FR 3096454 A1 20201127 FR 2005041 A 20200519 Description Titre de l'invention : Installation d'éclairage optique d'un échantillon et installation de l'analyse de l'échantillon et procédé de gestion de l'installation d'analyse optique DOMAINE DE L'INVENTION 100011 La présente invention se rapporte à une installation d'éclairage optique pour éclairer un échantillon ainsi qu'une installation d'analyse optique pour éclairer et analyser l'échantillon et aussi un procédé de gestion d'une telle installation d'analyse optique. 100021 EXPOSE ET AVANTAGES DE L'INVENTION 100031 L'invention a pour objet une Installation d'éclairage optique pour éclairer un échantillon comprenant une source de lumière laser, un miroir de renvoi éclairé par la source de lumière laser et pivotant autour d'au moins un axe ; l'élément de focalisation optique entre la source de lumière laser et le miroir de renvoi, et un support comportant une couche de conversion de longueur d'onde disposée pour que la lumière laser soit dirigée par le miroir de renvoi sur la couche de conversion de longueur d'onde, le support étant transparent pour la lumière laser (et/ou pour la lumière convertie par la couche de conversion de longueur d'onde, la lumière laser de la source de lumière laser étant focalisée par l'élément de focalisation optique, pour passer sur le miroir de renvoi et arriver sur la couche de conversion de longueur d'onde, une optique de projection regroupant la lumière convertie sur l'échantillon, au foyer de l'optique de projection. [0004] L'idée de base de l'invention consiste à développer une installation d'éclairage optique pour éclairer un échantillon, et une installation d'analyse optique pour éclairer et analyser l'échantillon et ainsi qu'un procédé de gestion de l'installation d'analyse optique pour améliorer l'image spectrale et l'analyse correspondante de l'échantillon comme alternative économique aux réalisations connues, en particulier dans la plage du proche infrarouge. L'installation d'éclairage et d'analyse convient avantageusement pour être intégrée dans un spectromètre miniaturisé. L'utilisation de lumière laser permet d'avoir des puissances lumineuses importantes et de fortes résolutions de la région de l'échantillon à analyser. [0005] Selon l'invention, l'installation d'éclairage optique servant à éclairer un échantillon comprend une source de lumière laser, un miroir de renvoi éclairé par la source de lumière laser et pivotant autour d'au moins un axe ainsi qu'un élément optique de focalisation entre la source de lumière laser et le miroir de renvoi, un support muni d'une couche de conversion de longueur d'onde sur laquelle la lumière laser est dirigée par le miroir de renvoi ; le support est transparent à la lumière laser et/ou à la lumière 2 convertie par la couche de conversion de longueur d'onde ; la lumière laser de la source de lumière laser est focalisée par l'élément optique focalisant et le miroir de renvoi sur la couche de conversion de longueur d'onde et une optique de projection regroupe la lumière convertie sur l'échantillon, au foyer de l'optique de projection. [0006] Selon un développement avantageux, l'installation d'éclairage optique est logée dans un boîtier et la source de lumière laser, le miroir de renvoi, le support et l'optique de projection sont logés dans le boîtier et/ou sont intégrés dans celui-ci. [0007] Selon un développement préférentiel de l'installation d'éclairage optique, la source de lumière laser comporte une diode laser à émission de bord ou un émetteur à cavité verticale. [0008] Selon une forme de réalisation préférentielle de l'installation d'éclairage optique, le miroir de renvoi est mobile autour de deux axes ayant des orientations différentes de sorte que la lumière laser balaye un plan de la couche de conversion de longueur d'onde et ainsi le foyer de l'optique de projection se déplace sur l'échantillon. [0009] Selon une forme de réalisation préférentielle de l'installation d'éclairage optique, la lumière laser est convertie par la couche de conversion de longueur d'onde dans la plage du proche infrarouge ou de l'infrarouge. [0010] Selon une forme de réalisation préférentielle de l'installation d'éclairage optique, la source de lumière laser et le miroir de renvoi sont installés en construction modulaire sur une plaque de circuit. [0011] Selon un développement préférentiel l'installation d'éclairage optique, comprend une installation de commande et/ou une installation de capteur qui permettent de régler et de détecter au moins un angle de débattement du miroir de renvoi. [0012] Selon l'invention, l'installation d'analyse optique pour éclairer et analyser un échantillon comprend une installation d'éclairage optique selon l'invention qui permet d'éclairer l'échantillon avec une lumière ayant une certaine longueur d'onde ; une installation de spectromètre qui reçoit la lumière réfléchie par l'échantillon et en fait une analyse spectrale. [0013] La position du foyer variable à la surface de l'échantillon permet de détecter une région déterminée de la surface de l'échantillon et de recueillir des informations à partir de la lumière réfléchie ou transmise par cette région à l'aide d'une analyse spectrale. A partir de la position du point image et de l'orientation du miroir de renvoi ainsi qu'éventuellement de sa position, on pourra déterminer la position du foyer sur l'échantillon. [0014] L'installation d'analyse se réalise en construction miniature et/ou intégrée dans un composant optique ; la miniaturisation signifie qu'il s'agit d'une grandeur comparable aux dimensions d'une boîte d'allumettes ou de dimensions plus petites. [0015] Selon un développement préférentiel de l'installation d'analyse optique, l'installation 3 de spectromètre et l'installation d'éclairage sont logées dans le même boîtier et une optique de détection est intégrée dans le boîtier pour dévier la lumière réfléchie sur l'installation de spectromètre. [0016] Selon une forme de réalisation préférentielle de l'installation d'analyse optique, l'installation de spectromètre est un interféromètre Fabry-Pérot. [0017] Selon une forme de réalisation préférentielle, l'installation d'analyse optique, comprend une installation de commande pour déplacer le miroir de renvoi pour que la lumière convertie balaye avec le foyer de l'optique de projection, une certaine région de l'échantillon et l'installation de spectromètre est commandée pour générer un spectre du point respectif, éclairé par la lumière convertie de la lumière réfléchie par le point éclairé par la lumière convertie et à partir de la connaissance de l'angle de débattement du miroir éclairant ce point, on identifie la position du point sur l'échantillon et avec le spectre d'un ensemble de points, on génère une image hyper spectrale de la région déterminée de l'échantillon. [0018] L'invention a également pour objet un procédé de gestion d'une installation d'analyse optique pour éclairer et analyser un échantillon consistant à : fournir une installation d'analyse optique, éclairer le miroir de renvoi avec la lumière laser de la source de lumière laser, déplacer le miroir de renvoi autour d'au moins un axe et faire varier ainsi l'angle de débattement par rapport à la normale à cet axe, éclairer la couche de conversion de longueur d'onde et déplacer le foyer de l'optique de projection dans une région déterminée de l'échantillon et recevoir la lumière réfléchie par cette région déterminée et détecter le spectre du point respectivement éclairé de l'échantillon par l'installation de spectromètre. [0019] Selon une forme de réalisation préférentielle du procédé, après la détection du spectre, on utilise la connaissance de la position du point sur l'échantillon pour former une image hyper spectrale de la région déterminée. [0020] Selon une forme de réalisation préférentielle du procédé, la connaissance de la position du point sur l'échantillon est utilisée pour établir une image hyper spectrale de la région déterminée. [0021] Selon une caractéristique du procédé, la connaissance de la position du point s'obtient à partir de l'angle de débattement du miroir [0022] Selon une forme de réalisation préférentielle du procédé, la région déterminée est une surface ou une trajectoire. [0023] Selon une forme de réalisation préférentielle du procédé, on module la source de lumière laser en fonction du temps et on mélange le signal de sortie de l'installation de spectromètre à un signal de corrélation et avec un procédé de corrélation, on tient compte de la composante de rétro éclairage dans la lumière réfléchie, par le procédé de corrélation. Brève description des dessins [0024] L'installation et le procédé selon l'invention (l'analyse optique d'éclairage d'un échantillon seront décrits ci-après à l'aide des dessins annexés dans lesquels : [0025] [fie.11 vue de côté schématique d'une installation (l'analyse optique correspondant à un exemple de réalisation de l'invention, et [0026] [fie.21 ordinogramme des étapes du procédé d'établissement d'une installation d'interféromètre selon un exemple de réalisation de l'invention. [0027] DESCRIPTION D'UN MODE DE REALISATION DE L'INVENTION [0028] La figure 1 est une vue de côté schématique d'une installation d'analyse optique selon un exemple de réalisation de l'invention. [0029] L'installation d'analyse optique 10 pour éclairer et analyser un échantillon 4 comprend une installation d'éclairage optique 1 selon l'invention. Cette installation éclaire un échantillon 4 avec une lumière d'une certaine longueur d'onde ; l'installation comprend également une installation dc spectromètre 20 pour recevoir la lumière LR réfléchie par l'échantillon et en faire l'analyse spectrale. [0030] L'installation d'éclairage otique 1 pour éclairer un échantillon 4 comprend une source de lumière laser 2, un miroir de renvoi 3 éclairé par la source dc lumière laser 2 et qui peut tourner autour d'au moins un axe ; un élément optique focalisant FE est installé entre la source de lumière laser 2 et le miroir de renvoi 3 ; un support 5 avec une couche de conversion de longueur d'onde 6 est disposé pour recevoir la lumière laser renvoyée par le miroir de renvoi 3 ; le support 5 est transparent pour la lumière laser L et/ou pour la lumière convertie LK fournie par l'installation de conversion de longueur 6 ; la lumière laser de la source de lumière laser 2 est focalisée par l'élément optique focalisant FE et renvoyée par le miroir de renvoi 3 sur la couche de conversion de longueur d'onde 6 ; une optique de projection 7 regroupe la lumière convertie LK au foyer FP de l'optique dc projection 7 sur l'échantillon 4. [0031] La lumière laser dc la source de lumière laser 2 peut-être partiellement focalisée sur la couche de conversion de longueur d'onde 6, c'est-à-dire avoir une extension macroscopique au point-image BP ou être précisément focalisé au foyer de l'élément optique focalisant FE. [0032] En revanche, de façon avantageuse, la lumière de chaque point de la couche de conversion de longueur d'onde 6 est regroupée de façon précise au foyer FP sur l'échantillon 4. Le point-image BP a, par exemple, un diamètre de moins de 100 Rna et il agit ainsi avantageusement comme une très petite source lumineuse à bande large et de faible étendue. [0033] L'installation d'éclairage 1 comprend un boîtier 8 et la source de lumière laser 2, le miroir de renvoi 3, le support 5 et l'optique de projection 7 sont logés dans le boîtier 8 et/ou sont intégrés dans celui-ci. [0034] L'installation d'analyse 10 peut être logée dans le même boîtier avec l'installation d'éclairage 1 et une optique de détection 11 (telle qu'une photodiode) peut être intégrée dans le boîtier 8 ; cette optique permet de diriger la lumière réfléchie LR sur l'installation de spectromètre 20. L'installation d'analyse 10 peut toutefois comporter plusieurs composants constituants des zones différentes dans l'espace, par exemple, dc façon que l'échantillon soit disposé entre l'installation d'éclairage et l'installation de spectromètre pour permettre de mesurer la lumière transmise à travers l'échantillon (cette variante n'est pas représentée). [0035] La lumière réfléchie (diffusée) par la surface de l'échantillon (ou qui aura par- tiellement pénétré dans la matière de l'échantillon) ou la lumière transmise, peut après l'absorption de certaines longueurs d'ondes d'absorption caractéristiques de la matière de l'échantillon (absorption caractéristique de la structure chimique) a une signature spectrale. [0036] Cette lumière se détecte à l'aide de l'installation de spectromètre qui détecte les longueurs d'onde d'absorption pour obtenir ainsi des informations concernant la composition de l'échantillon si l'image spectrale obtenue (spectre d'absorption) de chaque point ou seulement par région de la surface de l'échantillon peuvent être analysées avec des spectres d'absorption connus, par exemple par une analyse chi miométrique et comparaison avec une banque de données. Par la détection de l'échantillon avec une lumière de longueur d'onde connue, en un point local (foyer) dans une région déterminée et déplacement du point sur la surface déterminée puis analyse de la lumière réfléchie ou transmise par ce point, on peut former une image spectrale hyper spectrale de l'échantillon en associant les informations obtenues à chaque point respectif de l'échantillon. [0037] L'installation de spectromètre 20 peut être un spectromètre en un point tel qu'un in- terféromètre Fabry-Pérot (FPI). La lumière réfléchie par l'échantillon 4 dans l'installation de spectromètre 20 est détectée par une unique photodiode ; l'installation de spectromètre comprend une photodiode 11 en aval du spectromètre FPI. La détection de la lumière réfléchie par l'échantillon 4 peut être accordée et synchronisée avec le mouvement du miroir de renvoi de façon avantageuse par l'installation de commande SE. Ainsi, on pourra établir ensuite séquentiellement une carte spectrale bidimensionnelle de l'échantillon 4. Il est en outre possible de combiner une image conventionnelle de l'échantillon 4 (telle qu'une image d'une caméra d'imagerie) avec la carte spectrale et combiner une analyse plus poussée avec des algorithmes de reconnaissance d'image. Le champ de vue (FOV) de l'installation de spectromètre 20 par exemple, l'objectif de l'installation de spectromètre 20 est avantageusement aussi grand que toute la plage de mouvement bidimensionnelle souhaitée à une ou deux di- 6 mensions, souhaitée du foyer FP. [0038] Le mouvement du foyer se fait le long d'une trajectoire ou sur une surface de l'échantillon. Le foyer à position variable à la surface de l'échantillon balaye une région déterminée de la surface de l'échantillon et on recueille des informations à partir de la lumière réfléchie ou transmise dans cette région en appliquant l'analyse spectrale. A partir de la position du point-image BP et de l'orientation du miroir de renvoi ainsi que, le cas échéant, à partir de sa position, on peut déterminer la position du foyer FP sur l'échantillon. En outre, à partir de la connaissance de la position du miroir de renvoi, c'est-à-dire de son angle par rapport à la normale à son axe de mouvement et de l'angle d'incidence dans l'échantillon ou dans l'installation de spectromètre, on détermine la position du foyer FP sur l'échantillon 4. En conséquence, le mouvement permet de faire un tramage point par point. Si ce tramage se fait sur une trajectoire, celle-ci peut avoir différentes formes. Un tramage bidimensionnel (tel que le mouvement du miroir de renvoi dans deux dimensions / deux angles ou le mouvement de l'ensemble de l'installation d'analyse) permet une détection ligne par ligne et point par point. La trajectoire peut également avoir une forme circulaire ou plus généralement une forme arrondie. Cela permet de saisir des échantillons témoins par segments le long de la trajectoire circulaire, par exemple, pour des inhomogénéités de l'échantillon et éviter un tramage de toute la surface. Cela réduit significativement le temps nécessaire à l'analyse. L'installation de spectromètre peut être réalisée sous la forme d'un microspectromètre. Cela permet de l'intégrer dans des appareils ménagers, par exemple, pour analyser le lait ou dans d'autres applications. [0039] La couche de conversion de longueur d'onde 6 permet de générer, par exemple la lumière par fluorescence et comprend au moins un phosphore qui sera excité par la lumière laser pour une émission en bande large. [0040] La source de lumière laser 2 peut être une diode laser à émission de bord ou un émetteur à cavité verticale (VCSEL). La source de lumière laser 2 avantageusement conçue pour permettre une conversion très efficace de la longueur d'onde par la matière de la couche de conversion de longueur d'onde 6. [0041] Le miroir de renvoi 3 peut être mobile autour de deux axes avec des orientations dif- férentes de sorte que le faisceau de lumière laser L permet de balayer le plan de la couche de conversion de longueur d'onde 6 et de déplacer ainsi le foyer FP de l'optique de projection 7 sur l'échantillon 4. Cela permet de balayer une plage bidimensionnelle de l'échantillon. La lumière laser L est convertie par la couche de conversion de longueur d'onde 6 en une lumière dans la plage du proche infrarouge ou de l'infrarouge, avantageusement par la couche de conversion 6. La couche de conversion de longueur d'onde 6 peut se composer de plusieurs couches et/ou d'une plaque de conversion. Le foyer FP est le point conjugué du point image BP. 7 [0042] La source de lumière laser 1 et le miroir de renvoi 3 sont réalisés en construction modulaire sur une plaque de circuit 9. La plaque de circuit est une plaque de circuit imprimé (plaque PCB) munie de chemins conducteurs. Le support 5 peut comporter une plaque de verre. La plaque de verre ou le support comportent un filtre ; le filtre peut également être installé ou disposé sur la plaque pour convertir avantageusement la lumière. A la place du filtre sur le support, on peut également utiliser une lentille optique de projection 7 avec un filtre, telle qu'une lentille en un matériau filtrant approprié. Après absorption par l'échantillon 4, la lumière convertie et réfléchie est transmise au module de spectromètre et permet d'obtenir le spectre d'absorption caractéristique de la matière recherchée. [0043] La figure 1 montre une première région de la plaque de circuit 9 au fond du boîtier 8 et une seconde région de la plaque de circuit 9 sur la paroi latérale du boîtier 8. Les deux régions de la plaque de circuit sont reliées par des fils de contact. Dans l'exemple de la figure 1, la source de lumière laser 2 est sur la seconde région de la plaque de circuit 9 sur la paroi latérale et à une certaine hauteur au-dessus du fond du boîtier 8 et elle rayonne dans une cavité K1 qui comprend la source de lumière laser 2, le miroir de renvoi 3 et le support 5. Le miroir de renvoi 3 est installé sur un socle 3a dans la première région de la plaque de circuit 9 en étant avantageusement pivotant. La figure 1 montre uniquement le pivotement possible selon un angle, mais en réalité on peut avoir des mouvements de pivotement selon plusieurs angles. [0044] Le socle 3a comporte une installation de commande SE et/ou une installation de capteur SN qui règle au moins un angle de débattement du miroir de renvoi et permet de le détecter. L'installation de spectromètre 20 est présentée schématiquement à la figure 1 sous la forme d'une région du boîtier 8. L'élément optique focalisant FE peut être installé sur la source de lumière laser 2, avantageusement dans la plage d'émission de la source de lumière laser 2 et la lumière L de la source 2 sera focalisée suivant un cône (focalisation formant un faisceau) dont le point d'éclairement est, par exemple, le foyer dirigé à la surface de la couche de conversion de longueur d'onde 6. Cette couche de conversion de longueur d'onde 6 est appliquée sur le support 5 sur la face tournée vers le miroir de renvoi 3 et/ou sur le côté opposé (dans le cas d'une seconde couche de conversion de longueur d'onde). [0045] L'élément optique focalisant FE est une lentille ou un élément difractant (DOE). [0046] La source de lumière laser 2 peut être modulée en fonction du temps et le signal de sortie de l'installation de spectromètre 20 (sur un détecteur) peut être mélangé à un signal de corrélation (par exemple un signal de corrélation enregistré ou généré dans une installation de commande ou une installation d'exploitation) et permet de tenir compte de la composante de lumière de fond de la lumière réfléchie LR par un procédé de corrélation. Cette modulation peut se faire dans la plage des fréquences Hz, kHz ou 8 MHz. Le photodétecteur peut être lu par un procédé de corrélation, par exemple, il peut être lu par le procédé look-in. Cela permet d'éliminer efficacement la lumière étrangère ne venant pas de la source de lumière laser 2, en d'autres termes, avant d'établir l'information spectrale. Dans cc cas, le champ de vision de l'installation de spectromètre peut correspondre à toute la plage image de l'échantillon 4, c'est-à-dire à toute la plage à recevoir, avantageusement de l'ensemble de l'échantillon 4. Une exploitation avec le procédé de corrélation, génère avantageusement une image globale de l'échantillon avec un meilleur rapport signal / bruit. [0047] Le renvoi du faisceau laser par le miroir de renvoi 3 seulement dans une dimension permet de recueillir une information dans une seconde dimension par le mouvement de l'ensemble de l'installation d'éclairage 1 et/ou de l'ensemble de l'installation d'analyse optique 10 dans l'autre dimension, par exemple, dans la dimension perpendiculaire à la direction de renvoi (dans le même plan de l'échantillon 4) du miroir de renvoi 3 (le procédé est connu sous la dénomination anglo-saxonne "Pushbroom-scanning"). [0048] La figure 2 est un schéma par blocs d'un ordinogramme du procédé d'établissement d'une installation d'interféromètre selon un exemple de réalisation de l'invention. [0049] Dans le procédé de gestion d'une installation d'analyse optique pour éclairer et analyser un échantillon, les étapes consistent à fournir (Si) une installation d'analyse optique, à éclairer (S2) le miroir de renvoi avec la lumière laser de la source lumineuse, à déplacer (S3) le miroir de renvoi autour d'au moins un axe et en faisant varier l'angle de débattement par rapport à la normale à cet axe puis à éclairer (S4) la couche de conversion de longueur d'onde et déplacer le foyer de l'optique de projection dans une région déterminée de l'échantillon ; puis recueillir (S5) la lumière réfléchie par la région déterminée et détecter (S6) le spectre du point respectif éclairé de l'échantillon par l'installation de spectromètre. [0050] NOMENCLATURE DES ELEMENTS PRINCIPAUX [0051] 1 Installation optique d'éclairage [0052] 2 Source de lumière laser [0053] 3 Miroir de renvoi [0054] 4 Echantillon [0055] 5 Support [0056] 6 Couche de conversion de longueur d'oncle [0057] 7 Optique de projection [0058] 8 Boîtier [0059] 10 Installation d'analyse optique [0060] 20 Installation de spectromètre [0061] FP Foyer [0062] FPI Interféromètre Fabry-Perot [0063] LK Lumière convertie [0064] LR Lumière réfléchie [0065] P Point éclairé [0066] SE Installation de commande [0067] SN Installation de capteur [0068] 51-56 Etapcs du procédé de gestion d'une installation d'analyse [0069] optique [Revendication 1] [Revendication 2] REVENDICATIONSInstallation d'éclairage optique (1) pour éclairer un échantillon (4) comprenant : une source de lumière laser (2), un miroir de renvoi (3) éclairé par la source dc lumière laser (2) et pivotant autour d'au moins un axe, un élément de focalisation optique (FE) entre la source dc lumière laser (2) et le miroir de renvoi (3), un support (5) comportant une couche de conversion de longueur d'onde (6) disposé pour que la lumière laser soit dirigée par le miroir de renvoi (3) sur la couche de conversion de longueur d'onde, le support (5) étant transparent pour la lumière laser (L) etiou pour la lumière (LK) convertie par la couche de conversion de longueur d'onde (6), la lumière laser de la source de lumière laser (2) étant focalisée par l'élément de focalisation optique (FE), en passant par le miroir de renvoi (3) sur la couche de conversion de longueur d'onde (6), et une optique de projection (7) qui regroupe la lumière convertie (LK) sur l'échantillon (4) au foyer (FP) de l'optique de projection (7). Installation d'éclairage optique (1) selon la revendication 1, comprenant [Revendication 3] [Revendication 4] [Revendication 5] un boîtier (8), dans lequel sont logés et/ou intégrés la source de lumière laser (2), le miroir de renvoi (3), le support (5) et l'optique de projection (7). Installation d'éclairage optique (1) selon la revendication 1 ou 2, selon laquelle la source de lumière laser (2) comporte une diode laser à émission de bord ou un émetteur à cavité verticale (VCSEL). Installation d'éclairage optique (1) selon l'une des revendications 1 à 3, selon laquelle le miroir de renvoi (3) est mobile autour de deux axes orientés différemment de façon que la lumière laser (L) puisse balayer un plan de la couche de conversion de longueur d'onde (6) et qu'ainsi le foyer (FP) de l'optique de projection (7) se déplace sur l'échantillon (4). Installation d'éclairage optique (1) selon l'une des revendications 1 à 4, selon laquelle la lumière laser (L) est convertie par la couche de conversion de 11 [Revendication 6] [Revendication 7] [Revendication 8] [Revendication 9] [Revendication 10] [Revendication 11] longueur d'onde (6) dans une plage de longueur d'onde du proche infrarouge ou de l'infrarouge. Installation d'éclairage optique (1) selon l'une des revendications 1 à 5, selon laquelle la source de lumière laser (1) et le miroir de renvoi (3) sont montés en construction modulaire sur une plaque de circuit (9). Installation d'éclairage optique (1) selon l'une des revendications 1 à 6, comprenant : une installation de commande (SE) et/ou une installation de capteur (SN) qui permettent de régler et de détecter au moins un angle de débattement du miroir de renvoi. Installation d'analyse optique (10) pour éclairer et analyser un échantillon (4) comprenant : une installation d'éclairage optique (1) selon l'une des revendications 1 à 7 qui permet d'éclairer l'échantillon (4) avec une lumière ayant une longueur d'onde déterminée, et une installation de spectromètre (20) qui reçoit et fait une analyse spectrale de la lumière réfléchie (LR) de l'échantillon (4). Installation d'analyse optique (10) selon la revendication 8 rattachée à la revendication 2, selon laquelle l'installation de spectromètre (20) et l'installation d'éclairage (1) sont logées dans le même boîtier (8) et dans lequel est intégrée une optique de détection (11) qui dirige la lumière réfléchie (LR) sur l'installation de spectromètre (20). Installation d'analyse optique (10) selon la revendication 8 ou 9, dans laquelle l'installation de spectromètre (20) comprend un interféromètre Fabry-Pérot (FPI). Installation d'analyse optique (10) selon l'une des revendications 8 à 10, qui comprend une installation de commande (SE) pour déplacer le miroir de renvoi (3) de façon que la lumière convertie (LK) arrivant au foyer de l'optique de projection (7) parcourt une plage déterminée de l'échantillon (4), et l'installation de spectromètre (20) est commandée pour générer un spectre de la lumière réfléchie (LR) par le point (P) éclairé par la lumière convertie (LK), et à partir de la connaissance d'au moins un angle de débattement du miroir de renvoi (3) réglé pour éclairer ce point, on identifie la position du point (P) sur l'échantillon (4) et à partir des spectres d'un grand nombre de points, on génère une image hyper spectrale de la région dé- 12 terminée de l'échantillon (4). [Revendication 12] Procédé de gestion d'une installation d'analyse optique (10) pour éclairer et analyser un échantillon (4) comprenant les étapes consistant à [Revendication 13] [Revendication 14] [Revendication 15] [Revendication 16] fournir (S1) une installation d'analyse optique (10) selon l'une des revendications 8 à 11, éclairer (S2) le miroir de renvoi (3) avec la lumière laser de la source de lumière laser (1), déplacer (S3) le miroir de renvoi (3) autour d'au moins un axe et faire varier ainsi au moins l'angle de débattement par rapport à la normale à cet axe, éclairer (S4) la couche de conversion de longueur d'onde (6) et déplacer le foyer de l'optique de projection (7) dans une région déterminée de l'échantillon (4), et recevoir (S5) la lumière (LR) réfléchie par cette région déterminée, et détecter (S6) le spectre du point (P) respectivement éclairé de l'échantillon (4) par l'installation de spectromètre (20). Procédé selon la revendication 12, selon lequel la détection (S5) du spectre utilise la connaissance de la position du point (P) sur l'échantillon (4) pour établir une image hyper spectrale de la région déterminée. Procédé selon la revendication 13, selon lequel on détermine la connaissance de la position du point (P) par l'angle de débattement respectif du miroir de renvoi. Procédé selon l'une des revendications 12 à 14, selon lequel la région déterminée comprend une surface ou une trajectoire. Procédé selon l'une des revendications 12 à 15, selon lequel on module dans le temps la source de lumière laser (1), on mélange le signal de sortie de l'installation de spectromètre (20) avec un signal de corrélation et par un procédé de corrélation on tient compte de la composante du rétro-éclairage de la lumière réfléchie (LR).