FR 3112213 A1 20220107 FR 2006930 A 20200701 L’invention a pour objet une méthode de test d’au moins un dispositif de micro-stockage d’énergie comprenant une anode en lithium métallique formée par électro-dépôt d’ions sur un métal inerte vis-à-vis d’ions lithium, la méthode comportant une succession d’étapes en cours de fabrication de ladite anode : une étape de mesure de la tension initiale OCV du dispositif de micro-stockage d’énergie; une étape de première charge comprenant l’application d’un courant, la mesure de la tension et de la résistance interne du dispositif pour vérifier la conformité des mesures sur une très faible épaisseur de couche de lithium formée en anode ; une étape de stabilisation de seconde charge comprenant l’application d’un courant et la mesure de la tension du dispositif pour vérifier la conformité des mesures sur une faible épaisseur de couche de lithium formée en anode; une étape de rétention à courant nul appliqué et mesure de tension pour confirmer la conformité du dispositif de micro-stockage d’énergie. L’invention a aussi pour objet un système pour mettre en œuvre la méthode Figure pour l’abrégé : FIG. 2 Méthode de test(s) d’un ou d’une pluralité de dispositifs microbatteries et système mettant en œuvre la méthode de test(s) Le domaine de l’invention est celui du test électrique des dispositifs électroniques ou technologiques réalisés en technique microélectronique: circuits intégrés, capteurs, dispositifs élémentaires (résistance, diode, capacité …). Plus spécifiquement, il s’agit d’une méthode de test électrique dédié à une certaine catégorie de composants de micro-stockage d’énergie, communément appelés microbatteries. Une microbatterie est réalisée par un dépôt successif sur un substrat de (i) premier collecteur de courant, (ii) première électrode, (iii) électrolyte, (iv) deuxième électrode, et (v) deuxième collecteur de courant. Une encapsulation par le biais de dépôt de couches supplémentaires, ou par report de capot est nécessaire pour protéger le dispositif de la réactivité chimique avec l’oxygène et la vapeur d’eau. De manière générale, les microbatteries peuvent être classées en trois catégories en fonction du type d’électrode négative (ou anode), souvent déposée au-dessus de l’électrolyte : - anode en matériau de stockage des ions Li + : il s’agit souvent d’oxydes de métaux de transition (Vox, TiOx, NiOx, etc..) ou de matériaux cristallogènes (Si, Ge, C ou mélanges) ; - anode en lithium métallique : une couche de lithium est déposée sous forme métallique au-dessus du collecteur ; - anode en métal inerte vis-à-vis du lithium : cette configuration est souvent appelée “ Li-free ” en référence à l’article J. Electrochem. Soc.-2000-Neudecker-517-23 . Dans ce cas une anode en lithium métallique est formée au cours de la première charge de la batterie par électrodépôt d’ions Li+ (en provenance de la cathode) entre l’électrolyte et le deuxième collecteur de courant. La dernière configuration est la plus avantageuse dans le cas d’une intégration de microbatteries sur substrat silicium et d’utilisation de techniques de micro-fabrication : elle offre la présence de lithium-métal (l’anode la plus performante de par la densité d’énergie, du potentiel ainsi que de la cyclabilité) sans les inconvénients associés à sa présence en cours de procédé (sensibilité à l’air, incompatibilité avec les solutions de gravure et de photolithographie). De manière générale, le protocole de tri et de tests électriques le plus utilisé et le plus fiable consiste à (i) tester la microbatterie sur plusieurs cycles de charge et de décharge complets (passer de totalement chargé à totalement déchargé) et (ii) comparer les valeurs de capacité, les profils de tension et la résistance interne à des valeurs de référence. Cette approche présente néanmoins plusieurs limitations : dans le contexte des microbatteries, et plus particulièrement des microbatteries “ Li-free ”, le cyclage engendre des variations structurales au niveau de l’empilement actif, en l’occurrence la formation de lithium métallique la rendant très sensible à l’air et complexe à poursuivre en procédé technologique de fabrication. Dans le cas de batteries de plus grande taille, l’application de cette méthode demeure très rare dans la mesure où elle nécessite de longues périodes de test, ce qui représente un coût important. Le tri peut se baser sur un ou plusieurs paramètres de la microbatterie sans avoir à les cycler. Parmi les paramètres électriques les plus utilisés on peut citer : - la tension à circuit ouvert ou OCV (pour “ O pen C ircuit V oltage”). Cette tension correspond à celle mesurée au niveau de la microbatterie dès la sortie de fabrication, et avant toute sollicitation électrique. Généralement elle donne une idée sur l’état de charge de la microbatterie. Ceci est vérifié par exemple dans le cas des microbatteries avec une anode en lithium métallique ou en anode de stockage. Dans le cas des microbatteries “ Li-free ”, il a été expérimentalement observé que l’OCV présentait une variabilité importante au sein d’une plaque et de plaque à plaque, et qu’aucune corrélation n’était possible entre OCV et état de charge comme montré sur la figure 1 qui illustre les variations de l’OCV pour un composant de type microbatterie réalisé sur un lot de 7 wafers. La variabilité est importante à la fois au sein d’une plaque et de plaque à plaque. - La variabilité est liée au fait que l’anode en lithium n’est pas encore formée à ce stade, et la mesure OCV donne une information sur l’état des interfaces électrolyte/électrodes uniquement, sans lien avec l’état de charge ou le futur comportement électrique. En conséquence, ce paramètre n’est pas pertinent pour établir un tri de toutes les configurations de microbatteries. - la résistance interne : elle correspond à l’ensemble des contributions résistives ayant lieu au sein de la structure de la microbatterie, il s’agit de la somme de la résistance de l’électrolyte, des transferts de charge au niveau des électrodes et des interfaces. Ce paramètre n’est pas pertinent pour un tri dans le cas des microbatteries “ Li-free ” pour la même raison que celle évoquée précédemment, l’anode en lithium métallique n’étant pas formée. L’enjeu du tri dans ce cas précis est de pouvoir disposer de paramètres électriques pouvant servir à classer les microbatteries y compris celles en “ Li-free ” sans qu’on soit obligé de procéder au cyclage, au risque de ne pouvoir faire le tri qu’après la fin du procédé de fabrication. En effet trier sur la base de cyclage nécessite que la microbatterie soit encapsulée, soit au niveau de la plaque, soit après découpe et mise en boitier et ceci afin d’éviter les changements structuraux et la sensibilité à l’air liée à la présence de lithium métallique. Un tri intermédiaire pour réduire les coûts de fabrication et identifier les modes de défaillance n’est pas possible, et c’est ce qu’on cherche à avoir dans ce cas précis. Le document US9209496 propose une méthode de tri consistant à mesurer la tension à circuit ouvert ou OCV (pour Open Circuit Voltage) d’une batterie, de la décharger pendant une certaine période et de comparer le potentiel de fin de décharge à celui de l’OCV. Il est clair que dans le cas des microbatteries “ Li-free ”, cette méthode de tri n’est pas adaptée dans la mesure ou (i) l’OCV n’apporte pas d’indications concernant l’état de la batterie, et (ii) la décharge des batteries “ Li-free ” ne permet pas de modifier leur potentiel de façon stable dans la mesure où la microbatterie est totalement déchargée au moment du test. Le document US6526361 propose une méthode de tri consistant à appliquer plusieurs pulses successifs (soit une application de pulses de courant, soit de pulses de tension) avec une période de relaxation entre chaque pulse à des batteries, à mesurer la réponse en tension associée et à effectuer un tri en fonction de cette réponse. Cette approche n’est pas applicable à des microbatteries de type “ Li-free ” étant donné qu’elle nécessite un état initial stable en tension. Dans ce contexte et pour pallier les problèmes précités, la présente invention a pour objet une méthode de test particulièrement bien adaptée aux microbatteries de type “ Li-Free ”, pour lesquelles les méthodes de l’art connu ne sont pas compatibles. Cette méthode permet d’effectuer des tests non dégradants et rapides, de plus cette méthode peut s’appliquer à un ou une pluralité de dispositifs testés en parallèle. Plus précisément, la présente invention a pour objet une méthode de test d’au moins un dispositif de micro-stockage d’énergie comprenant une anode en lithium métallique formée par électro-dépôt d’ions Li + sur un métal inerte vis-à-vis d’ions lithium, un électrolyte et une cathode, ladite méthode comprenant une séquence d’étapes de test en cours de fabrication de ladite anode, ladite séquence comportant : - une étape de mesure Ph-a de la tension initiale OCV dudit dispositif en circuit ouvert permettant d’obtenir à un instant t0 , la valeur de la tension initiale dudit dispositif de micro-stockage d’énergie ; - si ladite tension initiale est non nulle, une étape de première charge Ph-b comprenant : l’application d’un courant Ib pendant un temps tb permettant de charger une première partie dudit dispositif durant un temps minimal de charge pour former une première épaisseur de couche de lithium en anode ; la mesure de la tension Vb aux bornes dudit dispositif ; la détermination de la résistance interne Rb étant relative à l’état de charge considéré dudit dispositif ; - si la tension Vb est située dans un intervalle Vb min -Vb max défini en fonction de l’architecture du composant et si la résistance Rb est située dans un intervalle Rb min -Rb max défini en fonction de l’architecture du composant, une étape de stabilisation Ph-c comprenant : la continuation de l’application d’au moins un courant Ic pendant un temps tc permettant de charger une deuxième partie dudit dispositif durant un deuxième temps de charge tc pour former une deuxième épaisseur de couche de lithium en anode ; la mesure de la tension Vc aux bornes dudit dispositif ; si la tension Vc est située dans un intervalle Vc min -Vc max défini en fonction de l’architecture du composant, une étape de rétention Ph-d comprenant : l’application d’un courant nul durant un temps td ; la mesure de la tension V aux bornes du dispositif au cours du temps ; la détermination du paramètre Vd avec Vd = ∆V/∆t ; si Vd est situé dans un intervalle Vd min -Vd max défini en fonction de l’architecture du composant, ledit dispositif est testé valide. Selon des variantes de l’invention : - l’étape de première charge comporte une série de mesures de tensions Vbi pendant des durées ∆tbi espacées de temps Tbi permettant de déterminer la courbe Vbi en fonction du temps et permettant de déterminer la valeur de la tension Vb pouvant être définie comme la valeur maximale des tensions Vbi ou la moyenne des tensions Vbi ; - la résistance Rb peut être déterminée après chaque temps tbi par le rapport Vbi/Ic de la courbe Vbi en fonction du temps t. Selon des variantes de l’invention, les durées ∆tbi sont de l’ordre de 10 secondes, les temps Tbi étant de l’ordre de 0,1 seconde. Selon des variantes de l’invention, la première épaisseur est de l’ordre de quelques nanomètres et de préférence de 1 à 2 nanomètres. Selon des variantes de l’invention : - l’étape de stabilisation comporte une série de mesures de tension Vci pendant des durées ∆tci espacées de temps Tci permettant de déterminer la valeur de la tension Vc définie comme la moyenne des tensions Vci . Selon des variantes de l’invention, les durées ∆tci sont de l’ordre de 50 secondes, les temps Tci étant de l’ordre de 1 seconde. Selon des variantes de l’invention, la seconde épaisseur est inférieure à 10 nanomètres et de préférence égale à 5 nanomètres. Selon des variantes de l’invention : - l’étape de rétention comporte une série de mesures de tension Vdi pendant des durées ∆tdi espacés de temps Tdi permettant de déterminer la courbe Vdi en fonction du temps ; - le paramètre Vd est déterminé par la pente de la courbe Vdi en fonction du temps t. Selon des variantes de l’invention, les durées ∆tdi sont de l’ordre de 10 secondes, les temps Tdi étant de l’ordre de 1 seconde. L’invention a aussi pour objet un système de test d’au moins un dispositif de micro-stockage d’énergie, mettant en œuvre la méthode de test de d’invention, comprenant : - un générateur de courant connecté audit dispositif ; - un voltmètre connecté audit dispositif ; - un contrôleur relié audit générateur de courant et audit voltmètre. Selon des variantes de l’invention, le générateur de courant est programmable et le voltmètre est programmable. Selon des variantes de l’invention, le contrôleur comprend un chronomètre, une mémoire et un processeur. L’invention a également pour objet un ensemble d’une pluralité de systèmes de test de dispositif de micro-stockage d’énergie, mettant en œuvre la méthode selon l’invention, chaque système comprenant : - un générateur de courant pouvant être programmable connecté audit dispositif ; - un voltmètre pouvant être programmable connecté audit dispositif, - chaque générateur de courant et chaque voltmètre étant reliés à un contrôleur. L’invention a encore pour objet un ensemble d’une pluralité de systèmes de test de dispositif de micro-stockage d’énergie, mettant en œuvre la méthode de test selon l’invention, chaque système comprenant : - un générateur de courant pouvant être programmable connecté audit dispositif ; - un voltmètre pouvant être programmable connecté audit dispositif, - chaque générateur de courant et chaque voltmètre étant reliés à un même contrôleur central. Selon des variantes de l’invention, le système de test est tel que chaque contrôleur ou le contrôleur central comprend un chronomètre, une mémoire et un processeur. Le système de test de l’invention peut comprendre un contrôleur central comportant une mémoire, chaque contrôleur gérant les phases de test pour chaque système de test, enregistrant les résultats de mesure de tension dans sa mémoire, le contrôleur central récupérant lesdits résultats de mesure pour les enregistrer dans sa mémoire. L’invention sera mieux comprise et d’autres avantages apparaîtront à la lecture de la description qui va suivre donnée à titre non limitatif et grâce aux figures annexées parmi lesquelles : illustre les variations de l’OCV pour un composant de type microbatterie réalisé sur un lot de 7 wafers, et plus précisément un diagramme de Henry, dans lequel l’ordonnée est la fonction Normit de x, décrite en détail dans le document accessible via le lien : http://www.modulad.fr/numero-35/Excelense-grenier-35/DiagrammedeHenry.pdf ; illustre l’évolution de la tension au bornes d’un dispositif de microbatterie en fonction du temps au cours de l’ensemble des étapes de la méthode de test selon l’invention ; illustre un organigramme comprenant l’ensemble des phases de test successives dans la méthode de test selon l’invention ; illustre un exemple de système de test d’une pluralité de dispositifs de micro-stockage d’énergie selon l’invention, chaque dispositif étant relié à un contrôleur ; illustre un exemple de système de test d’une pluralité de dispositifs de micro-stockage d’énergie selon l’invention, chaque dispositif étant relié à un même contrôleur central. De manière générale, la méthode de test proposée dans la présente invention a pour objectif de palier aux différents inconvénients précités et ce, en utilisant une technique de tests non dégradante et rapide. Avantageusement, cette technique peut s’appliquer à un ou une pluralité de dispositifs testés en parallèle. La méthode de test de l’invention utilise la séquence de test décrite ci-après, enchainant les différentes étapes après validation d’un critère dans l’étape précédente, permettant ainsi de conclure au plus tôt sur un dispositif défaillant. Le dispositif de micro-stockage d’énergie est dénommé ci-après microbatterie. Il est décrit dans le cadre d’un exemple de microbatterie à base de lithium comprenant une anode métallique pouvant être en métal par exemple en titane et comprend un électrolyte solide pouvant par exemple être en LiPON (terme anglais : Lithium Phosphorus Oxynitride, soit l’oxynitrure de Li-phosphore) et une cathode pouvant par exemple être en LiCoO 2 . Cette technique est avantageuse car elle applique pour chaque dispositif testé quatre phases qui sont déclenchées l’une après l’autre lorsqu’un critère de validation est assuré. Ces quatre phases détaillées ci-après sont dénommées, phase de mesure de la tension initiale OCV, phase de charge, phase de stabilisation et phase de rétention. La figure 2 illustre l’enchaînement de ces phases en montrant l’évolution de la tension aux bornes du dispositif testé en fonction du temps dans un exemple de méthode décrit plus en détails ci-après. Cette séquence de phases de test est décrite en détails dans la suite de la description et est illustrée également par l’organigramme illustré en figure 3. Le système de test est réalisé sur un dispositif ou la pluralité de systèmes de test peuvent être réalisés en parallèle sur un ensemble de dispositifs. Les moyens utilisés pour mettre en oeuvre la méthode de test de l’invention peuvent être, selon une première variante de l’invention, les moyens suivants et ce pour le test de chaque dispositif Dn , seul un de ces dispositifs Dn étant représenté en figure 4. Ces moyens comprennent un générateur de courant programmable An , un voltmètre programmable Vn et un contrôleur Cn . Le dispositif An présente une connexion d’anode Dn-Anode et une connexion de cathode Dn- cathode , le générateur An : une connexion positive An- H et une connexion négative An- L , le voltmètre : une connexion positive Vn- H et une connexion négative Vn-L . La méthode de test consiste à effectuer le test de dispositif microbatterie en reliant les connexions An-H du générateur de courant, Vn-H du voltmètre et Dn-Anode du dispositif microbatterie ensemble, les connexions An-L du générateur de courant, Vn-L du voltmètre et Dn-Cathode du même dispositif microbatterie ensemble. Ce système de base peut être répété une pluralité de fois pour tester une pluralité de dispositifs. Chaque système de base peut être piloté par un contrôleur Cn comportant un processeur Pn , un chronomètre Crn et une mémoire Mn , ce contrôleur est relié à chaque voltmètre Vn et chaque générateur de courant An et devient partie intégrante du ce système comme le montre également la figure 4 ; dans ce cas tous les contrôleurs Cn de la pluralité des systèmes de tests sont reliés eux-mêmes à un contrôleur central Cc pour piloter l’ensemble des systèmes de tests. Cette configuration est avantageuse dans la mesure ou l’algorithme utilisé présente une meilleure flexibilité et une mise en œuvre plus simple. Selon une autre variante de l’invention, la pluralité des systèmes peut être pilotée par un contrôleur central Cc comportant un chronomètre Crc et une mémoire Mc relié à tous les voltmètres Vn et à tous les générateurs de courant An comme le montre la figure 5. Ainsi les moyens de contrôle peuvent être assurés soit par un contrôleur central, soit par un ensemble de contrôleurs individuels. Dans tous les cas, le contrôleur utilisé possède dans sa mémoire Mn ou Mc , les temps caractéristiques auxquels sont faites les mesures de tensions par les voltmètres Vn et les mesures de temps par les chronomètres Crn ou le chronomètre Crc . Le contrôleur utilisé enregistre ces mesures de temps et de tensions dans sa mémoire Mn ou Mc . Dans le cas où il n’existe que le contrôleur central Cc , celui-ci gère les séquences de tests pour la pluralité des systèmes de tests et enregistre les résultats des mesures dans sa mémoire Mc ; dans le cas où il y a un contrôleur Cn associé à chaque système de test, chaque contrôleur Cn gère la séquence de test pour chaque système de test, il enregistre les résultats des mesures dans sa mémoire Mn , puis le contrôleur central récupère tous les résultats des mesures et les enregistre dans sa mémoire Mc . La méthode de test selon l’invention débute par une première phase Ph-a comportant la mesure de la tension initiale OCV de chaque dispositif grâce au voltmètre Vn connecté à chaque dispositif, chacune de ces mesures est enregistrée dans la mémoire Mn de chaque contrôleur Cn de chaque système, ou dans la mémoire Mc du contrôle Central Cc . Cette première phase permet par exemple d’obtenir le paramètre OCV (Open Circuit Voltage) de chaque dispositif, à partir de la mesure de cette tension à l’instant t0 . Seule la mesure d’une valeur égale à zéro est utile dans le cas des microbatteries “Li-free”, car elle signifie une défaillance en mode court-circuit et permet d’arrêter les tests pour les composants concernés. La Phase Ph- a reprise sur l’organigramme de la figure 3 illustre cette première phase qui peut être conclusive et stopper le test sur un dispositif défaillant. Ensuite, pendant une seconde phase appelée phase de charge Ph-b chaque générateur de courant An connecté à chaque dispositif Dn applique un courant Ib à chaque dispositif à partir d’un temps t0 . Ce courant permet de charger une partie minime du dispositif, ce qui a pour effet de ne pas endommager le dispositif. Plus spécifiquement, cette opération consiste à initier la migration des ions Li+, et former une épaisseur nanométrique continue (par exemple de 1 à 2 nm) de lithium en anode, et par conséquent le passage d’une configuration “Li-free” à Li métallique, sans impact structural sur le composant, ce qui permet d’assurer à la fois une pertinence du tri a posteriori ainsi que la possibilité de faire ce tri à tout moment du procédé de fabrication. Cette deuxième phase permet par exemple d’obtenir le paramètre Vb en extrayant la tension max obtenue à partir des mesures enregistrées pendant cette phase. Les composants sont considérés conformes si la tension Vb est située dans un intervalle V bmin -V bma x défini en fonction de l’architecture du composant. L’intervalle V bmin -V bma x est essentiellement défini par le couple redox en jeu, plus spécifiquement par le potentiel de la cathode (ou électrode positive) vis-à-vis d’une électrode en lithium métallique. Par exemple dans le cas d’une cathode en LiCoO2 cet intervalle correspondra à 3.85-3.89V, alors que dans le cas d’une cathode en Li4Ti5O12, cet intervalle correspondra à 1.4-1.6V. La phase Ph -b reprise sur l’organigramme de la figure 3 illustre cette seconde phase qui peut être conclusive et permettre de poursuivre ou de stopper le test si le dispositif ne répondant pas aux valeurs attendues est considéré non conforme. Ensuite pendant une troisième phase appelée phase de stabilisation Ph-c , le processus de la phase de charge Ph - b se poursuit avec des temps prédéterminés différents qui peuvent être par exemple des temps espacés de 1 seconde pendant 50 secondes, chaque générateur de courant An connecté à chaque dispositif Dn continue d’appliquer un courant I c (qui peut être égal à Ib ) à chaque dispositif Dn . Cette étape a pour objectif d’ajuster l’épaisseur de la couche de Li nanométrique par rapport aux besoins des tests électriques. Plusieurs épaisseurs peuvent être intéressantes. L’épaisseur maximale suffisante peut typiquement être inférieure à 10 nm, et de préférence inférieure à 5 nm. Il est à noter que l’épaisseur totale de lithium métallique qui sera utilisée dans le cas d’un cyclage complet correspond à 5000 nm, la proportion utilisée pour le test est d’à peu près 1/1000eme. Ceci constitue un grand intérêt de la présente méthode qui permet d’élaborer des tests conclusifs dès le début de la formation de l’électrode lithium métal et ne nécessite pas d’avoir à achever le processus de fabrication pour pouvoir tester le dispositif de microbatterie. Cette troisième phase permet par exemple d’obtenir le paramètre Vc en extrayant la moyenne des valeurs des tensions obtenues à partir des mesures enregistrées pendant cette phase. Les composants sont considérés conformes si le paramètre Vc est situé dans un intervalle V cmin -V cmax défini en fonction de l’architecture du composant. La détermination de V cmin -V cmax est essentiellement lié à la variation théorique du potentiel de la microbatterie après l’injection d’une quantité de charge correspondant à Ic*temps . Cette quantité est très faible (inférieure à 0.1% de la quantité de charge totale que peut stocker la microbatterie) et dans le cas d’une microbatterie fonctionnelle, les valeurs V cmin -V cmax sont sensiblement similaires (+/-10%) aux valeurs V bmin -V bma x . Dans le cas d’une microbatterie non fonctionnelle, l’écart entre les deux plages de potentiel sera plus important. La phase Ph -c reprise sur l’organigramme de la figure 3 illustre cette troisième phase qui peut être conclusive et permet de poursuivre ou de stopper le test si le dispositif ne répondant pas aux valeurs attendues est considéré non conforme. D’autres paramètres peuvent être envisagés pendant cette phase : par exemple pente, ou delta V…. La valeur de la pente ( V cmin -V cmax )/ Ic permet de donner une estimation de la résistance interne de la microbatterie à cet état de charge précis, de la même manière l’écart entre V cmin et V cmax ou le ratio V cmin /V cmax peut renseigner sur la cinétique de charge de la microbatterie. Ensuite pendant une quatrième phase appelée phase de rétention Ph - d chaque générateur de courant applique un courant nul, et le processus de la phase Ph - b et de la phase Phc se poursuit avec des temps prédéterminés espacés par exemple de 1 seconde pendant 10 secondes. Cette quatrième phase permet par exemple d’obtenir le paramètre Vd en extrayant la pente (dérivée) de la courbe tension versus temps obtenue à partir des mesures enregistrées pendant cette phase. Les composants sont considérés conformes, si le paramètre Vd est situé dans un intervalle V dmin -V dmax défini en fonction de l’architecture du composant. La phase Ph -d figurant sur l’organigramme de la figure 3 illustre cette quatrième phase qui permet de conclure que le dispositif testé est conforme. Cette phase permet d’évaluer la cinétique et l’amplitude de relaxation de la microbatterie après la phase de charge précédente. Idéalement, la relaxation se limite à une baisse du potentiel équivalente à Ic*Rint (résistance interne), cette valeur étant très faible vu le faible courant Ic utilisé. Idéalement : Vb=Vc=Vd L’ensemble des paramètres précédemment obtenus peut également être traité selon des lois statistiques pour caractériser la pluralité d’éléments. La méthode de test selon l’invention est avantageuse car elle permet d’obtenir sur des dispositifs en cours de fabrication (directement sur plaquette), un ensemble de paramètres caractérisant une pluralité de dispositifs en un temps, si l’on prend les exemples de valeurs prédéterminées données dans les phases Ph - a à Ph - d , de 1 minute et 10 secondes, et ce sans être destructive pour les dispositifs, permettant ensuite de finir les étapes de fabrication. Méthode de test d’au moins un dispositif de micro-stockage d’énergie comprenant une anode en lithium métallique formée par électro-dépôt d’ions Li + sur un métal inerte vis-à-vis d’ions lithium, un électrolyte et une cathode, ladite méthode comprenant une séquence d’étapes de test en cours de fabrication de ladite anode, ladite séquence comportant : - une étape de mesure ( Ph-a ) de la tension initiale ( OCV ) dudit dispositif en circuit ouvert permettant d’obtenir à un instant t0 , la valeur de la tension initiale dudit dispositif de micro-stockage d’énergie ; - si ladite tension initiale est non nulle, une étape de première charge ( Ph-b ) comprenant : l’application d’un courant Ib pendant un temps tb permettant de charger une première partie dudit dispositif durant un temps minimal de charge pour former une première épaisseur de couche de lithium en anode ; la mesure de la tension Vb aux bornes dudit dispositif ; la détermination de la résistance interne Rb ; - si la tension Vb est située dans un intervalle Vb min -Vb max défini en fonction de l’architecture du composant et si la résistance Rb est située dans un intervalle Rb min -Rb max défini en fonction de l’architecture du composant, une étape de stabilisation ( Ph-c ) comprenant : la continuation de l’application d’au moins un courant Ic pendant un temps tc permettant de charger une deuxième partie dudit dispositif durant un deuxième temps de charge tc pour former une deuxième épaisseur de couche de lithium en anode ; la mesure de la tension Vc aux bornes dudit dispositif ; si la tension Vc est située dans un intervalle Vc min -Vc max défini en fonction de l’architecture du composant, une étape de rétention ( Ph-d ) comprenant : l’application d’un courant nul durant un temps td ; la mesure de la tension V aux bornes du dispositif au cours du temps ; la détermination du paramètre Vd avec Vd = ∆V/∆t ; si Vd est situé dans un intervalle Vd min -Vd max défini en fonction de l’architecture du composant, ledit dispositif est testé valide. Méthode de test selon la revendication 1, dans laquelle : - l’étape de première charge comporte une série de mesures de tensions Vbi pendant des durées ∆tbi espacées de temps Tbi permettant de déterminer la courbe Vbi en fonction du temps et permettant de déterminer la valeur de la tension Vb pouvant être définie comme la valeur maximale des tensions Vbi ou la moyenne des tensions Vbi ; - la résistance Rb peut être déterminée après chaque temps tbi par le rapport Vbi/Ic de la courbe Vbi en fonction du temps t. Méthode de test selon la revendication 2, dans laquelle les durées ∆tbi sont de l’ordre de 10 secondes, les temps Tbi étant de l’ordre de 0,1 seconde. Méthode de test selon l’une des revendications 1 ou 2, dans laquelle la première épaisseur est de l’ordre de quelques nanomètres et de préférence de 1 à 2 nanomètres. Méthode de test selon l’une des revendications 2 à 4, dans laquelle : - l’étape de stabilisation comporte une série de mesures de tension Vci pendant des durées ∆tci espacées de temps Tci permettant de déterminer la valeur de la tension Vc définie comme la moyenne des tensions Vci . Méthode de test selon la revendication 5, dans laquelle les durées ∆tci sont de l’ordre de 50 secondes, les temps Tci étant de l’ordre de 1 seconde. Méthode de test selon l’une des revendications 1 à 6, dans laquelle la seconde épaisseur est inférieure à 10 nanomètres et de préférence égale à 5 nanomètres. Méthode de test selon l’une des revendications 1 à 7, dans laquelle : - l’étape de rétention comporte une série de mesures de tension Vdi pendant des durées ∆tdi espacés de temps Tdi permettant de déterminer la courbe Vdi en fonction du temps ; - le paramètre Vd est déterminé par la pente de la courbe Vdi en fonction du temps t. Méthode de test selon la revendication 8, dans laquelle les durées ∆tdi sont de l’ordre de 10 secondes, les temps Tdi étant de l’ordre de 1 seconde. Système de test d’au moins un dispositif de micro-stockage d’énergie, mettant en œuvre la méthode selon l’une des revendications 1 à 9, comprenant : - un générateur de courant connecté audit dispositif ; - un voltmètre connecté audit dispositif ; - un contrôleur relié audit générateur de courant et audit voltmètre. Système de test selon la revendication 10, dans lequel le générateur de courant est programmable et le voltmètre est programmable. Système de test selon l’une des revendications 9 ou 10, dans lequel le contrôleur comprend un chronomètre, une mémoire et un processeur. Ensemble d’une pluralité de systèmes de test de dispositif de micro-stockage d’énergie ( Dn ), mettant en œuvre la méthode selon l’une des revendications 1 à 9, chaque système comprenant : - un générateur de courant ( An ) pouvant être programmable connecté audit dispositif ( Dn ) ; - un voltmètre ( Vn ) pouvant être programmable connecté audit dispositif ( Dn ), - chaque générateur de courant ( An ) et chaque voltmètre ( Vn ) étant reliés à un contrôleur ( Cn ). Ensemble d’une pluralité de systèmes de test de dispositif de micro-stockage d’énergie ( Dn ), mettant en œuvre la méthode selon l’une des revendications 1 à 9, chaque système comprenant : - un générateur de courant pouvant être programmable ( An ) connecté audit dispositif ( Dn ) ; - un voltmètre ( Vn ) pouvant être programmable connecté audit dispositif ( Dn ), - chaque générateur de courant ( An ) et chaque voltmètre ( Vn ) étant reliés à un même contrôleur central ( Cc ). Système de test selon l’une des revendications 10 à 14, dans lequel chaque contrôleur ou le contrôleur central comprend un chronomètre, une mémoire et un processeur. Système de test selon la revendication 13 et la revendication 15, comprenant un contrôleur central ( Cc ) comportant une mémoire ( Mc ), chaque contrôleur ( Cn ) gérant les phases de test pour chaque système de test, enregistrant les résultats de mesure de tension dans sa mémoire ( Mn ), le contrôleur central récupérant lesdits résultats de mesure pour les enregistrer dans sa mémoire ( Mc ).