FR 3136552 A1 20231215 FR 2301603 A 20230221 Échantillon de détection et procédé de fabrication de celui-ci La présente divulgation concerne un échantillon de détection et un procédé de fabrication de celui-ci. L’échantillon de détection comprend une base d’échantillon, et une unité de défaut comprenant une plate-forme et un accessoire. La plate-forme est disposée dans une rainure de la base d’échantillon, et aucun usinage n’est effectué dans la plate-forme, ou un premier défaut artificiel d’une forme prédéfinie et/ou d’une taille prédéfinie est usiné dans la plate-forme. Lorsque le premier défaut artificiel est usiné dans la plate-forme, un second défaut artificiel d’une forme prédéfinie et/ou d’une taille prédéfinie correspondant à la plate-forme est usiné dans l’accessoire qui est apparié et assemblé à la plate-forme, et le premier défaut artificiel et le second défaut artificiel sont joints l’un à l’autre pour former un défaut artificiel complet, ou lorsqu’aucun usinage n’est effectué dans la plate-forme, un second défaut artificiel d’une forme prédéfinie et/ou d’une taille prédéfinie est usiné dans l’accessoire qui est apparié et assemblé à la plate-forme, et le second défaut artificiel forme à lui seul un défaut artificiel complet. Après le soudage des interfaces de contact entre la plate-forme et l’accessoire, et le remplissage et le soudage de la rainure de la base d’échantillon, il est possible de fabriquer un échantillon de détection contenant un défaut artificiel de haute précision de forme, de taille et de position prédéfinies. (Fig. 5) Échantillon de détection et procédé de fabrication de celui-ci La présente divulgation revendique la priorité de la demande de brevet chinois CN 202210666014.1 intitulée « DETECTION SPECIMEN AND MANUFACTURING METHOD THEREOF » (échantillon de détection et procédé de fabrication de celui-ci) déposée le 14 juin 2022. La présente divulgation appartient au domaine des examens non destructifs, et concerne en particulier un échantillon de détection et un procédé de fabrication de celui-ci. Arrière-plan Lorsqu’un nouveau procédé d’examen non destructif est recherché et développé, ou qu’un certain procédé d’examen non destructif est vérifié, et lorsqu’une structure est soumise à une évaluation de la sécurité ou qu’un résultat d’évaluation de la mécanique de rupture est vérifié, on souhaite souvent fabriquer un échantillon de détection contenant un défaut artificiel de forme, taille et orientation connues. En général, un mode de vérification d’un procédé d’examen non destructif consiste à examiner un échantillon de détection ou un groupe d’échantillons de détection contenant un défaut artificiel connu avec un procédé d’examen à vérifier. Si le défaut artificiel connu peut être détecté et décrit de manière précise et quantitative, ou si le taux d’omission et le taux de fausse alarme satisfont aux indices spécifiés, le procédé d’examen adopté est considéré comme ayant réussi la vérification. En général, un procédé courant de pré-enfouissement d’un défaut artificiel dans un échantillon de détection consiste à : tout d’abord, usiner des trous dans une rainure de l’échantillon de détection ou former des trous par soudage d’un bloc métallique ou analogue, puis réaliser un soudage et un remplissage. Un tel échantillon de détection contenant le défaut artificiel présente les inconvénients d’une grande différence avec le défaut réel du produit, et d’une forme et d’une taille du défaut difficiles à contrôler avec précision, et les inconvénients sont plus remarquables lorsque le défaut artificiel prédéfini a une taille relativement petite. Résumé Le problème technique à résoudre par la présente divulgation est de fournir, compte tenu des inconvénients ci-dessus dans l’art existant, un échantillon de détection et un procédé de fabrication de celui-ci, où l’échantillon de détection contient un défaut artificiel de haute précision et plus proche de la réalité et ayant une position, une forme, une taille et un contenu prédéfinis. Afin de résoudre le problème ci-dessus, la présente divulgation adopte une solution technique comme suit. Un échantillon de détection fourni comprend une base d’échantillon, et une unité de défaut comprenant une plate-forme et un accessoire, la plate-forme étant disposée dans une rainure de la base d’échantillon, et aucun usinage n’étant effectué dans la plate-forme, ou un premier défaut artificiel d’une forme prédéfinie et/ou d’une taille prédéfinie étant usiné dans la plate-forme. Lorsque le premier défaut artificiel est usiné dans la plate-forme, un second défaut artificiel d’une forme prédéfinie et/ou d’une taille prédéfinie correspondant à la plate-forme est usiné dans l’accessoire qui est apparié et assemblé à la plate-forme, et le premier défaut artificiel et le second défaut artificiel sont joints l’un à l’autre pour former un défaut artificiel complet d’une forme prédéfinie et/ou d’une taille prédéfinie, ou lorsqu’aucun usinage n’est effectué dans la plate-forme, un second défaut artificiel d’une forme prédéfinie et/ou d’une taille prédéfinie est usiné dans l’accessoire qui est apparié et assemblé à la plate-forme, et le second défaut artificiel forme à lui seul un défaut artificiel complet d’une forme prédéfinie et/ou d’une taille prédéfinie. De préférence, lorsque le premier défaut artificiel est usiné dans la plate-forme, le premier défaut artificiel et le second défaut artificiel ont chacun une forme d’un type non plan, d’un type plan ou d’un type composite non plan/plan. De préférence, l’accessoire a une forme trapézoïdale, et la taille d’un matériau résiduel de l’accessoire après l’usinage du second défaut artificiel est supérieure à une pénétration de soudure de la passe de soudage suivante (cordon de soudure) à remplir. De préférence, des couches multiples et des soudures à passes multiples sont déposées et remplies dans la rainure de l’échantillon de détection, une unité de détection de défaut est utilisée et disposée dans n’importe quelle passe de soudage, ou au niveau d’une jonction de passes de soudage, ou au niveau d’une jonction d’une passe de soudage et d’une surface de la rainure ; ou une pluralité d’unités de détection de défaut est utilisée et répartie dans une pluralité de passes de soudage ou au niveau de différentes positions d’une passe de soudage. Un procédé de fabrication d’un échantillon de détection est caractérisé en ce qu’il comprend : le soudage et le dépôt d’une passe de soudage dans une rainure d’une base d’échantillon de l’échantillon de détection ; la mise en place d’une unité de défaut dans la rainure, comprenant : l’usinage d’une plate-forme au niveau d'une position prédéfinie dans la rainure de la base d’échantillon, et l’usinage d’un premier défaut artificiel d’une forme prédéfinie et/ou d’une taille prédéfinie dans la plate-forme, ou aucun usinage n’est effectué dans la plate-forme ; et l’usinage dans un accessoire, lorsque le premier défaut artificiel est usiné dans la plate-forme, d’un second défaut artificiel d’une forme prédéfinie et/ou d’une taille prédéfinie correspondant au premier défaut artificiel dans la plate-forme, le montage de l’accessoire sur la plate-forme, et la jonction du premier défaut artificiel et du second défaut artificiel pour former un défaut artificiel complet ; ou l’usinage dans l’accessoire, lorsqu’aucun usinage n’est effectué dans la plate-forme, d’un second défaut artificiel d’une forme prédéfinie et/ou d’une taille prédéfinie, et la formation d’un défaut artificiel complet d’une forme prédéfinie et/ou d’une taille prédéfinie avec le second défaut artificiel seul. Le procédé comprend en outre : le soudage précis, après le montage de l’accessoire sur la plate-forme, d’interfaces de contact entre l’accessoire et la plate-forme en une structure d’un seul tenant ; et le soudage et le dépôt d’une passe de soudage ultérieure dans la rainure sur laquelle l’unité de détection de défauts est prévue, pour former l’échantillon de détection. Étant donné que l’échantillon de détection de la présente divulgation utilise la plate-forme et l’accessoire apparié à la plate-forme, la plate-forme et l’accessoire contenant des défauts, et que le défaut artificiel dans l’échantillon de détection est formé par un procédé de soudage de précision au niveau de l’interface de contact entre la plate-forme et l’accessoire, un échantillon de détection contenant un défaut artificiel de haute précision proche de la réalité peut être obtenu par un contrôle et un usinage précis de la position, de la taille, de l’orientation et de la forme. Brève description des figures La représente un diagramme structurel schématique d’un échantillon de détection contenant une pluralité de défauts artificiels selon un mode de réalisation de la présente divulgation, la représente une vue de face de la , la représente un diagramme structurel schématique d’une plate-forme et d’un premier défaut artificiel selon un mode de réalisation de la présente divulgation, la représente un diagramme structurel schématique d’un accessoire et d’un second défaut artificiel selon un mode de réalisation de la présente divulgation, la représente un diagramme structurel schématique d’un premier défaut artificiel dans la plate-forme joint à un second défaut artificiel dans l’accessoire selon un mode de réalisation de la présente divulgation, la représente un diagramme structurel schématique d’un échantillon de détection contenant un défaut artificiel selon un mode de réalisation de la présente divulgation, et la représente une vue de face de la . Dans les figures : 1 - première couche de soudure, 2 - deuxième couche de soudure, 3 - troisième couche de soudure, 4 - quatrième couche de soudure, 5 - cinquième couche de soudure, 6 - premier défaut artificiel, 7 - second défaut artificiel, 8 - plate-forme, et 9 – accessoire. Description détaillée des modes de réalisation La solution technique de la présente divulgation va maintenant être décrite clairement et complètement à l’aide des dessins accompagnant la divulgation. Bien entendu, les modes de réalisation décrits constituent une partie, mais pas la totalité, des modes de réalisation de la divulgation. Sur la base des modes de réalisation de la présente divulgation, tous les autres modes de réalisation obtenus par un homme du métier de compétence ordinaire sans aucun travail de création entrent dans le cadre de la présente divulgation. Il convient de noter que dans la description de la présente divulgation, les orientations ou les relations de position désignées par les termes « supérieur(e) », « inférieur(e) » et analogues sont basées sur les orientations ou les relations de position représentées dans les dessins, et sont simplement destinées à faciliter et à simplifier la description de la présente divulgation, au lieu d’indiquer ou d’impliquer que le dispositif ou le composant auquel il est fait référence doit avoir une orientation spécifique ou être configuré ou actionné selon une orientation spécifique, et ne doivent donc pas être interprétées comme des limitations de la présente divulgation. Dans la description de la présente divulgation, les termes « premier/première », « second(e) », « deuxième » et analogues sont utilisés uniquement à des fins d’illustration et ne peuvent être interprétés comme indiquant ou impliquant une importance relative. Dans la description de la présente divulgation, il convient de noter que, sauf spécification ou limitation explicite contraire, les termes « raccordé(e) », « disposé(e) », « monté(e) », « fixé(e) » et analogues doivent être interprétés au sens large, par exemple comme étant raccordé(e) à demeure, raccordé(e) de manière détachable ou raccordé(e) d’un seul tenant ; et qu’ils peuvent se référer à un raccordement direct, un raccordement indirect par le biais d’un intermédiaire, ou une communication interne de deux éléments. Les hommes du métier peuvent comprendre les significations spécifiques des termes ci-dessus dans la présente divulgation en fonction du contexte spécifique. La présente divulgation fournit un échantillon de détection, comprenant une base d’échantillon, et une unité de défaut comprenant une plate-forme et un accessoire. La plate-forme est disposée dans une rainure de la base de l’échantillon, et aucun usinage n’est effectué dans la plate-forme, ou un premier défaut artificiel d’une forme prédéfinie et/ou d’une taille prédéfinie est usiné dans la plate-forme. Lorsque le premier défaut artificiel est usiné dans la plate-forme, un second défaut artificiel d’une forme prédéfinie et/ou d’une taille prédéfinie correspondant à la plate-forme est usiné dans l’accessoire qui est apparié et assemblé avec la plate-forme, et le premier défaut artificiel et le second défaut artificiel sont joints l’un à l’autre pour former un défaut artificiel complet d’une forme prédéfinie et/ou d’une taille prédéfinie, ou lorsqu’aucun usinage n’est effectué dans la plate-forme, un second défaut artificiel d’une forme prédéfinie et/ou d’une taille prédéfinie est usiné dans l’accessoire qui est apparié et assemblé à la plate-forme, et le second défaut artificiel forme à lui seul un défaut artificiel complet d’une forme prédéfinie et/ou d’une taille prédéfinie. Mode de réalisation 1 Comme le représentent les , 2, 6 et 7, ce mode de réalisation divulgue un échantillon de détection, comprenant une base d’échantillon et une unité de défaut. Comme le représentent les , 4 et 5, l’unité de défaut comprend une plate-forme 8 et un accessoire 9. La plate-forme 8 est disposée dans une rainure de la base de l’échantillon, et aucun usinage n’est effectué dans la plate-forme 8, ou un premier défaut artificiel 6 d’une forme prédéfinie et/ou d’une taille prédéfinie est usiné dans la plate-forme 8. Lorsque le premier défaut artificiel 6 est usiné dans la plate-forme 8, un second défaut artificiel 7 d’une forme prédéfinie et/ou d’une taille prédéfinie correspondant à la plate-forme 8 est usiné dans l’accessoire 9 qui est apparié et assemblé à la plate-forme 8, et le premier défaut artificiel 6 et le second défaut artificiel 7 sont joints l’un à l’autre pour former un défaut artificiel complet d’une forme prédéfinie et/ou d’une taille prédéfinie, ou lorsqu’aucun usinage n’est effectué dans la plate-forme 8, un second défaut artificiel 7 d’une forme prédéfinie et/ou d’une taille prédéfinie est usiné dans l’accessoire 9 qui est apparié et assemblé à la plate-forme 8, et le second défaut artificiel 7 forme à lui seul un défaut artificiel complet d’une forme prédéfinie et/ou d’une taille prédéfinie. En option, comme le représentent les et 7, une seule unité de défaut (c’est-à-dire une paire composée d’une plate-forme 8 et d’un accessoire 9) peut être prévue dans la rainure en forme de V de la base d’échantillon, et à l’intérieur d’une première couche de soudure 1. L’unité de défaut peut être disposée selon une variante à l’intérieur d’une quelconque passe de soudage, ou au niveau d’une jonction de passes de soudage, ou au niveau d’une jonction d’une passe de soudage et d’une surface de la rainure. Selon une variante, comme le représentent les figures 1 et 2, une pluralité d’unités de défaut (c’est-à-dire des paires multiples composées de plates-formes 8 et d’accessoires 9) peut être adoptée et répartie dans la rainure de la base d’échantillon. La rainure de la base d’échantillon a une forme de V, remplie de cinq couches de soudure, c’est-à-dire une première couche de soudure 1, une deuxième couche de soudure 2, une troisième couche de soudure 3, une quatrième couche de soudure 4 et une cinquième couche de soudure 5 disposées de manière séquentielle de bas en haut. Les cinq couches de soudure sont empilées et soudées de manière séquentielle, tandis que les unités de défaut sont disposées dans les cinq couches de soudure. La première couche de soudure 1 est une couche de soudure de support, tandis que la deuxième couche de soudure 2, la troisième couche de soudure 3 et la quatrième couche de soudure 4 sont des couches de soudure de remplissage, et la cinquième couche de soudure 5 est une couche de soudure de recouvrement. Plus particulièrement, cinq unités de défaut sont fournies, chacune ayant un défaut artificiel sphérique de type non plan. Un premier défaut artificiel est disposé dans la première couche de soudure 1, un deuxième défaut artificiel est disposé au niveau d'une jonction de la première couche de soudure 1 et de la deuxième couche de soudure 2, un troisième défaut artificiel est disposé au niveau d'une jonction de la deuxième couche de soudure 2 et de la rainure en forme de V, un quatrième défaut artificiel est disposé au niveau d'une jonction de la deuxième couche de soudure 2 et de la troisième couche de soudure 3, et un cinquième défaut artificiel est disposé dans la troisième couche de soudure 3. La pluralité d’unités de défaut peut être répartie dans une pluralité de passes de soudage ou à différents endroits d’une passe de soudage. Comme le représentent les , 4 et 5, l’unité de défaut comprend une plate-forme 8 et un accessoire 9. La plate-forme 8 est disposée sur la première couche de soudure 1 au fond de la rainure en forme de V de la base d’échantillon, un premier défaut artificiel 6 d’une forme prédéfinie et/ou d’une taille prédéfinie est prévu dans la plate-forme 8, un second défaut artificiel 7 d’une forme prédéfinie et/ou d’une taille prédéfinie correspondant à la plate-forme 8 est prévu dans l’accessoire 9 qui est apparié et assemblé à la plate-forme 8, et le premier défaut artificiel 6 et le second défaut artificiel 7 sont joints l’un à l’autre pour former un défaut artificiel complet. Le premier défaut artificiel 6 et le second défaut artificiel 7 sont représentés sous la forme de deux hémisphères, qui sont joints pour former un défaut artificiel sphérique complet. Pour simuler un trou d’air, la forme spécifique du défaut artificiel peut être définie comme une cavité sphérique, une cavité hémisphérique, une cavité d’un bout à l’autre, une cavité en forme de vis sans fin, des cavités en grappe, chacune ayant un diamètre de 0,3 mm, et analogues, selon le besoin. En outre, une surface interne lisse ou rugueuse de la cavité peut être usinée sur une paroi interne du défaut artificiel en fonction des exigences spécifiques, et des particules et une poudre de laitier de soudage peuvent être introduites dans la cavité pour simuler un défaut d’inclusion de laitier selon le besoin. Selon une variante, dans un autre cas, un défaut artificiel de type composite non plan est prévu dans la plate-forme 8, un défaut artificiel de type composite non plan/plan correspondant est également prévu dans l’accessoire 9 qui est apparié et assemblé à la plate-forme 8, et un défaut artificiel de type composite non plan/plan d’une forme prédéfinie et/ou d’une taille prédéfinie est formé lorsque l’accessoire 9 est apparié et assemblé à la plate-forme 8. Selon une variante, dans un autre cas, aucun défaut artificiel n’est usiné dans la plate-forme 8, tandis qu’un défaut artificiel de type plan est prévu dans l’accessoire 9 qui est apparié et assemblé à la plate-forme 8, et un défaut artificiel de type plan d’une forme prédéfinie et/ou d’une taille prédéfinie est formé lorsque l’accessoire 9 est apparié et assemblé à la plate-forme 8. Le défaut artificiel peut comprendre un ou plusieurs types parmi un type non plan, un type plan, ou un type composite non plan/plan, selon le besoin. Comme le représente la , l’accessoire 9 peut avoir une forme trapézoïdale, avec des surfaces latérales inclinées qui peuvent faciliter une meilleure fusion de l’accessoire 9 et de la couche de soudure 1 lors du remplissage et du soudage ultérieurs de la rainure. La taille d’un matériau résiduel de l’accessoire 9 après l’usinage du second défaut artificiel 7 est supérieure à une pénétration de soudure d’une passe de soudage suivante à remplir, ce qui peut garantir que la forme et la taille du second défaut artificiel 7 ne changeront pas en raison de la pénétration de soudure de la passe de soudage suivante à remplir. Mode de réalisation 2 Ce mode de réalisation divulgue un procédé de fabrication d’un échantillon de détection qui, comme le représentent les , 4 et 5, comprend : le soudage et le dépôt d’une passe de soudage dans une rainure d’une base d’échantillon de l’échantillon de détection ; et la mise en place d’une unité de défauts dans la rainure, ce qui comprend plus particulièrement : l’usinage d’une plate-forme 8 au niveau d'une position prédéfinie dans la rainure de la base d’échantillon, et l’usinage d’un premier défaut artificiel 6 d’une forme prédéfinie et/ou d’une taille prédéfinie dans la plate-forme 8, ou aucun usinage n’est effectué dans la plate-forme 8 ; et l’usinage dans un accessoire 9, lorsque le premier défaut artificiel 6 est usiné dans la plate-forme 8, d’un second défaut artificiel 7 d’une forme prédéfinie et/ou d’une taille prédéfinie correspondant au premier défaut artificiel 6 dans la plate-forme 8, le montage de l’accessoire 9 sur la plate-forme 8, et la jonction du premier défaut artificiel 6 et du second défaut artificiel 7 pour former un défaut artificiel complet ; ou l’usinage dans l’accessoire 9, lorsqu’aucun usinage n’est effectué dans la plate-forme 8, d’un second défaut artificiel 7 d’une forme prédéfinie et/ou d’une taille prédéfinie, et la formation d’un défaut artificiel complet d’une forme prédéfinie et/ou d’une taille prédéfinie avec le second défaut artificiel 7 seul. Le procédé comprend en outre : le soudage précis, après le montage de l’accessoire 9 sur la plate-forme 8, d’interfaces de contact entre l’accessoire 9 et la plate-forme 8 en une structure d’un seul tenant ; et le soudage et le dépôt d’une passe de soudage ultérieure dans la rainure sur laquelle l’unité de détection de défaut est prévue, pour former l’échantillon de détection. Plus particulièrement, comme le représente la , une couche de soudure 1 est soudée et déposée dans la rainure de la base d’échantillon de détection, et sur la couche de soudure 1 : une plate-forme 8 est usinée, et un premier défaut artificiel hémisphérique 6 d’une forme prédéfinie et/ou d’une taille prédéfinie est usiné dans la plate-forme 8 ; ou une plate-forme 8 est usinée, et un défaut artificiel de type plan est usiné dans la plate-forme 8, puis un premier défaut artificiel hémisphérique 6 est usiné dans une partie centrale de la plate-forme, formant ainsi un défaut artificiel de type composite non plan/plan ; ou une plate-forme 8 est usinée, puis la plate-forme 8 n’est pas soumise à un quelconque usinage. Comme le représente la : un second défaut artificiel hémisphérique 7 d’une forme prédéfinie et/ou d’une taille prédéfinie correspondant à la plate-forme 8 est usiné dans l’accessoire 9 ; ou un défaut artificiel de type composite non plan/plan correspondant est usiné dans l’accessoire 9 en imitant les étapes ci-dessus ; ou un défaut artificiel de type plan est usiné dans l’accessoire 9. Comme le représente la , l’accessoire 9 est monté sur la plate-forme 8, et : avec cette combinaison, le premier défaut artificiel hémisphérique 6 et le second défaut artificiel hémisphérique 7 sont joints l’un à l’autre pour former un défaut artificiel sphérique complet ; ou avec cette combinaison, un défaut artificiel de type composite non plan/plan est joint ; ou avec cette combinaison, un défaut artificiel de type plan complet est formé à l’intérieur de l’accessoire 9 seul. Dans certains modes de réalisation, on utilise deux échantillons de détection sur lesquels sont déposées des passes de soudage par le biais d’un même procédé de soudage. Ensuite, une plate-forme 8 comportant un premier défaut artificiel 6 de forme/taille prédéfinie est usinée dans la rainure de la base d’échantillon d’un des échantillons de détection, et des défauts artificiels à différentes profondeurs peuvent être obtenus en ajustant la hauteur de la plate-forme 8. Un accessoire 9 est découpé dans l’autre échantillon de détection et est usiné pour présenter un second défaut artificiel 7 de forme/taille prédéfinie. Puisque les deux échantillons de détection adoptent le même procédé de soudage, les caractéristiques physiques reflétées par l’examen non destructif d’un matériau de la couche de soudure 1 sont identiques ou proches des caractéristiques physiques reflétées par l’examen non destructif d’un matériau de l’accessoire 9. Comme le représente la , une surface inférieure de l’accessoire 9 contenant le second défaut artificiel 7 est fixée à une surface supérieure de la plate-forme 8, et le premier défaut artificiel 6 et le second défaut artificiel 7 sont joints en un défaut artificiel d’un seul tenant. Les interfaces de contact entre l’accessoire 9 et la plate-forme 8 sont soudées avec précision en une structure d’un seul tenant dans un procédé spécial (tel que le soudage par ultrasons, le soudage par diffusion ou le soudage par thermocompression, ou analogue), et un défaut artificiel de forme prédéfinie, tel qu’une cavité sphérique d’un diamètre d’environ 0,3 mm, est formé à l’intérieur d’un bossage formé après le soudage. Si l’accessoire 9 a une taille relativement grande, les interfaces de contact entre l’accessoire 9 et la plate-forme 8 peuvent être soudées avec précision par un soudage par ultrasons étape par étape de manière superposée, ou une épaisseur de l’accessoire 9 peut être augmentée par un mode de pénétration peu profond tel que le soudage laser ou la transition métallique à froid. Lorsque les interfaces de contact entre l’accessoire 9 et la plate-forme 8 sont soudées avec précision, chaque couche de soudure de la passe de soudage dans la rainure est remplie pour former un échantillon de détection contenant un défaut artificiel. L’échantillon de détection est soumis à un examen non destructif dans un procédé d’examen non destructif conventionnel ou spécial, tel qu’un examen radiographique, un examen échographique, une tomographie industrielle, et analogues. La forme, la taille et d’autres données du défaut artificiel obtenues par l’examen non destructif sont comparées à une valeur cible attendue, et en cas d’écart important, l’échantillon de détection est refabriqué, et les formes, tailles et autres données du premier défaut artificiel 6 et du second défaut artificiel 7 sont renvoyées et ajustées pendant la fabrication de l’échantillon de détection, jusqu’à ce qu’un échantillon de détection ayant la position, la forme, la taille et le contenu prédéfinis soit obtenu. On se rendra compte que les mises en œuvre ci-dessus sont simplement des mises en œuvre données à titre d’exemple dans le but d’illustrer le principe de la présente divulgation, et la présente divulgation n’y est pas limitée. Il sera évident à un homme du métier de compétence ordinaire que diverses modifications et variations peuvent être faites sans s’écarter de l’esprit ou de l’essence de la présente divulgation. De telles modifications et variations doivent également être considérées comme entrant dans la portée de protection de la présente divulgation. Échantillon de détection, caractérisé en ce que il comprend une base d’échantillon, et une unité de défaut comprenant une plate-forme (8) et un accessoire (9), dans lequel la plate-forme (8) est disposée dans une rainure de la base d’échantillon, et aucun usinage n’est effectué dans la plate-forme, ou un premier défaut artificiel (6) d’une forme prédéfinie et/ou d’une taille prédéfinie est usiné dans la plate-forme, lorsque le premier défaut artificiel (6) est usiné dans la plate-forme (8), un second défaut artificiel (7) d’une forme prédéfinie et/ou d’une taille prédéfinie correspondant à la plate-forme (8) est usiné dans l’accessoire (9) qui est apparié et assemblé à la plate-forme (8), et le premier défaut artificiel (6) et le second défaut artificiel (7) sont joints l’un à l’autre pour former un défaut artificiel complet d’une forme prédéfinie et/ou d’une taille prédéfinie, ou lorsqu’aucun usinage n’est effectué dans la plate-forme (8), un second défaut artificiel (7) d’une forme prédéfinie et/ou d’une taille prédéfinie est usiné dans l’accessoire (9) qui est apparié et assemblé à la plate-forme (8), et le second défaut artificiel (7) forme à lui seul un défaut artificiel complet d’une forme prédéfinie et/ou d’une taille prédéfinie. Échantillon de détection selon la revendication 1, caractérisé en ce que lorsque le premier défaut artificiel (6) est usiné dans la plate-forme (8), le premier défaut artificiel (6) et le second défaut artificiel (7) ont chacun une forme de type non plan, de type plan ou de type composite non plan/plan. Échantillon de détection selon la revendication 1, caractérisé en ce que l’accessoire (9) a une forme trapézoïdale, et une taille d’un matériau résiduel de l’accessoire (9) après que le second défaut artificiel (7) a été usiné est supérieure à une pénétration de soudure d’une passe de soudage suivante à remplir. Échantillon de détection selon l’une quelconque des revendications 1 à 3, caractérisé en ce que des couches multiples et des joints de soudure à passages multiples sont déposés et remplis dans la rainure de l’échantillon de détection, une unité de détection de défaut est utilisée et disposée dans une passe de soudage quelconque, ou au niveau d'une jonction de passes de soudage, ou au niveau d'une jonction d’une passe de soudage et d’une surface de la rainure ; ou une pluralité d’unités de défaut est utilisée et répartie dans une pluralité de passes de soudage ou au niveau de différentes positions d’une passe de soudage. Procédé pour la fabrication d’un échantillon de détection, caractérisé en ce qu ’il comprend : le soudage et dépôt d’une passe de soudage dans une rainure d’une base d’échantillon de l’échantillon de détection ; la mise en place d’une unité de défaut dans la rainure, comprenant : l’usinage d’une plate-forme (8) au niveau d'une position prédéfinie dans la rainure de la base d’échantillon, et l’usinage d’un premier défaut artificiel (6) d’une forme prédéfinie et/ou d’une taille prédéfinie dans la plate-forme (8), ou aucun usinage n’est effectué dans la plate-forme (8) ; et l’usinage dans un accessoire (9), lorsque le premier défaut artificiel (6) est usiné dans la plate-forme (8), d’un second défaut artificiel (7) d’une forme prédéfinie et/ou d’une taille prédéfinie correspondant au premier défaut artificiel (6) dans la plate-forme (8), le montage de l’accessoire (9) sur la plate-forme (8), et la jonction du premier défaut artificiel (6) et du second défaut artificiel (7) pour former un défaut artificiel complet ; ou l’usinage dans l’accessoire (9), lorsqu’aucun usinage n’est effectué dans la plate-forme (8), d’un second défaut artificiel (7) d’une forme prédéfinie et/ou d’une taille prédéfinie, et la formation d’un défaut artificiel complet d’une forme prédéfinie et/ou d’une taille prédéfinie avec le second défaut artificiel (7) seul ; le soudage de façon précise, après le montage de l’accessoire (9) sur la plate-forme (8), d’interfaces de contact entre l’accessoire (9) et la plate-forme (8) en une structure d’un seul tenant ; et le soudage et le dépôt d’une passe de soudage ultérieure dans la rainure sur laquelle l’unité de défaut est prévue, pour former l’échantillon de détection.