FR 3134179 A1 20231006 FR 2202990 A 20220401 L’invention concerne un procédé (400) de caractérisation d’un objectif optique comprenant un empilement de plusieurs éléments optiques et prévu pour être associé à un capteur d’image pour l’acquisition d’images, comprenant : détermination (402), par mesure optique sur ledit empilement d’éléments optiques, d’au moins un jeu de données (JG), dit jeu géométrique, comprenant des données relatives à au moins un paramètre géométrique d’au moins une interface optique enterrée dudit objectif, modélisation numérique (404) dudit objectif optique en fonction dudit jeu géométrique, et détermination (406), par un simulateur numérique de propagation d’onde optique appliqué audit modèle numérique, d’au moins une matrice, dite matrice d’aberration, représentative d’aberration optiques introduites par ledit objectif optique (200) dans une image. Elle concerne également un dispositif de caractérisation, un procédé et un dispositif d’acquisition d’image, et un appareil d’imagerie mettant en œuvre un tel procédé. Figure d’abrégé : Fig. 4 Procédé et système de caractérisation d’un objectif optique pour la correction d’aberrations optiques introduites par ledit objectif optique dans une image. La présente invention concerne un procédé de caractérisation d’un objectif optique pour déterminer une matrice de valeurs permettant de corriger au moins certaines aberrations optiques introduites par ledit objectif dans une image réalisée avec ledit objectif. Elle concerne également un dispositif de caractérisation, un procédé et un dispositif d’acquisition d’image, et un appareil d’imagerie mettant en œuvre un tel procédé. Le domaine de l’invention est le domaine de la caractérisation d’objectifs optiques utilisés pour l’imagerie, en vue de la correction d’aberrations optiques dues audit objectif optique. État de la technique Les objectifs optiques sont utilisés dans divers appareils, tels que par exemple des caméras, des appareils photos, des Smartphones, etc. pour imager une scène. Généralement, un objectif optique est constitué d’un empilement d’éléments optiques, tels que des lentilles optiques, séparées entre-elles par un espace vide, également appelé « air gap » en anglais, ou par une entretoise, également appelé « spacer » en anglais. Elles sont généralement assemblées via un dispositif que l’on appelle fût ou barillet. Pour réaliser une image, l’objectif optique coopère avec un capteur photosensible, également appelé capteur d’image, tel qu’un capteur CMOS ou CCD. Le plan du capteur d’image est appelé le plan d’image et chaque capteur d’image comprend une multitude de pixels. L’ensemble comprenant l’objectif optique et le capteur d’image est généralement appelé « module optique » ou « module caméra ». La tendance à la miniaturisation des modules caméra montés dans les appareils électroniques, tels que les smartphones, diminue les tolérances sur la fabrication des composants et notamment sur celles de l’objectif optique et de lentilles qui le composent. Les défauts de fabrication peuvent ainsi apparaitre sous la forme de défauts de l’image obtenue sur le capteur d’image. Par exemple, des aberrations optiques peuvent se traduire par un flou des images. La luminosité d'un pixel d'une image originale est déformée et modifie la luminosité d’un pixel adjacent de l’image capturée. Ce phénomène peut être exprimé sous la forme d'une fonction d'étalement du point (PSF pour « Point Spread Function » en anglais) indiquant un degré de flou obtenu au cours d'un processus dans lequel un système optique forme une image d’une scène sur un capteur d'images. Le PSF peut ensuite être utilisé pour en déduire des valeurs de corrections, dans une image, des aberrations optiques dues à l’objectif optique, par exemple par déconvolution. Suivant une première solution connue, le PSF est mesuré pour chaque objectif optique fabriqué : cette solution est chronophage. Suivant une deuxième solution, le PSF peut être mesuré pour un objectif optique et réutilisé pour tous les objectifs optiques faisant partie du même lot : cette solution, bien que moins chronophage est imprécise car elle ne prend pas en compte les spécifiés de chaque objectif optique. Suivant une troisième solution connue, le PSF peut être estimé par calcul, pour chaque objectif optique, à partir des paramètres individuels de chaque élément optique formant ledit objectif optique. Or, les inventeurs de la présente invention ont découvert que cette solution, bien que moins chronophage, reste aussi imprécise car elle ne prend pas en compte les paramètres de fabrication, et en particulier ceux pouvant influencer les interactions entre les éléments optiques d’un objectif optique, ainsi que des micro défauts de réalisation des éléments optiques. Un but de la présente invention est de remédier à au moins un des inconvénients précités. Un autre but de l’invention est de proposer une solution permettant une meilleure correction des aberrations optiques introduites par un objectif optique tout en étant moins chronophage. L’invention propose d’atteindre au moins l’un des buts précités par un procédé de caractérisation d’un objectif optique comprenant un empilement de plusieurs éléments optiques et prévu pour être associé à un capteur d’image pour l’acquisition d’images, ledit procédé comprenant les étapes suivantes : détermination, par mesure optique sur ledit empilement d’éléments optiques, d’au moins un jeu de données, dit jeu géométrique, comprenant des données relatives à au moins un paramètre géométrique d’au moins une interface optique enterrée dudit objectif, modélisation numérique dudit objectif optique en fonction dudit jeu géométrique, et détermination, par un simulateur numérique de propagation d’onde optique appliqué audit modèle numérique, d’au moins une matrice, dite matrice d’aberration, représentative d’aberrations optiques introduites par ledit objectif optique dans une image. Ainsi, l’invention propose de déterminer une matrice d’aberration dont les valeurs sont représentatives d’aberrations optiques introduites par l’objectif optique sur une image prise par ledit objectif optique, par simulation sur un modèle numérique dudit l’objectif optique et non par des mesures optiques réalisées sur ledit objectif optique. Ainsi, l’invention permet de déterminer la matrice d’aberration de manière moins chronophage que les solutions actuelles qui réalisent une mesure de ces aberrations, et en particulier du PSF, sur chaque objectif optique. De plus, l’invention propose de déterminer la matrice d’aberration par simulation sur un modèle numérique de l’objectif optique. Ainsi, il est possible de déterminer la matrice d’aberration individuellement pour chaque objectif optique, ce qui permet d’obtenir des valeurs d’aberrations, et donc des valeurs de correction, individuellement pour chaque objectif optique, de sorte à obtenir une correction plus précise. Surtout, l’invention permet de déterminer le modèle numérique de l’objectif optique en fonction des paramètres des interfaces optiques dudit objectif optique, mesurés après que les éléments optiques formant l’objectif ont été empilés. Ainsi, le modèle numérique de l’objectif optique prend en compte les caractéristiques de chaque élément optique en combinaison avec les autres éléments optiques de l’objectif optique. Un tel modèle numérique est plus précis et plus proche de la réalité, permet d’obtenir des valeurs représentatives des aberrations optiques plus précises, et donc de réaliser une meilleure correction des aberrations optiques introduites dans une image par ledit l’objectif optique. Par « aberration optique », on entend notamment un flou optique ou une distorsion optique. Un flou optique se traduite généralement par un étalement d’un point lumineux. Une distorsion se traduit généralement par un déplacement du point optique. Les éléments optiques composant un objectif optique sont empilés suivant une direction d’empilement, également appelé axe Z dans la suite, ou encore l’axe de l’objectif optique. Le plan perpendiculaire à l’axe Z, c’est-à-dire le plan selon lequel chaque élément optique s’étend, est appelé le plan X-Y dans la suite. Par « paramètre géométrique d’une interface optique », on entend, par exemple, et sans perte de généralité : une position de l’interface optique au sein de l’objectif, dans l’axe Z ; une position d’un APEX de l’interface optique, en particulier dans le plan X-Y et/ou une position d’un APEX de l’interface optique, en particulier selon l’axe Z, une inclinaison (TIP et/ou TILT) de ladite interface optique par rapport à l’axe Z, un décentrement d’une interface optique, ou d’un élément optique, par rapport à l’axe Z, dans le plan X-Y, une courbure ou un ou des termes d’une équation décrivant une interface optique. Dans la présente demande, par « interface optique enterrée » d’un objectif optique, on entend une interface au sein de l’objectif optique qui n’est visible, ou accessible, que par l’intermédiaire d’au moins une autre interface optique de l’objectif. L’au moins une autre interface optique au travers de laquelle l’interface enterrée est visible peut être une interface optique d’un même élément optique, ou une interface optique d’un autre élément optique que l’interface enterrée. Le jeu géométrique comprend des données relatives à au moins un paramètre géométrique d’au moins une interface enterrée dudit empilement. Le jeu géométrique estimé peut en outre comprendre des données relatives à au moins un paramètre géométrique d’au moins une interface non enterrée dudit empilement. Suivant des modes de réalisation, le procédé selon l’invention peut comprendre une détermination de plusieurs matrices d’aberration pour plusieurs régions, R i , du capteur d’image associé à l’objectif optique. Ainsi, il est possible de caractériser plus précisément les aberrations optiques introduites par l’objectif optique dans telle ou telle région du capteur d’image, ces aberrations pouvant changer en fonction des régions du capteur d’image. En effet, il est par exemple fréquent que les aberrations optiques introduites dans une région centrale soient différentes d’une région périphérique. De même, il est probable que les aberrations optiques d’une région périphérique de diffèrent des aberrations optiques introduites dans une autre région périphérique. Chaque matrice d’aberration peut être déterminée par simulation par le simulateur numérique. Pour ce faire, dans le simulateur numérique, pour chaque région, un faisceau lumineux de test est émis . Le faisceau de test entre dans l’objectif optique, traverse l’objectif optique et est reçu sur un capteur d’image. Les valeurs reçues sont comparées aux valeurs d’entrée, c’est-à-dire aux valeurs du faisceau lumineux de test. Cette comparaison permet de déduire les aberrations introduites par l’objectif optique par examen de chaque pixel de la région concernée et comparaison au faisceau émis. En particulier, les aberrations peuvent être déterminées par convolution d’une matrice de valeurs les décrivant avec les intensités des points lumineux d’une région d’une scène observée, ce qui permet d’obtenir les valeurs d’intensité reçues au niveau du capteur d’image dans la région correspondante. Par « région », on entend une région du capteur d’image dans son plan X-Y. Au moins une région peut comprendre un unique pixel. Au moins une région peut comprendre plusieurs pixels. Au moins deux régions peuvent être de même taille. Au moins deux régions peuvent être de tailles différentes. Dans le présent document, une région du capteur d’image centrée sur les coordonnées (X i ,Y i ), dans le plan (X,Y), peut être désignée par R(X i ,Y i ), ou R i . Dans le présent document, MA désigne la matrice d’aberration pour l’ensemble de l’objectif optique. MA i , ou MA i (X i ,Y i ) désigne la matrice d’aberration pour la région R i de l’objectif. La matrice d’aberration MA peut être obtenue par concaténation ou addition des matrices d’aberration MA i . Suivant des modes de réalisation, le procédé selon l’invention peut comprendre, pour une région du capteur d’image, un calcul d’une matrice d’aberration par interpolation d’une ou de plusieurs matrices d’aberration d’un ou plusieurs autres régions dudit objectif optique. Ainsi, le procédé selon l’invention permet de caractériser l’objectif optique avec moins de temps. En particulier, la matrice d’aberration d’une région peut être calculée par interpolation de matrices d’aberration des régions adjacentes. L’interpolation peut être réalisée par toute technique connue, par exemple par calcul de moyenne. Alternativement, ou en en plus, le procédé selon l’invention peut comprendre une détermination de plusieurs matrices d’aberration pour plusieurs valeurs d’une distance, dite distance objectif-capteur, notée DOC dans la suite, entre ledit objectif optique et un plan d’image, le simulateur numérique prenant en entrée ladite distance objectif-capteur. Ainsi, le procédé selon l’invention permet de quantifier les aberrations optiques introduites par l’objectif optique dans une image, lorsque la distance entre l’objectif optique et le plan d’image est changeante. En effet, les inventeurs ont remarqué que, pour un objectif donné, les aberrations optiques introduites par ledit objectif peuvent varier en fonction de la distance entre ledit objectif et le plan d’image. Le plan d’image peut être le plan d’un capteur d’image associé à l’objectif. Le capteur d’image peut être tout type de capteur, tel qu’un capteur CMOS ou un capteur CCD, etc. Pour ce faire, pour chaque distance DOC j , avec j≥1, un faisceau lumineux de test est émis en regard de l’objectif. Le faisceau de test entre dans l’objectif optique, traverse l’objectif optique et est reçu sur un capteur d’image. La matrice d’aberration est déterminée en fonction des valeurs reçues et des valeurs d’entrée, c’est-à-dire des valeurs du faisceau lumineux de test. Plusieurs matrices d’aberration peuvent être déterminées pour plusieurs distances DOC j , pour l’ensemble de l’objectif optique. Alternativement, plusieurs matrices d’aberration peuvent être déterminées pour plusieurs distances DOC j , pour différentes régions du capteur d’image. Alternativement, ou en plus, le procédé selon l’invention peut comprendre une détermination de plusieurs matrices d’aberration pour plusieurs valeurs d’une distance, dite distance objectif-scène, DOS, entre ledit objectif optique et une scène, le simulateur numérique prenant en entrée ladite distance objectif-scène. Ainsi, le procédé selon l’invention permet de quantifier les aberrations optiques introduites par l’objectif optique dans une image, lorsque la distance entre l’objectif optique et la scène imagée est changeante. En effet, les inventeurs ont remarqué que, pour un objectif donné, les aberrations optiques introduites par ledit objectif peuvent varier en fonction de la distance entre ledit objectif et la scène. Pour ce faire, pour chaque distance DOS k , avec k≥1, un faisceau lumineux simulé de test est émis en regard de l’objectif. Le faisceau de test entre dans l’objectif optique, traverse l’objectif optique et est reçu sur un capteur d’image. La matrice d’aberration est déterminée en fonction des valeurs reçues et des valeurs d’entrée, c’est-à-dire des valeurs du faisceau lumineux de test. Plusieurs matrices d’aberration peuvent être déterminées pour plusieurs distances DOS k , pour l’ensemble de l’objectif optique. Alternativement, plusieurs matrices d’aberration peuvent être déterminées pour plusieurs distances DOS k , pour différentes régions du capteur d’image. Ainsi, suivant des modes de réalisation, il est possible de déterminer un nombre NB=I x J x K matrices d’aberration pour l’objectif optique, avec : I≥1 le nombre de régions considérées du capteur d’image, J≥1 le nombre de distances DOC considérées, et K≥1 le nombre de distances DOS considérées. Par exemple, si dix (10) régions du capteur d’image sont caractérisées pour 3 distances DOC j et 5 distances DOS k , alors il peut être déterminé 15 matrices d’aberration pour chaque région du capteur d’image, et en tout 150 matrices d’aberration pour l’objectif optique. Dans la suite, pour la région R i du capteur, la distance DOC j et la distance DOS k : MA ijk la matrice d’aberration, et MC ijk est la matrice de correction. Bien entendu, lorsque la distance DOC et/ou la distance DOS ne sont pas variables alors, alors les notations MA ijk et MC ijk n’impliquent pas forcément que ces distances sont variables. Suivant des modes de réalisation, le procédé selon l’invention peut en outre comprendre une étape de calcul d’une matrice, dite matrice noyau d’aberration, comprenant des coefficients permettant de déduire au moins une matrice d’aberration. Dans ce cas, plusieurs matrices d’aberration peuvent déterminées. Ensuite, à partir de ces matrices, une matrice commune peut être identifiée. Cette matrice commune, dite matrice noyau d’aberration, peut-être mémorisée à la place de la multitude de matrices d’aberration, en relation avec une ou plusieurs relations, pour permettre le calcul de chaque matrice d’aberration. Cela permet d’éviter d’avoir à mémoriser une multitude de matrices d’aberration et donc diminuer l’espace mémoire utilisée pour la mémorisation des matrices d’aberration. La matrice noyau d’aberration peut, suivant un exemple de réalisation nullement limitatif, être déterminée de la manière suivante. Dans un premier temps, on établit une base de fonctions FA permettant de décrire les valeurs des coefficients des matrices d’aberration en fonction des positions (X,Y) dans le champ du capteur d’image, telle que : MA(X,Y) = ∑ l αA l (X,Y) FA l (X,Y) + E(X,Y) où l balaye la base des fonctions FA, avec 1≤l≤L, et L≥1. le terme E(X,Y) modélise les écarts entre la combinaison des fonctions FA l et MA. La base FA peut de préférence être choisie de façon à être suffisamment large pour que le terme E(X,Y) garde un effet négligeable, voire nul. Ces fonctions peuvent être orthogonales entre elles au sens d’un produit scalaire, mais pas nécessairement. Par exemple la base de fonctions FA l peut être la base de fonctions des polynômes de Zernike. Pour obtenir les fonctions αA l (X,Y), il suffit d’utiliser une méthode connue de l’état de l’art telle qu’une projection de MA(X,Y) sur les FA l (X,Y), au sens d’un produit scalaire, et d’appliquer le produit matriciel qui convient pour tenir compte de leur non orthogonalité, le cas échant, pour obtenir les fonctions αA l (X,Y). L’établissement d’un précurseur de noyau d’aberration (PNA) revient à rechercher un modèle paramétrique des fonctions αA l (X,Y), tel que par exemple une expression polynomiale représente αA l (X,Y), par exemple, si l ∊ {1, 2}, telle que αA 1 (X,Y) = a 01 .((X-x 01 ) 2 +(Y-y 01 ) 2 ) et αA 2 (X,Y) = a 02 .((X-x 02 ) * (Y-y 02 )) +z 02. Le modèle représentant les αA i (X,Y), ici αA 1 (X,Y) et αA 2 (X,Y), est alors la table des valeurs ((a 01 , x 01 , y 01 ) ; (a 02 , x 02 , y 02 , z 02 )) dans cet exemple. Nous pouvons appeler ce jeu de coefficients matrice précurseur noyau d’aberrations dit PNA (ici qui peut être une matrice de 1 ligne x 7 colonnes, ou 2 lignes par 4 colonnes avec un coefficient nul ajouté à la 1ere ligne). Comme les fonctions FA l () sont choisies de façon à modéliser au mieux les modes des aberrations obtenues, le modèle paramétrique qui représente les fonctions αAl(X,Y) en fonction des paramètres géométriques contient significativement moins de coefficients que la représentation numérique des fonctions FA l (X,Y). Ici par exemple, il contient 8 coefficients à la place des par exemple 16 millions de coefficients qu’il aurait fallu pour représenter les fonctions d’aberration représentées par 4 x 4 coefficients sur un champ X, Y de 1000x1000 positions. Il reste une dernière étape pour obtenir la matrice d’aberration qui est de représenter les évolutions des coefficients de PNA en fonction des paramètres distance objectif capteur et objectif scène DOC et DOS, ce qui fait à nouveau un jeu de plusieurs paramètres intervenant dans des fonctions modélisant les valeurs de PNA en fonction de DOC et de DOS. C’est ce dernier jeu de coefficients qui peut, de manière avantageuse, constituer la matrice noyau d’aberration. Suivant un autre exemple de réalisation, la matrice noyau d’aberration peut être une table de matrices contenant les coefficients de PNA, ou directement le PNA pour plusieurs jeux de paramètres DOC et DOS. L’essentiel est de pouvoir retrouver les matrices d’aberration de l’objectif à partir des paramètres géométriques, de préférence en mémorisant moins de données que ces matrices d’aberration en représentent. Par exemple la base de fonctions FA l peut être la base de fonctions des polynômes de Zernike. Suivant des modes de réalisation, le procédé selon l’invention peut en outre comprendre une étape de calcul, en fonction d’au moins une matrice d’aberration, d’au moins une matrice, dite de correction, comprenant des valeurs pour corriger une image captée avec ledit objectif optique. En particulier, une matrice de correction peut être calculée pour chaque matrice d’aberration. Pour au moins une matrice d’aberration, la matrice de correction peut être obtenue en inversant ladite matrice, ce qui peut se faire par exemple par des calculs dans le domaine de fréquences spatiales. Suivant des exemples de réalisation, au moins une matrice de correction peut être obtenue par la relation : où G 0 est une fonction représentant la forme de fonction de dispersion de point à obtenir après correction. Il peut s’agir d’une fonction s’approchant d’une fonction de Dirac en 2 dimensions, c’est-à-dire valant 1 au centre, et quasiment 0 autour. En notant MTOBS ijk , la matrice du faisceau lumineux test telle qu’observé, et MT sa forme native telle qu’elle est en réalité lors de son émission, la matrice de correction MC ijk de la façon suivante : Dans une forme simplifiée, on peut supposer que TF(G0) = 1, la fonction constante qui renvoie 1 avec une phase nulle à toutes les fréquences, ce qui s’écrit : avec : TF() l’opérateur de transformée de Fourier (en 2D) TF -1 () l’opérateur inverse de transformée de Fourier (en 2D) MC ijk matrice de correction pour la région R i du capteur d’image, à la distance objectif-capteur DOC j et à la distance objectif-scène DOS k ; MA ijk la matrice d’aberration obtenue par simulation pour la région R i de l’objectif optique et les distances DOC j et DOS k ; et MT ijk la matrice du faisceau lumineux de test, c’est-à-dire la matrice décrivant le faisceau lumineux de test, utilisé pour mesurer par simulation la matrice d’aberration MA ijk . MTOBS ijk la matrice d’illumination observée, obtenue par simulation, dans le plan du capteur par rapport à la matrice de test MT ijk présentée en entrée de l’objectif. Suivant des modes de réalisation, à l’instar de la matrice noyau d’aberrations calculée pour les matrices d’aberration, le procédé selon l’invention peut en outre comprendre une étape de calcul d’une matrice, dite matrice noyau de correction, comprenant des coefficients permettant de déduire au moins une matrice de correction. Dans ce cas, plusieurs matrices de corrections peuvent déterminées. Ensuite, à partir de ces matrices de correction, une matrice de correction commune, notée MC, peut être identifiée par exemple par addition ou concaténation des matrices de corrections MC ijk . Cette matrice de correction commune peut-être mémorisée à la place de la multitude de matrices de correction, en association avec une ou plusieurs relations, pour permettre le calcul de chaque matrice de correction. Cela permet d’éviter d’avoir à mémoriser une multitude de matrices de correction. La détermination de la matrice noyau de correction peut être déterminée d’une manière similaire à celle décrite plus haut pour la matrice noyau d’aberrations en utilisation la même base de fonctions FA l , ou une autre base de fonctions qui serait appropriée. Suivant des modes de réalisation préférés, au moins une matrice d’aberration peut être une matrice, dite matrice PSF, de valeurs d’une fonction d’étalement du point (« Point Spread Function » ou « PSF » en anglais). Alternativement, ou en plus, au moins une matrice d’aberration peut être une matrice, dite matrice OTF, de valeurs d’une fonction de transfert optique (« Optical Tranfer Function » ou « OTF » en anglais). Suivant encore une autre alterantive, ou en plus, au moins une matrice d’aberration peut être une matrice de valeurs obtenues par analyse de front d’onde. Lorsqu’une matrice d’aberration est une matrice PSF, alors la matrice correction calculée pour ladite matrice d’aberration peut être une matrice de valeurs, dite matrice IPSF, obtenue par inversion de ladite matrice PSF. Le simulateur numérique peut être tout type de simulateur de propagation d’onde optique au travers de plusieurs interfaces, éléments, otique. De tels simulateurs numériques sont connus de l’Homme du Métier et sont largement présents dans le commerce. Par exemple, le simulateur numérique peut être le simulateur OpticStudio de Zemax. Bien entendu, l’invention n’est pas limitée à ce simulateur et tout type de simulateur numérique de propagation de faisceau lumineux peut être utilisé. Suivant des modes de réalisation, au moins un jeu géométrique peut être obtenu par interférométrie optique. Alternativement, ou en plus, au moins un jeu géométrique peut être obtenu par mesure(s) confocale(s). Le jeu géométrique peut être déterminé à partir de mesures optiques réalisées uniquement depuis une face, ou un côté, de l’empilement d’éléments optiques, sans avoir à retourner ledit empilement. Selon des modes de réalisation, au moins un jeu géométrique peut être déterminé par mesures confocales réalisées sur l’empilement d’éléments optiques de l’objectif optique cible, préférentiellement depuis une face de dudit empilement. De manière classique, une mesure confocale est réalisée avec un appareil qui comprend une première ouverture (orifice) imagée sur la surface à mesurer par l’intermédiaire d’une lentille de focalisation. Cette ouverture est éclairée par un faisceau lumineux provenant d’une source de lumière et qui est ensuite dirigé vers la surface à mesurer. Lorsque le faisceau est réfléchi par une surface, il est redirigé vers la lentille de focalisation puis vers une seconde lentille placée devant un élément de détection et de façon à être l’image conjuguée du point illuminé sur la surface mesurée. L’avantage d’une telle configuration est la réduction de la profondeur de champ et donc de pouvoir distinguer plus facilement des objets (ou surfaces) les unes sous les autres. Pour réaliser la détection, le système de mesure confocale est déplacé relativement par rapport à l’objet mesuré. Un maximum d’intensité est détecté sur l’élément de détection lorsqu’une surface entre dans le point de focalisation définie par la lentille de focalisation. Une configuration particulière d’un système de mesure confocale utilise une lentille chromatique pour focaliser et imager un faisceau issu d’une source polychromatique. Les différentes longueurs d’ondes définissent ainsi différents points de focalisation le long de l’axe optique de la lentille. La détection avec un spectromètre de la lumière réfléchie permet de reconnaître la longueur d’onde réfléchie et en déduire une information de hauteur (ou distance) entre la lentille et la surface mesurée. Une telle configuration permet d’éliminer ou de réduire le déplacement du système de mesure confocale. Notamment, lorsque le système de mesure confocale est déplacé selon un plan perpendiculaire à l’axe d’illumination de la surface à mesurer, des informations de topographie d’une surface peuvent être obtenues. Selon des modes de réalisation, au moins un jeu géométrique peut être déterminé par mesures d’interférométrie optique réalisées sur l’empilement d’éléments optiques de l’objectif optique cible, préférentiellement depuis une face dudit empilement. De manière classique, une mesure d’interférométrie optique est réalisée avec un appareil d’interférométrie optique comprenant une source de lumière à faible cohérence émettant. Cette source de lumière émet, en direction de l’empilement d’éléments optiques, et plus particulièrement selon l’axe Z, un faisceau de lumière, appelé faisceau de mesure. Le faisceau de mesure, illumine l’empilement d’éléments optiques en un point de mesure plus ou moins large selon la focalisation dans le plan X-Y, et parcourt alors l’empilement d’éléments optiques, en particulier dans la direction d’empilement, et traverse chaque interface optique à tour de rôle. À chaque interface optique, une partie du faisceau est réfléchie, et constitue un faisceau réfléchi. Ce faisceau réfléchi est alors capté par un capteur se trouvant du même côté que la source d’émission, et est caractérisé par interférométrie optique avec un faisceau de référence provenant aussi de la source de lumière. Par « zone de cohérence », on entend la zone dans laquelle des interférences entre le faisceau de mesure et le faisceau de référence peuvent se former sur le capteur. La zone de cohérence peut être déplacée en variant la différence de la longueur du chemin optique entre les deux faisceaux, par exemple en modifiant la longueur optique d’un des faisceaux ou des deux. L’appareil d’interférométrie optique permet de détecter sélectivement un signal d’interférence pour chaque interface au niveau de laquelle la zone de cohérence est positionnée, c’est-à-dire pour chaque surface se trouvant dans la zone de cohérence. Préférentiellement, la longueur de cohérence de la source lumineuse est ajustée de sorte à être plus courte qu’une distance optique minimale entre deux interfaces adjacentes de l’élément optique. Ainsi, pour chaque mesure, une seule interface se trouve dans la zone de cohérence, et donc, un signal d’interférence acquis ne comprend que la contribution d’une seule interface, ou ne provient que d’une seule interface. Les mesures des interférences sont effectuées selon un champ de vue déterminé par les moyens de mesure de l’appareil interférométrique. Selon un mode de réalisation, l’appareil interférométrique peut opérer en mode point en étant configuré pour détecter un signal d’interférence ponctuel en un point du champ de vue ou en un détecteur ponctuel. Le signal d’interférence, ou l’interférogramme, obtenu est un signal d’intensité fonction du déplacement de la zone de cohérence le long de l’axe Z. Le signal d’interférence peut, par exemple, être vu comme une succession de raies d’interférence associées à chaque interface optique. Alternativement ou en plus, l’appareil interférométrique peut comprendre un capteur interférométrique, dit capteur interférométrique en plein champ, configuré pour détecter un signal d’interférence en plein champ dans un champ de vue et représenté, par exemple, sous la forme d’une image 2D (image d’interférence) grâce à l’élément de détection. Une interface à mesurer peut ainsi être imagée selon le champ de vue en une seule mesure ou par balayage d’un faisceau. Dans un exemple particulier de mise en œuvre, un signal de mesure peut être formé par un signal d’interférence ponctuel associé à un pixel de l’élément de détection dont l’intensité est détectée suivant le déplacement en Z de la zone de cohérence. Selon un exemple, l’appareil interférométrique peut comprendre un capteur interférométrique avec un interféromètre de Michelson. Selon un autre exemple, l’appareil interférométrique peut comprendre un capteur interférométrique avec un interféromètre de Mach-Zehnder. Selon des modes de réalisation, un appareil interférométrique en mode point et un appareil interférométrique en plein champ peuvent être associés. Suivant des modes de réalisation, au moins un jeu géométrique peut comprendre une valeur d’au moins un paramètre géométrique d’une interface optique de l’objectif cible. Par exemple, le jeu géométrique peut comprendre, pour au moins une, et en particulier chaque, interface optique, de l’empilement : au moins une valeur de position de l’interface optique ; au moins une valeur de décentrement de l’interface optique par rapport à l’axe Z, ou relativement à une position de centre d’une autre interface, dans le plan X-Y ; ou au moins une valeur d’inclinaison de l’interface optique par rapport à l’axe Z, ou relativement à l’inclinaison d’une autre interface. au moins une valeur de topographie ou de profil de forme de l’interface optique, par exemple par rapport à un plan ou un axe de référence pour en déduire, par exemple, des valeurs de décentrement ou d’inclinaison, ou des valeurs de forme de l’interface. La position selon l’axe Z d’une interface optique peut être déterminée comme étant la position d’une raie d’interférence correspondant à ladite interface. L’épaisseur d’un élément optique, selon l’axe Z, peut être déterminée en calculant la distance entre les raies d’interférence correspondant à chacune des interfaces optiques dudit élément optique. La position d’une interface optique par rapport à l’axe Z peut être déterminée en effectuant plusieurs mesures d’interférométrie optique, en particulier dans une région centrale du capteur d’image. En suivant, sur les plusieurs mesures, la position, selon l’axe Z, de la raie d’interférence associée à ladite interface, il est possible de déterminer la position de l’APEX de ladite interface optique. La position de l’APEX de l’interface optique permet de déterminer la position de ladite interface par rapport à l’axe Z, dans le plan X-Y, et donc son décentrement par rapport à l’axe Z. Dans un autre exemple, la position d’une interface par rapport à l’axe Z peut être obtenue, par exemple, par détection d’une image d’interférence de l’interface dans une région centrale du capteur d’image et analyse de cette image et/ou analyse des images d’amplitudes ou de phases associées, notamment pour obtenir un profil de cette surface et la position de l’APEX de ladite interface optique. La position d’un élément optique par rapport à l’axe Z peut être déterminée en fonction des positions de ses interfaces optiques. L’inclinaison d’une interface optique par rapport à l’axe Z peut être déterminée en effectuant plusieurs mesures d’interférométrie optique, en particulier dans une région périphérique du capteur d’image. En suivant, sur les plusieurs mesures, la position dans l’axe Z, de la raie d’interférence associée à ladite interface optique, il est possible de déterminer la position de l’interface selon l’axe au niveau de ses bords, ce qui permet de déterminer l’inclinaison de ladite interface par rapport à l’axe Z. L’inclinaison d’un élément optique par rapport à l’axe Z peut être déterminée en fonction des inclinaisons de ses interfaces optiques. Il est également possible de déterminer chacun de ces paramètres géométriques en utilisant l’amplitude d’une raie d’interférence, en plus ou à la place de la position de la raie d’interférence. Tel qu’indiqué plus haut, la matrice d’aberration peut être obtenue autour de chaque pixel du capteur. Dans ce cas, l’objectif est illuminé par un faisceau lumineux de test, puis l’illumination reçue au niveau du capteur d’image est mesurée. Cette illumination reçue au niveau du capteur comporte l’information des aberrations optiques introduites par l’objectif optique dans chaque image captée. La matrice d’aberration peut être obtenue par région du capteur d’image, correspondant chacune à plusieurs pixels sur le capteur d’image. Dans ce cas, un motif d’illumination est présenté en face de l’objectif, tel que par exemple un motif de damier alternant des motifs blancs et des motifs noirs, puis l’illumination reçue au niveau du capteur est mesurée. Cette illumination reçue au niveau du capteur comporte l’information des aberrations optiques introduites par l’objectif optique dans chaque image captée. Une transformation des images captées peut être nécessaire afin d’obtenir par exemple la fonction d’étalement de point (PSF) qui correspondrait à par exemple un faisceau de test provenant d’un seul point lumineux illuminant l’objectif, déplacé dans plusieurs régions du champ visible par l’objectif pour obtenir les PSF plusieurs régions du capteur. Mais si la simulation permet d’illuminer l’objectif à partir d’un seul point déplaçable, ces transformations peuvent généralement être omises pour obtenir directement des PSF. Suivant un autre aspect de la présente invention, il est proposé un système de caractérisation d’un objectif optique comprenant un empilement de plusieurs éléments optiques et prévu pour être associé à un capteur d’image (704) pour l’acquisition d’images, ledit système comprenant : un dispositif de mesure optique, sur ledit empilement d’éléments optiques, d’au moins un jeu de données, dit jeu géométrique, comprenant des données relatives à au moins un paramètre géométrique d’au moins une interface optique enterrée dudit objectif ; au moins une unité de calcul configurée pour : modéliser numériquement ledit objectif optique en fonction dudit jeu géométrique ; et déterminer, par simulation numérique de propagation d’onde optique appliquée audit modèle numérique, d’au moins une matrice, dite matrice d’aberration, représentative d’aberration optiques introduites par ledit objectif optique dans une image. De manière générale, le système selon l’invention peut comprendre des moyens configurés pour mettre en œuvre une combinaison quelconque d’au moins une des caractéristiques décrites plus haut en référence au procédé de caractérisation selon l’invention, et qui ne sont pas reprises ici par soucis de concision. Le dispositif de mesure optique peut être un dispositif comprenant au moins un interféromètre optique, et/ou au moins un dispositif de mesure confocale. L’unité de calcul peut être tout type de machine physique, ou virtuelle, tel qu’au moins un serveur, au moins un ordinateur, au moins une tablette, au moins un processeur, au moins une puce informatique, au moins un calculateur, etc. L’unité de calcul peut en particulier être configurée pour exécuter un simulateur numérique de propagation d’onde optique, tel que par exemple OpticStudio de Zemax. Suivant un autre aspect de la présente invention, il est proposé un procédé d’acquisition d’une image avec un appareil comprenant un objectif optique et un capteur d’image, ledit procédé comprenant les étapes suivantes : captation d’une image avec ledit objectif optique et ledit capteur d’image ; et correction de ladite image en fonction d’au moins une matrice de correction calculée à partir d’au moins une matrice d’aberration obtenue, pour ledit objectif optique, par le procédé selon l’invention de caractérisation d’un objectif optique. Suivant des modes de réalisation, au moins une matrice de correction peut être calculée hors de l’appareil réalisant l’acquisition de l’image. Dans ce cas, ladite matrice de correction peut être calculée avant l’intégration de l’objectif optique dans l’appareil, et en particulier au moment de, pendant ou après, la conception de l’objectif optique. L’au moins une matrice de correction peut être calculée par un procédé ou un système de caractérisation selon l’invention. Dans ce cas, l’au moins une matrice de correction préalablement calculée est chargée et mémorisée dans l’appareil. Suivant des modes de réalisation, au moins une matrice de correction peut être calculée dans l’appareil réalisant l’acquisition de l’image. Dans ce cas, la matrice de correction peut être calculée à partir : d’au moins une matrice d’aberration, d’une matrice noyau d’aberrations, ou d’une matrice noyau de correction. Dans ces modes de réalisation, il n’est alors pas nécessaire de calculer toutes les matrices de correction préalablement à l’intégration de l’objectif optique dans l’appareil, et le calcul des matrices de corrections se fait dans l’appareil, dans l’environnement d’utilisation de l’objectif optique. Cela permet de prendre en compte des spécificités découlant, ou dépendant, des conditions d’intégration de l’objectif optique dans l’appareil, ce qui permet une plus grande précision. Au moins une matrice de correction peut être calculée une seule fois puis mémorisée dans l’appareil pour être utilisée à de multiples reprises. Par exemple, au moins une matrice de correction peut être calculée juste après l’intégration de l’objectif optique dans l’appareil, ou au moment de la configuration de l’appareil ou encore au moment d’une installation/configuration d’une application d’acquisition d’image, et être mémorisée dans l’appareil pour être utilisée dans le temps. Au moins une matrice de correction peut être calculée, ou recalculée, à la volée à chaque acquisition d’une image, ou à chaque démarrage d’une application d’acquisition d’image. Dans ce cas, il n’est pas nécessaire de mémoriser l’au moins une matrice de correction, cette dernière étant calculée à la volée. Ce mode de réalisation permet d’éviter d’avoir à mémoriser toutes les matrices de corrections et calculer l’au moins une matrice de correction lorsqu’elle est utilisée. Par exemple, lors de l’acquisition d’une image les distances DOC et DOS peuvent être déterminées et l’au moins une matrice de correction correspondante auxdites distances peut être déterminée à la volée. Le procédé selon l’invention peut en outre comprendre une étape de détermination d’une distance, DOC, entre l’objectif optique et un plan d’image, la correction prenant en compte ladite distance DOC. La distance DOC peut par exemple être mesurée par un capteur de distance, tel qu’un capteur optique, un capteur magnétique, un capteur capacitif, etc. La distance DOC peut par exemple être calculée à partir d’information fournie par un mécanisme d’ajustement de la focalisation modifiant ou contrôlant la distance entre l’objectif et le capteur d’image. Le procédé selon l’invention peut en outre comprendre une étape de détermination d’une distance, DOS, entre l’objectif optique et la scène, la correction prenant en compte ladite distance DOS. La distance DOS peut par exemple être mesurée par un LIDAR, une caméra temps de vol, un capteur ultrason, une analyse d’image texturée, etc. Une seule distance DOS peut être mesurée pour l’objectif optique. Alternativement, des distances DOS peuvent être mesurées pour différentes régions du capteur d’image. Suivant un autre aspect de la présente invention, il est proposé un dispositif d’acquisition d’une image comprenant : un objectif optique comprenant un empilement de plusieurs éléments optiques, un capteur d’image, et une unité de calcul ; configurés pour mettre en œuvre le procédé selon l’invention d’acquisition d’image. Suivant des modes de réalisation, mais de manière nullement limitative, le dispositif selon l’invention peut être un module caméra intégré ou prévu pour être intégré, dans un appareil, tel qu’un appareil photo, une tablette, un Smartphone, un ordinateur, une caméra de surveillance, etc. De manière générale, le dispositif d’acquisition d’image selon l’invention peut comprendre des moyens configurés pour mettre en œuvre une combinaison quelconque d’au moins une des caractéristiques décrites plus haut en référence au procédé d’acquisition d’image selon l’invention, et qui ne sont pas reprises ici par soucis de concision. Le dispositif d’acquisition d’image peut optionnellement comprendre au moins un capteur pour mesurer au moins une distance DOS pour au moins une région du champ optique, lors de l’acquisition d’une image, ladite au moins une distance étant utilisée pour la correction de l’image. Un tel capteur peut être un capteur optique, un capteur LIDAR, une caméra temps de vol, etc. Le dispositif d’acquisition d’image peut optionnellement comprendre au moins un moyen pour mesurer, ou calculer, une distance DOC lors de l’acquisition d’une image, ladite distance étant utilisée pour la correction de l’image. La distance DOC peut par exemple être mesurée par un capteur de distance, tel qu’un capteur optique, un capteur magnétique, un capteur capacitif, etc. Alternativement, la distance DOC peut par exemple être calculée à partir d’information fournie par un mécanisme de focalisation optique modifiant la distance entre l’objectif optique et le capteur d’image. Suivant un autre aspect de la présente invention, il est proposé un appareil d’acquisition d’une image comprenant un dispositif d’acquisition d’une image selon l’invention. Suivant des modes de réalisation, l’appareil selon l’invention peut être un appareil photo, une tablette ou un Smartphone, un module caméra destiné à être intégrée dans un autre appareil, un ordinateur, une caméra de surveillance, etc. Description des figures et modes de réalisation D’autres avantages et caractéristiques apparaîtront à l’examen de la description détaillée de modes de réalisation nullement limitatifs, et des dessins annexés sur lesquels : la est une représentation schématique d’un exemple de réalisation non limitatif d’un élément optique pouvant être utilisé pour fabriquer un objectif optique ; la est une représentation schématique d’un exemple de réalisation non limitatif d’un objectif optique pouvant être caractérisé par la présente invention ; les FIGURES 3a et 3b sont des représentations schématiques d’un exemple non limitatif de réalisation de mesure d’interférométrie optique pouvant être mise en œuvre dans la présente invention ; la est une représentation schématique d’un exemple de réalisation non limitatif d’un procédé selon l’invention de caractérisation d’un objectif optique ; les FIGURES 5a, 5b et 5c sont des représentations schématiques d’exemples de réalisation non limitatifs d’un procédé selon l’invention d’acquisition d’une image ; la est une représentation schématique d’un exemple de réalisation non limitatif d’un système selon l’invention de caractérisation d’un objectif optique ; la est une représentation schématique d’un exemple de réalisation non limitatif d’un dispositif selon l’invention d’acquisition d’une image ; et la est une représentation schématique d’un exemple de réalisation non limitatif d’un dispositif selon l’invention d’acquisition d’une image. Il est bien entendu que les modes de réalisation qui seront décrits dans la suite ne sont nullement limitatifs. On pourra notamment imaginer des variantes de l’invention ne comprenant qu’une sélection de caractéristiques décrites par la suite isolées des autres caractéristiques décrites, si cette sélection de caractéristiques est suffisante pour conférer un avantage technique ou pour différencier l’invention par rapport à l’état de la technique antérieure. Cette sélection comprend au moins une caractéristique de préférence fonctionnelle sans détails structurels, ou avec seulement une partie des détails structurels si c'est cette partie qui est uniquement suffisante pour conférer un avantage technique ou pour différencier l’invention par rapport à l’état de la technique antérieure. En particulier toutes les variantes et tous les modes de réalisation décrits sont combinables entre eux si rien ne s’oppose à cette combinaison sur le plan technique. Sur les figures et dans la suite de la description, les éléments communs à plusieurs figures conservent la même référence. La est une représentation schématique d’un exemple de réalisation non limitatif d’un élément optique pouvant être utilisé pour fabriquer un objectif optique. L’élément optique 100 de la peut être utilisé avec au moins un autre élément optique pour fabriquer un objectif optique. Un exemple d’objectif optique, donné à titre d’exemple non limitatif sera décrit en référence à la . L’élément optique 100 peut être une lentille, une lame, etc. Dans la suite, et sans perte de généralité, on considère que l’élément optique est une lentille. La lentille optique 100 peut par exemple être fabriquée par moulage par injection. Un procédé par moulage par injection suit de façon générale la succession d’étapes suivantes : injection du polymère et remplissage du moule, mise sous pression, maintien de la pression, refroidissement, et démoulage Les procédés de fabrication de lentille par injection, bien que courants, peuvent fluctuer et générer des erreurs sur les paramètres caractéristiques des lentilles, notamment en ce qui concerne sa géométrie. La lentille 100 a une forme géométrique donnée. Elle comporte deux interfaces 102 1 et 102 2 , ayant elles aussi, chacune, une forme géométrique donnée. Ainsi, la forme géométrique de lentille 100 est déterminée par : une forme géométrique de chacune des interfaces optiques 102 1 et 102 2 ; un centre de courbure, notées CC1 et CC2, de chacune des interfaces optiques 102 1 et 102 2 ; une position d’un apex, notées A1 et A2, de chacune des interfaces optiques 102 1 et 102 2 ; au moins une épaisseur, noté H1 et H2, de la lentille 100 le long de sa périphérie ; un diamètre intérieur, respectivement D11 et D21, et/ou un diamètre extérieur, respectivement D12 et D22, de chacune des interfaces 102 1 et 102 2 ; une concentricité ou valeur d’excentricité des interfaces 102 1 et 102 2 une rugosité de surface de chacune des interfaces optiques 102 1 et 102 2 ; etc. La valeur d’au moins un de ces paramètres géométriques peut être fournie par le fabricant. Alternativement, ou en plus, la valeur d’au moins un paramètre géométrique peut être mesurée par exemple par profilométrie optique ou mécanique. Alternativement, ou en plus, la valeur d’au moins un paramètre géométrique peut être déterminée par simulation, à partir d’une modélisation numérique de la lentille 100. Alternativement, ou en plus, la valeur d’au moins un paramètre géométrique peut être mesurée par exemple par interférométrie optique. De plus, la lentille 100 à des caractéristiques optiques puisqu’il s’agit d’un élément optique. Elle est donc caractérisée par au moins un paramètre optique tel que par exemple : un indice de réfraction, notés I1 et I2, de chacune des interfaces optiques 102 1 et 102 2 ; un nombre d’Abbé, noté Ab, etc. La est une représentation schématique d’un exemple de réalisation non limitatif d’un objectif optique pouvant être caractérisé par la présente invention. Un objectif optique a pour fonction de focaliser une image d’une scène dans un plan image, généralement constitué par un capteur photosensible tel qu’un capteur CMOS (dite « CMOS Imager System» qui fournit l’acronyme CIS), ou un capteur CCD. Un tel objectif optique est généralement constitué d’en empilement d’éléments optiques comprenant une combinaison quelconque d’éléments optiques tels que des lentilles, des rondelles d’espacement et d’opacification, etc. Lors de la fabrication de l’objectif optique, chaque élément optique dudit objectif est sélectionné individuellement et empilé avec les autres éléments optiques dans un barillet d’assemblage, selon un ordre donné. L’empilement est ensuite solidarisé avec le barillet par des techniques connues, par exemple par collage. Sur la , et à titre d’exemple non limitatif seulement, l’objectif optique 200 comprend quatre lentilles 202-208 empilées, dans une direction d’empilement 210, également appelé axe Z, dans un barillet 212. Au moins deux des lentilles 202-208 peuvent être séparées entre elles d’un espace vide, appelé « air gap », ou d’une entretoise, ou rondelle, d’espacement également appelée « spacer ». Au moins une des lentilles 202-208 peut par exemple être la lentille 100 de la . Chacune des lentilles 202-208 comporte deux interfaces, à savoir une interface, dite amont, et une interface, dite avale, dans la direction de l’empilement 210. Ainsi, la lentille 202 a une interface amont 214 1 et une interface avale 214 2 , la lentille 204 a une interface amont 214 3 et une interface avale 214 4 , la lentille 206 a une interface amont 214 5 et une interface avale 214 6 et la lentille 208 a une interface amont 214 7 et une interface avale 214 8 . Ainsi, pour l’objectif optique 200 de la , et de manière générale pour tout objectif optique comprenant un empilement d’éléments optiques, il est possible de déterminer un jeu de données, appelé jeu géométrique, notée JG dans la suite, comprenant des données relatives à au moins un paramètre géométrique d’au moins une, et en particulier de chaque, interface optique 214 1 -214 8 dudit empilement. Un tel jeu géométrique JG peut comprendre des données relatives à, ou des valeurs de, l’un quelconque des paramètres géométriques suivants : au moins une position d’au moins une interface optique 214 1 -214 8 de l’objectif 200 le long de l’axe Z ; au moins une valeur de décentrement d’au moins une interface optique 214 1 -214 8 par rapport à l’axe Z, ou relativement à une position de centre d’une autre interface, dans le plan X-Y ; ou au moins une valeur d’inclinaison d’au moins une interface optique 214 1 -214 8 par rapport à l’axe Z, ou relativement à l’inclinaison une autre interface ; au moins une valeur de topographie ou de profil de forme d’au moins une interface optique 214 1 -214 8 . De manière générale, le jeu géométrique JG peut comprendre pour chaque interface optique de l’objectif optique M paramètres géométriques avec M≥1 et préférentiellement M≥2. Si l’objectif optique comprend N éléments optiques, chaque élément optique comportant deux interfaces, alors le jeu géométrique JG peut comprendre 2NxM paramètres et peut correspondre à une matrice comportant 2N lignes et M colonnes. Bien entendu, le jeu géométrique JG peut comprendre un même nombre de paramètres géométriques pour au moins deux interfaces optiques, ou des nombres différents de paramètres géométriques pour au moins deux interfaces optiques. Le jeu géométrique JG peut comprendre directement les valeurs des paramètres géométriques. Ces valeurs peuvent être mesurées par interférométrie optique ou par mesure(s) confocale(s), préférentiellement depuis un côté ou une face de l’objectif optique 200, de manière à éviter de le tourner. La est une représentation schématique d’un exemple de réalisation non limitatif d’une mesure d’interférométrie optique pouvant être mise en œuvre dans la présente invention. La mesure d’interférométrie optique est réalisée par un appareil d’interférométrie optique, ou appareil interférométrique, 300 représenté de manière très schématique, sur la . L’appareil 300 comprend une source 302 de lumière et un capteur d’interférométrie 304. La source 302 émet, en direction de l’empilement d’éléments optiques, un faisceau 306 de lumière cohérente, appelé faisceau de mesure, en un point de mesure, ou selon un champ de vue, 308 dans le plan X-Y, perpendiculaire à la direction 210. Le faisceau de mesure 306 parcourt alors l’empilement d’éléments optiques, en particulier dans l’axe Z 210 et traverse chaque interface optique 214 i à tour de rôle. À chaque interface optique 214 i , une partie 310 i du faisceau de mesure 306 est réfléchie, tel que : un faisceau 310 1 est réfléchi par l’interface 214 1 , ... un faisceau 310 8 est réfléchi par l’interface 214 8 , Chaque faisceau réfléchi 310 i du faisceau de mesure 306 est alors capté par le capteur 304 se trouvant aussi relié optiquement à la source d’émission 302, et va produire un signal d’interférence lorsque ce faisceau réfléchi 310 i et un faisceau de référence 312, aussi issu de la source 302 de lumière se recombine sur le capteur 304, la différence des trajets parcourus par les deux faisceaux respectifs étant inférieure à la longueur de cohérence de la source d’émission 302. En particulier, pour chaque faisceau réfléchi 310 i le capteur 304 fournit une raie d’interférence, dite raie principale, ou une image d’interférence, selon les modes d’illumination et de détection mises en œuvre, à une distance optique correspondant à la position de l’interface par rapport à la source d’émission 302, ou tout autre référence prédéterminée. Bien entendu, à part le faisceau 310 1 réfléchi par la première interface 214 1 rencontrée par le faisceau de mesure 306, une partie de chacun des autres faisceaux réfléchis 310 2 -310 8 peut, elle-même, être réfléchie dans l’autre sens au passage d’une interface précédente, ce qui peut engendrer des faisceaux optiques à réflexion multiples (non représentés) captés par le capteur 304. Ces faisceaux à réflexions multiples engendrent des raies d’interférence, appelées raies secondaires, ou des images secondaires, généralement de plus faible amplitude. Les mesures d’interférométrie optique peuvent être réalisées avec un faisceau de mesure d’un capteur interférométrique illuminé par une source lumineuse à faible cohérence. Pour cela, l’appareil d’interférométrie optique dispose de moyens de positionnement pour positionner relativement une zone de cohérence du capteur interférométrique 304 au niveau de l’interface à mesurer. L’interface à mesurer peut être une interface enterrée, c’est-à-dire, l’une des interfaces à l’intérieur de l’élément optique. Pour arriver à une telle interface enterrée, le faisceau de mesure doit donc traverser d’autres interfaces de l’objectif optique. Le dispositif interférométrique permet de détecter sélectivement un signal d’interférence pour chaque interface au niveau de laquelle la zone de cohérence est positionnée, c’est-à-dire pour chaque surface se trouvant dans la zone de cohérence puisque la longueur de cohérence de la source lumineuse est ajustée de sorte à être plus courte qu’une distance optique minimale entre deux interfaces optiques adjacentes de l’objectif optique. Ainsi, préférentiellement, pour chaque mesure, une seule interface se trouve dans la zone de cohérence. Les mesures des interférences peuvent être effectuées selon un champ de vue déterminé par les moyens de mesure de l’appareil. Les mesures peuvent ainsi être réalisées soit en plein champ, soit par balayage du champ de vue. Des moyens numériques de traitement peuvent être configurés pour produire, à partir du signal d’interférence, la valeur d’un paramètre géométrique, de l’interface mesurée selon le champ de vue, et en particulier les valeurs des paramètres géométriques listés plus haut en référence à la . Des exemples d’appareils interférométriques pouvant être mis en œuvre dans le cadre de la présente invention sont, par exemple, décrits dans le document WO2020/245511 A1 . La donne une représentation schématique et partielle de données de mesures brutes obtenues pour une mesure d’interférométrie optique, telle que celle décrite en référence à la . Dans cet exemple de mise en œuvre, une illumination selon un point de mesure est utilisée, et la zone de cohérence est déplacée le long de l’axe optique Z 210 grâce à des moyens de déplacement. Ainsi, comme décrit en référence à la , chaque mesure d’interférence fournit des données brutes, ou un signal d’interférence, 320. Le signal d’interférence 320 comprend des raies principales 322 i , chaque raie principale correspondant à une interface optique. Par exemple, on obtient une raie principale 322 1 pour l’interface 214 1 , une raie principale 322 2 pour l’interface 214 2 , etc. (l’interface 214 8 n’apparaissant pas sur l’exemple illustré par la ). Le signal d’interférence 320 comprend aussi des raies secondaires correspondant à des réflexions multiples, et associées aux interfaces 214 2 -214 8 . La position optique de chaque raie est donnée en abscisse et l’amplitude normalisée de chaque raie est donnée en ordonnées. Tel que décrit plus haut, les paramètres géométriques de chaque interface optique de l’objectif optique peuvent être calculés à partir des raies d’interférences. En particulier : la position selon l’axe Z d’une interface optique peut être déterminée comme étant la position d’une raie d’interférence correspondant à ladite interface ; en effectuant plusieurs mesures d’interférométrie optique, en particulier dans une zone centrale de l’objectif optique, et en suivant, sur les plusieurs mesures, la position, selon l’axe Z, de la raie d’interférence associée à ladite interface, il est possible de déterminer la position de l’APEX de ladite interface optique ; la position de l’APEX d’une interface optique permet de déterminer la position de ladite interface par rapport à l’axe Z, dans le plan X-Y, et donc son décentrement par rapport à l’axe Z ; l’inclinaison d’une interface optique par rapport à l’axe Z peut être déterminée en effectuant plusieurs mesures d’interférométrie optique, en particulier dans une zone périphérique de l’objectif optique. En suivant, sur les plusieurs mesures, la position dans l’axe Z, de la raie d’interférence associée à ladite interface, il est possible de déterminer la position de l’interface selon l’axe Z au niveau de ses bords, ce qui permet de déterminer l’inclinaison de ladite interface par rapport à l’axe Z. Ainsi, les paramètres géométriques de chaque interface optique de l’objectif optiques peuvent être déterminés à partir d’une ou plusieurs mesures interférométriques, effectuée(s) depuis un côté de l’objectif optique sans avoir à retourner ledit objectif. Bien entendu, l’invention n’est pas limitée aux mesures interférométriques. Elle peut mettre en œuvre tout type de mesures optiques pour la détermination des paramètres géométriques des interfaces optiques de l’objectif, tel que par exemple des mesures confocales. La est une représentation schématique d’un exemple de réalisation non limitatif d’un procédé selon l’invention de caractérisation d’un objectif optique. Le procédé 400 de la peut être utilisé pour caractériser tout type d’objectif optique pour l’acquisition d’image, et plus particulièrement l’objectif 200 de la . Le procédé 400 comprend une étape 402 de détermination, par mesure optique, de paramètres géométriques des interfaces optiques de l’objectif. En particulier, la détermination des paramètres géométriques de chaque interface optique peut être réalisée par interférométrie optique, tel que décrit en références aux FIGURES 3a et 3b. Ainsi, l’étape 402 fournit un jeu géométrique JG comprenant des valeurs des paramètres géométriques de chaque interface de l’objectif optique, tels que : la position dans l’axe Z de l’interface optique, la position de l’APEX de l’interface optique, le décalage de l’interface optique par rapport à l’axe Z dans le plan X-Y ; l’inclinaison de l’interface optique par rapport à l’axe Z dans le plan X-Y ; etc. Le jeu géométrique JG comprend ainsi l’ensemble des valeurs géométriques permettant de modéliser l’objectif optique sous forme numérique. Lors d’une étape 404, l’objectif optique est modélisé sous forme numérique, avec un outil de modélisation. Lors d’une étape 406, une ou plusieurs matrices d’aberration sont mesurées en utilisant le modèle numérique de l’objectif optique dans un simulateur de propagation d’onde optique. L’étape 406 peut déterminer une unique matrice d’aberration pour l’objectif optique. Alternativement, l’étape 406 peut être réitérée plusieurs fois en différentes régions, notées R i , du capteur d’image pour déterminer au moins une matrice d’aberration pour chaque région du capteur d’image. Alternativement, ou en plus, l’étape 406 peut être réitérée plusieurs fois pour différentes distances objectif-capteur d’image, notées DOC j , pour déterminer au moins une matrice d’aberration pour chaque distance DOC j . Alternativement, ou en plus, l’étape 406 peut être réitérée plusieurs fois pour différentes distances objectif-scène imagée, notées DOS k , pour déterminer au moins une matrice d’aberration pour chaque distance DOS k . Dans l’exemple décrit, on considère que l’étape de détermination d’une matrice d’aberration est réalisée pour chaque combinaison {R i , DOC j , DOS k }. En considérant qu’il existe I différentes régions, J différentes distances DOC et K différentes distances DOS, l’étape 406 est donc répétées I x J x K fois et permet donc de déterminer autant de matrices d’aberration, notée MA ijk . Chaque matrice d’aberration MA ijk comprend des valeurs représentatives des aberrations optiques introduites, dans une image captée, par cette région R i de l’objectif optique pour cette distance DOC j entre l’objectif optique et le capteur d’image, et pour cette distance DOS k entre l’objectif optique et la scène. Les étapes 404 et 406 peuvent être réalisées avec un logiciel de simulation. Un tel logiciel de simulation peut par exemple être le logiciel OpticStudio® de Zemax®. Bien entendu, l’invention n’est pas limitée à ce logiciel et d’autres outils peuvent être utilisés. Suivant des modes de réalisation, toute les matrices d’aberration sont mémorisées et il est mis fin au procédé 400. Suivant des modes de réalisation, le procédé 400 peut comprendre une étape optionnelle 408, de calcul d’une matrice, dite matrice noyau d’aberration, notée MNA, comprenant des coefficients permettant de déduire chaque matrice d’aberration, à partir de ladite matrice noyau d’aberration. Une telle matrice noyau d’aberration peut être calculée, telle que décrit plus haut. Ainsi, la matrice noyau d’aberration permet d’éviter de devoir mémoriser toutes les matrices d’aberration. Suivant des modes de réalisation, le procédé 400 peut comprendre une étape optionnelle 410, de calcul d’une matrice, dite matrice de correction, pour chaque matrice d’aberration. La matrice de correction peut comprendre les valeurs utilisées pour corriger une image. Pour chaque matrice d’aberration MA ijk , la matrice de correction, notée MC ijk , peut être déterminée. Suivant des exemples de réalisation, au moins une matrice de correction peut être obtenue par la relation : où G 0 est une fonction représentant la forme de fonction de dispersion de point à obtenir après correction. Il peut s’agir d’une fonction s’approchant d’une fonction de Dirac en 2 dimensions, c’est-à-dire valant 1 au centre, et quasiment 0 autour. En notant MTOBS ijk , la matrice du faisceau lumineux test telle qu’observé, et MT sa forme native telle qu’elle est en réalité lors de son émission, la matrice de correction MC ijk de la façon suivante : Dans une forme simplifiée, on peut supposer que TF(G0) = 1, la fonction constante qui renvoie 1 avec une phase nulle à toutes les fréquences, ce qui s’écrit : avec : TF() l’opérateur de transformée de Fourier (en 2D) TF -1 () l’opérateur inverse de transformée de Fourier (en 2D) MC ijk matrice de correction pour la région R i du capteur d’image, à la distance objectif-capteur DOC i et à la distance objectif-scène DOS i ; MA ijk la matrice d’aberration obtenue par simulation pour la région R i du capteur d’image et les distances DOC i et DOS i ; et MT ijk la matrice du faisceau lumineux de test, c’est-à-dire la matrice décrivant le faisceau lumineux de test, utilisé pour mesurer par simulation la matrice d’aberration MA ijk . MTOBS ijk la matrice d’illumination observée, obtenue par simulation, dans le plan du capteur par rapport à la matrice de test MT ijk présentée en entrée de l’objectif. Suivant des modes de réalisation, toutes les matrices de corrections MC ijk peuvent être mémorisées pour être réutilisées ultérieurement pour corriger une image. Alternativement, le procédé 400 peut comprendre une étape optionnelle 412, de calcul d’une matrice, dite matrice noyau de correction, notée MNC, comprenant des coefficients permettant de déduire chaque matrice correction, à partir de la matrice noyau de correction. Une telle matrice noyau de correction MNC peut être calculée de la même manière que la matrice noyau d'aberration, en utilisant la même base de fonctions FA l ou une autre base de fonction. Chaque matrice d’aberration MA ijk peut être une matrice indiquant des valeurs : d’une fonction d’étalement du point, « Point Spread Function » ou « PSF » en anglais, et d’une fonction de transfert optique, « Optical Tranfert Fuction » ou « OTF » en anglais ; en réponse un faisceau lumineux de test. La détermination d’une telle matrice est bien connue de l’Homme du Métier et peut être réalisée par des simulateurs numériques tels que Optic Studio ® de Zemax ®. De manière résumée, un faisceau lumineux de test est émis sur une région présentée en face de l’objectif optique. Le faisceau lumineux de test entre dans l’objectif optique, le traverse et est reçu sur un capteur d’image. Les valeurs de rayonnement reçues sont comparées aux valeurs d’entrée, c’est-à-dire aux valeurs du faisceau lumineux de test. Cette comparaison permet de déduire les aberrations introduites par l’objectif optique pour chaque région. La est une représentation schématique d’un exemple de réalisation non limitatif d’un procédé selon l’invention d’acquisition d’une image. Le procédé 500 de la peut être mise en œuvre dans tout type d’appareil d’acquisition d’une image utilisant un objectif optique associé à un capteur photosensible, et en particulier l’objectif 200 de la . Le capteur photosensible peut être tout type de capteur tel que par exemple un capteur CCD ou un capteur CMOS. L’appareil peut être tout type d’appareil tel qu’un module d’imagerie, un Smartphone, une tablette, un ordinateur, une caméra de surveillance, etc. Le procédé 500 comprend une étape 502 d’acquisition d’une image par l’appareil en utilisant l’objectif optique et le capteur. L’image acquise se présente sous la forme d’une matrice de valeurs, fournie par le capteur, et notée IM a . La matrice IM a comprend des valeurs numériques pour chaque pixel du capteur. Par exemple, pour une image RGB, la matrice IM a comprend pour chaque pixel trois valeurs, une pour chaque couleur. L’image acquise, et donc la matrice IM a , comprend les aberrations optiques introduites par l’objectif optique, tel que par exemple un flou optique ou un déplacement. Elle peut être corrigée, en partie ou en totalité, en corrigeant les valeurs de la matrice IM a au moins pour certains pixels. La correction de l’image peut être réalisée en utilisant au moins une matrice de correction déduite à partir d’au moins une matrice d’aberration préalablement déterminée pour l’objectif optique. La correction de l’image peut être réalisée en utilisant une unique matrice de correction, notée MC, pour l’ensemble de l’objectif. Alternativement, la correction de l’image peut être réalisée en utilisant plusieurs matrices de correction MC i , chacune pour une région R i du capteur d’image, et donc pour une partie de l’image. Dans la suite, sans perte de généralité, on considère que plusieurs matrices de corrections MC i sont utilisées, chacune pour corriger les aberrations introduites par une région R i du capteur. Dans le procédé 500 de la , on considère que les matrices de correction sont préalablement calculées, et mémorisées dans une zone mémoire de l’appareil réalisant l’acquisition de l’image. En particulier, chaque matrice de correction peut être déterminée lors d’une caractérisation de l’objectif optique, tel que décrit en référence au procédé 400 de la , en particulier à l’étape 410 du procédé 400. Dans ce cas, le procédé 500 comprend une étape 504 de lecture de chaque matrice de correction MC i depuis la zone mémoire de l’appareil. Puis lors d’une étape 506, l’image captée est corrigée en utilisant la chaque matrice de correction MC i . Par exemple, en notant IM c la matrice de valeurs représentant l’image corrigée, la correction de l’image peut être obtenue par convolution de la matrice IM a par chaque matrice de correction MC i pour les pixels concernées par la région R i , à tour de rôle ou en même temps : IM c = conv(IM a , MC i ) avec i=1, .., I et I≥1 La est une représentation schématique d’un autre exemple de réalisation non limitatif d’un procédé selon l’invention d’acquisition d’une image. Le procédé 510 de la comprend les étapes 502 d’acquisition d’une image et les étapes 506 de correction de l’image avec une ou des matrices de correction. A la différence du procédé 500, dans le procédé 510, chaque matrice de correction MC i n’est pas préalablement déterminée et mémorisée dans une zone mémoire de l’appareil. Le procédé 510 comprend une étape 512 de calcul de chaque matrice de correction : à partir d’une matrice noyau de correction, à partir d’au moins une matrice d’aberration prédéterminée, ou à partir d’une matrice noyau d’aberration. tel que décrit en référence à la . Dans le procédé 510, optionnellement, chaque matrice de correction peut être mémorisée dans l’appareil pour être réutilisée pour la correction d’au moins une autre image. Dans ce cas, les étapes 502 et 506 peuvent être réitérées plusieurs fois en utilisant chaque matrice de correction calculée à l’étape 512, sans avoir à réaliser l’étape 512 à chaque itération. L’étape 512 peut être réalisée : lors de l’intégration de l’objectif optique dans l’appareil, lors de la configuration de l’appareil, lors de l’installation d’une application photo dans l’appareil, lors du démarrage de ladite application photo, ou encore lors de l’acquisition de l’image. Dans l’exemple de la , l’étape 512 de calcul de chaque, matrice de correction est réalisée avant l’étape d’acquisition de l’image. Bien entendu, suivant d’autres exemples non représentés, l’étape 512 de calcul de chaque matrice de correction peut être réalisée pendant l’étape 502 d’acquisition de l’image, ou après l’étape 502 d’acquisition de l’image, ou encore à tout moment avant l’étape de correction 506. La est une représentation schématique d’un autre exemple de réalisation non limitatif d’un procédé selon l’invention d’acquisition d’une image. Le procédé 520 de la peut comprendre une étape, optionnelle, de détermination d’une distance, notée DOC, entre l’objectif optique et le capteur photosensible. La distance DOC peut par exemple être mesurée par un capteur de distance, tel qu’un capteur optique, un capteur magnétique, un capteur capacitif, etc. La distance DOC peut par exemple être calculée à partir d’une information fournie par un mécanisme de focalisation optique modifiant/ajustant la distance entre l’objectif optique et le capteur d’image. Alternativement, ou en plus, le procédé 520 de la peut comprendre une étape de détermination d’une distance, notée DOS, entre l’objectif optique et la scène. La distance DOS peut par exemple être mesurée par un LIDAR, une caméra temps de vol, un capteur ultrason, etc. La distance DOS peut être mesurée pour différentes régions R i du capteur d’image. Alternativement, une unique distance DOS peut être mesurée pour l’ensemble de l’objectif. Ensuite, les étapes du procédé 500 ou 510 peuvent être réalisées pour corriger l’image. La ou les matrices de correction utilisées pour corriger l’image peuvent être sélectionnées à l’étape 504, ou calculées à l’étape 512, en fonction des distances DOC et/ou DOS déterminées lors des étapes 522 et/ou 524. Ainsi, l’image acquise est corrigée en prenant en compte la distance DOC et/ou la distance DOS, au moment de l’acquisition de l’image, ce qui permet une meilleure correction de l’image. Le procédé 520 permet ainsi, une correction à la volée d’une image, en prenant en compte les conditions précises dans lesquelles l’image a été prise. La est une représentation schématique d’un exemple de réalisation non limitatif d’un système selon l’invention de caractérisation d’un objectif optique. Le système 600 de la peut être utilisé pour caractériser tout type d’objectif optique utilisé pour l’acquisition d’image, et plus particulièrement l’objectif 200 de la . Le système 600 de la peut être utilisé pour mettre en œuvre un procédé selon l’invention de caractérisation d’un objectif optique, et en particulier le procédé 400 de la . Le système 600 comprend un dispositif 602 de mesure optique d’au moins un jeu géométrique, noté JG, comprenant des données relatives à au moins un paramètre géométrique d’au moins une interface optique d’un objectif optique, tel que par exemple l’objectif 200 de la . Le dispositif 602 peut être l’interféromètre 300 de la FIGURE 3. Le dispositif 602 peut alternativement être un dispositif de mesures confocales configuré pour mesurer le jeu géométrique JG. Le système 600 comprend en outre une unité de calcul 604 configurée pour : modéliser numériquement l’objectif optique en fonction du jeu géométrique JG fourni par le dispositif de mesure optique 602 ; et déterminer, par simulation de propagation d’onde optique appliquée audit modèle numérique de l’objectif optique, d’au moins une matrice d’aberration, représentative d’aberrations optiques introduites par ledit objectif optique dans une image. L’unité de calcul 604 peut exécuter une interface 606 de modélisation prenant en entrée le jeu géométrique JG et un simulateur numérique de propagation d’onde optique 608 pour mesurer l’au moins une matrice d’aberration. Suivant des modes de réalisation l’interface de modélisation 606 et le simulateur numérique peuvent être intégrés dans un même outil informatique, en particulier un logiciel, tel que par exemple le logiciel OpticStudio de Zemax. L’unité de calcul 604 peut optionnellement comprendre un module de calcul 610 configuré pour calculer : au moins une matrice noyau d’aberration, au moins une matrice de correction, ou au moins une matrice noyau de correction ; à partir de l’au moins une matrice d’aberration déterminée par le simulateur numérique 608. Le module de calcul 610 peut être un module physique tel qu’un processeur, une puce, un calculateur, ou un module logiciel tel qu’un programme d’ordinateur ou une application logicielle. L’unité de calcul 604 peut se présenter sous une forme matérielle, tel qu’un ordinateur, ou un serveur par exemple. Alternativement, L’unité de calcul 604 peut se présenter sous une forme logicielle, tel qu’un ou plusieurs programmes d’ordinateur. Suivant encore une autre alternative, l’unité de calcul 604 peut être formée par une combinaison quelconque d’au moins un moyen matériel et d’au moyen logiciel. La est une représentation schématique d’un exemple de réalisation non limitatif d’un dispositif selon l’invention d’acquisition d’image. Le dispositif 700 de la peut être utilisé pour mettre en œuvre un procédé selon l’invention d’acquisition d’une image, et en particulier l’un quelconque des procédés 500, 510 et 520 des FIGURES 5a, 5b et 5c. Le dispositif 700 comprend un objectif optique 702, qui peut être par exemple l’objectif optique 200 de la . Le dispositif 700 comprend en outre un capteur photosensible 704, coopérant avec l’objectif optique 702 pour prendre une image d’une scène. Le capteur d’image 704 est prévue pour fournir une matrice de valeurs, notée IM a , représentant l’image acquise de la scène. De manière optionnelle, le dispositif 700 peut comprendre un capteur 706 prévu pour mesurer la distance DOC entre l’objectif optique et le capteur d’image 704. Un tel capteur 706 peut être un capteur capacitif, un capteur résistif ou encore un capteur d’image. Ce capteur 706 fournit une valeur de distance, ou une valeur d’une grandeur électrique représentative de la distance DOC, telle que par exemple une tension, un courant, etc. De manière optionnelle, le dispositif 700 peut comprendre un capteur 708 prévue pour mesurer la distance DOS entre l’objectif optique et la scène imagée. Un tel capteur 708 peut être un capteur LIDAR par exemple. Ce capteur 708 fournit une valeur de distance, ou une valeur d’une grandeur électrique représentative de cette distance DOS, telle que par exemple une tension, un courant, etc. Le dispositif 700 comprend en outre une unité de calcul 710 configurée pour corriger l’image captée par le capteur 704, et en particulier la matrice IM a , et fournir une matrice, notée IM c , représentant l’image corrigée, en fonction d’au moins une matrice de correction. L’unité de calcul 710 peut être une unité matérielle tel qu’un processeur ou une puce informatique. Alternativement, l’unité de calcul peut être un programme d’ordinateur ou une application. Suivant un mode de réalisation, par exemple décrit en référence à la , l’au moins une matrice de correction peut être lue depuis une zone mémoire, ou une base de données, 712. Dans ce cas, l’unité de calcul 710 lit ladite au moins une matrice de correction, optionnellement l’au moins une matrice associée aux distances DOC et/ou DOS mesurées lors de la prise d’image. Suivant un mode de réalisation, par exemple décrit en référence à la , l’unité de calcul 710 peut en outre être configurée pour calculer l’au moins matrice de correction, en fonction : d’une matrice noyau de correction, d’au moins une matrice d’aberration prédéterminée, ou d’une matrice noyau d’aberration ; mémorisée(s) dans la base de données 712. Dans ce cas, l’unité de calcul lit ladite au moins une matrice et calcule l’au moins une matrice de correction à partir de ladite au moins une matrice lue, et optionnellement des distances DOC et DOS. L’objectif optique 702, le capteur 704, et optionnellement les capteurs 706 et 708 forment un module d’imagerie, également appelé module caméra 714. Le module caméra 714 peut comprendre d’autres composants que ceux représentés, tels que par exemple un mécanisme de d’ajustement de la focalisation (non représenté) modifiant la distance entre le capteur d’image 704 et l’objectif optique 702. L’unité de calcul 710, et optionnellement la base de données 712, peuvent être intégrées dans une application photo, 716, installée ou exécutée au sein d’un appareil tel qu’un Smartphone, une tablette, un ordinateur, etc. La est une représentation schématique d’un exemple de réalisation non limitatif d’un appareil selon l’invention d’acquisition d’image. L’appareil 800 comprend un dispositif selon l’invention d’acquisition d’une image, et en particulier le dispositif 700 de la . Suivant des modes de réalisation, l’appareil 800 peut être un appareil photo, une tablette ou un Smartphone, un ordinateur, une caméra de surveillance ou un module caméra destiné à être intégré dans un autre appareil, etc. Dans l’exemple représenté, l’appareil 800 est un Smartphone comprenant un écran d’affichage en face avant et le module optique 714 débouchant sur sa face arrière, une application photo 716 intégrant le module de calcul et la base de données 712. Bien entendu l’invention n’est pas limitée aux exemples qui viennent d’être décrits. Procédé (400) de caractérisation d’un objectif optique (200) comprenant un empilement de plusieurs éléments optiques (202-208) et prévu pour être associé à un capteur d’image (704) pour l’acquisition d’images, ledit procédé (400) comprenant les étapes suivantes : détermination (402), par mesure optique sur ledit empilement d’éléments optiques, d’au moins un jeu de données (JG), dit jeu géométrique, comprenant des données relatives à au moins un paramètre géométrique d’au moins une interface optique (214 2 -214 8 ) enterrée dudit objectif (200), modélisation numérique (404) dudit objectif optique (200) en fonction dudit jeu géométrique (JG), et détermination (406), par un simulateur numérique (608) de propagation d’onde optique appliqué audit modèle numérique, d’au moins une matrice, dite matrice d’aberration, représentative d’aberration optiques introduites par ledit objectif optique (200) dans une image. Procédé (400) selon la revendication précédente, caractérisé en ce qu’il comprend une détermination de plusieurs matrices d’aberration pour plusieurs régions du capteur d’image (704). Procédé (400) selon l’une quelconque des revendications précédentes, caractérisé en ce qu’il comprend une détermination de plusieurs matrices d’aberration pour plusieurs valeurs d’une distance, dite distance objectif-capteur, DOC, entre ledit objectif optique (200) et un plan d’image, le simulateur numérique (608) prenant en entrée ladite distance objectif-capteur. Procédé (400) selon l’une quelconque des revendications précédentes, caractérisé en ce qu’il comprend une détermination de plusieurs matrices d’aberration pour plusieurs valeurs d’une distance, dite distance objectif-scène, DOS, entre ledit objectif optique (200) et une scène, le simulateur numérique prenant en entrée ladite distance objectif-scène. Procédé (400) selon l’une quelconque des revendications précédentes, caractérisé en ce qu’il comprend une étape (408) de calcul d’une matrice, dite matrice noyau d’aberration, comprenant des coefficients permettant de déduire au moins une matrice d’aberration. Procédé (400) selon l’une quelconque des revendications précédentes, caractérisé en ce qu’il comprend en outre une étape (410) de calcul, en fonction d’au moins une matrice d’aberration, d’au moins une matrice, dite de correction, comprenant des valeurs pour corriger une image captée avec ledit objectif optique (200). Procédé (400) selon l’une quelconque des revendications précédentes, caractérisé en ce qu’au moins une matrice d’aberration est : une matrice, dite matrice PSF, de valeurs d’une fonction d’étalement du point (« Point Spread Function » ou « PSF » en anglais), et/ou une matrice, dite matrice OTF, de valeurs d’une fonction de transfert optique (« Optical Tranfert Fuction » ou « OTF » en anglais). Procédé selon l’une quelconque des revendications précédentes, caractérisé en ce qu’au moins un jeu géométrique (JG) est obtenu par interférométrie optique, ou par mesure(s) confocale(s). Système (600) de caractérisation d’un objectif optique (200) comprenant un empilement de plusieurs éléments optiques (202-208) et prévu pour être associé à un capteur d’image (704) pour l’acquisition d’images, ledit système (600) comprenant : un dispositif de mesure optique (602;300), sur ledit empilement d’éléments optiques (202-208), d’au moins un jeu de données (JG), dit jeu géométrique, comprenant des données relatives à au moins un paramètre géométrique d’au moins une interface optique enterrée (214 2 -214 8 ) dudit objectif (200) ; au moins une unité de calcul (604) configurée pour : modéliser numériquement ledit objectif optique (200) en fonction dudit jeu géométrique (JG) ; et déterminer, par simulation numérique de propagation d’onde optique appliquée audit modèle numérique, d’au moins une matrice, dite matrice d’aberration, représentative d’aberration optiques introduites par ledit objectif optique (200) dans une image. Procédé (500;510;520) d’acquisition d’une image avec un appareil (800) comprenant un objectif optique (200;702) et un capteur d’image (704), ledit procédé (500;510;520) comprenant les étapes suivantes : captation (502) d’une image avec ledit objectif optique (200;702) et ledit capteur d’image (704) ; et correction (506) de ladite image en fonction d’au moins une matrice de correction calculée à partir d’au moins une matrice d’aberration obtenue, pour ledit objectif optique (200;702), par le procédé (400) de caractérisation d’un objectif optique selon l’une quelconque des revendications 1 à 8. Procédé (510;520) selon la revendication précédente, caractérisé en ce qu’il comprend une étape (512) de calcul d’au moins une matrice de correction au sein dudit appareil (800). Procédé (520) selon l’une quelconque des revendications 10 ou 11, caractérisé en ce qu’il comprend en outre une étape (522) de détermination d’une distance, DOC, entre l’objectif optique (200;702) et un plan d’image, la correction prenant en compte ladite distance DOC. Procédé (520) selon l’une quelconque des revendications 11 à 13, caractérisé en ce qu’il comprend en outre une étape (200;702) de détermination d’une distance, DOS, entre l’objectif optique (200;702) et une scène, la correction prenant en compte ladite distance DOS. Dispositif (700) d’acquisition d’une image comprenant : un objectif optique (200;702) comprenant un empilement de plusieurs éléments optiques (202-208), un capteur d’image (704), et une unité de calcul ; configurés pour mettre en œuvre le procédé (500;510;520) selon l’une quelconque des revendications 10 à 13. Appareil (800) d’acquisition d’une image, tel qu’un appareil photo, une tablette ou un Smartphone, comprenant un dispositif (700) d’acquisition d’une image selon la revendication précédente.