FR 3107116 A1 20210813 FR 2001265 A 20200210 Titre: Procédé de calibration d’un dispositif optoélectronique L’invention concerne un procédé de calibration d’un dispositif optoélectronique comprenant une entrée optique et étant placé dans une enceinte climatique à une température ambiante T0, le dispositif optoélectronique comprenant au moins une matrice de bolomètres configurée pour mesurer au moins une température et au moins un circuit de lecture comprenant une sortie analogique apte à fournir une pluralité de signaux analogiques bruts destinée à former une image thermique, ledit procédé comprenant au moins les deux phases successives suivantes : 1. Une phase de calibration (100) ; 2. Une phase de vérification (200); Figure pour l’abrégé : Fig. 1 Procédé de calibration d’un dispositif optoélectronique La présente invention concerne le domaine des capteurs optiques, en particulier des capteurs optoélectroniques dans le domaine de l’imagerie infrarouge thermique. Elle trouve pour application particulièrement avantageuse le domaine de la calibration de ce type de dispositifs optoélectroniques. ÉTAT DE LA TECHNIQUE L’imagerie infrarouge connaît un essor important grâce aux avancées de la microélectronique. La capacité à réaliser des capteurs plus sensibles et plus petits a permis cet essor. Dans le domaine de l’imagerie infrarouge thermique, il est crucial de disposer d’une table de correspondance calibrée entre l’intensité de rayonnement perçu par le capteur et la température du corps imagé. Une des principales problématiques de ces dispositifs consiste en une dérive thermique des capteurs optoélectroniques du type bolomètres par exemple, principalement avec des capteurs conçus à base de silicium amorphe. Cette dérive implique que la calibration des capteurs soit régulièrement faite. Cette calibration est donc généralement faite de manière cyclique avec ce que l’on appelle un élément de référence. Ainsi par exemple, un cache de température connu sous le nom de «shutter» (pour alternateur en anglais) peut être disposé à l’avant du capteur le temps que celui-ci puisse en mesurer son image infrarouge et que l’électronique ajuste les mesures avec la température du cache connu. Ce type de solution est très efficace, mais pose une grande problématique. En effet, alors que certaines applications nécessitent une imagerie ininterrompue, cette solution implique de perdre l’image souhaitée pendant quelques instants le temps de recalibrer le capteur. Plusieurs astuces afin d’accélérer la recalibration ont été proposées, mais présentent toutes des problématiques d’utilisation sur le terrain. Un objet de la présente invention est donc de proposer une solution au moins à certaines de ces problématiques. Les autres objets, caractéristiques et avantages de la présente invention apparaîtront à l'examen de la description suivante et des dessins d'accompagnement. Il est entendu que d'autres avantages peuvent être incorporés. RÉSUMÉ La présente invention concerne un procédé de calibration d’un dispositif optoélectronique comprenant une entrée optique et étant placé dans une enceinte climatique à une température ambiante T0, le dispositif optoélectronique comprenant au moins une matrice de bolomètres, de préférence de microbolomètres, configurée pour mesurer au moins une température et au moins un circuit de lecture comprenant une sortie analogique apte à fournir une pluralité de signaux analogiques bruts destinée à former une image thermique, chaque signal analogique brute correspondant à un bolomètre et chaque signal analogique brute étant fonction d’une scène observée par ledit dispositif optoélectronique, la sortie analogique du circuit de lecture étant connectée à un convertisseur de signal analogique en signal numérique présentant une plage dynamique prédéterminée, ledit procédé comprenant au moins les deux phases successives suivantes : Une phase de calibration comprenant au moins les étapes successives suivantes : Modifier la température à l’intérieur de l’enceinte climatique pour atteindre une première température T1 différente de T0, de préférence inférieure à T0 ; Attendre un temps de stabilisation Tps_stab que la température de la matrice de bolomètres soit constante, de préférence soit égale à T1 ; Ajuster la tension de polarisation de chaque bolomètre de sorte que la valeur de chaque signal analogique brut se trouve dans une gamme présélectionnée de la plage dynamique, de préférence la gamme sélectionnée correspond à la gamme médiane de la plage dynamique ; Enregistrer la tension de polarisation ajustée de chaque bolomètre ; Enregistrer, pour chaque bolomètre, une valeur de tension électrique de correction, cette tension électrique étant continue et fonction de la température de la scène observée, cette tension électrique étant répartie de manière aléatoire au travers de la matrice de bolomètres, et étant superposée au signal analogique brut de chaque bolomètre ; Modifier la température à l’intérieur de l’enceinte climatique pour atteindre une deuxième température T2 différente de T0 et de T1, de préférence supérieure à T1 ; Répéter les étapes b, c, d, e et f de la phase de calibration jusqu’à une température finale Tf supérieure à la température initiale T0 ; Une phase de vérification comprenant au moins les étapes successives suivantes : Descendre linéairement la température à l’intérieur de l’enceinte climatique depuis Tf jusqu’à ce que la température de la matrice de bolomètres soit égale à T1. Mesurer au moins un critère de fonctionnement du dispositif optoélectronique, pendant l’étape de descente linéaire de la température de Tf à T1, en utilisant les valeurs de tension de polarisation et les valeurs de tension électrique de correction enregistrées en fonction de la température de la matrice de bolomètres. La présente invention permet de calibrer, de préférence une seule fois, et avantageusement en usine, un dispositif optoélectronique. Elle concerne un procédé de calibration qu’il n’est pas nécessaire de reproduire sur le terrain en cours d’utilisation du dispositif optoélectronique. La présente invention permet la détermination des paramètres de fonctionnement et leur test dans un même procédé comprenant une montée en température en escalier et une descente linéaire en température. La montée en escalier permet de disposer du temps nécessaire pour effectuer les ajustements et enregistrements de données nécessaire pour plusieurs températures, puis la descente linéaire permet de tester dans un environnement thermique dynamique la calibration du dispositif optoélectronique. Avantageusement, le procédé comprend une phase de calibration par paliers de température, donc une phase de calibration dite statique, et une phase de vérification dite dynamique par une évolution de la température. Avantageusement, le procédé comprend une phase de calibration discrète et une phase de vérification continue. De préférence, la présente invention permet de calibrer le dispositif optoélectronique en fonction de son utilisation future en positionnant la gamme relativement à la plage dynamique du convertisseur de sorte à préférer soit des applications en milieux froids, chauds ou à températures ambiantes. La présente invention permet de créer des tables de paramètres de fonctionnement et de comportement de chaque bolomètre. La présente invention permet de se passer d’un cache ou obturateur et d’un procédé de calibration nécessaire de répéter régulièrement. Le dispositif optoélectronique peut donc être utilisé en continu sur le terrain sans interruption de recalibration, et sans que le dispositif optoélectronique ne doive être maintenu à une température déterminée. La présente invention concerne également un produit-programme d’ordinateur comprenant des instructions, qui lorsqu’elles sont effectuées par au moins un processeur, exécute au moins le procédé selon la présente invention. BRÈVE DESCRIPTION DES FIGURES Les buts, objets, ainsi que les caractéristiques et avantages de l’invention ressortiront mieux de la description détaillée d’un mode de réalisation de cette dernière qui est illustré par les dessins d’accompagnement suivants dans lesquels : La figure 1 représente schématiquement certaines étapes du procédé selon un mode de réalisation de la présente invention. La figure 2 représente schématiquement une matrice de bolomètres selon un mode de réalisation de la présente invention. La figure 3 schématiquement un dispositif optoélectronique disposé dans une enceinte climatique selon un mode de réalisation de la présente invention. La figure 4 représente l’évolution de la température de la matrice de bolomètres lors du procédé selon un mode de réalisation de la présente invention. La figure 5 illustre le positionnement schématique d’un dispositif optoélectronique devant un corps noir. Les dessins sont donnés à titre d'exemples et ne sont pas limitatifs de l’invention. Ils constituent des représentations schématiques de principe destinées à faciliter la compréhension de l’invention et ne sont pas nécessairement à l'échelle des applications pratiques. En particulier les dimensions ne sont pas représentatives de la réalité. DESCRIPTION DÉTAILLÉE Avant d’entamer une revue détaillée de modes de réalisation de l’invention, sont énoncées ci-après des caractéristiques optionnelles qui peuvent éventuellement être utilisées en association ou alternativement. Selon un exemple, la gamme présélectionnée comprend le milieu de la plage dynamique, de préférence est centrée sur le milieu de la plage dynamique, avantageusement présente une extension inférieure à 20% de part et d’autre du centre de la plage dynamique. Cela permet de conserver la pleine dynamique de chaque bolomètre afin de de réduire, voire de ne pas souffrir de saturation, et cela aussi bien pour des températures basses que hautes. Selon un exemple, la gamme présélectionnée comprend le niveau des 25% de la plage dynamique, de préférence est centrée sur le niveau des 25% de la plage dynamique, avantageusement présente une extension inférieure à 20% de part et d’autre du niveau des 25% de la plage dynamique. Cela permet de conserver la pleine dynamique de chaque bolomètre dans la direction des hautes températures pour des applications dans lesquelles les températures observées sont relativement élevées. Selon un exemple, la gamme présélectionnée comprend le niveau des 75% de la plage dynamique, de préférence est centrée sur le niveau des 75% de la plage dynamique, avantageusement présente une extension inférieure à 20% de part et d’autre du niveau des 75% de la plage dynamique. Cela permet de conserver la pleine dynamique de chaque bolomètre dans la direction des basses températures pour des applications dans lesquelles les températures observées sont relativement basses. Selon un exemple, si la mesure du critère de fonctionnement indique un désaccord supérieur à une valeur seuil entre la valeur de la température évaluée par la matrice de bolomètres et la température de la scène observée, de préférence de la matrice de bolomètres, la phase de calibration est exécutée de nouveau. Cela permet de ne terminer le procédé de calibration que lorsque le dispositif optoélectronique est correctement calibré. Selon un exemple, l’étape d’enregistrement des valeurs de tension électrique de correction est effectuée après une étape de moyennage d’un nombre prédéterminé d’images thermiques à une même température. Cela permet d’améliorer la fiabilité de la détermination des valeurs de tension électrique de correction pour chaque bolomètre. Selon un exemple, l’évaluation du critère de fonctionnement du dispositif optoélectronique comprend l’évaluation du bruit spatial fixe et/ou de la valeur thermique moyenne d’au moins une image. Cela permet de quantifier le niveau de réussite de la phase de calibration. Selon un exemple, la matrice de bolomètres présente une disposition des bolomètres en lignes et en colonnes, et l’acquisition par le circuit de lecture des signaux analogiques bruts est réalisée ligne par ligne. Selon un exemple, le rapport entre le temps de stabilisation Tps_stab et le temps de modification de la température est supérieur à 1, de préférence à 5 et avantageusement à 10. Selon un exemple, l’étape de descente linéaire en température de Tf à T0 présente un coefficient directeur inférieur ou égal à 2°C/minute, de préférence à 1° C/minute et avantageusement à 0.5° C/minute. Selon un exemple, le procédé comprend une phase additionnelle dans laquelle le dispositif optoélectronique est disposé de sorte à ce que l’entrée optique soit face à un corps noir, la phase additionnelle comprenant au moins les étapes successives suivantes : Acquisition d’une première pluralité d’images lorsque le corps noir présente une température T3 inférieure à T0 ; Acquisition d’une deuxième pluralité d’images lorsque le corps noir présente une température T4 supérieure à T0. Détermination des bolomètres présentant une erreur de mesure. On entend par «température d’un élément», la température que l’élément dégage sous forme radiative, c’est-à-dire sous la forme d’un flux électromagnétique dont la ou les longueurs d’onde se trouvent comprises dans la gamme des infrarouges. On entend par « une température stabilisée », une température dont les fluctuations sont inférieures à 1°C, de préférence à 0.01°C, et avantageusement à 0.001°C. Par « corps noir », on entend un élément ou dispositif dont la température est estimée stable et dont l’émissivité de la surface (notation: ε) est proche de ε=1 (ou typiquement ε>0.97). Dans la présente description, une plage dynamique d’un convertisseur de signaux analogiques vers des signaux numériques s’étend sur plusieurs valeurs par exemple depuis 0 jusqu’à 100. On entend alors par milieu, centre, point des 50% de la plage dynamique, la valeur 50 par exemple. De même, les 75% de la plage dynamique seront interprétés comme la valeur 75, enfin il en est de même avec le point des 25% de la plage dynamique qui correspond donc à la valeur 25. Tout cela dans le cas où la plage dynamique s’étend par exemple depuis 0 jusqu’à 100. La présente invention concerne un procédé de calibration d’un dispositif optoélectronique. Ce dispositif optoélectronique comprend une entrée optique destinée à recevoir un flux électromagnétique, de préférence dans le domaine des infrarouges thermiques. En effet, de manière préférée, la présente invention concerne un procédé de calibration d’un dispositif optoélectronique de vision thermique destiné à visualiser le rayonnement infrarouge d’une scène, et de préférence à pouvoir évaluer la température des éléments présents dans ladite scène. Selon un mode de réalisation, le dispositif optoélectronique comprend au moins une matrice de détecteurs infrarouge, de préférence de bolomètres et avantageusement de microbolomètres. Dans la suite de cette description, le terme bolomètre désigne aussi bien des bolomètres que des microbolomètres. De préférence, mais non limitativement, les bolomètres de la matrice de bolomètres sont à base de silicium amorphe. Cela permet que le gain relatif entre chaque bolomètre demeure identique, quelle que soit la température de la matrice de bolomètres tant que les paramètres relatifs au gain restent constants, c’est-à-dire tant que par exemple le temps d’intégration, ou le gain électronique, etc… restent constants. Cela permet également que le comportement des bolomètres en fonction de la température soit parfaitement reproductible dans des conditions de mesures identiques. Avantageusement, ces bolomètres sont disposés en lignes et en colonnes formant ainsi une matrice de bolomètres. Cette matrice de bolomètre est électriquement connectée à un circuit de lecture. Ce circuit de lecture est configuré pour collecter les signaux analogiques bruts de chaque bolomètre. En effet, chaque bolomètre est configuré pour générer un signal analogique brut en fonction de la radiation thermique qu’il reçoit. Selon un mode de réalisation préféré, le circuit de lecture collecte les signaux analogiques de la matrice de bolomètres ligne par ligne, de préférence depuis une extrémité de la matrice vers son extrémité opposée. Avantageusement, le circuit de lecture comprend une sortie analogique apte à fournir une pluralité de signaux analogiques bruts, c’est-à-dire les signaux analogiques bruts collectés ligne par ligne. De préférence, cette sortie analogique est connectée électriquement à un convertisseur de signal analogique en signal numérique. Ce convertisseur comprend au moins une plage dynamique, généralement exprimée en bits. Ce convertisseur permet en outre la génération d’une image thermique de la scène observée par le dispositif optoélectronique. Comme indiqué précédemment, l’art antérieur souffre de dérives thermiques nécessitant une phase de calibration régulière pour recalibrer les paramètres de fonctionnement de chaque bolomètre, cela peut comprendre en outre les tensions de polarisation appliquées à chaque bolomètre de la matrice, les tensions électriques de correction à considérer, etc... En effet, en fonction de la dérive thermique plus ou moins importante, il est important de pouvoir ajuster divers paramètres de fonctionnement des bolomètres pour conserver un signal analogique brut cohérent avec l’intensité du flux de radiations thermiques reçu. L’art antérieur propose ainsi d’utiliser un cache dont la température est connue afin d’exposer la matrice de bolomètres à ce cache, puis d’ajuster les paramètres de fonctionnement jusqu’à obtenir une image thermique cohérente avec la température du cache disposé devant la matrice. Cela occasionne l’arrêt de l’utilisation du dispositif dans sa fonction de base, c’est-à-dire l’observation d’une scène. La présente invention propose une solution innovante et ne nécessitant pas l’utilisation d’un cache et donc l’arrêt de l’utilisation du dispositif optoélectronique. Arrêt qui peut être désastreux dans le cas d’une utilisation de cette technologie dans un domaine militaire par exemple. La présente invention propose un procédé de calibration, de préférence en usine, du dispositif optoélectronique. Avec cette calibration, l’utilisation d’un cache, appelé aussi obturateur ou encore shutter, n’est plus utile. La figure 1 illustre, selon un mode de réalisation, les différentes étapes de ce procédé. Ce procédé comprend avantageusement au moins deux phases, une phase dite de calibration 100 et une phase dite de vérification 200. La phase de calibration 100 a pour objectif l’ajustement et la détermination de paramètres de fonctionnement de sorte que la température estimée par un bolomètre 12 soit cohérente avec la température de la scène observée. En particulier, cette phase de calibration 100 permet l’ajustement et l’enregistrement des valeurs de tension de polarisation à appliquer à chaque bolomètre 12 pour que chaque signal analogique brut se trouve dans la gamme médiane de la plage dynamique du convertisseur. On entend ici par gamme médiane, une gamme comprenant le milieu de la plage dynamique sur une étendue de plus ou moins 20%, et de préférence étant centrée sur le milieu de la plage dynamique. Ce positionnement sensiblement au milieu de la plage dynamique permet de réduire, voire d’éviter, les problèmes de saturation en bord de plage. De même, avantageusement, cette phase de calibration 100 permet de déterminer et d’enregistrer la tension électrique de correction de chaque bolomètre 12, cette tension électrique de correction est une tension continue, fonction de la température de la scène observée; cette tension électrique de correction, également appelée «Offset» en anglais, est répartie de manière aléatoire sur la matrice 11 de bolomètres 12 et se trouve être superposée à chaque signal analogique brut de chaque bolomètre 12. Cette tension électrique de correction applique donc un décalage en tension au signal analogique brut qu’il convient d’évaluer afin de le prendre en compte pour corriger le signal analogique brut. Cette correction est destinée à considérer cet offset dans le traitement des signaux analogiques bruts. Avantageusement, une fois la phase de calibration 100 réalisée, on réalise la phase de vérification 200. Cette phase de vérification 200 a pour objectif de contrôler, de vérifier que la température évaluée par chaque bolomètre 12 est en accord avec la température de l’enceinte climatique 20, et donc avec la température de la scène observée. Ce procédé est avantageusement réalisé une fois que le dispositif optoélectronique 10 est disposé face à un corps noir 40 dans une enceinte climatique 20 à une température T0, de préférence correspondant à la température ambiante, par exemple 20°C. Cette enceinte climatique 20 est configurée de sorte à ce que la température dans l’enceinte climatique 20 soit homogène, stable et pilotable. Le principe repose sur le principe de faire varier la température dans l’enceinte climatique 20 et ajuster puis enregistrer le comportement des bolomètres 12 de sorte à pouvoir corréler leur réponse optoélectronique à la température de la scène observée générée par le corps noir 40. Selon un mode de réalisation, la phase de calibration 100 comprend au moins la pluralité d’étapes successives suivantes: Modifier 101 la température à l’intérieur de l’enceinte climatique 20 pour atteindre une première température T1 différente de T0, de préférence inférieure à T0, avantageusement T1 = -30°C ; Attendre 102 un temps de stabilisation Tps_stab que la température de la matrice 11 de bolomètres 12 soit constante, de préférence, mais non limitativement, soit égale à T1; on notera que, selon un mode de réalisation, la lecture de la matrice 11 de bolomètre 12 peut générer de la chaleur; la température de la matrice 11 s’équilibre alors à une température sensiblement supérieure à T1 ; de manière avantageuse, mais non limitative, Tps_stab est inférieure à 2 heures, de préférence à 1 heure à et avantageusement à 30 minutes; on notera que Tps_stab est dépendant de la taille du dispositif optoélectronique et de sa construction mécanique. Ajuster 103 la tension de polarisation de chaque bolomètre 12 de sorte que la valeur de chaque signal analogique brut se trouve dans une gamme de la plage dynamique prédéterminée du convertisseur ; Selon un mode de réalisation, la gamme est une gamme médiane, comprenant le milieu de la plage dynamique, de préférence centrée sur le milieu de la plage dynamique, avantageusement avec une extension inférieure à 20% de part et d’autre du centre de la plage dynamique; Cela permet de conserver la pleine dynamique de chaque bolomètre 12 afin de de réduire, voire de ne pas souffrir de saturation, et cela aussi bien pour des températures basses que hautes ; Selon un mode de réalisation, la gamme est une gamme comprenant 25% de la plage dynamique, de préférence centrée sur les 25% de la plage dynamique, avantageusement avec une extension inférieure à 20% de part et d’autre des 25% de la plage dynamique; Cela permet de conserver la pleine dynamique de chaque bolomètre 12 dans la direction des hautes températures pour des applications dans lesquelles les températures observées sont relativement élevées ; Selon un mode de réalisation, la gamme est une gamme comprenant 75% de la plage dynamique, de préférence centrée sur les 75% de la plage dynamique, avantageusement avec une extension inférieure à 20% de part et d’autre des 75% de la plage dynamique; Cela permet de conserver la pleine dynamique de chaque bolomètre 12 dans la direction des basses températures pour des applications dans lesquelles les températures observées sont relativement basses ; Cet ajustement des tensions de polarisation permet de configurer le dispositif optoélectronique pour ses applications futures en privilégiant une dynamique homogène, ou accentuée sur les hautes ou basses températures; Enregistrer 104 la tension de polarisation ajustée de chaque bolomètre 12 ; cela permet de conserver en mémoire la tension de polarisation nécessaire pour que les signaux analogiques bruts soient dans la gamme sélectionnée de la plage dynamique ; De préférence, acquérir une pluralité d’images thermiques de sorte à pouvoir réaliser un moyennage de ces images thermiques ; De préférence, déterminer, pour chaque bolomètre 12, la valeur de tension électrique dite de correction ; Enregistrer 105, pour chaque bolomètre, de la valeur de tension électrique de correction lui correspondant ; selon un mode de réalisation, au moins l’une parmi les étapes f et g peut être effectuée avant ou en même temps qu’au moins l’une des étapes c et d. Modifier la température à l’intérieur de l’enceinte climatique pour atteindre une deuxième température T2 différente de T0 et de T1, de préférence supérieure à T1 ; Répéter les étapes b à h de la phase de calibration jusqu’à une température finale Tf supérieure à la température initiale T0. Une fois cette phase de calibration terminée, l’enceinte climatique 20 se trouve à une température Tf, par exemple à 50°C. Lors de cette phase de calibration 100, les tensions de polarisation et les valeurs de tension électrique de correction pour chaque température ayant eu un palier thermique et pour chaque bolomètre ont été enregistrées. Une fois ces données acquises, le procédé se poursuit avec la phase de vérification 200. Cette phase de vérification 200 consiste à redescendre en température depuis Tf à T1 et à mesurer, de préférence en continu, un ou plusieurs paramètres de fonctionnement du dispositif optoélectronique 10. En particulier, la phase de vérification comprend au moins les étapes successives suivantes : Descendre 201 linéairement la température à l’intérieur de l’enceinte climatique 20 depuis Tf jusqu’à ce que la température de la matrice de bolomètres soit égale à T1; Mesurer 202 au moins un critère de fonctionnement du dispositif optoélectronique 10, pendant l’étape 201 de descente linéaire de la température de Tf à T1, en utilisant les valeurs de tension de polarisation et les valeurs d’offset enregistrées en fonction de la température de la matrice 11 de bolomètres; Si la phase de vérification répond aux critères d’évaluation, alors le procédé de calibration se termine 203, autrement la phase de calibration 100 reprend 204. Cette phase de vérification 200 permet ainsi de contrôler que les paramètres enregistrés lors de la phase de calibration 100 sont corrects et permettent le bon fonctionnement du dispositif optoélectronique 10, c’est-à-dire l’évaluation correcte de la température de la scène observée. Lors de la phase de vérification 200, et selon un mode de réalisation, une évaluation du bruit spatial fixe est effectuée. En particulier, cette étape cherche à détecter la présence ou non de bruit spatial fixe. De manière préférée, un bruit spatial fixe minimum, voire inexistant, est souhaité. Le bruit spatial fixe ou FPN en anglais pour Fixed Pattern Noise implique le fait que tous les composants de la matrice ne sont pas exactement identiques. Par conséquent il peut y avoir des différences entre les bolomètres 12, et donc entre les pixels, chaque bolomètre 12 représentant un pixel. Cette étape est donc destinée à évaluer le niveau de ce bruit spatial fixe afin d’estimer si les ajustements et les corrections réalisées entraînent une réduction, voire une annulation, du bruit spatial fixe. Lors de la phase de vérification 200, et selon un mode de réalisation, une évaluation de la valeur moyenne de l’image est réalisée. Cette étape comprend l’acquisition d’une pluralité d’images, de préférence d’un nombre prédéterminé d’images, puis un moyennage de ces images est réalisé puis la température moyenne estimée par le dispositif optoélectronique 10 est comparée à la température de l’enceinte climatique 20. S’il y a correspondance, ou s’il y a un écart inférieur à une valeur seuil, le test est considéré comme un succès, autrement, il peut être nécessaire de procéder à une nouvelle phase de calibration 100. Dans le cas où la phase de vérification 200 n’est pas concluante ou qu’il s’avère que les paramètres d’ajustement et de correction ne sont pas corrects, le procédé de calibration se poursuit en recommençant la phase de calibration 100 suivie d’une autre phase de vérification 200, et cela jusqu’à obtention d’une calibration estimée correcte. Selon un mode de réalisation, ce procédé de calibration peut également comprendre une phase additionnelle comprenant une série d’étapes successives dans lesquelles le dispositif optoélectronique 10 n’est plus dans l’enceinte climatique 20, mais est disposé sur un banc d’essai face à un corps noir 40 dont la température est contrôlée. Cette série d’étapes successives comprend : Acquisition d’une première image lorsqu’un corps noir 40 présente une température T3 inférieure à T0; Acquisition d’une deuxième image lorsqu’un corps noir 40 présente une température T4 supérieure à T0. Détection des bolomètres 12 présentant une erreur de mesure. Avantageusement, les signaux analogiques bruts de ces bolomètres 12 seront corrigés en temps réel lors de l’utilisation du dispositif optoélectronique 10 en fonction des bolomètres 12 environnants. De manière avantageuse, l’acquisition de la première image et l’acquisition de la deuxième image permettent de calculer un gain relatif entre chaque bolomètre 12 afin que tous, de préférence presque tous, les bolomètres 12 donnent la même réponse quel que soit la température de la scène observée. Ensuite, une détection des bolomètres 12, dont la réponse est erronée ou non satisfaisante, est effectuée sur l’ensemble des tables mémorisées pour être ensuite utilisées en temps réel pour pouvoir les remplacer par des valeurs des bolomètres 12 environnants non erronés. Ainsi, de manière astucieuse, les signaux acquis lors de l’acquisition de la première image et de la deuxième image sont utilisés pour en calculer un gain relatif entre pixels, c’est-à-dire bolomètres, afin qu’ils donnent tous la même réponse quel que soit la température de la scène observée. Puis une détection des divers pixels, dont la réponse est erronée ou non satisfaisante, est effectuée sur l’ensemble des tables mémorisées pour être ensuite utilisées en temps réel pour pouvoir les remplacer par des valeurs des pixels environnants non erronés. Nous allons à présent décrire, selon un mode de réalisation, la présente invention au travers des figures 2 à 5. La figure 2 représente une matrice 11 de bolomètres 12 comprenant une pluralité de bolomètres 12 disposés en lignes 15 et en colonnes 14. Selon un mode de réalisation, la matrice 11 de bolomètre 12 peut être portée par ou peut supporter le circuit de lecture 13. La figure 3 représente un schéma d’une installation configurée pour mettre en œuvre le procédé selon un mode de réalisation de la présente invention. Sur cette figure, on remarque un dispositif optoélectronique 10 disposé dans une enceinte climatique 20. Le dispositif électronique 10 comprend une entrée optique 16. Cette entrée optique 16 est configurée pour que les radiations thermiques de la scène générée par le corps noir 40 puissent pénétrer dans le dispositif optoélectronique 10 et être captées par la matrice 11 de bolomètres 12 disposée dans le dispositif optoélectronique 10. L’enceinte climatique 20 est pilotée en température de sorte à imposer une température à l’ensemble de l’enceinte climatique 20 et à tout ce qui s’y trouve. Avantageusement, la température à l’intérieur de l’enceinte climatique 20 peut varier par exemple de -20°C à 60°C. Selon un mode de réalisation, le procédé selon la présente invention est destiné à être mis en œuvre par un système informatique 30 comprenant au moins un processeur et/ou un ordinateur, et en outre une mémoire non transitoire comprenant un produit programme d’ordinateur comprenant des instructions, qui lorsqu’elles sont effectuées par au moins le processeur et/ou l’ordinateur, exécute au moins le procédé selon la présente invention. La figure 4 représente une courbe de la température 300 du dispositif optoélectronique 10 pendant la mise en œuvre du procédé selon un mode de réalisation de la présente invention. Comme indiqué précédemment, la température de départ T0 correspond à la température ambiante. Lors de la phase de calibration 100, la première étape consiste à diminuer la température depuis T0 à T1 qui par exemple peut être égale à -10°C.Le coefficient directeur de la courbe de descente en température 310 depuis T0 à T1 est inférieur à 10°C/minute, de préférence à 5°C/minute et avantageusement à 2.5°C/minute. Le coefficient directeur de la courbe de descente en température 310 depuis T0 à T1 est configuré pour éviter un choc thermique qui pourrait entraîner soit une casse soit une condensation. Une fois à T1, la température de l’enceinte climatique 20 tend à se stabiliser et le système informatique 30 attend un temps de stabilisation Tps_stab avant de poursuivre le procédé. De préférence, Tps_stab est compris entre 10 minutes et 180 minutes et avantageusement entre 30 minutes et 120 minutes. De préférence, c e temps de stabilisation est dépendant de la caméra 10. Une fois que la température du dispositif optoélectronique 10 et en particulier de la matrice 11 de bolomètres 12 est stabilisée et égale à la température de la scène observée, c’est-à-dire à la température du corps noir 402 le système informatique 30 réalise un palier de température 320 et le procédé poursuit les différentes étapes suivantes : Ajuster 103 la tension de polarisation de chaque bolomètre 12 ; Enregistrer 104 la tension de polarisation ajustée de chaque bolomètre 12 ; De préférence, acquérir une pluralité d’images thermiques; De préférence, déterminer, pour chaque bolomètre 12, une valeur de tension électrique de correction: Enregistrer 105, pour chaque bolomètre 12, de la valeur de tension électrique de correction lui correspondant. Une fois cette série d’étapes réalisées, dans divers ordres selon un mode de réalisation de la présente invention par exemple, la température de l’enceinte climatique 20 change. De préférence, la température de l’enceinte climatique évolue de T1 à T2. La température T2 est de préférence supérieure à T1. Le coefficient directeur de la montée en température 330 depuis T1 vers T2 est supérieur à 2.5°C/minute, de préférence à 5°C/minute et avantageusement à 10°C/minute. De manière avantageuse, les différents paliers de température ne sont pas grands en écart de température les uns des autres, de préférence d’environ 5°C; ainsi, le coefficient directeur de la montée en température 330 depuis T1 vers T2 est configuré pour que la montée en température 330 depuis T1 vers T2 soit la plus rapide possible afin de laisser le maximum de temps au dispositif optoélectronique 10 pour se mettre à la température choisie, c’est-à-dire pour stabiliser sa température. De nouveau, le système informatique 30 attend que la température de la matrice 11 de bolomètres 12 soit stabilisée et sensiblement égale à celle de l’enceinte climatique 20, c’est-à-dire à T2, T2 étant donc la température de la scène observée. Une fois ces conditions réalisées, le procédé recommence les étapes précédentes, et cela ainsi de suite jusqu’à la température Tf dite température finale. Ainsi, selon un mode de réalisation, la phase de calibration 100 comprend au moins 15, de préférence au moins 20, et avantageusement au moins 25 paliers de température, c’est-à-dire points de mesure des éléments de calibration. La figure 4 illustre également la phase de vérification 200 avec la descente en température linéaire 340 depuis Tf à T1. Avantageusement, le coefficient directeur de cette descente linéaire en température 340 est inférieur à 2°C/min, de préférence à 1°C/min et avantageusement à 0.5°C/min. Une fois arrivé à T1, si la phase de vérification 200 est concluante, la température est ramenée 350 à T0 pour que le dispositif optoélectronique 10 puisse être sorti de l’enceinte climatique 20 ; si la phase de vérification 200 n’est pas concluante, la phase de calibration 100 recommence. La figure 5 illustre le positionnement du dispositif optoélectronique 10, par exemple sur un banc d’essai, en regard d’un corps noir 40. Ainsi, la scène observée comprend ledit corps noir 40. Ensuite, la phase additionnelle décrite précédemment peut être mise en œuvre. La présente invention propose une solution innovante et efficace aux problèmes de dérive thermiques des dispositifs optoélectroniques destinés à évaluer la température d’une scène observée. Au lieu d’avoir recours à un calibrage régulier, et très fréquent, ou alors d’avoir recours à un contrôle de la température de la matrice de bolomètres par exemple, la présente invention propose un procédé de calibration, de préférence en usine, et avantageusement qui n’a plus lieu d’être mis en œuvre en dehors de l’usine. Ce procédé permet de quantifier, d’enregistrer et d’ajuster les paramètres de fonctionnement de chaque bolomètre de la matrice de bolomètre en les soumettant à une pluralité de température, puis à effectuer un contrôle de cette calibration par une évaluation linéaire et non statique. La présente invention permet ainsi d’obtenir un dispositif optoélectronique calibré pour le reste de son utilisation et pouvant ainsi continuellement si besoin observer une scène sans devoir s’interrompre pour être recalibré. L’invention n’est pas limitée aux modes de réalisations précédemment décrits et s’étend à tous les modes de réalisation couverts par les revendications. Liste des références 10 Dispositif optoélectronique 11 Matrice de bolomètres 12 Bolomètres 13 Circuit de lecture 14 Colonne de bolomètres 15 Ligne de bolomètres 16 Entrée optique 20 Enceinte climatique 30 Système informatique 40 Corps noir 100 Phase de calibration 101 Modification de la température de l’enceinte de T0 à T1 102 Attente de la stabilisation de la température 103 Ajustement de la tension de polarisation de chaque bolomètre 104 Enregistrement de la tension de polarisation ajustée de chaque bolomètre 105 Enregistrement d’une tension électrique de correction pour chaque bolomètre 106 Modification de la température de l’enceinte de T1 à T2 107 Répétition des étapes 112 à 116 jusqu’à la température Tf 200 Phase de vérification 201 Descente linéaire de la température depuis Tf à T0 202 Mesure d’au moins un critère de fonctionnement du dispositif optoélectronique pendant l’étape 211 203 Validation et fin du procédé de calibration 204 Retour à la phase de calibration 300 Courbe de la température 301 Echelle des temps 302 Echelle des températures 310 Courbe de descente en température 320 Palier de température 330 Montée en température 340 Descente linéaire en température 350 Retour à la température T0 Procédé de calibration d’un dispositif optoélectronique (10) comprenant une entrée optique (16) et étant placé dans une enceinte climatique (20) à une température ambiante T0, le dispositif optoélectronique (10) comprenant au moins une matrice (11) de bolomètres (12), de préférence de microbolomètres, configurée pour mesurer au moins une température et au moins un circuit de lecture (13) comprenant une sortie analogique apte à fournir une pluralité de signaux analogiques bruts destinée à former une image thermique, chaque signal analogique brute correspondant à un bolomètre (12) et chaque signal analogique brute étant fonction d’une scène observée par ledit dispositif optoélectronique (10), la sortie analogique du circuit de lecture (13) étant connectée à un convertisseur de signal analogique en signal numérique présentant une plage dynamique prédéterminée, ledit procédé comprenant au moins les deux phases successives suivantes : Une phase de calibration (100) comprenant au moins les étapes successives suivantes: Modifier (101) la température à l’intérieur de l’enceinte climatique (20) pour atteindre une première température T1 différente de T0, de préférence inférieure à T0 ; Attendre (102) un temps de stabilisation Tps_stab que la température de la matrice (11) de bolomètres (12) soit constante, de préférence soit égale à T1 ; Ajuster (103) la tension de polarisation de chaque bolomètre (12) de sorte que la valeur de chaque signal analogique brut se trouve dans une gamme présélectionnée de la plage dynamique, de préférence la gamme sélectionnée correspond à la gamme médiane de la plage dynamique ; Enregistrer (104) la tension de polarisation ajustée de chaque bolomètre (12) ; Enregistrer (105), pour chaque bolomètre (12), une valeur de tension électrique de correction, cette tension électrique étant continue et fonction de la température de la scène observée, cette tension électrique étant répartie de manière aléatoire au travers de la matrice (11) de bolomètres (12), et étant superposée au signal analogique brut de chaque bolomètre (12) ; Modifier (106) la température à l’intérieur de l’enceinte climatique (20) pour atteindre une deuxième température T2 différente de T0 et de T1, de préférence supérieure à T1; Répéter les étapes b, c, d, e et f de la phase de calibration (100) jusqu’à une température finale Tf supérieure à la température initiale T0 ; Une phase de vérification (200) comprenant au moins les étapes successives suivantes : Descendre (201) linéairement la température à l’intérieur de l’enceinte climatique (20) depuis Tf jusqu’à ce que la température de la matrice (11) de bolomètres (12) soit égale à T1. Mesurer (202) au moins un critère de fonctionnement du dispositif optoélectronique (10), pendant l’étape de descente linéaire de la température de Tf à T1, en utilisant les valeurs de tension de polarisation et les valeurs de tension électrique de correction enregistrées en fonction de la température de la matrice (11) de bolomètres (12). Procédé selon la revendication précédente dans lequel la gamme présélectionnée comprend le milieu de la plage dynamique, de préférence est centrée sur le milieu de la plage dynamique, avantageusement présente une extension inférieure à 20% de part et d’autre du centre de la plage dynamique. Procédé selon la revendication 1 dans lequel la gamme présélectionnée comprend le niveau des 25% de la plage dynamique, de préférence est centrée sur le niveau des 25% de la plage dynamique, avantageusement présente une extension inférieure à 20% de part et d’autre du niveau des 25% de la plage dynamique. Procédé selon la revendication 1 dans lequel la gamme présélectionnée comprend le niveau des 75% de la plage dynamique, de préférence est centrée sur le niveau des 75% de la plage dynamique, avantageusement présente une extension inférieure à 20% de part et d’autre du niveau des 75% de la plage dynamique. Procédé selon l’une quelconque des revendications précédentes dans lequel, si la mesure du critère de fonctionnement indique un désaccord supérieur à une valeur seuil entre la valeur de la température évaluée par la matrice (11) de bolomètres (12) et la température de la scène observée, de préférence de la matrice (11) de bolomètres (12), la phase de calibration (100) est exécutée de nouveau. Procédé selon l’une quelconque des revendications précédentes dans lequel l’étape d’enregistrement (105) des valeurs de tension électrique de correction est effectuée après une étape de moyennage d’un nombre prédéterminé d’images thermiques à une même température. Procédé selon l’une quelconque des revendications précédentes dans lequel l’évaluation du critère de fonctionnement du dispositif optoélectronique (10) comprend l’évaluation du bruit spatial fixe et/ou de la valeur thermique moyenne d’au moins une image. Procédé selon l’une quelconque des revendications précédentes dans lequel la matrice (11) de bolomètres (12) présente une disposition des bolomètres en lignes (15) et en colonnes (14), et dans lequel l’acquisition par le circuit de lecture (13) des signaux analogiques bruts est réalisée ligne (15) par ligne (15). Procédé selon l’une quelconque des revendications précédentes dans lequel le rapport entre le temps de stabilisation Tps_stab et le temps de modification de la température est supérieur à 1, de préférence à 5 et avantageusement à 10. Procédé selon l’une quelconque des revendications précédentes dans lequel l’étape de descente linéaire en température de Tf à T0 présente un coefficient directeur inférieur ou égal à 2°C/minute, de préférence à 1°C/minute et avantageusement à 0.5°C/minute. Procédé selon l’une quelconque des revendications précédentes comprenant une phase additionnelle dans laquelle le dispositif optoélectronique (10) est disposé de sorte à ce que l’entrée optique (16) soit face à un corps noir (40), la phase additionnelle comprenant au moins les étapes successives suivantes: Acquisition d’une première pluralité d’images lorsque le corps noir (40) présente une température T3 inférieure à T0; Acquisition d’une deuxième pluralité d’images lorsque le corps noir (40) présente une température T4 supérieure à T0. Détermination des bolomètres (12) présentant une erreur de mesure. Produit-programme d’ordinateur comprenant des instructions, qui lorsqu’elles sont effectuées par au moins un processeur, exécute au moins le procédé selon l’une quelconque des revendications précédentes.