FR 3118209 A1 20220624 FR 2013973 A 20201222 L’invention concerne un procédé de réglage d’un dispositif optique comportant les étapes suivantes : - montage (100) d’une plaque de diffraction sur une monture; - émission (102) d’un faisceau lumineux ; - acquisition (104) d’une image par un ensemble de capteurs, ladite image comportant une première, une deuxième, une troisième et une quatrième lignes droites de diffraction ; - déplacement (106) de l’ensemble de capteurs le long de l’axe optique jusqu’à ce que la deuxième, la troisième et la quatrième lignes droites se coupent en un point ; - rotation (108) de l’ensemble de capteurs autour de l’axe optique ; - rotation (112) de l’ensemble de capteurs autour d’un axe vertical. L’invention concerne également un procédé d’harmonisation une plaque de diffraction et un système optique. Figure à publier avec l’abrégé : Figure 3 Procédé de réglage d’un dispositif optique et plaque de diffraction Domaine technique de l’invention La présente divulgation relève du domaine des systèmes optroniques tels des viseurs équipés de caméras et des méthodes de réglage de ces caméras sur leur interface de montage. Etat de la technique antérieure Il est connu des plaques de diffraction pour faciliter la mise au point d’instruments astronomiques pour l’astrophotographie. Ces plaques de diffraction permettent de régler la focalisation du système mais ne permettent pas de faire un réglage d’orientation (rotation autour de l’axe moyen de propagation des rayons ni de perpendicularité du plan image par rapport à cet axe). Présentation de l’invention Le but de la présente invention est de proposer un procédé de réglage rapide de la focalisation, du devers, de l’inclinaison verticale et de l’inclinaison horizontale d’un ensemble de capteurs, ainsi qu’un système optique et une plaque de diffraction permettant la mise en œuvre du procédé. Le but de la présente invention est également de proposer le réglage rapide de l’harmonisation c’est-à dire de l’alignement de l’axe de référence de la caméra par rapport à l’axe de référence du dispositif receveur de la caméra. Brève description des figures est un schéma d’un système optique selon l’invention ; est un schéma d’une plaque de diffraction selon un mode de réalisation de l’invention ; est un diagramme représentant les étapes du procédé de réglage du dispositif optique selon l’invention ; est une image de diffraction obtenue par la plaque de diffraction de la ; est une image obtenue après traitement de l’image de la . Procédé de réglage d’un dispositif optique (8) à l’aide d’une plaque de diffraction (1) ; ladite plaque de diffraction comprenant au moins deux éléments de centrage (26), une première zone (3), une deuxième zone (4), une troisième zone (5) et une quatrième zone, chaque zone ayant des fentes de diffraction s’étendant selon des directions différentes; ledit dispositif optique (8) ayant un axe de référence optique (13) et comportant : - une source lumineuse (32) apte à émettre un faisceau lumineux présentant un front d’onde plan ; - un dispositif de montage (30) s’étendant parallèlement à l’axe de référence optique, ledit dispositif de montage (30) comprenant une monture (12) ayant au moins deux éléments de centrage complémentaires (34), un objectif (9), un ensemble de capteurs (10) propre à acquérir une image de diffraction, et un support orientable (36) apte à porter ledit ensemble de capteurs ; ledit support orientable étant adapté pour se déplacer le long de l’axe optique, ledit support orientable étant adapté pour pivoter autour de l’axe optique (13), d’un axe vertical d’inclinaison (Z) et d’un axe (Y) horizontal d’inclinaison ; l’axe de référence optique (13), l’axe vertical d’inclinaison (Z) et l’axe (Y) horizontal d’inclinaison formant un trièdre rectangle ;ledit ensemble de capteurs comprenant des pixels alignés selon des lignes et des colonnes ; ledit procédé comportant les étapes suivantes : - montage (100) de la plaque de diffraction (1) sur la monture (12) et mise en coopération mécanique des éléments de centrage (26) de la plaque de diffraction avec les éléments de centrage complémentaires (34) de la monture ; - émission (102) par la source lumineuse (32) d’un faisceau lumineux se propageant le long de l’axe de référence optique ; - acquisition (104) d’une image par l’ensemble de capteurs (10), ladite image étant une image de diffraction comportant une première (19), une deuxième (20), une troisième (21) et une quatrième (22) lignes droites de diffraction ; - déplacement (106) de l’ensemble de capteurs le long de l’axe de référence optique jusqu’à ce que la deuxième ligne droite (20), la troisième ligne droite (21) et la quatrième ligne droite (22) se coupent en un point d’intersection (I) pour régler la focalisation ; - rotation (108) de l’ensemble de capteurs (10) autour de l’axe de référence optique jusqu’à ce que la première (19) ligne droite de diffraction soit alignée sur une colonne de pixels de l’ensemble de capteur pour régler un dévers, - rotation (110) de l’ensemble de capteurs (10) autour de l’axe horizontal d’inclinaison (Y) jusqu’à ce que la deuxième (20) ligne droite de diffraction soit perpendiculaire à la première (19) ligne droite de diffraction, pour régler l’inclinaison horizontale de l’ensemble de capteurs, - rotation (112) de l’ensemble de capteurs (10) autour de l’axe vertical d’inclinaison (Z) jusqu’à ce que la troisième (21) ligne droite de diffraction soit perpendiculaire à la direction d’orientation des fentes de diffraction de la troisième zone (5), et jusqu’à ce que la quatrième ligne droite de diffraction (22) soit perpendiculaire à la direction d’orientation des fentes de diffraction de la quatrième zone (6), pour régler l’inclinaison verticale de l’ensemble de capteurs. Procédé de réglage selon la revendication 1, dans lequel les étapes de réglage de focalisation, de dévers, réglage d’inclinaison verticale de l’ensemble de capteurs et réglage d’inclinaison horizontale de l’ensemble de capteurs sont réalisées au moins une fois dans cet ordre séquentiel. Procédé d’harmonisation d’au moins un premier dispositif optique (8) et d’un deuxième dispositif optique à l’aide d’une plaque de diffraction (1), le premier et le deuxième dispositif optique comprenant chacun une monture (12) , un objectif (9) et un ensemble de capteurs (10) alignés sur un axe optique (13), le procédé d’harmonisation comprenant les étapes suivantes : - mise en œuvre des étapes (100 à 112) du procédé de réglage mentionnées dans l’une quelconque des revendications 1 et 2 sur le premier dispositif optique (8) ; - mise en œuvre des étapes (100 à112) du procédé de réglage mentionnées dans l’une quelconque des revendications 1 et 2 sur le deuxième dispositif optique à l’aide de la plaque de diffraction (1) utilisée pour régler le premier dispositif optique (8). Plaque de diffraction (1) pour faire la mise au point d’un dispositif optique (8) comprenant un objectif (9) ayant un axe de référence optique (13), une source lumineuse (32), un dispositif de montage (30) comprenant une monture (12) ayant au moins deux éléments de centrage complémentaires (34), un ensemble de capteurs (10) et un support orientable (36) adapté pour pivoter autour de l’axe optique (13), l’axe de référence optique (13), un axe vertical d’inclinaison (Z) et un axe (Y) horizontal d’inclinaison formant un trièdre rectangle ;ledit ensemble de capteurs comprenant des pixels alignés selon des lignes et des colonnes la plaque de diffraction (1) comportant : - au moins deux éléments de centrage (26), - une première zone (3) ayant des fentes de diffraction s’étendant selon une première direction (D1) , la première zone (3) étant destinée à être alignée avec l’axe de référence optique (13) de l’objectif ; - une deuxième zone (4) ayant des fentes de diffraction s’étendant selon une deuxième direction (D2), - une troisième zone (5) ayant des fentes de diffraction s’étendant selon une troisième direction (D3), la troisième direction présentant un angle défini (α) par rapport à la première direction ; - une quatrième zone (6) ayant des fentes de diffraction s’étendant selon une quatrième direction (D4),la première direction (D1), la deuxième direction (D2), la troisième direction (D3) et la quatrième direction (D4) ayant des orientations différentes. Plaque de diffraction (1) selon la revendication 4, dans laquelle la première, la deuxième, la troisième et la quatrième zones présentent sensiblement une surface de même aire. Plaque de diffraction (1) selon l’une quelconque des revendications 4 et 5, comportant en outre au moins deux éléments de centrage (26) permettant de positionner la plaque de diffraction dans une position prédéfinie sur une monture. Plaque de diffraction (1) selon l’une quelconque des revendications 4 à 6, dans laquelle la première direction est horizontale. Plaque de diffraction (1) selon l’une quelconque des revendications 5 à 7, dans laquelle la deuxième zone (4), la troisième (5) et la quatrième (6) zones présentent une forme d’une portion angulaire d’un anneau (7) ; ledit anneau ayant pour centre le centre de la première zone (3), et dans laquelle la deuxième (4), la troisième (5) et la quatrième (6) zones entourent la première zone (3). Plaque de diffraction (1) selon l’une quelconque des revendications 5 à 8, dans laquelle ledit angle prédéfini est compris entre 50° et 70°et est, de préférence, égal à 60°. Système optique (40) comprenant un dispositif d’optique (8) ayant un axe de référence optique (13) et une plaque de diffraction (1), caractérisé en ce que la plaque de diffraction est conformée selon l’une des revendications 4 à 8, et en ce que le dispositif optique (8) comporte : - une source lumineuse (32) apte à émettre un faisceau lumineux (14) présentant un front d’onde plan et se propageant le long de l’axe optique ; - un dispositif de montage (30) s’étendant parallèlement à l’axe optique (13), ledit dispositif de montage (30) comprenant une monture (12) ayant au moins deux éléments de centrage complémentaires (34), un objectif (9) agencé sur l’axe optique (13), un ensemble de capteurs (10) propre à acquérir une image de diffraction, et un support orientable (36) apte à porter ledit ensemble de capteurs ; ledit support orientable étant adapté pour se déplacer selon l’axe optique et pour pivoter autour de l’axe optique (13), d’un axe (Z) vertical d’inclinaison et d’un axe (Y) horizontal d’inclinaison ; l’axe optique, l’axe (Z) vertical d’inclinaison et l’axe (Y) horizontal d’inclinaison formant un trièdre rectangle ;ledit ensemble de capteurs (10) comprenant des pixels alignés selon des lignes et des colonnes.