FR 3097314 A1 20201218 FR 1906396 A 20190614 Description Titre de l'invention : Détermination d'une épaisseur par colo- rimétrie. Domaine technique [0001] La présente invention concerne les méthodes de contrôle non destructif pour mesurer l'épaisseur d'un revêtement déposé en surface d'un substrat. Technique antérieure [0002] 11 est connu de coller des renforts métalliques sur des pièces en matériau composite. De telles opérations sont par exemple utilisées pour renforcer le bord d'attaque des aubes de turbine afin d'en améliorer la résistance. Afin d'améliorer l'adhésion de la colle sur le renfort métallique, un primaire de collage peut être utilisé. [0003] Il est également connu que l'épaisseur du primaire appliqué sur le renfort métallique avant collage impacte directement les propriétés d'adhésion. Il est donc particulièrement important de pouvoir contrôler l'épaisseur du primaire afin de garantir la robustesse du collage. [0004] Actuellement, la détermination de l'épaisseur est généralement faite par la méthode des courants de Foucault. Toutefois, cette méthode s'avère insuffisante. Par exemple, dans le cas où le métal présente une rugosité de surface, les courants de Foucault ne permettent que de déterminer la présence ou non d'un primaire à la surface d'une surface rugueuse, mais ne sont pas suffisamment précis pour des mesures quantitatives. [0005] Par ailleurs, il est généralement observé un changement de couleur lors de l'application d'un revêtement sur un substrat, lequel est fonction de l'épaisseur de revêtement déposé. Ainsi, il a déjà été envisagé de réaliser un nuancier de référence, à partir d'échantillons d'épaisseurs de revêtement connues, et de comparer un échantillon revêtu au nuancier pour déterminer l'épaisseur du revêtement déposé. Toutefois, cette méthode n'est pas entièrement satisfaisante. Tout d'abord elle n'offre pas toujours un degré de précision suffisant, notamment lorsque la couleur ne varie que légèrement avec l'épaisseur du revêtement. De plus, il a été constaté la couleur du nuancier varie au cours du temps et il est donc nécessaire de réaliser de nouveaux nuanciers fréquemment. Enfin, cette méthode est subjective à l'utilisateur qui compare l'échantillon revêtu au nuancier. [0006] 11 demeure donc un besoin industriel pour une méthode de contrôle non destructif de l'épaisseur d' un revêtement appliqué à la surface d'un substrat. Exposé de l'invention [0007] L'invention vise précisément à répondre à ce besoin industriel. [0008] Selon un premier dc ses aspects, l'invention concerne un procédé de détermination 2 de l'épaisseur d'un revêtement à la surface d'un substrat revêtu comprenant au moins les étapes suivantes : [0009] a) mesurer, à l'aide d'un colorimètre, les composantes ap, bp et L,' de la couleur d'une zone à contrôler du substrat revêtu, [0010] b) déterminer la différence de couleur AE, entre les composantes ap, bp et Lp mesurées et des composantes alef, b1ef et L,f d'une couleur du substrat non revêtu, [0011] c) déterminer l'épaisseur du revêtement en comparant la différence de couleur AEp à une base de données de référence comprenant des valeurs de différences de couleur de référence AE' correspondant à une pluralité de substrats revêtus ayant des revêtements de différentes épaisseurs déterminées. [0012] Dans l'ensemble de la demande, il est entendu que les valeurs des composantes a, b et L d'une couleur, éventuellement assorties d'indices ou d'exposants font toujours références aux coordonnées a*. h*. et L* de l'espace de couleur CIELAB correspondant à l'espace défini par la norme NF EN ISO 11664-4 dont le titre est « colorimétrie - Partie 4 : espace chromatique L"a"b" CIE 1976 ». Bien entendu, on ne sort pas du cadre de l'invention lorsque les couleurs sont définies par des composantes données dans un autre espace que l'espace de couleur CIELAB. [0013] Dans l'ensemble de la demande, une différence de couleur AE, éventuellement marquée avec des indices ou des exposants, entre deux couleurs de composantes respectives al, b, et L, et a2, b, et L2 est déterminée comme la distance euclidienne entre ces deux couleurs. [0014] En d'autres termes, AE est obtenue selon la formule suivante : [0015] [Math. I] E - L32 [0016] Un procédé de détermination de l'épaisseur selon l'invention permet de s'affranchir des désavantages de l'art antérieur. En particulier, le procédé proposé permet une comparaison objective de la couleur aux couleurs des échantillons de la base de données de référence et ainsi, une détermination précise de l'épaisseur de revêtement. [0017] La mesure ou les mesures de couleur(s) effectuée(s) par le colorimètre peut (peuvent) être effectuée(s) en réflexion spéculaire incluse (mode de mesure « SCI »). En variante, cette ou ces mesures de coulent-(g) peut (peuvent) être effectuée(s) en réflexion spéculaire exclue (mode de mesure « SCE »). [0018] Dans un mode de réalisation, la couleur d'une zone mesurée par le colorimètre correspond à la moyenne arithmétique des couleurs mesurées sur cinq points de ladite zone. Par exemple, lorsqu'une couleur d'une zone est définie dans l'espace L*a*b*, les composantes L*, a" et b* de cinq points de ladite zone sont d'abord mesurées puis ces composantes sont moyennées sur les différents points de mesure afin d'en déduire la 3 couleur de ladite zone. Ce mode de réalisation permet de diminuer l'erreur relative sur la couleur de la zone mesurée, et ainsi d'améliorer la fiabilité du procédé. [0019] Dans un mode de réalisation, la base de données de référence peut être exprimée sous la forme d'une fonction continue. Par exemple, la base de données peut être une fonction polynomiale, reproduisant l'évolution de la différence de couleur en fonction de l'épaisseur du revêtement. Une telle fonction, dite fonction étalon, peut être obtenue par régression, de préférence par régression polynomiale, par exemple par la méthode des moindres carrés, des données de la base de données. [0020] Un tel mode de réalisation permet un stockage extrêmement simplifié des données de la base de données. De plus, il facilite l'étape e) du procédé, puisqu'elle peut se réduire à trouver l'antécédent par la fonction étalon de la différence de couleur AE' mesurée en étape b). [0021] Le substrat est de préférence une pièce métallique, par exemple un renfort pour aube de turbine. [0022] Le revêtement peut être un primaire permettant le collage d'une pièce métallique sur un matériau composite. [0023] L'épaisseur à mesurer est de préférence comprise entre 0,5 pm et 2,5 pm. Une telle épaisseur correspond habituellement aux épaisseurs pour lesquelles un changement de couleur est observé sur la pièce à revêtir, notamment dans le cas d'un primaire de collage et d'un substrat métallique. [0024] Bien entendu, la méthode n'est pas limitée à de telles épaisseurs, sous réserve que la variation de couleurs observée pour la pluralité d'échantillons de la base de données de référence soit significative. [0025] Selon un autre de ses aspects, l'invention concerne encore un dispositif pour la mise en oeuvre d'un procédé tel que décrit ci-dessus, le dispositif comportant : [0026] - un colorimètre permettant la mesure des composantes a, b1, et L,, de la couleur d'une zone à contrôler d'un substrat revêtu, [0027] - un premier organe permettant la détermination de la différence de couleur AE,, entre les composantes a,' b1, et L' mesurées et les composantes a'f, b'f et de la couleur du substrat non revêtu, [0028] - un deuxième organe permettant de déterminer l'épaisseur du revêtement en comparant la différence de couleur AE,, à une base de données de référence comprenant des valeurs de différences de couleur Ar déterminées pour une pluralité de substrats revêtus ayant des revêtements de différentes épaisseurs déterminées. [0029] Dans un mode de réalisation, le premier et le deuxième organes peuvent être des pro- cesseurs, identiques ou différents, conditionnés pour réaliser les opérations indiquées. Pour les besoins de l'invention, le premier et/ou le deuxième organe peuvent être associés à des supports de stockage de données. 100301 Le support de stockage de données peut être intégré au dispositif. En variante, le support de stockage est intégré à un système informatique distinct, le dispositif étant configuré pour échanger des données avec ce système informatique, par exemple par le biais d'un réseau d'échange de données sans fil. [0031] Le dispositif peut en outre comporter un dispositif d'affichage, permettant d'afficher l'épaisseur déterminée par le deuxième organe. Un tel mode de réalisation permet de mesurer l'épaisseur du revêtement de manière précise, sur le lieu de production de la pièce revêtue. [0032] Un tel dispositif peut être fixe ou mobile. [0033] Selon un autre de ses aspects, l'invention concerne un procédé de fabrication d'une aube en matériau composite à bord d'attaque métallique rapporté pour moteur aéronautique à turbine à gaz, le procédé comprenant les étapes suivantes : [0034] d) la réalisation d'une aube en matériau composite, [0035] c) l'application d'un primaire sur une portion de bord d'aube en matériau composite destinée à recevoir un renfort métallique, [0036] f) collage du renfort métallique sur l'aube, [0037] caractérisé en ce qu'il comprend, après l'étape c) et avant l'étape 0, la détermination de l'épaisseur du primaire conformément au procédé de détermination tel que décrit ci-dessus. [0038] Un tel procédé de fabrication permet l'obtention d'une aube en matériau composite dont l'épaisseur de primaire est contrôlée, et ainsi le collage du renfort métallique amélioré. [0039] Selon encore un autre de ses aspects, l'invention concerne l'application du procédé de collage exposé ci-dessus à la fabrication d'une aube de soufflante, d'une aube directrice de sortie, d'une aube directrice d'entrée ou (l'une aube à angle de calage variable. Brève description des dessins [0040.1 [fig.1] La figure 1 représente unc fonction étalon obtenue selon un mode dc réa- lisation dc l'invention. [0041] W8.21 La figure 2 représente un dispositif selon un mode de réalisation dc l'invention. Description des modes de réalisation 100421 Dans un mode de réalisation de l'invention, l'étape a) peut être réalisée au moyen d'un colorimètre commercialisé sous la référence Spectro-guide sphere gloss par la société BYK-Gardner ou encore un colorimètre commercialisé sous la référence Spectro Photo Meier CM600D par la société Minolta. 100431 Dans un mode de réalisation, le colorimètre mesure en étape a) les trois composantes de la couleur du revêtement simultanément. Un tel mode de réalisation permet de minimiser le nombre d'utilisations du colorimètre au cours d'un procédé de détermination de l'épaisseur d'un revêtement, et ainsi de diminuer le temps nécessaire à la mise en oeuvre du procédé. [0044] Comme décrit ci-dessus, l'étape b) correspond à la détermination de la différence de couleur AEp entre les composantes ap, bp et Lde la couleur mesurée en étape a) et les composantes a,f, bief et L'f de la couleur d'un substrat non revêtu. [0045] Dans un mode de réalisation, les composantes aref, bref et Ler de la couleur du substrat non revêtu peuvent être mesurées à l'aide d'un colorimètre sur le substrat avant le dépôt du revêtement. [0046] Dans un autre mode de réalisation, la mesure des composantes a,r, bief et Ler de la couleur du substrat non revêtu peut être réalisée avec un colorimètre après le revêtement du substrat, mais sur une zone du substrat n'ayant pas été revêtue. Ce mode de réalisation permet d'assurer que la mesure des composantes aief, bief et Lia soit réalisée sur un substrat qui ait été soumis à des conditions semblables à celle du substrat revêtu, par exemple les conditions thermochimiques du procédé de revêtement. [0047] Dans encore un autre mode de réalisation, la mesure des composantes a't, bief et Let de la couleur du substrat non revêtu est réalisée avec un colorimètre sur un autre substrat de même nature que le substrat revêtu. Ce mode de réalisation permet de conserver vierge l'échantillon de substrat ayant permis de réaliser les mesures de référence, et ainsi de pouvoir les mesurer à nouveau en cas de besoin. [0048] Dans encore un autre mode de réalisation, les composantes arcf, bref et Lef de la couleur du substrat non revêtu peuvent être mémorisées dans un support de stockage de données. [0049] Dans ce mode de réalisation, il n'est pas nécessaire de mesurer les composantes de la couleur de référence, celles-ci étant déjà en mémoire. Ainsi, cette configuration permet avantageusement au colorimètre de ne mesurer que la couleur du substrat revêtu. Un tel mode de réalisation permet par conséquent de réduire le nombre de mesures effectuées par le colorimètre. [0050] Dans un mode de réalisation, le colorimètre peut être muni d'un organe de stockage des données lui permettant de stocker les valeurs des composantes act, bref et Let pour un ou plusieurs substrats. [0051] Le support de stockage des données peut également être intégré à un système in- formatique distinct du colorimètre, le colorimètre étant configuré pour échanger des données avec ce système informatique, par exemple par le biais d'un réseau d'échange de données sans fil. [0052] Comme précisé ci-dessus, l'étape c) correspond à la comparaison de la différence de 6 couleur AEa déterminée à l'étape b) à une base de données de référence comprenant des valeurs de différences de couleur de référence AE' correspondant à une pluralité de substrats revêtus ayant des revêtements de différentes épaisseurs déterminées. [0053] Comme précisé ci-dessus, la base de données est créée en mesurant plusieurs dif- férences de couleur AE' entre des substrats revêtus avec des revêtements d'épaisseurs connues ayant une couleur de composantes a', b' et L' et les composantes a',. et L'a.,- de la couleur de substrats non revêtus. [0054] Comme dans le cas de l'étape b), les composantes de la couleur de référence du substrat a'a.f, et L',f peuvent être mesurées sur le substrat avant le revêtement, après revêtement sur une partie du substrat non revêtue, sur un substrat identique au substrat revêtu, ou encore avoir été mémorisées dans un support de stockage de données. Chacun de ces modes de réalisation présente les mêmes avantages que ceux décrits ci-dessus pour l'étape b). [0055] L'épaisseur de revêtement peut être déterminée précisément avant ou après la déter- mination de la différence de couleur AE'. Dans un mode de réalisation, l'épaisseur est déterminée après la différence de couleur AE' par des méthodes de contrôle destructif. Par exemple, les épaisseurs des revêtements de référence peuvent être mesurées par microscopie optique sur des coupes micrographique des échantillons de référence. [0056] Dans un mode de réalisation, une fois plusieurs couples 10 de différences de couleurs AE'/épaisseurs déterminées, il peut être procédé à une régression polynomiale pour obtenir une fonction continue associant une différence de couleurs à une épaisseur. [0057] La représentation graphique d'une telle fonction étalon 11 est présentée en figure I. [0058] Les couples déterminés 10 sont représentés par des points et la fonction étalon 11 peut être obtenue par une régression polynomiale réalisée sur l'ensemble des valeurs. [0059] La fonction étalon 11 peut être obtenue à partir de la donnée des couples 10 de mesures par une méthode d'optimisation connue en soi, par exemple par la méthode des moindres carrés. [0060] Dans le mode de réalisation représenté en figure 1, la fonction étalon est un polynôme d'ordre 4. [0061] De manière alternative, la fonction étalon 11 peut être ajustée uniquement sur les couples de valeurs 10 déterminés uniquement dans un domaine d'épaisseurs d'intérêt. Ce mode de réalisation permet une fonction étalon 11 plus précise dans le domaine d'intérêt. [0062] Comme précisé ci-dessus, une telle réduction de la base de données à une fonction polynômiale permet avantageusement de diminuer la complexité de la base de données de référence. [0063] De plus, une telle réduction de la base de données à une fonction étalon 11 permet également d'associer de manière simple la mesure de la différence de couleur réalisée 7 en étape b) à une épaisseur de revêtement. [0064] Par exemple, comme figuré sur la figure 1, l'épaisseur d'un échantillon pour lequel une différence de couleur 4E1 a été mesurée peut être déterminée par l'abscisse e, du point d'intersection de la droite 12 d'ordonnée AE, avec la courbe étalon 11. [0065] Comme précisé ci-dessus, l'invention concerne encore un dispositif permettant de réaliser le procédé précité. [0066] Dans un premier mode de réalisation, un tel dispositif est configure pour renseigner directement l'épaisseur d'un revêtement sur un substrat à l'utilisateur, par exemple via un écran d'affichage. [0067] Dans un autre mode de réalisation, le dispositif peut être mis en oeuvre de manière entièrement automatisée. Par exemple, il est possible de faire défiler des substrats revêtus à contrôler en regard d'un dispositif fixe, ce dispositif de contrôle réalisant la mesure de l'épaisseur de chacun des substrats revêtus. [0068] Dans un autre mode de réalisation, le dispositif est programmé pour avertir l'utilisateur si l'épaisseur de revêtement mesurée est conforme ou non à une plage de valeurs preprogrammée. Dans ce mode de réalisation, le dispositif peut être muni de voyants lumineux. [0069] La figure 2 représente schématiquement un dispositif 20 selon un mode de réa- lisation. [0070] Un tel dispositif 20 comprend un colorimètre 21, un premier organe 22 et un deuxième organe 23 permet la détermination de l'épaisseur e du revêtement à la surface d'un substrat. [0071] Dans le mode de réalisation représenté, le colorimètre 21, le premier organe 22, et le deuxième organe 23 sont connectés par des fils. Dans un autre mode de réalisation, la liaison peut être faite sans fils. [0072] Comme précisé ci-dessus, le colorimètre 21, le premier organe 22 et le deuxième organe 23 peuvent être associés à des moyens de stockage de données non représentés. [0073] Dans le mode de réalisation représenté, toutes les étapes du procédé peuvent être réalisées sans avoir besoin d'une action de l'utilisateur, comme par exemple le transfert de données depuis un composant du dispositif vers un autre, et il en résulte une utilisation facilitée du dispositif [0074] Le dispositif 20 peut comprendre en outre un dispositif d'affichage 24 permettant par exemple d'afficher l'épaisseur du substrat déterminée. Par exemple, le dispositif d'affichage peut être un écran. [0075] Un tel dispositif d'affichage 24 n'est aucunement essentiel et peut être remplacé par exemple par un ou plusieurs voyants lumineux. Dans un autre mode de réalisation, la mesure est enregistrée dans un moyen de stockage des données et peut être lue ultérieurement par un appareil faisant ou non partie du dispositif. 8 [0076] Dans le mode de réalisation représenté, le dispositif peut être mobile, c'est-à-dire adapté à être facilement transporté. [0077] Comme précisé ci-dessus, dans certains modes de réalisation non figurés, le co- lorimètre peut également servir à la détermination des composantes d'une couleur de référence. [0078] L'utilisation d'un tel dispositif est facilitée comparée à l'utilisation des méthodes de contrôle de l'art antérieur. Par exemple, l'utilisateur approche l'extrémité du dispositif 20 contenant le colorimètre 21 d'un substrat 26 revêtu par un revêtement 25 d'épaisseur inconnue. [0079] Les étapes suivantes sont alors réalisées par le dispositif 20. Le colorimètre 21 mesure les composantes ap, bp et L1, de la couleur d'une zone à contrôler d'un substrat revêtu, le premier organe 22 détermine la différence de couleur AEp entre les composantes ap, bp et Lp mesurées et les composantes a'f, bref et -Ler de la couleur du substrat non revêtu, le deuxième organe 23 détermine l'épaisseur du revêtement en comparant la différence de couleur AE,, à une base de données de référence comprenant des valeurs de différences de couleur AE' déterminées pour une pluralité de substrats revêtus ayant des revêtements de différentes épaisseurs déterminées. [0080] Le résultat de la mesure de l'épaisseur c peut ensuite être affiché sur l'écran d'affichage 24. [0081] Dans un mode de réalisation alternatif où les valeurs des composantes ap,f, lira et L'f de la couleur du substrat non revêtu doivent être déterminées, l'utilisateur du dispositif 20 peut réaliser la mesure des valeurs des composantes ap,f, brcf et L'f au moyen du même dispositif 20. [0082] L'utilisation du dispositif 20 permet une mesure aisée de l'épaisseur e d'un re- vêtement 25 à la surface d'un substrat 26. [0083] Comme précisé ci-dessus le substrat 26 est de préférence une aube de turbine pour une turbomachine aéronautique et le revêtement 25 est de préférence un primaire de collage. [0084] L'invention concerne également un procédé de fabrication d'une aube de turbine tel que décrit ci-dessus. [0085] Dans ce mode de réalisation, l'aube en matériau composite est obtenue à partir d'un renfort fibreux densifié par une matrice. Dans ce cas, elle est fabriquée à partir d'une préforme fibreuse pouvant être obtenue de différentes façons connues de l'homme du métier. Typiquement, l'aube peut être obtenue directement par tissage tridimensionnel (3D) de fils (formés par exemple de fibres de carbone) ou par drapage de tissus fibreux bidimensionnels. La fabrication d'une aube en matériau composite obtenue à partir d'un renfort fibreux réalisé par tissage tridimensionnel et densifié par une matrice est notamment décrite dans le document US 2014/0349538. Dans l'exemple décrit ici, 9 l'aube est obtenue à partir d'un renfort fibreux en fibres de carbone réalisé par tissage tridimensionnel, le renfort ayant été imprégné avec une résine thermodurcissable, par exemple une résine de type époxy. La préforme d'aube peut également être obtenue à partir d'une pluralité de strates ou plis bidimensionnels (tissu 2D) en fibres de carbone pré-imprégnés et drapés. [0086] Le procédé de fabrication peut être réalisé en utilisant un dispositif 20 tel que décrit ci-dessus et schématisé en figure 2 entre les étapes c) et f) du procédé. La détermination de l'épaisseur au cours d'un procédé de fabrication d'une aube permet de s'assurer que les propriétés de collages seront conformes aux exigences attendues. [0087] De plus, dans le cas où l'épaisseur n'est pas conforme à celle souhaitée, il est facile pour l'utilisateur d'ajouter du primaire, ou d'en enlever par exemple par abrasion. [0088] Le procédé de fabrication permet donc d'obtenir une aube avec des renforts mé- talliques rapportés dont l'épaisseur de primaire de collage est contrôlée. 10 REVENDICATIONS[Revendication 1] Procédé de détermination dc l'épaisseur d'un revêtement (25) à la surface d'un substrat (26) revêtu comprenant au moins les étapes suivantes : a) mesurer, à l'aide d'un colorimètre (21), les composantes (a,' h' et L') de la couleur d'une zone à contrôler du substrat revêtu, 1)) déterminer la différence de couleur (AE) entre les composantes (an, h et L) de la couleur mesurée à l'étape a) et les composantes (arec, bref et Ler) de la couleur du substrat non revêtu, c) déterminer l'épaisseur (e) du revêtement en comparant la différence de couleur (AE') à une base de données de référence comprenant des valeurs de différences de couleur de référence (AE,') correspondant à une pluralité de substrats revêtus ayant des revêtements de différentes épaisseurs déterminées, les composantes (a,' b L,' arec, b,,r et Ler) désignant les composantes chromatiques des couleurs définies dans l'espace de couleur CIELAB. [Revendication 2] Procédé de détermination de l'épaisseur d'un revêtement (25) selon la revendication 1, dans lequel la couleur de la zone à contrôler par le colorimètre (21) correspond à la moyenne arithmétique des couleurs mesurées sur cinq points de ladite zone. [Revendication 3] Procédé de détermination de l'épaisseur d'un revêtement (25) selon les revendications 1 ou 2, dans lequel la base de données de référence est exprimée sous la forme d'une fonction continue associant une différence de couleur AE' à une épaisseur de revêtement. [Revendication 4] Procédé de détermination de l'épaisseur d'un revêtement (25) selon l'une quelconque des revendications 1 à 3, dans lequel le substrat (26) est une pièce métallique. [Revendication 5] Procédé de détermination de l'épaisseur d'un revêtement (25) selon l'une quelconque des revendications 1 à 4, dans lequel le revêtement est un primaire permettant le collage d'une pièce métallique sur un matériau composite. [Revendication 6] Dispositif (20) pour la mise en oeuvre d'un procédé selon l'une quelconque des revendications 1 à 5, le dispositif (20) comportant : - un colorimètre (21) permettant la mesure des composantes (a,' bp et Lp) de la couleur d'une zone à contrôler d'un substrat revêtu, - un premier organe (22) permettant la détermination de la différence de couleur (AE',) entre les composantes (an, bp et 4) mesurées et les com- 11 [Revendication 7] posantes (aier, bief et Lier) de la couleur du substrat non revêtu, [Revendication 8] - un deuxième organe (23) permettant de déterminer l'épaisseur c du revêtement en comparant la différence de couleur (AEp) à une base de données de référence comprenant des valeurs (AE') de différences de couleur déterminées pour une pluralité de substrats revêtus ayant des revêtements de différentes épaisseurs déterminées. Procédé de fabrication d'une aube en matériau composite à bord d'attaque métallique rapporté pour moteur aéronautique à turbine à gaz, le procédé comprenant les étapes suivantes : d) la réalisation d'une aube en matériau composite, e) l'application d'un primaire sur une portion de bord d'aube en matériau composite destinée à recevoir un renfort métallique, f) collage du renfort métallique sur l'aube, caractérisé en ce qu'il comprend, après l'étape c) et avant l'étape f), la détermination de l'épaisseur du primaire conformément au procédé de détermination selon la revendication 5. Application du procédé de collage selon la revendication 7 à la fabrication d'une aube de soufflante, d'une aube directrice de sortie, d'une aube directrice d'entrée ou d'une aube à angle de calage variable.