - la deuxième couche 108 disposée sur la quatrième couche 120 ; - la région 114 de recombinaisons radiatives ; - la première couche 104. Les couches 118, 120, 108, 104 et la région 114 sont ici formées par épitaxie. L’empilement 132 comporte également une première couche d’électrode 133 déposée sur la première couche 104. La première couche d’électrode 133 est ensuite solidarisée à un premier substrat 135 qui correspond à un substrat de report. Cette solidarisation correspond par exemple à un collage métal – métal ou un collage direct. La troisième couche 118 est ensuite désolidarisée vis-à-vis du substrat de croissance 130, par exemple par lift-off laser. Une gravure et une planarisation mécano-chimique de la face de la troisième couche 118 précédemment solidarisée au substrat de croissance 130 sont ensuite mises en œuvre. La structure obtenue à ce stade du procédé est représentée sur la . L’empilement 132 est ensuite gravé tel que des portions restantes de l’empilement forme des structures mesa 134, chacune destinée à former une LED ( ). Chacune des structures mesa 134 comporte par exemple, dans un plan parallèle au plan (X, Y), une section de forme rectangulaire. Une couche diélectrique 136 est ensuite déposée de manière conforme sur les structures mesa 134 et le substrat 135, recouvrant notamment les faces supérieures et les faces latérales des structures mesa 134 ( ). Une partie de l’épaisseur de la couche diélectrique 136 est ensuite gravée de manière anisotrope ( ). Les portions restantes de la couche diélectrique 136 sont désignées par la référence 138. Cette gravure révèle, pour chaque structure mesa 134, les faces latérales 126 de la troisième couche 118 et une partie seulement des faces latérales 128 de la quatrième couche 120. Ainsi, au lieu de contrôler précisément la gravure de la couche diélectrique 136 et donc la hauteur précise des portions restantes de la couche diélectrique 136, l’épaisseur de la quatrième couche 120 offre une latitude de process directement proportionnelle à son épaisseur. Pour chaque structure mesa 134, la deuxième électrode 124 est ensuite réalisée contre les faces latérales 126 de la troisième couche 118 et contre la partie des faces latérales 128 de la quatrième couche 120 révélées par la précédente gravure (voir ). Les deuxièmes électrodes 124 reposent sur les portions restantes diélectriques 138. Les deuxièmes électrodes 124 peuvent être réalisées par un dépôt conforme puis une gravure, ou par un dépôt de type ALD (dépôt en couche atomique) directement sur les flancs. Il convient de souligner que la présente invention limite la criticité du procédé de fabrication des LED 100. En effet, comme l’art antérieur l’enseigne, la distribution du courant dans une LED décrite par la longueur de spreading est directement proportionnelle à la racine de la distance minimale entre un point de l’électrode formée sur la couche de conductivité la plus élevée entre les couches 104 et 108 et un point de la zone active. Dans le cas d’une électrode latérale, l’injection s’effectue majoritairement par les portions de l’électrode les plus proches de la zone active (minimisation des pertes par effet Joule). Le spreading (donc la longueur de spreading) est contrôlé par la distance minimale entre un point de l’électrode latérale 124 et un point de la zone active. Or, dans le cas de procédé de réalisation de LED mettant en œuvre un report des couches semiconductrices sur un autre substrat (type VTF), cette distance n’est pas contrôlée ou contrôlable sur une même plaque mais aussi de plaque à plaque. En effet, le détachement des couches semiconductrices (couches 104, 114, 108, 120, 118) s’opère par des méthodes brutales telles que le lift off laser. Ce dernier consiste en l’échauffement adiabatique jusqu’à la fusion des dites une ou plusieurs couches comprises entre le substrat de croissance et les couches semi-conductrices réellement traversées par un courant pendant le fonctionnement de la future LED. L’échauffement et la fusion sont induits par l’absorption des dites couches d’impulsions laser. Il s’ensuit que la face libérée de l’empilement semiconducteur est profondément modifiée et rugueuse. Sur cette face et sur une profondeur non négligeable, le désordre est tel que de nombreux états dans le gap apparaissent et conduisent à une perte de transparence très conséquente. Hors, il s’agit de la face par laquelle les photons émis par la future LED devraient s’échapper. Aussi, pour s’affranchir de ces défauts ou rugosité, une gravure pleine plaque est mise en œuvre pour supprimer les matériaux de composition différente de celle des semi-conducteurs composant l’empilement LED, puis un polissage de cette face gravée est réalisé. Mais cette étape de polissage combinée à la gravure mentionnée ci-avant ne permettent pas de contrôler précisément l’épaisseur restante de l’empilement semi-conducteur et par voie de conséquence la distance détaillée ci-avant qui conditionne le spreading dans la LED. Il faut souligner que l’épaisseur restante et la distance qui conditionne le spreading ne peuvent être finement contrôlées de plaque à plaque mais également sur une même plaque, la CMP (polissage) induisant des variations d’épaisseur sur une même plaque basse fréquence. Dans ces conditions, l’efficacité des LED, dépendante du spreading, serait variable au sein de la même plaque et entre plaques. En imposant le point d’injection des porteurs depuis l’électrode latérale, la présente invention réduit considérablement la criticité du procédé de fabrication pour obtenir des LED avec des caractéristiques électro-optiques similaires puisque la longueur de spreading est contrôlée. Il appartiendra à l’homme de l’art d’adapter l’épaisseur e 120 de la couche 120 en fonction de la précision de son procédé de fabrication, puisque plus cette épaisseur est importante, plus les contraintes de procédé sont relâchées, avec toutefois en contrepartie qu’une épaisseur e 120 trop importante pourrait conduire à un décalage des tensions de fonctionnement de la LED. L’invention est également particulièrement adaptée aux LED de petites dimensions latérales, souvent nommées µLED. Les LED de petites dimensions souffrent d’une efficacité réduite en particulier car : - il est difficile de former une électrode sur la face émissive qui ne couvre pas une part importante de cette face émissive. L’efficacité de la µLED est donc fortement pénalisée par la faiblesse de son extraction ; - les dimensions latérales réduites de la µLED entrainent que le comportement électro-optique de la µLED dépend beaucoup plus des effets de bord que pour les LED macroscopiques. En bord de la µLED, la gravure pour former des mesas (singularisation des µLED) a induit énormément de défauts dans le gap des semiconducteurs nécessaires aux recombinaisons non radiatives dites SRH (Shockley Read Hall). Les recombinaisons SRH concurrencent les radiatives et donc réduisent l’efficacité électro-optique de la LED. Dans le cas d’une LED munie d’une électrode latérale et en particulier si elle est de faible épaisseur (= faible longueur de spreading), les porteurs de charge se concentrent en périphérie de la LED (voir a et 2b), alimentent les défauts dans le gap donc les recombinaisons non radiatives ce qui conduit à une chute drastique de l’efficacité électro-optique de la LED. La mise en œuvre de la présente invention dans le cas des µLED assure une forte extraction puisque la face émissive n’est pas obstruée par une électrode et assure une distribution contrôlée des porteurs dans la zone active. REFERENCES CITEES 1 : FR 3 008 547 A1 2 : A. Goyal et al., "Band gap bowing parameter in pseudomorphic Al x Ga 1−x N/GaN high electron mobility transistor structures", Journal of Applied Physics 117, 225702 (2015). Diode électroluminescente (100) comprenant : - une première électrode (102) ; - une première couche (104) de semi-conducteur dopé selon un premier type de conductivité et comprenant une première face (106) disposée du côté de la première électrode (102) ; - une deuxième couche (108) de semi-conducteur dopé selon un deuxième type de conductivité, opposé au premier type de conductivité ; - une région (114) de recombinaison radiative de porteurs de charge électrique des premier et deuxième types de conductivité disposée entre, ou à l’interface de, une deuxième face (110), opposée à la première face (106), de la première couche (104) et une première face (112) de la deuxième couche (108) ; - une troisième couche (118) de semi-conducteur dopé selon le deuxième type de conductivité ; - une quatrième couche (120) de semi-conducteur disposée entre une deuxième face (122), opposée à la première face (112), de la deuxième couche (108) et la troisième couche (118) ; - une deuxième électrode (124) disposée contre au moins une partie d’au moins une face latérale (126) de la troisième couche (118) et contre une partie seulement d’au moins une face latérale (128) de la quatrième couche (120) ; et dans laquelle le semi-conducteur de la quatrième couche (120) forme, par rapport au semi-conducteur de la troisième couche (118), une barrière énergétique d’au moins 100 meV s’opposant à une circulation de porteurs de charge électrique selon le deuxième type de conductivité depuis la deuxième électrode (124) vers la deuxième couche (108). Diode électroluminescente (100) selon la revendication 1, dans lequel : - le semi-conducteur de la quatrième couche (120) est non dopé ou est dopé selon le deuxième type de conductivité avec un niveau de dopage inférieur à celui du semi-conducteur de la troisième couche (118), et/ou - la composition de l’alliage du semi-conducteur de la quatrième couche (120) est différente de celle du semi-conducteur de la troisième couche (118). Diode électroluminescente (100) selon l’une des revendications précédentes, dans laquelle le premier type de conductivité correspond au type p et le deuxième type de conductivité correspond au type n. Diode électroluminescente (100) selon l’une des revendications précédentes, dans laquelle la conductivité électrique de la troisième couche (118) est supérieure à celle de la deuxième couche (108). Diode électroluminescente (100) selon l’une des revendications précédentes, dans laquelle la deuxième électrode (124) forme une couronne entourant latéralement la troisième couche (118) sur la totalité de son épaisseur et entourant latéralement seulement une partie de la quatrième couche (120), ladite partie de la quatrième couche (120) étant disposée contre la troisième couche (118). Diode électroluminescente (100) selon l’une des revendications précédentes, dans laquelle les semi-conducteurs des première, deuxième, troisième et quatrième couches (104, 108, 118, 120) sont des semi-conducteurs III-V. Diode électroluminescente (100) selon l’une des revendications précédentes, dans laquelle la région (114) de recombinaison radiative de porteurs de charge électrique des premier et deuxième types de conductivité comporte un ou plusieurs puits quantiques chacun formé d’au moins une couche émissive semi-conductrice disposée entre au moins deux couches barrières semi-conductrices. Diode électroluminescente (110) selon l’une des revendications précédentes, comportant en outre : - une couche de semi-conducteur non dopé disposée entre la région (110) de recombinaison radiative de porteurs de charge électrique des premier et deuxième types de conductivité et la deuxième couche (108), et configurée pour former une barrière de diffusion de dopants électriques, et/ou - une couche (116) de blocage de porteurs de charge électrique du deuxième type de conductivité disposée entre la région (114) de recombinaison radiative de porteurs de charge électrique des premier et deuxième types de conductivité et la première couche (104), et comprenant un semi-conducteur dopé selon le premier type de conductivité et dont le gap est supérieur à celui du semi-conducteur de la première couche (104). Procédé de réalisation d’une diode électroluminescente (100) comprenant : - réalisation, sur un premier substrat (135), d’un empilement (132) de couches incluant : a) une première couche d’électrode (133) disposée sur le premier substrat (135) ; b) une première couche (104) de semi-conducteur dopé selon un premier type de conductivité et comprenant une première face (106) disposée du côté de la première couche d’électrode (133) ; c) une deuxième couche (108) de semi-conducteur dopé selon un deuxième type de conductivité, opposé au premier type de conductivité ; d) une région (114) de recombinaison radiative de porteurs de charge électrique des premier et deuxième types de conductivité disposée entre, ou à l’interface de, une deuxième face (110), opposée à la première face (106), de la première couche (104) et une première face (112) de la deuxième couche (108) ; e) une troisième couche (118) de semi-conducteur dopé selon le deuxième type de conductivité ; f) une quatrième couche (120) de semi-conducteur disposée entre une deuxième face (122), opposée à la première face (112), de la deuxième couche (108) et la troisième couche (118) ; - gravure de l’empilement (132) telle que des portions restantes de l’empilement (132) forme au moins une structure mesa (134) ; - dépôt conforme d’une couche diélectrique (136), recouvrant au moins une face supérieure et des faces latérales de la structure mesa (134) ; - gravure anisotrope d’une partie de l’épaisseur de la couche diélectrique (136), révélant au moins une partie d’au moins une face latérale (126) de la troisième couche (118) et une partie seulement d’au moins une face latérale (128) de la quatrième couche (120) ; - réalisation d’une électrode, appelée deuxième électrode (124), contre ladite au moins une partie d’au moins une face latérale (126) de la troisième couche (118) et contre ladite partie d’au moins une face latérale (128) de la quatrième couche (120) ; et dans lequel le semi-conducteur de la quatrième couche (120) forme, par rapport au semi-conducteur de la troisième couche (118), une barrière énergétique d’au moins 100 meV s’opposant à la circulation de porteurs de charge électrique selon le deuxième type de conductivité depuis la deuxième électrode (124) vers la deuxième couche (108). Procédé selon la revendication 9, dans lequel la réalisation de l’empilement (132) de couches comporte les étapes suivantes : - épitaxie des première, deuxième, troisième et quatrième couches (104, 108, 118, 120) et de la région (114) de recombinaison radiative sur un substrat de croissance (130), telle que la troisième couche (118) soit disposée entre le substrat de croissance (130) et la quatrième couche (120) ; - dépôt de la première couche d’électrode (133) sur la première couche (104) ; - solidarisation de la première couche d’électrode (133) au premier substrat (135) qui correspond à un substrat de report ; - désolidarisation de la troisième couche (118) vis-à-vis du substrat de croissance (130) ; - gravure et planarisation mécano-chimique de la face de la troisième couche (118) précédemment disposée contre le substrat de croissance (130).